JP2020073894A - Electromagnetic wave detection device and information acquisition system - Google Patents

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浩希 岡田
Hiroki Okada
浩希 岡田
絵梨 竹内
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絵梨 竹内
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Abstract

To reduce the difference in the coordinate system in detection results from a plurality of detectors.SOLUTION: An electromagnetic wave detection device 100 has a separation unit 16, a switch unit 180, and a second detection unit 20. The separation unit 16 allows a portion of incident electromagnetic waves to travel in a second direction d2. The switch unit 180 has a plurality of switch elements se. The switch elements se can switch between a first state and a second state. In the first state, the electromagnetic waves having traveled in the second direction d2 travel in a third direction d3. In the second state, the electromagnetic waves having traveled in the second direction d2 travel in a fourth direction d4. The second detection unit 20 detects the electromagnetic waves having traveled in the third direction. The switch unit 180 switches each of the switch elements se between the first state and the second state in accordance with a region irradiated with the electromagnetic waves radiated by a radiation unit.SELECTED DRAWING: Figure 4

Description

本発明は、電磁波検出装置および情報取得システムに関するものである。   The present invention relates to an electromagnetic wave detection device and an information acquisition system.

近年、電磁波を検出する複数の検出器による検出結果から周囲に関する情報を得る装置が開発されている。例えば、赤外線カメラで撮像した画像中の物体の位置を、レーザレーダを用いて測定する装置が知られている。(特許文献1参照)。   In recent years, devices have been developed that obtain information about the surroundings from the detection results of a plurality of detectors that detect electromagnetic waves. For example, there is known a device that measures the position of an object in an image captured by an infrared camera using a laser radar. (See Patent Document 1).

特開2011−220732号公報JP, 2011-220732, A

このような装置において、各検出器による検出結果における座標系の差異を低減することは有益である。   In such an apparatus, it is beneficial to reduce the difference in the coordinate system in the detection result by each detector.

従って、上記のような従来技術の問題点に鑑みてなされた本開示の目的は、電磁波を検出する複数の検出器による検出結果における座標系の差異を低減させることにある。   Therefore, an object of the present disclosure made in view of the above-described problems of the related art is to reduce the difference in the coordinate system in the detection result by the plurality of detectors that detect electromagnetic waves.

上述した諸課題を解決すべく、第1の観点による電磁波検出装置は、
入射する電磁波の一部を第2の方向に進行させる分離部と、
前記第2の方向に進行した電磁波を第3の方向に進行させる第1の状態および第4の方向に進行させる第2の状態に切替え可能な複数の切替素子を有する切替部と、
前記第3の方向に進行した前記電磁波を検出する第2の検出部と、を備え、
前記切替部は、照射部により放射された電磁波の照射領域に応じて、前記複数の切替素子をそれぞれ前記第1の状態および前記第2の状態に切替える。
In order to solve the above-mentioned problems, the electromagnetic wave detection device according to the first aspect is
A separation part for advancing a part of the incident electromagnetic wave in the second direction,
A switching unit having a plurality of switching elements capable of switching between a first state in which the electromagnetic wave traveling in the second direction proceeds in a third direction and a second state in which the electromagnetic wave travels in a fourth direction;
A second detector that detects the electromagnetic wave traveling in the third direction,
The switching unit switches the plurality of switching elements to the first state and the second state, respectively, according to an irradiation region of the electromagnetic wave emitted by the irradiation unit.

また、第2の観点による情報取得システムは、
入射する電磁波の一部を第2の方向に進行させる分離部と、前記第2の方向に進行した電磁波を第3の方向に進行させる第1の状態および第4の方向に進行させる第2の状態に切替え可能な複数の切替素子を有する切替部と、前記第3の方向に進行した前記電磁波を検出する第2の検出部と、を有する電磁波検出装置と、
前記第2の検出部による電磁波の検出結果に基づいて、前記電磁波検出装置の周囲に関する情報を取得する制御部と、を備え、
前記切替部は、照射部により放射された電磁波の照射領域に応じて、前記複数の切替素子をそれぞれ前記第1の状態および前記第2の状態に切替える。
The information acquisition system according to the second aspect is
A separation unit that advances a part of the incident electromagnetic wave in the second direction, a first state in which the electromagnetic wave that has advanced in the second direction advances in the third direction, and a second state that advances the electromagnetic wave in the fourth direction. An electromagnetic wave detection device including a switching unit having a plurality of switching elements that can be switched to a state, and a second detection unit that detects the electromagnetic wave traveling in the third direction,
A control unit for acquiring information about the surroundings of the electromagnetic wave detection device based on a detection result of the electromagnetic wave by the second detection unit,
The switching unit switches the plurality of switching elements to the first state and the second state, respectively, according to an irradiation region of the electromagnetic wave emitted by the irradiation unit.

上述したように本開示の解決手段を装置、及びシステムとして説明してきたが、本開示は、これらを含む態様としても実現し得るものであり、また、これらに実質的に相当する方法、プログラム、プログラムを記録した記憶媒体としても実現し得るものであり、本開示の範囲にはこれらも包含されるものと理解されたい。   Although the solution means of the present disclosure has been described as an apparatus and a system as described above, the present disclosure can also be realized as an aspect including these, and a method, a program substantially equivalent to these, It can be realized as a storage medium recording a program, and it should be understood that these are also included in the scope of the present disclosure.

上記のように構成された本開示によれば、電磁波を検出する複数の検出器による検出結果における座標系の差異が低減し得る。   According to the present disclosure configured as described above, the difference in the coordinate system in the detection result by the plurality of detectors that detect electromagnetic waves can be reduced.

第1の実施形態に係る電磁波検出装置含む情報取得システムの概略構成を示す構成図である。It is a block diagram which shows schematic structure of the information acquisition system containing the electromagnetic wave detection apparatus which concerns on 1st Embodiment. 図1の電磁波検出装置の切替部における切替素子の第1の状態と第2の状態における電磁波の進行方向を説明するための、情報取得システムの状態図である。FIG. 3 is a state diagram of an information acquisition system for explaining traveling directions of electromagnetic waves in a first state and a second state of a switching element in a switching unit of the electromagnetic wave detection device of FIG. 1. 図1の照射部、第2の検出部、および制御部が構成する測距センサによる測距の原理を説明するための電磁波の放射の時期と検出の時期を示すタイミングチャートである。3 is a timing chart showing the timing of electromagnetic wave emission and the timing of detection for explaining the principle of distance measurement by a distance measurement sensor configured by the irradiation unit, the second detection unit, and the control unit of FIG. 1. 第2の実施形態に係る電磁波検出装置の概略構成を示す構成図である。It is a block diagram which shows schematic structure of the electromagnetic wave detection apparatus which concerns on 2nd Embodiment. 第2の実施形態において切替素子別に電磁波の進行方向を切替える状態を説明するための電磁波検出装置の状態図である。It is a state diagram of an electromagnetic wave detection device for explaining a state in which the traveling direction of the electromagnetic wave is switched for each switching element in the second embodiment. 第1の実施形態に係る電磁波検出装置の変形例の概略構成を示す構成図である。It is a block diagram which shows schematic structure of the modification of the electromagnetic wave detection apparatus which concerns on 1st Embodiment.

以下、本発明を適用した電磁波検出装置の実施形態について、図面を参照して説明する。電磁波を検出する複数の検出器により電磁波を検出する構成において、各検出部の検出軸が異なる。そのため、各検出器が同一領域を対象とした検出を行ったとしても、検出結果における座標系がそれぞれの検出部で異なる。そこで、各検出部による検出結果における座標系の差異を低減することは有益である。しかし、当該差異を補正によって低減することは不可能、又は困難である。そこで、本発明を適用した電磁波検出装置は、各検出部における検出軸の差異を低減し得るように構成されることにより、各検出部による検出結果における座標系の差異を低減し得る。   Hereinafter, an embodiment of an electromagnetic wave detection device to which the present invention is applied will be described with reference to the drawings. In a configuration in which a plurality of detectors that detect electromagnetic waves detect electromagnetic waves, the detection axes of the detection units are different. Therefore, even if each detector performs detection in the same region, the coordinate system in the detection result is different in each detection unit. Therefore, it is useful to reduce the difference in the coordinate system in the detection result by each detection unit. However, it is impossible or difficult to reduce the difference by correction. Therefore, the electromagnetic wave detection device to which the present invention is applied is configured so as to reduce the difference in the detection axis in each detection unit, and thus can reduce the difference in the coordinate system in the detection result by each detection unit.

図1に示すように、本開示の第1の実施形態に係る電磁波検出装置10を含む情報取得システム11は、電磁波検出装置10、照射部12、反射部13、および制御部14を含んで構成されている。   As shown in FIG. 1, an information acquisition system 11 including an electromagnetic wave detection device 10 according to the first embodiment of the present disclosure includes an electromagnetic wave detection device 10, an irradiation unit 12, a reflection unit 13, and a control unit 14. Has been done.

以後の図において、各機能ブロックを結ぶ破線は、制御信号または通信される情報の流れを示す。破線が示す通信は有線通信であってもよいし、無線通信であってもよい。また、各機能ブロックから突出する実線は、ビーム状の電磁波を示す。   In the following figures, broken lines connecting the functional blocks show the flow of control signals or information to be communicated. The communication indicated by the broken line may be wired communication or wireless communication. The solid line protruding from each functional block indicates a beam-shaped electromagnetic wave.

電磁波検出装置10は、前段光学系15、分離部16、第1の検出部17、切替部18、第1の後段光学系19、および第2の検出部20を有している。   The electromagnetic wave detection device 10 includes a front optical system 15, a separation unit 16, a first detection unit 17, a switching unit 18, a first rear optical system 19, and a second detection unit 20.

前段光学系15は、例えば、レンズおよびミラーの少なくとも一方を含み、被写体となる対象obの像を結像させる。   The pre-stage optical system 15 includes, for example, at least one of a lens and a mirror, and forms an image of the target ob as a subject.

分離部16は、前段光学系15と、前段光学系15から所定の位置をおいて離れた対象obの像の、前段光学系15による結像位置である一次結像位置との間に設けられている。分離部16は、入射する電磁波を第1の方向d1および第2の方向d2に進行するように分離する。   The separation unit 16 is provided between the pre-stage optical system 15 and a primary image forming position which is an image forming position of the pre-stage optical system 15 for an image of the object ob which is separated from the pre-stage optical system 15 at a predetermined position. ing. The separating unit 16 separates the incident electromagnetic wave so as to travel in the first direction d1 and the second direction d2.

第1の実施形態においては、分離部16は、入射する電磁波の一部を第1の方向d1に反射し、電磁波の別の一部を第2の方向d2に透過する。分離部16は、入射する電磁波の一部を第1の方向d1に透過し、電磁波の別の一部を第2の方向d2に透過してもよい。また、分離部16は、入射する電磁波の一部を第1の方向d1に屈折させ、電磁波の別の一部を第2の方向d2に屈折させてもよい。分離部16は、例えば、ハーフミラー、ビームスプリッタ、ダイクロイックミラー、コールドミラー、ホットミラー、メタサーフェス、偏向素子、およびプリズムなどである。   In the first embodiment, the separating unit 16 reflects a part of the incident electromagnetic wave in the first direction d1 and transmits another part of the electromagnetic wave in the second direction d2. The separating unit 16 may transmit a part of the incident electromagnetic wave in the first direction d1 and another part of the electromagnetic wave in the second direction d2. The separating unit 16 may refract a part of the incident electromagnetic wave in the first direction d1 and refract another part of the electromagnetic wave in the second direction d2. The separation unit 16 is, for example, a half mirror, a beam splitter, a dichroic mirror, a cold mirror, a hot mirror, a metasurface, a deflection element, a prism, or the like.

第1の検出部17は、分離部16から第1の方向d1に進行する電磁波の経路上に、設けられている。さらに、第1の検出部17は、前段光学系15から所定の位置をおいて離れた対象obの像の、分離部16から第1の方向d1における前段光学系15による結像位置または当該結像位置近傍に、設けられている。第1の検出部17は、分離部16から第1の方向d1に進行した電磁波を検出する。   The first detection unit 17 is provided on the path of the electromagnetic wave traveling from the separation unit 16 in the first direction d1. Furthermore, the first detection unit 17 forms an image of the image of the object ob distant from the pre-stage optical system 15 at a predetermined position by the pre-stage optical system 15 in the first direction d1 from the separating unit 16 or the relevant position. It is provided near the image position. The first detection unit 17 detects an electromagnetic wave traveling from the separation unit 16 in the first direction d1.

また、第1の検出部17は、分離部16から第1の方向d1に進行する電磁波の第1の進行軸が、第1の検出部17の第1の検出軸に平行となるように、分離部16に対して配置されていてよい。第1の進行軸は、分離部16から第1の方向d1に進行する、放射状に広がりながら伝播する電磁波の中心軸である。第1の実施形態においては、第1の進行軸は、前段光学系15の光軸を分離部16まで延ばし、分離部16において第1の方向d1に平行になるように折曲げた軸である。第1の検出軸は、第1の検出部17の検出面の中心を通り、当該検出面に垂直な軸である。   Further, the first detection unit 17 makes the first traveling axis of the electromagnetic wave traveling from the separation unit 16 in the first direction d1 parallel to the first detection axis of the first detection unit 17, It may be arranged with respect to the separating part 16. The first traveling axis is the central axis of the electromagnetic wave that propagates from the separating unit 16 in the first direction d1 and propagates while spreading radially. In the first embodiment, the first traveling axis is an axis that extends the optical axis of the pre-stage optical system 15 to the separating section 16 and bends in the separating section 16 so as to be parallel to the first direction d1. .. The first detection axis is an axis that passes through the center of the detection surface of the first detection unit 17 and is perpendicular to the detection surface.

さらに、第1の検出部17は、第1の進行軸および第1の検出軸の間隔が第1の間隔閾値以下となるように配置されていてよい。また、第1の検出部17は、第1の進行軸および第1の検出軸が一致するように配置されていてよい。第1の実施形態においては、第1の検出部17は、第1の進行軸および第1の検出軸が一致するように配置されている。   Further, the first detection unit 17 may be arranged such that the interval between the first traveling axis and the first detection axis is equal to or less than the first interval threshold value. Further, the first detection unit 17 may be arranged so that the first traveling axis and the first detection axis coincide with each other. In the first embodiment, the first detection unit 17 is arranged so that the first traveling axis and the first detection axis coincide with each other.

また、第1の検出部17は、第1の進行軸と、第1の検出部17の検出面とのなす第1の角度が第1の角度閾値以下または所定の角度となるように、分離部16に対して配置されていてよい。第1の実施形態においては、第1の検出部17は、前述のように、第1の角度が90°となるように配置されている。   Further, the first detection unit 17 separates the first traveling axis and the detection surface of the first detection unit 17 so that the first angle is equal to or less than the first angle threshold value or a predetermined angle. It may be arranged with respect to the part 16. In the first embodiment, the first detector 17 is arranged so that the first angle is 90 °, as described above.

第1の実施形態において、第1の検出部17は、パッシブセンサである。第1の実施形態において、第1の検出部17は、さらに具体的には、素子アレイを含む。例えば、第1の検出部17は、イメージセンサまたはイメージングアレイなどの撮像素子を含み、検出面において結像した電磁波による像を撮像して、撮像した対象obに相当する画像情報を生成する。   In the first embodiment, the first detection unit 17 is a passive sensor. In the first embodiment, the first detection unit 17 more specifically includes an element array. For example, the first detection unit 17 includes an image sensor such as an image sensor or an imaging array, captures an image of an electromagnetic wave formed on the detection surface, and generates image information corresponding to the captured object ob.

なお、第1の実施形態において、第1の検出部17は、さらに具体的には可視光の像を撮像する。第1の検出部17は、生成した画像情報を信号として制御部14に送信する。   In addition, in the first embodiment, the first detection unit 17 more specifically captures an image of visible light. The first detection unit 17 transmits the generated image information to the control unit 14 as a signal.

なお、第1の検出部17は、赤外線、紫外線、および電波の像など、可視光以外の像を撮像してもよい。また、第1の検出部17は測距センサを含んでいてもよい。この構成において、電磁波検出装置10は、第1の検出部17により画像状の距離情報を取得し得る。また、第1の検出部17は測距センササーモセンサなどを含んでいてもよい。この構成において、電磁波検出装置10は、第1の検出部17により画像状の温度情報を取得し得る。   The first detection unit 17 may capture an image other than visible light, such as an image of infrared rays, ultraviolet rays, and radio waves. Further, the first detection unit 17 may include a distance measuring sensor. In this configuration, the electromagnetic wave detection device 10 can acquire image-like distance information by the first detection unit 17. Further, the first detection unit 17 may include a distance measuring sensor thermosensor or the like. In this configuration, the electromagnetic wave detection device 10 can acquire image-like temperature information by the first detection unit 17.

切替部18は、分離部16から第2の方向d2に進行する電磁波の経路上に設けられている。さらに、切替部18は、前段光学系15から所定の位置をおいて離れた対象obの像の、分離部16から第2の方向d2における前段光学系15による一次結像位置または当該一次結像位置近傍に、設けられている。   The switching unit 18 is provided on the path of the electromagnetic wave traveling from the separating unit 16 in the second direction d2. Further, the switching unit 18 is a primary imaging position of the image of the object ob separated from the pre-stage optical system 15 at a predetermined position by the pre-stage optical system 15 in the second direction d2 from the separating unit 16 or the primary image formation. It is provided near the position.

第1の実施形態においては、切替部18は、当該結像位置に設けられている。切替部18は、前段光学系15および分離部16を通過した電磁波が入射する作用面asを有している。作用面asは、2次元状に沿って並ぶ複数の切替素子seによって構成されている。作用面asは、後述する第1の状態および第2の状態の少なくともいずれかにおいて、電磁波に、例えば、反射および透過などの作用を生じさせる面である。   In the first embodiment, the switching unit 18 is provided at the image forming position. The switching unit 18 has a working surface as on which the electromagnetic waves that have passed through the pre-stage optical system 15 and the separating unit 16 are incident. The action surface as is composed of a plurality of switching elements se arranged along a two-dimensional shape. The action surface as is a surface that causes an action such as reflection and transmission of electromagnetic waves in at least one of a first state and a second state described later.

切替部18は、作用面asに入射する電磁波を、第3の方向d3に進行させる第1の状態と、第4の方向d4に進行させる第2の状態とに、切替素子se毎に切替可能である。第1の実施形態において、第1の状態は、作用面asに入射する電磁波を、第3の方向d3に反射する第1の反射状態である。また、第2の状態は、作用面asに入射する電磁波を、第4の方向d4に反射する第2の反射状態である。   The switching unit 18 can switch, for each switching element se, the first state in which the electromagnetic wave incident on the working surface as is advanced in the third direction d3 and the second state in which the electromagnetic wave is advanced in the fourth direction d4. Is. In the first embodiment, the first state is the first reflection state in which the electromagnetic wave incident on the working surface as is reflected in the third direction d3. The second state is the second reflection state in which the electromagnetic wave incident on the working surface as is reflected in the fourth direction d4.

第1の実施形態において、切替部18は、さらに具体的には、切替素子se毎に電磁波を反射する反射面を含んでいる。切替部18は、切替素子se毎の反射面の向きを変更することにより、第1の反射状態および第2の反射状態を切替素子se毎に切替える。   In the first embodiment, more specifically, the switching unit 18 includes a reflective surface that reflects electromagnetic waves for each switching element se. The switching unit 18 switches the first reflection state and the second reflection state for each switching element se by changing the direction of the reflecting surface for each switching element se.

第1の実施形態において、切替部18は、例えばDMD(Digital Micro mirror Device:デジタルマイクロミラーデバイス)を含む。DMDは、作用面asを構成する微小な反射面を駆動することにより、切替素子se毎に当該反射面を作用面asに対して+12°および−12°のいずれかの傾斜状態に切替可能である。なお、作用面asは、DMDにおける微小な反射面を載置する基板の板面に平行である。   In the first embodiment, the switching unit 18 includes, for example, a DMD (Digital Micro mirror Device). The DMD can switch the reflecting surface for each switching element se to any one of + 12 ° and −12 ° with respect to the acting surface as by driving the minute reflecting surface that constitutes the acting surface as. is there. The acting surface as is parallel to the plate surface of the substrate on which the minute reflecting surface of the DMD is placed.

切替部18は、後述する制御部14の制御に基づいて、第1の状態および第2の状態を、切替素子se毎に切替える。例えば、図2に示すように、切替部18は、同時に、一部の切替素子se1を第1の状態に切替えることにより当該切替素子se1に入射する電磁波を第3の方向d3に進行させ得、別の一部の切替素子se2を第2の状態に切替えることにより当該切替素子se2に入射する電磁波を第4の方向d4に進行させ得る。   The switching unit 18 switches the first state and the second state for each switching element se based on the control of the control unit 14 described later. For example, as shown in FIG. 2, the switching unit 18 may simultaneously switch some of the switching elements se1 to the first state to cause the electromagnetic waves incident on the switching elements se1 to travel in the third direction d3, By switching another part of the switching element se2 to the second state, the electromagnetic wave incident on the switching element se2 can be advanced in the fourth direction d4.

図1に示すように、第1の後段光学系19は、切替部18から第3の方向d3に設けられている。第1の後段光学系19は、例えば、レンズおよびミラーの少なくとも一方を含む。第1の後段光学系19は、切替部18において進行方向を切替えられた電磁波としての対象obの像を結像させる。   As shown in FIG. 1, the first post-stage optical system 19 is provided in the third direction d3 from the switching unit 18. The first post-stage optical system 19 includes, for example, at least one of a lens and a mirror. The first post-stage optical system 19 forms an image of the target ob as an electromagnetic wave whose traveling direction is switched by the switching unit 18.

第2の検出部20は、切替部18による第3の方向d3に進行した後に第1の後段光学系19を経由して進行する電磁波の経路上に設けられている。第2の検出部20は、第1の後段光学系19を経由した電磁波、すなわち第3の方向d3に進行した電磁波を検出する。   The second detection unit 20 is provided on the path of the electromagnetic wave that travels in the third direction d3 by the switching unit 18 and then travels via the first post-stage optical system 19. The second detection unit 20 detects an electromagnetic wave that has passed through the first post-stage optical system 19, that is, an electromagnetic wave that has traveled in the third direction d3.

また、第2の検出部20は、切替部18とともに、分離部16から第2の方向d2に進行して切替部18により第3の方向d3に進行方向が切替えられた電磁波の第2の進行軸が、第2の検出部20の第2の検出軸に平行となるように、分離部16に対して配置されていてよい。第2の進行軸は、切替部18から第3の方向d3に進行する、放射状に広がりながら伝播する電磁波の中心軸である。第1の実施形態においては、第2の進行軸は、前段光学系15の光軸を切替部18まで延ばし、切替部18において第3の方向d3に平行になるように折曲げた軸である。第2の検出軸は、第2の検出部20の検出面の中心を通り、当該検出面に垂直な軸である。   In addition, the second detection unit 20, together with the switching unit 18, travels in the second direction d2 from the separating unit 16 and is switched by the switching unit 18 to the third direction d3. The axis may be arranged with respect to the separation unit 16 such that the axis is parallel to the second detection axis of the second detection unit 20. The second traveling axis is the central axis of the electromagnetic wave that propagates from the switching unit 18 in the third direction d3 and propagates while spreading radially. In the first embodiment, the second traveling axis is an axis that extends the optical axis of the pre-stage optical system 15 to the switching unit 18 and bends the switching unit 18 so as to be parallel to the third direction d3. .. The second detection axis is an axis that passes through the center of the detection surface of the second detection unit 20 and is perpendicular to the detection surface.

さらに、第2の検出部20は、切替部18とともに、第2の進行軸および第2の検出軸の間隔が第2の間隔閾値以下となるように配置されていてよい。なお、第2の間隔閾値は、第1の間隔閾値と同じ値でも異なる値であってよい。また、第2の検出部20は、第1の検出部17および切替部18とともに、第1の進行軸および第1の検出軸の間隔と、第2の進行軸および第2の検出軸の間隔との差が所定の間隔差(例えば、第1の検出部17および第2の検出部20の検出面の直径)以下となるように配置されていてよい。また、第2の検出部20は、第2の進行軸および第2の検出軸が一致するように配置されていてよい。第1の実施形態においては、第2の検出部20は、第2の進行軸および第2の検出軸が一致するように配置されている。   Further, the second detection unit 20 may be arranged together with the switching unit 18 so that the interval between the second traveling axis and the second detection axis is equal to or less than the second interval threshold value. The second interval threshold may be the same as or different from the first interval threshold. In addition, the second detection unit 20, together with the first detection unit 17 and the switching unit 18, the interval between the first advancing axis and the first detection axis and the interval between the second advancing axis and the second detection axis. It may be arranged such that the difference between and is less than or equal to a predetermined interval difference (for example, the diameter of the detection surface of the first detection unit 17 and the second detection unit 20). Further, the second detection unit 20 may be arranged so that the second traveling axis and the second detection axis coincide with each other. In the first embodiment, the second detector 20 is arranged so that the second traveling axis and the second detecting axis coincide with each other.

また、第2の検出部20は、切替部18とともに、第2の進行軸と、第2の検出部20の検出面とのなす第2の角度が第2の角度閾値以下または所定の角度となるように、分離部16に対して配置されていてよい。なお、第2の角度閾値は、第1の角度閾値と同じ値でも異なる値であってもよい。また、第2の検出部20は、第1の検出部17および切替部18とともに、第1の角度と第2の角度との差が所定の角度差以下となるように(例えば、シャインプルーフの原理を満たすように)配置されてよい。第1の実施形態においては、第2の検出部20は、前述のように、第2の角度が90°となるように配置されている。   In addition, the second detection unit 20, together with the switching unit 18, forms a second angle between the second traveling axis and the detection surface of the second detection unit 20, which is equal to or less than the second angle threshold value or a predetermined angle. Therefore, it may be arranged with respect to the separating unit 16. The second angle threshold value may be the same as or different from the first angle threshold value. In addition, the second detection unit 20, together with the first detection unit 17 and the switching unit 18, sets the difference between the first angle and the second angle to be a predetermined angle difference or less (for example, in Scheimpflug May be arranged (to meet the principle). In the first embodiment, the second detector 20 is arranged so that the second angle is 90 ° as described above.

第1の実施形態において、第2の検出部20は、照射部12から対象obに向けて照射された電磁波の当該対象obからの反射波を検出するアクティブセンサである。なお、第1の実施形態において、第2の検出部20は、照射部12から照射され且つ反射部13により反射されることにより対象obに向けて照射された電磁波の当該対象obからの反射波を検出する。後述するように、照射部12から照射される電磁波は赤外線、可視光線、紫外線、および電波の少なくともいずれかであり、第2の検出部20は、第1の検出部17とは異種または同種の電磁波を検出する。   In the first embodiment, the second detection unit 20 is an active sensor that detects a reflected wave of the electromagnetic wave emitted from the irradiation unit 12 toward the target ob. In the first embodiment, the second detection unit 20 reflects the electromagnetic wave emitted from the irradiation unit 12 and reflected by the reflection unit 13 toward the target ob, and reflected from the target ob. To detect. As will be described later, the electromagnetic wave emitted from the irradiation unit 12 is at least one of infrared rays, visible light rays, ultraviolet rays, and radio waves, and the second detection unit 20 is different from or the same kind as the first detection unit 17. Detect electromagnetic waves.

第1の実施形態において、第2の検出部20は、さらに具体的には、測距センサを構成する素子を含む。例えば、第2の検出部20は、APD(Avalanche PhotoDiode)、PD(PhotoDiode)および測距イメージセンサなどの単一の素子を含む。また、第2の検出部20は、APDアレイ、PDアレイ、測距イメージングアレイ、および測距イメージセンサなどの素子アレイを含むものであってもよい。   In the first embodiment, the second detection unit 20 more specifically includes an element that constitutes a distance measuring sensor. For example, the second detection unit 20 includes a single element such as an APD (Avalanche PhotoDiode), a PD (PhotoDiode), and a distance measurement image sensor. The second detection unit 20 may include an element array such as an APD array, a PD array, a ranging imaging array, and a ranging image sensor.

第1の実施形態において、第2の検出部20は、被写体からの反射波を検出したことを示す検出情報を信号として制御部14に送信する。第2の検出部20は、さらに具体的には、赤外線の帯域の電磁波を検出する。   In the first embodiment, the second detection unit 20 transmits detection information indicating that the reflected wave from the subject has been detected to the control unit 14 as a signal. More specifically, the second detection unit 20 detects an electromagnetic wave in the infrared band.

なお、第2の検出部20は、上述した測距センサを構成する単一の素子である構成において、電磁波を検出できればよく、検出面において結像される必要はない。それゆえ、第2の検出部20は、第1の後段光学系19による結像位置である二次結像位置に設けられなくてもよい。すなわち、この構成において、第2の検出部20は、すべての画角からの電磁波が検出面上に入射可能な位置であれば、切替部18により第3の方向d3に進行した後に第1の後段光学系19を経由して進行する電磁波の経路上のどこに配置されてもよい。   Note that the second detection unit 20 need only be able to detect electromagnetic waves in the configuration of the single element that constitutes the distance measurement sensor described above, and need not be imaged on the detection surface. Therefore, the second detection unit 20 does not have to be provided at the secondary image forming position which is the image forming position of the first post-stage optical system 19. That is, in this configuration, the second detector 20 moves to the third direction d3 by the switching unit 18 and then moves to the first direction at the position where electromagnetic waves from all angles of view can be incident on the detection surface. It may be arranged anywhere on the path of the electromagnetic wave traveling through the rear optical system 19.

照射部12は、赤外線、可視光線、紫外線、および電波の少なくともいずれかを放射する。第1の実施形態において、照射部12は、赤外線を放射する。照射部12は、放射する電磁波を、対象obに向けて、直接または反射部13を介して間接的に、照射する。第1の実施形態においては、照射部12は、放射する電磁波を、対象obに向けて、反射部13を介して間接的に照射する。   The irradiation unit 12 emits at least one of infrared rays, visible rays, ultraviolet rays, and radio waves. In the first embodiment, the irradiation unit 12 emits infrared rays. The irradiation unit 12 irradiates the radiated electromagnetic wave toward the target ob directly or indirectly via the reflecting unit 13. In the first embodiment, the irradiation unit 12 indirectly irradiates the radiated electromagnetic wave toward the target ob through the reflection unit 13.

第1の実施形態においては、照射部12は、幅の細い、例えば0.5°のビーム状の電磁波を放射する。また、第1の実施形態において、照射部12は電磁波をパルス状に放射可能である。例えば、照射部12は、LED(Light Emitting Diode)およびLD(Laser Diode)などを含む。照射部12は、後述する制御部14の制御に基づいて、電磁波の放射および停止を切替える。   In the first embodiment, the irradiation unit 12 emits a beam-shaped electromagnetic wave having a narrow width, for example, 0.5 °. In addition, in the first embodiment, the irradiation unit 12 can radiate the electromagnetic waves in a pulse shape. For example, the irradiation unit 12 includes an LED (Light Emitting Diode), an LD (Laser Diode), and the like. The irradiation unit 12 switches between emission and stop of electromagnetic waves based on the control of the control unit 14 described later.

反射部13は、照射部12から放射された電磁波を、向きを変えながら反射することにより、対象obに照射される電磁波の照射位置を変更する。すなわち、反射部13は、照射部12から放射される電磁波により、対象obを走査する。したがって、第1の実施形態において、第2の検出部20は、反射部13と協同して、走査型の測距センサを構成する。なお、反射部13は、一次元方向または二次元方向に対象obを走査する。第1の実施形態においては、反射部13は、二次元方向に対象obを走査する。   The reflection unit 13 changes the irradiation position of the electromagnetic wave emitted to the target ob by reflecting the electromagnetic wave emitted from the irradiation unit 12 while changing its direction. That is, the reflection unit 13 scans the target ob with the electromagnetic waves emitted from the irradiation unit 12. Therefore, in the first embodiment, the second detector 20 cooperates with the reflector 13 to form a scanning distance measuring sensor. The reflecting unit 13 scans the target ob in the one-dimensional direction or the two-dimensional direction. In the first embodiment, the reflection unit 13 scans the object ob in the two-dimensional direction.

反射部13は、照射部12から放射されて反射した電磁波の照射領域の少なくとも一部が、電磁波検出装置10における電磁波の検出範囲に含まれるように、構成されている。したがって、反射部13を介して対象obに照射される電磁波の少なくとも一部は、電磁波検出装置10において検出され得る。   The reflection unit 13 is configured such that at least a part of the irradiation region of the electromagnetic waves emitted and reflected from the irradiation unit 12 is included in the electromagnetic wave detection range of the electromagnetic wave detection device 10. Therefore, at least a part of the electromagnetic wave with which the target ob is radiated via the reflector 13 can be detected by the electromagnetic wave detection device 10.

なお、第1の実施形態において、反射部13は、照射部12から放射され且つ反射部13に反射した電磁波の照射領域の少なくとも一部が、第2の検出部20における検出範囲に含まれるように、構成されている。したがって、第1の実施形態において、反射部13を介して対象obに照射される電磁波の少なくとも一部は、第2の検出部20により検出され得る。   In the first embodiment, in the reflection unit 13, at least a part of the irradiation area of the electromagnetic waves emitted from the irradiation unit 12 and reflected by the reflection unit 13 is included in the detection range of the second detection unit 20. Is configured. Therefore, in the first embodiment, at least a part of the electromagnetic waves with which the target ob is radiated via the reflector 13 can be detected by the second detector 20.

反射部13は、例えば、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)ミラー、ポリゴンミラー、およびガルバノミラーなどを含む。第1の実施形態においては、反射部13は、MEMSミラーを含む。   The reflecting unit 13 includes, for example, a MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) mirror, a polygon mirror, and a galvano mirror. In the first embodiment, the reflection unit 13 includes a MEMS mirror.

反射部13は、後述する制御部14の制御に基づいて、電磁波を反射する向きを変える。また、反射部13は、例えばエンコーダなどの角度センサを有してもよく、角度センサが検出する角度を、電磁波を反射する方向情報として、制御部14に通知してもよい。このような構成において、制御部14は、反射部13から取得する方向情報に基づいて、照射位置を算出し得る。また、制御部14は、反射部13に電磁波を反射する向きを変えさせるために入力する駆動信号に基づいて照射位置を算出し得る。   The reflector 13 changes the direction in which electromagnetic waves are reflected under the control of the controller 14, which will be described later. Further, the reflection unit 13 may have an angle sensor such as an encoder, and may notify the control unit 14 of the angle detected by the angle sensor as direction information of reflecting electromagnetic waves. In such a configuration, the control unit 14 can calculate the irradiation position based on the direction information acquired from the reflecting unit 13. In addition, the control unit 14 can calculate the irradiation position based on the drive signal input to the reflecting unit 13 to change the direction in which the electromagnetic wave is reflected.

制御部14は、1以上のプロセッサおよびメモリを含む。プロセッサは、特定のプログラムを読み込ませて特定の機能を実行する汎用のプロセッサ、および特定の処理に特化した専用のプロセッサの少なくともいずれかを含んでよい。専用のプロセッサは、特定用途向けIC(ASIC;Application Specific Integrated Circuit)を含んでよい。プロセッサは、プログラマブルロジックデバイス(PLD;Programmable Logic Device)を含んでよい。PLDは、FPGA(Field−Programmable Gate Array)を含んでよい。制御部14は、1つまたは複数のプロセッサが協働するSoC(System−on−a−Chip)、およびSiP(System In a Package)の少なくともいずれかを含んでもよい。   The control unit 14 includes one or more processors and memories. The processor may include at least one of a general-purpose processor that loads a specific program and executes a specific function, and a dedicated processor that is specialized for a specific process. The dedicated processor may include an application specific integrated circuit (ASIC; Application Specific Integrated Circuit). The processor may include a programmable logic device (PLD; Programmable Logic Device). The PLD may include an FPGA (Field-Programmable Gate Array). The control unit 14 may include at least one of SoC (System-on-a-Chip) and SiP (System In a Package) in which one or more processors cooperate.

制御部14は、第1の検出部17および第2の検出部20がそれぞれ検出した電磁波に基づいて、電磁波検出装置10の周囲に関する情報を取得する。周囲に関する情報は、例えば画像情報、距離情報、および温度情報などである。第1の実施形態において、制御部14は、前述のように、第1の検出部17が画像として検出した電磁波を画像情報として取得する。また、第1の実施形態において、制御部14は、第2の検出部20が検出する検出情報に基づいて、以下に説明するように、ToF(Time−of−Flight)方式により、照射部12に照射される照射位置の距離情報を取得する。   The control unit 14 acquires information about the surroundings of the electromagnetic wave detection device 10 based on the electromagnetic waves detected by the first detection unit 17 and the second detection unit 20, respectively. The information about the surroundings is, for example, image information, distance information, and temperature information. In the first embodiment, the control unit 14 acquires, as image information, the electromagnetic waves detected by the first detection unit 17 as an image, as described above. Further, in the first embodiment, the control unit 14 uses the ToF (Time-of-Flight) method and the irradiation unit 12 based on the detection information detected by the second detection unit 20, as described below. The distance information of the irradiation position that is irradiated on the is acquired.

図3に示すように、制御部14は、照射部12に電磁波放射信号を入力することにより、照射部12にパルス状の電磁波を放射させる(“電磁波放射信号”欄参照)。照射部12は、入力された当該電磁波放射信号に基づいて電磁波を照射する(“照射部放射量”欄参照)。照射部12が放射し且つ反射部13が反射して任意の照射領域に照射された電磁波は、当該照射領域において反射する。制御部14は、当該照射領域の反射波の前段光学系15による切替部18における結像領域の中の少なくとも一部の切替素子seを第1の状態に切替え、他の切替素子seを第2の状態に切替える。そして、第2の検出部20は、当該照射領域において反射された電磁波を検出するとき(“電磁波検出量”欄参照)、前述のように、検出情報を制御部14に通知する。   As shown in FIG. 3, the control unit 14 causes the irradiation unit 12 to emit a pulsed electromagnetic wave by inputting an electromagnetic wave emission signal to the irradiation unit 12 (see the “electromagnetic wave emission signal” column). The irradiation unit 12 irradiates an electromagnetic wave on the basis of the inputted electromagnetic wave emission signal (see the "irradiation unit radiation amount" column). The electromagnetic waves emitted by the irradiation unit 12 and reflected by the reflection unit 13 and applied to an arbitrary irradiation region are reflected in the irradiation region. The control unit 14 switches at least a part of the switching elements se in the image formation region in the switching unit 18 by the pre-stage optical system 15 of the reflected wave of the irradiation region to the first state and sets the other switching elements se to the second state. Switch to the state of. Then, when the second detection unit 20 detects the electromagnetic wave reflected in the irradiation area (see the “electromagnetic wave detection amount” column), the second detection unit 20 notifies the control unit 14 of the detection information as described above.

制御部14は、例えば、時間計測LSI(Large Scale Integrated circuit)を有しており、照射部12に電磁波を放射させた時期T1から、検出情報を取得(“検出情報取得”欄参照)した時期T2までの時間ΔTを計測する。制御部14は、当該時間ΔTに、光速を乗算し、且つ2で除算することにより、照射位置までの距離を算出する。なお、制御部14は、上述のように、反射部13から取得する方向情報、または自身が反射部13に出力する駆動信号に基づいて、照射位置を算出する。制御部14は、照射位置を変えながら、各照射位置までの距離を算出することにより、画像状の距離情報を作成する。   The control unit 14 has, for example, a time measurement LSI (Large Scale Integrated circuit), and acquires detection information from the time T1 when the irradiation unit 12 emits an electromagnetic wave (see the "Detection Information Acquisition" column). The time ΔT to T2 is measured. The control unit 14 calculates the distance to the irradiation position by multiplying the time ΔT by the speed of light and dividing by 2. The control unit 14 calculates the irradiation position based on the direction information acquired from the reflection unit 13 or the drive signal output to the reflection unit 13 by itself, as described above. The control unit 14 creates image-like distance information by calculating the distance to each irradiation position while changing the irradiation position.

なお、第1の実施形態において、情報取得システム11は、上述のように、レーザ光を照射して、返ってくるまでの時間を直接測定するDirect ToFにより距離情報を作成する構成である。しかし、情報取得システム11は、このような構成に限られない。例えば、情報取得システム11は、電磁波を一定の周期で照射し、照射された電磁波と返ってきた電磁波との位相差から、返ってくるまでの時間を間接的に測定するFlash ToFにより距離情報を作成しても良い。また、情報取得システム11は、他のToF方式、例えば、Phased ToFにより距離情報を作成しても良い。   In the first embodiment, as described above, the information acquisition system 11 is configured to generate distance information by Direct ToF that directly measures the time until the laser beam is emitted and returned. However, the information acquisition system 11 is not limited to such a configuration. For example, the information acquisition system 11 irradiates electromagnetic waves at a constant cycle, and based on the phase difference between the radiated electromagnetic waves and the returned electromagnetic waves, the flash ToF indirectly measures the time until the electromagnetic waves are returned to obtain distance information. You can create it. Further, the information acquisition system 11 may create the distance information by another ToF method, for example, Phased ToF.

以上のような構成の第1の実施形態の電磁波検出装置10は、入射する電磁波を第1の方向d1および第2の方向d2に進行するように分離し、かつ第2の方向d2に進行させた電磁波の進行方向を第3の方向d3に切替可能である。このような構成により、電磁波検出装置10は、前段光学系15の光軸を、第1の方向d1に進行させた電磁波の中心軸である第1の進行軸に、かつ第3の方向d3に進行させた電磁波の中心軸である第2の進行軸に合わせることが可能となる。したがって、電磁波検出装置10は、第1の検出部17および第2の検出部20の光軸のズレを低減し得る。これにより、電磁波検出装置10は、第1の検出軸および第2の検出軸のズレを低減し得る。そのため、電磁波検出装置10は、第1の検出部17および第2の検出部20による検出結果における座標系のズレを低減し得る。なお、このような構成および効果は、後述する第2の実施形態の電磁波検出装置についても同じである。   The electromagnetic wave detection device 10 of the first exemplary embodiment having the above-described configuration separates the incident electromagnetic wave so as to travel in the first direction d1 and the second direction d2 and travels in the second direction d2. The traveling direction of the electromagnetic wave can be switched to the third direction d3. With such a configuration, the electromagnetic wave detection device 10 causes the optical axis of the pre-stage optical system 15 to be the first traveling axis, which is the central axis of the electromagnetic wave traveling in the first direction d1, and to be in the third direction d3. It is possible to match the second traveling axis which is the central axis of the propagated electromagnetic wave. Therefore, the electromagnetic wave detection device 10 can reduce the deviation of the optical axes of the first detection unit 17 and the second detection unit 20. Thereby, the electromagnetic wave detection device 10 can reduce the deviation between the first detection axis and the second detection axis. Therefore, the electromagnetic wave detection device 10 can reduce the deviation of the coordinate system in the detection results of the first detection unit 17 and the second detection unit 20. It should be noted that such a configuration and effects are the same also in the electromagnetic wave detection device of the second embodiment described later.

また、第1の実施形態の電磁波検出装置10は、第1の進行軸が第1の検出軸と平行になるように、第2の進行軸が第2の検出軸と平行になるように、第1の検出部17、切替部18、および第2の検出部20が分離部16に対して配置されている。このような構成により、電磁波検出装置10は、第1の検出軸および第2の検出軸のズレを低減するとともに、進行軸からの距離に関わらず検出面における電磁波の結像状態を均質化し得る。したがって、電磁波検出装置10は、制御部14における結像状態の均質化のための情報処理を行うこと無く、均質な結像状態である周囲に関する情報を取得させ得る。なお、このような構成および効果は、後述する第2の実施形態の電磁波検出装置についても同じである。   Further, in the electromagnetic wave detecting device 10 of the first exemplary embodiment, the first traveling axis is parallel to the first detecting axis and the second traveling axis is parallel to the second detecting axis. The first detection unit 17, the switching unit 18, and the second detection unit 20 are arranged with respect to the separation unit 16. With such a configuration, the electromagnetic wave detection device 10 can reduce the deviation between the first detection axis and the second detection axis and can homogenize the imaging state of the electromagnetic wave on the detection surface regardless of the distance from the traveling axis. .. Therefore, the electromagnetic wave detection device 10 can obtain information about the surroundings in a homogeneous image forming state without performing information processing for homogenizing the image forming state in the control unit 14. It should be noted that such a configuration and effects are the same also in the electromagnetic wave detection device of the second embodiment described later.

また、第1の実施形態の電磁波検出装置10は、第1の進行軸および第1の検出軸の間隔が第1の間隔閾値以下となるように第1の検出部17は分離部16に対して配置され、第2の進行軸および第2の検出軸の間隔が第2の間隔閾値以下となるように切替部18および第2の検出部20は分離部16に対して配置されている。このような構成により、電磁波検出装置10は、第1の検出軸および第2の検出軸のズレをさらに低減し得る。なお、このような構成および効果は、後述する第2の実施形態の電磁波検出装置についても同じである。   In addition, in the electromagnetic wave detection device 10 of the first exemplary embodiment, the first detection unit 17 is provided with respect to the separation unit 16 so that the distance between the first traveling axis and the first detection axis is equal to or less than the first distance threshold value. The switching unit 18 and the second detection unit 20 are arranged with respect to the separation unit 16 such that the distance between the second traveling axis and the second detection axis is equal to or less than the second distance threshold. With such a configuration, the electromagnetic wave detection device 10 can further reduce the deviation between the first detection axis and the second detection axis. It should be noted that such a configuration and effects are the same also in the electromagnetic wave detection device of the second embodiment described later.

また、第1の実施形態の電磁波検出装置10は、第1の進行軸および第1の検出軸の間隔と、第2の進行軸および第2の検出軸の間隔との差が所定の間隔差以下となるように、第1の検出部17、切替部18、および第2の検出部20が、分離部16に対して配置されている。このような構成により、電磁波検出装置10は、第1の検出軸および第2の検出軸のズレをいっそう低減し得る。なお、このような構成および効果は、後述する第2の実施形態の電磁波検出装置についても同じである。   Further, in the electromagnetic wave detection device 10 of the first exemplary embodiment, the difference between the distance between the first traveling axis and the first detecting axis and the distance between the second traveling axis and the second detecting axis is a predetermined distance difference. The first detection unit 17, the switching unit 18, and the second detection unit 20 are arranged with respect to the separation unit 16 as described below. With such a configuration, the electromagnetic wave detection device 10 can further reduce the deviation between the first detection axis and the second detection axis. It should be noted that such a configuration and effects are the same also in the electromagnetic wave detection device of the second embodiment described later.

また、第1の実施形態の電磁波検出装置10は、第1の進行軸および第1の検出軸が一致し、第2の進行軸および第2の検出軸が一致するように、第1の検出部17、切替部18、および第2の検出部20が、分離部16に対して配置されている。このような構成により、電磁波検出装置10は、第1の検出軸および第2の検出軸のズレをよりいっそう低減し得る。なお、このような構成および効果は、後述する第2の実施形態の電磁波検出装置についても同じである。   Further, the electromagnetic wave detection device 10 of the first exemplary embodiment performs the first detection so that the first traveling axis and the first detecting axis coincide with each other and the second traveling axis and the second detecting axis coincide with each other. The unit 17, the switching unit 18, and the second detection unit 20 are arranged with respect to the separation unit 16. With such a configuration, the electromagnetic wave detection device 10 can further reduce the deviation between the first detection axis and the second detection axis. It should be noted that such a configuration and effects are the same also in the electromagnetic wave detection device of the second embodiment described later.

また、第1の実施形態の電磁波検出装置10は、第1の角度が第1の角度閾値以下または所定の角度となるように、かつ第2の角度が第2の角度閾値以下または所定の角度となるように、第1の検出部17、切替部18、および第2の検出部20が、分離部16に対して配置されている。このような構成により、電磁波検出装置10は、第1の検出軸および第2の検出軸のズレを低減するとともに、進行軸からの距離に応じた検出面における電磁波の結像状態の不均質化を低減し得る。したがって、電磁波検出装置10は、制御部14における結像状態の均質化のための情報処理の負荷を低減し得る。なお、このような構成および効果は、後述する第2の実施形態の電磁波検出装置についても同じである。   Further, the electromagnetic wave detection device 10 of the first exemplary embodiment is configured such that the first angle is equal to or less than the first angle threshold value or the predetermined angle, and the second angle is equal to or less than the second angle threshold value or the predetermined angle. The first detection unit 17, the switching unit 18, and the second detection unit 20 are arranged with respect to the separation unit 16 so that With such a configuration, the electromagnetic wave detection device 10 reduces the deviation between the first detection axis and the second detection axis and also makes the imaging state of the electromagnetic wave on the detection surface inhomogeneous according to the distance from the traveling axis. Can be reduced. Therefore, the electromagnetic wave detection device 10 can reduce the load of information processing for homogenizing the imaging state in the control unit 14. It should be noted that such a configuration and effects are the same also in the electromagnetic wave detection device of the second embodiment described later.

また、第1の実施形態の電磁波検出装置10は、第1の角度と第2の角度との差が所定の角度差以下となるように、第1の検出部17、切替部18、および第2の検出部20が分離部16に対して配置されている。このような構成により、電磁波検出装置10は、第1の検出部17および第2の検出部20の光軸のズレをいっそう低減し得る。なお、このような構成および効果は、後述する第2の実施形態の電磁波検出装置についても同じである。   Further, the electromagnetic wave detection device 10 of the first exemplary embodiment includes the first detection unit 17, the switching unit 18, and the first detection unit 17, so that the difference between the first angle and the second angle is equal to or less than the predetermined angle difference. Two detectors 20 are arranged with respect to the separator 16. With such a configuration, the electromagnetic wave detection device 10 can further reduce the deviation of the optical axes of the first detection unit 17 and the second detection unit 20. It should be noted that such a configuration and effects are the same also in the electromagnetic wave detection device of the second embodiment described later.

また、第1の実施形態の電磁波検出装置10は、切替部18における一部の切替素子seを第1の状態に切替え、且つ別の一部の切替素子seを第2の状態に切替え得る。このような構成により、電磁波検出装置10は、各切替素子seに入射する電磁波を出射する対象obの部分毎の電磁波に基づく情報を第2の検出部20に検出させ得る。なお、このような構成および効果は、後述する第2の実施形態の電磁波検出装置についても同じである。   Further, the electromagnetic wave detection device 10 of the first exemplary embodiment can switch some of the switching elements se in the switching unit 18 to the first state and can switch some of the other switching elements se to the second state. With such a configuration, the electromagnetic wave detection device 10 can cause the second detection unit 20 to detect information based on the electromagnetic wave for each part of the target ob that emits the electromagnetic wave incident on each switching element se. It should be noted that such a configuration and effects are the same also in the electromagnetic wave detection device of the second embodiment described later.

次に、本開示の第2の実施形態に係る電磁波検出装置について説明する。第2の実施形態では、第3の検出部をさらに備える点において第1の実施形態と異なっている。以下に、第1の実施形態と異なる点を中心に第2の実施形態について説明する。なお、第1の実施形態と同じ構成を有する部位には同じ符号を付す。   Next, an electromagnetic wave detection device according to the second embodiment of the present disclosure will be described. The second embodiment is different from the first embodiment in that a third detection unit is further included. The second embodiment will be described below, focusing on the points different from the first embodiment. It should be noted that parts having the same configurations as those in the first embodiment are designated by the same reference numerals.

図4に示すように、第2の実施形態に係る電磁波検出装置100は、前段光学系15、分離部16、第1の検出部17、切替部180、第1の後段光学系19、第2の後段光学系210、第2の検出部20、および第3の検出部220を有している。なお、第2の実施形態に係る情報取得システム11における、電磁波検出装置100以外の構成は、第1の実施形態と同じである。第2の実施形態における前段光学系15、分離部16、第1の検出部17、第1の後段光学系19、および第2の検出部20の構成および機能は、第1の実施形態と同じである。   As shown in FIG. 4, the electromagnetic wave detection device 100 according to the second exemplary embodiment includes a front stage optical system 15, a separation unit 16, a first detection unit 17, a switching unit 180, a first rear stage optical system 19, and a second stage. The second-stage optical system 210, the second detection unit 20, and the third detection unit 220 are included. The configuration of the information acquisition system 11 according to the second embodiment other than the electromagnetic wave detection device 100 is the same as that of the first embodiment. The configurations and functions of the pre-stage optical system 15, the separation unit 16, the first detection unit 17, the first post-stage optical system 19, and the second detection unit 20 in the second embodiment are the same as those in the first embodiment. Is.

電磁波検出装置100内における切替部180の配置は、第1の実施形態と同じである。切替部180は、第1の実施形態と同様に、2次元状に沿って並ぶ複数の切替素子seによって構成される作用面asを有している。第1の実施形態と異なり、切替部180は、作用面asに入射する電磁波を、第3の方向d3に進行させる第1の状態と、第4の方向d4に進行させる第2の状態とに加えて、第3の方向d3および第4の方向d4以外の方向に進行させる第3の状態とに、切替素子se毎に切替可能である。   The arrangement of the switching unit 180 in the electromagnetic wave detection device 100 is the same as that in the first embodiment. Similar to the first embodiment, the switching unit 180 has an action surface as composed of a plurality of switching elements se arranged along a two-dimensional shape. Unlike the first embodiment, the switching unit 180 sets the electromagnetic wave incident on the working surface as to the first state in which the electromagnetic wave advances in the third direction d3 and the second state in which the electromagnetic wave advances in the fourth direction d4. In addition, the switching element se can be switched to the third state in which it is advanced in a direction other than the third direction d3 and the fourth direction d4.

第2の実施形態において、第1の状態は、作用面asに入射する電磁波を、第3の方向d3に反射する第1の反射状態である。また、第2の状態は、作用面asに入射する電磁波を、第4の方向d4に反射する第2の反射状態である。第3の状態は、作用面asに入射する電磁波を、第3の方向d3および第4の方向d4以外の方向に反射する第3の反射状態である。   In the second embodiment, the first state is the first reflection state in which the electromagnetic wave incident on the working surface as is reflected in the third direction d3. The second state is the second reflection state in which the electromagnetic wave incident on the working surface as is reflected in the fourth direction d4. The third state is a third reflection state in which the electromagnetic wave incident on the working surface as is reflected in a direction other than the third direction d3 and the fourth direction d4.

第2の実施形態において、切替部180は、さらに具体的には、切替素子se毎に電磁波を反射する反射面を含んでいる。切替部180は、切替素子se毎の反射面の向きを変更することにより、第1の反射状態、第2の反射状態、および第3の反射状態を切替素子se毎に切替える。   In the second embodiment, more specifically, the switching unit 180 includes a reflective surface that reflects electromagnetic waves for each switching element se. The switching unit 180 switches the first reflection state, the second reflection state, and the third reflection state for each switching element se by changing the direction of the reflecting surface for each switching element se.

第2の実施形態において、切替部180は、例えばDMD(Digital Micro mirror Device:デジタルマイクロミラーデバイス)を含む。DMDは、作用面asを構成する微小な反射面を駆動することにより、切替素子se毎に当該反射面を作用面asに対して+12°および−12°のいずれかの傾斜状態に切替可能である。さらに、DMDは反射面の駆動を停止することにより、切替素子se毎に当該反射面を作用面asに対して0°前後の傾斜状態に切替可能である。   In the second embodiment, the switching unit 180 includes, for example, a DMD (Digital Micro mirror Device). The DMD can switch the reflecting surface for each switching element se to any one of + 12 ° and −12 ° with respect to the acting surface as by driving the minute reflecting surface that constitutes the acting surface as. is there. Further, the DMD can switch the reflecting surface for each switching element se to an inclined state of about 0 ° with respect to the working surface as by stopping the driving of the reflecting surface.

切替部180は、制御部14の制御に基づいて、第1の状態、第2の状態、および第3の状態を、切替素子se毎に切替える。例えば、図5に示すように、切替部18は、同時に、一部の切替素子se1、別の一部の切替素子se2、および残りの切替素子se3をそれぞれ第1の状態、第2の状態、および第3の状態に切替えることにより当該切替素子se1、se2、およびse3に入射する電磁波を第3の方向d3、第4の方向d4、および第3の方向d3および第4の方向d4以外の方向に進行させ得る。   The switching unit 180 switches the first state, the second state, and the third state for each switching element se based on the control of the control unit 14. For example, as shown in FIG. 5, the switching unit 18 simultaneously sets a part of the switching elements se1, another part of the switching elements se2, and the remaining switching elements se3 to the first state, the second state, And electromagnetic waves that enter the switching elements se1, se2, and se3 by switching to the third state in the third direction d3, the fourth direction d4, and directions other than the third direction d3 and the fourth direction d4. Can proceed to.

第2の後段光学系210は、切替部180から第4の方向d4に設けられている。第2の後段光学系210は、例えば、レンズおよびミラーの少なくとも一方を含む。第2の後段光学系210は、切替部180において進行方向を切替えられた電磁波としての対象obの像を結像させる。   The second post-stage optical system 210 is provided in the fourth direction d4 from the switching unit 180. The second post-stage optical system 210 includes, for example, at least one of a lens and a mirror. The second post-stage optical system 210 forms an image of the object ob as an electromagnetic wave whose traveling direction is switched by the switching unit 180.

第3の検出部220は、切替部180による第4の方向d4に進行した後に第2の後段光学系210を経由して進行する電磁波の経路上に設けられている。第3の検出部220は、第2の後段光学系210を経由した電磁波、すなわち第4の方向d4に進行した電磁波を検出する。   The third detection unit 220 is provided on the path of the electromagnetic wave that travels in the fourth direction d4 by the switching unit 180 and then travels via the second post-stage optical system 210. The third detection unit 220 detects the electromagnetic wave that has passed through the second post-stage optical system 210, that is, the electromagnetic wave that has traveled in the fourth direction d4.

また、第3の検出部220は、切替部180とともに、分離部16から第2の方向d2に進行して切替部180により第4の方向d4に進行方向が切替えられた電磁波の第3の進行軸が、第3の検出部220の第3の検出軸に平行となるように、分離部16に対して配置されていてよい。第3の進行軸は、切替部180から第4の方向d4に進行する、放射状に広がりながら伝播する電磁波の中心軸である。第2の実施形態においては、第3の進行軸は、前段光学系15の光軸を切替部180まで延ばし、切替部180において第4の方向d4に平行になるように折曲げた軸である。第3の検出軸は、第3の検出部220の検出面の中心を通り、当該検出面に垂直な軸である。   In addition, the third detection unit 220, together with the switching unit 180, moves in the second direction d2 from the separating unit 16 and is switched to the fourth direction d4 by the switching unit 180, and the third traveling direction of the electromagnetic wave. The axis may be arranged with respect to the separation unit 16 such that the axis is parallel to the third detection axis of the third detection unit 220. The third traveling axis is the central axis of the electromagnetic wave that propagates from the switching unit 180 in the fourth direction d4 and propagates while spreading radially. In the second embodiment, the third traveling axis is an axis that extends the optical axis of the upstream optical system 15 to the switching unit 180 and bends the switching unit 180 so as to be parallel to the fourth direction d4. .. The third detection axis is an axis that passes through the center of the detection surface of the third detection unit 220 and is perpendicular to the detection surface.

さらに、第3の検出部220は、切替部180とともに、第3の進行軸および第3の検出軸の間隔が第3の間隔閾値以下となるように配置されていてよい。なお、第3の間隔閾値は、第1の間隔閾値または第2の間隔閾値と同じ値でも異なる値であってよい。また、第3の検出部220は、第1の検出部17、切替部180、および第2の検出部20とともに、第1の進行軸および第1の検出軸の間隔、ならびに第2の進行軸および第2の検出軸の間隔と、第3の進行軸およびの間隔との差が所定の間隔差以下となるように配置されていてよい。また、第3の検出部220は、第3の進行軸および第3の検出軸が一致するように配置されていてよい。第2の実施形態に置いては、第3の検出部220は、第3の進行軸および第3の検出軸が一致するように配置されている。   Furthermore, the third detection unit 220 may be arranged together with the switching unit 180 such that the distance between the third traveling axis and the third detection axis is equal to or less than the third distance threshold. The third interval threshold may be the same as or different from the first interval threshold or the second interval threshold. Further, the third detection unit 220, together with the first detection unit 17, the switching unit 180, and the second detection unit 20, the interval between the first traveling axis and the first detection axis, and the second traveling axis. The distance between the second detection axis and the distance between the third traveling axis and the third detection axis may be set to be a predetermined distance difference or less. Further, the third detection unit 220 may be arranged such that the third traveling axis and the third detection axis coincide with each other. In the second embodiment, the third detection unit 220 is arranged so that the third traveling axis and the third detection axis coincide with each other.

また、第3の検出部220は、切替部180とともに、第3の進行軸と、第3の検出部220の検出面の垂線のなす第3の角度が第3の角度閾値または所定の角度以下となるように、分離部16に対して配置されていてよい。なお、第3の角度閾値は、第1の角度閾値または第2の角度閾値と同じ値でも異なる値であってもよい。また、第3の検出部220は、第1の検出部17、切替部180、および第2の検出部20とともに、第1の角度および第2の角度と、第3の角度との差が所定の角度差以下となるように配置されてよい。第2の実施形態においては、第3の検出部220は、前述のように、第3の角度が90°となるように配置されている。   Further, the third detection unit 220, together with the switching unit 180, the third angle formed by the third traveling axis and the perpendicular of the detection surface of the third detection unit 220 is equal to or less than the third angle threshold value or the predetermined angle. May be arranged with respect to the separating part 16. The third angle threshold may be the same value as the first angle threshold or the second angle threshold, or may be a different value. Further, the third detection unit 220, together with the first detection unit 17, the switching unit 180, and the second detection unit 20, has a predetermined difference between the first angle and the second angle and the third angle. The angle difference may be equal to or less than the angle difference. In the second embodiment, the third detector 220 is arranged so that the third angle is 90 ° as described above.

第2の実施形態において、第3の検出部220は、照射部12から対象obに向けて照射された電磁波の当該対象obからの反射波を検出するアクティブセンサである。なお、第2の実施形態において、第3の検出部220は、照射部12から照射され且つ反射部13により反射されることにより対象obに向けて照射された電磁波の当該対象obからの反射波を検出する。前述のように、照射部12から照射される電磁波は赤外線、可視光線、紫外線、および電波の少なくともいずれかであり、第3の検出部220は、第1の検出部17とは異種または同種で、第2の検出部20とは同種の電磁波を検出する。   In the second embodiment, the third detection unit 220 is an active sensor that detects the reflected wave from the target ob of the electromagnetic wave emitted from the irradiation unit 12 toward the target ob. In addition, in the second embodiment, the third detection unit 220 reflects the reflected wave from the target ob of the electromagnetic wave emitted toward the target ob by the irradiation unit 12 and the reflection unit 13. To detect. As described above, the electromagnetic waves emitted from the irradiation unit 12 are at least one of infrared rays, visible light rays, ultraviolet rays, and radio waves, and the third detection unit 220 is different from or the same kind as the first detection unit 17. , And the second detection unit 20 detects the same type of electromagnetic wave.

第2の実施形態において、第3の検出部220は、さらに具体的には、測距センサを構成する素子を含む。例えば、第3の検出部220は、APD(Avalanche PhotoDiode)、PD(PhotoDiode)、SPAD(Single Photon Avalanche Diode)、MPPC (Multi−Pixel Photon Counter)、および測距イメージセンサなどの単一の素子を含む。また、第3の検出部220は、SPADアレイ、APDアレイ、PDアレイ、測距イメージングアレイ、および測距イメージセンサなどの素子アレイを含むものであってもよい。   In the second embodiment, the third detection unit 220 more specifically includes an element forming a distance measuring sensor. For example, the third detection unit 220 includes a single distance measurement image sensor such as an APD (Avalanche PhotoDiode), a PD (PhotoDiode), a SPAD (Single Photon Avalanche Diode), an MPPC (Multi-Pixel Photon Counter), and the like. Including. In addition, the third detection unit 220 may include an element array such as a SPAD array, an APD array, a PD array, a ranging imaging array, and a ranging image sensor.

第2の実施形態において、第3の検出部220は、被写体からの反射波を検出したことを示す検出情報を信号として制御部14に送信する。第3の検出部220は、さらに具体的には、赤外線の帯域の電磁波を検出する。   In the second embodiment, the third detection unit 220 transmits detection information indicating that the reflected wave from the subject has been detected to the control unit 14 as a signal. More specifically, the third detection unit 220 detects an electromagnetic wave in the infrared band.

なお、第3の検出部220は、上述した測距センサを構成する単一の素子である構成において、電磁波を検出できればよく、検出面において結像される必要はない。それゆえ、第3の検出部220は、第2の後段光学系210による結像位置である二次結像位置に設けられなくてもよい。すなわち、この構成において、第3の検出部220は、すべての画角からの電磁波が検出面上に入射可能な位置であれば、切替部180により第4の方向d4に進行した後に第2の後段光学系210を経由して進行する電磁波の経路上のどこに配置されてもよい。   It should be noted that the third detector 220 need only be capable of detecting electromagnetic waves in the configuration of the single element that constitutes the distance measuring sensor described above, and need not be imaged on the detection surface. Therefore, the third detector 220 does not have to be provided at the secondary image forming position which is the image forming position of the second post-stage optical system 210. That is, in this configuration, the third detection unit 220 moves to the second direction d4 by the switching unit 180 at the position where electromagnetic waves from all field angles can be incident on the detection surface. It may be arranged anywhere on the path of the electromagnetic wave traveling via the rear optical system 210.

第2の実施形態において、制御部14は、第1の実施形態と異なり、電磁波の照射領域の反射波の前段光学系15による切替部180における結像領域の中の少なくとも一部の切替素子seを第1の状態に切替え、当該結像領域内の別の一部の切替素子seを第2の状態に切替え、残りの切替素子seを第3の状態に切替える。   In the second embodiment, the control unit 14 is different from the first embodiment in that at least a part of the switching elements se in the image formation region in the switching unit 180 by the front optical system 15 of the reflected wave in the irradiation region of the electromagnetic wave. Is switched to the first state, another part of the switching elements se in the imaging region is switched to the second state, and the remaining switching elements se are switched to the third state.

以上のように、第2の実施形態の電磁波検出装置100は、切替部180から第4の方向d4に進行した電磁波を検出する第3の検出部220を有している。このような構成により、電磁波検出装置100は、前段光学系15の光軸を、第1の方向d1に進行させた電磁波の中心軸である第1の進行軸に、第3の方向d3に進行させた電磁波の中心軸である第2の進行軸に、かつ第4の方向d4に進行させた電磁波の中心軸である第3の進行軸に合わせることが可能となる。したがって、電磁波検出装置100は、第1の検出部17、第2の検出部20、および第3の検出部220の光軸のズレを低減し得る。これにより、電磁波検出装置100は、第1の検出軸、第2の検出軸、および第3の検出軸のズレを低減し得る。そのため、電磁波検出装置100は、第1の検出部17、第2の検出部20、および第3の検出部220による検出結果における座標系のズレを低減し得る。   As described above, the electromagnetic wave detection device 100 according to the second embodiment has the third detection unit 220 that detects the electromagnetic wave traveling from the switching unit 180 in the fourth direction d4. With such a configuration, the electromagnetic wave detection device 100 travels in the third direction d3 with the optical axis of the pre-stage optical system 15 being the first traveling axis that is the central axis of the electromagnetic wave traveling in the first direction d1. It is possible to match the second traveling axis that is the central axis of the electromagnetic wave that has been caused to occur and the third traveling axis that is the central axis of the electromagnetic wave that has proceeded in the fourth direction d4. Therefore, the electromagnetic wave detection device 100 can reduce the deviation of the optical axes of the first detection unit 17, the second detection unit 20, and the third detection unit 220. Thereby, the electromagnetic wave detection device 100 can reduce the deviation of the first detection axis, the second detection axis, and the third detection axis. Therefore, the electromagnetic wave detection device 100 can reduce the deviation of the coordinate system in the detection results of the first detection unit 17, the second detection unit 20, and the third detection unit 220.

また、第2の実施形態の電磁波検出装置100は、切替部180における一部の切替素子seを第1の状態に切替え、且つ別の一部の切替素子seを第2の状態に切替え得る。このような構成により、電磁波検出装置100は、一部の切替素子seに第2の検出部20に向けて電磁波を進行させながら、同時に別の一部の切替素子seに第3の検出部220に向けて電磁波を進行させ得る。したがって、電磁波検出装置100は、異なる領域に関する情報を同時に取得し得る。このように、電磁波検出装置100は、例えば、画像状の距離情報の取得にかかる時間を短縮し得る。   Further, the electromagnetic wave detection device 100 of the second exemplary embodiment can switch some of the switching elements se in the switching unit 180 to the first state and switch some of the other switching elements se to the second state. With such a configuration, the electromagnetic wave detection device 100 allows the electromagnetic waves to travel to some of the switching elements se toward the second detection unit 20, and at the same time, causes some of the switching elements se to have the third detection unit 220. Electromagnetic waves can be directed toward. Therefore, the electromagnetic wave detection device 100 can simultaneously acquire information regarding different areas. Thus, the electromagnetic wave detection device 100 can shorten the time required to acquire image-like distance information, for example.

また、第2の実施形態の電磁波検出装置100は、第3の進行軸が第3の検出軸と平行になるように、第3の検出部220は、切替部180とともに分離部16に対して配置されている。このような構成により、電磁波検出装置100は、第1の検出軸、第2の検出軸、および第3の検出軸のズレを低減するとともに、第3の進行軸からの距離に関わらず第3の検出部220の検出面における電磁波の結像状態を均質化し得る。したがって、電磁波検出装置100は、制御部14における結像状態の均質化のための情報処理を行うこと無く、均質な結像状態である周囲に関する情報を取得させ得る。   In addition, in the electromagnetic wave detection device 100 of the second exemplary embodiment, the third detection unit 220 is connected to the separation unit 16 together with the switching unit 180 so that the third traveling axis is parallel to the third detection axis. It is arranged. With such a configuration, the electromagnetic wave detection device 100 reduces the deviation of the first detection axis, the second detection axis, and the third detection axis, and the third detection axis regardless of the distance from the third traveling axis. The imaging state of the electromagnetic wave on the detection surface of the detection unit 220 can be homogenized. Therefore, the electromagnetic wave detection device 100 can obtain information about the surroundings in a homogeneous imaging state without performing information processing for homogenizing the imaging state in the control unit 14.

また、第2の実施形態の電磁波検出装置100は、第3の進行軸および第3の検出軸の間隔が第3の間隔閾値以下となるように、第3の検出部220は、切替部180とともに分離部16に対して配置されている。このような構成により、電磁波検出装置100は、第1の検出軸または第2の検出軸に対する第3の検出軸のズレをさらに低減させ得る。   Further, in the electromagnetic wave detection device 100 of the second exemplary embodiment, the third detection unit 220 includes the switching unit 180 so that the distance between the third traveling axis and the third detection axis is equal to or less than the third distance threshold. It is also arranged with respect to the separating unit 16. With such a configuration, the electromagnetic wave detection device 100 can further reduce the deviation of the third detection axis from the first detection axis or the second detection axis.

また、第2の実施形態の電磁波検出装置100は、第3の進行軸および第3の検出軸の間隔と、第1の進行軸および第1の検出軸の間隔ならびに第2の進行軸および第2の検出軸の間隔との差が所定の間隔差以下となるように、第1の検出部17、切替部180、第2の検出部20、および第3の検出部220が、分離部16に対して配置されている。このような構成により、電磁波検出装置100は、第1の検出軸および第2の検出軸に対する第3の検出軸のズレをいっそう低減し得る。   Further, the electromagnetic wave detection device 100 of the second exemplary embodiment includes the distance between the third traveling axis and the third detecting axis, the distance between the first traveling axis and the first detecting axis, and the second traveling axis and the first traveling axis. The first detection unit 17, the switching unit 180, the second detection unit 20, and the third detection unit 220 are separated by the separation unit 16 so that the difference between the distance between the two detection axes is equal to or less than a predetermined distance difference. Is placed against. With such a configuration, the electromagnetic wave detection device 100 can further reduce the deviation of the third detection axis from the first detection axis and the second detection axis.

また、第2の実施形態の電磁波検出装置100は、第3の進行軸および第3の検出軸が一致するように、第3の検出部220が、切替部180とともに、分離部16に対して配置されている。このような構成により、電磁波検出装置100は、第1の検出軸および第2の検出軸に対する第3の検出軸のズレをよりいっそう低減し得る。   In addition, in the electromagnetic wave detection device 100 of the second exemplary embodiment, the third detection unit 220, together with the switching unit 180, with respect to the separation unit 16, so that the third traveling axis and the third detection axis coincide with each other. It is arranged. With such a configuration, the electromagnetic wave detection device 100 can further reduce the deviation of the third detection axis from the first detection axis and the second detection axis.

また、第2の実施形態の電磁波検出装置100は、第3の角度が第3の角度閾値以下または所定の角度となるように、第3の検出部220が、切替部180とともに、分離部16に対して配置されている。このような構成により、電磁波検出装置100は、第1の検出軸、第2の検出軸、および第3の検出軸のズレを低減するとともに、第3の進行軸からの距離に応じた第3の検出部220の検出面における電磁波の結像状態の不均質化を低減し得る。したがって、電磁波検出装置100は、制御部14における結像状態の均質化のための情報処理の負荷を低減し得る。   In addition, in the electromagnetic wave detection device 100 of the second exemplary embodiment, the third detection unit 220, together with the switching unit 180, the separation unit 16 so that the third angle is equal to or less than the third angle threshold value or a predetermined angle. Is placed against. With such a configuration, the electromagnetic wave detection device 100 reduces the deviation of the first detection axis, the second detection axis, and the third detection axis, and the third detection axis according to the distance from the third traveling axis. It is possible to reduce the non-uniformity of the imaging state of electromagnetic waves on the detection surface of the detection unit 220. Therefore, the electromagnetic wave detection device 100 can reduce the load of information processing for homogenizing the imaging state in the control unit 14.

また、第2の実施形態の電磁波検出装置100は、第3の角度と第1の角度および第2の角度との差が所定の角度差以下となるように、第1の検出部17、切替部180、第2の検出部20、および第3の検出部220が分離部16に対して配置されている。このような構成により、電磁波検出装置100は、第1の検出部17および第2の検出部20に対する第3の検出部220の光軸のズレをいっそう低減し得る。   In addition, the electromagnetic wave detection device 100 of the second exemplary embodiment switches the first detection unit 17 so that the difference between the third angle and the first angle and the second angle is equal to or less than a predetermined angle difference. The section 180, the second detection section 20, and the third detection section 220 are arranged with respect to the separation section 16. With such a configuration, the electromagnetic wave detection device 100 can further reduce the deviation of the optical axis of the third detection unit 220 with respect to the first detection unit 17 and the second detection unit 20.

本発明を諸図面および実施例に基づき説明してきたが、当業者であれば本開示に基づき種々の変形および修正を行うことが容易であることに注意されたい。従って、これらの変形および修正は本発明の範囲に含まれることに留意されたい。   Although the present invention has been described based on the drawings and the embodiments, it should be noted that those skilled in the art can easily make various variations and modifications based on the present disclosure. Therefore, it should be noted that these variations and modifications are included in the scope of the present invention.

例えば、第1の実施形態および第2の実施形態において、照射部12、反射部13、および制御部14が、電磁波検出装置10、100とともに情報取得システム11を構成しているが、電磁波検出装置10、100は、これらの少なくとも1つを含んで構成されてよい。   For example, in the first embodiment and the second embodiment, the irradiation unit 12, the reflection unit 13, and the control unit 14 constitute the information acquisition system 11 together with the electromagnetic wave detection devices 10 and 100. 10, 100 may be configured to include at least one of these.

また、第1の実施形態において、切替部18は、作用面asに入射する電磁波の進行方向を2方向に切替可能であるが、2方向のいずれかへの切替えでなく、3以上の方向に切替可能であってよい。また、第2の実施形態において、切替部180は、作用面asに入射する電磁波の進行方向を3方向に切替可能であるが、4以上の方向に切替可能であってよい。   In addition, in the first embodiment, the switching unit 18 can switch the traveling direction of the electromagnetic wave incident on the working surface as to two directions, but it does not switch to one of the two directions but to three or more directions. It may be switchable. Further, in the second embodiment, the switching unit 180 can switch the traveling directions of the electromagnetic waves incident on the working surface as in three directions, but may switch in four or more directions.

また、第1の実施形態の切替部18において、第1の状態および第2の状態は、作用面asに入射する電磁波を、それぞれ、第3の方向d3に反射する第1の反射状態、および第4の方向d4に反射する第2の反射状態であるが、他の態様であってもよい。   In the switching unit 18 of the first embodiment, the first state and the second state are the first reflection state in which the electromagnetic waves incident on the working surface as are reflected in the third direction d3, and Although the second reflection state is that the light is reflected in the fourth direction d4, another mode may be used.

例えば、図6に示すように、第1の状態が、作用面asに入射する電磁波を、透過させて第3の方向d3に進行させる透過状態であってもよい。切替部181は、さらに具体的には、切替素子毎に電磁波を第4の方向に反射する反射面を有するシャッタを含んでいてもよい。このような構成の切替部181においては、切替素子毎のシャッタを開閉することにより、第1の状態としての透過状態および第2の状態としての反射状態を切替素子毎に切替え得る。   For example, as shown in FIG. 6, the first state may be a transmissive state in which an electromagnetic wave incident on the working surface as is transmitted and traveled in the third direction d3. More specifically, the switching unit 181 may include a shutter having a reflecting surface that reflects an electromagnetic wave in the fourth direction for each switching element. In the switching unit 181 having such a configuration, the transmission state as the first state and the reflection state as the second state can be switched for each switching element by opening and closing the shutter for each switching element.

このような構成の切替部181として、例えば、開閉可能な複数のシャッタがアレイ状に配列されたMEMSシャッタを含む切替部が挙げられる。また、切替部181は、電磁波を反射する反射状態と電磁波を透過する透過状態とを液晶配向に応じて切替え可能な液晶シャッタを含む切替部が挙げられる。このような構成の切替部181においては、切替素子毎の液晶配向を切替えることにより、第1の状態としての透過状態および第2の状態としての反射状態を切替素子毎に切替え得る。   Examples of the switching unit 181 having such a configuration include a switching unit including a MEMS shutter in which a plurality of shutters that can be opened and closed are arranged in an array. Further, the switching unit 181 may be a switching unit including a liquid crystal shutter capable of switching between a reflective state in which electromagnetic waves are reflected and a transmissive state in which electromagnetic waves are transmitted according to liquid crystal orientation. In the switching unit 181 having such a configuration, by switching the liquid crystal orientation for each switching element, the transmissive state as the first state and the reflective state as the second state can be switched for each switching element.

また、第1の実施形態において、情報取得システム11は、照射部12から放射されるビーム状の電磁波を反射部13に走査させることにより、第2の検出部20を反射部13と協同させて走査型のアクティブセンサとして機能させる構成を有する。また、第2の実施形態において、情報取得システム11は、照射部12から放射されるビーム状の電磁波を反射部13に走査させることにより、第2の検出部20および第3の検出部220を反射部13と協同させて走査型のアクティブセンサとして機能させる構成を有する。しかし、情報取得システム11は、このような構成に限られない。例えば、情報取得システム11は、反射部13を備えず、照射部12から放射状の電磁波を放射させ、走査なしで情報を取得する構成でも、第1の実施形態と類似の効果が得られる。   In addition, in the first embodiment, the information acquisition system 11 causes the reflecting unit 13 to scan the beam-shaped electromagnetic wave emitted from the irradiating unit 12 so that the second detecting unit 20 cooperates with the reflecting unit 13. It has a configuration to function as a scanning active sensor. Further, in the second embodiment, the information acquisition system 11 causes the reflecting section 13 to scan the beam-shaped electromagnetic wave radiated from the irradiating section 12, so that the second detecting section 20 and the third detecting section 220 are controlled. It has a configuration in which it cooperates with the reflector 13 to function as a scanning active sensor. However, the information acquisition system 11 is not limited to such a configuration. For example, even if the information acquisition system 11 does not include the reflector 13 and emits a radial electromagnetic wave from the irradiation unit 12 to acquire information without scanning, an effect similar to that of the first embodiment can be obtained.

また、第1の実施形態において、情報取得システム11は、第1の検出部17がパッシブセンサであり、第2の検出部20がアクティブセンサである構成を有する。しかし、情報取得システム11は、このような構成に限られない。例えば、情報取得システム11において、第1の検出部17および第2の検出部20が共にアクティブセンサである構成でも、パッシブセンサである構成でも第1の実施形態と類似の効果が得られる。また、第2の実施形態において、情報取得システム11は、第1の検出部17がパッシブセンサであり、第2の検出部20および第3の検出部220がアクティブセンサである構成を有する。しかし、情報取得システム11は、このような構成に限られない。例えば、情報取得システム11において、第1の検出部17、第2の検出部20、および第3の検出部220が共にアクティブセンサである構成でも、パッシブセンサである構成でも第2の実施形態と類似の効果が得られる。また、例えば、情報取得システム11において、第1の検出部17、第2の検出部20、および第3の検出部220のいずれか2つがパッシブセンサである構成でも第2の実施形態と類似の効果が得られる。   Moreover, in the first embodiment, the information acquisition system 11 has a configuration in which the first detection unit 17 is a passive sensor and the second detection unit 20 is an active sensor. However, the information acquisition system 11 is not limited to such a configuration. For example, in the information acquisition system 11, the same effect as that of the first embodiment can be obtained whether the first detection unit 17 and the second detection unit 20 are both active sensors or passive sensors. In addition, in the second embodiment, the information acquisition system 11 has a configuration in which the first detection unit 17 is a passive sensor and the second detection unit 20 and the third detection unit 220 are active sensors. However, the information acquisition system 11 is not limited to such a configuration. For example, in the information acquisition system 11, whether the first detection unit 17, the second detection unit 20, and the third detection unit 220 are all active sensors or passive sensors is the same as the second embodiment. Similar effects are obtained. Further, for example, in the information acquisition system 11, any two of the first detection unit 17, the second detection unit 20, and the third detection unit 220 are passive sensors, which is similar to the second embodiment. The effect is obtained.

10、100 電磁波検出装置
11 情報取得システム
12 照射部
13 反射部
14 制御部
15 前段光学系
16 分離部
17 第1の検出部
18、180、181 切替部
19 第1の後段光学系
20 第2の検出部
210 第2の後段光学系
220 第3の検出部
as 作用面
d1、d2、d3、d4 第1の方向、第2の方向、第3の方向、第4の方向
ob 対象
10, 100 Electromagnetic wave detection device 11 Information acquisition system 12 Irradiation unit 13 Reflection unit 14 Control unit 15 Pre-stage optical system 16 Separation unit 17 First detection unit 18, 180, 181 Switching unit 19 First post-stage optical system 20 Second Detection unit 210 Second post-stage optical system 220 Third detection unit as Working surface d1, d2, d3, d4 First direction, Second direction, Third direction, Fourth direction ob Target

Claims (25)

入射する電磁波の一部を第2の方向に進行させる分離部と、
前記第2の方向に進行した電磁波を第3の方向に進行させる第1の状態および第4の方向に進行させる第2の状態に切替え可能な複数の切替素子を有する切替部と、
前記第3の方向に進行した前記電磁波を検出する第2の検出部と、を備え、
前記切替部は、照射部により放射された電磁波の照射領域に応じて、前記複数の切替素子をそれぞれ前記第1の状態および前記第2の状態に切替える
電磁波検出装置。
A separation part for advancing a part of the incident electromagnetic wave in the second direction,
A switching unit having a plurality of switching elements capable of switching between a first state in which the electromagnetic wave traveling in the second direction proceeds in a third direction and a second state in which the electromagnetic wave travels in a fourth direction;
A second detector that detects the electromagnetic wave traveling in the third direction,
The switching unit switches the plurality of switching elements to the first state and the second state, respectively, according to an irradiation region of the electromagnetic wave emitted by the irradiation unit.
請求項1に記載の電磁波検出装置において、
前記切替部は、前記複数の切替素子のうち前記照射領域に対応する切替素子を前記第1の状態に切替え、他の切替素子を前記第2の状態に切替える
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 1,
The electromagnetic wave detecting device, wherein the switching unit switches a switching element of the plurality of switching elements corresponding to the irradiation region to the first state and switches another switching element to the second state.
請求項1または2に記載の電磁波検出装置において、
前記切替部は、前記照射領域のうち検出対象位置に応じて、前記複数の切替素子をそれぞれ前記第1の状態および前記第2の状態に切替える
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 1 or 2,
The electromagnetic wave detection device, wherein the switching unit switches the plurality of switching elements to the first state and the second state, respectively, according to a detection target position in the irradiation region.
請求項1から3のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記照射領域を変更する変更部を、さらに備え、
前記切替部は、前記変更部による前記照射領域の変更に応じて、前記複数の切替素子をそれぞれ前記第1の状態および前記第2の状態に切替える
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 1 to 3,
Further comprising a changing unit for changing the irradiation area,
The switching unit switches the plurality of switching elements to the first state and the second state, respectively, according to the change of the irradiation region by the changing unit.
請求項1から4のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第2の方向に進行した電磁波を結像する結像部を、さらに備え、
前記切替部は、前記結像部による結像位置または結像位置近傍に配置される
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 1 to 4,
An image forming unit for forming an image of the electromagnetic wave traveling in the second direction,
The switching unit is an electromagnetic wave detection device arranged at or near an image forming position of the image forming unit.
請求項1から4のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第2の方向に進行した電磁波を結像する結像部を、さらに備え、
前記切替部は、前記複数の切替素子のうち、前記照射領域から入射する電磁波の前記結像部による結像領域のなかの少なくとも一部の切替素子を前記第1の状態に切替え、他の切替素子を前記第2の状態に切替える
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 1 to 4,
An image forming unit for forming an image of the electromagnetic wave traveling in the second direction,
Of the plurality of switching elements, the switching section switches at least a part of the switching elements in the image formation area of the electromagnetic wave incident from the irradiation area by the image formation section to the first state, and switches the other. An electromagnetic wave detection device for switching an element to the second state.
請求項1から6のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記照射部は、ビーム状の電磁波を放射する
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 1 to 6,
The irradiation unit is an electromagnetic wave detection device that emits a beam of electromagnetic waves.
請求項1から7のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第4の方向に進行した前記電磁波を検出する第3の検出部を、さらに備える
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 1 to 7,
The electromagnetic wave detection device further comprising a third detection unit that detects the electromagnetic wave traveling in the fourth direction.
請求項1から8のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記分離部は、入射する電磁波の一部を第1の方向に反射し、該電磁波の別の一部を前記第2の方向に透過する
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 1 to 8,
An electromagnetic wave detection device in which the separation unit reflects a part of an incident electromagnetic wave in a first direction and transmits another part of the electromagnetic wave in the second direction.
請求項1から8のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記分離部は、入射する電磁波の一部を第1の方向に透過し、該電磁波の別の一部を前記第2の方向に透過する
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 1 to 8,
The separation unit is an electromagnetic wave detection device which transmits a part of an incident electromagnetic wave in a first direction and transmits another part of the electromagnetic wave in the second direction.
請求項1から8のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記分離部は、入射する電磁波の一部を第1の方向に屈折させ、該電磁波の別の一部を前記第2の方向に屈折させる
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 1 to 8,
The separation unit refracts a part of an incident electromagnetic wave in a first direction and refracts another part of the electromagnetic wave in the second direction.
請求項1から11のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記分離部は、ハーフミラー、ビームスプリッタ、ダイクロイックミラー、コールドミラー、ホットミラー、およびメタサーフェスの少なくともいずれかを含む
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 1 to 11,
The electromagnetic wave detection device, wherein the separation unit includes at least one of a half mirror, a beam splitter, a dichroic mirror, a cold mirror, a hot mirror, and a metasurface.
請求項1から12のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記切替部は、前記第2の方向に進行した電磁波を、前記第3の方向に反射する第1の反射状態と、前記第4の方向に反射する第2の反射状態とに、前記切替素子毎に切替える
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 1 to 12,
The switching unit switches the switching element between a first reflection state in which the electromagnetic wave traveling in the second direction is reflected in the third direction and a second reflection state in which the electromagnetic wave is reflected in the fourth direction. Electromagnetic wave detection device that switches each time.
請求項13に記載の電磁波検出装置において、
前記切替素子は電磁波を反射する反射面を有し、
前記切替部は、前記切替素子毎に、前記反射面の向きを変更することにより前記第1の反射状態と前記第2の反射状態とを、切替える
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 13,
The switching element has a reflective surface that reflects electromagnetic waves,
The switching unit switches between the first reflection state and the second reflection state by changing the direction of the reflection surface for each of the switching elements.
請求項13または14に記載の電磁波検出装置において、
前記切替部は、デジタルマイクロミラーデバイスを含む
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 13 or 14,
The switching unit is an electromagnetic wave detection device including a digital micromirror device.
請求項1から12のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記切替部は、前記第2の方向に進行した電磁波を、前記第3の方向に透過する透過状態と、前記第4の方向に反射させる反射状態とに、前記切替素子毎に切替える
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 1 to 12,
The switching unit switches, for each of the switching elements, an electromagnetic wave traveling in the second direction between a transmissive state in which the electromagnetic wave is transmitted in the third direction and a reflective state in which the electromagnetic wave is reflected in the fourth direction. .
請求項16に記載の電磁波検出装置において、
前記切替素子は電磁波を反射する反射面を含むシャッタを有し、
前記切替素子毎に、前記シャッタを開閉することにより前記反射状態と前記透過状態とを、切替る
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 16,
The switching element has a shutter including a reflection surface that reflects electromagnetic waves,
An electromagnetic wave detection device that switches between the reflective state and the transmissive state by opening and closing the shutter for each switching element.
請求項17に記載の電磁波検出装置において、
前記切替部は、開閉可能な複数の前記シャッタがアレイ状に配列されたMEMSシャッタを含む
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 17,
The electromagnetic wave detecting device, wherein the switching unit includes a MEMS shutter in which the plurality of shutters that can be opened and closed are arranged in an array.
請求項16に記載の電磁波検出装置において、
前記切替部は、電磁波を反射する反射状態および透過する透過状態を液晶配光に応じて前記切替素子毎に切替可能な液晶シャッタを含む
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 16,
The electromagnetic wave detecting device, wherein the switching unit includes a liquid crystal shutter capable of switching between a reflective state of reflecting electromagnetic waves and a transmissive state of transmitting electromagnetic waves for each of the switching elements according to liquid crystal light distribution.
請求項1から19のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第2の検出部は、測距センサ、イメージセンサ、およびサーモセンサの少なくともいずれかを含む
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 1 to 19,
The electromagnetic wave detection device in which the second detection unit includes at least one of a distance measurement sensor, an image sensor, and a thermosensor.
請求項1から20のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第2の検出部による電磁波の検出結果に基づいて、周囲に関する情報を取得する制御部を、さらに備える
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to any one of claims 1 to 20,
The electromagnetic wave detection device further comprising a control unit that acquires information about the surroundings based on the detection result of the electromagnetic wave by the second detection unit.
請求項21に記載の電磁波検出装置において、
前記制御部は、前記周囲に関する情報として、画像情報、距離情報、および温度情報の少なくともいずれかを取得する
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 21,
The electromagnetic wave detection device, wherein the control unit acquires at least one of image information, distance information, and temperature information as the information about the surroundings.
請求項8に記載の電磁波検出装置において、
前記第2の検出部および前記第3の検出部は、異種または同種の電磁波を検出する
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 8,
An electromagnetic wave detection device in which the second detection unit and the third detection unit detect different or the same kind of electromagnetic waves.
請求項23に記載の電磁波検出装置において、
前記第2の検出部および前記第3の検出部はそれぞれ、赤外線、可視光線、紫外線、および電波の少なくともいずれかを検出する
電磁波検出装置。
The electromagnetic wave detection device according to claim 23,
An electromagnetic wave detection device in which each of the second detection unit and the third detection unit detects at least one of infrared rays, visible light rays, ultraviolet rays, and radio waves.
入射する電磁波の一部を第2の方向に進行させる分離部と、前記第2の方向に進行した電磁波を第3の方向に進行させる第1の状態および第4の方向に進行させる第2の状態に切替え可能な複数の切替素子を有する切替部と、前記第3の方向に進行した前記電磁波を検出する第2の検出部と、を有する電磁波検出装置と、
前記第2の検出部による電磁波の検出結果に基づいて、前記電磁波検出装置の周囲に関する情報を取得する制御部と、を備え、
前記切替部は、照射部により放射された電磁波の照射領域に応じて、前記複数の切替素子をそれぞれ前記第1の状態および前記第2の状態に切替える
情報取得システム。
A separation unit that advances a part of the incident electromagnetic wave in the second direction, a first state in which the electromagnetic wave that has advanced in the second direction advances in the third direction, and a second state that advances the electromagnetic wave in the fourth direction. An electromagnetic wave detection device including a switching unit having a plurality of switching elements that can be switched to a state, and a second detection unit that detects the electromagnetic wave traveling in the third direction,
A control unit for acquiring information about the surroundings of the electromagnetic wave detection device based on a detection result of the electromagnetic wave by the second detection unit,
The information acquisition system, wherein the switching unit switches each of the plurality of switching elements to the first state and the second state according to an irradiation region of the electromagnetic wave emitted by the irradiation unit.
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