JP2018063276A - Optical scanner - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、光走査装置に関する。 The present invention relates to an optical scanning device.
光走査装置として、複数の光源から出射する複数の光束のそれぞれによって、複数の被走査面を走査するものが知られている。 As an optical scanning device, one that scans a plurality of scanned surfaces with a plurality of light beams emitted from a plurality of light sources is known.
特許文献1は、1つの光源から射出された光束を、ビームスプリッタ(ハーフミラー)を用いて複数の光束に分割し、複数の光束のそれぞれによって複数の被走査面を走査する構成を採ることで、光源の数を減らした光走査装置を開示している。
しかしながら、特許文献1に開示されている光走査装置では、ビームスプリッタによって透過及び反射を行う際に各光束の強度が大きく低下し、ひいては、光走査装置における光利用効率が低下してしまう。
However, in the optical scanning device disclosed in
そこで、本発明は、十分な光利用効率を確保しつつ、1つの光源を用いて複数の被走査面を走査することができる光走査装置を提供することを目的とする。 SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is that it provides an optical scanning device that can scan a plurality of scanned surfaces using a single light source while ensuring sufficient light use efficiency.
本発明に係る光走査装置は、光束を偏向して複数の被走査面を主走査方向に走査する偏向器と、第1の光束が通過する複数の通過部が設けられた分割手段を備え、分割手段によって第1の光束から分割された複数の光束を偏向器に入射させる入射光学系と、偏向器によって偏向された複数の光束を複数の被走査面に導光する結像光学系と、を有することを特徴とする。 An optical scanning device according to the present invention includes a deflector that deflects a light beam and scans a plurality of scanned surfaces in the main scanning direction, and a dividing unit provided with a plurality of passage portions through which the first light beam passes, An incident optical system that causes a plurality of light beams split from the first light beam by the dividing unit to enter the deflector; an imaging optical system that guides the plurality of light beams deflected by the deflector to a plurality of scanned surfaces; It is characterized by having.
本発明によれば、十分な光利用効率を確保しつつ、1つの光源を用いて複数の被走査面を走査することができる光走査装置を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide an optical scanning device capable of scanning a plurality of scanned surfaces using a single light source while ensuring sufficient light utilization efficiency.
以下、本実施形態に係る光走査装置について図面に基づいて説明する。なお、以下に示す図面は、本実施形態を容易に理解できるようにするために、実際とは異なる縮尺で描かれている場合がある。 Hereinafter, the optical scanning device according to the present embodiment will be described with reference to the drawings. It should be noted that the drawings shown below may be drawn at a scale different from the actual scale so that the present embodiment can be easily understood.
なお、以下の説明において、主走査方向(Y方向)は、偏向器の回転軸及び光学系の光軸(X方向)に垂直な方向に対応し、副走査方向(Z方向)は、偏向器の回転軸に平行な方向に対応する。また、主走査断面は、副走査方向に垂直な断面に対応し、副走査断面は、主走査方向に垂直な断面に対応する。 In the following description, the main scanning direction (Y direction) corresponds to the direction perpendicular to the rotation axis of the deflector and the optical axis (X direction) of the optical system, and the sub-scanning direction (Z direction) is the deflector. Corresponds to the direction parallel to the rotation axis. The main scanning section corresponds to a section perpendicular to the sub scanning direction, and the sub scanning section corresponds to a section perpendicular to the main scanning direction.
[第一実施形態]
図1は、第一実施形態に係る光走査装置1の主走査断面図を示している。
第一実施形態に係る光走査装置1は、光源100、第1の開口絞り101、コリメータレンズ102、反射ミラー103、シリンドリカルレンズ104a及び104b、反射ミラー105a及び105b、及び第2の開口絞り106a及び106bを備えている。
また、光走査装置1は、偏向器107、第1のfθレンズ108a及び108b、第2のfθレンズ109a及び109b、及び防塵手段110a及び110bを備えている。
[First embodiment]
FIG. 1 is a main scanning sectional view of the
The
The
第1の開口絞り101、コリメータレンズ102、シリンドリカルレンズ104a、反射ミラー105a及び第2の開口絞り106aによって、本実施形態に係る光走査装置1の第1の入射光学系75aが構成される。
また、第1の開口絞り101、コリメータレンズ102、反射ミラー103、シリンドリカルレンズ104b、反射ミラー105b及び第2の開口絞り106bによって、本実施形態に係る光走査装置1の第2の入射光学系75bが構成される。
そして、第1の入射光学系75a及び第2の入射光学系75bをまとめて、本実施形態に係る光走査装置1の入射光学系75と呼ぶことがある。
また、第1のfθレンズ108a及び第2のfθレンズ109aによって、本実施形態に係る光走査装置1の第1の結像光学系85aが構成される。
また、第1のfθレンズ108b及び第2のfθレンズ109bによって、本実施形態に係る光走査装置1の第2の結像光学系85bが構成される。
そして、第1の結像光学系85a及び第2の結像光学系85bをまとめて、本実施形態に係る光走査装置1の結像光学系85と呼ぶことがある。
The first aperture stop 101, the
Further, the
The first incident optical system 75a and the second incident optical system 75b may be collectively referred to as the incident optical system 75 of the
Further, the
Further, the
The first imaging optical system 85a and the second imaging optical system 85b may be collectively referred to as the imaging optical system 85 of the
光源100としては、少なくとも1つの発光点を有しており、例えば端面発光型のレーザーやVCSEL等の面発光型の半導体レーザーなどが用いられる。
第1の開口絞り(光束分割手段)101は、光源100より出射した光束L(第1の光束)を光束LA(第3の光束)及び光束LB(第2の光束)に分割するように、複数の開口部(通過部)を有して構成されている。第1の開口絞り101の具体的な構造については、後述する。
コリメータレンズ(光学素子)102は、第1の開口絞り101を通過した光束LA及び光束LBを平行光束に変換する。なおここで、平行光束とは、厳密な平行光束だけでなく、弱発散光束や弱収束光束等の略平行光束を含むものとする。
反射ミラー103は、コリメータレンズ102を通過した光束LBのみを反射するように、光束LBの光路中に配置されている。
The
The first aperture stop (light beam splitting means) 101 splits the light beam L (first light beam) emitted from the
The collimator lens (optical element) 102 converts the light beam LA and the light beam LB that have passed through the
The
シリンドリカルレンズ104a及び104bはそれぞれ、副走査断面内に有限のパワー(屈折力)を有しており、コリメータレンズ102を通過した光束LA及び光束LBを、偏向器107の偏向面107a及び107bの近傍で副走査方向に集光する。
反射ミラー105a及び105bはそれぞれ、シリンドリカルレンズ104a及び104bを通過した光束LA及び光束LBを、偏向器107の偏向面107a及び107bに向けて反射する。
第2の開口絞り106a及び106bはそれぞれ、反射ミラー105a及び105bに入射する光束LA及び光束LBの主走査方向の光束幅を制限する。
The
The
The second aperture stops 106a and 106b limit the beam widths in the main scanning direction of the beam LA and the beam LB incident on the
このようにして、光源100から出射し、分割された光束LA及び光束LBはそれぞれ、偏向器107の偏向面107a及び107bの近傍において副走査方向にのみ集光され、主走査方向に長い線像として導光される。
In this way, the divided light beams LA and LB emitted from the
偏向器107は、不図示のモータ等の駆動手段により図中矢印A方向に回転することにより、光源100から出射し、分割された光束LA及び光束LBをそれぞれ、偏向面107a及び107bによって、被走査面111a及び111bに向けて偏向する。例えば、偏向器107は、ポリゴンミラーなどで構成される。
第1のfθレンズ108a及び108b、第2のfθレンズ109a及び109bは、主走査断面内と副走査断面内とで異なるパワーを有するアナモフィック結像レンズである。そして、第1のfθレンズ108a及び108b、第2のfθレンズ109a及び109bは、偏向器107によって偏向された光束LA及び光束LBを被走査面111a及び111b上に集光(導光)する。
防塵手段110a及び110bは、光走査装置1の内部へのゴミ等の侵入を防ぐために設けられており、例えば、ガラス板などで構成される。
The
The
The dustproof means 110a and 110b are provided in order to prevent dust and the like from entering the inside of the
光源100から出射した光束Lは、第1の開口絞り101によって、光束LA及び光束LBに分割される。分割された光束LA及び光束LBはそれぞれ、コリメータレンズ102によって平行光束に変換される。
変換された光束LAは、シリンドリカルレンズ104aによって偏向器107の偏向面107a近傍で副走査方向に集光される。そして、光束LAは、第2の開口絞り106aによって主走査方向の光束幅が制限され、反射ミラー105aによって反射され、偏向器107の偏向面107a(第2の偏向面)に入射する。
また、変換された光束LBは、反射ミラー103(第1、第2の反射手段)によって反射された後、シリンドリカルレンズ104bによって偏向器107の偏向面107b近傍で副走査方向に集光される。そして、光束LBは、第2の開口絞り106bによって主走査方向の光束幅が制限され、反射ミラー105b(第1、第2の反射手段)によって反射され、偏向器107の偏向面107b(第1の偏向面)に入射する。
A light beam L emitted from the
The converted light beam LA is condensed in the sub-scanning direction near the
The converted light beam LB is reflected by the reflecting mirror 103 (first and second reflecting means) and then condensed in the sub-scanning direction near the
光源100から出射し、分割され、偏向器107の偏向面107aに入射した光束LAは、偏向器107の偏向面107aにより偏向走査された後、第1のfθレンズ108a、第2のfθレンズ109aによって被走査面111a(第1の被走査面)上に導光される。光束LAは、被走査面111aを矢印B方向に等速度で走査する。
また、光源100から出射し、分割され、偏向器107の偏向面107bに入射した光束LBは、偏向器107の偏向面107bにより偏向走査された後、第1のfθレンズ108b、第2のfθレンズ109bによって被走査面111b(第2の被走査面)上に導光される。光束LBは、被走査面111bを矢印B方向に等速度で走査する。
The light beam LA emitted from the
Further, the light beam LB emitted from the
なお、本実施形態では、被走査面111a及び111bとして、感光ドラムを用いている。
感光ドラム111a及び111b上における副走査方向の露光分布の作成は、主走査露光毎に、感光ドラム111a及び111bを副走査方向に回転させることによって達成している。
また、光束LA及び光束LBは、被走査面111a及び111bを走査するタイミングが互いに異なる、いわゆる時分割走査をしている。
時分割走査を行うことで、被走査面111a及び111bにそれぞれ異なる画像を形成することができる。
In the present embodiment, photosensitive drums are used as the scanned
Creation of the exposure distribution in the sub-scanning direction on the
Further, the light beam LA and the light beam LB are so-called time-division scanning in which the scanning timing of the scanned
By performing time-division scanning, different images can be formed on the scanned
次に、本実施形態に係る光走査装置1の入射光学系75及び結像光学系85の諸特性をそれぞれ以下の表1及び表2に示す。
Next, various characteristics of the incident optical system 75 and the imaging optical system 85 of the
なお、表1及び表2において、各レンズ面と光軸との交点を原点としたときの、光軸方向、主走査断面内において光軸と直交する軸、及び副走査断面内において光軸と直交する軸をそれぞれ、X軸、Y軸及びZ軸としている。また、表1及び表2において、「E−x」は、「×10−x」を意味している。 In Tables 1 and 2, the optical axis direction, the axis orthogonal to the optical axis in the main scanning section, and the optical axis in the sub-scanning section when the intersection of each lens surface and the optical axis is the origin. The orthogonal axes are the X axis, Y axis, and Z axis, respectively. In Tables 1 and 2, “ Ex ” means “× 10 −x ”.
本実施形態の光走査装置1に設けられているコリメータレンズ102は、収差補正のために、入射面及び出射面の少なくとも一方が非球面である回転対称なガラスモールドレンズであり、その形状は、以下の式(1)で表される。
次に、本実施形態の光走査装置1に設けられている第1のfθレンズ108a及び108b、第2のfθレンズ109a及び109bにおける各レンズ面の主走査断面内における非球面形状(母線形状)は、以下の式(2)で表される。
また、本実施形態の光走査装置1に設けられている第1のfθレンズ108a及び108b、第2のfθレンズ109a及び109bにおける各レンズ面の副走査断面内における非球面形状(子線形状)は、以下の式(3)で表される。
また、副走査断面の曲率半径r’は、レンズ面のy座標に従って、以下の式(4)のように連続的に変化する。
次に、本実施形態に係る光走査装置1の入射光学系75の詳細な構成について説明する。
図2(a)及び(b)はそれぞれ、本実施形態に係る光走査装置1の入射光学系75の主走査断面図及び副走査断面内投影図を示している。
図3は、本実施形態に係る光走査装置1の入射光学系75に設けられている第1の開口絞り101を光軸方向から見た図である。
Next, a detailed configuration of the incident optical system 75 of the
2A and 2B respectively show a main scanning sectional view and a sub-scanning sectional projection view of the incident optical system 75 of the
FIG. 3 is a view of the
図3に示されているように、第1の開口絞り101には主走査方向に広く、副走査方向に狭い2つの開口部が設けられており、光源100から出射した光束Lが各開口部を通過することによって、光束LA及び光束LBに分割される。
従って、第1の開口絞り101は、光束Lを分割すると共に、光束LA及び光束LBの副走査方向の光束幅を制限している。
ここで、図2(a)及び(b)からわかるように、光束LA及びLBの第1の開口絞り101による分割直後の光路は、主走査断面内において互いに一致している。
As shown in FIG. 3, the
Therefore, the
Here, as can be seen from FIGS. 2A and 2B, the optical paths immediately after the division of the light beams LA and LB by the
図2(a)及び(b)に示されているように、光源100から出射した光束Lは、第1の開口絞り101によって、光束LA及び光束LBに分割される。分割された光束LA及び光束LBはそれぞれ、コリメータレンズ102によって平行光束に変換される。
変換された光束LAは、シリンドリカルレンズ104aによって偏向器107の偏向面107a近傍で副走査方向に集光される。そして、光束LAは、第2の開口絞り106aによって主走査方向の光束幅が制限され、反射ミラー105aによって反射され、偏向器107の偏向面107aに入射する。
また、変換された光束LBは、反射ミラー103によって反射された後、シリンドリカルレンズ104bによって偏向器107の偏向面107b近傍で副走査方向に集光される。そして、光束LBは、第2の開口絞り106bによって主走査方向の光束幅が制限され、反射ミラー105bによって反射され、偏向器107の偏向面107bに入射する。
As shown in FIGS. 2A and 2B, the light beam L emitted from the
The converted light beam LA is condensed in the sub-scanning direction near the
The converted light beam LB is reflected by the
本実施形態に係る光走査装置1では、光束LA及び光束LBはそれぞれ、主走査断面内においては互いに同一、副走査断面内においては互いに離間した光路に沿って進行する。
そして、光束LA及び光束LBをそれぞれ、互いに同じ副走査方向高さにある偏向面107a及び107bに対して、主走査断面に平行に入射させるために、光束LBを、反射ミラー103によって、主走査方向だけでなく、副走査方向にも偏向させている。
In the
Then, in order to cause the light beam LA and the light beam LB to enter the deflecting
本実施形態に係る光走査装置1の入射光学系75に設けられている各光学素子の入射面の面頂点における法線の方向余弦は、以下の表3に示されるように設定されている。
The normal direction cosine at the surface vertex of the incident surface of each optical element provided in the incident optical system 75 of the
表3に示されているように、本実施形態に係る光走査装置1では、光束LBの光路中に配置されている反射ミラー103、シリンドリカルレンズ104b、反射ミラー105b及び第2の開口絞り106bが、副走査方向に傾いて配置されている。
As shown in Table 3, in the
図4(a)及び(b)はそれぞれ、従来の光走査装置及び本実施形態に係る光走査装置1における光源出射時の光束の強度の副走査方向位置依存性を示している。
なお、ここでは、比較のために、従来の光走査装置と本実施形態に係る光走査装置1とは、互いに同一のF値を有しているとしている。
4 (a) and 4 (b) show the sub-scanning direction position dependency of the intensity of the light beam when emitted from the light source in the conventional optical scanning device and the
Here, for comparison, it is assumed that the conventional optical scanning device and the
図4(a)に示されているように、従来の光走査装置では、1つの開口部のみを有する通常の開口絞りによって、1つの透過領域401内の光束LEのみが開口絞りを通過する一方で、遮光領域402内の光束は開口絞りを通過しない。
一方で、図4(b)に示されているように、本実施形態に係る光走査装置1では、2つの開口部を有する第1の開口絞り101によって、2つの透過領域401内の光束、すなわち光束LA及び光束LBが第1の開口絞り101を通過する一方で、遮光領域402内の光束は第1の開口絞り101を通過しない。
As shown in FIG. 4A, in the conventional optical scanning device, only a light beam LE in one
On the other hand, as shown in FIG. 4B, in the
従って、従来の光走査装置における光束LEの光量は、図4(a)に示されている光束の強度分布を透過領域401内において積分したものとなる。
また、本実施形態に係る光走査装置1における光束LA及び光束LBの光量はそれぞれ、図4(b)に示されている光束の強度分布をそれぞれの透過領域401内において積分したものとなる。
その結果、従来の光走査装置における光束LEの光量を1とすると、本実施形態に係る光走査装置1における光束LA及び光束LBの光量はそれぞれ、0.77となる。
Therefore, the light amount of the light beam LE in the conventional optical scanning device is obtained by integrating the intensity distribution of the light beam shown in FIG.
In addition, the light amounts of the light beam LA and the light beam LB in the
As a result, when the light amount of the light beam LE in the conventional optical scanning device is 1, the light amounts of the light beam LA and the light beam LB in the
従って、従来の光走査装置では、光量が1の光束LEをプリズム等の光束分離素子で2つの光束に分離するため、分離された2つの光束の光量はそれぞれ、0.5となる。
一方で、本実施形態に係る光走査装置1では、第1の開口絞り101によって2つの光束LA及びLBに分割しているため、分割された2つの光束の光量はそれぞれ、0.77とすることができる。
Therefore, in the conventional optical scanning device, since the light beam LE having a light amount of 1 is separated into two light beams by a light beam separation element such as a prism, the light amounts of the two separated light beams are 0.5.
On the other hand, in the
従って、本実施形態に係る光走査装置1では、分割された2つの光束の総光量を、従来の光走査装置において分離された2つの光束の総光量に比べて、1.54倍にすることができ、光利用効率をより高めることができる。
また、分割された2つの光束LA及びLBの光量は互いに等しいことから、被走査面111a及び111bそれぞれに対応する異なる色の画像間の濃度差を低減することができる。
Therefore, in the
Further, since the light amounts of the two divided light beams LA and LB are equal to each other, it is possible to reduce the density difference between the images of different colors corresponding to the scanned
[第二実施形態]
図5は、第二実施形態に係る光走査装置2の主走査断面図を示している。
なお、第二実施形態に係る光走査装置2は、偏向器207以外は、第一実施形態に係る光走査装置1と同一の部材で構成されているため、同一の部材については、同一の符番を付し、説明を省略する。
[Second Embodiment]
FIG. 5 shows a main scanning sectional view of the
The
本実施形態に係る光走査装置2では、偏向器207は、2つの偏向部2071及び2072を同一の偏向軸で副走査方向に離間させて配置した、多段偏向器を採用している。
そして、光源100から出射した光束L(第1の光束)は、第1の開口絞り101によって、光束LA(第3の光束)及び光束LB(第2の光束)に分割される。分割された光束LA及び光束LBはそれぞれ、コリメータレンズ102によって平行光束に変換される。
変換された光束LA及び光束LBはそれぞれ、シリンドリカルレンズ104a及び104bによって偏向器207の偏向部2071及び2072の偏向面2071a及び2072a近傍で副走査方向に集光される。そして、光束LA及び光束LBはそれぞれ、第2の開口絞り106a及び106bによって主走査方向の光束幅が制限され、偏向器207の偏向部2071及び2072の偏向面2071a(第2の偏向面)及び2072a(第1の偏向面)に入射する。
In the
A light beam L (first light beam) emitted from the
The converted light beam LA and light beam LB are condensed in the sub-scanning direction in the vicinity of the deflection surfaces 2071a and 2072a of the deflecting
なお、本実施形態に係る光走査装置2では、光束LA及び光束LBを副走査方向に集光するために、2つのシリンドリカルレンズ104a及び104bを個別に配置しているが、その代わりに、1つの共通のシリンドリカルレンズを配置しても構わない。
また、光束LA及び光束LBの主走査方向の光束幅を制限するために、2つの第2の開口絞り106a及び106bを個別に配置しているが、その代わりに、1つの共通の第2の開口絞りを配置しても構わない。
In the
Further, in order to limit the light beam widths of the light beam LA and the light beam LB in the main scanning direction, the two second aperture stops 106a and 106b are individually arranged, but instead of one common second An aperture stop may be arranged.
次に、本実施形態に係る光走査装置2の入射光学系75及び結像光学系85の諸特性をそれぞれ以下の表4及び表5に示す。
Next, various characteristics of the incident optical system 75 and the imaging optical system 85 of the
次に、本実施形態に係る光走査装置2の入射光学系75の詳細な構成について説明する。
図6(a)及び(b)はそれぞれ、本実施形態に係る光走査装置2の入射光学系75の主走査断面図及び副走査断面図を示している。
Next, a detailed configuration of the incident optical system 75 of the
6A and 6B respectively show a main scanning sectional view and a sub-scanning sectional view of the incident optical system 75 of the
図6(a)及び(b)に示されているように、光源100から出射した光束Lは、第1の開口絞り101によって、光束LA及び光束LBに分割される。分割された光束LA及び光束LBはそれぞれ、コリメータレンズ102によって平行光束に変換される。
変換された光束LA及び光束LBはそれぞれ、シリンドリカルレンズ104a及び104bによって偏向器207の偏向部2071及び2072の偏向面2071a及び2072a近傍で副走査方向に集光される。そして、光束LA及び光束LBはそれぞれ、第2の開口絞り106a及び106bによって主走査方向の光束幅が制限され、偏向器207の偏向部2071及び2072の偏向面2071a及び2072aに入射する。
As shown in FIGS. 6A and 6B, the light beam L emitted from the
The converted light beam LA and light beam LB are condensed in the sub-scanning direction in the vicinity of the deflection surfaces 2071a and 2072a of the deflecting
本実施形態に係る光走査装置2の入射光学系75に設けられている各光学素子の入射面の面頂点における法線の方向余弦は、以下の表6に示されるように設定されている。
The normal direction cosine at the surface vertex of the incident surface of each optical element provided in the incident optical system 75 of the
本実施形態に係る光走査装置2では、光束LA及び光束LBはそれぞれ、主走査断面内においては互いに同一、副走査断面内においては互いに離間した光路に沿って進行する。
そして、光束LA及び光束LBはそれぞれ、主走査方向及び副走査方向双方において偏向されないまま、偏向器207の偏向部2071及び2072の偏向面2071a及び2072aに対して、主走査断面に平行に入射する。
そのため、表6に示されているように、第一実施形態に係る光走査装置1とは異なり、本実施形態に係る光走査装置2では、いずれの光学素子も、副走査方向に傾いて配置されていない。
In the
The light beam LA and the light beam LB are incident on the deflecting
Therefore, as shown in Table 6, unlike the
[第三実施形態]
図7(a)及び(b)はそれぞれ、第三実施形態に係る光走査装置3の入射光学系75の主走査断面図及び副走査断面図を示している。
なお、第三実施形態に係る光走査装置3は、第一実施形態に係る光走査装置1と同一の部材で構成されているため、同一の部材については、同一の符番を付し、説明を省略する。
[Third embodiment]
FIGS. 7A and 7B respectively show a main scanning sectional view and a sub-scanning sectional view of the incident optical system 75 of the
Since the
本実施形態に係る光走査装置3では、光源100から出射した光束Lは、第1の開口絞り101によって、光束LA(第4の光束)及び光束LB(第2の光束)に分割される。分割された光束LA及び光束LBはそれぞれ、コリメータレンズ102によって平行光束に変換される。
変換された光束LA及び光束LBは、シリンドリカルレンズ104によって偏向器107の偏向面107a近傍で副走査方向に集光される。そして、光束LA及び光束LBは、第2の開口絞り106によって主走査方向の光束幅が制限され、偏向器107の偏向面107a(第1の偏向面)へ、副走査断面内において主走査断面に対して角度を有して、斜入射する。
なお、本実施形態に係る光走査装置3では、光束LA及び光束LBが偏向器107の偏向面107aへ斜入射する際の角度は、1.65°である。
In the
The converted light beam LA and light beam LB are condensed in the sub-scanning direction near the
In the
[第四実施形態]
図8は、第四実施形態に係る光走査装置4の主走査断面図を示している。
なお、第四実施形態に係る光走査装置4は、第二実施形態に係る光走査装置2と同一の部材で構成されているため、同一の部材については、同一の符番を付し、説明を省略する。
[Fourth embodiment]
FIG. 8 shows a main scanning sectional view of the
In addition, since the
第四実施形態に係る光走査装置2では、光源100aから出射した光束L1は、第1の開口絞り101aによって、光束LA及び光束LBに分割される。分割された光束LA及び光束LBはそれぞれ、コリメータレンズ102aによって平行光束に変換される。
変換された光束LA及び光束LBはそれぞれ、シリンドリカルレンズ104a及び104bによって偏向器207の偏向部2071及び2072の偏向面2071a及び2072a近傍で副走査方向に集光される。そして、光束LA及び光束LBはそれぞれ、第2の開口絞り106a及び106bによって主走査方向の光束幅が制限され、偏向器207の偏向部2071及び2072の偏向面2071a及び2072aに入射する。
同様に、光源100bから出射した光束L2は、第1の開口絞り101bによって、光束LC及び光束LDに分割される。分割された光束LC及び光束LDはそれぞれ、コリメータレンズ102bによって平行光束に変換される。
変換された光束LC及び光束LDはそれぞれ、シリンドリカルレンズ104c及び104dによって偏向器207の偏向部2071及び2072の偏向面2071b及び2072b近傍で副走査方向に集光される。そして、光束LC及び光束LDはそれぞれ、第2の開口絞り106c及び106dによって主走査方向の光束幅が制限され、偏向器207の偏向部2071及び2072の偏向面2071b及び2072bに入射する。
In the
The converted light beam LA and light beam LB are condensed in the sub-scanning direction in the vicinity of the deflection surfaces 2071a and 2072a of the deflecting
Similarly, the light beam L2 emitted from the
The converted light beam LC and light beam LD are condensed in the sub-scanning direction in the vicinity of the deflection surfaces 2071b and 2072b of the deflecting
光源100aから出射し、分割され、偏向器207の偏向部2071の偏向面2071aに入射した光束LAは、偏向部2071の偏向面2071aにより偏向される。そして、偏向された光束LAは、第1のfθレンズ108a、第2のfθレンズ109aによって被走査面111a上に導光される。光束LAは、被走査面111aを矢印B方向に等速度で走査する。
また、光源100aから出射し、分割され、偏向器207の偏向部2072の偏向面2072aに入射した光束LBは、偏向部2072の偏向面2072aにより偏向される。そして、偏向された光束LBは、第1のfθレンズ108b、第2のfθレンズ109bによって被走査面111b上に導光される。光束LBは、被走査面111bを矢印B方向に等速度で走査する。
また、光源100bから出射し、分割され、偏向器207の偏向部2071の偏向面2071bに入射した光束LCは、偏向部2071の偏向面2071bにより偏向される。そして、偏向された光束LCは、第1のfθレンズ108c、第2のfθレンズ109cによって被走査面111c上に導光される。光束LCは、被走査面111cを矢印B方向に等速度で走査する。
また、光源100bから出射し、分割され、偏向器207の偏向部2072の偏向面2072bに入射した光束LDは、偏向部2072の偏向面2072bにより偏向される。そして、偏向された光束LDは、第1のfθレンズ108d、第2のfθレンズ109dによって被走査面111d上に導光される。光束LDは、被走査面111dを矢印B方向に等速度で走査する。
The light beam LA emitted from the
Further, the light beam LB emitted from the
Further, the light beam LC emitted from the
In addition, the light beam LD emitted from the
なお、本実施形態に係る光走査装置2では、光束LA及び光束LBを副走査方向に集光するために、2つのシリンドリカルレンズ104a及び104bを個別に配置しているが、その代わりに、1つの共通のシリンドリカルレンズを配置しても構わない。
同様に、光束LC及び光束LDを副走査方向に集光するために、2つのシリンドリカルレンズ104c及び104dを個別に配置しているが、その代わりに、1つの共通のシリンドリカルレンズを配置しても構わない。
また、光束LA及び光束LBの主走査方向の光束幅を制限するために、2つの第2の開口絞り106a及び106bを個別に配置しているが、その代わりに、1つの共通の第2の開口絞りを配置しても構わない。
同様に、光束LC及び光束LDの主走査方向の光束幅を制限するために、2つの第2の開口絞り106c及び106dを個別に配置しているが、その代わりに、1つの共通の第2の開口絞りを配置しても構わない。
In the
Similarly, in order to condense the light beam LC and the light beam LD in the sub-scanning direction, the two
Further, in order to limit the light beam widths of the light beam LA and the light beam LB in the main scanning direction, the two second aperture stops 106a and 106b are individually arranged, but instead of one common second An aperture stop may be arranged.
Similarly, two second aperture stops 106c and 106d are individually arranged in order to limit the light beam width in the main scanning direction of the light beam LC and the light beam LD, but instead of one common second The aperture stop may be arranged.
以上、好ましい実施形態について説明したが、これらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。
第一乃至第四実施形態のいずれかに係る光走査装置は、光源100から射出された光束Lを第1の開口絞り101によって光束LA及び光束LBに分割し、各光束が2つの被走査面111a及び111bを走査するように構成されていた。しかしながら、これに限られず、光源100から射出された光束Lを第1の開口絞り101によって3つ以上の光束に分割して、各光束が3つ以上の被走査面を走査するように構成することもできる。
また、第一乃至第四実施形態のいずれかに係る光走査装置では、第1の開口絞り101を光束LA及びLBの光路上において光源100とコリメータレンズ102との間に配置していたが、これに限られず、入射光学系のその他の場所に配置しても構わない。
また、第一乃至第四実施形態のいずれかに係る光走査装置では、主走査方向に広く、副走査方向に狭い開口部が設けられた第1の開口絞り101を用いていたが、これに限られず、主走査方向に狭く、副走査方向に広い開口部が設けられた開口絞りを用いても構わない。この場合、光束LA及びLBの第1の開口絞り101による分割直後の光路は、副走査断面内において互いに一致することになる。
また、第一乃至第四実施形態のいずれかに係る光走査装置1では、第1の開口絞り101を用いて光束を分割していたが、これに限られず、光束を分割するために、透光部材に遮光部材を部分的に貼着したような光学部材を用いても構わない。
また、第一乃至第四実施形態のいずれかに係る光走査装置では、光束LA及び光束LBは、共通のコリメータレンズ102によって平行光束に変換されていたが、これに限られず、各々の光束に対して、個別のコリメータレンズを設けても構わない。
また、第二乃至第四実施形態のいずれかに係る光走査装置において、入射光学系内に光束を反射するための反射ミラー等を設けても構わない。
また、第一及び第三実施形態のいずれかに係る光走査装置において、偏向器107の代わりに、偏向器207を用いても構わない。
As mentioned above, although preferable embodiment was described, it is not limited to these embodiment, A various deformation | transformation and change are possible within the range of the summary.
The optical scanning device according to any one of the first to fourth embodiments divides the light beam L emitted from the
In the optical scanning device according to any of the first to fourth embodiments, the
Further, in the optical scanning device according to any of the first to fourth embodiments, the
In the
In the optical scanning device according to any one of the first to fourth embodiments, the light beam LA and the light beam LB are converted into parallel light beams by the
In the optical scanning device according to any of the second to fourth embodiments, a reflection mirror or the like for reflecting the light beam may be provided in the incident optical system.
Further, in the optical scanning device according to any of the first and third embodiments, a
[画像形成装置]
図9は、第一乃至第三実施形態のいずれかに係る光走査装置が搭載されたカラー画像形成装置90の要部副走査断面図である。
[Image forming apparatus]
FIG. 9 is a cross-sectional view of the main part of the color
画像形成装置90は、第一乃至第三実施形態のいずれかに係る光走査装置を用いて、像担持体である各感光ドラム面上に画像情報を記録するタンデムタイプのカラー画像形成装置である。
画像形成装置90は、第一乃至第三実施形態のいずれかに係る光走査装置11、12、像担持体としての感光ドラム23、24、25、26及び現像器15、16、17、18を備えている。また、画像形成装置90は、搬送ベルト91、プリンタコントローラ93、定着器94及び用紙カセット95を備えている。
The
The
画像形成装置90には、パーソナルコンピュータ等の外部機器92から出力されたR(レッド)、G(グリーン)、B(ブルー)の各色信号(コードデータ)が入力される。入力された色信号は、画像形成装置90内のプリンタコントローラ93によって、C(シアン),M(マゼンタ),Y(イエロー)、K(ブラック)の各画像データ(ドットデータ)に変換される。変換された各画像データはそれぞれ、光走査装置11、12に入力される。そして、光走査装置11、12からはそれぞれ、各画像データに応じて変調された光ビーム19、20、21、22が射出され、これらの光ビームによって感光ドラム23、24、25、26の感光面が露光される。
The
感光ドラム23、24、25、26の表面を一様に帯電せしめる帯電ローラ(不図示)が表面に当接するように設けられている。そして、帯電ローラによって帯電された感光ドラム23、24、25、26の表面に、光走査装置11、12によって光ビーム19、20、21、22が照射されるようになっている。
A charging roller (not shown) for uniformly charging the surfaces of the
上で述べたように、光ビーム19、20、21、22は各色の画像データに基づいて変調されており、光ビーム19、20、21、22を照射することによって感光ドラム23、24、25、26の表面に静電潜像が形成される。形成された静電潜像は、感光ドラム23、24、25、26に当接するように配設された現像器15、16、17、18によってトナー像として現像される。
As described above, the light beams 19, 20, 21, and 22 are modulated based on the image data of each color, and the
現像器15乃至18によって現像されたトナー像は、感光ドラム23乃至26に対向するように配設された不図示の転写ローラ(転写器)によって、用紙カセット95から搬送ベルト91上を搬送される不図示の用紙(被転写材)上に多重転写され、1枚のフルカラー画像が形成される。
The toner images developed by the developing
以上のようにして、未定着トナー像が転写された用紙は、さらに感光ドラム23、24、25、26後方(図9において左側)の定着器94へと搬送される。定着器94は、内部に定着ヒータ(不図示)を有する定着ローラとこの定着ローラに圧接するように配設された加圧ローラとで構成されている。転写部から搬送されてきた用紙は、定着ローラと加圧ローラの圧接部にて加圧しながら加熱されることにより、用紙上の未定着トナー像が定着される。さらに定着ローラの後方には不図示の排紙ローラが配設されており、排紙ローラは定着された用紙を画像形成装置90の外に排出せしめる。
As described above, the sheet on which the unfixed toner image is transferred is further conveyed to the fixing
カラー画像形成装置90は、光走査装置11、12を2個並べ、各々がC、M、Y、Kの各色に対応し、各々並行して感光ドラム23、24、25、26の感光面上に画像信号(画像情報)を記録し、カラー画像を高速に印字するものである。
なお、プリンタコントローラ93は、先に説明したデータの変換だけでなく、感光ドラム23乃至26を駆動するモータに加えて、画像形成装置90内の各構成要素や、光走査装置11、12内のポリゴンモータなどの制御を行う。
外部機器92としては、例えばCCDセンサを備えたカラー画像読取装置が用いられても良い。この場合には、このカラー画像読取装置と、カラー画像形成装置90とで、カラーデジタル複写機が構成される。
The color
In addition to the data conversion described above, the
As the
なお、カラー画像形成装置90では、2つの第一乃至第三実施形態に係る光走査装置を用いているが、この代わりに、1つの第四実施形態に係る光走査装置を用いても構わない。
また、本実施形態に係る画像形成装置の記録密度は、特に限定されない。しかしながら、記録密度が高くなればなるほど、高画質が求められることを考えると、1200dpi以上の画像形成装置において、第一乃至第四実施形態の効果はより発揮される。
In the color
Further, the recording density of the image forming apparatus according to the present embodiment is not particularly limited. However, considering that the higher the recording density is, the higher the image quality is required, the effects of the first to fourth embodiments are more exhibited in an image forming apparatus of 1200 dpi or more.
1 光走査装置
75 入射光学系
85 結像光学系
101 第1の開口絞り(分割手段)
107 偏向器
111a、111b 被走査面
L 光束(第1の光束)
LA、LB 光束(複数の光束)
1 optical scanning device 75 incident optical system 85 imaging
107
LA, LB luminous flux (multiple luminous fluxes)
Claims (14)
第1の光束が通過する複数の通過部が設けられた分割手段を備え、該分割手段によって前記第1の光束から分割された複数の光束を前記偏向器に入射させる入射光学系と、
前記偏向器によって偏向された前記複数の光束を前記複数の被走査面に導光する結像光学系と、
を有することを特徴とする光走査装置。 A deflector that deflects a light beam to scan a plurality of scanned surfaces in the main scanning direction;
An incident optical system including a dividing unit provided with a plurality of passage portions through which the first light beam passes, and causing the plurality of light beams divided from the first light beam by the dividing unit to enter the deflector;
An imaging optical system for guiding the plurality of light beams deflected by the deflector to the plurality of scanned surfaces;
An optical scanning device comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016199781A JP2018063276A (en) | 2016-10-11 | 2016-10-11 | Optical scanner |
Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|
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Publications (1)
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---|---|
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2016
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