JP2018054879A - Electro-optical device and electronic apparatus - Google Patents

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安川 昌宏
Masahiro Yasukawa
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To suppress an adverse effect of a temperature rise generated in a light-shielding layer on display characteristics.SOLUTION: An electro-optical device (1) includes: a counter substrate (12); an element substrate (11) having a switching element (111) controlling voltage application to a pixel electrode (112); a liquid crystal (15) interposed between the counter substrate (12) and the element substrate (11); a light-shielding layer (122) being provided between the counter substrate (12) and the liquid crystal (15) and light-shielding the switching element (111); and an enhanced reflection film (121) formed at a counter substrate (12) side of the light-shielding layer (122).SELECTED DRAWING: Figure 3

Description

本発明は、遮光層を有する電気光学装置に関する。   The present invention relates to an electro-optical device having a light shielding layer.

マトリクス状に配置された画素電極に対する電圧の印加をスイッチング素子により制御する電気光学装置が知られている。例えば特許文献1には、遮光層を用いてスイッチング素子への光照射を抑制する技術が記載されている。   An electro-optical device that controls application of a voltage to pixel electrodes arranged in a matrix by a switching element is known. For example, Patent Document 1 describes a technique for suppressing light irradiation to a switching element using a light shielding layer.

特開平6−214258号公報JP-A-6-214258

特許文献1に記載の技術においては、例えば高輝度の光源を用いた場合に遮光層における温度上昇により表示特性が悪影響を受けることがあった。   In the technique described in Patent Document 1, for example, when a high-luminance light source is used, the display characteristics may be adversely affected by the temperature rise in the light shielding layer.

これに対し本発明は、遮光層で発生する温度上昇が表示特性に悪影響を与えることを抑制する技術を提供する。   On the other hand, the present invention provides a technique for suppressing the temperature rise generated in the light shielding layer from adversely affecting the display characteristics.

本発明は、対向基板と、画素電極への電圧印加を制御するスイッチング素子を有する素子基板と、前記対向基板および前記素子基板に挟まれた液晶と、前記対向基板および前記液晶の間に設けられ、開口部を有し前記スイッチング素子を遮光する遮光層と、前記遮光層の前記対向基板側に形成された増反射膜とを有する電気光学装置を提供する。
この電気光学装置によれば、遮光層での反射効率を向上され、遮光層の温度上昇を抑制でき、表示特性に悪影響を与えることを抑制することができる。
The present invention is provided between the counter substrate, the liquid crystal sandwiched between the counter substrate, the element substrate, the element substrate having a switching element that controls voltage application to the pixel electrode, and the counter substrate and the liquid crystal. An electro-optical device having a light-shielding layer that has an opening and shields the switching element, and an increased reflection film that is formed on the counter substrate side of the light-shielding layer.
According to this electro-optical device, the reflection efficiency at the light shielding layer can be improved, the temperature rise of the light shielding layer can be suppressed, and adverse effects on the display characteristics can be suppressed.

前記開口部には、前記増反射膜が形成されていなくてもよい。
この電気光学装置によれば、開口部における透過率の低下を抑制することができる。
The aperture reflection film may not be formed in the opening.
According to this electro-optical device, it is possible to suppress a decrease in transmittance at the opening.

前記遮光層の前記素子基板側の面および前記開口部側の側面に形成された反射防止膜を有してもよい。
この電気光学装置によれば、遮光層の開口部側の側面における乱反射を抑制することができる。
You may have the anti-reflective film formed in the surface by the side of the said element substrate of the said light shielding layer, and the side surface by the side of the said opening part.
According to this electro-optical device, irregular reflection on the side surface of the light shielding layer on the opening side can be suppressed.

前記開口部に相当する領域にも前記増反射膜が形成されていてもよい。
この電気光学装置によれば、増反射膜を部分除去することが不要で、容易に遮光層に増反射膜を形成することができる。
The enhanced reflection film may be formed also in a region corresponding to the opening.
According to this electro-optical device, it is not necessary to partially remove the increased reflection film, and the increased reflection film can be easily formed on the light shielding layer.

前記遮光層は前記増反射膜側の面に形成された金属層を含み、前記増反射膜は、前記対向基板側に形成された第1誘電体層、および前記金属層側に形成され、前記第1誘電体層よりも屈折率が低い第2誘電体層を含んでもよい。
この電気光学装置によれば、金属層における反射率を改善することができる。
The light shielding layer includes a metal layer formed on the surface on the side of the increased reflection film, the increased reflection film is formed on the first dielectric layer formed on the counter substrate side, and on the metal layer side, A second dielectric layer having a refractive index lower than that of the first dielectric layer may be included.
According to this electro-optical device, the reflectance in the metal layer can be improved.

前記遮光層が、前記対向基板上に形成されていてもよい。
この電気光学装置によれば、対向基板に形成された遮光層における温度上昇を抑制することができる。
The light shielding layer may be formed on the counter substrate.
According to this electro-optical device, a temperature rise in the light shielding layer formed on the counter substrate can be suppressed.

また、本発明は、上記いずれかの電気光学装置を有する電子機器を提供する。
この電子機器によれば、遮光層の反射効率を向上され、遮光層の温度上昇が抑制でき表示特性に悪影響を与えることを抑制することができる。
The present invention also provides an electronic apparatus having any one of the above electro-optical devices.
According to this electronic apparatus, the reflection efficiency of the light shielding layer can be improved, the temperature rise of the light shielding layer can be suppressed, and adverse effects on the display characteristics can be suppressed.

一実施形態に係る電気光学装置1の構造を例示する斜視図。1 is a perspective view illustrating the structure of an electro-optical device 1 according to an embodiment. 電気光学装置1の断面構造の概要を例示する模式図。3 is a schematic diagram illustrating an outline of a cross-sectional structure of the electro-optical device 1. FIG. 対向基板12の例1に係る詳細な構成を示す模式図。The schematic diagram which shows the detailed structure which concerns on the example 1 of the opposing board | substrate 12. FIG. 開口部124と画素電極112との位置関係を示す模式図。FIG. 4 is a schematic diagram showing a positional relationship between an opening 124 and a pixel electrode 112. 増反射膜121の効果を例示する図。The figure which illustrates the effect of the reflective reflection film. 対向基板12の例2に係る詳細な構成を示す模式図。The schematic diagram which shows the detailed structure which concerns on the example 2 of the opposing board | substrate 12. FIG. 対向基板12の例3に係る詳細な構成を示す模式図。The schematic diagram which shows the detailed structure which concerns on the example 3 of the opposing board | substrate 12. FIG. 対向基板12の例4に係る詳細な構成を示す模式図。The schematic diagram which shows the detailed structure which concerns on the example 4 of the opposing board | substrate 12. FIG. 対向基板12の例5に係る詳細な構成を示す模式図。The schematic diagram which shows the detailed structure which concerns on the example 5 of the opposing board | substrate 12. FIG. 対向基板12の例6に係る詳細な構成を示す模式図。The schematic diagram which shows the detailed structure which concerns on the example 6 of the opposing board | substrate 12. FIG. 対向基板12の例7に係る詳細な構成を示す模式図。The schematic diagram which shows the detailed structure which concerns on the example 7 of the opposing board | substrate 12. FIG. 対向基板12の例8に係る詳細な構成を示す模式図。The schematic diagram which shows the detailed structure which concerns on the example 8 of the opposing board | substrate 12. FIG. 対向基板12の例9に係る詳細な構成を示す模式図。The schematic diagram which shows the detailed structure which concerns on the example 9 of the opposing board | substrate 12. FIG. 一実施形態に係るプロジェクター2100を例示する図。FIG. 6 is a diagram illustrating a projector 2100 according to an embodiment.

図1は、一実施形態に係る電気光学装置1の構造を例示する斜視図である。電気光学装置1は、外部から入力される信号に応じて画像を表示する表示装置であり、この例では液晶パネルである。電気光学装置1は、素子基板11および対向基板12を有する。素子基板11と対向基板12との間には液晶(図1では略)が封入される。素子基板11には画素電極が、対向基板12には共通電極が、それぞれ形成される(図1ではいずれも略)。映像信号に応じた電圧が画素電極に書き込まれると、液晶は書き込まれた電圧に応じた光学状態を示す。光学状態を画素毎に制御することにより、電気光学装置1は画像を表示する。   FIG. 1 is a perspective view illustrating the structure of an electro-optical device 1 according to an embodiment. The electro-optical device 1 is a display device that displays an image according to a signal input from the outside, and is a liquid crystal panel in this example. The electro-optical device 1 includes an element substrate 11 and a counter substrate 12. Liquid crystal (not shown in FIG. 1) is sealed between the element substrate 11 and the counter substrate 12. A pixel electrode is formed on the element substrate 11 and a common electrode is formed on the counter substrate 12 (both are omitted in FIG. 1). When a voltage corresponding to the video signal is written to the pixel electrode, the liquid crystal shows an optical state corresponding to the written voltage. The electro-optical device 1 displays an image by controlling the optical state for each pixel.

素子基板11は、対向基板12よりもY方向のサイズが長い。素子基板11および対向基板12は、図の奥側(h側)が揃えて貼り合わせられるので、素子基板11の手前側(H側)の一辺が対向基板12から張り出す。この張り出した領域に、複数の端子17が設けられる。端子17は、外部から、映像信号、電源電圧、および各種制御信号の入力を受け付けるためのものである。   The element substrate 11 is longer in the Y direction than the counter substrate 12. Since the element substrate 11 and the counter substrate 12 are bonded together with the back side (h side) in the figure aligned, one side of the element substrate 11 on the near side (H side) projects from the counter substrate 12. A plurality of terminals 17 are provided in this protruding area. The terminal 17 is for receiving an input of a video signal, a power supply voltage, and various control signals from the outside.

図2は、電気光学装置1の断面構造の概要を例示する模式図である。図2は、素子基板11と対向基板12との積層方向に平行な断面(図1のH―h断面)を表す。電気光学装置1は、素子基板11および対向基板12に加え、液晶15およびシール材19を有する。素子基板11と対向基板12とは、シール材19によって貼り合わせられる。シール材19にはスペーサーが含まれており、素子基板11と対向基板12とは一定の間隙を保つ。液晶15はこの間隙に封入される。液晶15は、例えばVA(Vertical Alignment)型の液晶である。この例で電気光学装置1は透過型の液晶パネルであり、素子基板11および対向基板12はいずれもガラスや石英などの透光性を有する材料により形成される。光源(図示略)からの光Lは対向基板12側から入射し、液晶15によって変調され、素子基板11側から出射する。   FIG. 2 is a schematic view illustrating the outline of the cross-sectional structure of the electro-optical device 1. FIG. 2 illustrates a cross section (Hh cross section in FIG. 1) parallel to the stacking direction of the element substrate 11 and the counter substrate 12. The electro-optical device 1 includes a liquid crystal 15 and a sealing material 19 in addition to the element substrate 11 and the counter substrate 12. The element substrate 11 and the counter substrate 12 are bonded together by a seal material 19. The sealing material 19 includes a spacer, and keeps a constant gap between the element substrate 11 and the counter substrate 12. The liquid crystal 15 is sealed in this gap. The liquid crystal 15 is, for example, a VA (Vertical Alignment) type liquid crystal. In this example, the electro-optical device 1 is a transmissive liquid crystal panel, and both the element substrate 11 and the counter substrate 12 are formed of a light-transmitting material such as glass or quartz. Light L from a light source (not shown) is incident from the counter substrate 12 side, modulated by the liquid crystal 15, and emitted from the element substrate 11 side.

素子基板11において、対向基板12と対向する面(液晶15側の面)には、画素電極112が形成される。画素電極112は、液晶15に画素毎の印加電圧を与えるための電極であり、ITO(Indium Tin Oxide)など透光性を有する導電層により形成される。また、素子基板11は、画素電極112への電圧印加(データの書き込み)を制御するためのスイッチング素子としてTFT(Thin Film Transistor)111が形成される。TFT111は、例えばnチャネル型の電界効果トランジスターである。TFT111のソース電極はデータ線(図示略)に接続され、ドレイン電極は画素電極112に接続され、ゲート電極は走査線(図示略)に接続される。走査線にハイレベルの走査信号が供給されるとTFT111はオン状態になり、データ線と画素電極112とが低インピーダンス状態になる。すなわち、画素電極112にデータが書き込まれる。走査線にローレベルの走査信号が供給されるとTFT111はオフ状態になり、データ線と画素電極112とは高インピーダンス状態になる。   In the element substrate 11, a pixel electrode 112 is formed on a surface (surface on the liquid crystal 15 side) facing the counter substrate 12. The pixel electrode 112 is an electrode for applying an applied voltage for each pixel to the liquid crystal 15, and is formed of a light-transmitting conductive layer such as ITO (Indium Tin Oxide). The element substrate 11 is provided with a TFT (Thin Film Transistor) 111 as a switching element for controlling voltage application (data writing) to the pixel electrode 112. The TFT 111 is, for example, an n-channel field effect transistor. The source electrode of the TFT 111 is connected to a data line (not shown), the drain electrode is connected to the pixel electrode 112, and the gate electrode is connected to a scanning line (not shown). When a high level scanning signal is supplied to the scanning line, the TFT 111 is turned on, and the data line and the pixel electrode 112 are in a low impedance state. That is, data is written to the pixel electrode 112. When a low level scanning signal is supplied to the scanning line, the TFT 111 is turned off, and the data line and the pixel electrode 112 are in a high impedance state.

対向基板12において、素子基板11と対向する面(液晶15側の面)には、共通電極123が形成される。共通電極123は、複数の画素に共通であり、ITOなど透光性を有する導電層により形成される。液晶15には、共通電極123と画素電極112との電位差に相当する電圧が印加され、この電圧に応じて光学的特性(この例では透過率)が変化する。   In the counter substrate 12, a common electrode 123 is formed on the surface facing the element substrate 11 (surface on the liquid crystal 15 side). The common electrode 123 is common to a plurality of pixels and is formed of a light-transmitting conductive layer such as ITO. A voltage corresponding to the potential difference between the common electrode 123 and the pixel electrode 112 is applied to the liquid crystal 15, and the optical characteristics (transmittance in this example) change according to this voltage.

対向基板12には、さらに、遮光層122が形成される。電気光学装置1は光源(図示略)からの光Lを液晶15により変調することにより画像を形成するものであるが、画素電極112が存在しない部分(液晶15の光学状態が制御されていない部分)については画像形成に寄与しないので、表示のコントラスト向上のため光Lは遮られることが望ましい。また、TFT111等が形成される半導体層に光が照射されるとキャリアが励起され、TFT111の特性が悪化する場合もある。遮光層122は、これらの問題に対処するために設けられる。当然ながら画素電極112が存在する部分については画像形成のため光Lが必要であり、遮光層122においては、画素電極112に対応する部分に開口部124が形成される。光源からの光Lは開口部124を介して液晶15に照射され、液晶15により変調された後で画素電極112および素子基板11を介して出射される。   A light shielding layer 122 is further formed on the counter substrate 12. The electro-optical device 1 forms an image by modulating light L from a light source (not shown) by the liquid crystal 15, but a portion where the pixel electrode 112 does not exist (a portion where the optical state of the liquid crystal 15 is not controlled). ) Does not contribute to image formation, it is desirable that the light L be blocked to improve display contrast. In addition, when light is applied to a semiconductor layer in which the TFT 111 and the like are formed, carriers are excited and the characteristics of the TFT 111 may be deteriorated. The light shielding layer 122 is provided to cope with these problems. Of course, the light L is necessary for image formation in the portion where the pixel electrode 112 exists, and the opening 124 is formed in the portion corresponding to the pixel electrode 112 in the light shielding layer 122. Light L from the light source is applied to the liquid crystal 15 through the opening 124, modulated by the liquid crystal 15, and then emitted through the pixel electrode 112 and the element substrate 11.

光源が高輝度化すると、遮光層における光吸収により遮光層自身の温度上昇も無視できなくなってくる。遮光層の温度上昇は、ひいては電気光学装置1全体の温度上昇を招き、表示特性への悪影響が懸念される。これに対し本実施形態は、遮光層122の反射率を増加させることにより、遮光層122の温度上昇を抑制する。   When the brightness of the light source is increased, the temperature rise of the light shielding layer itself cannot be ignored due to light absorption in the light shielding layer. An increase in the temperature of the light shielding layer eventually causes an increase in the temperature of the entire electro-optical device 1, and there is a concern that the display characteristics may be adversely affected. On the other hand, this embodiment suppresses the temperature rise of the light shielding layer 122 by increasing the reflectance of the light shielding layer 122.

図3は、素子基板11および対向基板12の例1に係る構成を示す模式図である。この図は、表示面に対し垂直な断面の模式図を示す。ここでは、1つの画素電極112に対応する領域のみを示す。対向基板12の液晶15側には、増反射膜121、遮光層122、および共通電極123が、この順番で積層される。   FIG. 3 is a schematic diagram illustrating a configuration according to Example 1 of the element substrate 11 and the counter substrate 12. This figure shows a schematic diagram of a cross section perpendicular to the display surface. Here, only a region corresponding to one pixel electrode 112 is shown. On the liquid crystal 15 side of the counter substrate 12, an increasing reflection film 121, a light shielding layer 122, and a common electrode 123 are stacked in this order.

遮光層122は、主にTFT111を遮光するための層であり、光を反射する層として金属層1221を有する。ただし、金属層1221の反射率は100%ではないので、入射した光の一部は金属層1221に吸収される。金属層1221は、例えばAlで形成される。金属層1221の厚さは例えば50〜150nmであり、好ましくは100〜150nmである。   The light shielding layer 122 is a layer mainly for shielding the TFT 111, and includes a metal layer 1221 as a layer that reflects light. However, since the reflectance of the metal layer 1221 is not 100%, part of the incident light is absorbed by the metal layer 1221. The metal layer 1221 is made of, for example, Al. The thickness of the metal layer 1221 is, for example, 50 to 150 nm, preferably 100 to 150 nm.

金属層1221は、複数の開口部124を有する(図3では単一の開口部124のみ示す)。開口部124は、対向基板12に垂直な方向から見たときに金属層1221が形成されていない領域をいう。対向基板12に垂直な方向から見たとき、金属層1221はTFT111と重なる位置に形成されており、開口部124は画素電極112と重なる位置に形成される。開口部124は、例えばフォトリソグラフィー技術により金属層1221をパターニングすることにより形成される。開口部124は光源(図示略)からの光Lを透過し、表示に寄与する領域である。   The metal layer 1221 has a plurality of openings 124 (only a single opening 124 is shown in FIG. 3). The opening 124 is a region where the metal layer 1221 is not formed when viewed from a direction perpendicular to the counter substrate 12. When viewed from the direction perpendicular to the counter substrate 12, the metal layer 1221 is formed at a position overlapping the TFT 111, and the opening 124 is formed at a position overlapping the pixel electrode 112. The opening 124 is formed by patterning the metal layer 1221 using, for example, a photolithography technique. The opening 124 is a region that transmits light L from a light source (not shown) and contributes to display.

図4は、開口部124と画素電極112との位置関係を示す模式図である。この図は、対向基板12に垂直な方向から見たときの、金属層1221と画素電極112と位置関係を仮想的に示す図である。図4(A)は金属層1221における開口部124の位置を示し、図4(B)は画素電極112の位置を示す。図4(B)において、開口部124は破線で示される。開口部124は、画素電極112と対向基板12に垂直な方向から見ると、例えば矩形を有する。複数の開口部124は、画素電極112の配置に対応して、マトリクス状に配置される。形成される画像の明るさを増加させる観点からは、開口部124の開口率は大きいことが望ましい。   FIG. 4 is a schematic diagram showing the positional relationship between the opening 124 and the pixel electrode 112. This figure is a diagram virtually showing the positional relationship between the metal layer 1221 and the pixel electrode 112 when viewed from the direction perpendicular to the counter substrate 12. 4A shows the position of the opening 124 in the metal layer 1221, and FIG. 4B shows the position of the pixel electrode 112. In FIG. 4B, the opening 124 is indicated by a broken line. The opening 124 has, for example, a rectangular shape when viewed from a direction perpendicular to the pixel electrode 112 and the counter substrate 12. The plurality of openings 124 are arranged in a matrix corresponding to the arrangement of the pixel electrodes 112. From the viewpoint of increasing the brightness of the formed image, it is desirable that the aperture ratio of the opening 124 be large.

再び図3を参照する。金属層1221に対しては、光源からの光Lの入射側すなわち対向基板12側には増反射膜121が形成される。増反射膜121は、遮光層122の反射率を増加させるための膜であり、いわゆる誘電体多層膜である。誘電体多層膜は、反射率を増加させたい層(この例では遮光層122)との屈折率の差により反射率を増加させる効果を得るものであるので、増反射膜121単体では入射光をほとんど反射しない。増反射膜121は、第1誘電体層1211および第2誘電体層1212を有する。第1誘電体層1211は対向基板12に形成された層である。第2誘電体層1212は第1誘電体層1211に形成された層であり、第1誘電体層1211よりも屈折率が低い材料で形成される。すなわち、第1誘電体層1211は対向基板12側に形成され、第2誘電体層1212は遮光層122側に形成される。   Refer to FIG. 3 again. For the metal layer 1221, the reflective reflection film 121 is formed on the incident side of the light L from the light source, that is, the counter substrate 12 side. The increased reflection film 121 is a film for increasing the reflectance of the light shielding layer 122, and is a so-called dielectric multilayer film. Since the dielectric multilayer film has an effect of increasing the reflectivity due to the difference in refractive index from the layer (in this example, the light shielding layer 122) where the reflectivity is desired to be increased, the single reflection film 121 alone does not emit incident light. Almost no reflection. The increased reflection film 121 includes a first dielectric layer 1211 and a second dielectric layer 1212. The first dielectric layer 1211 is a layer formed on the counter substrate 12. The second dielectric layer 1212 is a layer formed on the first dielectric layer 1211 and is formed of a material having a refractive index lower than that of the first dielectric layer 1211. That is, the first dielectric layer 1211 is formed on the counter substrate 12 side, and the second dielectric layer 1212 is formed on the light shielding layer 122 side.

一例として、第1誘電体層1211は厚さ70nmのSi3N4で形成され、第2誘電体層1212は厚さ70nmのSiO2で形成される。別の例で、第1誘電体層1211は厚さ120nmのAl2O3で形成され、第2誘電体層1212は厚さ60nmのSiO2で形成される。増反射膜121を用いることにより、遮光層122の反射率を例えば5〜10%改善することができる。遮光層122における光吸収は遮光層122の温度上昇を招くおそれがある。しかし、この例によれば遮光層122の反射率が改善するため光吸収が抑制され、ひいては遮光層122の温度上昇が抑制される。   As an example, the first dielectric layer 1211 is formed of Si 3 N 4 having a thickness of 70 nm, and the second dielectric layer 1212 is formed of SiO 2 having a thickness of 70 nm. In another example, the first dielectric layer 1211 is formed of Al2O3 having a thickness of 120 nm, and the second dielectric layer 1212 is formed of SiO2 having a thickness of 60 nm. By using the increased reflection film 121, the reflectance of the light shielding layer 122 can be improved by, for example, 5 to 10%. The light absorption in the light shielding layer 122 may cause the temperature of the light shielding layer 122 to increase. However, according to this example, the reflectance of the light shielding layer 122 is improved, so that light absorption is suppressed, and as a result, the temperature rise of the light shielding layer 122 is suppressed.

金属層1221に対しては、光Lの出射側すなわち液晶15側に反射防止膜1222が形成される。反射防止膜1222は、液晶15側からの光の反射を防止するための層であり、金属層1221の上に、例えばTiNで形成される。この例で、反射防止膜1222は、対向基板12に垂直な方向(Z方向)から見たとき、金属層1221とほぼ同じ形状を有する。すなわち、反射防止膜1222は、金属層1221に対して液晶15側(素子基板11側)にのみ形成される。この例によれば、開口部124を透過した光Lの一部が液晶15または素子基板11において反射され、その光がさらに金属層1221で反射されることを抑制することができる。反射防止膜1222の厚さは、例えば100〜300nmであり、一例としては200nmである。   For the metal layer 1221, an antireflection film 1222 is formed on the light L emission side, that is, the liquid crystal 15 side. The antireflection film 1222 is a layer for preventing reflection of light from the liquid crystal 15 side, and is formed of TiN, for example, on the metal layer 1221. In this example, the antireflection film 1222 has substantially the same shape as the metal layer 1221 when viewed from the direction perpendicular to the counter substrate 12 (Z direction). In other words, the antireflection film 1222 is formed only on the liquid crystal 15 side (element substrate 11 side) with respect to the metal layer 1221. According to this example, it is possible to suppress a part of the light L transmitted through the opening 124 from being reflected by the liquid crystal 15 or the element substrate 11 and further being reflected by the metal layer 1221. The thickness of the antireflection film 1222 is, for example, 100 to 300 nm, and is 200 nm as an example.

対向基板12において、液晶15側のほぼ全面に共通電極123が形成される。共通電極123は、遮光層122が形成される領域においては遮光層122に、開口部124においては増反射膜121に、それぞれ形成される。   In the counter substrate 12, a common electrode 123 is formed on almost the entire surface on the liquid crystal 15 side. The common electrode 123 is formed on the light shielding layer 122 in the region where the light shielding layer 122 is formed, and on the enhanced reflection film 121 in the opening 124.

図5は、増反射膜121の効果を例示する図である。図5(A)は、本実施形態に係る構成すなわち増反射膜121を有する例を、図5(B)は、比較例に係る構成すなわち増反射膜121を有さない例を示す。比較例において、光源から入射した光Lは、開口部124が無い部分においては遮光層122(金属層1221)に入射する。遮光層122は入射した光Lの大部分を反射するが、遮光層122の反射率をrpとすると、光Lの一部(1−rp)は遮光層122に吸収される。本実施形態においても、光源から入射した光Lは、開口部124が無い部分においては遮光層122(金属層1221)に入射する。ここで、増反射膜121の効果により遮光層122の反射率はre(>rp)であり、光Lのうち遮光層122に吸収される割合(1−rp)は比較例よりも低い。遮光層122において吸収される光の割合が比較例よりも低減されるため、本実施形態においては、遮光層122における温度上昇が抑制される。既に説明したように、遮光層122の温度上昇が電気光学装置1の表示特性に悪影響を与えることがあるが、本実施形態によれば、遮光層122における温度上昇が抑制された結果、表示特性への悪影響が低減される。   FIG. 5 is a diagram illustrating the effect of the enhanced reflection film 121. FIG. 5A shows a configuration according to the present embodiment, that is, an example having the enhanced reflection film 121, and FIG. 5B shows a configuration according to the comparative example, that is, an example without the enhanced reflection film 121. In the comparative example, the light L incident from the light source enters the light shielding layer 122 (metal layer 1221) in a portion where the opening 124 is not provided. The light shielding layer 122 reflects most of the incident light L. If the reflectance of the light shielding layer 122 is rp, a part (1-rp) of the light L is absorbed by the light shielding layer 122. Also in this embodiment, the light L incident from the light source is incident on the light shielding layer 122 (metal layer 1221) in a portion where the opening 124 is not provided. Here, the reflectance of the light shielding layer 122 is re (> rp) due to the effect of the enhanced reflection film 121, and the ratio (1-rp) of the light L absorbed by the light shielding layer 122 is lower than that of the comparative example. Since the ratio of the light absorbed in the light shielding layer 122 is reduced as compared with the comparative example, the temperature rise in the light shielding layer 122 is suppressed in the present embodiment. As described above, the temperature rise of the light shielding layer 122 may adversely affect the display characteristics of the electro-optical device 1. According to the present embodiment, as a result of suppressing the temperature rise in the light shielding layer 122, the display characteristics are increased. The adverse effect on is reduced.

図6は、対向基板12の例2に係る構成を示す模式図である。ここでは例1との相違点を中心に説明する。なお図6以降において素子基板11は省略する。例1において、反射防止膜1222は、対向基板12に垂直な方向(Z方向)から見たとき、反射防止膜1222は、金属層1221に対して素子基板11側にのみ形成されていた。これに対し例2において、反射防止膜1222は、開口部124の側壁、すなわち、金属層1221の側面にも形成される。ここで、側面とはX方向またはY方向に面した面をいう。金属層1221の側面にも反射防止膜1222を形成することにより、金属層1221の側面における乱反射を抑制することができる。   FIG. 6 is a schematic diagram illustrating a configuration according to Example 2 of the counter substrate 12. Here, the difference from Example 1 will be mainly described. In FIG. 6 and subsequent figures, the element substrate 11 is omitted. In Example 1, the antireflection film 1222 was formed only on the element substrate 11 side with respect to the metal layer 1221 when viewed from the direction perpendicular to the counter substrate 12 (Z direction). On the other hand, in Example 2, the antireflection film 1222 is also formed on the side wall of the opening 124, that is, on the side surface of the metal layer 1221. Here, the side surface refers to a surface facing in the X direction or the Y direction. By forming the antireflection film 1222 on the side surface of the metal layer 1221, irregular reflection on the side surface of the metal layer 1221 can be suppressed.

図7は、対向基板12の例3に係る詳細な構成を示す模式図である。ここでは例1との相違点を中心に説明する。例1において、対向基板12には全面に、すなわち開口部124に相当する領域においても増反射膜121が形成されていた。これに対し例3において、増反射膜121は、開口部124に相当する領域には形成されていない。増反射膜121それ自体は表示に寄与する層ではなく、むしろ光Lの一部が増反射膜121で反射または吸収される可能性もあるので、開口部124を透過する光Lを考えると、増反射膜121は余分な層である。開口部124に相当する領域から増反射膜121を除去することにより、増反射膜121における光Lの反射または吸収を無くすことができるので、開口部124における透過率を改善することができる。透過率が改善されると、光源の輝度が同じであってもより明るい画像を形成することができる。なお、例1のように対向基板12の全面に増反射膜121を形成する場合でも、第1誘電体層1211、第2誘電体層1212、および共通電極123の屈折率が特定の条件を満たす場合には、増反射膜121が共通電極123に対する反射防止膜として機能する。このような場合には、例1のように対向基板12の全面に増反射膜121を形成する意義がある。   FIG. 7 is a schematic diagram illustrating a detailed configuration according to Example 3 of the counter substrate 12. Here, the difference from Example 1 will be mainly described. In Example 1, the reflective reflection film 121 was formed on the entire surface of the counter substrate 12, that is, in the region corresponding to the opening 124. On the other hand, in Example 3, the increased reflection film 121 is not formed in a region corresponding to the opening 124. The increased reflection film 121 itself is not a layer that contributes to display. Rather, a part of the light L may be reflected or absorbed by the increased reflection film 121. Therefore, considering the light L that is transmitted through the opening 124, The increased reflection film 121 is an extra layer. By removing the reflective reflection film 121 from the region corresponding to the opening 124, the reflection or absorption of the light L in the reflective reflection film 121 can be eliminated, so that the transmittance in the opening 124 can be improved. When the transmittance is improved, a brighter image can be formed even if the luminance of the light source is the same. Even in the case where the reflective reflection film 121 is formed on the entire surface of the counter substrate 12 as in Example 1, the refractive indexes of the first dielectric layer 1211, the second dielectric layer 1212, and the common electrode 123 satisfy a specific condition. In this case, the enhanced reflection film 121 functions as an antireflection film for the common electrode 123. In such a case, it is meaningful to form the enhanced reflection film 121 on the entire surface of the counter substrate 12 as in Example 1.

図8は、対向基板12の例4に係る詳細な構成を示す模式図である。ここでは例1との相違点を中心に説明する。例4において、対向基板12にはいわゆるマイクロレンズアレイが形成される。マイクロレンズアレイは、アレイ状に配置された複数のマイクロレンズを有する。図8では単一のマイクロレンズのみを図示する。マイクロレンズは、液晶パネルを透過する光を増加させるための光学部材である。図3、図6、および図7の例のようにマイクロレンズを有さない場合、光源からの光Lの一部は遮光層122で反射される。遮光層122で反射された光はもはや画像形成には寄与しない光であるから、画像形成の観点からは無駄な光である。光源から出力される光を有効に活用し明るい画像を表示するためにはこの無駄を排除したいが、遮光層122の反射率を下げるわけにはいかない。そこでこの例では、マイクロレンズを用いて光Lの光路を制御することにより、遮光層122に入射する光の量を低減し、光源からの光Lを有効に活用して明るい画像を表示する。   FIG. 8 is a schematic diagram illustrating a detailed configuration according to Example 4 of the counter substrate 12. Here, the difference from Example 1 will be mainly described. In Example 4, a so-called microlens array is formed on the counter substrate 12. The microlens array has a plurality of microlenses arranged in an array. FIG. 8 shows only a single microlens. The microlens is an optical member for increasing light transmitted through the liquid crystal panel. When the microlens is not provided as in the examples of FIGS. 3, 6, and 7, part of the light L from the light source is reflected by the light shielding layer 122. The light reflected by the light shielding layer 122 is light that no longer contributes to image formation, and is useless light from the viewpoint of image formation. In order to effectively utilize the light output from the light source and display a bright image, it is desirable to eliminate this waste, but the reflectance of the light shielding layer 122 cannot be reduced. Therefore, in this example, the amount of light incident on the light shielding layer 122 is reduced by controlling the optical path of the light L using a microlens, and a bright image is displayed by effectively using the light L from the light source.

具体的には、対向基板12には、増反射膜121の対向基板12側に、透光層125、レンズ層126、および透光層127が形成される。透光層125およびレンズ層126はマイクロレンズを形成するための層であり、ともに透光性を有し、互いに異なる屈折率を有する材料で形成される(具体的には、例えばレンズ層126の方が透光層125よりも屈折率が大きい)。透光層125においてレンズ形状の凹部が形成され、この凹部内にレンズ層126が充填されレンズを形成する。透光層127は、マイクロレンズが形成された面を平坦化し、また、光路を調整するための層である。これらの構造は、光源からの光Lを開口部124へ導くようにその位置およびサイズが設計される。   Specifically, a light transmitting layer 125, a lens layer 126, and a light transmitting layer 127 are formed on the counter substrate 12 on the counter substrate 12 side of the increased reflection film 121. The translucent layer 125 and the lens layer 126 are layers for forming a microlens, and both are translucent and formed of materials having different refractive indexes (specifically, for example, the lens layer 126 The refractive index is larger than that of the translucent layer 125). A lens-shaped recess is formed in the light transmitting layer 125, and the lens layer 126 is filled in the recess to form a lens. The light transmissive layer 127 is a layer for flattening the surface on which the microlenses are formed and adjusting the optical path. These structures are designed in position and size so as to guide the light L from the light source to the opening 124.

図9は、対向基板12の例5に係る詳細な構成を示す模式図である。例5は、例2の対向基板12にマイクロレンズアレイを形成したものである。マイクロレンズを用いることにより、開口部124に光を収束することができる。   FIG. 9 is a schematic diagram illustrating a detailed configuration according to Example 5 of the counter substrate 12. In Example 5, a microlens array is formed on the counter substrate 12 of Example 2. By using the microlens, light can be converged on the opening 124.

図10は、対向基板12の例6に係る詳細な構成を示す模式図である。例6は、例2の対向基板12にマイクロレンズアレイを形成したものである。マイクロレンズを用いることにより、開口部124に光を収束することができる。   FIG. 10 is a schematic diagram illustrating a detailed configuration according to Example 6 of the counter substrate 12. In Example 6, a microlens array is formed on the counter substrate 12 of Example 2. By using the microlens, light can be converged on the opening 124.

図11は、対向基板12の例7に係る詳細な構成を示す模式図である。例7は、例4の対向基板12において、素子基板11および対向基板12の積層方向(光源からの入射光Lの進行方向)にもう1段マイクロレンズを積層したものである。具体的には、対向基板12には、共通電極123の液晶15側に、レンズ層128および透光層129が形成される。レンズ層128および透光層129はマイクロレンズを形成するための層であり、ともに透光性を有し、互いに異なる屈折率を有する材料で形成される(具体的には、例えばレンズ層128の方が透光層129よりも屈折率が大きい)。共通電極123の液晶15側に形成されたマイクロレンズは、収束された光を平行光にするためのものである。光の進行方向に2枚積層されたマイクロレンズを用いることにより、平行光を出力することができる。   FIG. 11 is a schematic diagram illustrating a detailed configuration according to Example 7 of the counter substrate 12. In Example 7, in the counter substrate 12 of Example 4, another stage microlens is stacked in the stacking direction of the element substrate 11 and the counter substrate 12 (the traveling direction of the incident light L from the light source). Specifically, a lens layer 128 and a light transmitting layer 129 are formed on the counter substrate 12 on the liquid crystal 15 side of the common electrode 123. The lens layer 128 and the light-transmitting layer 129 are layers for forming a microlens, both of which are light-transmitting and formed of materials having different refractive indexes (specifically, for example, the lens layer 128 of the lens layer 128). The refractive index is higher than that of the light-transmitting layer 129). The microlens formed on the liquid crystal 15 side of the common electrode 123 is for converting the converged light into parallel light. By using two microlenses laminated in the light traveling direction, parallel light can be output.

図12は、対向基板12の例8に係る詳細な構成を示す模式図である。例8は、例5の対向基板12にもう1段マイクロレンズを積層したものである。光の進行方向に2枚積層されたマイクロレンズを用いることにより、平行光を出力することができる。   FIG. 12 is a schematic diagram illustrating a detailed configuration according to Example 8 of the counter substrate 12. In Example 8, another microlens is laminated on the counter substrate 12 of Example 5. By using two microlenses laminated in the light traveling direction, parallel light can be output.

図13は、対向基板12の例9に係る詳細な構成を示す模式図である。例9は、例6の対向基板12にもう1段マイクロレンズを積層したものである。光の進行方向に2枚積層されたマイクロレンズを用いることにより、平行光を出力することができる。   FIG. 13 is a schematic diagram illustrating a detailed configuration according to Example 9 of the counter substrate 12. In Example 9, another stage microlens is laminated on the counter substrate 12 of Example 6. By using two microlenses laminated in the light traveling direction, parallel light can be output.

図9−12の例においては、マイクロレンズを用いることにより、開口部124に光を収束することができる。その結果、マイクロレンズが無い例と比較して、遮光層122に入射する光を抑制することができる。遮光層122は増反射膜121により反射率が増加するが、さらにマイクロレンズにより遮光層122に入射する光量が低減されるので、遮光層の温度上昇は一層、抑制される。   In the example of FIGS. 9-12, the light can be converged on the opening 124 by using the microlens. As a result, light incident on the light shielding layer 122 can be suppressed as compared with an example without a microlens. Although the reflectance of the light shielding layer 122 is increased by the increased reflection film 121, the amount of light incident on the light shielding layer 122 is further reduced by the microlens, so that the temperature rise of the light shielding layer is further suppressed.

図14は、一実施形態に係るプロジェクター2100を例示する図である。プロジェクター2100は、電気光学装置1を用いた電子機器の一例である。プロジェクター2100において、液晶パネル100がライトバルブとして用いられる。この図に示されるように、プロジェクター2100の内部には、ハロゲンランプ等の白色光源を有するランプユニット2102が設けられる。ランプユニット2102から射出された投写光は、内部に配置された3枚のミラー2106および2枚のダイクロイックミラー2108によってR(赤)色、G(緑)色、B(青)色の3原色に分離される。分離された投写光は、各原色に対応するライトバルブ100R、100Gおよび100Bにそれぞれ導かれる。なお、B色の光は、他のR色やG色と比較すると光路が長いので、その損失を防ぐために、入射レンズ2122、リレーレンズ2123および出射レンズ2124を有するリレーレンズ系2121を介して導かれる。   FIG. 14 is a diagram illustrating a projector 2100 according to an embodiment. The projector 2100 is an example of an electronic device that uses the electro-optical device 1. In the projector 2100, the liquid crystal panel 100 is used as a light valve. As shown in this figure, a lamp unit 2102 having a white light source such as a halogen lamp is provided inside the projector 2100. The projection light emitted from the lamp unit 2102 is converted into three primary colors of R (red), G (green), and B (blue) by three mirrors 2106 and two dichroic mirrors 2108 arranged inside. To be separated. The separated projection light is guided to the light valves 100R, 100G and 100B corresponding to the respective primary colors. B light has a longer optical path than other R and G colors. Therefore, in order to prevent the loss, light of B color is guided through a relay lens system 2121 having an incident lens 2122, a relay lens 2123, and an output lens 2124. It is burned.

プロジェクター2100において、液晶パネル100を含む液晶表示装置が、R色、G色、B色のそれぞれに対応して3組設けられる。ライトバルブ100R、100Gおよび100Bの構成は、上述した液晶パネル100と同様である。R色、G色、B色のそれぞれの原色成分の階調レベルを指定するに映像信号がそれぞれ外部上位回路から供給されて、ライトバルブ100R、100Gおよび100がそれぞれ駆動される。ライトバルブ100R、100G、100Bによってそれぞれ変調された光は、ダイクロイックプリズム2112に3方向から入射する。そして、ダイクロイックプリズム2112において、R色およびB色の光は90度に屈折し、G色の光は直進する。したがって、各原色の画像が合成された後、スクリーン2120には、投写レンズ群2114によってカラー画像が投写される。   In the projector 2100, three sets of liquid crystal display devices including the liquid crystal panel 100 are provided corresponding to each of the R color, the G color, and the B color. The configuration of the light valves 100R, 100G, and 100B is the same as that of the liquid crystal panel 100 described above. Video signals are respectively supplied from the external upper circuits to specify the gradation levels of the primary color components of R, G, and B, and the light valves 100R, 100G, and 100 are driven. The lights modulated by the light valves 100R, 100G, and 100B are incident on the dichroic prism 2112 from three directions. In the dichroic prism 2112, the R and B light beams are refracted at 90 degrees, and the G light beam travels straight. Therefore, after the primary color images are combined, a color image is projected onto the screen 2120 by the projection lens group 2114.

なお、ライトバルブ100R、100Gおよび100Bには、ダイクロイックミラー2108によって、R色、G色、B色のそれぞれに対応する光が入射するので、カラーフィルターを設ける必要はない。また、ライトバルブ100R、100Bの透過像は、ダイクロイックプリズム2112により反射した後に投写されるのに対し、ライトバルブ100Gの透過像はそのまま投写される。したがって、ライトバルブ100R、100Bによる水平走査方向をライトバルブ100Gによる水平走査方向と逆向きにして、左右を反転させた像を表示する。   Since light corresponding to each of the R, G, and B colors is incident on the light valves 100R, 100G, and 100B by the dichroic mirror 2108, it is not necessary to provide a color filter. Further, the transmission images of the light valves 100R and 100B are projected after being reflected by the dichroic prism 2112, while the transmission image of the light valve 100G is projected as it is. Therefore, the horizontal scanning direction by the light valves 100R and 100B is opposite to the horizontal scanning direction by the light valve 100G, and an image with the left and right reversed is displayed.

電気光学装置1が用いられる電子機器としては、図14に例示したプロジェクターの他にも、テレビジョンや、ビューファインダー型・モニター直視型のビデオテープレコーダー、カーナビゲーション装置、ページャー、電子手帳、電卓、ワードプロセッサー、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、デジタルスチルカメラ、携帯電話機、タッチパネルを備えた機器等などが挙げられる。   As an electronic apparatus in which the electro-optical device 1 is used, in addition to the projector illustrated in FIG. 14, a television, a viewfinder type / direct monitor type video tape recorder, a car navigation device, a pager, an electronic notebook, a calculator, Examples thereof include a word processor, a workstation, a videophone, a POS terminal, a digital still camera, a mobile phone, and a device equipped with a touch panel.

本発明は上述の実施形態に限定されるものではなく、種々の変形実施が可能である。以下、変形例をいくつか説明する。以下の変形例のうち2つ以上のものが組み合わせて用いられてもよい。   The present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made. Hereinafter, some modifications will be described. Two or more of the following modifications may be used in combination.

液晶15は、VA液晶に限定されない。TN(Twisted Nematic)液晶等、VA液晶以外の液晶が用いられてもよい。また、液晶15は、ノーマリーブラックモードおよびノーマリーホワイトモードのいずれの液晶であってもよい。   The liquid crystal 15 is not limited to the VA liquid crystal. A liquid crystal other than the VA liquid crystal such as a TN (Twisted Nematic) liquid crystal may be used. Further, the liquid crystal 15 may be either a normally black mode or a normally white mode liquid crystal.

実施形態で説明した各層の構造、材料、および寸法はあくまで例示であり、本発明はこれに限定されない。例えば、遮光層122は、反射防止膜1222を有していなくてもよい。また、増反射膜121は、3層遺贈の誘電体層が積層されたものであってもよい。   The structure, material, and dimensions of each layer described in the embodiment are merely examples, and the present invention is not limited thereto. For example, the light shielding layer 122 may not have the antireflection film 1222. Further, the enhanced reflection film 121 may be a laminate of three layers of dielectric layers.

1…電気光学装置、11…素子基板、12…対向基板、15…液晶、17…端子、19…シール材、111…TFT、112…画素電極、121…増反射膜、122…遮光層、123…共通電極、124…開口部、125…透光層、126…レンズ層、127…透光層、128…レンズ層、129…透光層、1211…第1誘電体層、1212…第2誘電体層、1221…金属層、1222…反射防止膜 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Electro-optical device, 11 ... Element substrate, 12 ... Opposite substrate, 15 ... Liquid crystal, 17 ... Terminal, 19 ... Sealing material, 111 ... TFT, 112 ... Pixel electrode, 121 ... Increase reflection film, 122 ... Light shielding layer, 123 ... Common electrode, 124 ... Opening part, 125 ... Transparent layer, 126 ... Lens layer, 127 ... Transparent layer, 128 ... Lens layer, 129 ... Transparent layer, 1211 ... First dielectric layer, 1212 ... Second dielectric Body layer, 1221 ... metal layer, 1222 ... antireflection film

Claims (7)

対向基板と、
画素電極への電圧印加を制御するスイッチング素子を有する素子基板と、
前記対向基板および前記素子基板に挟まれた液晶と、
前記対向基板および前記液晶の間に設けられ、開口部を有し前記スイッチング素子を遮光する遮光層と、
前記遮光層の前記対向基板側に形成された増反射膜と
を有する電気光学装置。
A counter substrate;
An element substrate having a switching element for controlling voltage application to the pixel electrode;
A liquid crystal sandwiched between the counter substrate and the element substrate;
A light-shielding layer provided between the counter substrate and the liquid crystal and having an opening to shield the switching element;
An electro-optical device comprising: a light-reflecting layer and an increased reflection film formed on the counter substrate side.
前記開口部には、前記増反射膜が形成されていない
ことを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置。
The electro-optical device according to claim 1, wherein the increased reflection film is not formed in the opening.
前記遮光層の前記素子基板側の面および前記開口部側の側面に形成された反射防止膜を有する
ことを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置。
The electro-optical device according to claim 1, further comprising an antireflection film formed on a surface of the light shielding layer on the element substrate side and a side surface on the opening portion side.
前記開口部に相当する領域にも前記増反射膜が形成される
ことを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置。
The electro-optical device according to claim 1, wherein the increased reflection film is also formed in a region corresponding to the opening.
前記遮光層は前記増反射膜側の面に形成された金属層を含み、
前記増反射膜は、前記対向基板側に形成された第1誘電体層、および前記金属層側に形成され、前記第1誘電体層よりも屈折率が低い第2誘電体層を含む
ことを特徴とする請求項1ないし4のいずれか一項に記載の電気光学装置。
The light shielding layer includes a metal layer formed on the surface on the side of the increased reflection film,
The increased reflection film includes a first dielectric layer formed on the counter substrate side and a second dielectric layer formed on the metal layer side and having a refractive index lower than that of the first dielectric layer. The electro-optical device according to claim 1, wherein the electro-optical device is characterized in that:
前記遮光層が、前記対向基板上に形成される
ことを特徴とする請求項1ないし5のいずれか一項に記載の電気光学装置。
The electro-optical device according to claim 1, wherein the light shielding layer is formed on the counter substrate.
請求項1ないし6のいずれか一項に記載の電気光学装置を有する電子機器。   An electronic apparatus comprising the electro-optical device according to claim 1.
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