JP2017524139A - トモグラフィにおける暗視野イメージング - Google Patents
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Abstract
Description
撮像される試料中へのX線ビームの投影後に検出器に入射する該X線ビームに応答して検出器で検出された干渉測定データ、を受信する入力ポートであり、該データは、位相コントラスト信号及び暗視野信号を含む、入力ポートと、
画像再構成アルゴリズムを実行して少なくとも暗視野信号を暗視野画像εへと再構成するように構成された再構成部であり、該再構成アルゴリズムは、暗視野信号への位相コントラスト信号のクロストークを捕捉するように構成されたモデルコンポーネントを組み入れた順モデルに基づく、再構成部と、
少なくとも再構成された暗視野画像εを出力する出力ポートと
を有する。
Ii:位相ステップiでラインliに沿って物体中で測定された強度のモデル
I0i:ラインliに沿って物体なしで測定された強度
V0i:ラインliに沿った可視性
ψ0i:ラインliに沿った当初位相
μ(x):物体の吸収
ε(x):物体の小角散乱
δ(x):物体の屈折率
z:回折格子に対して垂直な方向
x:ラインliに沿った位置。
Claims (13)
- 画像信号処理装置であって、
撮像される試料中へのX線ビームの投影後に検出器に入射する前記X線ビームに応答して前記検出器で検出された干渉測定データ、を受信する入力ポートであり、前記データは、位相コントラスト信号及び暗視野信号を含む、入力ポートと、
画像再構成アルゴリズムを実行して少なくとも前記暗視野信号を暗視野画像へと再構成するように構成された再構成部であり、前記再構成アルゴリズムは、前記暗視野信号への前記位相コントラスト信号のクロストークを捕捉するように構成されたモデルコンポーネントを組み入れた順モデルに基づく、再構成部と、
少なくとも前記再構成された暗視野画像を出力する出力ポートと、
を有する装置。 - 前記順モデルは、i)微分位相コントラスト信号に特化した順モデルと、ii)前記暗視野信号に特化した順モデルとの組み合わせから形成された合成順モデルである、請求項1に記載の装置。
- 前記クロストークのモデルコンポーネントは、微分位相コントラスト信号に特化した順モデルの空間偏微分係数の絶対値に比例する、請求項1又は2に記載の装置。
- 前記順モデルは、前記位相コントラスト信号及び前記暗視野信号の双方に共通の順モデルである、請求項1に記載の装置。
- 前記共通の順モデルは、前記位相コントラスト信号に関するモデルコンポーネントと、前記暗視野信号に関するモデルコンポーネントとを含み、前記クロストークのモデルコンポーネントは、前記位相コントラスト信号に関する前記モデルコンポーネントの空間偏微分係数の絶対値に比例する、請求項4に記載の装置。
- 前記再構成アルゴリズムは繰り返し再構成アルゴリズムである、請求項1乃至5の何れか一項に記載の装置。
- 前記繰り返し再構成アルゴリズムの繰り返しは、目的関数の最適化によって進められる、請求項6に記載の装置。
- 前記目的関数は、前記順モデルのそれぞれにおける残差を組み入れる、請求項7に記載の装置。
- 前記ビームのジオメトリは平行又は発散である、請求項1乃至8の何れか一項に記載の装置。
- 請求項1乃至9の何れか一項に記載の装置を有する干渉X線撮像システム。
- 画像信号処理方法であって、
撮像される試料中へのX線ビームの投影後に検出器に入射する前記X線ビームに応答して前記検出器で検出された干渉測定データ、を受信するステップであり、前記データは、位相コントラスト信号及び暗視野信号を含む、ステップと、
少なくとも前記暗視野信号を暗視野画像へと再構成するステップであり、再構成アルゴリズムが、前記暗視野信号への前記位相コントラスト信号のクロストークを捕捉するように構成されたモデルコンポーネントを組み入れた順投影モデルに基づく、ステップと、
少なくとも前記再構成された暗視野画像を出力するステップと、
を有する方法。 - 請求項1乃至9の何れか一項に記載の装置又は請求項10に記載のシステムを制御するためのコンピュータプログラムであって、プロセッシングユニットによって実行されるときに請求項11に記載の方法のステップを実行するように構成されたコンピュータプログラム。
- 請求項12に記載のコンピュータプログラムを格納したコンピュータ読み取り可能媒体。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019045394A (ja) * | 2017-09-05 | 2019-03-22 | 株式会社島津製作所 | X線イメージング装置 |
WO2020039660A1 (ja) * | 2018-08-24 | 2020-02-27 | 株式会社島津製作所 | X線位相イメージング装置 |
WO2020090168A1 (ja) * | 2018-10-31 | 2020-05-07 | 株式会社島津製作所 | X線位相差撮影システム |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104318536B (zh) * | 2014-10-21 | 2018-03-20 | 沈阳东软医疗系统有限公司 | Ct图像的校正方法及装置 |
WO2018046600A2 (en) | 2016-09-08 | 2018-03-15 | Koninklijke Philips N.V. | Improved phase-contrast and dark-field ct reconstruction algorithm |
CN110023726B (zh) * | 2016-09-26 | 2022-05-17 | 美天旎生物技术有限公司 | 用于表征尤其激光辐射的辐射场的测量装置和方法 |
JP6753342B2 (ja) * | 2017-03-15 | 2020-09-09 | 株式会社島津製作所 | 放射線格子検出器およびx線検査装置 |
CN107238616B (zh) * | 2017-06-22 | 2019-10-11 | 合肥工业大学 | 基于中子光栅干涉仪的暗场成像方法 |
EP3435325A1 (en) | 2017-07-26 | 2019-01-30 | Koninklijke Philips N.V. | Scatter correction for dark field imaging |
CN108896588B (zh) * | 2018-06-08 | 2020-11-20 | 中北大学 | 一种多孔介质微观结构的测量方法 |
US10679385B1 (en) * | 2018-12-17 | 2020-06-09 | General Electric Company | System and method for statistical iterative reconstruction and material decomposition |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012128335A1 (ja) * | 2011-03-23 | 2012-09-27 | コニカミノルタエムジー株式会社 | 医用画像表示システム |
WO2013171657A1 (en) * | 2012-05-14 | 2013-11-21 | Koninklijke Philips N.V. | Dark field computed tomography imaging |
WO2013187150A1 (ja) * | 2012-06-11 | 2013-12-19 | コニカミノルタ株式会社 | 医用画像システム及び医用画像処理装置 |
US20140169524A1 (en) * | 2012-12-19 | 2014-06-19 | General Electric Company | Image reconstruction method for differential phase contrast x-ray imaging |
JP2014117485A (ja) * | 2012-12-18 | 2014-06-30 | Konica Minolta Inc | 医用画像システム |
JP2014140632A (ja) * | 2012-12-27 | 2014-08-07 | Canon Inc | 演算装置、画像取得方法、プログラム、及びx線撮像システム |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6990420B2 (en) * | 2004-05-10 | 2006-01-24 | Lsi Logic Corporation | Method of estimating a local average crosstalk voltage for a variable voltage output resistance model |
US8121249B2 (en) | 2009-06-04 | 2012-02-21 | Virginia Tech Intellectual Properties, Inc. | Multi-parameter X-ray computed tomography |
CN101943668B (zh) | 2009-07-07 | 2013-03-27 | 清华大学 | X射线暗场成像系统和方法 |
CN102360498B (zh) * | 2011-10-27 | 2013-09-18 | 江苏省邮电规划设计院有限责任公司 | 图像超分辨率重建方法 |
US9775575B2 (en) | 2012-06-27 | 2017-10-03 | Koninklijke Philips N.V. | Dark-field imaging |
US10096098B2 (en) * | 2013-12-30 | 2018-10-09 | Carestream Health, Inc. | Phase retrieval from differential phase contrast imaging |
-
2015
- 2015-08-04 EP EP15744252.6A patent/EP3180603B8/en active Active
- 2015-08-04 US US15/328,645 patent/US10339674B2/en active Active
- 2015-08-04 WO PCT/EP2015/067864 patent/WO2016023782A1/en active Application Filing
- 2015-08-04 CN CN201580043288.3A patent/CN106659449B/zh active Active
- 2015-08-04 JP JP2017507434A patent/JP6637485B2/ja active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012128335A1 (ja) * | 2011-03-23 | 2012-09-27 | コニカミノルタエムジー株式会社 | 医用画像表示システム |
WO2013171657A1 (en) * | 2012-05-14 | 2013-11-21 | Koninklijke Philips N.V. | Dark field computed tomography imaging |
WO2013187150A1 (ja) * | 2012-06-11 | 2013-12-19 | コニカミノルタ株式会社 | 医用画像システム及び医用画像処理装置 |
JP2014117485A (ja) * | 2012-12-18 | 2014-06-30 | Konica Minolta Inc | 医用画像システム |
US20140169524A1 (en) * | 2012-12-19 | 2014-06-19 | General Electric Company | Image reconstruction method for differential phase contrast x-ray imaging |
JP2014140632A (ja) * | 2012-12-27 | 2014-08-07 | Canon Inc | 演算装置、画像取得方法、プログラム、及びx線撮像システム |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019045394A (ja) * | 2017-09-05 | 2019-03-22 | 株式会社島津製作所 | X線イメージング装置 |
WO2020039660A1 (ja) * | 2018-08-24 | 2020-02-27 | 株式会社島津製作所 | X線位相イメージング装置 |
JPWO2020039660A1 (ja) * | 2018-08-24 | 2021-05-13 | 株式会社島津製作所 | X線位相イメージング装置 |
JP6992902B2 (ja) | 2018-08-24 | 2022-01-13 | 株式会社島津製作所 | X線位相イメージング装置 |
WO2020090168A1 (ja) * | 2018-10-31 | 2020-05-07 | 株式会社島津製作所 | X線位相差撮影システム |
JPWO2020090168A1 (ja) * | 2018-10-31 | 2021-09-09 | 株式会社島津製作所 | X線位相差撮影システム |
JP7163969B2 (ja) | 2018-10-31 | 2022-11-01 | 株式会社島津製作所 | X線位相差撮影システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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