JP2019219696A - High-chroma omnidirectional structural color multilayer structure - Google Patents

High-chroma omnidirectional structural color multilayer structure Download PDF

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Abstract

To provide a high-chroma omnidirectional structural color multilayer structure.SOLUTION: The structure includes a multilayer stack that has a core layer, a dielectric layer extending across the core layer, and an absorber layer extending across the dielectric layer. An interface is present between the dielectric layer and the absorber layer, and a near-zero electric field for a first incident electromagnetic wavelength is present at this interface. In addition, a large electric field at a second incident electromagnetic wavelength is present at the interface. As such, the interface allows high transmission of the first incident electromagnetic wavelength and high absorption of the second incident electromagnetic wavelength such that a narrow band of reflected light is produced by the multilayer stack.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

関連出願への相互参照
本願は、2013年2月6日に出願された米国特許出願連続番号第13/760,699号の一部継続出願(continuation-in-part(CIP))である。米国特許出願連続番号第13/760,699号は、2011年2月5日に出願された米国特許出願連続番号第13/021,730号のCIPである。米国特許出願連続番号第13/021,730号は、2010年12月21日に出願された米国特許出願連続番号第12/974,606号(現在米国特許番号第8,323,391号)のCIPである。米国特許出願連続番号第12/974,606号は、2009年2月18日に出願された米国特許出願連続番号第12/388,395号のCIPである。米国特許出願連続番号第12/388,395号は、2007年8月12日に出願された米国特許出願連続番号第11/837,529号(現在米国特許番号第7,903,339号)のCIPである。
CROSS-REFERENCE TO RELATED APPLICATIONS This application is a continuation-in-part (CIP) of U.S. Patent Application Serial No. 13 / 760,699, filed February 6, 2013. U.S. Patent Application Serial No. 13 / 760,699 is a CIP of U.S. Patent Application Serial No. 13 / 021,730 filed February 5, 2011. U.S. Patent Application Serial No. 13 / 021,730 is incorporated by reference in U.S. Patent Application Serial No. 12 / 974,606, filed December 21, 2010 (now U.S. Patent No. 8,323,391). CIP. U.S. Patent Application Serial No. 12 / 974,606 is a CIP of U.S. Patent Application Serial No. 12 / 388,395 filed February 18, 2009. U.S. Patent Application Serial No. 12 / 388,395 is incorporated by reference in U.S. Patent Application Serial No. 11 / 837,529, filed August 12, 2007 (now U.S. Patent No. 7,903,339). CIP.

本願はさらに、2010年9月29日に出願された米国特許出願連続番号第12/893,152号のCIPである。米国特許出願連続番号第12/893,152号は、2009年5月18日に出願された米国特許出願連続番号第12/467,656号のCIPである。   The present application is further a CIP of U.S. Patent Application Serial No. 12 / 893,152, filed September 29, 2010. U.S. Patent Application Serial No. 12 / 893,152 is a CIP of U.S. Patent Application Serial No. 12 / 467,656 filed May 18, 2009.

本願はさらに、2010年6月4日に出願された米国特許出願連続番号第12/793,772号のCIPである。   This application is further a CIP of U.S. Patent Application Serial No. 12 / 793,772, filed June 4, 2010.

本願はさらに、2012年8月10日に出願された米国特許出願連続番号第13/572,071号のCIPである。米国特許出願連続番号第13/572,071号は、2011年2月5日に出願された米国特許出願連続番号第13/021,730号のCIPである。米国特許出願連続番号第13/021,730号は、2010年6月4日に出願された米国特許出願連続番号第12/793,772号のCIPである。米国特許出願連続番号第12/793,772号は、2007年8月12日に出願された米国特許出願連続番号第11/837,529号(現在は米国特許番号第7,903,339号)のCIPである。   The present application is further a CIP of U.S. Patent Application Serial No. 13 / 572,071, filed August 10, 2012. U.S. Patent Application Serial No. 13 / 572,071 is a CIP of U.S. Patent Application Serial No. 13 / 021,730, filed February 5, 2011. U.S. Patent Application Serial No. 13 / 021,730 is a CIP of U.S. Patent Application Serial No. 12 / 793,772 filed June 4, 2010. U.S. Patent Application Serial No. 12 / 793,772 is U.S. Patent Application Serial No. 11 / 837,529 filed August 12, 2007 (now U.S. Patent No. 7,903,339). CIP.

本願はさらに、2011年1月26日に出願された米国特許出願連続番号第13/014,398号のCIPである。米国特許出願連続番号第13/014,398号は、2010年6月4日に出願された米国特許出願連続番号第12/793,772号のCIPである。米国特許出願連続番号第12/793,772号は、2010年1月13日に出願された米国特許出願連続番号第12/686,861号のCIPである。米国特許出願連続番号第12/686,861号は、2009年2月19日に出願された米国特許出願連続番号第12/389,256号(現在は米国特許番号第8,329,247号)のCIPである。   The present application is further a CIP of U.S. Patent Application Serial No. 13 / 014,398, filed January 26, 2011. U.S. Patent Application Serial No. 13 / 014,398 is a CIP of U.S. Patent Application Serial No. 12 / 793,772 filed June 4, 2010. U.S. Patent Application Serial No. 12 / 793,772 is a CIP of U.S. Patent Application Serial No. 12 / 686,861 filed January 13, 2010. U.S. Patent Application Serial No. 12 / 686,861 is filed on U.S. Patent Application Serial No. 12 / 389,256 filed February 19, 2009 (now U.S. Patent No. 8,329,247). CIP.

発明の分野
本発明は、全方向構造色に関し、特に金属および誘電体層によって提供される全方向構造色に関する。
The present invention relates to omnidirectional structural colors, and in particular to omnidirectional structural colors provided by metal and dielectric layers.

発明の背景
多層構造から形成される顔料が公知である。さらに、高クロマ全方向構造色を示すまたは提供する顔料も公知である。
BACKGROUND OF THE INVENTION Pigments formed from multilayer structures are known. In addition, pigments exhibiting or providing high chroma omnidirectional structural colors are also known.

しかしながら、このような先行技術の顔料は、所望の色特性を得るために39個もの薄膜層を必要とする。薄膜多層顔料の生産に関連付けられるコストは必要とされる層の数に比例し、誘電材料の多層スタックを用いる高クロマ全方向構造色の生産に関連付けられるコストは非常に高額となり得るということが理解されている。したがって、必要とされる薄膜層の数が最小である高クロマ全方向構造色が望ましい。   However, such prior art pigments require as many as 39 thin film layers to achieve the desired color characteristics. Understand that the costs associated with the production of thin film multilayer pigments are proportional to the number of layers required, and that the costs associated with producing high chroma omnidirectional structural colors using a multilayer stack of dielectric materials can be very high. Have been. Therefore, a high chroma omnidirectional structural color that requires a minimal number of thin film layers is desirable.

発明の概要
高クロマ全方向構造色多層構造が提供される。当該構造は多層スタックを含む。当該多層スタックは、反射層とも称され得るコア層と、コア層に亘って延在する誘電体層と、誘電体層に亘って延在する吸収層とを有する。誘電体層と吸収層との間に界面が存在し、当該界面において、第1の入射電磁波長についてほぼゼロの電界が存在するとともに、第2の入射電磁波長にて大きな電界が存在する。したがって、この界面は、当該界面を通り、コア/反射層からの反射率で誘電体層を通る第1の入射電磁波長の高い透過を可能にする。しかしながら、この界面は、第2の入射電磁波長の高い吸収を産出する。したがって、多層スタックは狭い帯域の光を作り出すまたは反射する。
SUMMARY OF THE INVENTION A high chroma omnidirectional structural color multilayer structure is provided. The structure includes a multilayer stack. The multilayer stack has a core layer, which may also be referred to as a reflective layer, a dielectric layer extending over the core layer, and an absorbing layer extending over the dielectric layer. There is an interface between the dielectric layer and the absorbing layer, at which there is an almost zero electric field at the first incident electromagnetic wavelength and a large electric field at the second incident electromagnetic wavelength. Thus, this interface allows for a high transmission of the first incident electromagnetic wavelength through the interface and through the dielectric layer with reflectivity from the core / reflective layer. However, this interface produces a high absorption of the second incident electromagnetic wavelength. Thus, the multilayer stack produces or reflects a narrow band of light.

コア層は、式RI=n+ikによって示される複素屈折率を有し得、n<<kであり、式中RIは複素屈折率であり、nはコア層の屈折率であり,kはコア層の消衰係数であり、iは√−1である。いくつかの場合では、コア層は銀、アルミニウム、金、またはそれらの合金から形成され、好ましくは50ナノメートル(nm)と200nmとの間の厚さを有する。 The core layer may have a complex index of refraction represented by the formula RI 1 = n 1 + ik 1 , where n 1 << k 1 , where RI 1 is the complex index and n 1 is the refractive index of the core layer. Where k 1 is the extinction coefficient of the core layer and i is √−1. In some cases, the core layer is formed from silver, aluminum, gold, or an alloy thereof, and preferably has a thickness between 50 nanometers (nm) and 200 nm.

誘電体層は、反射光の所望の狭い帯域の中心波長のクォーターウェーブ(QW)の2倍以下の厚さを有する。さらに、誘電体層は、酸化チタン、フッ化マグネシウム、硫化亜鉛、酸化ハフニウム、酸化タンタル、酸化ケイ素、またはそれらの組合せから形成され得る。   The dielectric layer has a thickness no greater than twice the quarter wave (QW) of the center wavelength of the desired narrow band of reflected light. Further, the dielectric layer may be formed from titanium oxide, magnesium fluoride, zinc sulfide, hafnium oxide, tantalum oxide, silicon oxide, or a combination thereof.

吸収層は屈折率が消衰係数にほぼ等しい複素屈折率を有する。このような材料は、クロム、タンタル、タングステン、モリブデン、チタン、窒化チタン、ニオブ、コバルト、ケイ素、ゲルマニウム、ニッケル、パラジウム、バナジウム、酸化鉄、およびそれらの組合せまたは合金を含む。さらに、吸収層の厚さは好ましくは5nmと20nmとの間である。   The absorbing layer has a complex refractive index whose refractive index is approximately equal to the extinction coefficient. Such materials include chromium, tantalum, tungsten, molybdenum, titanium, titanium nitride, niobium, cobalt, silicon, germanium, nickel, palladium, vanadium, iron oxide, and combinations or alloys thereof. Furthermore, the thickness of the absorbing layer is preferably between 5 and 20 nm.

いくつかの場合では、多層構造は、吸収層の外面に亘って延在する別の誘電体層を含む。また、別の吸収層はコア層と第1の誘電体層との間に含まれ得る。このような構造は、コア層上に最小で2層を有する高クロマ全方向構造色を提供する。   In some cases, the multilayer structure includes another dielectric layer that extends over the outer surface of the absorbing layer. Also, another absorbing layer may be included between the core layer and the first dielectric layer. Such a structure provides a high chroma omnidirectional structural color with a minimum of two layers on the core layer.

基板上の単一の誘電体層の概略的な図である。FIG. 3 is a schematic diagram of a single dielectric layer on a substrate. 本発明の実施例に従った高クロマ全方向構造色多層構造の図である。FIG. 2 is a diagram of a high chroma omnidirectional structural color multilayer structure according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施例の概略的な図である。1 is a schematic diagram of an embodiment of the present invention. 図3(a)に示される実施例についての屈折率のグラフ図である。FIG. 4 is a graph of the refractive index for the example shown in FIG. 入射波長が650nmの場合における、図3(a)に示された実施例の厚さを通る電界のグラフ図である。FIG. 4 is a graph of an electric field passing through the thickness of the embodiment shown in FIG. 3A when the incident wavelength is 650 nm. 入射波長が400nmの場合における、図3(a)に示された実施例に亘る電界のグラフ図である。FIG. 4 is a graph of an electric field over the example shown in FIG. 3A when the incident wavelength is 400 nm. 0°および45°で見た際の、図3(a)に示された実施例について誘電体層厚さが1.5QWである場合における反射率対入射光波長のグラフ図である。FIG. 4 is a graph of reflectance versus incident light wavelength when the dielectric layer thickness is 1.5 QW for the embodiment shown in FIG. 3 (a) when viewed at 0 ° and 45 °. 0°および45°で見た際の、図3(a)に示された実施例について誘電体層厚さが3QWである場合における反射率対入射光波長のグラフ図である。FIG. 4 is a graph of reflectance vs. incident light wavelength when the dielectric layer thickness is 3QW for the embodiment shown in FIG. 3 (a) when viewed at 0 ° and 45 °. 0°および45°で見た際の、図3(a)に示された実施例について誘電体層厚さが3.6QWである場合における反射率対入射光波長のグラフ図である。FIG. 4 is a graph of reflectance vs. incident light wavelength when the dielectric layer thickness is 3.6 QW for the embodiment shown in FIG. 3 (a) when viewed at 0 ° and 45 °. 0°および45°で見た際の、図3(a)に示された実施例について誘電体層厚さが6QWである場合における反射率対入射光波長のグラフ図である。FIG. 4 is a graph of reflectance vs. incident light wavelength when the dielectric layer thickness is 6 QW for the embodiment shown in FIG. 3 (a) when viewed at 0 ° and 45 °. 280に等しい色相のターゲットとする色エリアについてのa*b*カラーマップ上の色特性同士の間の比較のグラフ図である。FIG. 7 is a graph of a comparison between color characteristics on an a * b * color map for a target color area with a hue equal to 280. 図2(a)に示される誘電体層(L1)および吸収層(L1)についての吸収度対入射光波長を示す、図3(a)に示される実施例についてのグラフ図である。FIG. 4 is a graph for the embodiment shown in FIG. 3 (a), showing the absorbance versus the wavelength of the incident light for the dielectric layer (L1) and the absorption layer (L1) shown in FIG. 2 (a). 0°および45°で見た際の図3(a)に示される実施例についての反射率対入射光波長を示す、図3(a)に示される実施例についてのグラフ図である。FIG. 4 is a graph for the embodiment shown in FIG. 3 (a), showing the reflectivity vs. incident light wavelength for the embodiment shown in FIG. 3 (a) when viewed at 0 ° and 45 °. 色相およびクロマ対入射角を示す、図3(a)に示される実施例についてのグラフ図である。FIG. 4 is a graph showing the hue and chroma versus angle of incidence for the example shown in FIG. 本発明に従った別の実施例の概略的な図である。FIG. 4 is a schematic diagram of another embodiment according to the present invention. 図7(a)に示される構造についての屈折率のグラフ図である。FIG. 8 is a graph of the refractive index for the structure shown in FIG. 入射光波長が420nmの場合の図7(a)に示される実施例の厚さを通る電界のグラフ図である。FIG. 8 is a graph of the electric field passing through the thickness of the example shown in FIG. 7A when the wavelength of the incident light is 420 nm. 図7(a)に示される実施例の厚さに亘る電界であって、入射光波長が560nmである場合の図7(a)に示される実施例の厚さを通る電界のグラフ図である。FIG. 8 is a graph of the electric field across the thickness of the embodiment shown in FIG. 7 (a), which passes through the thickness of the embodiment shown in FIG. 7 (a) when the incident light wavelength is 560 nm. . 0°および45°から見た際の図7(a)に示される実施例についての反射率対入射光波長のグラフ図である。FIG. 8 is a graph of reflectance versus incident light wavelength for the example shown in FIG. 7 (a) when viewed from 0 ° and 45 °. 図7(a)の実施例に示される層についての吸収度対入射光波長のグラフ図である。FIG. 8 is a graph of absorbance versus incident light wavelength for the layers shown in the example of FIG. 7 (a). 図7(a)に示される実施例についての色相およびクロマの反射率対入射角のグラフ図である。FIG. 8 is a graph of hue and chroma reflectance versus incident angle for the example shown in FIG. 7 (a). 本発明に従った5層(5L)の実施例の概略的な図である。FIG. 4 is a schematic diagram of a five-layer (5L) embodiment according to the present invention. 本発明に従った7層(7L)の実施例の概略的な図である。FIG. 4 is a schematic diagram of a seven-layer (7L) embodiment according to the present invention. 単一Al層構造(Alコア)と、Alコア+ZnS層構造(Alコア+ZnS)と、図9(a)に示される5層構造と、図9(b)に示される7層構造とについての反射率対入射光波長のグラフ図である。A single Al layer structure (Al core), an Al core + ZnS layer structure (Al core + ZnS), a five-layer structure shown in FIG. 9A, and a seven-layer structure shown in FIG. FIG. 4 is a graph of reflectance versus incident light wavelength. 所望の狭い帯域の反射光の第1および第2の高調波の反射を産出する誘電体層厚さを有する図8(a)に示される5層構造の場合と、所望の狭い帯域の反射光の第1の高調波のみを産出する誘電体層厚さを有する図9(a)に示される5層構造の場合と、所望の狭い帯域の反射光の第1の高調波のみを産出する誘電体層厚さを有する図9(a)に示される7層構造の場合とにおける、80に等しい色相のターゲット色エリアについてのa*b*カラーマップにおける色特性の間の比較のグラフ図である。The five-layer structure shown in FIG. 8A having a dielectric layer thickness that produces the desired first and second harmonic reflections of the desired narrow band reflected light, and the desired narrow band reflected light In the case of the five-layer structure shown in FIG. 9A having the thickness of the dielectric layer that produces only the first harmonic, the dielectric material that produces only the first harmonic of the reflected light in a desired narrow band. FIG. 10 is a graph of a comparison between the color characteristics in the a * b * color map for a target color area with a hue equal to 80 for the seven-layer structure shown in FIG. 9 (a) with body layer thickness. . 現状技術の多層構造と、a*b*カラーマップ上に本発明の実施例によって提供される多層構造との間の比較のグラフ図である。FIG. 3 is a graphical illustration of a comparison between a state of the art multilayer structure and a multilayer structure provided by an embodiment of the present invention on an a * b * color map. 本発明の実施例に従った5層多層構造の概略的な図である。1 is a schematic diagram of a five-layer multilayer structure according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施例に従った7層多層構造の概略的な図である。FIG. 3 is a schematic diagram of a seven-layer multilayer structure according to an embodiment of the present invention.

発明の詳細な説明
高クロマ全方向構造色多層構造が提供される。したがって、当該多層構造には、ペイント顔料、および所望の色を提供する薄膜などとしての使用がある。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION A high chroma omnidirectional structural color multilayer structure is provided. Thus, such multilayer structures include use as paint pigments and thin films to provide the desired color.

高クロマ全方向構造色多層構造は、コア層と、コア層に亘るよう延在する誘電体層とを含む。さらに、吸収層は、界面を間に挟んで誘電体層に亘って延在する。吸収層および/または誘電体層の厚さは、これらの2層の間の界面が、第1の入射電磁波長にてほぼゼロの電界を示し、第2の入射電磁波長にて大きな電界を示すように設計および/または作製される。第2の入射電磁波長は第1の入射電磁波長と等しくない。   The high chroma omnidirectional multi-layer structure includes a core layer and a dielectric layer extending across the core layer. Further, the absorbing layer extends across the dielectric layer with the interface therebetween. The thickness of the absorbing layer and / or the dielectric layer indicates that the interface between the two layers exhibits a near zero electric field at the first incident electromagnetic wavelength and a large electric field at the second incident electromagnetic wavelength. Designed and / or made as follows. The second incident electromagnetic wavelength is not equal to the first incident electromagnetic wavelength.

界面でのほぼゼロの電界は、そこを透過する高いパーセンテージの第1の入射電磁波長を産出する一方、大きな電界は界面に吸収される高いパーセンテージの第2の入射電磁波長を産出するということが理解されるべきである。これにより、多層構造は、たとえば400nm未満、300nm未満または200nm未満の狭い反射帯域といった狭い帯域の電磁放射を反射する。さらに、当該狭い反射帯域は、たとえば0°と45°との間の角度、0°と60°との間の角度および/または0°と90°との間の角度といった異なる角度から見た際、その中心波長のシフトが非常に低い。   A near zero electric field at the interface produces a high percentage of the first incident electromagnetic wavelength transmitted therethrough, while a large electric field produces a high percentage of the second incident electromagnetic wavelength absorbed at the interface. It should be understood. Thereby, the multilayer structure reflects a narrow band of electromagnetic radiation, for example a narrow reflection band of less than 400 nm, less than 300 nm or less than 200 nm. Further, the narrow reflection band may be viewed from different angles, for example, between 0 ° and 45 °, between 0 ° and 60 °, and / or between 0 ° and 90 °. , Its center wavelength shift is very low.

コア層は、その複素屈折率が材料についての消衰係数よりもはるかに小さい屈折率を有するような材料から形成される。複素屈折率は式RI=n+ikによって示され、nはコア層材料の屈折率であり、kはコア層材料の消衰係数であり、iは−1の平方根である。この基準に該当する材料は、銀、アルミニウム、金、およびそれらの合金を含む。さらに、コア層の厚さは、いくつかの場合では10nmと500nmとの間であり得、他の場合では25nmと300nmとの間であり得、さらに他の場合では50nmと200nmとの間であり得る。 The core layer is formed from a material whose complex refractive index has a refractive index much smaller than the extinction coefficient for the material. The complex refractive index is given by the formula RI 1 = n 1 + ik 1 , where n 1 is the refractive index of the core layer material, k 1 is the extinction coefficient of the core layer material, and i is the square root of −1. Materials meeting this criterion include silver, aluminum, gold, and alloys thereof. Further, the thickness of the core layer may be between 10 and 500 nm in some cases, between 25 and 300 nm in other cases, and between 50 and 200 nm in other cases. possible.

誘電体層は、狭い反射帯域の中心波長のクォーターウェーブの2倍(2QW)以下の厚さを有する。QWは以下の式で定義される。   The dielectric layer has a thickness of no more than twice (2QW) a quarter wave at the center wavelength of the narrow reflection band. QW is defined by the following equation.

QW=λ/(4・n)
ここでλは反射されるべき所望の波長で、nは誘電体層の屈折率である。さらに、誘電体層は酸化チタン(たとえば、TiO)、フッ化マグネシウム(たとえば、MgF)、硫化亜鉛(たとえば、ZnS)、酸化ハフニウム(たとえば、HfO)、酸化ニオブ(たとえば、Nb)、酸化タンタル(たとえば、Ta)、酸化ケイ素(たとえば、SiO)、およびそれらの組合せから形成され得る。
QW = λ / (4 · n)
Where λ is the desired wavelength to be reflected and n is the refractive index of the dielectric layer. Further, the dielectric layer is made of titanium oxide (eg, TiO 2 ), magnesium fluoride (eg, MgF 2 ), zinc sulfide (eg, ZnS), hafnium oxide (eg, HfO 2 ), niobium oxide (eg, Nb 2 O). 5 ), tantalum oxide (eg, Ta 2 O 5 ), silicon oxide (eg, SiO 2 ), and combinations thereof.

吸収層に関して、当該材料についての消衰係数と概して等しい屈折率を有する材料が用いられる。この基準を満たす材料は、クロム、タンタル、タングステン、モリブデン、チタン、窒化チタン、ニオブ、コバルト、ケイ素、ゲルマニウム、ニッケル、パラジウム、バナジウム、酸化鉄、および/またはそれらの合金もしくは組合せを含む。いくつかの場合では、吸収層の厚さは5nmと50nmとの間であり、他の場合では、厚さは5nmと20nmとの間である。   For the absorption layer, a material having a refractive index generally equal to the extinction coefficient for the material is used. Materials meeting this criterion include chromium, tantalum, tungsten, molybdenum, titanium, titanium nitride, niobium, cobalt, silicon, germanium, nickel, palladium, vanadium, iron oxide, and / or alloys or combinations thereof. In some cases, the thickness of the absorbing layer is between 5 nm and 50 nm; in other cases, the thickness is between 5 nm and 20 nm.

薄膜構造に亘る電界と所望厚さの誘電体層とに関して、理論に束縛されずに、図1は、屈折率nを有する基板またはコア層2上における、合計の厚み「D」と、増加厚さ「d」と、屈折率「n」とを有する誘電体層4の概略的な図である。入射光は、表面に垂直な線6に対してある角度θで誘電体層4の外面5に当たり、同じ角度で外面5から反射する。入射光は、外面5を通って誘電体層4の中に線6に対して角度θで透過し、図に示されるような角度θで基板層2の表面3に当たる。 Without being bound by theory, with respect to the electric field over the thin film structure and the desired thickness of the dielectric layer, FIG. 1 shows that the total thickness “D” on the substrate or core layer 2 having the refractive index n s and the increase FIG. 4 is a schematic diagram of a dielectric layer 4 having a thickness “d” and a refractive index “n”. The incident light strikes the outer surface 5 of the dielectric layer 4 at an angle θ with respect to a line 6 perpendicular to the surface, and reflects from the outer surface 5 at the same angle. The incident light is transmitted through the outer surface 5 into the dielectric layer 4 at an angle θ F with respect to the line 6 and impinges on the surface 3 of the substrate layer 2 at an angle θ s as shown.

単一の誘電体層の場合、θ=θであり、電界(E)は、z=dのときにE(z)として表され得る。マクスウェルの方程式から、電界はs偏光について以下のように表され得る。 For a single dielectric layer, θ s = θ F and the electric field (E) can be expressed as E (z) when z = d. From Maxwell's equation, the electric field can be expressed as follows for s-polarized light:

p偏光については以下のように表され得る。 For p-polarized light, it can be expressed as:

式中k=2π/λであり、λは反射されるべき所望の波長である。またα=nsinθであり、式中「s」は図1における基板に対応する。したがって、s偏光については Where k = 2π / λ, where λ is the desired wavelength to be reflected. Also an alpha = n s sin [theta s, where "s" corresponds to the substrate in FIG. Therefore, for s-polarized light

であり、p偏光については And for p-polarized light

である。
誘電体層4のZ方向に沿った電界の変動は未知のパラメータu(z)およびv(z)の計算によって推定され得るということが理解される。その場合、
It is.
It is understood that the variation of the electric field along the Z direction of the dielectric layer 4 can be estimated by calculating unknown parameters u (z) and v (z). In that case,

が示され得る。境界条件u|z=0=1,v|z=0=qと、
s偏光について、q=ncosθ(6)
p偏光について、q=n/cosθ(7)
s偏光について、q=ncosθ(8)
p偏光について、q=n/cosθ(9)
φ=k・n・d cos(θ) (10)
という関係とを用いて、u(z)およびv(z)は以下のように表され得る。
Can be shown. Boundary condition u | z = 0 = 1, v | and z = 0 = q s,
For s-polarized light, q s = n s cos θ s (6)
For p-polarized light, q s = n s / cosθ s (7)
For s-polarized light, q = ncos θ F (8)
For p-polarized light, q = n / cos θ F (9)
φ = knd cos (θ F ) (10)
And u (z) and v (z) can be expressed as:

および and

したがって、φ=k・n・d cos(θ)でs偏光については、 Therefore, for s-polarized light with φ = kn · cos (θ F ),

であって、p分極については And for p-polarization

であり、式中 Where

である。したがって、θ=0または垂直入射、φ=k・n・d、およびα=0といった単純な状態の場合、 It is. Thus, for the simple states of θ F = 0 or normal incidence, φ = knd, and α = 0,

これにより、電界がゼロの際に、解かれるべき厚さ「d」が得られる。
本発明の多層構造は、コア層の対向する側上に誘電体層の対と、誘電体層の外面に亘って延在する吸収層の対とを有する中央コア層を有する5層構造を含み得る。誘電体層の別の対が2つの吸収層の外面に亘って延在する7層多層構造が含まれる。上記の最初の5層構造がコア層の対向する表面と誘電体層との間を延在する吸収層の対を含む異なる7層構造が含まれる。さらに、上記の7層構造に対して、吸収層のさらに別の対がコア層の対向する表面と誘電体層との間を延在する9層多層構造が含まれる。
This gives the thickness "d" to be solved when the electric field is zero.
The multilayer structure of the present invention includes a five-layer structure having a central core layer having a pair of dielectric layers on opposite sides of the core layer and a pair of absorbing layers extending across an outer surface of the dielectric layer. obtain. Included is a seven-layer multilayer structure in which another pair of dielectric layers extends across the outer surfaces of the two absorbing layers. The first five-layer structure described above includes a different seven-layer structure including a pair of absorbing layers extending between the opposing surface of the core layer and the dielectric layer. In addition to the seven-layer structure described above, a nine-layer multilayer structure is provided in which yet another pair of absorbing layers extends between the opposing surface of the core layer and the dielectric layer.

ここで図2を参照して、高クロマ全方向構造色多層構造の実施例が参照番号10にて概略的に示される。多層構造10は、コアまたは反射層100を有しており、反射層100の外面102に亘って誘電体層110が延在している。さらに吸収層120が、誘電体層110に亘ってそれらの間に界面112を挟んで延在する。図2に示されるように、入射光が多層構造10に送られて多層構造10に当たる。反射光が多層構造10から反射される。   Referring now to FIG. 2, an embodiment of a high chroma omnidirectional structural color multilayer structure is indicated generally by the reference numeral 10. The multilayer structure 10 has a core or reflective layer 100, with a dielectric layer 110 extending across the outer surface 102 of the reflective layer 100. Further, an absorbing layer 120 extends across the dielectric layer 110 with an interface 112 therebetween. As shown in FIG. 2, incident light is sent to the multilayer structure 10 and strikes the multilayer structure 10. The reflected light is reflected from the multilayer structure 10.

図3を参照して、特定の実施例が図3(a)に示される。当該実施例では、コア層100はアルミニウムから形成され、誘電体層110はZnSから形成され、吸収層120はクロムから形成される。図3(b)は、アルミニウムコア層100、ZnS誘電体層110、およびクロム吸収層120についての屈折率を示すグラフを提供する。さらに図3(b)には、誘電体層110(60nm)および吸収層120(5nm)の厚さも示される。   Referring to FIG. 3, a specific embodiment is shown in FIG. In this embodiment, the core layer 100 is formed from aluminum, the dielectric layer 110 is formed from ZnS, and the absorbing layer 120 is formed from chromium. FIG. 3 (b) provides a graph showing the refractive index for the aluminum core layer 100, the ZnS dielectric layer 110, and the chromium absorbing layer 120. FIG. 3B also shows the thickness of the dielectric layer 110 (60 nm) and the absorption layer 120 (5 nm).

図3(c)および図3(d)は、図3(a)に示される多層構造の厚さの関数として、電界(|E|(単位は%))のグラフ図を提供する。図3(c)および図3(d)に示されるように、波長が650nmのとき、相対的に大きな電界がZnS誘電体層とクロム吸収層との間の界面に存在する。対照的に、入射波長が400nmのとき、電界はZnS誘電体層とクロム吸収層との間の界面でほぼゼロである。本開示の目的のために、「ほぼゼロ」という文言は、いくつかの場合では25%|E|未満であると規定され、他の場合では10%|E|であると規定され、さらに他の場合では5%未満であると規定される。 FIGS. 3 (c) and 3 (d) provide graphical illustrations of the electric field (| E | 2 (in%)) as a function of the thickness of the multilayer structure shown in FIG. 3 (a). As shown in FIGS. 3C and 3D, when the wavelength is 650 nm, a relatively large electric field exists at the interface between the ZnS dielectric layer and the chromium absorption layer. In contrast, when the incident wavelength is 400 nm, the electric field is almost zero at the interface between the ZnS dielectric layer and the chromium absorbing layer. For the purposes of this disclosure, the term “nearly zero” is defined in some cases to be less than 25% | E | 2 and in others to 10% | E | 2 ; In still other cases it is specified to be less than 5%.

図3(c)および図3(d)に示されるグラフ図から、400nm領域内の波長は界面112を透過する一方、650nm領域内の波長は界面112にて吸収されるということが理解される。したがって、400nm範囲における電磁放射が界面112を透過し、ZnS誘電体層110を透過し、コア層100から反射し、反射された電磁放射がその後誘電体層110、界面112、および吸収層120を透過することにより、狭い帯域の反射
された電磁放射が多層構造10によって作り出される。これにより、狭い帯域の反射光が提供され、したがって構造色を産出する。
From the graphs shown in FIGS. 3C and 3D, it is understood that wavelengths in the 400 nm region are transmitted through the interface 112, while wavelengths in the 650 nm region are absorbed at the interface 112. . Thus, electromagnetic radiation in the 400 nm range transmits through interface 112, transmits through ZnS dielectric layer 110, reflects from core layer 100, and the reflected electromagnetic radiation subsequently passes through dielectric layer 110, interface 112, and absorbing layer 120. By transmission, a narrow band of reflected electromagnetic radiation is created by the multilayer structure 10. This provides a narrow band of reflected light, thus producing a structural color.

多層構造10の全方向の作用に関して、誘電体層110の厚さは、反射光の第1の高調波のみが提供されるように設計または設定される。特に図4を参照して、図4(a)は、0°および45°から見た際の多層構造10の反射特性を示す。誘電体層110は、67nmに等しい、所望の400nmの波長の1.5QWの厚さを有する。ZnS誘電体材料の屈折率nは以下のように与えられる。   For the omnidirectional operation of the multilayer structure 10, the thickness of the dielectric layer 110 is designed or set so that only the first harmonic of the reflected light is provided. With particular reference to FIG. 4, FIG. 4 (a) shows the reflection characteristics of the multilayer structure 10 when viewed from 0 ° and 45 °. The dielectric layer 110 has a thickness of 1.5 QW at the desired wavelength of 400 nm, equal to 67 nm. The refractive index n of the ZnS dielectric material is given as follows.

n≒2.2
図4(a)に示されるように、かつ図4(b)〜図4(d)とは異なるように、反射された狭い帯域の電磁放射の第1の高調波のみが提供される。詳細には、誘電体層厚さが2QWより大きい場合、第2の高調波、第3の高調波、および第4の高調波が存在することになる。したがって、誘電体層110の厚さは、全方向構造色を提供するために重要である。
n ≒ 2.2
As shown in FIG. 4 (a), and different from FIGS. 4 (b) -4 (d), only the first harmonic of the reflected narrow band electromagnetic radiation is provided. In particular, if the dielectric layer thickness is greater than 2QW, then there will be a second, third and fourth harmonic. Therefore, the thickness of the dielectric layer 110 is important to provide an omnidirectional structural color.

ここで図5を参照して、CIELAB色空間を使用するa*b*カラーマップを使用して、多層構造についての色特性の比較が検討され得る。CIELAB色空間は、非線形に圧縮されたCIE空間のXYZ色空間座標に基づく、明度について次元L*かつ反対色次元についてa*およびb*である反対色空間であるということが理解される。a*軸はb*軸に垂直であり、色度面を形成する。L*軸は色度面に垂直である。a*軸およびb*軸と組み合わされたL*軸は、純度、色相および明るさのような対象の色属性を完全に表す。専門的でない文言を用いると、非常にカラフルな刺激(色)は、人間の目には鮮やかかつ強烈に見えるが、あまりカラフルでない刺激はグレーにより近いくすんだように見える。「カラフルさ」が全くなければ、色は「中性の」グレーであり、カラフルさがない画像は典型的に、グレイスケールの画像またはグレイスケール画像と称される。さらに、カラフルさ(クロマまたは彩度としても公知である)、明度(明るさとしても公知である)、および色相の3つの属性で、色が示され得る。   Referring now to FIG. 5, a comparison of color characteristics for a multilayer structure may be considered using an a * b * color map using the CIELAB color space. It is understood that the CIELAB color space is an inverse color space based on the XYZ color space coordinates of the non-linearly compressed CIE space, with dimensions L * for lightness and a * and b * for the opposite color dimensions. The a * axis is perpendicular to the b * axis and forms a chromaticity plane. The L * axis is perpendicular to the chromaticity plane. The L * axis combined with the a * and b * axes completely represent the color attributes of interest such as purity, hue and brightness. Using non-professional language, very colorful stimuli (colors) appear vivid and intense to the human eye, but less colorful stimuli appear duller, closer to gray. If there is no "colorfulness", the color is "neutral" gray, and images that are not colorful are typically referred to as grayscale or grayscale images. In addition, color can be indicated by three attributes: colorfulness (also known as chroma or saturation), lightness (also known as brightness), and hue.

図5に示されるカラーマップは、(b*/a*)の逆タンジェント=280に等しい色相のターゲットとされる色エリアを有する。この図に示される線は、0°から80°の間から見た場合の色の変化に対応する。さらに、これらの線は、1.67QWおよび3QWの誘電体層厚さにそれぞれ関連付けられる第1および第2の高調波に対応する。図に示されるように、第1の高調波および1.67QWの誘電体層厚さに対応する線は、色相のより低い角度のシフトに対応しており、したがってより大きな多層構造の所望の全方向の作用に対応している。   The color map shown in FIG. 5 has a targeted color area with a hue equal to the inverse tangent of (b * / a *) = 280. The lines shown in this figure correspond to color changes when viewed from between 0 ° and 80 °. Further, these lines correspond to the first and second harmonics, respectively, associated with dielectric layer thicknesses of 1.67 QW and 3 QW. As shown in the figure, the line corresponding to the first harmonic and the dielectric layer thickness of 1.67 QW corresponds to a lower angular shift of the hue, and thus the desired overall of a larger multilayer structure. Corresponds to directional action.

図6を参照して、図6(a)は、誘電体層110および吸収層120についての吸収対入射電磁放射波長のグラフ図を提供する。この図に示されるように、吸収層120は、約400nmの入射波長では吸収率が非常に低く、600nm〜700nmの範囲の入射波長に対しては吸収が非常に高い。さらに、400nmから600〜700nmの範囲の間では吸収において相対的に急な増加が存在する。これにより、コア層100に反射されることになる誘電体層110を透過する光の波長の著しい遮断が提供される。この著しい遮断は、図6(b)に示されるグラフ図に対応する。図6(b)に示されるグラフ図において、狭い帯域の電磁放射は、400nmの範囲において反射される。図6(b)はさらに、0°および45°から見た場合の当該反射された帯域の電磁放射の中心波長(400nm)におけるシフトが非常に低いことを示す。狭い帯域の反射された電磁放射は、最大反射率点/波長と比較して50%の反射率にて測定された位置において200nm未満の幅を有するということが理解される。さらに、狭い反射された帯域は、400nmの波長について最大反射率の75%にて測定された際に、100nm未満の幅を有する。   Referring to FIG. 6, FIG. 6 (a) provides a graphical illustration of absorption versus incident electromagnetic radiation wavelength for dielectric layer 110 and absorbing layer 120. As shown in this figure, the absorption layer 120 has a very low absorption at an incident wavelength of about 400 nm and a very high absorption for incident wavelengths in the range of 600 nm to 700 nm. In addition, there is a relatively steep increase in absorption between 400 nm and 600-700 nm. This provides significant blocking of the wavelength of light transmitted through the dielectric layer 110 that will be reflected by the core layer 100. This significant cutoff corresponds to the graph shown in FIG. 6 (b). In the graph shown in FIG. 6 (b), narrow band electromagnetic radiation is reflected in the 400 nm range. FIG. 6 (b) further shows that the shift in the center wavelength (400 nm) of the electromagnetic radiation in the reflected band when viewed from 0 ° and 45 ° is very low. It is understood that the narrow band reflected electromagnetic radiation has a width of less than 200 nm at the position measured at 50% reflectance compared to the point of maximum reflectance / wavelength. In addition, the narrow reflected band has a width of less than 100 nm when measured at 75% of the maximum reflectance for a wavelength of 400 nm.

多層構造の色相およびクロマに関して、図6(c)は、入射視角の関数として色相およびクロマにおける非常に小さい変化を示す。さらに、クロマは0°と45°との間のすべての角度について58と60との間で維持される。   For the hue and chroma of the multilayer structure, FIG. 6 (c) shows very small changes in hue and chroma as a function of the angle of incidence. Further, the chroma is maintained between 58 and 60 for all angles between 0 ° and 45 °.

ここで図7に移って、本発明の別の実施例が図7(a)に参照番号20で示される。多層構造20は、吸収層120の外面に亘って延在する第2の誘電体層130を有する。図7(b)は構造20のさまざまな層について屈折率のグラフ図を提供し、図7(c)は入射波長が420nmである場合における構造20に沿った厚さの関数として電界を示す。最後に、図7(d)は、入射波長が560nmである場合における多層構造20に亘る厚さの関数として、電界のグラフ図を提供する。図7(c)および図7(d)に示されるように、波長が420nmである場合について電界はほぼ0であるが、波長が560nmである場合については相対的に大きいまたは高い。そのため、全方向の狭い帯域の反射された電磁放射が多層構造20によって提供される。   Turning now to FIG. 7, another embodiment of the present invention is shown in FIG. The multilayer structure 20 has a second dielectric layer 130 that extends over the outer surface of the absorbing layer 120. FIG. 7 (b) provides a graph of the refractive index for various layers of structure 20, and FIG. 7 (c) shows the electric field as a function of thickness along structure 20 for an incident wavelength of 420 nm. Finally, FIG. 7 (d) provides a graphical illustration of the electric field as a function of thickness over the multilayer structure 20 for an incident wavelength of 560 nm. As shown in FIGS. 7C and 7D, the electric field is almost 0 when the wavelength is 420 nm, but is relatively large or high when the wavelength is 560 nm. As such, a narrow band of reflected electromagnetic radiation in all directions is provided by the multilayer structure 20.

図8を参照して、図8(a)は、0°および45°から見た際の、図9(a)に示される構造からの電磁放射の反射された帯域の中心波長(400nm)のシフトのグラフ図を提供する。誘電体層110および吸収層120についての吸収対入射電磁放射波長が図8(b)に示され、視角の関数として色相およびクロマが図8(c)に示される。   Referring to FIG. 8, FIG. 8 (a) shows the center wavelength (400 nm) of the reflected band of electromagnetic radiation from the structure shown in FIG. 9 (a) when viewed from 0 ° and 45 °. 5 provides a graphical illustration of the shift. The absorption versus incident electromagnetic radiation wavelength for dielectric layer 110 and absorption layer 120 is shown in FIG. 8 (b), and hue and chroma as a function of viewing angle are shown in FIG. 8 (c).

ここで図9を参照して、2つの多層構造の概略的な図が参照番号12および22で示される。図9(a)に示される多層構造12は、コア層100の対向する側上に別の誘電体層110aおよび吸収層120aが存在することを除いて、上で論じた実施例10と本質的に同一である。さらに、図9(b)に示される多層構造22は、コア層100の対向する側上の別の誘電体層110a、吸収層120a、および誘電体層130aを除いて、上で論じた多層構造20と本質的に同じである。このように、コア層100は多層構造によってカバーされる両方の外面を有する。   Referring now to FIG. 9, a schematic diagram of the two multilayer structures is indicated by reference numerals 12 and 22. The multilayer structure 12 shown in FIG. 9 (a) is essentially the same as Example 10 discussed above, except that there is another dielectric layer 110a and an absorbing layer 120a on opposite sides of the core layer 100. Is the same as In addition, the multilayer structure 22 shown in FIG. 9 (b) is similar to the multilayer structure discussed above, except for another dielectric layer 110a, absorbing layer 120a, and dielectric layer 130a on opposite sides of the core layer 100. It is essentially the same as 20. Thus, the core layer 100 has both outer surfaces covered by the multilayer structure.

図9(c)に示されるグラフプロットを参照して、アルミニウムコア層(Alコア)のみ、アルミニウムコア層+ZnS誘電体層(Alコア+ZnS)、5層アルミコア+ZnS+クロム構造(実施例12に示されるようなAlコア+ZnS+Cr(5L))、および実施例22に示されるような7層アルミコア+ZnS+クロム+ZnS構造(Alコア+ZnS+Cr+ZnS(7L))について反射率対入射電磁放射波長が示される。この図に示されるように、誘電体層の対と吸収層とを間に挟んだ7層構造22によって、他の構造と比較してより狭くかつ良好に規定された反射帯域の電磁放射が提供される。   Referring to the graph plot shown in FIG. 9C, only the aluminum core layer (Al core), aluminum core layer + ZnS dielectric layer (Al core + ZnS), five-layer aluminum core + ZnS + chromium structure (shown in Example 12) Reflectance versus incident electromagnetic radiation wavelength is shown for such an Al core + ZnS + Cr (5L)) and a seven-layer aluminum core + ZnS + Chromium + ZnS structure (Al core + ZnS + Cr + ZnS (7L)) as shown in Example 22. As shown in this figure, a seven-layer structure 22 sandwiching a pair of dielectric layers and an absorbing layer provides a narrower and better defined reflection band of electromagnetic radiation compared to other structures. Is done.

図10は、第2の高調波を産出する誘電体厚さを有する5層構造と、第1の高調波のみ産出する誘電体厚さを有する5層構造と、第1の高調波のみ産出する誘電体層厚さを有する7層構造とについてのa*b*カラーマップを提供する。図においてターゲット色エリアを示す点線の円によって示されるように、他の構造を示す線と比較すると、線は7層構造に対応しており、第1の高調波が色相の低い角度シフトに対応する。   FIG. 10 shows a five-layer structure having a dielectric thickness that produces the second harmonic, a five-layer structure having a dielectric thickness that produces only the first harmonic, and producing only the first harmonic. 7 provides an a * b * color map for a seven layer structure with a dielectric layer thickness. Compared to the lines representing the other structures, the lines correspond to a seven-layer structure, with the first harmonic corresponding to a low hue shift in hue, as indicated by the dotted circles indicating the target color areas in the figure. I do.

現状技術の層構造と、光学的厚さが3QWより大きい(以下「5層>3QW」と称する)誘電体層を有する2つの5層構造と、本発明の実施例に従って作り出されたまたはシミュレートされた光学的厚さが2QW未満(以下「7層<2QW構造」と称する)である少なくとも1つの誘電体層を有する7層構造との比較が、図11におけるa*b*カラーマップ上に示される。図に示されるように、現状技術の構造および5層>3QW構造は、本願明細書において開示される7層<2QW構造によって、大幅に改善されている。特にクロマ(   State-of-the-art layer structures, two five-layer structures with dielectric layers having an optical thickness greater than 3QW (hereinafter "5 layers> 3QW"), and created or simulated according to embodiments of the present invention A comparison with a seven-layer structure having at least one dielectric layer having a measured optical thickness of less than 2 QW (hereinafter referred to as “seven-layer <2QW structure”) is shown on the a * b * color map in FIG. Is shown. As shown, the state-of-the-art structure and the five-layer> 3QW structure are greatly improved by the seven-layer <2QW structure disclosed herein. Especially chroma (

)は、5層>3QW構造についてよりも7層<2QW構造についてのほうが大きい。さらに、色調シフト(Δθ)は、5層>3QW構造(Δθ)と比較して、7層<2QW構造(Δθ)が約半分である。 ) Is greater for the seven-layer <2QW structure than for the five-layer> 3QW structure. Further, the color tone shift (Δθ) is about half that of the seven-layer <2QW structure (Δθ 1 ) as compared with the five-layer> 3QW structure (Δθ 2 ).

以下の表1は、5層>3QW構造および7層<2QW構造についての数値データを示す。クロマ(C*)における1または2ポイントの増加は、2ポイントの増加が人間の目にも視覚的に認識可能であるので、有意増加であるということを当業者が認識するということが理解される。したがって、7層<2QW構造によって示された6.02ポイントの増加(16.1%の増加)は特別である。さらに、7層<2QW構造(15°)についての色調シフトは、5層>3QW構造(29°)の色調シフトの約半分である。したがって当該2つの構造の間にほぼ等しい明度(L*)が与えられると、7層<2QW構造は、先行技術の構造と比較して色特性において有意かつ予期しない増加を提供する。   Table 1 below shows numerical data for the 5-layer> 3QW structure and the 7-layer <2QW structure. It is understood by those skilled in the art that a one or two point increase in chroma (C *) is a significant increase since the two point increase is also visually recognizable to the human eye. You. Thus, the 6.02 point increase (16.1% increase) exhibited by the 7-layer <2QW structure is special. Further, the tone shift for the seven-layer <2QW structure (15 °) is about half that of the five-layer> 3QW structure (29 °). Thus, given approximately equal lightness (L *) between the two structures, the seven-layer <2 QW structure provides a significant and unexpected increase in color properties as compared to prior art structures.

高クロマ全方向構造色多層構造の別の実施例が、図12(a)において参照番号14で概略的に示される。多層構造14は、反射層100と誘電体層110および110aとの間のそれぞれの付加的な吸収層105および吸収層105aを除いて、実施例10に類似する。図12(b)において参照番号24にて別の実施例が示される。当該実施例は、反射層またはコア層100と誘電体層110,110aとの間にそれぞれ吸収層105,105aを追加したことを除いて実施例20に類似している。   Another embodiment of a high chroma omnidirectional multi-layer structure is schematically indicated by reference numeral 14 in FIG. The multilayer structure 14 is similar to the tenth embodiment, except for the respective additional absorbing layers 105 and 105a between the reflective layer 100 and the dielectric layers 110 and 110a. In FIG. 12B, another embodiment is indicated by reference numeral 24. This embodiment is similar to embodiment 20 except that absorbing layers 105, 105a are added between the reflective or core layer 100 and the dielectric layers 110, 110a, respectively.

このような多層構造からの顔料は、犠牲層を有し、当業者に公知である任意の種類の堆積方法またはプロセスを用いて堆積された材料のその後の層を有するウェブ上のコーティングとして製造され得る。上記の堆積方法またはプロセスには、電子ビーム蒸着、スパッタリング、化学蒸着、ゾルゲル処理、およびレイヤ・バイ・レイヤ処理などが含まれる。多層構造が犠牲層上に堆積されると、20ミクロンのオーダの表面寸法と、0.3〜1.5ミクロンのオーダの厚み寸法とを有する自立フレークが、犠牲層を取り除き残存する多層構造を研削してフレークにすることによって得られ得る。フレークが得られると、当該フレークは結合剤、添加剤、およびベースコート樹脂といった高分子材料と混合される。これにより全方向構造色ペイントが調製される。   Pigments from such a multilayer structure have a sacrificial layer and are manufactured as a coating on a web having a subsequent layer of deposited material using any type of deposition method or process known to those skilled in the art. obtain. Such deposition methods or processes include electron beam evaporation, sputtering, chemical vapor deposition, sol-gel processing, layer-by-layer processing, and the like. When the multilayer structure is deposited on the sacrificial layer, free-standing flakes having a surface dimension on the order of 20 microns and a thickness dimension on the order of 0.3-1.5 microns remove the sacrificial layer and remove the remaining multilayer structure. It can be obtained by grinding into flakes. Once the flakes are obtained, the flakes are mixed with polymeric materials such as binders, additives, and basecoat resins. This prepares an omnidirectional structural color paint.

全方向構造色ペイントは、色調シフトが30°未満であって変色が最小である。このような最小の色調シフトは、人間の目に全方向的に見えるものであるよう理解されるべきである。色相の鮮明度は、tan−1(b*/a*)であり、式中、a*およびb*はlab色系における色座標である。 The omnidirectional structural color paint has a color shift of less than 30 ° and minimal discoloration. Such minimal tonal shifts should be understood as being omnidirectional to the human eye. Hue sharpness is tan -1 (b * / a *), where a * and b * are color coordinates in the lab color system.

まとめると、全方向構造色顔料は、反射層またはコア層と、1つまたは2つの誘電体層
と、1つまたは2つの吸収層とを有しており、コントロールの波長が可視スペクトルにおいてピーク反射率にて目標波長によって決定される場合、誘電体層の少なくとも1つは典型的な幅が0.1QWより大きいが2QW以下である。さらに、ピーク反射率は、第1の高調波反射率ピークについてである。いくつかの場合では、1つ以上の誘電体層の幅は、0.5QWより大きく2QW未満である。他の場合では、1つ以上の誘電体層の幅は、0.5QWより大きく1.8QW未満である。
In summary, the omnidirectional structural pigment has a reflective or core layer, one or two dielectric layers, and one or two absorbing layers so that the control wavelength has a peak reflection in the visible spectrum. At least one of the dielectric layers has a typical width greater than 0.1 QW but less than or equal to 2 QW, as determined by the target wavelength in the ratio. Further, the peak reflectivity is for the first harmonic reflectivity peak. In some cases, the width of the one or more dielectric layers is greater than 0.5 QW and less than 2 QW. In other cases, the width of the one or more dielectric layers is greater than 0.5 QW and less than 1.8 QW.

上記の例および実施例は、単に例示的な目的であって、変更および修正などは当業者には明白であり、それらは本発明の範囲内に該当する。したがって、本発明の範囲は特許請求の範囲によって定義される。   The above examples and embodiments are for illustrative purposes only, and changes and modifications will be apparent to those skilled in the art and fall within the scope of the invention. Accordingly, the scope of the present invention is defined by the appended claims.

Claims (20)

多層スタックを含み、前記多層スタックは
コア層と、
前記コア層に亘って延在する誘電体層と、
界面を間に挟んで前記誘電体層に亘って延在する吸収層とを有し、
前記誘電体層と前記吸収層との間の前記界面は、第1の入射電磁波長にてほぼゼロの電界を有し、第2の入射電磁波長にて大きな電界を有し、前記第2の入射電磁波長は前記第1の入射電磁波長とは等しくなく、
前記多層スタックは、0°と45°との間の角度から見た際、300nm未満の狭い反射帯域を有する、高クロマ全方向構造色多層構造。
A multilayer stack, wherein the multilayer stack comprises a core layer;
A dielectric layer extending over the core layer;
Having an absorption layer extending across the dielectric layer with an interface in between,
The interface between the dielectric layer and the absorbing layer has a substantially zero electric field at a first incident electromagnetic wavelength and a large electric field at a second incident electromagnetic wavelength; The incident electromagnetic wavelength is not equal to said first incident electromagnetic wavelength,
The multilayer stack is a high chroma omnidirectional structured color multilayer structure having a narrow reflection band of less than 300 nm when viewed from an angle between 0 ° and 45 °.
前記コア層は、式RI=n+ikによって示される複素屈折率を有し、n<<kであり、式中RIは前記複素屈折率であり、nは前記コア層の屈折率であり,kは前記コア層の消衰係数であり、iは√−1である、請求項1に記載の高クロマ全方向構造色多層構造。 The core layer has a complex refractive index represented by the formula RI 1 = n 1 + ik 1 , an n 1 << k 1, wherein RI 1 is the complex refractive index, n 1 is the core layer 2. The high chroma omnidirectional structural color multilayer structure of claim 1, wherein k 1 is the extinction coefficient of the core layer, and i is √−1. 前記コア層は、銀、銅、クロム、アルミニウム、金およびそれらの合金からなる群から選択される材料から形成される、請求項2に記載の高クロマ全方向構造色多層構造。   The high chroma omnidirectional structural color multilayer structure of claim 2, wherein the core layer is formed from a material selected from the group consisting of silver, copper, chromium, aluminum, gold, and alloys thereof. 前記コア層は前記アルミニウムおよびその前記合金からなる群から選択される材料から形成される、請求項3に記載の高クロマ全方向構造色多層構造。   The high chroma omnidirectional structural color multilayer structure of claim 3, wherein the core layer is formed from a material selected from the group consisting of the aluminum and the alloy thereof. 前記コア層は50nmと200nmとの間の厚さを有する、請求項4に記載の高クロマ全方向構造色多層構造。   The high chroma omnidirectional structural color multilayer structure of claim 4, wherein the core layer has a thickness between 50 nm and 200 nm. 前記誘電体層は、前記狭い反射帯域の中心波長の2・クォーターウェーブ(QW)以下の厚さを有する、請求項5に記載の高クロマ全方向構造色多層構造。   The high-chroma omnidirectional structural color multilayer structure according to claim 5, wherein the dielectric layer has a thickness equal to or less than 2.quarter wave (QW) of a center wavelength of the narrow reflection band. 前記誘電体層は、TiO、MgF、ZnS、HfO、Nb、Ta、SiOおよびそれらの組合せの少なくとも1つを含む、請求項6に記載の高クロマ全方向構造色多層構造。 Said dielectric layer, TiO 2, MgF 2, ZnS , HfO 2, Nb 2 O 5, Ta 2 O 5, SiO 2 and at least one of their combinations, high chroma all directions according to claim 6 Structural color multilayer structure. 前記誘電体層はZnSである、請求項7に記載の高クロマ全方向構造色多層構造。   The high chroma omnidirectional structural color multilayer structure of claim 7, wherein the dielectric layer is ZnS. 前記吸収層は式RI=n+ikで示される複素屈折率を有し、n≒kであり、式中RIは前記複素屈折率であり、nは前記誘電体層の屈折率であり、kは前記吸収層の消衰係数である、請求項8に記載の高クロマ全方向構造色多層構造。 The absorbing layer has a complex index of refraction represented by the formula RI 2 = n 2 + ik 2 , where n 2 ≒ k 2 , where RI 2 is the complex index of refraction and n 2 is the dielectric layer. the refractive index, k 2 is the extinction coefficient of the absorbing layer, a high chroma omnidirectional structural color multilayer structure of claim 8. 前記吸収層は、クロム、タンタル、タングステン、モリブデン、チタン、窒化チタン、ニオブ、コバルト、ケイ素、ゲルマニウム、ニッケル、パラジウム、バナジウム、酸化鉄およびそれらの合金の少なくとも1つから選択される材料から形成される、請求項9に記載の高クロマ全方向構造色多層構造。   The absorption layer is formed of a material selected from at least one of chromium, tantalum, tungsten, molybdenum, titanium, titanium nitride, niobium, cobalt, silicon, germanium, nickel, palladium, vanadium, iron oxide, and alloys thereof. The high chroma omnidirectional structural color multilayer structure of claim 9. 前記吸収層は、前記クロムおよびその前記合金の少なくとも1つから形成される、請求項10に記載の高クロマ全方向構造色多層構造。   The high chroma omnidirectional structural color multilayer structure of claim 10, wherein the absorbing layer is formed from at least one of the chromium and the alloy thereof. 前記吸収層は5nmと20nmとの間の厚さを有する、請求項11に記載の高クロマ全方向構造色多層構造。   The high chroma omnidirectional structural color multilayer structure of claim 11, wherein the absorbing layer has a thickness between 5 nm and 20 nm. 前記吸収層の外面に亘って延在する別の誘電体層をさらに含む、請求項12に記載の高クロマ全方向構造色多層構造。   13. The high chroma omnidirectional structural color multilayer structure of claim 12, further comprising another dielectric layer extending over an outer surface of the absorbing layer. 前記コア層と前記誘電体層との間に別の吸収層をさらに含む、請求項12に記載の高クロマ全方向構造色多層構造。   The high chroma omnidirectional structural color multilayer structure of claim 12, further comprising another absorbing layer between the core layer and the dielectric layer. 前記コア層と前記誘電体層との間に別の吸収層をさらに含む、請求項13に記載の高クロマ全方向構造色多層構造。   14. The high chroma omnidirectional structural color multilayer structure of claim 13, further comprising another absorbing layer between the core layer and the dielectric layer. 多層スタックを含み、前記多層スタックは、
第1の外面と、間隔を空けて対向するように配置される第2の外面とを有するコア層と、
前記コア層の前記第1の外面に亘って延在する第1の誘電体層および前記第2の外面に亘って延在する第2の誘電体層と、
前記第1の誘電体層に亘って延在する第1の吸収層および前記第2の誘電体層に亘って延在する第2の吸収層とを有し、
前記多層スタックは、前記第1の吸収層と前記第1の誘電体層との間の第1の界面と、前記第2の吸収層と前記第2の誘電体層との間の第2の界面とにてほぼゼロの電界を有し、
0°と45°との間の角度から見た際に、前記多層スタックは300nm未満の狭い反射帯域を有する、高クロマ全方向構造色多層構造。
A multilayer stack, wherein the multilayer stack comprises:
A core layer having a first outer surface and a second outer surface disposed to face at a distance;
A first dielectric layer extending over the first outer surface of the core layer and a second dielectric layer extending over the second outer surface;
A first absorbing layer extending over the first dielectric layer and a second absorbing layer extending over the second dielectric layer;
The multilayer stack includes a first interface between the first absorbing layer and the first dielectric layer and a second interface between the second absorbing layer and the second dielectric layer. Has an almost zero electric field at the interface,
A high chroma omnidirectional structured color multilayer structure wherein the multilayer stack has a narrow reflection band of less than 300 nm when viewed from an angle between 0 ° and 45 °.
前記コア層はアルミニウムおよびその合金からなる群から選択される材料から形成される、請求項16に記載の高クロマ全方向構造色多層構造。   17. The high chroma omnidirectional structural color multilayer structure of claim 16, wherein the core layer is formed from a material selected from the group consisting of aluminum and its alloys. 前記コア層は50nmと200nmとの間の厚さを有する、請求項17に記載の高クロマ全方向構造色多層構造。   The high chroma omnidirectional structural color multilayer structure of claim 17, wherein the core layer has a thickness between 50 nm and 200 nm. 前記第1の誘電体層および前記第2の誘電体層の少なくとも1つは、前記狭い反射帯域の中心波長の2・クォーターウェーブ(QW)以下の厚さを有する、請求項18に記載の高クロマ全方向構造色多層構造。   19. The height of claim 18, wherein at least one of the first dielectric layer and the second dielectric layer has a thickness less than or equal to 2 quarter-wave (QW) of a center wavelength of the narrow reflection band. Chroma omnidirectional structure Color multilayer structure. 前記誘電体層は、TiO、MgF、ZnS、HfO、Nb、Ta、SiOおよびそれらの組合せの少なくとも1つを含む、請求項19に記載の高クロマ全方向構造色多層構造。 Said dielectric layer, TiO 2, MgF 2, ZnS , HfO 2, Nb 2 O 5, Ta 2 O 5, SiO 2 and at least one of their combinations, high chroma all directions according to claim 19 Structural color multilayer structure.
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