JP2017187413A - 分析装置 - Google Patents

Abstract

【課題】セキュリティを損なうことなく、様々なレベルの使用者が分析装置のそれぞれに対応した測定条件を容易に設定することができる分析装置を提供する。
【解決手段】分析装置１０は、外部から与えられる測定条件に従い試料の分析を行う分析部（分光光度計１１、測定制御部１４１）と、非接触式ICカード読み取り器１２と、同定情報とそれに対応する測定条件を記憶しておく記憶部１３と、非接触式ICカード読み取り器１２で読み取られた非接触式ICカードの同定を行うカード同定部１４２と、同定された非接触式ICカードの同定情報に対応する測定条件を記憶部１３から読み出し、前記分析部に与える条件設定部１４３とを備える。
【選択図】図２

Description

本発明は、クロマトグラフ、分光装置など、様々な材料分析装置に関し、特に、分析装置を管理する装置に関する。

分析装置を使用するにあたり、測定者は測定前に、測定すべき試料に対応する測定条件を分析装置に設定した上で、試料を試料台又は試料室にセットして測定を行う。この測定条件を設定する際は、スタンドアロン型の分析装置では、装置本体に設けられた表示部を見ながら測定者が本体取付のキーボード等の入力部から値を入力する。分析装置がコンピュータに接続され、該コンピュータにインストールされた制御プログラムにより制御されるように構成されている場合は、測定者は該制御プログラムの制御の下で、該コンピュータの大きな表示画面を見ながら、キーボードやマウス等の操作性の良い入力機器から複雑な測定条件を入力する。いずれの場合でも、1回設定した測定条件は、再利用できるように保存しておくことができるようになっており、類似の測定を行う際には保存してある測定条件を呼び出し、容易に手直しすることもできるようになっている。

分析装置は複数の測定者により使用されることが多いが、その場合、一般には前の測定者がその分析装置に設定した条件は後の測定者により変更される。また、試料の種類によっては測定装置や測定自体に関して十分な知識を持たない測定者に測定を任せることもあるが、そのような場合には、測定の正確性、再現性を確保するために、測定者には測定条件の変更を許さず、既定の条件で測定を実行させることが望ましい。その場合、測定装置において使用者の確認（同定）を行い、使用者に応じて測定条件の設定や変更に制限を設けるということが行われている。

特開2014-089092号公報

前述の通り、1回設定された測定条件は保存されており、類似の測定を行う際にはそれを呼び出して容易に手直しすることができるようになっているが、そのように保存されている測定条件が極めて多数となった場合、目的の測定条件を呼び出し、正しく選択することが困難となってくる。

また、測定者に応じて測定条件の設定や変更に制限を設けるためには測定者を正しく確認（同定）する必要があり、また、悪意のある侵入者からシステムを保護するために、その際の確認を厳格にする必要がある。しかし、そのようにセキュリティを厳格にしようとする場合、同定番号（記号、ID）やパスワードを複雑なものにしなければならないが、それらが複雑になればなるほど入力に時間がかかり、誤入力も増える。また、複雑なパスワードほど忘れやすくなり、その場合、測定が不可能となる。

本発明が解決しようとする課題は、分析装置や分析装置システムのセキュリティを損なうことなく、測定条件を容易に設定することができる分析装置を提供することである。

上記課題を解決するために成された本発明に係る分析装置は、
a) 外部から与えられる測定条件に従い試料の分析を行う分析部と、
b) 非接触式ICカード読み取り器と、
c) 同定情報とそれに対応する測定条件を記憶しておく記憶部と、
d) 前記非接触式ICカード読み取り器で読み取られた非接触式ICカードの同定を行うカード同定部と、
e) 同定された非接触式ICカードの同定情報に対応する測定条件を記憶部から読み出し、前記分析部に与える条件設定部と
を備えることを特徴とする。

使用者が本発明に係る分析装置を使おうとする場合、まず自分に与えられた非接触ICカードを本分析装置の非接触式ICカード読み取り器にかざす（近づける）。非接触ICカードは、密着型（ISO/IEC 10536）、近接型（ISO/IEC 14443）、近傍型（ISO/IEC 15693）のいずれでも構わない。非接触式ICカード読み取り器は、接近した非接触式ICカードとの通信を確立し、そこから所定の情報を読み出す。カード同定部は、そうして読み出された情報の中から同定情報を抽出し、条件設定部に送る。条件設定部は、記憶部をサーチすることにより、カード同定部から与えられた同定情報に対応する測定条件を取り出し、分析部に与える。分析部では、こうして与えられた測定条件に従って試料の分析を行う。

なお、同定情報に対応する測定条件が1組だけの場合は、条件設定部はその測定条件を直ちに分析部に与え、分析部は直ちにその測定条件で分析を実行することができるが、同定情報に対応する測定条件が複数組存在する場合は、条件設定部はそれらの測定条件を該分析装置の表示部に表示して使用者に選択の機会を与え、使用者により選択された測定条件を分析部に与えるという態様を取ることができる。いずれにせよ、本発明に係る分析装置では、分析装置に極めて多数の測定条件が保存されている（記憶されている）場合であっても、使用者に対応した測定条件のみが抽出されるため、使用者は容易に測定条件を設定することができる。

本発明に係る分析装置において、非接触式ICカード読み取り器は分析装置本体の匡体内に設けられていてもよいし、USB等の有線やBluetooth（登録商標）等の無線で分析装置本体に接続されていてもよい。また、分析部がコンピュータに接続され、該コンピュータにより制御されるようになっている分析装置の場合も、非接触式ICカード読み取り器は該コンピュータに有線又は無線で接続されていてもよい。

近年、企業等において従業員証として各従業員に非接触式ICカードが付与されることがあるが、その場合、付与された非接触式ICカードにその従業員の従業員番号や氏名等、使用者を識別する情報（使用者識別情報）が記録されている。本発明に係る分析装置では、このような非接触式ICカードをそのまま使用し、該使用者識別情報を前記同定情報として用いることができる。この場合、記憶部には、各使用者の使用者識別情報と、該使用者が使用可能な（すなわち、使用権限を有する）測定条件を対応させて記憶しておく。

記憶部に記憶しておく対応表は、使用者、すなわち人との対応ではなく、非接触式ICカード自体との対応としてもよい。この場合、非接触式ICカード毎に測定条件の使用権限が与えられることとなるため、測定に際しては適切な非接触式ICカードを測定者に与えるという使用方法となる。

簡単な測定条件であると、1種類又は数種類程度であれば非接触式ICカードの中に記憶しておくことができる。そのような態様とする場合、本発明に係る分析装置は、
a) 外部から与えられる測定条件に従い試料の分析を行う分析部と、
b) 非接触式ICカード読み取り器と、
c) 測定を許可する測定許可同定情報を記憶しておく記憶部と、
d) 前記非接触式ICカード読み取り器で読み取られた非接触式ICカードの同定を行うカード同定部と、
e) 同定された非接触式ICカードの同定情報が記憶部に記憶されている測定許可同定情報と一致した場合、前記非接触式ICカード読み取り器を用いて前記非接触式ICカードから測定条件を読み出す測定条件読出部と、
f) 読み出された測定条件を前記分析部に与える条件設定部と
を備えることを特徴とするものとなる。

この態様の分析装置では、非接触式ICカードに測定条件が記憶されており、その非接触式ICカードの同定情報が予め記憶部に記憶されている測定許可同定情報と一致した場合（すなわち、その非接触式ICカードが本分析装置により承認された場合）、測定条件が自動的に非接触式ICカードから読み出され、分析に使用される。この態様の場合、予め測定条件を記憶させていない分析装置であっても測定を行うことができるため、使用者は自分の非接触式ICカードを持ち歩いて様々な場所で分析を行うことができる。また、測定条件が分析装置に記憶されない（残されない）ため、測定の秘密を守ることもできる。

本発明に係る分析装置では、分析装置や分析装置システムのセキュリティを損なうことなく、使用者が分析装置の測定条件を容易に設定することができる。また、様々なレベルの使用者に対して、それぞれに対応した測定条件を設定することが可能となる。

本発明に係る分析装置の第１の実施形態である分光分析装置を示す外観図。 第１の実施形態の分光分析装置の全体構成を示すブロック図。 同定情報と測定条件の対応関係の例を示す表。 識別コードが印刷されたラベルが貼付された標準試料の容器を示す図。 オートサンプラを有する分光分析装置の例を示す外観図。 １つの同定情報に複数組の測定条件を対応させた例を示す表。 ＰＣを用いて測定を制御する構成の例を示す外観図。 本発明に係る分析装置の第２の実施形態である分光分析装置の全体構成を示すブロック図。

図１〜図８を用いて、本発明に係る分析装置の実施形態を説明する。

図１は、本発明に係る分析装置の第１の実施形態である分光分析装置１０の外観図である。この分光分析装置１０はそれ自身が後述の記憶部１３や制御部１４等を搭載しており、パーソナルコンピュータ等の外部制御装置が不要な、いわゆるスタンドアロン型の装置となっている。

分光分析装置１０は図１及び図２に示すように、分光光度計１１（図１では分光光度計１１が収容された収容室の蓋のみを示す）、非接触式ICカード読み取り器１２、記憶部１３、制御部１４、表示部１５及びキー入力部１６を有する。

分光光度計１１は、光源１１１、レンズ１１２、試料ホルダ１１３、スリット１１４、凹面回折格子１１５、及び検出器１１６を有する。光源１１１は、測定に用いる波長帯に応じて、重水素ランプとハロゲンランプの2種類のいずれかを選択できるように、内部の光路を切り替えることができるようになっている。波長300〜350nm付近を境界として、該境界よりも短波長側（最短約185nm）では重水素ランプを用い、長波長側（最長約3500nm）ではハロゲンランプを用いる。試料ホルダ１１３では、試料Ｓが液体や気体の場合には試料セルＣに注入したうえで該試料セルＣを装着し、固体の場合には試料Ｓを直接装着する。検出器１１６はフォトダイオードアレイ（PDA）であり、波長毎にそれぞれ異なるフォトダイオードにおいて強度が検出される。この分光光度計１１では、光源１１１から発せられた光はレンズ１１２により集光され、試料ホルダ１１３に装着された試料Ｓに照射される。試料Ｓでは、光源１１１から発せられた光のうち特定波長の光が吸収される。試料Ｓに吸収されずに試料Ｓを通過した光は、スリット１１４を通過した後、凹面回折格子１１５により波長分散されて検出器１１６に入射する。

非接触式ICカード読み取り器１２は、制御部１４中の後述のカード同定部１４２による制御に基づいて、非接触式ICカードに記録された情報を読み取る装置である。ここで個々の非接触式ICカードには、例えば従業員番号や氏名等、非接触式ICカードを所持する従業員（分光分析装置１０の使用者）個人を特定する情報である使用者識別情報を記録しておく。あるいは、使用者識別情報の代わりに、従業員の熟練度、あるいは装置の使用権限を非接触式ICカードに記録しておき、分光分析装置１０を使用する従業員に応じて管理者が熟練度や使用権限に対応する非接触式ICカードを該従業員に交付するようにしてもよい。これら使用者識別情報、熟練度、使用権限はいずれも分光分析装置１０を使用する従業員を同定する同定情報に該当する。

記憶部１３は、非接触式ICカードに記録された同定情報の内容毎に、対応する測定条件を記憶する。記憶部１３にはハードティスクや揮発性メモリ等を用いることができる。同定情報と測定条件の対応関係の例を図３に示す。ここでは、成分が既知であって濃度が未知である試料の濃度を測定する定量分析を行う場合の例を示す。同定情報には、この例では従業員番号を用いる。従業員番号の代わりに、従業員の氏名や、従業員の情報を持たない非接触式ICカードの固有の番号を用いてもよい。測定条件としては、測定波長（1波長）、検出器での積算時間、及び検量線を作成するために用いる複数の標準試料の濃度が記録されている。ここで、複数の標準試料にはそれぞれ、「標準試料１」等のように、各標準試料を区別する番号が付与されている。これらの測定条件は試料の成分によって異なるため、従業員毎に取り扱う試料の成分が異なると、従業員毎に異なる測定条件で測定を行う必要が生じる。

制御部１４は、測定制御部１４１と、カード同定部１４２と、前記分析条件を設定する条件設定部１４３を有する。分光光度計１１と測定制御部１４１を合わせて、前述の分析部が構成される。カード同定部１４２は、非接触式ICカード読み取り器１２で読み取られた同定情報から非接触式ICカードの同定を行うものである。条件設定部１４３は、カード同定部１４２で得られた同定情報に対応する測定条件を記憶部１３から読み出し、該測定条件を測定制御部１４１に与えるものである。測定制御部１４１は、条件設定部１４３から与えられた測定条件に基づいて、分光光度計１１の動作を制御するものである。制御部１４は、コンピュータの中央演算装置（ＣＰＵ）及びソフトウエアにより具現化されている。

表示部１５は、同定情報や測定条件を表示するディスプレイである。表示部１５には、試料ホルダ１１３への標準試料や未知試料の装着等の、従業員が行うべき操作のガイダンスを表示するようにしてもよい。

キー入力部１６は、主に熟練した従業員が使用する場合に、必要に応じて測定条件を入力できるように設けられている。但し通常は、非接触式ICカードを用いることにより、従業員がキー入力部１６を操作することなく測定条件を設定することができる。

以下、使用者識別情報に基づき、成分が既知である試料の定量分析を行う場合を例として、分光分析装置１０の動作を説明する。

まず、分光分析装置１０の使用者（従業員）が非接触式ICカードを非接触式ICカード読み取り器１２に読み取らせることにより、分光分析装置１０の動作が開始する。カード同定部１４２は、非接触式ICカード読み取り器１２で読み取られた情報に含まれる使用者識別情報を同定情報として、非接触式ICカードの同定を行う。続いて、条件設定部１４３は、カード同定部１４２で得られた同定情報に対応する測定条件である、当該使用者に対して設定された測定条件である測定波長、積算時間、及び複数の標準試料の濃度を記憶部１３から読み出し、測定制御部１４１に与える。

測定制御部１４１は、条件設定部１４３から与えられた測定条件に基づいて、以下のように測定の制御を行う。まず、重水素ランプ及びハロゲンランプのうち条件設定部１４３から与えられた測定波長に対応するランプからの光が試料Ｓに照射されるように、光源１１１の内部の光路を設定する。そして、測定制御部１４１は、表示部１５に「標準試料１をセットしてください」と表示させる。それと共に、測定波長や積算時間等の測定条件、あるいは同定情報等を表示部１５に表示するようにしてもよい。使用者は、この表示部１５の指示に従い、「標準試料１」と記載されたラベルが貼付された試料容器内の試料を試料セルＣに注入し、分光光度計１１の蓋を開放して該試料セルＣを試料ホルダ１１３に装着し、該蓋を閉鎖する。測定制御部１４１は、正しく試料セルＣが試料ホルダ１１３に装着され、分光光度計１１の蓋が閉鎖されたことを検知した後、自動的に、条件設定部１４３から与えられた積算時間だけ分光測定を行う。そして、条件設定部１４３から与えられた標準試料１の濃度と測定で得られた検出強度を対応づけて記憶部１３に記憶する。

続いて、測定制御部１４１は、表示部１５に「標準試料２をセットしてください」と表示させ、標準試料１と同じ方法により標準試料２の測定を行い、条件設定部１４３から与えられた標準試料２の濃度と測定で得られた検出強度を対応づけて記憶部１３に記憶する。以下、全ての標準試料について同様の操作を行うことにより、濃度と検出強度の関係を示す検量線が得られる。

次に、測定制御部１４１は、表示部１５に「未知試料をセットしてください」と表示する。使用者は、濃度未知試料を試料セルＣに注入し、該試料セルＣを試料ホルダ１１３に装着する。測定制御部１４１は、正しく試料セルＣが試料ホルダ１１３に装着され、分光光度計１１の蓋が閉鎖されたことを検知した後、自動的に、条件設定部１４３から与えられた積算時間だけ分光測定を行う。そして、測定で得られた検出強度を記憶部１３に記憶する。標準試料の測定によって作成した検量線において、当該未知試料から得られた検出強度に対応する濃度の値が、当該未知試料の濃度の測定値となる。以下、他の未知試料に対して同様の操作を繰り返し、全ての未知試料に対する操作が終了すれば、分光分析装置１０の一連の動作が完了する。

なお、上記の例では、複数個の標準試料を順に測定する際に、各測定で試料ホルダ１１３に装着すべき標準試料の番号を表示部１５に表示して使用者に装着させるが、その代わりに以下の2つの変形例を取ることができる。

第１の変形例では、標準試料の容器２１に、標準試料毎に異なる識別コード（バーコード、ＱＲコード（登録商標）等）２２１が印刷されたラベル２２を貼付しておく（図４）。なお、図４に示した例では、識別コード２２１と共に標準試料の番号もラベル２２に印刷されているが、当該番号が印刷されていなくとも下記の方法は実施可能である。記憶部１３には、複数の標準試料の濃度と共に、各標準試料に対応する識別コードを示す数字が記録されている。そして、分光分析装置１０には、識別コードを読み取る識別コードリーダ（図示せず）を設けておく。

第１の変形例の使用時には、使用者は、非接触式ICカードを非接触式ICカード読み取り器１２に読み取らせた後、複数の標準試料から、まず任意の1つを選択し、識別コードを識別コードリーダに読み取らせると共に、該標準試料を試料ホルダ１１３に装着する。測定制御部１４１は、条件設定部１４３から与えられた積算時間だけ分光測定を行い、条件設定部１４３から与えられた測定情報に含まれる、識別コードリーダで読み取られた識別コードに対応する標準試料の濃度と測定で得られた検出強度を対応づけて記憶部１３に記憶する。全ての標準試料について同様の操作を順次行うことにより、濃度と検出強度の関係を示す検量線が得られる。この例では用意されている標準試料を順不同で測定させてゆけばよく、使用者が複数の標準試料を互いに区別する必要がない（従って、ラベル２２に標準試料の番号を印刷しておく必要がない）。従って、前述の例では表示部１５に表示された標準試料を正しく選択しなければならないのに対して、この例ではより操作が容易になる。濃度未知試料の測定の方法は前述の例と同様である。

第２の変形例では、オートサンプラ２５（図５）を用いる。オートサンプラ２５は、液体試料が貯留された複数の試験管２５１１を保持する試験管ホルダ２５１と、試験管２５１１のうちの1つに挿入されるニードル２５２と、ニードル２５２を複数の試験管２５１１のうちの1つの上に移動させたうえで該試験管２５１１に挿入するニードル移動機構２５３と、試料をニードル２５２から試料セルＣに導入する試料導入管２５４を有する。また、分光分析装置１０の本体内には、ニードル２５２が挿入された試験管２５１１内の試料を、試料導入管２５４を介して吸引する吸引機構（図示せず）と、分析が終了した試料を試料セルＣから排出する排出管２６１と、排出された試料を貯留する廃液タンク２６２が設けられている。このオートサンプラ２５には、試験管２５１１に貯留された標準試料と測定対象の未知試料の双方をセットする。記憶部１３には、前述の例で示した同定情報及び測定条件の他に、測定条件として各標準試料及び未知試料がセットされた試験管２５１１の試験管ホルダ２５１での位置情報を記憶させておく。

第２の変形例の使用時には、使用者が非接触式ICカードを非接触式ICカード読み取り器１２に読み取らせてカード同定部１４２が非接触式ICカードの同定を行った後、測定制御部１４１は、記憶部１３に記憶された位置情報に基づいて1つ目の標準試料が貯留された試験管２５１１にニードル２５２を移動させて挿入させ、該試験管２５１１から該標準試料を吸引して試料セルＣに送液する。そして、記憶部１３に記憶された他の測定条件に基づいて該標準試料の分光測定を行う。その終了後、測定制御部１４１は試料セルＣから該標準試料を廃液タンク２６２に排出させ、次の標準試料の測定を前記同様の方法により行う。そして、全ての標準試料の測定が終了した後、検量線を作成し、その後、未知試料の測定を標準試料と同様の方法により測定する。全ての未知試料の測定が行われると一連の動作が完了する。以上のように、この例では、使用者がオートサンプラ２５に試料をセットしたうえで非接触式ICカードを非接触式ICカード読み取り器１２に読み取らせた後は、全て自動で測定が実行される。

上記の各例では、１つの同定情報（すなわち１人の使用者）に対して１組の測定条件を記憶部１３に記憶させているが、図６に示すように、１つの同定情報（同図の例では従業員番号xxx1）に対して複数組の測定条件を記憶部１３に記憶させてもよい（第３の変形例）。この場合に、複数組の測定条件が用意された使用者が非接触式ICカードを非接触式ICカード読み取り器１２に読み取らせたときには、測定制御部１４１は表示部１５に複数組の測定条件を表示させ、使用者にキー入力部１６を用いて、実行する１組の測定条件を選択させるようにする。

さらに、上述のスタンドアロン型に代えて、分光分析装置１０とパーソナルコンピュータ（ＰＣ）３０を接続し、該ＰＣ３０を用いて測定の制御を行うようにしてもよい（図７、第４の変形例）。この場合、記憶部１３及び制御部１４は、ＰＣ３０のハードウエア及びソフトウエアにより具現化される。また、非接触式ICカード読み取り器１２は、ＵＳＢ等のインターフェイスによりＰＣ３０に接続するようにしてもよい。

次に、本発明に係る分析装置の第２の実施形態を説明する。第２の実施形態の分光分析装置１０Ａでは、測定条件を記憶部１３に記憶させる代わりに非接触式ICカードに記憶させる。分光分析装置１０Ａは図８に示す構成を有している。第１の実施形態との相違点は、制御部１４Ａが測定情報読出部１４４を有している点、及びカード同定部１４２が条件設定部１４３ではなく測定情報読出部１４４に情報を送信する点である。また、記憶部１３には、同定情報及び測定条件の代わりに、当該分光分析装置１０Ａを使用する許可が出されている非接触式ICカード又は使用者を示す情報である測定許可同定情報が記憶されている。

第２の実施形態の分光分析装置１０Ａでは、使用する非接触式ICカードには同定情報及び測定条件が記憶されている。非接触式ICカードに記憶される測定条件は、第１の実施形態で記憶部に記憶された測定条件と同様である。使用者が非接触式ICカードを非接触式ICカード読み取り器１２に読み取らせると、まず、カード同定部１４２が非接触式ICカードの同定を行う。続いて、測定情報読出部１４４は、カード同定部１４２から同定情報を取得し、当該同定情報と記憶部１３に記憶されている測定許可同定情報を照合する。その結果、同定情報が測定許可同定情報に含まれていなければ、表示部１５に「この非接触式ICカードは測定が許可されていません」等のメッセージを表示し、以降の測定のための動作を行わない。一方、同定情報が測定許可同定情報に含まれていれば、測定情報読出部１４４は測定条件を非接触式ICカードから読み出して条件設定部１４３に送信する。その際、測定の秘密を守るために、測定条件は記憶部１３に記憶させない。以後、この測定条件に基づいて測定を実行する動作は、第１の実施形態の分光分析装置１０と同様である。

第２の実施形態の分光分析装置１０Ａにおいても、第１の実施形態の分光分析装置１０における第１〜第４の変形例と同様の変形を行うことができる。

上記各実施形態では定量分析を行う場合を例として説明したが、未知試料が含有する元素を分析するためのスペクトル測定等、分光光度計１１を用いたその他の測定においても本実施形態を同様に適用することができる。また、分光光度計１１をクロマトグラフの検出器として用いる場合にも同様に適用可能である。その場合には、分光光度計の測定条件だけではなくクロマトグラフの測定条件も記憶部１３（第１の実施形態の場合）又は非接触式ICカード（第２の実施形態の場合）に記憶させておいて測定条件の設定に用いるようにしてもよい。さらには、分光光度計１１以外の各種分析装置にも、本発明の構成を適用することが可能である。

１０、１０Ａ…分光分析装置
１１…分光光度計
１１１…光源
１１２…レンズ
１１３…試料ホルダ
１１４…スリット
１１５…凹面回折格子
１１６…検出器
１２…非接触式ICカード読み取り器
１３…記憶部
１４…制御部
１４１…測定制御部
１４２…カード同定部
１４３…条件設定部
１４４…測定情報読出部
１５…表示部
１６…キー入力部
２１…容器
２２…ラベル
２２１…識別コード
２５…オートサンプラ
２５１…試験管ホルダ
２５１１…試験管
２５２…ニードル
２５３…ニードル移動機構
２５４…試料導入管
２６１…排出管
２６２…廃液タンク
３０…ＰＣ
Ｃ…試料セル
Ｓ…試料

Claims (5)

1. a) 外部から与えられる測定条件に従い試料の分析を行う分析部と、
   b) 非接触式ICカード読み取り器と、
   c) 同定情報とそれに対応する測定条件を記憶しておく記憶部と、
   d) 前記非接触式ICカード読み取り器で読み取られた非接触式ICカードの同定を行うカード同定部と、
   e) 同定された非接触式ICカードの同定情報に対応する測定条件を記憶部から読み出し、前記分析部に与える条件設定部と
   を備えることを特徴とする分析装置。
2. 表示部と入力部を備え、
   前記条件設定部が、同定された非接触式ICカードの同定情報に対応する複数組の測定条件を前記表示部に表示し、前記入力部を用いて使用者により選択された測定条件を前記分析部に与えることを特徴とする請求項１に記載の分析装置。
3. 前記カード同定部が、非接触式ICカードに記録されている使用者識別情報に基づいて非接触式ICカードの同定を行い、
   前記記憶部が、各使用者の使用者識別情報と該使用者が使用権限を有する測定条件を対応させて記憶している
   ことを特徴とする請求項１又は２に記載の分析装置。
4. 前記記憶部が、各非接触式ICカードに対応する測定条件を記憶していることを特徴とする請求項１又は２に記載の分析装置。
5. a) 外部から与えられる測定条件に従い試料の分析を行う分析部と、
   b) 非接触式ICカード読み取り器と、
   c) 測定を許可する測定許可同定情報を記憶しておく記憶部と、
   d) 前記非接触式ICカード読み取り器で読み取られた非接触式ICカードの同定を行うカード同定部と、
   e) 同定された非接触式ICカードの同定情報が記憶部に記憶されている測定許可同定情報と一致した場合、前記非接触式ICカード読み取り器を用いて前記非接触式ICカードから測定条件を読み出す測定条件読出部と、
   f) 読み出された測定条件を前記分析部に与える条件設定部と
   を備えることを特徴とする分析装置。

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