JP2018013889A - Simulation device and simulation system - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、シミュレーション装置およびシミュレーションシステムに関する。 The present invention relates to a simulation apparatus and a simulation system.
車両や航空機などにおいては、エンジンやブレーキなどを電子制御する制御プログラムが組み込まれた制御装置が搭載されている。かかる制御プログラムを検証する際、制御対象であるエンジンやブレーキなどを模擬するシミュレーション装置が用いられている（例えば、特許文献１参照）。 Vehicles, aircraft, and the like are equipped with a control device in which a control program for electronically controlling an engine, a brake, and the like is incorporated. When verifying such a control program, a simulation device that simulates an engine, a brake, or the like to be controlled is used (see, for example, Patent Document 1).
上記したシミュレーション装置は、制御対象を模擬して制御対象の状態を示す電気信号を制御装置へ出力する出力動作や、制御装置から制御装置の状態を示す電気信号が入力される入力動作を行う回路を備える。また、回路は、端子を介して制御装置に接続される。 The simulation apparatus described above is a circuit that performs an output operation for simulating a control target and outputting an electrical signal indicating the state of the control target to the control apparatus, and an input operation for receiving an electrical signal indicating the state of the control apparatus from the control apparatus. Is provided. The circuit is connected to the control device via a terminal.
かかるシミュレーション装置は、回路の動作異常が疑われる場合、端子から制御装置が取り外されたあと、かかる端子にオシロスコープなどの診断装置が取り付けられて、診断装置により回路の動作診断を行っていた。 In such a simulation apparatus, when an abnormal operation of the circuit is suspected, a diagnostic device such as an oscilloscope is attached to the terminal after the control device is removed from the terminal, and the operation of the circuit is diagnosed by the diagnostic device.
しかしながら、診断の際の装置のつなぎ替え作業があるため、回路の動作診断を行うのに手間がかかり時間を要していた。 However, since there is an operation of changing the devices at the time of diagnosis, it takes time and effort to perform circuit operation diagnosis.
このように、上記した従来技術に係るシミュレーション装置には、回路の動作診断を短時間で行うという点で改善の余地があった。 As described above, the above-described simulation apparatus according to the related art has room for improvement in that the circuit operation diagnosis is performed in a short time.
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、回路の動作診断を短時間で行うことができるシミュレーション装置およびシミュレーションシステムを提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above, and an object of the present invention is to provide a simulation apparatus and a simulation system capable of performing circuit operation diagnosis in a short time.
上記課題を解決し、目的を達成するために、本発明のシミュレーション装置は、対象回路と診断回路と制御部とを備える。対象回路は、電気信号の入出力動作を制御装置に対して行うとともに、動作診断の対象となる。診断回路は、対象回路と制御装置とを結ぶ電路に接続される。制御部は、対象回路から出力される出力信号および診断回路から出力される出力信号、もしくは対象回路に入力される入力信号および診断回路から出力される出力信号のいずれか一方に基づいて対象回路の動作診断を行う。 In order to solve the above problems and achieve the object, a simulation apparatus of the present invention includes a target circuit, a diagnostic circuit, and a control unit. The target circuit performs an input / output operation of the electric signal to the control device and is an operation diagnosis target. The diagnostic circuit is connected to an electric circuit connecting the target circuit and the control device. The control unit is configured to output the target circuit based on either the output signal output from the target circuit and the output signal output from the diagnostic circuit, or the input signal input to the target circuit and the output signal output from the diagnostic circuit. Perform operation diagnosis.
本発明によれば、回路の動作診断を短時間に行うことができるシミュレーション装置およびシミュレーションシステムを提供することができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the simulation apparatus and simulation system which can perform the operation | movement diagnosis of a circuit for a short time can be provided.
以下、添付図面を参照して、本願の開示するシミュレーション装置およびシミュレーションシステムの実施形態を詳細に説明する。なお、以下に示す実施形態によりこの発明が限定されるものではない。 Hereinafter, embodiments of a simulation apparatus and a simulation system disclosed in the present application will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In addition, this invention is not limited by embodiment shown below.
（第１の実施形態）
まず、第１の実施形態に係るシミュレーションシステムについて説明する。図１は、第１の実施形態に係るシミュレーションシステム２の全体構成図である。本実施形態に係るシミュレーションシステム２は、シミュレーション装置２０と、操作装置３１とを備える。
(First embodiment)
First, the simulation system according to the first embodiment will be described. FIG. 1 is an overall configuration diagram of a
かかるシミュレーションシステム２は、使用する場合には、シミュレーション装置２０に設けられた端子２１を介してワイヤーハーネス４０によって車両や航空機などに搭載される制御装置４に接続される。そして、シミュレーションシステム２は、例えば、エンジンやブレーキなどの仮想環境を作り出し、制御装置４に組み込まれた制御プログラムの動作確認および性能評価を行う。
When the
シミュレーション装置２０は、ＬＡＮケーブル２２によって操作装置３１に接続される。操作装置３１は、ユーザから各種操作を受け付ける入力デバイスであり、オペレーションシステムを備える。かかる操作装置３１は、ＣＰＵ（Central Processing unit）ボード上に備えた記憶部に、制御装置４によって制御される制御対象を模擬するシミュレーション用のアプリケーションソフトなどが格納される。
The
また、操作装置３１は、液晶ディスプレイなどで構成された表示部３０を備える。かかる表示部３０は、ＧＵＩ（Graphical User Interface）などの表示画面３０ａ上にシミュレーション結果などを表示する。
The
また、シミュレーション装置２０内には、端子２１を介して制御装置４と電気信号の入出力動作を行う機能を有する回路が設けられる。かかる回路は、例えば、アナログ信号を処理する回路、デジタル信号を処理する回路、およびパルス信号を処理する回路などである。この例では、各回路に信号線を介して１２個の端子２１がそれぞれ接続される。
Further, in the
これら回路は、例えば、アナログ信号を処理する回路であればアナログ信号を処理するインターフェイスボード（以下、Ｉ／Ｆボードと記載する。）上に搭載される。かかるＩ／Ｆボードは、インターフェイスラック（以下、Ｉ／Ｆラックと記載する。）に収納される。 For example, these circuits are mounted on an interface board (hereinafter referred to as an I / F board) that processes an analog signal if the circuit processes an analog signal. Such an I / F board is accommodated in an interface rack (hereinafter referred to as an I / F rack).
ここで、図１に示すシミュレーションシステム２を用いて、シミュレーション装置２０内の回路の動作異常が疑われる場合に行われる、回路の動作診断の一般的な手法について説明する。なお、以下の説明では、動作診断の対象となる回路を対象回路と称する。
Here, a general method of circuit operation diagnosis performed when an abnormal operation of the circuit in the
かかる手法は、まず、各端子２１に接続されているワイヤーハーネス４０を全て取り外す。そして、動作異常が疑われる対象回路に接続される１２個の端子２１のうち一つの端子２１に図示しない診断装置につながるケーブルを取り付けて、かかる端子２１を介して診断装置による対象回路の動作診断を行う。かかる端子２１を介した対象回路の動作診断が終わると、端子２１に接続されているケーブルを取り外して、その隣の端子２１にケーブルを接続する。そして、同様にして端子２１を介した診断装置による対象回路の動作診断を行う。
In this method, first, all the wire harnesses 40 connected to the
このように、端子２１毎に診断装置による対象回路の動作診断を行い、対象回路に接続される１２個の端子２１のなかで対象回路の動作異常にかかわる端子２１の特定を行っている。
In this way, the operation diagnosis of the target circuit is performed for each terminal 21 by the diagnostic device, and the terminal 21 related to the operation abnormality of the target circuit is identified among the 12
上記の手法では、端子２１毎に診断装置につながるケーブルの取り付けおよび取り外しを手作業で行っているため、対象回路の動作診断を行うのに手間がかかる。 In the above method, since the connection and removal of the cable connected to the diagnostic device for each terminal 21 are performed manually, it takes time to perform the operation diagnosis of the target circuit.
そこで、本実施形態に係るシミュレーションシステム２は、シミュレーション装置２０内に対象回路の動作診断を行う診断回路を備えることで、対象回路の動作診断の時間を短縮させた。次に、図２を用いて、本実施形態に係るシミュレーションシステム２について具体的に説明する。
Therefore, the
図２は、第１の実施形態に係るシミュレーションシステム２の構成の一例を示すブロック図である。なお、図２では、本実施形態の特徴を説明するために必要な構成要素のみを機能ブロックで表しており、一般的な構成要素についての記載を省略している。
FIG. 2 is a block diagram illustrating an example of the configuration of the
つまり、図２に図示される各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示のように構成されていることを要しない。たとえば、各機能ブロックの分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部または一部を、各種の負荷や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的または物理的に分散・統合して構成することが可能である。 That is, each component illustrated in FIG. 2 is functionally conceptual and does not necessarily need to be physically configured as illustrated. For example, the specific form of distribution / integration of each functional block is not limited to the one shown in the figure, and all or a part thereof is functionally or physically distributed in an arbitrary unit according to various loads or usage conditions.・ It can be integrated and configured.
図２に示すように、本実施形態に係るシミュレーションシステム２は、シミュレーション装置２０と、操作装置３１とを備える。シミュレーション装置２０は、複数のＩ／Ｆボード５０を格納するＩ／Ｆラック５と、ＣＰＵボード６０を格納するＣＰＵラック６とを備える。
As shown in FIG. 2, the
Ｉ／Ｆボード５０は、対象回路５６と、診断回路５７と、切替回路５８と、制御部５１とを備える。ＣＰＵボード６０は、全体制御部７０を備える。
The I /
対象回路５６は、複数の端子２１、この例では１２個の端子２１を介して制御装置４と電気信号の入出力動作を行う機能を有する回路である。具体的には、対象回路５６は、制御対象を模擬して制御対象の状態を示す電気信号を制御装置４へ出力する出力動作や、制御装置４から制御装置４の状態を示す電気信号が入力される入力動作を行う。
The
また、対象回路５６は、端子２１につながる信号線９が端子２１毎にそれぞれ接続される。かかる対象回路５６としては、具体的には、アナログ入力回路、アナログ出力回路、デジタル入力回路、デジタル出力回路、パルス入力回路、およびパルス出力回路などである。
In the
診断回路５７は、対象回路５６の動作診断を行う回路である。かかる診断回路５７は、対象回路５６の動作診断を行うために、対象回路５６が有する機能とは反対の機能を有する。具体的には、例えば、対象回路５６がアナログ入力回路である場合、診断回路５７としてはアナログ出力回路が用いられる。
The
つまり、診断回路５７は、対象回路５６が制御装置４と電気信号の入出力動作を行う回路であるため、制御装置４に設けられる対象回路と電気信号の入出力動作を行う回路の疑似回路である。かかる診断回路５７は、切替回路５８と一つの端子Ｔで電気的に接続される。
That is, since the
切替回路５８は、対象回路５６に接続された複数の端子２１、この例では１２個の端子２１と診断回路５７の信号出力側に接続された一つの端子Ｔとの間の電気的な接続を端子２１毎に切り替える回路である。具体的には、切替回路５８は、対象回路５６と１２個の端子２１との間をそれぞれ接続する１２個の信号線９に、切替回路５８の対象回路５６側から延びる１２個の信号線８がそれぞれ接続されており、信号線８を切り替えることによって端子２１が切り替わる。
The switching
上記した対象回路５６、診断回路５７、および切替回路５８は、一つのモジュール１０として構成される。例えば、対象回路５６がアナログ入力回路である場合には、アナログ入力回路モジュールとして構成される。
The
制御部５１は、例えば、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）、マイクロコントローラなどの演算装置で構成される。かかる制御部５１は、対象回路５６、診断回路５７、および切替回路５８などを制御する機能を備える。具体的には、制御部５１は、指示部５２と、計測部５３と、診断部５４とを備える。
The
指示部５２は、対象回路５６が入力回路である場合、診断回路５７に対してあらかじめ定められた診断回路５７の種類に応じた疑似的な指示信号を、信号線７１を介して出力する。また、指示部５２は、対象回路５６が出力回路である場合、対象回路５６に対してあらかじめ定められた対象回路５６の種類に応じた疑似的な指示信号を、信号線７を介して出力する。また、指示部５２は、切替回路５８に対して、対象回路５６に接続された複数の端子２１、この例では１２個の端子２１と診断回路５７に接続された一つの端子Ｔとの電気的な接続を端子２１毎に切り替える切替信号を、信号線７２を介して出力する。
When the
計測部５３は、対象回路５６が入力回路である場合、端子２１毎に対象回路５６から信号線７を介して出力される出力信号を計測する。また、計測部５３は、対象回路５６が出力回路である場合、端子毎２１に診断回路５７から信号線７１を介して出力される出力信号を計測する。
When the
診断部５４は、対象回路５６が入力回路である場合、診断回路５７の出力信号を対象回路５６に入力するよう指示する指示信号と、対象回路５６の出力信号を計測して得られた計測信号とを比較し、比較結果に基づいて対象回路５６の動作診断を行う。また、診断部５４は、対象回路５６が出力回路である場合、対象回路５６の出力信号を診断回路５７に入力するよう指示する指示信号と、診断回路５７の出力信号を計測して得られた計測信号とを比較し、比較結果に基づいて対象回路５６の動作診断を行う。
When the
全体制御部７０は、例えば、ＣＰＵ、入出力ポートなどを有するマイクロコンピュータや各種の回路を含む。また、全体制御部７０は、記憶部７１を備える。記憶部７１は、例えば、ＲＡＭ（Random Access Memory）などからなり、対象回路５６の動作診断に関する情報を記憶する。
The
また、全体制御部７０は、記憶部７１に記憶されている対象回路５６の動作診断に関する情報に基づいて対象回路５６の動作の診断結果をファイル形式で作成する。なお、ファイル形式としては、例えば、ＣＳＶ形式などを用いることができる。
Further, the
操作装置３１は、電圧設定部３２と、モード切替部３３と、表示制御部３４とを備える。
The operating
電圧設定部３２は、対象回路５６の動作診断を行う際に、対象回路５６あるいは診断回路５７から出力信号が出力されるよう指示する指示信号を設定する。具体的には、電圧設定部３２は、指示信号に対応した電圧値を対象回路５６の種類に応じて所定の電圧値に設定する。
The
モード切替部３３は、ユーザの入力操作に応じて、制御装置４の動作を模擬する模擬モードと対象回路５６の動作を診断する診断モードとのうちいずれか一方のモードに切り替える。
The
表示制御部３４は、対象回路５６の診断結果を端子２１毎に表示部３０に表示させる。なお、この表示制御部３４による表示部３０の制御の詳細については、図１０などを参照して後述する。
The
ここで、図３Ａ〜図５Ｂを参照して、Ｉ／Ｆボード５０に搭載されるモジュール１０の種類について説明する。図３Ａ〜図５Ｂは、第１の実施形態に係るＩ／Ｆボード５０の構成の一例を示すブロック図である。なお、図３Ａ〜図５Ｂに示す構成要素のうち、図２に示す構成要素と同様の機能を有する構成要素については、図２に示す符号と同一の符号を付すことにより、その説明を省略する。
Here, the types of
図３Ａは、アナログ入力モジュール１０ａがＩ／Ｆボード５０に搭載されている場合を示している。かかる場合、対象回路５６はアナログ入力回路５６ａであり、診断回路５７はアナログ出力回路５７ａである。また、アナログ入力回路５６ａに信号線９を介して接続される端子２１は、アナログ入力端子２１ａである。
FIG. 3A shows a case where the
上記したＩ／Ｆボード５０では、対象回路５６であるアナログ入力回路５６ａの動作診断を行う場合、制御部５１の指示部５２は、診断回路５７であるアナログ出力回路５７ａに対してあらかじめ定められた疑似的なアナログ信号である指示信号を、信号線７１を介して出力する。
In the I /
アナログ出力回路５７ａは、指示信号に応じて指示信号と同じ電圧値である出力信号を出力する。かかる出力信号は、切替回路５８、信号線８、および信号線９を介してアナログ入力回路５６ａに入力される。
The analog output circuit 57a outputs an output signal having the same voltage value as the instruction signal in response to the instruction signal. The output signal is input to the
また、制御部５１の指示部５２は、切替回路５８に対して切替信号を、信号線７２を介して出力することで、アナログ出力回路５７ａとアナログ入力回路５６ａとの電気的な接続をアナログ入力端子２１ａ毎に切り替える。
In addition, the
また、制御部５１の計測部５３は、アナログ出力回路５７ａの出力信号が入力されたアナログ入力回路５６ａから信号線７を介して出力される出力信号をアナログ入力端子２１ａ毎に測定する。
The
図３Ｂは、アナログ出力モジュール１０ｂがＩ／Ｆボード５０に搭載されている場合を示している。かかる場合、対象回路５６はアナログ出力回路５６ｂであり、診断回路５７はアナログ入力回路５７ｂである。また、アナログ出力回路５６ｂに信号線９を介して接続される端子２１は、アナログ出力端子２１ｂである。
FIG. 3B shows a case where the
上記したＩ／Ｆボード５０では、対象回路５６であるアナログ出力回路５６ｂの動作診断を行う場合、制御部５１の指示部５２は、アナログ出力回路５６ｂに対してあらかじめ定められた疑似的なアナログ信号である指示信号を、信号線７を介して出力する。
In the I /
アナログ出力回路５６ｂは、指示信号に応じて固有の電圧値である出力信号を出力する。かかる出力信号は、信号線９、信号線８、および切替回路５８を介してアナログ入力回路５７ｂに入力される。
The
また、制御部５１の指示部５２は、切替回路５８に対して切替信号を、信号線７２を介して出力することで、アナログ出力回路５６ｂとアナログ入力回路５７ｂとの電気的な接続をアナログ出力端子２１ｂ毎に切り替える。
In addition, the
また、制御部５１の計測部５３は、アナログ出力回路５６ｂの出力信号が入力されたアナログ入力回路５７ｂから信号線７１を介して出力される出力信号をアナログ出力端子２１ｂ毎に測定する。
The measuring
図４Ａは、デジタル入力モジュール１０ｃがＩ／Ｆボード５０に搭載されている場合を示している。かかる場合、対象回路５６はデジタル入力回路５６ｃであり、診断回路５７はデジタル出力回路５７ｃである。また、デジタル入力回路５６ｃに信号線９を介して接続される端子２１は、デジタル入力端子２１ｃである。
FIG. 4A shows a case where the
上記したＩ／Ｆボード５０では、対象回路５６であるデジタル入力回路５６ｃの動作診断を行う場合、制御部５１の指示部５２は、診断回路５７であるデジタル出力回路５７ｃに対してあらかじめ定められた疑似的なオン／オフのデジタル信号である指示信号を、信号線７１を介して出力する。
In the I /
デジタル出力回路５７ｃは、指示信号に応じて指示信号と同じ電圧値であるオン／オフの出力信号を出力する。かかる出力信号は、切替回路５８、信号線８、および信号線９を介してデジタル入力回路５６ｃに入力される。
The digital output circuit 57c outputs an on / off output signal having the same voltage value as the instruction signal in response to the instruction signal. Such an output signal is input to the
また、制御部５１の指示部５２は、切替回路５８に対して切替信号を、信号線７２を介して出力することで、デジタル出力回路５７ｃとデジタル入力回路５６ｃとの電気的な接続をデジタル入力端子２１ｃ毎に切り替える。
In addition, the
また、制御部５１の計測部５３は、デジタル出力回路５７ｃの出力信号が入力されたデジタル入力回路５６ｃから信号線７を介して出力される出力信号をデジタル入力端子２１ｃ毎に測定する。
In addition, the
図４Ｂは、デジタル出力モジュール１０ｄがＩ／Ｆボード５０に搭載されている場合を示している。かかる場合、対象回路５６はデジタル出力回路５６ｄであり、診断回路５７はデジタル入力回路５７ｄである。また、デジタル出力回路５６ｄに信号線９を介して接続される端子２１は、デジタル出力端子２１ｄである。
FIG. 4B shows a case where the
上記したＩ／Ｆボード５０では、対象回路５６であるデジタル出力回路５６ｄの動作診断を行う場合、制御部５１の指示部５２は、デジタル出力回路５６ｄに対してあらかじめ定められた疑似的なオン／オフのデジタル信号である指示信号を、信号線７を介して出力する。
In the I /
デジタル出力回路５６ｄは、指示信号に応じて固有の電圧値であるオン／オフの出力信号を出力する。かかる出力信号は、信号線９、信号線８、および切替回路５８を介してデジタル入力回路５７ｄに入力される。
The
また、制御部５１の指示部５２は、切替回路５８に対して切替信号を、信号線７２を介して出力することで、デジタル出力回路５６ｄとデジタル入力回路５７ｄとの電気的な接続をデジタル出力端子２１ｄ毎に切り替える。
Further, the
また、制御部５１の計測部５３は、デジタル出力回路５６ｄの出力信号が入力されたデジタル入力回路５７ｄから信号線７１を介して出力される出力信号をデジタル出力端子２１ｄ毎に測定する。
In addition, the
図５Ａは、パルス入力モジュール１０ｅがＩ／Ｆボード５０に搭載されている場合を示している。かかる場合、対象回路５６はパルス入力回路５６ｅであり、診断回路５７はパルス出力回路５７ｅである。また、パルス入力回路５６ｅに信号線９を介して接続される端子２１は、パルス入力端子２１ｅである。
FIG. 5A shows a case where the
上記したＩ／Ｆボード５０では、対象回路５６であるパルス入力回路５６ｅの動作診断を行う場合、制御部５１の指示部５２は、診断回路５７であるパルス出力回路５７ｅに対してあらかじめ定められた疑似的なパルス信号である指示信号を、信号線７１を介して出力する。
In the I /
パルス出力回路５７ｅは、指示信号に応じて指示信号と同じパルス幅である出力信号を出力する。かかる出力信号は、切替回路５８、信号線８、および信号線９を介してパルス入力回路５６ｅに入力される。
The
また、制御部５１の指示部５２は、切替回路５８に対して切替信号を、信号線７２を介して出力することで、パルス出力回路５７ｅとパルス入力回路５６ｅとの電気的な接続をパルス入力端子２１ｅ毎に切り替える。
In addition, the
また、制御部５１の計測部５３は、パルス出力回路５７ｅの出力信号が入力されたパルス入力回路５６ｅから信号線７を介して出力される出力信号をパルス入力端子２１ｅ毎に測定する。
The measuring
図５Ｂは、パルス出力モジュール１０ｆがＩ／Ｆボード５０に搭載されている場合を示している。かかる場合、対象回路５６はパルス出力回路５６ｆであり、診断回路５７はパルス入力回路５７ｆである。また、パルス出力回路５６ｆに信号線９を介して接続される端子２１は、パルス出力端子２１ｆである。
FIG. 5B shows a case where the
上記したＩ／Ｆボード５０では、対象回路５６であるパルス出力回路５６ｆの動作診断を行う場合、制御部５１の指示部５２は、パルス出力回路５６ｆに対してあらかじめ定められた疑似的なパルス信号である指示信号を、信号線７を介して出力する。
In the above-described I /
パルス出力回路５６ｆは、指示信号に応じて固有のパルス幅をもった出力信号を出力する。かかる出力信号は、信号線９、信号線８、および切替回路５８を介してパルス入力回路５７ｆに入力される。
The pulse output circuit 56f outputs an output signal having a unique pulse width according to the instruction signal. The output signal is input to the
また、制御部５１の指示部５２は、切替回路５８に対して切替信号を、信号線７２を介して出力することで、パルス出力回路５６ｆとパルス入力回路５７ｆとの電気的な接続をパルス出力端子２１ｆ毎に切り替える。
In addition, the
また、制御部５１の計測部５３は、パルス出力回路５６ｆの出力信号が入力されたパルス入力回路５７ｆから信号線７１を介して出力される出力信号をパルス出力端子２１ｆ毎に測定する。
In addition, the
次に、図６を参照して、本実施形態に係るシミュレーションシステム２が対象回路５６ａ〜５６ｆの動作診断について実行する処理手順について説明する。図６は、第１の実施形態に係るシミュレーションシステム２が対象回路５６ａ〜５６ｆの動作診断について実行する処理手順の一例を示すフローチャートである。
Next, a processing procedure executed by the
図６に示すように、シミュレーションシステム２は、まず、ユーザの入力操作に応じて、制御装置４の動作を模擬する模擬モードから対象回路５６の動作を診断する診断モードへ切り替えたあと、電圧設定部３２が指示信号に対応した電圧値を対象回路５６の種類に応じて所定の電圧値に設定する（ステップＳ１０１）。なお、対象回路５６の種類の判定は、ユーザが種類を入力することで行うか、あるいは対象回路５６に種類を示す情報をあらかじめ付与しておき、制御部５１が対象回路５６より種類を示す情報を入手することにより行えばよい。また、模擬モードから診断モードへ切り替える際は、あらかじめシミュレーションシステム２から制御装置４を取り外していることが望ましい。
As shown in FIG. 6, the
続いて、シミュレーションシステム２のシミュレーション装置２０は、制御部５１の指示部５２が、対象回路５６が入力回路である場合に診断回路５７に対して設定した指示信号を出力し、対象回路５６が出力回路である場合に対象回路５６に対して設定した指示信号を出力する（ステップＳ１０２）。
Subsequently, in the
そして、シミュレーション装置２０は、制御部５１の計測部５３が、対象回路５６が入力回路である場合に診断回路５７からの出力信号を計測し、対象回路５６が出力回路である場合に対象回路５６からの出力信号を計測する（ステップＳ１０３）。
In the
そのあと、シミュレーション装置２０は、制御部５１の診断部５４が、設定した指示信号と、対象回路５６あるいは診断回路５７からの出力信号を計測して得られた計測信号とを比較し、比較結果に基づいて対象回路５６の動作診断を行う（ステップＳ１０４）。
Thereafter, the
ここで、図７Ａ〜図９を参照して、アナログ系、デジタル系、およびパルス系の対象回路５６における具体的な動作診断の方法について説明する。なお、以下の説明では、対象回路５６に接続される全１２個の端子２１を、第１端子２１〜第１２端子２１と称する。
Here, with reference to FIG. 7A to FIG. 9, a specific operation diagnosis method in the analog system, digital system, and pulse
まず、図７Ａ〜図７Ｃを参照して、アナログ系の対象回路５６、つまり、アナログ入力回路５６ａおよびアナログ出力回路５６ｂにおける具体的な動作診断の方法について説明する。図７Ａ〜図７Ｃは、第１の実施形態に係るアナログ系の対象回路５６の動作診断の方法を説明する説明図である。
First, with reference to FIGS. 7A to 7C, a specific operation diagnosis method in the
図７Ａに示すように、設定した指示信号の電圧値が５．０Ｖで、第１端子２１ａ，２１ｂにおけるアナログ入力回路５６ａ，５７ｂからの出力信号を計測して得られた計測信号の計測値が５．０Ｖであるとする。
As shown in FIG. 7A, when the voltage value of the set instruction signal is 5.0V, the measurement value of the measurement signal obtained by measuring the output signals from the
かかる場合、制御部５１の診断部５４は、設定電圧値と計測値とが同じ値であることから、第１端子２１ａ，２１ｂにおけるアナログ入力回路５６ａおよびアナログ出力回路５６ｂが正常な動作をしているとして、「ＯＫ」の診断結果を出す。
In such a case, the
一方、設定した指示信号の電圧値が５．０Ｖで、第１端子２１ａ，２１ｂにおけるアナログ入力回路５６ａ，５７ｂからの出力信号を計測して得られた計測信号の計測値が５．３Ｖであるとする。
On the other hand, the voltage value of the set instruction signal is 5.0V, and the measurement value of the measurement signal obtained by measuring the output signals from the
かかる場合、制御部５１の診断部５４は、設定電圧値と計測値とが同じ値でないことから、第１端子２１ａ，２１ｂにおけるアナログ入力回路５６ａおよびアナログ出力回路５６ｂが異常な動作をしているとして、「ＮＧ」の診断結果を出す。
In such a case, the
上記の診断方法では、制御部５１の指示部５２が、アナログ出力回路５７ａ，５６ｂに対して指示信号を１回出力しているが、同じ指示信号を複数回出力してもよい。そして、制御部５１の診断部５４が、指示信号の出力毎に、設定した指示信号と、アナログ入力回路５６ａ，５７ｂからの出力信号を計測してもよい。
In the above diagnostic method, the
具体的には、図７Ｂに示すように、設定した指示信号の電圧値が５．０Ｖで、１回目の計測値が５．０Ｖで、２回目の計測値が４．９Ｖで、３回目の計測値が５．１Ｖで、４回目の計測値が５．０Ｖで、５回目の計測値が５．０Ｖとする。 Specifically, as shown in FIG. 7B, the voltage value of the set instruction signal is 5.0V, the first measurement value is 5.0V, the second measurement value is 4.9V, and the third time The measured value is 5.1V, the fourth measured value is 5.0V, and the fifth measured value is 5.0V.
かかる場合、制御部５１の診断部５４は、設定電圧値と５回行った計測の平均値とが同じ値であることから、第１端子２１ａ，２１ｂにおけるアナログ入力回路５６ａおよびアナログ出力回路５６ｂが正常な動作をしているとして、「ＯＫ」の診断結果を出す。
In this case, the
一方、設定した指示信号の電圧値が５．０Ｖで、１回目の計測値が５．０Ｖで、２回目の計測値が５．１Ｖで、３回目の計測値が５．１Ｖで、４回目の計測値が５．１Ｖで、５回目の計測値が５．２Ｖとする。 On the other hand, the voltage value of the set instruction signal is 5.0V, the first measurement value is 5.0V, the second measurement value is 5.1V, the third measurement value is 5.1V, and the fourth time. The measured value of 5.1 is 5.1V, and the fifth measured value is 5.2V.
かかる場合、制御部５１の診断部５４は、設定電圧値と５回行った計測の平均値とが同じ値でないことから、第１端子２１ａ，２１ｂにおけるアナログ入力回路５６ａおよびアナログ出力回路５６ｂが異常な動作をしているとして、「ＮＧ」の診断結果を出す。
In such a case, the
なお、上記の診断方法では、制御部５１の診断部５４が設定電圧値と平均値とが同じ値である場合に、「ＯＫ」の診断結果を出しているが、平均値が所定の範囲にある場合に、「ＯＫ」の診断結果を出してもよい。
In the above-described diagnosis method, the
また、上記の診断方法では、制御部５１の診断部５４が、一つの設定電圧値で診断を行っているが、電圧設定部３２が指示信号の電圧値を変更することで、異なる電圧値の指示信号を複数設定し、各設定電圧値において診断を行ってもよい。
In the above diagnosis method, the
具体的には、図７Ｃに示すように、１回目の設定電圧値が５．０Ｖで、かかる設定電圧値に対するアナログ入力回路５６ａ，５７ｂからの出力信号を計測して得られた計測信号の計測値が５．０Ｖであるとする。また、２回目の設定電圧値が１０．０Ｖで、かかる設定電圧値に対するアナログ入力回路５６ａ，５７ｂからの出力信号を計測して得られた計測信号の計測値が１０．０Ｖであるとする。
Specifically, as shown in FIG. 7C, the first set voltage value is 5.0 V, and the measurement signal obtained by measuring the output signals from the
かかる場合、制御部５１の診断部５４は、１回目の設定電圧値とかかる設定電圧値に対する計測値とが同じ値であり、２回目の設定電圧値とかかる設定電圧値に対する計測値とが同じ値である。制御部５１の診断部５４は、１回目と２回目の診断結果が「ＯＫ」であることから、第１端子２１ａ，２１ｂにおけるアナログ入力回路５６ａおよびアナログ出力回路５６ｂが正常な動作をしているとして、「ＯＫ」の診断結果を出す。
In this case, the
一方、１回目の設定電圧値が５．０Ｖで、かかる設定電圧値に対するアナログ入力回路５６ａ，５７ｂからの出力信号を計測して得られた計測信号の計測値が５．０Ｖであるとする。また、２回目の設定電圧値が１０．０Ｖで、かかる設定電圧値に対するアナログ入力回路５６ａ，５７ｂからの出力信号を計測して得られた計測信号の計測値が５．０Ｖであるとする。
On the other hand, assume that the first set voltage value is 5.0V, and the measured value of the measurement signal obtained by measuring the output signals from the
かかる場合、制御部５１の診断部５４は、１回目の設定電圧値とかかる設定電圧値に対する測定値とが同じ値であり、２回目の設定電圧値とかかる設定電圧値に対する測定値とが異なる値である。制御部５１の診断部５４は、１回目の診断結果が「ＯＫ」であり、２回目の診断結果が「ＮＧ」であることから、第１端子２１ａ，２１ｂにおけるアナログ入力回路５６ａおよびアナログ出力回路５６ｂが異常な動作をしているとして、「ＮＧ」の診断結果を出す。
In this case, the
次に、図８Ａ〜図８Ｂを参照して、デジタル系の対象回路５６、つまり、デジタル入力回路５６ｃおよびデジタル出力回路５６ｄにおける具体的な動作診断の方法について説明する。図８Ａ〜図８Ｂは、第１の実施形態に係るデジタル系の対象回路５６の動作診断の方法を説明する説明図である。
Next, with reference to FIGS. 8A to 8B, a specific operation diagnosis method in the
図８Ａに示すように、Ｌ信号（オフ信号）における設定した指示信号の電圧値が０Ｖで、Ｌ信号の上限閾値が１．０Ｖで、Ｈ信号（オン信号）における設定した指示信号の電圧値が５．０Ｖで、Ｈ信号の下限閾値が４．０Ｖで、Ｈ信号の上限閾値が６．０Ｖであるとする。つまり、図８Ｂに示すように、Ｌ信号とＨ信号とが交互に切り替わっているデジタル波形Ｄにおいて、Ｌ信号の上限閾値Ｒ１＝１．０Ｖ、Ｈ信号の下限閾値Ｒ２＝４．０Ｖ、およびＨ信号の上限閾値Ｒ３＝６．０Ｖを設定したとする。 As shown in FIG. 8A, the voltage value of the set instruction signal in the L signal (off signal) is 0 V, the upper threshold of the L signal is 1.0 V, and the voltage value of the set instruction signal in the H signal (on signal) Is 5.0V, the lower threshold of the H signal is 4.0V, and the upper threshold of the H signal is 6.0V. That is, as shown in FIG. 8B, in the digital waveform D in which the L signal and the H signal are alternately switched, the L signal upper limit threshold R1 = 1.0 V, the H signal lower limit threshold R2 = 4.0 V, and H It is assumed that the upper signal threshold R3 = 6.0V is set.
そして、デジタル入力回路５６ｃ，５７ｄからの出力信号を計測して得られた計測信号の計測値において、設定電圧値が０ＶにおけるＬ信号の計測値が０．５Ｖで、設定電圧値が５．０ＶにおけるＨ信号の計測値が４．８Ｖであるとする。
In the measurement value of the measurement signal obtained by measuring the output signals from the
かかる場合、Ｌ信号の計測値が０Ｖ〜１．０Ｖ（上限閾値Ｒ１）の範囲内にあり、Ｈ信号の計測値が４．０Ｖ（下限閾値Ｒ２）〜６．０Ｖ（上限閾値Ｒ３）の範囲内にある。 In such a case, the measured value of the L signal is in the range of 0V to 1.0V (upper threshold R1), and the measured value of the H signal is in the range of 4.0V (lower threshold R2) to 6.0V (upper threshold R3). Is in.
したがって、制御部５１の診断部５４は、Ｌ信号の計測値およびＨ信号の計測値が所定の範囲内にそれぞれあることから、第１端子２１ｃ，２１ｄにおけるデジタル入力回路５６ｃおよびデジタル出力回路５６ｄが正常な動作をしているとして、「ＯＫ」の診断結果を出す。
Therefore, the
一方、デジタル入力回路５６ｃ，５７ｄからの出力信号を計測して得られた計測信号の計測値において、設定電圧値が０ＶにおけるＬ信号の計測値が３．０Ｖで、設定電圧値が５．０ＶにおけるＨ信号の計測値が５．０Ｖであるとする。
On the other hand, in the measurement value of the measurement signal obtained by measuring the output signals from the
かかる場合、Ｌ信号の計測値が０Ｖ〜１．０Ｖ（上限閾値Ｒ１）の範囲内になく、Ｈ信号の計測値が４．０Ｖ（下限閾値Ｒ２）〜６．０Ｖ（上限閾値Ｒ３）の範囲内にある。 In this case, the measured value of the L signal is not in the range of 0V to 1.0V (upper limit threshold R1), and the measured value of the H signal is in the range of 4.0V (lower limit threshold R2) to 6.0V (upper limit threshold R3). Is in.
したがって、制御部５１の診断部５４は、Ｌ信号の計測値が所定の範囲内にないことから、第１端子２１ｃ，２１ｄにおけるデジタル入力回路５６ｃおよびデジタル出力回路５６ｄが異常な動作をしているとして、「ＮＧ」の診断結果を出す。
Therefore, in the
なお、制御部５１の診断部５４は、Ｌ信号の上限閾値Ｒ１、Ｈ信号の下限閾値Ｒ２、およびＨ信号の上限閾値Ｒ３を自由に設定可能である。これにより、制御部５１の診断部５４は、対象回路５６であるデジタル入力回路５６ｃおよびデジタル出力回路５６ｄに対して、高い精度で動作診断を行うことができる。
The
また、デジタル系の対象回路５６の動作診断においても、アナログ系の対象回路５６の動作診断と同じように、電圧設定部３２が指示信号の電圧値を変更することで、異なる電圧値の指示信号を複数設定し、各設定電圧値において診断を行ってもよい。
Also, in the operation diagnosis of the
かかる場合、制御部５１の診断部５４は、各設定電圧値に応じてＬ信号の上限閾値Ｒ１、Ｈ信号の下限閾値Ｒ２、およびＨ信号の上限閾値Ｒ３を設定する。
In this case, the
次に、図９を参照して、パルス系の対象回路５６、つまり、パルス入力回路５６ｅおよびパルス出力回路５６ｆにおける具体的な動作診断の方法について説明する。図９は、第１の実施形態に係るパルス系の対象回路５６の動作診断の方法を説明する説明図である。
Next, with reference to FIG. 9, a specific operation diagnosis method in the pulse-based
図９に示すように、設定した指示信号の電圧値が５．０Ｖで、かかる設定電圧値に対するパルス幅が１００μｓで、パルス入力回路５６ｅ，５７ｆからの出力信号を計測して得られた計測信号の計測値に対するパルス幅が１００μｓであるとする。
As shown in FIG. 9, the measurement signal obtained by measuring the output signal from the
かかる場合、制御部５１の診断部５４は、設定電圧値のパルス幅と計測値のパルス幅とが同じ値であることから、第１端子２１ｅ，２１ｆにおけるパルス入力回路５６ｅおよびパルス出力回路５６ｆが正常な動作をしているとして、「ＯＫ」の診断結果を出す。
In such a case, since the
一方、設定した指示信号の電圧値が５．０Ｖで、かかる設定電圧値に対するパルス幅が１００μｓで、パルス入力回路５６ｅ，５７ｆからの出力信号を計測して得られた計測信号の計測値に対するパルス幅が１２０μｓであるとする。
On the other hand, the voltage value of the set instruction signal is 5.0 V, the pulse width for the set voltage value is 100 μs, and the pulse for the measurement value of the measurement signal obtained by measuring the output signals from the
かかる場合、制御部５１の診断部５４は、設定電圧値のパルス幅と計測値のパルス幅とが同じ値でないことから、第１端子２１ｅ，２１ｆにおけるパルス入力回路５６ｅおよびパルス出力回路５６ｆが異常な動作をしているとして、「ＮＧ」の診断結果を出す。
In such a case, the
また、パルス系の対象回路５６の動作診断においても、アナログ系の対象回路５６の動作診断と同じように、電圧設定部３２が指示信号のパルス幅を変更することで、異なるパルス幅の指示信号を複数設定し、各パルス幅において診断を行ってもよい。
Also, in the operation diagnosis of the pulse-based
そして、シミュレーション装置２０は、記憶部７１が、上述した第１端子２１におけるアナログ系、デジタル系、およびパルス系の対象回路５６の診断結果を記憶する。
In the
図６の説明に戻り、シミュレーション装置２０は、第１端子２１における対象回路５６の動作診断が終わったあと、かかる対象回路５６に接続される１２個全ての端子２１に対して対象回路５６の動作診断を行ったか否かを判定する（ステップＳ１０５）。
Returning to the description of FIG. 6, after the operation diagnosis of the
ここで、全ての端子２１に対して対象回路５６の動作診断を行っていない場合（ステップＳ１０５，Ｎｏ）、シミュレーション装置２０は、制御部５１の指示部５２が、切替回路５８に対して切替信号を出力して隣の第２端子２１に切り替える（ステップＳ１０６）。そして、シミュレーション装置２０は、ステップＳ１０２からの処理を繰り返す。
Here, when the operation diagnosis of the
また、全ての端子２１に対して対象回路５６の動作診断を行った場合（ステップＳ１０５，Ｙｅｓ）、シミュレーション装置２０は、記憶部７１に記憶されている情報に基づいて端子２１毎の対象回路５６の診断結果を作成する（ステップＳ１０７）。
Further, when the operation diagnosis of the
そして、シミュレーションシステム２は、操作装置３１の表示制御部３４が、対象回路５６に接続される１２個全ての端子２１における診断結果（図１０参照）をＧＵＩなどの表示画面３０ａ上に表示（ステップＳ１０８）させることで、処理を終了する。
Then, in the
なお、図１０は、第１の実施形態に係る診断結果の表示例を示す図である。図１０に示すように、この例では、対象回路５６であるアナログ入力回路５６ａに接続される１２個の端子２１ａのなかで第１２端子２１ａが、アナログ入力回路５６ａの動作異常にかかわる端子２１ａであることが分かる。
FIG. 10 is a diagram illustrating a display example of the diagnosis result according to the first embodiment. As shown in FIG. 10, in this example, among the twelve
そのあと、シミュレーションシステム２は、ユーザの入力操作に応じて、診断モードから対象回路５６の応答性を確認する確認モードに切り替える。シミュレーションシステム２は、確認モードを実行することにより、動作診断を行って一定時間経過後の対象回路５６の状態を確認する。
Thereafter, the
上述した第１の実施形態に係るシミュレーション装置２０は、対象回路５６と、診断回路５７と、制御部５１とを備える。制御部５１は、対象回路５６が入力回路である場合、診断回路５７の出力信号を対象回路５６に入力するよう指示する指示信号と、対象回路５６の出力信号を計測して得られた計測信号とを比較し、比較結果に基づいて対象回路５６の動作診断を行う。
The
また、制御部５１は、対象回路５６が出力回路である場合、対象回路５６の出力信号を診断回路５７に入力するよう指示する指示信号と、診断回路５７の出力信号を計測して得られた計測信号とを比較し、比較結果に基づいて対象回路５６の動作診断を行う。
Further, when the
これにより、第１の実施形態に係るシミュレーション装置２０は、対象回路５６の動作診断を短時間で行うことができる。
Thereby, the
また、上述した第１の実施形態に係るシミュレーション装置２０は、対象回路５６と診断回路５７との電気的な接続を端子２１毎に切り替える切替回路５８を備える。そして、制御部５１は、切替回路５８によって端子２１毎に対象回路５６と診断回路５７との電気的な接続を切り替えることで、切り替えられた端子２１に対応する対象回路５６の動作診断を行う。
Moreover, the
これにより、第１の実施形態に係るシミュレーション装置２０は、対象回路５６の動作異常にかかわる端子２１を短時間で特定することができる。
Thereby, the
また、上述した第１の実施形態に係るシミュレーション装置２０は、診断回路５７が、切替回路５８と一つの端子Ｔで電気的に接続される。
In the
これにより、上述した第１の実施形態に係るシミュレーション装置２０は、診断回路５７に複数の端子を設けることなく、切替回路５８に接続される専用の一つの端子Ｔで、対象回路５６の動作診断を端子２１毎に行うことができる。
Thereby, the
また、上述した第１の実施形態に係るシミュレーション装置２０は、制御部５１が、電圧設定部３２によって複数設定された指示信号を、設定された指示信号毎に対象回路５６あるいは診断回路５７に出力する。
In the
これにより、上述した第１の実施形態に係るシミュレーション装置２０は、対象回路５６の動作診断の精度を高めることができる。
Thereby, the
また、上述した第１の実施形態に係るシミュレーション装置２０は、対象回路５６、診断回路５７、切替回路５８、および制御部５１が同一のＩ／Ｆボード５０上に設けられる。
In the
これにより、上述した第１の実施形態に係るシミュレーション装置２０は、Ｉ／Ｆボード５０上で、対象回路５６の動作診断を行うことができる。
Thereby, the
また、上述した第１の実施形態に係るシミュレーションシステム２は、表示制御部３４が、対象回路５６の診断結果を端子２１毎に表示部３０に表示させる。
In the
これにより、上述した第１の実施形態に係るシミュレーションシステム２は、端子２１毎の対象回路５６の診断結果をユーザに提供することができる。ユーザは、かかる診断結果に基づいて、対象回路５６の動作異常にかかわる端子２１を確認することができる。
Thereby, the
（第２の実施形態）
次に、第２の実施形態に係るシミュレーション装置について説明する。かかるシミュレーション装置は、Ｉ／Ｆボード上における各モジュールの搭載位置、および搭載位置における対象回路の種類を特定する特定部を備える。
(Second Embodiment)
Next, a simulation apparatus according to the second embodiment will be described. The simulation apparatus includes a specifying unit that specifies the mounting position of each module on the I / F board and the type of the target circuit at the mounting position.
図１１を参照して、第２の実施形態に係るシミュレーション装置について説明する。なお、第２の実施形態に係るシミュレーション装置は、Ｉ／Ｆボード上にアナログ系回路、デジタル系回路、およびパルス系回路のモジュールが複数搭載されている他は、第１の実施形態に係るシミュレーション装置２０と同じ構成である。
A simulation apparatus according to the second embodiment will be described with reference to FIG. The simulation apparatus according to the second embodiment is the same as the simulation according to the first embodiment except that a plurality of modules of analog circuit, digital circuit, and pulse circuit are mounted on the I / F board. The configuration is the same as that of the
図１１は、第２の実施形態に係るＩ／Ｆボード５０の構成の一例を示すブロック図である。なお、図１１に示す構成要素のうち、図３Ａ〜図５Ｂに示す構成要素と同様の機能を有する構成要素については、図３Ａ〜図５Ｂに示す符号と同一の符号を付すことにより、その説明を省略する。
FIG. 11 is a block diagram illustrating an example of the configuration of the I /
図１１に示すように、第２の実施形態に係るシミュレーション装置２０は、Ｉ／Ｆボード５０上に、制御部５１と、この例では６つのモジュール１０ａ〜１０ｆとを備える。
As illustrated in FIG. 11, the
制御部５１は、Ｉ／Ｆボード５０上における各モジュール１０ａ〜１０ｆの搭載位置、および搭載位置における対象回路５６ａ〜５６ｆの種類を特定する特定部８０を備える。なお、指示部５２、計測部５３、および診断部５４は図示を省略している。
The
具体的に説明すると、特定部８０は、各モジュール１０ａ〜１０ｆに対して、特定信号を出力する。そして、各モジュール１０ａ〜１０ｆは、特定信号に応じて、各モジュール１０ａ〜１０ｆ自身が保有する位置信号および対象回路５６ａ〜５６ｆの種別信号を特定部８０に出力する。
If demonstrating it concretely, the specific |
つまり、特定部８０は、各モジュール１０ａ〜１０ｆから出力される位置信号および種別信号に基づいて、Ｉ／Ｆボード５０上における各モジュール１０ａ〜１０ｆの搭載位置Ａ〜Ｆ、および搭載位置Ａ〜Ｆにおける対象回路５６ａ〜５６ｆの種類を特定する。
That is, the specifying
第２の実施形態に係るシミュレーションシステム２は、操作装置３１の表示制御部３４が、各モジュール１０ａ〜１０ｆの搭載位置Ａ〜Ｆ、搭載位置Ａ〜Ｆにおける対象回路５６ａ〜５６ｆの種類、および各対象回路５６ａ〜５６ｆに接続される１２個全ての端子２１ａ〜２１ｆにおける診断結果を表示画面３０ａ上に表示させる（図１２Ａ参照）。
In the
なお、図１２Ａは、第２の実施形態に係る診断結果の表示例を示す図（その１）である。図１２Ａに示すように、例えば、搭載位置Ａにあるアナログ入力回路５６ａにおいて、第２端子２１ａおよび第３端子２１ａが、アナログ入力回路５６ａの動作異常にかかわる端子２１ａであることが分かる。
FIG. 12A is a diagram (part 1) illustrating a display example of a diagnosis result according to the second embodiment. As shown in FIG. 12A, for example, in the
また、第２の実施形態に係るシミュレーションシステム２は、操作装置３１の表示制御部３４が、図１２Ａに示す診断結果に基づいて、対象回路の動作異常にかかわる端子および異常端子を有する対象回路の搭載位置を選択的に表示画面３０ａ上に表示するようにしてもよい（図１２Ｂ参照）。
Further, in the
なお、図１２Ｂは、第２の実施形態に係る診断結果の表示例を示す図（その２）である。図１２Ｂに示すように、例えば、搭載位置Ｆにあるパルス出力回路５６ｆにおいて、第１１端子２１ｆおよび第１２端子２１ｆが、パルス出力回路５６ｆの動作異常にかかわる端子２１ｆであることが分かる。
FIG. 12B is a diagram (part 2) illustrating a display example of a diagnosis result according to the second embodiment. As shown in FIG. 12B, for example, in the pulse output circuit 56f at the mounting position F, it can be seen that the
上述した第２の実施形態に係るシミュレーション装置２０は、モジュール１０ａ〜１０ｆから出力される電気信号に基づいて、Ｉ／Ｆボード５０上における各モジュール１０ａ〜１０ｆの搭載位置Ａ〜Ｆ、および搭載位置Ａ〜Ｆにおける対象回路５６ａ〜５６ｆの種類を特定する特定部８０を備える。
The
これにより、上述した第２の実施形態に係るシミュレーション装置２０は、Ｉ／Ｆボード５０上で、対象回路５６ａ〜５６ｆの搭載位置Ａ〜Ｆおよび搭載位置Ａ〜Ｆにおける対象回路５６ａ〜５６ｆの種類を特定することができる。
Thereby, the
（第３の実施形態）
次に、第３の実施形態に係るシミュレーション装置について説明する。かかるシミュレーション装置は、Ｉ／Ｆボード上に、制御部、複数のＣＡＮ通信回路、および開閉回路を備える。
(Third embodiment)
Next, a simulation apparatus according to the third embodiment will be described. Such a simulation apparatus includes a control unit, a plurality of CAN communication circuits, and a switching circuit on an I / F board.
図１３を参照して、第３の実施形態に係るシミュレーション装置について説明する。なお、第３の実施形態に係るシミュレーション装置は、Ｉ／Ｆボード上に、複数のＣＡＮ通信回路、および開閉回路が搭載されている他は、第１の実施形態に係るシミュレーション装置２０と同じ構成である。
A simulation apparatus according to the third embodiment will be described with reference to FIG. The simulation apparatus according to the third embodiment has the same configuration as the
図１３は、第３の実施形態に係るＩ／Ｆボード５０の構成の一例を示すブロック図である。なお、図１３に示す構成要素のうち、図３Ａ〜図５Ｂに示す構成要素と同様の機能を有する構成要素については、図３Ａ〜図５Ｂに示す符号と同一の符号を付すことにより、その説明を省略する。
FIG. 13 is a block diagram illustrating an example of the configuration of the I /
図１３に示すように、第３の実施形態に係るシミュレーション装置２０は、Ｉ／Ｆボード５０上に、第１ＣＡＮ通信回路９０ａと、第２ＣＡＮ通信回路９０ｂと、開閉回路９２と、制御部５１とを備える。制御部５１は、指示部５２と、計測部５３と、診断部５４とを備える。
As illustrated in FIG. 13, the
第１ＣＡＮ通信回路９０ａは、信号線９１ａを介して通信端子２１ｇに接続される。第２ＣＡＮ通信回路９０ｂは、信号線９１ｂを介して通信端子２１ｇに接続される。
The first CAN communication circuit 90a is connected to the communication terminal 21g via the signal line 91a. The second CAN communication circuit 90b is connected to the communication terminal 21g via the
開閉回路９２は信号線９１ａと信号線９１ｂとの間に接続され、第１ＣＡＮ通信回路９０ａと第２ＣＡＮ通信回路９０ｂとの間の電路を開閉する。
The open /
指示部５２は、開閉回路９２に対して、第１ＣＡＮ通信回路９０ａと第２ＣＡＮ通信回路９０ｂとの間の電路を開閉する開閉信号を、信号線９３を介して出力する。また、指示部５２は、第１ＣＡＮ通信回路９０ａおよび第２ＣＡＮ通信回路９０ｂのうちいずれか一方を診断回路として指定する指定信号を、信号線９４ａ，９４ｂを介して出力する。
The
上記したＩ／Ｆボード５０では、第１ＣＡＮ通信回路９０ａの動作診断を行う場合、指示部５２は、第２ＣＡＮ通信回路９０ｂに対して指定信号を、信号線９４ｂを介して出力するとともに、あらかじめ定められた擬似的な通信データである指示信号を、信号線９４ｂを介して出力する。また、指示部５２は、開閉回路９２に対して電路を閉じる信号を、信号線９３を介して出力する。
In the above-described I /
第２ＣＡＮ通信回路９０ｂは、指示信号に応じて固有の通信データである出力信号を出力する。かかる出力信号は、信号線９１ｂ、開閉回路９２、および信号線９１ａを介して第１ＣＡＮ通信回路９０ａに入力される。
The second CAN communication circuit 90b outputs an output signal that is unique communication data in response to the instruction signal. The output signal is input to the first CAN communication circuit 90a through the
計測部５３は、第２ＣＡＮ通信回路９０ｂの出力信号が入力された第１ＣＡＮ通信回路９０ａから信号線９４ａを介して出力される通信データである出力信号を測定する。
The measuring
また、上記したＩ／Ｆボード５０では、第２ＣＡＮ通信回路９０ｂの動作診断を行う場合、指示部５２は、第１ＣＡＮ通信回路９０ａに対して指定信号を、信号線９４ａを介して出力するとともに、あらかじめ定められた疑似的な通信データである指示信号を、信号線９４ａを介して出力する。また、指示部５２は、開閉回路９２に対して電路を閉じる信号を、信号線９３を介して出力する。
In the I /
第１ＣＡＮ通信回路９０ａは、指示信号に応じて固有の通信データである出力信号を出力する。かかる出力信号は、信号線９１ａ、開閉回路９２、および信号線９１ｂを介して第２ＣＡＮ通信回路９０ｂに入力される。
The first CAN communication circuit 90a outputs an output signal that is unique communication data in response to the instruction signal. The output signal is input to the second CAN communication circuit 90b via the signal line 91a, the open /
計測部５３は、第１ＣＡＮ通信回路９０ａの出力信号が入力された第２ＣＡＮ通信回路９０ｂから信号線９４ｂを介して出力される通信データである出力信号を測定する。
The measuring
ここで、図１４を参照して、ＣＡＮ通信回路９０ａ，９０ｂにおける具体的な動作診断の方法について説明する。図１４は、第３の実施形態に係るＣＡＮ通信回路９０ａ，９０ｂの動作診断の方法を説明する説明図である。 Here, a specific operation diagnosis method in the CAN communication circuits 90a and 90b will be described with reference to FIG. FIG. 14 is an explanatory diagram for explaining an operation diagnosis method for the CAN communication circuits 90a and 90b according to the third embodiment.
図１４に示すように、設定した指示信号におけるデータ信号が「ＡＡＡＡ」で、診断回路として第２ＣＡＮ通信回路９０ｂを指定し、対象回路である第１ＣＡＮ通信回路９０ａからの出力信号を計測して得られた計測信号におけるデータ信号が「ＡＡＡＡ」であるとする。また、第１ＣＡＮ通信回路９０ａの動作診断が終わったあと、診断回路として第１ＣＡＮ通信回路９０ａを指定し、対象回路である第２ＣＡＮ通信回路９０ｂからの出力信号を計測して得られた計測信号におけるデータ信号が「ＡＡＡＡ」であるとする。 As shown in FIG. 14, the data signal in the set instruction signal is “AAAA”, the second CAN communication circuit 90b is designated as the diagnostic circuit, and the output signal from the first CAN communication circuit 90a as the target circuit is measured. It is assumed that the data signal in the obtained measurement signal is “AAAA”. In addition, after the operation diagnosis of the first CAN communication circuit 90a is completed, the first CAN communication circuit 90a is designated as the diagnosis circuit, and the output signal from the second CAN communication circuit 90b that is the target circuit is measured. It is assumed that the data signal is “AAAA”.
かかる場合、第１ＣＡＮ通信回路９０ａおよび第２ＣＡＮ通信回路９０ｂにおいて、設定データと計測データとが同じ値である。したがって、制御部５１の診断部５４は、通信端子２１ｇにおける第１ＣＡＮ通信回路９０ａおよび第２ＣＡＮ通信回路９０ｂは、正常な動作をしているとして、「ＯＫ」の診断結果を出す。
In such a case, setting data and measurement data have the same value in the first CAN communication circuit 90a and the second CAN communication circuit 90b. Accordingly, the
一方、設定した指示信号におけるデータ信号が「ＡＡＡＡ」で、診断回路として第２ＣＡＮ通信回路９０ｂを指定し、対象回路である第１ＣＡＮ通信回路９０ａからの出力信号を計測して得られた計測信号におけるデータ信号が「ＡＡＡＢ」であるとする。また、第１ＣＡＮ通信回路９０ａの動作診断が終わったあと、診断回路として第１ＣＡＮ通信回路９０ａを指定し、対象回路である第２ＣＡＮ通信回路９０ｂからの出力信号を計測して得られた計測信号におけるデータ信号が「ＡＡＡＢ」であるとする。 On the other hand, the data signal in the set instruction signal is “AAAA”, the second CAN communication circuit 90b is designated as the diagnostic circuit, and the output signal from the first CAN communication circuit 90a that is the target circuit is measured. Assume that the data signal is “AAAB”. In addition, after the operation diagnosis of the first CAN communication circuit 90a is completed, the first CAN communication circuit 90a is designated as the diagnosis circuit, and the output signal from the second CAN communication circuit 90b that is the target circuit is measured. Assume that the data signal is “AAAB”.
かかる場合、第１ＣＡＮ通信回路９０ａおよび第２ＣＡＮ通信回路９０ｂにおいて、設定データと計測データとが異なる値である。したがって、制御部５１の診断部５４は、通信端子２１ｇにおける第１ＣＡＮ通信回路９０ａおよび第２ＣＡＮ通信回路９０ｂは、異常な動作をしているとして、「ＮＧ」の診断結果を出す。
In such a case, the setting data and the measurement data are different values in the first CAN communication circuit 90a and the second CAN communication circuit 90b. Accordingly, the
上述した第３の実施形態に係るシミュレーション装置２０は、制御部５１が、第２ＣＡＮ通信回路９０ｂを診断回路として第１ＣＡＮ通信回路９０ａの動作診断を行ったあと、第１ＣＡＮ通信回路９０ａを診断回路として第２ＣＡＮ通信回路９０ｂの動作診断を行う。
In the
これにより、上述した第３の実施形態に係るシミュレーション装置２０は、ＣＡＮ通信回路９０ａ，９０ｂのように同じ通信機能を有する回路同士で各ＣＡＮ通信回路９０ａ，９０ｂの動作診断を行うことができる。
Thereby, the
さらなる効果や変形例は、当業者によって容易に導き出すことができる。このため、本発明のより広範な態様は、以上のように表しかつ記述した特定の詳細および代表的な実施形態に限定されるものではない。したがって、添付の特許請求の範囲およびその均など物によって定義される総括的な発明の概念の精神または範囲から逸脱することなく、様々な変更が可能である。 Further effects and modifications can be easily derived by those skilled in the art. Thus, the broader aspects of the present invention are not limited to the specific details and representative embodiments shown and described above. Accordingly, various modifications can be made without departing from the spirit or scope of the general inventive concept as defined by the appended claims and their equivalents.
２ シミュレーションシステム
１０ モジュール
２０ シミュレーション装置
２１ 端子
２２ ＬＡＮケーブル
３０ 表示部
３０ａ 表示画面
３１ 操作装置
３２ 電圧設定部
３３ モード切替部
３４ 表示制御部
４ 制御装置
４０ ワイヤーハーネス
５ インターフェイスラック
５０ インターフェイスボード
５１ 制御部
５２ 指示部
５３ 計測部
５４ 診断部
５６ 対象回路
５７ 診断回路
５８ 切替回路
８０ 特定部
８ 信号線
９ 信号線
９０ａ 第１ＣＡＮ通信回路
９０ｂ 第２ＣＡＮ通信回路
９１ａ 信号線
９１ｂ 信号線
９２ 開閉回路
2
Claims (12)
前記対象回路と前記制御装置とを結ぶ電路に接続される診断回路と、
前記対象回路から出力される出力信号および前記診断回路から出力される出力信号、もしくは前記対象回路に入力される入力信号および前記診断回路から出力される出力信号のいずれか一方に基づいて前記対象回路の動作診断を行う制御部と
を備えることを特徴とするシミュレーション装置。 Performs input / output operations of electrical signals to the control device, and a target circuit for operation diagnosis,
A diagnostic circuit connected to an electric circuit connecting the target circuit and the control device;
The target circuit based on one of an output signal output from the target circuit and an output signal output from the diagnostic circuit, or an input signal input to the target circuit and an output signal output from the diagnostic circuit And a control unit that performs an operation diagnosis of the simulation device.
前記対象回路が電気信号の入力および出力のいずれか一方の機能を有する場合、他方の機能を有すること
を特徴とする請求項１に記載のシミュレーション装置。 The diagnostic circuit includes:
The simulation apparatus according to claim 1, wherein when the target circuit has any one function of input and output of an electric signal, the target circuit has the other function.
前記対象回路が入力回路である場合、前記診断回路の出力信号を前記対象回路に入力するよう指示する指示信号と、前記対象回路の出力信号を計測して得られた計測信号とを比較し、比較結果に基づいて前記対象回路の動作診断を行うこと
を特徴とする請求項２に記載のシミュレーション装置。 The controller is
When the target circuit is an input circuit, the instruction signal instructing to input the output signal of the diagnostic circuit to the target circuit is compared with the measurement signal obtained by measuring the output signal of the target circuit, The simulation apparatus according to claim 2, wherein an operation diagnosis of the target circuit is performed based on a comparison result.
前記対象回路が出力回路である場合、前記対象回路の出力信号を前記診断回路に入力するよう指示する指示信号と、前記診断回路の出力信号を計測して得られた計測信号とを比較し、比較結果に基づいて前記対象回路の動作診断を行うこと
を特徴とする請求項２に記載のシミュレーション装置。 The controller is
When the target circuit is an output circuit, an instruction signal instructing to input the output signal of the target circuit to the diagnostic circuit is compared with a measurement signal obtained by measuring the output signal of the diagnostic circuit, The simulation apparatus according to claim 2, wherein an operation diagnosis of the target circuit is performed based on a comparison result.
前記対象回路と前記診断回路との間の電気的な接続を前記端子毎に切り替える切替回路
を備え、
前記制御部は、
前記切替回路によって前記端子毎に前記対象回路と前記診断回路との電気的な接続を切り替えることで、切り替えられた前記端子に対応する前記対象回路の動作診断を行うこと
を特徴とする請求項１〜４のいずれか一つに記載のシミュレーション装置。 The target circuit is configured to be connectable to the control device via a plurality of terminals,
A switching circuit that switches the electrical connection between the target circuit and the diagnostic circuit for each terminal;
The controller is
The operation diagnosis of the target circuit corresponding to the switched terminal is performed by switching the electrical connection between the target circuit and the diagnostic circuit for each of the terminals by the switching circuit. The simulation apparatus as described in any one of -4.
前記切替回路と一つの端子で電気的に接続されること
を特徴とする請求項５に記載のシミュレーション装置。 The diagnostic circuit includes:
The simulation apparatus according to claim 5, wherein the simulation apparatus is electrically connected to the switching circuit through a single terminal.
前記指示信号を複数設定すること
を特徴とする請求項３〜６のいずれか一つに記載のシミュレーション装置。 The controller is
The simulation apparatus according to claim 3, wherein a plurality of the instruction signals are set.
同一のボード上に設けられる
ことを特徴とする請求項１〜７のいずれか一つに記載のシミュレーション装置。 The target circuit, the diagnostic circuit, and the control unit are:
It is provided on the same board. The simulation apparatus as described in any one of Claims 1-7 characterized by the above-mentioned.
前記制御部は、
前記モジュールから出力される電気信号に基づいて、前記ボード上における前記各モジュールの搭載位置、および該搭載位置における前記対象回路の種類を特定すること
を特徴とする請求項８に記載のシミュレーション装置。 A plurality of modules including the target circuit and the diagnostic circuit are mounted on the board,
The controller is
The simulation apparatus according to claim 8, wherein the mounting position of each module on the board and the type of the target circuit at the mounting position are specified based on an electrical signal output from the module.
一方の前記ＣＡＮ通信回路と他方の前記ＣＡＮ通信回路との間の電路を開閉する開閉回路
を備え、
前記制御部は、
前記開閉回路によって電路を閉じ、一方の前記ＣＡＮ通信回路を前記診断回路として他方の前記ＣＡＮ通信回路の動作診断を行うこと
を特徴とする請求項１に記載のシミュレーション装置。 The target circuit and the diagnostic circuit are CAN communication circuits,
An open / close circuit that opens and closes an electric circuit between the one CAN communication circuit and the other CAN communication circuit;
The controller is
The simulation apparatus according to claim 1, wherein the electric circuit is closed by the switching circuit, and the operation diagnosis of the other CAN communication circuit is performed using the one CAN communication circuit as the diagnosis circuit.
ユーザからの操作を受け付ける操作装置と
を備えることを特徴とするシミュレーションシステム。 The simulation apparatus according to any one of claims 1 to 10,
A simulation system comprising: an operation device that receives an operation from a user.
前記表示部を制御する表示制御部と
を備え、
前記対象回路は、複数個の端子を介して前記制御装置に接続可能に構成され、
前記表示制御部は、
前記対象回路の診断結果を前記端子毎に前記表示部に表示させること
を特徴とする請求項１１に記載のシミュレーションシステム。 A display unit;
A display control unit for controlling the display unit,
The target circuit is configured to be connectable to the control device via a plurality of terminals,
The display control unit
The simulation system according to claim 11, wherein a diagnosis result of the target circuit is displayed on the display unit for each terminal.
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