JP2017227512A - 偏光測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】偏光測定装置10は、偏光方向が互いに異なる2つの直線偏光を生成する2つの半導体偏光光源(第1半導体偏光光源111及び第2半導体偏光光源112)と、前記2つの半導体偏光光源で発生される直線偏光を時分割で試料に入射する時分割部13と、試料を透過した光が通過する位置に置かれた、前記2つの直線偏光の偏光方向とは異なる偏光方向を有する検光子から成る検光部15とを備える。ファラデー素子やウオラストンプリズム、ロシヨンプリズム等の高価な光学素子を使用しないため低コストであり、半導体光源を用いることにより高速で測定を行うことができ、且つ2つの光源を用いることで光量を十分多くできるため高精度の測定を行うことができる。
【選択図】図1
Description
a) 偏光方向が互いに異なる2つの直線偏光を生成する2つの半導体偏光光源と、
b) 前記2つの半導体偏光光源で発生される直線偏光を時分割で試料に入射する時分割部と、
c) 試料を透過した光が通過する位置に置かれた、前記2つの直線偏光の偏光方向とは異なる偏光方向を有する検光子から成る検光部と
を備えることを特徴とする。
図1は、本発明に係る偏光測定装置の第1実施形態の概略構成図である。本実施形態の偏光測定装置10は、第1半導体偏光光源111及び第2半導体偏光光源112の2つの半導体偏光光源を有する。本実施形態では、第1半導体偏光光源111には、非偏光を発光する第1LED1111と、該第1LED1111から出射する非偏光の光路上に設けられた第1偏光子1112を組み合わせたものを用いる。同様に、第2半導体偏光光源112には、第2LED1121と、該第2LED1121から出射する非偏光の光路上に設けられた第2偏光子1122を組み合わせたものを用いる。第1偏光子1112と第2偏光子1122は、互いに異なる偏光面を生成するように配置されている。本実施形態では第1偏光子1112の偏光方向と第2偏光子1122の偏光方向が90度異なるようにしたが、この角度は90度以外であってもよい。なお、LEDの代わりにSLDを用いてもよい。また、LEDやSLD等の非偏光の半導体光源と偏光子を組み合わせる代わりに、偏光を生成するLDを用いてもよい。
図3を用いて、本発明に係る偏光測定装置の第2実施形態を説明する。第2実施形態の偏光測定装置20は、旋光度αと共に円二色性の測定を行う装置である。偏光測定装置20は、第1実施形態の偏光測定装置10における第1半導体偏光光源111又は第2半導体偏光光源112と同じ光源を有すると共に、左円偏光半導体光源21L及び右円偏光半導体光源21Rを有する。左円偏光半導体光源21Lは、非偏光を発光する第3LED21L1と、非偏光を左円偏光に変換する左円偏光子21L2を組み合わせたものである。同様に、右円偏光半導体光源21Rは、第4LED21R1と右円偏光子21R2を組み合わせたものである。これら左円偏光半導体光源21L及び右円偏光半導体光源21Rは、それら光源からの光が試料セル14に入射する位置に配置されている。
111…第1半導体偏光光源
1111…第1LED
1112…第1偏光子
112…第2半導体偏光光源
1121…第2LED
1122…第2偏光子
13、23…時分割部
14…試料セル
15…検光部
17…検出器
18…A/D変換器
19…データ処理部
21L…左円偏光半導体光源
21L1…第3LED
21L2…左円偏光子
21R…右円偏光半導体光源
21R1…第4LED
21R2…右円偏光子
23…時分割部
91…光源
92…偏光子
93…ファラデー素子
94…フローセル
95、95A…検光子
96…サーボモータ
97…受光部
Claims (5)
- a) 偏光方向が互いに異なる2つの直線偏光を生成する2つの半導体偏光光源と、
b) 前記2つの半導体偏光光源で発生される直線偏光を時分割で試料に入射する時分割部と、
c) 試料を透過した光が通過する位置に置かれた、前記2つの直線偏光の偏光方向とは異なる偏光方向を有する検光子から成る検光部と
を備えることを特徴とする偏光測定装置。 - 前記2つの直線偏光の偏光方向が互いに90度異なることを特徴とする請求項1に記載の偏光測定装置。
- 前記検光子の偏光方向が前記2つの直線偏光の偏光方向と45度異なることを特徴とする請求項2に記載の偏光測定装置。
- 前記時分割部が、前記2個の半導体偏光光源の発光時間を制御するものであることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の偏光測定装置。
- 回転方向が異なる2つの円偏光を生成する2つの半導体円偏光光源を有し、
前記時分割部が、前記2つの半導体偏光光源で発生される直線偏光及び前記2つの半導体円偏光光源で発生される円偏光を時分割で試料に入射する
ことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の偏光測定装置。
Priority Applications (1)
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JP2016122947A JP2017227512A (ja) | 2016-06-21 | 2016-06-21 | 偏光測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2016122947A JP2017227512A (ja) | 2016-06-21 | 2016-06-21 | 偏光測定装置 |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2017227512A true JP2017227512A (ja) | 2017-12-28 |
JP2017227512A5 JP2017227512A5 (ja) | 2018-11-08 |
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ID=60889198
Family Applications (1)
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JP2016122947A Pending JP2017227512A (ja) | 2016-06-21 | 2016-06-21 | 偏光測定装置 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP2017227512A (ja) |
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2016
- 2016-06-21 JP JP2016122947A patent/JP2017227512A/ja active Pending
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