JP2019027783A - Photodetector - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、光検出装置に関する。 The present invention relates to a light detection device.
光源からパルス光を照射し、物体によって反射された反射光を受光することによって、物体までの距離を測定する測距装置が知られている。このような測距装置において、温度検出部で半導体レーザ素子(LD)の温度を測定し、測定温度に基づいて現在の発光波長λLDを推定し、推定された発光波長λLDに応じてバンドパスフィルタ(BPF)を傾けることで中心透過波長λBPFを変化させる構成が開示されている(特許文献1)。これにより、温度変化に伴ってLDの発光波長がシフトしても、それに応じて透過波長を変化させることができ、物体によって反射された光がBPFによって減衰させられることを防ぐことができる。 2. Description of the Related Art A distance measuring device that measures the distance to an object by irradiating pulsed light from a light source and receiving reflected light reflected by the object is known. In such a distance measuring device, the temperature detection unit measures the temperature of the semiconductor laser element (LD), estimates the current emission wavelength λ LD based on the measured temperature, and band according to the estimated emission wavelength λ LD. A configuration in which the central transmission wavelength λ BPF is changed by tilting the pass filter (BPF) is disclosed (Patent Document 1). Thereby, even if the emission wavelength of the LD shifts with a temperature change, the transmission wavelength can be changed accordingly, and the light reflected by the object can be prevented from being attenuated by the BPF.
上記のように、光源であるLDの温度の変化に伴って発光波長が変化する。そこで、発光波長を安定化させる技術が望まれている。 As described above, the emission wavelength changes as the temperature of the LD, which is the light source, changes. Therefore, a technique for stabilizing the emission wavelength is desired.
また、BPFを用いる場合、光源の発光波長が前述の温度変化が原因で安定しないことにより、BPFの光透過波長帯域を狭くすることができない。これにより、BPFを透過(通過)してしまう外光等のノイズ成分が増大し、物体検出のための信号の信号ノイズ比(S/N比)を高くすることができない。 Further, when using BPF, the light transmission wavelength band of BPF cannot be narrowed because the emission wavelength of the light source is not stable due to the above-mentioned temperature change. As a result, noise components such as external light that is transmitted (passed) through the BPF increase, and the signal noise ratio (S / N ratio) of the signal for object detection cannot be increased.
また、温度検出部によって検出されたLDの温度に基づいてBPFの角度を制御するには、LDの温度に対する波長変動の関係を予め測定し、対応表等を作成しておく必要がある。また、LDの温度に対する波長依存性には素子毎にばらつきがあり、一定ではない。したがって、素子毎に対応表を設けなければ精度の高い温度補償をすることができない。さらに、素子毎に対応表を作成するには莫大なコストが掛かる。 Further, in order to control the angle of the BPF based on the temperature of the LD detected by the temperature detection unit, it is necessary to measure the relationship between wavelength fluctuations with respect to the LD temperature in advance and create a correspondence table or the like. Also, the wavelength dependence on the LD temperature varies from element to element and is not constant. Therefore, accurate temperature compensation cannot be performed unless a correspondence table is provided for each element. Furthermore, enormous costs are required to create a correspondence table for each element.
また、制御によって得られた結果を確認することができないので、制御した結果が適切であったか否かを知ることができない。 Moreover, since the result obtained by the control cannot be confirmed, it is impossible to know whether or not the control result is appropriate.
さらに、BPFを傾けるために機械的な可動部品が必要であり、装置の信頼性を高めることが難しく、コストが増加するおそれがある。 Furthermore, mechanically movable parts are necessary to tilt the BPF, and it is difficult to increase the reliability of the apparatus, which may increase the cost.
本発明の1つの態様は、光源を備え、前記光源から出射された光を用いて計測を行う光検出装置であって、前記光源から出射された光の一部を分離して受光することで、前記光源から出射されている光の光量を測定する光量測定用受光素子と、前記光量測定用受光素子から出力される測定光量と基準光量とを比較し、その差が小さくなるように前記光源の発光特性を変更するための制御信号を出力する光量比較器と、前記光源を駆動すると共に、前記光量比較器からの前記制御信号に基づいて前記光源の発光特性を変更する光源駆動回路と、を備えることを特徴とする光検出装置である。 One aspect of the present invention is a light detection device that includes a light source and performs measurement using light emitted from the light source, by separating and receiving a part of the light emitted from the light source. The light quantity measuring light receiving element for measuring the light quantity of light emitted from the light source is compared with the measured light quantity output from the light quantity measuring light receiving element and the reference light quantity, and the light source so that the difference is reduced A light amount comparator that outputs a control signal for changing the light emission characteristic of the light source, and a light source driving circuit that drives the light source and changes the light emission characteristic of the light source based on the control signal from the light amount comparator, It is provided with this.
ここで、前記光源及び前記光量測定用受光素子は同一の筐体に収められ、前記光源から出射される光の一部を前記筐体の内部にて反射させる内部反射体を備え、前記光量測定用受光素子は、前記内部反射体において反射された反射光を受光することが好適である。 Here, the light source and the light receiving element for light quantity measurement are housed in the same casing, and include an internal reflector that reflects a part of light emitted from the light source inside the casing, and the light quantity measurement It is preferable that the light receiving element for light receives the reflected light reflected by the internal reflector.
また、前記光源の発光特性は、発光の光量及び発光の波長の少なくとも1つであることが好適である。 Moreover, it is preferable that the light emission characteristic of the light source is at least one of a light emission amount and a light emission wavelength.
また、前記光量測定用受光素子の前面に配置され、前記光源において出射可能な波長を透過波長とする光学的バンドパスフィルタを備えることが好適である。 It is preferable that an optical bandpass filter that is disposed in front of the light receiving element for light quantity measurement and has a transmission wavelength that is a wavelength that can be emitted from the light source is preferable.
また、前記光源駆動回路は、前記光量比較器からの前記制御信号に基づいて前記光源に対する電圧又は電流を制御することが好適である。 Further, it is preferable that the light source driving circuit controls a voltage or a current for the light source based on the control signal from the light quantity comparator.
また、前記光源駆動回路は、前記光量比較器からの前記制御信号に基づいて前記光源の温度を制御することが好適である。 Further, it is preferable that the light source driving circuit controls the temperature of the light source based on the control signal from the light quantity comparator.
また、前記光源から前記光量測定用受光素子の間の光路の少なくとも一部に外光を遮光するための遮光部材が設けられていることが好適である。 In addition, it is preferable that a light shielding member for shielding external light is provided in at least a part of an optical path between the light source and the light receiving element for light quantity measurement.
また、前記光源から光が出射されていないときに前記光量測定用受光素子によって測定された光量と、前記光源から光が出射されているときに前記光量測定用受光素子によって測定された光量と、の差分値を前記測定光量とすることが好適である。 A light amount measured by the light amount measuring light receiving element when light is not emitted from the light source, and a light amount measured by the light amount measuring light receiving element when light is emitted from the light source, It is preferable that the difference value is the measurement light quantity.
本発明によれば、光源の発光波長を安定させることができる。また、測距装置等において、狭帯域のBPFを使用することが可能となる。 According to the present invention, the emission wavelength of the light source can be stabilized. Further, it becomes possible to use a narrow band BPF in a distance measuring device or the like.
[第1の実施の形態]
第1の実施の形態における測距装置100は、図1に示すように、光源10、光源駆動回路12、測距用受光素子14、測距演算部16、内部反射体18、光量測定用受光素子20、光量比較器22及び筐体24を含んで構成される。本実施の形態では、光源10、光源駆動回路12、測距用受光素子14、測距演算部16、内部反射体18、光量測定用受光素子20及び光量比較器22は同一の筐体24内に収められる。筐体24は、窓24aを除いて外光を遮蔽する材料で構成される。
[First Embodiment]
As shown in FIG. 1, the distance measuring
測距装置100は、光源10から所定の波長λLDの光を出力し、測定対象物200において反射された反射光を測距用受光素子14にて受光することにより測定対象物200までの距離を測定するために用いられる。
The distance measuring
なお、本実施の形態では、測距装置100を例に説明するが、本発明の適用範囲はこれに限定されるものではない。すなわち、温度による光源10の発光波長λLDの変化を補償することができる光検出装置が適用できるものであればよい。
In the present embodiment, the distance measuring
光源10は、測距装置100において測距に利用される光を出射する。光源10は、レーザダイオード(LD)とすることができる。光源10は、例えば、中心発光波長λLDが(870nmといった)赤外線の帯域であるLDを使用するのが一般的である。
The
光源駆動回路12は、光源10を駆動させて光を出射させるための電気回路である。光源駆動回路12は、光源10に対して電力を供給することで光を出力させる。また、光源駆動回路12は、光源10の温度を調整するための温度制御手段12aを含む。温度制御手段12aは、温調手段及び測距演算部を含んで構成することができる。温調手段は、例えば、ペルチェ素子、ファン、ヒータ等の光源10の温度を変更するための手段である。光源駆動回路12は、後述する光量比較器22から出力される制御信号を受けて、当該制御信号に応じて温調手段を制御することで光源10の温度を調整する。
The light
本実施の形態では、光源駆動回路12による制御によって光源10からパルス光が出力される。光源10からパルス光が出射されると、その出射時刻t0が測距演算部16に入力される。
In the present embodiment, pulsed light is output from the
測距用受光素子14は、受光素子を含んで構成される。測距用受光素子14は、例えば、複数の受光素子を配列させた構成とされる。例えば、縦4個×横4個の合計16個の受光素子をアレイ状に並べた構成を示している。ただし、測距用受光素子14における受光素子の配置は、これに限定されるものではなく、1次元的又は2次元的に配置するようなものであってもよい。また、測距用受光素子14は、1個の受光素子で構成してもよい。
The ranging
各受光素子は、フォトダイオードを含んで構成することができる。例えば、ガイガーモードで動作可能なシングルフォトンアバランシェ型のフォトダイオードとしてもよい。これは、SPAD(Single-Photon Avalanche Diode)と呼ばれる。この場合、1つの受光素子は、SPAD、クエンチング抵抗及びパルス変換部から構成することができる。SPADは、逆バイアス電圧を降伏電圧以上として動作させられ、単一フォトンの入射でもアバランシェ現象を起こす。したがって、SPADは、レーザ光等の光に対して高い感度を有する。SPADは、ガードリングや金属配線の領域をできるだけ小さくし、素子面積に対する受光領域の割合であるフィルファクタ(開口率)を高めることが好適である。特に、クエンチング素子やリチャージ素子を行列状に配置されたSPADの内部に形成しないことで、フィルファクタを高めることができる。クエンチング抵抗は、SPADに対して直列に接続される。クエンチング抵抗は、トランジスタや抵抗で構成することができる。SPADにアバランシェ電流が生ずるとクエンチング抵抗の端子間の電圧上昇によってSPADに対するバイアス電圧が降下し、降伏電圧未満となるとアバランシェ電流が止まる。クエンチング抵抗は、パルス変換部に対する検出信号を発生させるためにも利用される。パルス変換部は、SPAD及びクエンチング抵抗のペア毎にそれぞれ設けられる。パルス変換部は、クエンチング抵抗の端子電圧を所定の基準値と比較し、その比較結果に応じて矩形パルスを生成する。パルス変換部は、例えば、コンパレータ、インバータ等を含んで構成することかできる。このような構成により、測距用受光素子14の各受光素子に光が入射すると測距演算部16へパルス信号が出力される。
Each light receiving element can include a photodiode. For example, a single photon avalanche photodiode that can operate in Geiger mode may be used. This is called SPAD (Single-Photon Avalanche Diode). In this case, one light receiving element can be composed of a SPAD, a quenching resistor, and a pulse converter. SPAD is operated with a reverse bias voltage equal to or higher than a breakdown voltage, and causes an avalanche phenomenon even when a single photon is incident. Therefore, SPAD has high sensitivity to light such as laser light. In SPAD, it is preferable to make the area of the guard ring and the metal wiring as small as possible and increase the fill factor (aperture ratio), which is the ratio of the light receiving area to the element area. In particular, the fill factor can be increased by not forming quenching elements and recharge elements inside the SPAD arranged in a matrix. The quenching resistor is connected in series with SPAD. The quenching resistor can be composed of a transistor or a resistor. When an avalanche current is generated in SPAD, the bias voltage with respect to SPAD drops due to a voltage increase between the terminals of the quenching resistor, and when it becomes less than the breakdown voltage, the avalanche current stops. The quenching resistor is also used to generate a detection signal for the pulse converter. A pulse converter is provided for each pair of SPAD and quenching resistor. The pulse conversion unit compares the terminal voltage of the quenching resistor with a predetermined reference value, and generates a rectangular pulse according to the comparison result. The pulse conversion unit can be configured to include, for example, a comparator, an inverter, and the like. With such a configuration, when light enters each light receiving element of the distance measuring
測距演算部16は、測距用受光素子14からパルス信号を受けると、当該パルス信号を受信した受信時刻tdと光源10からのパルス光の出射時刻t0との差分Δt(=td−t0)に基づいて測定対象物200までの距離を演算する。測距演算部16は、差分Δtに光速cを乗算し、それを2で割ることで測定対象物200までの距離Dを求める。
When receiving a pulse signal from the
内部反射体18は、光源10から出射された光の一部を反射させて、光量測定用受光素子20へ導くための部材である。内部反射体18は、光源10から出射される波長λLDの光を反射できるミラーにより構成することができる。
The
光量測定用受光素子20は、内部反射体18によって反射された光源10からの光を受光する。光量測定用受光素子20は、受光素子を含んで構成される。光量測定用受光素子20は、例えば、複数の受光素子を配列させた構成とされる。例えば、横4個に並べられた受光素子の構成を示している。ただし、光量測定用受光素子20における受光素子の配置は、これに限定されるものではなく、2次元的に配置するようなものであってもよい。また、光量測定用受光素子20は、1個の受光素子で構成されてもよい。光量測定用受光素子20の構成は、フォトダイオードを含んで構成することができる。光量測定用受光素子20は、内部反射体18によって反射された光の光量に応じた強度の信号を光量比較器22へ出力する。
The light quantity measuring
光量比較器22は、光量測定用受光素子20によって測定された光量と基準光量とを比較し、その差に応じた制御信号を生成して光源駆動回路12へ出力する。すなわち、光量比較器22は、光量測定用受光素子20によって測定された光量の基準光量に対する過不足を検知し、その量に応じた制御信号を出力する。
The
光源10から出射される光の波長λLDが変化すると、光量測定用受光素子20の感度の波長依存性によって測定される光量が変化する。すなわち、光源10から出射される光の波長λLDの変化に伴って、光量測定用受光素子20から出力される信号の強度は変化する。光源駆動回路12は、光量比較器22からの制御信号に応じて光源10を加熱又は冷却して波長λLDの変化が小さくなるように温度を調整する。
When the wavelength λ LD of the light emitted from the
これによって、光源10の発光波長λLDが一定となるようにフィードバック制御される。したがって、光源10の発光波長λLDを安定させることができる。光源10の発光波長λLDを安定させることによって、測距装置100における測距用受光素子14での受光光量も安定させることができ、測距の精度を高めることができる。
Thus, feedback control is performed so that the light emission wavelength λ LD of the
また、図2に示すように、内部反射体18を筐体24の一部で構成するようにしてもよい。例えば、筐体24の防砂フードや防水フードの一部に光源10から出射された光を反射する特性を持たせ、光源10から出射された光が当該部分にて反射されて光量測定用受光素子20に入射するようにしてもよい。
Further, as shown in FIG. 2, the
[第2の実施の形態]
第2の実施の形態における測距装置102は、図3に示すように、第1の実施の形態の測距装置100に対して測距用受光素子14及び光量測定用受光素子20の入射面(前面)にバンドパスフィルタ(BPF)30を設けた点で相違する。
[Second Embodiment]
As shown in FIG. 3, the
バンドパスフィルタ30は、所望の波長範囲の光を透過し、その波長範囲外の光を減衰させるフィルタである。バンドパスフィルタ30は、その中心透過波長λBPFが光源10の発光波長λLDに合わせることが好適である。すなわち、バンドパスフィルタ30は、光源10から出射可能な波長領域(中心波長、標準波長等を含む)の光を透過し、それ以外の波長領域外の光を減衰させるフィルタとすればよい。バンドパスフィルタ30は、測距用受光素子14及び光量測定用受光素子20に入射する光が共に通過する光学的な位置に配置される。なお、バンドパスフィルタ30は、測距用受光素子14及び光量測定用受光素子20に共通に1枚設けてもよいし、測距用受光素子14及び光量測定用受光素子20に対して同じ特性のものをそれぞれ別に設けてもよい。
The
このように、バンドパスフィルタ30を設けることによって、その透過波長範囲外の光を減衰させることができ、光源10の発光波長λLD近傍以外の外光の影響を低減させ、信号ノイズ比(S/N比)を高めることができる。特に、本実施の形態によれば、光源10の温度を制御することで、光源10の発光波長λLDの変化による光量の減衰を検知して、その発光波長λLDを狭い範囲に維持することができる。そして、光源10の発光波長λLDをバンドパスフィルタ30の中心透過波長付近に安定化させることで、バンドパスフィルタ30の透過波長範囲をより狭くすることができ、信号ノイズ比(S/N比)をより高めることができる。
Thus, by providing the
なお、第1の実施の形態の測距装置100及び第2の実施の形態の測定対象物200において、光源駆動回路12の温調手段としてヒータのみを設ける構成としてもよい。この場合、常温よりも光源10を高い温度に加熱した状態を通常時とし、その通常時における光源10の発光波長λLDのときの光量測定用受光素子20の出力を光量比較器22での基準光量に設定しておくことが好適である。これにより、ヒータをオフすることにより光源10を冷却することができ、ヒータのみで光源10の加熱及び冷却の両方を実現することができる。
Note that the
[第3の実施の形態]
第3の実施の形態における測距装置は、第1の実施の形態の測距装置100の光源駆動回路12において温調手段を設けたのに対して、光源10自体に対する制御によって光源10の温度を調整する構成とした点で相違する。
[Third Embodiment]
The distance measuring device in the third embodiment is provided with temperature adjusting means in the light
本実施の形態における測距装置の光源駆動回路12では、光源10であるレーザダイオード(LD)のリーク電流を利用して光源10の温度を調整することで、光源10の発光波長λLDを制御する。
In the light
図4に示すように、レーザダイオード(LD)は、素子の半導体特性で定まる閾値電圧VTH以上の電圧を印加しなければ発光しない。ただし、閾値電圧VTH未満の電圧であっても、わずかなリーク電流が流れており、その印加電圧の増加に伴ってリーク電流も増加する。このリーク電流によるジュール熱によってレーザダイオード(LD)自体が加熱される。そこで、このリーク電流を制御することによって、レーザダイオード(LD)の温度を調整し、その発光波長λLDを制御することができる。 As shown in FIG. 4, the laser diode (LD) does not emit light unless a voltage equal to or higher than the threshold voltage V TH determined by the semiconductor characteristics of the element is applied. However, even if the voltage is lower than the threshold voltage V TH , a slight leak current flows, and the leak current increases as the applied voltage increases. The laser diode (LD) itself is heated by Joule heat due to this leakage current. Therefore, by controlling the leakage current, the temperature of the laser diode (LD) can be adjusted, and the emission wavelength λ LD can be controlled.
具体的には、図5に示すように、レーザダイオード(LD)への印加電圧VLDに重畳させる直流電圧のオフセット電圧VOSを制御することによって、レーザダイオード(LD)の温度を調整し、その発光波長λLDを制御することができる。 Specifically, as shown in FIG. 5, the temperature of the laser diode (LD) is adjusted by controlling the offset voltage V OS of the DC voltage superimposed on the applied voltage V LD to the laser diode (LD), The emission wavelength λ LD can be controlled.
本実施の形態の測距装置によれば、ペルチェ素子、ヒータ、ファン等の温調手段を必要とすることなく、光源10の発光波長λLDを制御することができる。
According to the distance measuring apparatus of the present embodiment, the light emission wavelength λ LD of the
[第4の実施の形態]
第4の実施の形態における測距装置104は、図6に示すように、外光を遮断するために内部反射体18と光量測定用受光素子20との間の光路に遮光部材32を設けた構成とする。遮光部材32は、例えば、内部反射体18と光量測定用受光素子20との間の光路を覆う不透明な筒状の部材とすればよい。
[Fourth Embodiment]
As shown in FIG. 6, the
これにより、測距装置104によれば、外光をよく確実に遮断することができ、外光の影響を除いて得られた光量測定用受光素子20での測定結果に基づいて光源10の温度を調整することができる。したがって、光源10の発光波長λLDをより正確に制御することができる。
Thereby, according to the
[第5の実施の形態]
第5の実施の形態における測距装置106は、図7に示すように、光量測定用受光素子20によって測定された光量を一時的に記憶しておくメモリ34を含んで構成される。メモリ34は、光源10を発光させない状態において光量測定用受光素子20で測定された光量に応じた信号の強度S1を記憶する。当該信号の強度S1は、光源10を発光させない状態における外光によるノイズ成分である。光量比較器22は、光源10を発光させた状態における光量測定用受光素子20で測定された光量に応じた信号の強度S2からメモリ34に記憶されている信号の強度S1を減算することにより、外光によるノイズ成分を除去して光源10からの光による信号成分のみを抽出し、その量に応じた制御信号を出力する。
[Fifth Embodiment]
As shown in FIG. 7, the
このように、本実施の形態における測距装置106によれば、筐体24や遮光部材32による遮光が十分に行えないような場合であっても、光源10からの光の反射光による信号成分に基づいて光源10の温度制御を行うことができる。
As described above, according to the
なお、光源10を発光させない状態における光量測定用受光素子20での測定と、光源10を発光させた状態における光量測定用受光素子20での測定とを可能な限り時間的に近いタイミングで行うことが好適である。
Note that the measurement by the light quantity measurement light-receiving
また、上記実施の形態では、光源10から出射される光の一部を内部反射体18によって分離する構成としたが、これに限定されるもではない。例えば、光源10から出射される光の一部が光量測定用受光素子20に直接入射するような配置としてもよい。また、内部反射体18の代わりに回折格子等の光学素子を用いて光源10から出射される光の一部を分離するような構成としてもよい。
Moreover, in the said embodiment, although it was set as the structure which isolate | separates a part of light radiate | emitted from the
また、上記実施の形態では、測距用受光素子14と光量測定用受光素子20を別体としたが、1つのチップとして集積して一体としてもよい。
In the above embodiment, the distance measuring
また、内部反射体18で直ちに反射される光は極めて光量が多い(強い)。そのため、光量測定用受光素子20と測距用受光素子14とを同等の感度とすると、光量測定用受光素子20において信号飽和等を引き起こして、光量を正確に測定できない懸念がある。そこで、内部反射体18における反射光を減衰させる構成としておくことが好適である。また、光量測定用受光素子20の感度を測距用受光素子14の感度よりも低くしておくことが好適である。感度を低くするためには、光量測定用受光素子20へ印加するバイアス電圧を下げたり、もともと感度の低いデバイス構造としたりする方法が挙げられる。
Further, the light immediately reflected by the
10 光源、12 光源駆動回路、12a 温度制御手段、14 測距用受光素子、16 測距演算部、18 内部反射体、20 光量測定用受光素子、22 光量比較器、24 筐体、24a 窓、30 バンドパスフィルタ、32 遮光部材、34 メモリ、100,102,104,106 測距装置、200 測定対象物。
DESCRIPTION OF
Claims (8)
前記光源から出射された光の一部を分離して受光することで、前記光源から出射されている光の光量を測定する光量測定用受光素子と、
前記光量測定用受光素子から出力される測定光量と基準光量とを比較し、その差が小さくなるように前記光源の発光特性を変更するための制御信号を出力する光量比較器と、
前記光源を駆動すると共に、前記光量比較器からの前記制御信号に基づいて前記光源の発光特性を変更する光源駆動回路と、
を備えることを特徴とする光検出装置。 A light detection device that includes a light source and performs measurement using light emitted from the light source,
A light receiving element for measuring the amount of light that measures the amount of light emitted from the light source by separating and receiving a part of the light emitted from the light source;
A light amount comparator that compares a measured light amount output from the light receiving element for light amount measurement with a reference light amount, and outputs a control signal for changing the light emission characteristics of the light source so that the difference is reduced;
A light source driving circuit for driving the light source and changing a light emission characteristic of the light source based on the control signal from the light amount comparator;
An optical detection device comprising:
前記光源及び前記光量測定用受光素子は同一の筐体に収められ、
前記光源から出射される光の一部を前記筐体の内部にて反射させる内部反射体を備え、
前記光量測定用受光素子は、前記内部反射体において反射された反射光を受光することを特徴とする光検出装置。 The photodetection device according to claim 1,
The light source and the light receiving element for light quantity measurement are housed in the same housing,
An internal reflector that reflects a part of the light emitted from the light source inside the housing;
The light-detecting device, wherein the light-receiving element for light quantity measurement receives reflected light reflected by the internal reflector.
前記光源の発光特性は、発光の光量及び発光の波長の少なくとも1つであることを特徴とする光検出装置。 The photodetecting device according to claim 1 or 2,
The light emission characteristic of the light source is at least one of a light emission amount and a light emission wavelength.
前記光量測定用受光素子の前面に配置され、前記光源において出射可能な波長を透過波長とする光学的バンドパスフィルタを備えることを特徴とする光検出装置。 The photodetection device according to any one of claims 1 to 3,
An optical detection device comprising: an optical bandpass filter that is disposed in front of the light receiving element for measuring light quantity and has a transmission wavelength that is a wavelength that can be emitted from the light source.
前記光源駆動回路は、前記光量比較器からの前記制御信号に基づいて前記光源に対する電圧又は電流を制御することを特徴とする光検出装置。 The photodetection device according to any one of claims 1 to 4,
The light source driving circuit controls a voltage or a current for the light source based on the control signal from the light amount comparator.
前記光源駆動回路は、前記光量比較器からの前記制御信号に基づいて前記光源の温度を制御することを特徴とする光検出装置。 The photodetection device according to any one of claims 1 to 4,
The light source driving circuit controls the temperature of the light source based on the control signal from the light quantity comparator.
前記光源から前記光量測定用受光素子の間の光路の少なくとも一部に外光を遮光するための遮光部材が設けられていることを特徴とする光検出装置。 The photodetection device according to any one of claims 1 to 6,
A light detection device, wherein a light shielding member for shielding external light is provided in at least a part of an optical path between the light source and the light receiving element for light quantity measurement.
前記光源から光が出射されていないときに前記光量測定用受光素子によって測定された光量と、前記光源から光が出射されているときに前記光量測定用受光素子によって測定された光量と、の差分値を前記測定光量とすることを特徴とする光検出装置。
The photodetection device according to any one of claims 1 to 7,
The difference between the light quantity measured by the light quantity measuring light-receiving element when light is not emitted from the light source and the light quantity measured by the light quantity measurement light-receiving element when light is emitted from the light source A light detection apparatus characterized in that the value is the measured light quantity.
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