JP2017505443A - 差動測定に基づくイオンセンサーおよび製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
接続トラックにより測定開路へ電気的に接続された、第1のイオン選択性電界効果トランジスタ、および少なくとも1つの第2のイオン選択性電界効果トランジスタと、
導電性材料の電極と、
チップ表面に2つの電界効果トランジスタが一体化されている少なくとも1つのチップと、を備え、チップは、好ましくは、半導体材料であり、
前記センサーは、さらに、前記第1のトランジスタのゲート上にマイクロリザーバと、マイクロリザーバを外部と連結する少なくとも1つのマイクロチャンネルを形成するように構成された第1のトランジスタに接合された構造体、を備え、マイクロチャンネルは参照溶液で充填され、第1の電界効果トランジスタに接合しているこの構造体は、REFETを形成する構造体であり、
前記センサーは、さらに、チップ、接続トラック、および電極が一体化されている基材と、
接続トラックを電気的に絶縁し、測定する溶液の第1および第2のトランジスタを部分的に絶縁する封止材料と、を備え、この封止材料は、(電極と一緒にゲート端子を形成する)溶液と、トランジスタの他の端子(ドレイン、ソースまたは基材)との間に生じる電流の流れを阻止する。
等間隔に配置された複数の第1のイオン選択性電界効果トランジスタを第1のウェーハ上に配置すること、
各マイクロリザーバが各第1のイオン選択性電界効果トランジスタに対応して配置され、およびに整列されるように、第1のウェーハ上に接合可能な材料の構造体を好ましくは接合することにより、接合し、第1のイオン選択性電界効果トランジスタに対応して複数の等間隔に配置されたマイクロリザーバおよびマイクロチャンネルを形成することと、
第1のウェーハを、各チップが第1の電界効果トランジスタ並びに、マイクロリザーバおよび少なくとも1つのマイクロチャンネルを備える構造を有する複数のチップに切断することと、
基材上で第1のイオン選択性電界効果トランジスタをマイクロリザーバおよびマイクロチャンネルと接合すること、並びに第2のイオン選択性電界効果トランジスタを電極および接続トラックと接合することと、
接続トラックを第1と第2のトランジスタへ接続すること、そして前記第1と第2のトランジスタおよび前記接続トラックを封止すること、の工程を含む。
Claims (19)
- 差動測定に基づくイオンセンサーであって、前記イオンセンサーは、
接続トラックによって電気的にイオン測定システム接続された第1の電界効果トランジスタ、及びに少なくとも1つの第2のイオン選択性電界効果トランジスタ、を備え、前記第2のイオン選択性電界効果トランジスタは参照溶液と接触し、
前記イオンセンサーは、更に、
電極と、
前記イオン選択性電界効果トランジスタが一体化されている表面上の、少なくとも1つのチップと、
前記第1のトランジスタの1つのゲート上にマイクロリザーバを形成するように構成された、前記第1のイオン選択性電界効果トランジスタ上に接着された構造体と、を備え、前記マイクロリザーバは、前記参照溶液で満たされ、
前記イオンセンサーは、更に、
前記マイクロリザーバを外部と連結する少なくとも1つのマイクロチャネル、を備え、前記少なくとも1つのマイクロチャネルは、前記参照溶液で満たされ、
前記イオンセンサーは、更に、前記少なくとも1つのチップ、前記接続トラック、および前記電極が一体化された基材と、
前記接続トラックを完全に絶縁し、測定する前記溶液の前記第1および第2のイオン選択性電界効果トランジスタを部分的に絶縁する封止材料と、を備えることを特徴とするイオンセンサー。 - 前記参照溶液はハイドロゲルに含まれる、請求項1記載の差動測定に基づくイオンセンサー。
- 前記第1のイオン選択性電界効果トランジスタは第1のチップ内に一体化され、少なくとも1つの第2のイオン選択性電界効果トランジスタは第2のチップ内に一体化される、請求項1又は2記載の差動測定に基づくイオンセンサー。
- 前記第1のイオン選択性電界効果トランジスタおよび前記第2のイオン選択性電界効果トランジスタは前記同一チップ内に一体化される、請求項1又は2記載の差動測定に基づくイオンセンサー。
- 前記第1および第2のイオン選択性電界効果トランジスタ、前記接続トラック、前記電極、および前記測定回路の一部が、前記同一チップ内に一体化される、請求項1又は2記載の差動測定に基づくイオンセンサー。
- 前記接続トラックと前記チップの接続点の前記接続は、ワイヤボンディングを介して実行される、請求項3又は4記載の差動測定に基づくイオンセンサー。
- 前記チップは、ポリマーで封止され、前記ワイヤおよび前記接続トラックは前記ポリマーで覆われ、前記第1および第2の電界効果トランジスタの前記ゲート並びに前記マイクロチャンネルの前記出口は覆われない、請求項6記載の差動測定に基づくイオンセンサー。
- 前記第1のイオン選択性電界効果トランジスタ上に接着された前記構造体は、少なくとも部分的にガス透過性材料であり、及びに前記参照溶液に対して不透過性である、請求項1〜7のいずれか1項に記載の差動測定に基づくイオンセンサー。
- 前記マイクロチャネルは、前記第1のイオン選択性電界効果トランジスタが一体化されている前記チップ内に作られた溝である、請求項1〜8のいずれか1項記載の差動測定に基づくイオンセンサー。
- 前記マイクロチャネルは、前記第1のイオン選択性電界効果トランジスタ上に接着された前記構造体の一部を形成する、請求項1〜8のいずれか1項記載の差動測定に基づくイオンセンサー。
- 前記マイクロリザーバは、0.001mm3と1mm3との間の容積を有し、前記マイクロチャネルは、1μm2と10000μm2との間の断面積、及びに10μmと1mmとの間の長さを有する、請求項1〜10のいずれか1項記載の差動測定に基づくイオンセンサー。
- 前記マイクロチャネルは、前記マイクロリザーバおよびマイクロチャネルの前記内容物を封止する、脱着可能な外部封止手段を有する、請求項1〜7および請求項9〜11のいずれか1項記載の差動測定に基づくイオンセンサー。
- 前記チップは、絶縁体上にシリコンから製造される、請求項1〜12のいずれか1項記載の差動測定に基づくイオンセンサー。
- 前記イオンセンサーが差動測定に基づいて浸漬された前記参照溶液で充填されている、請求項1〜13のいずれか1項で定義された差動測定に基づく前記イオンセンサーのための調整容器。
- 差動測定に基づく前記イオンセンサーの製造方法であって、前記方法は、
第1のウェーハ上に、等間隔に配置された複数の第1のイオン選択性電界効果トランジスタを一体化することと、
各マイクロリザーバが各第1のイオン選択性電界効果トランジスタに対応して配置され、およびに整列されるように、前記第1のウェーハ上に結合可能な材料の構造体を接合し、前記第1のイオン選択性電界効果トランジスタに対応して複数の等間隔に配置されたマイクロリザーバおよびマイクロチャンネルを形成することと、
前記第1のウェーハを横方向に切断してのチップを作成することと、を含み
各チップは、第1のイオン選択性電界効果トランジスタ、並びにマイクロリザーバおよびに少なくとも1つのマイクロチャネルを有する構造体を備え、
前記製造方法は、更に、チップ、少なくとも1つの第2の電界効果トランジスタ、前記電極、およびに前記接続トラックを基材上に固定することと、
前記接続トラックを前記第1および第2の電界効果トランジスタに接続し、前記第1および第2の電界効果トランジスタ並びに前記接続トラックを封止すること、との工程を含む、請求項1〜14のいずれか1項記載の差動測定に基づくイオンセンサーの製造方法。 - 前記第1のウェーハ上にフォトリソグラフィ処理を行った接合可能材料の複数の層を追加し、前記マイクロリザーバおよびマイクロチャネルを有する接合可能材料の構造体を形成することを含む、請求項15記載の差動測定に基づくイオンセンサーの製造方法。
- 前記マイクロリザーバおよび前記マイクロチャネルの作成のために、接合可能材料の前記構造体に事前に凹形成工程を受けさせることを含む、請求項15記載の差動測定に基づくイオンセンサーの製造方法。
- 封止材料は、さらに、前記第1および第2のイオン選択性電界効果トランジスタの縁部上に成膜されて、前記第1及び第2のイオン選択性電界効果トランジスタの前記基材を電気的に絶縁する、請求項15記載の差動測定に基づくイオンセンサーの製造方法。
- 異なるイオン選択性膜が、前記第2のイオン選択性電界効果トランジスタ上に固定されている、請求項1〜18のいずれか1項記載の差動測定に基づくイオンセンサーの製造方法。
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