JP2019078550A - Crack detection method - Google Patents

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Abstract

To provide a technique for an inspector to accurately evaluate a shape and a length of a crack.SOLUTION: The crack detection method detects a crack CLV generated on a surface SFC of a structure from an infrared image obtained under the irradiation of the structure STR with infrared IDW. The crack detection method includes installing an infrared camera 100 to receive infrared RFW reflected by the surface of the structure, imaging the surface using an infrared camera to obtain the infrared image, and determining whether there is a crack or not based on the intensity change of the infrared ray appearing in the infrared image.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、構造物に生じた亀裂を検出する技術に関する。   The present invention relates to a technique for detecting a crack generated in a structure.

亀裂が構造物に生じているか否かを検出するために、熱弾性効果が利用されることがある(特許文献1乃至3を参照)。これらの文献の検出技術は、赤外線カメラを用いて、亀裂の両端での特異的な温度変化を検出することを可能にする。   Thermoelastic effects may be used to detect whether a crack has occurred in a structure (see Patent Documents 1 to 3). The detection techniques of these documents make it possible to detect specific temperature changes at both ends of the crack using an infrared camera.

特開2006−98283号公報JP, 2006-98283, A 特開2007−163390号公報Unexamined-Japanese-Patent No. 2007-163390 特開2008−8705号公報JP 2008-8705 A

上述の検出技術によれば、熱弾性効果が顕著に現れる亀裂の両端の位置は、赤外線カメラから得られた赤外線画像から検出される。すなわち、赤外線画像内の温度分布に現れる2つの高温スポットは、亀裂の両端の位置を表す。検査者は、亀裂が2つの高温スポットを結ぶ直線に沿っていると推定することができる。   According to the above-described detection technique, the positions of both ends of the crack at which the thermoelastic effect is prominent are detected from the infrared image obtained from the infrared camera. That is, the two hot spots appearing in the temperature distribution in the infrared image represent the locations of the ends of the crack. The inspector can estimate that the crack is along a straight line connecting the two hot spots.

しかしながら、亀裂は、2つの高温スポットに沿って直線的に進展しているとは限らない。たとえば、亀裂は、2つの高温スポットの間で、湾曲しながら進展していることもあるし、ジグザグの経路に沿って進展していることもある。この場合、亀裂の長さは、検査者の推定値よりも長くなる。   However, the cracks do not necessarily extend linearly along the two hot spots. For example, the crack may be developing with bending between two hot spots or may be developing along a zig-zag path. In this case, the crack length will be longer than the examiner's estimate.

複数の亀裂が、赤外線画像内に存在することもある。この場合、2を超える高温スポットが、赤外線画像中に現れる。2を超える高温スポットが、赤外線画像中に現れるならば、検査者は、亀裂の位置を特定するために、これらの高温スポットのうちどの2つを対応付けるべきかを決定することはできない。   Multiple cracks may be present in the infrared image. In this case, more than two hot spots appear in the infrared image. If more than two hot spots appear in the infrared image, the inspector can not determine which two of these hot spots should be associated to locate the crack.

本発明は、検査者が亀裂の形状、長さや位置を精度よく評価することを可能にする技術を提供することを目的とする。   An object of the present invention is to provide a technique that enables an inspector to accurately evaluate the shape, length and position of a crack.

本発明の一局面に係る亀裂検出方法は、赤外線画像から構造物の表面に生じた亀裂を検出するために用いられる。亀裂検出方法は、前記構造物へ赤外線を照射するように人工的に配置された赤外線源から出射され、且つ、前記構造物の前記表面によって反射された赤外線を受光するように赤外線カメラを設置する工程と、前記赤外線カメラを用いて、前記表面を撮像し、前記赤外線画像を得る工程と、亀裂検出方法は、前記赤外線画像内で現れる前記赤外線の強度変化に基づいて、前記亀裂の有無を判定する工程と、を備える。   The crack detection method according to one aspect of the present invention is used to detect a crack formed on the surface of a structure from an infrared image. In the crack detection method, an infrared camera is installed so as to receive infrared light emitted from an infrared light source artificially disposed to irradiate the structure with infrared light and reflected by the surface of the structure. The step of imaging the surface using the infrared camera to obtain the infrared image, and the crack detection method determine the presence or absence of the crack based on a change in intensity of the infrared light appearing in the infrared image. And

上記の構成によれば、赤外線カメラは、構造物へ赤外線を照射するように人工的に配置された赤外線源から出射され、且つ、構造物の表面によって反射された赤外線を受光するように設置されるので、赤外線画像は、構造物の表面によって反射された赤外線の強度の分布を表すことができる。亀裂が生じている部位で反射され、赤外線カメラに到達する赤外線は、亀裂が生じていない部位で反射され、赤外線カメラに到達する赤外線よりも少なくなりやすい。したがって、亀裂は、構造物の表面によって反射された赤外線を受光するように設置された赤外線カメラによって撮像された構造物の表面を表す赤外線画像に鮮明に現れることになる。加えて、構造物の表面に生じた亀裂は、亀裂によって隔てられた2つの表面領域間において、赤外線の反射に関する光学的特性に差異を生じさせることもある。たとえば、亀裂の発生に起因して、2つの表面領域の傾斜に差が生ずるならば、これらの表面領域から反射され、赤外線カメラに受光される赤外線の強度に差異が生ずることもある。この場合、亀裂は、赤外線の強度において異なる2つの表面領域の境界として赤外線画像に現れることができる。検査者は、赤外線画像を観察し、構造物の表面に発生した亀裂の形状や位置を正確に把握することができる。亀裂の形状が赤外線画像に明瞭に現れるので、検査者は、赤外線画像から亀裂の長さを正確に測定することもできる。   According to the above configuration, the infrared camera is installed to receive the infrared light emitted from the infrared source artificially disposed to irradiate the structure with infrared light and reflected by the surface of the structure Thus, the infrared image can represent the distribution of the intensity of the infrared radiation reflected by the surface of the structure. The infrared light reflected at the cracked site and reaching the infrared camera is likely to be reflected at the non-cracked site and less than the infrared light reaching the infrared camera. Thus, the cracks will appear clearly in the infrared image representing the surface of the structure imaged by an infrared camera positioned to receive the infrared radiation reflected by the surface of the structure. In addition, cracks created on the surface of the structure may cause differences in the optical properties for infrared reflection between the two surface areas separated by the cracks. For example, if there is a difference in the slope of the two surface areas due to the occurrence of a crack, there may be a difference in the intensity of infrared light reflected from these surface areas and received by the infrared camera. In this case, a crack can appear in the infrared image as the boundary of two different surface areas in infrared intensity. An inspector can observe the infrared image to accurately grasp the shape and position of the crack generated on the surface of the structure. Since the shape of the crack clearly appears in the infrared image, the inspector can also accurately measure the length of the crack from the infrared image.

上記の構成に関して、前記亀裂の有無を判定する工程は、前記強度変化が現れる線状部位を前記亀裂として評価することを含んでもよい。   With regard to the above configuration, the step of determining the presence or absence of the crack may include evaluating a linear portion in which the strength change appears as the crack.

亀裂は、構造物の表面形状の線状変化として現れる。したがって、亀裂は、赤外線画像中において、赤外線の強度変化が生じた線状部位として現れることになる。したがって、亀裂は、赤外線画像中において、赤外線の強度変化が現れる線状部位として評価されることができる。   The cracks appear as linear changes in the surface shape of the structure. Therefore, the crack appears as a linear portion in the infrared image in which the intensity change of the infrared light occurs. Therefore, the crack can be evaluated as a linear site in which an infrared intensity change appears in the infrared image.

上記の構成に関して、前記亀裂の有無を判定する工程は、前記構造物の設計上の表面形状と前記線状部位とを対比し、前記線状部位が前記設計上の表面形状に合致していないならば、前記線状部位を前記亀裂として検出することを含んでもよい。   With regard to the above configuration, the step of determining the presence or absence of the crack compares the designed surface shape of the structure with the linear portion, and the linear portion does not match the designed surface shape. Then, the method may include detecting the linear portion as the crack.

構造物の設計上の表面形状の変化も、赤外線画像中において、赤外線の強度変化として現れる。赤外線画像中において赤外線の強度変化が生じた線状部位が、構造物の設計上の表面形状に合致しないならば、線状部位は、事後的に生じた表面形状の変化(すなわち、亀裂)を表しているということができる。したがって、亀裂は、構造物の設計上の表面形状の変化部位と混同されにくくなる。   Changes in the design surface shape of the structure also appear as changes in infrared intensity in the infrared image. If the linear portion where the infrared intensity change occurs in the infrared image does not conform to the designed surface shape of the structure, the linear portion will change the surface shape (i.e., a crack) that has subsequently occurred. It can be said that it represents. Therefore, the crack is less likely to be confused with the design surface shape change site of the structure.

上記の構成に関して、亀裂検出方法は、前記赤外線源を設置する工程と、前記赤外線を、前記赤外線源から前記構造物の前記表面に出射し、前記反射された赤外線を作り出す工程と、を更に備えてもよい。   With regard to the above configuration, the crack detection method further comprises the steps of: installing the infrared source; emitting the infrared light from the infrared source to the surface of the structure to produce the reflected infrared light. May be

上記の構成によれば、構造物の表面に赤外線を出射する赤外線源が設置されるので、検査者は、赤外線源の設置位置を調整し、適切な撮像条件を作り出すことができる。赤外線源が、構造物の表面の近くに配置されるならば、太陽光に含まれる赤外線以外の高い強度を有する赤外線が、構造物の表面から反射されることになる。この場合、赤外線の強度のコントラストが、亀裂が生じている部位と亀裂が生じていない部位との間や亀裂によって隔てられた2つの表面領域間で生じやすくなり、亀裂の鮮明な像が、赤外線画像に現れやすくなる。構造物の表面から反射された赤外線が過度に強いならば、亀裂の像は、亀裂の周囲において反射された強い赤外線によってぼやかされることもある。この場合、検査者は、赤外線源を構造物の表面から離し、亀裂の周囲で反射される赤外線を弱くすることができる。この結果、検査者は、亀裂の評価にとって適切な強度の赤外線の反射の下で、赤外線画像を得ることができる。   According to the above configuration, since the infrared light source that emits infrared light is installed on the surface of the structure, the examiner can adjust the installation position of the infrared light source and can create appropriate imaging conditions. If an infrared source is placed near the surface of the structure, infrared light having high intensity other than that contained in sunlight will be reflected from the surface of the structure. In this case, the infrared intensity contrast tends to occur between the cracked area and the non-cracked area or between two surface areas separated by the crack, and a clear image of the crack is It becomes easy to appear in the image. If the infrared radiation reflected from the surface of the structure is too strong, the image of the crack may be blurred by the strong infrared radiation reflected around the crack. In this case, the inspector can move the infrared source away from the surface of the structure to weaken the infrared reflected around the crack. As a result, the inspector can obtain an infrared image under the reflection of infrared light of an appropriate intensity for crack evaluation.

上記の構成に関して、前記赤外線源から前記構造物の前記表面に出射される前記赤外線は、前記赤外線カメラの温度分解能を超える温度上昇を前記構造物の前記表面に生じさせるエネルギを有してもよい。   With regard to the above configuration, the infrared light emitted from the infrared light source to the surface of the structure may have energy that causes the surface of the structure to have a temperature increase that exceeds the temperature resolution of the infrared camera. .

赤外線源から出射された赤外線は、亀裂が生じていない部位に当たりやすい一方で、亀裂が生じている部位には当たりにくい。したがって、赤外線源から出射された赤外線に由来する温度上昇は、亀裂が生じている部位よりも亀裂が生じていない部位において顕著に現れやすい。上記の構成によれば、赤外線源から構造物の表面に出射される赤外線は、赤外線カメラの温度分解能を超える温度上昇を構造物の表面に生じさせるエネルギを有するので、赤外線源から出射された赤外線に由来する温度上昇の差異も、赤外線画像に現れることになる。したがって、赤外線画像は、構造物の表面に生じた亀裂を鮮明に表すことができる。   The infrared ray emitted from the infrared source is likely to hit the non-cracked area, but hard to hit the cracked area. Therefore, the temperature rise due to the infrared rays emitted from the infrared ray source is more likely to appear in the non-cracked area than the cracked area. According to the above configuration, the infrared light emitted from the infrared light source to the surface of the structure has energy that causes the surface of the structure to have a temperature increase exceeding the temperature resolution of the infrared camera, and thus the infrared light emitted from the infrared light source The difference in the temperature rise resulting from will also appear in the infrared image. Thus, the infrared image can clearly show the cracks that have occurred on the surface of the structure.

上記の構成に関して、亀裂検出方法は、前記構造物に荷重を負荷し、前記亀裂が前記表面に生じさせた不連続部位を大きくする工程を更に備えてもよい。前記赤外線画像を得る前記工程は、前記荷重の負荷下の前記構造物の前記表面を撮像することを含んでもよい。   With regard to the above configuration, the crack detection method may further include the step of applying a load to the structure to increase discontinuities generated in the surface by the cracks. The step of obtaining the infrared image may comprise imaging the surface of the structure under the load of the load.

上記の構成によれば、赤外線画像は、荷重の負荷下にある構造物の表面を表すので、大きな不連続部位が、亀裂として、赤外線画像に鮮明に現れることになる。したがって、検査者は、亀裂を、赤外線画像から容易に把握することができる。   According to the above configuration, since the infrared image represents the surface of the structure under load, large discontinuities will appear clearly in the infrared image as cracks. Therefore, the inspector can easily grasp the crack from the infrared image.

上記の構成に関して、前記荷重は、前記構造物として亀裂検査されるクレーン設備に対して定められた定格荷重以下の値に設定されてもよい。   With regard to the above configuration, the load may be set to a value equal to or less than a rated load defined for a crane installation to be cracked as the structure.

上記の構成によれば、荷重は、構造物として亀裂検査されるクレーン設備に対して定められた定格荷重以下の値に設定されるので、亀裂がクレーン設備の表面に生じさせた不連続部位は、クレーン設備の損傷の低いリスクの下で、大きくなる。   According to the above configuration, the load is set to a value equal to or less than the rated load set for the crane installation to be crack-tested as a structure, so the discontinuous portion where the crack is generated on the surface of the crane installation is , Under the low risk of damage to the crane equipment, get bigger.

上記の構成に関して、前記赤外線源は、ハロゲンランプであってもよい。   Regarding the above configuration, the infrared light source may be a halogen lamp.

上記の構成によれば、ハロゲンランプが、赤外線源として用いられるので、検査者は、ハロゲンランプの設置位置を調整し、赤外線画像を得るために適切な赤外線照射環境を作り出すことができる。   According to the above configuration, since the halogen lamp is used as an infrared source, the examiner can adjust the installation position of the halogen lamp and create an infrared irradiation environment suitable for obtaining an infrared image.

上述の技術は、検査者が亀裂の形状、位置や長さを精度よく評価することを可能にする。   The above-described technology enables an inspector to accurately evaluate the shape, position and length of a crack.

亀裂検出方法の概念図である。It is a conceptual diagram of the crack detection method. 構造物の概略的な正面図である。It is a schematic front view of a structure. 図1に示される亀裂検出方法から得られた赤外線画像である。It is an infrared image obtained from the crack detection method shown by FIG. 図1に示される亀裂検出方法から得られた赤外線画像である。It is an infrared image obtained from the crack detection method shown by FIG. 図1に示される亀裂検出方法から得られた赤外線画像である。It is an infrared image obtained from the crack detection method shown by FIG. クレーン設備の概略的な斜視図である。It is a schematic perspective view of a crane installation.

赤外線画像を用いた構造物の欠陥評価に関して、外部から照射された赤外線は、赤外線画像中のノイズになると考えられていた。しかしながら、本発明者等は、構造物の近くに人工的に配置された赤外線源から照射された赤外線は、構造物に生じた亀裂の検出に有用であることを見出した。以下に説明される亀裂検出技術は、従来技術とは異なり、亀裂の両端の位置だけでなく、亀裂の形状をも検出することを可能にする。亀裂の形状は、赤外線画像中に明瞭に現れるので、検査者は、赤外線画像を用いて、亀裂の長さをも精度よく測定することができる。   With regard to defect evaluation of a structure using an infrared image, it was thought that the infrared light emitted from the outside would be noise in the infrared image. However, the inventors have found that infrared radiation emitted from an infrared source artificially placed near the structure is useful for detecting cracks in the structure. The crack detection technique described below, unlike the prior art, makes it possible to detect not only the location of the ends of the crack, but also the shape of the crack. Since the shape of the crack appears clearly in the infrared image, the inspector can also measure the length of the crack with high accuracy using the infrared image.

図1は、亀裂検出方法の概念図である。図1を参照して、亀裂検出方法が説明される。   FIG. 1 is a conceptual view of a crack detection method. A crack detection method is described with reference to FIG.

図1の実線の矢印は、構造物の近くに人工的に配置された赤外線源から構造物STRに入射する赤外線(以下、入射波IDWと称される)を意味する。図1の鎖線の矢印は、構造物STRによって反射された赤外線(以下、反射波RFWと称される)を意味する。赤外線を表す実線及び鎖線の太さは、赤外線の強さを概念的に表す。   The solid arrows in FIG. 1 mean infrared rays (hereinafter referred to as incident wave IDW) incident on the structure STR from an infrared source artificially disposed near the structure. The dashed-dotted arrows in FIG. 1 mean infrared rays reflected by the structure STR (hereinafter referred to as a reflected wave RFW). Thicknesses of solid lines and dashed lines representing infrared rays conceptually indicate the intensity of infrared rays.

図1は、赤外線カメラ100を示す。赤外線カメラ100は、反射波RFWを受光するように設置される。赤外線カメラ100は、赤外線の照射下で、構造物STRの表面SFCを撮像し、構造物STRの表面SFCを表す赤外線画像を作り出す。   FIG. 1 shows an infrared camera 100. The infrared camera 100 is installed to receive the reflected wave RFW. The infrared camera 100 images the surface SFC of the structure STR under irradiation of infrared light and produces an infrared image representing the surface SFC of the structure STR.

図1は、構造物STRの表面SFCに生じた亀裂CLVを示す。入射波IDWの一部は、亀裂CLVに入射する。亀裂CLVが生じていない部位は、平坦であるので、亀裂CLVが生じていない部位に入射した入射波IDWの多くは、反射波RFWとして赤外線カメラ100に入射することができる。一方、亀裂CLVに入射した入射波IDWは、亀裂CLVの深さを形成する亀裂面CVSの複雑な形状に応じて、様々な方向に反射する。したがって、亀裂CLVに入射した入射波IDWが、赤外線カメラ100に入射する反射波RFWになる割合は、亀裂CLVが生じていない部位に入射した入射波IDWが、赤外線カメラ100に入射する反射波RFWになる割合よりも小さくなる。たとえば、亀裂CLVに入射した入射波IDWの一部は、亀裂CLV内で反射を繰り返し、減衰することになる。したがって、亀裂CLVに対応する位置の赤外線画像は、弱い反射波RFWによって形成される一方で、亀裂CLVが生じていない部位に対応する位置の赤外線画像は、強い反射波RFWによって形成されることになる。亀裂CLVが生じている部位と亀裂CLVが生じていない部位との間での反射波RFWのコントラストは、亀裂CLVを表す亀裂像として赤外線画像中に現れることになる。   FIG. 1 shows a crack CLV that has occurred on the surface SFC of the structure STR. A portion of the incident wave IDW is incident on the crack CLV. Since the portion where the crack CLV is not generated is flat, most of the incident wave IDW incident on the portion where the crack CLV is not generated can be incident on the infrared camera 100 as a reflected wave RFW. On the other hand, incident wave IDW which entered into crack CLV is reflected in various directions according to the complicated shape of crack surface CVS which forms the depth of crack CLV. Therefore, the ratio of the incident wave IDW incident on the crack CLV to the reflected wave RFW incident on the infrared camera 100 is that the incident wave IDW incident on the portion where the crack CLV is not incident is the reflected wave RFW incident on the infrared camera 100 It becomes smaller than the rate of becoming. For example, a portion of the incident wave IDW incident on the crack CLV repeats reflection and attenuates in the crack CLV. Therefore, while the infrared image of the position corresponding to the crack CLV is formed by the weak reflected wave RFW, the infrared image of the position corresponding to the portion where the crack CLV is not generated is formed by the strong reflected wave RFW Become. The contrast of the reflected wave RFW between the site where the crack CLV occurs and the site where the crack CLV does not occur will appear in the infrared image as a crack image representing the crack CLV.

図2は、構造物STRの概略的な正面図である。図1及び図2を参照して、亀裂CLVの周囲における赤外線の強度分布が説明される。   FIG. 2 is a schematic front view of the structure STR. The intensity distribution of infrared light around the crack CLV will be described with reference to FIGS. 1 and 2.

図2は、亀裂CLVの周囲の3つの領域A,B,Cを、点線で描かれた円で示す。領域Aは、亀裂CLVが生じていない部位である。領域Bは、亀裂CLVが生じている部位である。領域Cは、亀裂CLVの端部(亀裂CLVの外側)に設定されている。   FIG. 2 shows the three areas A, B, C around the crack CLV in circles drawn by dotted lines. Region A is a portion where the crack CLV is not generated. The region B is a portion where the crack CLV is generated. Region C is set at the end of the crack CLV (outside the crack CLV).

領域Aから発せられる赤外線は、上述の反射波RFWの成分と、構造物STR自身が発する赤外線成分と、の和として考えられる。領域Bから発せられる赤外線は、領域Aと同様に、反射波RFWの成分と構造物STR自身が発する赤外線成分の和として考えられるけれども、図1を参照して説明された如く、領域Bの反射波RFWの成分は、領域Aの反射波RFWの成分よりも弱い。したがって、赤外線強度のコントラストが、領域A,B間で生ずる。上述の如く、赤外線強度のコントラストは、赤外線画像において、亀裂像として現れる。   The infrared rays emitted from the region A can be considered as the sum of the component of the reflected wave RFW described above and the infrared component emitted by the structure STR itself. Although the infrared rays emitted from the region B can be considered as the sum of the component of the reflected wave RFW and the infrared component emitted from the structure STR itself as in the region A, as described with reference to FIG. The component of the wave RFW is weaker than the component of the reflected wave RFW in the region A. Therefore, a contrast of infrared intensity is generated between the regions A and B. As mentioned above, the infrared intensity contrast appears as a crack image in the infrared image.

領域Cから発せられる赤外線は、上述の反射波RFWの成分と、構造物STR自身が発する赤外線成分と、熱弾性効果に起因した温度上昇によって生じた赤外線成分と、の和として考えられる。構造物STRが、鋼や他の金属から形成されているならば、構造物STR内の良好な熱伝導の結果、熱弾性効果の結果生じた高温スポットは短時間に消失する。したがって、熱弾性効果に起因した温度上昇によって生じた赤外線成分は、赤外線画像に現れないこともある。しかしながら、領域A,Bに関連して説明されたように、亀裂像は、領域A,B間の赤外線強度のコントラストによって形成されるので、亀裂の形状や長さは、熱弾性効果の結果生じた高温スポットの消失後に得られた赤外線画像からも評価されることができる。   The infrared radiation emitted from the region C is considered as the sum of the component of the reflected wave RFW, the infrared radiation component emitted by the structure STR itself, and the infrared radiation component produced by the temperature rise due to the thermoelastic effect. If the structure STR is made of steel or another metal, as a result of the good heat transfer in the structure STR, the hot spots resulting from the thermoelastic effect disappear in a short time. Therefore, the infrared component generated by the temperature rise due to the thermoelastic effect may not appear in the infrared image. However, as described in connection with the regions A and B, the crack image is formed by the contrast of the infrared intensity between the regions A and B, so the shape and length of the crack are the result of the thermoelastic effect It can also be evaluated from infrared images obtained after the disappearance of the hot spots.

図1を参照して説明された入射波IDWは、太陽光によって熱せられた天井から発せられた赤外線であってもよい。代替的に、入射波IDWは、構造物STRの近くに配置された高温物(たとえば、溶融材料、ボイラや加熱炉)から発せられた赤外線であってもよい。更に代替的に、入射波IDWは、ハロゲンランプや、赤外線を照射することができる他の赤外線照射装置であってもよい。赤外線源として例示されたこれらの物は、人工的に配置されている。「人工的に配置されている」との用語は、ヒトの手を介して配置されていることを意味し、太陽自体といったヒトの手を介在することなく存在している有体物を除外することを意図している。しかしながら、「人工的に配置されている」との用語は、自然エネルギを受け、赤外線を照射する人工物や人工的に配置された物(たとえば、上述の天井)を除外するものではない。   The incident wave IDW described with reference to FIG. 1 may be infrared light emitted from a ceiling heated by sunlight. Alternatively, the incident wave IDW may be infrared radiation emitted from a hot material (e.g., molten material, boiler or furnace) disposed near the structure STR. Further alternatively, the incident wave IDW may be a halogen lamp or another infrared irradiation device capable of emitting infrared light. These objects illustrated as infrared sources are artificially arranged. The term "arranged artificially" means arranged through the hand of the human being, excluding the tangibles that exist without the intervention of the human hand, such as the sun itself. Intended. However, the term "arranged artificially" does not exclude natural energy-irradiated artifacts or artificially arranged objects (e.g. the ceiling mentioned above).

領域Aに入射する入射波IDWは、構造物STRの内部に入り込むことなく反射される一方で、領域Bに入射する入射波IDWの一部は、構造物STRの内部に入り込むこともある。したがって、領域Aに入射する入射波IDWに起因する構造物STRの表面SFCの温度上昇は、領域Bに入射する入射波IDWに起因する亀裂CLVの温度上昇よりも顕著に表れる。入射波IDWが、赤外線カメラ100の温度分解能を超える温度上昇を構造物STRの表面SFCに生じさせるのに十分なエネルギを有するならば、領域A,B間の温度上昇率の差も亀裂像として現れることになる。   The incident wave IDW incident on the region A is reflected without entering the inside of the structure STR, while part of the incident wave IDW incident on the region B may enter inside the structure STR. Therefore, the temperature rise of the surface SFC of the structure STR due to the incident wave IDW incident on the region A appears more prominently than the temperature rise of the crack CLV due to the incident wave IDW incident on the region B. If the incident wave IDW has sufficient energy to generate a temperature rise on the surface SFC of the structure STR exceeding the temperature resolution of the infrared camera 100, the difference in temperature rise rate between the regions A and B is also a crack image It will appear.

図3A乃至図3Cは、上述の亀裂検出方法から得られた赤外線画像である。図3A乃至図3Cを参照して赤外線画像が説明される。   Figures 3A-3C are infrared images obtained from the crack detection method described above. An infrared image is described with reference to FIGS. 3A to 3C.

図3Aに示される構造物の表面は、塗膜によって覆われている。構造物に生じた亀裂の結果、塗膜は、亀裂に沿って盛り上がっている。亀裂に沿った塗膜の隆起の結果、亀裂の発生部位に入射した赤外線は、様々な方向に反射する。したがって、亀裂が発生した部位で反射した赤外線が、赤外線カメラによって捕捉される量は、亀裂が発生していない部位で反射した赤外線よりも少ない。すなわち、赤外線カメラによって捕捉される赤外線量の差異が、亀裂が発生した部位と亀裂が発生していない部位との間で生ずる。赤外線カメラによって捕捉される赤外線量の差異は、図3Aに示されるように、亀裂を表す亀裂像として現れる。   The surface of the structure shown in FIG. 3A is covered by a coating. As a result of the cracks occurring in the structure, the coating is raised along the cracks. As a result of the coating bulge along the crack, the infrared rays incident on the crack initiation site reflect in various directions. Therefore, the amount of infrared light reflected at the cracked site is smaller than the amount of infrared light reflected at the non-cracked site. That is, a difference in the amount of infrared light captured by the infrared camera occurs between the cracked site and the non-cracked site. The difference in the amount of infrared light captured by the infrared camera appears as a crack image representing a crack, as shown in FIG. 3A.

図3Bに示される赤外線画像に関して、亀裂より上の領域と亀裂より下の領域との間で段差が生じている。外部から照射された赤外線は、段差といった亀裂が生じさせた不連続部位に入射しにくい。加えて、亀裂が生じさせた不連続部位から赤外線カメラへ伝播する赤外線は、亀裂が生じていない部位から赤外線カメラへ伝播する赤外線よりも少なくなりやすい。亀裂が生じさせた不連続部位と他の領域との間での赤外線の入射量及び/又は反射量の差異は、図3Bに示されるように、亀裂を表す亀裂像として現れる。   For the infrared image shown in FIG. 3B, there is a step between the area above the crack and the area below the crack. Infrared rays radiated from the outside are less likely to be incident on discontinuous sites where cracks have occurred, such as steps. In addition, the infrared radiation propagating from the cracked discontinuity to the infrared camera tends to be less than the infrared radiation propagating from the non-cracked region to the infrared camera. The difference between the amount of incident infrared radiation and / or the amount of reflection of infrared rays between the discontinuity where the crack has occurred and the other region appears as a crack image representing a crack, as shown in FIG. 3B.

図3A及び図3Bの赤外線画像中に現れる亀裂は、直線的に進展している一方で、図3Cに示される赤外線画像中の亀裂は、大きく湾曲している。従来技術とは異なり、上述の亀裂検出方法は、亀裂の端部の位置だけでなく、亀裂の形状をも赤外線画像中に映し出すことを可能にする。したがって、検査者は、赤外線画像から構造物に生じた亀裂の長さも精度よく測定することができる。   The cracks appearing in the infrared image of FIGS. 3A and 3B are developing linearly, while the cracks in the infrared image shown in FIG. 3C are highly curved. Unlike the prior art, the crack detection method described above allows not only the location of the crack edge but also the shape of the crack to be shown in the infrared image. Therefore, the examiner can also accurately measure the length of the crack generated in the structure from the infrared image.

図3Cの赤外線画像の右側に示される縦帯は、赤外線カメラが捕捉した赤外線量から換算された構造物の表面の温度を表す。検査者は、縦帯に示される温度区分を参照し、構造物の表面の温度分布を分析することができる。亀裂の発生の結果、構造物の表面形状の微小変形(たとえば、表面のうねり)が生ずることがある。亀裂は、亀裂によって仕切られた2つの領域を不連続にするので、表面形状の差異が、これらの領域間で生ずることもある。検査者が、図3Cの赤外線画像の温度分布を分析すると、亀裂より上側の領域と下側の領域との間での温度分布特性に差異を見出すことができる。検査者は、これらの領域間での温度分布特性の差異から、構造物の表面形状の変形の発生をも検出することができる。したがって、上述の亀裂検出方法は、従来技術よりも多くの種類の情報を検査者に与えることを可能にする。   The vertical band shown on the right side of the infrared image in FIG. 3C represents the surface temperature of the structure converted from the amount of infrared light captured by the infrared camera. The examiner can analyze the temperature distribution on the surface of the structure with reference to the temperature division shown in the vertical band. As a result of the occurrence of cracks, micro deformation (e.g., surface waviness) of the surface shape of the structure may occur. Since a crack makes two regions separated by a crack discontinuous, surface shape differences may also occur between these regions. When the inspector analyzes the temperature distribution of the infrared image of FIG. 3C, a difference can be found in the temperature distribution characteristics between the area above and below the crack. The inspector can also detect the occurrence of deformation of the surface shape of the structure from the difference in temperature distribution characteristics between these regions. Thus, the crack detection method described above makes it possible to give the inspector more information than in the prior art.

図3A乃至図3Cに示されるように、亀裂は、赤外線画像内に現れる赤外線の強度変化として現れる。したがって、検査者は、赤外線画像を参照し、赤外線の強度変化が現れた部位を亀裂として判定することができる。しかしながら、構造物の設計上の表面形状が平坦でないならば、設計上の表面形状の非線状の凹凸部位が、赤外線画像中の赤外線の強度変化を引き起こすこともある。亀裂は、構造物の表面の直線状又は曲線状の変化であるので、検査者は、赤外線画像中の非線状の強度変化部位を亀裂として評価しなくてもよい。加えて、検査者が、赤外線画像を構造物の設計上の表面形状と対比し、赤外線画像中に現れた強度変化部位が亀裂を表しているか否かを判断することもできる。設計上、構造物の表面に形状変化が現れない位置に、赤外線強度の線状変化が現れているならば、検査者は、線状変化が現れている部位を亀裂として判断することができる。   As shown in FIGS. 3A to 3C, the cracks appear as a change in the intensity of infrared radiation that appears in the infrared image. Therefore, the examiner can refer to the infrared image and determine the portion where the intensity change of the infrared light appears as a crack. However, if the designed surface shape of the structure is not flat, the non-linear uneven portion of the designed surface shape may cause the intensity change of infrared light in the infrared image. Since the crack is a linear or curvilinear change of the surface of the structure, the examiner may not evaluate the non-linear strength change site in the infrared image as a crack. In addition, the examiner can compare the infrared image to the designed surface shape of the structure to determine whether the intensity change site appearing in the infrared image represents a crack. If, by design, a linear change in infrared intensity appears at a position where no shape change appears on the surface of the structure, the examiner can judge the portion where the linear change appears as a crack.

図4は、クレーン設備CRFの概略的な斜視図である。図4を参照して、亀裂検出方法が更に説明される。   FIG. 4 is a schematic perspective view of the crane installation CRF. The crack detection method is further described with reference to FIG.

クレーン設備CRFは、2つのランウェイガーダRWGと、2つのクレーン桁CRBと、2つのサドルSDLと、クラブトローリCTRと、を備える。2つのランウェイガーダRWGは、略平行に延びる。2つのサドルSDLは、2つのランウェイガーダRWGにそれぞれ載置され、これらのランウェイガーダRWGに沿って移動することができる。2つのクレーン桁CRBは、2つのサドルSDL間で、ランウェイガーダRWGに略直角に延びる。したがって、クレーン桁CRBは、サドルSDLとともに、ランウェイガーダRWGの延設方向に移動することができる。クラブトローリCTRは、2つのクレーン桁CRBによって支持される。したがって、クラブトローリCTRは、クレーン桁CRB及びサドルSDLとともに、ランウェイガーダRWGの延設方向に移動することができる。加えて、クラブトローリCTRは、2つのクレーン桁CRBに沿って、ランウェイガーダRWGの延設方向に対して直角の方向にも移動することができる。   The crane installation CRF comprises two runway girders RWG, two crane girder CRBs, two saddles SDL and a club trolley CTR. The two runway girders RWG extend substantially parallel. The two saddles SDL are respectively mounted on the two runway girders RWG and can move along these runway girders RWG. The two crane girders CRB extend substantially perpendicularly to the runway girder RWG between the two saddles SDL. Therefore, the crane girder CRB can be moved in the extending direction of the runway girder RWG together with the saddle SDL. The Club Troli CTR is supported by two crane girder CRBs. Therefore, the club trolley CTR can move in the extending direction of the runway girder RWG together with the crane girder CRB and the saddle SDL. In addition, the club trolley CTR can also be moved along the two crane girders CRB in a direction perpendicular to the runway girder RWG extension direction.

上述の亀裂検出方法は、ランウェイガーダRWGやクレーン桁CRBに生じた亀裂の検出に好適に利用可能である。図4は、クラブトローリCTRから吊り下げられたステージSTG上に設置された赤外線カメラ100を示す。ハロゲンランプ200は、赤外線を出射する赤外線源として、ステージSTG上で、赤外線カメラ100の隣に設置されている。赤外線カメラ100及びハロゲンランプ200は、2つのランウェイガーダRWGのうち一方に向けられている。したがって、赤外線カメラ100から得られた赤外線画像は、2つのランウェイガーダRWGのうち一方の表面に生じた亀裂の検査に利用されることができる。検査者は、赤外線カメラ100及びハロゲンランプ200の向きを変え、他方のランウェイガーダRWG及び2つのクレーン桁CRBの表面に生じた亀裂を検出することもできる。   The above-mentioned crack detection method can be suitably used for detection of a crack generated in a runway girder RWG or a crane girder CRB. FIG. 4 shows the infrared camera 100 installed on the stage STG suspended from the club trolley CTR. The halogen lamp 200 is installed on the stage STG next to the infrared camera 100 as an infrared source for emitting infrared light. The infrared camera 100 and the halogen lamp 200 are directed to one of two runway Garda RWGs. Therefore, the infrared image obtained from the infrared camera 100 can be used to inspect a crack that has occurred on one of the two runway girders RWG. The inspector can also change the orientation of the infrared camera 100 and the halogen lamp 200, and detect a crack formed on the surface of the other runway girder RWG and the two crane girders CRB.

サドルSDLが、ランウェイガーダRWGに沿って移動されるならば、赤外線カメラ100の視野は、ランウェイガーダRWGの長手方向に移動する。この間、検査者は、赤外線カメラ100を用いて、ランウェイガーダRWGの表面を、ランウェイガーダRWGの長手方向に連続的に撮像することができる。したがって、検査者は、ランウェイガーダRWG全体を短時間に検査し、亀裂がランウェイガーダRWGに生じているか否かを判定することができる。   If the saddle SDL is moved along the runway girder RWG, the field of view of the infrared camera 100 moves in the longitudinal direction of the runway girder RWG. During this time, the inspector can use the infrared camera 100 to continuously image the surface of the runway girder RWG in the longitudinal direction of the runway girder RWG. Therefore, the inspector can inspect the entire runway girder RWG in a short time to determine whether or not a crack has occurred in the runway girder RWG.

2つのクレーン桁CRB、2つのサドルSDL、クラブトローリCTR、ステージSTG、赤外線カメラ100及びハロゲンランプ200の重量は、ランウェイガーダRWGに加わる荷重になる。ランウェイガーダRWGに亀裂が生じているならば、荷重は、亀裂によって生じた不連続部位(たとえば、段差や亀裂の幅)を大きくすることもある。したがって、亀裂によって生じた不連続部位は、2つのクレーン桁CRB、2つのサドルSDL、クラブトローリCTR、ステージSTG、赤外線カメラ100及びハロゲンランプ200の重量が負荷された条件下で得られた赤外線画像に鮮明に現れやすくなる。   The weights of the two crane girders CRB, the two saddles SDL, the club trolley CTR, the stage STG, the infrared camera 100 and the halogen lamp 200 are loads applied to the runway girder RWG. If the runway girder RWG is cracked, the load may also increase discontinuities (eg, step or crack width) caused by the crack. Thus, the discontinuities created by the crack are infrared images obtained under the loaded weight of two crane girders CRB, two saddles SDL, club trolley CTR, stage STG, infrared camera 100 and halogen lamp 200 It becomes easy to appear clearly.

錘が、ステージSTGに乗せられてもよい。ステージSTG、赤外線カメラ100及び錘の重量の総和が、クレーン設備CRFに対して定められた定格荷重に達するならば、許容される最大荷重が、ランウェイガーダRWGに加わることになる。この結果、亀裂によって生じた不連続部位は、最大化されることもある。したがって、亀裂は、赤外線画像に鮮明に現れやすくなる。亀裂の鮮明化のためにクレーン設備CRFに加えられる荷重は、定格荷重でなくてもよい。作業者は、亀裂の鮮明化とクレーン設備CRFに対する安全性とを考慮して、クレーン設備CRFに加えられる荷重を定格荷重以下の値に設定してもよい。   A weight may be placed on the stage STG. If the sum of the weights of the stage STG, the infrared camera 100 and the weight reaches the rated load defined for the crane installation CRF, the maximum allowable load will be applied to the runway girder RWG. As a result, the discontinuities created by the cracks may be maximized. Thus, the cracks are more likely to appear clearly in the infrared image. The load applied to the crane installation CRF for crack definition may not be the rated load. The operator may set the load applied to the crane installation CRF to a value equal to or less than the rated load, in consideration of the sharpening of the crack and the safety of the crane installation CRF.

熱弾性効果に依存する従来の検査技術は、亀裂の端部に特異応力場を発生させる必要があるので、動荷重が必要とされる。一方、上述の亀裂検出方法は、亀裂によって生じた不連続部位を拡張するために、荷重を利用するので、荷重は、静荷重であってもよいし、動荷重であってもよい。   Conventional inspection techniques that rely on the thermoelastic effect require dynamic loading because they need to generate a singular stress field at the end of the crack. On the other hand, since the above-mentioned crack detection method uses a load in order to expand the discontinuous part generated by the crack, the load may be a static load or a dynamic load.

赤外線カメラ100の視野が、大きな荷重が加わる領域を含むように、赤外線カメラ100は設置されてもよい。この場合、鮮明な亀裂像が、赤外線画像に現れやすくなる。   The infrared camera 100 may be installed such that the field of view of the infrared camera 100 includes an area to which a large load is applied. In this case, a clear crack image tends to appear in the infrared image.

検査者は、ハロゲンランプ200の位置を、亀裂検査の前に調整してもよい。検査者が、亀裂検査前に得られた赤外線画像を参照し、赤外線の強度が強すぎると判断するならば、検査者は、ハロゲンランプ200をランウェイガーダRWGから離してもよい。検査者が、赤外線の強度が弱すぎると判断するならば、検査者は、ハロゲンランプ200をランウェイガーダRWGに近づけてもよい。ハロゲンランプ200の出力が、調整可能であるならば、検査者は、ハロゲンランプ200を操作し、ハロゲンランプ200の出力を調整してもよい。この結果、赤外線の適切な照射環境が作り出される。   The inspector may adjust the position of the halogen lamp 200 before the crack inspection. If the examiner refers to the infrared image obtained before the crack examination and determines that the intensity of the infrared ray is too strong, the examiner may move the halogen lamp 200 away from the runway girder RWG. If the examiner determines that the intensity of infrared light is too weak, the examiner may bring the halogen lamp 200 closer to the Runway Garda RWG. If the output of the halogen lamp 200 is adjustable, the examiner may operate the halogen lamp 200 to adjust the output of the halogen lamp 200. As a result, an appropriate infrared radiation environment is created.

亀裂が生じやすい部位が既知であるとき、或いは、検査されるべき部位が予め定まっている場合、検査者は、赤外線カメラ100を、対象部位に正対させてもよい。このとき、ハロゲンランプ200の光軸が赤外線カメラ100の光軸に交差するように、検査者は、ハロゲンランプ200をステージSTG上に設置してもよい。代替的に、ハロゲンランプ200の光軸が、赤外線カメラ100の光軸に平行になるように、検査者は、ハロゲンランプ200をステージSTG上に設置してもよい。本実施形態の原理は、ハロゲンランプ200の光軸と赤外線カメラ100の光軸との間の特定の関係に限定されない。   When the site likely to be cracked is known, or when the site to be examined is previously determined, the examiner may cause the infrared camera 100 to face the target site. At this time, the inspector may place the halogen lamp 200 on the stage STG so that the optical axis of the halogen lamp 200 intersects the optical axis of the infrared camera 100. Alternatively, the inspector may place the halogen lamp 200 on the stage STG such that the optical axis of the halogen lamp 200 is parallel to the optical axis of the infrared camera 100. The principle of the present embodiment is not limited to a specific relationship between the optical axis of the halogen lamp 200 and the optical axis of the infrared camera 100.

上述の実施形態の原理は、様々な検査対象の亀裂検査に利用可能である。   The principles of the above-described embodiments are applicable to crack inspection of various inspection objects.

100・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・赤外線カメラ
200・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ハロゲンランプ(赤外線源)
CLV・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・亀裂
CRF・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・クレーン設備
IDW・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・入射波(赤外線)
RFW・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・反射波(赤外線)
SFC・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・表面
STR・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・構造物
100 ···················· infrared camera 200 ···················· halogen lamp (infrared source)
CLV ···················· crack CRF ···················· crane equipment IDW ···· · · · · · · · · · · · · · Incident wave (infrared)
RFW ···················· reflected wave (infrared)
SFC ························································· Structure

Claims (8)

赤外線画像から構造物の表面に生じた亀裂を検出する亀裂検出方法であって、
前記構造物へ赤外線を照射するように人工的に配置された赤外線源から出射され、且つ、前記構造物の前記表面によって反射された赤外線を受光するように赤外線カメラを設置する工程と、
前記赤外線カメラを用いて、前記表面を撮像し、前記赤外線画像を得る工程と、
前記赤外線画像内で現れる前記赤外線の強度変化に基づいて、前記亀裂の有無を判定する工程と、を備える
亀裂検出方法。
A crack detection method for detecting a crack generated on a surface of a structure from an infrared image, comprising:
Installing an infrared camera so as to receive infrared light emitted from an infrared source artificially arranged to irradiate the structure with infrared light and reflected by the surface of the structure;
Imaging the surface using the infrared camera to obtain the infrared image;
Determining the presence or absence of the crack based on a change in intensity of the infrared light appearing in the infrared image.
前記亀裂の有無を判定する工程は、前記強度変化が現れる線状部位を前記亀裂として評価することを含む
請求項1に記載の亀裂検出方法。
The crack detection method according to claim 1, wherein the step of determining the presence or absence of the crack includes evaluating a linear portion in which the strength change appears as the crack.
前記亀裂の有無を判定する工程は、前記構造物の設計上の表面形状と前記線状部位とを対比し、前記線状部位が前記設計上の表面形状に合致していないならば、前記線状部位を前記亀裂として検出することを含む
請求項2に記載の亀裂検出方法。
The step of determining the presence or absence of the crack compares the designed surface shape of the structure with the linear portion, and if the linear portion does not match the designed surface shape, the line The crack detection method according to claim 2, comprising detecting a cracked portion as the crack.
前記赤外線源を設置する工程と、
前記赤外線を、前記赤外線源から前記構造物の前記表面に出射し、前記反射された赤外線を作り出す工程と、を更に備える
請求項1乃至3のいずれか1項に記載の亀裂検出方法。
Installing the infrared source;
The crack detection method according to any one of claims 1 to 3, further comprising: emitting the infrared light from the infrared light source to the surface of the structure to produce the reflected infrared light.
前記赤外線源から前記構造物の前記表面に出射される前記赤外線は、前記赤外線カメラの温度分解能を超える温度上昇を前記構造物の前記表面に生じさせるエネルギを有する
請求項1乃至4のいずれか1項に記載の亀裂検出方法。
The infrared light emitted from the infrared light source to the surface of the structure has energy that causes the surface of the structure to have a temperature increase exceeding the temperature resolution of the infrared camera. The crack detection method as described in a term.
前記構造物に荷重を負荷し、前記亀裂が前記表面に生じさせた不連続部位を大きくする工程を更に備え、
前記赤外線画像を得る前記工程は、前記荷重の負荷下の前記構造物の前記表面を撮像することを含む
請求項1乃至5のいずれか1項に記載の亀裂検出方法。
The method further comprises the step of applying a load to the structure to increase discontinuities that the crack has caused on the surface,
The crack detection method according to any one of claims 1 to 5, wherein the step of obtaining the infrared image includes imaging the surface of the structure under a load of the load.
前記荷重は、前記構造物として亀裂検査されるクレーン設備に対して定められた定格荷重以下の値に設定される
請求項6に記載の亀裂検出方法。
The crack detection method according to claim 6, wherein the load is set to a value equal to or less than a rated load defined for a crane installation to be crack-tested as the structure.
前記赤外線源は、ハロゲンランプである
請求項1乃至7のいずれか1項に記載の亀裂検出方法。
The crack detection method according to any one of claims 1 to 7, wherein the infrared light source is a halogen lamp.
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