JP2018072185A - Pressing device, electronic component conveyance device, electronic component inspection device, and robot - Google Patents

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朋 池邊
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a pressing device which is not easily affected by temperatures and can detect a pressing force more accurately, an electronic component conveyance device which has the pressing device, the conveyance device having a higher reliability, an electronic component inspection device, and a robot.SOLUTION: The pressing device includes a pressing part for pressing an object and a sensor part for detecting a pressing force applied on the object by the pressing part, the sensor part having a pressure sensitive part including resin and a carbon nano-tube and having a moving mechanism for moving the pressing part. The sensor part is located at an upstream side with respect to the pressing part in the direction of pressing the object.SELECTED DRAWING: Figure 3

Description

本発明は、押圧装置、電子部品搬送装置、電子部品検査装置およびロボットに関するものである。   The present invention relates to a pressing device, an electronic component conveying device, an electronic component inspection device, and a robot.

特許文献1に記載のICハンドラーでは、検査対象であるICをICソケットに押圧した状態で、そのICの電気的特性を検査するようになっている。そして、このようなICハンドラーでは、ICソケットへのICの押圧力を検出するための圧力センサーを備えており、圧力センサーでの検出結果をフィードバックすることで、ICをICソケットに適切な押圧力で押圧することができるようになっている。   In the IC handler described in Patent Document 1, the electrical characteristics of the IC are inspected in a state where the IC to be inspected is pressed against the IC socket. Such an IC handler is provided with a pressure sensor for detecting the IC pressing force to the IC socket, and by feeding back the detection result of the pressure sensor, the IC is properly applied to the IC socket. It can be pressed with.

特開2000−266810号公報JP 2000-266810 A

しかしながら、特許文献1のICハンドラーでは、圧力センサーの構成が不明であるため、圧力センサーの構成によっては、温度変化(検査環境の温度)によって出力が変動し、正確な押圧力を検出できないおそれがある。   However, in the IC handler of Patent Document 1, since the configuration of the pressure sensor is unknown, depending on the configuration of the pressure sensor, the output fluctuates due to a temperature change (temperature of the inspection environment), and there is a possibility that an accurate pressing force cannot be detected. is there.

本発明の目的は、温度の影響を受け難く、押圧力をより正確に検出することのできる押圧装置、この押圧装置を備えた信頼性の高い電子部品搬送装置、電子部品検査装置およびロボットを提供することにある。   An object of the present invention is to provide a pressing device that is less susceptible to temperature and can detect a pressing force more accurately, and a highly reliable electronic component transport device, an electronic component inspection device, and a robot provided with the pressing device. There is to do.

このような目的は、下記の本発明により達成される。   Such an object is achieved by the present invention described below.

本発明の押圧装置は、対象物を押圧する押圧部と、
前記押圧部により前記対象物に加わる押圧力を検出するセンサー部と、を有し、
前記センサー部は、樹脂およびカーボンナノチューブを含む感圧部を有していることを特徴とする。
これにより、温度の影響を受け難く、押圧力をより正確に検出することのできる押圧装置が得られる。
The pressing device of the present invention includes a pressing unit that presses an object,
A sensor unit for detecting a pressing force applied to the object by the pressing unit,
The sensor part has a pressure-sensitive part containing a resin and a carbon nanotube.
As a result, it is possible to obtain a pressing device that is not easily affected by temperature and can detect the pressing force more accurately.

本発明の押圧装置では、前記押圧部を移動させる移動機構を有していることが好ましい。
これにより、より確実に、押圧部で対象物を押圧することができる。
The pressing device of the present invention preferably has a moving mechanism that moves the pressing portion.
Thereby, a target object can be pressed more reliably by a press part.

本発明の押圧装置では、前記センサー部は、前記押圧部に対して、前記対象物とは反対側に位置していることが好ましい。
これにより、押圧部と対象物との間にセンサー部が介在しないため、押圧部で対象物をより効率的に押圧することができる。
In the pressing device according to the aspect of the invention, it is preferable that the sensor unit is located on a side opposite to the object with respect to the pressing unit.
Thereby, since a sensor part does not interpose between a press part and a target object, a target object can be pressed more efficiently by a press part.

本発明の押圧装置では、前記押圧部に対して、前記対象物とは反対側に位置し、前記押圧部を加熱する加熱部を有していることが好ましい。
これにより、加熱部によって加熱された押圧部によって、対象物を加熱することができる。
In the pressing device of the present invention, it is preferable that the pressing device has a heating unit that is located on the opposite side to the object and that heats the pressing unit.
Thereby, a target object can be heated with the press part heated by the heating part.

本発明の押圧装置では、前記加熱部は、前記センサー部よりも前記押圧部寄りに位置していることが好ましい。
これにより、加熱部と押圧部とをより近づけて配置することができ、加熱部の熱を押圧部に効率的に伝えることができる。
In the pressing device of the present invention, it is preferable that the heating unit is located closer to the pressing unit than the sensor unit.
Thereby, a heating part and a press part can be arranged closer, and the heat of a heating part can be efficiently transmitted to a press part.

本発明の押圧装置では、前記センサー部と前記加熱部との間に配置されている断熱部を有していることが好ましい。
これにより、センサー部の加熱が抑制される。また、加熱部の熱を押圧部により効率的に伝えることができる。
In the pressing device of the present invention, it is preferable to have a heat insulating portion disposed between the sensor portion and the heating portion.
Thereby, heating of a sensor part is controlled. Moreover, the heat of a heating part can be efficiently transmitted by a press part.

本発明の押圧装置では、前記加熱部は、前記センサー部に対して、前記押圧部とは反対側に位置していることが好ましい。
これにより、センサー部と押圧部との距離が近くなり、押圧力をセンサー部でより精度よく検出することができる。
In the pressing device of the present invention, it is preferable that the heating unit is located on the opposite side of the pressing unit with respect to the sensor unit.
Thereby, the distance of a sensor part and a press part becomes near, and a pressing force can be detected more accurately by a sensor part.

本発明の押圧装置では、前記樹脂は、熱可塑性樹脂を含んでいることが好ましい。
これにより感圧部の製造が容易となる。
In the pressing device of the present invention, it is preferable that the resin contains a thermoplastic resin.
Thereby, manufacture of a pressure-sensitive part becomes easy.

本発明の押圧装置では、前記樹脂は、ポリカーボネートを含んでいることが好ましい。
これにより、感圧部を十分に硬くすることができ、センサー部の機械的強度が向上する。
In the pressing device of the present invention, it is preferable that the resin contains polycarbonate.
Thereby, a pressure-sensitive part can fully be hardened and the mechanical strength of a sensor part improves.

本発明の押圧装置では、前記樹脂は、熱硬化性樹脂を含んでいることが好ましい。
これにより、熱的に安定な感圧部となる。
In the pressing device of the present invention, it is preferable that the resin includes a thermosetting resin.
This provides a thermally stable pressure sensitive part.

本発明の押圧装置では、前記センサー部は、一対の電極を有し、
前記一対の電極は、前記感圧部に対して互いに反対側に位置していることが好ましい。
これにより、センサー部の構成が簡単となる。
In the pressing device of the present invention, the sensor unit has a pair of electrodes,
The pair of electrodes are preferably located on opposite sides of the pressure sensitive part.
This simplifies the configuration of the sensor unit.

本発明の押圧装置では、前記押圧部が前記対象物を押圧していない状態で、前記センサー部を与圧する与圧部を有していることが好ましい。
これにより、センサー部の応答性が向上する。
In the pressing device of the present invention, it is preferable that the pressing device has a pressurizing unit that pressurizes the sensor unit in a state where the pressing unit is not pressing the object.
Thereby, the responsiveness of a sensor part improves.

本発明の電子部品搬送装置は、本発明の押圧装置を有していることを特徴とする。
これにより、押圧装置の効果を享受でき、信頼性の高い電子部品搬送装置が得られる。
The electronic component conveying apparatus of the present invention has the pressing apparatus of the present invention.
Thereby, the effect of a press apparatus can be enjoyed and a reliable electronic component conveyance apparatus is obtained.

本発明の電子部品検査装置は、本発明の電子部品搬送装置と、
検査部と、を有していることを特徴とする。
これにより、電子部品搬送装置(押圧装置)の効果を享受でき、信頼性の高い電子部品検査装置が得られる。
An electronic component inspection apparatus of the present invention includes an electronic component transport apparatus of the present invention,
And an inspection unit.
Thereby, the effect of an electronic component conveying apparatus (pressing apparatus) can be enjoyed, and a highly reliable electronic component inspection apparatus can be obtained.

本発明のロボットは、本発明の押圧装置を有していることを特徴とする。
これにより、押圧装置の効果を享受でき、信頼性の高いロボットが得られる。
The robot of the present invention has the pressing device of the present invention.
Thereby, the effect of a pressing device can be enjoyed and a highly reliable robot is obtained.

本発明の第1実施形態に係る電子部品検査装置を示す斜視図である。1 is a perspective view showing an electronic component inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention. 図1に示す電子部品検査装置が有するZステージを示す斜視図である。It is a perspective view which shows Z stage which the electronic component inspection apparatus shown in FIG. 1 has. 図1に示す電子部品検査装置が有する電子部品保持部を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the electronic component holding part which the electronic component inspection apparatus shown in FIG. 1 has. センサー部の荷重−抵抗特性を示すグラフである。It is a graph which shows the load-resistance characteristic of a sensor part. 図3に示す電子部品保持部の変形例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the modification of the electronic component holding part shown in FIG. 図3に示す電子部品保持部の変形例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the modification of the electronic component holding part shown in FIG. 本発明の第2実施形態に係る押圧装置(電子部品保持部)を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the press apparatus (electronic component holding part) which concerns on 2nd Embodiment of this invention. 図7に示す押圧装置(電子部品保持部)の変形例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the modification of the press apparatus (electronic component holding part) shown in FIG. 本発明の第3実施形態に係る押圧装置(電子部品保持部)を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the press apparatus (electronic component holding part) which concerns on 3rd Embodiment of this invention. センサー部の電極の配置を示す平面図である。It is a top view which shows arrangement | positioning of the electrode of a sensor part. 本発明の第4実施形態に係る押圧装置(電子部品保持部)を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the press apparatus (electronic component holding part) which concerns on 4th Embodiment of this invention. 本発明の第5実施形態に係るロボットを示す斜視図である。It is a perspective view which shows the robot which concerns on 5th Embodiment of this invention. 本発明の第6実施形態に係るロボットを示す側面図である。It is a side view which shows the robot which concerns on 6th Embodiment of this invention.

以下、本発明の押圧装置、電子部品搬送装置、電子部品検査装置およびロボットを添付図面に示す好適な実施形態に基づいて詳細に説明する。   Hereinafter, a pressing device, an electronic component conveying device, an electronic component inspection device, and a robot according to the present invention will be described in detail based on preferred embodiments shown in the accompanying drawings.

<第1実施形態>
図1は、本発明の第1実施形態に係る電子部品検査装置を示す斜視図である。図2は、図1に示す電子部品検査装置が有するZステージを示す斜視図である。図3は、図1に示す電子部品検査装置が有する電子部品保持部を示す断面図である。図4は、センサー部の荷重−抵抗特性を示すグラフである。図5および図6は、それぞれ、図3に示す電子部品保持部の変形例を示す断面図である。なお、以下では、説明の便宜上、図3中の上側を「上」とも言い、下側を「下」とも言う。また、図1等に示すように、以下では、説明の便宜上、互いに直交する3軸をX軸、Y軸およびZ軸とし、また、X軸に平行な方向を「X軸方向」、Y軸に平行な方向を「Y軸方向」、Z軸に平行な方向を「Z軸方向」ともいう。
<First Embodiment>
FIG. 1 is a perspective view showing an electronic component inspection apparatus according to the first embodiment of the present invention. FIG. 2 is a perspective view showing a Z stage included in the electronic component inspection apparatus shown in FIG. FIG. 3 is a cross-sectional view showing an electronic component holding unit included in the electronic component inspection apparatus shown in FIG. FIG. 4 is a graph showing the load-resistance characteristics of the sensor unit. 5 and 6 are cross-sectional views showing modifications of the electronic component holding unit shown in FIG. In the following, for convenience of explanation, the upper side in FIG. 3 is also referred to as “upper” and the lower side is also referred to as “lower”. In addition, as shown in FIG. 1 and the like, hereinafter, for convenience of explanation, three axes orthogonal to each other are referred to as an X axis, a Y axis, and a Z axis, and a direction parallel to the X axis is an “X axis direction”, a Y axis. The direction parallel to is also referred to as “Y-axis direction”, and the direction parallel to Z-axis is also referred to as “Z-axis direction”.

図1に示す電子部品検査装置1000は、対象物としての電子部品Qの電気的特性を検査する装置である。電子部品Qとしては、特に限定されず、例えば、半導体素子またはそのパッケージ、半導体ウェハ、CLD、OLED、有機EL等の表示デバイス、水晶デバイス、各種センサー(加速度センサー、角速度センサー、圧力センサー、温度センサー等)、インクジェットヘッド、各種MEMSデバイス等などが挙げられる。なお、本明細書において「電子部品」とは、完成した電子部品の他、電子部品を構成するための材料(例えば、半導体ウェハ等)や、電子部品の一部の部材等も含む広い概念である。   An electronic component inspection apparatus 1000 shown in FIG. 1 is an apparatus that inspects electrical characteristics of an electronic component Q as an object. The electronic component Q is not particularly limited. For example, a semiconductor element or a package thereof, a semiconductor wafer, a display device such as a CLD, an OLED, an organic EL, a crystal device, various sensors (acceleration sensor, angular velocity sensor, pressure sensor, temperature sensor). Etc.), inkjet heads, various MEMS devices and the like. In addition, in this specification, “electronic component” is a broad concept that includes a completed electronic component, a material (for example, a semiconductor wafer) for configuring the electronic component, a part of the electronic component, and the like. is there.

図1に示すように、電子部品検査装置1000は、電子部品Qを搬送する電子部品搬送装置1100と、電子部品Qの電気的特性を検査する検査部1900(検査用ソケット)と、を有している。また、電子部品搬送装置1100は、基台1200と、基台1200の側方に配置された支持台1300とを有している。また、基台1200には、検査対象の電子部品Qが載置されている上流側ステージ1210(検査前ステージ)と、検査済みの電子部品Qが載置されている下流側ステージ1220(検査後ステージ)と、が設けられている。そして、基台1200の、上流側ステージ1210と下流側ステージ1220との間に、検査部1900が設けられている。   As shown in FIG. 1, the electronic component inspection apparatus 1000 includes an electronic component conveyance device 1100 that conveys the electronic component Q, and an inspection unit 1900 (inspection socket) that inspects the electrical characteristics of the electronic component Q. ing. In addition, the electronic component transport apparatus 1100 includes a base 1200 and a support base 1300 disposed on the side of the base 1200. Further, the base 1200 has an upstream stage 1210 (stage before inspection) on which the electronic component Q to be inspected is placed, and a downstream stage 1220 (after inspection) on which the inspected electronic component Q is placed. Stage). An inspection unit 1900 is provided between the upstream stage 1210 and the downstream stage 1220 of the base 1200.

また、支持台1300には、支持台1300に対してY軸方向に移動可能なYステージ1310が設けられている。また、Yステージ1310には、Yステージ1310に対してX軸方向に移動可能なXステージ1320が設けられている。また、Xステージ1320には、Xステージ1320に対してZ軸方向に移動可能なZステージ1330が設けられている。また、Zステージ1330には、電子部品Qを保持する電子部品保持部1(押圧装置)が設けられている。すなわち、電子部品搬送装置1100は、押圧装置としての電子部品保持部1を有している。   The support table 1300 is provided with a Y stage 1310 that can move in the Y-axis direction with respect to the support table 1300. The Y stage 1310 is provided with an X stage 1320 that can move in the X-axis direction with respect to the Y stage 1310. The X stage 1320 is provided with a Z stage 1330 that can move in the Z-axis direction with respect to the X stage 1320. The Z stage 1330 is provided with an electronic component holding unit 1 (pressing device) that holds the electronic component Q. That is, the electronic component transport apparatus 1100 has an electronic component holding unit 1 as a pressing device.

なお、図2に示すように、Zステージ1330は、X軸方向およびY軸方向に移動可能な微調整プレート1331と、微調整プレート1331に対してZ軸まわりに回動可能な回動部1332とを有している。そして、回動部1332に電子部品保持部1が取り付けられている。また、Zステージ1330には、微調整プレート1331をX軸方向に移動させるための駆動源1333x(例えば、圧電アクチュエーター)と、微調整プレート1331をY軸方向に移動させるための駆動源1333y(例えば、圧電アクチュエーター)と、回動部1332をZ軸まわりに回動させるための駆動源1333θ(例えば、圧電アクチュエーター)と、が内蔵されている。   As shown in FIG. 2, the Z stage 1330 includes a fine adjustment plate 1331 that can move in the X-axis direction and the Y-axis direction, and a rotation unit 1332 that can rotate around the Z-axis with respect to the fine adjustment plate 1331. And have. The electronic component holding unit 1 is attached to the rotating unit 1332. The Z stage 1330 includes a drive source 1333x (for example, a piezoelectric actuator) for moving the fine adjustment plate 1331 in the X-axis direction, and a drive source 1333y (for example, for moving the fine adjustment plate 1331 in the Y-axis direction). , A piezoelectric actuator) and a drive source 1333θ (for example, a piezoelectric actuator) for rotating the rotating unit 1332 around the Z axis are incorporated.

このような電子部品検査装置1000では、まず、電子部品保持部1が上流側ステージ1210で搬送された電子部品Qを保持し、検査部1900まで搬送する。そして、電子部品保持部1で電子部品Qを把持しつつ、検査部1900に押し付けた状態で電子部品Qの電気的特性の検査が行われる。そして、検査が終了すると、電子部品保持部1が電子部品Qを下流側ステージ1220に搬送する。この作業が繰り返されることで、複数の電子部品Qの検査が行われる。   In such an electronic component inspection apparatus 1000, first, the electronic component holding unit 1 holds the electronic component Q conveyed by the upstream stage 1210 and conveys it to the inspection unit 1900. Then, the electrical characteristics of the electronic component Q are inspected while being pressed against the inspection unit 1900 while holding the electronic component Q by the electronic component holding unit 1. When the inspection is completed, the electronic component holding unit 1 conveys the electronic component Q to the downstream stage 1220. By repeating this operation, a plurality of electronic components Q are inspected.

次に、押圧装置としての電子部品保持部1について説明する。図示しないが、電子部品保持部1は、例えば、ねじ止め等によって、着脱可能に回動部1332に固定されている。そのため、例えば、電子部品保持部1のメンテナンスや交換を容易に行うことができる。   Next, the electronic component holding part 1 as a pressing device will be described. Although not shown, the electronic component holding unit 1 is detachably fixed to the rotating unit 1332 by, for example, screwing or the like. Therefore, for example, maintenance and replacement of the electronic component holding unit 1 can be easily performed.

図3に示すように、押圧装置としての電子部品保持部1は、対象物としての電子部品Qを押圧する押圧部としてのコンタクトプッシャー7と、コンタクトプッシャー7により電子部品Qに加わる押圧力を検出するセンサー部3と、を有している。そして、センサー部3は、樹脂311およびカーボンナノチューブ312を含む感圧部31を有している。このような構成によれば、センサー部3で電子部品Qに加わる押圧力を検出することができるため、コンタクトプッシャー7で電子部品Qを適した押圧力で押圧することができる。そのため、例えば、押圧力が強すぎることによる電子部品Qの破損や、押圧力が弱すぎることによる電子部品Qと検査部1900との接触不良等を効果的に抑制することができ、検査部1900で適切な検査を行うことができる。また、感圧部31をシート状にでき、センサー部3の小型化(薄型化)および軽量化を図ることができる。また、感圧部31が、温度の影響を受け難くなり、温度変化による検出信号の変動(ドリフト)を低減することができる。そのため、小型で、温度の影響を受け難くいセンサー部3となる。また、このような電子部品保持部1を有する電子部品搬送装置1100および電子部品検査装置1000は、それぞれ、電子部品保持部1の効果を享受でき、高い信頼性を発揮することができる。   As shown in FIG. 3, the electronic component holding unit 1 as a pressing device detects a contact pusher 7 as a pressing unit that presses an electronic component Q as an object, and a pressing force applied to the electronic component Q by the contact pusher 7. And a sensor unit 3 to be operated. The sensor unit 3 includes a pressure sensitive unit 31 including a resin 311 and a carbon nanotube 312. According to such a configuration, since the pressing force applied to the electronic component Q can be detected by the sensor unit 3, the electronic component Q can be pressed by the contact pusher 7 with an appropriate pressing force. Therefore, for example, the damage of the electronic component Q due to the excessive pressing force, the contact failure between the electronic component Q and the inspection unit 1900 due to the excessive pressing force can be effectively suppressed, and the inspection unit 1900 can be effectively suppressed. The appropriate inspection can be performed. Moreover, the pressure-sensitive part 31 can be made into a sheet shape, and the sensor part 3 can be reduced in size (thinned) and reduced in weight. In addition, the pressure sensing unit 31 is not easily affected by the temperature, and the fluctuation (drift) of the detection signal due to the temperature change can be reduced. Therefore, the sensor unit 3 is small and hardly affected by temperature. Moreover, the electronic component conveying apparatus 1100 and the electronic component inspection apparatus 1000 having such an electronic component holding unit 1 can enjoy the effects of the electronic component holding unit 1 and can exhibit high reliability.

以下、このような電子部品保持部1について詳細に説明する。図3に示すように、電子部品保持部1は、回動部1332の下面に設けられた移動機構としてのエアシリンダー2と、エアシリンダー2の先端側(下側)に設けられたセンサー部3および与圧部4と、与圧部4の先端側(下側)に設けられた断熱部5と、断熱部5の先端側(下側)に設けられたブロック8と、ブロック8の先端側(下側)に設けられた加熱部としてのヒーター6と、ヒーター6の先端側(下側)に設けられた押圧部としてのコンタクトプッシャー7とを有している。   Hereinafter, the electronic component holding unit 1 will be described in detail. As shown in FIG. 3, the electronic component holding unit 1 includes an air cylinder 2 as a moving mechanism provided on the lower surface of the rotating unit 1332, and a sensor unit 3 provided on the front end side (lower side) of the air cylinder 2. And the pressurizing part 4, the heat insulating part 5 provided on the front end side (lower side) of the pressurizing part 4, the block 8 provided on the front end side (lower side) of the heat insulating part 5, and the front end side of the block 8 It has a heater 6 as a heating part provided on the (lower side) and a contact pusher 7 as a pressing part provided on the tip side (lower side) of the heater 6.

(エアシリンダー)
電子部品保持部1は、押圧部であるコンタクトプッシャー7をZ軸方向(押圧方向)に移動させる移動機構としてのエアシリンダー2を有している。このようなエアシリンダー2によれば、より確実に、コンタクトプッシャー7で電子部品Qを上流側ステージ1210や検査部1900に向けて押圧することができる。そのため、電子部品保持部1で上流側ステージ1210に載置された電子部品Qを保持する場合には、エアシリンダー2の駆動によってコンタクトプッシャー7を電子部品Qに押し当て、コンタクトプッシャー7(後述する吸着パッド92)を電子部品Qに密着させることで、より確実に、電子部品保持部1で電子部品Qを保持することができる。また、電子部品保持部1で保持した電子部品Qの電気的特性の検査を行う場合には、エアシリンダー2の駆動によってコンタクトプッシャー7で電子部品Qを検査部1900に押し当て、電子部品Qを検査部1900に密着させることで、これらの導通を良好な状態で確保し、より確実に、電子部品Qの電気的特性の検査を行うことができる。
(Air cylinder)
The electronic component holding part 1 has an air cylinder 2 as a moving mechanism for moving a contact pusher 7 as a pressing part in the Z-axis direction (pressing direction). According to such an air cylinder 2, the electronic component Q can be more reliably pressed toward the upstream stage 1210 and the inspection unit 1900 by the contact pusher 7. Therefore, when the electronic component holding unit 1 holds the electronic component Q placed on the upstream stage 1210, the contact pusher 7 is pressed against the electronic component Q by driving the air cylinder 2, and the contact pusher 7 (described later). By bringing the suction pad 92) into close contact with the electronic component Q, the electronic component Q can be held more securely by the electronic component holding unit 1. In the case of inspecting the electrical characteristics of the electronic component Q held by the electronic component holding unit 1, the electronic component Q is pressed against the inspection unit 1900 by the contact pusher 7 by driving the air cylinder 2. By bringing it into close contact with the inspection unit 1900, it is possible to ensure these electrical conductions in a good state and more reliably inspect the electrical characteristics of the electronic component Q.

図3に示すように、エアシリンダー2は、回動部1332の下面に固定されたシリンダチューブ21を有している。シリンダチューブ21は、有底筒状のチューブ本体211と、チューブ本体211の開口を塞ぐフロントプレート212とを有し、チューブ本体211とフロントプレート212とで形成されるシリンダ室内にピストン22がZ軸方向に移動可能に配設されている。また、ピストン22は、シリンダ室内に位置するピストン本体221と、ピストン本体221の下端部に固定され、シリンダ室外に位置する連結ブロック222とを有している。   As shown in FIG. 3, the air cylinder 2 has a cylinder tube 21 fixed to the lower surface of the rotating portion 1332. The cylinder tube 21 has a bottomed cylindrical tube body 211 and a front plate 212 that closes the opening of the tube body 211, and the piston 22 is Z-axis in a cylinder chamber formed by the tube body 211 and the front plate 212. It is arranged to be movable in the direction. The piston 22 includes a piston main body 221 located in the cylinder chamber and a connecting block 222 fixed to the lower end portion of the piston main body 221 and located outside the cylinder chamber.

シリンダ室は、ピストン22(ピストン本体221)によって、その上側に位置する第1室D1と、下側に位置する第2室D2とに区画されている。また、ピストン22は、スプリングSPによって上方に持ち上げられ、エアシリンダー2が作動していない状態では、ピストン22の上面(上端)がチューブ本体211の底面と当接する位置(以下、この位置を「最上端位置」とも言う)となっている。   The cylinder chamber is partitioned by a piston 22 (piston body 221) into a first chamber D1 located on the upper side and a second chamber D2 located on the lower side. Further, the piston 22 is lifted upward by the spring SP, and when the air cylinder 2 is not operated, the position where the upper surface (upper end) of the piston 22 contacts the bottom surface of the tube main body 211 (hereinafter, this position is referred to as “maximum”). It is also referred to as “top position”.

また、図3に示すように、シリンダチューブ21には、第1室D1に繋がるエアー導入口23が形成され、エアー導入口23には、連結ポート24が接続されている。また、連結ポート24は、図示しない電空レギュレーターに連結されており、電空レギュレーターから第1室D1にエアーが供給されると、そのエアーの圧力によって、ピストン22が最上端位置からスプリングSPの弾性力に抗して下方に移動する。第1室D1を所定のエアー圧とすることによって、検査部1900に配置された電子部品Qを適した圧力で押圧することができる。そのため、電子部品Qと検査部1900との導通を確実に図ることができると共に、電子部品Qの破損を抑制することができる。   As shown in FIG. 3, the cylinder tube 21 is formed with an air introduction port 23 connected to the first chamber D <b> 1, and a connection port 24 is connected to the air introduction port 23. The connection port 24 is connected to an electro-pneumatic regulator (not shown). When air is supplied from the electro-pneumatic regulator to the first chamber D1, the piston 22 moves from the uppermost position to the spring SP by the pressure of the air. It moves downward against the elastic force. By setting the first chamber D1 to a predetermined air pressure, the electronic component Q disposed in the inspection unit 1900 can be pressed with a suitable pressure. Therefore, electrical connection between the electronic component Q and the inspection unit 1900 can be ensured, and damage to the electronic component Q can be suppressed.

以上、移動機構としてのエアシリンダー2について説明した。なお、移動機構の構成としては、コンタクトプッシャー7をZ軸方向に移動させることができれば、特に限定されない。例えば、圧電モーター等の駆動源を用いて、コンタクトプッシャー7をZ軸方向に移動させる構成であってもよい。   The air cylinder 2 as the moving mechanism has been described above. The structure of the moving mechanism is not particularly limited as long as the contact pusher 7 can be moved in the Z-axis direction. For example, the contact pusher 7 may be moved in the Z-axis direction using a drive source such as a piezoelectric motor.

(センサー部3)
図3に示すように、電子部品保持部1は、コンタクトプッシャー7により電子部品Qに加わる押圧力を検出するセンサー部3を有している。センサー部3は、コンタクトプッシャー7に対して、対象物である電子部品Qとは反対側(電子部品Qを押圧する方向とは反対側)に位置している。すなわち、電子部品保持部1が電子部品Qを保持した状態で、センサー部3は、コンタクトプッシャー7に対して、電子部品Qと反対側に位置している。このような配置とすることで、コンタクトプッシャー7と電子部品Qとの間に介在する部材を減らすことができ、コンタクトプッシャー7により電子部品Qを効率的に押圧することができる。
(Sensor part 3)
As shown in FIG. 3, the electronic component holding unit 1 includes a sensor unit 3 that detects a pressing force applied to the electronic component Q by the contact pusher 7. The sensor unit 3 is located on the opposite side of the contact pusher 7 from the electronic component Q that is the object (the side opposite to the direction in which the electronic component Q is pressed). That is, in a state where the electronic component holding unit 1 holds the electronic component Q, the sensor unit 3 is located on the side opposite to the electronic component Q with respect to the contact pusher 7. With such an arrangement, the number of members interposed between the contact pusher 7 and the electronic component Q can be reduced, and the electronic component Q can be efficiently pressed by the contact pusher 7.

図3に示すように、センサー部3は、感圧部31と、感圧部31を挟むように配置された一対の電極32、33とを有している。   As shown in FIG. 3, the sensor unit 3 includes a pressure-sensitive part 31 and a pair of electrodes 32 and 33 arranged so as to sandwich the pressure-sensitive part 31.

感圧部31は、感圧導電性樹脂で構成されている。具体的には、感圧部31は、ベースとなる絶縁性の樹脂311と、樹脂311中に混合された導電性材料(フィラー)としてのカーボンナノチューブ312とを含んでいる。このような構成によれば、図示するように、感圧部31をシート状に成形することができ、センサー部3の小型化(薄型化)および軽量化を図ることができる。特に、導電性材料としてカーボンナノチューブ312を用いることで、センサー部3が受ける力とセンサー部3から出力される検出信号との関係を線形(線形に近い関係)にすることができる。また、カーボンナノチューブ312がフィラーとして機能し、感圧部31の機械的強度が高まり、へたりが小さく、経年劣化の小さい感圧部31となる。   The pressure sensitive part 31 is made of a pressure sensitive conductive resin. Specifically, the pressure-sensitive part 31 includes an insulating resin 311 serving as a base, and carbon nanotubes 312 as a conductive material (filler) mixed in the resin 311. According to such a configuration, as shown in the drawing, the pressure sensitive part 31 can be formed into a sheet shape, and the sensor part 3 can be reduced in size (thinned) and reduced in weight. In particular, by using the carbon nanotube 312 as the conductive material, the relationship between the force received by the sensor unit 3 and the detection signal output from the sensor unit 3 can be made linear (a relationship close to linear). Further, the carbon nanotube 312 functions as a filler, the mechanical strength of the pressure-sensitive part 31 is increased, the pressure is small, and the pressure-sensitive part 31 has little deterioration over time.

また、導電性材料としてカーボンナノチューブ312を用いることで、感圧部31が温度の影響を受け難くなり、温度変化による検出信号の変化(変動)を低減することができる。そのため、例えば、過度な温度補正の必要がなく(補正回路に頼ることなく)、精度よく押圧力を検出することができる。この点について詳しく説明する。図4に示すグラフは、導電性材料としてカーボンナノチューブを用いた場合の、センサー部3に加わる力(荷重)と電極32、33間の抵抗値との関係を示すグラフである。このグラフから分かるように、20℃と85℃の場合とで、荷重−抵抗値特性がほとんど一致している。そのため、上述したように、導電性材料としてカーボンナノチューブ312を用いることで、感圧部31が温度の影響を受け難くなり、温度変化による検出信号の変動(ドリフト)を低減することができる。特に、本実施形態では、ヒーター6を有しており、ヒーター6からの熱が伝わってセンサー部3の温度が変動することがある。そのため、センサー部3を上述した構成とすることで、その効果をより顕著に発揮することができる。   In addition, by using the carbon nanotube 312 as the conductive material, the pressure-sensitive part 31 is hardly affected by the temperature, and the change (fluctuation) of the detection signal due to the temperature change can be reduced. Therefore, for example, there is no need for excessive temperature correction (without relying on a correction circuit), and the pressing force can be detected with high accuracy. This point will be described in detail. The graph shown in FIG. 4 is a graph showing the relationship between the force (load) applied to the sensor unit 3 and the resistance value between the electrodes 32 and 33 when carbon nanotubes are used as the conductive material. As can be seen from this graph, the load-resistance value characteristics almost coincide with each other at 20 ° C. and 85 ° C. Therefore, as described above, by using the carbon nanotube 312 as the conductive material, the pressure-sensitive part 31 is hardly affected by the temperature, and the fluctuation (drift) of the detection signal due to the temperature change can be reduced. In particular, in this embodiment, the heater 6 is provided, and the temperature of the sensor unit 3 may fluctuate due to transmission of heat from the heater 6. Therefore, the effect can be exhibited more notably by making the sensor part 3 the structure mentioned above.

樹脂311は、熱可塑性樹脂を含んでいることが好ましい。これにより、例えば、樹脂311とカーボンナノチューブ312との混練が容易となり、分散性も良好であり、感圧部31の製造が容易となる。なお、熱可塑性樹脂としては、例えば、ポリエチレン、ポリプロピレン、エチレン−酢酸ビニル共重合体等のポリオレフィン、変性ポリオレフィン、ポリアミド、熱可塑性ポリイミド、芳香族ポリエステル等の液晶ポリマー、ポリフェニレンオキシド、ポリフェニレンサルファイド、ポリカーボネート(PC)、ポリエステルカーボネート(PPC)、ポリメチルメタクリレート、ポリエーテル、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、ポリエーテルイミド、ポリアセタール、またはこれらを主とする共重合体、ブレンド体、ポリマーアロイ等が挙げられ、これらのうちの1種または2種以上を混合して用いることができる。また、これらの中でも、樹脂311は、ポリカーボネートを含んでいることが好ましい。これにより、前述した効果(混練容易性)がより顕著となる。また、より硬い樹脂311となるため、センサー部3の機械的強度を高めることができる。また、樹脂311の経年的な変形やへたりが抑えられ、経時的な検出特性の低下を抑制することができる。なお、ポリエステルカーボネート、ポリエーテルエーテルケトン等によっても、ポリカーボネートと同等の効果を発揮することができる。また、樹脂311の硬さとしては、特に限定されないが、例えば、ヤング率が1GPa以上であることが好ましい。   The resin 311 preferably includes a thermoplastic resin. Thereby, for example, the resin 311 and the carbon nanotube 312 can be easily kneaded, the dispersibility is good, and the pressure-sensitive portion 31 can be easily manufactured. Examples of the thermoplastic resin include polyolefins such as polyethylene, polypropylene, ethylene-vinyl acetate copolymer, liquid crystal polymers such as modified polyolefin, polyamide, thermoplastic polyimide, and aromatic polyester, polyphenylene oxide, polyphenylene sulfide, polycarbonate ( PC), polyester carbonate (PPC), polymethyl methacrylate, polyether, polyether ether ketone (PEEK), polyetherimide, polyacetal, or a copolymer mainly composed of these, blend, polymer alloy, etc. One or more of these can be used in combination. Among these, the resin 311 preferably contains polycarbonate. Thereby, the effect (kneading ease) mentioned above becomes more remarkable. Moreover, since it becomes harder resin 311, the mechanical strength of the sensor part 3 can be raised. Further, the deformation and sag of the resin 311 over time can be suppressed, and the deterioration of detection characteristics over time can be suppressed. In addition, the effect equivalent to a polycarbonate can be exhibited also by polyester carbonate, polyether ether ketone, or the like. Further, the hardness of the resin 311 is not particularly limited, but for example, the Young's modulus is preferably 1 GPa or more.

また、樹脂311は、熱硬化性樹脂を含んでいてもよい。熱硬化性樹脂を用いることで、感圧部31が熱的に安定し(例えば、80℃程度の高温でも十分な硬さを維持でき)、温度の影響をより受け難くなると共に、高温時でも機械的強度を保つことができる。なお、熱硬化性樹脂としては、例えば、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ユリア樹脂、メラミン樹脂、ポリエステル(不飽和ポリエステル)樹脂、ポリイミド樹脂、シリコーン樹脂、ポリウレタン樹脂等が挙げられ、これらのうちの1種または2種以上を混合して用いることができる。   Further, the resin 311 may contain a thermosetting resin. By using a thermosetting resin, the pressure-sensitive part 31 is thermally stable (for example, sufficient hardness can be maintained even at a high temperature of about 80 ° C.), becomes less susceptible to temperature, and even at high temperatures. Mechanical strength can be maintained. In addition, as a thermosetting resin, an epoxy resin, a phenol resin, a urea resin, a melamine resin, a polyester (unsaturated polyester) resin, a polyimide resin, a silicone resin, a polyurethane resin etc. are mentioned, for example, 1 type of these Or 2 or more types can be mixed and used.

このような感圧部31の厚さとしては、特に限定されないが、例えば、0.05mm以上、5mm以下であることが好ましい。これにより、その機能を十分に発揮することができ、かつ、十分に薄い感圧部31となる。そのため、センサー部3の検出特性を維持しつつ、センサー部3の小型化(軽量化)を図ることができる。   The thickness of the pressure-sensitive part 31 is not particularly limited, but is preferably 0.05 mm or more and 5 mm or less, for example. Thereby, the function can be sufficiently exhibited, and the pressure-sensitive portion 31 is sufficiently thin. Therefore, the sensor unit 3 can be reduced in size (light weight) while maintaining the detection characteristics of the sensor unit 3.

また、図3に示すように、センサー部3は、一対の電極32、33を有している。また、一対の電極32、33は、感圧部31に対して互いに反対側に位置している。具体的には、感圧部31の上側(エアシリンダー2側)に電極32が配置されており、下側(コンタクトプッシャー7側)に電極33が配置されている。このように、感圧部31を間に挟んで電極32、33を配置することで、電極32、33を互いに邪魔されることなく配置することができるため、電極32、33の配置の自由度が高まると共に、その配置が簡単となる。そのため、センサー部3の構成が簡単なものとなる。なお、電極32、33の形状としては、特に限定されない。   As shown in FIG. 3, the sensor unit 3 includes a pair of electrodes 32 and 33. Further, the pair of electrodes 32 and 33 are located on the opposite sides with respect to the pressure-sensitive part 31. Specifically, the electrode 32 is disposed on the upper side (air cylinder 2 side) of the pressure-sensitive portion 31, and the electrode 33 is disposed on the lower side (contact pusher 7 side). In this manner, by arranging the electrodes 32 and 33 with the pressure-sensitive portion 31 interposed therebetween, the electrodes 32 and 33 can be arranged without being disturbed by each other. Increases and the arrangement becomes simple. Therefore, the configuration of the sensor unit 3 is simplified. The shape of the electrodes 32 and 33 is not particularly limited.

このようなセンサー部3では、Z軸方向の力、具体的には、コンタクトプッシャー7で電子部品Qを押圧することにより発生する力F(電子部品Qからの反力)を受けると、力Fの大きさに応じて電極32、33間の電気抵抗が変化する。そのため、電極32、33間の抵抗値に基づいて力Fを検出することができる。   When such a sensor unit 3 receives a force in the Z-axis direction, specifically, a force F generated by pressing the electronic component Q with the contact pusher 7 (reaction force from the electronic component Q), the force F The electrical resistance between the electrodes 32 and 33 changes in accordance with the size of. Therefore, the force F can be detected based on the resistance value between the electrodes 32 and 33.

また、図3に示すように、センサー部3は、電極32を支持する支持基板34と、電極33を支持する支持基板35とを有している。支持基板34は、電極32の上側に位置し、支持基板34の下面に電極32が形成されている。一方、支持基板35は、電極33の下側に位置し、支持基板35の上面に電極33が形成されている。そして、支持基板34、35で感圧部31を挟み込むことにより、電極32、33が感圧部31と接触している。すなわち、本実施形態では、電極32、33は、感圧部31と接触しているだけで、接合(接着)されていない。   As shown in FIG. 3, the sensor unit 3 includes a support substrate 34 that supports the electrode 32 and a support substrate 35 that supports the electrode 33. The support substrate 34 is located above the electrode 32, and the electrode 32 is formed on the lower surface of the support substrate 34. On the other hand, the support substrate 35 is located below the electrode 33, and the electrode 33 is formed on the upper surface of the support substrate 35. The electrodes 32 and 33 are in contact with the pressure sensitive part 31 by sandwiching the pressure sensitive part 31 between the support substrates 34 and 35. That is, in this embodiment, the electrodes 32 and 33 are only in contact with the pressure-sensitive portion 31 and are not joined (adhered).

なお、支持基板34、35としては、それぞれ、特に限定されず、例えば、フレキシブル基板、リジッド基板等の各種プリント基板を用いることができる。このように、支持基板34、35としてプリント基板を用いることで、支持基板34、35への電極32、33の形成が容易となる。   The support substrates 34 and 35 are not particularly limited, and various printed boards such as a flexible board and a rigid board can be used. Thus, by using a printed circuit board as the support substrates 34 and 35, the electrodes 32 and 33 can be easily formed on the support substrates 34 and 35.

以上、センサー部3について説明した。なお、センサー部3の構成としては、これに限定されず、例えば、支持基板34、35を省略し、感圧部31の表裏面に電極32、33を形成(配置)してもよい。   The sensor unit 3 has been described above. The configuration of the sensor unit 3 is not limited to this. For example, the support substrates 34 and 35 may be omitted, and the electrodes 32 and 33 may be formed (arranged) on the front and back surfaces of the pressure-sensitive unit 31.

(与圧部4)
図3に示すように、電子部品保持部1は、コンタクトプッシャー7が電子部品Qを押圧していない状態で、センサー部3をZ軸方向に与圧する与圧部4を有している。このように、センサー部3を与圧しておくことで、力Fが加わった際のセンサー部3の応答性が良くなり、小さい力Fでもより確実に検出することができるようになる等、検出特性が向上する。そのため、センサー部3は、より精度よく、力Fを検出することができる。また、センサー部3を厚さ方向に圧縮する方向の力(Z軸方向上側の力)のみならず、センサー部3を厚さ方向に伸張する方向の力(Z軸方向下側の力)を検出できるようになる。そのため、センサー部3は、コンタクトプッシャー7の押圧力のみならず、例えば、上流側ステージ1210や検査部1900から電子部品Qを搬送する際の、電子部品Qの上流側ステージ1210や検査部1900との引っ掛かりを検知することができる。そのため、上流側ステージ1210、検査部1900、電子部品Q等の破損を抑制することができる。
(Pressure part 4)
As shown in FIG. 3, the electronic component holding unit 1 includes a pressurizing unit 4 that pressurizes the sensor unit 3 in the Z-axis direction in a state where the contact pusher 7 does not press the electronic component Q. In this way, by prepressing the sensor unit 3, the responsiveness of the sensor unit 3 when the force F is applied is improved, and even a small force F can be detected more reliably. Improved characteristics. Therefore, the sensor unit 3 can detect the force F with higher accuracy. Further, not only the force in the direction of compressing the sensor unit 3 in the thickness direction (force on the upper side in the Z-axis direction) but also the force in the direction of extending the sensor unit 3 in the thickness direction (force on the lower side in the Z-axis direction). Can be detected. Therefore, the sensor unit 3 includes not only the pressing force of the contact pusher 7 but also, for example, the upstream stage 1210 and the inspection unit 1900 of the electronic component Q when the electronic component Q is transported from the upstream stage 1210 and the inspection unit 1900. Can be detected. Therefore, damage to the upstream stage 1210, the inspection unit 1900, the electronic component Q, and the like can be suppressed.

図3に示すように、このような与圧部4は、上方に開口する凹部411を有するベース41と、凹部411内に設けられたリッド42と、ベース41を上方(リッド42側)へ付勢する付勢部43とを有している。また、付勢部43は、ベース41に固定されたバネ部材で構成され、弾性変形した状態でリッド42に接触している。このような構成の与圧部4では、凹部411内にセンサー部3を配置し、リッド42とベース41とでセンサー部3を挟み込むことで、センサー部3をZ軸方向に与圧している。具体的には、リッド42の下面に支持基板34が固定され、凹部411の底面に支持基板35が固定され、さらに、支持基板34、35の間に感圧部31が挟み込まれている。そして、付勢部43の付勢力によってベース41が上方へ付勢されることで、センサー部3がZ軸方向に与圧されている。   As shown in FIG. 3, such a pressurizing portion 4 includes a base 41 having a concave portion 411 opening upward, a lid 42 provided in the concave portion 411, and the base 41 attached upward (to the lid 42 side). And an urging portion 43 for energizing. Further, the urging portion 43 is constituted by a spring member fixed to the base 41 and is in contact with the lid 42 in an elastically deformed state. In the pressurizing unit 4 having such a configuration, the sensor unit 3 is disposed in the recess 411, and the sensor unit 3 is sandwiched between the lid 42 and the base 41, whereby the sensor unit 3 is pressurized in the Z-axis direction. Specifically, the support substrate 34 is fixed to the lower surface of the lid 42, the support substrate 35 is fixed to the bottom surface of the recess 411, and the pressure sensitive part 31 is sandwiched between the support substrates 34 and 35. The base 41 is urged upward by the urging force of the urging unit 43, so that the sensor unit 3 is pressurized in the Z-axis direction.

ベース41およびリッド42の構成材料としては、特に限定されず、例えば、鉄、ニッケル、コバルト、アルミニウム、マグネシウム、チタン、タングステン等の各種金属、またはこれらのうちの少なくとも1種を含む合金または金属間化合物、さらには、これらの金属の酸化物、窒化物、炭化物等が挙げられる。   The constituent material of the base 41 and the lid 42 is not particularly limited. For example, various metals such as iron, nickel, cobalt, aluminum, magnesium, titanium, and tungsten, or an alloy or a metal containing at least one of these metals. Compounds, and oxides, nitrides and carbides of these metals are also included.

以上、与圧部4について説明した。なお、与圧部4の構成としては、センサー部3を与圧することができれば、特に限定されない。   The pressurizing unit 4 has been described above. In addition, as a structure of the pressurization part 4, if the sensor part 3 can be pressurized, it will not specifically limit.

(ヒーター)
図3に示すように、電子部品保持部1は、コンタクトプッシャー7に対して、対象物である電子部品Qとは反対側(電子部品Qを押圧する方向とは反対側)に位置し、コンタクトプッシャー7を加熱する加熱部としてのヒーター6を有している。このように、ヒーター6を備えていることで、ヒーター6により加熱されたコンタクトプッシャー7で電子部品Qを加熱することができる。そのため、検査部1900で、電子部品Qの高温時における電気的特性を検査することが可能となる。よって、電子部品検査装置1000(電子部品搬送装置1100)の利便性が向上する。
(heater)
As shown in FIG. 3, the electronic component holding unit 1 is located on the opposite side of the contact pusher 7 from the electronic component Q that is the object (the side opposite to the direction in which the electronic component Q is pressed). A heater 6 is provided as a heating unit for heating the pusher 7. Thus, by providing the heater 6, the electronic component Q can be heated by the contact pusher 7 heated by the heater 6. Therefore, the inspection unit 1900 can inspect the electrical characteristics of the electronic component Q at a high temperature. Therefore, the convenience of the electronic component inspection apparatus 1000 (electronic component transport apparatus 1100) is improved.

特に、本実施形態では、ヒーター6は、前述したセンサー部3よりも下側(コンタクトプッシャー7寄り)に位置している。言い換えると、ヒーター6は、センサー部3とコンタクトプッシャー7との間に位置している。そのため、ヒーター6とコンタクトプッシャー7との間に介在する部材を減らすことができ、ヒーター6とコンタクトプッシャー7とをより近づけて配置することができる。よって、ヒーター6の熱をコンタクトプッシャー7に効率的に伝えることができ、コンタクトプッシャー7に保持された電子部品Qを効率的に加熱することができる。   In particular, in the present embodiment, the heater 6 is located below the sensor unit 3 described above (closer to the contact pusher 7). In other words, the heater 6 is located between the sensor unit 3 and the contact pusher 7. Therefore, the member interposed between the heater 6 and the contact pusher 7 can be reduced, and the heater 6 and the contact pusher 7 can be arranged closer to each other. Therefore, the heat of the heater 6 can be efficiently transmitted to the contact pusher 7, and the electronic component Q held by the contact pusher 7 can be efficiently heated.

図3に示すように、このようなヒーター6は、ヒーターブロック61と、ヒーターブロック61に埋設された棒状のヒーター素子62(加熱素子)とを有している。そして、ヒーター素子62の駆動を図示しない制御部によって制御することで、ヒーターブロック61を所定の温度に加熱することができる。   As shown in FIG. 3, such a heater 6 includes a heater block 61 and a rod-shaped heater element 62 (heating element) embedded in the heater block 61. The heater block 61 can be heated to a predetermined temperature by controlling the driving of the heater element 62 by a control unit (not shown).

また、ヒーターブロック61は、硬質で高い熱伝導率を有している。ヒーターブロック61の構成材料としては、特に限定されず、例えば、鉄、ニッケル、コバルト、金、白金、銀、銅、アルミニウム、マグネシウム、チタン、タングステン等の各種金属、またはこれらのうちの少なくとも1種を含む合金または金属間化合物、さらには、これらの金属の酸化物、窒化物、炭化物等が挙げられる。   The heater block 61 is hard and has a high thermal conductivity. The constituent material of the heater block 61 is not particularly limited, for example, various metals such as iron, nickel, cobalt, gold, platinum, silver, copper, aluminum, magnesium, titanium, tungsten, or at least one of these metals An alloy or an intermetallic compound containing, as well as oxides, nitrides, carbides, and the like of these metals.

また、ヒーター素子62としては、特に限定されず、例えば、アルミナヒーター、窒化アルミヒーター、窒化珪素ヒーター、窒化硼素ヒーター等の各種セラミックヒーター、ニクロム線等の電熱線を用いた各種カートリッジヒーター等を用いることができる。また、ヒーター素子62は、棒状に限定されず、例えば、面状であってもよい。   The heater element 62 is not particularly limited. For example, various ceramic heaters such as an alumina heater, an aluminum nitride heater, a silicon nitride heater, and a boron nitride heater, various cartridge heaters using a heating wire such as a nichrome wire, and the like are used. be able to. Further, the heater element 62 is not limited to a rod shape, and may be, for example, a planar shape.

また、図3に示すように、ヒーターブロック61には、温度センサー63が埋設されている。温度センサー63によってヒーターブロック61の温度を検出することで、間接的に、電子部品Qの温度を検出することができる。なお、温度センサー63としては、特に限定されず、例えば、白金センサー、熱電対、サーミスター等を用いることができる。なお、電子部品Qがサーマルダイオード等の温度センサーを内蔵している場合には、温度センサー63を省略し、電子部品Q側の温度センサーによって電子部品Qの温度を検出してもよい。   As shown in FIG. 3, a temperature sensor 63 is embedded in the heater block 61. By detecting the temperature of the heater block 61 by the temperature sensor 63, the temperature of the electronic component Q can be indirectly detected. In addition, it does not specifically limit as the temperature sensor 63, For example, a platinum sensor, a thermocouple, a thermistor etc. can be used. In the case where the electronic component Q includes a temperature sensor such as a thermal diode, the temperature sensor 63 may be omitted, and the temperature of the electronic component Q may be detected by the temperature sensor on the electronic component Q side.

以上、ヒーター6について説明した。なお、ヒーター6の構成としては、電子部品Qを加熱することができれば、特に限定されない。また、例えば、高温環境での電子部品Qの検査が必要ない場合や、電子部品検査装置1000側にヒーターが内蔵されている場合等には、ヒーター6を省略してもよい。   The heater 6 has been described above. The configuration of the heater 6 is not particularly limited as long as the electronic component Q can be heated. For example, when the inspection of the electronic component Q in a high temperature environment is not necessary, or when the heater is built in the electronic component inspection apparatus 1000 side, the heater 6 may be omitted.

(断熱部)
図3に示すように、電子部品保持部1は、センサー部3とヒーター6との間に配置されている断熱部5を有している。このような断熱部5は、ブロック状をなしており、その上面側で与圧部4に固定されており、下面側でヒーターブロック61に固定されている。これにより、ヒーター6の熱がセンサー部3に伝わり難くなり、センサー部3の過度な温度上昇が抑制される。また、断熱部5により、上側への熱の移動が抑制されるため、下側にあるコンタクトプッシャー7に熱を効率的に伝えることができる。そのため、電子部品Qを効率的に加熱することができる。
(Insulation part)
As shown in FIG. 3, the electronic component holding part 1 has a heat insulating part 5 arranged between the sensor part 3 and the heater 6. Such a heat insulating portion 5 has a block shape, and is fixed to the pressurizing portion 4 on the upper surface side thereof, and is fixed to the heater block 61 on the lower surface side. Thereby, it becomes difficult for the heat of the heater 6 to be transmitted to the sensor unit 3, and an excessive temperature rise of the sensor unit 3 is suppressed. Moreover, since the heat | fever transfer to the upper side is suppressed by the heat insulation part 5, heat can be efficiently transmitted to the contact pusher 7 on the lower side. Therefore, the electronic component Q can be efficiently heated.

また、断熱部5は硬質で高い熱抵抗を有している。断熱部5としては、特に限定されず、例えば、硬質ポリウレタンフォーム等の硬質な発泡プラスチックで構成することができる。   Moreover, the heat insulation part 5 is hard and has high heat resistance. It does not specifically limit as the heat insulation part 5, For example, it can comprise with hard foamed plastics, such as a rigid polyurethane foam.

以上、断熱部5について説明した。なお、断熱部5の構成としては、センサー部3への熱の移動を抑制することができれば、特に限定されない。また、例えば、ヒーター6が省略されている場合等、センサー部3に過度な熱が伝わるおそれのない場合には、断熱部5を省略してもよい。また、例えば、本実施形態では、断熱部5と与圧部4のベース41とが別部材で構成されているが、例えば、図5および図6に示すように、断熱部5がベース41の一部(底部)を兼ねていてもよいし、全部を兼ねていてもよい。すなわち、断熱部5の上面にセンサー部3が配置された構成としてもよい。これにより、部品点数を削減でき、電子部品保持部1の小型化を図ることができる。   The heat insulating part 5 has been described above. In addition, as a structure of the heat insulation part 5, if the movement of the heat | fever to the sensor part 3 can be suppressed, it will not specifically limit. Further, for example, when the heater 6 is omitted, the heat insulating portion 5 may be omitted when there is no possibility that excessive heat is transmitted to the sensor portion 3. For example, in this embodiment, although the heat insulation part 5 and the base 41 of the pressurization part 4 are comprised by another member, as shown in FIG. 5 and FIG. It may serve as part (bottom part) or may serve as all. That is, the sensor unit 3 may be arranged on the upper surface of the heat insulating unit 5. Thereby, the number of parts can be reduced and the electronic component holding part 1 can be reduced in size.

(ブロック)
図3に示すように、電子部品保持部1は、断熱部5とヒーター6との間に配置されているブロック8を有している。また、ブロック8には、その下面中央部と側面とに開放する真空案内路81が形成されている。そして、真空案内路81には連結ポート82が取り付けられている。さらに、連結ポート82は、図示しない気体吸引部および気体供給部に接続されている。
(block)
As shown in FIG. 3, the electronic component holding unit 1 includes a block 8 disposed between the heat insulating unit 5 and the heater 6. Further, the block 8 is formed with a vacuum guide path 81 that opens to the center and the side surface of the lower surface. A connection port 82 is attached to the vacuum guide path 81. Furthermore, the connection port 82 is connected to a gas suction unit and a gas supply unit (not shown).

このようなブロック8の構成材料としては、特に限定されず、例えば、鉄、ニッケル、コバルト、金、白金、銀、銅、アルミニウム、マグネシウム、チタン、タングステン等の各種金属、またはこれらのうちの少なくとも1種を含む合金または金属間化合物、さらには、これらの金属の酸化物、窒化物、炭化物等が挙げられる。   The constituent material of such a block 8 is not particularly limited, for example, various metals such as iron, nickel, cobalt, gold, platinum, silver, copper, aluminum, magnesium, titanium, tungsten, or at least of these An alloy or intermetallic compound containing one kind, and oxides, nitrides, carbides, and the like of these metals can be given.

(コンタクトプッシャー)
図3に示すように、電子部品保持部1は、ヒーター6の下側に配置されているコンタクトプッシャー7を有している。コンタクトプッシャー7は、電子部品Qと接触し、電子部品Qを上流側ステージ1210や検査部1900に向けて押圧する部分である。このようなコンタクトプッシャー7は、硬質で高い熱伝導率を有している。コンタクトプッシャー7の構成材料としては、特に限定されず、例えば、鉄、ニッケル、コバルト、金、白金、銀、銅、アルミニウム、マグネシウム、チタン、タングステン等の各種金属、またはこれらのうちの少なくとも1種を含む合金または金属間化合物、さらには、これらの金属の酸化物、窒化物、炭化物等が挙げられる。
(Contact pusher)
As shown in FIG. 3, the electronic component holding unit 1 has a contact pusher 7 disposed below the heater 6. The contact pusher 7 is a portion that contacts the electronic component Q and presses the electronic component Q toward the upstream stage 1210 and the inspection unit 1900. Such a contact pusher 7 is hard and has high thermal conductivity. The constituent material of the contact pusher 7 is not particularly limited. For example, various metals such as iron, nickel, cobalt, gold, platinum, silver, copper, aluminum, magnesium, titanium, and tungsten, or at least one of them. An alloy or an intermetallic compound containing, as well as oxides, nitrides, carbides, and the like of these metals.

以上、コンタクトプッシャー7について説明した。なお、コンタクトプッシャー7の構成としては、電子部品Qを押圧することができれば、特に限定されない。   The contact pusher 7 has been described above. The configuration of the contact pusher 7 is not particularly limited as long as the electronic component Q can be pressed.

また、ヒーターブロック61およびコンタクトプッシャー7の中央部には、これらを貫き、真空案内路81に繋がる収容孔が形成され、収容孔には吸引管91が配設されている。また、吸引管91の先端部には、吸着パッド92(吸着孔)が設けられている。そのため、連結ポート82から気体吸引部でエアーを吸引し、吸引管91内を負圧状態にすることにより、吸着パッド92で電子部品Qを吸着保持できる。反対に、連結ポート82から気体供給部でエアーを供給し、吸引管91内の負圧状態を解除することにより、吸着パッド92で吸着保持している電子部品Qを放すことができる。   In addition, a housing hole is formed in the central portion of the heater block 61 and the contact pusher 7 so as to pass through them and connect to the vacuum guide path 81, and a suction pipe 91 is disposed in the housing hole. A suction pad 92 (suction hole) is provided at the tip of the suction pipe 91. For this reason, the electronic component Q can be sucked and held by the suction pad 92 by sucking air from the connection port 82 with the gas suction portion and bringing the suction pipe 91 into a negative pressure state. On the contrary, by supplying air from the connection port 82 with the gas supply unit and releasing the negative pressure state in the suction pipe 91, the electronic component Q sucked and held by the suction pad 92 can be released.

<第2実施形態>
図7は、本発明の第2実施形態に係る押圧装置(電子部品保持部)を示す断面図である。図8は、図7に示す押圧装置(電子部品保持部)の変形例を示す断面図である。
Second Embodiment
FIG. 7 is a cross-sectional view showing a pressing device (electronic component holding unit) according to a second embodiment of the present invention. FIG. 8 is a cross-sectional view showing a modification of the pressing device (electronic component holding unit) shown in FIG.

本実施形態に係る電子部品保持部1は、主に、与圧部の構成が異なること以外は、前述した第1実施形態の電子部品保持部1と同様である。   The electronic component holding unit 1 according to the present embodiment is mainly the same as the electronic component holding unit 1 of the first embodiment described above except that the configuration of the pressurizing unit is different.

なお、以下の説明では、第2実施形態の電子部品保持部1に関し、前述した第1実施形態との相違点を中心に説明し、同様の事項に関してはその説明を省略する。   In the following description, the electronic component holding unit 1 according to the second embodiment will be described with a focus on differences from the first embodiment described above, and description of similar matters will be omitted.

図7に示すように、本実施形態の与圧部4は、リッド42からセンサー部3に向けて突出する押圧部44を有している。そして、この押圧部44によってセンサー部3が押圧されている。このような構成によれば、押圧部44が局所的に(前述した第1実施形態と比較して狭い領域で)センサー部3を押圧するため、与圧や力Fを効率的にセンサー部3に伝えることができる。   As shown in FIG. 7, the pressurizing part 4 of the present embodiment has a pressing part 44 that protrudes from the lid 42 toward the sensor part 3. The sensor unit 3 is pressed by the pressing unit 44. According to such a configuration, the pressing unit 44 locally presses the sensor unit 3 (in a narrow region as compared with the first embodiment described above), so that the pressure and force F are efficiently applied to the sensor unit 3. Can tell.

また、押圧部44は、湾曲面で構成されたドーム状の先端部を有し、この先端部がセンサー部3に接触している。このように、センサー部3との接触部を湾曲形状とすることで、押圧部44との接触によるセンサー部3の損傷を抑制することができる。ただし、押圧部44の形状としては、特に限定されない。また、押圧部44は、複数個あってもよい。例えば、X軸方向およびY軸方向の少なくとも1方向に複数個並んで配置されていてもよい。   Further, the pressing portion 44 has a dome-shaped tip portion formed of a curved surface, and the tip portion is in contact with the sensor unit 3. Thus, by making the contact portion with the sensor portion 3 into a curved shape, damage to the sensor portion 3 due to contact with the pressing portion 44 can be suppressed. However, the shape of the pressing portion 44 is not particularly limited. Further, there may be a plurality of pressing portions 44. For example, a plurality may be arranged side by side in at least one direction of the X-axis direction and the Y-axis direction.

なお、本実施形態では、押圧部44がリッド42と一体形成されているが、別体で形成されていてもよい。また、本実施形態では、押圧部44がセンサー部3(支持基板34)と接触しているが、例えば、図8に示すように、押圧部44とセンサー部3との間に保護板45を設け、押圧部44がセンサー部3に直接接触しない構成としてもよい。このように、保護板45を設けることで、押圧部44からセンサー部3を保護することができ、センサー部3の損傷等を効果的に抑制することができる。なお、保護板45は、硬質で高い剛性を有するのが好ましい。このような保護板45の構成材料としては、特に限定されず、例えば、鉄、ニッケル、コバルト、アルミニウム、マグネシウム、チタン、タングステン等の各種金属、またはこれらのうちの少なくとも1種を含む合金または金属間化合物、さらには、これらの金属の酸化物、窒化物、炭化物等が挙げられる。   In the present embodiment, the pressing portion 44 is integrally formed with the lid 42, but may be formed separately. In the present embodiment, the pressing portion 44 is in contact with the sensor portion 3 (support substrate 34). For example, as shown in FIG. 8, a protective plate 45 is provided between the pressing portion 44 and the sensor portion 3. It is good also as a structure which the provision and the press part 44 do not contact the sensor part 3 directly. Thus, by providing the protective plate 45, the sensor part 3 can be protected from the press part 44, and damage etc. of the sensor part 3 can be suppressed effectively. The protective plate 45 is preferably hard and has high rigidity. The constituent material of the protective plate 45 is not particularly limited. For example, various metals such as iron, nickel, cobalt, aluminum, magnesium, titanium, and tungsten, or alloys or metals containing at least one of these metals. Intermetallic compounds, and oxides, nitrides, carbides and the like of these metals can be used.

このような第2実施形態によっても、前述した第1実施形態と同様の効果を発揮することができる。   Also according to the second embodiment, the same effects as those of the first embodiment described above can be exhibited.

<第3実施形態>
図9は、本発明の第3実施形態に係る押圧装置(電子部品保持部)を示す断面図である。図10は、センサー部の電極の配置を示す平面図である。
<Third Embodiment>
FIG. 9 is a cross-sectional view showing a pressing device (electronic component holding unit) according to a third embodiment of the present invention. FIG. 10 is a plan view showing the arrangement of the electrodes of the sensor unit.

本実施形態に係る電子部品保持部1は、主に、センサー部の構成が異なること以外は、前述した第1実施形態の電子部品保持部1と同様である。   The electronic component holding unit 1 according to the present embodiment is mainly the same as the electronic component holding unit 1 of the first embodiment described above except that the configuration of the sensor unit is different.

なお、以下の説明では、第3実施形態の電子部品保持部1に関し、前述した第1実施形態との相違点を中心に説明し、同様の事項に関してはその説明を省略する。   In the following description, the electronic component holding unit 1 according to the third embodiment will be described with a focus on differences from the first embodiment described above, and description of similar matters will be omitted.

図9に示すように、本実施形態のセンサー部3は、感圧部31と、感圧部31の下面側に位置する一対の電極32、33と、電極32、33を支持する支持基板35と、を有している。すなわち、電極32、33は、感圧部31に対して互いに同じ側に位置している。このような構成とすることで、例えば、前述した第1実施形態と比較して、センサー部3を薄型化することがでる。なお、本実施形態では、電極32、33が、感圧部31の下面側に位置しているが、感圧部31の上面側に位置していてもよい。   As shown in FIG. 9, the sensor unit 3 of the present embodiment includes a pressure-sensitive part 31, a pair of electrodes 32 and 33 positioned on the lower surface side of the pressure-sensitive part 31, and a support substrate 35 that supports the electrodes 32 and 33. And have. That is, the electrodes 32 and 33 are located on the same side with respect to the pressure-sensitive part 31. By adopting such a configuration, for example, the sensor unit 3 can be made thinner than the first embodiment described above. In the present embodiment, the electrodes 32 and 33 are located on the lower surface side of the pressure-sensitive portion 31, but may be located on the upper surface side of the pressure-sensitive portion 31.

図10に示すように、電極32、33は、それぞれ、櫛歯状をなしており、互いに噛み合うようにして配置されている。すなわち、電極32の電極指321と電極33の電極指331とが交互に並ぶように、電極32、33が配置されている。これにより、電極32、33を共に感圧部31の全域に広げて配置することができるため、センサー部3は、力Fをより確実に検出することができる。   As shown in FIG. 10, the electrodes 32 and 33 each have a comb shape and are arranged so as to mesh with each other. That is, the electrodes 32 and 33 are arranged so that the electrode fingers 321 of the electrode 32 and the electrode fingers 331 of the electrode 33 are alternately arranged. Thereby, since both the electrodes 32 and 33 can be extended and arrange | positioned to the whole region of the pressure sensitive part 31, the sensor part 3 can detect force F more reliably.

このような第3実施形態によっても、前述した第1実施形態と同様の効果を発揮することができる。   Also according to the third embodiment, the same effects as those of the first embodiment described above can be exhibited.

<第4実施形態>
図11は、本発明の第4実施形態に係る押圧装置(電子部品保持部)を示す断面図である。
<Fourth embodiment>
FIG. 11: is sectional drawing which shows the press apparatus (electronic component holding part) which concerns on 4th Embodiment of this invention.

本実施形態に係る電子部品保持部は、主に、センサー部および与圧部の配置が異なること以外は、前述した第1実施形態の電子部品保持部と同様である。   The electronic component holding unit according to the present embodiment is mainly the same as the electronic component holding unit of the first embodiment described above except that the arrangement of the sensor unit and the pressurizing unit is different.

なお、以下の説明では、第4実施形態の電子部品保持部に関し、前述した第1実施形態との相違点を中心に説明し、同様の事項に関してはその説明を省略する。   In the following description, the electronic component holding unit of the fourth embodiment will be described with a focus on the differences from the first embodiment described above, and description of similar matters will be omitted.

図11に示すように、本実施形態のヒーター6は、センサー部3に対して、コンタクトプッシャー7とは反対側に位置している。言い換えると、ヒーター6とコンタクトプッシャー7との間にセンサー部3が位置している。このような構成によれば、例えば、前述した第1実施形態と比較して、センサー部3とコンタクトプッシャー7との距離が近くなり、力Fをセンサー部3でより精度よく検出することができる。なお、このような配置では、ヒーター6の熱がセンサー部3に伝わってしまうが、前述したように、センサー部3は、温度変化による検出信号の変動(ドリフト)がほとんど発生しない。したがって、本実施形態のセンサー部3は、前述した第1実施形態と同様に、優れた検出特性を発揮することができる。すなわち、熱の影響を受け難い構成のセンサー部3であるため、本実施形態のような配置とすることができるとも言える。   As shown in FIG. 11, the heater 6 of the present embodiment is located on the side opposite to the contact pusher 7 with respect to the sensor unit 3. In other words, the sensor unit 3 is located between the heater 6 and the contact pusher 7. According to such a configuration, for example, the distance between the sensor unit 3 and the contact pusher 7 is shorter than in the first embodiment described above, and the force F can be detected more accurately by the sensor unit 3. . In such an arrangement, the heat of the heater 6 is transmitted to the sensor unit 3, but as described above, the sensor unit 3 hardly generates a fluctuation (drift) of a detection signal due to a temperature change. Therefore, the sensor unit 3 of the present embodiment can exhibit excellent detection characteristics as in the first embodiment described above. That is, since it is the sensor part 3 of a structure which is hard to receive to the influence of heat, it can be said that it can be set as this embodiment.

また、本実施形態では、センサー部3および与圧部4を貫通するように、吸引管91および吸着パッド92が設けられている。ただし、図11と異なり、吸引管91および吸着パッド92がセンサー部3および与圧部4を迂回するような構成とすることもできる。   In the present embodiment, a suction tube 91 and a suction pad 92 are provided so as to penetrate the sensor unit 3 and the pressurizing unit 4. However, unlike FIG. 11, the suction pipe 91 and the suction pad 92 may be configured to bypass the sensor unit 3 and the pressurizing unit 4.

このような第4実施形態によっても、前述した第1実施形態と同様の効果を発揮することができる。   According to the fourth embodiment, the same effect as that of the first embodiment described above can be exhibited.

<第5実施形態>
図12は、本発明の第5実施形態に係るロボットを示す斜視図である。
<Fifth Embodiment>
FIG. 12 is a perspective view showing a robot according to the fifth embodiment of the present invention.

図12に示すロボット2000は、精密機器やこれを構成する部品(対象物)の給材、除材、搬送および組立等の作業を行うことができる。このようなロボット2000は、ロボット本体2100と、ロボット本体2100に接続可能な電子部品保持部1とを有している。   A robot 2000 shown in FIG. 12 can perform operations such as feeding, removing, transporting and assembling precision instruments and parts (objects) constituting the precision instruments. Such a robot 2000 includes a robot main body 2100 and an electronic component holding unit 1 that can be connected to the robot main body 2100.

また、ロボット本体2100は、床や天井に固定されているベース2200と、ベース2200に対して回動可能に接続されているアーム2300と、アーム2300の駆動を制御するロボット制御部2400とを有している。また、アーム2300は、ベース2200に回動自在に連結された第1アーム2310と、第1アーム2310に回動自在に連結された第2アーム2320と、第2アーム2320に回動自在に連結された第3アーム2330と、第3アーム2330に回動自在に連結された第4アーム2340と、第4アーム2340に回動自在に連結された第5アーム2350と、第5アーム2350に回動自在に連結された第6アーム2360と、を有している。そして、第6アーム2360に押圧装置としての電子部品保持部1が接続されている。なお、この電子部品保持部1としては、前述した第1、第2、第3および第4実施形態のいずれの電子部品保持部1を用いることができ、また、本発明のその他の構成のものを用いることもできる。   The robot body 2100 also includes a base 2200 fixed to the floor or ceiling, an arm 2300 that is rotatably connected to the base 2200, and a robot control unit 2400 that controls driving of the arm 2300. ing. In addition, the arm 2300 is rotatably connected to the first arm 2310 that is rotatably connected to the base 2200, a second arm 2320 that is rotatably connected to the first arm 2310, and the second arm 2320. The third arm 2330, the fourth arm 2340 rotatably connected to the third arm 2330, the fifth arm 2350 rotatably connected to the fourth arm 2340, and the fifth arm 2350. And a sixth arm 2360 that is movably connected. And the electronic component holding part 1 as a pressing device is connected to the sixth arm 2360. As the electronic component holding unit 1, any of the electronic component holding units 1 of the first, second, third, and fourth embodiments described above can be used, and the other components of the present invention are used. Can also be used.

このようなロボット2000は、押圧装置としての電子部品保持部1を有している。そのため、前述した電子部品保持部1の効果を享受でき、信頼性の高いロボット2000となる。   Such a robot 2000 has the electronic component holding part 1 as a pressing device. Therefore, the effect of the electronic component holding unit 1 described above can be enjoyed and the robot 2000 is highly reliable.

<第6実施形態>
図13は、本発明の第6実施形態に係るロボットを示す側面図である。
<Sixth Embodiment>
FIG. 13 is a side view showing a robot according to the sixth embodiment of the present invention.

図13に示すロボット3000は、水平多関節ロボット(スカラロボット)である。このようなロボット3000は、ロボット本体3100と、ロボット本体3100に接続可能な電子部品保持部1と、を有している。なお、電子部品保持部1については、前述した通りである。   A robot 3000 shown in FIG. 13 is a horizontal articulated robot (scalar robot). Such a robot 3000 has a robot main body 3100 and an electronic component holding unit 1 that can be connected to the robot main body 3100. The electronic component holding unit 1 is as described above.

また、ロボット本体3100は、床や天井に固定されている基台3200と、基台3200に対して回動可能に接続されているアーム3300と、を有している。また、アーム3300は、基台3200に回動自在に連結された第1アーム3310と、第1アーム3310に回動自在に連結された第2アーム3320と、第2アーム3320に設けられた作業ヘッド3330と、を有している。   The robot body 3100 includes a base 3200 fixed to the floor or ceiling, and an arm 3300 that is rotatably connected to the base 3200. The arm 3300 includes a first arm 3310 that is rotatably connected to the base 3200, a second arm 3320 that is rotatably connected to the first arm 3310, and a work provided to the second arm 3320. A head 3330.

作業ヘッド3330は、第2アーム3320の先端部に配置されている。また、作業ヘッド3330は、同軸的に配置されたスプラインナット3331およびボールネジナット3332と、スプラインナット3331およびボールネジナット3332に挿通されたスプラインシャフト3333とを有している。スプラインシャフト3333は、第2アーム3320に対して、その軸まわりに回転可能であり、かつ、上下方向に昇降可能となっている。そして、このようなスプラインシャフト3333の先端部(下端部)に押圧装置としての電子部品保持部1が取り付けられている。   The work head 3330 is disposed at the tip of the second arm 3320. The working head 3330 includes a spline nut 3331 and a ball screw nut 3332 that are coaxially arranged, and a spline shaft 3333 inserted through the spline nut 3331 and the ball screw nut 3332. The spline shaft 3333 can rotate around its axis with respect to the second arm 3320 and can move up and down in the vertical direction. And the electronic component holding part 1 as a pressing device is attached to the front-end | tip part (lower end part) of such a spline shaft 3333. FIG.

このようなロボット3000は、押圧装置としての電子部品保持部1を有している。そのため、前述した電子部品保持部1の効果を享受でき、信頼性の高いロボット3000となる。   Such a robot 3000 has an electronic component holding unit 1 as a pressing device. Therefore, the effect of the electronic component holding unit 1 described above can be enjoyed and the robot 3000 is highly reliable.

以上、本発明の押圧装置、電子部品搬送装置、電子部品検査装置およびロボットについて、図示の実施形態に基づいて説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、各部の構成は、同様の機能を有する任意の構成のものに置換することができる。また、本発明に、他の任意の構成物が付加されていてもよい。また、各実施形態を適宜組み合わせてもよい。   As described above, the pressing device, the electronic component conveying device, the electronic component inspection device, and the robot of the present invention have been described based on the illustrated embodiment, but the present invention is not limited to this, and the configuration of each part is the same. It can be replaced with any configuration having the above function. In addition, any other component may be added to the present invention. Moreover, you may combine each embodiment suitably.

また、前述した実施形態では、押圧装置としての電子部品保持部が、移動機構(エアシリンダー)と、センサー部と、与圧部と、断熱部と、加熱部(ヒーター)と、押圧部(コンタクトプッシャー)とを有する構成について説明したが、電子部品保持部の構成としては、センサー部(感圧部)および押圧部を有していれば良く、その他の構成については任意であり、特に限定されない。そのため、例えば、移動機構(エアシリンダー)、与圧部、断熱部、加熱部(ヒーター)のうちの少なくとも1つを省略してもよいし、これら以外の要素を有していてもよい。   Moreover, in embodiment mentioned above, the electronic component holding | maintenance part as a press apparatus has a moving mechanism (air cylinder), a sensor part, a pressurization part, a heat insulation part, a heating part (heater), and a press part (contact). However, the configuration of the electronic component holding unit is not particularly limited as long as it has a sensor unit (pressure-sensitive unit) and a pressing unit. . Therefore, for example, at least one of the moving mechanism (air cylinder), the pressurizing unit, the heat insulating unit, and the heating unit (heater) may be omitted, or other elements may be included.

また、前述した実施形態では、電子部品搬送装置を電子部品検査装置に適用した場合について説明したが、電子部品搬送装置は、電子部品検査装置に適用されなくてもよく、他の装置に適用されてもよい。この場合、対象物としては、電子部品(すなわち、検査が必要なもの)に限定されない。   In the embodiment described above, the case where the electronic component transport apparatus is applied to the electronic component inspection apparatus has been described. However, the electronic component transport apparatus may not be applied to the electronic component inspection apparatus, and may be applied to other apparatuses. May be. In this case, the object is not limited to an electronic component (that is, an object that requires inspection).

1…電子部品保持部、2…エアシリンダー、21…シリンダチューブ、211…チューブ本体、212…フロントプレート、22…ピストン、221…ピストン本体、222…連結ブロック、23…エアー導入口、24…連結ポート、3…センサー部、31…感圧部、311…樹脂、312…カーボンナノチューブ、32、33…電極、321、331…電極指、34、35…支持基板、4…与圧部、41…ベース、411…凹部、42…リッド、43…付勢部、44…押圧部、45…保護板、5…断熱部、6…ヒーター、61…ヒーターブロック、62…ヒーター素子、63…温度センサー、7…コンタクトプッシャー、8…ブロック、81…真空案内路、82…連結ポート、91…吸引管、92…吸着パッド、1000…電子部品検査装置、1100…電子部品搬送装置、1200…基台、1210…上流側ステージ、1220…下流側ステージ、1300…支持台、1310…Yステージ、1320…Xステージ、1330…Zステージ、1331…微調整プレート、1332…回動部、1333x…駆動源、1333y…駆動源、1333θ…駆動源、1900…検査部、2000…ロボット、2100…ロボット本体、2200…ベース、2300…アーム、2310…第1アーム、2320…第2アーム、2330…第3アーム、2340…第4アーム、2350…第5アーム、2360…第6アーム、2400…ロボット制御部、3000…ロボット、3100…ロボット本体、3200…基台、3300…アーム、3310…第1アーム、3320…第2アーム、3330…作業ヘッド、3331…スプラインナット、3332…ボールネジナット、3333…スプラインシャフト、D1…第1室、D2…第2室、F…力、Q…電子部品、SP…スプリング   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Electronic component holding part, 2 ... Air cylinder, 21 ... Cylinder tube, 211 ... Tube main body, 212 ... Front plate, 22 ... Piston, 221 ... Piston main body, 222 ... Connection block, 23 ... Air introduction port, 24 ... Connection Port 3, sensor unit 31, pressure sensing unit, 311, resin, 312, carbon nanotube, 32, 33, electrode, 321, 331, electrode finger, 34, 35, support substrate, 4, pressure unit, 41, Base, 411 ... recess, 42 ... lid, 43 ... urging part, 44 ... pressing part, 45 ... protective plate, 5 ... heat insulating part, 6 ... heater, 61 ... heater block, 62 ... heater element, 63 ... temperature sensor, 7 ... Contact pusher, 8 ... Block, 81 ... Vacuum guideway, 82 ... Connection port, 91 ... Suction tube, 92 ... Suction pad, 1000 ... Electronic component inspection device DESCRIPTION OF SYMBOLS 1100 ... Electronic component conveying apparatus, 1200 ... Base, 1210 ... Upstream stage, 1220 ... Downstream stage, 1300 ... Supporting base, 1310 ... Y stage, 1320 ... X stage, 1330 ... Z stage, 1331 ... Fine adjustment plate , 1332: Rotating unit, 1333x: Driving source, 1333y: Driving source, 1333θ: Driving source, 1900 ... Inspection unit, 2000 ... Robot, 2100 ... Robot body, 2200 ... Base, 2300 ... Arm, 2310 ... First arm, 2320 ... 2nd arm, 2330 ... 3rd arm, 2340 ... 4th arm, 2350 ... 5th arm, 2360 ... 6th arm, 2400 ... Robot controller, 3000 ... Robot, 3100 ... Robot body, 3200 ... Base, 3300 ... Arm, 3310 ... First arm, 3320 ... Second arm, 3 330 ... Working head, 3331 ... Spline nut, 3332 ... Ball screw nut, 3333 ... Spline shaft, D1 ... First chamber, D2 ... Second chamber, F ... Force, Q ... Electronic component, SP ... Spring

Claims (15)

対象物を押圧する押圧部と、
前記押圧部により前記対象物に加わる押圧力を検出するセンサー部と、を有し、
前記センサー部は、樹脂およびカーボンナノチューブを含む感圧部を有していることを特徴とする押圧装置。
A pressing unit that presses the object;
A sensor unit for detecting a pressing force applied to the object by the pressing unit,
The pressing device, wherein the sensor unit includes a pressure-sensitive unit including a resin and a carbon nanotube.
前記押圧部を移動させる移動機構を有している請求項1に記載の押圧装置。   The pressing device according to claim 1, further comprising a moving mechanism that moves the pressing portion. 前記センサー部は、前記押圧部に対して、前記対象物とは反対側に位置している請求項1または2に記載の押圧装置。   3. The pressing device according to claim 1, wherein the sensor unit is located on a side opposite to the object with respect to the pressing unit. 前記押圧部に対して、前記対象物とは反対側に位置し、前記押圧部を加熱する加熱部を有している請求項1ないし3のいずれか1項に記載の押圧装置。   The pressing device according to any one of claims 1 to 3, further comprising a heating unit that is located on a side opposite to the object with respect to the pressing unit and that heats the pressing unit. 前記加熱部は、前記センサー部よりも前記押圧部寄りに位置している請求項4に記載の押圧装置。   The pressing device according to claim 4, wherein the heating unit is located closer to the pressing unit than the sensor unit. 前記センサー部と前記加熱部との間に配置されている断熱部を有している請求項5に記載の押圧装置。   The pressing device according to claim 5, further comprising a heat insulating portion disposed between the sensor unit and the heating unit. 前記加熱部は、前記センサー部に対して、前記押圧部とは反対側に位置している請求項4に記載の押圧装置。   The pressing device according to claim 4, wherein the heating unit is located on a side opposite to the pressing unit with respect to the sensor unit. 前記樹脂は、熱可塑性樹脂を含んでいる請求項1ないし7のいずれか1項に記載の押圧装置。   The pressing device according to claim 1, wherein the resin includes a thermoplastic resin. 前記樹脂は、ポリカーボネートを含んでいる請求項8に記載の押圧装置。   The pressing device according to claim 8, wherein the resin includes polycarbonate. 前記樹脂は、熱硬化性樹脂を含んでいる請求項1ないし9のいずれか1項に記載の押圧装置。   The pressing device according to any one of claims 1 to 9, wherein the resin includes a thermosetting resin. 前記センサー部は、一対の電極を有し、
前記一対の電極は、前記感圧部に対して互いに反対側に位置している請求項1ないし10のいずれか1項に記載の押圧装置。
The sensor unit has a pair of electrodes,
The pressing device according to any one of claims 1 to 10, wherein the pair of electrodes are located on opposite sides of the pressure-sensitive portion.
前記押圧部が前記対象物を押圧していない状態で、前記センサー部を与圧する与圧部を有している請求項1ないし11のいずれか1項に記載の押圧装置。   The pressing device according to any one of claims 1 to 11, further comprising a pressurizing unit that pressurizes the sensor unit in a state where the pressing unit is not pressing the object. 請求項1ないし12のいずれか1項に記載の押圧装置を有していることを特徴とする電子部品搬送装置。   An electronic component conveying apparatus comprising the pressing device according to claim 1. 請求項13に記載の電子部品搬送装置と、
検査部と、を有していることを特徴とする電子部品検査装置。
An electronic component conveying device according to claim 13,
An electronic component inspection apparatus comprising: an inspection unit.
請求項1ないし12のいずれか1項に記載の押圧装置を有していることを特徴とするロボット。   A robot comprising the pressing device according to claim 1.
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