JP2020136735A - Protection circuit - Google Patents

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和也 児玉
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Abstract

To provide a technique capable of improving overcurrent detection accuracy by protecting a switch circuit from overcurrent and preventing erroneous detection of overcurrent.SOLUTION: A protection circuit 1 includes a voltage detection circuit 5, an overcurrent detection circuit 7, and a threshold value changing means. The protection circuit 1 detects an input voltage input to MOSFETs 3a and 3b. The overcurrent detection circuit 7 detects an overcurrent of the MOSFETs 3a and 3b on the basis of a Vds voltage applied to the MOSFETs 3a and 3b and a threshold voltage Vtg. The threshold value changing means changes the threshold voltage Vtg according to the input voltage input to the MOSFETs 3a and 3b detected by the voltage detection circuit 5.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、保護回路に関する。 The present invention relates to a protection circuit.

パワーMOSFETで構成されるモータ駆動用主回路は、MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)を介して入力電源をモータへ供給することでモータの回転を制御することができる。MOSFETへの過電流を検出する方法として、低抵抗・高定格な電流検出用シャント抵抗を使う方法があるが、モータの駆動電流は数10Aから数100Aのオーダーであり、定格を満たすにはサイズの大きな抵抗を使用する必要があるため、実現性は低くなる。 The main circuit for driving a motor composed of a power MOSFET can control the rotation of the motor by supplying input power to the motor via a MOSFET (Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor). As a method of detecting the overcurrent to the MOSFET, there is a method of using a low resistance and high rated current detection shunt resistor, but the drive current of the motor is on the order of several tens of A to several hundreds of A, and the size is required to meet the rating. It is less feasible because it requires the use of large resistors.

MOSFETのドレイン・ソース間電圧を監視することでMOSFETに流れる電流値を推定し、モータ及びMOSFETの過電流を検出する構成が知られている。関連する技術として、例えば、特許文献1がある。 A configuration is known in which the current value flowing through the MOSFET is estimated by monitoring the voltage between the drain and the source of the MOSFET, and the overcurrent of the motor and the MOSFET is detected. As a related technique, for example, there is Patent Document 1.

特開2010−28961号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2010-28961

しかしながら、ドレイン・ソース間電圧によってMOSFETの過電流を検出する方式は、微弱な電圧(0〜1V程度)を監視するため、MOSFETのばらつき(個体差)や過電流検出回路のばらつき(個体差)の影響を大きく受けてしまう。また、MOSFETのオン抵抗は正の温度係数を有しているため、過電流検出回路はMOSFETを確実に保護しつつ且つ、正常動作時に誤検出をしないよう、過電流の判定に利用する閾値は適切な値に都度設定する必要がある。ところが、電圧の閾値を大きく設定した場合には、MOSFETを過電流から確実に保護することが難しくなり、電圧の閾値を小さく設定した場合には、誤検出が発生する可能性が高くなる。したがって、MOSFETなどのスイッチ回路を過電流から保護しつつ、誤検出を防ぎ、過電流の検出精度を向上させることが望まれていた。 However, the method of detecting the overcurrent of the MOSFET by the voltage between the drain and the source monitors a weak voltage (about 0 to 1 V), so that the variation of the MOSFET (individual difference) and the variation of the overcurrent detection circuit (individual difference) Will be greatly affected by. Further, since the on-resistance of the MOSFET has a positive temperature coefficient, the threshold value used for determining the overcurrent is set so that the overcurrent detection circuit reliably protects the MOSFET and prevents erroneous detection during normal operation. It is necessary to set it to an appropriate value each time. However, when the voltage threshold value is set large, it becomes difficult to reliably protect the MOSFET from overcurrent, and when the voltage threshold value is set small, there is a high possibility that erroneous detection will occur. Therefore, it has been desired to prevent erroneous detection and improve the detection accuracy of overcurrent while protecting the switch circuit such as MOSFET from overcurrent.

本発明の一側面に係る目的は、スイッチ回路を過電流から保護しつつ、過電流の誤検出を防ぐことにより、過電流の検出精度を向上することができる技術を提供することである。 An object of one aspect of the present invention is to provide a technique capable of improving the detection accuracy of overcurrent by preventing erroneous detection of overcurrent while protecting the switch circuit from overcurrent.

本発明に係る一つの形態である保護回路は、スイッチ回路に入力される入力電圧を検出する電圧検出回路と、前記スイッチ回路にかかる電圧と閾値電圧とに基づき前記スイッチ回路の過電流を検出する過電流検出回路と、前記電圧検出回路により検出された前記スイッチ回路に入力される入力電圧に応じて前記閾値電圧を変更する閾値変更手段と、を備える。 The protection circuit according to one embodiment of the present invention detects an overcurrent of the switch circuit based on a voltage detection circuit that detects an input voltage input to the switch circuit and a voltage applied to the switch circuit and a threshold voltage. The overcurrent detection circuit and the threshold value changing means for changing the threshold voltage according to the input voltage input to the switch circuit detected by the voltage detection circuit are provided.

このため、入力電圧に基づき変化するスイッチ回路にかかる電圧が変化した場合であっても、入力電圧に応じて閾値電圧を変更することができる。したがって、閾値電圧を小さく設定しなくても入力電圧に対応する閾値電圧で過電流の検出を行うことができるため、誤検出を防ぐことができる。また、閾値電圧を大きく設定しなくても入力電圧に対応する閾値電圧で過電流の検出を行うことができるため、スイッチ回路を過電流から保護することができる。これにより、過電流の検出精度を向上することができる。 Therefore, even when the voltage applied to the switch circuit that changes based on the input voltage changes, the threshold voltage can be changed according to the input voltage. Therefore, since the overcurrent can be detected at the threshold voltage corresponding to the input voltage without setting the threshold voltage small, erroneous detection can be prevented. Further, since the overcurrent can be detected at the threshold voltage corresponding to the input voltage without setting a large threshold voltage, the switch circuit can be protected from the overcurrent. Thereby, the overcurrent detection accuracy can be improved.

また、前記閾値変更手段は、抵抗素子により構成される閾値変更回路と、前記閾値変更回路を制御する制御回路とを含んで構成される。前記制御回路は、前記電圧検出回路により検出された前記スイッチ回路に入力される入力電圧に応じて閾値制御信号を前記閾値変更回路へ出力する。前記閾値変更回路は、前記制御回路から出力された前記閾値制御信号に基づいて前記閾値電圧を変更する。 Further, the threshold value changing means includes a threshold value changing circuit composed of a resistance element and a control circuit for controlling the threshold value changing circuit. The control circuit outputs a threshold control signal to the threshold change circuit according to an input voltage input to the switch circuit detected by the voltage detection circuit. The threshold value changing circuit changes the threshold voltage based on the threshold value control signal output from the control circuit.

このため、制御回路から出力する閾値制御信号に基づき、制御回路側から閾値電圧を変更することができる。これにより、閾値電圧の制御を制御回路側に集約することができる。 Therefore, the threshold voltage can be changed from the control circuit side based on the threshold control signal output from the control circuit. As a result, the control of the threshold voltage can be centralized on the control circuit side.

また、前記スイッチ回路の温度の状態を検出する温度センサをさらに備える。前記閾値変更手段は、前記電圧検出回路により検出された前記スイッチ回路に入力される入力電圧と、前記温度センサにより検出された前記スイッチ回路の温度とに応じて前記閾値電圧を変更する。 Further, a temperature sensor for detecting the temperature state of the switch circuit is further provided. The threshold value changing means changes the threshold voltage according to the input voltage input to the switch circuit detected by the voltage detection circuit and the temperature of the switch circuit detected by the temperature sensor.

このため、入力電圧に基づき変化するスイッチ回路にかかる電圧の変化に加えて、スイッチ回路の温度が変化した場合であっても、入力電圧とスイッチ回路の温度に応じて閾値電圧を変更することができる。したがって、閾値電圧を小さく設定しなくても入力電圧および温度に対応する閾値電圧で過電流の検出を行うことができるため、誤検出を防ぐことができる。また、閾値電圧を大きく設定しなくても入力電圧および温度に対応する閾値電圧で過電流の検出を行うことができるため、スイッチ回路を過電流から保護することができる。これにより、過電流の検出精度を向上することができる。 Therefore, in addition to the change in the voltage applied to the switch circuit that changes based on the input voltage, even if the temperature of the switch circuit changes, the threshold voltage can be changed according to the input voltage and the temperature of the switch circuit. it can. Therefore, the overcurrent can be detected at the threshold voltage corresponding to the input voltage and the temperature without setting the threshold voltage small, so that erroneous detection can be prevented. Further, since the overcurrent can be detected at the threshold voltage corresponding to the input voltage and the temperature without setting a large threshold voltage, the switch circuit can be protected from the overcurrent. Thereby, the overcurrent detection accuracy can be improved.

本発明によれば、スイッチ回路を過電流から保護しつつ、過電流の誤検出を防ぐことにより、過電流の検出精度を向上することができる。 According to the present invention, it is possible to improve the overcurrent detection accuracy by preventing erroneous detection of overcurrent while protecting the switch circuit from overcurrent.

本実施形態の保護回路の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the protection circuit of this embodiment.

以下図面に基づいて本実施形態について詳細を説明する。
この発明の本実施形態に係る保護回路の保護方法を説明する。図1は、本実施形態の保護回路の一例を示す図である。図1に示す保護回路1は、DC電源2、MOSFET(スイッチ回路)3a,3b、温度センサ4、電圧検出回路5、コンパレータ6a,6b、過電流検出回路7、AND回路8a,8b、閾値変更回路9、分圧回路10a,10b、制御回路12を有する。分圧回路10aは、抵抗素子11a,11bを有する。分圧回路10bは、抵抗素子11c,11dを有する。本実施形態においては、スイッチ回路としてMOSFETを採用しているが、MOSFET以外のスイッチ回路を採用してもよい。
The present embodiment will be described in detail below with reference to the drawings.
A method of protecting the protection circuit according to the present embodiment of the present invention will be described. FIG. 1 is a diagram showing an example of a protection circuit of the present embodiment. The protection circuit 1 shown in FIG. 1 includes a DC power supply 2, a MOSFET (switch circuit) 3a, 3b, a temperature sensor 4, a voltage detection circuit 5, a comparator 6a, 6b, an overcurrent detection circuit 7, an AND circuit 8a, 8b, and a threshold change. It has a circuit 9, voltage dividing circuits 10a and 10b, and a control circuit 12. The voltage dividing circuit 10a has resistance elements 11a and 11b. The voltage dividing circuit 10b has resistance elements 11c and 11d. In this embodiment, a MOSFET is used as the switch circuit, but a switch circuit other than the MOSFET may be used.

電圧検出回路5は、抵抗素子11e,11fを有する。閾値変更回路9は、抵抗素子11g,11hを有する。制御回路12は、温度検出部13、電圧検出部14、MOSFET制御部15a,15b、短絡検出部16a,16b、閾値制御部17を有する。 The voltage detection circuit 5 has resistance elements 11e and 11f. The threshold value changing circuit 9 has resistance elements 11g and 11h. The control circuit 12 includes a temperature detection unit 13, a voltage detection unit 14, MOSFET control units 15a and 15b, a short circuit detection unit 16a and 16b, and a threshold value control unit 17.

保護回路1は、三相出力のインバータ回路を有している。DC電源2に、MOSFET3a,3bを接続して1つのインバータ回路を構成している。なお、三相出力のインバータ回路は、MOSFET3a,3bと同様のMOSFETのグループがさらに2組あるが、説明及び図示は省略する。なお、MOSFET3a,3bの中点には、モータ20が接続されている。図示しないが、MOSFET3a,3bと同様の2つのグループのMOSFETの組の中点は、それぞれモータ20に接続されている。制御回路12は、例えばマイクロコンピュータ(Microcomputer)により構成され、MOSFET3a,3bのそれぞれをオンオフするようにそれぞれのゲートを駆動する。 The protection circuit 1 has a three-phase output inverter circuit. MOSFETs 3a and 3b are connected to the DC power supply 2 to form one inverter circuit. The three-phase output inverter circuit has two more MOSFET groups similar to the MOSFETs 3a and 3b, but description and illustration thereof will be omitted. The motor 20 is connected to the midpoint of the MOSFETs 3a and 3b. Although not shown, the midpoints of two groups of MOSFET sets similar to MOSFETs 3a and 3b are connected to the motor 20, respectively. The control circuit 12 is composed of, for example, a microcomputer, and drives each gate so as to turn on and off each of the MOSFETs 3a and 3b.

温度センサ4は、MOSFET3a,3bの近辺に配置され、MOSFET3a,3bの温度を測定することができる。温度センサ4は、MOSFET3a,3bの温度を直接測定するだけでなく、MOSFET3a,3b近辺の温度に基づきMOSFET3a,3bの温度を推定することでMOSFET3a,3bの温度を測定してもよい。温度センサ4は、制御回路12に接続されている。温度センサ4は、保護回路1において、MOSFET3a,3bの温度保護用として使用されているサーミスタを応用して使用することができる。これにより、部品コストの増加を抑えることができる。 The temperature sensor 4 is arranged in the vicinity of the MOSFETs 3a and 3b, and can measure the temperature of the MOSFETs 3a and 3b. The temperature sensor 4 may not only directly measure the temperature of the MOSFETs 3a and 3b, but also measure the temperature of the MOSFETs 3a and 3b by estimating the temperature of the MOSFETs 3a and 3b based on the temperature in the vicinity of the MOSFETs 3a and 3b. The temperature sensor 4 is connected to the control circuit 12. The temperature sensor 4 can be used by applying the thermistor used for temperature protection of the MOSFETs 3a and 3b in the protection circuit 1. As a result, an increase in component cost can be suppressed.

温度センサ4は、測定した温度の情報を、制御回路12へ出力する。制御回路12の温度検出部13は、温度センサ4から出力されたMOSFET3a,3bの温度の情報を検出する。温度検出部13は、検出した温度の情報を閾値制御部17へ出力する。 The temperature sensor 4 outputs the measured temperature information to the control circuit 12. The temperature detection unit 13 of the control circuit 12 detects the temperature information of the MOSFETs 3a and 3b output from the temperature sensor 4. The temperature detection unit 13 outputs the detected temperature information to the threshold value control unit 17.

電圧検出回路5は、MOSFET3a,3bと接続され、MOSFET3a,3bに入力される入力電圧を検出することができる。具体的には、電圧検出回路5においては、抵抗素子11eの一端は、DC電源2に接続されている。抵抗素子11fの一端は、GNDに接続されている。抵抗素子11e及び抵抗素子11fの他端同士は、制御回路12に接続されている。電圧検出回路5は、DC電源2から入力される入力電圧Vinを抵抗素子11e,11fで抵抗分圧される電圧Vg1を検出する。電圧検出回路5は、保護回路1において、図示しないバッテリの電圧監視用として使用されている電圧検出回路を応用して使用することができる。これにより、部品コストの増加を抑えることができる。 The voltage detection circuit 5 is connected to the MOSFETs 3a and 3b, and can detect the input voltage input to the MOSFETs 3a and 3b. Specifically, in the voltage detection circuit 5, one end of the resistance element 11e is connected to the DC power supply 2. One end of the resistance element 11f is connected to the GND. The other ends of the resistance element 11e and the resistance element 11f are connected to the control circuit 12. The voltage detection circuit 5 detects the voltage Vg1 in which the input voltage Vin input from the DC power supply 2 is divided by the resistance elements 11e and 11f. The voltage detection circuit 5 can be used by applying the voltage detection circuit used for battery voltage monitoring (not shown) in the protection circuit 1. As a result, an increase in component cost can be suppressed.

電圧検出回路5は、検出した電圧の情報を、制御回路12へ出力する。制御回路12の電圧検出部14は、電圧検出回路5から出力された電圧の情報を検出する。電圧検出部14は、検出した電圧の情報を閾値制御部17へ出力する。 The voltage detection circuit 5 outputs the detected voltage information to the control circuit 12. The voltage detection unit 14 of the control circuit 12 detects the voltage information output from the voltage detection circuit 5. The voltage detection unit 14 outputs the detected voltage information to the threshold value control unit 17.

MOSFET3a,3bは、ともにnチャネルMOSFETである。過電流検出回路7の前段にはコンパレータ6a,6bが配置されている。 Both MOSFETs 3a and 3b are n-channel MOSFETs. Comparators 6a and 6b are arranged in front of the overcurrent detection circuit 7.

MOSFET3aは、ドレインをコンパレータ6aの非反転入力端子(+)に分圧回路10aを介して接続し、ソースをコンパレータ6aの反転入力端子(−)に分圧回路10bを介して接続する。また、MOSFET3aのドレインにはDC電源2が接続されている。 The MOSFET 3a connects the drain to the non-inverting input terminal (+) of the comparator 6a via the voltage divider circuit 10a, and connects the source to the inverting input terminal (−) of the comparator 6a via the voltage divider circuit 10b. Further, a DC power supply 2 is connected to the drain of the MOSFET 3a.

MOSFET3bは、ドレインをコンパレータ6bの非反転入力端子(+)に分圧回路10bを介して接続し、ソースをGNDに接続する。MOSFET3aのソースおよびMOSFET3bのドレインの中点には、モータ20が接続されている。 The MOSFET 3b connects the drain to the non-inverting input terminal (+) of the comparator 6b via the voltage divider circuit 10b, and connects the source to the GND. A motor 20 is connected to the midpoint between the source of the MOSFET 3a and the drain of the MOSFET 3b.

分圧回路10aは、互いに直列に接続される抵抗素子11a及び抵抗素子11bを有し、MOSFET3aのドレインとGNDとの間に設けられている。抵抗素子11a及び抵抗素子11bの接続点は、コンパレータ6aの非反転入力端子(+)に接続されている。従って、MOSFET3aのドレイン電圧V1が、抵抗素子11a及び抵抗素子11bで分圧された電圧Vd1がコンパレータ6aの非反転入力端子(+)に供給される。 The voltage dividing circuit 10a has a resistance element 11a and a resistance element 11b connected in series with each other, and is provided between the drain of the MOSFET 3a and the GND. The connection points of the resistance element 11a and the resistance element 11b are connected to the non-inverting input terminal (+) of the comparator 6a. Therefore, the drain voltage V1 of the MOSFET 3a and the voltage Vd1 divided by the resistance element 11a and the resistance element 11b are supplied to the non-inverting input terminal (+) of the comparator 6a.

分圧回路10bは、互いに直列に接続される抵抗素子11c及び抵抗素子11dを有し、MOSFET3aのソース及びMOSFET3bのドレインと、閾値変更回路9を介して接続されるGNDと、の間に設けられている。抵抗素子11c及び抵抗素子11dの接続点は、コンパレータ6aの反転入力端子(−)及びコンパレータ6bの非反転入力端子(+)に接続されている。従って、MOSFET3aのソース電圧V2が、抵抗素子11c及び抵抗素子11dで分圧された電圧Vd2がコンパレータ6aの反転入力端子(−)に供給される。また、MOSFET3bのドレイン電圧V3が、抵抗素子11c及び抵抗素子11dで分圧された電圧Vd3がコンパレータ6bの非反転入力端子(+)に供給される。 The voltage dividing circuit 10b has a resistance element 11c and a resistance element 11d connected in series with each other, and is provided between the source of the MOSFET 3a and the drain of the MOSFET 3b and the GND connected via the threshold value changing circuit 9. ing. The connection points of the resistance element 11c and the resistance element 11d are connected to the inverting input terminal (−) of the comparator 6a and the non-inverting input terminal (+) of the comparator 6b. Therefore, the source voltage V2 of the MOSFET 3a is divided by the resistance element 11c and the resistance element 11d, and the voltage Vd2 is supplied to the inverting input terminal (−) of the comparator 6a. Further, the drain voltage V3 of the MOSFET 3b is divided by the resistance element 11c and the resistance element 11d, and the voltage Vd3 is supplied to the non-inverting input terminal (+) of the comparator 6b.

コンパレータ6aは、非反転入力端子(+)に分圧回路10aを介してMOSFET3aのドレイン(電圧Vd1)を接続し、反転入力端子(−)に分圧回路10bを介してMOSFET3aのソース(電圧Vd2)を接続する。 The comparator 6a connects the drain (voltage Vd1) of the MOSFET 3a to the non-inverting input terminal (+) via the voltage divider circuit 10a, and connects the drain (voltage Vd1) of the MOSFET 3a to the inverting input terminal (-) via the voltage divider circuit 10b to the source (voltage Vd2) of the MOSFET 3a. ) Is connected.

コンパレータ6bは、非反転入力端子(+)に分圧回路10bを介してMOSFET3bのドレイン(電圧Vd3)を接続し、反転入力端子(−)にGND(基準電圧GND)を接続する。 The comparator 6b connects the drain (voltage Vd3) of the MOSFET 3b to the non-inverting input terminal (+) via the voltage divider circuit 10b, and connects the GND (reference voltage GND) to the inverting input terminal (−).

MOSFET3a,3bのVds電圧は、流れる電流に応じて変化する。このため、コンパレータ6a,6bの入力端子に閾値電圧Vtgを変更する閾値変更回路9を接続する。具体的には、コンパレータ6aは、反転入力端子(−)に分圧回路10bを介して閾値変更回路9を接続する。また、コンパレータ6bは、非反転入力端子(+)に分圧回路10bを介して閾値変更回路9を接続する。 The Vds voltage of the MOSFETs 3a and 3b changes according to the flowing current. Therefore, a threshold value changing circuit 9 for changing the threshold voltage Vtg is connected to the input terminals of the comparators 6a and 6b. Specifically, the comparator 6a connects the threshold value changing circuit 9 to the inverting input terminal (−) via the voltage dividing circuit 10b. Further, the comparator 6b connects the threshold value changing circuit 9 to the non-inverting input terminal (+) via the voltage dividing circuit 10b.

閾値変更回路9は、制御回路12の閾値制御部17に接続されている。これにより、閾値電圧Vtgを制御回路12側にて制御することができる。閾値変更回路9は、制御回路12の閾値制御部17から出力された閾値制御信号Vts(所定の電圧)に基づいて閾値電圧Vtgを変更する。具体的には、閾値変更回路9は、抵抗素子11gと抵抗素子11hとにより設定される分圧比に応じて、閾値制御部17から出力された閾値制御信号Vtsを分圧して閾値制御電圧Vttを生成する。閾値変更回路9は、閾値制御部17から出力された閾値制御信号Vtsに基づき、閾値制御電圧Vttを変更する。閾値電圧Vtgは、閾値変更回路9が変更した閾値制御電圧Vttに比例して変化する電圧である。GND側に配置された抵抗素子11hの抵抗値は、閾値制御部17側に配置された抵抗素子11gの抵抗値よりも大きく設定される。 The threshold value change circuit 9 is connected to the threshold value control unit 17 of the control circuit 12. As a result, the threshold voltage Vtg can be controlled on the control circuit 12 side. The threshold value changing circuit 9 changes the threshold voltage Vtg based on the threshold value control signal Vts (predetermined voltage) output from the threshold value control unit 17 of the control circuit 12. Specifically, the threshold value changing circuit 9 divides the threshold value control signal Vts output from the threshold value control unit 17 according to the voltage division ratio set by the resistance element 11g and the resistance element 11h to obtain the threshold value control voltage Vtt. Generate. The threshold value change circuit 9 changes the threshold value control voltage Vtt based on the threshold value control signal Vts output from the threshold value control unit 17. The threshold voltage Vtg is a voltage that changes in proportion to the threshold control voltage Vtt changed by the threshold change circuit 9. The resistance value of the resistance element 11h arranged on the GND side is set to be larger than the resistance value of the resistance element 11g arranged on the threshold control unit 17 side.

閾値制御部17は、電圧検出回路5により検出され、電圧検出部14で検出されたMOSFET3a,3bに入力される入力電圧Vg1に応じて閾値制御信号Vtsを閾値変更回路9へ出力する。具体的には、閾値制御部17は、電圧検出部14で検出された電圧が高くなるのに伴い高レベルの閾値制御信号Vtsを出力する。また、閾値制御部17は、電圧検出部14で検出された電圧が低くなるのに伴い低レベルの閾値制御信号Vtsを出力する。 The threshold control unit 17 outputs the threshold control signal Vts to the threshold change circuit 9 according to the input voltage Vg1 detected by the voltage detection circuit 5 and input to the MOSFETs 3a and 3b detected by the voltage detection circuit 14. Specifically, the threshold control unit 17 outputs a high-level threshold control signal Vts as the voltage detected by the voltage detection unit 14 increases. Further, the threshold control unit 17 outputs a low level threshold control signal Vts as the voltage detected by the voltage detection unit 14 decreases.

電圧検出部14で検出された電圧と、閾値制御信号Vtsのレベルと、の関係を表すテーブル、関係式またはマップなどが図示しないメモリやレジスタ内に予め格納されている。閾値制御部17は、メモリやレジスタ内に格納されたテーブル、関係式またはマップなどを参照して、電圧検出部14で検出された電圧に応じて適切な閾値制御信号Vtsを出力することができる。 A table, a relational expression, a map, or the like showing the relationship between the voltage detected by the voltage detection unit 14 and the level of the threshold control signal Vts is stored in advance in a memory or a register (not shown). The threshold control unit 17 can output an appropriate threshold control signal Vts according to the voltage detected by the voltage detection unit 14 by referring to a table, a relational expression, a map, or the like stored in a memory or a register. ..

閾値変更回路9は、電圧検出回路5により検出されたMOSFET3a,3bに入力される入力電圧Vg1に応じて出力される閾値制御信号Vtsに基づいて閾値制御電圧Vttを変更する。 The threshold value change circuit 9 changes the threshold value control voltage Vtt based on the threshold value control signal Vts output according to the input voltage Vg1 input to the MOSFETs 3a and 3b detected by the voltage detection circuit 5.

本発明の閾値変更手段は、例えば、抵抗素子11g,11hにより構成される閾値変更回路9と、閾値変更回路9を制御する閾値制御部17とを含んで構成される。閾値変更手段は、電圧検出回路5により検出されたMOSFET3a,3bに入力される入力電圧Vg1に応じて閾値電圧Vtgを変更する。 The threshold value changing means of the present invention includes, for example, a threshold value changing circuit 9 composed of resistance elements 11g and 11h, and a threshold value control unit 17 for controlling the threshold value changing circuit 9. The threshold value changing means changes the threshold voltage Vtg according to the input voltage Vg1 input to the MOSFETs 3a and 3b detected by the voltage detection circuit 5.

なお、閾値変更手段は、電圧検出回路5により検出されたMOSFET3a,3bに入力される入力電圧Vg1と、温度センサ4により検出されたMOSFET3a,3bの温度とに応じて閾値電圧Vtgを変更してもよい。 The threshold value changing means changes the threshold voltage Vtg according to the input voltage Vg1 input to the MOSFETs 3a and 3b detected by the voltage detection circuit 5 and the temperature of the MOSFETs 3a and 3b detected by the temperature sensor 4. May be good.

この場合、閾値制御部17は、電圧検出回路5により検出され、電圧検出部14で検出されたMOSFET3a,3bに入力される入力電圧Vg1と、温度センサ4により検出されたMOSFET3a,3bの温度と、に応じて閾値制御信号Vtsを閾値変更回路9へ出力する。具体的には、閾値制御部17は、電圧検出部14で検出された電圧の高低に基づく制御に加えて、温度検出部13で検出された温度が高くなるのに伴い高レベルの閾値制御信号Vtsを出力する。また、閾値制御部17は、温度検出部13で検出された温度が低くなるのに伴い低レベルの閾値制御信号Vtsを出力する。 In this case, the threshold control unit 17 includes the input voltage Vg1 detected by the voltage detection circuit 5 and input to the MOSFETs 3a and 3b detected by the voltage detection unit 14, and the temperatures of the MOSFETs 3a and 3b detected by the temperature sensor 4. , The threshold control signal Vts is output to the threshold change circuit 9. Specifically, the threshold control unit 17 has a high level threshold control signal as the temperature detected by the temperature detection unit 13 increases, in addition to the control based on the voltage level detected by the voltage detection unit 14. Output Vts. Further, the threshold control unit 17 outputs a low level threshold control signal Vts as the temperature detected by the temperature detection unit 13 decreases.

この場合、電圧検出部14で検出された電圧と、温度検出部13で検出された温度と、閾値制御信号Vtsのレベルと、の関係を表すテーブル、関係式またはマップなどが図示しないメモリやレジスタ内に予め格納されている。閾値制御部17は、メモリやレジスタ内に格納されたテーブル、関係式またはマップなどを参照して、電圧検出部14で検出された電圧及び温度検出部13で検出された温度に応じて適切な閾値制御信号Vtsを出力することができる。 In this case, a memory or register (not shown) such as a table, a relational expression, or a map showing the relationship between the voltage detected by the voltage detection unit 14, the temperature detected by the temperature detection unit 13, and the level of the threshold control signal Vts is not shown. It is stored in advance in. The threshold control unit 17 refers to a table, a relational expression, a map, or the like stored in a memory or a register, and is appropriate according to the voltage detected by the voltage detection unit 14 and the temperature detected by the temperature detection unit 13. The threshold control signal Vts can be output.

ここで、コンパレータ6aの反転入力端子(−)に供給されるMOSFET3aのソース電圧Vd2は、閾値変更回路9が変更した閾値制御電圧Vttに比例して閾値電圧Vtg分高くなる。同様に、コンパレータ6bの非反転入力端子(+)に供給されるMOSFET3bのドレイン電圧Vd3は、閾値変更回路9が変更した閾値制御電圧Vttに比例して閾値電圧Vtg分高くなる。 Here, the source voltage Vd2 of the MOSFET 3a supplied to the inverting input terminal (−) of the comparator 6a increases by the threshold voltage Vtg in proportion to the threshold control voltage Vtt changed by the threshold change circuit 9. Similarly, the drain voltage Vd3 of the MOSFET 3b supplied to the non-inverting input terminal (+) of the comparator 6b increases by the threshold voltage Vtg in proportion to the threshold control voltage Vtt changed by the threshold change circuit 9.

従って、コンパレータ6aの反転入力端子(−)に入力される電圧は、MOSFET3aのソース電圧Vd2+閾値電圧Vtg」となる。同様に、コンパレータ6bの非反転入力端子(+)に入力される電圧は、「MOSFET3bのドレイン電圧Vd3+閾値電圧Vtg」となる。 Therefore, the voltage input to the inverting input terminal (−) of the comparator 6a is the source voltage Vd2 of the MOSFET 3a + the threshold voltage Vtg. Similarly, the voltage input to the non-inverting input terminal (+) of the comparator 6b is “drain voltage Vd3 of MOSFET 3b + threshold voltage Vtg”.

MOSFET3aのドレイン・ソース間のVds電圧が閾値電圧Vtg以下の場合(すなわち「Vd1≦Vd2+Vtg」の場合)、コンパレータ6aは「Low」の出力信号を過電流検出回路7へ出力する。 When the Vds voltage between the drain and source of the MOSFET 3a is equal to or less than the threshold voltage Vtg (that is, when “Vd1 ≦ Vd2 + Vtg”), the comparator 6a outputs the output signal of “Low” to the overcurrent detection circuit 7.

MOSFET3aのドレイン・ソース間のVds電圧が増加し、このVds電圧が閾値電圧Vtgを上回ると(すなわち、「Vd1>Vd2+Vtg」となると)、コンパレータ6aの出力信号が「Low」から「Hi」に反転する。これにより、コンパレータ6aは、MOSFET3aのVds電圧を監視することができる。 When the Vds voltage between the drain and source of the MOSFET 3a increases and this Vds voltage exceeds the threshold voltage Vtg (that is, “Vd1> Vd2 + Vtg”), the output signal of the comparator 6a is inverted from “Low” to “Hi”. To do. As a result, the comparator 6a can monitor the Vds voltage of the MOSFET 3a.

また、MOSFET3bのドレイン・ソース間のVds電圧が閾値電圧Vtg以下の場合(すなわち、「Vd3+Vtg≦基準電圧GND」の場合)、コンパレータ6bは「Low」の出力信号を過電流検出回路7へ出力する。 Further, when the Vds voltage between the drain and the source of the MOSFET 3b is equal to or less than the threshold voltage Vtg (that is, when “Vd3 + Vtg ≦ reference voltage GND”), the comparator 6b outputs the output signal of “Low” to the overcurrent detection circuit 7. ..

MOSFET3bのドレイン・ソース間のVds電圧が増加し、このVds電圧が閾値電圧Vtgを上回ると(すなわち、「Vd3+Vtg>基準電圧GND」となると)、コンパレータ6bの出力信号が「Low」から「Hi」に反転する。これにより、コンパレータ6bは、MOSFET3bのVds電圧を監視することができる。 When the Vds voltage between the drain and source of the MOSFET 3b increases and this Vds voltage exceeds the threshold voltage Vtg (that is, “Vd3 + Vtg> reference voltage GND”), the output signal of the comparator 6b changes from “Low” to “Hi”. Invert to. As a result, the comparator 6b can monitor the Vds voltage of the MOSFET 3b.

過電流検出回路7は、コンパレータ6a,6bから出力される出力信号に基づいてMOSFET3a,3bに過電流が発生しているか否かを検出することができる。なお、過電流検出回路7は、コンパレータ6a,6bの出力信号の論理和に基づいて、過電流が発生しているか否かを検出してもよい。 The overcurrent detection circuit 7 can detect whether or not an overcurrent is generated in the MOSFETs 3a and 3b based on the output signals output from the comparators 6a and 6b. The overcurrent detection circuit 7 may detect whether or not an overcurrent has occurred based on the logical sum of the output signals of the comparators 6a and 6b.

したがって、過電流検出回路7は、MOSFET3a,3bにかかるドレイン・ソース間のVds電圧と閾値電圧Vtgとに基づきコンパレータ6a,6bにより出力された出力信号によりMOSFET3a,3bの過電流を検出することができる。 Therefore, the overcurrent detection circuit 7 can detect the overcurrent of the MOSFETs 3a and 3b from the output signals output by the comparators 6a and 6b based on the Vds voltage between the drain and the source of the MOSFETs 3a and 3b and the threshold voltage Vtg. it can.

MOSFET制御部15a,15bは、MOSFET3a,3bに対し正弦波のゲート信号(PWM(Pulse Width Modulation)信号)を出力することにより、MOSFET3a,3bのそれぞれをオンオフし、MOSFET3a,3bの駆動制御を行う。MOSFET制御部15aから出力されるゲート信号は「Hi」の信号である。MOSFET3a,3bは、それぞれMOSFET制御部15a,15bから出力されるゲート信号により制御される。 The MOSFET control units 15a and 15b turn on and off each of the MOSFETs 3a and 3b by outputting a sinusoidal gate signal (PWM (Pulse Width Modulation) signal) to the MOSFETs 3a and 3b to control the drive of the MOSFETs 3a and 3b. .. The gate signal output from the MOSFET control unit 15a is a “Hi” signal. The MOSFETs 3a and 3b are controlled by gate signals output from the MOSFET control units 15a and 15b, respectively.

過電流検出回路7は、過電流を検出していない場合、すなわち、コンパレータ6a,6bから出力される出力信号が「Low」である場合には、「Hi」の過電流制御信号をそれぞれAND回路8a,8bへ出力する。過電流検出回路7は、過電流を検出した場合、すなわち、コンパレータ6a,6bから出力される出力信号が「Hi」である場合には、「Low」の過電流制御信号をそれぞれAND回路8a,8bへ出力する。 The overcurrent detection circuit 7 ANDs the overcurrent control signal of "Hi" when the overcurrent is not detected, that is, when the output signals output from the comparators 6a and 6b are "Low". Output to 8a and 8b. When the overcurrent detection circuit 7 detects an overcurrent, that is, when the output signals output from the comparators 6a and 6b are “Hi”, the overcurrent control signal of “Low” is transmitted to the AND circuit 8a, respectively. Output to 8b.

短絡検出部16a,16bは、短絡を検出していない場合には、「Hi」の短絡制御信号をそれぞれAND回路8a,8bへ出力し、短絡を検出した場合には、「Low」の短絡制御信号をそれぞれAND回路8a,8bへ出力する。 The short-circuit detection units 16a and 16b output the short-circuit control signal of "Hi" to the AND circuits 8a and 8b, respectively, when the short-circuit is not detected, and when the short-circuit is detected, the short-circuit control of "Low" is performed. The signal is output to the AND circuits 8a and 8b, respectively.

AND回路8a,8bの一方の入力端子には、MOSFET制御部15a,15bから出力されるゲート信号及び過電流検出回路7から出力される過電流制御信号がそれぞれ供給される。AND回路8a,8bの他方の入力端子には、短絡検出部16a,16bから出力される短絡制御信号がそれぞれ供給される。AND回路8a,8bの出力端子は、MOSFET3a,3bのゲートにそれぞれ接続されている。 A gate signal output from the MOSFET control units 15a and 15b and an overcurrent control signal output from the overcurrent detection circuit 7 are supplied to one of the input terminals of the AND circuits 8a and 8b, respectively. Short-circuit control signals output from the short-circuit detection units 16a and 16b are supplied to the other input terminals of the AND circuits 8a and 8b, respectively. The output terminals of the AND circuits 8a and 8b are connected to the gates of the MOSFETs 3a and 3b, respectively.

短絡が検出されていない場合におけるAND回路8a,8bの挙動について説明する。短絡が検出されていない場合、AND回路8a,8bの他方の入力端子には、短絡検出部16a,16bから供給された「Hi」の短絡制御信号がそれぞれ入力されている。そして、過電流が検出されていない場合には、AND回路8a,8bの一方の入力端子には、過電流検出回路7から供給された「Hi」の過電流制御信号及びMOSFET制御部15a,15bから供給された「Hi」のゲート信号がそれぞれ入力される。このため、AND回路8a,8bの出力端子から「Hi」のゲート信号が出力される。 The behavior of the AND circuits 8a and 8b when a short circuit is not detected will be described. When a short circuit is not detected, the short circuit control signal of "Hi" supplied from the short circuit detection units 16a and 16b is input to the other input terminals of the AND circuits 8a and 8b, respectively. When the overcurrent is not detected, the overcurrent control signal of "Hi" supplied from the overcurrent detection circuit 7 and the MOSFET control units 15a and 15b are connected to one of the input terminals of the AND circuits 8a and 8b. The gate signal of "Hi" supplied from is input respectively. Therefore, the “Hi” gate signal is output from the output terminals of the AND circuits 8a and 8b.

一方で、過電流が検出された場合には、AND回路8a,8bの一方の入力端子には、過電流検出回路7から供給された「Low」の過電流制御信号及びMOSFET制御部15a,15bから供給された「Hi」のゲート信号がそれぞれ入力される。このため、過電流検出回路7は、AND回路8a,8bの出力端子から出力されるゲート信号は「Low」となって、MOSFET3a,3bを強制的に停止することができる。 On the other hand, when an overcurrent is detected, the “Low” overcurrent control signal and the MOSFET control units 15a and 15b supplied from the overcurrent detection circuit 7 are connected to one of the input terminals of the AND circuits 8a and 8b. The gate signal of "Hi" supplied from is input respectively. Therefore, in the overcurrent detection circuit 7, the gate signal output from the output terminals of the AND circuits 8a and 8b becomes “Low”, and the MOSFETs 3a and 3b can be forcibly stopped.

過電流検出回路7は、MOSFET3a,3bのスイッチングと同期しており、MOSFET3a,3bにゲート信号が入力されると、過電流検出機能が有効になる。すなわち、MOSFET3a,3bがオンしている場合のみ過電流検出回路7が有効となる。 The overcurrent detection circuit 7 is synchronized with the switching of the MOSFETs 3a and 3b, and when a gate signal is input to the MOSFETs 3a and 3b, the overcurrent detection function becomes effective. That is, the overcurrent detection circuit 7 is effective only when the MOSFETs 3a and 3b are turned on.

そして、過電流検出回路7は、MOSFET3a,3bに過電流が流れた場合には、AND回路8a,8bにそれぞれ「Low」の過電流制御信号を出力することで、MOSFET3a,3bのゲート信号を強制的に停止させる。AND回路8a,8bは、それぞれ2つの入力端子のうちいずれかの入力端子から「Low」の信号が入力されると、ゲート信号を出力しないので、MOSFET3a,3bをそれぞれ強制的に停止する。これにより、過電流検出回路7は、MOSFET3a,3bに流れる電流を制限することができる。 Then, when an overcurrent flows through the MOSFETs 3a and 3b, the overcurrent detection circuit 7 outputs a “Low” overcurrent control signal to the AND circuits 8a and 8b, respectively, to output the gate signal of the MOSFETs 3a and 3b. Forcibly stop. The AND circuits 8a and 8b do not output a gate signal when a "Low" signal is input from either of the two input terminals, so that the MOSFETs 3a and 3b are forcibly stopped, respectively. As a result, the overcurrent detection circuit 7 can limit the current flowing through the MOSFETs 3a and 3b.

また、短絡が検出されていない場合には、短絡検出部16a,16bから出力される短絡制御信号は「Hi」であり、MOSFET制御部15a,15bから出力されるゲート信号は「Hi」の信号である。このため、AND回路8a,8bの出力端子から「Hi」のゲート信号がそれぞれ出力される。 When no short circuit is detected, the short circuit control signals output from the short circuit detection units 16a and 16b are "Hi", and the gate signals output from the MOSFET control units 15a and 15b are "Hi" signals. Is. Therefore, the “Hi” gate signal is output from the output terminals of the AND circuits 8a and 8b, respectively.

短絡が検出された場合には、短絡検出部16a,16bから出力される短絡制御信号は「Low」であり、MOSFET制御部15a,15bから出力されるゲート信号は「Hi」の信号である。このため、短絡検出部16a,16bは、AND回路8a,8bの出力端子から出力されるゲート信号は「Low」となって、MOSFET3a,3bを強制的に停止することができる。 When a short circuit is detected, the short circuit control signal output from the short circuit detection units 16a and 16b is "Low", and the gate signal output from the MOSFET control units 15a and 15b is a "Hi" signal. Therefore, the short-circuit detection units 16a and 16b can forcibly stop the MOSFETs 3a and 3b by setting the gate signal output from the output terminals of the AND circuits 8a and 8b to "Low".

上述の実施形態の保護回路1の閾値変更手段は、電圧検出回路5により検出されたMOSFET3a,3bに入力される入力電圧に応じて閾値電圧Vtgを変更する。このため、入力電圧に基づき変化するMOSFET3a,3bにかかるVds電圧が変化した場合であっても、入力電圧に応じて閾値電圧Vtgを変更することができる。したがって、閾値電圧Vtgを小さく設定しなくても入力電圧に対応する閾値電圧Vtgで過電流の検出を行うことができるため、誤検出を防ぐことができる。また、閾値電圧Vtgを大きく設定しなくても入力電圧に対応する閾値電圧Vtgで過電流の検出を行うことができるため、MOSFET3a,3bを過電流から保護することができる。これにより、過電流の検出精度を向上することができる。 The threshold value changing means of the protection circuit 1 of the above-described embodiment changes the threshold voltage Vtg according to the input voltage input to the MOSFETs 3a and 3b detected by the voltage detection circuit 5. Therefore, even when the Vds voltage applied to the MOSFETs 3a and 3b that changes based on the input voltage changes, the threshold voltage Vtg can be changed according to the input voltage. Therefore, since the overcurrent can be detected at the threshold voltage Vtg corresponding to the input voltage without setting the threshold voltage Vtg small, erroneous detection can be prevented. Further, since the overcurrent can be detected at the threshold voltage Vtg corresponding to the input voltage without setting the threshold voltage Vtg large, the MOSFETs 3a and 3b can be protected from the overcurrent. Thereby, the overcurrent detection accuracy can be improved.

さらに、上述の実施形態の保護回路1の閾値変更手段は、抵抗素子11g,11hにより構成される閾値変更回路9と、閾値変更回路9を制御する制御回路12とを含んで構成される。制御回路12は、電圧検出回路5により検出されたMOSFET3a,3bに入力される入力電圧に応じて閾値制御信号を閾値変更回路9へ出力する。閾値変更回路9は、制御回路12から出力された閾値制御信号に基づいて閾値電圧Vtgを変更する。このため、制御回路12から出力する閾値制御信号に基づき、制御回路12側から閾値電圧Vtgを変更することができる。これにより、閾値電圧Vtgの制御を制御回路12側に集約することができる。 Further, the threshold value changing means of the protection circuit 1 of the above-described embodiment includes a threshold value changing circuit 9 composed of resistance elements 11g and 11h, and a control circuit 12 for controlling the threshold value changing circuit 9. The control circuit 12 outputs a threshold control signal to the threshold change circuit 9 according to the input voltage input to the MOSFETs 3a and 3b detected by the voltage detection circuit 5. The threshold value changing circuit 9 changes the threshold voltage Vtg based on the threshold value control signal output from the control circuit 12. Therefore, the threshold voltage Vtg can be changed from the control circuit 12 side based on the threshold control signal output from the control circuit 12. As a result, the control of the threshold voltage Vtg can be integrated on the control circuit 12 side.

さらに、上述の実施形態の保護回路1は、MOSFET3a,3bの温度の状態を検出する温度センサ4をさらに備える。閾値変更手段は、電圧検出回路5により検出されたMOSFET3a,3bに入力される入力電圧と、温度センサ4により検出されたMOSFET3a,3bの温度とに応じて閾値電圧Vtgを変更する。 Further, the protection circuit 1 of the above-described embodiment further includes a temperature sensor 4 for detecting the temperature state of the MOSFETs 3a and 3b. The threshold value changing means changes the threshold voltage Vtg according to the input voltage input to the MOSFETs 3a and 3b detected by the voltage detection circuit 5 and the temperature of the MOSFETs 3a and 3b detected by the temperature sensor 4.

このため、入力電圧に基づき変化するMOSFET3a,3bにかかるVds電圧の変化に加えて、MOSFET3a,3bの温度が変化した場合であっても、入力電圧とMOSFET3a,3bの温度に応じて閾値電圧Vtgを変更することができる。したがって、閾値電圧Vtgを小さく設定しなくても入力電圧および温度に対応する閾値電圧Vtgで過電流の検出を行うことができるため、誤検出を防ぐことができる。また、閾値電圧Vtgを大きく設定しなくても入力電圧および温度に対応する閾値電圧Vtgで過電流の検出を行うことができるため、MOSFET3a,3bを過電流から保護することができる。これにより、過電流の検出精度を向上することができる。 Therefore, even if the temperature of the MOSFETs 3a and 3b changes in addition to the change of the Vds voltage applied to the MOSFETs 3a and 3b that changes based on the input voltage, the threshold voltage Vtg is changed according to the input voltage and the temperature of the MOSFETs 3a and 3b. Can be changed. Therefore, since the overcurrent can be detected at the threshold voltage Vtg corresponding to the input voltage and the temperature without setting the threshold voltage Vtg small, erroneous detection can be prevented. Further, since the overcurrent can be detected at the threshold voltage Vtg corresponding to the input voltage and the temperature without setting the threshold voltage Vtg large, the MOSFETs 3a and 3b can be protected from the overcurrent. Thereby, the overcurrent detection accuracy can be improved.

本発明は、以上の実施の形態に限定されるものでなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の改良、変更が可能である。 The present invention is not limited to the above embodiments, and various improvements and changes can be made without departing from the gist of the present invention.

1 保護回路
2 DC電源
4 温度センサ
5 電圧検出回路
6a,6b コンパレータ
7 過電流検出回路
8a,8b AND回路
9 閾値変更回路
10a,10b 分圧回路
11a〜11h 抵抗素子
12 制御回路
13 温度検出部
14 電圧検出部
15a,15b MOSFET制御部
16a,16b 短絡検出部
17 閾値制御部
20 モータ
1 Protection circuit 2 DC power supply 4 Temperature sensor 5 Voltage detection circuit 6a, 6b Comparator 7 Overcurrent detection circuit 8a, 8b AND circuit 9 Threshold change circuit 10a, 10b Voltage divider circuit 11a to 11h Resistance element 12 Control circuit 13 Temperature detection unit 14 Voltage detection unit 15a, 15b MOSFET control unit 16a, 16b Short circuit detection unit 17 Threshold control unit 20 Motor

Claims (3)

スイッチ回路に入力される入力電圧を検出する電圧検出回路と、
前記スイッチ回路にかかる電圧と閾値電圧とに基づき前記スイッチ回路の過電流を検出する過電流検出回路と、
前記電圧検出回路により検出された前記スイッチ回路に入力される入力電圧に応じて前記閾値電圧を変更する閾値変更手段と、
を備えることを特徴とする保護回路。
A voltage detection circuit that detects the input voltage input to the switch circuit, and
An overcurrent detection circuit that detects an overcurrent in the switch circuit based on the voltage applied to the switch circuit and the threshold voltage, and an overcurrent detection circuit.
A threshold value changing means for changing the threshold voltage according to an input voltage input to the switch circuit detected by the voltage detection circuit, and
A protection circuit characterized by being provided with.
請求項1に記載の保護回路であって、
前記閾値変更手段は、抵抗素子により構成される閾値変更回路と、前記閾値変更回路を制御する制御回路とを含んで構成され、
前記制御回路は、前記電圧検出回路により検出された前記スイッチ回路に入力される入力電圧に応じて閾値制御信号を前記閾値変更回路へ出力し、
前記閾値変更回路は、前記制御回路から出力された前記閾値制御信号に基づいて前記閾値電圧を変更する
ことを特徴とする保護回路。
The protection circuit according to claim 1.
The threshold value changing means is configured to include a threshold value changing circuit composed of a resistance element and a control circuit for controlling the threshold value changing circuit.
The control circuit outputs a threshold control signal to the threshold change circuit according to the input voltage input to the switch circuit detected by the voltage detection circuit.
The threshold value changing circuit is a protection circuit characterized in that the threshold voltage is changed based on the threshold value control signal output from the control circuit.
請求項1または2に記載の保護回路であって、
前記スイッチ回路の温度の状態を検出する温度センサをさらに備え、
前記閾値変更手段は、前記電圧検出回路により検出された前記スイッチ回路に入力される入力電圧と、前記温度センサにより検出された前記スイッチ回路の温度とに応じて前記閾値電圧を変更する
ことを特徴とする保護回路。
The protection circuit according to claim 1 or 2.
A temperature sensor for detecting the temperature state of the switch circuit is further provided.
The threshold value changing means changes the threshold voltage according to the input voltage input to the switch circuit detected by the voltage detection circuit and the temperature of the switch circuit detected by the temperature sensor. Protection circuit.
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