JP2019194609A - 振動式流量計における信号の温度補償 - Google Patents
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Abstract
Description
が50℃を超え得る別の石油掘削用施設に移される可能性がある。さらに、電子回路の周囲の温度は、電流による電子部品の加熱によって変化し得る。極低温の用途における極端に低い流体温度など、制御不能な温度変化の他の原因も存在し得る。結果として、センサからの信号が、電子回路によって調整されている間に、温度の変動に起因して変化する可能性がある。
振動式流量計における信号の温度補償のための方法が提供される。一実施形態によれば、この方法は、振動式流量計のメータアセンブリから1つ以上の信号を取得するステップと、1つ以上の信号を振動式流量計のメータ電子機器へともたらすステップと、1つ以上の信号を信号パラメータオフセットによって補償するステップとを含み、信号パラメータオフセットは、メータ電子機器の温度に基づく。
子機器の温度を測定するステップと、測定された温度に基づいて信号パラメータオフセットを生成するステップとを含む。
一態様によれば、振動式流量計における信号の温度補償のための方法が、振動式流量計のメータアセンブリから1つ以上の信号を取得するステップと、1つ以上の信号を振動式流量計のメータ電子機器へともたらすステップと、1つ以上の信号を信号パラメータオフセットによって補償するステップとを含み、信号パラメータオフセットは、メータ電子機器の温度に基づく。
好ましくは、1つ以上の信号は、公称温度において前もってゼロに較正された信号を含む。
好ましくは、本方法は、1つ以上の信号のうちの2つの間の時間遅延を割り出し、信号パラメータオフセットで時間遅延を補償するステップ、1つ以上の信号の周波数を割り出し、信号パラメータオフセットで周波数を補償するステップ、及び1つ以上の信号の振幅を割り出し、信号パラメータオフセットで振幅を補償するステップ、のうちの少なくとも1つをさらに含む。
好ましくは、本方法は、メータ電子機器の温度を測定し、測定された温度を信号パラメータオフセットに相関付けるステップをさらに含む。
好ましくは、1つ以上の信号は、少なくとも1つのデジタル信号からなる。
好ましくは、信号パラメータオフセットは、1つ以上の信号のうちの少なくとも1つに加えられるデジタル値である。
好ましくは、メータ電子機器の温度は、メータ電子機器内のアナログ回路の温度からなる。
好ましくは、本方法は、周囲環境の温度を変化させることによってメータ電子機器の温度を変化させるステップをさらに含む。
好ましくは、本方法は、信号パラメータオフセット及び温度測定値をメータ電子機器に格納するステップをさらに含む。
好ましくは、本方法は、温度測定値と信号パラメータオフセットとの間の相関をメータ電子機器に格納するステップをさらに含む。
以上の信号を受信するように構成されたメータ電子機器(20)と、メータ電子機器(20)と通信し、メータ電子機器(20)の温度を測定して温度測定値(392)をメータ電子機器
(20)へともたらすように構成された温度センサ(390)とを備える。メータ電子機器(20)は、温度測定値(392)に基づいて信号パラメータオフセットをもたらし、信号パラメータオフセットで1つ以上の信号を補償するように構成される。
好ましくは、メータ電子機器(20)は、信号パラメータオフセットで1つ以上の信号を補償する前に、1つ以上の信号をゼロに較正するようにさらに構成される。
好ましくは、メータ電子機器(20)は、1つ以上の信号のうちの2つの間の時間遅延を割り出し、信号パラメータオフセットで時間遅延を補償すること、1つ以上の信号の周波数を割り出し、信号パラメータオフセットで周波数を補償すること、及び1つ以上の信号の振幅を割り出し、信号パラメータオフセットで振幅を補償すること、のうちの少なくとも1つを行うようにさらに構成される。
ータオフセット(225)に相関付けられた格納された温度測定値(224)と比較することによって、信号パラメータオフセットをもたらす。
好ましくは、メータ電子機器(20)は、メータ電子機器(20)内のストレージシステム(220)に温度測定値(224)を格納するようにさらに構成される。
好ましくは、温度センサ(390)は、メータアセンブリ(10)から1つ以上の信号を受
信するアナログ回路(330)の温度を測定するようにさらに構成される。
おける信号の温度補償の多数の変種を形成できることを、当業者であれば理解できるであろう。結果として、以下で説明される実施形態は、後述される具体的な例に限定されるものではなく、特許請求の範囲及びその均等物によってのみ限定されるものである。
る。メータアセンブリ10は、プロセス物質の質量流量及び密度に応答する。メータ電子機器20は、経路26にわたる密度、質量流量、及び温度情報をもたらし、さらには他の情報をもたらすために、リード線100によってメータアセンブリ10に接続される。コリオリ流量
計の構造が説明されるが、本発明を、振動チューブ密度計、音叉濃度計、などとして実施できることは、当業者にとって明らかである。
る。流れチューブ130及び130’は、流れチューブ取り付けブロック120及び120’においてお互いに向かって収束する2つの本質的にまっすぐな流入脚部131、131’及び流出脚部134、134’を有する。流れチューブ130、130’は、それらの長さに沿った2つの対称な位置において曲がり、それらの長さの全体にわたって本質的に平行である。ブレースバー140
及び140’が、各々の流れチューブ130、130’の振動の中心軸W及びW’を定めるように機
能する。
穴102及び102’を有するフランジ103及び103’が、入口端104及び出口端104’を介し、測定対象のプロセス物質を運ぶプロセス配管(図示せず)へと接続されると、物質は、フランジ103のオリフィス101を通って計器の入口端104に進入し、マニホールド150を通って表面121を有している流れチューブ取り付けブロック120へと導かれる。マニホールド150
において、物質は分割され、流れチューブ130、130’を通って送られる。流れチューブ130、130’を出ると、プロセス物質は、表面121’を有するブロック120’及びマニホールド150’において再び合流して単一の流れとなり、その後に穴102’を有するフランジ103’
によってプロセス配管(図示せず)へと接続された出口端104’に送られる。
る所与の電流においてRTD190の両端に現れる電圧は、流れチューブ130’を通過する物質
の温度によって支配される。RTD190の両端に現れる温度依存性の電圧は、流れチューブの温度の変化に起因する流れチューブ130、130’の弾性率の変化を補償するために、メータ電子機器20によって周知の方法で使用される。RTD190は、リード線195によってメータ電
子機器20へと接続される。
中心にして反対の方向に、いわゆる流量計の第1の位相外れ曲げモードで駆動される。この駆動機構180は、流れチューブ130’に取り付けられた磁石、及び流れチューブ130に取
り付けられ、両方の流れチューブ130、130’を振動させるために交流が通される対向する
コイルなど、多数の周知の構成のうちの任意の1つを備えることができる。適切な駆動信号が、メータ電子機器20によって、リード線185を介して、駆動機構180に印加される。
信号を生成し、機構180を駆動し、チューブ130、130’を振動させる。メータ電子機器20
は、左右のセンサ信号及びRTD信号を処理して、メータアセンブリ10を通過する物質の質
量流量及び密度を計算する。左右のセンサ信号及びRTD信号の処理は、左右のセンサ信号
間の時間遅延または位相差を割り出すことを含むことができる。また、この処理は、左右のセンサ信号の周波数及び振幅など、他の信号パラメータを割り出すことも含むことができる。これらの情報及び他の情報は、メータ電子機器20によって経路26を経て加えられる。
、ストレージシステム220を含むことができる。ストレージシステム220は、図示のように内部メモリを備えてもよく、あるいは外部メモリを備えてもよい。
インターフェース201は、リード線165r、165l、185を介して駆動機構180及びピックオ
フセンサ170l、170rからセンサ信号を受信することができる。インターフェース201は、
フォーマット、増幅、バッファリング、などの任意のやり方など、任意の必要または所望の信号調整を行うことができる。あるいは、信号調整の一部または全部を、処理システム210で実行することができる。さらに、インターフェース201は、メータ電子機器20と外部の装置との間の通信を可能にすることができる。インターフェース201は、任意のやり方
の電子的、光学的、または無線通信が可能であり得る。
デジタイザを含むことができる。デジタイザは、アナログ信号をサンプリングしてデジタル化し、デジタル信号を生成することができる。デジタイザは、必要なデシメーションを実行し、デジタル信号は必要な信号処理の量を減らし、処理時間を短縮するために、大幅に削減することができる。
処理システム210は、汎用コンピュータ、マイクロ処理システム、論理回路、または何
らかの他の汎用またはカスタマイズされた処理装置を備えることができる。処理システム210を、複数の処理装置に分散させることができる。処理システム210は、ストレージシステム220など、任意の形式の一体型または独立した電子記憶媒体を含むことができる。
メータ電子機器20は、格納された駆動信号221を使用して、リード線185を介して駆動機構180へと送られる駆動信号を生成及び供給することができる。例えば、図1を参照して
説明した駆動信号を、格納された駆動信号221からデジタル−アナログ変換器により生成
することができる。さらに、メータ電子機器20は、リード線165l、165rを介して受信されるセンサ信号を受信、符号化、及び格納し、格納されたセンサ信号222とすることができ
る。いくつかの実施形態において、センサ信号222は、駆動機構180から受信される信号を含むことができる。さらに、メータ電子機器20は、流れチューブ130、130’に結合した、RTD190からのRTD信号を受信、符号化、及び格納し、RTD信号223とすることができる。メ
ータ電子機器20は、流れチューブ130、130’を通って流れる物質の流れ特性を求めるために、センサ信号222を処理することができる。
きる。温度測定値224は、メータ電子機器20の温度に基づく1つ以上の格納された値であ
ってよい。いくつかの実施形態において、温度測定値224は、インターフェース201の温度に基づく。例えば、温度測定値224は、インターフェース201のうち、上述したようにデジタイザ用のリード線165l、165rを介して受信されるセンサ信号を受信して調整する部分の温度であってよい。
ト225を生成及び提供することもできる。例えば、メータ電子機器20は、センサ信号222を使用して、左側のピックオフセンサ170lと右側のピックオフセンサ170rとの間の時間遅延を割り出すことができる。理解できるとおり、時間遅延は、メータ電子機器20における温度変化に起因する誤差を有する可能性がある。信号パラメータオフセット225を時間遅延
に加えて、時間遅延の誤差を低減または排除することができる。振動式流量計における信号の温度補償のためのこれらの方法及び装置ならびに他の方法及び装置を、以下でより詳細に説明する。
示されるように、装置300は、ブロック図として表される。装置300は、左ピックオフ(LPO)センサ310及び右ピックオフ(RPO)センサ320を含む。LPOセンサ310は、第1のLPO信
号312a及び第2のLPO信号312bをもたらすものとして示されている。RPOセンサ320は、第
1のRPO信号322a及び第2のRPO信号322bをもたらすものとして示されている。信号312a、312b、322a、322bは、アナログ回路330へともたらされる。アナログ回路330は、アナログ−デジタル変換器(ADC)340に通信可能に結合している。ADC340は、2つのデジタル信号342によってデジタル信号プロセッサ(DSP)360に通信可能に結合している。DSP360は、DSP出力362によって処理システム380に通信可能に結合している。さらに、処理システム380は、アナログ回路330に近接して配置された温度センサ390に通信可能に結合するものと
して示されている。
みを含むものとして示されているが、別の実施形態においては、他のセンサを使用することができる。例えば、図1を参照して説明したRTD信号も、装置300によって使用することができる。図示の実施形態において、ピックオフセンサ310、320は、流れチューブ130、130’の速度を測定するセンサである。ピックオフセンサ310、320は2つの流れチューブ130、130’の速度を測定するので、ピックオフセンサ310、320の各々から2つの信号がもたらされる。図示の実施形態において、LPO信号312a、312bは、流れチューブ130、130’が
位相外れ曲げモードで振れるがゆえに、互いに約180°位相がずれていてよいが、ねじり
モード及び同位相モードなど、他のモードが存在してもよい。同様に、RPO信号322a、322bも、流れチューブ130、130’が位相外れ曲げモードで振れるがゆえに、互いに約180°位相がずれていてよい。信号312a、312b、322a、322bは、アナログ回路330へともたらされ
る。
調整することができる。代案の実施形態において、アナログ回路330は、図1を参照して
説明したRTD信号など、他の信号を調整することができる。図3に示す実施形態において
、LPO信号312a、312bは、第1の演算増幅器332aへともたらされる。RPO信号322a、322bは、第2の演算増幅器332bへともたらされる。アナログ回路330は、2つの演算増幅器332を含むものとして示されているが、代案の実施形態においては、演算増幅器を含まないなど、より多数またはより少数の演算増幅器を使用することができる。代案の実施形態における演算増幅器は、受動部品または他の電子回路の異なる構成など、異なる構成要素を含む
ことができる。例えば、コンデンサが、第1の演算増幅器332a上の電圧供給端子と接地との間に存在してもよい。変成器やインダクタなど、演算増幅器332以外の構成要素も、ア
ナログ回路330に用いることができる。これに加え、あるいはこれに代えて、アナログ回
路330は、マルチプレクサなどのデジタル構成要素をアナログ構成要素とともに含むこと
ができる。
フィルタ構成のカットオフ周波数、位相シフト、及び他の電気的特性は、抵抗器R及びコ
ンデンサCの値に依存する。演算増幅器332は、典型的には、抵抗器R及びコンデンサCの値が各々の演算増幅器332において同じであるように設計される。しかしながら、抵抗器R及びコンデンサCの公差仕様ゆえに、抵抗器R及びコンデンサCの実際の公称値が、設計公称
値から逸脱する可能性がある。加えて、抵抗器R及びコンデンサCの実際の値は、メータ電子機器20の温度の変動に起因して実際の公称値からドリフトする可能性もある。
あるかもしれない。しかしながら、アナログ回路330の温度が振動式流量計5の動作の最中に変動し、コンデンサCの値が実際の公称値からドリフトする可能性がある。結果として
、演算増幅器332のカットオフ周波数、位相シフト、及び他の電気的特性が、メータ電子
機器20における温度変化のために逸脱する可能性がある。電気的特性の逸脱は、ADC340によって受信される信号をメータ電子機器20における温度変化に起因して変化させる可能性がある。
際に、ADC340は、基準電圧を使用して信号312a、312b、322a、322bをサンプリングすることができる。基準電圧も、メータ電子機器20の温度の変動に起因して逸脱することがある。結果として、信号312a、312b、322a、322bのデジタル版も、ADC340における温度の変動に起因して変化する可能性がある。図示の実施形態において、ADC340は2チャネルADCで
あるが、代案の実施形態においては、より多数またはより少数のチャネルを使用することができる。これに加え、あるいはこれに代えて、代案の実施形態におけるADCは、より多
数またはより少数のADCを含むことができる。例えば、代案の実施形態においては、2つ
の単一チャネルADCを使用することができる。あるいは、3つ以上のチャネルのADCを使用し、チャネルのうちの2つを利用することができる。図3に示されるように、ADC340は、デジタル信号342をDSP360へともたらす。
る。第1及び第2のデジタル信号342a、342bは、第1及び第2の演算増幅器332a、332bによってもたらされる信号にそれぞれ対応する。したがって、デジタル信号342は、演算増
幅器332によってもたらされる対応する信号を表す一連のデジタル値であってよい。結果
として、デジタル信号342は、メータ電子機器20の温度変化によって引き起こされる変動
も含む。デジタル信号342は、例えばチューブ130、130’内の流体の特性を割り出すため
に、DSP360へともたらされ、DSP360によって処理される。
は、デジタル信号の周波数を、音叉密度計によって測定される物質の密度に相関させることができる。図示の実施形態においては、時間遅延または他の特性を、DSP出力362として処理システム380にもたらすことができる。
処理システム380は、以前に測定されたメータ電子機器20の温度に相関付けられて格納さ
れた信号パラメータオフセットを有することができる。信号パラメータオフセットは、例えば、DSP出力362を介してDSP360から受信した時間遅延に加えられる遅延であってよい。単一のDSP出力362が図示されているが、代案の実施形態では、より多くのDSP出力を使用
することができる。これに加え、あるいはこれに代えて、別のDSP出力が、時間遅延また
は質量流量以外の特性に関する情報を運ぶことができる。図示の実施形態ならびに他の実施形態において、処理システム380は、アナログ回路330に近接する温度センサ390から温
度測定値392も受信する。
路330に物理的に近接している。したがって、温度センサ390は、メータ電子機器20の温度を測定することができる。温度センサ390は、例えば、アナログ回路330の温度を電圧信号に変換することができる。代案の実施形態では、温度センサ390は、メータ電子機器20に
物理的に結合していなくてもよい。例えば、温度センサ390は、例えば演算増幅器332からの赤外線放射を測定する赤外線センサであってよい。これらの実施形態及び他の実施形態において、メータ電子機器20の測定温度は、演算増幅器332の温度であってよい。演算増
幅器332の温度は、例えば、図3に示した抵抗器R及びコンデンサCの温度を含むことがで
きる。温度センサ390について、他の構成を採用してもよい。
、より多数の温度センサが含まれてよい。例えば、温度センサを、各々の演算増幅器332
の近くに配置することができる。したがって、各々の演算増幅器332の温度を測定でき、
それによって所望の水準の精度で相関信号パラメータオフセットを割り出すために処理することができる2つの温度信号をもたらすことができる。他の実施形態では、他の温度センサを使用して、信号パラメータオフセットをもたらすために使用することができるさらなる温度測定値をもたらすことができる。
温度測定値224に相関付けられて格納された信号パラメータオフセット225を選択することができる。温度測定値392を格納された温度測定値224と比較するプロセスを、格納された温度測定値224が温度測定値392と同じであることが比較によって示されるまで、繰り返し実行することができる。
と温度測定値392とが同じでない場合も、格納された信号パラメータオフセット225を相関させることができる。例えば、処理システム380は、温度測定値392を格納された温度測定値224と比較し、温度測定値392が格納された温度測定値224の周囲の或る値の範囲内にあ
る場合に、相関付けられた信号パラメータオフセット225を選択することができる。他の
比較方法も使用可能である。
上述のように、信号パラメータオフセット225は、メータ電子機器20の温度に基づくこ
とができる。以下でより詳細に説明されるとおり、信号パラメータオフセット225を使用
して、メータ電子機器20にもたらされる信号を補償することができる。
図4が、振動式流量計における信号の温度補償のための方法400を示している。方法400を、メータ電子機器20または他の電子回路によって実行することができる。例えば、方法400を、図3を参照して説明した処理システム380によって実行することができる。方法400は、ステップ410において、図1を参照して説明したメータアセンブリ10などの振動式流量計のメータアセンブリから1つ以上の信号を取得することによって始まる。ステップ420において、方法400は、図1〜図3を参照して説明したメータ電子機器20などの振動式流量計のメータ電子機器へと1つ以上の信号をもたらす。方法400は、ステップ430において、1つ以上の信号を信号パラメータオフセットで補償する。信号パラメータオフセットは、メータ電子機器20の温度に基づいている。
とができる。1つ以上の信号は、図3を参照して説明したピックオフセンサ310、320によって取得することもできる。例えば、1つ以上の信号は、図3に示した信号312a、312b、322a、322bであり得る。代案の実施形態においては、1つ以上の信号を、無線送信などの他の手段によって、マルチプレクサなどを介して取得することができる。これに加え、あるいはこれに代えて、1つ以上の信号を、上述したセンサ以外のセンサから取得することができる。
タ電子機器20などのメータ電子機器へともたらされる。1つ以上の信号を、図2に示したインターフェース201においてメータ電子機器20へともたらすことができる。図3に示し
た実施形態を参照すると、1つ以上の信号を、アナログ回路330へともたらすこともでき
る。アナログ回路330は、1つ以上の信号について信号の調整を行うことができる。例え
ば、アナログ回路330は、LPO信号312a、312b及びRPO信号322a、322bの比較などの動作を
実行することができる。
図3を参照して上述したように、メータ電子機器20の温度変化が、信号312a、312b、322a、322bを変化させる可能性がある。例えば、演算増幅器332の温度変化が、抵抗器R及びコンデンサCの公称値をドリフトさせる可能性がある。結果として、演算増幅器332によってもたらされる信号が、誤差を有する可能性がある。これに加え、あるいはこれに代えて、ADC340の温度変化も、演算増幅器332から得られる信号に変動を生じさせる可能性があ
る。したがって、1つ以上の信号は、信号パラメータオフセットによって補償される前は、変動を含む可能性がある。
ができる。信号パラメータオフセットは、メータ電子機器の温度に基づく。メータ電子機器20の温度は、温度センサ390によって測定することができる。メータ電子機器20の温度
は、例えば図3を参照して説明したアナログ回路330の温度であってよい。他の実施形態
において、温度は、演算増幅器332の温度であってよい。メータ電子機器20の温度測定値392を使用して、1つ以上の信号を、さまざまな方法で信号パラメータオフセットによって補償することができる。例示的な方法を、図5を参照して以下で説明する。
法500は、ステップ510において、振動式流量計のメータアセンブリから1つ以上の信号を
取得することによって始まる。ステップ520において、方法500は、1つ以上の信号を振動式流量計のメータ電子機器へともたらす。方法500は、ステップ530において、1つ以上の信号のうちの少なくとも2つを比較して、チューブの時間遅延を求める。ステップ540に
おいて、方法500は、信号パラメータオフセットによって時間遅延を補償する。方法500によれば、信号パラメータオフセットは、メータ電子機器の温度に基づく。
図4を参照して上述したステップ410及び420と同様に、ステップ510及び520は、振動式流量計のメータアセンブリから1つ以上の信号を取得し、1つ以上の信号を振動式流量計のメータ電子機器へともたらすことができる。ステップ510及び520は、上述した実施形態及び他の実施形態を含むことができる。
のゼロ交差点を引き算することによって、1つ以上の信号のうちの少なくとも2つから求められる。時間遅延を、種々の他の方法で求めることができる。例えば、位相遅延を、2つ以上の信号から割り出して、1つ以上の信号のうちの1つの信号の周波数で除算することができる。時間遅延を、例えばADC340によって1つ以上の信号をデジタル化した後に割り出すことができる。図3に示した実施形態では、DSP360によって時間遅延を割り出すことができる。他の実施形態は、時間遅延または他の特性を割り出すことができる他のプロセッサまたは電子回路を含むことができる。
算することにより、信号パラメータオフセットによって補償される。図3を参照して上述したように、時間遅延は、メータ電子機器20の温度変化に起因して変化する可能性がある。時間遅延は、図1を参照して説明した流れチューブ130、130’内の流体の流速に比例する正のスカラー値であり得る。信号パラメータオフセットは、時間遅延に加算されたときに時間遅延における誤差を低減または排除する負のスカラー値であり得る。しかしながら、時間遅延及び操作の任意の適切な表現を、これらの実施形態及び他の実施形態において採用することができる。
と比較して、相関付けられた信号パラメータオフセット225を選択することができる。選
択された信号パラメータオフセット225を、時間遅延に加算することができる。
えば、信号パラメータオフセット225を、信号の周波数または振幅へと加えることができ
る。一実施形態では、信号パラメータオフセット225を、密度の測定において周波数へと
加えることができる。上述の実施形態は、1つ以上の信号を信号パラメータオフセットによって補償する例示的な方法を示している。以下で、どのように信号パラメータオフセットを生成でき、いくつかの実施形態においてメータ電子機器20に格納できるのかを説明する。
図6が、振動式流量計における信号の温度補償のための別の方法600を示している。方
法600は、ステップ610において、振動式流量計のメータアセンブリから1つ以上の信号を取得することによって始まる。ステップ620において、方法600は、1つ以上の信号を振動式流量計のメータ電子機器へともたらす。さらに、方法600は、ステップ630において、メータ電子機器の温度を測定する。ステップ640において、方法600は、測定された温度に基
づいて信号パラメータオフセットを生成する。
えば、メータ電子機器20の温度を、メータ電子機器20の一部ではない温度センサによって測定することができる。あるいは、温度を、振動式流量計5を較正する試験機器の一部で
ある温度センサによって測定することができる。
ができる。
動させ、DSP出力362を使用して信号パラメータオフセットを決定することができる。一実施形態において、ピックオフセンサ310、320の間の位相差の公称値を、流量ゼロに対応するように、室温などの公称温度において決定することができる。メータ電子機器20の温度を、チューブ130、130’を振動させ、環境試験室で温度を循環させながら測定することができる。環境試験室で温度を循環させながら、位相差を測定することができる。
度測定値224とともに、データベーステーブルの単一のレコードにてストレージシステム220に格納することができる。動作時に、例えば、方法400は、適切に選択された信号パラ
メータオフセット225を読み出し、方法600によって生成された信号パラメータオフセットで1つ以上の信号を補償することができる。
、流れチューブ130、130’内の物質の特性、RTD190を有するチューブへの温度の影響、な
どを考慮して、室温においてゼロに較正することができる。したがって、1つ以上の信号は、公称温度において前もってゼロに較正された信号を含むことができる。続いて、メータ電子機器20の周りの周囲温度を上述のように循環させつつ、メータ電子機器20の温度を測定することができる。したがって、メータ電子機器20の温度以外の影響を考慮して振動式流量計5をゼロに較正した後に、温度補償を決定することができる。
度測定値224とともに格納することができる。他の実施形態においては、信号パラメータ
オフセット225を、10℃刻みなどの増分による温度測定の範囲に対して生成することがで
きる。例えば、92℃という温度測定値及び96℃という温度測定値を、同じ信号パラメータオフセット225に相関させることができる。
の製造時に実行することができる。したがって、温度測定値224及び信号パラメータオフ
セット225を、振動式流量計5が顧客の場所に設置された後の方法400、500による使用のために、メータ電子機器20に前もって格納することができる。方法400、500は、格納された温度測定値224及び信号パラメータオフセット225を使用して、振動式流量計5内の信号に
対するメータ電子機器20の温度の影響を補償することができる。
次いで後に砂漠の気候に設置することができる。
る。したがって、コンデンサCなどの個別部品の値の変動が、1つ以上の信号のそれぞれ
の変動よりも大きい時間遅延の変動を引き起こす可能性がある。したがって、時間遅延に信号パラメータオフセットを加えることにより、やはり時間遅延の変動を低減または排除することができ、低減は、1つ以上の信号のそれぞれにおける変動の低減よりも大きくなり得る。
Claims (21)
- 振動式流量計における信号の温度補償のための方法であって、
振動式流量計のメータアセンブリから1つ以上の信号を取得するステップと、
1つ以上の信号を振動式流量計のメータ電子機器へともたらすステップと、
1つ以上の信号を信号パラメータオフセットによって補償するステップとを含み、
信号パラメータオフセットは、メータ電子機器の温度に基づく、方法。 - 前記メータアセンブリから1つ以上の信号を取得するステップは、前記メータアセンブリ内のチューブに取り付けられた少なくとも1つのセンサから1つ以上の信号を取得するステップを含む、請求項1に記載の方法。
- 1つ以上の信号は、公称温度において前もってゼロに較正された信号を含む、請求項1又は2に記載の方法。
- 更に、1つ以上の信号のうちの2つの信号間の時間遅延を割り出し、信号パラメータオフセットで時間遅延を補償するステップ、1つ以上の信号の周波数を割り出し、信号パラメータオフセットで周波数を補償するステップ、及び1つ以上の信号の振幅を割り出し、信号パラメータオフセットで振幅を補償するステップ、のうちの少なくとも1つを含む、請求項1乃至3の何れかに記載の方法。
- 更に、前記メータ電子機器の温度を測定し、測定された温度を格納された測定温度と比較するステップを含む、請求項1乃至4の何れかに記載の方法。
- 更に、前記メータ電子機器の温度を測定し、測定された温度を信号パラメータオフセットに相関付けるステップを含む、請求項1乃至5の何れかに記載の方法。
- 1つ以上の信号は、少なくとも1つのデジタル信号からなる、請求項1乃至6の何れかに記載の方法。
- 信号パラメータオフセットは、1つ以上の信号のうちの少なくとも1つに加えられるデジタル値である、請求項1乃至7の何れかに記載の方法。
- 前記メータ電子機器の温度は、メータ電子機器内のアナログ回路の温度である、請求項1乃至8の何れかに記載の方法。
- 振動式流量計における信号の温度補償のための方法であって、
振動式流量計のメータアセンブリから1つ以上の信号を取得するステップと、
1つ以上の信号を振動式流量計のメータ電子機器へともたらすステップと、
前記メータ電子機器の温度を測定するステップと、
測定された温度に基づいて信号パラメータオフセットを生成するステップとを含む、方法。 - 前記測定された温度に基づいて信号パラメータオフセットを生成するステップは、公称温度値と1つ以上の信号から割り出された値との間の差を求めるステップを含む、請求項10に記載の方法。
- 更に、周囲環境の温度を変化させることによってメータ電子機器の温度を変化させるステップを含む、請求項10又は11に記載の方法。
- 更に、信号パラメータオフセット及び温度測定値を前記メータ電子機器に格納するステップを含む、請求項10乃至12の何れかに記載の方法。
- 更に、温度測定値と信号パラメータオフセットとの間の相関を前記メータ電子機器に格納するステップを含む、請求項10乃至13の何れかに記載の方法。
- 振動式流量計(5)における信号の温度補償のための装置(300)であって、
1つ以上の信号をもたらすように構成された振動式流量計(5)内のメータアセンブリ
(10)と、
該メータアセンブリ(10)に通信可能に結合し、メータアセンブリ(10)から1つ以上の信号を受信するように構成されたメータ電子機器(20)と、
該メータ電子機器(20)と通信し、メータ電子機器(20)の温度を測定して温度測定値(392)をメータ電子機器(20)へともたらすように構成された温度センサ(390)とを備え、
前記メータ電子機器(20)は、温度測定値(392)に基づいて信号パラメータオフセッ
トをもたらし、
信号パラメータオフセットで1つ以上の信号を補償するように構成される、装置(300)
。 - 前記メータアセンブリ(10)は、少なくとも1つの流れチューブ(130、130’)と、少なくとも1つの流れチューブ(130、130’)に結合した少なくとも1つのピックオフセンサ(170l、170r、310、320)とからなる、請求項15に記載の装置(300)。
- 前記メータ電子機器(20)は、更に信号パラメータオフセットで1つ以上の信号を補償する前に、1つ以上の信号をゼロに較正するように構成される、請求項15又は16に記載の装置(300)。
- 前記メータ電子機器(20)は、更に1つ以上の信号のうちの2つの間の時間遅延を割り出し、信号パラメータオフセットで時間遅延を補償するステップ、
1つ以上の信号の周波数を割り出し、信号パラメータオフセットで周波数を補償するステップ、
及び1つ以上の信号の振幅を割り出し、信号パラメータオフセットで振幅を補償するステップのうちの少なくとも1つを行うように構成される、請求項15乃至17の何れかに記載の装置(300)。 - 前記メータ電子機器(20)は、温度測定値(392)を、格納された信号パラメータオフ
セット(225)に相関付けられた格納された温度測定値(224)と比較することによって、信号パラメータオフセットをもたらす、請求項15乃至18の何れかに記載の装置(300)
。 - 前記メータ電子機器(20)は更に、メータ電子機器(20)内のストレージシステム(220)に温度測定値(224)を格納するように構成される、請求項15乃至19の何れかに記載の装置(300)。
- 前記温度センサ(390)は更に、メータアセンブリ(10)から1つ以上の信号を受信す
るアナログ回路(330)の温度を測定するように構成される、請求項15乃至20の何れ
かに記載の装置(300)。
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