JP2020020995A - Display device - Google Patents

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Abstract

To provide a display device including a display unit having a plurality of pixels comprising self-luminous elements, capable of improving degradation in current-voltage characteristics of a pixel by applying a reverse bias voltage to the pixel as well as suppressing deterioration of the pixel due to application of the reverse bias voltage.SOLUTION: A display device includes a display unit 1 having a plurality of pixels comprising self-luminous elements, in which a control unit 4 switches into a first circuit 21 or a second circuit 22 connected to different power supplies to be connected to the pixel so as to apply a normal bias or a reverse bias voltage. In this process, driving conditions under the reverse bias voltage or the normal bias voltage are corrected depending on the deterioration degree of the pixel, while the reverse vias voltage is corrected independently from the correction of the driving conditions under the normal bias. Thus, excessive loading on the pixel during application of the reverse bias voltage is suppressed, and the display device has high reliability.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本発明は、自発光素子により構成された画素を有してなる表示装置に関する。   The present invention relates to a display device having a pixel constituted by a self-luminous element.

従来、例えばOLED(Organic Light Emitting Diodeの略)やFED(Field Emis-sion Displayの略)などの自発発光素子により構成された画素を複数有してなる表示装置が知られている。   2. Description of the Related Art Conventionally, a display device having a plurality of pixels constituted by spontaneous light emitting elements such as an OLED (abbreviation of Organic Light Emitting Diode) and an FED (abbreviation of Field Emission Display) has been known.

ここで、OLEDには、発光輝度の高さや駆動時間の長さに比例して発光効率が低下し、同一駆動条件であっても発光輝度が低下する特性がある。OLEDを画素として有する表示装置の信頼性向上においては、このOLEDの電流−電圧特性の低下を改善することが重要である。   Here, the OLED has a characteristic that the light emission efficiency is reduced in proportion to the height of the light emission luminance and the length of the driving time, and the light emission luminance is reduced even under the same driving condition. In order to improve the reliability of a display device having an OLED as a pixel, it is important to improve the current-voltage characteristics of the OLED.

このようなOLEDの電流−電圧特性の低下を改善する方法としては、一定期間ごとに発光させる極性の駆動電圧とは逆の極性の駆動電圧をOLEDに印加することが知られている。具体的には、ダイオードであるOLEDにて、発光する電圧の印加を「順バイアス」とし、その逆を「逆バイアス」とすると、一定期間ごとに逆バイアスの電圧をOLEDに印加すると、OLEDの電流−電圧特性の低下が改善される。   As a method for improving such a decrease in the current-voltage characteristics of the OLED, it is known to apply a drive voltage having a polarity opposite to the polarity of the drive voltage for emitting light to the OLED at regular intervals. Specifically, in the OLED that is a diode, the application of the voltage to emit light is “forward bias” and the reverse is “reverse bias”. When a reverse bias voltage is applied to the OLED at regular intervals, the The deterioration of the current-voltage characteristics is improved.

自発光素子により構成された画素を有してなる表示装置において、上記の駆動方法を採用し、OLEDの電流−電圧特性の低下が改善されたものとしては、例えば特許文献1に記載のものが挙げられる。特許文献1に記載の表示装置は、OLEDによりなる自発光素子を画素として有し、交流駆動によってOLEDに順バイアスおよび逆バイアスの電圧を印加することで、OLEDの電流−電圧特性の低下を改善する構成とされている。   In a display device having a pixel constituted by a self-luminous element, the one described in Patent Document 1 is one that adopts the above-described driving method and improves the reduction of the current-voltage characteristic of the OLED. No. The display device described in Patent Literature 1 has a self-luminous element composed of an OLED as a pixel, and improves the current-voltage characteristics of the OLED by applying forward bias and reverse bias voltages to the OLED by AC driving. It is configured to be.

特開2018−22695号公報JP 2018-22695 A

ところで、OLEDに対する逆バイアスの電圧印加には、OLEDの電流−電圧特性を改善してOLEDを回復させる効果(以下「回復効果」という)と電流による発熱に起因して劣化する効果(以下「劣化効果」という)との2つの効果がある。本発明者は、鋭意検討の結果、従来の逆バイアスの電圧の印加方法がOLEDをより長時間駆動させる観点からは不十分であることを見出した。   By the way, when applying a reverse bias voltage to the OLED, an effect of improving the current-voltage characteristics of the OLED to recover the OLED (hereinafter, referred to as a “recovery effect”) and an effect of deteriorating due to heat generated by current (hereinafter, “deterioration”) Effect)). As a result of intensive studies, the present inventor has found that the conventional method of applying a reverse bias voltage is insufficient from the viewpoint of driving the OLED for a longer time.

具体的には、逆バイアスの電圧印加による回復効果については、OLEDの累積発光時間の増加(言い換えるとOLEDの劣化度合いの増加)に伴って減少する。一方、劣化効果については、OLEDの劣化度合いの増加に伴って増大する。また、OLEDでは、劣化が進行すると電流−電圧特性が徐々に低下することから、輝度を所定の値に維持するためには順バイアスの電圧を電流−電圧特性の低下分だけ大きくする必要がある。   Specifically, the recovery effect due to the application of the reverse bias voltage decreases as the cumulative light emission time of the OLED increases (in other words, the degree of deterioration of the OLED increases). On the other hand, the deterioration effect increases as the degree of deterioration of the OLED increases. Further, in the OLED, since the current-voltage characteristics gradually decrease as the deterioration proceeds, it is necessary to increase the forward bias voltage by an amount corresponding to the decrease in the current-voltage characteristics in order to maintain the luminance at a predetermined value. .

一方、OLEDの劣化度合いが大きくなると、逆バイアスによる劣化効果が大きくなるため、逆バイアスの電圧を大きくし過ぎると、劣化効果のほうが回復効果よりも大きくなってしまう。そのため、OLEDは、信頼性の観点から、劣化度合いの増加に伴い、順バイアスの電圧を徐々に大きくする一方で、逆バイアスの電圧が所定の値以上とならない条件で駆動されることが好ましい。   On the other hand, when the degree of deterioration of the OLED increases, the deterioration effect due to the reverse bias increases. Therefore, if the voltage of the reverse bias is excessively increased, the deterioration effect becomes larger than the recovery effect. Therefore, from the viewpoint of reliability, it is preferable that the OLED be driven under the condition that the forward bias voltage is gradually increased as the degree of deterioration increases, while the reverse bias voltage does not exceed a predetermined value.

特許文献1に記載の発明では、1つの交流駆動によりOLEDに順バイアスの電圧および逆バイアスの電圧を印加しているため、基本的にこれらの電圧が同じとなり、OLEDの劣化度合いが所定以上になると、劣化効果のほうが回復効果よりも大きくなる。そのため、特許文献1に記載の表示装置は、累積発光時間が増加するほど、逆バイアスの電圧印加により却ってOLEDの劣化が促進されてしまい、信頼性向上の観点から好ましくない。   In the invention described in Patent Document 1, since a forward bias voltage and a reverse bias voltage are applied to the OLED by one AC drive, these voltages are basically the same, and the degree of deterioration of the OLED is more than a predetermined level. Then, the deterioration effect becomes larger than the recovery effect. Therefore, in the display device described in Patent Document 1, as the cumulative light emitting time increases, the OLED is rather deteriorated by application of the reverse bias voltage, which is not preferable from the viewpoint of improving reliability.

本発明は、上記の点に鑑みてなされたものであり、自発光素子により構成された画素を有し、逆バイアスの電圧印加による自発光素子の回復効果を得つつも、これによる自発光素子の劣化効果が従来よりも抑制された表示装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above points, and has a pixel configured by a self-luminous element, and obtains a recovery effect of the self-luminous element by applying a reverse bias voltage. It is an object of the present invention to provide a display device in which the deterioration effect of the display device is suppressed as compared with the related art.

上記目的を達成するため、請求項1に記載の表示装置は、自発光素子により構成される画素を複数有してなる表示部(1)と、順バイアスの電圧を画素に印加して画素を発光させるための第1回路(21)と、逆バイアスの電圧を画素に印加するための第2回路(22)とを有してなる駆動回路(2)と、複数の画素の劣化度合いを推定する劣化推定部(3)と、画素の接続先を第1回路または第2回路に制御する制御部(4)と、劣化推定部により推定された劣化度合いに応じて、画素の駆動条件を補正する補正部(5)と、を備える。このような構成において、補正部は、画素の劣化度合いに応じて順バイアスの電圧および逆バイアスの電圧を変更し、逆バイアスの電圧は、順バイアスの電圧の印加に用いられる電源とは異なる電源により印加される。   In order to achieve the above object, the display device according to claim 1 includes a display unit (1) including a plurality of pixels each including a self-light-emitting element, and a display device configured to apply a forward bias voltage to the pixels. A driving circuit (2) including a first circuit (21) for emitting light and a second circuit (22) for applying a reverse bias voltage to the pixels, and a degree of deterioration of the plurality of pixels is estimated. A deterioration estimating unit (3), a control unit (4) for controlling the connection destination of the pixel to the first circuit or the second circuit, and a driving condition of the pixel is corrected according to the degree of deterioration estimated by the deterioration estimating unit. And a correction unit (5). In such a configuration, the correction unit changes the forward bias voltage and the reverse bias voltage according to the degree of deterioration of the pixel, and the reverse bias voltage is different from a power supply used for applying the forward bias voltage. Is applied.

上記によれば、自発光素子により構成される画素の劣化度合いを劣化推定部により推定し、この劣化度合いに応じて、補正部により画素の順バイアスの電圧と逆バイアスの電圧を変更する構成の表示装置とされる。また、画素に逆バイアスの電圧を印加する際に、順バイアスの電圧の印加に用いられる電源とは異なる電源が用いられることで、逆バイアスの電圧を順バイアスの電圧とは独立して任意の値に変更することが可能な構成である。そのため、画素の劣化度合いに応じて、順バイアスの電圧を上げつつも、逆バイアスの電圧を所定の範囲に維持することができ、逆バイアスの電圧印加による回復効果を得つつも、劣化効果を従来よりも抑制された表示装置となる。   According to the above, a deterioration estimating unit estimates the degree of deterioration of a pixel formed by a self-luminous element, and changes a forward bias voltage and a reverse bias voltage of a pixel by a correction unit according to the degree of deterioration. Display device. In addition, when a reverse bias voltage is applied to the pixel, a power supply different from the power supply used for applying the forward bias voltage is used, so that the reverse bias voltage can be set to an arbitrary value independently of the forward bias voltage. This is a configuration that can be changed to a value. Therefore, it is possible to maintain the reverse bias voltage within a predetermined range while increasing the forward bias voltage in accordance with the degree of deterioration of the pixel. The display device is more suppressed than before.

なお、各構成要素等に付された括弧付きの参照符号は、その構成要素等と後述する実施形態に記載の具体的な構成要素等との対応関係の一例を示すものである。   In addition, the reference numerals in parentheses attached to the respective components and the like indicate an example of a correspondence relationship between the components and the like and specific components and the like described in the embodiments described later.

第1実施形態の表示装置の構成を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram illustrating a configuration of the display device according to the first embodiment. 図1の表示装置の回路構成を示す概略図である。FIG. 2 is a schematic diagram illustrating a circuit configuration of the display device of FIG. 1. 所定の定電流でOLEDを駆動した際の経過時間と相対輝度との関係を示すグラフである。9 is a graph showing a relationship between elapsed time and relative luminance when driving an OLED with a predetermined constant current. OLEDの初期および劣化後の電流−電圧特性、および逆バイアスの電圧の閾値の設定の一例を示す図である。FIG. 4 is a diagram illustrating an example of setting of a current-voltage characteristic of an OLED at an initial stage and after deterioration, and a threshold value of a reverse bias voltage.

以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各実施形態相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、同一符号を付して説明を行う。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the following embodiments, parts that are the same or equivalent are denoted by the same reference numerals and described.

(第1実施形態)
第1実施形態の表示装置について、図1〜図2を参照して述べる。本実施形態の表示装置は、例えば、車載用途の表示装置などに適用されるが、他の用途にも適用され得る。
(1st Embodiment)
The display device according to the first embodiment will be described with reference to FIGS. The display device of the present embodiment is applied to, for example, a display device for in-vehicle use, but may be applied to other uses.

図2では、回路構成を理解しやすくするため、後述する表示部1を構成する複数の画素のうちの1つの代表例を示し、他の画素についての接続回路については省略している。また、図2では、後述する制御部4による第1回路21への接続例を実線で示し、第2回路22への接続例を破線で示している。   FIG. 2 shows one representative example of a plurality of pixels forming the display unit 1 described later, and omits connection circuits for other pixels, in order to facilitate understanding of the circuit configuration. In FIG. 2, an example of connection to the first circuit 21 by the control unit 4 described later is shown by a solid line, and an example of connection to the second circuit 22 is shown by a broken line.

本実施形態の表示装置は、例えば図1もしくは図2に示すように、表示部1と、駆動回路2と、劣化推定部3と、制御部4と、補正部5と、映像入力部6とを有してなる。この表示装置は、映像入力部6からの信号に基づく映像が表示部1に表示されるものであって、劣化推定部3による表示部1を構成する画素の劣化度合いの推定に基づき、補正部5による各画素の駆動条件などの補正や制御部4による各画素の駆動制御がなされる。   The display device according to the present embodiment includes a display unit 1, a drive circuit 2, a deterioration estimation unit 3, a control unit 4, a correction unit 5, a video input unit 6, as shown in FIG. Having. This display device displays an image based on a signal from the image input unit 6 on the display unit 1, and based on an estimation of the degree of deterioration of the pixels constituting the display unit 1 by the deterioration estimation unit 3, 5, the driving conditions of each pixel are corrected, and the control unit 4 controls the driving of each pixel.

表示部1は、例えばOLEDやFEDなどの自発光素子により構成される画素を複数有してなり、これら各画素が発光させられることで映像などを表示するものである。表示部1は、例えば、各画素のスイッチング素子としての図示しない薄膜トランジスタを有し、選択した画素ごとのオン・オフの制御が可能なアクティブマトリクス方式が採用され得る。表示部1は、OLEDを自発光素子として採用した場合には、「有機ELディスプレイ」と称される。表示部1は、図示しない外部電源により駆動回路2を介して電圧印加され、映像入力部6の映像信号に基づいて各種の映像を表示する。   The display unit 1 has a plurality of pixels constituted by self-luminous elements such as OLEDs and FEDs, and displays images and the like by emitting light from these pixels. The display unit 1 includes, for example, a thin film transistor (not shown) as a switching element of each pixel, and may employ an active matrix method that can control on / off of each selected pixel. When the OLED is used as a self-luminous element, the display unit 1 is referred to as an “organic EL display”. The display unit 1 is applied with a voltage from an external power supply (not shown) via the drive circuit 2, and displays various images based on the image signal of the image input unit 6.

本実施形態では、OLEDを自発光素子として採用した例について説明するが、有機ELディスプレイおよびOLEDについては、公知のものが採用されることができるため、本明細書ではそれらの構成などの詳細な説明を省略する。   In the present embodiment, an example in which an OLED is used as a self-luminous element will be described. However, as an organic EL display and an OLED, well-known ones can be used. Description is omitted.

駆動回路2は、図2に示すように、各画素を発光させるために順バイアスの電圧を各画素へ印加する際に用いられる第1回路21と、各画素の電流−電圧特性の低下改善のために逆バイアスの電圧を印加する際に用いられる第2回路22とを有してなる。駆動回路2は、図2に示すように、各画素が第1回路21または第2回路22の一方に接続され、順バイアスまたは逆バイアスの電圧のいずれかを印加できるようにスイッチング可能な構成とされている。   As shown in FIG. 2, the drive circuit 2 includes a first circuit 21 used when applying a forward bias voltage to each pixel to cause each pixel to emit light, and a drive circuit 2 for reducing and improving the current-voltage characteristics of each pixel. And a second circuit 22 used when applying a reverse bias voltage. As shown in FIG. 2, the drive circuit 2 has a configuration in which each pixel is connected to one of the first circuit 21 and the second circuit 22 and can be switched so that either a forward bias voltage or a reverse bias voltage can be applied. Have been.

駆動回路2は、図2に示すように、第1回路21と第2回路22とがそれぞれ異なる電源、すなわち順バイアス電源または逆バイアス電源に接続され、順バイアスの電圧と逆バイアスの電圧とが独立した電源により各画素に印加される構成とされている。これにより、例えば、画素への順バイアスの電圧を上昇させる一方で、当該画素への逆バイアスの電圧を所定の範囲内に維持する、といった駆動制御を実行することが可能な回路構成となる。   In the drive circuit 2, as shown in FIG. 2, the first circuit 21 and the second circuit 22 are connected to different power supplies, that is, a forward bias power supply or a reverse bias power supply, and the forward bias voltage and the reverse bias voltage are changed. It is configured to be applied to each pixel by an independent power supply. This provides a circuit configuration capable of executing drive control such as, for example, increasing a forward bias voltage to a pixel while maintaining a reverse bias voltage to the pixel within a predetermined range.

劣化推定部3は、例えば、各画素への順バイアスの電圧印加の累積時間などから各画素の劣化度合いを推定するものである。劣化推定部3は、例えば、図示しないCPU、ROM、RAMや不揮発性RAMを備えた制御ECU(Electronic Control Unitの略)として構成され得るが、これに限られず、公知のものが採用されることができる。   The deterioration estimating unit 3 estimates the degree of deterioration of each pixel from, for example, the accumulated time of forward bias voltage application to each pixel. The deterioration estimating unit 3 may be configured as, for example, a control ECU (abbreviation of Electronic Control Unit) including a CPU, a ROM, a RAM, and a non-volatile RAM (not shown), but is not limited thereto, and a known unit may be used. Can be.

具体的には、例えば、図示しない時間計測部により、各画素への順バイアスの電圧印加の累積時間(以下、単に「駆動時間」という)が図示しない記憶部に記憶される。劣化推定部3は、例えば、ROMに格納された劣化度合いを算出するプログラムをCPUが実行し、記憶部に記憶された各画素の駆動時間のデータを用いて、各画素の劣化度合いを算出する。   Specifically, for example, a cumulative time (hereinafter, simply referred to as “driving time”) of forward bias voltage application to each pixel is stored in a storage unit (not shown) by a time measurement unit (not shown). The deterioration estimating unit 3 executes, for example, a program for calculating the degree of deterioration stored in the ROM by the CPU, and calculates the degree of deterioration of each pixel using the driving time data of each pixel stored in the storage unit. .

OLEDで構成された画素の劣化度合いの推定については、例えば、KONICA MINOL-TA TECHNOLOGY REPORT VOL.9(2012)「全燐光型OLED照明パネルの製品開発」(以下、単に「公知文献」という)に記載の公知の寿命推定方法が利用され得る。例えば、この公知文献に記載の方法のように、OLEDの劣化を初期劣化とその後の通常劣化とに分離し、OLEDの輝度の経時変化の実測値により加速係数を算出することで、画素の駆動時間と輝度の経時変化との関係を示す推定寿命カーブを作成する。そして、この推定寿命カーブを基準カーブとし、この基準カーブのデータを記憶部に記憶させておき、計測された各画素の累積時間を基準カーブに適用することで、各画素の劣化度合いを推定することができる。   For the estimation of the degree of deterioration of pixels composed of OLEDs, see, for example, KONICA MINOL-TA TECHNOLOGY REPORT VOL.9 (2012) “Product Development of All-Phosphorescent OLED Lighting Panel” (hereinafter simply referred to as “publicly known documents”) The known life estimation method described can be used. For example, as in the method described in this known document, the OLED degradation is separated into an initial degradation and a subsequent normal degradation, and an acceleration coefficient is calculated based on a measured value of a change with time of the luminance of the OLED, thereby driving the pixel. An estimated life curve showing the relationship between time and luminance change over time is created. The estimated life curve is used as a reference curve, the data of the reference curve is stored in a storage unit, and the accumulated time of each pixel is measured and applied to the reference curve to estimate the degree of deterioration of each pixel. be able to.

なお、各画素が、発光色が異なる複数の副画素、例えば赤の副画素、青の副画素および緑の副画素により構成されている場合、これらの副画素ごとに上記の基準カーブをあらかじめ作成することで、副画素ごとに劣化度合いを推定することができる。また、上記した劣化度合いの推定については、あくまで一例であり、他の任意の方法が採用されてもよい。   When each pixel is composed of a plurality of sub-pixels having different emission colors, for example, a red sub-pixel, a blue sub-pixel, and a green sub-pixel, the above-described reference curve is created in advance for each of these sub-pixels. By doing so, the degree of deterioration can be estimated for each sub-pixel. Further, the above estimation of the degree of deterioration is merely an example, and another arbitrary method may be adopted.

制御部4は、駆動回路2におけるスイッチング、すなわち各画素の接続先を第1回路21または第2回路22のどちらにするか制御するものである。言い換えると、制御部4は、図2の矢印で示すように、画素との接続先を第1回路21または第2回路22に切り替えることで、各画素に順バイアスの電圧を印加するか、逆バイアスの電圧を印加するかを制御する。制御部4は、例えば、CPUがROMやRAMなどに格納されたデータテーブルやプログラムなどの各種データを読み込んで実行することで機能する構成とされるが、これに限られず、他の任意の構成とされてもよい。   The control section 4 controls switching in the drive circuit 2, that is, controls whether the connection destination of each pixel is the first circuit 21 or the second circuit 22. In other words, the control unit 4 switches the connection destination with the pixel to the first circuit 21 or the second circuit 22 as shown by the arrow in FIG. Controls whether to apply a bias voltage. The control unit 4 is configured to function by, for example, reading and executing various data such as a data table and a program stored in a ROM or a RAM by a CPU, but the control unit 4 is not limited to this and may have any other configuration. It may be.

制御部4は、画素を発光させる場合には、順バイアスの電圧が画素に印加されるように画素と第1回路21とを接続する。制御部4は、画素の電流−電圧特性の低下を改善する場合には、逆バイアスの電圧が画素に印加されるように、画素と第2回路22とを接続する。また、制御部4は、各画素のうち劣化度合いが所定以上となった画素については、当該画素と第2回路22との接続を行わないようにプログラムされている。これは、逆バイアスの電圧印加による回復効果よりも劣化効果のほうが大きくなった画素に、不要な逆バイアスの電圧印加が行われることによる信頼性低下を抑制するためである。なお、各画素への逆バイアスの電圧印加についての詳細は、後述する。   When causing the pixel to emit light, the control unit 4 connects the pixel to the first circuit 21 so that a forward bias voltage is applied to the pixel. When improving the deterioration of the current-voltage characteristics of the pixel, the control unit 4 connects the pixel and the second circuit 22 such that a reverse bias voltage is applied to the pixel. In addition, the control unit 4 is programmed so as not to connect the pixel to the second circuit 22 for a pixel whose deterioration degree is equal to or higher than a predetermined value among the pixels. This is to prevent a decrease in reliability due to unnecessary reverse bias voltage application to a pixel in which the degradation effect is greater than the recovery effect due to the reverse bias voltage application. The details of the application of the reverse bias voltage to each pixel will be described later.

補正部5は、劣化推定部3による各画素の劣化度合いに基づいて、各画素の順バイアスでの駆動条件の補正を行う。補正部5は、劣化推定部3により推定された画素の劣化度合いに対応して、当該画素に印加する電圧または電流の設定値を上昇させる補正を行うことで、当該画素の輝度が初期輝度と同程度の輝度となるように調整する役割を果たす。   The correction unit 5 corrects the driving condition of each pixel with a forward bias based on the degree of deterioration of each pixel by the deterioration estimation unit 3. The correction unit 5 corrects the set value of the voltage or current applied to the pixel in accordance with the degree of deterioration of the pixel estimated by the deterioration estimation unit 3 so that the luminance of the pixel is different from the initial luminance. It plays a role in adjusting the brightness to the same level.

また、補正部5は、劣化推定部3による各画素の劣化度合いに基づいて、各画素の電流−電圧特性の低下改善において、過剰な逆バイアスの電圧印加がなされないようにするため、各画素への逆バイアスの電圧の補正を行う。この詳細については、後述する。   In addition, based on the degree of deterioration of each pixel by the deterioration estimating unit 3, the correction unit 5 controls each pixel in order to prevent excessive reverse bias voltage from being applied in reducing and improving the current-voltage characteristics of each pixel. To correct the reverse bias voltage. The details will be described later.

補正部5は、例えば、CPUがROMやRAMなどに格納されたデータテーブルやプログラムなどの各種データを読み込んで実行することで機能する構成とされるが、これに限られず、他の任意の構成とされてもよい。   The correction unit 5 is configured to function by, for example, reading and executing various data such as a data table and a program stored in a ROM or a RAM by a CPU, but is not limited thereto. It may be.

なお、各画素の順バイアスでの駆動条件の補正、および各画素への逆バイアスの電圧の補正については、1つの補正部5で実行されてもよいし、順バイアスと逆バイアスとで異なる補正部5により実行されてもよい。   The correction of the driving condition of each pixel with the forward bias and the correction of the reverse bias voltage to each pixel may be performed by one correction unit 5 or different corrections for the forward bias and the reverse bias. It may be executed by the unit 5.

映像入力部6は、表示部1に表示する映像に対応する所定の映像信号を表示部1に入力するものであり、表示部1に表示させる映像の種類に応じて、図示しない他の各種電子部品に接続される。   The video input unit 6 inputs a predetermined video signal corresponding to a video to be displayed on the display unit 1 to the display unit 1. According to the type of video to be displayed on the display unit 1, other various electronic devices (not shown) Connected to parts.

以上が、本実施形態の表示装置の構成である。   The above is the configuration of the display device of the present embodiment.

次に、本実施形態の表示装置における各画素への逆バイアスの電圧印加およびその効果について、図3を参照して説明するが、その前に、OLEDの輝度の経時変化および従来の逆バイアスの電圧印加について説明する。   Next, the application of a reverse bias voltage to each pixel and its effect in the display device of the present embodiment will be described with reference to FIG. The voltage application will be described.

図3では、任意の初期輝度(例えば、1000cd/m)における電流値を固定し、所定の温度環境下において、OLEDを定電流駆動した場合のOLEDの相対輝度の経時変化の一例を示している。また、図3では、OLEDの相対輝度の経時変化のうち、逆バイアスの電圧を印加しない場合を破線で、従来の逆バイアスの電圧印加を実行した場合を一点鎖線で、本実施形態での逆バイアスの電圧印加を実行した場合を実線で、それぞれ示している。 FIG. 3 shows an example of a change with time of the relative luminance of the OLED when the OLED is driven at a constant current under a predetermined temperature environment with a fixed current value at an arbitrary initial luminance (for example, 1000 cd / m 2 ). I have. In FIG. 3, a change in the relative luminance of the OLED with time is indicated by a broken line when no reverse bias voltage is applied, and by a dashed line when a conventional reverse bias voltage is applied. The case where the bias voltage is applied is indicated by solid lines.

なお、ここでいう「相対輝度」とは、ある経過時間におけるOLEDの輝度の初期輝度に対する割合を意味する。また、図3における経過時間は、OLEDを所定の温度環境下で通常の使用輝度(例えば200cd/m)よりも高い輝度で定電流駆動させた際、すなわちOLEDの劣化を加速させた状況での点灯時間である。つまり、図3でいう経過時間は、常温などの通常の環境下において通常使用される輝度で発光させた際の累積発光時間とは異なる概念である。 Here, the “relative luminance” means a ratio of the luminance of the OLED to the initial luminance during a certain elapsed time. In addition, the elapsed time in FIG. 3 is obtained when the OLED is driven at a constant current under a predetermined temperature environment at a luminance higher than a normal use luminance (for example, 200 cd / m 2 ), that is, in a situation where the deterioration of the OLED is accelerated. Lighting time. That is, the elapsed time in FIG. 3 is a concept different from the accumulated light emission time when light is emitted at a luminance normally used under a normal environment such as normal temperature.

以下、説明の簡略化のため、図3に示すように、便宜的に、画素の経過時間がT1未満の期間を「初期」と称し、T1以上〜T2未満の期間を「中期」と称し、T2を超える期間を「長期」と称する。なお、T1およびT2は、初期輝度、電流値、環境温度などにより変動する値である。例えば、車載用途を想定して、初期輝度を1000cd/m、環境温度を85℃と設定した場合には、T1は100時間程度、T2は1000時間程度となり得る。 Hereinafter, for simplicity of description, as shown in FIG. 3, for the sake of convenience, a period in which the elapsed time of the pixel is less than T1 is referred to as “initial”, and a period in which T1 or more and less than T2 is referred to as “middle”. The period exceeding T2 is referred to as “long term”. Note that T1 and T2 are values that vary depending on the initial luminance, current value, environmental temperature, and the like. For example, when the initial luminance is set to 1000 cd / m 2 and the environmental temperature is set to 85 ° C. assuming the use in a vehicle, T1 can be about 100 hours, and T2 can be about 1000 hours.

まず、逆バイアスの電圧を印加しない方式(以下「未印加方式」という)において、OLEDを定電流駆動した場合の相対輝度の経時変化について説明する。   First, a description will be given of a temporal change in relative luminance when the OLED is driven at a constant current in a method in which a reverse bias voltage is not applied (hereinafter, referred to as a “non-applied method”).

なお、ここでの「未印加方式」とは、OLEDの定電流駆動を行い、OLEDに順バイアスの電圧のみが印加される駆動方式を指す。また、図3に示す未印加方式でのOLEDの経時変化は、実測値に基づき、後述する相対輝度Lの式に当てはめてフィッティングすることにより得られたものである。   Here, the “non-applied mode” refers to a driving mode in which the OLED is driven at a constant current and only a forward bias voltage is applied to the OLED. Further, the change with time of the OLED in the non-applied mode shown in FIG. 3 is obtained by fitting to an equation of relative luminance L, which will be described later, based on the actually measured value.

この場合、図3に示すように、初期のOLEDは、相対輝度の低下度合いが後述する逆バイアスの電圧を印加する場合よりも大きく、経過時間がT1の時点での相対輝度が0.9となった。中期のOLEDは、初期に比べて相対輝度の低下度合いが小さくなり、経過時間がT2の時点での相対輝度が0.8となった。その後、長期のOLEDは、相対輝度の低下度合いが中期に比べてさらに小さくなり、徐々に相対輝度が低下する傾向であった。   In this case, as shown in FIG. 3, in the initial OLED, the degree of decrease in relative luminance is greater than when a reverse bias voltage described later is applied, and the relative luminance at the time T1 is 0.9. became. In the middle-stage OLED, the degree of decrease in the relative luminance was smaller than that in the initial stage, and the relative luminance at the time T2 was 0.8. Thereafter, in the long-term OLED, the degree of decrease in the relative luminance was smaller than that in the middle period, and the relative luminance tended to decrease gradually.

続いて、従来の方式における逆バイアスの電圧印加(以下「旧方式の電圧印加」という)を所定の間隔で実施した場合におけるOLEDの相対輝度の経時変化について説明する。   Subsequently, a change over time in the relative luminance of the OLED when a reverse bias voltage is applied at a predetermined interval in the conventional method (hereinafter referred to as “old method voltage application”) will be described.

なお、「旧方式の電圧印加」とは、OLEDの定電流駆動において、24時間の間隔で1分間、順バイアスでの駆動において印加される電圧の絶対値と同じ逆バイアスの電圧がOLEDに印加される駆動状況を指す。また、図3に示す旧方式の電圧印加でのOLEDの経時変化は、実測値に基づき、後述する相対輝度Lの式に当てはめてフィッティングすることにより得られたものである。   The “old-mode voltage application” means that the same reverse bias voltage as the absolute value of the voltage applied in the forward bias driving is applied to the OLED at a constant current driving of the OLED for 1 minute at an interval of 24 hours. The driving situation. In addition, the change with time of the OLED under application of the voltage in the old method shown in FIG. 3 is obtained by fitting to an equation of relative luminance L described later based on the actually measured value.

この場合、図3に示すように、初期のOLEDは、未印加方式の場合に比べて、相対輝度の低下度合いが低減し、経過時間がT1の時点での相対輝度が0.98となった。これは、OLEDの機能層において発光に寄与せずに残存していた正孔や電子などのキャリアが、逆バイアスの電圧印加により移動して除去され、電流−電圧特性の低下が改善したことによると考えられる。   In this case, as shown in FIG. 3, in the initial OLED, the degree of decrease in the relative luminance was reduced as compared with the case of the non-applied type, and the relative luminance at the time T1 was 0.98. . This is because carriers such as holes and electrons remaining in the functional layer of the OLED without contributing to light emission are moved and removed by application of a reverse bias voltage, and the deterioration of current-voltage characteristics is improved. it is conceivable that.

しかしながら、中期のOLEDは、図3に示すように、相対輝度の低下度合いが、経過時間がT1以降の所定の時間までは初期とほぼ同じであり、それ以降については初期に比べてやや小さくなった。その結果、OLEDは、経過時間がT2での相対輝度が0.8となり、未印加方式の場合とほぼ同じであった。   However, in the middle-stage OLED, as shown in FIG. 3, the degree of decrease in the relative luminance is almost the same as the initial time until the predetermined time after the elapsed time T1, and is slightly smaller than the initial time thereafter. Was. As a result, in the OLED, the relative luminance at the elapsed time T2 was 0.8, which was almost the same as that in the non-application type.

長期のOLEDは、相対輝度の低下度合いが、中期に比べて小さくなるものの、未印加方式の場合におけるOLEDの長期での相対輝度の低下度合いよりも大きかった。その結果、長期のOLEDは、相対輝度が徐々に低下し、かつ未印加方式の場合よりもその低下が大きい傾向であった。   In the long-term OLED, the degree of decrease in the relative luminance was smaller than that in the middle term, but was larger than the long-term decrease in the relative luminance of the OLED in the non-application type. As a result, in the long-term OLED, the relative luminance gradually decreased, and the decrease tended to be larger than that in the non-application type.

この結果を受け、本発明者は、次のように推測した。OLEDの劣化が進行すると、OLEDに徐々にリークパスが生じ、逆バイアスの電圧印加におけるOLEDの電流値が増加する。そして、逆バイアスの電圧印加におけるOLEDの発熱量が増加することで、劣化効果が増大してしまい、逆バイアスの電圧印加による回復効果を劣化効果が上回った結果、中期以降はOLEDの劣化が促進された。その結果、旧方式の電圧印加は、初期においては未印加方式よりもOLEDの特性低下を抑制できるが、長期においては未印加方式よりもOLEDの特性低下を加速することとなった。   In view of this result, the present inventors presumed as follows. As the deterioration of the OLED progresses, a leak path is gradually generated in the OLED, and the current value of the OLED when a reverse bias voltage is applied increases. As the amount of heat generated by the OLED upon application of the reverse bias voltage increases, the deterioration effect increases, and the recovery effect by applying the reverse bias voltage exceeds the deterioration effect. Was done. As a result, the voltage application in the old method can suppress the deterioration of the OLED characteristics in the initial stage more than in the non-application method, but accelerates the deterioration in the OLED characteristics more than the non-application method in the long term.

そこで、本発明者は、鋭意検討の末、逆バイアスの電圧をOLEDの劣化度合いに応じて適宜変更し、所定のタイミングで逆バイアスの電圧印加を停止することを見出し、回復効果を得つつも、劣化効果を抑制された本実施形態の表示装置をなすに至った。   Therefore, the inventor of the present invention, after diligent studies, changed the reverse bias voltage as appropriate according to the degree of deterioration of the OLED, and found that the application of the reverse bias voltage was stopped at a predetermined timing. Thus, the display device according to the present embodiment in which the deterioration effect is suppressed has been achieved.

次いで、本実施形態の表示装置において実施する方式の逆バイアスの電圧印加(以下「新方式の電圧印加」という)を実施した場合のOLEDの相対輝度の経時変化について説明する。図3に示す新方式の電圧印加でのOLEDの相対輝度の経時変化は、旧方式の電圧印加の場合と同様の方法で得られたものである。   Next, a temporal change in the relative luminance of the OLED when a reverse bias voltage is applied in the display device of the present embodiment (hereinafter, referred to as “new-type voltage application”) is described. The change over time of the relative luminance of the OLED under the new system voltage application shown in FIG. 3 was obtained by the same method as the old system voltage application.

新方式の電圧印加では、図3に示す初期から中期の途中までにおいては、OLEDの劣化度合いに応じて逆バイアスの電圧を所定の値以下の範囲内で適宜変更すると共に、中期の途中以後においては、逆バイアスの電圧印加を実施しない駆動状況とされる。   In the voltage application of the new method, during the period from the initial period to the middle of the middle period shown in FIG. 3, the reverse bias voltage is appropriately changed within a range equal to or less than a predetermined value according to the degree of deterioration of the OLED. Is a driving state in which no reverse bias voltage is applied.

具体的には、新方式の電圧印加では、24時間の間隔で1分間、逆バイアスの電圧を適宜変更しながら、OLEDに印加すると共に、逆バイアスの電圧印加時における電流の上限値および電圧の閾値を設け、逆バイアスの電圧を閾値以下とした。この電流の上限値および電圧の閾値の詳細については、後述する。   Specifically, in the voltage application of the new method, the voltage is applied to the OLED for 1 minute at an interval of 24 hours while appropriately changing the reverse bias voltage, and the upper limit value of the current and the voltage of the reverse bias voltage are applied. A threshold was set, and the reverse bias voltage was set to be equal to or lower than the threshold. Details of the upper limit value of the current and the threshold value of the voltage will be described later.

新方式の電圧印加では、図3に示すように、初期のOLEDは、未印加方式の場合に比べて、相対輝度の低下度合いが低減し、経過時間がT1の時点での相対輝度が0.98となった。   As shown in FIG. 3, when the voltage is applied in the new method, the degree of decrease in the relative luminance of the initial OLED is smaller than that in the case where the voltage is not applied, and the relative luminance at the time T1 is 0. 98.

中期のOLEDは、相対輝度の低下度合いが初期よりも小さくなり、未印加方式の中期よりもやや大きいものの、旧方式の電圧印加の中期に比べて大幅に改善された。そして、経過時間がT2での相対輝度が0.83となり、未印加方式および旧方式の電圧印加よりも相対輝度の低下度合いが小さくなった。その後、長期のOLEDは、相対輝度の低下度合いが中期に比べてさらに小さくなり、徐々に相対輝度が低下する傾向であり、経過時間がT2以降においても未印加方式および旧方式の電圧印加に比べて相対輝度が高かった。   In the middle-stage OLED, the degree of decrease in relative luminance was smaller than in the initial stage, and was slightly larger than the middle stage in the non-applied system, but was significantly improved compared to the middle stage in the old system in which voltage was applied. Then, the relative luminance at the elapsed time T2 was 0.83, and the degree of decrease in the relative luminance was smaller than in the voltage application in the non-applied system and the old system. After that, in the long-term OLED, the degree of decrease in the relative luminance is smaller than that in the middle period, and the relative luminance tends to gradually decrease. And the relative luminance was high.

この結果は、順バイアスの電圧印加と独立して逆バイアスの電圧およびその印加を制御することで、逆バイアスの電圧印加による回復効果を得つつも、劣化効果を抑制し、OLEDをより長時間駆動することができることを示している。   The result is that, by controlling the reverse bias voltage and its application independently of the forward bias voltage application, while obtaining the recovery effect by applying the reverse bias voltage, the deterioration effect is suppressed, and the OLED can be used for a longer time. It shows that it can be driven.

次に、新方式の電圧印加における電流の上限値および電圧の閾値について、図4を参照して説明する。図4では、初期のOLEDの電流−電圧特性については実線で示し、劣化後のOLEDについて電流−電圧特性については破線で示している。   Next, the upper limit value of the current and the threshold value of the voltage in the new-type voltage application will be described with reference to FIG. In FIG. 4, the current-voltage characteristics of the initial OLED are indicated by solid lines, and the current-voltage characteristics of the deteriorated OLED are indicated by broken lines.

まず、OLEDの劣化進行に伴うOLEDの電流−電圧特性の変化について説明する。   First, a description will be given of a change in the current-voltage characteristics of the OLED with the progress of the deterioration of the OLED.

逆バイアスの電圧(負の電圧)を印加した場合、OLEDは、ダイオードであるため、図4に示すように、初期においては、あまり電流が生じず、その電流密度が小さいが、劣化が進行すると、逆バイアスの電圧印加時の電流密度が増加する。   When a reverse bias voltage (negative voltage) is applied, since the OLED is a diode, as shown in FIG. 4, a current does not initially generate much, and the current density is small. As a result, the current density when a reverse bias voltage is applied increases.

一方、順バイアスの電圧(正の電圧)を印加した場合、OLEDは、0Vから発光開始電圧(図4の例では約4V)まではあまり電流が生じず、電流密度が小さいが、発光開始電圧を超えると、発光層の抵抗値が低下し、電圧上昇に伴って電流密度が大きくなる。劣化が進行すると、OLEDは、0Vから発光開始電圧までの電流密度については初期とほぼ同じであるが、発光開始電圧を超える電圧における電流密度については小さくなり、図4に示すように、高電圧側にシフトした状態となる。   On the other hand, when a forward bias voltage (positive voltage) is applied, the OLED does not generate much current from 0 V to the light emission start voltage (about 4 V in the example of FIG. 4) and has a small current density. If it exceeds, the resistance value of the light emitting layer decreases, and the current density increases as the voltage increases. As the deterioration progresses, the OLED has almost the same current density from 0 V to the light emission start voltage as the initial state, but has a smaller current density at a voltage exceeding the light emission start voltage, and as shown in FIG. Side.

続いて、新方式の電圧印加における電流の上限値および電圧の閾値について説明する。   Next, the upper limit value of the current and the threshold value of the voltage in the voltage application in the new method will be described.

過剰な逆バイアスの電圧が印加されないようにするため、逆バイアスの電圧印加時における電流密度の上限値および電圧の閾値を設定した。具体的には、順バイアスの発光開始電圧を印加した際におけるOLEDの電流密度を、逆バイアスの電圧印加時の電流密度の上限値とした。   In order to prevent an excessive reverse bias voltage from being applied, the upper limit of the current density and the voltage threshold when the reverse bias voltage was applied were set. Specifically, the current density of the OLED when the forward bias light emission start voltage was applied was set as the upper limit of the current density when the reverse bias voltage was applied.

これは、逆バイアスの電圧印加により、発光開始時における電流密度を超える電流密度がOLEDに生じた場合、これが劣化進行によって生じたリークパスでの電流に起因するものであって、電流−電圧特性の低下改善に寄与しないと考えられることによる。言い換えると、発光開始時における電流密度を超える電流密度(以下「過剰な電流密度」という)が、逆バイアスの電圧印加の本来の目的であるOLEDの機能層での不要なキャリアの除去に寄与せず、単に発熱の原因となるに過ぎないと考えられるためである。   This is because, when a current density exceeding the current density at the start of light emission is generated in the OLED due to the application of the reverse bias voltage, this is caused by the current in the leak path caused by the progress of deterioration. It is considered that it does not contribute to the improvement. In other words, the current density exceeding the current density at the start of light emission (hereinafter referred to as “excessive current density”) contributes to the removal of unnecessary carriers in the functional layer of the OLED, which is the original purpose of reverse bias voltage application. This is because it is considered that it merely causes heat generation.

また、初期のOLEDにおいて、上記した電流密度の上限値となる負の電圧を閾値として設定し、逆バイアスの電圧をこの閾値以下とした。例えば、図4に示す例では、発光開始電圧約4Vにおける電流密度を、逆バイアスの電圧印加時の電流密度の上限値とし、初期のOLEDにおいて、この上限値の電流密度となる逆バイアスの電圧約−7Vを閾値とした。そして、逆バイアスの電圧は、閾値以下の範囲内(図4の例では、0V〜−7Vの範囲内)となるようにした。これにより、逆バイアスの電圧印加時に、OLEDに過剰な電流密度による発熱の影響を低減し、逆バイアスの電圧印加による劣化効果を抑制できる。   Further, in the initial OLED, the negative voltage, which is the upper limit of the current density, was set as a threshold, and the reverse bias voltage was set to be equal to or lower than the threshold. For example, in the example shown in FIG. 4, the current density at the light emission start voltage of about 4 V is set as the upper limit value of the current density when the reverse bias voltage is applied. About -7 V was set as the threshold. Then, the reverse bias voltage is set to be within a range equal to or less than the threshold value (in the example of FIG. 4, within a range of 0 V to −7 V). Thereby, when applying a reverse bias voltage, the effect of heat generation due to excessive current density on the OLED can be reduced, and the deterioration effect due to the application of the reverse bias voltage can be suppressed.

加えて、本実施形態の表示装置では、逆バイアスの電圧が閾値であっても、OLEDの劣化進行によって上記の電流密度の上限を超える場合には、そのOLED(画素)には逆バイアスの電圧印加を行わない構成とされる。これにより、逆バイアスの電圧印加によるOLEDの回復効果よりも劣化効果が大きくなった状況において、不要な逆バイアスの電圧印加が行われないことで、OLEDの劣化促進が防止され、OLEDをより長時間駆動することができる。   In addition, in the display device of the present embodiment, even if the reverse bias voltage is a threshold, if the current density exceeds the upper limit of the above-described current density due to the progress of OLED deterioration, the reverse bias voltage is applied to the OLED (pixel). The application is not performed. Accordingly, in a situation where the degradation effect is larger than the recovery effect of the OLED by the application of the reverse bias voltage, the unnecessary reverse bias voltage is not applied, thereby preventing the OLED from deteriorating and promoting the OLED. Can be time driven.

具体的には、初期において、OLEDの発光開始電圧における電流密度が0.1mA/cmであり、逆バイアスの電圧印加により0.1mA/cmとなる電圧が−7Vである場合を例に説明する。 Specifically, in the initial current density in the light emission start voltage of the OLED is 0.1 mA / cm 2, a case where the voltage to be 0.1 mA / cm 2 by applying a voltage of a reverse bias is -7V Examples explain.

この例の場合、逆バイアスの電圧印加における電流密度の上限値が0.1mA/cmであり、逆バイアスの電圧の閾値が−7Vである。初期においては、例えば、逆バイアスの電圧を−4Vとした場合、このときの電流密度が0.001mA/cm程度であり、OLEDにほとんど電流が生じない。OLEDの劣化が進行すると、徐々に逆バイアスの電圧印加時の電流密度が大きくなり、これに併せて逆バイアスの電圧を例えば−5V、−6Vと徐々に閾値に近づける。このとき、逆バイアスの電圧は、閾値(この例では−7V)が上限とされ、−7Vを超える負電圧にはされず、所定の累積発光時間となった後においては、−7Vで固定される。 In the case of this example, the upper limit value of the current density when applying the reverse bias voltage is 0.1 mA / cm 2 , and the threshold value of the reverse bias voltage is −7V. At the initial stage, for example, when the reverse bias voltage is −4 V, the current density at this time is about 0.001 mA / cm 2 , and almost no current is generated in the OLED. As the deterioration of the OLED progresses, the current density at the time of applying the reverse bias voltage gradually increases, and accordingly, the reverse bias voltage gradually approaches the threshold value, for example, -5V and -6V. At this time, the reverse bias voltage has a threshold value (-7 V in this example) as an upper limit, is not set to a negative voltage exceeding -7 V, and is fixed at -7 V after a predetermined cumulative light emission time. You.

そして、逆バイアスの電圧が閾値まで上げられた場合であっても、その際の電流密度が上限値以下であるときには、閾値での逆バイアスの電圧印加を継続する。一方、閾値での逆バイアスの電圧印加において、その際の電流密度が上限値を超えた場合には、それ以降の逆バイアスの電圧印加を実行しない。   Then, even when the reverse bias voltage is raised to the threshold, if the current density at that time is equal to or lower than the upper limit, the application of the reverse bias voltage at the threshold is continued. On the other hand, in the application of the reverse bias voltage at the threshold value, if the current density at that time exceeds the upper limit, the subsequent reverse bias voltage application is not performed.

なお、順バイアスでのOLEDの駆動については、逆バイアスの電圧印加に用いる電源と異なる電源により独立して行われ、逆バイアスの電圧印加が停止された後においても継続される。   The driving of the OLED with the forward bias is independently performed by a power supply different from the power supply used for applying the reverse bias voltage, and is continued even after the reverse bias voltage application is stopped.

次に、補正部5による順バイアスでの駆動条件の補正の一例について説明する。   Next, an example of the correction of the driving condition with the forward bias by the correction unit 5 will be described.

表示部1を構成する各画素について初期輝度と同程度の輝度を維持するため、補正部5は、各画素の劣化度合いに応じてそれぞれの順バイアスでの駆動条件の補正を行う。この際、補正部5は、上記の新方式の電圧印加による改善後のOLEDの電流−電圧特性のデータに基づいて補正を実行する。   In order to maintain the same luminance as the initial luminance for each of the pixels constituting the display unit 1, the correction unit 5 corrects the driving condition with each forward bias according to the degree of deterioration of each pixel. At this time, the correction unit 5 performs the correction based on the data of the current-voltage characteristic of the OLED after the improvement by the voltage application in the new method.

具体的には、例えば以下に示す(1)式、すなわち初期劣化の成分と通常劣化の成分とに基づく相対輝度Lの算出式における各種の係数a1、b1、a2、b2を逆バイアスの電圧印加後に更新する。そして、その更新後の相対輝度Lの算出式に基づき、逆バイアスの電圧印加後の画素を初期輝度と同程度の輝度にするための順バイアスでの駆動条件を算出し、この駆動条件にて当該画素を発光させる。これにより、逆バイアスの電圧印加による電流−電圧特性の回復を反映した上で順バイアスでの駆動条件が設定されるため、画素を過剰な電流駆動により発光させることが抑制され、各画素の信頼性、ひいては表示部1の信頼性が向上する。   Specifically, for example, various coefficients a1, b1, a2, and b2 in a formula (1) shown below, that is, a calculation formula of a relative luminance L based on a component of initial deterioration and a component of normal deterioration, are applied with a reverse bias voltage. Will update later. Then, based on the calculation formula of the relative luminance L after the update, the driving condition in the forward bias for making the pixel after the application of the reverse bias voltage the luminance substantially equal to the initial luminance is calculated, and the driving condition is calculated. The pixel is caused to emit light. Accordingly, the driving conditions under the forward bias are set while reflecting the recovery of the current-voltage characteristics due to the application of the reverse bias voltage, so that the pixels are prevented from emitting light due to excessive current driving, and the reliability of each pixel is reduced. And the reliability of the display unit 1 is improved.

L=a1×exp(−t×b1)+a2×exp(−t×b2)・・・(1)
なお、(1)式の右辺における第1項が初期劣化の成分に相当し、(1)式の右辺における第2項が初期劣化以降の通常劣化の成分に相当する。また、係数a1、b1が初期劣化に関する係数であり、係数a2、b2が通常劣化に関する係数であり、tが累積発光時間である。また、各種係数の算出については、逆バイアスの電圧印加による回復後のOLEDの電流および電圧の値を、相対輝度Lの(1)式を用いて算出することができる。さらに、(1)式では、分かり易くするため、各種係数を簡単に表記したが、公知文献に記載の方法と同様に、初期劣化成分の活性化エネルギーEa,inintial、通常劣化成分の活性化エネルギーEa,normal、絶対温度T、ボルツマン係数kの関数を用いることが好ましい。これにより、より正確に相対輝度Lを算出することができ、補正の精度が向上する。
L = a1 × exp (−t × b1) + a2 × exp (−t × b2) (1)
The first term on the right side of the equation (1) corresponds to the component of the initial deterioration, and the second term on the right side of the equation (1) corresponds to the component of the normal deterioration after the initial deterioration. Further, coefficients a1 and b1 are coefficients related to initial deterioration, coefficients a2 and b2 are coefficients related to normal deterioration, and t is an accumulated light emission time. Further, regarding the calculation of various coefficients, the values of the current and the voltage of the OLED after the recovery by the application of the reverse bias voltage can be calculated by using the expression (1) of the relative luminance L. Further, in the equation (1), various coefficients are simply described for easy understanding. However, similarly to the method described in the known literature, the activation energy E a, inintial of the initial deterioration component and the activation energy of the normal deterioration component are used. It is preferable to use a function of the energy E a, normal , the absolute temperature T, and the Boltzmann coefficient k. As a result, the relative luminance L can be calculated more accurately, and the accuracy of correction is improved.

また、画素が発光色の異なる複数の副画素(例えば、赤、緑、青の3つの副画素)により構成されている場合、この発光色ごとにそれぞれ補正を実行する。上記の係数の算出方法は、あくまで一例であり、他の公知の方法が採用されてもよい。   When a pixel is composed of a plurality of sub-pixels having different emission colors (for example, three sub-pixels of red, green, and blue), correction is executed for each emission color. The above-described method of calculating the coefficient is merely an example, and another known method may be employed.

次に、逆バイアスの電圧を印加するタイミングの例について説明する。   Next, an example of the timing of applying a reverse bias voltage will be described.

まず、順バイアスでのOLED駆動のフレームレートが高速である場合には、例えば、順バイアスのフレームレートの合間、すなわち発光させる各フレームの間に逆バイアスの電圧を印加することができる。これにより、画像を表示部1に表示させつつも、逆バイアスの電圧印加時にOLEDが未発光の状態になることによる人の視覚上の違和感を生じさせることなく、逆バイアスの電圧印加を行うことができる。   First, when the frame rate of the OLED drive with the forward bias is high, for example, a reverse bias voltage can be applied between the frame rates of the forward bias, that is, between the frames to emit light. Thus, while the image is displayed on the display unit 1, the reverse bias voltage is applied without causing a sense of visual discomfort to humans due to the OLED not emitting light when the reverse bias voltage is applied. Can be.

なお、ここでいう「フレームレートが高速」とは、単位時間でのOLEDへの順バイアスの電流駆動をするタイミング(発光)としないタイミング(未発光)との切替の回数が多く、OLEDが未発光になる瞬間を人の肉眼では確認できない状態であることを指す。また、後述する「フレームレートが低速」とは、単位時間での上記の切替の回数が少なく、OLEDが未発光になる瞬間を人の肉眼では確認できる状態であることを指す。   Here, “high frame rate” means that the number of times of switching between timing (light emission) and timing (non-light emission) of forward bias current drive to the OLED per unit time is large, and It means that the moment of light emission cannot be confirmed by the naked eye of a person. Further, “the frame rate is low”, which will be described later, indicates that the number of times of the above-described switching per unit time is small, and the moment when the OLED does not emit light can be confirmed by the naked eye.

一方、順バイアスでのOLED駆動のフレームレートが低速である場合には、逆バイアスの電圧の印加が必要な画素のうち発光させていない画素、すなわち画像の表示に使用されていない画素に逆バイアスの電圧を印加する。これにより、フレームレートが高速である場合と同様に、画像を表示部1に表示させつつも、人の視覚上の違和感を生じさせることなく、逆バイアスの電圧印加を行うことができる。   On the other hand, when the frame rate of the OLED drive in the forward bias is low, the pixels that do not emit light, that is, the pixels that are not used for displaying an image, Is applied. Thus, as in the case where the frame rate is high, it is possible to apply a reverse bias voltage while displaying an image on the display unit 1 and without causing a sense of discomfort to human eyes.

なお、この場合、必要に応じて、表示部1における画像の表示位置を変更するウォブリング処理を行い、意図的に逆バイアスの電圧印加が必要な画素を未発光の状態とした上で、逆バイアスの電圧印加を実行してもよい。   In this case, if necessary, a wobbling process for changing the display position of the image on the display unit 1 is performed, and the pixels that need to apply a reverse bias voltage intentionally are set to the non-emission state, and then the reverse bias is applied. May be applied.

また、フレームレートが低速である場合などにおいて、逆バイアスの電圧印加が実施できなかった画素については、本実施形態の表示装置の使用を開始する際やその使用を終了する際に逆バイアスの電圧印加が実行されてもよい。例えば、車載用途の場合には、前者の逆バイアスの電圧印加についてはイグニッション電源がONにされた際に実行され、後者の逆バイアスの電圧印加についてはイグニッション電源がOFFにされた際に実行されるなどの態様が考えられる。   In addition, when the reverse bias voltage cannot be applied when the frame rate is low, for example, when the use of the display device of the present embodiment is started or when the use of the display device is terminated, the reverse bias voltage is not applied. The application may be performed. For example, in the case of in-vehicle use, the former reverse bias voltage application is performed when the ignition power supply is turned on, and the latter reverse bias voltage application is performed when the ignition power supply is turned off. And the like.

本実施形態によれば、表示部1の各画素に所定の間隔で逆バイアスの電圧を印加する際に、画素の劣化度合いに応じて逆バイアスの電圧を順バイアスの電圧とは個別独立して調整でき、各画素の電流−電圧特性の低下の改善と劣化抑制とを両立できる構成となる。また、ある画素の劣化度合いが所定以上となった場合には、逆バイアスの電圧印加を停止することで、不要な逆バイアスの電圧印加による劣化を抑制でき、従来よりも信頼性の高い表示装置となる。   According to the present embodiment, when a reverse bias voltage is applied to each pixel of the display unit 1 at a predetermined interval, the reverse bias voltage is independently and independently of the forward bias voltage according to the degree of deterioration of the pixel. The configuration can be adjusted so that both the improvement of the deterioration of the current-voltage characteristics of each pixel and the suppression of the deterioration can be achieved. Further, when the degree of deterioration of a certain pixel becomes equal to or more than a predetermined value, by stopping the application of the reverse bias voltage, it is possible to suppress the deterioration due to the application of the unnecessary reverse bias voltage. Becomes

(他の実施形態)
なお、上記した各実施形態に示した表示装置は、本発明の表示装置の一例を示したものであり、上記の各実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載した範囲内において適宜変更が可能である。
(Other embodiments)
Note that the display device shown in each of the above-described embodiments is an example of the display device of the present invention, and is not limited to each of the above-described embodiments, and is not limited to the scope described in the claims. Can be changed as appropriate.

(1)例えば、上記第1実施形態では、逆バイアスの電圧印加時に電流密度の上限値以上となった場合に、それ以降の逆バイアスの電圧印加を行わない例について説明したが、それ以前に逆バイアスの電圧印加を停止してもよい。また、逆バイアスの電圧印加時に電流密度の上限値を、順バイアスでの発光開始電圧における電流密度とした例について説明したが、この電流密度よりも低い値を上限値と設定してもよい。   (1) For example, in the first embodiment, when the current density is equal to or higher than the upper limit value of the reverse bias voltage, an example in which the reverse bias voltage is not applied thereafter has been described. The application of the reverse bias voltage may be stopped. Also, an example has been described in which the upper limit of the current density at the time of applying the reverse bias voltage is the current density at the light emission start voltage in the forward bias, but a value lower than this current density may be set as the upper limit value.

(2)上記第1実施形態では、画素が発光色の異なる複数の副画素で構成されている場合、これらの副画素のすべてについて新方式の逆バイアスの電圧印加および順バイアスでの駆動条件の補正を行う例について説明した。しかしながら、複数の副画素のうち一部の副画素についてのみ、逆バイアスの電圧印加および補正を行ってもよい。   (2) In the first embodiment, when a pixel is composed of a plurality of sub-pixels having different emission colors, all of these sub-pixels are driven under the new reverse bias voltage application and forward bias driving conditions. The example of performing the correction has been described. However, reverse bias voltage application and correction may be performed only for some of the plurality of sub-pixels.

例えば、複数の副画素のうち相対輝度の低下度合いが大きいもの(例えば、緑、青の副画素)については、逆バイアスの電圧印加および補正を行う。その一方で、相対輝度の低下度合いが小さいもの(例えば、赤の副画素)については、逆バイアスの電圧印加および補正を行わない。このように、逆バイアスの電圧印加および補正を行う副画素が選択されてもよい。   For example, among a plurality of sub-pixels, a reverse bias voltage is applied and corrected for a sub-pixel having a large relative luminance decrease (for example, green and blue sub-pixels). On the other hand, reverse bias voltage application and correction are not performed on a pixel having a small degree of relative luminance decrease (for example, a red sub-pixel). As described above, the sub-pixel for which the reverse bias voltage is applied and the correction is performed may be selected.

1 表示部
2 駆動回路
21 第1回路
22 第2回路
3 劣化推定部
4 制御部
5 補正部
6 映像入力部
REFERENCE SIGNS LIST 1 display unit 2 drive circuit 21 first circuit 22 second circuit 3 deterioration estimation unit 4 control unit 5 correction unit 6 video input unit

Claims (5)

自発光素子により構成される画素を複数有してなる表示部(1)と、
順バイアスの電圧を前記画素に印加して前記画素を発光させるための第1回路(21)と、逆バイアスの電圧を前記画素に印加するための第2回路(22)とを有してなる駆動回路(2)と、
複数の前記画素の劣化度合いを推定する劣化推定部(3)と、
前記画素の接続先を前記第1回路または前記第2回路に制御する制御部(4)と、
前記劣化推定部により推定された劣化度合いに応じて、前記画素の駆動条件を補正する補正部(5)と、
を備え、
前記補正部は、前記画素の劣化度合いに応じて前記順バイアスの電圧および前記逆バイアスの電圧を変更し、
前記逆バイアスの電圧は、前記順バイアスの電圧の印加に用いられる電源とは異なる電源により印加される表示装置。
A display unit (1) having a plurality of pixels constituted by self-luminous elements;
A first circuit (21) for applying a forward bias voltage to the pixel to cause the pixel to emit light and a second circuit (22) for applying a reverse bias voltage to the pixel. A driving circuit (2);
A deterioration estimating unit (3) for estimating the degree of deterioration of the plurality of pixels;
A control unit (4) for controlling a connection destination of the pixel to the first circuit or the second circuit;
A correction unit (5) that corrects the driving condition of the pixel according to the degree of deterioration estimated by the deterioration estimation unit;
With
The correction unit changes the forward bias voltage and the reverse bias voltage according to the degree of deterioration of the pixel,
The display device, wherein the reverse bias voltage is applied by a power supply different from a power supply used for applying the forward bias voltage.
前記逆バイアスの電圧は、所定の閾値以下である請求項1に記載の表示装置。   The display device according to claim 1, wherein the reverse bias voltage is equal to or less than a predetermined threshold. 前記逆バイアスの電圧は、前記逆バイアスの電圧を前記画素に印加した際の前記画素の電流密度が、前記順バイアスの電圧であって前記画素が発光を開始する発光開始電圧における前記画素の電流密度以下となるように設定される請求項2に記載の表示装置。   The reverse bias voltage is such that when the reverse bias voltage is applied to the pixel, the current density of the pixel is the forward bias voltage, and the current of the pixel at a light emission start voltage at which the pixel starts emitting light. The display device according to claim 2, wherein the display device is set to have a density equal to or lower than the density. 前記制御部は、複数の前記画素のうち、前記所定の閾値とされた前記逆バイアスの電圧を印加したときの電流密度が前記発光開始電圧における電流密度を超える前記画素については、前記第1回路から前記第2回路への切り替えを実行しない請求項3に記載の表示装置。   The control unit may include, for a plurality of the pixels, a current density when the reverse bias voltage having the predetermined threshold is applied exceeds the current density at the light emission start voltage, and the first circuit The display device according to claim 3, wherein the switching from the first circuit to the second circuit is not performed. 前記補正部は、前記逆バイアスの電圧が印加された後の前記画素の電流−電圧特性に基づいて、前記画素を発光させるための駆動条件の補正を行う請求項1ないし4のいずれか1つに記載の表示装置。   The device according to claim 1, wherein the correction unit corrects a driving condition for causing the pixel to emit light based on a current-voltage characteristic of the pixel after the reverse bias voltage is applied. The display device according to claim 1.
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