JP2017173203A - Test plug - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、計器用変成器の機能試験などに使用されるテストプラグに関するものである。 The present invention relates to a test plug used for a function test of an instrument transformer.
電力用配電盤、継電器盤および制御装置などの電気装置には、CT(Current Transformer)回路や、PT(Potential Transformer)回路などの計器用変成器の機能試験や保守点検などを行うために、計器と計器用変成器との電気的な接続を切り離すことができるテストターミナルが設けられている。テストターミナルは、通常時は計器と計器用変成器とを電気的に接続しており、テストプラグが挿入された場合に計器と計器用変成器との電気的な接続を切り離す。 Electrical devices such as power distribution boards, relay boards, and control devices are equipped with instruments to perform functional tests and maintenance inspections of instrument transformers such as CT (Current Transformer) circuits and PT (Potential Transformer) circuits. A test terminal is provided that can disconnect the electrical connection to the instrument transformer. The test terminal normally connects the instrument and the instrument transformer, and disconnects the electrical connection between the instrument and the instrument transformer when a test plug is inserted.
図8(A)、(B)および図9は、例えば、4相のテストターミナル11と、このテストターミナル11に挿入される従来のテストプラグ20とを示している。テストターミナル11は、テストプラグ20が挿入される挿入口111と、挿入口111内に設けられた複数対、例えば4対の計器側接片112および変成器側接片113を備える。計器側接片112および変成器側接片113は、金属板などの導体で形成されている。計器側接片112は、計器12とそれぞれ電気的に接続されており、変成器側接片113は、計器用変成器13にそれぞれ電気的に接続されている。計器側接片112と変成器側接片113は、通常時には切片自体が有する弾性などを利用して接触することにより、計器12と計器用変成器13とを電気的に接続している。計器側接片112と変成器側接片113の各対は、接触による短絡を防ぐために間隔を空けて配置されている。
8A, 8B, and 9 show, for example, a four-
テストプラグ20は、絶縁材料で形成されたプラグ本体21と、プラグ本体21から後方に向かって突出した挿入部22と、プラグ本体21の前面に設けられた複数のプラグ端子23とを備える。挿入部22は、プラグ本体21から後方に向かって突出した絶縁支持体221と、絶縁支持体221の対向する両面にそれぞれ設けられた複数対の計器側接触子222および変成器側接触子223とを備える。
The
プラグ端子23は、同軸上に配置された計器側端子部231および変成器側端子部232と、計器側端子部231に配線を接続固定するための計器側締付具233と、変成器側端子部232に配線を接続固定するための変成器側締付具234とを備える。計器側端子部231および変成器側端子部232は、プラグ本体21内に設けられた配線211、212でそれぞれ計器側接触子222および変成器側接触子223に電気的に接続されている。プラグ端子23は、計器側接触子222および変成器側接触子223の対と同数、例えば4個が設けられている。
The
図8(B)に示すように、テストプラグ20の挿入部22がテストターミナル11の挿入口111に挿入されると、挿入部22の押圧によって計器側接片112および変成器側接片113が弾性変形して両者の当接が解除され、計器12と計器用変成器13との電気的な接続が切り離される。また、計器側接片112と計器側接触子222とが当接し、変成器側接片113と変成器側接触子223とが当接することにより、計器側端子部231および変成器側端子部232を介して計器12や計器用変成器13の機能試験を行うことができる。
As shown in FIG. 8B, when the
計器用変成器13として、CT回路が接続されている場合、CT回路の電流測定に使用されるCT用テストプラグ20には、CT回路の2次側が開放されるのを避けるために、4つの変成器側端子部232を短絡状態にするための短絡バー24が取り付けられる(例えば、特許文献1参照)。短絡バー24は、U字状の溝の間に変成器側端子部232が挿入されるようにCT用テストプラグ20に装着され、変成器側締付具234が締めつけられることにより固定される。なお、図中では、短絡バー24を1つしか図示していないが、4個の変成器側端子部232を短絡するために、例えば3個の短絡バー24が使用される。
When a CT circuit is connected as the
短絡バー24は、テストプラグ20をテストターミナル11に挿入する前にテストプラグ20に装着される。また、テストプラグ20は、短絡バー24の装着後、テストターミナル11に挿入する前に、テスターなどを用いてその試験目的に合った接続になっているか確認される。この確認作業は、作業者がテストプラグ20の計器側端子部231および変成器側端子部232にテスターのプローブを順次当接させるといった手作業で行われる。
The
テストプラグ20は、例えば変電所における1回の試験で30〜40個利用される場合があるので、短絡バー24の装着による短絡処理や、テスターによる確認作業に時間がかかるという問題があった。また、短絡バー24の装着は人手によって行われるため、作業ミスによって変成器側締付具234の締め付けに緩みが生じ、短絡バー24の脱落などが生じることがあった。また、テストプラグ20の経年劣化によって変成器側締付具234の締め付け力が弱くなり、短絡バー24が脱落する場合もあった。このような短絡不良が生じると、計器用変成器13で異常電圧や異常電流が発生することがある。さらに、多数のテストプラグ20の短絡作業を行う場合には多数の短絡バー24が必要であるが、紛失や破損によって短絡バー24の数が足りなくなることもあるため、短絡バー24の管理も必要であった。
For example, since 30 to 40
また、CT用テストプラグ20とほぼ同形状のPT用テストプラグをPT回路が接続されたテストターミナルに挿入する際には、変成器側端子部に電圧がかかるので、挿入時に感電したり、作業時に短絡事故がおきる恐れがあった。従来は、ビニールテープなどの絶縁材料を利用して変成器側端子部を覆うことにより絶縁していたが、機能試験に使用するテストプラグが多数ある場合、その作業に時間がかかっていた。
In addition, when a PT test plug having substantially the same shape as the
本発明は、変成器側の短絡処理を容易かつ確実に行なうことができるテストプラグを提供することを目的とする。 An object of this invention is to provide the test plug which can perform the short circuit process by the side of a transformer easily and reliably.
上記課題を解決するために、請求項1に記載の発明は、計器に接続された計器側接片と、計器用変成器に接続された変成器側接片との対を複数有し、通常時には計器側接片と変成器側接片とを接触させて計器と計器用変成器とを電気的に接続させるテストターミナルに挿入されるテストプラグに関し、本発明のテストプラグは、プラグ本体、挿入部、複数のスライド部材、複数対の計器側導体および変成器側導体、複数の短絡導体、複数の計器側スライド端子、および複数の変成器側スライド端子を備える。挿入部は、プラグ本体から後方に向かって突出した絶縁支持体と、絶縁支持体の対向する両面にそれぞれ設けられた複数対の計器側接触子および変成器側接触子とを有し、計器側接片と変成器側接片との間に挿入された場合に、絶縁支持体によって計器と計器用変成器との電気的な接続を切り離し、計器側接触子および変成器側接触子を計器側接片および変成器側接片にそれぞれ当接させる。複数のスライド部材は、プラグ本体に挿入される挿入位置と、プラグ本体から引き出される引出し位置との間でスライド自在であり、プラグ本体の外に露呈された計器側端子部および変成器側端子部をそれぞれ有する。複数対の計器側導体および変成器側導体は、プラグ本体内に設けられており、複数対の計器側接触子および変成器側接触子にそれぞれ接続している。複数の短絡導体は、各変成器側導体の近傍にそれぞれ配置され、互いに電気的に接続されている。複数の計器側スライド端子は、計器側端子部と接続され、スライド部材とともに移動し、スライド部材が引出し位置および挿入位置にある場合に計器側導体と当接する。複数の変成器側スライド端子は、変成器側端子部と接続され、スライド部材とともに移動し、スライド部材が引出し位置にある場合には変成器側導体と当接し、スライド部材が挿入位置にある場合には短絡導体と当接する。 In order to solve the above-mentioned problem, the invention according to claim 1 has a plurality of pairs of an instrument side contact piece connected to an instrument and a transformer side contact piece connected to an instrument transformer. The test plug according to the present invention sometimes relates to a test plug that is inserted into a test terminal that makes the instrument side contact piece and the transformer side contact piece contact to electrically connect the instrument and the instrument transformer. , A plurality of slide members, a plurality of pairs of instrument side conductors and transformer side conductors, a plurality of short-circuit conductors, a plurality of instrument side slide terminals, and a plurality of transformer side slide terminals. The insertion portion has an insulating support that protrudes rearward from the plug body, and a plurality of pairs of instrument-side contacts and transformer-side contacts that are respectively provided on opposite surfaces of the insulating support. When inserted between the contact piece and the transformer side contact piece, the electrical connection between the instrument and the instrument transformer is disconnected by the insulating support, and the instrument side contact and the transformer side contact are connected to the instrument side. The contact piece and the transformer side contact piece are brought into contact with each other. The plurality of slide members are slidable between an insertion position to be inserted into the plug body and a drawing position to be pulled out from the plug body, and the instrument side terminal portion and the transformer side terminal portion exposed to the outside of the plug body Respectively. A plurality of pairs of instrument side conductors and transformer side conductors are provided in the plug body, and are connected to a plurality of pairs of instrument side contacts and transformer side contacts, respectively. The plurality of short-circuit conductors are disposed in the vicinity of each transformer-side conductor and are electrically connected to each other. The plurality of instrument-side slide terminals are connected to the instrument-side terminal portion, move with the slide member, and come into contact with the instrument-side conductor when the slide member is in the extraction position and the insertion position. A plurality of transformer-side slide terminals are connected to the transformer-side terminal portion and move together with the slide member. When the slide member is in the extended position, it contacts the transformer-side conductor, and the slide member is in the insertion position. Is in contact with the short-circuit conductor.
請求項1に記載の発明によれば、挿入部がテストターミナルの計器側接片と変成器側接片との間に挿入された場合に、絶縁支持体によって計器と計器用変成器との電気的な接続を切り離し、計器側接触子および変成器側接触子を計器側接片および変成器側接片にそれぞれ当接させる。そして、スライド部材が引出し位置にある場合には、計器側スライド端子、計器側導体および計器側接触子を介して、計器側端子部とテストターミナルの計器側接片とを電気的に接続し、変成器側スライド端子、変成器側導体および変成器側接触子を介して変成器側端子部とテストターミナルの変成器側接片とを電気的に接続する。また、スライド部材が挿入位置にある場合には、変成器側スライド端子を短絡導体に当接させ、変成器側接触子を短絡させる。 According to the first aspect of the present invention, when the insertion portion is inserted between the instrument side contact piece and the transformer side contact piece of the test terminal, the electric power between the instrument and the instrument transformer is determined by the insulating support. The instrument side contact and the transformer side contact are brought into contact with the instrument side contact piece and the transformer side contact piece, respectively. And when the slide member is in the drawer position, the instrument side terminal portion and the instrument side contact piece of the test terminal are electrically connected via the instrument side slide terminal, the instrument side conductor, and the instrument side contact, The transformer side terminal portion and the transformer side contact piece of the test terminal are electrically connected via the transformer side slide terminal, the transformer side conductor, and the transformer side contact. When the slide member is in the insertion position, the transformer-side slide terminal is brought into contact with the short-circuit conductor, and the transformer-side contact is short-circuited.
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載のテストプラグにおいて、変成器側スライド端子は、スライド部材が挿入位置にある場合に変成器側導体との当接を維持する。 According to a second aspect of the present invention, in the test plug according to the first aspect, the transformer-side slide terminal maintains contact with the transformer-side conductor when the slide member is in the insertion position.
請求項3に記載の発明は、請求項1に記載のテストプラグにおいて、スライド部材が引出し位置にある場合に計器側スライド端子と当接する計器側短絡導体と、スライド部材が引出し位置にある場合に変成器側スライド端子と当接する変成器側短絡導体と、計器側短絡導体と変成器側短絡導体とを電気的に接続する配線とを複数対有し、スライド部材が第1の挿入位置にある場合には、計器側スライド端子および変成器側スライド端子は、計器側短絡導体および変成器側短絡導体との当接を解除して計器側導体および変成器側導体と当接し、スライド部材が第1の挿入位置よりもプラグ本体に押し込まれる第2の挿入位置にある場合には、変成器側スライド端子は、変成器側導体との当接を維持したまま短絡導体と当接するものである。 According to a third aspect of the present invention, in the test plug according to the first aspect, when the slide member is in the extended position, the instrument-side short-circuit conductor that comes into contact with the instrument-side slide terminal, and the slide member is in the extended position There are a plurality of pairs of transformer-side short-circuit conductors that contact the transformer-side slide terminals, and wires that electrically connect the instrument-side short-circuit conductor and the transformer-side short-circuit conductor, and the slide member is in the first insertion position. In this case, the instrument-side slide terminal and the transformer-side slide terminal are brought into contact with the instrument-side conductor and the transformer-side conductor by releasing the contact with the instrument-side short-circuit conductor and the transformer-side short-circuit conductor. When in the second insertion position to be pushed into the plug body rather than the insertion position of 1, the transformer-side slide terminal is in contact with the short-circuit conductor while maintaining contact with the transformer-side conductor.
請求項4に記載の発明は、請求項1ないし3のいずれか1項に記載のテストプラグにおいて、スライド部材を挿入位置と引出し位置とでロックするロック手段を備える。 According to a fourth aspect of the present invention, in the test plug according to any one of the first to third aspects of the present invention, the test plug includes a lock unit that locks the slide member between the insertion position and the pull-out position.
請求項1に記載の発明によれば、スライド部材をプラグ本体に押し込むだけで変成器側を短絡させることができるので、従来のテストプラグのように短絡バーを使用して変成器側を短絡させるのに比べて簡単に短絡処理を行うことができ、作業時間が大幅に短縮するので、作業者の負担を減らすことができる。特に、4相や8相の多相型のテストプラグにおいて数相のみを短絡させるような場合に、従来のテストプラグでは短絡バーの取り付け作業が複雑になり、取り付けミスが発生して作業のやり直しが必要になることがあったが、本発明のテストプラグであれば、短絡作業が容易になり、さらに短絡されているか否かも見た目上で簡単に確認することができる。 According to the first aspect of the present invention, the transformer side can be short-circuited simply by pushing the slide member into the plug body, so that the transformer side is short-circuited using a short-circuit bar as in a conventional test plug. Compared to the above, the short circuit processing can be easily performed and the working time is greatly shortened, so that the burden on the operator can be reduced. Especially when only a few phases are short-circuited in a four-phase or eight-phase multi-phase test plug, the conventional test plug complicates the work of installing the shorting bar, causing an installation error and redoing the work. However, with the test plug of the present invention, the short-circuiting operation is facilitated, and it can be easily confirmed visually whether or not it is short-circuited.
また、従来のテストプラグのように、プラグ端子のネジを使用して短絡バーを固定しないので、作業ミスによる締め付けの緩みや、経年劣化による緩みによって短絡バーが脱落することもない。さらに、変成器側を短絡させるための短絡バー自体が不要となるので、テストプラグのコストを低減することができ、短絡バーの管理の手間を無くすことができる。 In addition, unlike the conventional test plug, the shorting bar is not fixed by using the screw of the plug terminal, so that the shorting bar is not dropped due to loosening due to work mistakes or loosening due to aging. Furthermore, since the shorting bar itself for short-circuiting the transformer side becomes unnecessary, the cost of the test plug can be reduced, and the trouble of managing the shorting bar can be eliminated.
さらに、スライド部材を挿入位置に移動することによって変成器側端子部と変成器側接触子との電気的な接続が切り離されるので、PT用のテストプラグとして使用する場合に、テストプラグをテストターミナルに挿入する際の感電や、作業時の短絡事故を防止することができる。また、ビニールテープなどによる変成器側の絶縁作業を省略することができるので、作業者の負担も軽減される。 Furthermore, since the electrical connection between the transformer side terminal section and the transformer side contactor is disconnected by moving the slide member to the insertion position, the test plug is used as a test terminal when used as a test plug for PT. It is possible to prevent an electric shock when inserted into the battery and a short circuit accident during work. Moreover, since the insulation work by the side of a transformer by a vinyl tape etc. can be abbreviate | omitted, an operator's burden is also reduced.
請求項2に記載の発明によれば、スライド部材が挿入位置にある場合に変成器側スライド端子と変成器側導体との当接を維持するので、短絡バーを用いなくてもCT用のテストプラグとして使用することができる。 According to the second aspect of the present invention, since the contact between the transformer-side slide terminal and the transformer-side conductor is maintained when the slide member is in the insertion position, the CT test can be performed without using a short-circuit bar. Can be used as a plug.
請求項3に記載の発明によれば、スライド部材を引出し位置に移動することにより常用のテストプラグとして使用することができ、スライド部材を第1の収納位置に移動することにより計器側と変成器側とを電気的に切り離すことができ、スライド部材を第2の収納位置に移動することにより、CT用あるいはPT用のテストプラグとして使用することができる。したがって、計器用変成器の機能検査を行なう場合にCT用あるいはPT用のテストプラグを用意しなくても、常用しているテストプラグのスライド部材を収納位置に押し込むだけで変成器の検査を行なうことができる。これにより、機能検査にかかる作業者の負担を軽減することができる。 According to the third aspect of the present invention, the slide member can be used as a normal test plug by moving it to the drawer position, and the instrument side and the transformer can be used by moving the slide member to the first storage position. It can be electrically separated from the side, and can be used as a test plug for CT or PT by moving the slide member to the second storage position. Therefore, when performing a functional test of an instrument transformer, even if a test plug for CT or PT is not prepared, the transformer is inspected by simply pushing the slide member of the test plug in use into the storage position. be able to. Thereby, the burden of the operator concerning a function test | inspection can be reduced.
請求項4に記載の発明によれば、スライド部材を挿入位置と引出し位置とでロックすることができるので、スライド部材の不用意な移動による短絡事故の発生を防止することができる。 According to the fourth aspect of the present invention, since the slide member can be locked at the insertion position and the pull-out position, occurrence of a short circuit accident due to inadvertent movement of the slide member can be prevented.
以下、この発明を図示の実施の形態に基づいて説明する。 The present invention will be described below based on the illustrated embodiments.
(実施の形態1)
図1は、4相のCT用のテストプラグ1の外観斜視図、図2はテストプラグ1の縦方向断面図である。テストプラグ1は、プラグ本体2、挿入部3、スライド部材4、計器側導体5、変成器側導体6、短絡導体7、計器側スライド端子8、変成器側スライド端子9およびロック機構10を備える。なお、スライド部材4、計器側導体5、変成器側導体6、短絡導体7、計器側スライド端子8、変成器側スライド端子9およびロック機構10は、相数に対応してそれぞれ4組ずつ設けられている。
(Embodiment 1)
FIG. 1 is an external perspective view of a four-phase CT test plug 1, and FIG. 2 is a longitudinal sectional view of the test plug 1. The test plug 1 includes a
プラグ本体2は、プラスチックなどの絶縁材料で形成されており、例えば矩形の箱形状である。プラグ本体2内には、スライド部材4をスライド自在に収納するための空間である収納部2aが設けられている。
The
挿入部3は、プラグ本体3から後方に向かって突出した板状の絶縁支持体31と、絶縁支持体31の対向する両面にそれぞれ設けられた4対の計器側接触子32および変成器側接触子33とを備える。絶縁支持体31は、プラグ本体2と同様に絶縁材料で形成されており、計器側接触子32および変成器側接触子33は、金属板によって形成されている。なお、本実施の形態では、絶縁支持体31は水平方向に沿うように設けられており、計器側接触子32および変成器側接触子33は、絶縁支持体31の上下面にそれぞれ設けられている。
The
スライド部材4は、図2(A)に示すように、プラグ本体2から引き出される引出し位置と、同図(B)に示すように、プラグ本体2に挿入される挿入位置との間でスライド自在である。スライド部材4の前面側には、プラグ本体2の外に露呈されるようにプラグ端子41がそれぞれ設けられている。
As shown in FIG. 2A, the
プラグ端子41は、同軸上に配置された計器側端子部412および変成器側端子部413と、計器側端子部412に配線を接続固定するための計器側締付具414と、変成器側端子部413に配線を接続固定するための変成器側締付具415とを備える。具体的には、計器側端子部412および変成器側端子部413は、金属製の雄ねじであり、計器側締付具414および変成器側締付具415は、計器側端子部412および変成器側端子部413にそれぞれ螺合された雌ねじを有する。
The
計器側導体5および変成器側導体6は、金属板によって構成されており、プラグ本体2内に設けられている。計器側導体5および変成器側導体6は、それぞれ対応する計器側接触子32および変成器側接触子33に、配線51および配線61によって電気的に接続している。
The instrument-
短絡導体7は、金属板によって構成されており、各変成器側導体6の近傍で、変成器側導体6よりも後方側、すなわちプラグ本体2の奥側に隣接するように配置されている。短絡導体7は、プラグ本体2内に幅方向に沿って配置された短絡部材71に対し、配線72によって電気的に接続されている。すなわち、複数の短絡導体7は、短絡部材71を介して互いに電気的に接続している。
The short-
計器側スライド端子8は、スライド部材4の後端側に固定されており、配線81によって計器側端子部412と接続されている。計器側スライド端子8は、屈曲された金属板からなり、先端側には計器側導体5に対して弾性をもって当接する当接部が設けられている。
The instrument-
計器側スライド端子8は、スライド部材4が引出し位置および挿入位置にある場合に計器側導体5と当接する。すなわち、計器側スライド端子8は、スライド部材4が引出し位置または挿入位置にある場合には、配線81、計器側導体5および配線51を介して、計器側端子部412と計器側接触子32とを電気的に接続する。
The instrument-
変成器側スライド端子9は、スライド部材4の後端側で計器側スライド端子8と反対側に固定されており、配線91によって変成器側端子部413と接続されている。変成器側スライド端子9は、屈曲された金属板からなり、先端側には変成器側導体6および短絡導体7に対して弾性をもって当接する当接部が設けられている。
The transformer-
変成器側スライド端子9は、スライド部材4が引出し位置にある場合には、変成器側導体6と当接する。また、変成器側スライド端子9の当接部は、計器側スライド端子8よりも長く形成されており、スライド部材4が挿入位置にある場合には、変成器側導体6との当接を維持したまま、同時に短絡導体7と当接する。すなわち、変成器側スライド端子9は、スライド部材4が引出し位置にある場合には、配線91、変成器側導体6および配線61を介して、変成器側端子部413と変成器側接触子33とを電気的に接続する。また、スライド部材4が収納位置にある場合には、変成器側スライド端子9は、変成器側端子部413と変成器側接触子33との接続を維持したまま、配線91、短絡導体7、配線72および短絡部材71を介して複数の変成器側接触子33を短絡させる。
The transformer-
ロック機構(ロック手段)10は、スライド部材4を挿入位置と引出し位置の各位置でロックするための機構である。ロック機構10は、プラグ本体2の上面に設けられたスリット101と、スライド部材4の上面に設けられた溝102a、102bと、スリット101を通して溝102aまたは溝102bに挿入される板状のロック部材103とを備える。スライド部材4は、ロック部材103がスリット101を通して溝102aまたは溝102bに挿入されると、ロック部材103によってスライドが阻害される。なお、ロック部材103がスリット101から不用意に抜け落ちるのを防止するために、ロック部材103をスリット101に係止するための機構を設けてもよい。
The lock mechanism (lock means) 10 is a mechanism for locking the
図3は、テストプラグ1の機能を示す模式図である。同図(A)に示すように、テストプラグ1は、プラグ端子41を含むスライド部材4がプラグ本体2に対して引出し位置にある場合には、各相の変成器側接触子33をそれぞれ絶縁する。これに対し、同図(B)に示すように、プラグ端子41を含むスライド部材4がプラグ本体2に対して収納位置にある場合には、各相の変成器側接触子33は短絡導体7および短絡部材71によって電気的に接続されて短絡される。
FIG. 3 is a schematic diagram showing the function of the test plug 1. As shown in FIG. 2A, the test plug 1 insulates the transformer-
次に、上記テストプラグ1の作用について説明する。本実施形態のCT用のテストプラグ1は、計器用変成器の機能試験の前に、機能試験の内容に応じて各相の変成器側が短絡状態に切り換えられる。図2(A)に示すように、スライド部材4がプラグ本体2に対して引出し位置にある場合には、計器側スライド端子8および変成器側スライド端子9は、計器側導体5および変成器側導体6に当接するので、各相の変成器側接触子33は絶縁されている。
Next, the operation of the test plug 1 will be described. In the CT test plug 1 of the present embodiment, the transformer side of each phase is switched to a short-circuited state according to the contents of the functional test before the functional test of the instrument transformer. As shown in FIG. 2 (A), when the
テストプラグ1の変成器側を短絡状態へ切り換える場合には、プラグ本体2のスリット101からロック部材103を抜き取り、スライド部材4のスライドロックを解除する。次いで、プラグ端子41を介してスライド部材4を押圧し、引出し位置にあるスライド部材4を挿入位置へと移動させる。
When switching the transformer side of the test plug 1 to the short-circuit state, the
図2(B)に示すように、スライド部材4がプラグ本体2に対して引出し位置に移動されると、変成器側スライド端子9は、計器側導体5および変成器側導体6に当接する。これにより、各相の変成器側接触子33は、短絡導体7に接続された短絡部材71によって短絡される。
As shown in FIG. 2B, when the
スライド部材4のスライド完了後、プラグ本体2のスリット101には、ロック部材103が挿入される。ロック部材103は、スリット101を通して溝102bに挿入されるので、スライド部材4は不用意にスライドしないようにロックされる。
After the sliding of the
テストプラグ1は、スライド部材4の挿入位置へのスライド後にテスターなどを用いてその試験目的に合った接続、すなわち変成器側が意図した短絡状態になっているか確認される。この確認作業は、作業者がテストプラグ1の計器側端子部412にテスターのプローブを順次当接させるといった手作業で行われる。
After the slide of the
テストプラグ1は、接続の確認後、図4に示すように、挿入部3がテストターミナル11の挿入口111に挿入される。挿入部3は、計器側接片112と変成器側接片113とを弾性変形させながら両者の間に挿入される。挿入部3の絶縁支持体31によって計器側接片112と変成器側接片113とが離間されることにより、計器12と計器用変成器13との電気的な接続が切り離される。また、挿入部3の計器側接触子32および変成器側接触子33が計器側接片112および変成器側接片113にそれぞれ当接することにより、計器側端子部412および変成器側端子部413と、計器12および計器用変成器13とが電気的に接続される。テストターミナル11の変成器側接片113は、短絡導体7および短絡部材71によって短絡される。
After the connection of the test plug 1 is confirmed, the
テストプラグ1のテストターミナル11への挿入後、計器側端子部412に計測器を接続して計器用変成器13の機能試験が行われる。
After the test plug 1 is inserted into the
以上で説明したように、本実施の形態のテストプラグ1によれば、スライド部材4をプラグ本体2に押し込むだけで変成器側を短絡させることができるので、従来のテストプラグのように短絡バーを使用して変成器側を短絡させるのに比べて簡単に作業を行うことができ、作業時間が大幅に短縮するので、作業者の負担を減らすことができる。特に、4相や8相の多相型のテストプラグにおいて、複数の相のうちの数相のみを短絡させるような場合に、従来のテストプラグでは短絡バーの取り付け作業が複雑になるので、取り付けミスが発生し、作業のやり直しが必要になることがあった。しかしながら、本実施の形態のテストプラグであれば、スライド部材4を押し込むだけで簡単に短絡処理を行なうことができ、さらに短絡されているか否かも見た目上で簡単に確認することができる。
As described above, according to the test plug 1 of the present embodiment, the transformer side can be short-circuited only by pushing the
また、従来のテストプラグのように、プラグ端子のネジを使用して短絡バーを固定しないので、作業ミスによる締め付けの緩みや、経年劣化による緩みによって短絡バーが脱落することもない。さらに、変成器側を短絡させるための短絡バー自体が不要となるので、テストプラグ1のコストを低減することができ、短絡バーの管理の手間を無くすことができる。 In addition, unlike the conventional test plug, the shorting bar is not fixed by using the screw of the plug terminal, so that the shorting bar is not dropped due to loosening due to work mistakes or loosening due to aging. Furthermore, since the shorting bar itself for short-circuiting the transformer side becomes unnecessary, the cost of the test plug 1 can be reduced, and the trouble of managing the shorting bar can be eliminated.
さらに、スライド部材4を挿入位置と引出し位置とでロックするロック機構10を設けたので、スライド部材4の不用意な移動による短絡事故の発生を防止することができる。
Furthermore, since the
(実施の形態2)
次に、本発明の第2の実施の形態について説明する。なお、実施の形態1と同じ構成については、同符号を用いて詳しい説明は省略する。本実施の形態は、PT用のテストプラグ1Aに関するものである。
(Embodiment 2)
Next, a second embodiment of the present invention will be described. In addition, about the same structure as Embodiment 1, detailed description is abbreviate | omitted using a same sign. The present embodiment relates to a
本実施の形態のテストプラグ1Aは、図5(A)に示すように、実施の形態1で説明したCT用のテストプラグ1に比べて、変成器側スライド端子9Aの当接部の挿入方向の長さが短くなっている。変成器側スライド端子9Aは、スライド部材4を図5(A)に示す引出し位置から同図(B)に示す挿入位置に移動させると、短絡導体7のみに当接する。すなわち、スライド部材4が挿入位置にある場合には、変成器側端子部413と変成器側接触子33との電気的な接続が切り離される。
As shown in FIG. 5 (A), the
したがって、本実施の形態のテストプラグ1Aによれば、スライド部材4を挿入位置に移動することによって変成器側端子部413と変成器側接触子33との電気的な接続が切り離されるので、テストプラグ1Aをテストターミナルに挿入する際の感電や、作業時の短絡事故を防止することができる。また、ビニールテープなどによる変成器側の絶縁作業を省略することができるので、作業者の負担も軽減される。
Therefore, according to the
(実施の形態3)
次に、本発明の第3の実施の形態について説明する。なお、実施の形態1と同じ構成については、同符号を用いて詳しい説明は省略する。本実施の形態は、テストターミナル11に常に挿入された状態で使用されるいわゆる常用型のテストプラグに関するものである。
(Embodiment 3)
Next, a third embodiment of the present invention will be described. In addition, about the same structure as Embodiment 1, detailed description is abbreviate | omitted using a same sign. The present embodiment relates to a so-called regular test plug that is used while being always inserted in the
図6(A)に示すように、本実施の形態のテストプラグ1Bは、実施の形態1のテストプラグ1に対し、計器側短絡導体14、変成器側短絡導体15、および配線16を備える点で異なる。計器側短絡導体14は、計器側導体5の前方に隣接するように配置されており、絶縁された状態で各相にそれぞれ設けられている。変成器側短絡導体15は、変成器側導体6の前方に隣接するように配置されており、絶縁された状態で各相にそれぞれ設けられている。配線16は、各相にそれぞれ設けられており、計器側短絡導体14と変成器側短絡導体15とを電気的に接続する。
As shown in FIG. 6A, the
また、本実施の形態のテストプラグ1Bは、実施の形態1のテストプラグ1に対し、スライド部材4の挿入位置として第1の挿入位置と、第1の挿入位置よりもプラグ本体2の奥に挿入される第2の挿入位置を備える点で異なる。さらに、本実施の形態の計器側スライド端子8Bおよび変成器側スライド端子9Bは、実施の形態1のテストプラグ1に対し、当接部の挿入方向の長さが異なっている。
In addition, the
計器側スライド端子8Bは、スライド部材4が図6(A)に示す引出し位置にある場合には、計器側短絡導体14および計器側導体5と同時に当接する。また、変成器側スライド端子9Bは、スライド部材4が引出し位置にある場合には、変成器側短絡導体15および変成器側導体6と同時に当接する。したがって、スライド部材4が引出し位置にある場合には、計器側接触子32および変成器側接触子33は、配線51、計器側導体5、計器側スライド端子8B、計器側短絡導体14、配線16、変成器側短絡導体15、変成器側スライド端子9B、変成器側導体6、および配線61を介して電気的に接続するので、本実施の形態のテストプラグ1Bは、常用のテストプラグとして使用可能となる。
The instrument
また、計器側スライド端子8Bは、スライド部材4が図6(B)に示す第1の収納位置にある場合には、計器側短絡導体14との当接を解除し、計器側導体5のみに当接する。変成器側スライド端子9Bは、スライド部材4が第1の収納位置にある場合には、変成器側短絡導体15との当接を解除し、変成器側導体6のみに当接する。したがって、スライド部材4が第1の収納位置にある場合には、計器側接触子32と変成器側接触子33とは電気的に切り離される。
In addition, when the
さらに、変成器側スライド端子9Bは、スライド部材4が図7に示す第2の収納位置にある場合には、変成器側導体6との当接を維持したまま短絡導体7に当接する。したがって、スライド部材4が第2の収納位置にある場合には、計器側接触子32と変成器側接触子33とは電気的に切り離され、各相の変成器側接触子33は短絡部材71によって短絡されるので、本実施の形態のテストプラグ1Bは、CT用のテストプラグとして使用可能となる。
Furthermore, when the
以上で説明したように、本実施の形態のテストプラグ1Bによれば、スライド部材4を引出し位置に移動することにより常用のテストプラグとして使用することができ、スライド部材4を第1の収納位置に移動することにより器側接触子32と変成器側接触子33とは電気的に切り離すことができる。さらに、スライド部材4を第2の収納位置に移動することにより、CT用のテストプラグとして使用することができる。したがって、CT回路の機能検査を行なう場合にCT用のテストプラグを用意しなくても、常用しているテストプラグ1Bのスライド部材4を収納位置に押し込むだけでCT回路の検査を行なうことができる。これにより、CT回路の機能検査にかかる作業者の負担を軽減することができる。
As described above, according to the
なお、本実施の形態3では、常用テストプラグとCT用テストプラグとを兼用にしたが、実施の形態2のテストプラグ1Aのように、スライド部材4を収納位置に移動した際に変成器側スライド端子9Bが短絡導体7のみに当接するようにして、常用テストプラグとPT用テストプラグとを兼用させてもよい。
In the third embodiment, the common test plug and the CT test plug are combined. However, like the
以上、この発明の実施の形態を詳述したが、具体的な構成はこの実施の形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変更等があっても、この発明に含まれる。例えば、4相のテストプラグを例に説明したが、2相以上のテストプラグであれば本発明は適用可能である。また、プラグ端子41を挿入位置に移動した際に変成器側端子部413がプラグ本体2内に収納されるようにしたが、プラグ本体2から露呈されるようにし、計器側端子部412と変成器側端子部413とをコ字形状の短絡バーで短絡できるようにしてもよい。
Although the embodiment of the present invention has been described in detail above, the specific configuration is not limited to this embodiment, and even if there is a design change or the like without departing from the gist of the present invention, include. For example, although a four-phase test plug has been described as an example, the present invention can be applied to a test plug having two or more phases. Further, when the
1、1A、1B テストプラグ
2 プラグ本体
3 挿入部
31 絶縁支持体
32 計器側接触子
33 変成器側接触子
4 スライド部材
41 プラグ端子
412 計器側端子部
413 変成器側端子部
5 計器側導体
6 変成器側導体
7 短絡導体
71 短絡部材
8、8B 計器側スライド端子
9、9A、9B 変成器側スライド端子
10 ロック機構(ロック手段)
11 テストターミナル
112 計器側接片
113 変成器側接片
12 計器
13 計器用変成器
14 計器側短絡導体
15 変成器側短絡導体
DESCRIPTION OF
11
Claims (4)
プラグ本体から後方に向かって突出した絶縁支持体と、前記絶縁支持体の対向する両面にそれぞれ設けられた複数対の計器側接触子および変成器側接触子とを有し、前記計器側接片と前記変成器側接片との間に挿入された場合に、前記絶縁支持体によって前記計器と前記計器用変成器との電気的な接続を切り離し、前記計器側接触子および前記変成器側接触子を前記計器側接片および前記変成器側接片にそれぞれ当接させる挿入部と、
前記プラグ本体に挿入される挿入位置と、前記プラグ本体から引き出される引出し位置との間でスライド自在であり、前記プラグ本体の外に露呈された計器側端子部および変成器側端子部をそれぞれ有する複数のスライド部材と、
前記プラグ本体内に設けられ、複数対の前記計器側接触子および前記変成器側接触子にそれぞれ接続された複数対の計器側導体および変成器側導体と、
前記各変成器側導体の近傍にそれぞれ配置され、互いに電気的に接続された複数の短絡導体と、
前記計器側端子部と接続され、前記スライド部材とともに移動し、前記スライド部材が引出し位置および挿入位置にある場合に前記計器側導体と当接する複数の計器側スライド端子と、
前記変成器側端子部と接続され、前記スライド部材とともに移動し、前記スライド部材が引出し位置にある場合には前記変成器側導体と当接し、前記スライド部材が挿入位置にある場合には前記短絡導体と当接する複数の変成器側スライド端子と、
を備えることを特徴とするテストプラグ。 There are a plurality of pairs of the instrument side contact piece connected to the instrument and the transformer side contact piece connected to the instrument transformer. Normally, the instrument side contact piece and the transformer side contact piece are brought into contact with each other. A test plug inserted into a test terminal electrically connecting the instrument and the instrument transformer,
An insulating support that protrudes rearward from the plug body, and a plurality of pairs of instrument-side contacts and transformer-side contacts provided on opposite surfaces of the insulating support; And the transformer side contact piece, the electrical connection between the instrument and the instrument transformer is disconnected by the insulating support, and the instrument side contact and the transformer side contact are disconnected. An insertion part for bringing a child into contact with the instrument side contact piece and the transformer side contact piece,
It is slidable between an insertion position to be inserted into the plug body and a drawing position to be pulled out from the plug body, and has an instrument side terminal part and a transformer side terminal part exposed to the outside of the plug body. A plurality of slide members;
A plurality of pairs of instrument side conductors and transformer side conductors provided in the plug body and respectively connected to a plurality of pairs of the instrument side contacts and the transformer side contacts;
A plurality of short-circuit conductors arranged in the vicinity of each of the transformer-side conductors and electrically connected to each other;
A plurality of instrument-side slide terminals that are connected to the instrument-side terminal portion, move together with the slide member, and come into contact with the instrument-side conductor when the slide member is in a drawing position and an insertion position;
Connected to the transformer-side terminal, moves with the slide member, contacts the transformer-side conductor when the slide member is in the extended position, and shorts when the slide member is in the insertion position A plurality of transformer-side slide terminals in contact with the conductor;
A test plug characterized by comprising:
ことを特徴とする請求項1に記載のテストプラグ。 The transformer-side slide terminal maintains contact with the transformer-side conductor when the slide member is in the insertion position;
The test plug according to claim 1.
前記スライド部材が第1の挿入位置にある場合には、前記計器側スライド端子および前記変成器側スライド端子は、前記計器側短絡導体および前記変成器側短絡導体との当接を解除して前記計器側導体および前記変成器側導体と当接し、
前記スライド部材が第1の挿入位置よりも前記プラグ本体に押し込まれる第2の挿入位置にある場合には、前記変成器側スライド端子は、前記変成器側導体との当接を維持したまま前記短絡導体と当接する、
ことを特徴とする請求項1に記載のテストプラグ。 An instrument-side short-circuit conductor that contacts the instrument-side slide terminal when the slide member is in the drawer position; and a transformer-side short-circuit conductor that contacts the transformer-side slide terminal when the slide member is in the drawer position; Having a plurality of pairs of wires that electrically connect the instrument side short circuit conductor and the transformer side short circuit conductor,
When the slide member is in the first insertion position, the instrument-side slide terminal and the transformer-side slide terminal release the contact with the instrument-side short-circuit conductor and the transformer-side short-circuit conductor, and Abutting the instrument side conductor and the transformer side conductor,
When the slide member is in the second insertion position where it is pushed into the plug body rather than the first insertion position, the transformer-side slide terminal remains in contact with the transformer-side conductor while maintaining contact with the transformer-side conductor. Abuts the short-circuit conductor,
The test plug according to claim 1.
ことを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載のテストプラグ。 Lock means for locking the slide member between the insertion position and the drawer position;
The test plug according to any one of claims 1 to 3, wherein
Priority Applications (1)
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JP2016061213A JP2017173203A (en) | 2016-03-25 | 2016-03-25 | Test plug |
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CN110609177A (en) * | 2019-09-06 | 2019-12-24 | 深圳欧陆通电子股份有限公司 | Transformer testing device |
-
2016
- 2016-03-25 JP JP2016061213A patent/JP2017173203A/en active Pending
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