JP2019027783A - Photodetector - Google Patents

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勇 高井
Isamu Takai
勇 高井
松原 弘幸
Hiroyuki Matsubara
弘幸 松原
小川 勝
Masaru Ogawa
勝 小川
木村 禎祐
Sadasuke Kimura
禎祐 木村
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Denso Corp
Toyota Central R&D Labs Inc
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Denso Corp
Toyota Central R&D Labs Inc
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Abstract

To improve the signal to noise ratio (S/N ratio) and improve the distance measuring performance in the range finding device.SOLUTION: A range finding device 100 including a light source 10 and performing measurement using light emitted from the light source 10 includes; a light quantity measuring light receiving element 20 for measuring the light quantity of the light emitted from the light source 10 by separating and receiving a part of the light emitted from the light source 10; a light quantity comparator 22 which compares the measured light quantity output from the light quantity measuring light receiving element 20 with a reference light quantity, and outputs a control signal for changing the light emission characteristic of the light source 10 so as to make the difference between the compared quantities to be small; and a light source driving circuit 12 which drives the light source 10 and changes the light emission characteristic of the light source 10 based on the control signal from the light quantity comparator 22.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、光検出装置に関する。   The present invention relates to a light detection device.

光源からパルス光を照射し、物体によって反射された反射光を受光することによって、物体までの距離を測定する測距装置が知られている。このような測距装置において、温度検出部で半導体レーザ素子(LD)の温度を測定し、測定温度に基づいて現在の発光波長λLDを推定し、推定された発光波長λLDに応じてバンドパスフィルタ(BPF)を傾けることで中心透過波長λBPFを変化させる構成が開示されている(特許文献1)。これにより、温度変化に伴ってLDの発光波長がシフトしても、それに応じて透過波長を変化させることができ、物体によって反射された光がBPFによって減衰させられることを防ぐことができる。 2. Description of the Related Art A distance measuring device that measures the distance to an object by irradiating pulsed light from a light source and receiving reflected light reflected by the object is known. In such a distance measuring device, the temperature detection unit measures the temperature of the semiconductor laser element (LD), estimates the current emission wavelength λ LD based on the measured temperature, and band according to the estimated emission wavelength λ LD. A configuration in which the central transmission wavelength λ BPF is changed by tilting the pass filter (BPF) is disclosed (Patent Document 1). Thereby, even if the emission wavelength of the LD shifts with a temperature change, the transmission wavelength can be changed accordingly, and the light reflected by the object can be prevented from being attenuated by the BPF.

特開2007−85832号公報JP 2007-85832 A

上記のように、光源であるLDの温度の変化に伴って発光波長が変化する。そこで、発光波長を安定化させる技術が望まれている。   As described above, the emission wavelength changes as the temperature of the LD, which is the light source, changes. Therefore, a technique for stabilizing the emission wavelength is desired.

また、BPFを用いる場合、光源の発光波長が前述の温度変化が原因で安定しないことにより、BPFの光透過波長帯域を狭くすることができない。これにより、BPFを透過(通過)してしまう外光等のノイズ成分が増大し、物体検出のための信号の信号ノイズ比(S/N比)を高くすることができない。   Further, when using BPF, the light transmission wavelength band of BPF cannot be narrowed because the emission wavelength of the light source is not stable due to the above-mentioned temperature change. As a result, noise components such as external light that is transmitted (passed) through the BPF increase, and the signal noise ratio (S / N ratio) of the signal for object detection cannot be increased.

また、温度検出部によって検出されたLDの温度に基づいてBPFの角度を制御するには、LDの温度に対する波長変動の関係を予め測定し、対応表等を作成しておく必要がある。また、LDの温度に対する波長依存性には素子毎にばらつきがあり、一定ではない。したがって、素子毎に対応表を設けなければ精度の高い温度補償をすることができない。さらに、素子毎に対応表を作成するには莫大なコストが掛かる。   Further, in order to control the angle of the BPF based on the temperature of the LD detected by the temperature detection unit, it is necessary to measure the relationship between wavelength fluctuations with respect to the LD temperature in advance and create a correspondence table or the like. Also, the wavelength dependence on the LD temperature varies from element to element and is not constant. Therefore, accurate temperature compensation cannot be performed unless a correspondence table is provided for each element. Furthermore, enormous costs are required to create a correspondence table for each element.

また、制御によって得られた結果を確認することができないので、制御した結果が適切であったか否かを知ることができない。   Moreover, since the result obtained by the control cannot be confirmed, it is impossible to know whether or not the control result is appropriate.

さらに、BPFを傾けるために機械的な可動部品が必要であり、装置の信頼性を高めることが難しく、コストが増加するおそれがある。   Furthermore, mechanically movable parts are necessary to tilt the BPF, and it is difficult to increase the reliability of the apparatus, which may increase the cost.

本発明の1つの態様は、光源を備え、前記光源から出射された光を用いて計測を行う光検出装置であって、前記光源から出射された光の一部を分離して受光することで、前記光源から出射されている光の光量を測定する光量測定用受光素子と、前記光量測定用受光素子から出力される測定光量と基準光量とを比較し、その差が小さくなるように前記光源の発光特性を変更するための制御信号を出力する光量比較器と、前記光源を駆動すると共に、前記光量比較器からの前記制御信号に基づいて前記光源の発光特性を変更する光源駆動回路と、を備えることを特徴とする光検出装置である。   One aspect of the present invention is a light detection device that includes a light source and performs measurement using light emitted from the light source, by separating and receiving a part of the light emitted from the light source. The light quantity measuring light receiving element for measuring the light quantity of light emitted from the light source is compared with the measured light quantity output from the light quantity measuring light receiving element and the reference light quantity, and the light source so that the difference is reduced A light amount comparator that outputs a control signal for changing the light emission characteristic of the light source, and a light source driving circuit that drives the light source and changes the light emission characteristic of the light source based on the control signal from the light amount comparator, It is provided with this.

ここで、前記光源及び前記光量測定用受光素子は同一の筐体に収められ、前記光源から出射される光の一部を前記筐体の内部にて反射させる内部反射体を備え、前記光量測定用受光素子は、前記内部反射体において反射された反射光を受光することが好適である。   Here, the light source and the light receiving element for light quantity measurement are housed in the same casing, and include an internal reflector that reflects a part of light emitted from the light source inside the casing, and the light quantity measurement It is preferable that the light receiving element for light receives the reflected light reflected by the internal reflector.

また、前記光源の発光特性は、発光の光量及び発光の波長の少なくとも1つであることが好適である。   Moreover, it is preferable that the light emission characteristic of the light source is at least one of a light emission amount and a light emission wavelength.

また、前記光量測定用受光素子の前面に配置され、前記光源において出射可能な波長を透過波長とする光学的バンドパスフィルタを備えることが好適である。   It is preferable that an optical bandpass filter that is disposed in front of the light receiving element for light quantity measurement and has a transmission wavelength that is a wavelength that can be emitted from the light source is preferable.

また、前記光源駆動回路は、前記光量比較器からの前記制御信号に基づいて前記光源に対する電圧又は電流を制御することが好適である。   Further, it is preferable that the light source driving circuit controls a voltage or a current for the light source based on the control signal from the light quantity comparator.

また、前記光源駆動回路は、前記光量比較器からの前記制御信号に基づいて前記光源の温度を制御することが好適である。   Further, it is preferable that the light source driving circuit controls the temperature of the light source based on the control signal from the light quantity comparator.

また、前記光源から前記光量測定用受光素子の間の光路の少なくとも一部に外光を遮光するための遮光部材が設けられていることが好適である。   In addition, it is preferable that a light shielding member for shielding external light is provided in at least a part of an optical path between the light source and the light receiving element for light quantity measurement.

また、前記光源から光が出射されていないときに前記光量測定用受光素子によって測定された光量と、前記光源から光が出射されているときに前記光量測定用受光素子によって測定された光量と、の差分値を前記測定光量とすることが好適である。   A light amount measured by the light amount measuring light receiving element when light is not emitted from the light source, and a light amount measured by the light amount measuring light receiving element when light is emitted from the light source, It is preferable that the difference value is the measurement light quantity.

本発明によれば、光源の発光波長を安定させることができる。また、測距装置等において、狭帯域のBPFを使用することが可能となる。   According to the present invention, the emission wavelength of the light source can be stabilized. Further, it becomes possible to use a narrow band BPF in a distance measuring device or the like.

第1の実施の形態の測距装置の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the distance measuring device of 1st Embodiment. 第1の実施の形態の測距装置の変形例の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the modification of the ranging device of 1st Embodiment. 第2の実施の形態の測距装置の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the distance measuring device of 2nd Embodiment. レーザダイオード(LD)の特性例を示す図である。It is a figure which shows the example of a characteristic of a laser diode (LD). 第3の実施の形態の測距装置の制御方法を説明する図である。It is a figure explaining the control method of the distance measuring device of 3rd Embodiment. 第4の実施の形態の測距装置の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the distance measuring device of 4th Embodiment. 第5の実施の形態の測距装置の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the distance measuring device of 5th Embodiment.

[第1の実施の形態]
第1の実施の形態における測距装置100は、図1に示すように、光源10、光源駆動回路12、測距用受光素子14、測距演算部16、内部反射体18、光量測定用受光素子20、光量比較器22及び筐体24を含んで構成される。本実施の形態では、光源10、光源駆動回路12、測距用受光素子14、測距演算部16、内部反射体18、光量測定用受光素子20及び光量比較器22は同一の筐体24内に収められる。筐体24は、窓24aを除いて外光を遮蔽する材料で構成される。
[First Embodiment]
As shown in FIG. 1, the distance measuring device 100 according to the first embodiment includes a light source 10, a light source driving circuit 12, a distance measuring light receiving element 14, a distance calculating unit 16, an internal reflector 18, and a light amount measuring light reception. The device 20 is configured to include a light amount comparator 22 and a housing 24. In the present embodiment, the light source 10, the light source driving circuit 12, the ranging light receiving element 14, the ranging calculation unit 16, the internal reflector 18, the light quantity measuring light receiving element 20, and the light quantity comparator 22 are included in the same housing 24. It is stored in. The casing 24 is made of a material that shields outside light except for the window 24a.

測距装置100は、光源10から所定の波長λLDの光を出力し、測定対象物200において反射された反射光を測距用受光素子14にて受光することにより測定対象物200までの距離を測定するために用いられる。 The distance measuring device 100 outputs light having a predetermined wavelength λ LD from the light source 10, and receives the reflected light reflected by the measurement object 200 by the light receiving element 14 for distance measurement, thereby the distance to the measurement object 200. Is used to measure

なお、本実施の形態では、測距装置100を例に説明するが、本発明の適用範囲はこれに限定されるものではない。すなわち、温度による光源10の発光波長λLDの変化を補償することができる光検出装置が適用できるものであればよい。 In the present embodiment, the distance measuring device 100 is described as an example, but the scope of application of the present invention is not limited to this. In other words, any photo detector that can compensate for the change in the emission wavelength λ LD of the light source 10 due to temperature can be used.

光源10は、測距装置100において測距に利用される光を出射する。光源10は、レーザダイオード(LD)とすることができる。光源10は、例えば、中心発光波長λLDが(870nmといった)赤外線の帯域であるLDを使用するのが一般的である。 The light source 10 emits light used for distance measurement in the distance measuring device 100. The light source 10 can be a laser diode (LD). As the light source 10, for example, an LD whose center emission wavelength λ LD is an infrared band (such as 870 nm) is generally used.

光源駆動回路12は、光源10を駆動させて光を出射させるための電気回路である。光源駆動回路12は、光源10に対して電力を供給することで光を出力させる。また、光源駆動回路12は、光源10の温度を調整するための温度制御手段12aを含む。温度制御手段12aは、温調手段及び測距演算部を含んで構成することができる。温調手段は、例えば、ペルチェ素子、ファン、ヒータ等の光源10の温度を変更するための手段である。光源駆動回路12は、後述する光量比較器22から出力される制御信号を受けて、当該制御信号に応じて温調手段を制御することで光源10の温度を調整する。   The light source driving circuit 12 is an electric circuit for driving the light source 10 to emit light. The light source driving circuit 12 outputs light by supplying power to the light source 10. The light source driving circuit 12 includes temperature control means 12a for adjusting the temperature of the light source 10. The temperature control unit 12a can be configured to include a temperature adjustment unit and a distance measurement calculation unit. The temperature adjusting means is means for changing the temperature of the light source 10 such as a Peltier element, a fan, a heater, or the like. The light source drive circuit 12 receives a control signal output from a light amount comparator 22 described later, and adjusts the temperature of the light source 10 by controlling the temperature adjusting means according to the control signal.

本実施の形態では、光源駆動回路12による制御によって光源10からパルス光が出力される。光源10からパルス光が出射されると、その出射時刻tが測距演算部16に入力される。 In the present embodiment, pulsed light is output from the light source 10 under the control of the light source driving circuit 12. When pulsed light is emitted from the light source 10, the emission time t 0 is input to the distance measurement calculation unit 16.

測距用受光素子14は、受光素子を含んで構成される。測距用受光素子14は、例えば、複数の受光素子を配列させた構成とされる。例えば、縦4個×横4個の合計16個の受光素子をアレイ状に並べた構成を示している。ただし、測距用受光素子14における受光素子の配置は、これに限定されるものではなく、1次元的又は2次元的に配置するようなものであってもよい。また、測距用受光素子14は、1個の受光素子で構成してもよい。   The ranging light receiving element 14 includes a light receiving element. The distance measuring light receiving element 14 is configured, for example, by arranging a plurality of light receiving elements. For example, a configuration is shown in which a total of 16 light receiving elements of 4 vertical x 4 horizontal are arranged in an array. However, the arrangement of the light receiving elements in the distance measuring light receiving element 14 is not limited to this, and may be one-dimensionally or two-dimensionally arranged. Further, the ranging light receiving element 14 may be constituted by a single light receiving element.

各受光素子は、フォトダイオードを含んで構成することができる。例えば、ガイガーモードで動作可能なシングルフォトンアバランシェ型のフォトダイオードとしてもよい。これは、SPAD(Single-Photon Avalanche Diode)と呼ばれる。この場合、1つの受光素子は、SPAD、クエンチング抵抗及びパルス変換部から構成することができる。SPADは、逆バイアス電圧を降伏電圧以上として動作させられ、単一フォトンの入射でもアバランシェ現象を起こす。したがって、SPADは、レーザ光等の光に対して高い感度を有する。SPADは、ガードリングや金属配線の領域をできるだけ小さくし、素子面積に対する受光領域の割合であるフィルファクタ(開口率)を高めることが好適である。特に、クエンチング素子やリチャージ素子を行列状に配置されたSPADの内部に形成しないことで、フィルファクタを高めることができる。クエンチング抵抗は、SPADに対して直列に接続される。クエンチング抵抗は、トランジスタや抵抗で構成することができる。SPADにアバランシェ電流が生ずるとクエンチング抵抗の端子間の電圧上昇によってSPADに対するバイアス電圧が降下し、降伏電圧未満となるとアバランシェ電流が止まる。クエンチング抵抗は、パルス変換部に対する検出信号を発生させるためにも利用される。パルス変換部は、SPAD及びクエンチング抵抗のペア毎にそれぞれ設けられる。パルス変換部は、クエンチング抵抗の端子電圧を所定の基準値と比較し、その比較結果に応じて矩形パルスを生成する。パルス変換部は、例えば、コンパレータ、インバータ等を含んで構成することかできる。このような構成により、測距用受光素子14の各受光素子に光が入射すると測距演算部16へパルス信号が出力される。   Each light receiving element can include a photodiode. For example, a single photon avalanche photodiode that can operate in Geiger mode may be used. This is called SPAD (Single-Photon Avalanche Diode). In this case, one light receiving element can be composed of a SPAD, a quenching resistor, and a pulse converter. SPAD is operated with a reverse bias voltage equal to or higher than a breakdown voltage, and causes an avalanche phenomenon even when a single photon is incident. Therefore, SPAD has high sensitivity to light such as laser light. In SPAD, it is preferable to make the area of the guard ring and the metal wiring as small as possible and increase the fill factor (aperture ratio), which is the ratio of the light receiving area to the element area. In particular, the fill factor can be increased by not forming quenching elements and recharge elements inside the SPAD arranged in a matrix. The quenching resistor is connected in series with SPAD. The quenching resistor can be composed of a transistor or a resistor. When an avalanche current is generated in SPAD, the bias voltage with respect to SPAD drops due to a voltage increase between the terminals of the quenching resistor, and when it becomes less than the breakdown voltage, the avalanche current stops. The quenching resistor is also used to generate a detection signal for the pulse converter. A pulse converter is provided for each pair of SPAD and quenching resistor. The pulse conversion unit compares the terminal voltage of the quenching resistor with a predetermined reference value, and generates a rectangular pulse according to the comparison result. The pulse conversion unit can be configured to include, for example, a comparator, an inverter, and the like. With such a configuration, when light enters each light receiving element of the distance measuring light receiving element 14, a pulse signal is output to the distance calculating unit 16.

測距演算部16は、測距用受光素子14からパルス信号を受けると、当該パルス信号を受信した受信時刻tと光源10からのパルス光の出射時刻tとの差分Δt(=t−t)に基づいて測定対象物200までの距離を演算する。測距演算部16は、差分Δtに光速cを乗算し、それを2で割ることで測定対象物200までの距離Dを求める。 When receiving a pulse signal from the light receiving element 14 for distance measurement, the distance measuring unit 16 receives a difference Δt (= t d ) between the reception time t d when the pulse signal is received and the emission time t 0 of the pulsed light from the light source 10. and it calculates the distance to the measurement object 200 based on -t 0). The distance measurement calculation unit 16 multiplies the difference Δt by the speed of light c and divides it by 2 to obtain the distance D to the measurement object 200.

内部反射体18は、光源10から出射された光の一部を反射させて、光量測定用受光素子20へ導くための部材である。内部反射体18は、光源10から出射される波長λLDの光を反射できるミラーにより構成することができる。 The internal reflector 18 is a member that reflects part of the light emitted from the light source 10 and guides it to the light-receiving element 20 for light quantity measurement. The internal reflector 18 can be configured by a mirror that can reflect light of wavelength λ LD emitted from the light source 10.

光量測定用受光素子20は、内部反射体18によって反射された光源10からの光を受光する。光量測定用受光素子20は、受光素子を含んで構成される。光量測定用受光素子20は、例えば、複数の受光素子を配列させた構成とされる。例えば、横4個に並べられた受光素子の構成を示している。ただし、光量測定用受光素子20における受光素子の配置は、これに限定されるものではなく、2次元的に配置するようなものであってもよい。また、光量測定用受光素子20は、1個の受光素子で構成されてもよい。光量測定用受光素子20の構成は、フォトダイオードを含んで構成することができる。光量測定用受光素子20は、内部反射体18によって反射された光の光量に応じた強度の信号を光量比較器22へ出力する。   The light quantity measuring light receiving element 20 receives the light from the light source 10 reflected by the internal reflector 18. The light quantity measuring light receiving element 20 includes a light receiving element. The light quantity measuring light receiving element 20 has, for example, a configuration in which a plurality of light receiving elements are arranged. For example, the configuration of four light receiving elements arranged side by side is shown. However, the arrangement of the light receiving elements in the light quantity measuring light receiving element 20 is not limited to this, and may be two-dimensionally arranged. Further, the light quantity measuring light receiving element 20 may be constituted by one light receiving element. The configuration of the light quantity measuring light receiving element 20 may include a photodiode. The light quantity measuring light receiving element 20 outputs a signal having an intensity corresponding to the light quantity of the light reflected by the internal reflector 18 to the light quantity comparator 22.

光量比較器22は、光量測定用受光素子20によって測定された光量と基準光量とを比較し、その差に応じた制御信号を生成して光源駆動回路12へ出力する。すなわち、光量比較器22は、光量測定用受光素子20によって測定された光量の基準光量に対する過不足を検知し、その量に応じた制御信号を出力する。   The light amount comparator 22 compares the light amount measured by the light receiving element 20 for light amount measurement with the reference light amount, generates a control signal corresponding to the difference, and outputs the control signal to the light source driving circuit 12. That is, the light quantity comparator 22 detects whether the light quantity measured by the light quantity measuring light receiving element 20 is excessive or insufficient with respect to the reference light quantity, and outputs a control signal corresponding to the quantity.

光源10から出射される光の波長λLDが変化すると、光量測定用受光素子20の感度の波長依存性によって測定される光量が変化する。すなわち、光源10から出射される光の波長λLDの変化に伴って、光量測定用受光素子20から出力される信号の強度は変化する。光源駆動回路12は、光量比較器22からの制御信号に応じて光源10を加熱又は冷却して波長λLDの変化が小さくなるように温度を調整する。 When the wavelength λ LD of the light emitted from the light source 10 changes, the amount of light measured changes depending on the wavelength dependency of the sensitivity of the light receiving element 20 for light amount measurement. That is, as the wavelength λ LD of the light emitted from the light source 10 changes, the intensity of the signal output from the light quantity measuring light receiving element 20 changes. The light source driving circuit 12 adjusts the temperature so that the change in the wavelength λ LD is reduced by heating or cooling the light source 10 according to the control signal from the light quantity comparator 22.

これによって、光源10の発光波長λLDが一定となるようにフィードバック制御される。したがって、光源10の発光波長λLDを安定させることができる。光源10の発光波長λLDを安定させることによって、測距装置100における測距用受光素子14での受光光量も安定させることができ、測距の精度を高めることができる。 Thus, feedback control is performed so that the light emission wavelength λ LD of the light source 10 becomes constant. Therefore, the emission wavelength λ LD of the light source 10 can be stabilized. By stabilizing the light emission wavelength λ LD of the light source 10, the amount of light received by the distance measuring light receiving element 14 in the distance measuring device 100 can be stabilized, and the accuracy of distance measurement can be increased.

また、図2に示すように、内部反射体18を筐体24の一部で構成するようにしてもよい。例えば、筐体24の防砂フードや防水フードの一部に光源10から出射された光を反射する特性を持たせ、光源10から出射された光が当該部分にて反射されて光量測定用受光素子20に入射するようにしてもよい。   Further, as shown in FIG. 2, the internal reflector 18 may be configured by a part of the housing 24. For example, a part of the sand proof hood or the waterproof hood of the casing 24 has a characteristic of reflecting light emitted from the light source 10, and the light emitted from the light source 10 is reflected by the portion to receive a light amount measuring light receiving element. 20 may be incident.

[第2の実施の形態]
第2の実施の形態における測距装置102は、図3に示すように、第1の実施の形態の測距装置100に対して測距用受光素子14及び光量測定用受光素子20の入射面(前面)にバンドパスフィルタ(BPF)30を設けた点で相違する。
[Second Embodiment]
As shown in FIG. 3, the distance measuring device 102 according to the second embodiment is incident on the light receiving element 14 for distance measurement and the light receiving element 20 for light amount measurement with respect to the distance measuring apparatus 100 according to the first embodiment. The difference is that a band pass filter (BPF) 30 is provided on the front surface.

バンドパスフィルタ30は、所望の波長範囲の光を透過し、その波長範囲外の光を減衰させるフィルタである。バンドパスフィルタ30は、その中心透過波長λBPFが光源10の発光波長λLDに合わせることが好適である。すなわち、バンドパスフィルタ30は、光源10から出射可能な波長領域(中心波長、標準波長等を含む)の光を透過し、それ以外の波長領域外の光を減衰させるフィルタとすればよい。バンドパスフィルタ30は、測距用受光素子14及び光量測定用受光素子20に入射する光が共に通過する光学的な位置に配置される。なお、バンドパスフィルタ30は、測距用受光素子14及び光量測定用受光素子20に共通に1枚設けてもよいし、測距用受光素子14及び光量測定用受光素子20に対して同じ特性のものをそれぞれ別に設けてもよい。 The bandpass filter 30 is a filter that transmits light in a desired wavelength range and attenuates light outside the wavelength range. The bandpass filter 30 preferably has a center transmission wavelength λ BPF that matches the emission wavelength λ LD of the light source 10. That is, the band-pass filter 30 may be a filter that transmits light in a wavelength region (including the center wavelength and standard wavelength) that can be emitted from the light source 10 and attenuates light outside the other wavelength region. The band-pass filter 30 is disposed at an optical position through which light incident on the distance measuring light receiving element 14 and the light amount measuring light receiving element 20 passes. One band-pass filter 30 may be provided in common for the distance measuring light receiving element 14 and the light quantity measuring light receiving element 20, or the same characteristics as the distance measuring light receiving element 14 and the light quantity measuring light receiving element 20. May be provided separately.

このように、バンドパスフィルタ30を設けることによって、その透過波長範囲外の光を減衰させることができ、光源10の発光波長λLD近傍以外の外光の影響を低減させ、信号ノイズ比(S/N比)を高めることができる。特に、本実施の形態によれば、光源10の温度を制御することで、光源10の発光波長λLDの変化による光量の減衰を検知して、その発光波長λLDを狭い範囲に維持することができる。そして、光源10の発光波長λLDをバンドパスフィルタ30の中心透過波長付近に安定化させることで、バンドパスフィルタ30の透過波長範囲をより狭くすることができ、信号ノイズ比(S/N比)をより高めることができる。 Thus, by providing the band pass filter 30, light outside the transmission wavelength range can be attenuated, the influence of outside light outside the vicinity of the emission wavelength λ LD of the light source 10 can be reduced, and the signal to noise ratio (S / N ratio) can be increased. In particular, according to the present embodiment, by controlling the temperature of the light source 10, the attenuation of the light amount due to the change in the light emission wavelength λ LD of the light source 10 is detected, and the light emission wavelength λ LD is maintained in a narrow range. Can do. Then, by stabilizing the emission wavelength λ LD of the light source 10 near the central transmission wavelength of the bandpass filter 30, the transmission wavelength range of the bandpass filter 30 can be further narrowed, and the signal noise ratio (S / N ratio). ) Can be further increased.

なお、第1の実施の形態の測距装置100及び第2の実施の形態の測定対象物200において、光源駆動回路12の温調手段としてヒータのみを設ける構成としてもよい。この場合、常温よりも光源10を高い温度に加熱した状態を通常時とし、その通常時における光源10の発光波長λLDのときの光量測定用受光素子20の出力を光量比較器22での基準光量に設定しておくことが好適である。これにより、ヒータをオフすることにより光源10を冷却することができ、ヒータのみで光源10の加熱及び冷却の両方を実現することができる。 Note that the distance measuring device 100 according to the first embodiment and the measurement target object 200 according to the second embodiment may be configured such that only the heater is provided as the temperature control means of the light source drive circuit 12. In this case, the state in which the light source 10 is heated to a temperature higher than the normal temperature is assumed to be normal, and the output of the light receiving element 20 for light quantity measurement at the emission wavelength λ LD of the light source 10 at the normal time is used as a reference in the light quantity comparator 22. It is preferable to set the light amount. Thereby, the light source 10 can be cooled by turning off the heater, and both heating and cooling of the light source 10 can be realized only by the heater.

[第3の実施の形態]
第3の実施の形態における測距装置は、第1の実施の形態の測距装置100の光源駆動回路12において温調手段を設けたのに対して、光源10自体に対する制御によって光源10の温度を調整する構成とした点で相違する。
[Third Embodiment]
The distance measuring device in the third embodiment is provided with temperature adjusting means in the light source driving circuit 12 of the distance measuring device 100 in the first embodiment, whereas the temperature of the light source 10 is controlled by controlling the light source 10 itself. It is different in that the configuration is adjusted.

本実施の形態における測距装置の光源駆動回路12では、光源10であるレーザダイオード(LD)のリーク電流を利用して光源10の温度を調整することで、光源10の発光波長λLDを制御する。 In the light source driving circuit 12 of the distance measuring device in the present embodiment, the emission wavelength λ LD of the light source 10 is controlled by adjusting the temperature of the light source 10 using the leakage current of the laser diode (LD) that is the light source 10. To do.

図4に示すように、レーザダイオード(LD)は、素子の半導体特性で定まる閾値電圧VTH以上の電圧を印加しなければ発光しない。ただし、閾値電圧VTH未満の電圧であっても、わずかなリーク電流が流れており、その印加電圧の増加に伴ってリーク電流も増加する。このリーク電流によるジュール熱によってレーザダイオード(LD)自体が加熱される。そこで、このリーク電流を制御することによって、レーザダイオード(LD)の温度を調整し、その発光波長λLDを制御することができる。 As shown in FIG. 4, the laser diode (LD) does not emit light unless a voltage equal to or higher than the threshold voltage V TH determined by the semiconductor characteristics of the element is applied. However, even if the voltage is lower than the threshold voltage V TH , a slight leak current flows, and the leak current increases as the applied voltage increases. The laser diode (LD) itself is heated by Joule heat due to this leakage current. Therefore, by controlling the leakage current, the temperature of the laser diode (LD) can be adjusted, and the emission wavelength λ LD can be controlled.

具体的には、図5に示すように、レーザダイオード(LD)への印加電圧VLDに重畳させる直流電圧のオフセット電圧VOSを制御することによって、レーザダイオード(LD)の温度を調整し、その発光波長λLDを制御することができる。 Specifically, as shown in FIG. 5, the temperature of the laser diode (LD) is adjusted by controlling the offset voltage V OS of the DC voltage superimposed on the applied voltage V LD to the laser diode (LD), The emission wavelength λ LD can be controlled.

本実施の形態の測距装置によれば、ペルチェ素子、ヒータ、ファン等の温調手段を必要とすることなく、光源10の発光波長λLDを制御することができる。 According to the distance measuring apparatus of the present embodiment, the light emission wavelength λ LD of the light source 10 can be controlled without the need for temperature control means such as a Peltier element, a heater, or a fan.

[第4の実施の形態]
第4の実施の形態における測距装置104は、図6に示すように、外光を遮断するために内部反射体18と光量測定用受光素子20との間の光路に遮光部材32を設けた構成とする。遮光部材32は、例えば、内部反射体18と光量測定用受光素子20との間の光路を覆う不透明な筒状の部材とすればよい。
[Fourth Embodiment]
As shown in FIG. 6, the distance measuring device 104 according to the fourth embodiment is provided with a light shielding member 32 in the optical path between the internal reflector 18 and the light quantity measuring light receiving element 20 in order to block outside light. The configuration. The light shielding member 32 may be, for example, an opaque cylindrical member that covers the optical path between the internal reflector 18 and the light quantity measuring light receiving element 20.

これにより、測距装置104によれば、外光をよく確実に遮断することができ、外光の影響を除いて得られた光量測定用受光素子20での測定結果に基づいて光源10の温度を調整することができる。したがって、光源10の発光波長λLDをより正確に制御することができる。 Thereby, according to the distance measuring device 104, the external light can be blocked well and reliably, and the temperature of the light source 10 is determined based on the measurement result of the light quantity measuring light receiving element 20 obtained by removing the influence of the external light. Can be adjusted. Therefore, the emission wavelength λ LD of the light source 10 can be controlled more accurately.

[第5の実施の形態]
第5の実施の形態における測距装置106は、図7に示すように、光量測定用受光素子20によって測定された光量を一時的に記憶しておくメモリ34を含んで構成される。メモリ34は、光源10を発光させない状態において光量測定用受光素子20で測定された光量に応じた信号の強度Sを記憶する。当該信号の強度Sは、光源10を発光させない状態における外光によるノイズ成分である。光量比較器22は、光源10を発光させた状態における光量測定用受光素子20で測定された光量に応じた信号の強度Sからメモリ34に記憶されている信号の強度Sを減算することにより、外光によるノイズ成分を除去して光源10からの光による信号成分のみを抽出し、その量に応じた制御信号を出力する。
[Fifth Embodiment]
As shown in FIG. 7, the distance measuring device 106 according to the fifth embodiment includes a memory 34 that temporarily stores the amount of light measured by the light-receiving element 20 for light amount measurement. Memory 34 stores the intensity S 1 of the signal corresponding to the amount measured by the light quantity measuring light receiving element 20 in a state which does not emit light source 10. Strength S 1 of the signal is a noise component due to external light in the state that does not emit light source 10. The light quantity comparator 22 subtracts the intensity S 1 of the signal stored in the memory 34 from the intensity S 2 of the signal corresponding to the light quantity measured by the light receiving element 20 for measuring the light quantity when the light source 10 is caused to emit light. Thus, the noise component due to the external light is removed, only the signal component due to the light from the light source 10 is extracted, and a control signal corresponding to the amount is output.

このように、本実施の形態における測距装置106によれば、筐体24や遮光部材32による遮光が十分に行えないような場合であっても、光源10からの光の反射光による信号成分に基づいて光源10の温度制御を行うことができる。   As described above, according to the distance measuring apparatus 106 in the present embodiment, even when the light shielding by the housing 24 and the light shielding member 32 cannot be sufficiently performed, the signal component due to the reflected light of the light from the light source 10. The temperature of the light source 10 can be controlled based on the above.

なお、光源10を発光させない状態における光量測定用受光素子20での測定と、光源10を発光させた状態における光量測定用受光素子20での測定とを可能な限り時間的に近いタイミングで行うことが好適である。   Note that the measurement by the light quantity measurement light-receiving element 20 in a state where the light source 10 is not emitted and the measurement by the light quantity measurement light-receiving element 20 in a state where the light source 10 is caused to emit light are performed at timings as close as possible. Is preferred.

また、上記実施の形態では、光源10から出射される光の一部を内部反射体18によって分離する構成としたが、これに限定されるもではない。例えば、光源10から出射される光の一部が光量測定用受光素子20に直接入射するような配置としてもよい。また、内部反射体18の代わりに回折格子等の光学素子を用いて光源10から出射される光の一部を分離するような構成としてもよい。   Moreover, in the said embodiment, although it was set as the structure which isolate | separates a part of light radiate | emitted from the light source 10 with the internal reflector 18, it is not limited to this. For example, an arrangement may be adopted in which a part of the light emitted from the light source 10 is directly incident on the light quantity measuring light receiving element 20. Moreover, it is good also as a structure which isolate | separates a part of light radiate | emitted from the light source 10 using optical elements, such as a diffraction grating, instead of the internal reflector 18. FIG.

また、上記実施の形態では、測距用受光素子14と光量測定用受光素子20を別体としたが、1つのチップとして集積して一体としてもよい。   In the above embodiment, the distance measuring light receiving element 14 and the light quantity measuring light receiving element 20 are separated from each other. However, they may be integrated as one chip.

また、内部反射体18で直ちに反射される光は極めて光量が多い(強い)。そのため、光量測定用受光素子20と測距用受光素子14とを同等の感度とすると、光量測定用受光素子20において信号飽和等を引き起こして、光量を正確に測定できない懸念がある。そこで、内部反射体18における反射光を減衰させる構成としておくことが好適である。また、光量測定用受光素子20の感度を測距用受光素子14の感度よりも低くしておくことが好適である。感度を低くするためには、光量測定用受光素子20へ印加するバイアス電圧を下げたり、もともと感度の低いデバイス構造としたりする方法が挙げられる。   Further, the light immediately reflected by the internal reflector 18 has a very large amount (strong). Therefore, if the light receiving element 20 for light quantity measurement and the light receiving element 14 for distance measurement have the same sensitivity, the light quantity measuring light receiving element 20 may cause signal saturation and the like, and there is a concern that the light quantity cannot be measured accurately. Therefore, it is preferable that the reflected light from the internal reflector 18 be attenuated. In addition, it is preferable that the sensitivity of the light quantity measuring light receiving element 20 is lower than the sensitivity of the distance measuring light receiving element 14. In order to reduce the sensitivity, a method of lowering the bias voltage applied to the light receiving element 20 for measuring the light amount or a device structure with originally low sensitivity can be mentioned.

10 光源、12 光源駆動回路、12a 温度制御手段、14 測距用受光素子、16 測距演算部、18 内部反射体、20 光量測定用受光素子、22 光量比較器、24 筐体、24a 窓、30 バンドパスフィルタ、32 遮光部材、34 メモリ、100,102,104,106 測距装置、200 測定対象物。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Light source, 12 Light source drive circuit, 12a Temperature control means, 14 Distance measuring light receiving element, 16 Distance calculating part, 18 Internal reflector, 20 Light quantity measuring light receiving element, 22 Light quantity comparator, 24 Case, 24a Window, 30 band pass filter, 32 light shielding member, 34 memory, 100, 102, 104, 106 distance measuring device, 200 object to be measured.

Claims (8)

光源を備え、前記光源から出射された光を用いて計測を行う光検出装置であって、
前記光源から出射された光の一部を分離して受光することで、前記光源から出射されている光の光量を測定する光量測定用受光素子と、
前記光量測定用受光素子から出力される測定光量と基準光量とを比較し、その差が小さくなるように前記光源の発光特性を変更するための制御信号を出力する光量比較器と、
前記光源を駆動すると共に、前記光量比較器からの前記制御信号に基づいて前記光源の発光特性を変更する光源駆動回路と、
を備えることを特徴とする光検出装置。
A light detection device that includes a light source and performs measurement using light emitted from the light source,
A light receiving element for measuring the amount of light that measures the amount of light emitted from the light source by separating and receiving a part of the light emitted from the light source;
A light amount comparator that compares a measured light amount output from the light receiving element for light amount measurement with a reference light amount, and outputs a control signal for changing the light emission characteristics of the light source so that the difference is reduced;
A light source driving circuit for driving the light source and changing a light emission characteristic of the light source based on the control signal from the light amount comparator;
An optical detection device comprising:
請求項1に記載の光検出装置であって、
前記光源及び前記光量測定用受光素子は同一の筐体に収められ、
前記光源から出射される光の一部を前記筐体の内部にて反射させる内部反射体を備え、
前記光量測定用受光素子は、前記内部反射体において反射された反射光を受光することを特徴とする光検出装置。
The photodetection device according to claim 1,
The light source and the light receiving element for light quantity measurement are housed in the same housing,
An internal reflector that reflects a part of the light emitted from the light source inside the housing;
The light-detecting device, wherein the light-receiving element for light quantity measurement receives reflected light reflected by the internal reflector.
請求項1又は2に記載の光検出装置であって、
前記光源の発光特性は、発光の光量及び発光の波長の少なくとも1つであることを特徴とする光検出装置。
The photodetecting device according to claim 1 or 2,
The light emission characteristic of the light source is at least one of a light emission amount and a light emission wavelength.
請求項1〜3のいずれか1項に記載の光検出装置であって、
前記光量測定用受光素子の前面に配置され、前記光源において出射可能な波長を透過波長とする光学的バンドパスフィルタを備えることを特徴とする光検出装置。
The photodetection device according to any one of claims 1 to 3,
An optical detection device comprising: an optical bandpass filter that is disposed in front of the light receiving element for measuring light quantity and has a transmission wavelength that is a wavelength that can be emitted from the light source.
請求項1〜4のいずれか1項に記載の光検出装置であって、
前記光源駆動回路は、前記光量比較器からの前記制御信号に基づいて前記光源に対する電圧又は電流を制御することを特徴とする光検出装置。
The photodetection device according to any one of claims 1 to 4,
The light source driving circuit controls a voltage or a current for the light source based on the control signal from the light amount comparator.
請求項1〜4のいずれか1項に記載の光検出装置であって、
前記光源駆動回路は、前記光量比較器からの前記制御信号に基づいて前記光源の温度を制御することを特徴とする光検出装置。
The photodetection device according to any one of claims 1 to 4,
The light source driving circuit controls the temperature of the light source based on the control signal from the light quantity comparator.
請求項1〜6のいずれか1項に記載の光検出装置であって、
前記光源から前記光量測定用受光素子の間の光路の少なくとも一部に外光を遮光するための遮光部材が設けられていることを特徴とする光検出装置。
The photodetection device according to any one of claims 1 to 6,
A light detection device, wherein a light shielding member for shielding external light is provided in at least a part of an optical path between the light source and the light receiving element for light quantity measurement.
請求項1〜7のいずれか1項に記載の光検出装置であって、
前記光源から光が出射されていないときに前記光量測定用受光素子によって測定された光量と、前記光源から光が出射されているときに前記光量測定用受光素子によって測定された光量と、の差分値を前記測定光量とすることを特徴とする光検出装置。
The photodetection device according to any one of claims 1 to 7,
The difference between the light quantity measured by the light quantity measuring light-receiving element when light is not emitted from the light source and the light quantity measured by the light quantity measurement light-receiving element when light is emitted from the light source A light detection apparatus characterized in that the value is the measured light quantity.
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