JP2019219732A - Dual interface card and manufacturing method thereof - Google Patents

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圭介 川口
Keisuke Kawaguchi
圭介 川口
禎恵 小川
Yoshie Ogawa
禎恵 小川
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Abstract

To provide a DIF card that uses conducting wires as an antenna and a contact terminal of the antenna and has improved reliability (particularly, dynamic flexural strength and resistance to high temperature and high humidity), and a manufacturing method thereof.SOLUTION: A dual interface card having a contact communication function and a non-contact communication function includes: a card base material including one or more core sheets; and an IC module embedded from a surface of the card material. A conducting wire is disposed for one of the one or more core sheets. The conducting wire forms a winding antenna section for providing the non-contact communication function and a contact terminal section brought into electrical contact with a terminal of the IC module, and an area ratio of the conducting wire in the contact terminal section is 40% or more.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、デュアルインターフェイスカード及びその製造方法に関する。   The present invention relates to a dual interface card and a method for manufacturing the same.

デュアルインターフェイスカード(以下、「DIFカード」とも称する)は、その表面から埋め込まれているICモジュールと、DIFカードの内部に配置されており、かつICモジュールと電気的に接続しているアンテナとを併用することによって、接触通信及び非接触通信の双方の機能が付与されたカードであり、コンビネーションカードやコンビ式カード又は複合ICカードとも呼ばれる。なお、ICモジュールには、ICチップが内蔵されており、及び接触通信機能を有するICモジュールの端子が備えられている。   A dual interface card (hereinafter, also referred to as a "DIF card") includes an IC module embedded from the surface thereof and an antenna disposed inside the DIF card and electrically connected to the IC module. A card provided with both contact communication and non-contact communication functions when used together, and is also called a combination card, a combination card, or a composite IC card. Note that the IC module has a built-in IC chip and a terminal of the IC module having a contact communication function.

DIFカードに非接触通信機能を付与するためのアンテナとICモジュールとを接続する方式は、上述したように電磁的な方式及び電気的な方式がある。   As described above, there are an electromagnetic method and an electric method for connecting an antenna for providing a non-contact communication function to a DIF card and an IC module.

例えば、特許文献1では、アンテナコイルとICモジュールとが電磁的な結合方式によって接続している複合ICカードが開示されている。しかしながら、このようなアンテナコイルとICモジュールとが直接に接続していない電磁結合式複合カードでは、電磁結合時にロスが生じ、通信の信頼性に問題が生じる場合がある。   For example, Patent Literature 1 discloses a composite IC card in which an antenna coil and an IC module are connected by an electromagnetic coupling method. However, in such an electromagnetic coupling type composite card in which the antenna coil and the IC module are not directly connected, a loss may occur at the time of electromagnetic coupling, and a problem may occur in communication reliability.

これに対して、特許文献2〜4では、アンテナとICモジュールとが、それぞれの端子を介して電気的に接触しているDIFカードが開示されている。   In contrast, Patent Documents 2 to 4 disclose DIF cards in which an antenna and an IC module are in electrical contact with each other via respective terminals.

具体的には、特許文献2では、カード基板の内部に備えた非接触通信用のアンテナとICモジュールとの接合部が、エッチング加工によって形成された格子状のアンテナ接合部パターンにより形成されているカードが開示されている。   Specifically, in Patent Document 2, the joint between the non-contact communication antenna provided inside the card substrate and the IC module is formed by a lattice-shaped antenna joint pattern formed by etching. The card is disclosed.

特許文献3では、導電プレートを介して、導線により形成されたアンテナとICモジュールとを電気的に接続しているカードが開示されている。   Patent Document 3 discloses a card in which an antenna formed by a conductive wire and an IC module are electrically connected via a conductive plate.

特許文献4では、導線を連続して折り曲げて形成されたメアンダ型の接続部を介して、導線により形成されたアンテナのコイル部と、ICモジュールとが電気的に接続されているカード、及びエッチングにより形成されたアンテナの接続部を介して、エッチングにより形成されたアンテナとICモジュールとが電気的に接続それているカードが開示されている。   Patent Document 4 discloses a card in which a coil portion of an antenna formed by a conductive wire and an IC module are electrically connected to each other through a meander-type connecting portion formed by continuously bending a conductive wire, and an etching method. Discloses a card in which an antenna formed by etching is electrically connected to an IC module via a connection portion of the antenna formed by the method.

特開平11−149537号公報JP-A-11-149537 特開2004−280503号公報JP 2004-280503 A 特開2015−97100号公報JP 2015-97100 A 特開2012−93952号公報JP 2012-93952 A

上述した先行技術文献の方法の中で、エッチングによりアンテナを製造する方法を用いると、アンテナが高くなるため、カードのコストが高くなるという問題が知られている。また、アンテナが導線によって形成されている場合でも、ICモジュールとの接続部のためのプレートを使用すると、製造工程が増えてしまい、カードのコストが高くなるという問題が知られている。   When the method of manufacturing an antenna by etching is used among the methods of the above-mentioned prior art documents, there is a known problem that the cost of the card increases because the antenna becomes high. Further, even when the antenna is formed by a conductive wire, the use of a plate for a connection portion with an IC module increases the number of manufacturing steps and increases the cost of the card.

これに対して、アンテナ及びアンテナとICモジュールとの接続部(以下、「接触端子部」とも称する)が全て導線で形成されているDIFカードは、アンテナが安価であるメリットがある。   On the other hand, the DIF card in which the antenna and the connection portion between the antenna and the IC module (hereinafter also referred to as “contact terminal portion”) are all formed of conductive wires has an advantage that the antenna is inexpensive.

しかしながら、このようなアンテナ及びアンテナの接触端子が導線を用いて製造されているDIFカードの場合は、その信頼性(例えば、動的な曲げ強度及び耐湿性)が、エッチング法によって形成されたDIFカードやアンテナの接触端子としてプレートを用いたDIFカードの場合よりも劣ってしまう課題がある。   However, in the case of such a DIF card in which the antenna and the contact terminal of the antenna are manufactured using a conductive wire, the reliability (for example, dynamic bending strength and moisture resistance) of the DIF card formed by the etching method is limited. There is a problem that it is inferior to the case of a DIF card using a plate as a contact terminal of a card or an antenna.

したがって、本発明は、アンテナ及びアンテナの接触端子として導線を用いたDIFカードの場合の課題を解決するためになされたものであり、信頼性(特に、動的な曲げ強度及び耐高温多湿性)が向上されたDIFカード及びその製造方法を提供することを目的とする。   Therefore, the present invention has been made to solve the problem in the case of a DIF card using a conductive wire as an antenna and a contact terminal of the antenna, and has high reliability (in particular, dynamic bending strength and high temperature and humidity resistance). And a method for manufacturing the same.

本発明者らは、以下の手段により、上記課題を解決できることを見出した。   The present inventors have found that the above problem can be solved by the following means.

〈態様1〉
接触通信機能及び非接触通信機能を有するデュアルインターフェイスカードであって、
1又は複数のコアシートを含むカード基材と、前記カード基材の表面から埋め込まれているICモジュールとを有し、
前記1又は複数のコアシートのうちの1つに導線が配置されており、
前記導線が、前記非接触通信機能を提供するための巻線アンテナ部、及び前記ICモジュールの端子と電気的に接触している接触端子部を形成しており、かつ
前記接触端子部における前記導線の面積割合が、40%以上である、
デュアルインターフェイスカード。
〈態様2〉
前記接触端子部における前記導線の面積割合が、44%以上である、態様1に記載のデュアルインターフェイスカード。
〈態様3〉
前記接触端子部が、前記導線によってメアンダ型状に形成されている、態様1又は2に記載のデュアルインターフェイスカード。
〈態様4〉
前記接触端子部のメアンダピッチが、0.3mm以下である、態様3に記載のデュアルインターフェイスカード。
〈態様5〉
前記導線の直径が、0.08mm以上0.16mm以下である、態様1〜4のいずれか一項に記載のデュアルインターフェイスカード。
〈態様6〉
前記導線が配置されている前記コアシートが、ビカット軟化温度70℃以上の樹脂シートである、態様1〜5のいずれか一項に記載のデュアルインターフェイスカード。
〈態様7〉
接触通信機能及び非接触通信機能を有するデュアルインターフェイスカードの製造方法であって、下記工程(a)〜(c)を含み:
(a)1又は複数のコアシートを含むカード基材を形成すること;
(b)前記カード基材の表面から、ICモジュールを埋め込む埋め込み予定領域を切削すること;及び
(c)前記ICモジュールを、前記埋め込み予定領域に埋め込むこと、
前記1又は複数のコアシートのうちの1つに導線が配置されており、
前記導線が、前記非接触通信機能を提供するための巻線アンテナ部、及び前記ICモジュールの端子と電気的に接触している接触端子部を形成しており、かつ
前記接触端子部における前記導線の面積割合が、40%以上である、
方法。
〈態様8〉
前記接触端子部における前記導線の面積割合が、44%以上である、態様7に記載の方法。
〈態様9〉
前記接触端子部が、前記導線によってメアンダ型状に形成されている、態様7又は8に記載の方法。
〈態様10〉
前記接触端子部のメアンダピッチが、0.3mm以下である、態様9に記載の方法。
<Aspect 1>
A dual interface card having a contact communication function and a contactless communication function,
Having a card substrate including one or more core sheets, and an IC module embedded from the surface of the card substrate,
A conductor is arranged on one of the one or more core sheets,
The conductive wire forms a winding antenna portion for providing the non-contact communication function, and a contact terminal portion in electrical contact with a terminal of the IC module; and the conductive wire in the contact terminal portion Has an area ratio of 40% or more,
Dual interface card.
<Aspect 2>
The dual interface card according to aspect 1, wherein an area ratio of the conductive wire in the contact terminal portion is 44% or more.
<Aspect 3>
The dual interface card according to aspect 1 or 2, wherein the contact terminal portion is formed in a meander shape by the conductive wire.
<Aspect 4>
The dual interface card according to aspect 3, wherein the meander pitch of the contact terminals is 0.3 mm or less.
<Aspect 5>
The dual interface card according to any one of aspects 1 to 4, wherein a diameter of the conductor is 0.08 mm or more and 0.16 mm or less.
<Aspect 6>
The dual interface card according to any one of aspects 1 to 5, wherein the core sheet on which the conductive wires are arranged is a resin sheet having a Vicat softening temperature of 70 ° C or higher.
<Aspect 7>
A method for manufacturing a dual interface card having a contact communication function and a contactless communication function, comprising the following steps (a) to (c):
(A) forming a card substrate comprising one or more core sheets;
(B) cutting, from the surface of the card base material, an area to be embedded in which the IC module is to be embedded; and (c) embedding the IC module in the area to be embedded.
A conductor is disposed on one of the one or more core sheets,
The conductive wire forms a wire antenna portion for providing the non-contact communication function, and a contact terminal portion in electrical contact with a terminal of the IC module; and the conductive wire in the contact terminal portion Has an area ratio of 40% or more,
Method.
<Aspect 8>
The method according to aspect 7, wherein an area ratio of the conductive wire in the contact terminal portion is 44% or more.
<Aspect 9>
The method according to aspect 7 or 8, wherein the contact terminal portion is formed in a meander shape by the conductive wire.
<Aspect 10>
The method according to aspect 9, wherein the meander pitch of the contact terminals is 0.3 mm or less.

本発明によれば、アンテナ及びアンテナの接触端子として導線を用いたDIFカードの信頼性(特に、動的な曲げ強度及び耐高温多湿性)を向上させることができる。   According to the present invention, it is possible to improve the reliability (particularly, dynamic bending strength and resistance to high temperature and humidity) of a DIF card using a conductor as a contact terminal of the antenna and the antenna.

図1は、本発明のカード基材に含まれる1つのコアシートに配置されている導線の一態様を示す平面図である。FIG. 1 is a plan view showing one embodiment of a conductive wire arranged on one core sheet included in the card base material of the present invention. 図2は、メアンダ型状の接触端子部の一部を示す拡大図である。FIG. 2 is an enlarged view showing a part of a meander type contact terminal portion. 図3(a)は、本発明にかかるカード基材上における埋め込み予定領域の一態様を示す平面透視概略図である。図3(b)は、図3(a)のA−A線断面の埋め込み予定領域付近の図である。FIG. 3A is a schematic plan perspective view showing one embodiment of a region to be embedded on the card base material according to the present invention. FIG. 3B is a diagram showing the vicinity of a region to be embedded in the cross section taken along the line AA in FIG. 図4は、埋め込み予定領域にICモジュールを埋め込んだ後の一態様を断面模式図である。FIG. 4 is a schematic cross-sectional view of one embodiment after the IC module is embedded in the area to be embedded. 図5は、実施例1及び2、並びに比較例1及び2にかかるカード基材の積層順を示す概略図である。FIG. 5 is a schematic diagram showing the order of lamination of card substrates according to Examples 1 and 2 and Comparative Examples 1 and 2. 図6は、比較例3にかかるカード基材の積層順を示す概略図である。FIG. 6 is a schematic diagram illustrating a stacking order of card base materials according to Comparative Example 3.

≪DIFカード≫
本発明のDIFカードは、
接触通信機能及び非接触通信機能を有するデュアルインターフェイスカードであって、
1又は複数のコアシートを含むカード基材と、カード基材の表面から埋め込まれているICモジュールとを有し、
1又は複数のコアシートのうちの1つに導線が配置されており、
導線が、非接触通信機能を提供するための巻線アンテナ部、及びICモジュールの端子と電気的に接触している接触端子部を形成しており、かつ
接触端子部における導線の面積割合が、40%以上である。
≪DIF card≫
The DIF card of the present invention
A dual interface card having a contact communication function and a contactless communication function,
Having a card substrate including one or more core sheets, and an IC module embedded from the surface of the card substrate;
A conductor is arranged on one of the one or more core sheets,
The conductor forms a winding antenna part for providing a non-contact communication function, and a contact terminal part which is in electrical contact with a terminal of the IC module, and an area ratio of the conductor in the contact terminal part is: 40% or more.

上述したように、本発明のDIFカードは、アンテナ及びアンテナの接触端子として導線を用いているにも関わらず、動的な曲げ強度及び耐湿性を向上することができる。これは、本発明者らの鋭意研究によって、ICモジュールの端子と電気的に接触している接触端子部における導線の面積割合が40%以上であると、動的な曲げ強度及び耐湿性を向上することが見出された結果である。   As described above, the DIF card of the present invention can improve dynamic bending strength and moisture resistance despite using a conductor as an antenna and a contact terminal of the antenna. According to the inventor's intensive research, the dynamic bending strength and the moisture resistance are improved when the area ratio of the conductive wire in the contact terminal portion electrically contacting the terminal of the IC module is 40% or more. This is the result of finding that

以下では、本発明のDIFカードの構成要素の詳細について説明する。   Hereinafter, the components of the DIF card of the present invention will be described in detail.

〈カード基材〉
本発明において、カード基材は、1又は複数のコアシートを含む。
<Card base material>
In the present invention, the card substrate includes one or a plurality of core sheets.

カード基材の厚さは、特に限定されず、例えば、500μm以上、550μm以上、600μm以上、650μm以上、680μm以上、700μm以上、750μm以上、又は800μm以上であってもよく、また900μm以下、850μm以下、又は800μm以下であってもよい。   The thickness of the card base material is not particularly limited, and may be, for example, 500 μm or more, 550 μm or more, 600 μm or more, 650 μm or more, 680 μm or more, 700 μm or more, 750 μm or more, or 800 μm or more, or 900 μm or less, 850 μm. Or less, or 800 μm or less.

(導線)
カード基材に含まれる1又は複数のコアシートのうちの1つに、導線が配置されている。この導線は、非接触通信機能を提供するための巻線アンテナ部、及びICモジュールの端子と電気的に接触している接触端子部を形成している。
(Conductor)
Conductive wires are arranged on one of one or a plurality of core sheets included in the card base material. The conductor forms a wire-wound antenna section for providing a non-contact communication function and a contact terminal section which is in electrical contact with a terminal of the IC module.

例えば、図1は、本発明のカード基材に含まれる1つのコアシートに配置されている導線の一態様を示す平面図である。図1に示されているように、コアシート20の上に、導線10が配置されている。導線10は、巻線アンテナ部11、並びに接触端子部12a及び12bを形成している。   For example, FIG. 1 is a plan view showing one embodiment of a conductive wire arranged on one core sheet included in the card base material of the present invention. As shown in FIG. 1, a conductor 10 is arranged on a core sheet 20. The conducting wire 10 forms a winding antenna section 11 and contact terminal sections 12a and 12b.

また、導線は、コアシートの表側の面に配置されていてもよく、裏側の面に配置されていてもよい。   In addition, the conductive wire may be disposed on the front surface of the core sheet, or may be disposed on the rear surface.

なお、本明細書において、「表側の面」とは、得られるDIFカードの表面側に向いている面を指し、また「裏側の面」とは、表側の面とは反対向きを有する面であり、すなわち得られるDIFカードの裏面側に向いている面を指す。   In this specification, the “front side” refers to the side facing the front side of the obtained DIF card, and the “back side” refers to the side having the opposite direction to the front side. Yes, that is, the surface facing the back side of the obtained DIF card.

巻線アンテナ部は、導線がコイル状(渦巻状)に巻かれている部分であり、非接触通信機能を奏する部分である。例えば、図1では、巻線アンテナ部11は、約3巻のコイル状に巻かれている。なお、巻線アンテナ部の巻回数は、特に限定されず、目的・用途に合わせて適宜設定することができる。   The wire-wound antenna portion is a portion in which a conductive wire is wound in a coil shape (spiral shape) and has a non-contact communication function. For example, in FIG. 1, the winding antenna unit 11 is wound in a coil shape of about three turns. The number of turns of the winding antenna unit is not particularly limited, and can be appropriately set according to the purpose and application.

接触端子部は、導線が巻線アンテナ部の端から延伸して、一定面積を有する領域を構成するように導線を折り曲げて形成されている部分であり、ICモジュールの端子と接触する役割を有する部分である。ここで、一定面積を有する領域は、導線を折り曲げて形成されている領域であって、ICモジュールの端子と接触できる面積を最小面積として有する領域である。例えば、図1では、接触端子部12aは、導線10が巻線アンテナ部11の一方の端から延伸して、一定面積を有する領域を構成するように導線を折り曲げて形成されている。また、接触端子部12bは、導線10が巻線アンテナ部11のもう一方の端から延伸して、一定面積を有する領域を構成するように導線を折り曲げて形成されている。   The contact terminal portion is a portion formed by bending the conductive wire so that the conductive wire extends from the end of the winding antenna portion and forms a region having a certain area, and has a role of contacting the terminal of the IC module. Part. Here, the region having a certain area is a region formed by bending a conductive wire, and is a region having an area that can contact a terminal of an IC module as a minimum area. For example, in FIG. 1, the contact terminal portion 12a is formed by bending the conductive wire so that the conductive wire 10 extends from one end of the wire antenna portion 11 and forms a region having a certain area. The contact terminal portion 12b is formed by bending the conducting wire so that the conducting wire 10 extends from the other end of the wire antenna portion 11 and forms a region having a certain area.

なお、図1では、接触端子部12a及び12bはそれぞれ、巻線アンテナ部11の2つの端から互いに向き合ってカード中心線の方向に延伸して形成されているが、巻線アンテナ部の2つの端は互いに反対の方向に延伸してそれぞれの接触端子部を形成していてもよい。   In FIG. 1, the contact terminal portions 12a and 12b are formed so as to extend in the direction of the card center line from two ends of the wound antenna portion 11 so as to face each other. The ends may extend in opposite directions to form respective contact terminals.

また、接触端子部がICモジュールの端子と電気的に接触できれば、その形状は特に限定されず、例えば接触端子部は、導線によってメアンダ型状又は渦巻型状に形成されていてもよい。より具体的には、例えば図1に示されている接触端子部12a及び12bは、それぞれ導線によってメアンダ型状に形成されている。   The shape of the contact terminal portion is not particularly limited as long as the contact terminal portion can electrically contact the terminal of the IC module. For example, the contact terminal portion may be formed in a meander shape or a spiral shape by a conductive wire. More specifically, for example, the contact terminal portions 12a and 12b shown in FIG. 1 are each formed in a meander shape by a conductive wire.

なお、接触端子部とICモジュールの端子と電気的に接触することとは、導線の接触端子部とICモジュールの基板部の裏側の端子とが導電性接着剤を介して電気的に接触していてもよく、ICモジュールの基板部の裏側の端子が突起している場合では、導線の接触端子部とICモジュールの基板部の裏側の端子とが直接に電気的に接触していてもよい。   The term “electrical contact with the contact terminal portion and the terminal of the IC module” means that the contact terminal portion of the conductive wire and the terminal on the back side of the substrate portion of the IC module are in electrical contact with each other via a conductive adhesive. Alternatively, when the terminal on the back side of the substrate portion of the IC module is protruding, the contact terminal portion of the conductive wire may be in direct electrical contact with the terminal on the back side of the substrate portion of the IC module.

接触端子部が導線によってメアンダ型状に形成されている際のメアンダピッチは、特に限定されない。本発明の効果をより向上する観点から、接触端子部のメアンダピッチは、0.50mm以下、0.30mm以下、0.28mm以下、0.25mm以下、又は0.20mm以下であってもよい。   The meander pitch when the contact terminal portion is formed in a meander shape by a conductive wire is not particularly limited. From the viewpoint of further improving the effect of the present invention, the meander pitch of the contact terminals may be 0.50 mm or less, 0.30 mm or less, 0.28 mm or less, 0.25 mm or less, or 0.20 mm or less.

本発明において、接触端子部における導線の面積割合は、40%以上であればよく、本発明の効果をより発揮できる観点から44%以上、45%以上、50%以上、又は55%以上であってもよい。また、接触端子部における導線の面積割合の上限は、特に限定されず、100%であってもよいが、導線の種類によって折り曲げて接触端子部を形成する際の操作可能性を考慮すると100%未満であってもよい。   In the present invention, the area ratio of the conductive wire in the contact terminal portion may be 40% or more, and is 44% or more, 45% or more, 50% or more, or 55% or more from the viewpoint of more exerting the effects of the present invention. You may. The upper limit of the area ratio of the conductor in the contact terminal portion is not particularly limited, and may be 100%. However, in consideration of the operability in forming the contact terminal portion by bending depending on the type of the conductor, the upper limit is 100%. May be less than.

また、接触端子部が導線によって均等なメアンダ型状に形成されている場合、例えば図2に示すように、接触端子部における導線1の面積割合は、メアンダピッチpに対する導線1の直径dの割合(d/p)として計算してもよい。この場合において、メアンダピッチに対する導線の直径の割合は、40%以上であればよく、本発明の効果をより発揮できる観点から44%以上、45%以上、50%以上、又は55%以上であってもよい。   When the contact terminal portion is formed in a uniform meander shape by the conductor, for example, as shown in FIG. 2, the area ratio of the conductor 1 in the contact terminal portion is the ratio of the diameter d of the conductor 1 to the meander pitch p. (D / p). In this case, the ratio of the diameter of the conductive wire to the meander pitch may be 40% or more, and is 44% or more, 45% or more, 50% or more, or 55% or more from the viewpoint of more effectively exhibiting the effects of the present invention. You may.

導線の材料は、通信機能及び導電性機能を有するものであれば特に限定されず、例えば銅、アルミニウム、又は金等の金属の線であってもよい。また、導線は、必要に応じて、樹脂等の絶縁性材料で被覆されていてもよい。   The material of the conductive wire is not particularly limited as long as it has a communication function and a conductive function, and may be a metal wire such as copper, aluminum, or gold. Further, the conductive wire may be coated with an insulating material such as a resin as necessary.

導線の直径は、通信機能及び導電性機能を確保できれば特に限定されず、例えば、0.05mm以上、0.06mm以上、0.07mm以上、0.08mm以上、0.09mm以上、0.10mm以上、0.11mm以上、0.12mm以上、0.13mm以上、0.14mm以上、又は0.15mm以上であってもよく、また0.20mm以下、0.19mm以下、0.18mm以下、0.17mm以下、又は0.16mm以下であってもよい。   The diameter of the conductive wire is not particularly limited as long as the communication function and the conductive function can be ensured. For example, 0.05 mm or more, 0.06 mm or more, 0.07 mm or more, 0.08 mm or more, 0.09 mm or more, 0.10 mm or more , 0.11 mm or more, 0.12 mm or more, 0.13 mm or more, 0.14 mm or more, or 0.15 mm or more, and 0.20 mm or less, 0.19 mm or less, 0.18 mm or less, 0.1 mm or less. It may be 17 mm or less, or 0.16 mm or less.

(コアシート)
コアシートの材料として、特に限定されず、例えばポリエチレン、ポリプロピレン等のポリオレフィン系樹脂、ポリスチレン系樹脂、ポリ塩化ビニル系樹脂(PVC)、ポリ(メタ)アクリレート系樹脂、アクリル系樹脂、ポリアセタール樹脂、結晶性ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート(PEN)等の結晶性ポリエステル樹脂、テレフタル酸とエチレングリコール及びシクロヘキサンジメタノールとの共重合体(PET−G)等の非晶性ポリエステル樹脂、ポリアミド樹脂、ポリカーボネート(PC)樹脂、ポリフェニレンサルファイド樹脂、ポリイミド樹脂等の熱可塑性樹脂、又はこれらの樹脂を少なくとも2種以上混合して形成されるポリマーアロイを用いることができる。
(Core sheet)
The material of the core sheet is not particularly limited. For example, polyolefin resins such as polyethylene and polypropylene, polystyrene resins, polyvinyl chloride resins (PVC), poly (meth) acrylate resins, acrylic resins, polyacetal resins, crystals Crystalline polyester resins such as crystalline polyethylene terephthalate (PET), polybutylene terephthalate, and polyethylene naphthalate (PEN); and amorphous polyester resins such as a copolymer of terephthalic acid with ethylene glycol and cyclohexanedimethanol (PET-G) , A thermoplastic resin such as a polyamide resin, a polycarbonate (PC) resin, a polyphenylene sulfide resin, and a polyimide resin, or a polymer alloy formed by mixing at least two or more of these resins. .

コアシートは、これらの樹脂を単層で用いたものであってもよく、又はこれらの積層体であってもよい。   The core sheet may be a single layer using these resins, or may be a laminate thereof.

また、上述した導線が配置されているコアシートは、例えば熱をかけながら導線を描画によってコアシートに配置させる場合を考慮すると、接触端子部において、微細な模様を描画するため、例えば小さいメアンダピッチのメアンダ型状の接触端子部を描画するためには、耐熱性の高いコアシートであることが好ましい。具体的には、導線が配置されているコアシートが、ビカット軟化温度70℃以上の樹脂シートであることが好ましい。このビカット軟化温度は、例えば、75℃以上、80℃以上、85℃以上、90℃以上、95℃以上、100℃以上、105℃以上、110℃以上、115℃以上、又は120℃以上であってもよく、また170℃以下、160℃以下、150℃以下、140℃以下、又は130℃以下であってもよい。   Further, in consideration of the case where the core sheet on which the above-described conductors are arranged is, for example, arranged on the core sheet by drawing while applying heat, in order to draw a fine pattern in the contact terminal portion, for example, a small meander pitch In order to draw the meander-shaped contact terminal portion, a core sheet having high heat resistance is preferable. Specifically, it is preferable that the core sheet on which the conductive wires are arranged is a resin sheet having a Vicat softening temperature of 70 ° C. or higher. The Vicat softening temperature is, for example, 75 ° C or higher, 80 ° C or higher, 85 ° C or higher, 90 ° C or higher, 95 ° C or higher, 100 ° C or higher, 105 ° C or higher, 110 ° C or higher, 115 ° C or higher, or 120 ° C or higher. The temperature may be 170 ° C. or lower, 160 ° C. or lower, 150 ° C. or lower, 140 ° C. or lower, or 130 ° C. or lower.

なお、本発明において、ビカット軟化温度はJIS K7206:2016(試験荷重はA50法に定められる方法に従って測定される。具体的には伝熱媒体の上に試験片を設置し、この試験片の中央部上面に、荷重棒(断面積1mm2)の端面を押し当てた状態で伝熱媒体を昇温し、荷重棒が試験片に1mm進入した時の温度(℃)をビカット軟化温度とする。   In the present invention, the Vicat softening temperature is measured in accordance with JIS K7206: 2016 (the test load is measured according to the method specified in the A50 method. Specifically, a test piece is placed on a heat transfer medium, and the center of the test piece is measured. The temperature of the heat transfer medium is raised while the end surface of the load bar (cross-sectional area: 1 mm 2) is pressed against the upper surface, and the temperature (° C.) when the load bar enters the test piece by 1 mm is defined as the Vicat softening temperature.

個々のコアシートの厚さは、特に限定されず、例えば50μm以上、75μm以上、90μm以上、100μm以上、125μm以上、150μm以上、175μm以上、180μm以上、200μm以上、250μm以上、300μm以上、350μm以上、又は400μm以上であってもよい。また、DIFカードに薄さを追求する観点から、500μm以下、450μm以下、400μm以下、350μm以下、300μm以下、280μm以下、250μm以下、又は200μm以下であってもよい。   The thickness of each core sheet is not particularly limited. For example, 50 μm or more, 75 μm or more, 90 μm or more, 100 μm or more, 125 μm or more, 150 μm or more, 175 μm or more, 180 μm or more, 200 μm or more, 250 μm or more, 300 μm or more, 350 μm or more Or 400 μm or more. Further, from the viewpoint of pursuing the thinness of the DIF card, it may be 500 μm or less, 450 μm or less, 400 μm or less, 350 μm or less, 300 μm or less, 280 μm or less, 250 μm or less, or 200 μm or less.

本発明にかかるカード基材に含まれるコアシートの枚数は、1又は複数である。すなわち、コアシートの枚数は、1枚以上であればよく、例えば2枚以上10枚以下の範囲で、所望のカード基材の厚さの範囲内に合わせて自由に設定することができる。なお、これらのコアシートのうちの1つに、上述した導線が配置されているコアシートは必須に存在する。   The number of core sheets included in the card base material according to the present invention is one or more. That is, the number of core sheets may be one or more. For example, the number of core sheets can be freely set in a range of two or more and ten or less according to a desired thickness of the card base material. In addition, the core sheet in which the above-mentioned conductor is arranged in one of these core sheets is indispensable.

(他の層)
本発明にかかるカード基材は、コアシート以外に、他の層を更に含むことができる。例えば、オーバーフィルム等を含むことができる。
(Other layers)
The card base material according to the present invention may further include other layers in addition to the core sheet. For example, an over film or the like can be included.

オーバーフィルムは、コアシート等を保護する機能を有し、カード基材の少なくとも表面に位置することが好ましく、カード基材の表側及び裏側の双方の最表面に位置することがより好ましい。   The over film has a function of protecting the core sheet and the like, and is preferably located on at least the surface of the card substrate, and more preferably located on the outermost surface on both the front side and the back side of the card substrate.

オーバーフィルムの厚さは、特に限定されず、例えば、30μm以上、35μm以上、40μm以上、45μm以上、50μm以上、又は55μm以上であってもよく、また80μm以下、75μm以下、70μm以下、65μm以下、又は60μm以下であってもよい。   The thickness of the over film is not particularly limited, and may be, for example, 30 μm or more, 35 μm or more, 40 μm or more, 45 μm or more, 50 μm or more, or 55 μm or more, and 80 μm or less, 75 μm or less, 70 μm or less, 65 μm or less. Or 60 μm or less.

オーバーフィルムの材料として、特に限定されず、例えば上述したコアシートの材料を適宜採用できる。   The material of the over film is not particularly limited, and for example, the above-described material of the core sheet can be appropriately used.

また、オーバーフィルムには、シリカ、シリコーンオイル、ワックス等の滑剤、グリオキザール等の耐水化剤、分散剤、消泡剤、酸化防止剤、蛍光染料、紫外線吸収剤等の添加剤を添加してもよい。   In addition, the overfilm may be added with additives such as silica, silicone oil, a lubricant such as wax, a water-proofing agent such as glyoxal, a dispersant, an antifoaming agent, an antioxidant, a fluorescent dye, and an ultraviolet absorber. Good.

〈ICモジュール〉
ICモジュールは、上述したカード基材の表面から埋め込まれている。ICモジュールは、基板部、及びICチップを封止している封止部を有していてもよい。
<IC module>
The IC module is embedded from the surface of the card base described above. The IC module may have a substrate portion and a sealing portion for sealing the IC chip.

(基板部)
基板部を構成する材料は、特に限定されず、例えばガラス−エポキシやポリイミド等であってもよい。
(Board part)
The material constituting the substrate is not particularly limited, and may be, for example, glass-epoxy or polyimide.

基板部は、その裏側には上述した導線の接触端子部と接続できる端子を有する。この端子を構成する材料は、導電性材料であればよく、例えば銅、金、又はアルミニウム等の金属であってもよい。   The substrate portion has a terminal on the back side that can be connected to the above-described contact terminal portion of the conductive wire. The material forming the terminal may be a conductive material, for example, a metal such as copper, gold, or aluminum.

基板部は、その表側が、カード基材の表面から露出していてもよい。また、基板部の表側の面には、外部と接触できる外部接触端子を有することができる。外部接触端子は、例えば銅で構成されているパターン上に、ニッケル、金、銀等で構成されているメッキ層が積層されている外部接触端子であってもよい。   The substrate part may have its front side exposed from the surface of the card base material. Further, an external contact terminal that can make contact with the outside can be provided on the front surface of the substrate unit. The external contact terminal may be, for example, an external contact terminal in which a plating layer made of nickel, gold, silver, or the like is laminated on a pattern made of copper.

(封止部)
封止部は、カード基材の中まで埋め込まれてもよい。封止部の材料は、特に限定されず、例えばエポキシ樹脂、アクリル樹脂、ウレタン樹脂、又はフェノール樹脂等の熱硬化性樹脂であってもよい。
(Sealing part)
The sealing portion may be embedded into the card base material. The material of the sealing portion is not particularly limited, and may be, for example, a thermosetting resin such as an epoxy resin, an acrylic resin, a urethane resin, or a phenol resin.

封止部の中には、ICチップが封止されている。ICチップは、端子との接続は、例えばワイヤーボンディング等の接続部材又は異方性導電ペースト等により行うことができる。   An IC chip is sealed in the sealing portion. The connection between the IC chip and the terminal can be performed by a connection member such as wire bonding or an anisotropic conductive paste.

通常、上述した基板部、封止部、及びICチップを合わせて、「Chip On Tape」と称し、単に「COT」とも称する。   Normally, the above-described substrate, sealing portion, and IC chip are collectively referred to as “Chip On Tape”, or simply as “COT”.

≪DIFカードの製造方法≫
本発明はまた、DIFカードの製造方法を提供する。
製造 Manufacturing method of DIF card≫
The present invention also provides a method for manufacturing a DIF card.

接触通信機能及び非接触通信機能を有するデュアルインターフェイスカードの本発明の製造方法は、下記工程(a)〜(c)を含み:
(a)1又は複数のコアシートを含むカード基材を形成すること;
(b)カード基材の表面から、ICモジュールを埋め込む埋め込み予定領域を切削すること;及び
(c)ICモジュールを、埋め込み予定領域に埋め込むこと、
1又は複数のコアシートのうちの1つに導線が配置されており、
導線が、非接触通信機能を提供するための巻線アンテナ部、及びICモジュールの端子と電気的に接触している接触端子部を形成しており、かつ
接触端子部における導線の面積割合が、40%以上である。
The method for manufacturing a dual interface card having a contact communication function and a contactless communication function according to the present invention includes the following steps (a) to (c):
(A) forming a card substrate comprising one or more core sheets;
(B) cutting, from the surface of the card base material, an area to be embedded in which the IC module is to be embedded; and (c) embedding the IC module in the area to be embedded.
A conductor is arranged on one of the one or more core sheets,
The conductor forms a winding antenna part for providing a non-contact communication function, and a contact terminal part which is in electrical contact with a terminal of the IC module, and an area ratio of the conductor in the contact terminal part is: 40% or more.

以下では、各工程について、図面を参照しながら、説明する。なお、各工程について、上述した本発明のDIFカードにおける内容と関連する部分は、説明を省略する。   Hereinafter, each step will be described with reference to the drawings. Note that, for each step, the description of the parts related to the contents in the above-described DIF card of the present invention is omitted.

〈工程(a)〉
工程(a)では、1又は複数のコアシートを含むカード基材を形成する。ここで、1又は複数のコアシートのうちの1つに導線が配置されており、導線が、非接触通信機能を提供するための巻線アンテナ部、及びICモジュールの端子と電気的に接触している接触端子部を形成しており、かつ接触端子部における導線の面積割合が、40%以上である。
<Step (a)>
In the step (a), a card base material including one or a plurality of core sheets is formed. Here, a conductive wire is disposed on one of the one or more core sheets, and the conductive wire electrically contacts a wire-wound antenna unit for providing a non-contact communication function and a terminal of the IC module. And the area ratio of the conducting wire in the contact terminal portion is 40% or more.

(導線が配置されているコアシートの形成)
上述した導線をコアシートに配置する方法としては、具体的には、設計した巻線アンテナ部及び接触端子部の形状に合わせて、治具を用いて巻線を空芯コイル状に形成してからコアシートに埋め込む方法を用いてもよく、熱をかけながら導線をコアシート上に描画する導線描画法を用いてもよく。
(Formation of core sheet on which conductive wires are arranged)
As a method of arranging the above-described conductors on the core sheet, specifically, in accordance with the shape of the designed winding antenna portion and the contact terminal portion, the winding is formed into an air-core coil shape using a jig. A method of burying the core sheet in the core sheet may be used, or a method of drawing a conductive line on the core sheet while applying heat may be used.

所望の接触端子部の形状を容易に加工できる観点から、導線描画法が好ましい。   From the viewpoint that the shape of the desired contact terminal portion can be easily processed, the conductor drawing method is preferable.

導線描画法では、具体的には、熱、超音波又はそれらを併用しながら、導線をコアシート上に吐出させ、引張ながら導線を予定の形状にコアシート上に描画することができる。また、操作の便宜上、導線を1つの接触端子部から描画して、そして巻線アンテナ部を描画してから、もう1つの接触端子部を描画することが好ましい。   In the lead drawing method, specifically, the lead can be discharged onto the core sheet while applying heat, ultrasonic waves, or a combination thereof, and the lead can be drawn on the core sheet in a predetermined shape while being pulled. Further, for convenience of operation, it is preferable to draw a lead wire from one contact terminal portion, draw a winding antenna portion, and then draw another contact terminal portion.

例えば、図1に示されている導線の態様(形状)に合わせて、導線描画法によって、巻線アンテナ部及び接触端子部を、接触端子部における導線の面積割合が40%以上になるようにして、導線をコアシート上に配置することができる。   For example, in accordance with the form (shape) of the conductor shown in FIG. 1, the wire drawing method is used to change the winding antenna part and the contact terminal part so that the area ratio of the conductor in the contact terminal part becomes 40% or more. Thus, the conductor can be arranged on the core sheet.

なお、コアシートは、特に限定されず、例えばコアシートの材料となる樹脂又はその組成物を押出法等によって形成してもよく、市販の製品を用いてもよい。   The core sheet is not particularly limited. For example, a resin serving as a material of the core sheet or a composition thereof may be formed by an extrusion method or the like, or a commercially available product may be used.

次に、上述した導線が配置されているコアシートを用いて、所望の枚数の他のコアシート、及び/又は必要に応じて使用するオーバーフィルムを積層して、カード基材を形成することができる。なお、ここでいう「他のコアシート」とは、導線が配置されていないコアシートを指し、導線が配置されているコアシートと区別されるものである。   Next, a desired number of other core sheets and / or an over film to be used as necessary are laminated using the core sheet on which the above-described conductive wires are arranged, thereby forming a card base material. it can. Here, the “other core sheet” refers to a core sheet on which a conductor is not arranged, and is distinguished from a core sheet on which a conductor is arranged.

カード基材を形成する例として、表側から、第1の他のコアシート/導線が配置されているコアシート/第2の他のコアシートを、この順に積層して、熱プレスすることによって、カード基材を形成することができる。なお、このように形成されるカード基材において、例えば第1及び第2の他のコアシートは、それぞれ0枚であってもよく(すなわち有さなくてもよく)、1枚以上であってもよい。また、表側及び裏側の最表層として更にオーバーフィルムを積層していてもよい。   As an example of forming a card base material, from the front side, a first other core sheet / a second core sheet on which a conductive wire is arranged / a second other core sheet are laminated in this order, and hot pressed. A card substrate can be formed. In the card base material thus formed, for example, the number of the first and second core sheets may be zero (that is, they may not be provided), and may be one or more. Is also good. Further, an over film may be further laminated as the outermost layer on the front side and the back side.

〈工程(b)〉
工程(b)では、カード基材の表面から、ICモジュールを埋め込む埋め込み予定領域を切削する。
<Step (b)>
In the step (b), an area to be embedded with the IC module is cut from the surface of the card base material.

埋め込み予定領域の位置は、上述した導線の接触端子部とICモジュールの端子とが電気的に接触できるように、適宜設定できる。例えばカード基材の表面に垂直な方向からみたとき、埋め込み予定領域は、導線の接触端子部の真上に存在することができる。   The position of the region to be embedded can be appropriately set so that the contact terminal portion of the above-described conductor and the terminal of the IC module can be electrically contacted. For example, when viewed from a direction perpendicular to the surface of the card base material, the area to be embedded can be directly above the contact terminal portion of the conductive wire.

図3(a)は、本発明にかかるカード基材上における埋め込み予定領域の一態様を示す平面透視概略図である。   FIG. 3A is a schematic plan perspective view showing one embodiment of a region to be embedded on the card base material according to the present invention.

図3(a)に示されているように、カード基材30の表面に垂直な方向から見たときに導線の接触端子部12a及び12bの真上に、ICモジュールを埋め込む埋め込み予定領域40が、切削されている。   As shown in FIG. 3A, when viewed from a direction perpendicular to the surface of the card base material 30, an embedding area 40 in which the IC module is to be embedded is located directly above the contact terminals 12 a and 12 b of the conductor. Has been cut.

埋め込み予定領域の大きさ及び形は、使用するICモジュールの大きさ及び形に合わせて適宜設定できる。   The size and shape of the area to be embedded can be appropriately set according to the size and shape of the IC module to be used.

埋め込み予定領域は、第1の凹部、第2の凹部、及び第1の凹部に存在する接点開口部を含むように、切削することができる。ここで、第1の凹部は、ICモジュールの基板部を収容できるものであり、第2の凹部は、ICモジュールの封止部を収容できるものである。また、第1の凹部に存在する接点開口部は、ICモジュールの端子と接触端子部とが電気的に接触するための開口部である。   The region to be embedded can be cut so as to include the first recess, the second recess, and the contact opening present in the first recess. Here, the first recess can accommodate a substrate portion of the IC module, and the second recess can accommodate a sealing portion of the IC module. In addition, the contact opening existing in the first concave portion is an opening through which the terminal of the IC module and the contact terminal are in electrical contact.

一般的に、カード基材の表面に垂直な方向から見た場合、好ましくは、第2の凹部の面積に比べて第1の凹部の面積がより広く、かつ第1の凹部の深さに比べて第2の凹部の深さがより深い。   Generally, when viewed from a direction perpendicular to the surface of the card substrate, preferably, the area of the first recess is larger than the area of the second recess, and the depth of the first recess is preferably larger. Therefore, the depth of the second concave portion is deeper.

より具体的には、第1の凹部は、カード基材内部の存在する導線の接触端子部を露出しない深さまで切削してもよい。また、第1の凹部に存在する接点開口部は、接触端子部が露出するまで切削することが好ましい。ここで、接点開口部から露出している接触端子部において導線の面積割合が40%以上であれば、接点開口部の形及び大きさは特に限定されない。   More specifically, the first concave portion may be cut to a depth that does not expose the contact terminal portion of the conductor present inside the card base material. Further, it is preferable that the contact opening existing in the first recess is cut until the contact terminal is exposed. Here, the shape and size of the contact opening are not particularly limited as long as the area ratio of the conductive wire in the contact terminal portion exposed from the contact opening is 40% or more.

また、第2の凹部は、カード基材内部の存在する導線の接触端子部を貫通するまで切削して形成してもよく、すなわち、第2の凹部を切削する際に、一部の導線の接触端子部を削ってもよい。   Further, the second concave portion may be formed by cutting until the second concave portion penetrates the contact terminal portion of the conductive wire existing inside the card base material. That is, when cutting the second concave portion, a part of the conductive wire may be cut. The contact terminal may be cut off.

例えば、図3(a)に示されているように、埋め込み予定領域は、第1の凹部40a及び第2の凹部40bを有している。また、第1の凹部40aは、接触端子部12aが露出している接点開口部40c、及び接触端子部12bが露出している接点開口部40dを有している。   For example, as shown in FIG. 3A, the buried region has a first concave portion 40a and a second concave portion 40b. The first concave portion 40a has a contact opening 40c where the contact terminal portion 12a is exposed, and a contact opening 40d where the contact terminal portion 12b is exposed.

また、図3(b)は、図3(a)のA−A線断面の埋め込み予定領域付近の図である。図3(b)に示されているように、第1の凹部40aは、第2の凹部40bに比べて広く、かつ第1の凹部40aにおける接点開口部40c及び40dから、それぞれ接触端子部12a及び12bが露出するように切削されている。また、第2の凹部40bは、接触端子部12a及び12bの深さ位置よりも深く切削されている。   Further, FIG. 3B is a view of the vicinity of a region to be embedded in the cross section taken along the line AA in FIG. As shown in FIG. 3B, the first concave portion 40a is wider than the second concave portion 40b, and the contact terminal portions 12a are respectively formed from the contact openings 40c and 40d in the first concave portion 40a. And 12b are exposed. The second recess 40b is cut deeper than the depth positions of the contact terminals 12a and 12b.

〈工程(c)〉
工程(c)では、ICモジュールを、埋め込み予定領域に埋め込む。
<Step (c)>
In the step (c), the IC module is embedded in the area to be embedded.

接触端子部とICモジュールの基板部の裏側の端子とが導電性接着剤を介して電気的に接触する場合には、埋め込み予定領域の第1の凹部の接点開口部に、導電性接着材を充填ことができる。   When the contact terminal portion and the terminal on the back side of the substrate portion of the IC module are in electrical contact with each other via a conductive adhesive, a conductive adhesive is applied to the contact opening of the first concave portion in the area to be embedded. Can be filled.

導電性接着剤としては、特に限定されず、例えば金属粒子又は導電性炭素材料粒子等を樹脂中に分散してなるペーストを使用することができる。金属粒子は、例えば金、銀、銅、白金、ニッケル等であってもよい。導電性炭素材料粒子は、例えばカーボンブラック、グラファイト等であってもよい。また、樹脂は、例えばエポキシ樹脂等であってもよい。   The conductive adhesive is not particularly limited, and for example, a paste in which metal particles, conductive carbon material particles, or the like are dispersed in a resin can be used. The metal particles may be, for example, gold, silver, copper, platinum, nickel and the like. The conductive carbon material particles may be, for example, carbon black, graphite, or the like. The resin may be, for example, an epoxy resin.

また、ICモジュールを埋め込む前に、ICモジュールの基板部の裏側に接着テープを貼着してもよい。この場合、接着テープは、ICモジュールの基板部の裏側に存在する端子(導線の接触端子部と接触するICモジュール端子)を避けるように貼着することが好ましい。また、接着テープとしては、例えば熱可塑性又は熱硬化性の接着テープであってもよい。   Before embedding the IC module, an adhesive tape may be attached to the back side of the substrate of the IC module. In this case, it is preferable that the adhesive tape be adhered so as to avoid terminals (IC module terminals that come into contact with the contact terminals of the conductive wires) existing on the back side of the substrate of the IC module. The adhesive tape may be, for example, a thermoplastic or thermosetting adhesive tape.

図4は、埋め込み予定領域にICモジュールを埋め込んだ後の一態様を断面模式図である。   FIG. 4 is a schematic cross-sectional view of one embodiment after the IC module is embedded in the area to be embedded.

図4に示されているように、ICモジュール50は、カード基材の表面から埋め込み予定領域に埋め込まれている。このとき、ICモジュールの基板部51の表側はカード基材の表側の面に露出しており、基板部51の裏側に存在する端子51a及び51bはそれぞれ、導電性接着剤60a及び60bを介して、接触端子部12a及び12bと電気的に接触している。また、基板部51の裏側の面の接着テープ60によって、ICモジュールが埋め込み予定領域の第1の凹部に固定されている。なお、ICチップ53は、封止部52の中に封止されている。   As shown in FIG. 4, the IC module 50 is embedded from the surface of the card base material into the area to be embedded. At this time, the front side of the substrate part 51 of the IC module is exposed on the front side surface of the card base material, and the terminals 51a and 51b present on the back side of the substrate part 51 are connected via the conductive adhesives 60a and 60b, respectively. , And the contact terminals 12a and 12b. Further, the IC module is fixed to the first concave portion in the area where the IC module is to be embedded by the adhesive tape 60 on the back surface of the substrate section 51. Note that the IC chip 53 is sealed in the sealing portion 52.

本発明の製造方法によって、アンテナ及びアンテナの接触端子として導線を用いたDIFカードを製造することができて、かつ製造された本発明のDIFカードは、好ましい動的曲げ強度及び耐湿性を有することができる。   According to the manufacturing method of the present invention, a DIF card using a conductor as an antenna and a contact terminal of the antenna can be manufactured, and the manufactured DIF card of the present invention has preferable dynamic bending strength and moisture resistance. Can be.

〈実施例1及び2、並びに比較例1及び2〉
下記表1に示されているカード基材の構成を用いて、図5に示されているカード基材の積層順に基づいて、表側から、第1のオーバーフィルム/第1のコアシート/第2のコアシート/第3のコアシート/第4のコアシート/第2オーバーフィルムの順で、積層して、熱プレスすることによってカード基材を作製した。
<Examples 1 and 2, and Comparative Examples 1 and 2>
Using the configuration of the card base material shown in Table 1 below, based on the lamination order of the card base material shown in FIG. 5, from the front side, the first over film / the first core sheet / the second , A third core sheet / fourth core sheet / second overfilm were laminated in this order, and hot pressed to produce a card base material.

Figure 2019219732
Figure 2019219732

この際、第2のコアシートの裏側の面に、巻線アンテナ部及び接触端子部を形成している導線を配置した。導線として、線径0.11mmの銅線を用いた。実施例1及び2、並びに比較例1及び2のそれぞれの接触端子部のメアンダピッチ及び接触端子部における導線の面積割合は、それぞれ表3に示されているとおりに実施した。   At this time, on the back surface of the second core sheet, a conductive wire forming a wound antenna portion and a contact terminal portion was arranged. A copper wire having a wire diameter of 0.11 mm was used as the conductive wire. The meander pitch of the contact terminals of Examples 1 and 2 and Comparative Examples 1 and 2 and the area ratio of the conductor in the contact terminals were as shown in Table 3, respectively.

そして、熱可塑性テープを用いて、カード基材の表面からICモジュールを埋め込み、実施例1及び2、並びに比較例1及び2のDIFカードを作製した。   Then, using a thermoplastic tape, the IC module was embedded from the surface of the card base material, and DIF cards of Examples 1 and 2 and Comparative Examples 1 and 2 were produced.

〈比較例3〉
下記表2に示されているカード基材の構成を用いて、図6に示されているカード基材の積層順に基づいて、表側から、第1のオーバーフィルム/第1のコアシート/第2のコアシート/アンテナシート上のエッチングアンテナ及びスペーサ/第3のコアシート/第4のコアシート/第2オーバーフィルムの順で、積層して、熱プレスすることによってカード基材を作製した。なお、図6に示されているように、エッチングアンテナは、アンテナシートの表側の面(ICモジュール側)に向いて配置されている。
<Comparative Example 3>
Using the configuration of the card base material shown in Table 2 below, based on the stacking order of the card base material shown in FIG. 6, from the front side, the first over film / the first core sheet / the second And a spacer / third core sheet / fourth core sheet / second overfilm in this order, and hot-pressed to produce a card base material. In addition, as shown in FIG. 6, the etching antenna is disposed facing the front surface (IC module side) of the antenna sheet.

Figure 2019219732
Figure 2019219732

この際、エッチングアンテナは、銅エッチングアンテナを用いた。また、アンテナ厚みは、35μmであった。   At this time, a copper etching antenna was used as the etching antenna. The antenna thickness was 35 μm.

そして、熱可塑性テープを用いて、カード基材の表面からICモジュールを埋め込み、比較例3のDIFカードを作製した。   Then, using a thermoplastic tape, the IC module was embedded from the surface of the card base material to produce a DIF card of Comparative Example 3.

〈評価〉
上述した各実施例及び比較例で作製したDIFカードに対して、それぞれ同じサンプルを4部用意して、信頼性試験として動的曲げ試験及び高温多湿試験を実施した。
<Evaluation>
For each of the DIF cards manufactured in each of the above Examples and Comparative Examples, four identical samples were prepared, and a dynamic bending test and a high-temperature and high-humidity test were performed as reliability tests.

(動的曲げ試験)
JIS X6305−1:2010に準じて動的曲げ試験を実施した。ただし、ここでは、DIFカードの表面側の長辺方向と短辺方向に250回ずつ、裏面側の長辺方向と短辺方向に250回ずつ、計1000回曲げるごとに、リーダーライターを使用して非接触通信ができるかを確認する。4000回曲げても非接触通信機能に異常がないことを最低基準とし、4000回を超えても非接触通信機能に異常が生じない場合は、試験を継続し、非接触通信機能に異常が生じた最低回数を記録する。回数が多いほどよい。
(Dynamic bending test)
A dynamic bending test was performed according to JIS X6305-1: 2010. However, in this case, a reader / writer was used every time the DIF card was bent 250 times in the long side direction and the short side direction on the front side and 250 times in the long side direction and the short side direction on the back side for a total of 1000 times. To confirm that contactless communication is possible. The minimum standard is that there is no abnormality in the non-contact communication function even after bending 4000 times. If no abnormality occurs in the non-contact communication function even after exceeding 4000 times, the test is continued and the abnormality occurs in the non-contact communication function. Record the minimum number of times The higher the number, the better.

(動的曲げ試験の結果)
上記の動的曲げ試験を実施した結果は、下記の表3に示すとおりである。
(Result of dynamic bending test)
The results of performing the above-described dynamic bending test are as shown in Table 3 below.

すなわち、実施例1のDIFカードのサンプルは、10,000回で異常がなく、11,000回で2部において非接触通信機能に異常が確認された。実施例2のDIFカードのサンプルは、10,000回で非接触通信機能に異常がなく、11,000回で3部において非接触通信機能に異常が確認された。比較例1のDIFカードのサンプルは、7,000回で非接触通信機能に異常がなく、8,000回で1部において非接触通信機能に異常が確認された。比較例2のDIFカードのサンプルは、5,000回で非接触通信機能に異常がなく、6,000回で3部において非接触通信機能に異常が確認された。比較例3のDIFカードのサンプルは、10,000回で非接触通信機能に異常がなく、11,000回で2部において非接触通信機能に異常が確認された。   That is, in the sample of the DIF card of Example 1, there was no abnormality after 10,000 times, and abnormality was confirmed in the non-contact communication function in 2 parts after 11,000 times. In the sample of the DIF card of Example 2, there was no abnormality in the non-contact communication function after 10,000 times, and abnormality was confirmed in three parts after 11,000 times. In the sample of the DIF card of Comparative Example 1, no abnormality was found in the non-contact communication function after 7,000 times, and abnormality was confirmed in one part after 8,000 times. In the sample of the DIF card of Comparative Example 2, no abnormality was found in the non-contact communication function after 5,000 times, and abnormality was confirmed in three parts in 6,000 times. In the sample of the DIF card of Comparative Example 3, no abnormality was found in the non-contact communication function after 10,000 times, and abnormality was confirmed in two parts after 11,000 times.

このように、本発明のDIFカード(実施例1及び2)は、動的曲げ試験において、エッチングアンテナ(比較例3)と同程度の高い信頼性を得ることができた。   Thus, the DIF card of the present invention (Examples 1 and 2) was able to obtain the same high reliability as the etched antenna (Comparative Example 3) in the dynamic bending test.

(高温多湿試験)
50℃、相対湿度95%の雰囲気中に96時間放置する。雰囲気から取出し後、非接触通信機能に異常がないことを確認する。
(High temperature and humidity test)
It is left for 96 hours in an atmosphere at 50 ° C. and a relative humidity of 95%. After removing from the atmosphere, check that there is no abnormality in the non-contact communication function.

(高温多湿試験の結果)
上記の高温多湿試験を実施した結果は、下記の表3に示すとおりである。
(Results of high temperature and high humidity test)
The results of the above-described high-temperature and high-humidity test are shown in Table 3 below.

すなわち、実施例1及び2のDIFカードのサンプルはそれぞれ、4部ともに非接触通信機能に異常がないことを確認した。比較例1のDIFカードのサンプルは、4部中2部に非接触通信機能に異常があることを確認した。比較例2のDIFカードのサンプルは、4部ともに非接触通信機能に異常があることを確認した。比較例3のDIFカードのサンプルは、4部ともに非接触通信機能に異常がないことを確認した。   That is, it was confirmed that the samples of the DIF cards of Examples 1 and 2 each had no abnormality in the non-contact communication function in all four copies. In the sample of the DIF card of Comparative Example 1, it was confirmed that the non-contact communication function was abnormal in two of the four copies. It was confirmed that the DIF card samples of Comparative Example 2 had abnormalities in the non-contact communication function in all four parts. It was confirmed that the samples of the DIF card of Comparative Example 3 had no abnormality in the non-contact communication function in all four parts.

このように、本発明のDIFカード(実施例1及び2)は、高温多湿試験において、エッチングアンテナ(比較例3)と同程度の高い信頼性を得ることができた。   As described above, the DIF cards (Examples 1 and 2) of the present invention were able to obtain the same high reliability as the etching antenna (Comparative Example 3) in the high-temperature and high-humidity test.

(結果まとめ)
上記の動的曲げ試験及び高温多湿試験の結果は、下記表3にまとめている。

Figure 2019219732
(Result Summary)
The results of the dynamic bending test and the high-temperature and high-humidity test are summarized in Table 3 below.
Figure 2019219732

〈実施例3及び4、並びに比較例4及び5〉
上述した実施例1及び2、並びに比較例1及び2において、第2のコアシートとして用いたビカット軟化温度120℃のテレフタル酸とエチレングリコール及びシクロヘキサンジメタノールとの共重合体(PET−G)の代わり、下記表4に示す材料を用いたこと以外は同様にして、実施例3及び4、並びに比較例4及び5用のDIFカードを作製して、上記の信頼性試験と同様に実施した。結果は表4に示す。
<Examples 3 and 4, and Comparative Examples 4 and 5>
In the above Examples 1 and 2 and Comparative Examples 1 and 2, the copolymer (PET-G) of terephthalic acid having a Vicat softening temperature of 120 ° C, ethylene glycol and cyclohexanedimethanol used as the second core sheet was used. Instead, DIF cards for Examples 3 and 4 and Comparative Examples 4 and 5 were prepared in the same manner except that the materials shown in Table 4 below were used, and the same as the reliability test described above. The results are shown in Table 4.

なお、対比の都合上、表4では、上記の実施例1及び2、並びに比較例1及び2の結果も表示する。   Table 4 also shows the results of Examples 1 and 2 and Comparative Examples 1 and 2 for the sake of comparison.

Figure 2019219732
Figure 2019219732

表4の結果から分かるように、本発明のDIFカード(実施例1〜4)はいずれも、比較例のDIFカードよりも信頼性が高い。   As can be seen from the results in Table 4, the DIF cards of the present invention (Examples 1 to 4) have higher reliability than the DIF cards of the comparative examples.

また、ビカット軟化温度が相対的に低いコアシートに比べて、ビカット軟化温度が相対的に高いコアシートを使用した場合は、信頼性試験の結果は向上されたことが分かった。   In addition, it was found that the reliability test result was improved when a core sheet having a relatively high Vicat softening temperature was used as compared with a core sheet having a relatively low Vicat softening temperature.

1 接触端子部の導線
10 導線
11 巻線アンテナ部
12a、12b 接触端子部
20 コアシート
30 カード基材
40 ICモジュールを埋め込む埋め込み予定領域
40a 第1の凹部
40b 第2の凹部
40c、40d 接点開口部
50 ICモジュール
51 ICモジュールの基板部
51a、51b ICモジュールの端子
52 ICモジュールの封止部
53 ICチップ
d: 導線の直径
p: メアンダピッチ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Lead wire of a contact terminal part 10 Lead wire 11 Winding antenna part 12a, 12b Contact terminal part 20 Core sheet 30 Card base material 40 Expected area for embedding an IC module 40a First concave part 40b Second concave part 40c, 40d Contact opening part Reference Signs List 50 IC module 51 IC module substrate part 51a, 51b IC module terminal 52 IC module sealing part 53 IC chip d: Conductor diameter p: Meander pitch

Claims (10)

接触通信機能及び非接触通信機能を有するデュアルインターフェイスカードであって、
1又は複数のコアシートを含むカード基材と、前記カード基材の表面から埋め込まれているICモジュールとを有し、
前記1又は複数のコアシートのうちの1つに導線が配置されており、
前記導線が、前記非接触通信機能を提供するための巻線アンテナ部、及び前記ICモジュールの端子と電気的に接触している接触端子部を形成しており、かつ
前記接触端子部における前記導線の面積割合が、40%以上である、
デュアルインターフェイスカード。
A dual interface card having a contact communication function and a contactless communication function,
Having a card substrate including one or more core sheets, and an IC module embedded from the surface of the card substrate,
A conductor is arranged on one of the one or more core sheets,
The conductive wire forms a winding antenna portion for providing the non-contact communication function, and a contact terminal portion in electrical contact with a terminal of the IC module; and the conductive wire in the contact terminal portion Has an area ratio of 40% or more,
Dual interface card.
前記接触端子部における前記導線の面積割合が、44%以上である、請求項1に記載のデュアルインターフェイスカード。   The dual interface card according to claim 1, wherein an area ratio of the conductive wire in the contact terminal portion is equal to or greater than 44%. 前記接触端子部が、前記導線によってメアンダ型状に形成されている、請求項1又は2に記載のデュアルインターフェイスカード。   The dual interface card according to claim 1, wherein the contact terminal portion is formed in a meander shape by the conductive wire. 前記接触端子部のメアンダピッチが、0.3mm以下である、請求項3に記載のデュアルインターフェイスカード。   4. The dual interface card according to claim 3, wherein the meander pitch of the contact terminals is 0.3 mm or less. 前記導線の直径が、0.08mm以上0.16mm以下である、請求項1〜4のいずれか一項に記載のデュアルインターフェイスカード。   5. The dual interface card according to claim 1, wherein a diameter of the conductor is 0.08 mm or more and 0.16 mm or less. 6. 前記導線が配置されている前記コアシートが、ビカット軟化温度70℃以上の樹脂シートである、請求項1〜5のいずれか一項に記載のデュアルインターフェイスカード。   The dual interface card according to any one of claims 1 to 5, wherein the core sheet on which the conductive wires are arranged is a resin sheet having a Vicat softening temperature of 70 ° C or higher. 接触通信機能及び非接触通信機能を有するデュアルインターフェイスカードの製造方法であって、下記工程を含み:
(a)1又は複数のコアシートを含むカード基材を形成すること;
(b)前記カード基材の表面から、ICモジュールを埋め込む埋め込み予定領域を切削すること;及び
(c)前記ICモジュールを、前記埋め込み予定領域に埋め込むこと、
前記1又は複数のコアシートのうちの1つに導線が配置されており、
前記導線が、前記非接触通信機能を提供するための巻線アンテナ部、及び前記ICモジュールの端子と電気的に接触している接触端子部を形成しており、かつ
前記接触端子部における前記導線の面積割合が、40%以上である、
方法。
A method for manufacturing a dual interface card having a contact communication function and a contactless communication function, comprising the following steps:
(A) forming a card substrate comprising one or more core sheets;
(B) cutting, from the surface of the card base material, an area to be embedded in which the IC module is to be embedded; and (c) embedding the IC module in the area to be embedded.
A conductor is arranged on one of the one or more core sheets,
The conductive wire forms a winding antenna portion for providing the non-contact communication function, and a contact terminal portion in electrical contact with a terminal of the IC module; and the conductive wire in the contact terminal portion Has an area ratio of 40% or more,
Method.
前記接触端子部における前記導線の面積割合が、44%以上である、請求項7に記載の方法。   The method according to claim 7, wherein an area ratio of the conductive wire in the contact terminal portion is 44% or more. 前記接触端子部が、前記導線によってメアンダ型状に形成されている、請求項7又は8に記載の方法。   The method according to claim 7, wherein the contact terminal portion is formed in a meander shape by the conductive wire. 前記接触端子部のメアンダピッチが、0.3mm以下である、請求項9に記載の方法。   The method according to claim 9, wherein the meander pitch of the contact terminals is 0.3 mm or less.
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