JP2018036583A - Display device - Google Patents

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Shunpei Yamazaki
舜平 山崎
池田 寿雄
Toshio Ikeda
寿雄 池田
大介 久保田
Daisuke Kubota
大介 久保田
史人 井坂
Fumito Isaka
史人 井坂
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a display device that has improved brightness, provide a display device that has high reliability, improve the display quality of a display device, and display an image with high display quality regardless of the use environment.SOLUTION: A display device has mutually overlapping light emitting elements, a first region, and a second region. The first region has a first portion that receives incoming light, a second portion that reflects part of light and supplies it to a third portion, and a third portion that emits the light. The second region has a fourth portion that receives the light emitted from the third portion, a fifth portion that reflects part of light and supplies it to a sixth portion, and the sixth portion that emits the light. The first portion has a smaller area than that of the third portion, and the fourth portion has a smaller area than that of the sixth portion.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明の一態様は、表示装置に関する。   One embodiment of the present invention relates to a display device.

なお、本発明の一態様は、上記の技術分野に限定されない。本明細書等で開示する本発明の一態様の技術分野としては、半導体装置、表示装置、発光装置、蓄電装置、記憶装置、電子機器、照明装置、入力装置、入出力装置、それらの駆動方法、又はそれらの製造方法、を一例として挙げることができる。   Note that one embodiment of the present invention is not limited to the above technical field. Technical fields of one embodiment of the present invention disclosed in this specification and the like include semiconductor devices, display devices, light-emitting devices, power storage devices, memory devices, electronic devices, lighting devices, input devices, input / output devices, and driving methods thereof , Or a method for producing them, can be mentioned as an example.

なお、本明細書等において、半導体装置とは、半導体特性を利用することで機能しうる装置全般を指す。トランジスタ、半導体回路、演算装置、記憶装置等は半導体装置の一態様である。また、撮像装置、電気光学装置、発電装置(薄膜太陽電池、有機薄膜太陽電池等を含む)、及び電子機器は半導体装置を有している場合がある。   Note that in this specification and the like, a semiconductor device refers to any device that can function by utilizing semiconductor characteristics. A transistor, a semiconductor circuit, an arithmetic device, a memory device, or the like is one embodiment of a semiconductor device. In addition, an imaging device, an electro-optical device, a power generation device (including a thin film solar cell, an organic thin film solar cell, and the like) and an electronic device may include a semiconductor device.

有機EL(Electro Luminescence)素子や、液晶素子が適用された表示装置が知られている。また、そのほかにも、発光ダイオード(LED:Light Emitting Diode)等の発光素子を備える発光装置、電気泳動方式などにより表示を行う電子ペーパなども、表示装置の一例として挙げることができる。   A display device to which an organic EL (Electro Luminescence) element or a liquid crystal element is applied is known. In addition, a light-emitting device including a light-emitting element such as a light-emitting diode (LED), electronic paper that performs display by an electrophoresis method, and the like can be given as examples of the display device.

有機EL素子の基本的な構成は、一対の電極間に発光性の有機化合物を含む層を挟持したものである。この素子に電圧を印加することにより、発光性の有機化合物から発光を得ることができる。このような有機EL素子が適用された表示装置は、薄型、軽量、高コントラストで且つ低消費電力な表示装置を実現できる。   The basic structure of the organic EL element is such that a layer containing a light-emitting organic compound is sandwiched between a pair of electrodes. Light emission can be obtained from the light-emitting organic compound by applying a voltage to this element. A display device to which such an organic EL element is applied can realize a thin, lightweight, high-contrast display device with low power consumption.

アクティブマトリクス型液晶表示装置には大きく分けて透過型と反射型の二種類のタイプが知られている。   Active matrix liquid crystal display devices are roughly classified into two types, a transmission type and a reflection type.

透過型の液晶表示装置は、冷陰極蛍光ランプやLED(Light Emitting Diode)などのバックライトを用い、液晶の光学変調作用を利用して、バックライトからの光が液晶を透過して液晶表示装置外部に出力される状態と、出力されない状態とを選択し、明と暗の表示を行わせ、さらにそれらを組み合わせることで、画像表示を行うものである。   The transmissive liquid crystal display device uses a backlight such as a cold cathode fluorescent lamp or an LED (Light Emitting Diode), and the light from the backlight transmits the liquid crystal by utilizing the optical modulation action of the liquid crystal. A state that is output to the outside and a state that is not output are selected, bright and dark display is performed, and further, they are combined to perform image display.

また、反射型の液晶表示装置は、液晶の光学変調作用を利用して、外光、即ち入射光が画素電極で反射して装置外部に出力される状態と、入射光が装置外部に出力されない状態とを選択し、明と暗の表示を行わせ、さらにそれらを組み合わせることで、画像表示を行うものである。反射型の液晶表示装置は、透過型の液晶表示装置と比較して、バックライトを使用しないため、消費電力が少ないといった長所を有する。   In addition, the reflective liquid crystal display device utilizes the optical modulation action of the liquid crystal, and the external light, that is, the incident light is reflected by the pixel electrode and output to the outside of the device, and the incident light is not output to the outside of the device. An image is displayed by selecting a state, displaying bright and dark, and combining them. The reflective liquid crystal display device has an advantage of low power consumption because it does not use a backlight as compared with the transmissive liquid crystal display device.

例えば、画素電極の各々に接続するスイッチング素子として、金属酸化物をチャネル形成領域とするトランジスタを用いるアクティブマトリクス型液晶表示装置が知られている(特許文献1及び特許文献2)。   For example, an active matrix liquid crystal display device using a transistor having a metal oxide channel formation region as a switching element connected to each pixel electrode is known (Patent Document 1 and Patent Document 2).

特開2007−123861号公報JP 2007-123861 A 特開2007−96055号公報JP 2007-96055 A

表示装置が適用される電子機器において、使用環境に応じて最適な輝度で画像を表示することが求められている。特に、特に、携帯電話、スマートフォン、タブレット端末、スマートウォッチ、ノート型パーソナルコンピュータ等の、バッテリを電源に用いる機器においては、設置型の機器と異なり、使用環境が変化することが多い。特に、外光の明るい場所などでは、高い輝度で表示することが求められている。   In an electronic device to which a display device is applied, it is required to display an image with an optimum luminance according to a use environment. In particular, in a device that uses a battery as a power source, such as a mobile phone, a smartphone, a tablet terminal, a smart watch, and a notebook personal computer, the usage environment often changes unlike a stationary device. In particular, it is required to display with high luminance in a place where the outside light is bright.

本発明の一態様は、輝度を高められる表示装置を提供することを課題の一とする。または、信頼性の高い表示装置を提供することを課題の一とする。または、表示装置の表示品位を高めることを課題の一とする。または、使用環境によらず、高い表示品位で映像を表示することを課題の一とする。または、表示装置の消費電力を低減することを課題の一とする。   An object of one embodiment of the present invention is to provide a display device capable of increasing luminance. Another object is to provide a highly reliable display device. Another object is to improve display quality of a display device. Another object is to display an image with high display quality regardless of the use environment. Another object is to reduce power consumption of the display device.

なお、これらの課題の記載は、他の課題の存在を妨げるものではない。本発明の一態様は、これらの課題の全てを解決する必要はないものとする。また、明細書等の記載から上記以外の課題を抽出することが可能である。   Note that the description of these problems does not disturb the existence of other problems. In one embodiment of the present invention, it is not necessary to solve all of these problems. Further, it is possible to extract issues other than those described above from the description of the specification and the like.

本発明の一態様は、発光素子と、第1の領域と、第2の領域と、を有する表示装置である。発光素子、第1の領域、及び第2の領域とは、互いに重なる部分を有する。発光素子は、光を射出する機能を有する。第1の領域は、第1の部分、第2の部分、及び第3の部分を有する。第1の部分は、光が入射する部分であり、第2の部分は、光の一部を反射し、第3の部分に供給する部分であり、第3の部分は、光が射出される部分である。第2の領域は、第4の部分、第5の部分、及び第6の部分を有する。第4の部分は、第3の部分から射出される光が入射する部分であり、第5の部分は、光の一部を反射し、第6の部分に供給する部分であり、第6の部分は、光が射出される部分である。また、第1の部分は、第3の部分の面積よりも小さく、第4の部分は、第6の部分の面積よりも小さいことを特徴とする。   One embodiment of the present invention is a display device including a light-emitting element, a first region, and a second region. The light emitting element, the first region, and the second region have portions overlapping each other. The light emitting element has a function of emitting light. The first region has a first portion, a second portion, and a third portion. The first part is a part on which light is incident, the second part is a part that reflects part of the light and supplies it to the third part, and the third part emits light. Part. The second region has a fourth portion, a fifth portion, and a sixth portion. The fourth part is a part where the light emitted from the third part is incident, and the fifth part is a part that reflects a part of the light and supplies it to the sixth part. The part is a part from which light is emitted. The first portion is smaller than the area of the third portion, and the fourth portion is smaller than the area of the sixth portion.

また、上記において、発光素子は、第1の電極、発光性の物質を含む層、及び第2の電極を有することが好ましい。このとき、第1の電極は、可視光を透過する機能を有し、且つ第2の電極と第1の領域との間に位置し、第2の電極は、可視光を反射する機能を有することが好ましい。   In the above, the light-emitting element preferably includes a first electrode, a layer containing a light-emitting substance, and a second electrode. At this time, the first electrode has a function of transmitting visible light and is positioned between the second electrode and the first region, and the second electrode has a function of reflecting visible light. It is preferable.

また、上記において、第1のトランジスタと、当該第1のトランジスタを覆う第1の絶縁層と、を有することが好ましい。このとき、第1のトランジスタは、発光素子と電気的に接続され、第1の絶縁層は、第1の開口を有し、第1の領域は、第1の開口の内側に位置することが好ましい。   In the above, it is preferable to include the first transistor and the first insulating layer covering the first transistor. At this time, the first transistor is electrically connected to the light-emitting element, the first insulating layer has a first opening, and the first region is located inside the first opening. preferable.

また、上記において、液晶素子を有することが好ましい。このとき、液晶素子は、第3の電極と、第4の電極と、当該第3の電極と第4の電極の間に液晶と、を有する構成とする。また、第3の電極は、可視光を反射する機能を有し、且つ、第4の電極と第2の領域との間に第2の開口を有することが好ましい。また、第6の部分から射出される光は、第2の開口を介して射出されることが好ましい。   In the above, it is preferable to have a liquid crystal element. At this time, the liquid crystal element includes a third electrode, a fourth electrode, and a liquid crystal between the third electrode and the fourth electrode. The third electrode preferably has a function of reflecting visible light and has a second opening between the fourth electrode and the second region. Moreover, it is preferable that the light emitted from the sixth portion is emitted through the second opening.

また、上記において、第2のトランジスタと、当該第2のトランジスタを覆う第2の絶縁層と、を有することが好ましい。このとき、第2のトランジスタは、液晶素子と電気的に接続され、第2の絶縁層は、第3の開口を有し、第2の領域は、第3の開口の内側に位置することが好ましい。   In the above, it is preferable to include the second transistor and a second insulating layer covering the second transistor. At this time, the second transistor is electrically connected to the liquid crystal element, the second insulating layer has a third opening, and the second region is located inside the third opening. preferable.

また、上記において、第1の領域と、第2の領域との間に、接着層を有することが好ましい。   In the above, it is preferable to have an adhesive layer between the first region and the second region.

また、上記において、第2の部分は、可視光を反射し、且つ、筒状の形状を有する第1の光反射層と、当該第1の光反射層の内側に第1の樹脂層と、を有することが好ましい。さらに、第1の光反射層の内側の面は、第1の部分側から第3の部分側にかけて、連続的に径が大きくなる凸曲面を有することが好ましい。   In the above, the second portion reflects the visible light and has a first light reflection layer having a cylindrical shape, and a first resin layer inside the first light reflection layer, It is preferable to have. Furthermore, it is preferable that the inner surface of the first light reflecting layer has a convex curved surface whose diameter continuously increases from the first part side to the third part side.

また、上記において、第5の部分は、可視光を反射し、且つ筒状の形状を有する第2の光反射層と、当該第2の光反射層の内側に第2の樹脂層と、を有することが好ましい。このとき、第2の光反射層の内側の面は、第4の部分側から第6の部分側にかけて、連続的に径が大きくなる凸曲面を有することが好ましい。   In the above, the fifth portion includes a second light reflecting layer that reflects visible light and has a cylindrical shape, and a second resin layer inside the second light reflecting layer. It is preferable to have. At this time, it is preferable that the inner surface of the second light reflecting layer has a convex curved surface whose diameter continuously increases from the fourth part side to the sixth part side.

また、上記において、第1の領域と、第2の領域との間に位置する着色層を有することが好ましい。または、第1の部分と第3の部分の間、または、第4の部分と第6の部分の間に位置する着色層を有することが好ましい。   In the above, it is preferable to have a colored layer positioned between the first region and the second region. Alternatively, it is preferable to have a colored layer positioned between the first portion and the third portion, or between the fourth portion and the sixth portion.

本発明の一態様によれば、輝度を高められる表示装置を提供できる。または、信頼性の高い表示装置を提供できる。または、表示装置の表示品位を高めることができる。または、使用環境によらず、高い表示品位で映像を表示することができる。または、表示装置の消費電力を低減することができる。   According to one embodiment of the present invention, a display device capable of increasing luminance can be provided. Alternatively, a highly reliable display device can be provided. Alternatively, the display quality of the display device can be improved. Alternatively, the video can be displayed with high display quality regardless of the use environment. Alternatively, power consumption of the display device can be reduced.

なお、本発明の一態様は、必ずしもこれらの効果の全てを有する必要はない。なお、明細書、図面、請求項などの記載から、これら以外の効果を抽出することが可能である。   Note that one embodiment of the present invention does not necessarily have all of these effects. Note that it is possible to extract effects other than these from the description, drawings, claims, and the like.

実施の形態に係る、表示装置の構成例。3 shows a configuration example of a display device according to an embodiment. 実施の形態に係る、表示装置の構成例。3 shows a configuration example of a display device according to an embodiment. 実施の形態に係る、表示装置の構成例。3 shows a configuration example of a display device according to an embodiment. 実施の形態に係る、表示装置の構成例。3 shows a configuration example of a display device according to an embodiment. 実施の形態に係る、表示装置の構成例。3 shows a configuration example of a display device according to an embodiment. 実施の形態に係る、表示装置の構成例。3 shows a configuration example of a display device according to an embodiment. 実施の形態に係る、表示装置の作製方法を説明する図。8A to 8D illustrate a method for manufacturing a display device according to Embodiment. 実施の形態に係る、表示装置の作製方法を説明する図。8A to 8D illustrate a method for manufacturing a display device according to Embodiment. 実施の形態に係る、表示装置の作製方法を説明する図。8A to 8D illustrate a method for manufacturing a display device according to Embodiment. 実施の形態に係る、表示装置の作製方法を説明する図。8A to 8D illustrate a method for manufacturing a display device according to Embodiment. 実施の形態に係る、表示装置の作製方法を説明する図。8A to 8D illustrate a method for manufacturing a display device according to Embodiment. 実施の形態に係る、表示装置の作製方法を説明する図。8A to 8D illustrate a method for manufacturing a display device according to Embodiment. 実施の形態に係る、表示装置の作製方法を説明する図。8A to 8D illustrate a method for manufacturing a display device according to Embodiment. 実施の形態に係る、表示装置の構成例。3 shows a configuration example of a display device according to an embodiment. 実施の形態に係る、表示装置の構成例。3 shows a configuration example of a display device according to an embodiment. 実施の形態に係る、トランジスタの構成例。4 illustrates a structure example of a transistor according to an embodiment. 実施の形態に係る、表示装置の構成例。3 shows a configuration example of a display device according to an embodiment. 実施の形態に係る、表示装置の回路図。The circuit diagram of the display device based on an embodiment. 実施の形態に係る、表示装置の回路図。The circuit diagram of the display device based on an embodiment. 実施の形態に係る、表示モジュールの構成例。The structural example of the display module which concerns on embodiment. 実施の形態に係る、電子機器。An electronic device according to an embodiment.

実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。但し、本発明は以下の説明に限定されず、本発明の趣旨及びその範囲から逸脱することなくその形態及び詳細を様々に変更し得ることは当業者であれば容易に理解される。従って、本発明は以下に示す実施の形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。   Embodiments will be described in detail with reference to the drawings. However, the present invention is not limited to the following description, and it is easily understood by those skilled in the art that modes and details can be variously changed without departing from the spirit and scope of the present invention. Therefore, the present invention should not be construed as being limited to the description of the embodiments below.

なお、以下に説明する発明の構成において、同一部分又は同様な機能を有する部分には同一の符号を異なる図面間で共通して用い、その繰り返しの説明は省略する。また、同様の機能を指す場合には、ハッチパターンを同じくし、特に符号を付さない場合がある。   Note that in structures of the invention described below, the same portions or portions having similar functions are denoted by the same reference numerals in different drawings, and description thereof is not repeated. In addition, in the case where the same function is indicated, the hatch pattern is the same, and there is a case where no reference numeral is given.

なお、本明細書で説明する各図において、各構成の大きさ、層の厚さ、または領域は、明瞭化のために誇張されている場合がある。よって、必ずしもそのスケールに限定されない。   Note that in each drawing described in this specification, the size, the layer thickness, or the region of each component is exaggerated for simplicity in some cases. Therefore, it is not necessarily limited to the scale.

なお、本明細書等における「第1」、「第2」等の序数詞は、構成要素の混同を避けるために付すものであり、数的に限定するものではない。   In the present specification and the like, ordinal numbers such as “first” and “second” are used for avoiding confusion between components, and are not limited numerically.

トランジスタは半導体素子の一種であり、電流や電圧の増幅や、導通または非導通を制御するスイッチング動作などを実現することができる。本明細書におけるトランジスタは、IGFET(Insulated Gate Field Effect Transistor)や薄膜トランジスタ(TFT:Thin Film Transistor)を含む。   A transistor is a kind of semiconductor element, and can realize amplification of current and voltage, switching operation for controlling conduction or non-conduction, and the like. The transistor in this specification includes an IGFET (Insulated Gate Field Effect Transistor) and a thin film transistor (TFT: Thin Film Transistor).

なお、以下では「上」、「下」などの向きを示す表現は、基本的には図面の向きと合わせて用いるものとする。しかしながら、説明を容易にするためなどの目的で、明細書中の「上」または「下」が意味する向きが、図面とは一致しない場合がある。一例としては、積層体等の積層順(または形成順)などを説明する場合に、図面において当該積層体が設けられる側の面(被形成面、支持面、接着面、平坦面など)が当該積層体よりも上側に位置していても、その向きを下、これとは反対の向きを上、などと表現する場合がある。   In the following, expressions indicating the direction such as “up” and “down” are basically used in combination with the direction of the drawing. However, for the purpose of facilitating the description and the like, the direction indicated by “upper” or “lower” in the specification may not match the drawing. As an example, when explaining the stacking order (or forming order) of a laminated body or the like, the surface (formation surface, support surface, adhesive surface, flat surface, etc.) on the side where the laminated body is provided in the drawing Even if it is positioned above the laminated body, the direction may be expressed as “down”, the opposite direction may be expressed as “up”, and the like.

(実施の形態1)
本実施の形態では、本発明の一態様の表示装置について、図面を参照して説明する。
(Embodiment 1)
In this embodiment, a display device of one embodiment of the present invention will be described with reference to drawings.

[構成例1]
〔構成例1−1〕
図1(A)に、本発明の一態様の表示装置が有する構成を模式的に示した図を示す。
[Configuration example 1]
[Configuration Example 1-1]
FIG. 1A schematically illustrates a structure included in a display device of one embodiment of the present invention.

表示装置は、発光部20と、第1の領域11aと、第2の領域11bと、を有する。   The display device includes a light emitting unit 20, a first region 11a, and a second region 11b.

発光部20は、可視光を発する部分である。   The light emitting unit 20 is a part that emits visible light.

第1の領域11aは、受光部12aと、集光部13aと、光射出部14aと、を有する。受光部12aは発光部20が発する光20aが入射する部分であり、光射出部14aは集光部13aを透過した光20bを射出する部分である。受光部12aの面積は、光射出部14aよりも大きい。集光部13aは、受光部12aと光射出部14aとの間に位置する。集光部13aはその内部の側面(内壁ともいう)が可視光を反射する機能を有する。   The first region 11a includes a light receiving unit 12a, a light collecting unit 13a, and a light emitting unit 14a. The light receiving portion 12a is a portion where the light 20a emitted from the light emitting portion 20 is incident, and the light emitting portion 14a is a portion that emits the light 20b transmitted through the light collecting portion 13a. The area of the light receiving portion 12a is larger than that of the light emitting portion 14a. The condensing part 13a is located between the light receiving part 12a and the light emitting part 14a. The condensing part 13a has a function in which the side surface (also referred to as an inner wall) reflects visible light.

また、集光部13aの内壁は、光射出部14aから受光部12aにかけて連続的に幅が大きくなるように湾曲した形状となっている。言い換えると、集光部13aの発光面に垂直な断面において、対向する一対の内壁の表面が双曲線の一部を切り取ったような形状を有する。   Moreover, the inner wall of the condensing part 13a has a curved shape so that the width continuously increases from the light emitting part 14a to the light receiving part 12a. In other words, in the cross section perpendicular to the light emitting surface of the light collecting portion 13a, the surfaces of the pair of inner walls facing each other have a shape obtained by cutting off a part of the hyperbola.

第2の領域11bは、第1の領域11aと概略同様の形状を有する。第2の領域11bは、受光部12bと、集光部13bと、光射出部14bと、を有する。受光部12bは、第1の領域11aの光射出部14aから射出された光20bが入射する部分であり、光射出部14bは、集光部13bを透過した光20cを射出する部分である。   The second region 11b has substantially the same shape as the first region 11a. The second region 11b includes a light receiving unit 12b, a light collecting unit 13b, and a light emitting unit 14b. The light receiving portion 12b is a portion where the light 20b emitted from the light emitting portion 14a in the first region 11a is incident, and the light emitting portion 14b is a portion that emits the light 20c transmitted through the condensing portion 13b.

ここで、受光部12bの面積は、受光部12aよりも小さいことが好ましい。また、光射出部14bの面積は、光射出部14aの面積よりも小さいことが好ましい。   Here, the area of the light receiving portion 12b is preferably smaller than that of the light receiving portion 12a. Moreover, it is preferable that the area of the light emission part 14b is smaller than the area of the light emission part 14a.

発光部20から発せられた光20aの一部は、まず第1の領域11aの受光部12aに入射し、集光部13aを透過して光射出部14aから光20bが射出される。このとき、発光部20から発せられる光20aの輝度(単位面積あたりの光束)よりも、光射出部14aから射出される光20bの輝度が高くなる。   A part of the light 20a emitted from the light emitting unit 20 first enters the light receiving unit 12a of the first region 11a, passes through the light collecting unit 13a, and the light 20b is emitted from the light emitting unit 14a. At this time, the luminance of the light 20b emitted from the light emitting unit 14a is higher than the luminance of the light 20a emitted from the light emitting unit 20 (light flux per unit area).

さらに、第1の領域11aの光射出部14aから射出された光20bのほとんどは、受光部12bに入射し、集光部13bを透過して光射出部14bから光20cが射出される。このとき、受光部12bに入射される光20bの輝度よりも、光射出部14bから射出される光20cの輝度が高くなる。   Further, most of the light 20b emitted from the light emitting part 14a in the first region 11a enters the light receiving part 12b, passes through the light collecting part 13b, and emits light 20c from the light emitting part 14b. At this time, the luminance of the light 20c emitted from the light emitting unit 14b is higher than the luminance of the light 20b incident on the light receiving unit 12b.

このように、第1の領域11aと第2の領域11bの2つを介して射出される光20cは、発光部20が発する光20aよりも極めて高い輝度となる。また、第1の領域11a及び第2の領域11bを有さない場合(すなわち、光20aがそのまま射出される場合)と比較したとき、同じ輝度を得るために必要な発光部20が発する光20aの輝度を低くすることができる。例えば発光部20にエレクトロルミネセンス素子を用いた場合に、当該素子に流す電流密度を低くできるため、信頼性の低下を抑制することができる。   Thus, the light 20c emitted through the first region 11a and the second region 11b has a much higher luminance than the light 20a emitted from the light emitting unit 20. In addition, when compared with the case where the first region 11a and the second region 11b are not provided (that is, the case where the light 20a is emitted as it is), the light 20a emitted by the light emitting unit 20 necessary to obtain the same luminance. The brightness can be lowered. For example, when an electroluminescent element is used for the light emitting unit 20, the current density flowing through the element can be reduced, and thus a decrease in reliability can be suppressed.

〔構成例1−2〕
図1(B)には、光反射部30を有する構成を示している。光反射部30は、外光を反射した反射光である光30aを発する機能を有する。
[Configuration Example 1-2]
FIG. 1B shows a configuration having a light reflecting portion 30. The light reflecting portion 30 has a function of emitting light 30a that is reflected light reflecting external light.

また光反射部30は、第2の領域11bの光射出部14bと重なる開口を有し、当該開口から光20cが射出される。   The light reflecting portion 30 has an opening overlapping the light emitting portion 14b in the second region 11b, and the light 20c is emitted from the opening.

ここで、光反射部30が有する開口の面積は、発光部20の面積よりも小さいことが好ましい。表示装置は、発光部20が発し、第1の領域11a及び第2の領域11bにより輝度が高められた光20cと、光反射部30で反射される光30aと、により、階調を表現することができる。   Here, the area of the opening of the light reflecting portion 30 is preferably smaller than the area of the light emitting portion 20. The display device expresses gradation by the light 20c emitted from the light emitting unit 20 and having the luminance increased by the first region 11a and the second region 11b, and the light 30a reflected by the light reflecting unit 30. be able to.

ここで、表示に寄与する部分の面積は、発光部20の面積(発光面積)と、光反射部30の面積(反射面積)の和となる。したがって、表示装置の表示領域の面積に対する、表示に寄与する部分の面積の割合を開口率としたとき、開口率を100%より大きく、200%未満とすることができる。すなわち、第1の領域11a及び第2の領域11bを有さない場合に比べて、開口率を極めて大きいものとすることができる。   Here, the area of the part contributing to the display is the sum of the area of the light emitting unit 20 (light emitting area) and the area of the light reflecting unit 30 (reflective area). Therefore, when the ratio of the area of the portion contributing to display to the area of the display region of the display device is an aperture ratio, the aperture ratio can be greater than 100% and less than 200%. That is, the aperture ratio can be made extremely large compared to the case where the first region 11a and the second region 11b are not provided.

開口率の好ましい値としては、例えば100%より大きく200%未満、好ましくは120%より大きく200%未満、より好ましくは140%より大きく200%未満である。開口率が高いほど、表示部が表示可能な最大輝度を高めることができる。さらに、開口率が高いほど、発光部に設けられる発光素子の劣化が抑制され、表示装置の信頼性を高めることができる。   A preferable value of the aperture ratio is, for example, more than 100% and less than 200%, preferably more than 120% and less than 200%, more preferably more than 140% and less than 200%. The higher the aperture ratio, the higher the maximum luminance that can be displayed by the display unit. Furthermore, as the aperture ratio is higher, deterioration of the light emitting element provided in the light emitting portion is suppressed, and the reliability of the display device can be improved.

以上が構成例1についての説明である。   The above is the description of the configuration example 1.

[構成例2]
以下では、本発明の一態様のより具体的な構成例について、図面を参照して説明する。
[Configuration example 2]
Hereinafter, a more specific structure example of one embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

図2は、本発明の一態様の表示装置10を表示面側からみたときの斜視図である。表示装置10は、基板21と基板31を有する。図2では、基板31を破線で示している。   FIG. 2 is a perspective view of the display device 10 of one embodiment of the present invention as viewed from the display surface side. The display device 10 includes a substrate 21 and a substrate 31. In FIG. 2, the board | substrate 31 is shown with the broken line.

表示装置10は、基板21と基板31との間に、表示部32、回路部34、配線35等を有する。また、図2では、基板31にIC37とFPC36が実装されている例を示している。そのため、図2に示す表示装置10は、表示モジュールとも呼ぶことができる。   The display device 10 includes a display unit 32, a circuit unit 34, wirings 35, and the like between the substrate 21 and the substrate 31. FIG. 2 shows an example in which an IC 37 and an FPC 36 are mounted on the substrate 31. Therefore, the display device 10 illustrated in FIG. 2 can also be referred to as a display module.

回路部34は、例えば走査線駆動回路として機能する回路を用いることができる。   As the circuit unit 34, for example, a circuit that functions as a scanning line driver circuit can be used.

配線35は、表示部32または回路部34に信号や電力を供給する機能を有する。当該信号や電力は、FPC36を介して外部から入力されるか、IC37から入力される。   The wiring 35 has a function of supplying a signal and power to the display unit 32 or the circuit unit 34. The signal and power are input from the outside via the FPC 36 or input from the IC 37.

また、図2では、COG(Chip On Glass)方式等により、基板31にIC37が設けられている例を示している。IC37は、例えば走査線駆動回路、または信号線駆動回路などとしての機能を有するICを適用できる。なおIC37は必要でなければ設けなくてもよい。またIC37は、COF(Chip On Film)方式等により、FPC36に実装してもよい。   2 shows an example in which the IC 37 is provided on the substrate 31 by a COG (Chip On Glass) method or the like. As the IC 37, for example, an IC having a function as a scan line driver circuit or a signal line driver circuit can be used. Note that the IC 37 may be omitted if not necessary. The IC 37 may be mounted on the FPC 36 by a COF (Chip On Film) method or the like.

〔断面構成例2−1〕
以下では、本発明の一態様の表示装置の断面構成例について説明する。
[Cross-section configuration example 2-1]
Hereinafter, a cross-sectional configuration example of the display device of one embodiment of the present invention will be described.

図3に、以下で例示する断面構成例を示す。図3は、図2で示した表示装置10の表示部32の一部の断面構成の一例である。また、図3に示す構成は、図1(A)で例示した構成に対応した、より具体的な断面構成例である。   FIG. 3 shows a cross-sectional configuration example exemplified below. FIG. 3 is an example of a partial cross-sectional configuration of the display unit 32 of the display device 10 shown in FIG. The configuration illustrated in FIG. 3 is a more specific cross-sectional configuration example corresponding to the configuration illustrated in FIG.

表示装置10は、基板21と基板31の間に、発光素子60、トランジスタ70、第1の領域11a、及び第2の領域11bを有する。また第1の領域11aと第2の領域11bとの間に、接着層99を有する。   The display device 10 includes a light emitting element 60, a transistor 70, a first region 11a, and a second region 11b between the substrate 21 and the substrate 31. Further, an adhesive layer 99 is provided between the first region 11a and the second region 11b.

トランジスタ70は、ゲートとして機能する導電層71と、半導体層72と、一部がゲート絶縁層として機能する絶縁層82と、ソース又はドレインの一方として機能する導電層73aと、ソース又はドレインの他方として機能する導電層73bと、を有する。また、トランジスタ70は、一部が第2のゲート絶縁層として機能する絶縁層83と、第2のゲートとして機能する導電層74と、を有する。   The transistor 70 includes a conductive layer 71 that functions as a gate, a semiconductor layer 72, an insulating layer 82 that partially functions as a gate insulating layer, a conductive layer 73a that functions as one of a source and a drain, and the other of the source and the drain A conductive layer 73b functioning as In addition, the transistor 70 includes an insulating layer 83 that functions as a second gate insulating layer, and a conductive layer 74 that functions as a second gate.

トランジスタ70は、絶縁層81の基板21側の面上に設けられている。絶縁層81の基板21側には、それぞれトランジスタ70のゲート絶縁層として機能する絶縁層82及び絶縁層83と、トランジスタ70を覆う絶縁層84、絶縁層85、絶縁層86、絶縁層87等が設けられている。   The transistor 70 is provided on the surface of the insulating layer 81 on the substrate 21 side. On the substrate 21 side of the insulating layer 81, there are an insulating layer 82 and an insulating layer 83 that respectively function as a gate insulating layer of the transistor 70, and an insulating layer 84, an insulating layer 85, an insulating layer 86, an insulating layer 87, and the like that cover the transistor 70. Is provided.

発光素子60は、導電層61と、導電層63と、これらの間に位置するEL層62と、を有する。また導電層63を覆って絶縁層64が設けられている。導電層61は可視光を透過する機能を有し、導電層63は可視光を反射する機能を有する。すなわち、発光素子60は、被形成面側に光を射出する、いわゆるボトムエミッション型の発光素子である。   The light emitting element 60 includes a conductive layer 61, a conductive layer 63, and an EL layer 62 positioned therebetween. An insulating layer 64 is provided so as to cover the conductive layer 63. The conductive layer 61 has a function of transmitting visible light, and the conductive layer 63 has a function of reflecting visible light. In other words, the light emitting element 60 is a so-called bottom emission type light emitting element that emits light toward the surface to be formed.

導電層61は、絶縁層86の基板21側に設けられている。導電層61は、絶縁層86、絶縁層85、絶縁層84、及び絶縁層83に設けられた開口を介して、導電層73bと電気的に接続され、これにより、発光素子60とトランジスタ70とが電気的に接続されている。   The conductive layer 61 is provided on the substrate 21 side of the insulating layer 86. The conductive layer 61 is electrically connected to the conductive layer 73b through an opening provided in the insulating layer 86, the insulating layer 85, the insulating layer 84, and the insulating layer 83, whereby the light-emitting element 60, the transistor 70, and the like. Are electrically connected.

また、絶縁層64と基板21とは、接着層89により貼り合わされている。   Further, the insulating layer 64 and the substrate 21 are bonded together by an adhesive layer 89.

基板31の基板21側の面には、絶縁層96と絶縁層97とが積層して設けられている。また、絶縁層97と絶縁層81とは、接着層99により貼り合わされている。   An insulating layer 96 and an insulating layer 97 are stacked on the surface of the substrate 31 on the substrate 21 side. Further, the insulating layer 97 and the insulating layer 81 are bonded together by an adhesive layer 99.

絶縁層85、絶縁層86、及び絶縁層87は、それぞれ平坦化膜として機能することが好ましく、有機樹脂を含むことが好ましい。また、絶縁層81、絶縁層82、絶縁層83、絶縁層84は、それぞれ無機絶縁性材料を含むことが好ましい。   The insulating layer 85, the insulating layer 86, and the insulating layer 87 each preferably function as a planarization film, and preferably contain an organic resin. In addition, the insulating layer 81, the insulating layer 82, the insulating layer 83, and the insulating layer 84 preferably each include an inorganic insulating material.

第1の領域11aは、発光素子60と重なる位置に設けられている。以下、第1の領域11aの構成について説明する。図4に、第1の領域11a及びその近傍の拡大図を示す。   The first region 11 a is provided at a position overlapping the light emitting element 60. Hereinafter, the configuration of the first region 11a will be described. FIG. 4 shows an enlarged view of the first region 11a and the vicinity thereof.

絶縁層82と絶縁層83に開口部が設けられ、当該開口部を覆って絶縁層84が設けられている。また、絶縁層84を覆う絶縁層85には、絶縁層82と絶縁層83に設けられた開口部と重なる位置に、開口部が設けられている。さらに、絶縁層85の開口部の側面に沿って、光反射層15aが設けられている。そして、絶縁層85の開口部を埋めるように、絶縁層86が設けられている。   An opening is provided in the insulating layer 82 and the insulating layer 83, and an insulating layer 84 is provided to cover the opening. Further, the insulating layer 85 covering the insulating layer 84 is provided with an opening at a position overlapping with the opening provided in the insulating layer 82 and the insulating layer 83. Furthermore, a light reflecting layer 15 a is provided along the side surface of the opening of the insulating layer 85. An insulating layer 86 is provided so as to fill the opening of the insulating layer 85.

絶縁層85の開口部は、被形成面側(基板31側)から基板21側にかけて、連続的に径が広がる凸曲面形状を有する。言い換えると、絶縁層85は、側面と被形成面の成す角の角度が、被形成面側から連続的に小さくなる、いわゆるテーパ形状を有する。したがって、絶縁層85の開口部の側面に沿って設けられる光反射層15aの表面も同様の形状となる。すなわち、光反射層15aの表面は、基板31側から基板21側にかけて、連続的に径が広がる凸曲面を有する。   The opening of the insulating layer 85 has a convex curved surface shape whose diameter continuously increases from the surface to be formed (substrate 31 side) to the substrate 21 side. In other words, the insulating layer 85 has a so-called tapered shape in which the angle formed by the side surface and the surface to be formed continuously decreases from the surface to be formed. Accordingly, the surface of the light reflecting layer 15a provided along the side surface of the opening of the insulating layer 85 has the same shape. That is, the surface of the light reflection layer 15a has a convex curved surface whose diameter continuously increases from the substrate 31 side to the substrate 21 side.

受光部12aは、光反射層15aの湾曲した表面に囲まれた領域のうち、基板21側の端部に相当する。より具体的には、光反射層15aの表面に接する平面と、表示面に平行な面との成す角(以下、傾斜角ともいう)が角度θである光反射層15aの表面上の点を結ぶ閉曲線に囲まれた領域を、受光部12aとすることができる。ここで、上述した表示面に平行な面に代えて、基板21の表面、基板31の表面、絶縁層81の表面、導電層61の表面を、光反射層15aの表面の傾斜角を推し量るための基準面としてもよい。また、上記角度θは、45度よりも大きく、90度以下とすることができる。   The light receiving portion 12a corresponds to an end portion on the substrate 21 side in a region surrounded by the curved surface of the light reflecting layer 15a. More specifically, a point on the surface of the light reflecting layer 15a having an angle θ formed by a plane in contact with the surface of the light reflecting layer 15a and a plane parallel to the display surface (hereinafter also referred to as an inclination angle) is an angle θ. The area surrounded by the closed curve to be connected can be the light receiving unit 12a. Here, instead of the plane parallel to the display surface described above, the surface of the substrate 21, the surface of the substrate 31, the surface of the insulating layer 81, and the surface of the conductive layer 61 are estimated for the inclination angle of the surface of the light reflecting layer 15 a. The reference plane may be used. The angle θ can be greater than 45 degrees and 90 degrees or less.

また、光反射層15aは、その表面の傾斜角が50度以上、好ましくは60度以上、より好ましくは70度以上、さらに好ましくは80度以上であって、90度以下である部分を有することが好ましい。傾斜角が90度に近いほど、集光部13aにおける光の反射頻度が低減するため好ましい。   Further, the light reflection layer 15a has a portion whose surface inclination angle is 50 degrees or more, preferably 60 degrees or more, more preferably 70 degrees or more, and further preferably 80 degrees or more, and 90 degrees or less. Is preferred. The closer the tilt angle is to 90 degrees, the more preferable is the light reflection frequency at the light collecting portion 13a is reduced.

または、単に光反射層15aの基板21側の端部を結ぶ閉曲線に囲まれた領域を、受光部12aとしてもよい。   Alternatively, a region surrounded by a closed curve connecting the end portions on the substrate 21 side of the light reflecting layer 15a may be used as the light receiving unit 12a.

光射出部14aは、光反射層15aの基板31側の端部を結ぶ閉曲線に囲まれた領域に相当する。   The light emitting portion 14a corresponds to a region surrounded by a closed curve connecting the end portions on the substrate 31 side of the light reflecting layer 15a.

集光部13aは、受光部12aと、光射出部14aの間の領域に相当する。   The condensing part 13a is corresponded to the area | region between the light-receiving part 12a and the light emission part 14a.

光射出部14aの面積と受光部12aの面積の差が大きいほど、光射出部14aから射出される光の強度を高めることができる。例えば、受光部12aの面積は、光射出部14aの面積の1倍よりも大きく100倍以下、好ましくは1.5倍以上50倍以下、より好ましくは2倍以上25倍以下とすることが好ましい。   The greater the difference between the area of the light emitting part 14a and the area of the light receiving part 12a, the higher the intensity of light emitted from the light emitting part 14a. For example, the area of the light receiving unit 12a is larger than 1 times the area of the light emitting unit 14a and 100 times or less, preferably 1.5 times or more and 50 times or less, more preferably 2 times or more and 25 times or less. .

また、第1の領域11aの高さが高いほど好ましい。言い換えると、受光部12aと光射出部14aの間の距離、または集光部13aの高さが大きいほど好ましい。例えば、第1の領域11aは、断面において、光射出部14aの幅に対する、第1の領域11aの高さの比が、0.5以上10以下、好ましくは0.6以上5以下、より好ましくは、0.7以上3以下である部分を有することが好ましい。   Moreover, it is preferable that the height of the first region 11a is higher. In other words, it is preferable that the distance between the light receiving unit 12a and the light emitting unit 14a or the height of the light collecting unit 13a is larger. For example, in the cross section of the first region 11a, the ratio of the height of the first region 11a to the width of the light emitting portion 14a is 0.5 or more and 10 or less, preferably 0.6 or more and 5 or less, more preferably. Preferably has a portion that is 0.7 or more and 3 or less.

また、集光部13aに位置する絶縁層86は、屈折率が高いことが好ましい。より具体的には、絶縁層86は、絶縁層85、絶縁層83、絶縁層82、絶縁層81、接着層99の少なくとも一よりも屈折率の高い材料を用いることが好ましい。例えば、絶対屈折率が1よりも大きく2.5以下、好ましくは1.2以上2.0以下、より好ましくは、1.3以上1.9以下である材料を用いることが好ましい。   Moreover, it is preferable that the insulating layer 86 located in the condensing part 13a has a high refractive index. More specifically, the insulating layer 86 is preferably made of a material having a higher refractive index than at least one of the insulating layer 85, the insulating layer 83, the insulating layer 82, the insulating layer 81, and the adhesive layer 99. For example, it is preferable to use a material having an absolute refractive index greater than 1 and 2.5 or less, preferably 1.2 or more and 2.0 or less, and more preferably 1.3 or more and 1.9 or less.

光反射層15aとしては、可視光領域の光に対する反射率の高い材料を用いることが好ましい。例えば、アルミニウムまたは銀を含む材料を用いることが好ましい。   As the light reflecting layer 15a, it is preferable to use a material having a high reflectance with respect to light in the visible light region. For example, it is preferable to use a material containing aluminum or silver.

以上が、第1の領域11aについての説明である。   The above is the description of the first region 11a.

図3に示すように、第2の領域11bは、絶縁層96に設けられた開口部と、絶縁層96の開口部の側面に沿って設けられた光反射層15bと、絶縁層96の開口部を埋めるように設けられた絶縁層97の一部と、により形成されている。   As shown in FIG. 3, the second region 11 b includes an opening provided in the insulating layer 96, a light reflecting layer 15 b provided along a side surface of the opening of the insulating layer 96, and an opening in the insulating layer 96. Part of the insulating layer 97 provided so as to fill the portion.

第2の領域11bは、受光部12b、集光部13b、及び光射出部14bを有する。第2の領域11bの好ましい形状や、構成については、上記第1の領域11aの説明を援用できる。   The second region 11b includes a light receiving unit 12b, a light collecting unit 13b, and a light emitting unit 14b. The description of the first region 11a can be used for the preferable shape and configuration of the second region 11b.

図3に示す構成では、絶縁層82及び絶縁層83の一部が開口され、発光素子60の光路上に位置しない例を示している。このように、発光素子60の光路上に存在する界面の数を出来るだけ減らすことで、界面散乱の影響を低減し、光取り出し効率を高めることができる。   In the configuration illustrated in FIG. 3, an example in which a part of the insulating layer 82 and the insulating layer 83 is opened and is not located on the optical path of the light emitting element 60 is illustrated. Thus, by reducing the number of interfaces existing on the optical path of the light emitting element 60 as much as possible, the influence of interface scattering can be reduced and the light extraction efficiency can be increased.

また、絶縁層84が絶縁層82及び絶縁層83の開口部における側面を覆って設けられている。これにより、絶縁層82及び絶縁層83の側面が露出しないため、絶縁層81と絶縁層82の界面、または絶縁層82と絶縁層83の界面を経由し、不純物がトランジスタ70へ拡散することを防ぐことができる。   An insulating layer 84 is provided so as to cover the side surfaces of the openings of the insulating layer 82 and the insulating layer 83. Accordingly, the side surfaces of the insulating layer 82 and the insulating layer 83 are not exposed, so that impurities diffuse into the transistor 70 through the interface between the insulating layer 81 and the insulating layer 82 or the interface between the insulating layer 82 and the insulating layer 83. Can be prevented.

以上が、断面構成例2−1についての説明である。   The above is the description of the cross-sectional configuration example 2-1.

〔断面構成例2−2〕
以下では、本発明の一態様の表示装置の例として、反射型の液晶素子と、発光素子の両方を有し、発光モード、反射モード、およびハイブリッドモードの表示を行うことのできる、表示装置(表示パネル)の例を説明する。このような表示パネルを、ER−Hybrid Display(Emission and Reflection Hybrid Display、または、Emission/Reflection Hybrid Display)とも呼ぶことができる。
[Cross-section configuration example 2-2]
Hereinafter, as an example of a display device of one embodiment of the present invention, a display device that includes both a reflective liquid crystal element and a light-emitting element and can perform display in a light-emitting mode, a reflective mode, and a hybrid mode ( An example of a display panel) will be described. Such a display panel can also be called ER-Hybrid Display (Emission and Reflection Hybrid Display or Emission / Reflection Hybrid Display).

このような表示パネルの一例としては、可視光を反射する電極を備える液晶素子と、発光素子とを積層して配置した構成が挙げられる。このとき、可視光を反射する電極が開口を有し、当該開口と発光素子とが重ねて配置されていることが好ましい。これにより、発光モードでは当該開口を介して発光素子からの光が射出されるように駆動することができる。また、平面視において、液晶素子と発光素子を並べて配置した場合と比べて、これらを積層して配置することで、液晶素子と発光素子の両方を有する画素の大きさを小さくすることができるため、より高精細な表示装置を実現できる。   As an example of such a display panel, there is a configuration in which a liquid crystal element including an electrode that reflects visible light and a light emitting element are stacked. At this time, it is preferable that the electrode that reflects visible light has an opening, and the opening and the light-emitting element are overlaid. Thereby, in the light emission mode, it can drive so that the light from a light emitting element may be inject | emitted through the said opening. In addition, in a plan view, the size of a pixel including both the liquid crystal element and the light emitting element can be reduced by stacking and arranging the liquid crystal element and the light emitting element side by side. A higher definition display device can be realized.

このような表示パネルは、屋外など外光の明るい場所では反射モードで表示することにより、極めて電力消費が低い駆動を行うことができる。また夜間や室内など外光が暗い場所では、発光モードで表示することにより、最適な輝度で画像を表示することができる。さらに、発光モードと反射モードの両方のモードで表示することにより、極めて外光が明るい場所であっても従来の表示パネルに比べて、低い消費電力で、且つコントラストの高い表示を行うことができる。   Such a display panel can be driven with extremely low power consumption by displaying in a reflection mode in a place with bright external light such as outdoors. Further, in a place where the outside light is dark such as at night or indoors, an image can be displayed with an optimum luminance by displaying in the light emission mode. Furthermore, by displaying in both the light emission mode and the reflection mode, it is possible to perform display with low power consumption and high contrast as compared with a conventional display panel even in a place where the outside light is extremely bright. .

図5に、以下で例示する断面構成例を示す。図5に示す構成は、図1(B)で示した構成に対応した、より具体的な断面構成例である。また、図5に示す構成は、図3で例示した構成と比較して、接着層99と基板31の間の構成が主に相違している。なお、図5では、図3で示したトランジスタ70に代えて、トランジスタ70aを有する。   FIG. 5 shows a cross-sectional configuration example exemplified below. The configuration illustrated in FIG. 5 is a more specific cross-sectional configuration example corresponding to the configuration illustrated in FIG. Further, the configuration shown in FIG. 5 is mainly different from the configuration illustrated in FIG. 3 in the configuration between the adhesive layer 99 and the substrate 31. 5 includes a transistor 70a instead of the transistor 70 illustrated in FIG.

表示装置は、接着層99と基板31との間に、液晶素子40、接続部80、トランジスタ70b、第2の領域11b、着色層54等を有する。トランジスタ70bと液晶素子40の間には、絶縁層91及び絶縁層92が設けられている。   The display device includes the liquid crystal element 40, the connection portion 80, the transistor 70b, the second region 11b, the coloring layer 54, and the like between the adhesive layer 99 and the substrate 31. An insulating layer 91 and an insulating layer 92 are provided between the transistor 70 b and the liquid crystal element 40.

トランジスタ70bは、絶縁層92の基板21側の面に設けられている。絶縁層92の基板21側には、絶縁層93、絶縁層94、絶縁層95、絶縁層96、絶縁層97等が積層して設けられている。絶縁層93および絶縁層94は、それぞれ一部がトランジスタ70bのゲート絶縁層として機能する。絶縁層96及び絶縁層97は、それぞれ平坦化層として機能することが好ましい。   The transistor 70b is provided on the surface of the insulating layer 92 on the substrate 21 side. On the substrate 21 side of the insulating layer 92, an insulating layer 93, an insulating layer 94, an insulating layer 95, an insulating layer 96, an insulating layer 97, and the like are stacked. A part of each of the insulating layers 93 and 94 functions as a gate insulating layer of the transistor 70b. The insulating layer 96 and the insulating layer 97 each preferably function as a planarization layer.

絶縁層92の基板31側には、導電層23aと導電層23bが積層して設けられている。また導電層23aと導電層23bを覆って、絶縁層91が設けられている。また、導電層23aの基板31側には、配向膜26aが設けられている。一方、基板31の基板21側の面には、導電層25と配向膜26bが積層して設けられている。配向膜26aと配向膜26bの間に、液晶24が挟持されている。導電層23a、液晶24、及び導電層25により液晶素子40が構成されている。   On the substrate 31 side of the insulating layer 92, a conductive layer 23a and a conductive layer 23b are stacked. An insulating layer 91 is provided to cover the conductive layer 23a and the conductive layer 23b. An alignment film 26a is provided on the substrate 31 side of the conductive layer 23a. On the other hand, a conductive layer 25 and an alignment film 26b are stacked on the surface of the substrate 31 on the substrate 21 side. The liquid crystal 24 is sandwiched between the alignment film 26a and the alignment film 26b. A liquid crystal element 40 is configured by the conductive layer 23 a, the liquid crystal 24, and the conductive layer 25.

また表示装置は、絶縁層91の両面に設けられる導電層同士を電気的に接続する接続部80を有する。図5では、接続部80が、絶縁層91及び絶縁層92に設けられた開口と、当該開口に位置し、トランジスタ70b等のゲートと同一の導電膜を加工して得られた導電層と、を有する構成を示している。トランジスタ70bのソース又はドレインの一方と導電層23bは、接続部80を介して電気的に接続されている。   In addition, the display device includes a connection portion 80 that electrically connects conductive layers provided on both surfaces of the insulating layer 91. In FIG. 5, the connection portion 80 includes an opening provided in the insulating layer 91 and the insulating layer 92, a conductive layer that is located in the opening and is obtained by processing the same conductive film as the gate of the transistor 70 b and the like, The structure which has is shown. One of the source and the drain of the transistor 70 b and the conductive layer 23 b are electrically connected through the connection portion 80.

図5に示すように、接続部80と重なる領域において、導電層23aの表面が平坦であるため、接続部80が設けられる部分も液晶素子40の表示領域として機能させることができる。特に高精細な表示装置においては、一つの画素の占有面積に対する接続部80の面積の割合が高くなるため、この領域を表示領域として使用できることで、高い開口率を実現することができる。   As shown in FIG. 5, since the surface of the conductive layer 23 a is flat in the region overlapping with the connection portion 80, the portion where the connection portion 80 is provided can also function as the display region of the liquid crystal element 40. In particular, in a high-definition display device, since the ratio of the area of the connection portion 80 to the area occupied by one pixel is high, a high aperture ratio can be realized by using this region as a display region.

導電層23aは、可視光を透過する機能を有する。また導電層23bは、可視光を反射する機能を有する。したがって液晶素子40は、反射型の液晶素子として機能する。   The conductive layer 23a has a function of transmitting visible light. The conductive layer 23b has a function of reflecting visible light. Accordingly, the liquid crystal element 40 functions as a reflective liquid crystal element.

また、可視光を反射する導電層23bには、発光素子60、第1の領域11a、及び第2の領域11bと重なる領域において、開口部が設けられている。発光素子60から射出された光は、当該開口部、及び可視光を透過する導電層23a等を介して、基板31側に射出される。   The conductive layer 23b that reflects visible light is provided with an opening in a region overlapping the light emitting element 60, the first region 11a, and the second region 11b. Light emitted from the light emitting element 60 is emitted toward the substrate 31 through the opening, the conductive layer 23a that transmits visible light, and the like.

第2の領域11bの構成について説明する。上述した導電層23bの開口部を覆って絶縁層91が設けられている。また当該開口部と重なる位置に、絶縁層92、絶縁層93、及び絶縁層94に開口部が形成され、当該開口部における側面を覆って絶縁層95が設けられている。また、絶縁層96には、絶縁層92、絶縁層93、及び絶縁層94の開口部と重なる位置に、開口部が設けられている。さらに、絶縁層96の開口部の側面、及び絶縁層95の側面に沿って、光反射層15bが設けられている。そして、絶縁層96の開口部を埋めるように、絶縁層87が設けられている。   The configuration of the second region 11b will be described. An insulating layer 91 is provided to cover the opening of the conductive layer 23b described above. In addition, an opening is formed in the insulating layer 92, the insulating layer 93, and the insulating layer 94 at a position overlapping with the opening, and an insulating layer 95 is provided to cover the side surface of the opening. The insulating layer 96 is provided with openings at positions overlapping the openings of the insulating layer 92, the insulating layer 93, and the insulating layer 94. Further, a light reflecting layer 15 b is provided along the side surface of the opening of the insulating layer 96 and the side surface of the insulating layer 95. An insulating layer 87 is provided so as to fill the opening of the insulating layer 96.

第2の領域11bは、受光部12b、集光部13b、及び光射出部14bを有する。第2の領域11bの好ましい形状や、構成については、上記の説明を援用できる。   The second region 11b includes a light receiving unit 12b, a light collecting unit 13b, and a light emitting unit 14b. The above description can be used for the preferable shape and configuration of the second region 11b.

第1の領域11aと第2の領域11bとの間には、着色層54が設けられている。着色層54は、絶縁層97の基板21側の面に設けられている。   A colored layer 54 is provided between the first region 11a and the second region 11b. The colored layer 54 is provided on the surface of the insulating layer 97 on the substrate 21 side.

図5に示す表示装置は、発光素子60と電気的に接続するトランジスタ70aと、液晶素子40と電気的に接続するトランジスタ70bを有するため、液晶素子40と発光素子60をそれぞれ独立に制御することが可能である。   Since the display device illustrated in FIG. 5 includes the transistor 70a electrically connected to the light emitting element 60 and the transistor 70b electrically connected to the liquid crystal element 40, the liquid crystal element 40 and the light emitting element 60 are controlled independently. Is possible.

図5では、液晶素子40と基板31との間に着色層を有さない構成としたが、図6に示すように、着色層54aを有する構成としてもよい。またこのとき、着色層54aと導電層25との間に、平坦化層として機能する絶縁層98を有することが好ましい。またこのとき、着色層54を有さない構成としてもよく、その場合には第1の領域11aと第2の領域11bの間の距離を縮小することが可能となる。   In FIG. 5, the color layer is not provided between the liquid crystal element 40 and the substrate 31. However, as shown in FIG. 6, the color layer 54 a may be provided. At this time, an insulating layer 98 functioning as a planarization layer is preferably provided between the colored layer 54 a and the conductive layer 25. At this time, the colored layer 54 may not be provided, and in that case, the distance between the first region 11a and the second region 11b can be reduced.

[作製方法例]
以下では、本発明の一態様の表示装置の作製方法の一例について、図面を参照して説明する。ここでは、上記断面構成例2−2及び図5で例示した表示装置の作製方法について説明する。
[Example of production method]
Hereinafter, an example of a method for manufacturing a display device of one embodiment of the present invention will be described with reference to drawings. Here, a method for manufacturing the display device illustrated in the cross-sectional configuration example 2-2 and FIG. 5 will be described.

図7〜13に示す各図は、以下で説明する作製方法に係る、工程の各段階における断面概略図である。   Each of the drawings shown in FIGS. 7 to 13 is a schematic cross-sectional view at each stage of the process according to the manufacturing method described below.

なお、表示装置を構成する薄膜(絶縁膜、半導体膜、導電膜等)は、スパッタリング法、化学気相堆積(CVD:Chemical Vapor Deposition)法、真空蒸着法、パルスレーザー堆積(PLD:Pulse Laser Deposition)法、原子層成膜(ALD:Atomic Layer Deposition)法等を用いて形成することができる。CVD法としては、プラズマ化学気相堆積(PECVD)法や、熱CVD法でもよい。熱CVD法の例として、有機金属化学気相堆積(MOCVD:Metal Organic CVD)法を使ってもよい。   Note that a thin film (an insulating film, a semiconductor film, a conductive film, or the like) included in the display device can be formed using a sputtering method, a chemical vapor deposition (CVD) method, a vacuum evaporation method, or a pulse laser deposition (PLD: Pulse Laser Deposition). ) Method, atomic layer deposition (ALD: Atomic Layer Deposition) method, or the like. The CVD method may be a plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD) method or a thermal CVD method. As an example of the thermal CVD method, a metal organic chemical vapor deposition (MOCVD) method may be used.

また、表示装置を構成する薄膜(絶縁膜、半導体膜、導電膜等)は、スピンコート、ディップ、スプレー塗布、インクジェット、ディスペンス、スクリーン印刷、オフセット印刷、ドクターナイフ、スリットコート、ロールコート、カーテンコート、ナイフコート等の方法により形成することができる。   Thin films (insulating films, semiconductor films, conductive films, etc.) that constitute display devices are spin coat, dip, spray coating, ink jet, dispense, screen printing, offset printing, doctor knife, slit coat, roll coat, curtain coat. It can be formed by a method such as knife coating.

また、表示装置を構成する薄膜を加工する際には、フォトリソグラフィ法等を用いて加工することができる。または、遮蔽マスクを用いた成膜方法により、島状の薄膜を形成してもよい。または、ナノインプリント法、サンドブラスト法、リフトオフ法などにより薄膜を加工してもよい。   Further, when a thin film included in the display device is processed, the thin film can be processed using a photolithography method or the like. Alternatively, an island-shaped thin film may be formed by a film formation method using a shielding mask. Alternatively, the thin film may be processed by a nanoimprint method, a sand blast method, a lift-off method, or the like.

フォトリソグラフィ法としては、加工したい薄膜上にレジストマスクを形成して、エッチング等により当該薄膜を加工し、レジストマスクを除去する方法と、感光性を有する薄膜を成膜した後に、露光、現像を行って、当該薄膜を所望の形状に加工する方法と、がある。   As a photolithography method, a resist mask is formed on a thin film to be processed, the thin film is processed by etching or the like, and the resist mask is removed. After forming a photosensitive thin film, exposure and development are performed. And a method for processing the thin film into a desired shape.

フォトリソグラフィ法において、露光に用いる光は、例えばi線(波長365nm)、g線(波長436nm)、h線(波長405nm)、またはこれらを混合させた光を用いることができる。そのほか、紫外線やKrFレーザ光、またはArFレーザ光等を用いることもできる。また、液浸露光技術により露光を行ってもよい。また、露光に用いる光として、極端紫外光(EUV:Extreme Ultra−violet)やX線を用いてもよい。また、露光に用いる光に換えて、電子ビームを用いることもできる。極端紫外光、X線または電子ビームを用いると、極めて微細な加工が可能となるため好ましい。なお、電子ビームなどのビームを走査することにより露光を行う場合には、フォトマスクは不要である。   In photolithography, light used for exposure can be, for example, i-line (wavelength 365 nm), g-line (wavelength 436 nm), h-line (wavelength 405 nm), or light obtained by mixing these. In addition, ultraviolet light, KrF laser light, ArF laser light, or the like can be used. Further, exposure may be performed by an immersion exposure technique. Further, extreme ultraviolet light (EUV: Extreme Ultra-violet) or X-rays may be used as light used for exposure. Further, an electron beam can be used instead of the light used for exposure. It is preferable to use extreme ultraviolet light, X-rays, or an electron beam because extremely fine processing is possible. Note that a photomask is not necessary when exposure is performed by scanning a beam such as an electron beam.

薄膜のエッチングには、ドライエッチング法、ウェットエッチング法、サンドブラスト法などを用いることができる。   For etching the thin film, a dry etching method, a wet etching method, a sand blasting method, or the like can be used.

〔剥離層43a、絶縁層81の形成〕
まず、支持基板44a上に、剥離層43aと絶縁層81を形成する(図7(A))。
[Formation of Release Layer 43a and Insulating Layer 81]
First, the separation layer 43a and the insulating layer 81 are formed over the supporting substrate 44a (FIG. 7A).

支持基板44aとしては、装置内または装置間における搬送が容易な程度に剛性を有する基板を用いることができる。また、作製工程にかかる熱に対して耐熱性を有する基板を用いる。例えば、厚さ0.3mm以上1mm以下のガラス基板を用いることができる。   As the support substrate 44a, a substrate that is rigid to such an extent that it can be easily transferred within the apparatus or between apparatuses can be used. In addition, a substrate having heat resistance to heat applied in the manufacturing process is used. For example, a glass substrate having a thickness of 0.3 mm to 1 mm can be used.

剥離層43a及び絶縁層81に用いる材料としては、剥離層43aと絶縁層81の界面、または剥離層43a中で剥離が生じるような材料を選択することができる。   As a material used for the peeling layer 43a and the insulating layer 81, a material that causes peeling in the interface between the peeling layer 43a and the insulating layer 81 or in the peeling layer 43a can be selected.

例えば、剥離層43aとしてタングステンなどの高融点金属材料を含む層と、当該金属材料の酸化物を含む層を積層して用い、絶縁層82として、窒化シリコン、酸化シリコン、酸化窒化シリコン、窒化酸化シリコンなどの無機絶縁材料の層を積層して用いることができる。なお、本明細書中において、酸化窒化物は、その組成として、窒素よりも酸素の含有量が多い材料を指し、窒化酸化物は、その組成として、酸素よりも窒素の含有量が多い材料を指す。剥離層43aに高融点金属材料を用いると、その後の工程において、高い温度での処理が可能となるため、材料や形成方法の選択の自由度が高まるため好ましい。   For example, a layer containing a refractory metal material such as tungsten and a layer containing an oxide of the metal material are stacked as the separation layer 43a, and silicon nitride, silicon oxide, silicon oxynitride, or oxynitride is used as the insulating layer 82 A layer of an inorganic insulating material such as silicon can be stacked. Note that in this specification, oxynitride refers to a material having a higher oxygen content than nitrogen as its composition, and nitride oxide refers to a material having a higher nitrogen content than oxygen as its composition. Point to. It is preferable to use a refractory metal material for the peeling layer 43a because processing at a high temperature is possible in the subsequent steps, and the degree of freedom in selecting a material and a formation method is increased.

剥離層43aとして、タングステンと酸化タングステンの積層構造を用いた場合では、タングステンと酸化タングステンの界面、酸化タングステン中、または酸化タングステンと絶縁層82の界面で剥離することができる。   In the case where a stacked layer structure of tungsten and tungsten oxide is used as the separation layer 43a, separation can be performed at the interface between tungsten and tungsten oxide, in tungsten oxide, or at the interface between tungsten oxide and the insulating layer 82.

または剥離層43aとして、有機樹脂を用い、支持基板44aと剥離層43aとの界面、または剥離層43a中、または剥離層43aと絶縁層81の界面で剥離する構成としてもよい。   Alternatively, an organic resin may be used as the peeling layer 43a, and peeling may be performed at the interface between the support substrate 44a and the peeling layer 43a, or in the peeling layer 43a, or at the interface between the peeling layer 43a and the insulating layer 81.

剥離層43aとしては、代表的にはポリイミド樹脂を用いることができる。ポリイミド樹脂は、耐熱性に優れるため好ましい。なお、剥離層43aとしては、このほかにアクリル樹脂、エポキシ樹脂、ポリアミド樹脂、ポリイミドアミド樹脂、シロキサン樹脂、ベンゾシクロブテン系樹脂、フェノール樹脂等を用いることができる。   As the release layer 43a, a polyimide resin can be typically used. A polyimide resin is preferable because of its excellent heat resistance. In addition, as the peeling layer 43a, acrylic resin, epoxy resin, polyamide resin, polyimide amide resin, siloxane resin, benzocyclobutene resin, phenol resin, or the like can be used.

有機樹脂を含む剥離層43aは、まずスピンコート、ディップ、スプレー塗布、インクジェット、ディスペンス、スクリーン印刷、オフセット印刷、ドクターナイフ、スリットコート、ロールコート、カーテンコート、ナイフコート等の方法により、樹脂前駆体と溶媒の混合材料を支持基板44a上に形成する。その後、加熱処理を行うことにより、溶媒等が除去しつつ、材料を硬化させ、有機樹脂を含む剥離層43aを形成することができる。   The release layer 43a containing an organic resin is first a resin precursor by a method such as spin coating, dip, spray coating, ink jet, dispensing, screen printing, offset printing, doctor knife, slit coating, roll coating, curtain coating, knife coating, etc. A mixed material of the solvent and the solvent is formed on the support substrate 44a. Then, by performing heat treatment, the material can be cured while removing the solvent and the like, and the release layer 43a containing an organic resin can be formed.

例えば、剥離層43aにポリイミドを用いる場合には、脱水によりイミド結合が生じる樹脂前駆体を用いることができる。または、可溶性のポリイミド樹脂を含む材料を用いてもよい。   For example, when polyimide is used for the release layer 43a, a resin precursor in which an imide bond is generated by dehydration can be used. Alternatively, a material containing a soluble polyimide resin may be used.

剥離層43aに有機樹脂を用いる場合、感光性、または非感光性のいずれの樹脂を用いてもよい。感光性のポリイミドは、表示パネルの平坦化膜等に好適に用いられる材料であるため、形成装置や材料を共有することができる。そのため本発明の一態様の構成を実現するために新たな装置や材料を必要としない。また、感光性の樹脂材料を用いることにより、露光及び現像処理を施すことで、剥離層43aを加工することが可能となる。例えば、開口部を形成することや、不要な部分を除去することができる。さらに露光方法や露光条件を最適化することで、表面に凹凸形状を形成することも可能となる。例えばハーフトーンマスクやグレートーンマスクを用いた露光技術や、多重露光技術などを用いればよい。   When an organic resin is used for the release layer 43a, either a photosensitive or non-photosensitive resin may be used. Since photosensitive polyimide is a material that is suitably used for a planarization film or the like of a display panel, a forming apparatus and a material can be shared. Therefore, no new device or material is required to realize the structure of one embodiment of the present invention. In addition, by using a photosensitive resin material, the release layer 43a can be processed by performing exposure and development processing. For example, an opening can be formed or an unnecessary portion can be removed. Further, by optimizing the exposure method and exposure conditions, it is possible to form a concavo-convex shape on the surface. For example, an exposure technique using a halftone mask or a gray tone mask, a multiple exposure technique, or the like may be used.

剥離層43aに有機樹脂を用いた場合、剥離層43aを局所的に加熱することにより、剥離性を向上させることができる場合がある。例えば、加熱方法としてレーザ光を照射することが挙げられる。このとき、レーザ光に線状のレーザを用い、これを走査することにより、レーザ光を照射することが好ましい。これにより、支持基板の面積を大きくした際の工程時間を短縮することができる。レーザ光としては、波長308nmのエキシマレーザを好適に用いることができる。   When an organic resin is used for the peeling layer 43a, the peeling property may be improved by locally heating the peeling layer 43a. For example, irradiation with laser light can be given as a heating method. At this time, it is preferable to irradiate the laser beam by using a linear laser as the laser beam and scanning it. Thereby, the process time at the time of enlarging the area of a support substrate can be shortened. As the laser light, an excimer laser having a wavelength of 308 nm can be suitably used.

または、剥離層43aに接して、酸素、水素、または水などを含む層を設け、加熱処理により剥離層43a中、または剥離層43aと当該層との界面に酸素、水素、または水などを供給することにより、剥離性を向上させてもよい。これにより、レーザ装置等を用いる必要が無いため、より低コストで表示装置を作製することができる。   Alternatively, a layer containing oxygen, hydrogen, water, or the like is provided in contact with the separation layer 43a, and oxygen, hydrogen, water, or the like is supplied into the separation layer 43a or the interface between the separation layer 43a and the layer by heat treatment. By doing so, the peelability may be improved. Accordingly, since it is not necessary to use a laser device or the like, a display device can be manufactured at a lower cost.

また、剥離後に、発光素子60や液晶素子40の光の経路上に剥離層43aが残存する場合がある。剥離層43aが可視光の一部を吸収する場合には、剥離層43aを透過した光が着色してしまう場合があるため、剥離を行った後に、これを除去することが好ましい。例えば、酸素を含む雰囲気下におけるプラズマ処理(アッシング処理ともいう)等で、残存した剥離層43aを除去することができる。   In addition, the peeling layer 43 a may remain on the light path of the light emitting element 60 or the liquid crystal element 40 after peeling. When the peeling layer 43a absorbs part of visible light, the light transmitted through the peeling layer 43a may be colored. Therefore, it is preferable to remove this after peeling. For example, the remaining peeling layer 43a can be removed by plasma treatment (also referred to as ashing treatment) in an atmosphere containing oxygen.

〔トランジスタ70aの形成〕
続いて、絶縁層81上に導電層71を形成する。導電層71は、導電膜を成膜した後、レジストマスクを形成し、当該導電膜をエッチングした後にレジストマスクを除去することにより形成できる。
[Formation of Transistor 70a]
Subsequently, a conductive layer 71 is formed over the insulating layer 81. The conductive layer 71 can be formed by forming a conductive film, forming a resist mask, etching the conductive film, and then removing the resist mask.

続いて、絶縁層81及び導電層71を覆って絶縁層82を形成する。   Subsequently, an insulating layer 82 is formed so as to cover the insulating layer 81 and the conductive layer 71.

続いて、半導体層72を形成する。半導体層72は、半導体膜を成膜した後、レジストマスクを形成し、当該半導体膜をエッチングした後にレジストマスクを除去することにより形成できる。   Subsequently, the semiconductor layer 72 is formed. The semiconductor layer 72 can be formed by forming a semiconductor film, forming a resist mask, etching the semiconductor film, and then removing the resist mask.

続いて、導電層73a及び導電層73bを形成する。導電層73a及び導電層73bは、導電層71と同様の方法により形成できる。   Subsequently, a conductive layer 73a and a conductive layer 73b are formed. The conductive layer 73 a and the conductive layer 73 b can be formed by a method similar to that of the conductive layer 71.

続いて、絶縁層82、導電層73a、導電層73b、及び半導体層72を覆って絶縁層83を形成する。   Subsequently, an insulating layer 83 is formed so as to cover the insulating layer 82, the conductive layer 73 a, the conductive layer 73 b, and the semiconductor layer 72.

続いて、絶縁層83上に半導体層72と重なる導電層74を形成する。導電層74は、導電層71と同様の方法により形成できる。   Subsequently, a conductive layer 74 that overlaps with the semiconductor layer 72 is formed over the insulating layer 83. The conductive layer 74 can be formed by a method similar to that of the conductive layer 71.

以上の工程により、トランジスタ70aを形成することができる(図7(B))。   Through the above steps, the transistor 70a can be formed (FIG. 7B).

〔開口部の形成〕
続いて、絶縁層83及び絶縁層82に開口部を形成する。開口部は、絶縁層83上にレジストマスクを形成し、絶縁層83及び絶縁層82を順にエッチングすることにより形成できる。このとき、絶縁層81がエッチングにより消失しない条件でエッチングを行うことが好ましい。なお、後に形成する絶縁層84と剥離層43aとの間で剥離が可能な場合や、剥離層43aと支持基板44aとの間で剥離を行う場合には、絶縁層81もエッチングにより除去してもよい。
(Formation of opening)
Subsequently, openings are formed in the insulating layer 83 and the insulating layer 82. The opening can be formed by forming a resist mask over the insulating layer 83 and sequentially etching the insulating layer 83 and the insulating layer 82. At this time, it is preferable to perform the etching under a condition that the insulating layer 81 is not lost by the etching. Note that when the insulating layer 84 to be formed later and the separation layer 43a can be separated, or when separation is performed between the separation layer 43a and the support substrate 44a, the insulating layer 81 is also removed by etching. Also good.

〔絶縁層84の形成〕
続いて、トランジスタ70aを覆う絶縁層84を形成する(図7(C))。絶縁層84は、上記絶縁層83及び絶縁層82の開口部における側面を覆って設ける。
[Formation of Insulating Layer 84]
Subsequently, an insulating layer 84 is formed to cover the transistor 70a (FIG. 7C). The insulating layer 84 is provided to cover the side surfaces in the openings of the insulating layer 83 and the insulating layer 82.

絶縁層84には、水や水素などが拡散しにくい材料を用いることが好ましい。例えば、絶縁層84として、無機絶縁膜を用いることができる。絶縁層84として、窒化シリコン、酸化シリコン、酸化窒化シリコン、窒化酸化シリコン、酸化アルミニウム、窒化アルミニウム、酸化窒化アルミニウム、または窒化酸化アルミニウムなどの無機絶縁材料の層を、単層で、または積層して用いることができる。これにより、絶縁層84はトランジスタ70aの保護層として機能する。   For the insulating layer 84, it is preferable to use a material in which water, hydrogen, and the like are difficult to diffuse. For example, an inorganic insulating film can be used as the insulating layer 84. As the insulating layer 84, a layer of an inorganic insulating material such as silicon nitride, silicon oxide, silicon oxynitride, silicon nitride oxide, aluminum oxide, aluminum nitride, aluminum oxynitride, or aluminum nitride oxide is formed as a single layer or a stacked layer. Can be used. Thus, the insulating layer 84 functions as a protective layer for the transistor 70a.

なお、図7(C)に示すように、絶縁層82及び絶縁層83の開口部における側面がテーパ形状を有するように、絶縁層82及び絶縁層83が加工されていることが好ましい。これにより、絶縁層82及び絶縁層83の側面を覆う絶縁層84の一部を、図7(C)に示すように傾斜させることができる。   Note that as illustrated in FIG. 7C, the insulating layer 82 and the insulating layer 83 are preferably processed so that side surfaces of the opening portions of the insulating layer 82 and the insulating layer 83 have a tapered shape. Thus, part of the insulating layer 84 covering the side surfaces of the insulating layer 82 and the insulating layer 83 can be inclined as shown in FIG.

〔絶縁層85、光反射層15aの形成〕
続いて、絶縁層84を覆って、開口部を有する絶縁層85を形成する。絶縁層85に感光性の材料を用いることで、フォトリソグラフィ法等により開口部を形成することができる。なお絶縁層85として、絶縁膜を成膜した後に、レジストマスクを用いて当該絶縁膜の一部をエッチングして開口部を形成してもよい。絶縁層85に有機絶縁材料を用いると、その上面の平坦性を高めることができるため好ましい。
[Formation of Insulating Layer 85 and Light Reflecting Layer 15a]
Subsequently, an insulating layer 85 having an opening is formed so as to cover the insulating layer 84. By using a photosensitive material for the insulating layer 85, the opening can be formed by a photolithography method or the like. Note that after the insulating film is formed as the insulating layer 85, an opening may be formed by etching part of the insulating film using a resist mask. It is preferable to use an organic insulating material for the insulating layer 85 because the flatness of the upper surface can be improved.

このように、トランジスタ70aを覆う絶縁層として、無機絶縁材料を含む絶縁層84と、有機絶縁材料を含む絶縁層85の積層構造を有する構成とすることで、バリア性と平坦性を両立できるため好ましい。   As described above, since the insulating layer covering the transistor 70a has a stacked structure of the insulating layer 84 including an inorganic insulating material and the insulating layer 85 including an organic insulating material, both barrier properties and flatness can be achieved. preferable.

また、絶縁層85に有機絶縁材料を用いることで、絶縁層84の開口部近傍の形状を、なだらかな曲面形状にすることが容易となる。   In addition, by using an organic insulating material for the insulating layer 85, the shape in the vicinity of the opening of the insulating layer 84 can be easily changed to a gently curved shape.

続いて、光反射層15aを形成する(図7(D))。光反射層15aは、光反射性の膜を成膜した後、レジストマスクを形成し、当該光反射性の膜をエッチングした後にレジストマスクを除去することにより形成できる。   Subsequently, the light reflection layer 15a is formed (FIG. 7D). The light reflecting layer 15a can be formed by forming a light reflective film, forming a resist mask, etching the light reflective film, and then removing the resist mask.

光反射層15aに用いる光反射性の膜としては、例えば金属膜または合金膜を用いることができる。   As the light reflecting film used for the light reflecting layer 15a, for example, a metal film or an alloy film can be used.

〔絶縁層86の形成〕
続いて、絶縁層85、光反射層15aを覆って絶縁層86を形成する(図7(E))。絶縁層86は、絶縁層82、絶縁層83、及び絶縁層85に形成された開口部と重なる部分において、凹部を埋めるように形成する。絶縁層86として、有機絶縁材料を用いると、凹部の埋め込み性と、表面の平坦性を高めることができるため好ましい。
[Formation of Insulating Layer 86]
Subsequently, an insulating layer 86 is formed so as to cover the insulating layer 85 and the light reflecting layer 15a (FIG. 7E). The insulating layer 86 is formed so as to fill the concave portion in a portion overlapping with the opening formed in the insulating layer 82, the insulating layer 83, and the insulating layer 85. It is preferable to use an organic insulating material as the insulating layer 86 because the embedding property of the recess and the flatness of the surface can be improved.

絶縁層86を形成することにより、第1の領域11aが形成される。   By forming the insulating layer 86, the first region 11a is formed.

〔導電層61、絶縁層87の形成〕
続いて、絶縁層86、絶縁層85、絶縁層84、及び絶縁層83に、導電層73b等に達する開口を形成する。
[Formation of Conductive Layer 61 and Insulating Layer 87]
Subsequently, an opening reaching the conductive layer 73b and the like is formed in the insulating layer 86, the insulating layer 85, the insulating layer 84, and the insulating layer 83.

続いて、絶縁層86上に導電層73bと電気的に接続する導電層61を形成する。導電層61は、導電層71等と同様の方法により形成できる。   Subsequently, a conductive layer 61 that is electrically connected to the conductive layer 73 b is formed over the insulating layer 86. The conductive layer 61 can be formed by a method similar to that of the conductive layer 71 and the like.

続いて、導電層61の端部を覆う絶縁層87を形成する(図8(A))。絶縁層87は、絶縁層85等と同様の方法により形成できる。   Subsequently, an insulating layer 87 covering the end portion of the conductive layer 61 is formed (FIG. 8A). The insulating layer 87 can be formed by a method similar to that for the insulating layer 85 or the like.

〔発光素子60の形成〕
続いて、導電層61の上面が露出した部分、及び絶縁層87上に、EL層62、導電層63を積層して形成する。これにより、発光素子60が形成される。
[Formation of Light-Emitting Element 60]
Subsequently, an EL layer 62 and a conductive layer 63 are stacked over the portion where the upper surface of the conductive layer 61 is exposed and the insulating layer 87. Thereby, the light emitting element 60 is formed.

EL層62は、代表的には蒸着法により形成できる。EL層62のうち、少なくとも一つの層を、画素間で作り分ける場合には、メタルマスクなどの遮蔽マスクを用いた蒸着法を用いて形成することができる。また、EL層62は、インクジェット法等を用いて形成してもよい。   The EL layer 62 can be typically formed by an evaporation method. In the case where at least one layer of the EL layer 62 is separately formed between pixels, the EL layer 62 can be formed by an evaporation method using a shielding mask such as a metal mask. Further, the EL layer 62 may be formed using an inkjet method or the like.

〔絶縁層64の形成〕
続いて、導電層63上に絶縁層64を形成することが好ましい。絶縁層64は、スパッタリング法やALD法などの、形成温度を低くしても緻密な膜を形成できる成膜方法を用いることが好ましい。また、無機絶縁材料を含む膜と、有機絶縁材料を含む膜の積層構造としてもよい。
[Formation of Insulating Layer 64]
Subsequently, the insulating layer 64 is preferably formed over the conductive layer 63. The insulating layer 64 is preferably formed by a film formation method such as a sputtering method or an ALD method that can form a dense film even when the formation temperature is lowered. Alternatively, a stacked structure of a film including an inorganic insulating material and a film including an organic insulating material may be employed.

例えば、導電層63上にスパッタリング法により絶縁膜を成膜し、この上にALD法によりさらに絶縁膜を成膜することで、積層構造を有する絶縁層64とすることが好ましい。スパッタリング法は、成膜速度を高めることが容易であるため、十分なバリア性能が得られる程度に厚い絶縁膜を形成するのに適している。さらに、ALD法は、極めて段差被覆性が高い成膜方法であるため、スパッタリング法により形成した絶縁膜のピンホールや欠陥を埋めることができる。このような方法により、極めてバリア性に優れた絶縁層64を形成することができる。   For example, it is preferable to form the insulating layer 64 having a stacked structure by forming an insulating film on the conductive layer 63 by a sputtering method and further forming an insulating film thereon by an ALD method. The sputtering method is easy to increase the deposition rate, and is suitable for forming an insulating film that is thick enough to obtain sufficient barrier performance. Furthermore, since the ALD method is a film formation method with extremely high step coverage, pinholes and defects in the insulating film formed by the sputtering method can be filled. By such a method, the insulating layer 64 having an extremely excellent barrier property can be formed.

〔基板21の貼り合せ〕
続いて、絶縁層64と基板21とを、接着層89を用いて貼り合せる(図8(C))。接着層89としては、硬化性の樹脂等を用いることができる。
[Lamination of substrate 21]
Subsequently, the insulating layer 64 and the substrate 21 are bonded using the adhesive layer 89 (FIG. 8C). As the adhesive layer 89, a curable resin or the like can be used.

〔支持基板44aの剥離〕
続いて、絶縁層81と剥離層43aとの間で剥離することにより、支持基板44a及び剥離層43aを除去する(図9(A))。
[Peeling of support substrate 44a]
Subsequently, the supporting substrate 44a and the peeling layer 43a are removed by peeling between the insulating layer 81 and the peeling layer 43a (FIG. 9A).

絶縁層81と支持基板44aとを剥離する方法としては、機械的な力を加えることや、剥離層をエッチングすること、または支持基板44aの端部に液体を滴下する、または支持基板44aを液体に含浸させるなどし、剥離界面に液体を浸透させることなどが、一例として挙げられる。または、剥離界面を形成する2層の熱膨張率の違いを利用し、支持基板44aを加熱または冷却することにより剥離を行ってもよい。   As a method for separating the insulating layer 81 and the support substrate 44a, mechanical force is applied, the release layer is etched, a liquid is dropped on the end of the support substrate 44a, or the support substrate 44a is liquidized. For example, it is impregnated with a liquid, and a liquid is allowed to permeate the peeling interface. Alternatively, peeling may be performed by heating or cooling the support substrate 44a using a difference in thermal expansion coefficient between the two layers forming the peeling interface.

また、剥離を行う前に、剥離界面の一部を露出させる処理を行ってもよい。例えばレーザや鋭利な部材などにより、剥離層43a上の絶縁層81の一部を除去する。これにより、絶縁層81が除去された部分を出発点(起点)として、剥離を進行させることができる。   Moreover, you may perform the process which exposes a part of peeling interface before peeling. For example, a part of the insulating layer 81 on the peeling layer 43a is removed by a laser or a sharp member. Thereby, peeling can be advanced from the part from which the insulating layer 81 is removed as a starting point (starting point).

また、上述したように、剥離層43aにレーザ光を照射することで、剥離性を高めてもよい。または、剥離層43aの形成後から、剥離工程まで間の工程で、加熱処理を行うことで、剥離性を向上させてもよい。   Further, as described above, the peelability may be improved by irradiating the release layer 43a with laser light. Alternatively, the peelability may be improved by performing heat treatment in the process from the formation of the release layer 43a to the release process.

剥離を終えた後、絶縁層81の表面に剥離層43aの一部が残存している場合がある。その場合、残存した剥離層43aを洗浄、エッチング、プラズマ処理、または拭き取りなどを行うことにより除去してもよい。また、残存した剥離層43aが表示装置10の動作や、表示品位に影響のない場合には、除去しなくてもよい。その場合には、絶縁層81と後述する接着層99との間に、剥離層43aに含まれる元素を含む層が残存する。   After the separation, a part of the separation layer 43a may remain on the surface of the insulating layer 81. In that case, the remaining peeling layer 43a may be removed by cleaning, etching, plasma treatment, wiping, or the like. Further, when the remaining peeling layer 43a does not affect the operation of the display device 10 or the display quality, it may not be removed. In that case, a layer containing an element contained in the peeling layer 43a remains between the insulating layer 81 and an adhesive layer 99 described later.

この段階における断面概略図が、図9(B)に相当する。   A schematic cross-sectional view at this stage corresponds to FIG.

〔剥離層43b、絶縁層45の形成〕
支持基板44b上に、剥離層43bと、絶縁層45を積層して形成する。
[Formation of Release Layer 43b and Insulating Layer 45]
A peeling layer 43b and an insulating layer 45 are stacked over the supporting substrate 44b.

支持基板44bは、上記支持基板44aと同様の基板を用いることができる。また、剥離層43b及び絶縁層45は、上記剥離層43aまたは絶縁層81と同様の方法により形成することができる。   As the support substrate 44b, a substrate similar to the support substrate 44a can be used. The peeling layer 43b and the insulating layer 45 can be formed by a method similar to that of the peeling layer 43a or the insulating layer 81.

〔導電層23a及び導電層23bの形成〕
続いて、絶縁層45上に導電層23aを形成する。導電層23aとしては、酸化物導電性材料を用いることが好ましい。導電層23aとして酸化物導電性材料を用いることで、後述する第2の領域11bと重なる領域に導電層23aが位置していても、光を透過させることができる。導電層23aとしては、例えば金属酸化物や、低抵抗化された酸化物半導体材料を用いることができる。
[Formation of Conductive Layer 23a and Conductive Layer 23b]
Subsequently, a conductive layer 23 a is formed on the insulating layer 45. As the conductive layer 23a, an oxide conductive material is preferably used. By using an oxide conductive material for the conductive layer 23a, light can be transmitted even if the conductive layer 23a is located in a region overlapping with a second region 11b described later. As the conductive layer 23a, for example, a metal oxide or a low-resistance oxide semiconductor material can be used.

導電層23aに酸化物半導体材料を用いる場合には、プラズマ処理や熱処理等により、酸化物半導体材料中に酸素欠損を生じさせることによりキャリア密度を高めてもよい。また酸化物半導体材料中に、水素や窒素の他、アルゴンなどの希ガス等の不純物を導入することによりキャリア密度を高めてもよい。また導電層23a上に形成する導電層23bとして、酸素が拡散しやすい材料を用いることで、酸化物半導体中の酸素を低減させてもよい。なお、上述した方法を二以上適用してもよい。   In the case where an oxide semiconductor material is used for the conductive layer 23a, the carrier density may be increased by causing oxygen vacancies in the oxide semiconductor material by plasma treatment, heat treatment, or the like. The carrier density may be increased by introducing impurities such as rare gas such as argon in addition to hydrogen and nitrogen into the oxide semiconductor material. Alternatively, as the conductive layer 23b formed over the conductive layer 23a, oxygen in the oxide semiconductor may be reduced by using a material in which oxygen is easily diffused. Two or more methods described above may be applied.

続いて、導電層23a上に開口部を有する導電層23bを形成する(図10(A))。導電層23bとしては、金属、または合金材料含む単層構造、または積層構造を用いることができる。導電層23bとして積層構造を用いる場合には、導電層23aと接する層に、それ以外の層よりも反射率の高い材料を用いることが好ましい。   Subsequently, a conductive layer 23b having an opening is formed over the conductive layer 23a (FIG. 10A). As the conductive layer 23b, a single layer structure including a metal or an alloy material, or a stacked structure can be used. In the case of using a stacked structure as the conductive layer 23b, it is preferable to use a material having higher reflectance than the other layers for the layer in contact with the conductive layer 23a.

〔絶縁層91、絶縁層92の形成〕
続いて、導電層23a及び導電層23bを覆って絶縁層91及び絶縁層92を積層して形成する(図10(B))。絶縁層91及び絶縁層92には、それぞれ無機絶縁材料を用いることが好ましい。
[Formation of Insulating Layer 91 and Insulating Layer 92]
Subsequently, an insulating layer 91 and an insulating layer 92 are stacked to cover the conductive layer 23a and the conductive layer 23b (FIG. 10B). It is preferable to use an inorganic insulating material for each of the insulating layer 91 and the insulating layer 92.

なお、図10(B)等では、絶縁層92の上面が平坦であるように示したが、実際には下側に設けられる層の上面形状を反映した凹凸形状を有していてもよい。   Note that in FIG. 10B and the like, the top surface of the insulating layer 92 is shown to be flat, but actually, the insulating layer 92 may have a concavo-convex shape reflecting the top surface shape of the layer provided below.

〔接続部80の形成〕
続いて、絶縁層92及び絶縁層91に、導電層23bに達する開口部を形成する。
[Formation of connecting portion 80]
Subsequently, an opening reaching the conductive layer 23 b is formed in the insulating layer 92 and the insulating layer 91.

続いて、絶縁層92上に導電層71を形成する。このとき同時に、絶縁層92及び絶縁層91に設けられた開口部と重なる部分に、導電層23bと電気的に接続される導電層を形成する。これにより、接続部80を形成することができる(図10(C))。   Subsequently, a conductive layer 71 is formed over the insulating layer 92. At the same time, a conductive layer electrically connected to the conductive layer 23b is formed in the insulating layer 92 and a portion overlapping the opening provided in the insulating layer 91. Thus, the connection portion 80 can be formed (FIG. 10C).

〔トランジスタ70bの形成〕
続いて、絶縁層93、半導体層72、導電層73a、導電層73b、絶縁層94、及び導電層74を形成することにより、トランジスタ70bを形成する(図10(D))。
[Formation of Transistor 70b]
Subsequently, the transistor 70b is formed by forming the insulating layer 93, the semiconductor layer 72, the conductive layer 73a, the conductive layer 73b, the insulating layer 94, and the conductive layer 74 (FIG. 10D).

絶縁層93及び絶縁層94は、上記絶縁層82または絶縁層83と同様の方法により形成することができる。   The insulating layer 93 and the insulating layer 94 can be formed by a method similar to that for the insulating layer 82 or the insulating layer 83.

〔開口部の形成〕
続いて、絶縁層94、絶縁層93、及び絶縁層92に開口部を形成する。開口部は、絶縁層94上にレジストマスクを形成し、絶縁層94、絶縁層93及び絶縁層92を順にエッチングすることにより形成できる。このとき、絶縁層91がエッチングにより消失しない条件でエッチングを行うことが好ましい。
(Formation of opening)
Subsequently, openings are formed in the insulating layer 94, the insulating layer 93, and the insulating layer 92. The opening can be formed by forming a resist mask over the insulating layer 94 and sequentially etching the insulating layer 94, the insulating layer 93, and the insulating layer 92. At this time, it is preferable to perform the etching under the condition that the insulating layer 91 is not lost by the etching.

〔絶縁層95の形成〕
続いて、トランジスタ70bを覆う絶縁層95を形成する(図10(E))。絶縁層95は、絶縁層94、絶縁層93、及び絶縁層92の開口部における側面を覆って設ける。絶縁層95としては、上記絶縁層84と同様の方法により形成することができる。
[Formation of insulating layer 95]
Subsequently, an insulating layer 95 is formed to cover the transistor 70b (FIG. 10E). The insulating layer 95 is provided to cover the side surfaces of the insulating layer 94, the insulating layer 93, and the opening of the insulating layer 92. The insulating layer 95 can be formed by a method similar to that for the insulating layer 84.

〔絶縁層96、光反射層15bの形成〕
続いて、絶縁層95を覆って、開口部を有する絶縁層96を形成する。絶縁層96は、上記絶縁層85と同様の方法により形成することができる。
[Formation of Insulating Layer 96 and Light Reflecting Layer 15b]
Subsequently, an insulating layer 96 having an opening is formed so as to cover the insulating layer 95. The insulating layer 96 can be formed by a method similar to that of the insulating layer 85.

続いて、絶縁層96の開口部に位置する光反射層15bを形成する(図11(A))。光反射層15bは、上記光反射層15aと同様の方法により形成することができる。   Subsequently, a light reflecting layer 15b located in the opening of the insulating layer 96 is formed (FIG. 11A). The light reflecting layer 15b can be formed by the same method as the light reflecting layer 15a.

〔絶縁層97の形成〕
続いて、絶縁層96、光反射層15bを覆って絶縁層97を形成する。絶縁層97は、絶縁層92、絶縁層93、絶縁層94、及び絶縁層96に形成された開口部と重なる部分において、凹部を埋めるように形成する。絶縁層97は、絶縁層86と同様の方法により形成することができる。
[Formation of insulating layer 97]
Subsequently, an insulating layer 97 is formed to cover the insulating layer 96 and the light reflecting layer 15b. The insulating layer 97 is formed so as to fill a recess in a portion overlapping with the opening formed in the insulating layer 92, the insulating layer 93, the insulating layer 94, and the insulating layer 96. The insulating layer 97 can be formed by a method similar to that for the insulating layer 86.

絶縁層96を形成することにより、第2の領域11bが形成される。   By forming the insulating layer 96, the second region 11b is formed.

続いて、絶縁層96上に着色層54を形成する(図11(B))。着色層54は、絶縁層85等と同様の方法により形成できる。   Subsequently, a colored layer 54 is formed over the insulating layer 96 (FIG. 11B). The colored layer 54 can be formed by a method similar to that for the insulating layer 85 and the like.

〔支持基板44cの貼り合せ〕
続いて、接着層46aを用いて、支持基板44cと絶縁層97とを貼り合せる。支持基板44cは、上記支持基板44a等と同様の材料を用いることができる。また、接着層46aは、後に容易に剥がすことのできる材料を用いることが好ましい。たとえば、接着層46aとして粘着性の材料、両面テープ、シリコーンシート、または水溶性の接着剤などを用いることができる。
[Lamination of support substrate 44c]
Subsequently, the support substrate 44c and the insulating layer 97 are bonded using the adhesive layer 46a. The support substrate 44c can be made of the same material as the support substrate 44a. The adhesive layer 46a is preferably made of a material that can be easily peeled later. For example, an adhesive material, a double-sided tape, a silicone sheet, or a water-soluble adhesive can be used as the adhesive layer 46a.

〔支持基板44bの剥離〕
続いて、剥離層43bと絶縁層45との間で剥離し、支持基板44b及び剥離層43bを除去する(図11(C))。
[Peeling of support substrate 44b]
Subsequently, peeling is performed between the peeling layer 43b and the insulating layer 45, and the support substrate 44b and the peeling layer 43b are removed (FIG. 11C).

〔絶縁層45の除去〕
続いて、絶縁層45を除去する。絶縁層45は、例えばドライエッチング法またはウェットエッチング法により、除去することができる。絶縁層45を除去することで、導電層23bの表面が露出する。
[Removal of insulating layer 45]
Subsequently, the insulating layer 45 is removed. The insulating layer 45 can be removed by, for example, a dry etching method or a wet etching method. By removing the insulating layer 45, the surface of the conductive layer 23b is exposed.

なお、絶縁層45が透光性を有する場合には、これを除去しなくてもよい。その場合、絶縁層45が厚すぎると、液晶素子40の駆動電圧が上昇してしまう恐れがあるため、上記エッチング法により薄膜化してもよい。   Note that in the case where the insulating layer 45 has a light-transmitting property, it may not be removed. In that case, if the insulating layer 45 is too thick, the driving voltage of the liquid crystal element 40 may increase. Therefore, the insulating layer 45 may be thinned by the etching method.

〔配向膜26aの形成〕
続いて、導電層23a上に配向膜26aを形成する(図12(A))。配向膜26aは、薄膜を成膜した後に、ラビング処理を行うことによりすることができる。
[Formation of Alignment Film 26a]
Subsequently, an alignment film 26a is formed over the conductive layer 23a (FIG. 12A). The alignment film 26a can be formed by performing a rubbing process after forming a thin film.

なお、絶縁層45として有機樹脂を用いた場合には、これを除去せずにラビング処理することで、配向膜26aとしてもよい。または、剥離層43bに有機樹脂を用い、剥離層43bと支持基板44bとの間で剥離した場合には、剥離層43bを除去せずにラビング処理することで、配向膜26aとしてもよい。このとき、絶縁層45はあらかじめ薄く形成しておくか、絶縁層45を設けないことが好ましい。   When an organic resin is used as the insulating layer 45, the alignment film 26a may be formed by rubbing without removing it. Alternatively, when an organic resin is used for the peeling layer 43b and peeling is performed between the peeling layer 43b and the support substrate 44b, the alignment film 26a may be formed by rubbing without removing the peeling layer 43b. At this time, the insulating layer 45 is preferably formed thin in advance or the insulating layer 45 is not provided.

〔基板31の準備〕
続いて、あらかじめ基板31上に導電層25、及び配向膜26b等を形成した基板を準備する。導電層25及び配向膜26bは、それぞれ導電層23aまたは配向膜26aと同様の方法により形成すればよい。
[Preparation of substrate 31]
Subsequently, a substrate in which the conductive layer 25, the alignment film 26b, and the like are formed on the substrate 31 in advance is prepared. The conductive layer 25 and the alignment film 26b may be formed by the same method as the conductive layer 23a or the alignment film 26a, respectively.

〔支持基板44cと基板31の貼り合せ〕
続いて、支持基板44cと基板31のいずれか一方、または両方に、これらを接着する接着層(図示しない)を形成する。接着層は、画素が配置されている領域を囲むように形成する。接着層は、例えばスクリーン印刷法や、ディスペンス法等により形成することができる。接着層としては、熱硬化性樹脂や紫外線硬化樹脂等を用いることができる。また、紫外線により仮硬化した後に、熱を加えることにより硬化する樹脂などを用いてもよい。または、接着層として、紫外線硬化性と熱硬化性の両方を有する樹脂などを用いてもよい。
[Lamination of support substrate 44c and substrate 31]
Subsequently, an adhesive layer (not shown) is formed on one or both of the support substrate 44 c and the substrate 31. The adhesive layer is formed so as to surround a region where the pixels are arranged. The adhesive layer can be formed by, for example, a screen printing method or a dispensing method. As the adhesive layer, a thermosetting resin, an ultraviolet curable resin, or the like can be used. Alternatively, a resin that is cured by applying heat after being temporarily cured by ultraviolet rays may be used. Alternatively, as the adhesive layer, a resin having both ultraviolet curable properties and thermosetting properties may be used.

続いて、液晶24を含む組成物をディスペンス法等により接着層に囲まれた領域に滴下する。また、当該組成物にカイラル剤等が含まれていてもよい。   Subsequently, the composition containing the liquid crystal 24 is dropped onto a region surrounded by the adhesive layer by a dispensing method or the like. Further, the composition may contain a chiral agent or the like.

続いて、液晶24を挟むように支持基板44cと基板31とを貼り合せ、接着層を硬化する。貼り合せは、減圧雰囲気下で行うと支持基板44cと基板31の間に気泡等が混入することを防ぐことができるため好ましい。   Subsequently, the support substrate 44c and the substrate 31 are bonded so as to sandwich the liquid crystal 24, and the adhesive layer is cured. Bonding is preferably performed in a reduced-pressure atmosphere because air bubbles can be prevented from being mixed between the support substrate 44c and the substrate 31.

なお、液晶24を含む組成物は、支持基板44cと基板31を貼り合せた後に、減圧雰囲気下において、接着層に設けた隙間から注入する方法を用いてもよい。また、液晶24を含む組成物の滴下後に粒状のギャップスペーサを画素が配置されている領域や、当該領域の外側に配置してもよいし、当該ギャップスペーサを含む組成物を滴下してもよい。   Note that the composition containing the liquid crystal 24 may be injected from a gap provided in the adhesive layer in a reduced-pressure atmosphere after the support substrate 44c and the substrate 31 are bonded to each other. In addition, after the composition containing the liquid crystal 24 is dropped, a granular gap spacer may be arranged in the region where the pixels are arranged or outside the region, or the composition containing the gap spacer may be dropped. .

基板31と支持基板44cとを貼り合せることにより、液晶素子40が形成される。この段階における断面概略図が図12(B)に相当する。   The liquid crystal element 40 is formed by bonding the substrate 31 and the support substrate 44c. A schematic cross-sectional view at this stage corresponds to FIG.

〔支持基板44cの除去〕
続いて、接着層46aと支持基板44cを除去する。
[Removal of support substrate 44c]
Subsequently, the adhesive layer 46a and the support substrate 44c are removed.

この段階における断面概略図が、図12(C)に相当する。   A schematic cross-sectional view at this stage corresponds to FIG.

〔基板21と基板31の貼り合せ〕
最後に、図13に示すように、接着層99を挟んで基板21と基板31とを貼り合せた後、接着層99を硬化させる。
[Lamination of substrate 21 and substrate 31]
Finally, as shown in FIG. 13, after bonding the substrate 21 and the substrate 31 with the adhesive layer 99 interposed therebetween, the adhesive layer 99 is cured.

接着層99は、基板21と基板31のいずれか一方、または両方に塗布することで形成すればよい。例えば、スクリーン印刷法や、ディスペンス法等により形成することができる。または、接着層99として、例えば、シート状もしくはフィルム状の接着剤を用いてもよい。例えば、OCA(optical clear adhesive)フィルムを好適に用いることができる。   The adhesive layer 99 may be formed by applying to one or both of the substrate 21 and the substrate 31. For example, it can be formed by a screen printing method, a dispensing method, or the like. Alternatively, as the adhesive layer 99, for example, a sheet-like or film-like adhesive may be used. For example, an OCA (Optical Clear Adhesive) film can be suitably used.

以上の工程により、図5に示す表示装置を作製することができる。   Through the above steps, the display device illustrated in FIG. 5 can be manufactured.

[変形例]
以下では、上記断面構成例2と、一部の構成の異なる断面構成の一例について説明する。
[Modification]
Hereinafter, an example of a cross-sectional configuration different from the cross-sectional configuration example 2 described above and a part of the configuration will be described.

〔変形例1〕
図14(A)は、表示装置の接着層99と液晶24の間の部分を抜き出した断面構成を示している。図14(A)に示す構成は、図5で例示した構成と比較して、絶縁層96を有さない点で主に相違している。
[Modification 1]
FIG. 14A shows a cross-sectional configuration in which a portion between the adhesive layer 99 and the liquid crystal 24 of the display device is extracted. The structure illustrated in FIG. 14A is mainly different from the structure illustrated in FIG. 5 in that the insulating layer 96 is not provided.

図14(A)において、光反射層15bは、開口部に位置する絶縁層95の一部を覆って設けられている。このような構成とすることで、絶縁層96を省略できるため、作製コストを低減することができ、また厚さの薄い表示装置を実現できる。   In FIG. 14A, the light reflecting layer 15b is provided so as to cover a part of the insulating layer 95 located in the opening. With such a structure, since the insulating layer 96 can be omitted, manufacturing cost can be reduced and a thin display device can be realized.

〔変形例2〕
図14(B)に示す構成は、図5に示す構成と比較して、着色層54の位置が異なる点で主に相違している。
[Modification 2]
The structure illustrated in FIG. 14B is mainly different from the structure illustrated in FIG. 5 in that the position of the colored layer 54 is different.

着色層54は、絶縁層97と絶縁層95の間に位置している。さらに、着色層54は、絶縁層92、絶縁層93、絶縁層94、及び絶縁層96により形成された開口部を埋めるように形成されている。着色層54の一部は、光反射層15bと接して設けられている。   The colored layer 54 is located between the insulating layer 97 and the insulating layer 95. Furthermore, the colored layer 54 is formed so as to fill an opening formed by the insulating layer 92, the insulating layer 93, the insulating layer 94, and the insulating layer 96. A part of the colored layer 54 is provided in contact with the light reflecting layer 15b.

このような構成により、着色層54を絶縁層97の表面から突出して形成する必要がないため、厚さの薄い表示装置を実現できる。   With such a structure, it is not necessary to form the colored layer 54 so as to protrude from the surface of the insulating layer 97, so that a thin display device can be realized.

また、光反射層15bにより繰り返し反射する光は、着色層54の内部を透過するため、より色純度の高い光を射出することが可能となる。   Further, the light that is repeatedly reflected by the light reflecting layer 15b passes through the inside of the colored layer 54, so that it is possible to emit light with higher color purity.

〔変形例3〕
図14(C)に示す構成は、図5に示す構成と比較して、絶縁層96を有さない点、及び着色層54の位置が異なる点で、主に相違している。
[Modification 3]
The structure illustrated in FIG. 14C is mainly different from the structure illustrated in FIG. 5 in that the insulating layer 96 is not provided and the position of the coloring layer 54 is different.

図14(C)では、着色層54が絶縁層97と絶縁層95の間に位置している。さらに、着色層54は、絶縁層92、絶縁層93、及び絶縁層94により形成された開口部を埋めるように形成されている。着色層54の一部は、光反射層15bと接して設けられている。これにより、厚さの薄い表示装置を実現できる。   In FIG. 14C, the colored layer 54 is located between the insulating layer 97 and the insulating layer 95. Further, the colored layer 54 is formed so as to fill an opening formed by the insulating layer 92, the insulating layer 93, and the insulating layer 94. A part of the colored layer 54 is provided in contact with the light reflecting layer 15b. Thereby, a thin display device can be realized.

また、光反射層15bにより繰り返し反射する光は、着色層54の内部を透過するため、より色純度の高い光を射出することが可能となる。   Further, the light that is repeatedly reflected by the light reflecting layer 15b passes through the inside of the colored layer 54, so that it is possible to emit light with higher color purity.

〔変形例4〕
図15(A)には、基板21と接着層99の間の部分を抜き出した断面構成を示している。図15(A)に示す構成は、図5で例示した構成と比較して、着色層54を有する点で主に相違している。
[Modification 4]
FIG. 15A shows a cross-sectional configuration in which a portion between the substrate 21 and the adhesive layer 99 is extracted. The structure illustrated in FIG. 15A is mainly different from the structure illustrated in FIG. 5 in that the coloring layer 54 is included.

着色層54は、絶縁層84と絶縁層86の間に位置している。さらに、着色層54は、絶縁層82、絶縁層83、及び絶縁層85により形成された開口部を埋めるように形成されている。着色層54の一部は、光反射層15aと接して設けられている。   The colored layer 54 is located between the insulating layer 84 and the insulating layer 86. Further, the colored layer 54 is formed so as to fill an opening formed by the insulating layer 82, the insulating layer 83, and the insulating layer 85. A part of the colored layer 54 is provided in contact with the light reflecting layer 15a.

このような構成とすることで、第1の領域11aから射出される光が、着色された状態で射出される。また、着色層54と発光素子60との間の距離を近づけることが可能なため、隣接画素間における混色を効果的に抑制することができる。   By setting it as such a structure, the light inject | emitted from the 1st area | region 11a is inject | emitted in the colored state. In addition, since the distance between the colored layer 54 and the light emitting element 60 can be reduced, color mixing between adjacent pixels can be effectively suppressed.

〔変形例5〕
図15(B)に示す構成は、図5に示す構成と比較して、絶縁層86の形状が異なる点で主に相違している。
[Modification 5]
The structure illustrated in FIG. 15B is mainly different from the structure illustrated in FIG. 5 in that the shape of the insulating layer 86 is different.

図15(B)では、絶縁層86が絶縁層82、絶縁層83、及び絶縁層85により形成される開口部及びその近傍に形成されている。また絶縁層85と絶縁層87は、一部が接して設けられている。   In FIG. 15B, the insulating layer 86 is formed in and near the opening formed by the insulating layer 82, the insulating layer 83, and the insulating layer 85. The insulating layer 85 and the insulating layer 87 are provided in contact with each other.

また、絶縁層86は、基板21側に突出した曲面を有する形状を有している。これにより、絶縁層86の基板21側の面に沿って形成される導電層61、EL層62、及び導電層63の一部も同様に、曲面形状を有する。このような構成により、EL層62から発せられる光は、第1の領域11aの中央部に向かって射出されやすくなるため、図5等で例示した構成に比べて、より取り出し効率を高めることができる。   Further, the insulating layer 86 has a shape having a curved surface protruding toward the substrate 21 side. Accordingly, the conductive layer 61, the EL layer 62, and a part of the conductive layer 63 formed along the surface of the insulating layer 86 on the substrate 21 side also have a curved shape. With such a configuration, light emitted from the EL layer 62 is likely to be emitted toward the central portion of the first region 11a, so that the extraction efficiency can be further increased compared to the configuration illustrated in FIG. it can.

以上が、変形例についての説明である。   The above is the description of the modified example.

[トランジスタについて]
以下では、本発明の一態様の表示装置に用いることのできる、トランジスタの構成例について説明する。
[About transistors]
Hereinafter, structural examples of transistors that can be used for the display device of one embodiment of the present invention are described.

以下で例示するトランジスタは、上記トランジスタ70、トランジスタ70a、またはトランジスタ70b等に置き換えて用いることができる。   The transistor exemplified below can be used in place of the transistor 70, the transistor 70a, the transistor 70b, or the like.

図16(A)に示すトランジスタ110は、ボトムゲート構造のトランジスタである。   A transistor 110 illustrated in FIG. 16A is a bottom-gate transistor.

トランジスタ110は、絶縁層131上に設けられている。トランジスタ110は、ゲート電極として機能する導電層111と、ゲート絶縁層として機能する絶縁層132の一部と、半導体層112と、ソース電極またはドレイン電極の一方として機能する導電層113aと、ソース電極またはドレイン電極の他方として機能する導電層113bと、を有する。   The transistor 110 is provided over the insulating layer 131. The transistor 110 includes a conductive layer 111 functioning as a gate electrode, a part of the insulating layer 132 functioning as a gate insulating layer, a semiconductor layer 112, a conductive layer 113a functioning as one of a source electrode and a drain electrode, and a source electrode Or a conductive layer 113b functioning as the other of the drain electrodes.

また、図16(A)では、トランジスタ110を覆う絶縁層133と、平坦化層として機能する絶縁層134と、導電層113bと電気的に接続され、画素電極として機能する導電層121と、導電層121の端部を覆う絶縁層135を示している。   In FIG. 16A, an insulating layer 133 that covers the transistor 110, an insulating layer 134 that functions as a planarization layer, a conductive layer 121 that is electrically connected to the conductive layer 113b and functions as a pixel electrode, and conductive An insulating layer 135 covering the end of the layer 121 is shown.

トランジスタ110は、ゲート電極として機能する導電層111が、半導体層112よりも被形成面側(絶縁層131側)に位置する。また、絶縁層132が導電層111を覆って設けられている。また半導体層112は、導電層111を覆って設けられている。半導体層112の導電層111と重なる領域が、チャネル形成領域に相当する。また、導電層113a及び導電層113bは、それぞれ半導体層112の上面及び側端部に接して設けられている。   In the transistor 110, the conductive layer 111 functioning as a gate electrode is located on the formation surface side (insulating layer 131 side) of the semiconductor layer 112. An insulating layer 132 is provided to cover the conductive layer 111. The semiconductor layer 112 is provided so as to cover the conductive layer 111. A region of the semiconductor layer 112 that overlaps with the conductive layer 111 corresponds to a channel formation region. In addition, the conductive layer 113a and the conductive layer 113b are provided in contact with the upper surface and the side end portion of the semiconductor layer 112, respectively.

なお、トランジスタ110は、導電層111よりも半導体層112の幅が大きい場合の例を示している。このような構成により、導電層111と導電層113aまたは導電層113bの間に半導体層112が配置されるため、導電層111と導電層113aまたは導電層113bとの間の寄生容量を小さくすることができる。   Note that the transistor 110 illustrates an example in which the width of the semiconductor layer 112 is larger than that of the conductive layer 111. With such a structure, the semiconductor layer 112 is disposed between the conductive layer 111 and the conductive layer 113a or the conductive layer 113b, so that the parasitic capacitance between the conductive layer 111 and the conductive layer 113a or the conductive layer 113b is reduced. Can do.

トランジスタ110は、チャネルエッチ型のトランジスタであり、トランジスタの占有面積を縮小することが比較的容易であるため、高精細な表示装置に好適に用いることができる。   The transistor 110 is a channel-etched transistor and can be suitably used for a high-definition display device because it is relatively easy to reduce the area occupied by the transistor.

図16(B)に示したトランジスタ110aは、トランジスタ110と比較して、導電層114及び絶縁層136を有する点で相違している。導電層114は、絶縁層133上に設けられ、半導体層112と重なる領域を有する。また絶縁層136は、導電層114及び絶縁層133を覆って設けられている。   A transistor 110 a illustrated in FIG. 16B is different from the transistor 110 in that the transistor 110 a includes a conductive layer 114 and an insulating layer 136. The conductive layer 114 is provided over the insulating layer 133 and has a region overlapping with the semiconductor layer 112. The insulating layer 136 is provided so as to cover the conductive layer 114 and the insulating layer 133.

導電層114は、半導体層112を挟んで導電層111とは反対側に位置している。導電層111を第1のゲート電極とした場合、導電層114は、第2のゲート電極として機能することができる。導電層111と導電層114に同じ電位を与えることで、トランジスタ110aのオン電流を高めることができる。また導電層111及び導電層114の一方にしきい値電圧を制御するための電位を与え、他方に駆動のための電位を与えることで、トランジスタ110aのしきい値電圧を制御することができる。   The conductive layer 114 is located on the side opposite to the conductive layer 111 with the semiconductor layer 112 interposed therebetween. In the case where the conductive layer 111 is a first gate electrode, the conductive layer 114 can function as a second gate electrode. By applying the same potential to the conductive layer 111 and the conductive layer 114, the on-state current of the transistor 110a can be increased. The threshold voltage of the transistor 110a can be controlled by applying a potential for controlling the threshold voltage to one of the conductive layers 111 and 114 and a potential for driving the other.

ここで、導電層114として、酸化物を含む導電性材料を用いることが好ましい。これにより、導電層114を構成する導電膜の成膜時に、酸素を含む雰囲気下で成膜することで、絶縁層133に酸素を供給することができる。好適には、成膜ガス中の酸素ガスの割合を90%以上100%以下の範囲とすることが好ましい。絶縁層133に供給された酸素は、後の熱処理により半導体層112に供給され、半導体層112中の酸素欠損の低減を図ることができる。   Here, a conductive material containing an oxide is preferably used for the conductive layer 114. Thus, oxygen can be supplied to the insulating layer 133 by forming the conductive film that forms the conductive layer 114 in an atmosphere containing oxygen. Preferably, the proportion of oxygen gas in the film forming gas is in the range of 90% to 100%. Oxygen supplied to the insulating layer 133 is supplied to the semiconductor layer 112 by a subsequent heat treatment, so that oxygen vacancies in the semiconductor layer 112 can be reduced.

特に、導電層114には低抵抗化された酸化物半導体を用いることが好ましい。このとき、絶縁層136に水素を放出する絶縁膜、例えば窒化シリコン膜等を用いることが好ましい。絶縁層136の成膜中、またはその後の熱処理によって導電層114中に水素が供給され、導電層114の電気抵抗を効果的に低減することができる。   In particular, the conductive layer 114 is preferably formed using a low-resistance oxide semiconductor. At this time, an insulating film that releases hydrogen, for example, a silicon nitride film or the like is preferably used for the insulating layer 136. Hydrogen is supplied into the conductive layer 114 during the formation of the insulating layer 136 or by heat treatment thereafter, so that the electrical resistance of the conductive layer 114 can be effectively reduced.

図16(C)に示すトランジスタ110bは、トップゲート構造のトランジスタである。   A transistor 110b illustrated in FIG. 16C is a top-gate transistor.

トランジスタ110bは、ゲート電極として機能する導電層111が、半導体層112よりも上側(被形成面側とは反対側)に設けられている。また、絶縁層131上に半導体層112が形成されている。また半導体層112上には、絶縁層132及び導電層111が積層して形成されている。また、絶縁層133は、半導体層112の上面及び側端部、絶縁層133の側面、及び導電層111を覆って設けられている。導電層113a及び導電層113bは、絶縁層133上に設けられている。導電層113a及び導電層113bは、絶縁層133に設けられた開口を介して、半導体層112の上面と電気的に接続されている。   In the transistor 110b, the conductive layer 111 functioning as a gate electrode is provided above the semiconductor layer 112 (on the side opposite to the formation surface). In addition, the semiconductor layer 112 is formed over the insulating layer 131. Further, an insulating layer 132 and a conductive layer 111 are stacked over the semiconductor layer 112. The insulating layer 133 is provided so as to cover the upper surface and side edges of the semiconductor layer 112, the side surface of the insulating layer 133, and the conductive layer 111. The conductive layer 113 a and the conductive layer 113 b are provided over the insulating layer 133. The conductive layer 113a and the conductive layer 113b are electrically connected to the upper surface of the semiconductor layer 112 through an opening provided in the insulating layer 133.

なお、ここでは絶縁層132が、導電層111と重ならない部分に存在しない場合の例を示しているが、絶縁層132が半導体層112の上面及び側端部を覆って設けられていてもよい。   Note that although the example in which the insulating layer 132 does not exist in a portion that does not overlap with the conductive layer 111 is shown here, the insulating layer 132 may be provided so as to cover the upper surface and the side end portion of the semiconductor layer 112. .

トランジスタ110bは、導電層111と導電層113aまたは導電層113bとの物理的な距離を離すことが容易なため、これらの間の寄生容量を低減することが可能である。   Since the transistor 110b can easily separate a physical distance between the conductive layer 111 and the conductive layer 113a or the conductive layer 113b, parasitic capacitance between the conductive layer 111 and the conductive layer 113a can be reduced.

図16(D)に示すトランジスタ110cは、トランジスタ110bと比較して、導電層115及び絶縁層137を有している点で相違している。導電層115は絶縁層131上に設けられ、半導体層112と重なる領域を有する。また絶縁層137は、導電層115及び絶縁層131を覆って設けられている。   A transistor 110c illustrated in FIG. 16D is different from the transistor 110b in that the transistor 110c includes a conductive layer 115 and an insulating layer 137. The conductive layer 115 is provided over the insulating layer 131 and has a region overlapping with the semiconductor layer 112. The insulating layer 137 is provided so as to cover the conductive layer 115 and the insulating layer 131.

導電層115は、上記導電層114と同様に第2のゲート電極として機能する。そのため、オン電流を高めることや、しきい値電圧を制御することなどが可能である。   The conductive layer 115 functions as a second gate electrode like the conductive layer 114. Therefore, it is possible to increase the on-current, control the threshold voltage, and the like.

図16(E)には、トランジスタ110とトランジスタ110dとを積層した構成を示している。トランジスタ110dは、一対のゲート電極を有するトランジスタである。   FIG. 16E illustrates a structure in which the transistor 110 and the transistor 110d are stacked. The transistor 110d is a transistor having a pair of gate electrodes.

トランジスタ110dは、第1のゲート電極として機能する導電層113bの一部と、第1のゲート絶縁層として機能する絶縁層133の一部と、半導体層112aと、ソース電極及びドレイン電極の一方として機能する導電層113cと、ソース電極及びドレイン電極の他方として機能する導電層113dと、第2のゲート絶縁層として機能する絶縁層136の一部と、第2のゲート電極として機能する導電層114aと、を有する。   The transistor 110d includes a part of the conductive layer 113b functioning as the first gate electrode, a part of the insulating layer 133 functioning as the first gate insulating layer, the semiconductor layer 112a, and one of the source electrode and the drain electrode. A conductive layer 113c that functions, a conductive layer 113d that functions as the other of the source electrode and the drain electrode, a part of the insulating layer 136 that functions as the second gate insulating layer, and a conductive layer 114a that functions as the second gate electrode And having.

このような構成は、特に発光素子を駆動する回路に好適に適用することができる。すなわち、トランジスタ110を、画素の選択、非選択状態を制御するトランジスタ(スイッチングトランジスタ、または選択トランジスタともいう)に用い、トランジスタ110dを発光素子120に流れる電流を制御するトランジスタ(駆動トランジスタともいう)に用いることが好ましい。   Such a configuration can be preferably applied particularly to a circuit for driving a light emitting element. That is, the transistor 110 is used as a transistor (also referred to as a switching transistor or a selection transistor) that controls the selection / non-selection state of a pixel, and the transistor 110d is used as a transistor (also referred to as a drive transistor) that controls a current flowing through the light-emitting element 120. It is preferable to use it.

図16(E)に示す構成では、導電層114aと同一の導電膜を加工して形成された導電層114bが、絶縁層136に設けられた開口を介して導電層113cと電気的に接続されている。また、導電層121は、絶縁層134に設けられた開口を介して、導電層114bと電気的に接続されている。   In the structure illustrated in FIG. 16E, a conductive layer 114b formed by processing the same conductive film as the conductive layer 114a is electrically connected to the conductive layer 113c through an opening provided in the insulating layer 136. ing. In addition, the conductive layer 121 is electrically connected to the conductive layer 114 b through an opening provided in the insulating layer 134.

[各構成要素について]
以下では、上記に示す各構成要素について説明する。
[About each component]
Below, each component shown above is demonstrated.

表示装置が有する基板には、平坦面を有する材料を用いることができる。表示素子からの光を取り出す側の基板には、該光を透過する材料を用いる。例えば、ガラス、石英、セラミック、サファイヤ、有機樹脂などの材料を用いることができる。   As the substrate included in the display device, a material having a flat surface can be used. For the substrate from which light from the display element is extracted, a material that transmits the light is used. For example, materials such as glass, quartz, ceramic, sapphire, and organic resin can be used.

厚さの薄い基板を用いることで、表示装置の軽量化、薄型化を図ることができる。さらに、可撓性を有する程度の厚さの基板を用いることで、可撓性を有する表示装置を実現できる。   By using a thin substrate, the display device can be reduced in weight and thickness. Furthermore, a flexible display device can be realized by using a flexible substrate.

また、発光を取り出さない側の基板は、透光性を有していなくてもよいため、上記に挙げた基板の他に、金属基板等を用いることもできる。金属基板は熱伝導性が高く、基板全体に熱を容易に伝導できるため、表示装置の局所的な温度上昇を抑制することができ、好ましい。可撓性や曲げ性を得るためには、金属基板の厚さは、10μm以上200μm以下が好ましく、20μm以上50μm以下であることがより好ましい。   Further, since the substrate on the side from which light emission is not extracted does not have to be translucent, a metal substrate or the like can be used in addition to the above-described substrates. A metal substrate is preferable because it has high thermal conductivity and can easily conduct heat to the entire substrate, which can suppress a local temperature increase of the display device. In order to obtain flexibility and bendability, the thickness of the metal substrate is preferably 10 μm to 200 μm, and more preferably 20 μm to 50 μm.

金属基板を構成する材料としては、特に限定はないが、例えば、アルミニウム、銅、ニッケル等の金属、もしくはアルミニウム合金またはステンレス等の合金などを好適に用いることができる。   Although there is no limitation in particular as a material which comprises a metal substrate, For example, metals, such as aluminum, copper, nickel, or alloys, such as aluminum alloy or stainless steel, can be used suitably.

また、金属基板の表面を酸化する、又は表面に絶縁膜を形成するなどにより、絶縁処理が施された基板を用いてもよい。例えば、スピンコート法やディップ法などの塗布法、電着法、蒸着法、又はスパッタリング法などを用いて絶縁膜を形成してもよいし、酸素雰囲気で放置する又は加熱するほか、陽極酸化法などによって、基板の表面に酸化膜を形成してもよい。   Alternatively, a substrate that has been subjected to an insulating process by oxidizing the surface of the metal substrate or forming an insulating film on the surface may be used. For example, the insulating film may be formed by using a coating method such as a spin coating method or a dip method, an electrodeposition method, a vapor deposition method, or a sputtering method, or it is left in an oxygen atmosphere or heated, or an anodic oxidation method. For example, an oxide film may be formed on the surface of the substrate.

可撓性及び可視光に対する透過性を有する材料としては、例えば、可撓性を有する程度の厚さのガラスや、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)等のポリエステル樹脂、ポリアクリロニトリル樹脂、ポリイミド樹脂、ポリメチルメタクリレート樹脂、ポリカーボネート(PC)樹脂、ポリエーテルスルホン(PES)樹脂、ポリアミド樹脂、シクロオレフィン樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)樹脂等が挙げられる。特に、熱膨張係数の低い材料を用いることが好ましく、例えば、熱膨張係数が30×10−6/K以下であるポリアミドイミド樹脂、ポリイミド樹脂、PET等を好適に用いることができる。また、ガラス繊維に有機樹脂を含浸した基板や、無機フィラーを有機樹脂に混ぜて熱膨張係数を下げた基板を使用することもできる。このような材料を用いた基板は、重量が軽いため、該基板を用いた表示装置も軽量にすることができる。 Examples of the material having flexibility and transparency to visible light include, for example, glass having a thickness having flexibility, polyester resins such as polyethylene terephthalate (PET) and polyethylene naphthalate (PEN), and polyacrylonitrile resin. , Polyimide resin, polymethyl methacrylate resin, polycarbonate (PC) resin, polyethersulfone (PES) resin, polyamide resin, cycloolefin resin, polystyrene resin, polyamideimide resin, polyvinyl chloride resin, polytetrafluoroethylene (PTFE) resin Etc. In particular, a material having a low thermal expansion coefficient is preferably used. For example, a polyamideimide resin, a polyimide resin, PET, or the like having a thermal expansion coefficient of 30 × 10 −6 / K or less can be suitably used. Further, a substrate in which glass fiber is impregnated with an organic resin, or a substrate in which an inorganic filler is mixed with an organic resin to reduce the thermal expansion coefficient can be used. Since a substrate using such a material is light, a display device using the substrate can be light.

上記材料中に繊維体が含まれている場合、繊維体は有機化合物または無機化合物の高強度繊維を用いる。高強度繊維とは、具体的には引張弾性率またはヤング率の高い繊維のことを言い、代表例としては、ポリビニルアルコール系繊維、ポリエステル系繊維、ポリアミド系繊維、ポリエチレン系繊維、アラミド系繊維、ポリパラフェニレンベンゾビスオキサゾール繊維、ガラス繊維、または炭素繊維が挙げられる。ガラス繊維としては、Eガラス、Sガラス、Dガラス、Qガラス等を用いたガラス繊維が挙げられる。これらは、織布または不織布の状態で用い、この繊維体に樹脂を含浸させ樹脂を硬化させた構造物を、可撓性を有する基板として用いてもよい。可撓性を有する基板として、繊維体と樹脂からなる構造物を用いると、曲げや局所的押圧による破損に対する信頼性が向上するため、好ましい。   When a fibrous body is included in the material, a high-strength fiber of an organic compound or an inorganic compound is used for the fibrous body. The high-strength fiber specifically refers to a fiber having a high tensile modulus or Young's modulus, and representative examples include polyvinyl alcohol fiber, polyester fiber, polyamide fiber, polyethylene fiber, aramid fiber, Examples include polyparaphenylene benzobisoxazole fibers, glass fibers, and carbon fibers. Examples of the glass fiber include glass fibers using E glass, S glass, D glass, Q glass, and the like. These may be used in the form of a woven fabric or a non-woven fabric, and a structure obtained by impregnating the fiber body with a resin and curing the resin may be used as a flexible substrate. When a structure made of a fibrous body and a resin is used as the flexible substrate, it is preferable because reliability against breakage due to bending or local pressing is improved.

または、可撓性を有する程度に薄いガラス、金属などを基板に用いることもできる。または、ガラスと樹脂材料とが接着層により貼り合わされた複合材料を用いてもよい。   Alternatively, glass, metal, or the like thin enough to have flexibility can be used for the substrate. Alternatively, a composite material in which glass and a resin material are bonded to each other with an adhesive layer may be used.

可撓性を有する基板に、表示装置の表面を傷などから保護するハードコート層(例えば、窒化シリコン、酸化アルミニウムなど)や、押圧を分散可能な材質の層(例えば、アラミド樹脂など)等が積層されていてもよい。また、水分等による表示素子の寿命の低下等を抑制するために、可撓性を有する基板に透水性の低い絶縁膜が積層されていてもよい。例えば、窒化シリコン、酸化窒化シリコン、窒化酸化シリコン、酸化アルミニウム、窒化アルミニウム等の無機絶縁材料を用いることができる。   A hard coat layer (for example, silicon nitride, aluminum oxide) that protects the surface of the display device from scratches, a layer of a material that can disperse the pressure (for example, aramid resin), etc. on a flexible substrate It may be laminated. In order to suppress a decrease in the lifetime of the display element due to moisture or the like, an insulating film with low water permeability may be stacked over a flexible substrate. For example, an inorganic insulating material such as silicon nitride, silicon oxynitride, silicon nitride oxide, aluminum oxide, or aluminum nitride can be used.

基板は、複数の層を積層して用いることもできる。特に、ガラス層を有する構成とすると、水や酸素に対するバリア性を向上させ、信頼性の高い表示装置とすることができる。   The substrate can be used by stacking a plurality of layers. In particular, when the glass layer is used, the barrier property against water and oxygen can be improved, and a highly reliable display device can be obtained.

〔トランジスタ〕
トランジスタは、ゲート電極として機能する導電層と、半導体層と、ソース電極として機能する導電層と、ドレイン電極として機能する導電層と、ゲート絶縁層として機能する絶縁層と、を有する。上記では、ボトムゲート構造のトランジスタを適用した場合を示している。
[Transistor]
The transistor includes a conductive layer that functions as a gate electrode, a semiconductor layer, a conductive layer that functions as a source electrode, a conductive layer that functions as a drain electrode, and an insulating layer that functions as a gate insulating layer. The above shows the case where a bottom-gate transistor is applied.

なお、本発明の一態様の表示装置が有するトランジスタの構造は特に限定されない。例えば、プレーナ型のトランジスタとしてもよいし、スタガ型のトランジスタとしてもよいし、逆スタガ型のトランジスタとしてもよい。また、トップゲート型又はボトムゲート型のいずれのトランジスタ構造としてもよい。または、チャネルの上下にゲート電極が設けられていてもよい。   Note that there is no particular limitation on the structure of the transistor included in the display device of one embodiment of the present invention. For example, a planar transistor, a staggered transistor, or an inverted staggered transistor may be used. Further, a top-gate or bottom-gate transistor structure may be employed. Alternatively, gate electrodes may be provided above and below the channel.

トランジスタに用いる半導体材料の結晶性についても特に限定されず、非晶質半導体、結晶性を有する半導体(微結晶半導体、多結晶半導体、単結晶半導体、又は一部に結晶領域を有する半導体)のいずれを用いてもよい。結晶性を有する半導体を用いると、トランジスタ特性の劣化を抑制できるため好ましい。   There is no particular limitation on the crystallinity of a semiconductor material used for the transistor, and any of an amorphous semiconductor and a semiconductor having crystallinity (a microcrystalline semiconductor, a polycrystalline semiconductor, a single crystal semiconductor, or a semiconductor partially including a crystal region) is used. May be used. It is preferable to use a crystalline semiconductor because deterioration of transistor characteristics can be suppressed.

また、トランジスタに用いる半導体材料としては、例えば、第14族の元素(シリコン、ゲルマニウム等)、化合物半導体又は金属酸化物を半導体層に用いることができる。代表的には、シリコンを含む半導体、ガリウムヒ素を含む半導体又はインジウムを含む金属酸化物などを適用できる。   As a semiconductor material used for the transistor, for example, a Group 14 element (silicon, germanium, or the like), a compound semiconductor, or a metal oxide can be used for the semiconductor layer. Typically, a semiconductor containing silicon, a semiconductor containing gallium arsenide, a metal oxide containing indium, or the like can be used.

特にシリコンよりもバンドギャップの大きな金属酸化物を適用することが好ましい。シリコンよりもバンドギャップが広く、且つキャリア密度の小さい半導体材料を用いると、トランジスタのオフ状態における電流を低減できるため好ましい。   In particular, it is preferable to use a metal oxide having a larger band gap than silicon. It is preferable to use a semiconductor material with a wider band gap and lower carrier density than silicon because current in an off state of the transistor can be reduced.

特に、半導体層として、複数の結晶部を有し、当該結晶部はc軸が半導体層の被形成面、または半導体層の上面に対し概略垂直に配向し、且つ隣接する結晶部間には粒界が確認できない金属酸化物を用いることが好ましい。   In particular, the semiconductor layer has a plurality of crystal parts, and the crystal part has a c-axis oriented substantially perpendicular to the formation surface of the semiconductor layer or the top surface of the semiconductor layer, and there is no grain between adjacent crystal parts. It is preferable to use a metal oxide whose boundary cannot be confirmed.

このような金属酸化物は、結晶粒界を有さないために表示パネルを湾曲させたときの応力によって金属酸化物膜にクラックが生じてしまうことが抑制される。したがって、可撓性を有し、湾曲させて用いる表示装置などに、このような金属酸化物を好適に用いることができる。   Since such a metal oxide does not have a crystal grain boundary, the occurrence of cracks in the metal oxide film due to stress when the display panel is curved is suppressed. Therefore, such a metal oxide can be suitably used for a display device that has flexibility and is bent.

また半導体層としてこのような結晶性を有する金属酸化物を用いることで、電気特性の変動が抑制され、信頼性の高いトランジスタを実現できる。   In addition, by using a metal oxide having such crystallinity as a semiconductor layer, a change in electrical characteristics is suppressed and a highly reliable transistor can be realized.

また、シリコンよりもバンドギャップの大きな金属酸化物を用いたトランジスタは、その低いオフ電流により、トランジスタと直列に接続された容量素子に蓄積した電荷を長期間に亘って保持することが可能である。このようなトランジスタを画素に適用することで、各画素の階調を維持しつつ、駆動回路を停止することも可能となる。その結果、極めて消費電力の低減された表示装置を実現できる。   In addition, a transistor using a metal oxide having a larger band gap than silicon can hold charge accumulated in a capacitor connected in series with the transistor for a long time due to its low off-state current. . By applying such a transistor to a pixel, the driving circuit can be stopped while maintaining the gradation of each pixel. As a result, a display device with extremely reduced power consumption can be realized.

半導体層は、例えば少なくともインジウム、亜鉛及びM(アルミニウム、チタン、ガリウム、ゲルマニウム、イットリウム、ジルコニウム、ランタン、セリウム、スズ、ネオジムまたはハフニウム等の金属)を含むIn−M−Zn系酸化物で表記される膜を含むことが好ましい。また、該金属酸化物を用いたトランジスタの電気特性のばらつきを減らすため、それらと共に、スタビライザーを含むことが好ましい。   The semiconductor layer is represented by an In-M-Zn-based oxide containing at least indium, zinc, and M (metal such as aluminum, titanium, gallium, germanium, yttrium, zirconium, lanthanum, cerium, tin, neodymium, or hafnium). It is preferable to include a film. In addition, in order to reduce variation in electric characteristics of the transistor using the metal oxide, it is preferable to include a stabilizer together with them.

スタビライザーとしては、上記Mで記載の金属を含め、例えば、ガリウム、スズ、ハフニウム、アルミニウム、またはジルコニウム等がある。また、他のスタビライザーとしては、ランタノイドである、ランタン、セリウム、プラセオジム、ネオジム、サマリウム、ユウロピウム、ガドリニウム、テルビウム、ジスプロシウム、ホルミウム、エルビウム、ツリウム、イッテルビウム、ルテチウム等がある。   Examples of the stabilizer include the metals described in M above, and examples include gallium, tin, hafnium, aluminum, and zirconium. Other stabilizers include lanthanoids such as lanthanum, cerium, praseodymium, neodymium, samarium, europium, gadolinium, terbium, dysprosium, holmium, erbium, thulium, ytterbium, and lutetium.

半導体層を構成する金属酸化物として、例えば、In−Ga−Zn系酸化物、In−Al−Zn系酸化物、In−Sn−Zn系酸化物、In−Hf−Zn系酸化物、In−La−Zn系酸化物、In−Ce−Zn系酸化物、In−Pr−Zn系酸化物、In−Nd−Zn系酸化物、In−Sm−Zn系酸化物、In−Eu−Zn系酸化物、In−Gd−Zn系酸化物、In−Tb−Zn系酸化物、In−Dy−Zn系酸化物、In−Ho−Zn系酸化物、In−Er−Zn系酸化物、In−Tm−Zn系酸化物、In−Yb−Zn系酸化物、In−Lu−Zn系酸化物、In−Sn−Ga−Zn系酸化物、In−Hf−Ga−Zn系酸化物、In−Al−Ga−Zn系酸化物、In−Sn−Al−Zn系酸化物、In−Sn−Hf−Zn系酸化物、In−Hf−Al−Zn系酸化物を用いることができる。   As a metal oxide forming the semiconductor layer, for example, an In—Ga—Zn-based oxide, an In—Al—Zn-based oxide, an In—Sn—Zn-based oxide, an In—Hf—Zn-based oxide, an In— La-Zn oxide, In-Ce-Zn oxide, In-Pr-Zn oxide, In-Nd-Zn oxide, In-Sm-Zn oxide, In-Eu-Zn oxide In-Gd-Zn-based oxide, In-Tb-Zn-based oxide, In-Dy-Zn-based oxide, In-Ho-Zn-based oxide, In-Er-Zn-based oxide, In-Tm -Zn oxide, In-Yb-Zn oxide, In-Lu-Zn oxide, In-Sn-Ga-Zn oxide, In-Hf-Ga-Zn oxide, In-Al- Ga-Zn oxide, In-Sn-Al-Zn oxide, In-Sn-Hf-Zn acid Things, can be used In-Hf-Al-Zn-based oxide.

なお、ここで、In−Ga−Zn系酸化物とは、InとGaとZnを主成分として有する酸化物という意味であり、InとGaとZnの比率は問わない。また、InとGaとZn以外の金属元素が入っていてもよい。   Note that here, an In—Ga—Zn-based oxide means an oxide containing In, Ga, and Zn as its main components, and there is no limitation on the ratio of In, Ga, and Zn. Moreover, metal elements other than In, Ga, and Zn may be contained.

また、半導体層と導電層は、上記酸化物のうち同一の金属元素を有していてもよい。半導体層と導電層を同一の金属元素とすることで、製造コストを低減させることができる。例えば、同一の金属組成の金属酸化物ターゲットを用いることで、製造コストを低減させることができる。また半導体層と導電層を加工する際のエッチングガスまたはエッチング液を共通して用いることができる。ただし、半導体層と導電層は、同一の金属元素を有していても、組成が異なる場合がある。例えば、トランジスタ及び容量素子の作製工程中に、膜中の金属元素が脱離し、異なる金属組成となる場合がある。   In addition, the semiconductor layer and the conductive layer may have the same metal element among the above oxides. Manufacturing costs can be reduced by using the same metal element for the semiconductor layer and the conductive layer. For example, the manufacturing cost can be reduced by using metal oxide targets having the same metal composition. Further, an etching gas or an etching solution for processing the semiconductor layer and the conductive layer can be used in common. However, the semiconductor layer and the conductive layer may have different compositions even if they have the same metal element. For example, a metal element in a film may be detached during a manufacturing process of a transistor and a capacitor to have a different metal composition.

半導体層を構成する金属酸化物は、エネルギーギャップが2eV以上、好ましくは2.5eV以上、より好ましくは3eV以上であることが好ましい。このように、エネルギーギャップの広い金属酸化物を用いることで、トランジスタのオフ電流を低減することができる。   The metal oxide constituting the semiconductor layer preferably has an energy gap of 2 eV or more, preferably 2.5 eV or more, more preferably 3 eV or more. In this manner, off-state current of a transistor can be reduced by using a metal oxide having a wide energy gap.

半導体層を構成する金属酸化物がIn−M−Zn酸化物の場合、In−M−Zn酸化物を成膜するために用いるスパッタリングターゲットの金属元素の原子数比は、In≧M、Zn≧Mを満たすことが好ましい。このようなスパッタリングターゲットの金属元素の原子数比として、In:M:Zn=1:1:1、In:M:Zn=1:1:1.2、In:M:Zn=3:1:2、4:2:4.1等が好ましい。なお、成膜される半導体層の原子数比はそれぞれ、誤差として上記のスパッタリングターゲットに含まれる金属元素の原子数比のプラスマイナス40%の変動を含む。   In the case where the metal oxide forming the semiconductor layer is an In-M-Zn oxide, the atomic ratio of the metal elements of the sputtering target used for forming the In-M-Zn oxide is In ≧ M, Zn ≧ It is preferable to satisfy M. As the atomic ratio of the metal elements of such a sputtering target, In: M: Zn = 1: 1: 1, In: M: Zn = 1: 1: 1.2, In: M: Zn = 3: 1: 2, 4: 2: 4.1 and the like are preferable. Note that the atomic ratio of the semiconductor layer to be formed includes a variation of plus or minus 40% of the atomic ratio of the metal element contained in the sputtering target as an error.

半導体層としては、キャリア密度の低い金属酸化物膜を用いる。例えば、半導体層は、キャリア密度が1×1017/cm以下、好ましくは1×1015/cm以下、さらに好ましくは1×1013/cm以下、より好ましくは1×1011/cm以下、さらに好ましくは1×1010/cm未満であり、1×10−9/cm以上の金属酸化物を用いることができる。そのような金属酸化物を、高純度真性または実質的に高純度真性な金属酸化物と呼ぶ。これにより不純物濃度が低く、欠陥準位密度が低いため、安定な特性を有する金属酸化物であるといえる。 As the semiconductor layer, a metal oxide film with low carrier density is used. For example, the semiconductor layer has a carrier density of 1 × 10 17 / cm 3 or less, preferably 1 × 10 15 / cm 3 or less, more preferably 1 × 10 13 / cm 3 or less, more preferably 1 × 10 11 / cm 3. 3 or less, more preferably less than 1 × 10 10 / cm 3 , and a metal oxide of 1 × 10 −9 / cm 3 or more can be used. Such metal oxides are referred to as high purity intrinsic or substantially high purity intrinsic metal oxides. Accordingly, it can be said that the metal oxide has stable characteristics because the impurity concentration is low and the density of defect states is low.

なお、これらに限られず、必要とするトランジスタの半導体特性及び電気特性(電界効果移動度、しきい値電圧等)に応じて適切な組成のものを用いればよい。また、必要とするトランジスタの半導体特性を得るために、半導体層のキャリア密度や不純物濃度、欠陥密度、金属元素と酸素の原子数比、原子間距離、密度等を適切なものとすることが好ましい。   Note that the composition is not limited thereto, and a transistor having an appropriate composition may be used depending on required semiconductor characteristics and electrical characteristics (field-effect mobility, threshold voltage, and the like) of the transistor. In addition, in order to obtain the required semiconductor characteristics of the transistor, it is preferable that the semiconductor layer have appropriate carrier density, impurity concentration, defect density, atomic ratio of metal element to oxygen, interatomic distance, density, and the like. .

半導体層を構成する金属酸化物において、第14族元素の一つであるシリコンや炭素が含まれると、半導体層において酸素欠損が増加し、n型化してしまう。このため、半導体層におけるシリコンや炭素の濃度(二次イオン質量分析法により得られる濃度)を、2×1018atoms/cm以下、好ましくは2×1017atoms/cm以下とする。 If the metal oxide constituting the semiconductor layer contains silicon or carbon which is one of the Group 14 elements, oxygen vacancies increase in the semiconductor layer and become n-type. Therefore, the concentration of silicon or carbon in the semiconductor layer (concentration obtained by secondary ion mass spectrometry) is 2 × 10 18 atoms / cm 3 or less, preferably 2 × 10 17 atoms / cm 3 or less.

また、アルカリ金属及びアルカリ土類金属は、金属酸化物と結合するとキャリアを生成する場合があり、トランジスタのオフ電流が増大してしまうことがある。このため半導体層における二次イオン質量分析法により得られるアルカリ金属またはアルカリ土類金属の濃度を、1×1018atoms/cm以下、好ましくは2×1016atoms/cm以下にする。 In addition, when an alkali metal and an alkaline earth metal are combined with a metal oxide, carriers may be generated, which may increase the off-state current of the transistor. Therefore, the concentration of alkali metal or alkaline earth metal obtained by secondary ion mass spectrometry in the semiconductor layer is set to 1 × 10 18 atoms / cm 3 or less, preferably 2 × 10 16 atoms / cm 3 or less.

また、半導体層を構成する金属酸化物に窒素が含まれていると、キャリアである電子が生じ、キャリア密度が増加し、n型化しやすい。この結果、窒素が含まれている金属酸化物を用いたトランジスタはノーマリーオン特性となりやすい。このため半導体層における二次イオン質量分析法により得られる窒素濃度は、5×1018atoms/cm以下にすることが好ましい。 In addition, when nitrogen is contained in the metal oxide constituting the semiconductor layer, electrons as carriers are generated, the carrier density is increased, and the n-type is easily obtained. As a result, a transistor using a metal oxide containing nitrogen is likely to be normally on. For this reason, it is preferable that the nitrogen concentration obtained by secondary ion mass spectrometry in the semiconductor layer is 5 × 10 18 atoms / cm 3 or less.

また、半導体層は、例えば非単結晶構造でもよい。非単結晶構造は、例えば、CAAC−OS(C−Axis Aligned Crystalline Oxide Semiconductor、または、C−Axis Aligned and A−B−plane Anchored Crystalline Oxide Semiconductor)、多結晶構造、微結晶構造、または非晶質構造を含む。非単結晶構造において、非晶質構造は最も欠陥準位密度が高く、CAAC−OSは最も欠陥準位密度が低い。   The semiconductor layer may have a non-single crystal structure, for example. The non-single-crystal structure is, for example, a CAAC-OS (C-Axis Crystalline Oxide Semiconductor Semiconductor, or C-Axis Aligned and A-B-Plane Annealed Crystalline Oxide Semiconductor Crystal Structure, Amorphous Crystal Structure, Includes structure. In the non-single-crystal structure, the amorphous structure has the highest density of defect states, and the CAAC-OS has the lowest density of defect states.

非晶質構造の金属酸化物膜は、例えば、原子配列が無秩序であり、結晶成分を有さない。または、非晶質構造の酸化物膜は、例えば、完全な非晶質構造であり、結晶部を有さない。   An amorphous metal oxide film has, for example, disordered atomic arrangement and no crystal component. Alternatively, an amorphous oxide film has, for example, a completely amorphous structure and does not have a crystal part.

なお、半導体層が、非晶質構造の領域、微結晶構造の領域、多結晶構造の領域、CAAC−OSの領域、単結晶構造の領域のうち、二種以上を有する混合膜であってもよい。混合膜は、例えば上述した領域のうち、いずれか二種以上の領域を含む単層構造、または積層構造を有する場合がある。   Note that the semiconductor layer may be a mixed film including two or more of an amorphous structure region, a microcrystalline structure region, a polycrystalline structure region, a CAAC-OS region, and a single crystal structure region. Good. For example, the mixed film may have a single-layer structure or a stacked structure including any two or more of the above-described regions.

<CAC−OSの構成>
以下では、本発明の一態様で開示されるトランジスタに用いることができるCAC(Cloud Aligned Complementary)−OSの構成について説明する。
<Configuration of CAC-OS>
A structure of a CAC (Cloud Aligned Complementary) -OS that can be used for the transistor disclosed in one embodiment of the present invention is described below.

CAC−OSとは、例えば、金属酸化物を構成する元素が、0.5nm以上10nm以下、好ましくは、1nm以上2nm以下、またはその近傍のサイズで偏在した材料の一構成である。なお、以下では、金属酸化物において、一つあるいはそれ以上の金属元素が偏在し、該金属元素を有する領域が、0.5nm以上10nm以下、好ましくは、1nm以上2nm以下、またはその近傍のサイズで混合した状態をモザイク状、またはパッチ状ともいう。   The CAC-OS is one structure of a material in which elements forming a metal oxide are unevenly distributed with a size of 0.5 nm to 10 nm, preferably 1 nm to 2 nm, or the vicinity thereof. In the following, in the metal oxide, one or more metal elements are unevenly distributed, and the region having the metal element has a size of 0.5 nm to 10 nm, preferably 1 nm to 2 nm, or the vicinity thereof. The state mixed with is also referred to as a mosaic or patch.

なお、金属酸化物は、少なくともインジウムを含むことが好ましい。特にインジウムおよび亜鉛を含むことが好ましい。また、それらに加えて、アルミニウム、ガリウム、イットリウム、銅、バナジウム、ベリリウム、ホウ素、シリコン、チタン、鉄、ニッケル、ゲルマニウム、ジルコニウム、モリブデン、ランタン、セリウム、ネオジム、ハフニウム、タンタル、タングステン、またはマグネシウムなどから選ばれた一種、または複数種が含まれていてもよい。   Note that the metal oxide preferably contains at least indium. In particular, it is preferable to contain indium and zinc. In addition, aluminum, gallium, yttrium, copper, vanadium, beryllium, boron, silicon, titanium, iron, nickel, germanium, zirconium, molybdenum, lanthanum, cerium, neodymium, hafnium, tantalum, tungsten, magnesium, etc. One kind selected from the above or a plurality of kinds may be included.

例えば、In−Ga−Zn酸化物におけるCAC−OS(CAC−OSの中でもIn−Ga−Zn酸化物を、特にCAC−IGZOと呼称してもよい。)とは、インジウム酸化物(以下、InOX1(X1は0よりも大きい実数)とする。)、またはインジウム亜鉛酸化物(以下、InX2ZnY2Z2(X2、Y2、およびZ2は0よりも大きい実数)とする。)と、ガリウム酸化物(以下、GaOX3(X3は0よりも大きい実数)とする。)、またはガリウム亜鉛酸化物(以下、GaX4ZnY4Z4(X4、Y4、およびZ4は0よりも大きい実数)とする。)などと、に材料が分離することでモザイク状となり、モザイク状のInOX1、またはInX2ZnY2Z2が、膜中に均一に分布した構成(以下、クラウド状ともいう。)である。 For example, a CAC-OS in In-Ga-Zn oxide (In-Ga-Zn oxide among CAC-OSs may be referred to as CAC-IGZO in particular) is an indium oxide (hereinafter referred to as InO). X1 (X1 is greater real than 0) and.), or indium zinc oxide (hereinafter, in X2 Zn Y2 O Z2 ( X2, Y2, and Z2 is larger real than 0) and a.), gallium An oxide (hereinafter referred to as GaO X3 (X3 is a real number greater than 0)) or a gallium zinc oxide (hereinafter referred to as Ga X4 Zn Y4 O Z4 (where X4, Y4, and Z4 are greater than 0)) to.) and the like, the material becomes mosaic by separate into, mosaic InO X1 or in X2 Zn Y2 O Z2, is a configuration in which uniformly distributed in the film (hereinafter Also referred to as a cloud-like.) A.

つまり、CAC−OSは、GaOX3が主成分である領域と、InX2ZnY2Z2、またはInOX1が主成分である領域とが、混合している構成を有する複合金属酸化物である。なお、本明細書において、例えば、第1の領域の元素Mに対するInの原子数比が、第2の領域の元素Mに対するInの原子数比よりも大きいことを、第1の領域は、第2の領域と比較して、Inの濃度が高いとする。 That, CAC-OS includes a region GaO X3 is the main component, and In X2 Zn Y2 O Z2, or InO X1 is the main component region is a composite metal oxide having a structure that is mixed. Note that in this specification, for example, the first region indicates that the atomic ratio of In to the element M in the first region is larger than the atomic ratio of In to the element M in the second region. It is assumed that the concentration of In is higher than that in the second region.

なお、IGZOは通称であり、In、Ga、Zn、およびOによる1つの化合物をいう場合がある。代表例として、InGaO(ZnO)m1(m1は自然数)、またはIn(1+x0)Ga(1−x0)(ZnO)m0(−1≦x0≦1、m0は任意数)で表される結晶性の化合物が挙げられる。 Note that IGZO is a common name and may refer to one compound of In, Ga, Zn, and O. As a typical example, InGaO 3 (ZnO) m1 (m1 is a natural number) or In (1 + x0) Ga (1-x0) O 3 (ZnO) m0 (−1 ≦ x0 ≦ 1, m0 is an arbitrary number) A crystalline compound may be mentioned.

上記結晶性の化合物は、単結晶構造、多結晶構造、またはCAAC構造を有する。なお、CAAC構造とは、複数のIGZOのナノ結晶がc軸配向を有し、かつa−b面においては配向せずに連結した結晶構造である。   The crystalline compound has a single crystal structure, a polycrystalline structure, or a CAAC structure. The CAAC structure is a crystal structure in which a plurality of IGZO nanocrystals have c-axis orientation and are connected without being oriented in the ab plane.

一方、CAC−OSは、金属酸化物の材料構成に関する。CAC−OSとは、In、Ga、Zn、およびOを含む材料構成において、一部にGaを主成分とするナノ粒子状に観察される領域と、一部にInを主成分とするナノ粒子状に観察される領域とが、それぞれモザイク状にランダムに分散している構成をいう。従って、CAC−OSにおいて、結晶構造は副次的な要素である。   On the other hand, CAC-OS relates to a material structure of a metal oxide. CAC-OS refers to a region observed in the form of nanoparticles mainly composed of Ga in a material structure including In, Ga, Zn and O, and nanoparticles mainly composed of In. The region observed in a shape is a configuration in which the regions are randomly dispersed in a mosaic shape. Therefore, in the CAC-OS, the crystal structure is a secondary element.

なお、CAC−OSは、組成の異なる二種類以上の膜の積層構造は含まないものとする。例えば、Inを主成分とする膜と、Gaを主成分とする膜との2層からなる構造は、含まない。   Note that the CAC-OS does not include a stacked structure of two or more kinds of films having different compositions. For example, a structure composed of two layers of a film mainly containing In and a film mainly containing Ga is not included.

なお、GaOX3が主成分である領域と、InX2ZnY2Z2、またはInOX1が主成分である領域とは、明確な境界が観察できない場合がある。 Incidentally, a region GaO X3 is the main component, and In X2 Zn Y2 O Z2 or InO X1 is the main component region, in some cases clear boundary can not be observed.

なお、ガリウムの代わりに、アルミニウム、イットリウム、銅、バナジウム、ベリリウム、ホウ素、シリコン、チタン、鉄、ニッケル、ゲルマニウム、ジルコニウム、モリブデン、ランタン、セリウム、ネオジム、ハフニウム、タンタル、タングステン、またはマグネシウムなどから選ばれた一種、または複数種が含まれている場合、CAC−OSは、一部に該金属元素を主成分とするナノ粒子状に観察される領域と、一部にInを主成分とするナノ粒子状に観察される領域とが、それぞれモザイク状にランダムに分散している構成をいう。   In place of gallium, aluminum, yttrium, copper, vanadium, beryllium, boron, silicon, titanium, iron, nickel, germanium, zirconium, molybdenum, lanthanum, cerium, neodymium, hafnium, tantalum, tungsten, or magnesium are selected. In the case where one or a plurality of types are included, the CAC-OS includes a region that is observed in a part of a nanoparticle mainly including the metal element and a nanoparticle mainly including In. The region observed in the form of particles refers to a configuration in which each region is randomly dispersed in a mosaic shape.

CAC−OSは、例えば基板を意図的に加熱しない条件で、スパッタリング法により形成することができる。また、CAC−OSをスパッタリング法で形成する場合、成膜ガスとして、不活性ガス(代表的にはアルゴン)、酸素ガス、及び窒素ガスの中から選ばれたいずれか一つまたは複数を用いればよい。また、成膜時の成膜ガスの総流量に対する酸素ガスの流量比は低いほど好ましく、例えば酸素ガスの流量比を0%以上30%未満、好ましくは0%以上10%以下とすることが好ましい。   The CAC-OS can be formed by a sputtering method under a condition where the substrate is not intentionally heated, for example. In the case where a CAC-OS is formed by a sputtering method, any one or more selected from an inert gas (typically argon), an oxygen gas, and a nitrogen gas may be used as a deposition gas. Good. Further, the flow rate ratio of the oxygen gas to the total flow rate of the deposition gas during film formation is preferably as low as possible. .

CAC−OSは、X線回折(XRD:X−ray diffraction)測定法のひとつであるOut−of−plane法によるθ/2θスキャンを用いて測定したときに、明確なピークが観察されないという特徴を有する。すなわち、X線回折から、測定領域のa−b面方向、およびc軸方向の配向は見られないことが分かる。   The CAC-OS is characterized in that no clear peak is observed when it is measured using a θ / 2θ scan by the out-of-plane method, which is one of the X-ray diffraction (XRD) measurement methods. Have. That is, it can be seen from X-ray diffraction that no orientation in the ab plane direction and c-axis direction of the measurement region is observed.

またCAC−OSは、プローブ径が1nmの電子線(ナノビーム電子線ともいう。)を照射することで得られる電子線回折パターンにおいて、リング状に輝度の高い領域と、該リング領域に複数の輝点が観測される。従って、電子線回折パターンから、CAC−OSの結晶構造が、平面方向、および断面方向において、配向性を有さないnc(nano−crystal)構造を有することがわかる。   In addition, in the CAC-OS, an electron diffraction pattern obtained by irradiating an electron beam with a probe diameter of 1 nm (also referred to as a nanobeam electron beam) has a ring-like region having a high luminance and a plurality of bright regions in the ring region. A point is observed. Therefore, it can be seen from the electron beam diffraction pattern that the crystal structure of the CAC-OS has an nc (nano-crystal) structure having no orientation in the planar direction and the cross-sectional direction.

また例えば、In−Ga−Zn酸化物におけるCAC−OSでは、エネルギー分散型X線分光法(EDX:Energy Dispersive X−ray spectroscopy)を用いて取得したEDXマッピングにより、GaOX3が主成分である領域と、InX2ZnY2Z2、またはInOX1が主成分である領域とが、偏在し、混合している構造を有することが確認できる。 Further, for example, in a CAC-OS in an In—Ga—Zn oxide, a region in which GaO X3 is a main component is obtained by EDX mapping obtained by using energy dispersive X-ray spectroscopy (EDX). It can be confirmed that a region in which In X2 Zn Y2 O Z2 or InO X1 is a main component is unevenly distributed and mixed.

CAC−OSは、金属元素が均一に分布したIGZO化合物とは異なる構造であり、IGZO化合物と異なる性質を有する。つまり、CAC−OSは、GaOX3などが主成分である領域と、InX2ZnY2Z2、またはInOX1が主成分である領域と、に互いに相分離し、各元素を主成分とする領域がモザイク状である構造を有する。 The CAC-OS has a structure different from that of the IGZO compound in which the metal element is uniformly distributed, and has a property different from that of the IGZO compound. That is, in the CAC-OS, a region in which GaO X3 or the like is a main component and a region in which In X2 Zn Y2 O Z2 or InO X1 is a main component are phase-separated from each other, and each region is mainly composed of each element. Has a mosaic structure.

ここで、InX2ZnY2Z2、またはInOX1が主成分である領域は、GaOX3などが主成分である領域と比較して、導電性が高い領域である。つまり、InX2ZnY2Z2、またはInOX1が主成分である領域を、キャリアが流れることにより、金属酸化物としての導電性が発現する。従って、InX2ZnY2Z2、またはInOX1が主成分である領域が、金属酸化物中にクラウド状に分布することで、高い電界効果移動度(μ)が実現できる。 Here, the region containing In X2 Zn Y2 O Z2 or InO X1 as a main component is a region having higher conductivity than a region containing GaO X3 or the like as a main component. That, In X2 Zn Y2 O Z2 or InO X1, is an area which is the main component, by carriers flow, conductive metal oxide is expressed. Accordingly, a region where In X2 Zn Y2 O Z2 or InO X1 is a main component is distributed in a cloud shape in the metal oxide, so that high field-effect mobility (μ) can be realized.

一方、GaOX3などが主成分である領域は、InX2ZnY2Z2、またはInOX1が主成分である領域と比較して、絶縁性が高い領域である。つまり、GaOX3などが主成分である領域が、金属酸化物中に分布することで、リーク電流を抑制し、良好なスイッチング動作を実現できる。 On the other hand, areas such as GaO X3 is the main component, as compared to the In X2 Zn Y2 O Z2 or InO X1 is the main component area, it is highly regions insulating. That is, since the region mainly composed of GaO X3 or the like is distributed in the metal oxide, a leakage current can be suppressed and a good switching operation can be realized.

従って、CAC−OSを半導体素子に用いた場合、GaOX3などに起因する絶縁性と、InX2ZnY2Z2、またはInOX1に起因する導電性とが、相補的に作用することにより、高いオン電流(Ion)、および高い電界効果移動度(μ)を実現することができる。 Therefore, when CAC-OS is used for a semiconductor element, the insulating property caused by GaO X3 and the like and the conductivity caused by In X2 Zn Y2 O Z2 or InO X1 act in a complementary manner, resulting in high An on-current (I on ) and high field effect mobility (μ) can be realized.

また、CAC−OSを用いた半導体素子は、信頼性が高い。従って、CAC−OSは、ディスプレイをはじめとするさまざまな半導体装置に最適である。   In addition, a semiconductor element using a CAC-OS has high reliability. Therefore, the CAC-OS is optimal for various semiconductor devices including a display.

または、トランジスタのチャネルが形成される半導体に、シリコンを用いることが好ましい。シリコンとしてアモルファスシリコンを用いてもよいが、特に結晶性を有するシリコンを用いることが好ましい。例えば、微結晶シリコン、多結晶シリコン、単結晶シリコンなどを用いることが好ましい。特に、多結晶シリコンは、単結晶シリコンに比べて低温で形成でき、且つアモルファスシリコンに比べて高い電界効果移動度と高い信頼性を備える。このような多結晶半導体を画素に適用することで画素の開口率を向上させることができる。また極めて高精細な表示部とする場合であっても、ゲート駆動回路とソース駆動回路を画素と同一基板上に形成することが可能となり、電子機器を構成する部品数を低減することができる。   Alternatively, silicon is preferably used for a semiconductor in which a channel of the transistor is formed. Although amorphous silicon may be used as silicon, it is particularly preferable to use silicon having crystallinity. For example, microcrystalline silicon, polycrystalline silicon, single crystal silicon, or the like is preferably used. In particular, polycrystalline silicon can be formed at a lower temperature than single crystal silicon, and has higher field effect mobility and higher reliability than amorphous silicon. By applying such a polycrystalline semiconductor to a pixel, the aperture ratio of the pixel can be improved. Even in the case of a display portion with extremely high definition, the gate driver circuit and the source driver circuit can be formed over the same substrate as the pixel, and the number of components included in the electronic device can be reduced.

本実施の形態で例示したボトムゲート構造のトランジスタは、作製工程を削減できるため好ましい。またこのときアモルファスシリコンを用いることで、多結晶シリコンよりも低温で形成できるため、半導体層よりも下層の配線や電極の材料、基板の材料として、耐熱性の低い材料を用いることが可能なため、材料の選択の幅を広げることができる。例えば、極めて大面積のガラス基板などを好適に用いることができる。一方、トップゲート型のトランジスタは、自己整合的に不純物領域を形成しやすいため、特性のばらつきなどを低減することできるため好ましい。このとき特に、多結晶シリコンや単結晶シリコンなどを用いる場合に適している。   The bottom-gate transistor described in this embodiment is preferable because the number of manufacturing steps can be reduced. At this time, since amorphous silicon can be used at a lower temperature than polycrystalline silicon, it is possible to use a material having low heat resistance as a material for wiring, electrodes, and substrates below the semiconductor layer. Can widen the choice of materials. For example, a glass substrate having an extremely large area can be suitably used. On the other hand, a top-gate transistor is preferable because an impurity region can be easily formed in a self-aligning manner and variation in characteristics can be reduced. At this time, it is particularly suitable when polycrystalline silicon, single crystal silicon or the like is used.

〔導電層〕
トランジスタのゲート、ソースおよびドレインのほか、表示装置を構成する各種配線および電極などの導電層に用いることのできる材料としては、アルミニウム、チタン、クロム、ニッケル、銅、イットリウム、ジルコニウム、モリブデン、銀、タンタル、またはタングステンなどの金属、またはこれを主成分とする合金などが挙げられる。またこれらの材料を含む膜を単層で、または積層構造として用いることができる。例えば、シリコンを含むアルミニウム膜の単層構造、チタン膜上にアルミニウム膜を積層する二層構造、タングステン膜上にアルミニウム膜を積層する二層構造、銅−マグネシウム−アルミニウム合金膜上に銅膜を積層する二層構造、チタン膜上に銅膜を積層する二層構造、タングステン膜上に銅膜を積層する二層構造、チタン膜または窒化チタン膜と、その上に重ねてアルミニウム膜または銅膜を積層し、さらにその上にチタン膜または窒化チタン膜を形成する三層構造、モリブデン膜または窒化モリブデン膜と、その上に重ねてアルミニウム膜または銅膜を積層し、さらにその上にモリブデン膜または窒化モリブデン膜を形成する三層構造等がある。なお、酸化インジウム、酸化錫または酸化亜鉛等の酸化物を用いてもよい。また、マンガンを含む銅を用いると、エッチングによる形状の制御性が高まるため好ましい。
[Conductive layer]
In addition to the gate, source, and drain of a transistor, materials that can be used for conductive layers such as various wirings and electrodes that constitute a display device include aluminum, titanium, chromium, nickel, copper, yttrium, zirconium, molybdenum, silver, A metal such as tantalum or tungsten, or an alloy containing the same as a main component can be given. A film containing any of these materials can be used as a single layer or a stacked structure. For example, a single layer structure of an aluminum film containing silicon, a two layer structure in which an aluminum film is stacked on a titanium film, a two layer structure in which an aluminum film is stacked on a tungsten film, and a copper film on a copper-magnesium-aluminum alloy film Two-layer structure to stack, two-layer structure to stack copper film on titanium film, two-layer structure to stack copper film on tungsten film, titanium film or titanium nitride film, and aluminum film or copper film on top of it A three-layer structure for forming a titanium film or a titanium nitride film thereon, a molybdenum film or a molybdenum nitride film, and an aluminum film or a copper film stacked thereon, and a molybdenum film or a There is a three-layer structure for forming a molybdenum nitride film. Note that an oxide such as indium oxide, tin oxide, or zinc oxide may be used. Further, it is preferable to use copper containing manganese because the controllability of the shape by etching is increased.

また、透光性を有する導電性材料としては、酸化インジウム、インジウム錫酸化物、インジウム亜鉛酸化物、酸化亜鉛、ガリウムを添加した酸化亜鉛などの導電性酸化物またはグラフェンを用いることができる。または、金、銀、白金、マグネシウム、ニッケル、タングステン、クロム、モリブデン、鉄、コバルト、銅、パラジウム、またはチタンなどの金属材料や、該金属材料を含む合金材料を用いることができる。または、該金属材料の窒化物(例えば、窒化チタン)などを用いてもよい。なお、金属材料、合金材料(またはそれらの窒化物)を用いる場合には、透光性を有する程度に薄くすればよい。また、上記材料の積層膜を導電層として用いることができる。例えば、銀とマグネシウムの合金とインジウムスズ酸化物の積層膜などを用いると、導電性を高めることができるため好ましい。これらは、表示装置を構成する各種配線および電極などの導電層や、表示素子が有する導電層(画素電極や共通電極として機能する導電層)にも用いることができる。   As the light-transmitting conductive material, conductive oxide such as indium oxide, indium tin oxide, indium zinc oxide, zinc oxide, or zinc oxide to which gallium is added, or graphene can be used. Alternatively, a metal material such as gold, silver, platinum, magnesium, nickel, tungsten, chromium, molybdenum, iron, cobalt, copper, palladium, or titanium, or an alloy material containing the metal material can be used. Alternatively, a nitride (eg, titanium nitride) of the metal material may be used. Note that in the case where a metal material or an alloy material (or a nitride thereof) is used, it may be thin enough to have a light-transmitting property. In addition, a stacked film of the above materials can be used as a conductive layer. For example, it is preferable to use a laminated film of an alloy of silver and magnesium and indium tin oxide because the conductivity can be increased. These can also be used for conductive layers such as various wirings and electrodes constituting the display device and conductive layers (conductive layers functioning as pixel electrodes and common electrodes) included in the display element.

〔絶縁層〕
各絶縁層に用いることのできる絶縁材料としては、例えば、アクリル、エポキシなどの樹脂、シロキサン結合を有する樹脂の他、酸化シリコン、酸化窒化シリコン、窒化酸化シリコン、窒化シリコン、酸化アルミニウムなどの無機絶縁材料を用いることもできる。
[Insulation layer]
Insulating materials that can be used for each insulating layer include, for example, resins such as acrylic and epoxy, resins having a siloxane bond, and inorganic insulation such as silicon oxide, silicon oxynitride, silicon nitride oxide, silicon nitride, and aluminum oxide. Materials can also be used.

また発光素子は、一対の透水性の低い絶縁膜の間に設けられていることが好ましい。これにより、発光素子に水等の不純物が侵入することを抑制でき、装置の信頼性の低下を抑制できる。   The light-emitting element is preferably provided between a pair of insulating films with low water permeability. Thereby, impurities such as water can be prevented from entering the light emitting element, and a decrease in reliability of the apparatus can be suppressed.

透水性の低い絶縁膜としては、窒化シリコン膜、窒化酸化シリコン膜等の窒素と珪素を含む膜や、窒化アルミニウム膜等の窒素とアルミニウムを含む膜等が挙げられる。また、酸化シリコン膜、酸化窒化シリコン膜、酸化アルミニウム膜等を用いてもよい。   Examples of the low water-permeable insulating film include a film containing nitrogen and silicon such as a silicon nitride film and a silicon nitride oxide film, and a film containing nitrogen and aluminum such as an aluminum nitride film. Alternatively, a silicon oxide film, a silicon oxynitride film, an aluminum oxide film, or the like may be used.

例えば、透水性の低い絶縁膜の水蒸気透過量は、1×10−5[g/(m・day)]以下、好ましくは1×10−6[g/(m・day)]以下、より好ましくは1×10−7[g/(m・day)]以下、さらに好ましくは1×10−8[g/(m・day)]以下とする。 For example, the water vapor transmission rate of an insulating film with low water permeability is 1 × 10 −5 [g / (m 2 · day)] or less, preferably 1 × 10 −6 [g / (m 2 · day)] or less, More preferably, it is 1 × 10 −7 [g / (m 2 · day)] or less, and further preferably 1 × 10 −8 [g / (m 2 · day)] or less.

〔液晶素子〕
液晶素子としては、例えば垂直配向(VA:Vertical Alignment)モードが適用された液晶素子を用いることができる。垂直配向モードとしては、MVA(Multi−Domain Vertical Alignment)モード、PVA(Patterned Vertical Alignment)モード、ASV(Advanced Super View)モードなどを用いることができる。
[Liquid crystal element]
As the liquid crystal element, for example, a liquid crystal element to which a vertical alignment (VA: Vertical Alignment) mode is applied can be used. As the vertical alignment mode, an MVA (Multi-Domain Vertical Alignment) mode, a PVA (Patterned Vertical Alignment) mode, an ASV (Advanced Super View) mode, or the like can be used.

また、液晶素子には、様々なモードが適用された液晶素子を用いることができる。例えばVAモードのほかに、TN(Twisted Nematic)モード、IPS(In−Plane−Switching)モード、FFS(Fringe Field Switching)モード、ASM(Axially Symmetric aligned Micro−cell)モード、OCB(Optically Compensated Birefringence)モード、FLC(Ferroelectric Liquid Crystal)モード、AFLC(AntiFerroelectric Liquid Crystal)モード等が適用された液晶素子を用いることができる。   As the liquid crystal element, liquid crystal elements to which various modes are applied can be used. For example, in addition to the VA mode, a TN (Twisted Nematic) mode, an IPS (In-Plane-Switching) mode, an FFS (Fringe Field Switching) mode, an ASM (Axially Symmetrical Aligned Micro-cell) mode, Further, a liquid crystal element to which an FLC (Ferroelectric Liquid Crystal) mode, an AFLC (Antiferroelectric Liquid Crystal) mode, or the like is applied can be used.

なお、液晶素子は、液晶の光学的変調作用によって光の透過または非透過を制御する素子である。なお、液晶の光学的変調作用は、液晶にかかる電界(横方向の電界、縦方向の電界又は斜め方向の電界を含む)によって制御される。なお、液晶素子に用いる液晶としては、サーモトロピック液晶、低分子液晶、高分子液晶、高分子分散型液晶(PDLC:Polymer Dispersed Liquid Crystal)、強誘電性液晶、反強誘電性液晶等を用いることができる。これらの液晶材料は、条件により、コレステリック相、スメクチック相、キュービック相、カイラルネマチック相、等方相等を示す。   Note that a liquid crystal element is an element that controls transmission or non-transmission of light by an optical modulation action of liquid crystal. Note that the optical modulation action of the liquid crystal is controlled by an electric field applied to the liquid crystal (including a horizontal electric field, a vertical electric field, or an oblique electric field). As the liquid crystal used in the liquid crystal element, a thermotropic liquid crystal, a low molecular liquid crystal, a polymer liquid crystal, a polymer dispersed liquid crystal (PDLC), a ferroelectric liquid crystal, an antiferroelectric liquid crystal, or the like is used. Can do. These liquid crystal materials exhibit a cholesteric phase, a smectic phase, a cubic phase, a chiral nematic phase, an isotropic phase, and the like depending on conditions.

また、液晶材料としては、ポジ型の液晶、またはネガ型の液晶のいずれを用いてもよく、適用するモードや設計に応じて最適な液晶材料を用いればよい。   Further, as the liquid crystal material, either a positive type liquid crystal or a negative type liquid crystal may be used, and an optimal liquid crystal material may be used according to an applied mode or design.

また、液晶の配向を制御するため、配向膜を設けることができる。なお、横電界方式を採用する場合、配向膜を用いないブルー相を示す液晶を用いてもよい。ブルー相は液晶相の一つであり、コレステリック液晶を昇温していくと、コレステリック相から等方相へ転移する直前に発現する相である。ブルー相は狭い温度範囲でしか発現しないため、温度範囲を改善するために数重量%以上のカイラル剤を混合させた液晶組成物を液晶層に用いる。ブルー相を示す液晶とカイラル剤とを含む液晶組成物は、応答速度が短く、光学的等方性である。また、ブルー相を示す液晶とカイラル剤とを含む液晶組成物は、配向処理が不要であり、視野角依存性が小さい。また配向膜を設けなくてもよいのでラビング処理も不要となるため、ラビング処理によって引き起こされる静電破壊を防止することができ、作製工程中の液晶表示装置の不良や破損を軽減することができる。   An alignment film can be provided to control the alignment of the liquid crystal. Note that in the case of employing a horizontal electric field mode, liquid crystal exhibiting a blue phase for which an alignment film is unnecessary may be used. The blue phase is one of the liquid crystal phases. When the temperature of the cholesteric liquid crystal is increased, the blue phase appears immediately before the transition from the cholesteric phase to the isotropic phase. Since the blue phase appears only in a narrow temperature range, a liquid crystal composition mixed with several percent by weight or more of a chiral agent is used for the liquid crystal layer in order to improve the temperature range. A liquid crystal composition containing a liquid crystal exhibiting a blue phase and a chiral agent has a short response speed and is optically isotropic. In addition, a liquid crystal composition including a liquid crystal exhibiting a blue phase and a chiral agent does not require alignment treatment and has a small viewing angle dependency. Further, since it is not necessary to provide an alignment film, a rubbing process is not required, so that electrostatic breakdown caused by the rubbing process can be prevented, and defects or breakage of the liquid crystal display device during the manufacturing process can be reduced. .

また、液晶素子として、透過型の液晶素子、反射型の液晶素子、または半透過型の液晶素子などを用いることができる。   As the liquid crystal element, a transmissive liquid crystal element, a reflective liquid crystal element, a transflective liquid crystal element, or the like can be used.

本発明の一態様では、特に反射型の液晶素子を用いることができる。   In one embodiment of the present invention, a reflective liquid crystal element can be used.

透過型または半透過型の液晶素子を用いる場合、一対の基板を挟むように、2つの偏光板を設ける。また偏光板よりも外側に、バックライトを設ける。バックライトとしては、直下型のバックライトであってもよいし、エッジライト型のバックライトであってもよい。LED(Light Emitting Diode)を備える直下型のバックライトを用いると、ローカルディミングが容易となり、コントラストを高めることができるため好ましい。また、エッジライト型のバックライトを用いると、バックライトを含めたモジュールの厚さを低減できるため好ましい。   In the case of using a transmissive or transflective liquid crystal element, two polarizing plates are provided so as to sandwich a pair of substrates. A backlight is provided outside the polarizing plate. The backlight may be a direct type backlight or an edge light type backlight. It is preferable to use a direct-type backlight including an LED (Light Emitting Diode) because local dimming is facilitated and contrast can be increased. An edge light type backlight is preferably used because the thickness of the module including the backlight can be reduced.

反射型の液晶素子を用いる場合には、表示面側に偏光板を設ける。またこれとは別に、表示面側に光拡散板を配置すると、視認性を向上させられるため好ましい。   In the case of using a reflective liquid crystal element, a polarizing plate is provided on the display surface side. Separately from this, it is preferable to arrange a light diffusing plate on the display surface side because the visibility can be improved.

〔発光素子〕
発光素子としては、自発光が可能な素子を用いることができ、電流又は電圧によって輝度が制御される素子をその範疇に含んでいる。例えば、発光ダイオード(LED)、有機EL素子、無機EL素子等を用いることができる。
[Light emitting element]
As the light-emitting element, an element capable of self-emission can be used, and an element whose luminance is controlled by current or voltage is included in its category. For example, a light emitting diode (LED), an organic EL element, an inorganic EL element, or the like can be used.

発光素子は、トップエミッション型、ボトムエミッション型、デュアルエミッション型などがある。光を取り出す側の電極には、可視光を透過する導電膜を用いる。また、光を取り出さない側の電極には、可視光を反射する導電膜を用いることが好ましい。   Light emitting elements include a top emission type, a bottom emission type, and a dual emission type. A conductive film that transmits visible light is used for the electrode from which light is extracted. In addition, a conductive film that reflects visible light is preferably used for the electrode from which light is not extracted.

本発明の一態様では、特にボトムエミッション型の発光素子を用いることができる。   In one embodiment of the present invention, a bottom emission light-emitting element can be used.

EL層は少なくとも発光層を有する。EL層は、発光層以外の層として、正孔注入性の高い物質、正孔輸送性の高い物質、正孔ブロック材料、電子輸送性の高い物質、電子注入性の高い物質、又はバイポーラ性の物質(電子輸送性及び正孔輸送性が高い物質)等を含む層をさらに有していてもよい。   The EL layer has at least a light emitting layer. The EL layer is a layer other than the light-emitting layer, such as a substance having a high hole injection property, a substance having a high hole transport property, a hole blocking material, a substance having a high electron transport property, a substance having a high electron injection property, or a bipolar property. A layer including a substance (a substance having a high electron transporting property and a high hole transporting property) and the like may be further included.

EL層には低分子系化合物及び高分子系化合物のいずれを用いることもでき、無機化合物を含んでいてもよい。EL層を構成する層は、それぞれ、蒸着法(真空蒸着法を含む)、転写法、印刷法、インクジェット法、塗布法等の方法で形成することができる。   Either a low molecular compound or a high molecular compound can be used for the EL layer, and an inorganic compound may be included. The layers constituting the EL layer can be formed by a method such as a vapor deposition method (including a vacuum vapor deposition method), a transfer method, a printing method, an ink jet method, or a coating method.

陰極と陽極の間に、発光素子の閾値電圧より高い電圧を印加すると、EL層に陽極側から正孔が注入され、陰極側から電子が注入される。注入された電子と正孔はEL層において再結合し、EL層に含まれる発光物質が発光する。   When a voltage higher than the threshold voltage of the light emitting element is applied between the cathode and the anode, holes are injected into the EL layer from the anode side and electrons are injected from the cathode side. The injected electrons and holes are recombined in the EL layer, and the light-emitting substance contained in the EL layer emits light.

発光素子として、白色発光の発光素子を適用する場合には、EL層に2種類以上の発光物質を含む構成とすることが好ましい。例えば2以上の発光物質の各々の発光が補色の関係となるように、発光物質を選択することにより白色発光を得ることができる。例えば、それぞれR(赤)、G(緑)、B(青)、Y(黄)、O(橙)等の発光を示す発光物質、またはR、G、Bのうち2以上の色のスペクトル成分を含む発光を示す発光物質のうち、2以上を含むことが好ましい。また、発光素子からの発光のスペクトルが、可視光領域の波長(例えば350nm〜750nm)の範囲内に2以上のピークを有する発光素子を適用することが好ましい。また、黄色の波長領域にピークを有する材料の発光スペクトルは、緑色及び赤色の波長領域にもスペクトル成分を有する材料であることが好ましい。   In the case where a white light-emitting element is used as the light-emitting element, the EL layer preferably includes two or more light-emitting substances. For example, white light emission can be obtained by selecting the light emitting material so that the light emission of each of the two or more light emitting materials has a complementary color relationship. For example, a light emitting material that emits light such as R (red), G (green), B (blue), Y (yellow), and O (orange), or spectral components of two or more colors of R, G, and B It is preferable that 2 or more are included among the luminescent substances which show light emission containing. In addition, it is preferable to apply a light-emitting element whose emission spectrum from the light-emitting element has two or more peaks within a wavelength range of visible light (for example, 350 nm to 750 nm). The emission spectrum of the material having a peak in the yellow wavelength region is preferably a material having spectral components in the green and red wavelength regions.

EL層は、一の色を発光する発光材料を含む発光層と、他の色を発光する発光材料を含む発光層とが積層された構成とすることが好ましい。例えば、EL層における複数の発光層は、互いに接して積層されていてもよいし、いずれの発光材料も含まない領域を介して積層されていてもよい。例えば、蛍光発光層と燐光発光層との間に、当該蛍光発光層または燐光発光層と同一の材料(例えばホスト材料、アシスト材料)を含み、且ついずれの発光材料も含まない領域を設ける構成としてもよい。これにより、発光素子の作製が容易になり、また、駆動電圧が低減される。   The EL layer preferably has a structure in which a light-emitting layer including a light-emitting material that emits one color and a light-emitting layer including a light-emitting material that emits another color are stacked. For example, the plurality of light emitting layers in the EL layer may be stacked in contact with each other, or may be stacked through a region not including any light emitting material. For example, a region including the same material (for example, a host material or an assist material) as the fluorescent light emitting layer or the phosphorescent light emitting layer and not including any light emitting material is provided between the fluorescent light emitting layer and the phosphorescent light emitting layer. Also good. This facilitates the production of the light emitting element and reduces the driving voltage.

また、発光素子は、EL層を1つ有するシングル素子であってもよいし、複数のEL層が電荷発生層を介して積層されたタンデム素子であってもよい。   The light-emitting element may be a single element having one EL layer or a tandem element in which a plurality of EL layers are stacked with a charge generation layer interposed therebetween.

可視光を透過する導電膜は、例えば、酸化インジウム、インジウム錫酸化物、インジウム亜鉛酸化物、酸化亜鉛、ガリウムを添加した酸化亜鉛などを用いて形成することができる。また、金、銀、白金、マグネシウム、ニッケル、タングステン、クロム、モリブデン、鉄、コバルト、銅、パラジウム、もしくはチタン等の金属材料、これら金属材料を含む合金、又はこれら金属材料の窒化物(例えば、窒化チタン)等も、透光性を有する程度に薄く形成することで用いることができる。また、上記材料の積層膜を導電層として用いることができる。例えば、銀とマグネシウムの合金とインジウム錫酸化物の積層膜などを用いると、導電性を高めることができるため好ましい。また、グラフェン等を用いてもよい。   The conductive film that transmits visible light can be formed using, for example, indium oxide, indium tin oxide, indium zinc oxide, zinc oxide, zinc oxide to which gallium is added, or the like. In addition, a metal material such as gold, silver, platinum, magnesium, nickel, tungsten, chromium, molybdenum, iron, cobalt, copper, palladium, or titanium, an alloy including these metal materials, or a nitride of these metal materials (for example, Titanium nitride) can also be used by forming it thin enough to have translucency. In addition, a stacked film of the above materials can be used as a conductive layer. For example, it is preferable to use a stacked film of an alloy of silver and magnesium and indium tin oxide because the conductivity can be increased. Further, graphene or the like may be used.

可視光を反射する導電膜は、例えば、アルミニウム、金、白金、銀、ニッケル、タングステン、クロム、モリブデン、鉄、コバルト、銅、もしくはパラジウム等の金属材料、又はこれら金属材料を含む合金を用いることができる。また、上記金属材料や合金に、ランタン、ネオジム、又はゲルマニウム等が添加されていてもよい。また、チタン、ニッケル、またはネオジムと、アルミニウムを含む合金(アルミニウム合金)を用いてもよい。また銅、パラジウム、マグネシウムと、銀を含む合金を用いてもよい。銀と銅を含む合金は、耐熱性が高いため好ましい。さらに、アルミニウム膜またはアルミニウム合金膜に接して金属膜又は金属酸化物膜を積層することで、酸化を抑制することができる。このような金属膜、金属酸化物膜の材料としては、チタンや酸化チタンなどが挙げられる。また、上記可視光を透過する導電膜と金属材料からなる膜とを積層してもよい。例えば、銀とインジウム錫酸化物の積層膜、銀とマグネシウムの合金とインジウム錫酸化物の積層膜などを用いることができる。   For the conductive film that reflects visible light, for example, a metal material such as aluminum, gold, platinum, silver, nickel, tungsten, chromium, molybdenum, iron, cobalt, copper, or palladium, or an alloy including these metal materials is used. Can do. In addition, lanthanum, neodymium, germanium, or the like may be added to the metal material or alloy. Alternatively, titanium, nickel, or neodymium and an alloy containing aluminum (aluminum alloy) may be used. Alternatively, an alloy containing copper, palladium, magnesium, and silver may be used. An alloy containing silver and copper is preferable because of its high heat resistance. Furthermore, oxidation can be suppressed by stacking a metal film or a metal oxide film in contact with the aluminum film or the aluminum alloy film. Examples of materials for such metal films and metal oxide films include titanium and titanium oxide. Alternatively, the conductive film that transmits visible light and a film made of a metal material may be stacked. For example, a laminated film of silver and indium tin oxide, a laminated film of an alloy of silver and magnesium and indium tin oxide, or the like can be used.

電極は、それぞれ、蒸着法やスパッタリング法を用いて形成すればよい。そのほか、インクジェット法などの吐出法、スクリーン印刷法などの印刷法、又はメッキ法を用いて形成することができる。   The electrodes may be formed using a vapor deposition method or a sputtering method, respectively. In addition, it can be formed using a discharge method such as an inkjet method, a printing method such as a screen printing method, or a plating method.

なお、上述した、発光層、ならびに正孔注入性の高い物質、正孔輸送性の高い物質、電子輸送性の高い物質、及び電子注入性の高い物質、バイポーラ性の物質等を含む層は、それぞれ量子ドットなどの無機化合物や、高分子化合物(オリゴマー、デンドリマー、ポリマー等)を有していてもよい。例えば、量子ドットを発光層に用いることで、発光材料として機能させることもできる。   Note that the above-described light-emitting layer and a layer containing a substance having a high hole-injecting property, a substance having a high hole-transporting property, a substance having a high electron-transporting property, a substance having a high electron-injecting property, a bipolar substance, Each may have an inorganic compound such as a quantum dot or a polymer compound (oligomer, dendrimer, polymer, etc.). For example, a quantum dot can be used for a light emitting layer to function as a light emitting material.

なお、量子ドット材料としては、コロイド状量子ドット材料、合金型量子ドット材料、コア・シェル型量子ドット材料、コア型量子ドット材料などを用いることができる。また、12族と16族、13族と15族、または14族と16族の元素グループを含む材料を用いてもよい。または、カドミウム、セレン、亜鉛、硫黄、リン、インジウム、テルル、鉛、ガリウム、ヒ素、アルミニウム等の元素を含む量子ドット材料を用いてもよい。   As the quantum dot material, a colloidal quantum dot material, an alloy type quantum dot material, a core / shell type quantum dot material, a core type quantum dot material, or the like can be used. Alternatively, a material including an element group of Group 12 and Group 16, Group 13 and Group 15, or Group 14 and Group 16 may be used. Alternatively, a quantum dot material containing an element such as cadmium, selenium, zinc, sulfur, phosphorus, indium, tellurium, lead, gallium, arsenic, or aluminum may be used.

〔接着層〕
接着層としては、紫外線硬化型等の光硬化型接着剤、反応硬化型接着剤、熱硬化型接着剤、嫌気型接着剤などの各種硬化型接着剤を用いることができる。これら接着剤としてはエポキシ樹脂、アクリル樹脂、シリコーン樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、イミド樹脂、PVC(ポリビニルクロライド)樹脂、PVB(ポリビニルブチラル)樹脂、EVA(エチレンビニルアセテート)樹脂等が挙げられる。特に、エポキシ樹脂等の透湿性が低い材料が好ましい。また、二液混合型の樹脂を用いてもよい。また、接着シート等を用いてもよい。
(Adhesive layer)
As the adhesive layer, various curable adhesives such as an ultraviolet curable photocurable adhesive, a reactive curable adhesive, a thermosetting adhesive, and an anaerobic adhesive can be used. Examples of these adhesives include epoxy resins, acrylic resins, silicone resins, phenol resins, polyimide resins, imide resins, PVC (polyvinyl chloride) resins, PVB (polyvinyl butyral) resins, EVA (ethylene vinyl acetate) resins, and the like. In particular, a material with low moisture permeability such as an epoxy resin is preferable. Alternatively, a two-component mixed resin may be used. Further, an adhesive sheet or the like may be used.

また、上記樹脂に乾燥剤を含んでいてもよい。例えば、アルカリ土類金属の酸化物(酸化カルシウムや酸化バリウム等)のように、化学吸着によって水分を吸着する物質を用いることができる。または、ゼオライトやシリカゲル等のように、物理吸着によって水分を吸着する物質を用いてもよい。乾燥剤が含まれていると、水分などの不純物が素子に侵入することを抑制でき、表示パネルの信頼性が向上するため好ましい。   Further, the resin may contain a desiccant. For example, a substance that adsorbs moisture by chemical adsorption, such as an alkaline earth metal oxide (such as calcium oxide or barium oxide), can be used. Alternatively, a substance that adsorbs moisture by physical adsorption, such as zeolite or silica gel, may be used. The inclusion of a desiccant is preferable because impurities such as moisture can be prevented from entering the element and the reliability of the display panel is improved.

また、上記樹脂に屈折率の高いフィラーや光散乱部材を混合することにより、光取り出し効率を向上させることができる。例えば、酸化チタン、酸化バリウム、ゼオライト、ジルコニウム等を用いることができる。   In addition, light extraction efficiency can be improved by mixing a filler having a high refractive index or a light scattering member with the resin. For example, titanium oxide, barium oxide, zeolite, zirconium, or the like can be used.

〔接続層〕
接続層としては、異方性導電フィルム(ACF:Anisotropic Conductive Film)や、異方性導電ペースト(ACP:Anisotropic Conductive Paste)などを用いることができる。
(Connection layer)
As the connection layer, an anisotropic conductive film (ACF: Anisotropic Conductive Film), an anisotropic conductive paste (ACP: Anisotropic Conductive Paste), or the like can be used.

〔着色層〕
着色層に用いることのできる材料としては、金属材料、樹脂材料、顔料または染料が含まれた樹脂材料などが挙げられる。
(Colored layer)
Examples of materials that can be used for the colored layer include metal materials, resin materials, resin materials containing pigments or dyes, and the like.

〔遮光層〕
遮光層として用いることのできる材料としては、カーボンブラック、チタンブラック、金属、金属酸化物、複数の金属酸化物の固溶体を含む複合酸化物等が挙げられる。遮光層は、樹脂材料を含む膜であってもよいし、金属などの無機材料の薄膜であってもよい。また、遮光層に、着色層の材料を含む膜の積層膜を用いることもできる。例えば、ある色の光を透過する着色層に用いる材料を含む膜と、他の色の光を透過する着色層に用いる材料を含む膜との積層構造を用いることができる。着色層と遮光層の材料を共通化することで、装置を共通化できるほか工程を簡略化できるため好ましい。
[Light shielding layer]
Examples of the material that can be used for the light-shielding layer include carbon black, titanium black, metal, metal oxide, and composite oxide containing a solid solution of a plurality of metal oxides. The light shielding layer may be a film containing a resin material or a thin film of an inorganic material such as a metal. Alternatively, a stacked film of a film containing a material for the colored layer can be used for the light shielding layer. For example, a stacked structure of a film including a material used for a colored layer that transmits light of a certain color and a film including a material used for a colored layer that transmits light of another color can be used. It is preferable to use a common material for the coloring layer and the light-shielding layer because the apparatus can be shared and the process can be simplified.

以上が各構成要素についての説明である。   The above is the description of each component.

本実施の形態は、少なくともその一部を本明細書中に記載する他の実施の形態と適宜組み合わせて実施することができる。   This embodiment can be implemented in appropriate combination with at least part of the other embodiments described in this specification.

(実施の形態2)
本実施の形態では、本発明の一態様の表示装置の例として、反射型の液晶素子と、発光素子の両方を有し、発光モード、反射モード、及びこれらを同時に行うハイブリッドモードの表示を行うことのできる、表示装置(表示パネル)の例を説明する。このような表示パネルを、ER−Hybrid Display(Emission and Reflection Hybrid Display、または、Emission/Reflection Hybrid Display)とも呼ぶことができる。
(Embodiment 2)
In this embodiment, as an example of a display device of one embodiment of the present invention, both a reflective liquid crystal element and a light-emitting element are provided, and a light-emitting mode, a reflective mode, and a hybrid mode display in which these are performed simultaneously are performed. An example of a display device (display panel) that can be used will be described. Such a display panel can also be called ER-Hybrid Display (Emission and Reflection Hybrid Display or Emission / Reflection Hybrid Display).

本発明の一態様の表示装置は、可視光を反射する第1の表示素子と、可視光を発する第2の表示素子とが混在した表示装置である。   The display device of one embodiment of the present invention is a display device in which a first display element that reflects visible light and a second display element that emits visible light are mixed.

表示装置は、第1の表示素子が反射する第1の光と、第2の表示素子が発する第2の光のうち、いずれか一方、または両方により、画像を表示する機能を有する。または、表示装置は、第1の表示素子が反射する第1の光の光量と、第2の表示素子が発する第2の光の光量と、をそれぞれ制御することにより、階調を表現する機能を有する。   The display device has a function of displaying an image with one or both of first light reflected by the first display element and second light emitted by the second display element. Alternatively, the display device functions to express gradation by controlling the amount of first light reflected by the first display element and the amount of second light emitted by the second display element, respectively. Have

また、表示装置は、第1の表示素子の反射光の光量を制御することにより階調を表現する第1の画素と、第2の表示素子からの発光の光量を制御することにより階調を表現する第2の画素を有する構成とすることが好ましい。第1の画素及び第2の画素は、例えばそれぞれマトリクス状に複数配置され、表示部を構成する。   In addition, the display device controls the first pixel that expresses gradation by controlling the amount of reflected light from the first display element, and the gradation by controlling the amount of light emitted from the second display element. A structure including the second pixel to be expressed is preferable. A plurality of first pixels and second pixels are arranged in a matrix, for example, and constitute a display unit.

また、第1の画素と第2の画素は、同ピッチで、表示領域内に配置されていることが好ましい。このとき、隣接する第1の画素と第2の画素を合わせて、画素ユニットと呼ぶことができる。   The first pixel and the second pixel are preferably arranged in the display area at the same pitch. At this time, the adjacent first pixel and second pixel can be collectively referred to as a pixel unit.

さらに、第1の画素及び第2の画素は表示装置の表示領域に混在して配置されていることが好ましい。これにより、後述するように複数の第1の画素のみで表示された画像と、複数の第2の画素のみで表示された画像、及び複数の第1の画素及び複数の第2の画素の両方で表示された画像のそれぞれは、同じ表示領域に表示することができる。   Furthermore, it is preferable that the first pixel and the second pixel are arranged in a mixed manner in the display region of the display device. Thereby, as will be described later, both the image displayed only with the plurality of first pixels, the image displayed only with the plurality of second pixels, and the plurality of first pixels and the plurality of second pixels. Each of the images displayed in can be displayed in the same display area.

第1の画素が有する第1の表示素子には、外光を反射して表示する素子を用いることができる。このような素子は、光源を持たないため、表示の際の消費電力を極めて小さくすることが可能となる。   As the first display element included in the first pixel, an element that reflects external light for display can be used. Since such an element does not have a light source, power consumption during display can be extremely reduced.

第1の表示素子には、代表的には反射型の液晶素子を用いることができる。または、第1の表示素子として、シャッター方式のMEMS(Micro Electro Mechanical Systems)素子、光干渉方式のMEMS素子の他、マイクロカプセル方式、電気泳動方式、エレクトロウェッティング方式、電子粉流体(登録商標)方式等を適用した素子などを用いることができる。   As the first display element, a reflective liquid crystal element can be typically used. Alternatively, as the first display element, in addition to a shutter-type MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) element, an optical interference-type MEMS element, a microcapsule method, an electrophoresis method, an electrowetting method, an electronic powder fluid (registered trademark) An element to which a method or the like is applied can be used.

また、第2の画素が有する第2の表示素子は光源を有し、その光源からの光を利用して表示する素子を用いることができる。特に、電界を印加することにより発光性の物質から発光を取り出すことのできる、電界発光素子を用いることが好ましい。このような画素が射出する光は、その輝度や色度が外光に左右されることがないため、色再現性が高く(色域が広く)、且つコントラストの高い、つまり鮮やかな表示を行うことができる。   In addition, the second display element included in the second pixel includes a light source, and an element that performs display using light from the light source can be used. In particular, an electroluminescent element that can extract light emitted from a light-emitting substance by applying an electric field is preferably used. The light emitted from such a pixel is not affected by the brightness or chromaticity of the light, and therefore has high color reproducibility (wide color gamut) and high contrast, that is, vivid display. be able to.

第2の表示素子には、例えばOLED(Organic Light Emitting Diode)、LED(Light Emitting Diode)、QLED(Quantum−dot Light Emitting Diode)、半導体レーザなどの自発光性の発光素子を用いることができる。または、第2の画素が有する表示素子として、光源であるバックライトと、バックライトからの光の透過光の光量を制御する透過型の液晶素子とを組み合わせたものを用いてもよい。   As the second display element, for example, a self-luminous light emitting element such as an OLED (Organic Light Emitting Diode), an LED (Light Emitting Diode), a QLED (Quantum-Dot Light Emitting Diode), or a semiconductor laser can be used. Alternatively, as the display element included in the second pixel, a combination of a backlight that is a light source and a transmissive liquid crystal element that controls the amount of light transmitted through the backlight may be used.

第1の画素は、例えば白色(W)を呈する副画素、または例えば赤色(R)、緑色(G)、青色(B)の3色の光をそれぞれ呈する副画素を有する構成とすることができる。また、第2の画素も同様に、例えば白色(W)を呈する副画素、または例えば赤色(R)、緑色(G)、青色(B)の3色の光をそれぞれ呈する副画素を有する構成とすることができる。なお、第1の画素及び第2の画素がそれぞれ有する副画素は、4色以上であってもよい。副画素の種類が多いほど、消費電力を低減することが可能で、また色再現性を高めることができる。   The first pixel can include a sub-pixel that exhibits, for example, white (W), or a sub-pixel that exhibits three colors of light, for example, red (R), green (G), and blue (B). . Similarly, the second pixel has a sub-pixel that exhibits, for example, white (W), or a sub-pixel that exhibits light of three colors, for example, red (R), green (G), and blue (B). can do. Note that the subpixels included in each of the first pixel and the second pixel may have four or more colors. As the number of subpixels increases, power consumption can be reduced and color reproducibility can be improved.

このような表示パネルの一例としては、可視光を反射する電極を備える液晶素子と、発光素子とを積層して配置した構成が挙げられる。このとき、可視光を反射する電極が開口を有し、当該開口と発光素子とが重ねて配置されていることが好ましい。これにより、発光モードでは当該開口を介して発光素子からの光が射出されるように駆動することができる。また、平面視において、液晶素子と発光素子を並べて配置した場合と比べて、これらを積層して配置することで、液晶素子と発光素子の両方を有する画素の大きさを小さくすることができるため、より高精細な表示装置を実現できる。   As an example of such a display panel, there is a configuration in which a liquid crystal element including an electrode that reflects visible light and a light emitting element are stacked. At this time, it is preferable that the electrode that reflects visible light has an opening, and the opening and the light-emitting element are overlaid. Thereby, in the light emission mode, it can drive so that the light from a light emitting element may be inject | emitted through the said opening. In addition, in a plan view, the size of a pixel including both the liquid crystal element and the light emitting element can be reduced by stacking and arranging the liquid crystal element and the light emitting element side by side. A higher definition display device can be realized.

さらに、液晶素子を駆動するトランジスタと、発光素子を構成するトランジスタとをそれぞれ個別に有することが好ましい。これにより、液晶素子と発光素子とを、それぞれ独立して駆動することができる。   Furthermore, it is preferable that the transistor for driving the liquid crystal element and the transistor for forming the light emitting element are individually provided. Thereby, a liquid crystal element and a light emitting element can be driven independently, respectively.

ここで、液晶素子を駆動する画素回路に、酸化物半導体が適用され、オフ電流が極めて低いトランジスタを適用することが好ましい。または、当該画素回路に記憶素子を適用してもよい。これにより、液晶素子を用いて静止画を表示する際に画素への書き込み動作を停止しても、階調を維持させることが可能となる。すなわち、フレームレートを極めて小さくしても表示を保つことができる。これにより、極めて低消費電力な表示を行うことができる。   Here, a transistor in which an oxide semiconductor is used and an off-state current is extremely low is preferably used for a pixel circuit that drives a liquid crystal element. Alternatively, a memory element may be applied to the pixel circuit. This makes it possible to maintain gradation even when the writing operation to the pixel is stopped when a still image is displayed using the liquid crystal element. That is, display can be maintained even if the frame rate is extremely small. Thereby, a display with extremely low power consumption can be performed.

本発明の一態様は、反射型の素子で画像を表示する第1のモード、発光素子で画像を表示する第2のモード、及び反射型の素子及び発光素子で画像を表示する第3のモードを切り替えることができる。特に第3のモードは、ハイブリッドモードとも呼ぶことができる。   One embodiment of the present invention is a first mode in which an image is displayed with a reflective element, a second mode in which an image is displayed with a light emitting element, and a third mode in which an image is displayed with a reflective element and the light emitting element. Can be switched. In particular, the third mode can also be called a hybrid mode.

第1のモードは、反射型の素子による反射光を用いて画像を表示するモードである。第1のモードは光源が不要であるため、極めて低消費電力な駆動モードである。例えば、外光の照度が十分高く、且つ外光が白色光またはその近傍の光である場合に有効である。第1のモードは、例えば本や書類などの文字情報を表示することに適した表示モードである。また、反射光を用いるため、目に優しい表示を行うことができ、目が疲れにくいという効果を奏する。   The first mode is a mode for displaying an image using reflected light from a reflective element. The first mode is a driving mode with extremely low power consumption because no light source is required. For example, it is effective when the illuminance of outside light is sufficiently high and the outside light is white light or light in the vicinity thereof. The first mode is a display mode suitable for displaying character information such as books and documents. In addition, since the reflected light is used, it is possible to perform display that is kind to the eyes, and the effect that the eyes are less tired is achieved.

第2のモードでは、発光素子による発光を利用して画像を表示するモードである。そのため、外光の照度や色度によらず、極めて鮮やかな(コントラストが高く、且つ色再現性の高い)表示を行うことができる。例えば、夜間や暗い室内など、外光の照度が極めて小さい場合などに有効である。また外光が暗い場合、明るい表示を行うと使用者が眩しく感じてしまう場合がある。これを防ぐために、第2のモードでは輝度を抑えた表示を行うことが好ましい。またこれにより、眩しさを抑えることに加え、消費電力も低減することができる。第2のモードは、鮮やかな画像や滑らかな動画などを表示することに適したモードである。   The second mode is a mode in which an image is displayed using light emitted from the light emitting element. Therefore, an extremely vivid display (high contrast and high color reproducibility) can be performed regardless of the illuminance and chromaticity of external light. For example, it is effective when the illuminance of outside light is extremely small, such as at night or in a dark room. Further, when the outside light is dark, the user may feel dazzled when performing bright display. In order to prevent this, it is preferable to perform display with reduced luminance in the second mode. Thereby, in addition to suppressing glare, power consumption can also be reduced. The second mode is a mode suitable for displaying a vivid image or a smooth moving image.

第3のモードでは、反射型の素子による反射光と、発光素子による発光の両方を利用して表示を行うモードである。具体的には、反射型の素子が呈する光と、発光素子が呈する光を混色させることにより、1つの色を表現するように駆動する。第1のモードよりも鮮やかな表示をしつつ、第2のモードよりも消費電力を抑えることができる。例えば、室内照明下や、朝方や夕方の時間帯など、外光の照度が比較的低い場合や、外光の色度が白色ではない場合などに有効である。また、反射光と発光とを混色させた光を用いることで、まるで絵画を見ているかのように感じさせる画像を表示することが可能となる。   The third mode is a mode in which display is performed using both reflected light from a reflective element and light emitted from a light emitting element. Specifically, driving is performed so as to express one color by mixing light emitted by the reflective element and light emitted by the light emitting element. While displaying more vividly than in the first mode, it is possible to suppress power consumption as compared with the second mode. For example, it is effective when the illuminance of outside light is relatively low, such as under room lighting or in the morning or evening hours, or when the chromaticity of outside light is not white. Further, by using light in which reflected light and light emission are mixed, it is possible to display an image that makes it feel as if the user is looking at a painting.

[構成例]
図17(A)は、表示装置400の構成の一例を示すブロック図である。表示装置400は、表示部362にマトリクス状に配列した複数の画素410を有する。また表示装置400は、回路GDと、回路SDを有する。また方向Rに配列した複数の画素410、及び回路GDと電気的に接続する複数の配線G1、複数の配線G2、複数の配線ANO、及び複数の配線CSCOMを有する。また方向Cに配列した複数の画素410、及び回路SDと電気的に接続する複数の配線S1及び複数の配線S2を有する。
[Configuration example]
FIG. 17A is a block diagram illustrating an example of a structure of the display device 400. The display device 400 includes a plurality of pixels 410 arranged in a matrix on the display portion 362. The display device 400 includes a circuit GD and a circuit SD. In addition, a plurality of pixels 410 arranged in the direction R, a plurality of wirings G1, a plurality of wirings G2, a plurality of wirings ANO, and a plurality of wirings CSCOM electrically connected to the circuit GD are provided. In addition, a plurality of pixels 410 arranged in the direction C, and a plurality of wirings S1 and a plurality of wirings S2 electrically connected to the circuit SD are provided.

なお、ここでは簡単のために回路GDと回路SDを1つずつ有する構成を示したが、液晶素子を駆動する回路GD及び回路SDと、発光素子を駆動する回路GD及び回路SDとを、別々に設けてもよい。   Note that, here, for the sake of simplicity, a configuration including one circuit GD and one circuit SD is shown; however, the circuit GD and the circuit SD that drive the liquid crystal element and the circuit GD and the circuit SD that drive the light emitting element are separately provided. May be provided.

画素410は、反射型の液晶素子と、発光素子を有する。画素410において、液晶素子と発光素子とは、互いに重なる部分を有する。   The pixel 410 includes a reflective liquid crystal element and a light-emitting element. In the pixel 410, the liquid crystal element and the light-emitting element have portions that overlap each other.

図17(B1)は、画素410が有する導電層311bの構成例を示す。導電層311bは、画素410における液晶素子の反射電極として機能する。また導電層311bには、開口451が設けられている。   FIG. 17B1 illustrates a configuration example of the conductive layer 311b included in the pixel 410. The conductive layer 311b functions as a reflective electrode of the liquid crystal element in the pixel 410. In addition, an opening 451 is provided in the conductive layer 311b.

図17(B1)には、導電層311bと重なる領域に位置する発光素子360を破線で示している。発光素子360は、導電層311bが有する開口451と重ねて配置されている。これにより、発光素子360が発する光は、開口451を介して表示面側に射出される。   In FIG. 17B1, the light-emitting element 360 located in a region overlapping with the conductive layer 311b is indicated by a broken line. The light-emitting element 360 is disposed so as to overlap with the opening 451 included in the conductive layer 311b. Thereby, the light emitted from the light emitting element 360 is emitted to the display surface side through the opening 451.

図17(B1)では、方向Rに隣接する画素410が異なる色に対応する画素である。このとき、図17(B1)に示すように、方向Rに配列する複数の画素において、開口451が一直線上に配列されないように、それぞれ導電層311bの異なる位置に設けられていることが好ましい。これにより、隣接する2つの発光素子360を離すことが可能で、発光素子360が発する光が隣接する画素410が有する着色層に入射してしまう現象(クロストークともいう)を抑制することができる。また、隣接する2つの発光素子360を離して配置することができるため、発光素子360のEL層をシャドウマスク等により作り分ける場合であっても、高い精細度の表示装置を実現できる。   In FIG. 17B1, the pixels 410 adjacent in the direction R are pixels corresponding to different colors. At this time, as illustrated in FIG. 17B1, in the plurality of pixels arranged in the direction R, the openings 451 are preferably provided at different positions in the conductive layer 311b so as not to be arranged in a straight line. Accordingly, the two adjacent light emitting elements 360 can be separated, and a phenomenon (also referred to as crosstalk) in which light emitted from the light emitting element 360 enters the colored layer of the adjacent pixel 410 can be suppressed. . In addition, since the two adjacent light emitting elements 360 can be arranged apart from each other, a display device with high definition can be realized even when the EL layer of the light emitting element 360 is separately formed using a shadow mask or the like.

また、図17(B2)に示すような配列としてもよい。   Alternatively, an arrangement as shown in FIG.

非開口部の総面積に対する開口451の総面積の比の値が大きすぎると、液晶素子を用いた表示が暗くなってしまう。また、非開口部の総面積に対する開口451の総面積の比の値が小さすぎると、発光素子360を用いた表示が暗くなってしまう。   If the ratio of the total area of the openings 451 to the total area of the non-openings is too large, the display using the liquid crystal element becomes dark. If the ratio of the total area of the openings 451 to the total area of the non-openings is too small, the display using the light emitting element 360 is darkened.

また、反射電極として機能する導電層311bに設ける開口451の面積が小さすぎると、発光素子360が射出する光から取り出せる光の効率が低下してしまう。   In addition, when the area of the opening 451 provided in the conductive layer 311b functioning as the reflective electrode is too small, the efficiency of light that can be extracted from the light emitted from the light-emitting element 360 is reduced.

開口451の形状は、例えば多角形、四角形、楕円形、円形または十字等の形状とすることができる。また、細長い筋状、スリット状、市松模様状の形状としてもよい。また、開口451を隣接する画素に寄せて配置してもよい。好ましくは、開口451を同じ色を表示する他の画素に寄せて配置する。これにより、クロストークを抑制できる。   The shape of the opening 451 can be, for example, a polygon, a rectangle, an ellipse, a circle, a cross, or the like. Moreover, it is good also as an elongated streak shape, a slit shape, and a checkered shape. Further, the opening 451 may be arranged close to adjacent pixels. Preferably, the opening 451 is arranged close to other pixels displaying the same color. Thereby, crosstalk can be suppressed.

[回路構成例]
図18は、画素410の構成例を示す回路図である。図18では、隣接する2つの画素410を示している。
[Circuit configuration example]
FIG. 18 is a circuit diagram illustrating a configuration example of the pixel 410. In FIG. 18, two adjacent pixels 410 are shown.

画素410は、スイッチSW1、容量素子C1、液晶素子340、スイッチSW2、トランジスタM、容量素子C2、及び発光素子360等を有する。また、画素410には、配線G1、配線G2、配線ANO、配線CSCOM、配線S1、及び配線S2が電気的に接続されている。また、図18では、液晶素子340と電気的に接続する配線VCOM1、及び発光素子360と電気的に接続する配線VCOM2を示している。   The pixel 410 includes a switch SW1, a capacitor C1, a liquid crystal element 340, a switch SW2, a transistor M, a capacitor C2, a light emitting element 360, and the like. In addition, a wiring G1, a wiring G2, a wiring ANO, a wiring CSCOM, a wiring S1, and a wiring S2 are electrically connected to the pixel 410. In FIG. 18, a wiring VCOM1 electrically connected to the liquid crystal element 340 and a wiring VCOM2 electrically connected to the light emitting element 360 are illustrated.

図18では、スイッチSW1及びスイッチSW2に、トランジスタを用いた場合の例を示している。   FIG. 18 shows an example in which transistors are used for the switch SW1 and the switch SW2.

スイッチSW1は、ゲートが配線G1と接続され、ソース又はドレインの一方が配線S1と接続され、ソース又はドレインの他方が容量素子C1の一方の電極、及び液晶素子340の一方の電極と接続されている。容量素子C1は、他方の電極が配線CSCOMと接続されている。液晶素子340は、他方の電極が配線VCOM1と接続されている。   The switch SW1 has a gate connected to the wiring G1, a source or drain connected to the wiring S1, and the other source or drain connected to one electrode of the capacitor C1 and one electrode of the liquid crystal element 340. Yes. The other electrode of the capacitor C1 is connected to the wiring CSCOM. The other electrode of the liquid crystal element 340 is connected to the wiring VCOM1.

またスイッチSW2は、ゲートが配線G2と接続され、ソース又はドレインの一方が配線S2と接続され、ソース又はドレインの他方が、容量素子C2の一方の電極、トランジスタMのゲートと接続されている。容量素子C2は、他方の電極がトランジスタMのソース又はドレインの一方、及び配線ANOと接続されている。トランジスタMは、ソース又はドレインの他方が発光素子360の一方の電極と接続されている。発光素子360は、他方の電極が配線VCOM2と接続されている。   The switch SW2 has a gate connected to the wiring G2, one of a source and a drain connected to the wiring S2, and the other of the source and the drain connected to one electrode of the capacitor C2 and the gate of the transistor M. The other electrode of the capacitor C2 is connected to one of the source and the drain of the transistor M and the wiring ANO. In the transistor M, the other of the source and the drain is connected to one electrode of the light emitting element 360. The other electrode of the light emitting element 360 is connected to the wiring VCOM2.

図18では、トランジスタMが半導体を挟む2つのゲートを有し、これらが接続されている例を示している。これにより、トランジスタMが流すことのできる電流を増大させることができる。   FIG. 18 shows an example in which the transistor M has two gates sandwiching a semiconductor and these are connected. As a result, the current that can be passed by the transistor M can be increased.

配線G1には、スイッチSW1を導通状態または非導通状態に制御する信号を与えることができる。配線VCOM1には、所定の電位を与えることができる。配線S1には、液晶素子340が有する液晶の配向状態を制御する信号を与えることができる。配線CSCOMには、所定の電位を与えることができる。   A signal for controlling the switch SW1 to be in a conductive state or a non-conductive state can be supplied to the wiring G1. A predetermined potential can be applied to the wiring VCOM1. A signal for controlling the alignment state of the liquid crystal included in the liquid crystal element 340 can be supplied to the wiring S1. A predetermined potential can be applied to the wiring CSCOM.

配線G2には、スイッチSW2を導通状態または非導通状態に制御する信号を与えることができる。配線VCOM2及び配線ANOには、発光素子360が発光する電位差が生じる電位をそれぞれ与えることができる。配線S2には、トランジスタMの導通状態を制御する信号を与えることができる。   A signal for controlling the switch SW2 to be in a conductive state or a non-conductive state can be supplied to the wiring G2. The wiring VCOM2 and the wiring ANO can each be supplied with a potential at which a potential difference generated by the light emitting element 360 emits light. A signal for controlling the conduction state of the transistor M can be supplied to the wiring S2.

図18に示す画素410は、例えば反射モードの表示を行う場合には、配線G1及び配線S1に与える信号により駆動し、液晶素子340による光学変調を利用して表示することができる。また、発光モードで表示を行う場合には、配線G2及び配線S2に与える信号により駆動し、発光素子360を発光させて表示することができる。また両方のモードで駆動する場合には、配線G1、配線G2、配線S1及び配線S2のそれぞれに与える信号により駆動することができる。   For example, when performing display in a reflection mode, the pixel 410 illustrated in FIG. 18 can be driven by a signal supplied to the wiring G1 and the wiring S1 and can display using optical modulation by the liquid crystal element 340. Further, in the case of performing display in the light emission mode, display can be performed by driving the light emitting element 360 to emit light by driving with a signal applied to the wiring G2 and the wiring S2. In the case of driving in both modes, the driving can be performed by signals given to the wiring G1, the wiring G2, the wiring S1, and the wiring S2.

なお、図18では一つの画素410に、一つの液晶素子340と一つの発光素子360とを有する例を示したが、これに限られない。図19(A)は、一つの画素410に一つの液晶素子340と4つの発光素子360(発光素子360r、360g、360b、360w)を有する例を示している。図19(A)に示す画素410は、図18とは異なり、1つの画素でフルカラーの表示が可能な画素である。   Note that although FIG. 18 illustrates an example in which one pixel 410 includes one liquid crystal element 340 and one light emitting element 360, the present invention is not limited thereto. FIG. 19A illustrates an example in which one pixel 410 includes one liquid crystal element 340 and four light-emitting elements 360 (light-emitting elements 360r, 360g, 360b, and 360w). A pixel 410 illustrated in FIG. 19A is different from that illustrated in FIG. 18 and is a pixel capable of full color display with one pixel.

図19(A)では図18の例に加えて、画素410に配線G3及び配線S3が接続されている。   In FIG. 19A, in addition to the example of FIG. 18, a wiring G3 and a wiring S3 are connected to the pixel 410.

図19(A)に示す例では、例えば4つの発光素子360を、それぞれ赤色(R)、緑色(G)、青色(B)、及び白色(W)を呈する発光素子を用いることができる。また液晶素子340として、白色を呈する反射型の液晶素子を用いることができる。これにより、反射モードの表示を行う場合には、反射率の高い白色の表示を行うことができる。また発光モードで表示を行う場合には、演色性の高い表示を低い電力で行うことができる。   In the example illustrated in FIG. 19A, for example, light emitting elements that exhibit red (R), green (G), blue (B), and white (W) can be used as the four light emitting elements 360, respectively. As the liquid crystal element 340, a reflective liquid crystal element exhibiting white can be used. Thereby, when displaying in reflection mode, white display with high reflectance can be performed. In addition, when display is performed in the light emission mode, display with high color rendering properties can be performed with low power.

また、図19(B)には、画素410の構成例を示している。画素410は、導電層311が有する開口部と重なる発光素子360wと、導電層311の周囲に配置された発光素子360r、発光素子360g、及び発光素子360bとを有する。発光素子360r、発光素子360g、及び発光素子360bは、発光面積がほぼ同等であることが好ましい。   FIG. 19B illustrates a configuration example of the pixel 410. The pixel 410 includes a light-emitting element 360 w that overlaps with an opening of the conductive layer 311, and a light-emitting element 360 r, a light-emitting element 360 g, and a light-emitting element 360 b that are arranged around the conductive layer 311. The light emitting element 360r, the light emitting element 360g, and the light emitting element 360b preferably have substantially the same light emitting area.

本実施の形態は、少なくともその一部を本明細書中に記載する他の実施の形態と適宜組み合わせて実施することができる。   This embodiment can be implemented in appropriate combination with at least part of the other embodiments described in this specification.

(実施の形態3)
本実施の形態では、本発明の一態様を用いて作製することができる表示モジュールについて説明する。
(Embodiment 3)
In this embodiment, a display module that can be manufactured using one embodiment of the present invention will be described.

図20(A)に示す表示モジュール6000は、上部カバー6001と下部カバー6002との間に、FPC6005に接続された表示パネル6006、フレーム6009、プリント基板6010、及びバッテリ6011を有する。   A display module 6000 illustrated in FIG. 20A includes a display panel 6006 connected to an FPC 6005, a frame 6009, a printed board 6010, and a battery 6011 between an upper cover 6001 and a lower cover 6002.

例えば、本発明の一態様を用いて作製された表示装置を、表示パネル6006に用いることができる。これにより、高い歩留まりで表示モジュールを作製することができる。   For example, a display device manufactured using one embodiment of the present invention can be used for the display panel 6006. Thereby, a display module can be manufactured with a high yield.

上部カバー6001及び下部カバー6002は、表示パネル6006のサイズに合わせて、形状や寸法を適宜変更することができる。   The shapes and dimensions of the upper cover 6001 and the lower cover 6002 can be changed as appropriate in accordance with the size of the display panel 6006.

また、表示パネル6006に重ねてタッチパネルを設けてもよい。タッチパネルとしては、抵抗膜方式または静電容量方式のタッチパネルを表示パネル6006に重畳して用いることができる。また、タッチパネルを設けず、表示パネル6006に、タッチパネル機能を持たせるようにすることも可能である。   Further, a touch panel may be provided over the display panel 6006. As the touch panel, a resistive film type or capacitive type touch panel can be used by being superimposed on the display panel 6006. Further, without providing a touch panel, the display panel 6006 can have a touch panel function.

フレーム6009は、表示パネル6006の保護機能の他、プリント基板6010の動作により発生する電磁波を遮断するための電磁シールドとしての機能を有する。またフレーム6009は、放熱板としての機能を有していてもよい。   The frame 6009 has a function as an electromagnetic shield for blocking electromagnetic waves generated by the operation of the printed board 6010 in addition to a protective function of the display panel 6006. The frame 6009 may function as a heat sink.

プリント基板6010は、電源回路、ビデオ信号及びクロック信号を出力するための信号処理回路を有する。電源回路に電力を供給する電源としては、外部の商用電源であっても良いし、別途設けたバッテリ6011による電源であってもよい。バッテリ6011は、商用電源を用いる場合には、省略可能である。   The printed board 6010 includes a power supply circuit, a signal processing circuit for outputting a video signal and a clock signal. The power source for supplying power to the power supply circuit may be an external commercial power source or a power source by a battery 6011 provided separately. The battery 6011 can be omitted when a commercial power source is used.

また、表示モジュール6000は、偏光板、位相差板、プリズムシートなどの部材を追加して設けてもよい。   The display module 6000 may be additionally provided with a member such as a polarizing plate, a retardation plate, or a prism sheet.

図20(B)は、光学式のタッチセンサを備える表示モジュール6000の断面概略図である。   FIG. 20B is a schematic cross-sectional view of a display module 6000 including an optical touch sensor.

表示モジュール6000は、プリント基板6010に設けられた発光部6015及び受光部6016を有する。また、上部カバー6001と下部カバー6002により囲まれた領域に一対の導光部(導光部6017a、導光部6017b)を有する。   The display module 6000 includes a light emitting unit 6015 and a light receiving unit 6016 provided on the printed board 6010. Further, a region surrounded by the upper cover 6001 and the lower cover 6002 has a pair of light guide portions (light guide portion 6017a and light guide portion 6017b).

表示パネル6006は、フレーム6009を間に介してプリント基板6010やバッテリ6011と重ねて設けられている。表示パネル6006とフレーム6009は、導光部6017a、導光部6017bに固定されている。   The display panel 6006 is provided to overlap the printed circuit board 6010 and the battery 6011 with a frame 6009 interposed therebetween. The display panel 6006 and the frame 6009 are fixed to the light guide unit 6017a and the light guide unit 6017b.

発光部6015から発せられた光6018は、導光部6017aにより表示パネル6006の上部を経由し、導光部6017bを通って受光部6016に達する。例えば指やスタイラスなどの被検知体により、光6018が遮られることにより、タッチ操作を検出することができる。   Light 6018 emitted from the light emitting unit 6015 passes through the upper part of the display panel 6006 by the light guide unit 6017a and reaches the light receiving unit 6016 through the light guide unit 6017b. For example, the touch operation can be detected by blocking the light 6018 by a detection target such as a finger or a stylus.

発光部6015は、例えば表示パネル6006の隣接する2辺に沿って複数設けられる。受光部6016は、発光部6015と表示パネル6006を挟んで対向する位置に複数設けられる。これにより、タッチ操作がなされた位置の情報を取得することができる。   For example, a plurality of light emitting units 6015 are provided along two adjacent sides of the display panel 6006. A plurality of light receiving portions 6016 are provided at positions facing the light emitting portion 6015 with the display panel 6006 interposed therebetween. Thereby, the information on the position where the touch operation is performed can be acquired.

発光部6015は、例えばLED素子などの光源を用いることができる。特に、発光部6015として、使用者に視認されず、且つ使用者にとって無害である赤外線を発する光源を用いることが好ましい。   For the light emitting unit 6015, for example, a light source such as an LED element can be used. In particular, it is preferable to use a light source that emits infrared rays that are not visually recognized by the user and harmless to the user as the light emitting unit 6015.

受光部6016は、発光部6015が発する光を受光し、電気信号に変換する光電素子を用いることができる。好適には、赤外線を受光可能なフォトダイオードを用いることができる。   The light receiving unit 6016 can be a photoelectric element that receives light emitted from the light emitting unit 6015 and converts the light into an electrical signal. Preferably, a photodiode capable of receiving infrared light can be used.

導光部6017a、導光部6017bとしては、少なくとも光6018を透過する部材を用いることができる。導光部6017a及び導光部6017bを用いることで、発光部6015と受光部6016とを表示パネル6006の下側に配置することができ、外光が受光部6016に到達してタッチセンサが誤動作することを抑制できる。特に、可視光を吸収し、赤外線を透過する樹脂を用いることが好ましい。これにより、タッチセンサの誤動作をより効果的に抑制できる。   As the light guide portion 6017a and the light guide portion 6017b, a member that transmits at least the light 6018 can be used. By using the light guide unit 6017a and the light guide unit 6017b, the light emitting unit 6015 and the light receiving unit 6016 can be arranged below the display panel 6006, and external light reaches the light receiving unit 6016 and the touch sensor malfunctions. Can be suppressed. In particular, it is preferable to use a resin that absorbs visible light and transmits infrared rays. Thereby, malfunction of a touch sensor can be controlled more effectively.

本実施の形態は、少なくともその一部を本明細書中に記載する他の実施の形態と適宜組み合わせて実施することができる。   This embodiment can be implemented in appropriate combination with at least part of the other embodiments described in this specification.

(実施の形態4)
本実施の形態では、本発明の一態様の表示装置を適用可能な電子機器について説明する。
(Embodiment 4)
In this embodiment, electronic devices to which the display device of one embodiment of the present invention can be applied will be described.

本発明の一態様の表示装置は、外光の強さによらず、高い視認性を実現することができる。そのため、携帯型の電子機器、装着型の電子機器(ウェアラブル機器)、及び電子書籍端末などに好適に用いることができる。   The display device of one embodiment of the present invention can achieve high visibility regardless of the intensity of external light. Therefore, it can be suitably used for a portable electronic device, a wearable electronic device (wearable device), an electronic book terminal, and the like.

図21(A)、(B)に、携帯情報端末800の一例を示す。携帯情報端末800は、筐体801、筐体802、表示部803、表示部804、及びヒンジ部805等を有する。   An example of the portable information terminal 800 is shown in FIGS. The portable information terminal 800 includes a housing 801, a housing 802, a display portion 803, a display portion 804, a hinge portion 805, and the like.

筐体801と筐体802は、ヒンジ部805で連結されている。携帯情報端末800は、図21(A)に示すように折り畳んだ状態から、図21(B)に示すように筐体801と筐体802を開くことができる。   The housing 801 and the housing 802 are connected by a hinge portion 805. The portable information terminal 800 can open the housing 801 and the housing 802 as illustrated in FIG. 21B from the folded state as illustrated in FIG.

例えば表示部803及び表示部804に、文書情報を表示することが可能であり、電子書籍端末としても用いることができる。また、表示部803及び表示部804に静止画像や動画像を表示することもできる。   For example, document information can be displayed on the display portion 803 and the display portion 804 and can be used as an electronic book terminal. In addition, still images and moving images can be displayed on the display portion 803 and the display portion 804.

このように、携帯情報端末800は、持ち運ぶ際には折り畳んだ状態にできるため、汎用性に優れる。   Thus, since the portable information terminal 800 can be folded when being carried, it is excellent in versatility.

なお、筐体801及び筐体802には、電源ボタン、操作ボタン、外部接続ポート、スピーカ、マイク等を有していていもよい。   Note that the housing 801 and the housing 802 may include a power button, an operation button, an external connection port, a speaker, a microphone, and the like.

図21(C)に携帯情報端末の一例を示す。図21(C)に示す携帯情報端末810は、筐体811、表示部812、操作ボタン813、外部接続ポート814、スピーカ815、マイク816、カメラ817等を有する。   FIG. 21C illustrates an example of a portable information terminal. A portable information terminal 810 illustrated in FIG. 21C includes a housing 811, a display portion 812, operation buttons 813, an external connection port 814, a speaker 815, a microphone 816, a camera 817, and the like.

表示部812に、本発明の一態様の表示装置を備える。   The display portion 812 includes the display device of one embodiment of the present invention.

携帯情報端末810は、表示部812にタッチセンサを備える。電話を掛ける、或いは文字を入力するなどのあらゆる操作は、指やスタイラスなどで表示部812に触れることで行うことができる。   The portable information terminal 810 includes a touch sensor in the display unit 812. Any operation such as making a call or inputting characters can be performed by touching the display portion 812 with a finger or a stylus.

また、操作ボタン813の操作により、電源のON、OFF動作や、表示部812に表示される画像の種類を切り替えることができる。例えば、メール作成画面から、メインメニュー画面に切り替えることができる。   Further, the operation of the operation button 813 can switch the power ON / OFF operation and the type of image displayed on the display unit 812. For example, the mail creation screen can be switched to the main menu screen.

また、携帯情報端末810の内部に、ジャイロセンサまたは加速度センサ等の検出装置を設けることで、携帯情報端末810の向き(縦か横か)を判断して、表示部812の画面表示の向きを自動的に切り替えるようにすることができる。また、画面表示の向きの切り替えは、表示部812を触れること、操作ボタン813の操作、またはマイク816を用いた音声入力等により行うこともできる。   Further, by providing a detection device such as a gyro sensor or an acceleration sensor inside the portable information terminal 810, the orientation (portrait or landscape) of the portable information terminal 810 is determined, and the screen display orientation of the display unit 812 is changed. It can be switched automatically. In addition, the screen display orientation can be switched by touching the display portion 812, operating the operation button 813, or inputting voice using the microphone 816.

携帯情報端末810は、例えば、電話機、手帳または情報閲覧装置等から選ばれた一つまたは複数の機能を有する。具体的には、スマートフォンとして用いることができる。携帯情報端末810は、例えば、移動電話、電子メール、文章閲覧及び作成、音楽再生、動画再生、インターネット通信、ゲームなどの種々のアプリケーションを実行することができる。   The portable information terminal 810 has one or more functions selected from, for example, a telephone, a notebook, an information browsing device, or the like. Specifically, it can be used as a smartphone. The portable information terminal 810 can execute various applications such as mobile phone, electronic mail, text browsing and creation, music playback, video playback, Internet communication, and games.

図21(D)に、カメラの一例を示す。カメラ820は、筐体821、表示部822、操作ボタン823、シャッターボタン824等を有する。またカメラ820には、着脱可能なレンズ826が取り付けられている。   FIG. 21D illustrates an example of a camera. The camera 820 includes a housing 821, a display portion 822, operation buttons 823, a shutter button 824, and the like. A removable lens 826 is attached to the camera 820.

表示部822に、本発明の一態様の表示装置を備える。   The display portion 822 includes the display device of one embodiment of the present invention.

ここではカメラ820として、レンズ826を筐体821から取り外して交換することが可能な構成としたが、レンズ826と筐体が一体となっていてもよい。   Here, the camera 820 is configured such that the lens 826 can be removed from the housing 821 and replaced, but the lens 826 and the housing may be integrated.

カメラ820は、シャッターボタン824を押すことにより、静止画、または動画を撮像することができる。また、表示部822はタッチパネルとしての機能を有し、表示部822をタッチすることにより撮像することも可能である。   The camera 820 can capture a still image or a moving image by pressing the shutter button 824. In addition, the display portion 822 has a function as a touch panel and can capture an image by touching the display portion 822.

なお、カメラ820は、ストロボ装置や、ビューファインダーなどを別途装着することができる。または、これらが筐体821に組み込まれていてもよい。   The camera 820 can be separately attached with a strobe device, a viewfinder, and the like. Alternatively, these may be incorporated in the housing 821.

本実施の形態は、少なくともその一部を本明細書中に記載する他の実施の形態と適宜組み合わせて実施することができる。   This embodiment can be implemented in appropriate combination with at least part of the other embodiments described in this specification.

10 表示装置
11a 第1の領域
11b 第2の領域
12a 受光部
12b 受光部
13a 集光部
13b 集光部
14a 光射出部
14b 光射出部
15a 光反射層
15b 光反射層
20 発光部
20a 光
20b 光
20c 光
21 基板
23a 導電層
23b 導電層
24 液晶
25 導電層
26a 配向膜
26b 配向膜
30 光反射部
30a 光
31 基板
32 表示部
34 回路部
35 配線
36 FPC
37 IC
40 液晶素子
43a 剥離層
43b 剥離層
44a 支持基板
44b 支持基板
44c 支持基板
45 絶縁層
46a 接着層
54 着色層
54a 着色層
60 発光素子
61 導電層
62 EL層
63 導電層
64 絶縁層
70 トランジスタ
70a トランジスタ
70b トランジスタ
71 導電層
72 半導体層
73a 導電層
73b 導電層
74 導電層
80 接続部
81 絶縁層
82 絶縁層
83 絶縁層
84 絶縁層
85 絶縁層
86 絶縁層
87 絶縁層
89 接着層
91 絶縁層
92 絶縁層
93 絶縁層
94 絶縁層
95 絶縁層
96 絶縁層
97 絶縁層
98 絶縁層
99 接着層
110 トランジスタ
110a トランジスタ
110b トランジスタ
110c トランジスタ
110d トランジスタ
111 導電層
112 半導体層
112a 半導体層
113a 導電層
113b 導電層
113c 導電層
113d 導電層
114 導電層
114a 導電層
114b 導電層
115 導電層
120 発光素子
121 導電層
131 絶縁層
132 絶縁層
133 絶縁層
134 絶縁層
135 絶縁層
136 絶縁層
137 絶縁層
311 導電層
311b 導電層
340 液晶素子
360 発光素子
360b 発光素子
360g 発光素子
360r 発光素子
360w 発光素子
362 表示部
400 表示装置
410 画素
451 開口
800 携帯情報端末
801 筐体
802 筐体
803 表示部
804 表示部
805 ヒンジ部
810 携帯情報端末
811 筐体
812 表示部
813 操作ボタン
814 外部接続ポート
815 スピーカ
816 マイク
817 カメラ
820 カメラ
821 筐体
822 表示部
823 操作ボタン
824 シャッターボタン
826 レンズ
6000 表示モジュール
6001 上部カバー
6002 下部カバー
6005 FPC
6006 表示パネル
6009 フレーム
6010 プリント基板
6011 バッテリ
6015 発光部
6016 受光部
6017a 導光部
6017b 導光部
6018 光
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Display apparatus 11a 1st area | region 11b 2nd area | region 12a Light receiving part 12b Light receiving part 13a Light collecting part 13b Light collecting part 14a Light emitting part 14b Light emitting part 15a Light reflecting layer 15b Light reflecting layer 20 Light emitting part 20a Light 20b Light 20c light 21 substrate 23a conductive layer 23b conductive layer 24 liquid crystal 25 conductive layer 26a alignment film 26b alignment film 30 light reflecting portion 30a light 31 substrate 32 display portion 34 circuit portion 35 wiring 36 FPC
37 IC
40 Liquid crystal element 43a Release layer 43b Release layer 44a Support substrate 44b Support substrate 44c Support substrate 45 Insulating layer 46a Adhesive layer 54 Colored layer 54a Colored layer 60 Light emitting element 61 Conductive layer 62 EL layer 63 Conductive layer 64 Insulating layer 70 Transistor 70a Transistor 70b Transistor 71 Conductive layer 72 Semiconductor layer 73a Conductive layer 73b Conductive layer 74 Conductive layer 80 Connection portion 81 Insulating layer 82 Insulating layer 83 Insulating layer 84 Insulating layer 85 Insulating layer 86 Insulating layer 87 Insulating layer 89 Adhesive layer 91 Insulating layer 92 Insulating layer 93 Insulating layer 94 Insulating layer 95 Insulating layer 96 Insulating layer 97 Insulating layer 98 Insulating layer 99 Adhesive layer 110 Transistor 110a Transistor 110b Transistor 110c Transistor 110d Transistor 111 Conductive layer 112 Semiconductor layer 112a Semiconductor layer 113a Conductive layer 113b Conductive layer 1 3c conductive layer 113d conductive layer 114 conductive layer 114a conductive layer 114b conductive layer 115 conductive layer 120 light emitting element 121 conductive layer 131 insulating layer 132 insulating layer 133 insulating layer 134 insulating layer 135 insulating layer 136 insulating layer 137 insulating layer 311 conductive layer 311b conductive Layer 340 Liquid crystal element 360 Light emitting element 360b Light emitting element 360g Light emitting element 360r Light emitting element 360w Light emitting element 362 Display unit 400 Display device 410 Pixel 451 Opening 800 Portable information terminal 801 Housing 802 Housing 803 Display unit 804 Display unit 805 Hinge unit 810 Mobile Information terminal 811 Case 812 Display unit 813 Operation button 814 External connection port 815 Speaker 816 Microphone 817 Camera 820 Camera 821 Case 822 Display unit 823 Operation button 824 Shutter button 826 Lens 6000 Display module 6001 top cover 6002 bottom cover 6005 FPC
6006 Display panel 6009 Frame 6010 Printed circuit board 6011 Battery 6015 Light emitting unit 6016 Light receiving unit 6017a Light guiding unit 6017b Light guiding unit 6018 Light

Claims (10)

発光素子と、第1の領域と、第2の領域と、を有し、
前記発光素子、前記第1の領域、及び前記第2の領域とは、互いに重なる部分を有し、
前記発光素子は、光を射出する機能を有し、
前記第1の領域は、第1の部分、第2の部分、及び第3の部分を有し、
前記第1の部分は、前記光が入射する部分であり、
前記第2の部分は、前記光の一部を反射し、前記第3の部分に供給する部分であり、
前記第3の部分は、前記光が射出される部分であり、
前記第2の領域は、第4の部分、第5の部分、及び第6の部分を有し、
前記第4の部分は、前記第3の部分から射出される前記光が入射する部分であり、
前記第5の部分は、前記光の一部を反射し、前記第6の部分に供給する部分であり、
前記第6の部分は、前記光が射出される部分であり、
前記第1の部分は、前記第3の部分の面積よりも小さく、
前記第4の部分は、前記第6の部分の面積よりも小さい、
表示装置。
A light emitting element, a first region, and a second region;
The light emitting element, the first region, and the second region have portions that overlap each other,
The light emitting element has a function of emitting light,
The first region has a first part, a second part, and a third part;
The first part is a part on which the light is incident,
The second part is a part that reflects a part of the light and supplies it to the third part,
The third part is a part from which the light is emitted,
The second region has a fourth portion, a fifth portion, and a sixth portion;
The fourth part is a part where the light emitted from the third part is incident,
The fifth part is a part that reflects a part of the light and supplies it to the sixth part,
The sixth part is a part from which the light is emitted,
The first portion is smaller than the area of the third portion;
The fourth portion is smaller than the area of the sixth portion;
Display device.
請求項1において、
前記発光素子は、第1の電極、発光性の物質を含む層、及び第2の電極を有し、
前記第1の電極は、可視光を透過する機能を有し、且つ前記第2の電極と前記第1の領域との間に位置し、
前記第2の電極は、可視光を反射する機能を有する、
表示装置。
In claim 1,
The light-emitting element includes a first electrode, a layer containing a light-emitting substance, and a second electrode,
The first electrode has a function of transmitting visible light, and is located between the second electrode and the first region,
The second electrode has a function of reflecting visible light.
Display device.
請求項1または請求項2において、
第1のトランジスタと、当該第1のトランジスタを覆う第1の絶縁層と、を有し、
前記第1のトランジスタは、前記発光素子と電気的に接続され、
前記第1の絶縁層は、第1の開口を有し、
前記第1の領域は、前記第1の開口の内側に位置する、
表示装置。
In claim 1 or claim 2,
A first transistor and a first insulating layer covering the first transistor;
The first transistor is electrically connected to the light emitting element,
The first insulating layer has a first opening;
The first region is located inside the first opening;
Display device.
請求項1乃至請求項3のいずれか一において、
液晶素子を有し、
前記液晶素子は、第3の電極と、第4の電極と、当該第3の電極と第4の電極の間に液晶と、を有し、
前記第3の電極は、可視光を反射する機能を有し、且つ、前記第4の電極と前記第2の領域との間に第2の開口を有し、
前記第6の部分から射出される前記光は、前記第2の開口を介して射出される、
表示装置。
In any one of Claim 1 thru | or 3,
Having a liquid crystal element,
The liquid crystal element includes a third electrode, a fourth electrode, and a liquid crystal between the third electrode and the fourth electrode,
The third electrode has a function of reflecting visible light, and has a second opening between the fourth electrode and the second region,
The light emitted from the sixth portion is emitted through the second opening;
Display device.
請求項4において、
第2のトランジスタと、当該第2のトランジスタを覆う第2の絶縁層と、を有し、
前記第2のトランジスタは、前記液晶素子と電気的に接続され、
前記第2の絶縁層は、第3の開口を有し、
前記第2の領域は、前記第3の開口の内側に位置する、
表示装置。
In claim 4,
A second transistor and a second insulating layer covering the second transistor;
The second transistor is electrically connected to the liquid crystal element;
The second insulating layer has a third opening;
The second region is located inside the third opening;
Display device.
請求項1乃至請求項5のいずれか一において、
前記第1の領域と、前記第2の領域との間に、接着層を有する、
表示装置。
In any one of Claims 1 thru | or 5,
Having an adhesive layer between the first region and the second region;
Display device.
請求項1乃至請求項6のいずれか一において、
前記第2の部分は、可視光を反射し、且つ、筒状の形状を有する第1の光反射層と、当該第1の光反射層の内側に第1の樹脂層と、を有し、
前記第1の光反射層の内側の面は、前記第1の部分側から前記第3の部分側にかけて、連続的に径が大きくなる凸曲面を有する、
表示装置。
In any one of Claims 1 thru | or 6,
The second portion includes a first light reflecting layer that reflects visible light and has a cylindrical shape, and a first resin layer inside the first light reflecting layer,
The inner surface of the first light reflecting layer has a convex curved surface whose diameter continuously increases from the first part side to the third part side.
Display device.
請求項1乃至請求項7のいずれか一において、
前記第5の部分は、可視光を反射し、且つ筒状の形状を有する第2の光反射層と、当該第2の光反射層の内側に第2の樹脂層と、を有し、
前記第2の光反射層の内側の面は、前記第4の部分側から前記第6の部分側にかけて、連続的に径が大きくなる凸曲面を有する、
表示装置。
In any one of Claims 1 thru | or 7,
The fifth portion has a second light reflecting layer that reflects visible light and has a cylindrical shape, and a second resin layer inside the second light reflecting layer,
The inner surface of the second light reflecting layer has a convex curved surface whose diameter continuously increases from the fourth part side to the sixth part side.
Display device.
請求項1乃至請求項8のいずれか一において、
着色層を有し、
前記着色層は、前記第1の領域と、前記第2の領域との間に位置する、
表示装置。
In any one of Claims 1 thru | or 8,
Having a colored layer,
The colored layer is located between the first region and the second region;
Display device.
請求項1乃至請求項8のいずれか一において、
着色層を有し、
前記着色層は、前記第1の部分と前記第3の部分の間、または、前記第4の部分と前記第6の部分の間に位置する、
表示装置。
In any one of Claims 1 thru | or 8,
Having a colored layer,
The colored layer is located between the first portion and the third portion, or between the fourth portion and the sixth portion.
Display device.
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