JP2020132165A - ワーク加熱装置 - Google Patents
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Abstract
Description
前記ワークの熱溶着部の外観を評価する外観評価部と、
前記外観評価部による外観評価に基づいて、前記熱シール部の温度目標値を補正する温度目標値補正部と、
を備える。
前記ワークの熱溶着部の外観を評価する外観評価部と、
前記外観評価部による外観評価に基づいて、前記熱シール部の温度目標値を補正する温度目標値補正部と、
を備える。
前記ワークの熱溶着部の外観の画像データを取得する撮像部と、
前記ワークの熱溶着部の外観の前記画像データについて、外観不良を検出する外観不良検出部と、
を備え、
前記温度目標値補正部は、前記外観不良検出部で検出された前記外観不良に基づいて、前記熱シール部の温度目標値を引き下げるように補正してもよい。
ヒータと、
前記ヒータの温度を計測する温度センサと、
前記温度センサで計測された温度に基づいて、前記ヒータの温度を温度目標値に近づけるように制御するヒータ温度制御部と、
を備えてもよい。
図1は、実施の形態1に係るワーク加熱装置40の構成を示すブロック図である。図2は、図1の外観評価部20の内部構成を示すブロック図である。図3は、図2の外観評価部20の物理的構成及び機能的構成を示すブロック図である。図4は、実施の形態1に係るワーク加熱装置のヒートバー2a、2bの外観の一例を示す概略図である。
実施の形態1に係るワーク加熱装置40は、熱シール部10と、外観評価部20と、温度目標値補正部24と、を備える。熱シール部10によってワーク1を加熱して熱溶着する。外観評価部20によって、ワーク1の熱溶着部の外観を評価する。温度目標値補正部24によって、外観評価部20による外観評価に基づいて、熱シール部10の温度目標値を補正する。
このワーク加熱装置40によれば、外観評価部20によってワーク1の熱溶着部の外観を評価して、その外観評価に基づいて、熱シール部10にフィードバックするので、ワーク1のロット変動や周囲温度等環境条件の変動にも対応できる。
図5は、図4のワーク加熱装置のヒートバー2a、2bと温度センサ6を示す概略図である。
熱シール部10は、ヒートバー2と、ヒータ温度制御部8と、を備える。ヒートバー2、2a、2bは、図4及び図5に示すように、例えば、ワーク1を挟んで加熱して熱溶着する。また、図4及び図5の例ではワーク1を挟むように2つのヒートバー2a、2bを設けているが、これに限られず、1つのヒートバーであってもよい。なお、図4では、ワーク1は、連続する袋状であり、ヒートバー2a、2bによって所定間隔で熱溶着される。ヒートバー2は、図1及び図5に示すように、ヒータ4、4a、4bと、ヒータ4、4a、4bの温度を計測する温度センサ6とを備える。なお、ヒータ4a、4bは、図5に示すように2つのヒートバー2a、2bのそれぞれに設けてもよく、一方のヒートバーにのみ設けてもよい。また、温度センサ6は、ワーク1から所定間隔離れた箇所に設けているが、これに限られず、ワーク1に近接して設けてもよい。
ヒートバー2、2a、2bは、図6(a)に示すように、ワーク1の熱溶着のために温度目標値に近づけるように温度制御される。この場合、連続シール動作の開始と共にワークと接触するため、ヒートバーの温度はいくぶん低下し、連続シール動作の間は、ワークへの熱伝導が連続して行われる定常的な熱伝導が平衡状態となることで温度が安定する。なお、ワークの連続シールは、例えば、1つ当たり0.1秒〜2秒で行われる。連続シールの終了とともにヒートバーの温度は温度目標値に近い温度に戻る。
図3は、図2の外観評価部20の物理的構成及び機能的構成を示すブロック図である。
外観評価部20は、図2に示すように、例えば、撮像部22と、外観不良検出部35aとを含む。また、外観評価部20は、物理的構成及び機能的構成の観点では、図3に示すように、撮像部22と制御部30とを含む。撮像部22によって、ワークの熱溶着部の外観の画像データを取得する。外観不良検出部35aによって、ワークの熱溶着部の外観の前記画像データについて、外観不良を検出する。
制御部30は、例えば、コンピュータ装置である。このコンピュータ装置としては、汎用的なコンピュータ装置を用いることができ、例えば、図3に示すように、処理部31、記憶部32、表示部33を含む。なお、さらに、入力装置、記憶装置、インタフェース等を含んでもよい。制御部30によって、撮像部22を制御している。
処理部31は、例えば、中央処理演算子(CPU)、マイクロコンピュータ、又は、コンピュータで実行可能な命令を実行できる処理装置であればよい。
記憶部32は、例えば、ROM、EEPROM、RAM、フラッシュSSD、ハードディスク、USBメモリ、磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク等の少なくとも一つであってもよい。
記憶部32には、プログラム35を含む。なお、制御部30がネットワークに接続されている場合には、必要に応じてプログラム35をネットワークからダウンロードしてもよい。
プログラム35には、外観不良検出部35aを含んでいればよい。外観不良検出部35aによって、ワークの熱溶着部の外観の画像データについて、外観不良を検出する。具体的には、図7に示すように、ワークを所定温度より高温で熱溶着を行った場合、ワークの熱溶着部にしわ、エッジ切れ、ピンホール等の外観不良が発生する。なお、この所定温度は、ワークのロット変動や周囲温度等の環境条件の変動によって変化しうるものである。外観不良検出部35aでは、ワークの熱溶着部の外観の画像データについて、例えば、斜め方向からの光による影を検出して、しわを検出してもよい。あるいは、ワークの透過光又は反射光について周囲より強度が強い又は弱い箇所をエッジ切れ、ピンホールとして検出してもよい。例えば、製品を包装材で包装した包装体の包装不良を検査する包装不良検査方法が開示されている(例えば、特開2011−79564号公報参照。)。この検査方法では、包装体に対して前記包装体を中心とする全方向の全仰角から照明しながら包装体を上方から撮像している。その後、欠陥候補となる影が存在する場合、少なくとも前記影の長さを計測し、計測された長さを用いて影が欠陥であるか否かを判定している。
なお、これらに限られず、一般的に利用される外観不良検出のためのプログラムを利用してもよい。
表示部33は、例えば、図6の各熱シールごとのヒートバー温度(a)、ワーク温度(b)、及び、連続シール動作(c)を示してもよい。
図7は、温度目標値と外観不良の発生との関係とを示す概略図である。
温度目標値補正部24は、外観評価部20による外観評価に基づいて、熱シール部10の温度目標値を補正する。具体的には、温度目標値補正部24は、外観評価部20の外観不良検出部35aで検出された外観不良に基づいて、熱シール部10の温度目標値を引き下げるように補正してもよい。例えば、温度目標値を1℃引き下げてもよい。つまり、図7に示すように、高温になるにつれて外観不良の数が増加するので、外観不良の発生を抑制するために、このワーク加熱装置では、温度目標値を引き下げている。なお、温度目標値は、逐次引き下げていってもよいが、下限となる、ワークの熱溶着に必要な下限温度を設定しておいてもよい。温度目標値は、この下限温度より下には下げないこととしてもよい。
図8は、実施の形態1に係るワークの熱溶着方法のフローチャートである。
(1)まず、初期値を入力するか、あるいは、あらかじめ入力された初期値を読み込む(S01)。具体的には、温度目標値SPを150℃に設定し、熱シール回数nを0とする。また、外観異常フラグF1を0とする。なお、温度目標値SPの下限値を100℃とする。
(2)熱シール回数nをn+1に更新する(S02)。具体的には熱シール回数nに1を加算する。
(3)n回め熱シールを実行する(S03)。
(4)外観異常フラグF1が1であるか否か判断する(S04)。なお、最初に行う際には外観異常フラグF1は0であるので、No(S05)へ分岐する。2周目以降には、外観異常を検出している場合があり、その場合には、YES(S09)へ分岐する。
(5)外観異常フラグF1の判断がNoの場合に、n回め熱シール部(熱溶着部)の外観計測を行う(S05)。
(7)終了条件を満たすか判断する(S07)。終了条件は、例えば、熱シール回数nが予定のシール回数に達した場合、停止ボタンが押された場合、等である。終了条件を満たす場合には、YESへ分岐し、終了する。終了条件を満たさない場合には、No(S02)へ分岐し、熱シール回数の更新に戻る。なお、終了条件は、上記の場合に限られない。
(9)ヒータ温度が安定か判断する(S09)。ヒータ温度は、温度センサで計測された温度である。このヒータ温度は、熱シールごとのヒートバーの最大温度、最小温度、又は平均温度のいずれであってもよい。ヒータ温度が安定な場合には、YES(S10)へ分岐する。ヒータ温度が安定でないと判断された場合には、No(S07)へ分岐する。これは、温度目標値の補正があった場合に、ヒータにおける温度追従には一定時間必要となることを考慮するためである。つまり、たとえ温度目標値の補正があってもヒータの温度は直ちに下がらないので、そのまま外観評価を行うと、再び外観不良を検出する場合がある。その結果、ヒータ温度が安定する前に温度目標値が累積的に低くなるという問題がある。この場合には、意図しないほどに温度目標値が低くなる可能性がある。このような不都合を回避するため、ヒータ温度が安定したか判断することが有効となる。なお、ヒータ温度の安定を判断することに代えて、所定時間内はヒータ温度が安定していないものとみなして、次の終了条件の判断(S07)へ分岐してもよい。
(11)外観異常フラグF1に0を代入する(S11)。その後、S02へ移行する。
以上の工程によって、ワークの熱溶着を行うことができる。
2、2a、2b ヒートバー
4、4a、4b ヒータ
6 温度センサ
8 ヒータ温度制御部
10 熱シール部
20 外観評価部
22 撮像部
24 温度目標値補正部
30 制御部(コンピュータ装置)
31 処理部
32 記憶部
33 表示部
35 プログラム
35a 外観不良検出部
40 ワーク加熱装置
Claims (7)
- ワークを加熱して熱溶着する熱シール部と、
前記ワークの熱溶着部の外観を評価する外観評価部と、
前記外観評価部による外観評価に基づいて、前記熱シール部の温度目標値を補正する温度目標値補正部と、
を備えた、ワーク加熱装置。 - 前記外観評価部は、
前記ワークの熱溶着部の外観の画像データを取得する撮像部と、
前記ワークの熱溶着部の外観の前記画像データについて、外観不良を検出する外観不良検出部と、
を備え、
前記温度目標値補正部は、前記外観不良検出部で検出された前記外観不良に基づいて、前記熱シール部の温度目標値を引き下げるように補正する、請求項1に記載のワーク加熱装置。 - 前記熱シール部は、
ヒータと、
前記ヒータの温度を計測する温度センサと、
前記温度センサで計測された温度に基づいて、前記ヒータの温度を温度目標値に近づけるように制御するヒータ温度制御部と、
を備えた、請求項1又は2に記載のワーク加熱装置。 - 前記ヒータ温度制御部は、あらかじめ入力された温度目標値を、前記温度目標値補正部で補正された補正後の温度目標値に置換して、前記ヒータの温度を前記補正後の温度目標値に近づけるように制御する、請求項3に記載のワーク加熱装置。
- 前記外観評価部によって外観不良を検出し、前記温度目標値補正部において、前記温度目標値を補正した後、前記温度センサで計測された温度が安定したか否か判断し、温度が安定しない場合は、補正後の前記温度目標値を再度補正しない、請求項3に記載のワーク加熱装置。
- 前記外観評価部によって外観不良を検出し、前記温度目標値補正部において、前記温度目標値を補正した後の所定時間内は、補正後の前記温度目標値を再度補正しない、請求項1から4のいずれか一項に記載のワーク加熱装置。
- 前記外観評価部によって外観不良を検出し、前記温度目標値補正部において、前記温度目標値を補正した場合、あらかじめ入力されている前記温度目標値を補正後の前記温度目標値に置換して記憶する、請求項1から6のいずれか一項に記載のワーク加熱装置。
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