JP2019510397A - デバイスクロックをリモートデバイスのクロックに同期させるクロックシンクロナイザ - Google Patents
デバイスクロックをリモートデバイスのクロックに同期させるクロックシンクロナイザ Download PDFInfo
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Abstract
Description
ターゲットクロックと、デバイスクロックまたはデバイスクロックに関係する内部デバイスクロックとの位相差を測定して位相情報を提供する時間測定手段と、
第1の位相情報をもたらす第1の時間測定を開始し、第1の時間測定の所定期間後に、第2の位相情報をもたらす第2の時間測定を開始する測定制御手段と、
評価手段による第1の位相情報および第2の位相情報の評価に基づいてデバイスクロックおよび/または内部デバイスクロックの周波数をターゲットクロックの周波数に補正する周波数補正手段と
を備え、測定制御手段は、評価手段によって評価され、デバイスクロックの位相をターゲットクロックの位相に補正する位相補正手段によって補正される第3の位相情報をもたらす、デバイスクロックおよび/または内部デバイスクロックの周波数補正の後の第3の時間測定を開始するように構築されている、同期手段を用いて達成される。
ターゲットクロックと、デバイスクロックまたはデバイスクロックに関係する内部デバイスクロックとの位相差を測定して第1の位相情報を提供するステップと、
内部クロックのクロック数を一定数カウントして一定の時間待機するステップと、
ターゲットクロックと、デバイスクロックまたは内部デバイスクロックとの位相差を再度測定して第2の位相情報を提供するステップと、
第1の位相情報および第2の位相情報の評価によってデバイスクロックおよび/または内部デバイスクロックの周波数をターゲットクロックの周波数に補正するステップと、
ターゲットクロックと、デバイスクロックまたは内部デバイスクロックとの位相差を再度測定して第3の位相情報を提供するステップと、
第3の位相情報の評価によってデバイスクロックの位相をターゲットクロックの位相に補正するステップと
を備える方法を用いて達成される。
ターゲットクロック5と、デバイスクロックまたは内部デバイスクロック33との位相差を測定して第1の位相情報φ1を提供するステップと、
内部クロックのクロック数を一定数カウントして一定の時間待機するステップと、
ターゲットクロック5と、デバイスクロックまたは内部デバイスクロック33との位相差を再度測定して第2の位相情報φ2を提供するステップと、
第1の位相情報φ1および第2の位相情報φ2の評価によってデバイスクロック8および/または内部デバイスクロック33の周波数をターゲットクロック5の周波数に補正するステップと、
ターゲットクロック5と、デバイスクロック8または内部デバイスクロック33との位相差を再度測定して第3の位相情報φ3を提供するステップと、
第3の位相情報φ3の評価によってデバイスクロック8の位相をターゲットクロック5の位相に補正するステップ
とを備える。この方法により、デバイス1に関する上述の利点が提供される。
米国特許第6542039号には、デジタルデータを再生するときにクロック再生におけるキャプチャレンジを拡張して、高速で安定した位相同期(phase locking)を行う位相同期ループ装置が開示されている。
Claims (10)
- アンテナを有するデバイス(1)であって、
前記アンテナは、リモートターゲット(2)からターゲットキャリア信号(3)を受信し、データを用いて変調されるデバイスキャリア信号(6)を送信して前記デバイス(1)と前記ターゲット(2)との間でデータを通信し、
前記デバイス(1)は、
前記ターゲットキャリア信号(3)からターゲットクロック(5)を抽出するクロック抽出手段(4)と、
デバイスクロック(8)から前記デバイスキャリア信号(6)を生成するドライバ手段(9)と、
前記デバイスクロック(8)の前記周波数および位相を前記ターゲットクロック(5)に同期させる同期手段(7)と
を備え、
前記同期手段(7)は、
前記ターゲットクロック(5)と、前記デバイスクロック(8)または前記デバイスクロック(8)に関係する内部デバイスクロック(33)との前記位相差を測定して位相情報(φ1,φ2,φ3)を提供する時間測定手段(10)と、
第1の位相情報(φ1)をもたらす第1の時間測定を開始し、前記第1の時間測定の所定期間(ΔΤ)後に、第2の位相情報(φ2)をもたらす第2の時間測定を開始する測定制御手段(20)と、
評価手段(21)による前記第1の位相情報(φ1)および第2の位相情報(φ2)の評価に基づいて前記デバイスクロック(8)および/または前記内部デバイスクロック(33)の前記周波数を前記ターゲットクロック(5)の前記周波数に補正する周波数補正手段(11)と
を備え、
測定制御手段(20)は、前記評価手段(21)によって評価され、前記デバイスクロック(8)の前記位相を前記ターゲットクロック(5)の前記位相に補正する位相補正手段(22)によって補正される第3の位相情報(φ3)をもたらす、前記デバイスクロック(8)および/または前記内部デバイスクロック(33)の前記周波数補正の後の第3の時間測定を開始するように構築されている、デバイス(1)。 - 前記ターゲットクロック(5)の前記周波数よりも高い周波数を持つ内部クロック(19)を生成するクロック生成手段を備えており、
前記時間測定手段(10)は、前記ターゲットクロック(5)または前記内部デバイスクロック(33)のエッジで前記内部クロック(19)を用いてカウントするカウンタを起動し、かつ前記内部デバイスクロック(33)または前記ターゲットクロック(5)の前記エッジで前記カウンタを停止させて、粗位相情報(25)を提供する粗測定手段(24)を備える、請求項1に記載のデバイス(1)。 - 前記時間測定手段(10)は、前記ターゲットクロック(5)のエッジから前記内部クロック(19)の次のエッジまでの時間(27)を測定して細位相情報(28)を提供する細測定手段(26)を備える、請求項2に記載のデバイス(1)。
- 前記時間測定手段(10)は、前記粗位相情報(25)および前記細位相情報(28)を評価して前記位相情報(φ1,φ2,φ3)を提供するように構築されている、請求項3に記載のデバイス(1)。
- 前記時間測定手段(10)は、前記所定期間(ΔΤ)に前記ターゲットクロック(5)のエッジの数と前記内部デバイスクロック(33)のエッジの数とをカウントして位相ラップ情報(30,31)を提供する位相ラップディテクタ(29)を備える、請求項4に記載のデバイス(1)。
- 前記時間測定手段(10)は、前記位相ラップ情報(30,31)を評価して前記位相情報(φ1,φ2,φ3)を提供するように構築されている、請求項5に記載のデバイス(1)。
- 前記評価手段(21)は、φ1を第1の位相情報とし、φ2を第2の位相情報とし、ΔΤを所定期間として式Δf=(φ2−φ1)/ΔΤを用いて前記ターゲットクロック(5)と、前記デバイスクロック(8)または前記内部デバイスクロック(33)との周波数誤差(14)を計算するように構築され、
周波数補正手段(11)は、前記計算された周波数誤差(14)に基づいて前記デバイスクロック(8)および/または前記内部デバイスクロック(33)の前記周波数を前記ターゲットクロック(5)の前記周波数に補正するようにさらに構築されている、請求項1〜6のいずれかに記載のデバイス(1)。 - 前記デバイス(1)はアクティブデータ伝送を用いてスマートカードまたはタグを再現する、請求項1〜7のいずれかに記載のデバイス(1)。
- デバイス(1)中のデバイスクロック(8)の周波数および位相をリモートターゲット(2)のターゲットクロック(5)に同期させる方法であって、
前記デバイス(1)中のターゲットクロック(5)は、前記デバイス(1)のアンテナを用いて前記ターゲット(2)から受信するターゲットキャリア信号(3)から導出され、
前記方法は、
前記ターゲットクロック(5)と、前記デバイスクロック(8)または前記デバイスクロック(8)に関係する内部デバイスクロック(33)との前記位相差を測定して第1の位相情報(φ1)を提供するステップと、
内部クロックのクロック数を一定数カウントして一定の時間待機するステップと、
ターゲットクロック(5)と、前記デバイスクロック(8)または前記内部デバイスクロック(33)との前記位相差を再度測定して第2の位相情報(φ2)を提供するステップと、
前記第1の位相情報(φ1)および第2の位相情報(φ2)の評価によって前記デバイスクロック(8)および/または前記内部デバイスクロック(33)の前記周波数を前記ターゲットクロック(5)の前記周波数に補正するステップと、
前記ターゲットクロック(5)と前記デバイスクロック(8)内部デバイスクロック(33)との前記位相差を再度測定して第3の位相情報(φ3)を提供するステップと、
前記第3の位相情報(φ3)の評価によって前記デバイスクロック(8)の前記位相を前記ターゲットクロック(5)の前記位相に補正するステップと
を含む、方法。 - 前記ターゲットクロック(5)または前記内部デバイスクロック(33)のエッジで前記内部クロック(19)を用いてカウントするカウンタを起動し、かつ前記内部デバイスクロック(33)またはターゲットクロック(5)のエッジで前記カウンタを停止させて粗位相情報(25)を提供するステップと、
前記ターゲットクロック(5)のエッジから前記内部デバイスクロック(33)の次のエッジまでの前記期間(27)を測定して細位相情報(28)を提供するステップと、
前記所定期間(ΔΤ)に前記ターゲットクロック(5)のエッジの数と前記内部デバイスクロック(33)のエッジの数とをカウントして位相ラップ情報(30,31)を提供するステップと、
前記粗位相情報(25)と前記細位相情報(28)と前記位相ラップ情報(30,31)とを評価して前記位相情報(φ1,φ2,φ3)を提供するステップと
を用いて前記ターゲットクロック(5)と前記内部デバイスクロック(33)との前記位相差の前記測定が行われる、請求項9に記載の方法。
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