JP2020052219A - Display and electronic signboard - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、表示装置及び電子看板に関する。 The present invention relates to a display device and an electronic signboard.
画像を表示する表示装置は、複数の画素を備える。下記の特許文献1には、複数の画素の各々がメモリを含む、いわゆるMIP(Memory In Pixel)型の表示装置が記載されている。特許文献1記載の表示装置では、複数の画素の各々が、複数のメモリとこれらのメモリの切替え回路とを含んでいる。特許文献2には、1ビットのメモリを含む表示素子が記載されている。特許文献3には、不揮発性半導体記憶装置が記載されている。
A display device that displays an image includes a plurality of pixels.
特許文献1記載の表示装置では、各画素のメモリには、DRAM(Dynamic Random Access Memory)又はSRAM(Static Random Access Memory)が用いられている。DRAMは、リフレッシュ動作が必要であり、低消費電力化には向かない。SRAMは、回路規模が大きく、高精細化が難しい。
In the display device described in
本発明は、高精細化を可能とする表示装置及び電子看板を提供することを目的とする。 An object of the present invention is to provide a display device and an electronic signboard that enable high definition.
本発明の一態様の表示装置は、行方向及び列方向に配列される複数の副画素を備える。各副画素は、副画素データを記憶するメモリを有するメモリブロックと、該メモリブロックに接続される副画素電極と、副画素電極に対向し設けられる共通電極と、メモリブロックと副画素電極との間に接続され、該共通電極に供給される電位と同電位を副画素電極に供給する配線と、該配線への電位供給を制御するスイッチと、を備える。メモリは、ソース及びドレインの内の一方が副画素電極に電気的に接続され、浮遊ゲートの電荷に応じて副画素データを記憶するトランジスタを含んでなる。 A display device according to one embodiment of the present invention includes a plurality of subpixels arranged in a row direction and a column direction. Each sub-pixel includes a memory block having a memory for storing sub-pixel data, a sub-pixel electrode connected to the memory block, a common electrode provided to face the sub-pixel electrode, and a memory block and a sub-pixel electrode. A wiring connected to the sub-pixel electrode to supply the same potential as the potential supplied to the common electrode to the sub-pixel electrode; and a switch for controlling the supply of potential to the wiring. The memory includes a transistor having one of a source and a drain electrically connected to a sub-pixel electrode and storing sub-pixel data in accordance with a charge of a floating gate.
本発明の一態様の電子看板は、行方向及び列方向に配列される複数の副画素を備える。各副画素は、副画素データを記憶するメモリを有するメモリブロックと、該メモリブロックに接続される副画素電極と、副画素電極に対向し設けられる共通電極と、メモリブロックと副画素電極との間に接続され、該共通電極に供給される電位と同電位を副画素電極に供給する配線と、該配線への電位供給を制御するスイッチと、を備える。メモリは、ソース及びドレインの内の一方が副画素電極に電気的に接続され、浮遊ゲートの電荷に応じて副画素データを記憶するトランジスタを含んでなる。 An electronic signboard according to one embodiment of the present invention includes a plurality of subpixels arranged in a row and a column. Each sub-pixel includes a memory block having a memory for storing sub-pixel data, a sub-pixel electrode connected to the memory block, a common electrode provided to face the sub-pixel electrode, and a memory block and a sub-pixel electrode. A wiring connected to the sub-pixel electrode to supply the same potential as the potential supplied to the common electrode to the sub-pixel electrode; and a switch for controlling the supply of potential to the wiring. The memory includes a transistor having one of a source and a drain electrically connected to a sub-pixel electrode and storing sub-pixel data in accordance with a charge of a floating gate.
本発明を実施するための形態(実施の形態)につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。以下の実施の形態に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成要素は適宜組み合わせることが可能である。なお、開示はあくまで一例にすぎず、当業者において、発明の主旨を保っての適宜変更について容易に想到し得るものについては、当然に本発明の範囲に含有されるものである。また、図面は説明をより明確にするため、実際の態様に比べ、各部の幅、厚さ、形状等について模式的に表される場合があるが、あくまで一例であって、本発明の解釈を限定するものではない。また、本明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には、同一の符号を付して、詳細な説明を適宜省略することがある。 An embodiment (embodiment) for carrying out the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The present invention is not limited by the contents described in the following embodiments. The components described below include those that can be easily assumed by those skilled in the art and those that are substantially the same. Furthermore, the components described below can be appropriately combined. It should be noted that the disclosure is merely an example, and those skilled in the art can easily conceive of appropriate changes while maintaining the gist of the invention, which are naturally included in the scope of the present invention. In addition, in order to make the description clearer, the width, thickness, shape, and the like of each part may be schematically illustrated as compared with actual embodiments, but this is merely an example, and the interpretation of the present invention is not limited thereto. It is not limited. In the specification and the drawings, components similar to those described in regard to a drawing thereinabove are marked with like reference numerals, and a detailed description is omitted as appropriate.
(第1の実施の形態)
[全体構成]
図1は、第1の実施の形態の表示装置の全体構成の概要を示す図である。表示装置1は、第1パネル2と、第1パネル2に対向配置された第2パネル3と、を含む。表示装置1は、画像を表示する表示領域DAと、表示領域DAの外側の額縁領域GDと、を有する。表示領域DAにおいて、第1パネル2と第2パネル3との間には、液晶層が封入されている。
(First Embodiment)
[overall structure]
FIG. 1 is a diagram illustrating an outline of the overall configuration of the display device according to the first embodiment. The
なお、第1の実施の形態では、表示装置1は、液晶層を使用した液晶表示装置としたが、本開示はこれに限定されない。表示装置1は、液晶層に代えて有機EL(Electro-Luminescence)素子を使用した有機EL表示装置であっても良い。
In the first embodiment, the
表示領域DA内には、複数の画素Pixが、第1パネル2及び第2パネル3の主面と平行なX方向にN列(Nは、自然数)、第1パネル2及び第2パネル3の主面と平行且つX方向と交差するY方向にM行(Mは、自然数)のマトリクス状に配置されている。額縁領域GD内には、インタフェース回路4と、データ線駆動回路5と、共通電極駆動回路6と、スイッチ制御回路7と、ゲート線駆動回路9と、が、配置されている。なお、これら複数の回路のうち、インタフェース回路4と、データ線駆動回路5と、共通電極駆動回路6と、スイッチ制御回路7と、をICチップに組み込み、ゲート線駆動回路9を第1パネル2上に形成した構成を採用することも可能である。或いは、ICチップに組み込まれる回路群を表示装置1外のプロセッサに形成し、それらと表示装置とを接続する構成も採用可能である。
In the display area DA, a plurality of pixels Pix are arranged in N columns (N is a natural number) in the X direction parallel to the main surfaces of the
M×N個の画素Pixの各々は、複数の副画素SPixを含む。第1の実施の形態では、複数の副画素SPixは、R(赤)、G(緑)及びB(青)の3個とするが、本開示はこれに限定されない。複数の副画素SPixは、R(赤)、G(緑)及びB(青)にW(白)を加えた4個であっても良い。或いは、複数の副画素SPixは、色が異なる5個以上であっても良い。 Each of the M × N pixels Pix includes a plurality of sub-pixels SPix. In the first embodiment, the plurality of sub-pixels SPix are R (red), G (green), and B (blue), but the present disclosure is not limited to this. The plurality of sub-pixels SPix may be four (R) (red), G (green), and B (blue) plus W (white). Alternatively, the plurality of sub-pixels SPix may be five or more having different colors.
各画素Pixが3個の副画素SPixを含むので、表示領域DA内には、M×N×3個の副画素SPixが配置されていることになる。また、M×N個の画素Pixの各々の3個の副画素SPixがX方向に配置されているので、M×N個の画素Pixの1つの行には、N×3個の副画素SPixが配置されていることになる。 Since each pixel Pix includes three sub-pixels SPix, M × N × 3 sub-pixels SPix are arranged in the display area DA. Further, since three sub-pixels SPix of each of the M × N pixels Pix are arranged in the X direction, one row of the M × N pixels Pix includes N × 3 sub-pixels SPix. Is arranged.
液晶表示装置の画面の焼き付きを抑制するための駆動方式として、カラム反転駆動、ライン反転駆動、ドット反転駆動、フレーム反転駆動などの駆動方式が知られている。 Driving methods such as column inversion driving, line inversion driving, dot inversion driving, and frame inversion driving are known as driving methods for suppressing screen burn-in of a liquid crystal display device.
表示装置1は、上記の各駆動方式のいずれを採用することも可能である。第1の実施の形態では、表示装置1は、フレーム反転駆動の一方式であるコモン反転駆動方式を採用する。表示装置1がコモン反転駆動方式を採用するので、共通電極駆動回路6は、基準クロック信号CLKに同期して、共通電極の電位(コモン電位)を反転する。これにより、表示装置1は、コモン反転駆動方式を実現することができる。第1の実施の形態では、表示装置1は、液晶に電圧が印加されていない場合に黒色を表示し、液晶に電圧が印加されている場合に白色を表示する、いわゆるノーマリーブラックとする。ノーマリーブラックでは、副画素電極の電位とコモン電位とが同相の場合には、黒色が表示され、副画素電極の電位とコモン電位とが異相の場合には、白色が表示される。
The
後述するように、各副画素SPixは、第1メモリと、第2メモリと、を含む。従って、1つの行には、N×3×2個のメモリが配置されていることになる。また、表示領域DA内には、M×N×3×2個のメモリが配置されていることになる。 As will be described later, each sub-pixel SPix includes a first memory and a second memory. Therefore, one row includes N × 3 × 2 memories. Further, in the display area DA, M × N × 3 × 2 memories are arranged.
各副画素SPixは、第1メモリ及び第2メモリに格納されている副画素データに基づいて、表示を行う。上述したように、表示装置1は、コモン反転駆動方式を採用する。コモン反転駆動方式では、共通電極の電位が反転する。表示装置1は、共通電極の電位が第1の電位の期間(プラスフィールド期間)では、第1メモリに格納されている副画素データに基づいて、表示を行う。表示装置1は、共通電極の電位が第2の電位の期間(マイナスフィールド期間)では、第2メモリに格納されている副画素データに基づいて、表示を行う。
Each sub-pixel SPix performs display based on the sub-pixel data stored in the first memory and the second memory. As described above, the
プラスフィールド期間が、本開示の第1のフィールド期間に対応する。マイナスフィールド期間が、本開示の第2のフィールド期間に対応する。 The plus field period corresponds to a first field period of the present disclosure. The minus field period corresponds to the second field period of the present disclosure.
インタフェース回路4は、シリアル−パラレル変換回路4aと、タイミングコントローラ4bと、を含む。タイミングコントローラ4bは、設定レジスタ4cを含む。シリアル−パラレル変換回路4aには、コマンドデータCMD及び画像データIDが、外部回路からシリアルに供給される。外部回路は、ホストCPU(Central Processing Unit)又はアプリケーションプロセッサが例示されるが、本開示はこれらに限定されない。
The
シリアル−パラレル変換回路4aは、供給されたコマンドデータCMDをパラレルデータに変換して、設定レジスタ4cに出力する。設定レジスタ4cには、データ線駆動回路5、スイッチ制御回路7及びゲート線駆動回路9を制御するための値がコマンドデータCMDに基づいて設定される。
The serial-parallel conversion circuit 4a converts the supplied command data CMD into parallel data and outputs the parallel data to the setting register 4c. In the setting register 4c, values for controlling the data line driving
シリアル−パラレル変換回路4aは、供給された画像データIDをパラレルデータに変換して、タイミングコントローラ4bに出力する。タイミングコントローラ4bは、設定レジスタ4cに設定された値に基づいて、画像データIDをデータ線駆動回路5に出力する。また、タイミングコントローラ4bは、設定レジスタ4cに設定された値に基づいて、スイッチ制御回路7及びゲート線駆動回路9を制御する。
The serial-parallel conversion circuit 4a converts the supplied image data ID into parallel data, and outputs the parallel data to the
共通電極駆動回路6には、基準クロック信号CLKが、外部回路から供給される。外部回路は、クロックジェネレータが例示されるが、本開示はこれに限定されない。
The common
後述するように、各副画素SPixは、表示の前に副画素電極の電位を共通電極の電位と同じにするためのスイッチを有する。スイッチ制御回路7は、タイミングコントローラ4bの制御下で、各副画素SPixのスイッチを制御するためのスイッチ制御信号を出力する。
As will be described later, each sub-pixel SPix has a switch for making the potential of the sub-pixel electrode equal to the potential of the common electrode before displaying. The switch control circuit 7 outputs a switch control signal for controlling a switch of each sub-pixel SPix under the control of the
表示装置1にて画像を表示させるべく、各副画素SPixのメモリに副画素データを格納する必要がある。各メモリに副画素データを格納するために、ゲート線駆動回路9は、タイミングコントローラ4bの制御下で、M×N個の画素Pixの内の1つの行を選択するためのゲート信号を出力する。
In order to display an image on the
後述するように、各副画素SPix内の第1メモリ及び第2メモリの各々は、ゲート信号で選択され、動作する。従って、1つの画素行(副画素行)当たり2本のゲート線が配置される。 As described later, each of the first memory and the second memory in each sub-pixel SPix is selected and operated by a gate signal. Therefore, two gate lines are arranged for one pixel row (sub-pixel row).
1つの画素行当たりに配置されている2本のゲート線が、本開示のゲート線群に対応する。表示装置1は、M行の画素Pixを有するので、M群のゲート線群が配置されている。
Two gate lines arranged for one pixel row correspond to the gate line group of the present disclosure. The
ゲート線駆動回路9は、M群のゲート線群に対応して、M×2個の出力端子を有している。ゲート線駆動回路9は、タイミングコントローラ4bの制御下で、1つの行を選択するためのゲート信号を、M×2個の出力端子から順次出力する。
The gate
データ線駆動回路5は、タイミングコントローラ4bの制御下で、ゲート信号によって選択されているメモリにデータ信号(ソース信号、副画素データ)を夫々出力する。これにより、各副画素のメモリに順次副画素データが夫々格納される。
The data line driving
表示装置1は、M行の画素Pixを線順次走査することによって、フレームデータが複数の副画素SPixのメモリに格納される。
The
[断面構造]
図2は、第1の実施の形態の表示装置の断面図である。図2に示すように、表示装置1は、第1パネル2と、第2パネル3と、液晶層30とを含む。第2パネル3は、第1パネル2と対向して配置される。液晶層30は、第1パネル2と第2パネル3との間に設けられる。第2パネル3の一主面たる表面が、画像を表示させるための表示面1aである。
[Cross section structure]
FIG. 2 is a sectional view of the display device according to the first embodiment. As shown in FIG. 2, the
表示面1a側の外部から入射した光は、第1パネル2の副画素電極(反射電極)15によって反射されて表示面1aから出射する。表示装置1は、この反射光を利用して、表示面1aに画像を表示する反射型液晶表示装置である。なお、本明細書において、表示面1aと平行な方向をX方向とし、表示面1aと平行な面においてX方向と交差する方向をY方向とする。また、表示面1aに垂直な方向をZ方向とする。
Light incident from the outside on the
第1パネル2は、第1基板11と、絶縁層12と、副画素電極15と、配向膜18とを有する。第1基板11は、ガラス基板又は樹脂基板が例示される。第1基板11の表面には、図示しない回路素子や、ゲート線、データ線等の各種配線が設けられる。回路素子は、TFT(Thin Film Transistor)等のスイッチング素子や、容量素子を含む。
The
絶縁層12は、第1基板11の上に設けられ、回路素子や各種配線等の表面を全体として平坦化している。副画素電極15は、絶縁層12の上に複数設けられる。配向膜18は、副画素電極15と液晶層30との間に設けられる。副画素電極15は、副画素SPix毎に矩形状に設けられている。副画素電極15は、アルミニウム(Al)又は銀(Ag)で例示される金属で形成されている。また、副画素電極15は、これらの金属材料と、ITO(Indium Tin Oxide)で例示される透光性導電材料と、を積層した構成としても良い。副画素電極15は、良好な反射率を有する材料が用いられ、外部から入射する光を拡散反射させる反射板として機能する。
The insulating
第2パネル3は、第2基板21と、カラーフィルタ22と、共通電極23と、配向膜28と、1/4波長板24と、1/2波長板25と、偏光板26とを含む。第2基板21の両面のうち、第1パネル2と対向する面に、カラーフィルタ22及び共通電極23が、この順で設けられる。共通電極23と液晶層30との間に配向膜28が設けられる。第2基板21の、表示面1a側の面に、1/4波長板24、1/2波長板25及び偏光板26が、この順で積層されている。
The
第2基板21は、ガラス基板又は樹脂基板が例示される。共通電極23は、ITOで例示される透光性導電材料で形成されている。共通電極23は、複数の副画素電極15と対向して配置され、各副画素SPixに対する共通の電位を供給する。カラーフィルタ22は、R(赤)、G(緑)、及び、B(青)の3色のフィルタを有することが例示されるが、本開示はこれに限定されない。これらにW(白色)を加えることも可能である。また、カラーフィルタを用いない構成も採用可能である。この場合、副画素単位で画素を構成する。
The
液晶層30は、ネマティック(Nematic)液晶を含んでいることが例示される。液晶層30は、共通電極23と副画素電極15との間の電圧レベル(電位差)が変更されることにより、液晶分子の配向状態が変化する。これによって、液晶層30を透過する光が副画素SPix毎に変調する。
It is exemplified that the
外光等が表示装置1の表示面1a側から入射する入射光となり、第2パネル3及び液晶層30を透過して副画素電極15に到達する。そして、入射光は各副画素SPixの副画素電極15で反射される。かかる反射光は、副画素SPix毎に変調されて表示面1aから出射される。これにより、画像の表示が行われる。
External light or the like becomes incident light that enters from the
[回路構成]
図3は、第1の実施の形態の表示装置の回路構成を示す図である。図3では、M行×(N×3)列の副画素SPixの内の2×2個の副画素SPixを示している。
[Circuit configuration]
FIG. 3 is a diagram illustrating a circuit configuration of the display device according to the first embodiment. FIG. 3
副画素SPixは、メモリブロック50と、液晶LQ(液晶層30)と、副画素電極15(図2参照)と、スイッチSWと、を含む。メモリブロック50は、第1メモリ51と、第2メモリ52と、を含む。スイッチSWは、Nチャネル型トランジスタとするが、本開示はこれに限定されない。
The sub-pixel SPix includes a
副画素電極15は、ノードNを介して、第1メモリ51及び第2メモリ52に電気的に接続されている。
The
共通電極駆動回路6は、各副画素SPixに共通するコモン電位Vcomを、基準クロック信号CLKに同期して反転させ、共通電位線VCOMを介して、共通電極23(図2参照)に出力する。また、共通電極駆動回路6は、コモン電位Vcomを、共通電位線FRPを介して、スイッチSWに出力する。共通電極駆動回路6は、基準クロック信号CLKをそのままコモン電位Vcomとして出力しても良いし、電流駆動能力を増幅するバッファ回路を介してコモン電位Vcomとして出力しても良い。表示時のコモン電位Vcomとしては、例えば後述するように3Vと0Vといった一対の電圧が採用される。基準クロック信号CLKに従って、一方の電圧から他方の電圧に反転し、これを繰り返すことで交流のコモン信号が形成され、共通電位線VCOMに供給される。
The common
スイッチ制御回路7は、タイミングコントローラ4bから供給される制御信号Sig1に基づいて、各副画素SPixに共通するスイッチ制御信号Vpreを、スイッチ制御信号線PREを介して、スイッチSWのゲートに出力する。
The switch control circuit 7 based on the control signal Sig 1 supplied from the
スイッチSWは、スイッチ制御信号Vpreがハイレベルの場合に、オン状態になり、共通電極23とノードNとの間を電気的に導通する。つまり、スイッチSWは、共通電極23と副画素電極15との間を電気的に導通する。
The switch SW is turned on when the switch control signal Vpre is at a high level, and electrically connects the
また、スイッチSWは、スイッチ制御信号Vpreがローレベルの場合に、オフ状態になり、共通電極23とノードNとの間を電気的に遮断する。つまり、スイッチSWは、共通電極23と副画素電極15との間を電気的に遮断する。
The switch SW is turned off when the switch control signal Vpre is at a low level, and electrically disconnects the
スイッチSWがオン状態になると、共通電極23の電位であるコモン電位Vcomが、ノードNを介して、副画素電極15に供給される。つまり、副画素電極15の電位が、共通電極23の電位と同じになる。このとき、液晶LQは、電圧が印加されていない状態になる。
When the switch SW is turned on, the common potential Vcom, which is the potential of the
コモン電位Vcomが副画素電極15に供給されるという観点では、スイッチSWは、副画素電極15をプリチャージすると考えることができる。また、液晶LQへの印加電圧がゼロになるという観点では、スイッチSWは、副画素電極15をプリディスチャージすると考えることができる。
From the viewpoint that the common potential Vcom is supplied to the
ゲート線駆動回路9は、M群のゲート線群に対応して、M×2個の出力端子を有している。ゲート線駆動回路9は、タイミングコントローラ4bから供給される制御信号Sig2に基づいて、1つの副画素行の第1メモリ51又は第2メモリ52を選択するためのゲート信号を、M×2個の出力端子から出力する。
The gate
ゲート線駆動回路9は、制御信号Sig2(スキャン開始信号及びクロックパルス信号)に基づいて、ゲート信号をM個の出力端子から順次出力するスキャナ回路であっても良い。或いは、ゲート線駆動回路9は、符号化された制御信号Sig2を復号化し、該制御信号Sig2で指定された出力端子にゲート信号を出力するデコーダ回路であっても良い。
The gate
第1パネル2上には、M行の副画素SPixに対応して、M群のゲート線群GL1、GL2、・・・が配置されている。M群のゲート線群GL1、GL2、・・・の各々は、表示領域DA(図1参照)内において、X方向に沿う。
On the
第1のゲート線群GL1は、第1の副画素行の第1メモリ51に電気的に接続されたゲート線Gate1(+)と、第1の副画素行の第2メモリ52に電気的に接続されたゲート線Gate1(−)と、を含む。
The first gate line group GL1 is electrically connected to the gate line Gate1 (+) electrically connected to the
第2のゲート線群GL2は、第2の副画素行の第1メモリ51に電気的に接続されたゲート線Gate2(+)と、第2の副画素行の第2メモリ52に電気的に接続されたゲート線Gate2(−)と、を含む。
The second gate line group GL2 is electrically connected to the gate line Gate2 (+) electrically connected to the
第1パネル2上には、N×3列の副画素SPixに対応して、N×3本のデータ線Data1、Data2、・・・が配置されている。N×3本のデータ線Data1、Data2、・・・の各々は、表示領域DA(図1参照)内において、Y方向に沿う。
On the
第1のデータ線Data1は、第1の副画素列の第1メモリ51及び第2メモリ52に電気的に接続されている。
The first data line Data1 is electrically connected to the
第2のデータ線Data2は、第2の副画素列の第1メモリ51及び第2メモリ52に電気的に接続されている。
The second data line Data2 is electrically connected to the
データ線駆動回路5は、ゲート信号によって選択されている各副画素SPixの第1メモリ51又は第2メモリ52に対して、データ線Data1、Data2、・・・を介して、データ信号を夫々出力する。
The data line driving
ゲート信号が供給された副画素行の第1メモリ51又は第2メモリ52は、データ線Dataに供給されているデータ信号に応じた副画素データを記憶する。
The
第1メモリ51及び第2メモリ52は、記憶している副画素データに応じた電位を、ノードNを介して、副画素電極15に出力する。
The
図4は、第1の実施の形態の表示装置の副画素の回路構成を示す図である。図4では、1個の副画素SPixを示している。 FIG. 4 is a diagram illustrating a circuit configuration of a sub-pixel of the display device according to the first embodiment. FIG. 4 shows one sub-pixel SPix.
副画素SPixは、メモリブロック50と、液晶LQと、スイッチSWと、を含む。メモリブロック50は、第1メモリ51と、第2メモリ52と、を含む。
The sub-pixel SPix includes a
第1メモリ51は、Nチャネル型のトランジスタRWTn1を含む。第2メモリ52は、Nチャネル型のトランジスタRWTn2を含む。トランジスタRWTn1及びRWTn2の各々は、フラッシュメモリであり、浮遊ゲートを有する。
The
なお、表示装置1では、トランジスタRWTn1及びRWTn2のチャネル型を同じとしたが、異ならせても良い。例えば、第1メモリ51が、Pチャネル型のトランジスタを含んでも良い。但し、この場合、第1メモリ51へ書込む副画素データと、第2メモリ52へ書込む副画素データと、を論理反転させる必要がある。従って、第1メモリ51へ副画素データを書込むステップと、第2メモリ52へ副画素データを書込むステップと、を別にする必要がある。一方、トランジスタRWTn1及びRWTn2のチャネル型を同じとすれば、第1メモリ51へ書込む副画素データと、第2メモリ52へ書込む副画素データと、を同じにすることができる。従って、第1メモリ51及び第2メモリ52へ副画素データを書込むステップを共通にすることができる。即ち、第1メモリ51及び第2メモリ52へ副画素データを同時に書込むことができ、書込み時間を短縮することができるので、好適である。
In the
トランジスタRWTn1のゲートは、ゲート線Gate1(+)に電気的に接続されている。トランジスタRWTn1のドレインは、高電位側の電源電位VMHに電気的に接続されている。トランジスタRWTn1のボディは、データ線Data1に電気的に接続されている。トランジスタRWTn1のソースは、ノードNに電気的に接続されている。 The gate of the transistor RWTn1 is electrically connected to the gate line Gate1 (+). The drain of the transistor RWTn1 is electrically connected to the power supply potential VMH on the high potential side. The body of the transistor RWTn1 is electrically connected to the data line Data1. The source of the transistor RWTn1 is electrically connected to the node N.
電源電位VMHが、本開示の第1の電源電位に対応する。 The power supply potential VMH corresponds to the first power supply potential of the present disclosure.
トランジスタRWTn2のゲートは、ゲート線Gate1(−)に電気的に接続されている。トランジスタRWTn2のソースは、定電位側の電源電位VMLに電気的に接続されている。トランジスタRWTn2のボディは、データ線Data1に電気的に接続されている。トランジスタRWTn2のドレインは、ノードNに電気的に接続されている。 The gate of the transistor RWTn2 is electrically connected to the gate line Gate1 (-). The source of the transistor RWTn2 is electrically connected to the constant potential side power supply potential VML. The body of the transistor RWTn2 is electrically connected to the data line Data1. The drain of the transistor RWTn2 is electrically connected to the node N.
電源電位VMLが、本開示の第2の電源電位に対応する。 The power supply potential VML corresponds to the second power supply potential of the present disclosure.
トランジスタRWTn1及びRWTn2は、電子が浮遊ゲートから引き抜かれた状態(正孔が注入された状態)で、副画素データ「0」を記憶する。一方、トランジスタRWTn1及びRWTn2は、電子が浮遊ゲートに注入された状態(正孔が引き抜かれた状態)で、副画素データ「1」を記憶する。 The transistors RWTn1 and RWTn2 store sub-pixel data “0” in a state where electrons are extracted from the floating gate (a state where holes are injected). On the other hand, the transistors RWTn1 and RWTn2 store the subpixel data “1” in a state where electrons are injected into the floating gate (a state where holes are extracted).
なお、第1メモリ51へ書込む副画素データと、第2メモリ52へ書込む副画素データと、を同じにすることができるのは、次の理由による。トランジスタRWTn1のドレインは、高電位側の電源電位VMHに電気的に接続されている。一方、トランジスタRWTn2のソースは、定電位側の電源電位VMLに電気的に接続されている。従って、トランジスタRWTn1とトランジスタRWTn2とに同じ副画素データが書込まれ、後述するプリチャージ電位の論理が反転する動作が加わることで、トランジスタRWTn2から副画素電極15に出力される電位は、トランジスタRWTn1から副画素電極15に出力される電位と論理反転することになるからである。
The reason why the sub-pixel data to be written to the
ノードNは、副画素電極15(図2参照)に電気的に接続されている。スイッチSWのソース−ドレイン経路は、ノードNと共通電極23との間に電気的に接続されている。スイッチSWのゲートには、スイッチ制御信号Vpreが供給される。
The node N is electrically connected to the sub-pixel electrode 15 (see FIG. 2). The source-drain path of the switch SW is electrically connected between the node N and the
[動作]
図5は、第1の実施の形態の第1の態様の表示装置の副画素の構成を示す図である。図5では、M行×(N×3)列の副画素SPixの内の、2行×3列の6個の副画素SPixを示している。図5では、共通電位線FRPの記載を省略している。
[motion]
FIG. 5 is a diagram illustrating a configuration of a sub-pixel of the display device according to the first mode of the first embodiment. FIG. 5 shows six subpixels SPix of 2 rows × 3 columns among subpixels SPix of M rows × (N × 3) columns. In FIG. 5, the description of the common potential line FRP is omitted.
消去(副画素データ「0」を記憶、浮遊ゲートから電子を引き抜き)、書込み(副画素データ「1」を記憶、浮遊ゲートに電子を注入)は、NAND型フラッシュメモリの消去及び書込み動作の原理を利用する(例えば、特許文献3参照)。 The erasing (storing the sub-pixel data "0" and extracting electrons from the floating gate) and writing (storing the sub-pixel data "1" and injecting electrons into the floating gate) are the principle of the erasing and writing operations of the NAND flash memory. (For example, see Patent Document 3).
第1メモリ51は、プラスフィールド期間の表示に使用される副画素データを記憶する。第2メモリ52は、マイナスフィールド期間の表示に使用される副画素データを記憶する。
The
ゲート線駆動回路9(図3参照)は、プラスフィールド期間では、ゲート線Gate1(+)及びGate2(+)に0Vを供給する。これにより、各副画素SPix内の第1メモリ51が選択される。また、ゲート線駆動回路9は、ゲート線Gate1(−)及びGate2(−)に−3Vを供給する。これにより、各副画素SPix内の第2メモリ52が非選択とされる。従って、各副画素SPixは、プラスフィールド期間では、第1メモリ51に記憶された副画素データに基づく画像を表示する。
The gate line drive circuit 9 (see FIG. 3) supplies 0 V to the gate lines Gate1 (+) and Gate2 (+) during the plus field period. As a result, the
ゲート線駆動回路9は、マイナスフィールド期間では、ゲート線Gate1(−)及びGate2(−)に0Vを供給する。これにより、各副画素SPix内の第2メモリ52が選択される。また、ゲート線駆動回路9は、ゲート線Gate1(+)及びGate2(+)に−3Vを供給する。これにより、各副画素SPix内の第1メモリ51が非選択とされる。従って、各副画素SPixは、マイナスフィールド期間では、第2メモリ52に記憶された副画素データに基づく画像を表示する。
The gate
図6は、第1の実施の形態の表示装置の副画素に書込まれる副画素データを示す図である。図7は、第1の実施の形態の表示装置の副画素の書込み及び読出しの際の動作タイミングを示すタイミング図である。図8は、第1の実施の形態の表示装置の副画素の書込みの際の各部の電位を示す図である。 FIG. 6 is a diagram illustrating sub-pixel data written in sub-pixels of the display device according to the first embodiment. FIG. 7 is a timing chart showing operation timings at the time of writing and reading of sub-pixels of the display device according to the first embodiment. FIG. 8 is a diagram illustrating potentials of respective units when writing the sub-pixels of the display device according to the first embodiment.
表示装置1の副画素SPixに副画素データを書込む際の動作について説明する。
An operation of writing sub-pixel data to the sub-pixel SPix of the
フラッシュメモリであるトランジスタRWTn1及びRWTn2は、副画素データの書込みの前に、消去が必要である。図7及び図8において、タイミングt0からタイミングt1までが、消去期間である。 The transistors RWTn1 and RWTn2, which are flash memories, need to be erased before sub-pixel data is written. 7 and 8, from the timing t 0 to time t 1, the erase period.
消去期間後のタイミングt1からタイミングt3までが、書込み期間である。書込み期間は、タイミングt1からタイミングt2までのステップ1、及び、タイミングt2からタイミングt3までのステップ2を含む。
From the timing t 1 after the erasing period to time t 3 is the writing period. Write period comprises,
ステップ1は、第1行目の副画素SPix11、SPix12及びSPix13の第1メモリ51及び第2メモリ52への書込み期間である。ステップ2は、第2行目の副画素SPix21、SPix22及びSPix23の第1メモリ51及び第2メモリ52への書込み期間である。
図7及び図8を参照すると、消去期間開始のタイミングt0において、電源電位VMH及びVMLは、20Vとなる。その理由は、トランジスタRWTn1及びRWTn2に高電界(20V)を印加するためである。 Referring to FIGS. 7 and 8, at the timing t 0 the start erasing period, the power supply potential VMH and VML becomes 20V. The reason is that a high electric field (20 V) is applied to the transistors RWTn1 and RWTn2.
また、共通電極駆動回路6(図3参照)は、20Vのコモン電位Vcomを共通電極23に出力する。その理由は、次の通りである。消去期間では、副画素電極15の電位Vpixは、20Vになる。そして、副画素電極15と共通電極23との間の電圧が、液晶分子LQに印加される。従って、液晶分子LQに高電圧が印加されないようにし、液晶分子の劣化を抑制するためである。共通電極23のコモン電位Vcomを20Vとすれば、液晶分子に印加される電圧は、0Vになる。
The common electrode drive circuit 6 (see FIG. 3) outputs a common potential Vcom of 20 V to the
データ線駆動回路5(図3参照)は、データ線Data1、Data2及びData3に、20Vのデータ信号を出力する。 The data line driving circuit 5 (see FIG. 3) outputs a data signal of 20 V to the data lines Data1, Data2, and Data3.
ゲート線駆動回路9(図3参照)は、ゲート線Gate1(+)、Gate1(−)、Gate2(+)及びGate2(−)に、0Vのゲート信号を出力する。 The gate line drive circuit 9 (see FIG. 3) outputs a gate signal of 0 V to the gate lines Gate1 (+), Gate1 (-), Gate2 (+) and Gate2 (-).
従って、高電界(20V)が、全部の副画素SPixのトランジスタRWTn1及びRWTn2のゲートとボディとの間に、印加される。これにより、トンネル効果によって、電子が、全部の副画素SPixのトランジスタRWTn1及びRWTn2の浮遊ゲートからボディに引き抜かれる。つまり、全部の副画素SPixの第1メモリ51及び第2メモリ52は、副画素データ「0」(消去)を記憶する。
Therefore, a high electric field (20 V) is applied between the gates and the bodies of the transistors RWTn1 and RWTn2 of all the sub-pixels SPix. Thereby, electrons are extracted from the floating gates of the transistors RWTn1 and RWTn2 of all the sub-pixels SPix to the body by the tunnel effect. That is, the
図9は、第1の実施の形態の表示装置の副画素のメモリのエネルギバンド図である。詳しくは、図9は、トランジスタRWTn1及びRWTn2からボディへ電子を引き抜く場合の、副画素SPixのメモリのエネルギバンド図である。 FIG. 9 is an energy band diagram of the memory of the sub-pixel of the display device according to the first embodiment. Specifically, FIG. 9 is an energy band diagram of the memory of the sub-pixel SPix when electrons are extracted from the transistors RWTn1 and RWTn2 to the body.
図9において、熱酸化膜である第1ゲート絶縁膜111の膜厚は、350オングストローム(35ナノメートル)、誘電率は、3ε(εは、熱酸化膜の誘電率)とする。また、熱酸化膜である第2ゲート絶縁膜(トンネル酸化膜)112の膜厚は、200オングストローム(20ナノメートル)、誘電率は、εとする。これらの数値は、特許文献3の数値を利用している。
In FIG. 9, the thickness of the first
浮遊ゲート内の電子がトンネル効果によってボディ側に抜けるように、第2ゲート絶縁膜112に高電界がかかる条件が設定される。即ち、第2ゲート絶縁膜112の膜厚が、第1ゲート絶縁膜111の膜厚よりも薄く、且つ、第2ゲート絶縁膜112の誘電率が第1ゲート絶縁膜111の誘電率よりも低い(低容量側に高電圧がかかるため)条件にバランスされている。なお、ゲート−ボディ間の電位差が10Vの場合は、トンネル効果は発生しない。
Conditions are set such that a high electric field is applied to the second
上記した数値を使用すると、第1ゲート絶縁膜111の静電容量C2は、次の式(1)で表される。
C2=3ε/(350オングストローム) ・・・(1)
Using the above numerical values, the capacitance C2 of the first
C2 = 3ε / (350 angstroms) (1)
また、第2ゲート絶縁膜112の静電容量C1は、次の式(2)で表される。
C1=ε/(200オングストローム) ・・・(2)
The capacitance C1 of the second
C1 = ε / (200 angstroms) (2)
ここで、ε=1とすると、C2=8571428.571(ファラッド)、C1=5000000(ファラッド)となる。 Here, assuming that ε = 1, C2 = 8571428.571 (farad) and C1 = 500000 (farad).
従って、第1ゲート絶縁膜111の電圧V2は、次の式(3)で表される。
V2=20×C1/(C1+C2)=7.368421(ボルト) ・・・(3)
Therefore, the voltage V2 of the first
V2 = 20 × C1 / (C1 + C2) = 7.368421 (volt) (3)
また、第2ゲート絶縁膜112の電圧V1は、次の式(4)で表される。
V1=20×C2/(C1+C2)=12.63158(ボルト) ・・・(4)
Further, the voltage V1 of the second
V1 = 20 × C2 / (C1 + C2) = 12.63158 (volt) (4)
図10は、第1の実施の形態の表示装置の副画素のメモリのエネルギバンド図である。詳しくは、図10は、トランジスタRWTn1及びRWTn2の浮遊ゲートからボディへ電子を引き抜いた後の、副画素SPixのメモリのエネルギバンド図である。このとき、ゲート−ソース間の電圧が−1V以上(nチャネル)のとき、トランジスタRWTn1或いはRWTn2がオン状態となる。すなわちVth(n)=−1Vである。 FIG. 10 is an energy band diagram of the memory of the sub-pixel of the display device according to the first embodiment. Specifically, FIG. 10 is an energy band diagram of the memory of the sub-pixel SPix after electrons are extracted from the floating gates of the transistors RWTn1 and RWTn2 to the body. At this time, when the voltage between the gate and the source is -1 V or more (n channel), the transistor RWTn1 or RWTn2 is turned on. That is, Vth (n) =-1V.
再び図7を参照すると、副画素SPix11の副画素電極15の電位Vpix11、副画素SPix21の副画素電極15の電位Vpix21、副画素SPix12の副画素電極15の電位Vpix12は、20Vとなる。同様に、副画素SPix22の副画素電極15の電位Vpix22、副画素SPix13の副画素電極15の電位Vpix13、副画素SPix23の副画素電極15の電位Vpix12は、20Vとなる。
Referring again to FIG. 7, the potential Vpix11 of the
次に、書込み期間のステップ1の開始のタイミングt1において、電源電位VMH及びVMLは、10Vとなる。その理由は、次の通りである。ボディは、データ線Dataに接続され、0V又は10Vが印加される。従って、Nチャネル型トランジスタであるトランジスタRWTn1及びRWTn2のソース電極側で、pn接合に順方向バイアスが掛かることを抑制し、過大電流が流れないようにするためである。
Next, at a timing t 1 of the start of
また、共通電極駆動回路6は、5Vのコモン電位Vcomを、共通電極23に出力する。その理由は、次の通りである。書込み期間では、副画素電極15の電位Vpixは、0V又は10Vに変化する。そして、副画素電極15と共通電極23との間の電圧が、液晶分子LQに印加される。従って、液晶分子LQに高電圧が印加されないようにするためである。共通電極23のコモン電位Vcomを5Vとすれば、液晶分子に印加される電圧は、5Vになる。
Further, the common
ゲート線駆動回路9は、ゲート線Gate1(+)及びGate1(−)に、20Vのゲート信号を出力する。また、ゲート線駆動回路9は、ゲート線Gate2(+)及びGate2(−)に、0Vのゲート信号を出力する。
The gate
タイミングt1から待ち時間が経過した後、データ線駆動回路5は、データ線Data1に、0Vのデータ信号を出力する。また、データ線駆動回路5は、データ線Data2及びData3に、10Vのデータ信号を出力する。
After the waiting time from the timing t 1 has elapsed, the data
従って、高電界(20V)が、副画素SPix11のトランジスタRWTn1及びRWTn2のゲートとボディとの間に、印加される。これにより、トンネル効果によって、電子が、ボディから、副画素SPix11のトランジスタRWTn1及びRWTn2の浮遊ゲートに、注入される。つまり、副画素SPix11の第1メモリ51及び第2メモリ52は、副画素データ「1」(黒)を記憶する。
Therefore, a high electric field (20 V) is applied between the gates and the bodies of the transistors RWTn1 and RWTn2 of the sub-pixel SPix11. Thus, electrons are injected from the body into the floating gates of the transistors RWTn1 and RWTn2 of the sub-pixel SPix11 by the tunnel effect. That is, the
図11は、第1の実施の形態の表示装置の副画素のメモリのエネルギバンド図である。詳しくは、図11は、電子をボディからトランジスタRWTn1及びRWTn2の浮遊ゲートに注入する場合の、副画素SPixのメモリのエネルギバンド図である。 FIG. 11 is an energy band diagram of the memory of the sub-pixel of the display device according to the first embodiment. Specifically, FIG. 11 is an energy band diagram of the memory of the sub-pixel SPix when electrons are injected from the body into the floating gates of the transistors RWTn1 and RWTn2.
図12は、第1の実施の形態の表示装置の副画素のメモリのエネルギバンド図である。詳しくは、図12は、電子をボディからトランジスタRWTn1及びRWTn2の浮遊ゲートへ注入した後の、副画素SPixのメモリのエネルギバンド図である。このとき、ゲート−ソース間の電圧が2V以上のとき、トランジスタRWTn1或いはRWTn2がオン状態となる。すなわちVth(n)=2Vである。 FIG. 12 is an energy band diagram of the memory of the sub-pixel of the display device according to the first embodiment. Specifically, FIG. 12 is an energy band diagram of the memory of the sub-pixel SPix after electrons are injected from the body into the floating gates of the transistors RWTn1 and RWTn2. At this time, when the voltage between the gate and the source is 2 V or more, the transistor RWTn1 or RWTn2 is turned on. That is, Vth (n) = 2V.
再び図7を参照すると、高電界(20V)ではなく、10Vが、副画素SPix12及びSPix13のトランジスタRWTn1及びRWTn2のゲートとボディとの間に印加される。つまり、副画素SPix12及びSPix13の第1メモリ51は、副画素データ「0」(白)を維持する。
Referring again to FIG. 7, instead of a high electric field (20 V), 10 V is applied between the gates and the bodies of the transistors RWTn1 and RWTn2 of the sub-pixels SPix12 and SPix13. That is, the
このステップ1により、副画素SPix11の第1メモリ51及び第2メモリ52は、副画素データ「1」(黒)を記憶する。また、副画素SPix12の第1メモリ51及び第2メモリ52は、副画素データ「0」(白)を記憶する。また、副画素SPix13の第1メモリ51及び第2メモリ52は、副画素データ「0」(白)を記憶する。
By this
図13−1は、第1の実施の形態の表示装置の副画素のデータと液晶層30の電界との関係を示す図である。詳しくは、プラスフィールド期間の場合の、第1メモリ51に記憶されている副画素データと、液晶層30に発生する電界と、の関係を示す図である。電子が第1メモリ51のトランジスタRWTn1の浮遊ゲートから引き抜かれた状態、即ち第1メモリ51の副画素データが消去された状態では、第1メモリ51は副画素データ「0」(消去)を記憶する。そして、上記ステップ1で説明したように、第1メモリ51に副画素データ「1」(黒)を書込む場合だけ、書込み動作が第1メモリ51に対して実施される。第1メモリ51の副画素データ「0」(消去)を維持する場合は、第1メモリ51は書込みの対象外とし、第1メモリ51は消去状態(副画素データ「0」)を維持する。第1メモリ51に副画素データ「1」(黒)が書込まれた状態では、液晶層30に電界が発生しない。第1メモリ51に副画素データ「0」(白)が維持された状態では、液晶層30に電界が発生する。
FIG. 13A is a diagram illustrating a relationship between subpixel data and an electric field of the
図13−2は、第1の実施の形態の表示装置の副画素のデータと液晶層30の電界との関係を示す図である。詳しくは、マイナスフィールド期間の場合の、第2メモリ52に記憶されている副画素データと、液晶層30に発生する電界と、の関係を示す図である。電子が第2メモリ52のトランジスタRWTn2の浮遊ゲートから引き抜かれた状態、即ち第2メモリ52の副画素データが消去された状態では、第2メモリ52は副画素データ「0」(消去)を記憶する。そして、上記ステップ1で説明したように、第2メモリ52に副画素データ「1」(黒)を書込む場合だけ、書込み動作が第2メモリ52に対して実施される。第2メモリ52の副画素データ「0」(消去)を維持する場合は、第2メモリ52は書込みの対象外とし、第2メモリ52は消去状態(副画素データ「0」)を維持する。第2メモリ52に副画素データ「1」(黒)が書込まれた状態では、液晶層30に電界は発生しない。第2メモリ52に副画素データ「0」(白)が維持された状態では、液晶層30に電界が発生する。
FIG. 13B is a diagram illustrating a relationship between the data of the subpixel and the electric field of the
再び図7を参照すると、次に、書込み期間のステップ2の開始のタイミングt2において、ゲート線駆動回路9は、ゲート線Gate1(+)及びGate1(−)に、0Vのゲート信号を出力する。また、ゲート線駆動回路9は、ゲート線Gate2(+)及びGate2(−)に、20Vのゲート信号を出力する。
Referring again to FIG. 7, then, at a timing t 2 of the beginning of
タイミングt2から待ち時間が経過した後、データ線駆動回路5は、データ線Data1及びData3に、10Vのデータ信号を出力する。また、データ線駆動回路5は、データ線Data2に、0Vのデータ信号を出力する。
After the waiting time from the timing t 2 has elapsed, the data
従って、高電界(20V)が、副画素SPix22のトランジスタRWTn1及びRWTn2のゲートとボディとの間に、印加される。これにより、トンネル効果によって、電子が、ボディから、副画素SPix22のトランジスタRWTn1及びRWTn2の浮遊ゲートに、注入される。つまり、副画素SPix22の第1メモリ51及び第2メモリ52は、副画素データ「1」(黒)を記憶する。
Therefore, a high electric field (20 V) is applied between the gates and the bodies of the transistors RWTn1 and RWTn2 of the sub-pixel SPix22. Thus, electrons are injected from the body into the floating gates of the transistors RWTn1 and RWTn2 of the sub-pixel SPix22 by the tunnel effect. That is, the
一方、高電界(20V)ではなく、10Vが、副画素SPix21及びSPix23のトランジスタRWTn1及びRWTn2のゲートとボディとの間に、印加される。つまり、副画素SPix21及びSPix23の第1メモリ51及び第2メモリ52は、副画素データ「0」(白)を維持する。
On the other hand, instead of the high electric field (20 V), 10 V is applied between the gates and the bodies of the transistors RWTn1 and RWTn2 of the sub-pixels SPix21 and SPix23. That is, the
このステップ2により、副画素SPix21の第1メモリ51及び第2メモリ52は、副画素データ「0」(白)を記憶する。また、副画素SPix22の第1メモリ51及び第2メモリ52は、副画素データ「1」(黒)を記憶する。また、副画素SPix23の第1メモリ51及び第2メモリ52は、副画素データ「0」(白)を記憶する。
By this
図14は、第1の実施の形態の表示装置の副画素の読出しの際の各部の電位を示す図である。 FIG. 14 is a diagram illustrating potentials of respective units when reading out the sub-pixels of the display device according to the first embodiment.
表示装置1の副画素SPixから副画素データを読出す際の動作について説明する。
An operation of reading sub-pixel data from sub-pixel SPix of
タイミングt3からタイミングt7までが、読出し期間である。読出し期間は、タイミングt3からタイミングt5までのプラスフィールド期間、及び、タイミングt5からタイミングt7までのマイナスフィールド期間を含む。プラスフィールド期間は、タイミングt3からタイミングt4までのプリチャージ期間、及び、タイミングt4からタイミングt5までの表示期間を含む。マイナスフィールド期間は、タイミングt5からタイミングt6までのプリチャージ期間、及び、タイミングt6からタイミングt7までの表示期間を含む。 From the timing t 3 to time t 7 is a readout period. Reading period includes positive field period from the timing t 3 to time t 5, and the negative field period from the timing t 5 to time t 7. Plus field period includes a precharge period from the timing t 3 to time t 4, and the display period from the timing t 4 to time t 5. Negative field period includes a precharge period from the timing t 5 to time t 6, and the display period from the timing t 6 to the time t 7.
図7及び図14を参照すると、読出し期間(プラスフィールド期間、プリチャージ期間)開始のタイミングt3において、電源電位VMHは、3Vであり、電源電位VMLは、0Vである。 Referring to FIGS. 7 and 14, the read period (positive field period, the precharge period) at timing t 3 of the start, the power supply potential VMH is 3V, the power supply potential VML is 0V.
共通電極駆動回路6(図3参照)は、0Vのコモン電位Vcomを、共通電極23に出力する。
The common electrode drive circuit 6 (see FIG. 3) outputs a common potential Vcom of 0 V to the
データ線駆動回路5(図3参照)は、データ線Data1、Data2及びData3に、0Vのデータ信号を出力する。 The data line driving circuit 5 (see FIG. 3) outputs a 0V data signal to the data lines Data1, Data2, and Data3.
ゲート線駆動回路9(図3参照)は、ゲート線Gate1(+)、Gate1(−)、Gate2(+)及びGate2(−)に、−3Vのゲート信号を出力する。これにより、全部の副画素SPixの第1メモリ51及び第2メモリ52が、非選択とされる。
The gate line drive circuit 9 (see FIG. 3) outputs a gate signal of -3 V to the gate lines Gate1 (+), Gate1 (-), Gate2 (+) and Gate2 (-). As a result, the
スイッチ制御回路7(図3参照)は、スイッチ制御信号線PREに、5Vのスイッチ制御信号を出力する。これにより、全部の副画素SPixのスイッチSWが、オン状態になる。スイッチSWがオン状態になると、共通電極23と副画素電極15との間が電気的に導通される。つまり、副画素電極15の電位が、共通電極23の電位と同じ0Vになる。このとき、液晶LQは、電圧が印加されていない状態になる。
The switch control circuit 7 (see FIG. 3) outputs a 5V switch control signal to the switch control signal line PRE. Thereby, the switches SW of all the sub-pixels SPix are turned on. When the switch SW is turned on, the
次に、表示期間開始のタイミングt4において、ゲート線駆動回路9は、0Vのゲート信号を、ゲート線Gate1(+)及びGate2(+)に出力する。これにより、全部の副画素SPixの第1メモリ51が、選択される。
Next, at a timing t 4 of starting the display period, the gate
これにより、副画素SPix11の第1メモリ51が副画素データ「1」(黒)を記憶しているので、トランジスタRWTn1は、オフ状態を維持する。従って、副画素SPix11の副画素電極15の電位Vpix11は、プリチャージ電位即ち0Vに維持される。従って、副画素SPix11では、液晶分子LQに印加される電圧は、0Vになる。これにより、副画素SPix11は、黒色を表示する。
Thus, the
また、副画素SPix21の第1メモリ51が副画素データ「0」(白)を記憶しているので、トランジスタRWTn1は、オン状態になる。トランジスタRWTn1がオン状態になるので、副画素SPix21の副画素電極15の電位Vpix21は、電源電位VMH即ち3Vになる。従って、副画素SPix21では、液晶分子LQに印加される電圧は、3Vになる。これにより、副画素SPix21は、白色を表示する。
Further, since the
また、副画素SPix12の第1メモリ51が副画素データ「0」(白)を記憶しているので、トランジスタRWTn1は、オン状態になる。トランジスタRWTn1がオン状態になるので、副画素SPix12の副画素電極15の電位Vpix12は、電源電位VMH即ち3Vになる。従って、副画素SPix12では、液晶分子LQに印加される電圧は、3Vになる。これにより、副画素SPix12は、白色を表示する。
Further, since the
また、副画素SPix22の第1メモリ51が副画素データ「1」(黒)を記憶しているので、トランジスタRWTn1は、オフ状態を維持する。従って、副画素SPix22の副画素電極15の電位Vpix22は、プリチャージ電位即ち0Vに維持される。従って、副画素SPix22では、液晶分子LQに印加される電圧は、0Vになる。これにより、副画素SPix22は、黒色を表示する。
Further, since the
また、副画素SPix13の第1メモリ51が副画素データ「0」(白)を記憶しているので、トランジスタRWTn1は、オン状態になる。トランジスタRWTn1がオン状態になるので、副画素SPix13の副画素電極15の電位Vpix13は、電源電位VMH即ち3Vになる。従って、副画素SPix13では、液晶分子LQに印加される電圧は、3Vになる。これにより、副画素SPix13は、白色を表示する。
Further, since the
また、副画素SPix23の第1メモリ51が副画素データ「0」(白)を記憶しているので、トランジスタRWTn1は、オン状態になる。トランジスタRWTn1がオン状態になるので、副画素SPix23の副画素電極15の電位Vpix23は、電源電位VMH即ち3Vになる。従って、副画素SPix23では、液晶分子LQに印加される電圧は、3Vになる。これにより、副画素SPix23は、白色を表示する。
Further, since the
次に、マイナスフィールド期間(プリチャージ期間)開始のタイミングt5において、共通電極駆動回路6は、3Vのコモン電位Vcomを共通電極23に出力する。
Next, at a timing t 5 of the start minus field period (precharge period), the common
ゲート線駆動回路9は、ゲート線Gate1(+)、Gate1(−)、Gate2(+)及びGate2(−)に、−3Vのゲート信号を出力する。これにより、全部の副画素SPixの第1メモリ51及び第2メモリ52が、非選択とされる。
The gate
スイッチ制御回路7は、スイッチ制御信号線PREに、5Vのスイッチ制御信号を出力する。これにより、全部の副画素SPixの副画素電極15の電位が、共通電極23の電位と同じ3Vになる。このとき、液晶LQは、電圧が印加されていない状態になる。
The switch control circuit 7 outputs a 5V switch control signal to the switch control signal line PRE. Thereby, the potentials of the
次に、表示期間開始のタイミングt6において、ゲート線駆動回路9は、0Vのゲート信号を、ゲート線Gate1(−)及びGate2(−)に出力する。これにより、全部の副画素SPixの第2メモリ52が、選択される。
Next, at a timing t 6 of the start display period, the gate
これにより、副画素SPix11の第2メモリ52が副画素データ「1」(黒)を記憶しているので、トランジスタRWTn2は、オフ状態を維持する。従って、副画素SPix11の副画素電極15の電位Vpix11は、プリチャージ電位即ち3Vに維持される。従って、副画素SPix11では、液晶分子LQに印加される電圧は、0Vになる。これにより、副画素SPix11は、黒色を表示する。
Thus, the
また、副画素SPix21の第1メモリ51が副画素データ「0」(白)を記憶しているので、トランジスタRWTn2は、オン状態になる。トランジスタRWTn2がオン状態になるので、副画素SPix21の副画素電極15の電位Vpix21は、電源電位VML即ち0Vになる。従って、副画素SPix21では、液晶分子LQに印加される電圧は、3Vになる。これにより、副画素SPix21は、白色を表示する。
Further, since the
また、副画素SPix12の第1メモリ51が副画素データ「0」(白)を記憶しているので、トランジスタRWTn2は、オン状態になる。トランジスタRWTn2がオン状態になるので、副画素SPix12の副画素電極15の電位Vpix12は、電源電位VML即ち0Vになる。従って、副画素SPix12では、液晶分子LQに印加される電圧は、3Vになる。これにより、副画素SPix12は、白色を表示する。
Further, since the
また、副画素SPix22の第1メモリ51が副画素データ「1」(黒)を記憶しているので、トランジスタRWTn2は、オフ状態を維持する。従って、副画素SPix22の副画素電極15の電位Vpix22は、プリチャージ電位即ち3Vに維持される。従って、副画素SPix22では、液晶分子LQに印加される電圧は、0Vになる。これにより、副画素SPix22は、黒色を表示する。
Further, since the
また、副画素SPix13の第1メモリ51が副画素データ「0」(白)を記憶しているので、トランジスタRWTn2は、オン状態になる。トランジスタRWTn2がオン状態になるので、副画素SPix13の副画素電極15の電位Vpix13は、電源電位VML即ち0Vになる。従って、副画素SPix13では、液晶分子LQに印加される電圧は、3Vになる。これにより、副画素SPix13は、白色を表示する。
Further, since the
また、副画素SPix23の第1メモリ51が副画素データ「0」(白)を記憶しているので、トランジスタRWTn2は、オン状態になる。トランジスタRWTn2がオン状態になるので、副画素SPix23の副画素電極15の電位Vpix23は、電源電位VML即ち0Vになる。従って、副画素SPix23では、液晶分子LQに印加される電圧は、3Vになる。これにより、副画素SPix23は、白色を表示する。
Further, since the
図15は、第1の実施の形態の表示装置の副画素のトランジスタ数と、特許文献2の表示素子のトランジスタ数と、を示す図である。
FIG. 15 is a diagram illustrating the number of transistors of the sub-pixel of the display device according to the first embodiment and the number of transistors of the display element of
特許文献2の表示素子では、コモン反転駆動方式を、反転スイッチ(トランスファーゲート20及び21)で実現している。トランスファーゲート20及び21は、4個のトランジスタで構成される。一方、本願の第1の実施の形態の表示装置1では、コモン反転駆動方式を、第1メモリ51に記憶されている副画素データと第2メモリ52に記憶されている副画素データとを交互に読出すことで、実現している。従って、本願の第1の実施の形態の表示装置1は、反転スイッチを不要とする。
In the display element of
メモリに関して、本願の第1の実施の形態の表示装置1では、第1メモリ51及び第2メモリ52のトランジスタ数は、2個である。一方、特許文献2の表示素子では、メモリのトランジスタ数は、6個(トランジスタ5及び6、並びに、インバータ14及び15)である。
Regarding the memory, in the
また、本願の第1の実施の形態の表示装置1では、副画素電極15のプリチャージ(プリディスチャージ)のために、スイッチSWを備えている。スイッチSWは、1個のトランジスタで構成される。
The
以上を累計すると、本願の第1の実施の形態の表示装置1は、トランジスタ数が3個である。一方、特許文献2の表示素子は、トランジスタ数が10個である。
Summing up the above, the
このように、本願の第1の実施の形態の表示装置1は、特許文献2の表示素子と比べて、トランジスタ数を大きく削減することができる。これにより、本願の第1の実施の形態の表示装置1は、回路規模を縮小でき、高精細化が可能である。
As described above, the
また、表示装置1は、トランジスタ密度の低下により、異物等による短絡のリスクが低減され、歩留まりを向上することができる。
In the
また、SRAMを利用した従来のMIP型の表示装置では、副画素データを維持するためには、電源供給を維持する必要があった。一方、表示装置1は、電源供給が絶たれても、副画素データを維持することができる。これにより、表示装置1は、低消費電力化が可能である。
Further, in the conventional MIP type display device using the SRAM, it is necessary to maintain the power supply in order to maintain the sub-pixel data. On the other hand, the
(第2の実施の形態)
[構成]
第1の実施の形態では、各副画素SPixが、1個のメモリブロック50を含む場合について説明した。第2の実施の形態では、各副画素SPixが、複数のメモリブロックを含む。
(Second embodiment)
[Constitution]
In the first embodiment, the case where each sub-pixel SPix includes one
第2の実施の形態において、第1の実施の形態と同様の構成及び動作については、図示及び説明を適宜省略する。 In the second embodiment, illustration and description of the same configuration and operation as those in the first embodiment will be omitted as appropriate.
図16は、第2の実施の形態の表示装置の副画素の構成を示す図である。図16では、M行×(N×3)列の副画素SPixの内の、1行×3列の3個の副画素SPixを示している。図16では、共通電位線FRPの記載を省略している。 FIG. 16 is a diagram illustrating a configuration of a sub-pixel of the display device according to the second embodiment. FIG. 16 shows three sub-pixels SPix of one row × three columns among sub-pixels SPix of M rows × (N × 3) columns. In FIG. 16, the description of the common potential line FRP is omitted.
各副画素SPixは、第1メモリブロック50A及び第2メモリブロック50Bを含む。第1メモリブロック50A及び第2メモリブロック50Bの各々は、メモリブロック50と同様の回路構成を有する。
Each sub-pixel SPix includes a
第2の実施の形態では、各副画素SPixが、第1メモリブロック50A及び第2メモリブロック50Bを含むこととするが、本開示はこれに限定されない。各副画素SPixは、3個以上のメモリブロックを含んでも良い。
In the second embodiment, each sub-pixel SPix includes the
各副画素SPixは、各々が含む第1メモリブロック50A及び第2メモリブロック50Bの内の選択されたメモリブロックに格納されている副画素データに基づいて、表示を行う。第1メモリブロック50Aの第1メモリ51及び第2メモリブロック50Bの第1メモリ51は、プラスフィールド期間での表示に用いられ、第1メモリブロック50Aの第2メモリ52及び第2メモリブロック50Bの第2メモリ52は、マイナスフィールド期間での表示に用いられる。
Each sub-pixel SPix performs display based on the sub-pixel data stored in the selected memory block of the
つまり、M×N×3個の副画素SPixに含まれるM×N×3×2個のメモリブロックの集合は、2個のフレームメモリと同等である。 That is, a set of M × N × 3 × 2 memory blocks included in the M × N × 3 sub-pixels SPix is equivalent to two frame memories.
各副画素SPixの第1メモリブロック50AのトランジスタRWTn1のゲートは、ゲート線Gate1−1(+)に接続されている。トランジスタRWTn1のドレインは、電源電位VMHに接続されている。
The gate of the transistor RWTn1 of the
各副画素SPixの第1メモリブロック50AのトランジスタRWTn2のゲートは、ゲート線Gate1−1(−)に接続されている。トランジスタRWTn2のソースは、電源電位VMLに接続されている。
The gate of the transistor RWTn2 of the
各副画素SPixの第2メモリブロック50BのトランジスタRWTn1のゲートは、ゲート線Gate1−2(+)に接続されている。トランジスタRWTn1のドレインは、電源電位VMHに接続されている。
The gate of the transistor RWTn1 of the
各副画素SPixの第2メモリブロック50BのトランジスタRWTn2のゲートは、ゲート線Gate1−2(−)に接続されている。トランジスタRWTn2のソースは、電源電位VMLに接続されている。
The gate of the transistor RWTn2 of the
各副画素SPixの第2メモリブロック50BのトランジスタRWTn1とトランジスタRWTn2との接続点は、ノードNに接続されている。
The connection point between the transistor RWTn1 and the transistor RWTn2 of the
第2の実施の形態では、ゲート線Gate1−1(+)、Gate1−1(−)、Gate1−2(+)及びGate1−2(−)が、第1のゲート線群GL1を構成する。 In the second embodiment, the gate lines Gate1-1 (+), Gate1-1 (-), Gate1-2 (+), and Gate1-2 (-) form a first gate line group GL1.
[動作]
図17は、第2の実施の形態の表示装置の副画素に書込まれる副画素データを示す図である。図18は、第2の実施の形態の表示装置の副画素の書込み及び読出しの際の動作タイミングを示すタイミング図である。図19は、第2の実施の形態の表示装置の副画素の書込みの際の各部の電位を示す図である。
[motion]
FIG. 17 is a diagram illustrating sub-pixel data written to sub-pixels of the display device according to the second embodiment. FIG. 18 is a timing chart showing operation timings at the time of writing and reading of sub-pixels of the display device according to the second embodiment. FIG. 19 is a diagram illustrating potentials of respective units when writing the sub-pixels of the display device according to the second embodiment.
第2の実施の形態の表示装置の副画素SPixに副画素データを書込む際の動作について説明する。 An operation of writing the sub-pixel data to the sub-pixel SPix of the display device according to the second embodiment will be described.
フラッシュメモリであるトランジスタRWTn1及びRWTn2は、副画素データの書込みの前に、消去が必要である。図18及び図19において、タイミングt10からタイミングt11までが、消去期間である。 The transistors RWTn1 and RWTn2, which are flash memories, need to be erased before sub-pixel data is written. 18 and 19, from the timing t 10 to the timing t 11, the erase period.
消去期間後のタイミングt11からタイミングt13までが、書込み期間である。書込み期間は、タイミングt11からタイミングt12までのステップ1、タイミングt12からタイミングt13までのステップ2を含む。
From the timing t 11 after the erasing period to time t 13 is the writing period. Writing period includes the
ステップ1は、副画素SPix11、SPix12及びSPix13の第1メモリブロック50Aの第1メモリ51及び第2メモリ52への書込み期間である。ステップ2は、副画素SPix11、SPix12及びSPix13の第2メモリブロック50Bの第1メモリ51及び第2メモリ52への書込み期間である。
図18及び図19を参照すると、消去期間開始のタイミングt10において、電源電位VMH及びVMLは、20Vとなる。また、共通電極駆動回路6(図3参照)は、20Vのコモン電位Vcomを共通電極23に出力する。
Referring to FIGS. 18 and 19, at the timing t 10 of the start erasing period, the power supply potential VMH and VML becomes 20V. The common electrode drive circuit 6 (see FIG. 3) outputs a common potential Vcom of 20 V to the
データ線駆動回路5(図3参照)は、データ線Data1、Data2及びData3に、20Vのデータ信号を出力する。ゲート線駆動回路9(図3参照)は、ゲート線Gate1−1(+)、Gate1−1(−)、Gate1−2(+)及びGate1−2(−)に、0Vのゲート信号を出力する。 The data line driving circuit 5 (see FIG. 3) outputs a data signal of 20 V to the data lines Data1, Data2, and Data3. The gate line driving circuit 9 (see FIG. 3) outputs a 0V gate signal to the gate lines Gate1-1 (+), Gate1-1 (-), Gate1-2 (+), and Gate1-2 (-). .
従って、高電界(20V)が、全部の副画素SPixのトランジスタRWTn1及びRWTn2のゲートとボディとの間に、印加される。これにより、トンネル効果によって、電子が、全部の副画素SPixのトランジスタRWTn1及びRWTn2の浮遊ゲートからボディに引き抜かれる。つまり、全部の副画素SPixの第1メモリ51及び第2メモリ52は、副画素データ「0」(消去)を記憶する。
Therefore, a high electric field (20 V) is applied between the gates and the bodies of the transistors RWTn1 and RWTn2 of all the sub-pixels SPix. Thereby, electrons are extracted from the floating gates of the transistors RWTn1 and RWTn2 of all the sub-pixels SPix to the body by the tunnel effect. That is, the
副画素SPix11の副画素電極15の電位Vpix11、副画素SPix12の副画素電極15の電位Vpix12、及び、副画素SPix13の副画素電極15の電位Vpix13は、20Vとなる。
The potential Vpix11 of the
次に、書込み期間のステップ1の開始のタイミングt11において、電源電位VMH及びVMLは、10Vとなる。
Next, at a timing t 11 of the start of
また、共通電極駆動回路6は、5Vのコモン電位Vcomを、共通電極23に出力する。
Further, the common
ゲート線駆動回路9は、ゲート線Gate1−1(+)及びGate1−1(−)に、20Vのゲート信号を出力する。また、ゲート線駆動回路9は、ゲート線Gate1−2(+)及びGate1−2(−)に、0Vのゲート信号を出力する。
The gate
タイミングt11から待ち時間が経過した後、データ線駆動回路5は、データ線Data1に、0Vのデータ信号を出力する。また、データ線駆動回路5は、データ線Data2及びData3に、10Vのデータ信号を出力する。
After the waiting time from the timing t 11 has elapsed, the data
従って、高電界(20V)が、副画素SPix11の第1メモリブロック50AのトランジスタRWTn1及びRWTn2のゲートとボディとの間に、印加される。これにより、トンネル効果によって、電子が、ボディから、副画素SPix11の第1メモリブロック50AのトランジスタRWTn1及びRWTn2の浮遊ゲートに、注入される。つまり、副画素SPix11の第1メモリブロック50Aの第1メモリ51及び第2メモリ52は、副画素データ「1」(黒)を記憶する。
Therefore, a high electric field (20 V) is applied between the gates and the bodies of the transistors RWTn1 and RWTn2 of the
一方、高電界(20V)ではなく、10Vが、副画素SPix12及びSPix13の第1メモリブロック50AのトランジスタRWTn1及びRWTn2のゲートとボディとの間に印加される。つまり、副画素SPix12及びSPix13の第1メモリブロック50Aの第1メモリ51及び第2メモリ52は、副画素データ「0」(白)を維持する。
On the other hand, instead of the high electric field (20 V), 10 V is applied between the gates and the bodies of the transistors RWTn1 and RWTn2 of the
このステップ1により、副画素SPix11の第1メモリブロック50Aの第1メモリ51及び第2メモリ52は、副画素データ「1」を記憶する。また、副画素SPix12の第1メモリブロック50Aの第1メモリ51及び第2メモリ52は、副画素データ「0」を記憶する。また、副画素SPix13の第1メモリブロック50Aの第1メモリ51及び第2メモリ52は、副画素データ「0」(白)を記憶する。
By this
次に、書込み期間のステップ2の開始のタイミングt12において、ゲート線駆動回路9は、ゲート線Gate1−1(+)及びGate1−1(−)に、0Vのゲート信号を出力する。また、ゲート線駆動回路9は、ゲート線Gate1−2(+)及びGate1−2(−)に、20Vのゲート信号を出力する。
Next, at a timing t 12 of the start of
タイミングt12から待ち時間が経過した後、データ線駆動回路5は、データ線Data1及びData3に、10Vのデータ信号を出力する。また、データ線駆動回路5は、データ線Data2に、0Vのデータ信号を出力する。
After the waiting time from the timing t 12 has elapsed, the data
従って、高電界(20V)が、副画素SPix12の第2メモリブロック50BのトランジスタRWTn1及びRWTn2のゲートとボディとの間に、印加される。これにより、トンネル効果によって、電子が、ボディから、副画素SPix12の第2メモリブロック50BのトランジスタRWTn1及びRWTn2の浮遊ゲートに、注入される。つまり、副画素SPix22の第2メモリブロック50Bの第1メモリ51及び第2メモリ52は、副画素データ「1」(黒)を記憶する。
Therefore, a high electric field (20 V) is applied between the gates and the bodies of the transistors RWTn1 and RWTn2 of the
一方、高電界(20V)ではなく、10Vが、副画素SPix11及びSPix13の第2メモリブロック50BのトランジスタRWTn1及びRWTn2のゲートとボディとの間に、印加される。つまり、副画素SPix11及びSPix13の第2メモリブロック50Bの第1メモリ51及び第2メモリ52は、副画素データ「0」(白)を維持する。
On the other hand, instead of the high electric field (20 V), 10 V is applied between the gates and the bodies of the transistors RWTn1 and RWTn2 of the
このステップ2により、副画素SPix11の第2メモリブロック50Bの第1メモリ51及び第2メモリ52は、副画素データ「0」(白)を記憶する。また、副画素SPix12の第2メモリブロック50Bの第1メモリ51及び第2メモリ52は、副画素データ「1」(黒)を記憶する。また、副画素SPix13の第2メモリブロック50Bの第1メモリ51及び第2メモリ52は、副画素データ「0」(白)を記憶する。
By this
図20は、第2の実施の形態の表示装置の副画素の読出しの際の各部の電位を示す図である。 FIG. 20 is a diagram illustrating the potential of each unit when reading out the sub-pixels of the display device according to the second embodiment.
第2の実施の形態の表示装置の副画素SPixから副画素データを読出す際の動作について説明する。 An operation of reading out the sub-pixel data from the sub-pixel SPix of the display device according to the second embodiment will be described.
タイミングt13からタイミングt21までが、読出し期間である。読出し期間は、タイミングt13からタイミングt17までのプラスフィールド期間、及び、タイミングt17からタイミングt21までのマイナスフィールド期間を含む。 From the timing t 13 to the timing t 21 is the readout period. Reading period includes positive field period from the timing t 13 to the timing t 17, and the negative field period from the timing t 17 to the timing t 21.
プラスフィールド期間は、タイミングt13からタイミングt14までのプリチャージ期間、タイミングt14からタイミングt15までの表示期間(本開示の第1の画像表示期間に対応)、タイミングt15からタイミングt16までのプリチャージ期間、及び、タイミングt16からタイミングt17までの表示期間(本開示の第2の画像表示期間に対応)を含む。 Plus field period, the precharge period from the timing t 13 to the timing t 14, (corresponding to the first image display period of the present disclosure) display period from the timing t 14 to the timing t 15, the timing t 16 from the timing t 15 precharge period up to and including, and the display period from the timing t 16 to the timing t 17 (corresponding to the second image display period of the present disclosure).
マイナスフィールド期間は、タイミングt17からタイミングt18までのプリチャージ期間、タイミングt18からタイミングt19までの表示期間(本開示の第1の画像表示期間に対応)、タイミングt19からタイミングt20までのプリチャージ期間、及び、タイミングt20からタイミングt21までの表示期間(本開示の第2の画像表示期間に対応)を含む。 Negative field period, the precharge period from the timing t 17 to the timing t 18, (corresponding to the first image display period of the present disclosure) display period from the timing t 18 to the timing t 19, the timing t 20 from the timing t 19 precharge period up to and including, and the display period from the timing t 20 to the timing t 21 (corresponding to the second image display period of the present disclosure).
図18及び図20を参照すると、読出し期間(プラスフィールド期間、プリチャージ期間)開始のタイミングt13において、電源電位VMHは、3Vであり、電源電位VMLは、0Vである。 Referring to FIGS. 18 and 20, the read period (positive field period, the precharge period) at the timing t 13 of the start, the power supply potential VMH is 3V, the power supply potential VML is 0V.
共通電極駆動回路6は、0Vのコモン電位Vcomを、共通電極23に出力する。
The common
データ線駆動回路5は、データ線Data1、Data2及びData3に、0Vのデータ信号を出力する。
The data line driving
ゲート線駆動回路9は、ゲート線Gate1−1(+)、Gate1−1(−)、Gate1−2(+)及びGate1−2(−)に、−3Vのゲート信号を出力する。これにより、全部の副画素SPixの第1メモリブロック50A及び第2メモリブロック50Bの第1メモリ51及び第2メモリ52が、非選択とされる。
The gate
スイッチ制御回路7(図3参照)は、スイッチ制御信号線PREに、5Vのスイッチ制御信号を出力する。これにより、全部の副画素SPixの副画素電極15の電位が、共通電極23の電位と同じ3Vになる。このとき、液晶LQは、電圧が印加されていない状態になる。
The switch control circuit 7 (see FIG. 3) outputs a 5V switch control signal to the switch control signal line PRE. Thereby, the potentials of the
次に、表示期間開始のタイミングt14において、ゲート線駆動回路9は、0Vのゲート信号を、ゲート線Gate1−1(+)に出力する。これにより、全部の副画素SPixの第1メモリブロック50Aの第1メモリ51が、選択される。
Next, at a timing t 14 of the start display period, the gate
これにより、副画素SPix11の第1メモリブロック50Aの第1メモリ51が副画素データ「1」(黒)を記憶しているので、トランジスタRWTn1は、オフ状態を維持する。従って、副画素SPix11の副画素電極15の電位Vpix11は、プリチャージ電位即ち0Vに維持される。従って、副画素SPix11では、液晶分子LQに印加される電圧は、0Vになる。これにより、副画素SPix11は、黒色を表示する。
Thus, the
また、副画素SPix12の第1メモリブロック50Aの第1メモリ51が副画素データ「0」(白)を記憶しているので、トランジスタRWTn1は、オン状態になる。トランジスタRWTn1がオン状態になるので、副画素SPix12の副画素電極15の電位Vpix12は、電源電位VMH即ち3Vになる。従って、副画素SPix12では、液晶分子LQに印加される電圧は、3Vになる。これにより、副画素SPix12は、白色を表示する。
Further, since the
また、副画素SPix13の第1メモリブロック50Aの第1メモリ51が副画素データ「0」(白)を記憶しているので、トランジスタRWTn1は、オン状態になる。トランジスタRWTn1がオン状態になるので、副画素SPix13の副画素電極15の電位Vpix13は、電源電位VMH即ち3Vになる。従って、副画素SPix13では、液晶分子LQに印加される電圧は、3Vになる。これにより、副画素SPix13は、白色を表示する。
Further, since the
次に、プリチャージ期間開始のタイミングt15において、ゲート線駆動回路9は、ゲート線Gate1−1(+)、Gate1−1(−)、Gate1−2(+)及びGate1−2(−)に、−3Vのゲート信号を出力する。これにより、全部の副画素SPixの第1メモリブロック50A及び第2メモリブロック50Bの第1メモリ51及び第2メモリ52が、非選択とされる。
Next, at a timing t 15 of the start precharge period, the gate
スイッチ制御回路7は、スイッチ制御信号線PREに、5Vのスイッチ制御信号を出力する。これにより、全部の副画素SPixの副画素電極15の電位が、共通電極23の電位と同じ0Vになる。このとき、液晶LQは、電圧が印加されていない状態になる。
The switch control circuit 7 outputs a 5V switch control signal to the switch control signal line PRE. As a result, the potentials of the
次に、表示期間開始のタイミングt16において、ゲート線駆動回路9は、0Vのゲート信号を、ゲート線Gate1−2(+)に出力する。これにより、全部の副画素SPixの第2メモリブロック50Bの第1メモリ51が、選択される。
Next, at a timing t 16 of the start display period, the gate
これにより、副画素SPix11の第2メモリブロック50Bの第1メモリ51が副画素データ「0」(白)を記憶しているので、トランジスタRWTn1は、オン状態になる。トランジスタRWTn1がオン状態になるので、副画素SPix11の副画素電極15の電位Vpix11は、電源電位VMH即ち3Vになる。従って、副画素SPix11では、液晶分子LQに印加される電圧は、3Vになる。これにより、副画素SPix11は、白色を表示する。
Thus, the
また、副画素SPix12の第2メモリブロック50Bの第1メモリ51が副画素データ「1」(黒)を記憶しているので、トランジスタRWTn1は、オフ状態を維持する。従って、副画素SPix12の副画素電極15の電位Vpix12は、プリチャージ電位即ち0Vに維持される。従って、副画素SPix12では、液晶分子LQに印加される電圧は、0Vになる。これにより、副画素SPix22は、黒色を表示する。
Further, since the
また、副画素SPix13の第2メモリブロック50Bの第1メモリ51が副画素データ「0」(白)を記憶しているので、トランジスタRWTn1は、オン状態になる。トランジスタRWTn1がオン状態になるので、副画素SPix13の副画素電極15の電位Vpix13は、電源電位VMH即ち3Vになる。従って、副画素SPix13では、液晶分子LQに印加される電圧は、3Vになる。これにより、副画素SPix13は、白色を表示する。
Further, since the
次に、マイナスフィールド期間(プリチャージ期間)開始のタイミングt17において、共通電極駆動回路6は、3Vのコモン電位Vcomを共通電極23に出力する。
Next, at a timing t 17 of the start minus field period (precharge period), the common
ゲート線駆動回路9は、ゲート線Gate1−1(+)、Gate1−1(−)、Gate1−2(+)及びGate1−2(−)に、−3Vのゲート信号を出力する。これにより、全部の副画素SPixの第1メモリブロック50A及び第2メモリブロック50Bの第1メモリ51及び第2メモリ52が、非選択とされる。
The gate
スイッチ制御回路7は、スイッチ制御信号線PREに、5Vのスイッチ制御信号を出力する。これにより、全部の副画素SPixの副画素電極15の電位が、共通電極23の電位と同じ3Vになる。このとき、液晶LQは、電圧が印加されていない状態になる。
The switch control circuit 7 outputs a 5V switch control signal to the switch control signal line PRE. Thereby, the potentials of the
次に、表示期間開始のタイミングt18において、ゲート線駆動回路9は、0Vのゲート信号を、ゲート線Gate1−1(−)に出力する。これにより、全部の副画素SPixの第1メモリブロック50Aの第2メモリ52が、選択される。
Next, at a timing t 18 of the start display period, the gate
これにより、副画素SPix11の第1メモリブロック50Aの第2メモリ52が副画素データ「1」(黒)を記憶しているので、トランジスタRWTn2は、オフ状態を維持する。従って、副画素SPix11の副画素電極15の電位Vpix11は、プリチャージ電位即ち3Vに維持される。従って、副画素SPix11では、液晶分子LQに印加される電圧は、0Vになる。これにより、副画素SPix11は、黒色を表示する。
Thus, the
また、副画素SPix12の第1メモリブロック50Aの第2メモリ52が副画素データ「0」(白)を記憶しているので、トランジスタRWTn2は、オン状態になる。トランジスタRWTn2がオン状態になるので、副画素SPix12の副画素電極15の電位Vpix12は、電源電位VML即ち0Vになる。従って、副画素SPix12では、液晶分子LQに印加される電圧は、3Vになる。これにより、副画素SPix12は、白色を表示する。
Further, since the
また、副画素SPix13の第1メモリブロック50Aの第2メモリ52が副画素データ「0」(白)を記憶しているので、トランジスタRWTn2は、オン状態になる。トランジスタRWTn2がオン状態になるので、副画素SPix13の副画素電極15の電位Vpix13は、電源電位VML即ち0Vになる。従って、副画素SPix13では、液晶分子LQに印加される電圧は、3Vになる。これにより、副画素SPix13は、白色を表示する。
Further, since the
次に、プリチャージ期間開始のタイミングt19において、ゲート線駆動回路9は、ゲート線Gate1−1(+)、Gate1−1(−)、Gate1−2(+)及びGate1−2(−)に、−3Vのゲート信号を出力する。これにより、全部の副画素SPixの第1メモリブロック50A及び第2メモリブロック50Bの第1メモリ51及び第2メモリ52が、非選択とされる。
Next, at a timing t 19 of the start precharge period, the gate
スイッチ制御回路7は、スイッチ制御信号線PREに、5Vのスイッチ制御信号を出力する。これにより、全部の副画素SPixの副画素電極15の電位が、共通電極23の電位と同じ3Vになる。このとき、液晶LQは、電圧が印加されていない状態になる。
The switch control circuit 7 outputs a 5V switch control signal to the switch control signal line PRE. Thereby, the potentials of the
次に、表示期間開始のタイミングt20において、ゲート線駆動回路9は、0Vのゲート信号を、ゲート線Gate1−2(−)に出力する。これにより、全部の副画素SPixの第2メモリブロック50Bの第2メモリ52が、選択される。
Next, at a timing t 20 of the start display period, the gate
これにより、副画素SPix11の第2メモリブロック50Bの第2メモリ52が副画素データ「0」(白)を記憶しているので、トランジスタRWTn2は、オン状態になる。トランジスタRWTn2がオン状態になるので、副画素SPix11の副画素電極15の電位Vpix11は、電源電位VML即ち0Vになる。従って、副画素SPix11では、液晶分子LQに印加される電圧は、3Vになる。これにより、副画素SPix11は、白色を表示する。
Thus, the
また、副画素SPix12の第2メモリブロック50Bの第2メモリ52が副画素データ「1」(黒)を記憶しているので、トランジスタRWTn1は、オフ状態を維持する。従って、副画素SPix12の副画素電極15の電位Vpix12は、プリチャージ電位即ち3Vに維持される。従って、副画素SPix12では、液晶分子LQに印加される電圧は、0Vになる。これにより、副画素SPix22は、黒色を表示する。
Further, since the
また、副画素SPix13の第2メモリブロック50Bの第1メモリ51が副画素データ「0」(白)を記憶しているので、トランジスタRWTn1は、オン状態になる。トランジスタRWTn1がオン状態になるので、副画素SPix13の副画素電極15の電位Vpix13は、電源電位VML即ち0Vになる。従って、副画素SPix13では、液晶分子LQに印加される電圧は、3Vになる。これにより、副画素SPix13は、白色を表示する。
Further, since the
なお、第2の実施の形態においては、プラスフィールド期間のステップ1→プラスフィールド期間のステップ2→マイナスフィールド期間のステップ1→マイナスフィールド期間のステップ2の順序としたが、本開示はこれに限定されない。これらのステップの順序を入れ替えることも可能である。具体的には、例えば、プラスフィールド期間のステップ1→マイナスフィールド期間のステップ1→プラスフィールド期間のステップ2→マイナスフィールド期間のステップ2の順序とすることも可能である。
In the second embodiment, the order is
[副画素のレイアウト]
図21は、第2の実施の形態の表示装置の副画素のレイアウトを示す図である。図21では、2個の副画素SPixを示している。
[Layout of sub-pixel]
FIG. 21 is a diagram illustrating a layout of sub-pixels of the display device according to the second embodiment. FIG. 21 shows two sub-pixels SPix.
副画素SPixは、第1メモリブロック50Aと、第2メモリブロック50Bと、を含む。第1メモリブロック50A及び第2メモリブロック50Bの各々は、第1メモリ51と、第2メモリ52と、を含む。各メモリの接続部である配線55(ノードN)は、コンタクト56を介して、副画素電極15(図2参照)に接続されている。
The sub-pixel SPix includes a
第1メモリ51及び第2メモリ52の各々は、半導体層と、第1配線層の配線と、第2配線層の配線と、で構成されている。
Each of the
第1配線層のゲート線Gate1−1(+)、Gate1−1(−)、Gate1−2(+)、及び、Gate1−2(−)は、X方向(図中左右方向)に沿って、延びている。 The gate lines Gate1-1 (+), Gate1-1 (-), Gate1-2 (+), and Gate1-2 (-) of the first wiring layer extend along the X direction (the left-right direction in the figure). Extending.
第2配線層のデータ線Data1、第1の高電位電源配線VMH、第1の低電位電源配線VML、第1のスイッチ制御信号線PRE、第1の共通電位線FRP、データ線Data2、第2の高電位電源配線VMH、第2の低電位電源配線VML、第2のスイッチ制御信号線PRE、及び、第2の共通電位線FRPは、Y方向(図中上下方向)に沿って、延びている。 Data line Data1, second high-potential power supply line VMH, first low-potential power supply line VML, first switch control signal line PRE, first common potential line FRP, data line Data2, second line in second wiring layer Of the high-potential power supply wiring VMH, the second low-potential power supply wiring VML, the second switch control signal line PRE, and the second common potential line FRP extend along the Y direction (vertical direction in the figure). I have.
第1メモリブロック50A及び第2メモリブロック50Bは、第1の高電位電源配線VMLと第1のスイッチ制御信号線PREとの間に、配置されている。第1メモリブロック50A及び第2メモリブロック50Bは、Y方向に沿って配置されている。第1メモリ51及び第2メモリ52は、Y方向に沿って配置されている。
The
第1メモリ51は、トランジスタRWTn1を含む。トランジスタRWTn1は、半導体層(多結晶シリコン(ポリシリコン))51aと、浮遊ゲート51bと、を含む。半導体層51aは、X方向に沿って延びている。
The
図22は、第2の実施の形態の表示装置の副画素の断面図である。詳しくは、図22は、図21中のA−B線での断面図である。 FIG. 22 is a cross-sectional view of a sub-pixel of the display device according to the second embodiment. Specifically, FIG. 22 is a cross-sectional view taken along line AB in FIG.
1つの半導体層51aが、A側からB側に亘っている。半導体層51aの一端(図中左端)は、第1の高電位電源配線VMHに接続されている。半導体層51aの他端(図中右端)は、第1の共通電位線FRPに接続されている。半導体層51aの中央部(トランジスタRWTn1とスイッチSWとの間の部分)は、配線55(ノードN)に接続されている。
One
トランジスタRWTn1は、第2ゲート絶縁膜(トンネル酸化膜)112を介して半導体層51aの上層(図中上側)に形成された浮遊ゲート51bを含む。トランジスタRWTn1は、第1ゲート絶縁膜111を介して浮遊ゲート51bの上層に形成されたゲート線Gate1−1(+)を含む。
The transistor RWTn1 includes a floating
Nチャネル型トランジスタであるスイッチSWは、絶縁膜を介して半導体層51aの上層に形成された配線61を含む。図21を参照すると、配線61は、共通電位線FRPに接続されている。
The switch SW, which is an N-channel transistor, includes a
図23は、第2の実施の形態の表示装置の副画素の断面図である。詳しくは、図23は、図21中のC−D線での断面図である。 FIG. 23 is a cross-sectional view of a sub-pixel of the display device according to the second embodiment. Specifically, FIG. 23 is a cross-sectional view taken along line CD in FIG.
配線55(ノードN)は、コンタクト56を介して、副画素電極(反射電極)15に接続されている。
The wiring 55 (node N) is connected to the sub-pixel electrode (reflection electrode) 15 via the
第2の実施の形態の表示装置は、第1の実施の形態の表示装置1と同様の効果を奏する。
The display device according to the second embodiment has the same effects as the
更に、第2の実施の形態の表示装置は、2個のフレームデータを記憶し、2個のフレームデータに基づく2個のフレーム(画像)を切り換えて表示することができる。 Further, the display device of the second embodiment can store two frame data and switch and display two frames (images) based on the two frame data.
第1及び第2の実施の形態の表示装置は、電子看板又は電子棚札に適用すると好適である。その理由は、次の2点である。 The display devices of the first and second embodiments are preferably applied to an electronic signboard or an electronic shelf label. The reasons are the following two points.
第1に、フラッシュメモリでは、半導体基板と浮遊ゲートとの間に形成された第2ゲート絶縁膜(トンネル酸化膜)112は、電子が通過する都度、劣化する。つまり、第2ゲート絶縁膜(トンネル酸化膜)112は、副画素データが書込まれる都度、劣化する。従って、フラッシュメモリは、書換え回数に上限がある。 First, in the flash memory, the second gate insulating film (tunnel oxide film) 112 formed between the semiconductor substrate and the floating gate deteriorates every time electrons pass. That is, the second gate insulating film (tunnel oxide film) 112 is deteriorated every time sub-pixel data is written. Therefore, the flash memory has an upper limit on the number of times of rewriting.
第1及び第2の実施の形態の表示装置をスマートフォンやパーソナルコンピュータに適用すると、副画素データが副画素SPixに書込まれる頻度が高く、装置寿命が短くなってしまう可能性が高い。従って、第1及び第2の実施の形態の表示装置をスマートフォンやパーソナルコンピュータに適用すると、装置寿命を考慮する必要がある。 When the display device according to the first or second embodiment is applied to a smartphone or a personal computer, the frequency of writing the sub-pixel data to the sub-pixel SPix is high, and the device life is likely to be shortened. Therefore, when the display devices of the first and second embodiments are applied to a smartphone or a personal computer, it is necessary to consider the device life.
一方、電子看板又は電子棚札では、副画素データが副画素SPixに書込まれるのは、広告内容又は告知内容の変更や、商品価格の変更や、商品入替などの場合である。従って、第1及び第2の実施の形態の表示装置を電子看板又は電子棚札に適用すると、副画素データが副画素SPixに書込まれる頻度が低く、装置寿命が短くなってしまう可能性が低い。従って、第1及び第2の実施の形態の表示装置を電子看板又は電子棚札に適用すると、装置寿命を考慮する必要を、実質的に抑制できる。 On the other hand, in the electronic signboard or the electronic shelf label, the sub-pixel data is written into the sub-pixel SPix when the content of the advertisement or the notification is changed, the price of the product is changed, or the product is replaced. Therefore, when the display device according to the first or second embodiment is applied to an electronic signboard or an electronic shelf label, the frequency at which the sub-pixel data is written to the sub-pixel SPix is low, and the device life may be shortened. Low. Therefore, when the display device according to the first or second embodiment is applied to an electronic signboard or an electronic shelf label, it is possible to substantially suppress the necessity of considering the device life.
第2に、電子看板又は電子棚札では、広告内容又は告知内容の変更や、商品価格の変更や、商品入替などがなければ、同じ画像が何日間か繰り返して表示される可能性がある。もし、電子看板又は電子棚札にDRAMやSRAMなどの揮発性メモリを用いるとすると、たとえ前日までと同じ画像を表示する場合であっても、商品販売店の毎日の開店時刻前に、副画素データをDRAMやSRAMなどに書込む必要がある。或いは、電子看板又は電子棚札に記憶保持用のバッテリを備えて、DRAMやSRAMなどに記憶されている、前日までの副画素データを保持する必要がある。 Secondly, the same image may be repeatedly displayed for several days on the electronic signboard or the electronic shelf label unless there is a change in the content of the advertisement or the notification, a change in the product price, or a replacement of the product. If a volatile memory such as a DRAM or an SRAM is used for an electronic signboard or an electronic shelf label, even if the same image as that of the previous day is displayed, the sub-pixel must be displayed before the daily opening time of the merchandise store. It is necessary to write data to DRAM or SRAM. Alternatively, it is necessary to equip an electronic signboard or an electronic shelf label with a battery for storing and storing the subpixel data stored in a DRAM or an SRAM until the previous day.
一方、第1及び第2の実施の形態の表示装置を電子看板又は電子棚札に適用すると、副画素SPixが不揮発性のフラッシュメモリを用いているので、前日までと同じ画像を表示する場合は、商品販売店の毎日の開店時刻前に、副画素データを副画素SPixに書込む必要がない。また、電子看板又は電子棚札に記憶保持用のバッテリを備える必要がない。従って、第1及び第2の実施の形態の表示装置を電子看板又は電子棚札に適用すると、商品販売店の利便性を向上させることができる。 On the other hand, when the display devices of the first and second embodiments are applied to an electronic signboard or an electronic shelf label, since the sub-pixel SPix uses a non-volatile flash memory, when displaying the same image as the previous day, It is not necessary to write the sub-pixel data to the sub-pixel SPix before the daily opening time of the merchandise store. Further, it is not necessary to provide a battery for storing and storing information in the electronic signboard or the electronic shelf label. Therefore, when the display devices according to the first and second embodiments are applied to an electronic signboard or an electronic shelf label, the convenience of a merchandise store can be improved.
以上、本発明の好適な実施の形態を説明したが、本発明はこのような実施の形態に限定されるものではない。実施の形態で開示された内容はあくまで一例にすぎず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。本発明の趣旨を逸脱しない範囲で行われた適宜の変更についても、当然に本発明の技術的範囲に属する。上述した各実施形態及び各変形例の要旨を逸脱しない範囲で、構成要素の種々の省略、置換及び変更のうち少なくとも1つを行うことができる。 Although the preferred embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to such embodiments. The contents disclosed in the embodiments are merely examples, and various changes can be made without departing from the gist of the present invention. Appropriate changes made without departing from the spirit of the present invention naturally belong to the technical scope of the present invention. At least one of the various omissions, substitutions, and changes of the constituent elements can be performed without departing from the spirit of the embodiments and the modifications.
1 表示装置
2 第1パネル
3 第2パネル
4 インタフェース回路
4a シリアル−パラレル変換回路
4b タイミングコントローラ
4c 設定レジスタ
5 データ線駆動回路
6 共通電極駆動回路
7 スイッチ制御回路
9 ゲート線駆動回路
11 第1基板
15 副画素電極(反射電極)
21 第2基板
23 共通電極
30 液晶層
50 メモリブロック
50A 第1メモリブロック
50B 第2メモリブロック
51 第1メモリ
52 第2メモリ
111 第1ゲート絶縁膜
112 第2ゲート絶縁膜(トンネル酸化膜)
Data データ線
DL データ線群
FRP 共通電位線
GL ゲート線群
Gate ゲート線
PRE スイッチ制御信号線
Pix 画素
RWTn トランジスタ
SPix 副画素
DESCRIPTION OF
Data Data line DL Data line group FRP Common potential line GL Gate line group Gate Gate line PRE Switch control signal line Pix Pixel RWTn Transistor SPix Sub-pixel
Claims (9)
各副画素は、
副画素データを記憶するメモリを有するメモリブロックと、
該メモリブロックに接続される副画素電極と、
副画素電極に対向し設けられる共通電極と、
前記メモリブロックと副画素電極との間に接続され、該共通電極に供給される電位と同電位を副画素電極に供給する配線と、
該配線への電位供給を制御するスイッチと、を備え、
前記メモリは、
ソース及びドレインの内の一方が副画素電極に電気的に接続され、浮遊ゲートの電荷に応じて副画素データを記憶するトランジスタを含んでなる
表示装置。 With multiple sub-pixels,
Each sub-pixel is
A memory block having a memory for storing sub-pixel data;
A sub-pixel electrode connected to the memory block;
A common electrode provided to face the sub-pixel electrode;
A wiring connected between the memory block and the sub-pixel electrode, for supplying the same potential as the potential supplied to the common electrode to the sub-pixel electrode;
A switch for controlling the supply of potential to the wiring,
The memory is
A display device including a transistor, one of a source and a drain, which is electrically connected to a sub-pixel electrode and stores sub-pixel data in accordance with a charge of a floating gate.
第1のメモリ及び第2のメモリを含み、
前記複数の副画素の各々は、
第1のフィールド期間の画像表示期間に、前記第1のメモリの前記トランジスタの前記浮遊ゲートの電荷に応じた前記副画素電極の電位と、前記共通電極の電位と、の間の電圧に基づいて、画像を表示し、
第2のフィールド期間の画像表示期間に、前記第2のメモリの前記トランジスタの前記浮遊ゲートの電荷に応じた前記副画素電極の電位と、前記共通電極の電位と、の間の電圧に基づいて、画像を表示する、
請求項1に記載の表示装置。 The memory block includes:
A first memory and a second memory,
Each of the plurality of sub-pixels is
In an image display period of a first field period, based on a voltage between a potential of the sub-pixel electrode according to a charge of the floating gate of the transistor of the first memory and a potential of the common electrode. , Display the image,
In an image display period of a second field period, based on a voltage between a potential of the sub-pixel electrode according to a charge of the floating gate of the transistor of the second memory and a potential of the common electrode. , Display images,
The display device according to claim 1.
画像表示期間の前に、前記共通電極に供給される電位と同電位を、前記副画素電極に供給する、
請求項2に記載の表示装置。 The switch is
Before the image display period, the same potential as the potential supplied to the common electrode is supplied to the sub-pixel electrode,
The display device according to claim 2.
第1のメモリブロック及び第2のメモリブロックを含み、
前記第1のメモリブロック及び前記第2のメモリブロックの各々は、
第1のメモリ及び第2のメモリを含み、
第1のフィールド期間の第1の画像表示期間に、前記第1のメモリブロック内の前記第1のメモリの前記トランジスタの前記浮遊ゲートの電荷に応じた前記副画素電極の電位と、前記共通電極の電位と、の間の電圧に基づいて、画像を表示し、
第1のフィールド期間の第2の画像表示期間に、前記第2のメモリブロック内の前記第1のメモリの前記トランジスタの前記浮遊ゲートの電荷に応じた前記副画素電極の電位と、前記共通電極の電位と、の間の電圧に基づいて、画像を表示し、
第2のフィールド期間の第1の画像表示期間に、前記第1のメモリブロック内の前記第2のメモリの前記トランジスタの前記浮遊ゲートの電荷に応じた前記副画素電極の電位と、前記共通電極の電位と、の間の電圧に基づいて、画像を表示し、
第2のフィールド期間の第2の画像表示期間に、前記第2のメモリブロック内の前記第2のメモリの前記トランジスタの前記浮遊ゲートの電荷に応じた前記副画素電極の電位と、前記共通電極の電位と、の間の電圧に基づいて、画像を表示する、
請求項1に記載の表示装置。 Each of the plurality of sub-pixels is
A first memory block and a second memory block,
Each of the first memory block and the second memory block,
A first memory and a second memory,
A first image display period of a first field period, a potential of the sub-pixel electrode according to a charge of the floating gate of the transistor of the first memory in the first memory block, and a potential of the common electrode Display an image based on the potential between
During a second image display period of a first field period, a potential of the sub-pixel electrode according to a charge of the floating gate of the transistor of the first memory in the second memory block; Display an image based on the potential between
During a first image display period of a second field period, a potential of the sub-pixel electrode according to a charge of the floating gate of the transistor of the second memory in the first memory block; Display an image based on the potential between
In a second image display period of a second field period, a potential of the sub-pixel electrode according to a charge of the floating gate of the transistor of the second memory in the second memory block, and a potential of the common electrode Display an image based on the voltage between
The display device according to claim 1.
画像表示期間の前に、前記共通電極に供給される電位と同電位を、前記副画素電極に供給する、
請求項4に記載の表示装置。 The switch is
Before the image display period, the same potential as the potential supplied to the common electrode is supplied to the sub-pixel electrode,
The display device according to claim 4.
前記第1のメモリ内の前記トランジスタのドレインは、第1の電源電位に接続され、
前記第2のメモリ内の前記トランジスタのソースは、前記第1の電源電位と異なる第2の電源電位に接続され、
前記第1のメモリ及び前記第2のメモリは、同じ副画素データを記憶する、
請求項2から5のいずれか1項に記載の表示装置。 The transistor in the first memory and the transistor in the second memory are of the same channel type;
A drain of the transistor in the first memory is connected to a first power supply potential;
A source of the transistor in the second memory is connected to a second power supply potential different from the first power supply potential;
The first memory and the second memory store the same sub-pixel data;
The display device according to claim 2.
前記第1のメモリ内の前記トランジスタのドレインの電位と、前記第2のメモリ内の前記トランジスタのソースの電位とは、異なる、
請求項6に記載の表示装置。 The same sub-pixel data is written to the first memory and the second memory at the same timing,
The potential of the drain of the transistor in the first memory is different from the potential of the source of the transistor in the second memory.
The display device according to claim 6.
前記第1のメモリ内の前記トランジスタのソース、及び、前記第2のメモリ内の前記トランジスタのドレインの内の一方は、前記共通電極の高電位側の電位と同電位であり、
第2のフィールド期間の画像表示期間において、
前記第1のメモリ内の前記トランジスタのソース、及び、前記第2のメモリ内の前記トランジスタのドレインの内の他方は、前記共通電極の低電位側の電位と同電位である、
請求項7に記載の表示装置。 In the image display period of the first field period,
One of a source of the transistor in the first memory and a drain of the transistor in the second memory has the same potential as a high potential side potential of the common electrode;
In the image display period of the second field period,
The other of the source of the transistor in the first memory and the drain of the transistor in the second memory has the same potential as the lower potential of the common electrode.
The display device according to claim 7.
各副画素は、
副画素データを記憶するメモリを有するメモリブロックと、
該メモリブロックに接続される副画素電極と、
副画素電極に対向し設けられる共通電極と、
前記メモリブロックと副画素電極との間に接続され、該共通電極に供給される電位と同電位を副画素電極に供給する配線と、
該配線への電位供給を制御するスイッチと、を備え、
前記メモリは、
ソース及びドレインの内の一方が副画素電極に電気的に接続され、浮遊ゲートの電荷に応じて副画素データを記憶するトランジスタを含んでなる、
電子看板。 With multiple sub-pixels,
Each sub-pixel is
A memory block having a memory for storing sub-pixel data;
A sub-pixel electrode connected to the memory block;
A common electrode provided to face the sub-pixel electrode;
A wiring connected between the memory block and the sub-pixel electrode, for supplying the same potential as the potential supplied to the common electrode to the sub-pixel electrode;
A switch for controlling the supply of potential to the wiring,
The memory is
One of the source and the drain is electrically connected to the sub-pixel electrode, and includes a transistor that stores sub-pixel data according to the charge of the floating gate.
Electronic signboard.
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---|---|---|---|---|
CN114822408A (en) * | 2022-05-31 | 2022-07-29 | 昆山国显光电有限公司 | Electronic tag, driving method thereof and picture updating system of electronic tag |
CN114822408B (en) * | 2022-05-31 | 2023-10-10 | 昆山国显光电有限公司 | Electronic tag, driving method thereof and picture updating system of electronic tag |
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