JP2018130837A - Multilayer film roll, and method for producing the multilayer film roll - Google Patents

Multilayer film roll, and method for producing the multilayer film roll Download PDF

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俊介 市村
Shunsuke Ichimura
俊介 市村
奥山 哲雄
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a laminated plate obtained by temporarily fixing a polymer film base material for obtaining a satisfactory flexible electronic device.SOLUTION: A multilayer film obtained by successively winding a polymer film base material layer having a width exceeding 500 mm and a thickness of 12 to 190 μm, a polyimide precursor layer having a thickness of 5 to 200 μm and a thickness variation of 20% or lower, including an organic solvent in a ratio of 20 to 35 mass%, and, preferably, having a reduction viscosity of 0.5 to 5.0 dL/g and a separator film layer having a thickness of 5 to 130 μm around a columnar winding core in a length of 50 m or higher to obtain a multilayer film roll. From the multilayer film roll, a polyimide precursor film is pulled out and is laminated on a glass or the like to obtain a laminated plate.SELECTED DRAWING: None

Description

本発明は、フレキシブルなポリイミドフィルムをリジッドな仮支持用無機基板に仮固定し積層体として、次いでポリイミドフィルム上に各種電子デバイス、もしくは機能性薄膜を形成した後に、ポリイミドフィルムを電子デバイス部、もしくは機能性薄膜ごと剥離して、フレキシブル電子デバイス、もしくは機能性薄膜を得る製造技術、該積層体、および該積層体を得るためのポリイミド前駆体ロールに関する。   In the present invention, a flexible polyimide film is temporarily fixed to a rigid temporary supporting inorganic substrate as a laminate, and then various electronic devices or functional thin films are formed on the polyimide film, and then the polyimide film is converted into an electronic device portion, or The present invention relates to a manufacturing technique for peeling a functional thin film together to obtain a flexible electronic device or a functional thin film, the laminate, and a polyimide precursor roll for obtaining the laminate.

情報通信機器(放送機器、移動体無線、携帯通信機器等)、レーダー、高速情報処理装置等における電子部品として、半導体素子、MEMS素子、ディスプレイ素子などの機能素子(デバイス)が用いられるが、これらは従来、ガラス、シリコンウエハ、セラミック基材等の無機基板上にて形成ないし搭載されるのが一般的であった。しかし、近年、電子部品の軽量化、小型・薄型化、フレキシビリティ化が求められるなか、高分子フィルム基板上に各種機能素子を形成する試みがなされている。   Functional elements (devices) such as semiconductor elements, MEMS elements, and display elements are used as electronic components in information communication equipment (broadcast equipment, mobile radio, portable communication equipment, etc.), radar, high-speed information processing devices, etc. Conventionally, it is generally formed or mounted on an inorganic substrate such as glass, a silicon wafer, or a ceramic substrate. However, in recent years, attempts have been made to form various functional elements on a polymer film substrate in light of the demand for lighter, smaller, thinner, and more flexible electronic components.

さらに、近年、高機能化する携帯電話やディスプレイ機器で使用される旧来のガラス基板に変わって用いられる透明高分子フィルム基板への関心も高まっている。   Furthermore, in recent years, there has been an increasing interest in transparent polymer film substrates used in place of conventional glass substrates used in highly functional mobile phones and display devices.

各種機能素子を高分子フィルム表面に形成するにあたっては、高分子フィルムの特性であるフレキシビリティを利用した、いわゆるロール・トゥ・ロールプロセスにて加工することが理想とされる。しかしながら、半導体産業、MEMS産業、ディスプレイ産業等の業界においては、これまでウエハベースまたはガラス基板ベース等のリジッドな平面基板を対象としたプロセス技術が主流であった。そこで、既存インフラを利用して各種機能素子を高分子フィルム表面に形成するために、高分子フィルムを無機物(ガラス板、セラミック板、シリコンウエハ、金属板など)からなるリジッドな支持体に貼り合わせておき、所望の素子を形成した後に支持体から剥離するというプロセスが考案された。   In forming various functional elements on the surface of the polymer film, it is ideal to process by a so-called roll-to-roll process using the flexibility that is a characteristic of the polymer film. However, in the industries such as the semiconductor industry, the MEMS industry, and the display industry, a process technology for a rigid flat substrate such as a wafer base or a glass substrate base has been mainstream. Therefore, in order to form various functional elements on the surface of the polymer film using the existing infrastructure, the polymer film is bonded to a rigid support made of an inorganic material (glass plate, ceramic plate, silicon wafer, metal plate, etc.). A process has been devised in which a desired element is formed and then peeled off from the support.

一般に機能素子を形成する工程においては、比較的高温が用いられることが多い。例えば、ポリシリコンや酸化物半導体などの機能素子の形成においては200〜500℃程度の温度域が用いられる。低温ポリシリコン薄膜トランジスタの作製においては脱水素化のために450℃程度の加熱が必要になる場合がある。水素化アモルファスシリコン薄膜の作製においても200〜300℃程度の温度域が必要になる。ここに例示した温度域は、無機材料にとってはさほど高い温度ではないが、高分子フィルムや、一般に高分子フィルムの貼り合わせに利用される接着剤にとっては、相当に高い温度であると云わざるを得ない。先に述べた高分子フィルムを無機基板に貼り合わせ、機能素子形成後に剥離するという手法に於いて、用いられる高分子フィルムや貼り合わせに用いられる接着剤、粘着剤にも十分な耐熱性が求められる所以であるが、現実問題としてかかる高温域にて実用に耐える高分子フィルムは限られている。また、従来の貼り合わせ用接着剤、粘着剤に至っては十分な耐熱性を有したものが得られていない。   In general, a relatively high temperature is often used in the step of forming a functional element. For example, a temperature range of about 200 to 500 ° C. is used in forming a functional element such as polysilicon or an oxide semiconductor. In manufacturing a low-temperature polysilicon thin film transistor, heating at about 450 ° C. may be required for dehydrogenation. Also in the production of a hydrogenated amorphous silicon thin film, a temperature range of about 200 to 300 ° C. is required. The temperature range exemplified here is not so high for inorganic materials, but it can be said that it is considerably high for polymer films and adhesives generally used for laminating polymer films. I don't get it. Adhering the above-mentioned polymer film to an inorganic substrate and peeling off after forming the functional element, the polymer film used, the adhesive used for bonding, and the adhesive also require sufficient heat resistance. As a matter of fact, however, there are limited polymer films that can withstand practical use in such a high temperature range. In addition, conventional adhesives and pressure-sensitive adhesives have not been obtained with sufficient heat resistance.

一般に、高分子フィルムを無機基板に仮貼り付けする耐熱接着手段が得られないため、かかる用途においては、無機基板上に高分子フィルムの溶液、ないし前駆体溶液を塗布して無機基板上で乾燥・硬化させてフィルム化して当該用途に使用する、所謂ワニス法ないしCoat−debond法と呼ばれる技術が知られている。
例えば特許文献1には、ガラス基板にポリイミド層を塗布した後、加熱処理により硬化させて形成し、その上に薄膜アクティブ素子を形成し、ガラス基板から剥離するフレキシブルなアクティブマトリクス層の製造方法が開示されている。しかしながら、かかる手段により得られる高分子膜は、限られた面積に前駆体溶液を塗布しなければならない制約上、厚膜を得ることが難しく、また膜厚斑が大きく、中央から端部まで均質な厚さを有するフィルムを得る事が極めて難しい。また、本手法で得られるフィルムは脆く裂けやすいため、無機基板から剥離する際に機能素子を破壊してしまう場合が多い。特に大面積のデバイスを剥離することは極めて難度が高く、およそ工業的に成り立つ歩留まりを得ることはできない。
本発明者らは、このような事情に鑑み、機能素子を形成するための高分子フィルムと支持体との積層体として、耐熱性に優れ強靭で薄膜化が可能なポリイミドフィルムを、カップリング剤を介して無機物からなる支持体(無機層)に貼り合わせてなる積層体を提案した(特許文献2〜4)。これら特許文献2〜4に記載された積層体を用いれば、所謂接着剤、粘着剤的な要素を用いることなく、高分子フィルムと無機基板との貼り合わせが可能となり、さらにその積層体は薄膜デバイスを製作するに必要な高温に暴露されても、高分子フィルムの剥離は生じない。従って当該積層体を、従来のガラス板やシリコンウエハなどの無機物の基板上に直接電子デバイスを形成するプロセスに、供することにより、高分子フィルム上に電子デバイスを製作することが可能であり、高分子フィルムを無機基板から剥離することによりフレキシブルな電子デバイスの実現が可能となった。
Generally, since a heat-resistant adhesive means for temporarily attaching a polymer film to an inorganic substrate cannot be obtained, in such applications, a polymer film solution or a precursor solution is applied onto the inorganic substrate and then dried on the inorganic substrate. A technique called a varnish method or a coat-debond method, which is cured and formed into a film and used for the application, is known.
For example, Patent Document 1 discloses a method for manufacturing a flexible active matrix layer in which a polyimide layer is applied to a glass substrate and then cured by heat treatment, a thin film active element is formed thereon, and then peeled off from the glass substrate. It is disclosed. However, the polymer film obtained by such means is difficult to obtain a thick film due to the restriction that the precursor solution must be applied to a limited area, and has a large film thickness unevenness from the center to the end. It is extremely difficult to obtain a film having a sufficient thickness. Moreover, since the film obtained by this method is brittle and easily torn, the functional element is often destroyed when peeling from the inorganic substrate. In particular, it is extremely difficult to peel off a device having a large area, and it is not possible to obtain a yield that can be industrially established.
In view of such circumstances, the present inventors, as a laminate of a polymer film and a support for forming a functional element, use a polyimide film that has excellent heat resistance and is strong and can be made into a thin film as a coupling agent. The laminated body formed by sticking together to the support body (inorganic layer) which consists of an inorganic substance through was proposed (patent documents 2-4). If the laminated body described in these patent documents 2-4 is used, it will become possible to bond a polymer film and an inorganic substrate, without using what is called an adhesive and an adhesive element, and also the laminated body is a thin film. Exfoliation of the polymer film does not occur even when exposed to the high temperatures required to fabricate the device. Therefore, it is possible to produce an electronic device on a polymer film by subjecting the laminate to a process for forming an electronic device directly on an inorganic substrate such as a conventional glass plate or silicon wafer. A flexible electronic device can be realized by peeling the molecular film from the inorganic substrate.

しかしながら、かかる技術は、以下に示すような工業生産上の課題が残るものであった。
特に高精細な電子デバイスの製作を行う場合には、収率が課題となる。高分子フィルムと無機基板間に異物が混入した場合、異物上、およびその周辺においては、異物を支柱と見立てたテント状の構造が生じる。これは高分子フィルムと無機基板の間に空隙を生じ、部分的に接着していない箇所を生じさせることになる。かかる空隙に閉じこめられた気体は、加熱環境下や減圧環境下において膨らもうとするため、膨れ欠陥(ブリスタートも云う)の原因となる。また、空隙部分は接着していない訳であるから、巨視的に接着強度を捉えた場合には、接着強度の変動が大となる。
異物が存在する近傍は、高分子フィルム自体が盛り上がった状態となり、特にフォトリソグラフを用いるパターン形成や、マイクロコンタクト印刷のような高精細なパターン形成の際に、阻害要因となり、良好な電子デバイス形成が行えない場合が生じる。
However, this technique still has the following problems in industrial production.
In particular, when manufacturing a high-definition electronic device, yield is an issue. When foreign matter is mixed between the polymer film and the inorganic substrate, a tent-like structure in which the foreign matter is regarded as a support is formed on and around the foreign matter. This creates voids between the polymer film and the inorganic substrate, resulting in locations that are not partially bonded. Since the gas confined in the gap tends to swell in a heating environment or a reduced pressure environment, it causes a swell defect (also called blistering). Further, since the void portion is not bonded, when the bonding strength is macroscopically grasped, the variation in the bonding strength becomes large.
In the vicinity where foreign matter exists, the polymer film itself is in a raised state, which becomes an obstructive factor in pattern formation using photolithographs and high-definition patterns such as microcontact printing, and good electronic device formation There is a case that cannot be performed.

かかる異物は、無機基板表面と高分子フィルム表面の清浄化と、作業環境のクリーン化により減ずることが可能である。しかしながら、高クリーン度の環境下での作業は設備に多大なる費用を要し、作業員の出入り、資材の搬入についても大きな制限が必要となる。電子回路素子のような、比較的小さい面積のデバイスであれば、加工装置サイズも小さくすることが可能であり、また欠点が生じたとしても欠点部分を避けて使用することができ、実用上十分な収率が望めるが、ディスプレイのような大面積デバイスの場合には、収率が極めて低くなるであろう事が推察される。   Such foreign matter can be reduced by cleaning the surface of the inorganic substrate and the surface of the polymer film and cleaning the work environment. However, work in a high clean environment requires a large amount of equipment, and there are significant restrictions on the entry and exit of workers and the loading of materials. If the device has a relatively small area, such as an electronic circuit element, the size of the processing apparatus can be reduced, and even if a defect occurs, it can be used while avoiding the defect part, which is practically sufficient. It can be expected that the yield will be very low in the case of a large area device such as a display.

本発明者らは前記課題を解決するために、ワニス法とフィルムを直接貼りつける手法との短所を解決し、無機基板上に、耐熱性とフレキシブル性を備え、フレキシブル電子デバイスの基材として有用なポリイミドフィルム層を、欠点無く形成することを可能ならしめるポリイミド前駆体フィルム層/無機基板積層体を提案した(特許文献5,6)。   In order to solve the above problems, the present inventors have solved the shortcomings of the varnish method and the technique of directly attaching a film, and have heat resistance and flexibility on an inorganic substrate, and are useful as a base material for flexible electronic devices. Have proposed a polyimide precursor film layer / inorganic substrate laminate that makes it possible to form a simple polyimide film layer without any defects (Patent Documents 5 and 6).

特開2001−356370号公報JP 2001-356370 A 特開2010−283262号公報JP 2010-283262 A 特開2011−11455号公報JP 2011-11455 A 特開2011−245675号公報JP 2011-245675 A 特開2015−202674号公報Japanese Patent Laying-Open No. 2015-202675 特開2015−202675号公報JP2015-202675A

上述した特許文献5,6に記載のポリイミド前駆体フィルムは柔軟性があり、また適度に塑性変形も可能であるため、ポリイミド前駆体フィルムと無機基板との間に異物が介在した場合においても、欠点とならないように積層中間体を作製することが可能となるものの、柔軟なポリイミド前駆体フィルムそのものの巻き取り、巻き出し時の取り扱い性や傷、異物からの保護などについての課題が残されるものであった。   Since the polyimide precursor film described in Patent Documents 5 and 6 described above is flexible and can be appropriately plastically deformed, even when foreign matter is interposed between the polyimide precursor film and the inorganic substrate, Although it is possible to produce a laminated intermediate so as not to be a defect, problems remain regarding winding of the flexible polyimide precursor film itself, handling and scratches during unwinding, protection from foreign matters, etc. Met.

本発明者らは前記課題を解決するために鋭意検討した結果、ポリイミド前駆体フィルムの取り扱い性を向上させ、無機基板上に、耐熱性とフレキシブル性を備え、フレキシブル電子デバイス、もしくは機能性薄膜の基材として有用なポリイミドフィルム層を、欠点無く形成することを可能ならしめるポリイミド前駆体ロールの発明に到達した。   As a result of diligent studies to solve the above problems, the present inventors have improved the handleability of the polyimide precursor film, and have heat resistance and flexibility on the inorganic substrate, and the flexible electronic device or the functional thin film. The inventors have reached the invention of a polyimide precursor roll that makes it possible to form a polyimide film layer useful as a substrate without any defects.

すなわち本発明は以下の構成からなる。
[1] 円柱状の巻き芯に、幅500mmを越える幅を有し、かつ長さが50m以上の多層フィルムがロール状に巻き取られた多層フィルムロールであって、
前記多層フィルムが、
厚さが12μm以上、190μm以下の高分子フィルム基材層、
厚さが5μm以上、200μm以下であり、厚さ斑が20%以下であり、有機溶剤を20質量%以上、35質量%以下の割合で有機溶剤を含むポリイミド前駆体層、
厚さが5μm以上、130μm以下のセパレーターフィルム層、
が順次積層された構造を有することを特長とする多層フィルムロール。
[2] 前記ポリイミド前駆体の還元粘度が0.5dL/g以上、5.0dL/g以下である事を特長とする[1]に記載の多層フィルムロール。
[3] 前記高分子フィルム基材層の厚さ斑の絶対値が10μm以下であることを特長とする[1]または[2]に記載の多層フィルムロール。
[4] 前記セパレーターフィルム層の厚さ斑の絶対値が10μm以下である事を特長とする[1]から[3]のいずれかに記載の多層フィルムロール。
[5] 前記円柱状の巻き芯の内径の真円度が99.87%以上であり、外径の真円度が99.87%以上であることを特長とする[1]から[4]のいずれかに記載の多層フィルムロール。
[6] 内径の真円度が99.87%以上であり、外径の真円度が99.87%以上である巻き芯を、偏心が200μm以下となるように装着された巻き芯を用い、
厚さが12μm以上、190μm以下であり厚さ斑の絶対値が10μm以下である高分子フィルム基材に、ポリイミド前駆体の有機溶剤溶液を塗布し、有機溶剤の含有量がポリイミド前駆体と有機溶剤の総和に対して20質量%以上、35質量%以下の範囲となるように乾燥し、
さらに厚さが5μm以上、130μm以下であり厚さ斑の絶対値が10μm以下であるセパレーターフィルムを前記ポリイミド前駆体と溶剤を含む層に重ねて巻き取ることを特長とする請求項[1]から[5]のいずれかに記載の多層フィルムロールを製造する方法。
That is, the present invention has the following configuration.
[1] A multilayer film roll in which a multilayer film having a width exceeding 500 mm and a length of 50 m or more is wound in a roll shape on a cylindrical core,
The multilayer film is
A polymer film substrate layer having a thickness of 12 μm or more and 190 μm or less,
A polyimide precursor layer having a thickness of 5 μm or more and 200 μm or less, a thickness spot of 20% or less, and an organic solvent in a proportion of 20% by mass or more and 35% by mass or less;
A separator film layer having a thickness of 5 μm or more and 130 μm or less,
A multilayer film roll characterized by having a structure in which the layers are sequentially laminated.
[2] The multilayer film roll according to [1], wherein the reduced viscosity of the polyimide precursor is 0.5 dL / g or more and 5.0 dL / g or less.
[3] The multilayer film roll according to [1] or [2], wherein an absolute value of a thickness unevenness of the polymer film substrate layer is 10 μm or less.
[4] The multilayer film roll according to any one of [1] to [3], wherein an absolute value of a thickness unevenness of the separator film layer is 10 μm or less.
[5] The roundness of the inner diameter of the cylindrical core is 99.87% or more, and the roundness of the outer diameter is 99.87% or more [1] to [4] A multilayer film roll according to any one of the above.
[6] A winding core having an inner diameter roundness of 99.87% or more and an outer diameter roundness of 99.87% or more is used with a winding core mounted so that the eccentricity is 200 μm or less. ,
An organic solvent solution of a polyimide precursor is applied to a polymer film substrate having a thickness of 12 μm or more and 190 μm or less and an absolute value of the thickness unevenness of 10 μm or less. Dry so as to be in the range of 20% by mass or more and 35% by mass or less with respect to the total amount of the solvent,
Further, the separator film having a thickness of 5 μm or more and 130 μm or less and an absolute value of the thickness unevenness of 10 μm or less is wound on the layer containing the polyimide precursor and the solvent. [5] A method for producing the multilayer film roll according to any one of [5].

さらに本発明では以下の構成を有する事が好ましい。
[7] [1]から[5]のいずれかに記載の多層フィルムロールより巻き出したポリイミド前駆体を含む層を、あらかじめ有機化処理されている無機基板に積層してポリイミド前駆体フィルム層/無機基板積層体を得る方法。
[8] [7]に記載の方法で得られたポリイミド前駆体フィルム層/無機基板積層体を加熱処理してポリイミド前駆体フィルムをポリイミドフィルムに転化し、ポリイミドフィルム/無機基板積層体を得る方法。
[9] [8]に記載の方法で得られたポリイミドフィルム/無機基板積層体のポリイミドフィルム面に機能性薄膜ないし電子デバイスを形成し、機能化ポリイミドフィルム層/無機基板積層体を得る方法。
[10] [9]に記載の方法で得られた機能化ポリイミドフィルム層/無機基板積層体から、機能かポリイミドフィルム層を剥離することを特長とする機能化ポリイミドフィルムの製法。
[11] 加熱処理によりポリイミドフィルムの400nmの光透過率が70%以上、HAZEが1.5%以下、黄色度が5.0以下である事を特長とする[1]から[5]に記載の多層フィルムロール、「6」から[10]に記載の方法。
Further, the present invention preferably has the following configuration.
[7] A layer containing a polyimide precursor unwound from the multilayer film roll according to any one of [1] to [5] is laminated on an inorganic substrate that has been organically treated in advance to obtain a polyimide precursor film layer / A method for obtaining an inorganic substrate laminate.
[8] A method of obtaining a polyimide film / inorganic substrate laminate by heat-treating the polyimide precursor film layer / inorganic substrate laminate obtained by the method according to [7] to convert the polyimide precursor film into a polyimide film. .
[9] A method of obtaining a functionalized polyimide film layer / inorganic substrate laminate by forming a functional thin film or an electronic device on the polyimide film surface of the polyimide film / inorganic substrate laminate obtained by the method according to [8].
[10] A method for producing a functionalized polyimide film, wherein the functionalized polyimide film layer is peeled off from the functionalized polyimide film layer / inorganic substrate laminate obtained by the method according to [9].
[11] As described in [1] to [5], the light transmittance at 400 nm of the polyimide film is 70% or more, the HAZE is 1.5% or less, and the yellowness is 5.0 or less by heat treatment. A multilayer film roll according to [6] to [10].

先に述べたように、ポリイミド前駆体フィルムは柔軟性があり、また適度に塑性変形も可能であるため、ポリイミド前駆体フィルムと無機基板との間に異物が介在した場合においても、欠点とならないように積層中間体を作製することが可能となるものの、その柔軟性ゆえポリイミド前駆体フィルムの巻き取り、巻き出し時の取り扱い性や傷、異物からの保護には課題が残っていた。   As described above, the polyimide precursor film is flexible and can be appropriately plastically deformed. Therefore, even when a foreign substance is interposed between the polyimide precursor film and the inorganic substrate, there is no disadvantage. Thus, although it is possible to produce a laminated intermediate as described above, due to its flexibility, problems remain in winding up the polyimide precursor film, handling properties during unwinding, scratches, and protection from foreign matter.

本発明によれば、高分子フィルム基材上に形成されたポリイミド前駆体フィルムをセパレーターフィルムと共に巻き上げることで、傷や異物等から保護されたポリイミド前駆体フィルムロールを得ることができる。さらに、該ポリイミド前駆体フィルムを用いることで、表面に傷や異物の少ない品位の良いポリイミド前駆体フィルム層/無機基板積層体、および機能化ポリイミドフィルム層/無機基板積層体を得ることが可能となる。該機能化ポリイミドフィルム層/無機基板積層体から剥離されることで得られるフレキシブル電子デバイス又は機能性薄膜は各種ディスプレイ等の電子デバイス・光デバイスに好適であり、該ポリイミドフィルム層が透明である場合には、シースルー型のディスプレイ等への使用も可能となる。   According to the present invention, a polyimide precursor film roll protected from scratches, foreign matters, and the like can be obtained by winding up a polyimide precursor film formed on a polymer film substrate together with a separator film. Furthermore, by using the polyimide precursor film, it is possible to obtain a good quality polyimide precursor film layer / inorganic substrate laminate and a functionalized polyimide film layer / inorganic substrate laminate with few scratches and foreign matters on the surface. Become. The flexible electronic device or functional thin film obtained by peeling from the functionalized polyimide film layer / inorganic substrate laminate is suitable for electronic devices and optical devices such as various displays, and the polyimide film layer is transparent. In addition, it can be used for a see-through display or the like.

本発明のポリイミド前駆体フィルムロールは、高分子フィルム基材とその表面に形成されたポリイミド前駆体フィルムからなるポリイミド前駆体フィルム層/高分子フィルム基材積層体とセパレーターフィルム層から構成される。 The polyimide precursor film roll of the present invention comprises a polyimide precursor film layer / polymer film substrate laminate comprising a polymer film substrate and a polyimide precursor film formed on the surface thereof, and a separator film layer.

本発明におけるポリイミド前駆体フィルムとは、概ね半固体状である程度の弾性変形と塑性変形が可能な状態のポリイミド前駆体からなるフィルム層を意味する。かかるフィルム層は有機溶剤を含有する場合が多いが、本発明では便宜上、ポリイミド前駆体と有機溶剤を含む層をポリイミド前駆体フィルム、ないしポリイミド前駆体フィルム層と呼ぶ。本発明のポリイミド前駆体フィルム層は、高粘度の液体、あるいは極めて柔らかい固体、ないしスラリー、ゲル、ゾル、等と呼ばれる固液複合体などいずれの状態でも良いが、少なくとも自重で流れ出すような状態ではなく、前記セパレーターフィルムとともに巻き取ることができる程度の自己支持性を有する物である。
ポリイミド前駆体には、乾燥固化することによりポリイミドフィルム層となる様なポリイミドの高濃度溶液のような物理的前駆体が含まれる。また、前駆体には、残り1ないし数段階の化学反応を経て最終的なポリイミドとなるポリアミド酸のような化学的前駆体も含まれる。
The polyimide precursor film in the present invention means a film layer made of a polyimide precursor in a state that is approximately semi-solid and capable of elastic deformation and plastic deformation to some extent. Such a film layer often contains an organic solvent, but in the present invention, for convenience, a layer containing a polyimide precursor and an organic solvent is referred to as a polyimide precursor film or a polyimide precursor film layer. The polyimide precursor film layer of the present invention may be in any state such as a high-viscosity liquid, or a very soft solid, or a solid-liquid composite called a slurry, gel, sol, etc. And having a self-supporting property that can be wound together with the separator film.
The polyimide precursor includes a physical precursor such as a high concentration solution of polyimide that becomes a polyimide film layer by drying and solidifying. The precursor also includes a chemical precursor such as polyamic acid which becomes a final polyimide through the remaining one to several chemical reactions.

本発明におけるポリイミド前駆体の還元粘度は、好ましくは0.5dL/g以上、5.0dL/g以下であり、さらに好ましくは0.8dL/g以上、4.2dL/g以下であり、なおさらに好ましくはさらに好ましくは1.2dL/g以上、3.8dL/g以下である。還元粘度が所定の範囲を超えると、前駆体溶液の粘度が高くなりすぎて、送液や塗布時に過負荷となる。一方で還元粘度が所定の範囲に満たない場合には、得られる最終フィルムの靱性が低下する場合がある。   The reduced viscosity of the polyimide precursor in the present invention is preferably 0.5 dL / g or more and 5.0 dL / g or less, more preferably 0.8 dL / g or more and 4.2 dL / g or less, and still more. More preferably, it is 1.2 dL / g or more and 3.8 dL / g or less. When the reduced viscosity exceeds a predetermined range, the viscosity of the precursor solution becomes too high, and an overload occurs during liquid feeding or coating. On the other hand, if the reduced viscosity is less than the predetermined range, the toughness of the final film obtained may be reduced.

本発明におけるポリイミドフィルム層を形成するポリイミド樹脂としては、前駆体状態でフィルムを形成できるポリイミド樹脂であるなら、特に限定はされない。ポリアミドイミド、ポリエーテルイミド、ポリエステルイミド、芳香族ポリイミド、脂環族ポリイミド、フッ素化ポリイミド等を用いることが出来る。   The polyimide resin for forming the polyimide film layer in the present invention is not particularly limited as long as it is a polyimide resin that can form a film in a precursor state. Polyamideimide, polyetherimide, polyesterimide, aromatic polyimide, alicyclic polyimide, fluorinated polyimide, and the like can be used.

本発明のポリイミド前駆体フィルム層には、主成分となる高分子前駆体の他、溶剤、ゲル化剤、増粘剤、フィラー、などを必要に応じて適宜配合できる。   In addition to the polymer precursor as the main component, a solvent, a gelling agent, a thickener, a filler, and the like can be appropriately blended in the polyimide precursor film layer of the present invention as necessary.

本発明のポリイミド前駆体フィルム層の厚さは5μm以上であり、11μm以上が好ましく、19μm以上がなお好ましい。ポリイミド前駆体フィルム層の厚さの上限は特に制限されないが、フレキシブル電子デバイスとしての要求より200μm以下であることが好ましく、さらに180μm以下、なおさらには160μm以下が好ましい。   The thickness of the polyimide precursor film layer of the present invention is 5 μm or more, preferably 11 μm or more, and more preferably 19 μm or more. The upper limit of the thickness of the polyimide precursor film layer is not particularly limited, but is preferably 200 μm or less, more preferably 180 μm or less, and even more preferably 160 μm or less because of the demand as a flexible electronic device.

本発明のポリイミド前駆体フィルム層は、該ポリイミド前駆体を溶解することが可能な有機溶媒を20wt%以上含むことが好ましく、22wt%以上含むことがより好ましい。有機溶媒含有量が20wt%未満である場合にはポリイミド前駆体フィルム層と基材である高分子フィルムの密着性が強まり容易に剥離することが困難となる。ポリイミド前駆体フィルムの有機溶媒含有量の上限は35wt%以下であることが好ましく、さらに33wt%以下であることがより好ましく、なおさらには30wt%以下である事が好ましい。有機溶媒含有量が35wt%を超える場合には、ポリイミド前駆体フィルムの自己支持性が低下するため、取り扱いが困難となる。   The polyimide precursor film layer of the present invention preferably contains 20 wt% or more, more preferably 22 wt% or more of an organic solvent capable of dissolving the polyimide precursor. When the organic solvent content is less than 20 wt%, the adhesion between the polyimide precursor film layer and the polymer film as the substrate is increased, making it difficult to easily peel off. The upper limit of the organic solvent content of the polyimide precursor film is preferably 35 wt% or less, more preferably 33 wt% or less, and even more preferably 30 wt% or less. When the organic solvent content exceeds 35 wt%, the self-supporting property of the polyimide precursor film is lowered, and thus handling becomes difficult.

ポリイミド前駆体フィルム層に含まれる有機溶媒は該ポリイミド前駆体を溶解することが可能な有機溶媒であれば特に特定されないが、例えばN-メチル-2-ピロリドン、N,N-ジメチルアセトアミド、N.N-ジメチルホルムアミド、1、3-ジメチル-2-イミダゾリジノン、テトラメチルウレア、スルホラン、ジメチルスルホキシド、γ-ブチロラクトン、シクロヘキサノン、シクロペンタノンなどを用いることができる。これらは単独で使用しても、2種以上を併用してもよい。特に生産性やフィルムの光学特性を考慮すると有機溶剤の主成分としてN-メチル-2-ピロリドンやN,N-ジメチルアセトアミドを用いることが好ましい。また、これらの有機溶媒と併せて、トルエン、キシレンなどの貧溶媒をポリイミド系樹脂またはその前駆体が析出しない程度に使用してもよい。 The organic solvent contained in the polyimide precursor film layer is not particularly specified as long as it is an organic solvent capable of dissolving the polyimide precursor. For example, N-methyl-2-pyrrolidone, N, N-dimethylacetamide, NN- Dimethylformamide, 1,3-dimethyl-2-imidazolidinone, tetramethylurea, sulfolane, dimethyl sulfoxide, γ-butyrolactone, cyclohexanone, cyclopentanone, and the like can be used. These may be used alone or in combination of two or more. Considering productivity and optical properties of the film, it is preferable to use N-methyl-2-pyrrolidone or N, N-dimethylacetamide as the main component of the organic solvent. In addition to these organic solvents, a poor solvent such as toluene or xylene may be used to such an extent that the polyimide resin or its precursor does not precipitate.

本発明は、円柱状の巻き芯に、幅500mmを越える幅を有する多層フィルムロールである。
本発明は長さが50m以上の多層フィルムがロール状に巻き取られた多層フィルムロールである。
本発明は厚さが12μm以上、190μm以下の高分子フィルム基材層、
厚さが5μm以上、200μm以下であり、厚さ斑が20%以下であり、有機溶剤を20質量%以上、35質量%以下の割合で有機溶剤を含むポリイミド前駆体層、
厚さが5μm以上、130μm以下のセパレーターフィルム層、
が順次積層された構造を有する多層フィルムロールである。
The present invention is a multilayer film roll having a width exceeding 500 mm on a cylindrical winding core.
The present invention is a multilayer film roll in which a multilayer film having a length of 50 m or more is wound into a roll.
The present invention provides a polymer film substrate layer having a thickness of 12 μm or more and 190 μm or less,
A polyimide precursor layer having a thickness of 5 μm or more and 200 μm or less, a thickness spot of 20% or less, and an organic solvent in a proportion of 20% by mass or more and 35% by mass or less;
A separator film layer having a thickness of 5 μm or more and 130 μm or less,
Is a multilayer film roll having a structure in which are sequentially laminated.

本発明における円柱状の巻き芯とは、紙、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂、繊維強化プラスチック、金属などからなる。本発明では樹脂製ないし金属製の巻き芯が好ましく、ABS樹脂またはガラス繊維強化プラスチック製の巻き芯が好ましい。本発明の巻き芯の内径の真円度は99.87%以上が好ましく、さらに真円度99.94%以上が好ましい。また本発明の巻き芯は外径の真円度が99.87%以上であることが好ましく、さらに99.94%以上である事が好ましい。ここに真円度は円柱の任意の場所で測定した円柱の長径と短径において、次式で定義される。
真円度=100×短径/長径
In the present invention, the cylindrical winding core is made of paper, thermoplastic resin, thermosetting resin, fiber reinforced plastic, metal, or the like. In the present invention, a core made of resin or metal is preferable, and a core made of ABS resin or glass fiber reinforced plastic is preferable. The roundness of the inner diameter of the core of the present invention is preferably 99.87% or more, and more preferably 99.94% or more. In addition, the winding core of the present invention preferably has an outer diameter roundness of 99.87% or more, and more preferably 99.94% or more. Here, the roundness is defined by the following equation for the major axis and minor axis of the cylinder measured at an arbitrary position of the cylinder.
Roundness = 100 × minor axis / major axis

さらに本発明では内径の真円度が99.87%以上であり、外径の真円度が99.87%以上である巻き芯を、偏心が200μm以下となるように巻き取り機に装着して用いる事が望まれる。   Furthermore, in the present invention, a winding core having an inner diameter roundness of 99.87% or more and an outer diameter roundness of 99.87% or more is mounted on a winder so that the eccentricity is 200 μm or less. It is desirable to use it.

本発明におけるポリイミド前駆体フィルム層の厚さ斑は、20%以下であり、好ましくは12%以下、さらに好ましくは6%以下、特に好ましくは3%以下である。 なお、フィルムの厚さ斑は、例えば接触式の膜厚計にて被測定フィルムから無作為に10点程度以上、好ましくは30点の位置を抽出してフィルム厚を測定し、下記式に基づき求めることができる。
フィルムの厚さ斑(%)
=100×(最大フィルム厚−最小フィルム厚)÷平均フィルム厚
The thickness unevenness of the polyimide precursor film layer in the present invention is 20% or less, preferably 12% or less, more preferably 6% or less, and particularly preferably 3% or less. In addition, the film thickness unevenness is determined by, for example, extracting the position of about 10 points or more, preferably 30 points from the film to be measured with a contact-type film thickness meter, and measuring the film thickness. Can be sought.
Film thickness spots (%)
= 100 × (maximum film thickness−minimum film thickness) ÷ average film thickness

ポリイミド前駆体フィルム層の厚さ斑は、ほぼポリイミドフィルムの厚さ斑に反映される。ポリイミドフィルムはフィレキシブル電子デバイスの基板材料であり、電子デバイスそのものの機械的な特性を支配するため、厚さ斑が、ほぼ機械特性のム斑に対応することになる。電子デバイスの製造には、コーティング法、印刷法、フォトリソグラフ法などが組み合わされて用いられる。被印刷物であるフィルム基板の厚さ斑は被印刷物表面の凹凸として反映されるため、接触型の印刷法を用いた場合に凹部にパターンが転写されない場合が生じる。この現象はスクリーン印刷では比較的少ないが、接触転写を伴う平版印刷、平版オフセット印刷、グラビア印刷、グラビアオフセット印刷、凸版印刷、マイクロコンタクト印刷、反転印刷などの手法を用いた場合に問題となる場合が多い。また、フォトリソグラフ法を用いる場合には、フィルムの厚さ斑が、露光用マスクと被露光部との距離の斑に反映されるため、投影画像の焦点ずれ、エッジのぼやけなどが生じやすくなり、特に微細線や小さなドット形成おいては、大きな支障が出る。   The thickness unevenness of the polyimide precursor film layer is substantially reflected in the thickness unevenness of the polyimide film. A polyimide film is a substrate material for a flexible electronic device, and dominates the mechanical characteristics of the electronic device itself, so that the thickness unevenness corresponds to the unevenness of mechanical properties. For the manufacture of electronic devices, a coating method, a printing method, a photolithographic method, or the like is used in combination. Since the unevenness of the thickness of the film substrate, which is the substrate, is reflected as irregularities on the surface of the substrate, the pattern may not be transferred to the recess when the contact printing method is used. This phenomenon is relatively small in screen printing, but it becomes a problem when using lithographic printing with contact transfer, lithographic offset printing, gravure printing, gravure offset printing, letterpress printing, microcontact printing, reverse printing, etc. There are many. In addition, when using the photolithographic method, the film thickness unevenness is reflected in the distance unevenness between the exposure mask and the exposed portion, and therefore, the defocusing of the projected image and the edge blur are likely to occur. Especially in the formation of fine lines and small dots, there will be a great hindrance.

本発明で特に好ましく用いられるポリイミドフィルムは無色透明ポリイミドフィルムであり、芳香族ポリイミド、脂環族ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリエステルイミド、ポリエーテルイミドなどを用いることが出来る。ただし、反射型、ないし自発光型のディスプレイの背面素子を形成する場合においては、特にこの限りではない。   The polyimide film particularly preferably used in the present invention is a colorless transparent polyimide film, and aromatic polyimide, alicyclic polyimide, polyamideimide, polyesterimide, polyetherimide and the like can be used. However, this is not particularly the case when a back element of a reflective or self-luminous display is formed.

一般に透明ポリイミドフィルムは、溶媒中でジアミン類とテトラカルボン酸類とを反応させて得られるポリアミド酸(ポリイミド前駆体)溶液を、高分子フィルム基材に塗布、乾燥してグリーンフィルム(「前駆体フィルム」または「ポリアミド酸フィルム」ともいう)となし、さらにポリイミドフィルム作製用支持体上で、あるいは該支持体から剥がした状態でグリーンフィルムを高温熱処理して脱水閉環反応を行わせることによって得られる。また、溶媒中でジアミン類とテトラカルボン酸類とを反応させて、その後、化学イミド化剤により溶媒中でイミド化反応を進行させて得られたポリイミド溶液を、または、化学イミド化剤を含むポリイミド溶液から再沈殿等の方法で精製したポリイミドを再度有機溶媒に溶解させたポリイミド溶液を、 高分子フィルム基材に塗布、乾燥してグリーンフィルム(「前駆体フィルム」ともいう)となし、さらにポリイミドフィルム作製用支持体上で、あるいは該支持体から剥がした状態でグリーンフィルムを固化・乾燥させることで得られる。
本発明においては、これらのグリーンフィルムをポリイミド前駆体フィルムとして取り扱う。
In general, a transparent polyimide film is obtained by applying a polyamic acid (polyimide precursor) solution obtained by reacting diamines and tetracarboxylic acids in a solvent to a polymer film substrate and drying it to obtain a green film ("precursor film"). Or a “polyamic acid film”), and further, a green film is subjected to a high temperature heat treatment on a support for forming a polyimide film or in a state of being peeled from the support to cause a dehydration ring-closing reaction. Also, a polyimide solution obtained by reacting diamines and tetracarboxylic acids in a solvent and then proceeding an imidization reaction in a solvent with a chemical imidizing agent, or a polyimide containing a chemical imidizing agent A polyimide solution obtained by re-dissolving a polyimide purified by a method such as reprecipitation from a solution is again applied to a polymer film substrate and dried to form a green film (also referred to as a “precursor film”). It can be obtained by solidifying and drying the green film on a support for film production or in a state peeled off from the support.
In the present invention, these green films are handled as polyimide precursor films.

本発明のポリイミド系樹脂またはその前駆体の合成に用いられるジアミン成分は特に制限はなく、透明ポリイミド合成に通常用いられる芳香族ジアミン類、脂肪族ジアミン類、脂環式ジアミン類等を用いることができる。ジアミン化合物として例示すると、1,3-フェニレンジアミン、1,4-フェニレンジアミン、2,4-ジアミノトルエン、2,6-ジアミノトルエン、3,4-ジアミノトルエン、4,5-ジメチル-1,2-フェニレンジアミン、2,5-ジメチル-1,4-フェニレンジアミン、2,6-ジメチル-1,4-フェニレンジアミン、2,3,5,6-テトラメチル-1,4-フェニレンジアミン、3-アミノベンジルアミン、m-キシリレンジアミン、p-キシリレンジアミン、1,5-ジアミノナフタレン、2,2'-ジメチルビフェニル-4,4'-ジアミン、2,2'-ビス(トリフルオロメチル)ベンジジン、3,3'-ジメトキシベンジジン、4,4'-ジアミノオクタフルオロビフェニル、3,3'-ジアミノジフェニルメタン、3,4'-ジアミノジフェニルメタン、4,4'-ジアミノジフェニルメタン、4,4'-メチレンビス(2,6-ジエチルアニリン)、4,4'-メチレンビス(2-エチル-6-メチルアニリン)、4,4'-エチレンジアニリン、4,4'-ジアミノジフェニルエーテル、3,4'-ジアミノジフェニルエーテル、3,3'-ジアミノジフェニルエーテル、2,2’-ビス(トリフルオロメチル)-4,4’-ジアミノジフェニルエーテル、1,3-ビス(4-アミノフェノキシ)ベンゼン、1,3-ビス(3-アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4-ビス(4-アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4-ビス(4-アミノ-2-トリフルオロメチルフェノキシ)ベンゼン、4,4’-ビス(4-アミノフェノキシ)ビフェニル、4,4'-ジアミノ-3,3'-ジメチルジフェニルメタン、ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]スルフォン、ビス[4-(3-アミノフェノキシ)フェニル]スルフォン、2,2-ビス(4-アミノ
フェニル)ヘキサフルオロプロパン、2,2-ビス(3-アミノフェニル)ヘキサフルオロプロパン、2,2’-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2’-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]ヘキサフルオロプロパン、2,2-ビス(3-アミノ-4-メチルフェニル)ヘキサフルオロプロパン、α,α'-ビス(4-アミノフェニル)-1,4-ジイソプロピルベンゼン、ビス(2-アミノフェニル)スルフィド、ビス(4-アミノフェニル)スルフィド、3,3’-ジアミノジフェニルスルフォン、4,4’-ジアミノジフェニルスルフォン、4,4’-ジアミノジフェニルスルフィド、4,4’-ジアミノベンゾフェノン、3,3’-ジアミノベンゾフェノン、4,4'-ジアミノベンズアニリド、1,4−ビス(4−アミノベンゾイルオキシ)ベンゼン、1,4-ビス(4-アミノフェノキシ)ベンゼン、ビス(4-アミノフェニル)テレフタレート、2,7-ジアミノフルオレン、9,9-ビス(4-アミノフェニル)フルオレンなどの芳香族ジアミンが挙げられる。また脂肪族ジアミンとして1,3-ジアミノシクロヘキサン、1,4-ジアミノシクロヘキサン、1,3-ビス(アミノメチル)シクロヘキサン、1,1-ビス(4-アミノフェニル)シクロヘキサン、4,4’-ジアミノジシクロヘキシルメタン、4,4'-メチレンビス(2-メチルシクロヘキシルアミン)、4,4'-メチレンビス(2,6-ジメチルシクロヘキシルアミン)、4,4’-ジアミノジシクロヘキシルプロパン、ビシクロ[2.2.1]ヘプタン-2,3-ジアミン、ビシクロ[2.2.1]ヘプタン-2,5-ジアミン、ビシクロ[2.2.1]ヘプタン-2,6-ジアミン、ビシクロ[2.2.1]ヘプタン-2,7-ジアミン、2,3-ビス(アミノメチル)-ビシクロ[2.2.1]ヘプタン、2,5-ビス(アミノメチル)-ビシクロ[2.2.1]ヘプタン、2,6-ビス(アミノメチル)-ビシクロ[2.2.1]ヘプタン、3(4),8(9)-ビス(アミノメチル)トリシクロ[5.2.1.0(2,6)]デカンなどが例示される。これらの中で特に好ましいのはp-フェニレンジアミン、2,2'-ジメチルビフェニル-4,4'-ジアミン、2,2'-ビス(トリフルオロメチル)ベンジジン、2,2’-ビス(トリフルオロメチル)-4,4’-ジアミノジフェニルエーテル、1,4-ビス(4-アミノ-2-トリフルオロメチルフェノキシ)ベンゼン、1,4-ジアミノシクロヘキサン、4,4’-ジアミノジシクロヘキシルメタン、4,4'-メチレンビス(2-メチルシクロヘキシルアミン)、4,4'-メチレンビス(2,6-ジメチルシクロヘキシルアミン)である。上記アミン成分は単独で用いてもよいし、二種以上を併用してもよい。
The diamine component used for the synthesis of the polyimide resin of the present invention or a precursor thereof is not particularly limited, and aromatic diamines, aliphatic diamines, alicyclic diamines, etc. that are usually used for transparent polyimide synthesis may be used. it can. Examples of diamine compounds include 1,3-phenylenediamine, 1,4-phenylenediamine, 2,4-diaminotoluene, 2,6-diaminotoluene, 3,4-diaminotoluene, 4,5-dimethyl-1,2 -Phenylenediamine, 2,5-dimethyl-1,4-phenylenediamine, 2,6-dimethyl-1,4-phenylenediamine, 2,3,5,6-tetramethyl-1,4-phenylenediamine, 3- Aminobenzylamine, m-xylylenediamine, p-xylylenediamine, 1,5-diaminonaphthalene, 2,2'-dimethylbiphenyl-4,4'-diamine, 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine 3,3'-dimethoxybenzidine, 4,4'-diaminooctafluorobiphenyl, 3,3'-diaminodiphenylmethane, 3,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-methylenebis ( 2,6-diethylaniline), 4,4'-methylenebis (2-ethyl-6-methyla) Phosphorus), 4,4'-ethylenedianiline, 4,4'-diaminodiphenyl ether, 3,4'-diaminodiphenyl ether, 3,3'-diaminodiphenyl ether, 2,2'-bis (trifluoromethyl) -4, 4'-diaminodiphenyl ether, 1,3-bis (4-aminophenoxy) benzene, 1,3-bis (3-aminophenoxy) benzene, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene, 1,4-bis (4-Amino-2-trifluoromethylphenoxy) benzene, 4,4'-bis (4-aminophenoxy) biphenyl, 4,4'-diamino-3,3'-dimethyldiphenylmethane, bis [4- (4- Aminophenoxy) phenyl] sulfone, bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] sulfone, 2,2-bis (4-aminophenyl) hexafluoropropane, 2,2-bis (3-aminophenyl) hexafluoropropane 2,2'-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane, 2,2'-bis [4- (4-Aminophenoxy) phenyl] hexafluoropropane, 2,2-bis (3-amino-4-methylphenyl) hexafluoropropane, α, α'-bis (4-aminophenyl) -1,4 -Diisopropylbenzene, bis (2-aminophenyl) sulfide, bis (4-aminophenyl) sulfide, 3,3'-diaminodiphenyl sulfone, 4,4'-diaminodiphenyl sulfone, 4,4'-diaminodiphenyl sulfide, 4 , 4'-diaminobenzophenone, 3,3'-diaminobenzophenone, 4,4'-diaminobenzanilide, 1,4-bis (4-aminobenzoyloxy) benzene, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene And aromatic diamines such as bis (4-aminophenyl) terephthalate, 2,7-diaminofluorene, and 9,9-bis (4-aminophenyl) fluorene. Aliphatic diamines include 1,3-diaminocyclohexane, 1,4-diaminocyclohexane, 1,3-bis (aminomethyl) cyclohexane, 1,1-bis (4-aminophenyl) cyclohexane, 4,4'-diaminodicyclohexyl Methane, 4,4'-methylenebis (2-methylcyclohexylamine), 4,4'-methylenebis (2,6-dimethylcyclohexylamine), 4,4'-diaminodicyclohexylpropane, bicyclo [2.2.1] heptane-2 , 3-diamine, bicyclo [2.2.1] heptane-2,5-diamine, bicyclo [2.2.1] heptane-2,6-diamine, bicyclo [2.2.1] heptane-2,7-diamine, 2,3 -Bis (aminomethyl) -bicyclo [2.2.1] heptane, 2,5-bis (aminomethyl) -bicyclo [2.2.1] heptane, 2,6-bis (aminomethyl) -bicyclo [2.2.1] heptane 3 (4), 8 (9) -bis (aminomethyl) tricyclo [5.2.1.0 (2,6)] decane and the like. Of these, p-phenylenediamine, 2,2'-dimethylbiphenyl-4,4'-diamine, 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine, 2,2'-bis (trifluoro) are particularly preferred. Methyl) -4,4'-diaminodiphenyl ether, 1,4-bis (4-amino-2-trifluoromethylphenoxy) benzene, 1,4-diaminocyclohexane, 4,4'-diaminodicyclohexylmethane, 4,4 ' -Methylenebis (2-methylcyclohexylamine), 4,4'-methylenebis (2,6-dimethylcyclohexylamine). The said amine component may be used independently and may use 2 or more types together.

ポリアミド酸を構成するテトラカルボン酸類としては、透明ポリイミド合成に通常用いられる芳香族テトラカルボン酸類(その酸無水物を含む)、脂肪族テトラカルボン酸類(その酸無水物を含む)、脂環族テトラカルボン酸類(その酸無水物を含む)を用いることができる。中でも、芳香族テトラカルボン酸無水物類、脂環族テトラカルボン酸無水物類が好ましく、光透過性の観点からは脂環族テトラカルボン酸類がより好ましい。これらが酸無水物である場合、分子内に無水物構造は1個であってもよいし2個であってもよいが、好ましくは2個の無水物構造を有するもの(二無水物)がよい。テトラカルボン酸類は単独で用いてもよいし、二種以上を併用してもよい。   The tetracarboxylic acids constituting the polyamic acid include aromatic tetracarboxylic acids (including their acid anhydrides), aliphatic tetracarboxylic acids (including their acid anhydrides), and alicyclic tetratetrahydrocarbons commonly used for transparent polyimide synthesis. Carboxylic acids (including their acid anhydrides) can be used. Among these, aromatic tetracarboxylic anhydrides and alicyclic tetracarboxylic anhydrides are preferable, and alicyclic tetracarboxylic acids are more preferable from the viewpoint of light transmittance. In the case where these are acid anhydrides, the number of anhydride structures in the molecule may be one or two, but those having two anhydride structures (dianhydrides) are preferred. Good. Tetracarboxylic acids may be used alone or in combination of two or more.

脂環族テトラカルボン酸類としては、例えば、シクロブタンテトラカルボン酸、1,2,4,5−シクロヘキサンテトラカルボン酸、3,3',4,4'−ビシクロヘキシルテトラカルボン酸等の脂環族テトラカルボン酸、およびこれらの酸無水物が挙げられる。これらの中でも、2個の無水物構造を有する二無水物(例えば、シクロブタンテトラカルボン酸二無水物、1,2,4,5−シクロヘキサンテトラカルボン酸二無水物、3,3',4,4'−ビシクロヘキシルテトラカルボン酸二無水物等)が好適である。なお、脂環族テトラカルボン酸類は単独で用いてもよいし、二種以上を併用してもよい。   Examples of the alicyclic tetracarboxylic acids include alicyclic tetracarboxylic acids such as cyclobutanetetracarboxylic acid, 1,2,4,5-cyclohexanetetracarboxylic acid, and 3,3 ′, 4,4′-bicyclohexyltetracarboxylic acid. Carboxylic acids and their acid anhydrides are mentioned. Among these, dianhydrides having two anhydride structures (for example, cyclobutanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,4,5-cyclohexanetetracarboxylic dianhydride, 3,3 ′, 4,4 '-Bicyclohexyltetracarboxylic dianhydride and the like) are preferred. In addition, alicyclic tetracarboxylic acids may be used independently and may use 2 or more types together.

芳香族テトラカルボン酸類としては、特に限定されないが、ピロメリット酸残基(すなわちピロメリット酸由来の構造を有するもの)であることが好ましく、その酸無水物であることがより好ましい。このような芳香族テトラカルボン酸類としては、例えば、ピロメリット酸二無水物、3,3',4,4'−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、4,4'−オキシジフタル酸二無水物、3,3',4,4'−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、3,3',4,4'−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物、2,2−ビス[4−(3,4−ジカルボキシフェノキシ)フェニル]プロパン酸無水物等が挙げられる。なお、芳香族テトラカルボン酸類は単独で用いてもよいし、二種以上を併用してもよい。   The aromatic tetracarboxylic acids are not particularly limited, but are preferably pyromellitic acid residues (that is, those having a structure derived from pyromellitic acid), and more preferably acid anhydrides thereof. Examples of such aromatic tetracarboxylic acids include pyromellitic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 4,4′-oxydiphthalic dianhydride, 3 , 3 ′, 4,4′-benzophenone tetracarboxylic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-diphenylsulfone tetracarboxylic dianhydride, 2,2-bis [4- (3,4-di Carboxyphenoxy) phenyl] propanoic anhydride and the like. In addition, aromatic tetracarboxylic acids may be used independently and may use 2 or more types together.

本発明の透明ポリイミド系フィルムは400nmの透過率が70%以上であることが望ましい。更には80%以上がより好ましい。またHAZEは1.5%以下であることが望ましく、更には1.0%以下がより好ましい。黄色度に関しては5.0以下が望ましく、4.0以下であることがより好ましい。光学特性が前記範囲を満たすことにより、例えば基板用途で高い表示特性を発現するため、上記用途に好適に用いる事ができる。尚、上記測定値は実施例に示す測定方法にて測定された値である。 The transparent polyimide film of the present invention preferably has a transmittance at 400 nm of 70% or more. Furthermore, 80% or more is more preferable. HAZE is preferably 1.5% or less, and more preferably 1.0% or less. The yellowness is preferably 5.0 or less, and more preferably 4.0 or less. When the optical characteristics satisfy the above range, for example, high display characteristics are exhibited in a substrate application, and therefore, it can be suitably used for the above application. In addition, the said measured value is a value measured by the measuring method shown in an Example.

本発明におけるポリイミド前駆体フィルム作製用支持体(高分子フィルム基材層)は極一般的な樹脂フィルムを用いることが出来る。基材としての樹脂フィルムとしては、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、全芳香族ポリエステル、その他の共重合ポリエステル、ポリカーボネート、ポリアミド、ポリスルフォン、ポリエーテルスルフォン、ポリエーテルケトン、ポリアミドイミド、ポリエーテルイミド、芳香族ポリイミド、脂環族ポリイミド、フッ素化ポリイミド、酢酸セルロース、硝酸セルロース、芳香族ポリアミド、ポリスチレン等、溶融延伸法ないし溶液製膜法で得られる樹脂のフィルムを用いることができる。本発明で好ましい塗布基材としての樹脂フィルムはポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリエチレンナフタレートフィルム、ポリイミドフィルムであり、特に好ましくはポリエチレンテレフタレートフィルムである。
本発明におけるポリイミド前駆体フィルム作製用支持体、すなわち高分子フィルム基材層は、厚さが12μm以上、190μm以下であり厚さ斑の絶対値が10μm以下であることが好ましく、さらに厚さが45μm以上、130μm以下であり厚さ斑の絶対値が6μm以下であることが好ましい。
As the support for preparing a polyimide precursor film (polymer film substrate layer) in the present invention, an extremely general resin film can be used. As a resin film as a base material, polyethylene, polypropylene, polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, polyethylene naphthalate, wholly aromatic polyester, other copolymer polyester, polycarbonate, polyamide, polysulfone, polyethersulfone, polyetherketone, Polyamideimide, polyetherimide, aromatic polyimide, alicyclic polyimide, fluorinated polyimide, cellulose acetate, cellulose nitrate, aromatic polyamide, polystyrene, etc., using a resin film obtained by melt stretching or solution casting Can do. The resin film as a preferable coating substrate in the present invention is a polyethylene terephthalate film, a polyethylene naphthalate film, or a polyimide film, and particularly preferably a polyethylene terephthalate film.
The polyimide precursor film preparation support in the present invention, that is, the polymer film substrate layer, preferably has a thickness of 12 μm or more and 190 μm or less, and an absolute value of thickness spots of 10 μm or less, and further has a thickness. It is preferable that it is 45 micrometers or more and 130 micrometers or less, and the absolute value of a thickness spot is 6 micrometers or less.

本発明におけるセパレーターフィルムは極一般的な樹脂フィルムを用いることが出来る。樹脂フィルムとしては、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、全芳香族ポリエステル、その他の共重合ポリエステル、ポリカーボネート、ポリアミド、ポリスルフォン、ポリエーテルスルフォン、ポリエーテルケトン、ポリアミドイミド、ポリエーテルイミド、芳香族ポリイミド、脂環族ポリイミド、フッ素化ポリイミド、酢酸セルロース、硝酸セルロース、芳香族ポリアミド、ポリスチレン等、溶融延伸法ないし溶液製膜法で得られる樹脂のフィルムを用いることができる。本発明で好ましいセパレーターフィルムとしての樹脂フィルムはポリエチレンフィルム、ポリプロピレンフィルム、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレートである。コスト面からポリエチレンフィルム、ポリプロピレンフィルム、ポリエチレンテレフタレートフィルムが特に好ましい。
かかるセパレーターフィルムが、ポリイミド前駆体フィルムが形成された高分子フィルム基材とともに巻き取られて本発明のセパレータフィルム層となる。本発明のセパレータフィルム層は、厚さが5μm以上、130μm以下であり厚さ斑の絶対値が10μm以下である事が好ましく、さらに厚さが18μm以上、80μm以下であり厚さ斑の絶対値が7μm以下である事が好ましく、さらに厚さが24μm以上、56μm以下であり厚さ斑の絶対値が5μm以下である事が好ましい。
As the separator film in the present invention, an extremely general resin film can be used. Resin films include polyethylene, polypropylene, polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, polyethylene naphthalate, wholly aromatic polyester, other copolyesters, polycarbonate, polyamide, polysulfone, polyethersulfone, polyetherketone, polyamideimide, poly Etherimide, aromatic polyimide, alicyclic polyimide, fluorinated polyimide, cellulose acetate, cellulose nitrate, aromatic polyamide, polystyrene, and the like can be used as a resin film obtained by a melt stretching method or a solution film forming method. The resin film as a preferable separator film in the present invention is a polyethylene film, a polypropylene film, a polyethylene terephthalate film, polybutylene terephthalate, or polyethylene naphthalate. From the viewpoint of cost, a polyethylene film, a polypropylene film, and a polyethylene terephthalate film are particularly preferable.
Such a separator film is wound together with the polymer film substrate on which the polyimide precursor film is formed to form the separator film layer of the present invention. The separator film layer of the present invention preferably has a thickness of 5 μm or more and 130 μm or less and an absolute value of thickness spots of 10 μm or less, and further has a thickness of 18 μm or more and 80 μm or less of absolute values of thickness spots. Is preferably 7 μm or less, more preferably 24 μm or more and 56 μm or less, and the absolute value of the thickness unevenness is preferably 5 μm or less.

本発明ではかかる基材上に、ポリイミド前駆体フィルム層を形成する。ポリイミド前駆体フィルム層は、ポリイミド前駆体の溶剤溶液を基材に塗布し、乾燥ないし半硬化処理、ゲル化処理などにより半固体状態とすることで形成する。本発明では有機溶剤の含有量がポリイミド前駆体と有機溶剤の総和に対して20質量%以上、35質量%以下の範囲となるように乾燥する。塗布方法は、ディップコート法、スプレーコート法、スピンコート法、カーテンコート法、スリットダイコート法、コンマコート法、リバースコート法、アプリケータ法、バーコート法、スクリーン印刷法、グラビアコート法などの塗布方法を用いればよい。本発明では特に、カーテンコート法、スリットダイコート法、コンマコート法を用いる事が好ましい。かかるコート法を用いることにより、本発明の必須要件であるフィルム厚の厚さ斑を低減できる。好ましくは 本発明においてはポリイミド前駆体フィルム層を連続した長尺形態で得る必要がある。長尺ポリイミド前駆体フィルム/高分子フィルム基材積層体をセパレーターフィルムと共に巻き上げることで本発明の多層フィルムロールを得る。   In the present invention, a polyimide precursor film layer is formed on such a substrate. The polyimide precursor film layer is formed by applying a solvent solution of a polyimide precursor to a substrate and making it into a semi-solid state by drying or semi-curing treatment, gelling treatment, or the like. In this invention, it dries so that content of an organic solvent may become the range of 20 mass% or more and 35 mass% or less with respect to the sum total of a polyimide precursor and an organic solvent. Application methods include dip coating, spray coating, spin coating, curtain coating, slit die coating, comma coating, reverse coating, applicator method, bar coating, screen printing, gravure coating, etc. A method may be used. In the present invention, it is particularly preferable to use a curtain coating method, a slit die coating method, or a comma coating method. By using such a coating method, the uneven thickness of the film thickness, which is an essential requirement of the present invention, can be reduced. Preferably, in the present invention, it is necessary to obtain the polyimide precursor film layer in a continuous long form. The multilayer film roll of the present invention is obtained by winding the long polyimide precursor film / polymer film substrate laminate together with the separator film.

本発明では前記セパレーターフィルムを用いてポリイミド前駆体フィルムをロール巻取りすることで、各取り扱い工程でのポリイミド前駆体フィルム表面への傷や異物の付着を軽減することができる。
本発明においては、傷や異物を纏めて欠点とする。顕微鏡観察でサイズ5μm以上のものを欠点とし、30mm×30mmの領域内の個数を計測した。
In this invention, the roll and winding of a polyimide precursor film using the said separator film can reduce the damage | wound and adhesion of a foreign material to the polyimide precursor film surface in each handling process.
In the present invention, scratches and foreign matters are collectively regarded as a defect. Microscope observations with a size of 5 μm or more were regarded as defects, and the number in a 30 mm × 30 mm region was measured.

本発明のポリイミド前駆体フィルム層/無機基板積層体は、少なくとも無機基板とポリイミド前駆体フィルム層から構成される。   The polyimide precursor film layer / inorganic substrate laminate of the present invention comprises at least an inorganic substrate and a polyimide precursor film layer.

本発明における無機基板とは無機物からなる基板として用いることのできる板状のものであればよく、例えば、ガラス板、セラミック板、半導体ウエハ、金属等を主体としているもの、および、これらガラス板、セラミック板、シリコンウエハ、金属の複合体として、これらを積層したもの、これらが分散されているもの、これらの繊維が含有されているものなどが挙げられる。   The inorganic substrate in the present invention may be a plate-like substrate that can be used as a substrate made of an inorganic material, for example, a glass plate, a ceramic plate, a semiconductor wafer, a metal wafer or the like mainly, and these glass plates, Examples of the ceramic plate, silicon wafer, and metal composite include those obtained by laminating them, those in which they are dispersed, and those containing these fibers.

前記ガラス板としては、石英ガラス、高ケイ酸ガラス(96%シリカ)、ソーダ石灰ガラス、鉛ガラス、アルミノホウケイ酸ガラス、ホウケイ酸ガラス(パイレックス(登録商標))、ホウケイ酸ガラス(無アルカリ)、ホウケイ酸ガラス(マイクロシート)、アルミノケイ酸塩ガラス等が含まれる。これらの中でも、線膨張係数が5ppm/K以下のものが望ましく、市販品であれば、液晶用ガラスであるコーニング社製の「コーニング(登録商標)7059」や「コーニング(登録商標)1737」、「EAGLE」、旭硝子社製の「AN100」、日本電気硝子社製の「OA10」、SCHOTT社製の「AF32」などが望ましい。   Examples of the glass plate include quartz glass, high silicate glass (96% silica), soda lime glass, lead glass, aluminoborosilicate glass, borosilicate glass (Pyrex (registered trademark)), borosilicate glass (non-alkali), Borosilicate glass (microsheet), aluminosilicate glass and the like are included. Among these, those having a linear expansion coefficient of 5 ppm / K or less are desirable, and if it is a commercial product, “Corning (registered trademark) 7059” or “Corning (registered trademark) 1737” manufactured by Corning, which is a glass for liquid crystal, “EAGLE”, “AN100” manufactured by Asahi Glass, “OA10” manufactured by Nippon Electric Glass, “AF32” manufactured by SCHOTT, etc. are desirable.

セラミック板としては、Al2O3、Mullite、AlN、SiC、Si3N4、BN、結晶化ガラス、Cordierite、Spodumene、Pb−BSG+CaZrO3+Al2O3、Crystallized glass+Al2O3、Crystallized Ca−BSG、BSG+Quartz、BSG+Quartz、BSG+Al2O3、Pb+BSG+Al2O3、Glass−ceramic、ゼロデュア材などの基板用セラミックス、TiO2、チタン酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、チタン酸マグネシウム、アルミナ、MgO、ステアタイト、BaTi4O9、BaTiO3、BaTi4+CaZrO3、BaSrCaZrTiO3、Ba(TiZr)O3、PMN−PTやPFN−PFWなどのキャパシタ材料、PbNb2O6、Pb0.5Be0.5Nb2O6、PbTiO3、BaTiO3、PZT、0.855PZT−95PT−0.5BT、0.873PZT−0.97PT−0.3BT、PLZTなどの圧電材料が含まれる。   Ceramic plates include Al2O3, Mullite, AlN, SiC, Si3N4, BN, crystallized glass, Cordierite, Spodumene, Pb-BSG + CaZrO3 + Al2O3, Crystallized glass + Al2O3, Crystallized Ca-BSG, SG Ceramics for substrates such as ceramic, zero-dur, TiO2, strontium titanate, calcium titanate, magnesium titanate, alumina, MgO, steatite, BaTi4O9, BaTiO3, BaTi4 + CaZrO3, BaSrCaZrTiO3, Ba (TiZr) O3, PMN-PT, Capacities such as PFN-PFW Data material, PbNb2O6, Pb0.5Be0.5Nb2O6, PbTiO3, BaTiO3, PZT, 0.855PZT-95PT-0.5BT, 0.873PZT-0.97PT-0.3BT, include piezoelectric materials such as PLZT is.

半導体ウエハとしては、シリコンウエハ、半導体ウエハ、化合物半導体ウエハ等を用いることができ、シリコンウエハとしては単結晶ないし多結晶のシリコンを薄板上に加工した物であり、n型或はp型にドーピングされたシリコンウエハ、イントリンシックシリコンウエハ等の全てが含まれ、また、シリコンウエハの表面に酸化シリコン層や各種薄膜が堆積されたシリコンウエハも含まれ、シリコンウエハ以外にも、ゲルマニウム、シリコン−ゲルマニウム、ガリウム−ヒ素、アルミニウム−ガリウム−インジウム、窒素−リン−ヒ素−アンチモン、SiC、InP(インジウム燐)、InGaAs、GaInNAs、LT、LN、ZnO(酸化亜鉛)やCdTe(カドミウムテルル)、ZnSe(セレン化亜鉛) などの半導体ウエハ、化合物半導体ウエハなどを用いることが出来る。   As a semiconductor wafer, a silicon wafer, a semiconductor wafer, a compound semiconductor wafer, or the like can be used. A silicon wafer is a product obtained by processing single crystal or polycrystalline silicon on a thin plate, and doped n-type or p-type. In addition to silicon wafers, silicon wafers including silicon oxide layers and various thin films deposited on the surface of silicon wafers are also included. In addition to silicon wafers, germanium and silicon-germanium are also included. Gallium-arsenic, aluminum-gallium-indium, nitrogen-phosphorus-arsenic-antimony, SiC, InP (indium phosphorus), InGaAs, GaInNAs, LT, LN, ZnO (zinc oxide), CdTe (cadmium tellurium), ZnSe (selenium) Semiconductor wafers, compound semiconductors, etc. A body wafer or the like can be used.

金属としては、W、Mo、Pt、Fe、Ni、Au、Ag、Ti、Al、Cuといった単一元素金属、インコネル、モネル、ニモニック、炭素銅、珪素鋼、黄銅、青銅、白銅、洋白、ニッケルシルバー、Fe−Ni系インバー合金、スーパーインバー合金、ステンレス鋼といった合金等が含まれる。また、これら金属に、他の金属層、セラミック層を付加してなる多層金属板も含まれる。この場合、付加層との全体のCTEが低ければ、主金属層にCu、Alなども用いられる。付加金属層として使用される金属としては、ポリイミドフィルムとの密着性を強固にするもの、拡散がないこと、耐薬品性や耐熱性が良いこと等の特性を有するものであれば限定されるものではないが、クロム、ニッケル、TiN、Mo含有Cuが好適な例として挙げられる。   Metals include single element metals such as W, Mo, Pt, Fe, Ni, Au, Ag, Ti, Al, Cu, Inconel, Monel, Nimonic, Carbon copper, Silicon steel, Brass, Bronze, White bronze, White, Alloys such as nickel silver, Fe-Ni invar alloy, super invar alloy, and stainless steel are included. In addition, a multilayer metal plate formed by adding other metal layers and ceramic layers to these metals is also included. In this case, if the total CTE with the additional layer is low, Cu, Al or the like is also used for the main metal layer. The metal used as the additional metal layer is limited as long as it has strong adhesion to the polyimide film, no diffusion, and good chemical resistance and heat resistance. Although it is not, chromium, nickel, TiN, and Mo containing Cu are mentioned as a suitable example.

無機基板の平面部分は、充分に平坦である事が望ましい。具体的には、表面粗さのP−V値が50nm以下、より好ましくは20nm以下、さらに好ましくは5nm以下である。これより粗いと、高分子フィルムと無機基板との接着強度が不充分となる場合がある。
前記無機基板の厚さは特に制限されないが、取り扱い性の観点より10mm以下の厚さが好ましく、3mm以下がなお好ましく、1.3mm以下がなお好ましい。厚さの加減については特に制限されないが、0.07mm以上、好ましくは0.15mm以上、なお好ましくは0.3mm以上が好ましく用いられる。
It is desirable that the planar portion of the inorganic substrate is sufficiently flat. Specifically, the PV value of the surface roughness is 50 nm or less, more preferably 20 nm or less, and further preferably 5 nm or less. If it is rougher than this, the adhesive strength between the polymer film and the inorganic substrate may be insufficient.
The thickness of the inorganic substrate is not particularly limited, but is preferably 10 mm or less, more preferably 3 mm or less, and still more preferably 1.3 mm or less from the viewpoint of handleability. The thickness is not particularly limited, but 0.07 mm or more, preferably 0.15 mm or more, and more preferably 0.3 mm or more is preferably used.

前記無機基板の面積は、積層体やフレキシブル電子デバイスの生産効率・コストの観点より、大面積であることが好ましい。1730cm以上であることが好ましく、4300cm以上であることがより好ましく、6700cm以上であることがさらに、13000cm以上であることがなおさらに好ましい。 The area of the inorganic substrate is preferably a large area from the viewpoint of production efficiency and cost of the laminate and the flexible electronic device. It is preferably 1730 cm 2 or more, more preferably 4300Cm 2 or more, further not less 6700Cm 2 or more, and yet still preferably 13000Cm 2 or more.

本発明では、ポリイミド前駆体フィルムロールより巻き出したポリイミド前駆体フィルムを高分子フィルム基材から無機基板に転写することによりポリイミド前駆体フィルム層/無機基板積層体を得る。   In the present invention, a polyimide precursor film layer / inorganic substrate laminate is obtained by transferring a polyimide precursor film unwound from a polyimide precursor film roll from a polymer film substrate to an inorganic substrate.

かかるポリイミド前駆体フィルムの転写方法については以下に示すように幾通りかの方法が例示できる。ただしこれらの例示は本発明を限定する物ではなく、ポリイミド前駆体フィルム、無機基板などの固有の特性および、プロセス上の都合などに応じ、適宜最適と考えられる手法で転写を行えばよい。
(1)高分子フィルム基材ごとポリイミド前駆体フィルムを無機基板に貼りつけてから高分子フィルム基材を剥離する方法。
(2)高分子フィルム基材からポリイミド前駆体フィルムを剥がし、無機基板に直接貼りつける方法。
(3)高分子フィルム基材からポリイミド前駆体フィルムを別のキャリア材に転写し、次いでキャリア材ごとポリイミド前駆体フィルムを無機基板に貼りつけ、キャリア材を剥離する方法。
As for the transfer method of such a polyimide precursor film, several methods can be exemplified as shown below. However, these exemplifications are not intended to limit the present invention, and the transfer may be carried out by a technique that is considered to be optimal as appropriate in accordance with the specific characteristics of the polyimide precursor film, inorganic substrate, etc., and the convenience of the process.
(1) A method of peeling a polymer film substrate after the polyimide precursor film is attached to an inorganic substrate together with the polymer film substrate.
(2) A method in which a polyimide precursor film is peeled off from a polymer film substrate and directly attached to an inorganic substrate.
(3) A method in which a polyimide precursor film is transferred from a polymer film substrate to another carrier material, and then the polyimide precursor film is attached to an inorganic substrate together with the carrier material, and the carrier material is peeled off.

本発明においては前記無機基材を有機化処理するためにシランカップリング剤を用いることが出来る。シランカップリング剤は、無機基板表面に予め塗布・反応させておく(シランカップリング剤処理)ことが好ましい。本発明において、無機基板を、あらかじめ有機化処理するとは、主にはこのシランカップリング剤処理の事をいう。   In the present invention, a silane coupling agent can be used to organically treat the inorganic base material. The silane coupling agent is preferably applied and reacted in advance on the surface of the inorganic substrate (silane coupling agent treatment). In the present invention, the organic treatment of the inorganic substrate in advance means mainly this silane coupling agent treatment.

<シランカップリング剤>
本発明におけるシランカップリング剤は、無機基板とポリイミドフィルム層との間に物理的ないし化学的に介在し、両者間の接着力を高める作用を有する化合物を云う。
シランカップリング剤の好ましい具体例としては、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、3−アミノプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエトキシシラン、3−トリエトキシシリル−N−(1,3−ジメチル−ブチリデン)プロピルアミン、2−(3,4−エポキシシクロへキシル)エチルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、ビニルトリクロルシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、p−スチリルトリメトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルメチルジエトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルトリエトキシシラン、3−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン、N−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−(ビニルベンジル)−2−アミノエチル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン塩酸塩、3−ウレイドプロピルトリエトキシシラン、3−クロロプロピルトリメトキシシラン、3−メルカプトプロピルメチルジメトキシシラン、3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、ビス(トリエトキシシリルプロピル)テトラスルフィド、3−イソシアネートプロピルトリエトキシシラン、トリス−(3−トリメトキシシリルプロピル)イソシアヌレート、クロロメチルフェネチルトリメトキシシラン、クロロメチルトリメトキシシラン、アミノフェニルトリメトキシシラン、アミノフェネチルトリメトキシシラン、アミノフェニルアミノメチルフェネチルトリメトキシシラン、ヘキサメチルジシラザンなどが挙げられる。
<Silane coupling agent>
The silane coupling agent in the present invention refers to a compound that is physically or chemically interposed between the inorganic substrate and the polyimide film layer and has an action of increasing the adhesive force between the two.
Preferable specific examples of the silane coupling agent include N-2- (aminoethyl) -3-aminopropylmethyldimethoxysilane, N-2- (aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane, N-2- ( Aminoethyl) -3-aminopropyltriethoxysilane, 3-aminopropyltrimethoxysilane, 3-aminopropyltriethoxysilane, 3-triethoxysilyl-N- (1,3-dimethyl-butylidene) propylamine, 2- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, 3-glycidoxypropylmethyldiethoxysilane, 3-glycidoxypropyltriethoxysilane, vinyltrichlorosilane, Vinyltrimethoxysilane, vinyltriethoxysila 2- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, 3-glycidoxypropylmethyldiethoxysilane, 3-glycidoxypropyltriethoxysilane, p-styryl Trimethoxysilane, 3-methacryloxypropylmethyldimethoxysilane, 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane, 3-methacryloxypropylmethyldiethoxysilane, 3-methacryloxypropyltriethoxysilane, 3-acryloxypropyltrimethoxysilane, N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane, N- (vinylbenzyl) -2-aminoethyl-3-aminopropyltrimethoxysilane hydrochloride, 3-ureidopropyltriethoxysilane, 3-chloropropyl Limethoxysilane, 3-mercaptopropylmethyldimethoxysilane, 3-mercaptopropyltrimethoxysilane, bis (triethoxysilylpropyl) tetrasulfide, 3-isocyanatopropyltriethoxysilane, tris- (3-trimethoxysilylpropyl) isocyanurate Chloromethylphenethyltrimethoxysilane, chloromethyltrimethoxysilane, aminophenyltrimethoxysilane, aminophenethyltrimethoxysilane, aminophenylaminomethylphenethyltrimethoxysilane, hexamethyldisilazane and the like.

n−プロピルトリメトキシシラン、ブチルトリクロロシラン、2−シアノエチルトリエトキシシラン、シクロヘキシルトリクロロシラン、デシルトリクロロシラン、ジアセトキシジメチルシラン、ジエトキシジメチルシラン、ジメトキシジメチルシラン、ジメトキシジフェニルシラン、ジメトキシメチルフェニルシラン、ドデシルリクロロシラン、ドデシルトリメトキシラン、エチルトリクロロシラン、ヘキシルトリメトキシシラン、オクタデシルトリエトキシシラン、オクタデシルトリメトキシシラン、n−オクチルトリクロロシラン、n−オクチルトリエトキシシラン、n−オクチルトリメトキシシラン、トリエトキシエチルシラン、トリエトキシメチルシラン、トリメトキシメチルシラン、トリメトキシフェニルシラン、ペンチルトリエトキシシラン、ペンチルトリクロロシラン、トリアセトキシメチルシラン、トリクロロヘキシルシラン、トリクロロメチルシラン、トリクロロオクタデシルシラン、トリクロロプロピルシラン、トリクロロテトラデシルシラン、トリメトキシプロピルシラン、アリルトリクロロシラン、アリルトリエトキシシラン、アリルトリメトキシシラン、ジエトキシメチルビニルシラン、ジメトキシメチルビニルシラン、トリクロロビニルシラン、トリエトキシビニルシラン、ビニルトリス(2−メトキシエトキシ)シラン、トリクロロ−2−シアノエチルシラン、ジエトキシ(3−グリシジルオキシプロピル)メチルシラン、3−グリシジルオキシプロピル(ジメトキシ)メチルシラン、3−グリシジルオキシプロピルトリメトキシシラン、などを使用することもできる。 n-propyltrimethoxysilane, butyltrichlorosilane, 2-cyanoethyltriethoxysilane, cyclohexyltrichlorosilane, decyltrichlorosilane, diacetoxydimethylsilane, diethoxydimethylsilane, dimethoxydimethylsilane, dimethoxydiphenylsilane, dimethoxymethylphenylsilane, dodecyl Lichlorosilane, dodecyltrimethoxysilane, ethyltrichlorosilane, hexyltrimethoxysilane, octadecyltriethoxysilane, octadecyltrimethoxysilane, n-octyltrichlorosilane, n-octyltriethoxysilane, n-octyltrimethoxysilane, triethoxyethyl Silane, triethoxymethylsilane, trimethoxymethylsilane, trimethoxyphenylsilane, pentyltri Toxisilane, pentyltrichlorosilane, triacetoxymethylsilane, trichlorohexylsilane, trichloromethylsilane, trichlorooctadecylsilane, trichloropropylsilane, trichlorotetradecylsilane, trimethoxypropylsilane, allyltrichlorosilane, allyltriethoxysilane, allyltrimethoxysilane , Diethoxymethylvinylsilane, dimethoxymethylvinylsilane, trichlorovinylsilane, triethoxyvinylsilane, vinyltris (2-methoxyethoxy) silane, trichloro-2-cyanoethylsilane, diethoxy (3-glycidyloxypropyl) methylsilane, 3-glycidyloxypropyl (dimethoxy) ) Methylsilane, 3-glycidyloxypropyltrimethoxysilane, etc. It is also possible to use.

かかるシランカップリング剤の中で、本発明にて好ましく用いられるシランカップリング剤はカップリング剤の、一分子あたりに一個の珪素原子を有する化学構造のシランカップリング剤が好ましい。
本発明では、特に好ましいシランカップリング剤としては、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、3−アミノプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエトキシシラン、3−トリエトキシシリル−N−(1,3−ジメチル−ブチリデン)プロピルアミン、2−(3,4−エポキシシクロへキシル)エチルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、アミノフェニルトリメトキシシラン、アミノフェネチルトリメトキシシラン、アミノフェニルアミノメチルフェネチルトリメトキシシランなどが挙げられる。プロセスで特に高い耐熱性が要求される場合、Siとアミノ基の間を芳香族基でつないだものが望ましい。
なお本発明では必要に応じて、リン系カップリング剤、チタネート系カップリング剤等を併用しても良い。
Among such silane coupling agents, the silane coupling agent preferably used in the present invention is preferably a silane coupling agent having a chemical structure having one silicon atom per molecule of the coupling agent.
In the present invention, particularly preferred silane coupling agents include N-2- (aminoethyl) -3-aminopropylmethyldimethoxysilane, N-2- (aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane, and N-2. -(Aminoethyl) -3-aminopropyltriethoxysilane, 3-aminopropyltrimethoxysilane, 3-aminopropyltriethoxysilane, 3-triethoxysilyl-N- (1,3-dimethyl-butylidene) propylamine, 2- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, 3-glycidoxypropylmethyldiethoxysilane, 3-glycidoxypropyltriethoxysilane, aminophenyl Trimethoxysilane, aminophenethyltrimethoxysilane Emissions, such as aminophenyl aminomethyl phenethyltrimethoxysilane the like. In the case where particularly high heat resistance is required in the process, it is desirable to use an aromatic group between Si and an amino group.
In the present invention, if necessary, a phosphorus coupling agent, a titanate coupling agent, or the like may be used in combination.

<シランカップリング剤の塗布方法>
本発明におけるシランカップリング剤の塗布方法としては、液相での塗布方法、気相での塗布方法を用いることが出来る。
液相での塗布方法としては、シランカップリング剤をアルコールなどの溶媒で希釈した溶液を用いて、スピンコート法、カーテンコート法、ディップコート法、スリットダイコート法、グラビアコート法、バーコート法、コンマコート法、アプリケーター法、スクリーン印刷法、スプレーコート法等の一般的な液体塗布方法を例示することが出来る。液相での塗布方法を用いた場合、塗布後に速やかに乾燥し、さらに100±30℃程度で数十秒〜10分程度の熱処理を行うことが好ましい。熱処理により、シランカップリング剤と被塗布面の表面とが化学反応により結合される。
<Application method of silane coupling agent>
As a coating method of the silane coupling agent in the present invention, a liquid phase coating method or a gas phase coating method can be used.
As a coating method in a liquid phase, using a solution obtained by diluting a silane coupling agent with a solvent such as alcohol, a spin coating method, a curtain coating method, a dip coating method, a slit die coating method, a gravure coating method, a bar coating method, Common liquid coating methods such as a comma coating method, an applicator method, a screen printing method, and a spray coating method can be exemplified. In the case of using a coating method in a liquid phase, it is preferable to dry quickly after coating, and to perform a heat treatment at about 100 ± 30 ° C. for about several tens of seconds to 10 minutes. By the heat treatment, the silane coupling agent and the surface of the coated surface are bonded by a chemical reaction.

本発明ではシランカップリング剤を気相法によって塗布することができる。気相法による塗布は、基板をシランカップリング剤の蒸気、すなわち実質的に気体状態のシランカップリング剤に暴露することによる。シランカップリング剤の蒸気は、液体状態のシランカップリング剤を40℃〜シランカップリング剤の沸点程度までの温度に加温することによって得ることが出来る。シランカップリング剤の沸点は、化学構造によって異なるが、概ね100〜250℃の範囲である。ただし250℃以上の加熱は、シランカップリング剤の有機基側の分解や副反応等を招く恐れがあるため好ましくない。
シランカップリング剤を加温する環境は、加圧下、略常圧下、減圧下のいずれでも構わないが、シランカップリング剤の気化を促進する場合には略常圧下ないし減圧下が好ましい。多くのシランカップリング剤は可燃性液体であるため、密閉容器内にて、好ましくは容器内を不活性ガスで置換した後に気化作業を行うことが好ましい。
無機基板をシランカップリング剤に暴露する時間は特に制限されないが、20時間以内、好ましくは60分以内、さらに好ましくは15分以内、なおさらに好ましくは1分以内である。
無機基板をシランカップリング剤に暴露する間の無機基板温度は、シランカップリング剤の種類と、求めるシランカップリング剤層の厚さにより−50℃から200℃の間の適正な温度に制御することが好ましい。
シランカップリング剤に暴露された無機基板は、好ましくは、暴露後に、70℃〜200℃、さらに好ましくは75℃〜150℃に加熱される。かかる加熱によって、無機基板表面の水酸基などと、シランカップリング剤のアルコキシ基やシラザン基が反応し、シランカップリング剤処理が完了する。加熱に要する時間は10秒以上10分程度以内である。温度が高すぎる場合や、時間が長すぎる場合にはカップリング剤の劣化が生じる場合がある。また短すぎると処理効果が得られない。なお、シランカップリング剤に暴露中の基板温度が既に80℃以上である場合には、事後の加熱を省略することも出来る。
本発明では、無機基板のシランカップリング剤塗布面を下向きに保持してシランカップリング剤蒸気に暴露することが好ましい。液相の塗布方法では、必然的に塗布中および塗布前後に無機基板の塗布面が上を向くため、作業環境下の浮遊異物などが無機基板表面に沈着する可能性を否定できない。しかしながら気相による塗布方法では無機基板を下向きに保持することが出来るため。環境中の異物付着を大幅に減ずることが可能となる。
なおシランカップリング剤処理前の無機基板表面を短波長UV/オゾン照射などの手段により清浄化すること、ないしは液体洗浄剤で清浄化すること等は、有意義な好ましい操作である。
In the present invention, the silane coupling agent can be applied by a vapor phase method. The application by the vapor phase method is by exposing the substrate to the vapor of the silane coupling agent, that is, the silane coupling agent in a substantially gaseous state. The vapor of the silane coupling agent can be obtained by heating the silane coupling agent in a liquid state to a temperature from 40 ° C. to about the boiling point of the silane coupling agent. Although the boiling point of a silane coupling agent changes with chemical structures, it is the range of about 100-250 degreeC in general. However, heating at 250 ° C. or higher is not preferable because it may cause decomposition or side reaction on the organic group side of the silane coupling agent.
The environment for heating the silane coupling agent may be under pressure, at about normal pressure, or under reduced pressure, but is preferably at about normal pressure or under reduced pressure in order to promote vaporization of the silane coupling agent. Since many silane coupling agents are flammable liquids, it is preferable to perform the vaporizing operation in an airtight container, preferably after replacing the inside of the container with an inert gas.
The time for exposing the inorganic substrate to the silane coupling agent is not particularly limited, but is within 20 hours, preferably within 60 minutes, more preferably within 15 minutes, and even more preferably within 1 minute.
The inorganic substrate temperature during exposure of the inorganic substrate to the silane coupling agent is controlled to an appropriate temperature between −50 ° C. and 200 ° C. depending on the type of silane coupling agent and the desired thickness of the silane coupling agent layer. It is preferable.
The inorganic substrate exposed to the silane coupling agent is preferably heated to 70 ° C. to 200 ° C., more preferably 75 ° C. to 150 ° C. after the exposure. By such heating, the hydroxyl group on the surface of the inorganic substrate reacts with the alkoxy group or silazane group of the silane coupling agent, and the silane coupling agent treatment is completed. The time required for heating is about 10 seconds to 10 minutes. When the temperature is too high or when the time is too long, the coupling agent may be deteriorated. If it is too short, the treatment effect cannot be obtained. If the substrate temperature being exposed to the silane coupling agent is already 80 ° C. or higher, the subsequent heating can be omitted.
In the present invention, it is preferable to expose the inorganic substrate to the silane coupling agent vapor while holding the silane coupling agent application surface of the inorganic substrate downward. In the liquid phase coating method, the coating surface of the inorganic substrate is inevitably facing upward during and before coating, and therefore it is impossible to deny the possibility that floating foreign substances or the like in the working environment are deposited on the surface of the inorganic substrate. However, the coating method using the gas phase can hold the inorganic substrate downward. It is possible to greatly reduce the adhesion of foreign substances in the environment.
Cleaning the surface of the inorganic substrate before the silane coupling agent treatment by means such as short wavelength UV / ozone irradiation or cleaning with a liquid cleaning agent is a significant preferable operation.

カップリング剤の塗布量、厚さについては理論上1分子層あれば事足り、機械設計的には無視できるレベルの厚さで十分である。一般的には400nm未満(0.4μm未満)であり、200nm以下(0.2μm以下)が好ましく、さらに実用上は100nm以下(0.1μm以下)が好ましく、より好ましくは50nm以下、さらに好ましくは10nm以下である。ただし計算上5nm以下の領域になるとカップリング剤が均一な塗膜としてではなく、クラスター状に存在するケースが想定され、余り好ましくはない。
カップリング剤層の膜厚は、エリプソメトリー法または塗布時のカップリング剤溶液の濃度と塗布量から計算して求める方法、表面元素分析によりシランカップリング剤特有の元素の存在量から換算する方法などを用いることができる。
With respect to the coating amount and thickness of the coupling agent, a single molecular layer is theoretically sufficient, and a thickness that can be ignored in terms of mechanical design is sufficient. Generally, it is less than 400 nm (less than 0.4 μm), preferably 200 nm or less (0.2 μm or less), more practically 100 nm or less (0.1 μm or less), more preferably 50 nm or less, still more preferably 10 nm or less. However, when the calculation is in the region of 5 nm or less, it is assumed that the coupling agent is present not in the form of a uniform coating but in a cluster shape, which is not preferable.
The film thickness of the coupling agent layer is obtained by ellipsometry or by calculating from the concentration and application amount of the coupling agent solution at the time of application, or by converting from the amount of elements unique to the silane coupling agent by surface element analysis Etc. can be used.

<無機基板のパターン化処理>
本発明においては無機基板側にパターン化処理を行うことができる。ここにパターン化とは、意図的にカップリング剤の塗布量ないし活性度等を操作した領域を作ることを云う。これにより、積層体において無機基板とポリイミドフィルムとの間の剥離強度が異なる良好接着部分と易剥離部分を有し、該良好接着部分と該易剥離部分とが所定のパターンを形成することができる。パターン化処理として、シランカップリング剤塗布を行う際に、あらかじめ所定のパターンで準備されたマスクを用いて、シランカップリング剤の塗布量を操作する方法を例示できる。またシランカップリング剤の塗布面に活性エネルギー線照射を行い、その際に、マスキングないしスキャン操作などの手法を併用することによりパターン化することも可能である。ここに活性エネルギー線照射とは、紫外線、電子線、X線等のエネルギー線を照射する操作、さらには極短波長の紫外線照射処理のように紫外線照射光効果と同時に照射面近傍で発生するオゾンガスガス暴露の効果を併せ持つものを含める。さらにこれらの他に、コロナ処理、真空プラズマ処理、常圧プラズマ処理、サンドブラスと処理等によってパターン化処理を行うことも可能である。
<Patterning treatment of inorganic substrate>
In the present invention, patterning treatment can be performed on the inorganic substrate side. Here, patterning refers to creating a region where the coating amount or activity of the coupling agent is intentionally manipulated. Thereby, in a laminated body, it has a favorable adhesion part and easy peeling part from which the peeling strength between an inorganic substrate and a polyimide film differs, and this favorable adhesion part and this easy peeling part can form a predetermined pattern. . An example of the patterning treatment is a method of manipulating the coating amount of the silane coupling agent using a mask prepared in advance with a predetermined pattern when applying the silane coupling agent. It is also possible to perform patterning by irradiating the surface to which the silane coupling agent is applied with active energy rays and using a technique such as masking or scanning operation at the same time. Here, active energy ray irradiation is an operation of irradiating energy rays such as ultraviolet rays, electron rays, and X-rays, and ozone gas generated in the vicinity of the irradiation surface simultaneously with the ultraviolet ray irradiation light effect as in the case of ultraviolet ray irradiation treatment with an extremely short wavelength. Include gas exposure effects. In addition to these, patterning can be performed by corona treatment, vacuum plasma treatment, atmospheric pressure plasma treatment, sandblasting and treatment, or the like.

本発明における良接着部分とは、無機基板とポリイミドフィルムの接着強度が強い部分を指し、本発明における易剥離部分とは、無機基板とポリイミドフィルムの接着強度が弱い部分を指す。前記易剥離部分の接着強度は、良好接着部分の接着強度の1/2以下であることが好ましく、より好ましくは、1/3以下、さらに好ましくは1/4以下である。接着強度の下限値は特に制限されないが、前記良好接着部分においては0.5N/cm以上、前記易剥離部分においては0.01N/cm以上であることが好ましい。   The good adhesion part in this invention points out the part with the strong adhesive strength of an inorganic substrate and a polyimide film, and the easily peelable part in this invention points out the part with the weak adhesive strength of an inorganic substrate and a polyimide film. The adhesive strength of the easily peelable portion is preferably 1/2 or less, more preferably 1/3 or less, and further preferably 1/4 or less of the adhesive strength of the good adhesive portion. Although the lower limit value of the adhesive strength is not particularly limited, it is preferably 0.5 N / cm or more at the good adhesion portion and 0.01 N / cm or more at the easy peel portion.

本発明のポリイミド前駆体フィルム層/無機基板積層体を加熱処理することでポリイミドフィルム層/無機基板積層体を得ることができる。加熱処理の温度はポリイミド前駆体フィルムがポリアミド酸フィルムである場合は350℃以下の温度で脱水閉環反応を進行させるのが好ましく、さらに320℃以下で処理することが好ましい。350℃を超える温度で処理する場合はポリイミドフィルムの着色を抑制することが困難である。ポリイミド前駆体フィルムが可溶性のポリイミドからなるフィルムである場合は、300℃以下の温度で固化・乾燥を行うことが好ましく、さらに250℃以下で処理することが好ましい。   By heating the polyimide precursor film layer / inorganic substrate laminate of the present invention, a polyimide film layer / inorganic substrate laminate can be obtained. When the polyimide precursor film is a polyamic acid film, the heat treatment is preferably carried out at a temperature of 350 ° C. or lower and the dehydration ring-closing reaction is preferably carried out at 320 ° C. or lower. When processing at a temperature exceeding 350 ° C., it is difficult to suppress coloring of the polyimide film. When the polyimide precursor film is a film made of soluble polyimide, it is preferable to solidify and dry at a temperature of 300 ° C. or lower, and it is preferable to process at 250 ° C. or lower.

本発明のポリイミド前駆体フィルム層/無機基板積層体から加熱処理によりポリイミドフィルム層/無機基板積層体を得て、これを電子デバイス形成又は機能性薄膜形成用の基板として用いると、既存の電子デバイス又は機能性薄膜製造用の設備、プロセスを用いて積層体のポリイミドフィルム層上に電子デバイス又は機能性薄膜を形成し、積層体から機能化ポリイミドフィルムごと剥離することで、フレキシブルな電子デバイス又は機能性薄膜を作製することができる。
本発明における電子デバイス又は機能性薄膜とは、電気配線を担う配線基板、トランジスタ、ダイオードなどの能動素子や、抵抗、キャパシタ、インダクタなどの受動デバイスを含む電子回路、他、圧力、温度、光、湿度などをセンシングするセンサー素子、発光素子、液晶表示、電気泳動表示、自発光表示などの画像表示素子、無線、有線による通信素子、演算素子、記憶素子、MEMS素子、太陽電池、薄膜トランジスタなどを云う。
積層体から機能化ポリイミドフィルムを剥離する方法としては、無機基板側から強い光を照射し、無機基板とポリイミドフィルム間の接着部位を熱分解、ないし光分解させて剥離する方法、あらかじめ接着強度を弱めておき、ポリイミドフィルムの弾性強度限界値未満の力でポリイミドフィルムを引きはがす方法、加熱水、加熱蒸気などに晒し、無機基板とポリイミドフィルム界面の結合強度を弱めて剥離させる方法などを例示することが出来る。
When a polyimide film layer / inorganic substrate laminate is obtained from the polyimide precursor film layer / inorganic substrate laminate of the present invention by heat treatment and used as a substrate for electronic device formation or functional thin film formation, an existing electronic device is obtained. Or, an electronic device or a functional thin film is formed on a polyimide film layer of a laminate using a facility or process for producing a functional thin film, and the functionalized polyimide film is peeled off from the laminate to provide a flexible electronic device or function. Can be produced.
The electronic device or functional thin film in the present invention is an electronic circuit including an active element such as a wiring board, a transistor, and a diode, and a passive device such as a resistor, a capacitor, and an inductor, pressure, temperature, light, etc. Sensor elements that sense humidity, light emitting elements, liquid crystal displays, electrophoretic displays, self-luminous display and other image display elements, wireless and wired communication elements, arithmetic elements, memory elements, MEMS elements, solar cells, thin film transistors, etc. .
As a method of peeling the functionalized polyimide film from the laminate, a method in which strong light is irradiated from the inorganic substrate side and the adhesive part between the inorganic substrate and the polyimide film is thermally decomposed or photodecomposed and peeled off is used. Examples of weakening and peeling the polyimide film with a force less than the elastic strength limit value of the polyimide film, exposing to heated water, heated steam, etc., weakening the bond strength between the inorganic substrate and the polyimide film interface, etc. I can do it.

本発明において、無機基板側、ないし、ポリイミドフィルム層側、さらには両方にパターン化処理が成された場合、パターン化処理によりポリイミドフィルム層と無機基板との接着力が低くなる領域(易剥離部と呼ぶ)に電子デバイス又は機能性薄膜を形成し、次いで、その領域の外周部に切り込みを入れ、ポリイミドフィルムの電子デバイス又は機能性薄膜が形成されたエリアを無機基板から剥離する事によりフレキシブル電子デバイス又は機能性薄膜を得ることが出来る。該方法により、ポリイミドフィルムと無機基板の剥離がより容易になる。   In the present invention, when the patterning treatment is performed on the inorganic substrate side or the polyimide film layer side, or both, the region where the adhesive force between the polyimide film layer and the inorganic substrate is reduced by the patterning treatment (easy peeling part) The electronic device or functional thin film is formed on the outer periphery of the region, and then the area on which the polyimide film electronic device or functional thin film is formed is peeled off from the inorganic substrate. A device or a functional thin film can be obtained. By this method, the polyimide film and the inorganic substrate can be more easily separated.

積層体の易剥離部の外周に沿ってポリイミドフィルム層に切り込みを入れる方法としては、刃物などの切削具によってポリイミドフィルムを切断する方法や、レーザーと積層体を相対的にスキャンさせることによりポリイミドフィルムを切断する方法、ウォータージェットと積層体を相対的にスキャンさせることによりポリイミドフィルムを切断する方法、半導体チップのダイシング装置により若干ガラス層まで切り込みつつポリイミドフィルムを切断する方法などを用いることができる。また、これらの方法の組み合わせや、切削具に超音波を重畳させたり、往復動作や上下動作などを付け加えて切削性能を向上させる等の手法を適宜採用することもできる。   As a method of cutting the polyimide film layer along the outer periphery of the easily peelable portion of the laminate, a method of cutting the polyimide film with a cutting tool such as a blade, or a polyimide film by relatively scanning the laser and the laminate A method of cutting a polyimide film by relatively scanning a water jet and a laminate, a method of cutting a polyimide film while cutting a glass layer slightly with a semiconductor chip dicing apparatus, and the like can be used. In addition, a combination of these methods, a method of superimposing ultrasonic waves on a cutting tool, or adding a reciprocating operation or an up / down operation to improve cutting performance can be appropriately employed.

積層体の易剥離部外周のポリイミドフィルム層に切り込みを入れるにあたり、切り込みを入れる位置は、少なくとも易剥離部の一部を含んでいればよく、基本的には所定のパターンに従って切断すれば良いが、誤差の吸収、生産性の観点などより、適宜判断すればよい。   When making a cut in the polyimide film layer on the outer periphery of the easy-release part of the laminate, the position where the cut is made only needs to include at least a part of the easy-release part, and basically may be cut according to a predetermined pattern. From the viewpoint of error absorption, productivity, etc., it may be determined as appropriate.

機能化ポリイミドフィルム層を支持体から剥離する方法としては、特に制限されないが、ピンセットなどで端から捲る方法、機能化ポリイミドフィルム層の切り込み部分の1辺に粘着テープを貼着させた後にそのテープ部分から捲る方法、機能化ポリイミドフィルムの切り込み部分の1辺を真空吸着した後にその部分から捲る方法等が採用できる。なお、剥離の際に、機能化ポリイミドフィルムの切り込み部分に曲率が小さい曲がりが生じると、その部分のデバイスに応力が加わることになりデバイスを破壊する虞があるため、極力曲率の大きな状態で剥がすことが望ましい。例えば、曲率の大きなロールに巻き取りながら捲るか、あるいは曲率の大きなロールが剥離部分に位置するような構成の機械を使って捲ることが望ましい。
また、剥離する部分に予め別の補強基材を貼りつけて、補強基材ごと剥離する方法も有用である。剥離する機能化ポリイミドフィルム層が、表示デバイスのバックプレーンである場合、あらかじめ表示デバイスのフロントプレーンを貼りつけて、無機基板上で一体化した後に両者を同時に剥がし、フレキシブルな表示デバイスを得ることも可能である。
The method of peeling the functionalized polyimide film layer from the support is not particularly limited, but is a method of tapping from the end with tweezers or the like, and after attaching an adhesive tape to one side of the cut portion of the functionalized polyimide film layer, the tape A method of turning from the part, a method of turning from one side of the cut portion of the functionalized polyimide film after vacuum suction, and the like can be employed. In addition, when the bend with a small curvature occurs in the cut portion of the functionalized polyimide film at the time of peeling, stress is applied to the device in that portion and the device may be destroyed. It is desirable. For example, it is desirable to roll while winding on a roll having a large curvature, or to roll using a machine having a configuration in which the roll having a large curvature is located at the peeling portion.
In addition, a method in which another reinforcing base material is attached in advance to the part to be peeled and the whole reinforcing base material is peeled off is also useful. When the functionalized polyimide film layer to be peeled off is a backplane of a display device, a display device front plane is pasted in advance and integrated on an inorganic substrate, and then both are peeled off simultaneously to obtain a flexible display device. Is possible.

以下、実施例及び比較例を示して本発明をより具体的に説明するが、本発明は以下の実施例によって限定されるものではない。なお、以下の実施例における物性の評価方法は下記の通りである。   EXAMPLES Hereinafter, although an Example and a comparative example are shown and this invention is demonstrated more concretely, this invention is not limited by a following example. In addition, the evaluation method of the physical property in the following examples is as follows.

<ポリアミド酸溶液の還元粘度>
ポリマー濃度が0.2g/dlとなるようにN,N−ジメチルアセトアミドに溶解した溶液についてウベローデ型の粘度管を用いて30℃で測定した。
<Reduced viscosity of polyamic acid solution>
A solution dissolved in N, N-dimethylacetamide so that the polymer concentration was 0.2 g / dl was measured at 30 ° C. using an Ubbelohde type viscosity tube.

<ポリイミド前駆体フィルム層の厚さ>
ポリイミド前駆体フィルム層の厚さは、マイクロメーター(ファインリューフ社製「ミリトロン1245D」)を用いて測定した。
<Thickness of polyimide precursor film layer>
The thickness of the polyimide precursor film layer was measured using a micrometer (“Millitron 1245D” manufactured by Fine Reef).

<ポリイミド前駆体フィルムの厚さ斑>
ポリイミド前駆体フィルムの厚さを所定の方法で無作為に30点測定し、平均値、最大値、最小値、および標準偏差を求め、次式より厚さ斑を求めた。
フィルムの厚さ斑(%)=100×(最大フィルム厚−最小フィルム厚)÷平均フィルム厚
<Thickness unevenness of polyimide precursor film>
Thirty points of the thickness of the polyimide precursor film were randomly measured by a predetermined method, the average value, the maximum value, the minimum value, and the standard deviation were obtained, and the thickness unevenness was obtained from the following formula.
Film thickness variation (%) = 100 × (maximum film thickness−minimum film thickness) ÷ average film thickness

<ポリイミド前駆体フィルムの有機溶媒含有量>
有機溶媒含有量はTGA 2950(TA instruments製)を用いて測定した。約5mgのサンフ゜ルをAl製のマイクロセルにセットし、5℃/minの速度で500℃まで昇温した。測定は窒素雰囲気下で行い、100℃〜300℃の間に減少した重量を有機溶媒含有量とした。
<Content of organic solvent in polyimide precursor film>
The organic solvent content was measured using TGA 2950 (TA instruments). About 5 mg of sample was set in an Al microcell and heated to 500 ° C. at a rate of 5 ° C./min. The measurement was performed in a nitrogen atmosphere, and the weight reduced between 100 ° C. and 300 ° C. was defined as the organic solvent content.

<欠点数>
30mm×30mmの領域をポリイミドフィルム層/無機基板積層体からサンプリングし、100倍拡大の測長機能付き顕微鏡にてサンプリング領域を観察し、100倍観察にて確認された欠点については、さらに拡大率を400倍として長径長さを測定し、5μm以上のものの個数を係数した。各サンプル3箇所からサンプリングし、欠点数はその平均値をとった。
<Number of defects>
A 30 mm × 30 mm area was sampled from the polyimide film layer / inorganic substrate laminate, and the sampling area was observed with a microscope with a length measurement function of 100 × magnification. The major axis length was measured at 400 times, and the number of those having a diameter of 5 μm or more was taken as a factor. Sampling was performed from three locations in each sample, and the average number of defects was taken.

<光線透過率>
400nmの波長における光線透過率は、日立製作所社製の分光光度計 U-3210を用いて測定
した。
<Light transmittance>
The light transmittance at a wavelength of 400 nm was measured using a spectrophotometer U-3210 manufactured by Hitachi, Ltd.

<HAZE>
フィルムのHAZEは日本電色社製のHAZEメーター NDH2000を用い、CIE標準D65光源を用い
て測定した。尚、同様の測定を3回行い、その算術平均値を採用した。
<HAZE>
The HAZE of the film was measured using a Nippon Denshoku HAZE meter NDH2000 and a CIE standard D65 light source. In addition, the same measurement was performed 3 times and the arithmetic average value was adopted.

<黄色度(YI)>
フィルムの黄色度は日本電色社製の色差計ZE2000を用い、CIE標準C2光源を用いて測定し
た。尚、同様の測定を3回行い、その算術平均値を採用した。
<Yellowness (YI)>
The yellowness of the film was measured using a color difference meter ZE2000 manufactured by Nippon Denshoku Co., Ltd., using a CIE standard C2 light source. In addition, the same measurement was performed 3 times and the arithmetic average value was adopted.

(合成例1)
窒素導入管,温度計,攪拌棒を備えた反応容器内を窒素置換した後、反応容器に窒素雰囲気下、1,4-ビス(4-アミノ-2-トリフルオロメチルフェノキシ)ベンゼン205.8g(0.480mol)とN,N-ジメチルアセトアミド1200gを仕込んで溶解させた後、反応容器を冷却しながらシクロブタンテトラカルボン酸二無水物93.8g(0.478mol)を固体のまま分割添加し、室温で12時間攪拌した。N,N-ジメチルアセトアミド1000gで希釈し、還元粘度4.12dl/gのポリアミック酸溶液A1を得た。
(Synthesis Example 1)
After the inside of the reaction vessel equipped with a nitrogen introduction tube, a thermometer, and a stirring rod was purged with nitrogen, the reaction vessel was charged with 205.8 g of 1,4-bis (4-amino-2-trifluoromethylphenoxy) benzene in a nitrogen atmosphere ( 0.480 mol) and 1200 g of N, N-dimethylacetamide were dissolved, and 93.8 g (0.478 mol) of cyclobutanetetracarboxylic dianhydride was added in portions while cooling the reaction vessel. For 12 hours. The solution was diluted with 1000 g of N, N-dimethylacetamide to obtain a polyamic acid solution A1 having a reduced viscosity of 4.12 dl / g.

(合成例2)
窒素導入管,温度計,攪拌棒を備えた反応容器内を窒素置換した後、反応容器に窒素雰囲気下、2,2’-ジトリフルオロメチル-4,4’-ジアミノビフェニル176.5g(0.551mol)とN,N-ジメチルアセトアミド1200gを仕込んで溶解させた後、反応容器を冷却しながら1,2,4,5-シクロヘキサンテトラカルボン酸二無水物122.9g(0.548mol)を固体のまま分割添加し、室温で18時間攪拌した。その後N,N-ジメチルアセトアミド500gで希釈し、還元粘度2.98dl/gのポリアミック酸溶液A2を得た。
(Synthesis Example 2)
The inside of the reaction vessel equipped with a nitrogen introduction tube, a thermometer, and a stirring rod was purged with nitrogen, and then the reaction vessel was filled with 176.5 g of 2,2′-ditrifluoromethyl-4,4′-diaminobiphenyl (0. 551 mol) and 1200 g of N, N-dimethylacetamide were dissolved, and 122.9 g (0.548 mol) of 1,2,4,5-cyclohexanetetracarboxylic dianhydride was added to the solid while cooling the reaction vessel. The solution was added in portions and stirred at room temperature for 18 hours. Thereafter, it was diluted with 500 g of N, N-dimethylacetamide to obtain a polyamic acid solution A2 having a reduced viscosity of 2.98 dl / g.

(合成例3)
窒素導入管,温度計,攪拌棒を備えた反応容器内を窒素置換した後、反応容器に窒素雰囲気下、2,2’-ジメチル-4,4’-ジアミノビフェニル155.9g(0.735mol)とN,N-ジメチルアセトアミド1200gを仕込んで溶解させた後、反応容器を冷却しながらシクロブタンテトラカルボン酸二無水物142.9g(0.729mol)を固体のまま分割添加し、室温で5時間攪拌した。その後N,N-ジメチルアセトアミド1000gで希釈し、還元粘度4.39dl/gのポリアミック酸溶液A3を得た。
(Synthesis Example 3)
The inside of the reaction vessel equipped with a nitrogen introduction tube, a thermometer, and a stirring rod was purged with nitrogen, and then the reaction vessel was filled with 155.9 g (0.735 mol) of 2,2′-dimethyl-4,4′-diaminobiphenyl in a nitrogen atmosphere. And 1,200 g of N, N-dimethylacetamide were dissolved in the solution, and 142.9 g (0.729 mol) of cyclobutanetetracarboxylic dianhydride was added in portions while cooling the reaction vessel, followed by stirring at room temperature for 5 hours. did. Thereafter, it was diluted with 1000 g of N, N-dimethylacetamide to obtain a polyamic acid solution A3 having a reduced viscosity of 4.39 dl / g.

(合成例4)
窒素導入管,温度計,攪拌棒を備えた反応容器内を窒素置換した後、反応容器に窒素雰囲気下、フェニレンジアミン78.3g(0.724mol)とN,N-ジメチルアセトアミド1200gを仕込んで溶解させた後、反応容器を冷却しながら3,3’,4,4’-ビシクロヘキシルテトラカルボン酸二無水物220.6g(0.720mol)を固体のまま分割添加し、室温で15時間攪拌した。その後、N,N-ジメチルアセトアミド250gで希釈し、還元粘度3.23dl/gのポリアミック酸溶液A4を得た。
(Synthesis Example 4)
The inside of the reaction vessel equipped with a nitrogen introduction tube, a thermometer, and a stirring rod was purged with nitrogen, and then the reaction vessel was charged with 78.3 g (0.724 mol) of phenylenediamine and 1200 g of N, N-dimethylacetamide in a nitrogen atmosphere and dissolved. Then, while cooling the reaction vessel, 220.6 g (0.720 mol) of 3,3 ′, 4,4′-bicyclohexyltetracarboxylic dianhydride was added in portions while being solid, and stirred at room temperature for 15 hours. . Thereafter, the mixture was diluted with 250 g of N, N-dimethylacetamide to obtain a polyamic acid solution A4 having a reduced viscosity of 3.23 dl / g.

(合成例5)
窒素導入管,温度計,攪拌棒を備えた反応容器内を窒素置換した後、反応容器に窒素雰囲気下、N,N−ジメチルアセトアミド400mlとエチレンカーボネート400mlの50:50の混合溶媒800ml、1,4−ビス(4−アミノベンゾイルオキシ)ベンゼン72.0(0.230mol)、シクロブタンテトラカルボン酸二無水物50.0g(0.255mol)を混合し、70℃で30分間撹拌して、均一透明な溶液を得た。該溶液を室温まで冷却後、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン7.5g(0.026mol)を添加して撹拌したところ、著しく増粘したため、上記混合溶媒400mlで希釈し、さらに16時間撹拌した。還元粘度1.67dL/gのポリアミック酸溶液A5を得た。
(Synthesis Example 5)
The inside of the reaction vessel equipped with a nitrogen introduction tube, a thermometer, and a stirring rod was replaced with nitrogen, and then the reaction vessel was charged with 800 ml of a 50:50 mixed solvent of 400 ml of N, N-dimethylacetamide and 400 ml of ethylene carbonate in a nitrogen atmosphere. 4-Bis (4-aminobenzoyloxy) benzene 72.0 (0.230 mol) and cyclobutanetetracarboxylic dianhydride 50.0 g (0.255 mol) were mixed and stirred at 70 ° C. for 30 minutes, and uniformly transparent Solution was obtained. After the solution was cooled to room temperature, 7.5 g (0.026 mol) of 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene was added and stirred. As a result, the viscosity increased significantly. Stir for 16 hours. A polyamic acid solution A5 having a reduced viscosity of 1.67 dL / g was obtained.

(合成例6)
窒素導入管,温度計,攪拌棒を備えた反応容器内を窒素置換した後、反応容器に窒素雰囲気下、シクロヘキサトリカルボン酸無水物41.9g(0.1mol)、ジシクロヘキシルメタンー4,4‘−ジイソシナネート52.3g(0.1mol)、1,8-ジアザビシクロ[5,4,0]-7-ウンデセン0.34gを入れ、γ―ブチロラクトン107gに溶解した後、窒素気流下、攪拌しながら、150〜200℃で2時間反応させた後、N-メチルー2−ピロリドン213gを加えて、200℃で1時間攪拌した。還元粘度0.9dl/gのポリアミック酸溶液A6を得た。
(Synthesis Example 6)
After substituting the inside of the reaction vessel equipped with a nitrogen introduction tube, a thermometer, and a stirring bar with nitrogen, 41.9 g (0.1 mol) of cyclohexatricarboxylic acid anhydride, dicyclohexylmethane-4,4 ′ in a nitrogen atmosphere in the reaction vessel. -52.3 g (0.1 mol) of diisocyanate and 0.34 g of 1,8-diazabicyclo [5,4,0] -7-undecene were added and dissolved in 107 g of γ-butyrolactone. After reacting at 150 to 200 ° C. for 2 hours, 213 g of N-methyl-2-pyrrolidone was added and stirred at 200 ° C. for 1 hour. A polyamic acid solution A6 having a reduced viscosity of 0.9 dl / g was obtained.

(実施例1)
ポリアミック酸溶液(A1)を、スリットダイを用いて厚さ125μm(厚さ斑の絶対値 4μm)、幅1050mmの長尺ポリエチレンテレフタレートフィルムの平滑面(無滑材面)上に、最終膜厚(イミド化後の膜厚)が20μmとなるように塗布し、120℃にて15分間乾燥し、その後、セパレーターフィルムとして厚み20μm(厚さ斑の絶対値:2μm)の長尺ポリエチレンテレフタレートフィルムの平滑面(無滑材面)をポリイミド前駆体フィルム上に重ねるようにして偏心が150μmとなるように装着された内径の真円度が99.90%であり、外径の真円度が99.90%である巻き芯を用い、巻き取りテンション120Nの条件でロール状に巻きとり、ポリイミド前駆体フィルムロール(B1)を得た。
Example 1
Using a slit die, the polyamic acid solution (A1) is applied onto the smooth surface (non-sliding material surface) of a long polyethylene terephthalate film having a thickness of 125 μm (absolute value of thickness spots 4 μm) and a width of 1050 mm. The film was coated so that the film thickness after imidization was 20 μm, dried at 120 ° C. for 15 minutes, and then smoothed as a separator film of a long polyethylene terephthalate film having a thickness of 20 μm (absolute value of thickness spots: 2 μm). The roundness of the inner diameter is 99.90% and the roundness of the outer diameter is 99.90% so that the eccentricity is 150 μm with the surface (non-sliding material surface) superimposed on the polyimide precursor film. Using a 90% winding core, the film was wound into a roll under the condition of a winding tension of 120 N to obtain a polyimide precursor film roll (B1).

(シランカップリング剤塗布ガラス板)
換気口と吸気口を備えた密閉チャンバーの中に置いた加熱バットに、シラン系カップリング剤、3−メタクリロキシプロピルメチルジエトキシシラン(商品名KBM−503、信越シリコーン社製)を満たし、75℃に加温した。次いで、一辺250mmの正方形とした白板硝子を、加熱バット上100mmに保持し、シランカップリング剤蒸気が均一に当たるように水平方向にガラス板の位置を揺らし、5分間暴露した後に取りだし、100℃に加温したホットプレート上に置いて、10分間加熱し、シランカップリング剤塗布ガラス板を得た。
(Silane coupling agent coated glass plate)
A heating bat placed in a closed chamber with a ventilation port and an intake port is filled with a silane coupling agent, 3-methacryloxypropylmethyldiethoxysilane (trade name KBM-503, manufactured by Shin-Etsu Silicone), 75 Warmed to ° C. Next, a white plate glass having a square shape of 250 mm on a side is held at 100 mm on a heating bat, the position of the glass plate is shaken in the horizontal direction so that the silane coupling agent vapor is uniformly applied, and the glass plate is taken out after being exposed for 5 minutes. It put on the heated hotplate and heated for 10 minutes, and the silane coupling agent application | coating glass plate was obtained.

室温23℃±2℃、湿度50±5%RH、クリーン度10000に調整された実験室内において、得られたポリイミド前駆体フィルムロールB1を巻き出し、セパレーターフィルム及び基材フィルムごと360mm×460mmの四角形状に切り出した。次いで、セパレーターフィルムを剥がし、370mm×470mmの白板ガラスに、先に切り出したポリイミド前駆体フィルム側を、前期シランカップリング剤塗布ガラス板の端が5mm露出するように位置あわせし、クライムプロダクツ社製のラミネータを用いて、無機基板側温度30℃、ラミネート時のロール圧力5kg/cm2、ロール速度5mm/秒にてラミネートした。次いでポリイミド前駆体フィルムと接している基材フィルムを剥離し、ガラス板とポリイミド前駆体からなるポリイミド前駆体フィルム層/無機基板積層体(C1)を得た。   In a laboratory adjusted to room temperature 23 ° C. ± 2 ° C., humidity 50 ± 5% RH, and cleanness 10000, the obtained polyimide precursor film roll B1 was unwound, and the separator film and the base film were all square of 360 mm × 460 mm. Cut into shape. Next, the separator film is peeled off, and the polyimide precursor film side previously cut out is aligned on a white plate glass of 370 mm x 470 mm so that the end of the glass plate coated with the silane coupling agent is exposed 5 mm, manufactured by Climb Products Was laminated at an inorganic substrate temperature of 30 ° C., a roll pressure of 5 kg / cm 2 during lamination, and a roll speed of 5 mm / sec. Subsequently, the base film in contact with the polyimide precursor film was peeled off to obtain a polyimide precursor film layer / inorganic substrate laminate (C1) composed of a glass plate and a polyimide precursor.

得られたポリイミド前駆体フィルム(D1)の厚さは、 平均23.0μm、最大23.3μm、最小22.7μm、 厚さ斑 2.61% であった。また、有機溶媒含有率は25.6wt%であった。   The resulting polyimide precursor film (D1) had an average thickness of 23.0 μm, a maximum of 23.3 μm, a minimum of 22.7 μm, and a thickness variation of 2.61%. The organic solvent content was 25.6 wt%.

得られたポリイミド前駆体フィルム層/無機基板積層体を防爆仕様のオーブンに入れ、まず150℃に昇温して5分保持し、次いで10℃/分の速度で温度を220℃に上げ、5分保持し、さらにそこから10℃/分の速度で300℃まで温度を上げ、5分間保持した後、オーブンから取り出し、白板ガラスとポリイミドフィルム層/無機基板積層体(E1)を得た。   The obtained polyimide precursor film layer / inorganic substrate laminate is put in an explosion-proof oven, first heated to 150 ° C. and held for 5 minutes, and then raised to 220 ° C. at a rate of 10 ° C./minute. Then, the temperature was raised to 300 ° C. at a rate of 10 ° C./min., Held for 5 minutes, and then taken out from the oven to obtain white plate glass and a polyimide film layer / inorganic substrate laminate (E1).

積層体(E1)は外観品位良好であり、ポリイミドフィルム表面に、ブリスター、突起、異物等は観察されず、欠点数は0個であった。セパレーターフィルムによりポリイミド前駆体フィルムを保護したことに加え、一連の作業が行われた実験室はクリーン度10000程度であり、ガラス板上には相応レベルの微小異物等が存在しているが、ポリイミド前駆体フィルムに埋め込まれて、欠点としては顕在化しなかったものと解釈される。   The laminate (E1) had good appearance quality, and no blisters, protrusions, foreign matters, etc. were observed on the polyimide film surface, and the number of defects was zero. In addition to protecting the polyimide precursor film with the separator film, the laboratory where the series of operations was performed has a cleanness of about 10,000, and there is a minute level of foreign matter on the glass plate. It is interpreted that it was embedded in the precursor film and did not manifest as a defect.

得られたポリイミドフィルム層/無機基板積層体(E1)からポリイミド層を剥離し、ポリイミドフィルム(F1)の光学特性を測定した。400nmの光透過率が85.2%、HAZEが0.78%、黄色度が2.41であった。 The polyimide layer was peeled from the obtained polyimide film layer / inorganic substrate laminate (E1), and the optical properties of the polyimide film (F1) were measured. The light transmittance at 400 nm was 85.2%, HAZE was 0.78%, and the yellowness was 2.41.

(実施例2〜7)
合成例A2〜A6のポリアミック酸溶液を用いて実施例1と同様の方法でポリイミド前駆体フィルム層/無機基板積層体C2〜C6(ポリイミド前駆体フィルムはD2〜D6)、ポリイミドフィルム層/無機基板積層体E2〜E6(ポリイミドフィルムはF2〜F6)を得た。
(Examples 2 to 7)
Polyimide precursor film layer / inorganic substrate laminate C2-C6 (polyimide precursor film is D2-D6), polyimide film layer / inorganic substrate in the same manner as in Example 1 using the polyamic acid solutions of Synthesis Examples A2-A6 Laminated bodies E2 to E6 (polyimide films were F2 to F6) were obtained.

それぞれのポリイミド前駆体フィルムの厚さ、厚さ斑及び有機溶媒含有率は、表1の通りであった。 Table 1 shows the thickness, thickness variation, and organic solvent content of each polyimide precursor film.

それぞれの積層体E2〜E6の外観品位良好であり、欠点数は表2の通りであった。   The appearance quality of each of the laminates E2 to E6 was good, and the number of defects was as shown in Table 2.

それぞれポリイミドフィルムの光学特性は、表3の通りであった。 The optical properties of the polyimide films were as shown in Table 3, respectively.

(比較例1)
ポリアミック酸溶液(A1)を、スリットダイを用いて厚さ125μm、幅1050mmの長尺ポリエチレンテレフタレートフィルムの平滑面(無滑材面)上に、最終膜厚(イミド化後の膜厚)が20μmとなるように塗布し、120℃にて15分間乾燥し、セパレーターフィルムを挟まずにロール状に巻きとり、ポリイミド前駆体フィルムロール(G1)を得た。
(Comparative Example 1)
The final film thickness (film thickness after imidization) of the polyamic acid solution (A1) is 20 μm on a smooth surface (non-sliding material surface) of a long polyethylene terephthalate film having a thickness of 125 μm and a width of 1050 mm using a slit die. And then dried at 120 ° C. for 15 minutes, and wound into a roll without sandwiching the separator film to obtain a polyimide precursor film roll (G1).

以降、実施例1と同様の方法でポリイミド前駆体フィルム層/無機基板積層体H1(ポリイミド前駆体フィルムはI1)、ポリイミドフィルム層/無機基板積層体J1(ポリイミドフィルムはK1)を得た。 Thereafter, polyimide precursor film layer / inorganic substrate laminate H1 (polyimide precursor film is I1) and polyimide film layer / inorganic substrate laminate J1 (polyimide film is K1) were obtained in the same manner as in Example 1.

得られたポリイミド前駆体フィルム(I1)の厚さは、 平均23.1μm、最大23.5μm、最小22.8μm、 厚さ斑 3.03% であった。また、有機溶媒含有率は24.9wt%であった。   The obtained polyimide precursor film (I1) had an average thickness of 23.1 μm, a maximum of 23.5 μm, a minimum of 22.8 μm, and a thickness unevenness of 3.03%. The organic solvent content was 24.9 wt%.

積層体(J1)はポリイミドフィルム表面に、欠点が平均1.3個観察された。セパレーターフィルムを用いなかったことで、一連の作業中に異物の付着や傷ができてしまったものと推察される。   In the laminate (J1), an average of 1.3 defects were observed on the polyimide film surface. It is presumed that foreign matter adhered or scratched during a series of operations because the separator film was not used.

得られたポリイミドフィルム層/無機基板積層体(J1)からポリイミド層を剥離し、ポリイミドフィルム(F1)の光学特性を測定した。400nmの光透過率が84.9%、HAZEが0.68%、黄色度が2.45であった。 The polyimide layer was peeled from the obtained polyimide film layer / inorganic substrate laminate (J1), and the optical properties of the polyimide film (F1) were measured. The light transmittance at 400 nm was 84.9%, the HAZE was 0.68%, and the yellowness was 2.45.

比較例1で得られたポリイミド前駆体フィルムおよびポリイミドフィルムの膜厚、厚み斑、光学特性は実施例1と大差ないものであったが、ロール巻き取り時のセパレーターフィルムの有無で欠点数に差が出ることが確認できた。 The film thickness, thickness unevenness, and optical properties of the polyimide precursor film and polyimide film obtained in Comparative Example 1 were not significantly different from those in Example 1, but differed in the number of defects depending on the presence or absence of the separator film at the time of roll winding. Was confirmed.

(比較例2〜6)
ポリアミック酸溶液A2〜A6もセパレーターフィルムを用いないこと以外は実施例1と同様の方法でポリイミド前駆体フィルム層/無機基板積層体H2〜H6(ポリイミド前駆体フィルムはI1〜I6)、ポリイミドフィルム層/無機基板積層体J2〜J6(ポリイミドフィルムはK2〜K6)を得た。
(Comparative Examples 2-6)
Polyamic acid solutions A2 to A6 are polyimide precursor film layers / inorganic substrate laminates H2 to H6 (polyimide precursor films are I1 to I6) and polyimide film layers in the same manner as in Example 1 except that no separator film is used. / Inorganic substrate laminates J2 to J6 (polyimide films are K2 to K6) were obtained.

それぞれのポリイミド前駆体フィルムの厚さ、厚さ斑及び有機溶媒含有率は、表1の通りであった。 Table 1 shows the thickness, thickness variation, and organic solvent content of each polyimide precursor film.

それぞれの積層体J2〜J6の欠点数は表2の通りであった。   Table 2 shows the number of defects in each of the laminates J2 to J6.

それぞれポリイミドフィルムの光学特性は、表3の通りであった。 The optical properties of the polyimide films were as shown in Table 3, respectively.

比較例2〜6で得られたポリイミド前駆体フィルムおよびポリイミドフィルムの膜厚、厚み斑、光学特性は実施例2〜6と大差ないものであったが、ロール巻き取り時のセパレーターフィルムの有無で欠点数に差が出ることが確認できた。 The film thickness, thickness unevenness, and optical characteristics of the polyimide precursor film and polyimide film obtained in Comparative Examples 2 to 6 were not significantly different from those in Examples 2 to 6, but the presence or absence of a separator film at the time of roll winding. It was confirmed that there was a difference in the number of defects.

(応用例1)
実施例1〜6により得られた、ポリイミドフィルム層/無機基板積層体を用い、以下の工程により、ボトムゲート型の薄膜トランジスタアレイを試作した。
ポリイミドフィルム層/無機基板積層体のポリイミドフィルム側全面に反応性スパッタリング法を用いてSiONからなる100nmのガスバリア膜を形成した。次いで、厚さ80nmのアルミニウム層をスパッタリング法にて形成し、フォトリソグラフ法によりゲート配線とゲート電極を形成した。次いで、スリットダイコーターを用いてエポキシ樹脂系のゲート絶縁膜(厚さ80nm)を形成した。さらにスパッタリング法にて5nmのクロム層、40nmの金層を形成し、フォトリソグラフ法にてソース電極とドレイン電極を形成した。次いでスリットダイコーターを用いて、絶縁層兼ダム層となるエポキシ樹脂を塗布し、UV−YAGレーザーによるアブレーションにて、ソース電極とドレイン電極を含む半導体層用の厚さ250nmのダム層を直径100μmの円形となるように形成し、また上部電極との接続点となるビア形成も同時に行った。次いで、インクジェット印刷法により有機半導体であるポリチオフェンをダム内に塗出、ビア部には銀ペーストを埋め込み、さらに上部電極としてアルミ配線を形成し640×480ピクセルを有する薄膜トランジスタアレイを形成した。
(Application 1)
Using the polyimide film layer / inorganic substrate laminate obtained in Examples 1 to 6, a bottom gate type thin film transistor array was prototyped by the following steps.
A 100 nm gas barrier film made of SiON was formed on the entire polyimide film side of the polyimide film layer / inorganic substrate laminate using a reactive sputtering method. Next, an aluminum layer having a thickness of 80 nm was formed by a sputtering method, and a gate wiring and a gate electrode were formed by a photolithography method. Next, an epoxy resin-based gate insulating film (thickness 80 nm) was formed using a slit die coater. Further, a 5 nm chromium layer and a 40 nm gold layer were formed by sputtering, and a source electrode and a drain electrode were formed by photolithography. Next, using a slit die coater, an epoxy resin serving as an insulating layer and dam layer is applied, and a 250-nm thick dam layer for a semiconductor layer including a source electrode and a drain electrode is formed by ablation with a UV-YAG laser with a diameter of 100 μm. The via was also formed at the same time as a connection point with the upper electrode. Next, polythiophene, which is an organic semiconductor, was coated in the dam by ink jet printing, a silver paste was buried in the via portion, and an aluminum wiring was formed as an upper electrode to form a thin film transistor array having 640 × 480 pixels.

得られた薄膜トランジスタアレイをバックプレーンとし、フロントプレーンに電気泳動表示媒体を重ねることにより、ディスプレイ素子とし、トランジスタの収率と表示性能を、各ピクセルのON/OFFにて判定した。結果、実施例において得られた薄膜トランジスタアレイについては、いずれも表示性能は良好であった。   The obtained thin film transistor array was used as a back plane, and an electrophoretic display medium was overlaid on the front plane to form a display element. The yield and display performance of the transistor were determined by ON / OFF of each pixel. As a result, the thin film transistor arrays obtained in the examples all had good display performance.

本発明の、セパレーターフィルムを巻き込んだポリイミド前駆体フィルムロールを用いることにより品位良いポリイミドフィルム層/無機基板積層体を得ることができる。ポリイミドフィルム層を仮支持基板にて保持し、ポリイミドフィルム層上に電子デバイス又は機能性薄膜を形成するフレキシブル電子デバイス又は機能性薄膜の製造工程において、傷及び異物が少なく均一なフィルム膜厚を実現し、同時に、極端に高いガラス面清浄度も要求されず、高品位な、ポリイミドフィルム層/無機基板の積層体を得ることが可能となり、結果として高い収率にてフレキシブル電子デバイスを得ることが可能となる。   A polyimide film layer / inorganic substrate laminate with good quality can be obtained by using the polyimide precursor film roll including the separator film of the present invention. In the manufacturing process of flexible electronic devices or functional thin films where the polyimide film layer is held by a temporary support substrate and an electronic device or functional thin film is formed on the polyimide film layer, a uniform film thickness is achieved with few scratches and foreign matter At the same time, extremely high glass surface cleanliness is not required, and a high-quality polyimide film layer / inorganic substrate laminate can be obtained. As a result, a flexible electronic device can be obtained with a high yield. It becomes possible.

Claims (6)

円柱状の巻き芯に、幅500mmを越える幅を有し、かつ長さが50m以上の多層フィルムがロール状に巻き取られた多層フィルムロールであって、
前記多層フィルムが、
厚さが12μm以上、190μm以下の高分子フィルム基材層、
厚さが5μm以上、200μm以下であり、厚さ斑が20%以下であり、有機溶剤を20質量%以上、35質量%以下の割合で有機溶剤を含むポリイミド前駆体層、
厚さが5μm以上、130μm以下のセパレーターフィルム層、
が順次積層された構造を有することを特長とする多層フィルムロール。
A multi-layer film roll in which a multi-layer film having a width exceeding 500 mm and a length of 50 m or more is wound in a roll shape on a cylindrical winding core,
The multilayer film is
A polymer film substrate layer having a thickness of 12 μm or more and 190 μm or less,
A polyimide precursor layer having a thickness of 5 μm or more and 200 μm or less, a thickness spot of 20% or less, and an organic solvent in a proportion of 20% by mass or more and 35% by mass or less;
A separator film layer having a thickness of 5 μm or more and 130 μm or less,
A multilayer film roll characterized by having a structure in which the layers are sequentially laminated.
前記ポリイミド前駆体の還元粘度が0.5dL/g以上、5.0dL/g以下である事を特長とする請求項1に記載の多層フィルムロール。   The multilayer film roll according to claim 1, wherein the reduced viscosity of the polyimide precursor is 0.5 dL / g or more and 5.0 dL / g or less. 前記高分子フィルム基材層の厚さ斑の絶対値が10μm以下であることを特長とする請求項1または2に記載の多層フィルムロール。   3. The multilayer film roll according to claim 1, wherein an absolute value of a thickness unevenness of the polymer film substrate layer is 10 μm or less. 前記セパレーターフィルム層の厚さ斑の絶対値が10μm以下である事を特長とする請求項1から3のいずれかに記載の多層フィルムロール。   The multilayer film roll according to any one of claims 1 to 3, wherein an absolute value of thickness unevenness of the separator film layer is 10 µm or less. 前記円柱状の巻き芯の内径の真円度が99.87%以上であり、外径の真円度が99.87%以上であることを特長とする請求項1から4のいずれかに記載の多層フィルムロール。   5. The roundness of the inner diameter of the cylindrical winding core is 99.87% or more, and the roundness of the outer diameter is 99.87% or more. Multi-layer film roll. 内径の真円度が99.87%以上であり、外径の真円度が99.87%以上である巻き芯を、偏心が200μm以下となるように装着された巻き芯を用い、
厚さが12μm以上、190μm以下であり厚さ斑の絶対値が10μm以下である高分子フィルム基材に、ポリイミド前駆体の有機溶剤溶液を塗布し、有機溶剤の含有量がポリイミド前駆体と有機溶剤の総和に対して20質量%以上、35質量%以下の範囲となるように乾燥し、
さらに厚さが5μm以上、130μm以下であり厚さ斑の絶対値が10μm以下であるセパレーターフィルムを前記ポリイミド前駆体と溶剤を含む層に重ねて巻き取ることを特長とする請求項1から5のいずれかに記載された多層フィルムロールを製造する方法。
A winding core having an inner diameter roundness of 99.87% or more and an outer diameter roundness of 99.87% or more, using a winding core mounted so that the eccentricity is 200 μm or less,
An organic solvent solution of a polyimide precursor is applied to a polymer film substrate having a thickness of 12 μm or more and 190 μm or less and an absolute value of the thickness unevenness of 10 μm or less. Dry so as to be in the range of 20% by mass or more and 35% by mass or less with respect to the total amount of the solvent,
6. The separator film according to claim 1, further comprising a separator film having a thickness of 5 μm or more and 130 μm or less and an absolute value of thickness unevenness of 10 μm or less stacked on the layer containing the polyimide precursor and the solvent. A method for producing a multilayer film roll described in any one of the above.
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