JP2017207483A - Workpiece abnormality inspection device and workpiece abnormality inspection method - Google Patents

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Naomasa Mukaide
尚正 向出
安彦 臂
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安彦 臂
河原 徹
Toru Kawahara
徹 河原
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method and a device for inspecting an abnormality of a workpiece which can inspect a workpiece for an abnormality rapidly.SOLUTION: An abnormality inspection device 1 includes: a sensor 10 for inducing an eddy current in the inside of a workpiece 2 by an exciting current and obtaining an output voltage; an operation unit 32 for operating an output value on a frequency-by-frequency basis by conducting a frequency analysis on the waveform of an output voltage of the sensor 10 obtained for an actual workpiece 2A as an inspection target when the actual workpiece 2A and the sensor 10 have been relatively moved; a storage unit 34 for storing a threshold value on a frequency-by-frequency basis corresponding to the output value; and a determination unit 35 for determining an abnormality of the actual workpiece 2A when the output value for each frequency has become larger than the threshold value of the corresponding frequency stored in the storage unit 34.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、工作物の異常の有無を検査する異常検査装置及び異常検査方法に関するものである。   The present invention relates to an abnormality inspection apparatus and an abnormality inspection method for inspecting whether a workpiece is abnormal.

特許文献1には、研削加工された工作物にコイルで所定周波数よりも高い周波数の励磁電流を付与して渦電流を発生させ、得られる渦電流信号から研削焼け(異常)の有無を判定する装置が記載されている。また、特許文献2には、研削加工された工作物にセンサで所定周波数よりも低い周波数の励磁電流及び所定周波数よりも高い周波数の励磁電流をそれぞれ付与して渦電流を発生させ、得られる透磁率から加工変質層(異常)の有無を検出する装置が記載されている。   In Patent Document 1, an excitation current having a frequency higher than a predetermined frequency is applied to a ground workpiece by a coil to generate an eddy current, and the presence or absence of grinding burn (abnormality) is determined from the obtained eddy current signal. An apparatus is described. Further, Patent Document 2 discloses that a transparent workpiece obtained by generating an eddy current by applying an excitation current having a frequency lower than a predetermined frequency and an excitation current having a frequency higher than a predetermined frequency to a ground workpiece by a sensor. An apparatus for detecting the presence / absence of a work-affected layer (abnormality) from magnetic susceptibility is described.

特開2013−224916号公報JP2013-224916A 特開2011−106932号公報JP 2011-106932 A

特許文献1に記載の装置は、高周波数の励磁電流を使用しているが、この励磁電流では工作物の研削焼けのみならず工作物に施された熱処理のばらつきに対しても反応するためこれらを区別する必要があり、研削焼けの有無の判定が困難となる。一方、特許文献2に記載の装置は、低周波数の励磁電流及び高周波数の励磁電流を使用しているため、研削焼けと熱処理のばらつきとを容易に区別でき、加工変質層の有無の検出が容易となる。しかし、センサで低周波数の励磁電流を工作物に付与する際、センサと工作物を低速度で相対移動させる必要があり、加工変質層の有無の検出の高速化に限界がある。   The apparatus described in Patent Document 1 uses high-frequency excitation currents, but these excitation currents react not only to grinding burn of the workpiece but also to variations in heat treatment applied to the workpiece. Need to be distinguished, and it becomes difficult to determine whether there is grinding burn. On the other hand, since the apparatus described in Patent Document 2 uses a low-frequency excitation current and a high-frequency excitation current, it can easily distinguish between grinding burn and heat treatment variation, and can detect the presence or absence of a work-affected layer. It becomes easy. However, when applying a low-frequency excitation current to the workpiece with the sensor, it is necessary to relatively move the sensor and the workpiece at a low speed, and there is a limit to speeding up the detection of the presence or absence of a work-affected layer.

本発明は、このような事情を鑑みてなされたものであり、工作物の異常を高速で検査できる工作物の異常検査装置及び工作物の異常検査方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and an object thereof is to provide a workpiece abnormality inspection apparatus and a workpiece abnormality inspection method capable of inspecting a workpiece abnormality at high speed.

本発明の異常検査装置は、励磁電流により工作物の内部に渦電流を誘導して出力電圧を得るセンサと、検査対象の実工作物と前記センサとを相対移動させた場合に、前記実工作物について得られる前記センサの前記出力電圧の波形を周波数解析により周波数毎の出力値を演算する演算部と、前記出力値に対応する周波数毎の閾値を記憶する記憶部と、周波数毎の前記出力値が前記記憶部に記憶された対応する周波数の前記閾値を超えた場合に、前記実工作物が異常を有すると判定する判定部と、を備える。   The abnormality inspection apparatus according to the present invention includes a sensor that induces an eddy current in a workpiece by an excitation current to obtain an output voltage, and the actual workpiece when the actual workpiece to be inspected and the sensor are relatively moved. A calculation unit that calculates an output value for each frequency by frequency analysis of the waveform of the output voltage of the sensor obtained for an object, a storage unit that stores a threshold value for each frequency corresponding to the output value, and the output for each frequency And a determination unit that determines that the actual workpiece has an abnormality when a value exceeds the threshold value of the corresponding frequency stored in the storage unit.

上記センサの出力電圧は、母材のばらつきによる反応と異常による反応を含んでいるが、センサの出力電圧の波形を周波数解析により周波数毎の出力値を演算すると、母材のばらつきによる反応と異常による反応を切り分けられる。すなわち、異常による反応は、所定周波数以上の周波数の出力値が閾値を超えたときに出現することを見出した。よって、異常検査装置は、高周波数の励磁電流を用いることにより工作物の異常の有無を高速で検査できる。   The sensor output voltage includes reactions due to variations in the base material and reactions due to abnormality. If the output value for each frequency is calculated by frequency analysis of the output voltage waveform of the sensor, reactions and abnormalities due to variations in the base material are detected. The reaction by can be separated. That is, it has been found that a reaction due to abnormality appears when an output value of a frequency equal to or higher than a predetermined frequency exceeds a threshold value. Therefore, the abnormality inspection apparatus can inspect the presence or absence of abnormality of the workpiece at high speed by using the high-frequency excitation current.

本発明の異常検査方法は、励磁電流により工作物の内部に渦電流を誘導して出力電圧を得る取得工程と、検査対象の実工作物について得られる前記出力電圧の波形を周波数解析により周波数毎の出力値を演算する演算工程と、周波数毎の前記出力値が前記出力値に対応する周波数毎の閾値を超えた場合に、前記実工作物が異常を有すると判定する判定工程と、を備える。これにより、上述の異常検査装置で得られる効果と同様の効果が得られる。   In the abnormality inspection method of the present invention, an acquisition step of inducing an eddy current in a workpiece by an excitation current to obtain an output voltage, and a waveform of the output voltage obtained for the actual workpiece to be inspected for each frequency by frequency analysis. And a determination step of determining that the actual workpiece has an abnormality when the output value for each frequency exceeds a threshold value for each frequency corresponding to the output value. . Thereby, the effect similar to the effect obtained with the above-mentioned abnormality inspection apparatus is acquired.

本発明の実施形態の工作物の異常検査装置の平面図である。It is a top view of the abnormality inspection apparatus of the workpiece of embodiment of this invention. 工作物の異常検査装置の磁気センサの内部を透視して示す側面図である。It is a side view which sees through and shows the inside of the magnetic sensor of the abnormality inspection apparatus of a workpiece. 異常検査装置の閾値設定処理を説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating the threshold value setting process of an abnormality inspection apparatus. 複数の基準工作物の回転位相角度毎のセンサヘッドの誘導起電力の波形を示す図である。It is a figure which shows the waveform of the induced electromotive force of the sensor head for every rotation phase angle of a some reference | standard workpiece. 複数の基準工作物の周波数毎の振幅レベルの波形を示す図である。It is a figure which shows the waveform of the amplitude level for every frequency of a some reference | standard workpiece. 異常検査装置の異常検査処理を説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating the abnormality inspection process of an abnormality inspection apparatus. 実工作物における図6の異常検査処理を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the abnormality inspection process of FIG. 6 in a real workpiece. 図6の処理による実工作物の回転位相角度毎のセンサヘッドの誘導起電力の波形を示す図である。It is a figure which shows the waveform of the induced electromotive force of the sensor head for every rotation phase angle of the actual workpiece by the process of FIG. 図6の処理による実工作物の周波数毎の振幅レベルの波形を示す図である。It is a figure which shows the waveform of the amplitude level for every frequency of the actual workpiece by the process of FIG. 異常検査装置の別例の異常検査処理を説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating the abnormality inspection process of another example of an abnormality inspection apparatus. 実工作物における図10の異常検査処理を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the abnormality inspection process of FIG. 10 in a real workpiece. 図10の処理による実工作物の回転位相角度毎のセンサヘッドの誘導起電力の波形を示す図である。It is a figure which shows the waveform of the induced electromotive force of the sensor head for every rotation phase angle of the actual workpiece by the process of FIG. 図10の処理による実工作物の周波数毎の振幅レベルの波形を示す図である。It is a figure which shows the waveform of the amplitude level for every frequency of the actual workpiece by the process of FIG. 実工作物における図10の異常検査処理の第一変形例を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the 1st modification of the abnormality inspection process of FIG. 10 in a real workpiece. 実工作物における図10の異常検査処理の第二変形例を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the 2nd modification of the abnormality test process of FIG. 10 in a real workpiece.

(1.工作物の異常検査装置の構成)
本発明の実施形態の工作物の異常検査装置の構成について図を参照して説明する。図1及び図2に示すように、異常検査装置1は、磁気センサ10(本発明の「センサ」に相当)と、回転支持部20と、制御装置30とを主体として構成される。
(1. Configuration of workpiece inspection system)
A configuration of a workpiece abnormality inspection apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. As shown in FIGS. 1 and 2, the abnormality inspection apparatus 1 is mainly configured by a magnetic sensor 10 (corresponding to a “sensor” of the present invention), a rotation support unit 20, and a control device 30.

この異常検査装置1は、渦電流方式の磁気を用いた磁気方式の非破壊検査により、工作機械3で加工した工作物2の異常(研削焼け等の加工変質層や、クラック、巣等の傷)に応じた信号に基づいて検査する。すなわち、異常検査装置1は、一次コイルにより工作物2に磁場を印加し、励磁電流を流すことで渦電流を誘導する。そして、磁場を印加する一次コイルと工作物2とを相対的に移動させ、この移動によって変化する渦電流の誘導起電力(本発明の「出力電圧」に相当)を二次コイルによって検知する。   This anomaly inspection apparatus 1 uses a magnetic nondestructive inspection using eddy current magnetism to detect abnormalities in the workpiece 2 processed by the machine tool 3 (deteriorated layers such as grinding burn, scratches such as cracks and nests). ) Inspect based on the signal according to. That is, the abnormality inspection apparatus 1 induces an eddy current by applying a magnetic field to the workpiece 2 by a primary coil and causing an exciting current to flow. Then, the primary coil to which the magnetic field is applied and the workpiece 2 are relatively moved, and the induced electromotive force (corresponding to the “output voltage” of the present invention) that changes due to this movement is detected by the secondary coil.

ここで、一般的に、工作物2に異常があると、誘導起電力は低下する。しかし、誘導起電力は、表面熱処理の施されていない母材のばらつきによっても低下する。発明者は、詳細は後述するが、誘導起電力を周波数解析して振幅レベル(本発明の「出力値」に相当)を求めることで工作物2の異常と母材のばらつきを切り分けられることを見出した。異常検査装置1は、検知される誘導起電力を周波数解析して求めた振幅レベルに基づいて工作物2の異常を検査する。   Here, generally, when there is an abnormality in the workpiece 2, the induced electromotive force decreases. However, the induced electromotive force also decreases due to variations in the base material not subjected to surface heat treatment. As will be described later in detail, the inventor can analyze the abnormality of the workpiece 2 and the variation in the base material by analyzing the frequency of the induced electromotive force and obtaining the amplitude level (corresponding to the “output value” of the present invention). I found it. The abnormality inspection apparatus 1 inspects the abnormality of the workpiece 2 based on the amplitude level obtained by frequency analysis of the detected induced electromotive force.

ここで、工作物2は、本実施形態では磁性材料であって浸炭焼き入れした円筒状又は円柱状のものを対象として説明する。工作物2が浸炭材の場合は、残留ひずみのばらつきが大きいため、従来の異常検査装置では加工変質層の検出が困難であるが、本実施形態の異常検査装置1では上述の手段により加工変質層を容易に検出できる。また、工作機械3は、本実施形態では研削盤とし円筒状又は円柱状の工作物2の外周面を研削加工するものとする。そして、本実施形態の異常検査装置1は、工作物2の外周面における異常の有無を検査するものとして説明する。   Here, the workpiece 2 is a magnetic material in the present embodiment, and will be described with respect to a cylindrical or columnar one that has been carburized and quenched. When the workpiece 2 is a carburized material, there is a large variation in residual strain, so that it is difficult to detect a work-affected layer with a conventional abnormality inspection apparatus. The layer can be easily detected. Further, the machine tool 3 is a grinding machine in this embodiment, and grinds the outer peripheral surface of a cylindrical or columnar workpiece 2. And the abnormality inspection apparatus 1 of this embodiment is demonstrated as what inspects the presence or absence of abnormality in the outer peripheral surface of the workpiece 2. FIG.

磁気センサ10は、センサ本体11と、センサヘッド12と、測定装置13と、タッチセンサ14と、センサ送り機構15とを有する。センサ本体11には、後述する制御装置30の供給部31より所定周波数より高周波数に設定した励磁電流が供給される。そして、センサ本体11は、センサヘッド12が工作物2に磁場を印加するように上記励磁電流をセンサヘッド12に供給する。   The magnetic sensor 10 includes a sensor body 11, a sensor head 12, a measuring device 13, a touch sensor 14, and a sensor feed mechanism 15. The sensor body 11 is supplied with an excitation current set to a frequency higher than a predetermined frequency from a supply unit 31 of the control device 30 described later. The sensor body 11 supplies the excitation current to the sensor head 12 so that the sensor head 12 applies a magnetic field to the workpiece 2.

センサヘッド12は、供給される励磁電流により工作物2に磁場を印加して、工作物2の内部に渦電流を誘導する。これにより、センサヘッド12は、励磁電流の周波数に応じた浸透深さにおいて、工作物2の変質状態に伴って変化する誘導起電力を信号としてそれぞれ検出する。センサヘッド12は、一定位置に停止した状態では、工作物2の回転軸線方向に長さdの範囲で検出する。   The sensor head 12 applies a magnetic field to the workpiece 2 by the supplied excitation current and induces an eddy current in the workpiece 2. Thereby, the sensor head 12 detects the induced electromotive force which changes with the alteration state of the workpiece 2 as a signal in the penetration depth according to the frequency of the exciting current, respectively. When the sensor head 12 is stopped at a certain position, the sensor head 12 detects in the range of the length d in the direction of the rotation axis of the workpiece 2.

測定装置13は、センサヘッド12が検出した信号をセンサ本体11から信号線を介して受信する。そして、測定装置13は、この出力信号の値を磁気センサ10の検出値として、後述する制御装置30へ出力する。タッチセンサ14は、センサ本体11の内部において、センサヘッド12の基端部に設けられた接触式のセンサである。このタッチセンサ14は、センサヘッド12を工作物2に所定の付勢力(押圧力)によって付勢するばね14aを有する。   The measuring device 13 receives a signal detected by the sensor head 12 from the sensor body 11 via a signal line. Then, the measuring device 13 outputs the value of the output signal as a detection value of the magnetic sensor 10 to the control device 30 described later. The touch sensor 14 is a contact-type sensor provided at the base end portion of the sensor head 12 inside the sensor body 11. The touch sensor 14 includes a spring 14a that urges the sensor head 12 to the workpiece 2 with a predetermined urging force (pressing force).

ばね14aにより、センサヘッド12は、工作物2と常に接触した状態となる。そして、タッチセンサ14は、ばね14aの伸縮状態に基づいて、センサヘッド12が工作物1に対して接触又は非接触の何れの状態にあるかを検出する。タッチセンサ14は、検出したセンサヘッド12の先端部の接触情報を制御装置30に出力する。   The sensor head 12 is always in contact with the workpiece 2 by the spring 14a. The touch sensor 14 detects whether the sensor head 12 is in contact with or not in contact with the workpiece 1 based on the expansion / contraction state of the spring 14a. The touch sensor 14 outputs the detected contact information of the tip of the sensor head 12 to the control device 30.

センサ送り機構15は、センサ本体11の後方部(工作物2と反対側)に設けられ、センサ本体11を工作物2の軸方向に移動可能に保持する。このセンサ送り機構15は、例えば、ボールねじとサーボモータ、または、油圧機構等により構成される。また、センサ送り機構15は、工作物2とセンサ本体11の距離を変動させるように、工作物2に対してセンサ本体11を相対移動させる移動手段である。   The sensor feed mechanism 15 is provided in the rear part (opposite side of the workpiece 2) of the sensor body 11, and holds the sensor body 11 so as to be movable in the axial direction of the workpiece 2. The sensor feed mechanism 15 is constituted by, for example, a ball screw and a servo motor or a hydraulic mechanism. The sensor feed mechanism 15 is a moving unit that moves the sensor body 11 relative to the workpiece 2 so as to vary the distance between the workpiece 2 and the sensor body 11.

そして、センサ送り機構15は、センサ本体11を保持する保持部の移動方向位置(工作物2における径方向位置)を図示しないサーボモータから検出する。位置センサ15aは、検出したセンサ本体11の位置情報を制御装置30へ出力する。これにより、制御装置30は、タッチセンサ14によるセンサヘッド12の接触情報及びセンサ送り機構15によるセンサ本体11の位置情報に基づいて、センサヘッド12の検査表面に対する離間距離(クリアランス)を検知する。   The sensor feed mechanism 15 detects a movement direction position (a radial direction position in the workpiece 2) of the holding unit that holds the sensor body 11 from a servo motor (not shown). The position sensor 15 a outputs the detected position information of the sensor body 11 to the control device 30. Thereby, the control device 30 detects the separation distance (clearance) of the sensor head 12 from the inspection surface based on the contact information of the sensor head 12 by the touch sensor 14 and the position information of the sensor main body 11 by the sensor feed mechanism 15.

回転支持部20は、駆動輪21と、調整車22を有し、工作物2を回転可能に支持する。駆動輪21は、工作物2の周面と接触し、図示しないモータにより回転駆動することで工作物2を回転させる。また、駆動輪21は、当該モータの回転位置を検出するエンコーダ21aを有する。   The rotation support unit 20 includes drive wheels 21 and an adjustment wheel 22 and supports the workpiece 2 to be rotatable. The drive wheel 21 contacts the peripheral surface of the workpiece 2 and rotates the workpiece 2 by being driven to rotate by a motor (not shown). Moreover, the drive wheel 21 has an encoder 21a that detects the rotational position of the motor.

エンコーダ21aは、検出したモータの回転位置情報を制御装置30へ出力する。これにより、制御装置30は、初期情報である工作物2の直径や周長などを含む形状情報及びモータの回転位置情報に基づいて、センサヘッド12の工作物2に対する周方向位相を検知する。調整車22は、駆動輪21と共に工作物2を支持し、工作物2の周面との摩擦力により従動回転する。   The encoder 21 a outputs the detected rotational position information of the motor to the control device 30. Thereby, the control apparatus 30 detects the circumferential direction phase with respect to the workpiece 2 of the sensor head 12 based on the shape information including the diameter and circumference of the workpiece 2 and the rotational position information of the motor, which are initial information. The adjustment wheel 22 supports the workpiece 2 together with the drive wheels 21 and is driven to rotate by a frictional force with the peripheral surface of the workpiece 2.

制御装置30は、供給部31と、演算部32と、基準演算部33と、記憶部34と、判定部35とを備える。供給部31は、測定装置13を介してセンサ本体11と連結され、高周波数に設定された励磁電流のみをセンサ本体11に供給する。演算部32は、検査対象の工作物2(以下、実工作物2Aという)とセンサ本体11とを相対移動させた場合に、実工作物2Aについて得られるセンサヘッド12の誘導起電力の波形を周波数解析により周波数毎の振幅レベルを演算する。   The control device 30 includes a supply unit 31, a calculation unit 32, a reference calculation unit 33, a storage unit 34, and a determination unit 35. The supply unit 31 is connected to the sensor body 11 via the measuring device 13 and supplies only the excitation current set to a high frequency to the sensor body 11. The arithmetic unit 32 calculates the waveform of the induced electromotive force of the sensor head 12 obtained for the actual workpiece 2A when the workpiece 2 to be inspected (hereinafter referred to as the actual workpiece 2A) and the sensor body 11 are relatively moved. The amplitude level for each frequency is calculated by frequency analysis.

基準演算部33は、検査対象の工作物2の異常の有無を判定するための振幅レベルの閾値を求める処理を行う。すなわち、基準演算部33は、異常を有しない工作物2(以下、基準工作物2Bという)とセンサ本体11とを相対移動させた場合に、基準工作物2Bについて得られるセンサヘッド12の誘導起電力の波形を周波数解析により周波数毎の振幅レベルを演算する。そして、この処理を複数の基準工作物2Bに対して行い、求めた複数の周波数毎の振幅レベルのうち最大値を閾値として演算する(図5に示す)。   The reference calculation unit 33 performs a process of obtaining an amplitude level threshold value for determining whether or not the workpiece 2 to be inspected is abnormal. That is, the reference calculation unit 33 performs the induction of the sensor head 12 obtained for the reference workpiece 2B when the workpiece 2 having no abnormality (hereinafter referred to as the reference workpiece 2B) and the sensor body 11 are relatively moved. The amplitude level for each frequency is calculated by frequency analysis of the power waveform. Then, this processing is performed on the plurality of reference workpieces 2B, and the maximum value among the obtained amplitude levels for the plurality of frequencies is calculated as a threshold (shown in FIG. 5).

記憶部34は、基準演算部33で求めた周波数毎の振幅レベルの閾値を記憶する。判定部35は、演算部32で求めた周波数毎の振幅レベルのうち周波数F1(図5、図8に示す)以上であって記憶部34から読み出した閾値を超えたら異常が有ると判定する。また、判定部35は、演算部32で求めた周波数毎の振幅レベルのうち周波数F1(図5、図8に示す)未満であって記憶部34から読み出した閾値を超えたら母材のばらつきが大きいと判定する。   The storage unit 34 stores the threshold value of the amplitude level for each frequency obtained by the reference calculation unit 33. The determination unit 35 determines that there is an abnormality if the frequency level is equal to or higher than the frequency F1 (shown in FIGS. 5 and 8) among the amplitude levels for each frequency obtained by the calculation unit 32 and exceeds the threshold value read from the storage unit 34. The determination unit 35 is less than the frequency F1 (shown in FIGS. 5 and 8) of the amplitude level for each frequency obtained by the calculation unit 32 and exceeds the threshold value read from the storage unit 34. Judged to be large.

(2.工作物の異常の検査の概要)
上述したように、実工作物2Aの異常の検査は、センサヘッド12で検知される誘導起電力の波形を周波数解析して周波数毎の振幅レベルを求め、求めた振幅レベルと予め求めた周波数毎の振幅レベルの閾値とを比較することにより行う。センサヘッド12で検知される誘導起電力の波形は、母材のばらつきによる反応と研削焼けなどの異常による反応を含んでいるが、各々の反応により現れる波形の周波数の傾向が異なるため、誘導起電力の波形を周波数解析により周波数毎の振幅レベルを演算すると、母材のばらつきによる反応と異常による反応を切り分けられる。
(2. Overview of inspection of workpiece abnormalities)
As described above, the inspection of the abnormality of the actual workpiece 2A is performed by frequency-analyzing the waveform of the induced electromotive force detected by the sensor head 12 to obtain the amplitude level for each frequency, and the obtained amplitude level and the frequency obtained in advance. This is performed by comparing with the threshold of the amplitude level. The waveform of the induced electromotive force detected by the sensor head 12 includes a reaction due to variations in the base material and a reaction due to an abnormality such as grinding burn. If the amplitude level for each frequency is calculated by frequency analysis of the power waveform, the response due to the variation in the base material and the response due to the abnormality can be separated.

すなわち、母材のばらつきによる反応は、周波数F1未満の周波数の振幅レベルが閾値を超えたときに出現し、異常による反応は、周波数F1以上の周波数の振幅レベルが閾値を超えたときに出現することを見出した。ここで、周波数F1は、0.5Hz−1Hzの間に設定される。特に、本例においては、周波数F1は、1Hzとした。なお、母材のばらつき及び研削焼けなどの加工による異常が現れる周波数域は用いる母材や加工条件などにより変化するため、両者を区別する周波数F1は事前に複数正常品の検査から求めておくとよい。   That is, the reaction due to the variation of the base material appears when the amplitude level of the frequency less than the frequency F1 exceeds the threshold, and the reaction due to the abnormality appears when the amplitude level of the frequency equal to or higher than the frequency F1 exceeds the threshold. I found out. Here, the frequency F1 is set between 0.5 Hz and 1 Hz. In particular, in this example, the frequency F1 is 1 Hz. In addition, since the frequency range in which abnormality due to processing such as dispersion of the base material and grinding / burning varies depending on the base material used, processing conditions, and the like, the frequency F1 for distinguishing between the two is obtained from an inspection of a plurality of normal products in advance. Good.

(3.閾値の設定方法)
上述した構成からなる異常検査装置1の制御装置30による閾値の設定処理を図3を参照して説明する。制御装置30は、基準工作物2Bを6rpmの回転数で回転させ(図3のステップS1)、250kHzの周波数に設定された励磁電流をセンサ本体11に供給する(図3のステップS2)。なお、基準工作物2Bの回転数は、上記値に限定されるものではなく、励磁電流の周波数は、100kHzより高周波数であれば上記値に限定されるものではない。
(3. Threshold setting method)
A threshold setting process performed by the control device 30 of the abnormality inspection apparatus 1 having the above-described configuration will be described with reference to FIG. The control device 30 rotates the reference workpiece 2B at a rotation speed of 6 rpm (step S1 in FIG. 3), and supplies an excitation current set to a frequency of 250 kHz to the sensor body 11 (step S2 in FIG. 3). Note that the rotation speed of the reference workpiece 2B is not limited to the above value, and the frequency of the excitation current is not limited to the above value as long as the frequency is higher than 100 kHz.

制御装置30は、基準工作物2Bの回転位相毎のセンサヘッド12の誘導起電力を測定する(図3のステップS3)。図4は、30個の基準工作物2Bの回転位相毎のセンサヘッド12の誘導起電力の波形を示す。例えば、図4の一点鎖線で示す誘導起電力の波形のうち、誘導起電力の値が低下している部分B1,B2,B3が母材のばらつきによる反応を示す。   The control device 30 measures the induced electromotive force of the sensor head 12 for each rotational phase of the reference workpiece 2B (step S3 in FIG. 3). FIG. 4 shows waveforms of the induced electromotive force of the sensor head 12 for each rotation phase of the 30 reference workpieces 2B. For example, in the induced electromotive force waveform indicated by the one-dot chain line in FIG. 4, the portions B1, B2, and B3 where the value of the induced electromotive force is reduced indicate reactions due to variations in the base material.

制御装置30は、測定したセンサヘッド12の誘導起電力を高速フーリエ変換(FFT)して周波数毎の振幅レベルを求める(図3のステップS4)。そして、所定数の基準工作物2Bに対して上述の一連の処理が完了したか否かを判断し(図3のステップS5)、所定数の基準工作物2Bの処理が完了していないと判断したときは、ステップS1に戻って上述の処理を繰り返す。   The control device 30 obtains an amplitude level for each frequency by performing fast Fourier transform (FFT) on the measured electromotive force of the sensor head 12 (step S4 in FIG. 3). Then, it is determined whether or not the above-described series of processing has been completed for the predetermined number of reference workpieces 2B (step S5 in FIG. 3), and it is determined that the processing of the predetermined number of reference workpieces 2B has not been completed. When it does, it returns to step S1 and repeats the above-mentioned processing.

一方、所定数の基準工作物2Bの処理が完了したと判断したときは、求めた周波数毎の振幅レベルの最大値を閾値として設定する(図3のステップS6)。図5は、図4で求めた誘導起電力を高速フーリエ変換して求めた30個の基準工作物2Bの周波数毎の振幅レベルを示し、図示太い実線が求めた周波数毎の振幅レベルの最大値、すなわち閾値として設定される。なお、図5に示す振幅レベルの波形は、回転支持部20での工作物2の回転数を増加すると高周波数側にシフトした波形となるので同様に閾値を設定できる。   On the other hand, when it is determined that the processing of the predetermined number of reference workpieces 2B has been completed, the maximum value of the obtained amplitude level for each frequency is set as a threshold (step S6 in FIG. 3). FIG. 5 shows the amplitude level for each frequency of 30 reference workpieces 2B obtained by fast Fourier transform of the induced electromotive force obtained in FIG. 4, and the maximum value of the amplitude level for each frequency obtained by the thick solid line shown in FIG. That is, it is set as a threshold value. The waveform of the amplitude level shown in FIG. 5 becomes a waveform shifted to the high frequency side when the number of rotations of the workpiece 2 at the rotation support unit 20 is increased, and thus the threshold value can be set similarly.

(4.異常検査処理)
上述した構成からなる異常検査装置1の制御装置30による円筒形状の実工作物2Aの異常検査処理を図6を参照して説明する。この異常検査処理は、図7に示すように、センサヘッド12を実工作物2Aの回転軸線方向に一定の第一ピッチP1で移動させる毎に実工作物2Aを回転軸線回りに1回転させ、検知される誘導起電力の波形を周波数解析して周波数毎の振幅レベルを求める。第一ピッチP1は、センサヘッド12における実工作物2Aの回転軸線方向の検出長d以下のピッチ、本例では検出長dと同じピッチに設定される。これにより、実工作物2Aの全周面を検査できる。
(4. Abnormality inspection process)
An abnormality inspection process for the cylindrical actual workpiece 2A by the control device 30 of the abnormality inspection apparatus 1 having the above-described configuration will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 7, the abnormality inspection process is performed by rotating the actual workpiece 2A once around the rotation axis every time the sensor head 12 is moved at a constant first pitch P1 in the rotation axis direction of the actual workpiece 2A. The frequency of the detected induced electromotive force waveform is analyzed to determine the amplitude level for each frequency. The first pitch P1 is set to a pitch equal to or less than the detection length d in the rotational axis direction of the actual workpiece 2A in the sensor head 12, in this example, the same pitch as the detection length d. Thereby, the entire peripheral surface of the actual workpiece 2A can be inspected.

制御装置30は、センサヘッド12を実工作物2Aの検査開始点、すなわち一端面側の周縁に移動させて位置決めする(図6のステップS11)。そして、実工作物2Aを基準工作物2Bと同様に6rpmの回転数で回転させ(図6のステップS12)、250kHzの周波数に設定された励電流をセンサ本体11に供給する(図6のステップS13)。そして、実工作物2Aの周面における回転位相毎のセンサヘッド12の誘導起電力を測定する(図6のステップS14)。   The control device 30 moves and positions the sensor head 12 to the inspection start point of the actual workpiece 2A, that is, the peripheral edge on the one end face side (step S11 in FIG. 6). Then, the actual workpiece 2A is rotated at a rotational speed of 6 rpm similarly to the reference workpiece 2B (step S12 in FIG. 6), and an excitation current set at a frequency of 250 kHz is supplied to the sensor body 11 (step in FIG. 6). S13). And the induced electromotive force of the sensor head 12 for every rotation phase in the surrounding surface of the actual workpiece 2A is measured (step S14 in FIG. 6).

図8は、図7に示す実工作物2Aの異常部分Eを含む周面における回転位相毎のセンサヘッド12の誘導起電力の波形を示す。図7の一点鎖線で示す誘導起電力の波形のうち、誘導起電力の値が低下している部分B11,B12,B13が母材のばらつきによる反応を示し、誘導起電力の値が低下している部分A11,A12,A13,A14が異常による反応(誘導起電力の値が低下している部分A11が図7に示す異常部分Eによる反応)を示す。このように、誘導起電力の波形には、母材のばらつきによる反応と異常による反応が含まれるので、誘導起電力の波形のみでは母材のばらつきによる反応と異常による反応を区別することが困難である。   FIG. 8 shows a waveform of the induced electromotive force of the sensor head 12 for each rotation phase on the peripheral surface including the abnormal portion E of the actual workpiece 2A shown in FIG. In the induced electromotive force waveform indicated by the one-dot chain line in FIG. 7, the portions B11, B12, and B13 where the value of the induced electromotive force is reduced indicate reactions due to variations in the base material, and the value of the induced electromotive force is reduced. The portions A11, A12, A13, and A14 that are present indicate a reaction due to an abnormality (the portion A11 in which the value of the induced electromotive force decreases is a reaction due to the abnormality portion E illustrated in FIG. 7). In this way, the induced electromotive force waveform includes a response due to variations in the base material and a response due to abnormality, so it is difficult to distinguish between a response due to variations in the base material and a response due to abnormality only with the induced electromotive force waveform. It is.

制御装置30は、測定したセンサヘッド12の誘導起電力を高速フーリエ変換(FFT)して周波数毎の振幅レベルを求める(図6のステップS15)。図8は、図7で求めた誘導起電力を高速フーリエ変換して求めた実工作物2Aの周波数毎の振幅レベルを示す。そして、制御装置30は、1Hz以上の周波数領域において振幅レベルと閾値とを比較する。   The control device 30 obtains an amplitude level for each frequency by performing a fast Fourier transform (FFT) on the measured electromotive force of the sensor head 12 (step S15 in FIG. 6). FIG. 8 shows the amplitude level for each frequency of the actual workpiece 2A obtained by fast Fourier transform of the induced electromotive force obtained in FIG. And the control apparatus 30 compares an amplitude level and a threshold value in the frequency area | region of 1 Hz or more.

制御装置30は、振幅レベルが閾値を超えているか否かを判断し(図6のステップS16)、振幅レベルが閾値を超えている実工作物2Aは異常有りと判断し(図6のステップS17)、振幅レベルが閾値を超えていない実工作物2Aは異常無しと判断する(図6のステップS18)。図8においては、約1kHzから約5kHzの間で振幅レベルが閾値を超えている部分Aが有るので、当該実工作物2Aは加工異常有りと判断する。なお、当該実工作物2Aにおいては、1Hz未満で振幅レベルが閾値を超えている部分Bがあるが、これにより母材のばらつきが大きいと判定できる。   The control device 30 determines whether or not the amplitude level exceeds the threshold value (step S16 in FIG. 6), and determines that the actual workpiece 2A whose amplitude level exceeds the threshold value is abnormal (step S17 in FIG. 6). ), It is determined that there is no abnormality in the actual workpiece 2A whose amplitude level does not exceed the threshold (step S18 in FIG. 6). In FIG. 8, since there is a portion A in which the amplitude level exceeds the threshold between about 1 kHz and about 5 kHz, it is determined that the actual workpiece 2A has a machining abnormality. In the actual workpiece 2A, there is a portion B where the amplitude level is less than 1 Hz and the threshold level exceeds the threshold value, which makes it possible to determine that the variation of the base material is large.

制御装置30は、センサヘッド12が実工作物2Aの検査終了点、すなわち他端面側の周縁に到達して異常判定が完了したか否かを判断し(図6のステップS19)、センサヘッド12が実工作物2Aの他端面側の周縁に到達していない場合は、センサヘッド12を実工作物2Aの他端面側に向かって第一ピッチ分移動させて位置決めする(図6のステップS20)。そして、ステップS12に戻って上述の処理を繰り返す。一方、ステップS19において、制御装置30は、センサヘッド12が実工作物2Aの他端面側の周縁に到達して異常判定が完了したと判断したときは、全ての処理を終了する。   The control device 30 determines whether or not the abnormality determination is completed when the sensor head 12 reaches the inspection end point of the actual workpiece 2A, that is, the peripheral edge on the other end surface side (step S19 in FIG. 6). If the sensor head 12 does not reach the peripheral edge on the other end surface side of the actual workpiece 2A, the sensor head 12 is moved by the first pitch toward the other end surface side of the actual workpiece 2A and positioned (step S20 in FIG. 6). . And it returns to step S12 and repeats the above-mentioned process. On the other hand, when the control device 30 determines in step S19 that the sensor head 12 has reached the periphery on the other end surface side of the actual workpiece 2A and the abnormality determination has been completed, all the processes are terminated.

(5.異常検査処理の別例)
上述の異常検査処理では、図11に示すように、実工作物2Aの周方向に一周にわたって一様な異常Eaが発生している場合、図7に示すように、実工作物2Aの周面を円周状に検査しても実工作物2Aと基準工作物2Bで得られる周波数毎の振幅レベルには差異が現れないため、当該異常を検出できない。
(5. Another example of abnormality inspection processing)
In the above-described abnormality inspection process, as shown in FIG. 11, when a uniform abnormality Ea occurs around the circumference of the actual workpiece 2 </ b> A, as shown in FIG. 7, the peripheral surface of the actual workpiece 2 </ b> A Since the difference between the amplitude levels for each frequency obtained by the actual workpiece 2A and the reference workpiece 2B does not appear even if the inspection is performed on the circumference, the abnormality cannot be detected.

しかし、実工作物2Aの周方向に一周にわたって一様な異常が発生しても、実工作物2Aの回転軸線方向には異常状態にムラがある場合が多いので、図11に示すように、実工作物2Aの周面を螺旋状に検査することで当該異常を検出できる。そこで、図6に示す実工作物2Aの周面を円周状に検査する処理を行った結果、実工作物2Aの異常が検出されなかったが、実工作物2Aの周方向に一周にわたって一様な異常が発生しているおそれがあるため、実工作物2Aの周面を螺旋状に検査する処理を引き続き行う。   However, even if a uniform abnormality occurs over one circumference in the circumferential direction of the actual workpiece 2A, the abnormal state is often uneven in the rotation axis direction of the actual workpiece 2A. The abnormality can be detected by inspecting the peripheral surface of the actual workpiece 2A in a spiral shape. Therefore, as a result of performing the process of inspecting the circumferential surface of the actual workpiece 2A shown in FIG. 6 in a circumferential shape, no abnormality was detected in the actual workpiece 2A. Since such an abnormality may occur, the process of inspecting the peripheral surface of the actual workpiece 2A in a spiral manner is continued.

制御装置30は、センサヘッド12を実工作物2Aの検査開始点、すなわち一端面側の周縁に移動させて位置決めする(図10のステップS21)。そして、センサヘッド12を実工作物2Aの回転軸線方向に実工作物2Aの周面に沿って第二ピッチで相対移動させつつ実工作物2Aを基準工作物2Bと同様に6rpmの回転数で回転させる(図10のステップS22)。第二ピッチは、センサヘッド12における実工作物2Aの回転軸線方向の検出長よりも大きいピッチに設定される。これにより、実工作物2Aの周面を螺旋状に短時間で検査できる。   The control device 30 moves and positions the sensor head 12 to the inspection start point of the actual workpiece 2A, that is, the peripheral edge on the one end surface side (step S21 in FIG. 10). Then, while moving the sensor head 12 relative to the rotation axis of the actual workpiece 2A along the peripheral surface of the actual workpiece 2A at the second pitch, the actual workpiece 2A is rotated at a rotational speed of 6 rpm in the same manner as the reference workpiece 2B. Rotate (step S22 in FIG. 10). The second pitch is set to a pitch larger than the detection length in the rotation axis direction of the actual workpiece 2A in the sensor head 12. Thereby, the surrounding surface of the actual workpiece 2A can be inspected spirally in a short time.

制御装置30は、250kHzの周波数に設定された励電流をセンサ本体11に供給し(図10のステップS23)、実工作物2Aの周面における回転軸線方向のセンサヘッド12の誘導起電力を測定する(図10のステップS24)。そして、センサヘッド12が実工作物2Aの検査終了点、すなわち他端面側の周縁に到達したか否かを判断する(図10のステップS25)。センサヘッド12が実工作物2Aの他端面側の周縁に到達していないと判断したときは、ステップS22に戻って上述の処理を繰り返す。   The control device 30 supplies the excitation current set to the frequency of 250 kHz to the sensor body 11 (step S23 in FIG. 10), and measures the induced electromotive force of the sensor head 12 in the rotation axis direction on the peripheral surface of the actual workpiece 2A. (Step S24 in FIG. 10). Then, it is determined whether or not the sensor head 12 has reached the inspection end point of the actual workpiece 2A, that is, the periphery on the other end surface side (step S25 in FIG. 10). When it is determined that the sensor head 12 has not reached the periphery on the other end surface side of the actual workpiece 2A, the process returns to step S22 and the above-described processing is repeated.

一方、ステップS25において、センサヘッド12が実工作物2Aの他端面側の周縁に到達したと判断したときは、測定したセンサヘッド12の誘導起電力を高速フーリエ変換(FFT)して周波数毎の振幅レベルを求める(図10のステップS26)。そして、1Hz以上の周波数領域において振幅レベルが閾値を超えているか否かを判断し(図10のステップS27)、振幅レベルが閾値を超えている実工作物2Aは異常有りと判断し(図10のステップS28)、振幅レベルが閾値を超えていない実工作物2Aは異常無しと判断し(図10のステップS29)、全ての処理を終了する。   On the other hand, when it is determined in step S25 that the sensor head 12 has reached the periphery on the other end surface side of the actual workpiece 2A, the measured electromotive force of the sensor head 12 is subjected to fast Fourier transform (FFT) for each frequency. An amplitude level is obtained (step S26 in FIG. 10). Then, it is determined whether or not the amplitude level exceeds the threshold in the frequency region of 1 Hz or more (step S27 in FIG. 10), and the actual workpiece 2A having the amplitude level exceeding the threshold is determined to be abnormal (FIG. 10). Step S28), it is determined that the actual workpiece 2A whose amplitude level does not exceed the threshold value has no abnormality (Step S29 in FIG. 10), and all the processes are terminated.

図12は、図11に示す実工作物2Aの一端面側の回転軸線方向位置sから他端面側の回転軸線方向位置eまでの実工作物2A周面における螺旋上のセンサヘッド12の誘導起電力の波形を示す。図12の一点鎖線で示す誘導起電力の値が低下している部分C1が図11の異常部分Eaによる反応を示す。図13は、図12で求めた誘導起電力を高速フーリエ変換して求めた実工作物2Aの周波数毎の振幅レベルを示す。図13においては、約1kHzから約5kHzの間で振幅レベルが閾値を超えている部分Cが有るので、当該実工作物2Aは加工異常有りと判断する。   12 shows the induction of the sensor head 12 on the spiral on the circumferential surface of the actual workpiece 2A from the rotational axis direction position s on one end surface side to the rotational axis direction position e on the other end surface side of the actual workpiece 2A shown in FIG. The power waveform is shown. A portion C1 where the value of the induced electromotive force indicated by a one-dot chain line in FIG. FIG. 13 shows the amplitude level for each frequency of the actual workpiece 2A obtained by fast Fourier transform of the induced electromotive force obtained in FIG. In FIG. 13, since there is a portion C in which the amplitude level exceeds the threshold between about 1 kHz and about 5 kHz, it is determined that the actual workpiece 2 </ b> A has a machining abnormality.

上述の異常検査処理では、第二ピッチは、センサヘッド12における実工作物2Aの回転軸線方向の検出長よりも大きいピッチに設定される場合を説明した。しかし、図14に示すように、センサヘッド12における実工作物2Aの回転軸線方向の検出長d以下、本例では検出長dと同じ第三ピッチP3に設定することで、実工作物2Aの全周面を検査できるため、実工作物2Aの周面を円周状に検査する処理を省略できる。   In the above-described abnormality inspection process, the case where the second pitch is set to a pitch larger than the detection length of the actual workpiece 2A in the rotation axis direction in the sensor head 12 has been described. However, as shown in FIG. 14, by setting the sensor head 12 to a detection pitch d equal to or less than the detection length d of the actual workpiece 2A in the rotational axis direction, in this example, the third pitch P3 equal to the detection length d is set. Since the entire circumferential surface can be inspected, the process of inspecting the circumferential surface of the actual workpiece 2A in a circumferential shape can be omitted.

また、上述の異常検査処理では、実工作物2Aの周面を螺旋状に検査する場合を説明した。しかし、図15に示すように、実工作物2Aの周面を円周状に検査する処理を、センサヘッド12における実工作物2Aの回転軸線方向の検出長d以下、本例では検出長dと同じ第四ピッチP4毎に行う。そして、実工作物2Aの一端面側の検査周面S1において得られるセンサヘッド12の誘導起電力のうち、検査周面S1上の一点Q1の誘導起電力を選択する。   Moreover, in the above-described abnormality inspection process, the case where the peripheral surface of the actual workpiece 2A is inspected spirally has been described. However, as shown in FIG. 15, the process of inspecting the circumferential surface of the actual workpiece 2A in a circumferential shape is not more than the detection length d in the rotation axis direction of the actual workpiece 2A in the sensor head 12, which is the detection length d in this example. And every fourth pitch P4. And among the induced electromotive forces of the sensor head 12 obtained on the inspection peripheral surface S1 on the one end surface side of the actual workpiece 2A, the induced electromotive force at one point Q1 on the inspection peripheral surface S1 is selected.

次に、検査周面S1に隣接する検査周面S2において得られるセンサヘッド12の誘導起電力のうち、検査周面S1上の一点Q1に対し所定の位相角度θずれた検査周面S2上の一点Q2の誘導起電力を選択する。以降、同様に実工作物2Aの他端面側の検査周面Snの一点Qnまで誘導起電力を選択する。そして、選択した全ての点Q1−Qnの誘導起電力を選択順に繋げることにより、実工作物2Aの周面を螺旋状に検査したデータとして得ることができる。   Next, out of the induced electromotive force of the sensor head 12 obtained on the inspection peripheral surface S2 adjacent to the inspection peripheral surface S1, on the inspection peripheral surface S2 shifted by a predetermined phase angle θ with respect to one point Q1 on the inspection peripheral surface S1. The induced electromotive force at one point Q2 is selected. Thereafter, the induced electromotive force is similarly selected up to one point Qn of the inspection peripheral surface Sn on the other end surface side of the actual workpiece 2A. Then, by connecting the induced electromotive forces of all the selected points Q1-Qn in the order of selection, it can be obtained as data obtained by inspecting the peripheral surface of the actual workpiece 2A in a spiral shape.

(6.その他)
上述の実施形態では、複数の周波数毎の振幅レベルのうち最大値を閾値として設定したが、複数の周波数毎の振幅レベルの平均値(a)及び標準偏差(σ)を求め、例えば、a±4σの範囲に基づいて閾値を設定してもよい。また、基準演算部33で求めた周波数毎の振幅レベルの閾値を記憶部34に記憶する構成としたが、作業者が予め制御装置30の外部で求めた周波数毎の振幅レベルの閾値を記憶部34に記憶する構成としてもよい。
(6. Others)
In the above-described embodiment, the maximum value among the amplitude levels for each of the plurality of frequencies is set as the threshold value. However, the average value (a) and the standard deviation (σ) of the amplitude levels for each of the plurality of frequencies are obtained. A threshold value may be set based on a range of 4σ. Further, although the threshold value of the amplitude level for each frequency obtained by the reference calculation unit 33 is stored in the storage unit 34, the threshold value for the amplitude level for each frequency obtained by the operator in advance outside the control device 30 is stored in the storage unit. 34 may be stored.

また、異常検査装置1の適用可能な工作物2としては、浸炭焼き入れした材料に限定されるものではなく、ずぶ焼き入れした材料も適用可能である。また、円筒状又は円柱状に限らず、平板状等の任意の形状のものを対象とできる。そして、工作物2の異常の検査対象部位は、円筒状又は円柱状の外周面の他に、円筒状の内周面、円錐状の外周面、球の外周面、平板状の表面、及び、自由曲面状の表面等とすることもできる。また、工作機械3として、研削盤の他に、旋盤及びマシニングセンタなどの切削加工機を適用できる。そして、工作機械3は、異常検査装置1の機能を備える構成としてもよい。   Further, the workpiece 2 to which the abnormality inspection apparatus 1 can be applied is not limited to the carburized and quenched material, and a material that has been thoroughly quenched can also be applied. Moreover, it is not limited to a cylindrical shape or a columnar shape, but can be an arbitrary shape such as a flat plate shape. In addition to the cylindrical or columnar outer peripheral surface, the abnormality inspection target part of the workpiece 2 includes a cylindrical inner peripheral surface, a conical outer peripheral surface, a spherical outer peripheral surface, a flat surface, and It can also be a free-form surface. Further, as the machine tool 3, in addition to a grinding machine, a cutting machine such as a lathe and a machining center can be applied. And the machine tool 3 is good also as a structure provided with the function of the abnormality inspection apparatus 1. FIG.

(7.実施形態の効果)
本実施形態の工作物2の異常検査装置1は、励磁電流により工作物2の内部に渦電流を誘導して出力電圧を得るセンサ10と、検査対象の実工作物2Aとセンサ10とを相対移動させた場合に、実工作物2Aについて得られるセンサ10の出力電圧の波形を周波数解析により周波数毎の出力値を演算する演算部32と、出力値に対応する周波数毎の閾値を記憶する記憶部34と、周波数毎の出力値が記憶部34に記憶された対応する周波数の閾値を超えた場合に、実工作物2Aが異常を有すると判定する判定部35と、を備える。
(7. Effects of the embodiment)
The abnormality inspection apparatus 1 for the workpiece 2 according to the present embodiment is configured such that the sensor 10 that obtains an output voltage by inducing eddy current in the workpiece 2 by an excitation current, and the actual workpiece 2A to be inspected and the sensor 10 are relatively When moved, the calculation unit 32 that calculates an output value for each frequency by frequency analysis of the waveform of the output voltage of the sensor 10 obtained for the actual workpiece 2A, and a memory for storing a threshold value for each frequency corresponding to the output value And a determination unit 35 that determines that the actual workpiece 2A has an abnormality when the output value for each frequency exceeds the threshold value of the corresponding frequency stored in the storage unit 34.

センサ10の出力電圧は、母材のばらつきによる反応と異常による反応を含んでいるが、センサ10の出力電圧の波形を周波数解析により周波数毎の出力値を演算すると、母材のばらつきによる反応と異常による反応を切り分けられる。すなわち、異常による反応は、周波数F1以上の周波数の出力値が閾値を超えたときに出現することを見出した。よって、異常検査装置1は、高周波数の励磁電流を用いることにより工作物2の異常の有無を高速で検査できる。   The output voltage of the sensor 10 includes a response due to a variation in the base material and a response due to an abnormality. When the output value for each frequency is calculated by analyzing the waveform of the output voltage of the sensor 10 and the response due to the variation in the base material. The reaction due to abnormality can be isolated. That is, it has been found that the reaction due to abnormality appears when the output value of the frequency equal to or higher than the frequency F1 exceeds the threshold value. Therefore, the abnormality inspection apparatus 1 can inspect for an abnormality of the workpiece 2 at high speed by using a high-frequency excitation current.

また、記憶部34は、異常を有しない基準工作物2Bとセンサ10とを相対移動させた場合に基準工作物2Bについて得られたセンサ10の出力電圧の波形を周波数解析して、得られた周波数毎の閾値を記憶するので、工作物2に適合した正確な閾値を設定できる。
また、異常検査装置1は、複数の基準工作物2Bを用いて閾値を演算する基準演算部33を備え、記憶部34は、基準演算部2Bにより演算された閾値を記憶するので、検査処理を高速で行える。
The storage unit 34 was obtained by performing frequency analysis on the waveform of the output voltage of the sensor 10 obtained for the reference workpiece 2B when the reference workpiece 2B having no abnormality and the sensor 10 are relatively moved. Since the threshold value for each frequency is stored, an accurate threshold value suitable for the workpiece 2 can be set.
In addition, the abnormality inspection apparatus 1 includes a reference calculation unit 33 that calculates a threshold value using a plurality of reference workpieces 2B, and the storage unit 34 stores the threshold value calculated by the reference calculation unit 2B. It can be done at high speed.

また、周波数毎の閾値は、複数の基準工作物2Bについての周波数解析により得られた周波数毎の複数の出力値のうち最大値に基づいて求められるので、閾値を容易に設定できる。
また、周波数毎の閾値は、複数の基準工作物2Bについての周波数解析により得られた周波数毎の複数の出力値の平均値(a)及び標準偏差(σ)を求め、a及びσに基づいて求められるので、異常の有無の判定精度を高められる。
Moreover, since the threshold value for every frequency is calculated | required based on the maximum value among the several output values for every frequency obtained by the frequency analysis about the some reference | standard workpiece 2B, a threshold value can be set easily.
The threshold value for each frequency is obtained based on a and σ by obtaining an average value (a) and a standard deviation (σ) of a plurality of output values for each frequency obtained by frequency analysis for a plurality of reference workpieces 2B. Therefore, the accuracy of determining whether there is an abnormality can be improved.

また、判定部35は、所定の周波数以上において出力値が閾値を超えた場合に、実工作物2Aに加工変質層又は傷が存在すると判定するので、異常の有無を容易に判定できる。
また、判定部35は、所定の周波数未満において出力値が閾値を超えた場合に、実工作物2Aの表面熱処理の施されていない母材のばらつきが大きいと判定するので、母材のばらつきによる反応と異常による反応を切り分けられる。
In addition, when the output value exceeds the threshold value at a predetermined frequency or higher, the determination unit 35 determines that there is a work-affected layer or a flaw in the actual workpiece 2A, so it can be easily determined whether there is an abnormality.
In addition, when the output value exceeds the threshold value at a frequency lower than the predetermined frequency, the determination unit 35 determines that the variation in the base material that is not subjected to the surface heat treatment of the actual workpiece 2A is large. The reaction and the reaction due to abnormality can be separated.

また、センサ10は、所定周波数より高周波数に設定された励磁電流のみにより工作物2の内部に渦電流を誘導して出力電圧を得るので、センサ10と工作物2を高速度で相対移動させることができ、異常の有無を高速で検出できる。
また、実工作物2Aは、浸炭焼き入れが施された工作物であるので、従来装置では困難であった異常検査を本実施形態の異常検査装置で行うことができる。
また、センサ10は、工作物2と相対回転させて励磁電流により工作物2の内部に渦電流を誘導して出力電圧を得るので、円筒状又は円柱状の工作物2の異常を容易に検査できる。
Further, the sensor 10 induces an eddy current in the workpiece 2 only by an excitation current set to a frequency higher than a predetermined frequency to obtain an output voltage, and therefore the sensor 10 and the workpiece 2 are relatively moved at a high speed. The presence or absence of abnormality can be detected at high speed.
Moreover, since the actual workpiece 2A is a workpiece that has been carburized and quenched, the abnormality inspection that is difficult with the conventional apparatus can be performed with the abnormality inspection apparatus of the present embodiment.
Further, the sensor 10 rotates relative to the workpiece 2 and induces an eddy current in the workpiece 2 by an exciting current to obtain an output voltage. Therefore, an abnormality of the cylindrical or columnar workpiece 2 can be easily inspected. it can.

また、演算部32は、実工作物2Aとセンサ10とを実工作物2Aの回転軸線方向に第一ピッチで相対移動させる毎に実工作物2Aとセンサ10とを相対回転させ、実工作物2Aについて得られるセンサ10の出力電圧の波形を周波数解析により周波数毎の出力値を演算し、実工作物2Aとセンサ10とを実工作物2Aの回転軸線方向に第二ピッチで相対移動させつつ実工作物2Aとセンサ10とを相対回転させ、実工作物2Aについて得られるセンサ10の出力電圧の波形を周波数解析により周波数毎の出力値を演算する。   Further, the arithmetic unit 32 relatively rotates the actual workpiece 2A and the sensor 10 each time the actual workpiece 2A and the sensor 10 are relatively moved at the first pitch in the rotation axis direction of the actual workpiece 2A. The output value for each frequency is calculated by frequency analysis of the waveform of the output voltage of the sensor 10 obtained for 2A, and the actual workpiece 2A and the sensor 10 are moved relative to each other at the second pitch in the rotation axis direction of the actual workpiece 2A. The actual workpiece 2A and the sensor 10 are relatively rotated, and the output value for each frequency is calculated by frequency analysis of the waveform of the output voltage of the sensor 10 obtained for the actual workpiece 2A.

実工作物2Aの周面を円周状に検査することで、実工作物2Aの周面に部分的に発生する異常を検出でき、さらに実工作物2Aの周方向に一周にわたって一様な異常が発生しても、実工作物2Aの回転軸線方向には異常状態にムラがある場合が多いので、実工作物2Aの周面を螺旋状に検査することで、実工作物2Aの周方向に一周にわたって発生する一様な異常を検出できる。また、第一ピッチは、センサ10における実工作物2Aの回転軸線方向の検出長と同じピッチであるので、実工作物2Aの全周面を検査でき、第二ピッチは、センサ10の検出長以上のピッチであるので、実工作物2Aの周面を螺旋状に短時間で検査できる。   By inspecting the circumferential surface of the actual workpiece 2A circumferentially, it is possible to detect abnormalities that partially occur on the circumferential surface of the actual workpiece 2A, and to make uniform abnormalities over the circumference of the actual workpiece 2A. Even if the above occurs, there are many cases where the abnormal state is uneven in the rotation axis direction of the actual workpiece 2A. Therefore, the circumferential direction of the actual workpiece 2A can be obtained by inspecting the peripheral surface of the actual workpiece 2A in a spiral shape. It is possible to detect a uniform abnormality that occurs over one round. Further, since the first pitch is the same as the detection length of the actual workpiece 2A in the rotation axis direction in the sensor 10, the entire circumferential surface of the actual workpiece 2A can be inspected, and the second pitch is the detection length of the sensor 10. Since it is the above pitch, the surrounding surface of the actual workpiece 2A can be inspected spirally in a short time.

また、演算部32は、実工作物2Aとセンサ10とを実工作物2Aの回転軸線方向に第三ピッチで相対移動させつつ実工作物2Aとセンサ10とを相対回転させ、実工作物2Aについて得られるセンサ10の出力電圧の波形を周波数解析により周波数毎の出力値を演算するので、実工作物2Aの周方向に一周にわたって発生する一様な異常を検出できる。また、第三ピッチは、センサ10における実工作物2Aの回転軸線方向の検出長以下のピッチであるので、実工作物2Aの全周面を検査できる。   In addition, the calculation unit 32 relatively rotates the actual workpiece 2A and the sensor 10 while relatively moving the actual workpiece 2A and the sensor 10 in the rotation axis direction of the actual workpiece 2A at the third pitch, and thereby the actual workpiece 2A. Since the output value for each frequency is calculated by frequency analysis of the waveform of the output voltage of the sensor 10 obtained for the above, uniform abnormality that occurs over one round in the circumferential direction of the actual workpiece 2A can be detected. Moreover, since the third pitch is a pitch equal to or less than the detection length in the rotation axis direction of the actual workpiece 2A in the sensor 10, the entire circumferential surface of the actual workpiece 2A can be inspected.

また、演算部32は、実工作物2Aとセンサとを実工作物2Aの回転軸線方向に第四ピッチで相対移動させる毎に実工作物2Aとセンサ10とを相対回転させ、相対一回転における所定の位相角度を相対一移動毎に一定角度分ずらした各位相角度における実工作物2Aについてのセンサ10の出力電圧を得て、得られる出力電圧の波形を周波数解析により周波数毎の出力値を演算する。これによれば、実工作物2Aの周面を螺旋状に検査したときのデータと同様のデータが得られるので、実工作物2Aの周方向に一周にわたって発生する一様な異常を検出できる。また、第四ピッチは、センサ10における実工作物2Aの回転軸線方向の検出長以下のピッチであるので、実工作物2Aの全周面を検査できる。
また、センサ10は、工作物2を加工している最中に、励磁電流により工作物2の内部に渦電流を誘導して出力電圧を得るので、工作物2の不良発生を抑制できる。
In addition, the arithmetic unit 32 relatively rotates the actual workpiece 2A and the sensor 10 each time the actual workpiece 2A and the sensor are relatively moved at the fourth pitch in the rotation axis direction of the actual workpiece 2A, so The output voltage of the sensor 10 for the actual workpiece 2A at each phase angle obtained by shifting the predetermined phase angle by a certain angle for each relative movement is obtained, and the output value for each frequency is obtained by analyzing the waveform of the obtained output voltage by frequency analysis. Calculate. According to this, since the same data as the data obtained when the peripheral surface of the actual workpiece 2A is inspected in a spiral shape is obtained, it is possible to detect a uniform abnormality that occurs over the entire circumference of the actual workpiece 2A. Moreover, since the fourth pitch is a pitch equal to or less than the detection length of the actual workpiece 2A in the rotation axis direction in the sensor 10, the entire circumferential surface of the actual workpiece 2A can be inspected.
In addition, since the sensor 10 obtains an output voltage by inducing an eddy current in the workpiece 2 by the exciting current while the workpiece 2 is being processed, the occurrence of defects in the workpiece 2 can be suppressed.

本実施形態の工作物の異常検査方法は、励磁電流により工作物2の内部に渦電流を誘導して出力電圧を得る取得工程と、検査対象の実工作物2Aについて得られる出力電圧の波形を周波数解析により周波数毎の出力値を演算する演算工程と、周波数毎の出力値が出力値に対応する周波数毎の閾値を超えた場合に、実工作物2Aが異常を有すると判定する判定工程と、を備える。これにより、上述の異常検査装置1で得られる効果と同様の効果が得られる。   The abnormality inspection method for a workpiece according to the present embodiment includes an acquisition step of inducing an eddy current in the workpiece 2 by an excitation current to obtain an output voltage, and a waveform of the output voltage obtained for the actual workpiece 2A to be inspected. A calculation step of calculating an output value for each frequency by frequency analysis, and a determination step of determining that the actual workpiece 2A has an abnormality when the output value for each frequency exceeds a threshold value for each frequency corresponding to the output value; . Thereby, the effect similar to the effect obtained with the above-mentioned abnormality inspection apparatus 1 is acquired.

1:異常検査装置、 2:工作物、 10:磁気センサ、 11:センサ本体、 12:センサヘッド、 20:回転支持部、 30:制御装置、 31:供給部、 32:演算部、 33:基準演算部、 34:記憶部、 35:判定部   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1: Abnormality inspection apparatus, 2: Workpiece, 10: Magnetic sensor, 11: Sensor main body, 12: Sensor head, 20: Rotation support part, 30: Control apparatus, 31: Supply part, 32: Calculation part, 33: Reference | standard Calculation unit 34: Storage unit 35: Determination unit

Claims (18)

励磁電流により工作物の内部に渦電流を誘導して出力電圧を得るセンサと、
検査対象の実工作物と前記センサとを相対移動させた場合に、前記実工作物について得られる前記センサの前記出力電圧の波形を周波数解析により周波数毎の出力値を演算する演算部と、
前記出力値に対応する周波数毎の閾値を記憶する記憶部と、
周波数毎の前記出力値が前記記憶部に記憶された対応する周波数の前記閾値を超えた場合に、前記実工作物が異常を有すると判定する判定部と、
を備える工作物の異常検査装置。
A sensor for obtaining an output voltage by inducing an eddy current inside the workpiece by an excitation current;
When the actual workpiece to be inspected and the sensor are relatively moved, a calculation unit that calculates an output value for each frequency by frequency analysis of the waveform of the output voltage of the sensor obtained for the actual workpiece;
A storage unit for storing a threshold value for each frequency corresponding to the output value;
A determination unit that determines that the actual workpiece has an abnormality when the output value for each frequency exceeds the threshold value of the corresponding frequency stored in the storage unit;
An abnormality inspection device for workpieces.
前記記憶部は、異常を有しない基準工作物と前記センサとを相対移動させた場合に前記基準工作物について得られた前記センサの前記出力電圧の波形を周波数解析して、得られた周波数毎の前記閾値を記憶する、請求項1に記載の工作物の異常検査装置。   The storage unit performs frequency analysis on the waveform of the output voltage of the sensor obtained with respect to the reference workpiece when the reference workpiece having no abnormality and the sensor are moved relative to each other. The workpiece abnormality inspection apparatus according to claim 1, wherein the threshold value is stored. 前記異常検査装置は、複数の前記基準工作物を用いて前記閾値を演算する基準演算部を備え、
前記記憶部は、前記基準演算部により演算された前記閾値を記憶する、請求項2に記載の工作物の異常検査装置。
The abnormality inspection apparatus includes a reference calculation unit that calculates the threshold using a plurality of the reference workpieces,
The workpiece abnormality inspection apparatus according to claim 2, wherein the storage unit stores the threshold value calculated by the reference calculation unit.
周波数毎の前記閾値は、複数の前記基準工作物についての周波数解析により得られた周波数毎の複数の出力値のうち最大値に基づいて求められる、請求項2又は3に記載の工作物の異常検査装置。   The abnormality of the workpiece according to claim 2 or 3, wherein the threshold value for each frequency is obtained based on a maximum value among a plurality of output values for each frequency obtained by frequency analysis for the plurality of reference workpieces. Inspection device. 周波数毎の前記閾値は、複数の前記基準工作物についての周波数解析により得られた周波数毎の複数の出力値の平均値(a)及び標準偏差(σ)を求め、a及びσに基づいて求められる、請求項2又は3に記載の工作物の異常検査装置。   The threshold value for each frequency is obtained based on a and σ by obtaining an average value (a) and a standard deviation (σ) of a plurality of output values for each frequency obtained by frequency analysis for the plurality of reference workpieces. 4. The workpiece abnormality inspection apparatus according to claim 2, wherein the workpiece abnormality inspection apparatus is provided. 前記判定部は、所定の周波数以上において前記出力値が前記閾値を超えた場合に、前記実工作物に加工変質層又は傷が存在すると判定する、請求項1−5の何れか一項に記載の工作物の異常検査装置。   6. The determination unit according to claim 1, wherein when the output value exceeds the threshold value at a predetermined frequency or more, the determination unit determines that a work-affected layer or a flaw exists in the actual workpiece. Machine abnormality inspection equipment. 前記判定部は、前記所定の周波数未満において前記出力値が前記閾値を超えた場合に、前記実工作物の表面熱処理の施されていない母材のばらつきが大きいと判定する、請求項6に記載の工作物の異常検査装置。   The said determination part determines that the dispersion | variation in the base material with which the surface heat treatment of the said actual workpiece is not performed is large when the said output value exceeds the said threshold value in less than the said predetermined frequency. Machine abnormality inspection equipment. 前記センサは、所定周波数より高周波数に設定された前記励磁電流のみにより前記工作物の内部に渦電流を誘導して出力電圧を得る、請求項1−7の何れか一項に記載の工作物の異常検査装置。   The workpiece according to any one of claims 1 to 7, wherein the sensor obtains an output voltage by inducing an eddy current in the workpiece only by the excitation current set to a frequency higher than a predetermined frequency. Abnormal inspection equipment. 前記実工作物は、浸炭焼き入れが施された工作物である、請求項1−8の何れか一項に記載の工作物の異常検査装置。   The abnormal inspection apparatus for a workpiece according to any one of claims 1 to 8, wherein the actual workpiece is a workpiece that has been carburized and quenched. 前記センサは、前記工作物と相対回転させて励磁電流により前記工作物の内部に渦電流を誘導して出力電圧を得る、請求項1−9の何れか一項に記載の工作物の異常検査装置。   The abnormal inspection of a workpiece according to any one of claims 1 to 9, wherein the sensor rotates relative to the workpiece and induces an eddy current in the workpiece by an excitation current to obtain an output voltage. apparatus. 前記演算部は、前記実工作物と前記センサとを前記実工作物の回転軸線方向に第一ピッチで相対移動させる毎に前記実工作物と前記センサとを相対回転させ、前記実工作物について得られる前記センサの前記出力電圧の波形を周波数解析により周波数毎の出力値を演算し、前記実工作物と前記センサとを前記実工作物の回転軸線方向に第二ピッチで相対移動させつつ前記実工作物と前記センサとを相対回転させ、前記実工作物について得られる前記センサの前記出力電圧の波形を周波数解析により周波数毎の出力値を演算する、請求項10に記載の工作物の異常検査装置。   The arithmetic unit relatively rotates the actual workpiece and the sensor each time the actual workpiece and the sensor are relatively moved at a first pitch in the rotation axis direction of the actual workpiece. An output value for each frequency is calculated by frequency analysis of the waveform of the output voltage of the obtained sensor, and the actual workpiece and the sensor are relatively moved at a second pitch in the rotation axis direction of the actual workpiece. The abnormality of the workpiece according to claim 10, wherein an output value for each frequency is calculated by frequency analysis of a waveform of the output voltage of the sensor obtained for the actual workpiece by relatively rotating an actual workpiece and the sensor. Inspection device. 前記第一ピッチは、前記センサにおける前記実工作物の回転軸線方向の検出長と同じピッチであり、前記第二ピッチは、前記センサの検出長以上のピッチである、請求項11に記載の工作物の異常検査装置。   The machine tool according to claim 11, wherein the first pitch is the same pitch as a detection length of the actual workpiece in the rotation axis direction of the sensor, and the second pitch is a pitch greater than or equal to a detection length of the sensor. Abnormality inspection equipment for things. 前記演算部は、前記実工作物と前記センサとを前記実工作物の回転軸線方向に第三ピッチで相対移動させつつ前記実工作物と前記センサとを相対回転させ、前記実工作物について得られる前記センサの前記出力電圧の波形を周波数解析により周波数毎の出力値を演算する、請求項10に記載の工作物の異常検査装置。   The arithmetic unit obtains the actual workpiece by rotating the actual workpiece and the sensor relative to each other while moving the actual workpiece and the sensor relative to each other at a third pitch in the rotation axis direction of the actual workpiece. The workpiece abnormality inspection apparatus according to claim 10, wherein an output value for each frequency is calculated by frequency analysis of a waveform of the output voltage of the sensor. 前記第三ピッチは、前記センサにおける前記実工作物の回転軸線方向の検出長以下のピッチである、請求項13に記載の工作物の異常検査装置。   The workpiece abnormality inspection apparatus according to claim 13, wherein the third pitch is a pitch equal to or less than a detection length of the actual workpiece in the rotation axis direction of the sensor. 前記演算部は、前記実工作物と前記センサとを前記実工作物の回転軸線方向に第四ピッチで相対移動させる毎に前記実工作物と前記センサとを相対回転させ、相対一回転における所定の位相角度を相対一移動毎に一定角度分ずらした各位相角度における前記実工作物についての前記センサの前記出力電圧を得て、得られる前記出力電圧の波形を周波数解析により周波数毎の出力値を演算する、請求項10に記載の工作物の異常検査装置。   The arithmetic unit relatively rotates the actual workpiece and the sensor each time the actual workpiece and the sensor are relatively moved at a fourth pitch in the rotation axis direction of the actual workpiece, so that a predetermined one rotation is performed. The output voltage of the sensor for the actual workpiece at each phase angle obtained by shifting the phase angle by a fixed angle for each relative movement is obtained, and the waveform of the output voltage obtained is output by frequency analysis. The workpiece abnormality inspection apparatus according to claim 10, wherein 前記第四ピッチは、前記センサにおける前記実工作物の回転軸線方向の検出長以下のピッチである、請求項15に記載の工作物の異常検査装置。   16. The workpiece abnormality inspection apparatus according to claim 15, wherein the fourth pitch is a pitch equal to or less than a detection length of the actual workpiece in the rotation axis direction of the sensor. 前記センサは、前記工作物を加工している最中に、励磁電流により前記工作物の内部に渦電流を誘導して出力電圧を得る、請求項1−15の何れか一項に記載の工作物の異常検査装置。   The workpiece according to any one of claims 1 to 15, wherein the sensor induces an eddy current in the workpiece by an exciting current during machining of the workpiece to obtain an output voltage. Abnormality inspection equipment for things. 励磁電流により工作物の内部に渦電流を誘導して出力電圧を得る取得工程と、
検査対象の実工作物について得られる前記出力電圧の波形を周波数解析により周波数毎の出力値を演算する演算工程と、
周波数毎の前記出力値が前記出力値に対応する周波数毎の閾値を超えた場合に、前記実工作物が異常を有すると判定する判定工程と、
を備える工作物の異常検査方法。
An acquisition step of obtaining an output voltage by inducing an eddy current inside the workpiece by an excitation current;
A calculation step of calculating an output value for each frequency by frequency analysis of the waveform of the output voltage obtained for the actual workpiece to be inspected;
A determination step of determining that the actual workpiece has an abnormality when the output value for each frequency exceeds a threshold value for each frequency corresponding to the output value;
An abnormality inspection method for a workpiece comprising:
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