JP2019168300A - Diagnostic system, diagnostic device, and method for diagnosis - Google Patents

Diagnostic system, diagnostic device, and method for diagnosis Download PDF

Info

Publication number
JP2019168300A
JP2019168300A JP2018055393A JP2018055393A JP2019168300A JP 2019168300 A JP2019168300 A JP 2019168300A JP 2018055393 A JP2018055393 A JP 2018055393A JP 2018055393 A JP2018055393 A JP 2018055393A JP 2019168300 A JP2019168300 A JP 2019168300A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
surface resistance
diagnostic
voltage
facility
sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2018055393A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP7000219B2 (en
Inventor
優 楯身
Masaru Tatemi
楯身  優
六戸 敏昭
Toshiaki Rokunohe
敏昭 六戸
光 藤田
Hikari Fujita
光 藤田
恵太 飯塚
keita Iizuka
恵太 飯塚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP2018055393A priority Critical patent/JP7000219B2/en
Publication of JP2019168300A publication Critical patent/JP2019168300A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP7000219B2 publication Critical patent/JP7000219B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

To provide a diagnostic system, a diagnostic device, and a method for diagnosis which allow a user to know an appropriate time to clean a facility.SOLUTION: The present diagnostic system is for diagnosing a facility where an insulating object is provided, and includes: a surface resistance sensor in the facility for outputting a divided voltage, the sensor having a first surface resistor and a second surface resistor connected in series so that the voltage of a DC power source will be divided, the second surface resistor being equipped with a protective member on a surface resistor different from the first surface resistor; and a diagnosis unit for estimating the time to clean the facility on the basis of the relation between the voltage value output from the surface resistor sensor and a predetermined threshold value.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は診断システム、診断装置、および診断方法に関し、例えば設備の清掃時期を推定する診断システム、診断装置、および診断方法に適用して好適なものである。   The present invention relates to a diagnostic system, a diagnostic device, and a diagnostic method, and is suitable for application to, for example, a diagnostic system, a diagnostic device, and a diagnostic method for estimating the cleaning time of equipment.

高圧受配電盤は、多数の導体、開閉器、電流センサ、変圧器等の機器が連結されて構成されている。所定の機器は、絶縁が保たれるように製造されているが、換気口から流入する塵埃に含まれる成分が降り積もって蓄積することで、高圧受配電盤内の絶縁物の表面抵抗は低下し、絶縁破壊の危険が高まる。このような絶縁破壊およびその要因となる異物の除去をするために、現状では定期的に高圧受配電盤内が清掃されている。しなしながら、清掃には多大な労力を要するため、設置されている場所の環境条件に応じて清掃の時期を適切に評価することができる方法が求められている。   The high voltage distribution board is configured by connecting a number of conductors, switches, current sensors, transformers, and other devices. Predetermined equipment is manufactured so that insulation is maintained, but the surface resistance of the insulator in the high-voltage distribution board decreases because the components contained in the dust flowing in from the ventilation port accumulate and accumulate, Increased risk of dielectric breakdown. In order to remove such dielectric breakdown and foreign matters that cause the breakdown, the inside of the high-voltage distribution board is regularly cleaned at present. However, since a lot of labor is required for cleaning, there is a need for a method that can appropriately evaluate the timing of cleaning in accordance with the environmental conditions of the place where it is installed.

ここで、受配電機器の絶縁体と同じ材質のセンサ絶縁体の表面に櫛形電極を形成して換気口付近に設置し、湿度計を用いてセンサ絶縁体表面付近の湿度を測定し、表面抵抗率と湿度との相関関係から表面抵抗率を推定し、機器の余寿命を求める手法が開示されている(特許文献1参照)。   Here, a comb-shaped electrode is formed on the surface of the sensor insulator made of the same material as the insulator of the power receiving and distributing equipment, installed near the vent, and the humidity near the sensor insulator surface is measured using a hygrometer to determine the surface resistance. A method of estimating the surface resistivity from the correlation between the rate and the humidity and obtaining the remaining life of the device is disclosed (see Patent Document 1).

特開2009−8427号公報JP 2009-8427 A

特許文献1に記載の技術では、機器の余寿命を求めることで機器の交換時期は把握できるが、高圧受配電盤などの設備を清掃する時期(清掃時期)については適切に把握することできないという問題がある。   In the technique described in Patent Document 1, it is possible to grasp the replacement time of the device by obtaining the remaining life of the device, but it is not possible to properly grasp the time (cleaning time) for cleaning the equipment such as the high voltage distribution board. There is.

本発明は以上の点を考慮してなされたもので、設備の清掃時期を適切に把握することができる診断システム、診断装置、および診断方法を提案しようとするものである。   The present invention has been made in consideration of the above points, and an object of the present invention is to propose a diagnostic system, a diagnostic apparatus, and a diagnostic method that can appropriately grasp the cleaning time of equipment.

かかる課題を解決するため本発明においては、絶縁物が設けられている設備を診断する診断システムであって、直流電源の電圧を分圧するように、第1の表面抵抗と、前記第1の表面抵抗とは別の表面抵抗に保護部材を取り付けた第2の表面抵抗とが直列に接続され、分圧された電圧値を出力する、前記設備内に設けられる表面抵抗センサと、前記表面抵抗センサにより出力された電圧値と予め定めた閾値との関係に基づいて、前記設備の清掃時期を推定する診断部と、を設けるようにした。   In order to solve this problem, in the present invention, there is provided a diagnostic system for diagnosing equipment provided with an insulator, the first surface resistance and the first surface so as to divide the voltage of a DC power source. A surface resistance sensor provided in the facility, in which a second surface resistance having a protective member attached to a surface resistance different from the resistance is connected in series, and a divided voltage value is output; and the surface resistance sensor And a diagnostic unit for estimating the cleaning time of the equipment based on the relationship between the voltage value output by the above and a predetermined threshold value.

また本発明においては、絶縁物が設けられている設備を診断する診断装置あって、前記設備内には、直流電源の電圧を分圧するように、第1の表面抵抗と、前記第1の表面抵抗とは別の表面抵抗に保護部材を取り付けた第2の表面抵抗とが直列に接続され、分圧された電圧値を出力する表面抵抗センサが設けられ、前記表面抵抗センサにより出力された電圧値の情報を記録する記録部と、前記記録部に記録されている電圧値と予め定めた閾値との関係に基づいて、前記設備の清掃時期を推定する診断部と、を設けるようにした。   According to the present invention, there is provided a diagnostic apparatus for diagnosing equipment provided with an insulator, wherein the equipment has a first surface resistance and the first surface so as to divide a voltage of a DC power source. A surface resistance sensor that outputs a divided voltage value is provided in series with a second surface resistance in which a protective member is attached to a surface resistance different from the resistance, and the voltage output by the surface resistance sensor A recording unit for recording value information, and a diagnosis unit for estimating the cleaning time of the equipment based on a relationship between a voltage value recorded in the recording unit and a predetermined threshold value are provided.

また本発明においては、絶縁物が設けられている設備を診断するための診断方法であって、直流電源の電圧を分圧するように、第1の表面抵抗と、前記第1の表面抵抗とは別の表面抵抗に保護部材を取り付けた第2の表面抵抗とが直列に接続され、前記設備内に設けられる表面抵抗センサが、分圧された電圧値を出力する第1のステップと、診断部が、前記表面抵抗センサにより出力された電圧値と予め定めた閾値との関係に基づいて、前記設備の清掃時期を推定する第2のステップと、を設けるようにした。   According to the present invention, there is provided a diagnostic method for diagnosing a facility provided with an insulator, wherein the first surface resistance and the first surface resistance are divided so as to divide a voltage of a DC power source. A first step in which a second surface resistance having a protective member attached to another surface resistance is connected in series, and the surface resistance sensor provided in the facility outputs a divided voltage value; However, based on the relationship between the voltage value output by the surface resistance sensor and a predetermined threshold value, a second step of estimating the cleaning time of the equipment is provided.

上記構成によれば、設備の清掃時期が推定されるので、設備の清掃時期を適切に把握することができる。   According to the said structure, since the cleaning time of an installation is estimated, the cleaning time of an installation can be grasped | ascertained appropriately.

本発明によれば、設備の清掃時期を適切に把握することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the cleaning time of an installation can be grasped | ascertained appropriately.

第1の実施の形態による診断システムに係る構成の一例を示す図である。It is a figure showing an example of composition concerning a diagnostic system by a 1st embodiment. 第1の実施の形態による表面抵抗センサに係る構成の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the structure which concerns on the surface resistance sensor by 1st Embodiment. 第1の実施の形態による塵埃量と表面抵抗との関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the amount of dust and surface resistance by 1st Embodiment. 第1の実施の形態による湿度と表面抵抗との関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the humidity and surface resistance by 1st Embodiment. 第1の実施の形態による診断処理に係る処理手順の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the process sequence which concerns on the diagnostic process by 1st Embodiment. 第1の実施の形態による経年数と表面抵抗センサの出力との関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the age by 1st Embodiment, and the output of a surface resistance sensor. 第1の実施の形態による画面の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the screen by 1st Embodiment.

以下図面について、本発明の一実施の形態を詳述する。   Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

(1)第1の実施の形態
図1において、1は全体として第1の実施の形態による診断システムを示す。診断システム1は、高圧受配電盤100の適切な清掃時期を診断して通知することができる。
(1) 1st Embodiment In FIG. 1, 1 shows the diagnostic system by 1st Embodiment as a whole. The diagnosis system 1 can diagnose and notify an appropriate cleaning time of the high voltage distribution board 100.

高圧受配電盤100は、絶縁物が設けられている設備の一例であり、高圧母線室110、遮断器室120(本例では、遮断器室120aおよび遮断器室120b)、点検室130などの区画に分かれている。高圧母線室110には、母線111が内蔵されている。母線111は、高電圧機器であり、碍子(絶縁物の一例)により絶縁支持されている。遮断器室120には、遮断器121(本例では、遮断器121aおよび遮断器121b)が内蔵されている。遮断器121は、高電圧機器であり、スイッチなどを覆う絶縁物を含んで構成される。なお、上述した絶縁物は、一例であり、高圧受配電盤100にはその他にも絶縁物が設けられていてもよい。   The high-voltage distribution board 100 is an example of equipment provided with an insulator, and is a partition such as a high-voltage bus room 110, a circuit breaker room 120 (in this example, a circuit breaker room 120a and a circuit breaker room 120b), an inspection room 130, and the like. It is divided into. The high-pressure bus chamber 110 has a bus 111 built therein. The bus bar 111 is a high-voltage device, and is insulated and supported by an insulator (an example of an insulator). The circuit breaker chamber 120 incorporates a circuit breaker 121 (in this example, the circuit breaker 121a and the circuit breaker 121b). The circuit breaker 121 is a high-voltage device and includes an insulator that covers a switch and the like. In addition, the insulator mentioned above is an example, and the high voltage distribution board 100 may be provided with an insulator in addition.

高圧母線室110の下部には、呼排気口112が設けられ、高圧母線室110の上部には排気口113が設けられ、高圧母線室110は、外部と通じている。遮断器室120には、高圧母線室110と通じる呼吸排気口122(本例では、呼吸排気口122aおよび呼吸排気口122b)が設けられている。点検室130の下部には、高圧母線室110からの空気が流れ込む呼気口131が設けられ、点検室130の上部には外部へと通じる呼気口132が設けられている。   A call exhaust port 112 is provided in the lower portion of the high-pressure bus chamber 110, and an exhaust port 113 is provided in the upper portion of the high-pressure bus chamber 110. The high-pressure bus chamber 110 communicates with the outside. The circuit breaker chamber 120 is provided with a breathing exhaust port 122 (in this example, a breathing exhaust port 122a and a breathing exhaust port 122b) communicating with the high-pressure bus chamber 110. An expiratory port 131 through which air from the high-pressure bus chamber 110 flows is provided at the lower portion of the inspection chamber 130, and an expiratory port 132 that leads to the outside is provided at the upper portion of the inspection chamber 130.

高圧受配電盤100内は、通気口(上述した呼排気口112,122、排気口113、呼気口131,132)を介して外部と通じている。このような通気口を通じて細かい異物(以下では塵埃を例に挙げて説明する。)が高圧受配電盤100の中に持ち込まれ、絶縁物に付着し、絶縁物の表面抵抗が低下していく。塵埃による汚損を長期間そのままにしておくと、絶縁破壊が発生し、高圧受配電盤100が停止する可能性がある。   The inside of the high voltage distribution board 100 communicates with the outside through vent holes (exhaust vents 112 and 122, exhaust vent 113 and exhalation ports 131 and 132 described above). Through such a vent, fine foreign matter (hereinafter described by taking dust as an example) is brought into the high-voltage distribution board 100, adheres to the insulator, and the surface resistance of the insulator decreases. If the contamination due to dust is left as it is for a long time, dielectric breakdown may occur and the high-voltage distribution board 100 may stop.

そのため、診断システム1は、高圧受配電盤100を適切に診断する構成として、表面抵抗センサ10、デジタルアナログ変換器(A/D変換器)20、記録部30、診断部40、表示部50を含んで構成される。   Therefore, the diagnostic system 1 includes a surface resistance sensor 10, a digital-analog converter (A / D converter) 20, a recording unit 30, a diagnostic unit 40, and a display unit 50 as a configuration for appropriately diagnosing the high-voltage distribution board 100. Consists of.

ここで、高圧受配電盤100に持ち込まれる塵埃は、高圧受配電盤100内の機器の配置、大きさなどにより、溜まりやすい場所が異なる。本実施の形態では、事故未然防止の観点から安全側に立ち、劣化(表面抵抗の低下)が最も進む場所に表面抵抗センサ10を設置(配置)することが好ましい。ただし、設置場所としては、適宜の場所を採用することができる。例えば、空気の流れが大きい部分ほど、塵埃が持ち込まれやすくなるとの知見がある場合、外気が流入する空気に当たりやすい呼排気口112の近傍に表面抵抗センサ10を設置してもよい。また、例えば、高圧受配電盤100の上部より下部の方が劣化が進むとの知見がある場合、高圧受配電盤100の底部に表面抵抗センサ10を設置してもよい。また、高圧受配電盤100における複数の区画のうち、最も劣化が進みやすい区画が知見としてある場合、当該区画に表面抵抗センサ10を設置してもよい。   Here, the dust that is brought into the high-voltage power distribution board 100 differs depending on the arrangement and size of the devices in the high-voltage power distribution board 100. In the present embodiment, it is preferable to install (place) the surface resistance sensor 10 at a place where deterioration (reduction in surface resistance) is most prominent from the viewpoint of preventing accidents. However, an appropriate place can be adopted as an installation place. For example, when there is a knowledge that dust is more likely to be brought into the portion where the air flow is larger, the surface resistance sensor 10 may be installed in the vicinity of the expiratory port 112 that is likely to hit air into which outside air flows. In addition, for example, when there is knowledge that the lower part of the high-voltage power distribution board 100 is more deteriorated than the upper part, the surface resistance sensor 10 may be installed at the bottom of the high-voltage power distribution board 100. In addition, when there is a section where deterioration is most likely to proceed among a plurality of sections in the high-voltage distribution board 100, the surface resistance sensor 10 may be installed in the section.

ここで、表面抵抗センサ10は、直流電源の電圧を分圧するように、絶縁体と電極とから構成される第1の表面抵抗と、第1の表面抵抗とは別の表面抵抗に保護部材を取り付けた第2の表面抵抗とが直列に接続され、分圧された電圧値を出力するセンサである。なお、表面抵抗センサ10の構成の一例については、図2を用いて後述する。デジタルアナログ変換器20は、表面抵抗センサ10による出力(アナログデータ)をデジタルデータに変換する装置である。記録部30は、デジタルアナログ変換器20により変換されたデジタルデータ(情報)を記憶する記憶装置である。診断部40は、記録部30に記録された情報と予め設定された閾値との関係から高圧受配電盤100の清掃時期を推定する情報処理資源(ソフトウェア資源、ハードウェア資源、またはこれらの組合せ)である。なお、診断部40の処理内容の一例については、図5を用いて後述する。表示部50は、診断部40により診断された結果(例えば、高圧受配電盤100の清掃時期に係る情報)を表示するディスプレイである。付言するならば、表面抵抗センサ10、デジタルアナログ変換器20、記録部30、診断部40、および表示部50は、1つの装置で実現されてもよいし、複数の装置で実現されてもよい。   Here, the surface resistance sensor 10 has a first surface resistance composed of an insulator and an electrode and a surface resistance different from the first surface resistance so as to divide the voltage of the DC power supply. The sensor is connected in series with the attached second surface resistance and outputs a divided voltage value. An example of the configuration of the surface resistance sensor 10 will be described later with reference to FIG. The digital-analog converter 20 is a device that converts the output (analog data) from the surface resistance sensor 10 into digital data. The recording unit 30 is a storage device that stores digital data (information) converted by the digital-analog converter 20. The diagnosis unit 40 is an information processing resource (software resource, hardware resource, or a combination thereof) that estimates the cleaning time of the high-voltage distribution board 100 from the relationship between the information recorded in the recording unit 30 and a preset threshold value. is there. An example of the processing content of the diagnosis unit 40 will be described later with reference to FIG. The display unit 50 is a display that displays a result diagnosed by the diagnosis unit 40 (for example, information related to the cleaning time of the high-voltage power distribution board 100). In other words, the surface resistance sensor 10, the digital-analog converter 20, the recording unit 30, the diagnosis unit 40, and the display unit 50 may be realized by one device or a plurality of devices. .

図2は、表面抵抗センサ10に係る構成の一例を示す図である。図2の(A)は、表面抵抗センサ10の平面図を示す。図2の(B)は、表面抵抗センサ10の正面図を示す。図2の(C)は、表面抵抗センサ10の等価回路を示す。   FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a configuration related to the surface resistance sensor 10. FIG. 2A shows a plan view of the surface resistance sensor 10. FIG. 2B shows a front view of the surface resistance sensor 10. FIG. 2C shows an equivalent circuit of the surface resistance sensor 10.

表面抵抗センサ10は、直流電源11の電圧を分圧するように、2つの絶縁物の表面抵抗R,Rsを直列に接続すること構成される。表面抵抗R,Rsは、絶縁板12a,12bと、絶縁板12a,12bの表面に対向する長さが長くなるように一定の間隔をあけて設置した電極13a,13bとから構成される。一方の表面抵抗R(第1の表面抵抗の一例)には、絶縁板12aおよび電極13aの上に塵埃が降り積もるように配置し、他方の表面抵抗Rs(第2の表面抵抗の一例である。以下では、基準抵抗Rsと適宜称する。)には、絶縁板12bおよび電極13bの上に塵埃が降り積もらないようにカバー14を被せる。   The surface resistance sensor 10 is configured by connecting the surface resistances R and Rs of two insulators in series so as to divide the voltage of the DC power supply 11. The surface resistances R and Rs are composed of insulating plates 12a and 12b and electrodes 13a and 13b that are installed at a predetermined interval so that the length facing the surfaces of the insulating plates 12a and 12b becomes long. One surface resistance R (an example of a first surface resistance) is arranged so that dust collects on the insulating plate 12a and the electrode 13a, and the other surface resistance Rs (an example of a second surface resistance). In the following, the reference resistor Rs is appropriately referred to as a cover 14 so that dust does not fall on the insulating plate 12b and the electrode 13b.

カバー14には、通気部15(湿気を通すミクロフィルタであってもよいし、配線など通す穴などであってもよい。)があり、基準抵抗Rsは完全には密閉されてはいないので、カバー14内外の湿度に変化はない。通気部15は、塵埃により塞がれないようにカバー14の上面以外の側面、底面などに設けられることが好適である。なお、絶縁板12bおよび電極13bの上に塵埃が降り積もらないようにする構成(保護部材)としてカバー14を例に挙げて説明したが、これに限られるものではなく、保護部材は、例えば、基準抵抗Rsを収納可能な蓋が付いた容器などであってもよい。   The cover 14 has a ventilation portion 15 (may be a micro filter that allows moisture to pass or a hole that allows wiring to pass through), and the reference resistance Rs is not completely sealed. There is no change in the humidity inside and outside the cover 14. The ventilation portion 15 is preferably provided on a side surface, a bottom surface, or the like other than the top surface of the cover 14 so as not to be blocked by dust. The cover 14 is described as an example of a configuration (protective member) that prevents dust from getting on the insulating plate 12b and the electrode 13b. However, the present invention is not limited to this, and the protective member is, for example, It may be a container with a lid capable of storing the reference resistance Rs.

基準抵抗Rsの大きさは、塵埃に依存(影響)しない。表面抵抗センサ10の信号は、2つの表面抵抗R,Rsを結ぶ端子NBから取られてデジタルアナログ変換器20に通知される。図3に示すように、時間の経過とともに表面抵抗Rは、塵埃の影響を受けて、抵抗値が徐々に低下する。一方、基準抵抗Rsは、塵埃の影響を受けないため下がらない。よって、端子NBの電圧Vを例えばV=E×R/(R+Rs)とした場合、電圧Vは、表面抵抗Rの影響で徐々に低下する。   The magnitude of the reference resistance Rs does not depend (influence) on dust. The signal of the surface resistance sensor 10 is taken from a terminal NB connecting the two surface resistances R and Rs and notified to the digital-analog converter 20. As shown in FIG. 3, the resistance value of the surface resistance R gradually decreases with the passage of time due to the influence of dust. On the other hand, the reference resistance Rs is not lowered because it is not affected by dust. Therefore, when the voltage V of the terminal NB is, for example, V = E × R / (R + Rs), the voltage V gradually decreases due to the influence of the surface resistance R.

図3は、塵埃量と表面抵抗Rとの関係を示す図である。図3では、表面抵抗Rは、時間の経過とともに塵埃の影響を受けて、抵抗値が徐々に低下することが示されている。ここで、表面抵抗Rの低下については、塵埃量に加え、湿度も影響を及ぼすので、図4を用いて、湿度と表面抵抗R,Rsとの関係について説明する。   FIG. 3 is a diagram illustrating the relationship between the amount of dust and the surface resistance R. FIG. 3 shows that the resistance value of the surface resistance R gradually decreases due to the influence of dust over time. Here, since the decrease in the surface resistance R also affects the humidity in addition to the amount of dust, the relationship between the humidity and the surface resistances R and Rs will be described with reference to FIG.

図4は、湿度と表面抵抗R,Rsとの関係を示す図である。図4では、湿度が変化しても、表面抵抗Rsと、時間の経過とともに塵埃の影響を受けた表面抵抗Rとがほぼ同じ割合で変化することが示されている。つまり、湿度を測定して表面抵抗R,Rsを補正することなく、表面抵抗Rへの塵埃の影響を評価できることがわかる。   FIG. 4 is a diagram showing the relationship between humidity and surface resistances R and Rs. FIG. 4 shows that even when the humidity changes, the surface resistance Rs and the surface resistance R affected by dust change at almost the same rate as time passes. That is, it can be seen that the influence of dust on the surface resistance R can be evaluated without measuring the humidity and correcting the surface resistances R and Rs.

ここで、表面抵抗センサ10は、表面抵抗Rと基準抵抗Rsとによって直流電源の電圧Eを分圧し、(式1)により与えられる電圧Vを信号値として端子NBに生じさせる。
V=E×R/(R+Rs) ・・・ (式1)
Here, the surface resistance sensor 10 divides the voltage E of the DC power supply by the surface resistance R and the reference resistance Rs, and generates the voltage V given by (Equation 1) as a signal value at the terminal NB.
V = E × R / (R + Rs) (Formula 1)

基準抵抗Rsには、カバー14が取り付けられているので、塵埃の影響を受けないが、表面抵抗Rには、カバー14が取り付けられていないので、塵埃の影響を受けて時間の経過とともに抵抗値が低くなる。よって、(式1)を用いることで、表面抵抗値を直接測定することなく電圧値として塵埃による表面抵抗Rの低下の度合いを測定可能となる。   Since the cover 14 is attached to the reference resistance Rs, it is not affected by dust, but since the cover 14 is not attached to the surface resistance R, the resistance value is affected by the influence of dust and with time. Becomes lower. Therefore, by using (Equation 1), it is possible to measure the degree of decrease in the surface resistance R due to dust as a voltage value without directly measuring the surface resistance value.

なお、図2の例では、表面抵抗Rと基準抵抗Rsとは、同じまたは略同じ材質と形状とから成る表面抵抗であるので、初期においては、R≒Rsとなり、V=0.5Eというセンサ出力が端子NBに現れる。   In the example of FIG. 2, the surface resistance R and the reference resistance Rs are surface resistances made of the same or substantially the same material and shape, and therefore, in the initial stage, R≈Rs and a sensor V = 0.5E Output appears at terminal NB.

上述したように、塵埃による汚損で高圧受配電盤100内の絶縁物の表面抵抗が低下し、絶縁破壊に到る前に、清掃を実施する必要がある。以下に、高圧受配電盤100の清掃時期を診断する処理(診断処理)について、図5〜図7を用いて説明する。   As described above, it is necessary to carry out cleaning before the surface resistance of the insulator in the high-voltage distribution board 100 is reduced due to contamination by dust, resulting in dielectric breakdown. Below, the process (diagnosis process) which diagnoses the cleaning time of the high voltage distribution board 100 is demonstrated using FIGS.

図5は、診断処理に係る処理手順の一例を示す図である。   FIG. 5 is a diagram illustrating an example of a processing procedure related to the diagnostic processing.

ステップS1では、表面抵抗センサ10は、基準抵抗Rsと表面抵抗Rとで分圧した電圧V(アナログデータ)を計測し、デジタルアナログ変換器20に通知する。   In step S <b> 1, the surface resistance sensor 10 measures the voltage V (analog data) divided by the reference resistance Rs and the surface resistance R and notifies the digital-analog converter 20 of the voltage.

ステップS2では、デジタルアナログ変換器20は、測定された電圧V(アナログデータ)をデジタルデータに変換し、記録部30に保存する。   In step S <b> 2, the digital-analog converter 20 converts the measured voltage V (analog data) into digital data and stores it in the recording unit 30.

ここで、適切な清掃時期(清掃タイミング)を決定する方法について図6を用いて説明する。   Here, a method for determining an appropriate cleaning time (cleaning timing) will be described with reference to FIG.

図6は、経年数と表面抵抗センサ10の出力V(電圧V)との関係を示す図である。清掃された初期時からの時間tを横軸とし、表面抵抗センサ10の出力Vを縦軸としたときに、初期時から現時点まで実測した出力Vから、出力Vについては、近似曲線(所定の近似式)で表せると仮定する。   FIG. 6 is a diagram showing the relationship between the age and the output V (voltage V) of the surface resistance sensor 10. When the horizontal axis is the time t from the initial cleaning time and the output V of the surface resistance sensor 10 is the vertical axis, the output V is an approximated curve (predetermined curve) from the output V measured from the initial time to the present time. It is assumed that it can be expressed by an approximate expression.

この場合、近似曲線は、表面抵抗センサ10の今後(将来)の出力を推測(推定)したものとなるので、近似曲線と、清掃が必要となる電圧を示す予め定めた閾値Vcとの交点の時間が推奨する清掃時期(推奨清掃時期tc)となる。   In this case, since the approximate curve is an estimation (estimation) of the future (future) output of the surface resistance sensor 10, the intersection of the approximate curve and a predetermined threshold value Vc indicating a voltage that needs to be cleaned is obtained. Time is the recommended cleaning time (recommended cleaning time tc).

ステップS3では、診断部40は、実測データに基づいて近似式を求める。例えば、診断部40は、初期時t=0から現時点t=t’までの実測データから最小二乗法を用いて、(式2)に示す1次回帰直線を求め、1次回帰直線の係数aとVoとを決定する。
V=a・t+Vo ・・・ (式2)
In step S3, the diagnosis unit 40 obtains an approximate expression based on the actual measurement data. For example, the diagnosis unit 40 obtains a primary regression line shown in (Equation 2) from measured data from the initial time t = 0 to the current time t = t ′ by using the least square method, and the coefficient a of the primary regression line And Vo are determined.
V = a · t + Vo (Formula 2)

ステップS4では、診断部40は、求めた近似式と予め設定した閾値Vcとの交点の時間を推奨清掃時期tcとして計算(推定)する。例えば、診断部40は、(式3)を用いて推奨清掃時期tcを算出する。
tc=(Vc−Vo)/a ・・・ (式3)
In step S4, the diagnosis unit 40 calculates (estimates) the time at the intersection of the obtained approximate expression and the preset threshold value Vc as the recommended cleaning time tc. For example, the diagnosis unit 40 calculates the recommended cleaning time tc using (Equation 3).
tc = (Vc−Vo) / a (Formula 3)

ここで、複数の高圧受配電盤100を監視する場合には、それぞれの高圧受配電盤100の中に表面抵抗センサ10を設けることで、複数の高圧受配電盤100の各々の清掃時期を適切に評価できる。   Here, when monitoring a plurality of high voltage distribution boards 100, by providing the surface resistance sensor 10 in each of the high voltage distribution boards 100, it is possible to appropriately evaluate the cleaning time of each of the plurality of high voltage distribution boards 100. .

ステップS5では、診断部40は、複数の高圧受配電盤100を監視している場合(例えば、複数の高圧受配電盤100の各々に表面抵抗センサ10およびデジタルアナログ変換器20が設けられている場合)、それぞれの高圧受配電盤100の推奨清掃時期tcを比較し、推奨清掃時期tcが最も小さいものを代表値とする。   In step S5, the diagnosis unit 40 is monitoring a plurality of high-voltage distribution boards 100 (for example, when the surface resistance sensor 10 and the digital-analog converter 20 are provided on each of the plurality of high-voltage distribution boards 100). The recommended cleaning time tc of each high-voltage power distribution panel 100 is compared, and the one with the smallest recommended cleaning time tc is set as a representative value.

ステップS6では、診断部40は、推奨清掃時期tcに係る情報を表示部50に表示する。推奨清掃時期tcに係る情報としては、現時点から清掃までの時間であってもよいし、推奨清掃時期tcであってもよいし、代表値であってもよいし、推奨清掃時期tcから算出可能なその他の情報であってもよい。   In step S6, the diagnosis unit 40 displays information related to the recommended cleaning time tc on the display unit 50. The information related to the recommended cleaning time tc may be the time from the current time to cleaning, the recommended cleaning time tc, or a representative value, which can be calculated from the recommended cleaning time tc. Other information may also be used.

図7は、表示部50で表示される画面51の一例を示す図である。図7では、No.1〜No.4の4つの高圧受配電盤100の清掃時期を診断しているケースの例を示している。高圧受配電盤100の中に1個ずつ入っている表面抵抗センサ10の測定結果から、(式3)を用いてそれぞれの高圧受配電盤100に対する現時点から清掃までの時間(tc−t’)が表示場所52a〜52dに表示される。また、各高圧受配電盤100の清掃までの時間(tc−t’)が比較され、最も直近の時間が清掃までの時間の代表値として表示場所53に表示される。   FIG. 7 is a diagram illustrating an example of a screen 51 displayed on the display unit 50. In FIG. 1-No. 4 shows an example of a case in which the cleaning time of the four high-voltage distribution boards 100 is diagnosed. From the measurement result of the surface resistance sensor 10 contained one by one in the high voltage distribution board 100, the time (tc−t ′) from the present time to the cleaning for each high voltage distribution board 100 is displayed using (Equation 3). It is displayed at the locations 52a to 52d. Further, the time (tc−t ′) until the cleaning of each high-voltage distribution board 100 is compared, and the latest time is displayed at the display location 53 as a representative value of the time until the cleaning.

ステップS7では、診断部40は、作業者からの入力に応じて、実績に基づくにように閾値Vcを調整する。例えば、作業者は、推定された清掃時期に高圧受配電盤100内の絶縁物の実際の表面抵抗を測り、実際の表面抵抗値の方が推定に用いた閾値Vcよりも低い場合、閾値Vcを高く設定し、実際の表面抵抗値の方が推定に用いた閾値Vcよりも高い場合、閾値Vcを低く設定するように、診断部40に入力を行う。なお、この構成に限られるものではなく、作業者により計測された高圧受配電盤100内の絶縁物の実際の表面抵抗値に基づいて、診断部40が、例えば、実際の表面抵抗値の方が推定に用いた閾値Vcよりも低い場合、閾値Vcを高く設定し、実際の表面抵抗値の方が推定に用いた閾値Vcよりも高い場合、閾値Vcを低く設定するようにしてもよい。かかる調整によれば、高圧受配電盤100の清掃時期をより正確に把握できるようになる。   In step S <b> 7, the diagnosis unit 40 adjusts the threshold value Vc so as to be based on the results in accordance with the input from the worker. For example, the operator measures the actual surface resistance of the insulator in the high-voltage distribution board 100 at the estimated cleaning time, and when the actual surface resistance value is lower than the threshold value Vc used for estimation, the threshold value Vc is set. If the actual surface resistance value is higher than the threshold value Vc used for estimation, an input is made to the diagnosis unit 40 so as to set the threshold value Vc lower. In addition, it is not restricted to this structure, based on the actual surface resistance value of the insulator in the high voltage distribution board 100 measured by the operator, the diagnosis unit 40 determines that the actual surface resistance value is, for example, If the threshold value Vc is lower than the threshold value Vc used for estimation, the threshold value Vc may be set higher. If the actual surface resistance value is higher than the threshold value Vc used for estimation, the threshold value Vc may be set lower. According to this adjustment, the cleaning time of the high voltage distribution board 100 can be grasped more accurately.

ステップS8では、作業者は、清掃時に表面抵抗センサ10の表面抵抗Rの絶縁物表面に付着している塵埃をウエス、エアーダスター等で除去し、表面抵抗Rの値を基準抵抗Rsの値と同程度に回復させる。   In step S8, the operator removes the dust adhering to the surface of the insulator of the surface resistance R of the surface resistance sensor 10 with a waste cloth, an air duster, etc. during cleaning, and the surface resistance R value is the same as the reference resistance Rs value. Restore to a degree.

以上の構成によれば、絶縁体の表面抵抗の変化をみることで設備の塵埃量が定量化され、最適な清掃時期が通知できるので、周囲環境によって異なる設備の汚損状態に応じて、適切な清掃頻度で設備の保守を行うことが可能となる。   According to the above configuration, the amount of dust in the equipment is quantified by looking at the change in the surface resistance of the insulator, and the optimum cleaning time can be notified. Equipment maintenance can be performed at a frequency of cleaning.

(2)他の実施の形態
なお上述の実施の形態においては、本発明を診断システム1に適用するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、この他種々の診断システム、診断装置、診断方法に広く適用することができる。
(2) Other Embodiments In the above-described embodiment, the case where the present invention is applied to the diagnostic system 1 has been described. However, the present invention is not limited thereto, and various other diagnostic systems, The present invention can be widely applied to diagnostic devices and diagnostic methods.

また上述の実施の形態においては、記録部30、診断部40、および表示部50は、例えば、ノートパソコン、タブレット端末等のコンピュータ(診断装置の一例)で実現されてもよい。この場合、コンピュータは、図示は省略するCPU(Central Processing Unit)、RAM(Random Access Memory)、ROM(Read Only Memory)、HDD(Hard Disk Drive)、ディスプレイなどを含んで構成される。コンピュータの機能(例えば、診断部40)は、例えば、CPUがROMに格納されたプログラムをRAMに読み出して実行すること(ソフトウェア)により実現されてもよいし、専用の回路などのハードウェアにより実現されてもよいし、ソフトウェアとハードウェアとが組み合わされて実現されてもよい。また、コンピュータの機能の一部は、コンピュータと通信可能な他のコンピュータにより実現されてもよい。   In the above-described embodiment, the recording unit 30, the diagnostic unit 40, and the display unit 50 may be realized by a computer (an example of a diagnostic device) such as a notebook computer or a tablet terminal. In this case, the computer includes a CPU (Central Processing Unit), a RAM (Random Access Memory), a ROM (Read Only Memory), a HDD (Hard Disk Drive), a display, etc. (not shown). The function of the computer (for example, the diagnosis unit 40) may be realized by, for example, the CPU reading a program stored in the ROM into the RAM and executing it (software), or by hardware such as a dedicated circuit. Alternatively, it may be realized by combining software and hardware. Also, some of the functions of the computer may be realized by another computer that can communicate with the computer.

また、上記の説明において各機能を実現するプログラム、テーブル、ファイル等の情報は、メモリや、ハードディスク、SSD(Solid State Drive)等の記憶装置、または、ICカード、SDカード、DVD等の記録媒体に置くことができる。   In the above description, information such as programs, tables, and files for realizing each function is stored in a storage device such as a memory, a hard disk, or an SSD (Solid State Drive), or a recording medium such as an IC card, an SD card, or a DVD. Can be put in.

また上述の実施の形態においては、高圧受配電盤100に表面抵抗センサ10が1つ設けられる場合について述べたが、本発明はこれに限らず、高圧受配電盤100に複数の表面抵抗センサ10が設けられるようにしてもよい。例えば、高圧受配電盤100に表面抵抗センサ10の区画ごとに表面抵抗センサ10が設けられてもよいし、通気口ごとに表面抵抗センサ10が設けられてもよいし、絶縁物ごと(例えば、絶縁物付近)に表面抵抗センサ10が設けられてもよい。この場合、それぞれの表面抵抗センサ10の推奨清掃時期tcを比較し、推奨清掃時期tcが最も小さいものを代表値としてもよい。かかる構成によれば、設備の清掃タイミングをより精確に把握することができる。なお、絶縁物ごとに表面抵抗センサ10が設けられる場合、絶縁物と表面抵抗センサ10内の絶縁板12a,12bとが同一物質であることが好適である。   In the above-described embodiment, the case where one surface resistance sensor 10 is provided in the high voltage distribution board 100 has been described. However, the present invention is not limited to this, and a plurality of surface resistance sensors 10 are provided in the high voltage distribution board 100. You may be made to do. For example, the surface resistance sensor 10 may be provided for each section of the surface resistance sensor 10 on the high-voltage distribution board 100, the surface resistance sensor 10 may be provided for each vent, or for each insulator (for example, insulation) The surface resistance sensor 10 may be provided in the vicinity of the object. In this case, the recommended cleaning time tc of each surface resistance sensor 10 may be compared, and the value with the smallest recommended cleaning time tc may be used as the representative value. According to such a configuration, the cleaning timing of the facility can be grasped more accurately. When the surface resistance sensor 10 is provided for each insulator, it is preferable that the insulator and the insulating plates 12a and 12b in the surface resistance sensor 10 are the same material.

また上述の実施の形態においては、絶縁板12a,12bの表面に電極13a,13bを設ける場合について述べたが、本発明は電極13a,13bが設けられる絶縁物の形状は、板状のものに限らず、任意の形状のもの(絶縁体)を用いることができる。   In the above-described embodiment, the case where the electrodes 13a and 13b are provided on the surfaces of the insulating plates 12a and 12b has been described. However, in the present invention, the shape of the insulator provided with the electrodes 13a and 13b is a plate-like shape. Not limited to any shape (insulator) can be used.

また上述した構成については、本発明の要旨を超えない範囲において、適宜に、変更したり、組み替えたり、組み合わせたり、省略したりしてもよい。   In addition, the above-described configuration may be changed, rearranged, combined, or omitted as appropriate without departing from the gist of the present invention.

1……診断システム、10……表面抵抗センサ、20……デジタルアナログ変換器、30……記録部、40……診断部、50……表示部、100……高圧受配電盤。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Diagnosis system, 10 ... Surface resistance sensor, 20 ... Digital-analog converter, 30 ... Recording part, 40 ... Diagnosis part, 50 ... Display part, 100 ... High voltage distribution board.

Claims (6)

絶縁物が設けられている設備を診断する診断システムであって、
直流電源の電圧を分圧するように、第1の表面抵抗と、前記第1の表面抵抗とは別の表面抵抗に保護部材を取り付けた第2の表面抵抗とが直列に接続され、分圧された電圧値を出力する、前記設備内に設けられる表面抵抗センサと、
前記表面抵抗センサにより出力された電圧値と予め定めた閾値との関係に基づいて、前記設備の清掃時期を推定する診断部と、
を備えることを特徴とする診断システム。
A diagnostic system for diagnosing equipment provided with an insulator,
A first surface resistance and a second surface resistance in which a protective member is attached to a surface resistance different from the first surface resistance are connected in series and divided so as to divide the voltage of the DC power supply. A surface resistance sensor provided in the facility,
Based on the relationship between the voltage value output by the surface resistance sensor and a predetermined threshold value, a diagnostic unit that estimates the cleaning time of the facility;
A diagnostic system comprising:
前記診断部は、前記設備の清掃時期に計測された前記設備内に設けられている絶縁物の表面抵抗に基づいて前記閾値を調整する、
ことを特徴とする請求項1に記載の診断システム。
The diagnostic unit adjusts the threshold based on a surface resistance of an insulator provided in the facility measured at the time of cleaning the facility.
The diagnostic system according to claim 1.
前記表面抵抗センサは、前記設備内の通気口付近に設けられる、
ことを特徴とする請求項1に記載の診断システム。
The surface resistance sensor is provided near a vent in the facility.
The diagnostic system according to claim 1.
前記診断部により推定された前記設備の清掃時期に係る情報を表示する表示部を備える、
ことを特徴とする請求項1に記載の診断システム。
A display unit for displaying information related to the cleaning time of the equipment estimated by the diagnostic unit;
The diagnostic system according to claim 1.
絶縁物が設けられている設備を診断する診断装置あって、
前記設備内には、直流電源の電圧を分圧するように、第1の表面抵抗と、前記第1の表面抵抗とは別の表面抵抗に保護部材を取り付けた第2の表面抵抗とが直列に接続され、分圧された電圧値を出力する表面抵抗センサが設けられ、
前記表面抵抗センサにより出力された電圧値の情報を記録する記録部と、
前記記録部に記録されている電圧値と予め定めた閾値との関係に基づいて、前記設備の清掃時期を推定する診断部と、
を備えることを特徴とする診断装置。
There is a diagnostic device for diagnosing equipment equipped with insulation,
In the facility, a first surface resistance and a second surface resistance in which a protective member is attached to a surface resistance different from the first surface resistance so as to divide the voltage of the DC power supply are connected in series. A surface resistance sensor that outputs a divided and divided voltage value is provided,
A recording unit for recording information on a voltage value output by the surface resistance sensor;
Based on the relationship between the voltage value recorded in the recording unit and a predetermined threshold value, a diagnostic unit that estimates the cleaning time of the facility;
A diagnostic apparatus comprising:
絶縁物が設けられている設備を診断するための診断方法であって、
直流電源の電圧を分圧するように、第1の表面抵抗と、前記第1の表面抵抗とは別の表面抵抗に保護部材を取り付けた第2の表面抵抗とが直列に接続され、前記設備内に設けられる表面抵抗センサが、分圧された電圧値を出力する第1のステップと、
診断部が、前記表面抵抗センサにより出力された電圧値と予め定めた閾値との関係に基づいて、前記設備の清掃時期を推定する第2のステップと、
を備えることを特徴とする診断方法。
A diagnostic method for diagnosing equipment provided with an insulator,
A first surface resistance and a second surface resistance in which a protective member is attached to a surface resistance different from the first surface resistance are connected in series so as to divide the voltage of the DC power supply, A surface resistance sensor provided in the first step of outputting a divided voltage value;
A diagnostic unit that estimates a cleaning time of the equipment based on a relationship between a voltage value output by the surface resistance sensor and a predetermined threshold;
A diagnostic method comprising:
JP2018055393A 2018-03-22 2018-03-22 Diagnostic system, diagnostic device, and diagnostic method Active JP7000219B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018055393A JP7000219B2 (en) 2018-03-22 2018-03-22 Diagnostic system, diagnostic device, and diagnostic method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018055393A JP7000219B2 (en) 2018-03-22 2018-03-22 Diagnostic system, diagnostic device, and diagnostic method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019168300A true JP2019168300A (en) 2019-10-03
JP7000219B2 JP7000219B2 (en) 2022-01-19

Family

ID=68108176

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018055393A Active JP7000219B2 (en) 2018-03-22 2018-03-22 Diagnostic system, diagnostic device, and diagnostic method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7000219B2 (en)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08220158A (en) * 1995-02-08 1996-08-30 Shibafu Eng Kk Deterioration detector for creeping insulation
JP2006170882A (en) * 2004-12-17 2006-06-29 Toshiba Corp Insulation diagnostic device, and its diagnostic method
JP2015068652A (en) * 2013-09-26 2015-04-13 日新電機株式会社 Contamination monitoring device

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08220158A (en) * 1995-02-08 1996-08-30 Shibafu Eng Kk Deterioration detector for creeping insulation
JP2006170882A (en) * 2004-12-17 2006-06-29 Toshiba Corp Insulation diagnostic device, and its diagnostic method
JP2015068652A (en) * 2013-09-26 2015-04-13 日新電機株式会社 Contamination monitoring device

Also Published As

Publication number Publication date
JP7000219B2 (en) 2022-01-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7292048B2 (en) Method and apparatus for measuring a dielectric response of an electrical insulating system
JP2017521670A (en) Weighing scale diagnosis method
US9857411B2 (en) Electronic device having function of detecting degradation of printed circuit board
WO2009144820A1 (en) Remote monitoring apparatus
JP2020003277A (en) Method and system for diagnosing shorted residual life of power receiving/distributing apparatus
WO2020090262A1 (en) Temperature threshold determining device, temperature abnormality determining system, temperature threshold determining method, and program
CN106557068B (en) Numerical control system
JP5836904B2 (en) Insulation material degradation diagnosis method and apparatus
JP5944773B2 (en) Method for diagnosing remaining life of insulators in substation equipment
JP7000219B2 (en) Diagnostic system, diagnostic device, and diagnostic method
US11243266B2 (en) Transformer hydrogen gas monitoring system, device, and method
JP5265245B2 (en) System, method and apparatus for measuring the capacitance of a stator component
JP2009281955A (en) Storage battery deterioration diagnostic system, storage battery deterioration diagnostic apparatus, storage battery deterioration diagnostic method and program
JP6334271B2 (en) Remaining life calculation method, deterioration diagnosis method, deterioration diagnosis device, and program
JP2015002600A (en) Remaining lifetime diagnosis method of power reception/distribution equipment, and remaining lifetime diagnosis device
US5576967A (en) Method and apparatus for monitoring and ensuring product quality
JP5357729B2 (en) Computer circuit and fault inspection method
JP2002267708A (en) Method and device for diagnosing deterioration of electrolytic capacitor
JP7072984B2 (en) Switch life diagnostic device
JP7283454B2 (en) Moisture intrusion detection method and detection device
JP7199208B2 (en) Deterioration diagnosis system, deterioration diagnosis device, deterioration diagnosis method, and computer program
CN116997806A (en) Insulation resistance monitoring device
JP6536608B2 (en) Pollution monitoring device
JP2000215766A (en) Monitoring diagnosis device
JP2024001706A (en) Program, information processing device, power apparatus and information processing method

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20201120

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20211028

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20211130

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20211223

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7000219

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150