JP2017173203A - Test plug - Google Patents

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治彦 須安
Haruhiko Suyasu
治彦 須安
志郎 池田
Shiro Ikeda
志郎 池田
瑞 森本
Mitsuru Morimoto
瑞 森本
陸 畑口
Riku Hataguchi
陸 畑口
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a test plug allowing an easy and reliable short-circuit process on a transformer side.SOLUTION: In a test plug 1, when a slide member 4 is at a withdrawal position with regard to a plug body 2, an instrument side slide terminal 8 and a transformer side slide terminal 9 abut against an instrument side conductor 5 and a transformer side conductor 6, thereby a transformer side contactor 33 of each phase is insulated. When the slide member 4 moves to a storage position with regard to the plug body 2, the transformer side slide terminal 9 abuts against a short-circuit conductor 7 while maintaining abutting against the transformer side conductor 6, thereby the transformer side contactor 33 is short-circuited by a short-circuit member 71 connected to the short-circuit conductor 7.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本発明は、計器用変成器の機能試験などに使用されるテストプラグに関するものである。   The present invention relates to a test plug used for a function test of an instrument transformer.

電力用配電盤、継電器盤および制御装置などの電気装置には、CT(Current Transformer)回路や、PT(Potential Transformer)回路などの計器用変成器の機能試験や保守点検などを行うために、計器と計器用変成器との電気的な接続を切り離すことができるテストターミナルが設けられている。テストターミナルは、通常時は計器と計器用変成器とを電気的に接続しており、テストプラグが挿入された場合に計器と計器用変成器との電気的な接続を切り離す。   Electrical devices such as power distribution boards, relay boards, and control devices are equipped with instruments to perform functional tests and maintenance inspections of instrument transformers such as CT (Current Transformer) circuits and PT (Potential Transformer) circuits. A test terminal is provided that can disconnect the electrical connection to the instrument transformer. The test terminal normally connects the instrument and the instrument transformer, and disconnects the electrical connection between the instrument and the instrument transformer when a test plug is inserted.

図8(A)、(B)および図9は、例えば、4相のテストターミナル11と、このテストターミナル11に挿入される従来のテストプラグ20とを示している。テストターミナル11は、テストプラグ20が挿入される挿入口111と、挿入口111内に設けられた複数対、例えば4対の計器側接片112および変成器側接片113を備える。計器側接片112および変成器側接片113は、金属板などの導体で形成されている。計器側接片112は、計器12とそれぞれ電気的に接続されており、変成器側接片113は、計器用変成器13にそれぞれ電気的に接続されている。計器側接片112と変成器側接片113は、通常時には切片自体が有する弾性などを利用して接触することにより、計器12と計器用変成器13とを電気的に接続している。計器側接片112と変成器側接片113の各対は、接触による短絡を防ぐために間隔を空けて配置されている。   8A, 8B, and 9 show, for example, a four-phase test terminal 11 and a conventional test plug 20 that is inserted into the test terminal 11. FIG. The test terminal 11 includes an insertion port 111 into which the test plug 20 is inserted, and a plurality of pairs, for example, four pairs of instrument side contact pieces 112 and transformer side contact pieces 113 provided in the insertion port 111. The instrument side contact piece 112 and the transformer side contact piece 113 are formed of a conductor such as a metal plate. The instrument side contact piece 112 is electrically connected to the instrument 12, and the transformer side contact piece 113 is electrically connected to the instrument transformer 13. The instrument-side contact piece 112 and the transformer-side contact piece 113 are electrically connected to the instrument 12 and the instrument transformer 13 by being brought into contact with each other by utilizing elasticity or the like that the section itself normally has. Each pair of the instrument side contact piece 112 and the transformer side contact piece 113 is arranged at intervals to prevent a short circuit due to contact.

テストプラグ20は、絶縁材料で形成されたプラグ本体21と、プラグ本体21から後方に向かって突出した挿入部22と、プラグ本体21の前面に設けられた複数のプラグ端子23とを備える。挿入部22は、プラグ本体21から後方に向かって突出した絶縁支持体221と、絶縁支持体221の対向する両面にそれぞれ設けられた複数対の計器側接触子222および変成器側接触子223とを備える。   The test plug 20 includes a plug main body 21 made of an insulating material, an insertion portion 22 protruding rearward from the plug main body 21, and a plurality of plug terminals 23 provided on the front surface of the plug main body 21. The insertion portion 22 includes an insulating support 221 that protrudes rearward from the plug body 21, and a plurality of pairs of instrument-side contacts 222 and transformer-side contacts 223 that are respectively provided on opposite surfaces of the insulating support 221. Is provided.

プラグ端子23は、同軸上に配置された計器側端子部231および変成器側端子部232と、計器側端子部231に配線を接続固定するための計器側締付具233と、変成器側端子部232に配線を接続固定するための変成器側締付具234とを備える。計器側端子部231および変成器側端子部232は、プラグ本体21内に設けられた配線211、212でそれぞれ計器側接触子222および変成器側接触子223に電気的に接続されている。プラグ端子23は、計器側接触子222および変成器側接触子223の対と同数、例えば4個が設けられている。   The plug terminal 23 includes an instrument-side terminal portion 231 and a transformer-side terminal portion 232 arranged on the same axis, an instrument-side fastener 233 for connecting and fixing wiring to the instrument-side terminal portion 231, and a transformer-side terminal. A transformer-side fastener 234 for connecting and fixing the wiring to the portion 232 is provided. The instrument-side terminal portion 231 and the transformer-side terminal portion 232 are electrically connected to the instrument-side contact 222 and the transformer-side contact 223 through wirings 211 and 212 provided in the plug body 21, respectively. The plug terminal 23 is provided in the same number as the pair of the instrument side contact 222 and the transformer side contact 223, for example, four.

図8(B)に示すように、テストプラグ20の挿入部22がテストターミナル11の挿入口111に挿入されると、挿入部22の押圧によって計器側接片112および変成器側接片113が弾性変形して両者の当接が解除され、計器12と計器用変成器13との電気的な接続が切り離される。また、計器側接片112と計器側接触子222とが当接し、変成器側接片113と変成器側接触子223とが当接することにより、計器側端子部231および変成器側端子部232を介して計器12や計器用変成器13の機能試験を行うことができる。   As shown in FIG. 8B, when the insertion portion 22 of the test plug 20 is inserted into the insertion port 111 of the test terminal 11, the instrument side contact piece 112 and the transformer side contact piece 113 are pressed by the insertion portion 22. Due to elastic deformation, the contact between the two is released, and the electrical connection between the instrument 12 and the instrument transformer 13 is disconnected. Further, the instrument side contact piece 112 and the instrument side contact piece 222 come into contact with each other, and the transformer side contact piece 113 and the transformer side contact piece 223 come into contact with each other, whereby the instrument side terminal portion 231 and the transformer side terminal portion 232 are brought into contact. The functional test of the instrument 12 and the instrument transformer 13 can be performed via the.

計器用変成器13として、CT回路が接続されている場合、CT回路の電流測定に使用されるCT用テストプラグ20には、CT回路の2次側が開放されるのを避けるために、4つの変成器側端子部232を短絡状態にするための短絡バー24が取り付けられる(例えば、特許文献1参照)。短絡バー24は、U字状の溝の間に変成器側端子部232が挿入されるようにCT用テストプラグ20に装着され、変成器側締付具234が締めつけられることにより固定される。なお、図中では、短絡バー24を1つしか図示していないが、4個の変成器側端子部232を短絡するために、例えば3個の短絡バー24が使用される。   When a CT circuit is connected as the instrument transformer 13, the CT test plug 20 used for measuring the current of the CT circuit includes four terminals in order to avoid opening the secondary side of the CT circuit. A shorting bar 24 for putting the transformer side terminal portion 232 into a short-circuited state is attached (see, for example, Patent Document 1). The short-circuit bar 24 is attached to the CT test plug 20 so that the transformer-side terminal portion 232 is inserted between the U-shaped grooves, and is fixed by fastening the transformer-side fastener 234. Although only one shorting bar 24 is shown in the figure, for example, three shorting bars 24 are used to short the four transformer side terminal portions 232.

短絡バー24は、テストプラグ20をテストターミナル11に挿入する前にテストプラグ20に装着される。また、テストプラグ20は、短絡バー24の装着後、テストターミナル11に挿入する前に、テスターなどを用いてその試験目的に合った接続になっているか確認される。この確認作業は、作業者がテストプラグ20の計器側端子部231および変成器側端子部232にテスターのプローブを順次当接させるといった手作業で行われる。   The shorting bar 24 is attached to the test plug 20 before the test plug 20 is inserted into the test terminal 11. In addition, after the short plug 24 is mounted, the test plug 20 is confirmed to be connected to the test purpose using a tester or the like before being inserted into the test terminal 11. This confirmation operation is performed manually by the operator such that the tester probe is sequentially brought into contact with the instrument side terminal portion 231 and the transformer side terminal portion 232 of the test plug 20.

特開2009−139305号公報JP 2009-139305 A

テストプラグ20は、例えば変電所における1回の試験で30〜40個利用される場合があるので、短絡バー24の装着による短絡処理や、テスターによる確認作業に時間がかかるという問題があった。また、短絡バー24の装着は人手によって行われるため、作業ミスによって変成器側締付具234の締め付けに緩みが生じ、短絡バー24の脱落などが生じることがあった。また、テストプラグ20の経年劣化によって変成器側締付具234の締め付け力が弱くなり、短絡バー24が脱落する場合もあった。このような短絡不良が生じると、計器用変成器13で異常電圧や異常電流が発生することがある。さらに、多数のテストプラグ20の短絡作業を行う場合には多数の短絡バー24が必要であるが、紛失や破損によって短絡バー24の数が足りなくなることもあるため、短絡バー24の管理も必要であった。   For example, since 30 to 40 test plugs 20 may be used in one test at a substation, there is a problem that it takes time to perform a short-circuit process by mounting the short-circuit bar 24 and a check operation by a tester. In addition, since the short-circuit bar 24 is manually attached, there is a case where the transformer-side fastener 234 is loosened due to a work mistake and the short-circuit bar 24 is dropped off. Further, due to the deterioration of the test plug 20 over time, the tightening force of the transformer-side fastener 234 is weakened, and the short-circuit bar 24 may fall off. When such a short circuit failure occurs, an abnormal voltage or an abnormal current may occur in the instrument transformer 13. Furthermore, when short-circuiting a large number of test plugs 20, a large number of short-circuit bars 24 are necessary. However, since the number of short-circuit bars 24 may be insufficient due to loss or damage, management of the short-circuit bars 24 is also necessary. Met.

また、CT用テストプラグ20とほぼ同形状のPT用テストプラグをPT回路が接続されたテストターミナルに挿入する際には、変成器側端子部に電圧がかかるので、挿入時に感電したり、作業時に短絡事故がおきる恐れがあった。従来は、ビニールテープなどの絶縁材料を利用して変成器側端子部を覆うことにより絶縁していたが、機能試験に使用するテストプラグが多数ある場合、その作業に時間がかかっていた。   In addition, when a PT test plug having substantially the same shape as the CT test plug 20 is inserted into a test terminal to which a PT circuit is connected, voltage is applied to the transformer side terminal portion, which may Sometimes there was a risk of a short circuit accident. Conventionally, insulation was performed by covering the transformer side terminal portion using an insulating material such as vinyl tape, but when there were many test plugs used for the function test, the work took time.

本発明は、変成器側の短絡処理を容易かつ確実に行なうことができるテストプラグを提供することを目的とする。   An object of this invention is to provide the test plug which can perform the short circuit process by the side of a transformer easily and reliably.

上記課題を解決するために、請求項1に記載の発明は、計器に接続された計器側接片と、計器用変成器に接続された変成器側接片との対を複数有し、通常時には計器側接片と変成器側接片とを接触させて計器と計器用変成器とを電気的に接続させるテストターミナルに挿入されるテストプラグに関し、本発明のテストプラグは、プラグ本体、挿入部、複数のスライド部材、複数対の計器側導体および変成器側導体、複数の短絡導体、複数の計器側スライド端子、および複数の変成器側スライド端子を備える。挿入部は、プラグ本体から後方に向かって突出した絶縁支持体と、絶縁支持体の対向する両面にそれぞれ設けられた複数対の計器側接触子および変成器側接触子とを有し、計器側接片と変成器側接片との間に挿入された場合に、絶縁支持体によって計器と計器用変成器との電気的な接続を切り離し、計器側接触子および変成器側接触子を計器側接片および変成器側接片にそれぞれ当接させる。複数のスライド部材は、プラグ本体に挿入される挿入位置と、プラグ本体から引き出される引出し位置との間でスライド自在であり、プラグ本体の外に露呈された計器側端子部および変成器側端子部をそれぞれ有する。複数対の計器側導体および変成器側導体は、プラグ本体内に設けられており、複数対の計器側接触子および変成器側接触子にそれぞれ接続している。複数の短絡導体は、各変成器側導体の近傍にそれぞれ配置され、互いに電気的に接続されている。複数の計器側スライド端子は、計器側端子部と接続され、スライド部材とともに移動し、スライド部材が引出し位置および挿入位置にある場合に計器側導体と当接する。複数の変成器側スライド端子は、変成器側端子部と接続され、スライド部材とともに移動し、スライド部材が引出し位置にある場合には変成器側導体と当接し、スライド部材が挿入位置にある場合には短絡導体と当接する。   In order to solve the above-mentioned problem, the invention according to claim 1 has a plurality of pairs of an instrument side contact piece connected to an instrument and a transformer side contact piece connected to an instrument transformer. The test plug according to the present invention sometimes relates to a test plug that is inserted into a test terminal that makes the instrument side contact piece and the transformer side contact piece contact to electrically connect the instrument and the instrument transformer. , A plurality of slide members, a plurality of pairs of instrument side conductors and transformer side conductors, a plurality of short-circuit conductors, a plurality of instrument side slide terminals, and a plurality of transformer side slide terminals. The insertion portion has an insulating support that protrudes rearward from the plug body, and a plurality of pairs of instrument-side contacts and transformer-side contacts that are respectively provided on opposite surfaces of the insulating support. When inserted between the contact piece and the transformer side contact piece, the electrical connection between the instrument and the instrument transformer is disconnected by the insulating support, and the instrument side contact and the transformer side contact are connected to the instrument side. The contact piece and the transformer side contact piece are brought into contact with each other. The plurality of slide members are slidable between an insertion position to be inserted into the plug body and a drawing position to be pulled out from the plug body, and the instrument side terminal portion and the transformer side terminal portion exposed to the outside of the plug body Respectively. A plurality of pairs of instrument side conductors and transformer side conductors are provided in the plug body, and are connected to a plurality of pairs of instrument side contacts and transformer side contacts, respectively. The plurality of short-circuit conductors are disposed in the vicinity of each transformer-side conductor and are electrically connected to each other. The plurality of instrument-side slide terminals are connected to the instrument-side terminal portion, move with the slide member, and come into contact with the instrument-side conductor when the slide member is in the extraction position and the insertion position. A plurality of transformer-side slide terminals are connected to the transformer-side terminal portion and move together with the slide member. When the slide member is in the extended position, it contacts the transformer-side conductor, and the slide member is in the insertion position. Is in contact with the short-circuit conductor.

請求項1に記載の発明によれば、挿入部がテストターミナルの計器側接片と変成器側接片との間に挿入された場合に、絶縁支持体によって計器と計器用変成器との電気的な接続を切り離し、計器側接触子および変成器側接触子を計器側接片および変成器側接片にそれぞれ当接させる。そして、スライド部材が引出し位置にある場合には、計器側スライド端子、計器側導体および計器側接触子を介して、計器側端子部とテストターミナルの計器側接片とを電気的に接続し、変成器側スライド端子、変成器側導体および変成器側接触子を介して変成器側端子部とテストターミナルの変成器側接片とを電気的に接続する。また、スライド部材が挿入位置にある場合には、変成器側スライド端子を短絡導体に当接させ、変成器側接触子を短絡させる。   According to the first aspect of the present invention, when the insertion portion is inserted between the instrument side contact piece and the transformer side contact piece of the test terminal, the electric power between the instrument and the instrument transformer is determined by the insulating support. The instrument side contact and the transformer side contact are brought into contact with the instrument side contact piece and the transformer side contact piece, respectively. And when the slide member is in the drawer position, the instrument side terminal portion and the instrument side contact piece of the test terminal are electrically connected via the instrument side slide terminal, the instrument side conductor, and the instrument side contact, The transformer side terminal portion and the transformer side contact piece of the test terminal are electrically connected via the transformer side slide terminal, the transformer side conductor, and the transformer side contact. When the slide member is in the insertion position, the transformer-side slide terminal is brought into contact with the short-circuit conductor, and the transformer-side contact is short-circuited.

請求項2に記載の発明は、請求項1に記載のテストプラグにおいて、変成器側スライド端子は、スライド部材が挿入位置にある場合に変成器側導体との当接を維持する。   According to a second aspect of the present invention, in the test plug according to the first aspect, the transformer-side slide terminal maintains contact with the transformer-side conductor when the slide member is in the insertion position.

請求項3に記載の発明は、請求項1に記載のテストプラグにおいて、スライド部材が引出し位置にある場合に計器側スライド端子と当接する計器側短絡導体と、スライド部材が引出し位置にある場合に変成器側スライド端子と当接する変成器側短絡導体と、計器側短絡導体と変成器側短絡導体とを電気的に接続する配線とを複数対有し、スライド部材が第1の挿入位置にある場合には、計器側スライド端子および変成器側スライド端子は、計器側短絡導体および変成器側短絡導体との当接を解除して計器側導体および変成器側導体と当接し、スライド部材が第1の挿入位置よりもプラグ本体に押し込まれる第2の挿入位置にある場合には、変成器側スライド端子は、変成器側導体との当接を維持したまま短絡導体と当接するものである。   According to a third aspect of the present invention, in the test plug according to the first aspect, when the slide member is in the extended position, the instrument-side short-circuit conductor that comes into contact with the instrument-side slide terminal, and the slide member is in the extended position There are a plurality of pairs of transformer-side short-circuit conductors that contact the transformer-side slide terminals, and wires that electrically connect the instrument-side short-circuit conductor and the transformer-side short-circuit conductor, and the slide member is in the first insertion position. In this case, the instrument-side slide terminal and the transformer-side slide terminal are brought into contact with the instrument-side conductor and the transformer-side conductor by releasing the contact with the instrument-side short-circuit conductor and the transformer-side short-circuit conductor. When in the second insertion position to be pushed into the plug body rather than the insertion position of 1, the transformer-side slide terminal is in contact with the short-circuit conductor while maintaining contact with the transformer-side conductor.

請求項4に記載の発明は、請求項1ないし3のいずれか1項に記載のテストプラグにおいて、スライド部材を挿入位置と引出し位置とでロックするロック手段を備える。   According to a fourth aspect of the present invention, in the test plug according to any one of the first to third aspects of the present invention, the test plug includes a lock unit that locks the slide member between the insertion position and the pull-out position.

請求項1に記載の発明によれば、スライド部材をプラグ本体に押し込むだけで変成器側を短絡させることができるので、従来のテストプラグのように短絡バーを使用して変成器側を短絡させるのに比べて簡単に短絡処理を行うことができ、作業時間が大幅に短縮するので、作業者の負担を減らすことができる。特に、4相や8相の多相型のテストプラグにおいて数相のみを短絡させるような場合に、従来のテストプラグでは短絡バーの取り付け作業が複雑になり、取り付けミスが発生して作業のやり直しが必要になることがあったが、本発明のテストプラグであれば、短絡作業が容易になり、さらに短絡されているか否かも見た目上で簡単に確認することができる。   According to the first aspect of the present invention, the transformer side can be short-circuited simply by pushing the slide member into the plug body, so that the transformer side is short-circuited using a short-circuit bar as in a conventional test plug. Compared to the above, the short circuit processing can be easily performed and the working time is greatly shortened, so that the burden on the operator can be reduced. Especially when only a few phases are short-circuited in a four-phase or eight-phase multi-phase test plug, the conventional test plug complicates the work of installing the shorting bar, causing an installation error and redoing the work. However, with the test plug of the present invention, the short-circuiting operation is facilitated, and it can be easily confirmed visually whether or not it is short-circuited.

また、従来のテストプラグのように、プラグ端子のネジを使用して短絡バーを固定しないので、作業ミスによる締め付けの緩みや、経年劣化による緩みによって短絡バーが脱落することもない。さらに、変成器側を短絡させるための短絡バー自体が不要となるので、テストプラグのコストを低減することができ、短絡バーの管理の手間を無くすことができる。   In addition, unlike the conventional test plug, the shorting bar is not fixed by using the screw of the plug terminal, so that the shorting bar is not dropped due to loosening due to work mistakes or loosening due to aging. Furthermore, since the shorting bar itself for short-circuiting the transformer side becomes unnecessary, the cost of the test plug can be reduced, and the trouble of managing the shorting bar can be eliminated.

さらに、スライド部材を挿入位置に移動することによって変成器側端子部と変成器側接触子との電気的な接続が切り離されるので、PT用のテストプラグとして使用する場合に、テストプラグをテストターミナルに挿入する際の感電や、作業時の短絡事故を防止することができる。また、ビニールテープなどによる変成器側の絶縁作業を省略することができるので、作業者の負担も軽減される。   Furthermore, since the electrical connection between the transformer side terminal section and the transformer side contactor is disconnected by moving the slide member to the insertion position, the test plug is used as a test terminal when used as a test plug for PT. It is possible to prevent an electric shock when inserted into the battery and a short circuit accident during work. Moreover, since the insulation work by the side of a transformer by a vinyl tape etc. can be abbreviate | omitted, an operator's burden is also reduced.

請求項2に記載の発明によれば、スライド部材が挿入位置にある場合に変成器側スライド端子と変成器側導体との当接を維持するので、短絡バーを用いなくてもCT用のテストプラグとして使用することができる。   According to the second aspect of the present invention, since the contact between the transformer-side slide terminal and the transformer-side conductor is maintained when the slide member is in the insertion position, the CT test can be performed without using a short-circuit bar. Can be used as a plug.

請求項3に記載の発明によれば、スライド部材を引出し位置に移動することにより常用のテストプラグとして使用することができ、スライド部材を第1の収納位置に移動することにより計器側と変成器側とを電気的に切り離すことができ、スライド部材を第2の収納位置に移動することにより、CT用あるいはPT用のテストプラグとして使用することができる。したがって、計器用変成器の機能検査を行なう場合にCT用あるいはPT用のテストプラグを用意しなくても、常用しているテストプラグのスライド部材を収納位置に押し込むだけで変成器の検査を行なうことができる。これにより、機能検査にかかる作業者の負担を軽減することができる。   According to the third aspect of the present invention, the slide member can be used as a normal test plug by moving it to the drawer position, and the instrument side and the transformer can be used by moving the slide member to the first storage position. It can be electrically separated from the side, and can be used as a test plug for CT or PT by moving the slide member to the second storage position. Therefore, when performing a functional test of an instrument transformer, even if a test plug for CT or PT is not prepared, the transformer is inspected by simply pushing the slide member of the test plug in use into the storage position. be able to. Thereby, the burden of the operator concerning a function test | inspection can be reduced.

請求項4に記載の発明によれば、スライド部材を挿入位置と引出し位置とでロックすることができるので、スライド部材の不用意な移動による短絡事故の発生を防止することができる。   According to the fourth aspect of the present invention, since the slide member can be locked at the insertion position and the pull-out position, occurrence of a short circuit accident due to inadvertent movement of the slide member can be prevented.

実施の形態1のテストプラグの外観形状を示す斜視図である。FIG. 3 is a perspective view showing an external shape of a test plug according to the first embodiment. 実施の形態1のテストプラグの縦方向の断面図である。FIG. 3 is a longitudinal sectional view of the test plug according to the first embodiment. 実施の形態1のテストプラグの機能を示す模式図である。FIG. 3 is a schematic diagram illustrating functions of a test plug according to the first embodiment. 実施の形態1のテストプラグをテストターミナルに挿入した状態を示す縦方向の断面図である。It is sectional drawing of the vertical direction which shows the state which inserted the test plug of Embodiment 1 in the test terminal. 実施の形態2のテストプラグの縦方向の断面図である。FIG. 6 is a longitudinal sectional view of a test plug according to a second embodiment. 実施の形態3のテストプラグの第1の挿入位置を示す縦方向の断面図である。FIG. 6 is a longitudinal sectional view showing a first insertion position of a test plug according to a third embodiment. 実施の形態3のテストプラグの第2の挿入位置を示す縦方向の断面図である。FIG. 10 is a longitudinal sectional view showing a second insertion position of the test plug according to the third embodiment. 従来のテストプラグおよびテストターミナルの縦方向の断面図である。It is sectional drawing of the vertical direction of the conventional test plug and a test terminal. 従来のテストプラグの外観形状を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the external appearance shape of the conventional test plug.

以下、この発明を図示の実施の形態に基づいて説明する。   The present invention will be described below based on the illustrated embodiments.

(実施の形態1)
図1は、4相のCT用のテストプラグ1の外観斜視図、図2はテストプラグ1の縦方向断面図である。テストプラグ1は、プラグ本体2、挿入部3、スライド部材4、計器側導体5、変成器側導体6、短絡導体7、計器側スライド端子8、変成器側スライド端子9およびロック機構10を備える。なお、スライド部材4、計器側導体5、変成器側導体6、短絡導体7、計器側スライド端子8、変成器側スライド端子9およびロック機構10は、相数に対応してそれぞれ4組ずつ設けられている。
(Embodiment 1)
FIG. 1 is an external perspective view of a four-phase CT test plug 1, and FIG. 2 is a longitudinal sectional view of the test plug 1. The test plug 1 includes a plug body 2, an insertion portion 3, a slide member 4, an instrument side conductor 5, a transformer side conductor 6, a short-circuit conductor 7, an instrument side slide terminal 8, a transformer side slide terminal 9, and a lock mechanism 10. . The slide member 4, the instrument-side conductor 5, the transformer-side conductor 6, the short-circuit conductor 7, the instrument-side slide terminal 8, the transformer-side slide terminal 9, and the lock mechanism 10 are provided in four sets corresponding to the number of phases. It has been.

プラグ本体2は、プラスチックなどの絶縁材料で形成されており、例えば矩形の箱形状である。プラグ本体2内には、スライド部材4をスライド自在に収納するための空間である収納部2aが設けられている。   The plug body 2 is made of an insulating material such as plastic and has, for example, a rectangular box shape. The plug body 2 is provided with a storage portion 2a which is a space for slidably storing the slide member 4.

挿入部3は、プラグ本体3から後方に向かって突出した板状の絶縁支持体31と、絶縁支持体31の対向する両面にそれぞれ設けられた4対の計器側接触子32および変成器側接触子33とを備える。絶縁支持体31は、プラグ本体2と同様に絶縁材料で形成されており、計器側接触子32および変成器側接触子33は、金属板によって形成されている。なお、本実施の形態では、絶縁支持体31は水平方向に沿うように設けられており、計器側接触子32および変成器側接触子33は、絶縁支持体31の上下面にそれぞれ設けられている。   The insertion portion 3 includes a plate-like insulating support 31 projecting rearward from the plug body 3, and four pairs of instrument-side contacts 32 and transformer-side contacts provided on both opposing surfaces of the insulating support 31. And a child 33. The insulating support 31 is formed of an insulating material as in the plug body 2, and the instrument side contact 32 and the transformer side contact 33 are formed of a metal plate. In the present embodiment, the insulating support 31 is provided along the horizontal direction, and the instrument-side contact 32 and the transformer-side contact 33 are provided on the upper and lower surfaces of the insulating support 31, respectively. Yes.

スライド部材4は、図2(A)に示すように、プラグ本体2から引き出される引出し位置と、同図(B)に示すように、プラグ本体2に挿入される挿入位置との間でスライド自在である。スライド部材4の前面側には、プラグ本体2の外に露呈されるようにプラグ端子41がそれぞれ設けられている。   As shown in FIG. 2A, the slide member 4 is slidable between a drawing position where it is pulled out from the plug body 2 and an insertion position where it is inserted into the plug body 2 as shown in FIG. It is. Plug terminals 41 are provided on the front side of the slide member 4 so as to be exposed to the outside of the plug body 2.

プラグ端子41は、同軸上に配置された計器側端子部412および変成器側端子部413と、計器側端子部412に配線を接続固定するための計器側締付具414と、変成器側端子部413に配線を接続固定するための変成器側締付具415とを備える。具体的には、計器側端子部412および変成器側端子部413は、金属製の雄ねじであり、計器側締付具414および変成器側締付具415は、計器側端子部412および変成器側端子部413にそれぞれ螺合された雌ねじを有する。   The plug terminal 41 includes an instrument-side terminal part 412 and a transformer-side terminal part 413 arranged on the same axis, an instrument-side fastener 414 for connecting and fixing wiring to the instrument-side terminal part 412, and a transformer-side terminal A transformer-side fastener 415 for connecting and fixing the wiring to the portion 413 is provided. Specifically, the instrument-side terminal portion 412 and the transformer-side terminal portion 413 are male male screws, and the instrument-side fastener 414 and the transformer-side fastener 415 are composed of the instrument-side terminal portion 412 and the transformer. Each side terminal portion 413 has an internal thread that is screwed thereto.

計器側導体5および変成器側導体6は、金属板によって構成されており、プラグ本体2内に設けられている。計器側導体5および変成器側導体6は、それぞれ対応する計器側接触子32および変成器側接触子33に、配線51および配線61によって電気的に接続している。   The instrument-side conductor 5 and the transformer-side conductor 6 are made of a metal plate and are provided in the plug body 2. The instrument-side conductor 5 and the transformer-side conductor 6 are electrically connected to the corresponding instrument-side contact 32 and transformer-side contact 33 by wiring 51 and wiring 61, respectively.

短絡導体7は、金属板によって構成されており、各変成器側導体6の近傍で、変成器側導体6よりも後方側、すなわちプラグ本体2の奥側に隣接するように配置されている。短絡導体7は、プラグ本体2内に幅方向に沿って配置された短絡部材71に対し、配線72によって電気的に接続されている。すなわち、複数の短絡導体7は、短絡部材71を介して互いに電気的に接続している。   The short-circuit conductor 7 is made of a metal plate, and is arranged in the vicinity of each transformer-side conductor 6 so as to be adjacent to the rear side of the transformer-side conductor 6, that is, the back side of the plug body 2. The short-circuit conductor 7 is electrically connected by a wiring 72 to a short-circuit member 71 disposed in the plug body 2 along the width direction. That is, the plurality of short-circuit conductors 7 are electrically connected to each other via the short-circuit member 71.

計器側スライド端子8は、スライド部材4の後端側に固定されており、配線81によって計器側端子部412と接続されている。計器側スライド端子8は、屈曲された金属板からなり、先端側には計器側導体5に対して弾性をもって当接する当接部が設けられている。   The instrument-side slide terminal 8 is fixed to the rear end side of the slide member 4, and is connected to the instrument-side terminal portion 412 by a wire 81. The instrument-side slide terminal 8 is made of a bent metal plate, and a contact portion that elastically contacts the instrument-side conductor 5 is provided on the distal end side.

計器側スライド端子8は、スライド部材4が引出し位置および挿入位置にある場合に計器側導体5と当接する。すなわち、計器側スライド端子8は、スライド部材4が引出し位置または挿入位置にある場合には、配線81、計器側導体5および配線51を介して、計器側端子部412と計器側接触子32とを電気的に接続する。   The instrument-side slide terminal 8 abuts on the instrument-side conductor 5 when the slide member 4 is in the extraction position and the insertion position. That is, the instrument-side slide terminal 8 is connected to the instrument-side terminal part 412 and the instrument-side contact 32 via the wiring 81, the instrument-side conductor 5 and the wiring 51 when the slide member 4 is in the drawing position or the insertion position. Are electrically connected.

変成器側スライド端子9は、スライド部材4の後端側で計器側スライド端子8と反対側に固定されており、配線91によって変成器側端子部413と接続されている。変成器側スライド端子9は、屈曲された金属板からなり、先端側には変成器側導体6および短絡導体7に対して弾性をもって当接する当接部が設けられている。   The transformer-side slide terminal 9 is fixed to the opposite side of the instrument-side slide terminal 8 on the rear end side of the slide member 4, and is connected to the transformer-side terminal portion 413 by a wire 91. The transformer-side slide terminal 9 is made of a bent metal plate, and a contact portion that elastically contacts the transformer-side conductor 6 and the short-circuit conductor 7 is provided on the distal end side.

変成器側スライド端子9は、スライド部材4が引出し位置にある場合には、変成器側導体6と当接する。また、変成器側スライド端子9の当接部は、計器側スライド端子8よりも長く形成されており、スライド部材4が挿入位置にある場合には、変成器側導体6との当接を維持したまま、同時に短絡導体7と当接する。すなわち、変成器側スライド端子9は、スライド部材4が引出し位置にある場合には、配線91、変成器側導体6および配線61を介して、変成器側端子部413と変成器側接触子33とを電気的に接続する。また、スライド部材4が収納位置にある場合には、変成器側スライド端子9は、変成器側端子部413と変成器側接触子33との接続を維持したまま、配線91、短絡導体7、配線72および短絡部材71を介して複数の変成器側接触子33を短絡させる。   The transformer-side slide terminal 9 contacts the transformer-side conductor 6 when the slide member 4 is in the extended position. Further, the contact portion of the transformer-side slide terminal 9 is formed longer than the instrument-side slide terminal 8, and maintains contact with the transformer-side conductor 6 when the slide member 4 is in the insertion position. At the same time, it contacts the short-circuit conductor 7. That is, the transformer-side slide terminal 9 has the transformer-side terminal portion 413 and the transformer-side contactor 33 via the wire 91, the transformer-side conductor 6 and the wire 61 when the slide member 4 is in the extended position. And electrically connect. Further, when the slide member 4 is in the storage position, the transformer-side slide terminal 9 maintains the connection between the transformer-side terminal portion 413 and the transformer-side contact 33, and the wiring 91, the short-circuit conductor 7, The plurality of transformer-side contacts 33 are short-circuited via the wiring 72 and the short-circuit member 71.

ロック機構(ロック手段)10は、スライド部材4を挿入位置と引出し位置の各位置でロックするための機構である。ロック機構10は、プラグ本体2の上面に設けられたスリット101と、スライド部材4の上面に設けられた溝102a、102bと、スリット101を通して溝102aまたは溝102bに挿入される板状のロック部材103とを備える。スライド部材4は、ロック部材103がスリット101を通して溝102aまたは溝102bに挿入されると、ロック部材103によってスライドが阻害される。なお、ロック部材103がスリット101から不用意に抜け落ちるのを防止するために、ロック部材103をスリット101に係止するための機構を設けてもよい。   The lock mechanism (lock means) 10 is a mechanism for locking the slide member 4 at each of the insertion position and the pull-out position. The lock mechanism 10 includes a slit 101 provided on the upper surface of the plug body 2, grooves 102 a and 102 b provided on the upper surface of the slide member 4, and a plate-like lock member inserted into the groove 102 a or the groove 102 b through the slit 101. 103. When the lock member 103 is inserted into the groove 102 a or the groove 102 b through the slit 101, the slide member 4 is inhibited from sliding by the lock member 103. A mechanism for locking the lock member 103 to the slit 101 may be provided in order to prevent the lock member 103 from inadvertently falling out of the slit 101.

図3は、テストプラグ1の機能を示す模式図である。同図(A)に示すように、テストプラグ1は、プラグ端子41を含むスライド部材4がプラグ本体2に対して引出し位置にある場合には、各相の変成器側接触子33をそれぞれ絶縁する。これに対し、同図(B)に示すように、プラグ端子41を含むスライド部材4がプラグ本体2に対して収納位置にある場合には、各相の変成器側接触子33は短絡導体7および短絡部材71によって電気的に接続されて短絡される。   FIG. 3 is a schematic diagram showing the function of the test plug 1. As shown in FIG. 2A, the test plug 1 insulates the transformer-side contactor 33 of each phase when the slide member 4 including the plug terminal 41 is in the extended position with respect to the plug body 2. To do. On the other hand, when the slide member 4 including the plug terminal 41 is in the storage position with respect to the plug body 2, as shown in FIG. And it is electrically connected by the short-circuit member 71 and short-circuited.

次に、上記テストプラグ1の作用について説明する。本実施形態のCT用のテストプラグ1は、計器用変成器の機能試験の前に、機能試験の内容に応じて各相の変成器側が短絡状態に切り換えられる。図2(A)に示すように、スライド部材4がプラグ本体2に対して引出し位置にある場合には、計器側スライド端子8および変成器側スライド端子9は、計器側導体5および変成器側導体6に当接するので、各相の変成器側接触子33は絶縁されている。   Next, the operation of the test plug 1 will be described. In the CT test plug 1 of the present embodiment, the transformer side of each phase is switched to a short-circuited state according to the contents of the functional test before the functional test of the instrument transformer. As shown in FIG. 2 (A), when the slide member 4 is in the extended position with respect to the plug body 2, the instrument side slide terminal 8 and the transformer side slide terminal 9 are connected to the instrument side conductor 5 and the transformer side. Since it contacts the conductor 6, the transformer-side contact 33 of each phase is insulated.

テストプラグ1の変成器側を短絡状態へ切り換える場合には、プラグ本体2のスリット101からロック部材103を抜き取り、スライド部材4のスライドロックを解除する。次いで、プラグ端子41を介してスライド部材4を押圧し、引出し位置にあるスライド部材4を挿入位置へと移動させる。   When switching the transformer side of the test plug 1 to the short-circuit state, the lock member 103 is extracted from the slit 101 of the plug body 2 and the slide lock of the slide member 4 is released. Next, the slide member 4 is pressed through the plug terminal 41, and the slide member 4 in the drawing position is moved to the insertion position.

図2(B)に示すように、スライド部材4がプラグ本体2に対して引出し位置に移動されると、変成器側スライド端子9は、計器側導体5および変成器側導体6に当接する。これにより、各相の変成器側接触子33は、短絡導体7に接続された短絡部材71によって短絡される。   As shown in FIG. 2B, when the slide member 4 is moved to the drawing position with respect to the plug body 2, the transformer-side slide terminal 9 contacts the instrument-side conductor 5 and the transformer-side conductor 6. Thereby, the transformer side contactor 33 of each phase is short-circuited by the short-circuit member 71 connected to the short-circuit conductor 7.

スライド部材4のスライド完了後、プラグ本体2のスリット101には、ロック部材103が挿入される。ロック部材103は、スリット101を通して溝102bに挿入されるので、スライド部材4は不用意にスライドしないようにロックされる。   After the sliding of the slide member 4 is completed, the lock member 103 is inserted into the slit 101 of the plug body 2. Since the lock member 103 is inserted into the groove 102b through the slit 101, the slide member 4 is locked so as not to slide carelessly.

テストプラグ1は、スライド部材4の挿入位置へのスライド後にテスターなどを用いてその試験目的に合った接続、すなわち変成器側が意図した短絡状態になっているか確認される。この確認作業は、作業者がテストプラグ1の計器側端子部412にテスターのプローブを順次当接させるといった手作業で行われる。   After the slide of the slide member 4 to the insertion position, the test plug 1 is confirmed using a tester or the like to meet the test purpose, that is, whether the transformer side is in the intended short circuit state. This confirmation work is performed manually by the operator such that the tester probe is sequentially brought into contact with the instrument side terminal portion 412 of the test plug 1.

テストプラグ1は、接続の確認後、図4に示すように、挿入部3がテストターミナル11の挿入口111に挿入される。挿入部3は、計器側接片112と変成器側接片113とを弾性変形させながら両者の間に挿入される。挿入部3の絶縁支持体31によって計器側接片112と変成器側接片113とが離間されることにより、計器12と計器用変成器13との電気的な接続が切り離される。また、挿入部3の計器側接触子32および変成器側接触子33が計器側接片112および変成器側接片113にそれぞれ当接することにより、計器側端子部412および変成器側端子部413と、計器12および計器用変成器13とが電気的に接続される。テストターミナル11の変成器側接片113は、短絡導体7および短絡部材71によって短絡される。   After the connection of the test plug 1 is confirmed, the insertion portion 3 is inserted into the insertion port 111 of the test terminal 11 as shown in FIG. The insertion portion 3 is inserted between the instrument side contact piece 112 and the transformer side contact piece 113 while being elastically deformed. The instrument-side contact piece 112 and the transformer-side contact piece 113 are separated from each other by the insulating support 31 of the insertion portion 3, whereby the electrical connection between the instrument 12 and the instrument transformer 13 is disconnected. Further, the instrument side contact 32 and the transformer side contact 33 of the insertion section 3 abut on the instrument side contact 112 and the transformer side contact 113, respectively, so that the instrument side terminal 412 and the transformer side terminal 413 are contacted. And the instrument 12 and the instrument transformer 13 are electrically connected. The transformer-side contact piece 113 of the test terminal 11 is short-circuited by the short-circuit conductor 7 and the short-circuit member 71.

テストプラグ1のテストターミナル11への挿入後、計器側端子部412に計測器を接続して計器用変成器13の機能試験が行われる。   After the test plug 1 is inserted into the test terminal 11, a measuring instrument is connected to the instrument-side terminal portion 412 and a function test of the instrument transformer 13 is performed.

以上で説明したように、本実施の形態のテストプラグ1によれば、スライド部材4をプラグ本体2に押し込むだけで変成器側を短絡させることができるので、従来のテストプラグのように短絡バーを使用して変成器側を短絡させるのに比べて簡単に作業を行うことができ、作業時間が大幅に短縮するので、作業者の負担を減らすことができる。特に、4相や8相の多相型のテストプラグにおいて、複数の相のうちの数相のみを短絡させるような場合に、従来のテストプラグでは短絡バーの取り付け作業が複雑になるので、取り付けミスが発生し、作業のやり直しが必要になることがあった。しかしながら、本実施の形態のテストプラグであれば、スライド部材4を押し込むだけで簡単に短絡処理を行なうことができ、さらに短絡されているか否かも見た目上で簡単に確認することができる。   As described above, according to the test plug 1 of the present embodiment, the transformer side can be short-circuited only by pushing the slide member 4 into the plug body 2, so that the short-circuit bar as in the conventional test plug can be achieved. Compared to short-circuiting the transformer side by using, it is possible to work easily and the working time is greatly shortened, so that the burden on the operator can be reduced. In particular, in the case of a 4-phase or 8-phase multi-phase type test plug, when only a few of the multiple phases are short-circuited, the mounting of the short-circuit bar is complicated with the conventional test plug. An error occurred and it was necessary to redo the work. However, in the case of the test plug of the present embodiment, the short-circuit process can be easily performed by simply pushing the slide member 4, and it can be easily confirmed visually whether or not the short-circuit is performed.

また、従来のテストプラグのように、プラグ端子のネジを使用して短絡バーを固定しないので、作業ミスによる締め付けの緩みや、経年劣化による緩みによって短絡バーが脱落することもない。さらに、変成器側を短絡させるための短絡バー自体が不要となるので、テストプラグ1のコストを低減することができ、短絡バーの管理の手間を無くすことができる。   In addition, unlike the conventional test plug, the shorting bar is not fixed by using the screw of the plug terminal, so that the shorting bar is not dropped due to loosening due to work mistakes or loosening due to aging. Furthermore, since the shorting bar itself for short-circuiting the transformer side becomes unnecessary, the cost of the test plug 1 can be reduced, and the trouble of managing the shorting bar can be eliminated.

さらに、スライド部材4を挿入位置と引出し位置とでロックするロック機構10を設けたので、スライド部材4の不用意な移動による短絡事故の発生を防止することができる。   Furthermore, since the lock mechanism 10 that locks the slide member 4 between the insertion position and the pull-out position is provided, it is possible to prevent occurrence of a short circuit accident due to inadvertent movement of the slide member 4.

(実施の形態2)
次に、本発明の第2の実施の形態について説明する。なお、実施の形態1と同じ構成については、同符号を用いて詳しい説明は省略する。本実施の形態は、PT用のテストプラグ1Aに関するものである。
(Embodiment 2)
Next, a second embodiment of the present invention will be described. In addition, about the same structure as Embodiment 1, detailed description is abbreviate | omitted using a same sign. The present embodiment relates to a PT test plug 1A.

本実施の形態のテストプラグ1Aは、図5(A)に示すように、実施の形態1で説明したCT用のテストプラグ1に比べて、変成器側スライド端子9Aの当接部の挿入方向の長さが短くなっている。変成器側スライド端子9Aは、スライド部材4を図5(A)に示す引出し位置から同図(B)に示す挿入位置に移動させると、短絡導体7のみに当接する。すなわち、スライド部材4が挿入位置にある場合には、変成器側端子部413と変成器側接触子33との電気的な接続が切り離される。   As shown in FIG. 5 (A), the test plug 1A of the present embodiment has an insertion direction of the contact portion of the transformer-side slide terminal 9A as compared with the CT test plug 1 described in the first embodiment. The length of is shortened. The transformer-side slide terminal 9A contacts only the short-circuit conductor 7 when the slide member 4 is moved from the pulled-out position shown in FIG. 5A to the insertion position shown in FIG. That is, when the slide member 4 is in the insertion position, the electrical connection between the transformer-side terminal portion 413 and the transformer-side contactor 33 is disconnected.

したがって、本実施の形態のテストプラグ1Aによれば、スライド部材4を挿入位置に移動することによって変成器側端子部413と変成器側接触子33との電気的な接続が切り離されるので、テストプラグ1Aをテストターミナルに挿入する際の感電や、作業時の短絡事故を防止することができる。また、ビニールテープなどによる変成器側の絶縁作業を省略することができるので、作業者の負担も軽減される。   Therefore, according to the test plug 1A of the present embodiment, the electrical connection between the transformer side terminal portion 413 and the transformer side contactor 33 is disconnected by moving the slide member 4 to the insertion position. It is possible to prevent an electric shock when the plug 1A is inserted into the test terminal and a short-circuit accident during work. Moreover, since the insulation work by the side of a transformer by a vinyl tape etc. can be abbreviate | omitted, an operator's burden is also reduced.

(実施の形態3)
次に、本発明の第3の実施の形態について説明する。なお、実施の形態1と同じ構成については、同符号を用いて詳しい説明は省略する。本実施の形態は、テストターミナル11に常に挿入された状態で使用されるいわゆる常用型のテストプラグに関するものである。
(Embodiment 3)
Next, a third embodiment of the present invention will be described. In addition, about the same structure as Embodiment 1, detailed description is abbreviate | omitted using a same sign. The present embodiment relates to a so-called regular test plug that is used while being always inserted in the test terminal 11.

図6(A)に示すように、本実施の形態のテストプラグ1Bは、実施の形態1のテストプラグ1に対し、計器側短絡導体14、変成器側短絡導体15、および配線16を備える点で異なる。計器側短絡導体14は、計器側導体5の前方に隣接するように配置されており、絶縁された状態で各相にそれぞれ設けられている。変成器側短絡導体15は、変成器側導体6の前方に隣接するように配置されており、絶縁された状態で各相にそれぞれ設けられている。配線16は、各相にそれぞれ設けられており、計器側短絡導体14と変成器側短絡導体15とを電気的に接続する。   As shown in FIG. 6A, the test plug 1B according to the present embodiment is provided with an instrument-side short-circuit conductor 14, a transformer-side short-circuit conductor 15, and a wiring 16 with respect to the test plug 1 according to the first embodiment. It is different. The instrument-side short-circuit conductor 14 is disposed adjacent to the front of the instrument-side conductor 5 and is provided in each phase in an insulated state. The transformer-side short-circuit conductor 15 is disposed adjacent to the front of the transformer-side conductor 6 and is provided in each phase in an insulated state. The wiring 16 is provided for each phase, and electrically connects the instrument-side short-circuit conductor 14 and the transformer-side short-circuit conductor 15.

また、本実施の形態のテストプラグ1Bは、実施の形態1のテストプラグ1に対し、スライド部材4の挿入位置として第1の挿入位置と、第1の挿入位置よりもプラグ本体2の奥に挿入される第2の挿入位置を備える点で異なる。さらに、本実施の形態の計器側スライド端子8Bおよび変成器側スライド端子9Bは、実施の形態1のテストプラグ1に対し、当接部の挿入方向の長さが異なっている。   In addition, the test plug 1B according to the present embodiment has a first insertion position as the insertion position of the slide member 4 with respect to the test plug 1 according to the first embodiment, and at the back of the plug body 2 from the first insertion position. The difference is that a second insertion position is provided. Further, the instrument-side slide terminal 8B and the transformer-side slide terminal 9B according to the present embodiment are different from the test plug 1 according to the first embodiment in the length in the insertion direction of the contact portion.

計器側スライド端子8Bは、スライド部材4が図6(A)に示す引出し位置にある場合には、計器側短絡導体14および計器側導体5と同時に当接する。また、変成器側スライド端子9Bは、スライド部材4が引出し位置にある場合には、変成器側短絡導体15および変成器側導体6と同時に当接する。したがって、スライド部材4が引出し位置にある場合には、計器側接触子32および変成器側接触子33は、配線51、計器側導体5、計器側スライド端子8B、計器側短絡導体14、配線16、変成器側短絡導体15、変成器側スライド端子9B、変成器側導体6、および配線61を介して電気的に接続するので、本実施の形態のテストプラグ1Bは、常用のテストプラグとして使用可能となる。   The instrument side slide terminal 8 </ b> B contacts the instrument side short-circuit conductor 14 and the instrument side conductor 5 simultaneously when the slide member 4 is in the drawn position shown in FIG. Further, the transformer-side slide terminal 9 </ b> B contacts the transformer-side short-circuit conductor 15 and the transformer-side conductor 6 simultaneously when the slide member 4 is in the extended position. Therefore, when the slide member 4 is in the drawer position, the instrument side contact 32 and the transformer side contact 33 are connected to the wiring 51, the instrument side conductor 5, the instrument side slide terminal 8B, the instrument side short-circuit conductor 14, and the wiring 16; Since the transformer side short-circuit conductor 15, the transformer side slide terminal 9B, the transformer side conductor 6, and the wiring 61 are electrically connected, the test plug 1B of the present embodiment is used as a normal test plug. It becomes possible.

また、計器側スライド端子8Bは、スライド部材4が図6(B)に示す第1の収納位置にある場合には、計器側短絡導体14との当接を解除し、計器側導体5のみに当接する。変成器側スライド端子9Bは、スライド部材4が第1の収納位置にある場合には、変成器側短絡導体15との当接を解除し、変成器側導体6のみに当接する。したがって、スライド部材4が第1の収納位置にある場合には、計器側接触子32と変成器側接触子33とは電気的に切り離される。   In addition, when the slide member 4 is in the first storage position shown in FIG. 6B, the instrument-side slide terminal 8B releases the contact with the instrument-side short-circuit conductor 14 and is connected only to the instrument-side conductor 5. Abut. When the slide member 4 is in the first storage position, the transformer-side slide terminal 9 </ b> B releases the contact with the transformer-side short-circuit conductor 15 and contacts only the transformer-side conductor 6. Therefore, when the slide member 4 is in the first storage position, the instrument-side contact 32 and the transformer-side contact 33 are electrically disconnected.

さらに、変成器側スライド端子9Bは、スライド部材4が図7に示す第2の収納位置にある場合には、変成器側導体6との当接を維持したまま短絡導体7に当接する。したがって、スライド部材4が第2の収納位置にある場合には、計器側接触子32と変成器側接触子33とは電気的に切り離され、各相の変成器側接触子33は短絡部材71によって短絡されるので、本実施の形態のテストプラグ1Bは、CT用のテストプラグとして使用可能となる。   Furthermore, when the slide member 4 is in the second storage position shown in FIG. 7, the transformer-side slide terminal 9 </ b> B contacts the short-circuit conductor 7 while maintaining contact with the transformer-side conductor 6. Therefore, when the slide member 4 is in the second storage position, the instrument-side contact 32 and the transformer-side contact 33 are electrically disconnected, and the transformer-side contact 33 of each phase is short-circuited member 71. Therefore, the test plug 1B of the present embodiment can be used as a test plug for CT.

以上で説明したように、本実施の形態のテストプラグ1Bによれば、スライド部材4を引出し位置に移動することにより常用のテストプラグとして使用することができ、スライド部材4を第1の収納位置に移動することにより器側接触子32と変成器側接触子33とは電気的に切り離すことができる。さらに、スライド部材4を第2の収納位置に移動することにより、CT用のテストプラグとして使用することができる。したがって、CT回路の機能検査を行なう場合にCT用のテストプラグを用意しなくても、常用しているテストプラグ1Bのスライド部材4を収納位置に押し込むだけでCT回路の検査を行なうことができる。これにより、CT回路の機能検査にかかる作業者の負担を軽減することができる。   As described above, according to the test plug 1B of the present embodiment, the slide member 4 can be used as a normal test plug by moving the slide member 4 to the pull-out position, and the slide member 4 can be used in the first storage position. The transformer side contact 32 and the transformer side contact 33 can be electrically separated by moving to. Furthermore, it can be used as a test plug for CT by moving the slide member 4 to the second storage position. Therefore, even if a CT test plug is not prepared when performing a function test of the CT circuit, the CT circuit can be inspected by simply pushing the slide member 4 of the test plug 1B that is in use into the storage position. . Thereby, it is possible to reduce the burden on the operator for the function inspection of the CT circuit.

なお、本実施の形態3では、常用テストプラグとCT用テストプラグとを兼用にしたが、実施の形態2のテストプラグ1Aのように、スライド部材4を収納位置に移動した際に変成器側スライド端子9Bが短絡導体7のみに当接するようにして、常用テストプラグとPT用テストプラグとを兼用させてもよい。   In the third embodiment, the common test plug and the CT test plug are combined. However, like the test plug 1A of the second embodiment, when the slide member 4 is moved to the storage position, the transformer side Ordinary test plugs and PT test plugs may be combined so that the slide terminal 9B contacts only the short-circuit conductor 7.

以上、この発明の実施の形態を詳述したが、具体的な構成はこの実施の形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変更等があっても、この発明に含まれる。例えば、4相のテストプラグを例に説明したが、2相以上のテストプラグであれば本発明は適用可能である。また、プラグ端子41を挿入位置に移動した際に変成器側端子部413がプラグ本体2内に収納されるようにしたが、プラグ本体2から露呈されるようにし、計器側端子部412と変成器側端子部413とをコ字形状の短絡バーで短絡できるようにしてもよい。   Although the embodiment of the present invention has been described in detail above, the specific configuration is not limited to this embodiment, and even if there is a design change or the like without departing from the gist of the present invention, include. For example, although a four-phase test plug has been described as an example, the present invention can be applied to a test plug having two or more phases. Further, when the plug terminal 41 is moved to the insertion position, the transformer-side terminal portion 413 is accommodated in the plug main body 2. However, the transformer-side terminal portion 413 is exposed from the plug main body 2 so as to be transformed with the instrument-side terminal portion 412. The device side terminal portion 413 may be short-circuited with a U-shaped shorting bar.

1、1A、1B テストプラグ
2 プラグ本体
3 挿入部
31 絶縁支持体
32 計器側接触子
33 変成器側接触子
4 スライド部材
41 プラグ端子
412 計器側端子部
413 変成器側端子部
5 計器側導体
6 変成器側導体
7 短絡導体
71 短絡部材
8、8B 計器側スライド端子
9、9A、9B 変成器側スライド端子
10 ロック機構(ロック手段)
11 テストターミナル
112 計器側接片
113 変成器側接片
12 計器
13 計器用変成器
14 計器側短絡導体
15 変成器側短絡導体
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1, 1A, 1B Test plug 2 Plug main body 3 Insertion part 31 Insulation support body 32 Instrument side contact 33 Transformer side contact 4 Slide member 41 Plug terminal 412 Instrument side terminal part 413 Transformer side terminal part 5 Instrument side conductor 6 Transformer-side conductor 7 Short-circuit conductor 71 Short-circuit member 8, 8B Instrument-side slide terminal 9, 9A, 9B Transformer-side slide terminal 10 Lock mechanism (locking means)
11 Test Terminal 112 Instrument Side Contact 113 Transformer Side Contact 12 Instrument 13 Instrument Transformer 14 Instrument Side Short Conductor 15 Transformer Side Short Conductor

Claims (4)

計器に接続された計器側接片と、計器用変成器に接続された変成器側接片との対を複数有し、通常時には前記計器側接片と前記変成器側接片とを接触させて前記計器と前記計器用変成器とを電気的に接続しているテストターミナルに挿入されるテストプラグであって、
プラグ本体から後方に向かって突出した絶縁支持体と、前記絶縁支持体の対向する両面にそれぞれ設けられた複数対の計器側接触子および変成器側接触子とを有し、前記計器側接片と前記変成器側接片との間に挿入された場合に、前記絶縁支持体によって前記計器と前記計器用変成器との電気的な接続を切り離し、前記計器側接触子および前記変成器側接触子を前記計器側接片および前記変成器側接片にそれぞれ当接させる挿入部と、
前記プラグ本体に挿入される挿入位置と、前記プラグ本体から引き出される引出し位置との間でスライド自在であり、前記プラグ本体の外に露呈された計器側端子部および変成器側端子部をそれぞれ有する複数のスライド部材と、
前記プラグ本体内に設けられ、複数対の前記計器側接触子および前記変成器側接触子にそれぞれ接続された複数対の計器側導体および変成器側導体と、
前記各変成器側導体の近傍にそれぞれ配置され、互いに電気的に接続された複数の短絡導体と、
前記計器側端子部と接続され、前記スライド部材とともに移動し、前記スライド部材が引出し位置および挿入位置にある場合に前記計器側導体と当接する複数の計器側スライド端子と、
前記変成器側端子部と接続され、前記スライド部材とともに移動し、前記スライド部材が引出し位置にある場合には前記変成器側導体と当接し、前記スライド部材が挿入位置にある場合には前記短絡導体と当接する複数の変成器側スライド端子と、
を備えることを特徴とするテストプラグ。
There are a plurality of pairs of the instrument side contact piece connected to the instrument and the transformer side contact piece connected to the instrument transformer. Normally, the instrument side contact piece and the transformer side contact piece are brought into contact with each other. A test plug inserted into a test terminal electrically connecting the instrument and the instrument transformer,
An insulating support that protrudes rearward from the plug body, and a plurality of pairs of instrument-side contacts and transformer-side contacts provided on opposite surfaces of the insulating support; And the transformer side contact piece, the electrical connection between the instrument and the instrument transformer is disconnected by the insulating support, and the instrument side contact and the transformer side contact are disconnected. An insertion part for bringing a child into contact with the instrument side contact piece and the transformer side contact piece,
It is slidable between an insertion position to be inserted into the plug body and a drawing position to be pulled out from the plug body, and has an instrument side terminal part and a transformer side terminal part exposed to the outside of the plug body. A plurality of slide members;
A plurality of pairs of instrument side conductors and transformer side conductors provided in the plug body and respectively connected to a plurality of pairs of the instrument side contacts and the transformer side contacts;
A plurality of short-circuit conductors arranged in the vicinity of each of the transformer-side conductors and electrically connected to each other;
A plurality of instrument-side slide terminals that are connected to the instrument-side terminal portion, move together with the slide member, and come into contact with the instrument-side conductor when the slide member is in a drawing position and an insertion position;
Connected to the transformer-side terminal, moves with the slide member, contacts the transformer-side conductor when the slide member is in the extended position, and shorts when the slide member is in the insertion position A plurality of transformer-side slide terminals in contact with the conductor;
A test plug characterized by comprising:
前記変成器側スライド端子は、前記スライド部材が前記挿入位置にある場合に前記変成器側導体との当接を維持する、
ことを特徴とする請求項1に記載のテストプラグ。
The transformer-side slide terminal maintains contact with the transformer-side conductor when the slide member is in the insertion position;
The test plug according to claim 1.
前記スライド部材が引出し位置にある場合に前記計器側スライド端子と当接する計器側短絡導体と、前記スライド部材が引出し位置にある場合に前記変成器側スライド端子と当接する変成器側短絡導体と、前記計器側短絡導体と前記変成器側短絡導体とを電気的に接続する配線とを複数対有し、
前記スライド部材が第1の挿入位置にある場合には、前記計器側スライド端子および前記変成器側スライド端子は、前記計器側短絡導体および前記変成器側短絡導体との当接を解除して前記計器側導体および前記変成器側導体と当接し、
前記スライド部材が第1の挿入位置よりも前記プラグ本体に押し込まれる第2の挿入位置にある場合には、前記変成器側スライド端子は、前記変成器側導体との当接を維持したまま前記短絡導体と当接する、
ことを特徴とする請求項1に記載のテストプラグ。
An instrument-side short-circuit conductor that contacts the instrument-side slide terminal when the slide member is in the drawer position; and a transformer-side short-circuit conductor that contacts the transformer-side slide terminal when the slide member is in the drawer position; Having a plurality of pairs of wires that electrically connect the instrument side short circuit conductor and the transformer side short circuit conductor,
When the slide member is in the first insertion position, the instrument-side slide terminal and the transformer-side slide terminal release the contact with the instrument-side short-circuit conductor and the transformer-side short-circuit conductor, and Abutting the instrument side conductor and the transformer side conductor,
When the slide member is in the second insertion position where it is pushed into the plug body rather than the first insertion position, the transformer-side slide terminal remains in contact with the transformer-side conductor while maintaining contact with the transformer-side conductor. Abuts the short-circuit conductor,
The test plug according to claim 1.
前記スライド部材を前記挿入位置と前記引出し位置とでロックするロック手段を備える、
ことを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載のテストプラグ。
Lock means for locking the slide member between the insertion position and the drawer position;
The test plug according to any one of claims 1 to 3, wherein
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110609177A (en) * 2019-09-06 2019-12-24 深圳欧陆通电子股份有限公司 Transformer testing device

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