JP2018013943A - Monitoring tag - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a monitoring tag capable of appropriately detecting the long-term deterioration of a monitoring object in consideration of an impact of a humid condition of the monitoring object or presence of ionicity impurities.SOLUTION: A monitoring tag 10 for monitoring the state of a monitoring object includes: an IC chip of an RFID tag 20 storing memory information including ID information; an antenna circuit 70 for transmitting the memory information to a reading terminal; and a tamper detection circuit 30. The tamper detection circuit 30 includes: a stimulation response portion 32 for responding to a particular stimulation influencing a characteristic of the monitoring object to change the memory information; and a resistance adjustment unit 33 for adjusting the value of resistance of the tamper detection circuit 30.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、品質管理等の用途に適したモニタリングタグに関するものである。   The present invention relates to a monitoring tag suitable for applications such as quality control.

近年、ID(IDentification)情報を埋め込んだRF(Radio Frequency)タグ(以下、RFIDタグという)を、品質管理等の用途に応用する技術が各種開発されている。   In recent years, various techniques for applying an RF (Radio Frequency) tag (hereinafter referred to as an RFID tag) in which ID (IDentification) information is embedded to applications such as quality control have been developed.

例えば、特許文献1には、コンクリート構造物内に埋設されたセンサ(pHセンサ、温度センサ等)と、RFIDタグを用いてコンクリート構造物の品質管理を行う技術が開示されている。   For example, Patent Document 1 discloses a technique for quality control of a concrete structure using a sensor (pH sensor, temperature sensor, etc.) embedded in the concrete structure and an RFID tag.

しかし、特許文献1の技術では、複雑な構造のタグ、具体的には、コンクリート構造物内に埋設されたセンサを介して得られるセンサ情報を演算処理して測定値とするコンピュータチップと、その測定値を記憶するメモリを有するRFIDチップを搭載し、かつ、センサをコンピュータチップに接続する端子を備えたタグが必要となる。
このため、特許文献1の技術では、タグが大型化してしまい、配置位置に制限が生じるという問題があった。また、コンピュータチップの演算処理に要する電力が、省電力の観点から好ましくないという問題があった。
However, in the technique of Patent Document 1, a computer chip having a complicated structure, specifically, a sensor chip obtained by calculating and processing sensor information obtained through a sensor embedded in a concrete structure, A tag is required which is equipped with an RFID chip having a memory for storing measured values and which has terminals for connecting the sensor to the computer chip.
For this reason, the technique of Patent Document 1 has a problem in that the tag is enlarged and the arrangement position is limited. In addition, there is a problem that the power required for the calculation processing of the computer chip is not preferable from the viewpoint of power saving.

そこで、モニタリング対象物の状態を監視するモニタリング用のタグとして、ID情報を含むメモリ情報を格納したICチップと、メモリ情報を読み取り端末に送信するアンテナ回路と、モニタリング対象物の経年劣化を検知する検知回路と、を含むモニタリングタグが考えられている。
このモニタリングタグは、モニタリング対象物に埋め込まれたり、貼り付けられたりするので、測定された品質管理等の結果は、刺激応答部位がモニタリング対象物の経年劣化による刺激に応答して、検知回路の回路抵抗が変化することになるが、回路抵抗は、モニタリング対象物の湿潤状態又はイオン性不純物の存在に影響を受けることがあり、検知精度の点で問題があった。
Therefore, as a monitoring tag for monitoring the state of the monitoring target, an IC chip storing memory information including ID information, an antenna circuit for reading the memory information and transmitting it to the terminal, and detecting the aging of the monitoring target. A monitoring tag including a detection circuit is considered.
Since this monitoring tag is embedded or attached to the monitoring object, the result of the measured quality control, etc., shows that the stimulation response site responds to the stimulation due to aging of the monitoring object, and the detection circuit Although the circuit resistance will change, the circuit resistance may be affected by the wet state of the monitoring object or the presence of ionic impurities, which is problematic in terms of detection accuracy.

特開2013−257732号公報JP 2013-257732 A

本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、本発明の目的は、上記した従来技術の問題を解決し、モニタリング対象物の経年劣化を適切に検知することができるモニタリングタグを提供することにある。   The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to provide a monitoring tag that can solve the above-described problems of the prior art and can appropriately detect aged deterioration of a monitoring target. There is.

上記のような問題を解決するため、本発明者らは鋭意検討した結果、以下に示す、モニタリング対象物の状態を監視するモニタリングタグを発明するに至った。   In order to solve the above problems, the present inventors diligently studied, and as a result, have come up with the invention of a monitoring tag for monitoring the state of a monitoring object shown below.

本発明に係るモニタリングタグは、ID情報を含むメモリ情報を格納したICチップと、前記メモリ情報を読み取り端末に送信するアンテナ回路と、タンパー検知用回路と、を含む。前記タンパー検知用回路は、前記モニタリング対象物の特性に影響を及ぼす特定の刺激に応答して前記メモリ情報を変化させる刺激応答部位と、前記タンパー検知用回路の抵抗値を調整する抵抗調整部とを有する。   The monitoring tag according to the present invention includes an IC chip that stores memory information including ID information, an antenna circuit that reads the memory information and transmits it to a terminal, and a tamper detection circuit. The tamper detection circuit includes a stimulus response part that changes the memory information in response to a specific stimulus that affects the characteristics of the monitoring target, and a resistance adjustment unit that adjusts a resistance value of the tamper detection circuit. Have

本発明に係るモニタリングタグは、さらに、前記アンテナ回路と前記ICチップとを搭載したシート状の基材を含むことが好ましい。   The monitoring tag according to the present invention preferably further includes a sheet-like base material on which the antenna circuit and the IC chip are mounted.

前記アンテナ回路が、前記基材の面上に導電性材料の細粒を含む樹脂溶液を印刷して形成された回路、又は金属箔を前記基材の面上に圧着及びエッチングして形成した回路であることが好ましい。   The antenna circuit is a circuit formed by printing a resin solution containing fine particles of a conductive material on the surface of the substrate, or a circuit formed by pressing and etching a metal foil on the surface of the substrate. It is preferable that

前記抵抗調整部は、抵抗器、又はトランジスタで構成されることが好ましい。   It is preferable that the resistance adjusting unit includes a resistor or a transistor.

前記抵抗調整部がフォトインタラプタを利用することが好ましい。   It is preferable that the resistance adjusting unit uses a photo interrupter.

前記フォトインタラプタの光検出部に刺激応答性部位を有することが好ましい。   It is preferable to have a stimulus responsive part in the light detection part of the photo interrupter.

前記刺激応答部位は、刺激応答性金属からなることが好ましい。   It is preferable that the stimulus response site is made of a stimulus responsive metal.

本発明に係るモニタリングタグは、さらに、前記刺激応答部位が露出する開口部が形成されるように、前記タンパー検知用回路を封止する封止材を含むことが好ましい。   It is preferable that the monitoring tag according to the present invention further includes a sealing material that seals the tamper detection circuit so that an opening from which the stimulation response site is exposed is formed.

本発明に係るモニタリングタグは、さらに、前記刺激応答部位を被覆する刺激応答性樹脂を含むことが好ましい。   It is preferable that the monitoring tag according to the present invention further includes a stimulus-responsive resin that covers the stimulus-responsive part.

本発明によれば、モニタリング対象物の湿潤状態又はイオン性不純物存在の影響を考慮して、タンパー検知用回路の抵抗値を調整することができる抵抗調整部を有しているので、モニタリング対象物の経年劣化を適切に検知することができるモニタリングタグを提供することができる。   According to the present invention, the monitoring target object includes the resistance adjustment unit that can adjust the resistance value of the tamper detection circuit in consideration of the wet state of the monitoring target object or the presence of ionic impurities. It is possible to provide a monitoring tag that can appropriately detect aging deterioration of the aging.

本発明に係るモニタリングタグの概念図である。It is a key map of a monitoring tag concerning the present invention. 図1のモニタリングタグの概念電気回路図である。It is a conceptual electric circuit diagram of the monitoring tag of FIG. 本発明に係る別のモニタリングタグの概念図である。It is a conceptual diagram of another monitoring tag which concerns on this invention. 図3のモニタリングタグの概念電気回路図である。FIG. 4 is a conceptual electric circuit diagram of the monitoring tag of FIG. 3.

図1及び図2を参照して、本発明に係る実施形態のモニタリングタグ10の説明をする。
図1に示すように、モニタリングタグ10は、モニタリング対象物の状態を監視するモニタリング用のタグであり、RFIDタグ20と、タンパー検知用回路30と、を含む。モニタリングタグ10は、さらに、基材60と、アンテナ回路70と、封止材80と、を含む。
With reference to FIG.1 and FIG.2, the monitoring tag 10 of embodiment which concerns on this invention is demonstrated.
As shown in FIG. 1, the monitoring tag 10 is a monitoring tag that monitors the state of a monitoring target, and includes an RFID tag 20 and a tamper detection circuit 30. Monitoring tag 10 further includes a base material 60, an antenna circuit 70, and a sealing material 80.

基材60は、略矩形状のシート部材である。基材60の周囲には、スリット部61と、開口部62とが形成されている。基材60は、スリット部61により、アンテナ部領域63とセンサ部領域64とに区分されている。   The base material 60 is a substantially rectangular sheet member. A slit portion 61 and an opening 62 are formed around the substrate 60. The base material 60 is divided into an antenna part region 63 and a sensor part region 64 by a slit part 61.

RFIDタグ20は、固体識別情報(Identification)を埋め込んだ無線用(Radio Frequency)タグであり、電池を内蔵しないパッシブタイプのRFIDタグである。RFIDタグ20の通信距離は、数mm〜数mの中から、用途に応じて最適なものを選択することができる。
RFIDタグ20は、ICチップ22(図2参照)を搭載したデバイスであり、電池を内蔵しないパッシブタイプのRFIDタグである。
RFIDタグ20の形状は、ラベル型、カード型、コイン型、スティック型等の形状から、用途に応じて最適なものを選択することができる。RFIDタグ20の通信距離は、1mmから10mの中から、用途に応じて最適なものを選択することができる。
The RFID tag 20 is a radio frequency tag in which solid identification information (Identification) is embedded, and is a passive type RFID tag that does not incorporate a battery. The optimum communication distance of the RFID tag 20 can be selected from several millimeters to several meters depending on the application.
The RFID tag 20 is a device on which an IC chip 22 (see FIG. 2) is mounted, and is a passive type RFID tag that does not incorporate a battery.
As the shape of the RFID tag 20, an optimum shape can be selected from shapes such as a label type, a card type, a coin type, and a stick type according to the application. The optimal communication distance of the RFID tag 20 can be selected from 1 mm to 10 m according to the application.

ICチップ22は、例えば、0.4mmから1mm角程度の小さな半導体チップである。ICチップ22には、簡単なマイクロコンピュータと、EEPROMと、RAM等が搭載され、特定のID等を格納する媒体としてのメモリ機能を備えている。また、ICチップ22は、データ改ざん等を防ぐための暗号化処理を行うためのプログラムを備えることも好ましい。   The IC chip 22 is a small semiconductor chip of about 0.4 mm to 1 mm square, for example. The IC chip 22 includes a simple microcomputer, EEPROM, RAM, and the like, and has a memory function as a medium for storing a specific ID and the like. Further, the IC chip 22 preferably includes a program for performing an encryption process for preventing data falsification and the like.

ICチップ22は、タンパー検知用回路30の抵抗値の高低を区別して検知可能なものを使用することが好ましく、本実施形態では、配線接続タイプのICチップ(NXP Semiconductors社製UCODE G2iL+)を用いているとして説明するが、磁界及び電波共振タイプのICチップを用いてもよい。
配線接続タイプのICチップ22は、チップの四隅に、2つのタンパー用回路ピンP1、P2(図2参照)と、2つのアンテナ用回路ピンQ1、Q2(図2参照)とを備え、回路部31の両端がそれぞれ電気的に2つのタンパー用回路ピンP1、P2に配線接続し、また、アンテナ回路70の両端がそれぞれ電気的に2つのアンテナ用回路ピンQ1、Q2とに配線接続している。
It is preferable to use an IC chip 22 that can detect and detect the resistance value of the tamper detection circuit 30. In this embodiment, a wiring connection type IC chip (UCODE G2iL + manufactured by NXP Semiconductors) is used. However, a magnetic field and radio wave resonance type IC chip may be used.
The wiring connection type IC chip 22 includes two tamper circuit pins P1 and P2 (see FIG. 2) and two antenna circuit pins Q1 and Q2 (see FIG. 2) at the four corners of the chip. Both ends of 31 are electrically connected to the two tamper circuit pins P1 and P2, respectively, and both ends of the antenna circuit 70 are electrically connected to the two antenna circuit pins Q1 and Q2, respectively. .

また、磁界及び電波共振タイプのICチップの場合、RFIDタグ20の製造方法は特に限定されないが、例えば、絶縁性フィルムの表面に硬質アルミニウム箔を張り合わせて長尺の基材を用意し、次に、アルミニウム箔面に、グラビア印刷でエッチングレジストを形成した後、塩化第二鉄水溶液にてエッチングを行って、ICチップ22との整合回路を有する内蔵ICアンテナ(図示せず)を形成することができる。次に、ICチップ22の外部端子となるバンプを、内蔵ICアンテナの所定の位置にフリップチップ構造にて位置合わせし、超音波を印加して接合を行った後、ICチップ22と内蔵ICアンテナの空隙には封止樹脂を充填し、加熱硬化して複数個のICチップ22を搭載したアンテナテープを得ることができる。アンテナテープをカットし、余剰部分を取り除くことで、使用したICチップ22と同数のRFIDタグ20を作製することができる。
磁界及び電波共振タイプのICチップには、アンテナ用回路ピンに相当する配線接続部はない。磁界及び電波共振タイプのICチップは、磁界及び電波の共振により電気的にアンテナ回路70に接続している。
In the case of an IC chip of a magnetic field and radio wave resonance type, the manufacturing method of the RFID tag 20 is not particularly limited. For example, a long base material is prepared by laminating a hard aluminum foil on the surface of an insulating film. An etching resist is formed on the aluminum foil surface by gravure printing, and then etching is performed with a ferric chloride aqueous solution to form a built-in IC antenna (not shown) having a matching circuit with the IC chip 22. it can. Next, after bumps serving as external terminals of the IC chip 22 are aligned with predetermined positions of the built-in IC antenna by a flip chip structure and bonded by applying ultrasonic waves, the IC chip 22 and the built-in IC antenna An antenna tape having a plurality of IC chips 22 mounted thereon can be obtained by filling the gap with a sealing resin and heat-curing it. By cutting the antenna tape and removing the excess part, the same number of RFID tags 20 as the IC chips 22 used can be produced.
Magnetic field and radio wave resonance type IC chips do not have wiring connection portions corresponding to antenna circuit pins. The magnetic field and radio wave resonance type IC chip is electrically connected to the antenna circuit 70 by the resonance of the magnetic field and radio wave.

図1に示すように、RFIDタグ20は、基材60のアンテナ部領域63上に配置されている。
アンテナ回路70は、ICチップ22に格納されているメモリ情報を読み取り端末に送信するアンテナ回路である。アンテナ回路70は、アンテナ回路70の長さが長くなるように、蛇行形状を有して、基材60のアンテナ部領域63上に配置されている。アンテナ回路70は、基材60の面上に導電性材料の細粒を含む樹脂溶液を印刷して形成された回路、又は金属箔を前記基材の面上に圧着及びエッチングして形成した回路であることが好ましい。
As shown in FIG. 1, the RFID tag 20 is disposed on the antenna part region 63 of the base material 60.
The antenna circuit 70 is an antenna circuit that reads memory information stored in the IC chip 22 and transmits it to the terminal. The antenna circuit 70 has a meandering shape and is disposed on the antenna portion region 63 of the substrate 60 so that the length of the antenna circuit 70 is increased. The antenna circuit 70 is a circuit formed by printing a resin solution containing fine particles of a conductive material on the surface of the base material 60, or a circuit formed by pressing and etching a metal foil on the surface of the base material. It is preferable that

タンパー検知用回路30は、回路部31と、回路部31の一部に組み込まれた刺激応答部位32と、回路部31の全体の抵抗を調整する抵抗調整部33とを有し、回路部31の開裂又は抵抗変化によって、タンパーの発生を検知する回路である。   The tamper detection circuit 30 includes a circuit unit 31, a stimulus response part 32 incorporated in a part of the circuit unit 31, and a resistance adjustment unit 33 that adjusts the overall resistance of the circuit unit 31. It is a circuit that detects the occurrence of tampering by cleaving or resistance change.

通常、タンパー検知用回路とは、RFIDタグ20が取り付けられた対象物から、RFIDタグ20が故意に(盗難等の目的のために)引き剥がされた場合に、機械的に破壊されるように設けられた回路、すなわち、その回路の開裂又は抵抗変化によって、その要因となった行為(すなわち、タンパー行為)を検知することを目的として敷設された回路を意味するが、本明細書において、タンパー検知用回路とは、RFIDタグ20が取り付けられたモニタリング対象物が、その特性に影響を及ぼす特定の刺激に晒された場合に、その刺激に起因した物理的あるいは化学的反応によって開裂するように、又は、抵抗が変化するように設けられた回路(すなわち、その回路の開裂又は抵抗の変化によってRFIDタグ20が取り付けられたコンクリート建造物がそれらの要因となった特定の刺激に晒されたことを検知することを目的として敷設された回路)をも含むものとする。   Normally, a tamper detection circuit is such that when the RFID tag 20 is deliberately peeled off (for the purpose of theft) from an object to which the RFID tag 20 is attached, it is mechanically destroyed. This means a circuit provided, that is, a circuit laid for the purpose of detecting an act (that is, a tampering action) caused by the cleavage or resistance change of the circuit. The detection circuit is such that when a monitoring target to which the RFID tag 20 is attached is exposed to a specific stimulus that affects its characteristics, it is cleaved by a physical or chemical reaction caused by the stimulus. Or a circuit provided such that the resistance is changed (that is, a circuit to which the RFID tag 20 is attached by cleavage of the circuit or change in resistance). REITs buildings shall also include circuitry) laid for the purpose of detecting that it has been exposed to a specific stimulus it became those factors.

図1、図2に示すように、回路部31の一方は、RFIDタグ20のICチップ22のタンパー用回路ピンP1に有線接続し、他方は、基材60のアンテナ部領域63上を通りセンサ部領域64上に伸びて、再び、ICチップ22のタンパー用回路ピンP2に有線接続している。回路部31上には、刺激応答部位32と、抵抗調整部33とが形成されている。このため、回路部31は、ICチップ22のタンパー用回路ピンP1から、刺激応答部位32及び抵抗調整部33を介してタンパー用回路ピンP2に通電するループ回路r1として導通している。   As shown in FIGS. 1 and 2, one of the circuit units 31 is wired to the tamper circuit pin P <b> 1 of the IC chip 22 of the RFID tag 20, and the other passes through the antenna unit region 63 of the base 60 and is a sensor. It extends over the partial area 64 and is connected to the tamper circuit pin P2 of the IC chip 22 by wire again. On the circuit part 31, a stimulus response part 32 and a resistance adjustment part 33 are formed. For this reason, the circuit unit 31 is conductive as a loop circuit r1 that energizes the tamper circuit pin P2 from the tamper circuit pin P1 of the IC chip 22 through the stimulus response part 32 and the resistance adjustment unit 33.

刺激応答部位32及び抵抗調整部33は、それぞれ、電気的には、抵抗R1の抵抗値(以下、便宜的に、電気回路としての抵抗とその抵抗値の両方をR1と表記することがある。他の抵抗も同様)及び抵抗R2の抵抗値を有する抵抗回路であるといえる。このため、回路部31のループ回路r1の抵抗値Rは、刺激応答部位32と抵抗調整部33とが直列に接続しているので、抵抗R1の抵抗値+抵抗R2の抵抗値になる。   Each of the stimulus response part 32 and the resistance adjusting unit 33 is electrically expressed as a resistance value of the resistor R1 (hereinafter, both the resistor as an electric circuit and the resistance value thereof are denoted as R1 for convenience. It can be said that this is a resistor circuit having the resistance value of the resistor R2 and other resistors as well. For this reason, the resistance value R of the loop circuit r1 of the circuit unit 31 is equal to the resistance value of the resistor R1 + the resistance value of the resistor R2, since the stimulus response part 32 and the resistance adjusting unit 33 are connected in series.

また、RFIDタグ20内には、タンパー用回路ピンP1から、刺激応答部位32及び抵抗調整部33を介さないでタンパー用回路ピンP2に通電するループ回路r2が形成されており、そのループ回路r2上に抵抗値R0の抵抗回路が形成されている。このため、回路部31は、抵抗値Rの抵抗回路と、抵抗値R0の抵抗回路とが並列接続した回路が形成されている。回路部31の全体の抵抗値RAは、(1/(1/R0))+(1/(R1+R2))となる。ICチップ22が検知可能な抵抗値の高低を区別する閾値は、予め、回路部31の全体の抵抗値RAに基づいて、設定される。   In addition, a loop circuit r2 is formed in the RFID tag 20 to energize the tamper circuit pin P2 from the tamper circuit pin P1 without passing through the stimulus response portion 32 and the resistance adjusting unit 33. The loop circuit r2 A resistance circuit having a resistance value R0 is formed above. Therefore, the circuit unit 31 is formed with a circuit in which a resistance circuit having a resistance value R and a resistance circuit having a resistance value R0 are connected in parallel. The overall resistance value RA of the circuit unit 31 is (1 / (1 / R0)) + (1 / (R1 + R2)). A threshold value for distinguishing between high and low resistance values that can be detected by the IC chip 22 is set in advance based on the overall resistance value RA of the circuit unit 31.

図1に示すように、回路部31の形状は、特に限定されないので、回路部31ひいてはモニタリングタグ10の使用環境及び使用目的等に応じて、回路部31を、平面、湾曲、ロッド状等、適宜最適な形状及び大きさに設計することができる。   As shown in FIG. 1, the shape of the circuit unit 31 is not particularly limited, so that the circuit unit 31 is flat, curved, rod-shaped, etc. according to the usage environment and purpose of the monitoring tag 10. It can be designed to an optimal shape and size as appropriate.

刺激応答部位32は、モニタリング対象物の特性に影響を及ぼす特定の刺激に晒された場合に、その刺激に起因した物理的又は化学的反応によって回路部31を切断し(換言すると電気抵抗が非常に大きくなる)、又は、回路部31の電気抵抗が変化するように、基材60の開口部62内に露出している。   When the stimulus response site 32 is exposed to a specific stimulus that affects the characteristics of the monitoring target, the circuit portion 31 is cut by a physical or chemical reaction caused by the stimulus (in other words, the electrical resistance is extremely high). Or exposed in the opening 62 of the substrate 60 so that the electrical resistance of the circuit portion 31 changes.

刺激応答部位32は、モニタリング対象物が、その特性に影響を及ぼす特定の刺激に晒された場合に「応答する」機能、具体的には、回路部31の回路を開裂させる物理的反応もしくは化学的反応、又は、回路の抵抗を変化させる物理的反応もしくは化学的反応を生じさせて、ICチップ22へのメモリ情報を変化させる機能、すなわち、外部環境の変化を検知するセンサ機能を有する部位を意味する。   The stimulus response site 32 has a function of “responding” when the monitoring object is exposed to a specific stimulus that affects its characteristics, specifically, a physical reaction or chemistry that cleaves the circuit of the circuit unit 31. A portion having a function of changing the memory information to the IC chip 22 by generating a physical reaction or a physical reaction or a chemical reaction that changes the resistance of the circuit, that is, a sensor function for detecting a change in the external environment. means.

刺激応答部位32が回路部31に設けられているので、回路部31を基材60において自在に配線して刺激応答部位32を所望の位置に配置することができる。   Since the stimulation response part 32 is provided in the circuit part 31, the circuit part 31 can be freely wired in the base material 60, and the stimulation response part 32 can be arrange | positioned in a desired position.

刺激応答部位32の構造は特に限定されないが、例えば、回路部31の少なくとも一部を刺激性応答性樹脂34で被覆して構成することができる。又は、回路部31の少なくとも一部を刺激応答性金属に置き換えて構成することができる。回路部31の全てを刺激性応答性樹脂で被覆したり、回路部31の全てを刺激応答性金属で構成したりすることもできる。
上記の刺激性応答性樹脂及び刺激応答性金属は、検出対象とする刺激に応じて、適宜選択することができる。
The structure of the stimulation response part 32 is not particularly limited. For example, at least a part of the circuit unit 31 may be covered with the stimulation responsive resin 34. Alternatively, at least a part of the circuit unit 31 can be replaced with a stimulus-responsive metal. All of the circuit unit 31 can be covered with a stimulus-responsive resin, or all of the circuit unit 31 can be formed of a stimulus-responsive metal.
The stimuli-responsive resin and the stimulus-responsive metal can be appropriately selected according to the stimulus to be detected.

具体的には、刺激性応答性樹脂としては、例えば、熱応答性樹脂材料、pH応答性樹脂材料、応力応答性樹脂材料、光応答性樹脂材料、特定の物質に応答する樹脂材料、またこれら複数を組み合わせた樹脂材料等を例示することができる。   Specifically, examples of the stimuli-responsive resin include a heat-responsive resin material, a pH-responsive resin material, a stress-responsive resin material, a photo-responsive resin material, a resin material that responds to a specific substance, and these A resin material combining a plurality of materials can be exemplified.

刺激応答性金属としては、例えば、検出対象とする刺激によって変質(腐食等)して断線する金属又は不導体となる金属を例示することができる。
また、ループ回路を形成する金属の一部の厚み又は幅を変更して刺激応答性を向上させて刺激応答性金属とすることもできる。
具体的には、亜鉛、アルミニウム、カドミニウム、鉄、錫、鉛、銅、ニッケル、銀、チタン及びジルコニウムからなる群から選択される少なくとも1種であることが好ましく、亜鉛、アルミニウム、鉄、銅、ニッケル、からなる群から選択される少なくとも1種であることがより好ましく、アルミニウム、鉄、銅、からなる群から選択される少なくとも1種であることがさらに好ましく、鉄であることが特に好ましい。
Examples of the stimulus-responsive metal include a metal that changes in quality (corrosion or the like) due to a stimulus to be detected and is disconnected or a metal that becomes a nonconductor.
In addition, a stimulus responsive metal can be obtained by changing the thickness or width of a part of the metal forming the loop circuit to improve the stimulus responsiveness.
Specifically, it is preferably at least one selected from the group consisting of zinc, aluminum, cadmium, iron, tin, lead, copper, nickel, silver, titanium and zirconium, zinc, aluminum, iron, copper, More preferably, it is at least one selected from the group consisting of nickel, more preferably at least one selected from the group consisting of aluminum, iron, and copper, and particularly preferably iron.

刺激応答部位32が特定の刺激に応答してICチップ22のメモリ情報を変化させる態様も、特に限定されず、例えば、特定の刺激に応答した場合に、この刺激応答部位32で、回路部31を開裂させる物理的反応もしくは化学的反応、又は、回路部31の抵抗を変化させる物理的反応もしくは化学的反応を生じさせて、ICチップへのメモリ情報を変化させることができる。   The mode in which the stimulus response part 32 changes the memory information of the IC chip 22 in response to a specific stimulus is not particularly limited. For example, when the stimulus response part 32 responds to a specific stimulus, the circuit unit 31 The memory information to the IC chip can be changed by causing a physical reaction or chemical reaction that cleaves the substrate, or a physical reaction or chemical reaction that changes the resistance of the circuit unit 31.

抵抗調整部33は、回路部31の全体の抵抗を調整するトランジスタ、又は、抵抗器で構成され、モニタリング対象物の湿潤状態又はイオン性不純物存在の影響を考慮した抵抗値に設定される。   The resistance adjustment unit 33 includes a transistor or a resistor that adjusts the overall resistance of the circuit unit 31 and is set to a resistance value that takes into account the wet state of the monitoring target or the presence of ionic impurities.

モニタリングタグ10は、全体的に俯瞰した場合、アンテナ部11とセンサ部12とで構成されている。
アンテナ部11は、アンテナ部領域63上にRFIDタグ20とアンテナ回路70とを、封止材80で封止して構成したものである。
センサ部12は、刺激応答部位32が開口部62に露出するように、センサ部領域64上にタンパー検知用回路30の回路部31と抵抗調整部33と、封止材80で封止して構成したものである。
The monitoring tag 10 includes an antenna unit 11 and a sensor unit 12 when viewed from the whole.
The antenna unit 11 is configured by sealing the RFID tag 20 and the antenna circuit 70 on the antenna unit region 63 with a sealing material 80.
The sensor unit 12 is sealed on the sensor unit region 64 with the circuit unit 31 of the tamper detection circuit 30, the resistance adjustment unit 33, and the sealing material 80 so that the stimulus response part 32 is exposed to the opening 62. It is composed.

封止材80としては、例えば、ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、アクリル樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリテトラフルオロエチレン樹脂、ポリウレタン樹脂、エポキシ樹脂、シリコーン樹脂、EVA樹脂から構成されるもの用いることが好ましい。   Examples of the sealing material 80 include polyethylene resin, polypropylene resin, polystyrene resin, polyvinyl chloride resin, acrylic resin, polycarbonate resin, polytetrafluoroethylene resin, polyurethane resin, epoxy resin, silicone resin, and EVA resin. It is preferable to use one.

モニタリングタグ10は、以下のように用いられる。
コンクリート構造物をモニタリング対象物とした場合の、モニタリングタグ10の設置方法は、例えば、以下のようにして行う。
先ず、ICチップ22が検知可能な抵抗値の高低を区別する閾値と、タンパー検知用回路30(回路部31)全体の抵抗値RAが、コンクリート構造物自体の抵抗値RCと、湿潤状態による影響又はイオン性不純物の存在による影響と、を考慮して、抵抗調整部33の抵抗値R2を調整する。これにより、設置するコンクリート構造物自体による抵抗値RCの個体差と、湿潤状態又はイオン性不純物の存在による抵抗値RCの個体差とがあっても、それら個体差を抵抗調整部33の抵抗値R2を調整することで、コンクリート構造物の経年劣化が進行したと判断する、回路部31の全体抵抗値RAをほぼ同じに設定することができ、ICチップ22が検知可能な抵抗値の高低を区別する閾値の調整を省略することができる。
抵抗調整部33の抵抗値R2は、ICチップ22が検知可能な抵抗値の高低を区別する閾値を調整するより、簡単に調整できるので、モニタリングタグ10の調整作業が簡易にかつ短時間で行うことができる。
The monitoring tag 10 is used as follows.
The method for installing the monitoring tag 10 when a concrete structure is a monitoring object is performed, for example, as follows.
First, the threshold value for discriminating the level of the resistance value that can be detected by the IC chip 22 and the resistance value RA of the entire tamper detection circuit 30 (circuit unit 31) are affected by the resistance value RC of the concrete structure itself and the wet state. Alternatively, the resistance value R2 of the resistance adjusting unit 33 is adjusted in consideration of the influence of the presence of ionic impurities. As a result, even if there is an individual difference in the resistance value RC due to the concrete structure to be installed and an individual difference in the resistance value RC due to the wet state or the presence of ionic impurities, the individual difference is converted into the resistance value of the resistance adjusting unit 33. By adjusting R2, it is possible to set the overall resistance value RA of the circuit unit 31 that is judged that the aging of the concrete structure has progressed to be substantially the same, and the resistance value that can be detected by the IC chip 22 can be increased or decreased. Adjustment of the threshold value for discrimination can be omitted.
Since the resistance value R2 of the resistance adjusting unit 33 can be adjusted more easily than adjusting the threshold value for distinguishing the level of the resistance value that can be detected by the IC chip 22, the adjustment work of the monitoring tag 10 can be performed easily and in a short time. be able to.

次に、予め、コンクリート構造物の壁面に形成した検査孔に、モニタリングタグ10を挿入する。検査孔は、モニタリングタグ10の挿入時に形成したものでも、他の用途で壁面に形成されていた既存の孔を利用したものでもよい。
モニタリングタグ10は、コンクリート建造物の状態をより正確に検出するために、検査孔内で内壁と接した状態に配置することが好ましい。
Next, the monitoring tag 10 is inserted into an inspection hole previously formed in the wall surface of the concrete structure. The inspection hole may be formed when the monitoring tag 10 is inserted or may be an existing hole formed on the wall surface for other purposes.
The monitoring tag 10 is preferably arranged in contact with the inner wall in the inspection hole in order to detect the state of the concrete building more accurately.

所定の経年劣化が進行したか判断をする期間(数ヶ月又は数年等)が経過する毎に、コンクリート構造物の外側から、汎用のリーダ又はリーダライタ(以下リーダライタ等)を非接触で接近させて、モニタリングタグ10が正常に作動しているかを確認する。   Every time a period (several months or years, etc.) for judging whether or not the specified aging deterioration has progressed, a general-purpose reader or reader / writer (hereinafter referred to as reader / writer, etc.) approaches without contact from the outside of the concrete structure. To check whether the monitoring tag 10 is operating normally.

モニタリングタグ10が正常に作動している場合には、リーダライタ等に内蔵された外部アンテナから発信された電波は、アンテナ回路70を介して内蔵ICアンテナに伝達され、これにより、ICチップ22に電力が誘導されることにより、リーダライタ等とICチップ22との間で、非接触による情報の送受信が行われる。このとき、ID情報を取得することができるので、どのモニタリングタグが正常に作動しているのかを簡単に知ることができる。   When the monitoring tag 10 is operating normally, the radio wave transmitted from the external antenna built in the reader / writer or the like is transmitted to the built-in IC antenna via the antenna circuit 70, and thereby to the IC chip 22. By inducing power, information is transmitted and received in a non-contact manner between the reader / writer and the IC chip 22. At this time, since the ID information can be acquired, it is possible to easily know which monitoring tag is operating normally.

図2を参照して、コンクリート構造物の経年劣化の進行と電気回路との関係を説明する。
コンクリート構造物にモニタリングタグ10を設置した直後の状態では、刺激応答部位32は、コンクリート構造物の湿潤状態又はイオン性不純物の存在の影響を受けていないので、所定の抵抗値R1を有する抵抗回路として作用する。
また、コンクリート構造物自体も、刺激応答部位32の抵抗値R1より大きい抵抗値RCを有する抵抗回路として作用する。しかし、コンクリート構造物にモニタリングタグ10を設置した直後の状態では、刺激応答部位32が刺激性応答性樹脂34で絶縁状態に被覆されていたり、コンクリート構造物の抵抗値RCが刺激応答部位32の抵抗値R1に対して非常に大きく、刺激応答部位32と並列結合を構成する回路rcは電気回路としては無視できる状態であったりする。このため、コンクリート構造物自体の抵抗値RCは、回路部31の全体抵抗値RAには殆ど影響しない。
With reference to FIG. 2, the relationship between the progress of aging of the concrete structure and the electric circuit will be described.
In the state immediately after the monitoring tag 10 is installed in the concrete structure, the stimulus response portion 32 is not affected by the wet state of the concrete structure or the presence of ionic impurities, and thus a resistance circuit having a predetermined resistance value R1. Acts as
Further, the concrete structure itself also acts as a resistance circuit having a resistance value RC that is greater than the resistance value R1 of the stimulus response portion 32. However, in a state immediately after the monitoring tag 10 is installed in the concrete structure, the stimulus response part 32 is covered with the stimulus responsive resin 34 in an insulating state, or the resistance value RC of the concrete structure is the value of the stimulus response part 32. The circuit rc that is very large with respect to the resistance value R1 and forms a parallel coupling with the stimulus response part 32 may be negligible as an electric circuit. For this reason, the resistance value RC of the concrete structure itself hardly affects the overall resistance value RA of the circuit unit 31.

コンクリート構造物の経年劣化が進むと、タンパー検知用回路30の刺激応答部位32が、刺激され、開裂又は抵抗変化する。すなわち、刺激応答部位32自体が、開裂の場合は絶縁状態(抵抗値R1が非常に大きくなる)に、抵抗が変化する場合は抵抗値R1が増大していく。このように、回路部31の全体抵抗値RAは、変化する抵抗値R1の影響を受ける。
さらに、コンクリート構造物の経年劣化により、湿潤状態又はイオン性不純物の存在の影響をコンクリート構造物が受け、コンクリート構造物自体の抵抗値RCが小さくなることがある。つまり、コンクリート構造物が湿潤状態になるにつれてコンクリート構造物自体の抵抗値RCは次第に小さくなる。また、コンクリート構造物のイオン性不純物が刺激応答部位32に電気的に接続した状態になると、コンクリート構造物自体の抵抗値RCは導体の抵抗値と略同じくらいに小さくなる。このため、コンクリート構造物自体の抵抗値RCは、抵抗値R1に対して電気回路的に無視できない抵抗値になる。そうなると、回路部31の全体抵抗値RAは、コンクリート構造物自体の抵抗値RCの影響を受ける。
しかし、抵抗調整部33の抵抗値R2は、ICチップ22が検知可能な抵抗値の高低を区別する閾値と、タンパー検知用回路30(回路部31)全体の抵抗値RAが、コンクリート構造物自体の抵抗値RCと、湿潤状態による影響又はイオン性不純物の存在による影響と、を考慮して、調整されているので、ICチップ22は、精度よく、コンクリート構造物の経年劣化の程度を検知することができる。
As the aging of the concrete structure progresses, the stimulus response portion 32 of the tamper detection circuit 30 is stimulated to be cleaved or changed in resistance. That is, when the stimulus response part 32 itself is cleaved, it is in an insulated state (resistance value R1 becomes very large), and when the resistance changes, the resistance value R1 increases. Thus, the overall resistance value RA of the circuit unit 31 is affected by the changing resistance value R1.
Furthermore, due to aging of the concrete structure, the concrete structure may be affected by the wet state or the presence of ionic impurities, and the resistance value RC of the concrete structure itself may be reduced. That is, as the concrete structure becomes wet, the resistance value RC of the concrete structure itself gradually decreases. In addition, when the ionic impurities of the concrete structure are electrically connected to the stimulus response portion 32, the resistance value RC of the concrete structure itself becomes substantially as small as the resistance value of the conductor. For this reason, the resistance value RC of the concrete structure itself is a resistance value that cannot be ignored in terms of an electric circuit with respect to the resistance value R1. Then, the overall resistance value RA of the circuit unit 31 is affected by the resistance value RC of the concrete structure itself.
However, the resistance value R2 of the resistance adjustment unit 33 is based on the threshold value that distinguishes the level of the resistance value that can be detected by the IC chip 22 and the resistance value RA of the entire tamper detection circuit 30 (circuit unit 31). Therefore, the IC chip 22 accurately detects the degree of aging of the concrete structure because it is adjusted in consideration of the resistance value RC and the influence of the wet state or the influence of the presence of ionic impurities. be able to.

なお、モニタリングタグ10の構成として、複数の刺激応答部位を並列に接続して並列回路を構成し、各刺激応答部位とそれぞれ直列に抵抗器を配置して、合成抵抗値の変化に基づいて腐食箇所を特定する等、何らかの演算処理を必要とする構成を採用する場合には、センサ部で検出される情報を演算処理して測定値とするコンピュータチップをRFIDタグ内に設ける必要があり、センサ部をコンピュータチップに接続する端子も必要となるため、RFIDタグを大型化せざるを得ず、演算処理用の電力も必要となる。しかし、上記のように、ICチップ22に接続したタンパー検知用回路30の回路部31に刺激応答部位32を設ける構造とすることにより、上記のコンピュータチップが不要となる他、センサをコンピュータチップに接続する端子も不要となり、省電力で、コンパクトかつ簡易な構造で、配置の自由度が高いシステムを構築することができる。   As a configuration of the monitoring tag 10, a plurality of stimulus response parts are connected in parallel to form a parallel circuit, and a resistor is arranged in series with each stimulus response part, and corrosion is caused based on a change in the combined resistance value. When adopting a configuration that requires some kind of arithmetic processing, such as specifying a location, it is necessary to provide a computer chip in the RFID tag that performs arithmetic processing on information detected by the sensor unit to obtain a measurement value. Since a terminal for connecting the unit to the computer chip is also required, the RFID tag must be enlarged, and power for arithmetic processing is also required. However, as described above, by providing the stimulation response portion 32 in the circuit portion 31 of the tamper detection circuit 30 connected to the IC chip 22, the above-described computer chip is not required, and the sensor is used as a computer chip. There is no need for a terminal to be connected, and it is possible to construct a system that is power-saving, has a compact and simple structure, and has a high degree of freedom in arrangement.

図3及び図4を参照して、本発明に係る別の実施形態のモニタリングタグ10aの説明をする。なお、モニタリングタグ10と同じ構成については、同じ符号を付して、その説明を省略する。
図3に示すように、モニタリングタグ10aは、モニタリング対象物の状態を監視するモニタリング用のタグであり、RFIDタグ20と、タンパー検知用回路30aと、を含む。
図4に示すように、タンパー検知用回路30aは、抵抗調整部として作用するフォトインタラプタ回路90と、刺激応答部位32とを備える。
With reference to FIG.3 and FIG.4, the monitoring tag 10a of another embodiment which concerns on this invention is demonstrated. In addition, about the same structure as the monitoring tag 10, the same code | symbol is attached | subjected and the description is abbreviate | omitted.
As shown in FIG. 3, the monitoring tag 10a is a monitoring tag that monitors the state of the monitoring target, and includes an RFID tag 20 and a tamper detection circuit 30a.
As shown in FIG. 4, the tamper detection circuit 30 a includes a photo interrupter circuit 90 that functions as a resistance adjustment unit, and a stimulus response part 32.

フォトインタラプタ回路90は、刺激応答部位32に光を発光する発光ダイオードDと刺激応答部位32で反射した反射光に反応する反射型フォトインタラプタTと、発光ダイオードD及び反射型フォトインタラプタTが所定の動作をするように設けられた抵抗R11及びコイルLとを備える。なお、フォトインタラプタ回路90は、反射型フォトインタラプタを利用しているとして説明したが、これ以外のフォトインタラプタを利用してもよい。反射型フォトインタラプタTは、フォトインタラプタの光検出部として作用する。また、フォトインタラプタの光検出部に刺激応答性部位を有してもよい。
また、フォトインタラプタ回路90の状態を検知するために抵抗R10が設けられている。
The photointerrupter circuit 90 includes a light emitting diode D that emits light to the stimulus response part 32, a reflection photointerrupter T that reacts to reflected light reflected by the stimulus response part 32, and a light emitting diode D and a reflection type photointerrupter T. A resistor R11 and a coil L are provided so as to operate. Although the photo interrupter circuit 90 has been described as using a reflective photo interrupter, other photo interrupters may be used. The reflective photointerrupter T functions as a photodetection unit of the photointerrupter. Moreover, you may have a stimulus responsive site | part in the photon detection part of a photo interrupter.
In addition, a resistor R10 is provided to detect the state of the photo interrupter circuit 90.

モニタリングタグ10aは、以下のように用いられる。
コンクリート構造物にモニタリングタグ10aを設置した直後の状態では、刺激応答部位32はコンクリート構造物のpH及びイオン性不純物の影響を受けていない。このため、反射型フォトインタラプタTは、刺激応答部位32で反射した所定の反射量の反射光を受光するため、反射型フォトインタラプタTは、タンパー検知用回路30aのタンパー回路に出力(通電)し、タンパー回路は導通(または絶縁)を示す。
しかし、刺激応答部位32が特定の刺激により化学的に又は物理的に変化することで、反射光の反射量が低下し、反射型フォトインタラプタTは、タンパー検知用回路30aのタンパー回路に出力(通電)できず、タンパー回路内の抵抗値が増大し、不導通を示す。
この方式を用いることで、コンクリート構造物中のpH及びイオン性不純物等の影響を受けることなく、精度よくコンクリート構造物の経年劣化の程度を検知することができる。
The monitoring tag 10a is used as follows.
Immediately after the monitoring tag 10a is installed in the concrete structure, the stimulus response site 32 is not affected by the pH of the concrete structure and ionic impurities. For this reason, since the reflective photointerrupter T receives a predetermined amount of reflected light reflected by the stimulus response part 32, the reflective photointerrupter T outputs (energizes) the tamper circuit of the tamper detection circuit 30a. The tamper circuit exhibits conduction (or insulation).
However, when the stimulus response site 32 is chemically or physically changed by a specific stimulus, the amount of reflected light is reduced, and the reflection type photointerrupter T is output to the tamper circuit of the tamper detection circuit 30a ( The resistance value in the tamper circuit increases and non-conduction occurs.
By using this method, it is possible to accurately detect the degree of deterioration of the concrete structure over time without being affected by the pH and ionic impurities in the concrete structure.

10、10a モニタリングタグ
11 アンテナ部
12 センサ部
20 RFIDタグ
22 ICチップ
30、30a タンパー検知用回路
31 回路部
32 刺激応答部位
33 抵抗調整部
34 刺激応答性樹脂
60 基材
61 スリット部
62 開口部
63 アンテナ部領域
64 センサ部領域
70 アンテナ回路
80 封止材
90 フォトインタラプタ回路
D 発光ダイオード
T 反射型フォトインタラプタ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10, 10a Monitoring tag 11 Antenna part 12 Sensor part 20 RFID tag 22 IC chip 30, 30a Tamper detection circuit 31 Circuit part 32 Stimulus response part 33 Resistance adjustment part 34 Stimulus responsive resin 60 Base material 61 Slit part 62 Opening part 63 Antenna section area 64 Sensor section area 70 Antenna circuit 80 Sealing material 90 Photointerrupter circuit D Light emitting diode T Reflective photointerrupter

Claims (10)

モニタリング対象物の状態を監視するモニタリングタグであって、
ID情報を含むメモリ情報を格納したICチップと、
前記メモリ情報を読み取り端末に送信するアンテナ回路と、
タンパー検知用回路と、を含み、
前記タンパー検知用回路は、前記モニタリング対象物の特性に影響を及ぼす特定の刺激に応答して前記メモリ情報を変化させる刺激応答部位と、前記タンパー検知用回路の抵抗値を調整する抵抗調整部とを有する、モニタリングタグ。
A monitoring tag for monitoring the state of a monitoring object,
An IC chip storing memory information including ID information;
An antenna circuit for reading the memory information and transmitting it to the terminal;
Including a tamper detection circuit,
The tamper detection circuit includes a stimulus response part that changes the memory information in response to a specific stimulus that affects the characteristics of the monitoring target, and a resistance adjustment unit that adjusts a resistance value of the tamper detection circuit. Having a monitoring tag.
さらに、前記アンテナ回路と前記ICチップとを搭載したシート状の基材を含む、請求項1に記載のモニタリングタグ。   Furthermore, the monitoring tag of Claim 1 containing the sheet-like base material carrying the said antenna circuit and the said IC chip. 前記アンテナ回路が、前記基材の面上に導電性材料の細粒を含む樹脂溶液を印刷して形成された回路、又は金属箔を前記基材の面上に圧着及びエッチングして形成した回路である、請求項2に記載のモニタリングタグ。   The antenna circuit is a circuit formed by printing a resin solution containing fine particles of a conductive material on the surface of the substrate, or a circuit formed by pressing and etching a metal foil on the surface of the substrate. The monitoring tag according to claim 2, wherein 前記抵抗調整部は、抵抗器で構成される、請求項1から3のいずれか1項に記載のモニタリングタグ。   The monitoring tag according to any one of claims 1 to 3, wherein the resistance adjusting unit is configured by a resistor. 前記抵抗調整部は、トランジスタで構成される、請求項1から3のいずれか1項に記載のモニタリングタグ。   The monitoring tag according to any one of claims 1 to 3, wherein the resistance adjustment unit includes a transistor. 前記抵抗調整部がフォトインタラプタを利用する、請求項1から5のいずれか1項に記載のモニタリングタグ。   The monitoring tag according to claim 1, wherein the resistance adjustment unit uses a photo interrupter. 前記フォトインタラプタの光検出部に刺激応答性部位を有する、請求項6に記載のモニタリングタグ。   The monitoring tag according to claim 6 which has a stimulus responsive part in a photodetection part of said photo interrupter. 前記刺激応答部位は、刺激応答性金属からなる、請求項1から7のいずれか1項に記載のモニタリングタグ。   The monitoring tag according to claim 1, wherein the stimulus response site is made of a stimulus responsive metal. さらに、前記刺激応答部位が露出する開口部が形成されるように、前記タンパー検知用回路を封止する封止材を含む、請求項1から8のいずれか1項に記載のモニタリングタグ。   Furthermore, the monitoring tag of any one of Claim 1 to 8 containing the sealing material which seals the said tamper detection circuit so that the opening part which the said stimulus response site | part exposes may be formed. さらに、前記刺激応答部位を被覆する刺激応答性樹脂を含む、請求項1から9のいずれか1項に記載のモニタリングタグ。   Furthermore, the monitoring tag of any one of Claim 1 to 9 containing the stimulus responsive resin which coat | covers the said stimulus response site | part.
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