JP2018064131A - 光トランシーバ及び装置 - Google Patents

Abstract

【課題】光経路の劣化を正しく判定できる確率を向上させることが可能であり、かつ、前記光経路の特性劣化を測定するための装置を光トランシーバの外部に設けないことを可能にする、光トランシーバ等の提供。【解決手段】光トランシーバは、発光部と、受光部と、判定部とを備える。前記発光部は、第二の光トランシーバに対し光経路を介して第一の光信号を送る。前記受光部は、前記第二の光トランシーバから前記光経路を介して送られる第二の光信号を受ける。前記判定部は、所定のタイミングで取得した前記第二の光信号の前記受光部が受ける受光光量を表す値の初期値からの変化量についての判定の結果の出力を行う。【選択図】 図１

Description

本発明は、他の光装置との間で光通信を行う光装置に関する。

光トランシーバ間をつなぐ光ファイバ等の光経路が経年変化などにより劣化すると、通信品質の低下が生じ、最悪の場合は通信の切断が発生する。特に、光ネットワークの末端部分であるアクセス系で使用される光経路は、例えば移動体無線通信の基地局や事務所、工場などに引き入れられており、常に外部環境の影響にさらされている状態にある。そのため、当該光経路は常に劣化し得る状態にある。

そのため、光通信が不能になる前の、光通信の品質が低下する初期の段階で前記光経路の劣化を検出し速やかに対策を行うことが要求される。

ここで、特許文献１は、前に記憶した入力された光信号の振幅レベルのディジタル値と次に記憶した前記ディジタル値を比較し、一定値を超える差がある場合に警報信号を出力する比較回路を有する光受信装置を開示する。

また、特許文献２は、モニタ情報に基づき、前記受信パワーレベルのモニタ値が光伝送路の変動を超えて減少する場合に、前記光源の出力パワー状態の記録を更新する光送受信器を開示する。

また、特許文献３は、前記受信機での受光レベルが基準レベルを下回ったとき、その後の一定期間内における受光レベルの上下変動の態様に基づいて受光レベルの低下要因を判定する伝送障害判定装置を開示する。

また、特許文献４は、監視対象の信号について、その信号値と、あらかじめ設定された閾値との差分値を時間順次に算出し、時間順次に算出される前記差分値を、あらかじめ定められる規則により更新して記憶する信号監視装置を開示する。

特開平０４−２４２１１６号公報 特開２０１６−０９６５１１号公報 特開２００４−１７２７４１号公報 特許第５４１５６５１号公報

特許文献１が開示する方法は、光信号の振幅レベルのディジタル値を一回前の測定時の前記ディジタル値とのみ比較する。そのため、同方法は信号レベルが少しずつ低下して大きな低下に至るような場合は、振幅レベルの異常を検出することができない場合がある。

さらに、特許文献１が開示する方法を適用した場合、光トランシーバの外部に前記比較回路を設けることが想定されると考えられる。前記光経路においては、設置場所や電源確保上の制限がある。そのため、前記光経路に、前記比較回路を設けた専用の測定器を設置する事は困難である。

本発明は、光経路の劣化を正しく判定できる確率を向上させることが可能であり、かつ、前記光経路の特性劣化を測定するための装置を光トランシーバの外部に設けないことを可能にする、光トランシーバ等の提供を目的とする。

本発明の光トランシーバは、発光部と受光部と判定部とを備える。前記発光部は、第二の光トランシーバに対し光経路を介して第一の光信号を送る。前記受光部は、前記第二の光トランシーバから前記光経路を介して送られる第二の光信号を受ける。前記判定部は、所定のタイミングで取得した前記第二の光信号の前記受光部が受ける受光光量を表す値の初期値からの変化量についての判定の結果の出力を行う。

本発明の光トランシーバ等は、光経路の劣化を正しく判定できる確率を向上させることが可能であり、かつ、前記光経路の特性劣化を測定するための装置を光トランシーバの外部に設けないことを可能にする。

本実施形態の光トランシーバの構成例を表す概念図である。 光調整部の構成例を表す概念図である。 処理部の構成例を表す概念図である。 メモリが保持する情報例を表す概念図である。 記録部が保持する情報例を表す概念図である。 モニタ処理部が行う処理の処理フロー例を表す概念図である。 本発明の光トランシーバの最小限の構成を表すブロック図である。

［構成と動作］
図１は、本実施形態の光トランシーバの例である光トランシーバ１０１の構成を表す概念図である。図１には、装置１１１、配線１６１ｄ、光経路１２１ｅ及び光トランシーバ１０８を併せて表してある。ここで、装置１１１は、光トランシーバ１０１との間で配線１６１ｄを介して情報の授受を行う装置である。また、光トランシーバ１０８は、光経路１２１ｅを介して光トランシーバ１０１との間で光通信を行う、光トランシーバ１０１の相手方の光トランシーバである。

光トランシーバ１０１は、光調整部１４１と、発光部１０２ａと、受光部１０３ａと、処理部１０４と、駆動部１０５とを備える。光トランシーバ１０１は、さらに、光経路１２１ａ、１２１ｂと、配線１５１ａ、１５１ｂ、１６１ａとを備える。

光トランシーバ１０１の備える上述の各構成は、図示しない同一のケース（筐体）内に収められている。

駆動部１０５は、処理部１０４から配線１５１ａを通じて送られる信号により、発光部１０２ａを駆動する駆動信号を生成する。そして、駆動部１０５は、生成した駆動信号を、配線１６１ａを通じて、発光部１０２ａに送る。当該駆動信号は、装置１１１から処理部１０４を介して送られた情報に基づき生成される。

発光部１０２ａは、駆動部１０５からの駆動信号により駆動され、当該駆動信号に対応する光信号を光経路１２１ａに導く。発光部１０２ａは、例えばレーザダイオードを備える。

光経路１２１ａは、発光部１０２ａにより入射された光信号を光調整部１４１に導く。光経路１２１ａは、例えば光ファイバである。

光調整部１４１は、光経路１２１ａから導かれた光信号を光経路１２１ｅに導く。光調整部１４１は、また、光トランシーバ１０８が光経路１２１ｅを通じて送る光信号を、光経路１２１ｂに導く。

光経路１２１ｂは、光調整部１４１から導かれた光信号を、受光部１０３ａに導く。

受光部１０３ａは、光経路１２１ｂから導かれた光信号を、当該光信号に対応する電圧信号に変換する。そして、変換した電圧信号を、配線１５１ｂを通じて、処理部１０４に送る。当該電圧信号に含まれる情報は、処理部１０４を通じて装置１１１に送られる。そして、装置１１１は当該情報に基づき所定の動作を行う。

処理部１０４は、配線１６１ｄを通じて装置１１１から送られた情報に基づき、配線１５１ａを通じて、駆動部１０５に対し、駆動部１０５が前記駆動信号を生成するための信号を送る。

処理部１０４は、また、受光部１０３ａから配線１５１ｂを通じて送られた前記電圧信号に対し処理を行い、処理後の情報を、配線１６１ｄを通じて、装置１１１に送る。

処理部１０４は、さらに、前記電圧信号の電圧レベルを取得する。そして、処理部１０４は、取得した電圧レベルを所定のタイミングで、処理部１０４が備える図示しない記録部に記録する。そして、処理部１０４は、記録した電圧レベルの初期値からの低下量が、あらかじめ定められた閾値を超えたかについての判定を行う。そして、処理部１０４は、記録した電圧レベルが、あらかじめ定められた閾値を下回っていることを判定した場合は、その旨を表す情報を記録部に記録する。

前記その旨を表す情報は、外部に出力される。当該出力は、例えば、Ｉｎｔｅｒ−Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ等のシリアルバスを経由して行われる。

光トランシーバ１０１は、光調整部１４１及び光経路１２１ａ、１２１ｂを備えなくても構わない。その場合は、光経路１２１ｅが、光調整部１４１及び光経路１２１ａ、１２１ｂに相当する構成を備える。

図２は、図１に表す光調整部１４１の例である光調整部１４１ａの構成を表す概念図である。

光調整部１４１ａは、光サーキュレータ１４２を備える。

光経路１２１ａから光サーキュレータ１４２の端子１４３ａに入力された光信号は、端子１４３ｂから光経路１２１ｅに導かれる。また、光経路１２１ｅから光サーキュレータ１４２の端子１４３ｂに入力された光信号は、端子１４３ｃから光経路１２１ｂに導かれる。

図３は、図１に表す処理部１０４の例である処理部１０４ａの構成を表す概念図である。

処理部１０４ａは、送信処理部１１９ａと、受信処理部１２２ａと、電圧モニタ部１２３ａとを備える。

送信処理部１１９ａは、図１に表す装置１１１から配線１６１ｄを通じて送られた情報に基づき、前述の駆動信号を作成するための信号を作成する。当該信号は、配線１５１ａを通じて、図１に表す駆動部１０５に送られる。

受信処理部１２２ａは、配線１５１ｂを通じて送られた前述の電圧信号に対して、処理を行う。そして、受信処理部１２２ａは、処理後の情報を含む信号を、配線１６１ｄを通じて、図１に表す装置１１１に送る。

電圧モニタ部１２３ａは、モニタ処理部１２３３と記録部１２３２とを備える。モニタ処理部１２３３はメモリ１２３１を備える。

モニタ処理部１２３３は、配線１５１ｂを通じて送られる前記電圧信号の信号振幅を随時取得する。そして、モニタ処理部１２３３は、定められたタイミングにおいて、取得した信号振幅を記録部１２３２に記録させる。モニタ処理部１２３３は、取得した信号振幅を記録部１２３２に記録させる都度、当該信号振幅の初期値からの低下量があらかじめ定めた閾値を超えたかについての判定を行う。そして、モニタ処理部１２３３は、前記低下量が閾値を超えたことを判定した場合は、異常の発生を表す値をメモリ１２３１に記録する。当該値は外部に出力される。

モニタ処理部１２３３は、長期的な保持が必要な情報を記録部１２３２に記録させる。一方、モニタ処理部１２３３は、その他、長期的な保持が不要な情報はメモリ１２３１に記録する。メモリ１２３１は、ＤＲＡＭ等である。ここで、ＤＲＡＭはＤｙｎａｍｉｃ Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙの略である。

記録部１２３２は、記録された情報の長期的な保持に適した記録部である。記録部１２３２は、例えば不揮発性のメモリを備える。当該メモリは例えばＥＥＰＲＯＭやＦｌａｓｈＲＯＭである。ここで、ＥＥＰは、Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ Ｅｒａｓａｂｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅの略である。また、ＲＯＭは、Ｒｅａｄ−Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙの略である。記録部１２３２は、不揮発性のメモリを備えることにより、記録された情報を、失うことなしに長期的に確実に保持し得る。

図４は、図３に表すメモリ１２３１の例であるメモリ１２３１ａが保持する情報を表す概念図である。

メモリ１２３１ａが保持する情報としては、モニタ処理部１２３３が備えるタイマーが出力する時刻１２０１と、第三変数１２０２とが想定される。第三変数１２０２は、上述の、異常の発生の有無を表す値である。

図５は、図３に表す記録部１２３２の例である記録部１２３２ａが保持する情報を表す概念図である。

当該情報は、第一変数１２１１と、配列１２１２と、インデックス１２１３と、閾値１２１４とを含む。

第一変数１２１１は、上述の信号振幅の初期値である。当該初期値としては、前記信号振幅の値が十分に安定した状態での当該信号振幅を用いることが好ましい。当該初期値としては、例えば、光トランシーバ１０１に電源電力を供給後、ある程度の時間が経過した前記信号振幅を用いる。より詳しくは、当該初期値として、例えば、光トランシーバ１０１に電源電力を供給後、１日が経過した時点での、前記信号振幅を用いる。

配列１２１２は、所定のタイミングごとの前記信号振幅の配列である。各タイミングでの前記信号振幅には後述のインデックス１２１３の値が組み合わされる。そして、前記信号と前記インデックス１２１３との組み合わせが、配列１２１２の一つの要素を構成する。記録部１２３２ａは、所定のタイミングごとの前記信号振幅を配列１２１２として保持することにより、各タイミングごとの前記信号振幅を確実に保持することができる。そのため、利用者は、後に前記信号振幅の時間推移を確認したいと考えた場合に、当該確認を確実に実行し得る。

インデックス１２１３は、配列１２１２の要素に付与される番号である。インデックス１２１３の値は、配列１２１２に要素が追加されるごとに一つずつ増加する。

閾値１２１４は、所定のタイミングにおいて、最新の前記信号振幅の前記第一変数１２１１からの減少量の異常について判定するために用いられる閾値である。閾値１２１４としては、光トランシーバ１０１の動作開始前に所定の値が設定されている。
［処理フロー］
図６は、図３に表すモニタ処理部１２３３が行う処理の処理フロー例を表す概念図である。

スタートは、光トランシーバ１０１への電源電力の供給開始時である。

モニタ処理部１２３３は、まず、Ｓ１０１の処理として、スタートから時間Ｔ１が経過したかについての判定を行う。ここで、時間Ｔ１は、電源電力の供給開始から時間Ｔ１が経過した場合には、図１に表す受光部１０３ａ等の動作が安定することが想定されることにより、予め定められた時間である。時間Ｔ１は、図５に表す他の情報とともに、Ｓ１０１の処理以前に、図３に表す記録部１２３２に記録されている。

モニタ処理部１２３３は、Ｓ１０１の処理による判定結果が「ｙｅｓ」の場合は、Ｓ１０２の処理を行う。

一方、モニタ処理部１２３３は、Ｓ１０１の処理による判定結果が「ｎｏ」の場合は、Ｓ１０１の処理を再度行う。

モニタ処理部１２３３は、Ｓ１０２の処理を行う場合は、同処理として、第一変数１２１１にＳ１０２の処理の開始時点における前記信号振幅の値を入力する。

そして、モニタ処理部１２３３は、Ｓ１０３の処理として、インデックス１２１３にゼロを入力する。

次に、モニタ処理部１２３３は、Ｓ１０４の処理として、一つ前の処理（Ｓ１０３の処理又はＳ１１０のｎｏ）からさらに時間Ｔ２が経過したかを判定する。ここで、時間Ｔ２は、後述のＳ１０５の処理を行う間隔として予め定められた時間である。時間Ｔ２は、図５に表す他の情報とともに、Ｓ１０４の処理より前に、図３に表す記録部１２３２に記録されている。

モニタ処理部１２３３は、Ｓ１０４の処理による判定結果が「ｙｅｓ」の場合は、Ｓ１０５の処理を行う。

一方、モニタ処理部１２３３は、Ｓ１０４の処理による判定結果が「ｎｏ」の場合は、Ｓ１０４の処理を再度行う。

モニタ処理部１２３３は、Ｓ１０５の処理を行う場合は、同処理として、インデックス１２１３の値を１増やす。

そして、モニタ処理部１２３３は、Ｓ１０６の処理として、Ｓ１０５の処理後のインデックス１２１３の値とＳ１０６の開始時点における前記信号振幅とを組み合わせた情報を配列１２１２に追加する。

そして、モニタ処理部１２３３は、Ｓ１０７の処理として、Ｓ１０６の処理として追加した信号振幅のＳ１０２の処理により第一変数１２１１に入力した信号振幅からの減少値が図５に表す閾値１２１４を超えたかについての判定を行う。

モニタ処理部１２３３は、Ｓ１０７の処理による判定結果が「ｙｅｓ」の場合は、Ｓ１０８の処理を行う。

一方、モニタ処理部１２３３は、Ｓ１０７の処理による判定結果が「ｎｏ」の場合は、Ｓ１１０の処理を行う。

そして、モニタ処理部１２３３は、Ｓ１０８の処理として、図５に表す第三変数１２０２に「１」を入力する。ここで、第三変数１２０２が「１」であることは、Ｓ１０７の処理により「ｙｅｓ」の判定がなされたことを表す。

そして、モニタ処理部１２３３は、Ｓ１１０の処理として、図６に表す処理を終了するかについての判定を行う。

モニタ処理部１２３３は、Ｓ１１０の処理により「ｙｅｓ」を判定した場合は、図６に表す処理を終了する。

一方、モニタ処理部１２３３は、Ｓ１１０の処理により「ｎｏ」を判定した場合は、前述のＳ１０４の処理を再度行う。

以上説明したように、光トランシーバ１０１は、相手方光トランシーバである光トランシーバ１０８から光経路１２１ｅを通じて送られた光信号の信号振幅をモニターする。そして、光トランシーバ１０１は、当該振幅の初期値からの減少量が閾値１２１４を超えたことを判定した場合に、当該判定結果を表す情報を出力する。

当該判定結果となる原因は、主に以下の三つである。一番目は、光トランシーバ１０１における受光部１０３ａの光電変換特性の変化である。二番目は、光経路１２１ｅの劣化である。三番目は、光トランシーバ１０８の発光部の光電変換特性の変化である。当該原因には、上記三つ以外に、光トランシーバ１０１における、受光部１０３ａに至る光信号の経路や、光トランシーバ１０８における、発光部からの光信号の経路の劣化があり得る。しかしながら、これらの劣化は、光トランシーバ内部の光経路であり、距離も短く、光トランシーバの筐体により保護されているので、生じる可能性は少ない。

従い、前記判定結果の原因として想定されるのは、主には、上記三つになる。

そして、上記三つのうち、一番目は、主に、環境温度の変化に伴う受光部１０３ａの温度変化によるものであることが経験により理解されている。また、三番目は、発光部の特性劣化によるものであることが経験により理解されている。従い、発光部の特性劣化及び受光部１０３ａへの温度変化の影響が許容範囲であることが事前にわかっている場合には、前記判定結果は、光経路１２１ｅの劣化によるものである可能性が高いことがわかる。

従い、光トランシーバ１０１は、光経路１２１ｅの劣化判定に寄与し得る。

さらに、光トランシーバ１０１は、所定の間隔ごとに、信号振幅の初期値からの増加についての判定を行う。そのため、光トランシーバ１０１は、信号振幅に関して一回前の測定値からの減少についてしか判定しない特許文献１が開示する方法と比較して、劣化判定をより正確に行い得る。

さらに、光トランシーバ１０１は、光経路１２１ｅの劣化判定に寄与し得る構成を、光トランシーバ１０１の内部に備えている。そのため、光トランシーバ１０１は、光経路１２１ｅの劣化判定に寄与し得る構成を光トランシーバ１０１とは別に設けないことを可能にする。
［効果］
本実施形態の光トランシーバは、相手方光トランシーバから光経路を通じて送られた光信号の信号振幅をモニターする。そして、前記光トランシーバは、当該振幅の初期値からの減少量が閾値を超えたことを判定した場合に、当該判定結果を表す情報を出力する。当該判定結果となる原因のうちで主要なものの一つは前記光経路の劣化である。従い、光トランシーバは、前記光経路の劣化判定に寄与し得る。

さらに、前記光トランシーバは、所定の間隔ごとに、信号振幅の初期値からの増加についての判定を行う。そのため、前記光トランシーバは、信号振幅に関して一回前の測定値からの減少についてしか判定しない特許文献１が開示する方法と比較して、劣化判定をより正確に行い得る。

さらに、前記光トランシーバは、前記光経路の劣化判定に寄与し得る構成を、前記光トランシーバの内部に備える。そのため、前記光トランシーバは、前記光経路の劣化判定に寄与し得る構成を前記光トランシーバとは別に設けないことを可能にする。

図７は、本発明の光トランシーバの最小限の構成である光トランシーバ１０１ｘの構成を表すブロック図である。

光トランシーバ１０１ｘは、発光部１０２ｘと、受光部１０３ｘと、判定部１０４ｘとを備える。

発光部１０２ｘは、図示しない第二の光トランシーバに対し、図示しない光経路を介して第一の光信号を送る。

受光部１０３ｘは、前記第二の光トランシーバから前記光経路を介して送られる第二の光信号を受ける。

判定部１０４ｘは、所定のタイミングで取得した前記第二の光信号の前記受光部が受ける受光光量を表す値の初期値からの変化量についての判定の結果の出力を行う。

前記受光光量は、前記光経路を介して前記受光部に入射する光信号の光量であるから、前記光経路の特性劣化の影響を受ける。さらに、さらに、判定部１０４ｘは、所定の間隔ごとに取得した前記値から、前記光経路の特性劣化についての判定を行う。そのため、前記光経路の劣化を正しく判定できる確率が高い。

さらに、当該判定は、光トランシーバ１０１ｘの内部において行われる。そのため、前記光経路の特性劣化を測定するための装置を光トランシーバの外部に設けないことを可能にする。

そのため、光トランシーバ１０１ｘは、上記構成により、［発明の効果］の項に記載した効果を奏する。

以上、本発明の各実施形態を説明したが、本発明は、上記した実施形態に限定されるものではなく、本発明の基本的技術的思想を逸脱しない範囲で更なる変形、置換、調整を加えることができる。例えば、各図面に示した要素の構成は、本発明の理解を助けるための一例であり、これらの図面に示した構成に限定されるものではない。

また、上記の実施形態の一部または全部は、以下の付記のようにも記述され得るが、以下には限られない。

（付記１）
第二の光トランシーバに対し光経路を介して第一の光信号を送る発光部と、
前記第二の光トランシーバから前記光経路を介して送られる第二の光信号を受ける受光部と、
所定のタイミングで取得した前記第二の光信号の前記受光部が受ける受光光量を表す値の初期値からの変化量についての判定の結果の出力を行う判定部と、
を備える光トランシーバ。

（付記２）
前記判定が、前記光経路の特性劣化についての判定である、付記１に記載された光トランシーバ。

（付記３）
前記判定を前記変化量を表す値と閾値との大小を比較することにより行う、付記１又は付記２に記載された光トランシーバ。

（付記４）
前記判定に用いる情報を記録する記録部をさらに備える、付記１乃至付記３のうちのいずれか一に記載された光トランシーバ。

（付記５）
前記判定に用いる情報が前記受光光量を表す値の初期値を表す第一変数を含む、付記４に記載された光トランシーバ。

（付記６）
前記判定に用いる情報が、前記判定の際の前記受光光量を表す値を表す第二変数を含む、付記４又は付記５に記載された光トランシーバ。

（付記７）
前記判定に用いる情報が、所定の時間間隔ごとの前記受光光量を表す値の配列を含む、付記３乃至付記６のうちのいずれか一に記載された光トランシーバ。

（付記８）
前記判定に用いる情報が、前記閾値を含む、付記３乃至付記７のうちのいずれか一に記載された光トランシーバ。

（付記９）
前記判定に用いる情報が前記記録部により不揮発性の記録情報として保持される、付記３乃至付記８のうちのいずれか一に記載された光トランシーバ。

（付記１０）
前記発光部と前記受光部と前記判定部とが同一のケース内に格納された、付記１乃至付記９のうちのいずれか一に記載された光トランシーバ。

（付記１１）
前記第一の光信号を前記発光部から前記光経路に導き、前記第二の光信号を前記光経路から前記受光部に導く、光調整部をさらに備える、付記１乃至付記１０のうちのいずれか一に記載された光トランシーバ。

（付記１２）
発光部に対し、前記第一の光信号に対応する信号電流を送る駆動部をさらに備える、付記１乃至付記１１のうちのいずれか一に記載された光トランシーバ。

（付記１３）
前記駆動部に前記信号電流に対応する電圧信号を送る第一の処理部をさらに備える、付記１２に記載された光トランシーバ。

（付記１４）
前記受光部からの前記第二の光信号に対応する前記電圧信号を処理する第二の処理部をさらに備える、付記１乃至付記１３のうちのいずれか一に記載された光トランシーバ。

（付記１５）
前記出力がＩｎｔｅｒ−Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔを経由して行われる、付記１乃至付記１４のうちのいずれか一に記載された光トランシーバ。

（付記Ａ１）
付記１乃至付記１５のうちのいずれか一に記載された光トランシーバに対し前記第一の光信号が備える情報である第一の信号情報を送る、装置。

（付記Ａ２）
付記１乃至付記１５のうちのいずれか一に記載された光トランシーバを備え、前記光トランシーバに対し前記第一の光信号が備える情報である第一の信号情報を送る、装置。

（付記Ｂ１）
付記１乃至付記１５のうちのいずれか一に記載された光トランシーバが送る、前記第二の光信号が備える情報である第二の情報に基づき所定の動作を行う、装置。

（付記Ｂ２）
付記１乃至付記１５のうちのいずれか一に記載された光トランシーバを備え、前記光トランシーバが送る、前記第二の光信号が備える情報である第二の情報に基づき所定の動作を行う、装置。

（付記Ｃ１）
付記１乃至付記１５のうちのいずれか一に記載された光トランシーバに対し前記第一の光信号が備える情報である第一の信号情報を送り、付記１乃至付記１５のうちのいずれか一に記載された光トランシーバが送る、前記第二の光信号が備える情報である第二の情報に基づき所定の動作を行う、装置。

（付記Ｄ１）
付記１乃至付記１５のうちのいずれか一に記載された光トランシーバを備え、前記光トランシーバに対し前記第一の光信号が備える情報である第一の信号情報を送り、前記光トランシーバが送る、前記第二の光信号が備える情報である第二の情報に基づき所定の動作を行う、装置。

１０１、１０１ｘ、１０８ 光トランシーバ
１０２ａ、１０２ｘ 発光部
１０３ａ、１０３ｘ 受光部
１０４、１０４ａ 処理部
１０４ｘ 判定部
１０５ 駆動部
１１１ 装置
１１９ａ 送信処理部
１２１ａ、１２１ｂ、１２１ｅ 光経路
１２２ａ 受信処理部
１２３ａ 電圧モニタ部
１２３１、１２３１ａ メモリ
１２３２、１２３２ａ 記録部
１２３３ モニタ処理部
１４１、１４１ａ 光調整部
１４２ 光サーキュレータ
１４３ａ、１４３ｂ、１４３ｃ 端子
１５１ａ、１５１ｂ、１６１ａ、１６１ｄ 配線

Claims (10)

1. 第二の光トランシーバに対し光経路を介して第一の光信号を送る発光部と、
   前記第二の光トランシーバから前記光経路を介して送られる第二の光信号を受ける受光部と、
   所定のタイミングで取得した前記第二の光信号の前記受光部が受ける受光光量を表す値の初期値からの変化量についての判定の結果の出力を行う判定部と、
   を備える光トランシーバ。
2. 前記判定を前記受光光量を表す値と閾値との大小を比較することにより行う、請求項１に記載された光トランシーバ。
3. 前記判定に用いる情報を記録する記録部をさらに備える、請求項１又は請求項２に記載された光トランシーバ。
4. 前記判定に用いる情報が、前記受光光量を表す値の初期値を表す第一変数及び前記判定の際の前記受光光量を表す値である第二変数を含む、請求項３に記載された光トランシーバ。
5. 前記判定に用いる情報が、所定の時間間隔ごとの前記受光光量を表す値の配列を含む、請求項３又は請求項４に記載された光トランシーバ。
6. 前記判定に用いる情報が前記記録部により不揮発性の記録情報として保持される、請求項３乃至請求項５のうちのいずれか一に記載された光トランシーバ。
7. 前記発光部と前記受光部と前記判定部とが同一のケース内に格納された、請求項１乃至請求項６のうちのいずれか一に記載された光トランシーバ。
8. 前記第一の光信号を前記発光部から前記光経路に導き、前記第二の光信号を前記光経路から前記受光部に導く、光調整部をさらに備える、請求項１乃至請求項７のうちのいずれか一に記載された光トランシーバ。
9. 前記出力がＩｎｔｅｒ−Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔを経由して行われる、請求項１乃至請求項８のうちのいずれか一に記載された光トランシーバ。
10. 請求項１乃至請求項９のうちのいずれか一に記載された光トランシーバに対し前記第一の光信号が備える情報である第一の信号情報を送り、請求項１乃至請求項９のうちのいずれか一に記載された光トランシーバが送る、前記第二の光信号が備える情報である第二の情報に基づき所定の動作を行う、装置。

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