JP2020107863A - Film formation device and production method of article - Google Patents

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Abstract

To provide a technique useful to decrease the production cost and footprint of a film formation device.SOLUTION: A film formation device is arranged to form a film composed of a cured product of a curable composition by putting a mold into contact with the curable composition on a substrate to harden the curable composition. The film formation device comprises: a mold-holding part for holding the mold, which has a window to allow an energy for curing the curable composition to pass therethrough; a drive mechanism for changing the relative position of the substrate and the mold-holding part; and an exposure part for exposing the curable composition between the substrate and the mold to the energy through the window and the mold. In a state in which the mold is put in contact with the curable composition and the mold holding by the mold-holding part is disabled, the exposure part performs a process to expose the curable composition to the energy through the window and the mold. In the process, the drive mechanism changes the relative position so that a region to form the film is scanned with the energy to cure the curable composition.SELECTED DRAWING: Figure 3

Description

本発明は、膜形成装置および物品製造方法に関する。 The present invention relates to a film forming apparatus and an article manufacturing method.

基板の上の硬化性組成物に型を接触させ、該硬化性組成物に硬化用のエネルギーを照射することによって該硬化性組成物を硬化させ、該硬化性組成物の硬化物と該型とを分離する膜形成装置がある。このような膜形成装置は、基板の上にパターンを形成する装置、あるいは、基板の上に平坦化膜を形成する装置として使用されうる。 A mold is contacted with the curable composition on the substrate, and the curable composition is cured by irradiating the curable composition with energy for curing, and a cured product of the curable composition and the mold are provided. There is a film forming device for separating Such a film forming apparatus can be used as an apparatus for forming a pattern on a substrate or an apparatus for forming a flattening film on a substrate.

特許文献1には、基板載置ステーション、押印ステーション、位置合わせステーション、硬化ユニット、離型ステーションおよび搬送ロボットを有するナノインプリント装置が記載されている。このナノインプリント装置では、表面に樹脂(組成物)が塗布された基板が基板載置ステーション内の移動テーブルに載置され、その後、モールド(型)が基板の上に樹脂を介して載置される。その後、移動テーブルは、押圧ステーションに移動し、押し付け機構によってモールドが基板の上の樹脂に押し付けられる。その後、移動テーブルは、位置合わせステーションに移動し、基板とモールドとの位置合わせが行われる。位置合わせ後は、基板とモールドとがずれないように基板およびモールドが固定される。その後、移動テーブルは、離型ステーションに向かって移動し、その途中で硬化ユニットの下を通過し、紫外線によって樹脂が硬化される。離型ステーションでは、モールドが基板から分離される。 Patent Document 1 describes a nanoimprint apparatus having a substrate placing station, a stamping station, a positioning station, a curing unit, a releasing station, and a transfer robot. In this nanoimprint apparatus, a substrate having a surface coated with a resin (composition) is placed on a moving table in a substrate placing station, and then a mold is placed on the substrate via the resin. .. After that, the moving table moves to the pressing station, and the mold is pressed against the resin on the substrate by the pressing mechanism. After that, the moving table is moved to the alignment station to align the substrate and the mold. After the alignment, the substrate and the mold are fixed so that the substrate and the mold are not displaced. After that, the moving table moves toward the releasing station, passes under the curing unit on the way, and the resin is cured by the ultraviolet rays. At the mold release station, the mold is separated from the substrate.

特開2010−40879号公報JP, 2010-40879, A

特許文献1に記載されたような装置では、複数のステーションを有するので、装置の製造コストが増大する他、フットプリントが増大しうる。 Since the device as described in Patent Document 1 has a plurality of stations, the manufacturing cost of the device and the footprint can be increased.

本発明は、膜形成装置の製造コストおよびフットプリントの低減に有利な技術を提供することを目的とする。 It is an object of the present invention to provide a technique advantageous for reducing the manufacturing cost and footprint of a film forming apparatus.

本発明の1つの側面は、基板の上の硬化性組成物に型を接触させ前記硬化性組成物を硬化させることによって前記硬化性組成物の硬化物からなる膜を形成する膜形成装置に係り、前記膜形成装置は、前記硬化性組成物を硬化させるエネルギーを通過させる窓を有し、前記型を保持する型保持部と、前記基板と前記型保持部との相対位置を変更する駆動機構と、前記窓および前記型を介して前記基板と前記型との間の前記硬化性組成物に前記エネルギーを照射する照射部と、を備え、前記硬化性組成物に前記型が接触し、かつ前記型保持部による前記型の保持が解除された状態で、前記照射部によって前記窓および前記型を介して前記硬化性組成物に対して前記エネルギーが照射される処理が行われ、前記処理において、前記膜を形成すべき領域が前記エネルギーで走査されて前記硬化性組成物が硬化するように、前記駆動機構によって前記相対位置が変更される。 One aspect of the present invention relates to a film forming apparatus for forming a film made of a cured product of the curable composition by contacting a mold with the curable composition on a substrate to cure the curable composition. The film forming apparatus has a window that allows energy for curing the curable composition to pass therethrough, and a drive mechanism that changes the relative positions of the mold holding unit that holds the mold and the substrate and the mold holding unit. And an irradiation unit that irradiates the curable composition between the substrate and the mold with the energy through the window and the mold, and the mold contacts the curable composition, and In a state in which the holding of the mold by the mold holding unit is released, a process of irradiating the curable composition with the energy through the window and the mold by the irradiation unit is performed, and in the process, The relative position is changed by the driving mechanism so that the region where the film is to be formed is scanned by the energy and the curable composition is cured.

本発明によれば、膜形成装置の製造コストおよびフットプリントの低減に有利な技術が提供される。 According to the present invention, a technique that is advantageous for reducing the manufacturing cost and the footprint of the film forming apparatus is provided.

本発明の一実施形態の膜形成装置の構成を示す図。The figure which shows the structure of the film forming apparatus of one Embodiment of this invention. 膜形成処理を例示する図。The figure which illustrates a film formation process. 膜形成装置の動作を模式的に示す図。The figure which shows operation|movement of a film forming apparatus typically. 膜形成装置の動作を示すフローチャート。The flowchart which shows operation|movement of a film forming apparatus. 膜形成装置の動作を模式的に示す図。The figure which shows operation|movement of a film forming apparatus typically.

以下、添付図面を参照しながら本発明をその例示的な実施形態を通して説明する。 Hereinafter, the present invention will be described through exemplary embodiments thereof with reference to the accompanying drawings.

図1には、本発明の一実施形態の膜形成装置100の構成が例示的に示されている。膜形成装置100は、基板1の上の硬化性組成物IMに型11を接触させ硬化性組成物IMを硬化させることによって硬化性組成物IMの硬化物からなる膜を形成する。膜形成装置100は、例えば、平坦な面を有する膜を基板1の上に形成するための平坦化装置として使用されうる。この場合、型11が有する硬化性組成物IMと接触する面は、平坦である。膜形成装置100は、基板1の上にパターンを形成するためのパターン形成装置あるいはインプリント装置として使用されうる。この場合、型11が有する硬化性組成物IMと接触する面は、硬化性組成物に転写するべきパターンを有する。 FIG. 1 exemplarily shows the configuration of a film forming apparatus 100 according to an embodiment of the present invention. The film forming apparatus 100 forms a film of a cured product of the curable composition IM by bringing the mold 11 into contact with the curable composition IM on the substrate 1 to cure the curable composition IM. The film forming apparatus 100 can be used as, for example, a flattening apparatus for forming a film having a flat surface on the substrate 1. In this case, the surface of the mold 11 that contacts the curable composition IM is flat. The film forming apparatus 100 can be used as a pattern forming apparatus or an imprint apparatus for forming a pattern on the substrate 1. In this case, the surface of the mold 11 that comes into contact with the curable composition IM has a pattern to be transferred to the curable composition.

硬化性組成物としては、硬化用のエネルギーが与えられることにより硬化する硬化性組成物(未硬化状態の樹脂と呼ぶこともある)が用いられる。硬化用のエネルギーとしては、電磁波、熱等が用いられうる。電磁波は、例えば、その波長が10nm以上1mm以下の範囲から選択される光、例えば、赤外線、可視光線、紫外線などでありうる。硬化性組成物は、光の照射により、あるいは、加熱により硬化する組成物でありうる。これらのうち、光の照射により硬化する光硬化性組成物は、少なくとも重合性化合物と光重合開始剤とを含有し、必要に応じて非重合性化合物または溶剤を更に含有してもよい。非重合性化合物は、増感剤、水素供与体、内添型離型剤、界面活性剤、酸化防止剤、ポリマー成分などの群から選択される少なくとも一種である。硬化性組成物は、液滴状、或いは複数の液滴が繋がってできた島状又は膜状となって基板上に配置されうる。硬化性組成物の粘度(25℃における粘度)は、例えば、1mPa・s以上100mPa・s以下でありうる。基板の材料としては、例えば、ガラス、セラミックス、金属、半導体、樹脂等が用いられうる。必要に応じて、基板の表面に、基板とは別の材料からなる部材が設けられてもよい。基板は、例えば、シリコンウエハ、化合物半導体ウエハ、石英ガラスである。 As the curable composition, a curable composition (which may be referred to as an uncured resin) that is cured by application of curing energy is used. Electromagnetic waves, heat, etc. may be used as the curing energy. The electromagnetic wave may be, for example, light having a wavelength of 10 nm or more and 1 mm or less, such as infrared rays, visible rays, or ultraviolet rays. The curable composition may be a composition that is cured by irradiation with light or by heating. Among these, the photocurable composition which is cured by irradiation with light contains at least a polymerizable compound and a photopolymerization initiator, and may further contain a non-polymerizable compound or a solvent, if necessary. The non-polymerizable compound is at least one selected from the group consisting of a sensitizer, a hydrogen donor, an internal release agent, a surfactant, an antioxidant and a polymer component. The curable composition may be disposed on the substrate in the form of droplets, or in the form of islands or films formed by connecting a plurality of droplets. The viscosity (viscosity at 25° C.) of the curable composition may be, for example, 1 mPa·s or more and 100 mPa·s or less. As the material of the substrate, for example, glass, ceramics, metal, semiconductor, resin or the like can be used. If necessary, the surface of the substrate may be provided with a member made of a material different from that of the substrate. The substrate is, for example, a silicon wafer, a compound semiconductor wafer, or quartz glass.

本明細書および添付図面では、基板1の表面に平行な方向をXY平面とするXYZ座標系において方向を示す。XYZ座標系におけるX軸、Y軸、Z軸にそれぞれ平行な方向をX方向、Y方向、Z方向とし、X軸周りの回転、Y軸周りの回転、Z軸周りの回転をそれぞれθX、θY、θZとする。X軸、Y軸、Z軸に関する制御または駆動は、それぞれX軸に平行な方向、Y軸に平行な方向、Z軸に平行な方向に関する制御または駆動を意味する。また、θX軸、θY軸、θZ軸に関する制御または駆動は、それぞれX軸に平行な軸の周りの回転、Y軸に平行な軸の周りの回転、Z軸に平行な軸の周りの回転に関する制御または駆動を意味する。また、位置は、X軸、Y軸、Z軸の座標に基づいて特定されうる情報であり、姿勢は、θX軸、θY軸、θZ軸の値で特定されうる情報である。位置決めは、位置および/または姿勢を制御することを意味する。アライメント(位置合わせ)は、基板1のショット領域と型11のパターン領域とのアライメント誤差(重ね合わせ誤差)が低減されるように基板1および型11の少なくとも一方の位置および/または姿勢の制御を含みうる。また、アライメントは、基板1のショット領域および型11のパターン領域の少なくとも一方の形状を補正あるいは変更するための制御を含みうる。 In the present specification and the accompanying drawings, directions are shown in an XYZ coordinate system having a direction parallel to the surface of the substrate 1 as an XY plane. The directions parallel to the X-axis, Y-axis, and Z-axis in the XYZ coordinate system are defined as X-direction, Y-direction, and Z-direction, respectively, and rotation around the X-axis, rotation around the Y-axis, and rotation around the Z-axis are θX and θY, respectively. , ΘZ. The control or driving regarding the X axis, the Y axis, and the Z axis means control or driving regarding the direction parallel to the X axis, the direction parallel to the Y axis, and the direction parallel to the Z axis, respectively. Further, control or driving regarding the θX axis, the θY axis, and the θZ axis respectively relates to rotation about an axis parallel to the X axis, rotation about an axis parallel to the Y axis, and rotation about an axis parallel to the Z axis. Control or drive. The position is information that can be specified based on the coordinates of the X axis, the Y axis, and the Z axis, and the posture is information that can be specified by the values of the θX axis, the θY axis, and the θZ axis. Positioning means controlling position and/or attitude. The alignment (positioning) controls the position and/or orientation of at least one of the substrate 1 and the mold 11 so that an alignment error (overlay error) between the shot region of the substrate 1 and the pattern region of the mold 11 is reduced. May be included. The alignment may include control for correcting or changing the shape of at least one of the shot area of the substrate 1 and the pattern area of the mold 11.

以下、膜形成装置100が平坦化装置として構成された例を説明するが、膜形成装置100は、上記のとおり、パターン形成装置あるいはインプリント装置としても構成されうる。 Hereinafter, an example in which the film forming apparatus 100 is configured as a flattening apparatus will be described, but the film forming apparatus 100 can also be configured as a pattern forming apparatus or an imprint apparatus as described above.

膜形成装置100は、ベース定盤4、支柱5、天板6、支柱10およびアライメント棚14を備えうる。アライメント棚14は、支柱10を介して天板6によって支持され、天板6は、支柱5を介してベース定盤4によって支持されている。また、膜形成装置100は、駆動機構30、ディスペンサ20、オフアクシスアライメントスコープ21、基板搬送部22、型搬送部32、アライメントスコープ23、照射部24、洗浄部33、インターフェース34および制御部35を備えうる。 The film forming apparatus 100 may include a base surface plate 4, a support column 5, a top plate 6, a support column 10, and an alignment shelf 14. The alignment shelf 14 is supported by the top plate 6 via the columns 10, and the top plate 6 is supported by the base surface plate 4 via the columns 5. Further, the film forming apparatus 100 includes a drive mechanism 30, a dispenser 20, an off-axis alignment scope 21, a substrate transfer section 22, a mold transfer section 32, an alignment scope 23, an irradiation section 24, a cleaning section 33, an interface 34 and a control section 35. Can be prepared.

駆動機構30は、基板1と型11との相対位置を変更する。あるいは、駆動機構30は、基板1(基板保持部2)と型保持部12との相対位置を変更する。駆動機構30は、基板1または基板保持部2を駆動する基板駆動機構26と、型11または型保持部12を駆動する型駆動機構27とを含みうる。 The drive mechanism 30 changes the relative position between the substrate 1 and the mold 11. Alternatively, the drive mechanism 30 changes the relative position between the substrate 1 (substrate holding unit 2) and the mold holding unit 12. The drive mechanism 30 may include a substrate drive mechanism 26 that drives the substrate 1 or the substrate holder 2, and a die drive mechanism 27 that drives the mold 11 or the die holder 12.

基板駆動機構26は、基板1を保持する基板保持部2と、基板保持部2を保持する基板ステージ3と、基板ステージ3を駆動するアクチュエータ31(例えば、リニアモータ、エアシリンダ)とを含みうる。アクチュエータ31は、例えば、基板ステージ3をX軸およびY軸に関して駆動するように構成されうる。基板ステージ3は、ベース定盤4によって支持される。基板ステージ3は、基板保持部2をθZ軸に関して駆動する機構を有しうる。基板駆動機構26は、例えば、基板1をX軸、Y軸、θZ軸の3軸について駆動するように、好ましくは、X軸、Y軸、Z軸、θX軸、θY軸、θZ軸の6軸)について駆動するように構成されうる。 The substrate driving mechanism 26 may include a substrate holding unit 2 that holds the substrate 1, a substrate stage 3 that holds the substrate holding unit 2, and an actuator 31 (for example, a linear motor or an air cylinder) that drives the substrate stage 3. .. The actuator 31 can be configured to drive the substrate stage 3 with respect to the X axis and the Y axis, for example. The substrate stage 3 is supported by the base surface plate 4. The substrate stage 3 may have a mechanism that drives the substrate holding unit 2 about the θZ axis. The substrate drive mechanism 26 preferably drives the substrate 1 about three axes of the X-axis, the Y-axis, and the θZ-axis, preferably the X-axis, the Y-axis, the Z-axis, the θX-axis, the θY-axis, and the θZ-axis. Can be configured to drive about an axis.

型駆動機構27は、型11を保持する型保持部12と、型保持部12を駆動するアクチュエータを内蔵するヘッド13とを含みうる。型駆動機構27は、例えば、型11をZ軸、θX軸、θY軸の3軸について駆動するように、好ましくは、X軸、Y軸、Z軸、θX軸、θY軸、θZ軸の6軸について駆動するように構成されうる。型駆動機構27は、型11を基板1の上の硬化性組成物IMに押し付ける力を計測するセンサ(不図示)を含みうる。 The mold driving mechanism 27 may include a mold holding unit 12 that holds the mold 11, and a head 13 that incorporates an actuator that drives the mold holding unit 12. The die driving mechanism 27 preferably drives the die 11 about three axes of the Z axis, the θX axis, and the θY axis, preferably, the X axis, the Y axis, the Z axis, the θX axis, the θY axis, and the θZ axis. It can be configured to drive about an axis. The mold driving mechanism 27 may include a sensor (not shown) that measures the force pressing the mold 11 against the curable composition IM on the substrate 1.

基板搬送部22は、基板1を膜形成装置100の外部から膜形成装置100の内部に取り込み、基板保持部2に搬送しうる。型搬送部32は、型11を膜形成装置100の外部から膜形成装置100の内部に取り込み、型保持部12に搬送しうる。型11は、例えば、円形又は四角形の外形を有しうる。型11は、基板1の上の硬化性組成物IMに接触する接触面CSを有し、接触面CSは、平坦でありうる。型11は、例えば、基板1と同じ寸法、または、基板1よりも大きい寸法を有しうる。 The substrate transport unit 22 can take the substrate 1 from outside the film forming apparatus 100 into the film forming apparatus 100 and transport the substrate 1 to the substrate holding unit 2. The mold conveying unit 32 can take the mold 11 from the outside of the film forming apparatus 100 into the film forming apparatus 100 and convey it to the mold holding unit 12. The mold 11 may have, for example, a circular or square outer shape. The mold 11 has a contact surface CS that contacts the curable composition IM on the substrate 1, and the contact surface CS can be flat. The mold 11 may have the same size as the substrate 1 or a size larger than the substrate 1, for example.

ディスペンサ(供給部)20は、アライメント棚14によって支持されうる。ディスペンサ20は、基板1の上に未硬化状態の硬化性組成物IMが配置されるように硬化性組成物IMを吐出する吐出口を有しうる。ディスペンサ20は、例えば、ピエゾジェット方式またはマイクロソレノイド方式等の吐出方式によって、基板1に向けて、例えば1pL(ピコリットル)程度の微小な体積の硬化性組成物IMを吐出しうる。ディスペンサ20は、1または複数の吐出口を有しうる。 The dispenser (supply unit) 20 can be supported by the alignment shelf 14. The dispenser 20 may have a discharge port for discharging the curable composition IM so that the uncured curable composition IM is arranged on the substrate 1. The dispenser 20 can discharge the curable composition IM in a minute volume of, for example, about 1 pL (picoliter) toward the substrate 1 by a discharge method such as a piezo jet method or a micro solenoid method. The dispenser 20 may have one or a plurality of discharge ports.

照射部24は、基板1と型11との間の硬化性組成物IMを硬化させるためのエネルギーを硬化性組成物IMに照射する。型保持部12は、照射部24からの硬化用のエネルギーを通過させる窓Wを有する。窓Wは、型保持部12に設けられた開口であってもよいし、そのような開口に設けられた透過部材(硬化用のエネルギーを透過させる部材)であってもよい。同様に、ヘッド13も、照射部24からの硬化用のエネルギーを通過させる窓Wを有しうる。窓Wの寸法は、基板1より小さい。また、窓Wの寸法は、硬化性組成物IMの硬化物からなる膜を形成すべき領域の寸法より小さい。照射部24は、例えば、ディスペンサ20の最大寸法より小さい寸法を有しうる。 The irradiation unit 24 irradiates the curable composition IM with energy for curing the curable composition IM between the substrate 1 and the mold 11. The mold holding unit 12 has a window W through which the curing energy from the irradiation unit 24 passes. The window W may be an opening provided in the mold holding unit 12, or may be a transmissive member (a member that transmits energy for curing) provided in such an opening. Similarly, the head 13 may also have a window W through which the curing energy from the irradiation section 24 passes. The size of the window W is smaller than that of the substrate 1. Further, the size of the window W is smaller than the size of the region where the film made of the cured product of the curable composition IM is to be formed. The irradiation unit 24 may have a size smaller than the maximum size of the dispenser 20, for example.

天板6は、ガイドバー8を支持している。ガイドバー8は、アライメント棚14を貫通し、ヘッド13に連結されている。アライメント棚14は、支柱10を介して天板6によって支持されている。アライメント棚14には、例えば、基板保持部2によって保持された基板1の高さ(平坦度)を計測するための高さ計測系(不図示)が配置されうる。該高さ計測系は、例えば、斜入射像ずれ方式で基板1の高さを計測しうる。 The top plate 6 supports the guide bar 8. The guide bar 8 penetrates the alignment shelf 14 and is connected to the head 13. The alignment shelf 14 is supported by the top plate 6 via the columns 10. On the alignment shelf 14, for example, a height measurement system (not shown) for measuring the height (flatness) of the substrate 1 held by the substrate holder 2 can be arranged. The height measuring system can measure the height of the substrate 1 by, for example, an oblique incident image shift method.

アライメントスコープ23は、アライメント棚14によって支持されうる。アライメントスコープ23は、基板ステージ3に設けられた基準マークと、型11に設けられたアライメントマークとを観察するための光学系および撮像系を含みうる。ただし、型11にアライメントマークが設けられていない場合には、アライメントスコープ23は使用されない。アライメントスコープ23は、基板ステージ3に設けられた基準マークと、型11に設けられたアライメントマークとの相対的な位置を計測しうる。その計測結果は、その位置ずれを補正するアライメントのために用いられうる。 The alignment scope 23 can be supported by the alignment shelf 14. The alignment scope 23 can include an optical system and an imaging system for observing the reference mark provided on the substrate stage 3 and the alignment mark provided on the mold 11. However, when the mold 11 is not provided with the alignment mark, the alignment scope 23 is not used. The alignment scope 23 can measure the relative positions of the reference mark provided on the substrate stage 3 and the alignment mark provided on the mold 11. The measurement result can be used for alignment to correct the positional deviation.

オフアクシスアライメントスコープ21は、アライメント棚14によって支持されうる。オフアクシスアライメントスコープ21は、基板1の複数のショット領域に設けられたアライメントマークを検出し、複数のショット領域のそれぞれの位置を決定するグローバルアライメント処理に用いられうる。アライメントスコープ23を使って型11と基板ステージ3との位置関係を求め、オフアクシスアライメントスコープ21を使って基板ステージ3と基板1との位置関係を求めることで、型11と基板1の各ショット領域との相対的なアライメントを行うことができる。 The off-axis alignment scope 21 can be supported by the alignment shelf 14. The off-axis alignment scope 21 can be used for a global alignment process that detects alignment marks provided in a plurality of shot areas of the substrate 1 and determines the positions of the plurality of shot areas. The positional relationship between the mold 11 and the substrate stage 3 is obtained by using the alignment scope 23, and the positional relationship between the substrate stage 3 and the substrate 1 is obtained by using the off-axis alignment scope 21. Relative alignment with the region can be performed.

洗浄部33は、型11が型保持部12によって保持された状態で、型11を洗浄(クリーニング)しうる。洗浄部33は、例えば、基板1上の硬化した硬化性組成物IMと型11とを分離した後に型11、特に型11の接触面CSに残る硬化性組成物IMを除去するために使用されうる。洗浄部33は、例えば、型11に付着した硬化性組成物IMを拭き取ってもよいし、UV照射、ウェット洗浄、ドライプラズマ洗浄などを用いて型11に付着した液状有機材料を除去してもよい。 The cleaning unit 33 can clean the mold 11 while the mold 11 is held by the mold holding unit 12. The cleaning unit 33 is used, for example, to remove the curable composition IM remaining on the mold 11, particularly the contact surface CS of the mold 11, after separating the cured curable composition IM and the mold 11 on the substrate 1. sell. The cleaning unit 33 may wipe off the curable composition IM attached to the mold 11, or remove the liquid organic material adhered to the mold 11 using UV irradiation, wet cleaning, dry plasma cleaning, or the like. Good.

制御部35は、駆動機構30、ディスペンサ20、オフアクシスアライメントスコープ21、基板搬送部22、型搬送部32、アライメントスコープ23、照射部24、洗浄部33、インターフェース34を制御する。他の観点において、制御部35は、型11を用いて基板1の上に硬化性組成物IMの硬化物からなる膜を形成する膜形成処理を制御する。制御部35は、例えば、FPGA(Field Programmable Gate Arrayの略。)などのPLD(Programmable Logic Deviceの略。)、又は、ASIC(Application Specific Integrated Circuitの略。)、又は、プログラムが組み込まれた汎用又は専用のコンピュータ、又は、これらの全部または一部の組み合わせによって構成されうる。 The control unit 35 controls the drive mechanism 30, the dispenser 20, the off-axis alignment scope 21, the substrate transfer unit 22, the mold transfer unit 32, the alignment scope 23, the irradiation unit 24, the cleaning unit 33, and the interface 34. From another point of view, the control unit 35 controls the film forming process of forming a film made of a cured product of the curable composition IM on the substrate 1 using the mold 11. The control unit 35 is, for example, a PLD (abbreviation of Programmable Logic Device) such as an FPGA (abbreviation of Field Programmable Gate Array), or an abbreviation of ASIC (Application Specific Integrated Program) or a program that incorporates an ASIC (Application Integrated Circuit). Alternatively, it may be configured by a dedicated computer or a combination of all or a part thereof.

図2を参照しながら膜形成処理を説明する。まず、図2(a)に模式的に示されるように、ディスペンサ20によって基板1の上に硬化性組成物IMが配置され、その後、基板駆動機構26によって基板1が型11の下に位置決めされる。基板1は、その表面にパターン1aを有しうる。基板1の上への硬化性組成物IMの配置は、例えば、基板駆動機構26によって基板1を移動させながらディスペンサ20から硬化性組成物IMを吐出することによってなされうる。 The film forming process will be described with reference to FIG. First, as schematically shown in FIG. 2A, the curable composition IM is placed on the substrate 1 by the dispenser 20, and then the substrate 1 is positioned under the mold 11 by the substrate driving mechanism 26. It The substrate 1 may have a pattern 1a on its surface. The curable composition IM may be placed on the substrate 1 by, for example, ejecting the curable composition IM from the dispenser 20 while moving the substrate 1 by the substrate driving mechanism 26.

次いで、図2(b)に模式的に示されるように、駆動機構30によって、基板1の上の硬化性組成物IMと型11の接触面CSとが接触するように、基板1と型11との相対位置が変更あるいは調整される。一例において、基板1の上の硬化性組成物IMと型11の接触面CSとが接触するように、型駆動機構27によって型11が降下させられる。ここで、基板1の上の硬化性組成物IMに対して型11の接触面Cが押し付けられうる。型11の接触面CSは、基板1の表面形状にならった形状に変形しうる。 Then, as schematically shown in FIG. 2B, the drive mechanism 30 causes the curable composition IM on the substrate 1 and the contact surface CS of the mold 11 to come into contact with each other. The relative position with respect to is changed or adjusted. In one example, the mold 11 is lowered by the mold driving mechanism 27 so that the curable composition IM on the substrate 1 and the contact surface CS of the mold 11 come into contact with each other. Here, the contact surface C of the mold 11 may be pressed against the curable composition IM on the substrate 1. The contact surface CS of the mold 11 can be deformed into a shape similar to the surface shape of the substrate 1.

次いで、図2(c)に模式的に示されるように、照射部24によって硬化用のエネルギーが窓Wおよび型11を介して硬化性組成物IMに照射され、硬化性組成物IMが硬化される。次いで、図2(d)に模式的に示されるように、駆動機構30によって、基板1の上の硬化した硬化性組成物IMと型11とが分離される。一例において、基板1の上の硬化した硬化性組成物IMと型11とが分離されるように、型駆動機構27によって型11が上昇させられる。これにより、基板1の上には、硬化性組成物IMの硬化物からなる膜が残る。この膜の表面の凹凸は、基板1の表面の凹凸よりも小さい。よって、この膜は、平坦化膜として機能しうる。 Next, as schematically shown in FIG. 2C, the irradiation energy is applied to the curable composition IM through the window W and the mold 11 by the irradiation section 24, and the curable composition IM is cured. It Then, as schematically shown in FIG. 2D, the cured curable composition IM on the substrate 1 and the mold 11 are separated by the drive mechanism 30. In one example, the mold 11 is raised by the mold drive mechanism 27 so that the cured curable composition IM on the substrate 1 and the mold 11 are separated. As a result, a film made of the cured product of the curable composition IM remains on the substrate 1. The surface irregularities of this film are smaller than the surface irregularities of the substrate 1. Therefore, this film can function as a flattening film.

図3には、膜形成装置100の動作が模式的に示されている。図4には、膜形成装置100の動作が示すフローチャートが示されている。図3および図4に示される動作は、制御部35によって制御される。図3に示された例では、型11は円形の外形を有し、その寸法は基板1の寸法よりも大きい。 FIG. 3 schematically shows the operation of the film forming apparatus 100. FIG. 4 shows a flowchart showing the operation of the film forming apparatus 100. The operation shown in FIGS. 3 and 4 is controlled by the control unit 35. In the example shown in FIG. 3, the mold 11 has a circular outer shape, and its size is larger than that of the substrate 1.

まず、工程S401では、ディスペンサ20または外部装置によって硬化性組成物IMが配置された基板1が、図3(a)に模式的に示されるように、基板駆動機構26によって型11の下に位置決めされる。 First, in step S401, the substrate 1 on which the curable composition IM is placed by the dispenser 20 or an external device is positioned under the mold 11 by the substrate driving mechanism 26, as schematically shown in FIG. To be done.

次いで、工程S402では、図3(b)に模式的に示されるように、駆動機構30によって、基板1の上の硬化性組成物IMと型11の接触面CSとが接触するように、基板1と型11との相対位置が変更あるいは調整される。一例において、基板1の上の硬化性組成物IMと型11の接触面CSとが接触するように、型駆動機構27によって型11が降下させられる。ここで、基板1の上の硬化性組成物IMに対して型11の接触面Cが押し付けられうる。この状態で、基板1の表面と型11の接触面CSとの間の空間に、硬化性組成物IMが十分に充填するまで、待機される。 Next, in step S402, as schematically shown in FIG. 3B, the substrate is moved by the drive mechanism 30 so that the curable composition IM on the substrate 1 and the contact surface CS of the mold 11 come into contact with each other. The relative position between 1 and the mold 11 is changed or adjusted. In one example, the mold 11 is lowered by the mold driving mechanism 27 so that the curable composition IM on the substrate 1 and the contact surface CS of the mold 11 come into contact with each other. Here, the contact surface C of the mold 11 may be pressed against the curable composition IM on the substrate 1. In this state, the space between the surface of the substrate 1 and the contact surface CS of the mold 11 is waited until the curable composition IM is sufficiently filled.

次いで、工程S403では、図3(c)に模式的に示されるように、照射部24によって、窓Wおよび型11を介して、硬化性組成物IMの一部に硬化用のエネルギーが照射される。これにより、硬化性組成物IMの当該一部が硬化し、当該一部によって基板1と型11とが結合される。当該一部は、例えば、基板1の中央部に位置しうる。工程S403は、任意的な工程であり、後続の工程S404、S405において、基板1と型11との相対位置が維持される場合、例えば、型11が他の方法によって固定される場合には、工程S403は不要である。型11のこのような固定は、例えば、基板保持部2に型11の移動を規制する部材を設けることによって実現されうる。あるいは、工程S404、S405において、基板1と型11との相対位置の変動が許容可能な場合にもおいて、工程S403は不要である。 Next, in step S403, as shown schematically in FIG. 3C, the irradiation unit 24 irradiates a part of the curable composition IM with the curing energy through the window W and the mold 11. It Thereby, the part of the curable composition IM is cured, and the substrate 1 and the mold 11 are bonded by the part. The part may be located in the central portion of the substrate 1, for example. Step S403 is an optional step. In the subsequent steps S404 and S405, when the relative position between the substrate 1 and the mold 11 is maintained, for example, when the mold 11 is fixed by another method, Step S403 is unnecessary. Such fixing of the mold 11 can be realized, for example, by providing the substrate holding portion 2 with a member that restricts the movement of the mold 11. Alternatively, in steps S404 and S405, step S403 is unnecessary even when the relative position between substrate 1 and mold 11 can be changed.

次いで、工程S404では、型保持部12による型11の保持が解除される。次いで、工程S405では、図3(d)に模式的に示されるように、駆動機構30によって、型11から型保持部12が離隔するように、基板1(または、基板1に結合された型11)と型保持部12との相対位置が変更あるいは調整される。これにより、基板1と型11との結合体を型保持部12に対して相対的に移動させることが可能な状態となる。 Next, in step S404, the holding of the mold 11 by the mold holding unit 12 is released. Then, in step S405, as shown schematically in FIG. 3D, the substrate 1 (or the mold bonded to the substrate 1 is separated by the drive mechanism 30 from the mold 11 to the mold holding portion 12). 11) and the relative position of the mold holding part 12 is changed or adjusted. As a result, the combined body of the substrate 1 and the mold 11 can be moved relative to the mold holding portion 12.

次いで、工程S406では、図3(e)、(f)に模式的に示されるように、駆動機構30によって基板1と型11との結合体を型保持部12に対して相対的に移動しながら照射部24によって硬化性組成物IMに硬化用のエネルギーが照射される処理が行われる。硬化性組成物IMに対する硬化用のエネルギーの照射は、窓Wおよび型11を介して行われる。この処理は、硬化性組成物IMに型11(の接触面CS)が接触し、型保持部12による型11の保持が解除された状態で行われる。また、この処理において、硬化性組成物IMの硬化物からなる膜を形成すべき領域が硬化用のエネルギーで走査されて全域において硬化性組成物IMが硬化するように、駆動機構30によって基板1と型保持部12との相対位置の変更が行われうる。ここで、硬化性組成物IMのうち工程S403においてエネルギーが照射された部分については、それを考慮して工程S406におけるエネルギーの照射がなされうる。より具体的には、硬化性組成物IMのうち工程S403においてエネルギーが照射された部分については、工程S403における照射量と工程S406における照射量との合計が目標照射量になるように、工程S406におけるエネルギーの照射がなされうる。 Next, in step S406, as shown schematically in FIGS. 3(e) and 3(f), the drive mechanism 30 moves the combined body of the substrate 1 and the mold 11 relative to the mold holding portion 12. Meanwhile, the irradiation unit 24 performs a process of irradiating the curable composition IM with curing energy. Irradiation of the curable composition IM with curing energy is performed through the window W and the mold 11. This treatment is performed in a state in which the mold 11 (the contact surface CS thereof) contacts the curable composition IM and the holding of the mold 11 by the mold holding unit 12 is released. Further, in this process, the drive mechanism 30 drives the substrate 1 so that the region where the film made of the cured product of the curable composition IM is to be formed is scanned with the curing energy and the curable composition IM is cured in the entire region. The relative position between the mold holding unit 12 and the mold holding unit 12 can be changed. Here, the portion of the curable composition IM that has been irradiated with energy in step S403 can be irradiated with energy in step S406 in consideration of it. More specifically, regarding the portion of the curable composition IM that has been irradiated with energy in step S403, step S406 is performed so that the total of the irradiation amount in step S403 and the irradiation amount in step S406 becomes the target irradiation amount. Irradiation of energy in can be done.

次いで、工程S407では、図3(g)に模式的に示されるように、駆動機構30によって、型11と型保持部12が接触するように、基板1(型11)と型保持部12との相対位置が変更あるいは調整され、型保持部12によって型11が保持される。 Next, in step S407, as shown schematically in FIG. 3G, the substrate 1 (the mold 11) and the mold holding unit 12 are moved by the drive mechanism 30 so that the mold 11 and the mold holding unit 12 come into contact with each other. The relative position of is changed or adjusted, and the die 11 is held by the die holder 12.

次いで、工程S408では、図3(h)に模式的に示されるように、駆動機構30によって、基板1の上の硬化性組成物IMの硬化物からなる膜と型11とが分離される。一例において、基板1の上の硬化性組成物IMの硬化物からなる膜と型11とが分離されるように、型駆動機構27によって型11が上昇させられる。これにより、基板1の上には、硬化性組成物IMの硬化物からなる膜が残る。 Next, in step S408, as schematically shown in FIG. 3H, the driving mechanism 30 separates the film made of the cured product of the curable composition IM on the substrate 1 and the mold 11. In one example, the mold 11 is moved up by the mold driving mechanism 27 so that the film made of the cured product of the curable composition IM on the substrate 1 and the mold 11 are separated. As a result, a film made of the cured product of the curable composition IM remains on the substrate 1.

以上のように、本実施形態の膜形成装置100では、硬化性組成物IMに型11が接触し、かつ型保持部12による型11の保持が解除された状態で、照射部24によって窓Wおよび型11を介して硬化性組成物IMに対して硬化用のエネルギーが照射される。このような構成によれば、膜を形成すべき領域の全域における硬化性生組成物IMの硬化を型保持部12の下で完了させることができる。よって、本実施形態は、膜形成装置100の製造コストおよびフットプリントの低減に有利である。 As described above, in the film forming apparatus 100 of the present embodiment, the window W is irradiated by the irradiation unit 24 in a state where the mold 11 is in contact with the curable composition IM and the holding of the mold 11 by the mold holding unit 12 is released. The curable composition IM is irradiated with curing energy through the mold 11. With such a configuration, the curing of the curable raw composition IM in the entire region where the film is to be formed can be completed under the mold holding unit 12. Therefore, the present embodiment is advantageous in reducing the manufacturing cost and footprint of the film forming apparatus 100.

図5には、型11の寸法が基板1の寸法と同じである場合における膜形成処理が模式的に示されている。図5に示された膜形成処理は、型11の寸法が異なること以外は、図3に記載された膜形成処理と同じである。 FIG. 5 schematically shows the film forming process when the size of the mold 11 is the same as the size of the substrate 1. The film forming process shown in FIG. 5 is the same as the film forming process shown in FIG. 3 except that the dimensions of the mold 11 are different.

図3に示された膜形成処理では、型11の寸法が基板1の寸法より大きく、例えば、基板1の寸法が直径300mmで、型11の寸法が450mmでありうる。この場合、型11を取り扱う周辺設備(例えば、洗浄機、移載機、キャリア(FOUPなど)、搬送システム)を新たに準備する必要が生じうる。これに対して、図5に例示されるように、型11の寸法が基板1の寸法と同じである場合には、基板1を取り扱う周辺設備を型11の取り扱いのために流用することができる。 In the film forming process shown in FIG. 3, the size of the mold 11 may be larger than the size of the substrate 1, for example, the size of the substrate 1 may be 300 mm in diameter and the size of the mold 11 may be 450 mm. In this case, it may be necessary to newly prepare peripheral equipment for handling the mold 11 (for example, a washing machine, a transfer machine, a carrier (FOUP, etc.), a transportation system). On the other hand, as illustrated in FIG. 5, when the size of the mold 11 is the same as the size of the substrate 1, peripheral equipment for handling the substrate 1 can be diverted to handle the mold 11. ..

以下、上記の膜形成装置100を使って物品を製造する物品製造方法を例示的に説明する。物品製造方法は、膜形成装置100によって基板1の上に膜を形成する膜形成工程と、該膜が形成された基板1を処理する処理工程と、を含み、それらの工程を経た基板1から物品を製造する。該処理工程は、例えば、該膜の上にフォトレジスト膜を形成する工程と、該フォトレジスト膜に露光装置を用いて潜像を形成する工程と、該潜像を現像しフォトレジストパターンを形成する工程とを含みうる。該処理工程は、該フォトレジストパターンを使用して基板1を処理(例えば、エッチング、イオン注入)する工程を更に含みうる。 Hereinafter, an article manufacturing method for manufacturing an article using the above film forming apparatus 100 will be described as an example. The article manufacturing method includes a film forming step of forming a film on the substrate 1 by the film forming apparatus 100, and a processing step of processing the substrate 1 on which the film is formed. Produce an article. The processing steps include, for example, a step of forming a photoresist film on the film, a step of forming a latent image on the photoresist film using an exposure device, and a step of developing the latent image to form a photoresist pattern. And a step of performing. The processing step may further include processing (eg, etching, ion implanting) the substrate 1 using the photoresist pattern.

以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明は、これらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。 Although the preferred embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to these embodiments, and various modifications and changes can be made within the scope of the gist thereof.

1:基板、11:型、12:型保持部、24:照射部、30:駆動機構 1: substrate, 11: mold, 12: mold holding unit, 24: irradiation unit, 30: drive mechanism

Claims (10)

基板の上の硬化性組成物に型を接触させ前記硬化性組成物を硬化させることによって前記硬化性組成物の硬化物からなる膜を形成する膜形成装置であって、
前記硬化性組成物を硬化させるエネルギーを通過させる窓を有し、前記型を保持する型保持部と、
前記基板と前記型保持部との相対位置を変更する駆動機構と、
前記窓および前記型を介して前記基板と前記型との間の前記硬化性組成物に前記エネルギーを照射する照射部と、を備え、
前記硬化性組成物に前記型が接触し、かつ前記型保持部による前記型の保持が解除された状態で、前記照射部によって前記窓および前記型を介して前記硬化性組成物に対して前記エネルギーが照射される処理が行われ、
前記処理において、前記膜を形成すべき領域が前記エネルギーで走査されて前記硬化性組成物が硬化するように、前記駆動機構によって前記相対位置が変更される、
ことを特徴とする膜形成装置。
A film forming apparatus for forming a film made of a cured product of the curable composition by contacting a mold with the curable composition on a substrate to cure the curable composition,
A mold holding part having a window for passing energy for curing the curable composition, and holding the mold,
A drive mechanism that changes the relative position of the substrate and the mold holding unit;
An irradiation unit that irradiates the curable composition between the substrate and the mold with the energy through the window and the mold,
In a state where the mold is in contact with the curable composition, and the holding of the mold by the mold holding unit is released, the irradiation unit applies the curable composition to the curable composition through the window and the mold. The process of irradiating energy is performed,
In the process, the relative position is changed by the driving mechanism so that the region where the film is to be formed is scanned by the energy and the curable composition is cured.
A film forming apparatus characterized by the above.
前記処理の前に、前記型保持部によって前記型が保持され、かつ前記硬化性組成物と前記型とが接触した状態で、前記照射部によって前記硬化性組成物の一部に前記エネルギーが照射される、
ことを特徴とする請求項1に記載の膜形成装置。
Before the treatment, the mold is held by the mold holding unit, and the energy is applied to a part of the curable composition by the irradiation unit in a state where the curable composition and the mold are in contact with each other. Will be
The film forming apparatus according to claim 1, wherein:
前記硬化性組成物の前記一部は、前記基板の中央部に位置する、
ことを特徴とする請求項2に記載の膜形成装置。
The part of the curable composition is located in the central portion of the substrate,
The film forming apparatus according to claim 2, wherein.
前記処理の後に、前記型保持部よって型が保持され、前記駆動機構によって前記硬化性組成物の前記硬化物からなる前記膜と前記型とが分離される、
ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の膜形成装置。
After the treatment, the mold is held by the mold holding unit, and the drive mechanism separates the film formed of the cured product of the curable composition from the mold.
The film forming apparatus according to any one of claims 1 to 3, characterized in that.
前記処理において、前記駆動機構による前記相対位置の変更は、前記型と前記型保持部とが離隔した状態でなされる、
ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の膜形成装置。
In the processing, the relative position is changed by the drive mechanism in a state where the mold and the mold holding section are separated from each other,
The film forming apparatus according to any one of claims 1 to 4, characterized in that.
前記窓の寸法は、前記基板より小さい、
ことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の膜形成装置。
The window size is smaller than the substrate,
The film forming apparatus according to any one of claims 1 to 5, wherein
前記窓の寸法は、前記膜を形成すべき前記領域より小さい、
ことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の膜形成装置。
The size of the window is smaller than the area where the film is to be formed,
The film forming apparatus according to any one of claims 1 to 5, wherein
前記型が有する前記硬化性組成物と接触する面は、平坦である、
ことを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の膜形成装置。
The surface of the mold that contacts the curable composition is flat.
The film forming apparatus according to any one of claims 1 to 7, characterized in that.
前記型が有する前記硬化性組成物と接触する面は、パターンを有する、
ことを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の膜形成装置。
The surface of the mold that contacts the curable composition has a pattern,
The film forming apparatus according to any one of claims 1 to 7, characterized in that.
請求項1乃至9のいずれか1項に記載の膜形成装置によって基板の上に膜を形成する工程と、
前記膜が形成された前記基板を処理する工程と、を含み、
前記基板から物品を製造することを特徴とする物品製造方法。
Forming a film on a substrate by the film forming apparatus according to claim 1.
Processing the substrate having the film formed thereon,
An article manufacturing method comprising manufacturing an article from the substrate.
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