JP2018185294A - 光パワーを自己参照する方法およびテストコード検証 - Google Patents

光パワーを自己参照する方法およびテストコード検証 Download PDF

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Abstract

【課題】光信号の損失および／またはテストコード検証を決定するための光パワーを自己参照する方法に関し、特に、不確実性の低い測定を用いて光パワーを自己参照する方法を提供する。【解決手段】光学測定デバイス６００，６５０は、光ファイバーケーブルの複数の光ファイバーのうち、１つ以上の光ファイバーから発せられる１つ以上の光信号を受信する。光学測定デバイスは、１つ以上の光信号の１つ以上の画像を捕捉し、それぞれ、この１つ以上の画像に基づき、１つ以上の光信号の１つ以上の受信している位置を決定する。【選択図】図６

Description

本出願は、光信号の損失および／またはテストコード検証を決定するための光パワーを自己参照する方法に関し、特に、不確実性の低い測定を用いて光パワーを自己参照する方法に関する。
光信号の強度を測定する従来のデバイスは、典型的には光学アレイのそれぞれの光ファイバーに個々に連結する光学検出器を利用する。従来のデバイスを使用し、光学アレイのそれぞれの光ファイバーを通って送信される光信号の光強度を測定してもよい。しかし、強度の測定値を得るためにデバイスをそれぞれの光ファイバーに個々に連結することが必要であり、これには時間がかかる。
損失測定を行うために、第１の光パワー測定が行われ、参照値として記録され、この参照値と、後の測定値を比較する。光ファイバーリンクを現場で試験するために、典型的には、携帯型のパワー測定器と光源が使用される。この機能を発揮するデバイスは、さまざまであり、よく知られており、例えば、特許文献１−５に記載されるものがある。
図１は、ファイバーコネクタおよび光検出器を用いた非接触型のパワー測定入力の一実施形態を示す。図１に示されるように、従来のパワー測定器は、典型的には、大きな面積の検出器を有しており、その入力は、テストポートに接続するコネクタとは接続していない。検出器が非接触型であり、大きな面積をカバーするため、テストコードを出る光信号のパワーに関し、測定の不確実性は非常に低い。したがって、テストコードは、非常に不確実性が低い状態で、挿入され、除去され、再び挿入されてもよい。
図２は、ファイバーコネクタを備える光源の一実施形態である。図２に示されるように、光学源は、通常、内部の光源に接続するファイバーピグテールを有しており、その末端にコネクタが設けられており、このコネクタと、テストコードのコネクタが物理的に接触する。コネクタが物理的に接触するため、テストコードの中を伝わる光の量は、接続の品質とコンタミネーションの量に応じて変わるだろう。このため、全ての現場測定を行っている間、テストコードを光源に接続したままにしておくのが一般的なやり方である。光源からのテストコードを切断および再接続を行わないことによって、不確実性が最小限になる。
図３は、光源と、１個のジャンパーと、パワー測定器とを用いる１−ジャンパー方法の一実施形態を示す。図３に示されるように、第１のパワー測定は、後の全ての測定のための参照値として使用され、第１のテストコードを光源とパワー測定器に直接接続することによって最も良く得られる。この構成は、１−ジャンパー参照型の方法として具体的に知られており、測定標準に定義されている。１−ジャンパー参照型の方法を用いたリンクの損失または減衰の測定は、第１のテストコードを光源に接続したまま、パワー測定器から第１のテストコードを切断することによって達成される。この様式で、光源の物理的な接触による接続に起因する任意の変動は、最小限になる。
１−ジャンパー参照型の方法では引き続き、第２のテストコードをパワー測定器に接続する。好ましくは、この２つのテストコードを一緒に接続し、これらの品質を検証するために、これらの接続の損失を測定する。次に、パワー測定器を、第２のテストコードを介し、試験するリンクに接続し、光源を、第１のテストコードを介し、試験するファイバーリンクの反対側の末端に接続する。特に、テストコードのコネクタは、試験するファイバーリンクと同じ種類のコネクタであるべきである。したがって、パワー測定器のコネクタも、参照プロセス中には第１のテストコードにも接続しなければならないため、同じ種類のコネクタであるべきである。
特に、２−ジャンパー参照型の方法および３−ジャンパー参照型の方法も同様に存在する。しかし、１−ジャンパー参照型の方法は、損失測定に関し、最も低い不確実性を与える。他の方法には不確実性が加わるが、試験装置の不具合（例えば、試験するファイバーリンクとコネクタポートが異なる）を克服するために使用される場合がある。
従来のデバイスの中には、複数のセンサが設けられているものもあり、これにより、各センサが、アレイのそれぞれの光ファイバーから受信した光信号を捕捉する。これらのデバイスが適切に機能するためには、センサは、それぞれ光ファイバーと整列していなければならない。光学アレイコネクタ、例えば、マルチファイバープッシュオン（ＭＰＯ）コネクタが、オスメス型（すなわち、ピン型または非ピン型）であるため、デバイスをコネクタに接続し、確実に整列させるために、ジェンダーに適合するデバイスが必要である。したがって、光学アレイに対して現場試験を行う者は、両方のジェンダー向けの複数のデバイスを保持する必要があってもよい。
例えば、１−ジャンパー参照型の方法の一般的な代替法は、一端に光源を、他端に光検出器を使用するものであり、両端で光源と光検出器を結合する。この構成によって、両端を入れ替えることなく、試験するリンクを両方の方向（双方向）で試験することができる。図４に示されるように、光源と光検出器の結合は、デバイスとファイバーピグテールを整列させる自由空間の光学システムを用いて達成されてもよい。この観点で、図４は、第１および第２のテストコードを有する第１および第２の双方向光学損失テスターの一実施形態を示す。
別の参照型の方法において、ピグテールが備わっている光源および光検出器を、光カップラー／スプリッタに接続する。両方の方向で、光源および光検出器は、典型的には、ファイバーピグテールおよびコネクタを介してテストポートに接続する。上述のように、この物理的に接触するコネクタは、光ファイバーを切断し、再び接続するときに変動性が高い。したがって、第１のテストコードを第１の光学損失テスターに接続し、第２のテストコードを第２の光学損失テスターに接続することによって、参照値が最も良く得られる。例えば、図５は、相互に共用される中程度の接続を有する第１および第２のテストコードをそれぞれ有する第１および第２の双方向光学損失テスターの一実施形態を示す。図５に示されるように、次いで、これら２つのテストコードを接続し、両方の方向で、この２つのテストコードと、それぞれの相互に共用される接続によって、参照測定値を得る。
２−ジャンパー参照型の方法と関連する測定の不確実性に大きく寄与するのは、相互に共用される中程度の接続（すなわち、参照接続）の品質に関するものである。この「参照接続」が、接続の品質またはコンタミネーションに起因して、高い損失の原因となる場合、参照測定値は低くなり、正しくない低い損失読み値が得られるだろう。これらの双方向光学損失試験の設定は、よく知られており、例えば、特許文献６−８に記載されるものがある。
特に、ファイバーリンクにおける損失の量は、この方法に関連する不確実性と比較して非常に大きく、特に、長いファイバーリンクの場合には大きい。したがって、長いファイバーリンクの場合には、参照に起因する不確実性は、それほど重要なものではなくなる。しかし、例えばデータセンターに見られるような短いリンク（例えば、１００ｍ以下）の場合には、この不確実性は、ファイバーリンクの損失に対して大きくなり、２−ジャンパー参照型の方法および３−ジャンパー参照型の方法は、望ましくないものとなる。
したがって、（相対的な損失測定ではなく）パワーの絶対的な測定の不確実性を改善するために、供給業者は、それぞれのテスターに、非接触型の光検出器を含む第２のテストポートを設ける場合がある。このそれぞれのテスターの第２のテストポートをパワー測定に利用するが、双方向の特徴が不可能な場合には、損失測定にも使用されてもよい。
光学損失テスターのこの第２のテストポートも使用し、参照測定値を設定してもよい。参照測定値を設定するためのこのような方法の１つにおいて、第１のテストポートの出力を、同じ光学損失テスターの第２のテストポートに直接接続する。これを第２の光学損失テスターについても繰り返す。このようにして、それぞれの光学損失テスターが、自身の出力パワーを測定する。その後、ファイバーリンクを測定するとき、それぞれの光学損失テスターが、他の光学損失テスターと通信し、その出力パワーを他の光学損失テスターに知らせる。
この方法に関連する不確実性も、参照型測定が、損失を測定するために使用したものと同じパワー測定器ではないパワー測定器を利用して行われるため、１−ジャンパー方法と比較して高い。したがって、１−ジャンパー参照型の通常の不確実性に加えて、２つのパワー測定器間のパワーの絶対的な測定差のさらなる不確実性が存在する。この方法は、例えば、特許文献６に記載される。
さらに別の参照型の選択肢において、第１の光学損失テスターの第１のテストポートを、第２の光学損失テスターの第２のテストポートに接続する。その逆に、第１の光学損失テスターの第２のテストポートを、第２の光学損失テスターの第１のテストポートに接続する。しかし、この方法の大きな欠点は、パワーの測定が、リンクの損失を測定するために使用したものと同じパワー測定器ではないパワー測定器によって行われることである。このように、さらなる不確実性がここでも生じる。したがって、これらの測定において不確実性を最小限にすることが当該技術分野で依然として必要とされている。このことが、これらの考慮事項および他の考慮事項に関し、本明細書に記載する実施形態が行ってきたことである。
特に、この章で記載される全ての特定事項は、必ずしも従来技術ではなく、単にこの章の記載の結果から従来技術であると決めつけられるべきではない。したがって、この章で記載するか、またはこのような特定事項に付随する従来技術における任意の問題の認識は、従来技術であると明確に述べられていない限り、従来技術として処理すべきではない。むしろ、この章の任意の特定事項の記載は、克服すべき技術的な問題を特定したものの一部であると処理すべきであり、その中、またはそれ自体に特許性がある場合もある。
米国特許第４２３４２５３号 米国特許第４６７３２９１号 米国特許第４７２６６７６号 米国特許第５８２５５１６号 米国特許第５７４８３０２号 米国特許第５４５５６７２号 米国特許第５５９２２８４号 米国特許第５３０５０７８号
少なくとも１つの実施形態において、光パワーを自己参照する方法は、不確実性の低い測定を用いて光信号の損失および／またはテストコード検証を決定する。この方法は、第１の双方向ポートに第１の光検出器ＢｉＤｉと第１の光源ＢｉＤｉとを備え、第１のパワー測定器ポートに第１の光検出器ＰＭを備える第１の光学測定デバイスとを提供することと、第２の双方向ポートに第２の光検出器ＢｉＤｉと第２の光源ＢｉＤｉとを備え、第２のパワー測定器ポートに第２の光検出器ＰＭを備える第２の光学測定デバイスを提供することと、工場較正補正率ρ１およびρ２を受信し、ここで、ρ１は、第１の光学測定デバイスの第１の光検出器ＰＭと第１の光検出器ＢｉＤｉとの間の工場測定誤差であり、ρ２は、第２の光学測定デバイスの第２の光検出器ＰＭと第２の光検出器ＢｉＤｉとの間の工場測定誤差であることと、第１の光学測定デバイスで、第１のテストコードを用い、第１の双方向ポートを第１のパワー測定器ポートに接続し、第１のパワー測定器で受信した光信号のパワーレベルＰｘ１を測定することと、第２の光学測定デバイスで、第２のテストコードを用い、第２の双方向ポートを第２のパワー測定器ポートに接続し、第２のパワー測定器で受信した光信号のパワーレベルＰｙ１を測定することとを含む。
この方法は、さらに、第１の光学測定デバイスで、第１のパワー測定器ポートから第１のテストコードを切断し、第１のテストコードを用い、第１の双方向ポートを第２のパワー測定器ポートに接続し、第２のパワー測定器で受信した光信号のパワーレベルＰｘ２を測定することと、第２の光学測定デバイスで、第２のパワー測定器ポートから第２のテストコードを切断し、第２のテストコードを用い、第２の双方向ポートを第１のパワー測定器ポートに接続し、第１のパワー測定器で受信した光信号のパワーレベルＰｙ２を測定することと、現場較正補正率ρ３およびρ４を決定し、ここで、ρ３は、第１の光学測定デバイスの第１の光検出器ＰＭと第１の光検出器ＢｉＤｉとの間の現場測定誤差であり、ρ４は、第２の光学測定デバイスの第２の光検出器ＰＭと第２の光検出器ＢｉＤｉとの間の現場測定誤差であり、Ｐｘ２＝Ｐｘ１−ρ３、Ｐｙ２＝Ｐｙ１−ρ４、Ｐｒｅｆ１＝Ｐｙ２−ρ３およびＰｒｅｆ２＝Ｐｘ２−ρ４であることとを含む。特に、これらの式は、その式が引き算の関数を含むような対数関数を用いて行われる。
この方法は、さらに、Ｐｘ２およびＰｙ２を代入することによってＰｒｅｆ１およびＰｒｅｆ２を計算し、Ｐｒｅｆ１＝Ｐｙ１−ρ４−ρ１、およびＰｒｅｆ２＝Ｐｘ１−ρ３−ρ２であることと、第２のパワー測定器ポートから第１のテストコードを切断し、第１のテストコードの接続末端を残し、第１のパワー測定器ポートから第２のテストコードを切断し、第２のテストコードの接続末端を残し、第１のテストコードの接続末端を第２のテストコードの接続末端に接続し、第１のテストコードによって受信した光信号のパワーレベルＰｙ３と、第２のテストコードによって受信した光信号のパワーレベルＰｙ３を測定することによってジャンパー検証を行うことと、第２のテストコードの接続末端から第１のテストコードの接続末端を切断し、第１のテストコードの接続末端および第２のテストコードの接続末端を、試験される光ファイバーリンクの反対側の末端に接続し、第１のテストコードによって受信した光信号のパワーレベルＰｙ４と、試験される光ファイバーリンクを通って第２のテストコードによって受信した光信号のパワーレベルＰｙ４とを測定することによって、損失試験を行うこととを含み、ここで、第１の双方向ポートでの損失は、Ｐｙ４−Ｐｒｅｆ１に等しく、第２の双方向ポートでの損失は、Ｐｘ４−Ｐｒｅｆ２に等しい。
少なくとも１つの実施形態の別の態様において、第１の光学測定デバイスが、第１のプロセッサと第１のメモリとを備えており、一方、第２の光学測定デバイスが、第２のプロセッサと第２のメモリとを備えている。さらに、光学測定デバイスの第１の双方向ポートは、第１の光検出器ＢｉＤｉと、第１の光源ＢｉＤｉとを含み、第１のパワー測定器ポート光学測定デバイスは、非接触型の第１の光検出器ＰＭを含む。さらに、第２の光学測定デバイスの第２の双方向ポートは、第２の光検出器ＢｉＤｉおよび第２の光源ＢｉＤｉの組み合わせを含み、一方、第２の光学測定デバイスの第２のパワー測定器ポートは、非接触型の第２の光検出器ＰＭを含む。
特に、第１および第２の光学測定デバイスを用いた以前のファイバーリンク測定から現場較正補正率ρ３およびρ４を受信した後、将来の光パワーの自己参照型測定が、既に決定されたρ３およびρ４を使用し、ある光学測定デバイスの双方向ポートからのジャンパーを別の光学測定デバイスのパワー測定器ポートに接続することを含まない。この方法によって、１個のファイバー双方向光学損失テスターが、１−ジャンパー参照型測定方法の不確実性レベルに近い不確実性レベルを有する自己参照型測定を行うことができる。
光パワーを自己参照する方法の別の実施形態において、この方法は、第１の双方向ポートに第１の光検出器ＢｉＤｉと第１の光源ＢｉＤｉとを備え、第１のパワー測定器ポートに第１の光検出器ＰＭを備える第１の光学測定デバイスとを提供することと、第２の双方向ポートに第２の光検出器ＢｉＤｉと第２の光源ＢｉＤｉとを備え、第２のパワー測定器ポートに第２の光検出器ＰＭを備える第２の光学測定デバイスを提供することと、工場較正補正率ρ１およびρ２を受信し、ここで、ρ１は、第１の光学測定デバイスの第１の光検出器ＰＭと第１の光検出器ＢｉＤｉとの間の工場測定誤差であり、ρ２は、第２の光学測定デバイスの第２の光検出器ＰＭと第２の光検出器ＢｉＤｉとの間の工場測定誤差であることと、現場較正補正率ρ３およびρ４を受信し、ここで、ρ３は、第１の光学測定デバイスの第１の光検出器ＰＭと第１の光検出器ＢｉＤｉとの間の現場測定誤差であり、ρ４は、第２の光学測定デバイスの第２の光検出器ＰＭと第２の光検出器ＢｉＤｉとの間の現場測定誤差であり、Ｐｒｅｆ１＝Ｐｙ２−ρ３およびＰｒｅｆ２＝Ｐｘ２−ρ４であることとを含む。
さらに、光パワーを自己参照する方法は、Ｐｘ２およびＰｙ２を代入することによってＰｒｅｆ１およびＰｒｅｆ２を計算し、Ｐｒｅｆ１＝Ｐｙ１−ρ４−ρ１およびＰｒｅｆ２＝Ｐｘ１−ρ３−ρ２であることと、第２のテストコードの接続末端から第１のテストコードの接続末端を切断し、第１のテストコードの接続末端および第２のテストコードの接続末端を、試験される光ファイバーリンクの反対側の末端に接続し、第１のテストコードによって受信したパワーレベルＰｙ４と、第２のテストコードによって受信したパワーレベルＰｙ４とを測定することによって、損失試験を行うこととを含み、ここで、第１の双方向ポートでの損失は、Ｐｙ４−Ｐｒｅｆ１に等しく、第２の双方向ポートでの損失は、Ｐｘ４−Ｐｒｅｆ２に等しい。
これらの特徴は、後で明らかになるであろう他の技術的な改善と共に、本明細書で以下にもっと完全に記載され、請求されるような構成および操作の詳細の範囲内にあり、その一部を形成する添付図面を参照する必要がある。
本出願は、単なる説明のためのものである以下の図面を参照することによって、さらに完全に理解されるだろう。図面は、必ずしも縮尺通りに描かれてはおらず、同様の構造または機能の要素は、図面全体で説明のために同様の参照番号によって一般的に表される。図面は、本明細書に記載する種々の実施形態の記載を容易にすることだけを意図している。図面は、本明細書に開示される教示の全ての態様を記載するものではなく、特許請求の範囲を限定するものではない。
図１は、ファイバーコネクタおよび光検出器を用いた非接触型のパワー測定入力の一実施形態を示す。 図２は、ファイバーコネクタを備える光源の一実施形態である。 図３は、光源と、１個のジャンパーと、パワー測定器とを用いる１−ジャンパー方法の一実施形態を示す。 図４は、第１および第２のテストコードを有する第１および第２の双方向光学損失テスターの一実施形態を示す。 図５は、相互に共用される中程度の接続を有する第１および第２のテストコードを有する第１および第２の双方向光学損失テスターの一実施形態を示す。 図６は、第１および第２の双方向光学損失テスターの一実施形態を示し、それぞれの双方向光学損失テスターが、非接触型の光検出器を含む第２のテストポートを備えており、双方向光学損失テスターは、反対側のテスターによってパワーの測定を行うように配置される。 図７は、図６の第１および第２の双方向光学損失テスターの一実施形態を示し、双方向光学損失テスターは、初期の出力パワーの測定を行うように配置される。 図８は、図６の第１および第２の双方向光学損失テスターの一実施形態を示し、双方向光学損失テスターは、双方向テストポートの出力パワーの測定を行うように配置される。 図９は、図６の第１および第２の双方向光学損失テスターの一実施形態を示し、双方向光学損失テスターは、反対側のテスターによってパワーの測定を行うように配置される。 図１０は、図６の第１および第２の双方向光学損失テスターの一実施形態を示し、双方向光学損失テスターは、ジャンパー１およびジャンパー２のジャンパー検証を行うように配置される。 図１１は、図６の第１および第２の双方向光学損失テスターの一実施形態を示し、双方向光学損失テスターは、損失試験を行うように配置される。
当業者は、本開示が単なる実例であり、いかなる様式にも限定しないことを理解するだろう。ここに開示されるシステムおよび方法の他の実施形態および種々の組み合わせは、本開示の助言を得た当業者にそれらを容易に示唆する。
光パワーを自己参照する方法およびテストコード検証を提供するために、本明細書に開示される特徴および教示をそれぞれ別個に利用するか、または他の特徴および教示と組み合わせて利用することができる。これらのさらなる特徴および教示の多くを利用する代表的な例を、別個に、また組み合わせて、添付の図６〜１１を参照しつつさらに詳細に記載する。この詳細な記載は、本教示の態様を実施するためのさらなる詳細を当業者に教示することを意図しており、特許請求の範囲を限定することを意図したものではない。したがって、詳細な説明において上に開示した特徴の組み合わせは、最も広い意味でその教示を実施することが必要なわけではなく、本教示の特に代表的な例を単に記載するためのものである。
以下の記載において、単なる説明のために、本発明のシステムおよび方法を十分に理解するために、具体的な専門用語を示す。しかし、これらの具体的な詳細は、本発明のシステムおよび方法の教示を実施する必要はないことは当業者には明らかであろう。また、他の方法およびシステムを使用してもよい。
ここで、図６を参照すると、第１および第２の双方向光学損失テスターの一実施形態が示されており、それぞれの双方向光学損失テスターは、非接触型の光検出器を含む第２のテストポートを備えており、双方向光学損失テスターは、反対側のテスターによってパワーの測定を行うように整列している。具体的には、図６は、少なくとも１つの実施形態に係る第１の双方向光学損失テスター６００および第２の双方向光学損失テスター６５０のブロック図を示す。第１の双方向光学損失テスター６００は、プロセッサ６０２と、第１の光源ＢｉＤｉ６０４Ａと、第１の光検出器ＢｉＤｉ６０４Ｂと、双方向（ＢｉＤｉ）ポート６０６と、第１の光検出器ＰＭ６０８と、メモリ６１０と、パワー測定（ＰＭ）ポート６１２とを備えている。第１の光源ＢｉＤｉ６０４Ａと、第１の光検出器ＢｉＤｉ６０４Ｂと、ＢｉＤｉポート６０６と、第１の光検出器ＰＭ６０８と、メモリ６１０と、ＰＭポート６１２は、プロセッサ６０２に通信可能に連結している。第２の双方向光学損失テスター６５０は、プロセッサ６５２と、第２の光源ＢｉＤｉ６５４Ａと、第２の光検出器ＢｉＤｉ６５４Ｂと、双方向（ＢｉＤｉ）ポート６５６と、第２の光検出器ＰＭ６５８と、メモリ６６０と、パワー測定（ＰＭ）ポート６６２とを備えている。第２の光源ＢｉＤｉ６５４Ａと、第２の光検出器ＢｉＤｉ６５４Ｂと、ＢｉＤｉポート６５６と、第２の光検出器ＰＭ６５８と、メモリ６６０と、ＰＭポート６６２は、プロセッサ６５２に通信可能に連結している。
光パワーを自己参照する方法の少なくとも１つの実施形態において、この方法は、１個のファイバー双方向光学損失テスターを用いた１−ジャンパー参照型測定とほぼ同じ不確実性を有し、１−ジャンパー参照型の方法の欠点は存在しない「自己参照型」の測定を実施する。
光パワーを自己参照する方法は、製造時に行われ、その後のサービス間隔で行われる初期の工場較正を利用する。この工場較正は、それぞれの双方向光学損失テスターの第１および第２のポートによって行われるパワー測定間の補正率を決定する。この補正率がわかれば、テストポートの１つによって行われるときに、参照値および損失測定を自動的に補正することができる。
再び図６に戻ると、第１の光検出器ＰＭ６０８および第２の光検出器ＰＭ６５８を参照のために使用し、一方、第１の光検出器ＢｉＤｉ６０４Ｂおよび第２の光検出器ＢｉＤｉ６５４Ｂをファイバーリンクの試験のために使用する。工場較正は、第１の光検出器ＰＭ６０８と第１の光検出器ＢｉＤｉ６０４Ｂとの間、および第２の光検出器ＰＭ６５８と第２の光検出器ＢｉＤｉ６５４Ｂとの間の測定誤差を決定する。測定誤差の工場較正は、ρ１およびρ２として定義され、それぞれ、以下である。
ρ１＝ＰＡ−ＰＸ
ρ２＝ＰＢ−ＰＹ
これらの工場で作成された補正率を用い、これをそれぞれの双方向光学損失テスターのメモリ６１０／６６０に保存してもよく、第１の双方向光学損失テスターのための参照値は、以下のように見出されるだろう。
Ｐｒｅｆ１＝Ｐｙ２−ρ１
第２の双方向光学損失テスターのための参照値は、以下のように見出されるだろう。
Ｐｒｅｆ２＝Ｐｘ２−ρ２
現場で、最初に、特定の双方向光学損失テスターの対を一緒に利用し、技術者は、現場較正手順を行い、双方向光学損失テスターによって、ρ３およびρ４として定義される現場補正率を決定することができる。特に、これらの現場補正率ρ３およびρ４は、既に記載した工場補正率ρ１およびρ２と同じではない。双方向光学損失テスターは、それぞれ、双方向である第１のテストポートと、非接触型の光検出器またはパワー測定器である第２のテストポートとを備えている。
図７は、それぞれの双方向光学損失テスターが、非接触型の光検出器を含む第２のテストポートを備えている、第１および第２の双方向光学損失テスターの一実施形態を示す。双方向光学損失テスターは、初期の出力パワーの測定を行うように配置される。図７に示されるように、双方向光学損失テスター６００の第１のＢｉＤｉポート６０６の出力パワーは、Ｐｘ０と定義される。これは、テストポート６０６を出る前のＢｉＤｉポートの光ファイバー中の光信号のパワーである。これも図７に示されるように、双方向光学損失テスター６５０の第２のＢｉＤｉポート６５６の出力パワーは、Ｐｙ０と定義される。これは、テストポート６５６を出る前のＢｉＤｉポートの光ファイバー中の光信号のパワーである。
ここで図８を参照すると、この実施形態も、それぞれの双方向光学損失テスターが、非接触型の光検出器を含む第２のテストポートを備えている、第１および第２の双方向光学損失テスターを示す。具体的には、図８の双方向光学損失テスターは、ＢｉＤｉテストポートの出力パワーの測定を行うように配置される。
図８に示されるように、第１の双方向光学損失テスター６００では、第１のテストコード（すなわち、ジャンパー１）が、ＢｉＤｉポート６０６およびＰＭポート６１２に接続するように取り付けられている。ＢｉＤｉポート６０６の接続での損失は、初期パワーをＰｘ０からＰｘ１まで低下させる。これに対応して、第２の双方向光学損失テスター６００において、第２のテストコード（すなわち、ジャンパー２）が、ＢｉＤｉポート６５６およびＰＭポート６６２に接続するように取り付けられている。ＢｉＤｉポート６５６の接続での損失は、初期パワーをＰｙ０からＰｙ１まで低下させる。図８に示されるように、Ｐｘ１およびＰｙ１は、それぞれ第１の光検出器ＰＭ ６０８および第２の光検出器ＰＭ６５８によって測定される。したがって、Ｐｘ１およびＰｙ１は、以下のように見出されるだろう。
Ｐｘ１＝Ｐｘ０−Ｌ１
Ｐｘ２＝Ｐｙ０−Ｌ２
図９に示されるように、２つのテストコード（すなわち、ジャンパー１およびジャンパー２）を、次に、それぞれのパワー測定器ポートから切断し、次いで、反対側の双方向光学損失テスターにあるパワー測定器ポートに接続する。パワーを再び測定するが、このときは、反対側の双方向光学損失テスターによって測定する。これらの測定は、Ｐｘ２およびＰｙ２と定義される。実際のパワーＰｘ１とＰｘ２は同じであり、理想的な環境では、それぞれの測定器は、同じパワーを報告するだろう。しかし、パワー測定の不確実性に起因して、Ｐｘ１とＰｘ２の報告される測定値は、異なるだろう。
この時点で、初期の参照型の方法は完結する。双方向光学損失テスター６００および６５０は、それぞれ行った測定値を互いに通信する。次いで、双方向光学損失テスター６００および６５０は、補正値を計算し、保存する。
Ｐｘ１−Ｐｘ２＝ρ３
Ｐｙ１−Ｐｙ２＝ρ４
現場較正によってρ３およびρ４がわかったら、同じ双方向光学損失テスターの対を用いるその後の参照測定は、図８に示されるようなＰｘ１およびＰｙ１の測定のみを必要とする（「自己参照型」）。このように、ρ３およびρ４を後の手順に使用してもよいため、図９に示される工程を行う必要はなく、次に、２つのテストコードをそれぞれのパワー測定器ポートから切断し、反対側の双方向光学損失テスターにあるパワー測定器ポートに接続する。測定されたパワーは、既に得られている補正率と共に、反対側の双方向光学損失テスターに通信され、次いで、損失試験が開始されてもよい。したがって、ファイバーリンクを試験するためのパワー参照型測定は、以下のように決定されてもよい。
Ｐｘ２およびＰｙ２のための解：
Ｐｘ２＝Ｐｘ１−ρ３
Ｐｙ２＝Ｐｙ１−ρ４
既に述べられている参照値として、Ｐｒｅｆ１およびＰｒｅｆ２は、以下である。
Ｐｒｅｆ１＝Ｐｙ２−ρ１
Ｐｒｅｆ２＝Ｐｘ２−ρ２
Ｐｘ２およびＰｙ２を代入し、以下を得る。
Ｐｒｅｆ１＝Ｐｙ１−ρ４−ρ１
Ｐｒｅｆ２＝Ｐｘ１−ρ３−ρ２
ここで図１０を参照すると、試験するファイバーリンクの損失試験をここで開始する。図１０も、それぞれの双方向光学損失テスターが、非接触型の光検出器を含む第２のテストポートを備えている、第１および第２の双方向光学損失テスターの一実施形態を示す。具体的には、図１０において、双方向光学損失テスター６００および６５０は、２つのジャンパーを一緒に接続し、相互接続の品質を検証することによってジャンパー検証を行うように配置される。ここでもパワーを測定し、これらの測定値は、Ｐｘ３およびＰｙ３と定義される。
次に、ジャンパーを相互接続から切断し、次いで、試験するファイバーリンクの反対側の末端に接続する。図１１も、それぞれの双方向光学損失テスターが、非接触型の光検出器を含む第２のテストポートを備えている、第１および第２の双方向光学損失テスターの実施形態を示す。具体的には、図１１において、双方向光学損失テスターは、試験するファイバーリンクの反対側の末端に接続することによって、損失試験を行うように配置される。ここでもパワーを測定し、これらの測定値は、Ｐｘ４およびＰｙ４と定義される。
第１のテスターでの損失は、Ｐｙ４−Ｐｒｅｆ１によって見出される。
第２のテスターでの損失は、Ｐｘ４−Ｐｒｅｆ２によって見出される。
特に、この固有のプロセスによって、工場補正率を使用することなく、不確実性が低い測定が可能になる。したがって、光パワーを自己参照する方法によって、真の１−ジャンパー参照型測定の低い不確実性レベルに近い低い不確実性レベルを有する「自己参照型」の測定を行うことが可能になる。
第１および第２の光検出器ＢｉＤｉ６０４Ｂ／６５４Ｂは、任意の種類の光センサであってもよい。例えば、第１および第２の光検出器ＢｉＤｉ６０４Ｂ／６５４Ｂは、１つ以上のフォトダイオードを含む光センサであってもよい。第１および第２の光検出器ＢｉＤｉ６０４Ｂ／６５４Ｂは、光信号を受信し、光信号の光強度、光信号または光強度の代表となる出力データを検出するような構成である。第１および第２の光検出器ＢｉＤｉ６０４Ｂ／６５４Ｂは、光ファイバーケーブル（図示せず）の光ファイバーから発せられる光信号と、光信号またはその光強度の代表となる出力データを受信してもよい。
第１および第２の光源ＢｉＤｉ６０４Ａ／６５４Ａは、任意の種類の光源であってもよい。例えば、第１および第２の光源ＢｉＤｉ６０４Ａ／６５４Ａは、発光ダイオード（ＬＥＤ）またはレーザ源であってもよい。第１および第２の光源ＢｉＤｉ６０４Ａ／６５４Ａは、光ファイバーまたは光ファイバーアレイの末端面またはコネクタに照射するために、光を発する。末端面またはコネクタに照射すると、その画像を捕捉することができる。
メモリ６１０／６６０は、任意の種類のメモリであってもよく、例えば、特に、リードオンリメモリ（ＲＯＭ）、スタティックランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）またはダイナミックＲＡＭであってもよい。メモリ６１０／６６０は、実行可能な命令を保存するような構成であり、プロセッサ６０２／６５２によって実行されると、プロセッサ６０２／６５２は、本明細書に記載される操作／技術を行うことができる。メモリ６１０／６６０は、光検出器６０２／６５２による出力であるデータも保存してもよい。
プロセッサ６０２／６５２は、光信号またはその光強度の代表となるデータを受信する。プロセッサ６０２／６５２は、光信号の伝達に関連する光学損失を決定し、光学損失をメモリ６１０／６６０に保存し、および／または光学損失をポートに出力する。光学損失を出力する代替例として、プロセッサ６０２／６５２は、試験する光ファイバーに対する入力として光信号の既知の信号と比較するために、光強度を出力してもよい。
本明細書に開示するこれらに対応するシステム、方法、機能、工程、特徴などの種々の態様は、ハードウェア、ソフトウェア、ファームウェア、回路、またはこれらの組み合わせを用いた１つ以上のコンピュータシステムで実行されてもよい。ハードウェア、ソフトウェア、ファームウェア、回路は、それぞれ、任意のハードウェア、ソフトウェア、ファームウェア、回路の構成要素を指す。本明細書で言及されるコンピュータシステムは、任意のコンピュータデバイスであってもよく、逆も真である（例えば、スマートフォン、モバイルコンピューティングデバイス、携帯情報端末、タブレットコンピュータ、ラップトップコンピュータ、デスクトップコンピュータ、他のコンピューティングデバイスなど）。
本明細書で開示されるように、プロセッサまたはハードウェアプロセッサ（例えば、プロセッサ６０２および６５２）は、任意のハードウェアプロセッサまたはソフトウェアプロセッサを指していてもよい。ソフトウェアプロセッサは、対応するハードウェアプロセッサによって実行されるインタプリタを含むか、または他の方法でインタプリタを構成していてもよい。本明細書に開示される任意の実施形態のコンピュータシステムは、本明細書に開示するシステムの種々の実施形態に関連する上述の任意の機能を行うような構成である。
本明細書で開示されるように、任意の方法、機能、工程、特徴または結果は、コンピュータデバイスによって実行されると、所望の方法、機能、工程、特徴または結果を生じるソフトウェア命令を含んでいてもよいモジュールと考えてもよい。コンピューティングデバイスによって実行されることは、ハードウェアプロセッサのようなコンピューティングデバイスの任意のハードウェア構成要素（例えば、ＣＰＵ、ＧＰＵ、ネットワークインターフェイス、集積回路、他のハードウェア構成要素など）による実行を含む。任意のモジュールが、コンピューティングデバイスによって（例えば、コンピューティングデバイスのプロセッサによって）実行されてもよい。本明細書に開示される任意の方法、機能、工程、特徴、結果などは、明確に記載されているか否かにかかわらず、１つ以上のソフトウェアモジュールによって実行されてもよい。コンピューティングデバイス内の個々の構成要素は、一緒に機能し、所望の方法、機能、工程、特徴または結果を達成してもよい。例えば、コンピューティングデバイスは、データを受信し、そのデータを処理してもよい。単純な例は、ネットワークインターフェイスがそのデータを受信し、そのデータをバスによってプロセッサに送信してもよい。
本明細書に開示するシステムの種々の態様は、コンピュータシステム中で実行するソフトウェアとして実行されてもよい。コンピュータシステムは、１つ以上のメモリデバイスに接続する中央処理装置（すなわち、ハードウェアプロセッサ）、グラフィック処理ユニット、入力デバイス（例えば、マウスおよびキーボード）、出力デバイス（例えば、スピーカーおよびディスプレイ）、１つ以上の他のコンピュータシステム（例えば、データベースとして機能するようなサービスを提供するような構成の１つ以上のコンピュータシステム）に接続するためのネットワークインターフェイス、オペレーティングシステム、コンパイラ、インタプリタ（すなわち、バーチャルマシン）などを備えていてもよい。メモリを使用し、コンピュータシステムの操作中に、実行可能なプログラムおよびデータを保存してもよい。実行可能なプログラムは、高級コンピュータプログラム言語（例えば、ＪａｖａまたはＣ＋＋）で書かれていてもよい。本開示は、特定のプログラム言語またはコンピュータシステムに限定していないため、もちろん、他のコンピュータプログラムを使用してもよい。さらに、本明細書に開示するシステムおよび方法は、任意の特定のコンピュータシステムまたはコンピュータシステム群で実行されることに限定されないことが理解されるべきである。
明細書、特許請求の範囲および図面全体で、内容が明確に他の意味を示していない限り、以下の用語は、本明細書に明確に関連する意味を採用する。「本明細書」との用語は、本出願に関連する明細書、特許請求の範囲および図面を指す。「一実施形態において、」、「別の実施形態において、」、「種々の実施形態において、」、「いくつかの実施形態において、」、「他の実施形態において、」との句および他のこれらの変形語は、本開示の１つ以上の特徴、構造、機能、限定または特徴を指し、内容が明確に他の意味を示していない限り、同じ実施形態または異なる実施形態に限定されない。本明細書で使用される場合、「または」との用語は、包括的であるか、「または」オペレータであり、「ＡまたはＢ、またはその両方」または「ＡまたはＢまたはＣ、またはこれらの任意の組み合わせ」との句と同義であり、さらなる要素を含むリストが同様に処理される。「〜に基づく」との用語は、排他的ではなく、内容が明確に他の意味を示していない限り、記載されていないさらなる特徴、機能、態様または限定に基づくものであることを許す。それに加え、明細書全体で、「１つの（a）」、「１つの（an）」および「その（the）」の意味は、単数形および複数形の対象物を含む。
本明細書の詳細な記載の一部分が、コンピュータメモリ内のデータビットに対する操作のアルゴリズムおよび記号表現という観点で示される。これらのアルゴリズムの記述および表現は、他の当業者に自身の仕事の内容を最も効果的に伝えるためにデータ処理分野の当業者によって使用される意味である。アルゴリズムは、本明細書で記載される場合、所望の結果をもたらす一連のステップである。このステップは、物理量の物理的な操作を必要とするものである。通常は、必ずというわけではないが、これらの量は、保存され、移動され、合わせられ、比較され、他の方法で操作されることが可能な電気信号または磁気信号の形態をしている。これは、主に通常の使用のために、ビット、値、エレメント、記号、文字、語句、数字などの信号を指すことが、時には簡便であることがわかっている。
しかし、これらの用語および同様の用語は全て、適切な物理量と関係があり、単にこれらの量に適用される簡便な記号であることも注意しておくべきである。以下の記載から明らかであると明細書で他の意味で述べられていない限り、本記載全体で、「処理する」「コンピュータ処理する」「計算する」「決定する」「表示する」「構成する」などの用語を利用する記載は、コンピュータシステムのレジスタおよびメモリ内で物理（電気）量として表されるデータを操作し、変換して、コンピュータシステムのメモリまたはレジスタまたは他のこのような情報記憶、送信または表示をするデバイス内で同様に物理量として表される他のデータにする、コンピュータシステムまたは同様の電子コンピューティングデバイスの動作および処理を指すことが理解されよう。
本出願は、本明細書の操作を行うための装置にも関する。この装置は、必要な目的のために特殊に構築されたものであってもよく、またはコンピュータに保存されたコンピュータプログラムによって選択的に起動されるか、または再構成されるコンピュータを含んでいてもよい。このようなコンピュータプログラムは、コンピュータ読取可能な記録媒体、例えば、限定されないが、フロッピーディスク、光ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、磁気光ディスクを含む任意の種類のディスク、リードオンリメモリ（ＲＯＭ）、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）、ＥＰＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭ、磁気カードまたは光カード、または電子命令を保存するのに適した任意の種類の媒体に保存されていてもよく、これらはそれぞれコンピュータシステムバスに連結している。
さらに、本教示のさらなる有用な実施形態を与えるために、代表的な例および従属請求項の種々の特徴を、具体的、明示的に列挙されていない様式で合わせてもよい。全ての数値範囲またはエンティティ群の表示は、元々の開示のために、また、請求される特定事項を制限する目的のために、全ての可能な中間値または中間エンティティを開示することも明確に注記しておく。図面に示される構成要素の寸法および形状は、本発明の教示をどのようにして実施するかを理解するのに役立つように設計されているが、実施例に示される寸法および形状を限定する意図はないことも明確に注記しておく。
上述の記載は、説明のために、開示する実施形態を十分に理解するために、具体的な数値および式を使用している。具体的な詳細は、本発明を実施するために必要ではないことは当業者には明らかなはずである。実施形態は、開示する実施形態の原理およびその実際の適用を最も良く説明するように選択され、記載されており、それにより、開示する実施形態を当業者が利用することができ、種々の改変を伴う種々の実施形態は、想定される特定の使用に適している。したがって、上述の開示は、排他的なものであることを意図しておらず、または開示される正確な形態に本発明を限定することも意図しておらず、当業者は、多くの改変および変更が上述の教示の観点から可能であることを認識する。
上に記載した種々の実施形態を組み合わせ、さらなる実施形態を得てもよい。米国特許、本明細書で言及され、および／または出願データシートに列挙された米国特許出願公開、米国特許明細書、外国の特許、外国の特許明細書および非特許刊行物は全て、その全体が参考として本明細書に援用される。実施形態の態様は、改変されてもよく、必要な場合には、さらなる実施形態を与えるために、種々の特許、明細書および刊行物の概念を使用してもよい。
上の詳細な記載の観点で、実施形態に対し、これらの変更および他の変更がなされてもよい。一般的に、以下の特許請求の範囲において、使用される用語は、請求項を、明細書および請求項に開示される具体的な実施形態に限定するものと解釈すべきではないが、このような請求項によって権利が与えられる全均等物の範囲に沿った全ての可能な実施形態を含むと解釈すべきである。したがって、開示する実施形態の広さおよび範囲は、上述の任意の例示的な実施形態によって限定されるべきではないが、以下の特許請求の範囲およびその均等物によってのみ、規定されるべきである。

Claims (22)

  1. 光パワーを自己参照する方法であって、
    第１の双方向ポートに第１の光検出器ＢｉＤｉと第１の光源ＢｉＤｉとを備え、第１のパワー測定器ポートに第１の光検出器ＰＭを備える第１の光学測定デバイスとを提供することと、
    第２の双方向ポートに第２の光検出器ＢｉＤｉと第２の光源ＢｉＤｉとを備え、第２のパワー測定器ポートに第２の光検出器ＰＭを備える第２の光学測定デバイスを提供することと、
    工場較正補正率ρ１およびρ２を受信し、ここで、ρ１は、前記第１の光学測定デバイスの前記第１の光検出器ＰＭと前記第１の光検出器ＢｉＤｉとの間の工場測定誤差であり、ρ２は、前記第２の光学測定デバイスの前記第２の光検出器ＰＭと前記第２の光検出器ＢｉＤｉとの間の工場測定誤差であることと、
    前記第１の光学測定デバイスで、第１のテストコードを用い、前記第１の双方向ポートを前記第１のパワー測定器ポートに接続し、前記第１のパワー測定器で受信した光信号のパワーレベルＰｘ１を測定することと、
    前記第２の光学測定デバイスで、第２のテストコードを用い、前記第２の双方向ポートを前記第２のパワー測定器ポートに接続し、第２のパワー測定器で受信した光信号のパワーレベルＰｙ１を測定することと、
    前記第１の光学測定デバイスで、前記第１のパワー測定器ポートから前記第１のテストコードを切断し、前記第１のテストコードを用い、前記第１の双方向ポートを前記第２のパワー測定器ポートに接続し、前記第２のパワー測定器で受信した光信号の前記パワーレベルＰｘ２を測定することと、
    前記第２の光学測定デバイスで、前記第２のパワー測定器ポートから前記第２のテストコードを切断し、前記第２のテストコードを用い、前記第２の双方向ポートを前記第１のパワー測定器ポートに接続し、前記第１のパワー測定器で受信した光信号のパワーレベルＰｙ２を測定することと、
    現場較正補正率ρ３およびρ４を決定し、ここで、ρ３は、前記第１の光学測定デバイスの第１の光検出器ＰＭと第１の光検出器ＢｉＤｉとの間の現場測定誤差であり、ρ４は、前記第２の光学測定デバイスの前記第２の光検出器ＰＭと前記第２の光検出器ＢｉＤｉとの間の現場測定誤差であり、
    Ｐｘ２＝Ｐｘ１−ρ３、
    Ｐｙ２＝Ｐｙ１−ρ４、
    Ｐｒｅｆ１＝Ｐｙ２−ρ３、および
    Ｐｒｅｆ２＝Ｐｘ２−ρ４であることと、
    Ｐｘ２およびＰｙ２を代入することによってＰｒｅｆ１およびＰｒｅｆ２を計算し、
    Ｐｒｅｆ１＝Ｐｙ１−ρ４−ρ１、および
    Ｐｒｅｆ２＝Ｐｘ１−ρ３−ρ２であることと、
    前記第２のテストコードの前記接続末端から前記第１のテストコードの前記接続末端を切断し、前記第１のテストコードの接続末端および前記第２のテストコードの前記接続末端を、試験される光ファイバーリンクの反対側の末端に接続し、前記第１のテストコードによって受信した光信号のパワーレベルＰｙ４と、試験される前記光ファイバーリンクを通って第２のテストコードによって受信した光信号のパワーレベルＰｙ４とを測定することによって、損失試験を行うこととを含み、
    ここで、前記第１の双方向ポートでの損失は、Ｐｙ４−Ｐｒｅｆ１に等しく、前記第２の双方向ポートでの損失は、Ｐｘ４−Ｐｒｅｆ２に等しい、方法。
  2. 前記第１の光学測定デバイスが、第１のプロセッサと第１のメモリとを備えており、前記第２の光学測定デバイスが、第２のプロセッサと第２のメモリとを備えている、請求項１に記載の方法。
  3. 前記第１の双方向ポートが、第１の光検出器ＢｉＤｉおよび第１の光源ＢｉＤｉの組み合わせを含む、請求項１に記載の方法。
  4. 前記第１のパワー測定器ポートが、非接触型の第１の光検出器ＰＭを含む、請求項１に記載の方法。
  5. 前記第２の双方向ポートが、第２の光検出器ＢｉＤｉおよび第２の光源ＢｉＤｉの組み合わせを含む、請求項１に記載の方法。
  6. 前記第２のパワー測定器ポートが、非接触型の第２の光検出器ＰＭを含む、請求項１に記載の方法。
  7. 前記第２のパワー測定器ポートから前記第１のテストコードを切断し、前記第１のテストコードの接続末端を残し、前記第１のパワー測定器ポートから前記第２のテストコードを切断し、前記第２のテストコードの接続末端を残し、前記第１のテストコードの前記接続末端を前記第２のテストコードの前記接続末端に接続し、前記第１のテストコードによって受信した光信号のパワーレベルＰｙ３と、前記第２のテストコードによって受信した光信号のパワーレベルＰｙ３を測定することによってジャンパー検証を行うことをさらに含む、請求項１に記載の方法。
  8. 前記第１および第２の光学測定デバイスを用いた以前のファイバーリンク測定から前記現場較正補正率ρ３およびρ４を受信した後、将来の光パワーの自己参照型測定が、前記既に決定されたρ３およびρ４を使用し、ある光学測定デバイスの双方向ポートからのジャンパーを別の光学測定デバイスのパワー測定器ポートに接続することを含まない、請求項１に記載の方法。
  9. この方法によって、１個のファイバー双方向光学損失テスターが、１−ジャンパー参照型測定方法の不確実性レベルに近い前記不確実性レベルを有する自己参照型測定を行うことができる、請求項１に記載の方法。
  10. 光パワーを自己参照する方法であって、
    第１の双方向ポートに第１の光検出器ＢｉＤｉと第１の光源ＢｉＤｉとを備え、第１のパワー測定器ポートに第１の光検出器ＰＭを備える第１の光学測定デバイスとを提供することと、
    第２の双方向ポートに第２の光検出器ＢｉＤｉと第２の光源ＢｉＤｉとを備え、第２のパワー測定器ポートに第２の光検出器ＰＭを備える第２の光学測定デバイスを提供することと、
    工場較正補正率ρ１およびρ２を受信し、ここで、ρ１は、前記第１の光学測定デバイスの前記第１の光検出器ＰＭと前記第１の光検出器ＢｉＤｉとの間の工場測定誤差であり、ρ２は、前記第２の光学測定デバイスの前記第２の光検出器ＰＭと前記第２の光検出器ＢｉＤｉとの間の工場測定誤差であることと、
    前記第１および第２の光学測定デバイスを用いた以前の光ファイバーリンク測定から現場較正補正率ρ３およびρ４を受信し、ここで、ρ３は、前記第１の光学測定デバイスの前記第１の光検出器ＰＭと前記第１の光検出器ＢｉＤｉとの間の現場測定誤差であり、ρ４は、前記第２の光学測定デバイスの前記第２の光検出器ＰＭと第２の光検出器ＢｉＤｉとの間の現場測定誤差であり、
    Ｐｒｅｆ１＝Ｐｙ２−ρ３、および
    Ｐｒｅｆ２＝Ｐｘ２−ρ４であることと、
    Ｐｘ２およびＰｙ２を代入することによってＰｒｅｆ１およびＰｒｅｆ２を計算し、
    Ｐｒｅｆ１＝Ｐｙ１−ρ４−ρ１、および
    Ｐｒｅｆ２＝Ｐｘ１−ρ３−ρ２であることと、
    ジャンパー検証を行うことと、
    第２のテストコードの接続末端から第１のテストコードの接続末端を切断し、前記第１のテストコードの前記接続末端および前記第２のテストコードの前記接続末端を、試験される光ファイバーリンクの反対側の末端に接続し、前記第１のテストコードによって受信した光信号のパワーレベルＰｙ４と、試験される光ファイバーリンクを通って第２のテストコードによって受信した光信号のパワーレベルＰｙ４とを測定することによって、損失試験を行うこととを含み、
    ここで、第１の双方向ポートでの損失は、Ｐｙ４−Ｐｒｅｆ１に等しく、第２の双方向ポートでの損失は、Ｐｘ４−Ｐｒｅｆ２に等しい、方法。
  11. 前記第１の光学測定デバイスが、第１のプロセッサと、第１のメモリと、第１の光検出器ＢｉＤｉおよび第１の光源ＢｉＤｉの組み合わせを含む第１の双方向ポートと、非接触型の第１の光検出器ＰＭを含む第１のパワー測定器ポートとを備えており、前記第２の光学測定デバイスが、第２のプロセッサと、第２のメモリと、第２の光検出器ＢｉＤｉおよび第２の光源ＢｉＤｉの組み合わせを含む第２の双方向ポートと、非接触型の第２の光検出器ＰＭを含む第２のパワー測定器ポートとを備えている、請求項１０に記載の方法。
  12. ジャンパー検証を行うことが、前記第２のパワー測定器ポートから前記第１のテストコードを切断し、前記第１のテストコードの接続末端を残し、第１のパワー測定器ポートから前記第２のテストコードを切断し、前記第２のテストコードの接続末端を残し、前記第１のテストコードの前記接続末端を前記第２のテストコードの前記接続末端に接続することをさらに含む、請求項１１に記載の方法。
  13. ジャンパー検証を行うことが、前記第１のテストコードで受信したパワーレベルＰｙ３と、前記第２のテストコードで受信した前記パワーレベルＰｙ３とを測定することをさらに含む、請求項１２に記載の方法。
  14. 前記第１および第２の光学測定デバイスを用いた前記以前のファイバーリンク測定から現場較正補正率ρ３およびρ４を受信した後、将来の光パワーの自己参照型測定が、既に保存されたρ３およびρ４を使用し、ある光学測定デバイスの双方向ポートからのジャンパーを別の光学測定デバイスのパワー測定器ポートに接続することを含まない、請求項１０に記載の方法。
  15. この方法が、１個のファイバー双方向光学損失テスターで実行され、自己参照を行い、１−ジャンパー参照型測定方法の不確実性レベルに近い不確実性レベルを有する、請求項１０に記載の方法。
  16. 光パワーを自己参照する方法であって、
    第１の双方向ポートに第１の光検出器ＢｉＤｉと第１の光源ＢｉＤｉとを備え、第１のパワー測定器ポートに第１の光検出器ＰＭを備える第１の光学測定デバイスとを提供することと、
    第２の双方向ポートに第２の光検出器ＢｉＤｉと第２の光源ＢｉＤｉとを備え、第２のパワー測定器ポートに第２の光検出器ＰＭを備える第２の光学測定デバイスを提供することと、
    工場較正補正率ρ１およびρ２を受信し、ここで、ρ１は、前記第１の光学測定デバイスの前記第１の光検出器ＰＭと前記第１の光検出器ＢｉＤｉとの間の工場測定誤差であり、ρ２は、前記第２の光学測定デバイスの前記第２の光検出器ＰＭと前記第２の光検出器ＢｉＤｉとの間の工場測定誤差であることと、
    前記第１および第２の光学測定デバイスを用いた以前のファイバーリンク測定から現場較正補正率ρ３およびρ４を受信し、ここで、ρ３は、前記第１の光学測定デバイスの前記第１の光検出器ＰＭと前記第１の光検出器ＢｉＤｉとの間の現場測定誤差であり、ρ４は、前記第２の光学測定デバイスの前記第２の光検出器ＰＭと前記第２の光検出器ＢｉＤｉとの間の現場測定誤差であり、
    Ｐｒｅｆ１＝Ｐｙ２−ρ３、および
    Ｐｒｅｆ２＝Ｐｘ２−ρ４であることと、
    Ｐｘ２およびＰｙ２を代入することによってＰｒｅｆ１およびＰｒｅｆ２を計算し、
    Ｐｒｅｆ１＝Ｐｙ１−ρ４−ρ１、および
    Ｐｒｅｆ２＝Ｐｘ１−ρ３−ρ２であることと、
    第２のテストコードの接続末端から第１のテストコードの接続末端を切断し、前記第１のテストコードの前記接続末端および前記第２のテストコードの前記接続末端を、試験される光ファイバーリンクの反対側の末端に接続し、前記第１のテストコードによって受信した光信号のパワーレベルＰｙ４と、試験される光ファイバーリンクを通って第２のテストコードによって受信した光信号のパワーレベルＰｙ４とを測定することによって、損失試験を行うこととを含み、
    ここで、第１の双方向ポートでの損失は、Ｐｙ４−Ｐｒｅｆ１に等しく、
    第２の双方向ポートでの損失は、Ｐｘ４−Ｐｒｅｆ２に等しい、方法。
  17. 前記第１の光学測定デバイスが、第１のプロセッサと、第１のメモリと、第１の光検出器ＢｉＤｉおよび第１の光源ＢｉＤｉの組み合わせを含む第１の双方向ポートと、非接触型の第１の光検出器ＰＭを含む第１のパワー測定器ポートとを備えており、前記第２の光学測定デバイスが、第２のプロセッサと、第２のメモリと、第２の光検出器ＢｉＤｉおよび第２の光源ＢｉＤｉの組み合わせを含む第２の双方向ポートと、非接触型の第２の光検出器ＰＭを含む第２のパワー測定器ポートとを備えている、請求項１６に記載の方法。
  18. ジャンパー検証を行うことをさらに含む、請求項１７に記載の方法。
  19. ジャンパー検証を行うことが、前記第２のパワー測定器ポートから前記第１のテストコードを切断し、前記第１のテストコードの接続末端を残し、前記第１のパワー測定器ポートから前記第２のテストコードを切断し、前記第２のテストコードの接続末端を残し、前記第１のテストコードの前記接続末端を前記第２のテストコードの前記接続末端に接続することをさらに含む、請求項１８に記載の方法。
  20. ジャンパー検証を行うことが、前記第１のテストコードで受信したパワーレベルＰｙ３と、前記第２のテストコードで受信したパワーレベルＰｙ３とを測定することをさらに含む、請求項１９に記載の方法。
  21. 前記第１および第２の光学測定デバイスを用いた以前のファイバーリンク測定から現場較正補正率ρ３およびρ４を受信した後、将来の光パワーの自己参照型測定が、既に保存されたρ３およびρ４を使用し、ある光学測定デバイスの双方向ポートからのジャンパーを別の光学測定デバイスのパワー測定器ポートに接続することを含まない、請求項１７に記載の方法。
  22. 前記方法が、１個のファイバー双方向光学損失テスターで実行され、自己参照を行い、１−ジャンパー参照型測定方法の不確実性レベルに近い不確実性レベルを有する、請求項１７に記載の方法。
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