JP2017191083A - 輝点画像取得装置および輝点画像取得方法 - Google Patents

輝点画像取得装置および輝点画像取得方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2017191083A
JP2017191083A JP2016094127A JP2016094127A JP2017191083A JP 2017191083 A JP2017191083 A JP 2017191083A JP 2016094127 A JP2016094127 A JP 2016094127A JP 2016094127 A JP2016094127 A JP 2016094127A JP 2017191083 A JP2017191083 A JP 2017191083A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
bright spot
light
bright
camera
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2016094127A
Other languages
English (en)
Inventor
西澤 眞人
Masato Nishizawa
眞人 西澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ideaquest Inc
Original Assignee
Ideaquest Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ideaquest Inc filed Critical Ideaquest Inc
Priority to JP2016094127A priority Critical patent/JP2017191083A/ja
Publication of JP2017191083A publication Critical patent/JP2017191083A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Image Processing (AREA)
  • Studio Devices (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Abstract

【課題】被写体である被測定物の表面に反射率が異なる部分があっても、又、被測定物の表面の一部分にのみ強い光が入射するような場合でも、被測定物の輝点画像を全体に亘って比例的に取得可能とするものである。【解決手段】被測定物13に輝点パターンを投光する輝点投光器2と、輝点投光器2とは異なるタイミングで一様光を被測定物13に投光する背景光投光器4と、前記2個の投光器の投光タイミング、および前記2個の投光器いずれも投光しない外光のみのタイミングを制御する投光器制御部6を設け、輝点を撮像するカメラ5が取得・出力する輝点画像と背景画像および外光のみ画像を合成して、被測定物13の反射率の違いによる輝点画像の明るさの違いを補正する画像処理部7を有する。【選択図】図1

Description

本発明は,対象物体の3次元計測を行う技術に関する。
本発明は、赤外線等の光線を複数に分割して被測定物に投光し、該被測定物から反射される輝点群を撮影した画像から被測定物の形状に関する3次元距離情報を取得する装置における、輝点画像取得装置および輝点画像取得方法に関する。このような装置としては日本特許第3764949号に示される状態解析装置がある。(特許文献1)
この装置では光源として赤外線レーザー光が使用され、ファイバーグレーティングを使用して、被測定物に複数の輝点アレイであるパターン光が投影される。このような輝点投光器からの光線は被測定物で反射され、その画像がカメラで撮像される。カメラで撮像された画像の輝点の情報を使って被測定物の3次元距離情報を取得する。
しかしながら、被写体や被測定物の表面が、投光する光線に対する反射率が一様ではなく、部分的に異なる場合には、輝点画像が上手く抽出できなかったり、輝点群を抽出するための処理が複雑になったりすることがある。これは反射率が極端に異なる生地が分布しているような洋服を着用している人物を撮像したような場合に生じる。
又、表面の一部分にのみ自然光や外部光が当たっているような被測定物を測定する場合にも同様な問題が生じる。
このような場合に、従来は、より正確に測定する為に、画像をブロックに分けて各ブロック毎の閾値を計算する方法が使われていた。(特許文献2)。しかし、この場合には、輝点画像の演算処理が重くなり、結果として被対象物を継続して監視するような用途では、実時間で演算処理することが難しくなっていた。
日本特許第3764949号 日本特許第3465226号
本発明の課題は、被写体である被測定物の表面に反射率が異なる部分があっても、輝点撮像装置が被測定物の画像を全体に亘って比例的に取得可能とするものである。即ち、反射率の異なる表面を有する被測定物であっても容易に個々の輝点を抽出することができる輝点画像取得装置および輝点画像取得方法を提供するものである。
又、被測定物の表面の一部分にのみ強い光が入射するような場合であっても、被測定物全体の輝点画像を取得可能にするものである。
本発明は、被測定物に輝点パターンを投光する輝点投光器と、該輝点投光器から離れた位置に配置され、前記被測定物からの輝点投光の反射光から輝点画像を取得・出力するカメラと該カメラの出力信号を演算処理して3次元距離情報を取得する装置において、更に、前記輝点投光器とは異なるタイミングで一様光を前記被測定物に投光する背景光投光器、および前記2個の投光器の投光タイミングおよび前記2個の投光器いずれも投光しない外光のみのタイミングを制御する制御器を設け、前記カメラが取得・出力する輝点画像と背景画像および外光のみ画像を合成して、前記被測定物の反射率の違いによる輝点画像の明るさの違いを補正する画像処理部を有する輝点画像取得装置である。
本発明は、一様光を被測定物に投光する背景光投光時に被測定物を撮影するカメラから取得した背景画像と、前記被測定物にドット状の輝点を投光した時にカメラから取得した輝点画像と、背景光投光時および輝点投光時を除く期間にカメラから取得した外光のみ画像を用い、前記背景画像および前記輝点画像から前記外光のみ画像を除去して、外光のみ画像を除去した背景画像の輝度の逆数を用いた補正係数マップ画像を作成し、該補正係数マップ画像の補正係数を正規化したうえで、外光のみ画像を除去した輝点画像に掛け算することにより輝点画像の輝度を補正する輝点画像取得方法を採用する。
本発明の画像処理部は前記外光のみ画像を除去した前記背景画像を導入し、前記カメラが出力する画像の各部の輝度をカメラの最大出力に合わせる補正係数の演算手段と、前記補正係数が最小値1となるように補正係数を合わせる補正係数正規化手段と、前記外光のみ画像を除去した輝度画像を前記補正係数正規化手段が生成する補正係数を使って正規化する正規化手段を含む。
本発明は被測定物全体を一様に照明する投光器を増設することで、反射率の異なる被測定物であっても容易に輝点を抽出することができる輝点画像取得装置および輝点画像取得方法である。
本発明は前記輝点投光器と前記背景光投光器を、異なるタイミングで投光するとともに、どちらの投光器も発光しない期間を設ける投光器制御部を有し、外光のみ画像を取得して、カメラから取得する輝点画像の輝度を補正する輝点画像取得装置である。
本発明によれば、被測定物の表面の一部分に強い外光を受けている状態で、且、被測定物の表面が部分的に反射率の異なるものであっても、輝点の画像を正確に抽出し、この輝点画像を演算処理して得られる3次元形状をより短い演算時間で取得することができる。
は本発明の実施例の構成を示すブロック図である。 は被測定物の配置を示す平面図である。 は実施例の制御信号の例を示す、タイミング波形図である。 は実施例の輝点画像輝度補正手段10の内部を更に詳細に図示したブロック図である。 は実施例の構成の各部の信号波形を示す説明図である。
以下、本発明に係る一実施例の実施形態について、図面を参照して説明する。実施例は動作の説明が容易なようにハードウェアを並べたもので説明するが、制御部等はコンピュータのソフトウェア処理でも同様に実施できる。
図1は本発明の一実施例の構成を示すブロック図である。
本発明の輝点画像取得装置では、図1に示すように、被測定物13に赤外線の輝点31を投光する輝点投光器2および輝点投光器2を駆動する輝点投光器駆動回路1に加え、同じ被測定物13に別に、パターン光とは異なる一様な赤外線32を投光する背景光投光器4および背景光投光器4を駆動する背景光投光器駆動回路3を有する。光源は赤外線レーザーでも赤外線LEDでも良い。
輝点投光器駆動回路1および背景光投光器駆動回路3は画像処理部7内の投光器制御部6に接続され、投光器制御部6の出力信号である輝点投光器制御信号14および背景投光器制御信号15により制御される。本実施例では輝点投光器駆動回路1、背景光投光器駆動回路3および投光器制御部6を独立した構成としたが、これらは全体又は一部を合体してより個数の少ない制御部とすることも可能であり、それぞれの制御信号を出力できるものであれば良い。投光器制御部は後述のカメラ5、輝点画像受信部8や背景画像受信部9の動作タイミングを制御する制御信号も供給する。
被測定物13で反射された赤外線31および赤外線32はカメラ5で撮像される。カメラ5の出力である映像信号16は輝点画像受信部8、背景画像受信部9および外光画像受信部33に導入される。
輝点画像受信部8および外光画像受信部33の出力信号は輝点画像外光除去手段28に取り込まれ、外光有り輝点画像の各画素の輝度値から、外光のみ画像の各画素の輝度値を引くことで、外光の影響の除去された輝点画像を得る。外光の影響の除去された輝点画像は輝点画像輝度補正手段10に取り込まれる。
背景画像受信部9および外光画像受信部33の出力信号は背景画像外光除去手段26に取り込まれ、外光有り背景画像の各画素の輝度値から、外光のみ画像の各画素の輝度値を引くことで、外光の影響の除去された背景画像を得る。外光の影響の除去された背景画像は輝点画像輝度補正手段10に取り込まれる。
外光の影響の除去された輝点画像25および外光の影響の除去された背景画像24は輝点画像輝度補正手段10に取り込まれ本発明による輝度補正処理が実行される。輝点補正手段10の出力は従来例と同じく、距離計測手段11に導出され、距離画像処理部12で演算処理され、3次元距離情報が得られる。
まず、本発明の特徴である、輝度の補正について説明する。被測定物13として、図2a〜図2cに示すような、布製の生地A101の上に、生地Aとは反射率が異なる生地B102および生地Aおよび生地Bとも反射率が異なる生地C103が置かれているものとする。図2は被測定物の配置を示す平面図である。
図2aは可視光が投光された場合の反射光による画像20を示し、図2bは赤外線が投光された場合の反射光による画像22を示す。図2cはカメラ5の出力である輝点画像21を示す。いずれも外光が差し込まない状態を示す。表面の一部分に外光がある場合の説明は図5により後述する。
ここで被測定物の例として、101で示す生地Aと102で示す生地Bおよび103で示す生地Cが比較の為に配置されている。投光される光線に依存する反射率の違いにより、画像図2aと画像図2bに示されるような被測定物をカメラで撮像した場合には異なる画像が得られる。この反射率の相違による影響は、同じ被測定物に輝点赤外線を投光した場合のカメラの輝点画像でも同様に影響を受ける。このように生地の反射率の違いによる画像の違いは、人体そのものの姿勢や位置情報を得ようとする場合や、人体を着衣のまま測定して呼吸波形を測定する場合に現れて問題となる。
被写体・被測定物の部分によって反射率が異なるので、画面全体の輝点画像を得ようとすると、部分的に明るくなって輝点間の区別がつかない場合や、部分的に暗く沈んでしまって、やはり輝点の区別がつかなくなったり、輝点情報の取得に時間がかかってしまうという不都合が生じる。輝点を抽出するための閾値が異なる、輝点情報の演算時間が増えたり、輝点が上手く抽出できないことがある。
図3は投光器制御部6が出力する制御信号の例を示す、タイミング波形図である。図3aで35が輝度投光制御信号であり、図3bで34が背景投光制御信号である。ここでは波形信号34、35いずれも投光OFFで、どちらの投光器も光っていない期間29が存在する。この期間にカメラ5が外光画像を取得する期間となる。
図3cで、波形信号34、35の下部に、各タイミングにおけるカメラ5からの出力である、背景画像22、輝度画像21、外光画像23の概略を示す。
輝点投光器2と背景光投光器4は、相互に異なるタイミング(図3a、b)で被測定物13を投光し、カメラ5にはそれぞれ、輝点画像21、背景光画像22、が取り込まれる。また、どちらの投光器も光っていない期間29に外光画像23がカメラ5に取り込まれる。
輝点投光器2が投光する赤外線31の波長と、背景光投光器4が投光する赤外線32の波長は同じ波長であるのが望ましいが、これらの波長が多少異なり、例えば、輝点投光器2の波長が808nmで背景光投光器4の波長が810nmまたは850nmであっても、ほぼ問題なく実施可能である。
図4は第1図に示した輝点画像輝度補正手段10の内部を更に詳細に図示したブロック図である。
背景画像外光除去手段26は背景画像受信部9と外光画像受信部33に接続され、外光有り背景画像22の各画素の輝度値から、外光のみ画像23の各画素の輝度値を減算することで、外光の影響が除去された背景画像24を得る。
輝点画像外光除去手段28は輝点画像受信部8と外光画像受信部33に接続され、外光有り輝点画像21の各画素の輝度値から、外光のみ画像23の各画素の輝度値を減算することで、外光の影響が除去された輝点画像25を得る。
輝点画像外光除去手段28の出力信号である外光の影響が除去された輝点画像25は正規化手段19に導入される。背景画像外光除去手段26の出力信号である外光の影響の除去された背景画像24は補正係数演算手段17に導入される。
外光の影響の除去された背景画像24から被写体である被測定物表面のそれぞれの位置の輝度を求める。100%の反射率の被写体が存在した時の輝度は未知だが、それぞれの位置の輝度はその位置の反射率に比例した輝度が求まる。
生地A101の部分の反射率が80%、生地B102の部分の反射率が20%、生地C103の部分の反射率が40%とした場合、8ビットの出力が得られるカメラ5で、反射率100%の被写体の映像出力を255とした場合、生地A101の部分では204、生地B102の部分では61、生地C103の部分では102の出力値が得られる。
カメラ5のシャッター速度、背景光の照射強度が変わって、反射率100%の被写体での出力が100であるときには、生地A101の部分は80、生地B102の部分は20、生地C103の部分は40の出力となる。
いずれの場合も、生地C103の部分の出力は生地A101の部分の半分であり、生地B102の部分の出力は生地A101の部分の出力の1/4である。
補正係数演算手段17では、例えばカメラの最大出力255に各生地の部分が正規化されるように、「255/各生地の部分の出力」を補正係数として求めることが出来る。
最初の例では、生地A101の補正係数は255/204、生地B102の補正係数は255/61、生地C103の補正係数は255/102となる。
2番目の例では、生地A101の補正係数は255/80、生地B102の補正係数は255/20、生地C103の補正係数は255/40となる。
このようにして、カメラ5の出力画像1画素毎に補正係数を求めたものが、補正係数マップ画像23となる。このカメラ5では1画面が640×480の画素で構成されている。
更に一番小さい補正係数が1になるように、補正係数の最小値で各画素の補正係数を割った値を各画素の正規化補正係数とし求めたものが、正規化補正係数マップ画像24として補正係数正規化手段18から導出される。
カメラ5で得られた輝点投光器2からの信号は輝度画像受信部8で輝点画像信号21として出力される。当然、各輝点の輝度は、どの生地の部分に当たって反射したかで、異なる。
正規化手段19内で、外光の影響が除去された輝点画像25の各画素に、補正係数正規化手段18が導出する正規化補正係数マップ画像の各画素の正規化補正係数を掛けることにより、各生地の部分の輝点の輝度の最大値が一様となるように補正され、正規化輝点画像25として導出される。
以上の補正により、反射率の異なる被写体であっても、輝点の最大値が一様となり、輝点を抽出する二値化閾値が画面全体で求められるので、演算処理が高速化できる。また、輝点の白飛びや輝点が暗く沈みことによる輝点の未抽出が減り、結果として画面全体に精度の高い3次元計測が出来る。
輝点画像補正手段10の出力は距離計測手段11に導入され、以後従来例と同様に処理され、被測定物の3次元距離情報が計測される。
次に、被測定物の一部分にのみ太陽光や室内光等の外光が入射して、被測定物の表面の明るさが極端に異なる場合の補正の例を図5に示す。図5は実施例の構成の各部の信号波形を示す説明図である。
カメラ5が導出する映像は、図5における輝点画像21および背景画像22のように被測定物の表面の一部に強い外光を受けている為、画像下部に外光の影響が表れている。図5aおよび図5c。このような状況では取得した画像の処理が難しくなるため、本発明による補正を行う。
背景画像外光除去手段26は外光有り背景画像22の各画素の輝度値から、外光のみ画像23の各画素の輝度値を減算することで、外光の影響の除去された背景画像24を導出する。図5d。
輝点画像外光除去手段28は外光有り輝点画像21の各画素の輝度値から、外光のみ画像23の各画素の輝度値を減算することで、外光の影響の除去された輝点画像25を導出する。図5e。
外光の影響の除去された背景画像24は補正係数演算手段17で演算処理され、補正係数マップ画像36が導出される。図5f。
補正係数マップ画像36は補正係数正規化手段18で図4で説明したような演算処理がされ、正規化補正マップ画像37として導出される。図5g。
外光の影響の除去された輝点画像25は正規化手段19で正規化補正マップ画像37を使って正規化輝点画像38が導出される。図5h。ここで得られる輝点の位置情報より、距離計測手段11で被測定物の形状に関する3次元距離情報が得られる。
以上の説明では3次元距離情報の取得にドット状のパターン光を使って説明したが、本発明はドット状に限定されるものでは無く、他のパターンを使用した場合にも適用が可能である。
以上説明したとおり、本発明によれば、被測定物の表面が、部分的に反射率の異なるものであっても、輝点の画像を正確に抽出し、この輝点画像を演算処理して得られる3次元形状をより短い演算時間で取得することができる。
本発明によれば,従来装置では計測困難だった,撮影光について極端に異なる反射率を有する被測定物の反射輝点画像を画面全体に亘って比例的に取得可能となり、距離画像測定の範囲の増大や、測定演算処理の時間短縮に有用であるため、従来はできなかった新たな分野での利用も促進するものである。
1 輝点投光器駆動回路
2 輝点投光器
3 背景光投光器駆動回路
4 背景光投光器
5 カメラ
6 投光器制御部
7 画像処理部
8 輝点画像受信部
9 背景画像受信部
10 輝点画像補正手段
11 距離計測手段
12 距離画像処理部
13 被測定物
14 輝点投光器制御信号
15 背景投光器制御信号
16 映像信号
21 外光有り輝点画像
22 外光有り背景画像
23 外光のみ画像
24 外光除去背景画像
25 外光除去輝点画像
26 背景画像外光除去手段
28 輝点画像外光除去手段
31 赤外線の輝点投光
32 一様な赤外線
34 背景投光制御信号
35 輝点投光制御信号
36 補正係数マップ画像
37 正規化補正係数マップ画像
38 正規化輝点画像
101 生地A
102 生地B
103 生地C

Claims (3)

  1. 被測定物に輝点パターンを投光する輝点投光器と、該輝点投光器から離れた位置に配置され、前記被測定物からの輝点投光の反射光から輝点画像を取得・出力するカメラと該カメラの出力信号を演算処理して3次元距離情報を取得する装置において、更に、前記輝点投光器とは異なるタイミングで一様光を前記被測定物に投光する背景光投光器、および前記2個の投光器の投光タイミングおよび前記2個の投光器いずれも投光しない外光のみタイミングを制御する制御器を設け、前記カメラが取得・出力する輝点画像と背景画像および外光のみ画像を合成して、前記被測定物の反射率の違いによる輝点画像の明るさの違いを補正する画像処理部を有することを特徴とする輝点画像取得装置。
  2. 一様光を被測定物に投光する背景光投光時に被測定物を撮影するカメラから取得した背景画像と、前記被測定物に輝点パターンを投光した時にカメラから取得した輝点画像と、背景光投光時および輝点投光時を除く期間にカメラから取得した外光のみ画像を用い、前記背景画像および前記輝点画像から前記外光のみ画像を除去して、外光のみ画像を除去した背景画像の輝度の逆数を用いた補正係数マップ画像を作成し、補正係数マップ画像の補正係数を正規化したうえで、外光のみ画像を除去した輝点画像に掛け算することにより輝点画像の輝度を補正することを特徴とする輝点画像取得方法。
  3. 前記画像処理部は前記外光のみ画像を除去した前記背景画像を導入し、前記カメラが出力する画像の各部の輝度をカメラの最大出力に合わせる補正係数の演算手段と、前記補正係数が最小値1となるように補正係数を合わせる補正係数正規化手段と、前記外光のみ画像を除去した輝度画像を前記補正係数正規化手段が生成する補正係数を使って正規化する正規化手段よりなる特許請求の範囲第1項記載の輝点画像取得装置。
JP2016094127A 2016-04-15 2016-04-15 輝点画像取得装置および輝点画像取得方法 Pending JP2017191083A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016094127A JP2017191083A (ja) 2016-04-15 2016-04-15 輝点画像取得装置および輝点画像取得方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016094127A JP2017191083A (ja) 2016-04-15 2016-04-15 輝点画像取得装置および輝点画像取得方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2017191083A true JP2017191083A (ja) 2017-10-19

Family

ID=60085847

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016094127A Pending JP2017191083A (ja) 2016-04-15 2016-04-15 輝点画像取得装置および輝点画像取得方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2017191083A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112154352A (zh) * 2018-05-21 2020-12-29 脸谱科技有限责任公司 用于深度感测系统的动态结构化光

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112154352A (zh) * 2018-05-21 2020-12-29 脸谱科技有限责任公司 用于深度感测系统的动态结构化光
JP2021524021A (ja) * 2018-05-21 2021-09-09 フェイスブック・テクノロジーズ・リミテッド・ライアビリティ・カンパニーFacebook Technologies, Llc 深度検知システム用の動的構造化光
JP7307093B2 (ja) 2018-05-21 2023-07-11 メタ プラットフォームズ テクノロジーズ, リミテッド ライアビリティ カンパニー 深度検知システム用の動的構造化光
US11703323B2 (en) 2018-05-21 2023-07-18 Meta Platforms Technologies, Llc Multi-channel depth estimation using census transforms
US11740075B2 (en) 2018-05-21 2023-08-29 Meta Platforms Technologies, Llc Dynamic adjustment of structured light for depth sensing systems based on contrast in a local area

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11381753B2 (en) Adjusting camera exposure for three-dimensional depth sensing and two-dimensional imaging
JP4548542B1 (ja) 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム
US11023039B2 (en) Visual line detection apparatus and visual line detection method
WO2017056776A1 (ja) 距離画像取得装置付きプロジェクタ装置及びプロジェクション方法
JP6381654B2 (ja) 視線検出装置
JP7401013B2 (ja) 情報処理装置、制御装置、情報処理方法及びプログラム
JP2014027597A (ja) 画像処理装置、物体識別装置、及びプログラム
US10223779B2 (en) Superimposed image creation apparatus and superimposed image creation method
JP6900994B2 (ja) 視線検出装置及び視線検出方法
JP2006285763A (ja) 被写体についての陰影のない画像を生成する方法および装置、並びにそれに用いる白色板
JP7477456B2 (ja) 制御されていない環境において歯のシェードを評価する方法及びシステム
JPWO2016170604A1 (ja) 内視鏡装置
JP2016028669A (ja) 瞳孔検出装置、および瞳孔検出方法
JP2001285762A (ja) 画像印刷装置
JP2017191082A (ja) 輝点画像取得装置および輝点画像取得方法
CN110235442B (zh) 投射型影像显示装置
JP2017191083A (ja) 輝点画像取得装置および輝点画像取得方法
JP5905572B2 (ja) 三次元顔計測装置、制御方法、プログラム、及び記憶媒体
JP7028814B2 (ja) 外形認識装置、外形認識システム及び外形認識方法
JP6432968B2 (ja) 物体形状推定装置及びプログラム
JP6939501B2 (ja) 画像処理システム、画像処理プログラム、および画像処理方法
JP5287792B2 (ja) 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム
EP3430472B1 (en) Method of producing video images that are independent of the background lighting
JP6693149B2 (ja) 瞳孔検出装置、および瞳孔検出方法
KR20190110246A (ko) 구강 스캐너