JP2017181446A - Moisture content measuring method of glass substrate, and manufacturing method of glass substrate - Google Patents

Moisture content measuring method of glass substrate, and manufacturing method of glass substrate Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a measuring method of accurately measuring a β-OH value for moisture content measurement of a glass substrate, and to provide a glass substrate manufacturing method of stably manufacturing a glass substrate having a small thermal contraction amount, while suppressing the fluctuation in thermal shrinkage occurring in a manufacturing process by accurately controlling the β-OH value of the glass substrate in the manufacturing process.SOLUTION: In a moisture content measuring method of a glass substrate by measurement of a β-OH value, a coating layer that has a refractive index equivalent to that of the glass substrate and is made of a component containing no material having a hydroxyl group is formed on a principal surface of the glass substrate, which is an object of the moisture content measurement. The moisture content of the glass substrate having the coating layer is measured using an IR (infrared spectroscopic analysis).SELECTED DRAWING: Figure 3

Description

本発明は、ガラス基板の水分量測定方法、および水分量測定工程を含むガラス基板の製造方法に関する。   The present invention relates to a method for measuring a moisture content of a glass substrate and a method for producing a glass substrate including a moisture content measuring step.

ガラス板の製造において、ガラス原料に含水量の高い原料(例えば水酸化物原料)を使用したり、ガラス原料の溶融工程で燃焼効率の高い酸素燃焼加熱を行うと、ガラス中に溶け込む水分量が増加する。特に、フラットパネルディスプレイ用のガラス基板の製造では、ガラス中に含まれる水分がガラス基板の品質に影響を及ぼす。   In the production of glass plates, if a raw material with a high water content (for example, a hydroxide raw material) is used as the glass raw material, or if oxygen combustion heating with high combustion efficiency is performed in the melting step of the glass raw material, the amount of water dissolved in the glass is reduced. To increase. In particular, in the production of a glass substrate for a flat panel display, moisture contained in the glass affects the quality of the glass substrate.

近年のディスプレイパネルの分野では、画質向上のために画素の高精細化が進展し、ディスプレイパネルの製造工程中にガラス基板が高温で熱処理されても寸法が変化し難い、熱収縮率の小さいガラス基板が求められている。   In the field of display panels in recent years, high definition of pixels has progressed to improve image quality, and the glass does not easily change its dimensions even when the glass substrate is heat-treated at a high temperature during the manufacturing process of the display panel. There is a need for a substrate.

ガラス基板の熱収縮は、一般に、ガラス基板の歪点やTg(ガラス転移点)に代表される低温粘性域での特性温度(以下、低温粘性特性温度と略す)を高くすることで抑制される。他方、低温粘性特性温度を高くすると、ガラスの熔解性は低下する。ガラスの水分量を小さくするとディスプレイ製造時の熱収縮率は小さくなる傾向にあり、低収縮率と熔解性の両立において、ガラスの水分量の指標であるβ−OH値を小さくするように調整することが知られている(特許文献1)。   In general, thermal contraction of a glass substrate is suppressed by increasing a characteristic temperature (hereinafter, abbreviated as a low temperature viscosity characteristic temperature) in a low temperature viscosity region typified by a strain point or Tg (glass transition point) of the glass substrate. . On the other hand, when the low temperature viscosity characteristic temperature is increased, the meltability of the glass is lowered. When the moisture content of the glass is reduced, the thermal shrinkage rate during display production tends to be reduced, and in order to achieve both a low shrinkage rate and meltability, the β-OH value, which is an indicator of the moisture content of the glass, is adjusted to be small. It is known (Patent Document 1).

特開2015−231942号公報JP2015-231942A

従来、ガラス中の水分量の測定においては、ガラス中のヒドロキシル含有量を測定するのに、IR分光分析法によりβ−OHを測定し、ガラス中の水分量を推定して、ガラスの含水量の指標としている。   Conventionally, in the measurement of water content in glass, to measure the hydroxyl content in glass, β-OH is measured by IR spectroscopy, and the water content in glass is estimated by measuring β-OH. As an indicator.

フラットパネルディスプレイ用のガラス基板の製造においては、熱収縮率の小さいガラス基板をつくるために、また、ガラス中の水分量に起因するガラス基板の品質低下を招かないように、ガラス基板の製造過程において成形徐冷後のガラス基板を定期的にサンプリングし、成形後のガラス基板のβ−OH値を測定して、原料の配合、溶融加熱するときの条件、溶融ガラスの処理工程で用いられる白金装置の外側の雰囲気条件など、適切に管理する必要がある。   In the production of glass substrates for flat panel displays, in order to produce a glass substrate with a low thermal shrinkage rate, and to prevent the glass substrate quality from deteriorating due to the amount of moisture in the glass, the glass substrate production process The glass substrate after forming and cooling is periodically sampled, the β-OH value of the formed glass substrate is measured, the raw materials are mixed, the conditions for melting and heating, and the platinum used in the molten glass processing step It is necessary to properly manage the atmospheric conditions outside the equipment.

しかし、ガラス基板のβ−OH値の測定においては、赤外吸収のスペクトルが一定とならない場合があり、フラットパネルディスプレイ用のガラス基板の製造を最適に管理するために、β−OH値の測定の精度を高める必要があった。   However, in the measurement of the β-OH value of the glass substrate, the infrared absorption spectrum may not be constant, and in order to optimally manage the production of the glass substrate for the flat panel display, the β-OH value is measured. It was necessary to improve the accuracy of

本発明は、ガラス基板の水分量測定のためにβ−OH値を高精度に測定する測定方法を提供するとともに、製造プロセスにおいてガラス基板のβ−OH値を精度高く管理することで、製造過程で発生する熱収縮率のバラツキを抑えるとともに、熱収縮量の小さいガラス基板を安定して製造するガラス基板の製造方法を提供する。   The present invention provides a measuring method for measuring the β-OH value with high accuracy for measuring the moisture content of the glass substrate, and also accurately manages the β-OH value of the glass substrate in the manufacturing process, thereby providing a manufacturing process. A glass substrate manufacturing method that stably suppresses a variation in the heat shrinkage rate generated in the process and stably manufactures a glass substrate having a small heat shrinkage amount is provided.

本発明は、以下〔1〕から〔6〕を提供する。
〔1〕β−OH値の測定によるガラス基板の水分量測定方法であって、
前記ガラス基板の屈折率と同程度の屈折率を有し、水酸基を有する物質を含まない成分からなる皮膜層を、水分量を測定するガラス基板の少なくとも一方の主表面上に形成し、前記皮膜層が形成されたガラス基板の水分量をIR(赤外分光分析)を用いて測定する、ことを特徴とするガラス基板の水分量測定方法。
〔2〕ガラス原料及びカレットを溶解して熔解ガラスをつくる熔解工程と、前記熔解ガラスを板状に成形するガラス基板の成形工程と、前記成形後のガラス基板のβ−OH値を測定して前記ガラス基板の水分量を特定する水分量測定工程を含む、ガラス基板の製造方法であって、
前記水分量測定工程では、前記ガラス基板の屈折率と同程度の屈折率を有し、水酸基を有する物質を含まない成分からなる皮膜層を、前記ガラス基板の少なくとも一方の主表面上に形成し、前記皮膜層が形成されたガラス基板の水分量をIR(赤外分光分析)を用いて測定する、ことを特徴とするガラス基板の製造方法。
〔3〕前記水分量測定工程で得られたβ―OH値を前記熔解工程にフィードバックして、
前記熔解工程において、予め定められる基準β−OH値と前記水分量測定工程で実測された前記β−OH値との比較に基づいて、前記ガラス原料およびカレットの混合物に対する前記カレットの配合比を制御する、〔2〕に記載のガラス基板の製造方法。
〔4〕前記水分量測定工程で得られたβ―OH値を前記熔解工程にフィードバックして、
前記熔解工程において、予め定められる基準β−OH値と前記水分量測定工程で実測された前記β−OH値との比較に基づいて、前記ガラス熔解に用いるガス加熱燃焼(酸素燃焼加熱)と電気加熱(直接通電加熱)の比率を制御する、〔2〕又は〔3〕に記載のガラス基板の製造方法。
〔5〕前記ガラス基板は、低温ポリシリコン薄膜トランジスタ搭載ディスプレイ用ガラス基板である、〔2〕〜〔4〕のいずれか一項に記載のガラス基板の製造方法。
〔6〕前記ガラス基板は、液晶ディスプレイ用ガラス基板又は有機ELディスプレイ用ガラス基板である、〔2〕〜〔5〕のいずれか一項に記載のガラス基板の製造方法。
〔7〕前記β−OH値の変動を±0.2以内に抑える、〔2〕〜〔6〕のいずれか一項に記載のガラス基板の製造方法。
The present invention provides the following [1] to [6].
[1] A method for measuring a moisture content of a glass substrate by measuring a β-OH value,
A film layer made of a component having a refractive index comparable to that of the glass substrate and not containing a substance having a hydroxyl group is formed on at least one main surface of the glass substrate for measuring the moisture content, and the film A method for measuring a moisture content of a glass substrate, comprising: measuring the moisture content of the glass substrate on which the layer is formed using IR (infrared spectroscopy).
[2] A melting step of melting glass raw material and cullet to form a molten glass, a molding step of a glass substrate for molding the molten glass into a plate shape, and measuring the β-OH value of the glass substrate after the molding A method for producing a glass substrate, comprising a moisture content measuring step for specifying a moisture content of the glass substrate,
In the moisture content measurement step, a coating layer made of a component having a refractive index comparable to that of the glass substrate and not containing a substance having a hydroxyl group is formed on at least one main surface of the glass substrate. A method for producing a glass substrate, comprising: measuring the moisture content of the glass substrate on which the coating layer is formed using IR (infrared spectroscopy).
[3] The β-OH value obtained in the moisture content measurement step is fed back to the melting step,
In the melting step, the mixing ratio of the cullet to the mixture of the glass raw material and cullet is controlled based on a comparison between a predetermined reference β-OH value and the β-OH value actually measured in the moisture content measuring step. The method for producing a glass substrate according to [2].
[4] The β-OH value obtained in the moisture content measurement step is fed back to the melting step,
In the melting step, based on a comparison between a predetermined reference β-OH value and the β-OH value actually measured in the moisture content measuring step, gas heating combustion (oxygen combustion heating) and electricity used for the glass melting are performed. The method for producing a glass substrate according to [2] or [3], wherein the ratio of heating (direct current heating) is controlled.
[5] The method for producing a glass substrate according to any one of [2] to [4], wherein the glass substrate is a glass substrate for a low-temperature polysilicon thin film transistor mounted display.
[6] The method for producing a glass substrate according to any one of [2] to [5], wherein the glass substrate is a glass substrate for a liquid crystal display or a glass substrate for an organic EL display.
[7] The method for producing a glass substrate according to any one of [2] to [6], wherein fluctuation of the β-OH value is suppressed to within ± 0.2.

上述の本発明に係るガラス基板の水分量測定方法、並びに水分量測定工程を含むガラス基板の製造方法によれば、ガラス基板の製造過程で成形後のガラス基板のβ−OH値を精度高く測定することができるため、成形後のガラス基板の水分量をモニタリングしながら、原料の配合、溶融加熱するときの条件、溶融後の後工程で用いられる白金装置の外側の雰囲気条件など、より精密に生産条件を管理することができる。この結果、ガラス基板のβ−OH値が精度高く制御され、製造過程で発生する熱収縮率のバラツキを抑えるとともに、熱収縮量の小さいガラス基板を安定して製造することができる。   According to the glass substrate moisture content measurement method and the glass substrate production method including the moisture content measurement step according to the present invention described above, the β-OH value of the glass substrate after molding is accurately measured in the glass substrate production process. Therefore, while monitoring the moisture content of the glass substrate after molding, the raw material composition, the conditions for melting and heating, the atmospheric conditions outside the platinum device used in the post-processing after melting, etc., more precisely Production conditions can be managed. As a result, the β-OH value of the glass substrate is controlled with high accuracy, and variation in the heat shrinkage rate generated in the manufacturing process can be suppressed, and a glass substrate with a small amount of heat shrinkage can be stably manufactured.

本実施形態のガラス基板の製造方法の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of the manufacturing method of the glass substrate of this embodiment. 本発明のガラス基板の製造方法における熔解工程〜切断工程を行う装置の一例を模式的に示す図である。It is a figure which shows typically an example of the apparatus which performs the melting process-cutting process in the manufacturing method of the glass substrate of this invention. 本実施形態の水分量測定方法におけるガラス基板上の被膜層のイメージを示す図である。(a)は皮膜層が形成されたガラス基板の測断面のイメージ、さらに(b)は皮膜層を形成しない従来の水分量測定におけるガラス基板の測断面のイメージを説明するための模式図である。It is a figure which shows the image of the coating layer on the glass substrate in the moisture content measuring method of this embodiment. (A) is a schematic diagram for explaining a cross-sectional image of a glass substrate on which a film layer is formed, and (b) is a schematic diagram for explaining an image of a cross-sectional surface of a glass substrate in conventional moisture content measurement without forming a film layer. . 本実施形態の実施例、および比較例(皮膜層を形成しない従来の水分量測定)のIRの透過スペクトルを示す図であり、(a)及び(b)は代表的な2例のガラスのIRの透過スペクトルであり、それぞれ、「皮膜層なし」は、従来の測定方法で測定した透過スペクトル、「皮膜層あり」は、同様のサンプルに、皮膜層を形成して測定したときの透過スペクトルである。It is a figure which shows IR transmission spectrum of the Example of this embodiment, and the comparative example (conventional moisture content measurement which does not form a membrane | film | coat layer), (a) And (b) is IR of two typical examples of glass. "Without film layer" is the transmission spectrum measured with the conventional measurement method, and "With film layer" is the transmission spectrum when the film layer is formed on the same sample and measured. is there.

(1)ガラス基板の製造方法の全体概要
ガラス基板の製造方法は、熔解工程(ST1)と、清澄工程(ST2)と、均質化工程(ST3)と、供給工程(ST4)と、成形工程(ST5)と、徐冷工程(ST6)と、切断工程(ST7)と、を主に有する(図1参照)。この他に、切断研削工程、洗浄工程、検査工程、梱包工程等を有し、梱包工程で積槽された複数のガラス基板は、納入先の業者に搬送される。
(1) Overview of Manufacturing Method of Glass Substrate The manufacturing method of the glass substrate includes a melting step (ST1), a clarification step (ST2), a homogenization step (ST3), a supply step (ST4), and a molding step ( ST5), a slow cooling step (ST6), and a cutting step (ST7) are mainly included (see FIG. 1). In addition to this, a plurality of glass substrates having a cutting and grinding process, a cleaning process, an inspection process, a packing process, and the like and stacked in the packing process are transported to a supplier.

熔解工程(ST1)は熔解槽で行われる。熔解工程では、熔解槽に蓄えられた熔融ガラスの液面にガラス原料を投入することにより熔融ガラスを作る。さらに、熔解槽の底部に設けられた流出口から後工程に向けて熔融ガラスを流す。   The melting step (ST1) is performed in a melting tank. In the melting step, molten glass is made by introducing a glass raw material to the liquid surface of the molten glass stored in the melting tank. Furthermore, molten glass is poured from the outlet provided at the bottom of the melting tank toward the subsequent process.

熔解工程(ST1)は熔解炉で行われる。熔解炉では、ガラス原料を、熔解炉に蓄えられた熔融ガラスの液面に投入し、加熱することにより熔融ガラスを作る。さらに、熔解炉の内側側壁の1つの底部に設けられた流出口から下流工程に向けて熔融ガラスを流す。
熔解炉の熔融ガラスの加熱は、熔融ガラス自身に電気が流れて自ら発熱して加熱する方法に加えて、バーナーによる火焔を補助的に与えてガラス原料を熔解することもできる。なお、ガラス原料には清澄剤が添加される。清澄剤として、SnO2,As23,Sb23,Fe23等、高温で還元反応により酸素を放出するタイプの金属酸化物が知られているが、特に制限されない。しかし、環境負荷低減の点から、清澄剤としてAs23の使用は望ましくない。
The melting step (ST1) is performed in a melting furnace. In a melting furnace, a glass raw material is put into a liquid surface of molten glass stored in a melting furnace and heated to make molten glass. Furthermore, molten glass is flowed toward the downstream process from the outlet provided in one bottom part of the inner side wall of the melting furnace.
In addition to the method in which electricity flows through the molten glass itself and heats itself by heating, the glass raw material can be melted by supplementing a flame with a burner. A clarifier is added to the glass raw material. As a fining agent, a metal oxide of a type that releases oxygen by a reduction reaction at a high temperature, such as SnO 2 , As 2 O 3 , Sb 2 O 3 , and Fe 2 O 3 , is known, but is not particularly limited. However, the use of As 2 O 3 as a clarifying agent is not desirable from the viewpoint of reducing environmental burden.

清澄工程(ST2)は、少なくとも清澄槽において行われる。清澄工程では、最初に、清澄槽内の熔融ガラスを昇温することで、溶融ガラス中に含まれる清澄剤に還元反応を起こさせ、O2を発生させる。このO2が、ガラス原料の分解反応やガラス原料中の不純物、溶解時の雰囲気の巻き込み等により、熔融ガラス中に含まれる、CO2、SO2あるいはN2等を含んだ気泡に吸収されることで、熔融ガラス中の気泡の泡径が拡大し、気泡の浮上速度が高まる。この気泡の浮上速度の向上により熔融ガラスの液面に気泡を浮上させて脱泡が促進される。すなわち、熔融ガラスの液面まで浮上した気泡は、液面で破泡し、気泡に含まれていたガスが清澄槽内の気相空間に放出される。
その後、溶融ガラスの温度を下げていき、清澄剤に酸化反応を起こさせ、溶融ガラス中のO2を再吸収させる。このO2の再吸収により、脱泡しきれなかった溶融ガラス中の小泡は、泡内のO2が脱泡とガラス温度の低下とが相まって、小泡内のガス圧が低下し、縮小消滅する。なお、清澄管は、熔融ガラスから気相空間に放出されたガスを大気に放出するために、大気に連通した通気管を備える。
The clarification step (ST2) is performed at least in the clarification tank. In the clarification step, first, the molten glass in the clarification tank is heated to cause a reductive reaction in the clarifier contained in the molten glass to generate O 2 . This O 2 is absorbed by bubbles containing CO 2 , SO 2, N 2, etc. contained in the molten glass due to decomposition reaction of the glass raw material, impurities in the glass raw material, entrainment of the atmosphere during melting, etc. As a result, the bubble diameter of the bubbles in the molten glass is enlarged, and the rising speed of the bubbles is increased. By improving the rising speed of the bubbles, the bubbles are lifted to the liquid surface of the molten glass to promote defoaming. That is, the bubbles that have risen to the liquid surface of the molten glass are broken at the liquid surface, and the gas contained in the bubbles is released into the gas phase space in the clarification tank.
Thereafter, the temperature of the molten glass is lowered to cause the fining agent to oxidize and reabsorb O 2 in the molten glass. The resorption of the O 2, the small bubbles in the molten glass that has not been degassed, together have a reduced O 2 is degassing the glass temperature of Awanai, gas pressure in the small bubbles is reduced, the reduction Disappear. In addition, a clarification pipe | tube is provided with the vent pipe connected to air | atmosphere in order to discharge | release the gas discharge | released from the molten glass to the gaseous-phase space to air | atmosphere.

均質化工程(ST3)では、清澄管から延びる配管を通って供給された攪拌槽内の熔融ガラスを、スターラを用いて攪拌することにより、ガラス成分の均質化を行う。これにより、脈理等の原因であるガラスの組成ムラを低減することができる。
供給工程(ST4)では、攪拌槽から延びる配管を通して熔融ガラスが成形装置に供給される。
In the homogenization step (ST3), the glass component is homogenized by stirring the molten glass in the stirring tank supplied through the pipe extending from the clarification pipe using a stirrer. Thereby, the composition unevenness of the glass which is a cause of striae or the like can be reduced.
In the supply step (ST4), the molten glass is supplied to the molding apparatus through a pipe extending from the stirring tank.

成形装置では、成形工程(ST5)及び徐冷工程(ST6)が行われる。
成形工程(ST5)では、熔融ガラスをシートガラスに成形し、シートガラスの流れを作る。成形は、オーバーフローダウンドロー法が用いられる。
徐冷工程(ST6)では、成形されて流れるシートガラスが所望の厚さになり、内部歪が生じないように、さらに、反りが生じないように冷却される。
切断工程(ST7)では、切断装置において、成形装置から供給されたシートガラスを所定の長さに切断することで、板状のガラス基板を得る。切断されたガラス基板はさらに、所定のサイズに切断され、目標サイズのガラス基板が作られる。この後、ガラス基板の端面の研削、研磨が行われ、ガラス基板の洗浄が行われ、さらに、気泡等の異常欠陥の有無が検査された後、検査合格品のガラス基板が最終製品として梱包される。
In the molding apparatus, a molding step (ST5) and a slow cooling step (ST6) are performed.
In the forming step (ST5), the molten glass is formed into a sheet glass to make a flow of the sheet glass. For forming, an overflow downdraw method is used.
In the slow cooling step (ST6), the sheet glass that has been formed and flowed is cooled to a desired thickness, so that internal distortion does not occur and warpage does not occur.
In the cutting step (ST7), the sheet glass supplied from the forming device is cut into a predetermined length in the cutting device to obtain a plate-like glass substrate. The cut glass substrate is further cut into a predetermined size to produce a glass substrate having a target size. After this, the end surface of the glass substrate is ground and polished, the glass substrate is cleaned, and after checking for abnormal defects such as bubbles, the glass substrate that has passed the inspection is packed as the final product. The

図2は、本実施形態における熔解工程(ST1)〜切断工程(ST7)を行うガラス基板の製造装置の一例を模式的に示す図である。当該装置は、図2に示すように、主に熔解装置100と、成形装置200と、切断装置300と、を有する。熔解装置100は、熔解炉101と、清澄管102と、攪拌槽103と、ガラス供給管104,105,106と、を有する。   Drawing 2 is a figure showing typically an example of the manufacture device of the glass substrate which performs the melting process (ST1)-cutting process (ST7) in this embodiment. As shown in FIG. 2, the apparatus mainly includes a melting apparatus 100, a forming apparatus 200, and a cutting apparatus 300. The melting apparatus 100 includes a melting furnace 101, a clarification tube 102, a stirring tank 103, and glass supply tubes 104, 105, and 106.

図2に示す熔解装置101では、ガラス原料の投入がバケット101dを用いて行われるが、原料投入方法に制約は無く、スクリューフィーダー方式や、ブッシュープレート方式の投入機を用いてもよい。
清澄管102では、熔融ガラスMGの温度を調整して、清澄剤の酸化還元反応を利用して熔融ガラスMGの清澄が行われる。さらに、攪拌槽103では、スターラ103aによって熔融ガラスMGが攪拌されて均質化される。成形装置200では、成形体210を用いたオーバーフローダウンドロー法により、熔融ガラスMGからシートガラスSGが成形される。
なお、図2に示す熔解炉101から成形装置200にいたる熔融ガラスMGの流路、具体的には、ガラス供給管104、清澄管102、ガラス供給管105、攪拌槽103、およびガラス供給管106の熔融ガラスMGの流路を形成する流路内表面は、少なくてもその一部が、白金あるいは白金合金で構成されている。
In the melting apparatus 101 shown in FIG. 2, the glass raw material is charged using the bucket 101d, but the raw material charging method is not limited, and a screw feeder type or bush plate type charging machine may be used.
In the clarification tube 102, the temperature of the molten glass MG is adjusted, and the clarification of the molten glass MG is performed using the oxidation-reduction reaction of the clarifier. Further, in the stirring vessel 103, the molten glass MG is stirred and homogenized by the stirrer 103a. In the forming apparatus 200, the sheet glass SG is formed from the molten glass MG by the overflow down draw method using the formed body 210.
A flow path of the molten glass MG from the melting furnace 101 to the molding apparatus 200 shown in FIG. 2, specifically, a glass supply pipe 104, a clarification pipe 102, a glass supply pipe 105, a stirring tank 103, and a glass supply pipe 106. At least a part of the inner surface of the flow path forming the flow path of the molten glass MG is made of platinum or a platinum alloy.

(2)ガラス基板
本発明の実施形態において製造されるガラス基板は、例えば、フラットパネルディスプレイ用ガラス基板、またはカーブドパネルディスプレイ用ガラス基板で、例えば、液晶ディスプレイ用ガラス基板あるいは、有機ELディスプレイ用のガラス基板として好適である。また、このガラス基板は、その他、携帯端末機器などのディスプレイや筐体用のカバーガラス、タッチパネル板、太陽電池のガラス基板やカバーガラスとしても用いることができる。特に、液晶ディスプレイ用ガラス基板に好適である。その中でも特に熱収縮率の小さいことが要求される、LTPS(低温ポリシリコン)・TFTや、酸化物半導体・TFT、IGZO(Indium-Gallium-Zinc-Oxide)・TFTディスプレイ用ガラス基板など、パネル製造工程において高温処理を必要とする製品に好適に用いることができる。
(2) Glass substrate The glass substrate manufactured in the embodiment of the present invention is, for example, a glass substrate for flat panel display or a glass substrate for curved panel display, for example, a glass substrate for liquid crystal display or an organic EL display. It is suitable as a glass substrate. In addition, the glass substrate can also be used as a display for a portable terminal device, a cover glass for a housing, a touch panel plate, a glass substrate for a solar cell, or a cover glass. Particularly, it is suitable for a glass substrate for liquid crystal display. Panel manufacturing such as LTPS (low temperature polysilicon) TFT, oxide semiconductor TFT, IGZO (Indium-Gallium-Zinc-Oxide) TFT display glass substrate, etc., which are required to have particularly low thermal shrinkage. It can be suitably used for products that require high temperature treatment in the process.

本実施形態において製造されるガラス基板は、特に制限されないが、例えば縦寸法及び横寸法のそれぞれが、500mm〜3500mm、1500mm〜3500mm、1800〜3500mm、2000mm〜3500mmなどが挙げられ、2000mm〜3500mmであることが好ましい。
ガラス基板の厚さは、例えば0.01mm〜1.1mmである。より好ましくは0.75mm以下の極めて薄い矩形形状の板で、例えば、0.55mm以下、さらには0.45mm以下の厚さがより好ましい。ガラス基板の厚さの下限値としては、0.15mm以上が好ましく、0.25mm以上がより好ましい。
Although the glass substrate manufactured in this embodiment is not particularly limited, for example, the vertical dimension and the horizontal dimension are 500 mm to 3500 mm, 1500 mm to 3500 mm, 1800 to 3500 mm, 2000 mm to 3500 mm, etc., and 2000 mm to 3500 mm. Preferably there is.
The thickness of the glass substrate is, for example, 0.01 mm to 1.1 mm. More preferably, it is a very thin rectangular plate of 0.75 mm or less, and for example, a thickness of 0.55 mm or less, more preferably 0.45 mm or less is more preferable. As a lower limit of the thickness of a glass substrate, 0.15 mm or more is preferable and 0.25 mm or more is more preferable.

本実施形態で製造されるガラス基板として、以下のガラス組成のガラス基板が例示される。つまり、以下のガラス組成のガラス基板が製造されるように、熔融ガラスの原料が調合される。
<ガラス組成>
本実施形態が適用するガラス組成として、例えば、次が挙げられる(質量%表示)。
SiO:50〜70%(好ましくは、57〜64%)、Al:5〜25%(好ましくは、12〜18%)、B:0〜15%(好ましくは、6〜13%)を含み、さらに、次に示す組成を任意に含んでもよい。任意で含む成分として、MgO:0〜10%(好ましくは、0.5〜4%)、CaO:0〜20%(好ましくは、3〜7%)、SrO:0〜20%(好ましくは、0.5〜8%、より好ましくは3〜7%)、BaO:0〜10%(好ましくは、0〜3%、より好ましくは0〜1%)、ZrO:0〜10%(好ましくは、0〜4%,より好ましくは0〜1%)、P:0〜5%(好ましくは、0〜3%)が挙げられる。さらに、R’O:0.10%を超え2.0%以下(ただし、R’はLi、NaおよびKから選ばれる少なくとも1種である)を含むことがより好ましい。
或いは、SiO:50〜70%(好ましくは、55〜65%)、B:0〜10%(好ましくは、0〜5%、1.3〜5%)、Al:10〜25%(好ましくは、16〜22%)、MgO:0〜10%(好ましくは、0.5〜4%)、CaO:0〜20%(好ましくは、2〜10%、2〜6%)、SrO:0〜20%(好ましくは、0〜4%、0.4〜3%)、BaO:0〜15%(好ましくは、4〜11%)、RO:5〜20%(好ましくは、8〜20%、14〜19%)、P:0〜5%(好ましくは、0〜3%),を含有することが好ましい(ただし、RはMg、Ca、SrおよびBaから選ばれる少なくとも1種である)。さらに、R’Oが0.10%を超え2.0%以下(ただし、R’はLi、NaおよびKから選ばれる少なくとも1種である)を含むことがより好ましい。
さらに本実施形態のガラス基板の物性値として次が挙げられる。
<ヤング率>
本実施形態が適用されるガラス基板のヤング率として、例えば、72(Gpa)以上が好ましく、75(Gpa)以上がより好ましく、77(Gpa)以上がより更に好ましい。
<歪点>
本実施形態が適用されるガラス基板の歪率として、例えば、650℃以上が好ましく、680℃以上がより好ましく、700℃以上、720℃以上が更により好ましい。
また、例えば、ガラス基板の液相粘度は、104.3poise〜106.7poiseである。
もちろん、本発明においては、ガラス基板のガラス組成を限定するものではない。
<その他>
本実施形態における熔融ガラスからシートガラスを成形する方法として、フロート法やフュージョン法等が用いられるが、本実施形態のガラス基板のオフラインにおける熱処理を含むガラス基板の製造方法は、フュージョン法(オーバーダウンドロー法)において製造ライン上の徐冷装置を長くすることが困難である点から、フュージョン法に適している。本実施形態の熱処理により熱収縮率を低減する前のガラス基板の熱収縮率は、500℃の温度で30分間保持し、その後、常温まで放冷した場合の、下記式で示される熱収縮率で、50ppm以下であり、好ましくは40ppm以下、より好ましくは30ppm以下、更により好ましくは20ppm以下である。
熱収縮率の小さいガラス基板の要求に伴って、微小な熱収縮量を精度高く測定することが求められている。熱収縮率を測定する方法としては、ガラス基板の熱収縮率(C)を〔C(熱収縮率)=(L−L)/L(ここで、L:熱収縮前のガラス板の長さ、L:熱収縮後のガラス板の長さ)で、たとえば、熱収縮率(ppm)={熱処理でのガラスの収縮量/熱処理前のガラスのケガキ線間距離}×10で求められる。
As a glass substrate manufactured by this embodiment, the glass substrate of the following glass compositions is illustrated. That is, the raw material of molten glass is prepared so that the glass substrate of the following glass compositions is manufactured.
<Glass composition>
Examples of the glass composition to which the present embodiment is applied include the following (mass% display).
SiO 2: 50~70% (preferably, 57~64%), Al 2 O 3: 5~25% ( preferably, 12~18%), B 2 O 3: 0~15% ( preferably, 6 ~ 13%), and may optionally contain the following composition. As optional components, MgO: 0 to 10% (preferably 0.5 to 4%), CaO: 0 to 20% (preferably 3 to 7%), SrO: 0 to 20% (preferably, from 0.5 to 8%, more preferably 3~7%), BaO: 0~10% ( preferably 0-3%, more preferably 0~1%), ZrO 2: 0~10 % ( preferably 0-4%, more preferably 0~1%), P 2 O 5 : 0~5% ( preferably 0-3%) can be mentioned. Furthermore, it is more preferable that R ′ 2 O: more than 0.10% and 2.0% or less (provided that R ′ is at least one selected from Li, Na, and K).
Alternatively, SiO 2: 50~70% (preferably, 55~65%), B 2 O 3: 0~10% ( preferably, 0~5%, 1.3~5%), Al 2 O 3: 10-25% (preferably 16-22%), MgO: 0-10% (preferably 0.5-4%), CaO: 0-20% (preferably 2-10%, 2-6 %), SrO: 0 to 20% (preferably 0 to 4%, 0.4 to 3%), BaO: 0 to 15% (preferably 4 to 11%), RO: 5 to 20% (preferably Is preferably 8 to 20%, 14 to 19%), P 2 O 5 : 0 to 5% (preferably 0 to 3%), where R is Mg, Ca, Sr and Ba At least one kind selected from: Furthermore, it is more preferable that R ′ 2 O contains more than 0.10% and 2.0% or less (provided that R ′ is at least one selected from Li, Na and K).
Furthermore, the following are mentioned as a physical-property value of the glass substrate of this embodiment.
<Young's modulus>
As a Young's modulus of the glass substrate to which this embodiment is applied, for example, 72 (Gpa) or more is preferable, 75 (Gpa) or more is more preferable, and 77 (Gpa) or more is even more preferable.
<Strain point>
As a distortion rate of the glass substrate to which this embodiment is applied, 650 degreeC or more is preferable, for example, 680 degreeC or more is more preferable, 700 degreeC or more and 720 degreeC or more are still more preferable.
Further, for example, the liquid phase viscosity of the glass substrate is 10 4.3 poise to 10 6.7 poise.
Of course, in the present invention, the glass composition of the glass substrate is not limited.
<Others>
As a method for forming sheet glass from molten glass in this embodiment, a float method, a fusion method, or the like is used. However, a method for manufacturing a glass substrate including offline heat treatment of the glass substrate in this embodiment is a fusion method (overdown). The draw method is suitable for the fusion method because it is difficult to lengthen the slow cooling device on the production line. The thermal shrinkage rate of the glass substrate before reducing the thermal shrinkage rate by the heat treatment of this embodiment is maintained at a temperature of 500 ° C. for 30 minutes and then allowed to cool to room temperature. And 50 ppm or less, preferably 40 ppm or less, more preferably 30 ppm or less, and even more preferably 20 ppm or less.
Accompanying the demand for a glass substrate having a small heat shrinkage rate, it is required to measure a minute amount of heat shrinkage with high accuracy. As a method for measuring the thermal shrinkage rate, the thermal shrinkage rate (C) of the glass substrate is [C (thermal shrinkage rate) = (L 0 −L) / L 0 (where L 0 is a glass plate before thermal shrinkage). , L: length of glass plate after heat shrinkage), for example, heat shrinkage rate (ppm) = {shrinkage amount of glass in heat treatment / distance between marking lines of glass before heat treatment} × 10 6 Desired.

本実施形態における熔融ガラスからシートガラスを成形する方法として、フロート法やフュージョン法等が用いられるが、本実施形態のガラス基板のオフラインにおける熱処理を含むガラス基板の製造方法は、フュージョン法(オーバーダウンドロー法)において製造ライン上の徐冷装置を長くすることが困難である点から、フュージョン法に適している。   As a method for forming sheet glass from molten glass in this embodiment, a float method, a fusion method, or the like is used. However, a method for manufacturing a glass substrate including offline heat treatment of the glass substrate in this embodiment is a fusion method (overdown). The draw method is suitable for the fusion method because it is difficult to lengthen the slow cooling device on the production line.

(3)ガラス基板の水分量の測定方法
(3−1)特徴
本発明のガラス基板の水分量測定方法とは、β−OH値の測定によるガラス基板の水分量測定方法であって、
前記ガラス基板の屈折率と同程度の屈折率を有し、水酸基を有する物質を含まない成分からなる皮膜層(図3(a)参照)を、前記水分量測定の対象とするガラス基板の主表面上に形成し、前記皮膜層が形成されたガラス基板の水分量をIR(赤外分光分析)を用いて測定する、ことを特徴とする。
(3) Measuring method of moisture content of glass substrate (3-1) Features The measuring method of moisture content of the glass substrate of the present invention is a measuring method of moisture content of the glass substrate by measuring β-OH value,
A film layer (see FIG. 3 (a)) having a refractive index comparable to that of the glass substrate and not containing a substance having a hydroxyl group is used as the main object of the glass substrate for the water content measurement. The moisture content of the glass substrate formed on the surface and having the coating layer formed thereon is measured using IR (infrared spectroscopy).

(3−2)皮膜層の形成方法
水分量を測定するガラス板の主表面上に被膜層を形成する成分(物質)は、測定対象のガラス(無機材料を成分とするガラス)と同程度の屈折率を有する成分(物質)で、水酸基(−OH)を有しない物質から適宜選択され、種類や成分は特に限定されない。
例えば、水分量を測定するガラス板の屈折率が「1.5」の場合、1.3〜1.7の範囲にある屈折率を有する成分(物質)で、水酸基(−OH)を有しない物質から選択される。つまり、水分量を測定するガラス板の屈折率と皮膜層の屈折率との差が±0.2以内にあればよく、好ましくは±0.1以内、さらに好ましくは±0.05以内がよい。
ガラス板の主表面上に形成される被膜層の物質として、例えば、油、ゲル状物質、樹脂などが挙げられる。
また、ガラス板上の皮膜層は、液体の皮膜層、固体の皮膜層、又は完全に固体ではない粘性の高い状態の皮膜層、これらのうち、いずれでもよい。
(3-2) Forming method of coating layer The component (substance) that forms the coating layer on the main surface of the glass plate whose moisture content is to be measured is the same as the glass to be measured (the glass containing an inorganic material as a component). The component (substance) having a refractive index is appropriately selected from materials having no hydroxyl group (—OH), and the type and the component are not particularly limited.
For example, when the refractive index of the glass plate for measuring the moisture content is “1.5”, it is a component (substance) having a refractive index in the range of 1.3 to 1.7 and does not have a hydroxyl group (—OH). Selected from substances. That is, the difference between the refractive index of the glass plate for measuring the moisture content and the refractive index of the coating layer should be within ± 0.2, preferably within ± 0.1, more preferably within ± 0.05. .
Examples of the material of the coating layer formed on the main surface of the glass plate include oil, a gel material, and a resin.
The film layer on the glass plate may be a liquid film layer, a solid film layer, or a highly viscous film layer that is not completely solid.

水分量を測定するガラス板の主表面上に皮膜層を形成する方法として、例えば、液体状の皮膜層成分をガラス板の主表面上に塗布し、所定の厚さの液体状の皮膜層がガラス板の主表面上に形成された状態で、皮膜層を有するガラス板の赤外線吸収スペクトルを測定することができる。
液体状の皮膜層の物質を塗布する塗布方法は、ガラス板の主表面上に所定の厚さで皮膜層を形成することができればよく、塗布の手段は特に限定されず、公知の塗布方法を用いればよい。
As a method of forming a coating layer on the main surface of the glass plate for measuring the moisture content, for example, a liquid coating layer component is applied on the main surface of the glass plate, and a liquid coating layer having a predetermined thickness is formed. In the state formed on the main surface of the glass plate, the infrared absorption spectrum of the glass plate having the coating layer can be measured.
The coating method for applying the liquid coating layer substance is not particularly limited as long as the coating layer can be formed with a predetermined thickness on the main surface of the glass plate. Use it.

水分量を測定するガラス板の主表面上に固体の皮膜層を形成する場合も、皮膜層の形成方法は特に限定されず、例えば、まず液体状の皮膜層成分をガラス板の主表面上に塗布し、所定の厚さの皮膜層がガラス板の主表面上に形成され、ガラス板と接触しない被膜層の主表面が滑らかで凹凸が無く、平滑性が極めて高い面であれば、固体状の被膜層を形成してもよい。完全に固体ではない粘性の高い状態の皮膜層をガラス板上に形成する場合も、同様である。   Even when a solid film layer is formed on the main surface of the glass plate for measuring the moisture content, the method for forming the film layer is not particularly limited. For example, first, a liquid film layer component is formed on the main surface of the glass plate. If a coating layer with a predetermined thickness is formed on the main surface of the glass plate and the main surface of the coating layer that is not in contact with the glass plate is smooth and has no irregularities, and has a very high smoothness, it is solid. A coating layer may be formed. The same applies when a highly viscous coating layer that is not completely solid is formed on a glass plate.

ガラス板の主表面上に皮膜層を形成する厚さは、例えば、ガラス板の厚さの1/10〜1/1000の範囲にあればよく、あるいは、ガラス板と接触しない被膜層の主表面が滑らかで凹凸が無い状態が維持できれば、皮膜層の厚さは、この範囲を超えて厚くてもよいし、薄くてもよい。   The thickness for forming the coating layer on the main surface of the glass plate may be, for example, in the range of 1/10 to 1/1000 of the thickness of the glass plate, or the main surface of the coating layer not in contact with the glass plate As long as the film can be kept smooth and free of irregularities, the thickness of the coating layer may be thicker or thinner than this range.

[β−OH値の測定]
ガラスのβ−OH値[mm−1]はガラスのIRで赤外線吸収スペクトルを測定し、得られたスペクトルにおいて次式により求められる。
β−OH値=(1/X)log10(T1/T2)
X : ガラスの厚さ(mm)
T1 : 参照波長2600nm における透過率(%)
T2 : 水酸基吸収波長2800nm付近における最小透過率(%)
通常、ガラス板の水分量算出として、同一条件で得られたガラス基板から複数サンプルを切り出し、複数のサンプルについてβ−OH値を測定して水分量を求める。
[Measurement of β-OH value]
The β-OH value [mm −1 ] of glass is determined by the following formula in the spectrum obtained by measuring an infrared absorption spectrum with IR of glass.
β-OH value = (1 / X) log 10 (T1 / T2)
X: Glass thickness (mm)
T1: Transmittance (%) at a reference wavelength of 2600 nm
T2: Minimum transmittance (%) near the hydroxyl absorption wavelength of 2800 nm
Usually, as a moisture content calculation of a glass plate, a plurality of samples are cut out from a glass substrate obtained under the same conditions, and a β-OH value is measured for the plurality of samples to obtain a moisture content.

上述のとおり、ガラス基板の屈折率と同程度の屈折率を有し、水酸基を有する物質を含まない成分からなる皮膜層をガラス基板上の主表面に形成して、主表面に皮膜層を有するガラス基板の水分量をIRで測定すると、赤外線吸収スペクトルが滑らかになり、安定した赤外吸収スペクトルが得られるため、より正確なβ−OH値を測定することができ、水分量の測定の精度が向上する。   As described above, a coating layer made of a component having a refractive index comparable to that of the glass substrate and not containing a substance having a hydroxyl group is formed on the main surface of the glass substrate, and the coating layer is formed on the main surface. When the moisture content of a glass substrate is measured by IR, the infrared absorption spectrum becomes smooth and a stable infrared absorption spectrum is obtained, so that a more accurate β-OH value can be measured, and the accuracy of moisture content measurement. Will improve.

(4)ガラス基板の水分量測定工程とフィードバックプロセス
(4−1)ガラス原料およびカレットの原料配合におけるフィードバック制御
本実施形態のガラス基板の製造方法の一つは、本発明の水分量測定方法に基づいて、成形徐冷後のガラス基板の水分量を、赤外線分光法によるガラス基板中のOH基に起因する吸光度(β−OH値)を用いてβ−OH値を実測した後(実測β−OH値)、熔解工程において、予め定められる基準β−OH値と、実測β−OH値との比較に基づいて、ガラス原料およびカレットの混合物に対するカレットの配合比(以下、カレット比ともいう)を制御する原料配合制御のフィードバックプロセスを含む。本発明の水分量測定工程の設置は、成形徐冷後、あるいは、熔解工程前に備えて成形徐冷後のガラス基板をフィードバックする、等が挙げられる。
(4) Moisture content measurement step and feedback process of glass substrate (4-1) Feedback control in glass raw material and cullet raw material composition One of the glass substrate manufacturing methods of the present embodiment is the moisture content measurement method of the present invention. On the basis of the moisture content of the glass substrate after forming and cooling, after measuring the β-OH value using the absorbance (β-OH value) due to the OH group in the glass substrate by infrared spectroscopy (measured β- OH value), in the melting step, based on a comparison between a predetermined reference β-OH value and an actually measured β-OH value, a mixing ratio of cullet (hereinafter also referred to as cullet ratio) with respect to a mixture of the glass raw material and cullet. Includes feedback process of controlling raw material formulation. The installation of the moisture content measurement step of the present invention may include, for example, feeding back the glass substrate after the slow annealing in preparation for the slow cooling of the molding or before the melting step.

ガラス原料とともにカレットを用いるのは、ガラス原料を熔解するためのエネルギーを小さくするためである。カレットは、一度熔融してガラス化されているため、ガラス原料を熔解する場合に比べ、少ないエネルギーで熔解できる。また、ガラス原料とともにカレットを用いることで、ガラス基板の製造工程において生じる製品にならないガラスを再利用することで、産業廃棄物の発生を抑えると共に、原料コストを抑えることができる。
なお、ガラス原料は、後述するガラス基板の組成となるよう用意されたSiO、Al、B等の各成分である。カレットは、ガラス基板の製造工程において生じる耳部と呼ばれるガラスや、ガラスくずである。耳部は、切断工程(ST8)においてガラス板から切り離された、シートガラスの幅方向両側の部分である。
The reason why the cullet is used together with the glass raw material is to reduce the energy for melting the glass raw material. Since the cullet is melted once and vitrified, it can be melted with less energy compared to melting the glass raw material. In addition, by using cullet together with the glass raw material, it is possible to suppress the generation of industrial waste and to reduce the raw material cost by reusing the glass that does not become a product generated in the manufacturing process of the glass substrate.
The glass raw materials, which are the components such as SiO 2, Al 2 O 3, B 2 O 3 that is provided so as to be the composition of the glass substrate to be described later. The cullet is glass or glass waste called an ear generated in the glass substrate manufacturing process. The ears are portions on both sides in the width direction of the sheet glass, which were cut from the glass plate in the cutting step (ST8).

ガラス基板中の水分は、ガラス原料やカレットに含まれる水分が熔融ガラスから放出されずにガラス中に残ったり、熔解槽内の熔融ガラスの液面近傍の雰囲気から熔融ガラス中に溶け込んだりすることによって、ガラス基板中に含まれる。ガラス基板中の水分量を一定に保つためには、ガラス原料中の水分量や、熔解槽でのガラス熔解温度、熔融ガラス量、を一定に保つことが挙げられる。
しかし、製造するガラス基板の厚さや求められる品質を実現するために、熔解槽でのガラス熔解温度を変更することや、熔解槽中の熔解ガラス量を変更することが必要となる。これにより、ガラス基板中の水分量が変化してしまうのでガラス基板中の水分量を一定に保つことは困難である。また、外因によって意図せずにガラス基板中の水分量が変化することもある。
The moisture in the glass substrate must remain in the glass without being released from the molten glass or from the atmosphere near the liquid surface of the molten glass in the melting tank. Is contained in the glass substrate. In order to keep the moisture content in the glass substrate constant, it is mentioned to keep the moisture content in the glass raw material, the glass melting temperature in the melting tank, and the molten glass amount constant.
However, in order to realize the thickness of the glass substrate to be manufactured and the required quality, it is necessary to change the glass melting temperature in the melting tank or to change the amount of molten glass in the melting tank. As a result, the amount of moisture in the glass substrate changes, and it is difficult to keep the amount of moisture in the glass substrate constant. In addition, the amount of water in the glass substrate may change unintentionally due to external factors.

そこで、本実施形態のガラス基板の製造方法では、本発明のβ−OH値の測定方法を用いて成形徐冷後のガラス基板の水分量の実測データ(実測β−OH値)をモニタリングして、さらに熔解工程へフィードバックし、予め定められる基準β−OH値と、実測β−OH値との比較に基づいて、ガラス原料およびカレットの混合物に対するカレットの配合比を制御することで、ガラス基板中の水分量の変動による影響を、より正確に精度高く抑えることができる。
熔解工程(ST2)において、ガラス原料に対するカレットを配合量が制御されることで、熔解工程(ST2)では、カレット比に従ってガラス原料およびカレットが最適に配合調整されて投入される。
Therefore, in the method for producing a glass substrate of the present embodiment, the measured data (actually measured β-OH value) of the moisture content of the glass substrate after the slow cooling of molding is monitored using the β-OH value measuring method of the present invention. Furthermore, by feeding back to the melting process and controlling the blending ratio of the cullet to the mixture of the glass raw material and the cullet based on the comparison between the predetermined reference β-OH value and the measured β-OH value, in the glass substrate It is possible to more accurately and accurately suppress the influence of fluctuations in the amount of water.
In the melting step (ST2), the amount of cullet with respect to the glass raw material is controlled, and in the melting step (ST2), the glass raw material and cullet are optimally mixed and adjusted according to the cullet ratio.

このように、本発明のガラス基板の水分量測定方法に従って水分量(β−OH値)をモニタリングし、さらに、ガラス基板の実測β−OH値が次のガラス基板の製造プロセスに反映され、原料配合においてフィードバック制御が行われることで、ガラス基板のβ−OH値を精度高く管理することができる。   As described above, the moisture content (β-OH value) is monitored according to the method for measuring the moisture content of the glass substrate of the present invention, and the measured β-OH value of the glass substrate is reflected in the manufacturing process of the next glass substrate. By performing feedback control in the blending, the β-OH value of the glass substrate can be managed with high accuracy.

(4−2)熔解槽における燃焼加熱制御のフィードバックプロセス
本実施形態のガラス基板の製造方法の一つは、本発明の水分量測定方法に基づいて、成形徐冷後のガラス基板の水分量を、赤外線分光法によるガラス基板中のOH基に起因する吸光度(β−OH値)を用いてβ−OH値を実測した後(実測β−OH値)、熔解工程において、予め定められる基準β−OH値と、実測β−OH値との比較に基づいて、前記ガラス熔解に用いるガス加熱燃焼(酸素燃焼加熱)と電気加熱(直接通電加熱)の比率を制御する、熔解の燃焼加熱制御のフィードバックプロセスを含む。本発明の水分量測定工程の設置は、成形徐冷後、あるいは、熔解工程前に備えて成形徐冷後のガラス基板をフィードバックする、等が挙げられる。
(4-2) Feedback process of combustion heating control in melting tank One of the methods for producing a glass substrate of the present embodiment is based on the moisture content measuring method of the present invention. After measuring the β-OH value using the absorbance (β-OH value) due to the OH group in the glass substrate by infrared spectroscopy (measured β-OH value), in the melting step, a predetermined reference β- Based on the comparison between the OH value and the measured β-OH value, the ratio of the gas heating combustion (oxygen combustion heating) and the electric heating (direct current heating) used for the glass melting is controlled. Includes processes. The installation of the moisture content measurement step of the present invention may include, for example, feeding back the glass substrate after the slow annealing in preparation for the slow cooling of the molding or before the melting step.

熔解工程(ST2)は熔解槽で行われる。熔解槽では、カレット比に従って、ガラス原料およびカレットを、熔解槽に蓄えられた熔融ガラスの液面に投入することにより熔融ガラスを作る。ガラス原料およびカレットの投入方法は、例えば、ガラス原料等を収めたバケットを反転して熔解槽内の熔融ガラスに投入する方式でも、ベルトコンベアを用いてガラス原料等を搬送して投入する方式、スクリューフィーダによりガラス原料等を投入する方式、でもよい。本実施形態では、バケットを用いてガラス原料等が投入される。   The melting step (ST2) is performed in a melting tank. In the melting tank, molten glass is made by introducing the glass raw material and cullet into the liquid surface of the molten glass stored in the melting tank in accordance with the cullet ratio. Glass raw material and cullet charging method, for example, a method of inverting the bucket containing the glass raw material etc. and putting it into the molten glass in the melting tank, or a method of feeding the glass raw material etc. using a belt conveyor, A method of feeding glass raw material or the like with a screw feeder may be used. In this embodiment, a glass raw material etc. are supplied using a bucket.

熔解槽の熔融ガラスは、例えば、バーナの火炎からの輻射熱により加熱されてもよく、モリブデン、白金または酸化錫等で構成された少なくとも1対の電極(図示されない)間に電流を流して熔融ガラスを通電加熱してもよく、また、通電加熱に加えて、バーナによる火焔を補助的に与えてガラス原料を熔解してもよい。本実施形態では、バーナの火炎からの輻射熱及び通電加熱により加熱される。
投入されるガラス原料及びカレットには、清澄剤が添加される。清澄剤として、SnO2,As23,Sb23等が知られているが、特に制限されない。しかし、環境負荷低減の点から、清澄剤としてSnO2(酸化錫)を用いることが好ましい。
The molten glass of the melting tank may be heated by, for example, radiant heat from a flame of a burner, and an electric current is passed between at least one pair of electrodes (not shown) made of molybdenum, platinum, tin oxide, or the like. The glass raw material may be melted by supplementary heating with a burner in addition to the current heating. In this embodiment, heating is performed by radiant heat from the flame of the burner and energization heating.
A fining agent is added to the glass raw material and cullet to be charged. SnO 2 , As 2 O 3 , Sb 2 O 3 and the like are known as fining agents, but are not particularly limited. However, it is preferable to use SnO2 (tin oxide) as a clarifying agent from the viewpoint of reducing environmental burden.

バーナに代表される燃焼加熱の比率が高すぎると、製造されるガラス基板のβ―OH値が高くなり、歪点が小さくなるので、熱収縮率のばらつきも大きくなる。
本実施形態の一つとして、本発明のβ−OH値の測定方法を用いて成形徐冷後のガラス基板の水分量の実測データ(実測β−OH値)をモニタリングして、さらに熔解工程へフィードバックし、予め定められる基準β−OH値と、実測β−OH値との比較に基づいて、燃焼加熱と通電加熱の比率を制御することができる。
If the ratio of combustion heating typified by a burner is too high, the β-OH value of the glass substrate to be produced becomes high and the strain point becomes small, so that the variation in the heat shrinkage rate also becomes large.
As one of the embodiments, the actual measurement data (actual β-OH value) of the moisture content of the glass substrate after forming and cooling is monitored using the β-OH value measurement method of the present invention, and further to the melting step. It is possible to control the ratio of combustion heating and electric heating based on a comparison between a predetermined reference β-OH value and a measured β-OH value.

例えば、熔解槽において、バーナ等の燃焼手段を用いた気相中の燃焼加熱と、1対の電極等を用いて、熔融ガラスに電流を流すことにより行う通電加熱とを用いて、SnOを含み、粘度が102.5ポアズであるときの温度が1580℃以上であるガラスとなるようにガラス原料を熔解する場合、このとき、予め定められた基準β−OH値を指標として、成形後のガラス基板の水分量(実測β−OH値)を測定して、燃焼加熱と通電加熱が最適に行われているかチェックすることができる。例えば、燃焼加熱と通電加熱発熱量の比において、燃焼加熱の比率が高くなりすぎない様に、成形後のガラス基板の水分量(実測β−OH値)を測定してモニタリングすることで、熔解工程における、通電加熱による発熱量に対する燃焼加熱による発熱量の比を、1.5以上2.8以下となるように、燃焼加熱と通電加熱が、常に最適に、制御することができる。 For example, in a melting tank, SnO 2 is produced by using combustion heating in a gas phase using combustion means such as a burner and energization heating performed by passing a current through the molten glass using a pair of electrodes or the like. In the case where the glass raw material is melted so that the temperature is 1580 ° C. or more when the viscosity is 102.5 poises, at this time, using a predetermined reference β-OH value as an index, By measuring the moisture content (measured β-OH value) of the glass substrate, it is possible to check whether combustion heating and current heating are optimally performed. For example, by measuring and monitoring the moisture content (measured β-OH value) of the glass substrate after forming so that the combustion heating ratio does not become too high in the ratio of combustion heating and electric heating heating value, Combustion heating and energization heating can always be controlled optimally so that the ratio of the heating value by combustion heating to the heating value by combustion heating in the process is 1.5 or more and 2.8 or less.

バーナに代表される燃焼加熱の比率が高すぎると、製造されるガラス基板のβ―OH値が高くなり、歪点が小さくなるので、熱収縮率のばらつきも大きくなる。また、燃焼加熱による発熱量の寄与が大きくなり、気相空間の温度が高くなるので、熔融ガラスの液面上のガラス原料の状態でガラス原料に含まれるSnOなどの清澄剤中の酸素を気相空間中に放出して酸素は拡散する。このため、後工程である清澄工程で熔融ガラスを脱泡するとき、熔融ガラスに含まれる清澄剤から十分な酸素が供給されず、熔融ガラスに含まれる泡に酸素を吸収させて成長させ、熔融ガラスの液面に泡を浮上させて泡を放出させることを十分にできない。すなわち、脱泡処理が十分に行えない。この問題は、清澄効果が高いAsを使用せずに、SnOを清澄剤として用いる場合に顕著となる。 If the ratio of combustion heating typified by a burner is too high, the β-OH value of the glass substrate to be produced becomes high and the strain point becomes small, so that the variation in the heat shrinkage rate also becomes large. Moreover, since the contribution of the heat generated by combustion heating increases and the temperature of the gas phase space increases, oxygen in the fining agent such as SnO 2 contained in the glass raw material in the state of the glass raw material on the liquid surface of the molten glass. Oxygen diffuses as it is released into the gas phase space. For this reason, when the molten glass is defoamed in the refining process, which is a subsequent process, sufficient oxygen is not supplied from the refining agent contained in the molten glass, and the bubbles contained in the molten glass are allowed to grow by absorbing oxygen. It is not possible to release bubbles by raising the bubbles to the liquid surface of the glass. That is, the defoaming process cannot be performed sufficiently. This problem becomes prominent when SnO 2 is used as a clarifier without using As 2 O 3, which has a high clarification effect.

他方、通電加熱の比率が高すぎると、通電加熱による発熱量の寄与が相対的に大きくなり、通電加熱のために流す電流は多くなる。ここで、歪点が高くなるようにガラス組成を調整すると、粘度が102.5ポアズであるときの温度が高くなる傾向にあり、熔融ガラスの比抵抗も大きくなる傾向にある。例えば、SnOを含有し、粘度が102.5ポアズであるときの温度が1580℃以上であるガラスは、熔解槽に貯留される熔融ガラスの温度では熔解槽の底壁の耐火レンガの比抵抗との差が小さくなる。この傾向は、実質的にアルカリ金属酸化物を含まない、あるいはアルカリ金属酸化物の含有率が0質量%以上0.8質量%以下であるアクティブマトリクス型フラットパネルディスプレイ用のガラス基板で特に顕著となる。
このため、1対の電極に供給される電流の一部分は熔融ガラスではなく、熔解槽本体の底壁に流れて底壁が通電加熱される。したがって、比抵抗が高く、高温粘性の高い熔融ガラスを熔解槽でつくる場合、電極対に電流を多量に供給することで底壁にも多量に流れ、この結果、底壁の通電加熱による発熱量は大きくなる。この底壁の発熱量の増大によって、熔解槽の底部の断熱特性により熱がこもるという現象が生じる。この熱ごもりは、底部の耐火レンガの機械的強度を弱めて熱クリープを生じさせて、底部を変形させる虞がある。さらに、熱ごもりにより耐火レンガの温度が耐熱温度を超えて熔損する虞もある。このため、通電加熱による発熱量の寄与が過大になることは好ましくない。
On the other hand, if the ratio of current heating is too high, the contribution of the amount of heat generated by current heating becomes relatively large, and the current that flows for current heating increases. Here, when the glass composition is adjusted so as to increase the strain point, the temperature when the viscosity is 10 2.5 poise tends to increase, and the specific resistance of the molten glass also tends to increase. For example, when glass containing SnO 2 and having a viscosity of 10 2.5 poise and having a temperature of 1580 ° C. or higher is the ratio of the refractory bricks on the bottom wall of the melting tank at the temperature of the molten glass stored in the melting tank The difference from the resistance is reduced. This tendency is particularly noticeable in a glass substrate for an active matrix flat panel display that is substantially free of alkali metal oxide or has an alkali metal oxide content of 0% by mass to 0.8% by mass. Become.
For this reason, a part of electric current supplied to a pair of electrodes flows into the bottom wall of a melting tank main body instead of molten glass, and a bottom wall is electrically heated. Therefore, when making molten glass with high specific resistance and high temperature viscosity in the melting tank, a large amount of current is supplied to the electrode pair, so that a large amount of current flows also to the bottom wall. Will grow. Due to the increase in the amount of heat generated at the bottom wall, a phenomenon occurs in which heat is trapped due to the heat insulation characteristics of the bottom of the melting tank. This heat weight may weaken the mechanical strength of the refractory bricks at the bottom to cause thermal creep and deform the bottom. Furthermore, there is a possibility that the temperature of the refractory brick exceeds the heat resistance temperature and is melted by the heat. For this reason, it is not preferable that the contribution of the amount of heat generated by energization heating is excessive.

以上の点を鑑み、通電加熱による発熱量に対する、燃焼加熱による発熱量の比を1.5〜2.8とすることが好ましい。   In view of the above points, it is preferable that the ratio of the amount of heat generated by combustion heating to the amount of heat generated by energization heating is 1.5 to 2.8.

通電加熱による発熱量は、例えば電力計から消費電力を計測し、消費電力量を求めることができる。消費電力量(kW)から、通電加熱による発熱量(kcal/時)に変換する(1kW=860kcal/時)。なお、消費電力は、電極114の印加電圧と電極114に流れる電流から求めてもよい。燃焼ガスを用いた燃焼加熱の発熱量は、燃焼ガスの燃焼による単位体積当たりの発熱量に単位時間の燃焼ガスの供給量(燃焼ガスの流量)を乗算することで算出される。本実施形態で用いる発熱量の比は、一定時間当たりの発熱量の平均値の比である。ここで、一定時間は、1時間であっても1日でもよい。   The amount of heat generated by energization heating can be obtained by, for example, measuring power consumption from a power meter. The amount of power consumed (kW) is converted into the amount of heat generated by energization heating (kcal / hour) (1 kW = 860 kcal / hour). Note that the power consumption may be obtained from the voltage applied to the electrode 114 and the current flowing through the electrode 114. The calorific value of combustion heating using the combustion gas is calculated by multiplying the calorific value per unit volume due to combustion of the combustion gas by the supply amount of combustion gas per unit time (flow rate of combustion gas). The ratio of the calorific value used in the present embodiment is the ratio of the average value of the calorific value per certain time. Here, the fixed time may be one hour or one day.

下記のガラス組成となるよう調合したガラス原料を、耐火煉瓦製の熔解槽と白金合金製の調整槽(清澄槽)を備えた連続熔解装置を用いて、1560〜1640℃で熔解し、1620〜1670℃で清澄し、1440〜1530℃で攪拌した後にオーバーフローダウンドロー法により厚さ0.7mmの薄板状に成形し、Tg〜Tg−100度の温度範囲内において、100度/分の平均速度で徐冷を行い、液晶ディスプレイ用(有機ELディスプレイ用)ガラス基板を得た。
得られたガラス基板の屈折率は約1.51であった。このガラス基板の両面(主表面)に、屈折率1.515の溶液を塗布した。溶液は水分を含まない、水よりも粘性のある液体を用いた。ガラス基板の主表面上にガラス基板と同程度の屈折率を有する被膜を形成し、主表面上に被膜を有するガラス基板についてIRで赤外線吸収スペクトルを測定した。スペクトルの結果を図4に示した。下記の測定式に基づいてβ−OH値を算出した。
(使用ガラス)
SiO:60〜65%、Al:15〜20%、B:10〜15%、MgO:0〜5%、CaO:0〜10%、SrO:0〜5%、BaO:0〜5%としてください。それでもダメなら、SiO:60%、Al:16%、B:10%、MgO:2%、CaO:8%、SrO:2%、BaO:2%
(ガラスの形状)
実施例(a)のガラスの厚みは0.7mm、実施例(b)のガラスの厚みは0.5mmであった。
[β−OH値の測定]
ガラスのβ−OH値[mm−1]はガラスのIRで赤外線吸収スペクトルを測定し、得られたスペクトルにおいて次式により求められる。
β−OH値=(1/X)log10(T1/T2)
X : ガラスの厚さ(mm)
T1 : 参照波長2600nm における透過率(%)
T2 : 水酸基吸収波長2800nm付近における最小透過率(%)
この方法によって計算された実施例(a)のβ−OHの値は、皮膜層なし(皮膜層を形成しない従来の水分量測定)の場合で、0.320〜0.330の範囲であり、0.010のバラツキがあったのに対し、皮膜層ありの場合は0.320〜0.325の範囲で、0.005のバラツキであった。
また、実施例(b)のβ−OHの値は、皮膜層なしの場合で、0.229〜0.279の範囲であり、0.050のバラツキがあったのに対し、皮膜層ありの場合は0.224〜0.245の範囲で、0.021のバラツキであった。
実施例(a)の場合、実施例(b)の場合ともに、皮膜層を形成することにより、β−OHの測定値のバラツキを低減することが出来た。
A glass raw material prepared to have the following glass composition is melted at 1560 to 1640 ° C. using a continuous melting apparatus equipped with a refractory brick melting tank and a platinum alloy adjustment tank (clarification tank), and 1620 to After clarifying at 1670 ° C. and stirring at 1440-1530 ° C., it was formed into a thin plate with a thickness of 0.7 mm by the overflow down draw method, and the average speed was 100 ° / min within the temperature range of Tg to Tg−100 ° Was slowly cooled to obtain a glass substrate for liquid crystal display (for organic EL display).
The refractive index of the obtained glass substrate was about 1.51. A solution having a refractive index of 1.515 was applied to both surfaces (main surface) of the glass substrate. The solution used was a liquid that did not contain water and was more viscous than water. A film having a refractive index comparable to that of the glass substrate was formed on the main surface of the glass substrate, and the infrared absorption spectrum was measured by IR for the glass substrate having the film on the main surface. The spectrum results are shown in FIG. The β-OH value was calculated based on the following measurement formula.
(Used glass)
SiO 2: 60~65%, Al 2 O 3: 15~20%, B 2 O 3: 10~15%, MgO: 0~5%, CaO: 0~10%, SrO: 0~5%, BaO : Set to 0 to 5%. If it still fails, SiO 2 : 60%, Al 2 O 3 : 16%, B 2 O 3 : 10%, MgO: 2%, CaO: 8%, SrO: 2%, BaO: 2%
(Glass shape)
The thickness of the glass of Example (a) was 0.7 mm, and the thickness of the glass of Example (b) was 0.5 mm.
[Measurement of β-OH value]
The β-OH value [mm −1 ] of glass is determined by the following formula in the spectrum obtained by measuring an infrared absorption spectrum with IR of glass.
β-OH value = (1 / X) log 10 (T1 / T2)
X: Glass thickness (mm)
T1: Transmittance (%) at a reference wavelength of 2600 nm
T2: Minimum transmittance (%) near the hydroxyl absorption wavelength of 2800 nm
The value of β-OH of Example (a) calculated by this method is in the range of 0.320 to 0.330 in the case of no coating layer (conventional moisture measurement without forming a coating layer), While there was a variation of 0.010, when the coating layer was present, the variation was in the range of 0.320 to 0.325 and 0.005.
Moreover, the value of β-OH in Example (b) is in the range of 0.229 to 0.279 in the case of no coating layer, and there was a variation of 0.050, whereas there was a coating layer. In the case, the variation was 0.021 within the range of 0.224 to 0.245.
In the case of Example (a), the variation in the measured value of β-OH could be reduced by forming the coating layer in both cases of Example (b).

ガラス基板の屈折率と同程度の屈折率を有し、水酸基を有する物質を含まない成分からなる皮膜層をガラス基板上の主表面に形成して、主表面に皮膜層を有するガラス基板の水分量をIRで測定すると、赤外線吸収スペクトルが一定し、安定した赤外吸収スペクトルが得られたため、より正確なβ−OH値を測定することができ、水分量の測定の精度が向上した。本発明の水分量測定方法によれば、測定で得られるβ−OH値の変動を±0.2以内に抑えることが出来る。   Moisture of a glass substrate having a refractive index comparable to that of the glass substrate and having a coating layer made of a component not containing a substance having a hydroxyl group on the main surface of the glass substrate and having the coating layer on the main surface When the amount was measured by IR, the infrared absorption spectrum was constant, and a stable infrared absorption spectrum was obtained. Therefore, a more accurate β-OH value could be measured, and the accuracy of water content measurement was improved. According to the moisture content measuring method of the present invention, the fluctuation of the β-OH value obtained by the measurement can be suppressed to within ± 0.2.

以上のように、本発明のガラス基板のβ−OH測定方法による水分量測定方法によれば、β−OH値を簡易に高精度に測定することができ、製造プロセスの過程においてガラス基板のβ−OH値の情報を精度高くモニタリングすることができるため、ガラス基板の製造方法において、本発明の水分量測定方法の測定工程を備えることで、原料の配合、溶融加熱するときの条件、溶融ガラスの処理工程で用いられる白金装置の外側の雰囲気条件などを正確に管理することができる。これにより、製造過程で発生する熱収縮率のバラツキを抑えるとともに、熱収縮量の小さいガラス基板を安定して製造することができる。   As described above, according to the moisture content measuring method by the β-OH measuring method of the glass substrate of the present invention, the β-OH value can be easily measured with high accuracy, and the β of the glass substrate can be measured during the manufacturing process. Since the information of -OH value can be monitored with high accuracy, in the glass substrate manufacturing method, by including the measuring step of the moisture content measuring method of the present invention, the composition of raw materials, the conditions for melting and heating, the molten glass It is possible to accurately manage the atmospheric conditions and the like outside the platinum device used in the processing step. Thereby, while suppressing the variation in the thermal contraction rate which generate | occur | produces in a manufacture process, the glass substrate with small heat shrinkage amount can be manufactured stably.

以上、本発明のガラス基板の製造装置、およびガラス基板の製造方法について詳細に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されず、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々の改良や変更をしてもよい。   As mentioned above, although the manufacturing apparatus of the glass substrate of this invention and the manufacturing method of the glass substrate were demonstrated in detail, this invention is not limited to the said embodiment, In the range which does not deviate from the main point of this invention, various improvement and change You may do.

100 ガラス基板の製造装置
101 熔解槽
102 清澄管
103 撹拌槽(攪拌装置)
104 ガラス供給管1
105 ガラス供給管2
106 ガラス供給管3
110 溶解槽壁面
112 電極
200 成形装置
210 成形体
300 切断装置
400 ガラス基板と同等の屈折率を有する皮膜層
401 ガラス基板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 Glass substrate manufacturing apparatus 101 Melting tank 102 Clarification tube 103 Stirrer tank (stirrer)
104 Glass supply pipe 1
105 Glass supply tube 2
106 Glass supply tube 3
DESCRIPTION OF SYMBOLS 110 Dissolution tank wall surface 112 Electrode 200 Molding device 210 Molded body 300 Cutting device 400 Film layer 401 having refractive index equivalent to glass substrate Glass substrate

Claims (6)

β−OH値の測定によるガラス基板の水分量測定方法であって、
前記ガラス基板の屈折率と同程度の屈折率を有し、水酸基を有する物質を含まない成分からなる皮膜層を、水分量を測定するガラス基板の少なくとも一方の主表面上に形成し、前記皮膜層が形成されたガラス基板の水分量をIR(赤外分光分析)を用いて測定することを特徴とする、ガラス基板の水分量測定方法。
A method for measuring a moisture content of a glass substrate by measuring a β-OH value,
A film layer made of a component having a refractive index comparable to that of the glass substrate and not containing a substance having a hydroxyl group is formed on at least one main surface of the glass substrate for measuring the moisture content, and the film A method for measuring a moisture content of a glass substrate, comprising measuring the moisture content of the glass substrate on which the layer is formed using IR (infrared spectroscopy).
ガラス原料及びカレットを溶解して熔解ガラスをつくる熔解工程と、前記熔解ガラスを板状に成形するガラス基板の成形工程と、前記成形後のガラス基板のβ−OH値を測定して前記ガラス基板の水分量を特定する水分量測定工程を含む、ガラス基板の製造方法であって、
前記水分量測定工程では、前記ガラス基板の屈折率と同程度の屈折率を有し、水酸基を有する物質を含まない成分からなる皮膜層を、前記ガラス基板の少なくとも一方の主表面上に形成し、前記皮膜層が形成されたガラス基板の水分量をIR(赤外分光分析)を用いて測定する、ことを特徴とするガラス基板の製造方法。
The glass substrate by melting a glass raw material and cullet to form a molten glass, a glass substrate forming step for forming the molten glass into a plate shape, and measuring the β-OH value of the glass substrate after the forming A method for producing a glass substrate, comprising a moisture content measurement step for specifying the moisture content of
In the moisture content measurement step, a coating layer made of a component having a refractive index comparable to that of the glass substrate and not containing a substance having a hydroxyl group is formed on at least one main surface of the glass substrate. A method for producing a glass substrate, comprising: measuring the moisture content of the glass substrate on which the coating layer is formed using IR (infrared spectroscopy).
前記水分量測定工程で測定される実測β―OH値を前記熔解工程にフィードバックして、
前記熔解工程において、予め定められる基準β−OH値と、前記水分量測定工程で測定される実測β−OH値との比較に基づいて、前記ガラス原料およびカレットの混合物に対する前記カレットの配合比を制御する、請求項2に記載のガラス基板の製造方法。
Feeding back the actual β-OH value measured in the moisture content measurement step to the melting step,
In the melting step, based on a comparison between a predetermined reference β-OH value and an actually measured β-OH value measured in the moisture content measurement step, the blending ratio of the cullet to the mixture of the glass raw material and cullet is determined. The manufacturing method of the glass substrate of Claim 2 controlled.
前記水分量測定工程で測定される実測β―OH値を前記熔解工程にフィードバックして、
前記熔解工程において、予め定められる基準β−OH値と、前記水分量測定工程で測定される実測β−OH値との比較に基づいて、前記ガラス熔解に用いるガス加熱燃焼(酸素燃焼加熱)と電気加熱(直接通電加熱)の比率を制御する、請求項2又は3に記載のガラス基板の製造方法。
Feeding back the actual β-OH value measured in the moisture content measurement step to the melting step,
In the melting step, based on a comparison between a predetermined reference β-OH value and an actual β-OH value measured in the moisture content measuring step, gas heating combustion (oxygen combustion heating) used for the glass melting, The manufacturing method of the glass substrate of Claim 2 or 3 which controls the ratio of an electrical heating (direct current heating).
前記ガラス基板は、低温ポリシリコン薄膜トランジスタ搭載ディスプレイ用ガラス基板である、請求項2〜4のいずれか一項に記載のガラス基板の製造方法。   The said glass substrate is a manufacturing method of the glass substrate as described in any one of Claims 2-4 which is a glass substrate for low-temperature polysilicon thin-film transistor mounted displays. 前記ガラス基板は、液晶ディスプレイ用ガラス基板又は有機ELディスプレイ用ガラス基板である、請求項2〜5のいずれか一項に記載のガラス基板の製造方法。   The said glass substrate is a manufacturing method of the glass substrate as described in any one of Claims 2-5 which is a glass substrate for liquid crystal displays, or a glass substrate for organic EL displays.
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