JP2018056577A - Film formation processing device, and imprint device - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an imprint system and the other which make possible to perform a film formation process satisfactorily and to execute stable imprint.SOLUTION: A film formation processing device comprises: a first hydrophilic treatment part 62 for hydrophilizing a surface of a target object; a second hydrophilic treatment part 64 for hydrophilizing a surface of a target object in a way different from that in the first hydrophilic treatment part 62; a surface-state detector part 72 for measuring a degree of hydrophilization on the surface of the target object subjected to the treatment by the first hydrophilic treatment part 62; a determination part 74 for comparing a measurement value measured by the surface-state detector part 72 with a threshold to determine whether the measurement value is equal to or under or over the threshold; a film formation treatment part 80 which is arranged so as to form a film on the surface of the target object if the detection value is equal to or under the threshold, and to form a film on the target object after a hydrophilic treatment on the surface of the target object by the second hydrophilic treatment part 64 if the detection value is equal to or over the threshold, although the detection value is made equal to or under the threshold as a result of treatment by the second hydrophilic treatment part 64; and a transfer part transferring a transfer pattern to a transfer base.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、インプリントシステム及びインプリント方法に関する。   The present invention relates to an imprint system and an imprint method.

近年、フォトリソグラフィ技術に代わる微細なパターン形成技術として、インプリント方法を用いたパターン形成技術が注目されている。インプリント方法は、微細な凹凸構造を備えた型材(モールド)を用い、凹凸構造をインプリント材料に転写することで微細構造を等倍転写するパターン形成技術である。例えば、インプリント材料として光硬化性樹脂組成物を用いたインプリント方法では、転写基板の表面に光硬化性樹脂組成物を供給し、凹凸パターンを有するモールドと転写基板の表面のインプリント材料とを接触させ、必要に応じて加圧して凹凸パターン内に光硬化性樹脂組成物を充填し、この状態で光を照射して光硬化性樹脂組成物を硬化させ、その後、モールドを樹脂層から引き離すことにより、モールドが備える凹凸が反転した凹凸構造を有するパターン構造体を形成する。   In recent years, a pattern forming technique using an imprint method has attracted attention as a fine pattern forming technique that replaces the photolithography technique. The imprint method is a pattern formation technique that uses a mold material (mold) having a fine concavo-convex structure and transfers the concavo-convex structure to the imprint material to transfer the fine structure at an equal magnification. For example, in an imprint method using a photocurable resin composition as an imprint material, the photocurable resin composition is supplied to the surface of the transfer substrate, a mold having a concavo-convex pattern, and an imprint material on the surface of the transfer substrate And pressurizing as necessary to fill the concavo-convex pattern with the photocurable resin composition. In this state, light is irradiated to cure the photocurable resin composition, and then the mold is removed from the resin layer. By pulling apart, a pattern structure having a concavo-convex structure in which the concavo-convex provided in the mold is inverted is formed.

インプリント方法では、モールドを樹脂層から引き離す際に転写に用いる樹脂層がモールドに付着、又は転写基板から剥がれることを防ぐため、モールドには離型剤を成膜し、転写基板には密着剤を成膜して、樹脂層の剥離と密着を制御している。   In the imprint method, when the mold is separated from the resin layer, in order to prevent the resin layer used for transfer from adhering to the mold or peeling off from the transfer substrate, a mold release agent is formed on the mold, and the adhesive is applied to the transfer substrate. Is used to control the peeling and adhesion of the resin layer.

モールド又は転写基板に成膜する前に、成膜処理を安定して行うためにモールドや転写基板の表面の有機物等を除去して親水化する必要がある。一般的によく知られている親水化方式として、酸やアルカリ等の薬剤を用いたウェット方式やUVやプラズマ照射によるドライ方式が知られている。   Before forming a film on the mold or transfer substrate, it is necessary to remove the organic matter on the surface of the mold or transfer substrate to make it hydrophilic in order to perform the film forming process stably. As a well-known hydrophilization method, a wet method using a chemical such as acid or alkali, or a dry method using UV or plasma irradiation is known.

従来、ウェット方式の親水化処理を実施後、洗浄時に残留した硫酸に対する雰囲気中の物質の付着を低減する目的で、所定の時間が経過する前にインプリントを実行するインプリント装置が知られている(特許文献1参照)。   Conventionally, there has been known an imprint apparatus that performs imprinting before a predetermined time elapses in order to reduce adhesion of substances in the atmosphere to sulfuric acid remaining at the time of cleaning after wet-type hydrophilization treatment. (See Patent Document 1).

特開2011−66364号公報JP 2011-66364 A

ところで、ウェット方式は、ドライ方式と比較して一度の処理で対象物を親水化させやすいものの、酸やアルカリ等の薬剤を用いるため、対象物の材料によっては外形などに変化をもたらし、また、洗浄後、その薬剤をリンス液でリンスし、その後、リンス液を乾燥させる必要があり、一連の処理が煩雑となる。一方で、ドライ方式は、ウェット方式と比較して簡便に親水化処理が可能であるが、長時間の照射により対象物の温度が上昇しパターン寸法に影響を与える可能性があり、制限がある。生産性良く、安定してインプリントを実行するには、適切に対象物を親水化させることができ、このような親水化を簡便に行なうことが望まれている。   By the way, the wet method is easy to hydrophilize the object in one treatment compared to the dry method, but because of the use of chemicals such as acid and alkali, depending on the material of the object, changes in the outer shape, etc. After washing, the chemical must be rinsed with a rinse solution, and then the rinse solution needs to be dried, which makes a series of processes complicated. On the other hand, the dry method can be easily hydrophilized as compared to the wet method, but there is a possibility that the temperature of the object may increase due to long-time irradiation, and the pattern size may be affected. . In order to stably perform imprinting with high productivity, it is desirable to appropriately hydrophilize the object, and to easily perform such hydrophilization.

そこで、本発明は上記問題を課題の一例としてなされたもので、良好に成膜処理を行い、安定してインプリントを実行可能なインプリントシステム等を提供することにある。   Accordingly, the present invention has been made with the above problem as an example of an object, and it is an object of the present invention to provide an imprint system or the like that can perform a film forming process satisfactorily and perform imprinting stably.

上記課題を解決するため、本発明は次のような構成を採用する。   In order to solve the above problems, the present invention employs the following configuration.

請求項1に係る成膜処理装置は、転写基板(15)にインプリント材料(5)を供給し、モールド(25)を用いて前記転写基板上に樹脂パターンを形成するインプリント装置(2)における前記転写基板又は前記モールドの成膜処理装置であって、前記転写基板又は前記モールドの表面を親水化する第1親水化処理部(62)と、前記第1親水化処理部とは異なる方式により、前記転写基板又は前記モールドの表面を親水化する第2親水化処理部(64)と、前記第1親水化処理部により処理された前記転写基板又は前記モールドの表面の親水化の度合いを測定する表面状態検出部(72)と、予め規定された表面状態を示す閾値を有し、前記表面状態検出部により測定された測定値と前記閾値とを比較し、前記測定値が前記閾値以下、又は閾値以上のいずれであるかを判定する判定部(74)と、前記検出値が前記閾値以下である場合に、前記転写基板又は前記モールドの表面に成膜し、前記検出値が前記閾値以上である場合であって、前記第2親水化処理部による処理によって前記検出値が前記閾値以下となる場合に、前記第2親水化処理部により前記転写基板又は前記モールドの表面を親水化処理した後、前記転写基板又は前記モールドの表面に成膜する成膜処理部(80)と、を備えていることを特徴とする。   A film forming apparatus according to claim 1 supplies an imprint material (5) to a transfer substrate (15) and forms a resin pattern on the transfer substrate using a mold (25). A film forming apparatus for the transfer substrate or the mold according to claim 1, wherein the first hydrophilic treatment section (62) for hydrophilizing the surface of the transfer substrate or the mold is different from the first hydrophilic treatment section. The degree of hydrophilicity of the surface of the transfer substrate or the mold treated by the first hydrophilization treatment part and the second hydrophilic treatment part (64) for hydrophilizing the surface of the transfer substrate or the mold. The surface state detection unit (72) to be measured has a threshold value indicating a predetermined surface state, the measured value measured by the surface state detection unit is compared with the threshold value, and the measured value is equal to or less than the threshold value ,or A determination unit (74) for determining whether the detection value is equal to or greater than a threshold value, and when the detection value is equal to or less than the threshold value, a film is formed on the surface of the transfer substrate or the mold; After the surface of the transfer substrate or the mold is hydrophilized by the second hydrophilization processing unit when the detection value is equal to or lower than the threshold value by the processing by the second hydrophilization processing unit. And a film formation processing unit (80) for forming a film on the surface of the transfer substrate or the mold.

また、請求項2に係るインプリント装置(2)は、転写基板(15)にインプリント材料(5)を供給し、モールド(25)を用いて前記転写基板上に樹脂パターンを形成するインプリント装置であって、前記転写基板又は前記モールドの表面を親水化する第1親水化処理部(62)と、前記第1親水化処理部とは異なる方式により、前記転写基板又は前記モールドの表面を親水化する第2親水化処理部(64)と、前記第1親水化処理部により処理された前記転写基板又は前記モールドの表面の親水化の度合いを測定する表面状態検出部(72)と、予め規定された表面状態を示す閾値を有し、前記表面状態検出部により測定された測定値と前記閾値とを比較し、前記測定値が前記閾値以下、又は閾値以上のいずれであるかを判定する判定部(74)と、前記検出値が前記閾値以下である場合に、前記転写基板又は前記モールドの表面に成膜し、前記検出値が前記閾値以上である場合であって、前記第2親水化処理部による処理によって前記検出値が前記閾値以下となる場合に、前記第2親水化処理部により前記転写基板又は前記モールドの表面を親水化処理した後、前記転写基板又は前記モールドの表面に成膜する成膜処理部(80)と、前記成膜処理部により成膜された前記転写基板又は前記モールドを用いて、転写パターンを転写基材に転写させる転写部(30)を更に備えていることを特徴とする。   An imprint apparatus (2) according to claim 2 supplies an imprint material (5) to a transfer substrate (15) and forms a resin pattern on the transfer substrate using a mold (25). A first hydrophilic treatment section (62) for hydrophilizing the surface of the transfer substrate or the mold, and the surface of the transfer substrate or the mold by a method different from the first hydrophilic treatment section. A second hydrophilic treatment section (64) to be hydrophilic, a surface condition detection section (72) to measure the degree of hydrophilicity of the surface of the transfer substrate or the mold treated by the first hydrophilic treatment section, It has a threshold value indicating a predefined surface state, compares the measured value measured by the surface state detection unit with the threshold value, and determines whether the measured value is less than or equal to the threshold value Judgment (74) and when the detected value is less than or equal to the threshold value, a film is formed on the surface of the transfer substrate or the mold, and the detected value is greater than or equal to the threshold value, and the second hydrophilization treatment When the detected value is equal to or less than the threshold value by the processing by the unit, the second hydrophilic treatment unit hydrophilizes the transfer substrate or the mold surface, and then forms a film on the transfer substrate or the mold surface. And a transfer unit (30) for transferring a transfer pattern to a transfer substrate using the transfer substrate or the mold formed by the film formation unit. It is characterized by.

本発明によれば、良好に成膜処理が行われるので、離型処理あるいは密着処理が安定化し、安定してインプリントを実行することができる。   According to the present invention, since the film forming process is performed satisfactorily, the mold release process or the adhesion process is stabilized, and the imprint can be executed stably.

本発明の一実施形態に係るインプリントシステムの構成を示す模式図である。It is a mimetic diagram showing composition of an imprint system concerning one embodiment of the present invention. 本発明の一実施形態に係るインプリントシステムを示す模式図である。It is a mimetic diagram showing an imprint system concerning one embodiment of the present invention. 本発明の一実施形態に係るインプリント方法のフローチャート図である。It is a flowchart figure of the imprint method which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係るインプリント方法を示す工程断面図である。It is process sectional drawing which shows the imprint method which concerns on one Embodiment of this invention.

以下、本発明の最良の実施形態について図面に基づいて説明する。   Hereinafter, the best embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

<インプリントシステム>
(第1の実施形態)
本発明の一実施形態に係るインプリントシステム2は、図1に示すように、インプリント処理ユニット10と、親水化処理ユニット60と、判定処理ユニット70と、成膜処理ユニット80と、を備えている。
<Imprint system>
(First embodiment)
As shown in FIG. 1, the imprint system 2 according to an embodiment of the present invention includes an imprint processing unit 10, a hydrophilization processing unit 60, a determination processing unit 70, and a film forming processing unit 80. ing.

インプリント処理ユニット10は、図2に示すように、インプリント材料5の液滴を転写基板15に吐出する吐出ユニット20と、凹凸パターン25aが形成された型材(以下、「モールド25」と称する。)を用いてインプリント材料5を成型し、本願の転写基材として機能する転写基板15上に凹凸パターン25aを転写させる転写ユニット30と、を備える。   As shown in FIG. 2, the imprint processing unit 10 includes a discharge unit 20 that discharges droplets of the imprint material 5 onto a transfer substrate 15 and a mold material on which a concavo-convex pattern 25a is formed (hereinafter referred to as “mold 25”). And the transfer unit 30 for transferring the concavo-convex pattern 25a onto the transfer substrate 15 that functions as a transfer base material of the present application.

吐出ユニット20は、例えば、インクジェットヘッド17のノズル17aから転写基板15の表面にインプリント材料5の液滴が吐出される。なお、吐出ユニット20は、本実施形態のようにインクジェット方式に限定されるものではなく、例えば、スピンコート等を用いて転写基板15上にインプリント材料5を濡れ拡げる態様としても構わない。   For example, the ejection unit 20 ejects droplets of the imprint material 5 from the nozzles 17 a of the inkjet head 17 onto the surface of the transfer substrate 15. The discharge unit 20 is not limited to the ink jet system as in the present embodiment, and may be an aspect in which the imprint material 5 is wet spread on the transfer substrate 15 using, for example, spin coating.

また、インプリント材料5には、例えば、熱可塑性樹脂組成物や熱硬化性樹脂組成物、あるいは光硬化性樹脂組成物が用いられ、例えば、光硬化性樹脂組成物を用いた場合には当該インプリント材料5は所定の光Lを照射することで硬化する。   Further, for the imprint material 5, for example, a thermoplastic resin composition, a thermosetting resin composition, or a photocurable resin composition is used. For example, when the photocurable resin composition is used, The imprint material 5 is cured by irradiating a predetermined light L.

転写ユニット30は、転写基板15を支持して水平方向に駆動可能なステージ32と、モールド25を転写基板15と対峙させて支持する支持体34と、図2中の矢印に示すように、モールド25を下方に移動してこのモールド25を転写基板15に供給されたインプリント材料5に接触させるとともに、当該モールド25を上方に移動してインプリント材料5から引き離す移動ユニット(図示せず)と、表面にインプリント材料5の液滴が供給された転写基板15にモールド25を接触させた際にインプリント材料5を硬化させるための光Lを照射する照射ユニット35と、を備えている。   The transfer unit 30 includes a stage 32 that supports the transfer substrate 15 and can be driven in the horizontal direction, a support 34 that supports the mold 25 against the transfer substrate 15, and a mold as indicated by an arrow in FIG. A moving unit (not shown) that moves the mold 25 downward to bring the mold 25 into contact with the imprint material 5 supplied to the transfer substrate 15, and moves the mold 25 upward to separate it from the imprint material 5. And an irradiation unit 35 for irradiating light L for curing the imprint material 5 when the mold 25 is brought into contact with the transfer substrate 15 having the surface supplied with droplets of the imprint material 5.

そして、この転写ユニット30では、ステージ32が吐出ユニット20の下方を移動し、吐出ユニット20から適宜にインプリント材料5が吐出されることでインプリント材料5が転写基板15の面上に得られる。例えば、インクジェット方式を用いた場合にはインプリント材料5の液滴が配列された転写基板15に対して、モールド25を接触させ、毛管力などを利用してインプリント材料5がモールド25と転写基板15との間に充填される。   In the transfer unit 30, the stage 32 moves below the discharge unit 20, and the imprint material 5 is appropriately discharged from the discharge unit 20, whereby the imprint material 5 is obtained on the surface of the transfer substrate 15. . For example, when the ink jet method is used, the mold 25 is brought into contact with the transfer substrate 15 on which droplets of the imprint material 5 are arranged, and the imprint material 5 is transferred to the mold 25 using capillary force or the like. It is filled between the substrate 15.

さらに、この状態でモールド側から照射ユニット35によってインプリント材料5に光Lを照射することでインプリント材料5が硬化して成型され、凹凸パターン25aを転写基板15に転写させる。なお、転写基板15はインプリント材料5が成型された後にモールド25が離間することで外部に取り出される。   Furthermore, in this state, the imprint material 5 is cured and molded by irradiating the imprint material 5 with light L from the mold side by the irradiation unit 35, and the uneven pattern 25 a is transferred to the transfer substrate 15. The transfer substrate 15 is taken out by separating the mold 25 after the imprint material 5 is molded.

なお、インプリント処理ユニット10の吐出ユニット20及び転写ユニット30は一般的な機構を採用することができ、各構成の詳細な説明は省略するものとする。   It should be noted that the discharge unit 20 and the transfer unit 30 of the imprint processing unit 10 can employ general mechanisms, and detailed description of each configuration is omitted.

図1に示すように、親水化処理ユニット60は、モールド25や転写基板15の親水化処理を行うものであって、例えば、インプリント処理ユニット10によるインプリントの後や、初期にモールド15や転写基板25を設置する際に行う。   As shown in FIG. 1, the hydrophilization processing unit 60 performs the hydrophilization processing of the mold 25 and the transfer substrate 15. For example, after imprinting by the imprint processing unit 10, This is performed when the transfer substrate 25 is installed.

インプリントを安定して行うために、モールド25に離型層を形成する場合や転写基板15に密着層を形成する場合には、親水化処理ユニット60により親水化処理が行われた上で成膜処理ユニット80により成膜処理が実行される。   In order to stably perform imprinting, when a release layer is formed on the mold 25 or when an adhesion layer is formed on the transfer substrate 15, the hydrophilic treatment unit 60 performs the hydrophilic treatment. A film forming process is executed by the film processing unit 80.

親水化処理ユニット60は、本願の対象物として機能するモールド25又は転写基板15の表面を所定の方式によって親水化処理を行う第1親水化処理部62(第1の処理手段)と、当該モールド25又は転写基板15の表面を第1親水化処理とは異なる方式によって親水化処理を行う第2親水化処理部64(第2の処理手段)と、を備えている。なお、「親水化」とは、水などの液滴を垂らしたときに水滴にならずに広がり、液滴の接触角が0°に近くなる状態をいう。親水化処理は、例えば、表面の有機物除去や表面改質などの処理を含むものである。   The hydrophilization treatment unit 60 includes a first hydrophilization treatment unit 62 (first treatment means) that performs a hydrophilization treatment on the surface of the mold 25 or the transfer substrate 15 that functions as an object of the present application by a predetermined method, and the mold. 25 or a second hydrophilic treatment section 64 (second treatment means) that performs hydrophilic treatment on the surface of the transfer substrate 15 by a method different from the first hydrophilic treatment. “Hydrophilization” refers to a state in which when a droplet such as water is dropped, it spreads without becoming a water droplet, and the contact angle of the droplet becomes close to 0 °. The hydrophilization treatment includes, for example, treatment such as surface organic substance removal and surface modification.

また、親水化処理ユニット60は、モールド25又は転写基板15の表面の接触角を低下させるものであって、第1親水化処理部62による接触角の低下量は、第2親水化処理部64による接触角の低下量よりも大きくなるように構成してもよい。例えば、第1親水化処理部62による接触角の低下量を70〜100°とし、第2親水化処理部64による接触角の低下量を20〜30°とすることができる。接触角は、例えば、マイクロシリンジから水滴を滴下して30秒後に接触角測定器(協和界面科学(株)製 CA−Z型)を用いて測定される。   The hydrophilic treatment unit 60 is for reducing the contact angle of the surface of the mold 25 or the transfer substrate 15, and the amount of decrease in the contact angle by the first hydrophilic treatment unit 62 is the second hydrophilic treatment unit 64. You may comprise so that it may become larger than the fall amount of the contact angle by. For example, the amount of decrease in the contact angle by the first hydrophilization processing unit 62 can be 70 to 100 °, and the amount of decrease in the contact angle by the second hydrophilization processing unit 64 can be 20 to 30 °. The contact angle is measured, for example, using a contact angle measuring device (CA-Z type manufactured by Kyowa Interface Science Co., Ltd.) 30 seconds after dropping a water drop from a microsyringe.

具体的には、第1親水化処理部62は、酸やアルカリ等の溶剤を用いたウェット処理によって親水化を図るものであり、第2親水化処理部64は、UV照射やプラズマ照射などのオゾン処理又はプラズマ処理を用いたドライ処理によって親水化を図るものである。   Specifically, the first hydrophilization treatment unit 62 is intended to be hydrophilized by wet treatment using a solvent such as acid or alkali, and the second hydrophilization treatment unit 64 is used for UV irradiation or plasma irradiation. Hydrophilization is achieved by dry treatment using ozone treatment or plasma treatment.

ウェット処理では、例えば、酸又はアルカリ等の薬剤をモールド25又は転写基板15の表面に接触させた後、純水等で水洗いして薬液を除去し、その後乾燥させる。この処理方式では、薬液中にモールド25又は転写基板15を浸水させる浸漬法のほか、薬液をモールド25又は転写基板15の表面に吹き付けるスプレー法等一般的に公知の技術を適用して行われる。   In the wet treatment, for example, a chemical such as acid or alkali is brought into contact with the surface of the mold 25 or the transfer substrate 15 and then washed with pure water or the like to remove the chemical and then dried. This processing method is performed by applying a generally known technique such as a spray method in which a chemical solution is sprayed on the surface of the mold 25 or the transfer substrate 15 in addition to an immersion method in which the mold 25 or the transfer substrate 15 is immersed in the chemical solution.

一方、ドライ処理では、例えば、UV等の光をモールド25又は転写基板15の表面に照射したり、モールド25又は転写基板15の表面をプラズマに曝したりする。この処理方式では、上述した光照射装置のほか、プラズマ照射装置等一般的に公知の技術を適用して行われる。   On the other hand, in the dry treatment, for example, the surface of the mold 25 or the transfer substrate 15 is irradiated with light such as UV, or the surface of the mold 25 or the transfer substrate 15 is exposed to plasma. In this processing method, a generally known technique such as a plasma irradiation apparatus is applied in addition to the light irradiation apparatus described above.

光照射装置は、例えば、10〜400nmの波長域を含む光を照射するものであり、この波長域のうち好ましい範囲としては、170〜260nmである。170nmより小さい波長域の光を利用すると特別な防護設備が必要となる虞があり、260nmより大きい波長域の光を利用するとモールド25又は転写基板15に付着する有機物によっては除去しにくくなる虞があるからである。   A light irradiation apparatus irradiates the light containing the wavelength range of 10-400 nm, for example, As a preferable range among this wavelength range, it is 170-260 nm. If light having a wavelength range of less than 170 nm is used, special protective equipment may be required. If light having a wavelength range of greater than 260 nm is used, it may be difficult to remove depending on the organic matter attached to the mold 25 or the transfer substrate 15. Because there is.

プラズマ装置は、例えば、真空チャンバー内にモールド25や転写基板15を載置して、酸素やフッ素、あるいは不活性ガス等を含む混合気体を供給し、高周波電流を印加してプラズマを発生させ、モールド25や転写基板15の表面に成膜された層をアッシングして除去するものであり、例えば、酸素ガスを用いた酸素プラズマ照射により実施されるが、連続処理に向く窒素ガスや酸素ガスを用いた大気圧プラズマ照射が好ましい。   The plasma apparatus, for example, places the mold 25 or the transfer substrate 15 in a vacuum chamber, supplies a mixed gas containing oxygen, fluorine, or an inert gas, generates a plasma by applying a high-frequency current, The layer formed on the surface of the mold 25 or the transfer substrate 15 is removed by ashing. For example, it is performed by oxygen plasma irradiation using oxygen gas, but nitrogen gas or oxygen gas suitable for continuous processing is used. The atmospheric pressure plasma irradiation used is preferred.

判定処理ユニット70は、第1親水化処理部62によるウェット処理後のモールド25又は転写基板15の表面状態に基づいて成膜処理やインプリントを適切に実行可能か否かを判定する。   The determination processing unit 70 determines whether the film forming process or the imprint can be appropriately executed based on the surface state of the mold 25 or the transfer substrate 15 after the wet process by the first hydrophilization processing unit 62.

この判定処理ユニット70は、図1に示すように、第1親水化処理部62において親水化処理されたモールド25又は転写基板15の表面状態を測定する表面状態検出部72(検出手段)と、その測定結果に基づいて成膜処理又はインプリントを適切に実行可能か否かを判定する判定部74(比較手段)と、を備えている。   As shown in FIG. 1, the determination processing unit 70 includes a surface state detection unit 72 (detection unit) that measures the surface state of the mold 25 or the transfer substrate 15 that has been subjected to hydrophilic treatment in the first hydrophilic treatment unit 62, and A determination unit 74 (comparison means) for determining whether or not the film forming process or the imprint can be appropriately executed based on the measurement result.

表面状態検出部72は、モールド25又は転写基板15の親水化の度合いを測定する装置を備える。具体的には、この親水化の度合いは、例えば、接触角を測定することで求められ、液滴を滴下して、その液滴の像を側面から撮影して、液滴の接触角を求める。液滴の接触角が小さいほど親水化の度合いは高く、液滴の接触角が大きいほど親水化の度合いは低い。表面状態検出部72としては、上述の協和界面科学(株)製のCA−Z型の接触角計を用いることができる。   The surface state detection unit 72 includes a device that measures the degree of hydrophilicity of the mold 25 or the transfer substrate 15. Specifically, the degree of hydrophilization is obtained, for example, by measuring a contact angle. A droplet is dropped, an image of the droplet is taken from the side, and the contact angle of the droplet is obtained. . The smaller the contact angle of the droplet, the higher the degree of hydrophilicity, and the larger the contact angle of the droplet, the lower the degree of hydrophilicity. As the surface state detection unit 72, the CA-Z type contact angle meter manufactured by Kyowa Interface Science Co., Ltd. can be used.

判定部74は、予め規定された表面状態(接触角)の閾値を示す大小2つの基準値を用いて所定の処理を実施するための判定がなされる。この閾値は、親水化の度合いを判断するための値であって、一方の閾値は、例えば、成膜処理を行う上で最適な接触角の上限値であり、この閾値以下であれば、親水性の度合いが良好であることを示す。他方の閾値は、ドライ処理を実施してもウェット処理後の接触角の値以下に戻らない接触角の値である。すなわち、測定値が一方の閾値と他方の閾値の間であれば、ドライ処理により親水性の度合いを良好にでき、他方の閾値を超える場合は、ウェット処理を再度行う必要があることを示す。   The determination unit 74 makes a determination for performing a predetermined process using two reference values that are large and small that indicate a threshold value of the surface state (contact angle) defined in advance. This threshold value is a value for determining the degree of hydrophilicity, and one threshold value is, for example, the upper limit value of the optimum contact angle for performing the film forming process. The degree of sex is good. The other threshold is a value of a contact angle that does not return to a value of the contact angle after the wet treatment even when the dry treatment is performed. That is, if the measured value is between one threshold value and the other threshold value, the hydrophilicity can be improved by dry treatment, and if the measured value exceeds the other threshold value, it indicates that the wet treatment needs to be performed again.

なお、一例として、一方の閾値(本願の閾値)は、5°であり、他方の閾値は、25〜35°である。   As an example, one threshold value (threshold value of the present application) is 5 °, and the other threshold value is 25 to 35 °.

また、本実施形態の判定部74では2つの閾値を用いているが、一方の閾値のみを用いてもよい。1つの閾値を用いて判定を行う際には、測定値が一方の閾値よりも大きい場合、ウェット処理により処理された対象物の測定値と閾値との差が、ドライ処理により親水性の度合いを良好に処理できる値(25〜35°以下)であるか、ドライ処理により親水性の度合いを良好に処理できない値(25〜35°を超える場合)であるか判定する。   In the determination unit 74 of the present embodiment, two threshold values are used, but only one threshold value may be used. When making a determination using one threshold value, if the measured value is larger than one threshold value, the difference between the measured value of the object processed by the wet process and the threshold value indicates the degree of hydrophilicity by the dry process. It is determined whether it is a value that can be satisfactorily processed (25 to 35 ° or less) or a value that cannot be satisfactorily processed by the dry treatment (when exceeding 25 to 35 °).

そして、判定部74では、測定された測定値(検出値)と2つの閾値とを比較し、測定された測定値が、一方の閾値以下、他方の閾値以上、2つの閾値の間のいずれであるかを判定する。   Then, the determination unit 74 compares the measured value (detected value) with the two thresholds, and the measured value is less than one threshold, greater than the other threshold, and between the two thresholds. Determine if there is.

そして、この判定結果において、測定値が一方の閾値以下であれば、成膜処理ユニット80により成膜処理され、測定値が他方の閾値以上であれば、親水化処理ユニット60の第1親水化処理部62において再度、ウェット処理された上で、再度、判定部74にて判定される。   In this determination result, if the measured value is equal to or less than one threshold value, the film forming process is performed by the film forming processing unit 80. If the measured value is equal to or greater than the other threshold value, the first hydrophilization of the hydrophilic treatment unit 60 is performed. After the wet process is performed again in the processing unit 62, the determination unit 74 determines again.

この判定結果において、測定値が2つの基準値の間であれば、対象物にほとんどダメージを与えることなくドライ処理により親水化することができるので親水化処理ユニット60の第2親水化処理部64においてドライ処理された上で、成膜処理ユニット80により成膜処理される。   In this determination result, if the measured value is between two reference values, it can be hydrophilized by dry treatment with little damage to the object, so the second hydrophilization treatment unit 64 of the hydrophilization treatment unit 60. The film is processed by the film forming process unit 80 after being dry-processed.

この判定結果において、測定値が他方の閾値以上であれば、対象物にほとんどダメージを与えることなくドライ処理により親水化することが難しくなるので親水化処理ユニット60の第1親水化処理部62において再度ウェット処理された上で、成膜処理ユニット80により成膜処理される。   In this determination result, if the measured value is equal to or greater than the other threshold value, it is difficult to make the object hydrophilic by dry treatment without damaging the object. Therefore, in the first hydrophilic treatment unit 62 of the hydrophilic treatment unit 60, After the wet process is performed again, the film forming process is performed by the film forming process unit 80.

この判定部74では、親水化処理後の時間の経過にしたがって欠陥が増加すること、ウェット処理では、単位時間における親水化処理能力がドライ処理よりも高いものの、一連の処理が煩雑であって時間を要すること、ドライ処理では、短時間の親水化処理とするのが好ましいこと、を鑑みて、ウェット処理後の時間経過によって低下する接触角を測定し、この接触角の値によって成膜処理やインプリントを行うための適切な処理を行うための判定を行うものである。具体的には、上述したように、ウェット処理後の測定値が一方の閾値以下である場合には、そのまま成膜処理又はインプリントを実施する一方で、ウェット処理後、測定値が他方の閾値を超えている場合には、成膜処理又はインプリントの実施を行わずに、再度、ウェット処理を行った上で成膜処理またはインプリントの実施を行うか否かを判定する。さらに、ウェット処理後、2つの閾値の範囲(多少の汚れなどがあるものの、ドライ処理によって十分親水化処理が可能)である場合には、ドライ処理を行ったうえで、成膜処理又はインプリントを実施する。   In this determination unit 74, defects increase with the lapse of time after the hydrophilization treatment. In the wet treatment, the hydrophilic treatment capacity per unit time is higher than that in the dry treatment, but the series of treatments is complicated and time-consuming. In view of the fact that the dry treatment is preferably a hydrophilic treatment for a short time, the contact angle that decreases with the passage of time after the wet treatment is measured, and the film formation treatment or A determination for performing an appropriate process for imprinting is performed. Specifically, as described above, when the measured value after the wet process is equal to or less than one threshold value, the film forming process or the imprint is performed as it is, while the measured value after the wet process is the other threshold value. In the case of exceeding, the film forming process or the imprint is not performed, and it is determined whether the film forming process or the imprint is performed after performing the wet process again. Further, after the wet treatment, if the range is within two thresholds (although there is some dirt, etc., the hydrophilic treatment can be sufficiently performed by the dry treatment), the dry treatment is performed and then the film formation treatment or imprinting is performed. To implement.

このように処理することで、成膜処理又はインプリント実施前のモールド25又は転写基板15等の対象物の表面の親水性が良好となるため、安定して且つ良好に成膜処理又はインプリントを実施することが可能となる。   By processing in this way, the hydrophilicity of the surface of the object such as the mold 25 or the transfer substrate 15 before the film forming process or imprinting is improved, so that the film forming process or imprint is stably and satisfactorily performed. Can be carried out.

なお、本実施形態の表面状態検出部72は、対象物の表面を測定することにより実施されているが、対象物の表面を予測することにより実施する態様としても構わない。具体的には、ウェット処理後の経過時間を取得する時間情報取得装置と、親水化処理後の経過時間に対するパターン形成の欠陥数を示すデータベースを備え、判定部74では、この経過時間情報と、このデータベースを参照して求められる閾値とを比較することで表面状態を予測(推測)し、判定する態様としてもかまわない。   In addition, although the surface state detection part 72 of this embodiment is implemented by measuring the surface of a target object, it is good also as an aspect implemented by estimating the surface of a target object. Specifically, a time information acquisition device that acquires the elapsed time after the wet treatment, and a database that indicates the number of pattern formation defects with respect to the elapsed time after the hydrophilic treatment, the determination unit 74, The surface state may be predicted (estimated) by comparing with a threshold obtained by referring to this database, and the determination may be made.

このデータベースは、ウェット処理後に、処理後の経過時間を変えてインプリントを実行した際の欠陥数を表したものであり、経過時間が長くなるほど、その表面の親水性が低下し、欠陥数が増加する傾向にあることを示すものである。したがって、この欠陥数の数に基づいて大小2つの閾値が設定され、この閾値に基づいて判定され、適切な処理がなされる。なお、この閾値は、例えば、ウェット処理後の経過時間であり、一方の閾値は、ウェット処理後の親水性が変化しない限界時間であり、他方の閾値は、ドライ処理を実施してもウェット処理後の親水性以下に戻らない時間を規定すればよい。   This database shows the number of defects when imprinting is performed after changing the elapsed time after processing after wet processing. The longer the elapsed time, the lower the hydrophilicity of the surface and the number of defects. It shows that it tends to increase. Therefore, two large and small threshold values are set based on the number of defects, determination is made based on the threshold values, and appropriate processing is performed. This threshold value is, for example, the elapsed time after the wet process, one threshold value is a limit time during which the hydrophilicity after the wet process does not change, and the other threshold value is the wet process even if the dry process is performed. What is necessary is just to prescribe | regulate the time which does not return to below hydrophilicity later.

図1に示すように、成膜処理ユニット80は、親水化処理ユニット60によって親水化処理されたモールド25の表面を成膜処理する離型層形成処理部82と、転写基板15の表面を成膜処理する密着層形成処理部84と、を備えている。   As shown in FIG. 1, the film forming unit 80 includes a release layer forming process unit 82 for forming a film on the surface of the mold 25 hydrophilized by the hydrophilizing unit 60, and a surface of the transfer substrate 15. An adhesion layer formation processing unit 84 for film processing.

離型層形成処理部82は、例えば、インプリント材料5との付着力の低減を図るためにモールド25の表面に離型剤を塗布して成膜することによって離型層を形成するものであり、密着層形成処理部84は、例えば、転写基板15の表面とのインプリント材料5の付着力を高めるために密着剤を塗布して成膜することによって密着層を形成するものである。   The release layer formation processing unit 82 forms a release layer by, for example, applying a release agent on the surface of the mold 25 to form a release layer in order to reduce adhesion to the imprint material 5. The adhesion layer formation processing unit 84 forms an adhesion layer by, for example, applying an adhesion agent and forming a film in order to increase the adhesion of the imprint material 5 to the surface of the transfer substrate 15.

この離型剤や密着剤は、例えば、シリル基を有するシランカップリング剤が用いられる。   For example, a silane coupling agent having a silyl group is used as the release agent or the adhesive.

なお、離型剤や密着剤の処理方式は、ノズル等による噴射処理、又は処理剤中にモールド25や転写基板15を浸水させる浸漬処理等によって実行される。   In addition, the processing method of a mold release agent or an adhesive agent is executed by an injection process using a nozzle or the like, or an immersion process in which the mold 25 or the transfer substrate 15 is immersed in the processing agent.

このようなインプリントシステム2によれば、ウェット処理後の経過時間の管理を厳密に行った上でインプリントが適切に実行される。具体的には、ウェット処理後の経過時間によって、インプリント又は成膜処理の実行が可能か否かを判断し、実行不可と判断した際に適した処理(ウェット処理又はドライ処理)を行った上で、成膜処理を実行する。よって、ウェット処理後のモールド25又は転写基板15の表面の状態に応じて、適切な処理が行われた上で良好に成膜処理が行われるので、離型処理あるいは密着処理が安定化するため、安定してインプリントを実行することができる。   According to such an imprint system 2, imprint is appropriately executed after strictly managing the elapsed time after the wet process. Specifically, it is determined whether imprinting or film forming processing can be performed based on the elapsed time after the wet processing, and processing (wet processing or dry processing) suitable when it is determined that execution is impossible is performed. Above, the film forming process is executed. Therefore, the film forming process is favorably performed after an appropriate process is performed according to the state of the surface of the mold 25 or the transfer substrate 15 after the wet process, so that the mold release process or the adhesion process is stabilized. Imprinting can be executed stably.

(第2の実施形態)
次に、インプリントシステム2の他の態様を示す実施形態を説明する。なお、本実施形態は、上述した実施形態と判定手法のみが異なり、その他の構成は基本的に同じである。したがって、上述したインプリントシステム2との相違点のみを説明し、上記実施形態で示した同一部分は同一符号で示し、その説明も省略する。
(Second Embodiment)
Next, an embodiment showing another aspect of the imprint system 2 will be described. Note that this embodiment is different from the above-described embodiment only in the determination method, and other configurations are basically the same. Therefore, only differences from the above-described imprint system 2 will be described, and the same parts shown in the above-described embodiment will be denoted by the same reference numerals, and description thereof will also be omitted.

第1の実施形態では、2つの閾値を用いて判定する手法を説明したが、本実施形態は、1つの閾値を用いて判定する手法である点で異なる。   In the first embodiment, the method of determining using two threshold values has been described, but the present embodiment is different in that it is a method of determining using one threshold value.

具体的に、判定部74は、予め規定された表面状態(経過時間)の閾値を示す1つの基準値を用いて所定の処理を実施するための判定がなされる。この閾値は、例えば、ウェット処理後の経過時間であり、閾値は、ウェット処理後の親水性が変化しない限界時間である。   Specifically, the determination unit 74 performs determination for performing a predetermined process using one reference value indicating a threshold value of the surface state (elapsed time) defined in advance. This threshold is, for example, an elapsed time after the wet treatment, and the threshold is a limit time at which the hydrophilicity after the wet treatment does not change.

そして、判定部74では、表面状態検出部72によって測定された測定値(検出値)と閾値とを比較し、測定された測定値が、閾値以下、又は閾値以上のいずれであるかを判定する。   Then, the determination unit 74 compares the measurement value (detection value) measured by the surface state detection unit 72 with a threshold value, and determines whether the measured measurement value is less than or equal to the threshold value. .

そして、この判定結果において、測定値が閾値以下であれば、成膜処理ユニット80により成膜処理される。   Then, in this determination result, if the measured value is equal to or less than the threshold value, the film forming process is performed by the film forming process unit 80.

一方、測定値が閾値以上である場合であって、測定値と閾値との差が、第2親水化処理部64の処理により想定される接触角の低下量以下である場合には、第2親水化処理部64においてドライ処理された上で、成膜処理ユニット80により成膜処理される。   On the other hand, when the measured value is equal to or greater than the threshold value, and the difference between the measured value and the threshold value is equal to or less than the amount of decrease in the contact angle assumed by the processing of the second hydrophilization processing unit 64, the second The film is processed by the film forming unit 80 after being dry-processed in the hydrophilic treatment unit 64.

また、測定値が閾値以上である場合であって、測定値と閾値との差が、第2親水化処理部64の処理により想定される接触角の低下量よりも大きい場合には、親水化処理ユニット60の第1親水化処理部62において再度、ウェット処理された上で、再度、判定部74にて判定される。   Further, when the measured value is equal to or greater than the threshold value, and the difference between the measured value and the threshold value is larger than the contact angle reduction amount assumed by the processing of the second hydrophilization processing unit 64, hydrophilization is performed. After the wet treatment is performed again in the first hydrophilization processing unit 62 of the processing unit 60, the determination unit 74 determines again.

このように本実施形態では、対象物の表面をウェット処理した後、成膜処理又はインプリントの実行前に、ウェット処理後の経過時間を測定し、この測定値が閾値以下であれば、そのまま成膜処理又はインプリントを実施する判定をする一方で、ウェット処理後長時間経過している場合であって、第2親水化処理部64の処理によって、対象物の表面の接触角をウェット処理後の親水性以下にすることができる場合には、ドライ処理を行った上で、成膜処理又はインプリントを実施し、対象物の接触角をウェット処理後の親水性以下にすることができない場合には、成膜処理又はインプリントの実施を行わずに、再度、ウェット処理を行った上で成膜処理またはインプリントの実施を行う。   As described above, in the present embodiment, after the wet process is performed on the surface of the object, the elapsed time after the wet process is measured before the film formation process or the imprint is performed. While it is determined that the film forming process or the imprint is performed, the contact angle of the surface of the object is wet processed by the process of the second hydrophilization processing unit 64 when a long time has elapsed after the wet process. When the hydrophilicity can be reduced below the subsequent hydrophilicity, after performing the dry treatment, the film forming process or the imprint is performed, and the contact angle of the object cannot be reduced below the hydrophilicity after the wet treatment. In this case, the film forming process or the imprint is performed again after performing the wet process again without performing the film forming process or the imprint.

このように処理することで、成膜処理又はインプリント実施前のモールド25又は転写基板15等の対象物の表面の親水性が良好となるため、安定して且つ良好に成膜処理又はインプリントを実施することが可能となる。   By processing in this way, the hydrophilicity of the surface of the object such as the mold 25 or the transfer substrate 15 before the film forming process or imprinting is improved, so that the film forming process or imprint is stably and satisfactorily performed. Can be carried out.

<インプリント方法>
次に、第1の実施形態の手法を用いた基本的なインプリント方法を説明する。
<Imprint method>
Next, a basic imprint method using the method of the first embodiment will be described.

まず、対象となるモールド25又は転写基板15(以下、「対象物」と称する。)を準備する。そして、対象物の表面を第1親水化処理部62にてウェット処理する(ステップS101)。   First, a target mold 25 or transfer substrate 15 (hereinafter referred to as an “object”) is prepared. And the surface of a target object is wet-processed in the 1st hydrophilization process part 62 (step S101).

次に、判定処理ユニット70では、ウェット処理された対象物の接触角を測定し(ステップS102)、この測定結果に基づいて推測される対象物の表面状態からその後の処理を行うための判定を行う。この判定は、大小2つの閾値を用いて、測定値とこれらの閾値とが比較されて判定される。   Next, the determination processing unit 70 measures the contact angle of the wet-processed object (step S102), and performs a determination for performing subsequent processing from the surface state of the object estimated based on the measurement result. Do. This determination is made by comparing the measured value with these threshold values using two threshold values.

まず、測定値が一方の閾値よりも小さい場合には(ステップS103)、親水化処理後の時間が短時間であり、親水性は良好であると判断され、成膜処理ユニット80に搬送される。   First, when the measured value is smaller than one threshold value (step S103), it is determined that the time after the hydrophilic treatment is short, the hydrophilicity is good, and is transported to the film forming unit 80. .

一方で、測定値が2つの閾値の範囲内である場合(ステップS103、ステップS104)には、親水化処理後、多少時間は経過しているものの、ドライ処理で十分に親水性を良好にすることが可能であると判断され、第2親水化処理部64に搬送され、ドライ処理された後に(ステップS105)、成膜処理ユニット80に搬送される。   On the other hand, when the measured value is within the range of the two threshold values (steps S103 and S104), the hydrophilicity is sufficiently improved by the dry treatment although some time has passed after the hydrophilic treatment. Therefore, the film is transported to the second hydrophilization processing unit 64 and dried (step S105), and then transported to the film forming processing unit 80.

また、測定値が他方の閾値よりも大きい場合には(ステップS104)、親水化処理後、長時間経過しており、ドライ処理では親水性を良好にできないと判断され、第1親水化処理部62に搬送され(ステップS101)、ウェット処理された上で、再度、接触角が測定されて判定処理ユニット70において判定される。   If the measured value is larger than the other threshold (step S104), it is determined that a long time has elapsed after the hydrophilic treatment, and the hydrophilicity cannot be improved by the dry treatment, and the first hydrophilic treatment section Then, the contact angle is measured again and determined by the determination processing unit 70 after being wet processed (step S101).

次に、成膜処理ユニット80では、対象物が成膜処理され(ステップS106)、インプリント処理ユニット10に搬送され、インプリントが実行される。対象物がモールド25である場合には、例えば、離型剤が成膜され、対象物が転写基板15である場合には、例えば、密着剤が成膜される。   Next, in the film formation processing unit 80, the object is subjected to a film formation process (step S106), conveyed to the imprint processing unit 10, and imprinting is executed. When the object is the mold 25, for example, a release agent is formed, and when the object is the transfer substrate 15, for example, an adhesive is formed.

このインプリント処理部10では、まず、転写基板15にインプリント材料5をインクジェットヘッド17のノズル17aから滴下して供給する(図4(a))。   In the imprint processing unit 10, first, the imprint material 5 is dropped onto the transfer substrate 15 from the nozzle 17 a of the inkjet head 17 and supplied (FIG. 4A).

次に、転写基板15にモールド25を近接させ、このインプリント材料5に凹凸パターン25aが表面に形成されたモールド25を接触させ、転写基板15とモールド25との間にインプリント材料5を充填する。なお、必要に応じて、インプリント材料5にモールド25を接触させた後に、更にモールド25に力を加えてインプリント材料5に対して圧力を加えても構わない(図4(b))。   Next, the mold 25 is brought close to the transfer substrate 15, the mold 25 having the uneven pattern 25 a formed on the surface is brought into contact with the imprint material 5, and the imprint material 5 is filled between the transfer substrate 15 and the mold 25. To do. In addition, after making the mold 25 contact the imprint material 5 as needed, you may apply pressure to the mold 25 further and may apply a pressure with respect to the imprint material 5 (FIG.4 (b)).

次に、転写基板15に対するモールド25の位置を保持しつつ、照射ユニット35を用いてインプリント材料5を硬化させる光Lをインプリント材料5に照射することで、インプリント材料5を硬化させる(図4(c))。   Next, the imprint material 5 is cured by irradiating the imprint material 5 with light L for curing the imprint material 5 using the irradiation unit 35 while maintaining the position of the mold 25 with respect to the transfer substrate 15 ( FIG. 4 (c)).

次に、転写基板15からモールド25を離間させ、転写基板15上に樹脂パターン5Aを形成する(図4(d))。   Next, the mold 25 is separated from the transfer substrate 15, and the resin pattern 5A is formed on the transfer substrate 15 (FIG. 4D).

そして、必要に応じてエッチング等によって、樹脂パターン5Aの残膜5aを除去する(図4(e))。なお、必要に応じて更に樹脂パターン5Aをもとに転写基板15を加工し、レプリカモールド、磁気記録媒体、半導体装置等を作製してもよい。また単に硬化したインプリント材料5によって凹凸構造を得たいだけの場合には、残膜5aの除去は必ずしも要しない。例えば反射防止膜やホログラム等の光学部材の製造や、ランダム構造の形成等を目的とした偽造防止加工などに適用することが出来る。   Then, if necessary, the remaining film 5a of the resin pattern 5A is removed by etching or the like (FIG. 4E). If necessary, the transfer substrate 15 may be further processed based on the resin pattern 5A to manufacture a replica mold, a magnetic recording medium, a semiconductor device, or the like. Further, when it is only desired to obtain a concavo-convex structure with the cured imprint material 5, it is not always necessary to remove the remaining film 5a. For example, it can be applied to anti-counterfeiting processing for the purpose of manufacturing optical members such as antireflection films and holograms, and forming random structures.

また、本実施形態では、成膜処理の前段階としてステップS101に示すように、対象物の表面をウェット処理した後に、ステップS102に示すように、その対象物の表面の接触角を測定して、親水化の度合いが適正であれば、成膜処理を行い、適正でなければその親水化の度合いに対して適切な処理(ウェット処理又はドライ処理)を行うようになっているが、対象物を準備した後、ステップS101の処理を行わずに、ステップS102に示すように、その対象物の表面の接触角を測定して、成膜処理を行うために適切な処理(ウェット処理又はドライ処理)を行うための判定を行うようにしてもかまわない。このような処理により、成膜処理を行う際の対象物の表面の親水性を良好にできる。   Further, in this embodiment, as shown in step S101 as a pre-stage of the film forming process, after the surface of the object is wet-treated, the contact angle of the surface of the object is measured as shown in step S102. If the degree of hydrophilization is appropriate, a film forming process is performed. If not appropriate, an appropriate process (wet process or dry process) is performed for the degree of hydrophilization. , Without performing the process of step S101, as shown in step S102, the contact angle of the surface of the object is measured and an appropriate process (wet process or dry process) for performing the film forming process is performed. It is also possible to make a determination for By such a process, the hydrophilicity of the surface of the target object during the film forming process can be improved.

このようなインプリント方法によれば、ウェット処理後の経過時間の管理を厳密に行った上でインプリントが適切に実行される。具体的には、ウェット処理後の経過時間によって、インプリント又は成膜処理の実行が可能か否かを判断し、実行不可と判断した際に適した処理(ウェット処理又はドライ処理)を行った上で、成膜処理を実行するため、成膜処理が適切に行われて、離型処理あるいは密着処理が安定化するため、安定してインプリントを実行することができる。   According to such an imprint method, imprint is appropriately executed after strictly managing the elapsed time after the wet process. Specifically, it is determined whether imprinting or film forming processing can be performed based on the elapsed time after the wet processing, and processing (wet processing or dry processing) suitable when it is determined that execution is impossible is performed. Since the film formation process is performed above, the film formation process is appropriately performed, and the mold release process or the adhesion process is stabilized, so that the imprint can be stably performed.

5 インプリント材料
15 転写基板
25 モールド
62 第1親水化処理部
64 第2親水化処理部
72 表面状態検出部
74 判定部
80 成膜処理ユニット
5 Imprint Material 15 Transfer Substrate 25 Mold 62 First Hydrophilization Processing Unit 64 Second Hydrophilization Processing Unit 72 Surface State Detection Unit 74 Determination Unit 80 Deposition Processing Unit

Claims (2)

転写基板にインプリント材料を供給し、モールドを用いて前記転写基板上に樹脂パターンを形成するインプリント装置における前記転写基板又は前記モールドの成膜処理装置であって、
前記転写基板又は前記モールドの表面を親水化する第1親水化処理部と、
前記第1親水化処理部とは異なる方式により、前記転写基板又は前記モールドの表面を親水化する第2親水化処理部と、
前記第1親水化処理部により処理された前記転写基板又は前記モールドの表面の親水化の度合いを測定する表面状態検出部と、
予め規定された表面状態を示す閾値を有し、前記表面状態検出部により測定された測定値と前記閾値とを比較し、前記測定値が前記閾値以下、又は閾値以上のいずれであるかを判定する判定部と、
前記検出値が前記閾値以下である場合に、前記転写基板又は前記モールドの表面に成膜し、前記検出値が前記閾値以上である場合であって、前記第2親水化処理部による処理によって前記検出値が前記閾値以下となる場合に、前記第2親水化処理部により前記転写基板又は前記モールドの表面を親水化処理した後、前記転写基板又は前記モールドの表面に成膜する成膜処理部と、
を備えていることを特徴とする成膜処理装置。
An imprint material is supplied to the transfer substrate, and a resin pattern is formed on the transfer substrate using a mold.
A first hydrophilization treatment section for hydrophilizing the surface of the transfer substrate or the mold;
A second hydrophilic treatment unit that hydrophilizes the surface of the transfer substrate or the mold by a method different from the first hydrophilic treatment unit;
A surface state detection unit for measuring the degree of hydrophilicity of the surface of the transfer substrate or the mold processed by the first hydrophilization processing unit;
It has a threshold value indicating a predefined surface state, compares the measured value measured by the surface state detection unit with the threshold value, and determines whether the measured value is less than or equal to the threshold value A determination unit to perform,
When the detected value is less than or equal to the threshold value, a film is formed on the surface of the transfer substrate or the mold, and when the detected value is greater than or equal to the threshold value, the processing by the second hydrophilization processing unit When the detected value is less than or equal to the threshold value, a film forming unit that forms a film on the surface of the transfer substrate or the mold after the surface of the transfer substrate or the mold is hydrophilized by the second hydrophilizing unit. When,
A film forming apparatus characterized by comprising:
転写基板にインプリント材料を供給し、モールドを用いて前記転写基板上に樹脂パターンを形成するインプリント装置であって、
前記転写基板又は前記モールドの表面を親水化する第1親水化処理部と、
前記第1親水化処理部とは異なる方式により、前記転写基板又は前記モールドの表面を親水化する第2親水化処理部と、
前記第1親水化処理部により処理された前記転写基板又は前記モールドの表面の親水化の度合いを測定する表面状態検出部と、
予め規定された表面状態を示す閾値を有し、前記表面状態検出部により測定された測定値と前記閾値とを比較し、前記測定値が前記閾値以下、又は閾値以上のいずれであるかを判定する判定部と、
前記検出値が前記閾値以下である場合に、前記転写基板又は前記モールドの表面に成膜し、前記検出値が前記閾値以上である場合であって、前記第2親水化処理部による処理によって前記検出値が前記閾値以下となる場合に、前記第2親水化処理部により前記転写基板又は前記モールドの表面を親水化処理した後、前記転写基板又は前記モールドの表面に成膜する成膜処理部と、
前記成膜処理部により成膜された前記転写基板又は前記モールドを用いて、転写パターンを転写基材に転写させる転写部を更に備えていることを特徴とするインプリント装置。
An imprint apparatus that supplies an imprint material to a transfer substrate and forms a resin pattern on the transfer substrate using a mold,
A first hydrophilization treatment section for hydrophilizing the surface of the transfer substrate or the mold;
A second hydrophilic treatment unit that hydrophilizes the surface of the transfer substrate or the mold by a method different from the first hydrophilic treatment unit;
A surface state detection unit for measuring the degree of hydrophilicity of the surface of the transfer substrate or the mold processed by the first hydrophilization processing unit;
It has a threshold value indicating a predefined surface state, compares the measured value measured by the surface state detection unit with the threshold value, and determines whether the measured value is less than or equal to the threshold value A determination unit to perform,
When the detected value is less than or equal to the threshold value, a film is formed on the surface of the transfer substrate or the mold, and when the detected value is greater than or equal to the threshold value, the processing by the second hydrophilization processing unit When the detected value is less than or equal to the threshold value, a film forming unit that forms a film on the surface of the transfer substrate or the mold after the surface of the transfer substrate or the mold is hydrophilized by the second hydrophilizing unit. When,
An imprint apparatus, further comprising: a transfer unit that transfers a transfer pattern to a transfer substrate using the transfer substrate or the mold formed by the film forming unit.
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