JP2020132440A - Generator, substrate processing device, and substrate processing method - Google Patents

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Abstract

To provide a generator, a substrate processing device, and a substrate processing method, which can efficiently generate a processing fluid from a processing liquid.SOLUTION: A generator 30 generates Caro's acid used in the processing of a substrate W from sulfuric acid. The generator 30 is provided with an exhaust part 311 and a generation part 35. The exhaust part 311 exhausts sulfuric acid. The generation part 35 generates plasma. A generation region E of the plasma is located above a transfer route R of sulfuric acid exhausted from the exhaust part 311. The exhaust part 311 preferably generates a liquid drop a of sulfuric acid by mixing sulfuric acid and a gas.SELECTED DRAWING: Figure 7

Description

本発明は、生成装置、基板処理装置、及び基板処理方法に関する。 The present invention relates to a generator, a substrate processing apparatus, and a substrate processing method.

特許文献1に記載のカロ酸発生装置は、プラズマ発生手段と、プラズマ照射チャンバーとを有する。プラズマ発生手段は、酸素プラズマを発生させる。プラズマ照射チャンバーは、レジスト除去槽に貯留される硫酸を含む溶液に酸素プラズマを照射することで、カロ酸を生成する。 The caroic acid generator described in Patent Document 1 includes a plasma generating means and a plasma irradiation chamber. The plasma generating means generates oxygen plasma. The plasma irradiation chamber produces caroic acid by irradiating a solution containing sulfuric acid stored in a resist removing tank with oxygen plasma.

特開2002−53312号公報JP-A-2002-53312

しかし、特許文献1に記載のカロ酸発生装置においては、レジスト除去槽に貯留される硫酸(処理液)の特定箇所にしか酸素プラズマが照射されない。特定箇所は、レジスト除去槽に貯留される硫酸のうち表層に位置する箇所である。従って、表層に位置する硫酸以外はカロ酸(処理流体)の生成に寄与しないので、カロ酸を効率よく生成することが困難であった。 However, in the caroic acid generator described in Patent Document 1, oxygen plasma is irradiated only to a specific portion of sulfuric acid (treatment liquid) stored in the resist removing tank. The specific location is a location located on the surface layer of the sulfuric acid stored in the resist removing tank. Therefore, it is difficult to efficiently produce caroic acid because it does not contribute to the production of caroic acid (treatment fluid) other than sulfuric acid located on the surface layer.

本発明は、処理液から処理流体を効率よく生成することができる生成装置、基板処理装置、及び基板処理方法を提供することを目的とする。 An object of the present invention is to provide a generator, a substrate processing apparatus, and a substrate processing method capable of efficiently generating a processing fluid from a processing liquid.

本発明の第1の局面によれば、生成装置は、基板の処理に使用される処理流体を処理液から生成する。生成装置は、排出部と、発生部とを備える。排出部は、前記処理液を排出する。発生部は、プラズマを発生させる。前記プラズマの発生領域が、前記排出部から排出された前記処理液の移動経路上に位置する。 According to the first aspect of the present invention, the generator produces the processing fluid used for processing the substrate from the processing liquid. The generator includes a discharge unit and a generator unit. The discharge unit discharges the treatment liquid. The generating part generates plasma. The plasma generation region is located on the movement path of the treatment liquid discharged from the discharge portion.

本発明の生成装置において、前記処理流体は、カロ酸を含む。前記処理液は、硫酸を含む。 In the generator of the present invention, the processing fluid contains caroic acid. The treatment liquid contains sulfuric acid.

本発明の生成装置において、前記排出部は、前記処理液と気体とを混合することで前記処理液の液滴を生成する。 In the generator of the present invention, the discharge unit generates droplets of the treatment liquid by mixing the treatment liquid and a gas.

本発明の生成装置において、前記排出部は、第1供給口と、第2供給口と、第3供給口と、排出口と、第1通路と、第2通路とを有する。第1供給口には、前記気体が供給される。第2供給口には、前記処理液が供給される。第3供給口には、前記気体が供給される。排出口は、前記第3供給口に連通する。第1通路は、前記第1供給口に連通すると共に前記排出口に連通する。第2通路は、前記第2供給口に連通すると共に前記第1通路に連通する。 In the generator of the present invention, the discharge unit has a first supply port, a second supply port, a third supply port, a discharge port, a first passage, and a second passage. The gas is supplied to the first supply port. The treatment liquid is supplied to the second supply port. The gas is supplied to the third supply port. The discharge port communicates with the third supply port. The first passage communicates with the first supply port and also communicates with the discharge port. The second passage communicates with the second supply port and also communicates with the first passage.

本発明の生成装置において、前記排出部は、第1供給口と、第2供給口と、第1排出口と、第2排出口とを有する。第1供給口には、前記気体が供給される。第2供給口には、前記処理液が供給される。第1排出口は、前記第2供給口に連通する。第2排出口は、前記第1排出口を囲むように形成され、前記第1供給口に連通する。 In the generator of the present invention, the discharge unit has a first supply port, a second supply port, a first discharge port, and a second discharge port. The gas is supplied to the first supply port. The treatment liquid is supplied to the second supply port. The first outlet communicates with the second supply port. The second discharge port is formed so as to surround the first discharge port and communicates with the first supply port.

本発明の生成装置において、前記気体は、酸素、窒素、アルゴン、及びヘリウムのうちの少なくとも1つを含む。 In the generator of the present invention, the gas comprises at least one of oxygen, nitrogen, argon and helium.

本発明の生成装置は、管部をさらに備える。管部は、前記排出部から突出する。前記プラズマの発生領域が、前記管部の内部に位置する。 The generator of the present invention further includes a tube portion. The pipe portion protrudes from the discharge portion. The plasma generation region is located inside the tube portion.

本発明の生成装置において、前記プラズマは、誘導結合プラズマである。 In the generator of the present invention, the plasma is an inductively coupled plasma.

本発明の生成装置において、前記発生部は、常圧で酸素プラズマを発生させる。 In the generator of the present invention, the generator generates oxygen plasma at normal pressure.

本発明の生成装置は、温度制御機構をさらに備える。温度制御機構は、前記プラズマの発生領域の温度を制御する。 The generator of the present invention further includes a temperature control mechanism. The temperature control mechanism controls the temperature of the plasma generation region.

本発明の第2の局面によれば、基板処理装置は、上記生成装置を備える。基板処理装置は、前記生成装置により生成された前記処理流体を前記基板に供給する。 According to the second aspect of the present invention, the substrate processing apparatus includes the above-mentioned generation apparatus. The substrate processing apparatus supplies the processing fluid generated by the generation apparatus to the substrate.

本発明の第3の局面によれば、基板処理方法は、気体と硫酸とを混合することで前記硫酸の液滴を生成する工程を備える。基板処理方法は、プラズマの発生領域で前記硫酸の液滴を移動させることでカロ酸を生成する工程を備える。基板処理方法は、前記カロ酸を基板に供給する工程を備える。 According to the third aspect of the present invention, the substrate processing method includes a step of producing the sulfuric acid droplets by mixing the gas and sulfuric acid. The substrate processing method includes a step of producing caroic acid by moving the sulfuric acid droplets in the plasma generation region. The substrate processing method includes a step of supplying the caroic acid to the substrate.

本発明の生成装置、基板処理装置、及び基板処理方法によれば、処理液から処理流体を効率よく生成することができる。 According to the generator, the substrate processing apparatus, and the substrate processing method of the present invention, the processing fluid can be efficiently generated from the processing liquid.

本発明の実施形態に係る基板処理装置の構成を模式的に示す平面図である。It is a top view which shows typically the structure of the substrate processing apparatus which concerns on embodiment of this invention. 処理ユニットの構成を模式的に示す側面図である。It is a side view which shows typically the structure of the processing unit. 生成装置の構成を模式的に示す図である。It is a figure which shows typically the structure of the generator. 基板処理装置によって実行される基板に対する処理の一例を示すフロー図である。It is a flow diagram which shows an example of the processing with respect to the substrate executed by the substrate processing apparatus. カロ酸供給処理を示すフロー図である。It is a flow chart which shows the caroic acid supply process. 生成装置の動作を示す第1図である。FIG. 1 is a diagram showing the operation of the generator. 生成装置の動作を示す第2図である。FIG. 2 is a diagram showing the operation of the generator. 生成装置の変形例を示す図である。It is a figure which shows the modification of the generator. SC1を生成する生成装置の装置構成の第1例を示す図である。It is a figure which shows the 1st example of the apparatus configuration of the generator which generates SC1. SC1を生成する生成装置の装置構成の第2例を示す図である。It is a figure which shows the 2nd example of the apparatus configuration of the generator which generates SC1. 排出部の変形例である排出部を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the discharge part which is a modification of the discharge part.

本発明の実施形態について、図面を参照しながら説明する。なお、図中、同一又は相当部分については同一の参照符号を付して説明を繰り返さない。 An embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. In the drawings, the same or corresponding parts are designated by the same reference numerals and the description is not repeated.

図1を参照して、本発明の実施形態に係る基板処理装置100について説明する。図1は、本発明の実施形態に係る基板処理装置100の構成を模式的に示す平面図である。 The substrate processing apparatus 100 according to the embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a plan view schematically showing the configuration of the substrate processing apparatus 100 according to the embodiment of the present invention.

図1に示すように、基板処理装置100は、基板Wを一枚ずつ処理する枚葉式の装置である。基板処理装置100は、基板Wに対して、エッチング、表面処理、特性付与、処理膜形成、膜の少なくとも一部の除去及び洗浄のうちの少なくとも1つを行うように基板Wを処理する。 As shown in FIG. 1, the substrate processing apparatus 100 is a single-wafer processing apparatus that processes substrates W one by one. The substrate processing apparatus 100 processes the substrate W so as to perform at least one of etching, surface treatment, character imparting, treatment film formation, removal of at least a part of the film, and cleaning of the substrate W.

基板Wは、薄い板状である。典型的には、基板Wは、薄い略円板状である。基板Wは、例えば、半導体ウエハ、液晶表示装置用基板、電界放出ディスプレイ(Field Emission Display:FED)用基板、光ディスク用基板、磁気ディスク用基板、光磁気ディスク用基板、フォトマスク用基板、セラミック基板及び太陽電池用基板を含む。 The substrate W has a thin plate shape. Typically, the substrate W has a thin substantially disc shape. The substrate W is, for example, a semiconductor wafer, a substrate for a liquid crystal display device, a substrate for a field emission display (Field Display Display: FED), an optical disk substrate, a magnetic disk substrate, a magneto-optical disk substrate, a photomask substrate, and a ceramic substrate. And a substrate for solar cells.

基板処理装置100は、複数のロードポートLPと、複数の処理ユニット1と、記憶部2と、制御部3とを備える。 The substrate processing device 100 includes a plurality of load port LPs, a plurality of processing units 1, a storage unit 2, and a control unit 3.

ロードポートLPは、基板Wを収容したキャリアCを保持する。処理ユニット1は、ロードポートLPから搬送された基板Wを処理する。 The load port LP holds the carrier C accommodating the substrate W. The processing unit 1 processes the substrate W conveyed from the load port LP.

記憶部2は、ROM(Read Only Memory)、及びRAM(Random Access Memory)のような主記憶装置(例えば、半導体メモリー)を含み、補助記憶装置(例えば、ハードディスクドライブ)をさらに含んでもよい。主記憶装置、及び/又は,補助記憶装置は、制御部3によって実行される種々のコンピュータープログラムを記憶する。 The storage unit 2 includes a main storage device (for example, a semiconductor memory) such as a ROM (Read Only Memory) and a RAM (Random Access Memory), and may further include an auxiliary storage device (for example, a hard disk drive). The main storage device and / or the auxiliary storage device stores various computer programs executed by the control unit 3.

制御部3は、CPU(Central Processing Unit)及びMPU(Micro Processing Unit)のようなプロセッサーを含む。制御部3は、基板処理装置100の各要素を制御する。 The control unit 3 includes processors such as a CPU (Central Processing Unit) and an MPU (Micro Processing Unit). The control unit 3 controls each element of the substrate processing device 100.

基板処理装置100は、搬送ロボットをさらに備える。搬送ロボットは、ロードポートLPと処理ユニット1との間で基板Wを搬送する。搬送ロボットは、インデクサロボットIRと、センターロボットCRとを含む。インデクサロボットIRは、ロードポートLPとセンターロボットCRとの間で基板Wを搬送する。センターロボットCRは、インデクサロボットIRと処理ユニット1との間で基板Wを搬送する。インデクサロボットIR、及びセンターロボットCRの各々は、基板Wを支持するハンドを含む。 The substrate processing device 100 further includes a transfer robot. The transfer robot transfers the substrate W between the load port LP and the processing unit 1. The transfer robot includes an indexer robot IR and a center robot CR. The indexer robot IR conveys the substrate W between the load port LP and the center robot CR. The center robot CR conveys the substrate W between the indexer robot IR and the processing unit 1. Each of the indexer robot IR and the center robot CR includes a hand that supports the substrate W.

複数の処理ユニット1は、上下に積層されて塔Uを構成する。基板処理装置100は、複数の塔Uを備える。複数の塔Uは、平面視においてセンターロボットCRを取り囲むように配置される。 The plurality of processing units 1 are stacked one above the other to form a tower U. The substrate processing apparatus 100 includes a plurality of towers U. The plurality of towers U are arranged so as to surround the center robot CR in a plan view.

本実施形態では、各塔Uは、3つの処理ユニット1を含む。また、塔Uは4つ設けられる。なお、塔Uを構成する処理ユニット1の個数は特に限定されない。また、塔Uの個数も特に限定されない。 In this embodiment, each tower U includes three processing units 1. In addition, four towers U are provided. The number of processing units 1 constituting the tower U is not particularly limited. Further, the number of towers U is not particularly limited.

図2を参照して、処理ユニット1について説明する。図2は、処理ユニット1の構成を模式的に示す側面図である。 The processing unit 1 will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a side view schematically showing the configuration of the processing unit 1.

図2に示すように、処理ユニット1は、チャンバー6と、スピンチャック10と、カップ14とを含む。 As shown in FIG. 2, the processing unit 1 includes a chamber 6, a spin chuck 10, and a cup 14.

チャンバー6は、隔壁8と、シャッター9と、FFU7(ファン・フィルタ・ユニット)とを含む。隔壁8は、中空の形状を有する。隔壁8には搬送口が設けられる。シャッター9は、搬送口を開閉する。FFU7は、クリーンエアーのダウンフローをチャンバー6内に形成する。クリーンエアーは、フィルターによってろ過された空気である。 The chamber 6 includes a partition wall 8, a shutter 9, and an FFU 7 (fan filter unit). The partition wall 8 has a hollow shape. The partition wall 8 is provided with a transport port. The shutter 9 opens and closes the transport port. The FFU 7 forms a downflow of clean air in the chamber 6. Clean air is air that has been filtered by a filter.

センターロボットCR(図1参照)は、搬送口を通じてチャンバー6に基板Wを搬入し、搬送口を通じてチャンバー6から基板Wを搬出する。 The center robot CR (see FIG. 1) carries the substrate W into the chamber 6 through the transport port, and carries out the substrate W from the chamber 6 through the transport port.

スピンチャック10は、チャンバー6内に配置される。スピンチャック10は、基板Wを水平に保持しつつ、回転軸A1回りに基板Wを回転させる。回転軸A1は、基板Wの中央部を通る鉛直な軸である。 The spin chuck 10 is arranged in the chamber 6. The spin chuck 10 rotates the substrate W around the rotation axis A1 while holding the substrate W horizontally. The rotating shaft A1 is a vertical shaft passing through the central portion of the substrate W.

スピンチャック10は、複数のチャックピン11と、スピンベース12と、スピンモータ13と、カップ14と、カップ昇降ユニット15とを含む。 The spin chuck 10 includes a plurality of chuck pins 11, a spin base 12, a spin motor 13, a cup 14, and a cup elevating unit 15.

スピンベース12は、円板状の部材である。複数のチャックピン11は、スピンベース12上で基板Wを水平な姿勢で保持する。スピンモータ13は、複数のチャックピン11を回転させることにより、回転軸A1回りに基板Wを回転させる。 The spin base 12 is a disk-shaped member. The plurality of chuck pins 11 hold the substrate W in a horizontal posture on the spin base 12. The spin motor 13 rotates the substrate W around the rotation axis A1 by rotating the plurality of chuck pins 11.

本実施形態のスピンチャック10は、複数のチャックピン11を基板Wの外周面に接触させる挟持式のチャックである。しかし、本発明はこれに限定されない。スピンチャック10は、バキューム式のチャックでもよい。バキューム式のチャックは、非デバイス形成面である基板Wの裏面(下面)をスピンベース12の上面に吸着させることにより、基板Wを水平に保持する。 The spin chuck 10 of the present embodiment is a holding type chuck that brings a plurality of chuck pins 11 into contact with the outer peripheral surface of the substrate W. However, the present invention is not limited to this. The spin chuck 10 may be a vacuum type chuck. The vacuum type chuck holds the substrate W horizontally by adsorbing the back surface (lower surface) of the substrate W, which is a non-device forming surface, to the upper surface of the spin base 12.

カップ14は、基板Wから排出された液体を受け止める。カップ14は、傾斜部14aと、案内部14bと、液受部14cとを含む。傾斜部14aは、回転軸線A1に向かって斜め上に延びる筒状の部材である。傾斜部14aは、基板W及びスピンベース12よりも大きい内径を有する環状の上端を含む。傾斜部14aの上端は、カップ14の上端に相当する。カップ14の上端は、平面視で基板W及びスピンベース12を取り囲んでいる。案内部14bは、傾斜部14aの下端部(外端部)から下方に延びる円筒状の部材である。液受部14cは、案内部14bの下部に位置し、上向きに開いた環状の溝を形成する。 The cup 14 receives the liquid discharged from the substrate W. The cup 14 includes an inclined portion 14a, a guide portion 14b, and a liquid receiving portion 14c. The inclined portion 14a is a tubular member extending diagonally upward toward the rotation axis A1. The inclined portion 14a includes an annular upper end having an inner diameter larger than that of the substrate W and the spin base 12. The upper end of the inclined portion 14a corresponds to the upper end of the cup 14. The upper end of the cup 14 surrounds the substrate W and the spin base 12 in a plan view. The guide portion 14b is a cylindrical member extending downward from the lower end portion (outer end portion) of the inclined portion 14a. The liquid receiving portion 14c is located below the guide portion 14b and forms an annular groove that opens upward.

カップ昇降ユニット15は、上昇位置と、下降位置との間でカップ14を昇降させる。カップ14が上昇位置に位置するとき、カップ14の上端が、スピンチャック10よりも上方に位置する。カップ14が下降位置に位置するとき、カップ14の上端が、スピンチャック10よりも下方に位置する。 The cup elevating unit 15 raises and lowers the cup 14 between the ascending position and the descending position. When the cup 14 is in the ascending position, the upper end of the cup 14 is located above the spin chuck 10. When the cup 14 is in the lowered position, the upper end of the cup 14 is located below the spin chuck 10.

基板Wに液体が供給されるとき、カップ14は上昇位置に位置する。基板Wから外方に飛散した液体は、傾斜部14aによって受け止められた後、案内部14bを介して液受部14c内に集められる。 When the liquid is supplied to the substrate W, the cup 14 is located in the ascending position. The liquid scattered outward from the substrate W is received by the inclined portion 14a and then collected in the liquid receiving portion 14c via the guide portion 14b.

処理ユニット1は、リンス液ノズル16と、リンス液配管17と、リンス液バルブ18とをさらに含む。リンス液ノズル16は、スピンチャック10に保持されている基板Wに向けてリンス液を吐出する。リンス液ノズル16は、リンス液配管17に接続されている。リンス液配管17は、リンス液の供給源に接続される。リンス液配管17には、リンス液バルブ18が介装されている。 The processing unit 1 further includes a rinse liquid nozzle 16, a rinse liquid pipe 17, and a rinse liquid valve 18. The rinse liquid nozzle 16 discharges the rinse liquid toward the substrate W held by the spin chuck 10. The rinse liquid nozzle 16 is connected to the rinse liquid pipe 17. The rinse liquid pipe 17 is connected to the rinse liquid supply source. A rinse liquid valve 18 is interposed in the rinse liquid pipe 17.

リンス液バルブ18が開かれると、リンス液配管17からリンス液ノズル16にリンス液が供給される。そして、リンス液がリンス液ノズル16から吐出される。リンス液は、例えば、純水(脱イオン水:Deionized Water)である。リンス液は、純水に限定されず、炭酸水、電解イオン水、水素水、オゾン水、及び/又は、希釈濃度の塩酸水であってもよい。希釈濃度は、例えば、10ppm以上100ppm以下の濃度である。 When the rinse liquid valve 18 is opened, the rinse liquid is supplied from the rinse liquid pipe 17 to the rinse liquid nozzle 16. Then, the rinse liquid is discharged from the rinse liquid nozzle 16. The rinsing solution is, for example, pure water (deionized water). The rinsing solution is not limited to pure water, and may be carbonated water, electrolytic ionized water, hydrogen water, ozone water, and / or hydrochloric acid water having a diluted concentration. The dilution concentration is, for example, a concentration of 10 ppm or more and 100 ppm or less.

処理ユニット1は、第1薬液ノズル21と、第1薬液配管22と、第1薬液バルブ23とをさらに含む。第1薬液ノズル21は、スピンチャック10に保持されている基板Wに向けてアルカリ性薬液を吐出する。本実施形態では、アルカリ性薬液は、SC1である。SC1は、アンモニア水と過酸化水素水と水との混合液である。第1薬液ノズル21は、第1薬液配管22に接続されている。第1薬液配管22は、SC1の供給源に接続される。第1薬液配管22には、第1薬液バルブ23が介装されている。 The processing unit 1 further includes a first chemical solution nozzle 21, a first chemical solution pipe 22, and a first chemical solution valve 23. The first chemical solution nozzle 21 discharges the alkaline chemical solution toward the substrate W held by the spin chuck 10. In this embodiment, the alkaline chemical solution is SC1. SC1 is a mixed solution of aqueous ammonia, hydrogen peroxide and water. The first chemical solution nozzle 21 is connected to the first chemical solution pipe 22. The first chemical solution pipe 22 is connected to the supply source of SC1. A first chemical solution valve 23 is interposed in the first chemical solution pipe 22.

処理ユニット1は、第2薬液ノズル24と、第2薬液配管25と、第2薬液バルブ26とをさらに含む。第2薬液ノズル24は、スピンチャック10に保持されている基板Wに向けて薬液DHF(希フッ化水素酸)を吐出する。第2薬液ノズル24は、第2薬液配管25に接続されている。第2薬液配管25は、薬液DHFの供給源に接続される。第2薬液配管25には、第2薬液バルブ26が介装されている。 The processing unit 1 further includes a second chemical solution nozzle 24, a second chemical solution pipe 25, and a second chemical solution valve 26. The second chemical solution nozzle 24 discharges the chemical solution DHF (dilute hydrofluoric acid) toward the substrate W held by the spin chuck 10. The second chemical solution nozzle 24 is connected to the second chemical solution pipe 25. The second chemical solution pipe 25 is connected to the source of the chemical solution DHF. A second chemical solution valve 26 is interposed in the second chemical solution pipe 25.

処理ユニット1は、生成装置30をさらに含む。生成装置30は、硫酸からカロ酸(Caro‘s acid)を生成する。生成装置30は、第3薬液ノズル31と、ノズル移動ユニット32とを含む。第3薬液ノズル31は、スピンチャック10に保持されている基板Wに向けてカロ酸を吐出する。ノズル移動ユニット32は、処理位置と退避位置との間で第3薬液ノズル31を移動させる。処理位置は、第3薬液ノズル31が基板Wに向けてカロ酸を吐出する位置を示す。本実施形態では、処理位置は、第3薬液ノズル31により用いられる硫酸の移動経路R(図7参照)の延長線上に基板Wが位置し、かつ、第3薬液ノズル31が最も基板Wに近くなる位置である。すなわち、第3薬液ノズル31が処理位置に位置するとき、発生領域E(図7参照)が基板Wの直近傍に位置する。退避位置は、第3薬液ノズル31が基板Wから離間した位置を示す。ノズル移動ユニット32は、例えば、揺動軸線A2回りに第3薬液ノズル31を旋回させることで第3薬液ノズル31を移動させる。揺動軸線A2は、カップ14の周辺に位置する鉛直な軸である。 The processing unit 1 further includes a generation device 30. The generator 30 produces Caro's acid from sulfuric acid. The generation device 30 includes a third chemical solution nozzle 31 and a nozzle moving unit 32. The third chemical solution nozzle 31 discharges caroic acid toward the substrate W held by the spin chuck 10. The nozzle moving unit 32 moves the third chemical solution nozzle 31 between the processing position and the retracted position. The processing position indicates a position where the third chemical solution nozzle 31 discharges caroic acid toward the substrate W. In the present embodiment, the treatment position is such that the substrate W is located on the extension line of the sulfuric acid movement path R (see FIG. 7) used by the third chemical solution nozzle 31, and the third chemical solution nozzle 31 is closest to the substrate W. It is a position. That is, when the third chemical solution nozzle 31 is located at the processing position, the generation region E (see FIG. 7) is located in the immediate vicinity of the substrate W. The retracted position indicates a position where the third chemical solution nozzle 31 is separated from the substrate W. The nozzle moving unit 32 moves the third chemical solution nozzle 31 by, for example, turning the third chemical solution nozzle 31 around the swing axis A2. The swing axis A2 is a vertical axis located around the cup 14.

カロ酸は、本発明の処理流体の第1例である。 Caroic acid is the first example of the processing fluid of the present invention.

次に、図3を参照して、生成装置30について説明する。図3は、生成装置30の構成を模式的に示す図である。 Next, the generator 30 will be described with reference to FIG. FIG. 3 is a diagram schematically showing the configuration of the generator 30.

第3薬液ノズル31の構造について説明する。図3に示すように、第3薬液ノズル31は、排出部311を有する。 The structure of the third chemical solution nozzle 31 will be described. As shown in FIG. 3, the third chemical solution nozzle 31 has a discharge unit 311.

排出部311は、硫酸の液滴を排出する。排出部311は、本体部31aと、第1供給口31bと、第2供給口31cと、第3供給口31dと、排出口31eと、第1通路31fと、第2通路31gと、第3通路31hとを有する。 The discharge unit 311 discharges the sulfuric acid droplets. The discharge unit 311 includes a main body 31a, a first supply port 31b, a second supply port 31c, a third supply port 31d, a discharge port 31e, a first passage 31f, a second passage 31g, and a third. It has a passage 31h.

本体部31aは、排出部311を形成する構造物である。 The main body portion 31a is a structure forming the discharge portion 311.

第1供給口31b、第2供給口31c、第3供給口31d、及び排出口31eは、本体部31aの外面に形成される開口である。第1通路31f、第2通路31g、及び第3通路31hは、本体部31a内に形成される空所である。 The first supply port 31b, the second supply port 31c, the third supply port 31d, and the discharge port 31e are openings formed on the outer surface of the main body 31a. The first passage 31f, the second passage 31g, and the third passage 31h are vacant spaces formed in the main body portion 31a.

第1通路31fは、第1供給口31bに連通すると共に、排出口31eに連通する。第1通路31fは、第1外側通路311fと、第2外側通路312fと、第1連通路313fとを有する。第1外側通路311fは、第1連通路313fを介して第2外側通路312fに連通する。 The first passage 31f communicates with the first supply port 31b and also communicates with the discharge port 31e. The first passage 31f has a first outer passage 311f, a second outer passage 312f, and a first continuous passage 313f. The first outer passage 311f communicates with the second outer passage 312f via the first communication passage 313f.

なお、第1通路31fは、第3通路31hを中心にして環状に形成されていてもよい。 The first passage 31f may be formed in a ring shape around the third passage 31h.

第2通路31gは、第1通路31fの内側に配置される。第2通路31gは、第2供給口31cに連通すると共に、第1通路31fに連通する。第2通路31gは、第1内側通路311gと、第2内側通路312gと、第2連通路313gとを有する。第1内側通路311gは、第2連通路313gを介して第2内側通路312gに連通する。 The second passage 31g is arranged inside the first passage 31f. The second passage 31g communicates with the second supply port 31c and also communicates with the first passage 31f. The second passage 31g has a first inner passage 311g, a second inner passage 312g, and a second continuous passage 313g. The first inner passage 311g communicates with the second inner passage 312g via the second communication passage 313g.

なお、第2通路31gは、第3通路31hを中心にして環状に形成されていてもよい。 The second passage 31g may be formed in a ring shape around the third passage 31h.

第3通路31hは、第2通路31gの内側に配置される。第3通路31hは、第3供給口31dに連通すると共に、排出口31eに連通する。その結果、排出口31eが第3通路31hを介して第3供給口31dと連通する。 The third passage 31h is arranged inside the second passage 31g. The third passage 31h communicates with the third supply port 31d and also communicates with the discharge port 31e. As a result, the discharge port 31e communicates with the third supply port 31d via the third passage 31h.

第1通路31fは、連通部Gを有する。連通部Gは、第1通路31fのうち第2通路31gと連通する箇所である。連通部Gは、第1通路31fの中途部に位置する。 The first passage 31f has a communication portion G. The communication portion G is a portion of the first passage 31f that communicates with the second passage 31g. The communication portion G is located in the middle of the first passage 31f.

第3薬液ノズル31は、管部312をさらに備える。管部312は、両端が開口した管状に形成される。管部312は、両端が開口した中空の形状を有していればよく、円筒状に限定されない。管部312の形状は、例えば、中空の多角柱の部材の両端を開口した角筒状でもよい。 The third chemical solution nozzle 31 further includes a pipe portion 312. The tube portion 312 is formed in a tubular shape with both ends open. The tube portion 312 may have a hollow shape with both ends open, and is not limited to a cylindrical shape. The shape of the pipe portion 312 may be, for example, a prismatic shape in which both ends of the hollow polygonal column member are opened.

管部312は、排出部311と一体に形成される。なお、管部312は、排出部311と別体でもよい。この場合、管部312は、排出部311に固定されていてもよく、又は、排出部311から離間していてもよい。 The pipe portion 312 is formed integrally with the discharge portion 311. The pipe portion 312 may be separate from the discharge portion 311. In this case, the pipe portion 312 may be fixed to the discharge portion 311 or may be separated from the discharge portion 311.

管部312と排出部311とは、例えば、石英により形成される。なお、排出部311が管部312と別体の場合、排出部311は、例えば、樹脂、又は、金属を樹脂コーティングした部材でもよい。 The pipe portion 312 and the discharge portion 311 are formed of, for example, quartz. When the discharge unit 311 is separate from the pipe unit 312, the discharge unit 311 may be, for example, a member coated with resin or metal.

管部312の基端部31qは、排出部311の排出口31eに連なる。管部312は、排出口31eから突出する。 The base end portion 31q of the pipe portion 312 is connected to the discharge port 31e of the discharge portion 311. The pipe portion 312 protrudes from the discharge port 31e.

管部312は、流入口31mと、吐出口31nとを有する。流入口31mは、基端部31qに形成され、排出口31eに連通すると共に、管部312の内部31pに連通する。吐出口31nは、先端部31rに形成され、管部312の内部31pに連通すると共に、管部312の外部に連通する。吐出口31nは、カロ酸を吐出する。 The pipe portion 312 has an inflow port 31m and a discharge port 31n. The inflow port 31m is formed at the base end portion 31q and communicates with the discharge port 31e and also communicates with the inside 31p of the pipe portion 312. The discharge port 31n is formed at the tip portion 31r and communicates with the inside 31p of the pipe portion 312 and also communicates with the outside of the pipe portion 312. The discharge port 31n discharges caroic acid.

生成装置30は、薬液供給部33をさらに有する。 The generation device 30 further includes a chemical solution supply unit 33.

薬液供給部33は、排出部311に硫酸を含む液体を供給する。薬液供給部33は、第3薬液配管33aと、第3薬液バルブ33bとを有する。 The chemical supply unit 33 supplies a liquid containing sulfuric acid to the discharge unit 311. The chemical solution supply unit 33 has a third chemical solution pipe 33a and a third chemical solution valve 33b.

第3薬液配管33aは、硫酸の供給源に連通する。第3薬液配管33aは、第2供給口31cに連通する。第3薬液配管33aは、第2供給口31cを介して第2通路31gに硫酸を含む液体を供給する。第3薬液配管33aには、第3薬液バルブ33bが介装されている。第3薬液バルブ33bは、第3薬液配管33aの内部に形成される硫酸の液体の流路を開閉する。 The third chemical solution pipe 33a communicates with the sulfuric acid supply source. The third chemical liquid pipe 33a communicates with the second supply port 31c. The third chemical solution pipe 33a supplies a liquid containing sulfuric acid to the second passage 31g via the second supply port 31c. A third chemical solution valve 33b is interposed in the third chemical solution pipe 33a. The third chemical solution valve 33b opens and closes the flow path of the sulfuric acid liquid formed inside the third chemical solution pipe 33a.

硫酸を含む液体は、本発明の処理液の第1例である。 The liquid containing sulfuric acid is the first example of the treatment liquid of the present invention.

生成装置30は、気体供給部34をさらに有する。 The generator 30 further includes a gas supply unit 34.

気体供給部34は、排出部311に気体を供給する。気体は、酸素、窒素、アルゴン、及びヘリウムのうちの少なくとも1つを含む。 The gas supply unit 34 supplies gas to the discharge unit 311. The gas contains at least one of oxygen, nitrogen, argon, and helium.

気体供給部34は、第1気体配管34aと、第2気体配管34bと、第1気体バルブ34cと、第2気体バルブ34dとを有する。 The gas supply unit 34 includes a first gas pipe 34a, a second gas pipe 34b, a first gas valve 34c, and a second gas valve 34d.

第1気体配管34aは、気体の供給源に連通する。第1気体配管34aは、第1供給口31bに連通する。第1気体配管34aは、第1供給口31bを介して第1通路31fに気体を供給する。第1気体配管34aには、第1気体バルブ34cが介装されている。第1気体バルブ34cは、第1気体配管34aの内部に形成される気体の流路を開閉する。 The first gas pipe 34a communicates with the gas supply source. The first gas pipe 34a communicates with the first supply port 31b. The first gas pipe 34a supplies gas to the first passage 31f via the first supply port 31b. A first gas valve 34c is interposed in the first gas pipe 34a. The first gas valve 34c opens and closes a gas flow path formed inside the first gas pipe 34a.

第2気体配管34bは、気体の供給源に連通する。第2気体配管34bは、第3供給口31dに連通する。第2気体配管34bは、第3供給口31dを介して第3通路31hに気体を供給する。第2気体配管34bには、第2気体バルブ34dが介装されている。第2気体バルブ34dは、第2気体配管34bの内部に形成される気体の流路を開閉する。 The second gas pipe 34b communicates with the gas supply source. The second gas pipe 34b communicates with the third supply port 31d. The second gas pipe 34b supplies gas to the third passage 31h via the third supply port 31d. A second gas valve 34d is interposed in the second gas pipe 34b. The second gas valve 34d opens and closes a gas flow path formed inside the second gas pipe 34b.

生成装置30は、発生部35をさらに有する。 The generator 30 further includes a generator 35.

発生部35は、プラズマを発生させる。プラズマは、気体供給部34により供給される気体から生成される。発生部35は、例えば、誘導結合型プラズマ(ICP:inductively coupled plasma)方式を採用しており、誘導結合プラズマを発生させる。 The generation unit 35 generates plasma. The plasma is generated from the gas supplied by the gas supply unit 34. The generation unit 35 employs, for example, an inductively coupled plasma (ICP) method to generate inductively coupled plasma.

以下では、発生部35がプラズマを発生させる領域を、プラズマの発生領域Eと記載することがある。発生領域Eは、管部312の内部31pに位置する。 In the following, the region where the generation unit 35 generates plasma may be referred to as the plasma generation region E. The generation region E is located inside 31p of the pipe portion 312.

発生部35は、コイル351と、電源部352とを有する。コイル351の内側には、管部312が配置される。電源部352は、コイル351に接続される。電源部352がコイル351に電流を流してコイル351に磁場を誘起させることにより、発生領域Eにおいて、例えば、200℃以上2000℃以下程度の高温のプラズマが発生する。その結果、発生領域Eにおいて、酸素ガスが励起され、酸素ラジカルと酸素イオンとを含む酸素プラズマが生成される。酸素プラズマは、略常圧で生成される。発生領域Eは、言い換えれば、コイル351の内部の領域である。 The generation unit 35 has a coil 351 and a power supply unit 352. A pipe portion 312 is arranged inside the coil 351. The power supply unit 352 is connected to the coil 351. The power supply unit 352 causes a current to flow through the coil 351 to induce a magnetic field in the coil 351 to generate, for example, high-temperature plasma of about 200 ° C. or higher and 2000 ° C. or lower in the generation region E. As a result, oxygen gas is excited in the generation region E, and an oxygen plasma containing oxygen radicals and oxygen ions is generated. Oxygen plasma is generated at substantially normal pressure. The generation region E is, in other words, an region inside the coil 351.

生成装置30は、温度制御機構36をさらに備える。 The generation device 30 further includes a temperature control mechanism 36.

温度制御機構36は、発生領域Eの温度を制御する。温度制御機構36は、壁部361と、冷却通路部362と、冷却配管363と、冷却バルブ364とを有する。壁部361は、管部312の先端部31rに連なり、管部312を囲むように形成される。冷却通路部362は、管部312と壁部361との間に形成される空所である。冷却配管363は、冷却材の供給源に連通する。本実施形態では、冷却材は冷水である。冷却配管363は、冷却通路部362に連通する。冷却配管363は、冷却通路部362に冷水を供給する。その結果、発生領域Eの温度上昇が抑制される。冷却配管363には、冷却バルブ364が介装されている。冷却バルブ364は、冷却配管363の内部に形成される冷水の流路を開閉する。 The temperature control mechanism 36 controls the temperature of the generation region E. The temperature control mechanism 36 includes a wall portion 361, a cooling passage portion 362, a cooling pipe 363, and a cooling valve 364. The wall portion 361 is connected to the tip portion 31r of the pipe portion 312 and is formed so as to surround the pipe portion 312. The cooling passage portion 362 is an empty space formed between the pipe portion 312 and the wall portion 361. The cooling pipe 363 communicates with the supply source of the coolant. In this embodiment, the coolant is cold water. The cooling pipe 363 communicates with the cooling passage portion 362. The cooling pipe 363 supplies cold water to the cooling passage portion 362. As a result, the temperature rise in the generation region E is suppressed. A cooling valve 364 is interposed in the cooling pipe 363. The cooling valve 364 opens and closes a flow path of cold water formed inside the cooling pipe 363.

次に、図2及び図4を参照して、基板処理装置100によって実行される基板Wに対する処理の一例について説明する。図4は、基板処理装置100によって実行される基板Wに対する処理の一例を示すフロー図である。 Next, an example of processing on the substrate W executed by the substrate processing apparatus 100 will be described with reference to FIGS. 2 and 4. FIG. 4 is a flow chart showing an example of processing on the substrate W executed by the substrate processing apparatus 100.

図2及び図4に示すように、ステップS1において、制御部3は、基板Wをチャンバー6内に搬入する基板搬入処理を行う。以下では、基板搬入処理の手順について説明する。 As shown in FIGS. 2 and 4, in step S1, the control unit 3 performs a substrate loading process for loading the substrate W into the chamber 6. The procedure for carrying in the substrate will be described below.

まず、第1薬液ノズル21が基板Wの上方から退避している状態で、センターロボットCRが基板Wをハンドで支持しつつ、ハンドをチャンバー6内に進入させる。そして、センターロボットCRは、ハンドで支持されている基板Wをスピンチャック10上に置く。その結果、基板Wがスピンチャック10上に搬送される。 First, in a state where the first chemical solution nozzle 21 is retracted from above the substrate W, the center robot CR allows the hand to enter the chamber 6 while supporting the substrate W with the hand. Then, the center robot CR places the substrate W supported by the hand on the spin chuck 10. As a result, the substrate W is conveyed onto the spin chuck 10.

基板Wがスピンチャック10上に搬送されると、チャックピン11が基板Wを把持する。そして、スピンモータ13がチャックピン11を回転させる。その結果、基板Wが回転する。基板Wが回転すると、処理がステップS2に移行する。 When the substrate W is conveyed onto the spin chuck 10, the chuck pin 11 grips the substrate W. Then, the spin motor 13 rotates the chuck pin 11. As a result, the substrate W rotates. When the substrate W rotates, the process shifts to step S2.

ステップS2において、制御部3は、第2薬液ノズル24から基板Wの主面Waに対して薬液DHFを供給するDHF供給処理を行う。制御部3が第2薬液バルブ26を制御して第2薬液バルブ26を開くことで、第2薬液ノズル24から回転中の基板Wの主面Waに向けて薬液DHFが吐出される。基板Wの主面Waに薬液DHFが吐出されることによって、基板Wの主面Waに形成されている自然酸化膜が除去される。DHF供給処理が終了すると、第2薬液バルブ26が閉じられる。 In step S2, the control unit 3 performs a DHF supply process of supplying the chemical solution DHF from the second chemical solution nozzle 24 to the main surface Wa of the substrate W. When the control unit 3 controls the second chemical solution valve 26 to open the second chemical solution valve 26, the chemical solution DHF is discharged from the second chemical solution nozzle 24 toward the main surface Wa of the rotating substrate W. By discharging the chemical solution DHF onto the main surface Wa of the substrate W, the natural oxide film formed on the main surface Wa of the substrate W is removed. When the DHF supply process is completed, the second chemical solution valve 26 is closed.

基板Wの主面Waは、基板Wがスピンチャック10に保持された状態で、基板Wのうち上方を向く面である。 The main surface Wa of the substrate W is a surface of the substrate W that faces upward while the substrate W is held by the spin chuck 10.

ステップS3において、制御部3は、第3薬液ノズル31から基板Wの主面Waに対してカロ酸を供給するカロ酸供給処理を行う。カロ酸供給処理が行われると、第3薬液ノズル31から回転中の基板Wの主面Waに向けてカロ酸が吐出される。基板Wの主面Waにカロ酸が吐出されることによって、基板Wの主面Waからレジスト膜が除去される。 In step S3, the control unit 3 performs a caroic acid supply process of supplying caroic acid from the third chemical solution nozzle 31 to the main surface Wa of the substrate W. When the caroic acid supply process is performed, caroic acid is discharged from the third chemical solution nozzle 31 toward the main surface Wa of the rotating substrate W. The resist film is removed from the main surface Wa of the substrate W by discharging the caroic acid onto the main surface Wa of the substrate W.

ステップS4において、制御部3は、第1薬液ノズル21から基板Wの主面Waに対してSC1を供給するSC1供給処理を行う。制御部3が第1薬液バルブ23を制御して第1薬液バルブ23を開くことで、第1薬液ノズル21から回転中の基板Wの主面Waに向けてSC1が吐出される。基板Wの主面WaにSC1が吐出されることによって、基板Wの主面Wa上のカロ酸はSC1によって外方に押し流され、基板Wの周囲に排出される。そして、基板Wの主面Waの全域がSC1の液膜で覆われる。SC1供給処理が終了すると、第1薬液バルブ23が閉じられる。 In step S4, the control unit 3 performs an SC1 supply process of supplying SC1 from the first chemical solution nozzle 21 to the main surface Wa of the substrate W. When the control unit 3 controls the first chemical solution valve 23 to open the first chemical solution valve 23, the SC1 is discharged from the first chemical solution nozzle 21 toward the main surface Wa of the rotating substrate W. When SC1 is discharged to the main surface Wa of the substrate W, the caroic acid on the main surface Wa of the substrate W is swept outward by the SC1 and discharged to the periphery of the substrate W. Then, the entire area of the main surface Wa of the substrate W is covered with the liquid film of SC1. When the SC1 supply process is completed, the first chemical solution valve 23 is closed.

ステップS5において、制御部3は、リンス液ノズル16から基板Wの主面Waに対してリンス液を供給するリンス液供給処理を行う。制御部3がリンス液バルブ18を制御してリンス液バルブ18を開くことで、リンス液ノズル16から回転中の基板Wの主面Waに向けてリンス液が吐出される。基板Wの主面Waにリンス液が吐出されることによって、基板Wの主面Wa上のSC1がリンス液によって洗い流される。リンス液供給処理が終了すると、リンス液バルブ18が閉じられる。 In step S5, the control unit 3 performs a rinse liquid supply process of supplying the rinse liquid from the rinse liquid nozzle 16 to the main surface Wa of the substrate W. When the control unit 3 controls the rinse liquid valve 18 to open the rinse liquid valve 18, the rinse liquid is discharged from the rinse liquid nozzle 16 toward the main surface Wa of the rotating substrate W. By discharging the rinse liquid onto the main surface Wa of the substrate W, the SC1 on the main surface Wa of the substrate W is washed away by the rinse liquid. When the rinse liquid supply process is completed, the rinse liquid valve 18 is closed.

ステップS6において、制御部3は、基板Wの回転によって基板Wを乾燥させる乾燥処理を行う。以下では、乾燥処理の手順について説明する。 In step S6, the control unit 3 performs a drying process of drying the substrate W by rotating the substrate W. The procedure of the drying process will be described below.

まず、スピンモータ13が基板Wを、薬液供給処理時の基板Wの回転速度、及びリンス液供給処理時の基板Wの回転速度よりも大きい回転速度(例えば、数千rpm)で高速回転させる。その結果、基板Wから液体が除去されるので、基板Wが乾燥する。 First, the spin motor 13 rotates the substrate W at a high speed (for example, several thousand rpm) that is larger than the rotation speed of the substrate W during the chemical supply processing and the rotation speed of the substrate W during the rinse liquid supply processing. As a result, the liquid is removed from the substrate W, so that the substrate W dries.

基板Wの高速回転が開始されてから所定時間が経過すると、スピンモータ13が基板Wの回転を停止させる。基板Wの回転が停止すると、処理がステップS7に移行する。 When a predetermined time elapses after the high-speed rotation of the substrate W is started, the spin motor 13 stops the rotation of the substrate W. When the rotation of the substrate W is stopped, the process proceeds to step S7.

ステップS7において、制御部3は、基板Wをチャンバー6から搬出する搬出処理を行う。以下では、搬出処理の手順について説明する。 In step S7, the control unit 3 performs a carry-out process of carrying out the substrate W from the chamber 6. The procedure for carrying out processing will be described below.

まず、カップ昇降ユニット15が、カップ14を下位置まで下降させる。そして、センターロボットCRが、ハンドをチャンバー6内に進入させる。そして、複数のチャックピン11が基板Wの把持を解除する。 First, the cup elevating unit 15 lowers the cup 14 to the lower position. Then, the center robot CR causes the hand to enter the chamber 6. Then, the plurality of chuck pins 11 release the grip of the substrate W.

複数のチャックピン11が基板Wの把持を解除した後、センターロボットCRは、スピンチャック10上の基板Wをハンドで支持する。そして、センターロボットCRは、ハンドで基板Wを支持しつつ、ハンドをチャンバー6の内部から退避させる。その結果、処理済みの基板Wがチャンバー6から搬出される。 After the plurality of chuck pins 11 release the grip on the substrate W, the center robot CR supports the substrate W on the spin chuck 10 by hand. Then, the center robot CR retracts the hand from the inside of the chamber 6 while supporting the substrate W with the hand. As a result, the processed substrate W is carried out from the chamber 6.

処理済みの基板Wがチャンバー6から搬出されると、ステップS7に示す搬出処理が終了する。 When the processed substrate W is carried out from the chamber 6, the carry-out process shown in step S7 is completed.

ステップS1からステップS7に示す処理が繰り返されることで、処理ユニット1に搬送された複数の基板Wが一枚ずつ処理される。 By repeating the processes shown in steps S1 to S7, the plurality of substrates W conveyed to the processing unit 1 are processed one by one.

次に、図3から図7を参照して、ステップS3のカロ酸供給処理について説明する。図5は、カロ酸供給処理を示すフロー図である。図6は、生成装置30の動作を示す第1図である。図7は、生成装置30の動作を示す第2図である。 Next, the caroic acid supply treatment in step S3 will be described with reference to FIGS. 3 to 7. FIG. 5 is a flow chart showing the caroic acid supply treatment. FIG. 6 is a first diagram showing the operation of the generator 30. FIG. 7 is a second diagram showing the operation of the generator 30.

図4及び図5に示すように、ステップS2に示す処理が終了すると、処理がステップS31に移行する。 As shown in FIGS. 4 and 5, when the process shown in step S2 is completed, the process shifts to step S31.

図3、図5、及び図6に示すように、ステップS31において、制御部3は、排出部311に気体を供給する気体供給処理を行う。気体は、排出部311の第1供給口31bと第3供給口31dとに供給される。 As shown in FIGS. 3, 5, and 6, in step S31, the control unit 3 performs a gas supply process for supplying gas to the discharge unit 311. The gas is supplied to the first supply port 31b and the third supply port 31d of the discharge unit 311.

制御部3が第1気体バルブ34cと第2気体バルブ34dとを制御して第1気体バルブ34cと第2気体バルブ34dとを開くことで、第1供給口31bと第3供給口31dとに気体が供給される。 The control unit 3 controls the first gas valve 34c and the second gas valve 34d to open the first gas valve 34c and the second gas valve 34d, thereby forming the first supply port 31b and the third supply port 31d. Gas is supplied.

第1供給口31bに供給された気体K1は、第1通路31fを通過すると、排出口31eに到達する。第3供給口31dに供給された気体K2は、第3通路31hを通過すると、排出口31eに到達する。排出口31eに到達した気体K1と気体K2とは合流して気体K3になる。気体K3は、流入口31mから管部312の内部31pに流入する。 When the gas K1 supplied to the first supply port 31b passes through the first passage 31f, it reaches the discharge port 31e. The gas K2 supplied to the third supply port 31d reaches the discharge port 31e when passing through the third passage 31h. The gas K1 and the gas K2 that have reached the discharge port 31e merge to form the gas K3. The gas K3 flows into the inside 31p of the pipe portion 312 from the inflow port 31m.

管部312の内部31pに流入した気体K3は、発生領域Eを通過した後、吐出口31nから管部312の外部に排出される。 The gas K3 that has flowed into the inside 31p of the pipe portion 312 passes through the generation region E and is then discharged from the discharge port 31n to the outside of the pipe portion 312.

ステップS32において、制御部3は、発生部35により発生領域Eにプラズマを発生させるプラズマ発生処理を行う。具体的は、制御部3は、電源部352によりコイル351に電流を流してコイル351に磁場を誘起させる。その結果、発生領域Eでプラズマ(酸素プラズマ)が発生する。 In step S32, the control unit 3 performs a plasma generation process of generating plasma in the generation region E by the generation unit 35. Specifically, the control unit 3 causes the power supply unit 352 to pass a current through the coil 351 to induce a magnetic field in the coil 351. As a result, plasma (oxygen plasma) is generated in the generation region E.

ステップS33において、制御部3は、発生領域Eの温度を制御する温度制御処理を行う。具体的は、制御部3は、冷却バルブ364を開くことで、冷却通路部362に冷水を供給する。その結果、発生領域Eの温度上昇が抑制される。 In step S33, the control unit 3 performs a temperature control process for controlling the temperature of the generation region E. Specifically, the control unit 3 supplies cold water to the cooling passage unit 362 by opening the cooling valve 364. As a result, the temperature rise in the generation region E is suppressed.

図3、図5、及び図6に示すように、ステップS34において、制御部3は、排出部311に硫酸を供給する硫酸供給処理を行う。硫酸は、第2供給口31cに供給される。 As shown in FIGS. 3, 5, and 6, in step S34, the control unit 3 performs a sulfuric acid supply process for supplying sulfuric acid to the discharge unit 311. Sulfuric acid is supplied to the second supply port 31c.

制御部3が第3薬液バルブ33bを制御して第3薬液バルブ33bを開くことで、第2供給口31cに硫酸が供給される。 When the control unit 3 controls the third chemical solution valve 33b to open the third chemical solution valve 33b, sulfuric acid is supplied to the second supply port 31c.

第2供給口31cに供給された硫酸は、第2通路31gに流入して第2通路31gを流動する。 Sulfuric acid supplied to the second supply port 31c flows into the second passage 31g and flows through the second passage 31g.

ステップS35において、硫酸の液滴αが生成される。以下では、硫酸の液滴αが生成される手順を説明する。 In step S35, sulfuric acid droplet α is generated. The procedure for generating the sulfuric acid droplet α will be described below.

第2通路31gを流動する硫酸は、連通部Gに到達する。連通部Gに到達した硫酸には、気体K1が衝突する。その結果、硫酸の液滴αが生成される。 Sulfuric acid flowing in the second passage 31 g reaches the communication portion G. The gas K1 collides with the sulfuric acid that has reached the communication portion G. As a result, sulfuric acid droplet α is generated.

連通部Gで生成された硫酸の液滴αは、第1通路31fを通じて流動した後、排出口31eに到達する。排出口31eに到達した硫酸の液滴αには、気体K2が衝突する。その結果、排出口31eに到達した硫酸の液滴αは、排出口31eから流入口31mを通じて管部312の内部31pに位置する発生領域Eに誘導される。言い換えれば、排出口31eに到達した硫酸の液滴αは、気体K2の流体圧力により発生領域Eに誘導される。 The sulfuric acid droplet α generated in the communication portion G flows through the first passage 31f and then reaches the discharge port 31e. The gas K2 collides with the sulfuric acid droplet α that has reached the discharge port 31e. As a result, the sulfuric acid droplet α that has reached the discharge port 31e is guided from the discharge port 31e to the generation region E located inside 31p of the pipe portion 312 through the inflow port 31m. In other words, the sulfuric acid droplet α that has reached the discharge port 31e is guided to the generation region E by the fluid pressure of the gas K2.

ステップS36において、プラズマ処理が行われることで、カロ酸が生成される。プラズマ処理は、硫酸がプラズマの発生領域Eに供給されることである。以下では、カロ酸が生成される手順について説明する。 In step S36, the plasma treatment is performed to generate caroic acid. The plasma treatment is that sulfuric acid is supplied to the plasma generation region E. The procedure for producing caroic acid will be described below.

管部312の内部31pに流入した硫酸の液滴αは、管部312の内部31pを流動して発生領域Eに到達する。すなわち、発生領域Eが、硫酸の移動経路R上に位置する。移動経路Rは、管部312の内部31pに位置し、管部312の流入口31mから吐出口31nに向かう方向に形成される。本実施形態では、硫酸は、液滴αの状態で移動経路Rに沿って移動する。また、本実施形態では、移動経路Rが下向きに形成され、硫酸は移動経路Rに沿って落下する。管部312の内部31pに発生領域Eが位置することで、管部312により硫酸を発生領域Eへ向けてガイドすることができる。 The sulfuric acid droplet α that has flowed into the inner 31p of the tube portion 312 flows through the inner 31p of the tube portion 312 and reaches the generation region E. That is, the generation region E is located on the movement path R of sulfuric acid. The movement path R is located inside 31p of the pipe portion 312, and is formed in the direction from the inflow port 31m of the pipe portion 312 toward the discharge port 31n. In the present embodiment, the sulfuric acid moves along the movement path R in the state of the droplet α. Further, in the present embodiment, the movement path R is formed downward, and sulfuric acid falls along the movement path R. Since the generation region E is located inside 31p of the pipe portion 312, the sulfuric acid can be guided toward the generation region E by the pipe portion 312.

硫酸の液滴αが発生領域Eを流動する際、酸素プラズマにより酸化される。その結果、発生領域Eにおいて、硫酸からカロ酸が生成される。詳細には、硫酸の液滴αからカロ酸の液滴βが生成される。 When the sulfuric acid droplet α flows through the generation region E, it is oxidized by the oxygen plasma. As a result, caroic acid is produced from sulfuric acid in the generation region E. Specifically, a liquid drop β of caroic acid is generated from a liquid drop α of sulfuric acid.

ステップS37において、管部312の吐出口31nから管部312の外部にカロ酸の液滴βが吐出される。詳細には、カロ酸の液滴βを含んだガスが放出される。カロ酸の液滴βは、気体K3(図6参照)の圧力により吐出口31nから吐出される。 In step S37, the liquid drop β of caroic acid is discharged from the discharge port 31n of the pipe portion 312 to the outside of the pipe portion 312. Specifically, a gas containing a droplet β of caroic acid is released. The liquid drop β of caroic acid is discharged from the discharge port 31n by the pressure of the gas K3 (see FIG. 6).

管部312の吐出口31nは、基板Wの主面Wa(図2参照)に対向している。管部312の吐出口31nから吐出されたカロ酸の液滴βは、基板Wの主面Waに供給される。基板Wの主面Waにカロ酸の液滴βが供給されることで、カロ酸の酸化力により基板Wの主面Waからレジスト膜が除去される。その結果、カロ酸供給処理が終了する。カロ酸供給処理が終了すると、処理が、図4に示すステップS4に移行する。 The discharge port 31n of the pipe portion 312 faces the main surface Wa (see FIG. 2) of the substrate W. The liquid drop β of caroic acid discharged from the discharge port 31n of the pipe portion 312 is supplied to the main surface Wa of the substrate W. By supplying the droplet β of caroic acid to the main surface Wa of the substrate W, the resist film is removed from the main surface Wa of the substrate W by the oxidizing power of the caroic acid. As a result, the caroic acid supply process is completed. When the caroic acid supply treatment is completed, the treatment proceeds to step S4 shown in FIG.

以上、図3から図7を参照して説明したように、発生領域Eが硫酸の移動経路R上に位置する(図7参照)。従って、移動する硫酸に対してプラズマが供給される。その結果、硫酸の特定箇所にのみプラズマが照射されることを抑制できるので、硫酸に対してプラズマを効果的に供給することができ、カロ酸を効率的に生成することができる。カロ酸を効率的に生成することは、使用される硫酸の量に対して、カロ酸を多量に生成できることである。また、本実施形態では、硫酸の移動経路Rの延長線上に基板W(図2参照)が位置する。従って、排出部311から吐出された硫酸は、移動経路Rに沿って基板Wに向かう。また、排出部311からは、基板Wの処理に使用される分だけの硫酸が吐出される。その結果、硫酸を無駄なく使用することができる。また、本実施形態では、第3薬液ノズル31が基板Wにカロ酸を供給する際、硫酸の移動経路Rの延長線上において、第3薬液ノズル31が最も基板Wに近くなる位置に基板Wが配置される。すなわち、発生領域Eが基板Wの直近傍に位置する。従って、カロ酸が基板W以外の場所へ供給されることが抑制でき、カロ酸を基板Wに効果的に供給することができる。 As described above with reference to FIGS. 3 to 7, the generation region E is located on the movement path R of sulfuric acid (see FIG. 7). Therefore, plasma is supplied to the moving sulfuric acid. As a result, it is possible to suppress the irradiation of plasma only to a specific portion of sulfuric acid, so that plasma can be effectively supplied to sulfuric acid and caroic acid can be efficiently generated. Efficient production of caroic acid means that a large amount of caroic acid can be produced with respect to the amount of sulfuric acid used. Further, in the present embodiment, the substrate W (see FIG. 2) is located on the extension line of the sulfuric acid movement path R. Therefore, the sulfuric acid discharged from the discharge unit 311 goes toward the substrate W along the movement path R. In addition, the amount of sulfuric acid used for processing the substrate W is discharged from the discharge unit 311. As a result, sulfuric acid can be used without waste. Further, in the present embodiment, when the third chemical solution nozzle 31 supplies caroic acid to the substrate W, the substrate W is located at a position where the third chemical solution nozzle 31 is closest to the substrate W on the extension line of the sulfuric acid movement path R. Be placed. That is, the generation region E is located in the immediate vicinity of the substrate W. Therefore, it is possible to suppress the supply of caroic acid to a place other than the substrate W, and the caroic acid can be effectively supplied to the substrate W.

また、図7に示すように、排出部311は、硫酸と気体とを混合することで硫酸の液滴αを生成する。従って、発生領域Eに硫酸の液滴αが供給される。その結果、硫酸の液滴αの全域に効果的にプラズマを供給することができるので、より効率的にカロ酸を生成することができる。 Further, as shown in FIG. 7, the discharge unit 311 generates a liquid drop α of sulfuric acid by mixing sulfuric acid and a gas. Therefore, the sulfuric acid droplet α is supplied to the generation region E. As a result, plasma can be effectively supplied to the entire area of the sulfuric acid droplet α, so that caroic acid can be generated more efficiently.

また、発生領域Eに硫酸の液滴αが供給されることで、硫酸の液滴αの全域にプラズマを供給しやすくなるので、発生領域EのZ方向の寸法を短くすることができる。その結果、生成装置30をコンパクト化することができる。Z方向は、移動経路Rに沿った方向である。本実施形態では、Z方向は、上下方向である。 Further, since the sulfuric acid droplet α is supplied to the generation region E, plasma can be easily supplied to the entire area of the sulfuric acid droplet α, so that the dimension of the generation region E in the Z direction can be shortened. As a result, the generator 30 can be made compact. The Z direction is a direction along the movement path R. In the present embodiment, the Z direction is the vertical direction.

また、温度制御機構36は、管部312の周囲に冷水のような冷却材を供給することで、発生領域Eの温度を所定の範囲内の温度に制限する。所定の範囲内の温度は、例えば、150℃以上200℃以下の温度である。従って、発生領域Eで生成されたカロ酸が気化することを抑制できるので、ステップS37において、管部312の吐出口31nからカロ酸を液滴βの状態で吐出することができる。その結果、吐出口31nから吐出されたカロ酸が拡散することが抑制されるので、カロ酸を基板Wに向けて容易に供給することができる。なお、生成装置30は、温度制御機構36を含んでいなくてもよい。その結果、温度制御機構36を設けない分、生成装置30の装置構成を簡素化できる点で有利である。 Further, the temperature control mechanism 36 limits the temperature of the generation region E to a temperature within a predetermined range by supplying a coolant such as cold water around the pipe portion 312. The temperature within the predetermined range is, for example, a temperature of 150 ° C. or higher and 200 ° C. or lower. Therefore, since it is possible to suppress the vaporization of the caroic acid generated in the generation region E, in step S37, the caroic acid can be discharged in the state of the droplet β from the discharge port 31n of the pipe portion 312. As a result, the caroic acid discharged from the discharge port 31n is suppressed from diffusing, so that the caroic acid can be easily supplied toward the substrate W. The generation device 30 does not have to include the temperature control mechanism 36. As a result, since the temperature control mechanism 36 is not provided, it is advantageous in that the apparatus configuration of the generator 30 can be simplified.

また、生成装置30が発生領域Eの温度を検出する温度センサを有していてもよい。この場合、制御部3は、温度センサの検出値に基づいて冷却バルブ364の開度を調整することで、発生領域Eの温度を所定の範囲内の温度に制御する。 Further, the generation device 30 may have a temperature sensor that detects the temperature of the generation region E. In this case, the control unit 3 controls the temperature of the generation region E to a temperature within a predetermined range by adjusting the opening degree of the cooling valve 364 based on the detection value of the temperature sensor.

以上、図面(図1〜図10)を参照しながら本発明の実施形態について説明した。但し、本発明は、上記の実施形態に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々の態様において実施することが可能である(例えば、(1)〜(9))。また、上記の実施形態に開示されている複数の構成要素を適宜組み合わせることによって、種々の発明の形成が可能である。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。図面は、理解しやすくするために、それぞれの構成要素を主体に模式的に示しており、図示された各構成要素の個数等は、図面作成の都合から実際とは異なる場合もある。また、上記の実施形態で示す各構成要素は一例であって、特に限定されるものではなく、本発明の効果から実質的に逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。 The embodiments of the present invention have been described above with reference to the drawings (FIGS. 1 to 10). However, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be implemented in various embodiments without departing from the gist thereof (for example, (1) to (9)). In addition, various inventions can be formed by appropriately combining the plurality of components disclosed in the above embodiments. For example, some components may be removed from all the components shown in the embodiments. The drawings are schematically shown mainly for each component for easy understanding, and the number of each component shown may differ from the actual one due to the convenience of drawing. Further, each component shown in the above embodiment is an example, and is not particularly limited, and various modifications can be made without substantially deviating from the effect of the present invention.

(1)例えば、発生領域EのZ方向の寸法(図7参照)を、第1供給口31bに供給される単位時間当たりの硫酸の供給量に応じて変更してもよい。具体的には、硫酸の供給量が多くなる程、発生領域EのZ方向の寸法を大きくする。なお、発生領域EのZ方向の寸法は、例えば、コイル351の長さを変更することによって調整される。 (1) For example, the dimension of the generation region E in the Z direction (see FIG. 7) may be changed according to the amount of sulfuric acid supplied per unit time supplied to the first supply port 31b. Specifically, the larger the supply amount of sulfuric acid, the larger the dimension of the generation region E in the Z direction. The dimension of the generation region E in the Z direction is adjusted, for example, by changing the length of the coil 351.

(2)第3薬液ノズル31(図1参照)が待機位置に位置するとき、第3薬液ノズル31が冷却されてもよい。この場合、例えば、第3薬液ノズル31が、例えば、窒素ガスの気流を噴射することで冷却されてもよい。また、第3薬液ノズル31が温度制御機構36により冷却されてもよい。第3薬液ノズル31は、例えば、常温程度まで冷却される。その結果、第3薬液ノズル31の待機状態が解除されて、第3薬液ノズル31が図5に示すカロ酸供給処理を開始する際、カロ酸供給処理を円滑に開始することができる。 (2) When the third chemical solution nozzle 31 (see FIG. 1) is located in the standby position, the third chemical solution nozzle 31 may be cooled. In this case, for example, the third chemical solution nozzle 31 may be cooled by injecting, for example, an air flow of nitrogen gas. Further, the third chemical solution nozzle 31 may be cooled by the temperature control mechanism 36. The third chemical solution nozzle 31 is cooled to, for example, about room temperature. As a result, when the standby state of the third chemical solution nozzle 31 is released and the third chemical solution nozzle 31 starts the caroic acid supply process shown in FIG. 5, the caroic acid supply process can be smoothly started.

(3)図8を参照して、生成装置30の変形例300について説明する。図8は、生成装置30の変形例300を示す図である。 (3) A modified example 300 of the generator 30 will be described with reference to FIG. FIG. 8 is a diagram showing a modification 300 of the generation device 30.

図3に示すように、本実施形態では、第1外側通路311fは、第1連通路313fを介して第2外側通路312fに連通する。しかし、本発明はこれに限定されない。図8に示すように、第1外側通路311fは、第2外側通路312fと独立しており、第2外側通路312fと連通されていなくてもよい。すなわち、第1連通路313fが設けられなくてもよい。この場合、第1外側通路311fは、第1供給口31bに連通する。第2外側通路312fは、第1供給口31bとは異なる第4供給口312bに連通する。そして、第1供給口31bと第4供給口312bとの各々に対して、気体が供給される。 As shown in FIG. 3, in the present embodiment, the first outer passage 311f communicates with the second outer passage 312f via the first communication passage 313f. However, the present invention is not limited to this. As shown in FIG. 8, the first outer passage 311f is independent of the second outer passage 312f and does not have to be communicated with the second outer passage 312f. That is, the first passage 313f may not be provided. In this case, the first outer passage 311f communicates with the first supply port 31b. The second outer passage 312f communicates with the fourth supply port 312b, which is different from the first supply port 31b. Then, gas is supplied to each of the first supply port 31b and the fourth supply port 312b.

図3に示すように、第1内側通路311gは、第2連通路313gを介して第2内側通路312gに連通する。しかし、本発明はこれに限定されない。図8に示すように、第1内側通路311gは、第2内側通路312gと独立しており、第2内側通路312gと連通されていなくてもよい。すなわち、第2連通路313gが設けられなくてもよい。この場合、第1内側通路311gは、第2供給口31cに連通する。第2内側通路312gは、第2供給口31cとは異なる第5供給口312cに連通する。そして、第2供給口31cと第5供給口312cとの各々に対して、硫酸が供給される。 As shown in FIG. 3, the first inner passage 311g communicates with the second inner passage 312g via the second communication passage 313g. However, the present invention is not limited to this. As shown in FIG. 8, the first inner passage 311g is independent of the second inner passage 312g and does not have to be communicated with the second inner passage 312g. That is, the second passage 313g may not be provided. In this case, the first inner passage 311g communicates with the second supply port 31c. The second inner passage 312g communicates with a fifth supply port 312c, which is different from the second supply port 31c. Then, sulfuric acid is supplied to each of the second supply port 31c and the fifth supply port 312c.

生成装置30の変形例300を用いることによっても、本実施形態の生成装置30を用いた場合と同様の効果を奏する。 By using the modification 300 of the generation device 30, the same effect as when the generation device 30 of the present embodiment is used can be obtained.

(4)本実施形態では、生成装置30によりカロ酸が生成される。しかし、本発明はこれに限定されない。生成装置30によりSC1が生成されてもよい。 (4) In the present embodiment, caroic acid is produced by the generation device 30. However, the present invention is not limited to this. SC1 may be generated by the generation device 30.

以下では、図9を参照して、SC1を生成する生成装置30の装置構成の第1例について説明する。図9は、SC1を生成する生成装置30の装置構成の第1例を示す図である。 In the following, with reference to FIG. 9, a first example of the device configuration of the generation device 30 for generating SC1 will be described. FIG. 9 is a diagram showing a first example of an apparatus configuration of the generator 30 for generating SC1.

図9に示すように、生成装置30によりSC1が生成される場合、第2供給口31cには、硫酸では無く、アンモニア水が供給される。第1供給口31bと第3供給口31dとには、例えば、本実施形態の気体と同じ気体が供給される。そして、アンモニア水の液滴α1がプラズマの発生領域Eを通過する際に、アンモニア水に含まれる水に対してプラズマが供給されることで過酸化水素水が生成される。その結果、アンモニア水と過酸化水素水と水との混合液であるSC1が生成される。 As shown in FIG. 9, when SC1 is generated by the generation device 30, ammonia water is supplied to the second supply port 31c instead of sulfuric acid. For example, the same gas as the gas of the present embodiment is supplied to the first supply port 31b and the third supply port 31d. Then, when the droplet α1 of the ammonia water passes through the plasma generation region E, the plasma is supplied to the water contained in the ammonia water to generate the hydrogen peroxide solution. As a result, SC1 which is a mixed solution of aqueous ammonia, hydrogen peroxide and water is produced.

発生領域Eで生成されたSC1の液滴β1は、管部312から放出される。その結果、過酸化水素水を準備すること無く、SC1を生成することができる。 The liquid drop β1 of SC1 generated in the generation region E is discharged from the tube portion 312. As a result, SC1 can be produced without preparing a hydrogen peroxide solution.

SC1は、本発明の処理流体の第2例である。アンモニア水は、本発明の処理液の第2例である。 SC1 is a second example of the processing fluid of the present invention. Ammonia water is a second example of the treatment liquid of the present invention.

(5)図10を参照して、SC1を生成する生成装置30の装置構成の第2例について説明する。図10は、SC1を生成する生成装置30の装置構成の第2例を示す図である。 (5) With reference to FIG. 10, a second example of the apparatus configuration of the generator 30 for generating SC1 will be described. FIG. 10 is a diagram showing a second example of the device configuration of the generation device 30 that generates SC1.

第2例は、図8に示す生成装置30の変形例300が用いられる点が第1例と異なる。 The second example differs from the first example in that the modified example 300 of the generator 30 shown in FIG. 8 is used.

図10に示すように、第1供給口31bには窒素が供給され、第2供給口31cにはアンモニア水が供給され、第5供給口312cには水が供給され、かつ、第4供給口312bにはアルゴンが供給される。第3供給口31dには、本実施形態と同様の気体、又は空気が供給される。その結果、水とプラズマとにより過酸化水素水が生成されることで、SC1を生成することができる。また、窒素とアンモニア水とを連通部Gで合流させることで、アンモニアの成分が分解することを抑制できる。また、アルゴンを用いることで過酸化水素を効果的に生成することができる。 As shown in FIG. 10, nitrogen is supplied to the first supply port 31b, ammonia water is supplied to the second supply port 31c, water is supplied to the fifth supply port 312c, and the fourth supply port is supplied. Argon is supplied to the 312b. The same gas or air as in this embodiment is supplied to the third supply port 31d. As a result, SC1 can be produced by generating hydrogen peroxide solution by water and plasma. Further, by merging nitrogen and ammonia water at the communication portion G, it is possible to suppress the decomposition of the ammonia component. Further, hydrogen peroxide can be effectively generated by using argon.

(6)図11を参照して、排出部311の変形例である排出部400について説明する。図11は、排出部311の変形例である排出部400を示す模式図である。 (6) With reference to FIG. 11, the discharge unit 400, which is a modified example of the discharge unit 311, will be described. FIG. 11 is a schematic view showing a discharge unit 400 which is a modified example of the discharge unit 311.

図11に示すように、排出部400は、本体部401と、第6供給口402と、第7供給口403と、排出口404と、第4通路405と、第5通路406とを有する。 As shown in FIG. 11, the discharge unit 400 has a main body unit 401, a sixth supply port 402, a seventh supply port 403, a discharge port 404, a fourth passage 405, and a fifth passage 406.

本体部401は、排出部400を形成する構造物である。 The main body portion 401 is a structure forming the discharge portion 400.

第6供給口402と、第7供給口403と、排出口404とは、本体部401の外面に形成される開口である。第4通路405と、第5通路406とは、本体部401内に形成される空所である。 The sixth supply port 402, the seventh supply port 403, and the discharge port 404 are openings formed on the outer surface of the main body 401. The fourth passage 405 and the fifth passage 406 are vacant spaces formed in the main body 401.

第6供給口402は、供給管500に連結する。供給管500は、気体の供給源に連通する。気体の供給源は、供給管500を介して第6供給口402に気体を供給する。気体の供給源から供給される気体は、本実施形態の気体と同様の気体である。 The sixth supply port 402 is connected to the supply pipe 500. The supply pipe 500 communicates with the gas supply source. The gas supply source supplies gas to the sixth supply port 402 via the supply pipe 500. The gas supplied from the gas source is the same gas as the gas of the present embodiment.

第7供給口403は、硫酸の供給源に連通し、硫酸を供給される。 The seventh supply port 403 communicates with the sulfuric acid supply source to supply sulfuric acid.

排出口404は、第1排出口404aと、第2排出口404bとを有する。第2排出口404bは、第1排出口404aを囲むように環状に形成される。 The discharge port 404 has a first discharge port 404a and a second discharge port 404b. The second discharge port 404b is formed in an annular shape so as to surround the first discharge port 404a.

排出口404には、管部312が連なる。管部312には、本実施形態と同様に、発生部35と温度制御機構36とが設けられる(図3参照)。 A pipe portion 312 is connected to the discharge port 404. Similar to the present embodiment, the pipe portion 312 is provided with a generating portion 35 and a temperature control mechanism 36 (see FIG. 3).

第4通路405は、第5通路406を中心に環状に形成される。第4通路405は、第6供給口402に連通すると共に、第2排出口404bに連通する。その結果、第2排出口404bが第4通路405を介して第6供給口402に連通する。 The fourth passage 405 is formed in a ring shape around the fifth passage 406. The fourth passage 405 communicates with the sixth supply port 402 and also communicates with the second discharge port 404b. As a result, the second discharge port 404b communicates with the sixth supply port 402 via the fourth passage 405.

第5通路406は、第7供給口403に連通すると共に、第1排出口404aに連通する。その結果、第1排出口404aが第5通路406を介して第7供給口403に連通する。 The fifth passage 406 communicates with the seventh supply port 403 and also communicates with the first discharge port 404a. As a result, the first discharge port 404a communicates with the seventh supply port 403 via the fifth passage 406.

排出部400の動作について説明する。 The operation of the discharge unit 400 will be described.

第6供給口402から供給された気体は、第4通路405を通じて流れた後、第2排出口404bから排出される。第7供給口403から供給された硫酸は、第5通路406を通じて流れた後、第1排出口404aから排出される。第2排出口404bから排出された気体と、第1排出口404aから排出され硫酸とが互いに衝突することで、硫酸の液滴が生成される。硫酸の液滴は、管部312を流れる。そして、硫酸の液滴αが管部312を流れる際、移動経路R上に存在する発生領域Eを通ることで、カロ酸が生成される(図7を参照)。本実施形態では、硫酸の液滴αが発生領域Eを通るので、カロ酸の液滴βが生成される。その結果、管部312からカロ酸の液滴βが放出される。 The gas supplied from the sixth supply port 402 flows through the fourth passage 405 and then is discharged from the second discharge port 404b. Sulfuric acid supplied from the seventh supply port 403 flows through the fifth passage 406 and then is discharged from the first discharge port 404a. The gas discharged from the second discharge port 404b and the sulfuric acid discharged from the first discharge port 404a collide with each other to generate sulfuric acid droplets. Sulfuric acid droplets flow through the tube section 312. Then, when the sulfuric acid droplet α flows through the tube portion 312, caroic acid is generated by passing through the generation region E existing on the movement path R (see FIG. 7). In the present embodiment, since the sulfuric acid droplet α passes through the generation region E, the caroic acid droplet β is generated. As a result, the liquid drop β of caroic acid is released from the tube portion 312.

なお、第4通路405は、第5通路406を中心に環状に形成される。しかし、図8に示す第1外側通路311fと第2外側通路312fとのように、第4通路405は、複数の独立した通路で構成されていてもよい。また、図7に示す第1外側通路311fと第2外側通路312fとのように、第4通路405は、複数の独立した通路が互いに連通した構造を有していてもよい。 The fourth passage 405 is formed in a ring shape around the fifth passage 406. However, like the first outer passage 311f and the second outer passage 312f shown in FIG. 8, the fourth passage 405 may be composed of a plurality of independent passages. Further, like the first outer passage 311f and the second outer passage 312f shown in FIG. 7, the fourth passage 405 may have a structure in which a plurality of independent passages communicate with each other.

また、排出部400を用いてSC1が生成されてもよい。この場合、第7供給口403にはアンモニア水が供給され、かつ、第6供給口402には気体が供給される。 Further, SC1 may be generated by using the discharge unit 400. In this case, ammonia water is supplied to the 7th supply port 403, and gas is supplied to the 6th supply port 402.

(7)図7に示すように、本実施形態では、排出部311から硫酸の液滴αが放出される。しかし、本発明はこれに限定されない。排出部311から液滴αに分離されていない状態の液体の硫酸が排出されてもよい。すなわち、排出部311から硫酸を含む液体が連続して放出されてもよい。その結果、連通部Gで気体と硫酸とを混合(衝突)させる構成が不要になるので、生成装置30の装置構成を簡素化することができる。 (7) As shown in FIG. 7, in the present embodiment, the sulfuric acid droplet α is discharged from the discharge unit 311. However, the present invention is not limited to this. Liquid sulfuric acid that has not been separated into the droplet α may be discharged from the discharge unit 311. That is, the liquid containing sulfuric acid may be continuously discharged from the discharge unit 311. As a result, the configuration in which the gas and sulfuric acid are mixed (collised) in the communication portion G becomes unnecessary, so that the apparatus configuration of the generation apparatus 30 can be simplified.

(8)図7に示すように、本実施形態では、発生領域Eは、管部312の内部に位置する。しかし、本発明はこれに限定されない。発生領域Eは、硫酸の移動経路R上に位置していればよく、管部312の内部以外の場所に位置していてもよい。例えば、発生領域Eは、管部312の外部(第3薬液ノズル31の外部)に位置していてもよい。この場合、第3薬液ノズル31は、管部312を備えなくてもよい。その結果、生成装置30の装置構成を簡素化することができる。 (8) As shown in FIG. 7, in the present embodiment, the generation region E is located inside the pipe portion 312. However, the present invention is not limited to this. The generation region E may be located on the movement path R of sulfuric acid, and may be located at a location other than the inside of the pipe portion 312. For example, the generation region E may be located outside the pipe portion 312 (outside the third chemical solution nozzle 31). In this case, the third chemical solution nozzle 31 does not have to include the pipe portion 312. As a result, the device configuration of the generation device 30 can be simplified.

(9)基板処理装置100は、基板Wを1枚ずつ処理する枚葉型の装置である。しかし、本発明はこれに限定されない。基板処理装置100は、複数の基板Wを同時に処理するバッチ型の装置でもよい。 (9) The substrate processing apparatus 100 is a single-wafer type apparatus that processes substrates W one by one. However, the present invention is not limited to this. The substrate processing apparatus 100 may be a batch type apparatus that simultaneously processes a plurality of substrates W.

本発明は、生成装置、基板処理装置、及び基板処理方法の分野に利用可能である。 The present invention is available in the fields of generators, substrate processing devices, and substrate processing methods.

30 生成装置
35 発生部
311 排出部
E 発生領域
R 移動経路
W 基板
α 液滴
30 Generation device 35 Generation unit 311 Discharge unit E Generation area R Movement path W Substrate α Drop model

Claims (12)

基板の処理に使用される処理流体を処理液から生成する生成装置であって、
前記処理液を排出する排出部と、
プラズマを発生させる発生部と
を備え、
前記プラズマの発生領域が、前記排出部から排出された前記処理液の移動経路上に位置する、生成装置。
A generator that generates a processing fluid used for processing a substrate from a processing liquid.
A discharge unit that discharges the treatment liquid and
Equipped with a generator that generates plasma
A generator in which the plasma generation region is located on the movement path of the processing liquid discharged from the discharge unit.
前記処理流体は、カロ酸を含み、
前記処理液は、硫酸を含む、請求項1に記載の生成装置。
The processing fluid contains caroic acid and
The generator according to claim 1, wherein the treatment liquid contains sulfuric acid.
前記排出部は、前記処理液と気体とを混合することで前記処理液の液滴を生成する、請求項1又は請求項2に記載の生成装置。 The generator according to claim 1 or 2, wherein the discharge unit generates droplets of the treatment liquid by mixing the treatment liquid and a gas. 前記排出部は、
前記気体が供給される第1供給口と、
前記処理液が供給される第2供給口と、
前記気体が供給される第3供給口と、
前記第3供給口に連通する排出口と、
前記第1供給口に連通すると共に前記排出口に連通する第1通路と、
前記第2供給口に連通すると共に前記第1通路に連通する第2通路と
を有する、請求項3に記載の生成装置。
The discharge part
The first supply port to which the gas is supplied and
The second supply port to which the treatment liquid is supplied and
The third supply port to which the gas is supplied and
An outlet that communicates with the third supply port and
A first passage that communicates with the first supply port and also communicates with the discharge port,
The generator according to claim 3, further comprising a second passage communicating with the second supply port and communicating with the first passage.
前記排出部は、
前記気体が供給される第1供給口と、
前記処理液が供給される第2供給口と、
前記第2供給口に連通する第1排出口と、
前記第1排出口を囲むように形成され、前記第1供給口に連通する第2排出口と
を有する、請求項3に記載の生成装置。
The discharge part
The first supply port to which the gas is supplied and
The second supply port to which the treatment liquid is supplied and
The first discharge port communicating with the second supply port and
The generator according to claim 3, further comprising a second discharge port formed so as to surround the first discharge port and communicating with the first supply port.
前記気体は、酸素、窒素、アルゴン、及びヘリウムのうちの少なくとも1つを含む、請求項3から請求項5のいずれか1項に記載の生成装置。 The generator according to any one of claims 3 to 5, wherein the gas contains at least one of oxygen, nitrogen, argon, and helium. 前記排出部から突出する管部をさらに備え、
前記プラズマの発生領域が、前記管部の内部に位置する、請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の生成装置。
Further provided with a pipe portion protruding from the discharge portion,
The generator according to any one of claims 1 to 6, wherein the plasma generation region is located inside the tube portion.
前記プラズマは、誘導結合プラズマである、請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の生成装置。 The generator according to any one of claims 1 to 7, wherein the plasma is an inductively coupled plasma. 前記発生部は、常圧で酸素プラズマを発生させる、請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の生成装置。 The generator according to any one of claims 1 to 8, wherein the generating unit generates oxygen plasma at normal pressure. 前記プラズマの発生領域の温度を制御する温度制御機構をさらに備える、請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の生成装置。 The generator according to any one of claims 1 to 9, further comprising a temperature control mechanism for controlling the temperature of the plasma generation region. 請求項1から請求項10のいずれか1項に記載の生成装置を備え、
前記生成装置により生成された前記処理流体を前記基板に供給する、基板処理装置。
The generator according to any one of claims 1 to 10 is provided.
A substrate processing apparatus that supplies the processing fluid generated by the generator to the substrate.
レジスト膜を表面に有する基板を処理する基板処理方法であって、
気体と硫酸とを混合することで前記硫酸の液滴を生成する工程と、
プラズマの発生領域で前記硫酸の液滴を移動させることでカロ酸を生成する工程と、
前記カロ酸を基板に供給する工程と
を備える、基板処理方法。
A substrate processing method for processing a substrate having a resist film on its surface.
The process of producing the sulfuric acid droplets by mixing gas and sulfuric acid, and
The process of producing caroic acid by moving the sulfuric acid droplets in the plasma generation region, and
A substrate processing method comprising a step of supplying the caroic acid to a substrate.
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