JP2019183030A - Composition for detachment, method for detaching adhesive, and manufacturing method of electronic component - Google Patents

Composition for detachment, method for detaching adhesive, and manufacturing method of electronic component Download PDF

Info

Publication number
JP2019183030A
JP2019183030A JP2018076782A JP2018076782A JP2019183030A JP 2019183030 A JP2019183030 A JP 2019183030A JP 2018076782 A JP2018076782 A JP 2018076782A JP 2018076782 A JP2018076782 A JP 2018076782A JP 2019183030 A JP2019183030 A JP 2019183030A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
adhesive
group
solvent
substrate
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2018076782A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
孝広 吉岡
Takahiro Yoshioka
孝広 吉岡
洋文 今井
Hirofumi Imai
洋文 今井
中村 有希
Yuki Nakamura
有希 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd filed Critical Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
Priority to JP2018076782A priority Critical patent/JP2019183030A/en
Priority to TW108102497A priority patent/TWI803564B/en
Priority to KR1020190026192A priority patent/KR20190119512A/en
Publication of JP2019183030A publication Critical patent/JP2019183030A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C11ANIMAL OR VEGETABLE OILS, FATS, FATTY SUBSTANCES OR WAXES; FATTY ACIDS THEREFROM; DETERGENTS; CANDLES
    • C11DDETERGENT COMPOSITIONS; USE OF SINGLE SUBSTANCES AS DETERGENTS; SOAP OR SOAP-MAKING; RESIN SOAPS; RECOVERY OF GLYCEROL
    • C11D7/00Compositions of detergents based essentially on non-surface-active compounds
    • C11D7/22Organic compounds
    • C11D7/24Hydrocarbons
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J125/00Adhesives based on homopolymers or copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and at least one being terminated by an aromatic carbocyclic ring; Adhesives based on derivatives of such polymers
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J179/00Adhesives based on macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing nitrogen, with or without oxygen, or carbon only, not provided for in groups C09J161/00 - C09J177/00
    • C09J179/04Polycondensates having nitrogen-containing heterocyclic rings in the main chain; Polyhydrazides; Polyamide acids or similar polyimide precursors
    • C09J179/08Polyimides; Polyester-imides; Polyamide-imides; Polyamide acids or similar polyimide precursors
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C11ANIMAL OR VEGETABLE OILS, FATS, FATTY SUBSTANCES OR WAXES; FATTY ACIDS THEREFROM; DETERGENTS; CANDLES
    • C11DDETERGENT COMPOSITIONS; USE OF SINGLE SUBSTANCES AS DETERGENTS; SOAP OR SOAP-MAKING; RESIN SOAPS; RECOVERY OF GLYCEROL
    • C11D7/00Compositions of detergents based essentially on non-surface-active compounds
    • C11D7/22Organic compounds
    • C11D7/26Organic compounds containing oxygen
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/77Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate
    • H01L21/78Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices
    • H01L21/7806Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices involving the separation of the active layers from a substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C11ANIMAL OR VEGETABLE OILS, FATS, FATTY SUBSTANCES OR WAXES; FATTY ACIDS THEREFROM; DETERGENTS; CANDLES
    • C11DDETERGENT COMPOSITIONS; USE OF SINGLE SUBSTANCES AS DETERGENTS; SOAP OR SOAP-MAKING; RESIN SOAPS; RECOVERY OF GLYCEROL
    • C11D2111/00Cleaning compositions characterised by the objects to be cleaned; Cleaning compositions characterised by non-standard cleaning or washing processes
    • C11D2111/10Objects to be cleaned
    • C11D2111/14Hard surfaces
    • C11D2111/22Electronic devices, e.g. PCBs or semiconductors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/18High density interconnect [HDI] connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/23Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process
    • H01L2224/25Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process of a plurality of high density interconnect connectors
    • H01L2224/251Disposition
    • H01L2224/2512Layout
    • H01L2224/25171Fan-out arrangements

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Wood Science & Technology (AREA)
  • Oil, Petroleum & Natural Gas (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Emergency Medicine (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Abstract

To provide a composition for detachment capable of preventing generation of residue derived from an adhesive on a substrate.SOLUTION: There is provided a composition for detachment for detaching an adhesive, containing a first solvent and a second solvent, in which the first solvent is a hydrocarbon-based solvent, the second solvent is a solvent satisfying logP/logP<1, wherein octanol/water partition coefficient (logP) of the first solvent is logP, and (logP) of the second solvent is logP.SELECTED DRAWING: None

Description

本発明は、剥離用組成物、接着剤を剥離する方法、及び電子部品の製造方法に関する。   The present invention relates to a peeling composition, a method for peeling an adhesive, and a method for manufacturing an electronic component.

半導体素子を含む半導体パッケージ(電子部品)には、対応サイズに応じて様々な形態が存在し、例えばWLP(Wafer Level Package)、PLP(Panel Level Package)等がある。
半導体パッケージの技術としては、ファンイン型技術、ファンアウト型技術が挙げられる。ファンイン型技術による半導体パッケージとしては、ベアチップ端部にある端子をチップエリア内に再配置する、ファンイン型WLP(Fan-in Wafer Level Package)等が知られている。ファンアウト型技術による半導体パッケージとしては、該端子をチップエリア外に再配置する、ファンアウト型WLP(Fan-out Wafer Level Package)等が知られている。
There are various types of semiconductor packages (electronic components) including semiconductor elements depending on the corresponding sizes, such as WLP (Wafer Level Package) and PLP (Panel Level Package).
The semiconductor package technology includes fan-in technology and fan-out technology. As a semiconductor package based on the fan-in type, there is known a fan-in type WLP (Fan-in Wafer Level Package) in which terminals at the end of the bare chip are rearranged in a chip area. As a semiconductor package based on the fan-out type technology, a fan-out type WLP (Fan-out Wafer Level Package) in which the terminals are rearranged outside the chip area is known.

近年、特にファンアウト型技術は、パネル上に半導体素子を配置してパッケージ化するファンアウト型PLP(Fan-out Panel Level Package)に応用される等、半導体パッケージにおける、よりいっそうの高集積化、薄型化及び小型化等を実現し得る方法として注目を集めている。   In recent years, especially fan-out technology has been applied to fan-out PLP (Fan-out Panel Level Package) in which semiconductor elements are placed on a panel and packaged. It attracts attention as a method that can realize thinning and miniaturization.

半導体パッケージの小型化を図るためには、組み込まれる素子における基板の厚さを薄くすることが重要となる。しかしながら、基板の厚さを薄くすると、その強度が低下し、半導体パッケージ製造の際に基板の破損を生じやすくなる。これに対し、基板に支持体を貼り合わせた積層体が採用されている。   In order to reduce the size of the semiconductor package, it is important to reduce the thickness of the substrate in the element to be incorporated. However, when the thickness of the substrate is reduced, the strength is reduced, and the substrate is likely to be damaged when the semiconductor package is manufactured. On the other hand, the laminated body which bonded the support body to the board | substrate is employ | adopted.

基板と支持体とは、接着剤等を用いて貼り合わせられている。支持体が貼り付けられた基板を薄板化した後、基板をダイシングする前に支持体を剥離して、基板から支持体が取り除かれる。   The substrate and the support are bonded together using an adhesive or the like. After thinning the substrate to which the support is attached, the support is peeled off before dicing the substrate, and the support is removed from the substrate.

例えば、特許文献1には、半導体デバイスの製造プロセスにおいて、支持体と基板との間に、剥離層と接着層とを有する半導体装置製造用仮接合層を設けることが記載されている。特許文献1では、基板に回路パターン形成等の処理を行った後、炭化水素系又はエーテル系の単一溶剤からなる剥離溶剤を前記仮接合層に接触させることにより、基板から支持体を剥離している。   For example, Patent Document 1 describes that in a semiconductor device manufacturing process, a temporary bonding layer for manufacturing a semiconductor device having a release layer and an adhesive layer is provided between a support and a substrate. In Patent Document 1, after the substrate pattern is subjected to processing such as circuit pattern formation, the support is removed from the substrate by bringing a release solvent composed of a hydrocarbon-based or ether-based single solvent into contact with the temporary bonding layer. ing.

特開2014−72451号公報JP 2014-72451 A

ここで、半導体デバイスを作製するにあたっては、プロセス全体の適合性や得られる半導体デバイスの信頼性の観点で、基板を支持体から剥離した際に、基板上に接着剤に由来する成分が残存しないことが好ましい。   Here, in manufacturing a semiconductor device, from the viewpoint of suitability of the entire process and reliability of the obtained semiconductor device, when the substrate is peeled from the support, no component derived from the adhesive remains on the substrate. It is preferable.

このような技術要望は、半導体パッケージを高効率で得るプロセスにおいて、一層高まってきている。一方、たとえば特許文献1に記載されるような従来の剥離溶剤では、依然として接着剤に由来する残渣の発生を防止しきれないという懸念があり、より高精度で接着剤を剥離する技術の開拓が求められている。   Such a technical demand is further increased in a process for obtaining a semiconductor package with high efficiency. On the other hand, for example, there is a concern that the conventional stripping solvent as described in Patent Document 1 still cannot prevent the generation of the residue derived from the adhesive, and the development of a technique for stripping the adhesive with higher accuracy has been developed. It has been demanded.

本発明は上記の問題点に鑑みてなされたものであり、基板に、接着剤に由来する残渣が発生することを防止することができる剥離用組成物を提供することを課題とする。   This invention is made | formed in view of said problem, and makes it a subject to provide the composition for peeling which can prevent that the residue derived from an adhesive agent generate | occur | produces on a board | substrate.

上記の課題を解決するために、本発明は以下の構成を採用した。
すなわち、本発明の第1の態様は、接着剤を剥離するための剥離用組成物であって、第1溶剤と、第2溶剤と、を含有し、前記第1溶剤は、炭化水素系溶剤であり、前記第2溶剤は、前記第1溶剤のオクタノール/水分配係数(logPow)をlogPow1とし、前記第2溶剤のlogPowをlogPow2としたとき、logPow2/logPow1<1を満たす溶剤である、剥離用組成物である。
In order to solve the above problems, the present invention employs the following configuration.
That is, the first aspect of the present invention is a stripping composition for stripping an adhesive, which contains a first solvent and a second solvent, and the first solvent is a hydrocarbon solvent. , and the second solvent is octanol / water partition coefficient of said first solvent (logP ow) and logP OW1, when the second solvent logP ow was logP OW2, the logP ow2 / logP ow1 <1 It is a peeling composition which is a solvent to fill.

本発明の第2の態様は、接着剤が付着した基板から、前記接着剤を剥離する方法であって、第1の態様にかかる剥離用組成物を、前記接着剤に接触させて、前記接着剤を溶解させる溶解工程を含む、接着剤を剥離する方法である。   A second aspect of the present invention is a method for peeling the adhesive from a substrate to which the adhesive has been adhered, wherein the peeling composition according to the first aspect is brought into contact with the adhesive to bond the adhesive. This is a method of peeling the adhesive, including a dissolving step of dissolving the agent.

本発明の第3の態様は、支持体、接着層、及び基板が、この順で積層された積層体から支持体を分離する分離工程と、前記分離工程の後、前記基板に付着する接着剤に、第1の態様にかかる剥離用組成物を接触させて、前記接着剤を溶解させる溶解工程と、を含む、電子部品の製造方法である。   According to a third aspect of the present invention, there is provided a separation step of separating the support from the laminate in which the support, the adhesive layer, and the substrate are laminated in this order, and an adhesive that adheres to the substrate after the separation step And a dissolving step in which the adhesive is dissolved by bringing the peeling composition according to the first aspect into contact therewith.

本発明によれば、基板に、接着剤に由来する残渣が発生することを防止することができる剥離用組成物を提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the composition for peeling which can prevent that the residue derived from an adhesive agent generate | occur | produces on a board | substrate can be provided.

本発明の一実施形態にかかる接着剤を剥離する方法の概略を説明する図である。It is a figure explaining the outline of the method of peeling the adhesive agent concerning one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態にかかる接着剤を剥離する方法における分離工程の概略を説明する図である。It is a figure explaining the outline of the separation process in the method of peeling the adhesive concerning one embodiment of the present invention. 本発明の一実施形態にかかる接着剤を剥離する方法を適用可能な積層体の製造方法の一部の概略を説明する図である。It is a figure explaining the one part outline of the manufacturing method of the laminated body which can apply the method of peeling the adhesive agent concerning one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態にかかる接着剤を剥離する方法を適用可能な積層体の製造方法における工程の一部を説明する図である。It is a figure explaining a part of process in the manufacturing method of the laminated body which can apply the method of peeling the adhesive concerning one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態にかかる接着剤を剥離する方法を適用可能な積層体の製造方法における工程の一部を説明する図である。It is a figure explaining a part of process in the manufacturing method of the laminated body which can apply the method of peeling the adhesive concerning one Embodiment of this invention.

本明細書及び本特許請求の範囲において、「脂肪族」とは、芳香族に対する相対的な概念であって、芳香族性を持たない基、化合物等を意味するものと定義する。
「アルキル基」は、特に断りがない限り、直鎖状、分岐鎖状及び環状の1価の飽和炭化水素基を包含するものとする。アルコキシ基中のアルキル基も同様である。
「アルキレン基」は、特に断りがない限り、直鎖状、分岐鎖状及び環状の2価の飽和炭化水素基を包含するものとする。
「ハロゲン化アルキル基」は、アルキル基の水素原子の一部又は全部がハロゲン原子で置換された基であり、該ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子が挙げられる。
「フッ素化アルキル基」又は「フッ素化アルキレン基」は、アルキル基又はアルキレン基の水素原子の一部又は全部がフッ素原子で置換された基をいう。
「構成単位」とは、高分子化合物(樹脂、重合体、共重合体)を構成するモノマー単位(単量体単位)を意味する。
「置換基を有していてもよい」又は「置換基を有してもよい」と記載する場合、水素原子(−H)を1価の基で置換する場合と、メチレン基(−CH−)を2価の基で置換する場合との両方を含む。
「露光」は、放射線の照射全般を含む概念とする。
In the present specification and claims, “aliphatic” is a relative concept with respect to aromatics, and is defined to mean groups, compounds, etc. that do not have aromaticity.
Unless otherwise specified, the “alkyl group” includes linear, branched and cyclic monovalent saturated hydrocarbon groups. The same applies to the alkyl group in the alkoxy group.
The “alkylene group” includes linear, branched, and cyclic divalent saturated hydrocarbon groups unless otherwise specified.
The “halogenated alkyl group” is a group in which part or all of the hydrogen atoms of the alkyl group are substituted with a halogen atom, and examples of the halogen atom include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom.
“Fluorinated alkyl group” or “fluorinated alkylene group” refers to a group in which part or all of the hydrogen atoms of an alkyl group or alkylene group are substituted with fluorine atoms.
“Structural unit” means a monomer unit (monomer unit) constituting a polymer compound (resin, polymer, copolymer).
In the case of “may have a substituent” or “may have a substituent”, the case where a hydrogen atom (—H) is substituted with a monovalent group, and the case of a methylene group (—CH 2 And-) with a divalent group.
“Exposure” is a concept including general irradiation of radiation.

「ヒドロキシスチレンから誘導される構成単位」とは、ヒドロキシスチレンのエチレン性二重結合が開裂して構成される構成単位を意味する。「ヒドロキシスチレン誘導体から誘導される構成単位」とは、ヒドロキシスチレン誘導体のエチレン性二重結合が開裂して構成される構成単位を意味する。
「ヒドロキシスチレン誘導体」とは、ヒドロキシスチレンのα位の水素原子がアルキル基、ハロゲン化アルキル基等の他の置換基に置換されたもの、並びにそれらの誘導体を含む概念とする。それらの誘導体としては、α位の水素原子が置換基に置換されていてもよいヒドロキシスチレンの水酸基の水素原子を有機基で置換したもの;α位の水素原子が置換基に置換されていてもよいヒドロキシスチレンのベンゼン環に、水酸基以外の置換基が結合したもの等が挙げられる。尚、α位(α位の炭素原子)とは、特に断りがない限り、ベンゼン環が結合している炭素原子のことをいう。
ヒドロキシスチレンのα位の水素原子を置換する置換基としては、前記α置換アクリル酸エステルにおいて、α位の置換基として挙げたものと同様のものが挙げられる。
“Structural unit derived from hydroxystyrene” means a structural unit formed by cleavage of an ethylenic double bond of hydroxystyrene. “A structural unit derived from a hydroxystyrene derivative” means a structural unit formed by cleavage of an ethylenic double bond of a hydroxystyrene derivative.
“Hydroxystyrene derivative” is a concept including those in which the hydrogen atom at the α-position of hydroxystyrene is substituted with another substituent such as an alkyl group or an alkyl halide group, and derivatives thereof. These derivatives include those in which the hydrogen atom of the hydroxy styrene of the hydroxystyrene which may be substituted with a substituent at the α-position is substituted with an organic group; the hydrogen atom at the α-position is substituted with a substituent The thing etc. which the substituents other than a hydroxyl group couple | bonded with the benzene ring of good hydroxystyrene are mentioned. The α-position (α-position carbon atom) means a carbon atom to which a benzene ring is bonded unless otherwise specified.
Examples of the substituent for substituting the hydrogen atom at the α-position of hydroxystyrene include the same substituents as those mentioned as the substituent at the α-position in the α-substituted acrylic ester.

上記α位の置換基としてのアルキル基は、直鎖状または分岐鎖状のアルキル基が好ましく、具体的には、炭素数1〜5のアルキル基(メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、tert−ブチル基、ペンチル基、イソペンチル基、ネオペンチル基)等が挙げられる。
また、α位の置換基としてのハロゲン化アルキル基は、具体的には、上記「α位の置換基としてのアルキル基」の水素原子の一部または全部を、ハロゲン原子で置換した基が挙げられる。該ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子等が挙げられ、特にフッ素原子が好ましい。
また、α位の置換基としてのヒドロキシアルキル基は、具体的には、上記「α位の置換基としてのアルキル基」の水素原子の一部または全部を、水酸基で置換した基が挙げられる。該ヒドロキシアルキル基における水酸基の数は、1〜5が好ましく、1が最も好ましい。
The alkyl group as a substituent at the α-position is preferably a linear or branched alkyl group, specifically, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms (methyl group, ethyl group, propyl group, isopropyl group). , N-butyl group, isobutyl group, tert-butyl group, pentyl group, isopentyl group, neopentyl group) and the like.
Specific examples of the halogenated alkyl group as the substituent at the α-position include groups in which part or all of the hydrogen atoms of the above-mentioned “alkyl group as the substituent at the α-position” are substituted with a halogen atom. It is done. Examples of the halogen atom include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom, and a fluorine atom is particularly preferable.
Specific examples of the hydroxyalkyl group as a substituent at the α-position include a group in which part or all of the hydrogen atoms of the “alkyl group as the substituent at the α-position” are substituted with a hydroxyl group. 1-5 are preferable and, as for the number of the hydroxyl groups in this hydroxyalkyl group, 1 is the most preferable.

<接着剤を剥離するための剥離用組成物>
本発明の第1の態様に係る接着剤を剥離するための剥離用組成物は、第1溶剤と、第2溶剤と、を含有する。前記第1溶剤は、炭化水素系溶剤であり、前記第2溶剤は、前記第1溶剤のオクタノール/水分配係数(logPow)をlogPow1とし、前記第2溶剤のlogPowをlogPow2としたとき、logPow2/logPow1<1を満たす溶剤である。
<Peeling composition for peeling adhesive>
The stripping composition for stripping the adhesive according to the first aspect of the present invention contains a first solvent and a second solvent. Wherein the first solvent is a hydrocarbon solvent, the second solvent is octanol / water partition coefficient of said first solvent (logP ow) and logP OW1, and the second solvent logP ow a logP OW2 At this time, the solvent satisfies logP ow2 / logP ow1 <1.

≪第1溶剤≫
第1溶剤は、炭化水素系溶剤である。「炭化水素系溶剤」とは、炭素原子と水素原子とから構成される化合物(炭化水素)からなる溶剤である。第1溶剤としての炭化水素系溶剤は、特に限定されないが、例えば、テルペン系の炭化水素系溶剤、アルカン系の炭化水素系溶剤、芳香族炭化水素系溶剤等が挙げられる。
≪First solvent≫
The first solvent is a hydrocarbon solvent. The “hydrocarbon solvent” is a solvent made of a compound (hydrocarbon) composed of carbon atoms and hydrogen atoms. The hydrocarbon solvent as the first solvent is not particularly limited, and examples thereof include terpene hydrocarbon solvents, alkane hydrocarbon solvents, aromatic hydrocarbon solvents, and the like.

テルペン系の炭化水素系溶剤としては、例えば、p−メンタン、o−メンタン、m−メンタン、ジフェニルメンタン、ボルナン、ノルボルナン、ピナン、ツジャン、カラン、ロンギホレン、ツヨン、d−リモネン、l−リモネン、ジペンテン、フェンカン、α−テルピネン、β−テルピネン、γ−テルピネン、α−ピネン、β−ピネン、アビエタン等が挙げられる。
これらの中でも、テルペン系溶剤としては、p−メンタン、d−リモネン、l−リモネン、ジペンテン及びピナンを用いることが好ましく、p−メンタン及びd−リモネンを用いることがより好ましい。特に、接着剤が、水添スチレン系エラストマーを含む場合には、テルペン系溶剤として、p−メンタン、リモネン、ジペンテン及びピナンを用いることが好ましい。それらのテルペン系溶剤を用いることにより、水添スチレン系エラストマーを含む接着剤を迅速に溶解することができる剥離用組成物を得ることができる。また、テルペン系溶剤として、p−メンタンを用いれば、水添スチレン系エラストマーを含む接着剤をより迅速に溶解することができる剥離用組成物を得ることができる。
Examples of terpene hydrocarbon solvents include p-menthane, o-menthane, m-menthane, diphenylmentane, bornane, norbornane, pinane, tsujang, kalan, longifolene, thuyon, d-limonene, l-limonene, dipentene. , Fencan, α-terpinene, β-terpinene, γ-terpinene, α-pinene, β-pinene, abiethane and the like.
Among these, as the terpene solvent, p-menthane, d-limonene, l-limonene, dipentene and pinane are preferably used, and p-menthane and d-limonene are more preferably used. In particular, when the adhesive contains a hydrogenated styrene-based elastomer, it is preferable to use p-menthane, limonene, dipentene and pinane as the terpene solvent. By using these terpene solvents, it is possible to obtain a peeling composition capable of rapidly dissolving an adhesive containing a hydrogenated styrene elastomer. Moreover, if p-menthane is used as the terpene solvent, a peeling composition that can dissolve the adhesive containing the hydrogenated styrene elastomer more quickly can be obtained.

テルペン系溶剤として、p−メンタンを用いる場合、p−メンタンのシス体及びトランス体の比率を調整してもよい。これによって、水添スチレン系エラストマーを含む接着剤の溶解速度を調節することができる。例えば、p−メンタンのトランス体の比率をシス体の比率より高くすることにより、p−メンタンによる水添スチレン系エラストマーを含む接着剤の溶解速度をより速くすることができる。したがって、水添スチレン系エラストマーを含む接着剤に対するp−メンタンによる洗浄性をより高くすることができる。   When p-menthane is used as the terpene solvent, the ratio of p-menthane cis form and trans form may be adjusted. Thereby, the dissolution rate of the adhesive containing the hydrogenated styrene-based elastomer can be adjusted. For example, the dissolution rate of the adhesive containing hydrogenated styrenic elastomer by p-menthane can be increased by making the ratio of the trans isomer of p-menthan higher than that of the cis isomer. Therefore, the cleaning property with p-menthane for an adhesive containing a hydrogenated styrene elastomer can be further increased.

アルカン系の炭化水素系溶剤は、直鎖状、分岐鎖状、及び環状のいずれであってもよい。直鎖状又は分岐鎖状アルカンの炭化水素系溶剤としては、例えば、炭素数4〜20の直鎖状若しくは分岐鎖状アルカンが挙げられ、例えば、ブタン、ペンタン、2−メチルブタン、3−メチルペンタン、ヘキサン、2,2−ジメチルブタン、2,3−ジメチルブタン、ヘプタン、オクタン、2,2,4−トリメチルペンタン、2,2,3−トリメチルヘキサン、ノナン、イソノナン、メチルオクタン、デカン、ウンデカン、ドデカン、2,2,4,6,6−ペンタメチルヘプタン、トリデカン、ペンタデカン、テトラデカン、ヘキサデカン等が挙げられる。環状アルカンの炭化水素系溶剤としては、例えば、炭素数4〜20の環状アルカンが挙げられ、例えば、シクロペンタン、シクロヘキサン、メチルシクロヘキサン、エチルシクロヘキサン、シクロヘプタン、シクロオクタンなどのモノシクロアルカン;デカリンなどのビシクロアルカン等が挙げられる。
これらの中でも、アルカン系の炭化水素系溶剤としては、エチルシクロヘキサン及びデカリンが好ましい。
The alkane-based hydrocarbon solvent may be linear, branched, or cyclic. Examples of the hydrocarbon solvent for the linear or branched alkane include linear or branched alkanes having 4 to 20 carbon atoms, such as butane, pentane, 2-methylbutane, and 3-methylpentane. Hexane, 2,2-dimethylbutane, 2,3-dimethylbutane, heptane, octane, 2,2,4-trimethylpentane, 2,2,3-trimethylhexane, nonane, isononane, methyloctane, decane, undecane, Examples include dodecane, 2,2,4,6,6-pentamethylheptane, tridecane, pentadecane, tetradecane, and hexadecane. Examples of hydrocarbon solvents for cyclic alkanes include cyclic alkanes having 4 to 20 carbon atoms, such as monocycloalkanes such as cyclopentane, cyclohexane, methylcyclohexane, ethylcyclohexane, cycloheptane, and cyclooctane; decalin and the like And the like.
Among these, as the alkane hydrocarbon solvent, ethylcyclohexane and decalin are preferable.

芳香族炭化水素系としては、例えば、ベンゼン、ナフタレン、テトラヒドロナフタレン等が挙げられる。   Examples of the aromatic hydrocarbon type include benzene, naphthalene, tetrahydronaphthalene and the like.

また、炭化水素系溶剤は、例えば、蒸留等によって炭化水素系溶剤の沸点よりもさらに沸点の高い不純物を除去することが好ましい。これにより、接着剤を洗浄により除去したときに、炭化水素系溶剤が含んでいる高沸点の不純物が基板に残渣として残ることを防止することができる。   The hydrocarbon solvent preferably removes impurities having a boiling point higher than that of the hydrocarbon solvent by, for example, distillation. Thereby, when the adhesive is removed by washing, it is possible to prevent the high-boiling impurities contained in the hydrocarbon solvent from remaining as residues on the substrate.

≪第2溶剤≫
第2溶剤は、前記第1溶剤のオクタノール/水分配係数(logPow)をlogPow1とし、前記第2溶剤のlogPowをlogPow2としたとき、(logPow2/logPow1)<1を満たす溶剤である。
≪Second solvent≫
The second solvent is a solvent satisfying (logP ow2 / logP ow1 ) <1, where octanol / water partition coefficient (logP ow ) of the first solvent is logP ow1 and logP ow of the second solvent is logP ow2. It is.

オクタノール/水分配係数(logPow)は、広範囲の化合物に対し、その親水性/疎水性を特徴づけることのできる有効なパラメータである。一般的には、実験によらず計算によって分配係数は求められる。logPowが0をはさんでプラス側に大きくなると疎水性が増し、マイナス側で絶対値が大きくなると水溶性が増す(高極性である)ことを意味する。logPowは、有機化合物の水溶性と負の相関があり、有機化合物の親疎水性を見積もるパラメータとして広く利用されている。 The octanol / water partition coefficient ( logPow ) is an effective parameter that can characterize its hydrophilicity / hydrophobicity for a wide range of compounds. In general, the distribution coefficient can be obtained by calculation without experimentation. When logPow increases to the plus side across 0, the hydrophobicity increases, and when the absolute value increases on the minus side, water solubility increases (high polarity). logPow has a negative correlation with the water solubility of organic compounds, and is widely used as a parameter for estimating hydrophilicity / hydrophobicity of organic compounds.

本実実施形態の剥離用組成物においては、前記第1溶剤のlogPowをlogPow1とし、第2溶剤のlogPowをlogPow2としたとき、(logPow2/logPow1)<1を満たす。すなわち、第2溶剤は、第1溶剤よりも低いlogPowを有する(logPow2<logPow1)。したがって、第2溶剤は、第1溶剤よりも極性が高い溶剤である。
なお、(logPow2/logPow1)の値は、0.9より小さいことがより好ましく、0.8より小さいことがさらに好ましい。また、(logPow2/logPow1)の値は負の値をとっても構わない。
本実施形態の剥離用組成物は、第1溶剤に加えて、第1溶剤よりも極性が高い第2溶剤を含有することにより、窒素原子などを含むポリマーを含有する場合であっても、接着剤に由来する残渣の発生を防止することが可能となる。
In the stripping compositions of this actual embodiment, said first solvent logP ow a logP OW1, when the logP ow of the second solvent and logP OW2, satisfy <1 (logP ow2 / logP ow1 ). That is, the second solvent has a lower logP ow than the first solvent (logP ow2 <logP ow1). Therefore, the second solvent is a solvent having a higher polarity than the first solvent.
The value of (logP ow2 / logP ow1) is more preferably less than 0.9, more preferably less than 0.8. In addition, it may take a negative value of the value (logP ow2 / logP ow1).
Even if it is a case where the peeling composition of this embodiment contains the polymer containing a nitrogen atom etc. by containing the 2nd solvent whose polarity is higher than the 1st solvent in addition to the 1st solvent, it is adhesion It is possible to prevent the generation of residues derived from the agent.

第2溶剤は、(logPow2/logPow1)<1を満たすlogPow2を有するものであれば、特に限定されないが、非炭化水素系溶剤を含むことが好ましい。ここで、「非炭化水素系溶剤」とは、炭素原子及び水素原子に加えて、異種原子(C、H以外の原子)を少なくとも1個有する溶剤をいう。非炭化水素系溶剤が有する異種原子としては、例えば、酸素原子、窒素原子、硫黄原子等が例示される。これらの中でも、非炭化水素系溶剤が有する異種原子としては、酸素原子及び窒素原子が好ましく、酸素原子がより好ましい。
ここで、第2溶剤として非炭化水素系溶剤を含む場合、logPow2は、3.0以下であることが好ましく、2.8以下であることがより好ましく、2.5以下であることがさらに好ましい。
なお、第2溶剤のlogPow2の下限値は、用いる接着剤に応じ適宜設定ができるが、たとえば、前述の第1溶剤との相溶性等の観点で−3.0以上とすることができる。
The second solvent, as long as it has a (logP ow2 / logP ow1) < logP ow2 satisfying 1 is not particularly limited, preferably includes a non-hydrocarbon solvent. Here, the “non-hydrocarbon solvent” refers to a solvent having at least one hetero atom (atom other than C and H) in addition to a carbon atom and a hydrogen atom. Examples of the hetero atoms that the non-hydrocarbon solvent has include an oxygen atom, a nitrogen atom, and a sulfur atom. Among these, as a hetero atom which a non-hydrocarbon solvent has, an oxygen atom and a nitrogen atom are preferable, and an oxygen atom is more preferable.
Here, when a non-hydrocarbon solvent is included as the second solvent, logPow2 is preferably 3.0 or less, more preferably 2.8 or less, and further preferably 2.5 or less. preferable.
In addition, the lower limit value of logPow2 of the second solvent can be appropriately set according to the adhesive to be used, but can be set to −3.0 or more from the viewpoint of compatibility with the first solvent, for example.

より具体的には、第2溶剤は、エステル結合、エーテル結合、ケトン基、アミド結合、及びヒドロキシ基からなる群より選択される少なくとも1種の構造を含む溶剤であることが好ましい。
具体例としては、1,4−テルピン、1,8−テルピン、ゲラニオール、ネロール、リナロール、シトラール、シトロネロール、メントール、イソメントール、ネオメントール、α−テルピネオール、β−テルピネオール、γ−テルピネオール、テルピネン−1−オール、テルピネン−4−オール、ジヒドロターピニルアセテート、1,4−シネオール、1,8−シネオール、ボルネオール、カルボン、ヨノン、カンファー等のテルペン系溶剤;γ−ブチロラクトン等のラクトン類;アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン(CH)、メチル−n−ペンチルケトン、メチルイソペンチルケトン、2−ヘプタノン等のケトン類;エチレングリコール、ジエチレングリコール、プロピレングリコール、ジプロピレングリコール等の多価アルコール類;エチレングリコールモノアセテート、ジエチレングリコールモノアセテート、プロピレングリコールモノアセテート、又はジプロピレングリコールモノアセテート等のエステル結合を有する化合物、前記多価アルコール類又は前記エステル結合を有する化合物のモノメチルエーテル、モノエチルエーテル、モノプロピルエーテル、モノブチルエーテル等のモノアルキルエーテル又はモノフェニルエーテル等のエーテル結合を有する化合物等の多価アルコール類の誘導体(これらの中では、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(PGMEA)、プロピレングリコールモノメチルエーテル(PGME)が好ましい);ジオキサンのような環式エーテル類や、乳酸メチル、乳酸エチル(EL)、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、メトキシブチルアセテート、ピルビン酸メチル、ピルビン酸エチル、メトキシプロピオン酸メチル、エトキシプロピオン酸エチル等のエステル類;アニソール、エチルベンジルエーテル、クレジルメチルエーテル、ジフェニルエーテル、ジベンジルエーテル、フェネトール、ブチルフェニルエーテル等の芳香族系有機溶剤;N−メチルピロリドン、ジメチルホルムアミド、ジエチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド等のアミド系溶剤等が挙げられる。
中でも、エステル結合、エーテル結合及びケトン基からなる群より選択される構造を少なくとも1個含む溶剤が好ましく、酢酸ブチル、PGMEA、及び2−ヘプタノン等が好ましく例示される。
More specifically, the second solvent is preferably a solvent containing at least one structure selected from the group consisting of an ester bond, an ether bond, a ketone group, an amide bond, and a hydroxy group.
Specific examples include 1,4-terpine, 1,8-terpine, geraniol, nerol, linalool, citral, citronellol, menthol, isomenthol, neomenthol, α-terpineol, β-terpineol, γ-terpineol, terpinene-1 -Terpene solvents such as ol, terpinen-4-ol, dihydroterpinyl acetate, 1,4-cineol, 1,8-cineol, borneol, carvone, yonon, camphor; lactones such as γ-butyrolactone; acetone, Ketones such as methyl ethyl ketone, cyclohexanone (CH), methyl-n-pentyl ketone, methyl isopentyl ketone and 2-heptanone; polyvalent amines such as ethylene glycol, diethylene glycol, propylene glycol and dipropylene glycol Coles; compounds having an ester bond such as ethylene glycol monoacetate, diethylene glycol monoacetate, or propylene glycol monoacetate, monomethyl ether, monoethyl ether of the polyhydric alcohol or the compound having an ester bond , Derivatives of polyhydric alcohols such as monoalkyl ethers such as monopropyl ether and monobutyl ether or compounds having an ether bond such as monophenyl ether (in these, propylene glycol monomethyl ether acetate (PGMEA), propylene glycol monomethyl ether (PGME) is preferred); cyclic ethers such as dioxane, methyl lactate, ethyl lactate (EL), methyl acetate, ethyl acetate , Esters such as butyl acetate, methoxybutyl acetate, methyl pyruvate, ethyl pyruvate, methyl methoxypropionate, ethyl ethoxypropionate; anisole, ethyl benzyl ether, cresyl methyl ether, diphenyl ether, dibenzyl ether, phenetole, butyl Examples include aromatic organic solvents such as phenyl ether; amide solvents such as N-methylpyrrolidone, dimethylformamide, diethylformamide, and dimethylacetamide.
Among them, a solvent containing at least one structure selected from the group consisting of an ester bond, an ether bond and a ketone group is preferable, and butyl acetate, PGMEA, 2-heptanone and the like are preferable.

第2溶剤は、(logPow2/logPow1)<1を満たす溶剤であれば、炭化水素系溶剤を含んでいてもよい。例えば、第1溶剤のlogPow1に応じて、前記第1溶剤の具体例として挙げた炭化水素系溶剤を第2溶剤として用いることができる。例えば、炭化水素系溶剤を第2溶剤として用いる場合、第1溶剤の炭化水素系溶剤と第2溶剤の炭化水素系溶剤との組合せとしては、前記≪第1溶剤≫において例示した炭化水素系溶剤から選択される2種以上が挙げられる。前記組合せは、テルペン系炭化水素溶剤及びアルカン系炭化水素系溶剤からなる群より選択される2種以上であることが好ましく、テルペン系炭化水素溶剤及び環状アルカン系炭化水素系溶剤からなる群より選択される2種以上であることがより好ましい。このような例としては、p−メンタン、デカリン、エチルシクロヘキサン、D−リモネンからなる群より選択される2種以上である例が挙げられる。 The second solvent, if (logP ow2 / logP ow1) < 1 a solvent satisfying may include hydrocarbon solvents. For example, the hydrocarbon solvent mentioned as a specific example of the first solvent can be used as the second solvent according to the logPow1 of the first solvent. For example, when a hydrocarbon solvent is used as the second solvent, the combination of the hydrocarbon solvent of the first solvent and the hydrocarbon solvent of the second solvent is the hydrocarbon solvent exemplified in the above << first solvent >>. 2 or more types selected from The combination is preferably at least two selected from the group consisting of terpene hydrocarbon solvents and alkane hydrocarbon solvents, and selected from the group consisting of terpene hydrocarbon solvents and cyclic alkane hydrocarbon solvents. It is more preferable that there are two or more kinds. As such an example, the example which is 2 or more types selected from the group which consists of p-menthane, decalin, ethylcyclohexane, and D-limonene is mentioned.

第2溶剤は、1種であってもよく、2種以上であってもよい。第2溶剤は、非炭化水素系溶剤を含むことが好ましく、非炭化水素系溶剤及び炭化水素系溶剤の組合せであることがより好ましい。すなわち、本実施形態の剥離用組成物は、2種以上の炭化水素系溶剤と、1種以上の非炭化水素系溶剤とを含むことがより好ましい。さらに好ましくは、本実施形態の剥離用組成物は、2種の炭化水素系溶剤と、1種の非炭化水素系溶剤とを含む。   1 type may be sufficient as a 2nd solvent and 2 or more types may be sufficient as it. The second solvent preferably contains a non-hydrocarbon solvent, and more preferably a combination of a non-hydrocarbon solvent and a hydrocarbon solvent. That is, it is more preferable that the stripping composition of the present embodiment contains two or more hydrocarbon solvents and one or more non-hydrocarbon solvents. More preferably, the stripping composition of this embodiment includes two types of hydrocarbon solvents and one type of non-hydrocarbon solvent.

非炭化水素系溶剤は、剥離用組成物に含有される溶剤全体(100質量%)に対する前記非炭化水素系溶剤の割合が、1〜20質量%であることが好ましく、5〜10質量%であることがより好ましい。   In the non-hydrocarbon solvent, the ratio of the non-hydrocarbon solvent to the entire solvent (100% by mass) contained in the stripping composition is preferably 1 to 20% by mass, and 5 to 10% by mass. More preferably.

また、本実施形態の剥離用組成物が、第2溶剤として1種の炭化水素系溶剤を含む場合、第1溶剤としての炭化水素系溶剤と、第2溶剤としての炭化水素系溶剤との質量比としては、例えば、1:9〜9:1が挙げられ、3:7〜7:3が好ましく、1:6〜6:1がより好ましい。   Further, when the stripping composition of the present embodiment includes one kind of hydrocarbon solvent as the second solvent, the mass of the hydrocarbon solvent as the first solvent and the hydrocarbon solvent as the second solvent. Examples of the ratio include 1: 9 to 9: 1, preferably 3: 7 to 7: 3, and more preferably 1: 6 to 6: 1.

≪任意成分≫
本実施形態の剥離用組成物は、前記第1溶剤及び第2溶剤に加えて、任意の成分を含んでいてもよい。任意の成分は、特に限定されないが、例えば、界面活性剤が挙げられる。
≪Optional ingredient≫
The stripping composition of this embodiment may contain an arbitrary component in addition to the first solvent and the second solvent. Although arbitrary components are not specifically limited, For example, surfactant is mentioned.

本実施形態の剥離用組成物が界面活性剤を含む場合、界面活性剤としては、ノニオン性界面活性剤及びシリコン系界面活性剤が挙げられる。
ノニオン系界面活性剤としては、例えば、アセチレングリコール系界面活性剤、ポリオキシエチレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレンアルキルフェニルエーテル、ポリオキシエチレンアルキルエステル、ポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸エステル等が挙げられる。中でも、アセチレングリコール系界面活性剤及びポリオキシエチレンアルキルエーテルがより好ましい。
アセチレングリコール系界面活性剤は、市販品として入手可能であり、例えば、エアープロダクツアンドケミカルズ社(米国)製のサーフィノールシリーズが挙げられる。具体的には、サーフィノール104E、サーフィノール420、サーフィノール440、サーフィノール465、サーフィノール485等が挙げられる。
When the peeling composition of this embodiment contains a surfactant, examples of the surfactant include nonionic surfactants and silicon surfactants.
Examples of nonionic surfactants include acetylene glycol surfactants, polyoxyethylene alkyl ethers, polyoxyethylene alkyl phenyl ethers, polyoxyethylene alkyl esters, polyoxyethylene sorbitan fatty acid esters, and the like. Among these, acetylene glycol surfactants and polyoxyethylene alkyl ethers are more preferable.
The acetylene glycol surfactant is available as a commercial product, and examples thereof include Surfinol series manufactured by Air Products and Chemicals (USA). Specifically, Surfinol 104E, Surfinol 420, Surfinol 440, Surfinol 465, Surfinol 485, etc. are mentioned.

ポリオキシエチレンアルキルエーテルは、市販品として入手可能であり、例えば、第一工業製薬株式会社製のノイゲンシリーズ、株式会社日本触媒製のソフタノールシリーズ、及び青木油脂工業株式会社製のファインサーフシリーズ等が挙げられる。具体的には、ノイゲンXL−40、ノイゲンXL−80、ノイゲンTDS−50、ノイゲンTDS−70、ソフタノール30、ソフタノール50、ソフタノール70、ソフタノール90、ファインサーフTD−70、ファインサーフTD−75、ファインサーフTD−80等が挙げられる。   Polyoxyethylene alkyl ethers are available as commercial products. For example, Neugen series manufactured by Daiichi Kogyo Seiyaku Co., Ltd., Softanol series manufactured by Nippon Shokubai Co., Ltd., and Fine Surf Series manufactured by Aoki Yushi Kogyo Co., Ltd. Etc. Specifically, Neugen XL-40, Neugen XL-80, Neugen TDS-50, Neugen TDS-70, Softanol 30, Softanol 50, Softanol 70, Softanol 90, Fine Surf TD-70, Fine Surf TD-75, Fine Surf TD-80 etc. are mentioned.

シリコン系界面活性剤としては、例えば、ポリエーテル変性ポリジメチルシロキサン、ポリエステル変性ポリジメチルシロキサン、及びアラルキル変性ポリメチルアルキルシロキサン等が挙げられる。
シリコン系界面活性剤は、市販品として入手可能であり、例えば、ビックケミー・ジャパン株式会社製のBYK−331、BYK−310、及びBYK−322等を挙げることができる。
Examples of the silicon-based surfactant include polyether-modified polydimethylsiloxane, polyester-modified polydimethylsiloxane, and aralkyl-modified polymethylalkylsiloxane.
Silicon-based surfactants are available as commercial products, and examples thereof include BYK-331, BYK-310, and BYK-322 manufactured by Big Chemie Japan.

本実施形態の剥離用組成物が界面活性剤を含む場合、界面活性剤は1種であってもよく、2種以上であってもよい。
本実施形態の剥離用組成物が界面活性剤を含む場合、界面活性剤の合計の割合は、0.1質量%以上、10質量%以下の範囲内で添加されていることが好ましく、0.1質量%以上、5質量%以下の範囲内で添加されていることがより好ましい。界面活性剤の添加量が0.1質量%以上、10質量%以下の範囲内であれば、溶剤に界面活性剤を好適に溶解させておくことができる。
When the peeling composition of this embodiment contains a surfactant, the surfactant may be one type or two or more types.
When the stripping composition of the present embodiment contains a surfactant, the total proportion of the surfactant is preferably added within a range of 0.1% by mass or more and 10% by mass or less. More preferably, it is added within the range of 1% by mass or more and 5% by mass or less. If the addition amount of the surfactant is in the range of 0.1% by mass or more and 10% by mass or less, the surfactant can be suitably dissolved in the solvent.

≪接着剤≫
本実施形態の剥離用組成物は、接着剤を剥離するために用いられる。本実施形態の剥離用組成物の適用対象となる接着剤は、特に限定されないが、半導体の製造プロセスにおいて、基板と支持体とを接着するために用いられる接着剤が好ましく例示される。
そのような接着剤としては、例えば、マレイミド骨格を含む単量体(m11)から誘導される構成単位(u11)を有するポリマー(以下、「ポリマー(P1)」ともいう。)、水添スチレン系エラストマー(以下、「ポリマー(P2)」ともいう。)等を含有する接着剤が好適に挙げられる。
≪Adhesive≫
The stripping composition of this embodiment is used for stripping the adhesive. Although the adhesive agent used as the application object of the peeling composition of this embodiment is not specifically limited, In the manufacturing process of a semiconductor, the adhesive agent used in order to adhere | attach a board | substrate and a support body is illustrated preferably.
Examples of such an adhesive include a polymer having a structural unit (u11) derived from a monomer (m11) containing a maleimide skeleton (hereinafter, also referred to as “polymer (P1)”), and a hydrogenated styrene-based adhesive. An adhesive containing an elastomer (hereinafter also referred to as “polymer (P2)”) and the like is preferable.

(ポリマー(P1))
本実施形態の剥離用組成物の適用対象となる接着剤は、マレイミド骨格を含む単量体(m11)から誘導される構成単位(u11)を有するポリマー(P1)を含有することが好ましい。
〔構成単位(u11〕
構成単位(u11)は、マレイミド骨格を含む単量体(m11)から誘導される構成単位である。マレイミド骨格を含む単量体(m11)としては、例えば、下記一般式(m11)で表される単量体が挙げられる。
(Polymer (P1))
The adhesive to which the stripping composition of this embodiment is applied preferably contains a polymer (P1) having a structural unit (u11) derived from a monomer (m11) containing a maleimide skeleton.
[Structural unit (u11)
The structural unit (u11) is a structural unit derived from the monomer (m11) containing a maleimide skeleton. Examples of the monomer (m11) containing a maleimide skeleton include a monomer represented by the following general formula (m11).

Figure 2019183030
[式中、Rm11 〜Rm13 は、それぞれ独立に、水素原子、又は炭素数1〜20の有機基を表し、該有機基は酸素原子、窒素原子、硫黄原子、およびハロゲン原子を含んでもよい。]
Figure 2019183030
[Wherein, R m11 to R m13 each independently represents a hydrogen atom or an organic group having 1 to 20 carbon atoms, and the organic group may include an oxygen atom, a nitrogen atom, a sulfur atom, and a halogen atom. . ]

上記一般式(m11)においてRm11またはRm12で表される有機基は、水素原子、メチル基、又はエチル基であることが好ましく、中でも水素原子であることがより好ましい。 In the general formula (m11), the organic group represented by R m11 or R m12 is preferably a hydrogen atom, a methyl group, or an ethyl group, and more preferably a hydrogen atom.

上記一般式(m11)においてRm13 で表される有機基としては、直鎖状又は分枝鎖状のアルキル基、脂肪族環式炭化水素基、芳香族炭化水素基、アラルキル基、又はマレイミド基を有する有機基が好ましい。Rm13 としては、アルキル基、脂肪族環式炭化水素基、又は芳香族炭化水素基がより好ましく、脂肪族環式炭化水素基がさらに好ましい。
前記の直鎖状又は分枝鎖状のアルキル基、脂肪族環式炭化水素基、又は芳香族炭化水素基は、置換基を有していてもよい。
As the organic group represented by R m13 in the general formula (m11), a linear or branched alkyl group, an aliphatic cyclic hydrocarbon group, an aromatic hydrocarbon group, an aralkyl group, or a maleimide group Organic groups having are preferred. R m13 is more preferably an alkyl group, an aliphatic cyclic hydrocarbon group, or an aromatic hydrocarbon group, and more preferably an aliphatic cyclic hydrocarbon group.
The linear or branched alkyl group, aliphatic cyclic hydrocarbon group, or aromatic hydrocarbon group may have a substituent.

m13における直鎖状のアルキル基は、炭素数が1〜20であることが好ましく、1〜15であることがより好ましく、1〜12がさらに好ましい。具体的には、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、ヘプチル基、オクチル基、ノニル基、デカニル基、ウンデシル基、ドデシル基、トリデシル基、イソトリデシル基、テトラデシル基、ペンタデシル基、ヘキサデシル基、イソヘキサデシル基、ヘプタデシル基、オクタデシル基、ノナデシル基、イコシル基、ヘンイコシル基、ドコシル基等が挙げられる。
m13における分岐鎖状のアルキル基は、炭素数が3〜20であることが好ましく、3〜15であることがより好ましく、3〜10がさらに好ましい。具体的には、1−メチルエチル基、1−メチルプロピル基、2−メチルプロピル基、1−メチルブチル基、2−メチルブチル基、3−メチルブチル基、1−エチルブチル基、2−エチルブチル基、1−メチルペンチル基、2−メチルペンチル基、3−メチルペンチル基、4−メチルペンチル基などが挙げられる。
これらの中でも、Rm13の直鎖状又は分岐鎖状のアルキル基としては、メチル基が好ましい。
The linear alkyl group for R m13 preferably has 1 to 20 carbon atoms, more preferably 1 to 15 carbon atoms, and still more preferably 1 to 12 carbon atoms. Specifically, methyl group, ethyl group, propyl group, butyl group, pentyl group, hexyl group, heptyl group, octyl group, nonyl group, decanyl group, undecyl group, dodecyl group, tridecyl group, isotridecyl group, tetradecyl group, A pentadecyl group, a hexadecyl group, an isohexadecyl group, a heptadecyl group, an octadecyl group, a nonadecyl group, an icosyl group, a heicosyl group, a docosyl group, and the like can be given.
The branched alkyl group for R m13 preferably has 3 to 20 carbon atoms, more preferably 3 to 15 carbon atoms, and still more preferably 3 to 10 carbon atoms. Specifically, 1-methylethyl group, 1-methylpropyl group, 2-methylpropyl group, 1-methylbutyl group, 2-methylbutyl group, 3-methylbutyl group, 1-ethylbutyl group, 2-ethylbutyl group, 1- Examples thereof include a methylpentyl group, a 2-methylpentyl group, a 3-methylpentyl group, and a 4-methylpentyl group.
Among these, linear or branched alkyl group of R m13, a methyl group is preferable.

m13の直鎖状又は分岐鎖状のアルキル基における置換基としては、例えば、ハロゲン原子、ハロゲン化アルキル基、後述のRm13における環式基等が挙げられる。ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子等が挙げられ、フッ素原子が好ましい。 Examples of the substituent in the linear or branched alkyl group of R m13 include a halogen atom, a halogenated alkyl group, and a cyclic group in R m13 described later. Examples of the halogen atom include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom, and a fluorine atom is preferable.

m13 で表される有機基が直鎖状又は分岐鎖状のアルキル基であるマレイミド基含有モノマーとしては、例えば、N−メチルマレイミド、N−エチルマレイミド、N−n−プロピルマレイミド、N−イソプロピルマレイミド、N−n−ブチルマレイミド、N−イソブチルマレイミド、N−sec−ブチルマレイミド、N−tert−ブチルマレイミド、N−n−ペンチルマレイミド、N−n−ヘキシルマレイミド、N−n−へプチルマレイミド、N−n−オクチルマレイミド、N−ラウリルマレイミド、N−ステアリルマレイミドなどが挙げられる。中でも、工業的供給安定性、耐熱性の点から、N−メチルマレイミドが好ましい。 Examples of maleimide group-containing monomers in which the organic group represented by R m13 is a linear or branched alkyl group include N-methylmaleimide, N-ethylmaleimide, Nn-propylmaleimide, and N-isopropyl. Maleimide, Nn-butylmaleimide, N-isobutylmaleimide, N-sec-butylmaleimide, N-tert-butylmaleimide, Nn-pentylmaleimide, Nn-hexylmaleimide, Nn-heptylmaleimide, Nn-octylmaleimide, N-laurylmaleimide, N-stearylmaleimide and the like can be mentioned. Among these, N-methylmaleimide is preferable from the viewpoint of industrial supply stability and heat resistance.

m13における脂肪族環式炭化水素基は、構造中に環を含む脂肪族炭化水素基が挙げられる。この構造中に環を含む脂肪族炭化水素基としては、脂環式炭化水素基(脂肪族炭化水素環から水素原子1個を除いた基)、脂肪族炭化水素環の水素原子の1つがアルキレン基で置換された基等が挙げられる。このアルキレン基の炭素数は、1〜4であることが好ましい。前記脂肪族炭化水素環は、炭素数が3〜20であることが好ましく、3〜12であることがより好ましい。
前記脂肪族炭化水素環は、多環であってもよく、単環であってもよい。
単環の脂肪族炭化水素環としては、炭素数3〜8のものが好ましく、具体的にはシクロプロパン、シクロブタン、シクロペンタン、シクロヘキサン、シクロヘプタン、シクロオクタン等が挙げられ、シクロペンタン、シクロヘキサンが好ましい。
多環の脂肪族炭化水素環としては、炭素数7〜30のものが好ましく、具体的にはアダマンタン、ノルボルナン、イソボルナン、トリシクロデカン、テトラシクロドデカン等の架橋環系の多環式骨格を有するポリシクロアルカン;ステロイド骨格を有する環等の縮合環系の多環式骨格を有するポリシクロアルカンがより好ましい。
Examples of the aliphatic cyclic hydrocarbon group for R m13 include an aliphatic hydrocarbon group containing a ring in the structure. The aliphatic hydrocarbon group containing a ring in this structure includes an alicyclic hydrocarbon group (a group obtained by removing one hydrogen atom from an aliphatic hydrocarbon ring), and one of the hydrogen atoms of the aliphatic hydrocarbon ring is alkylene. And a group substituted with a group. The alkylene group preferably has 1 to 4 carbon atoms. The aliphatic hydrocarbon ring preferably has 3 to 20 carbon atoms, and more preferably 3 to 12 carbon atoms.
The aliphatic hydrocarbon ring may be polycyclic or monocyclic.
As the monocyclic aliphatic hydrocarbon ring, those having 3 to 8 carbon atoms are preferable, and specific examples include cyclopropane, cyclobutane, cyclopentane, cyclohexane, cycloheptane, cyclooctane and the like. preferable.
The polycyclic aliphatic hydrocarbon ring preferably has 7 to 30 carbon atoms, and specifically has a polycyclic skeleton of a bridged ring system such as adamantane, norbornane, isobornane, tricyclodecane, and tetracyclododecane. Polycycloalkane; polycycloalkane having a polycyclic skeleton of a condensed ring system such as a ring having a steroid skeleton is more preferable.

なかでも、Rm13における環状の脂肪族炭化水素基としては、モノシクロアルカン又はポリシクロアルカンから水素原子1つ以上を除いた基が好ましく、モノシクロアルカンから水素原子1つ以上を除いた基がより好ましく、モノシクロアルカンから水素原子1つを除いた基がさらに好ましく、シクロペンタン又はシクロヘキサンから水素原子1つを除いた基が特に好ましい。
具体的には、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、シクロヘプチル基、シクロオクチル基等が挙げられ、中でもシクロヘキシル基が好ましい。
Among them, the cyclic aliphatic hydrocarbon group for R m13 is preferably a group obtained by removing one or more hydrogen atoms from a monocycloalkane or polycycloalkane, and a group obtained by removing one or more hydrogen atoms from a monocycloalkane. More preferably, a group obtained by removing one hydrogen atom from a monocycloalkane is further preferred, and a group obtained by removing one hydrogen atom from cyclopentane or cyclohexane is particularly preferred.
Specific examples include a cyclopropyl group, a cyclobutyl group, a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, a cycloheptyl group, a cyclooctyl group, and the like, among which a cyclohexyl group is preferable.

m13における芳香族炭化水素基は、芳香環を有する炭化水素基である。該芳香族炭化水素基の炭素数は3〜20であることが好ましく、5〜20であることがより好ましく、6〜15がさらに好ましく、6〜10が特に好ましい。但し、該炭素数には、置換基における炭素数を含まないものとする。
m13における芳香族炭化水素基が有する芳香環として具体的には、ベンゼン、フルオレン、ナフタレン、アントラセン、フェナントレン、ビフェニル又はこれらの芳香環を構成する炭素原子の一部がヘテロ原子で置換された芳香族複素環などが挙げられる。芳香族複素環におけるヘテロ原子としては、酸素原子、硫黄原子、窒素原子等が挙げられる。
m13における芳香族炭化水素基として具体的には、前記芳香環から水素原子1つを除いた基(アリール基:例えばフェニル基、ナフチル基など)、前記芳香環の水素原子の1つがアルキレン基で置換された基(例えばベンジル基、フェネチル基、1−ナフチルメチル基、2−ナフチルメチル基、1−ナフチルエチル基、2−ナフチルエチル基等のアリールアルキル基など)等が挙げられる。前記アルキレン基(アリールアルキル基中のアルキル鎖)の炭素数は、1〜4であることが好ましく、1〜2であることがより好ましく、1であることが特に好ましい。
なかでも、Rm13における芳香族炭化水素基としては、フェニル基及びメチルフェニル基が好ましく、フェニル基がより好ましい。
The aromatic hydrocarbon group for R m13 is a hydrocarbon group having an aromatic ring. The aromatic hydrocarbon group preferably has 3 to 20 carbon atoms, more preferably 5 to 20 carbon atoms, still more preferably 6 to 15 carbon atoms, and particularly preferably 6 to 10 carbon atoms. However, the carbon number does not include the carbon number in the substituent.
Specific examples of the aromatic ring of the aromatic hydrocarbon group in R m13 include benzene, fluorene, naphthalene, anthracene, phenanthrene, biphenyl, or an aromatic group in which a part of carbon atoms constituting these aromatic rings is substituted with a hetero atom. Group heterocycle and the like. Examples of the hetero atom in the aromatic heterocyclic ring include an oxygen atom, a sulfur atom, and a nitrogen atom.
Specifically, the aromatic hydrocarbon group for R m13 is a group obtained by removing one hydrogen atom from the aromatic ring (aryl group: for example, phenyl group, naphthyl group, etc.), and one of the hydrogen atoms of the aromatic ring is an alkylene group. (For example, arylalkyl groups such as benzyl group, phenethyl group, 1-naphthylmethyl group, 2-naphthylmethyl group, 1-naphthylethyl group, 2-naphthylethyl group, etc.) and the like. The alkylene group (alkyl chain in the arylalkyl group) preferably has 1 to 4 carbon atoms, more preferably 1 to 2, and particularly preferably 1.
Especially, as an aromatic hydrocarbon group in Rm13 , a phenyl group and a methylphenyl group are preferable, and a phenyl group is more preferable.

m13の脂肪族環式炭化水素基又は芳香族炭化水素基における置換基としては、例えば、アルキル基、ハロゲン原子、ハロゲン化アルキル基等が挙げられる。
置換基としてのアルキル基としては、炭素数1〜5のアルキル基が好ましく、メチル基、エチル基、プロピル基、n−ブチル基、tert−ブチル基がより好ましい。
置換基としてのハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子等が挙げられ、フッ素原子が好ましい。
置換基としてのハロゲン化アルキル基としては、炭素数1〜5のアルキル基、例えばメチル基、エチル基、プロピル基、n−ブチル基、tert−ブチル基等の水素原子の一部又は全部が前記ハロゲン原子で置換された基が挙げられる。
Examples of the substituent in the aliphatic cyclic hydrocarbon group or aromatic hydrocarbon group represented by R m13 include an alkyl group, a halogen atom, and a halogenated alkyl group.
The alkyl group as a substituent is preferably an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and more preferably a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an n-butyl group, or a tert-butyl group.
Examples of the halogen atom as a substituent include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom, and a fluorine atom is preferable.
As the halogenated alkyl group as a substituent, a part or all of hydrogen atoms such as an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, for example, a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an n-butyl group, a tert-butyl group, and the like And a group substituted with a halogen atom.

m13 で表される有機基が脂肪族環式炭化水素基であるマレイミド基含有モノマーとしては、例えば、N−シクロプロピルマレイミド、N−シクロブチルマレイミド、N−シクロペンチルマレイミド、N−シクロヘキシルマレイミド、N−シクロヘプチルマレイミド、N−シクロオクチルマレイミドなどが挙げられる。中でも、工業的供給安定性、耐熱性の点から、N−シクロヘキシルマレイミドが好ましい。 Examples of maleimide group-containing monomers in which the organic group represented by R m13 is an aliphatic cyclic hydrocarbon group include N-cyclopropylmaleimide, N-cyclobutylmaleimide, N-cyclopentylmaleimide, N-cyclohexylmaleimide, N -Cycloheptylmaleimide, N-cyclooctylmaleimide, etc. are mentioned. Among these, N-cyclohexylmaleimide is preferable from the viewpoint of industrial supply stability and heat resistance.

m13で表される有機基が芳香族炭化水素基を有するマレイミド基含有モノマーとしては、例えば、N−フェニルマレイミド、N−m−メチルフェニルマレイミド、N−o−メチルフェニルマレイミド、N−p−メチルフェニルマレイミドなどが挙げられる。中でも工業的供給安定性、耐熱性の点から、N−フェニルマレイミドが好ましい。 Examples of maleimide group-containing monomers in which the organic group represented by R m13 has an aromatic hydrocarbon group include N-phenylmaleimide, Nm-methylphenylmaleimide, N-o-methylphenylmaleimide, and Np- Examples include methylphenylmaleimide. Among these, N-phenylmaleimide is preferable from the viewpoint of industrial supply stability and heat resistance.

これらの他に、マレイミド基含有モノマーとしては、N−ベンジルマレイミド、N−フェネチルマレイミド、1−メチル−2,4−ビスマレイミドベンゼン、N,N’−m−フェニレンビスマレイミド、N,N’−p−フェニレンビスマレイミド、N,N’−m−トルイレンビスマレイミド、N,N’−4,4−ビフェニレンビスマレイミド、N,N’−4,4−(3,3’−ジメチル−ビフェニレン)ビスマレイミド、N,N’−4,4−(3,3’−ジメチルジフェニルメタン)ビスマレイミド、N,N’−4,4−(3,3’−ジエチルジフェニルメタン)ビスマレイミド、N,N’−4,4−ジフェニルメタンビスマレイミド、N,N’−4,4−ジフェニルプロパンビスマレイミド、N,N’−3,3’−ジフェニルスルホンビスマレイミド、N,N’−4,4−ジフェニルエーテルビスマレイミド等が挙げられる。   Besides these, as maleimide group-containing monomers, N-benzylmaleimide, N-phenethylmaleimide, 1-methyl-2,4-bismaleimidebenzene, N, N′-m-phenylenebismaleimide, N, N′— p-phenylene bismaleimide, N, N′-m-toluylene bismaleimide, N, N′-4,4-biphenylene bismaleimide, N, N′-4,4- (3,3′-dimethyl-biphenylene) Bismaleimide, N, N′-4,4- (3,3′-dimethyldiphenylmethane) bismaleimide, N, N′-4,4- (3,3′-diethyldiphenylmethane) bismaleimide, N, N′- 4,4-diphenylmethane bismaleimide, N, N′-4,4-diphenylpropane bismaleimide, N, N′-3,3′-diphenylsulfone bis Reimido, N, include N'-4,4-diphenyl ether bismaleimide.

上記単量体(m11)から誘導される構成単位(u11)としては、下記一般式(u11)で表される構成単位が挙げられる。   Examples of the structural unit (u11) derived from the monomer (m11) include structural units represented by the following general formula (u11).

Figure 2019183030
[式中、Ru13は、炭素数1〜20の有機基を表す。]
Figure 2019183030
[ Wherein R u13 represents an organic group having 1 to 20 carbon atoms. ]

u13で表される有機基は、上記一般式(m11)中のRm13で表される有機基と同様のものが例示される。
以下に、構成単位(u11)の具体例を示す。
Examples of the organic group represented by R u13 include the same organic groups represented by R m13 in the general formula (m11).
Specific examples of the structural unit (u11) are shown below.

Figure 2019183030
Figure 2019183030

Figure 2019183030
Figure 2019183030

Figure 2019183030
Figure 2019183030

Figure 2019183030
Figure 2019183030

ポリマー(P1)が有する構成単位(u11)は、1種でもよく2種以上でもよい。
(P1)成分中の構成単位(u11)の割合は、ポリマー(P1)を構成する全構成単位の合計(100モル%)に対して、例えば、10〜90モル%である。一態様において、(P1)成分中の構成単位(u11)の割合は、1〜20モル%であることが好ましく、5〜15モル%であることがより好ましい。また、一態様において、ポリマー(P1)中の構成単位(u11)の割合は、20〜80モル%が好ましく、40〜70モル%がより好ましい。構成単位(u11)の割合は、接着剤に求める性質に応じて、適宜選択可能である。構成単位(u11)は、接着剤の耐熱性を向上させる機能を有する。
The structural unit (u11) contained in the polymer (P1) may be one type or two or more types.
The proportion of the structural unit (u11) in the component (P1) is, for example, 10 to 90 mol% with respect to the total (100 mol%) of all the structural units constituting the polymer (P1). In one embodiment, the proportion of the structural unit (u11) in the component (P1) is preferably 1 to 20 mol%, more preferably 5 to 15 mol%. Moreover, in one aspect | mode, 20-80 mol% is preferable and, as for the ratio of the structural unit (u11) in a polymer (P1), 40-70 mol% is more preferable. The proportion of the structural unit (u11) can be appropriately selected depending on the properties required for the adhesive. The structural unit (u11) has a function of improving the heat resistance of the adhesive.

〔他の構成単位〕
ポリマー(P1)は、上記構成単位(u11)に加えて、他の構成単位を有していてもよい。他の構成単位としては、例えば、(メタ)アクリル酸アルキルエステルから誘導される構成単位、シクロオレフィンから誘導される構成単位、スチレンから誘導される構成単位等が挙げられる。
[Other structural units]
The polymer (P1) may have other structural units in addition to the structural unit (u11). Examples of other structural units include structural units derived from alkyl (meth) acrylates, structural units derived from cycloolefins, and structural units derived from styrene.

・(メタ)アクリル酸アルキルエステルから誘導される構成単位(u12)
ポリマー(P1)は、(メタ)アクリル酸アルキルエステルから誘導される構成単位(u12)を有していてもよい。「(メタ)アクリル」とは、アクリル又はメタクリルの少なくとも一方を意味する。
該(メタ)アクリル酸アルキルエステルは、炭素数15〜20の直鎖状又は分岐鎖状のアルキル基を含むアクリル系長鎖アルキルエステルであってもよく、炭素数1〜14の直鎖状又は分岐鎖状のアルキル基を含むアクリル系アルキルエステルであってもよい。
-Structural unit derived from alkyl (meth) acrylate (u12)
The polymer (P1) may have a structural unit (u12) derived from a (meth) acrylic acid alkyl ester. “(Meth) acryl” means at least one of acrylic or methacrylic.
The (meth) acrylic acid alkyl ester may be an acrylic long-chain alkyl ester containing a linear or branched alkyl group having 15 to 20 carbon atoms. An acrylic alkyl ester containing a branched alkyl group may be used.

アクリル系長鎖アルキルエステルとしては、アルキル基がn−ペンタデシル基、n−ヘキサデシル基、n−ヘプタデシル基、n−オクタデシル基、n−ノナデシル基、又はn−エイコシル基などであるアクリル酸アルキルエステル又はメタクリル酸アルキルエステルが挙げられる。   As the acrylic long-chain alkyl ester, an acrylic acid alkyl ester whose alkyl group is an n-pentadecyl group, an n-hexadecyl group, an n-heptadecyl group, an n-octadecyl group, an n-nonadecyl group, an n-eicosyl group, or the like Examples include methacrylic acid alkyl esters.

炭素数1〜14のアルキル基を含むアクリル系アルキルエステルとしては、従来の(メタ)アクリル系接着剤に用いられている公知のアクリル系アルキルエステルが挙げられる。例えば、アルキル基が、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、2−エチルヘキシル基、イソオクチル基、イソノニル基、イソデシル基、ドデシル基、ラウリル基、トリデシル基等であるアクリル酸アルキルエステル又はメタクリル酸アルキルエステルが挙げられる。   Examples of the acrylic alkyl ester containing an alkyl group having 1 to 14 carbon atoms include known acrylic alkyl esters used in conventional (meth) acrylic adhesives. For example, acrylic acid alkyl ester or methacrylic acid whose alkyl group is methyl group, ethyl group, propyl group, butyl group, 2-ethylhexyl group, isooctyl group, isononyl group, isodecyl group, dodecyl group, lauryl group, tridecyl group, etc. Examples include alkyl esters.

ポリマー(P1)が構成単位(u12)を有する場合、構成単位(u12)は、1種でもよく2種以上でもよい。
ポリマー(P1)中の構成単位(u12)の割合は、ポリマー(P1)を構成する全構成単位の合計(100モル%)に対して、例えば、10〜90モル%である。一態様において、ポリマー(P1)中の構成単位(u12)の割合は、20〜70モル%が好ましく、40〜60モル%がより好ましい。構成単位(u12)の割合は、接着剤に求める性質に応じて、適宜選択可能である。構成単位(u12)は、接着剤の柔軟性及びクラック耐性を向上させる機能を有する。
When the polymer (P1) has a structural unit (u12), the structural unit (u12) may be one type or two or more types.
The proportion of the structural unit (u12) in the polymer (P1) is, for example, 10 to 90 mol% with respect to the total (100 mol%) of all the structural units constituting the polymer (P1). In one embodiment, the proportion of the structural unit (u12) in the polymer (P1) is preferably 20 to 70 mol%, more preferably 40 to 60 mol%. The proportion of the structural unit (u12) can be appropriately selected according to the properties required for the adhesive. The structural unit (u12) has a function of improving the flexibility and crack resistance of the adhesive.

・シクロオレフィンから誘導される構成単位(u13)
ポリマー(P1)は、シクロオレフィンから誘導される構成単位(u13)を有していてもよい。
-Structural units derived from cycloolefin (u13)
The polymer (P1) may have a structural unit (u13) derived from cycloolefin.

構成単位(u13)としては、例えば、下記一般式(u13)で表される構成単位が挙げられる。   Examples of the structural unit (u13) include structural units represented by the following general formula (u13).

Figure 2019183030
[式中、Ru131〜Ru134は、それぞれ独立に、炭素数1〜30の有機基又は水素原子を表す。nは、0〜2の整数である。]
Figure 2019183030
[ Wherein , R u131 to R u134 each independently represents an organic group having 1 to 30 carbon atoms or a hydrogen atom. n is an integer of 0-2. ]

前記一般式(u13)中、Ru131〜Ru134における有機基としては、例えばアルキル基、アルケニル基、アルキニル基、アルキリデン基、アリール基、アラルキル基、アルカリル基、シクロアルキル基、カルボキシ基を有する有機基、ヘテロ環を有する有機基等が挙げられる。
u131〜Ru134におけるアルキル基としては、炭素数1〜10のアルキル基が好ましく、例えばメチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、ペンチル基、ネオペンチル基、ヘキシル基、ヘプチル基、オクチル基、ノニル基、デシル基が挙げられる。
u131〜Ru134におけるアルケニル基としては、例えばアリル基、ペンテニル基、ビニル基が挙げられる。
u131〜Ru134におけるアルキニル基としては、例えばエチニル基が挙げられる。
u131〜Ru134におけるアルキリデン基としては、例えばメチリデン基、エチリデン基が挙げられる。
u131〜Ru134におけるアリール基としては、例えばフェニル基、ナフチル基、アントラセニル基が挙げられる。
u131〜Ru134におけるアラルキル基としては、例えばベンジル基、フェネチル基が挙げられる。
u131〜Ru134におけるアルカリル基としては、例えばトリル基、キシリル基が挙げられる。
u131〜Ru134におけるシクロアルキル基としては、例えばアダマンチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、シクロオクチル基が挙げられる。
u131〜Ru134における、ヘテロ環を有する有機基としては、例えば、エポキシ基を有する有機基、オキセタニル基を有する有機基が挙げられる。
In the general formula (u13), examples of the organic group represented by R u131 to R u134 include an organic group having an alkyl group, an alkenyl group, an alkynyl group, an alkylidene group, an aryl group, an aralkyl group, an alkaryl group, a cycloalkyl group, or a carboxy group. Group, an organic group having a heterocycle, and the like.
The alkyl group in R u131 to R u134 is preferably an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, such as a methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, isobutyl group, sec-butyl group, Examples thereof include a tert-butyl group, a pentyl group, a neopentyl group, a hexyl group, a heptyl group, an octyl group, a nonyl group, and a decyl group.
Examples of the alkenyl group in R u131 to R u134 include an allyl group, a pentenyl group, and a vinyl group.
Examples of the alkynyl group for R u131 to R u134 include an ethynyl group.
Examples of the alkylidene group in R u131 to R u134 include a methylidene group and an ethylidene group.
Examples of the aryl group in R u131 to R u134 include a phenyl group, a naphthyl group, and an anthracenyl group.
Examples of the aralkyl group in R u131 to R u134 include a benzyl group and a phenethyl group.
Examples of the alkaryl group in R u131 to R u134 include a tolyl group and a xylyl group.
Examples of the cycloalkyl group in R u131 to R u134 include an adamantyl group, a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, and a cyclooctyl group.
Examples of the organic group having a heterocycle in R u131 to R u134 include an organic group having an epoxy group and an organic group having an oxetanyl group.

u131〜Ru134における有機基は、合成上の観点から、アルキル基が好ましい。該アルキル基は、炭素数1〜8であることが好ましく、炭素数2〜6であることがより好ましく、炭素数2〜3であることがさらに好ましい。
また、Ru131〜Ru134のいずれか1つ以上が水素原子であることも好ましい。
上記の中でも、Ru131〜Ru134における有機基は、アルキル基と水素原子との組合せが好ましく、Ru131〜Ru134のいずれか1つがアルキル基であって残り3つが水素原子であることが好ましい。
The organic group in R u131 to R u134 is preferably an alkyl group from the viewpoint of synthesis. The alkyl group preferably has 1 to 8 carbon atoms, more preferably 2 to 6 carbon atoms, and still more preferably 2 to 3 carbon atoms.
Moreover, it is also preferable that any one or more of R u131 to R u134 is a hydrogen atom.
Among the above, the organic group in R u131 to R u134 is preferably a combination of an alkyl group and a hydrogen atom, and any one of R u131 to R u134 is preferably an alkyl group, and the remaining three are preferably hydrogen atoms. .

u131〜Ru134における有機基は、1つ以上の水素原子が、ハロゲン原子により置換されていてもよい。このハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子が挙げられる。 In the organic groups represented by R u131 to R u134 , one or more hydrogen atoms may be substituted with a halogen atom. Examples of the halogen atom include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom.

前記式(u13)中、nは、0〜2の整数であり、0又は1が好ましく、0がより好ましい。   In said formula (u13), n is an integer of 0-2, 0 or 1 is preferable and 0 is more preferable.

以下に、構成単位(u22)の具体例を示す。   Specific examples of the structural unit (u22) are shown below.

Figure 2019183030
Figure 2019183030

中でも、構成単位(u13)としては、上記式(u13−2)〜(u13−6)のいずれかで表される構成単位が好ましく、式(u13−3)〜(u13−6)のいずれかで表される構成単位がより好ましく、式(u13−4)又は(u13−6)で表される構成単位がさらに好ましい。   Among them, the structural unit (u13) is preferably a structural unit represented by any one of the above formulas (u13-2) to (u13-6), and any one of the formulas (u13-3) to (u13-6). Is more preferable, and the structural unit represented by the formula (u13-4) or (u13-6) is more preferable.

ポリマー(P1)が構成単位(u13)を有する場合、構成単位(u13)は、1種でもよく2種以上でもよい。
ポリマー(P2)中の構成単位(u13)の割合は、ポリマー(P1)を構成する全構成単位の合計(100モル%)に対して、例えば、10〜90モル%である。一態様において、ポリマー(P1)中の構成単位(u13)の割合は、20〜80モル%がより好ましく、30〜60モル%がさらに好ましい。構成単位(u13)の割合は、接着剤に求める性質に応じて、適宜選択可能である。構成単位(u13)は、接着剤の剥離性を向上させる機能を有する。
When the polymer (P1) has the structural unit (u13), the structural unit (u13) may be one type or two or more types.
The proportion of the structural unit (u13) in the polymer (P2) is, for example, 10 to 90 mol% with respect to the total (100 mol%) of all the structural units constituting the polymer (P1). In one embodiment, the proportion of the structural unit (u13) in the polymer (P1) is more preferably 20 to 80 mol%, further preferably 30 to 60 mol%. The proportion of the structural unit (u13) can be appropriately selected depending on the properties required for the adhesive. The structural unit (u13) has a function of improving the peelability of the adhesive.

・スチレンから誘導される構成単位(St)
ポリマー(P1)は、スチレンから誘導される構成単位(St)を有していてもよい。スチレンは、200℃以上の高温環境下においても変質することがないため、構成単位(St)は、接着剤の耐熱性を向上させる機能を有する。
-Structural units derived from styrene (St)
The polymer (P1) may have a structural unit (St) derived from styrene. Since styrene does not deteriorate even in a high temperature environment of 200 ° C. or higher, the structural unit (St) has a function of improving the heat resistance of the adhesive.

ポリマー(P1)中の構成単位(St)の割合は、ポリマー(P1)を構成する全構成単位の合計(100モル%)に対して、例えば、10〜50モル%である。
本実施形態の接着剤組成物中、(P2)成分は、1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。
The proportion of the structural unit (St) in the polymer (P1) is, for example, 10 to 50 mol% with respect to the total (100 mol%) of all the structural units constituting the polymer (P1).
In the adhesive composition of this embodiment, as the component (P2), one type may be used alone, or two or more types may be used in combination.

ポリマー(P1)は、構成単位(u11)と、構成単位(u12)、(u13)及び(St)からなる群より選択される少なくとも1種の構成単位を有することが好ましい。中でも、耐熱性が高められやすく、本実施形態の剥離用組成物により除去されやすい接着剤が得られることから、構成単位(u11)、及び構成単位(u12)若しくは構成単位(u13)を有することが好ましい。   The polymer (P1) preferably has at least one structural unit selected from the group consisting of the structural unit (u11) and the structural units (u12), (u13), and (St). Among them, since the heat resistance is easily increased and an adhesive that can be easily removed by the peeling composition of the present embodiment is obtained, the structural unit (u11) and the structural unit (u12) or the structural unit (u13) are included. Is preferred.

接着剤におけるポリマー(P1)の含有割合は、接着剤が含有するポリマー成分の総量(100質量%)に対して、50質量%以下が好ましく、5質量%以上、50質量%以下がより好ましく、10質量%以上、40質量%以下がさらに好ましい。   The content ratio of the polymer (P1) in the adhesive is preferably 50% by mass or less, more preferably 5% by mass or more and 50% by mass or less, with respect to the total amount (100% by mass) of the polymer components contained in the adhesive. 10 mass% or more and 40 mass% or less are more preferable.

前記(P1)成分の含有割合が、前記の好ましい範囲の上限値以下であると、耐熱性に加えて、接着性がより高められる。前記の好ましい範囲の下限値以上であれば、耐熱性、接着性及びダイボンディング性がいずれも向上する。   When the content ratio of the component (P1) is equal to or less than the upper limit value of the preferable range, in addition to heat resistance, adhesion is further improved. If it is more than the lower limit of the above preferred range, all of heat resistance, adhesion and die bonding properties are improved.

(水添スチレン系エラストマー:ポリマー(P2))
本実施形態の剥離用組成物の適用対象となる接着剤は、水添スチレン系エラストマー(ポリマー(P2))を含有するものであってもよい。
(Hydrogenated styrene elastomer: polymer (P2))
The adhesive to which the peeling composition of this embodiment is applied may contain a hydrogenated styrene-based elastomer (polymer (P2)).

「水添スチレン系エラストマー」とは、スチレン及び共役ジエンのブロックコポリマーの水添物である。水添スチレン系エラストマーは、分解や重合等により変質を起こし難くい。このため、水添スチレン系エラストマーを用いることによって接着剤の熱に対する安定性を向上させることができる。また、接着剤のレジスト溶剤への耐性を高めることができる。   The “hydrogenated styrenic elastomer” is a hydrogenated product of a block copolymer of styrene and a conjugated diene. Hydrogenated styrenic elastomers are unlikely to be altered by decomposition, polymerization, or the like. For this reason, the stability with respect to the heat | fever of an adhesive agent can be improved by using a hydrogenated styrene-type elastomer. Moreover, the tolerance to the resist solvent of an adhesive agent can be improved.

水添スチレン系エラストマーは、エラストマーブロックの片末端がスチレンブロックに重合したジブロック重合体であってもよく、エラストマーブロックの両端がスチレンブロックに重合したトリブロック重合体であってもよい。トリブロック重合体である水添スチレン系エラストマーは、接着剤により高い耐熱性をもたらすことができる。   The hydrogenated styrene-based elastomer may be a diblock polymer obtained by polymerizing one end of an elastomer block into a styrene block, or a triblock polymer obtained by polymerizing both ends of an elastomer block into a styrene block. A hydrogenated styrene-based elastomer that is a triblock polymer can bring high heat resistance to the adhesive.

水添スチレン系エラストマーとしては、例えば、ポリスチレン−ポリ(エチレン/プロピレン)ブロックコポリマー(SEP)、スチレン−イソプレン−スチレンブロックコポリマー(SIS)、スチレン−ブタジエン−スチレンブロックコポリマー(SBS)、スチレン−ブタジエン−ブチレン−スチレンブロックコポリマー(SBBS)、及び、これらの水添物;スチレン−エチレン−ブチレン−スチレンブロックコポリマー(SEBS)、スチレン−エチレン−プロピレン−スチレンブロックコポリマー(スチレン−イソプレン−スチレンブロックコポリマー)(SEPS)、スチレン−エチレン−エチレン−プロピレン−スチレンブロックコポリマー(SEEPS)の水添物が挙げられる。   Examples of the hydrogenated styrene-based elastomer include polystyrene-poly (ethylene / propylene) block copolymer (SEP), styrene-isoprene-styrene block copolymer (SIS), styrene-butadiene-styrene block copolymer (SBS), and styrene-butadiene- Butylene-styrene block copolymer (SBBS) and hydrogenated products thereof; styrene-ethylene-butylene-styrene block copolymer (SEBS), styrene-ethylene-propylene-styrene block copolymer (styrene-isoprene-styrene block copolymer) (SEPS) ), Hydrogenated styrene-ethylene-ethylene-propylene-styrene block copolymer (SEEPS).

水添スチレン系エラストマーとして用い得る市販品としては、例えば、株式会社クラレ製「セプトン(商品名)」、株式会社クラレ製「ハイブラー(商品名)」、旭化成株式会社製「タフテック(商品名)」、JSR株式会社製「ダイナロン(商品名)」等が挙げられる。   Examples of commercially available products that can be used as hydrogenated styrene elastomers include “Septon (trade name)” manufactured by Kuraray Co., Ltd., “Hibler (trade name)” manufactured by Kuraray Co., Ltd., and “Tuftec (trade name)” manufactured by Asahi Kasei Corporation. , “Dynalon (trade name)” manufactured by JSR Corporation.

より具体的には、例えば、スチレン−エチレン−エチレン−プロピレン−スチレンブロックコポリマー(SEEPS)として、Septon4033(株式会社クラレ製)及びSepton4044(株式会社クラレ製);反応性のポリスチレン系ハードブロックを有する、反応架橋型のスチレン−エチレン−ブチレン−スチレンブロックコポリマーとして、SeptonV9827(株式会社クラレ製);ポリスチレン−ポリ(エチレン−エチレン/プロピレン)ブロック−ポリスチレンブロックコポリマー(SEEPS−OH:末端水酸基変性)として、SeptonHG252(株式会社クラレ製);ポリスチレン−ポリ(エチレン/プロピレン)ブロックコポリマー(SEP)として、Septon2004(株式会社クラレ製);及び、スチレン−エチレン/ブチレン−スチレンのトリブロック共重合体(SEBS)として、タフテックH1051(旭化成ケミカルズ株式会社製)等が挙げられる。   More specifically, for example, as styrene-ethylene-ethylene-propylene-styrene block copolymer (SEEPS), Septon 4033 (manufactured by Kuraray Co., Ltd.) and Septon 4044 (manufactured by Kuraray Co., Ltd.); having a reactive polystyrene-based hard block, Septon V9827 (manufactured by Kuraray Co., Ltd.) as a reaction-crosslinking type styrene-ethylene-butylene-styrene block copolymer; Septon HG252 as polystyrene-poly (ethylene-ethylene / propylene) block-polystyrene block copolymer (SEEPS-OH: terminal hydroxyl group-modified) (Manufactured by Kuraray Co., Ltd.); as polystyrene-poly (ethylene / propylene) block copolymer (SEP), Septon 2004 (manufactured by Kuraray Co., Ltd.); Beauty, styrene - ethylene / butylene - triblock copolymer of styrene as (SEBS), Tuftec H1051 (manufactured by Asahi Kasei Chemicals Corporation) and the like.

水添スチレン系エラストマーは、構成単位としてスチレンから誘導される構成単位(構成単位(St))を含んでいる。構成単位(St)は、置換基を有していてもよい。置換基としては、例えば、炭素数1〜5のアルキル基、炭素数1〜5のアルコキシ基、炭素数1〜5のアルコキシアルキル基、アセトキシ基、カルボキシ基等が挙げられる。   The hydrogenated styrene elastomer includes a structural unit derived from styrene (structural unit (St)) as a structural unit. The structural unit (St) may have a substituent. Examples of the substituent include an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms, an alkoxyalkyl group having 1 to 5 carbon atoms, an acetoxy group, and a carboxy group.

水添スチレン系エラストマーは、構成単位(St)の含有量が14質量%以上、50質量%以下の範囲内であることがより好ましく、17質量%以上、50質量%以下の範囲内であることがより好ましい。さらに、水添スチレン系エラストマーは、質量平均分子量が40,000以上、200,000以下の範囲内であることが好ましい。   The content of the structural unit (St) in the hydrogenated styrene-based elastomer is more preferably in the range of 14% by mass to 50% by mass, and in the range of 17% by mass to 50% by mass. Is more preferable. Furthermore, the hydrogenated styrene elastomer preferably has a mass average molecular weight in the range of 40,000 or more and 200,000 or less.

水添スチレン系エラストマーは、複数の種類を混合して用いてもよい。この場合、複数の種類の水添スチレン系エラストマーのうち少なくとも一つが、構成単位(St)の含有量が14質量%以上、50質量%以下の範囲内である、又は、質量平均分子量が40,000以上、200,000以下の範囲内であることがより好ましい。   A plurality of types of hydrogenated styrenic elastomers may be mixed and used. In this case, at least one of the plurality of types of hydrogenated styrene-based elastomer has a content of the structural unit (St) in the range of 14% by mass or more and 50% by mass or less, or a mass average molecular weight of 40, More preferably, it is in the range of not less than 000 and not more than 200,000.

例えば、接着剤が、複数の種類の水添スチレン系エラストマーを含む場合、例えば、構成単位(St)の含有量が30質量%である株式会社クラレ製のセプトン(商品名)のSepton4033と、構成単位(St)の含有量が13質量%であるセプトン(商品名)のSepton2063とを質量比1対1で混合すると、接着剤に含まれるエラストマー全体に対する構成単位(St)の含有量は21〜22質量%となり、従って14質量%以上となる。また、例えば、構成単位(St)が10質量%のものと60質量%のものとを質量比1対1で混合すると35質量%となり、構成単位(St)の含有量が14質量%以上、50質量%以下の範囲内となる。接着剤はこのような形態でもよい。接着剤が複数の水添スチレン系エラストマーを含有する場合、当該複数の種類の水添スチレン系エラストマーは、全て上記の範囲内で構成単位(St)を含み、且つ、上記の範囲内の質量平均分子量であることが最も好ましい。   For example, when the adhesive contains a plurality of types of hydrogenated styrene-based elastomer, for example, Septon 4033 of Septon (trade name) manufactured by Kuraray Co., Ltd., whose content of the structural unit (St) is 30% by mass, When Septon 2063 of Septon (trade name) having a unit (St) content of 13% by mass is mixed at a mass ratio of 1: 1, the content of the structural unit (St) with respect to the entire elastomer contained in the adhesive is 21 to 21. 22% by mass, and therefore 14% by mass or more. Moreover, for example, when the structural unit (St) is 10% by mass and 60% by mass are mixed at a mass ratio of 1: 1, the mass becomes 35% by mass, and the content of the structural unit (St) is 14% by mass or more. It is in the range of 50% by mass or less. The adhesive may be in this form. When the adhesive contains a plurality of hydrogenated styrenic elastomers, the plurality of types of hydrogenated styrenic elastomers all contain a structural unit (St) within the above range, and a mass average within the above range. Most preferred is molecular weight.

接着剤中の水添スチレン系エラストマーの構成単位(St)の含有量が、14質量%以上、50質量%以下の範囲内であり、水添スチレン系エラストマーの質量平均分子量が40,000以上、200,000以下の範囲内であると、本実施形態の剥離用組成物により、水添スチレン系エラストマーに由来する残渣を基板から好適に除去することができる。また、構成単位(St)の含有量及び質量平均分子量が上記の範囲内であることにより、基板がレジストリソグラフィー工程に供されるときに曝されるレジスト溶剤(例えばPGMEA、PGME等)、酸(フッ化水素酸等)、アルカリ(TMAH等)に対して優れた耐性を発揮することができる。つまり、レジスト溶剤への耐性及び耐熱性を高めた接着剤であり、本実施形態の剥離用組成物によって水添スチレン系エラストマーに由来する残渣を好適に除去することができる接着剤を得ることができる。   The content of the structural unit (St) of the hydrogenated styrene elastomer in the adhesive is in the range of 14% by mass or more and 50% by mass or less, and the mass average molecular weight of the hydrogenated styrene elastomer is 40,000 or more, When it is in the range of 200,000 or less, the residue derived from the hydrogenated styrene-based elastomer can be suitably removed from the substrate by the stripping composition of the present embodiment. Further, when the content of the structural unit (St) and the mass average molecular weight are within the above ranges, a resist solvent (eg, PGMEA, PGME, etc.), an acid (exposed) when the substrate is subjected to a resist lithography process. Excellent resistance to hydrofluoric acid and the like and alkali (TMAH and the like). That is, it is an adhesive with improved resistance to resist solvents and heat resistance, and an adhesive capable of suitably removing residues derived from hydrogenated styrene-based elastomers by the stripping composition of this embodiment can be obtained. it can.

接着剤における水添スチレン系エラストマーの含有割合は、例えば、接着剤が含有するポリマー成分の総量(100質量部)に対して、40質量部以上、99質量部以下の範囲内が好ましく、50質量部以上、90質量部以下の範囲内がより好ましく、60質量部以上、80質量部以下の範囲内が最も好ましい。接着剤中の水添スチレン系エラストマーの含有量を前記範囲内にすることにより、耐熱性を維持しつつ、基板と支持体とを好適に貼り合わせることができる。また、本実施形態の剥離用組成物により除去されやすい接着剤を得ることができる。   The content ratio of the hydrogenated styrene-based elastomer in the adhesive is preferably in the range of 40 parts by mass to 99 parts by mass with respect to the total amount (100 parts by mass) of the polymer components contained in the adhesive, for example, 50 masses. Is more preferably in the range of 90 parts by mass or more and most preferably in the range of 60 parts by mass or more and 80 parts by mass or less. By making content of the hydrogenated styrene-type elastomer in an adhesive into the said range, a board | substrate and a support body can be bonded together suitably, maintaining heat resistance. Moreover, the adhesive agent which is easy to be removed with the peeling composition of this embodiment can be obtained.

(その他のポリマー)
接着剤が含有し得るポリマーは、上記ポリマー(P1)及びポリマー(P2)に限定されない。例えば、接着剤は、上記ポリマー(P1)及びポリマー(P2)のいずれか又は両方に加えて、炭化水素樹脂、アクリル−スチレン系樹脂等を含有していてもよい。これらの樹脂により、接着剤の接着性を調整してもよい。あるいは、上記ポリマー(P1)及びポリマー(P2)に代えて、炭化水素樹脂、アクリル−スチレン系樹脂等を含有していてもよい。
(Other polymers)
The polymer that the adhesive can contain is not limited to the polymer (P1) and the polymer (P2). For example, the adhesive may contain a hydrocarbon resin, an acrylic-styrene resin, or the like in addition to one or both of the polymer (P1) and the polymer (P2). You may adjust the adhesiveness of an adhesive agent with these resin. Alternatively, instead of the polymer (P1) and the polymer (P2), a hydrocarbon resin, an acrylic-styrene resin, or the like may be contained.

〔炭化水素樹脂〕
本実施形態の剥離用組成物が適用される接着剤は、炭化水素樹脂を含有していてもよい。炭化水素樹脂は、炭化水素骨格を有する単量体組成物を重合してなる樹脂である。炭化水素樹脂として、シクロオレフィン系ポリマー(以下、「樹脂(A)」ということがある)、並びに、テルペン樹脂、ロジン系樹脂及び石油樹脂からなる群より選ばれる少なくとも1種の樹脂(以下、「樹脂(B)」ということがある)等が挙げられるが、これに限定されない。
[Hydrocarbon resin]
The adhesive to which the stripping composition of this embodiment is applied may contain a hydrocarbon resin. The hydrocarbon resin is a resin obtained by polymerizing a monomer composition having a hydrocarbon skeleton. As the hydrocarbon resin, cycloolefin polymer (hereinafter sometimes referred to as “resin (A)”), and at least one resin selected from the group consisting of terpene resin, rosin resin and petroleum resin (hereinafter referred to as “resin (A)”). Resin (B) ”), and the like, but is not limited thereto.

樹脂(A)としては、シクロオレフィン系モノマーを含む単量体成分を重合してなる樹脂が挙げられる。具体例としては、シクロオレフィン系モノマーを含む単量体成分の開環(共)重合体、シクロオレフィン系モノマーを含む単量体成分を付加(共)重合させた樹脂等が挙げられる。   Examples of the resin (A) include a resin obtained by polymerizing a monomer component containing a cycloolefin monomer. Specific examples include a ring-opening (co) polymer of a monomer component containing a cycloolefin monomer, a resin obtained by addition (co) polymerization of a monomer component containing a cycloolefin monomer, and the like.

樹脂(A)を構成する単量体成分に含まれる前記シクロオレフィン系モノマーとしては、例えば、ノルボルネン、ノルボルナジエン等の二環体、ジシクロペンタジエン、ジヒドロキシペンタジエン等の三環体、テトラシクロドデセン等の四環体、シクロペンタジエン三量体等の五環体、テトラシクロペンタジエン等の七環体、又はこれら多環体のアルキル(メチル、エチル、プロピル、ブチル等)置換体、アルケニル(ビニル等)置換体、アルキリデン(エチリデン等)置換体、アリール(フェニル、トリル、ナフチル等)置換体等が挙げられる。これらの中でも特に、ノルボルネン、テトラシクロドデセン、又はこれらのアルキル置換体からなる群より選ばれるノルボルネン系モノマーが好ましい。   Examples of the cycloolefin monomer contained in the monomer component constituting the resin (A) include bicyclic compounds such as norbornene and norbornadiene, tricyclic compounds such as dicyclopentadiene and dihydroxypentadiene, tetracyclododecene, and the like. Tetracyclics, pentacyclics such as cyclopentadiene trimers, heptacyclics such as tetracyclopentadiene, or alkyl (methyl, ethyl, propyl, butyl, etc.) substitutions of these polycyclics, alkenyls (vinyl, etc.) Substitution, alkylidene (ethylidene, etc.) substitution, aryl (phenyl, tolyl, naphthyl, etc.) substitution, etc. are mentioned. Among these, norbornene-based monomers selected from the group consisting of norbornene, tetracyclododecene, and alkyl-substituted products thereof are particularly preferable.

樹脂(A)を構成する単量体成分は、上述したシクロオレフィン系モノマーと共重合可能な他のモノマーを含有していてもよく、例えば、アルケンモノマーを含有することが好ましい。アルケンモノマーとしては、例えば、エチレン、プロピレン、1−ブテン、イソブテン、1−ヘキセン、α−オレフィン等が挙げられる。アルケンモノマーは、直鎖状であってもよいし、分岐鎖状であってもよい。   The monomer component constituting the resin (A) may contain another monomer copolymerizable with the above-described cycloolefin-based monomer, and preferably contains, for example, an alkene monomer. Examples of the alkene monomer include ethylene, propylene, 1-butene, isobutene, 1-hexene, α-olefin and the like. The alkene monomer may be linear or branched.

また、樹脂(A)を構成する単量体成分として、シクロオレフィンモノマーを含有することが、高耐熱性(低い熱分解、熱質量減少性)の観点から好ましい。樹脂(A)を構成する単量体成分全体に対するシクロオレフィンモノマーの割合は、5モル%以上であることが好ましく、10モル%以上であることがより好ましく、20モル%以上であることがさらに好ましい。また、樹脂(A)を構成する単量体成分全体に対するシクロオレフィンモノマーの割合は、特に限定されないが、溶解性及び溶液での経時安定性の観点からは80モル%以下であることが好ましく、70モル%以下であることがより好ましい。   Moreover, it is preferable from a viewpoint of high heat resistance (low thermal decomposition and thermal mass reduction | decrease property) to contain a cycloolefin monomer as a monomer component which comprises resin (A). The ratio of the cycloolefin monomer to the whole monomer component constituting the resin (A) is preferably 5 mol% or more, more preferably 10 mol% or more, and further preferably 20 mol% or more. preferable. Further, the ratio of the cycloolefin monomer to the whole monomer component constituting the resin (A) is not particularly limited, but is preferably 80 mol% or less from the viewpoint of solubility and stability over time in a solution, More preferably, it is 70 mol% or less.

また、樹脂(A)を構成する単量体成分として、直鎖状又は分岐鎖状のアルケンモノマーを含有してもよい。樹脂(A)を構成する単量体成分全体に対するアルケンモノマーの割合は、溶解性及び柔軟性の観点からは10〜90モル%であることが好ましく、20〜85モル%であることがより好ましく、30〜80モル%であることがさらに好ましい。   Moreover, you may contain a linear or branched alkene monomer as a monomer component which comprises resin (A). The ratio of the alkene monomer to the whole monomer component constituting the resin (A) is preferably 10 to 90 mol%, more preferably 20 to 85 mol% from the viewpoint of solubility and flexibility. 30 to 80 mol% is more preferable.

なお、樹脂(A)は、例えば、シクロオレフィン系モノマーとアルケンモノマーとからなる単量体成分を重合させてなる樹脂のように、極性基を有していない樹脂であることが、高温下でのガスの発生を抑制する上で好ましい。   The resin (A) is a resin having no polar group, such as a resin obtained by polymerizing a monomer component composed of a cycloolefin monomer and an alkene monomer, at high temperatures. It is preferable for suppressing generation of gas.

単量体成分を重合するときの重合方法や重合条件等については、特に制限はなく、常法に従い適宜設定すればよい。   The polymerization method and polymerization conditions for polymerizing the monomer components are not particularly limited, and may be set as appropriate according to conventional methods.

樹脂(A)として用いることのできる市販品としては、例えば、ポリプラスチックス株式会社製の「TOPAS」、三井化学株式会社製の「APEL」、日本ゼオン株式会社製の「ZEONOR」及び「ZEONEX」、JSR株式会社製の「ARTON」等が挙げられる。   Examples of commercially available products that can be used as the resin (A) include “TOPAS” manufactured by Polyplastics Co., Ltd., “APEL” manufactured by Mitsui Chemicals, Inc., “ZEONOR” and “ZEONEX” manufactured by Zeon Corporation. And “ARTON” manufactured by JSR Corporation.

樹脂(A)としては、例えば、下記化学式(p3−1)で表される繰り返し単位及び下記化学式(p3−2)で表される繰り返し単位の共重合体であるシクロオレフィンコポリマーが挙げられる。   Examples of the resin (A) include a cycloolefin copolymer which is a copolymer of a repeating unit represented by the following chemical formula (p3-1) and a repeating unit represented by the following chemical formula (p3-2).

Figure 2019183030
[式中、nは0又は1〜3の整数である。]
Figure 2019183030
[Wherein n is an integer of 0 or 1 to 3. ]

上記のようなシクロオレフィンコポリマーとしては、APL8008T、APL8009T、及びAPL6013T(全て三井化学株式会社製)等が挙げられる。   Examples of the cycloolefin copolymer as described above include APL8008T, APL8009T, and APL6013T (all manufactured by Mitsui Chemicals, Inc.).

樹脂(A)のガラス転移温度(Tg)は、60℃以上であることが好ましく、70℃以上であることが特に好ましい。樹脂(A)のガラス転移温度が60℃以上であると、接着剤の高温耐性を向上させることができる。   The glass transition temperature (Tg) of the resin (A) is preferably 60 ° C. or higher, and particularly preferably 70 ° C. or higher. The high temperature tolerance of an adhesive agent can be improved as the glass transition temperature of resin (A) is 60 degreeC or more.

樹脂(B)は、テルペン系樹脂、ロジン系樹脂及び石油樹脂からなる群より選ばれる少なくとも1種の樹脂である。具体的には、テルペン系樹脂としては、例えば、テルペン樹脂、テルペンフェノール樹脂、変性テルペン樹脂、水添テルペン樹脂、水添テルペンフェノール樹脂等が挙げられる。ロジン系樹脂としては、例えば、ロジン、ロジンエステル、水添ロジン、水添ロジンエステル、重合ロジン、重合ロジンエステル、変性ロジン等が挙げられる。石油樹脂としては、例えば、脂肪族又は芳香族石油樹脂、水添石油樹脂、変性石油樹脂、脂環族石油樹脂、クマロン・インデン石油樹脂等が挙げられる。これらの中でも、水添テルペン樹脂、水添石油樹脂がより好ましい。   The resin (B) is at least one resin selected from the group consisting of terpene resins, rosin resins and petroleum resins. Specifically, examples of the terpene resin include terpene resins, terpene phenol resins, modified terpene resins, hydrogenated terpene resins, hydrogenated terpene phenol resins, and the like. Examples of the rosin resin include rosin, rosin ester, hydrogenated rosin, hydrogenated rosin ester, polymerized rosin, polymerized rosin ester, and modified rosin. Examples of petroleum resins include aliphatic or aromatic petroleum resins, hydrogenated petroleum resins, modified petroleum resins, alicyclic petroleum resins, coumarone-indene petroleum resins, and the like. Among these, hydrogenated terpene resins and hydrogenated petroleum resins are more preferable.

樹脂(B)の軟化点は特に限定されないが、80〜160℃であることが好ましい。樹脂(B)の軟化点が80℃以上であると、高温耐性を備えた接着剤を得ることができる。一方、樹脂(B)の軟化点が160℃以下であると、接着剤の剥離速度が良好なものとなる。   Although the softening point of resin (B) is not specifically limited, It is preferable that it is 80-160 degreeC. When the softening point of the resin (B) is 80 ° C. or higher, an adhesive having high temperature resistance can be obtained. On the other hand, when the softening point of the resin (B) is 160 ° C. or lower, the peeling rate of the adhesive is good.

樹脂(B)の質量平均分子量は特に限定されないが、300〜3,000であることが好ましい。樹脂(B)の質量平均分子量が300以上であると、耐熱性が十分なものとなり、高温環境下において脱ガス量が少なくなる。一方、樹脂(B)の質量平均分子量が3,000以下であると、接着剤の剥離速度が良好なものとなる。なお、樹脂(B)の質量平均分子量は、ゲル・パーミエーション・クロマトグラフィー(GPC)で測定されるポリスチレン換算の分子量を意味するものである。   Although the mass average molecular weight of resin (B) is not specifically limited, It is preferable that it is 300-3,000. When the mass average molecular weight of the resin (B) is 300 or more, the heat resistance is sufficient, and the degassing amount is reduced under a high temperature environment. On the other hand, when the mass average molecular weight of the resin (B) is 3,000 or less, the peeling rate of the adhesive is good. In addition, the mass average molecular weight of resin (B) means the molecular weight of polystyrene conversion measured by gel permeation chromatography (GPC).

炭化水素樹脂として、樹脂(A)と樹脂(B)とを混合したものを用いてもよい。混合することにより、耐熱性及び剥離速度が良好なものとなる。例えば、樹脂(A)と樹脂(B)との混合割合は、(A):(B)=80:20〜55:45(質量比)とすることができる。   As the hydrocarbon resin, a mixture of the resin (A) and the resin (B) may be used. By mixing, heat resistance and peeling speed are improved. For example, the mixing ratio of the resin (A) and the resin (B) can be (A) :( B) = 80: 20 to 55:45 (mass ratio).

〔アクリル−スチレン系樹脂〕
本実施形態の剥離用組成物が適用される接着剤は、アクリル−スチレン系樹脂を含有していてもよい。アクリル−スチレン系樹脂としては、例えば、スチレン又はスチレンの誘導体と、(メタ)アクリル酸エステル等とを単量体として用いて重合した樹脂が挙げられる。
[Acrylic-styrene resin]
The adhesive to which the peeling composition of this embodiment is applied may contain an acrylic-styrene resin. Examples of the acrylic-styrene resin include a resin obtained by polymerization using styrene or a styrene derivative and (meth) acrylic acid ester as monomers.

(メタ)アクリル酸エステルとしては、例えば、鎖式構造からなる(メタ)アクリル酸アルキルエステル、脂肪族環を含む(メタ)アクリル酸エステル、芳香族環を含む(メタ)アクリル酸エステル等が挙げられる。   Examples of the (meth) acrylic acid ester include a (meth) acrylic acid alkyl ester having a chain structure, a (meth) acrylic acid ester containing an aliphatic ring, and a (meth) acrylic acid ester containing an aromatic ring. It is done.

鎖式構造からなる(メタ)アクリル酸アルキルエステルとしては、炭素数15〜20のアルキル基を含むアクリル系長鎖アルキルエステル、炭素数1〜14のアルキル基を含むアクリル系アルキルエステル等が挙げられる。前記アルキル基は、直鎖状であってもよく、分岐鎖状であってもよい。
アクリル系長鎖アルキルエステルとしては、アルキル基がn−ペンタデシル基、n−ヘキサデシル基、n−ヘプタデシル基、n−オクタデシル基、n−ノナデシル基、n−エイコシル基等であるアクリル酸アルキルエステル又はメタクリル酸アルキルエステルが挙げられる。
炭素数1〜14のアルキル基を含むアクリル系アルキルエステルとしては、従来の(メタ)アクリル系接着剤に用いられている公知のアクリル系アルキルエステルが挙げられる。例えば、アルキル基が、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、2−エチルヘキシル基、イソオクチル基、イソノニル基、イソデシル基、ドデシル基、ラウリル基、トリデシル基等であるアクリル酸アルキルエステル又はメタクリル酸アルキルエステルが挙げられる。
これらの中でも、アクリル系長鎖アルキルエステルが好ましく、エイコシル(メタ)アクリレートがより好ましい。
Examples of the (meth) acrylic acid alkyl ester having a chain structure include acrylic long-chain alkyl esters containing an alkyl group having 15 to 20 carbon atoms, acrylic alkyl esters containing an alkyl group having 1 to 14 carbon atoms, and the like. . The alkyl group may be linear or branched.
Examples of the acrylic long-chain alkyl ester include an alkyl acrylate or methacrylic acid whose alkyl group is n-pentadecyl group, n-hexadecyl group, n-heptadecyl group, n-octadecyl group, n-nonadecyl group, n-eicosyl group, etc. Examples include acid alkyl esters.
Examples of the acrylic alkyl ester containing an alkyl group having 1 to 14 carbon atoms include known acrylic alkyl esters used in conventional (meth) acrylic adhesives. For example, acrylic acid alkyl ester or methacrylic acid whose alkyl group is methyl group, ethyl group, propyl group, butyl group, 2-ethylhexyl group, isooctyl group, isononyl group, isodecyl group, dodecyl group, lauryl group, tridecyl group, etc. Examples include alkyl esters.
Among these, acrylic long-chain alkyl esters are preferable, and eicosyl (meth) acrylate is more preferable.

脂肪族環を含む(メタ)アクリル酸エステルとしては、シクロヘキシル(メタ)アクリレート、シクロペンチル(メタ)アクリレート、1−アダマンチル(メタ)アクリレート、ノルボルニル(メタ)アクリレート、イソボルニル(メタ)アクリレート、トリシクロデカニル(メタ)アクリレート、テトラシクロドデカニル(メタ)アクリレート、ジシクロペンタニル(メタ)アクリレート等が挙げられる。中でも、イソボルニルメタアクリレート、ジシクロペンタニル(メタ)アクリレート、1−アダマンチル(メタ)アクリレートがより好ましい。   Examples of (meth) acrylic acid esters containing an aliphatic ring include cyclohexyl (meth) acrylate, cyclopentyl (meth) acrylate, 1-adamantyl (meth) acrylate, norbornyl (meth) acrylate, isobornyl (meth) acrylate, and tricyclodecanyl. (Meth) acrylate, tetracyclododecanyl (meth) acrylate, dicyclopentanyl (meth) acrylate and the like. Of these, isobornyl methacrylate, dicyclopentanyl (meth) acrylate, and 1-adamantyl (meth) acrylate are more preferable.

芳香族環を含む(メタ)アクリル酸エステルとしては、特に限定されるものではないが、例えば、フェニル基、ベンジル基、トリル基、キシリル基、ビフェニル基、ナフチル基、アントラセニル基、フェノキシメチル基、フェノキシエチル基等を含むアクリル酸エステルが挙げられる。また、芳香族環は、炭素数1〜5の直鎖状又は分岐鎖状のアルキル基を有していてもよい。具体的には、フェノキシエチルアクリレートが好ましい。   The (meth) acrylic acid ester containing an aromatic ring is not particularly limited. For example, a phenyl group, a benzyl group, a tolyl group, a xylyl group, a biphenyl group, a naphthyl group, an anthracenyl group, a phenoxymethyl group, An acrylic ester containing a phenoxyethyl group and the like can be mentioned. In addition, the aromatic ring may have a linear or branched alkyl group having 1 to 5 carbon atoms. Specifically, phenoxyethyl acrylate is preferable.

(その他の成分)
接着剤は、上記ポリマー成分に加えて、他の成分を含んでいてもよい。他の成分は、特に限定されないが、例えば、離型剤、可塑剤、接着補助剤、安定剤、着色剤、熱重合禁止剤及び界面活性剤等、慣用されている各種添加剤を用いることができる。また、接着剤は、希釈溶剤を含んでいてもよい。
(Other ingredients)
The adhesive may contain other components in addition to the polymer component. Other components are not particularly limited, but for example, various commonly used additives such as mold release agents, plasticizers, adhesion assistants, stabilizers, colorants, thermal polymerization inhibitors and surfactants may be used. it can. The adhesive may contain a diluting solvent.

〔希釈溶剤〕
希釈溶剤は、接着剤を希釈するために用いられる。これにより、塗布するための条件に適した粘度に接着剤を調整することができる。
[Diluted solvent]
A dilution solvent is used to dilute the adhesive. Thereby, an adhesive agent can be adjusted to the viscosity suitable for the conditions for apply | coating.

希釈溶剤としては、例えば、ヘキサン、ヘプタン、オクタン、ノナン、メチルオクタン、デカン、ウンデカン、ドデカン、トリデカン等の直鎖状の炭化水素;炭素数4から15の分岐鎖状の炭化水素;シクロヘキサン、シクロヘプタン、シクロオクタン、ナフタレン、デカヒドロナフタレン、テトラヒドロナフタレン等の環状炭化水素;p−メンタン、o−メンタン、m−メンタン、ジフェニルメンタン、1,4−テルピン、1,8−テルピン、ボルナン、ノルボルナン、ピナン、ツジャン、カラン、ロンギホレン、ゲラニオール、ネロール、リナロール、シトラール、シトロネロール、メントール、イソメントール、ネオメントール、α−テルピネオール、β−テルピネオール、γ−テルピネオール、テルピネン−1−オール、テルピネン−4−オール、ジヒドロターピニルアセテート、1,4−シネオール、1,8−シネオール、ボルネオール、カルボン、ヨノン、ツヨン、カンファー、d−リモネン、l−リモネン、ジペンテン等のテルペン系溶剤;γ−ブチロラクトン等のラクトン類;アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン(CH)、メチル−n−ペンチルケトン、メチルイソペンチルケトン、2−ヘプタノン等のケトン類;エチレングリコール、ジエチレングリコール、プロピレングリコール、ジプロピレングリコール等の多価アルコール類;エチレングリコールモノアセテート、ジエチレングリコールモノアセテート、プロピレングリコールモノアセテート、又はジプロピレングリコールモノアセテート等のエステル結合を有する化合物、前記多価アルコール類又は前記エステル結合を有する化合物のモノメチルエーテル、モノエチルエーテル、モノプロピルエーテル、モノブチルエーテル等のモノアルキルエーテル又はモノフェニルエーテル等のエーテル結合を有する化合物等の多価アルコール類の誘導体(これらの中では、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(PGMEA)、プロピレングリコールモノメチルエーテル(PGME)が好ましい);ジオキサンのような環式エーテル類や、乳酸メチル、乳酸エチル(EL)、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、メトキシブチルアセテート、ピルビン酸メチル、ピルビン酸エチル、メトキシプロピオン酸メチル、エトキシプロピオン酸エチル等のエステル類;アニソール、エチルベンジルエーテル、クレジルメチルエーテル、ジフェニルエーテル、ジベンジルエーテル、フェネトール、ブチルフェニルエーテル等の芳香族系有機溶剤等が挙げられる。   Examples of the diluent solvent include straight-chain hydrocarbons such as hexane, heptane, octane, nonane, methyloctane, decane, undecane, dodecane, tridecane, etc .; branched hydrocarbons having 4 to 15 carbon atoms; cyclohexane, cyclohexane Cyclic hydrocarbons such as heptane, cyclooctane, naphthalene, decahydronaphthalene, tetrahydronaphthalene; p-menthane, o-menthane, m-menthane, diphenylmenthane, 1,4-terpine, 1,8-terpine, bornane, norbornane, Pinang, Tujan, Karan, Longifolene, Geraniol, Nerol, Linalool, Citral, Citronellol, Menthol, Isomenthol, Neomenthol, α-Terpineol, β-Terpineol, γ-Terpineol, Terpinene-1-ol, Terpinene- Terpene solvents such as ol, dihydroterpinyl acetate, 1,4-cineol, 1,8-cineol, borneol, carvone, yonon, thuyon, camphor, d-limonene, l-limonene, dipentene; γ-butyrolactone, etc. Lactones; ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, cyclohexanone (CH), methyl-n-pentyl ketone, methyl isopentyl ketone, 2-heptanone; polyhydric alcohols such as ethylene glycol, diethylene glycol, propylene glycol, dipropylene glycol A compound having an ester bond such as ethylene glycol monoacetate, diethylene glycol monoacetate, propylene glycol monoacetate, or dipropylene glycol monoacetate, the polyhydric alcohol Or derivatives of polyhydric alcohols such as monoalkyl ethers such as monomethyl ether, monoethyl ether, monopropyl ether, monobutyl ether, etc., or compounds having an ether bond such as monophenyl ether (among these, , Propylene glycol monomethyl ether acetate (PGMEA) and propylene glycol monomethyl ether (PGME) are preferred); cyclic ethers such as dioxane, methyl lactate, ethyl lactate (EL), methyl acetate, ethyl acetate, butyl acetate, Esters such as methoxybutyl acetate, methyl pyruvate, ethyl pyruvate, methyl methoxypropionate, ethyl ethoxypropionate; anisole, ethyl benzyl ether, cresyl methyl ether, Phenyl ether, dibenzyl ether, phenetole, aromatic organic solvents such as butyl phenyl ether.

本実施形態の剥離用組成物によれば、第1溶剤と第2溶剤とを含有することにより、複数種類のポリマーを含有する広範な範囲の接着剤に適用することができる。特に、本実施形態の剥離用組成物が、第2溶剤として非炭化水素系溶剤を含む場合、上記ポリマー(P1)及びポリマー(P2)を含有する接着剤を基板から剥離するために好適に用いることができ、接着剤のポリマー成分に由来する残渣の発生をより効果的に防止することができる。   According to the stripping composition of this embodiment, it can be applied to a wide range of adhesives containing a plurality of types of polymers by containing the first solvent and the second solvent. In particular, when the stripping composition of the present embodiment contains a non-hydrocarbon solvent as the second solvent, it is preferably used for stripping the adhesive containing the polymer (P1) and the polymer (P2) from the substrate. It is possible to more effectively prevent the generation of residues derived from the polymer component of the adhesive.

<接着剤を剥離する方法>
本発明の第2の態様は、接着剤が付着した基板から、前記接着剤を剥離する方法である。本実施形態の方法は、第1の態様に係る剥離用組成物を、前記接着剤に接触させて、前記接着剤を溶解させる溶解工程を含む。
<Method of peeling adhesive>
The second aspect of the present invention is a method of peeling the adhesive from the substrate to which the adhesive has been attached. The method of this embodiment includes a dissolving step of bringing the peeling composition according to the first aspect into contact with the adhesive to dissolve the adhesive.

≪第1実施形態≫
図1は、本実施形態の接着剤を剥離する方法の一実施形態を説明する概略工程図である。図1(a)は、溶解工程の一例を説明する図である。図1(a)に示す積層体100は、基板4、封止材層5及び配線層6からなるデバイス層456と、接着剤からなる接着層3とから構成される。接着層3は、デバイス層456を構成する基板4側に付着している。図1(a)では、スプレー7から、上記第1の態様に係る剥離用組成物8を噴霧して、剥離用組成物8を接着層3に接触させて、接着層3を溶解している。
図1(b)は、接着層3が除去されたデバイス層456を示す。
<< First Embodiment >>
FIG. 1 is a schematic process diagram illustrating one embodiment of a method for peeling an adhesive according to this embodiment. FIG. 1A is a diagram illustrating an example of a dissolution process. The laminated body 100 shown to Fig.1 (a) is comprised from the device layer 456 which consists of the board | substrate 4, the sealing material layer 5, and the wiring layer 6, and the contact bonding layer 3 which consists of an adhesive agent. The adhesive layer 3 is attached to the substrate 4 side that constitutes the device layer 456. In Fig.1 (a), the peeling composition 8 which concerns on the said 1st aspect is sprayed from the spray 7, the peeling composition 8 is made to contact the contact bonding layer 3, and the contact bonding layer 3 is melt | dissolved. .
FIG. 1B shows the device layer 456 from which the adhesive layer 3 has been removed.

[溶解工程]
図1の(a)に示すように、溶解工程では、上記第1の態様に係る剥離用組成物を、接着層3に接触させて、当該接着層3を溶解させる。接着層3は、好ましくは、上記<剥離用組成物>の≪接着剤≫に記載した接着剤により形成されたものである。より具体的には、接着剤は、マレイミド骨格を含む単量体から誘導される構成単位を有するポリマーを含有することが好ましい。さらに、接着剤は、マレイミド骨格を含む単量体から誘導される構成単位を有するポリマーに加えて、水添スチレン系エラストマーを含有することがより好ましい。
[Dissolution process]
As shown to (a) of FIG. 1, in the melt | dissolution process, the peeling composition which concerns on the said 1st aspect is made to contact the contact bonding layer 3, and the said contact bonding layer 3 is dissolved. The adhesive layer 3 is preferably formed of the adhesive described in << Adhesive >> of <Peeling composition> above. More specifically, the adhesive preferably contains a polymer having a structural unit derived from a monomer containing a maleimide skeleton. Further, the adhesive more preferably contains a hydrogenated styrene elastomer in addition to a polymer having a structural unit derived from a monomer containing a maleimide skeleton.

溶解工程では、第1の態様に係る剥離用組成物を用いるため、接着層3を迅速に溶解することができる。また、溶解工程において、剥離用組成物の洗浄性によって接着剤に由来する残渣を好適に除去することができる。そのため、基板4を含むデバイス層456に接着剤に由来する残渣が発生することを防止することができる。   Since the peeling composition according to the first aspect is used in the dissolving step, the adhesive layer 3 can be quickly dissolved. Moreover, the residue derived from an adhesive agent can be suitably removed by the washing | cleaning property of a peeling composition in a melt | dissolution process. Therefore, it is possible to prevent the residue derived from the adhesive from being generated in the device layer 456 including the substrate 4.

図1(a)の例では、溶解工程において、スプレー7によって第1の実施形態に係る剥離用組成物8を噴霧することで接着層3に接触させている。剥離用組成物8をスプレー7によって噴霧することで、接着層3に剥離用組成物8を押し当てることができる。これにより、基板4に付着する接着層3の残渣を押し流すことができ、より好適に基板4を洗浄することができる。   In the example of FIG. 1A, in the melting step, the peeling composition 8 according to the first embodiment is sprayed by the spray 7 to be brought into contact with the adhesive layer 3. The peeling composition 8 can be pressed against the adhesive layer 3 by spraying the peeling composition 8 with the spray 7. Thereby, the residue of the contact bonding layer 3 adhering to the board | substrate 4 can be washed away, and the board | substrate 4 can be wash | cleaned more suitably.

剥離用組成物8を噴霧するために用いるスプレー7としては、典型的には2流体スプレーノズルを挙げることができる。   A typical example of the spray 7 used for spraying the stripping composition 8 includes a two-fluid spray nozzle.

本実施形態の接着剤を剥離する方法では、上記第1の態様に係る剥離用組成物を用いて、基板に付着した接着剤を溶解するため、基板に接着剤に由来する残渣が発生することを防止することができる。そのため、良好な状態の基板を得ることができる。   In the method for peeling off the adhesive according to the present embodiment, since the adhesive attached to the substrate is dissolved using the peeling composition according to the first aspect, a residue derived from the adhesive is generated on the substrate. Can be prevented. Therefore, a substrate in a good state can be obtained.

[任意工程]
本実施形態の方法は、上記溶解工程に加えて、他の工程を含んでいてもよい。他の工程としては、例えば、分離工程が挙げられる。
[Optional process]
The method of this embodiment may include other steps in addition to the dissolution step. Examples of other steps include a separation step.

(分離工程)
本実施形態の方法は、前記溶解工程の前に、支持体、接着層、及び基板がこの順で積層された積層体から、前記支持体を分離する分離工程を含んでいてもよい。
(Separation process)
The method of the present embodiment may include a separation step of separating the support from the laminate in which the support, the adhesive layer, and the substrate are laminated in this order before the melting step.

図2は、分離工程の一例を説明する概略工程図である。
図2(a)の積層体200は、デバイス層456及び接着層3に加えて、支持基体1及び分離層2からなる支持体12を備えている。積層体200において、支持体12、接着層3、及びデバイス層456は、この順に積層されている。図2(a)は、支持基体1を介して、分離層2に光を照射している図である。図2(b)は、光の照射により分離層2が変質し、変質した分離層2’となった状態を示す。図2(c)は、支持基体1を基板4から分離した状態を示す。
FIG. 2 is a schematic process diagram for explaining an example of the separation process.
The laminated body 200 in FIG. 2A includes a support body 12 including a support base 1 and a separation layer 2 in addition to the device layer 456 and the adhesive layer 3. In the laminated body 200, the support body 12, the adhesive layer 3, and the device layer 456 are laminated in this order. FIG. 2A is a diagram in which light is irradiated to the separation layer 2 through the support base 1. FIG. 2B shows a state in which the separation layer 2 has been altered by irradiation with light, resulting in a transformed separation layer 2 ′. FIG. 2C shows a state where the support base 1 is separated from the substrate 4.

図2(a)に示す分離層2は、光の照射により変質する変質する材料から構成されており、支持基体1と接着層3との間に配置されている。支持基体1は、光を透過する材料から構成されている。そのため、図2(a)に示すように、支持基体1を介して分離層2に光を照射することにより、分離層2を変質させることができる。   The separation layer 2 shown in FIG. 2A is made of a material that is altered by irradiation with light, and is disposed between the support base 1 and the adhesive layer 3. The support substrate 1 is made of a material that transmits light. Therefore, as shown in FIG. 2A, the separation layer 2 can be altered by irradiating the separation layer 2 with light through the support substrate 1.

本明細書において、分離層が「変質する」とは、分離層をわずかな外力を受けて破壊され得る状態、又は分離層と接する層との接着力が低下した状態にさせる現象を意味する。また、分離層の変質は、吸収した光のエネルギーによる(発熱性又は非発熱性の)分解、架橋、立体配置の変化又は官能基の解離(そして、これらにともなう分離層の硬化、脱ガス、収縮又は膨張)等であり得る。   In this specification, the “deterioration” of the separation layer means a phenomenon in which the separation layer can be broken by receiving a slight external force, or a state in which the adhesive force with the layer in contact with the separation layer is reduced. Further, the alteration of the separation layer includes decomposition (exothermic or non-exothermic) due to absorbed light energy, cross-linking, configuration change or dissociation of functional groups (and curing of the separation layer accompanying these, degassing, Contraction or expansion) and the like.

このように、分離層2を変質させることによって、変質した分離層2’とし、分離層2の接着力を低下させることができる(図1の(b))。したがって、積層体200にわずかな力を加えることで、積層体200から支持体12’(又は支持基体1)を分離することが可能になる(図1の(d))。なお、本明細書において、「積層体から支持体とを分離する」という表現は、積層体200から支持基体1を分離することを包含する。また、積層体200に、変質した分離層2’の残渣が残っている場合も包含する。   In this way, by altering the separation layer 2, it is possible to obtain a modified separation layer 2 'and to reduce the adhesive strength of the separation layer 2 ((b) of FIG. 1). Therefore, by applying a slight force to the laminate 200, the support 12 '(or the support substrate 1) can be separated from the laminate 200 ((d) in FIG. 1). In the present specification, the expression “separate the support from the laminate” includes separating the support substrate 1 from the laminate 200. In addition, the case where a residue of the altered separation layer 2 ′ remains in the laminate 200 is also included.

このため、積層体200から支持体12’を分離した後、前記溶解工程において、基板4(又はデバイス層456)に付着した接着層3に、第1の態様に係る剥離用組成物を好適に接触させることが可能になる。   For this reason, after separating support body 12 'from the laminated body 200, in the said melt | dissolution process, the adhesive composition 3 adhering to the board | substrate 4 (or device layer 456) is suitably used for the peeling composition which concerns on a 1st aspect. It is possible to make contact.

分離工程における、レーザ光照射条件は、分離層の種類によって適宜調整すればよく、特に限定されない。例えば、レーザ光の平均出力値は、1.0W以上、5.0W以下の範囲であることが好ましく、3.0W以上、4.0W以下の範囲であることがより好ましい。また、レーザ光の繰り返し周波数は、20kHz以上、60kHz以下の範囲であることが好ましく、30kHz以上、50kHz以下の範囲であることがより好ましい。また、レーザ光の波長は、300nm以上、700nm以下であることが好ましく、450nm以上、650nm以下の範囲であることがより好ましい。このような条件によれば、分離層2に照射するパルス光のエネルギーを、分離層2を変質させるための適切な条件にすることができる。このため、基板4がレーザ光によってダメージを受けることを防止することができる。   The laser beam irradiation conditions in the separation step may be appropriately adjusted depending on the type of the separation layer, and are not particularly limited. For example, the average output value of laser light is preferably in the range of 1.0 W to 5.0 W, and more preferably in the range of 3.0 W to 4.0 W. The repetition frequency of the laser light is preferably in the range of 20 kHz to 60 kHz, and more preferably in the range of 30 kHz to 50 kHz. The wavelength of the laser light is preferably 300 nm or more and 700 nm or less, and more preferably 450 nm or more and 650 nm or less. According to such conditions, the energy of the pulsed light applied to the separation layer 2 can be set to an appropriate condition for altering the separation layer 2. For this reason, it is possible to prevent the substrate 4 from being damaged by the laser light.

また、パルス光のビームスポット径及びパルス光の照射ピッチは、隣接するビームスポットが重ならず、かつ分離層4を変質させることが可能なピッチであればよい。   The beam spot diameter of the pulsed light and the irradiation pitch of the pulsed light may be any pitch as long as adjacent beam spots do not overlap and can change the separation layer 4.

[積層体の各構成]
次に、図1の積層体100、及び図2の積層体200の各構成について説明する。
[Each component of the laminate]
Next, each structure of the laminated body 100 of FIG. 1 and the laminated body 200 of FIG. 2 is demonstrated.

(支持体)
支持体は、基板を支持する部材であり、接着層を介して支持体上に基板が固定される。図2の例では、支持体12は、支持基体1と、支持基体1上に設けられた分離層2と、を備えている。なお、分離層2を設けない場合には、支持基体1が支持体となる。
(Support)
The support is a member that supports the substrate, and the substrate is fixed on the support through an adhesive layer. In the example of FIG. 2, the support 12 includes a support base 1 and a separation layer 2 provided on the support base 1. In the case where the separation layer 2 is not provided, the support base 1 serves as a support.

〔支持基体〕
支持基体は、光を透過する特性を有し、基板を支持する部材である。図2のように分離層を設ける場合、支持基体は、分離層及び接着層を介して基板に貼り合わされる。分離層を設けない場合には、支持基体は、接着層を介して基板に貼り合される。そのため、支持基体としては、デバイスの薄化、基板の搬送、基板への実装等の際に、基板の破損又は変形を防ぐために必要な強度を有していることが好ましい。また、支持基体は、分離層を変質させることができる波長の光を透過するものが好ましい。
支持基体の材料としては、例えば、ガラス、シリコン、アクリル系樹脂等が用いられる。支持基体の形状としては、例えば矩形、円形等が挙げられるが、これに限定されない。
また、支持基体としては、さらなる高密度集積化や生産効率の向上のために、円形である支持基体のサイズを大型化したもの、平面視における形状が四角形である大型パネルを用いることもできる。
[Support substrate]
The support substrate is a member that has a property of transmitting light and supports the substrate. In the case where a separation layer is provided as shown in FIG. 2, the support substrate is bonded to the substrate via the separation layer and the adhesive layer. When the separation layer is not provided, the support base is bonded to the substrate through the adhesive layer. Therefore, it is preferable that the supporting base has a strength necessary for preventing breakage or deformation of the substrate when the device is thinned, the substrate is transported, or mounted on the substrate. Further, the support substrate is preferably one that transmits light having a wavelength that can alter the separation layer.
For example, glass, silicon, acrylic resin, or the like is used as the material for the support base. Examples of the shape of the support base include, but are not limited to, a rectangle and a circle.
In addition, as the support base, a circular support base having a large size or a large panel having a square shape in plan view can be used for further high density integration and improvement of production efficiency.

〔分離層〕
分離層は、接着層に隣接し、光の照射により変質して、支持体に貼り合わされる基板から支持基体を分離可能とする層である。
この分離層は、後述の分離層形成用組成物を用いて形成することができ、例えば、分離層形成用組成物が含有する成分を焼成することにより、又は化学気相堆積(CVD)法により形成される。この分離層は、支持基体を透過して照射される光を吸収することによって好適に変質する。
分離層は、光を吸収する材料のみから形成されていることが好ましいが、本発明における本質的な特性を損なわない範囲で、光を吸収する構造を有していない材料が配合された層であってもよい。
(Separation layer)
The separation layer is a layer that is adjacent to the adhesive layer and is denatured by light irradiation so that the support substrate can be separated from the substrate bonded to the support.
This separation layer can be formed using a composition for forming a separation layer described later, for example, by firing components contained in the composition for forming a separation layer, or by chemical vapor deposition (CVD). It is formed. This separation layer is preferably altered by absorbing light irradiated through the support substrate.
The separation layer is preferably formed only from a material that absorbs light, but is a layer that is blended with a material that does not have a structure that absorbs light within a range that does not impair the essential characteristics of the present invention. There may be.

分離層の厚さは、例えば0.05μm以上、50μm以下の範囲内であることが好ましく、0.3μm以上、1μm以下の範囲内であることがより好ましい。分離層の厚さが0.05μm以上、50μm以下の範囲内であれば、短時間の光の照射及び低エネルギーの光の照射によって、分離層に所望の変質を生じさせることができる。また、分離層の厚さは、生産性の観点から1μm以下の範囲内であることが特に好ましい。   The thickness of the separation layer is, for example, preferably in the range of 0.05 μm or more and 50 μm or less, and more preferably in the range of 0.3 μm or more and 1 μm or less. When the thickness of the separation layer is in the range of 0.05 μm or more and 50 μm or less, desired alteration can be caused in the separation layer by short-time light irradiation and low-energy light irradiation. The thickness of the separation layer is particularly preferably in the range of 1 μm or less from the viewpoint of productivity.

分離層は、接着層に接する側の面が平坦である(凹凸が形成されていない)ことが好ましく、これにより、接着層の形成が容易に行え、かつ、基板又は配線層と、支持基体とを均一に貼り付けることが容易となる。   The separation layer preferably has a flat surface on the side in contact with the adhesive layer (no irregularities are formed), whereby the adhesive layer can be easily formed, and the substrate or wiring layer, the supporting substrate, It becomes easy to affix evenly.

・分離層形成用組成物
分離層を形成するための材料である分離層形成用組成物は、例えば、フルオロカーボン、光吸収性を有している構造を含む繰り返し単位を有する重合体、無機物、赤外線吸収性の構造を有する化合物、赤外線吸収物質、反応性ポリシルセスキオキサン、又はフェノール骨格を有する樹脂成分を含有するものが挙げられる。
また、分離層形成用組成物は、任意成分としてフィラー、可塑剤、熱酸発生剤成分、光酸発生剤成分、有機溶剤成分、界面活性剤、増感剤、又は支持基体の分離性を向上し得る成分等を含有してもよい。
-Composition for forming separation layer The composition for forming a separation layer, which is a material for forming the separation layer, is, for example, a fluorocarbon, a polymer having a repeating unit containing a light-absorbing structure, an inorganic substance, an infrared ray Examples include compounds having an absorptive structure, infrared absorbing substances, reactive polysilsesquioxanes, or resin components having a phenol skeleton.
In addition, the composition for forming the separation layer improves the separation of the filler, plasticizer, thermal acid generator component, photoacid generator component, organic solvent component, surfactant, sensitizer, or supporting substrate as an optional component. May contain components that can be used.

・・フルオロカーボン
分離層は、フルオロカーボンを含有していてもよい。フルオロカーボンによって構成される分離層は、光を吸収することで変質するようになっており、その結果、光の照射を受ける前の強度又は接着性を失う。よって、わずかな外力を加える(例えば、支持体を持ち上げる等)ことによって、分離層が破壊されて、支持体と、基板又は配線層とを分離し易くすることができる。分離層を構成するフルオロカーボンは、プラズマCVD法によって好適に成膜することができる。
フルオロカーボンは、その種類によって固有の範囲の波長を有する光を吸収する。分離層に用いたフルオロカーボンが吸収する範囲の波長の光を分離層に照射することにより、フルオロカーボンを好適に変質させ得る。分離層における光の吸収率は、80%以上であることが好ましい。
..Fluorocarbon The separation layer may contain a fluorocarbon. The separation layer made of fluorocarbon is altered by absorbing light, and as a result, loses strength or adhesiveness before receiving light irradiation. Therefore, by applying a slight external force (for example, lifting the support), the separation layer is broken, and the support and the substrate or the wiring layer can be easily separated. The fluorocarbon constituting the separation layer can be suitably formed by a plasma CVD method.
The fluorocarbon absorbs light having a wavelength in a specific range depending on the type. By irradiating the separation layer with light having a wavelength within a range that is absorbed by the fluorocarbon used in the separation layer, the fluorocarbon can be suitably altered. The light absorption rate in the separation layer is preferably 80% or more.

分離層に照射する光としては、フルオロカーボンが吸収可能な波長に応じて、例えば、YAGレーザ、ルビーレーザ、ガラスレーザ、YVOレーザ、LDレーザ、ファイバーレーザ等の固体レーザ、色素レーザ等の液体レーザ、COレーザ、エキシマレーザ、Arレーザ、He−Neレーザ等の気体レーザ、半導体レーザ、自由電子レーザ等のレーザ光、又は非レーザ光を適宜用いればよい。フルオロカーボンを変質させ得る波長としては、例えば600nm以下の範囲の波長を用いることができる。 As light to irradiate the separation layer, depending on the wavelength that can be absorbed by the fluorocarbon, for example, YAG laser, ruby laser, glass laser, YVO 4 laser, LD laser, liquid laser such as fiber laser, liquid laser such as dye laser, etc. A gas laser such as a CO 2 laser, an excimer laser, an Ar laser, or a He—Ne laser, a laser beam such as a semiconductor laser or a free electron laser, or a non-laser beam may be used as appropriate. As a wavelength that can alter the fluorocarbon, for example, a wavelength in the range of 600 nm or less can be used.

・・光吸収性を有している構造を含む繰り返し単位を有する重合体
分離層は、光吸収性を有している構造を含む繰り返し単位を有する重合体を含有していてもよい。該重合体は、光の照射を受けて変質する。
光吸収性を有している構造は、例えば、置換若しくは非置換のベンゼン環、縮合環又は複素環からなる共役π電子系を含む原子団が挙げられる。光吸収性を有している構造は、より具体的には、カルド構造、又は該重合体の側鎖に存在するベンゾフェノン構造、ジフェニルスルフォキシド構造、ジフェニルスルホン構造(ビスフェニルスルホン構造)、ジフェニル構造若しくはジフェニルアミン構造が挙げられる。
上記の光吸収性を有している構造は、その種類に応じて、所望の範囲の波長を有している光を吸収することができる。例えば、上記の光吸収性を有している構造が吸収可能な光の波長は、100〜2000nmの範囲内であることが好ましく、100〜500nmの範囲内であることがより好ましい。
-The polymer which has a repeating unit containing the structure which has a light absorptivity The separation layer may contain the polymer which has a repeating unit containing the structure which has a light absorptivity. The polymer is altered by irradiation with light.
Examples of the structure having light absorption include an atomic group including a conjugated π electron system composed of a substituted or unsubstituted benzene ring, condensed ring, or heterocyclic ring. More specifically, the light-absorbing structure is a cardo structure, or a benzophenone structure, diphenyl sulfoxide structure, diphenyl sulfone structure (bisphenyl sulfone structure), diphenyl present in the side chain of the polymer. Structure or diphenylamine structure.
The light absorbing structure can absorb light having a wavelength in a desired range depending on the type of the structure. For example, the wavelength of light that can be absorbed by the light-absorbing structure is preferably in the range of 100 to 2000 nm, and more preferably in the range of 100 to 500 nm.

上記の光吸収性を有している構造が吸収可能な光は、例えば、高圧水銀ランプ(波長254nm以上、436nm以下)、KrFエキシマレーザ(波長248nm)、ArFエキシマレーザ(波長193nm)、Fエキシマレーザ(波長157nm)、XeClレーザ(波長308nm)、XeFレーザ(波長351nm)若しくは固体UVレーザ(波長355nm)から発せられる光、又はg線(波長436nm)、h線(波長405nm)若しくはi線(波長365nm)等である。 The light that can be absorbed by the light absorbing structure is, for example, a high-pressure mercury lamp (wavelength 254 nm or more and 436 nm or less), a KrF excimer laser (wavelength 248 nm), an ArF excimer laser (wavelength 193 nm), or F 2. Light emitted from an excimer laser (wavelength 157 nm), XeCl laser (wavelength 308 nm), XeF laser (wavelength 351 nm) or solid-state UV laser (wavelength 355 nm), or g-line (wavelength 436 nm), h-line (wavelength 405 nm) or i-line (Wavelength 365 nm).

・・無機物
分離層は、無機物からなるものであってもよい。この無機物は、光を吸収することによって変質するものであればよく、例えば、金属、金属化合物及びカーボンからなる群より選択される1種類以上が好適に挙げられる。金属化合物とは、金属原子を含む化合物であり、例えば金属酸化物、金属窒化物が挙げられる。
このような無機物としては、金、銀、銅、鉄、ニッケル、アルミニウム、チタン、クロム、SiO、SiN、Si、TiN、及びカーボンからなる群より選ばれる1種類以上が挙げられる。
尚、カーボンとは、炭素の同素体も含まれ得る概念であり、例えばダイヤモンド、フラーレン、ダイヤモンドライクカーボン、カーボンナノチューブ等を包含する。
上記無機物は、その種類によって固有の範囲の波長を有する光を吸収する。
..Inorganic substance The separation layer may be made of an inorganic substance. The inorganic material may be any material that can be altered by absorbing light. For example, one or more types selected from the group consisting of metals, metal compounds, and carbon are preferable. A metal compound is a compound containing a metal atom, for example, a metal oxide and a metal nitride.
Examples of such an inorganic material include one or more selected from the group consisting of gold, silver, copper, iron, nickel, aluminum, titanium, chromium, SiO 2 , SiN, Si 3 N 4 , TiN, and carbon.
Carbon is a concept that may include allotropes of carbon, and includes, for example, diamond, fullerene, diamond-like carbon, carbon nanotubes, and the like.
The inorganic material absorbs light having a wavelength in a specific range depending on the type.

無機物からなる分離層に照射する光としては、上記無機物が吸収可能な波長に応じて、例えば、YAGレーザ、ルビーレーザ、ガラスレーザ、YVOレーザ、LDレーザ、ファイバーレーザ等の固体レーザ、色素レーザ等の液体レーザ、COレーザ、エキシマレーザ、Arレーザ、He−Neレーザ等の気体レーザ、半導体レーザ、自由電子レーザ等のレーザ光、又は非レーザ光を適宜用いればよい。
無機物からなる分離層は、例えばスパッタ、化学蒸着(CVD)、メッキ、プラズマCVD、スピンコート等の公知の技術により、支持基体上に形成され得る。
The light applied to the separation layer made of an inorganic material may be, for example, a solid-state laser such as a YAG laser, a ruby laser, a glass laser, a YVO 4 laser, an LD laser, or a fiber laser, or a dye laser, depending on the wavelength that the inorganic material can absorb. For example, a liquid laser such as a CO 2 laser, an excimer laser, an Ar laser, a He—Ne laser, or a laser beam such as a semiconductor laser or a free electron laser, or a non-laser beam may be used as appropriate.
The separation layer made of an inorganic material can be formed on the support substrate by a known technique such as sputtering, chemical vapor deposition (CVD), plating, plasma CVD, spin coating, or the like.

・・赤外線吸収性の構造を有する化合物
分離層は、赤外線吸収性の構造を有する化合物を含有していてもよい。この、赤外線吸収性の構造を有する化合物は、赤外線を吸収することにより変質する。
赤外線吸収性を有している構造、又はこの構造を有する化合物としては、例えば、アルカン、アルケン(ビニル、トランス、シス、ビニリデン、三置換、四置換、共役、クムレン、環式)、アルキン(一置換、二置換)、単環式芳香族(ベンゼン、一置換、二置換、三置換)、アルコールもしくはフェノール類(自由OH、分子内水素結合、分子間水素結合、飽和第二級、飽和第三級、不飽和第二級、不飽和第三級)、アセタール、ケタール、脂肪族エーテル、芳香族エーテル、ビニルエーテル、オキシラン環エーテル、過酸化物エーテル、ケトン、ジアルキルカルボニル、芳香族カルボニル、1,3−ジケトンのエノール、o−ヒドロキシアリールケトン、ジアルキルアルデヒド、芳香族アルデヒド、カルボン酸(二量体、カルボン酸アニオン)、ギ酸エステル、酢酸エステル、共役エステル、非共役エステル、芳香族エステル、ラクトン(β−、γ−、δ−)、脂肪族酸塩化物、芳香族酸塩化物、酸無水物(共役、非共役、環式、非環式)、第一級アミド、第二級アミド、ラクタム、第一級アミン(脂肪族、芳香族)、第二級アミン(脂肪族、芳香族)、第三級アミン(脂肪族、芳香族)、第一級アミン塩、第二級アミン塩、第三級アミン塩、アンモニウムイオン、脂肪族ニトリル、芳香族ニトリル、カルボジイミド、脂肪族イソニトリル、芳香族イソニトリル、イソシアン酸エステル、チオシアン酸エステル、脂肪族イソチオシアン酸エステル、芳香族イソチオシアン酸エステル、脂肪族ニトロ化合物、芳香族ニトロ化合物、ニトロアミン、ニトロソアミン、硝酸エステル、亜硝酸エステル、ニトロソ結合(脂肪族、芳香族、単量体、二量体)、メルカプタンもしくはチオフェノールもしくはチオール酸等の硫黄化合物、チオカルボニル基、スルホキシド、スルホン、塩化スルホニル、第一級スルホンアミド、第二級スルホンアミド、硫酸エステル、炭素−ハロゲン結合、Si−A結合(Aは、H、C、O又はハロゲン)、P−A結合(Aは、H、C又はO)又はTi−O結合が挙げられる。
.. Compound having infrared absorbing structure The separation layer may contain a compound having an infrared absorbing structure. The compound having an infrared absorbing structure is altered by absorbing infrared rays.
Examples of structures having infrared absorptivity or compounds having this structure include alkanes, alkenes (vinyl, trans, cis, vinylidene, trisubstituted, tetrasubstituted, conjugated, cumulene, cyclic), alkynes (one Substituted, disubstituted), monocyclic aromatics (benzene, monosubstituted, disubstituted, trisubstituted), alcohols or phenols (free OH, intramolecular hydrogen bonding, intermolecular hydrogen bonding, saturated secondary, saturated third Grade, unsaturated secondary, unsaturated tertiary), acetal, ketal, aliphatic ether, aromatic ether, vinyl ether, oxirane ether, peroxide ether, ketone, dialkylcarbonyl, aromatic carbonyl, 1,3 -Diketone enol, o-hydroxy aryl ketone, dialkyl aldehyde, aromatic aldehyde, carboxylic acid (dimer, carboxylic acid anion) ), Formic acid ester, acetic acid ester, conjugated ester, non-conjugated ester, aromatic ester, lactone (β-, γ-, δ-), aliphatic acid chloride, aromatic acid chloride, acid anhydride (conjugated, Non-conjugated, cyclic, acyclic), primary amide, secondary amide, lactam, primary amine (aliphatic, aromatic), secondary amine (aliphatic, aromatic), tertiary Amine (aliphatic, aromatic), primary amine salt, secondary amine salt, tertiary amine salt, ammonium ion, aliphatic nitrile, aromatic nitrile, carbodiimide, aliphatic isonitrile, aromatic isonitrile, isocyanic acid Ester, thiocyanate ester, aliphatic isothiocyanate ester, aromatic isothiocyanate ester, aliphatic nitro compound, aromatic nitro compound, nitroamine, nitrosamine, nitrate ester, Acid ester, nitroso bond (aliphatic, aromatic, monomer, dimer), sulfur compound such as mercaptan or thiophenol or thiolic acid, thiocarbonyl group, sulfoxide, sulfone, sulfonyl chloride, primary sulfonamide, Secondary sulfonamide, sulfate ester, carbon-halogen bond, Si-A 1 bond (A 1 is H, C, O or halogen), P-A 2 bond (A 2 is H, C or O) or Ti-O bond is mentioned.

上記の炭素−ハロゲン結合を含む構造としては、例えば−CHCl、−CHBr、−CHI、−CF−、−CF、−CH=CF、−CF=CF、フッ化アリール又は塩化アリール等が挙げられる。 As a structure containing halogen bond, for example -CH 2 Cl, -CH 2 Br, -CH 2 I, -CF 2 - - Additional carbon, - CF 3, -CH = CF 2, -CF = CF 2, fluoride Aryl chloride or aryl chloride.

上記のSi−A結合を含む構造としては、例えば、SiH、SiH、SiH、Si−CH、Si−CH−、Si−C、SiO−脂肪族、Si−OCH、Si−OCHCH、Si−OC、Si−O−Si、Si−OH、SiF、SiF又はSiF等が挙げられる。Si−A結合を含む構造としては、特に、シロキサン骨格又はシルセスキオキサン骨格を形成していることが好ましい。 Examples of the structure including the Si—A 1 bond include SiH, SiH 2 , SiH 3 , Si—CH 3 , Si—CH 2 —, Si—C 6 H 5 , SiO—aliphatic, and Si—OCH 3. , Si-OCH 2 CH 3, Si-OC 6 H 5, Si-O-Si, Si-OH, SiF, etc. SiF 2 or SiF 3 and the like. As a structure including a Si—A 1 bond, it is particularly preferable to form a siloxane skeleton or a silsesquioxane skeleton.

上記のP−A結合を含む構造としては、例えば、PH、PH、P−CH、P−CH−、P−C、A −P−O(Aは脂肪族基又は芳香族基)、(AO)−P−O(Aはアルキル基)、P−OCH、P−OCHCH、P−OC、P−O−P、P−OH又はO=P−OH等が挙げられる。 Examples of the structure including the P—A 2 bond include PH, PH 2 , P—CH 3 , P—CH 2 —, P—C 6 H 5 , A 3 3 —PO— (A 3 is a fatty acid). group or aromatic group), (A 4 O) 3 -P-O (A 4 is an alkyl group), P-OCH 3, P -OCH 2 CH 3, P-OC 6 H 5, P-O-P , P—OH or O═P—OH.

上記のTi−O結合を含む化合物としては、例えば、(i)テトラ−i−プロポキシチタン、テトラ−n−ブトキシチタン、テトラキス(2−エチルヘキシルオキシ)チタン又はチタニウム−i−プロポキシオクチレングリコレート等のアルコキシチタン;(ii)ジ−i−プロポキシ・ビス(アセチルアセトナト)チタン又はプロパンジオキシチタンビス(エチルアセトアセテート)等のキレートチタン;(iii)i−CO−[−Ti(O−i−C−O−]−i−C又はn−CO−[−Ti(O−n−C−O−]−n−C等のチタンポリマー;(iv)トリ−n−ブトキシチタンモノステアレート、チタニウムステアレート、ジ−i−プロポキシチタンジイソステアレート又は(2−n−ブトキシカルボニルベンゾイルオキシ)トリブトキシチタン等のアシレートチタン;(v)ジ−n−ブトキシ・ビス(トリエタノールアミナト)チタン等の水溶性チタン化合物等が挙げられる。
これらの中でも、Ti−O結合を含む化合物としては、ジ−n−ブトキシ・ビス(トリエタノールアミナト)チタン(Ti(OC[OCN(COH))が好ましい。
Examples of the compound containing the Ti—O bond include (i) tetra-i-propoxytitanium, tetra-n-butoxytitanium, tetrakis (2-ethylhexyloxy) titanium, titanium-i-propoxyoctylene glycolate, and the like. (Ii) chelating titanium such as di-i-propoxy bis (acetylacetonato) titanium or propanedioxytitanium bis (ethylacetoacetate); (iii) i-C 3 H 7 O — [— Ti ( O-i-C 3 H 7 ) 2 -O-] n -i-C 3 H 7 or n-C 4 H 9 O - [- Ti (O-n-C 4 H 9) 2 -O-] n -n-C 4 titanium polymers such as H 9; (iv) tri -n- butoxy titanium monostearate, titanium stearate, di -i- propoxytitanium diisopropyl Sos Areto or (2-n-butoxycarbonyl benzoyloxy) tributoxy acylate titanium such as titanium; (v) di -n- butoxy bis (triethanolaminato) a water-soluble titanium compound such as titanium, and the like.
Among these, as a compound containing a Ti—O bond, di-n-butoxy bis (triethanolaminato) titanium (Ti (OC 4 H 9 ) 2 [OC 2 H 4 N (C 2 H 4 OH)] 2 ] 2 ) is preferred.

上記の赤外線吸収性の構造は、その種類の選択によって、所望の範囲の波長を有している赤外線を吸収することができる。具体的には、上記の赤外線吸収性の構造が吸収可能な赤外線の波長は、例えば1〜20μmの範囲内であり、2〜15μmの範囲内をより好適に吸収することができる。
さらに、上記構造がSi−O結合、Si−C結合又はTi−O結合である場合には、9〜11μmの範囲内が好ましい。
The above infrared-absorbing structure can absorb infrared rays having a wavelength in a desired range by selecting the type. Specifically, the wavelength of infrared rays that can be absorbed by the above infrared-absorbing structure is, for example, in the range of 1 to 20 μm, and more preferably in the range of 2 to 15 μm.
Furthermore, when the said structure is a Si-O bond, a Si-C bond, or a Ti-O bond, the inside of the range of 9-11 micrometers is preferable.

尚、上記の各構造が吸収できる赤外線の波長は、当業者であれば容易に理解することができる。例えば、各構造における吸収帯として、非特許文献:SILVERSTEIN・BASSLER・MORRILL著「有機化合物のスペクトルによる同定法(第5版)−MS、IR、NMR、UVの併用−」(1992年発行)第146頁から第151頁の記載を参照することができる。   In addition, those skilled in the art can easily understand the wavelength of infrared rays that can be absorbed by each of the above structures. For example, as an absorption band in each structure, Non-Patent Document: SILVERSTEIN / BASSLER / MORRILL, “Identification method by spectrum of organic compound (5th edition) —Combination of MS, IR, NMR and UV” (published in 1992) The description on pages 146 to 151 can be referred to.

分離層の形成に用いられる、赤外線吸収性の構造を有する化合物としては、上述のような構造を有している化合物のうち、塗布のために溶媒に溶解することができ、固化して固層を形成することができるものであれば、特に限定されるものではない。しかしながら、分離層における化合物を効果的に変質させ、支持基体と基板との分離を容易にするには、分離層における赤外線の吸収が大きいこと、すなわち、分離層に赤外線を照射したときの赤外線の透過率が低いことが好ましい。具体的には、分離層における赤外線の透過率が90%より低いことが好ましく、赤外線の透過率が80%より低いことがより好ましい。   As a compound having an infrared-absorbing structure used for forming the separation layer, among the compounds having the structure as described above, it can be dissolved in a solvent for coating and solidified into a solid layer. If it can form, it will not be specifically limited. However, in order to effectively alter the compound in the separation layer and facilitate separation of the support substrate and the substrate, the absorption of infrared rays in the separation layer is large, that is, the infrared rays when the separation layer is irradiated with infrared rays. It is preferable that the transmittance is low. Specifically, the infrared transmittance in the separation layer is preferably lower than 90%, and the infrared transmittance is more preferably lower than 80%.

・・赤外線吸収物質
分離層は、赤外線吸収物質を含有していてもよい。この赤外線吸収物質は、光を吸収することによって変質するものであればよく、例えば、カーボンブラック、鉄粒子、又はアルミニウム粒子を好適に用いることができる。
赤外線吸収物質は、その種類によって固有の範囲の波長を有する光を吸収する。分離層に用いた赤外線吸収物質が吸収する範囲の波長の光を分離層に照射することにより、赤外線吸収物質を好適に変質させ得る。
..Infrared absorbing substance The separation layer may contain an infrared absorbing substance. The infrared absorbing material only needs to be altered by absorbing light. For example, carbon black, iron particles, or aluminum particles can be suitably used.
The infrared absorbing material absorbs light having a wavelength in a specific range depending on the type. By irradiating the separation layer with light having a wavelength within a range that is absorbed by the infrared absorbing material used in the separation layer, the infrared absorbing material can be suitably altered.

・・反応性ポリシルセスキオキサン
分離層は、反応性ポリシルセスキオキサンを重合させることにより形成することができる。これにより形成される分離層は、高い耐薬品性と高い耐熱性とを備えている。
.. Reactive polysilsesquioxane The separation layer can be formed by polymerizing reactive polysilsesquioxane. The separation layer formed thereby has high chemical resistance and high heat resistance.

「反応性ポリシルセスキオキサン」とは、ポリシルセスキオキサン骨格の末端にシラノール基、又は、加水分解することによってシラノール基を形成することができる官能基を有するポリシルセスキオキサンをいう。当該シラノール基、又はシラノール基を形成することができる官能基を縮合することによって、互いに重合することができる。また、反応性ポリシルセスキオキサンは、シラノール基、又は、シラノール基を形成することができる官能基を有していれば、ランダム構造、籠型構造、ラダー構造等のシルセスキオキサン骨格を備えている反応性ポリシルセスキオキサンを採用することができる。   “Reactive polysilsesquioxane” refers to a polysilsesquioxane having a silanol group at the end of a polysilsesquioxane skeleton or a functional group capable of forming a silanol group by hydrolysis. . By condensing the silanol groups or functional groups capable of forming silanol groups, they can be polymerized with each other. The reactive polysilsesquioxane has a silsesquioxane skeleton such as a random structure, a cage structure, and a ladder structure as long as it has a silanol group or a functional group capable of forming a silanol group. The reactive polysilsesquioxane provided can be employed.

反応性ポリシルセスキオキサンのシロキサン含有量は、70〜99モル%であることが好ましく、80〜99モル%であることがより好ましい。
反応性ポリシルセスキオキサンのシロキサン含有量が、前記の好ましい範囲内であれば、赤外線(好ましくは遠赤外線、より好ましくは波長9〜11μmの光)を照射することによって好適に変質させることができる分離層を形成することができる。
The siloxane content of the reactive polysilsesquioxane is preferably 70 to 99 mol%, and more preferably 80 to 99 mol%.
If the siloxane content of the reactive polysilsesquioxane is within the above preferred range, it can be suitably altered by irradiating with infrared rays (preferably far infrared rays, more preferably light with a wavelength of 9 to 11 μm). Possible separation layers can be formed.

反応性ポリシルセスキオキサンの重量平均分子量(Mw)は、500〜50000であることが好ましく、1000〜10000であることがより好ましい。
反応性ポリシルセスキオキサンの重量平均分子量(Mw)が、前記の好ましい範囲内であれば、溶剤に好適に溶解させることができ、サポートプレート上に好適に塗布することができる。
The weight average molecular weight (Mw) of the reactive polysilsesquioxane is preferably 500 to 50,000, and more preferably 1000 to 10,000.
When the weight average molecular weight (Mw) of the reactive polysilsesquioxane is within the above preferred range, it can be suitably dissolved in a solvent and can be suitably applied on a support plate.

反応性ポリシルセスキオキサンとして用いることができる市販品としては、例えば、小西化学工業株式会社製のSR−13、SR−21、SR−23又はSR−33(商品名)等を挙げられる。   Examples of commercially available products that can be used as reactive polysilsesquioxane include SR-13, SR-21, SR-23, or SR-33 (trade name) manufactured by Konishi Chemical Co., Ltd.

・・フェノール骨格を有する樹脂成分
分離層は、フェノール骨格を有する樹脂成分を含有していてもよい。フェノール骨格を有することで、加熱等により容易に変質(酸化等)して光反応性が高まる。
ここでいう「フェノール骨格を有する」とは、ヒドロキシベンゼン構造を含んでいることを意味する。
フェノール骨格を有する樹脂成分は、膜形成能を有し、好ましくは分子量が1000以上である。当該樹脂成分の分子量が1000以上であることにより、膜形成能が向上する。当該樹脂成分の分子量は、1000〜30000がより好ましく、1500〜20000がさらに好ましく、2000〜15000が特に好ましい。当該樹脂成分の分子量が、前記の好ましい範囲の上限値以下であることにより、分離層形成用組成物の溶媒に対する溶解性が高められる。
尚、樹脂成分の分子量としては、GPC(ゲルパーミエーションクロマトグラフィー)によるポリスチレン換算の重量平均分子量(Mw)を用いるものとする。
.. Resin component having phenol skeleton The separation layer may contain a resin component having a phenol skeleton. By having a phenol skeleton, it is easily altered (oxidized or the like) by heating or the like, and the photoreactivity is increased.
As used herein, “having a phenol skeleton” means containing a hydroxybenzene structure.
The resin component having a phenol skeleton has a film forming ability, and preferably has a molecular weight of 1000 or more. When the molecular weight of the resin component is 1000 or more, the film forming ability is improved. The molecular weight of the resin component is more preferably 1000 to 30000, further preferably 1500 to 20000, and particularly preferably 2000 to 15000. When the molecular weight of the resin component is not more than the upper limit of the above preferred range, the solubility of the composition for forming a separation layer in a solvent is enhanced.
In addition, as a molecular weight of a resin component, the weight average molecular weight (Mw) of polystyrene conversion by GPC (gel permeation chromatography) shall be used.

フェノール骨格を有する樹脂成分としては、例えばノボラック型フェノール樹脂、レゾール型フェノール樹脂、ヒドロキシスチレン樹脂、ヒドロキシフェニルシルセスキオキサン樹脂、ヒドロキシベンジルシルセスキオキサン樹脂、フェノール骨格含有アクリル樹脂、後述の一般式(P2)で表される繰り返し単位を有する樹脂等が挙げられる。これらの中でも、ノボラック型フェノール樹脂、レゾール型フェノール樹脂がより好ましい。   Examples of the resin component having a phenol skeleton include novolak type phenol resin, resol type phenol resin, hydroxystyrene resin, hydroxyphenylsilsesquioxane resin, hydroxybenzylsilsesquioxane resin, phenol skeleton-containing acrylic resin, and a general formula described later. Examples thereof include a resin having a repeating unit represented by (P2). Among these, novolac type phenol resins and resol type phenol resins are more preferable.

(接着層)
図1の積層体100、及び図2の積層体200における接着層3は、上記<剥離用組成物>の≪接着剤≫で説明した接着剤の乾燥体であることが好ましい。より具体的には、接着剤は、マレイミド骨格を含む単量体から誘導される構成単位を有するポリマーを含有することが好ましく、水添スチレン系エラストマーをさらに含有することがより好ましい。接着層3の厚さは、例えば1μm以上、200μm以下の範囲内であることが好ましく、5μm以上、150μm以下の範囲内であることがより好ましい。
(Adhesive layer)
The adhesive layer 3 in the laminate 100 in FIG. 1 and the laminate 200 in FIG. 2 is preferably a dry product of the adhesive described in the “Adhesive” of the above <Peeling composition>. More specifically, the adhesive preferably contains a polymer having a structural unit derived from a monomer containing a maleimide skeleton, and more preferably contains a hydrogenated styrene elastomer. The thickness of the adhesive layer 3 is, for example, preferably in the range of 1 μm to 200 μm, and more preferably in the range of 5 μm to 150 μm.

(デバイス層)
デバイス層は、金属又は半導体により構成される部材と、前記部材を封止又は絶縁する樹脂と、の複合体である。具体的には、デバイス層は、封止材層及び配線層の少なくとも一方を含み、さらに基板を含むことができる。
図1に示す積層体100、及び図2に示す積層体200では、デバイス層456は、基板4と封止材層5、及び配線層6により構成されている。
(Device layer)
The device layer is a composite of a member made of metal or semiconductor and a resin that seals or insulates the member. Specifically, the device layer includes at least one of a sealing material layer and a wiring layer, and can further include a substrate.
In the stacked body 100 illustrated in FIG. 1 and the stacked body 200 illustrated in FIG. 2, the device layer 456 includes the substrate 4, the sealing material layer 5, and the wiring layer 6.

〔基板〕
基板(ベアチップ)は、支持体に支持された状態で、薄化、実装等のプロセスに供される。基板には、例えば集積回路や金属バンプ等の構造物が実装される。
基板としては、典型的には、シリコンウェーハ基板が用いられるが、これに限定されず、セラミックス基板、薄いフィルム基板、フレキシブル基板等を用いてもよい。
〔substrate〕
The substrate (bare chip) is subjected to processes such as thinning and mounting while being supported by the support. For example, a structure such as an integrated circuit or a metal bump is mounted on the substrate.
As the substrate, a silicon wafer substrate is typically used, but is not limited thereto, and a ceramic substrate, a thin film substrate, a flexible substrate, or the like may be used.

基板は、半導体素子又はその他素子であってもよく、単層又は複数層の構造を有し得る。尚、基板が半導体素子である場合、デバイス層をダイシングすることにより得られる電子部品は半導体装置となる。好ましくは、基板は半導体素子である。   The substrate may be a semiconductor element or other element, and may have a single-layer or multi-layer structure. When the substrate is a semiconductor element, the electronic component obtained by dicing the device layer is a semiconductor device. Preferably, the substrate is a semiconductor element.

〔封止材層〕
封止材層は、基板を封止するために設けられるものであり、封止材を用いて形成される。封止材には、金属又は半導体により構成される部材を、絶縁又は封止の可能な部材が用いられる。封止材には樹脂を用いてもよい。封止材に用いられる樹脂は、金属又は半導体を、封止及び/又は絶縁の可能なものであれば、特に限定されないが、例えば、エポキシ樹脂、ポリイミド等が挙げられる。
封止材は、樹脂のほか、フィラー等の他の成分を含んでいてもよい。フィラーとしては、例えば、球状シリカ粒子等が挙げられる。
(Encapsulant layer)
The sealing material layer is provided to seal the substrate and is formed using a sealing material. As the sealing material, a member that can insulate or seal a member made of metal or semiconductor is used. A resin may be used for the sealing material. Although resin used for a sealing material will not be specifically limited if a metal or a semiconductor can be sealed and / or insulated, For example, an epoxy resin, a polyimide, etc. are mentioned.
The sealing material may contain other components such as a filler in addition to the resin. Examples of the filler include spherical silica particles.

〔配線層〕
配線層は、RDL(Redistribution Layer:再配線層)とも呼ばれ、基板に接続する配線を構成する薄膜の配線体であり、単層又は複数層の構造を有し得る。配線層は、パターン化された樹脂材料(感光性を有するポリイミドや、感光性を有するアクリル樹脂等)の間に導電体(例えば、アルミニウム、銅、チタン、ニッケル、金及び銀等の金属並びに銀−錫合金等の合金)によって配線が形成されたものであり得るが、これに限定されない。
(Wiring layer)
The wiring layer is also referred to as RDL (Redistribution Layer) and is a thin-film wiring body that forms a wiring connected to the substrate, and may have a single-layer or multi-layer structure. The wiring layer is made of a conductive material (for example, aluminum, copper, titanium, nickel, gold and silver, and silver) between patterned resin materials (such as photosensitive polyimide and photosensitive acrylic resin). The wiring may be formed by an alloy such as a tin alloy), but is not limited thereto.

なお、図2の積層体200では、支持基体1と分離層2とが隣接しているが、これに限定されず、支持基体1と分離層2との間に他の層がさらに形成されていてもよい。この場合、他の層は、光を透過する材料から構成されていればよい。これによれば、分離層2への光の入射を妨げることなく、積層体に好ましい性質等を付与する層を適宜追加できる。分離層2を構成している材料の種類によって、用い得る光の波長が異なる。よって、他の層を構成する材料は、全ての波長の光を透過させる必要はなく、分離層2を構成する材料を変質させ得る波長の光を透過する材料から適宜選択し得る。   In the laminate 200 of FIG. 2, the support base 1 and the separation layer 2 are adjacent to each other, but the present invention is not limited to this, and another layer is further formed between the support base 1 and the separation layer 2. May be. In this case, the other layer should just be comprised from the material which permeate | transmits light. According to this, it is possible to appropriately add a layer that imparts preferable properties and the like to the laminate without hindering the incidence of light on the separation layer 2. The wavelength of light that can be used differs depending on the type of material constituting the separation layer 2. Therefore, the materials constituting the other layers do not need to transmit light of all wavelengths, and can be appropriately selected from materials that transmit light of wavelengths that can alter the material constituting the separation layer 2.

≪第2実施形態≫
本実施形態の接着剤を剥離する方法は、上記の実施形態に限定されない。例えば、支持体が、分離層を備えず、支持基体のみから構成されるものであってもよい。
<< Second Embodiment >>
The method of peeling the adhesive of this embodiment is not limited to said embodiment. For example, the support may not be provided with a separation layer but may be composed only of a support base.

この場合、溶解工程は、例えば、支持基体、接着層、及び基板(デバイス層)がこの順に積層された積層体において、上記第1の態様に係る剥離用組成物を接着層に接触させることによって行う。これによって、第1の態様に係る剥離用組成物により接着層を好適に溶解させて、除去することができる。したがって、積層体が分離層を備えない構成であっても、溶解工程を行なうことによって、支持基体を積層体から分離し、基板から接着剤に由来する残渣を除去することができる。   In this case, the dissolution step is performed, for example, by bringing the peeling composition according to the first aspect into contact with the adhesive layer in the laminate in which the support base, the adhesive layer, and the substrate (device layer) are laminated in this order. Do. Thus, the adhesive layer can be suitably dissolved and removed by the peeling composition according to the first aspect. Therefore, even if the laminate does not include a separation layer, the supporting substrate can be separated from the laminate and the residue derived from the adhesive can be removed from the substrate by performing the dissolving step.

また、例えば、支持基体として、厚さ方向に貫通した複数の貫通孔が設けられている支持基体を用いてもよい。この場合、支持基体に設けられた複数の貫通孔を介して、積層体の接着層に第1の態様に係る剥離用組成物を接触させる工程(溶解工程)を行なうことで、接着層を溶解させ、積層体から支持基体を分離することができる。その後、さらに、基板に残存する接着層に第1の態様に係る剥離用組成物を接触させ、当該接着層を溶解することで、基板から接着剤に由来する残渣を除去することができる。   Further, for example, a support base provided with a plurality of through holes penetrating in the thickness direction may be used as the support base. In this case, the adhesive layer is dissolved by performing a step (dissolution step) of bringing the peeling composition according to the first aspect into contact with the adhesive layer of the laminate through a plurality of through holes provided in the support base. The support substrate can be separated from the laminate. Then, the residue derived from the adhesive agent can be removed from the substrate by further bringing the peeling composition according to the first aspect into contact with the adhesive layer remaining on the substrate and dissolving the adhesive layer.

≪第3実施形態≫
本実施形態の接着剤を剥離する方法は、さらに別の実施形態であってもよい。例えば、積層体における接着層の外周部分の一部をブレード等によって除去し、次に、ブレードによって接着層3を除去した部分にエタノール等の有機溶媒を供給する。その後、例えば、積層体における基板を固定し、支持基体をクランプ等の把持手段によって把持して積層体に力を加えることで、積層体から支持基体を分離してもよい。
<< Third Embodiment >>
Another embodiment may be sufficient as the method of peeling the adhesive agent of this embodiment. For example, a part of the outer peripheral portion of the adhesive layer in the laminate is removed with a blade or the like, and then an organic solvent such as ethanol is supplied to the portion where the adhesive layer 3 is removed with the blade. Thereafter, for example, the support base may be separated from the laminate by fixing the substrate in the laminate, holding the support base with a gripping means such as a clamp, and applying force to the stack.

上記の方法では、ブレードによって接着層を除去した部分にエタノール等の有機溶媒を供給しているため、積層体における接着層の一部が除去された部分の接着性を低下させることができる。このため、当該接着層の一部が除去された部分に力を好適に集中させることができる。   In the above method, since the organic solvent such as ethanol is supplied to the portion where the adhesive layer is removed by the blade, the adhesiveness of the portion where the adhesive layer is partially removed in the laminate can be lowered. For this reason, force can be suitably concentrated on the part from which a part of the adhesive layer has been removed.

また、離型剤を含有する接着剤を用いて接着層を形成することにより、接着層の接着性を調整することもできる。これによって、積層体に過度に力を加えなくても、基板から支持基体を容易に分離することができる。   Moreover, the adhesiveness of an adhesive layer can also be adjusted by forming an adhesive layer using an adhesive containing a release agent. Accordingly, the support base can be easily separated from the substrate without applying excessive force to the laminate.

上記のように積層体から支持基体を分離した後、基板に残存する接着層に第1の態様に係る剥離用組成物を接触させる工程(溶解工程)を行なうことで、接着層を溶解し、基板から接着剤に由来する残渣を除去することができる。   After separating the supporting base from the laminate as described above, the adhesive layer is dissolved by performing a step (dissolution step) of bringing the peeling composition according to the first aspect into contact with the adhesive layer remaining on the substrate, Residues derived from the adhesive can be removed from the substrate.

このように、本実施形態に係る接着剤を剥離する方法は、溶解工程において、接着剤を用いて形成された接着層に第1の態様に係る剥離用組成物を接触させることができれば、基板から支持体(支持基体)を分離する方法は、特に限定されない。   As described above, the method of peeling the adhesive according to the present embodiment can be performed by bringing the peeling composition according to the first aspect into contact with the adhesive layer formed using the adhesive in the dissolving step. The method for separating the support (support substrate) from the substrate is not particularly limited.

<電子部品の製造方法>
本発明の第3の態様は、電子部品の製造方法である。本実施形態の方法は、支持体、接着層、及び基板が、この順で積層された積層体から支持体を分離する分離工程と、前記分離工程の後、前記基板に付着する接着剤に、前記第1の態様に係る剥離用組成物を接触させて、前記接着剤を溶解させる溶解工程と、を含む。
<Method for manufacturing electronic parts>
A third aspect of the present invention is a method for manufacturing an electronic component. In the method of this embodiment, the support, the adhesive layer, and the substrate are separated from the laminate laminated in this order, and the adhesive that adheres to the substrate after the separation step, A dissolving step of bringing the peeling composition according to the first aspect into contact with and dissolving the adhesive.

本実施形態の電子部品の製造方法における分離工程及び溶解工程は、上記<接着剤を剥離する方法>で説明した方法と同様に行うことができる。
以下に、図2に記載の積層体200の製造方法について説明する。
The separation step and the dissolution step in the method for manufacturing an electronic component of the present embodiment can be performed in the same manner as described in the above <Method for peeling adhesive>.
Below, the manufacturing method of the laminated body 200 of FIG. 2 is demonstrated.

図3は、積層体の製造方法の一実施形態の一部を説明する概略工程図である。図3(a)は、支持体を作製する工程を説明する図であり、図3(b)は、接着層形成工程を説明する図である。
図4は、接着層付き支持体123から積層体40を製造する方法の一実施形態を説明する概略工程図である。図4(a)は、接着層付き支持体123を示す図であり、図4(b)は、基板固定工程を示す図であり、図4(c)は、封止工程を説明する図である。
図5は、積層体40から積層体200を製造する方法の一実施形態を説明する概略工程図である。図5(a)は、積層体40を示す図であり、図5(b)は、研削工程を説明する図であり、図5(c)は再配線形成工程を説明する図である。
FIG. 3 is a schematic process diagram for explaining a part of one embodiment of a method for producing a laminate. FIG. 3A is a diagram for explaining a process for producing a support, and FIG. 3B is a diagram for explaining an adhesive layer forming process.
FIG. 4 is a schematic process diagram illustrating one embodiment of a method for producing the laminate 40 from the support 123 with an adhesive layer. 4A is a view showing the support 123 with an adhesive layer, FIG. 4B is a view showing a substrate fixing step, and FIG. 4C is a view for explaining a sealing step. is there.
FIG. 5 is a schematic process diagram for explaining an embodiment of a method for producing the laminate 200 from the laminate 40. FIG. 5A is a diagram illustrating the laminated body 40, FIG. 5B is a diagram illustrating a grinding process, and FIG. 5C is a diagram illustrating a rewiring forming process.

本実施形態の積層体の製造方法においては、分離層形成用組成物として、フルオロカーボンを含有するものが用いられている。また、接着剤として、上述の<剥離用組成物>の≪接着剤≫で説明した接着剤が用いられていることが好ましい。   In the manufacturing method of the laminated body of this embodiment, what contains a fluorocarbon is used as a composition for separated layer formation. Moreover, it is preferable that the adhesive agent demonstrated by << adhesive >> of the above-mentioned <peeling composition> is used as an adhesive agent.

[支持体を作製する工程]
支持体を作製する工程は、支持基体上の一方に、分離層形成用組成物を用いて分離層を形成して、支持体を得る工程である。
図3(a)では、支持基体1上に、分離層形成用組成物(フルオロカーボンを含有するもの)を用いることにより分離層2が形成されている(すなわち、分離層付き支持基体が作製されている)。
[Process for producing support]
The step of producing the support is a step of obtaining a support by forming a separation layer on one side of the support substrate using the composition for forming a separation layer.
In FIG. 3A, the separation layer 2 is formed on the support substrate 1 by using the composition for forming a separation layer (containing a fluorocarbon) (that is, the support substrate with the separation layer is produced). )

支持基体1上への分離層2の形成方法は、特に限定されないが、例えば、スピンコート、ディッピング、ローラーブレード、スプレー塗布、スリット塗布、化学気相成長(CVD)等の方法が挙げられる。
例えば、支持体を作製する工程では、加熱環境下もしくは減圧環境下、支持基体1上に塗布された分離層形成用組成物の塗工層から溶剤成分を除去して成膜する(分離層2を形成する)、又は、支持基体1上に、蒸着法により成膜する(分離層2を形成する)ことで、支持体12を得る。
The method for forming the separation layer 2 on the support substrate 1 is not particularly limited, and examples thereof include spin coating, dipping, roller blade, spray coating, slit coating, and chemical vapor deposition (CVD).
For example, in the step of producing the support, a film is formed by removing the solvent component from the coating layer of the composition for forming a separation layer applied on the support substrate 1 in a heating environment or a reduced pressure environment (separation layer 2). Or a film is formed on the support substrate 1 by vapor deposition (the separation layer 2 is formed) to obtain the support 12.

[接着層形成工程]
実施形態における接着層形成工程は、支持体上の一方に、上述した実施形態の接着層形成用組成物を用いて接着層を形成する工程である。
図3(b)では、支持体12の分離層2側の面に、接着剤を用いて接着層3が形成されている(すなわち、接着層付き支持体123が作製されている)。
[Adhesive layer forming step]
The adhesive layer forming step in the embodiment is a step of forming an adhesive layer on one side of the support using the adhesive layer forming composition of the above-described embodiment.
In FIG.3 (b), the contact bonding layer 3 is formed in the surface at the side of the separation layer 2 of the support body 12 using an adhesive agent (namely, the support body 123 with an adhesive layer is produced).

支持体12上への接着層3の形成方法は、特に限定されないが、例えば、スピンコート、ディッピング、ローラーブレード、スプレー塗布、スリット塗布等の方法が挙げられる。そして、支持体12上に、接着剤を塗布して加熱するか、又は、減圧環境下で接着剤組成物に含まれている溶剤成分を除去する。   The method for forming the adhesive layer 3 on the support 12 is not particularly limited, and examples thereof include spin coating, dipping, roller blades, spray coating, and slit coating. Then, an adhesive is applied on the support 12 and heated, or the solvent component contained in the adhesive composition is removed under a reduced pressure environment.

その後、接着層3が硬化性モノマー及び熱重合開始剤を含有する場合、加熱により、当該硬化性モノマーを重合させるとよい。接着層3を加熱する条件は、熱重合開始剤における1分間半減温度、及び1時間半減温度に基づいて適宜設定すればよく、例えば50〜300℃の範囲内の温度において、真空下、又は窒素ガス等の不活性ガス雰囲気下で行うことが好ましく、不活性ガス雰囲気下で行うことがより好ましい。   Thereafter, when the adhesive layer 3 contains a curable monomer and a thermal polymerization initiator, the curable monomer may be polymerized by heating. What is necessary is just to set suitably the conditions which heat the contact bonding layer 3 based on the half hour temperature for 1 minute in a thermal-polymerization initiator, and the half hour temperature for one hour, for example, in the temperature within the range of 50-300 degreeC, under vacuum, or nitrogen It is preferable to carry out in inert gas atmosphere, such as gas, and it is more preferable to carry out in inert gas atmosphere.

また、接着層3が硬化性モノマー及び光重合開始剤を含んでいる場合、窒素ガス等の不活性ガス雰囲気下にて露光することにより、硬化性モノマーを重合させるとよい。露光する条件は、光重合開始剤の種類等に応じて適宜設定すればよい。   Moreover, when the contact bonding layer 3 contains a curable monomer and a photoinitiator, it is good to polymerize a curable monomer by exposing in inert gas atmosphere, such as nitrogen gas. What is necessary is just to set the conditions to expose suitably according to the kind etc. of photoinitiator.

[デバイス層形成工程]
デバイス層形成工程では、金属又は半導体により構成される部材と、前記部材を封止又は絶縁する樹脂との複合体であるデバイス層を形成する。デバイス層形成工程は、基板固定工程、封止工程、研削工程、および配線層形成工程のいずれかを含むことができる。
その一実施態様において、デバイス層形成工程は、基板固定工程および封止工程を含む。この場合、デバイス層形成工程は、さらに、研削工程および配線層形成工程を含んでいてもよい。
他の実施態様において、デバイス層形成工程は、配線層形成工程を含む。この場合、デバイス層形成工程は、さらに、基板固定工程、封止工程および研削工程を含んでいてもよい。
[Device layer formation process]
In the device layer forming step, a device layer that is a composite of a member made of metal or semiconductor and a resin that seals or insulates the member is formed. The device layer forming step can include any of a substrate fixing step, a sealing step, a grinding step, and a wiring layer forming step.
In the embodiment, the device layer forming step includes a substrate fixing step and a sealing step. In this case, the device layer forming step may further include a grinding step and a wiring layer forming step.
In another embodiment, the device layer forming step includes a wiring layer forming step. In this case, the device layer forming step may further include a substrate fixing step, a sealing step, and a grinding step.

・基板固定工程について
基板固定工程は、接着層を介して、支持体上に基板(ベアチップ)を固定する工程である。
図4(b)では、分離層2が形成された支持基体1(支持体12)と、基板4とが、接着層3を介して積層され、支持体12、接着層3、基板4の順に積み重なった構造体30が得られている。
-About board | substrate fixing process A board | substrate fixing process is a process of fixing a board | substrate (bare chip | tip) on a support body through an adhesive layer.
In FIG. 4B, the support base 1 (support 12) on which the separation layer 2 is formed and the substrate 4 are laminated via the adhesive layer 3, and the support 12, the adhesive layer 3, and the substrate 4 are in this order. A stacked structure 30 is obtained.

接着層3を介して支持体12上に基板4を固定する方法は、接着層3上の所定位置に基板4を配置し、真空下で加熱(例えば100℃程度)しつつ、ダイボンダー等によって支持体12と基板4とを圧着することにより行うことができる。   The method of fixing the substrate 4 on the support 12 via the adhesive layer 3 is to place the substrate 4 at a predetermined position on the adhesive layer 3 and support it by a die bonder or the like while heating under vacuum (for example, about 100 ° C.). This can be done by pressure bonding the body 12 and the substrate 4.

・封止工程について
封止工程は、支持体上に固定された基板を、封止材を用いて封止する工程である。
図4(c)では、接着剤層3を介して支持体12に固定された基板4の全体が、封止材層5により封止された積層体40が得られている。積層体40において、基板4および封止材層5は、デバイス層45を構成する。
-About a sealing process A sealing process is a process of sealing the board | substrate fixed on the support body using a sealing material.
In FIG. 4C, a laminate 40 is obtained in which the entire substrate 4 fixed to the support 12 via the adhesive layer 3 is sealed with the sealing material layer 5. In the stacked body 40, the substrate 4 and the sealing material layer 5 constitute a device layer 45.

封止工程においては、例えば130〜170℃に加熱された封止材が、高粘度の状態を維持しつつ、基板4を覆うように、接着剤層3上に供給され、圧縮成形されることによって、接着剤層3上に封止材層5が設けられた積層体40が作製される。
その際、温度条件は、例えば130〜170℃である。
基板4に加えられる圧力は、例えば50〜500N/cmである。
In the sealing step, for example, a sealing material heated to 130 to 170 ° C. is supplied onto the adhesive layer 3 and compression-molded so as to cover the substrate 4 while maintaining a high viscosity state. Thus, a laminate 40 in which the sealing material layer 5 is provided on the adhesive layer 3 is produced.
In that case, temperature conditions are 130-170 degreeC, for example.
The pressure applied to the substrate 4 is, for example, 50 to 500 N / cm 2 .

封止材層5は、個々の基板4毎に設けられているものではなく、接着剤層3上の基板4全部を覆うように設けられていることが好ましい。   The sealing material layer 5 is not provided for each individual substrate 4, but is preferably provided so as to cover the entire substrate 4 on the adhesive layer 3.

・研削工程について
研削工程は、前記封止工程の後、封止体における封止材部分(封止材層5)を、基板の一部が露出するように研削する工程である。
封止材部分の研削は、例えば図5(b)に示すように、封止材層5を、基板4とほぼ同等の厚さになるまで削ることにより行う。
-About a grinding process A grinding process is a process of grinding the sealing material part (sealing material layer 5) in a sealing body after the said sealing process so that a part of board | substrate may be exposed.
For example, as shown in FIG. 5B, the sealing material portion is ground by scraping the sealing material layer 5 until the thickness becomes substantially equal to that of the substrate 4.

・配線層形成工程について
配線層形成工程は、前記研削工程の後、前記の露出した基板上に配線層を形成する工程である。
図5(c)では、基板4及び封止材層5上に、配線層6が形成されている。これにより、積層体200を得ることができる。積層体200において、基板4、封止材層5および配線層6は、デバイス層456を構成する。
-Wiring layer formation process A wiring layer formation process is a process of forming a wiring layer on the said exposed substrate after the said grinding process.
In FIG. 5C, the wiring layer 6 is formed on the substrate 4 and the sealing material layer 5. Thereby, the laminated body 200 can be obtained. In the stacked body 200, the substrate 4, the sealing material layer 5, and the wiring layer 6 constitute a device layer 456.

配線層6を形成する方法としては、例えば、以下の方法が挙げられる。
まず、封止材層5上に、酸化シリコン(SiO)、感光性樹脂等の誘電体層を形成する。酸化シリコンからなる誘電体層は、例えばスパッタ法、真空蒸着法等により形成することができる。感光性樹脂からなる誘電体層は、例えばスピンコート、ディッピング、ローラーブレード、スプレー塗布、スリット塗布等の方法により、封止材層5上に、感光性樹脂を塗布することで形成することができる。
Examples of the method for forming the wiring layer 6 include the following methods.
First, a dielectric layer such as silicon oxide (SiO x ) or photosensitive resin is formed on the sealing material layer 5. The dielectric layer made of silicon oxide can be formed by, for example, a sputtering method, a vacuum deposition method, or the like. The dielectric layer made of the photosensitive resin can be formed by applying the photosensitive resin on the sealing material layer 5 by a method such as spin coating, dipping, roller blade, spray coating, slit coating or the like. .

続いて、誘電体層に、金属等の導電体によって配線を形成する。配線を形成する方法としては、例えば、フォトリソグラフィー(レジストリソグラフィー)等のリソグラフィー処理、エッチング処理等の公知の半導体プロセス手法を用いることができる。このような、リソグラフィー処理としては、例えば、ポジ型レジスト材料を用いたリソグラフィー処理、ネガ型レジスト材料を用いたリソグラフィー処理が挙げられる。   Subsequently, wiring is formed on the dielectric layer with a conductor such as metal. As a method for forming the wiring, for example, a known semiconductor process technique such as lithography processing such as photolithography (resist lithography), etching processing, or the like can be used. Examples of such a lithography process include a lithography process using a positive resist material and a lithography process using a negative resist material.

かかる積層体200は、基板4に設けられた端子がチップエリア外に広がる配線層6に実装される、ファンアウト型技術に基づく過程において作製される積層体である。
上記積層体200を得た後、さらに、配線層6上にバンプの形成、又は素子の実装を行ってもよい。配線層6上への素子の実装は、例えば、チップマウンター等を用いて行うことができる。
The laminated body 200 is a laminated body manufactured in the process based on the fan-out type technique in which the terminals provided on the substrate 4 are mounted on the wiring layer 6 extending outside the chip area.
After obtaining the laminate 200, bumps may be formed on the wiring layer 6 or elements may be mounted. The element can be mounted on the wiring layer 6 using, for example, a chip mounter.

上記のように積層体200を得た後、上記<接着剤の剥離方法>で説明した分離工程及び溶解工程を行なうことにより、電子部品50を得ることができる(図1(b))。   After obtaining the laminated body 200 as described above, the electronic component 50 can be obtained by performing the separation step and the dissolution step described in <Adhesive peeling method> (FIG. 1B).

本実施形態の電子部品の製造方法は、上記の溶解工程の後、さらに、電子部品50に対してソルダーボール形成、ダイシング、又は酸化膜形成等の処理を行ってもよい。   In the method for manufacturing an electronic component according to this embodiment, after the melting step, the electronic component 50 may be further subjected to processing such as solder ball formation, dicing, or oxide film formation.

本実施形態の電子部品の製造方法によれば、上記第1の態様に係る剥離用組成物を用いて、溶解工程を行なうため、電子部品50に接着剤に由来する残渣が発生することを防止することができる。そのため、良好な状態の電子部品を得ることができる。   According to the method for manufacturing an electronic component of this embodiment, since the melting step is performed using the peeling composition according to the first aspect, it is possible to prevent the residue derived from the adhesive from being generated in the electronic component 50. can do. Therefore, an electronic component in a good state can be obtained.

本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。   The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications are possible within the scope shown in the claims, and embodiments obtained by appropriately combining technical means disclosed in different embodiments. Is also included in the technical scope of the present invention.

以下、実施例により本発明をさらに詳細に説明するが、本発明はこれらの例によって限定されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, although an Example demonstrates this invention further in detail, this invention is not limited by these examples.

<接着剤の調製>
剥離用組成物の洗浄性を評価にするために用いる接着剤組成物A及びBを、表1に示す組成及び配合量に従い調製した。
まず、25質量部の(P1)−1、65質量部の(P2)−1、及び10質量部の(P3)−1を混合することで樹脂組成物を得た。続いて、デカヒドロナフタレン208質量部と酢酸ブチル20質量部の混合溶剤に、当該樹脂組成物100質量部を溶解した。続いて、樹脂混合物100質量部に対して、1重量部のIRGANOX(商品名)1010(BASF社製)を添加して接着剤(A)を得た。
続いて、表1に示す組成及び配合量に従い、接着剤(A)と同様の手順によって、接着剤(B)を調製した。
<Preparation of adhesive>
Adhesive compositions A and B used for evaluating the detergency of the peeling composition were prepared according to the compositions and blending amounts shown in Table 1.
First, a resin composition was obtained by mixing 25 parts by mass of (P1) -1, 65 parts by mass of (P2) -1, and 10 parts by mass of (P3) -1. Subsequently, 100 parts by mass of the resin composition was dissolved in a mixed solvent of 208 parts by mass of decahydronaphthalene and 20 parts by mass of butyl acetate. Subsequently, 1 part by weight of IRGANOX (trade name) 1010 (manufactured by BASF) was added to 100 parts by mass of the resin mixture to obtain an adhesive (A).
Then, according to the composition and compounding quantity shown in Table 1, the adhesive agent (B) was prepared according to the procedure similar to an adhesive agent (A).

Figure 2019183030
Figure 2019183030

表1中、各略号はそれぞれ以下の意味を有する。[ ]内の数値は配合量(質量部)である。
尚、以下に示す樹脂成分についての質量平均分子量は、GPC(ゲルパーミエーションクロマトグラフィー)によるポリスチレン換算の値を用いて求めた。
In Table 1, each abbreviation has the following meaning. The numerical value in [] is a compounding amount (part by mass).
In addition, the mass average molecular weight about the resin component shown below was calculated | required using the value of polystyrene conversion by GPC (gel permeation chromatography).

(P1)−1:マレイミド共重合体。質量平均分子量10000;シクロヘキシルマレイミド、メタクリル酸メチル及びメタクリル酸イソボニルの共重合体(シクロヘキシルマレイミド/メタクリル酸メチル/メタクリル酸イソボニル=40/20/40)。   (P1) -1: Maleimide copolymer. Weight average molecular weight 10,000; copolymer of cyclohexylmaleimide, methyl methacrylate and isobornyl methacrylate (cyclohexylmaleimide / methyl methacrylate / isobonyl methacrylate = 40/20/40).

(P2)−1:タフテック1051(商品名)、旭化成株式会社製。下記化学式(P2)−1で表される複数の構成単位を有する水添スチレン系エラストマー。   (P2) -1: Tuftec 1051 (trade name), manufactured by Asahi Kasei Corporation. A hydrogenated styrene-based elastomer having a plurality of structural units represented by the following chemical formula (P2) -1.

Figure 2019183030
Figure 2019183030

(P3)−1:TU−311DL−M10(商品名)、ハリマ化成株式会社製。下記化学式(P3)−1で表される複数の構成単位を有するポリマー(l/m/n=60/20/20)。   (P3) -1: TU-311DL-M10 (trade name), manufactured by Harima Kasei Co., Ltd. A polymer having a plurality of structural units represented by the following chemical formula (P3) -1 (l / m / n = 60/20/20).

Figure 2019183030
Figure 2019183030

(A)−1:IRGANOX(商品名)1010(BASF社製)
(S1)−1:デカヒドロナフタリン
(S1)−2:酢酸ブチル
(A) -1: IRGANOX (trade name) 1010 (manufactured by BASF)
(S1) -1: Decahydronaphthalene (S1) -2: Butyl acetate

<試験片の作製>
洗浄性評価のための試験片を作製するために、接着剤組(A)及び接着剤(B)を用いて積層体を形成し、積層体を処理した後にウエハ基板からガラス支持基体を分離した。これによって、試験片として、分離層及び接着層の残渣が残るウエハ基板を作製した。
<Preparation of test piece>
In order to produce a test piece for evaluating the cleaning performance, a laminate was formed using the adhesive group (A) and the adhesive (B), and the glass support substrate was separated from the wafer substrate after the laminate was processed. . Thus, a wafer substrate in which the residue of the separation layer and the adhesive layer remained was produced as a test piece.

まず、半導体ウエハ基板(12インチシリコン)上に接着剤組成物Aをスピン塗布し、100℃、160℃及び220℃のそれぞれにおいて4分ずつベークして接着層を形成した(膜厚50μm)。   First, the adhesive composition A was spin-coated on a semiconductor wafer substrate (12-inch silicon), and baked at 100 ° C., 160 ° C., and 220 ° C. for 4 minutes to form an adhesive layer (film thickness 50 μm).

次に、支持基体として、ベアガラス支持体(12インチ、厚さ700μm)を用い、当該サポートプレートの上にフルオロカーボンを用いたプラズマCVD法により分離層を形成した。反応ガスとしてCを使用し、流量400sccm、圧力700mTorr、高周波電力2500W及び成膜温度240℃の条件下においてCVD法を行なうことで分離層であるフルオロカーボン膜(厚さ1μm)をサポートプレート上に形成した。 Next, a bare glass support (12 inches, thickness 700 μm) was used as a support base, and a separation layer was formed on the support plate by a plasma CVD method using fluorocarbon. The support plate is a fluorocarbon film (thickness 1 μm) as a separation layer by performing a CVD method using C 4 F 8 as a reaction gas, a flow rate of 400 sccm, a pressure of 700 mTorr, a high frequency power of 2500 W, and a film forming temperature of 240 ° C. Formed on top.

その後、ガラス支持基体、分離層、接着層、及びウエハ基板がこの順になるように重ね合わせ、215℃、真空下、4000kgfの貼付圧力で押圧することで積層体を作製した。   Thereafter, the glass support substrate, the separation layer, the adhesive layer, and the wafer substrate were superposed in this order, and a laminate was produced by pressing at 215 ° C. under vacuum with a pressure of 4000 kgf.

続いて、積層体への処理として、DISCO社製バックグラインド装置にて厚さ50μmになるまでウエハ基板を薄化した後、220℃においてNによるプラズマCVD処理を行なった。 Subsequently, as a process for the laminated body, the wafer substrate was thinned to a thickness of 50 μm using a back grinder manufactured by DISCO, and then a plasma CVD process using N 2 was performed at 220 ° C.

その後、波長532nmのレーザ光を照射してウエハ基板からガラス支持体を分離し、接着剤(A)を用いて形成した接着層の残渣が残るウエハ基板を試験片(A)として得た。
また、接着剤(A)を用いた場合と同様の手順に従って、接着剤(B)についても試験片(B)を作製した。
Thereafter, the glass support was separated from the wafer substrate by irradiation with a laser beam having a wavelength of 532 nm, and a wafer substrate in which the residue of the adhesive layer formed using the adhesive (A) remained was obtained as a test piece (A).
Moreover, the test piece (B) was produced also about the adhesive agent (B) according to the procedure similar to the case where an adhesive agent (A) is used.

<剥離用組成物の調製>
表2に示す組成に従って、実施例1〜10、及び比較例1〜2の剥離用組成物を調製した。表2〜4に示す各溶媒の数値は配合量(質量部)である。
なお、各溶媒のlogPowの値は以下に示す通りである。
・p−メンタン:5.56
・デカヒドロナフタリン(デカリン):4.20
・エチルシクロヘキサン:4.56
・D−リモネン:4:57
・酢酸ブチル:1.82
・PGMEA(プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート):0.36
・2−ヘプタノン:1.98
<Preparation of peeling composition>
According to the composition shown in Table 2, the peeling composition of Examples 1-10 and Comparative Examples 1-2 was prepared. The numerical value of each solvent shown to Tables 2-4 is a compounding quantity (mass part).
In addition, the value of logPow of each solvent is as shown below.
-P-menthan: 5.56
Decahydronaphthalene (decalin): 4.20
・ Ethylcyclohexane: 4.56
D-limonene: 4:57
・ Butyl acetate: 1.82
PGMEA (propylene glycol monomethyl ether acetate): 0.36
2-Heptanone: 1.98

<洗浄性の評価>
接着剤(A)及び(B)を用いて作製した試験片(A)及び(B)に、実施例1〜10及び比較例1〜2の剥離用組成物を用いてスプレー洗浄し、洗浄性の評価を行なった。
<Evaluation of detergency>
The test pieces (A) and (B) prepared using the adhesives (A) and (B) were spray-washed using the stripping compositions of Examples 1 to 10 and Comparative Examples 1 and 2, and were washed. Was evaluated.

洗浄性の評価では、洗浄後の半導体ウエハ表面における残渣の有無を調べるために、LS6600(日立ハイテック製)を用いて、異物検査を行った。   In the evaluation of cleaning properties, foreign matter inspection was performed using LS6600 (manufactured by Hitachi High-Tech) in order to examine the presence or absence of residues on the cleaned semiconductor wafer surface.

異物の個数を、以下の評価基準に従って、洗浄性能を評価した。評価結果を表2〜4に示した。
評価基準
○:異物個数 100未満
△:異物個数 100以上3000以下
×:異物個数 3000超
The number of foreign matters was evaluated for cleaning performance according to the following evaluation criteria. The evaluation results are shown in Tables 2-4.
Evaluation criteria ○: Number of foreign matter less than 100 Δ: Number of foreign matter 100 or more and 3000 or less ×: Number of foreign matter 3000

Figure 2019183030
Figure 2019183030

Figure 2019183030
Figure 2019183030

Figure 2019183030
Figure 2019183030

表2〜3に示す結果から、実施例1〜10の剥離用組成物は、洗浄性能が良好であり、接着剤に由来する残渣の発生を防止できることが確認された。
一方、比較例1では、多数の残留粒子が認められ、洗浄性能が不十分であった。また、比較例2では、基板に残る接着剤の溶解は観察されなかった。
From the results shown in Tables 2 to 3, it was confirmed that the stripping compositions of Examples 1 to 10 have good cleaning performance and can prevent generation of residues derived from the adhesive.
On the other hand, in Comparative Example 1, many residual particles were observed, and the cleaning performance was insufficient. In Comparative Example 2, dissolution of the adhesive remaining on the substrate was not observed.

1 支持基体、
2 分離層、
3 接着層、
4 基板、
5 封止材層、
6 配線層、
7 スプレー
8 剥離用組成物
10 中間層、
12 支持体、
30 積層体、
40 積層体、
45 デバイス層
50 電子部品、
100 積層体、
200 積層体、
123 接着層付き支持体
456 デバイス層
645 デバイス層。
1 support substrate,
2 separation layer,
3 Adhesive layer,
4 substrates,
5 sealing material layer,
6 Wiring layer,
7 Spray 8 Stripping composition 10 Intermediate layer,
12 support,
30 laminates,
40 laminates,
45 device layer 50 electronic component,
100 laminates,
200 laminates,
123 Support 456 with adhesive layer Device layer 645 Device layer.

Claims (15)

接着剤を剥離するための剥離用組成物であって、
第1溶剤と、第2溶剤と、を含有し、
前記第1溶剤は、炭化水素系溶剤であり、
前記第2溶剤は、前記第1溶剤のオクタノール/水分配係数(logPow)をlogPow1とし、前記第2溶剤のlogPowをlogPow2としたとき、logPow2/logPow1<1を満たす溶剤である、剥離用組成物。
A stripping composition for stripping an adhesive,
Containing a first solvent and a second solvent;
The first solvent is a hydrocarbon solvent,
The second solvent is a solvent satisfying logP ow2 / logP ow1 <1 where octanol / water partition coefficient (logP ow ) of the first solvent is logP ow1 and logP ow of the second solvent is logP ow2. A peeling composition.
前記第2溶剤が少なくとも1種の非炭化水素系溶剤を含む、請求項1に記載の剥離用組成物。   The stripping composition according to claim 1, wherein the second solvent contains at least one non-hydrocarbon solvent. 前記非炭化水素系溶剤のlogPowが3.0以下である、請求項2に記載の剥離用組成物。 The stripping composition according to claim 2, wherein the non-hydrocarbon solvent has a log Pow of 3.0 or less. 前記非炭化水素系溶剤が、エステル結合、エーテル結合、ケトン基、アミド結合、及びヒドロキシ基からなる群より選択される少なくとも1種の構造を含む溶剤である、請求項3に記載の剥離用組成物。   The stripping composition according to claim 3, wherein the non-hydrocarbon solvent is a solvent containing at least one structure selected from the group consisting of an ester bond, an ether bond, a ketone group, an amide bond, and a hydroxy group. object. 前記剥離用組成物に含有される溶剤全体(100質量%)に対する前記非炭化水素系溶剤の割合が、1〜20質量%である、請求項2〜4のいずれか一項に記載の剥離用組成物。   The ratio for the non-hydrocarbon solvent to the entire solvent (100% by mass) contained in the stripping composition is 1 to 20% by mass, for exfoliation according to any one of claims 2 to 4. Composition. 前記第2溶剤が少なくとも1種の炭化水素系溶剤を含む、請求項1〜5のいずれか一項に記載の剥離用組成物。   The stripping composition according to any one of claims 1 to 5, wherein the second solvent contains at least one hydrocarbon solvent. 前記接着剤が、マレイミド骨格を含む単量体から誘導される構成単位を有するポリマーを含有する、請求項1〜6のいずれか一項に記載の剥離用組成物。   The peeling composition according to any one of claims 1 to 6, wherein the adhesive contains a polymer having a structural unit derived from a monomer containing a maleimide skeleton. 前記接着剤が、さらに、水添スチレン系エラストマーを含有する、請求項7に記載の剥離用組成物。   The stripping composition according to claim 7, wherein the adhesive further contains a hydrogenated styrene-based elastomer. 接着剤が付着した基板から、前記接着剤を剥離する方法であって、
請求項1〜8のいずれか一項に記載の剥離用組成物を、前記接着剤に接触させて、前記接着剤を溶解させる溶解工程を含む、
接着剤を剥離する方法。
A method of peeling the adhesive from the substrate to which the adhesive is attached,
Including a dissolving step of bringing the peeling composition according to any one of claims 1 to 8 into contact with the adhesive to dissolve the adhesive.
A method of peeling the adhesive.
前記接着剤が、マレイミド骨格を含む単量体から誘導される構成単位を有するポリマーを含有する、請求項9に記載の接着剤を剥離する方法。   The method according to claim 9, wherein the adhesive contains a polymer having a structural unit derived from a monomer containing a maleimide skeleton. 前記接着剤が、さらに、水添スチレン系エラストマーを含有する、請求項10に記載の接着剤を剥離する方法。   The method for peeling an adhesive according to claim 10, wherein the adhesive further contains a hydrogenated styrene elastomer. 前記溶解工程の前に、支持体、接着層、及び基板が、この順で積層された積層体から、前記支持体を分離する分離工程を、さらに含む、
請求項9〜11のいずれか一項に記載の接着剤を剥離する方法。
Prior to the dissolving step, further includes a separation step of separating the support from the laminate in which the support, the adhesive layer, and the substrate are laminated in this order.
The method of peeling the adhesive agent as described in any one of Claims 9-11.
前記支持体が、光を透過する材料からなる支持基体と、光の照射により変質する分離層とからなり、前記分離層は前記支持基体と前記接着層との間に配置されており、
前記分離工程が、前記支持基体を介して前記分離層に光を照射することで前記分離層を変質させて、前記積層体から前記支持体を分離する工程である、
請求項12に記載の接着剤を剥離する方法。
The support is composed of a support base made of a material that transmits light and a separation layer that is altered by light irradiation, and the separation layer is disposed between the support base and the adhesive layer,
The separation step is a step of altering the separation layer by irradiating the separation layer with light through the support substrate to separate the support from the laminate.
The method of peeling the adhesive agent of Claim 12.
支持体、接着層、及び基板が、この順で積層された積層体から支持体を分離する分離工程と、
前記分離工程の後、前記基板に付着する接着剤に、請求項1〜8のいずれか一項に記載の剥離用組成物を接触させて、前記接着剤を溶解させる溶解工程と、
を含む、電子部品の製造方法。
A separation step of separating the support from the laminate in which the support, the adhesive layer, and the substrate are laminated in this order;
After the separation step, a dissolving step of bringing the adhesive composition attached to the substrate into contact with the peeling composition according to any one of claims 1 to 8 and dissolving the adhesive agent;
A method for manufacturing an electronic component, comprising:
前記支持体が、光を透過する材料からなる支持基体と、光の照射により変質する分離層とからなり、前記分離層は前記支持基体と前記接着層との間に配置されており、
前記分離工程が、前記支持基体を介して前記分離層に光を照射することで前記分離層を変質させて、前記積層体から前記支持体を分離する工程である、
請求項14に記載の電子部品の製造方法。
The support is composed of a support base made of a material that transmits light and a separation layer that is altered by light irradiation, and the separation layer is disposed between the support base and the adhesive layer,
The separation step is a step of altering the separation layer by irradiating the separation layer with light through the support substrate to separate the support from the laminate.
The method for manufacturing an electronic component according to claim 14.
JP2018076782A 2018-04-12 2018-04-12 Composition for detachment, method for detaching adhesive, and manufacturing method of electronic component Pending JP2019183030A (en)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018076782A JP2019183030A (en) 2018-04-12 2018-04-12 Composition for detachment, method for detaching adhesive, and manufacturing method of electronic component
TW108102497A TWI803564B (en) 2018-04-12 2019-01-23 Composition for peeling, method of peeling adhesive, and method of manufacturing electronic parts
KR1020190026192A KR20190119512A (en) 2018-04-12 2019-03-07 Stripping composition, method of stripping adhesive and method of manufacturing electronic component

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018076782A JP2019183030A (en) 2018-04-12 2018-04-12 Composition for detachment, method for detaching adhesive, and manufacturing method of electronic component

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2019183030A true JP2019183030A (en) 2019-10-24

Family

ID=68339782

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018076782A Pending JP2019183030A (en) 2018-04-12 2018-04-12 Composition for detachment, method for detaching adhesive, and manufacturing method of electronic component

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP2019183030A (en)
KR (1) KR20190119512A (en)
TW (1) TWI803564B (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021205855A1 (en) * 2020-04-08 2021-10-14 信越エンジニアリング株式会社 Workpiece separation device and workpiece separation method
WO2023228996A1 (en) * 2022-05-27 2023-11-30 花王株式会社 Cleaning composition for adhesives

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI765504B (en) * 2020-12-30 2022-05-21 聯茂電子股份有限公司 LOW EXPANSION COEFFICIENT, LOW Df, HIGH RIGIDITY, HALOGEN-FREE RESIN COMPOSITION, LAMINATES AND PRINTED CIRCUIT BOARDS
KR20220125690A (en) 2021-03-05 2022-09-14 고려대학교 세종산학협력단 Thin film for substrate detachment and manufacturing method thereof

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011084594A (en) * 2009-10-13 2011-04-28 Abc Trading Co Ltd Removing agent for asphalt-based adhesive
JP2013177555A (en) * 2012-02-08 2013-09-09 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd Peeling composition and method for producing peeling composition
JP2015073738A (en) * 2013-10-09 2015-04-20 株式会社テクノメデイカ Seal paste removing paper
JP2015151521A (en) * 2014-02-18 2015-08-24 東京応化工業株式会社 Adhesive agent laminate and utilization thereof

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101770863B1 (en) * 2012-02-08 2017-08-23 도쿄 오카 고교 가부시키가이샤 Stripper composition, method of producing stripper composition
JP5982248B2 (en) 2012-09-28 2016-08-31 富士フイルム株式会社 A temporary bonding layer for manufacturing a semiconductor device, a laminate, and a method for manufacturing a semiconductor device.

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011084594A (en) * 2009-10-13 2011-04-28 Abc Trading Co Ltd Removing agent for asphalt-based adhesive
JP2013177555A (en) * 2012-02-08 2013-09-09 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd Peeling composition and method for producing peeling composition
JP2015073738A (en) * 2013-10-09 2015-04-20 株式会社テクノメデイカ Seal paste removing paper
JP2015151521A (en) * 2014-02-18 2015-08-24 東京応化工業株式会社 Adhesive agent laminate and utilization thereof

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021205855A1 (en) * 2020-04-08 2021-10-14 信越エンジニアリング株式会社 Workpiece separation device and workpiece separation method
JP2021166274A (en) * 2020-04-08 2021-10-14 信越エンジニアリング株式会社 Workpiece separation device and workpiece separation method
WO2023228996A1 (en) * 2022-05-27 2023-11-30 花王株式会社 Cleaning composition for adhesives

Also Published As

Publication number Publication date
TWI803564B (en) 2023-06-01
TW201943851A (en) 2019-11-16
KR20190119512A (en) 2019-10-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5977532B2 (en) Support separation method and support separation device
JP6381994B2 (en) Stripping composition and stripping method
JP6216727B2 (en) Support separation method
TWI803564B (en) Composition for peeling, method of peeling adhesive, and method of manufacturing electronic parts
JP6125317B2 (en) Mold material processing method and structure manufacturing method
TWI673762B (en) Support separating device and support separating method
JP6261508B2 (en) Laminated body, separation method of laminated body, and evaluation method of separation layer
TW201800538A (en) An adhesive composition a laminate a method of manufacturing a laminate
JP6214182B2 (en) Substrate processing method
KR20200081226A (en) Method of manufacturing electronic component, and kit
JP7033915B2 (en) Adhesive composition, laminate and its manufacturing method, and manufacturing method of electronic parts
JP6162976B2 (en) Substrate processing method
JP6006569B2 (en) Laminate and method for producing laminate
JP6180239B2 (en) LAMINATE MANUFACTURING METHOD AND LAMINATE
JP6691816B2 (en) Method for manufacturing sealed body
JP7004566B2 (en) Laminates and their manufacturing methods, as well as electronic component manufacturing methods
JP6446248B2 (en) LAMINATE MANUFACTURING METHOD, SUBSTRATE TREATING METHOD, AND LAMINATE
JP6244183B2 (en) Processing method
JP6055354B2 (en) Substrate processing method
JP6114610B2 (en) Processing method and processing apparatus
TWI841608B (en) Method and kit for manufacturing electronic parts
JP2016092079A (en) Method for support body separation
TWI628707B (en) Method for treatment

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210114

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20210831

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210928

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20211129

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20220325