JP2018111633A - Apparatus and method for growing oxide single crystal - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an apparatus for growing an oxide single crystal, capable of corresponding to low cost, and a large diameter and long size of the oxide single crystal.SOLUTION: An apparatus 100 for growing an oxide single crystal comprises: a heat insulator 7 surrounding a heating space SP; a crucible 1 arranged in the heating space SP; a resistance heating type heater 4 arranged in the heating space SP; and an intermediate annular plate member 7C arranged in the heating space SP. The heating space SP is thermally separated into an upper heating space SP1 and a lower heating space SP2 by the crucible 1 and the intermediate annular plate member 7C, and the resistance heating type heater 4 includes an upper stage heater 4U arranged in the upper heating space SP1, and a middle heater 4M and lower stage heater 4L arranged in the lower heating space SP2 .SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、酸化物単結晶の育成装置及び育成方法に関する。   The present invention relates to an oxide single crystal growing apparatus and a growing method.

従来、表面弾性波デバイス、光変調デバイス等の材料としてニオブ酸リチウムの単結晶が多く利用されてきた。そして、単結晶の育成には、高周波誘導加熱方式のチョクラスキー式育成法(以下、「Cz法」とする。)を採用する育成装置が多く利用されてきた。しかし、高周波誘導加熱方式では、高周波電源、育成炉、ワークコイル等の水冷が必要なために単結晶の製造コストが高くなるという問題があった。また、育成炉内の温度勾配が急峻で単結晶に欠陥が発生し易いという問題があった。これらの問題を解決する手段として、抵抗加熱方式を採用する育成装置が知られている(特許文献1参照。)。特許文献1は、抵抗加熱方式のCz法においても、高周波誘導加熱方式のCz法と同様に、ニオブ酸リチウムの単結晶を育成できることを示している。   Conventionally, lithium niobate single crystals have been widely used as materials for surface acoustic wave devices, light modulation devices, and the like. For growing a single crystal, a growing apparatus that employs a high frequency induction heating-type chockey type growing method (hereinafter referred to as “Cz method”) has been widely used. However, the high-frequency induction heating method has a problem that the manufacturing cost of the single crystal increases because water cooling of a high-frequency power source, a growth furnace, a work coil, and the like is necessary. There is also a problem that the temperature gradient in the growth furnace is steep and defects are likely to occur in the single crystal. As a means for solving these problems, a growing apparatus employing a resistance heating method is known (see Patent Document 1). Patent Document 1 shows that a single crystal of lithium niobate can be grown in the resistance heating type Cz method as well as the high frequency induction heating type Cz method.

特開2003−221299号公報JP 2003-221299 A

近年、表面弾性波デバイスの市場が拡大している。そのため、表面弾性波デバイスの材料となるニオブ酸リチウムの単結晶の生産量を確保するため、単結晶の大口径化及び長尺化が行われている。   In recent years, the market for surface acoustic wave devices has expanded. Therefore, in order to secure the production amount of a single crystal of lithium niobate that is a material for a surface acoustic wave device, the diameter of the single crystal is increased and the length thereof is increased.

しかしながら、単結晶の大口径化及び長尺化は、単結晶の良品率を低下させる原因となっている。具体的には、単結晶の大口径化は、原料を溶融するためのルツボ径の拡大を必要とする。そして、ルツボ径の拡大は、融液表面の中央部における径方向の温度勾配を緩やかにし、シーディング又は肩部(円錐状に形成される単結晶の上端部分)育成の際における単結晶の急成長を引き起こす場合がある。また、融液の自然対流の低下をもたらし、直胴部(ほぼ円柱状に形成される単結晶の部分)育成の際における単結晶の曲がりを引き起こす場合がある。更に、単結晶の外周部と内部の間で大きな温度差をもたらし、冷却中の熱歪に起因するクラックを引き起こす場合がある。また、単結晶の長尺化は、引き上げ距離の延長をもたらし、単結晶の上端と下端の間で大きな温度差をもたらし、冷却中の熱歪に起因するクラックを引き起こす場合がある。   However, the increase in diameter and length of the single crystal is a cause of decreasing the yield rate of the single crystal. Specifically, increasing the diameter of a single crystal requires an increase in crucible diameter for melting the raw material. The crucible diameter is increased by gradually reducing the temperature gradient in the radial direction at the center of the melt surface, and the single crystal suddenly grows during seeding or shoulder growth (the upper end portion of the single crystal formed in a conical shape). May cause growth. In addition, the natural convection of the melt may be reduced, and the bending of the single crystal may be caused during the growth of the straight body portion (a portion of the single crystal formed in a substantially cylindrical shape). Furthermore, a large temperature difference is caused between the outer peripheral portion and the inside of the single crystal, which may cause cracks due to thermal strain during cooling. In addition, the lengthening of the single crystal causes an increase in the pulling distance, a large temperature difference between the upper end and the lower end of the single crystal, and may cause cracks due to thermal strain during cooling.

そのため、低コストで酸化物単結晶の大口径化及び長尺化に対応できる、抵抗加熱方式を採用した、酸化物単結晶の育成装置を提供することが望ましい。   Therefore, it is desirable to provide an apparatus for growing an oxide single crystal that employs a resistance heating method that can cope with an increase in the diameter and length of the oxide single crystal at low cost.

本発明の実施形態に係る酸化物単結晶の育成装置は、酸化物単結晶の育成装置であって、加熱空間を囲む耐火物と、前記加熱空間内に配置されるルツボと、前記加熱空間内に配置される抵抗加熱方式のヒータと、前記加熱空間内に配置される遮熱板と、を有し、前記加熱空間は、前記ルツボと前記遮熱板によって上部加熱空間と下部加熱空間に熱的に分離され、前記ヒータは、前記上部加熱空間に配置される上部ヒータと、前記下部加熱空間に配置される下部ヒータとを含む。   An oxide single crystal growth apparatus according to an embodiment of the present invention is an oxide single crystal growth apparatus, comprising a refractory surrounding a heating space, a crucible disposed in the heating space, and the heating space. And a heat shield disposed in the heating space, and the heating space is heated to the upper heating space and the lower heating space by the crucible and the heat shielding plate. The heater includes an upper heater disposed in the upper heating space and a lower heater disposed in the lower heating space.

上述の手段により、低コストで酸化物単結晶の大口径化と長尺化に対応できる、抵抗加熱方式を採用した、酸化物単結晶の育成装置が提供される。   By the above-mentioned means, an oxide single crystal growing apparatus employing a resistance heating method that can cope with an increase in the diameter and length of the oxide single crystal at low cost is provided.

本発明の実施形態に係る育成装置の縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view of the breeding apparatus which concerns on embodiment of this invention. 図1のII−II線で示す平面を上から見た横断面図である。It is the cross-sectional view which looked at the plane shown by the II-II line of FIG. 1 from the top. ルツボよりも上にある部材が取り外された状態にある図1の育成装置の上面図である。FIG. 2 is a top view of the growing apparatus of FIG. 1 in a state in which a member above the crucible is removed. ルツボと中間環状板部材との位置関係を示す図である。It is a figure which shows the positional relationship of a crucible and an intermediate | middle annular plate member.

本発明の実施形態に係る育成装置は、Cz法を利用した酸化物単結晶の育成(製造)に用いる抵抗加熱方式の育成装置である。酸化物単結晶は、ニオブ酸リチウム(以下、「LN」とする。)、タンタル酸リチウム(以下、「LT」とする。)、ガドリニウム・ガリウム・ガーネット(以下、「GGG」とする。)、サファイア等を含む。酸化物単結晶は、大気中又は不活性ガス雰囲気中で育成される。   A growing apparatus according to an embodiment of the present invention is a resistance heating type growing apparatus used for growing (manufacturing) an oxide single crystal using a Cz method. The oxide single crystal includes lithium niobate (hereinafter referred to as “LN”), lithium tantalate (hereinafter referred to as “LT”), gadolinium gallium garnet (hereinafter referred to as “GGG”), Including sapphire. The oxide single crystal is grown in the air or in an inert gas atmosphere.

Cz法は、ある結晶方位に従って切り出された種結晶を同一組成の融液に浸漬し、回転しながら徐々に引上げることによって、種結晶の性質を伝播しながら大口径化して単結晶を製造する方法である。種結晶は、例えば、断面の一辺が5~10mm程度の直方体単結晶であり、シード棒の先端に取り付けられている。そして、シード棒の昇降により、融液への浸漬、引き上げ等が行われる。   In the Cz method, a seed crystal cut according to a certain crystal orientation is immersed in a melt having the same composition and gradually pulled up while rotating, thereby producing a single crystal with a large diameter while propagating the properties of the seed crystal. Is the method. The seed crystal is, for example, a cuboid single crystal having a cross-sectional side of about 5 to 10 mm, and is attached to the tip of the seed bar. Then, dipping in the melt, pulling up and the like are performed by raising and lowering the seed bar.

ここで、図1〜図3を参照し、本発明の実施形態に係る育成装置100について説明する。図1は、育成装置100の縦断面図である。図2は、図1のII−II線で示す平面を上(+Z方向)から見た横断面図である。図3は、ルツボ1よりも上にある部材が取り外された状態にある育成装置100の上面図である。   Here, with reference to FIGS. 1-3, the growth apparatus 100 which concerns on embodiment of this invention is demonstrated. FIG. 1 is a longitudinal sectional view of the growing apparatus 100. 2 is a cross-sectional view of the plane indicated by the line II-II in FIG. 1 as viewed from above (+ Z direction). FIG. 3 is a top view of the growing apparatus 100 in a state where a member above the crucible 1 is removed.

育成装置100は、ルツボ1、ルツボ台2、ルツボ軸3、ヒータ4、断熱材7、架台13、外壁15、制御装置50、回転昇降装置51、及び電源52を含む。   The growing apparatus 100 includes a crucible 1, a crucible base 2, a crucible shaft 3, a heater 4, a heat insulating material 7, a base 13, an outer wall 15, a control device 50, a rotary lifting device 51, and a power source 52.

ルツボ1は、酸化物単結晶11の原料を保持するための容器である。原料は、単結晶化の対象となる金属等が溶融した融液12の状態で保持される。ルツボ1は、例えば、耐熱性のある白金、インジウム等の金属で作製される。   The crucible 1 is a container for holding the raw material of the oxide single crystal 11. The raw material is held in the state of a melt 12 in which a metal or the like to be subjected to single crystallization is melted. The crucible 1 is made of, for example, a heat-resistant metal such as platinum or indium.

ルツボ台2は、ルツボ1を載せる台である。ルツボ軸3は、ルツボ台2を支える軸である。ルツボ軸3は、ルツボ台2に載せられたルツボ1を回転させるために回転可能であってもよい。また、ルツボ台2に載せられたルツボ1を上下動させるために上下動可能であってもよい。   The crucible base 2 is a base on which the crucible 1 is placed. The crucible shaft 3 is a shaft that supports the crucible base 2. The crucible shaft 3 may be rotatable to rotate the crucible 1 placed on the crucible base 2. Further, the crucible 1 placed on the crucible base 2 may be moved up and down to move up and down.

ヒータ4は、原料、ルツボ1、育成された酸化物単結晶11等を加熱する装置である。図1の例では、ヒータ4は、鉛直方向(Z軸方向)に沿って3段構成となるように配置されている。具体的には、上段ヒータ4U、中段ヒータ4M、及び下段ヒータ4Lを含む。   The heater 4 is a device for heating the raw material, the crucible 1, the grown oxide single crystal 11, and the like. In the example of FIG. 1, the heater 4 is arranged to have a three-stage configuration along the vertical direction (Z-axis direction). Specifically, it includes an upper heater 4U, a middle heater 4M, and a lower heater 4L.

断熱材7は、加熱空間SPを囲む耐火物である。図1の例では、ルツボ1及びヒータ4を取り囲むように設置されている。断熱材7は、例えば、ジルコニア、アルミナ、白金等で形成されている。   The heat insulating material 7 is a refractory surrounding the heating space SP. In the example of FIG. 1, it is installed so as to surround the crucible 1 and the heater 4. The heat insulating material 7 is made of, for example, zirconia, alumina, platinum, or the like.

具体的には、断熱材7は、上部環状板部材7A、上部円筒状部材7B、中間環状板部材7C、下部円筒状部材7D、及び、下部板部材7Eを含む。上部環状板部材7A、上部円筒状部材7B、中間環状板部材7C、下部円筒状部材7D、及び、下部板部材7Eのうちの少なくとも2つは一体的に形成されていてもよい。例えば、上部円筒状部材7B、及び中間環状板部材7Cは一体的に形成されていてもよい。或いは、上部環状板部材7A、上部円筒状部材7B、及び中間環状板部材7Cは一体的に形成されていてもよい。また、下部円筒状部材7D、及び、下部板部材7Eは一体的に形成されていてもよい。   Specifically, the heat insulating material 7 includes an upper annular plate member 7A, an upper cylindrical member 7B, an intermediate annular plate member 7C, a lower cylindrical member 7D, and a lower plate member 7E. At least two of the upper annular plate member 7A, the upper cylindrical member 7B, the intermediate annular plate member 7C, the lower cylindrical member 7D, and the lower plate member 7E may be integrally formed. For example, the upper cylindrical member 7B and the intermediate annular plate member 7C may be integrally formed. Alternatively, the upper annular plate member 7A, the upper cylindrical member 7B, and the intermediate annular plate member 7C may be integrally formed. Further, the lower cylindrical member 7D and the lower plate member 7E may be integrally formed.

図1の例では、ルツボ1、上部環状板部材7A、上部円筒状部材7B、及び中間環状板部材7Cは、上部加熱空間SP1を定める。また、ルツボ1、中間環状板部材7C、下部円筒状部材7D、及び下部板部材7Eは、下部加熱空間SP2を定める。ルツボ1の上端は、中間環状板部材7Cの内周端のところで中間環状板部材7Cの下面(−Z側面)と接している。すなわち、加熱空間SPは、ルツボ1及び中間環状板部材7Cによって上部加熱空間SP1と下部加熱空間SP2に熱的に分離される。中間環状板部材7Cは、環状の遮熱板として機能する。   In the example of FIG. 1, the crucible 1, the upper annular plate member 7A, the upper cylindrical member 7B, and the intermediate annular plate member 7C define an upper heating space SP1. The crucible 1, the intermediate annular plate member 7C, the lower cylindrical member 7D, and the lower plate member 7E define a lower heating space SP2. The upper end of the crucible 1 is in contact with the lower surface (-Z side surface) of the intermediate annular plate member 7C at the inner peripheral end of the intermediate annular plate member 7C. That is, the heating space SP is thermally separated into the upper heating space SP1 and the lower heating space SP2 by the crucible 1 and the intermediate annular plate member 7C. The intermediate annular plate member 7C functions as an annular heat shield.

ルツボ1と中間環状板部材7Cとは、図4に示すような位置関係であってもよい。図4は、ルツボ1と中間環状板部材7Cとの位置関係の別の例を示す図であり、図1におけるルツボ1の周辺の拡大図に相当する。   The positional relationship as shown in FIG. 4 may be sufficient as the crucible 1 and the intermediate | middle annular plate member 7C. FIG. 4 is a view showing another example of the positional relationship between the crucible 1 and the intermediate annular plate member 7C, and corresponds to an enlarged view around the crucible 1 in FIG.

具体的には、図4(A)は、中間環状板部材7Cの内径D1がルツボ1の内径D2よりも小さい場合の位置関係を示す。図4(B)は、ルツボ1の上端のところで中間環状板部材7Cの内周端面とルツボ1の外側表面とが接する場合の位置関係を示す。図4(C)は、ルツボ1の中央部のところで中間環状板部材7Cの内周端面とルツボ1の外側表面とが接する場合の位置関係を示す。図4(C)の例では、ルツボ1の上端は、中間環状板部材7Cの上面(+Z側面)よりも上方(+Z方向)に距離D3だけ突出している。図4(D)は、中間環状板部材7Cの内周端のところで下方(−Z方向)に突出する環状突出部7C1の外周端面とルツボ1の上端部分の内側表面とが接する場合の位置関係を示す。このように、ルツボ1と中間環状板部材7Cとは、上部加熱空間SP1と下部加熱空間SP2とを気密に分離できるように配置されている。   Specifically, FIG. 4A shows a positional relationship when the inner diameter D1 of the intermediate annular plate member 7C is smaller than the inner diameter D2 of the crucible 1. FIG. 4B shows a positional relationship when the inner peripheral end surface of the intermediate annular plate member 7 </ b> C and the outer surface of the crucible 1 are in contact with each other at the upper end of the crucible 1. FIG. 4C shows the positional relationship when the inner peripheral end surface of the intermediate annular plate member 7 </ b> C and the outer surface of the crucible 1 are in contact with each other at the center of the crucible 1. In the example of FIG. 4C, the upper end of the crucible 1 protrudes by a distance D3 above the upper surface (+ Z side surface) of the intermediate annular plate member 7C (+ Z direction). 4D shows the positional relationship when the outer peripheral end surface of the annular projecting portion 7C1 projecting downward (in the −Z direction) at the inner peripheral end of the intermediate annular plate member 7C and the inner surface of the upper end portion of the crucible 1 are in contact with each other. Indicates. Thus, the crucible 1 and the intermediate annular plate member 7C are arranged so that the upper heating space SP1 and the lower heating space SP2 can be separated in an airtight manner.

育成された酸化物単結晶11は、酸化物単結晶11の引き上げが進むにつれてルツボ1から遠ざかる。そのため、鉛直方向における酸化物単結晶11内の温度勾配が大きくなり酸化物単結晶11の割れ等の不具合が発生するおそれがある。この不具合の発生を抑制するために、上部加熱空間SP1内には上部ヒータとしての上段ヒータ4Uが設置されている。上部加熱空間SP1内での適切な温度分布を維持するためである。一方で、下部加熱空間SP2内には下部ヒータとしての中段ヒータ4M及び下段ヒータ4Lが配置されている。ルツボ1を加熱して原料を融解させるためである。また、結晶育成中においては、融液12の自然対流を促すためである。図1の例では、上段ヒータ4Uは、ルツボ1よりも高い位置に配置されている。中段ヒータ4Mは、ルツボ1と略同じ高さに配置されている。下段ヒータ4Lは、ルツボ1よりも低い位置に配置されている。図3は、ルツボ1よりも上にある部材、すなわち、上部環状板部材7A、上部円筒状部材7B、中間環状板部材7C、及び上段ヒータ4Uが取り外された状態にある育成装置100の上面図である。   The grown oxide single crystal 11 moves away from the crucible 1 as the oxide single crystal 11 is pulled up. For this reason, the temperature gradient in the oxide single crystal 11 in the vertical direction is increased, and there is a possibility that problems such as cracking of the oxide single crystal 11 occur. In order to suppress the occurrence of this problem, an upper heater 4U as an upper heater is installed in the upper heating space SP1. This is to maintain an appropriate temperature distribution in the upper heating space SP1. On the other hand, a middle heater 4M and a lower heater 4L as lower heaters are arranged in the lower heating space SP2. This is because the crucible 1 is heated to melt the raw material. Moreover, it is for promoting the natural convection of the melt 12 during crystal growth. In the example of FIG. 1, the upper heater 4 </ b> U is disposed at a position higher than the crucible 1. The middle heater 4M is disposed at substantially the same height as the crucible 1. The lower heater 4L is arranged at a position lower than the crucible 1. FIG. 3 is a top view of the growing apparatus 100 in a state in which the members above the crucible 1, that is, the upper annular plate member 7A, the upper cylindrical member 7B, the intermediate annular plate member 7C, and the upper heater 4U are removed. It is.

架台13は、育成装置100の本体部を支持するための支持台である。架台13の上には、本体部としての断熱材7及び外壁15が載置されている。   The gantry 13 is a support base for supporting the main body of the growing apparatus 100. On the gantry 13, the heat insulating material 7 and the outer wall 15 as the main body are placed.

外壁15は、熱を遮断する部材であり、断熱材7を囲むように配置されている。図1の例では、円筒形状を有し、ルツボ1及びヒータ4のそれぞれが発する高熱が外部に伝わるのを遮断する。外壁15は、所定の鉛直断面で水平方向等に分割可能であり、一部の取り外しによって内部のルツボ1、ヒータ4等を露出させることができる構造となっている。所定の水平断面で鉛直方向に分割可能であってもよい。   The outer wall 15 is a member that blocks heat and is disposed so as to surround the heat insulating material 7. In the example of FIG. 1, it has a cylindrical shape and blocks high heat generated by each of the crucible 1 and the heater 4 from being transmitted to the outside. The outer wall 15 can be divided in a horizontal direction or the like with a predetermined vertical cross section, and has a structure in which the inner crucible 1, the heater 4, and the like can be exposed by removing part of the outer wall 15. It may be possible to divide vertically in a predetermined horizontal section.

制御装置50は、育成装置100の全体的な制御を行うための手段であり、結晶育成プロセスを含め、育成装置100の全体の動作を制御する。図1の例では、制御装置50は、CPU、ROM、RAM等を備えたマイクロコンピュータである。但し、ASIC等の電子回路で構成されていてもよい。制御装置50は、例えば、外壁15の外側に設けられ、ヒータ4、回転昇降装置51等を制御する。図1の破線矢印は、制御信号を伝達する信号線を表している。   The control device 50 is a means for performing overall control of the growth apparatus 100, and controls the overall operation of the growth apparatus 100 including the crystal growth process. In the example of FIG. 1, the control device 50 is a microcomputer including a CPU, a ROM, a RAM, and the like. However, it may be composed of an electronic circuit such as an ASIC. The control device 50 is provided on the outside of the outer wall 15, for example, and controls the heater 4, the rotary lifting device 51 and the like. A broken-line arrow in FIG. 1 represents a signal line that transmits a control signal.

回転昇降装置51は、シード棒10を回転させながら昇降させることができる装置である。図1の例では、回転昇降装置51は、ルツボ1の上方(+Z方向)に設けられている。そして、回転装置及び昇降装置として機能するモータを含む。回転装置として機能するモータと昇降装置として機能するモータとを別々に含んでいてもよい。シード棒10は、種結晶9を保持する種結晶保持部を下端部に有する。   The rotary lifting device 51 is a device that can lift and lower the seed rod 10 while rotating it. In the example of FIG. 1, the rotary lifting device 51 is provided above the crucible 1 (+ Z direction). And the motor which functions as a rotation apparatus and a raising / lowering apparatus is included. A motor that functions as a rotating device and a motor that functions as a lifting device may be included separately. The seed bar 10 has a seed crystal holding part for holding the seed crystal 9 at the lower end.

回転昇降装置51は、ルツボ1に入れられた原料(融液12)の表面に種結晶9を接触させ、回転しながら種結晶9を引き上げる。   The rotary elevating device 51 brings the seed crystal 9 into contact with the surface of the raw material (melt 12) put in the crucible 1 and pulls up the seed crystal 9 while rotating.

電源52は、育成装置100に電力を供給する装置である。図1の例では、電源52は、外壁15の外側に設けられ、ヒータ4、回転昇降装置51等に電力を供給している。図1の実線矢印は電力線を表している。   The power source 52 is a device that supplies power to the growing device 100. In the example of FIG. 1, the power source 52 is provided outside the outer wall 15 and supplies power to the heater 4, the rotary lifting device 51, and the like. A solid arrow in FIG. 1 represents a power line.

次に、育成装置100を用いた酸化物単結晶11の育成方法について説明する。最初に、作業者は、LN、LT、GGG、サファイア等の酸化物単結晶11の原料をルツボ1に投入する。その後、ヒータ4でルツボ1内の原料を加熱して融解する。その後、回転昇降装置51でシード棒10の先端に取り付けられた種結晶9をルツボ1内の融液12の表面に接触させる。以下では、この工程をシーディングと称する。   Next, a method for growing the oxide single crystal 11 using the growth apparatus 100 will be described. First, the worker inputs a raw material of the oxide single crystal 11 such as LN, LT, GGG, sapphire, or the like into the crucible 1. Thereafter, the raw material in the crucible 1 is heated and melted by the heater 4. Thereafter, the seed crystal 9 attached to the tip of the seed rod 10 is brought into contact with the surface of the melt 12 in the crucible 1 by the rotary lifting device 51. Hereinafter, this process is referred to as seeding.

その後、回転昇降装置51で種結晶9を回転させながら徐々に上方へ引き上げる。加熱温度、回転数、引き上げ速度等を制御し、酸化物単結晶11の肩部及び直胴部を育成する。その後、酸化物単結晶11が所定の長さになったところで、引き上げ速度等を制御し、融液12の表面と育成した酸化物単結晶11とを切り離す。その後、切り離した酸化物単結晶11を冷却して酸化物単結晶11の育成を完了させる。   Thereafter, the seed crystal 9 is gradually pulled upward while being rotated by the rotary elevating device 51. The shoulder temperature and the straight body of the oxide single crystal 11 are grown by controlling the heating temperature, the number of rotations, the pulling speed, and the like. Thereafter, when the oxide single crystal 11 reaches a predetermined length, the pulling rate and the like are controlled to separate the surface of the melt 12 from the grown oxide single crystal 11. Thereafter, the separated oxide single crystal 11 is cooled to complete the growth of the oxide single crystal 11.

育成装置100を用いた上述の育成方法では、例えば、シーディング及び肩部育成の際には、上段ヒータ4Uは使用されず、中段ヒータ4M及び下段ヒータ4Lのみが使用される。また、中間環状板部材7Cは、下部加熱空間SP2から上部加熱空間SP1へ熱が伝わるのを抑制し、上部加熱空間SP1の温度が必要以上に高くなるのを防止する。そのため、上部加熱空間SP1における上下方向の温度勾配は大きくなり易い。また、融液12の表面の中央部近傍は温度が上昇し難い。   In the above-described growing method using the growing apparatus 100, for example, the upper heater 4U is not used in seeding and shoulder growing, and only the middle heater 4M and the lower heater 4L are used. Further, the intermediate annular plate member 7C suppresses heat from being transmitted from the lower heating space SP2 to the upper heating space SP1, and prevents the temperature of the upper heating space SP1 from becoming higher than necessary. Therefore, the vertical temperature gradient in the upper heating space SP1 tends to increase. In addition, the temperature hardly rises near the center of the surface of the melt 12.

一方、ルツボ1は、中段ヒータ4M及び下段ヒータ4Lによって加熱されて温度が上昇する。そのため、融液12の表面の周縁部近傍は温度が上昇し易い。従って、融液12の表面の径方向の温度勾配は大きくなり易い。その結果、酸化物単結晶11の急成長が抑制される。   On the other hand, the crucible 1 is heated by the middle heater 4M and the lower heater 4L, and the temperature rises. Therefore, the temperature is likely to increase in the vicinity of the peripheral edge of the surface of the melt 12. Therefore, the temperature gradient in the radial direction on the surface of the melt 12 tends to increase. As a result, rapid growth of the oxide single crystal 11 is suppressed.

酸化物単結晶11の肩部が形成された後で直胴部の育成が開始されると、上段ヒータ4Uが使用され、上部加熱空間SP1が保温される。すなわち、融液12の表面から引き上げられた酸化物単結晶11が保温される。   When the growth of the straight body portion is started after the shoulder portion of the oxide single crystal 11 is formed, the upper heater 4U is used and the upper heating space SP1 is kept warm. That is, the oxide single crystal 11 pulled up from the surface of the melt 12 is kept warm.

そのため、上述の育成装置100は、大口径で長尺な酸化物単結晶11を育成する場合であっても、育成中に酸化物単結晶11が曲がってしまうのを防止できる。また、酸化物単結晶11の内外の温度差によるクラック、融液12の対流の不安定さから生じる多結晶化によるクラック、冷却時の歪によるクラック等の発生を抑制できる。   Therefore, the above-described growth apparatus 100 can prevent the oxide single crystal 11 from being bent during the growth even when the long oxide single crystal 11 having a large diameter is grown. In addition, it is possible to suppress the occurrence of cracks due to a temperature difference between the inside and outside of the oxide single crystal 11, cracks due to polycrystallization resulting from instability of the convection of the melt 12, cracks due to strain during cooling, and the like.

次に、本発明の実施例について比較例を挙げて具体的に説明する。以下の説明では、一例として、ニオブ酸リチウムの単結晶の育成方法について説明する。   Next, examples of the present invention will be specifically described with reference to comparative examples. In the following description, a method for growing a single crystal of lithium niobate will be described as an example.

図1に示すように、ルツボ軸3に支えられたルツボ台2の上には白金製のルツボ1が配置されている。そして、ルツボ1の中にはニオブ酸リチウムの原料が充填されている。ルツボ1の周囲には抵抗加熱方式のヒータ4が配置されている。ヒータ4は、金属製で且つ図2及び図3に示すような円筒形状を有する。ヒータ4は、上段ヒータ4U、中段ヒータ4M、及び下段ヒータ4Lを含む。中段ヒータ4Mと下段ヒータ4Lは一体化されていてもよい。ヒータ4の外側、上側、及び下側はジルコニア製又はアルミナ製の断熱材7で覆われている。また、上段ヒータ4Uと中段ヒータ4Mの間にはジルコニア製、アルミナ製又は白金製の中間環状板部材7Cが配置されている。中間環状板部材7Cの下面(−Z側面)は、ルツボ1の上端と接している。そのため、断熱材7で囲まれた加熱空間SPは、ルツボ1及び中間環状板部材7Cによって上部加熱空間SP1と下部加熱空間SP2に熱的に遮断されている。すなわち、中段ヒータ4M及び下段ヒータ4Lによって加熱された下部加熱空間SP2内の雰囲気ガスの中間環状板部材7Cの上側(+Z側)への移動は、抑制され或いは防止される。その結果、育成装置100は、比較的少ない電力で中段ヒータ4M及び下段ヒータ4Lを作動させてルツボ1を加熱しニオブ酸リチウムの原料を効率的に融解させることができる。   As shown in FIG. 1, a platinum crucible 1 is disposed on a crucible base 2 supported by a crucible shaft 3. The crucible 1 is filled with a raw material of lithium niobate. A resistance heating type heater 4 is disposed around the crucible 1. The heater 4 is made of metal and has a cylindrical shape as shown in FIGS. The heater 4 includes an upper heater 4U, a middle heater 4M, and a lower heater 4L. The middle heater 4M and the lower heater 4L may be integrated. The outside, upper side, and lower side of the heater 4 are covered with a heat insulating material 7 made of zirconia or alumina. An intermediate annular plate member 7C made of zirconia, alumina or platinum is disposed between the upper heater 4U and the middle heater 4M. The lower surface (−Z side surface) of the intermediate annular plate member 7 </ b> C is in contact with the upper end of the crucible 1. Therefore, the heating space SP surrounded by the heat insulating material 7 is thermally blocked by the upper heating space SP1 and the lower heating space SP2 by the crucible 1 and the intermediate annular plate member 7C. That is, the movement of the atmospheric gas in the lower heating space SP2 heated by the middle heater 4M and the lower heater 4L to the upper side (+ Z side) of the intermediate annular plate member 7C is suppressed or prevented. As a result, the growth apparatus 100 can efficiently melt the lithium niobate raw material by operating the middle heater 4M and the lower heater 4L with relatively little electric power to heat the crucible 1.

原料が融解した後、育成装置100は、中段ヒータ4M及び下段ヒータ4Lの出力を制御し、融液12をシーディングに適した温度に調整する。そして、融液12がシーディングに適した温度になったときに白金製のシード棒10を下降させ、シード棒10の先端に取り付けられた種結晶9と融液12とを接触させる。その後、シード棒10を1〜20rpmで回転させながら、2〜5mm/hの速度で鉛直上方(+Z方向)に引き上げることによって、種結晶9から連続的に延びるニオブ酸リチウム単結晶を取得する。   After the raw material is melted, the growing apparatus 100 controls the outputs of the middle heater 4M and the lower heater 4L to adjust the melt 12 to a temperature suitable for seeding. Then, when the melt 12 reaches a temperature suitable for seeding, the platinum seed rod 10 is lowered, and the seed crystal 9 attached to the tip of the seed rod 10 is brought into contact with the melt 12. Thereafter, a lithium niobate single crystal continuously extending from the seed crystal 9 is obtained by pulling it up vertically (+ Z direction) at a speed of 2 to 5 mm / h while rotating the seed bar 10 at 1 to 20 rpm.

シーディング及び肩部育成の際には、ニオブ酸リチウム単結晶の急成長を抑えるために、融液12の表面における径方向の温度勾配がある程度の大きさになっている必要がある。   At the time of seeding and shoulder growth, the temperature gradient in the radial direction on the surface of the melt 12 needs to be a certain level in order to suppress rapid growth of the lithium niobate single crystal.

育成装置100は、中間環状板部材7Cによって下部加熱空間SP2から上部加熱空間SP1への熱の伝達を抑制して上部加熱空間SP1の温度の上昇を抑えることで、融液12の表面における径方向の温度勾配を比較的急峻にすることができる。比較的低温の上部加熱空間SP1に接している融液12の表面の中央部と、中段ヒータ4M及び下段ヒータ4Lによって直接的に加熱された比較的高温のルツボ1に接している融液12の表面の周縁部との温度差を大きくできるためである。   The growth apparatus 100 suppresses the increase in the temperature of the upper heating space SP1 by suppressing the transfer of heat from the lower heating space SP2 to the upper heating space SP1 by the intermediate annular plate member 7C, so that the radial direction on the surface of the melt 12 The temperature gradient can be made relatively steep. The center of the surface of the melt 12 in contact with the relatively low temperature upper heating space SP1 and the melt 12 in contact with the relatively high temperature crucible 1 heated directly by the middle heater 4M and the lower heater 4L. This is because the temperature difference from the peripheral edge of the surface can be increased.

このようにして、育成装置100は、ニオブ酸リチウム単結晶の肩部形成の際に、ニオブ酸リチウム単結晶の急成長を抑制できる。   Thus, the growth apparatus 100 can suppress rapid growth of the lithium niobate single crystal when forming the shoulder portion of the lithium niobate single crystal.

また、ニオブ酸リチウム単結晶の肩部が形成された後で直胴部が形成される際には、育成装置100は、上段ヒータ4Uを作動させることで、ニオブ酸リチウム単結晶の引き上げの際に肩部が過度に冷却されてしまうのを防止できる。   Further, when the straight body portion is formed after the shoulder portion of the lithium niobate single crystal is formed, the growing apparatus 100 operates the upper heater 4U to pull up the lithium niobate single crystal. It is possible to prevent the shoulder portion from being excessively cooled.

このように、育成装置100は、ニオブ酸リチウム単結晶の成長に応じて上段ヒータ4Uを適切に作動させることで、ニオブ酸リチウム単結晶が大口径で且つ長尺であっても、ニオブ酸リチウム単結晶を適切に育成できる。具体的には、融液12の表面における径方向の温度勾配を適切に維持し、融液12の自然対流を適切に維持することで、ニオブ酸リチウム単結晶の育成中におけるニオブ酸リチウム単結晶の湾曲を防止できる。また、ニオブ酸リチウム単結晶の内外の温度差によるクラック、融液12の対流の不安定さから生じる多結晶化によるクラック、冷却時の歪によるクラック等の発生を抑制或いは防止できる。   As described above, the growth apparatus 100 appropriately operates the upper heater 4U according to the growth of the lithium niobate single crystal, so that the lithium niobate single crystal has a large diameter and a long length. A single crystal can be grown appropriately. Specifically, the temperature gradient in the radial direction on the surface of the melt 12 is appropriately maintained, and the natural convection of the melt 12 is appropriately maintained, so that the lithium niobate single crystal during the growth of the lithium niobate single crystal is obtained. Can be prevented from bending. In addition, it is possible to suppress or prevent the occurrence of cracks due to temperature difference between the inside and outside of the lithium niobate single crystal, cracks due to polycrystallization resulting from instability of the convection of the melt 12, cracks due to strain during cooling, and the like.

上述の通り、酸化物単結晶11の育成装置100は、加熱空間SPを囲む耐火物としての断熱材7と、加熱空間SP内に配置されるルツボ1と、加熱空間SP内に配置される抵抗加熱方式のヒータ4と、加熱空間SP内に配置される遮熱板としての中間環状板部材7Cとを有する。加熱空間SPは、ルツボ1と中間環状板部材7Cとによって上部加熱空間SP1と下部加熱空間SP2に熱的に分離されている。抵抗加熱方式のヒータ4は、上部加熱空間SP1に配置される上部ヒータとしての上段ヒータ4Uと、下部加熱空間SP2に配置される下部ヒータとしての中段ヒータ4M及び下段ヒータ4Lとを含む。   As described above, the growth apparatus 100 for the oxide single crystal 11 includes the heat insulating material 7 as a refractory surrounding the heating space SP, the crucible 1 disposed in the heating space SP, and the resistance disposed in the heating space SP. The heating type heater 4 and an intermediate annular plate member 7C as a heat shield disposed in the heating space SP are provided. The heating space SP is thermally separated into an upper heating space SP1 and a lower heating space SP2 by the crucible 1 and the intermediate annular plate member 7C. The resistance heater 4 includes an upper heater 4U as an upper heater disposed in the upper heating space SP1, and a middle heater 4M and a lower heater 4L as lower heaters disposed in the lower heating space SP2.

この構成により、抵抗加熱方式の育成装置100は、低コストで酸化物単結晶11の大口径化と長尺化に対応できる。具体的には、育成装置100は、大口径で長尺な酸化物単結晶11を育成する場合であっても、育成中に酸化物単結晶11が曲がってしまうのを防止できる。また、酸化物単結晶11の内外の温度差によるクラック、融液12の対流の不安定さから生じる多結晶化によるクラック、冷却時の歪によるクラック等の発生を抑制できる。   With this configuration, the resistance heating type growth apparatus 100 can cope with an increase in the diameter and length of the oxide single crystal 11 at a low cost. Specifically, the growth apparatus 100 can prevent the oxide single crystal 11 from being bent during the growth even when the long oxide single crystal 11 having a large diameter is grown. In addition, it is possible to suppress the occurrence of cracks due to a temperature difference between the inside and outside of the oxide single crystal 11, cracks due to polycrystallization resulting from instability of the convection of the melt 12, cracks due to strain during cooling, and the like.

中間環状板部材7Cは、断熱材7の内壁からルツボ1に向かって延び、ルツボ1の上端と接するように構成されている。すなわち、ルツボ1と中間環状板部材7Cとによって、加熱空間SPが上部加熱空間SP1と下部加熱空間SP2とに分離されている。そのため、育成装置100は、シーディング又は肩部育成の際に、下部加熱空間SP2から上部加熱空間SP1へ熱が伝わるのを抑制し、上部加熱空間SP1の温度が必要以上に高くなってしまうのを防止できる。その結果、融液12の表面の径方向の温度勾配を大きくすることができ、シーディング又は肩部育成の際の酸化物単結晶11の急成長を抑制できる。また、育成装置100は、直胴部の育成の際には、上段ヒータ4Uによって上部加熱空間SP1を適切に保温できる。そのため、大口径で長尺な酸化物単結晶11が育成される場合であっても、育成中に酸化物単結晶11が曲がってしまうのを防止できる。また、上部加熱空間SP1における酸化物単結晶11の内外の温度差によるクラック、融液12の対流の不安定さから生じる多結晶化によるクラック、冷却時の歪によるクラック等の発生を抑制できる。   The intermediate annular plate member 7 </ b> C extends from the inner wall of the heat insulating material 7 toward the crucible 1 and is configured to contact the upper end of the crucible 1. That is, the heating space SP is divided into the upper heating space SP1 and the lower heating space SP2 by the crucible 1 and the intermediate annular plate member 7C. Therefore, the growth apparatus 100 suppresses heat from being transferred from the lower heating space SP2 to the upper heating space SP1 during seeding or shoulder growth, and the temperature of the upper heating space SP1 becomes higher than necessary. Can be prevented. As a result, the temperature gradient in the radial direction of the surface of the melt 12 can be increased, and rapid growth of the oxide single crystal 11 during seeding or shoulder growth can be suppressed. Further, the growing apparatus 100 can appropriately keep the upper heating space SP1 warm by the upper heater 4U when the straight body portion is grown. Therefore, even when the long oxide single crystal 11 having a large diameter is grown, the oxide single crystal 11 can be prevented from being bent during the growth. In addition, it is possible to suppress the occurrence of cracks due to the temperature difference between the inside and outside of the oxide single crystal 11 in the upper heating space SP1, cracks due to polycrystallization resulting from instability of convection of the melt 12, cracks due to strain during cooling, and the like.

上部加熱空間SP1と下部加熱空間SP2とは気密に分離されていてもよい。この場合、育成装置100は、中段ヒータ4M及び下段ヒータ4Lによって加熱された下部加熱空間SP2内の雰囲気ガスが上部加熱空間SP1に侵入するのを防止できる。その結果、育成装置100は、比較的少ない電力で中段ヒータ4M及び下段ヒータ4Lを作動させてルツボ1を効率的に加熱しニオブ酸リチウムの原料を効率的に融解させることができる。   The upper heating space SP1 and the lower heating space SP2 may be airtightly separated. In this case, the growth apparatus 100 can prevent the atmospheric gas in the lower heating space SP2 heated by the middle heater 4M and the lower heater 4L from entering the upper heating space SP1. As a result, the growing apparatus 100 can efficiently heat the crucible 1 by operating the middle heater 4M and the lower heater 4L with relatively little electric power and efficiently melt the raw material of lithium niobate.

以上、本発明の好ましい実施例について詳説したが、本発明は、上述した実施例に限定されることはない。例えば、本発明の要旨を逸脱しない範囲において各部材の改良、構造の変更等が行われてもよい。   Although the preferred embodiments of the present invention have been described in detail above, the present invention is not limited to the above-described embodiments. For example, improvement of each member, change of structure, and the like may be performed without departing from the scope of the present invention.

例えば、上述の実施例では、上部加熱空間SP1に上部ヒータとしての上段ヒータ4Uが配置され、下部加熱空間SP2に下部ヒータとしての中段ヒータ4M及び下段ヒータ4Lが配置されている。しかしながら、上部ヒータは、2段以上のヒータで構成されていてもよい。また、下部ヒータは、1段のヒータで構成されていてもよく、3段以上のヒータで構成されていてもよい。   For example, in the above-described embodiment, the upper heater 4U as the upper heater is disposed in the upper heating space SP1, and the middle heater 4M and the lower heater 4L as the lower heater are disposed in the lower heating space SP2. However, the upper heater may be composed of two or more stages of heaters. Further, the lower heater may be composed of a single stage heater, or may be composed of three or more stages of heaters.

また、上述の実施例では、ヒータ4は、円筒形状を有するが、円周方向で分離可能に構成されていてもよい。   In the above-described embodiment, the heater 4 has a cylindrical shape, but may be configured to be separable in the circumferential direction.

また、育成装置100は、ルツボ軸3を上昇させることで、ルツボ1の上端を中間環状板部材7Cの下面(−Z側面)に接触させてもよい。   Further, the growing device 100 may raise the crucible shaft 3 to bring the upper end of the crucible 1 into contact with the lower surface (−Z side surface) of the intermediate annular plate member 7C.

1・・・ルツボ 2・・・ルツボ台 3・・・ルツボ軸 4・・・ヒータ 4U・・・上段ヒータ 4M・・・中段ヒータ 4L・・・下段ヒータ 7・・・断熱材 7A・・・上部環状板部材 7B・・・上部円筒状部材 7C・・・中間環状板部材 7D・・・下部円筒状部材 7E・・・下部板部材 9・・・種結晶 10・・・シード棒 11・・・酸化物単結晶 12・・・融液 13・・・架台 15・・・外壁 50・・・制御装置 51・・・回転昇降装置 52・・・電源   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Crucible 2 ... Crucible base 3 ... Crucible shaft 4 ... Heater 4U ... Upper stage heater 4M ... Middle stage heater 4L ... Lower stage heater 7 ... Thermal insulation 7A ... Upper annular plate member 7B ... Upper cylindrical member 7C ... Intermediate annular plate member 7D ... Lower cylindrical member 7E ... Lower plate member 9 ... Seed crystal 10 ... Seed rod 11 ... -Oxide single crystal 12 ... Melt 13 ... Stand 15 ... Outer wall 50 ... Control device 51 ... Rotating elevator 52 ... Power supply

Claims (6)

酸化物単結晶の育成装置であって、
加熱空間を囲む耐火物と、
前記加熱空間内に配置されるルツボと、
前記加熱空間内に配置される抵抗加熱方式のヒータと、
前記加熱空間内に配置される遮熱板と、を有し、
前記加熱空間は、前記ルツボと前記遮熱板によって上部加熱空間と下部加熱空間に熱的に分離され、
前記ヒータは、前記上部加熱空間に配置される上部ヒータと、前記下部加熱空間に配置される下部ヒータとを含む、
育成装置。
A device for growing an oxide single crystal,
Refractories surrounding the heating space,
A crucible disposed in the heating space;
A resistance heating heater disposed in the heating space;
A heat shield disposed in the heating space,
The heating space is thermally separated into an upper heating space and a lower heating space by the crucible and the heat shield plate,
The heater includes an upper heater disposed in the upper heating space and a lower heater disposed in the lower heating space.
Training device.
前記遮熱板は、前記耐火物の内壁から前記ルツボに向かって延び、前記ルツボの上端と接する、
請求項1に記載の育成装置。
The heat shield plate extends from the inner wall of the refractory toward the crucible and contacts the upper end of the crucible;
The growing apparatus according to claim 1.
前記上部加熱空間と前記下部加熱空間とは気密に分離されている、
請求項1又は2に記載の育成装置。
The upper heating space and the lower heating space are hermetically separated,
The training apparatus according to claim 1 or 2.
前記酸化物単結晶は、ニオブ酸リチウム、タンタル酸リチウム、ガドリニウム・ガリウム・ガーネット、及び、サファイアの単結晶を含む、
請求項1乃至3の何れか一項に記載の育成装置。
The oxide single crystal includes lithium niobate, lithium tantalate, gadolinium gallium garnet, and sapphire single crystals.
The growing device according to any one of claims 1 to 3.
請求項1乃至4の何れか一項に記載の育成装置を用いて前記酸化物単結晶を育成する方法。   A method for growing the oxide single crystal using the growth apparatus according to claim 1. 前記下部ヒータで前記ルツボを加熱して原料を融解する工程と、
シード棒の先端に取り付けられた種結晶を前記ルツボ内の原料の融液に接触させる工程と、
前記シード棒を回転させながら引き上げる工程と、
前記上部ヒータで前記シード棒の先端に形成された前記酸化物単結晶を加熱する工程と、を有する、
請求項5に記載の方法。
Heating the crucible with the lower heater to melt the raw material;
Contacting the seed crystal attached to the tip of the seed rod with the raw material melt in the crucible;
Lifting the seed rod while rotating;
Heating the oxide single crystal formed at the tip of the seed rod with the upper heater,
The method of claim 5.
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JP2020050546A (en) * 2018-09-27 2020-04-02 住友金属鉱山株式会社 Method for manufacturing lithium niobate single crystal
CN114959879A (en) * 2022-04-28 2022-08-30 深圳技术大学 Anti-sintering single crystal furnace and single crystal preparation method

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020050546A (en) * 2018-09-27 2020-04-02 住友金属鉱山株式会社 Method for manufacturing lithium niobate single crystal
JP7259242B2 (en) 2018-09-27 2023-04-18 住友金属鉱山株式会社 Method for producing lithium niobate single crystal
CN114959879A (en) * 2022-04-28 2022-08-30 深圳技术大学 Anti-sintering single crystal furnace and single crystal preparation method
CN114959879B (en) * 2022-04-28 2023-11-03 深圳技术大学 Anti-sintering single crystal furnace and single crystal preparation method

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