JP2018197746A - 電気光学センサ及びマッハツェンダ変調器の利用方法 - Google Patents
電気光学センサ及びマッハツェンダ変調器の利用方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2018197746A JP2018197746A JP2018091712A JP2018091712A JP2018197746A JP 2018197746 A JP2018197746 A JP 2018197746A JP 2018091712 A JP2018091712 A JP 2018091712A JP 2018091712 A JP2018091712 A JP 2018091712A JP 2018197746 A JP2018197746 A JP 2018197746A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bias
- signal
- mzm
- test signal
- optical
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/14—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
- G01R15/24—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices
- G01R15/241—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices using electro-optical modulators, e.g. electro-absorption
- G01R15/242—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices using electro-optical modulators, e.g. electro-absorption based on the Pockels effect, i.e. linear electro-optic effect
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/20—Cathode-ray oscilloscopes
- G01R13/22—Circuits therefor
- G01R13/34—Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies
- G01R13/347—Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies using electro-optic elements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/14—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
- G01R15/24—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices
- G01R15/241—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices using electro-optical modulators, e.g. electro-absorption
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06788—Hand-held or hand-manipulated probes, e.g. for oscilloscopes or for portable test instruments
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/0084—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof measuring voltage only
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Description
120 プローブ・チップ
121 RC回路網
130 電気光学センサ
140 コントローラ
150 オシロスコープ
160 光リンク
200 電気光学センサ回路網
222 試験信号入力部
230 電気光学センサ
231 結合スイッチ
232 可変増幅器
233 オフセット信号源
234 クランプ回路
235 バイアス回路
236 増幅器
237 電力及び通信
238 マッハツェンダ変調器
239 DCオフセット回路
240 コントローラ
241 光トランスミッタ
242 O/E変換器
243 電力及び通信
260 光リンク
280 スプリット・パス・バッファ
281 ACパス
282 DCパス
300 マッハツェンダ変調器
371 上側アーム
372 下側アーム
373 RF入力部
374 バイアス入力部
375 試験信号
376 バイアス信号
377 導体
378 導体
400 マッハツェンダ変調器
471 上側アーム
472 下側アーム
474 バイアス入力部
475 試験信号
476 バイアス信号
477 導体
Claims (9)
- 被試験デバイス(DUT)からの試験信号を受ける試験信号入力部と、
バイアス信号を生成するバイアス回路と、
光入力部、光出力部及びバイアス入力部を有するマッハツェンダ変調器(MZM)であって、
上記光入力部を介して光搬送波信号を受け、
上記バイアス入力部で上記試験信号及び上記バイアス信号の両方を受け、
上記バイアス信号によって選択されるモードで動作しながら、上記バイアス入力部からの上記試験信号を上記光搬送波上に変調して光信号を生成し、
上記光出力部を通じて上記光信号を出力する
よう構成される上記MZMと
を具える電気光学センサ。 - 上記バイアス入力部で上記試験信号を受けることによって、上記MZMが、分圧回路において高インピーダンス負荷として機能する請求項1の電気光学センサ。
- 上記MZMは、更に、上記バイアス信号によって、直交バイアス点を中心として動作するよう制御される請求項1又は2の電気光学センサ。
- 試験信号入力部と、
該試験信号入力部に結合される交流(AC)パス及び直流(DC)パスを有するスプリット・パス・バッファと、
該スプリット・パス・バッファによって上記試験信号入力部に結合されたバイアス入力部及びバイアス回路とを有するマッハツェンダ変調器(MZM)と
を具える電気光学センサ。 - 上記DCパスが、該DCパスを介して上記試験信号入力部に結合される入力部と、上記DCパスを介して上記MZMの上記バイアス入力部に結合される第1出力部と、上記DCパスを横断する試験信号からDC信号を排除する第2出力部とを含む結合スイッチを有する請求項4の電気光学センサ。
- 該DCパスを介して上記試験信号入力部に結合される入力部と、上記DCパスを介して上記MZMの上記バイアス入力部に結合される出力部とを有する可変増幅器を含むDCオフセット回路を、上記DCパスが有する請求項5の電気光学センサ。
- マッハツェンダ変調器(MZM)を利用する方法であって、
上記MZMのバイアス入力部に上記MZMの動作モードを制御するバイアス信号を伝送する処理と、
試験信号入力部からの試験信号をスプリット・パス・バッファによって上記MZMのバイアス入力部へ伝送する処理と、
上記バイアス入力部上の上記試験信号を用いて光搬送波を変調して光信号を生成する処理と
を具えるマッハツェンダ変調器(MZM)を利用する方法。 - 上記試験信号を上記MZMの上記バイアス入力部へ伝送する処理によって、上記MZMが、分圧回路において高インピーダンス負荷として機能する請求項7の方法。
- 上記バイアス信号によって、上記MZMが直交バイアス点を中心として動作するよう制御する処理を更に具える請求項7又は8の方法。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201762504327P | 2017-05-10 | 2017-05-10 | |
US62/504,327 | 2017-05-10 | ||
US15/948,163 | 2018-04-09 | ||
US15/948,163 US10684311B2 (en) | 2017-05-10 | 2018-04-09 | High input impedance electro-optic sensor |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018197746A true JP2018197746A (ja) | 2018-12-13 |
JP7157552B2 JP7157552B2 (ja) | 2022-10-20 |
Family
ID=62152379
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018091712A Active JP7157552B2 (ja) | 2017-05-10 | 2018-05-10 | 電気光学センサ及びマッハツェンダ変調器の利用方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10684311B2 (ja) |
EP (1) | EP3401691B1 (ja) |
JP (1) | JP7157552B2 (ja) |
CN (1) | CN108872673B (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20210063488A1 (en) * | 2019-08-28 | 2021-03-04 | Tektronix, Inc. | Signal path calibration of a hardware setting in a test and measurement instrument |
US11573249B2 (en) * | 2019-12-23 | 2023-02-07 | Keysight Technologies, Inc. | Apparatus for providing a test signal from a device under test (DUT) to a measurement instrument |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63196862A (ja) * | 1987-02-10 | 1988-08-15 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光プロ−ブ装置 |
JP2003057615A (ja) * | 2001-08-10 | 2003-02-26 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | マッハツェンダ型光変調器の半波長電圧測定方法及び装置 |
JP2006033609A (ja) * | 2004-07-20 | 2006-02-02 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | 光変調方法及びそれを用いた光送信装置 |
JP2011180192A (ja) * | 2010-02-26 | 2011-09-15 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | 光周波数コム発生装置及びそれを用いた光パルス発生装置、並びに光周波数コム発生方法及びそれを用いた光パルス発生方法 |
JP2015158495A (ja) * | 2014-02-24 | 2015-09-03 | テクトロニクス・インコーポレイテッドTektronix,Inc. | 試験測定システム、アクセサリ及びアクセサリ補償方法 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10115644A (ja) | 1996-10-11 | 1998-05-06 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | 光集積化電圧センサ |
DE60025638T2 (de) * | 1999-09-02 | 2006-11-09 | Agere Systems, Inc. | Arbeitspunktregelung für zusammengesetzte verzerrung zweiter ordnung |
US6700907B2 (en) * | 2000-11-20 | 2004-03-02 | Jds Uniphase Corporation | Mach-Zehnder modulator bias and driver gain control mechanism |
EP1258772A1 (en) * | 2001-05-14 | 2002-11-20 | Corning O.T.I. S.p.A. | Electro-optic modulator having high bandwith and low drive voltage |
CN101377601A (zh) * | 2007-08-29 | 2009-03-04 | 黄衍介 | 电光晶体布拉格折射器及以其作为激光q调制器的方法 |
CN102156209B (zh) * | 2011-03-22 | 2012-11-07 | 电子科技大学 | 一种宽带数字示波器通道偏置调节电路 |
JP5218587B2 (ja) * | 2011-03-29 | 2013-06-26 | 住友大阪セメント株式会社 | 電界計測装置 |
JP2013210278A (ja) * | 2012-03-30 | 2013-10-10 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | 電界計測装置 |
CN102798750B (zh) * | 2012-08-17 | 2015-04-29 | 华中科技大学 | 一种电光调制器的半波电压的测量方法及测量系统 |
US9331776B2 (en) * | 2013-12-18 | 2016-05-03 | Tektronix, Inc. | Extended range electro-optic voltage accessory |
US9804473B2 (en) | 2013-12-18 | 2017-10-31 | Tektronix, Inc. | High bandwidth and input impedance electro-optic probe |
US9933456B2 (en) | 2015-05-29 | 2018-04-03 | Tektronix, Inc. | Electro-optic probe with multiple sensitivity ranges |
CN106209250B (zh) * | 2016-06-18 | 2018-10-16 | 西安电子科技大学 | 利用强度调制器im和双平行马赫增德尔调制器dpmzm级联产生八倍频毫米波的方法 |
CN106443126B (zh) * | 2016-09-12 | 2018-10-09 | 湖南工学院 | 一种测量电光晶体半波电压的方法与装置 |
JP7140181B2 (ja) | 2020-12-24 | 2022-09-21 | 株式会社ニコン | 接眼レンズ、接眼レンズを有する光学機器、および接眼レンズの製造方法 |
-
2018
- 2018-04-09 US US15/948,163 patent/US10684311B2/en active Active
- 2018-05-10 CN CN201810442482.4A patent/CN108872673B/zh active Active
- 2018-05-10 JP JP2018091712A patent/JP7157552B2/ja active Active
- 2018-05-10 EP EP18171684.6A patent/EP3401691B1/en active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63196862A (ja) * | 1987-02-10 | 1988-08-15 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光プロ−ブ装置 |
JP2003057615A (ja) * | 2001-08-10 | 2003-02-26 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | マッハツェンダ型光変調器の半波長電圧測定方法及び装置 |
JP2006033609A (ja) * | 2004-07-20 | 2006-02-02 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | 光変調方法及びそれを用いた光送信装置 |
JP2011180192A (ja) * | 2010-02-26 | 2011-09-15 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | 光周波数コム発生装置及びそれを用いた光パルス発生装置、並びに光周波数コム発生方法及びそれを用いた光パルス発生方法 |
JP2015158495A (ja) * | 2014-02-24 | 2015-09-03 | テクトロニクス・インコーポレイテッドTektronix,Inc. | 試験測定システム、アクセサリ及びアクセサリ補償方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN108872673A (zh) | 2018-11-23 |
EP3401691A1 (en) | 2018-11-14 |
US10684311B2 (en) | 2020-06-16 |
CN108872673B (zh) | 2022-10-14 |
JP7157552B2 (ja) | 2022-10-20 |
EP3401691B1 (en) | 2024-05-01 |
US20180328964A1 (en) | 2018-11-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9606416B2 (en) | Differential TWE MZM driver for silicon photonics | |
US9419722B2 (en) | Feedback for electronic pre-distortion in an optical transmitter | |
CN110031832B (zh) | 一种微波光子多普勒频移测量系统及其调节方法 | |
US10225022B2 (en) | Electro-optic sensor system | |
JP6379091B2 (ja) | Rf信号の監視及び制御のための回路のモノリシック集積化のための方法及びシステム | |
US11573249B2 (en) | Apparatus for providing a test signal from a device under test (DUT) to a measurement instrument | |
US20140334824A1 (en) | Fiber optic receiver, transmitter, and transceiver systems and methods of operating the same | |
JP7157552B2 (ja) | 電気光学センサ及びマッハツェンダ変調器の利用方法 | |
JP2016099358A (ja) | 位相調整器、位相調整方法及び試験システム | |
JP2015158495A (ja) | 試験測定システム、アクセサリ及びアクセサリ補償方法 | |
WO1999040449A1 (fr) | Circuit d'attaque excite optiquement, detecteur de tension de type a sortie optique et materiel de test de circuits integres utilisant ces dispositifs | |
US9209593B2 (en) | Method of controlling electro-optical probe gain and sensitivity | |
CN104991180A (zh) | 一种光电探测器组件带宽检测方法和装置 | |
US20080290856A1 (en) | Device, Probe, and Method for the Galvanically Decoupled Transmission of a Measuring Signal | |
JP2015127704A (ja) | 電気光学変調装置 | |
US20160349287A1 (en) | Electro-optic probe with multiple sensitivity ranges | |
US10234501B2 (en) | Active noise suppression for optical voltage sensor | |
EP3505942A1 (en) | Large dynamic range electro-optic probe | |
JP3749874B2 (ja) | 光変調器制御装置およびそれを用いた光送信装置ならびに光変調器の制御方法および制御プログラム記録媒体 | |
US7953320B2 (en) | Systems and methods for determining an AC/DC cross-calibration coefficient | |
JP4316999B2 (ja) | 電界検出光学装置 | |
Zhang et al. | On the Accuracy of Numerical Models for All-Silicon Photonics Carrier Depletion Modulators | |
Kawanishi | Pure two-tone optical signal generation by using precise and high-speed modulation | |
Svarny | Broadband analog electro-optic transmission system with the ultimate galvanic isolation capability | |
Hao et al. | High-performance optical modulators bias control system without dither |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A625 | Written request for application examination (by other person) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A625 Effective date: 20210422 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20220201 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20220201 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20220315 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220329 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220629 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220816 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20221007 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7157552 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |