JP2017199367A - ポストパッケージリペアにおける記録及び使用を分析するための方法及びシステム - Google Patents
ポストパッケージリペアにおける記録及び使用を分析するための方法及びシステム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017199367A JP2017199367A JP2017082353A JP2017082353A JP2017199367A JP 2017199367 A JP2017199367 A JP 2017199367A JP 2017082353 A JP2017082353 A JP 2017082353A JP 2017082353 A JP2017082353 A JP 2017082353A JP 2017199367 A JP2017199367 A JP 2017199367A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- server system
- post
- memory module
- package repair
- memory
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/16—Error detection or correction of the data by redundancy in hardware
- G06F11/20—Error detection or correction of the data by redundancy in hardware using active fault-masking, e.g. by switching out faulty elements or by switching in spare elements
- G06F11/2053—Error detection or correction of the data by redundancy in hardware using active fault-masking, e.g. by switching out faulty elements or by switching in spare elements where persistent mass storage functionality or persistent mass storage control functionality is redundant
- G06F11/2094—Redundant storage or storage space
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F12/00—Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
- G06F12/02—Addressing or allocation; Relocation
- G06F12/06—Addressing a physical block of locations, e.g. base addressing, module addressing, memory dedication
- G06F12/0646—Configuration or reconfiguration
- G06F12/0653—Configuration or reconfiguration with centralised address assignment
- G06F12/0661—Configuration or reconfiguration with centralised address assignment and decentralised selection
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/08—Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
- G06F11/10—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
- G06F11/1004—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's to protect a block of data words, e.g. CRC or checksum
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/06—Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
- G06F3/0601—Interfaces specially adapted for storage systems
- G06F3/0602—Interfaces specially adapted for storage systems specifically adapted to achieve a particular effect
- G06F3/0614—Improving the reliability of storage systems
- G06F3/0619—Improving the reliability of storage systems in relation to data integrity, e.g. data losses, bit errors
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/06—Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
- G06F3/0601—Interfaces specially adapted for storage systems
- G06F3/0628—Interfaces specially adapted for storage systems making use of a particular technique
- G06F3/0655—Vertical data movement, i.e. input-output transfer; data movement between one or more hosts and one or more storage devices
- G06F3/0659—Command handling arrangements, e.g. command buffers, queues, command scheduling
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/06—Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
- G06F3/0601—Interfaces specially adapted for storage systems
- G06F3/0668—Interfaces specially adapted for storage systems adopting a particular infrastructure
- G06F3/0671—In-line storage system
- G06F3/0673—Single storage device
- G06F3/0679—Non-volatile semiconductor memory device, e.g. flash memory, one time programmable memory [OTP]
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
- G11C29/44—Indication or identification of errors, e.g. for repair
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/70—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
- G11C29/76—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using address translation or modifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/70—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
- G11C29/78—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices
- G11C29/835—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with roll call arrangements for redundant substitutions
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/70—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
- G11C29/88—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring with partially good memories
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/70—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
- G11C29/88—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring with partially good memories
- G11C29/883—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring with partially good memories using a single defective memory device with reduced capacity, e.g. half capacity
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/02—Disposition of storage elements, e.g. in the form of a matrix array
- G11C5/04—Supports for storage elements, e.g. memory modules; Mounting or fixing of storage elements on such supports
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2201/00—Indexing scheme relating to error detection, to error correction, and to monitoring
- G06F2201/805—Real-time
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2201/00—Indexing scheme relating to error detection, to error correction, and to monitoring
- G06F2201/85—Active fault masking without idle spares
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C2029/0407—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals on power on
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C2029/0409—Online test
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
- G11C2029/4402—Internal storage of test result, quality data, chip identification, repair information
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- Computer Security & Cryptography (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
- Hardware Redundancy (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Stored Programmes (AREA)
Abstract
Description
コンピュータネットワークは、ノードの地理的に分布した集合であり、これらのノードは、通信リンクとセグメントにより相互接続されて、2つの端点、例えば、パソコンやワークステーションの間でデータを送信する。あらゆるタイプのネットワークが応用でき、そのタイプの範囲は、ローカルエリアネットワーク(LAN)と広域ネットワーク(WAN)から、オーバーレイネットワークとソフトウェア定義型のネットワーク、例えば、仮想拡張可能LAN(virtual extensible local area networks,VXLANs)である。
さらに、オーバーレイネットワークは、仮想セグメント、例えば、VXLANオーバーレイネットワーク中のVXLANセグメントを含み、VMが通信する仮想L2、及び/又はL3オーバーレイネットワークを含むことができる。仮想セグメントは、仮想ネットワーク識別子(virtual network identifier,VNI)、例えば、VXLANネットワーク識別子により識別され、この識別子は、関連する仮想セグメント又はドメインを明確に識別することができる。
100C、101、102:サーバシステム
1012、1022、410、555:プロセッサ
1013、1023:メモリ制御モジュール
1014、1024、361、184:メモリ
1016、1026:BIOS
103:マイクロコントローラ
110:PSU
1118、1128:BMC
112:コントローラ
140、362:CPU
142、412:キャッシュ
144:サウスブリッジ(SB)論理回路
146:周辺機器相互接続(PCI)バス
150:周辺IO装置
152:TPMコントローラ
160:PCIeポート
170、172:PCIスロット
182:ノースブリッジ(NB)論理回路
200A、200B:例示的な方法
202、204、206、208、210、212、214、224、226、228、230、232、234、236、238:ステップ
300:計算装置
315、405:バス
368:インターフェイス
415:システムメモリ
420:リードオンリーメモリ
425:ランダムアクセスメモリ
430、570:ストレージ装置
432、434、436:モジュール
435、565:出力装置
440、590:通信インターフェイス
445:入力装置
560:チップセット
575:RAM
580:ブリッジ
585:ユーザインターフェイス部品
Claims (10)
- サーバシステムの特定のストレージから前記サーバシステムのメモリモジュールのポストパッケージリペア状態を受信して、前記メモリモジュールはポストパッケージリペアをサポートするステップと、
前記特定のストレージから複数のポストパッケージリペア変数を受信するステップと、
前記メモリモジュールにおいて、修復が必要なメモリエラーがあるかどうか判断するステップと、
少なくとも前記メモリモジュールの前記ポストパッケージリペア状態及び前記複数のポストパッケージリペア変数に基づいて、前記メモリモジュールの複数のバンクグループが少なくとも1つのスペアロウを有することを判断するステップと、
前記複数のバンクグループの前記少なくとも1つのスペアロウを使用して前記メモリエラーを修復するステップと、
前記サーバシステムの前記特定のストレージの前記ポストパッケージリペア状態をアップデートするステップと、
を含むことを特徴とする、サーバシステムでのポストパッケージリペア(PPR)のコンピュータ実行方法。 - 前記メモリモジュールはデュアルインラインメモリモジュール(DIMM)であることを特徴とする、請求項1に記載のコンピュータ実行方法。
- 少なくとも前記デュアルインラインメモリモジュールの前記ポストパッケージリペア状態及び前記複数のポストパッケージリペア変数に基づいて、前記デュアルインラインメモリモジュールの前記複数のバンクグループが少なくとも1つのスペアロウを有することを判断するステップと、
前記少なくとも1つのスペアロウを使用して前記メモリエラーを修復するステップと、
前記特定のストレージの前記ポストパッケージリペア状態をアップデートするステップと、
をさらに含むことを特徴とする、請求項2に記載のコンピュータ実行方法。 - 前記デュアルインラインメモリモジュールはダブル・データ・レート4(DDR4)同期型ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ(SDRAM)モジュールであることを特徴とする、請求項2に記載のコンピュータ実行方法。
- 前記特定のストレージは、前記サーバシステムの直列プレゼンス検出(SPD)モジュール、BIOS可変モジュール又はコントローラであり、前記特定のストレージは前記サーバシステムのBIOS又は前記コントローラから独立して操作可能であることを特徴とする、請求項2に記載のコンピュータ実行方法。
- 前記ポストパッケージリペア状態は、前記複数のバンクグループの第1サブセットの状態と、前記複数のバンクグループの第2サブセットの状態とを含み、前記複数のバンクグループの前記第1サブセットにおけるいずれか1つのバンクグループは少なくとも1つのスペアロウを有し、前記複数のバンクグループの前記第2サブセットにおけるバンクグループはスペアロウを有しないことを特徴とする、請求項2に記載のコンピュータ実行方法。
- サーバシステムであって、プロセッサと、コンピュータ可読媒体と、
を備え、
前記コンピュータ可読媒体は命令を記憶し、前記プロセッサにより前記命令が実行される場合、前記サーバシステムは以下のステップを実行し、そのステップは、
サーバシステムの特定のストレージから前記サーバシステムのメモリモジュールのポストパッケージリペア状態を受信して、前記メモリモジュールはポストパッケージリペアをサポートするステップと、
前記特定のストレージから複数のポストパッケージリペア変数を受信するステップと、
前記メモリモジュールにおいて、修復が必要なメモリエラーがあるかどうか判断するステップと、
少なくとも前記メモリモジュールの前記ポストパッケージリペア状態及び前記複数のポストパッケージリペア変数に基づいて、前記メモリモジュールの複数のバンクグループが少なくとも1つのスペアロウを有することを判断するステップと、
前記複数のバンクグループの前記少なくとも1つのスペアロウを使用して前記メモリエラーを修復するステップと、
前記サーバシステムの前記特定のストレージの前記ポストパッケージリペア状態をアップデートするステップと、
を含むことを特徴とする、サーバシステム。 - 前記メモリモジュールはデュアルインラインメモリモジュール(DIMM)であることを特徴とする、請求項7に記載のサーバシステム。
- 前記プロセッサにより前記命令が実行される場合、前記サーバシステムは以下のステップを実行し、そのステップは、
少なくとも前記デュアルインラインメモリモジュールの前記ポストパッケージリペア状態及び前記複数のポストパッケージリペア変数に基づいて、前記デュアルインラインメモリモジュールの前記複数のバンクグループが少なくとも1つのスペアロウを有することを判断するステップと、
前記少なくとも1つのスペアロウを使用して前記メモリエラーを修復するステップと、
前記特定のストレージの前記ポストパッケージリペア状態をアップデートするステップと、
をさらに含むことを特徴とする、請求項8に記載のサーバシステム。 - 前記デュアルインラインメモリモジュールはダブル・データ・レート4(DDR4)同期型ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ(SDRAM)モジュールであることを特徴とする、請求項8に記載のサーバシステム。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US15/138,865 | 2016-04-26 | ||
| US15/138,865 US20170308447A1 (en) | 2016-04-26 | 2016-04-26 | Methods and systems for analyzing record and usage in post package repair |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2017199367A true JP2017199367A (ja) | 2017-11-02 |
Family
ID=58692289
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2017082353A Pending JP2017199367A (ja) | 2016-04-26 | 2017-04-18 | ポストパッケージリペアにおける記録及び使用を分析するための方法及びシステム |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20170308447A1 (ja) |
| EP (1) | EP3239984B1 (ja) |
| JP (1) | JP2017199367A (ja) |
| CN (1) | CN107315690A (ja) |
| TW (1) | TWI626537B (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020057257A (ja) * | 2018-10-03 | 2020-04-09 | 富士通株式会社 | 情報処理装置及び修復管理プログラム |
Families Citing this family (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106992885B (zh) * | 2017-03-28 | 2020-07-24 | 联想(北京)有限公司 | 一种服务器系统中识别设备的方法及服务器系统 |
| US10854242B2 (en) * | 2018-08-03 | 2020-12-01 | Dell Products L.P. | Intelligent dual inline memory module thermal controls for maximum uptime |
| CN111507483A (zh) * | 2019-01-30 | 2020-08-07 | 鸿富锦精密电子(天津)有限公司 | 返修板检测装置、方法及计算机可读存储介质 |
| US11394693B2 (en) * | 2019-03-04 | 2022-07-19 | Cyxtera Cybersecurity, Inc. | Establishing network tunnel in response to access request |
| US11373726B2 (en) * | 2019-04-03 | 2022-06-28 | Texas Instruments Incorporated | Management of multiple memory in-field self-repair options |
| US10770164B1 (en) | 2019-05-02 | 2020-09-08 | International Business Machines Corporation | Soft post package repair function validation |
| CN110795267B (zh) * | 2019-10-29 | 2023-07-07 | Oppo(重庆)智能科技有限公司 | 分层自动恢复方法及相关设备 |
| US11107549B2 (en) * | 2019-12-16 | 2021-08-31 | Microsoft Technology Licensing, Llc | At-risk memory location identification and management |
| US11307785B2 (en) * | 2020-02-26 | 2022-04-19 | Dell Products L.P. | System and method for determining available post-package repair resources |
| CN113821364B (zh) | 2020-06-20 | 2025-07-04 | 华为技术有限公司 | 内存故障的处理方法、装置、设备及存储介质 |
| US11106529B1 (en) * | 2020-07-22 | 2021-08-31 | Dell Products L.P. | Post package repair failure memory location reporting system |
| CN113064773B (zh) * | 2021-03-08 | 2023-03-24 | 山东英信计算机技术有限公司 | 一种内存ppr测试与修复方法、系统及存储介质 |
| US11829635B2 (en) * | 2021-10-21 | 2023-11-28 | Dell Products L.P. | Memory repair at an information handling system |
| CN114816939B (zh) * | 2022-05-31 | 2024-06-28 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种内存通信方法、系统、设备及介质 |
| KR20240069474A (ko) | 2022-11-11 | 2024-05-20 | 삼성전자주식회사 | 메모리 장치 및 사용 기록 관리 방법 |
| TWI845166B (zh) * | 2023-02-16 | 2024-06-11 | 神雲科技股份有限公司 | 記憶體模組錯誤之顯示方法 |
| US12512180B2 (en) * | 2023-03-31 | 2025-12-30 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method and system for repairing a dynamic random access memory (dram) of memory device |
| US12578969B2 (en) * | 2023-10-17 | 2026-03-17 | Dell Products L.P. | Bios code storage subsystem modification system wherein based on first or second initialization of computing device perform a reboot |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05258560A (ja) * | 1992-02-10 | 1993-10-08 | Tsuoi Chii Ie | 透過性メモリ体の欠陥マスク装置 |
| JP2015207329A (ja) * | 2014-04-21 | 2015-11-19 | マイクロン テクノロジー, インク. | 半導体装置およびその制御方法 |
| WO2015199700A1 (en) * | 2014-06-26 | 2015-12-30 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Post package repair (ppr) data in non-volatile memory |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7835207B2 (en) * | 2008-10-07 | 2010-11-16 | Micron Technology, Inc. | Stacked device remapping and repair |
| US8902638B2 (en) * | 2011-09-16 | 2014-12-02 | Inphi Corporation | Replacement of a faulty memory cell with a spare cell for a memory circuit |
| US9165679B2 (en) * | 2012-09-18 | 2015-10-20 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Post package repairing method, method of preventing multiple activation of spare word lines, and semiconductor memory device including fuse programming circuit |
| TWI492049B (zh) * | 2013-02-06 | 2015-07-11 | Ibm | 記憶體模組狀態指示方法及裝置 |
| US9438675B2 (en) * | 2013-08-29 | 2016-09-06 | International Business Machines Corporation | Dispersed storage with variable slice length and methods for use therewith |
| US9202595B2 (en) * | 2013-11-12 | 2015-12-01 | Micron Technology, Inc. | Post package repair of memory devices |
| US9213491B2 (en) * | 2014-03-31 | 2015-12-15 | Intel Corporation | Disabling a command associated with a memory device |
| US9343184B2 (en) * | 2014-04-07 | 2016-05-17 | Micron Technology, Inc. | Soft post package repair of memory devices |
| US9043638B1 (en) * | 2014-11-14 | 2015-05-26 | Quanta Computer Inc. | Method for enhancing memory fault tolerance |
-
2016
- 2016-04-26 US US15/138,865 patent/US20170308447A1/en not_active Abandoned
- 2016-06-13 TW TW105118364A patent/TWI626537B/zh not_active IP Right Cessation
- 2016-07-18 CN CN201610564923.9A patent/CN107315690A/zh active Pending
-
2017
- 2017-04-06 EP EP17165233.2A patent/EP3239984B1/en active Active
- 2017-04-18 JP JP2017082353A patent/JP2017199367A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05258560A (ja) * | 1992-02-10 | 1993-10-08 | Tsuoi Chii Ie | 透過性メモリ体の欠陥マスク装置 |
| JP2015207329A (ja) * | 2014-04-21 | 2015-11-19 | マイクロン テクノロジー, インク. | 半導体装置およびその制御方法 |
| WO2015199700A1 (en) * | 2014-06-26 | 2015-12-30 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Post package repair (ppr) data in non-volatile memory |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020057257A (ja) * | 2018-10-03 | 2020-04-09 | 富士通株式会社 | 情報処理装置及び修復管理プログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP3239984B1 (en) | 2020-01-01 |
| CN107315690A (zh) | 2017-11-03 |
| US20170308447A1 (en) | 2017-10-26 |
| TWI626537B (zh) | 2018-06-11 |
| EP3239984A1 (en) | 2017-11-01 |
| TW201738746A (zh) | 2017-11-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2017199367A (ja) | ポストパッケージリペアにおける記録及び使用を分析するための方法及びシステム | |
| JP6484316B2 (ja) | ファームウェアを遠隔更新するシステム及び方法 | |
| JP6463814B2 (ja) | ブートのハードウェア周波数を動的に最適化するシステム及び方法 | |
| US10541868B2 (en) | System and method for automatically updating bios setup options | |
| JP6559842B2 (ja) | マルチノードシステムファン制御スイッチ | |
| US10127055B2 (en) | iSCSI based bare metal OS image deployment and diskless boot | |
| CN107346292B (zh) | 服务器系统及其计算机实现的方法 | |
| JP6462034B2 (ja) | ダウンストリームコンポーネンツに新鮮な空気を送る冷却システム | |
| JP6805116B2 (ja) | Psuの待機電源が機能しない場合に動作可能なサーバシステム | |
| US9043638B1 (en) | Method for enhancing memory fault tolerance | |
| EP3985508A1 (en) | Network state synchronization for workload migrations in edge devices | |
| US9967139B2 (en) | Remote zone management of JBOD systems | |
| CN108334421A (zh) | 使用wol的系统恢复 | |
| US20250036783A1 (en) | Network interface device-based memory access to reduce write amplification factor and provide attestation |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180109 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20180403 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180706 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20181225 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190325 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20190402 |