JP2018163121A - Non-contact surface potential measuring device, measuring fixture, and non-contact surface potential measuring method - Google Patents

Non-contact surface potential measuring device, measuring fixture, and non-contact surface potential measuring method Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a non-contact surface potential measuring device, a measuring fixture, and a non-contact surface potential measuring method which can precisely measure surface potential of an object to be measured when an another voltage generation source is arranged around the object to be measured.SOLUTION: A non-contact surface potential measuring device measures surface potentials of N (N is an integer of 1 or more) voltage generation sources, being an object to be measured, in a non-contact manner, and includes: an electric field strength measuring part for measuring the electric field strength of the voltage generation sources; a storage part for storing a set of transformation coefficients for transforming each electric field strength generated by each voltage generation source into the surface potential of each voltage generation source; and a transformation part for transforming the electric field strength of the object to be measured which is measured by the electric field strength measuring part into the surface potential using the set of transformation coefficients.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、非接触表面電位測定装置、測定治具及び非接触表面電位測定方法に関する。   The present invention relates to a non-contact surface potential measuring device, a measuring jig, and a non-contact surface potential measuring method.

従来、測定対象である電圧発生源(以下、「測定対象物」という。)の表面電位を非接触で測定する非接触表面電位測定装置が知られている。この非接触表面電位測定装置は、測定対象物からの電界強度を測定し、この測定した電界強度に基づいて、当該測定対象物の表面電位を計測する。(例えば、特許文献1)   Conventionally, a non-contact surface potential measuring device that measures a surface potential of a voltage generation source (hereinafter referred to as “measurement object”) that is a measurement object in a non-contact manner is known. This non-contact surface potential measuring device measures the electric field strength from the measurement object, and measures the surface potential of the measurement object based on the measured electric field strength. (For example, Patent Document 1)

特開2008−089391号公報JP 2008-089391 A

ここで、測定対象物の周囲に別の電圧発生源が配置されている場合がある。この場合には、測定対象物の電界強度を測定したとしても、その測定値は、周囲にある電圧発生源からの電界の影響を受けてしまう。そのため、測定対象物の周囲に別の電圧発生源が配置されている場合には、測定対象物の表面電位を正確に計測することができない。   Here, another voltage generation source may be arranged around the measurement object. In this case, even if the electric field strength of the measurement object is measured, the measured value is affected by the electric field from the surrounding voltage generation source. Therefore, when another voltage generation source is disposed around the measurement object, the surface potential of the measurement object cannot be accurately measured.

本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、その目的は、測定対象物の周囲に別の電圧発生源が配置されている場合に、測定対象物の表面電位を正確に測定することができる非接触表面電位測定装置、測定治具及び非接触表面電位測定方法を提供することである。   The present invention has been made in view of such circumstances, and its purpose is to accurately measure the surface potential of a measurement object when another voltage generation source is arranged around the measurement object. It is to provide a non-contact surface potential measuring device, a measuring jig and a non-contact surface potential measuring method.

本発明の一態様は、測定対象であるN(1以上の整数)個の電圧発生源の表面電位を非接触で測定する非接触表面電位測定装置であって、前記電圧発生源の電界強度を測定する電界強度測定部と、各電圧発生源が発生する各電界強度を、前記各電圧発生源の表面電位に変換する変換係数群を記憶する記憶部と、前記変換係数群を用いて、前記電界強度測定部で測定された前記測定対象の電界強度を、前記表面電位に変換する変換部と、を備える非接触表面電位測定装置である。   One aspect of the present invention is a non-contact surface potential measuring device that measures the surface potential of N (an integer greater than or equal to 1) voltage generation sources to be measured in a non-contact manner. Using the conversion factor group, a storage unit for storing a conversion factor group for converting each electric field strength generated by each voltage generation source into a surface potential of each voltage generation source, and a conversion factor group It is a non-contact surface potential measuring device provided with the conversion part which converts the electric field strength of the measuring object measured by the electric field strength measuring part into the surface potential.

本発明の一態様は、上述の非接触表面電位測定装置であって、前記電界強度測定部を各電圧発生源の上方の所定位置に移動可能な第1移動部をさらに備え、前記電界強度測定部は、前記第1移動部により前記表面電位を測定する電圧発生源の上方の所定位置に移動させられた後に、当該電圧発生源の電界強度を測定する。   One aspect of the present invention is the above-described non-contact surface potential measuring apparatus, further comprising a first moving unit capable of moving the electric field intensity measuring unit to a predetermined position above each voltage generation source, and the electric field intensity measuring The unit measures the electric field strength of the voltage generation source after being moved to a predetermined position above the voltage generation source for measuring the surface potential by the first moving unit.

本発明の一態様は、上述の非接触表面電位測定装置であって、前記第1移動部は、前記電圧発生源と前記電界強度測定部との間の鉛直方向の距離を一定に保ちながら前記電界強度測定部の水平方向の移動をガイドするガイドレールと、前記ガイドレールに沿って前記電界強度測定部を水平方向に移動させる駆動部と、を備える。   One aspect of the present invention is the above-described non-contact surface potential measuring device, wherein the first moving unit is configured to maintain a constant vertical distance between the voltage generation source and the electric field strength measuring unit. A guide rail that guides the horizontal movement of the electric field intensity measurement unit; and a drive unit that moves the electric field intensity measurement unit in the horizontal direction along the guide rail.

本発明の一態様は、上述の非接触表面電位測定装置であって、前記第1移動部を鉛直方向に昇降させることで、前記電界強度測定部と前記電圧発生源との間の鉛直方向の距離を変更可能な第2移動部と、前記電圧発生源と当該電圧発生源の上方の所定位置に配置された前記電界強度測定部との間の鉛直方向の距離を測定する距離測定部と、を備え、前記電界強度測定部は、前記第1移動部により前記表面電位を測定する電圧発生源の上方の所定位置に移動させられ、且つ前記第2移動部により当該電圧発生源との間の鉛直方向の距離が調整された後に、当該電圧発生源の電界強度を測定し、前記距離測定部は、前記電界強度測定部が前記電界強度を測定した場合に、前記鉛直方向の距離を測定し、前記変換部は、前記距離測定部で測定された距離に応じた変換係数群を前記記憶部から読み出し、読み出した変換係数群を用いて、前記電界強度測定部で測定された前記電界強度を、前記表面電位に変換する。   One aspect of the present invention is the above-described non-contact surface potential measurement device, wherein the first moving unit is moved up and down in the vertical direction, so that the vertical direction between the electric field strength measuring unit and the voltage generating source is increased. A second moving unit capable of changing a distance; and a distance measuring unit that measures a vertical distance between the voltage generating source and the electric field intensity measuring unit disposed at a predetermined position above the voltage generating source; The electric field strength measuring unit is moved to a predetermined position above the voltage generating source for measuring the surface potential by the first moving unit, and between the voltage generating source by the second moving unit. After the vertical distance is adjusted, the electric field strength of the voltage source is measured, and the distance measuring unit measures the vertical distance when the electric field strength measuring unit measures the electric field strength. The conversion unit was measured by the distance measurement unit. The conversion coefficient set in accordance with the separated read from the storage unit, using the read transform coefficient group, the electric field intensity measured by the field intensity measurement unit, converting into the surface potential.

本発明の一態様は、上述の非接触表面電位測定装置であって、前記電圧発生源の位置と同一の位置に配置された1からi(i=1,…,N)番目の各電極に、N個の電圧ケースj(j=1,…,N)の電圧を印加させる電圧制御部と、前記変換係数群を算出する変換係数算出部と、を備え、前記電界強度測定部は、i番目の前記電極の上方の所定位置に配置され、前記電圧ケースjにおけるi番目の前記電極の前記電界強度Eijを測定し、前記変換係数算出部は、前記電圧Vijを各要素としたN行N列の行列である表面電位行列と、前記電界強度Eijを各要素としたN行N列の行列である電界強度行列と、に基づいて、前記変換係数群として前記変換係数の逆行列を算出する。 One aspect of the present invention is the above-described non-contact surface potential measuring device, in which each of the 1 to i (i = 1,..., N) th electrodes arranged at the same position as the position of the voltage generation source. , N voltage cases j (j = 1,..., N), a voltage control unit, and a conversion coefficient calculation unit that calculates the conversion coefficient group. The electric field intensity E ij of the i-th electrode in the voltage case j is measured at a predetermined position above the n-th electrode, and the conversion coefficient calculation unit is N N with the voltage V ij as each element. Based on a surface potential matrix that is a matrix of rows and N columns and an electric field strength matrix that is a matrix of N rows and N columns with the electric field strength E ij as each element, an inverse matrix of the conversion coefficients as the conversion coefficient group Is calculated.

本発明の一態様は、上述の変換係数群を算出するための測定治具であって、前記電圧発生源の位置と同一の位置に配置される電極と、前記電圧制御部の制御により、N個の電圧ケースj(j=1,…,N)の電圧を各電極に印加可能な電圧発生装置と、を備える測定治具である。   One aspect of the present invention is a measurement jig for calculating the above-described conversion coefficient group, and an electrode disposed at the same position as the position of the voltage generation source and N under control of the voltage control unit. And a voltage generator capable of applying voltages of voltage cases j (j = 1,..., N) to each electrode.

本発明の一態様は、測定対象であるN(1以上の整数)個の電圧発生源の表面電位を非接触で測定する非接触表面電位測定方法であって、前記電圧発生源の電界強度を測定する電界強度測定ステップと、各電圧発生源が発生する各電界強度を、前記各電圧発生源の表面電位に変換する変換係数群を用いて、前記電界強度測定部で測定された前記測定対象の電界強度を、前記表面電位に変換する変換ステップと、を含む非接触表面電位測定方法である。   One aspect of the present invention is a non-contact surface potential measurement method for measuring the surface potentials of N (an integer of 1 or more) voltage generation sources to be measured in a non-contact manner, wherein the electric field strength of the voltage generation sources is measured. The measurement object measured by the electric field intensity measurement unit using a conversion factor group for converting the electric field intensity generated by each voltage generation source into a surface potential of each voltage generation source. A non-contact surface potential measurement method comprising: a conversion step of converting the electric field strength of the above into the surface potential.

本発明の一態様は、上述の非接触表面電位測定方法であって、前記電界強度測定部が前記電界強度を測定した場合に、前記電圧発生源と当該電圧発生源の上方の所定位置に配置された前記電界強度測定部との間の鉛直方向の距離を測定する距離測定ステップを更に含み、前記変換ステップは、距離測定ステップで測定された距離に応じた変換係数群を前記記憶部から読み出し、読み出した変換係数群を用いて、前記電界強度測定部で測定された前記電界強度を、前記表面電位に変換する、非接触表面電位測定方法である。   One aspect of the present invention is the above-described non-contact surface potential measurement method, wherein when the electric field intensity measurement unit measures the electric field intensity, the voltage generation source is disposed at a predetermined position above the voltage generation source. A distance measuring step of measuring a distance in the vertical direction between the measured electric field strength measuring unit, and the converting step reads a conversion coefficient group corresponding to the distance measured in the distance measuring step from the storage unit. A non-contact surface potential measurement method that converts the electric field intensity measured by the electric field intensity measurement unit into the surface potential using the read conversion coefficient group.

以上説明したように、本発明によれば、測定対象物の周囲に別の電圧発生源が配置されている場合に、測定対象物の表面電位を正確に測定することができる。   As described above, according to the present invention, when another voltage generation source is arranged around the measurement object, the surface potential of the measurement object can be accurately measured.

第1の実施形態に係る非接触表面電位測定装置1の概略構成の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of schematic structure of the non-contact surface potential measuring apparatus 1 which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施形態に係る、単一の電圧発生源100に対する表面電位を測定する様子を示す図である。It is a figure which shows a mode that the surface potential with respect to the single voltage generation source 100 based on 1st Embodiment is measured. 第1の実施形態に係る電圧発生源100−1〜100−3に対する表面電位を測定する様子を示す図である。It is a figure which shows a mode that the surface potential with respect to the voltage generation sources 100-1 to 100-3 which concerns on 1st Embodiment is measured. 第1の実施形態に係る電界強度Eの重ね合わせの原理を説明する図である。It is a figure explaining the principle of superimposition of the electric field strength E which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施形態に係る非接触表面電位測定装置1の校正計測を行う様子を示す図である。It is a figure which shows a mode that the calibration measurement of the non-contact surface potential measuring apparatus 1 which concerns on 1st Embodiment is performed. 第1の実施形態に係る処理部13の概略構成の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of schematic structure of the process part 13 which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施形態に係る変換係数群の算出方法を説明する図である。It is a figure explaining the calculation method of the conversion coefficient group which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施形態に係る校正ステップの流れを説明する図である。It is a figure explaining the flow of the calibration step which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施形態に係る本計測・計算ステップの流れを説明する図である。It is a figure explaining the flow of this measurement and calculation step which concerns on 1st Embodiment. 第2の実施形態に係る非接触表面電位測定装置1Aの概略構成の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of schematic structure of 1 A of non-contact surface potential measuring apparatuses which concern on 2nd Embodiment. 第2の実施形態に係る非接触表面電位測定装置1Aの校正計測を行う様子を示す図である。It is a figure which shows a mode that the calibration measurement of 1 A of non-contact surface potential measuring apparatuses which concern on 2nd Embodiment is performed. 第2の実施形態に係る処理部13Aの概略構成の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of schematic structure of 13 A of process parts which concern on 2nd Embodiment. 第2の実施形態に係る校正ステップの流れを説明する図である。It is a figure explaining the flow of the calibration step which concerns on 2nd Embodiment. 第2の実施形態に係る本計測・計算ステップの流れを説明する図である。It is a figure explaining the flow of this measurement and calculation step which concerns on 2nd Embodiment. 処理部13,13Aをコンピュータ等の電子情報処理装置で構成した場合のハードウェア構成の一例を示す。An example of a hardware configuration when the processing units 13 and 13A are configured by an electronic information processing apparatus such as a computer is shown.

以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。なお、図面において、同一又は類似の部分には同一の符号を付して、重複する説明を省く場合がある。また、図面における要素の形状及び大きさなどはより明確な説明のために誇張されることがある。   Hereinafter, the present invention will be described through embodiments of the invention, but the following embodiments do not limit the invention according to the claims. In addition, not all the combinations of features described in the embodiments are essential for the solving means of the invention. In the drawings, the same or similar parts may be denoted by the same reference numerals and redundant description may be omitted. In addition, the shape and size of elements in the drawings may be exaggerated for a clearer description.

明細書の全体において、ある部分がある構成要素を「含む」、「有する」や「備える」とする時、これは、特に反対の記載がない限り、他の構成要素を除くものではなく、他の構成要素をさらに含むことができるということを意味する。   In the entire specification, when a part includes a component, “includes”, “have”, or “comprises”, this does not exclude other components unless otherwise stated. This means that it can further include the following components.

以下、本発明の一実施形態に係る非接触表面電位測定装置、測定治具、及び非接触表面電位測定方法を、図面を用いて説明する。   Hereinafter, a non-contact surface potential measurement device, a measurement jig, and a non-contact surface potential measurement method according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

(第1の実施形態)
図1は、第1の実施形態に係る非接触表面電位測定装置1の概略構成の一例を示す図である。
(First embodiment)
FIG. 1 is a diagram illustrating an example of a schematic configuration of a non-contact surface potential measuring apparatus 1 according to the first embodiment.

非接触表面電位測定装置1は、測定対象であるN(1以上の整数)個の電圧発生源100−1〜100−N(以下、電圧発生源100と総称する)の各表面電位を非接触で測定する。この電圧発生源100は、例えば、太陽電池の電極パターンなどである。   The non-contact surface potential measuring apparatus 1 non-contacts each surface potential of N (an integer greater than or equal to 1) voltage generation sources 100-1 to 100-N (hereinafter collectively referred to as voltage generation sources 100) that are measurement targets. Measure with The voltage generation source 100 is, for example, an electrode pattern of a solar cell.

この電圧発生源100−1〜100−Nは、基板200の上に載置されている。本実施形態では、電圧発生源100−1〜100−Nが基板200の長手方向に規則的に載置されている。   The voltage generation sources 100-1 to 100-N are placed on the substrate 200. In the present embodiment, the voltage generation sources 100-1 to 100 -N are regularly placed in the longitudinal direction of the substrate 200.

非接触表面電位測定装置1は、電界強度測定部10、距離測定部11、第1移動部12、及び処理部13を備える。   The non-contact surface potential measuring device 1 includes an electric field strength measuring unit 10, a distance measuring unit 11, a first moving unit 12, and a processing unit 13.

電界強度測定部10は、電圧発生源100から所定距離だけ離れた位置に配置されている。電界強度測定部10は、電圧発生源100の電界強度を非接触で測定する。電界強度測定部10は、測定した電界強度を処理部13に出力する。   The electric field strength measuring unit 10 is disposed at a position away from the voltage generation source 100 by a predetermined distance. The electric field strength measurement unit 10 measures the electric field strength of the voltage source 100 in a non-contact manner. The electric field strength measuring unit 10 outputs the measured electric field strength to the processing unit 13.

距離測定部11は、電圧発生源100と電界強度測定部10との間の鉛直方向の距離(以下、「測定距離」という。)hを測定する。距離測定部11は、測定した測定距離を処理部13に出力する。   The distance measurement unit 11 measures a vertical distance (hereinafter referred to as “measurement distance”) h between the voltage generation source 100 and the electric field strength measurement unit 10. The distance measurement unit 11 outputs the measured measurement distance to the processing unit 13.

第1移動部12は、電界強度測定部10を各電圧発生源100の直上に移動可能な構成を備える。第1移動部12は、処理部13からの移動信号に基づいて、各電圧発生源100の直上に電界強度測定部10を移動させる。なお、本実施形態では、距離測定部11と電界強度測定部10とは、一体に構成されている。ただし、本発明はこれに限定されず、第1移動部12は、電界強度測定部10を各電圧発生源100の上方の所定位置に移動させてもよい。すなわち、第1移動部12は、電界強度測定部10を各電圧発生源100の直上に移動させなくてもよい。   The first moving unit 12 includes a configuration capable of moving the electric field strength measuring unit 10 directly above each voltage generation source 100. The first moving unit 12 moves the electric field intensity measuring unit 10 directly above each voltage generation source 100 based on the movement signal from the processing unit 13. In the present embodiment, the distance measuring unit 11 and the electric field strength measuring unit 10 are integrally configured. However, the present invention is not limited to this, and the first moving unit 12 may move the electric field strength measuring unit 10 to a predetermined position above each voltage generation source 100. That is, the first moving unit 12 may not move the electric field intensity measuring unit 10 directly above each voltage generation source 100.

第1移動部12は、ガイドレール121及び駆動部122を備える。
ガイドレール121は、電圧発生源100と電界強度測定部10との間の鉛直方向の距離を一定に保ちながら、基板200の長手方向(以下、単に「長手方向」という。)への電界強度測定部10の移動をガイドする。
駆動部122は、処理部13からの移動信号に基づいて、ガイドレール121に沿って電界強度測定部10を長手方向に移動させる。例えば、駆動部122は、電界強度測定部10をガイドレール121に沿って移動させるモータである。
The first moving unit 12 includes a guide rail 121 and a driving unit 122.
The guide rail 121 measures the electric field strength in the longitudinal direction of the substrate 200 (hereinafter simply referred to as “longitudinal direction”) while keeping the distance in the vertical direction between the voltage source 100 and the electric field strength measuring unit 10 constant. Guide the movement of the unit 10.
The drive unit 122 moves the electric field strength measurement unit 10 in the longitudinal direction along the guide rail 121 based on the movement signal from the processing unit 13. For example, the drive unit 122 is a motor that moves the electric field strength measurement unit 10 along the guide rail 121.

処理部13は、第1移動部12に移動信号を出力することで、電界強度測定部10を、各電圧発生源100−1〜100−Nの直上に移動させる。
処理部13は、電界強度測定部10が測定したN個の電界強度から変換係数群を用いて、各電圧発生源100−1〜100−Nの電界強度を、各電圧発生源100−1〜100−Nの表面電位に変換する。
The processing unit 13 outputs the movement signal to the first moving unit 12 to move the electric field strength measuring unit 10 directly above each of the voltage generation sources 100-1 to 100-N.
The processing unit 13 uses the conversion coefficient group from the N field strengths measured by the field strength measurement unit 10 to convert the field strengths of the voltage generation sources 100-1 to 100-N into the voltage generation sources 100-1 to 100-1. The surface potential is converted to 100-N.

ここで、第1の実施形態に係る非接触表面電位測定装置1の電圧発生源100−1〜100−Nの表面電位の計測方法(以下、「本計測」という。)について説明する。なお、説明が煩雑になることを防ぐことを目的として、Nが3の場合について説明する。   Here, a method for measuring the surface potential of the voltage generation sources 100-1 to 100-N of the non-contact surface potential measuring apparatus 1 according to the first embodiment (hereinafter referred to as “main measurement”) will be described. A case where N is 3 will be described for the purpose of preventing the explanation from becoming complicated.

処理部13は、第1移動部12に移動信号を出力することで、電界強度測定部10を電圧発生源100−1の直上に移動させる。電界強度測定部10が電圧発生源100−1の直上に移動すると、当該電界強度測定部10は、電圧発生源100−1の電界強度を測定する。ただし、この測定された電界強度は、電圧発生源100−1の直上の位置において測定される電圧発生源100−1、電圧発生源100−2、及び電圧発生源100−3の電界強度を含んだ値である。   The processing unit 13 outputs the movement signal to the first moving unit 12 to move the electric field strength measuring unit 10 directly above the voltage generation source 100-1. When the electric field strength measuring unit 10 moves right above the voltage source 100-1, the electric field strength measuring unit 10 measures the electric field strength of the voltage source 100-1. However, the measured electric field strength includes the electric field strengths of the voltage generation source 100-1, the voltage generation source 100-2, and the voltage generation source 100-3 measured at a position immediately above the voltage generation source 100-1. It is a value.

次に、処理部13は、第1移動部12に移動信号を出力することで、電界強度測定部10を電圧発生源100−2の直上に移動させる。電界強度測定部10が電圧発生源100−2の直上に移動すると、当該電界強度測定部10は、電圧発生源100−2の電界強度を測定する。ただし、この測定された電界強度は、電圧発生源100−2の直上の位置において測定される電圧発生源100−1、電圧発生源100−2、及び電圧発生源100−3の電界強度を含んだ値である。   Next, the processing unit 13 outputs a movement signal to the first moving unit 12 to move the electric field strength measuring unit 10 directly above the voltage source 100-2. When the electric field strength measuring unit 10 moves right above the voltage source 100-2, the electric field strength measuring unit 10 measures the electric field strength of the voltage source 100-2. However, the measured electric field strength includes the electric field strengths of the voltage generation source 100-1, the voltage generation source 100-2, and the voltage generation source 100-3 measured at a position immediately above the voltage generation source 100-2. It is a value.

最後に、処理部13は、第1移動部12に移動信号を出力することで、電界強度測定部10を電圧発生源100−3の直上に移動させる。電界強度測定部10が電圧発生源100−3の直上に移動すると、当該電界強度測定部10は、電圧発生源100−3の電界強度を測定する。ただし、この測定された電界強度は、電圧発生源100−3の直上の位置において測定される電圧発生源100−1、電圧発生源100−2、及び電圧発生源100−3の電界強度を含んだ値である。   Finally, the processing unit 13 outputs the movement signal to the first moving unit 12 to move the electric field strength measuring unit 10 directly above the voltage generation source 100-3. When the electric field strength measuring unit 10 moves right above the voltage source 100-3, the electric field strength measuring unit 10 measures the electric field strength of the voltage source 100-3. However, the measured electric field strength includes the electric field strengths of the voltage source 100-1, the voltage source 100-2, and the voltage source 100-3 measured at a position immediately above the voltage source 100-3. It is a value.

処理部13は、電界強度測定部10が測定した3つの電界強度を取得する。そして、処理部13は、その3つの電界強度のそれぞれを、変換係数群を用いて表面電位に変換する。これにより、処理部13は、電圧発生源100−1、電圧発生源100−2、及び電圧発生源100−3のそれぞれの表面電位を求めることができる。   The processing unit 13 acquires the three electric field strengths measured by the electric field strength measuring unit 10. Then, the processing unit 13 converts each of the three electric field strengths to a surface potential using a conversion coefficient group. Thereby, the process part 13 can obtain | require each surface potential of the voltage generation source 100-1, the voltage generation source 100-2, and the voltage generation source 100-3.

ここで、第1の実施形態に係る変換係数群について、図面を用いて説明する。この変換係数群は、各電圧発生源100が発生する電界強度を、各電圧発生源100の表面電位に変換する変換係数の集合体である。以下に、変換係数について説明する。   Here, the transform coefficient group according to the first embodiment will be described with reference to the drawings. This conversion coefficient group is a collection of conversion coefficients for converting the electric field intensity generated by each voltage generation source 100 into the surface potential of each voltage generation source 100. Hereinafter, the conversion coefficient will be described.

図2は、単一の電圧発生源100に対する表面電位を測定する様子を示す図である。図2に示す例では、基板200には、単一の電圧発生源100しか載置されていないため、電界強度測定部10は、周囲電界の影響を受けずに電圧発生源100の電界強度を測定することができる。ここで、電圧発生源100の表面電位が表面電位Vである場合に、電界強度測定部10において、電界強度Eが得られたとする。   FIG. 2 is a diagram illustrating a state in which the surface potential with respect to a single voltage generation source 100 is measured. In the example shown in FIG. 2, since only a single voltage generation source 100 is placed on the substrate 200, the electric field strength measurement unit 10 can measure the electric field strength of the voltage generation source 100 without being affected by the surrounding electric field. Can be measured. Here, it is assumed that, when the surface potential of the voltage source 100 is the surface potential V, the electric field strength measurement unit 10 has obtained the electric field strength E.

この場合に、表面電位Vと電界強度Eとは、線形の関係にある。そのため、表面電位Vと電界強度Eとの関係は、変換係数kを用いた、以下に示す式で表すことができる。   In this case, the surface potential V and the electric field strength E are in a linear relationship. Therefore, the relationship between the surface potential V and the electric field strength E can be expressed by the following equation using the conversion coefficient k.

Figure 2018163121
Figure 2018163121

ここで、表面電位Vは、大きさのみを持つ量である、すなわちスカラーである。一方、電界強度Eは、大きさと向きとを持った量である、いわゆるベクトルである。ただし、本実施形態では、電界強度Eを特定方向の成分のスカラーのみに限定して説明する。   Here, the surface potential V is an amount having only a magnitude, that is, a scalar. On the other hand, the electric field strength E is a so-called vector that is a quantity having a magnitude and a direction. However, in the present embodiment, the electric field strength E will be described by limiting only to a scalar having a component in a specific direction.

この変換係数kは、電界強度測定部10と電圧発生源100との間の距離、電界強度測定部10と電圧発生源100との相対位置、電圧発生源100の形状に依存する。したがって、電界強度測定部10と電圧発生源100とのそれぞれの位置及び電圧発生源100の形状が予め既知であれば、変換係数kを求めることができる。そして、変換係数kを予め求めておけば、処理部13は、電界強度測定部10が測定する電界強度Eを表面電位Vに換算することができる。   This conversion coefficient k depends on the distance between the electric field strength measuring unit 10 and the voltage source 100, the relative position between the electric field strength measuring unit 10 and the voltage source 100, and the shape of the voltage source 100. Therefore, if the respective positions of the electric field strength measuring unit 10 and the voltage generation source 100 and the shape of the voltage generation source 100 are known in advance, the conversion coefficient k can be obtained. If the conversion coefficient k is obtained in advance, the processing unit 13 can convert the electric field strength E measured by the electric field strength measuring unit 10 into the surface potential V.

次に、複数の電圧発生源100が基板200に載置されている場合について、説明する。図3は、電圧発生源100−1〜100−3に対する表面電位を測定する様子を示す図である。図3に示す例では、電界強度測定部10は、電圧発生源100−1の表面電位を測定するために、電圧発生源100−1の直上に配置される。   Next, a case where a plurality of voltage generation sources 100 are mounted on the substrate 200 will be described. FIG. 3 is a diagram illustrating a state in which the surface potential with respect to the voltage generation sources 100-1 to 100-3 is measured. In the example illustrated in FIG. 3, the electric field strength measurement unit 10 is disposed immediately above the voltage generation source 100-1 in order to measure the surface potential of the voltage generation source 100-1.

ここで、図3に示すように、電圧発生源100−1は、表面電位がVである場合に、電界強度測定部10の位置に対して、電界強度Eを発生させる。電圧発生源100−2は、表面電位がVである場合に、電界強度測定部10の位置に対して、電界強度Eを発生させる。電圧発生源100−3は、表面電位がVである場合に、電界強度測定部10の位置に対して、電界強度Eを発生させる。このとき、電界強度測定部10で測定される電界強度Eは、表面電位を測定したい電圧発生源100−1からの電界強度Eだけではなく、電界強度E及び電界強度Eの影響を受ける。 Here, as shown in FIG. 3, the voltage generation source 100-1 generates the electric field strength E 1 with respect to the position of the electric field strength measurement unit 10 when the surface potential is V 1 . Voltage source 100-2, if the surface potential is V 2, with respect to the position of the electric field strength measuring unit 10, to generate an electric field intensity E 2. When the surface potential is V 3 , the voltage generation source 100-3 generates the electric field intensity E 3 with respect to the position of the electric field intensity measurement unit 10. At this time, the electric field strength E measured by the electric field strength measuring unit 10 is not limited to the electric field strength E 1 from the voltage source 100-1 for which the surface potential is to be measured, but also the influence of the electric field strength E 2 and the electric field strength E 3 . receive.

この場合において、図4に示すように、電界強度測定部10で測定される電界強度Eは、重ね合わせの原理により以下の式で表すことができる。   In this case, as shown in FIG. 4, the electric field strength E measured by the electric field strength measuring unit 10 can be expressed by the following equation based on the principle of superposition.

Figure 2018163121
Figure 2018163121

この式(2)は、式(1)の関係式を用いると、以下に示す式に変形できる。   This formula (2) can be transformed into the following formula using the relational formula of formula (1).

Figure 2018163121
Figure 2018163121

ここで、変換係数kは、表面電位Vである電圧発生源100−1から発生する電界強度を電圧発生源100−1の直上にある電界強度測定部10が測定する際の変換係数である。変換係数kは、表面電位Vである電圧発生源100−2から発生する電界強度を電圧発生源100−1の直上にある電界強度測定部10が測定する際の変換係数である。変換係数kは、表面電位Vである電圧発生源100−3から発生する電界強度を電圧発生源100−1の直上にある電界強度測定部10が測定する際の変換係数である。 Here, the conversion coefficient k 1 is a conversion coefficient when the electric field intensity measurement unit 10 immediately above the voltage generation source 100-1 measures the electric field intensity generated from the voltage generation source 100-1 having the surface potential V 1. is there. Transform coefficient k 2 is the conversion factor in the electric field strength measuring unit 10 with the electric field intensity generated from the voltage generating source 100-2 is the surface potential V 2 directly above the voltage source 100-1 is measured. Transform coefficient k 3 is the conversion factor in the electric field strength measuring unit 10 with the electric field intensity generated from the voltage generating source 100-3 is the surface potential V 3 immediately above the voltage source 100-1 is measured.

したがって、変換係数k,k2,を予め求めておけば、処理部13は、電界強度測定部10が測定する電界強度Eを、電圧発生源100−1〜100−3のそれぞれの表面電位V,V,Vに換算することができる。この変換係数k,k2,は、上述の変換係数群に相当する。 Therefore, if the conversion coefficients k 1 , k 2, and k 3 are obtained in advance, the processing unit 13 sets the electric field intensity E measured by the electric field intensity measuring unit 10 to each of the voltage generation sources 100-1 to 100-3. It can be converted to surface potentials V 1 , V 2 , V 3 . These conversion coefficients k 1 , k 2, and k 3 correspond to the above-described conversion coefficient group.

そこで、第1の実施形態に係る非接触表面電位測定装置1の特徴の一つは、複数の電圧発生源100−1〜100−Nの表面電位を計測する本計測の前に、予め変換係数群を計測する校正計測を行い、本計測の場合にその校正計測で得られた変換係数群を用いることで、複数の電圧発生源100−1〜100−Nの表面電位を算出することである。   Therefore, one of the features of the non-contact surface potential measuring apparatus 1 according to the first embodiment is that the conversion coefficient is previously measured before the main measurement for measuring the surface potentials of the plurality of voltage generation sources 100-1 to 100-N. It is to calculate the surface potential of the plurality of voltage generation sources 100-1 to 100-N by performing calibration measurement for measuring the group and using the conversion coefficient group obtained by the calibration measurement in the case of the main measurement. .

以下に、第1の実施形態に係る非接触表面電位測定装置1の校正計測について、図面を用いて、具体的に説明する。   Hereinafter, calibration measurement of the non-contact surface potential measuring apparatus 1 according to the first embodiment will be specifically described with reference to the drawings.

図5は、非接触表面電位測定装置1の校正計測を行う様子を示す図である。
図5に示すように、非接触表面電位測定装置1は、校正計測を行う場合には、測定治具2を用いる必要がある。すなわち、測定治具2は、変換係数群を算出するための測定治具である。
FIG. 5 is a diagram showing how the non-contact surface potential measuring apparatus 1 performs calibration measurement.
As shown in FIG. 5, the non-contact surface potential measuring device 1 needs to use a measuring jig 2 when performing calibration measurement. That is, the measurement jig 2 is a measurement jig for calculating a conversion coefficient group.

測定治具は、N個の電極300−1〜300−N(以下、電極300と総称する)、及びN個の電圧発生装置400−1〜400−N(以下、電圧発生装置400と総称する)を備える。   The measurement jig includes N electrodes 300-1 to 300-N (hereinafter collectively referred to as electrodes 300) and N voltage generators 400-1 to 400-N (hereinafter collectively referred to as voltage generators 400). ).

電極300−1〜300−Nは、本計測における測定対象である電圧発生源100−1〜100−Nの位置と同一の位置にそれぞれ配置される。この電極300−1〜300−Nの形状は、電圧発生源100−1〜100−Nのそれぞれと略同一である。   The electrodes 300-1 to 300-N are respectively disposed at the same positions as the positions of the voltage generation sources 100-1 to 100-N that are measurement targets in the main measurement. The shapes of the electrodes 300-1 to 300-N are substantially the same as those of the voltage generation sources 100-1 to 100-N.

電圧発生装置400は、電極300ごとに設けられている。すなわち、N個の電極300−1〜300−Nには、電圧発生装置400−1〜400−Nが接続されている。
電圧発生装置400−1〜400−Nは、処理部13の制御により、N個の電圧ケースj(j=1,…,N)の電圧を各電極300−1〜300−Nに印加可能である。ただし、電圧発生装置400は、必ずしもN個である必要はなく、N個の電圧ケースj(j=1,…,N)の電圧を各電極300−1〜300−Nに印加可能であれば1つでもよい。すなわち、本発明の電圧発生装置400は、個数に限定されない。
The voltage generator 400 is provided for each electrode 300. That is, the voltage generators 400-1 to 400-N are connected to the N electrodes 300-1 to 300-N.
The voltage generators 400-1 to 400-N can apply voltages of N voltage cases j (j = 1,..., N) to the electrodes 300-1 to 300-N under the control of the processing unit 13. is there. However, the number of voltage generators 400 is not necessarily N, and it is possible to apply voltages of N voltage cases j (j = 1,..., N) to the electrodes 300-1 to 300-N. One may be sufficient. That is, the voltage generator 400 of the present invention is not limited to the number.

次に、第1の実施形態に係る処理部13について、図面を用いて説明する。図6は、第1の実施形態に係る処理部13の概略構成の一例を示す図である。
図6に示すように、処理部13は、取得部131、移動制御部132、電圧制御部133、制御部134及び記憶部135を備える。
Next, the processing unit 13 according to the first embodiment will be described with reference to the drawings. FIG. 6 is a diagram illustrating an example of a schematic configuration of the processing unit 13 according to the first embodiment.
As illustrated in FIG. 6, the processing unit 13 includes an acquisition unit 131, a movement control unit 132, a voltage control unit 133, a control unit 134, and a storage unit 135.

取得部131は、電界強度測定部10及び距離測定部11にそれぞれ接続されている。取得部131は、電界強度測定部10が測定した電界強度を取得する。取得部131は、距離測定部11が測定した測定距離hを取得する。取得部131は、取得した電界強度及び測定距離hを制御部134に出力する。   The acquisition unit 131 is connected to the electric field strength measurement unit 10 and the distance measurement unit 11, respectively. The acquisition unit 131 acquires the electric field strength measured by the electric field strength measurement unit 10. The acquisition unit 131 acquires the measurement distance h measured by the distance measurement unit 11. The acquisition unit 131 outputs the acquired electric field strength and measurement distance h to the control unit 134.

移動制御部132は、第1移動部12の駆動を制御する。すなわち、移動制御部132は、ガイドレール121を移動する電界強度測定部10の移動量を制御する。
例えば、移動制御部132は、制御部134からの駆動信号に基づいて、第1移動部12を駆動させることで、電界強度測定部10を所定の位置に移動させる。
なお、この駆動信号は、電界強度測定部10を移動させる位置情報を含む。したがって、第1移動部12は、駆動信号に含まれる位置情報に基づいて、電界強度測定部10を所定の位置に移動させる。例えば、この所定の位置とは、各電極300(又は電圧発生源100)の直上の位置である。
The movement control unit 132 controls driving of the first moving unit 12. That is, the movement control unit 132 controls the amount of movement of the electric field strength measuring unit 10 that moves on the guide rail 121.
For example, the movement control unit 132 drives the first moving unit 12 based on the drive signal from the control unit 134 to move the electric field strength measuring unit 10 to a predetermined position.
The drive signal includes position information for moving the electric field strength measurement unit 10. Accordingly, the first moving unit 12 moves the electric field strength measuring unit 10 to a predetermined position based on the position information included in the drive signal. For example, the predetermined position is a position immediately above each electrode 300 (or voltage generation source 100).

電圧制御部133は、各電圧発生装置400に電気的に接続されている。電圧制御部133は、各電圧発生装置400が電極300に印加する電圧を制御する。例えば、電圧制御部133は、各電圧発生源100の位置と同一の位置に配置された1からi(i=1,…,N)番目の各電極300に、N個の電圧ケースj(j=1,…,N)の電圧を印加させる。なお、電極300に印加する電圧は、電極300の表面電位に相当する。そして、各電極300に印加するN個の電圧ケースj(j=1,…,N)の電圧は、予め記憶部135に設定されており既知である。   The voltage control unit 133 is electrically connected to each voltage generator 400. The voltage control unit 133 controls the voltage that each voltage generator 400 applies to the electrode 300. For example, the voltage controller 133 applies N voltage cases j (j) to the 1 to i (i = 1,..., N) -th electrodes 300 arranged at the same positions as the positions of the voltage generation sources 100. = 1,..., N) is applied. Note that the voltage applied to the electrode 300 corresponds to the surface potential of the electrode 300. The voltages of N voltage cases j (j = 1,..., N) applied to each electrode 300 are set in advance in the storage unit 135 and are known.

制御部134は、駆動制御部136、変換係数算出部137、及び変換部138を備える。   The control unit 134 includes a drive control unit 136, a conversion coefficient calculation unit 137, and a conversion unit 138.

駆動制御部136は、移動制御部132及び電圧制御部133の駆動を制御する。例えば、駆動制御部136は、移動制御部132に第1駆動指令信号を出力する。これにより、移動制御部132は、この第1駆動指令信号に基づいて、第1移動部12を駆動する。駆動制御部136は、電圧制御部133に第2駆動指令信号を出力する。これにより、電圧制御部133は、この第2駆動指令信号に基づいて、各電極300に所定の電圧を発生させる。   The drive control unit 136 controls driving of the movement control unit 132 and the voltage control unit 133. For example, the drive control unit 136 outputs a first drive command signal to the movement control unit 132. Thereby, the movement control part 132 drives the 1st moving part 12 based on this 1st drive command signal. The drive control unit 136 outputs a second drive command signal to the voltage control unit 133. Thus, the voltage control unit 133 generates a predetermined voltage for each electrode 300 based on the second drive command signal.

変換係数算出部137は、校正計測により取得部131が取得した電界強度に基づいて、変換係数群を算出する。そして、変換係数算出部137は、算出した変換係数群を記憶部135に格納する。   The conversion coefficient calculation unit 137 calculates a conversion coefficient group based on the electric field strength acquired by the acquisition unit 131 through calibration measurement. Then, the conversion coefficient calculation unit 137 stores the calculated conversion coefficient group in the storage unit 135.

変換部138は、校正計測後の本計測により取得部131が取得した電界強度を、記憶部135に格納されている変換係数群を用いて、電圧発生源100の表面電位の値に変換する。   The conversion unit 138 converts the electric field intensity acquired by the acquisition unit 131 in the main measurement after the calibration measurement into the value of the surface potential of the voltage generation source 100 using the conversion coefficient group stored in the storage unit 135.

以下に、第1の実施形態に係る変換係数群の算出方法について、図面を用いて説明する。図7は、第1の実施形態に係る変換係数群の算出方法を説明する図である。なお、説明が煩雑になることを防ぐことを目的として、Nが3の場合について説明する。   Below, the calculation method of the conversion coefficient group which concerns on 1st Embodiment is demonstrated using drawing. FIG. 7 is a diagram for explaining a conversion coefficient group calculation method according to the first embodiment. A case where N is 3 will be described for the purpose of preventing the explanation from becoming complicated.

図7に示すように、電圧制御部133は、電極300の数と同数の電圧ケースの電圧を各電極300に印加させる。本実施形態では、一例としてNが3である場合について説明する。したがって、電圧制御部133は、電圧ケース1から電圧ケース3の3つの電圧ケースの電圧を、電極300−1〜電極300−3のそれぞれに印加する。そして、電界強度測定部10は、各電極300−1〜電極300−3の直上において、3つの電圧ケースの電圧により発生した電界強度を測定する。   As shown in FIG. 7, the voltage control unit 133 causes each electrode 300 to be applied with voltages in the same number of voltage cases as the number of electrodes 300. In the present embodiment, a case where N is 3 will be described as an example. Therefore, the voltage control unit 133 applies the voltages of the three voltage cases from the voltage case 1 to the voltage case 3 to each of the electrodes 300-1 to 300-3. And the electric field strength measurement part 10 measures the electric field strength which generate | occur | produced with the voltage of three voltage cases just above each electrode 300-1-electrode 300-3.

ここで、電圧ケースjは、(V1j,V2j,V3j)で表される。電圧V1jは、電極300−1(i=1番目)に印加される電圧を示す。電圧V2jは、電極300−2(i=2番目)に印加される電圧を示す。電圧V3jは、電極300−3(i=3番目)に印加される電圧を示す。そして、Nが3である場合には、jが1から3となる。そのため、電圧ケース1=(V11,V21,V31),電圧ケース2=(V12,V22,V32),電圧ケース3=(V13,V23,V33)となる。 Here, the voltage case j is represented by (V 1j , V 2j , V 3j ). A voltage V 1j indicates a voltage applied to the electrode 300-1 (i = 1). A voltage V 2j indicates a voltage applied to the electrode 300-2 (i = 2). A voltage V 3j indicates a voltage applied to the electrode 300-3 (i = third). When N is 3, j is 1 to 3. Therefore, voltage case 1 = (V 11 , V 21 , V 31 ), voltage case 2 = (V 12 , V 22 , V 32 ), voltage case 3 = (V 13 , V 23 , V 33 ).

電界強度測定部10は、各電圧ケースにおいて、各電極300−1〜電極300−3の直上で電界強度を測定する。ここで、電界強度測定部10が電極300−1の直上で測定する電界強度を電界強度E1jとした場合に、電圧ケース1〜3において電極300−1の直上で測定する電界強度は、以下の式で表される。 The electric field strength measuring unit 10 measures the electric field strength immediately above each of the electrodes 300-1 to 300-3 in each voltage case. Here, when the electric field strength measuring unit 10 has a field strength E 1j electric field strength to be measured immediately above the electrode 300-1, the electric field strength measuring immediately above the electrode 300-1 in voltage cases 1-3, the following It is expressed by the following formula.

Figure 2018163121
Figure 2018163121

なお、電界強度E11は、電極300−1の直上における電圧ケース1の電界強度である。電界強度E12は、電極300−1の直上における電圧ケース2の電界強度である。電界強度E13は、電極300−1の直上における電圧ケース3の電界強度である。 Incidentally, the electric field strength E 11 is an electric field intensity of the voltage case 1 immediately above the electrode 300-1. Field strength E 12 is a field intensity of the voltage Case 2 just above the electrode 300-1. Field strength E 13 is a field intensity of the voltage casing 3 right above the electrode 300-1.

また、変換係数k11は、電極300−1から発生する電界強度を電極300−1の直上に配置される電界強度測定部10が測定する場合の変換係数である。変換係数k12は、電極300−2から発生する電界強度を電極300−1の直上に配置される電界強度測定部10が測定する場合の変換係数である。変換係数k13は、電極300−3から発生する電界強度を電極300−1の直上に配置される電界強度測定部10が測定する場合の変換係数である。 The conversion coefficient k 11 is the conversion coefficient when the electric field intensity measuring unit 10 arranged the electric field intensity generated from the electrode 300-1 immediately above the electrode 300-1 is measured. Transform coefficient k 12 is the conversion coefficient when the electric field intensity measuring unit 10 arranged the electric field intensity generated from the electrode 300-2 immediately above the electrode 300-1 is measured. Transform coefficient k 13 is the conversion coefficient when the electric field intensity measuring unit 10 arranged the electric field intensity generated from the electrode 300-3 immediately above the electrode 300-1 is measured.

このように、変換係数算出部137は、電圧ケース1〜3の各電圧ケースにおいて、電極300−1の直上での電界強度を得ることで、式(4)に示すように、3つの連立方法式を作ることができる。したがって、式(4)と同様に、電圧ケース1〜3の各電圧ケースにおいて、電極300−2の直上と、電極300−2の直上とのそれぞれで電界強度を測定すると、変換係数算出部137は、合計で9つの連立方程式を生成することができる。この9つの連立方程式は、行列の形式で以下の式で表すことができる。   As described above, the conversion coefficient calculation unit 137 obtains the electric field intensity directly above the electrode 300-1 in each of the voltage cases 1 to 3, and thereby provides three simultaneous methods as shown in Expression (4). You can make an expression. Therefore, as in the equation (4), when the electric field strength is measured directly above the electrode 300-2 and immediately above the electrode 300-2 in each of the voltage cases 1 to 3, the conversion coefficient calculation unit 137 is obtained. Can generate a total of nine simultaneous equations. These nine simultaneous equations can be expressed in the form of a matrix by the following equation.

Figure 2018163121
Figure 2018163121

ここで、電界強度Eijは、電圧ケースjである場合において、i番目の電極300の直上に配置される電界強度測定部10が測定する電界強度である。変換係数kijは、j番目の電極300から発生する電界を、i番目の電極300の直上に配置される電界強度測定部10が測定する際の変換係数である。表面電位Vijは、電圧ケースjである場合における、i番目の電極300の表面電位である。 Here, the electric field intensity E ij is an electric field intensity measured by the electric field intensity measuring unit 10 disposed immediately above the i-th electrode 300 in the case of voltage case j. The conversion coefficient k ij is a conversion coefficient when the electric field intensity measurement unit 10 arranged immediately above the i-th electrode 300 measures the electric field generated from the j-th electrode 300. The surface potential V ij is the surface potential of the i-th electrode 300 in the case of voltage case j.

したがって、式(5)は、以下の式に変形することができる。   Therefore, Formula (5) can be transformed into the following formula.

Figure 2018163121
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なお、Ecalは、電界強度Eijの行列であって、電界強度行列という。Vcalは、表面電位Vijの行列であって、表面電位行列という。kcalは、変換係数kijの行列であって、変換行列という。 Note that E cal is a matrix of the electric field intensity E ij and is called an electric field intensity matrix. V cal is a matrix of the surface potential V ij and is referred to as a surface potential matrix. k cal is a matrix of transform coefficients k ij and is referred to as a transform matrix.

ここで、電界強度行列Ecalは、校正計測によって測定される。表面電位行列Vcalは予め記憶部135に格納されており既知である。したがって、変換係数算出部137は、式(6)を用いて、変換行列kcalを算出することができる。この変換行列kcalは、電極300の形状によって一意に決まるため、どんな表面電位の組み合わせであろうと、電極形状が変わらなければ不変である。変換係数算出部137は、算出した変換行列kcalの逆行列k-1 calを変換係数群として記憶部135に格納する。なお、変換係数算出部137は、算出した変換行列kcalを変換係数群として記憶部135に格納してもよい。 Here, the electric field strength matrix E cal is measured by calibration measurement. The surface potential matrix V cal is stored in advance in the storage unit 135 and is known. Therefore, the conversion coefficient calculation unit 137 can calculate the conversion matrix k cal using Equation (6). Since this transformation matrix k cal is uniquely determined by the shape of the electrode 300, it remains unchanged as long as the electrode shape does not change regardless of the combination of surface potentials. The conversion coefficient calculation unit 137 stores the inverse matrix k −1 cal of the calculated conversion matrix k cal in the storage unit 135 as a conversion coefficient group. Note that the conversion coefficient calculation unit 137 may store the calculated conversion matrix k cal in the storage unit 135 as a conversion coefficient group.

そして、逆行列k-1 calが記憶部135に格納された段階で、本計測が可能となる。すなわち、逆行列k-1 calが記憶部135に格納された段階で、隣り合う複数の電圧発生源100からの周囲電界の影響がある中での、一つの電圧発生源100に対する表面電位の測定が可能となる。具体的には、本計測において、電界強度測定部10は、表面電位が未知である各電圧発生源100の直上の電界強度を測定する。変換部138は、電界強度測定部10で測定された各電界強度の行列Emeasを求める。そして、変換部138は、行列Emeasに対して、記憶部135に格納されている逆行列k-1 calで行列計算することで、複数の電圧発生源100の各表面電位を取得することができる。 Then, the main measurement can be performed when the inverse matrix k −1 cal is stored in the storage unit 135. That is, when the inverse matrix k −1 cal is stored in the storage unit 135, measurement of the surface potential with respect to one voltage generation source 100 under the influence of the surrounding electric field from the plurality of adjacent voltage generation sources 100. Is possible. Specifically, in this measurement, the electric field strength measurement unit 10 measures the electric field strength directly above each voltage generation source 100 whose surface potential is unknown. The conversion unit 138 obtains a matrix E meas of each electric field intensity measured by the electric field intensity measurement unit 10. And the conversion part 138 can acquire each surface potential of the several voltage generation source 100 by carrying out a matrix calculation with the inverse matrix k < -1 > cal stored in the memory | storage part 135 with respect to the matrix Emeas . it can.

以下に、校正計測及び、その校正計測によって得られた電界強度行列Ecalから変換係数群を算出する方法(以下、「校正ステップ」という。)の流れについて、図8を用いて説明する。 The flow of calibration measurement and a method of calculating a conversion coefficient group from the electric field intensity matrix E cal obtained by the calibration measurement (hereinafter referred to as “calibration step”) will be described with reference to FIG.

変換係数算出部137は、N行N列の既知の表面電位行列Vcalを決定し、記憶部135に格納する(ステップS101)。なお、このN行N列の既知の表面電位行列Vcalの決定は、ユーザが行ってよい。 The conversion coefficient calculation unit 137 determines a known surface potential matrix V cal of N rows and N columns and stores it in the storage unit 135 (step S101). Note that the user may determine the known surface potential matrix V cal of N rows and N columns.

非接触表面電位測定装置1は、j=1からNまで、ステップS103からステップS106までの処理を繰り返す(ステップS102)。   The non-contact surface potential measuring apparatus 1 repeats the processing from step S103 to step S106 from j = 1 to N (step S102).

具体的には、まず、非接触表面電位測定装置1は、jを1として、i番目の電圧発生装置400に電圧Vi1を発生させる(ステップS103)。
次に、非接触表面電位測定装置1は、i番目の電極300の直上に電界強度測定部10を移動させ(ステップS105)、電界強度測定部10により電界強度Ei1を取得する(ステップS106)、測定工程をi=1からNまで繰り返す(ステップS104)。
Specifically, first, the non-contact surface potential measuring device 1 sets j to 1 and causes the i-th voltage generator 400 to generate the voltage V i1 (step S103).
Next, the non-contact surface potential measuring apparatus 1 moves the electric field strength measuring unit 10 directly above the i-th electrode 300 (step S105), and acquires the electric field strength E i1 by the electric field strength measuring unit 10 (step S106). The measurement process is repeated from i = 1 to N (step S104).

非接触表面電位測定装置1は、jが1である場合に、i=1からNまでの電界強度Ei1の測定を終了すると、jを2として、電界強度Ei2の測定をi=1からNまで繰り返す。
このように、非接触表面電位測定装置1は、i=1からNまで繰り返す電界強度Eijの測定を、jが1からNまで繰り返す。これにより、変換係数算出部137は、電界強度Eijの行列であるN行N列の電界強度行列Eijを取得する。
When the measurement of the electric field intensity E i1 from i = 1 to N is completed when j is 1, the non-contact surface potential measuring apparatus 1 sets j to 2 and starts measuring the electric field intensity E i2 from i = 1. Repeat until N.
Thus, the non-contact surface potential measuring apparatus 1 repeats the measurement of the electric field intensity E ij from i = 1 to N from j to 1 to N. Thus, conversion coefficient calculation section 137 acquires the field strength matrix E ij of N rows and N columns is a matrix of field strength E ij.

変換係数算出部137は、記憶部135に格納されているN行N列の既知の表面電位行列Vcalの逆行列V−1 calを算出する(ステップS109)。 The conversion coefficient calculation unit 137 calculates the inverse matrix V −1 cal of the known surface potential matrix V cal of N rows and N columns stored in the storage unit 135 (step S109).

変換係数算出部137は、式(6)により、電界強度行列Eijに対して逆行列V−1 calを乗算することで、N行N列の変換行列kijを算出する(ステップS110)。そして、変換係数算出部137は、変換行列kcalの逆行列k-1 calを算出し(ステップS111)、その算出した逆行列k-1 calを変換係数群として記憶部135に格納する。 The conversion coefficient calculation unit 137 calculates an N-row N-column conversion matrix k ij by multiplying the electric field strength matrix E ij by the inverse matrix V −1 cal according to Equation (6) (step S110). Then, conversion coefficient calculation section 137 calculates the inverse matrix k -1 cal transformation matrix k cal (step S111), and stored in the storage unit 135 an inverse matrix k -1 cal that the calculated as a conversion factor group.

以下に、第1の実施形態に係る本計測の計測方法と、その本計測により測定された電界強度から電圧発生源100の表面電位を計算する計算方法との流れについて、図9を用いて説明する。なお、本計測の計測方法と上記計算方法とを総称して「本計測・計算ステップ」という。   Hereinafter, the flow of the measurement method of the main measurement according to the first embodiment and the calculation method of calculating the surface potential of the voltage source 100 from the electric field intensity measured by the main measurement will be described with reference to FIG. To do. The measurement method of the main measurement and the calculation method are collectively referred to as “main measurement / calculation step”.

非接触表面電位測定装置1は、i=1からNまで、ステップS202及びステップS203の処理を繰り返す(ステップS201)。   The non-contact surface potential measuring device 1 repeats the processes of step S202 and step S203 from i = 1 to N (step S201).

具体的には、非接触表面電位測定装置1は、i番目の電圧発生源100の直上に電界強度測定部10を移動させ(ステップS202)、電界強度測定部10により電界強度Eを取得する(ステップS203)、測定工程をi=1からNまで繰り返す。これにより、変換部138は、電界強度測定部10により得られたi番目の電圧発生源100の電界強度Eを各要素としてN行1列の行列Emeasを取得する。そして、非接触表面電位測定装置1は、この行列Emeasに対して、校正ステップで求めた変換係数群である逆行列k-1 calを乗算することで、i番目の電圧発生源100に発生する表面電位Vを各要素としたN行1列の行列Vmeasを算出する(ステップS205)。 Specifically, the non-contact surface potential measuring apparatus 1 moves the electric field strength measuring unit 10 immediately above the i-th voltage generation source 100 (step S202), and acquires the electric field strength E i by the electric field strength measuring unit 10. (Step S203), the measurement process is repeated from i = 1 to N. Thereby, the conversion unit 138 obtains a matrix E meas of N rows and 1 column using the electric field strength E i of the i-th voltage generation source 100 obtained by the electric field strength measurement unit 10 as each element. Then, the non-contact surface potential measuring device 1 multiplies the matrix E meas by the inverse matrix k −1 cal which is the conversion coefficient group obtained in the calibration step, thereby generating the i th voltage generation source 100. the surface potential V i for calculating the matrix V meas of N rows and one column was each element (step S205).

このように、非接触表面電位測定装置1は、周囲の電界の影響によって正確な値が得られなかった測定対象の表面電位を、校正ステップで求めた変換行列と本計測で測定した電界強度との計算によって換算することにより、周囲電界の影響を補正して測定対象の正確な表面電位を得ることが可能となる。   As described above, the non-contact surface potential measuring apparatus 1 calculates the surface potential of the measurement object whose accurate value cannot be obtained due to the influence of the surrounding electric field, the transformation matrix obtained in the calibration step, and the electric field intensity measured in this measurement. By converting by this calculation, it is possible to correct the influence of the surrounding electric field and obtain an accurate surface potential of the measurement object.

上述したように、第1の実施形態に係る非接触表面電位測定装置1は、N個の電圧発生源100の電界強度を測定する電界強度測定部10と、各電圧発生源100が発生する電界強度を、各電圧発生源100の表面電位に変換する変換係数群を記憶する記憶部135と、その変換係数群を用いて、電界強度測定部10で測定された測定対象の電界強度を、表面電位に変換する変換部138と、を備える。これにより、非接触表面電位測定装置1は、測定対象物の周囲に別の電圧発生源が配置されている場合でも、測定対象物の表面電位を正確に測定することができる。   As described above, the non-contact surface potential measuring apparatus 1 according to the first embodiment includes the electric field intensity measurement unit 10 that measures the electric field intensity of the N voltage generation sources 100 and the electric field generated by each voltage generation source 100. A storage unit 135 that stores a conversion coefficient group that converts the intensity into a surface potential of each voltage source 100, and the electric field intensity of the measurement target measured by the electric field intensity measurement unit 10 using the conversion coefficient group A conversion unit 138 for converting the potential into a potential. Thereby, the non-contact surface potential measuring apparatus 1 can accurately measure the surface potential of the measurement object even when another voltage generation source is arranged around the measurement object.

また、第1の実施形態に係る非接触表面電位測定装置1は、電界強度測定部10を各電圧発生源100の直上に移動可能な第1移動部12をさらに備える。そして、電界強度測定部10は、第1移動部12により表面電位を測定する電圧発生源100の直上に移動させられた後に、当該電圧発生源100の電界強度を測定する。   The non-contact surface potential measuring apparatus 1 according to the first embodiment further includes a first moving unit 12 that can move the electric field intensity measuring unit 10 directly above each voltage source 100. The electric field strength measuring unit 10 measures the electric field strength of the voltage source 100 after being moved directly above the voltage source 100 that measures the surface potential by the first moving unit 12.

ここで、この第1移動部12は、電圧発生源100と電界強度測定部10との間の鉛直方向の距離を一定に保ちながら電界強度測定部10の水平方向の移動をガイドするガイドレール121と、ガイドレール121に沿って電界強度測定部10を水平方向に移動させる駆動部122と、を備える。これにより、ユーザが電界強度測定部10を移動させる手間を省くことができる。   Here, the first moving unit 12 guides the horizontal movement of the electric field strength measuring unit 10 while keeping the vertical distance between the voltage source 100 and the electric field strength measuring unit 10 constant. And a drive unit 122 that moves the electric field intensity measurement unit 10 in the horizontal direction along the guide rail 121. As a result, it is possible to save the user from moving the electric field strength measuring unit 10.

また、電界強度測定部10は、ガイドレール121に沿って移動するため、電圧発生源100との鉛直方向の距離が一定である。したがって、距離測定部11の測定が不要となる。   Further, since the electric field strength measuring unit 10 moves along the guide rail 121, the distance in the vertical direction from the voltage source 100 is constant. Accordingly, the measurement by the distance measuring unit 11 is not necessary.

(第2の実施形態)
図10は、第2の実施形態に係る非接触表面電位測定装置1Aの概略構成の一例を示す図である。第2の実施形態に係る非接触表面電位測定装置1Aは、第1の実施形態と比較して、電圧発生源100と電界強度測定部10との間の鉛直方向の距離である測定距離hに応じた変換関数群を用いる点が異なる。
以下、第2の実施形態に係る非接触表面電位測定装置1Aについて、説明する。
(Second Embodiment)
FIG. 10 is a diagram illustrating an example of a schematic configuration of a non-contact surface potential measuring apparatus 1A according to the second embodiment. Compared with the first embodiment, the non-contact surface potential measurement apparatus 1A according to the second embodiment has a measurement distance h that is a distance in the vertical direction between the voltage source 100 and the electric field strength measurement unit 10. The difference is that the corresponding conversion function group is used.
Hereinafter, a non-contact surface potential measuring apparatus 1A according to the second embodiment will be described.

図10に示すように、非接触表面電位測定装置1Aは、電界強度測定部10、距離測定部11、第1移動部12、第2移動部14及び処理部13Aを備える。   As shown in FIG. 10, the non-contact surface potential measuring apparatus 1A includes an electric field strength measuring unit 10, a distance measuring unit 11, a first moving unit 12, a second moving unit 14, and a processing unit 13A.

第2移動部14は、第1移動部12を鉛直方向に昇降させることで、一体に構成された電界強度測定部10及び距離測定部11と、電圧発生源100との間の鉛直方向の測定距離hを変更する。   The second moving unit 14 raises and lowers the first moving unit 12 in the vertical direction, thereby measuring the electric field strength measuring unit 10 and the distance measuring unit 11 configured integrally with the voltage generating source 100 in the vertical direction. Change the distance h.

処理部13Aは、処理部13の機能を備える。また、処理部13Aは、第2移動部14に移動信号を出力することで、第2移動部14で変更可能な測定距離hを制御する。   The processing unit 13 </ b> A has the function of the processing unit 13. Further, the processing unit 13 </ b> A controls the measurement distance h that can be changed by the second moving unit 14 by outputting a movement signal to the second moving unit 14.

また、処理部13Aは、校正ステップにおいて測定距離hをパラメータとした変換係数群を算出する。そして、処理部13Aは、本計測・計算ステップにおいて、距離測定部11が測定した測定距離hに応じた変換係数群を用いて、電界強度測定部10で測定された各電圧発生源100の電界強度を、表面電位に変換する。   Further, the processing unit 13A calculates a conversion coefficient group using the measurement distance h as a parameter in the calibration step. Then, in the main measurement / calculation step, the processing unit 13A uses the conversion coefficient group corresponding to the measurement distance h measured by the distance measurement unit 11 to measure the electric field of each voltage source 100 measured by the electric field strength measurement unit 10. Intensity is converted to surface potential.

以下に、第2の実施形態に係る非接触表面電位測定装置1Aの校正計測について、図面を用いて、具体的に説明する。
図11は、非接触表面電位測定装置1Aの校正計測を行う様子を示す図である。
図11に示すように、非接触表面電位測定装置1Aは、校正計測を行う場合に、測定治具2を用いる必要がある。すなわち、測定治具2は、第2の実施形態に係る変換係数群を算出するための測定治具でもある。
Hereinafter, calibration measurement of the non-contact surface potential measuring apparatus 1A according to the second embodiment will be specifically described with reference to the drawings.
FIG. 11 is a diagram illustrating how calibration measurement is performed by the non-contact surface potential measuring apparatus 1A.
As shown in FIG. 11, the non-contact surface potential measuring apparatus 1A needs to use a measuring jig 2 when performing calibration measurement. That is, the measurement jig 2 is also a measurement jig for calculating the conversion coefficient group according to the second embodiment.

以下に、第2の実施形態に係る処理部13Aの概略構成について、図面を用いて説明する。図12は、第2の実施形態に係る処理部13Aの概略構成の一例を示す図である。
図12に示すように、処理部13Aは、取得部131、移動制御部132A、電圧制御部133、制御部134A及び記憶部135Aを備える。
The schematic configuration of the processing unit 13A according to the second embodiment will be described below with reference to the drawings. FIG. 12 is a diagram illustrating an example of a schematic configuration of a processing unit 13A according to the second embodiment.
As illustrated in FIG. 12, the processing unit 13A includes an acquisition unit 131, a movement control unit 132A, a voltage control unit 133, a control unit 134A, and a storage unit 135A.

移動制御部132Aは、第1移動部12の駆動を制御する。すなわち、移動制御部132Aは、ガイドレール121を移動する電界強度測定部10の移動量を制御する。また、移動制御部132Aは、第2移動部14の駆動を制御する。すなわち、移動制御部132Aは、電界強度測定部10における鉛直方向の移動量を制御する。   The movement control unit 132 </ b> A controls driving of the first moving unit 12. That is, the movement control unit 132 </ b> A controls the amount of movement of the electric field strength measuring unit 10 that moves on the guide rail 121. Further, the movement control unit 132 </ b> A controls driving of the second moving unit 14. That is, the movement control unit 132A controls the amount of movement in the vertical direction in the electric field strength measurement unit 10.

制御部134Aは、駆動制御部136A、変換係数算出部137A、及び変換部138Aを備える。   The control unit 134A includes a drive control unit 136A, a conversion coefficient calculation unit 137A, and a conversion unit 138A.

駆動制御部136Aは、移動制御部132A及び電圧制御部133の駆動を制御する。例えば、駆動制御部136Aは、移動制御部132Aに第1駆動指令信号を出力する。これにより、移動制御部132Aは、この第1駆動指令信号に基づいて、第1移動部12を駆動する。駆動制御部136Aは、移動制御部132Aに第3駆動指令信号を出力する。これにより、移動制御部132Aは、この第3駆動指令信号に基づいて、第2移動部14を駆動する。駆動制御部136Aは、電圧制御部133に第2駆動指令信号を出力する。これにより、電圧制御部133は、この第2駆動指令信号に基づいて、各電極300に所定の電圧を発生させる。   The drive control unit 136A controls driving of the movement control unit 132A and the voltage control unit 133. For example, the drive control unit 136A outputs a first drive command signal to the movement control unit 132A. Thereby, the movement control unit 132A drives the first moving unit 12 based on the first drive command signal. The drive control unit 136A outputs a third drive command signal to the movement control unit 132A. Thereby, the movement control unit 132A drives the second moving unit 14 based on the third drive command signal. The drive control unit 136A outputs a second drive command signal to the voltage control unit 133. Thus, the voltage control unit 133 generates a predetermined voltage for each electrode 300 based on the second drive command signal.

変換係数算出部137Aは、校正計測により取得部131が取得した電界強度及び測定距離hに基づいて、変換係数群を算出する。そして、変換係数算出部137Aは、算出した変換係数群を記憶部135に格納する。この変換係数群は、測定距離hをパラメータとした変換係数の集合体である。   The conversion coefficient calculation unit 137A calculates a conversion coefficient group based on the electric field strength and the measurement distance h acquired by the acquisition unit 131 through calibration measurement. Then, the conversion coefficient calculation unit 137A stores the calculated conversion coefficient group in the storage unit 135. This conversion coefficient group is a collection of conversion coefficients using the measurement distance h as a parameter.

ここで、第2の実施形態に係る変換係数群について、説明する。
第1の実施形態に係る変換行列kcalの各要素kijは、測定距離hに依存する。そのため、変換行列kcalの各要素は、測定距離hをパラメータとした関数kij(h)と表すことができる。すなわち、変換行列kcal及びその逆行列k−1 calは、それぞれ測定距離hをパラメータとした関数kcal(h)及び関数k−1 cal(h)と表される。第1の実施形態では、校正計測及び本計測のそれぞれの計測において、測定距離hは変化せず、且つ校正計測及び本計測の距離hは互いに同一である。そのため、第1の実施形態では、測定距離hを考慮する必要がない。一方、第2の実施形態では、本計測において、測定距離hが変化することを考慮し、校正ステップにおいて、測定距離hをパラメータとした変換係数群を求めることとしている。
Here, the transform coefficient group according to the second embodiment will be described.
Each element k ij of the transformation matrix k cal according to the first embodiment depends on the measurement distance h. Therefore, each element of the transformation matrix k cal can be expressed as a function k ij (h) with the measurement distance h as a parameter. That is, the transformation matrix k cal and its inverse matrix k −1 cal are expressed as a function k cal (h) and a function k −1 cal (h), respectively, with the measurement distance h as a parameter. In the first embodiment, the measurement distance h does not change in the calibration measurement and the main measurement, and the distance h in the calibration measurement and the main measurement is the same. Therefore, in the first embodiment, it is not necessary to consider the measurement distance h. On the other hand, in the second embodiment, in consideration of the change in the measurement distance h in the main measurement, a conversion coefficient group using the measurement distance h as a parameter is obtained in the calibration step.

変換部138Aは、校正計測後の本計測により測定された電界強度及び測定距離hを取得する。変換部138Aは、その取得した測定距離hに応じた変換係数群を記憶部135から読み出し、読み出した変換係数群を用いて、本計測により測定された電界強度を、表面電位に変換する。   The conversion unit 138A acquires the electric field strength and the measurement distance h measured by the main measurement after the calibration measurement. The conversion unit 138A reads a conversion coefficient group corresponding to the acquired measurement distance h from the storage unit 135, and converts the electric field strength measured by the main measurement into a surface potential using the read conversion coefficient group.

以下に、第2の実施形態に係る非接触表面電位測定装置1Aの校正ステップの流れについて、図13を用いて、説明する。   Hereinafter, the flow of the calibration step of the non-contact surface potential measuring apparatus 1A according to the second embodiment will be described with reference to FIG.

変換係数算出部137Aは、N行N列の既知の表面電位行列Vcalを決定し、記憶部135に格納する(ステップS301)。なお、このN行N列の既知の表面電位行列Vcalの決定は、ユーザが行ってよい。 The conversion coefficient calculation unit 137A determines a known surface potential matrix V cal of N rows and N columns and stores it in the storage unit 135 (step S301). Note that the user may determine the known surface potential matrix V cal of N rows and N columns.

非接触表面電位測定装置1は、n=1から3まで、ステップS303からステップS308までの処理を繰り返す(ステップS302)。
具体的には、nを1として、移動制御部132Aは、測定距離hが測定距離hになるように電界強度測定部10を移動させる(ステップ303)。非接触表面電位測定装置1は、jを1として、i番目の電圧発生装置400に電圧Vi1を発生させる(ステップS305)。次に、非接触表面電位測定装置1は、i番目の電極300の直上に電界強度測定部10を移動させ(ステップS307)、電界強度測定部10により電界強度Ei1(h)を取得する(ステップS308)、測定工程をi=1からNまで繰り返す。
The non-contact surface potential measuring device 1 repeats the processing from step S303 to step S308 from n = 1 to 3 (step S302).
Specifically, assuming that n is 1, the movement control unit 132A moves the electric field intensity measurement unit 10 so that the measurement distance h becomes the measurement distance h n (step 303). The non-contact surface potential measuring device 1 sets j to 1 and causes the i-th voltage generator 400 to generate the voltage V i1 (step S305). Next, the non-contact surface potential measuring apparatus 1 moves the electric field strength measuring unit 10 directly above the i-th electrode 300 (step S307), and acquires the electric field strength E i1 (h n ) by the electric field strength measuring unit 10. (Step S308), the measurement process is repeated from i = 1 to N.

上述したように、非接触表面電位測定装置1は、nを1として、i=1からNまで繰り返す電界強度Eijの測定を、jが1からNまで繰り返す。そして、非接触表面電位測定装置1は、nを2として、i=1からNまで繰り返す電界強度Eijの測定を、jが1からNまで繰り返す。このように、非接触表面電位測定装置1は、i=1からN、且つjが1からNまでの電界強度Eij(h)の測定を、nが1から3まで繰り返す。
なお、本実施形態の非接触表面電位測定装置1は、nが1から3まで繰り返すが、本発明はこれに限定されない。
As described above, the non-contact surface potential measuring apparatus 1 repeats the measurement of the electric field intensity E ij from i = 1 to N, where n is 1, from j = 1 to N. Then, the non-contact surface potential measuring apparatus 1 repeats the measurement of the electric field intensity E ij from i = 1 to N, where n is 2, from j = 1 to N. As described above, the non-contact surface potential measuring apparatus 1 repeats the measurement of the electric field intensity E ij (h n ) from i = 1 to N and j from 1 to N from n to 1 to 3.
In addition, although the non-contact surface potential measuring apparatus 1 of this embodiment repeats n from 1 to 3, this invention is not limited to this.

変換係数算出部137Aは、測定距離がh,h,hに調整された場合の3つの場合において、電界強度Eij(h)の行列であるN行N列の電界強度行列E(h)を取得する。 In three cases where the measurement distances are adjusted to h 1 , h 2 , and h 3 , the conversion coefficient calculation unit 137A has an N-row N-column electric field strength matrix E that is a matrix of the electric field strength E ij (h n ). (H) is acquired.

変換係数算出部137Aは、記憶部135に格納されているN行N列の既知の表面電位行列Vcalの逆行列V−1 calを算出する(ステップS312)。 The conversion coefficient calculation unit 137A calculates an inverse matrix V −1 cal of the known surface potential matrix V cal of N rows and N columns stored in the storage unit 135 (step S312).

変換係数算出部137Aは、式(6)により、電界強度行列Eij(h)に対して逆行列V−1 calを乗算することで、N行N列の変換係数kij(h)を算出する(ステップS313)。すなわち、変換係数算出部137Aは、電界強度行列Eij(h)に対して逆行列V−1 calを乗算することで、各要素kij(h)の変換行列kcal(h)を算出する。 The conversion coefficient calculation unit 137A multiplies the electric field intensity matrix E ij (h n ) by the inverse matrix V −1 cal according to Equation (6), thereby converting the N-row N-column conversion coefficient k ij (h n ). Is calculated (step S313). That is, conversion coefficient calculation unit 137A, by multiplying the inverse matrix V -1 cal to the electric field strength matrix E ij (h n), the transformation matrix k cal for each element k ij (h n) (h n) Is calculated.

このように、測定距離hを距離h,h,hと変化させて校正のステップを行うことでkcal(h),kcal(h),kcal(h)と3つの変換行列が得られる。
変換係数算出部137Aは、得られた3つの変換行列から各要素kij(h)を、以下に示す近似式で近似する。
In this way, by performing the calibration step by changing the measurement distance h to the distances h 1 , h 2 , h 3 , k cal (h 1 ), k cal (h 2 ), k cal (h 3 ) and 3 Two transformation matrices are obtained.
The conversion coefficient calculation unit 137A approximates each element k ij (h n ) from the obtained three conversion matrices using the following approximate expression.

Figure 2018163121
Figure 2018163121

変換係数算出部137Aは、得られた3つの変換行列から各要素kij(h)を式(7)の近似式で近似することで各係数aij,bij,cijを算出する(ステップS314)。そして、変換係数算出部137Aは、算出した各係数aij,bij,cijを記憶部135Aに格納する。 The conversion coefficient calculation unit 137A calculates each coefficient a ij , b ij , and c ij by approximating each element k ij (h n ) from the obtained three conversion matrices with the approximate expression of Expression (7) ( Step S314). Then, the conversion coefficient calculation unit 137A stores the calculated coefficients a ij , b ij , and c ij in the storage unit 135A.

以下に、第2の実施形態に係る本計測・計算ステップの流れについて、図14を用いて説明する。   The flow of the main measurement / calculation step according to the second embodiment will be described below with reference to FIG.

非接触表面電位測定装置1Aは、i=1からNまで、ステップS402からステップS404の処理を繰り返す(ステップS401)。   The non-contact surface potential measuring apparatus 1A repeats the processing from step S402 to step S404 from i = 1 to N (step S401).

具体的には、非接触表面電位測定装置1Aは、i番目の電圧発生源100の直上に電界強度測定部10を移動させ(ステップS402)、電界強度測定部10が測定した電界強度Eと(ステップS403)、距離測定部11が測定した測定距離hと(ステップS404)、を取得する、測定工程をi=1からNまで繰り返す。これにより、変換部138Aは、電界強度測定部10により得られたi番目の電圧発生源100の電界強度Eを各要素としてN行1列の行列Emeasを取得する。 Specifically, the non-contact surface potential measuring apparatus 1A moves the electric field intensity measuring unit 10 immediately above the i-th voltage generation source 100 (step S402), and the electric field intensity E i measured by the electric field intensity measuring unit 10 (Step S403) The measurement process of acquiring the measurement distance h and (Step S404) measured by the distance measurement unit 11 is repeated from i = 1 to N. Thereby, the conversion unit 138A obtains a matrix E meas of N rows and 1 column using the electric field strength E i of the i-th voltage generation source 100 obtained by the electric field strength measurement unit 10 as each element.

変換部138Aは、ステップS404で取得した測定距離hと、記憶部135に格納されている係数aij,bij,cijとに基づいて、本計測・計算ステップで用いる変換行列kcal(h)を決定する(ステップS406)。そして、変換部138Aは、決定した変換行列kcal(h)の逆行列k−1 cal(h)を算出する(ステップS407)。 Based on the measurement distance h acquired in step S404 and the coefficients a ij , b ij , and c ij stored in the storage unit 135, the conversion unit 138A converts the conversion matrix k cal (h ) Is determined (step S406). Then, the conversion unit 138A calculates an inverse matrix k −1 cal (h) of the determined conversion matrix k cal (h) (step S407).

変換部138Aは、行列Emeasに対して、変換係数群として逆行列k-1 cal(h)を乗算することで、i番目の電圧発生源100に発生する表面電位Vを各要素としたN行1列の行列Vmeasを算出する(ステップS408)。 The conversion unit 138A multiplies the matrix E meas by the inverse matrix k −1 cal (h) as a conversion coefficient group, thereby using the surface potential V i generated in the i-th voltage generation source 100 as each element. A matrix V meas of N rows and 1 column is calculated (step S408).

上述したように、第2の実施形態に係る非接触表面電位測定装置1Aは、N個の電圧発生源100の電界強度を測定する電界強度測定部10と、各電圧発生源100が発生する電界強度を、各電圧発生源100の表面電位に変換する変換係数群を記憶する記憶部135Aと、その変換係数群を用いて、電界強度測定部10で測定された測定対象の電界強度を、表面電位に変換する変換部138Aと、を備える。
これにより、非接触表面電位測定装置1Aは、測定対象物の周囲に別の電圧発生源が配置されている場合でも、測定対象物の表面電位を正確に測定することができる。
As described above, the non-contact surface potential measuring apparatus 1A according to the second embodiment includes the electric field intensity measuring unit 10 that measures the electric field intensity of the N voltage generation sources 100 and the electric field generated by each voltage generation source 100. A storage unit 135A for storing a conversion coefficient group for converting the intensity into a surface potential of each voltage source 100, and using the conversion coefficient group, the electric field intensity of the measurement target measured by the electric field intensity measurement unit 10 A conversion unit 138A for converting the potential into a potential.
Thereby, 1 A of non-contact surface potential measuring apparatuses can measure the surface potential of a measuring object correctly even when another voltage generation source is arrange | positioned around the measuring object.

また、第2の実施形態に係る変換係数群は、測定距離hをパラメータとした変換行列として設定される。これにより、変換部138Aは、測定対象物の周囲に別の電圧発生源が配置されている場合でも、所望の測定距離hにおいて測定対象物の表面電位を正確に測定することができる。   Further, the conversion coefficient group according to the second embodiment is set as a conversion matrix using the measurement distance h as a parameter. Thereby, the conversion unit 138A can accurately measure the surface potential of the measurement object at a desired measurement distance h even when another voltage generation source is arranged around the measurement object.

図15は、処理部13,13Aをコンピュータ等の電子情報処理装置で構成した場合のハードウェア構成の一例を示す。処理部13,13Aは、CPU(Central Processing Unit)周辺部と、入出力部と、レガシー入出力部とを備える。CPU周辺部は、ホスト・コントローラ801により相互に接続されるCPU802、RAM(Random Access Memory)803、グラフィック・コントローラ804、及び表示装置805を有する。入出力部は、入出力コントローラ806によりホスト・コントローラ801に接続される通信インターフェース807、ハードディスクドライブ808、及びCD−ROM(Compact Disk Read Only Memory)ドライブ809を有する。レガシー入出力部は、入出力コントローラ806に接続されるROM(Read Only Memory)810、フレキシブルディスク・ドライブ811、及び入出力チップ812を有する。   FIG. 15 shows an example of a hardware configuration when the processing units 13 and 13A are configured by an electronic information processing apparatus such as a computer. The processing units 13 and 13A include a CPU (Central Processing Unit) peripheral unit, an input / output unit, and a legacy input / output unit. The CPU peripheral section includes a CPU 802, a RAM (Random Access Memory) 803, a graphic controller 804, and a display device 805 that are connected to each other by a host controller 801. The input / output unit includes a communication interface 807, a hard disk drive 808, and a CD-ROM (Compact Disk Read Only Memory) drive 809 connected to the host controller 801 by the input / output controller 806. The legacy input / output unit includes a ROM (Read Only Memory) 810, a flexible disk drive 811, and an input / output chip 812 connected to the input / output controller 806.

ホスト・コントローラ801は、RAM803と、高い転送レートでRAM803をアクセスするCPU802、及びグラフィック・コントローラ804とを接続する。CPU802は、ROM810、及びRAM803に格納されたプログラムに基づいて動作して、各部の制御をする。グラフィック・コントローラ804は、CPU802等がRAM803内に設けたフレーム・バッファ上に生成する画像データを取得して、表示装置805上に表示させる。これに代えて、グラフィック・コントローラ804は、CPU802等が生成する画像データを格納するフレーム・バッファを、内部に含んでもよい。   The host controller 801 connects the RAM 803, the CPU 802 that accesses the RAM 803 at a high transfer rate, and the graphic controller 804. The CPU 802 operates based on programs stored in the ROM 810 and the RAM 803 to control each unit. The graphic controller 804 acquires image data generated by the CPU 802 or the like on a frame buffer provided in the RAM 803 and displays the image data on the display device 805. Alternatively, the graphic controller 804 may include a frame buffer for storing image data generated by the CPU 802 or the like.

入出力コントローラ806は、ホスト・コントローラ801と、比較的高速な入出力装置であるハードディスクドライブ808、通信インターフェース807、CD−ROMドライブ809を接続する。ハードディスクドライブ808は、CPU802が使用するプログラム、及びデータを格納する。通信インターフェース807は、ネットワーク通信装置891に接続してプログラム又はデータを送受信する。CD−ROMドライブ809は、CD−ROM892からプログラム又はデータを読み取り、RAM803を介してハードディスクドライブ808、及び通信インターフェース807に提供する。   The input / output controller 806 connects the host controller 801 to the hard disk drive 808, the communication interface 807, and the CD-ROM drive 809, which are relatively high-speed input / output devices. The hard disk drive 808 stores programs and data used by the CPU 802. The communication interface 807 is connected to the network communication device 891 to transmit / receive programs or data. The CD-ROM drive 809 reads a program or data from the CD-ROM 892 and provides it to the hard disk drive 808 and the communication interface 807 via the RAM 803.

入出力コントローラ806には、ROM810と、フレキシブルディスク・ドライブ811、及び入出力チップ812の比較的低速な入出力装置とが接続される。ROM810は、処理部13,13Aが起動時に実行するブート・プログラム、あるいは処理部13,13Aのハードウェアに依存するプログラム等を格納する。フレキシブルディスク・ドライブ811は、フレキシブルディスク893からプログラム又はデータを読み取り、RAM803を介してハードディスクドライブ808、及び通信インターフェース807に提供する。入出力チップ812は、フレキシブルディスク・ドライブ811、あるいはパラレル・ポート、シリアル・ポート、キーボード・ポート、マウス・ポート等を介して各種の入出力装置を接続する。   The input / output controller 806 is connected to the ROM 810, the flexible disk drive 811, and the relatively low-speed input / output device of the input / output chip 812. The ROM 810 stores a boot program executed by the processing units 13 and 13A at startup, a program depending on the hardware of the processing units 13 and 13A, and the like. The flexible disk drive 811 reads a program or data from the flexible disk 893 and provides it to the hard disk drive 808 and the communication interface 807 via the RAM 803. The input / output chip 812 connects various input / output devices via the flexible disk drive 811 or a parallel port, serial port, keyboard port, mouse port, and the like.

CPU802が実行するプログラムは、フレキシブルディスク893、CD−ROM892、又はIC(Integrated Circuit)カード等の記録媒体に格納されて利用者によって提供される。記録媒体に格納されたプログラムは圧縮されていても非圧縮であってもよい。プログラムは、記録媒体からハードディスクドライブ808にインストールされ、RAM803に読み出されてCPU802により実行される。CPU802により実行されるプログラムは、処理部13を、図1から図9に関連して説明した取得部131、移動制御部132、電圧制御部133、制御部134及び記憶部135として機能させ、処理部Aを、図1から図14に関連して説明した取得部131、移動制御部132A、電圧制御部133、制御部134A及び記憶部135Aとして機能させる。   A program executed by the CPU 802 is stored in a recording medium such as a flexible disk 893, a CD-ROM 892, or an IC (Integrated Circuit) card and provided by a user. The program stored in the recording medium may be compressed or uncompressed. The program is installed in the hard disk drive 808 from the recording medium, read into the RAM 803, and executed by the CPU 802. The program executed by the CPU 802 causes the processing unit 13 to function as the acquisition unit 131, the movement control unit 132, the voltage control unit 133, the control unit 134, and the storage unit 135 described with reference to FIGS. The unit A is caused to function as the acquisition unit 131, the movement control unit 132A, the voltage control unit 133, the control unit 134A, and the storage unit 135A described with reference to FIGS.

以上に示したプログラムは、外部の記憶媒体に格納されてもよい。記憶媒体としては、フレキシブルディスク893、CD−ROM892の他に、DVD(Digital Versatile Disk)又はPD(Phase Disk)等の光学記録媒体、MD(MiniDisk)等の光磁気記録媒体、テープ媒体、ICカード等の半導体メモリ等を用いることができる。また、専用通信ネットワークあるいはインターネットに接続されたサーバシステムに設けたハードディスク又はRAM等の記憶媒体を記録媒体として使用して、ネットワークを介したプログラムとして提供してもよい。   The program shown above may be stored in an external storage medium. As a storage medium, in addition to a flexible disk 893 and a CD-ROM 892, an optical recording medium such as a DVD (Digital Versatile Disk) or a PD (Phase Disk), a magneto-optical recording medium such as an MD (MiniDisk), a tape medium, and an IC card A semiconductor memory or the like can be used. Further, a storage medium such as a hard disk or a RAM provided in a server system connected to a dedicated communication network or the Internet may be used as a recording medium and provided as a program via the network.

以上、この発明の実施形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計等も含まれる。本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、例えば以下のような変形例が考えられる。   The embodiment of the present invention has been described in detail with reference to the drawings. However, the specific configuration is not limited to this embodiment, and includes designs and the like that do not depart from the gist of the present invention. The present invention is not limited to the above-described embodiment, and for example, the following modifications can be considered.

(1)上述の実施形態において、電界強度測定部10が電圧発生源100を測定する場合に、その電源発生源100の直上に移動して測定する場合について、説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、3個(N=3)の電圧発生源100の表面電位測定の場合は、3つの異なる測定位置で測定すれば、電圧発生源100の直上でなくてもよい。例えば、3個(N=3)の電圧発生源100の表面電位測定の場合は、電圧発生源100の上方であって、且つ3つの異なる位置で測定すれば、電圧発生源100の直上でなくてもよい。 (1) In the above-described embodiment, when the electric field intensity measurement unit 10 measures the voltage generation source 100, the case where the measurement is performed by moving directly above the power generation source 100 has been described. It is not limited. For example, in the case of measuring the surface potential of three (N = 3) voltage generation sources 100, the measurement may not be directly above the voltage generation sources 100 as long as measurement is performed at three different measurement positions. For example, in the case of measuring the surface potential of three (N = 3) voltage generation sources 100, if measured at three different positions above the voltage generation source 100, it is not directly above the voltage generation source 100. May be.

(2)第2の実施形態において、各要素kij(h)を式(7)に示す近似式で近似したが、本発明はこれに限定されない。例えば、各要素kij(h)を近似する式は、電圧発生源100の数に応じて変化する。そのため、本発明では、変換係数算出部137Aは、各要素kij(h)を、ある近似式に近似して、その近似式中の各係数を求めて記憶部135Aに格納すればよい。 (2) In the second embodiment, each element k ij (h n ) is approximated by the approximate expression shown in Expression (7), but the present invention is not limited to this. For example, an expression that approximates each element k ij (h n ) changes according to the number of voltage generation sources 100. Therefore, in the present invention, the conversion coefficient calculation unit 137A may approximate each element k ij (h n ) to a certain approximate expression, obtain each coefficient in the approximate expression, and store it in the storage unit 135A.

(3)第2の実施形態において、変換関数群を測定距離hに応じた値に補正する補正方法として、k(h)を距離の関数として近似したが、これに限定されない。例えば、本発明では、電界強度E(h)を距離の関数として近似したのちにkを求めるようにして、変換関数群を測定距離hに応じた値に補正してもよい。 (3) In the second embodiment, k (h) is approximated as a function of distance as a correction method for correcting the conversion function group to a value corresponding to the measurement distance h. However, the present invention is not limited to this. For example, in the present invention, k may be obtained after approximating the electric field strength E (h) as a function of distance, and the conversion function group may be corrected to a value corresponding to the measurement distance h.

1 非接触表面電位測定装置
10 電界強度測定部
11 距離測定部
12 第1移動部
13 処理部
100 電圧発生源
121 ガイドレール
122 駆動部
131 取得部
132 移動制御部
133 電圧制御部
134 制御部
135 記憶部
136 駆動制御部
137 変換係数算出部
138 変換部
300 電極
400 電圧発生装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Non-contact surface potential measuring apparatus 10 Electric field strength measurement part 11 Distance measurement part 12 1st moving part 13 Processing part 100 Voltage generation source 121 Guide rail 122 Drive part 131 Acquisition part 132 Movement control part 133 Voltage control part 134 Control part 135 Memory | storage Unit 136 drive control unit 137 conversion coefficient calculation unit 138 conversion unit 300 electrode 400 voltage generator

Claims (8)

測定対象であるN(1以上の整数)個の電圧発生源の表面電位を非接触で測定する非接触表面電位測定装置であって、
前記電圧発生源の電界強度を測定する電界強度測定部と、
各電圧発生源が発生する各電界強度を、前記各電圧発生源の表面電位に変換する変換係数群を記憶する記憶部と、
前記変換係数群を用いて、前記電界強度測定部で測定された前記測定対象の電界強度を、前記表面電位に変換する変換部と、
を備える非接触表面電位測定装置。
A non-contact surface potential measuring device that measures the surface potential of N (an integer greater than or equal to 1) voltage generation sources to be measured in a non-contact manner,
An electric field strength measuring unit for measuring an electric field strength of the voltage source;
A storage unit for storing a conversion coefficient group for converting each electric field intensity generated by each voltage generation source into a surface potential of each voltage generation source;
Using the conversion coefficient group, a conversion unit that converts the electric field strength of the measurement object measured by the electric field strength measurement unit into the surface potential;
A non-contact surface potential measuring device comprising:
前記電界強度測定部を各電圧発生源の上方の所定位置に移動可能な第1移動部をさらに備え、
前記電界強度測定部は、前記第1移動部により前記表面電位を測定する電圧発生源の上方の所定位置に移動させられた後に、当該電圧発生源の電界強度を測定する請求項1に記載の非接触表面電位測定装置。
A first moving unit capable of moving the electric field strength measuring unit to a predetermined position above each voltage source;
2. The electric field strength measurement unit according to claim 1, wherein the electric field strength measurement unit measures the electric field strength of the voltage generation source after being moved to a predetermined position above the voltage generation source for measuring the surface potential by the first moving unit. Non-contact surface potential measuring device.
前記第1移動部は、
前記電圧発生源と前記電界強度測定部との間の鉛直方向の距離を一定に保ちながら前記電界強度測定部の水平方向の移動をガイドするガイドレールと、
前記ガイドレールに沿って前記電界強度測定部を水平方向に移動させる駆動部と、
を備える請求項2に記載の非接触表面電位測定装置。
The first moving unit includes:
A guide rail that guides the horizontal movement of the electric field strength measuring unit while maintaining a constant vertical distance between the voltage source and the electric field strength measuring unit;
A drive unit for moving the electric field intensity measurement unit in a horizontal direction along the guide rail;
A non-contact surface potential measuring device according to claim 2.
前記第1移動部を鉛直方向に昇降させることで、前記電界強度測定部と前記電圧発生源との間の鉛直方向の距離を変更可能な第2移動部と、
前記電圧発生源と当該電圧発生源の上方の所定位置に配置された前記電界強度測定部との間の鉛直方向の距離を測定する距離測定部と、
を備え、
前記電界強度測定部は、前記第1移動部により前記表面電位を測定する電圧発生源の上方の所定位置に移動させられ、且つ前記第2移動部により当該電圧発生源との間の鉛直方向の距離が調整された後に、当該電圧発生源の電界強度を測定し、
前記距離測定部は、前記電界強度測定部が前記電界強度を測定した場合に、前記鉛直方向の距離を測定し、
前記変換部は、前記距離測定部で測定された距離に応じた変換係数群を前記記憶部から読み出し、読み出した変換係数群を用いて、前記電界強度測定部で測定された前記電界強度を、前記表面電位に変換する請求項3に記載の非接触表面電位測定装置。
A second moving unit capable of changing a distance in the vertical direction between the electric field intensity measuring unit and the voltage source by raising and lowering the first moving unit in the vertical direction;
A distance measuring unit that measures a vertical distance between the voltage generating source and the electric field intensity measuring unit disposed at a predetermined position above the voltage generating source;
With
The electric field strength measuring unit is moved to a predetermined position above the voltage generation source for measuring the surface potential by the first moving unit, and is vertically moved between the voltage generating source and the second moving unit. After the distance is adjusted, measure the electric field strength of the voltage source,
The distance measuring unit measures the vertical distance when the electric field strength measuring unit measures the electric field strength,
The conversion unit reads a conversion coefficient group corresponding to the distance measured by the distance measurement unit from the storage unit, and using the read conversion coefficient group, the electric field intensity measured by the electric field intensity measurement unit, The non-contact surface potential measuring device according to claim 3, wherein the non-contact surface potential measuring device converts the surface potential.
前記電圧発生源の位置と同一の位置に配置された1からi(i=1,…,N)番目の各電極に、N個の電圧ケースj(j=1,…,N)の電圧を印加させる電圧制御部と、
前記変換係数群を算出する変換係数算出部と、
を備え、
前記電界強度測定部は、i番目の前記電極の上方の所定位置に配置され、前記電圧ケースjにおけるi番目の前記電極の前記電界強度Eijを測定し、
前記変換係数算出部は、前記電圧Vijを各要素としたN行N列の行列である表面電位行列と、前記電界強度Eijを各要素としたN行N列の行列である電界強度行列と、に基づいて、前記変換係数群として変換係数の逆行列を算出する、請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の非接触表面電位測定装置。
The voltages of N voltage cases j (j = 1,..., N) are applied to the 1st to i (i = 1,..., N) th electrodes arranged at the same position as the voltage generation source. A voltage controller to be applied;
A conversion coefficient calculation unit for calculating the conversion coefficient group;
With
The electric field strength measurement unit is disposed at a predetermined position above the i-th electrode, measures the electric field strength E ij of the i-th electrode in the voltage case j,
The conversion coefficient calculation unit includes a surface potential matrix that is an N-row and N-column matrix having the voltage V ij as each element, and an electric field intensity matrix that is an N-row and N-column matrix having the electric field intensity E ij as each element. The non-contact surface potential measuring device according to any one of claims 1 to 4, wherein an inverse matrix of conversion coefficients is calculated as the conversion coefficient group based on
請求項5に記載の非接触表面電位測定装置における前記変換係数群を算出するための測定治具であって、
前記電圧発生源の位置と同一の位置に配置される電極と、
前記電圧制御部の制御により、N個の電圧ケースj(j=1,…,N)の電圧を各電極に印加可能な電圧発生装置と、
を備える測定治具。
A measurement jig for calculating the conversion coefficient group in the non-contact surface potential measurement device according to claim 5,
An electrode disposed at the same position as the voltage source;
A voltage generator capable of applying voltages of N voltage cases j (j = 1,..., N) to each electrode under the control of the voltage controller;
A measuring jig comprising
測定対象であるN(1以上の整数)個の電圧発生源の表面電位を非接触で測定する非接触表面電位測定方法であって、
前記電圧発生源の電界強度を測定する電界強度測定ステップと、
各電圧発生源が発生する各電界強度を、前記各電圧発生源の表面電位に変換する変換係数群を用いて、前記電界強度測定ステップで測定された前記測定対象の電界強度を、前記表面電位に変換する変換ステップと、
を含む非接触表面電位測定方法。
A non-contact surface potential measurement method for measuring the surface potential of N (an integer of 1 or more) voltage generation sources to be measured in a non-contact manner,
An electric field strength measuring step for measuring an electric field strength of the voltage source;
Using the conversion coefficient group that converts each electric field strength generated by each voltage generation source into a surface potential of each voltage generation source, the electric field strength of the measurement object measured in the electric field strength measurement step is converted into the surface potential. A conversion step to convert to,
A non-contact surface potential measuring method comprising:
前記電界強度測定部が前記電界強度を測定した場合に、前記電圧発生源と当該電圧発生源の上方の所定位置に配置された前記電界強度測定部との間の鉛直方向の距離を測定する距離測定ステップを更に含み、
前記変換ステップでは、距離測定ステップで測定された距離に応じた変換係数群を前記記憶部から読み出し、読み出した変換係数群を用いて、前記電界強度測定部で測定された前記電界強度を、前記表面電位に変換する、請求項7に記載の非接触表面電位測定方法。
A distance for measuring a vertical distance between the voltage generation source and the electric field intensity measurement unit disposed at a predetermined position above the voltage generation source when the electric field intensity measurement unit measures the electric field intensity. Further comprising a measuring step,
In the conversion step, a conversion coefficient group corresponding to the distance measured in the distance measurement step is read from the storage unit, and the electric field intensity measured by the electric field intensity measurement unit is read using the read conversion coefficient group. The non-contact surface potential measuring method according to claim 7, wherein the method is converted to a surface potential.
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