JP2018157450A - Failure determination apparatus, power supply device, determination method for failure determination apparatus, and program - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a failure determination apparatus capable of more accurately determining occurrence of a failure in a switch unit of an ORing circuit in a power supply system.SOLUTION: A failure determination apparatus includes a comparator that compares a reference voltage set based on a forward voltage of a diode between an input terminal and an output terminal of a switch unit having the input terminal, the output terminal, and a control terminal and a voltage between the input terminal and the output terminal and outputs a comparison result signal corresponding to a comparison result, and a failure determination unit determines the presence or absence of a failure in the switch unit based on a connection state control signal for controlling a connection state between the input terminal and the output terminal, the comparison result signal, and a start signal for activating the own power supply device.SELECTED DRAWING: Figure 8

Description

本発明は、不具合判定装置、電源装置、不具合判定装置の判定方法及びプログラムに関する。   The present invention relates to a failure determination device, a power supply device, a determination method for the failure determination device, and a program.

さまざまな電気機器が普及しており、それらの電気機器には電源回路が搭載されている場合がある。
特許文献1には、関連する技術として、1つの直流主電源から複数のインバータに並列に電力給電するように構成された電力変換装置において、インバータの短絡モード不良を検出し、直流主電源を停止させる技術が記載されている。
Various electric devices are widespread, and there are cases where a power circuit is mounted on these electric devices.
In Patent Document 1, as a related technique, in a power converter configured to supply power to a plurality of inverters in parallel from one DC main power source, a short-circuit mode failure of the inverter is detected, and the DC main power source is stopped. The technology to be described is described.

特開平08−168264号公報JP 08-168264 A

ところで、電気機器の中には、その電気機器における負荷への電力の供給が一時たりとも断たれることが許されない、すなわち、負荷へ電力を常に供給し続けなければならない電気機器が存在する。
そのような電気機器では、複数の電源回路を備える冗長電源システムが使用される場合がある。冗長電源システムでは、他の電源回路に不具合が発生した場合に、不具合が発生した電源回路から自電源回路を切り離してその不具合の影響を受けないようにするORing回路が備えられることがある。他の電源回路に不具合が発生した場合に、ORing回路を用いて他の電源回路から自電源回路を確実に切り離すために、ORing回路におけるスイッチ部に不具合が発生したことをより正確に判定することのできる技術が求められていた。
By the way, among electrical devices, there is an electrical device in which the supply of power to the load in the electrical device is not allowed to be interrupted, that is, the power must always be supplied to the load.
In such an electric device, a redundant power supply system including a plurality of power supply circuits may be used. In a redundant power supply system, when a failure occurs in another power supply circuit, an ORing circuit that separates the power supply circuit from the power supply circuit in which the failure has occurred and is not affected by the failure may be provided. When a failure occurs in another power supply circuit, the ORing circuit is used to reliably disconnect the power supply circuit from the other power supply circuit, thereby more accurately determining that a failure has occurred in the switch section in the ORing circuit. The technology which can do was demanded.

本発明は、上記の課題を解決することのできる不具合判定装置、電源装置、不具合判定装置の判定方法及びプログラムを提供することを目的としている。   An object of the present invention is to provide a failure determination device, a power supply device, a failure determination device determination method, and a program capable of solving the above-described problems.

上記目的を達成するために、本発明は、入力端子、出力端子及び制御端子を有するスイッチ部とダイオードとを有するORing回路におけるダイオードの順方向電圧に基づいて設定される基準電圧と、前記入力端子と前記出力端子との間の電圧とを比較し、比較した結果に応じた比較結果信号を出力するコンパレータと、前記入力端子と前記出力端子との間の接続状態を制御する接続状態制御信号、及び、前記比較結果信号に基づいて、前記スイッチ部における不具合の有無を判定する不具合判定部と、を備える不具合判定装置である。   In order to achieve the above object, the present invention provides a reference voltage set based on a forward voltage of a diode in an ORing circuit having a diode and a switch unit having an input terminal, an output terminal and a control terminal, and the input terminal. A comparator that outputs a comparison result signal according to the comparison result, a connection state control signal that controls a connection state between the input terminal and the output terminal, And the malfunction determination apparatus provided with the malfunction determination part which determines the presence or absence of the malfunction in the said switch part based on the said comparison result signal.

また、本発明は、上記の不具合判定装置と、入力端子、出力端子及び制御端子を有し、前記入力端子にアノードが接続され前記出力端子にカソードが接続されたダイオードを有するスイッチ部、及び、前記制御端子に入力する接続状態制御信号に基づいて、前記入力端子と前記出力端子との間の接続状態を制御する制御部を備えるORing回路と、を備える電源装置である。   Further, the present invention provides the above-described defect determination device, a switch unit having a diode having an input terminal, an output terminal, and a control terminal, an anode connected to the input terminal and a cathode connected to the output terminal, and An ORing circuit including a control unit that controls a connection state between the input terminal and the output terminal based on a connection state control signal input to the control terminal.

また、本発明は、入力端子、出力端子及び制御端子を有するスイッチ部とダイオードとを有するORing回路におけるダイオードの順方向電圧に基づいて設定される基準電圧と、前記入力端子と前記出力端子との間の電圧とを比較し、比較した結果に応じた比較結果信号を出力するコンパレータを備える不具合判定装置の判定方法であって、前記入力端子と前記出力端子との間の接続状態を制御する接続状態制御信号、及び、前記比較結果信号に基づいて、前記スイッチ部における不具合の有無を判定すること、を含む不具合判定装置の判定方法である。   In addition, the present invention provides a reference voltage set based on a forward voltage of a diode in an ORing circuit having a diode and a switch unit having an input terminal, an output terminal and a control terminal, and the input terminal and the output terminal. A determination method of a failure determination device including a comparator that compares a voltage between the two and outputs a comparison result signal according to the comparison result, the connection controlling the connection state between the input terminal and the output terminal A determination method of a defect determination device including determining whether or not there is a defect in the switch unit based on a state control signal and the comparison result signal.

また、本発明は、入力端子、出力端子及び制御端子を有するスイッチ部とダイオードとを有するORing回路におけるダイオードの順方向電圧に基づいて設定される基準電圧と、前記入力端子と前記出力端子との間の電圧とを比較し、比較した結果に応じた比較結果信号を出力するコンパレータを備える不具合判定装置のコンピュータに、前記入力端子と前記出力端子との間の接続状態を制御する接続状態制御信号、及び、前記比較結果信号に基づいて、前記スイッチ部における不具合の有無を判定すること、を実行させるプログラムである。   In addition, the present invention provides a reference voltage set based on a forward voltage of a diode in an ORing circuit having a diode and a switch unit having an input terminal, an output terminal and a control terminal, and the input terminal and the output terminal. A connection state control signal for controlling a connection state between the input terminal and the output terminal in a computer of a failure determination device including a comparator that compares a voltage between them and outputs a comparison result signal according to the comparison result And determining whether or not there is a malfunction in the switch unit based on the comparison result signal.

本発明によれば、電源システムにおいて、ORing回路におけるスイッチ部に不具合が発生したことをより正確に判定することができる。   According to the present invention, in the power supply system, it is possible to more accurately determine that a failure has occurred in the switch unit in the ORing circuit.

本発明の一実施形態による電源システムの構成の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of a structure of the power supply system by one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態によるDC/DCコンバータの構成の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of a structure of the DC / DC converter by one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態によるORing回路の構成の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of a structure of the ORing circuit by one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態による負荷の構成の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of a structure of the load by one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態による不具合判定装置の構成の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of a structure of the malfunction determination apparatus by one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態による電源システムの正常時の信号波形の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the signal waveform at the time of the normal of the power supply system by one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態による電源システムの不具合発生時の信号波形の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the signal waveform at the time of the malfunction occurrence of the power supply system by one Embodiment of this invention. 本発明の実施形態による不具合判定装置の最小構成を示す図である。It is a figure which shows the minimum structure of the malfunction determination apparatus by embodiment of this invention. 少なくとも1つの実施形態に係るコンピュータの構成を示す概略ブロック図である。It is a schematic block diagram which shows the structure of the computer which concerns on at least 1 embodiment.

<実施形態>
本発明の一実施形態による電源システム1の構成について説明する。
本発明の一実施形態による電源システム1は、図1に示すように、複数の電源装置2、負荷3と、を備える。電源システム1では、負荷3に常に電力を供給できるように電源装置2を複数備え、冗長性を持たせている。
<Embodiment>
A configuration of the power supply system 1 according to an embodiment of the present invention will be described.
A power supply system 1 according to an embodiment of the present invention includes a plurality of power supply devices 2 and a load 3 as shown in FIG. In the power supply system 1, a plurality of power supply apparatuses 2 are provided so as to always supply power to the load 3 to provide redundancy.

電源装置2のそれぞれは、コンバータ部10と、ORing回路20と、不具合判定装置30と、を備える。   Each power supply device 2 includes a converter unit 10, an ORing circuit 20, and a failure determination device 30.

コンバータ部10は、図2に示すように、DC/DC(Direct Current/Direct Current)コンバータ101と、コンデンサ102と、を備える。   As shown in FIG. 2, the converter unit 10 includes a DC / DC (Direct Current / Direct Current) converter 101 and a capacitor 102.

DC/DCコンバータ101は、直流電圧Viを受ける。DC/DCコンバータ101は、受けた直流電圧Viを所定の直流電圧Voに変換する。DC/DCコンバータ101は、変換後の直流電圧Voを出力する。なお、直流電圧Voは、後述するダイオード201bの順方向電圧VFよりも高い電圧である。   The DC / DC converter 101 receives a direct current voltage Vi. The DC / DC converter 101 converts the received DC voltage Vi into a predetermined DC voltage Vo. The DC / DC converter 101 outputs the converted DC voltage Vo. Note that the DC voltage Vo is higher than a forward voltage VF of a diode 201b described later.

コンデンサ102は、DC/DCコンバータ101が出力する直流電圧Voを安定させるためのコンデンサである。コンデンサ102の第1端子は、DC/DCコンバータ101の出力端子に接続される。コンデンサ102の第2端子は、グラウンドGNDに接続される。   The capacitor 102 is a capacitor for stabilizing the DC voltage Vo output from the DC / DC converter 101. The first terminal of the capacitor 102 is connected to the output terminal of the DC / DC converter 101. A second terminal of the capacitor 102 is connected to the ground GND.

ORing回路20は、図3に示すように、スイッチ部201と、ORing制御部202(制御部)と、を備える。
スイッチ部201は、スイッチ素子201aと、ダイオード201bと、を備える。
As illustrated in FIG. 3, the ORing circuit 20 includes a switch unit 201 and an ORing control unit 202 (control unit).
The switch unit 201 includes a switch element 201a and a diode 201b.

スイッチ素子201aは、入力端子INと、出力端子OUTと、制御端子Gと、を有する。入力端子INは、DC/DCコンバータ101の出力端子に接続される。出力端子OUTは、負荷3に接続される。制御端子Gは、ORing制御部202に接続される。
スイッチ素子201aは、制御端子Gに入力される接続状態制御信号SW_ONに基づいて、入力端子INと出力端子OUTとの間の接続状態が決定される。接続状態とは、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとが短絡状態または開放状態のことである。
The switch element 201a has an input terminal IN, an output terminal OUT, and a control terminal G. The input terminal IN is connected to the output terminal of the DC / DC converter 101. The output terminal OUT is connected to the load 3. The control terminal G is connected to the ORing control unit 202.
Based on the connection state control signal SW_ON input to the control terminal G, the switch element 201a determines the connection state between the input terminal IN and the output terminal OUT. The connection state is a short circuit state or an open state of the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a.

ダイオード201bは、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとの間に接続される。具体的には、ダイオード201bのアノードは、スイッチ素子201aの入力端子INに接続される。また、ダイオード201bのカソードは、スイッチ素子201aの出力端子OUTに接続される。
ダイオード201bは、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとが短絡状態である場合、動作しない。すなわち、ダイオード201bのアノードとカソードの間の電圧は0ボルトとなり、ダイオード201bは電流を流さない。また、ダイオード201bは、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとが開放状態である場合、動作する。すなわち、ダイオード201bのアノードとカソードの間の電圧はダイオード201bの順方向電圧VFとなり、ダイオード201bは電流を流す。
The diode 201b is connected between the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a. Specifically, the anode of the diode 201b is connected to the input terminal IN of the switch element 201a. The cathode of the diode 201b is connected to the output terminal OUT of the switch element 201a.
The diode 201b does not operate when the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a are in a short circuit state. That is, the voltage between the anode and cathode of the diode 201b is 0 volts, and the diode 201b does not pass current. The diode 201b operates when the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a are in an open state. That is, the voltage between the anode and the cathode of the diode 201b becomes the forward voltage VF of the diode 201b, and the diode 201b passes a current.

ORing制御部202(制御部)は、スイッチ素子201aにおける接続状態を制御する。
具体的には、ORing制御部202は、スイッチ素子201aの制御端子Gに接続状態制御信号SW_ONを入力する。スイッチ素子201aは、制御端子Gに入力される接続状態制御信号SW_ONに応じた接続状態になる。
本発明の実施形態においては、例えば、スイッチ素子201aの制御端子GにHighレベルの接続状態制御信号SW_ONが入力されると、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとの間の接続状態が短絡状態となる。また、スイッチ素子201aの制御端子GにLowレベルの接続状態制御信号SW_ONが入力されると、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとの間の接続状態が開放状態となる。
また、本発明の別の実施形態においては、例えば、スイッチ素子201aの制御端子GにHighレベルの接続状態制御信号SW_ONが入力されると、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとの間の接続状態が開放状態となる。また、スイッチ素子201aの制御端子GにLowレベルの接続状態制御信号SW_ONが入力されると、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとの間の接続状態が短絡状態となる。
The ORing control unit 202 (control unit) controls the connection state in the switch element 201a.
Specifically, the ORing control unit 202 inputs the connection state control signal SW_ON to the control terminal G of the switch element 201a. The switch element 201a enters a connection state according to the connection state control signal SW_ON input to the control terminal G.
In the embodiment of the present invention, for example, when a high-level connection state control signal SW_ON is input to the control terminal G of the switch element 201a, the connection state between the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a is changed. A short circuit occurs. Further, when the low-level connection state control signal SW_ON is input to the control terminal G of the switch element 201a, the connection state between the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a is opened.
In another embodiment of the present invention, for example, when a high-level connection state control signal SW_ON is input to the control terminal G of the switch element 201a, the switch between the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a. The connection state becomes an open state. Further, when a low-level connection state control signal SW_ON is input to the control terminal G of the switch element 201a, the connection state between the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a becomes a short circuit state.

また、具体的には、例えば、スイッチ素子201aがエンハンスメント形のnMOSトランジスタ201aであるものとする。nMOSトランジスタ201aの入力端子INは、図3に示すように、nMOSトランジスタ201aの基板に接続される。ここでの基板とは、ボディ、バルク、バックゲート、場合によっては、アイランド、pウェル、pサブストレートなどと呼ばれることもある、nMOSトランジスタ201aが形成される領域のことである。このとき、nMOSトランジスタ201aの入力端子INと出力端子OUTとの間に、入力端子IN側がアノードで出力端子OUT側がカソードの寄生ダイオードが存在する。スイッチ素子201aがnMOSトランジスタ201aである場合、この寄生ダイオードがダイオード201bとして機能する。
後述する例のように、負荷3が抵抗負荷であり、第1端子が出力端子OUTに接続され、第2端子がグラウンドGNDに接続されているものとする。この場合、入力端子INの電位は、出力端子OUTの電位よりも高くなる。
ゲート−ソース間電圧VGS、ドレイン−ソース間電圧VDS、nMOSトランジスタ201aのしきい値電圧VTHとする。ORing制御部202は、電圧の関係が(VDS≧VGS−VTH)の条件を満足する接続状態制御信号SW_ONをスイッチ素子201aの制御端子Gに入力する。すると、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとの間の接続状態が短絡状態となる。また、電圧の関係が(VDS<VGS−VTH)の条件を満足すると、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとの間の接続状態が開放状態となる。
Specifically, for example, it is assumed that the switch element 201a is an enhancement type nMOS transistor 201a. As shown in FIG. 3, the input terminal IN of the nMOS transistor 201a is connected to the substrate of the nMOS transistor 201a. The substrate here refers to a region where the nMOS transistor 201a is formed, which may be called a body, a bulk, a back gate, or an island, a p well, a p substrate, or the like. At this time, a parasitic diode having an anode on the input terminal IN side and a cathode on the output terminal OUT side exists between the input terminal IN and the output terminal OUT of the nMOS transistor 201a. When the switch element 201a is the nMOS transistor 201a, this parasitic diode functions as the diode 201b.
As in an example described later, it is assumed that the load 3 is a resistance load, the first terminal is connected to the output terminal OUT, and the second terminal is connected to the ground GND. In this case, the potential of the input terminal IN is higher than the potential of the output terminal OUT.
It is assumed that the gate-source voltage VGS, the drain-source voltage VDS, and the threshold voltage VTH of the nMOS transistor 201a. The ORing control unit 202 inputs, to the control terminal G of the switch element 201a, a connection state control signal SW_ON that satisfies the condition that the voltage relationship satisfies (VDS ≧ VGS−VTH). Then, the connection state between the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a becomes a short circuit state. When the voltage relationship satisfies the condition (VDS <VGS−VTH), the connection state between the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a is opened.

また、具体的には、例えば、スイッチ素子201aがエンハンスメント形のpMOSトランジスタ201aであるものとする。pMOSトランジスタ201aの入力端子INは、pMOSトランジスタ201aの基板に接続される。ここでの基板とは、ボディ、バルク、バックゲート、場合によっては、アイランド、nウェル、nサブストレートなどと呼ばれることもある、pMOSトランジスタ201aが形成される領域のことである。このとき、pMOSトランジスタ201aの入力端子INと出力端子OUTとの間に、入力端子IN側がカソードで出力端子OUT側がアノードの寄生ダイオードが存在する。後述する例のように、負荷3が抵抗負荷であり、第1端子が出力端子OUTに接続され、第2端子がグラウンドGNDに接続されているものとする。この場合、寄生ダイオードは、動作しない。
ゲート−ソース間電圧VGS、ドレイン−ソース間電圧VDS、nMOSトランジスタ201aのしきい値電圧VTHとする。ORing制御部202は、電圧の関係が(絶対値VDS≧絶対値(VGS−VTH))の条件を満足する接続状態制御信号SW_ONをスイッチ素子201aの制御端子Gに入力する。すると、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとの間の接続状態が短絡状態となる。また、電圧の関係が(絶対値VDS<絶対値(VGS−VTH))の条件を満足すると、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとの間の接続状態が開放状態となる。
また、ダイオード201bは、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとの間に接続される。具体的には、ダイオード201bのアノードは、スイッチ素子201aの入力端子INに接続される。また、ダイオード201bのカソードは、スイッチ素子201aの出力端子OUTに接続される。
ダイオード201bは、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとが短絡状態である場合、動作しない。すなわち、ダイオード201bのアノードとカソードの間の電圧は0ボルトとなり、ダイオード201bは電流を流さない。また、ダイオード201bは、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとが開放状態である場合、動作する。すなわち、ダイオード201bのアノードとカソードの間の電圧はダイオード201bの順方向電圧VFとなり、ダイオード201bは電流を流す。
Specifically, for example, it is assumed that the switch element 201a is an enhancement type pMOS transistor 201a. The input terminal IN of the pMOS transistor 201a is connected to the substrate of the pMOS transistor 201a. The substrate here is a region where the pMOS transistor 201a is formed, which may be called a body, a bulk, a back gate, or an island, an n well, an n substrate, or the like depending on the case. At this time, there is a parasitic diode between the input terminal IN and the output terminal OUT of the pMOS transistor 201a, with the input terminal IN side being a cathode and the output terminal OUT side being an anode. As in an example described later, it is assumed that the load 3 is a resistance load, the first terminal is connected to the output terminal OUT, and the second terminal is connected to the ground GND. In this case, the parasitic diode does not operate.
It is assumed that the gate-source voltage VGS, the drain-source voltage VDS, and the threshold voltage VTH of the nMOS transistor 201a. The ORing control unit 202 inputs, to the control terminal G of the switch element 201a, a connection state control signal SW_ON that satisfies the condition that the voltage relationship satisfies (absolute value VDS ≧ absolute value (VGS−VTH)). Then, the connection state between the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a becomes a short circuit state. When the voltage relationship satisfies the condition (absolute value VDS <absolute value (VGS−VTH)), the connection state between the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a is opened.
The diode 201b is connected between the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a. Specifically, the anode of the diode 201b is connected to the input terminal IN of the switch element 201a. The cathode of the diode 201b is connected to the output terminal OUT of the switch element 201a.
The diode 201b does not operate when the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a are in a short circuit state. That is, the voltage between the anode and cathode of the diode 201b is 0 volts, and the diode 201b does not pass current. The diode 201b operates when the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a are in an open state. That is, the voltage between the anode and the cathode of the diode 201b becomes the forward voltage VF of the diode 201b, and the diode 201b passes a current.

負荷3は、図1に示すように、複数の電源装置2のそれぞれに共通の負荷である。負荷3は、図4に示すように、例えば、抵抗負荷3である。抵抗負荷3の第1端子は、スイッチ素子201aの出力端子OUTに接続される。抵抗負荷3の第2端子は、グラウンドGNDに接続される。   As shown in FIG. 1, the load 3 is a load common to each of the plurality of power supply devices 2. As shown in FIG. 4, the load 3 is, for example, a resistive load 3. The first terminal of the resistive load 3 is connected to the output terminal OUT of the switch element 201a. The second terminal of the resistive load 3 is connected to the ground GND.

不具合判定装置30は、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとの間で短絡の不具合が発生しているか否かを判定する装置である。不具合判定装置30は、図5に示すように、コンパレータ301と、電圧源302と、遅延回路303と、ANDゲート304(第1論理ゲート)と、INVゲート305と、ANDゲート306(第2論理ゲート)と、ラッチ回路307と、不具合判定部308と、を備える。   The failure determination device 30 is a device that determines whether or not a short-circuit failure has occurred between the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a. As shown in FIG. 5, the failure determination device 30 includes a comparator 301, a voltage source 302, a delay circuit 303, an AND gate 304 (first logic gate), an INV gate 305, and an AND gate 306 (second logic). Gate), a latch circuit 307, and a failure determination unit 308.

コンパレータ301は、電圧源302が出力する直流電圧Vrefと、ダイオード201bの出力端子OUTと入力端子INとの間の電圧とを比較する。コンパレータ301は、第1入力端子と、第2入力端子と、出力端子と、を備える。第1入力端子は、電圧源302の出力端子に接続される。第2入力端子は、図示していない差動増幅器の出力端子に接続される。出力端子は、ANDゲート304の第1入力端子に接続される。コンパレータ301は、比較結果に応じたHighレベルの電圧、または、Lowレベルの電圧をANDゲート304に出力する。   The comparator 301 compares the DC voltage Vref output from the voltage source 302 with the voltage between the output terminal OUT and the input terminal IN of the diode 201b. The comparator 301 includes a first input terminal, a second input terminal, and an output terminal. The first input terminal is connected to the output terminal of the voltage source 302. The second input terminal is connected to an output terminal of a differential amplifier (not shown). The output terminal is connected to the first input terminal of the AND gate 304. The comparator 301 outputs a High level voltage or a Low level voltage corresponding to the comparison result to the AND gate 304.

具体的には、例えば、スイッチ素子201aの出力端子OUTにおける電圧を基準とした入力端子INにおける電圧を電圧ΔVとする。スイッチ素子201aが短絡状態である場合、電圧ΔVは0ボルトである。このとき、スイッチ素子201aの入力端子INにおける電圧は、直流電圧Voである。また、スイッチ素子201aの出力端子OUTにおける電圧も直流電圧Voである。スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTのそれぞれを、図示していない差動入力端子(ディファレンシャル入力)と単出力端子(シングルエンド出力)とを有する差動増幅器の差動入力端子のそれぞれに接続する。差動増幅器の単出力端子のバイアス電圧を0ボルトに設定し、または、差動増幅器における信号経路にデカップリンコンデンサ、バイパスコンデンサなどと呼ばれる直流電圧を遮断するコンデンサを挿入する。そして、コンパレータ301の第1入力端子に、電圧源302の出力を接続し、コンパレータ301の第2入力端子に、差動増幅器の単出力端子を接続する。
このようにして、コンパレータ301の第1入力端子に、直流電圧Vrefが印加され、コンパレータ301の第2入力端子に単出力端子に、差動入力端子間の電圧ΔVそのもの、または、差動入力端子間の電圧ΔVを差動増幅器の増幅率Avで増幅した電圧AvΔVを印加する。
Specifically, for example, the voltage at the input terminal IN with reference to the voltage at the output terminal OUT of the switch element 201a is defined as a voltage ΔV. When switch element 201a is in a short circuit state, voltage ΔV is 0 volts. At this time, the voltage at the input terminal IN of the switch element 201a is the DC voltage Vo. Further, the voltage at the output terminal OUT of the switch element 201a is also the DC voltage Vo. The input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a are respectively connected to the differential input terminals of a differential amplifier having a differential input terminal (differential input) and a single output terminal (single-ended output) (not shown). Connecting. A bias voltage of a single output terminal of the differential amplifier is set to 0 volts, or a capacitor called a decoupling capacitor, a bypass capacitor or the like that cuts off a DC voltage is inserted into a signal path in the differential amplifier. The output of the voltage source 302 is connected to the first input terminal of the comparator 301, and the single output terminal of the differential amplifier is connected to the second input terminal of the comparator 301.
In this way, the DC voltage Vref is applied to the first input terminal of the comparator 301, the voltage ΔV between the differential input terminals itself, or the differential input terminal to the single input terminal to the second input terminal of the comparator 301. A voltage AvΔV obtained by amplifying the voltage ΔV between them at the amplification factor Av of the differential amplifier is applied.

なお、コンパレータ301の第2入力端子に電圧ΔVが印加される場合、電圧ΔVは、スイッチ素子201aが短絡状態では、0ボルトとなる。また、コンパレータ301の第2入力端子に電圧ΔVが入力される場合、電圧ΔVは、スイッチ素子201aが開放状態では、ダイオード201bの順方向電圧VFとなる。そのため、直流電圧Vrefは、0ボルトとダイオード201bの順方向電圧VFとの間の電圧(例えば、電圧(VF/2))に設定される。
コンパレータ301は、例えば、電圧ΔVが直流電圧Vrefよりも高い場合、出力端子を介して、Lowレベルの電圧をANDゲート304に出力する。また、コンパレータ301は、例えば、電圧ΔVが直流電圧Vrefよりも低い場合、出力端子を介して、Highレベルの電圧をANDゲート304に出力する。
When the voltage ΔV is applied to the second input terminal of the comparator 301, the voltage ΔV is 0 volts when the switch element 201a is short-circuited. When the voltage ΔV is input to the second input terminal of the comparator 301, the voltage ΔV becomes the forward voltage VF of the diode 201b when the switch element 201a is in an open state. Therefore, the DC voltage Vref is set to a voltage (for example, voltage (VF / 2)) between 0 volt and the forward voltage VF of the diode 201b.
For example, when the voltage ΔV is higher than the DC voltage Vref, the comparator 301 outputs a low level voltage to the AND gate 304 via the output terminal. For example, when the voltage ΔV is lower than the DC voltage Vref, the comparator 301 outputs a high level voltage to the AND gate 304 via the output terminal.

また、コンパレータ301の第2入力端子に電圧AvΔVが入力される場合、電圧AvΔVは、スイッチ素子201aが短絡状態では、0ボルトとなる。また、コンパレータ301の第2入力端子に電圧AvΔVが印加される場合、電圧AvΔVは、スイッチ素子201aが開放状態では、電圧AvVFとなる。そのため、直流電圧Vrefは、0ボルトと電圧AvVFとの間の電圧(例えば、電圧(AvVF/2))に設定される。
コンパレータ301は、例えば、電圧AvΔVが直流電圧Vrefよりも高い場合、出力端子を介して、Lowレベルの電圧をANDゲート304に出力する。また、コンパレータ301は、例えば、電圧AvΔVが直流電圧Vrefよりも低い場合、出力端子を介して、Highレベルの電圧をANDゲート304に出力する。
Further, when the voltage AvΔV is input to the second input terminal of the comparator 301, the voltage AvΔV is 0 volt when the switch element 201a is short-circuited. Further, when the voltage AvΔV is applied to the second input terminal of the comparator 301, the voltage AvΔV becomes the voltage AvVF when the switch element 201a is in the open state. Therefore, the DC voltage Vref is set to a voltage between 0 volts and the voltage AvVF (for example, voltage (AvVF / 2)).
For example, when the voltage AvΔV is higher than the DC voltage Vref, the comparator 301 outputs a Low level voltage to the AND gate 304 via the output terminal. For example, when the voltage AvΔV is lower than the DC voltage Vref, the comparator 301 outputs a high level voltage to the AND gate 304 via the output terminal.

また、本発明の別の実施形態では、具体的には、スイッチ素子201aの出力端子OUTにおける電圧を基準とした入力端子INにおける電圧を電圧ΔVとする。コンパレータ301の第1入力端子に、電圧源302の出力を接続し、コンパレータ301の第2入力端子に、スイッチ素子201aの出力端子OUTを接続する。このようにして、コンパレータ301の入力端子に、直流電圧Vrefと、スイッチ素子201aの出力における直流電圧(Vo−ΔV)とを印加する。なお、コンパレータ301の入力端子に直流電圧(Vo−ΔV)が印加される場合、直流電圧(Vo−ΔV)は、スイッチ素子201aが短絡状態では、直流電圧Voとなる。また、コンパレータ301の入力端子に直流電圧(Vo−ΔV)が印加される場合、直流電圧(Vo−ΔV)は、スイッチ素子201aが開放状態では、直流電圧(Vo−VF)となる。そのため、直流電圧Vrefは、直流電圧Voと直流電圧(Vo−VF)との間の直流電圧(例えば、直流電圧(Vo−(VF/2)))に設定される。
コンパレータ301は、例えば、直流電圧Voが直流電圧Vrefよりも高い場合、出力端子を介して、Lowレベルの電圧をANDゲート304に出力する。また、コンパレータ301は、例えば、直流電圧Voが直流電圧Vrefよりも低い場合、出力端子を介して、Highレベルの電圧をANDゲート304に出力する。
In another embodiment of the present invention, specifically, the voltage at the input terminal IN with reference to the voltage at the output terminal OUT of the switch element 201a is defined as a voltage ΔV. The output of the voltage source 302 is connected to the first input terminal of the comparator 301, and the output terminal OUT of the switch element 201 a is connected to the second input terminal of the comparator 301. In this way, the DC voltage Vref and the DC voltage (Vo−ΔV) at the output of the switch element 201a are applied to the input terminal of the comparator 301. When a DC voltage (Vo−ΔV) is applied to the input terminal of the comparator 301, the DC voltage (Vo−ΔV) becomes the DC voltage Vo when the switch element 201a is short-circuited. When a DC voltage (Vo−ΔV) is applied to the input terminal of the comparator 301, the DC voltage (Vo−ΔV) becomes a DC voltage (Vo−VF) when the switch element 201a is open. Therefore, the DC voltage Vref is set to a DC voltage (for example, DC voltage (Vo- (VF / 2))) between the DC voltage Vo and the DC voltage (Vo-VF).
For example, when the DC voltage Vo is higher than the DC voltage Vref, the comparator 301 outputs a Low level voltage to the AND gate 304 via the output terminal. For example, when the DC voltage Vo is lower than the DC voltage Vref, the comparator 301 outputs a High level voltage to the AND gate 304 via the output terminal.

遅延回路303は、入力端子と、出力端子と、を備える。遅延回路303は、入力端子から起動信号PS_ONを受ける。遅延回路303は、受けた起動信号PS_ONを、所定の時間(例えば、時間(t1−t0))だけ遅延させて出力端子からANDゲート304に出力する。   The delay circuit 303 includes an input terminal and an output terminal. Delay circuit 303 receives activation signal PS_ON from an input terminal. The delay circuit 303 delays the received activation signal PS_ON by a predetermined time (for example, time (t1-t0)) and outputs the delayed signal from the output terminal to the AND gate 304.

ANDゲート304は、第1入力端子と、第2入力端子と、出力端子と、を備える。ANDゲート304の第1入力端子には、コンパレータ301の出力端子が接続され、Highレベルの電圧またはLowレベルの電圧が印加される。ANDゲート304の第2入力端子には、遅延回路303の出力端子が接続され、起動信号PS_ONが印加される。ANDゲート304は、入力端子に印加された電圧について論理積を演算する。ANDゲート304は、演算結果を出力端子からANDゲート306に出力する。   The AND gate 304 includes a first input terminal, a second input terminal, and an output terminal. The output terminal of the comparator 301 is connected to the first input terminal of the AND gate 304, and a high level voltage or a low level voltage is applied thereto. The output terminal of the delay circuit 303 is connected to the second input terminal of the AND gate 304, and the activation signal PS_ON is applied. The AND gate 304 calculates a logical product with respect to the voltage applied to the input terminal. The AND gate 304 outputs the calculation result from the output terminal to the AND gate 306.

INVゲート305は、入力端子から接続状態制御信号SW_ONを受ける。INVゲート305は、受けた接続状態制御信号SW_ONを反転させた反転信号を出力端子からANDゲート306に出力する。   The INV gate 305 receives the connection state control signal SW_ON from the input terminal. The INV gate 305 outputs an inverted signal obtained by inverting the received connection state control signal SW_ON to the AND gate 306 from the output terminal.

ANDゲート306は、第1入力端子と、第2入力端子と、出力端子と、を備える。ANDゲート306の第1入力端子には、ANDゲート304の出力端子が接続され、ANDゲート304の演算結果を示すHighレベルの電圧またはLowレベルの電圧が印加される。ANDゲート306の第2入力端子には、INVゲート305の出力端子が接続され、接続状態制御信号SW_ONを反転させた反転信号が印加される。ANDゲート306は、入力端子に印加された電圧について論理積を演算する。ANDゲート306は、演算結果を出力端子からラッチ回路307に出力する。   The AND gate 306 includes a first input terminal, a second input terminal, and an output terminal. The first input terminal of the AND gate 306 is connected to the output terminal of the AND gate 304, and a High level voltage or a Low level voltage indicating the operation result of the AND gate 304 is applied. The output terminal of the INV gate 305 is connected to the second input terminal of the AND gate 306, and an inverted signal obtained by inverting the connection state control signal SW_ON is applied. The AND gate 306 calculates a logical product with respect to the voltage applied to the input terminal. The AND gate 306 outputs the calculation result from the output terminal to the latch circuit 307.

ラッチ回路307は、入力端子と、出力端子と、を備える。ラッチ回路307は、入力端子からANDゲート306の演算結果を受ける。ラッチ回路307は、受けた演算結果を保持する。ラッチ回路307は、保持した演算結果を出力端子から不具合判定部308に出力する。   The latch circuit 307 includes an input terminal and an output terminal. The latch circuit 307 receives the operation result of the AND gate 306 from the input terminal. The latch circuit 307 holds the received calculation result. The latch circuit 307 outputs the held calculation result from the output terminal to the failure determination unit 308.

不具合判定部308は、入力端子と、出力端子と、を備える。不具合判定部308は、入力端子からラッチ回路307が保持した演算結果を受ける。不具合判定部308は、受けた演算結果に基づいて、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとの間で短絡の不具合が発生したか否かを判定する。
具体的には、不具合判定部308は、接続状態制御信号SW_ONがLowレベルである場合に、電圧ΔVが0ボルトであるか電圧VFであるかを判定する。より具体的には、不具合判定部308は、時刻t2と時刻t3との間におけるラッチ回路307の出力端子の電圧がLowレベルの電圧であるかHighレベルの電圧であるかを特定する。不具合判定部308は、ラッチ回路307の出力端子の電圧がLowレベルの電圧である場合、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとの間で短絡の不具合は発生していないと判定する。また、不具合判定部308は、ラッチ回路307の出力端子の電圧がHighレベルの電圧である場合、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとの間で短絡の不具合が発生していると判定する。
The defect determination unit 308 includes an input terminal and an output terminal. The defect determination unit 308 receives the calculation result held by the latch circuit 307 from the input terminal. The defect determination unit 308 determines whether a short-circuit defect has occurred between the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a based on the received calculation result.
Specifically, the malfunction determination unit 308 determines whether the voltage ΔV is 0 volts or the voltage VF when the connection state control signal SW_ON is at the low level. More specifically, the failure determination unit 308 specifies whether the voltage at the output terminal of the latch circuit 307 between time t2 and time t3 is a low level voltage or a high level voltage. If the voltage at the output terminal of the latch circuit 307 is a low level voltage, the defect determination unit 308 determines that no short circuit defect has occurred between the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a. Further, the failure determination unit 308 determines that a short-circuit failure has occurred between the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a when the voltage of the output terminal of the latch circuit 307 is a high level voltage. To do.

次に、本発明の一実施形態による電源システム1の正常時の動作について説明する。
なお、時刻t0において、起動信号PS_ONは、Lowレベルの信号である。また、時刻t0において、接続状態制御信号SW_ONは、Lowレベルの信号である。
Next, the normal operation of the power supply system 1 according to the embodiment of the present invention will be described.
At time t0, the activation signal PS_ON is a low level signal. At time t0, the connection state control signal SW_ON is a low level signal.

図6は、本発明の一実施形態による電源システム1の正常時の信号波形を示す図である。
時刻t0は、電源装置2の起動前の状態を示し、起動信号PS_ONは、時刻t1までLowレベルの信号、すなわち、電源装置2はオフ状態である。したがって、電源装置2の出力端子における電圧は0ボルトであり、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとの間の電圧ΔVは0ボルトとなる。
FIG. 6 is a diagram showing signal waveforms when the power supply system 1 according to the embodiment of the present invention is normal.
The time t0 indicates a state before the power supply device 2 is activated, and the activation signal PS_ON is a low level signal until the time t1, that is, the power supply device 2 is in an off state. Therefore, the voltage at the output terminal of the power supply device 2 is 0 volt, and the voltage ΔV between the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a is 0 volt.

時刻t1において起動信号PS_ONがLowレベルからHighレベルへ変化すると、電源装置2は起動する。電源装置2が起動すると、電源装置2の出力端子における電圧は直流電圧Voとなる。直流電圧Voは、ダイオード201bの順方向電圧VFよりも高い電圧である。そのため、電源装置2が起動すると、ダイオード201bにおいて順方向電圧VFが発生し、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとの間の電圧ΔVは電圧VFとなる。このとき、負荷3には、直流電圧(Vo−VF)の電圧が印加される。   When the activation signal PS_ON changes from the Low level to the High level at time t1, the power supply device 2 is activated. When the power supply device 2 is activated, the voltage at the output terminal of the power supply device 2 becomes the DC voltage Vo. The DC voltage Vo is higher than the forward voltage VF of the diode 201b. Therefore, when the power supply device 2 is activated, a forward voltage VF is generated in the diode 201b, and the voltage ΔV between the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a becomes the voltage VF. At this time, a DC voltage (Vo-VF) is applied to the load 3.

コンパレータ301は、時刻t1まで、出力端子からANDゲート304の第1入力端子にHighレベルの電圧を出力する。時刻t1において、電圧ΔVが0ボルトから電圧VFに変化すると、コンパレータ301は、時刻t1以降、出力端子からANDゲート304の第1入力端子にLowレベルの電圧を出力する。
また、時刻t1において、起動信号PS_ONは、LowレベルからHighレベルに変化する。遅延回路303が遅延させる遅延時間を遅延時間T1とすると、遅延回路303は、時刻(t1+T1)によって示される時刻t2まで、出力端子からANDゲート304の第2入力端子にLowレベルの電圧を出力し、時刻t2以降、Highレベルの電圧を出力する。
したがって、ANDゲート304は、時刻t2以降、出力端子からANDゲート306の第1入力端子にLowレベルの電圧を出力する。
The comparator 301 outputs a high level voltage from the output terminal to the first input terminal of the AND gate 304 until time t1. When the voltage ΔV changes from 0 volts to the voltage VF at time t1, the comparator 301 outputs a low level voltage from the output terminal to the first input terminal of the AND gate 304 after time t1.
At time t1, the activation signal PS_ON changes from the low level to the high level. Assuming that the delay time delayed by the delay circuit 303 is the delay time T1, the delay circuit 303 outputs a low level voltage from the output terminal to the second input terminal of the AND gate 304 until time t2 indicated by time (t1 + T1). After time t2, a high level voltage is output.
Therefore, the AND gate 304 outputs a low level voltage from the output terminal to the first input terminal of the AND gate 306 after time t2.

また、時刻t3において、接続状態制御信号SW_ONは、LowレベルからHighレベルに変化する。したがって、INVゲート305は、時刻t3まで、出力端子からANDゲート306の第2入力端子にHighレベルの電圧を出力し、時刻t3以降、Lowレベルの電圧を出力する。
したがって、ANDゲート306は、時刻t0以降、出力端子からラッチ回路307の入力端子にLowレベルの電圧を出力する。
At time t3, the connection state control signal SW_ON changes from the low level to the high level. Therefore, the INV gate 305 outputs a high level voltage from the output terminal to the second input terminal of the AND gate 306 until time t3, and outputs a low level voltage after time t3.
Therefore, the AND gate 306 outputs a low level voltage from the output terminal to the input terminal of the latch circuit 307 after time t0.

ラッチ回路307は、時刻t0以降、ANDゲート306からLowレベルの電圧を受ける。ラッチ回路307は、受けた電圧を保持する。ラッチ回路307は、受けた電圧を不具合判定部308に出力する。   The latch circuit 307 receives a low level voltage from the AND gate 306 after time t0. The latch circuit 307 holds the received voltage. The latch circuit 307 outputs the received voltage to the failure determination unit 308.

不具合判定部308は、時刻t0以降、ラッチ回路307からLowレベルの電圧を受ける。不具合判定部308は、時刻t0以降、受けた電圧に基づいて、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとの間で短絡の不具合が発生したか否かを判定する。
この場合、不具合判定部308は、時刻t2と時刻t3との間におけるラッチ回路307の出力端子の電圧がLowレベルであるため、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとの間で短絡の不具合は発生していないと判定する。
The defect determination unit 308 receives a low level voltage from the latch circuit 307 after time t0. The failure determination unit 308 determines whether a short-circuit failure has occurred between the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a based on the received voltage after time t0.
In this case, since the voltage at the output terminal of the latch circuit 307 between the time t2 and the time t3 is at the low level, the failure determination unit 308 causes a short circuit between the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a. It is determined that no defect has occurred.

次に、本発明の一実施形態による電源システム1の不具合発生時の動作について説明する。ここでの不具合は、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとが制御端子Gに印加する接続状態制御信号SW_ONと無関係に短絡状態となる不具合である。
なお、時刻t0において、起動信号PS_ONは、Lowレベルの信号である。また、時刻t0において、接続状態制御信号SW_ONは、Lowレベルの信号である。
Next, an operation when a failure occurs in the power supply system 1 according to the embodiment of the present invention will be described. The problem here is a problem that the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a are short-circuited regardless of the connection state control signal SW_ON applied to the control terminal G.
At time t0, the activation signal PS_ON is a low level signal. At time t0, the connection state control signal SW_ON is a low level signal.

図7は、本発明の一実施形態による電源システム1の不具合発生時の信号波形を示す図である。
時刻t0は、電源装置2の起動前の状態を示し、起動信号PS_ONは、時刻t1までLowレベルの信号、すなわち、電源装置2はオフ状態である。したがって、電源装置2の出力端子における電圧は0ボルトであり、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとの間の電圧ΔVは0ボルトとなる。
FIG. 7 is a diagram showing signal waveforms when a failure occurs in the power supply system 1 according to the embodiment of the present invention.
The time t0 indicates a state before the power supply device 2 is activated, and the activation signal PS_ON is a low level signal until the time t1, that is, the power supply device 2 is in an off state. Therefore, the voltage at the output terminal of the power supply device 2 is 0 volt, and the voltage ΔV between the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a is 0 volt.

時刻t1において起動信号PS_ONがLowレベルからHighレベルへ変化すると、電源装置2は起動する。電源装置2が起動すると、電源装置2の出力端子における電圧は直流電圧Voとなる。直流電圧Voは、ダイオード201bの順方向電圧VFよりも高い電圧である。スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとの間は、短絡状態である。そのため、電源装置2が起動しても、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとの間の電圧ΔVは0ボルトである。このとき、負荷3には、直流電圧Voの電圧が印加される。   When the activation signal PS_ON changes from the Low level to the High level at time t1, the power supply device 2 is activated. When the power supply device 2 is activated, the voltage at the output terminal of the power supply device 2 becomes the DC voltage Vo. The DC voltage Vo is higher than the forward voltage VF of the diode 201b. A short circuit is established between the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a. Therefore, even when the power supply device 2 is activated, the voltage ΔV between the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a is 0 volt. At this time, the DC voltage Vo is applied to the load 3.

時刻t0以降、電圧ΔVは0ボルトである。この場合、コンパレータ301は、時刻t0以降、出力端子からANDゲート304の第1入力端子にHighレベルの電圧を出力する。
また、時刻t1において、起動信号PS_ONは、LowレベルからHighレベルに変化する。遅延回路303が遅延させる遅延時間を遅延時間T1とすると、遅延回路303は、時刻(t1+T1)によって示される時刻t2まで、出力端子からANDゲート304の第2入力端子にLowレベルの電圧を出力し、時刻t2以降、Highレベルの電圧を出力する。
したがって、ANDゲート304は、時刻t2まで、出力端子からANDゲート306の第1入力端子にLowレベルの電圧を出力し、時刻t2以降、Highレベルの電圧を出力する。
After time t0, voltage ΔV is 0 volts. In this case, the comparator 301 outputs a high level voltage from the output terminal to the first input terminal of the AND gate 304 after time t0.
At time t1, the activation signal PS_ON changes from the low level to the high level. Assuming that the delay time delayed by the delay circuit 303 is the delay time T1, the delay circuit 303 outputs a low level voltage from the output terminal to the second input terminal of the AND gate 304 until time t2 indicated by time (t1 + T1). After time t2, a high level voltage is output.
Therefore, the AND gate 304 outputs a low level voltage from the output terminal to the first input terminal of the AND gate 306 until time t2, and outputs a high level voltage after time t2.

また、時刻t3において、接続状態制御信号SW_ONは、LowレベルからHighレベルに変化する。したがって、INVゲート305は、時刻t3まで、出力端子からANDゲート306の第2入力端子にHighレベルの電圧を出力し、時刻t3以降、Lowレベルの電圧を出力する。
したがって、ANDゲート306は、時刻t2まで、出力端子からラッチ回路307の入力端子にLowレベルの電圧を出力する。また、ANDゲート306は、時刻t2以降時刻t3まで、Highレベルの電圧を出力する。ANDゲート306は、時刻t3以降、Lowレベルの電圧を出力する。
At time t3, the connection state control signal SW_ON changes from the low level to the high level. Therefore, the INV gate 305 outputs a high level voltage from the output terminal to the second input terminal of the AND gate 306 until time t3, and outputs a low level voltage after time t3.
Therefore, the AND gate 306 outputs a low level voltage from the output terminal to the input terminal of the latch circuit 307 until time t2. The AND gate 306 outputs a high level voltage from time t2 to time t3. The AND gate 306 outputs a low level voltage after time t3.

ラッチ回路307は、時刻t2まで、ANDゲート306からLowレベルの電圧を受ける。また、ラッチ回路307は、時刻t2以降時刻t3まで、ANDゲート306からHighレベルの電圧を受ける。また、ラッチ回路307は、時刻t3以降、ANDゲート306からLowレベルの電圧を受ける。ラッチ回路307は、時刻t0以降、受けた電圧を保持する。ラッチ回路307は、受けた電圧を不具合判定部308に出力する。   The latch circuit 307 receives a low level voltage from the AND gate 306 until time t2. The latch circuit 307 receives a high level voltage from the AND gate 306 from time t2 to time t3. The latch circuit 307 receives a low level voltage from the AND gate 306 after time t3. The latch circuit 307 holds the received voltage after time t0. The latch circuit 307 outputs the received voltage to the failure determination unit 308.

不具合判定部308は、時刻t2まで、ラッチ回路307からLowレベルの電圧を受ける。また、不具合判定部308は、時刻t2以降、ラッチ回路307からHighレベルの電圧を受ける。不具合判定部308は、時刻t0以降、受けた電圧に基づいて、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとの間で短絡の不具合が発生したか否かを判定する。
この場合、不具合判定部308は、時刻t2と時刻t3との間におけるラッチ回路307の出力端子の電圧がHighレベルであるため、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとの間で短絡の不具合が発生していると判定する。不具合判定部308は、スイッチ素子201aの入力端子INと出力端子OUTとの間で短絡の不具合が発生していると判定した場合、電源装置2をOFF状態にする制御を行うものであってもよい。
The defect determination unit 308 receives a low level voltage from the latch circuit 307 until time t2. Further, the defect determination unit 308 receives a high level voltage from the latch circuit 307 after time t2. The failure determination unit 308 determines whether a short-circuit failure has occurred between the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a based on the received voltage after time t0.
In this case, since the voltage at the output terminal of the latch circuit 307 between the time t2 and the time t3 is at a high level, the failure determination unit 308 causes a short circuit between the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a. It is determined that a problem has occurred. Even when the failure determination unit 308 determines that a short-circuit failure has occurred between the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch element 201a, the failure determination unit 308 performs control to turn off the power supply device 2. Good.

以上、本発明の一実施形態による電源システム1について説明した。電源システム1において、不具合判定装置30は、コンパレータ301と、不具合判定部308と、を備える。コンパレータ301は、入力端子IN、出力端子OUT及び制御端子Gを有するスイッチ部201の入力端子INと出力端子OUTとの間のダイオード201bの順方向電圧VFに基づいて設定される基準電圧Vrefと、入力端子INと出力端子OUTとの間の電圧ΔVとを比較する。コンパレータ301は、比較した結果に応じた比較結果信号を出力する。不具合判定部308は、入力端子INと出力端子OUTとの間の接続状態を制御する接続状態制御信号SW_ON、比較結果信号、及び、自電源装置2を起動させる起動信号に基づいて、スイッチ部201における不具合の有無を判定する。
このようにすれば、電源システム1において、ORing回路20におけるスイッチ部201に不具合が発生したことをより正確に判定することができる。
The power supply system 1 according to the embodiment of the present invention has been described above. In the power supply system 1, the failure determination device 30 includes a comparator 301 and a failure determination unit 308. The comparator 301 includes a reference voltage Vref set based on the forward voltage VF of the diode 201b between the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch unit 201 having the input terminal IN, the output terminal OUT, and the control terminal G. The voltage ΔV between the input terminal IN and the output terminal OUT is compared. The comparator 301 outputs a comparison result signal corresponding to the comparison result. The defect determination unit 308 is based on the connection state control signal SW_ON that controls the connection state between the input terminal IN and the output terminal OUT, the comparison result signal, and the activation signal that activates the own power supply device 2. It is determined whether there is a defect in.
In this way, in the power supply system 1, it can be more accurately determined that a problem has occurred in the switch unit 201 in the ORing circuit 20.

次に、本発明の実施形態による最小構成の不具合判定装置30について説明する。
本発明の実施形態による最小構成の不具合判定装置30は、図8に示すように、コンパレータ301と、不具合判定部308と、を備える。
コンパレータ301は、入力端子IN、出力端子OUT及び制御端子Gを有するスイッチ部201の入力端子INと出力端子OUTとの間のダイオード201bの順方向電圧VFに基づいて設定される基準電圧Vrefと、入力端子INと出力端子OUTとの間の電圧ΔVとを比較する。コンパレータ301は、比較した結果に応じた比較結果信号を出力する。
不具合判定部308は、入力端子INと出力端子OUTとの間の接続状態を制御する接続状態制御信号SW_ON、比較結果信号、及び、自電源装置2を起動させる起動信号に基づいて、スイッチ部201における不具合の有無を判定する。
このようにすれば、電源システム1において、ORing回路20におけるスイッチ部201に不具合が発生したことをより正確に判定することができる。
Next, the defect determination device 30 having the minimum configuration according to the embodiment of the present invention will be described.
As shown in FIG. 8, the minimum defect determination device 30 according to the embodiment of the present invention includes a comparator 301 and a defect determination unit 308.
The comparator 301 includes a reference voltage Vref set based on the forward voltage VF of the diode 201b between the input terminal IN and the output terminal OUT of the switch unit 201 having the input terminal IN, the output terminal OUT, and the control terminal G. The voltage ΔV between the input terminal IN and the output terminal OUT is compared. The comparator 301 outputs a comparison result signal corresponding to the comparison result.
The defect determination unit 308 is based on the connection state control signal SW_ON that controls the connection state between the input terminal IN and the output terminal OUT, the comparison result signal, and the activation signal that activates the own power supply device 2. It is determined whether there is a defect in.
In this way, in the power supply system 1, it can be more accurately determined that a problem has occurred in the switch unit 201 in the ORing circuit 20.

なお、本発明の実施形態における記憶部や記憶装置(レジスタ、ラッチを含む)は、適切な情報の送受信が行われる範囲においてどこに備えられていてもよい。また、記憶部や記憶装置は、適切な情報の送受信が行われる範囲において複数存在しデータを分散して記憶していてもよい。   Note that the storage unit and the storage device (including the register and the latch) in the embodiment of the present invention may be provided anywhere as long as appropriate information is transmitted and received. A plurality of storage units and storage devices may exist within a range where appropriate information is transmitted and received, and data may be distributed and stored.

なお、本発明の実施形態における処理は、適切な処理が行われる範囲において、処理の順番が入れ替わってもよい。   Note that the processing order of the processing according to the embodiment of the present invention may be changed within a range in which appropriate processing is performed.

本発明の実施形態における記憶部のそれぞれは、適切な情報の送受信が行われる範囲においてどこに備えられていてもよい。また、記憶部のそれぞれは、適切な情報の送受信が行われる範囲において複数存在しデータを分散して記憶していてもよい。   Each of the storage units in the embodiment of the present invention may be provided anywhere as long as appropriate information is transmitted and received. Each of the storage units may exist in a range in which appropriate information is transmitted and received, and data may be distributed and stored.

本発明の実施形態について説明したが、上述の電源システム1、電源装置2、不具合判定装置30、その他の制御装置は内部に、コンピュータシステムを有していてもよい。そして、上述した処理の過程は、プログラムの形式でコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記憶されており、このプログラムをコンピュータが読み出して実行することによって、上記処理が行われる。コンピュータの具体例を以下に示す。
図9は、少なくとも1つの実施形態に係るコンピュータの構成を示す概略ブロック図である。
コンピュータ5は、図9に示すように、CPU6、メインメモリ7、ストレージ8、インターフェース9を備える。
例えば、上述の電源システム1、電源装置2、不具合判定装置30、その他の制御装置のそれぞれは、コンピュータ5に実装される。そして、上述した各処理部の動作は、プログラムの形式でストレージ8に記憶されている。CPU6は、プログラムをストレージ8から読み出してメインメモリ7に展開し、当該プログラムに従って上記処理を実行する。また、CPU6は、プログラムに従って、上述した各記憶部に対応する記憶領域をメインメモリ7に確保する。
Although the embodiment of the present invention has been described, the above-described power supply system 1, power supply device 2, failure determination device 30, and other control devices may have a computer system therein. The process described above is stored in a computer-readable recording medium in the form of a program, and the above process is performed by the computer reading and executing this program. A specific example of a computer is shown below.
FIG. 9 is a schematic block diagram illustrating a configuration of a computer according to at least one embodiment.
As shown in FIG. 9, the computer 5 includes a CPU 6, a main memory 7, a storage 8, and an interface 9.
For example, each of the above-described power supply system 1, power supply device 2, failure determination device 30, and other control devices is mounted on the computer 5. The operation of each processing unit described above is stored in the storage 8 in the form of a program. The CPU 6 reads the program from the storage 8 and develops it in the main memory 7 and executes the above processing according to the program. Further, the CPU 6 secures a storage area corresponding to each of the above-described storage units in the main memory 7 according to the program.

ストレージ8の例としては、HDD(Hard Disk Drive)、SSD(Solid State Drive)、磁気ディスク、光磁気ディスク、CD−ROM(Compact Disc Read Only Memory)、DVD−ROM(Digital Versatile Disc Read Only Memory)、半導体メモリ等が挙げられる。ストレージ8は、コンピュータ5のバスに直接接続された内部メディアであってもよいし、インターフェース9または通信回線を介してコンピュータ5に接続される外部メディアであってもよい。また、このプログラムが通信回線によってコンピュータ5に配信される場合、配信を受けたコンピュータ5が当該プログラムをメインメモリ7に展開し、上記処理を実行してもよい。少なくとも1つの実施形態において、ストレージ8は、一時的でない有形の記憶媒体である。   Examples of the storage 8 include an HDD (Hard Disk Drive), an SSD (Solid State Drive), a magnetic disk, a magneto-optical disk, a CD-ROM (Compact Disc Read Only Memory), and a DVD-ROM (Digital Versatile Disc Disk). And semiconductor memory. The storage 8 may be an internal medium directly connected to the bus of the computer 5 or may be an external medium connected to the computer 5 via the interface 9 or a communication line. When this program is distributed to the computer 5 through a communication line, the computer 5 that has received the distribution may develop the program in the main memory 7 and execute the above processing. In at least one embodiment, the storage 8 is a non-transitory tangible storage medium.

また、上記プログラムは、前述した機能の一部を実現してもよい。さらに、上記プログラムは、前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるファイル、いわゆる差分ファイル(差分プログラム)であってもよい。   The program may realize part of the functions described above. Further, the program may be a so-called difference file (difference program) that can realize the above-described functions in combination with a program already recorded in the computer system.

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例であり、発明の範囲を限定しない。これらの実施形態は、発明の要旨を逸脱しない範囲で、追加、種々の省略、置き換え、変更を行ってよい。   Although several embodiments of the present invention have been described, these embodiments are examples and do not limit the scope of the invention. These embodiments may be added, variously omitted, replaced, and changed without departing from the gist of the invention.

1・・・電源システム
2・・・電源装置
3・・・負荷
5・・・コンピュータ
6・・・CPU
7・・・メインメモリ
8・・・ストレージ
9・・・インターフェース
10・・・コンバータ部
20・・・ORing回路
30・・・不具合判定装置
101・・・DC/DCコンバータ
102・・・コンデンサ
201・・・スイッチ部
201a・・・スイッチ素子
201b・・・ダイオード
202・・・ORing制御部
301・・・コンパレータ
302・・・電圧源
303・・・遅延回路
304、306・・・ANDゲート
305・・・INVゲート
307・・・ラッチ回路
308・・・不具合判定部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Power supply system 2 ... Power supply device 3 ... Load 5 ... Computer 6 ... CPU
7 ... main memory 8 ... storage 9 ... interface 10 ... converter unit 20 ... ORing circuit 30 ... failure determination device 101 ... DC / DC converter 102 ... capacitor 201 Switch unit 201a ... Switch element 201b ... Diode 202 ... ORing control unit 301 ... Comparator 302 ... Voltage source 303 ... Delay circuit 304, 306 ... AND gate 305 ...・ INV gate 307... Latch circuit 308.

Claims (6)

入力端子、出力端子及び制御端子を有するスイッチ部とダイオードとを有するORing回路におけるダイオードの順方向電圧に基づいて設定される基準電圧と、前記入力端子と前記出力端子との間の電圧とを比較し、比較した結果に応じた比較結果信号を出力するコンパレータと、
前記入力端子と前記出力端子との間の接続状態を制御する接続状態制御信号、及び、前記比較結果信号に基づいて、前記スイッチ部における不具合の有無を判定する不具合判定部と、
を備える不具合判定装置。
A reference voltage set based on a forward voltage of a diode in an ORing circuit having a diode and a switch unit having an input terminal, an output terminal and a control terminal is compared with a voltage between the input terminal and the output terminal. A comparator that outputs a comparison result signal according to the comparison result;
A connection state control signal that controls a connection state between the input terminal and the output terminal, and a failure determination unit that determines the presence or absence of a failure in the switch unit based on the comparison result signal;
A defect determination apparatus comprising:
遅延回路によって遅延した前記起動信号に係る信号と、前記比較結果信号との論理積を演算する第1論理ゲートと、
前記第1論理ゲートが演算した前記論理積と、前記接続状態制御信号に係る信号との論理積を演算する第2論理ゲートと、
を備え、
前記不具合判定部は、
前記第2論理ゲートが演算した演算結果に基づいて、前記不具合の有無を判定する、
請求項1に記載の不具合判定装置。
A first logic gate that calculates a logical product of the signal related to the activation signal delayed by the delay circuit and the comparison result signal;
A second logic gate for calculating a logical product of the logical product calculated by the first logical gate and a signal related to the connection state control signal;
With
The defect determination unit
Based on the calculation result calculated by the second logic gate, the presence or absence of the defect is determined.
The malfunction determination device according to claim 1.
前記不具合は、
前記スイッチ部の前記入力端子と前記出力端子との間の短絡である、
請求項1に記載の不具合判定装置。
The defect is
A short circuit between the input terminal and the output terminal of the switch unit;
The malfunction determination device according to claim 1.
請求項1から請求項3の何れか一項に記載の不具合判定装置と、
入力端子、出力端子及び制御端子を有し、前記入力端子にアノードが接続され前記出力端子にカソードが接続されたダイオードを有するスイッチ部、及び、前記制御端子に入力する接続状態制御信号に基づいて、前記入力端子と前記出力端子との間の接続状態を制御する制御部を備えるORing回路と、
を備える電源装置。
The defect determination device according to any one of claims 1 to 3,
Based on a switch unit having a diode having an input terminal, an output terminal and a control terminal, an anode connected to the input terminal and a cathode connected to the output terminal, and a connection state control signal input to the control terminal An ORing circuit comprising a control unit for controlling a connection state between the input terminal and the output terminal;
A power supply device comprising:
入力端子、出力端子及び制御端子を有するスイッチ部とダイオードとを有するORing回路におけるダイオードの順方向電圧に基づいて設定される基準電圧と、前記入力端子と前記出力端子との間の電圧とを比較し、比較した結果に応じた比較結果信号を出力するコンパレータを備える不具合判定装置の判定方法であって、
前記入力端子と前記出力端子との間の接続状態を制御する接続状態制御信号、及び、前記比較結果信号に基づいて、前記スイッチ部における不具合の有無を判定すること、
を含む不具合判定装置の判定方法。
A reference voltage set based on a forward voltage of a diode in an ORing circuit having a diode and a switch unit having an input terminal, an output terminal and a control terminal is compared with a voltage between the input terminal and the output terminal. And a determination method of a defect determination apparatus including a comparator that outputs a comparison result signal according to a comparison result,
Based on a connection state control signal for controlling a connection state between the input terminal and the output terminal, and the comparison result signal, it is determined whether there is a malfunction in the switch unit,
A method for determining a defect determination device including:
入力端子、出力端子及び制御端子を有するスイッチ部とダイオードとを有するORing回路におけるダイオードの順方向電圧に基づいて設定される基準電圧と、前記入力端子と前記出力端子との間の電圧とを比較し、比較した結果に応じた比較結果信号を出力するコンパレータを備える不具合判定装置のコンピュータに、
前記入力端子と前記出力端子との間の接続状態を制御する接続状態制御信号、及び、前記比較結果信号に基づいて、前記スイッチ部における不具合の有無を判定すること、
を実行させるプログラム。
A reference voltage set based on a forward voltage of a diode in an ORing circuit having a diode and a switch unit having an input terminal, an output terminal and a control terminal is compared with a voltage between the input terminal and the output terminal. Then, in the computer of the failure determination device provided with a comparator that outputs a comparison result signal according to the comparison result,
Based on a connection state control signal for controlling a connection state between the input terminal and the output terminal, and the comparison result signal, it is determined whether there is a malfunction in the switch unit,
A program that executes
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