JP2018084486A - Abnormality determination device - Google Patents
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Abstract
Description
本開示は、対象となる電子回路の異常を検知して異常発生信号を出力する異常検出回路の異常の有無を判定する異常判定装置に関する。 The present disclosure relates to an abnormality determination device that detects an abnormality in an abnormality detection circuit that detects an abnormality in a target electronic circuit and outputs an abnormality occurrence signal.
従来、はんだにより電子部品が実装された電子回路基板として、当該電子回路基板と電子部品とのはんだ接合部の状態を当該はんだ接合部に含まれる2点間で監視して破断を検知する監視手段を備えたものが知られている(例えば、特許文献1参照)。この電子回路基板の監視手段は、1つのはんだ接合部の2点間の電圧または抵抗を定期的に計測し、電圧値または抵抗値が急激に大きくなったときに当該2点間のはんだ接合が破断したとみなす。 Conventionally, as an electronic circuit board on which electronic parts are mounted by solder, monitoring means for detecting breakage by monitoring the state of a solder joint between the electronic circuit board and the electronic component between two points included in the solder joint (For example, refer to Patent Document 1). This electronic circuit board monitoring means periodically measures the voltage or resistance between two points of one solder joint, and when the voltage value or resistance value suddenly increases, the solder joint between the two points is not detected. Considered to have broken.
しかしながら、上述のような電子回路基板では、周囲を進行する電波に起因して比較的短いパルス幅のパルスが発生することがあり、監視手段が当該パルスをはんだ接合部の破断に起因したものであると誤判定してしまうおそれがある。 However, in the electronic circuit board as described above, a pulse having a relatively short pulse width may be generated due to radio waves traveling around, and the monitoring means causes the pulse to be caused by breakage of the solder joint. There is a risk of misjudging it.
そこで、本開示の発明は、対象となる電子回路の異常を検知して異常発生信号を出力する異常検出回路の異常の有無を精度よく判定可能にすることを主目的とする。 In view of this, the main object of the present disclosure is to make it possible to accurately determine whether there is an abnormality in an abnormality detection circuit that detects an abnormality in a target electronic circuit and outputs an abnormality occurrence signal.
本開示の異常判定装置は、はんだにより基板上に実装された電子部品を含むと共に対象となる電子回路の異常を検知して異常発生信号を出力する異常検出回路の異常の有無を判定する異常判定装置であって、前記異常検出回路の温度が所定温度範囲内に含まれる状態で該異常検出回路から前記異常発生信号の出力継続時間よりも短いパルス幅のパルスを複数回入力した際に、故障に繋がるおそれのある一時的な異常が前記異常検出回路に発生したと判定して警告を発生することを特徴とする。 The abnormality determination device according to the present disclosure includes an electronic component mounted on a substrate with solder and detects an abnormality in a target electronic circuit and outputs an abnormality occurrence signal to determine whether there is an abnormality in the abnormality detection circuit. A failure occurs when a pulse having a pulse width shorter than the output duration of the abnormality occurrence signal is input from the abnormality detection circuit a plurality of times while the temperature of the abnormality detection circuit is within a predetermined temperature range. It is determined that a temporary abnormality that may be connected to the abnormality detection circuit has occurred, and a warning is generated.
このように、異常検出回路の異常判定に際して、パルスの入力時における異常検出回路の温度を考慮することで、異常検出回路の故障に繋がるおそれのあるはんだ接合部の熱膨張に起因して発生したパルスと、周囲を進行する電波に起因して発生したパルスとを精度よく区別することができる。この結果、この異常判定装置によれば、対象となる電子回路の異常を検知して異常発生信号を出力する異常検出回路の異常の有無を精度よく判定することが可能となる。 As described above, when the abnormality of the abnormality detection circuit is determined, the temperature of the abnormality detection circuit at the time of pulse input is taken into account, which is caused by the thermal expansion of the solder joint that may lead to failure of the abnormality detection circuit. It is possible to accurately distinguish a pulse from a pulse generated due to a radio wave traveling around. As a result, according to this abnormality determination device, it is possible to accurately determine whether there is an abnormality in the abnormality detection circuit that detects an abnormality in the target electronic circuit and outputs an abnormality occurrence signal.
図1は、本開示の異常判定装置である電子制御装置(以下、「ECU]という)10を含む車両としての電動車両1の概略構成図である。同図に示す電動車両1は、ECU10に加えて、デファレンシャルギヤ等を介して左右の駆動輪DWに連結されたモータMGと、蓄電装置(バッテリ)2と、システムメインリレー3を介して蓄電装置2に接続されると共にモータMGを駆動する電力制御装置(以下、「PCU」という)4とを含む。
1 is a schematic configuration diagram of an electric vehicle 1 as a vehicle including an electronic control device (hereinafter referred to as “ECU”) 10 that is an abnormality determination device of the present disclosure. In addition, the motor MG connected to the left and right drive wheels DW via a differential gear or the like, the power storage device (battery) 2, and connected to the
モータMGは、三相同期電動機として構成されており、PCU4を介して蓄電装置2と電力をやり取りする。モータMGは、蓄電装置2からの電力により駆動されて駆動輪DWに走行用のトルクを出力すると共に、電動車両1の制動に際して駆動輪DWに回生制動トルクを出力する。また、モータMGには、ロータの回転角θ(回転位置)を検出する回転角センサ(レゾルバ)6が設けられている。本実施形態において、蓄電装置2は、リチウムイオン二次電池またはニッケル水素二次電池である。システムメインリレー3は、図示するように、正極側電力ラインPLに接続される正極側リレーと、負極側電力ラインNLに接続される負極側リレーとを有する。
Motor MG is configured as a three-phase synchronous motor, and exchanges power with
PCU4は、モータMGを駆動する電子回路であるインバータ40や、蓄電装置2からの電力を昇圧すると共にモータMGからの電力を降圧することができる電圧変換モジュール(昇降圧コンバータ)41、平滑コンデンサ42および43、これらを収容するPCUケース4C等を含む。インバータ40は、スイッチング素子としての6つのトランジスタ(例えば、絶縁ゲート型バイポーラトランジスタ(IGBT))Tr1,Tr2,Tr3,Tr4,Tr5およびTr6と、各トランジスタTr1〜Tr6に逆方向に並列接続された6つのダイオードD1,D2,D3,D4,D5およびD6とにより構成される。6つのトランジスタTr1〜Tr6は、正極側電力ラインPLと負極側電力ラインNLとに対してソース側とシンク側とになるよう2個ずつ対をなす。また、対となる2つのトランジスタ同士の接続点の各々には、電動機MGの三相コイル(U相、V相、W相)の各々が電気的に接続される。
The PCU 4 includes an
電圧変換モジュール41は、例えば絶縁ゲート型バイポーラトランジスタ(IGBT)である2つのトランジスタと、各トランジスタに対して逆方向に並列接続された2つのダイオードと、リアクトルとを含むものである(何れも図示省略)。リアクトルの一端は、システムメインリレー3を介して蓄電装置2の正極端子に電気的に接続され、リアクトルの他端には、一方のトランジスタ(上アーム)のエミッタと他方のトランジスタ(下アーム)のコレクタとが電気的に接続される。また、上記一方のトランジスタ(上アーム)のコレクタは、正極側圧電力ラインPLに電気的に接続され、上記他方のトランジスタのエミッタは、負極側電力ラインNLに電気的に接続される。更に、平滑コンデンサ42は、システムメインリレー3と電圧変換モジュール41との間に設置され、電圧変換モジュール41の蓄電装置2側の電圧すなわち昇圧前電圧VLを平滑化する。また、平滑コンデンサ43は、電圧変換モジュール41とインバータ40との間に設置され、電圧変換モジュール41により昇圧された昇圧後電圧VHを平滑化する。
The
更に、PCU4は、インバータ40や電圧変換モジュール41、平滑コンデンサ42,43等を冷却するための図示しない積層冷却器や、当該積層冷却器に接続された冷媒ポンプPを含む。冷媒ポンプPは、LLC(ロングライフクーラント)といった冷却媒体を図示しないリザーバタンクから吸入して積層冷却器に圧送する。インバータ40等を冷却した冷却媒体は、積層冷却器を通過して図示しないラジエータに流入し、当該ラジエータで冷却された冷却媒体は上記リザーバタンクへと戻される。
Further, the PCU 4 includes a laminated cooler (not shown) for cooling the
ECU10は、図2に示すように、CPUやROM,RAM、入出力インターフェース等を有するマイクロコンピュータ11や、EEPROMあるいはSRAMといった記憶装置12、図示しない各種駆動回路等を含む。ECU10は、回転角センサ6により検出されるモータMGの回転角θ、図示しない電圧センサにより検出される昇圧前電圧VLや昇圧後電圧VH、図示しない電流センサにより検出されるモータMGの各相を流れる電流(相電流)の値等を入力する。ECU10は、これらの入力信号に基づいて、インバータ40や電圧変換モジュール41の各トランジスタへのスイッチング制御信号を生成し、インバータ40および電圧変換モジュール41をスイッチング制御する。また、ECU10は、システムメインリレー3を開閉制御する。更に、ECU10は、警告表示領域を有する液晶ディスプレイ等である表示装置7の制御部と接続されており、当該制御部に各種指令信号を出力する。
As shown in FIG. 2, the
また、図2に示すように、ECU10(マイクロコンピュータ11)には、PCU4を冷却した冷却媒体の温度である冷媒温度Tcを検出する温度検出回路44や、インバータ40の異常を検出するための異常検出回路45が接続されている。異常検出回路45は、例えば少なくとも何れか1つのトランジスタTr1〜Tr6に過電流が流れた際に、例えば50〜150msec程度のパルス幅(出力継続時間)を有する異常発生信号(ハイレベル信号)FINVをECU10に出力するものである。ECU10は、異常検出回路45から異常発生信号FINVを入力した場合、インバータ40に異常が発生したとみなして当該インバータ40のすべてのトランジスタTr1〜Tr6をオフし、電動車両1の走行を停止させると共にその後の走行を禁止する。
As shown in FIG. 2, the ECU 10 (microcomputer 11) has an abnormality for detecting an abnormality in the
本実施形態において、異常検出回路45は、それぞれ対応するトランジスタTr1〜Tr6に設けられた過電流検出素子に接続された複数のドライバIC45aや、それぞれ対応するドライバIC45aに接続された複数のラッチ回路45b、図示しないOR回路等を有する。異常検出回路45は、ドライバIC45aや、ラッチ回路45bおよびOR回路等を構成する複数の電子品をはんだによって基板45c上に実装することにより構成される。また、異常検出回路45は、PCU4のPCUケース4C内に配置され、上述の積層型冷却器を流通する冷却媒体により冷却される。なお、異常検出回路45は、少なくとも何れか1つのトランジスタTr1〜Tr6に過電圧が印加されたことを検知して異常発生信号FINVを出力するように構成されてもよく、インバータ40の過熱を検知して異常発生信号FINVを出力するように構成されてもよい。
In the present embodiment, the
ここで、上述のような異常検出回路45において、ラッチ回路45bからECU10までの間におけるはんだ接合部が熱膨張すると、一時的なショートやオープンによって異常発生信号FINVよりも短いパルス幅を有するパルス(以下、「短パルス」という)が異常検出回路45で発生し、当該短パルス(ハイレベル信号)が異常検出回路45からECU10に伝えられる。また、はんだ接合部が熱膨張すると、当該はんだ接合部への熱ストレスの蓄積により、異常検出回路45が故障に至るおそれがある。更に、異常検出回路45の故障により異常発生信号FINVが誤って出力されてしまうと、電動車両1の走行が停止されてしまい、点検整備に際してインバータ40の交換が必要と判断されてしまうおそれもある。従って、はんだ接合部の熱膨張に起因して発生した短パルスを異常発生信号FINVと区別して検知し、当該短パルスを検知した際には、故障に繋がるおそれのある一時的な異常が異常検出回路45に発生した旨を運転者に警告することが好ましい。
Here, in the
ただし、異常検出回路45の周囲で例えば無線通信用の比較的強い電波が進行していると、信号ラインに当該電波が乗ることによって異常発生信号FINVよりも短いパルス幅を有するパルス(以下、「短パルス」という)が異常検出回路45で発生し、当該短パルス(ハイレベル信号)も異常検出回路45からECU10に伝えられる。かかる電波に起因した短パルスは、異常検出回路45の異常によるものではなく、当該異常検出回路45の故障に直接結びつくものではない。従って、異常検出回路45における故障に繋がるおそれのある一時的な異常の発生の有無を誤判定しないように、はんだ接合部の熱膨張に起因して発生した短パルスと、電波に起因して発生した短パルスとを精度よく区別する必要がある。このため、ECU10は、以下に説明するようにして異常検出回路50の異常の有無を判定する。
However, if a relatively strong radio wave for wireless communication, for example, is traveling around the
図3は、電動車両1における異常検出回路50の異常の有無を判定するためのルーチンを例示するフローチャートである。図3のルーチンは、電動車両1がシステム起動されている間にECU10(マイクロコンピュータ11)により基本的に所定時間(例えば500μSec程度)おきに繰り返し実行されるものである。 FIG. 3 is a flowchart illustrating a routine for determining whether the abnormality detection circuit 50 in the electric vehicle 1 is abnormal. The routine of FIG. 3 is repeatedly executed by the ECU 10 (microcomputer 11) basically every predetermined time (for example, about 500 μSec) while the electric vehicle 1 is activated.
図3のルーチンの開始に際して、ECU10は、まず、異常検出回路45からハイレベル信号を入力したか否かの判定処理を実行する(ステップS100)。異常検出回路45からハイレベル信号を入力したと判定した場合(ステップS110:YES)、ECU10は、入力したハイレベル信号の継続時間を計測すると共に、ハイレベル信号がローレベルに切り替わったか否かを判定する(ステップS120)。ECU10は、ハイレベル信号がローレベルに変化したと判定すると(ステップS130:YES)、ステップS120にて計測したハイレベル信号の継続時間と予め定められた閾値とを比較することにより、入力したハイレベル信号が短パルスおよび異常発生信号FINVの何れであるかを判定する(ステップS140)。
At the start of the routine of FIG. 3, the
ステップS140にて、ハイレベル信号の継続時間が上記閾値よりも短く、入力したハイレベル信号が短パルスであると判定した場合、ECU10は、その時点で温度検出回路44により検出されている冷媒温度Tcを異常検出回路45の基板温度(基板45cの温度)Tcbの今回値として取得すると共に、記憶装置12からそれに格納されている基板温度Tcbの前回値を取得する(ステップS150)。記憶装置12に格納されている基板温度Tcbの前回値は、本ルーチンの今回の実行時よりも前にECU10が異常検出回路45から短パルスを入力したときに温度検出回路44によって検出された冷媒温度Tcである。次いで、ECU10は、基板温度Tcbの今回値と前回値とが所定温度範囲内に含まれているか否かを判定する(ステップS160)。ステップS160において、ECU10は、基板温度Tcbの今回値と前回値との差分の絶対値が予め定められた温度差(例えば、10℃以下の値)以下である場合、基板温度Tcbの今回値と前回値とが所定温度範囲内に含まれていると判定し、当該絶対値が当該温度差を超えている場合、基板温度Tcbの今回値と前回値とが所定温度範囲内に含まれていないと判定する。
In step S140, when it is determined that the duration of the high level signal is shorter than the threshold value and the input high level signal is a short pulse, the
基板温度Tcbの今回値と前回値とが所定温度範囲内に含まれていると判定した場合(ステップS160:YES)、ECU10は、図示しないカウンタをインクリメントした上で(ステップS170)、当該カウンタのカウント値Cが予め定められた閾値Cref(例えば2回)以上であるか否かを判定する(ステップS180)。カウント値Cが閾値Cref以上であると判定した場合(ステップS180:YES)、ECU10は、故障に繋がるおそれのある一時的な異常が異常検出回路45に発生したとみなし、一時的異常フラグをオンすると共に、表示装置7上の所定の警告灯を点灯させるように当該表示装置7の制御部に指令信号を出力する(ステップS190)。
When it is determined that the current value and the previous value of the substrate temperature Tcb are included in the predetermined temperature range (step S160: YES), the
すなわち、ステップS180にて肯定判断がなされた場合、基板温度Tcb(異常検出回路45の温度)が所定温度範囲内に含まれる状態の異常検出回路45からECU10が短パルスを複数回入力していることになる。また、基板温度Tcbが所定温度範囲内に含まれる状態で短パルスを複数回発生させる要因は、はんだ接合部の熱膨張である可能性が極めて高い。そして、はんだ接合部が熱膨張すると、当該はんだ接合部への熱ストレスの蓄積により、異常検出回路45が故障に至るおそれがある。このため、ステップS180にて肯定判断がなされた場合には、上述のように、ステップS190にて一時的異常フラグがオンされると共に、表示装置7上の所定の警告灯が点灯させられる。これにより、異常検出回路45の故障に起因した電動車両1の走行停止を未然に防止すると共に、異常検出回路45の交換を促して、より高価なインバータ40の交換を回避させることが可能となる。ステップS190の処理の後、ECU10は、記憶装置12に格納されている基板温度Tcbの前回値をステップS150にて取得した冷媒温度Tcで更新し(ステップS200)、本ルーチンを一旦終了させる。
That is, when an affirmative determination is made in step S180, the
一方、ステップS160にて基板温度Tcbの今回値と前回値とが所定温度範囲内に含まれていないと判定した場合(ステップS160:NO)、およびステップS180にてカウント値Cが閾値Cref未満であると判定した場合(ステップS180:NO)、ECU10は、ステップS170〜S190の処理を実行することなく、ステップS200の処理を実行し、本ルーチンを一旦終了させる。すなわち、ステップS160またはS180にて否定判断がなされた場合、今回の短パルスの発生時と前回の短パルスの発生時とで基板温度Tcb(異常検出回路45の温度)がある程度異なっているか、今回入力された短パルスが単発的なものであることになるので、当該短パルスは、上述の電波に起因して発生したものである可能性が極めて高い。このため、ステップS160またはS180にて否定判断がなされた場合には、上述のように、ステップS170〜S190の処理がスキップされる。これにより、はんだ接合部の熱膨張に起因した短パルスと、電波に起因して発生した短パルスとを精度よく区別して、異常検出回路45の一時的な異常が発生したと誤判定するのを抑制することが可能となる。
On the other hand, when it is determined in step S160 that the current value and the previous value of the substrate temperature Tcb are not included in the predetermined temperature range (step S160: NO), and in step S180, the count value C is less than the threshold value Cref. If it is determined that there is (step S180: NO), the
なお、ステップS110にて異常検出回路45からハイレベル信号を入力していないと判定した場合(ステップS110:NO)、ECU10は、ハイレベル信号の継続時間をクリアした上で(ステップS125)、本ルーチンを一旦終了させる。また、ステップS130にて異常発生信号FINVのパルス幅よりも長い時間が経過したにも拘わらずハイレベル信号がローレベルに変化しなかったと判定した場合(ステップS130:NO)、ECU10は、異常検出回路45の故障によりハイレベル信号が継続して出力されているとみなし、異常検出回路故障フラグをオンした上で(ステップS145)、本ルーチンを一旦終了させる。異常検出回路故障フラグがオンされた後には、表示装置7上の所定の警告灯が点灯されると共に、電動車両1の走行が予め定められた条件下でのみ許容されることになる。また、ステップS140にて、ハイレベル信号の継続時間が上記閾値以上であり、入力したハイレベル信号が異常発生信号FINVであると判定した場合、ECU10は、インバータ40に異常が発生したとみなしてインバータ異常フラグをオンした上で(ステップS155)、本ルーチンを一旦終了させる。インバータ異常フラグがオンされた後には、表示装置7上の所定の警告灯が点灯されると共に、インバータ40のすべてのトランジスタTr1〜Tr6がオフされ、電動車両1の走行が停止されると共にその後の走行が禁止される。
When it is determined in step S110 that the high level signal is not input from the abnormality detection circuit 45 (step S110: NO), the
以上説明したように、異常判定装置としてのECU10は、はんだにより基板45c上に実装されたドライバIC45a等の電子部品を含むと共に対象となる電子回路であるインバータ40の異常を検知して異常発生信号FINVを出力する異常検出回路45の異常の有無を判定する。そして、ECU10は、基板温度Tcb(異常検出回路45の温度)が所定温度範囲内に含まれる状態で当該異常検出回路45から異常発生信号FINVのパルス幅(出力継続時間)よりも短いパルス幅の短パルスを複数回入力した際に(ステップS150〜S180)、故障に繋がるおそれのある一時的な異常が異常検出回路45に発生したと判定して警告を発生する(ステップS190)。このように、異常検出回路45の異常判定に際して、短パルスの入力時における当該異常検出回路45の温度を考慮することで、異常検出回路45の故障に繋がるおそれのあるはんだ接合部の熱膨張に起因して発生した短パルスと、周囲を進行する電波に起因して発生した短パルスとを精度よく区別することができる。この結果、インバータ40の異常を検知して異常発生信号FINVを出力する異常検出回路45の異常の有無を精度よく判定することが可能となる。
As described above, the
なお、記憶装置12は、マイクロコンピュータ11に内蔵されたものであってもよい。また、上記実施形態では、温度検出回路44により検出される冷媒温度Tcが異常検出回路45の基板温度Tcbとして代用されるが、基板45cの温度が実測されてもよいことはいうまでもない。更に、ECU10の機能は、複数の電子制御装置に分散させてもよい。また、本開示の発明が適用される車両は、電動車両1に限られるものではない。すなわち、本開示の発明は、動力分配用のプラネタリギヤを有する2モータ式(シリーズパラレル方式)のハイブリッド車両であってもよく、1モータ式のハイブリッド車両であってもよく、シリーズ式のハイブリッド車両であってもよく、パラレル式のハイブリッド車両であってもよく、プラグイン式のハイブリッド車両であってもよい
The
そして、本開示の発明は、上記実施形態に何ら限定されるものではなく、本開示の外延の範囲内において様々な変更をなし得ることはいうまでもない。更に、上記実施形態は、あくまで発明の概要の欄に記載された発明の具体的な一形態に過ぎず、発明の概要の欄に記載された発明の要素を限定するものではない。 And the invention of this indication is not limited to the said embodiment at all, and it cannot be overemphasized that various changes can be made within the range of the extension of this indication. Furthermore, the above-described embodiment is merely a specific form of the invention described in the Summary of Invention column, and does not limit the elements of the invention described in the Summary of Invention column.
本開示の発明は、電子回路の異常を検知して異常発生信号を出力する異常検出回路や、その異常判定装置の製造産業等において利用可能である。 The invention of the present disclosure can be used in an abnormality detection circuit that detects an abnormality in an electronic circuit and outputs an abnormality occurrence signal, a manufacturing industry of the abnormality determination device, and the like.
1 電動車両、2 蓄電装置、3 システムメインリレー、4 電力制御装置(PCU)、4C PCUケース、6 回転角センサ、7 表示装置、10 電子制御装置(ECU)、11 マイクロコンピュータ、12 記憶装置、40 インバータ、41 電圧変換モジュール、42,43 平滑コンデンサ、44 温度検出回路、45 異常検出回路、45a ドライバIC、45b ラッチ回路、45c 基板、D1,D2,D3,D4,D5,D6 ダイオード、DW 駆動輪、MG モータ、PL 正極側電力ライン、NL 負極側電力ライン、Tr1,Tr2,Tr3,Tr4,Tr5,Tr6 トランジスタ。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Electric vehicle, 2 Power storage device, 3 System main relay, 4 Electric power control unit (PCU), 4C PCU case, 6 Rotation angle sensor, 7 Display apparatus, 10 Electronic control unit (ECU), 11 Microcomputer, 12 Storage device, 40 inverter, 41 voltage conversion module, 42, 43 smoothing capacitor, 44 temperature detection circuit, 45 abnormality detection circuit, 45a driver IC, 45b latch circuit, 45c substrate, D1, D2, D3, D4, D5, D6 diode, DW drive Wheel, MG motor, PL positive power line, NL negative power line, Tr1, Tr2, Tr3, Tr4, Tr5, Tr6 transistors.
Claims (1)
前記異常検出回路の温度が所定温度範囲内に含まれる状態で該異常検出回路から前記異常発生信号の出力継続時間よりも短いパルス幅のパルスを複数回入力した際に、故障に繋がるおそれのある一時的な異常が前記異常検出回路に発生したと判定して警告を発生することを特徴とする異常判定装置。 An abnormality determination apparatus that includes an electronic component mounted on a substrate with solder and detects an abnormality of an abnormality detection circuit that detects an abnormality of an electronic circuit to be output and outputs an abnormality occurrence signal,
When a pulse having a pulse width shorter than the output duration of the abnormality occurrence signal is input a plurality of times from the abnormality detection circuit in a state where the temperature of the abnormality detection circuit is included in a predetermined temperature range, there is a risk of failure. An abnormality determination device characterized by generating a warning by determining that a temporary abnormality has occurred in the abnormality detection circuit.
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004212306A (en) * | 2003-01-08 | 2004-07-29 | Hitachi Ltd | Abnormality diagnostic method for ic |
JP2007071796A (en) * | 2005-09-09 | 2007-03-22 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | Abnormality detector for power semiconductor device |
WO2014087854A1 (en) * | 2012-12-04 | 2014-06-12 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | Electronic control apparatus |
JP2015076719A (en) * | 2013-10-09 | 2015-04-20 | 住友電気工業株式会社 | Optical transmitter capable of detecting disconnection of internal circuit |
US20150276854A1 (en) * | 2014-03-27 | 2015-10-01 | Freescale Semiconductor, Inc. | Integrated circuit interconnect crack monitor circuit |
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004212306A (en) * | 2003-01-08 | 2004-07-29 | Hitachi Ltd | Abnormality diagnostic method for ic |
JP2007071796A (en) * | 2005-09-09 | 2007-03-22 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | Abnormality detector for power semiconductor device |
WO2014087854A1 (en) * | 2012-12-04 | 2014-06-12 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | Electronic control apparatus |
JP2015076719A (en) * | 2013-10-09 | 2015-04-20 | 住友電気工業株式会社 | Optical transmitter capable of detecting disconnection of internal circuit |
US20150276854A1 (en) * | 2014-03-27 | 2015-10-01 | Freescale Semiconductor, Inc. | Integrated circuit interconnect crack monitor circuit |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112858948A (en) * | 2021-01-11 | 2021-05-28 | 湖北三鑫金铜股份有限公司 | Electric circuit instantaneous contact failure detection circuit |
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