JP2017534165A - Terminal block - Google Patents

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    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R9/00—Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, e.g. terminal strips or terminal blocks; Terminals or binding posts mounted upon a base or in a case; Bases therefor
    • H01R9/22—Bases, e.g. strip, block, panel
    • H01R9/24—Terminal blocks
    • H01R9/26—Clip-on terminal blocks for side-by-side rail- or strip-mounting
    • H01R9/2625—Clip-on terminal blocks for side-by-side rail- or strip-mounting with built-in electrical component
    • H01R9/2666—Clip-on terminal blocks for side-by-side rail- or strip-mounting with built-in electrical component with built-in test-points

Abstract

本発明の対象は、第１の接続レベル（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄ）と少なくとも１つの第２の接続レベル（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄ）とを有する絶縁材料ハウジング（１０）を備え、電流レール（１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄ）と、互いに対向して配置されておりかつ電気的に接触しているように電流レール（１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄ）に接続されている２つの導体接続ユニット（３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”）とが、各接続レベル（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄ）上に配置されており、試験コネクタ（２００）を受容する少なくとも１つの試験コネクタ開口部（２２）が、絶縁材料ハウジング（１０）に形成されており、試験コネクタ開口部（２２）は、第１の接続レベル（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄ）に属する導体接続ユニット（１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”）と、該導体接続ユニットに隣接して配置されている、第２の接続レベル（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄ）に属する導体接続ユニット（１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”）との間に配置されている、端子台（１００）である。The subject of the invention comprises an insulating material housing (10) having a first connection level (11a, 11b, 11c, 11d) and at least one second connection level (11a, 11b, 11c, 11d), Two conductors connected to the current rails (12a, 12b, 12c, 12d) so as to be opposed to each other and in electrical contact with the current rails (12a, 12b, 12c, 12d) Connection units (3a ′, 13a ″, 13b ′, 13b ″, 13c ′, 13c ″, 13d ′, 13d ″) are arranged on each connection level (11a, 11b, 11c, 11d) and tested At least one test connector opening (22) for receiving the connector (200) is formed in the insulating material housing (10) and the test connector opening (22). , Conductor connection units (13a ′, 13a ″, 13b ′, 13b ″, 13c ′, 13c ″, 13d ′, 13d ″) belonging to the first connection level (11a, 11b, 11c, 11d) and the conductor connection Conductor connection units (13a ′, 13a ″, 13b ′, 13b ″, 13c ′, 13c ″, 13d ′ belonging to the second connection level (11a, 11b, 11c, 11d) arranged adjacent to the unit 13d ″), the terminal block (100).

Description

本発明は端子台、詳細には交差接続端子に関し、該端子台は、第１の接続レベルと少なくとも１つの第２の接続レベルとを有する絶縁材料ハウジングを有し、電流レールと、互いに対向して配置されておりかつ電気的に接触しているように電流レールに接続されている２つの導体接続ユニットとが各接続レベル上に配置されており、試験コネクタを受容する少なくとも１つの試験コネクタ開口部が絶縁材料ハウジングに形成されている。   The present invention relates to a terminal block, in particular to a cross-connecting terminal, the terminal block having an insulating material housing having a first connection level and at least one second connection level, opposite the current rails. At least one test connector opening for receiving a test connector, arranged on each connection level, with two conductor connection units arranged in contact with each other and connected to the current rail so as to be in electrical contact A portion is formed in the insulating material housing.

端子台は、例えば特許文献１に記載されているものなどの、様々な構造設計において既知である。端子台は、詳細には、１つまたは複数の電位の分布に役立つ。交差接続端子の形を取る端子台が、通常、上下に配置されている２つのまたは３つ以上の接続レベルを有し、その各々において電流レールが配置されており、該電流レールの端部は各々、導電体を接続するための導体接続ユニットに接続されている。端子台は、通常、支持レール上にスナップ留めされており、スイッチキャビネット内に複数で配置され得ることが多い。導体接続ユニットは、ねじ式接続端子、引張ばね接続端子、または圧接接続端子の形を取っていてもよい。   Terminal blocks are known in various structural designs, such as those described in US Pat. The terminal block is particularly useful for the distribution of one or more potentials. A terminal block in the form of a cross-connect terminal usually has two or more connection levels arranged one above the other, each of which has a current rail arranged, the end of the current rail being Each is connected to a conductor connection unit for connecting conductors. Terminal blocks are usually snapped onto support rails and can often be arranged in a plurality in a switch cabinet. The conductor connection unit may take the form of a screw connection terminal, a tension spring connection terminal, or a press contact connection terminal.

動作中、端子台は、端子台の個々の要素間で電流を送るように意図されている。電流の送りの秩序ある機能を試験するために、必要に応じて誤配線を検出するために、対応する試験コネクタを挿入するための試験コネクタ開口部が絶縁材料ハウジングに形成されている端子台が既知である。一方では、試験コネクタ開口部は、試験コネクタとの、絶縁材料ハウジングの内部での、導体接続ユニットおよび／または電流レールなどの導電性要素の接触を可能にする。他方では、試験コネクタ開口部は、端子台の電気素子への損傷の事態を防止するために、端子台内での試験コネクタの誘導およびしっかりした固定に役立つ。   In operation, the terminal block is intended to send current between the individual elements of the terminal block. In order to test the orderly function of current delivery, there is a terminal block in which an insulating material housing is formed with a test connector opening for inserting the corresponding test connector to detect miswiring as required Known. On the one hand, the test connector opening allows contact of conductive elements, such as conductor connection units and / or current rails, within the insulating material housing with the test connector. On the other hand, the test connector opening serves to guide and secure the test connector within the terminal block to prevent damage to the electrical elements of the terminal block.

全般的に、電化製品および電気設備の増進する小型化により、スイッチキャビネットのサイズの益々の縮小もまた望ましい。これに加えて、さらに多くの電化製品および電気設備が共に配線されなければならないので、スイッチキャビネット内の電気端子台に利用可能な空間はさらに縮小している。したがって、非常に小型の構造を有する、すなわち非常に狭い幅および短い長さしかない端子台の必要性が高まっている。   Overall, with the ever-increasing miniaturization of appliances and electrical equipment, it is also desirable to reduce the size of switch cabinets. In addition to this, the space available for electrical terminal blocks in the switch cabinet is further reduced as more electrical appliances and electrical equipment must be wired together. Therefore, there is a growing need for terminal blocks having a very small structure, i.e. having a very narrow width and short length.

独国実用新案第２９５０２３４７（Ｕ）号明細書German utility model No. 29502347 (U) specification

したがって、本発明に内在する目的は、やはり外径寸法の縮小の事態において、試験コネクタによる試験タッピング（test tapping）を可能にし得る端子台を利用可能にすることである。   Accordingly, an object inherent in the present invention is to make available a terminal block that can also allow test tapping by a test connector in the event of a reduction in outer diameter.

本発明による目的は請求項１の特徴により達成される。本発明の適切な構造および有利な更なる開発が従属請求項において詳述されている。   The object according to the invention is achieved by the features of claim 1. Suitable structures and advantageous further developments of the invention are detailed in the dependent claims.

導入部においてより詳細に特徴付けられているタイプの端子台の場合には、本目的は、本発明に基づいて、第１の接続レベルに属する導体接続ユニットと、該導体接続ユニットに隣接して配置されている、第２の接続レベルに属する導体接続ユニットとの間に配置されている、試験コネクタ開口部により達成される。   In the case of a terminal block of the type characterized in more detail in the introduction, this object is based on the invention in that a conductor connection unit belonging to the first connection level and adjacent to the conductor connection unit. This is achieved by a test connector opening, which is arranged between the conductor connection units belonging to the second connection level.

その結果として、試験コネクタ開口部は、２つの接続レベルにわたって延在しており、その結果、試験コネクタ開口部の第１の部分が第１の接続レベルの領域内に配置されており、試験コネクタ開口部の第２の部分が第２の接続レベルの領域内に配置されている。その結果として、試験コネクタ開口部は、互いに分離されている２つの電位にわたって延在している。この関連で、本発明は、試験コネクタ開口部の２つの部分が等しい大きさであるように設計されていることを優先的に実現しており、その結果、試験コネクタ開口部は２つの接続レベルに均等に分布されている。２つの接続レベル上への試験コネクタ開口部の分割のおかげで、試験コネクタ開口部に必要な設置空間は大幅に縮小されることが可能であり、その結果、端子台全体の外径寸法は、試験コネクタ開口部自体の大きさを縮小する必要なく、大幅に縮小され得ることが可能であり、その結果、外径寸法の縮小にも関わらず、従来の寸法を有する試験コネクタが活用され得る。   As a result, the test connector opening extends over two connection levels so that the first portion of the test connector opening is located in the region of the first connection level, A second part of the opening is arranged in the region of the second connection level. As a result, the test connector opening extends over two potentials that are separated from each other. In this regard, the present invention preferentially realizes that the two parts of the test connector opening are designed to be of equal size, so that the test connector opening has two connection levels. Are evenly distributed. Thanks to the division of the test connector opening over two connection levels, the installation space required for the test connector opening can be greatly reduced, so that the outer diameter dimension of the entire terminal block is It can be greatly reduced without having to reduce the size of the test connector opening itself, so that test connectors having conventional dimensions can be utilized despite the reduction in outer diameter dimensions.

本発明は、導体接続ユニットが各々、第１の導体を接続するための第１の導体接続領域を有し、かつ第２の導体を接続するための第２の導体接続領域を有することを実現することが好ましく、試験コネクタ開口部は、次いで、優先的に、第１の導体接続領域と第２の導体接続領域との間に配置されている。２つの導体接続領域間の、試験コネクタ開口部の配置のおかげで、試験コネクタ開口部に必要な空間要求はさらに低減されることが可能であり、その結果として、導体接続ユニットにつき２つの導体接続領域の場合、試験コネクタ開口部を有さないタイプのような端子台と比較して、端子台の外径寸法の拡大が不要である。   The present invention realizes that each of the conductor connection units has a first conductor connection region for connecting the first conductor and a second conductor connection region for connecting the second conductor. Preferably, the test connector opening is then preferentially arranged between the first conductor connection region and the second conductor connection region. Thanks to the arrangement of the test connector opening between the two conductor connection areas, the space requirement for the test connector opening can be further reduced, resulting in two conductor connections per conductor connection unit. In the case of the region, it is not necessary to enlarge the outer diameter of the terminal block as compared to a terminal block such as a type that does not have a test connector opening.

導体接続ユニットは各々、優先的に、電流バーと、該電流バーに対して、導体接続ユニット内へ導入された導体を圧着する少なくとも１つの渦巻ばねとを有し、導体接続ユニットの電流バーおよび／または少なくとも１つの渦巻ばねは、試験コネクタ開口部内へ突出していることが好ましい。導体接続ユニットは、次いで、ばね力圧着接続の形を取ることが好ましい。導体接続ユニットの電流バーは、ある接続レベルの電流レールに電気的に接触しているように接続されており、その結果、電流レールとの導体接続ユニットの接触は電流バーを介して確立され得る。導体接続ユニットが２つの導体接続領域を有する場合、各々が導体接続ユニットの電流バーに対して導体を圧着することができる２つの渦巻ばねは、各導体接続ユニット内に配置されている。試験コネクタ開口部内へ導入される試験コネクタが、優先的に、導体接続ユニットの電流バーおよび／または１つの渦巻ばねもしくは２つの渦巻ばねと接触する。これを可能にするために、電流バーおよび／または１つの渦巻ばねもしくは２つの渦巻ばねは、試験コネクタ開口部内へ突出している。この目的のために、電流バーは、優先的に、試験コネクタ開口部の方向に曲げられるように設計されている。電流バーおよび／または１つの渦巻ばねもしくは２つの渦巻ばねが試験コネクタ開口部内へ突出している場合、試験コネクタ開口部内へ導入される試験コネクタとの、導体接続ユニットの少なくとも１つの接触点、しかし優先的には２つ以上の接触点、すなわち２つまたは３つの接触点が形成され得る。結果として、また、試験コネクタ開口部内へ導入されたＤｕｓｐｏｌ試験コネクタの良好な接触が確実に保証され得る。   Each of the conductor connection units preferentially has a current bar and at least one spiral spring for crimping a conductor introduced into the conductor connection unit against the current bar, Preferably, the at least one spiral spring projects into the test connector opening. The conductor connection unit then preferably takes the form of a spring force crimp connection. The current bar of the conductor connection unit is connected so as to be in electrical contact with a current rail of a certain connection level, so that contact of the conductor connection unit with the current rail can be established via the current bar. . When the conductor connection unit has two conductor connection regions, two spiral springs, each of which can crimp the conductor against the current bar of the conductor connection unit, are arranged in each conductor connection unit. A test connector introduced into the test connector opening preferentially contacts the current bar and / or one or two spiral springs of the conductor connection unit. To allow this, the current bar and / or one or two spiral springs protrude into the test connector opening. For this purpose, the current bar is preferentially designed to be bent in the direction of the test connector opening. If the current bar and / or one spiral spring or two spiral springs project into the test connector opening, at least one contact point of the conductor connection unit with the test connector introduced into the test connector opening, but preferential In particular, two or more contact points can be formed, i.e. two or three contact points. As a result, also good contact of the Duspol test connector introduced into the test connector opening can be ensured reliably.

試験コネクタ開口部内への試験コネクタの導入を容易にするために、本発明は、試験コネクタ開口部が、試験コネクタ開口部内へ試験コネクタを導入する面取り挿入領域を有することをさらに実現することが好ましい。   In order to facilitate the introduction of the test connector into the test connector opening, the present invention preferably further realizes that the test connector opening has a chamfer insertion region for introducing the test connector into the test connector opening. .

本発明は、試験コネクタ開口部が菱形形状を有することをさらに実現することが特に好ましい。該菱形形状は試験コネクタ開口部の明確な画定を可能にし、その結果、試験コネクタ開口部は、端子台上の他の開口部とはっきりと区別され得る。試験コネクタの誤った挿入の可能性は、この手段により大幅に低減されることが可能であり、その結果、ユーザにとっての操作性が向上され得る。菱形試験コネクタ開口部は、横断面に関しては、絶縁材料ハウジングの試験コネクタ開口部に必要な空間の同時縮小にも関わらず、従来の試験コネクタに必要な空間に対応する。   It is particularly preferred that the present invention further realizes that the test connector opening has a diamond shape. The diamond shape allows for a clear definition of the test connector opening so that the test connector opening can be clearly distinguished from other openings on the terminal block. The possibility of incorrect insertion of the test connector can be greatly reduced by this means, so that the operability for the user can be improved. The diamond-shaped test connector opening corresponds to the space required for a conventional test connector in terms of cross-section, despite the simultaneous reduction of the space required for the test connector opening in the insulating material housing.

あるいは、しかし、試験コネクタ開口部が円形形状、長円形形状、または多角形形状を有することもまた可能である。   Alternatively, however, it is also possible that the test connector opening has a circular shape, an oval shape, or a polygonal shape.

本発明は、好適な実施形態に基づく添付図面を参照して、下記においてより詳細に明らかにされるであろう。   The invention will be elucidated in more detail below with reference to the accompanying drawings in accordance with preferred embodiments.

本発明による端子台の概略斜視図である。It is a schematic perspective view of the terminal block by this invention. 図１に示されている端子台の細部の概略斜視図である。It is a schematic perspective view of the detail of the terminal block shown by FIG. 図１に示されている端子台の、図２に示されている細部の概略上面図である。3 is a schematic top view of the details shown in FIG. 2 of the terminal block shown in FIG. 図１に示されている端子台の２つの異なる接続レベルに属する、互いに隣接した２つの導体接続ユニットに沿った概略断面図である。FIG. 2 is a schematic cross-sectional view along two conductor connection units adjacent to each other belonging to two different connection levels of the terminal block shown in FIG. 1. 試験コネクタが試験コネクタ開口部内へ導入された状態の、図４に示されている断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view shown in FIG. 4 with the test connector introduced into the test connector opening.

図１は、交差接続端子の形を取っている端子台１００を示す。端子台１００は、絶縁材料ハウジング１０に形成されている、上下に配置されているいくつかの接続レベル１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄ（ここでは、４つの接続レベル１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄ）を備えた絶縁材料ハウジング１０を有する。電流レール１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄと、互いに対向して配置されておりかつ電気的に接触しているように電流レール１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄに接続されている２つの導体接続ユニット１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”とがそれぞれ、各接続レベル１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄ上に配置されている。導体接続ユニット１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”は各々、絶縁材料ハウジング１０の前面上に形成されている受容室内へ挿入されていてもよい。   FIG. 1 shows a terminal block 100 in the form of a cross-connect terminal. The terminal block 100 has several connection levels 11 a, 11 b, 11 c, 11 d (here, four connection levels 11 a, 11 b, 11 c, 11 d) which are formed on the insulating material housing 10 and are arranged above and below. An insulating material housing 10 is provided. Two conductor connection units 13a ′ that are arranged opposite to each other and are in electrical contact with the current rails 12a, 12b, 12c, 12d and connected to the current rails 12a, 12b, 12c, 12d , 13a ″, 13b ′, 13b ″, 13c ′, 13c ″, 13d ′, and 13d ″ are arranged on the connection levels 11a, 11b, 11c, and 11d, respectively. The conductor connection units 13a ′, 13a ″, 13b ′, 13b ″, 13c ′, 13c ″, 13d ′, 13d ″ may each be inserted into a receiving chamber formed on the front surface of the insulating material housing 10. .

ここに示されている構造では、図３および図４に詳細に示されている通り、各導体接続ユニット１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”は、電流バー１４と、互いに並行して配置されている２つの渦巻ばね１５、１６と、該渦巻ばねを作動させる２つの作動要素１７、１８と、２つの導体挿入開口部１９、２０とを有する。その結果として、ここに図示されていない２つの導体が、導体接続ユニット１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”によって接続され得る。各電流バー１４は分岐接点２１を有し、該分岐接点により、電流バー１４は各電流レール１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄと接触することができる。   In the structure shown here, each conductor connection unit 13a ′, 13a ″, 13b ′, 13b ″, 13c ′, 13c ″, 13d ′, 13d ″ is shown in detail in FIGS. Comprises a current bar 14, two spiral springs 15, 16 arranged parallel to each other, two actuating elements 17, 18 for actuating the spiral springs and two conductor insertion openings 19, 20 Have. As a result, two conductors not shown here can be connected by the conductor connection units 13a ′, 13a ″, 13b ′, 13b ″, 13c ′, 13c ″, 13d ′, 13d ″. Each current bar 14 has a branch contact 21, which allows the current bar 14 to contact each current rail 12a, 12b, 12c, 12d.

ここで、その結果として、導体接続ユニット１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”は各々、２つの導体接続領域１３ａａ’、１３ａｂ’、１３ａａ”、１３ａｂ”、１３ｂａ’、１３ｂｂ’、１３ｂａ”、１３ｂｂ”、１３ｃａ’、１３ｃｂ’、１３ｃａ”、１３ｃｂ”、１３ｄａ’、１３ｄｂ’、１３ｄａ”、１３ｄｂ”を有する。各導体接続領域１３ａａ’、１３ａｂ’、１３ａａ”、１３ａｂ”、１３ｂａ’、１３ｂｂ’、１３ｂａ”、１３ｂｂ”、１３ｃａ’、１３ｃｂ’、１３ｃａ”、１３ｃｂ”、１３ｄａ’、１３ｄｂ’、１３ｄａ”、１３ｄｂ”は、渦巻ばね１５、１６と、作動要素１７、１８と、導体挿入開口部１９、２０とを有し、導体接続ユニット１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”の電流バー１４は、２つの導体接続領域１３ａａ’、１３ａｂ’、１３ａａ”、１３ａｂ”、１３ｂａ’、１３ｂｂ’、１３ｂａ”、１３ｂｂ”、１３ｃａ’、１３ｃｂ’、１３ｃａ”、１３ｃｂ”、１３ｄａ’、１３ｄｂ’、１３ｄａ”、１３ｄｂ”にわたって延在している。   Here, as a result, the conductor connection units 13a ′, 13a ″, 13b ′, 13b ″, 13c ′, 13c ″, 13d ′, and 13d ″ have two conductor connection regions 13aa ′, 13ab ′, 13aa ″, 13ab ″, 13ba ′, 13bb ′, 13ba ″, 13bb ″, 13ca ′, 13cb ′, 13ca ″, 13cb ″, 13da ′, 13db ′, 13da ″, 13db ″. Each conductor connection region 13aa ', 13ab', 13aa ", 13ab", 13ba ', 13bb', 13bb ", 13ca ', 13cb', 13ca", 13cb ", 13da ', 13db', 13da", 13db "Having spiral springs 15, 16, actuating elements 17, 18, and conductor insertion openings 19, 20, and conductor connection units 13a ', 13a", 13b', 13b ", 13c ', 13c", The current bars 14 of 13d ′ and 13d ″ have two conductor connection regions 13aa ′, 13ab ′, 13aa ″, 13ab ″, 13ba ′, 13bb ′, 13ba ″, 13bb ″, 13ca ′, 13cb ′, 13ca ″, 13cb. ", 13da ', 13db', 13da", 13db ".

さらに、絶縁材料ハウジング１０内に、試験コネクタ２００を導入するいくつかの試験コネクタ開口部２２が形成されている。試験コネクタ開口部２２の各々は、互いに隣接して配置されている２つの接続レベル１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄにわたって延在しており、それぞれ、互いに隣接して配置されている接続レベル１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄに属する２つの導体接続ユニット１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”間に形成されている。   In addition, several test connector openings 22 are formed in the insulating material housing 10 for introducing the test connector 200. Each of the test connector openings 22 extends over two connection levels 11a, 11b, 11c, 11d arranged adjacent to each other, and connection levels 11a, 11b arranged adjacent to each other, respectively. , 11c and 11d are formed between two conductor connection units 13a ′, 13a ″, 13b ′, 13b ″, 13c ′, 13c ″, 13d ′ and 13d ″.

詳細には図３において理解され得る通り、試験コネクタ開口部２２の第１の部分２３ａが、第１の接続レベル１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄの領域にわたって延在しており、試験コネクタ開口部２２の第２の部分２３ｂが、第１の接続レベルに隣接した第２の接続レベル１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄの領域にわたって延在している。その結果として、試験コネクタ開口部２２は、互いに分離されている２つの電位にわたって延在している。ここに図示されている構造では、試験コネクタ開口部２２の２つの部分２３ａ、２３ｂは実質的に等しいサイズであるように設計されており、その結果、試験コネクタ開口部２２は、互いに隣接した２つの接続レベル１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄに均等に分布されている。   As can be seen in detail in FIG. 3, the first portion 23a of the test connector opening 22 extends over the region of the first connection level 11a, 11b, 11c, 11d, and the test connector opening 22 The second portion 23b extends over the region of the second connection level 11a, 11b, 11c, 11d adjacent to the first connection level. As a result, the test connector opening 22 extends over two potentials that are separated from each other. In the structure shown here, the two portions 23a, 23b of the test connector opening 22 are designed to be substantially equal in size so that the test connector opening 22 is adjacent to each other 2 The connection levels 11a, 11b, 11c, and 11d are evenly distributed.

さらに、試験コネクタ開口部２２は各々、導体接続ユニット１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”の２つの導体接続領域１３ａａ’、１３ａｂ’、１３ａａ”、１３ａｂ”、１３ｂａ’、１３ｂｂ’、１３ｂａ”、１３ｂｂ”、１３ｃａ’、１３ｃｂ’、１３ｃａ”、１３ｃｂ”、１３ｄａ’、１３ｄｂ’、１３ｄａ”、１３ｄｂ”間に形成されている。   Further, the test connector opening 22 has two conductor connection regions 13aa ′, 13ab ′, 13aa ″ of the conductor connection units 13a ′, 13a ″, 13b ′, 13b ″, 13c ′, 13c ″, 13d ′, 13d ″, respectively. , 13ab ″, 13ba ′, 13bb ′, 13ba ″, 13bb ″, 13ca ′, 13cb ′, 13ca ″, 13cb ″, 13da ′, 13db ′, 13da ″, and 13db ″.

詳細には図４および図５において理解され得る通り、２つの渦巻ばね１５、１６および電流バー１４の部分１４ａは、試験コネクタ開口部２２内へ突出しており、その結果、試験コネクタ開口部２２内へ導入された試験コネクタ２００は、１つの渦巻ばねまたは両渦巻ばね１５、１６とかつ／または部分１４ａにより電流バー１４と接触することができ、その結果、試験コネクタ開口部２２内へ導入された試験コネクタ２００との、導体接続ユニット１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”の最多３つの接触点が形成され得る。この関連で、１つの渦巻ばねもしくは２つの渦巻ばね１５、１６、および／または互いに隣接して配置されている２つの接続レベル１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄのうちのより低い第１の接続レベル１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄに配置されている導体接続ユニット１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”の電流バー１４は、試験コネクタ開口部２２内へ突出している。   As can be seen in detail in FIGS. 4 and 5, the two spiral springs 15, 16 and the portion 14 a of the current bar 14 protrude into the test connector opening 22, so that in the test connector opening 22. The test connector 200 introduced into can be brought into contact with the current bar 14 by one or both spiral springs 15, 16 and / or part 14a, so that it is introduced into the test connector opening 22. A maximum of three contact points of the conductor connection units 13a ′, 13a ″, 13b ′, 13b ″, 13c ′, 13c ″, 13d ′, 13d ″ with the test connector 200 can be formed. In this connection, the lower first connection level 11a of one spiral spring or two spiral springs 15, 16, and / or two connection levels 11a, 11b, 11c, 11d arranged adjacent to each other. , 11b, 11c, 11d, the current bars 14 of the conductor connection units 13a ′, 13a ″, 13b ′, 13b ″, 13c ′, 13c ″, 13d ′, 13d ″ are fed into the test connector opening 22. It protrudes.

図２および図３においてさらに理解され得る通り、試験コネクタ開口部２２は各々、試験コネクタ開口部２２の上縁部を形成している挿入領域２４を有し、この挿入領域２４は、試験コネクタ開口部２２内への試験コネクタ２００の導入を容易にするために、面取りされているように設計されている。   As can be further understood in FIGS. 2 and 3, each test connector opening 22 has an insertion region 24 that forms the upper edge of the test connector opening 22, which insertion region 24 is a test connector opening. In order to facilitate the introduction of the test connector 200 into the section 22, it is designed to be chamfered.

さらに、試験コネクタ開口部２２は各々、菱形形状を有し、試験コネクタ開口部２２の２つの部分２３ａ、２３ｂは各々、三角形状を形成している。   Furthermore, each of the test connector openings 22 has a rhombus shape, and the two portions 23a and 23b of the test connector openings 22 each form a triangular shape.

１０ 絶縁材料ハウジング
１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄ 接続レベル
１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄ 電流レール
１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ” 導体接続ユニット
１３ａａ’、１３ａｂ’、１３ａａ”、１３ａｂ”、１３ｂａ’、１３ｂｂ’、１３ｂａ”、１３ｂｂ”、１３ｃａ’、１３ｃｂ’、１３ｃａ”、１３ｃｂ”、１３ｄａ’、１３ｄｂ’、１３ｄａ”、１３ｄｂ” 導体接続領域
１４ 電流バー
１４ａ 電流バーの部分
１５、１６ 渦巻ばね
１７、１８ 作動要素
１９、２０ 導体挿入開口部
２１ 分岐接点
２２ 試験コネクタ開口部
２３ａ 試験コネクタ開口部の第１の部分
２３ｂ 試験コネクタ開口部の第２の部分
２４ 挿入領域
１００ 端子台
２００ 試験コネクタ 10 Insulating material housing 11a, 11b, 11c, 11d Connection level 12a, 12b, 12c, 12d Current rail 13a ', 13a ", 13b', 13b", 13c ', 13c ", 13d', 13d" Conductor connection unit 13aa ' , 13ab ', 13aa ", 13ab", 13ba', 13bb ', 13ba ", 13bb", 13ca', 13cb ', 13ca ", 13cb", 13da', 13db ', 13da ", 13db" Conductor connection region 14 Current Bar 14a Current bar portion 15, 16 Spiral spring 17, 18 Actuating element 19, 20 Conductor insertion opening 21 Branch contact 22 Test connector opening 23a First portion of test connector opening 23b Second portion of test connector opening Part 24 Insertion area 100 Terminal block 200 Test connector

Claims (5)

第１の接続レベル（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄ）と少なくとも１つの第２の接続レベル（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄ）とを有する絶縁材料ハウジング（１０）
を備え、
電流レール（１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄ）と、互いに対向して配置されておりかつ電気的に接触しているように前記電流レール（１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄ）に接続されている２つの導体接続ユニット（１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”）とが各接続レベル（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄ）上に配置されており、
試験コネクタ（２００）を受容する少なくとも１つの試験コネクタ開口部（２２）が前記絶縁材料ハウジング（１０）に形成されている、端子台（１００）において、
前記試験コネクタ開口部（２２）は、前記第１の接続レベル（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄ）に属する導体接続ユニット（１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”）と、前記導体接続ユニットに隣接して配置されている、前記第２の接続レベル（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄ）に属する導体接続ユニット（１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”）との間に配置されていることを特徴とする、端子台（１００）。 Insulating material housing (10) having a first connection level (11a, 11b, 11c, 11d) and at least one second connection level (11a, 11b, 11c, 11d)
With
Two current rails (12a, 12b, 12c, 12d) and two current rails (12a, 12b, 12c, 12d) that are arranged opposite to each other and are in electrical contact with each other Conductor connection units (13a ′, 13a ″, 13b ′, 13b ″, 13c ′, 13c ″, 13d ′, 13d ″) are arranged on each connection level (11a, 11b, 11c, 11d),
In the terminal block (100), wherein at least one test connector opening (22) for receiving the test connector (200) is formed in the insulating material housing (10).
The test connector opening (22) includes conductor connection units (13a ′, 13a ″, 13b ′, 13b ″, 13c ′, 13c ″, 13d belonging to the first connection level (11a, 11b, 11c, 11d). , 13d ″) and conductor connection units (13a ′, 13a ″, 13b ′) belonging to the second connection level (11a, 11b, 11c, 11d), which are arranged adjacent to the conductor connection unit. 13b ″, 13c ′, 13c ″, 13d ′, 13d ″), the terminal block (100). 前記導体接続ユニット（１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”）は各々、第１の導体を接続するための第１の導体接続領域（１３ａａ’、１３ａｂ’、１３ａａ”、１３ａｂ”、１３ｂａ’、１３ｂｂ’、１３ｂａ”、１３ｂｂ”、１３ｃａ’、１３ｃｂ’、１３ｃａ”、１３ｃｂ”、１３ｄａ’、１３ｄｂ’、１３ｄａ”、１３ｄｂ”）と、第２の導体を接続するための第２の導体接続領域（１３ａａ’、１３ａｂ’、１３ａａ”、１３ａｂ”、１３ｂａ’、１３ｂｂ’、１３ｂａ”、１３ｂｂ”、１３ｃａ’、１３ｃｂ’、１３ｃａ”、１３ｃｂ”、１３ｄａ’、１３ｄｂ’、１３ｄａ”、１３ｄｂ”）とを有し、前記試験コネクタ開口部（２２）は、前記第１の導体接続領域（１３ａａ’、１３ａｂ’、１３ａａ”、１３ａｂ”、１３ｂａ’、１３ｂｂ’、１３ｂａ”、１３ｂｂ”、１３ｃａ’、１３ｃｂ’、１３ｃａ”、１３ｃｂ”、１３ｄａ’、１３ｄｂ’、１３ｄａ”、１３ｄｂ”）と前記第２の導体接続領域（１３ａａ’、１３ａｂ’、１３ａａ”、１３ａｂ”、１３ｂａ’、１３ｂｂ’、１３ｂａ”、１３ｂｂ”、１３ｃａ’、１３ｃｂ’、１３ｃａ”、１３ｃｂ”、１３ｄａ’、１３ｄｂ’、１３ｄａ”、１３ｄｂ”）との間に配置されていることを特徴とする、請求項１に記載の端子台（１００）。   The conductor connection units (13a ′, 13a ″, 13b ′, 13b ″, 13c ′, 13c ″, 13d ′, 13d ″) each have a first conductor connection region (13aa ′) for connecting a first conductor. 13ab ′, 13aa ″, 13ab ″, 13ba ′, 13bb ′, 13ba ″, 13bb ″, 13ca ′, 13cb ′, 13ca ″, 13cb ″, 13da ′, 13db ′, 13da ″, 13db ″) and the second Second conductor connection regions (13aa ′, 13ab ′, 13aa ″, 13ab ″, 13ba ′, 13bb ′, 13ba ″, 13bb ″, 13ca ′, 13cb ′, 13ca ″, 13cb ″, 13da ′, 13db ′, 13da ″, 13db ″), and the test connector opening (22) is connected to the first conductor connection region (13aa). 13ab ′, 13aa ″, 13ab ″, 13ba ′, 13bb ′, 13ba ″, 13bb ″, 13ca ′, 13cb ′, 13ca ″, 13cb ″, 13da ′, 13db ′, 13da ″, 13db ″) and the second Conductor connection regions (13aa ′, 13ab ′, 13aa ″, 13ab ″, 13ba ′, 13bb ′, 13ba ″, 13bb ″, 13ca ′, 13cb ′, 13ca ″, 13cb ″, 13da ′, 13db ′, 13da ″, Terminal block (100) according to claim 1, characterized in that it is arranged between 前記導体接続ユニット（１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”）は各々、電流バー（１４）と、前記電流バー（１４）に対して前記導体接続ユニット（１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”）内へ導入された導体を圧着する少なくとも１つの渦巻ばね（１５、１６）とを有し、前記電流バー（１４）、および／または前記導体接続ユニット（１３ａ’、１３ａ”、１３ｂ’、１３ｂ”、１３ｃ’、１３ｃ”、１３ｄ’、１３ｄ”）の前記少なくとも１つの渦巻ばね（１５、１６）は、前記試験コネクタ開口部（２２）内へ突出していることを特徴とする、請求項１または２に記載の端子台（１００）。   The conductor connection units (13a ′, 13a ″, 13b ′, 13b ″, 13c ′, 13c ″, 13d ′, 13d ″) are each a current bar (14) and the conductor with respect to the current bar (14). And at least one spiral spring (15, 16) for crimping a conductor introduced into the connection unit (13a ', 13a ", 13b', 13b", 13c ', 13c ", 13d', 13d") , The current bar (14) and / or the at least one spiral spring (15, 13a ′, 13a ″, 13b ′, 13b ″, 13c ′, 13c ″, 13d ′, 13d ″) of the conductor connection unit (15, Terminal block (100) according to claim 1 or 2, characterized in that 16) protrudes into the test connector opening (22). 前記試験コネクタ開口部（２２）は、前記試験コネクタ（２００）を前記試験コネクタ開口部（２２）内へ導入する面取り挿入領域（２４）を有することを特徴とする、請求項１から３のいずれか一項に記載の端子台（１００）。   The test connector opening (22) has a chamfer insertion area (24) for introducing the test connector (200) into the test connector opening (22). The terminal block (100) according to claim 1. 前記試験コネクタ開口部（２２）は菱形形状を有することを特徴とする、請求項１から４のいずれか一項に記載の端子台（１００）。   Terminal block (100) according to any one of claims 1 to 4, characterized in that the test connector opening (22) has a rhombus shape.
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