JP2020085538A - Electromagnetic wave detector and information acquisition system - Google Patents

Electromagnetic wave detector and information acquisition system Download PDF

Info

Publication number
JP2020085538A
JP2020085538A JP2018216721A JP2018216721A JP2020085538A JP 2020085538 A JP2020085538 A JP 2020085538A JP 2018216721 A JP2018216721 A JP 2018216721A JP 2018216721 A JP2018216721 A JP 2018216721A JP 2020085538 A JP2020085538 A JP 2020085538A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electromagnetic wave
unit
detection device
wave detection
traveling
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2018216721A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2020085538A5 (en
JP7118865B2 (en
Inventor
絵梨 竹内
Eri Takeuchi
絵梨 竹内
皆川 博幸
Hiroyuki Minagawa
博幸 皆川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyocera Corp filed Critical Kyocera Corp
Priority to JP2018216721A priority Critical patent/JP7118865B2/en
Priority to PCT/JP2019/043329 priority patent/WO2020105419A1/en
Publication of JP2020085538A publication Critical patent/JP2020085538A/en
Publication of JP2020085538A5 publication Critical patent/JP2020085538A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7118865B2 publication Critical patent/JP7118865B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/48Thermography; Techniques using wholly visual means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/88Lidar systems specially adapted for specific applications
    • G01S17/89Lidar systems specially adapted for specific applications for mapping or imaging
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/481Constructional features, e.g. arrangements of optical elements

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Abstract

To reduce the effects of an electromagnetic wave radiated from the outside of a desired detection range while reducing a difference in coordinate system.SOLUTION: An electromagnetic wave detector 10 comprises a first image-forming unit 15, a separation unit 23, a first detection unit 19, and a cutoff unit 24. The first image-forming unit 15 forms an incident electromagnetic wave into an image. The separation unit 23 separates an electromagnetic wave proceeding from the first image-forming unit 15 into a first direction d1 and a second direction d2. The first detection unit 19 detects an electromagnetic wave having proceeded from the separation unit 23 in the first direction d1. The cutoff unit 25 cuts off the progression of an electromagnetic wave Wos outside of a field angle range to the first image-forming unit 15. The field angle is determined in accordance with the first image-forming unit 15 and the first detection unit 19.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本発明は、電磁波検出装置および情報取得システムに関するものである。 The present invention relates to an electromagnetic wave detection device and an information acquisition system.

近年、電磁波を検出する複数の検出器による検出結果から周囲に関する情報を得る装置が開発されている。例えば、赤外線カメラで撮像した画像中の物体の位置を、レーザレーダを用いて測定する装置が知られている。(特許文献1参照)。 In recent years, devices have been developed that obtain information about the surroundings from the detection results of a plurality of detectors that detect electromagnetic waves. For example, there is known a device that measures the position of an object in an image captured by an infrared camera using a laser radar. (See Patent Document 1).

特開2011−220732号公報JP, 2011-220732, A

このような装置において、各検出器による検出結果における座標系の差異を低減しながら、所望の検出範囲外から放射される電磁波の影響を低減することは有益である。 In such a device, it is useful to reduce the influence of electromagnetic waves emitted from outside the desired detection range while reducing the difference in the coordinate system in the detection result by each detector.

従って、上記のような従来技術の問題点に鑑みてなされた本開示の目的は、座標系の差異を低減しながら、所望の検出範囲外から放射される電磁波の影響を低減することにある。 Therefore, an object of the present disclosure made in view of the above-described problems of the related art is to reduce the influence of an electromagnetic wave emitted from a desired detection range while reducing the difference in the coordinate system.

上述した諸課題を解決すべく、第1の観点による電磁波検出装置は、
入射する電磁波を結像させる第1の結像部と、
前記第1の結像部から進行する電磁波を第1の方向および第2の方向に分離する分離部と、
前記分離部から前記第1の方向に進行した電磁波を検出する第1の検出部と、
前記第1の結像部および前記第1の検出部に応じて定まる画角の範囲外の電磁波の前記第1の結像部への進行を遮断する遮断部と、を備える。
In order to solve the above-mentioned problems, the electromagnetic wave detection device according to the first aspect is
A first image forming unit for forming an image of incident electromagnetic waves;
A separation unit that separates electromagnetic waves traveling from the first imaging unit into a first direction and a second direction;
A first detection unit that detects an electromagnetic wave traveling from the separation unit in the first direction;
A blocking unit that blocks an electromagnetic wave outside the range of the angle of view determined according to the first imaging unit and the first detection unit from proceeding to the first imaging unit.

また、第2の観点による情報取得システムは、
入射する電磁波を結像させる第1の結像部と、前記第1の結像部から進行する電磁波を第1の方向および第2の方向に分離する分離部と、前記分離部から前記第1の方向に進行した電磁波を検出する第1の検出部と、前記第1の結像部および前記第1の検出部に応じて定まる画角の範囲外の電磁波の前記第1の結像部への進行を遮断する遮断部と、を有する電磁波検出装置と、
前記第1の検出部による電磁波の検出結果に基づいて、周囲に関する情報を取得する制御部と、を備える。
The information acquisition system according to the second aspect is
A first image forming unit that forms an image of an incident electromagnetic wave, a separation unit that separates an electromagnetic wave traveling from the first image forming unit into a first direction and a second direction, and the separation unit from the first unit. To the first imaging unit for detecting an electromagnetic wave traveling in the direction of, and the first imaging unit and the first imaging unit for the electromagnetic wave outside the range of the angle of view determined according to the first detection unit. An electromagnetic wave detection device having a blocking unit for blocking the progress of
A control unit that acquires information about the surroundings based on the detection result of the electromagnetic wave by the first detection unit.

上述したように本開示の解決手段を装置、およびシステムとして説明してきたが、本開示は、これらを含む態様としても実現し得るものであり、また、これらに実質的に相当する方法、プログラム、プログラムを記録した記憶媒体としても実現し得るものであり、本開示の範囲にはこれらも包含されるものと理解されたい。 Although the solution means of the present disclosure has been described as an apparatus and a system as described above, the present disclosure can also be realized as an aspect including these, and a method, a program substantially equivalent to these, It can be realized as a storage medium recording a program, and it should be understood that these are also included in the scope of the present disclosure.

上記のように構成された本開示によれば、座標系の差異を低減しながら、所望の検出範囲外から放射される電磁波の影響が低減する。 According to the present disclosure configured as described above, the influence of electromagnetic waves emitted from outside the desired detection range is reduced while reducing the difference in the coordinate system.

一実施形態に係る電磁波検出装置を含む情報取得システムの概略構成を示す構成図である。It is a block diagram which shows schematic structure of the information acquisition system containing the electromagnetic wave detection apparatus which concerns on one Embodiment. 図1の電磁波検出装置の概略構成を示す構成図である。It is a block diagram which shows schematic structure of the electromagnetic wave detection apparatus of FIG. 図2の遮断部の変形例を示す電磁波検出装置の概略構成図である。It is a schematic block diagram of the electromagnetic wave detection apparatus which shows the modification of the interruption|blocking part of FIG. 図2の遮断部の別の変形例を示す電磁波検出装置の概略構成図である。It is a schematic block diagram of the electromagnetic wave detection apparatus which shows another modification of the interruption|blocking part of FIG. 図2の遮断部のさらに別の変形例を示す電磁波検出装置の外観斜視図である。It is an external appearance perspective view of the electromagnetic wave detection apparatus which shows another modification of the interruption|blocking part of FIG. 図1の放射部、第2の検出部、および制御部が構成する測距センサによる測距の原理を説明するための電磁波の放射の時期と検出の時期を示すタイミングチャートである。3 is a timing chart showing the timing of emission of electromagnetic waves and the timing of detection in order to explain the principle of distance measurement by a distance measurement sensor configured by the radiation unit, the second detection unit, and the control unit of FIG. 1. 図2の電磁波検出装置の効果を説明するために、図2における電磁波検出装置から遮断部を省いた電磁波検出装置の概略構成を示す構成図である。FIG. 3 is a configuration diagram showing a schematic configuration of an electromagnetic wave detection device in which a blocking unit is omitted from the electromagnetic wave detection device in FIG. 2 in order to explain effects of the electromagnetic wave detection device in FIG. 2. 図2の第1の進行部の変形例を示す電磁波検出装置の概略構成図である。It is a schematic block diagram of the electromagnetic wave detection apparatus which shows the modification of the 1st advancing part of FIG.

以下、本発明を適用した電磁波検出装置の実施形態について、図面を参照して説明する。入射する電磁波を結像させる一次結像光学系、および一次結像光学系を透過した電磁波を分離する分離部を有する電磁波検出装置は、分離した電磁波を別々に検出し得る。このような電磁波検出装置においては、画角の範囲内の電磁波を分離部から検出部まで進行させる経路が定められている。しかし、画角の範囲外から分離部に入射する電磁波は当該経路から外れながらも検出部に進行しうる。このように、所定の経路を外れて検出部に進行する電磁波は、電磁波の検出精度を低下させる。そこで、本発明を適用した電磁波検出装置は、画角の範囲外の電磁波の一次結像光学系への進行を遮断する遮断部を設けることにより、画角の範囲外の電磁波の検出部への進行が防がれる。したがって、所望の検出範囲外から放射される電磁波の影響が低減され得る。 Hereinafter, an embodiment of an electromagnetic wave detection device to which the present invention is applied will be described with reference to the drawings. An electromagnetic wave detection device having a primary imaging optical system that forms an image of an incident electromagnetic wave and a separation unit that separates the electromagnetic wave that has passed through the primary imaging optical system can detect the separated electromagnetic waves separately. In such an electromagnetic wave detection device, a path for allowing an electromagnetic wave within the range of the angle of view to travel from the separation unit to the detection unit is defined. However, an electromagnetic wave that enters the separation unit from outside the angle of view can travel to the detection unit while deviating from the path. As described above, the electromagnetic wave that travels to the detection unit by deviating from the predetermined path reduces the detection accuracy of the electromagnetic wave. Therefore, the electromagnetic wave detection device to which the present invention is applied provides a detection unit for electromagnetic waves outside the range of the angle of view by providing a blocking unit that blocks the progress of the electromagnetic waves outside the range of the angle of view to the primary imaging optical system. Progress is prevented. Therefore, the influence of electromagnetic waves emitted from outside the desired detection range can be reduced.

図1に示すように、本開示の一実施形態に係る電磁波検出装置10を含む情報取得システム11は、電磁波検出装置10、放射部12、走査部13、および制御部14を含んで構成されている。 As shown in FIG. 1, an information acquisition system 11 including an electromagnetic wave detection device 10 according to an embodiment of the present disclosure includes an electromagnetic wave detection device 10, a radiation unit 12, a scanning unit 13, and a control unit 14. There is.

以後の図において、各機能ブロックを結ぶ破線は、制御信号または通信される情報の流れを示す。破線が示す通信は有線通信であってもよいし、無線通信であってもよい。また、各機能ブロックから突出する実線は、ビーム状の電磁波を示す。 In the following figures, broken lines connecting the functional blocks show the flow of control signals or information to be communicated. The communication indicated by the broken line may be wired communication or wireless communication. The solid line protruding from each functional block indicates a beam-shaped electromagnetic wave.

図2に示すように、電磁波検出装置10は、第1の結像部15、第1の進行部16、分離部23を含む第2の進行部17、第2の結像部18、第1の検出部19、第2の検出部20、および遮断部24を有している。 As shown in FIG. 2, the electromagnetic wave detection device 10 includes a first imaging unit 15, a first advancing unit 16, a second advancing unit 17 including a separating unit 23, a second imaging unit 18, and a first imaging unit 18. The detection unit 19, the second detection unit 20, and the blocking unit 24 are included.

第1の結像部15は、例えば、レンズおよびミラーの少なくとも一方を含む。第1の結像部15は、電磁波検出装置10において、入射する、被写体となる対象obの電磁波の像を、第2の進行部17の第1の面s1に進行させて、第1の面s1より離れた位置で結像させる。 The first image forming unit 15 includes, for example, at least one of a lens and a mirror. In the electromagnetic wave detection device 10, the first imaging unit 15 advances the incident electromagnetic wave image of the object ob, which is the subject, to the first surface s1 of the second advancing unit 17, and the first surface s1. The image is formed at a position away from s1.

第1の進行部16は、後述する分離部23から第2の方向d2に位置している。さらに、第1の進行部16は、第2の進行部17の第1の面s1に入射して第4の面s4から射出する電磁波の経路上に設けられてよい。さらに、第1の進行部16は、第1の結像部15から所定の距離だけ離れた対象obの一次結像位置または当該一次結像位置近傍に、設けられていてよい。 The 1st advancing part 16 is located in the 2nd direction d2 from the separating part 23 mentioned later. Further, the first traveling portion 16 may be provided on the path of the electromagnetic wave that enters the first surface s1 of the second traveling portion 17 and exits from the fourth surface s4. Further, the first traveling unit 16 may be provided at or near the primary imaging position of the object ob, which is separated from the first imaging unit 15 by a predetermined distance.

本実施形態においては、第1の進行部16は、当該一次結像位置に設けられている。第1の進行部16は、第1の結像部15および第2の進行部17を通過した電磁波が入射する基準面ssを有している。基準面ssは、2次元状に沿って配置される複数の画素pxによって構成されている。基準面ssは、後述する第1の状態および第2の状態の少なくともいずれかにおいて、電磁波に、例えば、反射および透過などの作用を生じさせる面である。第1の進行部16は、第1の結像部15による対象obの電磁波の像を基準面ssに結像させてよい。基準面ssは、第4の面s4から射出された電磁波の進行軸に垂直であってよい。 In the present embodiment, the first advancing portion 16 is provided at the primary image forming position. The first traveling unit 16 has a reference plane ss on which the electromagnetic waves that have passed through the first imaging unit 15 and the second traveling unit 17 are incident. The reference surface ss is composed of a plurality of pixels px arranged along a two-dimensional shape. The reference surface ss is a surface that causes an action such as reflection and transmission of electromagnetic waves in at least one of a first state and a second state described later. The first advancing unit 16 may form an image of the electromagnetic wave of the target ob by the first image forming unit 15 on the reference plane ss. The reference surface ss may be perpendicular to the traveling axis of the electromagnetic wave emitted from the fourth surface s4.

第1の進行部16は、基準面ssに入射する電磁波を、特定の方向に進行させる。第1の進行部16は、特定の方向として第1の選択方向ds1に進行させる第1の状態と、別の特定の方向として第2の選択方向ds2に進行させる第2の状態とに、画素px毎に切替可能である。本実施形態において、第1の状態は、基準面ssに入射する電磁波を、第1の選択方向ds1に反射する第1の反射状態を含む。また、第2の状態は、基準面ssに入射する電磁波を、第2の選択方向ds2に反射する第2の反射状態を含む。 The 1st advancing part 16 advances the electromagnetic wave which injects into the reference plane ss in a specific direction. The first advancing unit 16 sets a pixel in a first state in which the pixel advances to a first selection direction ds1 as a specific direction and a second state in which the pixel advances to a second selection direction ds2 as another specific direction. It can be switched for each px. In the present embodiment, the first state includes a first reflection state in which the electromagnetic wave incident on the reference surface ss is reflected in the first selection direction ds1. Further, the second state includes a second reflection state in which the electromagnetic wave incident on the reference surface ss is reflected in the second selection direction ds2.

本実施形態において、第1の進行部16は、さらに具体的には、画素px毎に電磁波を反射する反射面を含んでよい。第1の進行部16は、画素px毎の反射面の向きを変更することにより、第1の反射状態および第2の反射状態を画素px毎に切替えてよい。 In the present embodiment, the first traveling unit 16 may more specifically include a reflection surface that reflects an electromagnetic wave for each pixel px. The first traveling unit 16 may switch the first reflection state and the second reflection state for each pixel px by changing the direction of the reflection surface for each pixel px.

本実施形態において、第1の進行部16は、例えばDMD(Digital Micro mirror Device:デジタルマイクロミラーデバイス)を含んでよい。DMDは、基準面ssを構成する微小な反射面を駆動することにより、画素px毎に当該反射面を基準面ssに対して+12°および−12°のいずれかの傾斜状態に切替可能である。なお、基準面ssは、DMDにおける微小な反射面を載置する基板の板面に平行であってよい。 In the present embodiment, the first progression unit 16 may include, for example, a DMD (Digital Micro mirror Device). The DMD can switch the reflecting surface for each pixel px to any one of +12° and −12° with respect to the reference surface ss by driving a minute reflecting surface forming the reference surface ss. .. The reference surface ss may be parallel to the plate surface of the substrate on which the minute reflecting surface of the DMD is placed.

第1の進行部16は、後述する制御部14の制御に基づいて、第1の状態および第2の状態を、画素px毎に切替えてよい。例えば、第1の進行部16は、同時に、一部の画素pxを第1の状態に切替えることにより当該画素pxに入射する電磁波を第1の選択方向ds1に進行させ得、別の一部の画素pxを第2の状態に切替えることにより当該画素pxに入射する電磁波を第2の選択方向ds2に進行させ得る。 The first advancing unit 16 may switch the first state and the second state for each pixel px based on the control of the control unit 14 described later. For example, the first advancing unit 16 may simultaneously switch some of the pixels px to the first state to cause the electromagnetic waves incident on the pixels px to proceed in the first selection direction ds1, and another part of By switching the pixel px to the second state, the electromagnetic wave incident on the pixel px can proceed in the second selection direction ds2.

第2の進行部17は、第1の結像部15および第1の進行部16の間に設けられている。第2の進行部17は、分離部23を有している。第2の進行部17は、分離部23において、第1の結像部15から進行する電磁波を第1の方向d1および第2の方向d2に分離する。第2の進行部17は、分離した電磁波を、第1の検出部19および第1の進行部16に向けて射出してよい。第2の進行部17は、第1の進行部16に進行方向を第1の選択方向ds1に変えられた電磁波を、第2の検出部20に向けて射出する。本実施形態における、第2の進行部17の詳細な構造を以下に説明する。 The second advancing section 17 is provided between the first imaging section 15 and the first advancing section 16. The second advancing section 17 has a separating section 23. The second traveling unit 17 separates the electromagnetic wave traveling from the first imaging unit 15 into the first direction d1 and the second direction d2 in the separating unit 23. The second traveling unit 17 may emit the separated electromagnetic waves toward the first detection unit 19 and the first traveling unit 16. The second traveling unit 17 causes the first traveling unit 16 to emit the electromagnetic wave whose traveling direction is changed to the first selection direction ds1 toward the second detection unit 20. The detailed structure of the second advancing portion 17 in the present embodiment will be described below.

第2の進行部17は、第1の面s1、第2の面s2、第3の面s3、第4の面s4、第5の面s5、および第6の面s6を少なくとも有してよい。 The 2nd advancing part 17 may have at least 1st surface s1, 2nd surface s2, 3rd surface s3, 4th surface s4, 5th surface s5, and 6th surface s6. ..

第1の面s1には、第1の結像部15から進行する電磁波が入射する。第1の面s1は、第2の進行部17に入射する電磁波を第2の面s2に向かって進行させる。第1の面s1は、第1の結像部15の主軸と垂直であってよい。第1の面s1は、第1の方向d1から入射する電磁波を透過、または屈折させて第2の面s2に向かってに進行させてよい。 Electromagnetic waves traveling from the first image forming unit 15 are incident on the first surface s1. The first surface s1 causes the electromagnetic wave incident on the second traveling portion 17 to travel toward the second surface s2. The first surface s1 may be perpendicular to the main axis of the first image forming unit 15. The first surface s1 may transmit or refract an electromagnetic wave that is incident from the first direction d1 and travel toward the second surface s2.

第1の面s1は、後述するように、分離部23から第1の方向d1へ進行する電磁波を第1の検出部19に向かってへ進行させる。第1の面s1は、分離部23から第1の方向d1に進行する電磁波を内部反射して第1の検出部19に向かってに進行させてよい。第1の面s1は、分離部23から第1の方向d1に進行した電磁波を内部全反射して第1の検出部19に向かって進行させてもよい。分離部23から第1の方向d1に進行する電磁波の第1の面s1への入射角は臨界角以上であってよい。 As will be described later, the first surface s1 causes the electromagnetic wave traveling from the separating unit 23 in the first direction d1 to travel toward the first detecting unit 19. The first surface s1 may internally reflect the electromagnetic wave traveling from the separating section 23 in the first direction d1 to travel toward the first detecting section 19. The first surface s1 may totally internally reflect the electromagnetic wave traveling from the separating section 23 in the first direction d1 and cause the electromagnetic wave to travel toward the first detecting section 19. The incident angle of the electromagnetic wave traveling from the separating section 23 in the first direction d1 on the first surface s1 may be equal to or greater than the critical angle.

第2の面s2は、後述するように、分離部23を含んでよい。第2の面s2では、分離部23が、第1の面s1から進行する電磁波を分離して第1の方向d1および第2の方向d2に進行させる。第1の結像部15から進行した電磁波の第2の面s2への入射角は臨界角未満であってよい。 The second surface s2 may include the separating portion 23, as described below. On the second surface s2, the separation unit 23 separates the electromagnetic waves traveling from the first surface s1 and causes the electromagnetic waves to travel in the first direction d1 and the second direction d2. The incident angle of the electromagnetic wave traveling from the first imaging unit 15 on the second surface s2 may be less than the critical angle.

第3の面s3は、第1の面s1から第1の検出部19に向かって進行した電磁波を、第2の進行部17から射出する。 The third surface s3 emits the electromagnetic wave traveling from the first surface s1 toward the first detection unit 19 from the second traveling unit 17.

第4の面s4は、第2の面s2から第2の方向d2に進行した電磁波を、第1の進行部16の基準面ssに射出する。また、第4の面s4は、第1の進行部16の基準面ssから第1の選択方向ds1に反射して、再入射した電磁波を第3の方向d3に進行させる。第4の面s4は、第2の方向d2に垂直であってよい。第4の面s4は、第1の進行部16の基準面ssに対して平行であってよい。第4の面s4は、基準面ssから再入射する電磁波を透過または屈折させて第3の方向d3に進行させてよい。 The fourth surface s4 emits the electromagnetic wave traveling from the second surface s2 in the second direction d2 to the reference surface ss of the first traveling portion 16. Further, the fourth surface s4 reflects the electromagnetic wave reflected from the reference surface ss of the first traveling portion 16 in the first selection direction ds1 and re-incident in the third direction d3. The fourth surface s4 may be perpendicular to the second direction d2. The fourth surface s4 may be parallel to the reference surface ss of the first traveling portion 16. The fourth surface s4 may transmit or refract the electromagnetic waves that are re-incident from the reference surface ss, and may travel in the third direction d3.

第5の面s5は、第4の面s4から第3の方向d3に進行した電磁波を第2の検出部20に向かって進行させる。第5の面s5は、第4の面s4から第3の方向d3に進行した電磁波を内部反射して第2の検出部20に向かって進行させてよい。第5の面s5は、第4の面s4から第3の方向d3に進行した電磁波を内部全反射して第6の面s6に進行させてもよい。第4の面s4から第3の方向d3に進行した電磁波の第5の面s5への入射角は臨界角以上であってよい。 The fifth surface s5 causes the electromagnetic wave that has traveled from the fourth surface s4 in the third direction d3 to travel toward the second detection unit 20. The fifth surface s5 may internally reflect the electromagnetic wave that has traveled from the fourth surface s4 in the third direction d3 to travel toward the second detection unit 20. The fifth surface s5 may totally reflect the electromagnetic wave traveling from the fourth surface s4 in the third direction d3, and may propagate the electromagnetic wave to the sixth surface s6. The incident angle of the electromagnetic wave traveling from the fourth surface s4 in the third direction d3 to the fifth surface s5 may be equal to or greater than the critical angle.

第4の面s4から第3の方向d3に進行した電磁波の第5の面s5への入射角は、第1の結像部15および第1の面s1から進行した電磁波の第2の面s2への入射角と異なっていてよい。第4の面s4から第3の方向d3に進行した電磁波の第5の面s5への入射角は、第1の結像部15および第1の面s1から進行した電磁波の第2の面s2への入射角より大きくてよい。第5の面s5は、第2の面s2と平行であってよい。 The angle of incidence of the electromagnetic wave traveling from the fourth surface s4 in the third direction d3 on the fifth surface s5 is determined by the second imaging surface 15 and the second surface s2 of the electromagnetic wave traveling from the first surface s1. May be different from the angle of incidence on. The angle of incidence of the electromagnetic wave traveling from the fourth surface s4 in the third direction d3 on the fifth surface s5 is determined by the second imaging surface 15 and the second surface s2 of the electromagnetic wave traveling from the first surface s1. May be larger than the angle of incidence on. The fifth surface s5 may be parallel to the second surface s2.

第6の面s6は、第5の面s5から第2の検出部20に向かって進行した電磁波を、第2の進行部17から射出する。 The sixth surface s6 emits the electromagnetic wave traveling from the fifth surface s5 toward the second detection unit 20, from the second traveling unit 17.

以下に、本実施形態における第1の面s1から第6の面s6について、第2の進行部17の構成の詳細とともに説明する。 Below, the 1st surface s1 to the 6th surface s6 in this embodiment are explained with the details of the composition of the 2nd advancing part 17.

本実施形態において、第2の進行部17は、第1のプリズム21、第2のプリズム22、および分離部23を有する。 In the present embodiment, the second traveling section 17 has a first prism 21, a second prism 22, and a separating section 23.

第1のプリズム21は、第1の面s1、第2の面s2、および第3の面s3を別々の異なる表面として有してよい。第1のプリズム21は、例えば、三角プリズムを含み、第1の面s1、第2の面s2、および第3の面s3は、互いに交差してよい。 The first prism 21 may have the first surface s1, the second surface s2, and the third surface s3 as separate different surfaces. The first prism 21 includes, for example, a triangular prism, and the first surface s1, the second surface s2, and the third surface s3 may intersect with each other.

第1のプリズム21は、第1の結像部15の光軸と第1の面s1とが垂直となるように、配置されていてよい。また、第1のプリズム21は、第1の結像部15から第1の面s1を透過または屈折して第1のプリズム21内を進行する電磁波の進行方向に第2の面s2が位置するように、配置されていてよい。また、第1のプリズム21は、第2の面s2において反射した電磁波が進行する第1の方向d1に第1の面s1が位置するように、配置されていてよい。また、第1のプリズム21は、第2の面s2から第1の方向d1に進行して第1の面s1において反射した電磁波が進行する進行方向に第3の面s3が位置するように、配置されていてよい。 The first prism 21 may be arranged so that the optical axis of the first imaging unit 15 and the first surface s1 are perpendicular to each other. Further, in the first prism 21, the second surface s2 is located in the traveling direction of the electromagnetic wave that passes through or refracts the first surface s1 from the first imaging unit 15 and travels in the first prism 21. May be arranged as follows. Further, the first prism 21 may be arranged such that the first surface s1 is located in the first direction d1 in which the electromagnetic wave reflected on the second surface s2 travels. Further, in the first prism 21, the third surface s3 is located in the traveling direction in which the electromagnetic wave reflected from the first surface s1 travels in the first direction d1 from the second surface s2. It may be arranged.

第2のプリズム22は、少なくとも第4の面s4、第5の面s5、および第6の面s6を別々の異なる表面として有してよい。第2のプリズム22では、例えば、矩形のプリズムを含み、第4の面s4および第5の面s5と、第6の面s6とは、交差してよい。 The second prism 22 may have at least the fourth surface s4, the fifth surface s5, and the sixth surface s6 as separate different surfaces. The second prism 22 includes, for example, a rectangular prism, and the fourth surface s4 and the fifth surface s5 and the sixth surface s6 may intersect with each other.

第2のプリズム22は、第5の面s5が第1のプリズム21の第2の面s2に平行且つ対向するように、配置されていてよい。また、第2のプリズム22は、第1のプリズム21の第2の面s2を透過して第5の面s5を介して第2のプリズム22内部を進行する電磁波の進行方向に第4の面s4が位置するように配置されていてよい。また、第2のプリズム22は、第5の面s5における第3の方向d3からの入射角に等しい反射角で反射された電磁波の進行方向に第6の面s6が位置するように配置されていてよい。 The second prism 22 may be arranged such that the fifth surface s5 is parallel to and faces the second surface s2 of the first prism 21. The second prism 22 has a fourth surface in the traveling direction of an electromagnetic wave that passes through the second surface s2 of the first prism 21 and travels inside the second prism 22 via the fifth surface s5. It may be arranged so that s4 is located. The second prism 22 is arranged so that the sixth surface s6 is located in the traveling direction of the electromagnetic wave reflected at the reflection angle equal to the incident angle from the third direction d3 on the fifth surface s5. You may.

分離部23は、第1のプリズム21および第2のプリズム22の間に配置されていてよい。さらに、分離部23は、第1のプリズム21の第2の面s2に接しており、第1のプリズム21との境界面に沿って第2の面s2を含んでよい。また、分離部23は、第2のプリズム22の第5の面s5に接しており、第2のプリズム22との境界面に沿って第5の面s5を含んでよい。分離部23は、例えば、第2の面s2に付着されて有する、可視光反射コーティング、ハーフミラー、ビームスプリッタ、ダイクロイックミラー、コールドミラー、ホットミラー、メタサーフェス、および偏向素子を含む。 The separation unit 23 may be arranged between the first prism 21 and the second prism 22. Furthermore, the separating portion 23 is in contact with the second surface s2 of the first prism 21, and may include the second surface s2 along the boundary surface with the first prism 21. Further, the separating section 23 is in contact with the fifth surface s5 of the second prism 22 and may include the fifth surface s5 along the boundary surface with the second prism 22. The separating unit 23 includes, for example, a visible light reflective coating, a half mirror, a beam splitter, a dichroic mirror, a cold mirror, a hot mirror, a metasurface, and a deflecting element which are attached to the second surface s2 and have.

分離部23は、前述のように、第1の面s1から進行する電磁波を分離して第1の方向d1および第2の方向d2に進行させる。分離部23は、第1の面s1から進行する電磁波を分離して第1の方向d1および第2の方向d2に進行させる。分離部23は、入射する電磁波のうち特定の波長の電磁波を第1の方向d1に進行させ、他の波長の電磁波を第2の方向d2に進行させてよい。分離部23は、入射する電磁波のうち特定の波長の電磁波を反射して第1の方向d1に進行させ、他の波長の電磁波を透過または屈折させ第2の方向d2に進行させてよい。分離部23は、入射する電磁波のうち特定の波長の電磁波を全反射して第1の方向d1に進行させ、他の波長の電磁波を透過または屈折させ第2の方向d2に進行させてよい。分離部23は第2の面s2を含んでいるので、第1の結像部15から進行した電磁波の分離部23への入射角は、第1の結像部15から進行した電磁波の第2の面s2への入射角に等しくなりうる。 As described above, the separating unit 23 separates the electromagnetic wave traveling from the first surface s1 and traveling in the first direction d1 and the second direction d2. The separation unit 23 separates the electromagnetic waves traveling from the first surface s1 and causes the electromagnetic waves to travel in the first direction d1 and the second direction d2. The separating unit 23 may cause an electromagnetic wave having a specific wavelength to propagate in the first direction d1 among the incident electromagnetic waves and cause an electromagnetic wave having another wavelength to propagate in the second direction d2. The separating unit 23 may reflect an electromagnetic wave having a specific wavelength among the incident electromagnetic waves to travel in the first direction d1 and transmit or refract an electromagnetic wave of another wavelength to travel in the second direction d2. The separating unit 23 may totally reflect an electromagnetic wave having a specific wavelength among the incident electromagnetic waves to travel in the first direction d1, and transmit or refract an electromagnetic wave having another wavelength to travel in the second direction d2. Since the separating unit 23 includes the second surface s2, the incident angle of the electromagnetic wave traveling from the first image forming unit 15 to the separating unit 23 is the second angle of the electromagnetic wave traveling from the first image forming unit 15. Can be equal to the angle of incidence on the surface s2.

分離部23の屈折率は、第2のプリズム22の屈折率より小さくてよい。したがって、第2のプリズム22の内部を進行し臨界角以上の入射角で入射する電磁波は、第5の面s5において内部全反射する。それゆえ、第5の面s5は、第2のプリズム22の内部を第3の方向d3を進行軸として進行する電磁波を内部反射する。第3の方向d3からの電磁波の入射角が臨界角以上である構成においては、第5の面s5は、第3の方向d3に内部進行する電磁波を内部全反射して第2の検出部20に向かって進行させる。 The refractive index of the separating portion 23 may be smaller than that of the second prism 22. Therefore, the electromagnetic wave that travels inside the second prism 22 and enters at an incident angle equal to or greater than the critical angle undergoes total internal reflection on the fifth surface s5. Therefore, the fifth surface s5 internally reflects the electromagnetic wave traveling inside the second prism 22 with the traveling axis in the third direction d3. In the configuration in which the incident angle of the electromagnetic wave from the third direction d3 is equal to or greater than the critical angle, the fifth surface s5 totally reflects the electromagnetic wave that internally propagates in the third direction d3 and the second detection unit 20. Proceed toward.

第2の結像部18は、第1の進行部16から第1の選択方向ds1に進行した電磁波の進行経路、本実施形態においては、第6の面s6において第2のプリズム22から射出される電磁波の進行経路上に位置してよい。また、第2の結像部18は、主面が第6の面s6と平行になるように、設けられていてよい。 The second image forming unit 18 is emitted from the second prism 22 on the traveling path of the electromagnetic wave traveling from the first traveling unit 16 in the first selection direction ds1, which is the sixth surface s6 in the present embodiment. It may be located on the traveling path of the electromagnetic wave. Further, the second image forming unit 18 may be provided so that the main surface thereof is parallel to the sixth surface s6.

第2の結像部18は、例えば、レンズおよびミラーの少なくとも一方を含む。第2の結像部18は、第1の進行部16の基準面ssにおいて一次結像し且つ第2の進行部17を介して第6の面s6から射出された電磁波を集束させて、第2の検出部20に進行させてよい。さらに、第2の結像部18は、当該電磁波としての対象obの像を、第2の検出部20に進行させて、結像させてよい。 The second image forming unit 18 includes, for example, at least one of a lens and a mirror. The second imaging unit 18 forms a primary image on the reference plane ss of the first traveling unit 16 and focuses the electromagnetic wave emitted from the sixth surface s6 via the second traveling unit 17, It may proceed to the second detector 20. Further, the second image forming unit 18 may cause the image of the target ob as the electromagnetic wave to proceed to the second detecting unit 20 and form an image.

第1の検出部19は、分離部23において第1の方向d1に進行した電磁波、本実施形態においては第1の面s1を介して第3の面s3から射出された電磁波を検出する。第3の面s3から射出された電磁波を検出するために、第1の検出部19は、第3の面s3において第2の進行部17から射出される電磁波の経路上に、設けられていてよい。さらに、第1の検出部19は、分離部23を含む第2の進行部17を介した第1の結像部15による対象obの結像位置または当該結像位置近傍に、設けられていてよい。第1の検出部19は、検出面が第3の面s3と平行となるように配置されていてよい。 The first detection unit 19 detects an electromagnetic wave traveling in the first direction d1 in the separation unit 23, in the present embodiment, an electromagnetic wave emitted from the third surface s3 via the first surface s1. In order to detect the electromagnetic wave emitted from the third surface s3, the first detection unit 19 is provided on the path of the electromagnetic wave emitted from the second traveling unit 17 on the third surface s3. Good. Further, the first detection unit 19 is provided at or near the image forming position of the target ob by the first image forming unit 15 via the second advancing unit 17 including the separating unit 23. Good. The first detection unit 19 may be arranged such that the detection surface is parallel to the third surface s3.

本実施形態において、第1の検出部19は、パッシブセンサを含む。本実施形態において、第1の検出部19は、さらに具体的には、素子アレイを含む。例えば、第1の検出部19は、イメージセンサまたはイメージングアレイなどの撮像素子を含み、検出面において結像した電磁波による像を撮像して、撮像した対象obに相当する画像情報を生成してよい。 In the present embodiment, the first detection unit 19 includes a passive sensor. In the present embodiment, more specifically, the first detection unit 19 includes an element array. For example, the first detection unit 19 may include an image sensor such as an image sensor or an imaging array, may capture an image of an electromagnetic wave formed on the detection surface, and generate image information corresponding to the captured object ob. ..

なお、本実施形態において、第1の検出部19は、さらに具体的には可視光の像を撮像してよい。第1の検出部19は、生成した画像情報を信号として制御部14に送信してよい。 In addition, in the present embodiment, the first detection unit 19 may more specifically capture an image of visible light. The first detection unit 19 may send the generated image information as a signal to the control unit 14.

なお、第1の検出部19は、赤外線、紫外線、および電波の像など、可視光以外の像を撮像してもよい。また、第1の検出部19は、測距センサを含んでいてもよい。この構成において、電磁波検出装置10は、第1の検出部19により画像状の距離情報を取得し得る。また、第1の検出部19は、測距センサまたはサーモセンサなどを含んでいてもよい。この構成において、電磁波検出装置10は、第1の検出部19により画像状の温度情報を取得し得る。 The first detection unit 19 may capture an image other than visible light, such as an image of infrared rays, ultraviolet rays, and radio waves. Further, the first detection unit 19 may include a distance measuring sensor. In this configuration, the electromagnetic wave detection device 10 can acquire image-like distance information by the first detection unit 19. Further, the first detection unit 19 may include a distance measuring sensor, a thermo sensor, or the like. With this configuration, the electromagnetic wave detection device 10 can acquire image-like temperature information by the first detection unit 19.

第2の検出部20は、第1の進行部16から第1の選択方向ds1に進行する電磁波、本実施形態においては、第6の面s6から射出され、第2の結像部18を経由した電磁波を検出する。第6の面s6から射出された電磁波を検出するために、第2の検出部20は、第6の面s6において第2の進行部17から射出される電磁波の経路上に、設けられていてよい。第2の検出部20は、第1の進行部16の基準面ssに形成される電磁波の像の、第2の結像部18による二次結像位置または二次結像位置近傍に配置されていてよい。 The second detection unit 20 emits an electromagnetic wave traveling from the first traveling unit 16 in the first selection direction ds1, which is emitted from the sixth surface s6 in the present embodiment and passes through the second imaging unit 18. Detected electromagnetic waves. In order to detect the electromagnetic wave emitted from the sixth surface s6, the second detection unit 20 is provided on the path of the electromagnetic wave emitted from the second traveling unit 17 on the sixth surface s6. Good. The second detection unit 20 is arranged at or near the secondary image forming position of the second image forming unit 18 of the image of the electromagnetic wave formed on the reference plane ss of the first traveling unit 16. You can stay.

第2の検出部20は、検出面が第6の面s6と平行となるように配置されていてよい。また、第2の検出部20は、検出面が第2の結像部18の主面と平行であってよい。 The second detection unit 20 may be arranged so that the detection surface is parallel to the sixth surface s6. The detection surface of the second detection unit 20 may be parallel to the main surface of the second imaging unit 18.

本実施形態において、第2の検出部20は、放射部12から対象obに向けて放射された電磁波の当該対象obからの反射波を検出するアクティブセンサであってよい。なお、本実施形態において、第2の検出部20は、放射部12から放射され且つ走査部13により反射されることにより対象obに向けて放射された電磁波の当該対象obからの反射波を検出してよい。後述するように、放射部12から放射される電磁波は赤外線、可視光線、紫外線、および電波の少なくともいずれかであり得、第2の検出部20は、第1の検出部19とは異種または同種のセンサであり、異種または同種の電磁波を検出する。 In the present embodiment, the second detection unit 20 may be an active sensor that detects a reflected wave from the target ob of the electromagnetic wave radiated from the radiation unit 12 toward the target ob. In the present embodiment, the second detection unit 20 detects the reflected wave from the target ob of the electromagnetic wave emitted toward the target ob by being emitted from the emission unit 12 and reflected by the scanning unit 13. You can do it. As will be described later, the electromagnetic wave emitted from the emission unit 12 may be at least one of infrared rays, visible light rays, ultraviolet rays, and radio waves, and the second detection unit 20 is different from or the same kind as the first detection unit 19. Sensor for detecting electromagnetic waves of different types or the same type.

本実施形態において、第2の検出部20は、さらに具体的には、測距センサを構成する素子を含む。例えば、第2の検出部20は、APD(Avalanche PhotoDiode)、PD(PhotoDiode)、SPAD(Single Photon Avalanche Diode)、ミリ波センサ、サブミリ波センサ、および測距イメージセンサなどの単一の素子を含む。また、第2の検出部20は、APDアレイ、PDアレイ、MPPC(Multi Photon Pixel Counter)、測距イメージングアレイ、および測距イメージセンサなどの素子アレイを含むものであってもよい。 In the present embodiment, the second detection unit 20 more specifically includes an element that constitutes a distance measuring sensor. For example, the second detection unit 20 includes a single element such as an APD (Avalanche PhotoDiode), a PD (PhotoDiode), a SPAD (Single Photon Avalanche Diode), a millimeter wave sensor, a submillimeter wave sensor, and a distance measurement image sensor. . The second detection unit 20 may include an element array such as an APD array, a PD array, an MPPC (Multi Photon Pixel Counter), a ranging imaging array, and a ranging image sensor.

本実施形態において、第2の検出部20は、被写体からの反射波を検出したことを示す検出情報を信号として制御部14に送信する。第2の検出部20は、さらに具体的には、赤外線の帯域の電磁波を検出する赤外線センサである。 In the present embodiment, the second detection unit 20 transmits detection information indicating that the reflected wave from the subject has been detected to the control unit 14 as a signal. The second detection unit 20 is, more specifically, an infrared sensor that detects electromagnetic waves in the infrared band.

なお、第2の検出部20は、上述した測距センサを構成する単一の素子である構成において、電磁波を検出できればよく、検出面において結像される必要はない。それゆえ、第2の検出部20は、第2の結像部18による結像位置である二次結像位置または二次結像位置近傍に必ずしも設けられなくてもよい。すなわち、この構成において、第2の検出部20は、すべての画角からの電磁波が検出面上に入射可能な位置であれば、第2の進行部17の第6の面s6から射出された後に第2の結像部18を経由して進行する電磁波の経路上のどこに配置されてもよい。 Note that the second detection unit 20 need only be able to detect electromagnetic waves in the configuration of the single element that constitutes the distance measurement sensor described above, and need not be imaged on the detection surface. Therefore, the second detection unit 20 does not necessarily have to be provided at or near the secondary image forming position, which is the image forming position of the second image forming unit 18. That is, in this configuration, the second detection unit 20 is emitted from the sixth surface s6 of the second traveling unit 17 at a position where electromagnetic waves from all angles of view can be incident on the detection surface. It may be arranged anywhere on the path of the electromagnetic wave that travels later via the second imaging unit 18.

遮断部24は、第1の結像部15よりも被写体側に設けられている。遮断部24は、第1の結像部15および第1の検出部19に応じて定まる画角の範囲外の電磁波Wosの、第1の結像部15への進行を遮断する。すなわち、遮断部24は、第1の検出部19の検出領域の外縁に入射する電磁波の束の中心線CLがなす範囲の外側からの電磁波を遮断する。 The blocking unit 24 is provided closer to the subject than the first image forming unit 15. The blocking unit 24 blocks the electromagnetic waves Wos outside the range of the angle of view determined according to the first imaging unit 15 and the first detection unit 19 from proceeding to the first imaging unit 15. That is, the blocking unit 24 blocks an electromagnetic wave from outside the range formed by the center line CL of the bundle of electromagnetic waves incident on the outer edge of the detection area of the first detection unit 19.

遮断部24は、画角の範囲外から分離部23に電磁波Wosが入射する範囲に位置していればよい。例えば、図3に示すように、画角の範囲外であって、分離部23に入射する電磁波Wosが、第1の結像部15に入射する位置には遮断部24が位置してよく、分離部23の範囲外に進行する電磁波Wos1が第1の結像部15に入射する位置には、遮断部24は位置しなくてよい。 The blocking unit 24 may be located in a range where the electromagnetic wave Wos enters the separating unit 23 from outside the range of the angle of view. For example, as shown in FIG. 3, the blocking unit 24 may be located outside the range of the angle of view and at the position where the electromagnetic wave Wos entering the separating unit 23 enters the first image forming unit 15, The blocking unit 24 does not have to be located at a position where the electromagnetic wave Wos1 traveling outside the range of the separation unit 23 is incident on the first imaging unit 15.

また、遮断部24は、第1の結像部15の中心軸、本実施形態における光軸に垂直な壁であってよい。または、図4に示すように、遮断部24は、錐台の側面に沿った壁形状であってよい。また、図5に示すように、遮断部24は、電磁波検出装置10の筺体25の一部であってもよい。 Further, the blocking unit 24 may be a wall perpendicular to the central axis of the first image forming unit 15 and the optical axis in this embodiment. Alternatively, as shown in FIG. 4, the blocking portion 24 may have a wall shape along the side surface of the frustum. Further, as shown in FIG. 5, the blocking unit 24 may be a part of the housing 25 of the electromagnetic wave detection device 10.

図1において、放射部12は、例えば、赤外線、可視光線、紫外線、および電波の少なくともいずれかを放射してよい。本実施形態において、放射部12は、赤外線を放射する。放射部12は、放射する電磁波を、対象obに向けて、直接または走査部13を介して間接的に、放射してよい。本実施形態においては、放射部12は、放射する電磁波を、対象obに向けて、走査部13を介して間接的に放射してよい。 In FIG. 1, the emitting unit 12 may emit, for example, at least one of infrared rays, visible rays, ultraviolet rays, and radio waves. In the present embodiment, the radiation unit 12 emits infrared rays. The radiating unit 12 may radiate the radiated electromagnetic wave toward the target ob, directly or indirectly via the scanning unit 13. In the present embodiment, the radiation unit 12 may indirectly radiate the radiated electromagnetic wave toward the target ob through the scanning unit 13.

本実施形態においては、放射部12は、幅の細い、例えば0.5°のビーム状の電磁波を放射してよい。また、本実施形態において、放射部12は電磁波をパルス状に放射してよい。例えば、放射部12は、例えば、LED(Light Emitting Diode)およびLD(Laser Diode)などを含む。放射部12は、後述する制御部14の制御に基づいて、電磁波の放射および停止を切替えてよい。 In the present embodiment, the radiation unit 12 may emit a beam-shaped electromagnetic wave having a narrow width, for example, 0.5°. In addition, in the present embodiment, the radiation unit 12 may radiate the electromagnetic wave in a pulse shape. For example, the radiation unit 12 includes, for example, an LED (Light Emitting Diode) and an LD (Laser Diode). The radiating unit 12 may switch between radiating and stopping the electromagnetic wave under the control of the control unit 14 described later.

走査部13は、例えば、電磁波を反射する反射面を有し、放射部12から放射された電磁波を、向きを変えながら反射することにより、対象obに照射される電磁波の放射位置を変更してよい。すなわち、走査部13は、放射部12から放射される電磁波を用いて、対象obを走査してよい。したがって、本実施形態において、第2の検出部20は、走査部13と協同して、走査型の測距センサを構成してよい。なお、走査部13は、一次元方向または二次元方向に対象obを走査してよい。本実施形態においては、走査部13は、二次元方向に対象obを走査する。 The scanning unit 13 has, for example, a reflection surface that reflects electromagnetic waves, and changes the radiation position of the electromagnetic waves with which the target ob is irradiated by reflecting the electromagnetic waves emitted from the radiation unit 12 while changing the direction. Good. That is, the scanning unit 13 may scan the target ob using the electromagnetic waves emitted from the emitting unit 12. Therefore, in the present embodiment, the second detection unit 20 may cooperate with the scanning unit 13 to form a scanning distance measuring sensor. The scanning unit 13 may scan the target ob in the one-dimensional direction or the two-dimensional direction. In the present embodiment, the scanning unit 13 scans the target ob in the two-dimensional direction.

走査部13は、放射部12から放射されて反射した電磁波の照射領域の少なくとも一部が、電磁波検出装置10における電磁波の検出範囲に含まれるように、構成されていてよい。したがって、走査部13を介して対象obに照射される電磁波の少なくとも一部は、電磁波検出装置10において検出され得る。 The scanning unit 13 may be configured such that at least a part of the irradiation region of the electromagnetic waves emitted and reflected by the emission unit 12 is included in the electromagnetic wave detection range of the electromagnetic wave detection device 10. Therefore, at least a part of the electromagnetic waves with which the target ob is irradiated via the scanning unit 13 can be detected by the electromagnetic wave detection device 10.

なお、本実施形態において、走査部13は、放射部12から放射され且つ走査部13に反射した電磁波の照射領域の少なくとも一部が、第2の検出部20における検出範囲に含まれるように、構成されている。したがって、本実施形態において、走査部13を介して対象obに放射される電磁波の少なくとも一部は、第2の検出部20により検出され得る。 In the present embodiment, the scanning unit 13 is configured such that at least a part of the irradiation area of the electromagnetic waves emitted from the emission unit 12 and reflected by the scanning unit 13 is included in the detection range of the second detection unit 20. It is configured. Therefore, in the present embodiment, at least a part of the electromagnetic waves emitted to the target ob via the scanning unit 13 can be detected by the second detection unit 20.

走査部13は、例えば、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)ミラー、ポリゴンミラー、およびガルバノミラーなどを含む。本実施形態においては、走査部13は、MEMSミラーを含む。 The scanning unit 13 includes, for example, a MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) mirror, a polygon mirror, a galvano mirror, and the like. In the present embodiment, the scanning unit 13 includes a MEMS mirror.

走査部13は、後述する制御部14の制御に基づいて、電磁波を反射する向きを変えてよい。また、走査部13は、例えばエンコーダなどの角度センサを有してもよく、角度センサが検出する角度を、電磁波を反射する方向情報として、制御部14に通知してもよい。このような構成において、制御部14は、走査部13から取得する方向情報に基づいて、放射位置を算出し得る。また、制御部14は、走査部13に電磁波を反射する向きを変えさせるために入力する駆動信号に基づいて照射位置を算出し得る。 The scanning unit 13 may change the direction in which electromagnetic waves are reflected under the control of the control unit 14 described below. Further, the scanning unit 13 may have an angle sensor such as an encoder, and may notify the control unit 14 of the angle detected by the angle sensor as the direction information that reflects electromagnetic waves. In such a configuration, the control unit 14 can calculate the radiation position based on the direction information acquired from the scanning unit 13. Further, the control unit 14 can calculate the irradiation position based on the drive signal input to the scanning unit 13 to change the direction in which the electromagnetic wave is reflected.

制御部14は、1以上のプロセッサおよびメモリを含む。プロセッサは、特定のプログラムを読み込ませて特定の機能を実行する汎用のプロセッサ、および特定の処理に特化した専用のプロセッサの少なくともいずれかを含んでよい。専用のプロセッサは、特定用途向けIC(ASIC;Application Specific Integrated Circuit)を含んでよい。プロセッサは、プログラマブルロジックデバイス(PLD;Programmable Logic Device)を含んでよい。PLDは、FPGA(Field−Programmable Gate Array)を含んでよい。制御部14は、1つまたは複数のプロセッサが協働するSoC(System−on−a−Chip)、およびSiP(System In a Package)の少なくともいずれかを含んでよい。 The control unit 14 includes one or more processors and memories. The processor may include at least one of a general-purpose processor that loads a specific program and executes a specific function, and a dedicated processor that is specialized for a specific process. The dedicated processor may include an application specific integrated circuit (ASIC; Application Specific Integrated Circuit). The processor may include a programmable logic device (PLD; Programmable Logic Device). The PLD may include an FPGA (Field-Programmable Gate Array). The control unit 14 may include at least one of SoC (System-on-a-Chip) and SiP (System In a Package) in which one or more processors cooperate.

制御部14は、第1の検出部19および第2の検出部20がそれぞれ検出した電磁波の検出結果に基づいて、電磁波検出装置10の周囲に関する情報を取得してよい。周囲に関する情報は、例えば画像情報、距離情報、および温度情報などである。本実施形態において、制御部14は、前述のように、第1の検出部19が画像として検出した電磁波を画像情報として取得する。また、本実施形態において、制御部14は、第2の検出部20が検出する検出情報に基づいて、以下に説明するように、ToF(Time−of−Flight)方式により、放射部12に放射される放射位置の距離情報を取得する。 The control unit 14 may acquire information about the surroundings of the electromagnetic wave detection device 10 based on the detection results of the electromagnetic waves detected by the first detection unit 19 and the second detection unit 20, respectively. The information about the surroundings is, for example, image information, distance information, and temperature information. In the present embodiment, the control unit 14 acquires the electromagnetic waves detected by the first detection unit 19 as an image as image information, as described above. In addition, in the present embodiment, the control unit 14 irradiates the radiating unit 12 by the ToF (Time-of-Flight) method based on the detection information detected by the second detection unit 20, as described below. The distance information of the radiation position to be obtained is acquired.

図6に示すように、制御部14は、放射部12に電磁波放射信号を入力することにより、放射部12にパルス状の電磁波を放射する(“電磁波放射信号”欄参照)。放射部12は、入力された当該電磁波放射信号に基づいて電磁波を照射する(“放射部放射量”欄参照)。放射部12が放射し且つ走査部13が反射して任意の放射領域に照射された電磁波は、当該放射領域において反射する。制御部14は、当該放射領域の反射波の第1の結像部15による第1の進行部16における結像領域の中の少なくとも一部の画素pxを第1の状態に切替え、他の画素pxを第2の状態に切替える。そして、第2の検出部20は、当該放射領域において反射された電磁波を検出するとき(“電磁波検出量”欄参照)、前述のように、検出情報を制御部14に通知する。 As shown in FIG. 6, the control unit 14 radiates a pulsed electromagnetic wave to the radiation unit 12 by inputting the electromagnetic wave radiation signal to the radiation unit 12 (see the “electromagnetic radiation signal” column). The radiating unit 12 radiates an electromagnetic wave based on the inputted electromagnetic wave radiating signal (see the "radiating unit radiation amount" column). The electromagnetic wave emitted by the radiation unit 12 and reflected by the scanning unit 13 and applied to an arbitrary radiation region is reflected in the radiation region. The control unit 14 switches at least some of the pixels px in the image formation region in the first traveling unit 16 by the first image formation unit 15 of the reflected wave of the radiation region to the first state, and the other pixels. Switch px to the second state. Then, when the second detection unit 20 detects the electromagnetic wave reflected in the radiation area (see the “electromagnetic wave detection amount” column), the second detection unit 20 notifies the control unit 14 of the detection information as described above.

制御部14は、例えば、時間計測LSI(Large Scale Integrated circuit)を有しており、放射部12に電磁波を放射させた時期T1から、検出情報を取得(“検出情報取得”欄参照)した時期T2までの時間ΔTを計測する。制御部14は、当該時間ΔTに、光速を乗算し、且つ2で除算することにより、放射位置までの距離を算出する。なお、制御部14は、上述のように、走査部13から取得する方向情報、または自身が走査部13に出力する駆動信号に基づいて、放射位置を算出する。制御部14は、放射位置を変えながら、各放射位置までの距離を算出することにより、画像状の距離情報を作成する。 The control unit 14 has, for example, a time measurement LSI (Large Scale Integrated circuit), and acquires detection information from the time T1 when the emission unit 12 emits an electromagnetic wave (see the "Detection Information Acquisition" column). The time ΔT to T2 is measured. The control unit 14 calculates the distance to the radiation position by multiplying the time ΔT by the speed of light and dividing by 2. The control unit 14 calculates the radiation position based on the direction information acquired from the scanning unit 13 or the drive signal output to the scanning unit 13 by itself, as described above. The control unit 14 creates image-like distance information by calculating the distance to each radiation position while changing the radiation position.

なお、本実施形態において、情報取得システム11は、上述のように、電磁波を放射して、返ってくるまでの時間を直接測定するDirect ToFにより距離情報を作成する構成である。しかし、情報取得システム11は、このような構成に限られない。例えば、情報取得システム11は、電磁波を一定の周期で放射し、放射された電磁波と返ってきた電磁波との位相差から、返ってくるまでの時間を間接的に測定するFlash ToFにより距離情報を作成してもよい。また、情報取得システム11は、他のToF方式、例えば、Phased ToFにより距離情報を作成してもよい。 In the present embodiment, the information acquisition system 11 is configured to generate distance information by Direct ToF that radiates an electromagnetic wave and directly measures the time until it returns, as described above. However, the information acquisition system 11 is not limited to such a configuration. For example, the information acquisition system 11 radiates an electromagnetic wave at a constant cycle, and based on the phase difference between the radiated electromagnetic wave and the returned electromagnetic wave, the distance information is measured by Flash ToF that indirectly measures the time until the returned electromagnetic wave. May be created. In addition, the information acquisition system 11 may create the distance information by another ToF method, for example, Phased ToF.

以上のような構成の本実施形態の電磁波検出装置10は、第1の結像部15から進行する電磁波を第1の方向d1および第2の方向d2に分離する分離部23を備える。このような構成により、電磁波検出装置10は、第1の方向d1および第2の方向d2それぞれに進行する電磁波を別々の検出部を用いて検出し得るので、別々の検出部における座標系の差異を低減し得る。 The electromagnetic wave detection device 10 of the present exemplary embodiment having the above-described configuration includes the separation unit 23 that separates the electromagnetic wave traveling from the first imaging unit 15 into the first direction d1 and the second direction d2. With such a configuration, the electromagnetic wave detection device 10 can detect the electromagnetic waves traveling in each of the first direction d1 and the second direction d2 by using different detection units, and thus the difference in coordinate system between the different detection units. Can be reduced.

さらに、本実施形態の電磁波検出装置10は、第1の結像部15および第1の検出部19に応じて定まる画角の範囲外の電磁波Wosの第1の結像部15への進行を遮断する遮断部24を備える。電磁波検出装置10では画角範囲内の電磁波は分離部23で分離された後に所定の経路を進行するように設計されている。例えば、本実施形態においては、画角範囲内の電磁波の一部は、分離部23で反射され、さらに第1の面s1で反射され、第3の面s3から射出して第1の検出部19に入射する。しかし、画角の範囲外の電磁波Wosは所定の経路から外れながらも第1の検出部19に入射しうる。例えば、本実施形態の電磁波検出装置10から遮断部24を省いた電磁波検出装置10’では、図7に示すように、画角の範囲外の電磁波Wosの一部は、分離部23’で反射されて、第1の面s1を介することなく第3の面s3から射出して、第1の検出部19’に入射しうる。また、画角の範囲外の電磁波Wosの一部は、分離部23’で反射されて、第1の面s1で反射され、さらに第2の面s2で反射され、第3の面s3から射出して、第1の検出部19’に入射しうる。このような事象に対して、本実施形態の電磁波検出装置10は、上述の構成により、電磁波検出装置10は、画角の範囲外の電磁波Wosが遮断されるので、所望の検出範囲外から放射される電磁波の影響を低減する。 Further, the electromagnetic wave detection device 10 of the present exemplary embodiment allows the electromagnetic wave Wos outside the range of the angle of view determined according to the first imaging unit 15 and the first detection unit 19 to travel to the first imaging unit 15. A blocking unit 24 for blocking is provided. The electromagnetic wave detection device 10 is designed so that electromagnetic waves within the angle of view range are separated by the separation unit 23 and then travel on a predetermined path. For example, in the present embodiment, a part of the electromagnetic wave within the angle of view range is reflected by the separation unit 23, further reflected by the first surface s1, emitted from the third surface s3, and then emitted by the first detection unit. It is incident on 19. However, the electromagnetic wave Wos outside the range of the angle of view may enter the first detection unit 19 while deviating from the predetermined path. For example, in the electromagnetic wave detection device 10′ in which the blocking unit 24 is omitted from the electromagnetic wave detection device 10 of the present embodiment, as illustrated in FIG. 7, a part of the electromagnetic wave Wos outside the range of the angle of view is reflected by the separation unit 23′. Thus, the light may be emitted from the third surface s3 without passing through the first surface s1 and may be incident on the first detection unit 19′. Further, a part of the electromagnetic wave Wos outside the range of the angle of view is reflected by the separating portion 23′, is reflected by the first surface s1, is further reflected by the second surface s2, and is emitted from the third surface s3. Then, it can be incident on the first detector 19 ′. In response to such an event, the electromagnetic wave detection device 10 of the present embodiment has the above-described configuration, and since the electromagnetic wave Wos outside the range of the angle of view is blocked by the electromagnetic wave detection device 10, the electromagnetic wave detection device 10 emits radiation from outside the desired detection range. Reduce the effects of electromagnetic waves.

また、本実施形態の情報取得システム11では、制御部14が、第1の検出部19および第2の検出部20それぞれにより検出された電磁波に基づいて、電磁波検出装置10の周囲に関する情報を取得する。このような構成により、情報取得システム11は、検出した電磁波に基づく有益な情報を提供し得る。 Further, in the information acquisition system 11 of the present embodiment, the control unit 14 acquires information about the surroundings of the electromagnetic wave detection device 10 based on the electromagnetic waves detected by the first detection unit 19 and the second detection unit 20, respectively. To do. With such a configuration, the information acquisition system 11 can provide useful information based on the detected electromagnetic waves.

本発明を諸図面および実施例に基づき説明してきたが、当業者であれば本開示に基づき種々の変形および修正を行うことが容易であることに注意されたい。従って、これらの変形および修正は本発明の範囲に含まれることに留意されたい。 Although the present invention has been described based on the drawings and the embodiments, it should be noted that those skilled in the art can easily make various variations and modifications based on the present disclosure. Therefore, it should be noted that these variations and modifications are included in the scope of the present invention.

例えば、本実施形態において、放射部12、走査部13、および制御部14が、電磁波検出装置10とともに情報取得システム11を構成しているが、電磁波検出装置10は、これらの少なくとも1つを含んで構成されてよい。 For example, in the present embodiment, the radiation unit 12, the scanning unit 13, and the control unit 14 configure the information acquisition system 11 together with the electromagnetic wave detection device 10, but the electromagnetic wave detection device 10 includes at least one of these. May be composed of

また、本実施形態において、第1の進行部16は、基準面ssに入射する電磁波の進行方向を第1の選択方向ds1および第2の選択方向ds2の2方向に切替可能であるが、2方向のいずれかへの切替えでなく、3以上の方向に切替可能であってよい。 Further, in the present embodiment, the first traveling unit 16 can switch the traveling direction of the electromagnetic wave incident on the reference surface ss between two directions of the first selection direction ds1 and the second selection direction ds2. Instead of switching to any of the directions, it may be possible to switch to three or more directions.

また、本実施形態の第1の進行部16において、第1の状態および第2の状態は、基準面ssに入射する電磁波を、それぞれ、第1の選択方向ds1に反射する第1の反射状態、および第2の選択方向ds2に反射する第2の反射状態であるが、他の態様であってもよい。 Further, in the first traveling unit 16 of the present embodiment, the first state and the second state are the first reflection state in which the electromagnetic waves incident on the reference surface ss are reflected in the first selection direction ds1, respectively. , And the second reflection state in which the light is reflected in the second selection direction ds2, but another mode may be adopted.

例えば、図8に示すように、第2の状態が、基準面ssに入射する電磁波を、透過させて第2の選択方向ds2に進行させる透過状態であってもよい。第1の進行部160は、さらに具体的には、画素px毎に電磁波を第1の選択方向ds1に反射する反射面を有するシャッタを含んでいてもよい。このような構成の第1の進行部160においては、画素px毎のシャッタを開閉することにより、第1の状態としての反射状態および第2の状態としての透過状態を画素px毎に切替え得る。 For example, as shown in FIG. 8, the second state may be a transmissive state in which an electromagnetic wave incident on the reference surface ss is transmitted to proceed in the second selection direction ds2. More specifically, the first traveling unit 160 may include a shutter having a reflective surface that reflects electromagnetic waves in the first selection direction ds1 for each pixel px. In the first traveling unit 160 having such a configuration, the reflective state as the first state and the transmissive state as the second state can be switched for each pixel px by opening and closing the shutter for each pixel px.

このような構成の第1の進行部160として、例えば、開閉可能な複数のシャッタがアレイ状に配列されたMEMSシャッタを含む進行部が挙げられる。また、第1の進行部160として、電磁波を反射する反射状態と電磁波を透過する透過状態とを液晶配向に応じて切替え可能な液晶シャッタを含む進行部が挙げられる。このような構成の第1の進行部160においては、画素px毎の液晶配向を切替えることにより、第1の状態としての反射状態および第2の状態としての透過状態を画素px毎に切替え得る。 As the first advancing unit 160 having such a configuration, for example, an advancing unit including a MEMS shutter in which a plurality of openable and closable shutters are arranged in an array is cited. Further, as the first advancing portion 160, an advancing portion including a liquid crystal shutter capable of switching between a reflective state of reflecting electromagnetic waves and a transmissive state of transmitting electromagnetic waves according to liquid crystal alignment can be mentioned. In the first traveling unit 160 having such a configuration, by switching the liquid crystal orientation for each pixel px, the reflective state as the first state and the transmissive state as the second state can be switched for each pixel px.

また、本実施形態において、情報取得システム11は、放射部12から放射されるビーム状の電磁波を走査部13に走査させることにより、第2の検出部20を走査部13と協同させて走査型のアクティブセンサとして機能させる構成を有する。しかし、情報取得システム11は、このような構成に限られない。例えば、放射状の電磁波を放射可能な複数の放射源を有する放射部12において、放射時期をずらしながら各放射源から電磁波を放射させるフェイズドスキャン方式により、走査部13を備えることなく、走査型のアクティブセンサとして機能させる構成でも、本実施形態と類似の効果が得られる。また、例えば、情報取得システム11は、走査部13を備えず、放射部12から放射状の電磁波を放射させ、走査なしで情報を取得する構成でも、本実施形態と類似の効果が得られる。 In addition, in the present embodiment, the information acquisition system 11 causes the scanning unit 13 to scan the electromagnetic waves in the form of a beam emitted from the emission unit 12, so that the second detection unit 20 cooperates with the scanning unit 13 to perform scanning. It has a configuration to function as an active sensor of. However, the information acquisition system 11 is not limited to such a configuration. For example, in a radiation unit 12 having a plurality of radiation sources capable of radiating radial electromagnetic waves, a scanning type active system is provided without a scanning unit 13 by a phased scan method in which electromagnetic radiation is emitted from each radiation source while shifting the radiation timing. Even with the configuration that functions as a sensor, the same effect as that of the present embodiment can be obtained. In addition, for example, the information acquisition system 11 does not include the scanning unit 13, and a configuration in which the radiation unit 12 emits a radial electromagnetic wave and acquires information without scanning can achieve the same effect as that of the present embodiment.

また、本実施形態において、情報取得システム11は、第1の検出部19がパッシブセンサであり、第2の検出部20がアクティブセンサである構成を有する。しかし、情報取得システム11は、このような構成に限られない。例えば、情報取得システム11において、第1の検出部19および第2の検出部20が共にアクティブセンサである構成でも、パッシブセンサである構成でも本実施形態と類似の効果が得られる。第1の検出部19および第2の検出部20が共にアクティブセンサである構成において、対象obに電磁波を放射する放射部12は異なっていても、同一であってもよい。さらに、異なる放射部12は、それぞれ異種または同種の電磁波を放射してよい。 In addition, in the present embodiment, the information acquisition system 11 has a configuration in which the first detection unit 19 is a passive sensor and the second detection unit 20 is an active sensor. However, the information acquisition system 11 is not limited to such a configuration. For example, in the information acquisition system 11, the same effect as that of the present embodiment can be obtained regardless of whether the first detection unit 19 and the second detection unit 20 are both active sensors or passive sensors. In the configuration in which both the first detection unit 19 and the second detection unit 20 are active sensors, the emission units 12 that emit electromagnetic waves to the target ob may be different or the same. Furthermore, the different radiating parts 12 may radiate different or same kinds of electromagnetic waves, respectively.

10、10’ 電磁波検出装置
11 情報取得システム
12 放射部
13 走査部
14 制御部
15 第1の結像部
16、160 第1の進行部
17 第2の進行部
18 第2の結像部
19、19’ 第1の検出部
20 第2の検出部
21 第1のプリズム
22 第2のプリズム
23、23’ 分離部
24 遮断部
CL 第1の検出部の検出領域の外縁に入射する電磁波の束の中心線
d1、d2、d3 第1の方向、第2の方向、第3の方向
ds1、ds2 第1の選択方向、第2の選択方向
ob 対象
px 画素
s1、s2、s3、s4、s5、s6 第1の面、第2の面、第3の面、第4の面、第5の面、第6の面
ss 基準面
Wos 画角の範囲外の電磁波
Wos1 画角の範囲外であって、分離部の範囲外に進行する電磁波
10, 10′ Electromagnetic wave detection device 11 Information acquisition system 12 Radiating unit 13 Scanning unit 14 Control unit 15 First imaging unit 16, 160 First advancing unit 17 Second advancing unit 18 Second imaging unit 19, 19' 1st detection part 20 2nd detection part 21 1st prism 22 2nd prism 23,23' Separation part 24 Blocking part CL Of the bundle of the electromagnetic waves which injects into the outer edge of the detection area of the 1st detection part Center line d1, d2, d3 first direction, second direction, third direction ds1, ds2 first selection direction, second selection direction ob target px pixel s1, s2, s3, s4, s5, s6 1st surface, 2nd surface, 3rd surface, 4th surface, 5th surface, 6th surface ss Reference surface Wos Outside the range of angle of view Wos1 Outside the range of angle of view, Electromagnetic waves traveling outside the separation area

Claims (42)

入射する電磁波を結像させる第1の結像部と、
前記第1の結像部から進行する電磁波を第1の方向および第2の方向に分離する分離部と、
前記分離部から前記第1の方向に進行した電磁波を検出する第1の検出部と、
前記第1の結像部および前記第1の検出部に応じて定まる画角の範囲外の電磁波の前記第1の結像部への進行を遮断する遮断部と、を備える
電磁波検出装置。
A first image forming unit for forming an image of incident electromagnetic waves;
A separation unit that separates electromagnetic waves traveling from the first imaging unit into a first direction and a second direction;
A first detection unit that detects an electromagnetic wave traveling from the separation unit in the first direction;
An electromagnetic wave detecting device, comprising: a first image forming unit and a blocking unit that blocks an electromagnetic wave out of a range of an angle of view determined according to the first detecting unit from proceeding to the first image forming unit.
請求項1に記載の電磁波検出装置において、
前記遮断部は、前記画角の範囲外から前記分離部に電磁波が入射する範囲に位置している
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 1,
The electromagnetic wave detection device, wherein the blocking unit is located in a range where electromagnetic waves are incident on the separating unit from outside the range of the angle of view.
請求項1または2に記載の電磁波検出装置において、
前記遮断部は、前記第1の結像部の中心軸に垂直な壁である
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 1 or 2,
The electromagnetic wave detection device, wherein the blocking unit is a wall perpendicular to the central axis of the first imaging unit.
請求項1または2に記載の電磁波検出装置において、
前記遮断部は、錐台の側面に沿った壁形状である
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 1 or 2,
The electromagnetic wave detection device, wherein the blocking unit has a wall shape along the side surface of the frustum.
請求項1から4のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記遮断部は、筺体の一部である
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 1 to 4,
The blocking unit is a part of the housing.
請求項1から5のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記分離部から前記第2の方向に位置し、基準面に沿って複数の画素が配置され、前記基準面に入射した電磁波を前記画素毎に第1の選択方向へ進行させる第1の進行部を、さらに備える
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 1 to 5,
A first advancing unit that is located in the second direction from the separating unit, has a plurality of pixels arranged along a reference plane, and advances the electromagnetic waves incident on the reference plane in the first selection direction for each pixel. An electromagnetic wave detection device further comprising:
請求項6に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の進行部は、前記基準面に入射した電磁波を前記第1の選択方向へ反射する第1の反射状態と、前記第1の選択方向とは異なる方向へ反射する第2の反射状態とに、前記画素毎に切替える
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 6,
The first traveling section reflects a first electromagnetic wave incident on the reference surface in the first selection direction and a second reflective state in which the electromagnetic wave is reflected in a direction different from the first selection direction. In addition, an electromagnetic wave detection device that switches each pixel.
請求項7に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の進行部は、電磁波を反射する反射面を前記画素毎に含み、前記反射面の向きを前記画素毎に変更することにより、前記第1の反射状態と前記第2の反射状態とを切替える
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 7,
The first traveling unit includes a reflective surface that reflects electromagnetic waves in each of the pixels, and changes the orientation of the reflective surface for each of the pixels, thereby setting the first reflective state and the second reflective state. An electromagnetic wave detection device that switches between.
請求項7または8に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の進行部は、デジタルマイクロミラーデバイスを含む
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 7 or 8,
The first traveling unit is an electromagnetic wave detection device including a digital micromirror device.
請求項6に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の進行部は、前記基準面に入射した電磁波を、透過する透過状態と、前記第1の選択方向へ反射する反射状態とに、切替える
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 6,
The first traveling unit switches an electromagnetic wave incident on the reference surface between a transparent state in which the electromagnetic wave is transmitted and a reflective state in which the electromagnetic wave is reflected in the first selection direction.
請求項10に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の進行部は、電磁波を反射する反射面を含むシャッタを前記画素毎に含み、前記シャッタを前記画素毎に開閉することにより前記反射状態と前記透過状態とに、切替える
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 10,
The electromagnetic wave detecting device, wherein the first traveling unit includes a shutter including a reflection surface that reflects electromagnetic waves for each pixel, and switches the shutter between the reflective state and the transmissive state by opening and closing the shutter for each pixel.
請求項11に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の進行部は、前記シャッタがアレイ状に配列されたMEMSシャッタを含む
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 11,
The electromagnetic wave detecting device, wherein the first traveling unit includes a MEMS shutter in which the shutters are arranged in an array.
請求項6に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の進行部は、電磁波を反射する反射状態および透過する透過状態を液晶配向に応じて前記画素毎に切替え可能な液晶シャッタを含む
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 6,
The electromagnetic wave detecting device, wherein the first traveling unit includes a liquid crystal shutter capable of switching between a reflective state in which electromagnetic waves are reflected and a transmissive state in which the electromagnetic waves are transmitted for each pixel according to liquid crystal alignment.
請求項6から13のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の進行部から前記第1の選択方向に進行する電磁波を検出する第2の検出部を、さらに備える
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 6 to 13,
The electromagnetic wave detection device further comprising a second detection unit that detects an electromagnetic wave traveling from the first traveling unit in the first selection direction.
請求項14に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の検出部および前記第2の検出部は、同種または異種のセンサを含む
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 14,
The electromagnetic wave detection device in which the first detection unit and the second detection unit include sensors of the same type or different types.
請求項14または15に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の検出部および前記第2の検出部は、同種または異種の電磁波を検出する
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 14 or 15,
An electromagnetic wave detection device in which the first detection unit and the second detection unit detect electromagnetic waves of the same type or different types.
請求項14から16のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の進行部から前記第1の選択方向に進行した電磁波の進行経路上に位置し、前記第1の進行部から前記第1の選択方向に進行する電磁波を集束させて前記第2の検出部へ進行させる第2の結像部を、さらに備える
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 14 to 16,
The electromagnetic wave traveling from the first traveling portion to the first selection direction is located on the traveling path of the electromagnetic wave traveling from the first traveling portion to the second traveling direction. The electromagnetic wave detection device further including a second imaging unit that advances to the detection unit.
請求項17に記載の電磁波検出装置において、
前記第2の結像部は、電磁波の像を前記第2の検出部の検出面に結像させる
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 17,
An electromagnetic wave detecting device in which the second image forming unit forms an image of an electromagnetic wave on a detection surface of the second detecting unit.
請求項6から18のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の結像部は、電磁波の像を前記基準面に結像させる
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 6 to 18,
The first image forming unit forms an electromagnetic wave image on the reference plane.
請求項1から18のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の結像部は、前記分離部を介して、前記電磁波の像を前記第1の検出部の検出面に結像する
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 1 to 18,
The first image forming unit forms an image of the electromagnetic wave on the detection surface of the first detecting unit via the separating unit.
請求項1から20のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の結像部から進行する電磁波が入射する第1の面と、前記分離部を含む第2の面とを有するプリズムを、さらに備える
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 1 to 20,
The electromagnetic wave detecting device further comprising a prism having a first surface on which an electromagnetic wave traveling from the first image forming unit is incident and a second surface including the separating unit.
請求項21に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の面は、前記第1の結像部から進行する電磁波を透過しまたは屈折させて前記第2の面に向かって進行させる
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 21,
An electromagnetic wave detection device in which the first surface transmits or refracts an electromagnetic wave traveling from the first image forming unit and travels toward the second surface.
請求項21または22に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の面は、前記分離部から前記第1の方向へ進行する電磁波を内部反射して前記第1の検出部に向かって進行させる
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 21 or 22,
The first surface is an electromagnetic wave detection device that internally reflects an electromagnetic wave traveling from the separation unit in the first direction and travels toward the first detection unit.
請求項21から23のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の面は、前記分離部から前記第1の方向へ進行する電磁波を内部全反射して前記第1の検出部に向かって進行させる
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 21 to 23,
The first surface is an electromagnetic wave detection device that totally reflects the electromagnetic wave traveling from the separation unit in the first direction and proceeds toward the first detection unit.
請求項21から24のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の方向へ進行する電磁波の前記第1の面への入射角は、臨界角以上である
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 21 to 24,
An electromagnetic wave detection device in which an incident angle of an electromagnetic wave traveling in the first direction on the first surface is a critical angle or more.
請求項1から25のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記分離部は、入射する電磁波のうち特定の波長の電磁波を前記第1の方向へ進行させ、他の波長の電磁波を前記第2の方向へ進行させる
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 1 to 25,
An electromagnetic wave detection device, wherein the separation unit causes an electromagnetic wave having a specific wavelength to propagate in the first direction and an electromagnetic wave having another wavelength to propagate in the second direction among the incident electromagnetic waves.
請求項1から26のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記分離部は、入射する電磁波のうち特定の波長の電磁波を反射して前記第1の方向へ進行させ、他の波長の電磁波を透過しまたは屈折させて前記第2の方向へ進行させる
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 1 to 26,
Of the incident electromagnetic waves, the separation unit reflects electromagnetic waves of a specific wavelength to travel in the first direction and transmits or refracts electromagnetic waves of other wavelengths to travel in the second direction. apparatus.
請求項1から27のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記分離部は、入射する電磁波のうち特定の波長の電磁波を全反射して前記第1の方向へ進行させ、他の波長の電磁波を透過しまたは屈折させて前記第2の方向へ進行させる
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 1 to 27,
Of the incident electromagnetic waves, the separating unit totally reflects the electromagnetic waves of a specific wavelength to travel in the first direction, and transmits or refracts the electromagnetic waves of other wavelengths to travel in the second direction. Detection device.
請求項1から28のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の結像部から進行した電磁波の前記分離部への入射角は、臨界角未満である
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 1 to 28,
An electromagnetic wave detection device in which an incident angle of an electromagnetic wave traveling from the first imaging unit to the separation unit is less than a critical angle.
請求項1から29のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の検出部は、測距センサ、イメージセンサ、およびサーモセンサの少なくともいずれかを含む
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 1 to 29,
The electromagnetic wave detection device in which the first detection unit includes at least one of a distance measurement sensor, an image sensor, and a thermosensor.
請求項1から30のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の検出部は、赤外線、可視光線、紫外線、および電波の少なくともいずれかを検出する
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 1 to 30,
The first detection unit is an electromagnetic wave detection device that detects at least one of infrared rays, visible rays, ultraviolet rays, and radio waves.
請求項1から31のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記分離部は、可視光反射コーティング、ハーフミラー、ビームスプリッタ、ダイクロイックミラー、コールドミラー、ホットミラー、メタサーフェス、および偏向素子の少なくともいずれかを含む
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 1 to 31,
The electromagnetic wave detection device, wherein the separation unit includes at least one of a visible light reflection coating, a half mirror, a beam splitter, a dichroic mirror, a cold mirror, a hot mirror, a metasurface, and a deflection element.
請求項1から32のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の検出部は、放射部から対象に向けて放射された電磁波の前記対象からの反射波を検出するアクティブセンサ、またはパッシブセンサを含む
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 1 to 32,
The electromagnetic wave detection device, wherein the first detection unit includes an active sensor or a passive sensor that detects a reflected wave from the target of the electromagnetic wave emitted from the radiation unit toward the target.
請求項33に記載の電磁波検出装置において、
前記放射部を、さらに備える
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 33,
An electromagnetic wave detection device further comprising the radiation unit.
請求項33または34に記載の電磁波検出装置において、
前記放射部は、赤外線、可視光線、紫外線、および電波のいずれかを放射する
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 33 or 34,
The said radiation|emission part is an electromagnetic wave detection apparatus which radiate|emits any of infrared rays, visible rays, ultraviolet rays, and a radio wave.
請求項33から35のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記放射部は、フェイズドスキャン方式により電磁波を走査する
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 33 to 35,
An electromagnetic wave detection device in which the radiation unit scans an electromagnetic wave by a phased scan method.
請求項33から35のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記放射部から放射される電磁波を用いて走査する走査部を、さらに備える
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 33 to 35,
The electromagnetic wave detection device further comprising a scanning unit that scans using electromagnetic waves emitted from the emission unit.
請求項37に記載の電磁波検出装置において、
前記走査部は、電磁波を反射する反射面を備え、前記放射部から放射される電磁波を、前記反射面の向きを変更しながら前記反射面により反射することで走査する
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 37,
The electromagnetic wave detecting device, wherein the scanning unit includes a reflecting surface that reflects electromagnetic waves, and scans the electromagnetic waves emitted from the emitting unit by reflecting the electromagnetic waves while changing the direction of the reflecting surfaces.
請求項37または38に記載の電磁波検出装置において、
前記走査部は、MEMSミラー、ポリゴンミラー、およびガルバノミラーのいずれかを含む
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 37 or 38,
The electromagnetic wave detecting device, wherein the scanning unit includes any one of a MEMS mirror, a polygon mirror, and a galvano mirror.
請求項1から39のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の検出部による電磁波の検出結果に基づいて、周囲に関する情報を取得する制御部を、さらに備える
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 1 to 39,
The electromagnetic wave detection device further comprising a control unit that acquires information about the surroundings based on the detection result of the electromagnetic wave by the first detection unit.
請求項40に記載の電磁波検出装置において、
前記制御部は、前記周囲に関する情報として、画像情報、距離情報、および温度情報の少なくともいずれかを取得する
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 40,
The electromagnetic wave detection device, wherein the control unit acquires at least one of image information, distance information, and temperature information as the information about the surroundings.
請求項1から39のいずれか1項に記載の電磁波検出装置と、
前記第1の検出部による電磁波の検出結果に基づいて、周囲に関する情報を取得する制御部と、を備える
情報取得システム。
An electromagnetic wave detection device according to any one of claims 1 to 39,
An information acquisition system, comprising: a control unit that acquires information about the surroundings based on a detection result of an electromagnetic wave by the first detection unit.
JP2018216721A 2018-11-19 2018-11-19 Electromagnetic wave detector and information acquisition system Active JP7118865B2 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018216721A JP7118865B2 (en) 2018-11-19 2018-11-19 Electromagnetic wave detector and information acquisition system
PCT/JP2019/043329 WO2020105419A1 (en) 2018-11-19 2019-11-05 Electromagnetic wave detection device and information acquisition system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018216721A JP7118865B2 (en) 2018-11-19 2018-11-19 Electromagnetic wave detector and information acquisition system

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2020085538A true JP2020085538A (en) 2020-06-04
JP2020085538A5 JP2020085538A5 (en) 2021-02-18
JP7118865B2 JP7118865B2 (en) 2022-08-16

Family

ID=70774106

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018216721A Active JP7118865B2 (en) 2018-11-19 2018-11-19 Electromagnetic wave detector and information acquisition system

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP7118865B2 (en)
WO (1) WO2020105419A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022224851A1 (en) * 2021-04-22 2022-10-27 京セラ株式会社 Electromagnetic wave detecting device

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07162877A (en) * 1993-12-07 1995-06-23 Sony Corp Image pickup device
JPH0998438A (en) * 1995-09-28 1997-04-08 Fuji Photo Optical Co Ltd Color separation prism
US6122404A (en) * 1998-05-28 2000-09-19 Trw Inc. Visible stokes polarimetric imager
US20130314694A1 (en) * 2010-04-20 2013-11-28 Michigan Aerospace Corporation Atmospheric measurement system and method
JP2018163020A (en) * 2017-03-24 2018-10-18 京セラ株式会社 Electromagnetic wave detection device, program, and electromagnetic wave detection system

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07162877A (en) * 1993-12-07 1995-06-23 Sony Corp Image pickup device
JPH0998438A (en) * 1995-09-28 1997-04-08 Fuji Photo Optical Co Ltd Color separation prism
US6122404A (en) * 1998-05-28 2000-09-19 Trw Inc. Visible stokes polarimetric imager
US20130314694A1 (en) * 2010-04-20 2013-11-28 Michigan Aerospace Corporation Atmospheric measurement system and method
JP2018163020A (en) * 2017-03-24 2018-10-18 京セラ株式会社 Electromagnetic wave detection device, program, and electromagnetic wave detection system

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022224851A1 (en) * 2021-04-22 2022-10-27 京セラ株式会社 Electromagnetic wave detecting device

Also Published As

Publication number Publication date
WO2020105419A1 (en) 2020-05-28
JP7118865B2 (en) 2022-08-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102456631B1 (en) Electromagnetic wave detection device and information acquisition system
JP7387803B2 (en) Electromagnetic wave detection device and information acquisition system
US11675052B2 (en) Electromagnetic wave detection apparatus, program, and electromagnetic wave detection system
JP6974252B2 (en) Electromagnetic wave detection device and information acquisition system
US11573316B2 (en) Electromagnetic wave detection apparatus and information acquisition system
WO2020105419A1 (en) Electromagnetic wave detection device and information acquisition system
WO2019159933A1 (en) Electromagnetic wave detection device and information acquisition system
JP6974251B2 (en) Electromagnetic wave detection device and information acquisition system
JP7260966B2 (en) Electromagnetic wave detector
US11302731B2 (en) Electromagnetic wave detection apparatus and information acquisition system
WO2020066718A1 (en) Electromagnetic wave detection device and information acquisition system
JP2020073894A (en) Electromagnetic wave detection device and information acquisition system
WO2020090553A1 (en) Electromagnetic wave detection device and information acquisition system
JP2020073895A (en) Electromagnetic wave detection device and information acquisition system
WO2020071180A1 (en) Electromagnetic wave detection device and information acquisition system
JP2023017098A (en) Distance measuring device
JP2022167122A (en) Electromagnetic wave detection device

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210104

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210210

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210831

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20211007

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220215

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220408

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220705

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220803

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7118865

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150