JP2018066944A - Method for manufacturing display - Google Patents

Method for manufacturing display Download PDF

Info

Publication number
JP2018066944A
JP2018066944A JP2016207145A JP2016207145A JP2018066944A JP 2018066944 A JP2018066944 A JP 2018066944A JP 2016207145 A JP2016207145 A JP 2016207145A JP 2016207145 A JP2016207145 A JP 2016207145A JP 2018066944 A JP2018066944 A JP 2018066944A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
substrate
display device
manufacturing
display
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016207145A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP6910127B2 (en
JP2018066944A5 (en
Inventor
山崎 舜平
Shunpei Yamazaki
舜平 山崎
浩平 横山
Kohei Yokoyama
浩平 横山
安弘 神保
Yasuhiro Jinbo
安弘 神保
広樹 安達
Hiroki Adachi
広樹 安達
平形 吉晴
Yoshiharu Hirakata
吉晴 平形
清治 保本
Seiji Yasumoto
清治 保本
佳代 熊倉
Kayo Kumakura
佳代 熊倉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Original Assignee
Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd filed Critical Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Priority to JP2016207145A priority Critical patent/JP6910127B2/en
Publication of JP2018066944A publication Critical patent/JP2018066944A/en
Publication of JP2018066944A5 publication Critical patent/JP2018066944A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6910127B2 publication Critical patent/JP6910127B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a display that exhibits high visibility irrespective of an ambient brightness.SOLUTION: A display including a first display device having a first liquid crystal layer and a second display device having a second liquid crystal layer between a first substrate and a second substrate is manufactured. The second display device is formed by forming a first common electrode on the first substrate, forming a second common electrode on the second substrate, forming a first layer on a manufacture substrate, forming a second layer on the first layer, forming a first pixel electrode on the second layer, forming an insulating layer on the first pixel electrode, forming a second pixel electrode on the insulating layer, and laminating the manufacture substrate and second substrate while the second liquid crystal layer is arranged between the second common electrode and second pixel electrode; the first display device is formed by separating the first layer and second layer by irradiating the layers with light, and laminating the first substrate and second substrate while the first liquid crystal layer is arranged between the first common electrode and first pixel electrode.SELECTED DRAWING: Figure 3

Description

本発明の一態様は、表示装置の作製方法に関する。 One embodiment of the present invention relates to a method for manufacturing a display device.

なお、本発明の一態様は、上記の技術分野に限定されない。本発明の一態様の技術分野としては、半導体装置、表示装置、発光装置、電子機器、照明装置、それらの駆動方法、またはそれらの製造方法を一例として挙げることができる。 Note that one embodiment of the present invention is not limited to the above technical field. As a technical field of one embodiment of the present invention, a semiconductor device, a display device, a light-emitting device, an electronic device, a lighting device, a driving method thereof, or a manufacturing method thereof can be given as an example.

なお、本明細書等において、半導体装置とは、半導体特性を利用することで機能しうる装置全般を指す。トランジスタ、半導体回路、表示装置、発光装置、演算装置、記憶装置等は半導体装置の一態様である。また、撮像装置、電気光学装置、発電装置(薄膜太陽電池、有機薄膜太陽電池等を含む)、及び電子機器は半導体装置を有している場合がある。 Note that in this specification and the like, a semiconductor device refers to any device that can function by utilizing semiconductor characteristics. A transistor, a semiconductor circuit, a display device, a light-emitting device, an arithmetic device, a memory device, or the like is one embodiment of a semiconductor device. In addition, an imaging device, an electro-optical device, a power generation device (including a thin film solar cell, an organic thin film solar cell, and the like) and an electronic device may include a semiconductor device.

パーソナルコンピュータ(PC)、ノートPC、電子ブック、タブレット、スマートフォン等のモバイル機器に代表される電子機器が普及している。モバイル機器は、屋外環境や室内環境など利用する環境の明るさに適した表示をすることが求められている。 Electronic devices typified by mobile devices such as personal computers (PCs), notebook PCs, electronic books, tablets, and smartphones are widespread. Mobile devices are required to display suitable for the brightness of the environment used such as the outdoor environment and indoor environment.

電子機器が有する表示装置として、反射型液晶表示装置と、透過型液晶表示装置とを組み合わせた表示装置が提案されている。例えば、反射型液晶表示装置の利点を生かし、かつ、周囲照明光が弱い環境下での使用を可能にする液晶表示装置として、入射光の一部を透過し、残りの入射光は反射させる、いわゆる半透過性の反射膜を用いた液晶表示装置が提案されている(特許文献1参照)。 As a display device included in an electronic apparatus, a display device in which a reflective liquid crystal display device and a transmissive liquid crystal display device are combined is proposed. For example, as a liquid crystal display device that takes advantage of the reflective liquid crystal display device and enables use in an environment where ambient illumination light is weak, a part of the incident light is transmitted and the remaining incident light is reflected. A liquid crystal display device using a so-called semi-transmissive reflective film has been proposed (see Patent Document 1).

特開2002−372710号公報JP 2002-372710 A

本発明の一態様は、低コストで量産性の高い表示装置の作製方法を提供することを課題の一つとする。本発明の一態様は、大判基板を用いて表示装置を作製することを課題の一つとする。本発明の一態様は、表示装置を低温で作製することを課題の一つとする。本発明の一態様は、新規な表示装置の作製方法を提供することを課題の一つとする。 An object of one embodiment of the present invention is to provide a method for manufacturing a display device with low cost and high productivity. An object of one embodiment of the present invention is to manufacture a display device using a large-sized substrate. An object of one embodiment of the present invention is to manufacture a display device at low temperature. An object of one embodiment of the present invention is to provide a novel method for manufacturing a display device.

本発明の一態様は、消費電力の低い表示装置を提供することを課題の一つとする。本発明の一態様は、周囲の明るさによらず、視認性の高い表示装置を提供することを課題の一つとする。本発明の一態様は、表示品位が良好な表示装置を提供することを課題の一つとする。本発明の一態様は、利便性の高い表示装置を提供することを課題の一つとする。本発明の一態様は、信頼性の高い表示装置を提供することを課題の一つとする。本発明の一態様は、表示装置の薄型化または軽量化を課題の一つとする。本発明の一態様は、可撓性を有する、または曲面を有する表示装置を提供することを課題の一つとする。本発明の一態様は、破損しにくい表示装置を提供することを課題の一つとする。本発明の一態様は、新規な表示装置または電子機器などを提供することを課題の一つとする。 An object of one embodiment of the present invention is to provide a display device with low power consumption. An object of one embodiment of the present invention is to provide a display device with high visibility regardless of ambient brightness. An object of one embodiment of the present invention is to provide a display device with favorable display quality. An object of one embodiment of the present invention is to provide a highly convenient display device. An object of one embodiment of the present invention is to provide a highly reliable display device. An object of one embodiment of the present invention is to reduce the thickness or weight of a display device. An object of one embodiment of the present invention is to provide a display device having flexibility or a curved surface. An object of one embodiment of the present invention is to provide a display device that is not easily damaged. An object of one embodiment of the present invention is to provide a novel display device, an electronic device, or the like.

なお、これらの課題の記載は、他の課題の存在を妨げるものではない。本発明の一態様は、必ずしも、これらの課題の全てを解決する必要はないものとする。明細書、図面、請求項の記載から、これら以外の課題を抽出することが可能である。 Note that the description of these problems does not disturb the existence of other problems. One embodiment of the present invention does not necessarily have to solve all of these problems. Issues other than these can be extracted from the description, drawings, and claims.

本発明の一態様は、第1の基板と第2の基板の間に、第1の液晶層を有する第1の表示素子と、第2の液晶層を有する第2の表示素子と、を有する表示装置の作製方法である。 One embodiment of the present invention includes a first display element having a first liquid crystal layer and a second display element having a second liquid crystal layer between a first substrate and a second substrate. This is a method for manufacturing a display device.

(1)本発明の一態様の表示装置の作製方法は、第1の基板上に第1の共通電極を形成する工程と、第2の基板上に第2の共通電極を形成する工程と、作製基板上に第1の層を形成する工程と、第1の層上に第2の層を形成する工程と、第2の層上に第1の画素電極を形成する工程と、第1の画素電極上に絶縁層を形成する工程と、絶縁層上に第2の画素電極を形成する工程と、第2の共通電極と第2の画素電極との間に第2の液晶層を配置した状態で、作製基板と第2の基板とを貼り合わせることで、第2の表示素子を形成する工程と、光を照射することで、第1の層と第2の層とを分離する工程と、第1の共通電極と第1の画素電極との間に第1の液晶層を配置した状態で、第1の基板と第2の基板とを貼り合わせることで、第1の表示素子を形成する工程と、を有する。第1の共通電極を形成する工程の前に、第1の基板上に機能層を形成する工程を有してもよい。機能層は、検知素子及び着色層のうち一方または双方を有するように形成される。 (1) A method for manufacturing a display device of one embodiment of the present invention includes a step of forming a first common electrode over a first substrate, a step of forming a second common electrode over a second substrate, A step of forming a first layer on a manufacturing substrate, a step of forming a second layer on the first layer, a step of forming a first pixel electrode on the second layer, A step of forming an insulating layer on the pixel electrode; a step of forming a second pixel electrode on the insulating layer; and a second liquid crystal layer disposed between the second common electrode and the second pixel electrode. In the state, the step of forming the second display element by bonding the manufacturing substrate and the second substrate, and the step of separating the first layer and the second layer by irradiating light In the state where the first liquid crystal layer is disposed between the first common electrode and the first pixel electrode, the first substrate and the second substrate are bonded to each other, so that the first display And a step of forming a child, a. A step of forming a functional layer on the first substrate may be included before the step of forming the first common electrode. The functional layer is formed so as to have one or both of the sensing element and the colored layer.

(2)本発明の一態様の表示装置の作製方法は、第1の作製基板上に第1の剥離層を形成する工程と、第1の剥離層上に第1の共通電極を形成する工程と、第2の基板上に第2の共通電極を形成する工程と、第2の作製基板上に第2の剥離層を形成する工程と、第2の剥離層上に第1の画素電極を形成する工程と、第1の画素電極上に絶縁層を形成する工程と、絶縁層上に第2の画素電極を形成する工程と、第2の共通電極と第2の画素電極との間に第2の液晶層を配置した状態で、第2の作製基板と第2の基板とを貼り合わせることで、第2の表示素子を形成する工程と、第2の剥離層を用いて、第2の作製基板と第2の基板とを分離する工程と、第1の共通電極と第1の画素電極との間に第1の液晶層を配置した状態で、第1の作製基板と第2の基板とを貼り合わせることで、第1の表示素子を形成する工程と、第1の剥離層を用いて、第1の作製基板と第2の基板とを分離する工程と、第1の基板と第2の基板との間に第1の表示素子を配置した状態で、第1の基板と第2の基板とを貼り合わせる工程と、を有する。第1の剥離層及び第2の剥離層のうち一方または双方は、第1の層と、第1の層上の第2の層を有するように形成される。第2の作製基板と第2の基板とを分離する工程、及び、第1の作製基板と第2の基板とを分離する工程のうち一方または双方では、光が照射されることで、第1の層と第2の層とが分離する。 (2) A method for manufacturing a display device of one embodiment of the present invention includes a step of forming a first release layer over a first manufacturing substrate and a step of forming a first common electrode over the first release layer. Forming a second common electrode over the second substrate, forming a second release layer over the second manufacturing substrate, and forming a first pixel electrode over the second release layer. Forming the insulating layer on the first pixel electrode, forming the second pixel electrode on the insulating layer, and between the second common electrode and the second pixel electrode. In the state where the second liquid crystal layer is disposed, the second manufacturing substrate and the second substrate are bonded to each other, and a second display element is formed, and the second separation layer is used to form the second display element. In the state in which the first liquid crystal layer is disposed between the first common electrode and the first pixel electrode, the step of separating the manufacturing substrate and the second substrate, and the first common electrode and the first pixel electrode The step of forming the first display element by bonding the second substrate, the step of separating the first manufacturing substrate and the second substrate using the first release layer, And a step of bonding the first substrate and the second substrate in a state where the first display element is disposed between the first substrate and the second substrate. One or both of the first release layer and the second release layer is formed to have a first layer and a second layer on the first layer. In one or both of the step of separating the second manufacturing substrate and the second substrate and the step of separating the first manufacturing substrate and the second substrate, light irradiation is performed, whereby the first And the second layer are separated.

上記(2)において、第1の共通電極を形成する工程の前に、第1の剥離層上に第1の機能層を形成する工程を有してもよい。第1の機能層は、検知素子及び着色層のうち一方または双方を有するように形成される。第1の基板は、第2の機能層が設けられている面を有してもよい。第1の基板と第2の基板とを貼り合わせる工程は、第1の基板と第2の基板との間に第2の機能層を配置した状態で行われる。第2の機能層は、光拡散層及び偏光板のうち一方または双方を有するように形成される。 In the above (2), a step of forming a first functional layer on the first release layer may be included before the step of forming the first common electrode. The first functional layer is formed to have one or both of the sensing element and the colored layer. The first substrate may have a surface on which the second functional layer is provided. The step of bonding the first substrate and the second substrate is performed in a state in which the second functional layer is disposed between the first substrate and the second substrate. The second functional layer is formed so as to have one or both of the light diffusion layer and the polarizing plate.

または、上記(2)において、第3の作製基板上に第3の剥離層を形成する工程と、第3の剥離層上に機能層を形成する工程と、を有し、さらに、第1の基板と第2の基板とを貼り合わせる工程の前に、第3の作製基板と第1の基板との間に第3の剥離層を配置した状態で、第3の作製基板と第1の基板とを貼り合わせる工程と、第3の剥離層を用いて、第3の作製基板と第1の基板とを分離する工程と、を有してもよい。第1の基板と第2の基板とを貼り合わせる工程は、第1の基板と第2の基板との間に機能層を配置した状態で行われる。機能層は、検知素子、光拡散層、及び偏光板のうち一つまたは複数を有するように形成される。 Alternatively, in the above (2), the method includes a step of forming a third release layer on the third manufacturing substrate, and a step of forming a functional layer on the third release layer. Before the step of bonding the substrate and the second substrate, the third manufacturing substrate and the first substrate with the third peeling layer disposed between the third manufacturing substrate and the first substrate. And a step of separating the third manufacturing substrate and the first substrate using the third peeling layer. The step of bonding the first substrate and the second substrate is performed in a state where the functional layer is disposed between the first substrate and the second substrate. The functional layer is formed so as to have one or a plurality of sensing elements, light diffusion layers, and polarizing plates.

上記(2)において、第1の基板に、厚さ0.1mm以上0.5mm未満のガラス基板を用いることが好ましい。または、上記(2)において、第1の基板に、厚さ1μm以上200μm以下の樹脂基板を用いることが好ましい。 In the above (2), it is preferable to use a glass substrate having a thickness of 0.1 mm or more and less than 0.5 mm as the first substrate. Alternatively, in the above (2), it is preferable to use a resin substrate having a thickness of 1 μm to 200 μm as the first substrate.

上記の各作製方法において、第1の画素電極は、可視光を反射する機能を有するように形成され、第2の画素電極、第1の共通電極、及び第2の共通電極は、それぞれ、可視光を透過する機能を有するように形成されることが好ましい。 In each of the above manufacturing methods, the first pixel electrode is formed to have a function of reflecting visible light, and the second pixel electrode, the first common electrode, and the second common electrode are each visible. It is preferably formed so as to have a function of transmitting light.

上記の各作製方法において、第1の基板の、第2の基板側の面とは逆側の面に、反射防止部材が設けられることが好ましい。反射防止部材は、凸部を有するように設けられてもよい。 In each of the above manufacturing methods, it is preferable that an antireflection member is provided on a surface of the first substrate opposite to the surface on the second substrate side. The antireflection member may be provided to have a convex portion.

上記の各作製方法において、液晶層は、二色性色素を有するように設けられることが好ましい。 In each of the above manufacturing methods, the liquid crystal layer is preferably provided so as to have a dichroic dye.

上記の各作製方法において、第2の表示素子を形成する工程の前に、絶縁層上に、チャネル形成領域に金属酸化物を有するトランジスタを形成する工程を有することが好ましい。 Each of the above manufacturing methods preferably includes a step of forming a transistor including a metal oxide in a channel formation region over the insulating layer before the step of forming the second display element.

上記の各作製方法において、第1の層と第2の層とを分離する工程の後に、第2の基板を含む積層体の露出面に残存する第2の層を除去する工程を有することが好ましい。第2の層を除去する工程では、アッシングが行われることが好ましい。 Each of the above manufacturing methods may include a step of removing the second layer remaining on the exposed surface of the stacked body including the second substrate after the step of separating the first layer and the second layer. preferable. Ashing is preferably performed in the step of removing the second layer.

上記の各作製方法において、第2の層は、厚さが0.1μm以上5μm以下の領域を有するように形成されることが好ましい。 In each of the above manufacturing methods, the second layer is preferably formed to have a region with a thickness of 0.1 μm to 5 μm.

上記の各作製方法において、光として、レーザ光を用い、レーザ光が、第1の層と第2の層との界面またはその近傍に照射されることにより、第1の層と第2の層とが分離することが好ましい。 In each of the above manufacturing methods, laser light is used as light, and the laser light is applied to the interface between the first layer and the second layer or the vicinity thereof, whereby the first layer and the second layer are irradiated. And are preferably separated.

上記の各作製方法において、第1の層は、チタン、モリブデン、アルミニウム、タングステン、シリコン、インジウム、亜鉛、ガリウム、タンタル、及び錫のうち一つまたは複数を有するように形成されることが好ましい。第1の層は、チタン及び酸化チタンのうち一方または双方を有するように形成されることが好ましい。第1の層は、チタンと酸化チタンとの積層構造を有するように形成されることが好ましい。 In each of the above manufacturing methods, the first layer is preferably formed to include one or more of titanium, molybdenum, aluminum, tungsten, silicon, indium, zinc, gallium, tantalum, and tin. The first layer is preferably formed so as to have one or both of titanium and titanium oxide. The first layer is preferably formed so as to have a laminated structure of titanium and titanium oxide.

上記の各作製方法において、第2の層は、構造式(100)で表される化合物の残基を有するように形成されることが好ましい。 In each of the above manufacturing methods, the second layer is preferably formed so as to have a residue of the compound represented by Structural Formula (100).

上記の各作製方法において、第2の層は、開口を有するように形成され、開口を覆うように、導電層が形成され、第1の層と第2の層とが分離することで、導電層が露出することが好ましい。 In each of the above manufacturing methods, the second layer is formed to have an opening, a conductive layer is formed so as to cover the opening, and the first layer and the second layer are separated, so that It is preferred that the layer is exposed.

上記の各作製方法において、光は、波長領域が180nm以上450nm以下を有するように照射されることが好ましい。光は、波長領域が308nmまたはその近傍を有するように照射されることが好ましい。光は、レーザ装置を用いて照射されることが好ましい。光は、線状レーザ装置を用いて照射されることが好ましい。光は、250mJ/cm以上360mJ/cm以下のエネルギー密度で照射されることが好ましい。 In each of the above manufacturing methods, light is preferably irradiated so that a wavelength region has a wavelength region of 180 nm to 450 nm. The light is preferably irradiated so that the wavelength region has 308 nm or its vicinity. The light is preferably irradiated using a laser device. The light is preferably irradiated using a linear laser device. The light is preferably irradiated at an energy density of 250 mJ / cm 2 or more and 360 mJ / cm 2 or less.

本発明の一態様により、低コストで量産性の高い表示装置の作製方法を提供できる。本発明の一態様により、大判基板を用いて表示装置を作製できる。本発明の一態様により、表示装置を低温で作製できる。本発明の一態様により、新規な表示装置の作製方法を提供できる。 According to one embodiment of the present invention, a method for manufacturing a display device with low cost and high productivity can be provided. According to one embodiment of the present invention, a display device can be manufactured using a large-sized substrate. According to one embodiment of the present invention, a display device can be manufactured at low temperature. According to one embodiment of the present invention, a method for manufacturing a novel display device can be provided.

本発明の一態様により、消費電力の低い表示装置を提供できる。本発明の一態様により、周囲の明るさによらず、視認性の高い表示装置を提供できる。本発明の一態様により、表示品位が良好な表示装置を提供できる。本発明の一態様により、利便性の高い表示装置を提供できる。本発明の一態様により、信頼性の高い表示装置を提供できる。本発明の一態様により、表示装置の薄型化または軽量化が可能である。本発明の一態様により、可撓性を有する、または曲面を有する表示装置を提供できる。本発明の一態様により、破損しにくい表示装置を提供できる。本発明の一態様により、新規な表示装置または電子機器などを提供できる。 According to one embodiment of the present invention, a display device with low power consumption can be provided. According to one embodiment of the present invention, a display device with high visibility can be provided regardless of ambient brightness. According to one embodiment of the present invention, a display device with favorable display quality can be provided. According to one embodiment of the present invention, a highly convenient display device can be provided. According to one embodiment of the present invention, a highly reliable display device can be provided. According to one embodiment of the present invention, a display device can be reduced in thickness or weight. According to one embodiment of the present invention, a display device having flexibility or a curved surface can be provided. According to one embodiment of the present invention, a display device that is not easily damaged can be provided. According to one embodiment of the present invention, a novel display device, an electronic device, or the like can be provided.

なお、これらの効果の記載は、他の効果の存在を妨げるものではない。本発明の一態様は、必ずしも、これらの効果の全てを有する必要はない。明細書、図面、請求項の記載から、これら以外の効果を抽出することが可能である。 Note that the description of these effects does not disturb the existence of other effects. One embodiment of the present invention need not necessarily have all of these effects. Effects other than these can be extracted from the description, drawings, and claims.

表示装置の一例を示す斜視図。The perspective view which shows an example of a display apparatus. 表示装置の一例を示す断面図。Sectional drawing which shows an example of a display apparatus. 表示装置の作製方法の一例を示すフロー図。FIG. 11 is a flowchart illustrating an example of a method for manufacturing a display device. 表示装置の作製方法の一例を示す断面図。FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an example of a method for manufacturing a display device. 表示装置の作製方法の一例を示す断面図。FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an example of a method for manufacturing a display device. 表示装置の作製方法の一例を示す断面図。FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an example of a method for manufacturing a display device. 表示装置の作製方法の一例を示す断面図。FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an example of a method for manufacturing a display device. 表示装置の作製方法の一例を示す断面図。FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an example of a method for manufacturing a display device. 表示装置の作製方法の一例を示す断面図。FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an example of a method for manufacturing a display device. 表示装置の作製方法の一例を示す断面図。FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an example of a method for manufacturing a display device. 表示装置の作製方法の一例を示す断面図。FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an example of a method for manufacturing a display device. 表示装置の一例を示す断面図。Sectional drawing which shows an example of a display apparatus. 表示装置の一例を示す断面図。Sectional drawing which shows an example of a display apparatus. 表示装置の一例を示す断面図。Sectional drawing which shows an example of a display apparatus. 表示装置の作製方法の一例を示すフロー図。FIG. 11 is a flowchart illustrating an example of a method for manufacturing a display device. 表示装置の作製方法の一例を示す断面図。FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an example of a method for manufacturing a display device. 表示装置の作製方法の一例を示す断面図。FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an example of a method for manufacturing a display device. 表示装置の作製方法の一例を示す断面図。FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an example of a method for manufacturing a display device. 表示装置の作製方法の一例を示す断面図。FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an example of a method for manufacturing a display device. 表示装置の一例を示す断面図。Sectional drawing which shows an example of a display apparatus. 表示装置の作製方法の一例を示すフロー図。FIG. 11 is a flowchart illustrating an example of a method for manufacturing a display device. 表示装置の作製方法の一例を示す断面図。FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an example of a method for manufacturing a display device. 表示装置の作製方法の一例を示す断面図。FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an example of a method for manufacturing a display device. 表示装置の作製方法の一例を示す断面図。FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an example of a method for manufacturing a display device. 表示装置の作製方法の一例を示す断面図。FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an example of a method for manufacturing a display device. 表示装置の作製方法の一例を示す断面図。FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an example of a method for manufacturing a display device. 表示装置の作製方法の一例を示す断面図。FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an example of a method for manufacturing a display device. 表示装置の作製方法の一例を示す断面図。FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an example of a method for manufacturing a display device. 表示装置の作製方法の一例を示す断面図。FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an example of a method for manufacturing a display device. 表示装置の一例を示す断面図。Sectional drawing which shows an example of a display apparatus. 表示装置の一例を示す断面図。Sectional drawing which shows an example of a display apparatus. 表示装置の作製方法の一例を示す断面図。FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an example of a method for manufacturing a display device. 表示装置の作製方法の一例を示す断面図。FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an example of a method for manufacturing a display device. 表示装置の作製方法の一例を示す断面図。FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an example of a method for manufacturing a display device. 表示装置の一例を示す断面図。Sectional drawing which shows an example of a display apparatus. 表示装置の一例を示す断面図。Sectional drawing which shows an example of a display apparatus. レーザ照射ユニットの一例を示す図。The figure which shows an example of a laser irradiation unit. 画素ユニットの一例を示す図。The figure which shows an example of a pixel unit. 画素ユニットの一例を示す図。The figure which shows an example of a pixel unit. 動作モードの一例を示す図。The figure which shows an example of an operation mode. 表示装置の一例及び画素の一例を示す図。FIG. 10 illustrates an example of a display device and an example of a pixel. 表示装置の画素回路の一例を示す回路図。FIG. 10 is a circuit diagram illustrating an example of a pixel circuit of a display device. 表示装置の画素回路の一例を示す回路図及び画素の一例を示す図。FIG. 6 is a circuit diagram illustrating an example of a pixel circuit of a display device, and a diagram illustrating an example of a pixel. タッチセンサのブロック図及びタイミングチャート図。The block diagram and timing chart figure of a touch sensor. 表示装置のブロック図及びタイミングチャート図。The block diagram and timing chart figure of a display apparatus. 表示装置及びタッチセンサの動作を説明する図。FIG. 6 illustrates operations of a display device and a touch sensor. 表示装置及びタッチセンサの動作を説明する図。FIG. 6 illustrates operations of a display device and a touch sensor. 電子機器の一例を示す図。FIG. 14 illustrates an example of an electronic device. 電子機器の一例を示す図。FIG. 14 illustrates an example of an electronic device.

実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。但し、本発明は以下の説明に限定されず、本発明の趣旨及びその範囲から逸脱することなくその形態及び詳細を様々に変更し得ることは当業者であれば容易に理解される。従って、本発明は以下に示す実施の形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。 Embodiments will be described in detail with reference to the drawings. However, the present invention is not limited to the following description, and it is easily understood by those skilled in the art that modes and details can be variously changed without departing from the spirit and scope of the present invention. Therefore, the present invention should not be construed as being limited to the description of the embodiments below.

なお、以下に説明する発明の構成において、同一部分または同様な機能を有する部分には同一の符号を異なる図面間で共通して用い、その繰り返しの説明は省略する。また、同様の機能を指す場合には、ハッチパターンを同じくし、特に符号を付さない場合がある。 Note that in structures of the invention described below, the same portions or portions having similar functions are denoted by the same reference numerals in different drawings, and description thereof is not repeated. In addition, in the case where the same function is indicated, the hatch pattern is the same, and there is a case where no reference numeral is given.

また、図面において示す各構成の、位置、大きさ、範囲などは、理解の簡単のため、実際の位置、大きさ、範囲などを表していない場合がある。このため、開示する発明は、必ずしも、図面に開示された位置、大きさ、範囲などに限定されない。 In addition, the position, size, range, and the like of each component illustrated in the drawings may not represent the actual position, size, range, or the like for easy understanding. Therefore, the disclosed invention is not necessarily limited to the position, size, range, or the like disclosed in the drawings.

なお、「膜」という言葉と、「層」という言葉とは、場合によっては、または、状況に応じて、互いに入れ替えることが可能である。例えば、「導電層」という用語を、「導電膜」という用語に変更することが可能である。または、例えば、「絶縁膜」という用語を、「絶縁層」という用語に変更することが可能である。 Note that the terms “film” and “layer” can be interchanged with each other depending on the case or circumstances. For example, the term “conductive layer” can be changed to the term “conductive film”. Alternatively, for example, the term “insulating film” can be changed to the term “insulating layer”.

本明細書等において、金属酸化物(metal oxide)とは、広い表現での金属の酸化物である。金属酸化物は、酸化物絶縁体、酸化物導電体(透明酸化物導電体を含む)、酸化物半導体(Oxide Semiconductorまたは単にOSともいう)などに分類される。例えば、トランジスタの半導体層に金属酸化物を用いた場合、当該金属酸化物を酸化物半導体と呼称する場合がある。つまり、OS FETと記載する場合においては、金属酸化物または酸化物半導体を有するトランジスタと換言することができる。 In this specification and the like, a metal oxide is a metal oxide in a broad expression. Metal oxides are classified into oxide insulators, oxide conductors (including transparent oxide conductors), oxide semiconductors (also referred to as oxide semiconductors or simply OS), and the like. For example, in the case where a metal oxide is used for a semiconductor layer of a transistor, the metal oxide may be referred to as an oxide semiconductor. That is, in the case of describing as an OS FET, it can be said to be a transistor including a metal oxide or an oxide semiconductor.

また、本明細書等において、窒素を有する金属酸化物も金属酸化物(metal oxide)と総称する場合がある。また、窒素を有する金属酸化物を、金属酸窒化物(metal oxynitride)と呼称してもよい。 In this specification and the like, metal oxides containing nitrogen may be collectively referred to as metal oxides. Further, a metal oxide containing nitrogen may be referred to as a metal oxynitride.

(実施の形態1)
本実施の形態では、本発明の一態様の表示装置とその作製方法について図1〜図37を用いて説明する。
(Embodiment 1)
In this embodiment, a display device of one embodiment of the present invention and a manufacturing method thereof will be described with reference to FIGS.

≪表示装置とその作製方法の概要≫
本発明の一態様は、第1の基板と第2の基板の間に、第1の表示素子及び第2の表示素子を有する表示装置の作製方法である。
≪Overview of display device and manufacturing method≫
One embodiment of the present invention is a method for manufacturing a display device including a first display element and a second display element between a first substrate and a second substrate.

本実施の形態の表示装置は、可視光を反射する第1の表示素子と、可視光を透過する第2の表示素子とを有する。 The display device of this embodiment includes a first display element that reflects visible light and a second display element that transmits visible light.

本実施の形態の表示装置は、第1の表示素子が反射する光と、第2の表示素子が透過する光のうち、いずれか一方または両方により、画像を表示する機能を有する。 The display device of this embodiment has a function of displaying an image by using one or both of light reflected by the first display element and light transmitted by the second display element.

第1の表示素子には、外光を反射して表示する素子を用いることができる。このような素子は光源を持たないため、表示の際の消費電力を極めて小さくすることが可能となる。 As the first display element, an element that reflects external light for display can be used. Since such an element does not have a light source, power consumption during display can be extremely reduced.

第1の表示素子には、代表的には反射型の液晶素子を用いることができる。または、第1の表示素子として、シャッター方式のMEMS(Micro Electro Mechanical System)素子、光干渉方式のMEMS素子の他、マイクロカプセル方式、電気泳動方式、エレクトロウェッティング方式、電子粉流体(登録商標)方式等を適用した素子などを用いることができる。 As the first display element, a reflective liquid crystal element can be typically used. Alternatively, as a first display element, in addition to a shutter-type MEMS (Micro Electro Mechanical System) element, an optical interference-type MEMS element, a microcapsule type, an electrophoretic method, an electrowetting method, and an electronic powder fluid (registered trademark) An element to which a method or the like is applied can be used.

第2の表示素子には、光源からの光を透過して表示する素子を用いることができる。第2の表示素子として、代表的には透過型の液晶素子を用いることができる。光源としてはバックライトを用いることができる。 As the second display element, an element that transmits and displays light from a light source can be used. As the second display element, a transmissive liquid crystal element can be typically used. A backlight can be used as the light source.

本実施の形態の表示装置は、第1の表示素子のみを用いて画像を表示する第1のモード、第2の表示素子のみを用いて画像を表示する第2のモード、並びに、第1の表示素子及び第2の表示素子を用いて画像を表示する第3のモードを有し、これらのモードを自動または手動で切り替えて使用することができる。 The display device of the present embodiment includes a first mode for displaying an image using only the first display element, a second mode for displaying an image using only the second display element, and a first mode There is a third mode in which an image is displayed using the display element and the second display element, and these modes can be used by switching automatically or manually.

第1のモードでは、第1の表示素子と外光を用いて画像を表示する。第1のモードは光源が不要であるため、極めて低消費電力なモードである。例えば、表示装置に外光が十分に入射されるとき(明るい環境下など)は、第1の表示素子が反射した光を用いて表示を行うことができる。例えば、外光が十分に強く、かつ外光が白色光またはその近傍の光である場合に有効である。第1のモードは、文字を表示することに適したモードである。また、第1のモードは、外光を反射した光を用いるため、目に優しい表示を行うことができ、目が疲れにくいという効果を奏する。 In the first mode, an image is displayed using the first display element and external light. Since the first mode does not require a light source, it is an extremely low power consumption mode. For example, when external light is sufficiently incident on the display device (for example, in a bright environment), display can be performed using light reflected by the first display element. For example, it is effective when the external light is sufficiently strong and the external light is white light or light in the vicinity thereof. The first mode is a mode suitable for displaying characters. In the first mode, light that reflects external light is used, so that it is possible to perform display that is kind to the eyes, and there is an effect that the eyes are less tired.

第2のモードでは、第2の表示素子と光源を用いて画像を表示する。第2のモードでは、第2の表示素子による透過光を利用して画像を表示する。そのため、照度や外光の色度によらず、極めて鮮やかな(コントラストが高く、且つ色再現性の高い)表示を行うことができる。例えば、夜間や暗い室内など、照度が極めて低い場合などに有効である。また周囲が暗い場合、明るい表示を行うと使用者が眩しく感じてしまう場合がある。これを防ぐために、第2のモードでは輝度を抑えた表示を行うことが好ましい。これにより、眩しさを抑えることに加え、消費電力も低減することができる。第2のモードは、鮮やかな画像(静止画及び動画)などを表示することに適したモードである。 In the second mode, an image is displayed using the second display element and the light source. In the second mode, an image is displayed using light transmitted by the second display element. Therefore, an extremely vivid display (high contrast and high color reproducibility) can be performed regardless of illuminance and chromaticity of external light. For example, it is effective when the illuminance is extremely low, such as at night or in a dark room. When the surroundings are dark, the user may feel dazzled when performing bright display. In order to prevent this, it is preferable to perform display with reduced luminance in the second mode. Thereby, in addition to suppressing glare, power consumption can also be reduced. The second mode is a mode suitable for displaying vivid images (still images and moving images).

第3のモードでは、第1の表示素子による反射光と、第2の表示素子による透過光の両方を利用して表示を行う。第1のモードよりも鮮やかな表示をしつつ、第2のモードよりも消費電力を抑えることができる。例えば、室内照明下や、朝方や夕方の時間帯など、照度が比較的低い場合、外光の色度が白色ではない場合などに有効である。 In the third mode, display is performed using both the reflected light from the first display element and the transmitted light from the second display element. While displaying more vividly than in the first mode, it is possible to suppress power consumption as compared with the second mode. For example, it is effective when the illuminance is relatively low, such as under room lighting or in the morning or evening hours, or when the chromaticity of outside light is not white.

このような構成とすることで、周囲の明るさによらず視認性が高く、利便性の高い表示装置を実現できる。具体的には、外光下でも室内でも視認性が高く、利便性の高い表示装置を実現できる。 With such a configuration, a display device with high visibility and high convenience can be realized regardless of ambient brightness. Specifically, it is possible to realize a display device with high visibility and high convenience both in the outside light and in the room.

本実施の形態では、第1の表示素子として、反射型の液晶素子を作製し、第2の表示素子として透過型の液晶素子を作製する例を示す。 In this embodiment, an example in which a reflective liquid crystal element is manufactured as the first display element and a transmissive liquid crystal element is manufactured as the second display element is described.

第1の表示素子は、第1の画素電極、第1の共通電極、及び第1の液晶層を有する。第2の表示素子は、第2の画素電極、第2の共通電極、及び第2の液晶層を有する。 The first display element includes a first pixel electrode, a first common electrode, and a first liquid crystal layer. The second display element includes a second pixel electrode, a second common electrode, and a second liquid crystal layer.

本実施の形態の表示装置の作製方法は、第1の基板上に第1の共通電極を形成する工程と、第2の基板上に第2の共通電極を形成する工程と、作製基板上に第1の層を形成する工程と、第1の層上に第2の層を形成する工程と、第2の層上に第1の画素電極を形成する工程と、第1の画素電極上に絶縁層を形成する工程と、絶縁層上に第2の画素電極を形成する工程と、第2の共通電極と第2の画素電極との間に第2の液晶層を配置した状態で、作製基板と第2の基板とを貼り合わせることで、第2の表示素子を形成する工程と、光を照射することで、第1の層と第2の層とを分離する工程と、第1の共通電極と第1の画素電極との間に第1の液晶層を配置した状態で、第1の基板と第2の基板とを貼り合わせることで、第1の表示素子を形成する工程と、を有する。 A method for manufacturing a display device in this embodiment includes a step of forming a first common electrode over a first substrate, a step of forming a second common electrode over a second substrate, and a manufacturing substrate. Forming a first layer; forming a second layer on the first layer; forming a first pixel electrode on the second layer; and on the first pixel electrode Producing in a state in which an insulating layer is formed, a second pixel electrode is formed on the insulating layer, and a second liquid crystal layer is disposed between the second common electrode and the second pixel electrode. A step of forming a second display element by bonding the substrate and the second substrate; a step of separating the first layer and the second layer by irradiating light; The first display element is formed by bonding the first substrate and the second substrate in a state where the first liquid crystal layer is disposed between the common electrode and the first pixel electrode. And a step of, a.

本実施の形態の表示装置では、第1の表示素子と、第2の表示素子とが、それぞれ独立に形成される。そのため、各表示素子の設計の自由度を高めることができる。例えば、第1の液晶層は、反射型の表示素子に適した液晶材料を用いて形成することができる。同様に、第2の液晶層は、透過型の表示素子に適した液晶材料を用いて形成することができる。また、第1の表示素子と、第2の表示素子とで、セルギャップ、リタデーション等をそれぞれ独立に決定することができる。 In the display device of this embodiment, the first display element and the second display element are formed independently. Therefore, the degree of freedom in designing each display element can be increased. For example, the first liquid crystal layer can be formed using a liquid crystal material suitable for a reflective display element. Similarly, the second liquid crystal layer can be formed using a liquid crystal material suitable for a transmissive display element. In addition, the cell gap, retardation, and the like can be independently determined for the first display element and the second display element.

1つの液晶層を用いて、反射型の液晶素子と透過型の液晶素子を形成する場合、液晶層中にセルギャップの異なる領域が形成されることで、配向不良が生じやすくなる。本実施の形態では、2つの表示素子がそれぞれ液晶層を有するため、このような配向不良を抑制でき、表示素子の開口率を大きくすることができる。 In the case where a reflective liquid crystal element and a transmissive liquid crystal element are formed using one liquid crystal layer, alignment defects are likely to occur because regions having different cell gaps are formed in the liquid crystal layer. In this embodiment mode, since each of the two display elements has a liquid crystal layer, such alignment failure can be suppressed and the aperture ratio of the display element can be increased.

また、第1の表示素子と第2の表示素子とで、駆動方法をそれぞれ独立に決定できる。例えば、第1の表示素子は、反射型の表示素子に適したモードで駆動することができる。同様に、第2の表示素子は、透過型の表示素子に適したモードで駆動することができる。例えば、反射型の表示素子と透過型の表示素子のうち一方をVAモードで駆動し、他方をTNモードで駆動することができる。これにより、コントラストを高めることができる。 Further, the driving method can be independently determined for the first display element and the second display element. For example, the first display element can be driven in a mode suitable for a reflective display element. Similarly, the second display element can be driven in a mode suitable for a transmissive display element. For example, one of a reflective display element and a transmissive display element can be driven in the VA mode, and the other can be driven in the TN mode. Thereby, contrast can be raised.

ここで、第1の表示素子を有する表示パネルと、第2の表示素子を有する表示パネルとを単に貼り合わせる構成では、第1の表示素子と第2の表示素子との間に、ガラスや樹脂などの厚い層(主に基板として用いられる層)が存在するため、第1の表示素子と第2の表示素子との間の距離を狭くすることが困難である。 Here, in the configuration in which the display panel having the first display element and the display panel having the second display element are simply bonded, glass or resin is interposed between the first display element and the second display element. Therefore, it is difficult to reduce the distance between the first display element and the second display element.

一方、本実施の形態の表示装置の作製方法では、作製基板を剥離し、作製基板から第2の基板に、第1の画素電極及び第2の表示素子、さらにはトランジスタ等を転置する工程を有する。そして、第1の共通電極が設けられた第1の基板と、第2の基板とを、第1の液晶層を挟んで貼り合わせることで、一対の基板間に第1の表示素子と第2の表示素子とを配置することができる。これにより、第1の表示素子と第2の表示素子との間に厚い基板などが存在せず、第1の表示素子と第2の表示素子との距離を近づけることができる。例えば、第1の表示素子が反射型の液晶素子であり、第2の表示素子が透過型の液晶素子である場合、2つの液晶素子の厚さ方向の距離を30μm未満、好ましくは10μm未満、さらに好ましくは5μm未満とすることができる。なお、上記厚さ方向の距離とは、例えば、反射型の液晶素子が有する反射電極と、透過型の液晶素子が有する画素電極との間の最短距離である。 On the other hand, in the method for manufacturing a display device in this embodiment, a process of peeling the manufacturing substrate and transferring the first pixel electrode, the second display element, and the transistor or the like from the manufacturing substrate to the second substrate is performed. Have. Then, the first substrate provided with the first common electrode and the second substrate are bonded to each other with the first liquid crystal layer interposed therebetween, whereby the first display element and the second substrate are interposed between the pair of substrates. Display elements can be arranged. Thus, a thick substrate or the like does not exist between the first display element and the second display element, and the distance between the first display element and the second display element can be reduced. For example, when the first display element is a reflective liquid crystal element and the second display element is a transmissive liquid crystal element, the distance in the thickness direction of the two liquid crystal elements is less than 30 μm, preferably less than 10 μm, More preferably, it can be less than 5 μm. Note that the distance in the thickness direction is, for example, the shortest distance between the reflective electrode included in the reflective liquid crystal element and the pixel electrode included in the transmissive liquid crystal element.

第1の表示素子は、第1の基板側に反射光を射出する。第2の表示素子は、第1の基板側に透過光を射出する。第1の表示素子と第2の表示素子との距離が近いと、第1の基板と第2の表示素子との距離も近くなり、第2の表示素子の輝度を高めることができる。また、第2の表示素子を透過した光の減衰及び消光を抑制できる。これにより、表示装置の光取り出し効率を高めることができる。または、第1の表示素子及び第2の表示素子を同時に用いて表示する場合、あるいは交互に用いて表示する場合において、第1の表示素子を用いた表示と第2の表示素子を用いた表示との間に生じる視差を少なくすることができる。 The first display element emits reflected light to the first substrate side. The second display element emits transmitted light to the first substrate side. When the distance between the first display element and the second display element is short, the distance between the first substrate and the second display element is also short, and the luminance of the second display element can be increased. In addition, attenuation and extinction of light transmitted through the second display element can be suppressed. Thereby, the light extraction efficiency of the display device can be increased. Alternatively, in the case where display is performed using the first display element and the second display element at the same time, or in the case where display is performed alternately, display using the first display element and display using the second display element. Can be reduced.

本実施の形態の表示装置の作製方法では、作製基板上に、まず、第1の画素電極を形成し、その後に、トランジスタや第2の表示素子等を形成することが好ましい。これにより、トランジスタや第2の表示素子等に起因する凹凸の影響を受けず、第1の画素電極を平坦に形成することができる。 In the method for manufacturing a display device of this embodiment mode, it is preferable to first form a first pixel electrode over a manufacturing substrate, and then form a transistor, a second display element, and the like. Accordingly, the first pixel electrode can be formed flat without being affected by unevenness caused by the transistor, the second display element, or the like.

第1の画素電極を平坦に形成することで、液晶の初期配向のばらつきを低減でき、表示不良を抑制できる。また、トランジスタと第1の画素電極のコンタクト部においても、第1の画素電極は平坦であるため、コンタクト部における液晶の配向不良を抑制できる。そのため、液晶の配向不良に起因する開口率の縮小を抑制できる。 By forming the first pixel electrode flat, variations in the initial alignment of the liquid crystal can be reduced and display defects can be suppressed. Further, in the contact portion between the transistor and the first pixel electrode, since the first pixel electrode is flat, it is possible to suppress the alignment failure of the liquid crystal in the contact portion. Therefore, it is possible to suppress the reduction in the aperture ratio due to the alignment failure of the liquid crystal.

例えば、液晶の初期配向が揃いにくい領域を表示に用いると、コントラストが低下することがある。また、隣接する2つの画素間に、液晶の初期配向が揃いにくい領域が生じた場合は、当該領域を遮光層等で覆うことでコントラストの低下を抑制できるが、開口率が低下することがある。一方、本実施の形態の表示装置の作製方法では、第1の画素電極を平坦に形成できるため、配向膜も平坦に形成できる。ラビング処理等の配向処理での不良が発生しにくく、第1の画素電極の端部においても初期配向を揃えやすくなる。隣接する2つの画素間に、液晶の初期配向が揃いにくい領域が生じることを抑制できる。したがって、開口率を高めることができ、表示装置の高精細化が容易となる。 For example, when the region where the initial alignment of the liquid crystal is difficult to align is used for display, contrast may be lowered. In addition, when a region where the initial alignment of the liquid crystal is difficult to align between two adjacent pixels occurs, the contrast can be suppressed by covering the region with a light shielding layer or the like, but the aperture ratio may be decreased. . On the other hand, in the method for manufacturing the display device of this embodiment mode, the first pixel electrode can be formed flat, so that the alignment film can also be formed flat. Defects in alignment processing such as rubbing processing are unlikely to occur, and the initial alignment is easily aligned at the end of the first pixel electrode. It is possible to suppress the occurrence of a region in which the initial alignment of the liquid crystal is hardly aligned between two adjacent pixels. Therefore, the aperture ratio can be increased, and high definition of the display device can be easily achieved.

また、当該凹凸の影響を抑制するためにトランジスタや第2の表示素子等と、第1の画素電極との間に平坦化機能を有する絶縁膜を厚く設ける必要がなくなる。そのため、第1の表示素子と第2の表示素子の距離を近づけることができる。 In addition, in order to suppress the influence of the unevenness, it is not necessary to provide a thick insulating film having a planarization function between the transistor, the second display element, and the like and the first pixel electrode. Therefore, the distance between the first display element and the second display element can be reduced.

第1の画素電極と第2の表示素子の距離を近づけることができるため、表示装置における高い視野角特性と、第1の表示素子の高い開口率を両立することができる。また、第1の表示素子と第2の表示素子の合算開口率を高めることができる。また、表示装置の薄型化が可能となる。 Since the distance between the first pixel electrode and the second display element can be reduced, high viewing angle characteristics in the display device and high aperture ratio of the first display element can both be achieved. In addition, the combined aperture ratio of the first display element and the second display element can be increased. In addition, the display device can be thinned.

または、本実施の形態の表示装置の作製方法は、第1の作製基板上に第1の剥離層を形成する工程と、第1の剥離層上に第1の共通電極を形成する工程と、第2の基板上に第2の共通電極を形成する工程と、第2の作製基板上に第2の剥離層を形成する工程と、第2の剥離層上に第1の画素電極を形成する工程と、第1の画素電極上に絶縁層を形成する工程と、絶縁層上に第2の画素電極を形成する工程と、第2の共通電極と第2の画素電極との間に第2の液晶層を配置した状態で、第2の作製基板と第2の基板とを貼り合わせることで、第2の表示素子を形成する工程と、第2の剥離層を用いて、第2の作製基板と第2の基板とを分離する工程と、第1の共通電極と第1の画素電極との間に第1の液晶層を配置した状態で、第1の作製基板と第2の基板とを貼り合わせることで、第1の表示素子を形成する工程と、第1の剥離層を用いて、第1の作製基板と第2の基板とを分離する工程と、第1の基板と第2の基板との間に第1の表示素子を配置した状態で、第1の基板と第2の基板とを貼り合わせる工程と、を有する。第1の剥離層及び第2の剥離層のうち一方または双方は、第1の層と、第1の層上の第2の層を有するように形成される。第2の作製基板と第2の基板とを分離する工程、及び、第1の作製基板と第2の基板とを分離する工程のうち一方または双方では、光が照射されることで、第1の層と第2の層とが分離する。 Alternatively, the method for manufacturing the display device in this embodiment includes a step of forming a first release layer over a first manufacturing substrate, a step of forming a first common electrode over the first release layer, Forming a second common electrode over the second substrate, forming a second peeling layer over the second manufacturing substrate, and forming the first pixel electrode over the second peeling layer. A step of forming an insulating layer on the first pixel electrode; a step of forming a second pixel electrode on the insulating layer; and a second portion between the second common electrode and the second pixel electrode. In the state where the liquid crystal layer is disposed, the second manufacturing substrate and the second substrate are bonded to each other, thereby forming the second display element, and the second manufacturing layer using the second peeling layer. The first manufacturing substrate in a state in which the step of separating the substrate and the second substrate and the first liquid crystal layer are disposed between the first common electrode and the first pixel electrode The step of forming the first display element by bonding the second substrate, the step of separating the first manufacturing substrate and the second substrate using the first release layer, And a step of bonding the first substrate and the second substrate in a state where the first display element is disposed between the first substrate and the second substrate. One or both of the first release layer and the second release layer is formed to have a first layer and a second layer on the first layer. In one or both of the step of separating the second manufacturing substrate and the second substrate and the step of separating the first manufacturing substrate and the second substrate, light irradiation is performed, whereby the first And the second layer are separated.

表示面側の基板である第1の基板の厚さは十分に薄いことが好ましい。第1の基板には、例えば、厚さ0.1mm以上0.5mm未満、好ましくは0.1mm以上0.3mm以下のガラス基板、厚さ1μm以上200μm以下の樹脂基板などを適用することが好ましい。これにより、画像のボケを低減し、画像を鮮明に表示することができる。 It is preferable that the thickness of the first substrate which is the substrate on the display surface side is sufficiently thin. For the first substrate, for example, a glass substrate having a thickness of 0.1 mm to less than 0.5 mm, preferably 0.1 mm to 0.3 mm, a resin substrate having a thickness of 1 μm to 200 μm, and the like are preferably used. . Thereby, blurring of the image can be reduced and the image can be clearly displayed.

一方、第1の基板の厚さが薄いと、表示装置の作製工程中に製造装置間または製造装置内の搬送が困難となり、表示装置の作製の歩留まりが低下する恐れがある。 On the other hand, if the thickness of the first substrate is thin, it may be difficult to transport between or within the manufacturing apparatus during the manufacturing process of the display device, and the manufacturing yield of the display device may be reduced.

本実施の形態の表示装置の作製方法では、第1の作製基板と第2の基板との間に第1の表示素子と第2の表示素子とを配置した後、第1の作製基板を第2の基板から剥離し、第2の基板と第1の基板とを貼り合わせる。第1の作製基板上に、第1の共通電極、さらには、検出素子、着色層等を形成し、あとから第1の基板に転置する。第1の作製基板は表示装置の構成要素ではないため、耐熱性や厚さなど、製造工程に合った耐熱性、及び製造装置に合った厚さの材料を選択することができる。そのため、表示装置の作製工程において、基板の搬送が容易であり、また、十分に高い温度で良質な膜を形成することができる。また、厚さの薄い第1の基板を用いることができ、表示装置の表示品位を高めることができる。 In the method for manufacturing a display device of this embodiment mode, after the first display element and the second display element are arranged between the first manufacturing substrate and the second substrate, the first manufacturing substrate is attached to the first manufacturing substrate. The second substrate and the first substrate are bonded to each other. A first common electrode, a detection element, a colored layer, and the like are formed over the first manufacturing substrate, and then transferred to the first substrate. Since the first manufacturing substrate is not a component of the display device, a material having heat resistance suitable for the manufacturing process, such as heat resistance and thickness, and thickness suitable for the manufacturing apparatus can be selected. Therefore, the substrate can be easily transferred in the manufacturing process of the display device, and a high-quality film can be formed at a sufficiently high temperature. In addition, the first substrate with a small thickness can be used, and the display quality of the display device can be improved.

<光学部材>
第1の基板の、第2の基板側の面とは逆側の面(外側の面)には、光学部材として、偏光板、位相差板、光拡散層、反射防止部材、集光フィルムなどのうち一つまたは複数を設けることができる。また、光学部材以外の機能性部材としては、ゴミの付着を抑制する帯電防止膜、汚れを付着しにくくする撥水性の膜、使用に伴う傷の発生を抑制するハードコート膜などが挙げられる。
<Optical member>
On the surface (outer surface) opposite to the surface on the second substrate side of the first substrate, as an optical member, a polarizing plate, a retardation plate, a light diffusion layer, an antireflection member, a condensing film, etc. One or more of them can be provided. Examples of the functional member other than the optical member include an antistatic film that suppresses adhesion of dust, a water-repellent film that makes it difficult to adhere dirt, and a hard coat film that suppresses the occurrence of scratches associated with use.

光拡散層は、反射型の液晶素子の反射電極で反射した光を拡散する機能を有する。当該機能により、反射型の液晶素子でも自然な発色を行うことができる。また、白紙に近い白色を表示させることができる。 The light diffusion layer has a function of diffusing light reflected by the reflective electrode of the reflective liquid crystal element. With this function, a natural color can be generated even with a reflective liquid crystal element. In addition, it is possible to display a white color close to a blank sheet.

晴天時の屋外などの強光下では、表示面における外光反射が強く、表示装置の内部から放たれる光(表示)の視認性が低下する。反射防止部材を設けることで、強光下において、表示面の外光反射を十分に抑えることができ、さらに視認性を向上させることができる。 Under strong light such as outdoors in fine weather, external light reflection on the display surface is strong, and the visibility of light (display) emitted from the inside of the display device is reduced. By providing the antireflection member, the external light reflection on the display surface can be sufficiently suppressed under strong light, and the visibility can be further improved.

反射防止部材としては、反射防止層(AR(Anti‐Reflection)層ともいう)、低反射層(LR(Low‐Reflection)層ともいう)、及び防眩層(AG(Anti‐Glare)層、ノングレア層ともいう)等が挙げられる。 The antireflection member includes an antireflection layer (also referred to as an AR (Anti-Reflection) layer), a low reflection layer (also referred to as an LR (Low-Reflection) layer), and an antiglare layer (AG (Anti-Glare) layer, non-glare). Also referred to as a layer).

AR層は、光の干渉作用を利用して、外光の正反射(鏡面反射)を低減する機能を有する。 The AR layer has a function of reducing regular reflection (specular reflection) of external light by utilizing light interference action.

AR層は、第1の基板の屈折率と異なる屈折率を有する材料で形成される。AR層は、例えば、酸化ジルコニウム、フッ化マグネシウム、酸化アルミニウム、酸化シリコンなどを用いて単層または積層で形成することができる。 The AR layer is formed of a material having a refractive index different from that of the first substrate. The AR layer can be formed as a single layer or a stacked layer using, for example, zirconium oxide, magnesium fluoride, aluminum oxide, silicon oxide, or the like.

AG層は、入射した外光を拡散させることにより、正反射(鏡面反射)を低減する機能を有する。 The AG layer has a function of reducing regular reflection (specular reflection) by diffusing incident external light.

AG層の形成方法としては、表面に微細な凹凸を設ける方法、屈折率の異なる材料を混合する方法、または、双方を組み合わせる方法などが挙げられる。例えば、透光性を有する樹脂に、セルロース繊維などのナノファイバ、酸化シリコンなどの無機ビーズ、または樹脂ビーズなどを混合して、AG層を形成することができる。 Examples of the method of forming the AG layer include a method of providing fine irregularities on the surface, a method of mixing materials having different refractive indexes, or a method of combining both. For example, an AG layer can be formed by mixing nanofibers such as cellulose fibers, inorganic beads such as silicon oxide, or resin beads with a light-transmitting resin.

また、AR層に重ねてAG層を設けてもよい。AR層とAG層を積層して設けることで、外光の反射や映り込みを防ぐ機能をより高めることができる。AR層及びAG層のうち一方又は双方を用いることにより、表示装置の表面の外光反射率を1%未満、好ましくは0.3%未満とするとよい。 An AG layer may be provided over the AR layer. By providing a stack of the AR layer and the AG layer, it is possible to further enhance the function of preventing reflection or reflection of external light. By using one or both of the AR layer and the AG layer, the external light reflectance of the surface of the display device may be less than 1%, preferably less than 0.3%.

<トランジスタのチャネル形成領域>
本実施の形態の表示装置は、トランジスタのチャネル形成領域に、金属酸化物を有することが好ましい。金属酸化物は、酸化物半導体として機能することができる。
<Channel formation region of transistor>
The display device of this embodiment preferably includes a metal oxide in a channel formation region of the transistor. The metal oxide can function as an oxide semiconductor.

トランジスタのチャネル形成領域に低温ポリシリコン(LTPS(Low Temperature Poly−Silicon))を用いる場合、500℃から550℃程度の温度をかける必要があるため、樹脂層に耐熱性が求められる。また、レーザ結晶化の工程でのダメージを緩和するため、樹脂層の厚膜化が必要となることがある。 When low temperature polysilicon (LTPS (Low Temperature Poly-Silicon)) is used for the channel formation region of the transistor, it is necessary to apply a temperature of about 500 ° C. to 550 ° C., and thus heat resistance is required for the resin layer. Further, in order to alleviate damage in the laser crystallization process, it may be necessary to increase the thickness of the resin layer.

一方、チャネル形成領域に金属酸化物を用いたトランジスタは、350℃以下、さらには300℃以下で形成することができる。そのため、樹脂層に高い耐熱性は求められない。したがって、樹脂層の耐熱温度を低くすることができ、材料の選択の幅が広がる。 On the other hand, a transistor using a metal oxide for a channel formation region can be formed at 350 ° C. or lower, further 300 ° C. or lower. Therefore, high heat resistance is not required for the resin layer. Therefore, the heat resistant temperature of the resin layer can be lowered, and the range of selection of materials is widened.

また、チャネル形成領域に金属酸化物を用いたトランジスタは、レーザ結晶化の工程が不要である。LTPSを用いる場合に比べて、工程が簡略化でき好ましい。 In addition, a transistor using a metal oxide for a channel formation region does not require a laser crystallization process. Compared with the case of using LTPS, the process can be simplified, which is preferable.

ただし、本発明の一態様の表示装置は、トランジスタのチャネル形成領域に、金属酸化物を有する構成に限定されない。例えば、本実施の形態の表示装置は、トランジスタのチャネル形成領域に、シリコンを用いることができる。シリコンとしては、アモルファスシリコンまたは結晶性シリコンを用いることができる。結晶性シリコンとしては、微結晶シリコン、多結晶シリコン、単結晶シリコン等が挙げられる。 Note that the display device of one embodiment of the present invention is not limited to a structure including a metal oxide in a channel formation region of a transistor. For example, in the display device of this embodiment, silicon can be used for a channel formation region of a transistor. As silicon, amorphous silicon or crystalline silicon can be used. Examples of crystalline silicon include microcrystalline silicon, polycrystalline silicon, single crystal silicon, and the like.

チャネル形成領域にシリコンを用いる場合、LTPSを用いることが好ましい。LTPSなどの多結晶シリコンは、単結晶シリコンに比べて低温で形成でき、かつアモルファスシリコンに比べて高い電界効果移動度と高い信頼性を備える。 When silicon is used for the channel formation region, LTPS is preferably used. Polycrystalline silicon such as LTPS can be formed at a lower temperature than single crystal silicon, and has higher field-effect mobility and higher reliability than amorphous silicon.

≪分離方法の概要≫
本実施の形態の表示装置の作製方法は、光の照射を用いた分離工程を有する。当該工程における分離方法について説明する。なお、本発明の一態様の表示装置の作製方法は、他の分離方法を用いた分離工程を有してもよい。例えば、分離工程が複数回行われる場合、光の照射を用いた分離工程は、1回以上行われる。すべての分離工程を、同じ分離方法で行うことで、材料や製造装置等を同一にでき、コストが削減できることがある。また、分離工程によって分離方法を変えることで、分離に要する力に差をつけることができる場合がある。これにより、所望のタイミングで所望の界面で分離が生じるよう制御できることがある。
<Outline of separation method>
The method for manufacturing the display device in this embodiment includes a separation step using light irradiation. A separation method in this step will be described. Note that the method for manufacturing a display device of one embodiment of the present invention may include a separation step using another separation method. For example, when the separation process is performed a plurality of times, the separation process using light irradiation is performed once or more. By performing all the separation steps by the same separation method, the material, the manufacturing apparatus, and the like can be made the same, and the cost may be reduced. In some cases, a difference in the force required for the separation can be obtained by changing the separation method depending on the separation step. Thereby, it may be possible to control so that separation occurs at a desired interface at a desired timing.

本実施の形態では、まず、作製基板上に第1の材料、ここでは金属酸化物層を形成する。次に、金属酸化物層上に、第2の材料、ここでは樹脂層を形成する。そして、光を照射することで、金属酸化物層と樹脂層とを分離する。 In this embodiment, first, a first material, here, a metal oxide layer is formed over a manufacturing substrate. Next, a second material, here a resin layer, is formed over the metal oxide layer. And a metal oxide layer and a resin layer are isolate | separated by irradiating light.

金属酸化物層と樹脂層とを分離する際に、光を用いると好ましい。光は、金属酸化物層と樹脂層との界面またはその近傍(界面または界面近傍とも記す)に照射されることが好ましい。また、光は、金属酸化物層中に照射されてもよい。また、光は、樹脂層中に照射されてもよい。なお、本明細書等において、「AとBとの界面またはその近傍」、「AとBとの界面または界面近傍」とは、少なくともAとBとの界面を含み、AとBとの界面から、AまたはBのいずれか一方の厚さの20%以内の範囲を含むものとする。 It is preferable to use light when separating the metal oxide layer and the resin layer. Light is preferably applied to the interface between the metal oxide layer and the resin layer or in the vicinity thereof (also referred to as the interface or the vicinity of the interface). Moreover, light may be irradiated into the metal oxide layer. Moreover, light may be irradiated into the resin layer. In this specification and the like, “the interface between A and B or the vicinity thereof” and “the interface between A and B or the vicinity of the interface” include at least the interface between A and B, and the interface between A and B. To within 20% of the thickness of either A or B.

光を照射することで、金属酸化物層と樹脂層との界面(さらには金属酸化物層中及び樹脂層中)を加熱し、金属酸化物層と樹脂層との密着性(接着性)を低くすることができる。さらには金属酸化物層と樹脂層とを分離することができる。 By irradiating light, the interface between the metal oxide layer and the resin layer (and also in the metal oxide layer and the resin layer) is heated, and the adhesion (adhesion) between the metal oxide layer and the resin layer is increased. Can be lowered. Furthermore, the metal oxide layer and the resin layer can be separated.

<光の照射>
次に、光の照射について説明する。
<Light irradiation>
Next, light irradiation will be described.

ランプ、レーザ装置等を用いて光を照射することができる。 Light can be irradiated using a lamp, a laser device, or the like.

線状レーザ装置を用いてレーザ光を照射することが好ましい。低温ポリシリコン(LTPS(Low Temperature Poly−Silicon))等の製造ラインのレーザ装置を使用することができるため、これらの装置の有効利用が可能である。線状レーザは、矩形長尺状に集光(線状レーザビームに成形)して、金属酸化物層と樹脂層との界面に光を照射する。 It is preferable to irradiate laser light using a linear laser device. Since a laser apparatus of a production line such as low temperature polysilicon (LTPS (Low Temperature Poly-Silicon)) can be used, these apparatuses can be effectively used. The linear laser is focused in a rectangular shape (formed into a linear laser beam), and irradiates light on the interface between the metal oxide layer and the resin layer.

光は、波長領域が180nm以上450nm以下を有するように照射されることが好ましい。光は、波長領域が308nmまたはその近傍を有するように照射されることがより好ましい。 The light is preferably irradiated so that the wavelength region has 180 nm or more and 450 nm or less. The light is more preferably irradiated so that the wavelength region has 308 nm or its vicinity.

光のエネルギー密度は、250mJ/cm以上400mJ/cm以下が好ましく、250mJ/cm以上360mJ/cm以下がより好ましい。 The energy density of the light is preferably from 250 mJ / cm 2 or more 400 mJ / cm 2 or less, 250 mJ / cm 2 or more 360 mJ / cm 2 or less being more preferred.

レーザ装置を用いて光を照射する場合、同一箇所に照射されるレーザ光のショット数は、1ショット以上50ショット以下とすることができ、1ショットより多く10ショット以下が好ましく、1ショットより多く5ショット以下がより好ましい。 When irradiating light using a laser device, the number of shots of laser light irradiated to the same location can be 1 shot or more and 50 shots or less, preferably more than 1 shot and 10 shots or less, more than 1 shot. 5 shots or less are more preferable.

ビームの短軸方向の両端には、光の強度が低い部分が存在する。そのため、当該光の強度が低い部分の幅以上、一つのショットと次のショットの間にオーバーラップする部分を設けることが好ましい。そのため、レーザ光のショット数は、1.1ショット以上とすることが好ましく、1.25ショット以上とすることがより好ましい。 At both ends in the minor axis direction of the beam, there are portions where the light intensity is low. Therefore, it is preferable to provide an overlapping portion between one shot and the next shot that is equal to or larger than the width of the portion where the light intensity is low. Therefore, the number of shots of laser light is preferably 1.1 shots or more, and more preferably 1.25 shots or more.

なお、本明細書中、レーザ光のショット数とは、ある点(領域)に照射されるレーザ光の照射回数を指し、ビーム幅、スキャン速度、周波数、またはオーバーラップ率などで決定される。また、線状のビームをあるスキャン方向に移動させているパルスとパルスの間、即ち、一つのショットと次のショットの間にオーバーラップする部分があり、その重なる比率がオーバーラップ率である。なお、オーバーラップ率が100%に近ければ近いほどショット数は多く、離れれば離れるほどショット数は少なくなり、スキャン速度が速ければ速いほどショット数は少なくなる。 Note that in this specification, the number of shots of laser light refers to the number of times laser light is irradiated to a certain point (region), and is determined by the beam width, scan speed, frequency, overlap rate, or the like. Further, there is an overlapping portion between pulses that move the linear beam in a certain scanning direction, that is, between one shot and the next shot, and the overlapping ratio is the overlap ratio. Note that the closer the overlap rate is to 100%, the larger the number of shots, the farther the distance is, the smaller the number of shots, and the faster the scanning speed, the smaller the number of shots.

上記のレーザ光のショット数が1.1ショットとは、連続する2つのショットの間にビームの10分の1程度の幅のオーバーラップを有することを示し、オーバーラップ率10%といえる。同様に、1.25ショットとは、連続する2つのショットの間にビームの4分の1程度の幅のオーバーラップを有することを示し、オーバーラップ率25%といえる。 When the number of shots of the laser beam is 1.1, it means that there is an overlap of about 1/10 width between two consecutive shots, and it can be said that the overlap rate is 10%. Similarly, a 1.25 shot indicates that there is an overlap with a width of about a quarter of the beam between two consecutive shots, and it can be said that the overlap rate is 25%.

ここで、LTPSのレーザ結晶化の工程で照射する光のエネルギー密度は高く、例えば350mJ/cm以上400mJ/cm以下が挙げられる。また、レーザのショット数も多く必要であり、例えば10ショット以上100ショット以下が挙げられる。 Here, the energy density of the light irradiated in the laser crystallization step of LTPS is high, for example, 350 mJ / cm 2 or more and 400 mJ / cm 2 or less. Also, a large number of laser shots are required, and examples include 10 shots or more and 100 shots or less.

一方、本実施の形態において、金属酸化物層と樹脂層とを分離するために行う光の照射は、レーザ結晶化の工程で用いる条件よりも低いエネルギー密度、または少ないショット数で行うことができる。そのため、レーザ装置での処理可能な基板枚数を増やすことができる。また、レーザ装置のメンテナンスの頻度の低減など、レーザ装置のランニングコストの低減が可能となる。したがって、表示装置などの作製コストを低減することができる。 On the other hand, in this embodiment mode, light irradiation for separating the metal oxide layer and the resin layer can be performed with an energy density lower than that used in the laser crystallization step or with a smaller number of shots. . Therefore, the number of substrates that can be processed by the laser device can be increased. In addition, it is possible to reduce the running cost of the laser device, such as reducing the frequency of maintenance of the laser device. Accordingly, manufacturing cost of a display device and the like can be reduced.

また、光の照射が、レーザ結晶化の工程で用いる条件よりも低いエネルギー密度、または少ないショット数で行われることから、基板がレーザ光の照射による受けるダメージを低減できる。そのため、基板を一度使用しても、強度が低下しにくく、基板を再利用できる。したがって、コストを抑えることが可能となる。 Further, since the light irradiation is performed with an energy density lower than that used in the laser crystallization process or with a smaller number of shots, damage to the substrate due to the laser light irradiation can be reduced. For this reason, even if the substrate is used once, the strength is hardly lowered and the substrate can be reused. Therefore, the cost can be suppressed.

また、本実施の形態では、作製基板と樹脂層との間に金属酸化物層を配置する。金属酸化物層を用いることで、金属酸化物層を用いない場合に比べて、光の照射を、低いエネルギー密度、または少ないショット数で行うことができることがある。 In this embodiment, a metal oxide layer is provided between the manufacturing substrate and the resin layer. By using the metal oxide layer, light irradiation may be performed with a lower energy density or a smaller number of shots than in the case where the metal oxide layer is not used.

作製基板を介して光を照射する際、作製基板の光照射面にゴミなどの異物が付着していると、光の照射ムラが生じ、剥離性が低い部分が形成され、金属酸化物層と樹脂層とを分離する工程の歩留まりが低下することがある。そのため、光を照射する前、または光を照射している間に、光照射面を洗浄することが好ましい。例えば、アセトンなどの有機溶剤、水等を用いて作製基板の光照射面を洗浄することができる。また、エアナイフを用いて気体を噴きつけてもよい。これにより、光の照射ムラを低減し、分離の歩留まりを向上させることができる。 When irradiating light through the manufacturing substrate, if foreign matter such as dust adheres to the light irradiation surface of the manufacturing substrate, light irradiation unevenness occurs, and a portion having low peelability is formed, and the metal oxide layer and The yield of the process of separating the resin layer may be reduced. Therefore, it is preferable to clean the light irradiation surface before irradiating with light or while irradiating with light. For example, the light irradiation surface of the manufacturing substrate can be cleaned using an organic solvent such as acetone, water, or the like. Moreover, you may spray gas using an air knife. As a result, light irradiation unevenness can be reduced and the separation yield can be improved.

<樹脂層>
樹脂層を薄く形成することで、低コストで表示装置を作製できる。また、表示装置の軽量化及び薄型化が可能となる。また、表示装置の可撓性を高めることができる。例えば、樹脂層の厚さは、0.1μm以上5μm以下としてもよい。
<Resin layer>
By forming the resin layer thin, a display device can be manufactured at low cost. Further, the display device can be reduced in weight and thickness. In addition, the flexibility of the display device can be increased. For example, the thickness of the resin layer may be 0.1 μm or more and 5 μm or less.

樹脂層の可視光の透過性は特に限定されない。例えば、有色の層であってもよく、透明の層であってもよい。ここで、表示装置の表示面側に樹脂層が位置する場合、樹脂層が着色している(有色である)と、光取り出し効率が低下する、取り出される光の色味が変わる、表示品位が低下する等の不具合が生じることがある。樹脂層の厚さが薄いと、樹脂層の可視光の透過性を高めることができ好ましい。 The visible light transmittance of the resin layer is not particularly limited. For example, it may be a colored layer or a transparent layer. Here, when the resin layer is positioned on the display surface side of the display device, if the resin layer is colored (colored), the light extraction efficiency decreases, the color of the extracted light changes, and the display quality is improved. In some cases, such as deterioration. When the thickness of the resin layer is thin, it is preferable because the visible light transmittance of the resin layer can be increased.

また、樹脂層は、ウエットエッチング装置、ドライエッチング装置、アッシング装置等を用いて除去することができる。特に、酸素プラズマを用いたアッシングを行って樹脂層を除去することが好適である。樹脂層の厚さが薄いと、樹脂層を除去する工程にかかる時間を短縮でき好ましい。 The resin layer can be removed using a wet etching apparatus, a dry etching apparatus, an ashing apparatus, or the like. In particular, it is preferable to remove the resin layer by performing ashing using oxygen plasma. When the thickness of the resin layer is thin, the time required for the step of removing the resin layer can be shortened, which is preferable.

本実施の形態では、作製基板と樹脂層との間に金属酸化物層を有する。金属酸化物層が光を吸収する機能を有するため、樹脂層の光の吸収率が低くても、光照射による効果が得られる。したがって、可視光の透過率が高い樹脂層を用いることができる。そのため、表示装置の表示面側に樹脂層が位置していても、高い表示品位を実現できる。また、表示品位を高めるために、着色している(有色の)樹脂層を除去する工程を削減できる。また、樹脂層の材料の選択の幅が広がる。 In this embodiment, a metal oxide layer is provided between the manufacturing substrate and the resin layer. Since the metal oxide layer has a function of absorbing light, the effect of light irradiation can be obtained even if the light absorption rate of the resin layer is low. Therefore, a resin layer having a high visible light transmittance can be used. Therefore, even if the resin layer is located on the display surface side of the display device, high display quality can be realized. Moreover, in order to improve display quality, the process of removing the colored (colored) resin layer can be reduced. Moreover, the range of selection of the material for the resin layer is expanded.

樹脂層の波長450nm以上700nm以下の範囲の光の透過率の平均値は、70%以上100%以下が好ましく、80%以上100%以下が好ましく、90%以上100%以下がより好ましい。 The average value of the transmittance of light in the wavelength range of 450 nm to 700 nm of the resin layer is preferably 70% or more and 100% or less, preferably 80% or more and 100% or less, and more preferably 90% or more and 100% or less.

本実施の形態では、樹脂層の耐熱温度以下の温度で、トランジスタ等を形成する。樹脂層の耐熱性は、例えば、加熱による重量減少率、具体的には5%重量減少温度等で評価できる。本実施の形態の剥離方法及び表示装置の作製方法では、工程中の最高温度を低くすることができる。例えば、本実施の形態では、樹脂層の5%重量減少温度を、200℃以上650℃以下、200℃以上500℃以下、200℃以上400℃以下、または200℃以上350℃以下とすることができる。そのため、材料の選択の幅が広がる。なお、樹脂層の5%重量減少温度は、650℃より高くてもよい。 In this embodiment mode, a transistor or the like is formed at a temperature lower than the heat resistant temperature of the resin layer. The heat resistance of the resin layer can be evaluated by, for example, a weight reduction rate by heating, specifically, a 5% weight reduction temperature. In the peeling method and the manufacturing method of the display device in this embodiment mode, the maximum temperature in the process can be lowered. For example, in this embodiment, the 5% weight reduction temperature of the resin layer may be 200 ° C. or higher and 650 ° C. or lower, 200 ° C. or higher and 500 ° C. or lower, 200 ° C. or higher and 400 ° C. or lower, or 200 ° C. or higher and 350 ° C. or lower. it can. For this reason, the range of selection of materials is widened. The 5% weight reduction temperature of the resin layer may be higher than 650 ° C.

≪表示装置の構成例1≫
以下では、図1及び図2を用いて表示装置300Aについて説明する。
<< Configuration Example 1 of Display Device >>
Hereinafter, the display device 300A will be described with reference to FIGS.

図1は、表示装置300Aの斜視概略図である。表示装置300Aは、基板351と基板361とが貼り合わされた構成を有する。図1では、基板361を破線で明示している。 FIG. 1 is a schematic perspective view of the display device 300A. The display device 300A has a structure in which a substrate 351 and a substrate 361 are attached to each other. In FIG. 1, the substrate 361 is clearly indicated by a broken line.

表示装置300Aは、表示部362、回路364、配線365等を有する。図1では表示装置300AにIC(集積回路)373及びFPC372が実装されている例を示している。そのため、図1に示す構成は、表示装置300A、IC、及びFPCを有する表示モジュールということもできる。 The display device 300A includes a display portion 362, a circuit 364, a wiring 365, and the like. FIG. 1 shows an example in which an IC (integrated circuit) 373 and an FPC 372 are mounted on the display device 300A. Therefore, the structure illustrated in FIG. 1 can also be referred to as a display module including the display device 300A, an IC, and an FPC.

回路364としては、例えば走査線駆動回路を用いることができる。 As the circuit 364, for example, a scan line driver circuit can be used.

配線365は、表示部362及び回路364に信号及び電力を供給する機能を有する。当該信号及び電力は、FPC372を介して外部から、またはIC373から配線365に入力される。 The wiring 365 has a function of supplying a signal and power to the display portion 362 and the circuit 364. The signal and power are input to the wiring 365 from the outside through the FPC 372 or from the IC 373.

図1では、COG(Chip On Glass)方式またはCOF(Chip on Film)方式等により、基板351にIC373が設けられている例を示す。IC373は、例えば走査線駆動回路または信号線駆動回路などを有するICを適用できる。なお、表示装置100及び表示モジュールは、ICを設けない構成としてもよい。また、ICを、COF方式等により、FPCに実装してもよい。 FIG. 1 illustrates an example in which the IC 373 is provided on the substrate 351 by a COG (Chip On Glass) method, a COF (Chip on Film) method, or the like. For example, an IC having a scan line driver circuit or a signal line driver circuit can be used as the IC 373. Note that the display device 100 and the display module may be configured without an IC. Further, the IC may be mounted on the FPC by a COF method or the like.

図1には、表示部362の一部の拡大図を示している。表示部362には、複数の表示素子が有する電極311bがマトリクス状に配置されている。電極311bは、可視光を反射する機能を有し、液晶素子180の反射電極として機能する。 FIG. 1 shows an enlarged view of a part of the display unit 362. In the display portion 362, electrodes 311b included in the plurality of display elements are arranged in a matrix. The electrode 311b has a function of reflecting visible light, and functions as a reflective electrode of the liquid crystal element 180.

また、図1に示すように、電極311bは開口451を有する。さらに表示部362は、電極311bよりも基板351側に、透過型の液晶素子170を有する。液晶素子170からの光は、電極311bの開口451を介して基板361側に射出される。液晶素子170の表示領域の面積と開口451の面積とは等しくてもよい。液晶素子170の表示領域の面積と開口451の面積のうち一方が他方よりも大きいと、位置ずれに対するマージンが大きくなるため好ましい。 As shown in FIG. 1, the electrode 311 b has an opening 451. Further, the display portion 362 includes a transmissive liquid crystal element 170 on the substrate 351 side of the electrode 311b. Light from the liquid crystal element 170 is emitted to the substrate 361 side through the opening 451 of the electrode 311b. The area of the display region of the liquid crystal element 170 and the area of the opening 451 may be equal. One of the area of the display area of the liquid crystal element 170 and the area of the opening 451 is larger than the other, which is preferable because a margin for positional deviation is increased.

図2に、図1で示した表示装置300Aの、FPC372を含む領域の一部、回路364を含む領域の一部、及び表示部362を含む領域の一部をそれぞれ切断したときの断面の一例を示す。 2 illustrates an example of a cross section of the display device 300A illustrated in FIG. 1 when a part of a region including the FPC 372, a part of a region including the circuit 364, and a part of a region including the display portion 362 are cut. Indicates.

図2に示す表示装置300Aは、基板351と基板361の間に、トランジスタ201、トランジスタ205、トランジスタ206、液晶素子180、液晶素子170、絶縁層220、着色層131等を有する。基板361と絶縁層220は接着層141を介して接着されている。基板351と絶縁層220は接着層142を介して接着されている。 A display device 300A illustrated in FIG. 2 includes a transistor 201, a transistor 205, a transistor 206, a liquid crystal element 180, a liquid crystal element 170, an insulating layer 220, a coloring layer 131, and the like between a substrate 351 and a substrate 361. The substrate 361 and the insulating layer 220 are bonded via an adhesive layer 141. The substrate 351 and the insulating layer 220 are bonded through an adhesive layer 142.

図2の表示部362では、基板361よりも外側に偏光板135aが設けられ、基板351よりも外側に偏光板135b及びバックライトユニット65が設けられている例を示している。例えば、基板351から基板361までの積層構造を、表示装置または表示パネルと呼ぶことができる。また、この積層構造に、偏光板135a、偏光板135b、及びバックライトユニット65を加えた積層構造を、表示モジュールと呼ぶことができる。 2 shows an example in which a polarizing plate 135a is provided outside the substrate 361 and a polarizing plate 135b and a backlight unit 65 are provided outside the substrate 351. For example, a stacked structure from the substrate 351 to the substrate 361 can be referred to as a display device or a display panel. Further, a stacked structure in which the polarizing plate 135a, the polarizing plate 135b, and the backlight unit 65 are added to the stacked structure can be referred to as a display module.

基板361には、着色層131、遮光層132、絶縁層121、及び液晶素子180の共通電極として機能する電極113、配向膜133b、絶縁層117等が設けられている。基板361の外側の面には、偏光板135aを有する。絶縁層121は、平坦化層としての機能を有していてもよい。絶縁層121により、電極113の表面を概略平坦にできるため、液晶層112の配向状態を均一にできる。絶縁層117は、液晶素子180のセルギャップを保持するためのスペーサとして機能する。 The substrate 361 is provided with a coloring layer 131, a light shielding layer 132, an insulating layer 121, an electrode 113 functioning as a common electrode of the liquid crystal element 180, an alignment film 133b, an insulating layer 117, and the like. A polarizing plate 135 a is provided on the outer surface of the substrate 361. The insulating layer 121 may function as a planarization layer. Since the surface of the electrode 113 can be substantially flattened by the insulating layer 121, the alignment state of the liquid crystal layer 112 can be made uniform. The insulating layer 117 functions as a spacer for maintaining the cell gap of the liquid crystal element 180.

液晶素子180は反射型の液晶素子である。液晶素子180は、画素電極として機能する電極311a及び電極311bと、液晶層112と、電極113とが積層された積層構造を有する。電極311aの基板351側に接して、可視光を反射する電極311bが設けられている。電極311bは開口451を有する。電極311a及び電極113は可視光を透過する。液晶層112と電極311aの間に配向膜133aが設けられている。液晶層112と電極113の間に配向膜133bが設けられている。 The liquid crystal element 180 is a reflective liquid crystal element. The liquid crystal element 180 has a stacked structure in which an electrode 311 a and an electrode 311 b that function as pixel electrodes, a liquid crystal layer 112, and an electrode 113 are stacked. An electrode 311b that reflects visible light is provided in contact with the substrate 351 side of the electrode 311a. The electrode 311b has an opening 451. The electrode 311a and the electrode 113 transmit visible light. An alignment film 133a is provided between the liquid crystal layer 112 and the electrode 311a. An alignment film 133 b is provided between the liquid crystal layer 112 and the electrode 113.

液晶素子180において、電極311bは可視光を反射する機能を有し、電極113は可視光を透過する機能を有する。基板361側から入射した光は、偏光板135aにより偏光され、電極113、液晶層112を透過し、電極311bで反射する。そして液晶層112及び電極113を再度透過して、偏光板135aに達する。このとき、電極311bと電極113の間に与える電圧によって液晶の配向を制御し、光の光学変調を制御することができる。すなわち、偏光板135aを介して射出される光の強度を制御することができる。また光は着色層131によって特定の波長領域以外の光が吸収されることにより、取り出される光は、例えば赤色を呈する光となる。 In the liquid crystal element 180, the electrode 311b has a function of reflecting visible light, and the electrode 113 has a function of transmitting visible light. Light incident from the substrate 361 side is polarized by the polarizing plate 135a, passes through the electrode 113 and the liquid crystal layer 112, and is reflected by the electrode 311b. Then, the light passes through the liquid crystal layer 112 and the electrode 113 again and reaches the polarizing plate 135a. At this time, the alignment of the liquid crystal can be controlled by the voltage applied between the electrode 311b and the electrode 113, and the optical modulation of light can be controlled. That is, the intensity of light emitted through the polarizing plate 135a can be controlled. In addition, light that is not in a specific wavelength region is absorbed by the colored layer 131, so that the extracted light is, for example, red light.

図2に示すように、開口451には可視光を透過する電極311aが設けられていることが好ましい。これにより、開口451と重なる領域においてもそれ以外の領域と同様に液晶層112が配向するため、これらの領域の境界部で液晶の配向不良が生じ、意図しない光が漏れてしまうことを抑制できる。 As shown in FIG. 2, the opening 451 is preferably provided with an electrode 311a that transmits visible light. Thereby, since the liquid crystal layer 112 is aligned in the region overlapping with the opening 451 as well as the other regions, it is possible to suppress the occurrence of unintentional light leakage due to poor alignment of the liquid crystal at the boundary between these regions. .

接続部207において、電極311bは、導電層221bを介して、トランジスタ206が有する導電層222aと電気的に接続されている。トランジスタ206は、液晶素子180の駆動を制御する機能を有する。 In the connection portion 207, the electrode 311b is electrically connected to the conductive layer 222a included in the transistor 206 through the conductive layer 221b. The transistor 206 has a function of controlling driving of the liquid crystal element 180.

接着層141が設けられる一部の領域には、接続部252が設けられている。接続部252において、電極311aと同一の導電膜を加工して得られた電極311eと、電極113の一部が、接続体243により電気的に接続されている。したがって、基板361側に形成された電極113に、基板351側に接続されたFPC372から入力される信号または電位を、接続部252を介して供給することができる。 A connection portion 252 is provided in a part of the region where the adhesive layer 141 is provided. In the connection portion 252, the electrode 311 e obtained by processing the same conductive film as the electrode 311 a and a part of the electrode 113 are electrically connected by the connection body 243. Therefore, a signal or a potential input from the FPC 372 connected to the substrate 351 side can be supplied to the electrode 113 formed on the substrate 361 side through the connection portion 252.

液晶素子170は、透過型の液晶素子である。液晶素子170は、画素電極として機能する電極191と、液晶層192と、電極193とが積層された積層構造を有する。電極191及び電極193は可視光を透過する。液晶層192と電極191の間に配向膜153aが設けられている。液晶層192と電極193の間に配向膜153bが設けられている。電極191は、絶縁層214に設けられた開口を介して、トランジスタ205が有する導電層222aと接続されている。トランジスタ205は、液晶素子170の駆動を制御する機能を有する。 The liquid crystal element 170 is a transmissive liquid crystal element. The liquid crystal element 170 has a stacked structure in which an electrode 191 functioning as a pixel electrode, a liquid crystal layer 192, and an electrode 193 are stacked. The electrodes 191 and 193 transmit visible light. An alignment film 153 a is provided between the liquid crystal layer 192 and the electrode 191. An alignment film 153 b is provided between the liquid crystal layer 192 and the electrode 193. The electrode 191 is connected to a conductive layer 222 a included in the transistor 205 through an opening provided in the insulating layer 214. The transistor 205 has a function of controlling driving of the liquid crystal element 170.

接着層142が設けられる一部の領域には、接続部253が設けられている。接続部253において、電極191と同一の導電膜を加工して得られた電極191aと、電極193の一部が、接続体244により電気的に接続されている。したがって、電極193に、FPC372から入力される信号または電位を、接続部253を介して供給することができる。 A connection portion 253 is provided in a part of the region where the adhesive layer 142 is provided. In the connection portion 253, an electrode 191 a obtained by processing the same conductive film as the electrode 191 and a part of the electrode 193 are electrically connected by a connection body 244. Therefore, a signal or a potential input from the FPC 372 can be supplied to the electrode 193 through the connection portion 253.

液晶素子170において、電極191及び電極193は可視光を透過する機能を有する。バックライトユニット65から射出された光は、偏光板135bにより偏光され、電極193、液晶層192、及び電極191を透過する。このとき、電極191と電極193の間に与える電圧によって液晶の配向を制御し、光の光学変調を制御することができる。すなわち、偏光板135aを介して射出される光の強度を制御することができる。 In the liquid crystal element 170, the electrode 191 and the electrode 193 have a function of transmitting visible light. Light emitted from the backlight unit 65 is polarized by the polarizing plate 135 b and passes through the electrode 193, the liquid crystal layer 192, and the electrode 191. At this time, the alignment of the liquid crystal can be controlled by the voltage applied between the electrode 191 and the electrode 193, and the optical modulation of light can be controlled. That is, the intensity of light emitted through the polarizing plate 135a can be controlled.

絶縁層117は、電極311bの開口451と重ねて設けられている。絶縁層117は、可視光を透過する。絶縁層117は、液晶素子170を透過する光の光路上に位置する。バックライトユニット65から射出され、偏光板135bで偏光され、液晶素子170を透過した光は、絶縁層117を透過し、偏光板135aに達する。これにより、液晶素子170を透過した光の偏光状態が、液晶層112によって変化してしまうことを防止できる。すなわち、液晶素子180に印加される電圧によって液晶層112の配向状態が変わっても、液晶素子170による表示は影響を受けない。なお、絶縁層117は、可視光を透過するため、液晶素子180の表示領域と重ねて配置してもよい。また、絶縁層117を透過した光は、着色層131によって特定の波長領域以外の光が吸収されることにより、取り出される光は、例えば赤色を呈する光となる。 The insulating layer 117 is provided so as to overlap with the opening 451 of the electrode 311b. The insulating layer 117 transmits visible light. The insulating layer 117 is located on the optical path of light that passes through the liquid crystal element 170. Light emitted from the backlight unit 65, polarized by the polarizing plate 135b, and transmitted through the liquid crystal element 170 is transmitted through the insulating layer 117 and reaches the polarizing plate 135a. Thereby, it is possible to prevent the polarization state of the light transmitted through the liquid crystal element 170 from being changed by the liquid crystal layer 112. That is, even if the alignment state of the liquid crystal layer 112 is changed by the voltage applied to the liquid crystal element 180, the display by the liquid crystal element 170 is not affected. Note that the insulating layer 117 may overlap with the display region of the liquid crystal element 180 in order to transmit visible light. Further, the light transmitted through the insulating layer 117 is absorbed by light outside the specific wavelength region by the colored layer 131, so that the extracted light becomes, for example, red light.

このような構成により、液晶素子170と、液晶素子180とをそれぞれ独立して駆動させることが可能となり、液晶素子170のみで画像を表示すること、液晶素子180のみで画像を表示すること、及び液晶素子170と液晶素子180の両方を同時に駆動させることにより画像を表示することを、それぞれ実現できる。 With such a configuration, the liquid crystal element 170 and the liquid crystal element 180 can be driven independently, displaying an image only with the liquid crystal element 170, displaying an image only with the liquid crystal element 180, and Displaying images by simultaneously driving both the liquid crystal element 170 and the liquid crystal element 180 can be realized.

液晶素子180及び液晶素子170は、画素によって着色層の色を変えることで、様々な色を呈することができる。表示装置300Aは、液晶素子180及び着色層を用いて、カラー表示を行うことができる。表示装置300Aは、液晶素子170及び着色層を用いて、カラー表示を行うことができる。 The liquid crystal element 180 and the liquid crystal element 170 can exhibit various colors by changing the color of the colored layer depending on the pixel. The display device 300A can perform color display using the liquid crystal element 180 and the colored layer. The display device 300A can perform color display using the liquid crystal element 170 and the colored layer.

カラー表示を実現するために、液晶素子170及び液晶素子180と組み合わせる着色層の色は、赤、緑、青の組み合わせだけでなく、黄、シアン、マゼンダの組み合わせであってもよい。例えば、液晶素子170と組み合わせる着色層の色を赤、緑、青とし、液晶素子180と組み合わせる着色層の色をシアン、マゼンダ、黄としてもよい。組み合わせる着色層の色は、目的または用途などに応じて適宜設定すればよい。液晶素子170と組み合わせる着色層と液晶素子180と組み合わせる着色層とがそれぞれ異なる色である場合、着色層131と液晶素子170の表示領域が重ならないよう、着色層131に開口を設けることが好ましい。また、液晶素子180を用いて白黒表示またはグレースケールでの表示を行う場合、着色層131を形成しなくてもよい。液晶素子170と組み合わせる着色層は、例えば、絶縁層213と絶縁層214の間に設けることができる。 In order to realize color display, the color of the colored layer combined with the liquid crystal element 170 and the liquid crystal element 180 may be not only a combination of red, green, and blue, but also a combination of yellow, cyan, and magenta. For example, the color of the colored layer combined with the liquid crystal element 170 may be red, green, and blue, and the color of the colored layer combined with the liquid crystal element 180 may be cyan, magenta, and yellow. What is necessary is just to set the color of the colored layer to combine suitably according to the objective or a use. In the case where the colored layer combined with the liquid crystal element 170 and the colored layer combined with the liquid crystal element 180 have different colors, it is preferable to provide an opening in the colored layer 131 so that the display area of the colored layer 131 and the liquid crystal element 170 do not overlap. In addition, when performing monochrome display or grayscale display using the liquid crystal element 180, the colored layer 131 is not necessarily formed. The colored layer combined with the liquid crystal element 170 can be provided between the insulating layer 213 and the insulating layer 214, for example.

トランジスタ201、トランジスタ205、及びトランジスタ206は、いずれも絶縁層220の基板351側の面上に形成されている。これらのトランジスタは、同一の工程を用いて作製することができる。 The transistors 201, 205, and 206 are all formed on the surface of the insulating layer 220 on the substrate 351 side. These transistors can be manufactured using the same process.

液晶素子180と電気的に接続される回路は、液晶素子170と電気的に接続される回路と同一面上に形成されることが好ましい。これにより、2つの回路を別々の面上に形成する場合に比べて、表示装置の厚さを薄くすることができる。また、2つのトランジスタを同一の工程で作製できるため、2つのトランジスタを別々の面上に形成する場合に比べて、作製工程を簡略化することができる。 The circuit electrically connected to the liquid crystal element 180 is preferably formed on the same plane as the circuit electrically connected to the liquid crystal element 170. Thereby, the thickness of the display device can be reduced as compared with the case where the two circuits are formed on different surfaces. Further, since the two transistors can be manufactured in the same process, the manufacturing process can be simplified as compared with the case where the two transistors are formed over different surfaces.

液晶素子180の画素電極は、トランジスタが有するゲート絶縁層を挟んで、液晶素子170の画素電極とは反対に位置する。 The pixel electrode of the liquid crystal element 180 is positioned opposite to the pixel electrode of the liquid crystal element 170 with a gate insulating layer included in the transistor interposed therebetween.

ここで、チャネル形成領域に金属酸化物を有し、オフ電流が極めて低いトランジスタを適用した場合や、トランジスタと電気的に接続される記憶素子を適用した場合などでは、液晶素子を用いて静止画を表示する際に画素への書き込み動作を停止しても、階調を維持させることが可能となる。すなわち、フレームレートを極めて小さくしても表示を保つことができる。本発明の一態様では、フレームレートを極めて小さくでき、消費電力の低い駆動を行うことができる。 Here, when a transistor having a metal oxide in the channel formation region and having an extremely low off-state current is used, or when a memory element electrically connected to the transistor is used, a still image using a liquid crystal element is used. Even when the writing operation to the pixel is stopped when displaying the image, the gradation can be maintained. That is, display can be maintained even if the frame rate is extremely small. In one embodiment of the present invention, the frame rate can be extremely small, and driving with low power consumption can be performed.

絶縁層220の基板351側には、絶縁層211、絶縁層212、絶縁層213、絶縁層214等の絶縁層が設けられている。絶縁層211は、その一部が各トランジスタのゲート絶縁層として機能する。絶縁層212、絶縁層213、及び絶縁層214は、それぞれ、トランジスタを覆って設けられる。絶縁層214は、平坦化層としての機能を有する。なお、トランジスタを覆う絶縁層の数は限定されず、単層であっても2層以上であってもよい。 Insulating layers such as an insulating layer 211, an insulating layer 212, an insulating layer 213, and an insulating layer 214 are provided on the substrate 351 side of the insulating layer 220. A part of the insulating layer 211 functions as a gate insulating layer of each transistor. The insulating layer 212, the insulating layer 213, and the insulating layer 214 are each provided to cover the transistor. The insulating layer 214 functions as a planarization layer. Note that the number of insulating layers covering the transistor is not limited, and may be a single layer or two or more layers.

各トランジスタを覆う絶縁層の少なくとも一層に、水や水素などの不純物が拡散しにくい材料を用いることが好ましい。これにより、絶縁層をバリア膜として機能させることができる。このような構成とすることで、トランジスタに対して外部から不純物が拡散することを効果的に抑制することが可能となり、信頼性の高い表示装置を実現できる。 It is preferable to use a material in which impurities such as water and hydrogen hardly diffuse for at least one of the insulating layers covering each transistor. Thereby, the insulating layer can function as a barrier film. With such a structure, impurities can be effectively prevented from diffusing from the outside with respect to the transistor, and a highly reliable display device can be realized.

トランジスタ205及びトランジスタ206は、ゲートとして機能する導電層221a、ゲート絶縁層として機能する絶縁層211、ソース及びドレインとして機能する導電層222a及び導電層222b、並びに、半導体層231を有する。ここでは、同一の導電膜を加工して得られる複数の層に、同じハッチングパターンを付している。 The transistor 205 and the transistor 206 include a conductive layer 221a functioning as a gate, an insulating layer 211 functioning as a gate insulating layer, conductive layers 222a and 222b functioning as a source and a drain, and a semiconductor layer 231. Here, the same hatching pattern is given to a plurality of layers obtained by processing the same conductive film.

トランジスタ201は、トランジスタ205及びトランジスタ206の構成に加えて、ゲートとして機能する導電層223を有する。 The transistor 201 includes a conductive layer 223 functioning as a gate in addition to the structures of the transistor 205 and the transistor 206.

トランジスタ201には、チャネルが形成される半導体層を2つのゲートで挟持する構成が適用されている。このような構成とすることで、トランジスタの閾値電圧を制御することができる。2つのゲートを接続し、これらに同一の信号を供給することによりトランジスタを駆動してもよい。このようなトランジスタは他のトランジスタと比較して電界効果移動度を高めることが可能であり、オン電流を増大させることができる。その結果、高速駆動が可能な回路を作製することができる。さらには、回路部の占有面積を縮小することが可能となる。オン電流の大きなトランジスタを適用することで、表示装置を大型化、または高精細化したときに配線数が増大したとしても、各配線における信号遅延を低減することが可能であり、表示ムラを抑制することができる。 A structure in which a semiconductor layer in which a channel is formed is sandwiched between two gates is applied to the transistor 201. With such a structure, the threshold voltage of the transistor can be controlled. The transistor may be driven by connecting two gates and supplying the same signal thereto. Such a transistor can have higher field-effect mobility than other transistors, and can increase on-state current. As a result, a circuit that can be driven at high speed can be manufactured. Furthermore, the area occupied by the circuit portion can be reduced. By applying a transistor with a large on-state current, even if the number of wirings increases when the display device is enlarged or high-definition, signal delay in each wiring can be reduced, and display unevenness is suppressed. can do.

または、2つのゲートのうち、一方に閾値電圧を制御するための電位を与え、他方に駆動のための電位を与えることで、トランジスタの閾値電圧を制御することができる。 Alternatively, the threshold voltage of the transistor can be controlled by applying a potential for controlling the threshold voltage to one of the two gates and applying a potential for driving to the other of the two gates.

表示装置が有するトランジスタの構造に限定はない。回路364が有するトランジスタと、表示部362が有するトランジスタは、同じ構造であってもよく、異なる構造であってもよい。回路364が有する複数のトランジスタは、全て同じ構造であってもよく、2種類以上の構造が組み合わせて用いられていてもよい。同様に、表示部362が有する複数のトランジスタは、全て同じ構造であってもよく、2種類以上の構造が組み合わせて用いられていてもよい。 There is no limitation on the structure of the transistor included in the display device. The transistor included in the circuit 364 and the transistor included in the display portion 362 may have the same structure or different structures. The plurality of transistors included in the circuit 364 may have the same structure, or two or more structures may be used in combination. Similarly, the plurality of transistors included in the display portion 362 may have the same structure, or two or more structures may be used in combination.

導電層223には、酸化物を含む導電性材料を用いることが好ましい。導電層223を構成する導電膜の成膜時に、酸素を含む雰囲気下で成膜することで、絶縁層212に酸素を供給することができる。成膜ガス中の酸素ガスの割合を90%以上100%以下の範囲とすることが好ましい。絶縁層212に供給された酸素は、後の熱処理により半導体層231に供給され、半導体層231中の酸素欠損の低減を図ることができる。 For the conductive layer 223, a conductive material containing an oxide is preferably used. When the conductive film included in the conductive layer 223 is formed, oxygen can be supplied to the insulating layer 212 by being formed in an atmosphere containing oxygen. The proportion of oxygen gas in the film forming gas is preferably in the range of 90% to 100%. Oxygen supplied to the insulating layer 212 is supplied to the semiconductor layer 231 by a later heat treatment, so that oxygen vacancies in the semiconductor layer 231 can be reduced.

特に、導電層223には、低抵抗化された金属酸化物を用いることが好ましい。このとき、絶縁層213に水素を放出する絶縁膜、例えば窒化シリコン膜等を用いることが好ましい。絶縁層213の成膜中、またはその後の熱処理によって導電層223中に水素が供給され、導電層223の電気抵抗を効果的に低減することができる。 In particular, the conductive layer 223 is preferably formed using a metal oxide with low resistance. At this time, an insulating film from which hydrogen is released, for example, a silicon nitride film or the like is preferably used for the insulating layer 213. Hydrogen is supplied into the conductive layer 223 during the formation of the insulating layer 213 or by a subsequent heat treatment, so that the electrical resistance of the conductive layer 223 can be effectively reduced.

基板351の基板361と重ならない領域には、接続部204が設けられている。接続部204では、配線365が接続層242を介してFPC372と電気的に接続されている。接続部204は接続部207と同様の構成を有している。接続部204の上面は、電極311aと同一の導電膜を加工して得られた電極311cが露出している。これにより、接続部204とFPC372とを接続層242を介して電気的に接続することができる。 A connection portion 204 is provided in a region of the substrate 351 that does not overlap with the substrate 361. In the connection portion 204, the wiring 365 is electrically connected to the FPC 372 through the connection layer 242. The connection unit 204 has the same configuration as the connection unit 207. The electrode 311c obtained by processing the same conductive film as the electrode 311a is exposed on the upper surface of the connection portion 204. Accordingly, the connection unit 204 and the FPC 372 can be electrically connected via the connection layer 242.

接続層242としては、様々な異方性導電フィルム(ACF:Anisotropic Conductive Film)及び異方性導電ペースト(ACP:Anisotropic Conductive Paste)等を用いることができる。 As the connection layer 242, various anisotropic conductive films (ACF: Anisotropic Conductive Film), anisotropic conductive paste (ACP: Anisotropic Conductive Paste), and the like can be used.

偏光板135a及び偏光板135bとして、例えば、円偏光板を用いることができる。円偏光板としては、例えば直線偏光板と1/4波長位相差板を積層したものを用いることができる。また、偏光板の種類に応じて、液晶素子180に用いる液晶素子のセルギャップ、配向、駆動電圧等を調整することで、所望のコントラストが実現されるようにすれる。また、目的、用途、素子構成などによっては、円偏光板に代えて直線偏光板を用いてもよい。 As the polarizing plate 135a and the polarizing plate 135b, for example, circular polarizing plates can be used. As a circularly-polarizing plate, what laminated | stacked the linearly-polarizing plate and the quarter wavelength phase difference plate, for example can be used. Further, by adjusting the cell gap, alignment, driving voltage, and the like of the liquid crystal element used for the liquid crystal element 180 according to the type of the polarizing plate, a desired contrast can be realized. Further, depending on the purpose, application, element configuration, etc., a linearly polarizing plate may be used instead of the circularly polarizing plate.

基板351及び基板361には、それぞれ、ガラス、石英、セラミック、サファイヤ、有機樹脂などを用いることができる。基板351及び基板361に可撓性を有する材料を用いると、表示装置の可撓性を高めることができる。 For the substrate 351 and the substrate 361, glass, quartz, ceramic, sapphire, organic resin, or the like can be used, respectively. When a flexible material is used for the substrate 351 and the substrate 361, the flexibility of the display device can be increased.

表示装置を構成する基板の厚さは、それぞれ、十分に薄いことが好ましい。基板には、例えば、厚さ0.1mm以上0.5mm未満、好ましくは0.1mm以上0.3mm以下のガラス基板、厚さ1μm以上200μm以下の樹脂基板などを適用することが好ましい。基板の厚さを薄くすることで、表示装置の薄型化及び軽量化が可能となる。また、表示面側の基板の厚さを薄くすることで、画像のボケを低減し、画像を鮮明に表示することができる。 The thicknesses of the substrates constituting the display device are preferably sufficiently thin. For example, a glass substrate having a thickness of 0.1 mm to less than 0.5 mm, preferably 0.1 mm to 0.3 mm, a resin substrate having a thickness of 1 μm to 200 μm, and the like are preferably used as the substrate. By reducing the thickness of the substrate, the display device can be made thinner and lighter. In addition, by reducing the thickness of the substrate on the display surface side, blurring of the image can be reduced and the image can be clearly displayed.

例えば、液晶素子170及び液晶素子180は、それぞれ、ゲスト・ホスト液晶モードを用いて駆動することが好ましい。ゲスト・ホスト液晶モードを用いる場合、偏光板を用いなくてよい。偏光板による光の吸収を低減できるため、光取り出し効率を高め、表示装置の表示を明るくすることができる。 For example, each of the liquid crystal element 170 and the liquid crystal element 180 is preferably driven using a guest / host liquid crystal mode. When the guest / host liquid crystal mode is used, it is not necessary to use a polarizing plate. Since light absorption by the polarizing plate can be reduced, light extraction efficiency can be increased and display on the display device can be brightened.

例えば、図2において、液晶素子170を、ゲスト・ホスト液晶モードを用いて駆動し、液晶素子180を、その他のモードを用いて駆動する場合は、偏光板135bを設けなくてよい。 For example, in FIG. 2, when the liquid crystal element 170 is driven using the guest / host liquid crystal mode and the liquid crystal element 180 is driven using another mode, the polarizing plate 135b is not necessarily provided.

例えば、図2において、液晶素子170及び液晶素子180の双方を、ゲスト・ホスト液晶モードを用いて駆動する場合は、偏光板135a及び偏光板135bの双方を設けなくてよい。 For example, in FIG. 2, when both the liquid crystal element 170 and the liquid crystal element 180 are driven using the guest / host liquid crystal mode, both the polarizing plate 135a and the polarizing plate 135b are not necessarily provided.

液晶材料は、二色性色素を有することが好ましい。なお、二色性色素を含む液晶材料をゲスト・ホスト液晶という。ゲスト・ホスト液晶は、具体的には、分子の長軸方向に大きな吸光度を有し、長軸方向と直交する短軸方向に小さな吸光度を有する材料を、二色性色素に用いることができる。好ましくは、10以上の二色性比を有する材料を二色性色素に用いることができ、より好ましくは、20以上の二色性比を有する材料を二色性色素に用いることができる。 The liquid crystal material preferably has a dichroic dye. A liquid crystal material containing a dichroic dye is referred to as a guest / host liquid crystal. For the guest-host liquid crystal, specifically, a material having a large absorbance in the major axis direction of the molecule and a small absorbance in the minor axis direction orthogonal to the major axis direction can be used for the dichroic dye. Preferably, a material having a dichroic ratio of 10 or more can be used for the dichroic dye, and more preferably, a material having a dichroic ratio of 20 or more can be used for the dichroic dye.

例えば、アゾ系色素、アントラキノン系色素、ジオキサジン系色素等を、二色性色素に用いることができる。または、ホモジニアス配向した二色性色素を含む二層の液晶層を、配向方向が互いに直交するように重ねた構造を、液晶材料を含む層に用いることができる。これにより、全方位について光を吸収しやすくすることができる。または、コントラストを高めることができる。 For example, azo dyes, anthraquinone dyes, dioxazine dyes, and the like can be used as dichroic dyes. Alternatively, a structure in which two liquid crystal layers containing homogeneously aligned dichroic dyes are stacked so that the alignment directions are orthogonal to each other can be used for the layer containing the liquid crystal material. Thereby, light can be easily absorbed in all directions. Alternatively, contrast can be increased.

また、相転移型ゲスト・ホスト液晶や、ゲスト・ホスト液晶を含む液滴を高分子に分散した構造を、液晶材料に用いてもよい。 Alternatively, a phase transition type guest-host liquid crystal or a structure in which droplets containing a guest-host liquid crystal are dispersed in a polymer may be used for the liquid crystal material.

液晶素子170及び液晶素子180は、ゲスト・ホスト液晶モードに限定されず、それぞれ、TN(Twisted Nematic)モード、OCB(Optically Compensated Birefringence)モード、垂直配向(VA)モードなどの駆動方法を用いて駆動してもよい。 The liquid crystal element 170 and the liquid crystal element 180 are not limited to the guest / host liquid crystal mode, and are driven using driving methods such as a TN (Twisted Nematic) mode, an OCB (Optically Compensated Birefringence) mode, and a vertical alignment (VA) mode, respectively. May be.

垂直配向モードとしては、MVA(Multi−Domain Vertical Alignment)モード、PVA(Patterned Vertical Alignment)モード、ASV(Advanced Super View)モードなどを用いることができる。 As the vertical alignment mode, an MVA (Multi-Domain Vertical Alignment) mode, a PVA (Patterned Vertical Alignment) mode, an ASV (Advanced Super View) mode, or the like can be used.

液晶素子170及び液晶素子180には、それぞれ、その他、様々なモードが適用された液晶素子を用いることができる。例えばIPS(In−Plane−Switching)モード、VA−IPSモード、FFS(Fringe Field Switching)モード、ASM(Axially Symmetric aligned Micro−cell)モード、FLC(Ferroelectric Liquid Crystal)モード、AFLC(AntiFerroelectric Liquid Crystal)モード、STN(Super Twisted Nematic)モード、TBA(Transverse Bend Alignment)モード、ECB(Electrically Controlled Birefringence)モード等が適用された液晶素子を用いることができる。 As the liquid crystal element 170 and the liquid crystal element 180, other liquid crystal elements to which various modes are applied can be used. For example, IPS (In-Plane-Switching) mode, VA-IPS mode, FFS (Fringe Field Switching) mode, ASM (Axial Symmetrical aligned Micro-cell) mode, FLC (Ferroelectric Liquid LC mode) Further, a liquid crystal element to which a STN (Super Twisted Nematic) mode, a TBA (Transverse Bend Alignment) mode, an ECB (Electrically Controlled Birefringence) mode, or the like can be used.

液晶素子は、液晶の光学的変調作用によって光の透過または非透過を制御する素子である。液晶の光学的変調作用は、液晶にかかる電界(横方向の電界、縦方向の電界または斜め方向の電界を含む)によって制御される。液晶素子に用いる液晶としては、サーモトロピック液晶、低分子液晶、高分子液晶、高分子分散型液晶(PDLC:Polymer Dispersed Liquid Crystal)、高分子ネットワーク型液晶(PNLC:Polymer Network Liquid Crystal)、強誘電性液晶、反強誘電性液晶等を用いることができる。これらの液晶材料は、条件により、コレステリック相、スメクチック相、キュービック相、カイラルネマチック相、等方相等を示す。 The liquid crystal element is an element that controls transmission or non-transmission of light by an optical modulation action of liquid crystal. The optical modulation action of the liquid crystal is controlled by an electric field applied to the liquid crystal (including a horizontal electric field, a vertical electric field, or an oblique electric field). The liquid crystal used for the liquid crystal element includes a thermotropic liquid crystal, a low molecular liquid crystal, a polymer liquid crystal, a polymer dispersed liquid crystal (PDLC), a polymer network liquid crystal (PNLC), a ferroelectric. A liquid crystal, an antiferroelectric liquid crystal, or the like can be used. These liquid crystal materials exhibit a cholesteric phase, a smectic phase, a cubic phase, a chiral nematic phase, an isotropic phase, and the like depending on conditions.

液晶材料としては、ポジ型の液晶またはネガ型の液晶のいずれを用いてもよく、適用するモードや設計に応じて最適な液晶材料を用いればよい。 As the liquid crystal material, either a positive type liquid crystal or a negative type liquid crystal may be used, and an optimal liquid crystal material may be used according to an applied mode or design.

液晶の配向を制御するため、配向膜を設けることができる。なお、横電界方式を採用する場合、配向膜を用いないブルー相を示す液晶を用いてもよい。ブルー相は液晶相の一つであり、コレステリック液晶を昇温していくと、コレステリック相から等方相へ転移する直前に発現する相である。ブルー相は狭い温度範囲でしか発現しないため、温度範囲を改善するために数重量%以上のカイラル剤を混合させた液晶組成物を液晶に用いる。ブルー相を示す液晶とカイラル剤とを含む液晶組成物は、応答速度が短く、光学的等方性である。また、ブルー相を示す液晶とカイラル剤とを含む液晶組成物は、配向処理が不要であり、視野角依存性が小さい。また配向膜を設けなくてもよいのでラビング処理も不要となるため、ラビング処理によって引き起こされる静電破壊を防止することができ、作製工程中の液晶表示装置の不良や破損を軽減することができる。 In order to control the alignment of the liquid crystal, an alignment film can be provided. Note that in the case of employing a horizontal electric field mode, liquid crystal exhibiting a blue phase for which an alignment film is unnecessary may be used. The blue phase is one of the liquid crystal phases. When the temperature of the cholesteric liquid crystal is increased, the blue phase appears immediately before the transition from the cholesteric phase to the isotropic phase. Since the blue phase appears only in a narrow temperature range, a liquid crystal composition mixed with several percent by weight or more of a chiral agent is used for the liquid crystal in order to improve the temperature range. A liquid crystal composition containing a liquid crystal exhibiting a blue phase and a chiral agent has a short response speed and is optically isotropic. In addition, a liquid crystal composition including a liquid crystal exhibiting a blue phase and a chiral agent does not require alignment treatment and has a small viewing angle dependency. Further, since it is not necessary to provide an alignment film, a rubbing process is not required, so that electrostatic breakdown caused by the rubbing process can be prevented, and defects or breakage of the liquid crystal display device during the manufacturing process can be reduced. .

偏光板135aよりも外側に、フロントライトを設けてもよい。フロントライトとしては、エッジライト型のフロントライトを用いることが好ましい。LEDを備えるフロントライトを用いると、消費電力を低減できるため好ましい。 A front light may be provided outside the polarizing plate 135a. As the front light, an edge light type front light is preferably used. It is preferable to use a front light including an LED because power consumption can be reduced.

また、液晶素子170及び液晶素子180の一方または双方は、液晶層中に隔壁を有していてもよい。当該隔壁は、液晶素子が有する一対の電極(または一対の配向膜)を接着する機能を有する。隔壁により、液晶素子が有する一対の電極(または一対の配向膜)の密着性を高めることができる。したがって、液晶素子を作製した後に行う作製基板の分離工程の歩留まりを高めることができる。液晶素子の非表示領域と重ねて隔壁を配置することが好ましい。隔壁として、例えば、ポリマーウォール(ポリマー壁ともいう)を用いることができる。 One or both of the liquid crystal element 170 and the liquid crystal element 180 may have a partition in the liquid crystal layer. The partition has a function of bonding a pair of electrodes (or a pair of alignment films) included in the liquid crystal element. With the partition, the adhesion between the pair of electrodes (or the pair of alignment films) included in the liquid crystal element can be increased. Therefore, the yield of the separation step of the manufacturing substrate performed after manufacturing the liquid crystal element can be increased. It is preferable to dispose a partition wall over the non-display region of the liquid crystal element. As the partition wall, for example, a polymer wall (also referred to as a polymer wall) can be used.

≪表示装置の作製方法例1≫
以下では、図3〜図11を用いて、表示装置300Aの作製方法について説明する。
<< Example 1 of Manufacturing Method of Display Device >>
Hereinafter, a method for manufacturing the display device 300A will be described with reference to FIGS.

なお、表示装置を構成する薄膜(絶縁膜、半導体膜、導電膜等)は、スパッタリング法、化学気相堆積(CVD:Chemical Vapor Deposition)法、真空蒸着法、パルスレーザ堆積(PLD:Pulse Laser Deposition)法、原子層成膜(ALD:Atomic Layer Deposition)法等を用いて形成することができる。CVD法としては、プラズマ化学気相堆積(PECVD)法や、熱CVD法でもよい。熱CVD法の例として、有機金属化学気相堆積(MOCVD:Metal Organic CVD)法を使ってもよい。 Note that a thin film (an insulating film, a semiconductor film, a conductive film, or the like) included in the display device can be formed using a sputtering method, a chemical vapor deposition (CVD) method, a vacuum evaporation method, or a pulse laser deposition (PLD: Pulse Laser Deposition). ) Method, atomic layer deposition (ALD: Atomic Layer Deposition) method, or the like. The CVD method may be a plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD) method or a thermal CVD method. As an example of the thermal CVD method, a metal organic chemical vapor deposition (MOCVD) method may be used.

表示装置を構成する薄膜(絶縁膜、半導体膜、導電膜等)は、スピンコート、ディップ、スプレー塗布、インクジェット、ディスペンス、スクリーン印刷、オフセット印刷、ドクターナイフ、スリットコート、ロールコート、カーテンコート、ナイフコート等の方法により形成することができる。 Thin films (insulating films, semiconductor films, conductive films, etc.) constituting display devices are spin coat, dip, spray coating, ink jet, dispense, screen printing, offset printing, doctor knife, slit coat, roll coat, curtain coat, knife It can be formed by a method such as coating.

表示装置を構成する薄膜を加工する際には、リソグラフィ法等を用いて加工することができる。または、遮蔽マスクを用いた成膜方法により、島状の薄膜を形成してもよい。または、ナノインプリント法、サンドブラスト法、リフトオフ法などにより薄膜を加工してもよい。フォトリソグラフィ法としては、加工したい薄膜上にレジストマスクを形成して、エッチング等により当該薄膜を加工し、レジストマスクを除去する方法と、感光性を有する薄膜を成膜した後に、露光、現像を行って、当該薄膜を所望の形状に加工する方法と、がある。 When a thin film included in the display device is processed, the thin film can be processed using a lithography method or the like. Alternatively, an island-shaped thin film may be formed by a film formation method using a shielding mask. Alternatively, the thin film may be processed by a nanoimprint method, a sand blast method, a lift-off method, or the like. As a photolithography method, a resist mask is formed on a thin film to be processed, the thin film is processed by etching or the like, and the resist mask is removed. After forming a photosensitive thin film, exposure and development are performed. And a method for processing the thin film into a desired shape.

リソグラフィ法において光を用いる場合、露光に用いる光は、例えばi線(波長365nm)、g線(波長436nm)、h線(波長405nm)、またはこれらを混合させた光を用いることができる。そのほか、紫外線やKrFレーザ光、またはArFレーザ光等を用いることもできる。また、液浸露光技術により露光を行ってもよい。また、露光に用いる光として、極端紫外光(EUV:Extreme Ultra−violet)やX線を用いてもよい。また、露光に用いる光に換えて、電子ビームを用いることもできる。極端紫外光、X線または電子ビームを用いると、極めて微細な加工が可能となるため好ましい。なお、電子ビームなどのビームを走査することにより露光を行う場合には、フォトマスクは不要である。 When light is used in the lithography method, for example, light used for exposure can be i-line (wavelength 365 nm), g-line (wavelength 436 nm), h-line (wavelength 405 nm), or light in which these are mixed. In addition, ultraviolet light, KrF laser light, ArF laser light, or the like can be used. Further, exposure may be performed by an immersion exposure technique. Further, extreme ultraviolet light (EUV: Extreme Ultra-violet) or X-rays may be used as light used for exposure. Further, an electron beam can be used instead of the light used for exposure. It is preferable to use extreme ultraviolet light, X-rays, or an electron beam because extremely fine processing is possible. Note that a photomask is not necessary when exposure is performed by scanning a beam such as an electron beam.

薄膜のエッチングには、ドライエッチング法、ウエットエッチング法、サンドブラスト法などを用いることができる。 For etching the thin film, a dry etching method, a wet etching method, a sand blasting method, or the like can be used.

[ステップS1:作製基板14を準備する]
まず、作製基板14を準備する(図3及び図4(A))。
[Step S1: Prepare Fabrication Substrate 14]
First, a manufacturing substrate 14 is prepared (FIGS. 3 and 4A).

作製基板14は、搬送が容易となる程度に剛性を有し、かつ作製工程にかかる温度に対して耐熱性を有する。作製基板14に用いることができる材料としては、例えば、ガラス、石英、セラミック、サファイヤ、樹脂、半導体、金属または合金などが挙げられる。ガラスとしては、例えば、無アルカリガラス、バリウムホウケイ酸ガラス、アルミノホウケイ酸ガラス等が挙げられる。 The manufacturing substrate 14 has rigidity to such an extent that it can be easily transported, and has heat resistance with respect to the temperature required for the manufacturing process. Examples of a material that can be used for the manufacturing substrate 14 include glass, quartz, ceramic, sapphire, resin, semiconductor, metal, and alloy. Examples of the glass include alkali-free glass, barium borosilicate glass, and alumino borosilicate glass.

作製基板14の厚さは、例えば、0.5mm以上1mm以下であり、具体的には0.5mmや0.7mmが挙げられる。 The thickness of the manufacturing substrate 14 is, for example, not less than 0.5 mm and not more than 1 mm, specifically 0.5 mm and 0.7 mm.

[ステップS2:金属酸化物層20を形成する]
次に、作製基板14上に、金属酸化物層20を形成する(図3及び図4(B1))。または、作製基板14上に、金属層19と金属酸化物層20とを積層する(図4(B2))。
[Step S2: Form Metal Oxide Layer 20]
Next, the metal oxide layer 20 is formed over the manufacturing substrate 14 (FIG. 3 and FIG. 4 (B1)). Alternatively, the metal layer 19 and the metal oxide layer 20 are stacked over the manufacturing substrate 14 (FIG. 4B2).

金属層19には、各種金属や合金等を用いることができる。 Various metals, alloys, and the like can be used for the metal layer 19.

金属酸化物層20には、各種金属の酸化物を用いることができる。金属酸化物としては、例えば、酸化チタン(TiO)、酸化モリブデン、酸化アルミニウム、酸化タングステン、シリコンを含むインジウム錫酸化物(ITSO)、インジウム亜鉛酸化物、In−Ga−Zn酸化物等が挙げられる。 Various metal oxides can be used for the metal oxide layer 20. Examples of the metal oxide include titanium oxide (TiO x ), molybdenum oxide, aluminum oxide, tungsten oxide, indium tin oxide containing silicon (ITSO), indium zinc oxide, and In—Ga—Zn oxide. It is done.

そのほか、金属酸化物としては、酸化インジウム、チタンを含むインジウム酸化物、タングステンを含むインジウム酸化物、インジウム錫酸化物(ITO)、チタンを含むITO、タングステンを含むインジウム亜鉛酸化物、酸化亜鉛(ZnO)、ガリウムを含むZnO、酸化ハフニウム、酸化イットリウム、酸化ジルコニウム、酸化ガリウム、酸化タンタル、酸化マグネシウム、酸化ランタン、酸化セリウム、酸化ネオジム、酸化スズ、酸化ビスマス、チタン酸塩、タンタル酸塩、ニオブ酸塩等が挙げられる。 Other metal oxides include indium oxide, indium oxide containing titanium, indium oxide containing tungsten, indium tin oxide (ITO), ITO containing titanium, indium zinc oxide containing tungsten, and zinc oxide (ZnO). ), ZnO containing gallium, hafnium oxide, yttrium oxide, zirconium oxide, gallium oxide, tantalum oxide, magnesium oxide, lanthanum oxide, cerium oxide, neodymium oxide, tin oxide, bismuth oxide, titanate, tantalate, niobic acid Examples include salts.

金属酸化物層20の形成方法に特に限定は無い。例えば、スパッタリング法、プラズマCVD法、蒸着法、ゾルゲル法、電気泳動法、スプレー法等を用いて形成することができる。 There is no particular limitation on the method of forming the metal oxide layer 20. For example, it can be formed using a sputtering method, a plasma CVD method, a vapor deposition method, a sol-gel method, an electrophoresis method, a spray method, or the like.

金属層を成膜した後に、当該金属層に酸素を導入することで、金属酸化物層20を形成することができる。このとき、金属層の表面のみ、または金属層全体を酸化させる。前者の場合、金属層に酸素を導入することで、金属層19と金属酸化物層20との積層構造が形成される(図4(B2))。 After the metal layer is formed, the metal oxide layer 20 can be formed by introducing oxygen into the metal layer. At this time, only the surface of the metal layer or the entire metal layer is oxidized. In the former case, a stacked structure of the metal layer 19 and the metal oxide layer 20 is formed by introducing oxygen into the metal layer (FIG. 4 (B2)).

例えば、酸素を含む雰囲気下で金属層を加熱することで、金属層を酸化させることができる。酸素を含むガスを流しながら金属層を加熱することが好ましい。金属層を加熱する温度は、100℃以上500℃以下が好ましく、100℃以上450℃以下がより好ましく、100℃以上400℃以下がより好ましく、100℃以上350℃以下がさらに好ましい。 For example, the metal layer can be oxidized by heating the metal layer in an atmosphere containing oxygen. It is preferable to heat the metal layer while flowing a gas containing oxygen. The temperature for heating the metal layer is preferably 100 ° C. or higher and 500 ° C. or lower, more preferably 100 ° C. or higher and 450 ° C. or lower, more preferably 100 ° C. or higher and 400 ° C. or lower, and further preferably 100 ° C. or higher and 350 ° C. or lower.

金属層は、トランジスタの作製における最高温度以下で加熱されることが好ましい。これにより、表示装置の作製における最高温度が高くなることを防止できる。トランジスタの作製における最高温度以下とすることで、トランジスタの作製工程における製造装置などを流用することが可能となるため、追加の設備投資などを抑制することができる。したがって、生産コストが抑制された表示装置とすることができる。例えば、トランジスタの作製温度が350℃までである場合、加熱処理の温度は350℃以下とすることが好ましい。 The metal layer is preferably heated below the maximum temperature in the manufacture of the transistor. Thereby, it can prevent that the maximum temperature in manufacture of a display apparatus becomes high. By setting the temperature to be equal to or lower than the maximum temperature in manufacturing a transistor, it is possible to divert a manufacturing apparatus or the like in a transistor manufacturing process, and thus it is possible to suppress additional equipment investment. Therefore, a display device with reduced production costs can be obtained. For example, when the manufacturing temperature of the transistor is up to 350 ° C., the temperature of the heat treatment is preferably 350 ° C. or lower.

または、金属層の表面にラジカル処理を行うことで金属層を酸化させることができる。ラジカル処理では、酸素ラジカル及びヒドロキシラジカルのうち少なくとも一方を含む雰囲気に、金属層の表面を曝すことが好ましい。例えば、酸素または水蒸気(HO)のうち一方または双方を含む雰囲気でプラズマ処理を行うことが好ましい。 Alternatively, the metal layer can be oxidized by performing radical treatment on the surface of the metal layer. In the radical treatment, it is preferable to expose the surface of the metal layer to an atmosphere containing at least one of oxygen radicals and hydroxy radicals. For example, plasma treatment is preferably performed in an atmosphere containing one or both of oxygen and water vapor (H 2 O).

金属酸化物層20の表面または内部に、水素、酸素、水素ラジカル(H)、酸素ラジカル(O)、ヒドロキシラジカル(OH)等を含ませることで、金属酸化物層20と樹脂層23との分離に要する力を低減できる。このことからも、金属酸化物層20の形成に、ラジカル処理もしくはプラズマ処理を行うことは好適である。 By including hydrogen, oxygen, hydrogen radical (H * ), oxygen radical (O * ), hydroxy radical (OH * ), or the like on the surface or inside of the metal oxide layer 20, the metal oxide layer 20 and the resin layer The force required for separation from 23 can be reduced. From this point of view, it is preferable to perform radical treatment or plasma treatment to form the metal oxide layer 20.

金属層の表面にラジカル処理もしくはプラズマ処理を行うことで金属層を酸化させる場合、金属層を高温で加熱する工程が不要となる。そのため、表示装置の作製における最高温度が高くなることを防止できる。 When the metal layer is oxidized by performing radical treatment or plasma treatment on the surface of the metal layer, a step of heating the metal layer at a high temperature becomes unnecessary. Therefore, it is possible to prevent the maximum temperature in manufacturing the display device from increasing.

または、酸素雰囲気下で、金属酸化物層20を形成することができる。例えば、酸素を含むガスを流しながら、スパッタリング法を用いて金属酸化物膜を成膜することで、金属酸化物層20を形成できる。この場合も、金属酸化物層20の表面にラジカル処理を行うことが好ましい。ラジカル処理では、酸素ラジカル、水素ラジカル、及びヒドロキシラジカルのうち少なくとも1種を含む雰囲気に、金属酸化物層20の表面を曝すことが好ましい。例えば、酸素、水素、または水蒸気(HO)のうち一つまたは複数を含む雰囲気でプラズマ処理を行うことが好ましい。 Alternatively, the metal oxide layer 20 can be formed in an oxygen atmosphere. For example, the metal oxide layer 20 can be formed by forming a metal oxide film using a sputtering method while flowing a gas containing oxygen. Also in this case, it is preferable to perform radical treatment on the surface of the metal oxide layer 20. In the radical treatment, it is preferable to expose the surface of the metal oxide layer 20 to an atmosphere containing at least one of oxygen radicals, hydrogen radicals, and hydroxy radicals. For example, the plasma treatment is preferably performed in an atmosphere containing one or more of oxygen, hydrogen, and water vapor (H 2 O).

ラジカル処理は、プラズマ発生装置またはオゾン発生装置を用いて行うことができる。 The radical treatment can be performed using a plasma generator or an ozone generator.

例えば、酸素プラズマ処理、水素プラズマ処理、水プラズマ処理、オゾン処理等を行うことができる。酸素プラズマ処理は、酸素を含む雰囲気下でプラズマを生成して行うことができる。水素プラズマ処理は、水素を含む雰囲気下でプラズマを生成して行うことができる。水プラズマ処理は、水蒸気(HO)を含む雰囲気下でプラズマを生成して行うことができる。特に水プラズマ処理を行うことで、金属酸化物層20の表面または内部に水分を多く含ませることができ好ましい。 For example, oxygen plasma treatment, hydrogen plasma treatment, water plasma treatment, ozone treatment, or the like can be performed. The oxygen plasma treatment can be performed by generating plasma in an atmosphere containing oxygen. The hydrogen plasma treatment can be performed by generating plasma in an atmosphere containing hydrogen. The water plasma treatment can be performed by generating plasma in an atmosphere containing water vapor (H 2 O). In particular, performing water plasma treatment is preferable because a large amount of moisture can be contained in the surface or inside of the metal oxide layer 20.

酸素、水素、水(水蒸気)、及び不活性ガス(代表的にはアルゴン)のうち2種以上を含む雰囲気下でのプラズマ処理を行ってもよい。当該プラズマ処理としては、例えば、酸素と水素とを含む雰囲気下でのプラズマ処理、酸素と水とを含む雰囲気下でのプラズマ処理、水とアルゴンとを含む雰囲気下でのプラズマ処理、酸素とアルゴンとを含む雰囲気下でのプラズマ処理、または酸素と水とアルゴンとを含む雰囲気下でのプラズマ処理などが挙げられる。プラズマ処理のガスの一つとして、アルゴンガスを用いることで金属層または金属酸化物層20にダメージを与えながら、プラズマ処理を行うことが可能となるため好適である。 Plasma treatment in an atmosphere containing two or more of oxygen, hydrogen, water (water vapor), and an inert gas (typically argon) may be performed. Examples of the plasma treatment include plasma treatment in an atmosphere containing oxygen and hydrogen, plasma treatment in an atmosphere containing oxygen and water, plasma treatment in an atmosphere containing water and argon, and oxygen and argon. Or a plasma treatment in an atmosphere containing oxygen, water, and argon. Using argon gas as one of the plasma treatment gases is preferable because the plasma treatment can be performed while damaging the metal layer or the metal oxide layer 20.

2種以上のプラズマ処理を大気に暴露することなく連続で行ってもよい。例えば、アルゴンプラズマ処理を行った後に、水プラズマ処理を行ってもよい。 Two or more plasma treatments may be performed continuously without exposure to the atmosphere. For example, the water plasma treatment may be performed after the argon plasma treatment.

そのほか、酸素、水素、水等の導入方法としては、イオン注入法、イオンドーピング法、プラズマイマージョンイオン注入法等を用いることができる。 In addition, as a method for introducing oxygen, hydrogen, water, or the like, an ion implantation method, an ion doping method, a plasma immersion ion implantation method, or the like can be used.

金属層19の厚さは、1nm以上100nm以下が好ましく、1nm以上50nm以下がより好ましく、1nm以上20nm以下がより好ましい。 The thickness of the metal layer 19 is preferably 1 nm to 100 nm, more preferably 1 nm to 50 nm, and more preferably 1 nm to 20 nm.

金属酸化物層20の厚さは、例えば、1nm以上200nm以下が好ましく、5nm以上100nm以下がより好ましく、5nm以上50nm以下がより好ましい。なお、金属層を用いて金属酸化物層20を形成する場合、最終的に形成される金属酸化物層20の厚さは、成膜した金属層の厚さよりも厚くなることがある。 The thickness of the metal oxide layer 20 is, for example, preferably 1 nm to 200 nm, more preferably 5 nm to 100 nm, and more preferably 5 nm to 50 nm. In addition, when forming the metal oxide layer 20 using a metal layer, the thickness of the metal oxide layer 20 finally formed may become thicker than the thickness of the formed metal layer.

分離前または分離中に、金属酸化物層20と樹脂層23との界面に水を含む液体を供給することで、分離に要する力を低減させることができる。 By supplying a liquid containing water to the interface between the metal oxide layer 20 and the resin layer 23 before or during the separation, the force required for the separation can be reduced.

金属酸化物層20は、表面張力が小さく、水を含む液体に対する濡れ性が高いことが好ましい。金属酸化物層20の表面全体に水を含む液体を行き渡らせ、分離界面に水を含む液体を容易に供給できる。金属酸化物層20全体に水が広がることで、均一な剥離ができる。 The metal oxide layer 20 preferably has a low surface tension and high wettability with respect to a liquid containing water. The liquid containing water is spread over the entire surface of the metal oxide layer 20, and the liquid containing water can be easily supplied to the separation interface. Uniform peeling can be achieved by spreading the water over the entire metal oxide layer 20.

金属酸化物層20と当該液体との接触角が小さいほど、液体供給による効果を高めることができる。具体的には、金属酸化物層20の水を含む液体との接触角は、0°より大きく60°以下が好ましく、0°より大きく50°以下がより好ましい。なお、水を含む液体に対する濡れ性が極めて高い場合(例えば接触角が約20°以下の場合)には、接触角の正確な値の取得が困難なことがある。金属酸化物層20は、水を含む液体に対する濡れ性が高いほど好適であるため、上記接触角の正確な値が取得できないほど、水を含む液体に対する濡れ性が高くてもよい。 The smaller the contact angle between the metal oxide layer 20 and the liquid, the higher the effect of supplying the liquid. Specifically, the contact angle of the metal oxide layer 20 with the liquid containing water is preferably greater than 0 ° and 60 ° or less, and more preferably greater than 0 ° and 50 ° or less. In addition, when the wettability with respect to the liquid containing water is very high (for example, when a contact angle is about 20 degrees or less), acquisition of the exact value of a contact angle may be difficult. Since the metal oxide layer 20 is more suitable as the wettability with respect to the liquid containing water is higher, the wettability with respect to the liquid containing water may be higher as the accurate value of the contact angle cannot be obtained.

金属酸化物層20には、酸化チタン、酸化タングステン等が好適である。酸化チタンを用いると、酸化タングステンよりもコストを低減でき、好ましい。 For the metal oxide layer 20, titanium oxide, tungsten oxide, or the like is suitable. When titanium oxide is used, cost can be reduced as compared with tungsten oxide, which is preferable.

[ステップS3:樹脂層23を形成する]
次に、金属酸化物層20上に、第1の層24を形成する(図4(C))。そして、第1の層24に対して加熱処理を行うことで、樹脂層23を形成する(図3及び図4(D))。
[Step S3: Form Resin Layer 23]
Next, the first layer 24 is formed over the metal oxide layer 20 (FIG. 4C). And the resin layer 23 is formed by heat-processing with respect to the 1st layer 24 (FIG.3 and FIG.4 (D)).

第1の層24は、各種樹脂材料(樹脂前駆体を含む)を用いて形成することができる。 The first layer 24 can be formed using various resin materials (including a resin precursor).

第1の層24は、熱硬化性を有する材料を用いて形成することが好ましい。 The first layer 24 is preferably formed using a thermosetting material.

第1の層24は、感光性を有する材料を用いて形成してもよく、感光性を有さない材料(非感光性の材料ともいう)を用いて形成してもよい。 The first layer 24 may be formed using a photosensitive material, or may be formed using a non-photosensitive material (also referred to as a non-photosensitive material).

感光性を有する材料を用いると、フォトリソグラフィ法により、第1の層24の一部を除去し、所望の形状の樹脂層23を形成することができる。具体的には、第1の層24を成膜した後、溶媒を除去するための熱処理(プリベーク処理)を行い、その後フォトマスクを用いて露光を行う。続いて、現像処理を施すことで、不要な部分を除去することができる。 When a material having photosensitivity is used, a part of the first layer 24 can be removed by photolithography to form the resin layer 23 having a desired shape. Specifically, after the first layer 24 is formed, heat treatment (pre-bake treatment) for removing the solvent is performed, and then exposure is performed using a photomask. Subsequently, unnecessary portions can be removed by performing development processing.

また、第1の層24または樹脂層23上にレジストマスク、ハードマスク等のマスクを形成し、エッチングすることで、所望の形状の樹脂層23を形成することができる。この方法は、非感光性の材料を用いる場合に特に好適である。 In addition, by forming a mask such as a resist mask or a hard mask on the first layer 24 or the resin layer 23 and performing etching, the resin layer 23 having a desired shape can be formed. This method is particularly suitable when a non-photosensitive material is used.

例えば、樹脂層23上に無機膜を形成し、無機膜上にレジストマスクを形成する。レジストマスクを用いて、無機膜をエッチングした後、無機膜をハードマスクに用いて、樹脂層23をエッチングすることができる。 For example, an inorganic film is formed on the resin layer 23, and a resist mask is formed on the inorganic film. After the inorganic film is etched using the resist mask, the resin layer 23 can be etched using the inorganic film as a hard mask.

ハードマスクとして用いることができる無機膜としては、各種無機絶縁膜や、導電層に用いることができる金属膜及び合金膜などが挙げられる。 Examples of the inorganic film that can be used as the hard mask include various inorganic insulating films, metal films and alloy films that can be used for the conductive layer, and the like.

マスクを極めて薄い厚さで形成し、エッチングと同時にマスクを除去することができると、マスクを除去する工程を削減でき、好ましい。 It is preferable that the mask be formed with a very thin thickness and be removed at the same time as the etching because the number of steps for removing the mask can be reduced.

第1の層24は、ポリイミド樹脂またはポリイミド樹脂前駆体を含む材料を用いて形成されることが好ましい。第1の層24は、例えば、ポリイミド樹脂と溶媒を含む材料、またはポリアミック酸と溶媒を含む材料等を用いて形成できる。ポリイミドは、表示装置の平坦化膜等に好適に用いられる材料であるため、成膜装置や材料を共有することができる。そのため本発明の一態様の構成を実現するために新たな装置や材料を必要としない。 The first layer 24 is preferably formed using a material containing a polyimide resin or a polyimide resin precursor. The first layer 24 can be formed using, for example, a material containing a polyimide resin and a solvent, or a material containing a polyamic acid and a solvent. Since polyimide is a material that is suitably used for a planarizing film or the like of a display device, the film forming device and the material can be shared. Therefore, no new device or material is required to realize the structure of one embodiment of the present invention.

具体的には、樹脂層23は、構造式(100)で表される化合物(オキシジフタル酸)の残基を有することが好ましい。 Specifically, the resin layer 23 preferably has a residue of a compound (oxydiphthalic acid) represented by the structural formula (100).

樹脂層23には、オキシジフタル酸またはオキシジフタル酸誘導体を含む酸成分と、芳香族アミンまたは芳香族アミン誘導体を含むアミン成分と、を用いて得られるポリイミド樹脂が好適である。オキシジフタル酸誘導体としては、例えば、オキシジフタル酸無水物が挙げられる。 For the resin layer 23, a polyimide resin obtained by using an acid component containing oxydiphthalic acid or an oxydiphthalic acid derivative and an amine component containing an aromatic amine or an aromatic amine derivative is suitable. Examples of the oxydiphthalic acid derivative include oxydiphthalic anhydride.

そのほか、第1の層24の形成に用いることができる樹脂材料としては、例えば、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ポリアミド樹脂、ポリイミドアミド樹脂、シロキサン樹脂、ベンゾシクロブテン系樹脂、フェノール樹脂、及びこれら樹脂の前駆体等が挙げられる。 In addition, examples of the resin material that can be used for forming the first layer 24 include acrylic resin, epoxy resin, polyamide resin, polyimide amide resin, siloxane resin, benzocyclobutene resin, phenol resin, and those resins. A precursor etc. are mentioned.

第1の層24は、スピンコータを用いて形成することが好ましい。スピンコート法を用いることで、大判基板に薄い膜を均一に形成することができる。 The first layer 24 is preferably formed using a spin coater. By using the spin coating method, a thin film can be uniformly formed on a large substrate.

第1の層24は、粘度が5cP以上500cP未満、好ましくは5cP以上100cP未満、より好ましくは10cP以上50cP以下の溶液を用いて形成することが好ましい。溶液の粘度が低いほど、塗布が容易となる。また、溶液の粘度が低いほど、気泡の混入を抑制でき、良質な膜を形成できる。 The first layer 24 is preferably formed using a solution having a viscosity of 5 cP or more and less than 500 cP, preferably 5 cP or more and less than 100 cP, more preferably 10 cP or more and 50 cP or less. The lower the viscosity of the solution, the easier the application. In addition, the lower the viscosity of the solution, the more air bubbles can be prevented and the better the film can be formed.

そのほか、第1の層24の形成方法としては、ディップ、スプレー塗布、インクジェット、ディスペンス、スクリーン印刷、オフセット印刷、ドクターナイフ、スリットコート、ロールコート、カーテンコート、ナイフコート等が挙げられる。 In addition, examples of the method for forming the first layer 24 include dip, spray coating, ink jet, dispensing, screen printing, offset printing, doctor knife, slit coat, roll coat, curtain coat, knife coat and the like.

加熱処理は、例えば、加熱装置のチャンバーの内部に、酸素、窒素、及び希ガス(アルゴンなど)のうち一つまたは複数を含むガスを流しながら行うことができる。または、加熱処理は、大気雰囲気下で加熱装置のチャンバー、ホットプレート等を用いて行うことができる。 The heat treatment can be performed, for example, while flowing a gas containing one or more of oxygen, nitrogen, and a rare gas (such as argon) inside the chamber of the heating device. Alternatively, the heat treatment can be performed using a chamber of a heating device, a hot plate, or the like in an air atmosphere.

大気雰囲気下や酸素を含むガスを流しながら加熱を行うと、樹脂層23が酸化により着色し、可視光に対する透過性が低下することがある。 When heating is performed in an air atmosphere or a gas containing oxygen, the resin layer 23 may be colored due to oxidation, and the permeability to visible light may be reduced.

そのため、窒素ガスを流しながら、加熱を行うことが好ましい。これにより、樹脂層23の可視光に対する透過性を高めることができる。 Therefore, it is preferable to perform heating while flowing nitrogen gas. Thereby, the transparency with respect to the visible light of the resin layer 23 can be improved.

加熱処理により、樹脂層23中の脱ガス成分(例えば、水素、水等)を低減することができる。特に、樹脂層23上に形成する各層の作製温度以上の温度で加熱することが好ましい。これにより、トランジスタの作製工程における、樹脂層23からの脱ガスを大幅に抑制することができる。 By the heat treatment, degassing components (for example, hydrogen, water, etc.) in the resin layer 23 can be reduced. In particular, it is preferable to heat at a temperature equal to or higher than the manufacturing temperature of each layer formed on the resin layer 23. Thereby, degassing from the resin layer 23 in the transistor manufacturing process can be significantly suppressed.

例えば、トランジスタの作製温度が350℃までである場合、樹脂層23となる膜を350℃以上450℃以下で加熱することが好ましく、400℃以下がより好ましく、375℃以下がさらに好ましい。これにより、トランジスタの作製工程における、樹脂層23からの脱ガスを大幅に抑制することができる。 For example, in the case where the transistor manufacturing temperature is up to 350 ° C., the film to be the resin layer 23 is preferably heated at 350 ° C. or higher and 450 ° C. or lower, more preferably 400 ° C. or lower, and even more preferably 375 ° C. or lower. Thereby, degassing from the resin layer 23 in the transistor manufacturing process can be significantly suppressed.

加熱処理の温度は、トランジスタの作製における最高温度以下とすることが好ましい。トランジスタの作製における最高温度以下とすることで、トランジスタの作製工程における製造装置などを流用することが可能となるため、追加の設備投資などを抑制することができる。したがって、生産コストが抑制された表示装置とすることができる。例えば、トランジスタの作製温度が350℃までである場合、加熱処理の温度は350℃以下とすることが好ましい。 The temperature of the heat treatment is preferably equal to or lower than the maximum temperature in manufacturing the transistor. By setting the temperature to be equal to or lower than the maximum temperature in manufacturing a transistor, it is possible to divert a manufacturing apparatus or the like in a transistor manufacturing process, and thus it is possible to suppress additional equipment investment. Therefore, a display device with reduced production costs can be obtained. For example, when the manufacturing temperature of the transistor is up to 350 ° C., the temperature of the heat treatment is preferably 350 ° C. or lower.

トランジスタの作製における最高温度と、加熱処理の温度を等しくすると、加熱処理を行うことで表示装置の作製における最高温度が高くなることを防止でき、かつ樹脂層23の脱ガス成分を低減できるため、好ましい。 If the maximum temperature in the manufacture of the transistor and the temperature of the heat treatment are made equal, the maximum temperature in the manufacture of the display device can be prevented by performing the heat treatment, and the degassing component of the resin layer 23 can be reduced. preferable.

処理時間を長くすることで、加熱温度が比較的低い場合であっても、加熱温度がより高い条件の場合と同等の剥離性を実現できる場合がある。そのため、加熱装置の構成により加熱温度を高められない場合には、処理時間を長くすることが好ましい。 By extending the treatment time, even in the case where the heating temperature is relatively low, it may be possible to achieve the same peelability as in the case where the heating temperature is higher. Therefore, when the heating temperature cannot be increased due to the configuration of the heating device, it is preferable to increase the treatment time.

加熱処理の時間は、例えば、5分以上24時間以下が好ましく、30分以上12時間以下がより好ましく、1時間以上6時間以下がさらに好ましい。なお、加熱処理の時間はこれに限定されない。例えば、加熱処理を、RTA(Rapid Thermal Annealing)法を用いて行う場合などは、5分未満としてもよい。 The heat treatment time is preferably, for example, 5 minutes to 24 hours, more preferably 30 minutes to 12 hours, and further preferably 1 hour to 6 hours. Note that the heat treatment time is not limited thereto. For example, when the heat treatment is performed using an RTA (Rapid Thermal Annealing) method, it may be less than 5 minutes.

加熱装置としては、電気炉や、抵抗発熱体などの発熱体からの熱伝導または熱輻射によって被処理物を加熱する装置等、様々な装置を用いることができる。例えば、GRTA(Gas Rapid Thermal Anneal)装置、LRTA(Lamp Rapid Thermal Anneal)装置等のRTA装置を用いることができる。LRTA装置は、ハロゲンランプ、メタルハライドランプ、キセノンアークランプ、カーボンアークランプ、高圧ナトリウムランプ、高圧水銀ランプなどのランプから発する光(電磁波)の輻射により、被処理物を加熱する装置である。GRTA装置は、高温のガスを用いて加熱処理を行う装置である。RTA装置を用いることによって、処理時間が短縮することができるので、量産する上で好ましい。また、加熱処理はインライン型の加熱装置を用いて行ってもよい。 As the heating device, various devices such as an electric furnace and a device for heating an object to be processed by heat conduction or heat radiation from a heating element such as a resistance heating element can be used. For example, an RTA apparatus such as a GRTA (Gas Rapid Thermal Anneal) apparatus or an LRTA (Lamp Rapid Thermal Anneal) apparatus can be used. The LRTA apparatus is an apparatus that heats an object to be processed by radiation of light (electromagnetic waves) emitted from a lamp such as a halogen lamp, a metal halide lamp, a xenon arc lamp, a carbon arc lamp, a high pressure sodium lamp, or a high pressure mercury lamp. The GRTA apparatus is an apparatus that performs heat treatment using a high-temperature gas. Since the processing time can be shortened by using an RTA apparatus, it is preferable for mass production. Further, the heat treatment may be performed using an in-line heating apparatus.

なお、加熱処理により、樹脂層23の厚さは、第1の層24の厚さから変化する場合がある。例えば、第1の層24に含まれていた溶媒が除去されることや、硬化が進行し密度が増大することにより、体積が減少し、第1の層24よりも樹脂層23が薄くなる場合がある。 Note that the thickness of the resin layer 23 may change from the thickness of the first layer 24 due to the heat treatment. For example, when the solvent contained in the first layer 24 is removed or the curing proceeds and the density increases, the volume decreases and the resin layer 23 becomes thinner than the first layer 24. There is.

加熱処理を行う前に、第1の層24に含まれる溶媒を除去するための熱処理(プリベーク処理ともいう)を行ってもよい。プリベーク処理の温度は用いる材料に応じて適宜決定することができる。例えば、50℃以上180℃以下、80℃以上150℃以下、または90℃以上120℃以下で行うことができる。または、加熱処理がプリベーク処理を兼ねてもよく、加熱処理によって、第1の層24に含まれる溶媒を除去してもよい。 Before performing the heat treatment, heat treatment (also referred to as pre-bake treatment) for removing the solvent contained in the first layer 24 may be performed. The pre-baking temperature can be appropriately determined according to the material used. For example, it can be performed at 50 ° C. or higher and 180 ° C. or lower, 80 ° C. or higher and 150 ° C. or lower, or 90 ° C. or higher and 120 ° C. or lower. Alternatively, the heat treatment may also serve as a pre-bake treatment, and the solvent contained in the first layer 24 may be removed by the heat treatment.

樹脂層23は、可撓性を有する。作製基板14は、樹脂層23よりも可撓性が低い。 The resin layer 23 has flexibility. The manufacturing substrate 14 is less flexible than the resin layer 23.

樹脂層23の厚さは、0.01μm以上10μm未満であることが好ましく、0.1μm以上5μm以下であることがより好ましく、0.5μm以上3μm以下であることがさらに好ましい。樹脂層を薄く形成することで、低コストで表示装置を作製できる。また、表示装置の軽量化及び薄型化が可能となる。また、表示装置の可撓性を高めることができる。低粘度の溶液を用いることで、樹脂層23を薄く形成することが容易となる。ただし、これに限定されず、樹脂層23の厚さは、10μm以上としてもよい。例えば、樹脂層23の厚さを10μm以上200μm以下としてもよい。樹脂層23の厚さを10μm以上とすることで、表示装置の剛性を高めることができるため好適である。 The thickness of the resin layer 23 is preferably 0.01 μm or more and less than 10 μm, more preferably 0.1 μm or more and 5 μm or less, and further preferably 0.5 μm or more and 3 μm or less. By forming the resin layer thin, a display device can be manufactured at low cost. Further, the display device can be reduced in weight and thickness. In addition, the flexibility of the display device can be increased. By using a low viscosity solution, it becomes easy to form the resin layer 23 thin. However, it is not limited to this, The thickness of the resin layer 23 is good also as 10 micrometers or more. For example, the thickness of the resin layer 23 may be 10 μm or more and 200 μm or less. Setting the thickness of the resin layer 23 to 10 μm or more is preferable because the rigidity of the display device can be increased.

樹脂層23の熱膨張係数は、0.1ppm/℃以上50ppm/℃以下であることが好ましく、0.1ppm/℃以上20ppm/℃以下であることがより好ましく、0.1ppm/℃以上10ppm/℃以下であることがさらに好ましい。樹脂層23の熱膨張係数が低いほど、加熱により、トランジスタ等を構成する層にクラックが生じることや、トランジスタ等が破損することを抑制できる。 The thermal expansion coefficient of the resin layer 23 is preferably 0.1 ppm / ° C. or more and 50 ppm / ° C. or less, more preferably 0.1 ppm / ° C. or more and 20 ppm / ° C. or less, and 0.1 ppm / ° C. or more and 10 ppm / ° C. or less. More preferably, it is not higher than ° C. As the coefficient of thermal expansion of the resin layer 23 is lower, it is possible to suppress the generation of cracks in the layer constituting the transistor or the like, or the damage of the transistor or the like due to heating.

[ステップS4:トランジスタを形成する]
次に、樹脂層23上に、トランジスタを含む被剥離層を形成する。
[Step S4: Form a transistor]
Next, a layer to be peeled including a transistor is formed over the resin layer 23.

被剥離層として、例えば、絶縁層、機能素子(トランジスタ、表示素子など)を設けることができる。 As the layer to be peeled, for example, an insulating layer or a functional element (a transistor, a display element, or the like) can be provided.

被剥離層は、樹脂層23の耐熱温度以下で形成する。上記加熱処理の温度より低い温度で形成することが好ましい。 The peeled layer is formed at a temperature lower than the heat resistance temperature of the resin layer 23. It is preferable to form at a temperature lower than the temperature of the heat treatment.

樹脂層23上に絶縁層31を形成することが好ましい(図4(E))。 The insulating layer 31 is preferably formed over the resin layer 23 (FIG. 4E).

絶縁層31は、樹脂層23に含まれる不純物が、後に形成するトランジスタや表示素子に拡散することを防ぐバリア層として用いることができる。例えば、絶縁層31は、樹脂層23を加熱した際に、樹脂層23に含まれる水分等がトランジスタや表示素子に拡散することを防ぐことが好ましい。そのため、絶縁層31は、バリア性が高いことが好ましい。 The insulating layer 31 can be used as a barrier layer that prevents impurities contained in the resin layer 23 from diffusing into transistors and display elements to be formed later. For example, the insulating layer 31 preferably prevents diffusion of moisture or the like contained in the resin layer 23 into the transistor or the display element when the resin layer 23 is heated. Therefore, the insulating layer 31 preferably has a high barrier property.

絶縁層31としては、酸化絶縁膜、窒化絶縁膜、酸化窒化絶縁膜、及び窒化酸化絶縁膜などを用いることができる。絶縁層31は、単層または積層で形成することができる。酸化絶縁膜としては、酸化シリコン膜、酸化アルミニウム膜、酸化ガリウム膜、酸化ゲルマニウム膜、酸化イットリウム膜、酸化ジルコニウム膜、酸化ランタン膜、酸化ネオジム膜、酸化ハフニウム膜、及び酸化タンタル膜などが挙げられる。窒化絶縁膜としては、窒化シリコン膜、及び窒化アルミニウムなどが挙げられる。酸化窒化絶縁膜としては、酸化窒化シリコン膜などが挙げられる。窒化酸化絶縁膜としては、窒化酸化シリコン膜などが挙げられる。特に、樹脂層23上に窒化シリコン膜を形成し、窒化シリコン膜上に酸化シリコン膜を形成することが好ましい。 As the insulating layer 31, an oxide insulating film, a nitride insulating film, an oxynitride insulating film, a nitrided oxide insulating film, or the like can be used. The insulating layer 31 can be formed as a single layer or a stacked layer. Examples of the oxide insulating film include a silicon oxide film, an aluminum oxide film, a gallium oxide film, a germanium oxide film, an yttrium oxide film, a zirconium oxide film, a lanthanum oxide film, a neodymium oxide film, a hafnium oxide film, and a tantalum oxide film. . Examples of the nitride insulating film include a silicon nitride film and aluminum nitride. As the oxynitride insulating film, a silicon oxynitride film or the like can be given. Examples of the nitrided oxide insulating film include a silicon nitride oxide film. In particular, it is preferable to form a silicon nitride film on the resin layer 23 and form a silicon oxide film on the silicon nitride film.

なお、本明細書等において「酸化窒化シリコン」とは、その組成として、窒素よりも酸素の含有量が多いものをいう。また、本明細書等において、「窒化酸化シリコン」とは、その組成として、酸素よりも窒素の含有量が多いものをいう。 Note that in this specification and the like, “silicon oxynitride” refers to a material having a higher oxygen content than nitrogen. In this specification and the like, “silicon nitride oxide” refers to a material whose content is higher in nitrogen than oxygen.

無機絶縁膜は、成膜温度が高いほど緻密でバリア性の高い膜となるため、高温で形成することが好ましい。絶縁層31の成膜時の基板温度は、室温(25℃)以上350℃以下が好ましく、100℃以上300℃以下がさらに好ましい。 The inorganic insulating film is denser and has a higher barrier property as the deposition temperature is higher, and thus it is preferable to form the inorganic insulating film at a high temperature. The substrate temperature during the formation of the insulating layer 31 is preferably room temperature (25 ° C.) or higher and 350 ° C. or lower, more preferably 100 ° C. or higher and 300 ° C. or lower.

絶縁層31を設けず、樹脂層23上に直接、機能素子を形成してもよい。 A functional element may be formed directly on the resin layer 23 without providing the insulating layer 31.

次に、絶縁層31上に電極311a、電極311c、及び電極311eを形成する(図5(A))。そして、電極311a上に電極311bを、電極311c上に電極311dを、電極311e上に電極311fを形成する。電極311bは、電極311a上に開口451を有する。電極311aは、可視光を透過する導電材料を用いて形成する。電極311bは、可視光を反射する導電材料を用いて形成する。 Next, the electrode 311a, the electrode 311c, and the electrode 311e are formed over the insulating layer 31 (FIG. 5A). Then, an electrode 311b is formed on the electrode 311a, an electrode 311d is formed on the electrode 311c, and an electrode 311f is formed on the electrode 311e. The electrode 311b has an opening 451 on the electrode 311a. The electrode 311a is formed using a conductive material that transmits visible light. The electrode 311b is formed using a conductive material that reflects visible light.

表示装置が有する電極及び導電層は、それぞれ、導電膜を成膜した後、レジストマスクを形成し、当該導電膜をエッチングした後にレジストマスクを除去することで形成できる。 Each of the electrode and the conductive layer included in the display device can be formed by forming a conductive film, forming a resist mask, etching the conductive film, and then removing the resist mask.

表示装置が有する電極及び導電層には、それぞれ、アルミニウム、チタン、クロム、ニッケル、銅、イットリウム、ジルコニウム、モリブデン、銀、タンタル、もしくはタングステン等の金属、またはこれを主成分とする合金を単層構造または積層構造として用いることができる。または、酸化インジウム、インジウム錫酸化物(ITO)、タングステンを含むインジウム酸化物、タングステンを含むインジウム亜鉛酸化物、チタンを含むインジウム酸化物、チタンを含むITO、インジウム亜鉛酸化物、酸化亜鉛(ZnO)、ガリウムを含むZnO、またはシリコンを含むITO等の透光性を有する導電性材料を用いてもよい。また、不純物元素を含有させる等して低抵抗化させた、多結晶シリコンもしくは酸化物半導体等の半導体、またはニッケルシリサイド等のシリサイドを用いてもよい。また、グラフェンを含む膜を用いることもできる。グラフェンを含む膜は、例えば膜状に形成された酸化グラフェンを含む膜を還元して形成することができる。また、不純物元素を含有させた酸化物半導体等の半導体を用いてもよい。または、銀、カーボン、もしくは銅等の導電性ペースト、またはポリチオフェン等の導電性ポリマーを用いて形成してもよい。導電性ペーストは、安価であり、好ましい。導電性ポリマーは、塗布しやすく、好ましい。 The electrode and the conductive layer included in the display device are each a single layer of a metal such as aluminum, titanium, chromium, nickel, copper, yttrium, zirconium, molybdenum, silver, tantalum, or tungsten, or an alloy containing the same as a main component. It can be used as a structure or a laminated structure. Or indium oxide, indium tin oxide (ITO), indium oxide containing tungsten, indium zinc oxide containing tungsten, indium oxide containing titanium, ITO containing titanium, indium zinc oxide, zinc oxide (ZnO) Alternatively, a light-transmitting conductive material such as ZnO containing gallium or ITO containing silicon may be used. Alternatively, a semiconductor such as polycrystalline silicon or an oxide semiconductor, or a silicide such as nickel silicide, which has been reduced in resistance by containing an impurity element or the like, may be used. Alternatively, a film containing graphene can be used. The film containing graphene can be formed, for example, by reducing a film containing graphene oxide formed in a film shape. Alternatively, a semiconductor such as an oxide semiconductor containing an impurity element may be used. Alternatively, a conductive paste such as silver, carbon, or copper, or a conductive polymer such as polythiophene may be used. The conductive paste is preferable because it is inexpensive. The conductive polymer is preferable because it is easy to apply.

次に、絶縁層220を形成する(図5(A))。そして、絶縁層220に電極311bに達する開口及び電極311dに達する開口を設ける。 Next, the insulating layer 220 is formed (FIG. 5A). Then, an opening reaching the electrode 311b and an opening reaching the electrode 311d are provided in the insulating layer 220.

絶縁層220としては、絶縁層31に用いることができる無機絶縁膜を用いることができる。また、アクリル、エポキシなどの樹脂を用いてもよい。 As the insulating layer 220, an inorganic insulating film that can be used for the insulating layer 31 can be used. Moreover, you may use resin, such as an acryl and an epoxy.

次に、絶縁層220上に、トランジスタ201、トランジスタ205、及びトランジスタ206を形成する(図3及び図5(A))。また、絶縁層220上には、接続部204及び接続部207も形成する(図5(A))。 Next, the transistor 201, the transistor 205, and the transistor 206 are formed over the insulating layer 220 (FIGS. 3 and 5A). In addition, a connection portion 204 and a connection portion 207 are also formed over the insulating layer 220 (FIG. 5A).

表示装置が有するトランジスタの構造は特に限定されない。例えば、プレーナ型のトランジスタとしてもよいし、スタガ型のトランジスタとしてもよいし、逆スタガ型のトランジスタとしてもよい。また、トップゲート構造またはボトムゲート構造のいずれのトランジスタ構造としてもよい。または、チャネルの上下にゲート電極が設けられていてもよい。 There is no particular limitation on the structure of the transistor included in the display device. For example, a planar transistor, a staggered transistor, or an inverted staggered transistor may be used. Further, any transistor structure of a top gate structure or a bottom gate structure may be employed. Alternatively, gate electrodes may be provided above and below the channel.

トランジスタに用いる半導体材料は特に限定されず、例えば、第14族の元素、化合物半導体または酸化物半導体を半導体層に用いることができる。代表的には、シリコンを含む半導体、ガリウムヒ素を含む半導体、またはインジウムを含む酸化物半導体等を適用できる。 A semiconductor material used for the transistor is not particularly limited, and for example, a Group 14 element, a compound semiconductor, or an oxide semiconductor can be used for the semiconductor layer. Typically, a semiconductor containing silicon, a semiconductor containing gallium arsenide, an oxide semiconductor containing indium, or the like can be used.

ここでは、半導体層231として金属酸化物層を有する、ボトムゲート構造のトランジスタを作製する場合を示す。金属酸化物は、酸化物半導体として機能することができる。 Here, a case of manufacturing a bottom-gate transistor having a metal oxide layer as the semiconductor layer 231 is described. The metal oxide can function as an oxide semiconductor.

本実施の形態において、トランジスタの半導体には、酸化物半導体を用いる。シリコンよりもバンドギャップが広く、且つキャリア密度の小さい半導体材料を用いると、トランジスタのオフ状態における電流を低減できるため好ましい。 In this embodiment, an oxide semiconductor is used as a semiconductor of the transistor. It is preferable to use a semiconductor material with a wider band gap and lower carrier density than silicon because current in an off state of the transistor can be reduced.

トランジスタ205及びトランジスタ206において、導電層221aの一部はゲートとして機能し、絶縁層211の一部はゲート絶縁層として機能し、導電層222aの一部は、ソースまたはドレインの一方として機能し、導電層222bの一部は、ソースまたはドレインの他方として機能する。トランジスタ201は、トランジスタ205及びトランジスタ206の構成に導電層223及び絶縁層212を追加した構成であり、2つのゲートを有する。トランジスタ201において、導電層221aの一部及び導電層223の一部はゲートとして機能し、絶縁層211の一部及び絶縁層212の一部はゲート絶縁層として機能する。 In the transistors 205 and 206, part of the conductive layer 221a functions as a gate, part of the insulating layer 211 functions as a gate insulating layer, and part of the conductive layer 222a functions as one of a source and a drain, Part of the conductive layer 222b functions as the other of the source and the drain. The transistor 201 has a structure in which a conductive layer 223 and an insulating layer 212 are added to the structures of the transistor 205 and the transistor 206, and includes two gates. In the transistor 201, part of the conductive layer 221a and part of the conductive layer 223 function as a gate, and part of the insulating layer 211 and part of the insulating layer 212 function as a gate insulating layer.

各トランジスタ及び各接続部の作製方法を具体的に説明する。 A method for manufacturing each transistor and each connection portion will be specifically described.

まず、絶縁層220上に、導電層221a、導電層221b、及び導電層221cを形成する。ここで、絶縁層220の開口を介して、導電層221bと電極311bとが接続し、導電層221cと電極311dとが接続する。 First, the conductive layer 221a, the conductive layer 221b, and the conductive layer 221c are formed over the insulating layer 220. Here, the conductive layer 221b and the electrode 311b are connected through the opening of the insulating layer 220, and the conductive layer 221c and the electrode 311d are connected.

続いて、絶縁層211を形成する。絶縁層211としては、絶縁層31に用いることができる無機絶縁膜を用いることができる。 Subsequently, the insulating layer 211 is formed. As the insulating layer 211, an inorganic insulating film that can be used for the insulating layer 31 can be used.

続いて、半導体層231を形成する。本実施の形態では、半導体層231として、金属酸化物層を形成する。金属酸化物層は、金属酸化物膜を成膜した後、レジストマスクを形成し、当該金属酸化物膜をエッチングした後にレジストマスクを除去することで形成できる。 Subsequently, the semiconductor layer 231 is formed. In this embodiment, a metal oxide layer is formed as the semiconductor layer 231. The metal oxide layer can be formed by forming a metal oxide film, forming a resist mask, etching the metal oxide film, and then removing the resist mask.

金属酸化物膜の成膜時の基板温度は、350℃以下が好ましく、室温以上200℃以下がより好ましく、室温以上130℃以下がさらに好ましい。 The substrate temperature during the formation of the metal oxide film is preferably 350 ° C. or less, more preferably from room temperature to 200 ° C., and further preferably from room temperature to 130 ° C.

金属酸化物膜は、不活性ガス及び酸素ガスのいずれか一方または双方を用いて成膜することができる。なお、金属酸化物膜の成膜時における酸素の流量比(酸素分圧)に、特に限定はない。ただし、電界効果移動度が高いトランジスタを得る場合においては、金属酸化物膜の成膜時における酸素の流量比(酸素分圧)は、0%以上30%以下が好ましく、5%以上30%以下がより好ましく、7%以上15%以下がさらに好ましい。 The metal oxide film can be formed using one or both of an inert gas and an oxygen gas. Note that there is no particular limitation on the flow rate ratio of oxygen (oxygen partial pressure) during the formation of the metal oxide film. However, in the case of obtaining a transistor with high field effect mobility, the flow rate ratio of oxygen (oxygen partial pressure) during the formation of the metal oxide film is preferably 0% or more and 30% or less, and 5% or more and 30% or less. Is more preferably 7% or more and 15% or less.

金属酸化物膜は、少なくともインジウムまたは亜鉛を含むことが好ましい。特にインジウム及び亜鉛を含むことが好ましい。 The metal oxide film preferably contains at least indium or zinc. In particular, it is preferable to contain indium and zinc.

金属酸化物は、エネルギーギャップが2eV以上であることが好ましく、2.5eV以上であることがより好ましく。3eV以上であることがさらに好ましい。このように、エネルギーギャップの広い金属酸化物を用いることで、トランジスタのオフ電流を低減することができる。 The metal oxide preferably has an energy gap of 2 eV or more, more preferably 2.5 eV or more. More preferably, it is 3 eV or more. In this manner, off-state current of a transistor can be reduced by using a metal oxide having a wide energy gap.

金属酸化物膜は、スパッタリング法により形成することができる。そのほか、PLD法、PECVD法、熱CVD法、ALD法、真空蒸着法などを用いてもよい。 The metal oxide film can be formed by a sputtering method. In addition, a PLD method, a PECVD method, a thermal CVD method, an ALD method, a vacuum evaporation method, or the like may be used.

続いて、導電層222a、導電層222b、及び配線365を形成する。導電層222a及び導電層222bは、それぞれ、半導体層231と接続される。ここで、トランジスタ206が有する導電層222aは、導電層221bと電気的に接続される。これにより、接続部207では、電極311bと導電層222aを電気的に接続することができる。また、配線365は、導電層221cと電気的に接続される。これにより、接続部204では、配線365と電極311dを電気的に接続することができる。 Subsequently, a conductive layer 222a, a conductive layer 222b, and a wiring 365 are formed. The conductive layer 222a and the conductive layer 222b are each connected to the semiconductor layer 231. Here, the conductive layer 222a included in the transistor 206 is electrically connected to the conductive layer 221b. Accordingly, in the connection portion 207, the electrode 311b and the conductive layer 222a can be electrically connected. The wiring 365 is electrically connected to the conductive layer 221c. Thereby, in the connection part 204, the wiring 365 and the electrode 311d can be electrically connected.

なお、導電層222a及び導電層222bの加工の際に、レジストマスクに覆われていない半導体層231の一部がエッチングにより薄膜化する場合がある。 Note that when the conductive layers 222a and 222b are processed, part of the semiconductor layer 231 which is not covered with the resist mask may be thinned by etching.

以上のようにして、トランジスタ205、トランジスタ206、接続部204、及び接続部207を作製できる。 As described above, the transistor 205, the transistor 206, the connection portion 204, and the connection portion 207 can be manufactured.

次に、トランジスタ206等を覆う絶縁層212を形成し、絶縁層212上に導電層223を形成する。 Next, an insulating layer 212 that covers the transistor 206 and the like is formed, and a conductive layer 223 is formed over the insulating layer 212.

絶縁層212は、絶縁層211と同様の方法により形成することができる。 The insulating layer 212 can be formed by a method similar to that of the insulating layer 211.

以上のようにして、トランジスタ201を作製できる。 As described above, the transistor 201 can be manufactured.

次に、絶縁層213を形成する。絶縁層213は、絶縁層211と同様の方法により形成することができる。 Next, the insulating layer 213 is formed. The insulating layer 213 can be formed by a method similar to that of the insulating layer 211.

また、絶縁層212として、酸素を含む雰囲気下で成膜した酸化シリコン膜や酸化窒化シリコン膜等の酸化物絶縁膜を用いることが好ましい。さらに、当該酸化シリコン膜や酸化窒化シリコン膜上に、絶縁層213として、窒化シリコン膜などの酸素を拡散、透過しにくい絶縁膜を積層することが好ましい。酸素を含む雰囲気下で形成した酸化物絶縁膜は、加熱により多くの酸素を放出しやすい絶縁膜とすることができる。このような酸素を放出する酸化絶縁膜と、酸素を拡散、透過しにくい絶縁膜を積層した状態で、加熱処理を行うことにより、金属酸化物層に酸素を供給することができる。その結果、金属酸化物層中の酸素欠損、及び金属酸化物層と絶縁層212の界面の欠陥を修復し、欠陥準位を低減することができる。これにより、信頼性の高い表示装置を実現できる。 For the insulating layer 212, an oxide insulating film such as a silicon oxide film or a silicon oxynitride film formed in an atmosphere containing oxygen is preferably used. Further, an insulating film that hardly diffuses and transmits oxygen such as a silicon nitride film is preferably stacked as the insulating layer 213 over the silicon oxide film or the silicon oxynitride film. An oxide insulating film formed in an atmosphere containing oxygen can be an insulating film from which a large amount of oxygen is easily released by heating. By performing heat treatment in a state where such an oxide insulating film that releases oxygen and an insulating film that hardly diffuses and transmits oxygen are stacked, oxygen can be supplied to the metal oxide layer. As a result, oxygen vacancies in the metal oxide layer and defects at the interface between the metal oxide layer and the insulating layer 212 can be repaired, and the defect level can be reduced. Thereby, a highly reliable display device can be realized.

次に、絶縁層213上に絶縁層214を形成する(図5(B))。 Next, the insulating layer 214 is formed over the insulating layer 213 (FIG. 5B).

絶縁層214は、後に形成する表示素子の被形成面を有する層であるため、平坦化層として機能することが好ましい。絶縁層214は、絶縁層220に用いることのできる樹脂または無機絶縁膜を援用できる。 The insulating layer 214 is a layer having a formation surface of a display element to be formed later, and thus preferably functions as a planarization layer. As the insulating layer 214, a resin or an inorganic insulating film that can be used for the insulating layer 220 can be used.

次に、絶縁層212、絶縁層213、及び絶縁層214に、トランジスタ205が有する導電層222aに達する開口を形成する。 Next, an opening reaching the conductive layer 222a included in the transistor 205 is formed in the insulating layer 212, the insulating layer 213, and the insulating layer 214.

[ステップS5:液晶素子170を形成する]
次に、液晶素子170を形成する(図3、図5(B)、及び図6)。液晶素子170は、共通電極と画素電極との間に液晶層を配置した状態で、作製基板14と基板351とを貼り合わせることで形成される。
[Step S5: Form Liquid Crystal Element 170]
Next, the liquid crystal element 170 is formed (FIGS. 3, 5B, and 6). The liquid crystal element 170 is formed by bonding the manufacturing substrate 14 and the substrate 351 with a liquid crystal layer disposed between the common electrode and the pixel electrode.

作製基板14上には、液晶素子170の画素電極として機能する電極191及び電極191aを形成する。ここで、トランジスタ205が有する導電層222aと電極191とが接続する。電極191及び電極191aは、可視光を透過する導電材料を用いて形成する。そして、電極191上に配向膜153aを形成する。 Over the manufacturing substrate 14, an electrode 191 and an electrode 191 a that function as pixel electrodes of the liquid crystal element 170 are formed. Here, the conductive layer 222a included in the transistor 205 and the electrode 191 are connected. The electrodes 191 and 191a are formed using a conductive material that transmits visible light. Then, an alignment film 153a is formed over the electrode 191.

また、基板351上には、液晶素子170の共通電極として機能する電極193を形成する。電極193は、可視光を透過する導電材料を用いて形成する。そして、電極193上に配向膜153bを形成する。 In addition, an electrode 193 that functions as a common electrode of the liquid crystal element 170 is formed over the substrate 351. The electrode 193 is formed using a conductive material that transmits visible light. Then, an alignment film 153 b is formed over the electrode 193.

配向膜153a及び配向膜153bは、それぞれ、樹脂等の薄膜を形成した後に、ラビング処理を行うことで形成できる。 The alignment film 153a and the alignment film 153b can be formed by performing a rubbing process after forming a thin film such as a resin.

以上の工程が完了した作製基板14及び基板351を、接着層142を用いて貼り合わせる(図6)。作製基板14及び基板351は、配向膜153aと配向膜153bの間に液晶層192を挟んだ状態で貼り合わせる。 The manufacturing substrate 14 and the substrate 351 in which the above steps are completed are attached to each other using the adhesive layer 142 (FIG. 6). The manufacturing substrate 14 and the substrate 351 are attached to each other with the liquid crystal layer 192 sandwiched between the alignment film 153a and the alignment film 153b.

図6に示す液晶素子170は、一部が画素電極として機能する電極191と、液晶層192と、一部が共通電極として機能する電極193とが積層された構成を有する。液晶素子170は、電極311bの開口451と表示領域とが重なるように作製される。 A liquid crystal element 170 illustrated in FIG. 6 has a structure in which an electrode 191 partly functioning as a pixel electrode, a liquid crystal layer 192, and an electrode 193 partly functioning as a common electrode are stacked. The liquid crystal element 170 is manufactured so that the opening 451 of the electrode 311b and the display region overlap.

接続部253では、接続体244を介して、電極193と電極191aとが電気的に接続される。 In the connection portion 253, the electrode 193 and the electrode 191a are electrically connected through the connection body 244.

接着層142には、紫外線硬化型等の光硬化型接着剤、反応硬化型接着剤、熱硬化型接着剤、嫌気型接着剤等の各種硬化型接着剤を用いることができる。 For the adhesive layer 142, various curable adhesives such as an ultraviolet curable photocurable adhesive, a reactive curable adhesive, a thermosetting adhesive, and an anaerobic adhesive can be used.

基板351には、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)等のポリエステル樹脂、ポリアクリロニトリル樹脂、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂、ポリメチルメタクリレート樹脂、ポリカーボネート(PC)樹脂、ポリエーテルスルホン(PES)樹脂、ポリアミド樹脂(ナイロン、アラミド等)、ポリシロキサン樹脂、シクロオレフィン樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリウレタン樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリ塩化ビニリデン樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)樹脂、ABS樹脂、セルロースナノファイバー等を用いることができる。基板351には、ガラス、石英、樹脂、金属、合金、半導体等の各種材料を用いてもよい。基板351には、可撓性を有する程度の厚さのガラス、石英、樹脂、金属、合金、半導体等の各種材料を用いてもよい。 Examples of the substrate 351 include polyester resins such as polyethylene terephthalate (PET) and polyethylene naphthalate (PEN), polyacrylonitrile resin, acrylic resin, polyimide resin, polymethyl methacrylate resin, polycarbonate (PC) resin, polyethersulfone (PES). ) Resin, polyamide resin (nylon, aramid, etc.), polysiloxane resin, cycloolefin resin, polystyrene resin, polyamideimide resin, polyurethane resin, polyvinyl chloride resin, polyvinylidene chloride resin, polypropylene resin, polytetrafluoroethylene (PTFE) Resin, ABS resin, cellulose nanofiber, etc. can be used. Various materials such as glass, quartz, resin, metal, alloy, and semiconductor may be used for the substrate 351. For the substrate 351, various materials such as glass, quartz, resin, metal, alloy, and semiconductor having a thickness enough to be flexible may be used.

接続体244としては、例えば導電性の粒子を用いることができる。導電性の粒子としては、有機樹脂またはシリカなどの粒子の表面を金属材料で被覆したものを用いることができる。金属材料としてニッケルや金を用いると接触抵抗を低減できるため好ましい。またニッケルをさらに金で被覆するなど、2種類以上の金属材料を層状に被覆させた粒子を用いることが好ましい。また接続体244として、弾性変形、または塑性変形する材料を用いることが好ましい。このとき導電性の粒子である接続体244は、図6等に示すように上下方向に潰れた形状となる場合がある。こうすることで、接続体244と、これと電気的に接続する導電層との接触面積が増大し、接触抵抗を低減できるほか、接続不良などの不具合の発生を抑制することができる。 As the connection body 244, for example, conductive particles can be used. As the conductive particles, those obtained by coating the surface of particles such as organic resin or silica with a metal material can be used. It is preferable to use nickel or gold as the metal material because the contact resistance can be reduced. In addition, it is preferable to use particles in which two or more kinds of metal materials are coated in layers, such as further coating nickel with gold. It is preferable to use a material that is elastically deformed or plastically deformed as the connection body 244. At this time, the connection body 244, which is a conductive particle, may have a shape crushed in the vertical direction as shown in FIG. By doing so, the contact area between the connection body 244 and the conductive layer electrically connected to the connection body 244 can be increased, the contact resistance can be reduced, and the occurrence of problems such as poor connection can be suppressed.

接続体244は、接着層142に覆われるように配置することが好ましい。例えば硬化前の接着層142に、接続体244を分散させておけばよい。 The connection body 244 is preferably arranged so as to be covered with the adhesive layer 142. For example, the connection body 244 may be dispersed in the adhesive layer 142 before curing.

以上のようにして、液晶素子170を形成することができる(図3及び図6)。 As described above, the liquid crystal element 170 can be formed (FIGS. 3 and 6).

[ステップS6:光を照射する・分離する]
次に、金属酸化物層20と樹脂層23とを分離する(図3、図7、及び図8)。これにより、作製基板14上に作製したトランジスタ、液晶素子170等を、基板351に転置することができる。
[Step S6: Irradiate / Separate Light]
Next, the metal oxide layer 20 and the resin layer 23 are separated (FIGS. 3, 7, and 8). Accordingly, the transistor, the liquid crystal element 170, and the like manufactured over the manufacturing substrate 14 can be transferred to the substrate 351.

図7では、レーザ光55を照射する例を示す。レーザ光55は、例えば、図7においては、左側から右側に走査される線状レーザビームで、その長軸は、その走査方向及びその入射方向(上から下)に垂直である。レーザ装置において、作製基板14が上側にくるように積層体を配置する。積層体には、積層体(作製基板14)の上側からレーザ光55が照射される。 FIG. 7 shows an example in which the laser beam 55 is irradiated. For example, in FIG. 7, the laser beam 55 is a linear laser beam scanned from the left side to the right side, and its major axis is perpendicular to the scanning direction and the incident direction (from top to bottom). In the laser device, the stacked body is arranged so that the manufacturing substrate 14 is on the upper side. The laminated body is irradiated with laser light 55 from the upper side of the laminated body (production substrate 14).

レーザ光55は、作製基板14を介して金属酸化物層20と樹脂層23との界面またはその近傍に照射されることが好ましい。また、レーザ光55は、金属酸化物層20中に照射されてもよく、樹脂層23中に照射されてもよい。 The laser beam 55 is preferably applied to the interface between the metal oxide layer 20 and the resin layer 23 or the vicinity thereof through the manufacturing substrate 14. Further, the laser beam 55 may be irradiated into the metal oxide layer 20 or may be irradiated into the resin layer 23.

金属酸化物層20は、レーザ光55を吸収する。樹脂層23は、レーザ光55を吸収してもよい。 The metal oxide layer 20 absorbs the laser light 55. The resin layer 23 may absorb the laser light 55.

作製基板14と金属酸化物層20の積層構造におけるレーザ光55の吸収率は、50%以上100%以下が好ましく、75%以上100%以下がより好ましく、80%以上100%以下がさらに好ましい。当該積層構造が、レーザ光55の大半を吸収することで、金属酸化物層20と樹脂層23との界面で確実に剥離することが可能となる。また、樹脂層23が光から受けるダメージを低減できる。 The absorption rate of the laser beam 55 in the stacked structure of the manufacturing substrate 14 and the metal oxide layer 20 is preferably 50% or more and 100% or less, more preferably 75% or more and 100% or less, and further preferably 80% or more and 100% or less. The laminated structure absorbs most of the laser light 55, so that it can be reliably peeled off at the interface between the metal oxide layer 20 and the resin layer 23. Moreover, the damage which the resin layer 23 receives from light can be reduced.

レーザ光55の照射により、金属酸化物層20と樹脂層23の密着性もしくは接着性が低下する。レーザ光55の照射により、樹脂層23が脆弱化されることがある。 By the irradiation with the laser beam 55, the adhesion or adhesiveness between the metal oxide layer 20 and the resin layer 23 is lowered. The resin layer 23 may be weakened by the irradiation with the laser beam 55.

レーザ光55としては、少なくともその一部が作製基板14を透過し、かつ金属酸化物層20に吸収される波長の光を選択して用いる。レーザ光55は、可視光線から紫外線の波長領域の光であることが好ましい。例えば波長が180nm以上450nm以下の光、好ましくは200nm以上400nm以下の光、より好ましくは波長が250nm以上350nm以下の光を用いることができる。 As the laser light 55, light having a wavelength that is at least partially transmitted through the manufacturing substrate 14 and absorbed by the metal oxide layer 20 is selected and used. The laser light 55 is preferably light in the wavelength region from visible light to ultraviolet light. For example, light having a wavelength of 180 nm to 450 nm, preferably 200 nm to 400 nm, more preferably light having a wavelength of 250 nm to 350 nm can be used.

レーザ光55は、金属酸化物層20のエネルギーギャップよりも高いエネルギーを有することが好ましい。例えば、酸化チタンのエネルギーギャップは、約3.2eVである。したがって、金属酸化物層20に酸化チタンを用いる場合、光は、3.2eVより高いエネルギーを有することが好ましい。 The laser beam 55 preferably has an energy higher than the energy gap of the metal oxide layer 20. For example, the energy gap of titanium oxide is about 3.2 eV. Therefore, when titanium oxide is used for the metal oxide layer 20, the light preferably has an energy higher than 3.2 eV.

特に、波長308nmのエキシマレーザを用いると、生産性に優れるため好ましい。エキシマレーザは、LTPSにおけるレーザ結晶化にも用いるため、既存のLTPS製造ラインの装置を流用することができ、新たな設備投資を必要としないため好ましい。波長308nmの光のエネルギーは、約4.0eVである。つまり、金属酸化物層20に酸化チタンを用いる場合、波長308nmのエキシマレーザは好適である。また、Nd:YAGレーザの第三高調波である波長355nmのUVレーザなどの固体UVレーザ(半導体UVレーザともいう)を用いてもよい。固体レーザはガスを用いないため、エキシマレーザに比べて、ランニングコストを低減でき、好ましい。また、ピコ秒レーザ等のパルスレーザを用いてもよい。 In particular, it is preferable to use an excimer laser having a wavelength of 308 nm because the productivity is excellent. Since the excimer laser is also used for laser crystallization in LTPS, an existing LTPS production line device can be used, and new equipment investment is not required, which is preferable. The energy of light having a wavelength of 308 nm is about 4.0 eV. That is, when titanium oxide is used for the metal oxide layer 20, an excimer laser with a wavelength of 308 nm is suitable. Alternatively, a solid-state UV laser (also referred to as a semiconductor UV laser) such as a UV laser having a wavelength of 355 nm, which is the third harmonic of the Nd: YAG laser, may be used. Since a solid-state laser does not use a gas, it can reduce a running cost and is preferable to an excimer laser. Further, a pulse laser such as a picosecond laser may be used.

レーザ光55として、線状のレーザ光を用いる場合には、作製基板14と光源とを相対的に移動させることでレーザ光55を走査し、剥離したい領域に亘ってレーザ光55を照射する。 In the case of using a linear laser beam as the laser beam 55, the laser beam 55 is scanned by moving the manufacturing substrate 14 and the light source relatively, and the laser beam 55 is irradiated over a region to be peeled off.

図8では、金属酸化物層20と樹脂層23との界面で分離が生じる例を示す。金属酸化物層20と樹脂層23との密着性もしくは接着性が低下することで、金属酸化物層20と樹脂層23との界面で分離が生じる。また、脆弱化された樹脂層23中で分離が生じる場合もある。 FIG. 8 shows an example in which separation occurs at the interface between the metal oxide layer 20 and the resin layer 23. Separation occurs at the interface between the metal oxide layer 20 and the resin layer 23 due to a decrease in adhesion or adhesion between the metal oxide layer 20 and the resin layer 23. Moreover, separation may occur in the weakened resin layer 23.

ここで、分離時に、分離界面に水や水溶液など、水を含む液体を添加し、該液体が分離界面に浸透するように分離を行うことで、分離を容易に行うことができる。また、分離時に生じる静電気が、トランジスタなどの機能素子に悪影響を及ぼすこと(半導体素子が静電気により破壊されるなど)を抑制できる。 Here, at the time of separation, separation can be easily performed by adding a liquid containing water such as water or an aqueous solution to the separation interface and performing separation so that the liquid penetrates the separation interface. In addition, static electricity generated at the time of separation can be prevented from adversely affecting a functional element such as a transistor (a semiconductor element is destroyed by static electricity).

供給する液体としては、水(好ましくは純水)、中性、アルカリ性、もしくは酸性の水溶液や、塩が溶けている水溶液が挙げられる。また、エタノール、アセトン等が挙げられる。また、各種有機溶剤を用いてもよい。 Examples of the liquid to be supplied include water (preferably pure water), a neutral, alkaline, or acidic aqueous solution, and an aqueous solution in which a salt is dissolved. Moreover, ethanol, acetone, etc. are mentioned. Various organic solvents may be used.

分離界面に液体を供給した場合は、分離により露出した被剥離層の表面を乾燥してもよい。 When the liquid is supplied to the separation interface, the surface of the layer to be peeled exposed by the separation may be dried.

分離前に、樹脂層23の一部を作製基板14から分離することで、分離の起点を形成してもよい。例えば、作製基板14と樹脂層23との間に、刃物などの鋭利な形状の器具を差し込むことで分離の起点を形成してもよい。または、基板351側から鋭利な形状の器具で樹脂層23を切り込み、分離の起点を形成してもよい。または、レーザアブレーション法等のレーザを用いた方法で、分離の起点を形成してもよい。 A separation starting point may be formed by separating a part of the resin layer 23 from the manufacturing substrate 14 before separation. For example, the starting point of separation may be formed by inserting a sharp-shaped instrument such as a blade between the production substrate 14 and the resin layer 23. Alternatively, the resin layer 23 may be cut from the substrate 351 side with a sharp tool to form the separation starting point. Alternatively, the separation starting point may be formed by a method using a laser such as a laser ablation method.

[ステップS7−1:樹脂層23を除去するか判断する]
分離後、樹脂層23を除去する場合は、ステップS7−2に進む。樹脂層23を除去しない場合は、ステップ8に進む。樹脂層23を除去しない場合、工程を削減でき好ましい。
[Step S7-1: Determine whether to remove the resin layer 23]
When the resin layer 23 is removed after the separation, the process proceeds to step S7-2. If the resin layer 23 is not removed, the process proceeds to step 8. When the resin layer 23 is not removed, the number of steps can be reduced.

本作製方法例1では、樹脂層23を除去する場合を説明する。電極311a、電極311c、及び電極311eのうち一つ又は複数を露出する必要がある場合などに、樹脂層23を除去することが好ましい。 In this manufacturing method example 1, a case where the resin layer 23 is removed will be described. The resin layer 23 is preferably removed when one or more of the electrodes 311a, 311c, and 311e need to be exposed.

[ステップS7−2:樹脂層23を除去する]
次に樹脂層23を除去する(図3及び図9(A))。さらに、絶縁層31を除去してもよい(図9(A))。
[Step S7-2: Remove the resin layer 23]
Next, the resin layer 23 is removed (FIGS. 3 and 9A). Further, the insulating layer 31 may be removed (FIG. 9A).

樹脂層23及び絶縁層31を除去することで、表示装置の薄型化及び軽量化が可能となる。 By removing the resin layer 23 and the insulating layer 31, the display device can be made thinner and lighter.

樹脂層23及び絶縁層31が厚く設けられていると、表示装置に入射された光の多くが樹脂層23で吸収されてしまう。そのため、画素の反射率が低下し、表示が暗くなってしまう。反射型の液晶素子の駆動電圧が一定の場合、樹脂層23及び絶縁層31が厚いほど、液晶層にかかる電界が弱くなり、表示のコントラストが低下する。樹脂層23及び絶縁層31の厚さを変えずに表示のコントラストを高めるためには、反射型の液晶素子の駆動電圧を高くする必要がある。したがって、樹脂層23及び絶縁層31を除去することが好ましい。 If the resin layer 23 and the insulating layer 31 are provided thick, most of the light incident on the display device is absorbed by the resin layer 23. For this reason, the reflectance of the pixel is lowered and the display becomes dark. When the driving voltage of the reflective liquid crystal element is constant, the thicker the resin layer 23 and the insulating layer 31, the weaker the electric field applied to the liquid crystal layer and the lower the display contrast. In order to increase the display contrast without changing the thickness of the resin layer 23 and the insulating layer 31, it is necessary to increase the driving voltage of the reflective liquid crystal element. Therefore, it is preferable to remove the resin layer 23 and the insulating layer 31.

なお、樹脂層23及び絶縁層31の厚さが十分に薄い場合など、樹脂層23及び絶縁層31を完全に除去しなくてもよいこともある。 In some cases, such as when the resin layer 23 and the insulating layer 31 are sufficiently thin, the resin layer 23 and the insulating layer 31 may not be completely removed.

また、絶縁層31のバリア性が高い場合、絶縁層31を残存させることで、トランジスタ及び液晶素子170に不純物が入り込むことを抑制でき、表示装置の信頼性を高めることができる。絶縁層31の厚さは、50nm以上300nm以下が好ましく、100nm以上200nm以下がより好ましい。 In the case where the insulating layer 31 has high barrier properties, by leaving the insulating layer 31, impurities can be prevented from entering the transistor and the liquid crystal element 170, and the reliability of the display device can be improved. The thickness of the insulating layer 31 is preferably 50 nm to 300 nm, and more preferably 100 nm to 200 nm.

例えば、図9(B)に示すように、電極311c及び電極311eが露出するように、絶縁層31の一部を除去してもよい。 For example, as shown in FIG. 9B, part of the insulating layer 31 may be removed so that the electrode 311c and the electrode 311e are exposed.

また、基板361と貼り合わせる前に、基板351上に、液晶素子180の画素電極として機能する電極311bと重ねて、配向膜133aを形成する。配向膜133aは、後に液晶層112と接する層である。配向膜133aは、樹脂等の薄膜を形成した後に、ラビング処理を行うことで形成できる。 Further, before bonding to the substrate 361, an alignment film 133a is formed over the substrate 351 so as to overlap with the electrode 311b functioning as the pixel electrode of the liquid crystal element 180. The alignment film 133a is a layer that comes into contact with the liquid crystal layer 112 later. The alignment film 133a can be formed by performing a rubbing process after forming a thin film such as a resin.

[ステップS8:液晶素子180を形成する]
次に、液晶素子180を形成する(図3)。液晶素子180は、共通電極と画素電極との間に液晶層を配置した状態で、基板351と基板361とを貼り合わせることで形成される。
[Step S8: Form Liquid Crystal Element 180]
Next, the liquid crystal element 180 is formed (FIG. 3). The liquid crystal element 180 is formed by bonding the substrate 351 and the substrate 361 with a liquid crystal layer disposed between the common electrode and the pixel electrode.

基板351と貼り合わせる前に、基板361上に、液晶素子180の共通電極として機能する電極113等を形成する。 Before being attached to the substrate 351, the electrode 113 or the like that functions as a common electrode of the liquid crystal element 180 is formed over the substrate 361.

図10を用いて、基板361上に電極113等を形成する工程について説明する。 A process for forming the electrode 113 and the like over the substrate 361 will be described with reference to FIGS.

まず、基板361上に、着色層131及び遮光層132を形成する。表示部362には、着色層131は、感光性の材料を用いて形成することで、フォトリソグラフィ法等により島状に加工することができる。遮光層132は、金属または樹脂等を用いて形成することができる。なお、基板361上にバリア性の高い絶縁層を形成した後、当該絶縁層上に着色層131及び遮光層132を形成してもよい。 First, the colored layer 131 and the light shielding layer 132 are formed over the substrate 361. In the display portion 362, the colored layer 131 can be processed into an island shape by a photolithography method or the like by being formed using a photosensitive material. The light shielding layer 132 can be formed using metal, resin, or the like. Note that after an insulating layer having a high barrier property is formed over the substrate 361, the coloring layer 131 and the light-blocking layer 132 may be formed over the insulating layer.

基板361は表示面側に位置する基板である。そのため、基板361には、可視光を透過する材料を用いる。例えば、上述した作製基板14または基板351に用いることができる材料のうち、可視光を透過する材料を適用することができる。 The substrate 361 is a substrate located on the display surface side. Therefore, a material that transmits visible light is used for the substrate 361. For example, among materials that can be used for the manufacturing substrate 14 or the substrate 351 described above, a material that transmits visible light can be used.

次に、着色層131及び遮光層132上に、絶縁層121を形成する。 Next, the insulating layer 121 is formed over the coloring layer 131 and the light shielding layer 132.

絶縁層121は、平坦化層として機能することが好ましい。絶縁層121には、アクリル、エポキシなどの樹脂を好適に用いることができる。 The insulating layer 121 preferably functions as a planarization layer. For the insulating layer 121, a resin such as acrylic or epoxy can be preferably used.

絶縁層121には、無機絶縁膜を適用してもよい。絶縁層121としては、例えば、窒化シリコン膜、酸化窒化シリコン膜、酸化シリコン膜、窒化酸化シリコン膜、酸化アルミニウム膜、窒化アルミニウム膜などの無機絶縁膜を用いることができる。また、酸化ハフニウム膜、酸化イットリウム膜、酸化ジルコニウム膜、酸化ガリウム膜、酸化タンタル膜、酸化マグネシウム膜、酸化ランタン膜、酸化セリウム膜、及び酸化ネオジム膜等を用いてもよい。また、上述の絶縁膜を2以上積層して用いてもよい。 An inorganic insulating film may be applied to the insulating layer 121. As the insulating layer 121, for example, an inorganic insulating film such as a silicon nitride film, a silicon oxynitride film, a silicon oxide film, a silicon nitride oxide film, an aluminum oxide film, or an aluminum nitride film can be used. Alternatively, a hafnium oxide film, an yttrium oxide film, a zirconium oxide film, a gallium oxide film, a tantalum oxide film, a magnesium oxide film, a lanthanum oxide film, a cerium oxide film, a neodymium oxide film, or the like may be used. Two or more of the above insulating films may be stacked.

次に、電極113を形成する。電極113は、可視光を透過する導電材料を用いて形成する。 Next, the electrode 113 is formed. The electrode 113 is formed using a conductive material that transmits visible light.

次に、電極113上に、絶縁層117を形成する。絶縁層117には、有機絶縁膜を用いることが好ましい。 Next, the insulating layer 117 is formed over the electrode 113. An organic insulating film is preferably used for the insulating layer 117.

次に、電極113及び絶縁層117上に、配向膜133bを形成する。配向膜133bは、樹脂等の薄膜を形成した後に、ラビング処理を行うことで形成できる。 Next, an alignment film 133 b is formed over the electrode 113 and the insulating layer 117. The alignment film 133b can be formed by performing a rubbing process after forming a thin film such as a resin.

以上の工程が完了した基板361及び基板351を、接着層141を用いて貼り合わせる(図11)。基板361及び基板351は、配向膜133aと配向膜133bの間に液晶層112を挟んだ状態で貼り合わせる。接着層141は、接着層142に用いることのできる材料を援用できる。 The substrate 361 and the substrate 351 that have been subjected to the above steps are bonded using the adhesive layer 141 (FIG. 11). The substrate 361 and the substrate 351 are attached to each other with the liquid crystal layer 112 sandwiched between the alignment film 133a and the alignment film 133b. A material that can be used for the adhesive layer 142 can be used for the adhesive layer 141.

図11に示す液晶素子180は、一部が画素電極として機能する電極311a及び電極311bと、液晶層112と、一部が共通電極として機能する電極113とが積層された構成を有する。液晶素子180は、着色層131と重なるように作製される。 A liquid crystal element 180 illustrated in FIG. 11 has a structure in which electrodes 311a and 311b, part of which functions as pixel electrodes, a liquid crystal layer 112, and an electrode 113, part of which functions as a common electrode, are stacked. The liquid crystal element 180 is manufactured so as to overlap with the colored layer 131.

接続部252では、接続体243を介して、電極113と電極311eとが電気的に接続される。 In the connection portion 252, the electrode 113 and the electrode 311 e are electrically connected through the connection body 243.

接続体243は、接続体244に用いることのできる材料を援用できる。接続体243は、接着層141に覆われるように配置することが好ましい。例えば硬化前の接着層141に、接続体243を分散させておけばよい。 A material that can be used for the connection body 244 can be used for the connection body 243. The connection body 243 is preferably disposed so as to be covered with the adhesive layer 141. For example, the connection body 243 may be dispersed in the adhesive layer 141 before curing.

[ステップS9:実装する]
その後、FPC372やICなどを電気的に接続させることができる。また、偏光板135a、偏光板135b等の光学部材を配置することができる。
[Step S9: Implement]
After that, an FPC 372, an IC, or the like can be electrically connected. In addition, optical members such as a polarizing plate 135a and a polarizing plate 135b can be provided.

以上により、図2に示す表示装置300Aを作製することができる。 Through the above steps, the display device 300A illustrated in FIG. 2 can be manufactured.

≪表示装置の構成例2≫
以下では、図12〜図14を用いて、表示装置300Aとは異なる構成の表示装置について説明する。なお、表示装置300Aと同様の部分について詳細な説明は省略する。
<< Display device configuration example 2 >>
Hereinafter, a display device having a configuration different from that of the display device 300A will be described with reference to FIGS. Detailed description of the same parts as those of the display device 300A will be omitted.

図12に、表示装置300Bの断面図を示す。表示装置300Bは、基板361、偏光板135a、及び偏光板135bを有さず、接着層392、基板390、及び反射防止部材396を有する。それ以外の構成は、表示装置300Aと同様である。表示装置300Bは、液晶素子170及び液晶素子180の双方にゲスト・ホスト液晶モードで動作する液晶材料を用いる場合の構成例である。 FIG. 12 is a cross-sectional view of the display device 300B. The display device 300B does not include the substrate 361, the polarizing plate 135a, and the polarizing plate 135b but includes the adhesive layer 392, the substrate 390, and the antireflection member 396. Other configurations are the same as those of the display device 300A. The display device 300 </ b> B is a configuration example in the case where a liquid crystal material that operates in a guest / host liquid crystal mode is used for both the liquid crystal element 170 and the liquid crystal element 180.

図13に、表示装置300Cの断面図を示す。表示装置300Cは、基板361を有さず、接着層392、光拡散層136、基板390、及び反射防止部材396を有する。また、表示装置300Cは、偏光板135aの位置が表示装置300Aと異なる。それ以外の構成は、表示装置300Aと同様である。表示装置300Cは、液晶素子170及び液晶素子180の双方にTNモードで動作する液晶材料を用いる場合の構成例である。 FIG. 13 is a cross-sectional view of the display device 300C. The display device 300 </ b> C does not include the substrate 361 but includes the adhesive layer 392, the light diffusion layer 136, the substrate 390, and the antireflection member 396. The display device 300C is different from the display device 300A in the position of the polarizing plate 135a. Other configurations are the same as those of the display device 300A. The display device 300C is a configuration example in the case where a liquid crystal material that operates in a TN mode is used for both the liquid crystal element 170 and the liquid crystal element 180.

表示面側の基板である基板(ここでは基板390)の厚さは十分に薄いことが好ましい。基板390には、例えば、厚さ0.1mm以上0.5mm未満、好ましくは0.1mm以上0.3mm以下のガラス基板、厚さ1μm以上200μm以下の樹脂基板などを適用することが好ましい。これにより、画像のボケを低減し、画像を鮮明に表示することができる。 It is preferable that the thickness of the substrate (here, the substrate 390) which is the display surface side substrate is sufficiently thin. As the substrate 390, for example, a glass substrate having a thickness of 0.1 mm to less than 0.5 mm, preferably 0.1 mm to 0.3 mm, a resin substrate having a thickness of 1 μm to 200 μm, and the like are preferably used. Thereby, blurring of the image can be reduced and the image can be clearly displayed.

表示装置300B及び表示装置300Cは、作製基板上で着色層131、電極113等を作製し、作製基板から基板351にこれらを転置した後、接着層392を用いて基板351に基板390を貼り合わせることで作製される。そのため、基板390に作製工程に耐えうる高い耐熱性や高い剛性が求められない。また、基板を薄くする工程、代表的には研磨工程を削減することができる。研磨工程を削減することで、表示装置の作製の歩留まりを高めることができる。 In the display device 300 </ b> B and the display device 300 </ b> C, the coloring layer 131, the electrode 113, and the like are formed over the manufacturing substrate, transferred from the manufacturing substrate to the substrate 351, and then bonded to the substrate 351 with the adhesive layer 392. It is produced by. Therefore, the substrate 390 is not required to have high heat resistance and high rigidity that can withstand the manufacturing process. In addition, the process of thinning the substrate, typically the polishing process, can be reduced. By reducing the polishing step, the yield of manufacturing the display device can be increased.

なお、上述の表示装置300Aは、基板361上に直接、着色層131、電極113等を形成することで作製される構成である。このような構成の場合は、基板351と基板361とを貼り合わせた後に、基板361の厚さを研磨等により薄くすることが好ましい。 Note that the above-described display device 300A has a structure in which the coloring layer 131, the electrode 113, and the like are formed directly over the substrate 361. In such a structure, after the substrate 351 and the substrate 361 are bonded together, it is preferable to reduce the thickness of the substrate 361 by polishing or the like.

液晶素子170及び液晶素子180の双方にゲスト・ホスト液晶モードで動作する液晶材料を用いることにより、光拡散層及び偏光板を省略することができる。よって、表示装置の生産性を高めることができる。また、光拡散層及び偏光板を設けないことにより、表示装置の表示を明るくすることができる。よって、表示装置の視認性を高めることができる。 By using a liquid crystal material that operates in the guest / host liquid crystal mode for both the liquid crystal element 170 and the liquid crystal element 180, the light diffusion layer and the polarizing plate can be omitted. Thus, productivity of the display device can be increased. Moreover, the display of a display apparatus can be brightened by not providing a light-diffusion layer and a polarizing plate. Therefore, the visibility of the display device can be increased.

図14に、表示装置300Dの断面図を示す。表示装置300Dは、基板361、偏光板135a、及び偏光板135bを有さず、タッチセンサ、接着層392、基板390、及び反射防止部材396を有する。それ以外の構成は、表示装置300Aと同様である。なお、液晶素子170及び液晶素子180の動作モードによっては、偏光板及び光拡散層のうち一方又は双方を設ける。 FIG. 14 shows a cross-sectional view of the display device 300D. The display device 300D does not include the substrate 361, the polarizing plate 135a, and the polarizing plate 135b, but includes a touch sensor, an adhesive layer 392, a substrate 390, and an antireflection member 396. Other configurations are the same as those of the display device 300A. Note that one or both of the polarizing plate and the light diffusion layer are provided depending on the operation mode of the liquid crystal element 170 and the liquid crystal element 180.

本発明の一態様では、タッチセンサが搭載された表示装置(入出力装置、タッチパネルともいう)を作製することができる。 In one embodiment of the present invention, a display device (also referred to as an input / output device or a touch panel) including a touch sensor can be manufactured.

表示装置が有するタッチセンサを入力装置の一例ということもできる。入力装置は表示部と重ねて設けられ、ユーザーが表示部をタッチする動作を電気信号に変換して出力する機能を有する。 The touch sensor included in the display device can also be referred to as an example of the input device. The input device is provided so as to overlap with the display unit, and has a function of converting an operation in which the user touches the display unit into an electric signal and outputting the electric signal.

本発明の一態様の表示装置が有する検知素子(センサ素子ともいう)に限定は無い。指またはスタイラス等の被検知体の近接または接触を検知することのできる様々なセンサを、検知素子として適用することができる。 There is no limitation on a detection element (also referred to as a sensor element) included in the display device of one embodiment of the present invention. Various sensors that can detect the proximity or contact of an object to be detected, such as a finger or a stylus, can be used as the detection element.

例えばセンサの方式としては、静電容量方式、抵抗膜方式、表面弾性波方式、赤外線方式、光学方式、感圧方式等様々な方式を用いることができる。 For example, various methods such as a capacitance method, a resistance film method, a surface acoustic wave method, an infrared method, an optical method, and a pressure-sensitive method can be used as a sensor method.

本実施の形態では、静電容量方式の検知素子を有する表示装置を例に挙げて説明する。 In this embodiment, a display device including a capacitance type detection element is described as an example.

静電容量方式としては、表面型静電容量方式、投影型静電容量方式等がある。また、投影型静電容量方式としては、自己容量方式、相互容量方式等がある。相互容量方式を用いると、同時多点検出が可能となるため好ましい。 Examples of the electrostatic capacity method include a surface electrostatic capacity method and a projection electrostatic capacity method. In addition, examples of the projected capacitance method include a self-capacitance method and a mutual capacitance method. Use of the mutual capacitance method is preferable because simultaneous multipoint detection is possible.

本発明の一態様の表示装置は、別々に作製された表示パネルと検知素子とを貼り合わせる構成、表示パネルが有する一対の基板の一方または双方に検知素子を構成する電極等を設ける構成等、様々な構成を適用することができる。 The display device of one embodiment of the present invention includes a structure in which a separately manufactured display panel and a detection element are attached, a structure in which an electrode or the like that configures the detection element is provided on one or both of a pair of substrates included in the display panel, and the like. Various configurations can be applied.

検知素子の配線及び電極として、可視光を透過する導電層を用いることができる。また、当該配線及び当該電極として、より抵抗が低く大型の表示装置にも適用可能なメタルメッシュを用いることが好ましい。なお、一般的に金属は反射率が大きい材料であるが、酸化処理などを施すことにより暗色にすることができる。したがって、基板390側から視認した場合においても、外光の反射による視認性の低下を抑えることができる。 A conductive layer that transmits visible light can be used as the wiring and electrodes of the sensing element. In addition, it is preferable to use a metal mesh having lower resistance and applicable to a large display device as the wiring and the electrode. In general, metal is a material having a high reflectance, but it can be darkened by performing an oxidation treatment or the like. Therefore, even when viewed from the substrate 390 side, it is possible to suppress a decrease in visibility due to reflection of external light.

また、当該配線及び当該電極を、金属層と反射率の小さい層(「暗色層」ともいう。)の積層で形成してもよい。暗色層の一例としては、酸化銅を含む層、塩化銅または塩化テルルを含む層などがある。また、暗色層を、Ag粒子、Agファイバー、Cu粒子等の金属微粒子、カーボンナノチューブ(CNT)、グラフェン等のナノ炭素粒子、並びに、PEDOT、ポリアニリン、ポリピロールなどの導電性高分子などを用いて形成してもよい。 Alternatively, the wiring and the electrode may be formed using a stack of a metal layer and a layer with low reflectance (also referred to as a “dark color layer”). Examples of the dark color layer include a layer containing copper oxide and a layer containing copper chloride or tellurium chloride. In addition, the dark color layer is formed using fine metal particles such as Ag particles, Ag fibers, and Cu particles, nanocarbon particles such as carbon nanotubes (CNT) and graphene, and conductive polymers such as PEDOT, polyaniline, and polypyrrole. May be.

入力装置は、トランジスタ、液晶素子180、及び液晶素子170のうち少なくとも一つの製造工程とは別工程で作製することができるため、それぞれの要素の歩留りを向上させることができる。 Since the input device can be manufactured through a process different from the manufacturing process of at least one of the transistor, the liquid crystal element 180, and the liquid crystal element 170, the yield of each element can be improved.

図14に示す表示装置300Dは、導電層331、絶縁層332、導電層333、導電層334、電極113a、電極311g、電極311h等を有する。 A display device 300D illustrated in FIG. 14 includes a conductive layer 331, an insulating layer 332, a conductive layer 333, a conductive layer 334, an electrode 113a, an electrode 311g, an electrode 311h, and the like.

導電層334を挟んで設けられた2つの導電層333は、導電層331を介して電気的に接続される。導電層331と導電層334は、絶縁層332によって互いに電気的に絶縁されている。 Two conductive layers 333 provided with the conductive layer 334 interposed therebetween are electrically connected to each other through the conductive layer 331. The conductive layer 331 and the conductive layer 334 are electrically insulated from each other by the insulating layer 332.

導電層333は、電極113aと電気的に接続されている。電極113aは、電極113と同一の導電膜、同一の工程で形成することができる。接続部254において、電極113aは、接続体243を介して、電極311gと電気的に接続されている。これにより、基板390側に設けられたタッチセンサに、基板351側に接続されたFPC(FPC372またはそれとは異なるFPC)から入力される信号または電位を、接続部254を介して供給することができる。 The conductive layer 333 is electrically connected to the electrode 113a. The electrode 113a can be formed using the same conductive film and the same process as the electrode 113. In the connection portion 254, the electrode 113a is electrically connected to the electrode 311g through the connection body 243. Accordingly, a signal or a potential input from an FPC (FPC 372 or a different FPC) connected to the substrate 351 side can be supplied to the touch sensor provided on the substrate 390 side via the connection portion 254. .

≪表示装置の作製方法例2≫
表示装置の作製方法例1で説明したステップS1からステップS9までの工程のうち、ステップS8の工程を変更することで、表示装置300B、表示装置300C、及び表示装置300Dを作製することができる。表示装置300B、表示装置300C、及び表示装置300Dを作製する場合、ステップS8は、下記ステップS11からステップS18までの工程を有する。以下では、図15〜図19を用いて、表示装置300Dの作製方法について説明する。なお、表示装置300Aの作製方法と同様の部分について詳細な説明は省略する。
<< Example 2 of Manufacturing Method of Display Device >>
The display device 300B, the display device 300C, and the display device 300D can be manufactured by changing the process of step S8 among the processes from step S1 to step S9 described in the display device manufacturing method example 1. When the display device 300B, the display device 300C, and the display device 300D are manufactured, step S8 includes the following steps S11 to S18. Hereinafter, a method for manufacturing the display device 300D will be described with reference to FIGS. Note that detailed description of the same portions as the manufacturing method of the display device 300A is omitted.

[ステップS11:作製基板94を準備する]
まず、ステップS1(図3及び図4(A))と同様に、作製基板94を準備する(図15)。
[Step S11: Prepare Fabrication Substrate 94]
First, similarly to step S1 (FIGS. 3 and 4A), a manufacturing substrate 94 is prepared (FIG. 15).

[ステップS12:金属酸化物層90を形成する]
次に、ステップS2(図3及び図4(B1))と同様に、作製基板94上に、金属酸化物層90を形成する(図15)。
[Step S12: Form Metal Oxide Layer 90]
Next, as in step S2 (FIGS. 3 and 4B1), a metal oxide layer 90 is formed over the manufacturing substrate 94 (FIG. 15).

[ステップS13:樹脂層93を形成する]
次に、ステップS3(図3、図4(C)、及び図4(D))と同様に、金属酸化物層90上に第1の層を形成し、加熱処理を行うことで、樹脂層93を形成する(図15)。
[Step S13: Form Resin Layer 93]
Next, as in step S3 (FIGS. 3, 4C, and 4D), a first layer is formed over the metal oxide layer 90, and heat treatment is performed, whereby a resin layer is formed. 93 is formed (FIG. 15).

[ステップS14:機能層を形成する]
次に、樹脂層93上に機能層を形成する(図15及び図16(A))。なお、表示装置300Bまたは表示装置300Cを作製する場合の断面図を図16(B)に示す。図16(B)は、機能層が検知素子を有さない場合の断面図ともいえる。
[Step S14: Form a functional layer]
Next, a functional layer is formed over the resin layer 93 (FIGS. 15 and 16A). Note that FIG. 16B is a cross-sectional view in the case of manufacturing the display device 300B or the display device 300C. FIG. 16B can also be regarded as a cross-sectional view in the case where the functional layer does not include a detection element.

まず、図16(A)に示すように、樹脂層93上に、導電層331を形成する。なお、樹脂層93上にバリア性の高い絶縁層を形成した後、当該絶縁層上に導電層331を形成してもよい。 First, as illustrated in FIG. 16A, a conductive layer 331 is formed over the resin layer 93. Note that after an insulating layer having a high barrier property is formed over the resin layer 93, the conductive layer 331 may be formed over the insulating layer.

そして、導電層331を覆う絶縁層332を形成する。次に、絶縁層332に導電層331に達する開口を形成する。そして、絶縁層332上に、導電層333及び導電層334を形成する。導電層333は、絶縁層332の開口を介して導電層331と電気的に接続される。 Then, an insulating layer 332 that covers the conductive layer 331 is formed. Next, an opening reaching the conductive layer 331 is formed in the insulating layer 332. Then, a conductive layer 333 and a conductive layer 334 are formed over the insulating layer 332. The conductive layer 333 is electrically connected to the conductive layer 331 through the opening of the insulating layer 332.

ここでは、検知素子の配線及び電極にメタルメッシュを用いる例を示すため、検知素子を液晶素子180及び液晶素子170を用いた表示領域以外の部分に形成する。なお、検知素子の配線及び電極を、可視光を透過する導電材料を用いて形成する場合、当該配線及び当該電極を表示領域に配置してもよい。 Here, in order to show an example in which a metal mesh is used for the wiring and electrodes of the detection element, the detection element is formed in a portion other than the display region using the liquid crystal element 180 and the liquid crystal element 170. Note that in the case where the wiring and the electrode of the detection element are formed using a conductive material that transmits visible light, the wiring and the electrode may be arranged in the display region.

次に、導電層333及び導電層334を覆う絶縁層335を形成する。絶縁層332及び絶縁層335としては、それぞれ、無機絶縁膜及び樹脂等を用いることができる。 Next, the insulating layer 335 which covers the conductive layer 333 and the conductive layer 334 is formed. As the insulating layer 332 and the insulating layer 335, an inorganic insulating film, a resin, or the like can be used, respectively.

次に、絶縁層335上に着色層131及び遮光層132を形成する。なお、図16(B)に示すように、機能層に検知素子を設けない場合は、樹脂層93上に着色層131及び遮光層132を形成する。 Next, the coloring layer 131 and the light shielding layer 132 are formed over the insulating layer 335. Note that as illustrated in FIG. 16B, in the case where the detection element is not provided in the functional layer, the coloring layer 131 and the light shielding layer 132 are formed over the resin layer 93.

なお、樹脂層93上にバリア性の高い無機絶縁膜を形成し、当該無機絶縁膜上に検知素子、着色層、遮光層等を形成してもよい。 Note that an inorganic insulating film having a high barrier property may be formed over the resin layer 93, and a detection element, a colored layer, a light shielding layer, or the like may be formed over the inorganic insulating film.

次に、着色層131及び遮光層132上に、絶縁層121を形成する。次に、絶縁層121及び絶縁層335に導電層333に達する開口を形成する。 Next, the insulating layer 121 is formed over the coloring layer 131 and the light shielding layer 132. Next, an opening reaching the conductive layer 333 is formed in the insulating layer 121 and the insulating layer 335.

次に、電極113及び電極113aを形成する。電極113aは、絶縁層121及び絶縁層335の開口を介して、導電層333と電気的に接続される。 Next, the electrode 113 and the electrode 113a are formed. The electrode 113a is electrically connected to the conductive layer 333 through the openings of the insulating layer 121 and the insulating layer 335.

次に、電極113上に、絶縁層117を形成する。 Next, the insulating layer 117 is formed over the electrode 113.

次に、電極113及び絶縁層117上に、配向膜133bを形成する。配向膜133bは、樹脂等の薄膜を形成した後に、ラビング処理を行うことで形成できる。 Next, an alignment film 133 b is formed over the electrode 113 and the insulating layer 117. The alignment film 133b can be formed by performing a rubbing process after forming a thin film such as a resin.

[ステップS15:液晶層112を封止する]
以上の工程が完了した作製基板94と、ステップS8までの工程が完了した基板351を、接着層141を用いて貼り合わせる(図14及び図17)。作製基板94及び基板351は、配向膜133aと配向膜133bの間に液晶層112を挟んだ状態で貼り合わせる。
[Step S15: Sealing Liquid Crystal Layer 112]
The manufacturing substrate 94 in which the above steps are completed and the substrate 351 in which the steps up to Step S8 are completed are bonded together using the adhesive layer 141 (FIGS. 14 and 17). The manufacturing substrate 94 and the substrate 351 are attached to each other with the liquid crystal layer 112 sandwiched between the alignment film 133a and the alignment film 133b.

接続部254では、接続体243を介して、電極113aと電極311gとが電気的に接続される。 In the connection portion 254, the electrode 113a and the electrode 311g are electrically connected through the connection body 243.

[ステップS16:光照射・分離]
次に、ステップS7(図3、図7、及び図8)と同様に、金属酸化物層90と樹脂層93とを分離する(図15及び図18)。これにより、作製基板94上に作製した検知素子、着色層131等を、基板351に転置することができる。
[Step S16: Light Irradiation / Separation]
Next, as in step S7 (FIGS. 3, 7, and 8), the metal oxide layer 90 and the resin layer 93 are separated (FIGS. 15 and 18). Accordingly, the detection element, the coloring layer 131, and the like manufactured over the manufacturing substrate 94 can be transferred to the substrate 351.

なお、液晶素子180において、電極と液晶層の密着性が低いことがある。そのため、作製基板94を、人間の手、治具、ローラ等を用いて引き剥がそうとすると、液晶素子180中で膜剥がれが生じ、液晶素子180が破壊される恐れがある。本実施の形態では、光照射を行うことで、金属酸化物層90と樹脂層93とを分離することができる。作製基板94を強い力で引き剥がす必要がないため、液晶素子180中の膜剥がれを抑制し、分離の歩留まりを高めることができる。 Note that in the liquid crystal element 180, the adhesion between the electrode and the liquid crystal layer may be low. Therefore, if the manufacturing substrate 94 is peeled off using a human hand, a jig, a roller, or the like, film peeling occurs in the liquid crystal element 180, and the liquid crystal element 180 may be destroyed. In this embodiment, the metal oxide layer 90 and the resin layer 93 can be separated by light irradiation. Since there is no need to peel off the manufacturing substrate 94 with a strong force, peeling of the film in the liquid crystal element 180 can be suppressed and the yield of separation can be increased.

[ステップS17−1:樹脂層93を除去するか判断する]
分離後、樹脂層93を除去する場合は、ステップS17−2に進む。樹脂層93を除去しない場合は、ステップ18に進む。樹脂層93は、表示素子よりも表示面側に位置する層であるため、樹脂層93を除去することで、表示装置の表示品位を向上できることがある。樹脂層93の透光性の程度、厚さの程度によっては、樹脂層93を除去しなくてもよい。
[Step S17-1: Determine whether to remove resin layer 93]
When the resin layer 93 is removed after the separation, the process proceeds to step S17-2. If the resin layer 93 is not removed, the process proceeds to step 18. Since the resin layer 93 is a layer positioned closer to the display surface than the display element, the display quality of the display device may be improved by removing the resin layer 93 in some cases. Depending on the degree of translucency and thickness of the resin layer 93, the resin layer 93 may not be removed.

本作製方法例2では、樹脂層93を除去する場合を説明する。 In this manufacturing method example 2, a case where the resin layer 93 is removed will be described.

[ステップS17−2:樹脂層93を除去する]
ステップS8−2(図3及び図9(A))と同様の方法で、樹脂層93を除去することができる(図15)。
[Step S17-2: Remove the resin layer 93]
The resin layer 93 can be removed by the same method as in step S8-2 (FIGS. 3 and 9A) (FIG. 15).

[ステップS18:基板390を貼り合わせる]
次に、接着層392を用いて、基板351と基板390とを貼り合わせる(図15及び図19)。反射防止部材396が設けられた基板390を基板351と貼り合わせることができる。または、基板351と基板390とを貼り合わせた後に、基板390上に反射防止部材396を設けてもよい。
[Step S18: Laminate Substrate 390]
Next, the substrate 351 and the substrate 390 are attached to each other using the adhesive layer 392 (FIGS. 15 and 19). The substrate 390 provided with the antireflection member 396 can be attached to the substrate 351. Alternatively, the antireflection member 396 may be provided over the substrate 390 after the substrate 351 and the substrate 390 are bonded to each other.

以上のように、図3のステップS8において、図15のステップS11からステップS18を行う。 As described above, step S11 to step S18 in FIG. 15 are performed in step S8 in FIG.

その後、ステップS9(図3)において、FPC372やICなどを電気的に接続させることができる。 Thereafter, in step S9 (FIG. 3), the FPC 372, the IC, and the like can be electrically connected.

以上により、図14に示す表示装置300Dを作製することができる。 Through the above steps, the display device 300D illustrated in FIG. 14 can be manufactured.

≪表示装置の構成例3≫
以下では、図20を用いて、表示装置300Aとは異なる構成の表示装置について説明する。なお、表示装置300Aと同様の部分について詳細な説明は省略する。
<< Configuration Example 3 of Display Device >>
Hereinafter, a display device having a configuration different from that of the display device 300A will be described with reference to FIG. Detailed description of the same parts as those of the display device 300A will be omitted.

図20に、表示装置300Eの断面図を示す。表示装置300Eは、基板361、偏光板135a、及び偏光板135bを有さず、絶縁層91a、接着層97、絶縁層91b、タッチセンサ、接着層392、基板390、及び反射防止部材396を有する。また、表示装置300Eは、FPC及び接続体を少なくとも2つずつ有する(FPC372a、FPC372b、接続層242a、及び接続層242b)。それ以外の構成は、表示装置300Aと同様である。なお、液晶素子170及び液晶素子180の動作モードによっては、偏光板及び光拡散層のうち一方又は双方を設ける。 FIG. 20 shows a cross-sectional view of the display device 300E. The display device 300E does not include the substrate 361, the polarizing plate 135a, and the polarizing plate 135b, but includes the insulating layer 91a, the adhesive layer 97, the insulating layer 91b, the touch sensor, the adhesive layer 392, the substrate 390, and the antireflection member 396. . The display device 300E includes at least two FPCs and connection bodies (FPC 372a, FPC 372b, a connection layer 242a, and a connection layer 242b). Other configurations are the same as those of the display device 300A. Note that one or both of the polarizing plate and the light diffusion layer are provided depending on the operation mode of the liquid crystal element 170 and the liquid crystal element 180.

表示装置300Eは、導電層331、絶縁層332、導電層333、導電層334、導電層336等を有する。 The display device 300E includes a conductive layer 331, an insulating layer 332, a conductive layer 333, a conductive layer 334, a conductive layer 336, and the like.

導電層334を挟んで設けられた2つの導電層333は、導電層331を介して電気的に接続される。導電層331と導電層334は、絶縁層332によって互いに電気的に絶縁されている。 Two conductive layers 333 provided with the conductive layer 334 interposed therebetween are electrically connected to each other through the conductive layer 331. The conductive layer 331 and the conductive layer 334 are electrically insulated from each other by the insulating layer 332.

導電層333は、導電層336と電気的に接続されている。導電層336は、導電層331と同一の導電膜、同一の工程で形成することができる。導電層336は、接続層242bを介して、FPC372bと電気的に接続されている。 The conductive layer 333 is electrically connected to the conductive layer 336. The conductive layer 336 can be formed using the same conductive film and the same process as the conductive layer 331. The conductive layer 336 is electrically connected to the FPC 372b through the connection layer 242b.

≪表示装置の作製方法例3≫
以下では、図21〜図29を用いて、表示装置300Eの作製方法について説明する。なお、表示装置300Aの作製方法と同様の部分について詳細な説明は省略する。
<< Example 3 of Manufacturing Method of Display Device >>
Hereinafter, a method for manufacturing the display device 300E will be described with reference to FIGS. Note that detailed description of the same portions as the manufacturing method of the display device 300A is omitted.

表示装置の作製方法例1で説明したステップS1からステップS9までの工程のうち、ステップS8の工程を変更することで、表示装置300Eを作製することができる。表示装置300Eを作製する場合、ステップS8は、ステップS21からステップS27までの工程と、ステップS31からステップS37までの工程と、ステップS28の工程を有する。ステップS21からステップS27までの工程と、ステップS31からステップS37までの工程と、は、それぞれ独立に行うことができる。ステップS27及びステップS37の後に、ステップS28を行う。 The display device 300E can be manufactured by changing the process of step S8 among the processes from step S1 to step S9 described in the display device manufacturing method example 1. When manufacturing the display device 300E, step S8 includes a process from step S21 to step S27, a process from step S31 to step S37, and a process of step S28. The process from step S21 to step S27 and the process from step S31 to step S37 can be performed independently. Step S28 is performed after step S27 and step S37.

[ステップS21:作製基板94aを準備する]
まず、ステップS1(図3及び図4(A))と同様に、作製基板94aを準備する(図21)。
[Step S21: Prepare Fabrication Substrate 94a]
First, similarly to step S1 (FIGS. 3 and 4A), a production substrate 94a is prepared (FIG. 21).

[ステップS22:金属酸化物層90aを形成する]
次に、ステップS2(図3及び図4(B1))と同様に、作製基板94a上に、金属酸化物層90aを形成する(図21)。
[Step S22: Form Metal Oxide Layer 90a]
Next, as in step S2 (FIGS. 3 and 4B1), a metal oxide layer 90a is formed over the manufacturing substrate 94a (FIG. 21).

[ステップS23:樹脂層93aを形成する]
次に、ステップS3(図3、図4(C)、及び図4(D))と同様に、金属酸化物層90a上に第1の層を形成し、加熱処理を行うことで、樹脂層93aを形成する(図21)。
[Step S23: Form Resin Layer 93a]
Next, similarly to Step S3 (FIGS. 3, 4C, and 4D), a first layer is formed over the metal oxide layer 90a, and heat treatment is performed, whereby a resin layer is formed. 93a is formed (FIG. 21).

[ステップS24:第1の機能層を形成する]
次に、樹脂層93a上に第1の機能層を形成する(図21及び図22)。
[Step S24: Form first functional layer]
Next, a first functional layer is formed on the resin layer 93a (FIGS. 21 and 22).

まず、樹脂層93a上に、絶縁層91aを形成することが好ましい。絶縁層91aはバリア性の高い無機絶縁膜を有するように形成されることが好ましい。 First, the insulating layer 91a is preferably formed over the resin layer 93a. The insulating layer 91a is preferably formed so as to have an inorganic insulating film with high barrier properties.

次に、絶縁層91a上に着色層131及び遮光層132を形成する。次に、着色層131及び遮光層132上に、絶縁層121を形成する。次に、電極113を形成する。次に、電極113上に、絶縁層117を形成する。次に、電極113及び絶縁層117上に、配向膜133bを形成する。これらの形成方法の詳細は、作製方法例1を参照できる。 Next, the coloring layer 131 and the light shielding layer 132 are formed over the insulating layer 91a. Next, the insulating layer 121 is formed over the coloring layer 131 and the light shielding layer 132. Next, the electrode 113 is formed. Next, the insulating layer 117 is formed over the electrode 113. Next, an alignment film 133 b is formed over the electrode 113 and the insulating layer 117. Details of these forming methods can be referred to the manufacturing method example 1.

[ステップS25:液晶層112を封止する]
ステップS24の工程が完了した作製基板94aと、ステップS8までの工程が完了した基板351を、接着層141を用いて貼り合わせる(図21及び図23)。作製基板94a及び基板351は、配向膜133aと配向膜133bの間に液晶層112を挟んだ状態で貼り合わせる。
[Step S25: Sealing Liquid Crystal Layer 112]
The manufacturing substrate 94a in which the process in step S24 is completed and the substrate 351 in which the process up to step S8 is completed are bonded together using the adhesive layer 141 (FIGS. 21 and 23). The manufacturing substrate 94a and the substrate 351 are attached to each other with the liquid crystal layer 112 sandwiched between the alignment film 133a and the alignment film 133b.

[ステップS26:光を照射する・分離する]
次に、ステップS7(図3、図7、及び図8)と同様に、金属酸化物層90aと樹脂層93aとを分離する(図21及び図24)。
[Step S26: Irradiate / Separate Light]
Next, similarly to step S7 (FIGS. 3, 7, and 8), the metal oxide layer 90a and the resin layer 93a are separated (FIGS. 21 and 24).

[ステップS27−1:樹脂層93aを除去するか判断する]
分離後、樹脂層93aを除去する場合は、ステップS27−2に進む。樹脂層93aを除去しない場合は、ステップ28に進む。樹脂層93aは、表示素子よりも表示面側に位置する層であるため、樹脂層93aを除去することで、表示装置の表示品位を向上できることがある。樹脂層93aの透光性の程度、厚さの程度によっては、樹脂層93aを除去しなくてもよい。
[Step S27-1: Determine whether to remove the resin layer 93a]
When the resin layer 93a is removed after the separation, the process proceeds to step S27-2. If the resin layer 93a is not removed, the process proceeds to step 28. Since the resin layer 93a is a layer positioned closer to the display surface than the display element, the display quality of the display device may be improved by removing the resin layer 93a. Depending on the degree of translucency and thickness of the resin layer 93a, the resin layer 93a may not be removed.

本作製方法例3では、樹脂層93aを除去する場合を説明する。 In this manufacturing method example 3, a case where the resin layer 93a is removed will be described.

[ステップS27−2:樹脂層93aを除去する]
ステップS8−2(図3及び図9)と同様の方法で、樹脂層93aを除去することができる(図25)。
[Step S27-2: Remove resin layer 93a]
The resin layer 93a can be removed by the same method as in step S8-2 (FIGS. 3 and 9) (FIG. 25).

以上のように、ステップS21からステップS27を行うことで、作製基板94a上に作製した電極113、着色層131等を、基板351に転置することができる。 As described above, by performing Step S21 to Step S27, the electrode 113, the colored layer 131, and the like manufactured over the manufacturing substrate 94a can be transferred to the substrate 351.

また、ステップS21からステップS27とは独立して、下記ステップS31からステップS37を行う。 In addition, the following steps S31 to S37 are performed independently of steps S21 to S27.

[ステップS31:作製基板94bを準備する]
まず、ステップS1(図3及び図4(A))と同様に、作製基板94bを準備する(図21)。
[Step S31: Prepare Fabrication Substrate 94b]
First, similarly to step S1 (FIGS. 3 and 4A), a manufacturing substrate 94b is prepared (FIG. 21).

[ステップS32:金属酸化物層90bを形成する]
次に、ステップS2(図3及び図4(B1))と同様に、作製基板94b上に、金属酸化物層90bを形成する(図21)。
[Step S32: Form Metal Oxide Layer 90b]
Next, as in step S2 (FIGS. 3 and 4B1), a metal oxide layer 90b is formed over the formation substrate 94b (FIG. 21).

[ステップS33:樹脂層93bを形成する]
次に、ステップS3(図3、図4(C)、及び図4(D))と同様に、金属酸化物層90b上に第1の層を形成し、加熱処理を行うことで、樹脂層93bを形成する(図21)。
[Step S33: Form Resin Layer 93b]
Next, similarly to Step S3 (FIGS. 3, 4C, and 4D), a first layer is formed over the metal oxide layer 90b and heat treatment is performed, whereby a resin layer is formed. 93b is formed (FIG. 21).

[ステップS34:第2の機能層を形成する]
次に、樹脂層93b上に第2の機能層を形成する(図21及び図26(A))。
[Step S34: Form Second Functional Layer]
Next, a second functional layer is formed over the resin layer 93b (FIGS. 21 and 26A).

まず、樹脂層93b上に、絶縁層91bを形成することが好ましい。絶縁層91bはバリア性の高い無機絶縁膜を有するように形成されることが好ましい。 First, the insulating layer 91b is preferably formed over the resin layer 93b. The insulating layer 91b is preferably formed so as to have an inorganic insulating film with high barrier properties.

次に、絶縁層91b上に、導電層331及び導電層336を形成する。そして、導電層331及び導電層336を覆う絶縁層332を形成する。次に、絶縁層332に導電層331及び導電層336に達する開口を形成する。そして、絶縁層332上に、導電層333及び導電層334を形成する。導電層333は、絶縁層332の開口を介して導電層331と電気的に接続される。また、導電層333は、絶縁層332の開口を介して導電層336と電気的に接続される。 Next, the conductive layer 331 and the conductive layer 336 are formed over the insulating layer 91b. Then, an insulating layer 332 that covers the conductive layer 331 and the conductive layer 336 is formed. Next, an opening reaching the conductive layer 331 and the conductive layer 336 is formed in the insulating layer 332. Then, a conductive layer 333 and a conductive layer 334 are formed over the insulating layer 332. The conductive layer 333 is electrically connected to the conductive layer 331 through the opening of the insulating layer 332. In addition, the conductive layer 333 is electrically connected to the conductive layer 336 through the opening of the insulating layer 332.

また、表示装置に偏光板及び光拡散層のうち一方または双方を設ける場合、図26(B)に示すように、絶縁層332、導電層331、及び導電層336上に、光拡散層136を設け、光拡散層136上に偏光板135aを設けることができる。 In the case where one or both of a polarizing plate and a light diffusion layer are provided in the display device, a light diffusion layer 136 is provided over the insulating layer 332, the conductive layer 331, and the conductive layer 336 as illustrated in FIG. The polarizing plate 135 a can be provided over the light diffusion layer 136.

[ステップS35:基板390を貼り合わせる]
次に、接着層392を用いて、作製基板94bと基板390とを貼り合わせる(図21及び図27(A))。ここでは、反射防止部材396が設けられた基板390を用いる。
[Step S35: Bonding Substrate 390]
Next, the formation substrate 94b and the substrate 390 are attached to each other using the adhesive layer 392 (FIGS. 21 and 27A). Here, a substrate 390 provided with an antireflection member 396 is used.

[ステップS36:光を照射する・分離する]
次に、ステップS7(図3、図7、及び図8)と同様に、金属酸化物層90bと樹脂層93bとを分離する(図21、図27(B)、及び図28(A))。
[Step S36: Irradiate / Separate Light]
Next, as in step S7 (FIGS. 3, 7, and 8), the metal oxide layer 90b and the resin layer 93b are separated (FIGS. 21, 27B, and 28A). .

[ステップS37−1:樹脂層93bを除去するか判断する]
分離後、樹脂層93bを除去する場合は、ステップS37−2に進む。樹脂層93bを除去しない場合は、ステップ28に進む。樹脂層93bは、表示素子よりも表示面側に位置する層であるため、樹脂層93bを除去することで、表示装置の表示品位を向上できることがある。樹脂層93bの透光性の程度、厚さの程度によっては、樹脂層93bを除去しなくてもよい。
[Step S37-1: Determine whether to remove resin layer 93b]
When the resin layer 93b is removed after the separation, the process proceeds to step S37-2. If the resin layer 93b is not removed, the process proceeds to step 28. Since the resin layer 93b is a layer positioned closer to the display surface than the display element, the display quality of the display device may be improved by removing the resin layer 93b. Depending on the degree of translucency and thickness of the resin layer 93b, the resin layer 93b may not be removed.

本作製方法例3では、樹脂層93bを除去する場合を説明する。 In this manufacturing method example 3, a case where the resin layer 93b is removed will be described.

[ステップS37−2:樹脂層93bを除去する]
ステップS8−2(図3及び図9)と同様の方法で、樹脂層93bを除去することができる(図28(B))。
[Step S37-2: Remove the resin layer 93b]
The resin layer 93b can be removed by the same method as in step S8-2 (FIGS. 3 and 9) (FIG. 28B).

以上のように、ステップS31からステップS37を行うことで、作製基板94b上に作製した検知素子を、基板390に転置することができる。 As described above, by performing Step S31 to Step S37, the detection element manufactured on the manufacturing substrate 94b can be transferred to the substrate 390.

[ステップS28:第1の機能層と第2の機能層を貼り合わせる]
ステップS27までが完了した基板351と、ステップS37までが完了した基板390を、接着層141を用いて貼り合わせる(図21及び図29)。
[Step S28: Bonding the first functional layer and the second functional layer]
The substrate 351 completed up to step S27 and the substrate 390 completed up to step S37 are bonded together using the adhesive layer 141 (FIGS. 21 and 29).

以上のように、図3のステップS8において、図21に示すステップを行う。 As described above, the step shown in FIG. 21 is performed in step S8 of FIG.

その後、ステップS9(図3)において、FPC372a、FPC372b、及びICなどを電気的に接続させることができる。 Thereafter, in step S9 (FIG. 3), the FPC 372a, the FPC 372b, the IC, and the like can be electrically connected.

以上により、図20に示す表示装置300Eを作製することができる。 Through the above steps, the display device 300E illustrated in FIG. 20 can be manufactured.

≪表示装置の構成例4≫
以下では、図30及び図31を用いて、表示装置300Aとは異なる構成の表示装置について説明する。なお、表示装置300Aと同様の部分について詳細な説明は省略する。
<< Display device configuration example 4 >>
Hereinafter, a display device having a configuration different from that of the display device 300 </ b> A will be described with reference to FIGS. 30 and 31. Detailed description of the same parts as those of the display device 300A will be omitted.

図30に、表示装置300Fの断面図を示す。表示装置300Fは、樹脂層23及び絶縁層31を有する。電極311cは、樹脂層23及び絶縁層31に設けられた開口を介して、接続層242と電気的に接続されている。同様に、電極311eは、樹脂層23及び絶縁層31に設けられた開口を介して、接続体243と電気的に接続されている。それ以外の構成は、表示装置300Aと同様である。なお、液晶素子180の動作モードによっては、偏光板及び光拡散層のうち一方又は双方を設ける。 FIG. 30 is a cross-sectional view of the display device 300F. The display device 300F includes a resin layer 23 and an insulating layer 31. The electrode 311 c is electrically connected to the connection layer 242 through an opening provided in the resin layer 23 and the insulating layer 31. Similarly, the electrode 311 e is electrically connected to the connection body 243 through an opening provided in the resin layer 23 and the insulating layer 31. Other configurations are the same as those of the display device 300A. Note that one or both of the polarizing plate and the light diffusion layer are provided depending on the operation mode of the liquid crystal element 180.

図31に、表示装置300Gの断面図を示す。表示装置300Gは、表示装置300Fに比べて樹脂層23の厚さが薄い。また、表示装置300Gは、配向膜133aを有していない。それ以外の構成は、表示装置300Fと同様である。表示装置300Gでは、樹脂層23が配向膜として機能する。電極311cは、樹脂層23及び絶縁層31に設けられた開口を貫通して、接続層242と電気的に接続されている。同様に、電極311eは、樹脂層23及び絶縁層31に設けられた開口を貫通して、接続体243と電気的に接続されている。樹脂層23の表面から電極311c及び電極311eは突出している。 FIG. 31 is a cross-sectional view of the display device 300G. In the display device 300G, the resin layer 23 is thinner than the display device 300F. Further, the display device 300G does not have the alignment film 133a. Other configurations are the same as those of the display device 300F. In the display device 300G, the resin layer 23 functions as an alignment film. The electrode 311 c passes through openings provided in the resin layer 23 and the insulating layer 31 and is electrically connected to the connection layer 242. Similarly, the electrode 311 e passes through openings provided in the resin layer 23 and the insulating layer 31 and is electrically connected to the connection body 243. The electrode 311c and the electrode 311e protrude from the surface of the resin layer 23.

≪表示装置の作製方法例4≫
以下では、図3及び図32〜図34を用いて、表示装置300F及び表示装置300Gの作製方法について説明する。なお、表示装置300Aの作製方法と同様の部分について詳細な説明は省略する。
<< Example 4 of Manufacturing Method of Display Device >>
A method for manufacturing the display device 300F and the display device 300G will be described below with reference to FIGS. Note that detailed description of the same portions as the manufacturing method of the display device 300A is omitted.

[ステップS1:作製基板14を準備する]
まず、作製基板14を準備する(図3)。
[Step S1: Prepare Fabrication Substrate 14]
First, the production substrate 14 is prepared (FIG. 3).

[ステップS2:金属酸化物層20を形成する]
次に、作製基板14上に、金属酸化物層20を形成する(図3)。
[Step S2: Form Metal Oxide Layer 20]
Next, the metal oxide layer 20 is formed over the manufacturing substrate 14 (FIG. 3).

[ステップS3:樹脂層23を形成する]
次に、金属酸化物層20上に、第1の層を形成する。そして、第1の層に対して加熱処理を行うことで、樹脂層23を形成する(図3及び図32(A))。
[Step S3: Form Resin Layer 23]
Next, a first layer is formed on the metal oxide layer 20. And the resin layer 23 is formed by heat-processing with respect to a 1st layer (FIG.3 and FIG.32 (A)).

ここでは、樹脂層23に金属酸化物層20に達する開口を設ける。 Here, an opening reaching the metal oxide layer 20 is provided in the resin layer 23.

後述の通り、樹脂層23に開口を設けた部分では、金属酸化物層20と導電層との界面で分離が生じる。樹脂層23の1つの開口の大きさが小さいほど、金属酸化物層20と導電層との界面での分離が容易となり、歩留まりを高めることができる。例えば、樹脂層23に設けられる1つの開口の面積は、10μm四方よりも小さいことが好ましく、5μm四方以下がより好ましく、3μm四方以下がさらに好ましい。また、樹脂層23に複数の開口を設ける場合、隣接する2つの開口の最短距離が長いほど、金属酸化物層20と導電層との界面での分離が容易となり、歩留まりを高めることができる。例えば、隣接する2つの開口の最短距離は、1μm以上が好ましく、5μm以上がより好ましく、10μm以上がより好ましく、50μm以上がより好ましく、200μm以上がさらに好ましい。 As described later, separation occurs at the interface between the metal oxide layer 20 and the conductive layer in the portion where the opening is provided in the resin layer 23. As the size of one opening of the resin layer 23 is smaller, separation at the interface between the metal oxide layer 20 and the conductive layer becomes easier, and the yield can be increased. For example, the area of one opening provided in the resin layer 23 is preferably smaller than 10 μm square, more preferably 5 μm square or less, and further preferably 3 μm square or less. When a plurality of openings are provided in the resin layer 23, the longer the shortest distance between two adjacent openings, the easier the separation at the interface between the metal oxide layer 20 and the conductive layer, and the yield can be increased. For example, the shortest distance between two adjacent openings is preferably 1 μm or more, more preferably 5 μm or more, more preferably 10 μm or more, more preferably 50 μm or more, and further preferably 200 μm or more.

図32(A)では、樹脂層23に開口部を1つ図示したが、当該開口部に小さな開口が複数設けられていてもよい。複数の開口はマトリクス状など規則的に配置されていても、不規則に配置されていてもよい。 In FIG. 32A, one opening is illustrated in the resin layer 23, but a plurality of small openings may be provided in the opening. The plurality of openings may be arranged regularly, such as in a matrix, or may be arranged irregularly.

感光性を有する材料を用いる場合、例えば、フォトリソグラフィ法を用いて、所望の形状の樹脂層23を形成することができる。 In the case of using a photosensitive material, for example, the resin layer 23 having a desired shape can be formed by using a photolithography method.

非感光性の材料を用いる場合、例えば、マスクを用いてエッチングすることで、所望の形状の樹脂層23を形成することができる。 In the case of using a non-photosensitive material, for example, the resin layer 23 having a desired shape can be formed by etching using a mask.

[ステップS4:トランジスタを形成する]
次に、樹脂層23上に、トランジスタを含む被剥離層を形成する。
[Step S4: Form a transistor]
Next, a layer to be peeled including a transistor is formed over the resin layer 23.

樹脂層23上に絶縁層31を形成することが好ましい(図32(B))。 An insulating layer 31 is preferably formed over the resin layer 23 (FIG. 32B).

図32(B)に示すように、絶縁層31には、金属酸化物層20に達する開口を形成する。 As shown in FIG. 32B, an opening reaching the metal oxide layer 20 is formed in the insulating layer 31.

次に、絶縁層31上に電極311a、電極311c、及び電極311eを形成する(図32(B))。そして、電極311a上に電極311bを、電極311c上に電極311dを、電極311e上に電極311fを形成する。電極311bは、電極311a上に開口451を有する。 Next, the electrode 311a, the electrode 311c, and the electrode 311e are formed over the insulating layer 31 (FIG. 32B). Then, an electrode 311b is formed on the electrode 311a, an electrode 311d is formed on the electrode 311c, and an electrode 311f is formed on the electrode 311e. The electrode 311b has an opening 451 on the electrode 311a.

電極311c及び電極311eは、それぞれ、樹脂層23及び絶縁層31に設けられた開口を介して、金属酸化物層20と接する。 The electrode 311c and the electrode 311e are in contact with the metal oxide layer 20 through openings provided in the resin layer 23 and the insulating layer 31, respectively.

その後、絶縁層220から絶縁層214までを形成する。これらの工程の詳細は、作製方法例1を参照できる。 After that, the layers from the insulating layer 220 to the insulating layer 214 are formed. For details of these steps, the manufacturing method example 1 can be referred to.

[ステップS5:液晶素子170を形成する]
次に、液晶素子170を形成する(図3)。これにより、図32(C)に示す積層構造を作製することができる。
[Step S5: Form Liquid Crystal Element 170]
Next, the liquid crystal element 170 is formed (FIG. 3). Thus, the stacked structure illustrated in FIG. 32C can be manufactured.

[ステップS6:光を照射する・分離する]
次に、金属酸化物層20と樹脂層23とを分離する(図3及び図33)。樹脂層23の開口部では、金属酸化物層20と電極311cの界面、金属酸化物層20と電極311eの界面で、分離が生じる。これにより、作製基板14上に作製したトランジスタ、液晶素子170等を、基板351に転置することができる。
[Step S6: Irradiate / Separate Light]
Next, the metal oxide layer 20 and the resin layer 23 are separated (FIGS. 3 and 33). In the opening of the resin layer 23, separation occurs at the interface between the metal oxide layer 20 and the electrode 311c and at the interface between the metal oxide layer 20 and the electrode 311e. Accordingly, the transistor, the liquid crystal element 170, and the like manufactured over the manufacturing substrate 14 can be transferred to the substrate 351.

[ステップS7−1:樹脂層23を除去するか判断する]
分離後、樹脂層23を除去する場合は、ステップS7−2に進む。樹脂層23を除去しない場合は、ステップ8に進む。
[Step S7-1: Determine whether to remove the resin layer 23]
When the resin layer 23 is removed after the separation, the process proceeds to step S7-2. If the resin layer 23 is not removed, the process proceeds to step 8.

表示装置300Fを作製する場合、樹脂層23の除去工程は不要である。 In the case of manufacturing the display device 300F, the process of removing the resin layer 23 is not necessary.

表示装置300Gを作製する場合、樹脂層23の一部を除去してもよい。具体的には、樹脂層23を配向膜として機能させるために適した厚さまで薄くしてもよい。 When the display device 300G is manufactured, a part of the resin layer 23 may be removed. Specifically, the resin layer 23 may be thinned to a thickness suitable for functioning as an alignment film.

[ステップS7−2:樹脂層23を除去する]
図34に、樹脂層23の一部を除去し、樹脂層23の厚さを薄くした例を示す。樹脂層23の一部が除去されることで、電極311cの一部及び電極311eの一部が突出する。
[Step S7-2: Remove the resin layer 23]
FIG. 34 shows an example in which a part of the resin layer 23 is removed and the thickness of the resin layer 23 is reduced. By removing a part of the resin layer 23, a part of the electrode 311c and a part of the electrode 311e protrude.

[ステップS8:液晶素子180を形成する]
次に、液晶素子180を形成する(図3)。
[Step S8: Form Liquid Crystal Element 180]
Next, the liquid crystal element 180 is formed (FIG. 3).

[ステップS9:実装する]
その後、FPC372やICなどを電気的に接続させることができる。また、偏光板135a、偏光板135b等の光学部材を配置することができる。
[Step S9: Implement]
After that, an FPC 372, an IC, or the like can be electrically connected. In addition, optical members such as a polarizing plate 135a and a polarizing plate 135b can be provided.

以上により、図30に示す表示装置300F及び図31に示す表示装置300Gをそれぞれ作製することができる。 Through the above steps, the display device 300F illustrated in FIG. 30 and the display device 300G illustrated in FIG. 31 can be manufactured.

≪表示装置の構成例5≫
以下では、図35を用いて、表示装置300Aとは異なる構成の表示装置について説明する。なお、表示装置300Aと同様の部分について詳細な説明は省略する。
«Display device configuration example 5»
Hereinafter, a display device having a configuration different from that of the display device 300A will be described with reference to FIG. Detailed description of the same parts as those of the display device 300A will be omitted.

図35に表示装置300Hの断面図を示す。表示装置300Hは、トランジスタの構造が表示装置300Aと異なる。それ以外の構成は、表示装置300Aと同様である。 FIG. 35 shows a cross-sectional view of the display device 300H. The display device 300H is different from the display device 300A in transistor structure. Other configurations are the same as those of the display device 300A.

表示装置300Aが有するトランジスタ205及びトランジスタ206は、BGTC(Bottom Gate Top Contact)型である。一方、表示装置300Hが有するトランジスタ205及びトランジスタ206は、(Top Gate Self Align)型である。 The transistor 205 and the transistor 206 included in the display device 300 </ b> A are a BGTC (Bottom Gate Top Contact) type. On the other hand, the transistor 205 and the transistor 206 included in the display device 300H are of a (Top Gate Self Align) type.

具体的には、表示装置300Hが有するトランジスタ205及びトランジスタ206は、ゲートとして機能する導電層223、ゲート絶縁層として機能する絶縁層211b、ソース及びドレインとして機能する導電層222a及び導電層222b、並びに、半導体層231を有する。 Specifically, the transistor 205 and the transistor 206 included in the display device 300H include a conductive layer 223 that functions as a gate, an insulating layer 211b that functions as a gate insulating layer, a conductive layer 222a and a conductive layer 222b that function as a source and a drain, The semiconductor layer 231 is included.

表示装置300Hが有するトランジスタ201は、トランジスタ205及びトランジスタ206の構成に加えて、ゲートとして機能する導電層221aと、ゲート絶縁層として機能する絶縁層211aを有する。 The transistor 201 included in the display device 300H includes a conductive layer 221a functioning as a gate and an insulating layer 211a functioning as a gate insulating layer in addition to the structures of the transistor 205 and the transistor 206.

≪表示装置の構成例6≫
以下では、図36を用いて、表示装置300Aとは異なる構成の表示装置について説明する。なお、表示装置300Aと同様の部分について詳細な説明は省略する。
<< Display device configuration example 6 >>
Hereinafter, a display device having a configuration different from that of the display device 300A will be described with reference to FIG. Detailed description of the same parts as those of the display device 300A will be omitted.

図36に表示装置300Jの断面図を示す。 FIG. 36 shows a cross-sectional view of the display device 300J.

配向膜133aと配向膜133bの間に液晶層112が挟持されるように、基板351と基板361とが貼り合わされている。液晶素子180は、電極311a、電極311b、電極311c、液晶層112、電極113を有する。 The substrate 351 and the substrate 361 are attached so that the liquid crystal layer 112 is sandwiched between the alignment film 133a and the alignment film 133b. The liquid crystal element 180 includes an electrode 311a, an electrode 311b, an electrode 311c, a liquid crystal layer 112, and an electrode 113.

液晶素子180の画素電極として、配向膜133a側から、電極311a、電極311b、及び電極311cがこの順で積層されている。電極311aの端部と電極311cの端部は、電極311bの端部よりも外側に位置し、互いに接している。電極311a及び電極311cには、可視光を透過する導電膜を用いる。電極311bには、可視光を反射する導電膜を用いる。電極311bには、開口451が設けられている。開口451は液晶素子170の表示領域と重なる。 As a pixel electrode of the liquid crystal element 180, an electrode 311a, an electrode 311b, and an electrode 311c are stacked in this order from the alignment film 133a side. The end portion of the electrode 311a and the end portion of the electrode 311c are located outside the end portion of the electrode 311b and are in contact with each other. A conductive film that transmits visible light is used for the electrode 311a and the electrode 311c. A conductive film that reflects visible light is used for the electrode 311b. An opening 451 is provided in the electrode 311b. The opening 451 overlaps the display area of the liquid crystal element 170.

配向膜133aと液晶素子180の画素電極との間には絶縁層115が形成されている。絶縁層115は、バリア性が高いことが好ましい。絶縁層115には、窒化シリコン膜、酸化窒化シリコン膜などの窒素を含むシリコン膜が好適である。 An insulating layer 115 is formed between the alignment film 133a and the pixel electrode of the liquid crystal element 180. The insulating layer 115 preferably has a high barrier property. The insulating layer 115 is preferably a silicon film containing nitrogen such as a silicon nitride film or a silicon oxynitride film.

電極311cと導電層224とは、絶縁層220aを介して重なる。導電層224は、絶縁層220bに設けられた開口を介して導電層203と電気的に接続されている。導電層224及び導電層203は容量素子の一方の電極として機能する。導電層224は、絶縁層220bを介して、トランジスタ205及びトランジスタ206と重なる。トランジスタ206のソースまたはドレインは、接続部207において、電極311cと電気的に接続されている。トランジスタ205のソースまたはドレインは、導電層228を介して、液晶素子170の電極191と電気的に接続される。各トランジスタは、絶縁層212、絶縁層213、絶縁層214、絶縁層225、及び絶縁層215で覆われている。これらのうち1つまたは複数の絶縁層のバリア性が高いことが好ましい。図36では、絶縁層213及び絶縁層225にバリア性が高い材料を用いる例を示す。絶縁層213は、絶縁層220a、絶縁層220b、絶縁層212等に設けられた開口の端部を覆って設けられる。絶縁層225は、絶縁層214に設けられた開口の端部を覆って設けられる。被覆膜226は、可視光を反射する膜である。被覆膜226は、液晶素子170からの透過光の一部を反射して、開口451側に供給する機能を有する。レンズ227は、液晶素子170からの透過光を透過する機能を有する。レンズ227は、液晶素子170の表示領域と重なる。液晶素子170は、電極191、液晶層192、及び電極193を有する。液晶層192は配向膜153aと配向膜153bとの間に挟持されている。液晶素子170には、基板351を介して、バックライトユニット65から光が入射される。 The electrode 311c and the conductive layer 224 overlap with each other with the insulating layer 220a interposed therebetween. The conductive layer 224 is electrically connected to the conductive layer 203 through an opening provided in the insulating layer 220b. The conductive layer 224 and the conductive layer 203 function as one electrode of the capacitor. The conductive layer 224 overlaps with the transistor 205 and the transistor 206 with the insulating layer 220b provided therebetween. A source or a drain of the transistor 206 is electrically connected to the electrode 311c at the connection portion 207. The source or drain of the transistor 205 is electrically connected to the electrode 191 of the liquid crystal element 170 through the conductive layer 228. Each transistor is covered with an insulating layer 212, an insulating layer 213, an insulating layer 214, an insulating layer 225, and an insulating layer 215. Of these, one or more insulating layers preferably have high barrier properties. FIG. 36 illustrates an example in which a material having a high barrier property is used for the insulating layer 213 and the insulating layer 225. The insulating layer 213 is provided to cover end portions of openings provided in the insulating layer 220a, the insulating layer 220b, the insulating layer 212, and the like. The insulating layer 225 is provided so as to cover an end portion of the opening provided in the insulating layer 214. The coating film 226 is a film that reflects visible light. The coating film 226 has a function of reflecting part of the transmitted light from the liquid crystal element 170 and supplying the reflected light to the opening 451 side. The lens 227 has a function of transmitting the transmitted light from the liquid crystal element 170. The lens 227 overlaps with the display area of the liquid crystal element 170. The liquid crystal element 170 includes an electrode 191, a liquid crystal layer 192, and an electrode 193. The liquid crystal layer 192 is sandwiched between the alignment film 153a and the alignment film 153b. Light is incident on the liquid crystal element 170 from the backlight unit 65 through the substrate 351.

表示装置は、絶縁層115から絶縁層215まで多くの絶縁膜を有する。そこで、開口451と重ねて、1層以上の絶縁層にも開口を形成することで、液晶素子170からの透過光が入射する層の数を減らすことができる。これにより、透過光の取り出し効率を高めることができる。透過光が通過する領域に、屈折率の差が大きい界面が生じないことが好ましい。図36では、絶縁層220a及び絶縁層220bなどに、開口451と重なる開口が形成されている例を示す。 The display device includes a number of insulating films from the insulating layer 115 to the insulating layer 215. Thus, the number of layers through which light transmitted from the liquid crystal element 170 enters can be reduced by forming openings in one or more insulating layers so as to overlap with the openings 451. Thereby, the extraction efficiency of transmitted light can be improved. It is preferable that an interface having a large difference in refractive index does not occur in a region through which transmitted light passes. FIG. 36 illustrates an example in which openings that overlap with the openings 451 are formed in the insulating layer 220a, the insulating layer 220b, and the like.

基板361の一方の面に、着色層131、絶縁層121、絶縁層232、電極113、絶縁層117、及び配向膜133bが設けられている。絶縁層121は、オーバーコートとして機能する。絶縁層232には、バリア性の高い絶縁膜が好適である。電極113は、液晶素子180の共通電極として機能する。絶縁層117は、液晶素子180のセルギャップを保持するためのスペーサとして機能する。絶縁層117は、可視光を透過する。絶縁層117は、液晶素子170からの透過光を透過する。 A colored layer 131, an insulating layer 121, an insulating layer 232, an electrode 113, an insulating layer 117, and an alignment film 133b are provided on one surface of the substrate 361. The insulating layer 121 functions as an overcoat. For the insulating layer 232, an insulating film with high barrier properties is preferable. The electrode 113 functions as a common electrode for the liquid crystal element 180. The insulating layer 117 functions as a spacer for maintaining the cell gap of the liquid crystal element 180. The insulating layer 117 transmits visible light. The insulating layer 117 transmits the transmitted light from the liquid crystal element 170.

<レーザ照射ユニット>
次に、図37(A)、(B)を用いて、レーザ照射ユニットの一例を説明する。
<Laser irradiation unit>
Next, an example of a laser irradiation unit will be described with reference to FIGS.

図37(A)、(B)に示す積層体56は、例えば被剥離体56aと支持体56bが積層された構成を有する。積層体56は、被剥離体56aと支持体56bとの間で剥離が生じる。被剥離体56aは例えば樹脂層を有し、支持体56bは例えば作製基板を有する。 A stacked body 56 shown in FIGS. 37A and 37B has a configuration in which, for example, an object to be peeled 56a and a support 56b are stacked. The laminate 56 is peeled between the peeled body 56a and the support 56b. The peeled body 56a has, for example, a resin layer, and the support 56b has, for example, a manufacturing substrate.

搬送ローラ644は、積層体56を搬送することができる。積層体56を搬送する搬送機構は、搬送ローラに限られず、ベルトコンベア、または搬送ロボット等を用いてもよい。また、搬送機構上のステージに、積層体56を配置してもよい。 The transport roller 644 can transport the stacked body 56. The transport mechanism that transports the stacked body 56 is not limited to the transport roller, and a belt conveyor, a transport robot, or the like may be used. Moreover, you may arrange | position the laminated body 56 on the stage on a conveyance mechanism.

レーザ照射ユニット610は、積層体56にレーザを照射するユニットである。レーザとしては、例えば波長308nmの紫外光を出力するエキシマレーザなどを用いることができる。また、高圧水銀ランプやUV−LEDなどを用いてもよい。 The laser irradiation unit 610 is a unit that irradiates the laminated body 56 with a laser. As the laser, for example, an excimer laser that outputs ultraviolet light having a wavelength of 308 nm can be used. Further, a high pressure mercury lamp, a UV-LED, or the like may be used.

図37(A)に示すように、積層体56は、上側に支持体56bが位置する状態で、レーザ照射ユニット610に搬送される。 As shown in FIG. 37A, the stacked body 56 is conveyed to the laser irradiation unit 610 in a state where the support body 56b is positioned on the upper side.

エキシマレーザは高出力のパルスレーザであり、光学系にてビームを線状に整形することができる。線状ビームのレーザ光の照射位置において基板を移動させることで基板全体または必要箇所にレーザ光を照射することができる。なお、線状ビームは、用いる基板の一辺と同等以上の長さとすれば、基板を一方向に移動するのみで基板全体にレーザ光を照射することができる。パルスレーザの発振周波数は、1Hz以上300Hz以下が好ましく、60Hz近傍がより好ましい。 The excimer laser is a high-power pulse laser, and the beam can be shaped into a linear shape by an optical system. By moving the substrate at the irradiation position of the laser beam of the linear beam, the entire substrate or a necessary portion can be irradiated with the laser beam. Note that if the linear beam has a length equal to or longer than one side of the substrate to be used, the entire substrate can be irradiated with laser light only by moving the substrate in one direction. The oscillation frequency of the pulse laser is preferably 1 Hz or more and 300 Hz or less, and more preferably around 60 Hz.

エキシマレーザ装置には、レーザ発振器を一つ搭載した装置の他、二つ以上のレーザ発振器を搭載する装置を用いることもできる。複数のレーザ発振器を搭載する装置においては、それぞれのレーザ発振器から同期されて出力されたレーザ光を光学系にて合成する(重ね合わす)ことで高エネルギー密度のレーザ光を得ることができる。したがって、本実施の形態の用途においては、第3.5世代(600mm×720mm)以上、第6世代ガラス基板(1500mm×1850mm)以上、第7世代(1870mm×2200mm)以上、または第8世代ガラス基板(2160mm×2460mm)以上のサイズの処理を行うこともできる。また、複数のレーザ発振器を搭載する装置では、それぞれのレーザ発振器から出力されるレーザ光が互いに出力ばらつきを補完するため、1パルス毎の強度ばらつきが少なくなり、歩留りの高い処理を行うことができる。なお、複数の発振器に替えて、複数のエキシマレーザ装置を用いてもよい。 As an excimer laser device, in addition to a device equipped with one laser oscillator, a device equipped with two or more laser oscillators may be used. In an apparatus equipped with a plurality of laser oscillators, a laser beam having a high energy density can be obtained by combining (superimposing) laser beams output in synchronization from the respective laser oscillators in an optical system. Therefore, in the application of the present embodiment, 3.5th generation (600 mm × 720 mm) or more, 6th generation glass substrate (1500 mm × 1850 mm) or more, 7th generation (1870 mm × 2200 mm) or more, or 8th generation glass. Processing of a size larger than the substrate (2160 mm × 2460 mm) can also be performed. Further, in an apparatus equipped with a plurality of laser oscillators, the laser beams output from the respective laser oscillators complement each other in output variations, so that intensity variations for each pulse are reduced, and high-yield processing can be performed. . A plurality of excimer laser devices may be used instead of the plurality of oscillators.

図37(A)にエキシマレーザを用いたレーザ照射ユニット610の一例を示す。二つのレーザ発振器を有するエキシマレーザ装置660から出力されたレーザ光610a、610bは光学系635にて合成される。さらに光学系635にて横長に伸張されたレーザ光610cは、ミラー650を介してレンズ680に入射する。レンズ680を透過したレーザ光610dはレーザ光610cに比べて縮小される。このとき、レーザ光610dが、積層体56が有する加工領域640に支持体56b(例えばガラス基板)を介して照射されるようにする。以下では、レーザ光610dのうち、加工領域640に照射される部分を、線状ビーム610eと記す。 FIG. 37A shows an example of a laser irradiation unit 610 using an excimer laser. Laser beams 610 a and 610 b output from an excimer laser device 660 having two laser oscillators are combined by an optical system 635. Further, the laser beam 610 c that is expanded horizontally by the optical system 635 enters the lens 680 via the mirror 650. The laser beam 610d transmitted through the lens 680 is reduced as compared with the laser beam 610c. At this time, the laser beam 610d is irradiated to the processing region 640 included in the stacked body 56 through the support 56b (for example, a glass substrate). Hereinafter, a portion of the laser beam 610d that is irradiated onto the processing region 640 is referred to as a linear beam 610e.

なお、ここでは二つのレーザ発振器を有する例を示したが、一つのレーザ発振器を有する構成としてもよく、これにより、装置を簡略化できる。また、三つ以上のレーザ発振器を有する構成としてもよく、これにより線状ビーム610eの強度を高めることができる。 Although an example in which two laser oscillators are provided is shown here, a configuration having one laser oscillator may be used, thereby simplifying the apparatus. Moreover, it is good also as a structure which has three or more laser oscillators, and can raise the intensity | strength of the linear beam 610e by this.

そして、搬送ローラ644により図中の矢印方向に積層体56を移動させることで、加工領域640に線状ビーム610eを照射することができる。 Then, the linear beam 610e can be irradiated to the processing region 640 by moving the stacked body 56 in the direction of the arrow in the drawing by the transport roller 644.

図37(A)に示すように、積層体56を搬送ローラ644により一定の速度で搬送しながら線状ビーム610eを照射することにより、プロセス時間を短縮することが可能となる。なお、積層体56を少なくとも一方向に移動可能なステージに配置し、ステージを動かしながら線状ビーム610eを照射してもよい。なお、ステージを用いる場合には、進行方向に対して横方向、及び高さ方向に移動可能なステージを用い、線状ビーム610eの焦点の位置や深さを調整できる構成とすることが好ましい。なお、図37(A)では、積層体56を移動させることで、線状ビーム610eを照射する構成について例示したがこれに限定されない。例えば、積層体56を固定し、エキシマレーザ装置660などを移動させて、積層体56に線状ビーム610eを照射してもよい。 As shown in FIG. 37A, the process time can be shortened by irradiating the linear beam 610e while transporting the laminated body 56 at a constant speed by the transport roller 644. Note that the stacked body 56 may be arranged on a stage movable in at least one direction, and the linear beam 610e may be irradiated while moving the stage. In the case of using a stage, it is preferable to use a stage that can move in the horizontal direction and the height direction with respect to the traveling direction, and to adjust the focal position and depth of the linear beam 610e. Note that in FIG. 37A, the structure in which the linear beam 610e is irradiated by moving the stacked body 56 is illustrated; however, the present invention is not limited to this. For example, the stacked body 56 may be fixed, the excimer laser device 660 and the like may be moved, and the stacked body 56 may be irradiated with the linear beam 610e.

図37(A)では、線状ビーム610eが照射される加工領域640が、積層体56の端部よりも内側に位置する例を示している。これにより、加工領域640の外側の領域は密着性が高い状態を維持するため、搬送時に剥離が生じてしまうことを抑制できる。なお、線状ビーム610eの幅が積層体56の幅と等しい、または積層体56の幅よりも大きくてもよい。その場合、積層体56全体に線状ビーム610eが照射することができる。 FIG. 37A shows an example in which the processing region 640 irradiated with the linear beam 610e is positioned inside the end portion of the stacked body 56. Thereby, since the area | region outside the process area | region 640 maintains a state with high adhesiveness, it can suppress that peeling arises at the time of conveyance. The width of the linear beam 610e may be equal to the width of the stacked body 56 or may be larger than the width of the stacked body 56. In that case, the entire stacked body 56 can be irradiated with the linear beam 610e.

図37(B)に、線状ビーム610eが積層体56の加工領域640に照射される様子を示す。積層体56は、作製基板58と、第1の層57aと、第2の層57bとを有する。ここで、作製基板58と第2の層57bを含む部分が支持体56bに相当し、第1の層57aを含む部分が被剥離体56aに相当する。 FIG. 37B shows a state in which the linear beam 610e is irradiated onto the processing region 640 of the stacked body 56. The stacked body 56 includes a manufacturing substrate 58, a first layer 57a, and a second layer 57b. Here, a portion including the manufacturing substrate 58 and the second layer 57b corresponds to the support 56b, and a portion including the first layer 57a corresponds to the peeled body 56a.

例えば、第1の層57aが上記樹脂層23に相当し、第2の層57bが上記金属酸化物層20に相当する。 For example, the first layer 57 a corresponds to the resin layer 23 and the second layer 57 b corresponds to the metal oxide layer 20.

レーザ光610dは、作製基板58を透過し、線状ビーム610eは、第1の層57aと第2の層57bの界面、またはその近傍に照射されることが好ましい。特に、線状ビーム610eは、第1の層57aと第2の層57bの界面、またはその近傍に焦点が位置することが好ましい。 The laser light 610d is transmitted through the manufacturing substrate 58, and the linear beam 610e is preferably applied to the interface between the first layer 57a and the second layer 57b or in the vicinity thereof. In particular, the linear beam 610e preferably has a focal point at or near the interface between the first layer 57a and the second layer 57b.

また、第1の層57aと第2の層57bとの界面に線状ビーム610eの焦点が位置することで、第1の層57aと第2の層57bとの界面に存在しうる水が気化し、水の体積が急激に膨張する場合がある。この場合、水の体積の膨張に伴い、第1の層57aと第2の層57bとの界面、またはその近傍で剥離現象が生じると推定される。 In addition, since the focal point of the linear beam 610e is positioned at the interface between the first layer 57a and the second layer 57b, water that may exist at the interface between the first layer 57a and the second layer 57b is removed. And the water volume may expand rapidly. In this case, it is presumed that a peeling phenomenon occurs at or near the interface between the first layer 57a and the second layer 57b as the volume of water expands.

なお、アモルファスシリコン膜にレーザ光を照射して、アモルファスシリコン膜を結晶化させる技術がある。当該技術の場合、アモルファスシリコン膜の内部にレーザ光の焦点を合わせる。しかしながら、本発明の一態様においては、図37(B)に示すように、レーザ光(ここでは、線状ビーム610e)の焦点は、第1の層57aと、第2の層57bとの界面またはその近傍である。このように本発明の一態様は、レーザ光の焦点位置がアモルファスシリコン膜を結晶化させる技術と相違している。 There is a technique for crystallizing an amorphous silicon film by irradiating the amorphous silicon film with laser light. In the case of this technique, the laser beam is focused inside the amorphous silicon film. However, in one embodiment of the present invention, as illustrated in FIG. 37B, the focal point of the laser light (here, the linear beam 610e) is the interface between the first layer 57a and the second layer 57b. Or its vicinity. As described above, one embodiment of the present invention is different from the technique in which the focal position of the laser light is used to crystallize the amorphous silicon film.

また、線状ビーム610eの焦点深度が十分に大きい(深い)場合、第1の層57aと第2の層57bの界面またはその近傍だけでなく、第1の層57aの厚さ方向全体、第2の層57bの厚さ方向全体、または第1の層57aと第2の層57bの両方の厚さ方向全体に亘って、線状ビーム610eの焦点が位置する場合がある。 Further, when the focal depth of the linear beam 610e is sufficiently large (deep), not only the interface between the first layer 57a and the second layer 57b or the vicinity thereof, but also the entire thickness direction of the first layer 57a, the first The focal point of the linear beam 610e may be located over the entire thickness direction of the second layer 57b or the entire thickness direction of both the first layer 57a and the second layer 57b.

なお、エキシマレーザとしては、波長308nmまたはそれよりも波長が長いものを用いることが好ましい。波長308nm以上であれば、支持体56bにガラス基板を用いた場合においても加工に必要なレーザ光を十分に透過させることができる。 As the excimer laser, it is preferable to use a laser having a wavelength of 308 nm or longer. When the wavelength is 308 nm or more, even when a glass substrate is used for the support 56b, the laser light necessary for processing can be sufficiently transmitted.

<その他の分離方法について>
本実施の形態の表示装置の作製方法で用いることができるその他の分離方法について説明する。
<Other separation methods>
Other separation methods that can be used in the method for manufacturing the display device of this embodiment will be described.

例えば、光の照射を用いた分離方法を用いる場合、金属酸化物層を設けず、作製基板に直接樹脂層を形成してもよい。 For example, when a separation method using light irradiation is used, a resin layer may be directly formed over a manufacturing substrate without providing a metal oxide layer.

また、物理的に分離する方法を用いてもよい。このとき、例えば、作製基板上に剥離層を形成し、剥離層上に被剥離層を形成することが好ましい。剥離層としては、例えば、タングステンなどの高融点金属材料を含む層と、当該金属材料の酸化物を含む層の積層構造を用いることができる。例えば、高融点金属材料を含む金属層を形成し、該金属層の表面を酸素プラズマ処理などにより酸化させることで当該積層構造を形成できる。 Alternatively, a physical separation method may be used. At this time, for example, it is preferable to form a separation layer over the manufacturing substrate and form a layer to be separated over the separation layer. As the separation layer, for example, a stacked structure of a layer containing a refractory metal material such as tungsten and a layer containing an oxide of the metal material can be used. For example, the stacked structure can be formed by forming a metal layer containing a refractory metal material and oxidizing the surface of the metal layer by oxygen plasma treatment or the like.

被剥離層のうち、剥離層に接する層として、無機絶縁膜を形成することが好ましい。そして無機絶縁膜上に機能素子を形成することが好ましい。剥離層及び無機絶縁膜を形成した支持基板に、垂直方向に引っ張る力を加えることで、剥離層と無機絶縁膜とを分離することができる。 Of the layer to be peeled, an inorganic insulating film is preferably formed as a layer in contact with the peeling layer. And it is preferable to form a functional element on an inorganic insulating film. The peeling layer and the inorganic insulating film can be separated by applying a pulling force in the vertical direction to the supporting substrate on which the peeling layer and the inorganic insulating film are formed.

物理的に分離する方法においても、分離時に、分離界面に水や水溶液など、水を含む液体を添加し、該液体が分離界面に浸透するように分離を行うことで、分離を容易に行うことができる。また、分離時に生じる静電気が、トランジスタなどの機能素子に悪影響を及ぼすこと(半導体素子が静電気により破壊されるなど)を抑制できる。 Even in the method of physical separation, at the time of separation, a liquid containing water, such as water or an aqueous solution, is added to the separation interface, and separation is performed so that the liquid penetrates the separation interface. Can do. In addition, static electricity generated at the time of separation can be prevented from adversely affecting a functional element such as a transistor (a semiconductor element is destroyed by static electricity).

以上のように、本実施の形態の表示装置の作製方法を用いて、周囲の明るさによらず視認性が高く、利便性の高い表示装置を作製することができる。本実施の形態の表示装置の作製方法では、作製基板上に、金属酸化物層と樹脂層とを積層し、光を照射することによって樹脂層の金属酸化物層に対する剥離性を制御する。したがって、高い歩留まりで表示装置を作製できる。 As described above, with the use of the method for manufacturing a display device of this embodiment, a display device with high visibility and high convenience can be manufactured regardless of surrounding brightness. In the method for manufacturing a display device in this embodiment, a metal oxide layer and a resin layer are stacked over a manufacturing substrate and light is irradiated to control the peelability of the resin layer from the metal oxide layer. Therefore, a display device can be manufactured with high yield.

本実施の形態は、他の実施の形態と適宜組み合わせることができる。また、本明細書において、1つの実施の形態の中に、複数の構成例が示される場合は、構成例を適宜組み合わせることが可能である。 This embodiment can be combined with any of the other embodiments as appropriate. In this specification, in the case where a plurality of structure examples are given in one embodiment, any of the structure examples can be combined as appropriate.

(実施の形態2)
本実施の形態では、本発明の一態様の表示装置について図38〜図40を用いて説明する。
(Embodiment 2)
In this embodiment, a display device of one embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

<表示装置の概念>
本発明の一態様を適用して作製できる表示装置としては、例えば、ハイブリッドディスプレイが挙げられる。ハイブリッドディスプレイは、ハイブリッド表示を行うことができる。
<Concept of display device>
As a display device which can be manufactured by applying one embodiment of the present invention, for example, a hybrid display can be given. The hybrid display can perform a hybrid display.

ハイブリッド表示とは、1つのパネルにおいて、反射光と透過光とを併用して、色調または光強度を互いに補完して、文字または画像を表示する方法である。または、ハイブリッド表示とは、同一画素または同一副画素において、複数の表示素子からそれぞれの光を用いて、文字及び/または画像を表示する方法である。ただし、ハイブリッド表示を行っているハイブリッドディスプレイを局所的にみると、複数の表示素子のいずれか一を用いて表示される画素または副画素と、複数の表示素子の二以上を用いて表示される画素または副画素と、を有する場合がある。 Hybrid display is a method of displaying characters or images in one panel by using reflected light and transmitted light together and complementing color tone or light intensity. Alternatively, the hybrid display is a method of displaying characters and / or images using light from a plurality of display elements in the same pixel or the same sub-pixel. However, when a hybrid display that performs hybrid display is viewed locally, the display is performed using a pixel or sub-pixel displayed using any one of a plurality of display elements and two or more of the plurality of display elements. A pixel or a sub-pixel.

なお、本明細書等において、上記構成のいずれか1つまたは複数の表現を満たすものを、ハイブリッド表示という。 Note that in this specification and the like, a display that satisfies any one or a plurality of expressions of the above configuration is referred to as a hybrid display.

また、ハイブリッドディスプレイは、同一画素または同一副画素に複数の表示素子を有する。なお、複数の表示素子としては、例えば、光を反射する反射型素子と、光を透過する透過型素子とが挙げられる。なお、反射型素子と、透過型素子とは、それぞれ独立に制御することができる。ハイブリッドディスプレイは、表示部において、反射光、及び透過光のいずれか一方または双方を用いて、文字及び/または画像を表示する機能を有する。 The hybrid display has a plurality of display elements in the same pixel or the same sub-pixel. Examples of the plurality of display elements include a reflective element that reflects light and a transmissive element that transmits light. The reflective element and the transmissive element can be controlled independently. The hybrid display has a function of displaying characters and / or images using either one or both of reflected light and transmitted light in the display unit.

<表示装置の構成例>
本実施の形態の表示装置は、第1の表示素子を有する第1の画素と、第2の表示素子を有する第2の画素とをそれぞれ複数有する。第1の画素と第2の画素は、それぞれ、マトリクス状に配置されることが好ましい。
<Configuration example of display device>
The display device of this embodiment includes a plurality of first pixels each including a first display element and a plurality of second pixels each including a second display element. The first pixels and the second pixels are preferably arranged in a matrix.

第1の画素と第2の画素は、同数且つ同ピッチで、表示領域内に配置されていることが好ましい。このとき、隣接する第1の画素と第2の画素を合わせて、画素ユニットと呼ぶことができる。これにより、後述するように複数の第1の画素のみで表示された画像と、複数の第2の画素のみで表示された画像、並びに複数の第1の画素及び複数の第2の画素の両方で表示された画像のそれぞれは、同じ表示領域に表示することができる。なお、第1の画素と第2の画素は、数及びピッチの一方または双方が異なってもよい。 It is preferable that the first pixel and the second pixel are arranged in the display area with the same number and the same pitch. At this time, the adjacent first pixel and second pixel can be collectively referred to as a pixel unit. Thereby, as will be described later, an image displayed with only the plurality of first pixels, an image displayed with only the plurality of second pixels, and both the plurality of first pixels and the plurality of second pixels. Each of the images displayed in can be displayed in the same display area. Note that the number and the pitch of the first pixel and the second pixel may be different from each other.

第1の画素及び第2の画素は、それぞれ、1つ以上の副画素を有する構成とすることができる。例えば、画素には、副画素を1つ有する構成(白色(W)など)、副画素を3つ有する構成(赤色(R)、緑色(G)、及び青色(B)の3色、または、黄色(Y)、シアン(C)、及びマゼンタ(M)の3色など)、または、副画素を4つ有する構成(赤色(R)、緑色(G)、青色(B)、白色(W)の4色、または、赤色(R)、緑色(G)、青色(B)、黄色(Y)の4色など)を適用できる。 Each of the first pixel and the second pixel can include one or more subpixels. For example, the pixel has a configuration with one subpixel (white (W), etc.), a configuration with three subpixels (red (R), green (G), and blue (B), or three colors, or Yellow (Y), cyan (C), magenta (M), etc.) or a configuration having four sub-pixels (red (R), green (G), blue (B), white (W) Or four colors of red (R), green (G), blue (B), yellow (Y), etc.) can be applied.

本実施の形態の表示装置は、第1の画素と第2の画素のどちらでも、フルカラー表示を行う構成とすることができる。または、本実施の形態の表示装置は、第1の画素では白黒表示またはグレースケールでの表示を行い、第2の画素ではフルカラー表示を行う構成とすることができる。第1の画素を用いた白黒表示またはグレースケールでの表示は、文書情報など、カラー表示を必要としない情報を表示することに適している。 The display device of this embodiment can be configured to perform full-color display in both the first pixel and the second pixel. Alternatively, the display device in this embodiment can have a structure in which the first pixel performs monochrome display or grayscale display, and the second pixel performs full color display. The monochrome display or grayscale display using the first pixel is suitable for displaying information that does not require color display, such as document information.

また、本発明の一態様の表示装置は、さまざまな規格の色域を再現することができる。例えば、テレビ放送で使われるPAL(Phase Alternating Line)規格及びNTSC(National Television System Committee)規格、パーソナルコンピュータ、デジタルカメラ、プリンタなどの電子機器に用いる表示装置で広く使われているsRGB(standard RGB)規格及びAdobe RGB規格、HDTV(High Definition Television、ハイビジョンともいう)で使われるITU−R BT.709(International Telecommunication Union Radiocommunication Sector Broadcasting Service(Television) 709)規格、デジタルシネマ映写で使われるDCI−P3(Digital Cinema Initiatives P3)規格、UHDTV(Ultra High Definition Television、スーパーハイビジョンともいう)で使われるITU−R BT.2020(REC.2020(Recommendation 2020))規格などの色域を再現することができる。 The display device of one embodiment of the present invention can reproduce color gamuts of various standards. For example, PAL (Phase Alternating Line) and NTSC (National Television System Committee) standards used in television broadcasting, sRGB (standard RGB) widely used in display devices used in electronic devices such as personal computers, digital cameras, and printers ITU-R BT., Which is used in the standard, Adobe RGB standard, HDTV (also known as High Definition Television). 709 (International Telecommunication Union Radiocommunication Sector Broadcasting Service (Television) 709) Standard, DCI-P3 (Digital CinitiitiPUU standard used in digital cinema projection) R BT. A color gamut such as 2020 (REC. 2020 (Recommendation 2020)) standard can be reproduced.

図38(A)に、表示装置10Aのブロック図を示す。 FIG. 38A is a block diagram of the display device 10A.

表示装置10Aは、表示部14Aを有する。表示部14Aは、マトリクス状に配置された複数の画素ユニット30Aを有する。画素ユニット30Aは、第1の画素31pと、第2の画素32pを有する。 The display device 10A includes a display unit 14A. The display unit 14A includes a plurality of pixel units 30A arranged in a matrix. The pixel unit 30A includes a first pixel 31p and a second pixel 32p.

図38(A)では、第1の画素31pが白色(W)に対応する表示素子31Wを有する例を示している。表示素子31Wは、外光の反射を利用した表示素子である。 FIG. 38A illustrates an example in which the first pixel 31p includes the display element 31W corresponding to white (W). The display element 31W is a display element that utilizes reflection of external light.

図38(A)では、第2の画素32pが赤色(R)、緑色(G)、青色(B)の3色に対応する表示素子を有する場合の例を示している。 FIG. 38A illustrates an example in which the second pixel 32p includes display elements corresponding to three colors of red (R), green (G), and blue (B).

図38(A)に示す第2の画素32pは、赤色(R)に対応する表示素子32R、緑色(G)に対応する表示素子32G、青色(B)に対応する表示素子32Bを有する。表示素子32R、32G、32Bはそれぞれ、光源の光を透過する表示素子である。 A second pixel 32p illustrated in FIG. 38A includes a display element 32R corresponding to red (R), a display element 32G corresponding to green (G), and a display element 32B corresponding to blue (B). The display elements 32R, 32G, and 32B are display elements that transmit light from the light source.

図38(B)に、表示装置10Bのブロック図を示す。 FIG. 38B is a block diagram of the display device 10B.

表示装置10Bは、表示部14Bを有する。表示部14Bは、マトリクス状に配置された複数の画素ユニット30Bを有する。画素ユニット30Bは、第1の画素31pと、第2の画素32pを有する。 The display device 10B includes a display unit 14B. The display unit 14B has a plurality of pixel units 30B arranged in a matrix. The pixel unit 30B includes a first pixel 31p and a second pixel 32p.

図38(B)では、第1の画素31pが赤色(R)、緑色(G)、青色(B)の3色に対応する表示素子を有する例を示している。 FIG. 38B illustrates an example in which the first pixel 31p includes display elements corresponding to three colors of red (R), green (G), and blue (B).

図38(B)に示す第1の画素31pは、赤色(R)に対応する表示素子31R、緑色(G)に対応する表示素子31G、及び青色(B)に対応する表示素子31Bを有する。表示素子31R、表示素子31G、及び表示素子31Bは、それぞれ外光を反射して表示する素子である。表示素子31Rは、外光を反射し、赤色の光Rrを表示面側に射出する。表示素子31G、表示素子31Bも同様に、それぞれ緑色の光Grまたは青色の光Brを、表示面側に射出する。 A first pixel 31p illustrated in FIG. 38B includes a display element 31R corresponding to red (R), a display element 31G corresponding to green (G), and a display element 31B corresponding to blue (B). The display element 31R, the display element 31G, and the display element 31B are elements that reflect and display external light. The display element 31R reflects external light and emits red light Rr to the display surface side. Similarly, the display element 31G and the display element 31B respectively emit green light Gr or blue light Br to the display surface side.

図38(B)に示す第2の画素32pの構成は、図38(A)と同様である。そのため、詳細な説明は省略する。 The structure of the second pixel 32p shown in FIG. 38B is similar to that in FIG. Therefore, detailed description is omitted.

<画素ユニットの構成例>
図38(C)は、画素ユニット30Aの構成例を示す模式図である。
<Configuration example of pixel unit>
FIG. 38C is a schematic diagram illustrating a configuration example of the pixel unit 30A.

第1の画素31pは、表示素子31Wを有する。表示素子31Wは、外光を反射して表示する素子である。表示素子31Wは外光を反射し、白色の光Wrを表示面側に射出する。 The first pixel 31p has a display element 31W. The display element 31W is an element that reflects and displays external light. The display element 31W reflects external light and emits white light Wr to the display surface side.

第2の画素32pは、表示素子32R、表示素子32G、表示素子32Bを有する。表示素子32R、表示素子32G、及び表示素子32Bは、それぞれ可視光を透過する素子である。表示素子32Rは赤色の光Rtを、表示面側に射出する。表示素子32G、表示素子32Bも同様に、それぞれ緑色の光Gtまたは青色の光Btを、表示面側に射出する。 The second pixel 32p includes a display element 32R, a display element 32G, and a display element 32B. The display element 32R, the display element 32G, and the display element 32B are elements that transmit visible light. The display element 32R emits red light Rt to the display surface side. Similarly, the display element 32G and the display element 32B respectively emit green light Gt or blue light Bt to the display surface side.

続いて、図39(A)〜(C)を用いて、画素ユニット30Aによる表示モードについて説明する。 Subsequently, a display mode by the pixel unit 30A will be described with reference to FIGS.

図39(A)は、第1の画素31pを駆動させることにより、反射光のみを用いて表示を行うモード(第1のモード)に対応する。画素ユニット30Aは、例えば外光の照度が十分に高い場合などでは、第2の画素32pを駆動させずに、第1の画素31pからの光のみを用いることにより、反射光である光35rを表示面側に射出することができる。これにより、極めて低消費電力な駆動を行うことができる。また、目に優しい表示を行うことができる。 FIG. 39A corresponds to a mode (first mode) in which display is performed using only reflected light by driving the first pixel 31p. For example, when the illuminance of outside light is sufficiently high, the pixel unit 30A uses only the light from the first pixel 31p without driving the second pixel 32p, thereby generating the light 35r that is reflected light. It can be emitted to the display surface side. Thereby, driving with extremely low power consumption can be performed. In addition, display that is kind to the eyes can be performed.

図39(B)は、第2の画素32pを駆動させることにより、透過光のみを用いて表示を行うモード(第2のモード)に対応する。画素ユニット30は、例えば外光の照度が極めて小さい場合などでは、第1の画素31pを駆動させずに、第2の画素32pからの光(光Rt、光Gt、及び光Bt)のみを混色させることにより、所定の色の光35tを表示面側に射出することができる。これにより鮮やかな表示を行うことができる。また外光の照度が小さい場合に輝度を低くすることで、使用者が感じる眩しさを抑えると共に消費電力を低減できる。 FIG. 39B corresponds to a mode (second mode) in which display is performed using only transmitted light by driving the second pixels 32p. For example, when the illuminance of outside light is extremely small, the pixel unit 30 does not drive the first pixel 31p, and only mixes light (light Rt, light Gt, and light Bt) from the second pixel 32p. By doing so, light 35t of a predetermined color can be emitted to the display surface side. Thereby, a vivid display can be performed. Further, by reducing the luminance when the illuminance of outside light is small, it is possible to suppress glare that the user feels and to reduce power consumption.

図39(C)は、第1の画素31pと第2の画素32pの両方を、同一期間内にそれぞれ駆動させることで表示を行うモード(第3のモード)に対応する。画素ユニット30は、光Wrと、光Rt、光Gt、及び光Btの4つの光を混色させることにより、反射光と透過光とが混在した所定の色の光35trを表示面側に射出することができる。 FIG. 39C corresponds to a mode (third mode) in which display is performed by driving both the first pixel 31p and the second pixel 32p within the same period. The pixel unit 30 emits light 35tr of a predetermined color in which reflected light and transmitted light are mixed to the display surface side by mixing the light Wr, the light Rt, the light Gt, and the light Bt. be able to.

図38(D)は、画素ユニット30Bの構成例を示す模式図である。画素ユニット30Bにおいても、上記3種類の表示モードを行うことができる。 FIG. 38D is a schematic diagram illustrating a configuration example of the pixel unit 30B. Also in the pixel unit 30B, the above three types of display modes can be performed.

図38(D)は、第1の画素31pと第2の画素32pの両方を駆動させることで表示を行うモード(第3のモード)に対応する。画素ユニット30Bは、光Rr、光Gr、光Br、光Rt、光Gt、及び光Btの6つの光を混色させることにより、反射光と透過光とが混在した所定の色の光35trを表示面側に射出することができる。 FIG. 38D corresponds to a mode (third mode) in which display is performed by driving both the first pixel 31p and the second pixel 32p. The pixel unit 30B displays the light 35tr of a predetermined color in which reflected light and transmitted light are mixed by mixing the six lights of light Rr, light Gr, light Br, light Rt, light Gt, and light Bt. Can be injected to the surface side.

このとき、光35trが所定の輝度及び色度の光となるような、光Rr、光Gr、光Br、光Rt、光Gt、及び光Btの6つの光それぞれの輝度の組み合わせは、多数存在する。そこで、同じ輝度及び色度の光35trを実現する6つの光それぞれの輝度(階調)の組み合わせのうち、第1の画素31pから射出される光Rr、光Gr及び光Brの輝度(階調)が最も大きくなる組み合わせを選択することが好ましい。これにより、色再現性を犠牲にすることなく、消費電力を低減することができる。 At this time, there are many combinations of the brightness of each of the six lights, light Rr, light Gr, light Br, light Rt, light Gt, and light Bt, so that the light 35tr becomes light of a predetermined brightness and chromaticity. To do. Therefore, among the combinations of the luminance (gradation) of each of the six lights that realize the light 35tr having the same luminance and chromaticity, the luminance (gradation) of the light Rr, the light Gr, and the light Br emitted from the first pixel 31p. It is preferable to select a combination that yields the largest value. Thereby, power consumption can be reduced without sacrificing color reproducibility.

<表示装置の動作モード>
次に、第1の表示素子及び第2の表示素子で行うことができる動作モードについて、図40を用いて説明を行う。
<Operation mode of display device>
Next, operation modes that can be performed in the first display element and the second display element are described with reference to FIGS.

なお、以下では、通常のフレーム周波数(代表的には60Hz以上240Hz以下)で動作する通常動作モード(Normal mode)と、低速のフレーム周波数で動作するアイドリング・ストップ(IDS)駆動モードと、を例示して説明する。 In the following, a normal operation mode (Normal mode) that operates at a normal frame frequency (typically 60 Hz to 240 Hz or less) and an idling stop (IDS) drive mode that operates at a low frame frequency will be exemplified. To explain.

なお、IDS駆動モードとは、画像データの書き込み処理を実行した後、画像データの書き換えを停止する駆動方法のことをいう。一旦画像データの書き込みをして、その後、次の画像データの書き込みまでの間隔を延ばすことで、その間の画像データの書き込みに要する分の消費電力を削減することができる。IDS駆動モードは、例えば、通常動作モードの1/100乃至1/10程度のフレーム周波数とすることができる。静止画は、連続するフレーム間でビデオ信号が同じである。よって、IDS駆動モードは、静止画を表示する場合に特に有効である。IDS駆動を用いて画像を表示させることで、消費電力が低減されるとともに、画面のちらつき(フリッカー)が抑制され、眼精疲労も低減できる。 Note that the IDS driving mode refers to a driving method in which image data rewriting is stopped after image data writing processing is executed. Once the image data is written and then the interval until the next image data is written is extended, the power consumption required for writing the image data during that time can be reduced. The IDS drive mode can be set to a frame frequency of about 1/100 to 1/10 of the normal operation mode, for example. A still image has the same video signal between consecutive frames. Therefore, the IDS drive mode is particularly effective when displaying a still image. By displaying an image using IDS driving, power consumption is reduced, flickering of the screen is suppressed, and eye strain can be reduced.

図40(A)〜図40(C)は、画素回路、及び、通常駆動モードとIDS駆動モードを説明するタイミングチャートである。なお、図40(A)では、第1の表示素子501(ここでは反射型の液晶素子)と、第1の表示素子501に電気的に接続される画素回路506と、を示している。また、図40(A)に示す画素回路506では、信号線SLと、ゲート線GLと、信号線SL及びゲート線GLに接続されたトランジスタM1と、トランジスタM1に接続される容量素子CsLCとを示している。 40A to 40C are timing charts illustrating the pixel circuit and the normal drive mode and the IDS drive mode. Note that FIG. 40A illustrates a first display element 501 (here, a reflective liquid crystal element) and a pixel circuit 506 electrically connected to the first display element 501. In the pixel circuit 506 illustrated in FIG. 40A, the signal line SL, the gate line GL, the transistor M1 connected to the signal line SL and the gate line GL, and the capacitor Cs LC connected to the transistor M1 Is shown.

トランジスタM1は、データDのリークパスと成り得る。よって、トランジスタM1のオフ電流は小さいほど好ましい。トランジスタM1としては、チャネルが形成される半導体層に金属酸化物を有するトランジスタを用いることが好ましい。金属酸化物が増幅作用、整流作用、及びスイッチング作用の少なくとも1つを有する場合、当該金属酸化物を、金属酸化物半導体(metal oxide semiconductor)または酸化物半導体(oxide semiconductor)、略してOSと呼ぶことができる。以下、トランジスタの代表例として、チャネルが形成される半導体層に酸化物半導体を用いたトランジスタ(「OSトランジスタ」ともいう。)を用いて説明する。OSトランジスタは、多結晶シリコンなどを用いたトランジスタよりも非導通状態時のリーク電流(オフ電流)が極めて低い特徴を有する。トランジスタM1にOSトランジスタを用いることでノードND1に供給された電荷を長期間保持することができる。 Transistor M1 may become a leak path data D 1. Therefore, the off-state current of the transistor M1 is preferably as small as possible. As the transistor M1, a transistor including a metal oxide in a semiconductor layer where a channel is formed is preferably used. When the metal oxide has at least one of an amplifying function, a rectifying function, and a switching function, the metal oxide is referred to as a metal oxide semiconductor or an oxide semiconductor, or OS for short. be able to. Hereinafter, as a typical example of a transistor, a transistor in which an oxide semiconductor is used for a semiconductor layer in which a channel is formed (also referred to as an “OS transistor”) is described. The OS transistor has a feature that leakage current (off-state current) in a non-conduction state is extremely lower than that of a transistor using polycrystalline silicon or the like. By using an OS transistor as the transistor M1, the charge supplied to the node ND1 can be held for a long time.

なお、図40(A)に示す回路図において、液晶素子LCはデータDのリークパスとなる。したがって、適切にIDS駆動を行うには、液晶素子LCの抵抗率を1.0×1014Ω・cm以上とすることが好ましい。 Note that in the circuit diagram shown in FIG. 40 (A), the liquid crystal element LC is the leak path of the data D 1. Therefore, in order to appropriately perform IDS driving, it is preferable that the resistivity of the liquid crystal element LC is 1.0 × 10 14 Ω · cm or more.

なお、上記OSトランジスタのチャネル領域には、例えば、In−Ga−Zn酸化物、In−Zn酸化物などを好適に用いることができる。また、上記In−Ga−Zn酸化物としては、代表的には、In:Ga:Zn=4:2:4.1[原子数比]近傍の組成を用いることができる。 Note that an In—Ga—Zn oxide, an In—Zn oxide, or the like can be preferably used for the channel region of the OS transistor, for example. As the In—Ga—Zn oxide, a composition in the vicinity of In: Ga: Zn = 4: 2: 4.1 [atomic ratio] can be typically used.

図40(B)は、通常駆動モードでの信号線SL及びゲート線GLにそれぞれ与える信号の波形を示すタイミングチャートである。通常駆動モードでは通常のフレーム周波数(例えば60Hz)で動作する。1フレーム期間を期間TからTまでで表すと、各フレーム期間でゲート線GLに走査信号を与え、信号線SLからデータDをノードND1に書き込む動作を行う。この動作は、期間TからTまでで同じデータDを書き込む場合、または異なるデータを書き込む場合でも同じである。 FIG. 40B is a timing chart showing waveforms of signals supplied to the signal line SL and the gate line GL in the normal drive mode. In the normal drive mode, it operates at a normal frame frequency (for example, 60 Hz). When one frame period is represented by periods T 1 to T 3 , an operation of applying a scanning signal to the gate line GL and writing data D 1 from the signal line SL to the node ND 1 in each frame period is performed. This operation is the same even when writing the same data D 1 in the period T 1 to T 3 or writing different data.

一方、図40(C)は、IDS駆動モードでの信号線SL及びゲート線GLに、それぞれ与える信号の波形を示すタイミングチャートである。IDS駆動では低速のフレーム周波数(例えば1Hz)で動作する。1フレーム期間を期間Tで表し、その中でデータの書き込み期間を期間T、データの保持期間を期間TRETで表す。IDS駆動モードは、期間Tでゲート線GLに走査信号を与え、信号線SLのデータDを書き込み、期間TRETでゲート線GLをローレベルの電圧に固定し、トランジスタM1を非導通状態として一旦書き込んだデータDを保持させる動作を行う。なお、低速のフレーム周波数としては、例えば、0.1Hz以上60Hz未満とすればよい。 On the other hand, FIG. 40C is a timing chart showing waveforms of signals supplied to the signal line SL and the gate line GL in the IDS driving mode, respectively. In the IDS drive, it operates at a low frame frequency (for example, 1 Hz). Represents one frame period in the period T 1, representing the period T W a write period of data therein, the data retention period in the period T RET. IDS drive mode gives a scanning signal to the gate line GL in a period T W, write data D 1 of the signal line SL, and a gate line GL is fixed to the low level of the voltage in the period T RET, nonconductive transistor M1 It performs an operation of holding temporarily the data D 1 written as. In addition, what is necessary is just to set it as 0.1 Hz or more and less than 60 Hz as a low-speed frame frequency, for example.

IDS駆動モードは、上述した第1のモード、第2のモード、または第3のモードと組み合わせることで、さらなる低消費電力化を図ることができるため有効である。 The IDS drive mode is effective because it can further reduce power consumption by combining with the above-described first mode, second mode, or third mode.

本実施の形態は、他の実施の形態と適宜組み合わせることができる。 This embodiment can be combined with any of the other embodiments as appropriate.

(実施の形態3)
本実施の形態では、本発明の一態様の表示装置の、より具体的な構成例について図41〜図43を用いて説明する。
(Embodiment 3)
In this embodiment, a more specific structure example of the display device of one embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

図41(A)は、表示装置700のブロック図である。表示装置700は、表示部701、回路GD、及び回路SDを有する。表示部701は、マトリクス状に配列した複数の画素710を有する。 FIG. 41A is a block diagram of the display device 700. FIG. The display device 700 includes a display unit 701, a circuit GD, and a circuit SD. The display portion 701 includes a plurality of pixels 710 arranged in a matrix.

表示装置700は、複数の配線G11、複数の配線G12、複数の配線ANO、複数の配線CSCOM、複数の配線S1、及び複数の配線S2を有する。複数の配線G11、複数の配線G12、複数の配線ANO、及び複数の配線CSCOMは、それぞれ、矢印Rで示す方向に配列した複数の画素710及び回路GDと電気的に接続する。複数の配線S1及び複数の配線S2は、それぞれ、矢印Cで示す方向に配列した複数の画素710及び回路SDと電気的に接続する。 The display device 700 includes a plurality of wirings G11, a plurality of wirings G12, a plurality of wirings ANO, a plurality of wirings CSCOM, a plurality of wirings S1, and a plurality of wirings S2. The plurality of wirings G11, the plurality of wirings G12, the plurality of wirings ANO, and the plurality of wirings CSCOM are electrically connected to the plurality of pixels 710 and the circuit GD arranged in the direction indicated by the arrow R, respectively. The plurality of wirings S1 and the plurality of wirings S2 are electrically connected to the plurality of pixels 710 and the circuit SD arranged in the direction indicated by the arrow C, respectively.

なお、ここでは簡単のために回路GDと回路SDを1つずつ有する構成を示したが、反射型の液晶素子を駆動する回路GD及び回路SDと、透過型の液晶素子を駆動する回路GD及び回路SDとを、別々に設けてもよい。 Note that, here, for the sake of simplicity, a configuration including one circuit GD and one circuit SD is shown; however, a circuit GD and a circuit SD that drive a reflective liquid crystal element, a circuit GD that drives a transmissive liquid crystal element, and The circuit SD may be provided separately.

画素710は、反射型の液晶素子と、透過型の液晶素子を有する。 The pixel 710 includes a reflective liquid crystal element and a transmissive liquid crystal element.

図41(B1)、(B2)に、画素710が有する電極761の構成例を示す。電極761は、反射型の液晶素子の反射電極として機能する。電極761には、開口751が設けられている。 41B1 and 41B2 illustrate configuration examples of the electrode 761 included in the pixel 710. FIG. The electrode 761 functions as a reflective electrode of a reflective liquid crystal element. An opening 751 is provided in the electrode 761.

図41(B1)、(B2)には、電極761と重なる領域に位置する透過型の液晶素子760を破線で示している。透過型の液晶素子760は、電極761が有する開口751と重ねて配置されている。これにより、透過型の液晶素子760が透過する光は、開口751を介して表示面側に射出される。 In FIGS. 41B1 and 41B2, the transmissive liquid crystal element 760 located in a region overlapping with the electrode 761 is indicated by a broken line. The transmissive liquid crystal element 760 is disposed so as to overlap with the opening 751 included in the electrode 761. Accordingly, light transmitted through the transmissive liquid crystal element 760 is emitted to the display surface side through the opening 751.

図41(B1)では、矢印Rで示す方向に隣接する画素710が異なる色に対応する副画素である。 In FIG. 41 (B1), the pixel 710 adjacent in the direction indicated by the arrow R is a sub-pixel corresponding to a different color.

図41(B2)では、矢印Cで示す方向に隣接する画素710が異なる色に対応する副画素である。 In FIG. 41 (B2), the pixel 710 adjacent in the direction indicated by the arrow C is a sub-pixel corresponding to a different color.

非開口部の総面積に対する開口751の総面積の比の値が小さいほど、反射型の液晶素子を用いた表示を明るくすることができる。また、非開口部の総面積に対する開口751の総面積の比の値が大きいほど、透過型の液晶素子760を用いた表示を明るくすることができる。 The smaller the value of the ratio of the total area of the openings 751 to the total area of the non-openings, the brighter the display using the reflective liquid crystal element. In addition, the larger the value of the ratio of the total area of the openings 751 to the total area of the non-openings, the brighter the display using the transmissive liquid crystal element 760.

開口751の形状は、例えば多角形、四角形、楕円形、円形または十字等の形状とすることができる。また、細長い筋状、スリット状、市松模様状の形状としてもよい。また、開口751を隣接する画素に寄せて配置してもよい。 The shape of the opening 751 can be, for example, a polygon, a rectangle, an ellipse, a circle, a cross, or the like. Moreover, it is good also as an elongated streak shape, a slit shape, and a checkered shape. Further, the opening 751 may be arranged close to adjacent pixels.

回路GDには、シフトレジスタ等の様々な順序回路等を用いることができる。回路GDには、トランジスタ及び容量素子等を用いることができる。回路GDが有するトランジスタは、画素710に含まれるトランジスタと同じ工程で形成することができる。 Various sequential circuits such as a shift register can be used for the circuit GD. A transistor, a capacitor, or the like can be used for the circuit GD. A transistor included in the circuit GD can be formed in the same process as the transistor included in the pixel 710.

回路SDは、配線S1と電気的に接続される。回路SDには、例えば、集積回路を用いることができる。具体的には、回路SDには、シリコン基板上に形成された集積回路を用いることができる。 The circuit SD is electrically connected to the wiring S1. For the circuit SD, for example, an integrated circuit can be used. Specifically, an integrated circuit formed on a silicon substrate can be used for the circuit SD.

例えば、COG方式またはCOF方式等を用いて、画素710と電気的に接続されるパッドに回路SDを実装することができる。具体的には、異方性導電膜を用いて、パッドに集積回路を実装できる。 For example, the circuit SD can be mounted on a pad electrically connected to the pixel 710 by using a COG method, a COF method, or the like. Specifically, an integrated circuit can be mounted on the pad using an anisotropic conductive film.

図42は、画素710の構成例を示す回路図である。図42では、隣接する2つの画素710を示している。 FIG. 42 is a circuit diagram illustrating a configuration example of the pixel 710. In FIG. 42, two adjacent pixels 710 are shown.

画素710は、スイッチSW1、容量素子C1、液晶素子740、スイッチSW2、スイッチSW2、容量素子C2、及び液晶素子760等を有する。また、画素710には、配線G11、配線G12、配線CSCOM、配線S1、及び配線S2が電気的に接続されている。また、図42では、液晶素子740と電気的に接続する配線VCOM1、及び液晶素子760と電気的に接続する配線VCOM2を示している。 The pixel 710 includes a switch SW1, a capacitor C1, a liquid crystal element 740, a switch SW2, a switch SW2, a capacitor C2, a liquid crystal element 760, and the like. In addition, the pixel 710 is electrically connected to the wiring G11, the wiring G12, the wiring CSCOM, the wiring S1, and the wiring S2. In FIG. 42, a wiring VCOM1 electrically connected to the liquid crystal element 740 and a wiring VCOM2 electrically connected to the liquid crystal element 760 are illustrated.

図42では、スイッチSW1及びスイッチSW2にトランジスタを用いた場合の例を示している。 FIG. 42 shows an example in which transistors are used for the switch SW1 and the switch SW2.

スイッチSW1のゲートは、配線G11と接続されている。スイッチSW1のソース及びドレインのうち一方は、配線S1と接続され、他方は、容量素子C1の一方の電極、及び液晶素子740の一方の電極と接続されている。容量素子C1の他方の電極は、配線CSCOMと接続されている。液晶素子740の他方の電極は、配線VCOM1と接続されている。 The gate of the switch SW1 is connected to the wiring G11. One of the source and the drain of the switch SW1 is connected to the wiring S1, and the other is connected to one electrode of the capacitor C1 and one electrode of the liquid crystal element 740. The other electrode of the capacitive element C1 is connected to the wiring CSCOM. The other electrode of the liquid crystal element 740 is connected to the wiring VCOM1.

スイッチSW2のゲートは、配線G12と接続されている。スイッチSW2のソース及びドレインのうち一方は、配線S2と接続され、他方は、容量素子C2の一方の電極、及び液晶素子760の一方の電極と接続されている。容量素子C2の他方の電極は、配線CSCOMと接続されている。液晶素子760の他方の電極は、配線VCOM2と接続されている。 The gate of the switch SW2 is connected to the wiring G12. One of the source and the drain of the switch SW2 is connected to the wiring S2, and the other is connected to one electrode of the capacitor C2 and one electrode of the liquid crystal element 760. The other electrode of the capacitive element C2 is connected to the wiring CSCOM. The other electrode of the liquid crystal element 760 is connected to the wiring VCOM2.

配線G11には、スイッチSW1を導通状態または非導通状態に制御する信号を与えることができる。配線VCOM1には、所定の電位を与えることができる。配線S1には、液晶素子740が有する液晶の配向状態を制御する信号を与えることができる。配線CSCOMには、所定の電位を与えることができる。 The wiring G11 can be supplied with a signal for controlling the switch SW1 to be in a conductive state or a non-conductive state. A predetermined potential can be applied to the wiring VCOM1. A signal for controlling the alignment state of the liquid crystal included in the liquid crystal element 740 can be supplied to the wiring S1. A predetermined potential can be applied to the wiring CSCOM.

配線G12には、スイッチSW2を導通状態または非導通状態に制御する信号を与えることができる。配線VCOM2には、所定の電位を与えることができる。配線S2には、液晶素子760が有する液晶の配向状態を制御する信号を与えることができる。 The wiring G12 can be supplied with a signal for controlling the switch SW2 to be in a conductive state or a non-conductive state. A predetermined potential can be applied to the wiring VCOM2. A signal for controlling the alignment state of the liquid crystal included in the liquid crystal element 760 can be supplied to the wiring S2.

図42に示す画素710は、例えば反射モードの表示を行う場合には、配線G11及び配線S1に与える信号により駆動し、液晶素子740による光学変調を利用して表示することができる。また、透過モードで表示を行う場合には、配線G12及び配線S2に与える信号により駆動し、液晶素子760による光学変調を利用して表示することができる。また両方のモードで駆動する場合には、配線G11、配線G12、配線S1及び配線S2のそれぞれに与える信号により駆動することができる。 For example, in the case of performing reflection mode display, the pixel 710 illustrated in FIG. 42 is driven by a signal supplied to the wiring G11 and the wiring S1, and can display using optical modulation by the liquid crystal element 740. Further, in the case where display is performed in the transmissive mode, display can be performed by driving with a signal applied to the wiring G12 and the wiring S2 and using optical modulation by the liquid crystal element 760. In the case of driving in both modes, the driving can be performed by signals given to the wiring G11, the wiring G12, the wiring S1, and the wiring S2.

なお、図42では一つの画素710に、一つの液晶素子740と一つの液晶素子760とを有する例を示している。このとき、画素710は1つの副画素として機能する。または、液晶素子760を時間階調法により駆動することで、透過モードまたは両方のモードで表示する際に、1つの画素710でフルカラーの表示が可能である。 Note that FIG. 42 illustrates an example in which one pixel 710 includes one liquid crystal element 740 and one liquid crystal element 760. At this time, the pixel 710 functions as one subpixel. Alternatively, when the liquid crystal element 760 is driven by a time gray scale method, a single pixel 710 can display full color when displaying in the transmission mode or both modes.

図43は、1つの画素710に1つの反射型の液晶素子740と3つの透過型の液晶素子(液晶素子760r、液晶素子760g、及び液晶素子760b)を有する例を示している。液晶素子760r、液晶素子760g、及び液晶素子760bは、それぞれ赤色(R)、緑色(G)、青色(B)の光を透過する、透過型の液晶素子である。図43に示す画素710は、透過モードまたは両方のモードで表示する際に、3つの透過型の液晶素子によりフルカラーの表示が可能である。 FIG. 43 illustrates an example in which one pixel 710 includes one reflective liquid crystal element 740 and three transmissive liquid crystal elements (a liquid crystal element 760r, a liquid crystal element 760g, and a liquid crystal element 760b). The liquid crystal elements 760r, 760g, and 760b are transmissive liquid crystal elements that transmit red (R), green (G), and blue (B) light, respectively. The pixel 710 shown in FIG. 43 can display in full color with three transmissive liquid crystal elements when displaying in the transmissive mode or both modes.

本実施の形態は、他の実施の形態と適宜組み合わせることができる。 This embodiment can be combined with any of the other embodiments as appropriate.

(実施の形態4)
本実施の形態では、タッチセンサの駆動方法の例について、図面を参照して説明する。
(Embodiment 4)
In this embodiment, an example of a touch sensor driving method will be described with reference to drawings.

<センサの検知方法の例>
図44(A)は、相互容量方式のタッチセンサの構成を示すブロック図である。図44(A)では、パルス電圧出力回路551、電流検出回路552を示している。なお図44(A)では、パルス電圧が与えられる電極521、電流の変化を検知する電極522をそれぞれ、X1−X6、Y1−Y6のそれぞれ6本の配線として示している。また図44(A)は、電極521及び電極522が重畳することで形成される容量553を図示している。なお、電極521と電極522とはその機能を互いに置き換えてもよい。
<Example of sensor detection method>
FIG. 44A is a block diagram illustrating a structure of a mutual capacitive touch sensor. In FIG. 44A, a pulse voltage output circuit 551 and a current detection circuit 552 are shown. Note that in FIG. 44A, an electrode 521 to which a pulse voltage is applied and an electrode 522 for detecting a change in current are illustrated as six wirings of X1-X6 and Y1-Y6, respectively. FIG. 44A illustrates a capacitor 553 which is formed by overlapping the electrode 521 and the electrode 522. Note that the functions of the electrode 521 and the electrode 522 may be interchanged.

パルス電圧出力回路551は、X1−X6の配線に順にパルス電圧を印加するための回路である。X1−X6の配線にパルス電圧が印加されることで、容量553を形成する電極521と電極522の間に電界が生じる。この電極間に生じる電界が遮蔽等により容量553の相互容量に変化を生じさせることを利用して、被検知体の近接または接触を検出することができる。 The pulse voltage output circuit 551 is a circuit for sequentially applying a pulse voltage to the X1-X6 wirings. When a pulse voltage is applied to the wiring of X1-X6, an electric field is generated between the electrode 521 and the electrode 522 forming the capacitor 553. By utilizing the fact that the electric field generated between the electrodes changes the mutual capacitance of the capacitor 553 by shielding or the like, the proximity or contact of the detection target can be detected.

電流検出回路552は、容量553での相互容量の変化による、Y1乃至Y6の配線での電流の変化を検出するための回路である。Y1乃至Y6の配線では、被検知体の近接または接触がないと検出される電流値に変化はないが、検出する被検知体の近接または接触により相互容量が減少する場合には電流値が減少する変化を検出する。なお電流の検出は、積分回路等を用いて行えばよい。 The current detection circuit 552 is a circuit for detecting a change in current in the wirings Y1 to Y6 due to a change in mutual capacitance in the capacitor 553. In the wirings Y1 to Y6, there is no change in the current value detected when there is no proximity or contact with the detected object. However, when the mutual capacitance decreases due to the proximity or contact with the detected object, the current value decreases. Detect changes that occur. Note that current detection may be performed using an integration circuit or the like.

なお、パルス電圧出力回路551及び電流検出回路552の一方または両方を、図1等に示す基板351上または基板361上に形成してもよい。例えば、表示部362や回路364などと同時に形成すると、工程を簡略化できることに加え、タッチセンサの駆動に用いる部品数を削減することができるため好ましい。また、パルス電圧出力回路551及び電流検出回路552の一方または両方を、IC373に実装してもよい。 Note that one or both of the pulse voltage output circuit 551 and the current detection circuit 552 may be formed over the substrate 351 or the substrate 361 illustrated in FIG. For example, it is preferable to form the display portion 362, the circuit 364, and the like at the same time because the number of components used for driving the touch sensor can be reduced in addition to simplifying the process. One or both of the pulse voltage output circuit 551 and the current detection circuit 552 may be mounted on the IC 373.

特に、基板351に形成されるトランジスタとして、チャネルが形成される半導体層に多結晶シリコンや単結晶シリコンなどの結晶性シリコンを用いると、パルス電圧出力回路551や電流検出回路552等の回路の駆動能力が向上し、タッチセンサの感度を向上させることができる。 In particular, when crystalline silicon such as polycrystalline silicon or single crystal silicon is used for a semiconductor layer in which a channel is formed as a transistor formed on the substrate 351, circuits such as the pulse voltage output circuit 551 and the current detection circuit 552 are driven. The ability is improved and the sensitivity of the touch sensor can be improved.

図44(B)には、図44(A)で示す相互容量方式のタッチセンサにおける入出力波形のタイミングチャートを示す。図44(B)では、1フレーム期間で各行列での被検知体の検出を行うものとする。また図44(B)では、被検知体を検出しない場合(非タッチ)と被検知体を検出する場合(タッチ)との2つの場合について示している。なおY1−Y6の配線については、検出される電流値に対応する電圧値とした波形を示している。 FIG. 44B shows a timing chart of input / output waveforms in the mutual capacitive touch sensor shown in FIG. In FIG. 44B, it is assumed that the detection target is detected in each matrix in one frame period. FIG. 44B shows two cases, that is, a case where the detected object is not detected (non-touch) and a case where the detected object is detected (touch). In addition, about the wiring of Y1-Y6, the waveform made into the voltage value corresponding to the detected electric current value is shown.

X1−X6の配線には、順にパルス電圧が与えられ、該パルス電圧にしたがってY1−Y6の配線での波形が変化する。被検知体の近接または接触がない場合には、X1−X6の配線の電圧の変化に応じてY1−Y6の波形が一様に変化する。一方、被検知体が近接または接触する箇所では、電流値が減少するため、これに対応する電圧値の波形も変化する。 A pulse voltage is sequentially applied to the X1-X6 wiring, and the waveform of the Y1-Y6 wiring changes according to the pulse voltage. When there is no proximity or contact of the detection object, the waveform of Y1-Y6 changes uniformly according to the change of the voltage of the wiring of X1-X6. On the other hand, since the current value decreases at the location where the detection object is close or in contact, the waveform of the voltage value corresponding to this also changes.

このように、相互容量の変化を検出することにより、被検知体の近接または接触を検知することができる。 In this way, by detecting the change in mutual capacitance, the proximity or contact of the detection target can be detected.

<表示装置の駆動方法例>
図45(A)は、表示装置の構成例を示すブロック図である。図45(A)ではゲート駆動回路GD(走査線駆動回路)、ソース駆動回路SD(信号線駆動回路)、複数の画素pixを有する表示部を示している。なお図45(A)では、ゲート駆動回路GDに電気的に接続されるゲート線x_1乃至x_m(mは自然数)、ソース駆動回路SDに電気的に接続されるソース線y_1乃至y_n(nは自然数)に対応して、画素pixではそれぞれに(1,1)乃至(n,m)の符号を付している。
<Example of driving method of display device>
FIG. 45A is a block diagram illustrating a structure example of a display device. FIG. 45A shows a display portion having a gate driving circuit GD (scanning line driving circuit), a source driving circuit SD (signal line driving circuit), and a plurality of pixels pix. In FIG. 45A, gate lines x_1 to x_m (m is a natural number) electrically connected to the gate driver circuit GD, and source lines y_1 to y_n (n is a natural number) electrically connected to the source driver circuit SD. ) Corresponding to (1, 1) to (n, m) in the pixel pix.

図45(B)は、図45(A)で示す表示装置におけるゲート線及びソース線に与える信号のタイミングチャート図である。図45(B)では、1フレーム期間ごとにデータ信号を書き換える場合と、データ信号を書き換えない場合と、に分けて示している。なお図45(B)では、帰線期間等の期間を考慮していない。 FIG. 45B is a timing chart of signals supplied to the gate lines and the source lines in the display device illustrated in FIG. FIG. 45B shows a case where the data signal is rewritten for each frame period and a case where the data signal is not rewritten. Note that in FIG. 45B, a period such as a blanking period is not considered.

1フレーム期間ごとにデータ信号を書き換える場合、x_1乃至x_mのゲート線には、順に走査信号が与えられる。走査信号がHレベルの期間である水平走査期間1Hでは、各列のソース線y_1乃至y_nにデータ信号Dが与えられる。 When the data signal is rewritten every frame period, scanning signals are sequentially applied to the gate lines x_1 to x_m. In the horizontal scanning period 1H in which the scanning signal is at the H level, the data signal D is supplied to the source lines y_1 to y_n of each column.

1フレーム期間ごとにデータ信号を書き換えない場合、ゲート線x_1乃至x_mに与える走査信号を停止する。また水平走査期間1Hでは、各列のソース線y_1乃至y_nに与えるデータ信号を停止する。 When the data signal is not rewritten every frame period, the scanning signal applied to the gate lines x_1 to x_m is stopped. In the horizontal scanning period 1H, the data signal applied to the source lines y_1 to y_n in each column is stopped.

1フレーム期間ごとにデータ信号を書き換えない駆動方法は、特に、画素pixが有するトランジスタとしてチャネルが形成される半導体層に酸化物半導体を適用する場合に有効である。酸化物半導体が適用されたトランジスタはシリコン等の半導体が適用されたトランジスタに比べて極めてオフ電流を小さくすることが可能である。そのため、1フレーム期間ごとにデータ信号の書き換えを行わずに前の期間に書き込んだデータ信号を保持させることができ、例えば1秒以上、好ましくは5秒以上に亘って画素の階調を保持することもできる。 A driving method in which a data signal is not rewritten every frame period is particularly effective when an oxide semiconductor is applied to a semiconductor layer in which a channel is formed as a transistor included in the pixel pix. A transistor to which an oxide semiconductor is applied can have extremely low off-state current compared to a transistor to which a semiconductor such as silicon is applied. Therefore, the data signal written in the previous period can be held without rewriting the data signal every frame period. For example, the gradation of the pixel is held for 1 second or more, preferably 5 seconds or more. You can also.

また、画素pixが有するトランジスタとしてチャネルが形成される半導体層に多結晶シリコンなどを適用する場合には、画素が有する保持容量の大きさをあらかじめ大きくしておくことが好ましい。保持容量が大きいほど、画素の階調を長時間に亘って保持することができる。保持容量の大きさは、保持容量に電気的に接続するトランジスタや表示素子のリーク電流に応じて設定すればよいが、例えば、1画素あたりの保持容量を5fF以上5pF以下、好ましくは10fF以上5pF以下、より好ましくは20fF以上1pF以下とすると、1フレーム期間ごとにデータ信号の書き換えを行わずに前の期間に書き込んだデータ信号を保持させることができ、例えば数フレームまたは数10フレームの期間に亘って画素の階調を保持することが可能となる。 Further, in the case where polycrystalline silicon or the like is applied to a semiconductor layer in which a channel is formed as a transistor included in the pixel pix, it is preferable that the size of the storage capacitor included in the pixel is increased in advance. The larger the storage capacity, the longer the pixel gradation can be stored. The size of the storage capacitor may be set according to the leakage current of a transistor or a display element electrically connected to the storage capacitor. For example, the storage capacitor per pixel is 5 fF or more and 5 pF or less, preferably 10 fF or more and 5 pF. In the following, more preferably 20 fF or more and 1 pF or less, the data signal written in the previous period can be held without rewriting the data signal every frame period. For example, in a period of several frames or several tens frames It is possible to maintain the gradation of the pixels throughout.

<表示部とタッチセンサの駆動方法の例>
図46(A)乃至(D)は、一例として図44(A)、(B)で説明したタッチセンサと、図45(A)、(B)で説明した表示部を1sec.(1秒間)駆動する場合に、連続するフレーム期間の動作について説明する図である。なお図46(A)では、表示部の1フレーム期間を16.7ms(フレーム周波数:60Hz)、タッチセンサの1フレーム期間を16.7ms(フレーム周波数:60Hz)とした場合について示している。
<Example of driving method of display unit and touch sensor>
46A to 46D show an example in which the touch sensor described in FIGS. 44A and 44B and the display unit described in FIGS. 45A and 45B are 1 sec. It is a figure explaining the operation | movement of a continuous frame period when driving (for 1 second). FIG. 46A shows a case where one frame period of the display portion is 16.7 ms (frame frequency: 60 Hz) and one frame period of the touch sensor is 16.7 ms (frame frequency: 60 Hz).

本発明の一態様の表示装置は、表示部の動作とタッチセンサの動作は互いに独立しており、表示期間と平行してタッチ検知期間を設けることができる。そのため図46(A)に示すように、表示部及びタッチセンサの1フレーム期間を共に16.7ms(フレーム周波数:60Hz)と設定することができる。また、タッチセンサと表示部のフレーム周波数を異ならせてもよい。例えば図46(B)に示すように、表示部の1フレーム期間を8.3ms(フレーム周波数:120Hz)と設定し、タッチセンサの1フレーム期間を16.7ms(フレーム周波数:60Hz)とすることもできる。また、図示しないが、表示部のフレーム周波数を33.3ms(フレーム周波数:30Hz)としてもよい。 In the display device of one embodiment of the present invention, the operation of the display portion and the operation of the touch sensor are independent from each other, and the touch detection period can be provided in parallel with the display period. Therefore, as shown in FIG. 46A, one frame period of the display portion and the touch sensor can be set to 16.7 ms (frame frequency: 60 Hz). Further, the frame frequency of the touch sensor and the display unit may be different. For example, as shown in FIG. 46B, one frame period of the display unit is set to 8.3 ms (frame frequency: 120 Hz), and one frame period of the touch sensor is set to 16.7 ms (frame frequency: 60 Hz). You can also. Although not shown, the frame frequency of the display unit may be 33.3 ms (frame frequency: 30 Hz).

また表示部のフレーム周波数を切り替え可能な構成とし、動画像の表示の際にはフレーム周波数を大きく(例えば60Hz以上または120Hz以上)し、静止画像の表示の際にはフレーム周波数を小さく(例えば60Hz以下、30Hz以下、または1Hz以下)することで、表示装置の消費電力を低減することができる。またタッチセンサのフレーム周波数を切り替え可能な構成とし、待機時と、タッチを感知した時とでフレーム周波数を異ならせてもよい。 In addition, the frame frequency of the display unit can be switched, the frame frequency is increased (for example, 60 Hz or more or 120 Hz or more) when displaying a moving image, and the frame frequency is decreased (for example, 60 Hz) when displaying a still image. The power consumption of the display device can be reduced by adjusting the frequency to 30 Hz or lower or 1 Hz or lower. In addition, the frame frequency of the touch sensor may be switched, and the frame frequency may be different depending on whether the touch sensor detects a touch.

また本発明の一態様の表示装置は、表示部におけるデータ信号の書き換えを行わずに、前の期間に書き換えたデータ信号を保持することで、表示部の1フレーム期間を16.7msよりも長い期間とすることができる。そのため、図46(C)に示すように、表示部の1フレーム期間を1sec.(フレーム周波数:1Hz)と設定し、タッチセンサの1フレーム期間を16.7ms(フレーム周波数:60Hz)とすることもできる。 In addition, in the display device of one embodiment of the present invention, the data signal rewritten in the previous period is held without rewriting the data signal in the display portion, so that one frame period of the display portion is longer than 16.7 ms. It can be a period. Therefore, as shown in FIG. 46C, one frame period of the display portion is 1 sec. (Frame frequency: 1 Hz) can be set, and one frame period of the touch sensor can be set to 16.7 ms (frame frequency: 60 Hz).

なお、表示部におけるデータ信号の書き換えを行わずに、前の期間に書き換えたデータ信号を保持する構成については、先に説明のIDS駆動モードを参照することができる。なお、IDS駆動モードについては、表示部におけるデータ信号の書き換えを特定の領域だけ行う、部分IDS駆動モードとしてもよい。部分IDS駆動モードとは、表示部におけるデータ信号の書き換えを特定の領域だけ行い、それ以外の領域においては、前の期間に書き換えたデータ信号を保持する構成である。 Note that the IDS driving mode described above can be referred to for a configuration in which the data signal rewritten in the previous period is held without rewriting the data signal in the display portion. Note that the IDS drive mode may be a partial IDS drive mode in which the data signal in the display unit is rewritten only in a specific area. The partial IDS drive mode is a configuration in which the data signal is rewritten only in a specific area in the display portion, and the data signal rewritten in the previous period is held in other areas.

また、本実施の形態に開示するタッチセンサの駆動方法によれば、図46(C)に示す駆動を行う場合、継続してタッチセンサの駆動を行うことができる。そのため、図46(D)に示すようにタッチセンサにおける被検知体の近接または接触を検知したタイミングで、表示部のデータ信号を書き換えることもできる。 Further, according to the touch sensor driving method disclosed in this embodiment, when the driving illustrated in FIG. 46C is performed, the touch sensor can be continuously driven. Therefore, as shown in FIG. 46D, the data signal of the display portion can be rewritten at the timing when the proximity or contact of the detection target in the touch sensor is detected.

ここで、タッチセンサのセンシング期間に表示部のデータ信号の書き換え動作を行うと、データ信号の書き換え時に生じるノイズがタッチセンサに伝わることで、タッチセンサの感度を低下させてしまう恐れがある。したがって、表示部のデータ信号の書き換え期間と、タッチセンサのセンシング期間とをずらすように駆動することが好ましい。 Here, if the rewriting operation of the data signal of the display unit is performed during the sensing period of the touch sensor, noise generated during the rewriting of the data signal is transmitted to the touch sensor, which may reduce the sensitivity of the touch sensor. Therefore, it is preferable to drive so that the data signal rewriting period of the display unit is shifted from the sensing period of the touch sensor.

図47(A)では、表示部のデータ信号の書き換えと、タッチセンサのセンシングとを交互に行う例を示している。また、図47(B)では、表示部のデータ信号の書き換え動作を2回行うごとに、タッチセンサのセンシングを1回行う例を示している。なお、これに限られず3回以上の書き換え動作を行うごとにタッチセンサのセンシングを1回行う構成としてもよい。 FIG. 47A shows an example in which rewriting of the data signal of the display portion and sensing of the touch sensor are alternately performed. FIG. 47B shows an example in which sensing of the touch sensor is performed once every time the data signal rewriting operation of the display portion is performed twice. Note that the present invention is not limited to this, and the touch sensor may be sensed once every time the rewrite operation is performed three times or more.

また、画素pixに適用されるトランジスタに、チャネルが形成される半導体層に酸化物半導体を用いる場合、オフ電流を極めて低減することが可能なため、データ信号の書き換えの頻度を十分に低減することができる。具体的には、データ信号の書き換えを行った後、次にデータ信号を書き換えるまでの間に、十分に長い休止期間を設けることが可能となる。休止期間は、例えば0.5秒以上、1秒以上、または5秒以上とすることができる。休止期間の上限は、トランジスタに接続される容量や表示素子等のリーク電流によって制限されるが、例えば1分以下、10分以下、1時間以下、または1日以下などとすることができる。 In addition, when an oxide semiconductor is used for a semiconductor layer in which a channel is formed in a transistor applied to the pixel pix, off-state current can be extremely reduced, and thus the frequency of data signal rewriting can be sufficiently reduced. Can do. Specifically, it is possible to provide a sufficiently long pause period after the data signal is rewritten until the next data signal is rewritten. The pause period can be, for example, 0.5 seconds or more, 1 second or more, or 5 seconds or more. The upper limit of the rest period is limited by the capacitance connected to the transistor and the leakage current of the display element, etc., and can be, for example, 1 minute or less, 10 minutes or less, 1 hour or less, or 1 day or less.

図47(C)では、5秒間に1度の頻度で表示部のデータ信号の書き換えを行う例を示している。図47(C)では、表示部はデータ信号を書き換えたのち、次のデータ信号の書き換え動作までの期間は、書き換え動作を停止する休止期間が設けられている。休止期間では、タッチセンサがフレーム周波数iHz(iは表示装置のフレーム周波数以上、ここでは0.2Hz以上)で駆動することができる。また図47(C)に示すように、タッチセンサのセンシングを休止期間に行い、表示部のデータ信号の書き換え期間には行わないようにすると、タッチセンサの感度を向上させることができ好ましい。また、図47(D)に示すように、表示部のデータ信号の書き換えとタッチセンサのセンシングを同時に行うと、駆動のための信号を簡略化することができる。 FIG. 47C shows an example in which the data signal of the display portion is rewritten at a frequency of once every 5 seconds. In FIG. 47C, after the data signal is rewritten in the display portion, a rest period in which the rewrite operation is stopped is provided until the next data signal rewrite operation. In the rest period, the touch sensor can be driven at a frame frequency iHz (i is equal to or higher than the frame frequency of the display device, here 0.2 Hz or higher). In addition, as shown in FIG. 47C, it is preferable that sensing of the touch sensor be performed in the pause period and not in the rewriting period of the data signal of the display portion because sensitivity of the touch sensor can be improved. In addition, as illustrated in FIG. 47D, when rewriting of the data signal of the display portion and sensing of the touch sensor are performed at the same time, a signal for driving can be simplified.

また、表示部のデータ信号の書き換え動作を行わない休止期間では、表示部へのデータ信号の供給を停止するだけでなく、ゲート駆動回路GD及びソース駆動回路SDの一方または双方の動作を停止してもよい。さらに、ゲート駆動回路GD及びソース駆動回路SDの一方または双方への電力供給を停止してもよい。このようにすることで、ノイズをより低減し、タッチセンサの感度をさらに良好なものとすることができる。また、表示装置の消費電力をさらに低減することができる。 Further, in the idle period in which the data signal rewriting operation of the display portion is not performed, not only the supply of the data signal to the display portion is stopped, but also the operation of one or both of the gate driving circuit GD and the source driving circuit SD is stopped. May be. Further, power supply to one or both of the gate drive circuit GD and the source drive circuit SD may be stopped. By doing so, noise can be further reduced and the sensitivity of the touch sensor can be further improved. In addition, power consumption of the display device can be further reduced.

また、表示装置として、先に説明のハイブリッドディスプレイを用いる場合、上述のIDS駆動モード、または部分IDS駆動モードと、上述のタッチセンサの駆動方法と、を組み合わせることができる。また、ハイブリッドディスプレイを用いる場合、複数の表示素子は、それぞれ独立してIDS駆動モードまたは部分IDS駆動モードを行うことができる。ハイブリッドディスプレイを用いる場合、以下のような駆動方法を実現できる。 When the hybrid display described above is used as the display device, the above-described IDS drive mode or partial IDS drive mode can be combined with the above-described touch sensor drive method. In the case of using a hybrid display, the plurality of display elements can independently perform the IDS drive mode or the partial IDS drive mode. When a hybrid display is used, the following driving method can be realized.

例えば、上記ハイブリッドディスプレイが反射型素子と、透過型素子とを有する場合、反射型素子にて白黒の画像を表示させる。その後、反射型素子をIDS駆動モードにし、ゲート駆動回路GD及びソース駆動回路SDの一方または双方への電力供給を停止する。その後、タッチセンサのセンシングを行い、当該センシングが行われていない領域の反射型素子を部分IDS駆動モードへと移行させる。その後、部分IDS駆動モードが行われていない領域の透過型素子を駆動させる。その後、当該透過型素子を駆動させている、ゲート駆動回路GD及びソース駆動回路SDの一方または双方への電力供給を停止させて、透過型素子を部分IDS駆動モードへと移行する。 For example, when the hybrid display includes a reflective element and a transmissive element, a monochrome image is displayed on the reflective element. Thereafter, the reflective element is set to the IDS drive mode, and power supply to one or both of the gate drive circuit GD and the source drive circuit SD is stopped. Thereafter, sensing of the touch sensor is performed, and the reflective element in the area where the sensing is not performed is shifted to the partial IDS drive mode. Thereafter, the transmissive element in the region where the partial IDS drive mode is not performed is driven. Thereafter, the power supply to one or both of the gate drive circuit GD and the source drive circuit SD driving the transmissive element is stopped, and the transmissive element is shifted to the partial IDS drive mode.

上記のような駆動方法を行うことで、消費電力を低減させ、且つタッチセンサの検出感度が高められた優れた表示装置を実現することができる。 By performing the driving method as described above, it is possible to realize an excellent display device in which power consumption is reduced and detection sensitivity of the touch sensor is increased.

本発明の一態様の表示装置は、2つの基板で表示部とタッチセンサが挟持された構成を有する。よって、表示部とタッチセンサの距離を極めて近づけることができる。このとき、表示部の駆動時のノイズがタッチセンサに伝搬しやすくなり、タッチセンサの感度が低下してしまう恐れがある。本実施の形態で例示した駆動方法を適用することで、薄型化と高い検出感度を両立した、タッチセンサを有する表示装置を実現できる。 The display device of one embodiment of the present invention has a structure in which a display portion and a touch sensor are sandwiched between two substrates. Therefore, the distance between the display unit and the touch sensor can be extremely reduced. At this time, noise at the time of driving the display unit easily propagates to the touch sensor, and the sensitivity of the touch sensor may be reduced. By applying the driving method exemplified in this embodiment, a display device having a touch sensor that achieves both reduction in thickness and high detection sensitivity can be realized.

本実施の形態は、他の実施の形態と適宜組み合わせることができる。 This embodiment can be combined with any of the other embodiments as appropriate.

(実施の形態5)
本実施の形態では、本発明の一態様で開示されるトランジスタに用いることができる金属酸化物について説明する。以下では特に、金属酸化物とCAC(Cloud−Aligned Composite)の詳細について説明する。
(Embodiment 5)
In this embodiment, a metal oxide that can be used for the transistor disclosed in one embodiment of the present invention will be described. In particular, details of the metal oxide and CAC (Cloud-Aligned Composite) will be described below.

CAC−OSまたはCAC−metal oxideは、材料の一部では導電性の機能と、材料の一部では絶縁性の機能とを有し、材料の全体では半導体としての機能を有する。なお、CAC−OSまたはCAC−metal oxideを、トランジスタのチャネル形成領域に用いる場合、導電性の機能は、キャリアとなる電子(またはホール)を流す機能であり、絶縁性の機能は、キャリアとなる電子を流さない機能である。導電性の機能と、絶縁性の機能とを、それぞれ相補的に作用させることで、スイッチングさせる機能(On/Offさせる機能)をCAC−OSまたはCAC−metal oxideに付与することができる。CAC−OSまたはCAC−metal oxideにおいて、それぞれの機能を分離させることで、双方の機能を最大限に高めることができる。 The CAC-OS or the CAC-metal oxide has a conductive function in part of the material and an insulating function in part of the material, and has a function as a semiconductor in the whole material. Note that in the case where a CAC-OS or a CAC-metal oxide is used for a channel formation region of a transistor, the conductive function is a function of flowing electrons (or holes) serving as carriers and the insulating function is a carrier. This function prevents electrons from flowing. By performing the conductive function and the insulating function in a complementary manner, a switching function (function to turn on / off) can be given to the CAC-OS or the CAC-metal oxide. In CAC-OS or CAC-metal oxide, by separating each function, both functions can be maximized.

また、CAC−OSまたはCAC−metal oxideは、導電性領域、及び絶縁性領域を有する。導電性領域は、上述の導電性の機能を有し、絶縁性領域は、上述の絶縁性の機能を有する。また、材料中において、導電性領域と、絶縁性領域とは、ナノ粒子レベルで分離している場合がある。また、導電性領域と、絶縁性領域とは、それぞれ材料中に偏在する場合がある。また、導電性領域は、周辺がぼけてクラウド状に連結して観察される場合がある。 Further, the CAC-OS or the CAC-metal oxide has a conductive region and an insulating region. The conductive region has the above-described conductive function, and the insulating region has the above-described insulating function. In the material, the conductive region and the insulating region may be separated at the nanoparticle level. In addition, the conductive region and the insulating region may be unevenly distributed in the material, respectively. In addition, the conductive region may be observed with the periphery blurred and connected in a cloud shape.

また、CAC−OSまたはCAC−metal oxideにおいて、導電性領域と、絶縁性領域とは、それぞれ0.5nm以上10nm以下、好ましくは0.5nm以上3nm以下のサイズで材料中に分散している場合がある。 In CAC-OS or CAC-metal oxide, the conductive region and the insulating region are each dispersed in a material with a size of 0.5 nm to 10 nm, preferably 0.5 nm to 3 nm. There is.

また、CAC−OSまたはCAC−metal oxideは、異なるバンドギャップを有する成分により構成される。例えば、CAC−OSまたはCAC−metal oxideは、絶縁性領域に起因するワイドギャップを有する成分と、導電性領域に起因するナローギャップを有する成分と、により構成される。当該構成の場合、キャリアを流す際に、ナローギャップを有する成分において、主にキャリアが流れる。また、ナローギャップを有する成分が、ワイドギャップを有する成分に相補的に作用し、ナローギャップを有する成分に連動してワイドギャップを有する成分にもキャリアが流れる。このため、上記CAC−OSまたはCAC−metal oxideをトランジスタのチャネル形成領域に用いる場合、トランジスタのオン状態において高い電流駆動力、つまり大きなオン電流、及び高い電界効果移動度を得ることができる。 Further, CAC-OS or CAC-metal oxide is composed of components having different band gaps. For example, CAC-OS or CAC-metal oxide includes a component having a wide gap caused by an insulating region and a component having a narrow gap caused by a conductive region. In the case of the configuration, when the carrier flows, the carrier mainly flows in the component having the narrow gap. In addition, the component having a narrow gap acts in a complementary manner to the component having a wide gap, and the carrier flows through the component having the wide gap in conjunction with the component having the narrow gap. Therefore, when the CAC-OS or the CAC-metal oxide is used for a channel formation region of a transistor, high current driving capability, that is, high on-state current and high field-effect mobility can be obtained in the on-state of the transistor.

すなわち、CAC−OSまたはCAC−metal oxideは、マトリックス複合材(matrix composite)または金属マトリックス複合材(metal matrix composite)と呼称することもできる。 That is, CAC-OS or CAC-metal oxide can also be referred to as a matrix composite or a metal matrix composite.

CAC−OSは、例えば、金属酸化物を構成する元素が、0.5nm以上10nm以下、好ましくは、1nm以上2nm以下またはその近傍のサイズで偏在した材料の一構成である。なお、以下では、金属酸化物において、一つあるいはそれ以上の金属元素が偏在し、該金属元素を有する領域が、0.5nm以上10nm以下、好ましくは、1nm以上2nm以下またはその近傍のサイズで混合した状態をモザイク状またはパッチ状ともいう。 The CAC-OS is one structure of a material in which an element constituting a metal oxide is unevenly distributed with a size of 0.5 nm to 10 nm, preferably, 1 nm to 2 nm or near. In the following, in a metal oxide, one or more metal elements are unevenly distributed, and a region having the metal element has a size of 0.5 nm to 10 nm, preferably 1 nm to 2 nm or near. The mixed state is also called mosaic or patch.

なお、金属酸化物は、少なくともインジウムを含むことが好ましい。特にインジウム及び亜鉛を含むことが好ましい。また、それらに加えて、アルミニウム、ガリウム、イットリウム、銅、バナジウム、ベリリウム、ホウ素、シリコン、チタン、鉄、ニッケル、ゲルマニウム、ジルコニウム、モリブデン、ランタン、セリウム、ネオジム、ハフニウム、タンタル、タングステン、またはマグネシウムなどから選ばれた一種または複数種が含まれていてもよい。 Note that the metal oxide preferably contains at least indium. In particular, it is preferable to contain indium and zinc. In addition, aluminum, gallium, yttrium, copper, vanadium, beryllium, boron, silicon, titanium, iron, nickel, germanium, zirconium, molybdenum, lanthanum, cerium, neodymium, hafnium, tantalum, tungsten, magnesium, etc. One kind or plural kinds selected from may be included.

例えば、In−Ga−Zn酸化物におけるCAC−OS(CAC−OSの中でもIn−Ga−Zn酸化物を、特にCAC−IGZOと呼称してもよい。)とは、インジウム酸化物(以下、InOX1(X1は0よりも大きい実数)とする。)、またはインジウム亜鉛酸化物(以下、InX2ZnY2Z2(X2、Y2、及びZ2は0よりも大きい実数)とする。)と、ガリウム酸化物(以下、GaOX3(X3は0よりも大きい実数)とする。)、またはガリウム亜鉛酸化物(以下、GaX4ZnY4Z4(X4、Y4、及びZ4は0よりも大きい実数)とする。)などと、に材料が分離することでモザイク状となり、モザイク状のInOX1、またはInX2ZnY2Z2が、膜中に均一に分布した構成(以下、クラウド状ともいう。)である。 For example, a CAC-OS in In-Ga-Zn oxide (In-Ga-Zn oxide among CAC-OSs may be referred to as CAC-IGZO in particular) is an indium oxide (hereinafter referred to as InO). X1 (X1 is greater real than 0) and.), or indium zinc oxide (hereinafter, in X2 Zn Y2 O Z2 ( X2, Y2, and Z2 is larger real than 0) and a.), gallium An oxide (hereinafter referred to as GaO X3 (X3 is a real number greater than 0)) or a gallium zinc oxide (hereinafter referred to as Ga X4 Zn Y4 O Z4 (where X4, Y4, and Z4 are greater than 0)) to.) and the like, the material becomes mosaic by separate into, mosaic InO X1 or in X2 Zn Y2 O Z2, is a configuration in which uniformly distributed in the film (hereinafter, click Also called Udo-like.) A.

つまり、CAC−OSは、GaOX3が主成分である領域と、InX2ZnY2Z2、またはInOX1が主成分である領域とが、混合している構成を有する複合金属酸化物である。なお、本明細書において、例えば、第1の領域の元素Mに対するInの原子数比が、第2の領域の元素Mに対するInの原子数比よりも大きいことを、第1の領域は、第2の領域と比較して、Inの濃度が高いとする。 That, CAC-OS includes a region GaO X3 is the main component, and In X2 Zn Y2 O Z2, or InO X1 is the main component region is a composite metal oxide having a structure that is mixed. Note that in this specification, for example, the first region indicates that the atomic ratio of In to the element M in the first region is larger than the atomic ratio of In to the element M in the second region. It is assumed that the concentration of In is higher than that in the second region.

なお、IGZOは通称であり、In、Ga、Zn、及びOによる1つの化合物をいう場合がある。代表例として、InGaO(ZnO)m1(m1は自然数)、またはIn(1+x0)Ga(1−x0)(ZnO)m0(−1≦x0≦1、m0は任意数)で表される結晶性の化合物が挙げられる。 Note that IGZO is a common name and sometimes refers to one compound of In, Ga, Zn, and O. As a typical example, InGaO 3 (ZnO) m1 (m1 is a natural number) or In (1 + x0) Ga (1-x0) O 3 (ZnO) m0 (−1 ≦ x0 ≦ 1, m0 is an arbitrary number) A crystalline compound may be mentioned.

上記結晶性の化合物は、単結晶構造、多結晶構造、またはCAAC(c−axis aligned crystal)構造を有する。なお、CAAC構造とは、複数のIGZOのナノ結晶がc軸配向を有し、かつa−b面においては配向せずに連結した結晶構造である。 The crystalline compound has a single crystal structure, a polycrystalline structure, or a CAAC (c-axis aligned crystal) structure. The CAAC structure is a crystal structure in which a plurality of IGZO nanocrystals have c-axis orientation and are connected without being oriented in the ab plane.

一方、CAC−OSは、金属酸化物の材料構成に関する。CAC−OSとは、In、Ga、Zn、及びOを含む材料構成において、一部にGaを主成分とするナノ粒子状に観察される領域と、一部にInを主成分とするナノ粒子状に観察される領域とが、それぞれモザイク状にランダムに分散している構成をいう。従って、CAC−OSにおいて、結晶構造は副次的な要素である。 On the other hand, CAC-OS relates to a material structure of a metal oxide. CAC-OS refers to a region that is observed in the form of nanoparticles mainly composed of Ga in a material structure including In, Ga, Zn, and O, and nanoparticles that are partially composed mainly of In. The region observed in a shape is a configuration in which the regions are randomly dispersed in a mosaic shape. Therefore, in the CAC-OS, the crystal structure is a secondary element.

なお、CAC−OSは、組成の異なる二種類以上の膜の積層構造は含まないものとする。例えば、Inを主成分とする膜と、Gaを主成分とする膜との2層からなる構造は、含まない。 Note that the CAC-OS does not include a stacked structure of two or more kinds of films having different compositions. For example, a structure composed of two layers of a film mainly containing In and a film mainly containing Ga is not included.

なお、GaOX3が主成分である領域と、InX2ZnY2Z2、またはInOX1が主成分である領域とは、明確な境界が観察できない場合がある。 Incidentally, a region GaO X3 is the main component, and In X2 Zn Y2 O Z2 or InO X1 is the main component region, in some cases clear boundary can not be observed.

なお、ガリウムの代わりに、アルミニウム、イットリウム、銅、バナジウム、ベリリウム、ホウ素、シリコン、チタン、鉄、ニッケル、ゲルマニウム、ジルコニウム、モリブデン、ランタン、セリウム、ネオジム、ハフニウム、タンタル、タングステン、またはマグネシウムなどから選ばれた一種、または複数種が含まれている場合、CAC−OSは、一部に該金属元素を主成分とするナノ粒子状に観察される領域と、一部にInを主成分とするナノ粒子状に観察される領域とが、それぞれモザイク状にランダムに分散している構成をいう。 In place of gallium, aluminum, yttrium, copper, vanadium, beryllium, boron, silicon, titanium, iron, nickel, germanium, zirconium, molybdenum, lanthanum, cerium, neodymium, hafnium, tantalum, tungsten, or magnesium are selected. In the case where one or a plurality of types are included, the CAC-OS includes a region that is observed in a part of a nanoparticle mainly including the metal element and a nanoparticle mainly including In. The region observed in the form of particles refers to a configuration in which each region is randomly dispersed in a mosaic shape.

CAC−OSは、例えば基板を意図的に加熱しない条件で、スパッタリング法により形成することができる。また、CAC−OSをスパッタリング法で形成する場合、成膜ガスとして、不活性ガス(代表的にはアルゴン)、酸素ガス、及び窒素ガスの中から選ばれたいずれか一つまたは複数を用いればよい。また、成膜時の成膜ガスの総流量に対する酸素ガスの流量比は低いほど好ましく、例えば酸素ガスの流量比を0%以上30%未満、好ましくは0%以上10%以下とすることが好ましい。 The CAC-OS can be formed by a sputtering method under a condition where the substrate is not intentionally heated, for example. In the case where a CAC-OS is formed by a sputtering method, any one or more selected from an inert gas (typically argon), an oxygen gas, and a nitrogen gas may be used as a deposition gas. Good. Further, the flow rate ratio of the oxygen gas to the total flow rate of the deposition gas during film formation is preferably as low as possible. .

CAC−OSは、X線回折(XRD:X−ray diffraction)測定法のひとつであるOut−of−plane法によるθ/2θスキャンを用いて測定したときに、明確なピークが観察されないという特徴を有する。すなわち、X線回折から、測定領域のa−b面方向、及びc軸方向の配向は見られないことが分かる。 The CAC-OS is characterized in that no clear peak is observed when it is measured using a θ / 2θ scan by the out-of-plane method, which is one of the X-ray diffraction (XRD) measurement methods. Have. That is, it can be seen from X-ray diffraction that no orientation in the ab plane direction and c-axis direction of the measurement region is observed.

またCAC−OSは、プローブ径が1nmの電子線(ナノビーム電子線ともいう。)を照射することで得られる電子線回折パターンにおいて、リング状に輝度の高い領域と、該リング領域に複数の輝点が観測される。従って、電子線回折パターンから、CAC−OSの結晶構造が、平面方向、及び断面方向において、配向性を有さないnc(nano−crystal)構造を有することがわかる。 In addition, in the CAC-OS, an electron diffraction pattern obtained by irradiating an electron beam with a probe diameter of 1 nm (also referred to as a nanobeam electron beam) has a ring-like region having a high luminance and a plurality of bright regions in the ring region. A point is observed. Therefore, it can be seen from the electron beam diffraction pattern that the crystal structure of the CAC-OS has an nc (nano-crystal) structure having no orientation in the planar direction and the cross-sectional direction.

また例えば、In−Ga−Zn酸化物におけるCAC−OSでは、エネルギー分散型X線分光法(EDX:Energy Dispersive X−ray spectroscopy)を用いて取得したEDXマッピングにより、GaOX3が主成分である領域と、InX2ZnY2Z2、またはInOX1が主成分である領域とが、偏在し、混合している構造を有することが確認できる。 Further, for example, in a CAC-OS in an In—Ga—Zn oxide, a region in which GaO X3 is a main component is obtained by EDX mapping obtained by using energy dispersive X-ray spectroscopy (EDX). It can be confirmed that a region in which In X2 Zn Y2 O Z2 or InO X1 is a main component is unevenly distributed and mixed.

CAC−OSは、金属元素が均一に分布したIGZO化合物とは異なる構造であり、IGZO化合物と異なる性質を有する。つまり、CAC−OSは、GaOX3などが主成分である領域と、InX2ZnY2Z2、またはInOX1が主成分である領域と、に互いに相分離し、各元素を主成分とする領域がモザイク状である構造を有する。 The CAC-OS has a structure different from that of the IGZO compound in which the metal element is uniformly distributed, and has a property different from that of the IGZO compound. That is, in the CAC-OS, a region in which GaO X3 or the like is a main component and a region in which In X2 Zn Y2 O Z2 or InO X1 is a main component are phase-separated from each other, and a region in which each element is a main component. Has a mosaic structure.

ここで、InX2ZnY2Z2、またはInOX1が主成分である領域は、GaOX3などが主成分である領域と比較して、導電性が高い領域である。つまり、InX2ZnY2Z2、またはInOX1が主成分である領域を、キャリアが流れることにより、酸化物半導体としての導電性が発現する。従って、InX2ZnY2Z2、またはInOX1が主成分である領域が、酸化物半導体中にクラウド状に分布することで、高い電界効果移動度(μ)が実現できる。 Here, the region containing In X2 Zn Y2 O Z2 or InO X1 as a main component is a region having higher conductivity than a region containing GaO X3 or the like as a main component. That, In X2 Zn Y2 O Z2 or InO X1, is an area which is the main component, by carriers flow, expressed the conductivity of the oxide semiconductor. Accordingly, a region where In X2 Zn Y2 O Z2 or InO X1 is a main component is distributed in a cloud shape in the oxide semiconductor, whereby high field-effect mobility (μ) can be realized.

一方、GaOX3などが主成分である領域は、InX2ZnY2Z2、またはInOX1が主成分である領域と比較して、絶縁性が高い領域である。つまり、GaOX3などが主成分である領域が、酸化物半導体中に分布することで、リーク電流を抑制し、良好なスイッチング動作を実現できる。 On the other hand, areas such as GaO X3 is the main component, as compared to the In X2 Zn Y2 O Z2 or InO X1 is the main component area, it is highly regions insulating. That is, a region containing GaO X3 or the like as a main component is distributed in the oxide semiconductor, whereby leakage current can be suppressed and good switching operation can be realized.

従って、CAC−OSを半導体素子に用いた場合、GaOX3などに起因する絶縁性と、InX2ZnY2Z2、またはInOX1に起因する導電性とが、相補的に作用することにより、高いオン電流(Ion)、及び高い電界効果移動度(μ)を実現することができる。 Therefore, when CAC-OS is used for a semiconductor element, the insulating property caused by GaO X3 and the like and the conductivity caused by In X2 Zn Y2 O Z2 or InO X1 act in a complementary manner, resulting in high An on-current (I on ) and high field effect mobility (μ) can be realized.

また、CAC−OSを用いた半導体素子は、信頼性が高い。従って、CAC−OSは、ディスプレイをはじめとするさまざまな半導体装置に最適である。 In addition, a semiconductor element using a CAC-OS has high reliability. Therefore, the CAC-OS is optimal for various semiconductor devices including a display.

本実施の形態は、他の実施の形態と適宜組み合わせることができる。 This embodiment can be combined with any of the other embodiments as appropriate.

(実施の形態6)
本実施の形態では、本発明の一態様の電子機器について説明する。
(Embodiment 6)
In this embodiment, an electronic device of one embodiment of the present invention will be described.

本発明の一態様により、平面を有し、信頼性の高い電子機器を作製できる。また、本発明の一態様により、曲面を有し、信頼性の高い電子機器を作製できる。また、本発明の一態様により、可撓性を有し、信頼性の高い電子機器を作製できる。 According to one embodiment of the present invention, a highly reliable electronic device having a flat surface can be manufactured. According to one embodiment of the present invention, a highly reliable electronic device having a curved surface can be manufactured. Further, according to one embodiment of the present invention, an electronic device having flexibility and high reliability can be manufactured.

電子機器としては、例えば、テレビジョン装置、デスクトップ型もしくはノート型のパーソナルコンピュータ、コンピュータ用などのモニタ、デジタルカメラ、デジタルビデオカメラ、デジタルフォトフレーム、携帯電話機、携帯型ゲーム機、携帯情報端末、音響再生装置、パチンコ機などの大型ゲーム機などが挙げられる。 Electronic devices include, for example, television devices, desktop or notebook personal computers, monitors for computers, digital cameras, digital video cameras, digital photo frames, mobile phones, portable game consoles, personal digital assistants, audio devices Large game machines such as playback devices and pachinko machines are listed.

また、本発明の一態様の表示装置は、外光の強さによらず、高い視認性を実現することができる。そのため、携帯型の電子機器、装着型の電子機器(ウェアラブル機器)、及び電子書籍端末などに好適に用いることができる。 In addition, the display device of one embodiment of the present invention can achieve high visibility regardless of the intensity of external light. Therefore, it can be suitably used for a portable electronic device, a wearable electronic device (wearable device), an electronic book terminal, and the like.

図48(A)、(B)に示す携帯情報端末800は、筐体801、筐体802、表示部803、及びヒンジ部805等を有する。 A portable information terminal 800 illustrated in FIGS. 48A and 48B includes a housing 801, a housing 802, a display portion 803, a hinge portion 805, and the like.

筐体801と筐体802は、ヒンジ部805で連結されている。携帯情報端末800は、折り畳んだ状態(図48(A))から、図48(B)に示すように展開させることができる。これにより、持ち運ぶ際には可搬性に優れ、使用するときには大きな表示領域により、視認性に優れる。 The housing 801 and the housing 802 are connected by a hinge portion 805. The portable information terminal 800 can be developed from the folded state (FIG. 48A) as shown in FIG. Thereby, when carrying, it is excellent in portability, and when using, it is excellent in visibility by a large display area.

携帯情報端末800には、ヒンジ部805により連結された筐体801と筐体802に亘って、フレキシブルな表示部803が設けられている。 The portable information terminal 800 is provided with a flexible display portion 803 across a housing 801 and a housing 802 connected by a hinge portion 805.

本発明の一態様を用いて作製された表示装置を、表示部803に用いることができる。これにより、高い歩留まりで携帯情報端末を作製することができる。 A display device manufactured using one embodiment of the present invention can be used for the display portion 803. Thereby, a portable information terminal can be manufactured with a high yield.

表示部803は、文書情報、静止画像、及び動画像等のうち少なくとも一つを表示することができる。表示部に文書情報を表示させる場合、携帯情報端末800を電子書籍端末として用いることができる。 The display unit 803 can display at least one of document information, a still image, a moving image, and the like. When displaying document information on the display unit, the portable information terminal 800 can be used as an electronic book terminal.

携帯情報端末800を展開すると、表示部803が大きく湾曲した形態で保持される。例えば、曲率半径1mm以上50mm以下、好ましくは5mm以上30mm以下に湾曲した部分を含んで、表示部803が保持される。表示部803の一部は、筐体801から筐体802にかけて、連続的に画素が配置され、曲面状の表示を行うことができる。 When the portable information terminal 800 is deployed, the display unit 803 is held in a greatly curved form. For example, the display portion 803 is held including a curved portion with a curvature radius of 1 mm to 50 mm, preferably 5 mm to 30 mm. Part of the display portion 803 can display a curved surface by continuously arranging pixels from the housing 801 to the housing 802.

表示部803は、タッチパネルとして機能し、指やスタイラスなどにより操作することができる。 The display portion 803 functions as a touch panel and can be operated with a finger, a stylus, or the like.

表示部803は、一つのフレキシブルディスプレイで構成されていることが好ましい。これにより、筐体801と筐体802の間で途切れることのない連続した表示を行うことができる。なお、筐体801と筐体802のそれぞれに、ディスプレイが設けられる構成としてもよい。 The display unit 803 is preferably composed of one flexible display. Accordingly, continuous display can be performed between the housings 801 and 802 without interruption. Note that each of the housing 801 and the housing 802 may have a display.

ヒンジ部805は、携帯情報端末800を展開したときに、筐体801と筐体802との角度が所定の角度よりも大きい角度にならないように、ロック機構を有することが好ましい。例えば、ロックがかかる(それ以上に開かない)角度は、90度以上180度未満であることが好ましく、代表的には、90度、120度、135度、150度、または175度などとすることができる。これにより、携帯情報端末800の利便性、安全性、及び信頼性を高めることができる。 The hinge portion 805 preferably has a lock mechanism so that the angle between the housing 801 and the housing 802 does not become larger than a predetermined angle when the portable information terminal 800 is deployed. For example, it is preferable that the angle at which the lock is applied (not opened further) is 90 degrees or more and less than 180 degrees, typically 90 degrees, 120 degrees, 135 degrees, 150 degrees, or 175 degrees. be able to. Thereby, the convenience, safety | security, and reliability of the portable information terminal 800 can be improved.

ヒンジ部805がロック機構を有すると、表示部803に無理な力がかかることなく、表示部803が破損することを防ぐことができる。そのため、信頼性の高い携帯情報端末を実現できる。 When the hinge portion 805 has a lock mechanism, the display portion 803 can be prevented from being damaged without applying excessive force to the display portion 803. Therefore, a highly reliable portable information terminal can be realized.

筐体801及び筐体802は、電源ボタン、操作ボタン、外部接続ポート、スピーカ、マイク等を有していてもよい。 The housing 801 and the housing 802 may include a power button, an operation button, an external connection port, a speaker, a microphone, and the like.

筐体801または筐体802のいずれか一方には、無線通信モジュールが設けられ、インターネットやLAN(Local Area Network)、Wi−Fi(Wireless Fidelity:登録商標)などのコンピュータネットワークを介して、データを送受信することが可能である。 One of the housing 801 and the housing 802 is provided with a wireless communication module, and data is transmitted through a computer network such as the Internet, a LAN (Local Area Network), and Wi-Fi (Wireless Fidelity: registered trademark). It is possible to send and receive.

図48(C)に示す携帯情報端末810は、筐体811、表示部812、操作ボタン813、外部接続ポート814、スピーカ815、マイク816、カメラ817等を有する。 A portable information terminal 810 illustrated in FIG. 48C includes a housing 811, a display portion 812, operation buttons 813, an external connection port 814, a speaker 815, a microphone 816, a camera 817, and the like.

本発明の一態様を用いて作製された表示装置を、表示部812に用いることができる。これにより、高い歩留まりで携帯情報端末を作製することができる。 A display device manufactured using one embodiment of the present invention can be used for the display portion 812. Thereby, a portable information terminal can be manufactured with a high yield.

携帯情報端末810は、表示部812にタッチセンサを備える。電話を掛ける、或いは文字を入力するなどのあらゆる操作は、指やスタイラスなどで表示部812に触れることで行うことができる。 The portable information terminal 810 includes a touch sensor in the display unit 812. Any operation such as making a call or inputting characters can be performed by touching the display portion 812 with a finger or a stylus.

また、操作ボタン813の操作により、電源のON、OFF動作や、表示部812に表示される画像の種類の切り替えを行うことができる。例えば、メール作成画面から、メインメニュー画面に切り替えることができる。 In addition, by operating the operation button 813, the power can be turned on and off, and the type of image displayed on the display portion 812 can be switched. For example, the mail creation screen can be switched to the main menu screen.

また、携帯情報端末810の内部に、ジャイロセンサまたは加速度センサ等の検出装置を設けることで、携帯情報端末810の向き(縦か横か)を判断して、表示部812の画面表示の向きを自動的に切り替えることができる。また、画面表示の向きの切り替えは、表示部812に触れること、操作ボタン813の操作、またはマイク816を用いた音声入力等により行うこともできる。 Further, by providing a detection device such as a gyro sensor or an acceleration sensor inside the portable information terminal 810, the orientation (portrait or landscape) of the portable information terminal 810 is determined, and the screen display orientation of the display unit 812 is changed. It can be switched automatically. The screen display orientation can also be switched by touching the display portion 812, operating the operation buttons 813, or inputting voice using the microphone 816.

携帯情報端末810は、例えば、電話機、手帳または情報閲覧装置等から選ばれた一つまたは複数の機能を有する。具体的には、スマートフォンとして用いることができる。携帯情報端末810は、例えば、移動電話、電子メール、文章閲覧及び作成、音楽再生、動画再生、インターネット通信、ゲームなどの種々のアプリケーションを実行することができる。 The portable information terminal 810 has one or more functions selected from, for example, a telephone, a notebook, an information browsing device, or the like. Specifically, it can be used as a smartphone. The portable information terminal 810 can execute various applications such as mobile phone, electronic mail, text browsing and creation, music playback, video playback, Internet communication, and games.

図48(D)に示すカメラ820は、筐体821、表示部822、操作ボタン823、シャッターボタン824等を有する。またカメラ820には、着脱可能なレンズ826が取り付けられている。 A camera 820 illustrated in FIG. 48D includes a housing 821, a display portion 822, operation buttons 823, a shutter button 824, and the like. A removable lens 826 is attached to the camera 820.

本発明の一態様を用いて作製された表示装置を、表示部822に用いることができる。これにより、高い歩留まりでカメラを作製することができる。 A display device manufactured using one embodiment of the present invention can be used for the display portion 822. Thereby, a camera can be manufactured with a high yield.

ここではカメラ820を、レンズ826を筐体821から取り外して交換することが可能な構成としたが、レンズ826と筐体821とが一体となっていてもよい。 Here, the camera 820 is configured such that the lens 826 can be removed from the housing 821 and replaced, but the lens 826 and the housing 821 may be integrated.

カメラ820は、シャッターボタン824を押すことにより、静止画または動画を撮像することができる。また、表示部822はタッチパネルとしての機能を有し、表示部822をタッチすることにより撮像することも可能である。 The camera 820 can capture a still image or a moving image by pressing the shutter button 824. In addition, the display portion 822 has a function as a touch panel and can capture an image by touching the display portion 822.

なお、カメラ820は、ストロボ装置や、ビューファインダーなどを別途装着することができる。または、これらが筐体821に組み込まれていてもよい。 The camera 820 can be separately attached with a strobe device, a viewfinder, and the like. Alternatively, these may be incorporated in the housing 821.

図49(A)〜(E)は、電子機器を示す図である。これらの電子機器は、筐体9000、表示部9001、スピーカ9003、操作キー9005(電源スイッチまたは操作スイッチを含む)、接続端子9006、センサ9007(力、変位、位置、速度、加速度、角速度、回転数、距離、光、液、磁気、温度、化学物質、音声、時間、硬度、電場、電流、電圧、電力、放射線、流量、湿度、傾度、振動、においまたは赤外線を測定する機能を含むもの)、マイクロフォン9008等を有する。 49A to 49E illustrate electronic devices. These electronic devices include a housing 9000, a display portion 9001, a speaker 9003, operation keys 9005 (including a power switch or an operation switch), a connection terminal 9006, and a sensor 9007 (force, displacement, position, speed, acceleration, angular velocity, rotation) Number, distance, light, liquid, magnetism, temperature, chemical substance, sound, time, hardness, electric field, current, voltage, power, radiation, flow rate, humidity, gradient, vibration, smell, or infrared) And a microphone 9008 and the like.

本発明の一態様を用いて作製された表示装置を、表示部9001に好適に用いることができる。これにより、高い歩留まりで電子機器を作製することができる。 A display device manufactured using one embodiment of the present invention can be favorably used for the display portion 9001. Thereby, an electronic device can be manufactured with a high yield.

図49(A)〜(E)に示す電子機器は、様々な機能を有することができる。例えば、様々な情報(静止画、動画、テキスト画像など)を表示部に表示する機能、タッチパネル機能、カレンダー、日付または時刻などを表示する機能、様々なソフトウェア(プログラム)によって処理を制御する機能、無線通信機能、無線通信機能を用いて様々なコンピュータネットワークに接続する機能、無線通信機能を用いて様々なデータの送信または受信を行う機能、記録媒体に記録されているプログラムまたはデータを読み出して表示部に表示する機能、等を有することができる。なお、図49(A)〜(E)に示す電子機器が有する機能はこれらに限定されず、その他の機能を有していてもよい。 The electronic devices illustrated in FIGS. 49A to 49E can have various functions. For example, a function for displaying various information (still images, moving images, text images, etc.) on the display unit, a touch panel function, a function for displaying a calendar, date or time, a function for controlling processing by various software (programs), Wireless communication function, function for connecting to various computer networks using the wireless communication function, function for transmitting or receiving various data using the wireless communication function, and reading and displaying the program or data recorded on the recording medium It can have a function of displaying on the section. Note that the functions of the electronic devices illustrated in FIGS. 49A to 49E are not limited to these, and may have other functions.

図49(A)は腕時計型の携帯情報端末9200を、図49(B)は腕時計型の携帯情報端末9201を、それぞれ示す斜視図である。 49A is a perspective view illustrating a wristwatch-type portable information terminal 9200, and FIG. 49B is a perspective view illustrating a wristwatch-type portable information terminal 9201.

図49(A)に示す携帯情報端末9200は、移動電話、電子メール、文章閲覧及び作成、音楽再生、インターネット通信、コンピュータゲームなどの種々のアプリケーションを実行することができる。また、表示部9001はその表示面が湾曲して設けられ、湾曲した表示面に沿って表示を行うことができる。また、携帯情報端末9200は、通信規格された近距離無線通信を実行することが可能である。例えば無線通信可能なヘッドセットと相互通信することによって、ハンズフリーで通話することもできる。また、携帯情報端末9200は、接続端子9006を有し、他の情報端末とコネクターを介して直接データのやりとりを行うことができる。また接続端子9006を介して充電を行うこともできる。なお、充電動作は接続端子9006を介さずに無線給電により行ってもよい。 A portable information terminal 9200 illustrated in FIG. 49A can execute various applications such as a mobile phone, e-mail, text browsing and creation, music playback, Internet communication, and computer games. Further, the display portion 9001 is provided with a curved display surface, and can perform display along the curved display surface. In addition, the portable information terminal 9200 can execute short-range wireless communication with a communication standard. For example, it is possible to talk hands-free by communicating with a headset capable of wireless communication. In addition, the portable information terminal 9200 includes a connection terminal 9006 and can directly exchange data with other information terminals via a connector. Charging can also be performed through the connection terminal 9006. Note that the charging operation may be performed by wireless power feeding without using the connection terminal 9006.

図49(B)に示す携帯情報端末9201は、図49(A)に示す携帯情報端末と異なり、表示部9001の表示面が湾曲していない。また、携帯情報端末9201の表示部の外形が非矩形状(図49(B)においては円形状)である。 A portable information terminal 9201 illustrated in FIG. 49B is different from the portable information terminal illustrated in FIG. 49A in that the display surface of the display portion 9001 is not curved. Further, the external shape of the display portion of the portable information terminal 9201 is a non-rectangular shape (a circular shape in FIG. 49B).

図49(C)〜(E)は、折り畳み可能な携帯情報端末9202を示す斜視図である。なお、図49(C)が携帯情報端末9202を展開した状態の斜視図であり、図49(D)が携帯情報端末9202を展開した状態または折り畳んだ状態の一方から他方に変化する途中の状態の斜視図であり、図49(E)が携帯情報端末9202を折り畳んだ状態の斜視図である。 49C to 49E are perspective views illustrating a foldable portable information terminal 9202. FIG. Note that FIG. 49C is a perspective view of a state in which the portable information terminal 9202 is expanded, and FIG. 49D is a state in which the portable information terminal 9202 is expanded or changed from one of the folded state to the other. FIG. 49E is a perspective view of the portable information terminal 9202 folded.

携帯情報端末9202は、折り畳んだ状態では可搬性に優れ、展開した状態では、継ぎ目のない広い表示領域により表示の一覧性に優れる。携帯情報端末9202が有する表示部9001は、ヒンジ9055によって連結された3つの筐体9000に支持されている。ヒンジ9055を介して2つの筐体9000間を屈曲させることにより、携帯情報端末9202を展開した状態から折りたたんだ状態に可逆的に変形させることができる。例えば、携帯情報端末9202は、曲率半径1mm以上150mm以下で曲げることができる。 The portable information terminal 9202 is excellent in portability in the folded state, and in the expanded state, the portable information terminal 9202 is excellent in display listability due to a seamless wide display area. A display portion 9001 included in the portable information terminal 9202 is supported by three housings 9000 connected by a hinge 9055. By bending between the two housings 9000 via the hinge 9055, the portable information terminal 9202 can be reversibly deformed from the expanded state to the folded state. For example, the portable information terminal 9202 can be bent with a curvature radius of 1 mm to 150 mm.

本実施の形態は、他の実施の形態と適宜組み合わせることができる。 This embodiment can be combined with any of the other embodiments as appropriate.

10A 表示装置
10B 表示装置
14 作製基板
14A 表示部
14B 表示部
19 金属層
20 金属酸化物層
23 樹脂層
24 第1の層
30 画素ユニット
30A 画素ユニット
30B 画素ユニット
31 絶縁層
31B 表示素子
31G 表示素子
31W 表示素子
31p 画素
31R 表示素子
32B 表示素子
32G 表示素子
32p 画素
32R 表示素子
35r 光
35t 光
35tr 光
55 レーザ光
56 積層体
56a 被剥離体
56b 支持体
57a 第1の層
57b 第2の層
58 作製基板
65 バックライトユニット
90 金属酸化物層
90a 金属酸化物層
90b 金属酸化物層
91a 絶縁層
91b 絶縁層
93 樹脂層
93a 樹脂層
93b 樹脂層
94 作製基板
94a 作製基板
94b 作製基板
97 接着層
100 表示装置
112 液晶層
113 電極
113a 電極
115 絶縁層
117 絶縁層
121 絶縁層
131 着色層
132 遮光層
133a 配向膜
133b 配向膜
135a 偏光板
135b 偏光板
136 光拡散層
141 接着層
142 接着層
153a 配向膜
153b 配向膜
170 液晶素子
180 液晶素子
191 電極
191a 電極
192 液晶層
193 電極
201 トランジスタ
203 導電層
204 接続部
205 トランジスタ
206 トランジスタ
207 接続部
211 絶縁層
211a 絶縁層
211b 絶縁層
212 絶縁層
213 絶縁層
214 絶縁層
215 絶縁層
220 絶縁層
220a 絶縁層
220b 絶縁層
221a 導電層
221b 導電層
221c 導電層
222a 導電層
222b 導電層
223 導電層
224 導電層
225 絶縁層
226 被覆膜
227 レンズ
228 導電層
231 半導体層
232 絶縁層
242 接続層
242a 接続層
242b 接続層
243 接続体
244 接続体
252 接続部
253 接続部
254 接続部
300A 表示装置
300B 表示装置
300C 表示装置
300D 表示装置
300E 表示装置
300F 表示装置
300G 表示装置
300H 表示装置
300J 表示装置
311a 電極
311b 電極
311c 電極
311d 電極
311e 電極
311f 電極
311g 電極
311h 電極
331 導電層
332 絶縁層
333 導電層
334 導電層
335 絶縁層
336 導電層
351 基板
361 基板
362 表示部
364 回路
365 配線
372 FPC
372a FPC
372b FPC
373 IC
390 基板
392 接着層
396 反射防止部材
451 開口
501 表示素子
506 画素回路
521 電極
522 電極
551 パルス電圧出力回路
552 電流検出回路
553 容量
610 レーザ照射ユニット
610a レーザ光
610b レーザ光
610c レーザ光
610d レーザ光
610e 線状ビーム
635 光学系
640 加工領域
644 搬送ローラ
650 ミラー
660 エキシマレーザ装置
680 レンズ
700 表示装置
701 表示部
710 画素
740 液晶素子
751 開口
760 液晶素子
760b 液晶素子
760g 液晶素子
760r 液晶素子
761 電極
800 携帯情報端末
801 筐体
802 筐体
803 表示部
805 ヒンジ部
810 携帯情報端末
811 筐体
812 表示部
813 操作ボタン
814 外部接続ポート
815 スピーカ
816 マイク
817 カメラ
820 カメラ
821 筐体
822 表示部
823 操作ボタン
824 シャッターボタン
826 レンズ
9000 筐体
9001 表示部
9003 スピーカ
9005 操作キー
9006 接続端子
9007 センサ
9008 マイクロフォン
9055 ヒンジ
9200 携帯情報端末
9201 携帯情報端末
9202 携帯情報端末
10A Display device 10B Display device 14 Fabrication substrate 14A Display unit 14B Display unit 19 Metal layer 20 Metal oxide layer 23 Resin layer 24 First layer 30 Pixel unit 30A Pixel unit 30B Pixel unit 31 Insulating layer 31B Display element 31G Display element 31W Display element 31p Pixel 31R Display element 32B Display element 32G Display element 32p Pixel 32R Display element 35r Light 35t Light 35tr Light 55 Laser light 56 Laminated body 56a Separation body 56b Support body 57a First layer 57b Second layer 58 Fabrication substrate 65 Backlight unit 90 Metal oxide layer 90a Metal oxide layer 90b Metal oxide layer 91a Insulating layer 91b Insulating layer 93 Resin layer 93a Resin layer 93b Resin layer 94 Fabrication substrate 94a Fabrication substrate 94b Fabrication substrate 97 Adhesive layer 100 Display device 112 Liquid crystal layer 113 Electrode 113a Electrode 115 Insulating layer 117 Insulating layer 121 Insulating layer 131 Colored layer 132 Light shielding layer 133a Alignment film 133b Alignment film 135a Polarizing plate 135b Polarizing plate 136 Light diffusion layer 141 Adhesive layer 142 Adhesive layer 153a Alignment film 153b Alignment film 170 Liquid crystal element 180 Liquid crystal element 191 electrode 191a electrode 192 liquid crystal layer 193 electrode 201 transistor 203 conductive layer 204 connection part 205 transistor 206 transistor 207 connection part 211 insulating layer 211a insulating layer 211b insulating layer 212 insulating layer 213 insulating layer 214 insulating layer 215 insulating layer 220 insulating layer 220a insulating Layer 220b Insulating layer 221a Conductive layer 221b Conductive layer 221c Conductive layer 222a Conductive layer 222b Conductive layer 223 Conductive layer 224 Conductive layer 225 Insulating layer 226 Covering film 227 Lens 228 Conductive layer 231 Semiconductor layer 2 2 Insulating layer 242 Connection layer 242a Connection layer 242b Connection layer 243 Connection body 244 Connection body 252 Connection section 253 Connection section 254 Connection section 300A Display device 300B Display device 300C Display device 300D Display device 300F Display device 300G Display device 300H Display Device 300J Display device 311a Electrode 311b Electrode 311c Electrode 311d Electrode 311e Electrode 311f Electrode 311g Electrode 311h Electrode 331 Conductive layer 332 Insulating layer 333 Conductive layer 334 Conductive layer 335 Insulating layer 336 Conductive layer 351 Substrate 361 Substrate 362 Display unit 364 Circuit 365 FPC
372a FPC
372b FPC
373 IC
390 Substrate 392 Adhesion layer 396 Antireflection member 451 Opening 501 Display element 506 Pixel circuit 521 Electrode 522 Electrode 551 Pulse voltage output circuit 552 Current detection circuit 553 Capacitor 610 Laser irradiation unit 610a Laser beam 610b Laser beam 610c Laser beam 610d Laser beam 610e Line Beam 635 Optical system 640 Processing region 644 Transport roller 650 Mirror excimer laser device 680 Lens 700 Display device 701 Display unit 710 Pixel 740 Liquid crystal element 751 Opening 760 Liquid crystal element 760b Liquid crystal element 760g Liquid crystal element 760r Liquid crystal element 761 Electrode 800 Portable information terminal 801 Housing 802 Housing 803 Display unit 805 Hinge unit 810 Portable information terminal 811 Housing 812 Display unit 813 Operation button 814 External connection port 815 Speaker 81 Microphone 817 Camera 820 Camera 821 Case 822 Display unit 823 Operation button 824 Shutter button 826 Lens 9000 Case 9001 Display unit 9003 Speaker 9005 Operation key 9006 Connection terminal 9007 Sensor 9008 Microphone 9055 Hinge 9200 Mobile information terminal 9201 Mobile information terminal 9202 Mobile information Terminal

Claims (20)

第1の基板と第2の基板の間に、第1の液晶層を有する第1の表示素子と、第2の液晶層を有する第2の表示素子と、を有する表示装置の作製方法であり、
前記第1の基板上に、第1の共通電極を形成する工程と、
前記第2の基板上に、第2の共通電極を形成する工程と、
作製基板上に、第1の層を形成する工程と、
前記第1の層上に、第2の層を形成する工程と、
前記第2の層上に、第1の画素電極を形成する工程と、
前記第1の画素電極上に、絶縁層を形成する工程と、
前記絶縁層上に、第2の画素電極を形成する工程と、
前記第2の共通電極と前記第2の画素電極との間に前記第2の液晶層を配置した状態で、前記作製基板と前記第2の基板とを貼り合わせることで、前記第2の表示素子を形成する工程と、
光を照射することで、前記第1の層と前記第2の層とを分離する工程と、
前記第1の共通電極と前記第1の画素電極との間に前記第1の液晶層を配置した状態で、前記第1の基板と前記第2の基板とを貼り合わせることで、前記第1の表示素子を形成する工程と、を有する、表示装置の作製方法。
A method for manufacturing a display device including a first display element having a first liquid crystal layer and a second display element having a second liquid crystal layer between a first substrate and a second substrate. ,
Forming a first common electrode on the first substrate;
Forming a second common electrode on the second substrate;
Forming a first layer on the manufacturing substrate;
Forming a second layer on the first layer;
Forming a first pixel electrode on the second layer;
Forming an insulating layer on the first pixel electrode;
Forming a second pixel electrode on the insulating layer;
In the state where the second liquid crystal layer is disposed between the second common electrode and the second pixel electrode, the manufacturing substrate and the second substrate are bonded to each other, so that the second display is performed. Forming an element;
Separating the first layer and the second layer by irradiating with light;
The first substrate and the second substrate are bonded together in a state where the first liquid crystal layer is disposed between the first common electrode and the first pixel electrode. Forming a display element. A method for manufacturing a display device.
請求項1において、
前記第1の共通電極を形成する工程の前に、前記第1の基板上に機能層を形成する工程を有し、
前記機能層は、検知素子及び着色層のうち一方または双方を有するように形成される、表示装置の作製方法。
In claim 1,
A step of forming a functional layer on the first substrate before the step of forming the first common electrode;
The method for manufacturing a display device, wherein the functional layer is formed to have one or both of a sensing element and a colored layer.
第1の基板と第2の基板の間に、第1の液晶層を有する第1の表示素子と、第2の液晶層を有する第2の表示素子と、を有する表示装置の作製方法であり、
第1の作製基板上に、第1の剥離層を形成する工程と、
前記第1の剥離層上に、第1の共通電極を形成する工程と、
前記第2の基板上に、第2の共通電極を形成する工程と、
第2の作製基板上に、第2の剥離層を形成する工程と、
前記第2の剥離層上に、第1の画素電極を形成する工程と、
前記第1の画素電極上に、絶縁層を形成する工程と、
前記絶縁層上に、第2の画素電極を形成する工程と、
前記第2の共通電極と前記第2の画素電極との間に前記第2の液晶層を配置した状態で、前記第2の作製基板と前記第2の基板とを貼り合わせることで、前記第2の表示素子を形成する工程と、
前記第2の剥離層を用いて、前記第2の作製基板と前記第2の基板とを分離する工程と、
前記第1の共通電極と前記第1の画素電極との間に前記第1の液晶層を配置した状態で、前記第1の作製基板と前記第2の基板とを貼り合わせることで、前記第1の表示素子を形成する工程と、
前記第1の剥離層を用いて、前記第1の作製基板と前記第2の基板とを分離する工程と、
前記第1の基板と前記第2の基板との間に前記第1の表示素子を配置した状態で、前記第1の基板と前記第2の基板とを貼り合わせる工程と、を有し、
前記第1の剥離層及び前記第2の剥離層のうち一方または双方は、第1の層と、前記第1の層上の第2の層を有するように形成され、
前記第2の作製基板と前記第2の基板とを分離する工程、及び、前記第1の作製基板と前記第2の基板とを分離する工程のうち一方または双方では、光が照射されることで、前記第1の層と前記第2の層とが分離する、表示装置の作製方法。
A method for manufacturing a display device including a first display element having a first liquid crystal layer and a second display element having a second liquid crystal layer between a first substrate and a second substrate. ,
Forming a first release layer on a first manufacturing substrate;
Forming a first common electrode on the first release layer;
Forming a second common electrode on the second substrate;
Forming a second release layer on the second manufacturing substrate;
Forming a first pixel electrode on the second release layer;
Forming an insulating layer on the first pixel electrode;
Forming a second pixel electrode on the insulating layer;
By bonding the second manufacturing substrate and the second substrate in a state where the second liquid crystal layer is disposed between the second common electrode and the second pixel electrode, Forming a display element of 2;
Separating the second preparation substrate and the second substrate using the second release layer;
In the state where the first liquid crystal layer is disposed between the first common electrode and the first pixel electrode, the first manufacturing substrate and the second substrate are bonded to each other. Forming a display element of 1;
Separating the first manufacturing substrate and the second substrate using the first release layer;
Bonding the first substrate and the second substrate with the first display element disposed between the first substrate and the second substrate, and
One or both of the first release layer and the second release layer are formed to have a first layer and a second layer on the first layer,
Light is irradiated in one or both of the step of separating the second manufacturing substrate and the second substrate and the step of separating the first manufacturing substrate and the second substrate. Thus, the method for manufacturing a display device, in which the first layer and the second layer are separated.
請求項3において、
前記第1の共通電極を形成する工程の前に、前記第1の剥離層上に第1の機能層を形成する工程を有し、
前記第1の機能層は、検知素子及び着色層のうち一方または双方を有するように形成される、表示装置の作製方法。
In claim 3,
A step of forming a first functional layer on the first release layer before the step of forming the first common electrode;
The method for manufacturing a display device, wherein the first functional layer is formed to include one or both of a detection element and a colored layer.
請求項3または4において、
前記第1の基板は、第2の機能層が設けられている面を有し、
前記第1の基板と前記第2の基板とを貼り合わせる工程は、前記第1の基板と前記第2の基板との間に前記第2の機能層を配置した状態で行われ、
前記第2の機能層は、光拡散層及び前記偏光板のうち一方または双方を有するように形成される、表示装置の作製方法。
In claim 3 or 4,
The first substrate has a surface on which a second functional layer is provided,
The step of bonding the first substrate and the second substrate is performed with the second functional layer disposed between the first substrate and the second substrate,
The method for manufacturing a display device, wherein the second functional layer is formed to have one or both of a light diffusion layer and the polarizing plate.
請求項3において、
第3の作製基板上に、第3の剥離層を形成する工程と、
前記第3の剥離層上に、機能層を形成する工程と、を有し、さらに、
前記第1の基板と前記第2の基板とを貼り合わせる工程の前に、前記第3の作製基板と前記第1の基板との間に前記第3の剥離層を配置した状態で、前記第3の作製基板と前記第1の基板とを貼り合わせる工程と、前記第3の剥離層を用いて、前記第3の作製基板と前記第1の基板とを分離する工程と、を有し、
前記第1の基板と前記第2の基板とを貼り合わせる工程は、前記第1の基板と前記第2の基板との間に前記機能層を配置した状態で行われ、
前記機能層は、検知素子、光拡散層、及び偏光板のうち一つまたは複数を有するように形成される、表示装置の作製方法。
In claim 3,
Forming a third release layer on a third manufacturing substrate;
Forming a functional layer on the third release layer, and
Before the step of bonding the first substrate and the second substrate, the third release layer is disposed between the third manufacturing substrate and the first substrate, A step of bonding the third production substrate and the first substrate, and a step of separating the third production substrate and the first substrate using the third release layer,
The step of bonding the first substrate and the second substrate is performed in a state where the functional layer is disposed between the first substrate and the second substrate,
The method for manufacturing a display device, wherein the functional layer is formed to include one or more of a sensing element, a light diffusion layer, and a polarizing plate.
請求項3乃至6のいずれか一において、
前記第1の基板に、厚さ0.1mm以上0.5mm未満のガラス基板を用いる、表示装置の作製方法。
In any one of Claims 3 thru | or 6,
A manufacturing method of a display device, wherein a glass substrate having a thickness of 0.1 mm or more and less than 0.5 mm is used for the first substrate.
請求項3乃至6のいずれか一において、
前記第1の基板に、厚さ1μm以上200μm以下の樹脂基板を用いる、表示装置の作製方法。
In any one of Claims 3 thru | or 6,
A method for manufacturing a display device, wherein a resin substrate with a thickness of 1 μm to 200 μm is used for the first substrate.
請求項1乃至8のいずれか一において、
前記第1の画素電極は、可視光を反射する機能を有するように形成され、
前記第2の画素電極、前記第1の共通電極、及び前記第2の共通電極は、それぞれ、可視光を透過する機能を有するように形成される、表示装置の作製方法。
In any one of Claims 1 thru | or 8,
The first pixel electrode is formed to have a function of reflecting visible light,
The display device manufacturing method, wherein each of the second pixel electrode, the first common electrode, and the second common electrode has a function of transmitting visible light.
請求項1乃至9のいずれか一において、
前記第1の基板の、前記第2の基板側の面とは逆側の面に、反射防止部材が設けられる、表示装置の作製方法。
In any one of Claims 1 thru | or 9,
A method for manufacturing a display device, wherein an antireflection member is provided on a surface of the first substrate opposite to the surface on the second substrate side.
請求項10において、
前記反射防止部材は、凸部を有するように設けられる、表示装置の作製方法。
In claim 10,
The method for manufacturing a display device, wherein the antireflection member is provided to have a convex portion.
請求項1乃至11のいずれか一において、
前記液晶層は、二色性色素を有するように設けられる、表示装置の作製方法。
In any one of Claims 1 thru | or 11,
The method for manufacturing a display device, wherein the liquid crystal layer is provided so as to have a dichroic dye.
請求項1乃至12のいずれか一において、
前記第2の画素電極を形成する工程の前に、前記絶縁層上に、チャネル形成領域に金属酸化物を有するトランジスタを形成する工程を有する、表示装置の作製方法。
In any one of Claims 1 thru | or 12,
A method for manufacturing a display device, including a step of forming a transistor including a metal oxide in a channel formation region over the insulating layer before the step of forming the second pixel electrode.
請求項1乃至13のいずれか一において、
前記第1の層と前記第2の層とを分離する工程の後に、前記第2の基板を含む積層体の露出面に残存する前記第2の層を除去する工程を有する、表示装置の作製方法。
In any one of Claims 1 thru | or 13,
Manufacturing of a display device, comprising a step of removing the second layer remaining on an exposed surface of the stacked body including the second substrate after the step of separating the first layer and the second layer. Method.
請求項14において、
前記第2の層を除去する工程では、アッシングが行われる、表示装置の作製方法。
In claim 14,
A method for manufacturing a display device, wherein ashing is performed in the step of removing the second layer.
請求項1乃至15のいずれか一において、
前記第2の層は、厚さが0.1μm以上5μm以下の領域を有するように形成される、表示装置の作製方法。
In any one of Claims 1 thru | or 15,
The method for manufacturing a display device, wherein the second layer is formed to have a region with a thickness of 0.1 μm to 5 μm.
請求項1乃至16のいずれか一において、
前記光として、レーザ光を用い、
前記レーザ光が、前記第1の層と前記第2の層との界面またはその近傍に照射されることにより、前記第1の層と前記第2の層とが分離する、表示装置の作製方法。
In any one of Claims 1 thru | or 16,
Laser light is used as the light,
A method for manufacturing a display device, wherein the first layer and the second layer are separated by irradiating the laser beam to an interface between the first layer and the second layer or the vicinity thereof. .
請求項1乃至17のいずれか一において、
前記第1の層は、チタン及び酸化チタンのうち一方または双方を有するように形成される、表示装置の作製方法。
In any one of Claims 1 thru | or 17,
The method for manufacturing a display device, wherein the first layer is formed to include one or both of titanium and titanium oxide.
請求項1乃至18のいずれか一において、
前記第2の層は、構造式(100)で表される化合物の残基を有するように形成される、表示装置の作製方法。
In any one of Claims 1 thru | or 18,
The method for manufacturing a display device, wherein the second layer is formed so as to have a residue of the compound represented by Structural Formula (100).
請求項1乃至19のいずれか一において、
前記第2の層は、開口を有するように形成され、
前記開口を覆うように、導電層が形成され、
前記第1の層と前記第2の層とが分離することで、前記導電層が露出する、表示装置の作製方法。
In any one of Claims 1 thru | or 19,
The second layer is formed to have an opening;
A conductive layer is formed so as to cover the opening,
A method for manufacturing a display device, wherein the conductive layer is exposed by separating the first layer and the second layer.
JP2016207145A 2016-10-21 2016-10-21 How to make a display device Active JP6910127B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016207145A JP6910127B2 (en) 2016-10-21 2016-10-21 How to make a display device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016207145A JP6910127B2 (en) 2016-10-21 2016-10-21 How to make a display device

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2018066944A true JP2018066944A (en) 2018-04-26
JP2018066944A5 JP2018066944A5 (en) 2019-12-05
JP6910127B2 JP6910127B2 (en) 2021-07-28

Family

ID=62087168

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016207145A Active JP6910127B2 (en) 2016-10-21 2016-10-21 How to make a display device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6910127B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113748372A (en) * 2020-03-27 2021-12-03 京东方科技集团股份有限公司 Bar-shaped display structure, display panel and display device

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01179580A (en) * 1988-01-11 1989-07-17 Toshiba Corp Picture display device using liquid crystal
JPH10206896A (en) * 1996-11-22 1998-08-07 Seiko Epson Corp Manufacture of active matrix substrate, active matrix substrate, and liquid crystal display device
JP2004070069A (en) * 2002-08-07 2004-03-04 Ricoh Co Ltd Manufacturing method of laminated substrate, and manufacturing method of laminated liquid crystal display element
JP2007041536A (en) * 2005-05-20 2007-02-15 Sanyo Epson Imaging Devices Corp Display device and liquid crystal display device
JP2007264609A (en) * 2006-03-03 2007-10-11 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Method for manufacturing semiconductor device
US20090258564A1 (en) * 2008-04-14 2009-10-15 Samsung Electronics Co., Ltd. Method of manufacturing display apparatus
JP2012141597A (en) * 2010-12-14 2012-07-26 Sumitomo Chemical Co Ltd Production method of polarizing film
WO2013008540A1 (en) * 2011-07-14 2013-01-17 東京応化工業株式会社 Laminated body, separating method, and manufacturing method
JP2016018212A (en) * 2014-07-04 2016-02-01 ザ・スウォッチ・グループ・リサーチ・アンド・ディベロップメント・リミテッド Display assembly including two superposed display devices
JP2016173815A (en) * 2015-03-17 2016-09-29 株式会社半導体エネルギー研究所 Touch panel
JP2016177284A (en) * 2015-03-19 2016-10-06 株式会社半導体エネルギー研究所 Liquid crystal display device and electronic device using liquid crystal display device

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01179580A (en) * 1988-01-11 1989-07-17 Toshiba Corp Picture display device using liquid crystal
JPH10206896A (en) * 1996-11-22 1998-08-07 Seiko Epson Corp Manufacture of active matrix substrate, active matrix substrate, and liquid crystal display device
JP2004070069A (en) * 2002-08-07 2004-03-04 Ricoh Co Ltd Manufacturing method of laminated substrate, and manufacturing method of laminated liquid crystal display element
JP2007041536A (en) * 2005-05-20 2007-02-15 Sanyo Epson Imaging Devices Corp Display device and liquid crystal display device
JP2007264609A (en) * 2006-03-03 2007-10-11 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Method for manufacturing semiconductor device
US20090258564A1 (en) * 2008-04-14 2009-10-15 Samsung Electronics Co., Ltd. Method of manufacturing display apparatus
JP2012141597A (en) * 2010-12-14 2012-07-26 Sumitomo Chemical Co Ltd Production method of polarizing film
WO2013008540A1 (en) * 2011-07-14 2013-01-17 東京応化工業株式会社 Laminated body, separating method, and manufacturing method
JP2016018212A (en) * 2014-07-04 2016-02-01 ザ・スウォッチ・グループ・リサーチ・アンド・ディベロップメント・リミテッド Display assembly including two superposed display devices
JP2016173815A (en) * 2015-03-17 2016-09-29 株式会社半導体エネルギー研究所 Touch panel
JP2016177284A (en) * 2015-03-19 2016-10-06 株式会社半導体エネルギー研究所 Liquid crystal display device and electronic device using liquid crystal display device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113748372A (en) * 2020-03-27 2021-12-03 京东方科技集团股份有限公司 Bar-shaped display structure, display panel and display device
CN113748372B (en) * 2020-03-27 2023-10-10 京东方科技集团股份有限公司 Bar display structure, display panel and display device

Also Published As

Publication number Publication date
JP6910127B2 (en) 2021-07-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7460314B2 (en) Method for manufacturing a display device
JP7076959B2 (en) Peeling method
CN109891551B (en) Method for manufacturing semiconductor device
JP6983569B2 (en) Manufacturing method of semiconductor device
JP6961419B2 (en) Manufacturing method of semiconductor device
US10693097B2 (en) Display device including two display elements, display module, electronic device, and method for manufacturing display device
JP6871253B2 (en) How to make a display device
JP2018064088A (en) Semiconductor device manufacturing method
JP6910127B2 (en) How to make a display device
JP6999315B2 (en) How to make a display device
JP6931985B2 (en) How to make a display device
JP6865013B2 (en) How to make a display device
JP2018032016A (en) Display device, display module, electronic apparatus, and method of manufacturing display device
JP2018010229A (en) Display device, display module, electronic apparatus, and method of making display device
JP2018013725A (en) Method of manufacturing display device, display module, and electronic apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20191021

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20191021

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200630

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20201117

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210118

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20210615

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210706

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6910127

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250