JP2018040795A5 - - Google Patents

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検体測定装置Specimen measuring device

本発明の実施形態は、検体測定装置に関する。 Embodiments of the present invention relate to a sample measuring device.

検体測定装置は、検体と試薬とから調製された測定試料を光学的又は電気的方法を用いて測定することで、検体中の目的物質の有無を判断する。検体測定装置では、検体と試薬との混合液が収容される容器内の反応状態に基づいた電気信号を検出し、検出される電気信号に基づいて検体中の目的物質の有無を判断する。 The sample measuring device determines the presence or absence of the target substance in the sample by measuring the measurement sample prepared from the sample and the reagent by using an optical or electrical method. The sample measuring device detects an electric signal based on the reaction state in the container containing the mixed solution of the sample and the reagent, and determines the presence or absence of the target substance in the sample based on the detected electric signal.

上記方法では、検体と試薬との混合液が収容される容器内の反応状態が定常化するまでに所定の時間を要するため、所定の時間が経過するまでは検体中の目的物質の有無を判断することができない。 In the above method, it takes a predetermined time for the reaction state in the container containing the mixed solution of the sample and the reagent to become steady, so the presence or absence of the target substance in the sample is determined until the predetermined time elapses. Can not do it.

特許第2510551号公報Japanese Patent No. 2510551 特許第2603843号公報Japanese Patent No. 2603843 特許第4381752号公報Japanese Patent No. 4381752 特開2009−133842号公報JP-A-2009-133842 特開2012−215553号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2012-215553

目的は、作業ワークフローの改善を行うことが可能な検体測定装置を提供することにある。 An object is to provide a sample measuring device capable of improving a work workflow.

実施形態によれば、検体測定装置は、反応状態信号出力部、反応促進部、印加状態切替制御部、判定部、及び定性状態出力部を具備する。反応状態信号出力部、被検物質と試薬との混合液が収容されている反応容器内の反応状態に基づいた電気信号を出力する。反応促進部は、前記反応容器内の反応を促進させるエネルギーを前記反応容器に印加する。印加状態切替制御部は、前記エネルギーの印加状態を、予め定められているタイムスケジュールに従って切り替える。判定部は、前記エネルギーの印加状態が切り替わった後に出力される前記電気信号に基づいて前記被検物質の定性状態を判定する。定性状態出力部は、前記判定により得られた定性状態を出力する。 According to the embodiment, the sample measuring device includes a reaction state signal output unit, a reaction promotion unit, an application state switching control unit, a determination unit, and a qualitative state output unit. The reaction state signal output unit outputs an electric signal based on the reaction state in the reaction vessel containing the mixed solution of the test substance and the reagent. The reaction accelerating unit applies energy for accelerating the reaction in the reaction vessel to the reaction vessel. The application state switching control unit switches the energy application state according to a predetermined time schedule. The determination unit determines the qualitative state of the test substance based on the electric signal output after the energy application state is switched. The qualitative state output unit outputs the qualitative state obtained by the above determination.

図1は、第1の実施形態に係る検体測定装置の構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a sample measuring device according to the first embodiment. 図2は、第1の実施形態に係る反応機構の詳細構成を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a detailed configuration of the reaction mechanism according to the first embodiment. 図3は、第1の実施形態に係るシステム制御回路が制御する動作のフローチャートの一例を表す図である。FIG. 3 is a diagram showing an example of a flowchart of an operation controlled by the system control circuit according to the first embodiment. 図4は、第1の実施形態に係るシステム制御回路が制御する動作のフローチャートの一例を表す図である。FIG. 4 is a diagram showing an example of a flowchart of an operation controlled by the system control circuit according to the first embodiment. 図5は、出射光の光強度の時系列変化の一例を示すグラフである。FIG. 5 is a graph showing an example of time-series changes in the light intensity of the emitted light. 図6は、図5に記載される時刻t=tにおける反応機構内の状態を表す断面図である。FIG. 6 is a cross-sectional view showing a state in the reaction mechanism at time t = t 0 shown in FIG. 図7は、図5に記載される時刻t=tからt=tにおける反応機構内の状態を表す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing a state in the reaction mechanism from time t = t 0 to t = t 1 shown in FIG. 図8は、図5に記載される時刻t=tからt=tにおける反応機構内の状態を表す断面図である。FIG. 8 is a cross-sectional view showing a state in the reaction mechanism from time t = t 1 to t = t 2 shown in FIG. 図9は、図5における曲線Cの一部を拡大した図である。FIG. 9 is an enlarged view of a part of the curve C in FIG. 図10は、図5に記載される時刻t=tにおける反応ユニット2内の状態を表す断面図である。FIG. 10 is a cross-sectional view showing a state in the reaction unit 2 at time t = t 2 shown in FIG. 図11は、図5に記載される時刻t=tからt=tにおける反応機構内の状態を表す断面図である。FIG. 11 is a cross-sectional view showing a state in the reaction mechanism from time t = t 3 to t = t 4 shown in FIG. 図12は、図5に記載される時刻t=tからt=tにおける反応機構内の状態を表す断面図である。FIG. 12 is a cross-sectional view showing a state in the reaction mechanism from time t = t 4 to t = t 5 shown in FIG. 図13は、図5に記載される時刻t=tからt=tにおける反応機構内の状態を表す断面図である。FIG. 13 is a cross-sectional view showing a state in the reaction mechanism from time t = t 6 to t = t 7 shown in FIG. 図14は、変形例に係るシステム制御回路が制御する動作のフローチャートの一例を表す図である。FIG. 14 is a diagram showing an example of a flowchart of an operation controlled by the system control circuit according to the modified example. 図15は、変形例に係るシステム制御回路が制御する動作のフローチャートの一例を表す図である。FIG. 15 is a diagram showing an example of a flowchart of an operation controlled by the system control circuit according to the modified example.

[第1の実施形態]
以下、図面を参照しながら第1の実施形態に係わる検体測定装置を説明する。
[First Embodiment]
Hereinafter, the sample measuring device according to the first embodiment will be described with reference to the drawings.

図1は、第1の実施形態に係る検体測定装置1の構成を示すブロック図である。図2は、反応ユニット2の詳細構成を示す図である。図1に示されるように、検体測定装置1は、反応ユニット2及び測定システム3を備える。反応ユニット2は、検体測定装置1に対して着脱可能である。 FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a sample measuring device 1 according to the first embodiment. FIG. 2 is a diagram showing a detailed configuration of the reaction unit 2. As shown in FIG. 1, the sample measuring device 1 includes a reaction unit 2 and a measuring system 3. The reaction unit 2 is removable from the sample measuring device 1.

反応ユニット2は、図2に示されるように、筐体21、透明基板22、光導波路23及び保護部材24を有する。筐体21の下面の一部は開口しており、その開口部内には、透明基板22上に、光導波路23及び保護部材24を薄膜技術で形成したチップが嵌め込まれる。保護部材24の一部は開口されている(開口端24a)。また、筐体21、光導波路23及び保護部材24等によって反応容器201が形成される。なお、反応ユニット2は、その内部、すなわち反応容器201に、被検対象(被検物質)を含む試料溶液を収容可能に構成される。 As shown in FIG. 2, the reaction unit 2 has a housing 21, a transparent substrate 22, an optical waveguide 23, and a protective member 24. A part of the lower surface of the housing 21 is open, and a chip in which the optical waveguide 23 and the protective member 24 are formed by thin film technology is fitted on the transparent substrate 22 in the opening. A part of the protective member 24 is open (open end 24a). Further, the reaction vessel 201 is formed by the housing 21, the optical waveguide 23, the protective member 24, and the like. The reaction unit 2 is configured to accommodate a sample solution containing a test object (test substance) inside the reaction unit 2, that is, in the reaction vessel 201.

筐体21は、例えば樹脂等で形成される。筐体21の下面には第1の凹部が形成されている。第1の凹部の上面の一部には反応容器201の上面及び側面を構成する第2の凹部が形成されている。そして、第1の凹部には上から順に保護部材24、光導波路23及び透明基板22が配置されている。また、第2の凹部の上面の一端部近傍に筐体21を上方に貫通してその内部の反応容器201に試料溶液及び試薬等を導入するための孔21aが形成され、他端部近傍に筐体21を上方に貫通して反応容器201から空気を逃がすための孔21bが形成されている。なお、孔21a及び孔21bは、それぞれ複数形成されてもよい。 The housing 21 is made of, for example, resin or the like. A first recess is formed on the lower surface of the housing 21. A second recess forming the upper surface and the side surface of the reaction vessel 201 is formed on a part of the upper surface of the first recess. A protective member 24, an optical waveguide 23, and a transparent substrate 22 are arranged in the first recess in this order from the top. Further, a hole 21a for introducing a sample solution, a reagent, etc. is formed in the reaction vessel 201 inside the housing 21 so as to penetrate upward near one end of the upper surface of the second recess, and near the other end. A hole 21b is formed so as to penetrate the housing 21 upward and allow air to escape from the reaction vessel 201. A plurality of holes 21a and 21b may be formed.

透明基板22は、例えば樹脂又は光学ガラス等で形成される。透明基板22は、測定システム3に設けられる光源311から入射された光を光導波路23へ通過させる。また、透明基板22は、光導波路23から入射された光を測定システム3に設けられる光検出器312へ通過させる。 The transparent substrate 22 is made of, for example, resin or optical glass. The transparent substrate 22 allows the light incident from the light source 311 provided in the measurement system 3 to pass through the optical waveguide 23. Further, the transparent substrate 22 allows the light incident from the optical waveguide 23 to pass through the photodetector 312 provided in the measurement system 3.

光導波路23は、光が透過する材料、例えば樹脂又は光学ガラス等により形成される。樹脂としては、例えば、フェノール樹脂、エポキシ樹脂及びアクリル樹脂等を用いることができる。光導波路23は、透明基板22から入射して透明基板22へと出射する光の光路となる。すなわち、光導波路23は、光ファイバーにおけるコア(心材)同様の役割機能を果たす。そして、保護部材24及び透明基板22は、光導波路23の素材とは異なった屈折率の素材で形成され、光導波路23との境界面で光を全反射させ、光を光導波路23内に閉じ込めるクラッドとしての機能役割を果たす。また、保護部材24及び透明基板22は、光導波路23を物理的に保護する。 The optical waveguide 23 is formed of a material that allows light to pass through, such as resin or optical glass. As the resin, for example, phenol resin, epoxy resin, acrylic resin and the like can be used. The optical waveguide 23 serves as an optical path for light incident from the transparent substrate 22 and emitted to the transparent substrate 22. That is, the optical waveguide 23 fulfills the same role and function as the core (core material) in the optical fiber. The protective member 24 and the transparent substrate 22 are formed of a material having a refractive index different from that of the optical waveguide 23, totally reflect light at the interface with the optical waveguide 23, and confine the light in the optical waveguide 23. It functions as a clad. Further, the protective member 24 and the transparent substrate 22 physically protect the optical waveguide 23.

光導波路23は、測定システム3から透明基板22を介して入射された光を伝播させる。光導波路23では、反応容器201に収容された被検物質の濃度、すなわち反応状態により影響を受けた光が伝播される。 The optical waveguide 23 propagates the light incident from the measurement system 3 through the transparent substrate 22. In the optical waveguide 23, light affected by the concentration of the test substance contained in the reaction vessel 201, that is, the reaction state is propagated.

また、光導波路23に光が入射する付近の保護部材24側にはグレーティング23aが配置される。グレーティング23aは、光導波路23に入射される入射光L1を所定の角度で回折させる。グレーティング23aにおいて回折された光は、光導波路23と、透明基板22、保護部材24、又は混合液202により構成される面との界面に対し、臨界角の補角以下の角度で入射する。これにより、入射光L1は、光導波路23の界面において光導波路23内で繰り返し反射しながら伝播(導波)する。 Further, a grating 23a is arranged on the protective member 24 side in the vicinity where light is incident on the optical waveguide 23. The grating 23a diffracts the incident light L1 incident on the optical waveguide 23 at a predetermined angle. The light diffracted by the grating 23a is incident on the interface between the optical waveguide 23 and the surface composed of the transparent substrate 22, the protective member 24, or the mixed solution 202 at an angle equal to or less than the complementary angle of the critical angle. As a result, the incident light L1 propagates (waveguides) while being repeatedly reflected in the optical waveguide 23 at the interface of the optical waveguide 23.

光導波路23から光が出射する付近の保護部材24側にはグレーティング23bが配置される。グレーティング23bは、光導波路23により光導波された光を所定の角度で回折させる。グレーティング23bにおいて回折された光は、光導波路23から外部へ所定角度を有して出射される。 A grating 23b is arranged on the protective member 24 side in the vicinity where light is emitted from the optical waveguide 23. The grating 23b diffracts the light optically waveguide by the optical waveguide 23 at a predetermined angle. The light diffracted by the grating 23b is emitted from the optical waveguide 23 to the outside at a predetermined angle.

保護部材24は、筐体21の第2の凹部の位置に開口を有する。保護部材24は、光導波路23の上面に密着して配置されている。保護部材24は、光導波路23の上面に密着して配置されることで、平面保護層を構成する。また、保護部材24は、図2に示されるように、光導波路23の主面(例えば上面)を露出させるための開口端24aを有する。開口端24aは、保護部材24の内側の開口を形成する鉛直面である。この開口端24aにより、光導波路23の上面が露出される。 The protective member 24 has an opening at the position of the second recess of the housing 21. The protective member 24 is arranged in close contact with the upper surface of the optical waveguide 23. The protective member 24 is arranged in close contact with the upper surface of the optical waveguide 23 to form a plane protective layer. Further, as shown in FIG. 2, the protective member 24 has an opening end 24a for exposing the main surface (for example, the upper surface) of the optical waveguide 23. The opening end 24a is a vertical surface that forms an opening inside the protective member 24. The upper surface of the optical waveguide 23 is exposed by the open end 24a.

反応容器201は、上面が筐体21の第2の凹部の上面により構成され、側面が筐体21の第2の凹部の側面及び保護部材24の開口端24aにより構成され、下面が光導波路23の上面により構成される。 The upper surface of the reaction vessel 201 is composed of the upper surface of the second recess of the housing 21, the side surface is composed of the side surface of the second recess of the housing 21 and the opening end 24a of the protective member 24, and the lower surface is the optical waveguide 23. It is composed of the upper surface of.

反応容器201は、試料溶液及び試薬を収容し、試料溶液に含まれる被検物質と試薬とを反応させる。反応容器201を形成する面のうちの下面、すなわち光導波路23の上面には、複数の第1抗体211が固定される。第1抗体211は、被検物質に含まれる抗原212と抗原抗体反応により特異的に反応する物質である。第1抗体211は、例えば光導波路23の上面との間に生じる疎水性相互作用又は化学結合等により、光導波路23の上面に固定される。 The reaction vessel 201 contains the sample solution and the reagent, and reacts the test substance contained in the sample solution with the reagent. A plurality of first antibodies 211 are immobilized on the lower surface of the surface forming the reaction vessel 201, that is, the upper surface of the optical waveguide 23. The first antibody 211 is a substance that specifically reacts with the antigen 212 contained in the test substance by an antigen-antibody reaction. The first antibody 211 is fixed to the upper surface of the optical waveguide 23 by, for example, a hydrophobic interaction or a chemical bond that occurs with the upper surface of the optical waveguide 23.

反応容器201は、例えば、予め空の状態となっている。被検物質の測定時においては、例えば孔21aを介して、外部から反応容器201へ、試料溶液と試薬との混合液202が注入される。試料溶液には、抗原212を含む被検物質が含まれる。試薬には、試薬成分213が含まれる。試薬成分213には、例えば抗原212と抗原抗体反応により特異的に反応する第2抗体214と、第2抗体214が固定化された磁性粒子215とが含まれる。磁性粒子215は、少なくとも一部がマグネタイト等の磁性体材料で形成されている。磁性粒子215は、例えば、磁性体材料から形成された粒子の表面が高分子材料で被覆されている。なお、磁性粒子215は、高分子材料で構成された粒子の表面を磁性体材料で被覆するように構成されてもよい。また、磁性粒子215は、混合液202において分散可能に構成されたものであればどのようなもので代替してもよい。 The reaction vessel 201 is, for example, emptied in advance. At the time of measuring the test substance, for example, the mixed solution 202 of the sample solution and the reagent is injected from the outside into the reaction vessel 201 through the hole 21a. The sample solution contains a test substance containing the antigen 212. The reagent includes reagent component 213. The reagent component 213 includes, for example, a second antibody 214 that specifically reacts with the antigen 212 by an antigen-antibody reaction, and magnetic particles 215 on which the second antibody 214 is immobilized. At least a part of the magnetic particles 215 is formed of a magnetic material such as magnetite. In the magnetic particles 215, for example, the surface of particles formed from a magnetic material is coated with a polymer material. The magnetic particles 215 may be configured to cover the surface of the particles made of a polymer material with a magnetic material. Further, the magnetic particles 215 may be replaced with any magnetic particles 215 as long as they are dispersible in the mixed solution 202.

混合液202を注入することで、反応容器201には、光導波路23の上面に固定された第1抗体211に加えて、試料溶液中の被検物質に含まれる抗原212及び試薬に含まれる試薬成分213が収容される。反応容器201に混合液202が注入されると、反応容器201内の空気は、孔21bから外部へ排出される。 By injecting the mixed solution 202, in addition to the first antibody 211 fixed on the upper surface of the optical waveguide 23, the antigen 212 contained in the test substance in the sample solution and the reagent contained in the reagent are injected into the reaction vessel 201. Ingredients 213 are contained. When the mixed solution 202 is injected into the reaction vessel 201, the air in the reaction vessel 201 is discharged to the outside through the holes 21b.

試薬成分213は、反応容器201に満たされた混合液202中を分散可能に移動する。このとき、磁性粒子215は、磁性粒子215に掛かる重力が、この重力と逆向きに掛かる混合液202中における浮力よりも大きくなるように選ばれる。第2抗体214が固定化された磁性粒子215は、第2抗体214が、抗原212を介して第1抗体211と結合することで、光導波路23の上面近傍に固定される。なお、第2抗体214は、第1抗体211と同じものであっても、異なるものであってもよい。 The reagent component 213 moves in a dispersible manner in the mixed solution 202 filled in the reaction vessel 201. At this time, the magnetic particles 215 are selected so that the gravity applied to the magnetic particles 215 is larger than the buoyancy in the mixed liquid 202 applied in the direction opposite to the gravity. The magnetic particles 215 on which the second antibody 214 is immobilized are immobilized near the upper surface of the optical waveguide 23 by binding the second antibody 214 to the first antibody 211 via the antigen 212. The second antibody 214 may be the same as or different from the first antibody 211.

反応ユニット2では、光導波路23の上面に固定された第1抗体211と被検物質に含まれる抗原212が反応することにより、第2抗体214が固定化された磁性粒子215が光導波路23の上面近傍に固定される。光導波路23を導波する光は、光導波路23の上面近傍に固定される磁性粒子215により散乱及び吸収等される。この結果、光導波路23を導波する光は、減衰されて光導波路23から出射されることになる。すなわち、入射光L1は、第1抗体211と、磁性粒子215に固定化される第2抗体214とを結びつける抗原212の量、換言すると、反応容器201内に収容された抗原212の量に応じて減衰される。 In the reaction unit 2, the first antibody 211 fixed on the upper surface of the optical waveguide 23 reacts with the antigen 212 contained in the test substance, so that the magnetic particles 215 on which the second antibody 214 is immobilized are formed on the optical waveguide 23. It is fixed near the top surface. The light guided through the optical waveguide 23 is scattered and absorbed by the magnetic particles 215 fixed in the vicinity of the upper surface of the optical waveguide 23. As a result, the light guided through the optical waveguide 23 is attenuated and emitted from the optical waveguide 23. That is, the incident light L1 depends on the amount of the antigen 212 that binds the first antibody 211 and the second antibody 214 immobilized on the magnetic particles 215, in other words, the amount of the antigen 212 contained in the reaction vessel 201. Is attenuated.

以下、反応容器201において、光導波路23の表面から図2の破線までの領域、すなわち光導波路23の表面近傍に至る領域をセンシングエリア205と定義する。 Hereinafter, in the reaction vessel 201, the region from the surface of the optical waveguide 23 to the broken line in FIG. 2, that is, the region near the surface of the optical waveguide 23 is defined as the sensing area 205.

光が光導波路23内を伝播する場合、光導波路23の上面において近接場光(エバネッセント光)が発生する。センシングエリア205は、近接場光が発生し得る領域である。センシングエリア205において、光導波路23の上面に固定された第1抗体211は、試料溶液中の被検物質に含まれる抗原212を介し、試薬成分213に含まれる磁性粒子215に固定化された第2抗体214と結合する。これにより、光導波路23の上面の近傍に第2抗体214が固定化された磁性粒子215が保持される。 When light propagates in the optical waveguide 23, near-field light (evanescent light) is generated on the upper surface of the optical waveguide 23. The sensing area 205 is an area where near-field light can be generated. In the sensing area 205, the first antibody 211 immobilized on the upper surface of the optical waveguide 23 is immobilized on the magnetic particles 215 contained in the reagent component 213 via the antigen 212 contained in the test substance in the sample solution. 2 Binds to antibody 214. As a result, the magnetic particles 215 on which the second antibody 214 is immobilized are held in the vicinity of the upper surface of the optical waveguide 23.

次に、反応容器201内において起こる抗原抗体反応等によって光導波路23を伝播する光が受ける影響ついて説明する。なお、第1抗体211、第2抗体214及び抗原212は、磁性粒子215と比較して、ごく小さい。図2、7乃至13では、結合反応を模式的に示すため、第1抗体211、抗原212、第2抗体214及び磁性粒子215を同様な大きさとして図示する。 Next, the influence of the light propagating on the optical waveguide 23 due to the antigen-antibody reaction or the like occurring in the reaction vessel 201 will be described. The first antibody 211, the second antibody 214, and the antigen 212 are very small as compared with the magnetic particles 215. In FIGS. 2, 7 to 13, in order to schematically show the binding reaction, the first antibody 211, the antigen 212, the second antibody 214, and the magnetic particles 215 are shown as having the same size.

磁性粒子215がセンシングエリア205内に進入すると、磁性粒子215に固定化される第2抗体214は、抗原212を介して光導波路23の上面に固定された第1抗体211と結合する。これにより、第2抗体214が固定化された磁性粒子215は、センシングエリア205に留まる。磁性粒子215がセンシングエリア205に留まった状態で光導波路23の上面において近接場光が発生すると、センシングエリア205に留まっている磁性粒子215がこの近接場光を散乱及び吸収等し、近接場光を減衰させる。このセンシングエリア205における近接場光の散乱及び吸収等は、光導波路23内を伝播する光に対して影響を及ぼす。すなわち、センシングエリア205において近接場光が減衰されることにより、光導波路23内を光導波する光も減衰される。したがって、センシングエリア205において近接場光が強く散乱及び吸収等されると、光導波路23内を伝播する光の強度が低下する。換言すると、センシングエリア205内に留まる磁性粒子215の量が多いほど、光導波路23から出力される光の強度が低下する。 When the magnetic particles 215 enter the sensing area 205, the second antibody 214 immobilized on the magnetic particles 215 binds to the first antibody 211 immobilized on the upper surface of the optical waveguide 23 via the antigen 212. As a result, the magnetic particles 215 on which the second antibody 214 is immobilized remain in the sensing area 205. When near-field light is generated on the upper surface of the optical waveguide 23 while the magnetic particles 215 remain in the sensing area 205, the magnetic particles 215 remaining in the sensing area 205 scatter and absorb the near-field light, and the near-field light. To attenuate. Scattering and absorption of near-field light in the sensing area 205 affect the light propagating in the optical waveguide 23. That is, by attenuating the near-field light in the sensing area 205, the light optically waveguide in the optical waveguide 23 is also attenuated. Therefore, when near-field light is strongly scattered and absorbed in the sensing area 205, the intensity of the light propagating in the optical waveguide 23 decreases. In other words, the greater the amount of magnetic particles 215 staying in the sensing area 205, the lower the intensity of the light output from the optical waveguide 23.

ただし、センシングエリア205内に留まる磁性粒子215は、測定対象である抗原212を介して光導波路23の上面に固定された第1抗体211と、磁性粒子215に固定化される第2抗体214とが結合したものに限られない。このため、被検物質に含まれる抗原212の正確な濃度を測定するためには、測定に関与しない、すなわち抗原212と結合していない第2抗体214が固定化された磁性粒子215をセンシングエリア205から遠ざける必要がある。具体的な方法としては、例えば磁場による近接作用により、第2抗体214が抗原212と結合していない磁性粒子215を移動させる方法がある。 However, the magnetic particles 215 that remain in the sensing area 205 include the first antibody 211 immobilized on the upper surface of the optical waveguide 23 via the antigen 212 to be measured and the second antibody 214 immobilized on the magnetic particles 215. Is not limited to the combination of. Therefore, in order to measure the accurate concentration of the antigen 212 contained in the test substance, the magnetic particles 215 on which the second antibody 214 that is not involved in the measurement, that is, that is not bound to the antigen 212, is immobilized is measured in the sensing area. You need to stay away from 205. As a specific method, for example, there is a method of moving the magnetic particles 215 in which the second antibody 214 is not bound to the antigen 212 by the proximity action by a magnetic field.

これにより、最終的にセンシングエリア205に留まる磁性粒子215は、抗原212を介して光導波路23の上面に固定された第1抗体211と、第2抗体214とが結合されているものとなる。このため、反応ユニット2から出射される光の強度の値及び強度の時系列変化は、センシングエリア205に留まる磁性粒子215の量及び濃度等に対応する。 As a result, the magnetic particles 215 that finally stay in the sensing area 205 are bound to the first antibody 211 fixed on the upper surface of the optical waveguide 23 via the antigen 212 and the second antibody 214. Therefore, the value of the intensity of the light emitted from the reaction unit 2 and the time-series change in the intensity correspond to the amount and concentration of the magnetic particles 215 remaining in the sensing area 205.

なお、反応ユニット2は、同一の測定項目について、同一の被検物質を複数チャンネルで同時に並行測定可能な構成であってもよい。このとき、反応ユニット2は、例えばチャンネル毎に独立した光導波路を有する。 The reaction unit 2 may have a configuration capable of simultaneously measuring the same test substance on a plurality of channels in parallel for the same measurement item. At this time, the reaction unit 2 has, for example, an independent optical waveguide for each channel.

測定システム3は、図1に示されるように、検知ユニット31、磁場発生器32、出力ユニット33、入力インタフェース回路34、記憶回路35及びシステム制御回路36を有する。 As shown in FIG. 1, the measurement system 3 includes a detection unit 31, a magnetic field generator 32, an output unit 33, an input interface circuit 34, a storage circuit 35, and a system control circuit 36.

検知ユニット31は、光源311及び光検出器312を有する。 The detection unit 31 has a light source 311 and a photodetector 312.

光源311は、例えば、LED等のダイオードやキセノンランプ等のランプである。光源311は、グレーティング23aに向けて光導波路23内に光を入射可能な位置に配置される。光源311は、入射光L1を、反応ユニット2の透明基板22を介して光導波路23内に入射する。入射光L1は、光導波路23内に進入し、グレーティング23aにより回折される。グレーティング23aにより回折された入射光L1は、光導波路23内を全反射しながら伝播し、グレーティング23bに到達する。グレーティング23bに到達した光は、グレーティング23bにより回折され、光導波路23から外部へ所定角度を有して出射光L2として出射される。なお、光源311の代わりに、光以外の電磁波等を発生するものを用いてもよい。 The light source 311 is, for example, a diode such as an LED or a lamp such as a xenon lamp. The light source 311 is arranged at a position where light can be incident on the optical waveguide 23 toward the grating 23a. The light source 311 incidents the incident light L1 into the optical waveguide 23 via the transparent substrate 22 of the reaction unit 2. The incident light L1 enters the optical waveguide 23 and is diffracted by the grating 23a. The incident light L1 diffracted by the grating 23a propagates while being totally reflected in the optical waveguide 23 and reaches the grating 23b. The light that has reached the grating 23b is diffracted by the grating 23b and is emitted from the optical waveguide 23 to the outside as emitted light L2 at a predetermined angle. Instead of the light source 311, a light source that generates electromagnetic waves other than light may be used.

光検出器312は、混合液202が収容されている反応容器201内の反応状態に基づいた電気信号を出力する反応状態信号出力部である。具体的には、光検出器312は、光導波路23の外へ出射される出射光L2を検出し、検出された出射光L2の強度を示す電気信号、すなわち光検出強度に関するデジタルデータを生成する。光検出器312により生成された光検出強度に関するデジタルデータはシステム制御回路36に供給される。 The photodetector 312 is a reaction state signal output unit that outputs an electric signal based on the reaction state in the reaction vessel 201 in which the mixed solution 202 is housed. Specifically, the photodetector 312 detects the emitted light L2 emitted to the outside of the optical waveguide 23 and generates an electric signal indicating the intensity of the detected emitted light L2, that is, digital data regarding the light detection intensity. .. Digital data on the photodetection intensity generated by the photodetector 312 is supplied to the system control circuit 36.

なお、検知ユニット31は、同一の測定項目について、同一の被検物質を複数チャンネルで同時に並行測定可能な構成であってもよい。このとき、検知ユニット31は、例えばチャンネル毎に光源及び光検出器を有するとしてもよいし、光源及び光検出器を共有することもできる。 The detection unit 31 may have a configuration capable of simultaneously measuring the same test substance on a plurality of channels in parallel for the same measurement item. At this time, the detection unit 31 may have a light source and a photodetector for each channel, for example, or may share the light source and the photodetector.

磁場発生器32は、反応容器201内の反応、すなわち磁性粒子215に固定された第2抗体214と光導波路23の上面に固定された第1抗体211との抗原212を介した結合を促進させるエネルギーを発生する反応促進部である。具体的には、磁場発生器32は、図2に示されるように、上磁場発生器32a及び下磁場発生器32bを有する。また、磁場発生器32は、図示しない駆動回路を有する。磁場発生器32は、システム制御回路36の制御の下、反応容器201に対して磁場を印加する。 The magnetic field generator 32 promotes the reaction in the reaction vessel 201, that is, the binding of the second antibody 214 immobilized on the magnetic particles 215 and the first antibody 211 immobilized on the upper surface of the optical waveguide 23 via the antigen 212. It is a reaction promoting part that generates energy. Specifically, the magnetic field generator 32 has an upper magnetic field generator 32a and a lower magnetic field generator 32b, as shown in FIG. Further, the magnetic field generator 32 has a drive circuit (not shown). The magnetic field generator 32 applies a magnetic field to the reaction vessel 201 under the control of the system control circuit 36.

上磁場発生器32aは、例えば永久磁石及び電磁石等で構成される。上磁場発生器32aは、図2に示されるように、反応ユニット2の上方に設けられる。上磁場発生器32aは、反応容器201において鉛直上向きの磁場を水平方向に一様に発生させる。発生された鉛直上向きの磁場により、第2抗体214が固定化された磁性粒子215は、鉛直上方向の力を受けて上昇する。このとき、上磁場発生器32aは、所定の強さの磁場を発生させることで、第2抗体214が固定化された磁性粒子215を選択的にセンシングエリア205から遠ざける。すなわち、上磁場発生器32aは、発生させる磁場の強さを調整することで、光導波路23の上面に固定される、第1抗体211と抗原212を介して結合する第2抗体214が固定化された磁性粒子215のみをセンシングエリア205に留めることが可能となる。 The upper magnetic field generator 32a is composed of, for example, a permanent magnet and an electromagnet. The upper magnetic field generator 32a is provided above the reaction unit 2 as shown in FIG. The upper magnetic field generator 32a uniformly generates a vertically upward magnetic field in the reaction vessel 201 in the horizontal direction. Due to the generated vertical upward magnetic field, the magnetic particles 215 on which the second antibody 214 is immobilized rise by receiving a force in the vertically upward direction. At this time, the upper magnetic field generator 32a selectively moves the magnetic particles 215 on which the second antibody 214 is immobilized away from the sensing area 205 by generating a magnetic field having a predetermined strength. That is, in the upper magnetic field generator 32a, by adjusting the strength of the generated magnetic field, the first antibody 211 and the second antibody 214 that bind to each other via the antigen 212 are immobilized on the upper surface of the optical waveguide 23. It is possible to retain only the magnetic particles 215 that have been formed in the sensing area 205.

下磁場発生器32bは、例えば永久磁石及び電磁石等で構成される。下磁場発生器32bは、反応ユニット2の下方に設けられる。下磁場発生器32bは、反応容器201内の反応を促進させるエネルギーである鉛直下向きの磁場を水平方向に一様に発生させる。発生された鉛直下向きの磁場により、第2抗体214が固定化された磁性粒子215は、鉛直下方向の力を受けて下降する。 The lower magnetic field generator 32b is composed of, for example, a permanent magnet, an electromagnet, or the like. The lower magnetic field generator 32b is provided below the reaction unit 2. The lower magnetic field generator 32b uniformly generates a vertically downward magnetic field, which is energy for promoting the reaction in the reaction vessel 201, in the horizontal direction. Due to the generated vertical downward magnetic field, the magnetic particles 215 on which the second antibody 214 is immobilized are lowered by receiving a vertical downward force.

出力ユニット33は、表示回路331、報知器332、及びプリンタ333を有する。 The output unit 33 includes a display circuit 331, an alarm 332, and a printer 333.

表示回路331は、システム制御回路36の制御の下、例えば液晶ディスプレイ又はOLED(Organic Light Emitting Diode)ディスプレイ等の一般的な表示出力装置を有する。表示回路331は、システム制御回路36の制御に従い、各種操作画面、光検出器312から供給された出射光L2の光強度を示す情報、光強度を示す情報の時系列データ、及び被検物質の測定結果等を表示する。測定結果は、例えば抗原212の濃度、重量又は個数等である。 The display circuit 331 has a general display output device such as a liquid crystal display or an OLED (Organic Light Emitting Diode) display under the control of the system control circuit 36. The display circuit 331 is controlled by the system control circuit 36, and has various operation screens, information indicating the light intensity of the emitted light L2 supplied from the photodetector 312, time-series data of information indicating the light intensity, and the test substance. Display measurement results, etc. The measurement result is, for example, the concentration, weight or number of antigen 212.

報知器332は、例えばスピーカーである。報知器332は、システム制御回路36の制御の下、被検物質の判定結果等を操作者に報知する。 The alarm 332 is, for example, a speaker. Under the control of the system control circuit 36, the alarm 332 notifies the operator of the determination result of the test substance and the like.

プリンタ333は、システム制御回路36の制御の下、例えば表示回路331に表示される各種操作画面、光検出器312から供給された出射光L2の光強度を示す情報、光強度を示す情報の時系列データ、及び被検物質の測定結果等を印刷する。 When the printer 333 is under the control of the system control circuit 36, for example, various operation screens displayed on the display circuit 331, information indicating the light intensity of the emitted light L2 supplied from the photodetector 312, and information indicating the light intensity. Print the series data and the measurement results of the test substance.

入力インタフェース回路34は、例えばトラックボール、スイッチボタン、マウス、キーボード、操作面へ触れることで入力操作を行うタッチパッド、及び表示画面とタッチパッドとが一体化されたタッチパネルディスプレイ等によって実現される。入力インタフェース回路34は、操作者の操作に対応した操作入力信号をシステム制御回路36に出力する。なお、本実施形態において入力インタフェース回路はマウス、キーボードなどの物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、装置とは別体に設けられた外部の入力機器から入力操作に対応する電気信号を受け取り、この電気信号をシステム制御回路36へ出力する電気信号の処理回路も入力インタフェース回路の例に含まれる。 The input interface circuit 34 is realized by, for example, a trackball, a switch button, a mouse, a keyboard, a touch pad that performs an input operation by touching an operation surface, a touch panel display in which a display screen and a touch pad are integrated, and the like. The input interface circuit 34 outputs an operation input signal corresponding to the operation of the operator to the system control circuit 36. In this embodiment, the input interface circuit is not limited to the one provided with physical operating parts such as a mouse and a keyboard. For example, an example of an input interface circuit includes an electric signal processing circuit that receives an electric signal corresponding to an input operation from an external input device provided separately from the device and outputs the electric signal to the system control circuit 36. Is done.

記憶回路35は、磁気的若しくは光学的記録媒体又は半導体メモリ等の、プロセッサにより読み取り可能な記録媒体等を有する。記憶回路35は、本実施形態に係る検体測定装置1の回路で実行されるプログラムを記憶する。なお、記憶回路35の記憶媒体内のプログラム及びデータの一部又は全部は電子ネットワークを介してダウンロードされるように構成してもよい。 The storage circuit 35 has a recording medium that can be read by a processor, such as a magnetic or optical recording medium or a semiconductor memory. The storage circuit 35 stores a program executed by the circuit of the sample measuring device 1 according to the present embodiment. A part or all of the program and data in the storage medium of the storage circuit 35 may be configured to be downloaded via an electronic network.

記憶回路35は、光検出器312から供給された出射光L2の光強度を示す情報、光強度を示す情報の時系列データ、及び測定対象となる被検物質の測定結果等を記憶する。 The storage circuit 35 stores information indicating the light intensity of the emitted light L2 supplied from the photodetector 312, time-series data of the information indicating the light intensity, measurement results of the test substance to be measured, and the like.

記憶回路35は、対象となる被検物質の測定を行うための設定情報を記憶する。設定情報は、例えば測定に必要な所定の処理を実行するタイミングを規定する情報を含む。測定に必要な所定の処理を実行するタイミングとは、例えば下磁場発生器32bにより発生される下磁場の印加が開始されるタイミング、検出区間が開始されるタイミング、算出タイミング(下磁場の印加が停止されるタイミング)、検出区間が終了されるタイミング、上磁場の印加が開始されるタイミング及び第2の判定(最終判定)が実施されるタイミングである。これらのタイミングを規定する情報には、所定の時刻からの相対的な経過時間又は所定の処理を実行する絶対時刻が含まれる。なお、所定の時刻からの相対的な経過時間又は所定の処理を実行する絶対時刻は、予め経験的、実験的に取得される。 The storage circuit 35 stores the setting information for measuring the target test substance. The setting information includes, for example, information that defines the timing for executing a predetermined process required for measurement. The timing of executing the predetermined processing required for the measurement is, for example, the timing at which the application of the lower magnetic field generated by the lower magnetic field generator 32b is started, the timing at which the detection section is started, and the calculation timing (the application of the lower magnetic field is The timing to stop), the timing to end the detection section, the timing to start applying the upper magnetic field, and the timing to execute the second determination (final determination) . The information that defines these timings includes the relative elapsed time from a predetermined time or the absolute time when a predetermined process is executed. The relative elapsed time from the predetermined time or the absolute time for executing the predetermined process is obtained empirically and experimentally in advance.

記憶回路35は、予め設定された規定値Tを記憶する。規定値Tは、被検物質の濃度に対応する光強度の変動率の積算値についての規定値である。規定値Tは、被検物質の測定結果が陽性の可能性が高いかどうかの判定をするために用いられる。 Storage circuit 35 stores the specified value T S, which is set in advance. Specified value T S is a predetermined value for the integrated value of the variation of light intensity corresponding to the concentration of the analyte. Specified value T S is used to determined whether the measurement results of a test substance is likely positive.

記憶回路35は、予め設定された閾値Tを記憶する。閾値Tは、被検物質の濃度に対応する光強度についての閾値である。閾値Tは、被検物質の定性状態を判定するために用いられる。定性状態とは、例えば測定結果が示す陽性又は陰性の度合いである。閾値Tは、被検物質の測定結果が陽性の可能性が高いかどうかの第2の判定をするために用いられる。なお、閾値Tは、複数の段階的な閾値であってもよい。すなわち、デジタルデータに含まれる光強度と複数の段階的な閾値を比較することで、より詳細な測定結果を表す判定を行うことが可能となる。 Storage circuit 35 stores a preset threshold T A. Threshold T A is the threshold for the light intensity corresponding to the concentration of the analyte. Threshold T A is used to determine the qualitative state of the test substance. The qualitative state is, for example, the degree of positive or negative indicated by the measurement result. Threshold T A is used to measure the results of a test substance to a second determination possibility of whether high positive. The threshold T A may be a plurality of stepwise threshold. That is, by comparing the light intensity contained in the digital data with a plurality of stepwise threshold values, it is possible to make a determination representing a more detailed measurement result.

システム制御回路36は、例えば検体測定装置1の各構成回路を制御するプロセッサである。システム制御回路36は、検体測定装置1の中枢として機能する。システム制御回路36は、記憶回路35から各動作プログラムを呼び出し、呼び出したプログラムを実行することで光源制御機能361、磁場制御機能362、演算機能363、第1の判定機能364、第2の判定機能365及び出力制御機能366を実現する。 The system control circuit 36 is, for example, a processor that controls each component circuit of the sample measuring device 1. The system control circuit 36 functions as the center of the sample measuring device 1. The system control circuit 36 calls each operation program from the storage circuit 35 and executes the called program to execute the light source control function 361, the magnetic field control function 362, the calculation function 363, the first determination function 364, and the second determination function. The 365 and the output control function 366 are realized.

光源制御機能361は、光源311を制御し、所定の条件で光を発生させる機能である。光源制御機能361では、システム制御回路36は、少なくとも測定開始から測定終了までの間、連続的又は間欠的に光源311から入射光L1を発生させる。 The light source control function 361 is a function that controls the light source 311 and generates light under predetermined conditions. In the light source control function 361, the system control circuit 36 continuously or intermittently generates incident light L1 from the light source 311 from the start of measurement to the end of measurement.

磁場制御機能362は、記憶回路35に予め記憶されているタイムスケジュールに従って磁場発生器32を制御し、反応容器201内の反応を促進させるエネルギーの印加状態を切り替える印加状態切替制御機能である。具体的には、磁場制御機能362では、システム制御回路36は、記憶回路35から設定情報を読出し、読み出した設定情報に基づいて磁場発生器32を制御し、磁場発生器32に磁場を発生させる。 The magnetic field control function 362 is an application state switching control function that controls the magnetic field generator 32 according to a time schedule stored in advance in the storage circuit 35 and switches the application state of energy that promotes the reaction in the reaction vessel 201. Specifically, in the magnetic field control function 362, the system control circuit 36 reads setting information from the storage circuit 35, controls the magnetic field generator 32 based on the read setting information, and generates a magnetic field in the magnetic field generator 32. ..

演算機能363は、光検出器312から供給される時系列の光強度のデジタルデータに基づいて各種演算を行う機能である。演算機能363では、システム制御回路36は、供給される時系列の光強度のデジタルデータを用いて、光強度の平均値、光強度の変動率、変動率の積算値等の演算を行う。 The calculation function 363 is a function that performs various calculations based on time-series digital data of light intensity supplied from the photodetector 312. In the calculation function 363, the system control circuit 36 uses the supplied time-series digital data of the light intensity to calculate the average value of the light intensity, the fluctuation rate of the light intensity, the integrated value of the fluctuation rate, and the like.

第1の判定機能364は、演算機能363により演算された光強度の変動率の積算値に基づいて試料溶液が陽性の可能性が高いかどうかを判定する第1の判定(予測判定)を実施する機能である。なお、第1の判定は、前判定と換言してもよい。第1の判定機能364では、システム制御回路36は、例えば予め設定された規定値Tを記憶回路35から読み出す。システム制御回路36は、演算機能363により演算された光強度の変動率の積算値が規定値T以下であった場合、被検物質の測定結果を陽性の可能性が高いと判定する。また、システム制御回路36は、演算機能363により演算された光強度の変動率の積算値が規定値Tより大きい場合、被検物質の測定結果は陽性の可能性が高くない、すなわち弱陽性又は陰性の可能性が高いと判定する。 The first determination function 364 performs a first determination (prediction determination) for determining whether or not the sample solution is likely to be positive based on the integrated value of the fluctuation rate of the light intensity calculated by the calculation function 363. It is a function to do. The first determination may be paraphrased as a pre-determination. In the first determination function 364, the system control circuit 36 reads for example a preset prescribed value T S from the memory circuit 35. The system control circuit 36, when the integrated value of the variation of light intensity calculated by the calculation function 363 is equal to or smaller than the prescribed value T S, determines the measurement results of a test substance to be likely positive. The system control circuit 36, the integrated value of the variation of light intensity calculated by the calculating function 363 is larger than the prescribed value T S, the measurement results of the test substance is not likely positive, i.e. weakly positive Or, it is judged that there is a high possibility of being negative.

第2の判定機能365は、後述する上磁場の印加中に光検出器312から供給される光強度のデジタルデータに基づいて被検物質の定性状態を判定する第2の判定を実施する機能である。すなわち、第2の判定機能365は、第1の判定機能364により第1の判定が実施された後に、第2の判定を実施する機能である。なお、第2の判定機能365における第2の判定は、後判定と換言してもよい。第2の判定機能365では、システム制御回路36は、記憶回路35から設定情報及び閾値Tを読出す。システム制御回路36は、読出した設定情報に含まれる実行タイミングに合わせて、被検物質の定性状態を判定する。システム制御回路36は、供給された時系列の光強度のデジタルデータに含まれる光強度が閾値T以下であった場合、例えば被検物質の測定結果を陽性の可能性が高いと判定する。システム制御回路36は、デジタルデータに含まれる光強度が閾値Tより大きい場合、例えば被検物質の測定結果は弱陽性又は陰性の可能性が高いと判定する。 The second determination function 365 is a function for performing a second determination for determining the qualitative state of the test substance based on the digital data of the light intensity supplied from the photodetector 312 during the application of the upper magnetic field described later. is there. That is, the second determination function 365 is a function of executing the second determination after the first determination is performed by the first determination function 364. The second determination in the second determination function 365 may be paraphrased as a post-determination. In the second determination function 365, the system control circuit 36 reads the setting information and the threshold value T A from the memory circuit 35. The system control circuit 36 determines the qualitative state of the test substance in accordance with the execution timing included in the read setting information. The system control circuit 36 determines if the light intensity contained in the digital data of the light intensity of the supplied time series is equal to or less than the threshold value T A, for example, the measurement results of a test substance to be likely positive. The system control circuit 36, when the light intensity contained in the digital data is larger than the threshold value T A, for example, measurement results of a test substance is determined that there is a high possibility of weakly positive or negative.

ここで、前判定と後判定は、判定タイミングを時系列的に前後で表すものとし、第1の判定機能364による判定が前判定、第2の判定機能365による判定が後判定である。従って、後述するように第2の判定機能365により第2の判定を行わず、第1の判定機能364による第1の判定の結果が第2の判定の結果となる場合には、当該第1の判定が実質的に第2の判定であっても前判定と表記する。 Here, in the pre-determination and the post-determination, the determination timing is represented in chronological order before and after, the determination by the first determination function 364 is the pre-determination, and the determination by the second determination function 365 is the post-determination. Thus, without performing the second determination by the second determination function 365 as will be described later, when the first determination result by the first determination function 364 is the result of the second determination, the first Even if the judgment of is substantially the second judgment , it is referred to as a pre-judgment.

出力制御機能366は、出力ユニット33を制御し、操作者に対して被検物質の定性状態等の判定結果を出力する機能である。出力制御機能366では、システム制御回路36は、表示回路331又はプリンタ333を制御し、第1の判定の結果又は/及び第2の判定の結果を操作者に提示する。提示は、ディスプレイを介した表示及びプリンタを用いて印刷する方法を含む。システム制御回路36は、報知器332を制御し、第1の判定の結果又は/及び第2の判定の結果を操作者に報知する。報知は、音等で知らせる方法を含む。 The output control function 366 is a function that controls the output unit 33 and outputs a determination result such as a qualitative state of the test substance to the operator. The output control device 366, the system control circuit 36 controls the display circuit 331 or the printer 333, presents the results of the results and / or a second determination of the first determination to the operator. The presentation includes a display via a display and a method of printing using a printer. The system control circuit 36 controls the annunciator 332 notifies the result of the result and / or the second determination of the first determination to the operator. The notification includes a method of notifying by sound or the like.

次に、第1の実施形態の動作について説明する。 Next, the operation of the first embodiment will be described.

図3及び図4は、第1の実施形態に係るシステム制御回路36が制御する動作のフローチャートの一例を表す図である。また、図5は、出射光L2の光強度の時系列変化の一例を示すグラフである。図5に示されるグラフにおいて、横軸は時刻tを示し、縦軸は出射光L2の光強度を示す。また、グラフに描かれる曲線は、光検出器312から出力される、反応ユニット2内の反応状態に基づいて取得されるデジタルデータが表す光強度Aの時間的な変化をプロットして得られる。 3 and 4 are diagrams showing an example of a flowchart of the operation controlled by the system control circuit 36 according to the first embodiment. Further, FIG. 5 is a graph showing an example of time-series changes in the light intensity of the emitted light L2. In the graph shown in FIG. 5, the horizontal axis represents the time t, and the vertical axis represents the light intensity of the emitted light L2. Further, the curve drawn in the graph is obtained by plotting the temporal change of the light intensity A represented by the digital data output from the photodetector 312 based on the reaction state in the reaction unit 2.

まず、時刻t=0において、反応容器201への試料溶液及び試薬から成る混合液202の注入が開始される。反応容器201への混合液202の注入は、自動で行われてもよいし、手動で行われてもよい。 First, at time t = 0, injection of the mixed solution 202 composed of the sample solution and the reagent into the reaction vessel 201 is started. The injection of the mixed solution 202 into the reaction vessel 201 may be performed automatically or manually.

光源311は、例えば反応容器201に対する混合液202の注入が開始されると、光導波路23に対し、継続的に一定の強度の光を入射する。光導波路23には、光源311から出射された光が透明基板22を介して入射される。光導波路23に入射された光は、光導波路23内を全反射しながら伝播し、透明基板22を介して光検出器312へ出射される。光検出器312は、光導波路23から出射された光を受光し、システム制御回路36に対して、光強度のデータを所定の時間間隔で供給する。 For example, when the injection of the mixed solution 202 into the reaction vessel 201 is started, the light source 311 continuously injects light of a constant intensity into the optical waveguide 23. The light emitted from the light source 311 is incident on the optical waveguide 23 via the transparent substrate 22. The light incident on the optical waveguide 23 propagates while being totally reflected in the optical waveguide 23, and is emitted to the photodetector 312 via the transparent substrate 22. The photodetector 312 receives the light emitted from the optical waveguide 23 and supplies the light intensity data to the system control circuit 36 at predetermined time intervals.

システム制御回路36は、例えば下磁場の印加が開始されるタイミングを規定する情報に含まれる経過時間を用いて、時刻t=0から所定の経過時間が経過したか否か、すなわち下磁場を印加する時刻t=tに達したか否か判定する(ステップSA1)。ステップSA1における経過時間とは、光強度AがA=0からA=A00に増加するまでの時間である。時刻t=0からt=tの期間においては、測定される光強度は増加する。これは、試料溶液及び試薬で反応容器201が満たされると、保存安定性を高めるために予め光導波路23の上面に付着された糖を含有する水溶性の膜が溶解することによるものである。糖は、例えば二糖類である。なお、システム制御回路36は、下磁場を印加する時刻t=tに達したか否かの判定を、例えば光検出器312から逐次供給される光強度の時系列変化を監視し、予め設定された判定ルールに基づいて行ってもよい。判定ルールとは、例えば光強度がピーク値であることを検出すると下磁場を印加する時刻t=tに達したと判定するルールである。 The system control circuit 36 uses, for example, the elapsed time included in the information defining the timing at which the application of the lower magnetic field is started, and determines whether or not a predetermined elapsed time has elapsed from the time t = 0, that is, applies the lower magnetic field. It is determined whether or not the time t = t 0 is reached (step SA1). The elapsed time in step SA1 is the time until the light intensity A increases from A = 0 to A = A 00 . In the period from time t = 0 to t = t 0 , the measured light intensity increases. This is because when the reaction vessel 201 is filled with the sample solution and the reagent, the sugar-containing water-soluble film previously attached to the upper surface of the optical waveguide 23 is dissolved in order to enhance the storage stability. The sugar is, for example, a disaccharide. The system control circuit 36 determines in advance whether or not the time t = t 0 when the lower magnetic field is applied is determined by, for example, monitoring the time-series change of the light intensity sequentially supplied from the photodetector 312. It may be performed based on the determined judgment rule. The determination rule is a rule for determining that the time t = t 0 when the lower magnetic field is applied is reached when, for example, the light intensity is detected to be the peak value.

システム制御回路36は、下磁場を印加する時刻t=tに達すると(ステップSA1のYes)、磁場発生器32を制御して下磁場の印加を開始する(ステップSA2)。図6は、図5に記載される時刻t=tにおける反応ユニット2内の状態を表す断面図である。図6に示されるように、時刻t=tにおいて、下磁場の印加が開始される。図6における下向きの矢印は、下磁場の印加により発生する磁束Bの向きを示す。磁束Bは、複数の磁力線bで構成され、反応容器201を実質的に下方に貫く。 When the time t = t 0 at which the lower magnetic field is applied is reached (Yes in step SA1), the system control circuit 36 controls the magnetic field generator 32 to start applying the lower magnetic field (step SA2). FIG. 6 is a cross-sectional view showing a state in the reaction unit 2 at time t = t 0 shown in FIG. As shown in FIG. 6, the application of the lower magnetic field is started at time t = t 0 . Downward arrow in FIG. 6 shows the direction of the magnetic flux B 1 generated by the application of lower magnetic field. The magnetic flux B 1 is composed of a plurality of magnetic field lines b and substantially penetrates the reaction vessel 201 downward.

下磁場の印加が開始された後、光強度は、時刻t=tに達すると所定の値A01に収束する。図7は、図5に記載される時刻t=tからt=tにおける反応機構内の状態を表す断面図である。図7に示されるように、試料溶液で満たされた反応容器201中の第2抗体214が固定化された複数の磁性粒子215は、下磁場による鉛直下向きの磁力を受けて、その一部が磁力線bに引き寄せられることで磁力線bに沿って整列され始める。磁力線bに沿って整列された第2抗体214が固定化された磁性粒子215は、重力及び磁力に従って徐々に沈降し、センシングエリア205に進入する。センシングエリア205に進入した磁性粒子215に固定された第2抗体214は、抗原212を介して光導波路23の上面に固定された第1抗体211と結合する。 After the application of the lower magnetic field is started, the light intensity converges to a predetermined value A 01 when the time t = t 1 . FIG. 7 is a cross-sectional view showing a state in the reaction mechanism from time t = t 0 to t = t 1 shown in FIG. As shown in FIG. 7, a plurality of magnetic particles 215 on which the second antibody 214 is immobilized in the reaction vessel 201 filled with the sample solution receives a vertically downward magnetic force due to a lower magnetic field, and some of them are subjected to vertical downward magnetic force. By being attracted to the magnetic field lines b, they begin to be aligned along the magnetic field lines b. Magnetic particles 215 on which the second antibody 214 aligned along the lines of magnetic force b is immobilized gradually settles according to gravity and magnetic force and enters the sensing area 205. The second antibody 214 immobilized on the magnetic particles 215 that has entered the sensing area 205 binds to the first antibody 211 immobilized on the upper surface of the optical waveguide 23 via the antigen 212.

一方、磁力線bに沿って整列されなかった第2抗体214が固定化された磁性粒子215については、重力に従って徐々に沈降し、センシングエリア205に進入する。センシングエリア205に進入した磁性粒子215に固定された第2抗体214は、抗原212を介して光導波路23の上面に固定された第1抗体211と結合する。 On the other hand, the magnetic particles 215 on which the second antibody 214 not aligned along the magnetic field line b is immobilized gradually settles according to gravity and enters the sensing area 205. The second antibody 214 immobilized on the magnetic particles 215 that has entered the sensing area 205 binds to the first antibody 211 immobilized on the upper surface of the optical waveguide 23 via the antigen 212.

時刻t=tからt=tにおいて、センシングエリア205には、第2抗体214が固定化された磁性粒子215が次々に進入するので光強度は減少する。光強度は、時刻t=tの直後から大きな減少率(傾き)で減少し始める。光強度の減少率は、時間の経過とともに小さくなる。その後、光強度の減少率は、時刻t=tにおいて、ほぼ0となる。すなわち、光強度は、時刻t=tにおいて強度A01に収束する。 From time t = t 0 to t = t 1 , the magnetic particles 215 on which the second antibody 214 is immobilized enter the sensing area 205 one after another, so that the light intensity decreases. The light intensity begins to decrease at a large reduction rate (tilt) immediately after time t = t 0 . The rate of decrease in light intensity decreases with the passage of time. After that, the reduction rate of the light intensity becomes almost 0 at the time t = t 1 . That is, the light intensity converges to the intensity A 01 at time t = t 1 .

図8は、図5に記載される時刻t=tからt=tにおける反応機構内の状態を表す断面図である。図8に示されるように、センシングエリア205への第2抗体214が固定化された磁性粒子215の進入が停止する。このため、光強度は、時刻t=tにおいて強度A01に収束する。なお、時刻t=tからt=tにおいても、反応容器201に収容された抗原212の一部は、第2抗体214に順次結合される。 FIG. 8 is a cross-sectional view showing a state in the reaction mechanism from time t = t 1 to t = t 2 shown in FIG. As shown in FIG. 8, the entry of the magnetic particles 215 on which the second antibody 214 is immobilized into the sensing area 205 is stopped. Therefore, the light intensity converges to the intensity A 01 at time t = t 1 . Even from time t = t 1 to t = t 2 , a part of the antigen 212 contained in the reaction vessel 201 is sequentially bound to the second antibody 214.

図9は、図5における曲線Cの一部である部分曲線C1を拡大した図である。図9に示されるように、本実施形態では、時刻t=tからt=tの間の所定の時刻を起点D(t=t)、D(t=t)を終点とする区間を検出区間と呼ぶ。 FIG. 9 is an enlarged view of the partial curve C1 which is a part of the curve C in FIG. As shown in FIG. 9, in the present embodiment, the starting point is D s (t = t s ) and the ending point is De (t = t 3 ) at a predetermined time between the times t = t 1 and t = t 2. The section is called the detection section.

システム制御回路36は、下磁場の印加を開始した後、例えば検出区間が開始されるタイミングを規定する情報に含まれる経過時間を用いて、下磁場の印加が開始される時刻tから所定の経過時間が経過したか否か、すなわち時刻t=tに達したか否かを判定する(ステップSA3)。なお、検出区間が開始されるタイミングを規定する情報に含まれる経過時間は、時刻0からの所定の経過時間であってもよい。 After starting the application of the lower magnetic field, the system control circuit 36 uses the elapsed time included in the information defining the timing at which the detection section is started, for example, to determine a predetermined time from time t 0 when the application of the lower magnetic field is started. It is determined whether or not the elapsed time has elapsed, that is, whether or not the time t = t s has been reached (step SA3). The elapsed time included in the information defining the timing at which the detection section is started may be a predetermined elapsed time from time 0.

システム制御回路36は、検出区間の開始を示す時刻である時刻t=tに達すると(ステップSA3のYes)、光検出器312から継続的に供給される光強度のデータの1つの値をリファレンス値R(=A01)として取得する(ステップSA4)。 When the time t = t s , which is the time indicating the start of the detection section, is reached (Yes in step SA3), the system control circuit 36 obtains one value of the light intensity data continuously supplied from the photodetector 312. Obtained as a reference value R (= A 01 ) (step SA4).

システム制御回路36は、リファレンス値Rの取得後、光検出器312から逐次供給される光強度のデータに含まれる光強度A(n=1、2、3…)の1つを測定値として取得する(ステップSA5)。なお、システム制御回路36は、ステップSA4で取得したリファレンス値Rを測定値として利用してもよい。 After acquiring the reference value R, the system control circuit 36 uses one of the light intensities An (n = 1, 2, 3 ...) Included in the light intensity data sequentially supplied from the photodetector 312 as a measured value. Acquire (step SA5). The system control circuit 36 may use the reference value R acquired in step SA4 as a measured value.

システム制御回路36は、測定値Aを取得した後、取得した測定値のデータの数が3以上であるか否か判定する(ステップSA6)。システム制御回路36は、取得した測定値のデータの数がN未満であった場合(ステップSA6のNo)、ステップSA5に戻り次に供給される測定値を取得する。 The system control circuit 36, after obtaining a measured value A n, whether the number of data of the acquired measured value is 3 or more is judged (step SA6). When the number of acquired measured value data is less than N (No in step SA6), the system control circuit 36 returns to step SA5 and acquires the measured value to be supplied next.

システム制御回路36は、取得した測定値のデータの数がN以上であった場合(ステップSA6のYes)、例えば算出タイミングを規定する情報に含まれる経過時間を用いて、下磁場の印加を開始する処理が実施された時刻t=tから所定の経過時間が経過したか否か、すなわち時刻t=tに達したか否かを判定する(ステップSA7)。ステップSA7における経過時間とは、ステップSA3における経過時間と同様に、下磁場の印加を開始する時刻t=tからの相対的な経過時間であり、予め経験的、実験的に取得される時間である。なお、システム制御回路36は、例えば直近に取得したN個の光強度のデータのうち、(N−1)個の光強度のデータがリファレンス値Rを超えている場合を算出タイミングとしてもよい。なお、算出タイミングを規定する情報に含まれる経過時間は、時刻t=0からの所定の経過時間であってもよい。 When the number of acquired measured value data is N or more (Yes in step SA6), the system control circuit 36 starts applying a lower magnetic field using, for example, the elapsed time included in the information defining the calculation timing. It is determined whether or not a predetermined elapsed time has elapsed from the time t = t 0 at which the processing is performed, that is, whether or not the time t = t 2 has been reached (step SA7). The elapsed time in step SA7 is the relative elapsed time from the time t = t 0 when the application of the lower magnetic field is started, and is the time acquired in advance empirically and experimentally, as in the elapsed time in step SA3. Is. The system control circuit 36 may set the calculation timing to, for example, the case where (N-1) light intensity data exceeds the reference value R among the N light intensity data acquired most recently. The elapsed time included in the information defining the calculation timing may be a predetermined elapsed time from the time t = 0.

システム制御回路36は、時刻t=tに達していない場合(ステップSA7のNo)、ステップSA5に戻り次に供給される測定値を取得する。 When the time t = t 2 has not been reached (No in step SA7), the system control circuit 36 returns to step SA5 and acquires the measured value to be supplied next.

システム制御回路36は、時刻t=tに達すると(ステップSA7のYes)、磁場発生器32を制御して下磁場の印加を停止する(ステップSA8)。 When the time t = t 2 is reached (Yes in step SA7), the system control circuit 36 controls the magnetic field generator 32 to stop the application of the lower magnetic field (step SA8).

下磁場の印加が停止されると、第2抗体214が固定化された磁性粒子215は、下磁場による束縛から解放されることで自然沈降を開始する。図10は、図5に記載される時刻t=tにおける反応ユニット2内の状態を表す断面図である。図10に示されるように、下磁場の印加が停止された直後の反応容器201の内部状態は、図8で示された状態とほぼ同様である。 When the application of the lower magnetic field is stopped, the magnetic particles 215 on which the second antibody 214 is immobilized are released from the binding by the lower magnetic field and start spontaneous precipitation. FIG. 10 is a cross-sectional view showing a state in the reaction unit 2 at time t = t 2 shown in FIG. As shown in FIG. 10, the internal state of the reaction vessel 201 immediately after the application of the lower magnetic field is stopped is almost the same as the state shown in FIG.

光強度Aは、図5及び図9に示されるように、時刻t=tからt=tにおいてオーバーシュートOS1が発生するため、増加から減少に転じるスパイク状の波形を描く。試薬成分213の一部は、センシングエリア205から一瞬離脱させられ、図5及び図9に示されるように、時刻t=tからt=tにおいてオーバーシュートOS1が生じる。時刻t=tは、オーバーシュートOS1の発生が収まった時刻である。この下磁場の印加が停止されてからオーバーシュートOS1の発生が収まるまでに要する時間は、下磁場を発生させる動作が停止される時刻が予め設定されているため既知であり、記憶回路35に予め記憶される。この時間は、例えば下磁場の印加が停止された時刻からの経過時間を決定する際に用いられる。なお、このオーバーシュートOS1の発生が収まるまでに要する経過時間は、事前に実験的に求めてもよい。 As shown in FIGS. 5 and 9, the light intensity A draws a spike-like waveform that changes from an increase to a decrease because the overshoot OS1 occurs from time t = t 2 to t = t 3 . A portion of the reagent component 213 is momentarily detached from the sensing area 205, resulting in overshoot OS1 at time t = t 2 to t = t 3 , as shown in FIGS. 5 and 9. The time t = t 3 is the time when the occurrence of the overshoot OS1 has subsided. The time required from when the application of the lower magnetic field is stopped until the generation of the overshoot OS1 is stopped is known because the time when the operation of generating the lower magnetic field is stopped is set in advance, and is known in advance in the storage circuit 35. Be remembered. This time is used, for example, when determining the elapsed time from the time when the application of the lower magnetic field is stopped. The elapsed time required for the occurrence of the overshoot OS1 to subside may be experimentally determined in advance.

また、測定対象となる被検物質を含む試料溶液が陽性の可能性が高いかどうかを判定する基準としては、時刻t=tからt=tまでの間に生じるオーバーシュートの程度に着目する。例えば、本実施形態に係るシステム制御回路36は、図9に示されるように、所定の演算を行うことで、例えば算出タイミングを示す点D(t=t)から検出区間の終了を表す点De1(t=t)までの間にプロットされるような急なスパイク状のオーバーシュートが生じた場合を弱陽性又は陰性の可能性が高いと判定する。また、システム制御回路36は、例えば算出タイミングを示す点D(t=t)から検出区間の終了を表す点De2(t=t)までの間にプロットされるような緩やかなスパイク状のオーバーシュートが生じた場合を陽性の可能性が高いと判定する。具体的には、システム制御回路36は、時刻t=tからt=tまでの間の光強度変動率の累積積算を演算し、演算された光強度の変動率の積算値が予め設定された規定値T以下であった場合、陽性の可能性が高いと判定する。システム制御回路36は、演算された光強度の変動率の積算値が規定値Tより大きい場合、弱陽性又は陰性の可能性が高いと判定する。 In addition, as a criterion for determining whether or not the sample solution containing the test substance to be measured is likely to be positive, focus on the degree of overshoot that occurs between the time t = t 2 and t = t 3. To do. For example, as shown in FIG. 9, the system control circuit 36 according to the present embodiment represents the end of the detection section from the point D c (t = t 2 ) indicating, for example, the calculation timing by performing a predetermined calculation. When a sudden spike-like overshoot as plotted up to point D e1 (t = t 3 ) occurs, it is determined that there is a high possibility of weak positive or negative. Further, the system control circuit 36 has a gentle spike as plotted between, for example, a point D c (t = t 2 ) indicating the calculation timing and a point D e 2 (t = t 3 ) indicating the end of the detection section. When the overshoot occurs, it is judged that the possibility of positive is high. Specifically, the system control circuit 36 calculates the cumulative integration of the light intensity fluctuation rates between the times t = t 2 and t = t 3 , and the calculated integrated value of the light intensity fluctuation rates is preset. If was below has been prescribed value T S, it determines that there is a high possibility of positive. The system control circuit 36 determines that the integrated value of the variation rate of the computed light intensity is greater than the specified value T S, is likely weakly positive or negative.

光強度Aは、オーバーシュートOS1におけるノイズ電流の発生が収まると、時刻t=tからt=tにおいて減少する。図11は、図5に記載される時刻t=tからt=tにおける反応機構内の状態を表す断面図である。図11に示されるように、磁力線bに沿って整列された第2抗体214が固定化された磁性粒子215は、下磁場による束縛から解放されることで、整列された状態が崩され、光導波路23の上面に向けて無秩序に沈降する。光強度Aは、図5に示されるように、時刻t=tからt=tにおいてセンシングエリア205に第2抗体214が固定化された磁性粒子215が次々に進入するため、大きな減少率で減少する。光強度Aの減少率は、時間の経過とともに小さくなる。その後、光強度Aの減少率は、時刻t=tにおいて、ほぼ0となる。すなわち、光強度は、時刻t=tにおいて強度A03に収束する。 The light intensity A decreases from time t = t 3 to t = t 4 when the generation of noise current in the overshoot OS 1 subsides. FIG. 11 is a cross-sectional view showing a state in the reaction mechanism from time t = t 3 to t = t 4 shown in FIG. As shown in FIG. 11, the magnetic particles 215 on which the second antibody 214 aligned along the magnetic field line b is immobilized are released from the binding by the lower magnetic field, so that the aligned state is broken and the optical light is emitted. It settles disorderly toward the upper surface of the waveguide 23. As shown in FIG. 5, the light intensity A has a large reduction rate because the magnetic particles 215 on which the second antibody 214 is immobilized enter the sensing area 205 one after another from time t = t 3 to t = t 4 . Decreases with. The rate of decrease in light intensity A decreases with the passage of time. Then, reduction of the light intensity A at time t = t 4, is substantially zero. That is, the light intensity converges to the intensity A 03 at time t = t 4 .

図12は、図5に記載される時刻t=tからt=tにおける反応機構内の状態を表す断面図である。図12に示されるように、センシングエリア205への第2抗体214が固定化された磁性粒子215の進入が停止する。このため、光強度は、時刻t=tにおいて強度A03に収束する。このとき、光導波路23の上面に接する第2抗体214が固定化された複数の磁性粒子215の一部は、抗原212を介して光導波路23の上面に固定された第1抗体211と特異的に結合する。このような第2抗体214が固定化された磁性粒子215は、光導波路23の上面に整列して堆積される。すなわち、センシングエリア205内は、第2抗体214が固定化された磁性粒子215によりほぼ隙間なく占められた状態となる。なお、t=tの段階で光導波路23の上面に固定された第1抗体211と結合していなかった第2抗体214が固定化された複数の磁性粒子215のうちの一部は、時刻t=tからt=tにおいて、光導波路23の上面に固定された第1抗体211と結合する。 FIG. 12 is a cross-sectional view showing a state in the reaction mechanism from time t = t 4 to t = t 5 shown in FIG. As shown in FIG. 12, the invasion of the magnetic particles 215 on which the second antibody 214 is immobilized into the sensing area 205 is stopped. Therefore, the light intensity converges to the intensity A 03 at time t = t 4 . At this time, a part of the plurality of magnetic particles 215 on which the second antibody 214 in contact with the upper surface of the optical waveguide 23 is immobilized is specific to the first antibody 211 immobilized on the upper surface of the optical waveguide 23 via the antigen 212. Combine with. The magnetic particles 215 on which the second antibody 214 is immobilized are aligned and deposited on the upper surface of the optical waveguide 23. That is, the inside of the sensing area 205 is occupied by the magnetic particles 215 on which the second antibody 214 is immobilized almost without gaps. A part of the plurality of magnetic particles 215 in which the second antibody 214 is immobilized that were not bound to the first antibody 211 which is fixed on the top surface of the optical waveguide 23 at the stage of t = t 4, the time At t = t 4 to t = t 5 , it binds to the first antibody 211 immobilized on the upper surface of the optical waveguide 23.

システム制御回路36は、下磁場の印加を終了した後、光検出器312から逐次供給された光強度のデータのうち、直近に取得したNデータの平均値Ave(n)を算出する(ステップSA9)。算出式は、例えば以下で表される。 After finishing the application of the lower magnetic field, the system control circuit 36 calculates the average value Ave (n) of the most recently acquired N data among the light intensity data sequentially supplied from the photodetector 312 (step SA9). ). The calculation formula is represented by, for example, as follows.

システム制御回路36は、光強度の平均値Ave(n)を算出した後、ステップSA4で取得したリファレンス値RとステップSA9で算出した光強度の平均値Ave(n)を用いて光強度の変動率Hを算出する(ステップSA10)。算出式は、例えば以下で表される。 After calculating the average value Ave (n) of the light intensity, the system control circuit 36 uses the reference value R acquired in step SA4 and the average value Ave (n) of the light intensity calculated in step SA9 to change the light intensity. The rate H n is calculated (step SA10). The calculation formula is represented by, for example, as follows.

システム制御回路36は、光強度の変動率Hを算出した後、光強度の変動率Hの積算値Sを算出する(ステップSA11)。算出式は、例えば以下で表される。 The system control circuit 36, after calculating the variation rate H n of the light intensity, and calculates the integrated value S n of the variation ratio H n of the light intensity (step SA11). The calculation formula is represented by, for example, as follows.

システム制御回路36は、光強度の変動率Hの積算値Sを算出した後、例えば検出区間が終了されるタイミングを規定する情報に含まれる経過時間を用いて、時刻t=tから所定の経過時間が経過したか否か、すなわち時刻t=tに達したか否かを判定する(ステップSA12)。なお、検出区間が終了されるタイミングを規定する情報に含まれる経過時間は、時刻0からの所定の経過時間であってもよい。 The system control circuit 36, after calculating the integrated value S n of the variation ratio H n of the light intensity, using the elapsed time included in the information defining the timing of for example the detection interval is terminated, from the time t = t 2 It is determined whether or not a predetermined elapsed time has elapsed, that is, whether or not the time t = t 3 has been reached (step SA12). The elapsed time included in the information defining the timing at which the detection section ends may be a predetermined elapsed time from time 0.

システム制御回路36は、検出区間の終了を示す時刻t=tに達していない場合(ステップSA12のNo)、次に供給される測定値を取得する(ステップSA13)。その後、システム制御回路36は、ステップSA9からステップSA12までを実行する。 When the time t = t 3 indicating the end of the detection section has not been reached (No in step SA12), the system control circuit 36 acquires the next measured value (step SA13). After that, the system control circuit 36 executes steps SA9 to SA12.

システム制御回路36は、検出区間の終了を示す時刻t=tに達すると(ステップSA12のYes)、算出された光強度の変動率Hの積算値Sと記憶回路35に記憶された規定値Tとを比較し、積算値Sが規定値T以下であるか否かを判定する(ステップSA14)。 The system control circuit 36, (Yes in step SA12) detecting section ends to reach the time t = t 3 shown in, stored as the integrated value S n of the variation ratio H n of the calculated light intensity in the storage circuit 35 comparing the specified value T S, determines whether the integrated value S n is equal to or less than the specified value T S (step SA14).

システム制御回路36は、積算値Sが規定値T以下であると判定した場合(ステップSA14のYes)、出力制御機能366を実行し、測定対象となる被検物質の第1の判定の結果が陽性の可能性が高い旨を、出力ユニット33を介し、操作者に提示又は報知する(ステップSA15)。 The system control circuit 36, when the integrated value S n is equal to or less than the specified value T S (Yes in step SA14), and executes the output control function 366, the first determination of the analyte to be measured The fact that the result is likely to be positive is presented or notified to the operator via the output unit 33 (step SA15).

システム制御回路36は、操作者への提示又は報知を行った後、時刻t=t以降の測定を継続する(ステップSA16)。 The system control circuit 36, after the presentation or notification to the operator to continue the measurement of the time t = t 3 or later (step SA16).

システム制御回路36は、積算値Sが規定値Tより大きいと判定した場合(ステップSA14のNo)、第1の判定の結果の提示又は報知は行わずに、時刻t=t以降の測定を継続する(ステップSA16)。 The system control circuit 36, when the integrated value S n is determined to be larger than the specified value T S (No at step SA14), without the presentation or notification of the first determination results, the time t = t 3 or later The measurement is continued (step SA16).

システム制御回路36は、例えば上磁場が印加されるタイミングを規定する情報に含まれる経過時間を用いて、時刻t=tから所定の経過時間が経過したか否か、すなわち時刻t=tに達したか否かを判定する(ステップSA17)。なお、上磁場が印加されるタイミングを規定する情報に含まれる経過時間は、時刻t=0からの所定の経過時間であってもよい。 The system control circuit 36 uses, for example, the elapsed time included in the information that defines the timing at which the upper magnetic field is applied to determine whether or not a predetermined elapsed time has elapsed from the time t = t 2 , that is, the time t = t 5. Is determined (step SA17). The elapsed time included in the information defining the timing at which the upper magnetic field is applied may be a predetermined elapsed time from time t = 0.

システム制御回路36は、上磁場を印加する時刻t=tに達すると(ステップSA17のYes)、磁場発生器32を制御して上磁場の印加を開始する(ステップSA18)。 When the time t = t 5 at which the upper magnetic field is applied is reached (Yes in step SA17), the system control circuit 36 controls the magnetic field generator 32 to start applying the upper magnetic field (step SA18).

時刻t=tの直前おいて、第2抗体214が固定化された磁性粒子215は、光導波路23の上面に整列して堆積されている。このとき、光導波路23の上面と接する第2抗体214が固定化された磁性粒子215の多くが光導波路23の上面に固定された第1抗体211と特異的に結合している。 Immediately before time t = t 5 , the magnetic particles 215 on which the second antibody 214 is immobilized are aligned and deposited on the upper surface of the optical waveguide 23. At this time, most of the magnetic particles 215 on which the second antibody 214 in contact with the upper surface of the optical waveguide 23 is immobilized is specifically bound to the first antibody 211 immobilized on the upper surface of the optical waveguide 23.

図13は、図5に記載される時刻t=tからt=tにおける反応機構内の状態を表す断面図である。図13における上向きの矢印は、上磁場の印加により発生する磁束Bの向きを示す。磁束Bは、複数の磁力線bで構成され、反応容器201を実質的に上方に貫く。図13に示されるように、光強度AがA=A02に収束するのは、センシングエリア205への第2抗体214が固定化された磁性粒子215の進入が停止するためである。 FIG. 13 is a cross-sectional view showing a state in the reaction mechanism from time t = t 6 to t = t 7 shown in FIG. The upward arrow in FIG. 13 indicates the direction of the magnetic flux B 2 generated by the application of the upper magnetic field. The magnetic flux B 2 is composed of a plurality of magnetic field lines b and substantially penetrates the reaction vessel 201 upward. As shown in FIG. 13, the light intensity A converges to A = A 02 because the magnetic particles 215 on which the second antibody 214 is immobilized stops entering the sensing area 205.

光強度AがA=A02に収束されると、図13に示されるように、センシングエリア205には、光導波路23の上面に固定された第1抗体211と特異的に結合した第2抗体214が固定化された磁性粒子215のみが存在する状態となる。 When the light intensity A converges to A = A 02 , as shown in FIG. 13, the sensing area 205 has a second antibody specifically bound to the first antibody 211 immobilized on the upper surface of the optical waveguide 23. Only the magnetic particles 215 on which 214 is immobilized are present.

システム制御回路36は、上磁場の印加を開始した後、例えば第2の判定が実施されるタイミングを規定する情報に含まれる経過時間を用いて、時刻t=tから所定の経過時間が経過したか否か、すなわち時刻t=tに達したか否かを判定する(ステップSA19)。なお、第2の判定が実施されるタイミングを規定する情報に含まれる経過時間は、時刻t=0からの所定の経過時間であってもよい。 The system control circuit 36, after starting the application of the above magnetic field, for example, a second determination using the elapsed time included in the information defining the timing to be performed, from time t = t 5 predetermined elapsed time has elapsed It is determined whether or not the time has been reached, that is, whether or not the time t = t 7 has been reached (step SA19). The elapsed time included in the information defining the timing at which the second determination is performed may be a predetermined elapsed time from the time t = 0.

システム制御回路36は、下磁場の印加が停止された後、反応容器201内の反応が収束し最終的に被検物質の定性状態の判定をするタイミング、すなわち第2の判定機能365を実行する時刻t=tに達すると(ステップSA19のYes)、第2の判定機能365を実行し、光検出器312から継続的に供給される、収束後の光強度のデータの値A02を取得する(ステップSA20)。 After the application of the lower magnetic field is stopped, the system control circuit 36 executes the timing at which the reaction in the reaction vessel 201 converges and finally determines the qualitative state of the test substance, that is, the second determination function 365. When the time t = t 7 is reached (Yes in step SA19), the second determination function 365 is executed, and the value A 02 of the data of the light intensity after convergence, which is continuously supplied from the photodetector 312, is acquired. (Step SA20).

システム制御回路36は、第2の判定機能365を実行し、取得した光強度のデータの値A02と記憶回路35に記憶された閾値Tを比較することで、第2の判定を行う。システム制御回路36は、出力制御機能366を実行し、出力ユニット33を介し、第2の判定の結果を操作者に提示又は報知する(ステップSA21)。なお、システム制御回路36は、第2の判定の結果を出力する際、第1の判定の結果を第2の判定の結果と同時に同一のディスプレイ等に表示するようにしてもよい。また、第1の判定の結果と第2の判定の結果が明確に識別可能な識別子、例えば「*」を第1の判定の結果に付加して表示又は印刷するようにしてもよい。 The system control circuit 36 performs a second determination function 365, by comparing the threshold value T A stored value A 02 of the data of the acquired light intensity in the storage circuit 35, a second determination. The system control circuit 36 executes the output control function 366, and presents or notifies the operator of the result of the second determination via the output unit 33 (step SA21). Note that the system control circuit 36, when outputting the second determination result may be displayed first determination result on the result at the same time the same display, the second determination. Further, an identifier in which the result of the first determination and the result of the second determination can be clearly distinguished, for example, "*" may be added to the result of the first determination and displayed or printed.

第1の実施形態によれば、光検出器312は、混合液202が収容されている反応容器201内の反応状態に基づいた電気信号を出力する。システム制御回路36は、予め定められているスケジュールに従って磁場発生器32を制御し、反応ユニット2に下磁場を印加し、また、反応ユニット2への下磁場の印加を停止する。システム制御回路36は、下磁場の印加が停止された後に光検出器312から出力される電気信号に基づき、被検物質の定性状態を判定する。システム制御回路36は、判定により得られた定性状態を出力する。これにより、検体測定装置は、第2の判定の実施を待つことなく、被検物質の判定結果を操作者へ通知することが可能となる。このため、操作者は、第2の判定が実施される前に被検物質の定性状態を認知し、認知した定性状態に基づいて次に行う治療の準備に早く取り掛かることができる。 According to the first embodiment, the photodetector 312 outputs an electrical signal based on the reaction state in the reaction vessel 201 containing the mixture 202. The system control circuit 36 controls the magnetic field generator 32 according to a predetermined schedule, applies a lower magnetic field to the reaction unit 2, and stops applying the lower magnetic field to the reaction unit 2. The system control circuit 36 determines the qualitative state of the test substance based on the electric signal output from the photodetector 312 after the application of the lower magnetic field is stopped. The system control circuit 36 outputs the qualitative state obtained by the determination. As a result, the sample measuring device can notify the operator of the determination result of the test substance without waiting for the execution of the second determination . Therefore, the operator can recognize the qualitative state of the test substance before the second determination is performed, and can quickly start preparing for the next treatment based on the recognized qualitative state.

したがって、第1の実施形態に係る検体測定装置1によれば、作業ワークフローの改善を行うことが可能な検体測定装置を提供することが可能となる。 Therefore, according to the sample measuring device 1 according to the first embodiment, it is possible to provide a sample measuring device capable of improving the work workflow.

また、第1の実施形態によれば、システム制御回路36は、オーバーシュートOS1が発生する所定の検出区間において、光強度の変動率Hの積算値Sを算出する。システム制御回路36は、積算値Sが規定値T以下であると判定した場合、被検物質の第1の判定の結果が陽性の可能性が高いと判定する。これにより、測定中にランダムに発生する電流ノイズ等の影響を軽減することが可能となる。 Further, according to the first embodiment, the system control circuit 36, in a predetermined detection interval overshoot OS1 occurs, it calculates an integrated value S n of the variation ratio H n of the light intensity. The system control circuit 36, when the integrated value S n is equal to or less than the specified value T S, determines that the first determination result of a test substance is likely positive. This makes it possible to reduce the influence of current noise and the like that are randomly generated during measurement.

また、第1の実施形態によれば、システム制御回路36は、出力ユニット33を制御し、第1の判定の結果を第2の判定を実施する前に表示又は印刷する。これにより、操作者は、被検物質の第1の判定の結果を第2の判定が行われる前に予め認知することが可能となる。 Further, according to the first embodiment, the system control circuit 36 controls the output unit 33 displays or prints the first determination result before carrying out the second judgment. As a result, the operator can recognize the result of the first determination of the test substance in advance before the second determination is made.

また、第1の実施形態によれば、システム制御回路36は、出力ユニット33を制御し、第1の判定の結果と第2の判定の結果が明確に識別可能な識別子を第1の判定の結果に付加して表示又は印刷する。これにより、操作者は、表示又は印刷された測定結果が、第1の判定による測定結果であるか、又は、第2の判定による測定結果であるかを容易に認識することが可能となる。 Further, according to the first embodiment, the system control circuit 36 controls the output unit 33, and determines an identifier in which the result of the first determination and the result of the second determination can be clearly distinguished in the first determination . Display or print in addition to the results. As a result, the operator can easily recognize whether the displayed or printed measurement result is the measurement result by the first determination or the measurement result by the second determination .

[変形例]
第1の実施形態では、第1の判定を行い判定結果が陽性の可能性が高い旨を示す場合に、第1の判定の結果を表示又は報知した後において、測定を継続し第2の判定を実施する場合について説明した。変形例では、第1の判定を行い判定結果が陽性の可能性が高い旨を示す場合に、第1の判定の結果を出力又は報知した後において、操作者に時刻t=t以降の測定を中断することを決定する操作入力を促す旨を表示し、測定中断の入力を受け付けた場合には、時刻t=t以降の測定を中断し、第2の判定は行わずに第1の判定の結果を第2の判定の結果として出力又は報知する場合について説明する。
[Modification example]
In the first embodiment, when the first determination is performed and the determination result indicates that the possibility of being positive is high, the measurement is continued after the result of the first determination is displayed or notified, and then the second determination is made. The case of carrying out the above was explained. In a variant, to indicate that the first determination was carried out the judgment result is likely positive, after outputting or notifying the first determination result, time t = t 3 subsequent measurement operator display prompting a manipulation input to decide to suspend, when receiving an input of the measurement stop interrupts the measurement time t = t 3 or later, the first without the second determination description will be given of a case where outputs or reports the result of the determination as a result of the second determination.

変形例に係る検体測定装置1Aは、反応ユニット2及び測定システム3Aを備える。 The sample measuring device 1A according to the modified example includes a reaction unit 2 and a measuring system 3A.

測定システム3Aは、検知ユニット31、磁場発生器32、出力ユニット33、入力インタフェース回路34、記憶回路35及びシステム制御回路36Aを有する。 The measurement system 3A includes a detection unit 31, a magnetic field generator 32, an output unit 33, an input interface circuit 34, a storage circuit 35, and a system control circuit 36A.

システム制御回路36Aは、例えば検体測定装置1Aの各構成回路を制御するプロセッサである。システム制御回路36Aは、検体測定装置1Aの中枢として機能する。システム制御回路36Aは、記憶回路35から各動作プログラムを呼び出し、呼び出したプログラムを実行することで光源制御機能361、磁場制御機能362A、演算機能363、第1の判定機能364、第2の判定機能365A及び出力制御機能366Aを実現する。 The system control circuit 36A is, for example, a processor that controls each component circuit of the sample measuring device 1A. The system control circuit 36A functions as the center of the sample measuring device 1A. The system control circuit 36A calls each operation program from the storage circuit 35 and executes the called program to execute the light source control function 361, the magnetic field control function 362A, the calculation function 363, the first determination function 364, and the second determination function. The 365A and the output control function 366A are realized.

磁場制御機能362Aは、磁場発生器32を制御し、所定の条件で磁場を発生させる機能である。磁場制御機能362では、システム制御回路36Aは、記憶回路35から設定情報を読出し、読み出した設定情報に基づいて磁場発生器32から磁場を発生させる。システム制御回路36Aは、入力インタフェース回路34を介して、操作者から測定を中断する旨の操作入力を受け付けた場合、時刻t以降に行う処理を中断、すなわち上磁場の印加の開始を停止する。 The magnetic field control function 362A is a function of controlling the magnetic field generator 32 to generate a magnetic field under predetermined conditions. In the magnetic field control function 362, the system control circuit 36A reads the setting information from the storage circuit 35 and generates a magnetic field from the magnetic field generator 32 based on the read setting information. The system control circuit 36A via the input interface circuit 34, and stops when receiving a command input that means to interrupt the measurement from the operator, interrupt the processing performed at the time t 3 after, i.e. the start of the application of the above magnetic field ..

第2の判定機能365Aは、上磁場の印加中に光検出器312から供給される光強度のデジタルデータに基づいて被検物質の定性状態を判定する第2の判定を実施する機能である。第2の判定機能365Aでは、システム制御回路36Aは、記憶回路35から設定情報及び閾値Tを読出す。システム制御回路36は、読出した設定情報に含まれる実行タイミングに合わせて、被検物質の定性状態を判定する。システム制御回路36Aは、供給された時系列の光強度のデジタルデータに含まれる光強度が閾値T以下であった場合、例えば被検物質の測定結果を陽性の可能性が高いと判定する。システム制御回路36Aは、デジタルデータに含まれる光強度が閾値Tより大きい場合、例えば被検物質の測定結果は弱陽性又は陰性の可能性が高いと判定する。また、システム制御回路36Aは、入力インタフェース回路34を介して、操作者から測定を中断する旨の操作入力を受け付けた場合、時刻t=t以降に行う処理を中断、すなわち第2の判定の実施を停止する。 The second determination function 365A is a function of performing a second determination of determining the qualitative state of the test substance based on the digital data of the light intensity supplied from the photodetector 312 while the upper magnetic field is applied. In the second determination function 365A, the system control circuit 36A reads the setting information and the threshold value T A from the memory circuit 35. The system control circuit 36 determines the qualitative state of the test substance in accordance with the execution timing included in the read setting information. The system control circuit 36A determines if the light intensity contained in the digital data of the light intensity of the supplied time series is equal to or less than the threshold value T A, for example, the measurement results of a test substance to be likely positive. The system control circuit 36A, when the light intensity contained in the digital data is larger than the threshold value T A, for example, measurement results of a test substance is determined that there is a high possibility of weakly positive or negative. Further, when the system control circuit 36A receives an operation input to the effect that the measurement is interrupted from the operator via the input interface circuit 34, the system control circuit 36A interrupts the process performed after the time t = t 3 , that is, the second determination . Stop the implementation.

出力制御機能366Aは、出力ユニット33を制御し、操作者に対して判定結果等を出力する機能である。出力制御機能366Aでは、システム制御回路36Aは、表示回路331を制御し、第1の判定の結果又は第2の判定の結果等を操作者に表示する。システム制御回路36は、報知器332を制御し、第1の判定の結果又は第2の判定の結果等を操作者に報知する。報知は、音等で知らせる方法を含む。システム制御回路36Aは、プリンタ333を制御し、第1の判定の結果又は第2の判定の結果等を印刷する。システム制御回路36Aは、第1の判定の結果が陽性の可能性が高い旨を示す場合、表示回路331を制御して操作者に時刻t=t以降の測定を中断することを決定する操作入力を受け付けるボタンを表示する。システム制御回路36Aは、入力インタフェース回路34を介して、操作者から測定を中断する旨の操作入力を受け付けた場合、第1の判定の結果を第2の判定の結果として出力する。 The output control function 366A is a function that controls the output unit 33 and outputs a determination result or the like to the operator. In the output control function 366A, the system control circuit 36A controls the display circuit 331 and displays the result of the first determination or the result of the second determination to the operator. The system control circuit 36 controls the alarm 332 and notifies the operator of the result of the first determination or the result of the second determination . The notification includes a method of notifying by sound or the like. The system control circuit 36A controls the printer 333 and prints the result of the first determination or the result of the second determination . The system control circuit 36A is operated first determination result of determining that the interruption when indicating likely positive, the measurement of the time t = t 3 after the operator controls the display circuit 331 Display a button that accepts input. When the system control circuit 36A receives an operation input to interrupt the measurement from the operator via the input interface circuit 34, the system control circuit 36A outputs the result of the first determination as the result of the second determination .

次に、変形例の実施形態の動作について説明する。 Next, the operation of the embodiment of the modified example will be described.

図14及び図15は、変形例に係るシステム制御回路36Aが制御する動作のフローチャートの一例を表す図である。以下、ステップSB1乃至SB14については、図3及び図4に示されるステップSA1乃至SA14とそれぞれ同様であるため、ここではステップSB15乃至SB27について説明する。 14 and 15 are diagrams showing an example of a flowchart of the operation controlled by the system control circuit 36A according to the modified example. Hereinafter, steps SB1 to SB14 are the same as steps SA1 to SA14 shown in FIGS. 3 and 4, so steps SB15 to SB27 will be described here.

システム制御回路36Aは、積算値Sが規定値T以下であると判定した場合(ステップSB14のYes)、出力制御機能366Aを実行し、測定対象となる被検物質の第1の判定の結果が陽性の可能性が高い旨を、出力ユニット33を介し、操作者に提示又は報知する(ステップSB15)。 The system control circuit 36A, when the integrated value S n is equal to or less than the specified value T S (Yes in step SB 14), executes the output control function 366A, the first determination of the analyte to be measured The fact that the result is likely to be positive is presented or notified to the operator via the output unit 33 (step SB15).

システム制御回路36Aは、積算値Sが規定値Tより大きいと判定した場合(ステップSB14のNo)、第1の判定の結果の提示又は報知は行わずに、t=時刻t以降の測定を継続する(ステップSB20)。 The system control circuit 36A, when the integrated value S n is determined to be larger than the specified value T S (No in step SB 14), without the presentation or notification of the result of the first determination, t = time t 3 after The measurement is continued (step SB20).

システム制御回路36Aは、操作者への提示又は報知を行った後、出力制御機能366を実行し、表示回路331を介して操作者に時刻t=t以降の測定を中断することを決定する操作入力を受け付けるボタンを表示する(ステップSB16)。 The system control circuit 36A executes the output control function 366 after presenting or notifying the operator, and determines to interrupt the measurement after the time t = t 3 to the operator via the display circuit 331. A button for accepting operation input is displayed (step SB16).

システム制御回路36Aは、入力インタフェース回路34を介して操作者から測定を中断することを決定する操作入力が行われたか否かを判定する(ステップSB17)。 The system control circuit 36A determines whether or not an operation input for determining to interrupt the measurement is performed by the operator via the input interface circuit 34 (step SB17).

システム制御回路36Aは、操作者から測定を中断することを決定する操作入力があった場合(ステップSB17のYes)、その後の測定を中断する(ステップSB18)。すなわち、第2の判定機能365の実行による第2の判定は実施しない。 The system control circuit 36A interrupts the subsequent measurement when there is an operation input from the operator to decide to interrupt the measurement (Yes in step SB17). That is, the second determination by the execution of the second judgment function 365 is not performed.

システム制御回路36Aは、ステップSB18において測定を中断した後、出力制御機能366を実行し、出力ユニット33を介して第1の判定の結果を第2の判定の結果として出力する(ステップSB19)。このとき、陽性の可能性が高い旨の第1の判定の結果を出力したチャンネルとは別のチャンネルに関しては判定未確認として測定結果を出力しない。なお、第1の判定の結果と第2の判定の結果が明確に識別可能な識別子、例えば「*」を第1の判定の結果に付加して表示又は印刷するようにしてもよい。 After interrupting the measurement in step SB18, the system control circuit 36A executes the output control function 366 and outputs the result of the first determination as the result of the second determination via the output unit 33 (step SB19). At this time, the measurement result is not output as the determination is unconfirmed for the channel other than the channel that outputs the result of the first determination that the possibility of being positive is high. An identifier in which the result of the first determination and the result of the second determination can be clearly distinguished, for example, "*" may be added to the result of the first determination and displayed or printed.

システム制御回路36Aは、操作者から測定を中断する旨の操作入力がない場合(ステップSB17のNo)、時刻t=t以降の測定を継続する(ステップSB20)。 The system control circuit 36A, when there is no operation input to the effect that interrupt the measurement from the operator (No at step SB17), the time t = t 3 to continue the subsequent measurements (step SB20).

システム制御回路36Aは、入力インタフェース回路34を介して操作者から測定を中断することを決定する操作入力が行われたか否かを判定する(ステップSB21)。 The system control circuit 36A determines whether or not an operation input for determining to interrupt the measurement is performed by the operator via the input interface circuit 34 (step SB21).

システム制御回路36Aは、操作者から測定を中断することを決定する操作入力があった場合(ステップSB21のYes)、その後の測定を中断する(ステップSB18)。なお、ステップSB15にて第1の判定の結果の出力をしていない場合には(ステップSB14のNo)、操作者から測定を中断することを決定する操作入力があっても測定を中断せずに、ステップSB22に処理を進める。但し、複数チャンネル同時並行測定を行う場合等、他のチャンネルにて第1の判定の結果を出力している場合は測定を中断しても良い(ステップSB18)。 The system control circuit 36A interrupts the subsequent measurement (step SB18) when there is an operation input from the operator that determines that the measurement is interrupted (Yes in step SB21). If the result of the first determination is not output in step SB15 (No in step SB14), the measurement is not interrupted even if the operator receives an operation input for deciding to interrupt the measurement. Then, the process proceeds to step SB22. However, the measurement may be interrupted when the result of the first determination is output on another channel, such as when performing simultaneous parallel measurement on a plurality of channels (step SB18).

システム制御回路36Aは、操作者から測定を中断することを決定する操作入力がない場合(ステップSB21のNo)、例えば上磁場が印加されるタイミングを規定する情報に含まれる経過時間を用いて、時刻t=tから所定の経過時間が経過したか否か、すなわち時刻t=tに達したか否かを判定する(ステップSB22)。 The system control circuit 36A uses the elapsed time included in the information defining when the upper magnetic field is applied, for example, when there is no operation input from the operator to determine to interrupt the measurement (No in step SB21). It is determined whether or not a predetermined elapsed time has elapsed from the time t = t 2 , that is, whether or not the time t = t 5 has been reached (step SB22).

システム制御回路36Aは、上磁場を印加する時刻t=tに達すると(ステップSB22のYes)、磁場発生器32を制御して上磁場の印加を開始する(ステップSB23)。 When the time t = t 5 at which the upper magnetic field is applied is reached (Yes in step SB22), the system control circuit 36A controls the magnetic field generator 32 to start applying the upper magnetic field (step SB23).

システム制御回路36Aは、上磁場を印加する時刻t=tに達していない場合(ステップSB22のNo)、再び入力インタフェース回路34を介して操作者から測定を中断することを決定する操作入力が行われたか否かを判定する(ステップSB21)。 When the time t = t 5 at which the upper magnetic field is applied has not been reached (No in step SB22), the system control circuit 36A receives an operation input for determining to interrupt the measurement from the operator via the input interface circuit 34 again. It is determined whether or not it has been performed (step SB21).

システム制御回路36Aは、上磁場の印加を開始した後、入力インタフェース回路34を介して操作者から測定を中断することを決定する操作入力が行われたか否かを判定する(ステップSB24)。 After starting the application of the upper magnetic field, the system control circuit 36A determines whether or not an operation input for determining to interrupt the measurement is performed from the operator via the input interface circuit 34 (step SB24).

システム制御回路36Aは、操作者から測定を中断することを決定する操作入力があった場合(ステップSB24のYes)、その後の測定を中断する(ステップSB18)。なお、ステップSB15にて第1の判定の結果の出力をしていない場合には(ステップSB14のNo)、操作者から測定を中断することを決定する操作入力があっても測定を中断せずに、ステップSB25に処理を進める。但し、複数チャンネル同時並行測定を行う場合等、他のチャンネルにて第1の判定の結果を出力している場合は測定を中断しても良い(ステップSB18)。 When the operator receives an operation input for determining to suspend the measurement (Yes in step SB24), the system control circuit 36A interrupts the subsequent measurement (step SB18). If the result of the first determination is not output in step SB15 (No in step SB14), the measurement is not interrupted even if the operator receives an operation input for deciding to interrupt the measurement. Then, the process proceeds to step SB25. However, the measurement may be interrupted when the result of the first determination is output on another channel, such as when performing simultaneous parallel measurement on a plurality of channels (step SB18).

システム制御回路36Aは、操作者から測定を中断する旨の操作入力がない場合(ステップSB24のNo)、例えば第2の判定が実施されるタイミングを規定する情報に含まれる経過時間を用いて、時刻t=tから所定の経過時間が経過したか否か、すなわち時刻tに達したか否かを判定する(ステップSB25)。 When there is no operation input from the operator to interrupt the measurement (No in step SB24), the system control circuit 36A uses the elapsed time included in the information defining the timing when the second determination is performed, for example . It is determined whether or not a predetermined elapsed time has elapsed from time t = t 5 , that is, whether or not time t 7 has been reached (step SB25).

システム制御回路36Aは、時刻t=tに達していない場合(ステップSB25のNo)、再び入力インタフェース回路34を介して操作者から測定を中断することを決定する操作入力が行われたか否かを判定する(ステップSB24)。 If the time t = t 7 has not been reached in the system control circuit 36A (No in step SB25), whether or not an operation input for determining to interrupt the measurement from the operator is performed again via the input interface circuit 34. Is determined (step SB24).

システム制御回路36Aは、時刻t=tに達すると(ステップSB25のYes)、第2の判定機能365Aを実行し、光検出器312から継続的に供給される、収束後の光強度のデータの値A02を取得する(ステップSB26)。 When the time t = t 7 is reached (Yes in step SB25), the system control circuit 36A executes the second determination function 365A, and the data of the light intensity after convergence continuously supplied from the photodetector 312. The value A 02 of is acquired (step SB26).

システム制御回路36Aは、第2の判定機能365Aを実行し、取得した光強度のデータの値A02と記憶回路35に記憶された閾値Tを比較することで、第2の判定を行う。システム制御回路36は、出力制御機能366Aを実行し、表示回路331又は報知器332を介し、第2の判定の結果を操作者に提示又は報知する(ステップSB27)。なお、システム制御回路36Aは、第2の判定の結果を出力する際、第1の判定の結果を第2の判定の結果と同時に同一のディスプレイ等に表示するようにしてもよい。また、第1の判定の結果と第2の判定の結果が明確に識別可能な識別子、例えば「*」を第1の判定の結果に付加して表示又は印刷するようにしてもよい。 The system control circuit 36A performs a second determination function 365A, by comparing the threshold value T A stored value A 02 of the data of the acquired light intensity in the storage circuit 35, a second determination. The system control circuit 36 executes the output control function 366A, and presents or notifies the operator of the result of the second determination via the display circuit 331 or the alarm 332 (step SB27). Note that the system control circuit 36A, at the time of outputting the second determination result may be displayed first determination result on the result at the same time the same display, the second determination. Further, an identifier in which the result of the first determination and the result of the second determination can be clearly distinguished, for example, "*" may be added to the result of the first determination and displayed or printed.

変形例によれば、システム制御回路36Aは、入力インタフェース回路34を介して操作者から測定を中断することを決定する操作入力あった場合、第2の判定の実施を停止する。これにより、操作者は、測定状況に応じて第1の判定の測定結果を第2の判定の測定結果として利用することを選択することができ、測定時間を短縮させることが可能となる。 According to the modification, the system control circuit 36A stops the execution of the second determination when there is an operation input from the operator that determines to interrupt the measurement via the input interface circuit 34. As a result, the operator can select to use the measurement result of the first determination as the measurement result of the second determination according to the measurement situation, and the measurement time can be shortened.

なお、本変形例によれば、図14及び図15にて説明したフローをより簡略化することも可能である。例えば、図15に示されるステップSB14以降の処理において、操作入力等の処理(ステップSB15〜SB17、SB21、及びSB24)を省略し、自動的に第2の判定の結果を出力することもできる(ステップSB19、ステップSB27)。 In addition, according to this modification, it is possible to further simplify the flow described with reference to FIGS. 14 and 15. For example, in the processing after step SB14 shown in FIG. 15, processing such as operation input (steps SB15 to SB17, SB21, and SB24) can be omitted, and the result of the second determination can be automatically output (. Step SB19, step SB27).

具体的には、システム制御回路36Aは、図15に示されるステップSB14において、積算値Sが規定値T以下であると判定した場合(ステップSB14のYes)、ステップSB15〜SB17を省略し、直ちに測定を中断する(ステップSB18)。システム制御回路36Aは、第1の判定の結果を第2の判定の結果として出力する(ステップSB19)。 Specifically, the system control circuit 36A, in step SB14 shown in FIG. 15, when the integrated value S n is equal to or less than the specified value T S (Yes in Step SB14), omit Step SB15~SB17 , Immediately interrupt the measurement (step SB18). The system control circuit 36A outputs the result of the first determination as the result of the second determination (step SB19).

また、システム制御回路36Aは、積算値Sが規定値Tより大きいと判定した場合(ステップSB14のNo)、ステップSB21を省略し、上磁場を印加する時刻t=tに達すると(ステップSB22のYes)、磁場発生器32を制御して上磁場を印加する(ステップSB23)。システム制御回路36Aは、ステップSB24を省略し、時刻t=tに達すると(ステップSB25のYes)、第2の判定機能365Aを実行し、光検出器312から継続的に供給される収束後の光強度のデータの値A02を取得する(ステップSB26)。システム制御回路36Aは、収束後の光強度のデータの値A02に基づいて第2の判定の結果を出力する(ステップSB27)。 The system control circuit 36A, when the integrated value S n is determined to be larger than the specified value T S (No in step SB 14), skip step SB21, and reaches the time t = t 5 for applying the above magnetic field ( Yes) in step SB22, the magnetic field generator 32 is controlled to apply an upper magnetic field (step SB23). The system control circuit 36A omits step SB24, and when time t = t 7 is reached (Yes in step SB25), it executes the second determination function 365A, and after convergence, which is continuously supplied from the photodetector 312. The value A 02 of the light intensity data of is acquired (step SB26). The system control circuit 36A outputs the result of the second determination based on the value A 02 of the light intensity data after convergence (step SB27).

上記のような簡略化により、第1の判定機能364による第1の判定の結果を第2の判定の結果として、すなわち前判定の結果をそのまま自動的に出力することが可能となる。これにより、前判定と比して判定の結果を得るまでに時間を要する後判定を行う必要がなくなる。 With the above simplification, it is possible to automatically output the result of the first determination by the first determination function 364 as the result of the second determination , that is, the result of the previous determination as it is. This eliminates the need to perform the post-judgment, which requires more time to obtain the result of the judgment than the pre-judgment.

上記のような簡略化により、第1の判定が可能であった場合には、第1の判定の結果を直ちに第2の判定の結果として自動的に出力する。換言すると、第1の判定により得られた判定結果を第1の判定の結果として出力しない。これにより、後判定を待つことなく迅速な検査を行うことが可能となる。 By simplifying the above, if there were possible first determination is automatically output as a result of the immediate second determination a first determination result. In other words, the determination result obtained by the first determination is not output as the result of the first determination . This makes it possible to perform a quick inspection without waiting for a post-determination.

[他の実施形態]
なお、この発明は上記実施形態に限定されるものではない。例えば、第1の実施形態及び変形例では、検出区間で取得される光強度の変動率Hの積算値Sを測定結果が陽性の可能性が高いかどうかを判定するための指標としていたが、検出区間で取得される光強度の傾き又は積分値を測定結果が陽性の可能性が高いかどうかを判定するための指標としてもよい。これにより、より低い計算負荷で第1の判定を行うことが可能となる。
[Other Embodiments]
The present invention is not limited to the above embodiment. For example, in the first embodiment and the modified example, was an index for measuring the results integrated value S n of the variation ratio H n of the light intensity obtained at the detection zone to determine whether there is a high possibility of positive However, the slope or integral value of the light intensity acquired in the detection section may be used as an index for determining whether or not the measurement result is likely to be positive. This makes it possible to make the first determination with a lower calculation load.

上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、CPU(Central Processing Unit)、GPU(Graphics Processing Unit)、或いは、特定用途向け集積回路(Application Specific Integrated Circuit:ASIC)、プログラマブル論理デバイス(例えば、単純プログラマブル論理デバイス(Simple Programmable Logic Device:SPLD)、複合プログラマブル論理デバイス(Complex Programmable Logic Device:CPLD)、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ(Field Programmable Gate Array:FPGA))等の回路を意味する。プロセッサは記憶回路に保存されたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、記憶回路にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むよう構成しても構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、第1の実施形態及び変形例1の各プロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて1つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。さらに、図1における複数の構成要素を1つのプロセッサへ統合してその機能を実現するようにしてもよい。 The word "processor" used in the above description means, for example, a CPU (Central Processing Unit), a GPU (Graphics Processing Unit), an application specific integrated circuit (ASIC), or a programmable logic device (for example, a programmable logic device). It means a circuit such as a simple programmable logic device (SPLD), a complex programmable logic device (CPLD), and a field programmable gate array (FPGA). The processor realizes the function by reading and executing the program stored in the storage circuit. Instead of storing the program in the storage circuit, the program may be directly embedded in the circuit of the processor. In this case, the processor realizes the function by reading and executing the program embedded in the circuit. It should be noted that each processor of the first embodiment and the first modification is not limited to the case where each processor is configured as a single circuit, and a plurality of independent circuits are combined to form one processor, and its functions are combined. It may be realized. Further, the plurality of components in FIG. 1 may be integrated into one processor to realize the function.

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として表示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。 Although some embodiments of the present invention have been described, these embodiments are shown as examples and are not intended to limit the scope of the invention. These novel embodiments can be implemented in various other embodiments, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the gist of the invention. These embodiments and modifications thereof are included in the scope and gist of the invention, and are included in the scope of the invention described in the claims and the equivalent scope thereof.

1、1A…検体測定装置、2…反応ユニット、3…測定システム、21…筐体、22…透明基板、23…光導波路、24…保護部材、31…検知ユニット、32…磁場発生器、33…出力ユニット、34…入力インタフェース回路、35…記憶回路、36、36A…システム制御回路、201…反応容器、311…光源、312…光検出器、32a…上磁場発生器、32b…下磁場発生器、331…表示回路、332…報知器、333…プリンタ、361…光源制御機能、362、362A…磁場制御機能、363…演算機能、364…第1の判定機能、365、365A…第2の判定機能、366、366A…出力制御機能。 1, 1A ... Specimen measuring device, 2 ... Reaction unit, 3 ... Measuring system, 21 ... Housing, 22 ... Transparent substrate, 23 ... Optical waveguide, 24 ... Protective member, 31 ... Detection unit, 32 ... Magnetic field generator, 33 ... output unit, 34 ... input interface circuit, 35 ... storage circuit, 36, 36A ... system control circuit, 201 ... reaction vessel, 311 ... light source, 312 ... light detector, 32a ... upper magnetic field generator, 32b ... lower magnetic field generation Instrument, 331 ... Display circuit, 332 ... Alarm, 333 ... Printer, 361 ... Light source control function, 362, 362A ... Magnetic field control function, 363 ... Calculation function, 364 ... First judgment function, 365, 365A ... Second Judgment function, 366, 366A ... Output control function.

Claims (18)

被検物質と試薬との混合液が収容されている反応容器内の反応状態に基づいた電気信号を出力する反応状態信号出力部と、
前記反応容器内の反応を促進させるエネルギーを前記反応容器に印加する反応促進部と、
前記エネルギーの印加状態を、予め定められているタイムスケジュールに従って切り替える印加状態切替制御部と、
前記エネルギーの印加状態が切り替わった後に出力される前記電気信号に基づいて前記被検物質の定性状態を判定する判定部と、
前記判定により得られた定性状態を出力する定性状態出力部と
を具備し、
前記判定部は、前記電気信号に基づく第1の判定と、前記第1の判定後に出力される電気信号に基づく第2の判定とを行うことが可能に構成された、検体測定装置。
A reaction status signal output unit that outputs an electrical signal based on the reaction status in the reaction vessel containing the mixed solution of the test substance and the reagent.
A reaction promoting unit that applies energy for promoting the reaction in the reaction vessel to the reaction vessel,
An application state switching control unit that switches the energy application state according to a predetermined time schedule,
A determination unit that determines the qualitative state of the test substance based on the electric signal output after the energy application state is switched, and
It is provided with a qualitative state output unit that outputs the qualitative state obtained by the above determination .
The determination unit is a sample measuring device configured to be able to perform a first determination based on the electric signal and a second determination based on an electric signal output after the first determination .
前記反応状態信号出力部は、前記反応容器内の反応状態と関連する光を検出し、前記検出した光に基づいて前記電気信号を発生する請求項1に記載の検体測定装置。 The sample measuring device according to claim 1, wherein the reaction state signal output unit detects light related to the reaction state in the reaction vessel and generates the electric signal based on the detected light. 前記反応状態信号出力部は、前記反応容器の一面として設けられる光導波路を伝搬する光を検出し、前記検出した光の、前記反応容器内の反応状態に応じて変化する強度に基づいて前記電気信号を発生する請求項2に記載の検体測定装置。 The reaction state signal output unit detects light propagating through an optical waveguide provided as one surface of the reaction vessel, and the electricity is based on the intensity of the detected light that changes according to the reaction state in the reaction vessel. The sample measuring device according to claim 2, which generates a signal. 前記判定部は、前記エネルギーの印加状態が切り替わった後に出力される前記電気信号を受信し、前記電気信号から求められる光の強度のスパイク状の変化と、予め設定される規定値とに基づいて前記被検物質の定性状態を判定する請求項3に記載の検体測定装置。 The determination unit receives the electric signal output after the energy application state is switched, and is based on a spike-like change in light intensity obtained from the electric signal and a predetermined value set in advance. The sample measuring device according to claim 3, wherein the qualitative state of the test substance is determined. 前記判定部は、前記エネルギーの印加状態が切り替わった後に出力される前記電気信号を受信し、前記電気信号から求められる光の強度のスパイク状の変化が起こる時間帯の値の積分値と、予め設定される規定値とに基づいて前記被検物質の定性状態を判定する、請求項3に記載の検体測定装置。 The determination unit receives the electric signal output after the energy application state is switched, and the integrated value of the value in the time zone in which the spike-like change of the light intensity obtained from the electric signal occurs, and the integrated value in advance. The sample measuring device according to claim 3, wherein the qualitative state of the test substance is determined based on a set specified value. 前記判定部は、前記エネルギーの印加状態が切り替わった後に出力される前記電気信号を受信し、前記電気信号から求められる光の強度についてスパイク状の変化が起こる時間帯の値の累積積算量と、予め設定される規定値とに基づいて前記被検物質の定性状態を判定する、請求項3に記載の検体測定装置。 The determination unit receives the electric signal output after the energy application state is switched, and the cumulative integrated amount of values in a time zone in which a spike-like change occurs in the light intensity obtained from the electric signal. The sample measuring device according to claim 3, wherein the qualitative state of the test substance is determined based on a predetermined value set in advance. 前記判定部は、前記エネルギーの印加状態が切り替わった後、前記反応容器内の反応が収束する所定の時間が経過すると、前記第2の判定として前記被検物質の定性状態を判定し、
前記定性状態出力部は、前記第2の判定前に前記判定の結果を出力する、請求項1乃至6のうちいずれかに記載の検体測定装置。
When a predetermined time for the reaction in the reaction vessel to converge after the energy application state is switched, the determination unit determines the qualitative state of the test substance as the second determination.
The sample measuring device according to any one of claims 1 to 6, wherein the qualitative state output unit outputs the result of the determination before the second determination .
前記判定部は、前記判定の結果の出力に対して所定の指示が入力されると、前記第2の判定を実施しない請求項7に記載の検体測定装置。 The sample measuring device according to claim 7, wherein the determination unit does not perform the second determination when a predetermined instruction is input to the output of the determination result. 前記定性状態出力部は、前記判定の結果を前記第2の判定の結果として出力する請求項8に記載の検体測定装置。 The sample measuring device according to claim 8, wherein the qualitative state output unit outputs the result of the determination as the result of the second determination . 前記定性状態出力部は、前記出力される前記第2の判定の結果が前記判定の結果であることを識別可能に出力する請求項9に記載の検体測定装置。 The sample measuring device according to claim 9, wherein the qualitative state output unit identifiablely outputs that the output result of the second determination is the result of the determination. 前記定性状態出力部は、前記判定の結果と、前記第2の判定の結果とを識別可能に出力する請求項7に記載の検体測定装置。 The sample measuring device according to claim 7, wherein the qualitative state output unit outputs the result of the determination and the result of the second determination in an identifiable manner. 前記反応促進部は、磁場を前記反応容器に印加する請求項1乃至11のうちいずれかに記載の検体測定装置。 The sample measuring device according to any one of claims 1 to 11, wherein the reaction promoting unit applies a magnetic field to the reaction vessel. 前記判定部は、前記エネルギーの印加を停止した後に出力される前記電気信号に基づいて前記被検物質の定性状態を判定する請求項1乃至12のうちいずれかに記載の検体測定装置。 The sample measuring device according to any one of claims 1 to 12, wherein the determination unit determines the qualitative state of the test substance based on the electric signal output after stopping the application of the energy. 前記被検物質の定性状態は、前記被検物質の測定結果が示す陽性又は陰性の度合いである請求項1乃至13のうちいずれかに記載の検体測定装置。 The sample measuring device according to any one of claims 1 to 13, wherein the qualitative state of the test substance is the degree of positive or negative indicated by the measurement result of the test substance. 前記所定の指示は、前記被検物質の測定を中断する旨の指示である請求項8乃至10のうちいずれかに記載の検体測定装置。 The sample measuring device according to any one of claims 8 to 10, wherein the predetermined instruction is an instruction to suspend the measurement of the test substance. 前記定性状態出力部は、前記電気信号が所定の条件を満たす場合に、前記判定により得られた定性状態を出力する請求項1に記載の検体測定装置。 The sample measuring device according to claim 1, wherein the qualitative state output unit outputs a qualitative state obtained by the determination when the electric signal satisfies a predetermined condition. 前記定性状態出力部は、前記累積積算量が前記規定値以下である場合に、前記判定により得られた定性状態を出力する請求項6に記載の検体測定装置。 The sample measuring device according to claim 6, wherein the qualitative state output unit outputs the qualitative state obtained by the determination when the cumulative integrated amount is equal to or less than the specified value. 前記判定部は、前記エネルギーの印加を停止した後に出力される電気信号に基づいて前記第1の判定を行い、前記エネルギーの印加を開始した後に出力される電気信号に基づいて前記第2の判定を行う、 The determination unit makes the first determination based on the electric signal output after the application of the energy is stopped, and the second determination is based on the electric signal output after the application of the energy is started. I do,
請求項1乃至17のうちいずれかに記載の検体測定装置。 The sample measuring device according to any one of claims 1 to 17.
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