JP2019060851A - Lens characteristics measuring device and method for actuating lens characteristics measuring device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、被検レンズの光学特性を測定するレンズ特性測定装置及びレンズ特性測定装置の作動方法に関する。 The present invention relates to a lens characteristic measuring apparatus for measuring an optical characteristic of a lens to be measured and an operation method of the lens characteristic measuring apparatus.
眼鏡レンズ(被検レンズ)の光学特性を測定するレンズ特性測定装置が知られている。レンズ特性測定装置は、被検レンズに対してその測定範囲をカバーする光束径の平行光束からなる測定光を照射する照明光学系と、被検レンズを透過した測定光が入射するハルトマンプレートと、ハルトマンプレートの多数のピンホールをそれぞれ透過した測定光が投影されるスクリーンと、スクリーンに投影された多数の測定光の点像を撮影する撮影光学系と、を備える(特許文献1及び特許文献2参照)。 There is known a lens characteristic measurement device that measures the optical characteristics of a spectacle lens (test lens). The lens characteristic measuring apparatus comprises: an illumination optical system which irradiates a measuring light consisting of a parallel luminous flux having a diameter of a luminous flux covering the measuring range to the test lens; a Hartmann plate on which the measuring light transmitted through the test lens is incident; A screen on which measurement light respectively transmitted through a large number of pinholes of a Hartmann plate is projected, and a photographing optical system for photographing a point image of the large number of measurement lights projected onto the screen (Patent Document 1 and Patent Document 2) reference).
レンズ特性測定装置では、被検レンズがセットされていない場合、スクリーンに投影される各点像の間隔はハルトマンプレートの各ピンホールの間隔と等しくなる。また、被検レンズが凸レンズである場合、スクリーンに投影される各点像の間隔はハルトマンプレートの各ピンホールの間隔よりも狭くなる。さらに、被検レンズが凹レンズである場合、スクリーンに投影される各点像の間隔はハルトマンプレートの各ピンホールの間隔よりも広くなる。このため、レンズ特性測定装置では、撮影光学系により撮影されたスクリーンの撮影画像を解析して、スクリーンに投影された各点像の位置を取得することで、被検レンズの光学特性を得る。 In the lens characteristic measurement device, when the lens to be examined is not set, the distance between the point images projected onto the screen is equal to the distance between the pinholes of the Hartmann plate. When the lens to be measured is a convex lens, the distance between the point images projected onto the screen is smaller than the distance between the pinholes of the Hartmann plate. Furthermore, when the lens to be measured is a concave lens, the distance between the point images projected onto the screen is wider than the distance between the pinholes of the Hartmann plate. Therefore, in the lens characteristic measurement apparatus, the optical characteristic of the lens to be measured is obtained by analyzing the photographed image of the screen photographed by the photographing optical system and acquiring the position of each point image projected on the screen.
このようなレンズ特性測定装置では、被検レンズからスクリーンまでの距離が長いほど、被検レンズの屈折力が変化した際にスクリーン上での点像の移動量が大きくなるので、レンズ特性測定装置の感度(分解能)が向上する。しかし、被検レンズからスクリーンまでの距離を長くすると、レンズ特性測定装置によりプラスの強度数(焦点距離が短い)の被検レンズの光学特性を測定する場合に、ハルトマンプレートの互いに異なる2個のピンホールにそれぞれ対応するスクリーン上の2個の点像が重なったり或いは位置関係が反転したりする。このため、各点像の正確な位置を検出することができない。 In such a lens characteristic measurement apparatus, the longer the distance from the test lens to the screen, the larger the amount of movement of the point image on the screen when the refractive power of the test lens changes, so the lens characteristic measurement apparatus Improves the sensitivity (resolution) of However, when the distance from the test lens to the screen is increased, two different Hartmann plate plates are used to measure the optical characteristics of the test lens of positive intensity number (short focal length) by the lens characteristic measurement device. Two point images on the screen respectively corresponding to the pinholes overlap or their positional relationship is reversed. For this reason, the exact position of each point image can not be detected.
そこで、特許文献1には、ハルトマンプレートとスクリーンとの間の距離を変更可能なレンズ特性測定装置が開示されている。このレンズ特性測定装置では、プラスの弱度数の被検レンズ又はマイナス度数の被検レンズの光学特性を測定する場合には上記距離を長くし、且つプラスの強度数の被検レンズの光学特性を測定する場合には上記距離を短くすることにより、上記の点像の重なり及び位置関係の反転の発生を防止している。 Therefore, Patent Document 1 discloses a lens characteristic measurement device capable of changing the distance between a Hartmann plate and a screen. In this lens characteristic measurement apparatus, in the case of measuring the optical characteristics of the test lens of positive weak power or the test lens of negative power, the distance is increased and the optical characteristics of the test lens of positive intensity number are In the case of measurement, the above distance is shortened to prevent the occurrence of the overlapping of the point images and the reversal of the positional relationship.
また、特許文献2には、ハルトマンプレート及び被検レンズの位置関係が特許文献1とは逆であるが、被検レンズとスクリーンとの間の距離を変更可能なレンズ特性測定装置が開示されている。このレンズ特性測定装置では、被検レンズとスクリーンとの間の距離を2つの異なる距離に変更し、個々の距離でスクリーンに投影される各点像を撮影光学系で撮影し、撮影により得られた距離ごとの撮影画像に基づき、被検レンズの光学特性を得る。 Further, Patent Document 2 discloses a lens characteristic measurement device capable of changing the distance between the test lens and the screen although the positional relationship between the Hartmann plate and the test lens is opposite to that of Patent Document 1. There is. In this lens characteristic measurement device, the distance between the lens to be measured and the screen is changed to two different distances, and each point image projected onto the screen at each distance is photographed by a photographing optical system and obtained by photographing. The optical characteristic of the lens to be measured is obtained based on the photographed image for each distance.
ところで、特許文献1及び特許文献2に記載のレンズ特性測定装置のように、スクリーンを移動させる場合、スクリーンを移動する移動機構を設けることでレンズ特性測定装置が大型化するという問題が生じる。また、スクリーンを移動する場合にはその移動距離の再現性の影響を受けやすい。 By the way, when moving a screen like the lens characteristic measuring apparatus of patent document 1 and patent document 2, the problem that a lens characteristic measuring apparatus will enlarge by providing a moving mechanism which moves a screen arises. In addition, when the screen is moved, it is susceptible to the reproducibility of the movement distance.
図22は、特許文献1及び特許文献2のレンズ特性測定装置の光源(測定光)に起因する課題を説明するための説明図である。なお、図22では、光源300、コリメータ301、ハルトマンプレート302、スクリーン303、及びカメラ304を備えるレンズ特性測定装置において、被検レンズ306(マイナス度数)の光学測定を行っている。 FIG. 22 is an explanatory view for explaining a problem caused by the light source (measurement light) of the lens characteristic measurement device of Patent Document 1 and Patent Document 2. Note that, in FIG. 22, in the lens characteristic measurement apparatus provided with the light source 300, the collimator 301, the Hartmann plate 302, the screen 303, and the camera 304, optical measurement of the test lens 306 (minus dioptric power) is performed.
特許文献1及び特許文献2に記載のレンズ特性測定装置では、既述の通り、被検レンズ306のレンズ面上の測定範囲をカバーする光束径の測定光30Xが必要となる。このため、このレンズ特性測定装置では、測定光308の配光角度が広いタイプの光源300を用いる必要があるが、配向角度を広げることで光源300の光度が低下してしまう。 In the lens characteristic measurement devices described in Patent Document 1 and Patent Document 2, as described above, the measurement light 30X of the light beam diameter that covers the measurement range on the lens surface of the test lens 306 is required. For this reason, in this lens characteristic measurement device, it is necessary to use a light source 300 of a type in which the light distribution angle of the measurement light 308 is wide, but the light intensity of the light source 300 is lowered by widening the orientation angle.
図22の符号XXIIAに示すように、光源300ではその光軸310上の測定光308の光度が最も高くなり、光軸310に対する角度αが大きくなるのに従って測定光308の光度が低下する。このため、図22の符号XXIIBに示すように、コリメータ301を用いて測定光30Xの太径の平行光束を作ると、測定光308の光量分布312は光軸310上に比べてその周辺の光量が低下する。従って、ハルトマンプレート302のピンホールを透過してスクリーン303に投影される点像(輝点)の照度は、スクリーン303の中心部に比べてその周辺部で低下する。 As indicated by symbol XXIIA in FIG. 22, in the light source 300, the luminous intensity of the measurement light 308 on the optical axis 310 is the highest, and the luminous intensity of the measurement light 308 decreases as the angle α with respect to the optical axis 310 increases. Therefore, as shown by a symbol XXIIB in FIG. 22, when a collimated light flux of a large diameter of the measurement light 30X is produced by using the collimator 301, the light quantity distribution 312 of the measurement light 308 has a light quantity in the periphery thereof as compared with that on the optical axis 310. Decreases. Therefore, the illuminance of the point image (bright point) which is transmitted through the pinholes of the Hartmann plate 302 and projected onto the screen 303 is lowered at the peripheral portion thereof as compared with the central portion of the screen 303.
また、図22の符号XXIICに示すように、レンズ特性測定装置では、点像が投影されているスクリーン303をカメラ304で撮影し、このカメラ304の撮影画像を解析して点像の位置を検出する。このため、撮影画像内の周辺部の像は、光軸310上の像と比較した場合にコサイン4乗則により暗くなる。 Further, as indicated by a symbol XXIIC in FIG. 22, in the lens characteristic measurement apparatus, the screen 304 on which the point image is projected is photographed by the camera 304, and the photographed image of the camera 304 is analyzed to detect the position of the point image. Do. For this reason, the image of the peripheral portion in the photographed image becomes dark due to the cosine fourth law when compared with the image on the optical axis 310.
さらに、一般的なスクリーン303は理想的な拡散面(点線円314参照)ではないので、図22の符号XXIIDに示すように、スクリーン303に入射した角度の測定光308の光度が最も高く、これ以外の方向では光度が低下する(点線楕円316参照)。特に被検レンズ306がマイナス度数のレンズである場合、被検レンズ306を透過した測定光308は発散光となる。このため、被検レンズ306を透過した測定光308の周辺光束は外側に向かうため、カメラ304で受光可能な測定光308の光度は低くなってしまう。その結果、カメラ304で撮影される点像の照度は、カメラ304の中心部に比べてその周辺部で低下してしまう。 Furthermore, since the general screen 303 is not an ideal diffusion surface (see the dotted circle 314), the luminous intensity of the measurement light 308 at the angle incident on the screen 303 is the highest, as indicated by symbol XXIID in FIG. In the other directions, the light intensity decreases (see dotted oval 316). In particular, when the test lens 306 is a lens of minus power, the measurement light 308 transmitted through the test lens 306 becomes divergent light. For this reason, since the peripheral luminous flux of the measurement light 308 transmitted through the test lens 306 is directed outward, the luminous intensity of the measurement light 308 that can be received by the camera 304 becomes low. As a result, the illuminance of the point image captured by the camera 304 is lowered in the peripheral portion compared to the central portion of the camera 304.
従って、従来のレンズ特性測定装置では、撮影画像の中心部での明るさが適切になるように、各部(光源輝度、カメラ304のゲイン、及びカメラ304の撮像素子の蓄積時間など)を調整すると、撮影画像の周辺部が暗くなる。その結果、この周辺部内での点像の検出が不可能となる。また逆に、撮影画像の周辺部での明るさが適切になるように調整を行うと、撮影画像の中心部内の点像が白飛びしてしまうので、点像の位置検出精度が低下する。 Therefore, in the conventional lens characteristic measurement apparatus, when each part (the light source luminance, the gain of the camera 304, the accumulation time of the imaging device of the camera 304, etc.) is adjusted so that the brightness at the center of the photographed image becomes appropriate. , The periphery of the captured image becomes dark. As a result, it is impossible to detect a point image in the peripheral portion. Conversely, if the brightness at the periphery of the captured image is adjusted to be appropriate, the point image in the center of the captured image will be white-out, and the position detection accuracy of the point image will be degraded.
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、撮影画像の中心部及び周辺部での測定感度の低下防止と、大型化防止とを実現可能なレンズ特性測定装置、及びレンズ特性測定装置の作動方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of such circumstances, and a lens characteristic measuring apparatus capable of preventing the reduction in measurement sensitivity in the central portion and the peripheral portion of the photographed image and the enlargement thereof, and the lens characteristic measurement The purpose is to provide a method of operating the device.
本発明の目的を達成するためのレンズ特性測定装置は、被検レンズの表面を線状光束で走査する走査光学系と、被検レンズに対して走査光学系とは反対側に設けられており、2次元配列された複数のピンホールを有するハルトマンプレートであって、且つ走査光学系による走査により被検レンズを透過してピンホールに照射された線状光束を透過するハルトマンプレートと、ハルトマンプレートを透過した線状光束が投影されるスクリーンと、スクリーンに対してハルトマンプレートとは反対側に設けられ、走査光学系により線状光束の走査が実行されている間、スクリーンの撮影を行う撮影光学系と、を備える。 A lens characteristic measurement device for achieving the object of the present invention is provided on a side opposite to the scanning optical system with respect to the scanning optical system for scanning the surface of the test lens with a linear light beam and the scanning optical system. A Hartmann plate having a plurality of pinholes arranged in a two-dimensional array, and transmitting a linear light flux transmitted through a lens to be measured by scanning with a scanning optical system and emitted to the pinholes; A screen on which a linear light flux transmitted through is projected, and an imaging optical system provided on the opposite side to the screen with respect to the screen and performing imaging of the screen while scanning of the linear light flux is executed by the scanning optical system And a system.
このレンズ特性測定装置によれば、眼鏡レンズの表面上で線状光束を走査することにより、撮影画像の中心部と周辺部とで線状光束による点像の明るさに差が生じることが防止され、且つスクリーンを移動させる移動機構を設けることなく、スクリーン上に投影される線状光束による点像の重なり及び位置関係の反転を防止することができる。 According to this lens characteristic measurement device, by scanning the linear light beam on the surface of the spectacle lens, it is possible to prevent the difference in the brightness of the point image by the linear light beam between the central portion and the peripheral portion of the photographed image. It is possible to prevent the overlap and the positional relationship of the point images from being projected by the linear light beam projected onto the screen without providing a moving mechanism for moving the screen.
本発明の他の態様に係るレンズ特性測定装置において、撮影光学系により撮影されたスクリーンの撮影画像を解析して、スクリーンに投影された線状光束の投影位置を取得する位置取得部と、スクリーンに投影された線状光束が透過したピンホールのピンホール位置を判別する位置判別部と、位置取得部が取得した投影位置と、位置判別部によるピンホール位置の判別結果と、既知の被検レンズ、ハルトマンプレート、及びスクリーンの位置関係と、に基づき、被検レンズの光学特性を取得する光学特性取得部と、を備える。これにより、被検レンズの種類に関係なく、被検レンズの光学特性を精度良く測定することができる。 In a lens characteristic measurement device according to another aspect of the present invention, a position acquisition unit that analyzes a photographed image of a screen photographed by a photographing optical system and acquires a projection position of a linear light beam projected on the screen; Position determination unit for determining the pinhole position of the pinhole through which the linear light beam projected is transmitted, the projection position obtained by the position acquisition unit, the result of determination of the pinhole position by the position determination unit, and the known test And an optical characteristic acquisition unit that acquires an optical characteristic of the lens to be measured based on the positional relationship between the lens, the Hartmann plate, and the screen. This makes it possible to measure the optical characteristics of the test lens with high accuracy regardless of the type of the test lens.
本発明の他の態様に係るレンズ特性測定装置において、位置判別部は、位置取得部が取得した線状光束の投影位置と、走査光学系による線状光束の走査角度であって且つ投影位置に投影された線状光束の走査角度とに基づき、ピンホール位置を判別する。これにより、スクリーンに投影された各線状光束がそれぞれ透過したピンホール位置を正確に判別することができる。 In the lens characteristic measurement device according to another aspect of the present invention, the position determination unit determines the projection position of the linear light beam acquired by the position acquisition unit and the scanning angle of the linear light beam by the scanning optical system and The pinhole position is determined based on the projected scanning angle of the linear light beam. Thereby, the pinhole position which each linear light beam projected on the screen permeate | transmitted can be discriminate | determined correctly.
本発明の他の態様に係るレンズ特性測定装置において、走査光学系から被検レンズの表面に至る線状光束の光路の途中に設けられ、線状光束の一部の分割する光分割部と、光分割部により分割された線状光束を受光する受光光学系と、受光光学系により受光された線状光束の受光位置に基づき、走査角度の測定値を取得する測定値取得部と、を備え、位置判別部は、線状光束の投影位置と、測定値取得部が取得した走査角度の測定値とに基づき、ピンホール位置を判別する。これにより、スクリーンに投影された各線状光束がそれぞれ透過したピンホール位置をより正確に判別することができる。 In a lens characteristic measuring apparatus according to another aspect of the present invention, a light dividing portion provided on an optical path of a linear luminous flux from the scanning optical system to the surface of the lens to be measured and dividing a part of the linear luminous flux; A light receiving optical system for receiving a linear light beam divided by the light dividing unit, and a measured value acquiring unit for acquiring a measured value of a scanning angle based on a light receiving position of the linear light beam received by the light receiving optical system. The position determination unit determines the pinhole position based on the projection position of the linear light beam and the measurement value of the scanning angle acquired by the measurement value acquisition unit. Thereby, the pinhole position which each linear light beam projected on the screen each permeate | transmitted can be discriminate | determined more correctly.
本発明の他の態様に係るレンズ特性測定装置において、光学特性取得部が取得した被検レンズの光学特性と、測定値取得部が取得した走査角度の測定値とに基づき、被検レンズの光学特性の分布を示すマッピング画像を生成するマッピング画像生成部を備える。これにより、マッピング画像の再現性を向上させることができる。 In the lens characteristic measuring apparatus according to another aspect of the present invention, the optical system of the subject lens based on the optical characteristic of the subject lens acquired by the optical characteristic acquisition unit and the measured value of the scanning angle acquired by the measured value acquisition unit. A mapping image generation unit is provided which generates a mapping image indicating the distribution of the characteristics. Thereby, the reproducibility of the mapping image can be improved.
本発明の他の態様に係るレンズ特性測定装置において、ハルトマンプレートには、ピンホールが等間隔で2次元配列されており、走査光学系は、線状光束の直径を、ハルトマンプレート上でピンホールの直径よりも大きく且つ互いに隣り合うピンホールの間の距離よりも小さく調整している。これにより、スクリーンに投影された線状光束による点像の位置検出を確実に実行することができ、且つスクリーン上に投影される線状光束による点像の重なり及び位置関係の反転を防止することができる。 In the lens characteristic measurement apparatus according to another aspect of the present invention, pinholes are two-dimensionally arranged at equal intervals on the Hartmann plate, and the scanning optical system is configured to have the diameter of the linear luminous flux as pinholes on the Hartmann plate. The adjustment is made to be larger than the diameter of and smaller than the distance between the adjacent pinholes. Thereby, the position detection of the point image by the linear light beam projected on the screen can be surely performed, and the overlap and the positional relationship inversion of the point images by the linear light beam projected on the screen can be prevented. Can.
本発明の他の態様に係るレンズ特性測定装置において、走査光学系を制御して、撮影光学系により撮影されるスクリーンの撮影画像に含まれる線状光束による点像の数を調整する点像数調整部を備える。これにより、スクリーンの撮影画像に含まれる線状光束による点像の数を増加させることで光学特性の測定を短時間で完了することができ、逆にスクリーンの撮影画像に含まれる線状光束による点像の数を減少させることでスクリーンに投影される線状光束による点像が重なり及び位置関係の反転等の発生を防止することができる。 In the lens characteristic measuring apparatus according to another aspect of the present invention, the number of point images for controlling the scanning optical system to adjust the number of point images by linear light flux included in the photographed image of the screen photographed by the photographing optical system It has an adjustment unit. As a result, the measurement of the optical characteristics can be completed in a short time by increasing the number of point images due to the linear light flux included in the captured image on the screen, and conversely, the linear light flux included in the captured image on the screen By reducing the number of point images, it is possible to prevent the occurrence of overlapping of the point images due to the linear light beams projected onto the screen and the reversal of the positional relationship.
本発明の他の態様に係るレンズ特性測定装置において、線状光束の走査範囲及び走査パターンの種類の少なくともいずれかの設定を行う走査設定部を備え、走査光学系は、走査設定部での設定に従って線状光束の走査を行う。これにより、眼鏡レンズの種類に応じて、線状光束の走査範囲及び走査パターンを任意に変更することができる。 The lens characteristic measurement device according to another aspect of the present invention includes a scan setting unit configured to set at least one of a linear light beam scan range and a scan pattern type, and the scan optical system is set by the scan setting unit. The linear light beam is scanned according to. Thus, the scanning range and the scanning pattern of the linear light flux can be arbitrarily changed according to the type of the spectacle lens.
本発明の他の態様に係るレンズ特性測定装置において、走査光学系から出射される線状光束の走査角度を制御して、線状光束により被検レンズの表面を走査させる光学系制御部と、走査光学系から被検レンズの表面に至る線状光束の光路の途中に設けられ、線状光束の一部の分割する光分割部と、光分割部により分割された線状光束を受光する受光光学系と、受光光学系により受光された線状光束の受光位置に基づき、走査角度の測定値を取得する測定値取得部と、予め取得した走査角度の指示値と、測定値取得部が取得した測定値と、を比較した結果に基づき、光学系制御部による走査角度の制御を補正する補正部と、を備える。これにより、被検レンズの光学特性の測定精度及び光学特性のマッピング画像の再現性が向上する。 In the lens characteristic measurement device according to another aspect of the present invention, an optical system control unit that scans the surface of the lens to be measured with the linear light beam by controlling the scanning angle of the linear light beam emitted from the scanning optical system. A light dividing portion provided in the middle of the optical path of the linear light flux from the scanning optical system to the surface of the lens to be measured and receiving the linear light flux divided by the light dividing portion Based on the optical system and the light receiving position of the linear light beam received by the light receiving optical system, a measured value acquisition unit that acquires a measured value of the scanning angle, an indication value of a scanned angle acquired in advance, and a measured value acquisition unit And a correction unit that corrects the control of the scanning angle by the optical system control unit based on the result of comparing the measured values with each other. This improves the measurement accuracy of the optical characteristics of the lens to be measured and the reproducibility of the mapping image of the optical characteristics.
本発明の目的を達成するためのレンズ特性測定装置の作動方法は、被検レンズの一面側に配置され、2次元配列された複数のピンホールを有するハルトマンプレートと、ハルトマンプレートに対して被検レンズとは反対側に設けられたスクリーンと、スクリーンに対してハルトマンプレートとは反対側に設けられ、スクリーンの撮影を行う撮影光学系と、を備えるレンズ特性測定装置の作動方法において、被検レンズの一面側とは反対側の他面側に配置された走査光学系が、被検レンズの表面を線状光束で走査するステップと、撮影光学系が、走査光学系により線状光束の走査が実行されている間、被検レンズ及びピンホールを透過した線状光束が投影されるスクリーンを撮影するステップと、を有する。 In order to achieve the object of the present invention, an operating method of a lens characteristic measuring apparatus comprises: a Hartmann plate disposed on one surface side of a lens to be examined and having a plurality of two-dimensionally arranged pinholes; In a method of operating a lens characteristic measurement apparatus, comprising: a screen provided on the side opposite to the lens; and an imaging optical system provided on the opposite side to the Hartmann plate with respect to the screen for imaging the screen. The scanning optical system disposed on the other surface side opposite to the one surface side scans the surface of the lens under test with a linear light beam, and the photographing optical system scans the linear light beam by the scanning optical system And photographing the screen on which the linear luminous flux transmitted through the subject lens and the pinhole is projected.
本発明の他の態様に係るレンズ特性測定装置の作動方法において、撮影光学系により撮影されたスクリーンの撮影画像を解析して、スクリーンに投影された線状光束の投影位置を取得する位置取得ステップと、スクリーンに投影された線状光束が透過したピンホールのピンホール位置を判別する位置判別ステップと、位置取得ステップで取得した投影位置と、位置判別ステップでのピンホール位置の判別結果と、既知の被検レンズ、ハルトマンプレート、及びスクリーンの位置関係と、に基づき、被検レンズの光学特性を取得する光学特性取得ステップと、を有し、位置判別ステップが、位置取得ステップで取得した線状光束の投影位置と、走査光学系による線状光束の走査角度であって且つ投影位置に投影された線状光束の走査角度とに基づき、ピンホール位置を判別し、走査光学系から被検レンズの表面に至る線状光束の光路の途中に設けられ、線状光束の一部の分割する光分割ステップと、光分割ステップで分割された線状光束を受光光学系で受光する受光ステップと、受光光学系により受光された線状光束の受光位置に基づき、走査角度の測定値を取得する測定値取得ステップと、を有し、位置判別ステップは、線状光束の投影位置と、測定値取得ステップで取得された走査角度の測定値とに基づき、ピンホール位置を判別する。 In an operating method of a lens characteristic measuring apparatus according to another aspect of the present invention, a position acquiring step of analyzing a photographed image of a screen photographed by a photographing optical system and acquiring a projection position of a linear light beam projected on the screen A position determination step of determining the pinhole position of the pinhole through which the linear light beam projected on the screen is transmitted, the projection position acquired in the position acquisition step, and the discrimination result of the pinhole position in the position determination step; An optical characteristic acquisition step of acquiring an optical characteristic of the test lens based on the positional relationship between the known test lens, the Hartmann plate, and the screen; and the line determined by the position acquisition step in the position determination step Based on the projection position of the linear luminous flux, the scanning angle of the linear luminous flux by the scanning optical system, and the scanning angle of the linear luminous flux projected to the projection position Pin hole position is determined, provided along the light path of the linear light beam from the scanning optical system to the surface of the lens to be measured, and divided by the light division step of dividing a portion of the linear light beam and the light division step And a measured value acquiring step of acquiring a measured value of a scanning angle based on a light receiving position of the linear light flux received by the light receiving optical system, and a light receiving step of receiving the linear light flux received by the light receiving optical system. The position determination step determines the pinhole position based on the projection position of the linear light beam and the measurement value of the scanning angle acquired in the measurement value acquisition step.
本発明の他の態様に係るレンズ特性測定装置の作動方法において、レンズ特性測定装置が、走査光学系から出射される線状光束の走査角度を制御して、線状光束により被検レンズの表面を走査させる光学系制御部を有しており、走査光学系から被検レンズの表面に至る線状光束の光路の途中において、線状光束の一部の分割する光分割ステップと、光分割ステップにて分割された線状光束を受光する受光ステップと、受光ステップで受光された線状光束の受光位置に基づき、走査角度の測定値を取得する測定値取得ステップと、予め取得した走査角度の指示値と、測定値取得ステップで取得した測定値と、を比較した結果に基づき、光学系制御部による走査角度の制御を補正する補正ステップと、を有する。 In the method of operating a lens characteristic measuring apparatus according to another aspect of the present invention, the lens characteristic measuring apparatus controls the scanning angle of the linear luminous flux emitted from the scanning optical system, and the surface of the lens to be measured by the linear luminous flux. An optical system control unit for scanning the light, and in the middle of the light path of the linear light beam from the scanning optical system to the surface of the lens to be detected, a light dividing step of dividing a part of the linear light beam; And a measured value acquiring step of acquiring a measured value of the scanning angle based on the light receiving step of receiving the linear luminous flux divided in the step and the light receiving position of the linear luminous flux received in the light receiving step; The correction step of correcting the control of the scanning angle by the optical system control unit on the basis of the result of comparing the instruction value and the measurement value acquired in the measurement value acquisition step.
本発明は、撮影画像の中心部及び周辺部での測定感度の低下防止と、大型化防止とを実現できる。 The present invention can realize the prevention of reduction in measurement sensitivity in the central part and the peripheral part of a photographed image and the prevention of enlargement.
[第1実施形態のレンズ特性測定装置の構成]
図1は、第1実施形態のレンズ特性測定装置10の外観斜視図である。レンズ特性測定装置10は、眼鏡フレーム101に保持されている左右の眼鏡レンズ102(本発明の被検レンズに相当)の光学特性を同時測定する。この光学特性は、例えばバックフォーカスBf(図9参照)、球面屈折力、円柱屈折力(乱視屈折力)、円柱軸角度(乱視軸角度)、及びプリズム値(プリズム屈折力及びプリズム基底方向)等である。
Configuration of Lens Characteristic Measurement Device According to First Embodiment
FIG. 1 is an external perspective view of the lens characteristic measuring apparatus 10 according to the first embodiment. The lens characteristic measurement device 10 simultaneously measures the optical characteristics of the left and right spectacle lenses 102 (corresponding to the subject lens of the present invention) held by the spectacle frame 101. The optical characteristics include, for example, back focus Bf (see FIG. 9), spherical power, cylindrical power (astigmatic power), cylindrical axis angle (astigmatic axis angle), and prism value (prism power and prism base direction). It is.
眼鏡フレーム101は、左右の眼鏡レンズ102をそれぞれ保持する左右のリム104(レンズ枠ともいう)と、左右のリム104を接続するブリッジ部105と、左右のリム104にそれぞれ設けられた鼻当てパッド部106及びテンプル107と、を備える。 The eyeglass frame 101 has left and right rims 104 (also referred to as lens frames) for holding the left and right eyeglass lenses 102, bridge portions 105 for connecting the left and right rims 104, and nose pads provided on the left and right rims 104 respectively. A portion 106 and a temple 107;
レンズ特性測定装置10は、図中上下方向に間隔をあけて設けられた上側筐体11及び下側筐体12と、上側筐体11及び下側筐体12の背面側に設けられた背部筐体13と、を備える。 The lens characteristic measurement device 10 has an upper housing 11 and a lower housing 12 provided at intervals in the vertical direction in the figure, and a back housing provided on the back side of the upper housing 11 and the lower housing 12. And a body 13.
上側筐体11の前面側には、眼鏡レンズ102の光学特性の測定結果等を表示するモニタ15と、レンズ特性測定装置10の各種操作を行う各種の操作スイッチ16と、を備える。また、上側筐体11の内部には、後述のセット部20に支持された眼鏡フレーム101の左右の眼鏡レンズ102に対してそれぞれ測定光である線状光束46(図4参照)を照射する一対の走査光学系35(図4参照)が設けられている。なお、一対の走査光学系35の一部は背部筐体13の内部に設けられている。 The front side of the upper housing 11 is provided with a monitor 15 for displaying a measurement result of the optical characteristic of the spectacle lens 102 and the like, and various operation switches 16 for performing various operations of the lens characteristic measuring apparatus 10. Further, a pair of linear light fluxes 46 (see FIG. 4), which are measurement light, are respectively emitted to the left and right spectacle lenses 102 of the spectacle frame 101 supported by the setting unit 20 described later inside the upper housing 11. The scanning optical system 35 (see FIG. 4) is provided. A part of the pair of scanning optical systems 35 is provided inside the back case 13.
下側筐体12の上面には、既述の上側筐体11の下方位置[上側筐体11からの線状光束46(図4参照)の照射位置]にセット部20が設けられている。このセット部20には、光学特性の測定対象となる眼鏡フレーム101がセット及び支持される。 The set portion 20 is provided on the upper surface of the lower housing 12 at the lower position of the above-described upper housing 11 (the irradiation position of the linear luminous flux 46 (see FIG. 4) from the upper housing 11). An eyeglass frame 101 to be measured of optical characteristics is set and supported by the setting unit 20.
下側筐体12及び背部筐体13の内部には、後述の図4に示すように、セット部20にセットされた眼鏡フレーム101の左右の眼鏡レンズ102をそれぞれ透過した線状光束46が照射される一対のハルトマンプレート32と、一対のハルトマンプレート32をそれぞれ透過した線状光束46が投影される一対のスクリーン36と、一対のスクリーン36をそれぞれ撮影する一対の撮影光学系37と、が設けられている。 In the lower housing 12 and the back housing 13, as shown in FIG. 4 described later, the linear light flux 46 transmitted respectively through the left and right eyeglass lenses 102 of the eyeglass frame 101 set in the set portion 20 is irradiated. A pair of Hartmann plates 32, a pair of screens 36 on which the linear light beams 46 respectively transmitted through the pair of Hartmann plates 32 are projected, and a pair of photographing optical systems 37 for photographing the pair of screens 36 respectively It is done.
図2はセット部20の斜視図である。図3はセット部20の上面図である。図2及び図3に示すように、セット部20には、一対の挟持部材21,22がレンズ特性測定装置10の前後方向に間隔をあけて配置されている。挟持部材21,22は、互いに接近する方向と互いに離間する方向とに変位可能であり、両者の間にセットされた眼鏡フレーム101を挟持する。これにより、眼鏡フレーム101の上下方向をレンズ特性測定装置10の前後方向に揃え、且つ眼鏡レンズ102の表面を上側筐体11に対向させることができる。なお、眼鏡レンズ102の裏面とは眼鏡フレーム101の使用者(装着者)の顔面に対向する面であり、その反対側の面が眼鏡レンズ102の表面である。 FIG. 2 is a perspective view of the setting unit 20. FIG. FIG. 3 is a top view of the setting unit 20. FIG. As shown in FIGS. 2 and 3, in the set portion 20, a pair of holding members 21 and 22 are disposed at an interval in the front-rear direction of the lens characteristic measuring apparatus 10. The holding members 21 and 22 are displaceable in a direction in which they approach each other and in a direction away from each other, and hold the eyeglass frame 101 set between them. Thus, the vertical direction of the eyeglass frame 101 can be aligned with the front-rear direction of the lens characteristic measurement apparatus 10, and the surface of the eyeglass lens 102 can be opposed to the upper housing 11. The back surface of the spectacle lens 102 is a surface facing the face of the user (wearer) of the spectacle frame 101, and the surface on the opposite side is the surface of the spectacle lens 102.
また、セット部20には、眼鏡フレーム101の左右の眼鏡レンズ102の裏面側をそれぞれ支持する一対の支持ピン23が立設されている。各支持ピン23は、挟持部材21,22の前後方向の略中間点に配置されている。挟持部材21,22は、眼鏡フレーム101のフレーム中点が各支持ピン23を結んだ線上に配置されるように、眼鏡フレーム101の位置決めを行う。これにより、左右の眼鏡レンズ102をレンズ特性測定装置10による測定位置に位置合わせできる。なお、図中の符号OAは、左右の眼鏡レンズ102の光軸OA(光学中心位置)である。 Further, in the set portion 20, a pair of support pins 23 for supporting the back side of the left and right eyeglass lenses 102 of the eyeglass frame 101 are provided upright. Each support pin 23 is disposed at a substantially middle point in the front-rear direction of the holding members 21 and 22. The holding members 21 and 22 position the eyeglass frame 101 such that the frame midpoint of the eyeglass frame 101 is disposed on the line connecting the support pins 23. As a result, the left and right spectacle lenses 102 can be aligned with the measurement position of the lens characteristic measurement device 10. In addition, the code | symbol OA in a figure is optical axis OA (optical center position) of the spectacle lens 102 on either side.
挟持部材21,22の左右の両側には、眼鏡フレーム101の一部に当接して、眼鏡フレーム101を安定した姿勢で維持するフレームサポート25,26が設けられている。 On both left and right sides of the holding members 21 and 22, frame supports 25 and 26 are provided which abut on part of the eyeglass frame 101 and maintain the eyeglass frame 101 in a stable posture.
また、挟持部材21,22の間であって、左右方向の略中央部には、前側の挟持部材21に対向する面が円柱周面として形成された鼻当て支持部材24が配置されている。この鼻当て支持部材24は、前後方向略中央位置から後方に摺動可能であって且つ不図示のバネ等により前方向に付勢されている。そして、鼻当て支持部材24は、挟持部材21,22により眼鏡フレーム101をその前後から挟持した場合に、眼鏡フレーム101の鼻当てパッド部106に当接する。 In addition, a nose pad support member 24 is disposed between the sandwiching members 21 and 22 at a substantially central portion in the left-right direction, with a surface facing the sandwiching member 21 on the front side formed as a cylindrical peripheral surface. The nose pad support member 24 is slidable rearward from a substantially central position in the front-rear direction, and is urged forward by a spring or the like (not shown). The nose pad support member 24 abuts on the nose pad portion 106 of the eyeglass frame 101 when the eyeglass frame 101 is held from the front and back by the holding members 21 and 22.
背部筐体13には、セット部20よりも上方向側の位置において、一対のアーム27をそれぞれ回転自在に支持する一対の回転軸28が設けられている。各アーム27の先端部にはそれぞれ押えピン29が設けられている。各アーム27がそれぞれ回転軸28を中心として回転すると、各アーム27の各々の押えピン29が、支持ピン23に支持されている左右の眼鏡レンズ102の表面に当接して、各眼鏡レンズ102を下方向側へ押圧する。これにより、左右の眼鏡レンズ102が支持ピン23に押さえ付けられて固定される。 The back housing 13 is provided with a pair of rotation shafts 28 that rotatably support the pair of arms 27 at a position on the upper side of the set portion 20. A pressure pin 29 is provided at the tip of each arm 27. When each arm 27 is rotated about the rotation axis 28, each pressing pin 29 of each arm 27 abuts on the surface of the left and right eyeglass lenses 102 supported by the support pins 23 to make each eyeglass lens 102 Press downward. As a result, the left and right spectacle lenses 102 are pressed against the support pins 23 and fixed.
各支持ピン23は、セット部20の底部に設けられた一対のカバーガラス30上に立設されている。各カバーガラス30は、各支持ピン23によりそれぞれ支持されている左右の眼鏡レンズ102をそれぞれ透過した線状光束46(図4参照)が入射する位置に設けられている。各カバーガラス30にそれぞれ入射した線状光束46は、カバーガラス30の下方側に設けられているハルトマンプレート32(図4参照)に照射される。 Each support pin 23 is erected on a pair of cover glasses 30 provided at the bottom of the set portion 20. Each cover glass 30 is provided at a position where linear light beams 46 (see FIG. 4) transmitted through the left and right spectacle lenses 102 respectively supported by the support pins 23 are incident. The linear luminous flux 46 which has entered each of the cover glasses 30 is applied to a Hartmann plate 32 (see FIG. 4) provided on the lower side of the cover glass 30.
[走査光学系、ハルトマンプレート、スクリーン、及び撮影光学系]
図4は、左右の眼鏡レンズ102の光学特性の測定に用いられる一対の「走査光学系35、ハルトマンプレート32、スクリーン36、及び撮影光学系37」の一方を代表例として示した概略図である。
[Scanning optical system, Hartmann plate, screen, and photographing optical system]
FIG. 4 is a schematic view showing one of a pair of “scanning optical system 35, Hartmann plate 32, screen 36, and photographing optical system 37” used for measurement of the optical characteristics of the left and right eyeglass lenses 102 as a representative example. .
図4に示すように、走査光学系35は、セット部20にセットされた眼鏡レンズ102の上方側(本発明の他面側)に配置されており、光源40とレンズ41とスキャナ42とミラー43とコリメータ44とを備える。 As shown in FIG. 4, the scanning optical system 35 is disposed on the upper side (the other side of the present invention) of the spectacle lens 102 set in the set unit 20, and includes the light source 40, the lens 41, the scanner 42 and the mirror. 43 and a collimator 44.
光源40は、例えばレーザ光源、SLD(Super luminescent diode)光源、及びLED(Light emitting diode)光源等が用いられ、可視波長域の測定光(検査光)として線状光束46(線状光、線光束、走査光束、又はビームともいう)を出射する。この線状光束46は、レンズ41、スキャナ42、ミラー43、及びコリメータ44を経て眼鏡レンズ102に照射される。 The light source 40 is, for example, a laser light source, a super luminescent diode (SLD) light source, a light emitting diode (LED) light source or the like, and linear light flux 46 (linear light, line) as measurement light (inspection light) in the visible wavelength range. Emits a light beam, a scanning light beam, or a beam). The linear light flux 46 is irradiated to the spectacle lens 102 through the lens 41, the scanner 42, the mirror 43 and the collimator 44.
スキャナ42は、例えばガルバノスキャナであり、互いに直交する揺動軸を中心として揺動する2枚のガルバノミラー42A(偏向ミラー)を近接配置した構造を有する。なお、線状光束46の進行方向下流側のガルバノミラー42Aは、コリメータ44の焦点位置に配置されている。 The scanner 42 is, for example, a galvano scanner, and has a structure in which two galvano mirrors 42A (deflection mirrors) swinging around a swinging axis orthogonal to each other are arranged in proximity. The galvano mirror 42 </ b> A on the downstream side in the traveling direction of the linear light beam 46 is disposed at the focal position of the collimator 44.
各ガルバノミラー42Aの一方はその揺動角度θを多段階(無段階)で調整することで、線状光束46を第1方向xに走査する。また、各ガルバノミラー42Aの他方はその揺動角度φを多段階(無段階)で調整することで、線状光束46を第1方向xと直交する第2方向yに走査する。これにより、スキャナ42は、線状光束46をミラー43に向けて出射しながら、この線状光束46の走査角度(揺動角度θ,φ)を変えることで、線状光束46を2次元方向に高速走査できる。 One of the galvano mirrors 42A scans the linear light beam 46 in the first direction x by adjusting its swing angle θ in multiple steps (stepless). The other of the galvano mirrors 42A scans the linear light beam 46 in a second direction y orthogonal to the first direction x by adjusting the swing angle φ in multiple steps (stepless). Thus, while the linear light beam 46 is emitted toward the mirror 43, the scanner 42 changes the scanning angle (oscillation angle θ, φ) of the linear light beam 46, whereby the linear light beam 46 is two-dimensionally Can scan at high speed.
なお、スキャナ42は、ガルバノスキャナに限定されるものではなく、共振型スキャナ(レゾナントスキャナ)及びMEMS(Micro Electro Mechanical Systems)スキャナなどの線状光束46を2次元方向で高速走査可能な各種スキャナを用いてもよい。 The scanner 42 is not limited to the galvano scanner, and various scanners capable of high-speed scanning of the linear luminous flux 46 in a two-dimensional direction, such as a resonant scanner (resonant scanner) and a MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) scanner. You may use.
ミラー43は、スキャナ42から入射した線状光束46をコリメータ44に向けて反射する。コリメータ44は、ミラー43から入射した線状光束46を撮影光学系37の撮影光軸OBに平行な平行光とした後、支持ピン23上に支持されている眼鏡レンズ102に向けて出射する。これにより、眼鏡レンズ102の表面側に線状光束46が照射される。 The mirror 43 reflects the linear light beam 46 incident from the scanner 42 toward the collimator 44. The collimator 44 converts the linear light beam 46 incident from the mirror 43 into parallel light parallel to the photographing optical axis OB of the photographing optical system 37 and emits the light toward the spectacle lens 102 supported on the support pin 23. Thereby, the linear luminous flux 46 is irradiated on the surface side of the spectacle lens 102.
スキャナ42が線状光束46を2次元方向(第1方向x及び第2方向y)に走査することで、眼鏡レンズ102の表面上で線状光束46が2次元方向(第1方向X及び第2方向Y)に走査される。なお、本実施形態では第1方向x及び第1方向Xはレンズ特性測定装置10の左右方向であり、第2方向yはレンズ特性測定装置10の上下方向であり、第2方向Yはレンズ特性測定装置10の前後方向である。眼鏡レンズ102の表面上での線状光束46の走査により、この眼鏡レンズ102の表面上の複数の走査位置Pに線状光束46が順次照射される。そして、眼鏡レンズ102の各走査位置Pに照射された線状光束46は、それぞれ眼鏡レンズ102及びカバーガラス30を透過して、双方の下方側(本発明の一面側)に位置するハルトマンプレート32に照射される。 The scanner 42 scans the linear light beam 46 in the two-dimensional direction (first direction x and second direction y), whereby the linear light beam 46 is two-dimensionally (first direction X and the second) on the surface of the spectacle lens 102. It is scanned in two directions Y). In the present embodiment, the first direction x and the first direction X are the left and right direction of the lens characteristic measuring apparatus 10, the second direction y is the vertical direction of the lens characteristic measuring apparatus 10, and the second direction Y is the lens characteristic It is the front-back direction of the measuring device 10. By scanning the linear luminous flux 46 on the surface of the spectacle lens 102, the linear luminous flux 46 is sequentially irradiated to a plurality of scanning positions P on the surface of the spectacle lens 102. Then, the linear light beam 46 irradiated to each scanning position P of the spectacle lens 102 transmits the spectacle lens 102 and the cover glass 30, respectively, and the Hartmann plate 32 positioned on the lower side (one side of the present invention) of both. Irradiated.
この際に本実施形態では、光源40から線状光束46が連続的に出射される。この場合、眼鏡レンズ102の表面上を線状光束46が一筆書きのように走査されるため、眼鏡レンズ102の表面上の各走査位置Pは連続している。 At this time, in the present embodiment, the linear luminous flux 46 is continuously emitted from the light source 40. In this case, since the linear light beam 46 is scanned like a single stroke on the surface of the spectacle lens 102, each scanning position P on the surface of the spectacle lens 102 is continuous.
図5は、ハルトマンプレート32の上面図(下面図)である。図4及び図5に示すように、ハルトマンプレート32は、眼鏡レンズ102及びカバーガラス30に対して走査光学系35とは反対側の位置、より具体的にはカバーガラス30の下面に当接して設けられている。また、ハルトマンプレート32は、その中心32Oが撮影光軸OBに一致するように予め位置調整されている。 FIG. 5 is a top view (bottom view) of the Hartmann plate 32. As shown in FIG. As shown in FIGS. 4 and 5, the Hartmann plate 32 is in contact with a position opposite to the scanning optical system 35 with respect to the spectacle lens 102 and the cover glass 30, more specifically, to the lower surface of the cover glass 30. It is provided. In addition, the Hartmann plate 32 is adjusted in advance so that the center 32O thereof coincides with the photographing optical axis OB.
ハルトマンプレート32は、例えばガラス基板にクロム等を蒸着させた遮光部材である。このハルトマンプレート32には、多数のピンホール32A(開口又は穴ともいう)が既述の第1方向X及び第2方向Yに沿ってそれぞれ等間隔でマトリクス状に形成(2次元配列)されている。例えば本実施形態では、直径0.5mmのピンホール32Aが2mmピッチで13×23個配列されている。各ピンホール32Aは線状光束46を透過する。なお、ハルトマンプレート32内の各ピンホール32Aの配列方向及び配列パターンは特に限定はされず、例えば円周パターン或いは放射パターン等で配列されていてもよい。また、各ピンホール32A,32Bにはそれぞれ集光レンズが配置されていてもよい。 The Hartmann plate 32 is, for example, a light shielding member in which chromium or the like is vapor-deposited on a glass substrate. In the Hartmann plate 32, a large number of pinholes 32A (also referred to as openings or holes) are formed in a matrix (two-dimensional arrangement) at equal intervals along the first direction X and the second direction Y described above. There is. For example, in the present embodiment, 13 × 23 pinholes 32A with a diameter of 0.5 mm are arranged at a pitch of 2 mm. Each pinhole 32A transmits the linear luminous flux 46. The arrangement direction and the arrangement pattern of the pinholes 32A in the Hartmann plate 32 are not particularly limited, and may be, for example, arranged in a circumferential pattern or a radiation pattern. A condensing lens may be disposed in each of the pinholes 32A and 32B.
図6は、ハルトマンプレート32の上面の一部を拡大した拡大図である。図4及び図6に示すように、既述のように眼鏡レンズ102の表面上で線状光束46が2次元方向に連続的に走査されると、眼鏡レンズ102等を透過してハルトマンプレート32に照射される線状光束46も、ハルトマンプレート32の上面で2次元方向に連続的に走査される。この連続的に走査とは、任意の線状光束46が少なくとも一つ前の線状光束46の一部と重なり合うことである。そして、ハルトマンプレート32の上面での線状光束46の走査位置PHがピンホール32Aの位置に一致(ほぼ一致を含む)した場合、線状光束46がピンホール32Aを透過してスクリーン36に投影される。 FIG. 6 is an enlarged view of a part of the top surface of the Hartmann plate 32. As shown in FIG. As shown in FIGS. 4 and 6, when the linear light beam 46 is continuously scanned in the two-dimensional direction on the surface of the spectacle lens 102 as described above, it is transmitted through the spectacle lens 102 and the like to obtain the Hartmann plate 32. The linear luminous flux 46 emitted to the light beam is also scanned continuously in a two-dimensional direction on the top surface of the Hartmann plate 32. The continuous scanning means that an arbitrary linear luminous flux 46 overlaps with at least one part of the preceding linear luminous flux 46. Then, when the scanning position PH of the linear light beam 46 on the top surface of the Hartmann plate 32 matches (including substantially matches) the position of the pinhole 32A, the linear light beam 46 transmits through the pinhole 32A and is projected on the screen 36 Be done.
ここで、光源40から出射される線状光束46の直径(光束径)は、ハルトマンプレート32上においてピンホール32Aの直径PDよりも大きく形成されていることが好ましい。これにより、ピンホール32Aを透過してスクリーン36に投影される線状光束46の直径(光束径)を直径PDに調整することができる。線状光束46の直径が小さくなり過ぎると、スクリーン36上に投影された線状光束46による点像の位置検出に失敗するおそれがあるので、線状光束46の直径を直径PDよりも大きく形成することで、線状光束46による点像の位置検出を確実に実行することができる。 Here, it is preferable that the diameter (diameter of light flux) of the linear light flux 46 emitted from the light source 40 be formed larger than the diameter PD of the pinhole 32A on the Hartmann plate 32. As a result, the diameter (beam diameter) of the linear beam 46 transmitted through the pinhole 32A and projected onto the screen 36 can be adjusted to the diameter PD. If the diameter of the linear luminous flux 46 becomes too small, the position detection of the point image by the linear luminous flux 46 projected on the screen 36 may fail, so the diameter of the linear luminous flux 46 is made larger than the diameter PD. By doing this, the position detection of the point image by the linear light flux 46 can be reliably performed.
また、光源40から出射される線状光束46の直径(光束径)は、ハルトマンプレート32上において互いに隣り合うピンホール32Aの距離PLよりも小さく形成されていることが好ましい。 Further, it is preferable that the diameter (beam diameter) of the linear light beam 46 emitted from the light source 40 be smaller than the distance PL between the pinholes 32A adjacent to each other on the Hartmann plate 32.
図7は、線状光束46の直径に上限を設けた理由を説明するための説明図である。図7に示すように、仮に線状光束46の直径が距離PLよりも大きい場合、線状光束46は、互いに隣り合うピンホール32Aを同時に透過してそれぞれスクリーン36に投影される場合がある。この場合、図7の符号7Aに示すように、眼鏡レンズ102がマイナス度数又はプラスの弱度数のレンズであれば、スクリーン36上に同時投影される2つの線状光束46による点像は分離している。 FIG. 7 is an explanatory view for explaining the reason why the diameter of the linear luminous flux 46 is provided with an upper limit. As shown in FIG. 7, if the diameter of the linear luminous flux 46 is larger than the distance PL, the linear luminous flux 46 may be simultaneously transmitted through the adjacent pinholes 32A and projected onto the screen 36, respectively. In this case, as shown by reference numeral 7A in FIG. 7, if the spectacle lens 102 is a lens of minus dioptric power or positive dioptric power, point images by two linear luminous flux 46 simultaneously projected on the screen 36 are separated. ing.
これに対して、図7の符号7Bに示すように、眼鏡レンズ102がプラスの強度数のレンズである場合、スクリーン36上に同時投影される2つの線状光束46による点像は重なっているため、これら2つの点像を分離検出することは困難である。また、図7の符号7Cに示すように、眼鏡レンズ102がさらにプラスの強度数のレンズである場合、互いに隣り合うピンホール32Aを同時に透過した線状光束46がスクリーン36の手前で交差するため、スクリーン36上に同時投影される2つの線状光束46による点像の位置関係が反転してしまう。 On the other hand, as shown by reference numeral 7B in FIG. 7, when the spectacle lens 102 is a lens with a positive intensity number, point images by two linear light beams 46 simultaneously projected on the screen 36 overlap. Therefore, it is difficult to separate and detect these two point images. Further, as shown by the code 7C in FIG. 7, when the spectacle lens 102 is a lens with a positive intensity number, linear light beams 46 simultaneously transmitted through the adjacent pinholes 32A intersect in front of the screen 36. The positional relationship of the point image by the two linear light beams 46 simultaneously projected on the screen 36 is reversed.
従って、本実施形態では線状光束46の直径を距離PLよりも小さく形成することで、2つの線状光束46による点像の重なり及び位置関係の反転を防止することができる。 Therefore, in the present embodiment, by forming the diameter of the linear light flux 46 smaller than the distance PL, it is possible to prevent the overlapping of the point images by the two linear light flux 46 and the reversal of the positional relationship.
図4に戻って、スクリーン36は、ハルトマンプレート32の下方側に設けられている。スクリーン36は、例えば砂掛けしたガラス基板等であり、拡散透過性を有している。このスクリーン36には、ハルトマンプレート32のピンホール32Aを透過した線状光束46が投影される。そして、スキャナ42が線状光束46を2次元方向に走査し、これに伴い線状光束46が透過するピンホール32Aが変更されるのに応じて、スクリーン36に投影される線状光束46の投影位置Qも変化する。 Returning to FIG. 4, the screen 36 is provided on the lower side of the Hartmann plate 32. The screen 36 is, for example, a sanded glass substrate or the like, and has diffuse permeability. The linear luminous flux 46 transmitted through the pinhole 32 A of the Hartmann plate 32 is projected onto the screen 36. Then, the scanner 42 scans the linear light beam 46 in a two-dimensional direction, and as a result, the pinhole 32A through which the linear light beam 46 passes is changed, the linear light beam 46 projected on the screen 36 The projection position Q also changes.
従って、本実施形態では、詳しくは後述するが、スクリーン36に投影される線状光束46の投影位置Qを検出し、且つこの線状光束46が透過したピンホール32Aの位置を判別(特定)することにより、眼鏡レンズ102を透過してスクリーン36に投影された線状光束46の傾き角を検出することができる。 Therefore, in the present embodiment, although the details will be described later, the projection position Q of the linear light beam 46 projected on the screen 36 is detected, and the position of the pinhole 32A through which the linear light beam 46 is transmitted is determined (specified) By doing this, it is possible to detect the inclination angle of the linear light beam 46 transmitted through the spectacle lens 102 and projected onto the screen 36.
撮影光学系37は、スクリーン36に対してハルトマンプレート32とは反対側、すなわちスクリーン36の下方側に設けられており、線状光束46が投影されているスクリーン36をその下面側から撮影する。この撮影光学系37は、その上方側から下方側に向かって、フィールドレンズ48とカメラ50とを備える。フィールドレンズ48は、線状光束46が投影されているスクリーン36の像をカメラ50に入射する。 The photographing optical system 37 is provided on the side opposite to the Hartmann plate 32 with respect to the screen 36, that is, on the lower side of the screen 36, and photographs the screen 36 on which the linear light beam 46 is projected from the lower side. The photographing optical system 37 includes a field lens 48 and a camera 50 from the upper side to the lower side. The field lens 48 causes the image of the screen 36 onto which the linear light beam 46 is projected to enter the camera 50.
カメラ50は、結像レンズ50Aと、CCD(Charge Coupled Device)型又はCMOS(complementary metal oxide semiconductor)型の撮像素子50Bと、を備える。結像レンズ50Aは、フィールドレンズ48を経て入射したスクリーン36の像を撮像素子50Bの撮像面に入射する。 The camera 50 includes an imaging lens 50A and an imaging device 50B of a charge coupled device (CCD) type or a complementary metal oxide semiconductor (CMOS) type. The imaging lens 50A causes the image of the screen 36 incident through the field lens 48 to be incident on the imaging surface of the imaging element 50B.
撮像素子50Bは、走査光学系35による線状光束46の走査が実行されている間、結像レンズ50Aを通して入射したスクリーン36の像を連続して撮像する。これにより、カメラ50により連続的に撮影されたスクリーン36の撮影画像52が、カメラ50から後述の統括制御部58へ出力される。 The imaging device 50B continuously captures an image of the screen 36 incident through the imaging lens 50A while scanning of the linear light beam 46 by the scanning optical system 35 is performed. As a result, the photographed image 52 of the screen 36 continuously photographed by the camera 50 is output from the camera 50 to the general control unit 58 described later.
[統括制御部]
図8は、レンズ特性測定装置10の下側筐体12又は背部筐体13の内部に設けられている第1実施形態の統括制御部58の機能ブロック図である。図8に示すように、統括制御部58は、例えばCPU(Central Processing Unit)又はFPGA(field-programmable gate array)等を含む各種の演算部及びメモリ等から構成された演算回路であり、操作スイッチ16に入力された各種の操作指示に基づきレンズ特性測定装置10の各部を統括制御する。また、統括制御部58には記憶部59が接続されている。
[Overall control unit]
FIG. 8 is a functional block diagram of the general control unit 58 of the first embodiment provided inside the lower housing 12 or the back housing 13 of the lens characteristic measuring apparatus 10. As shown in FIG. As shown in FIG. 8, the general control unit 58 is an arithmetic circuit including various arithmetic units including, for example, a central processing unit (CPU) or a field-programmable gate array (FPGA), a memory, etc. The respective units of the lens characteristic measuring apparatus 10 are integrally controlled based on various operation instructions input to the unit 16. In addition, a storage unit 59 is connected to the general control unit 58.
統括制御部58は、記憶部59内の不図示のソフトウェアプログラムを実行することで、光学系制御部62、撮影制御部64、画像取得部66、位置取得部68、位置判別部69、及び光学特性取得部70として機能する。 The general control unit 58 executes a software program (not shown) in the storage unit 59 to execute an optical system control unit 62, an imaging control unit 64, an image acquisition unit 66, a position acquisition unit 68, a position determination unit 69, and optical It functions as the characteristic acquisition unit 70.
光学系制御部62は、走査光学系35の光源40による線状光束46の照射とスキャナ42の駆動(線状光束46の走査角度)とを制御する。光学系制御部62は、操作スイッチ16への測定開始操作の入力に応じて、光源40からの連続的な線状光束46の出射と、スキャナ42による所定の走査パターンでの線状光束46の2次元方向の走査と、を実行させる。これにより、眼鏡レンズ102の表面上で線状光束46が2次元方向に走査され、且つ同時に眼鏡レンズ102を透過した線状光束46がハルトマンプレート32の上面にて2次元方向に走査される。 The optical system control unit 62 controls the irradiation of the linear light beam 46 by the light source 40 of the scanning optical system 35 and the drive of the scanner 42 (scanning angle of the linear light beam 46). The optical system control unit 62 outputs continuous linear light flux 46 from the light source 40 according to the input of measurement start operation to the operation switch 16 and the linear light flux 46 in a predetermined scanning pattern by the scanner 42. And performing a two-dimensional scan. As a result, the linear luminous flux 46 is scanned in a two-dimensional direction on the surface of the spectacle lens 102, and at the same time, the linear luminous flux 46 transmitted through the spectacle lens 102 is scanned in a two-dimensional direction on the upper surface of the Hartmann plate 32.
撮影制御部64は、カメラ50によるスクリーン36の撮影を制御する。撮影制御部64は、走査光学系35による線状光束46の走査が実行されている間、カメラ50によるスクリーン36の撮影を連続して実行させる。これにより、カメラ50から後述の画像取得部66に対してスクリーン36の撮影画像52が連続して入力される。 The shooting control unit 64 controls the shooting of the screen 36 by the camera 50. The imaging control unit 64 causes the camera 50 to continuously capture an image of the screen 36 while the scanning optical system 35 scans the linear light beam 46. As a result, the captured image 52 of the screen 36 is continuously input from the camera 50 to the image acquisition unit 66 described later.
ここで、カメラ50による撮影が、線状光束46の走査位置PHとピンホール32Aの位置とが一致したタイミングで実行された場合、この撮影で得られた撮影画像52には、スクリーン36に投影された線状光束46による点像が含まれる。なお、本実施形態では、個々の撮影画像52に含まれる線状光束46による点像の数が1点になるように、前述の光学系制御部62が走査光学系35による線状光束46の走査速度を制御している。 Here, when the photographing by the camera 50 is performed at the timing when the scanning position PH of the linear light beam 46 and the position of the pinhole 32A coincide with each other, the photographed image 52 obtained by this photographing is projected on the screen 36 The point image by the linear light flux 46 is included. In the present embodiment, the above-described optical system control unit 62 controls the linear light flux 46 by the scanning optical system 35 so that the number of point images by the linear light flux 46 included in each captured image 52 is one. Control the scan speed.
一方、カメラ50による撮影が、線状光束46の走査位置PHとピンホール32Aの位置とが一致しないタイミングで実行された場合、この撮影で得られた撮影画像52には線状光束46による点像が含まれない。 On the other hand, when the photographing by the camera 50 is performed at the timing when the scanning position PH of the linear luminous flux 46 and the position of the pinhole 32A do not match, the photographed image 52 obtained by this photographing is a point by the linear luminous flux 46 It does not contain an image.
画像取得部66は、カメラ50から撮影画像52を逐次取得する。また同時に、画像取得部66は、撮影画像52の撮影時にスキャナ42から出射される線状光束46の走査角度(各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φ)を、光学系制御部62等から逐次取得する。この線状光束46の走査角度は、眼鏡レンズ102の表面上において線状光束46が照射された走査位置Pを示す情報である。そして、画像取得部66は、カメラ50から取得した撮影画像52を、線状光束46の走査角度を識別可能な状態で、記憶部59内の画像情報72(図9参照)に記憶させる。 The image acquisition unit 66 sequentially acquires the captured image 52 from the camera 50. At the same time, the image acquisition unit 66 also detects the scanning angles (swing angles θ and φ of the galvano mirrors 42A) of the linear light beam 46 emitted from the scanner 42 at the time of photographing the photographed image 52 from the optical system control unit 62 and the like. Obtain one by one. The scanning angle of the linear luminous flux 46 is information indicating the scanning position P at which the linear luminous flux 46 is irradiated on the surface of the spectacle lens 102. Then, the image acquisition unit 66 stores the captured image 52 acquired from the camera 50 in the image information 72 (see FIG. 9) in the storage unit 59 in a state in which the scanning angle of the linear light beam 46 can be identified.
図9は、画像情報72、及びこの画像情報72を基に位置取得部68が取得する投影位置情報74の説明図である。図9に示すように、画像情報72には、画像取得部66から連続して入力された各撮影画像52が、各々に対応する線状光束46の走査角度(走査位置P)に関連付けられた状態で記憶されている。 FIG. 9 is an explanatory diagram of the image information 72 and the projection position information 74 acquired by the position acquisition unit 68 based on the image information 72. As shown in FIG. As shown in FIG. 9, in the image information 72, each captured image 52 continuously input from the image acquisition unit 66 is associated with the scanning angle (scanning position P) of the linear light beam 46 corresponding to each. It is memorized in the state.
位置取得部68は、撮影画像52から、スクリーン36上に投影されている線状光束46の投影位置Qの位置座標を取得する。この位置取得部68は、走査光学系35による線状光束46の走査及びカメラ50によるスクリーン36の撮影が完了した場合、記憶部59から画像情報72を取得する。そして、位置取得部68は、画像情報72内の各撮影画像52を解析して、各撮影画像52の中で線状光束46による点像を含む撮影画像52を判別する。次いで、位置取得部68は、線状光束46による点像を含む各撮影画像52から、線状光束46の投影位置Qの位置座標を取得した結果に基づき、投影位置情報74を生成する。なお、投影位置Qの位置座標は、例えばスクリーン36上で撮影光軸OBと交差する点を原点とした座標である。 The position acquisition unit 68 acquires, from the captured image 52, the position coordinates of the projection position Q of the linear light beam 46 projected on the screen 36. The position acquisition unit 68 acquires the image information 72 from the storage unit 59 when the scanning of the linear light beam 46 by the scanning optical system 35 and the photographing of the screen 36 by the camera 50 are completed. Then, the position acquisition unit 68 analyzes each photographed image 52 in the image information 72, and determines the photographed image 52 including a point image by the linear light flux 46 in each photographed image 52. Next, the position acquisition unit 68 generates projection position information 74 based on the result of acquiring the position coordinates of the projection position Q of the linear light flux 46 from each captured image 52 including the point image by the linear light flux 46. The position coordinates of the projection position Q are, for example, coordinates with the point intersecting the photographing optical axis OB on the screen 36 as the origin.
投影位置情報74には、線状光束46による点像を含む撮影画像52に対応する線状光束46の各走査角度と、これら各走査角度にそれぞれ対応する投影位置Qの位置座標と、が対応付けて記憶されている。この投影位置情報74は、位置取得部68から位置判別部69及び光学特性取得部70にそれぞれ出力される。 In the projection position information 74, the scanning angles of the linear luminous flux 46 corresponding to the photographed image 52 including the point image by the linear luminous flux 46 correspond to the position coordinates of the projection position Q respectively corresponding to the respective scanning angles. Is stored. The projection position information 74 is output from the position acquisition unit 68 to the position determination unit 69 and the optical characteristic acquisition unit 70, respectively.
図8に戻って、位置判別部69は、スクリーン36上に投影された線状光束46が透過したハルトマンプレート32のピンホール32A及びその位置であるピンホール位置W(図11参照)を判別する。位置判別部69は、走査光学系35による線状光束46の走査及びカメラ50によるスクリーン36の撮影が完了後、位置取得部68から既述の投影位置情報74を取得し、且つ記憶部59内の装置情報77を参照する。 Referring back to FIG. 8, the position determination unit 69 determines the pinhole 32A of the Hartmann plate 32 through which the linear light beam 46 projected on the screen 36 passes and the pinhole position W (see FIG. 11) which is the position. . After the scanning of the linear light beam 46 by the scanning optical system 35 and the photographing of the screen 36 by the camera 50 are completed, the position determination unit 69 acquires the projection position information 74 described above from the position acquisition unit 68 and in the storage unit 59. The device information 77 of is referred to.
装置情報77には、後述の図10に示すように、ハルトマンプレート32及びスクリーン36の撮影光軸OB上での位置に関する情報、及びハルトマンプレート32内の各ピンホール32Aの位置座標が予め記憶されている。なお、各ピンホール32Aの位置座標は、ハルトマンプレート32の中心32O(撮影光軸OBに合わせて位置決めされている中心32O)を原点とした座標である。 In the device information 77, as shown in FIG. 10 described later, information regarding the positions of the Hartmann plate 32 and the screen 36 on the photographing optical axis OB, and the position coordinates of each pinhole 32A in the Hartmann plate 32 are stored in advance. ing. The position coordinates of each pinhole 32A are coordinates with the center 32O of the Hartmann plate 32 (the center 32O positioned according to the photographing optical axis OB) as the origin.
図10は、位置判別部69によるピンホール32A及びその位置の判別処理を説明するための説明図である。図10に示すように、最初に位置判別部69は、投影位置情報74に基づき、スクリーン36上に投影された線状光束46が透過したハルトマンプレート32のピンホール32Aを判別(特定)する。 FIG. 10 is an explanatory diagram for explaining the discrimination process of the pinhole 32A and the position thereof by the position discrimination unit 69. As shown in FIG. As shown in FIG. 10, first, based on the projection position information 74, the position determination unit 69 determines (specifies) the pinhole 32A of the Hartmann plate 32 through which the linear light beam 46 projected on the screen 36 passes.
具体的に、線状光束46の走査角度(各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φ)に基づき、線状光束46の走査位置P(眼鏡レンズ102に対するコリメータ44からの線状光束46の照射位置)が求められる。また、眼鏡レンズ102を透過した線状光束46の屈折角度は、眼鏡レンズ102の種類(プラス度数、マイナス度数、及び度数の大きさ等)に応じて変わるが、この眼鏡レンズ102を透過した線状光束46のスクリーン36上での投影位置Qは既に投影位置情報74で得られている。 Specifically, the scanning position P of the linear light beam 46 (irradiation of the linear light beam 46 from the collimator 44 with respect to the spectacle lens 102) based on the scanning angle of the linear light beam 46 (pivotal angles .theta. And .phi. Of the galvano mirrors 42A). Position is required. Further, although the refraction angle of the linear light flux 46 transmitted through the spectacle lens 102 varies depending on the type of the spectacle lens 102 (plus power, minus power, magnitude of power, etc.), the line transmitted through the spectacle lens 102 The projection position Q of the flat luminous flux 46 on the screen 36 has already been obtained by the projection position information 74.
一方、レンズ特性測定装置10において、ハルトマンプレート32内の各ピンホール32Aの位置は固定である。また、ハルトマンプレート32とスクリーン36との位置関係も固定であり、眼鏡レンズ102の透過後からスクリーン36に投影されるまでの線状光束46の傾き角は一定である。 On the other hand, in the lens characteristic measuring apparatus 10, the positions of the pinholes 32A in the Hartmann plate 32 are fixed. Further, the positional relationship between the Hartmann plate 32 and the screen 36 is also fixed, and the inclination angle of the linear light beam 46 from the transmission of the spectacle lens 102 to the projection onto the screen 36 is constant.
そして、眼鏡レンズ102の光学中心部を透過してハルトマンプレート32の中心部に照射された線状光束46は、眼鏡レンズ102による屈折の影響が小さいので、走査位置Pと投影位置Qとのずれは小さくなる。このため、眼鏡レンズ102の中心部に対応する走査位置P及び投影位置Qを最初に解析することで、線状光束46が通過したピンホール32Aを高精度に判別することができる。次いで、このピンホール32Aのピンホール位置W(図11参照)を基準とすることで、線状光束46の走査角度(走査位置P)と、線状光束46の投影位置Qと、装置情報77[各ピンホール32Aのピンホール位置W(図11参照)]とに基づき、眼鏡レンズ102の光学中心部以外を透過した線状光束46が透過したピンホール32Aについても判別できる。 Then, the linear light beam 46 transmitted through the optical central portion of the spectacle lens 102 and irradiated to the central portion of the Hartmann plate 32 is less affected by refraction by the spectacle lens 102, so the shift between the scanning position P and the projection position Q Becomes smaller. Therefore, by initially analyzing the scanning position P and the projection position Q corresponding to the central portion of the spectacle lens 102, the pinhole 32A through which the linear light flux 46 has passed can be determined with high accuracy. Next, with reference to the pinhole position W (see FIG. 11) of the pinhole 32A, the scanning angle (scanning position P) of the linear light beam 46, the projection position Q of the linear light beam 46, and the device information 77 Based on [the pinhole position W of each pinhole 32A (see FIG. 11)], the pinhole 32A through which the linear luminous flux 46 transmitted through other than the optical center of the spectacle lens 102 can be determined.
従って、位置判別部69は、線状光束46の走査角度(走査位置P)と、線状光束46のスクリーン36上での投影位置Qと、装置情報77に記憶されている各ピンホール32Aのピンホール位置W(図11参照)とに基づき、線状光束46が透過したピンホール32Aのピンホール位置Wを判別することができる。 Therefore, the position determination unit 69 determines the scanning angle (scanning position P) of the linear light beam 46, the projection position Q of the linear light beam 46 on the screen 36, and the respective pinholes 32A stored in the device information 77. Based on the pinhole position W (see FIG. 11), the pinhole position W of the pinhole 32A through which the linear light flux 46 has passed can be determined.
そして、位置判別部69は、各線状光束46の走査角度と、各線状光束46にそれぞれ対応するピンホール位置W(図11参照)との対応関係を示すピンホール位置情報79を、光学特性取得部70へ出力する。 Then, the position determination unit 69 obtains optical characteristic of the pinhole position information 79 indicating the correspondence between the scanning angle of each linear light beam 46 and the pinhole position W (see FIG. 11) corresponding to each linear light beam 46. Output to section 70.
なお、位置判別部69は、他の方法を用いて、各線状光束46がそれぞれ透過したピンホール32A及びピンホール位置W(図11参照)の判別を行ってもよい。例えば、線状光束46として白色光を用い、ハルトマンプレート32内の予め定めた1又は複数のピンホール32Aに特定の波長域の光(赤色光、緑色光、青色光等)を透過するフィルタを設ける。なお、複数のピンホール32Aにフィルタを設ける場合、ピンホール32Aごとにフィルタの種類(透過する光の波長域)を異ならせてもよい。また、撮像素子50Bとしてカラー撮像素子を用いる。 The position determination unit 69 may determine the pinhole 32A and the pinhole position W (see FIG. 11) through which each linear light beam 46 has been transmitted, using another method. For example, a filter that transmits white light (red light, green light, blue light, etc.) in a specific wavelength range to one or more predetermined pinholes 32A in the Hartmann plate 32 using white light as the linear light flux 46 Set up. When a filter is provided in the plurality of pinholes 32A, the type of filter (the wavelength range of light to be transmitted) may be different for each pinhole 32A. In addition, a color imaging element is used as the imaging element 50B.
この例において、位置判別部69は、画像情報72内の各撮影画像52を解析することにより、フィルタ付きのピンホール32Aを透過した線状光束46による点像を含む撮影画像52(以下、第1の撮影画像52)と、フィルタ無のピンホール32Aを透過した線状光束46による点像を含む撮影画像52(以下、第2の撮影画像52)と、を判別できる。 In this example, the position determination unit 69 analyzes each captured image 52 in the image information 72 to obtain a captured image 52 (hereinafter referred to as “the 1 and the photographed image 52 (hereinafter referred to as the second photographed image 52) including a point image by the linear light beam 46 transmitted through the pinhole 32A without filter.
そして、ハルトマンプレート32内でのフィルタ付きのピンホール32Aのピンホール位置W(図11参照)及び線状光束46の走査パターンを装置情報77に予め記憶しておくことにより、位置判別部69は、装置情報77を参照するだけで、第1の撮影画像52に対応するピンホール位置Wを簡単に判別することができる。 The position discrimination unit 69 stores the pinhole position W (see FIG. 11) of the pinhole 32A with a filter in the Hartmann plate 32 and the scanning pattern of the linear light beam 46 in the device information 77 in advance. The pinhole position W corresponding to the first captured image 52 can be easily determined simply by referring to the device information 77.
次いで、位置判別部69は、各第1の撮影画像52及び各第2の撮影画像52の撮影順番と、線状光束46の走査パターンと、ハルトマンプレート32内の各ピンホール32Aの位置関係とに基づき、先に判別したフィルタ付きのピンホール32Aの位置を基準として、各第2の撮影画像52にそれぞれ対応するフィルタ無のピンホール32Aの位置を判別することができる。 Next, the position determination unit 69 determines the imaging order of the first and second captured images 52 and 52, the scanning pattern of the linear light beam 46, and the positional relationship between the pinholes 32A in the Hartmann plate 32. Based on the above, it is possible to determine the position of the non-filtered pinhole 32A corresponding to each of the second photographed images 52 with reference to the previously determined position of the filtered pinhole 32A.
図8に戻って、光学特性取得部70は、位置取得部68から入力された投影位置情報74と、位置判別部69から入力されたピンホール位置情報79と、記憶部59内の装置情報77とに基づき、眼鏡レンズ102の光学中心位置(光軸OA)及び光学特性[バックフォーカスBf(図11参照)等]を取得する。 Referring back to FIG. 8, the optical characteristic acquisition unit 70 receives the projection position information 74 input from the position acquisition unit 68, the pinhole position information 79 input from the position determination unit 69, and the device information 77 in the storage unit 59. The optical center position (optical axis OA) of the spectacle lens 102 and the optical characteristic [back focus Bf (see FIG. 11), etc.] are acquired.
図11は、光学特性取得部70による眼鏡レンズ102の光学中心位置(光軸OA)の取得と、バックフォーカスBfの取得とを説明するための説明図である。図11に示すように、投影位置情報74及びピンホール位置情報79に基づき、各線状光束46がそれぞれ透過したピンホール32Aのピンホール位置Wと、各線状光束46のスクリーン36上での投影位置Qとが得られている。このため、光学特性取得部70は、スクリーン36に投影された線状光束46ごとのピンホール位置W及び投影位置Qに基づき、スクリーン36に投影された各線状光束46の傾き角をそれぞれ検出する。これにより、光学特性取得部70は、光軸OBと平行な線状光束46を射出する走査位置Pから、眼鏡レンズ102の光学中心位置、すなわち光軸OAの位置を取得(演算)することができる。 FIG. 11 is an explanatory diagram for explaining acquisition of the optical center position (optical axis OA) of the spectacle lens 102 by the optical characteristic acquisition unit 70 and acquisition of the back focus Bf. As shown in FIG. 11, based on the projection position information 74 and the pinhole position information 79, the pinhole position W of the pinhole 32A through which each linear light beam 46 is transmitted and the projection position on the screen 36 of each linear light beam 46 Q has been obtained. Therefore, the optical characteristic acquisition unit 70 detects the inclination angle of each linear light beam 46 projected on the screen 36 based on the pinhole position W and the projection position Q for each linear light beam 46 projected on the screen 36. . Thereby, the optical property acquisition unit 70 acquires (calculates) the optical center position of the spectacle lens 102, that is, the position of the optical axis OA from the scanning position P at which the linear light beam 46 parallel to the optical axis OB is emitted. it can.
また、装置情報77に基づきハルトマンプレート32及びスクリーン36の各々の撮影光軸OB上での位置は既知であるので、ハルトマンプレート32とスクリーン36との間の距離ΔLは既知である。さらに、眼鏡レンズ102のセット位置は既知であるので、眼鏡レンズ102の裏面とハルトマンプレート32との間の距離ΔLAも既知である。また、スクリーン36に投影された線状光束46ごとに、ピンホール位置W及び投影位置Qとの差(撮影光軸OBに対して垂直方向の差)であるΔHも求められる。従って、これらの情報に基づき、光学特性取得部70は、眼鏡レンズ102のバックフォーカスBfを取得(演算)することができる。 Further, since the positions of the Hartmann plate 32 and the screen 36 on the photographing optical axis OB are known based on the device information 77, the distance ΔL between the Hartmann plate 32 and the screen 36 is known. Furthermore, since the set position of the spectacle lens 102 is known, the distance ΔLA between the back surface of the spectacle lens 102 and the Hartmann plate 32 is also known. Further, for each linear light beam 46 projected on the screen 36, ΔH which is the difference between the pinhole position W and the projection position Q (difference in the direction perpendicular to the photographing optical axis OB) is also determined. Therefore, based on these pieces of information, the optical characteristic acquisition unit 70 can acquire (calculate) the back focus Bf of the spectacle lens 102.
なお、レンズ特性測定装置10は、ハルトマンプレート32、スクリーン36、及び撮影光学系37については、既述の図22に示したような太径の測定光を眼鏡レンズ102に照射する従来の装置と基本的に同じである。このため、光学特性取得部70は、線状光束46ごとのピンホール位置W及び投影位置Qが求められていれば、従来の装置と基本的に同じ演算方法で眼鏡レンズ102の光学中心位置及びバックフォーカスBfを求められる。また、光学特性取得部70は、バックフォーカスBf以外の眼鏡レンズ102の光学特性についても、従来の装置と同様の演算方法で求めることができる。さらに、光学特性取得部70は、眼鏡レンズ102内での光学特性値の分布を示すマッピング画像についても、従来の装置と同様に取得することができる。 The lens characteristic measuring apparatus 10 is a conventional apparatus for irradiating the spectacle lens 102 with the measurement light having a large diameter as shown in FIG. 22 described above for the Hartmann plate 32, the screen 36, and the photographing optical system 37. Basically the same. Therefore, if the pinhole position W and the projection position Q for each linear light beam 46 are obtained, the optical characteristic acquisition unit 70 basically calculates the optical center position of the spectacle lens 102 and the same method as the conventional device. The back focus Bf can be obtained. The optical characteristic acquisition unit 70 can also obtain the optical characteristic of the spectacle lens 102 other than the back focus Bf by the same calculation method as that of the conventional device. Furthermore, the optical characteristic acquisition unit 70 can acquire a mapping image indicating the distribution of optical characteristic values in the spectacle lens 102 as in the conventional device.
光学特性取得部70は、取得した眼鏡レンズ102の光学中心位置(光軸OA)及び光学特性(バックフォーカスBf等)に関する情報をモニタ15に出力して表示させる。 The optical characteristic acquisition unit 70 outputs and displays information on the acquired optical center position (optical axis OA) of the spectacle lens 102 and the optical characteristic (back focus Bf or the like) on the monitor 15.
[第1実施形態のレンズ特性測定装置の作用]
図12は、第1実施形態のレンズ特性測定装置10による眼鏡フレーム101の左右の眼鏡レンズ102の光学特性の測定処理(レンズ特性測定装置の作動方法)の流れを示すフローチャートである。なお、レンズ特性測定装置10は、左右の眼鏡レンズ102の光学特性を同時もしくは時系列的に測定するが、ここでは左右の眼鏡レンズ102のいずれか一方の光学特性の測定を例に挙げて説明を行う。
[Operation of Lens Characteristic Measurement Device of First Embodiment]
FIG. 12 is a flowchart showing a flow of measurement processing (operation method of the lens characteristic measuring apparatus) of the optical characteristic of the left and right spectacle lenses 102 of the spectacle frame 101 by the lens characteristic measuring apparatus 10 of the first embodiment. Although the lens characteristic measuring apparatus 10 measures the optical characteristics of the left and right eyeglass lenses 102 simultaneously or in time series, the measurement of the optical characteristics of one of the left and right eyeglass lenses 102 will be described as an example. I do.
検者は、測定対象の眼鏡フレーム101をセット部20にセットして、挟持部材21,22により眼鏡フレーム101を挟持し、且つ支持ピン23により支持されている眼鏡レンズ102を押えピン29で押さえ付けて固定する(ステップS1)。なお、眼鏡フレーム101をセット部20にセットした後、操作スイッチ16での測定開始操作に応じて、挟持部材21、22、及び押えピン29を不図示のモータ駆動機構等で駆動して自動的に眼鏡フレーム101を固定してもよい。 The examiner sets the eyeglass frame 101 to be measured in the set portion 20, holds the eyeglass frame 101 between the holding members 21 and 22, and presses the eyeglass lens 102 supported by the support pin 23 with the holding pin 29. And fix (step S1). In addition, after the spectacles frame 101 is set in the setting unit 20, the holding members 21 and 22 and the pressing pin 29 are driven by a motor driving mechanism (not shown) or the like according to the measurement start operation by the operation switch 16. The eyeglass frame 101 may be fixed to the
次いで、検者が操作スイッチ16で測定開始操作を入力すると、光学系制御部62が光源40から線状光束46を連続的に出射させ、且つ予め定めた走査パターンに従ってスキャナ42の2枚のガルバノミラー42Aの少なくとも一方を変位させる。これにより、眼鏡レンズ102の表面上で線状光束46が上述の走査パターンで2次元方向に走査される(ステップS2)。 Next, when the examiner inputs a measurement start operation with the operation switch 16, the optical system control unit 62 causes the linear light beam 46 to be continuously emitted from the light source 40, and the two galvano of the scanner 42 according to a predetermined scanning pattern. At least one of the mirrors 42A is displaced. As a result, the linear light beam 46 is scanned in a two-dimensional direction in the above-described scanning pattern on the surface of the spectacle lens 102 (step S2).
そして、眼鏡レンズ102の表面上での線状光束46の走査に応じて、既述の図6に示したように、眼鏡レンズ102及びカバーガラス30を透過した線状光束46がハルトマンプレート32の上面で2次元方向に走査される。これにより、ハルトマンプレート32の上面において、線状光束46の走査位置PHがピンホール32Aの位置に一致した場合に、このピンホール32Aを線状光束46が透過して、スクリーン36に投影される。その結果、線状光束46がハルトマンプレート32の各ピンホール32Aを順番に透過してそれぞれスクリーン36上に投影される。 Then, in response to the scanning of the linear luminous flux 46 on the surface of the spectacle lens 102, the linear luminous flux 46 transmitted through the spectacle lens 102 and the cover glass 30 is of the Hartmann plate 32, as shown in FIG. The upper surface is scanned in a two-dimensional direction. Thus, when the scanning position PH of the linear light beam 46 coincides with the position of the pinhole 32A on the upper surface of the Hartmann plate 32, the linear light beam 46 is transmitted through the pinhole 32A and projected onto the screen 36. . As a result, the linear luminous flux 46 is transmitted through the respective pinholes 32A of the Hartmann plate 32 in order and projected on the screen 36 respectively.
本実施形態では、眼鏡レンズ102の測定範囲に対応した太径の測定光を眼鏡レンズ102に照射する従来の装置(図22参照)とは異なり、眼鏡レンズ102の表面上で細径の線状光束46を走査するので、光源40の光度を充分に確保することができ、さらに光源40の配光により撮影画像52の中心部と周辺部とで線状光束46による点像の明るさに差が生じることが防止される。このため、従来の装置よりも、撮影画像52の中心部又は周辺部での点像の光量変化が減少するので、撮影画像52の周辺部が暗くなったり、撮影画像52の中心部の点像が白飛びしたりすることが防止されるので、撮影画像52の中心部及び周辺部での測定感度の低下が防止される。 In this embodiment, unlike the conventional apparatus (see FIG. 22) in which the measuring lens having a large diameter corresponding to the measuring range of the eyeglass lens 102 is irradiated to the eyeglass lens 102 (see FIG. 22), a narrow linear shape is formed on the surface of the eyeglass lens 102. Since the luminous flux 46 is scanned, the luminous intensity of the light source 40 can be sufficiently ensured, and the light distribution of the luminous source 40 causes a difference in the brightness of the point image by the linear luminous flux 46 between the central portion and the peripheral portion of the photographed image 52 Is prevented from occurring. For this reason, since the light amount change of the point image at the central part or the peripheral part of the photographed image 52 is reduced compared to the conventional device, the peripheral part of the photographed image 52 becomes dark or the point image of the central part of the photographed image 52 Since overexposure is prevented, it is possible to prevent a drop in measurement sensitivity in the central portion and the peripheral portion of the photographed image 52.
一方、撮影制御部64は、線状光束46の走査が実行されている間、カメラ50を制御して、スクリーン36の連続的な撮影を実行させる(ステップS3)。そして、カメラ50により撮影されたスクリーン36の撮影画像52は、画像取得部66へ逐次出力され、この画像取得部66によって線状光束46の走査角度(各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φ)を識別可能な状態で、記憶部59内の画像情報72に逐次記憶される。 On the other hand, while the scanning of the linear light beam 46 is being performed, the imaging control unit 64 controls the camera 50 to execute continuous imaging of the screen 36 (step S3). Then, the photographed image 52 of the screen 36 photographed by the camera 50 is sequentially output to the image acquiring unit 66, and the scanning angle of the linear light beam 46 (swing angles .theta., .Phi. ) Are sequentially stored in the image information 72 in the storage unit 59 in a state where they can be identified.
この際に本実施形態では、個々の撮影画像52に含まれる線状光束46による点像の数が1点になるように、走査光学系35による線状光束46の走査速度を制御している。このため、既述の図7の符号7B及び符号7Cに示したように眼鏡レンズ102がプラスの強度数の凸レンズであった場合でも、スクリーン36上に投影される線状光束46による点像の重なり及び位置関係の反転を防止することができる。これにより、上記特許文献1のようにスクリーン36を移動させる必要がなくなるので、レンズ特性測定装置10の大型化及びスクリーン36の移動距離の再現性確保という問題は発生しない。 At this time, in the present embodiment, the scanning speed of the linear light beam 46 by the scanning optical system 35 is controlled so that the number of point images by the linear light beam 46 included in each photographed image 52 becomes one point. . For this reason, even when the spectacle lens 102 is a convex lens with a positive intensity number as shown by reference numerals 7B and 7C in FIG. 7 described above, the point image by the linear light beam 46 projected on the screen 36 is It is possible to prevent the overlap and the reversal of the positional relationship. Since this eliminates the need to move the screen 36 as in Patent Document 1 described above, the problems of upsizing of the lens characteristic measuring apparatus 10 and reproducibility of the movement distance of the screen 36 do not occur.
走査光学系35による線状光束46の走査と、カメラ50によるスクリーン36の連続撮影とが完了すると、位置取得部68は、記憶部59に記憶されている画像情報72内の各撮影画像52を解析して、線状光束46による点像を含む撮影画像52の判別と、線状光束46の投影位置Qの位置座標の取得とを行う(ステップS4)。そして、位置取得部68は、既述の図9に示したように投影位置情報74を生成し、この投影位置情報74を位置判別部69と光学特性取得部70とにそれぞれ出力する。 When the scanning of the linear light beam 46 by the scanning optical system 35 and the continuous shooting of the screen 36 by the camera 50 are completed, the position acquisition unit 68 acquires each photographed image 52 in the image information 72 stored in the storage unit 59. Analysis is performed to determine the photographed image 52 including the point image by the linear light flux 46 and to acquire the position coordinates of the projection position Q of the linear light flux 46 (step S4). Then, the position acquisition unit 68 generates the projection position information 74 as shown in FIG. 9 described above, and outputs the projection position information 74 to the position determination unit 69 and the optical characteristic acquisition unit 70, respectively.
次いで、位置判別部69は、位置取得部68から入力された投影位置情報74(線状光束46の走査角度及び投影位置Q)と、記憶部59内の装置情報77(ピンホール32Aごとのピンホール位置W)とに基づき、各線状光束46がそれぞれ透過したピンホール32Aのピンホール位置Wを判別する(ステップS5)。そして、位置判別部69は、既述の図10に示したようにピンホール位置情報79を生成し、このピンホール位置情報79を光学特性取得部70へ出力する。 Next, the position determination unit 69 determines the projection position information 74 (the scanning angle and the projection position Q of the linear light beam 46) input from the position acquisition unit 68 and the device information 77 (the pin for each pinhole 32A) in the storage unit 59. Based on the hole position W), the pinhole position W of the pinhole 32A through which each linear light flux 46 has been transmitted is determined (step S5). Then, the position determination unit 69 generates pinhole position information 79 as shown in FIG. 10 described above, and outputs the pinhole position information 79 to the optical characteristic acquisition unit 70.
投影位置情報74及びピンホール位置情報79の入力を受けた光学特性取得部70は、これらの情報に基づき、各線状光束46がそれぞれ透過したピンホール32Aのピンホール位置Wと、各線状光束46のスクリーン36上での投影位置Qとを判別する。次いで、この判別結果に基づき、光学特性取得部70は、スクリーン36に投影された各線状光束46の傾き角をそれぞれ検出する。 The optical property acquisition unit 70 receiving the projection position information 74 and the pinhole position information 79 receives the pinhole position W of the pinhole 32A through which each linear beam 46 has been transmitted, and each linear beam 46 based on the information. And the projection position Q on the screen 36 of FIG. Next, based on the determination result, the optical property acquisition unit 70 detects the inclination angle of each linear light beam 46 projected on the screen 36.
そして、光学特性取得部70は、各線状光束46の傾き角と記憶部59内の装置情報77とに基づき、既述の図11に示したように、従来の装置(図22参照)と基本的に同じ演算方法(解析方法)を用いて、眼鏡レンズ102の光学中心位置(光軸OA)及び光学特性[バックフォーカスBf等]を取得する(ステップS6)。この光学特性取得部70による眼鏡レンズ102の光学特性等の測定結果は、モニタ15に出力されて表示される。 Then, as shown in FIG. 11 described above, the optical characteristic acquisition unit 70 is based on the inclination angle of each linear light beam 46 and the device information 77 in the storage unit 59, as shown in FIG. The optical center position (optical axis OA) of the spectacle lens 102 and the optical characteristic [back focus Bf etc.] are acquired using the same calculation method (analysis method) (step S6). The measurement results of the optical characteristics and the like of the spectacle lens 102 by the optical characteristic acquisition unit 70 are output to the monitor 15 and displayed.
[第1実施形態のレンズ特性測定装置の効果]
以上のように第1実施形態のレンズ特性測定装置10では、眼鏡レンズ102の表面上で線状光束46を走査することにより、撮影画像52の中心部と周辺部とで線状光束46による点像の明るさに差が生じることが防止されるため、撮影画像52の中心部及び周辺部での測定感度の低下が防止される。また、スクリーン36を移動させる移動機構を設けることなく、スクリーン36上に投影される線状光束46による点像の重なり及び位置関係の反転を防止することができるので、レンズ特性測定装置10の大型化が防止される。その結果、撮影画像52の中心部及び周辺部での測定感度の低下防止と、レンズ特性測定装置10の大型化防止とが実現される。
[Effect of lens characteristic measurement device of the first embodiment]
As described above, in the lens characteristic measuring apparatus 10 according to the first embodiment, the linear luminous flux 46 is scanned on the surface of the eyeglass lens 102 so that the point by the linear luminous flux 46 in the central portion and the peripheral portion of the photographed image 52 Since a difference in the brightness of the image is prevented, a decrease in measurement sensitivity in the central portion and the peripheral portion of the captured image 52 is prevented. In addition, since it is possible to prevent the overlapping and the positional relationship of the point images by the linear light beams 46 projected on the screen 36 without providing the moving mechanism for moving the screen 36, the large size of the lens characteristic measuring apparatus 10 can be obtained. Is prevented. As a result, it is possible to realize the prevention of the decrease in the measurement sensitivity in the central part and the peripheral part of the photographed image 52 and the prevention of the enlargement of the lens characteristic measuring apparatus 10.
[第2実施形態のレンズ特性測定装置]
図13は、第2実施形態のレンズ特性測定装置10Aの統括制御部58の機能ブロック図である。この第2実施形態のレンズ特性測定装置10Aは、線状光束46の走査範囲及び走査パターンの設定と、1フレーム分の撮影画像52に含まれる線状光束46による点像の点像数の調整と、を行う機能を有している。
Lens Characteristic Measurement Device of Second Embodiment
FIG. 13 is a functional block diagram of the general control unit 58 of the lens characteristic measuring apparatus 10A of the second embodiment. The lens characteristic measuring apparatus 10A of the second embodiment sets the scanning range and scanning pattern of the linear light beam 46 and adjusts the number of point images of the point image by the linear light beam 46 included in the photographed image 52 for one frame. And has a function to do.
図13に示すように、第2実施形態のレンズ特性測定装置10Aは、統括制御部58が走査設定部88及び点像数調整部90として機能する点を除けば上記第1実施形態のレンズ特性測定装置10と基本的に同じ構成である。このため、上記第1実施形態と機能又は構成上同一のものについては、同一符号を付してその説明は省略する。 As shown in FIG. 13, the lens characteristic measuring apparatus 10A of the second embodiment has the lens characteristics of the first embodiment except that the general control unit 58 functions as the scan setting unit 88 and the point image number adjustment unit 90. The configuration is basically the same as that of the measuring device 10. For this reason, the same reference numerals are given to those that are the same in function or configuration as the first embodiment, and the description thereof will be omitted.
走査設定部88は、操作スイッチ16に入力された走査設定操作に応じて、光学系制御部62に対して、線状光束46の走査範囲(眼鏡レンズ102の測定範囲)及び走査パターンの設定指令を行う。この指令を受けて、光学系制御部62は、走査光学系35のスキャナ42の駆動を制御して、線状光束46の走査範囲及び走査パターンの設定を行う。 The scan setting unit 88 instructs the optical system control unit 62 to set the scan range of the linear light beam 46 (measurement range of the eyeglass lens 102) and the scan pattern according to the scan setting operation input to the operation switch 16 I do. In response to this command, the optical system control unit 62 controls the drive of the scanner 42 of the scanning optical system 35 to set the scanning range and scanning pattern of the linear light beam 46.
線状光束46の走査範囲を設定(変更)可能にすることで、眼鏡レンズ102内において光学特性の測定に必要な領域だけを選択的に線状光束46で走査することができる。例えば、眼鏡レンズ102が単焦点レンズである場合、広範囲な測定範囲(走査範囲)で線状光束46を走査する必要はない。このため、線状光束46がハルトマンプレート32の例えば中央部の4つのピンホール32Aを走査するように、線状光束46の走査範囲を設定する。この場合には、レンズ特性測定装置10による光学特性の測定(解析)を高速で行うことができる。 By making it possible to set (change) the scanning range of the linear luminous flux 46, it is possible to selectively scan the linear luminous flux 46 only in the area necessary for the measurement of the optical characteristics in the spectacle lens 102. For example, when the spectacle lens 102 is a single focus lens, it is not necessary to scan the linear light beam 46 in a wide measurement range (scanning range). For this reason, the scanning range of the linear luminous flux 46 is set so that the linear luminous flux 46 scans, for example, four pinholes 32A at the central portion of the Hartmann plate 32. In this case, the measurement (analysis) of the optical characteristics by the lens characteristics measurement apparatus 10 can be performed at high speed.
また、線状光束46の走査パターンを設定(変更)可能にすることで、例えば走査パターンをリング状あるいは他の特殊形状のパターンに設定(変更)可能にした場合に、眼鏡レンズ102の透過前後の線状光束46のパターンの形状変化を測定することで、眼鏡レンズ102の度数分布の測定が可能となる。 Also, by making it possible to set (change) the scanning pattern of the linear light beam 46, for example, when it is possible to set (change) the scanning pattern to a ring shape or a pattern of another special shape, before and after transmission of the eyeglass lens 102. By measuring the change in the shape of the pattern of the linear light flux 46, it is possible to measure the power distribution of the spectacle lens 102.
図14は、撮影画像52に含まれる線状光束46による点像の点像数の調整を説明するための説明図である。図13及び図14に示すように、点像数調整部90は、操作スイッチ16に対する点像数の入力操作に応じて、光学系制御部62及び撮影制御部64に対して点像数の調整指令を行う。 FIG. 14 is an explanatory diagram for explaining adjustment of the number of point images of a point image by the linear light beam 46 included in the captured image 52. As shown in FIGS. 13 and 14, the point image number adjustment unit 90 adjusts the number of point images with respect to the optical system control unit 62 and the photographing control unit 64 according to the input operation of the point image number to the operation switch 16. Make a command.
点像数の調整指令を受けた光学系制御部62は、走査光学系35のスキャナ42の走査速度を調整する。例えば1フレーム分の撮影画像52に含まれる点像数を増加させる場合にはスキャナ42の走査速度を増加させ、逆に点像数を減らす場合にはスキャナ42の走査速度を減少させる。 The optical system control unit 62 receiving the adjustment command of the number of point images adjusts the scanning speed of the scanner 42 of the scanning optical system 35. For example, when the number of point images included in the captured image 52 for one frame is increased, the scanning speed of the scanner 42 is increased. Conversely, when the number of point images is reduced, the scanning speed of the scanner 42 is decreased.
また、点像数の調整指令を受けた撮影制御部64は、カメラ50の撮像素子50Bの駆動を制御して、撮像素子50Bの露光時間(シャッター速度)を調整する。例えば、撮像素子50Bは、スキャナ42の走査速度に基づき、点像数の調整指令で指定された数の線状光束46による点像が1フレーム分の撮影画像52に含まれるように、撮像素子50Bの露光時間を調整する。なお、撮像素子50Bの露光時間は固定して(撮像素子50Bの制御は行わずに)、スキャナ42の走査速度のみを調整してもよい。 Further, the imaging control unit 64 that receives the adjustment command of the number of point images controls the driving of the imaging device 50B of the camera 50 to adjust the exposure time (shutter speed) of the imaging device 50B. For example, based on the scanning speed of the scanner 42, the imaging device 50B is configured such that the point image by the number of linear light beams 46 specified by the point image adjustment command is included in the captured image 52 for one frame. Adjust the exposure time of 50B. Alternatively, only the scanning speed of the scanner 42 may be adjusted while fixing the exposure time of the imaging element 50B (without controlling the imaging element 50B).
このようにスキャナ42及び撮像素子50Bを制御することで、図14の符号XIVAに示すように、1フレーム分の撮影画像52に含まれる点像数を1点に調整したり、或いは図14の符号XIVBに示すように、1フレーム分の撮影画像52に含まれる点像数を複数点に調整したりすることができる。特にスキャナ42の走査速度を増加させて、1フレーム分の撮影画像52に含まれる点像数を増加させるほど、眼鏡レンズ102の光学測定を短時間で完了することができる。例えばカメラ50による1フレームの撮影画像52の撮影中に、眼鏡レンズ102の表面の線状光束46の走査を完了させてもよい。 By controlling the scanner 42 and the imaging device 50B in this manner, the number of point images included in the captured image 52 for one frame can be adjusted to one point, or as shown by reference numeral XIVA in FIG. As indicated by symbol XIVB, the number of point images included in the captured image 52 for one frame can be adjusted to a plurality of points. In particular, as the scanning speed of the scanner 42 is increased and the number of point images included in one frame of the captured image 52 is increased, the optical measurement of the spectacle lens 102 can be completed in a short time. For example, the scanning of the linear light flux 46 on the surface of the spectacle lens 102 may be completed while the camera 50 captures the one frame of the captured image 52.
なお、1フレーム分の撮影画像52に含まれる点像数を増加させた場合、既述の図7の符号7B,7Cに示したように、眼鏡レンズ102の種類(例えばプラスの強度数の凸レンズ)によっては、スクリーン36に投影される線状光束46による点像が重なったり或いは位置関係が反転したりするおそれがある。この場合、点像数調整部90を作動させて、スキャナ42の走査速度を低下させることで、撮影画像52に含まれる点像数を減少(例えば1点に減少)させる。 When the number of point images included in the captured image 52 for one frame is increased, as indicated by the reference numerals 7B and 7C in FIG. In some cases, the point images by the linear light beams 46 projected onto the screen 36 may overlap or the positional relationship may be reversed. In this case, the point image number adjustment unit 90 is operated to reduce the scanning speed of the scanner 42, thereby reducing the number of point images included in the captured image 52 (for example, reducing it to one point).
[第3実施形態]
次に、第3実施形態のレンズ特性測定装置10B(図15参照)について説明を行う。上記各実施形態のスキャナ42は、各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φを調整することにより、線状光束46が2次元方向に走査されるように線状光束46の走査角度を調整している。なお、線状光束46の走査角度(出射角度ともいう)とは、例えば、各ガルバノミラー42Aが揺動中心位置にある場合にスキャナ42から出射される線状光束46、すなわちスキャナ42の走査中心位置における線状光束46に平行な基準方向(図15中の一点鎖線で表示)を基準とする角度(図15中のxy方向の角度)である。
Third Embodiment
Next, a lens characteristic measuring apparatus 10B (see FIG. 15) of the third embodiment will be described. The scanner 42 according to each of the above embodiments adjusts the scanning angle of the linear light beam 46 so that the linear light beam 46 is scanned in a two-dimensional direction by adjusting the rocking angles θ and φ of the galvano mirrors 42A. ing. The scanning angle (also referred to as emission angle) of the linear light beam 46 refers to, for example, the linear light beam 46 emitted from the scanner 42 when each galvano mirror 42A is at the swing center position, ie, the scanning center of the scanner 42 This is an angle (an angle in the xy direction in FIG. 15) with respect to a reference direction (indicated by an alternate long and short dash line in FIG. 15) parallel to the linear light flux 46 at the position.
この際に、スキャナ42の種類、例えばガルバノスキャナ及びMEMSスキャナ(2軸MEMSミラー)、特にMEMSスキャナでは、ミラーの揺動角度θ,φの再現性が低いという問題がある。ここでいう再現性が低いとは、既述の光学系制御部62によるミラーの揺動角度θ,φの指示値(制御値、設定値、又は目標値ともいう)と、実際のミラーの揺動角度θ,φとの間に乖離が生じることがある。 At this time, in the type of scanner 42, for example, a galvano scanner and a MEMS scanner (two-axis MEMS mirror), particularly a MEMS scanner, there is a problem that the reproducibility of the rocking angles θ and φ of the mirror is low. The low reproducibility here means that the indicated values (also referred to as control values, set values, or target values) of the swing angles θ and φ of the mirror by the optical system control unit 62 described above and the swing of the actual mirror Deviation may occur between the movement angles θ and φ.
このようにミラーの揺動角度θ,φの再現性が低くなると、ミラーの揺動角度θ,φの指示値は同じであっても、実際のミラーの揺動角度θ,φに変動が生じるため、これに応じてスキャナ42から出射される線状光束46の走査角度にも変動が生じてしまう。この場合には、既述の各走査位置Pがそれぞれ変動するため、線状光束46が透過するハルトマンプレート32内のピンホール32Aの位置(光束プロファイル)も変動してしまう。その結果、光学特性取得部70による眼鏡レンズ102の光学特性の測定精度が低下したり、光学特性取得部70により取得される眼鏡レンズ102の光学特性のマッピング画像(SCAマッピング画像)の再現性が低下したりするという問題が発生する。なお、「SCA」のSは球面度数(spherical)、Cは乱視度数(cylinder)、及びAは乱視軸(Axis)である。 As described above, when the repeatability of the rocking angles θ and φ of the mirror decreases, the actual rocking angles θ and φ of the mirror fluctuate, even if the designated values of the rocking angles θ and φ of the mirror are the same. Therefore, the scanning angle of the linear light beam 46 emitted from the scanner 42 also fluctuates accordingly. In this case, since the scanning positions P described above are respectively changed, the position (light flux profile) of the pinhole 32A in the Hartmann plate 32 through which the linear light flux 46 passes is also changed. As a result, the measurement accuracy of the optical characteristic of the eyeglass lens 102 by the optical characteristic acquisition unit 70 decreases, or the reproducibility of the mapping image (SCA mapping image) of the optical characteristic of the eyeglass lens 102 acquired by the optical characteristic acquisition unit 70 There is a problem of deterioration. In addition, S of "SCA" is spherical power (spheric), C is astigmatic power (cylinder), and A is an astigmatic axis (Axis).
また、眼鏡レンズ102の表面(レンズ面)の精度と、この表面上のごみ及び傷とを考慮した場合、ミラーの揺動角度θ,φの再現性、すなわちスキャナ42から出射される線状光束46の走査角度の再現性は高い方が望ましい。 Also, in consideration of the accuracy of the surface (lens surface) of the spectacle lens 102 and the dust and scratches on the surface, the reproducibility of the rocking angles θ and φ of the mirror, ie, the linear light beam emitted from the scanner 42 It is desirable that the repeatability of the scanning angle of 46 be high.
そこで、第3実施形態のレンズ特性測定装置10B(図15参照)は、光学系制御部62による各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φの制御(本発明の走査角度の制御に相当)の補正を行う。 Therefore, in the lens characteristic measuring apparatus 10B of the third embodiment (see FIG. 15), the control of the rocking angles θ and φ of the galvano mirrors 42A by the optical system control unit 62 (corresponding to the control of the scanning angle of the present invention) Make corrections.
図15は、第3実施形態のレンズ特性測定装置10Bの走査光学系35、スクリーン36、及び撮影光学系37の概略図である。図15に示すように、レンズ特性測定装置10Bは、ハーフミラー400及び受光光学系402を備える点を除けば、上記第1実施形態のレンズ特性測定装置10と基本的に同じ構成である。このため、上記第1実施形態と機能又は構成上同一のものについては、同一符号を付してその説明は省略する。 FIG. 15 is a schematic view of the scanning optical system 35, the screen 36, and the photographing optical system 37 of the lens characteristic measuring apparatus 10B of the third embodiment. As shown in FIG. 15, the lens characteristic measuring apparatus 10B has basically the same configuration as the lens characteristic measuring apparatus 10 of the first embodiment except that the half mirror 400 and the light receiving optical system 402 are provided. For this reason, the same reference numerals are given to those that are the same in function or configuration as the first embodiment, and the description thereof will be omitted.
ハーフミラー400は、本発明の光分割部に相当するものであり、コリメータ44と、セット部20にセットされた眼鏡レンズ102の表面との間に設けられている。このハーフミラー400は、コリメータ44から出射された線状光束46の一部を後述の受光光学系402に向けて反射し、線状光束46の残りをそのまま透過させて眼鏡レンズ102に向けて出射する。 The half mirror 400 corresponds to the light splitting unit of the present invention, and is provided between the collimator 44 and the surface of the spectacle lens 102 set in the setting unit 20. The half mirror 400 reflects a part of the linear luminous flux 46 emitted from the collimator 44 toward a light receiving optical system 402 described later, transmits the remaining linear luminous flux 46 as it is, and emits it toward the spectacle lens 102. Do.
受光光学系402は、レンズ404、レンズ406、及びCCD型(CMOS型でも可)の撮像素子408を備える。レンズ404,406は、ハーフミラー400にて反射された線状光束46を撮像素子408の受光面に入射させる。 The light receiving optical system 402 includes a lens 404, a lens 406, and a CCD (or CMOS) imaging device 408. The lenses 404 and 406 cause the linear light flux 46 reflected by the half mirror 400 to be incident on the light receiving surface of the image sensor 408.
撮像素子408は、ハーフミラー400からレンズ404,406を通して入射された線状光束46を受光する受光面を有している。そして、撮像素子408は、線状光束46を受光面で受光(撮像)して受光信号を統括制御部58へ出力する。この受光信号は、撮像素子408の受光面での線状光束46の受光位置(受光面内の画素の位置座標)を示す。 The imaging element 408 has a light receiving surface for receiving the linear light beam 46 incident from the half mirror 400 through the lenses 404 and 406. Then, the imaging element 408 receives (captures) the linear luminous flux 46 on the light receiving surface, and outputs a light reception signal to the general control unit 58. The light reception signal indicates a light reception position (position coordinates of a pixel in the light reception surface) of the linear light beam 46 on the light reception surface of the imaging element 408.
ここで、撮像素子408の受光面にて受光される線状光束46の受光位置は、各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φ、すなわちスキャナ42から出射される線状光束46の走査角度(θ,φ)ごとに異なる。このため、受光面上での線状光束46の受光位置と、各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φ(線状光束46の走査角度)との間には1対1の関係が成り立つ。従って、受光面上での線状光束46の受光位置から、各ガルバノミラー42Aの実際の揺動角度θ,φが求められる。 Here, the light receiving position of the linear light beam 46 received by the light receiving surface of the imaging element 408 is the swing angle θ, φ of each galvano mirror 42 A, that is, the scanning angle of the linear light beam 46 emitted from the scanner 42 Each θ, φ) differs. Therefore, a one-to-one relationship is established between the light receiving position of the linear light beam 46 on the light receiving surface and the swing angles θ and φ (scanning angles of the linear light beam 46) of the galvano mirrors 42A. Accordingly, the actual swing angles θ and φ of the galvano mirrors 42A are obtained from the light receiving position of the linear light beam 46 on the light receiving surface.
図16は、第3実施形態のレンズ特性測定装置10Bの統括制御部58の機能ブロック図である。図16に示すように、第3実施形態の統括制御部58は、前述の各部の他に測定値取得部410及び補正部412として機能する点を除けば、上記第1実施形態の統括制御部58と基本的に同じである。 FIG. 16 is a functional block diagram of the general control unit 58 of the lens characteristic measuring apparatus 10B of the third embodiment. As shown in FIG. 16, the integrated control unit 58 of the third embodiment is the integrated control unit of the first embodiment except that it functions as the measured value acquisition unit 410 and the correction unit 412 in addition to the above-described units. Basically the same as 58.
測定値取得部410は、撮像素子408から入力された受光信号と、記憶部59から取得した対応情報414とに基づき、各ガルバノミラー42Aの実際の揺動角度θ,φの測定値(実測値ともいう)を取得する。対応情報414は、既述の受光面上での線状光束46の受光位置と、各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φとの対応関係を示す情報であり、予め実験又はシミュレーション等を行うことにより作成されている。これにより、測定値取得部410は、撮像素子408からの受光信号に基づき受光面内での線状光束46の受光位置を判別し、さらにこの受光位置に基づき対応情報414を参照することにより、各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φの測定値を取得する。 The measured value acquiring unit 410 measures the measured values of the actual rocking angles θ and φ of the galvano mirrors 42A based on the light reception signal input from the imaging device 408 and the correspondence information 414 acquired from the storage unit 59 (measured values Also known as). The correspondence information 414 is information indicating the correspondence between the light receiving position of the linear light beam 46 on the light receiving surface described above and the swing angles θ and φ of the galvano mirrors 42A, and an experiment or simulation is performed in advance. It is created by. Thereby, the measured value acquiring unit 410 determines the light receiving position of the linear light beam 46 in the light receiving surface based on the light receiving signal from the imaging element 408, and further refers to the correspondence information 414 based on the light receiving position. Measurement values of the swing angles θ and φ of the galvano mirrors 42A are obtained.
各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φの測定値は、本発明の走査角度の測定値に相当する。そして、測定値取得部410は、各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φの測定値に関する情報を補正部412へ出力する。 The measured values of the swing angles θ and φ of the galvano mirrors 42A correspond to the measured values of the scanning angle of the present invention. Then, the measured value acquiring unit 410 outputs information on the measured values of the swing angles θ and φ of the galvano mirrors 42A to the correcting unit 412.
補正部412は、光学系制御部62による各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φの制御を補正する。補正部412は、測定値取得部410から各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φの測定値を取得すると共に、光学系制御部62から各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φの指定値を取得する。この指定値は、本発明の走査角度の指定値に相当する。 The correction unit 412 corrects the control of the swing angles θ and φ of the galvano mirrors 42A by the optical system control unit 62. The correction unit 412 acquires the measured values of the rocking angles θ and φ of the galvano mirrors 42A from the measured value acquiring unit 410, and specifies the rocking angles θ and φ of the galvano mirrors 42A from the optical system control unit 62. To get This designated value corresponds to the designated value of the scanning angle of the present invention.
次いで、補正部412は、各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φの測定値と指定値とを比較した結果に基づき、各揺動角度θ,φの測定値が指定値に一致するように、光学系制御部62による揺動角度θ,φの制御を補正する。これにより、補正部412は、光学系制御部62による線状光束46の走査角度の制御を補正することができる。 Next, the correction unit 412 compares the measured values of the rocking angles θ and φ with the specified values based on the result of comparing the measured values of the rocking angles θ and φ of the galvano mirrors 42A with the specified values. The control of the swing angles θ and φ by the optical system control unit 62 is corrected. Thereby, the correction unit 412 can correct the control of the scanning angle of the linear light beam 46 by the optical system control unit 62.
図17は、第3実施形態のレンズ特性測定装置10Bによる各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φの補正制御の流れを示すフローチャートである。図17に示すように、既述の図12に示したステップS2,S3において、光学系制御部62が、走査光学系35を制御してスキャナ42から線状光束46を出射させると、この線状光束46がミラー43及びコリメータ44を介してハーフミラー400に入射する。そして、線状光束46の一部が、ハーフミラー400によって分割されると共に受光光学系402に向けて反射される(ステップS20、本発明の光分割ステップに相当)。 FIG. 17 is a flow chart showing a flow of correction control of the swing angles θ and φ of the galvano mirrors 42A by the lens characteristic measurement apparatus 10B of the third embodiment. As shown in FIG. 17, when the optical system control unit 62 controls the scanning optical system 35 to emit the linear light beam 46 from the scanner 42 in steps S2 and S3 shown in FIG. Beam 46 is incident on the half mirror 400 via the mirror 43 and the collimator 44. Then, a part of the linear light flux 46 is split by the half mirror 400 and reflected toward the light receiving optical system 402 (step S20, corresponding to the light splitting step of the present invention).
ハーフミラー400によって反射された線状光束46は、受光光学系402の撮像素子408の受光面で受光される(ステップS21、本発明の受光ステップに相当)。これにより、撮像素子408から受光信号が測定値取得部410へ出力される。 The linear luminous flux 46 reflected by the half mirror 400 is received by the light receiving surface of the imaging element 408 of the light receiving optical system 402 (step S21, corresponding to the light receiving step of the present invention). Thus, the light reception signal is output from the imaging element 408 to the measurement value acquisition unit 410.
測定値取得部410は、撮像素子408から入力された受光信号が示す受光面上での線状光束46の受光位置に基づき、記憶部59から読み出した対応情報414を参照して、各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φの測定値を取得する(ステップS22、本発明の測定値取得ステップに相当)。そして、測定値取得部410は、各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φの測定値を補正部412へ出力する。 The measured value acquisition unit 410 refers to the correspondence information 414 read from the storage unit 59 based on the light reception position of the linear light beam 46 on the light receiving surface indicated by the light reception signal input from the imaging element 408, to each galvano mirror Measured values of the rocking angles θ and φ of 42A are obtained (step S22, corresponding to the measured value acquiring step of the present invention). Then, the measured value acquiring unit 410 outputs the measured values of the swing angles θ and φ of the galvano mirrors 42A to the correcting unit 412.
補正部412は、測定値取得部410から各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φの測定値を取得する。また、補正部412は、光学系制御部62から各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φの指定値を取得する(ステップS23)。なお、この指定値の取得のタイミングは、ステップS22の後に限定されるものではなく、ステップS22の前であってもよい。 The correction unit 412 acquires the measurement values of the swing angles θ and φ of the galvano mirrors 42A from the measurement value acquisition unit 410. In addition, the correction unit 412 acquires designated values of the swing angles θ and φ of the galvano mirrors 42A from the optical system control unit 62 (step S23). Note that the timing of obtaining this designated value is not limited after step S22, and may be before step S22.
そして、各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φの測定値と指定値とを比較した結果に基づき、光学系制御部62による揺動角度θ,φの制御を補正する(ステップS24、本発明の補正ステップに相当)。これにより、各ガルバノミラー42Aの実際の揺動角度θ,φ(線状光束46の走査角度)がその指定値と一致する。 Then, based on the result of comparing the measured values of the rocking angles θ and φ of the galvano mirrors 42A and the designated values, the control of the rocking angles θ and φ by the optical system control unit 62 is corrected (step S24, the present invention) Equivalent to the correction step of As a result, the actual rocking angles θ and φ (scanning angles of the linear light flux 46) of the galvano mirrors 42A coincide with the designated values.
このように第3実施形態のレンズ特性測定装置10Bでは、光学系制御部62による各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φの制御を補正することで、各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φ(線状光束46の走査角度)の指定値に対する測定値の誤差を低減させることができる。これにより、指示値に対する各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φの変動、すなわちスキャナ42から出射される線状光束46の走査角度の変動が低減される。その結果、既述の各走査位置Pの変動が抑えられるので、光学特性取得部70による眼鏡レンズ102の光学特性の測定精度及び光学特性のマッピング画像の再現性が向上する。 As described above, in the lens characteristic measuring apparatus 10B of the third embodiment, the control of the rocking angles θ and φ of the galvano mirrors 42A by the optical system control unit 62 is corrected to obtain the rocking angles θ of the galvano mirrors 42A. It is possible to reduce the error of the measured value with respect to the specified value of φ (scanning angle of the linear light beam 46). Thereby, the fluctuation of the rocking angles θ and φ of the galvano mirrors 42A with respect to the command value, that is, the fluctuation of the scanning angle of the linear light beam 46 emitted from the scanner 42 is reduced. As a result, since the fluctuation of each scanning position P described above is suppressed, the measurement accuracy of the optical characteristic of the spectacle lens 102 by the optical characteristic acquisition unit 70 and the reproducibility of the mapping image of the optical characteristic are improved.
上記第3実施形態では、コリメータ44と、セット部20にセットされた眼鏡レンズ102の表面との間にハーフミラー400を配置しているが、例えばスキャナ42とミラー43との間に配置したり、或いはミラー43とコリメータ44との間に配置したりしてもよい。また、ミラー43をハーフミラー400に置換してもよい。すなわち、スキャナ42から眼鏡レンズ102の表面に至る線状光束46の光路の途中位置であれば、ハーフミラー400の配置位置は特に限定はされない。 In the third embodiment, the half mirror 400 is disposed between the collimator 44 and the surface of the spectacle lens 102 set in the setting unit 20. For example, the half mirror 400 may be disposed between the scanner 42 and the mirror 43 Alternatively, it may be disposed between the mirror 43 and the collimator 44. Also, the mirror 43 may be replaced by a half mirror 400. That is, the position of the half mirror 400 is not particularly limited as long as it is at an intermediate position of the light path of the linear light flux 46 from the scanner 42 to the surface of the spectacle lens 102.
上記第3実施形態では、第1実施形態のレンズ特性測定装置10に対して各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φの制御を補正する機能を追加した例について説明しているが、上記第2実施形態に対しても同様の機能を追加してもよい。 In the third embodiment, an example is described in which the function of correcting the control of the swing angles θ and φ of the galvano mirrors 42A is added to the lens characteristic measurement apparatus 10 of the first embodiment. Similar functions may be added to the two embodiments.
[第4実施形態]
図18は、第4実施形態のレンズ特性測定装置10Cの機能ブロック図である。この第4実施形態のレンズ特性測定装置10では、既述の第3実施形態で説明した測定値取得部410により取得された各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φの測定値を用いて、眼鏡レンズ102の光学特性(マッピング画像)を求める。
Fourth Embodiment
FIG. 18 is a functional block diagram of a lens characteristic measuring apparatus 10C of the fourth embodiment. In the lens characteristic measurement apparatus 10 of the fourth embodiment, the measurement values of the swing angles θ and φ of the galvano mirrors 42A acquired by the measurement value acquisition unit 410 described in the third embodiment described above are used. The optical characteristics (mapping image) of the spectacle lens 102 are obtained.
図18に示すように、第4実施形態のレンズ特性測定装置10Cは、統括制御部58が上記第3実施形態の補正部412(図16参照)として機能せず且つ光学特性取得部70がマッピング画像生成部416として機能する点を除けば、上記第3実施形態のレンズ特性測定装置10Bと基本的に同じ構成である。このため、上記各実施形態と機能又は構成上同一のものについては、同一符号を付してその説明は省略する。 As shown in FIG. 18, in the lens characteristic measuring apparatus 10C of the fourth embodiment, the general control unit 58 does not function as the correction unit 412 (see FIG. 16) of the third embodiment, and the optical characteristic acquiring unit 70 maps. The configuration is basically the same as that of the lens characteristic measurement device 10B of the third embodiment except that it functions as the image generation unit 416. For this reason, the same reference numerals are given to those that are the same in function or configuration as the above-described embodiments, and the description thereof will be omitted.
第4実施形態の測定値取得部410は、上記第3実施形態と同様に、各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φの測定値、すなわち線状光束46の走査角度の測定値を取得する。そして、測定値取得部410は、各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φ(線状光束46の走査角度)の測定値を記憶部59内の画像情報72に記憶させる。 The measured value acquiring unit 410 of the fourth embodiment acquires the measured values of the swing angles θ and φ of the galvano mirrors 42A, that is, the measured values of the scanning angle of the linear light beam 46, as in the third embodiment. . Then, the measured value acquiring unit 410 stores the measured values of the rocking angles θ and φ (scanning angles of the linear light flux 46) of the galvano mirrors 42A in the image information 72 in the storage unit 59.
図19は、第4実施形態の画像情報72及び投影位置情報74の説明図である。図20は、第4実施形態の位置判別部69によるピンホール32A及びそのピンホール位置Wの判別処理を説明するための説明図である。 FIG. 19 is an explanatory diagram of the image information 72 and the projection position information 74 of the fourth embodiment. FIG. 20 is an explanatory diagram for explaining the discrimination process of the pinhole 32A and the pinhole position W by the position discrimination unit 69 of the fourth embodiment.
図19に示すように、第4実施形態の画像情報72には、画像取得部66から連続して入力される各撮影画像52が、各々に対応して測定値取得部410から入力される線状光束46の走査角度の測定値に関連付けられた状態で記憶される。 As shown in FIG. 19, in the image information 72 of the fourth embodiment, each photographed image 52 continuously input from the image acquiring unit 66 is a line corresponding to each input from the measurement value acquiring unit 410. It is stored in association with the measured value of the scanning angle of the bundle of rays 46.
第4実施形態の位置取得部68は、上記第1実施形態(図9参照)で説明したように、画像情報72に基づき投影位置情報74の生成を行う。この第4実施形態の投影位置情報74には、スクリーン36上に投影されている線状光束46の投影位置Qの位置座標と、各々の位置座標に対応する線状光束46の走査角度の測定値と、が関連付けられた状態で記憶されている。 The position acquisition unit 68 of the fourth embodiment generates the projection position information 74 based on the image information 72 as described in the first embodiment (see FIG. 9). In the projection position information 74 of the fourth embodiment, measurement of the position coordinates of the projection position Q of the linear light beam 46 projected on the screen 36 and measurement of the scanning angle of the linear light beam 46 corresponding to each position coordinate Values are stored in association with each other.
図20に示すように、第4実施形態の位置判別部69は、上記第1実施形態(図10参照)で説明したように、投影位置情報74及び装置情報77に基づき、スクリーン36上に投影された線状光束46が透過したハルトマンプレート32のピンホール32A及びそのピンホール位置Wを判別する。 As shown in FIG. 20, the position determination unit 69 of the fourth embodiment is projected on the screen 36 based on the projection position information 74 and the device information 77 as described in the first embodiment (see FIG. 10). The pinhole 32A of the Hartmann plate 32 through which the linear light beam 46 has passed and the pinhole position W thereof are determined.
具体的に位置判別部69は、投影位置情報74に記憶されている各線状光束46の走査角度(各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φ)の測定値に基づき、各線状光束46の走査位置Pの測定置を求める。これにより、位置判別部69は、各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φの再現性が低い場合でも、各投影位置Qの位置座標にそれぞれ対応する各線状光束46の走査位置Pを正確に求められる。その結果、位置判別部69は、眼鏡レンズ102の中心部に対応する走査位置P及び投影位置Qを上記第1実施形態よりも高精度に解析することができるので、これら走査位置P及び投影位置Qを通る線状光束46が透過したピンホール32Aを第1実施形態よりも高精度に判別することができる。 Specifically, the position determination unit 69 scans each linear beam 46 based on the measurement value of the scanning angle of each linear beam 46 (swing angle θ, φ of each galvano mirror 42A) stored in the projection position information 74. The measurement position of the position P is determined. As a result, even if the reproducibility of the rocking angles θ and φ of the galvano mirrors 42A is low, the position judging unit 69 accurately corrects the scanning positions P of the linear light beams 46 respectively corresponding to the position coordinates of the projection positions Q. Desired. As a result, since the position determination unit 69 can analyze the scanning position P and the projection position Q corresponding to the central portion of the spectacle lens 102 with higher accuracy than the first embodiment, the scanning position P and the projection position The pinhole 32A through which the linear light flux 46 passing through Q has passed can be determined with higher accuracy than in the first embodiment.
以下、第1実施形態と同様に、位置判別部69は、最初に判別したピンホール32Aのピンホール位置Wを基準として、各線状光束46の走査角度(走査位置P)の測定値と、各投影位置Qと、装置情報77とに基づいて、眼鏡レンズ102の光学中心部以外を透過した線状光束46が透過したピンホール32Aについても判別する。その結果、第4実施形態では、スクリーン36上に投影された線状光束46が透過したピンホール32A及びそのピンホール位置Wを第1実施形態よりも高精度に判別することができる。そして、位置判別部69は、各線状光束46の走査角度の測定値と、各線状光束46にそれぞれ対応するピンホール位置Wとの対応関係を示すピンホール位置情報79を光学特性取得部70へ出力する。 Hereinafter, in the same manner as in the first embodiment, the position determining unit 69 measures the scanning angle (scanning position P) of each linear light beam 46 with respect to the pinhole position W of the pinhole 32A first determined, and Based on the projection position Q and the device information 77, the pinhole 32A through which the linear light flux 46 transmitted through other than the optical center of the spectacle lens 102 is also determined. As a result, in the fourth embodiment, the pinhole 32A through which the linear light beam 46 projected on the screen 36 is transmitted and the pinhole position W can be determined with higher accuracy than in the first embodiment. Then, the position determination unit 69 sends, to the optical characteristic acquisition unit 70, pinhole position information 79 indicating the correspondence between the measured value of the scanning angle of each linear light beam 46 and the pinhole position W corresponding to each linear light beam 46. Output.
図18に戻って、第4実施形態の光学特性取得部70は、上記第1実施形態(図11参照)と同様に、位置取得部68から入力された投影位置情報74と、位置判別部69から入力されたピンホール位置情報79と、記憶部59内の装置情報77とに基づき、眼鏡レンズ102の光学中心位置(光軸OA)及び光学特性を取得する。なお、この光学特性には、既述の第1実施形態で説明したバックフォーカスBf以外に、眼鏡レンズ102の各部の球面度数、円柱度数(乱視度数)、円柱軸角度(乱視軸角度)、プリズム値(プリズム度数及びプリズム基底方向)等が含まれる。 Referring back to FIG. 18, the optical characteristic acquisition unit 70 of the fourth embodiment is the same as the first embodiment (see FIG. 11), but the projection position information 74 input from the position acquisition unit 68 and the position determination unit 69 The optical center position (optical axis OA) and optical characteristics of the spectacle lens 102 are acquired based on the pinhole position information 79 input from the device information 77 and the device information 77 in the storage unit 59. In this optical characteristic, in addition to the back focus Bf described in the first embodiment, the spherical dioptric power, cylindrical dioptric power (sphericity dioptric power), cylindrical axis angle (astigmatic axis angle), and prism of the spectacle lens 102 Values (prism power and prism base direction) and the like are included.
マッピング画像生成部416は、光学特性取得部70が取得した眼鏡レンズ102の光学特性と、投影位置情報74或いはピンホール位置情報79等から取得した各線状光束46の走査角度(走査位置P)の測定値とに基づき、公知の手法で眼鏡レンズ102の光学特性の分布を示すマッピング画像を生成する。そして、マッピング画像生成部416は、マッピング画像を記憶部59及びモニタ15に出力する。 The mapping image generation unit 416 calculates the optical characteristic of the spectacle lens 102 acquired by the optical characteristic acquisition unit 70 and the scanning angle (scanning position P) of each linear light beam 46 acquired from the projection position information 74 or the pinhole position information 79 or the like. Based on the measured values, a mapping image indicating the distribution of the optical characteristics of the spectacle lens 102 is generated by a known method. Then, the mapping image generation unit 416 outputs the mapping image to the storage unit 59 and the monitor 15.
図21は、第4実施形態のレンズ特性測定装置10Cによるマッピング画像の生成の流れを示すフローチャートである。図21に示すように、ステップS20からステップS22までの処理は、既述の図17に示した第3実施形態と同じであるため、ここでは説明を省略する。なお、ステップS20が本発明の光分割ステップに相当し、ステップS21が本発明の受光ステップに相当し、ステップS22が本発明の測定値取得ステップに相当する。 FIG. 21 is a flow chart showing a flow of generation of a mapping image by the lens characteristic measuring apparatus 10C of the fourth embodiment. As shown in FIG. 21, the processing from step S20 to step S22 is the same as that of the third embodiment shown in FIG. 17 described above, and thus the description thereof is omitted here. Step S20 corresponds to the light dividing step of the present invention, step S21 corresponds to the light receiving step of the present invention, and step S22 corresponds to the measured value acquiring step of the present invention.
ステップS22が完了すると、測定値取得部410は、既述の図19に示したように、各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φ(各線状光束46の走査角度)の測定値を記憶部59内の画像情報72に記憶させる。これにより、画像情報72において、各撮影画像52と、各撮影画像52のそれぞれ対応する線状光束46の走査角度の測定値とが対応付けられる。 When step S22 is completed, as shown in FIG. 19 described above, the measured value acquiring unit 410 stores the measured values of the rocking angles θ and φ (scanning angles of the linear light beams 46) of the galvano mirrors 42A. The image information 72 in 59 is stored. As a result, in the image information 72, each captured image 52 is associated with the measured value of the scanning angle of the linear light beam 46 corresponding to each captured image 52.
次いで、位置取得部68は、記憶部59内の画像情報72に基づき、既述の図19に示した投影位置情報74を生成し、この投影位置情報74を位置判別部69へ出力する(ステップS30、本発明の位置取得ステップに相当)。 Next, the position acquisition unit 68 generates the projection position information 74 shown in FIG. 19 described above based on the image information 72 in the storage unit 59, and outputs the projection position information 74 to the position determination unit 69 (step S30, corresponding to the position acquisition step of the present invention).
投影位置情報74の入力を受けた位置判別部69は、最初に、投影位置情報74に基づき、各線状光束46の走査角度の測定値にそれぞれ対応する走査位置Pの測定置を求める。次いで、位置判別部69は、各走査位置Pの測定値と、スクリーン36上に投影されている線状光束46の投影位置Qの位置座標とに基づいて、眼鏡レンズ102の中心部に対応する走査位置P及び投影位置Qの解析と、これら走査位置P及び投影位置Qに対応する線状光束46が透過したピンホール32Aの判別と、を行う。 The position determination unit 69 that has received the input of the projection position information 74 first determines the measurement position of the scanning position P respectively corresponding to the measurement value of the scanning angle of each linear light beam 46 based on the projection position information 74. Next, the position determination unit 69 corresponds to the central portion of the spectacle lens 102 based on the measurement value of each scanning position P and the position coordinates of the projection position Q of the linear light beam 46 projected on the screen 36. The analysis of the scanning position P and the projection position Q and the discrimination of the pinhole 32A through which the linear light flux 46 corresponding to the scanning position P and the projection position Q is transmitted are performed.
そして、位置判別部69は、最初に判別したピンホール32Aのピンホール位置Wを基準として、各線状光束46の走査角度の測定値と、各投影位置Qと、装置情報77とに基づき、残りの線状光束46が透過したピンホール32Aのピンホール位置Wについても判別する。 Then, based on the measured value of the scanning angle of each linear light beam 46, each projection position Q, and the device information 77, the position determination unit 69 determines the remaining position of the pinhole 32A determined first based on the pinhole position W of the pinhole 32A. The pinhole position W of the pinhole 32A through which the linear luminous flux 46 has passed is also determined.
このように位置判別部69は、各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φの再現性が低い場合でも、各走査位置Pの測定値等から、各線状光束46が透過したピンホール32A及びそのピンホール位置Wを高精度に判別することができる(ステップS31、本発明の位置判別ステップに相当)。そして、位置判別部69は、既述の図20に示したピンホール位置情報79を、光学特性取得部70へ出力する。 As described above, even when the reproducibility of the rocking angles θ and φ of the galvano mirrors 42A is low, the position discrimination unit 69 determines the pinholes 32A through which the linear light beams 46 are transmitted from the measured values of the scanning positions P and the like. The pinhole position W can be determined with high accuracy (step S31, corresponding to the position determination step of the present invention). Then, the position determination unit 69 outputs the pinhole position information 79 shown in FIG. 20 described above to the optical characteristic acquisition unit 70.
ピンホール位置情報79の入力を受けた位置判別部69は、このピンホール位置情報79と、既述の投影位置情報74及び装置情報77とに基づき、眼鏡レンズ102の光学中心位置及び光学特性を取得する(ステップS32、本発明の光学特性取得ステップに相当)。 The position determination unit 69 having received the input of the pinhole position information 79 determines the optical center position and the optical characteristic of the spectacle lens 102 based on the pinhole position information 79 and the projection position information 74 and the device information 77 described above. Acquire (Step S32, equivalent to the optical characteristic acquisition step of the present invention).
次いで、マッピング画像生成部416は、光学特性取得部70が取得した眼鏡レンズ102の光学特性と、投影位置情報74等から取得した各線状光束46の走査角度(走査位置P)の測定値とに基づき、眼鏡レンズ102のマッピング画像を生成し、このマッピング画像をモニタ15等に出力する(ステップS33)。 Next, the mapping image generation unit 416 determines the optical characteristic of the spectacle lens 102 acquired by the optical characteristic acquisition unit 70 and the measured value of the scanning angle (scanning position P) of each linear light beam 46 acquired from the projection position information 74 or the like. Based on this, a mapping image of the spectacle lens 102 is generated, and this mapping image is output to the monitor 15 or the like (step S33).
以上のように第4実施形態では、各線状光束46の走査角度(各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φ)の測定値を用いて眼鏡レンズ102の光学特性及びマッピング画像の測定を行うことができる。その結果、各ガルバノミラー42Aの揺動角度θ,φの再現性が低い場合でも、この揺動角度θ,φのばらつきが眼鏡レンズ102の光学特性の測定結果及びマッピング画像に反映されることが防止される。これにより、眼鏡レンズ102の光学特性の測定精度と、同一の眼鏡レンズ102に対するマッピング画像の再現性と、を向上させることができる。 As described above, in the fourth embodiment, the measurement of the optical characteristics and the mapping image of the spectacle lens 102 is performed using the measured values of the scanning angles of the respective linear light beams 46 (swing angles θ and φ of the respective Galvano mirrors 42A). Can. As a result, even when the reproducibility of the rocking angles θ and φ of the galvano mirrors 42A is low, the fluctuation of the rocking angles θ and φ is reflected in the measurement result of the optical characteristics of the spectacle lens 102 and the mapping image. It is prevented. This makes it possible to improve the measurement accuracy of the optical characteristics of the spectacle lens 102 and the reproducibility of the mapping image for the same spectacle lens 102.
[その他]
上記各実施形態では、眼鏡レンズ102の表面上を線状光束46で走査する間、この線状光束46の光量を一定にしているが、例えば、線状光束46の走査角度に応じて光源40から出射される線状光束46の光量(輝度)を調整してもよい。具体的には、眼鏡レンズ102の中央部に照射される線状光束46の光量が低く且つ眼鏡レンズ102の周辺部に照射される線状光束46の光量が高くなるように、線状光束46の光量を調節する。これにより、撮影画像52の中央部及び周辺部での線状光束46の明るさを均一に調整することができる。
[Others]
In the above embodiments, while the linear luminous flux 46 scans the surface of the spectacle lens 102, the light quantity of the linear luminous flux 46 is constant. For example, the light source 40 according to the scanning angle of the linear luminous flux 46 The light amount (brightness) of the linear light beam 46 emitted from the light source may be adjusted. Specifically, the linear luminous flux 46 is set such that the light quantity of the linear luminous flux 46 irradiated to the central part of the spectacle lens 102 is low and the luminous quantity of the linear luminous flux 46 irradiated to the peripheral part of the spectacle lens 102 is high. Adjust the amount of light. Thereby, the brightness of the linear luminous flux 46 at the central portion and the peripheral portion of the photographed image 52 can be uniformly adjusted.
上記各実施形態では、眼鏡レンズ102の表面上を線状光束46で走査する間におけるカメラ50の撮影条件は固定されているが、例えば線状光束46が眼鏡レンズ102の中央部を走査している場合と、線状光束46が眼鏡レンズ102の周辺部を走査している場合とにおいて、カメラ50の撮影条件を変更してもよい。この撮影条件とは、例えばカメラ50の撮像素子50Bの露光(蓄積)時間及びゲイン等である。 In each of the above embodiments, the imaging condition of the camera 50 is fixed while scanning the surface of the eyeglass lens 102 with the linear light beam 46. For example, the linear light beam 46 scans the central portion of the eyeglass lens 102 The imaging condition of the camera 50 may be changed in the case where the lens 50 is moving and in the case where the linear light beam 46 scans the peripheral portion of the spectacle lens 102. The imaging conditions are, for example, the exposure (accumulation) time, gain, and the like of the imaging device 50B of the camera 50.
上記各実施形態のレンズ特性測定装置10等において、眼鏡レンズ102のプリズム量のみを測定する場合、スキャナ42による線状光束46の走査は行わずに、撮影光軸OBに沿った線状光束46のみを眼鏡レンズ102に照射してもよい。 When only the amount of prisms of the spectacle lens 102 is measured in the lens characteristic measuring apparatus 10 or the like of each of the above embodiments, the linear luminous flux 46 along the photographing optical axis OB is not scanned by the scanner 42. Only the spectacle lens 102 may be irradiated.
上記各実施形態では、眼鏡フレーム101の左右の眼鏡レンズ102の光学特性を眼鏡フレーム101の置き換えなしに測定するレンズ特性測定装置10等を例にあげて説明したが、例えば左右の眼鏡レンズ102の光学特性を片方ずつ測定するレンズ特性測定装置(レンズメータ)、及び生地レンズの光学特性を測定するレンズ特性測定装置(レンズメータ)等の各種の被検レンズを測定するレンズ特性測定装置に本発明を適用できる。また、眼鏡以外の各種用途の被検レンズの光学特性を測定するレンズ特性測定装置に対しても本発明を適用できる。 In each of the above embodiments, the lens characteristic measuring apparatus 10 or the like for measuring the optical characteristics of the left and right spectacle lenses 102 of the spectacle frame 101 without replacing the spectacle frame 101 has been described as an example. The present invention relates to a lens characteristic measuring apparatus for measuring various test lenses such as a lens characteristic measuring apparatus (lens meter) for measuring optical characteristics one by one and a lens characteristic measuring apparatus (lens meter) for measuring optical characteristics of a base lens. Is applicable. The present invention can also be applied to a lens characteristic measurement apparatus that measures the optical characteristics of a subject lens for various uses other than glasses.
10,10A,10B,10C…レンズ特性測定装置,
32…ハルトマンプレート,
32A…ピンホール,
35…走査光学系,
36…スクリーン,
37…撮影光学系,
40…光源,
42…スキャナ,
46…線状光束,
50…カメラ,
52…撮影画像,
58…統括制御部,
62…光学系制御部,
64…撮影制御部,
68…位置取得部,
69…位置判別部,
70…光学特性取得部,
88…走査設定部,
90…点像数調整部,
101…眼鏡フレーム,
102…眼鏡レンズ
10, 10A, 10B, 10C ... lens characteristic measuring device,
32 ... Hartmann Plate,
32A ... Pinhole,
35 ... scanning optical system,
36 ... screen,
37 ... shooting optical system,
40 ... light source,
42 ... Scanner,
46 ... linear luminous flux,
50 ... camera,
52 ... shooting image,
58 ... General control unit,
62: Optical system control unit,
64: Shooting control unit,
68 ... location acquisition unit,
69 ... position discrimination unit,
70: Optical property acquisition unit,
88 ... Scan setting unit,
90 ... point image number adjustment unit,
101 ... glasses frame,
102 ... glasses lens
Claims (12)
前記被検レンズに対して前記走査光学系とは反対側に設けられており、2次元配列された複数のピンホールを有するハルトマンプレートであって、且つ前記走査光学系による走査により前記被検レンズを透過して前記ピンホールに照射された前記線状光束を透過するハルトマンプレートと、
前記ハルトマンプレートを透過した前記線状光束が投影されるスクリーンと、
前記スクリーンに対して前記ハルトマンプレートとは反対側に設けられ、前記走査光学系により前記線状光束の走査が実行されている間、前記スクリーンの撮影を行う撮影光学系と、
を備えるレンズ特性測定装置。 A scanning optical system for scanning the surface of the lens to be inspected with a linear light beam;
A Hartmann plate provided on a side opposite to the scanning optical system with respect to the test lens and having a plurality of two-dimensionally arranged pinholes, wherein the test lens is scanned by the scanning optical system A Hartmann plate that transmits the linear light flux that has been transmitted to the pinholes.
A screen onto which the linear luminous flux transmitted through the Hartmann plate is projected;
An imaging optical system provided on the opposite side to the Hartmann plate with respect to the screen and performing imaging of the screen while the linear optical beam is being scanned by the scanning optical system;
Lens characteristic measuring device provided with
前記スクリーンに投影された前記線状光束が透過した前記ピンホールのピンホール位置を判別する位置判別部と、
前記位置取得部が取得した前記投影位置と、前記位置判別部による前記ピンホール位置の判別結果と、既知の前記被検レンズ、前記ハルトマンプレート、及び前記スクリーンの位置関係と、に基づき、前記被検レンズの光学特性を取得する光学特性取得部と、
を備える請求項1に記載のレンズ特性測定装置。 A position acquisition unit that analyzes a photographed image of the screen photographed by the photographing optical system and acquires a projection position of the linear light beam projected on the screen;
A position determination unit that determines a pinhole position of the pinhole through which the linear light beam projected on the screen is transmitted;
Based on the projection position acquired by the position acquisition unit, the result of discrimination of the pinhole position by the position discrimination unit, and the positional relationship between the known lens to be examined, the Hartmann plate, and the screen, An optical characteristic acquisition unit that acquires optical characteristics of the inspection lens;
The lens characteristic measurement device according to claim 1, comprising:
前記光分割部により分割された前記線状光束を受光する受光光学系と、
前記受光光学系により受光された前記線状光束の受光位置に基づき、前記走査角度の測定値を取得する測定値取得部と、
を備え、
前記位置判別部は、前記線状光束の投影位置と、前記測定値取得部が取得した前記走査角度の測定値とに基づき、前記ピンホール位置を判別する請求項3に記載のレンズ特性測定装置。 A light dividing portion provided on an optical path of the linear luminous flux from the scanning optical system to the surface of the lens to be measured and dividing a part of the linear luminous flux;
A light receiving optical system that receives the linear light beam divided by the light dividing unit;
A measurement value acquiring unit that acquires a measurement value of the scanning angle based on a light receiving position of the linear light beam received by the light receiving optical system;
Equipped with
The lens characteristic measurement device according to claim 3, wherein the position determination unit determines the pinhole position based on the projection position of the linear light beam and the measurement value of the scanning angle acquired by the measurement value acquisition unit. .
前記走査光学系は、前記線状光束の直径を、前記ハルトマンプレート上で前記ピンホールの直径よりも大きく且つ互いに隣り合う前記ピンホールの間の距離よりも小さく調整している請求項1から5のいずれか1項に記載のレンズ特性測定装置。 The pinholes are two-dimensionally arranged at equal intervals on the Hartmann plate,
The scanning optical system adjusts the diameter of the linear light beam to be smaller than the diameter of the pinholes on the Hartmann plate and smaller than the distance between the pinholes adjacent to each other. The lens characteristic measuring device according to any one of the above.
前記走査光学系は、前記走査設定部での設定に従って前記線状光束の走査を行う請求項1から7のいずれか1項に記載のレンズ特性測定装置。 A scanning setting unit configured to set at least one of a scanning range of the linear light beam and a type of scanning pattern;
The lens characteristics measuring apparatus according to any one of claims 1 to 7, wherein the scanning optical system scans the linear light beam according to the setting in the scan setting unit.
前記走査光学系から前記被検レンズの表面に至る前記線状光束の光路の途中に設けられ、前記線状光束の一部の分割する光分割部と、
前記光分割部により分割された前記線状光束を受光する受光光学系と、
前記受光光学系により受光された前記線状光束の受光位置に基づき、前記走査角度の測定値を取得する測定値取得部と、
予め取得した前記走査角度の指示値と、前記測定値取得部が取得した前記測定値と、を比較した結果に基づき、前記光学系制御部による前記走査角度の制御を補正する補正部と、
を備える請求項1から8のいずれか1項に記載のレンズ特性測定装置。 An optical system control unit configured to scan the surface of the test lens with the linear light beam by controlling a scanning angle of the linear light beam emitted from the scanning optical system;
A light dividing portion provided on an optical path of the linear luminous flux from the scanning optical system to the surface of the lens to be measured and dividing a part of the linear luminous flux;
A light receiving optical system that receives the linear light beam divided by the light dividing unit;
A measurement value acquiring unit that acquires a measurement value of the scanning angle based on a light receiving position of the linear light beam received by the light receiving optical system;
A correction unit that corrects control of the scanning angle by the optical system control unit on the basis of a result of comparing an instruction value of the scanning angle acquired in advance and the measurement value acquired by the measurement value acquiring unit;
The lens characteristic measurement device according to any one of claims 1 to 8, comprising:
前記被検レンズの前記一面側とは反対側の他面側に配置された走査光学系が、前記被検レンズの表面を線状光束で走査するステップと、
前記撮影光学系が、前記走査光学系により前記線状光束の走査が実行されている間、前記被検レンズ及び前記ピンホールを透過した前記線状光束が投影される前記スクリーンを撮影するステップと、
を有するレンズ特性測定装置の作動方法。 A Hartmann plate disposed on one side of a subject lens and having a plurality of two-dimensionally arranged pinholes, a screen provided on the opposite side to the subject lens with respect to the Hartmann plate, and a screen with respect to the screen And an imaging optical system provided on the opposite side to the Hartmann plate for imaging the screen.
A scanning optical system disposed on the other surface side opposite to the one surface side of the test lens, scanning the surface of the test lens with a linear light beam;
And a step of photographing the screen on which the linear light flux transmitted through the subject lens and the pinhole is projected while the scanning optical system is executing scanning of the linear light flux. ,
Method of operating a lens characteristic measuring device having:
前記スクリーンに投影された前記線状光束が透過した前記ピンホールのピンホール位置を判別する位置判別ステップと、
前記位置取得ステップで取得した前記投影位置と、前記位置判別ステップでの前記ピンホール位置の判別結果と、既知の前記被検レンズ、前記ハルトマンプレート、及び前記スクリーンの位置関係と、に基づき、前記被検レンズの光学特性を取得する光学特性取得ステップと、
を有し、
前記位置判別ステップが、前記位置取得ステップで取得した前記線状光束の投影位置と、前記走査光学系による前記線状光束の走査角度であって且つ前記投影位置に投影された前記線状光束の走査角度とに基づき、前記ピンホール位置を判別し、
前記走査光学系から前記被検レンズの表面に至る前記線状光束の光路の途中に設けられ、前記線状光束の一部の分割する光分割ステップと、
前記光分割ステップで分割された前記線状光束を受光光学系で受光する受光ステップと、
前記受光光学系により受光された前記線状光束の受光位置に基づき、前記走査角度の測定値を取得する測定値取得ステップと、
を有し、
前記位置判別ステップは、前記線状光束の投影位置と、前記測定値取得ステップで取得された前記走査角度の測定値とに基づき、前記ピンホール位置を判別する請求項10に記載のレンズ特性測定装置の作動方法。 A position acquisition step of analyzing a photographed image of the screen photographed by the photographing optical system and acquiring a projection position of the linear light beam projected on the screen;
A position determining step of determining a pinhole position of the pinhole through which the linear light beam projected on the screen is transmitted;
Based on the projection position acquired in the position acquisition step, the result of discrimination of the pinhole position in the position discrimination step, and the positional relationship between the known lens to be examined, the Hartmann plate, and the screen An optical characteristic acquisition step of acquiring an optical characteristic of the test lens;
Have
The position determining step may be a projection position of the linear light beam acquired in the position acquisition step, and a scanning angle of the linear light beam by the scanning optical system and of the linear light beam projected on the projection position The position of the pinhole is determined based on the scanning angle,
A light dividing step of dividing the part of the linear luminous flux provided in the middle of the optical path of the linear luminous flux from the scanning optical system to the surface of the test lens;
A light receiving step of receiving the linear light beam divided in the light dividing step by a light receiving optical system;
A measurement value acquisition step of acquiring a measurement value of the scanning angle based on a light reception position of the linear light beam received by the light reception optical system;
Have
The lens characteristic measurement according to claim 10, wherein the position determining step determines the pinhole position based on the projection position of the linear light beam and the measurement value of the scanning angle acquired in the measurement value acquiring step. Method of operation of the device.
前記走査光学系から前記被検レンズの表面に至る前記線状光束の光路の途中において、前記線状光束の一部の分割する光分割ステップと、
前記光分割ステップにて分割された前記線状光束を受光する受光ステップと、
前記受光ステップで受光された前記線状光束の受光位置に基づき、前記走査角度の測定値を取得する測定値取得ステップと、
予め取得した前記走査角度の指示値と、前記測定値取得ステップで取得した前記測定値と、を比較した結果に基づき、前記光学系制御部による前記走査角度の制御を補正する補正ステップと、
を有する請求項10又は11に記載のレンズ特性測定装置の作動方法。 The lens characteristic measurement device has an optical system control unit that controls the scanning angle of the linear light beam emitted from the scanning optical system and causes the surface of the test lens to scan with the linear light beam. ,
A light dividing step of dividing a part of the linear luminous flux on the way of the optical path of the linear luminous flux from the scanning optical system to the surface of the test lens;
A light receiving step of receiving the linear light flux split in the light splitting step;
A measurement value acquisition step of acquiring a measurement value of the scanning angle based on a light reception position of the linear light beam received in the light reception step;
A correction step of correcting the control of the scanning angle by the optical system control unit on the basis of a result of comparison between an instruction value of the scanning angle acquired in advance and the measurement value acquired in the measurement value acquiring step;
The operating method of the lens characteristic measuring apparatus according to claim 10 or 11, comprising
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201811103198.0A CN109556834B (en) | 2017-09-26 | 2018-09-20 | Lens characteristic measuring device and lens characteristic measuring method |
US16/139,101 US10634582B2 (en) | 2017-09-26 | 2018-09-24 | Lens characteristic evaluation device and method of operating lens characteristic evaluation device |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017185272 | 2017-09-26 | ||
JP2017185272 | 2017-09-26 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019060851A true JP2019060851A (en) | 2019-04-18 |
JP2019060851A5 JP2019060851A5 (en) | 2021-07-26 |
JP7077166B2 JP7077166B2 (en) | 2022-05-30 |
Family
ID=66178140
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018135146A Active JP7077166B2 (en) | 2017-09-26 | 2018-07-18 | How to operate the lens characteristic measuring device and the lens characteristic measuring device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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AA64 | Notification of invalidation of claim of internal priority (with term) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A241764 Effective date: 20180827 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180828 |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20210609 |
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A521 | Request for written amendment filed |
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|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20220420 |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220428 |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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