JP2017148986A - Laminate for wiring board, wiring board, and method for manufacturing laminate for wiring board - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a laminate for wiring board which causes little transmission loss; a wiring broad; and a method for manufacturing a laminate for wiring board.SOLUTION: A laminate 1 for wiring board is formed of a resin containing at least one of a polyamic acid, polyimide, polyamide imide, polyamide, polyvinylidene fluoride, a polybenzoxazole resin, a polybenzimidazole resin, polysulfone, polyaryl sulfone and polyether sulfone, and includes a porous film 2 having a plurality of gaps having spherical or continuous spherical shapes and a conductive film 4 laminated on at least one surface of the porous film 2.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、配線基板用積層体、配線基板、及び配線基板用積層体の製造方法に関する。   The present invention relates to a wiring board laminate, a wiring board, and a method for manufacturing a wiring board laminate.

近年、電子機器の高性能化に伴うデジタル信号の高速大容量化、高周波を利用した通信機器の普及等により、配線基板を流れる電気信号は高周波数化する傾向にある。周波数が高い信号が配線基板に流れる場合、伝送損失が大きくなることが知られる。このため、配線基板は、周波数が高い信号に対応可能な、伝送損失が小さいものが要求される。また、近年、配線基板として、電子回路のフレキシブル化、小型軽量化を可能にするフレキシブル配線基板が電子機器に広く用いられている。このフレキシブル配線基板は、例えば、イミド系樹脂を基材(絶縁層)として、その少なくとも一方の面に金属箔が積層されたものが用いられている。   In recent years, electrical signals flowing through a wiring board tend to be increased in frequency due to high-speed and large-capacity digital signals accompanying the high performance of electronic devices and the spread of communication devices using high frequencies. It is known that transmission loss increases when a signal having a high frequency flows through the wiring board. For this reason, the wiring board is required to have a small transmission loss that can cope with a signal having a high frequency. In recent years, flexible wiring boards that enable electronic circuits to be flexible and small and light are widely used in electronic devices as wiring boards. As this flexible wiring board, for example, an imide resin is used as a base material (insulating layer) and a metal foil is laminated on at least one surface thereof.

伝送損失を低減するフレキシブル配線基板としては、例えば、イミド系樹脂の多孔質膜を用いた配線基板が知られる。多孔質膜は、一般的に誘電率が低いため、伝送損失を低減することができる。イミド系樹脂の多孔質膜を用いる配線基板用積層体として、例えば、相分離法により形成されたポリイミド多孔質膜を用いた配線基板用積層体が提案されている(例えば、下記に示す特許文献1及び特許文献2)。   As a flexible wiring board for reducing transmission loss, for example, a wiring board using a porous film of an imide resin is known. Since a porous film generally has a low dielectric constant, transmission loss can be reduced. As a laminated body for a wiring board using a porous film of an imide resin, for example, a laminated body for a wiring board using a porous polyimide film formed by a phase separation method has been proposed (for example, the patent documents shown below) 1 and Patent Document 2).

特開2005−166828号公報JP 2005-166828 A 特開2012−101438号公報JP 2012-101438 A

しかしながら、上記特許文献1及び上記特許文献2のように、イミド系樹脂の多孔質膜を相分離法により形成した配線基板用積層体では、伝送損失を十分低減させることが困難であった。   However, as in Patent Document 1 and Patent Document 2, it is difficult to sufficiently reduce the transmission loss in the wiring board laminate in which the porous film of the imide resin is formed by the phase separation method.

以上のような事情に鑑み、本発明は、伝送損失が少ない配線基板用積層体、配線基板、及び配線基板用積層体の製造方法を提供することを目的とする。   In view of the circumstances as described above, it is an object of the present invention to provide a wiring board laminate, a wiring board, and a method for manufacturing a wiring board laminate with less transmission loss.

本発明の第1態様に従えば、ポリアミド酸、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリアミド、ポリフッ化ビニリデン、ポリベンゾオキサゾール樹脂、ポリベンゾイミダゾール樹脂、ポリスルホン、ポリアリールスルホン、及びポリエーテルスルホンの少なくとも一つを含む樹脂により形成され、かつ、球状または球状が連なった形状の空隙を複数有する多孔質膜と、多孔質膜の少なくとも一方の面に積層される導電膜と、を備える、配線基板用積層体が提供される。   According to the first aspect of the present invention, at least one of polyamic acid, polyimide, polyamideimide, polyamide, polyvinylidene fluoride, polybenzoxazole resin, polybenzimidazole resin, polysulfone, polyarylsulfone, and polyethersulfone is included. Provided is a laminate for a wiring board comprising a porous film formed of a resin and having a plurality of spherical or spherical-shaped voids, and a conductive film laminated on at least one surface of the porous film. Is done.

本発明の第2態様に従えば、第1の態様の配線基板用積層体の導電膜の少なくとも一部に配線パターンが形成される、配線基板が提供される。   According to the second aspect of the present invention, there is provided a wiring board in which a wiring pattern is formed on at least a part of the conductive film of the laminate for wiring board of the first aspect.

本発明の第3態様に従えば、ポリアミド酸、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリアミド、ポリフッ化ビニリデン、ポリベンゾオキサゾール樹脂、ポリベンゾイミダゾール樹脂、ポリスルホン、ポリアリールスルホン、及びポリエーテルスルホンの少なくとも一つを含む樹脂により、複数の空隙を有する多孔質膜を形成することと、多孔質膜の少なくとも一方の面に導電膜を積層することと、を含む、配線基板用積層体の製造方法が提供される。   According to the third aspect of the present invention, at least one of polyamic acid, polyimide, polyamideimide, polyamide, polyvinylidene fluoride, polybenzoxazole resin, polybenzimidazole resin, polysulfone, polyarylsulfone, and polyethersulfone is included. There is provided a method for producing a laminate for a wiring board, comprising: forming a porous film having a plurality of voids with a resin; and laminating a conductive film on at least one surface of the porous film.

本発明の態様によれば、伝送損失が少ない配線基板用積層体、配線基板、及び配線基板用積層体の製造方法が提供される。   According to the aspects of the present invention, there are provided a wiring board laminate, a wiring board, and a method for manufacturing a wiring board laminate with little transmission loss.

第1実施形態に係る積層体の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the laminated body which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る積層体の製造方法の一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of the manufacturing method of the laminated body which concerns on 1st Embodiment. 図2に続いて、積層体の製造方法の一例を示すフローチャートである。FIG. 3 is a flowchart illustrating an example of a method for manufacturing a laminate, following FIG. 2. 積層体の製造方法の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the manufacturing method of a laminated body. 図4に続いて、積層体の製造方法の一例を示す図である。FIG. 5 is a diagram illustrating an example of a method for manufacturing a laminated body following FIG. 4. 図5に続いて、積層体の製造方法の一例を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating an example of a method for manufacturing a laminated body following FIG. 5. 積層体の製造方法の他の例を示し、(A)はフローチャート、(B)は図である。The other example of the manufacturing method of a laminated body is shown, (A) is a flowchart, (B) is a figure. 積層体の製造方法の他の例を示し、(A)はフローチャート、(B)は図である。The other example of the manufacturing method of a laminated body is shown, (A) is a flowchart, (B) is a figure. 第2実施形態に係る積層体の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the laminated body which concerns on 2nd Embodiment. 多孔質膜の製造方法の一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of the manufacturing method of a porous membrane. 多孔質膜の製造方法の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the manufacturing method of a porous membrane. 第3実施形態に係る積層体の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the laminated body which concerns on 3rd Embodiment. 積層体の製造方法の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the manufacturing method of a laminated body. 第4実施形態に係る配線基板の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the wiring board which concerns on 4th Embodiment.

[第1実施形態]
第1実施形態について説明する。図1(A)は第1実施形態に係る積層体の一例を示す断面図であり、図1(B)は積層体の他の例を示す断面図である。以下の説明において、適宜、図1などに示すXYZ直交座標系を参照する。このXYZ直交座標系は、X方向およびY方向が水平方向(横方向)であり、Z方向が鉛直方向である。また、各方向において、適宜、矢印の先端と同じ側を+側(例、+Z側)、矢印の先端と反対側を−側(例、−Z側)と称す。例えば、鉛直方向(Z方向)において、上方が+Z側であり、下方が−Z側である。また、図面においては、各構成をわかりやすくするために、一部を強調して、あるいは一部を簡略化して表しており、実際の構造または形状、縮尺等が異なっている場合がある。
[First Embodiment]
A first embodiment will be described. FIG. 1A is a cross-sectional view showing an example of a laminated body according to the first embodiment, and FIG. 1B is a cross-sectional view showing another example of the laminated body. In the following description, the XYZ orthogonal coordinate system shown in FIG. In this XYZ orthogonal coordinate system, the X direction and the Y direction are horizontal directions (lateral directions), and the Z direction is a vertical direction. In each direction, the same side as the tip of the arrow is appropriately referred to as a + side (eg, + Z side), and the opposite side of the arrow is referred to as a − side (eg, −Z side). For example, in the vertical direction (Z direction), the upper side is the + Z side and the lower side is the -Z side. Further, in the drawings, in order to make each configuration easy to understand, a part of the structure is emphasized or a part of the structure is simplified, and an actual structure, shape, scale, or the like may be different.

図1に示すように、積層体1は、多孔質膜2と、非多孔質膜3と、導電膜4と、を備える。積層体1は、配線基板用積層体として好適に用いることができる。   As shown in FIG. 1, the laminate 1 includes a porous film 2, a non-porous film 3, and a conductive film 4. The laminate 1 can be suitably used as a laminate for a wiring board.

多孔質膜2は、ポリアミド酸、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリアミド、ポリフッ化ビニリデン、ポリベンゾオキサゾール樹脂、ポリベンゾイミダゾール樹脂、ポリスルホン、ポリアリールスルホン、及びポリエーテルスルホンの少なくとも一つを含む樹脂により形成される。中でも、多孔質膜2は、ポリアミド酸、ポリイミド、ポリアミドイミド、及びポリアミドの少なくとも一つを含むイミド系樹脂により形成されることが好ましい。多孔質膜2がこのようなイミド系樹脂により形成される場合、強度、耐熱性、耐薬品性、耐摩耗性に優れた積層体1を得ることができる。   The porous membrane 2 is formed of a resin containing at least one of polyamic acid, polyimide, polyamideimide, polyamide, polyvinylidene fluoride, polybenzoxazole resin, polybenzimidazole resin, polysulfone, polyarylsulfone, and polyethersulfone. The Among these, the porous membrane 2 is preferably formed of an imide resin containing at least one of polyamic acid, polyimide, polyamideimide, and polyamide. When the porous film 2 is formed of such an imide resin, the laminate 1 having excellent strength, heat resistance, chemical resistance, and wear resistance can be obtained.

多孔質膜2は、複数の空隙5を有する。積層体1は、例えば、複数の空隙5により伝送損失が低減される。空隙5の形状は、球状または球状が連なった形状である。空隙5の形状が球状または球状が連なった形状である場合、多孔質膜2の強度を維持しつつ空隙率を高くすることができる。空隙5は、少なくとも一部の空孔6同士が接続して、三次元的に連通した空孔を形成する。空孔6は球状の曲面を有する微小な孔であり、空孔6同士が接続した部分に連通孔が形成されている。また、例えば、空隙5により、多孔質膜2の上面(+Z側の面)と、下面(−Z側の面)とを連通した貫通孔が形成される。   The porous membrane 2 has a plurality of voids 5. In the laminate 1, for example, the transmission loss is reduced by the plurality of gaps 5. The shape of the space 5 is a spherical shape or a shape in which spherical shapes are continuous. When the shape of the void 5 is a sphere or a shape in which the spheres are continuous, the porosity can be increased while maintaining the strength of the porous membrane 2. The air gap 5 is formed by connecting at least a part of the air holes 6 to form a three-dimensional air hole. The hole 6 is a minute hole having a spherical curved surface, and a communication hole is formed at a portion where the holes 6 are connected to each other. Further, for example, the void 5 forms a through-hole that communicates the upper surface (+ Z side surface) and the lower surface (−Z side surface) of the porous membrane 2.

空隙5の内径(空孔6の内径)は、特に制限されないが、例えば、10nm以上50μm以下、好ましくは50nm以上10μm以下である。空隙5の内径は、例えば、多孔質膜2全体において、均一である。空隙5の内径は、後述する多孔質膜2を製造する際に用いられる微粒子の粒径により、適宜調整することができる。なお、空隙5の内径は、多孔質膜2全体において、均一でもよいし、不均一でもよい。   The inner diameter of the void 5 (the inner diameter of the air holes 6) is not particularly limited, but is, for example, 10 nm or more and 50 μm or less, preferably 50 nm or more and 10 μm or less. For example, the inner diameter of the void 5 is uniform throughout the porous membrane 2. The inner diameter of the void 5 can be appropriately adjusted according to the particle size of the fine particles used when the porous film 2 described later is manufactured. The inner diameter of the void 5 may be uniform or non-uniform throughout the porous membrane 2.

多孔質膜2の空隙率は、例えば、45%以上90%以下である。多孔質膜2の空隙率が上記範囲である場合、伝送損失がより低い積層体1を得ることができる。多孔質膜2の空隙率は、例えば、多孔質膜2の厚さ方向(Z方向)及び面方向(X方向、Y方向)において、均一に設定される。なお、多孔質膜2の空隙率は、均一でもよいし、不均一でもよい。   The porosity of the porous membrane 2 is, for example, not less than 45% and not more than 90%. When the porosity of the porous membrane 2 is in the above range, the laminate 1 having a lower transmission loss can be obtained. The porosity of the porous film 2 is set uniformly in the thickness direction (Z direction) and the surface direction (X direction, Y direction) of the porous film 2, for example. The porosity of the porous membrane 2 may be uniform or non-uniform.

なお、空隙率は、例えば、単位体積あたりの空隙の割合を示す。空隙率は、例えば、以下の式(1)によって算出される。
空隙率(%)={[多孔質膜2の重量(g)/多孔質膜2の体積(cm)]/樹脂の比重(g/cm)}×100・・・(1)
The porosity indicates, for example, the ratio of voids per unit volume. The porosity is calculated by, for example, the following formula (1).
Porosity (%) = {[weight of porous membrane 2 (g) / volume of porous membrane 2 (cm 3 )] / specific gravity of resin (g / cm 3 )} × 100 (1)

多孔質膜2の空隙率は、多孔質膜2の製造に用いる材料(例、樹脂材料、可塑剤、無機又は有機フィラーの種類や含有量)、製造方法などにより、制御できる。例えば、後述する多孔質膜2を製造する際に用いられる微粒子の粒径や含有量を適宜調整することにより、所望の空隙率とすることができる。   The porosity of the porous membrane 2 can be controlled by the materials used for the production of the porous membrane 2 (eg, types and contents of resin materials, plasticizers, inorganic or organic fillers), production methods, and the like. For example, a desired porosity can be obtained by appropriately adjusting the particle size and content of fine particles used in manufacturing the porous film 2 described later.

多孔質膜2の膜厚は、特に限定されないが、10μm以上500μm以下とすることができ、好ましくは15μm以上250μm以下、さらに好ましくは20μm以上200μm以下である。多孔質膜2の膜厚が上記範囲である場合、強度に優れ、加工時における、膜の伸び、皺、ピンホール、膜の破断を抑制することができ、且つ伝送損失が低い積層体1を得ることができる。   The film thickness of the porous membrane 2 is not particularly limited, but can be 10 μm or more and 500 μm or less, preferably 15 μm or more and 250 μm or less, more preferably 20 μm or more and 200 μm or less. When the film thickness of the porous film 2 is in the above range, the laminate 1 is excellent in strength, can suppress film elongation, wrinkles, pinholes, film breakage during processing, and has low transmission loss. Can be obtained.

多孔質膜2の周波数1GHzにおける比誘電率は、例えば、2.0以下、好ましくは1.8以下、より好ましくは1.6以下である。また、多孔質膜2の周波数10GHzにおける比誘電率は、例えば、2.0以下、好ましくは1.8以下、より好ましくは1.6以下である。多孔質膜2の比誘電率が上記範囲である場合、伝送損失を、より低減することができる。   The relative dielectric constant of the porous film 2 at a frequency of 1 GHz is, for example, 2.0 or less, preferably 1.8 or less, more preferably 1.6 or less. The relative dielectric constant of the porous film 2 at a frequency of 10 GHz is, for example, 2.0 or less, preferably 1.8 or less, more preferably 1.6 or less. When the relative dielectric constant of the porous film 2 is in the above range, transmission loss can be further reduced.

なお、本明細書において、多孔質膜2(多孔質膜2a)の比誘電率は、空洞共振器法装置(株式会社エーイーティー社製)を用い、空洞共振器振動法により、温度27度、湿度50%の条件において、所定の周波数で測定した値を示す。   In the present specification, the relative dielectric constant of the porous film 2 (porous film 2a) is set to a temperature of 27 degrees by a cavity resonator vibration method using a cavity resonator method apparatus (manufactured by AET Co., Ltd.). The value measured at a predetermined frequency under the condition of 50% humidity.

非多孔質膜3は、非多孔質の膜である。非多孔質膜3は、例えば、非多孔質の樹脂膜である。非多孔質膜3は、多孔質膜2と導電膜4との間に配置される。非多孔質膜3は、例えば、多孔質膜2と導電膜4とを接着する接着剤でもよい。導電膜4と非多孔質膜3との間は、例えば、平坦な面に形成される。この場合、非多孔質膜3と導電膜4との密着性がより向上する。非多孔質膜3は、例えば、多孔質膜2の少なくとも一方の面に積層される。なお、以下の説明において、非多孔質膜3が多孔質膜2(多孔質膜2a(図11参照))の少なくとも一方の面に積層された膜を「複合膜7」と称する場合がある。   The non-porous film 3 is a non-porous film. The nonporous film 3 is, for example, a nonporous resin film. The non-porous film 3 is disposed between the porous film 2 and the conductive film 4. The non-porous film 3 may be an adhesive that bonds the porous film 2 and the conductive film 4, for example. For example, the conductive film 4 and the non-porous film 3 are formed on a flat surface. In this case, the adhesion between the non-porous film 3 and the conductive film 4 is further improved. The non-porous membrane 3 is laminated on at least one surface of the porous membrane 2, for example. In the following description, a film in which the non-porous film 3 is laminated on at least one surface of the porous film 2 (porous film 2a (see FIG. 11)) may be referred to as “composite film 7”.

なお、図1(A)に示す非多孔質膜3は、多孔質膜2の一方の面の全体に積層されるが、非多孔質膜3は、多孔質膜2の少なくとも一方の面の少なくとも一部に積層されていればよい。   The non-porous membrane 3 shown in FIG. 1 (A) is laminated on the entire one surface of the porous membrane 2, but the non-porous membrane 3 is at least on at least one surface of the porous membrane 2. What is necessary is just to be laminated | stacked on one part.

非多孔質膜3の形成材料は、特に制限されず、例えば、公知の樹脂材料により形成される。中でも、非多孔質膜3は、ポリアミド酸、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリアミド、ポリフッ化ビニリデン、ポリベンゾオキサゾール樹脂、ポリベンゾイミダゾール樹脂、ポリスルホン、ポリアリールスルホン、及びポリエーテルスルホンの少なくとも一つを含む樹脂により形成されるのが好ましく、ポリアミド酸、ポリイミド、ポリアミドイミド、及びポリアミドの少なくとも一つを含むイミド系樹脂により形成されることがより好ましい。非多孔質膜3がイミド系樹脂により形成される場合、強度、耐熱性、耐薬品性、耐摩耗性に優れた積層体1を得ることができる。   The material for forming the non-porous film 3 is not particularly limited, and is formed of, for example, a known resin material. Among these, the non-porous film 3 is a resin containing at least one of polyamic acid, polyimide, polyamideimide, polyamide, polyvinylidene fluoride, polybenzoxazole resin, polybenzimidazole resin, polysulfone, polyarylsulfone, and polyethersulfone. Preferably, it is formed of an imide resin containing at least one of polyamic acid, polyimide, polyamideimide, and polyamide. When the non-porous film 3 is formed of an imide resin, the laminate 1 excellent in strength, heat resistance, chemical resistance, and wear resistance can be obtained.

なお、非多孔質膜3は非多孔質の樹脂膜でなくてもよく、例えば、後に図12で説明する積層体1Dのように、導電膜4として形成されてもよい。   Note that the non-porous film 3 may not be a non-porous resin film, and may be formed as the conductive film 4 like a laminated body 1D described later with reference to FIG.

非多孔質膜3と多孔質膜2とは、例えば、同一の材料で形成される。非多孔質膜3と多孔質膜2とが同一の材料で形成される場合、多孔質膜2と非多孔質膜3との間の接着性がより向上する。また、この場合、耐熱性をより向上させることができ、且つ、積層体1の材料の種類を少なくすることができるため、積層体1の製造を簡便にすることができる。なお、非多孔質膜3と多孔質膜2とは、異なる材料で形成されてもよい。   The non-porous film 3 and the porous film 2 are formed of the same material, for example. When the non-porous film 3 and the porous film 2 are formed of the same material, the adhesion between the porous film 2 and the non-porous film 3 is further improved. In this case, the heat resistance can be further improved, and the type of the material of the laminate 1 can be reduced, so that the manufacture of the laminate 1 can be simplified. Note that the non-porous film 3 and the porous film 2 may be formed of different materials.

非多孔質膜3の膜厚は、特に制限されず、例えば、20μm以下であり、好ましくは2μm以上10μm以下、より好ましくは3μm以上〜7μm以下である。非多孔質膜3の膜厚が、上記範囲である場合、伝送損失を低減することができ、且つ容易に製膜することができる。   The film thickness of the non-porous film 3 is not particularly limited, and is, for example, 20 μm or less, preferably 2 μm or more and 10 μm or less, more preferably 3 μm or more to 7 μm or less. When the film thickness of the non-porous film 3 is in the above range, transmission loss can be reduced and the film can be formed easily.

なお、図1(B)に示す積層体1Aのように、非多孔質膜3は、多孔質膜2の両方の面(+Z側の面および−Z側の面)に積層されてもよい。この場合、多孔質膜2の+Z側に積層される非多孔質膜3と−Z側に積層される非多孔質膜3とは、同一の材料により形成されてもよいし、異なる材料により形成されてもよい。多孔質膜2の+Z側に積層される非多孔質膜3と−Z側に積層される非多孔質膜3とが同一の材料により形成される場合、耐熱性を向上させることができ、且つ、積層体1の材料の種類を少なくすることができるため、積層体1の製造を簡便にすることができる。また、図1(A)等に示す非多孔質膜3は1層であるが、非多孔質膜3は2層以上でもよい。   Note that the non-porous film 3 may be laminated on both surfaces (the + Z side surface and the −Z side surface) of the porous film 2 as in the laminated body 1A shown in FIG. In this case, the non-porous film 3 stacked on the + Z side of the porous film 2 and the non-porous film 3 stacked on the −Z side may be formed of the same material or different materials. May be. When the non-porous film 3 laminated on the + Z side of the porous film 2 and the non-porous film 3 laminated on the −Z side are formed of the same material, the heat resistance can be improved, and And since the kind of material of the laminated body 1 can be decreased, manufacture of the laminated body 1 can be simplified. Further, the non-porous film 3 shown in FIG. 1A and the like is one layer, but the non-porous film 3 may be two or more layers.

導電膜4は、多孔質膜2の少なくとも一方の面に積層される。導電膜4は、例えば、多孔質膜2の上面(+Z側の面)に積層される。導電膜4は、例えば、多孔質膜2の上面(+Z側の面)に、非多孔質膜3を介して積層される。導電膜4は、特に限定されず、任意の導電性材料を用いることができる。導電膜4は、例えば、銅箔、ステンレス泊、アルミニウム泊、ニッケル泊などの金属泊が用いられる。また、導電膜4の表面は、粗面化処理や防錆処理がされていてもよい。導電膜4の厚みは、特に限定されず、例えば、0.1μm以上100μm以下程度とすることができる。なお、導電膜4は、図1(B)に示す積層体1Aのように、多孔質膜2の両方の面に積層されてもよい。   The conductive film 4 is laminated on at least one surface of the porous film 2. For example, the conductive film 4 is stacked on the upper surface (the surface on the + Z side) of the porous film 2. The conductive film 4 is laminated, for example, on the upper surface (the surface on the + Z side) of the porous film 2 via the non-porous film 3. The conductive film 4 is not particularly limited, and any conductive material can be used. For the conductive film 4, for example, a metal foil such as a copper foil, a stainless steel stay, an aluminum stay, or a nickel stay is used. Further, the surface of the conductive film 4 may be subjected to roughening treatment or rust prevention treatment. The thickness of the conductive film 4 is not particularly limited, and can be, for example, about 0.1 μm to 100 μm. In addition, the electrically conductive film 4 may be laminated | stacked on both surfaces of the porous film 2 like the laminated body 1A shown to FIG. 1 (B).

次に、図2〜図7を参照して、実施形態に係る積層膜の製造方法を説明する。図2、図3及び図7(A)は、実施形態に係る積層膜の製造方法の一例を示すフローチャートである。図4〜図6及び図7(B)は、積層膜の製造方法の一例を示す断面図である。なお、以下の説明は、製造方法の一例であって、製造方法を限定するものではない。図2〜図7では、後述するエッチング処理を行った多孔質膜2を製造する方法を例として示す。   Next, with reference to FIGS. 2-7, the manufacturing method of the laminated film which concerns on embodiment is demonstrated. FIG. 2, FIG. 3 and FIG. 7A are flowcharts showing an example of a method for manufacturing a laminated film according to the embodiment. 4 to 6 and 7B are cross-sectional views illustrating an example of a method for manufacturing a laminated film. The following description is an example of a manufacturing method and does not limit the manufacturing method. 2 to 7 show an example of a method for producing a porous film 2 subjected to an etching process described later.

本実施形態の積層体1の製造方法は、例えば、図2に示すように、ステップS1において、ポリアミド酸、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリアミド、ポリフッ化ビニリデン、ポリベンゾオキサゾール樹脂、ポリベンゾイミダゾール樹脂、ポリスルホン、ポリアリールスルホン、及びポリエーテルスルホンの少なくとも一つを含む樹脂により多孔質膜を形成する。   For example, as shown in FIG. 2, the manufacturing method of the laminate 1 of the present embodiment includes polyamic acid, polyimide, polyamideimide, polyamide, polyvinylidene fluoride, polybenzoxazole resin, polybenzimidazole resin, polysulfone in step S <b> 1. A porous membrane is formed from a resin containing at least one of polyarylsulfone and polyethersulfone.

例えば、図3に示すステップS11において、微粒子を含ませた樹脂の液体を基材に塗布して乾燥させることにより乾燥膜を形成する。例えば、まず、所定の樹脂材料、微粒子及び溶剤を含有する液体(塗布液L)を準備する。所定の樹脂材料としては、ポリアミド酸、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリアミド、ポリフッ化ビニリデン、ポリベンゾオキサゾール樹脂、ポリベンゾオキサゾール樹脂の前駆体ポリマー、ポリベンゾイミダゾール樹脂、ポリベンゾイミダゾール樹脂の前駆体ポリマー、ポリスルホン、ポリアリールスルホン、及びポリエーテルスルホンの少なくとも一つが挙げられる。中でも、ポリアミド酸、ポリイミド、ポリアミドイミド、及びポリアミドの少なくとも一つが好ましい。溶剤としては、使用される樹脂材料を溶解可能な任意の有機溶剤が用いられる。   For example, in step S11 shown in FIG. 3, a resin film containing fine particles is applied to a substrate and dried to form a dry film. For example, first, a liquid (coating liquid L) containing a predetermined resin material, fine particles and a solvent is prepared. Specific resin materials include polyamic acid, polyimide, polyamideimide, polyamide, polyvinylidene fluoride, polybenzoxazole resin, polybenzoxazole resin precursor polymer, polybenzimidazole resin, polybenzimidazole resin precursor polymer, polysulfone , Polyarylsulfone, and polyethersulfone. Among these, at least one of polyamic acid, polyimide, polyamideimide, and polyamide is preferable. As the solvent, any organic solvent capable of dissolving the resin material to be used is used.

上記した塗布液Lは、例えば、微粒子を予め分散した溶剤と、ポリアミド酸、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリアミドの少なくとも一つと、を任意の比率で混合することにより調製される。また、微粒子を予め分散した溶剤中でポリアミド酸、ポリイミド、ポリアミドイミド、及びポリアミドの少なくとも一つを重合して調製されてもよい。例えば、微粒子を予め分散した有機溶剤中でテトラカルボン酸二無水物及びジアミンを重合してポリアミド酸とするか、更にイミド化してポリイミドとすることで製造できる。   The coating liquid L described above is prepared, for example, by mixing a solvent in which fine particles are dispersed in advance and at least one of polyamic acid, polyimide, polyamideimide, and polyamide at an arbitrary ratio. Alternatively, it may be prepared by polymerizing at least one of polyamic acid, polyimide, polyamideimide, and polyamide in a solvent in which fine particles are dispersed in advance. For example, it can be produced by polymerizing tetracarboxylic dianhydride and diamine in an organic solvent in which fine particles are dispersed in advance to form a polyamic acid, or by further imidizing it into a polyimide.

塗布液Lの粘度は、最終的に300〜5000cPとすることが好ましく、400〜3000cPの範囲がより好ましく、600〜2500cPの範囲がさらに好ましい。塗布液Lの粘度がこの範囲内であれば、均一に成膜をすることが可能である。塗布液L中の全成分のうち、溶剤の含有量は、例えば、50〜95質量%であり、好ましくは60〜85質量%である。   The viscosity of the coating liquid L is preferably finally 300 to 5000 cP, more preferably 400 to 3000 cP, and still more preferably 600 to 2500 cP. If the viscosity of the coating liquid L is within this range, it is possible to form a film uniformly. Among all the components in the coating liquid L, the content of the solvent is, for example, 50 to 95% by mass, and preferably 60 to 85% by mass.

例えば、塗布液Lは、樹脂材料と微粒子とが10:90〜50:50の体積比となるように含有される。なお、各樹脂材料の体積は、各樹脂材料の質量にその比重を乗じて求めた値が用いられる。この場合において、塗布液Lの体積全体を100としたときに微粒子の体積が50以上であれば、粒子が均一に分散し、また、微粒子の体積が90以内であれば粒子同士が凝集することもなく分散する。このため、多孔質膜2に空隙5を均一に形成することができる。また、微粒子の体積比率がこの範囲内であれば、乾燥膜(例、乾燥膜D)を成膜する際の剥離性を確保することができる。   For example, the coating liquid L is contained so that the resin material and the fine particles have a volume ratio of 10:90 to 50:50. As the volume of each resin material, a value obtained by multiplying the mass of each resin material by its specific gravity is used. In this case, if the volume of the fine particles is 50 or more when the entire volume of the coating liquid L is 100, the particles are uniformly dispersed, and if the volume of the fine particles is within 90, the particles are aggregated. Disperse without any problem. For this reason, the voids 5 can be uniformly formed in the porous film 2. In addition, when the volume ratio of the fine particles is within this range, it is possible to ensure releasability when forming a dry film (eg, dry film D).

上記の塗布液Lには、微粒子とポリアミド酸又はポリイミドを乾燥して乾燥膜とした場合において、微粒子の材質が後述の無機材料の場合は、例えば、微粒子/ポリイミドの比率が2〜6(質量比)、好ましくは3〜5(質量比)となるように微粒子とポリアミド酸又はポリイミドとを混合する。微粒子の材質が後述の有機材料の場合は、例えば微粒子/ポリイミドの比率が1〜3.5(質量比)、好ましくは1.2〜3(質量比)となるように微粒子とポリアミド酸又はポリイミドとを混合する。例えば、樹脂材料に対して微粒子を72体積%(〜2.6体積倍)にする場合、質量比でシリカ(微粒子)/ポリイミド=80/20、あるいは、ポリメタクリル酸メチル樹脂(微粒子)/ポリイミド=(68/32)〜2.1倍に設定してもよい。質量比が上記範囲である場合、多孔質膜として適切な空隙率とすることでき、粘度の増加や膜中のひび割れ等の問題を生じることなく安定的に成膜することができる。   In the coating liquid L, when the fine particles and the polyamic acid or polyimide are dried to form a dry film, when the fine particles are inorganic materials described later, for example, the fine particle / polyimide ratio is 2 to 6 (mass). Ratio), preferably 3 to 5 (mass ratio), fine particles and polyamic acid or polyimide are mixed. When the material of the fine particles is an organic material described later, for example, the fine particles and the polyamic acid or polyimide so that the fine particle / polyimide ratio is 1 to 3.5 (mass ratio), preferably 1.2 to 3 (mass ratio). And mix. For example, when the fine particles are 72% by volume (up to 2.6 volume times) with respect to the resin material, silica (fine particles) / polyimide = 80/20 by mass ratio, or polymethyl methacrylate resin (fine particles) / polyimide = (68/32) to 2.1 times may be set. When the mass ratio is in the above range, the porosity can be set to an appropriate value for the porous film, and the film can be stably formed without causing problems such as an increase in viscosity and cracks in the film.

また、乾燥膜とした場合において、例えば、微粒子/ポリイミドの体積比率が1.5〜4.5、好ましくは1.8〜3(体積比)となるように微粒子とポリアミド酸又はポリイミドとを混合する。体積比が上記範囲である場合、配線基板用積層体として適切な空隙率とすることでき、粘度の増加や膜中のひび割れ等の問題を生じることなく安定的に成膜することができる。乾燥膜とした際に微粒子/ポリイミドの質量比又は体積比が下限値以上であれば、多孔質膜として適切な密度の孔を得ることができ、上限値以下であれば、粘度の増加や膜中のひび割れ等の問題を生じることなく安定的に成膜することができる。ポリアミド酸又はポリイミドのかわりに樹脂材料がポリアミドイミド又はポリアミドとなる場合も、質量比は上記と同様である。   In the case of a dry film, for example, fine particles and polyamic acid or polyimide are mixed so that the volume ratio of fine particles / polyimide is 1.5 to 4.5, preferably 1.8 to 3 (volume ratio). To do. When the volume ratio is in the above range, the porosity can be set to an appropriate value for the laminate for a wiring board, and the film can be stably formed without causing problems such as an increase in viscosity and cracks in the film. If the fine particle / polyimide mass ratio or volume ratio is equal to or higher than the lower limit when a dry film is formed, pores having an appropriate density as the porous film can be obtained. It is possible to form a film stably without causing problems such as cracks inside. When the resin material is polyamide-imide or polyamide instead of polyamic acid or polyimide, the mass ratio is the same as above.

以下、塗布液Lを構成する上記好適な樹脂材料、微粒子及び溶剤について具体的に説明する。
<ポリアミド酸>
ポリアミド酸は、任意のテトラカルボン酸二無水物とジアミンを重合して得られるものが、特に限定されることなく使用できる。テトラカルボン酸二無水物及びジアミンの使用量は特に限定されないが、テトラカルボン酸二無水物1モルに対して、ジアミンを0.50〜1.50モル用いるのが好ましく、0.60〜1.30モル用いるのがより好ましく、0.70〜1.20モル用いるのが特に好ましい。
Hereinafter, the preferred resin material, fine particles and solvent constituting the coating liquid L will be specifically described.
<Polyamide acid>
As the polyamic acid, those obtained by polymerizing an arbitrary tetracarboxylic dianhydride and a diamine can be used without any particular limitation. Although the usage-amount of tetracarboxylic dianhydride and diamine is not specifically limited, It is preferable to use 0.50-1.50 mol of diamine with respect to 1 mol of tetracarboxylic dianhydrides, and 0.60-1. It is more preferable to use 30 mol, and it is particularly preferable to use 0.70 to 1.20 mol.

テトラカルボン酸二無水物は、従来からポリアミド酸の合成原料として使用されているテトラカルボン酸二無水物から適宜選択することができる。テトラカルボン酸二無水物は、芳香族テトラカルボン酸二無水物であっても、脂肪族テトラカルボン酸二無水物であってもよいが、得られるポリイミド樹脂の耐熱性の点から、芳香族テトラカルボン酸二無水物を使用することが好ましい。テトラカルボン酸二無水物は、2種以上を組合せて用いてもよい。   The tetracarboxylic dianhydride can be appropriately selected from tetracarboxylic dianhydrides conventionally used as raw materials for synthesizing polyamic acid. The tetracarboxylic dianhydride may be an aromatic tetracarboxylic dianhydride or an aliphatic tetracarboxylic dianhydride. From the viewpoint of the heat resistance of the resulting polyimide resin, the aromatic tetracarboxylic dianhydride may be used. Preference is given to using carboxylic dianhydrides. Tetracarboxylic dianhydride may be used in combination of two or more.

芳香族テトラカルボン酸二無水物の好適な具体例としては、ピロメリット酸二無水物、1,1−ビス(2,3−ジカルボキシフェニル)エタン二無水物、ビス(2,3−ジカルボキシフェニル)メタン二無水物、ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)メタン二無水物、3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、2,3,3’,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、2,2,6,6−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、2,2−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)プロパン二無水物、2,2−ビス(2,3−ジカルボキシフェニル)プロパン二無水物、2,2−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)−1,1,1,3,3,3−へキサフルオロプロパン二無水物、2,2−ビス(2,3−ジカルボキシフェニル)−1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン二無水物、3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)エーテル二無水物、ビス(2,3−ジカルボキシフェニル)エーテル二無水物、2,2’,3,3’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、4,4−(p−フェニレンジオキシ)ジフタル酸二無水物、4,4−(m−フェニレンジオキシ)ジフタル酸二無水物、1,2,5,6−ナフタレンテトラカルボン二無水物、1,4,5,8−ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、2,3,6,7−ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、1,2,3,4−ベンゼンテトラカルボン酸二無水物、3,4,9,10−ペリレンテトラカルボン酸二無水物、2,3,6,7−アントラセンテトラカルボン酸二無水物、1,2,7,8−フェナントレンテトラカルボン酸二無水物、9,9−ビス無水フタル酸フルオレン、3,3’,4,4’−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物等が挙げられる。脂肪族テトラカルボン酸二無水物としては、例えば、エチレンテトラカルボン酸二無水物、ブタンテトラカルボン酸二無水物、シクロペンタンテトラカルボン酸二無水物、シクロへキサンテトラカルボン酸二無水物、1,2,4,5−シクロへキサンテトラカルボン酸二無水物、1,2,3,4−シクロヘキサンテトラカルボン酸二無水物等が挙げられる。これらの中では、価格、入手容易性等から、3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物及びピロメリット酸二無水物が好ましい。また、これらのテトラカルボン酸二無水物は単独あるいは二種以上混合して用いることもできる。   Preferable specific examples of the aromatic tetracarboxylic dianhydride include pyromellitic dianhydride, 1,1-bis (2,3-dicarboxyphenyl) ethane dianhydride, bis (2,3-dicarboxy). Phenyl) methane dianhydride, bis (3,4-dicarboxyphenyl) methane dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,3,3 ′, 4′- Biphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,2,6,6-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,2-bis (3,4-dicarboxyphenyl) propane dianhydride, 2,2-bis (2 , 3-Dicarboxyphenyl) propane dianhydride, 2,2-bis (3,4-dicarboxyphenyl) -1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane dianhydride, 2,2 -Bis (2,3-dicarboxy Enyl) -1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-benzophenone tetracarboxylic dianhydride, bis (3,4-dicarboxyphenyl) Ether dianhydride, bis (2,3-dicarboxyphenyl) ether dianhydride, 2,2 ′, 3,3′-benzophenonetetracarboxylic dianhydride, 4,4- (p-phenylenedioxy) diphthal Acid dianhydride, 4,4- (m-phenylenedioxy) diphthalic dianhydride, 1,2,5,6-naphthalene tetracarboxylic dianhydride, 1,4,5,8-naphthalene tetracarboxylic acid di Anhydride, 2,3,6,7-naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,4-benzenetetracarboxylic dianhydride, 3,4,9,10-perylenetetracarboxylic dianhydride , 2, 3 6,7-anthracenetetracarboxylic dianhydride, 1,2,7,8-phenanthrenetetracarboxylic dianhydride, 9,9-bisphthalic anhydride fluorene, 3,3 ′, 4,4′-diphenylsulfone Tetracarboxylic dianhydride etc. are mentioned. Examples of the aliphatic tetracarboxylic dianhydride include ethylene tetracarboxylic dianhydride, butane tetracarboxylic dianhydride, cyclopentane tetracarboxylic dianhydride, cyclohexane tetracarboxylic dianhydride, 1, 2,4,5-cyclohexanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,4-cyclohexanetetracarboxylic dianhydride, and the like. Among these, 3,3 ′, 4,4′-biphenyltetracarboxylic dianhydride and pyromellitic dianhydride are preferable from the viewpoint of price and availability. These tetracarboxylic dianhydrides may be used alone or in combination of two or more.

ジアミンは、従来からポリアミド酸の合成原料として使用されているジアミンから適宜選択することができる。ジアミンは、芳香族ジアミンであっても、脂肪族ジアミンであってもよいが、得られるポリイミド樹脂の耐熱性の点から、芳香族ジアミンが好ましい。これらのジアミンは、2種以上を組合せて用いてもよい。   The diamine can be appropriately selected from diamines conventionally used as a raw material for synthesizing polyamic acid. The diamine may be an aromatic diamine or an aliphatic diamine, but an aromatic diamine is preferred from the viewpoint of the heat resistance of the resulting polyimide resin. These diamines may be used in combination of two or more.

芳香族ジアミンとしては、フェニル基が1個あるいは2〜10個程度が結合したジアミノ化合物を挙げることができる。具体的には、フェニレンジアミン及びその誘導体、ジアミノビフェニル化合物及びその誘導体、ジアミノジフェニル化合物及びその誘導体、ジアミノトリフェニル化合物及びその誘導体、ジアミノナフタレン及びその誘導体、アミノフェニルアミノインダン及びその誘導体、ジアミノテトラフェニル化合物及びその誘導体、ジアミノヘキサフェニル化合物及びその誘導体、カルド型フルオレンジアミン誘導体である。   Examples of the aromatic diamine include diamino compounds in which one phenyl group or about 2 to 10 phenyl groups are bonded. Specifically, phenylenediamine and derivatives thereof, diaminobiphenyl compounds and derivatives thereof, diaminodiphenyl compounds and derivatives thereof, diaminotriphenyl compounds and derivatives thereof, diaminonaphthalene and derivatives thereof, aminophenylaminoindane and derivatives thereof, diaminotetraphenyl Compounds and derivatives thereof, diaminohexaphenyl compounds and derivatives thereof, and cardo-type fluorenediamine derivatives.

フェニレンジアミンはm−フェニレンジアミン、p−フェニレンジアミン等であり、フェニレンジアミン誘導体としては、メチル基、エチル基等のアルキル基が結合したジアミン、例えば、2,4−ジアミノトルエン、2,4−トリフェニレンジアミン等である。   Phenylenediamine is m-phenylenediamine, p-phenylenediamine, etc., and phenylenediamine derivatives include diamines to which alkyl groups such as methyl group and ethyl group are bonded, such as 2,4-diaminotoluene, 2,4-triphenylene. Diamines and the like.

ジアミノビフェニル化合物は、2つのアミノフェニル基がフェニル基同士で結合したものである。例えば、4,4’−ジアミノビフェニル、4,4’−ジアミノ−2,2’−ビス(トリフルオロメチル)ビフェニル等である。   The diaminobiphenyl compound is a compound in which two aminophenyl groups are bonded to each other. For example, 4,4'-diaminobiphenyl, 4,4'-diamino-2,2'-bis (trifluoromethyl) biphenyl, and the like.

ジアミノジフェニル化合物は、2つのアミノフェニル基が他の基を介してフェニル基同士で結合したものである。結合はエーテル結合、スルホニル結合、チオエーテル結合、アルキレン又はその誘導体基による結合、イミノ結合、アゾ結合、ホスフィンオキシド結合、アミド結合、ウレイレン結合等である。アルキレン結合は炭素数が1〜6程度のものであり、その誘導体基はアルキレン基の水素原子の1以上がハロゲン原子等で置換されたものである。   The diaminodiphenyl compound is a compound in which two aminophenyl groups are bonded to each other via other groups. The bond is an ether bond, a sulfonyl bond, a thioether bond, a bond by alkylene or a derivative group thereof, an imino bond, an azo bond, a phosphine oxide bond, an amide bond, a ureylene bond, or the like. The alkylene bond has about 1 to 6 carbon atoms, and the derivative group has one or more hydrogen atoms in the alkylene group substituted with halogen atoms or the like.

ジアミノジフェニル化合物の例としては、3,3’−ジアミノジフェニルエーテル、3,4’−ジアミノジフェニルエーテル、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル、3,3’−ジアミノジフェニルスルホン、3,4’−ジアミノジフェニルスルホン、4,4’−ジアミノジフェニルスルホン、3,3’−ジアミノジフェニルメタン、3,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルスルフィド、3,3’−ジアミノジフェニルケトン、3,4’−ジアミノジフェニルケトン、2,2−ビス(p−アミノフェニル)プロパン、2,2’−ビス(p−アミノフェニル)へキサフルオロプロパン、4−メチル−2,4−ビス(p−アミノフェニル)−1−ペンテン、4−メチル−2,4−ビス(p−アミノフェニル)−2−ぺンテン、イミノジアニリン、4−メチル−2,4−ビス(p−アミノフェニル)ペンタン、ビス(p−アミノフェニル)ホスフィンオキシド、4,4’−ジアミノアゾベンゼン、4,4’−ジアミノジフェニル尿素、4,4’−ジアミノジフェニルアミド、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、4,4’−ビス(4−アミノフェノキシ)ビフェニル、ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]スルフォン、ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]スルフォン、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]ヘキサフルオロプロパン等が挙げられる。   Examples of diaminodiphenyl compounds include 3,3′-diaminodiphenyl ether, 3,4′-diaminodiphenyl ether, 4,4′-diaminodiphenyl ether, 3,3′-diaminodiphenyl sulfone, 3,4′-diaminodiphenyl sulfone, 4,4'-diaminodiphenylsulfone, 3,3'-diaminodiphenylmethane, 3,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminodiphenyl sulfide, 3,3'-diaminodiphenyl ketone 3,4′-diaminodiphenyl ketone, 2,2-bis (p-aminophenyl) propane, 2,2′-bis (p-aminophenyl) hexafluoropropane, 4-methyl-2,4-bis ( p-aminophenyl) -1-pentene, 4-methyl-2 4-bis (p-aminophenyl) -2-pentene, iminodianiline, 4-methyl-2,4-bis (p-aminophenyl) pentane, bis (p-aminophenyl) phosphine oxide, 4,4 ′ -Diaminoazobenzene, 4,4'-diaminodiphenylurea, 4,4'-diaminodiphenylamide, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene, 1,3-bis (4-aminophenoxy) benzene, 1, 3-bis (3-aminophenoxy) benzene, 4,4′-bis (4-aminophenoxy) biphenyl, bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] sulfone, bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl ] Sulfone, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane, 2,2-bis [4- (4-aminophen ) Phenyl] hexafluoropropane, and the like.

これらの中では、価格、入手容易性等から、p−フェニレンジアミン、m−フェニレンジアミン、2,4−ジアミノトルエン、及び4,4’−ジアミノジフェニルエーテルが好ましい。   Among these, p-phenylenediamine, m-phenylenediamine, 2,4-diaminotoluene, and 4,4'-diaminodiphenyl ether are preferable from the viewpoint of price and availability.

ジアミノトリフェニル化合物は、2つのアミノフェニル基と1つのフェニレン基が何れも他の基を介して結合したものであり、他の基は、ジアミノジフェニル化合物と同様のものが選ばれる。ジアミノトリフェニル化合物の例としては、1,3−ビス(m−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(p−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(p−アミノフェノキシ)ベンゼン等を挙げることができる。   In the diaminotriphenyl compound, two aminophenyl groups and one phenylene group are both bonded via other groups, and the other groups are the same as those of the diaminodiphenyl compound. Examples of diaminotriphenyl compounds include 1,3-bis (m-aminophenoxy) benzene, 1,3-bis (p-aminophenoxy) benzene, 1,4-bis (p-aminophenoxy) benzene, and the like. be able to.

ジアミノナフタレンの例としては、1,5−ジアミノナフタレン及び2,6−ジアミノナフタレンを挙げることができる。   Examples of diaminonaphthalene include 1,5-diaminonaphthalene and 2,6-diaminonaphthalene.

アミノフェニルアミノインダンの例としては、5又は6−アミノ−1−(p−アミノフェニル)−1,3,3−トリメチルインダンを挙げることができる。   Examples of aminophenylaminoindane include 5 or 6-amino-1- (p-aminophenyl) -1,3,3-trimethylindane.

ジアミノテトラフェニル化合物の例としては、4,4’−ビス(p−アミノフェノキシ)ビフェニル、2,2’−ビス[p−(p’−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2’−ビス[p−(p’−アミノフェノキシ)ビフェニル]プロパン、2,2’−ビス[p−(m−アミノフェノキシ)フェニル]ベンゾフェノン等を挙げることができる。   Examples of diaminotetraphenyl compounds include 4,4′-bis (p-aminophenoxy) biphenyl, 2,2′-bis [p- (p′-aminophenoxy) phenyl] propane, 2,2′-bis [ p- (p′-aminophenoxy) biphenyl] propane, 2,2′-bis [p- (m-aminophenoxy) phenyl] benzophenone, and the like.

カルド型フルオレンジアミン誘導体は、9,9−ビスアニリンフルオレン等が挙げられる。   Examples of the cardo type fluoreneamine derivative include 9,9-bisaniline fluorene.

脂肪族ジアミンは、例えば、炭素数が2〜15程度のものがよく、具体的には、ペンタメチレンジアミン、へキサメチレンジアミン、へプタメチレンジアミン等が挙げられる。   The aliphatic diamine has, for example, about 2 to 15 carbon atoms, and specific examples include pentamethylenediamine, hexamethylenediamine, and heptamethylenediamine.

なお、これらのジアミンの水素原子がハロゲン原子、メチル基、メトキシ基、シアノ基、フェニル基等の群より選択される少なくとも1種の置換基により置換された化合物であってもよい。   A compound in which the hydrogen atom of these diamines is substituted with at least one substituent selected from the group such as a halogen atom, a methyl group, a methoxy group, a cyano group, and a phenyl group may be used.

本実施形態で用いられるポリアミド酸を製造する手段に特に制限はなく、例えば、有機溶剤中で酸、ジアミン成分を反応させる方法等の公知の手法を用いることができる。   There is no restriction | limiting in particular in the means to manufacture the polyamic acid used by this embodiment, For example, well-known methods, such as the method of making an acid and a diamine component react in an organic solvent, can be used.

テトラカルボン酸二無水物とジアミンとの反応は、通常、有機溶剤中で行われる。テトラカルボン酸二無水物とジアミンとの反応に使用される有機溶剤は、テトラカルボン酸二無水物及びジアミンを溶解させることができ、テトラカルボン酸二無水物及びジアミンと反応しないものであれば特に限定されない。有機溶剤は単独で又は2種以上を混合して用いることができる。   Reaction of tetracarboxylic dianhydride and diamine is normally performed in an organic solvent. The organic solvent used for the reaction of the tetracarboxylic dianhydride and the diamine is particularly capable of dissolving the tetracarboxylic dianhydride and the diamine and not reacting with the tetracarboxylic dianhydride and the diamine. It is not limited. An organic solvent can be used individually or in mixture of 2 or more types.

テトラカルボン酸二無水物とジアミンとの反応に用いる有機溶剤の例としては、N−メチル−2−ピロリドン、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジエチルアセトアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジエチルホルムアミド、N−メチルカプロラクタム、N,N,N’,N’−テトラメチルウレア等の含窒素極性溶剤;β−プロピオラクトン、γ−ブチロラクトン、γ−バレロラクトン、δ−バレロラクトン、γ−カプロラクトン、ε−カプロラクトン等のラクトン系極性溶剤;ジメチルスルホキシド;アセトニトリル;乳酸エチル、乳酸ブチル等の脂肪酸エステル類;ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジオキサン、テトラヒドロフラン、メチルセルソルブアセテート、エチルセルソルブアセテート等のエーテル類;クレゾール類等のフェノール系溶剤が挙げられる。これらの有機溶剤は単独あるいは2種以上を混合して用いることができる。有機溶剤の使用量に特に制限はないが、生成するポリアミド酸の含有量が5〜50質量%とするのが望ましい。   Examples of the organic solvent used for the reaction of tetracarboxylic dianhydride and diamine include N-methyl-2-pyrrolidone, N, N-dimethylacetamide, N, N-diethylacetamide, N, N-dimethylformamide, N Nitrogen-containing polar solvents such as N, N-diethylformamide, N-methylcaprolactam, N, N, N ′, N′-tetramethylurea; β-propiolactone, γ-butyrolactone, γ-valerolactone, δ-valerolactone Lactone polar solvents such as γ-caprolactone and ε-caprolactone; dimethyl sulfoxide; acetonitrile; fatty acid esters such as ethyl lactate and butyl lactate; diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol diethyl ether, dioxane, tetrahydrofuran, methyl cellosolve acetate, ethyl Ethers such as cellosolve acetate; include phenolic solvents cresols, and the like. These organic solvents can be used alone or in admixture of two or more. Although there is no restriction | limiting in particular in the usage-amount of an organic solvent, It is desirable for content of the polyamic acid to produce | generate to be 5-50 mass%.

これらの有機溶剤の中では、生成するポリアミド酸の溶解性から、N−メチル−2−ピロリドン、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジエチルアセトアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジエチルホルムアミド、N−メチルカプロラクタム、N,N,N’,N’−テトラメチルウレア等の含窒素極性溶剤が好ましい。   Among these organic solvents, N-methyl-2-pyrrolidone, N, N-dimethylacetamide, N, N-diethylacetamide, N, N-dimethylformamide, N, N- Nitrogen-containing polar solvents such as diethylformamide, N-methylcaprolactam, N, N, N ′, N′-tetramethylurea are preferred.

重合温度は一般的には−10〜120℃、好ましくは5〜60℃である。重合時間は使用する原料組成により異なるが、通常は3〜24Hr(時間)である。また、このような条件下で得られるポリアミド酸の有機溶剤溶液の固有粘度は、好ましくは1000〜10万cP(センチポアズ)、より一層好ましくは5000〜7万cPの範囲である。   The polymerization temperature is generally -10 to 120 ° C, preferably 5 to 60 ° C. The polymerization time varies depending on the raw material composition to be used, but is usually 3 to 24 Hr (hour). Moreover, the intrinsic viscosity of the organic solvent solution of polyamic acid obtained under such conditions is preferably in the range of 1000 to 100,000 cP (centipoise), and more preferably in the range of 5,000 to 70,000 cP.

<ポリイミド>
本実施形態に用いるポリイミドは、塗布液Lに使用する有機溶剤に溶解可能な可溶性ポリイミドなら、その構造や分子量に限定されることなく、公知のものが使用できる。ポリイミドについて、側鎖にカルボキシ基等の縮合可能な官能基又は焼成時に架橋反応等を促進させる官能基を有していてもよい。
<Polyimide>
The polyimide used in the present embodiment is not limited to its structure and molecular weight, and any known polyimide can be used as long as it is a soluble polyimide that can be dissolved in the organic solvent used in the coating liquid L. About a polyimide, you may have a functional group which accelerates | stimulates a crosslinking reaction etc. at the time of baking, or a functional group which can be condensed, such as a carboxy group.

有機溶剤に可溶なポリイミドとするために、主鎖に柔軟な屈曲構造を導入するためのモノマーの使用、例えば、エチレジアミン、ヘキサメチレンジアミン、1,4−ジアミノシクロヘキサン、1,3−ジアミノシクロヘキサン、4,4’−ジアミノジシクロヘキシルメタン等の脂肪族ジアミン;2−メチル−1,4−フェニレンジアミン、o−トリジン、m−トリジン、3,3’−ジメトキシベンジジン、4,4’−ジアミノベンズアニリド等の芳香族ジアミン;ポリオキシエチレンジアミン、ポリオキシプロピレンジアミン、ポリオキシブチレンジアミン等のポリオキシアルキレンジアミン;ポリシロキサンジアミン;2,3,3’,4’−オキシジフタル酸無水物、3,4,3’,4’−オキシジフタル酸無水物、2,2−ビス(4−ヒドロキシフェニル)プロパンジベンゾエート−3,3’,4,4’−テトラカルボン酸二無水物等の使用が有効である。また、有機溶剤への溶解性を向上する官能基を有するモノマーの使用、例えば、2,2’−ビス(トリフルオロメチル)−4,4’−ジアミノビフェニル、2−トリフルオロメチル−1,4−フェニレンジアミン等のフッ素化ジアミンを使用することも有効である。更に、上記ポリイミドの溶解性を向上するためのモノマーに加えて、溶解性を阻害しない範囲で、上記ポリアミド酸の欄に記したものと同じモノマーを併用することもできる。   Use of a monomer to introduce a flexible bending structure into the main chain in order to obtain a polyimide soluble in an organic solvent, such as ethylenediamine, hexamethylenediamine, 1,4-diaminocyclohexane, 1,3-diaminocyclohexane, Aliphatic diamines such as 4,4′-diaminodicyclohexylmethane; 2-methyl-1,4-phenylenediamine, o-tolidine, m-tolidine, 3,3′-dimethoxybenzidine, 4,4′-diaminobenzanilide, etc. Aromatic diamines; polyoxyalkylene diamines such as polyoxyethylene diamine, polyoxypropylene diamine, and polyoxybutylene diamine; polysiloxane diamines; 2,3,3 ′, 4′-oxydiphthalic anhydride, 3,4,3 ′ , 4′-oxydiphthalic anhydride, 2,2-bis (4-H Rokishifeniru) propane dibenzoate-3,3 ', use of such 4,4'-tetracarboxylic dianhydride is valid. In addition, use of a monomer having a functional group that improves solubility in an organic solvent, for example, 2,2′-bis (trifluoromethyl) -4,4′-diaminobiphenyl, 2-trifluoromethyl-1,4 -It is also effective to use a fluorinated diamine such as phenylenediamine. Furthermore, in addition to the monomer for improving the solubility of the polyimide, the same monomers as those described in the column for the polyamic acid can be used in combination as long as the solubility is not inhibited.

本実施形態で用いられる、有機溶剤に溶解可能なポリイミドを製造する手段に特に制限はなく、例えば、ポリアミド酸を化学イミド化又は加熱イミド化させ、有機溶剤に溶解させる方法等の公知の手法を用いることができる。そのようなポリイミドとしては、脂肪族ポリイミド(全脂肪族ポリイミド)、芳香族ポリイミド等を挙げることができ、芳香族ポリイミドが好ましい。芳香族ポリイミドとしては、式(1)で示す繰り返し単位を有するポリアミド酸を熱又は化学的に閉環反応によって取得したもの、若しくは式(2)で示す繰り返し単位を有するポリイミドを溶媒に溶解したものでよい。式中Arはアリール基を示す。   There is no particular limitation on the means for producing a polyimide that can be dissolved in an organic solvent used in the present embodiment. For example, a known method such as a method in which polyamic acid is chemically imidized or heated imidized and dissolved in an organic solvent is used. Can be used. Examples of such polyimide include aliphatic polyimide (total aliphatic polyimide), aromatic polyimide and the like, and aromatic polyimide is preferable. The aromatic polyimide is obtained by thermally or chemically obtaining a polyamic acid having a repeating unit represented by the formula (1) by a ring-closing reaction or by dissolving a polyimide having a repeating unit represented by the formula (2) in a solvent. Good. In the formula, Ar represents an aryl group.

Figure 2017148986
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Figure 2017148986
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<ポリアミドイミド>
本実施形態に用いるポリアミドイミドは、塗布液Lに使用する有機溶剤に溶解可能な可溶性ポリアミドイミドなら、その構造や分子量に限定されることなく、公知のものが使用できる。ポリアミドイミドについて、側鎖にカルボキシ基等の縮合可能な官能基又は焼成時に架橋反応等を促進させる官能基を有していてもよい。
<Polyamideimide>
As the polyamideimide used in the present embodiment, any known polyamideimide can be used as long as it is a soluble polyamideimide that can be dissolved in the organic solvent used in the coating liquid L without being limited to its structure and molecular weight. The polyamideimide may have a functional group capable of condensing such as a carboxy group in the side chain or a functional group that promotes a crosslinking reaction or the like during firing.

本実施形態で用いるポリアミドイミドは、任意の無水トリメリット酸とジイソシアネートとを反応させて得られるものや、任意の無水トリメリット酸の反応性誘導体とジアミンとの反応により得られる前駆体ポリマーをイミド化して得られるものを特に限定されることなく使用できる。   The polyamideimide used in the present embodiment is obtained by reacting any trimellitic anhydride and diisocyanate, or a precursor polymer obtained by reacting any reactive derivative of trimellitic anhydride with diamine. What is obtained by forming can be used without particular limitation.

上記任意の無水トリメッと酸又はその反応性誘導体としては、例えば、無水トリメリット酸、無水トリメリット酸クロライド等の無水トリメリット酸ハロゲン化物、無水トリメリット酸エステル等が挙げられる。   Examples of the arbitrary trimellitic anhydride and acid or a reactive derivative thereof include trimellitic anhydride halides such as trimellitic anhydride and trimellitic anhydride chloride, trimellitic anhydride ester, and the like.

ジイソシアネートとしては、例えば、メタフェニレンジイソシアネート、p−フェニレンジイソシアネート、4,4’−オキシビス(フェニルイソシアネート)、4,4’−ジイソシアネートジフェニルメタン、ビス[4−(4−イソシアネートフェノキシ)フェニル]スルホン、2,2′−ビス[4−(4−イソシアネートフェノキシ)フェニル]プロパン等が挙げられる。   Examples of the diisocyanate include metaphenylene diisocyanate, p-phenylene diisocyanate, 4,4′-oxybis (phenylisocyanate), 4,4′-diisocyanatediphenylmethane, bis [4- (4-isocyanatophenoxy) phenyl] sulfone, 2, And 2'-bis [4- (4-isocyanatophenoxy) phenyl] propane.

ジアミンとしては、前記ポリアミド酸の説明において例示したものと同様のものが挙げられる。   Examples of the diamine include those similar to those exemplified in the description of the polyamic acid.

<ポリアミド>
ポリアミドとしては、ジカルボン酸とジアミンとから得られるポリアミドが好ましく、特に芳香族ポリアミドが好ましい。
<Polyamide>
As the polyamide, a polyamide obtained from a dicarboxylic acid and a diamine is preferable, and an aromatic polyamide is particularly preferable.

ジカルボン酸としては、マレイン酸、フマル酸、イタコン酸、メチルマレイン酸、ジメチルマレイン酸、フェニルマレイン酸、クロロマレイン酸、ジクロロマレイン酸、フルオロマレイン酸、フタル酸、イソフタル酸、テレフタル酸、及びジフェン酸等が挙げられる。   Dicarboxylic acids include maleic acid, fumaric acid, itaconic acid, methylmaleic acid, dimethylmaleic acid, phenylmaleic acid, chloromaleic acid, dichloromaleic acid, fluoromaleic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, and diphenic acid Etc.

ジアミンとしては、前記ポリアミド酸の説明において例示したものと同様のものが挙げられる。   Examples of the diamine include those similar to those exemplified in the description of the polyamic acid.

<微粒子>
微粒子は、例えば真球率が高いものが用いられる。このような微粒子は、多孔質膜における孔の内面に曲面を形成しやすい点で好ましい。微粒子の粒径(平均直径)としては、例えば、100〜2000nm程度に設定することができる。上記のような微粒子を用いることにより、後の工程で微粒子を除去することで球状または球状が連なった形状の空隙を有する多孔質膜を得ることができる。また、得られる多孔質膜の孔径を揃えることができる。このため、多孔質膜2に特性を均一化できる。
<Fine particles>
For example, fine particles having a high sphericity rate are used. Such fine particles are preferable in that they can easily form a curved surface on the inner surface of the pores in the porous membrane. The particle size (average diameter) of the fine particles can be set to about 100 to 2000 nm, for example. By using the fine particles as described above, it is possible to obtain a porous film having a spherical shape or a void having a continuous shape of spherical shapes by removing the fine particles in a subsequent step. Moreover, the pore diameter of the obtained porous membrane can be made uniform. For this reason, characteristics can be made uniform in the porous membrane 2.

なお、微粒子の材質としては、塗布液Lに含まれる溶剤に不溶であって、後の工程で多孔質膜2から除去可能な材質であれば、特に限定されることはなく公知のものを採用することができる。例えば、無機材料では、シリカ(二酸化珪素)、酸化チタン、アルミナ(Al)等の金属酸化物が挙げられる。また、有機材料では、高分子量オレフィン(ポリプロピレン,ポリエチレン等)、ポリスチレン、エポキシ樹脂、セルロース、ポリビニルアルコール、ポリビニルブチラール、ポリエステル、ポリメチルメタクリレート、ポリエーテル等の有機高分子微粒子が挙げられる。また、微粒子の一例として、(単分散)球状シリカ粒子などのコロイダルシリカ、炭酸カルシウム等が挙げられる。この場合、多孔質膜2の孔径をより均一にすることができる。塗布液Lに含まれる微粒子は、粒径が、例えば100〜2000nmである。 The material of the fine particles is not particularly limited as long as it is a material that is insoluble in the solvent contained in the coating liquid L and can be removed from the porous film 2 in a later step. can do. For example, the inorganic materials, silica (silicon dioxide), metal oxides such as titanium oxide, alumina (Al 2 O 3) can be mentioned. Examples of organic materials include high molecular weight olefins (polypropylene, polyethylene, etc.), polystyrene, epoxy resin, cellulose, polyvinyl alcohol, polyvinyl butyral, polyester, polymethyl methacrylate, polyether, and other organic polymer fine particles. Examples of the fine particles include colloidal silica such as (monodispersed) spherical silica particles, calcium carbonate, and the like. In this case, the pore diameter of the porous membrane 2 can be made more uniform. The fine particles contained in the coating liquid L have a particle size of, for example, 100 to 2000 nm.

<溶剤>
溶剤は、ポリアミド酸、ポリイミド、ポリアミドイミド又はポリアミドを溶解するものであれば、特に限定されることなく公知のものが使用できる。溶剤としては、例えば、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジエチルアセトアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジエチルホルムアミド、N,N,N’,N’−テトラメチルウレア、N−ビニル−2−ピロリドン等の含窒素極性溶剤;ジメチルスルホキシド等のスルホキシド系溶媒;アセトニトリル;乳酸エチル、乳酸ブチル等の脂肪酸エステル類;テトラヒドロフラン、ジオキサン、ジオキソラン、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、メチルセルソルブアセテート、エチルセルソルブアセテート等のエーテル類が挙げられる。これらのうち1種を使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
<Solvent>
The solvent is not particularly limited as long as it dissolves polyamic acid, polyimide, polyamideimide or polyamide, and a known solvent can be used. Examples of the solvent include N, N-dimethylacetamide, N, N-diethylacetamide, N, N-dimethylformamide, N, N-diethylformamide, N, N, N ′, N′-tetramethylurea, N— Nitrogen-containing polar solvents such as vinyl-2-pyrrolidone; sulfoxide solvents such as dimethyl sulfoxide; acetonitrile; fatty acid esters such as ethyl lactate and butyl lactate; tetrahydrofuran, dioxane, dioxolane, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol diethyl ether, methyl cellosolve acetate And ethers such as ethyl cellosolve acetate. Among these, 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

また、溶剤は、上記の溶剤に加え、沸点が190℃以上の高沸点溶剤を含むことができる。高沸点溶剤としては、例えば、N−メチル−2−ピロリドン、N−エチル−2−ピロリドン等の含窒素極性溶剤;γ―ブチロラクトン、γ―バレロラクトン、δ―バレロラクトン、γ―カプロラクトン、ε―カプロラクトン等のラクトン系極性溶剤;ピロリドンフェノール、o−、m−又はp−クレゾール、キシレノール、カテコール等のフェノール系溶媒;ジエチルスルホキシド等のスルホキシド系溶媒が挙げられる。高沸点溶剤としては、これらのうち1種を使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。   Further, the solvent can contain a high boiling point solvent having a boiling point of 190 ° C. or higher in addition to the above-mentioned solvent. Examples of the high boiling point solvent include nitrogen-containing polar solvents such as N-methyl-2-pyrrolidone and N-ethyl-2-pyrrolidone; γ-butyrolactone, γ-valerolactone, δ-valerolactone, γ-caprolactone, ε- Examples include lactone polar solvents such as caprolactone; phenol solvents such as pyrrolidonephenol, o-, m- or p-cresol, xylenol, and catechol; and sulfoxide solvents such as diethyl sulfoxide. As the high boiling point solvent, one of these may be used, or two or more may be used in combination.

溶剤における高沸点溶剤の含有比率は特に限定されず、広い範囲のものを使用することができる。溶剤中、高沸点溶剤を5〜80質量%とすることが好ましく、7〜70質量%とすることが更に好ましく、高沸点溶剤を10〜60質量%とすることが最も好ましい。高沸点溶剤が5質量%以上で含有されれば、多孔質ポリイミド膜の成膜性や膜物性に問題がなく、80質量%以下であれば支障なく塗工及びプリベーク工程を行うことができる。   The content ratio of the high boiling point solvent in the solvent is not particularly limited, and a wide range of solvents can be used. In the solvent, the high boiling point solvent is preferably 5 to 80% by mass, more preferably 7 to 70% by mass, and most preferably the high boiling point solvent is 10 to 60% by mass. If the high-boiling solvent is contained in an amount of 5% by mass or more, there is no problem in the film formability and film properties of the porous polyimide film, and if it is 80% by mass or less, the coating and prebaking steps can be performed without any trouble.

なお、上記塗布液Lは、所定の樹脂材料と、微粒子と、溶剤の他、必要に応じて、離型剤、分散剤、縮合剤、イミド化剤、界面活性剤等種々の添加剤を含んでいてもよい。   The coating liquid L contains a predetermined resin material, fine particles, a solvent, and various additives such as a release agent, a dispersant, a condensing agent, an imidizing agent, and a surfactant as necessary. You may go out.

ステップS11では、図4(A)に示すように、塗布液Lを基材S上に塗布し、乾燥させることにより溶剤を除去して、乾燥膜Dを形成する。塗布液Lは、微粒子Bを含む。基材S上に塗布された塗布液Lは、常圧又は真空下で50〜100℃で処理し(プリベーク)、乾燥膜Dとする。基材Sは、特に限定されず、任意のものを用いることができる。例えば、基材Sとして箔を用いてもよい。この箔は導電膜4として用いてもよい。箔としては、例えば、金属箔、特に銅箔、アルミ箔が好ましく用いられる。基材Sに金属箔を用いて多孔質膜2を製造する場合、この金属箔を保持したままにしてもよいし、エッチング等により金属箔の一部だけを除去してもよい。これらの場合、金属箔は、電極及び回路とすることができる。   In step S11, as shown in FIG. 4A, the coating liquid L is applied onto the substrate S, and the solvent is removed by drying to form a dry film D. The coating liquid L includes fine particles B. The coating liquid L applied on the substrate S is treated at 50 to 100 ° C. under normal pressure or vacuum (prebaked) to obtain a dry film D. The base material S is not specifically limited, Arbitrary things can be used. For example, a foil may be used as the substrate S. This foil may be used as the conductive film 4. As the foil, for example, metal foil, particularly copper foil and aluminum foil are preferably used. When the porous film 2 is manufactured using the metal foil for the base material S, the metal foil may be retained or only a part of the metal foil may be removed by etching or the like. In these cases, the metal foil can be an electrode and a circuit.

続いて、図4(B)に示すように、プリベーク処理後の乾燥膜Dを基材Sより剥離する。剥離方法は、特に限定されず、マニピュレータ等を用いて自動的に行ってもよいし、手作業で行ってもよい。次いで、剥離後の乾燥膜Dを焼成する。なお、焼成の前に、乾燥膜Dにカールが発生するのを抑制するため、水を含む溶剤への浸漬処理や、プレス処理を任意で行ってもよい。また当該浸漬処理後の乾燥処理を任意で設けてもよい。焼成温度は、例えば、120〜400℃程度であり、150〜350℃程度の温度が好ましい。また、微粒子Bに有機材料が含まれる場合は、その熱分解温度よりも低い温度に設定する必要がある。なお、塗布液Lがポリアミド酸を含む場合、この焼成においてはイミド化を完結させることが好ましいが、乾燥膜がポリイミド、ポリアミドイミド又はポリアミドから構成される場合は、この限りでない。なお、乾燥膜Dを基材Sより剥離するか否かは、製造方法などにより適宜決定される。例えば、後述するように基材Sとして非多孔質膜3あるいは導電膜4を用いる等の場合は、乾燥膜Dを基材Sより剥離しなくてもよい。   Subsequently, the dried film D after the pre-bake treatment is peeled off from the base material S as shown in FIG. The peeling method is not particularly limited, and may be performed automatically using a manipulator or the like, or may be performed manually. Next, the peeled dry film D is fired. In addition, in order to suppress that curl generate | occur | produces in the dry film | membrane D before baking, you may perform the immersion process to a solvent containing water, and a press process arbitrarily. Moreover, you may provide the drying process after the said immersion process arbitrarily. A baking temperature is about 120-400 degreeC, for example, and the temperature of about 150-350 degreeC is preferable. Further, when the organic material is contained in the fine particles B, it is necessary to set the temperature lower than the thermal decomposition temperature. In addition, when the coating liquid L contains a polyamic acid, it is preferable to complete imidation in this baking, but this is not the case when the dry film is composed of polyimide, polyamideimide, or polyamide. Whether or not the dried film D is peeled off from the substrate S is determined as appropriate depending on the manufacturing method and the like. For example, when the non-porous film 3 or the conductive film 4 is used as the substrate S as described later, the dry film D does not have to be peeled from the substrate S.

次に、図3に示すステップS12において、焼成後の乾燥膜Dから微粒子Bを除去することにより、多孔質膜2を製造する。例えば、微粒子Bとして、シリカを採用した場合、乾燥膜を低濃度のフッ化水素水(HF)等によりシリカを溶解除去することで、多孔質とすることが可能である。また、微粒子が樹脂微粒子の場合は、上述のような樹脂微粒子の熱分解温度以上で、ポリイミドの熱分解温度未満の温度に加熱し、樹脂微粒子を分解させてこれを取り除くことができる。図4(C)に示すように、乾燥膜Dから微粒子Bを除去した部分がそれぞれ空孔6となり、空孔6が連通して空隙5を有する多孔質膜2が形成される。多孔質膜2は、面方向(X方向及びY方向)に均一な空隙率を有する。なお、多孔質膜2は微粒子Bを含有してもよい。この場合、微粒子Bをフィラーとして機能させ、多孔質膜2に強度を付与してもよい。   Next, in step S12 shown in FIG. 3, the porous film 2 is manufactured by removing the fine particles B from the dried film D after firing. For example, when silica is employed as the fine particles B, the dry film can be made porous by dissolving and removing the silica with a low concentration of hydrogen fluoride water (HF) or the like. Further, when the fine particles are resin fine particles, the resin fine particles can be removed by heating to a temperature not lower than the thermal decomposition temperature of the resin fine particles as described above and lower than the thermal decomposition temperature of the polyimide. As shown in FIG. 4C, the portions where the fine particles B are removed from the dry film D become the holes 6, respectively, and the porous film 2 having the voids 5 is formed by the communication of the holes 6. The porous membrane 2 has a uniform porosity in the plane direction (X direction and Y direction). The porous film 2 may contain fine particles B. In this case, the fine particles B may function as a filler to impart strength to the porous film 2.

次に、図3に示すステップS13において、多孔質膜2に対して、エッチング(ケミカルエッチング)処理が行われる。多孔質膜2は、図5(A)に示すように、エッチング液ESに浸漬され、空隙5の樹脂の一部が除去される。エッチング液ESとしては、無機アルカリ溶液又は有機アルカリ溶液等のケミカルエッチング液が用いられる。無機アルカリ溶液として例えば、ヒドラジンヒドラートとエチレンジアミンを含むヒドラジン溶液、水酸化カリウム、水酸化ナトリウム、炭酸ナトリウム、ケイ酸ナトリウム、メタケイ酸ナトリウム等のアルカリ金属水酸化物の溶液、アンモニア溶液、水酸化アルカリとヒドラジンと1,3−ジメチル−2−イミダゾリジノンを主成分とするエッチング液等が挙げられる。有機アルカリ溶液としては、エチルアミン、n−プロピルアミン等の第一級アミン類;ジエチルアミン、ジ−n−ブチルアミン等の第二級アミン類;トリエチルアミン、メチルジエチルアミン等の第三級アミン類;ジメチルエタノールアミン、トリエタノールアミン等のアルコールアミン類;テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラエチルアンモニウムヒドロキシド等の第四級アンモニウム塩;ピロール、ピヘリジン等の環状アミン類等のアルカリ性溶液が挙げられる。エッチング処理により、図5(B)に示すように、空隙5のバリ等の突起部分が除去され、少なくとも多孔質膜2の空隙率を上昇させることができる。これにより、空隙5の連通性が向上し、例えば、このようなエッチング後の多孔質膜2を積層体1として用いる場合、伝送損失を低減させることができる。   Next, in step S <b> 13 shown in FIG. 3, an etching (chemical etching) process is performed on the porous film 2. As shown in FIG. 5A, the porous film 2 is immersed in the etching solution ES, and a part of the resin in the gap 5 is removed. As the etching solution ES, a chemical etching solution such as an inorganic alkali solution or an organic alkali solution is used. Examples of inorganic alkaline solutions include hydrazine solutions containing hydrazine hydrate and ethylenediamine, solutions of alkali metal hydroxides such as potassium hydroxide, sodium hydroxide, sodium carbonate, sodium silicate, sodium metasilicate, ammonia solutions, alkali hydroxides And hydrazine and 1,3-dimethyl-2-imidazolidinone as etching components. Organic alkaline solutions include primary amines such as ethylamine and n-propylamine; secondary amines such as diethylamine and di-n-butylamine; tertiary amines such as triethylamine and methyldiethylamine; dimethylethanolamine And alcohol amines such as triethanolamine; quaternary ammonium salts such as tetramethylammonium hydroxide and tetraethylammonium hydroxide; and alkaline solutions such as cyclic amines such as pyrrole and pihelidine. By the etching process, as shown in FIG. 5B, protrusions such as burrs in the gap 5 are removed, and at least the porosity of the porous film 2 can be increased. Thereby, the communication property of the space | gap 5 improves, For example, when using the porous film 2 after such an etching as the laminated body 1, a transmission loss can be reduced.

その後、多孔質膜2が洗浄液によって洗浄され、液切りが行われる。続いて、液切り後の多孔質膜2が、例えば、100〜400℃程度(好ましくは100℃〜300℃程度)に加熱され、洗浄液が除去される。なお、エッチング後の多孔質膜2は、不図示の巻き取り装置等によって巻き取られ、不図示のロール体を形成してもよい。また、このロール体は、使用目的に応じて、多孔質膜2を引き出して切断装置により切断してから再び巻き取ってロール体とすることにより、ロール体のサイズを調整することができる。また、多孔質膜2は、エッチング処理後、保管されてもよい。エッチング処理後の多孔質膜2を保管する場合、多孔質膜2は、ロール体の状態で保管してもよい。なお、多孔質膜2の保管条件(例、保管時間、温度、湿度)は任意である。なお、ステップS13によりエッチング処理を行うか否かは任意であり、エッチング処理は行わなくてもよい。   Thereafter, the porous membrane 2 is washed with a washing liquid and drained. Subsequently, the porous membrane 2 after draining is heated to, for example, about 100 to 400 ° C. (preferably about 100 to 300 ° C.), and the cleaning liquid is removed. In addition, the porous film 2 after the etching may be wound up by a winding device (not shown) to form a roll body (not shown). Moreover, according to the intended purpose, this roll body can adjust the size of a roll body by pulling out the porous film 2, cut | disconnecting with a cutting device, and winding up again to make a roll body. The porous film 2 may be stored after the etching process. When storing the porous film 2 after the etching treatment, the porous film 2 may be stored in the state of a roll body. In addition, the storage conditions (eg, storage time, temperature, humidity) of the porous membrane 2 are arbitrary. Whether or not the etching process is performed in step S13 is arbitrary, and the etching process may not be performed.

次に、図2に示すステップS2において、図6(A)に示すように、多孔質膜2の少なくとも一方の面に非多孔質膜3となる液体LAを塗布する。非多孔質膜3は、例えば、多孔質膜2と導電膜4とを接着する接着剤である。非多孔質膜3は、特に制限されず、公知の樹脂材料により形成される。非多孔質膜3は、例えば、ポリアミド酸、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリアミド、ポリフッ化ビニリデン、ポリベンゾオキサゾール樹脂、ポリベンゾイミダゾール樹脂、ポリスルホン、ポリアリールスルホン、及びポリエーテルスルホンの少なくとも一つを含む樹脂により形成される。中でも、非多孔質膜3は、ポリアミド酸、ポリイミド、ポリアミドイミド、及びポリアミドの少なくとも一つを含むイミド系樹脂により形成されることが好ましい。また、非多孔質膜3と多孔質膜2とは、例えば、同一の材料で形成されるのが好ましい。   Next, in step S <b> 2 shown in FIG. 2, as shown in FIG. 6A, the liquid LA that becomes the nonporous film 3 is applied to at least one surface of the porous film 2. The non-porous film 3 is, for example, an adhesive that bonds the porous film 2 and the conductive film 4 together. The non-porous film 3 is not particularly limited and is formed of a known resin material. The non-porous membrane 3 is, for example, a resin containing at least one of polyamic acid, polyimide, polyamideimide, polyamide, polyvinylidene fluoride, polybenzoxazole resin, polybenzimidazole resin, polysulfone, polyarylsulfone, and polyethersulfone. It is formed by. Especially, it is preferable that the non-porous film 3 is formed of an imide resin containing at least one of polyamic acid, polyimide, polyamideimide, and polyamide. Moreover, it is preferable that the non-porous film 3 and the porous film 2 are formed of the same material, for example.

非多孔質膜3となる液体LAは、例えば、樹脂成分を溶剤により溶解した液を用いることができる。非多孔質膜3となる液体LAは、樹脂成分等に応じて、適宜設定される。例えば、非多孔質膜3を上記樹脂により形成する場合、非多孔質膜3となる液体LAは、多孔質膜2の部分で説明した塗布液Lの成分から微粒子を除いた液を用いることができる。   As the liquid LA that becomes the non-porous film 3, for example, a liquid in which a resin component is dissolved in a solvent can be used. The liquid LA that becomes the non-porous film 3 is appropriately set according to the resin component and the like. For example, when the non-porous film 3 is formed of the resin, the liquid LA used as the non-porous film 3 is a liquid obtained by removing fine particles from the components of the coating liquid L described in the porous film 2 portion. it can.

非多孔質膜3となる液体LAの塗布は、導電膜4を貼付する面が平坦な面になるように塗布するのが好ましい。この場合、導電膜4と非多孔質膜3との接着性が向上する。また、この場合、導電膜4が平坦になるため、積層体1は、配線用基板、配線基板に好適に用いることができる。   The liquid LA that becomes the non-porous film 3 is preferably applied so that the surface on which the conductive film 4 is applied is a flat surface. In this case, the adhesion between the conductive film 4 and the non-porous film 3 is improved. In this case, since the conductive film 4 becomes flat, the stacked body 1 can be suitably used for a wiring board and a wiring board.

次に、図2に示すステップS3において、図6(B)に示すように、予め形成した導電膜4を貼付する。この場合、例えば、導電膜4を非多孔質膜3となる液体LAが乾燥する前に貼付する。導電膜4は、特に限定されず、任意の導電性材料を用いることができる。導電膜4は、例えば、銅箔、ステンレス泊、アルミニウム泊、ニッケル泊などの金属泊が用いられる。また、導電膜4の表面は、粗面化処理や防錆処理がされていてもよい。導電膜4の厚みは、特に限定されず、例えば、0.1μm以上100μm以下程度、好ましくは1μm以上50μm以下、より好ましくは5μm以上20μm以下とすることができる。   Next, in step S3 shown in FIG. 2, as shown in FIG. 6B, a previously formed conductive film 4 is pasted. In this case, for example, the conductive film 4 is attached before the liquid LA that becomes the non-porous film 3 is dried. The conductive film 4 is not particularly limited, and any conductive material can be used. For the conductive film 4, for example, a metal foil such as a copper foil, a stainless steel stay, an aluminum stay, or a nickel stay is used. Further, the surface of the conductive film 4 may be subjected to roughening treatment or rust prevention treatment. The thickness of the conductive film 4 is not particularly limited, and can be, for example, about 0.1 μm to 100 μm, preferably 1 μm to 50 μm, more preferably 5 μm to 20 μm.

なお、導電膜4の貼付(積層)の方法は、上記方法に制限されない。例えば、導電膜4の貼付(積層)の方法は、後述するように、導電膜4を非多孔質膜3あるいは多孔質膜2の表面に直接貼付する方法でもよいし、非多孔質膜となる液体LAあるいは多孔質膜2となる液体Lを、導電膜4に塗布し乾燥させることにより貼付してもよい。   In addition, the method of sticking (lamination | stacking) of the electrically conductive film 4 is not restrict | limited to the said method. For example, the method of attaching (lamination) the conductive film 4 may be a method of attaching the conductive film 4 directly to the surface of the non-porous film 3 or the porous film 2 as described later, or a non-porous film. The liquid LA or the liquid L that becomes the porous film 2 may be applied to the conductive film 4 and dried by applying it.

次に、図2に示すステップS4において、図6(C)に示すように、非多孔質膜3となる液体LAを乾燥させ、導電膜4を多孔質膜2に接着する。これにより、導電膜4が多孔質膜2に積層される。非多孔質膜3となる液体LAの乾燥の方法は、樹脂成分などにより、適宜設定される。例えば、非多孔質膜3を上記樹脂により形成する場合、塗布した非多孔質膜3となる液体LAをプリベークすることにより乾燥膜を形成する。これにより、導電膜4を多孔質膜2に接着する。続いて、上記樹脂がポリアミド酸等のポリイミド前駆体である場合、焼成を行うことにより、この乾燥膜のイミド化反応を行う。これにより、図1(A)に示す積層体1を得ることができる。なお、非多孔質膜3となる液体LAをプリベークすることにより形成した乾燥膜は、非多孔質膜3に含まれる。   Next, in step S <b> 4 shown in FIG. 2, as shown in FIG. 6C, the liquid LA that becomes the nonporous film 3 is dried, and the conductive film 4 is bonded to the porous film 2. Thereby, the conductive film 4 is laminated on the porous film 2. The method of drying the liquid LA that becomes the non-porous membrane 3 is appropriately set depending on the resin component and the like. For example, when the non-porous film 3 is formed of the resin, the dry film is formed by pre-baking the liquid LA that becomes the applied non-porous film 3. Thereby, the conductive film 4 is bonded to the porous film 2. Subsequently, when the resin is a polyimide precursor such as polyamic acid, the imidization reaction of the dry film is performed by firing. Thereby, the laminated body 1 shown to FIG. 1 (A) can be obtained. A dry film formed by pre-baking the liquid LA that becomes the non-porous film 3 is included in the non-porous film 3.

次に、積層体の製造方法の他の例を説明する。図7(A)は、積層体の製造方法の他の例を示すフローチャートであり、図7(B)は、積層体の製造方法の他の例を示す断面図である。   Next, another example of the method for manufacturing a laminate will be described. FIG. 7A is a flowchart illustrating another example of a method for manufacturing a laminate, and FIG. 7B is a cross-sectional view illustrating another example of the method for manufacturing a laminate.

本製造方法は、多孔質膜2の少なくとも一方の面に非多孔質膜3を形成した後に、形成した非多孔質膜3に導電膜4を積層する。すなわち、非多孔質膜3を接着剤として用いない方法である。本製造方法は、図7(A)に示すように、まず、上記したステップS1を行うことにより多孔質膜2を得る。   In this manufacturing method, after forming the non-porous film 3 on at least one surface of the porous film 2, the conductive film 4 is laminated on the formed non-porous film 3. That is, this is a method in which the non-porous film 3 is not used as an adhesive. In the present manufacturing method, as shown in FIG. 7A, first, the porous film 2 is obtained by performing the above-described step S1.

続いて、図7(A)に示すステップS5において、図7(B)に示すように、非多孔質膜となる液体LAを多孔質膜2に塗布して乾燥させることにより非多孔質膜3を形成する。非多孔質膜となる液体LAは、上記したステップS2と同様である。非多孔質膜3となる液体LAの乾燥の方法は、上記ステップS4と同様であり、樹脂成分などにより、適宜設定される。例えば、非多孔質膜3を上記樹脂により形成する場合、塗布した非多孔質膜3となる液体LAをプリベークすることにより非多孔質膜3(乾燥膜)を形成し、上記樹脂がポリアミド酸等のポリイミド前駆体である場合は、この乾燥膜を焼成することによりイミド化反応を行う。この際、非多孔質膜3は、導電膜4を貼付する面が平坦な面になるように形成するのが好ましい。この場合、導電膜4と非多孔質膜3との接着性が向上する。また、この場合、導電膜4が平坦になるため、積層体1は、配線用基板、配線基板に好適に用いることができる。   Subsequently, in step S5 shown in FIG. 7 (A), as shown in FIG. 7 (B), the liquid LA to be a non-porous film is applied to the porous film 2 and dried to thereby form the non-porous film 3. Form. The liquid LA that becomes the non-porous film is the same as that in step S2. The method for drying the liquid LA that becomes the non-porous membrane 3 is the same as that in step S4, and is appropriately set depending on the resin component and the like. For example, when the non-porous film 3 is formed of the above resin, the non-porous film 3 (dry film) is formed by pre-baking the liquid LA that becomes the applied non-porous film 3, and the resin is formed of polyamic acid or the like. In the case of a polyimide precursor, an imidization reaction is performed by firing this dry film. At this time, the non-porous film 3 is preferably formed so that the surface to which the conductive film 4 is attached is a flat surface. In this case, the adhesion between the conductive film 4 and the non-porous film 3 is improved. In this case, since the conductive film 4 becomes flat, the stacked body 1 can be suitably used for a wiring board and a wiring board.

続いて、図7(A)に示すステップS6において、導電膜4を積層する。例えば、導電膜4を非多孔質膜3の表面に、直接、積層する。例えば、導電膜4を熱圧着により積層する。これにより、図6(C)に示す積層体1を得ることができる。   Subsequently, in step S6 shown in FIG. 7A, the conductive film 4 is stacked. For example, the conductive film 4 is directly laminated on the surface of the nonporous film 3. For example, the conductive film 4 is laminated by thermocompression bonding. Thereby, the laminated body 1 shown in FIG.6 (C) can be obtained.

次に、積層体の製造方法の他の例を説明する。図8(A)は、積層体の製造方法の他の例を示すフローチャートであり、図8(B)は、積層体の製造方法の他の例を示す断面図である。   Next, another example of the method for manufacturing a laminate will be described. FIG. 8A is a flowchart illustrating another example of a method for manufacturing a laminate, and FIG. 8B is a cross-sectional view illustrating another example of the method for manufacturing a laminate.

本製造方法は、別々に作製した多孔質膜2と非多孔質膜3とを積層する方法である。本製造方法は、図8(A)に示すように、まず、上記したステップS1を行い、多孔質膜2を得る。   This manufacturing method is a method of laminating a porous film 2 and a non-porous film 3 that are separately manufactured. In this manufacturing method, as shown in FIG. 8A, first, the above-described step S1 is performed to obtain the porous membrane 2.

続いて、図8(A)に示すステップS7において、図8(B)に示すように、非多孔質膜となる液体LAを基材Sに塗布して乾燥させることにより非多孔質膜3を形成する。まず、非多孔質膜となる液体LAを塗布する。非多孔質膜となる液体LAは、ステップS2と同様である。続いて、非多孔質膜3となる液体LAを乾燥する。これにより、非多孔質膜3を形成する。非多孔質膜3となる液体LAを乾燥する方法は、上記ステップS4と同様である。なお、ステップS7を行うか否かは任意である。例えば、市販品など予め形成された非多孔質膜3を用いる場合、ステップS7を行わなくてもよい。   Subsequently, in step S7 shown in FIG. 8A, as shown in FIG. 8B, the non-porous membrane 3 is formed by applying the liquid LA to be the non-porous membrane to the substrate S and drying it. Form. First, a liquid LA that becomes a non-porous film is applied. The liquid LA that becomes the non-porous film is the same as in step S2. Subsequently, the liquid LA that becomes the non-porous film 3 is dried. Thereby, the non-porous film 3 is formed. The method for drying the liquid LA that becomes the non-porous membrane 3 is the same as in step S4. Whether or not step S7 is performed is arbitrary. For example, when using a non-porous membrane 3 formed in advance, such as a commercial product, step S7 need not be performed.

続いて、図8(A)に示すステップS8において、予め形成された非多孔質膜3を多孔質膜2の少なくとも一方の面に積層する。これにより、図7(B)に示す多孔質膜2の少なくとも一方の面に非多孔質膜3が積層された複合膜7を形成する。多孔質膜2と非多孔質膜3との積層の方法は、特に制限されない。例えば、多孔質膜2と非多孔質膜3との積層の方法は、圧着でもよいし、溶着でもよいし、焼結により積層する方法でもよいし、接着剤により接着する方法でもよい。この場合の接着剤は、上記した非多孔質膜となる液体LAを用いることができる。   Subsequently, in step S <b> 8 shown in FIG. 8A, the previously formed non-porous film 3 is laminated on at least one surface of the porous film 2. Thereby, the composite film 7 in which the non-porous film 3 is laminated on at least one surface of the porous film 2 shown in FIG. 7B is formed. The method for stacking the porous film 2 and the non-porous film 3 is not particularly limited. For example, the method of laminating the porous film 2 and the non-porous film 3 may be pressure bonding, welding, a method of laminating by sintering, or a method of adhering with an adhesive. As the adhesive in this case, the liquid LA that becomes the above-described non-porous film can be used.

続いて、図8(A)に示すように、上記したステップS6において、導電膜4を積層する。これにより、図6(C)に示す積層体1を得ることができる。   Subsequently, as shown in FIG. 8A, in step S6 described above, the conductive film 4 is laminated. Thereby, the laminated body 1 shown in FIG.6 (C) can be obtained.

なお、図8(A)に示すステップS7において、基材Sとして導電膜4を使用してもよい。これにより、図8(D)に示す非多孔質膜3の一方の面に導電膜4が積層された非多孔質膜3と導電膜4との複合体8が形成される。この場合、図8(A)に示すステップS6を省略することができ、積層体1の製造方法を簡便にすることができる。   Note that the conductive film 4 may be used as the base material S in step S7 shown in FIG. Thereby, the composite body 8 of the nonporous film 3 and the conductive film 4 in which the conductive film 4 is laminated on one surface of the nonporous film 3 shown in FIG. 8D is formed. In this case, step S6 shown in FIG. 8A can be omitted, and the method for manufacturing the laminate 1 can be simplified.

以上のように、本実施形態に係る積層体1、1Aは、伝送損失が少ないものである。また、本実施形態に係る積層体の製造方法は、伝送損失が少ない積層体1、1Aを好適に製造することができる。   As described above, the laminates 1 and 1A according to the present embodiment have low transmission loss. Moreover, the manufacturing method of the laminated body which concerns on this embodiment can manufacture suitably the laminated body 1 and 1A with few transmission losses.

[第2実施形態]
第2実施形態について説明する。本実施形態において、上述の実施形態と同様の構成については、同じ符号を付してその説明を省略あるいは簡略化する。
[Second Embodiment]
A second embodiment will be described. In the present embodiment, the same components as those in the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted or simplified.

図9(A)に示すように、本実施形態の積層体1Bは、多孔質膜2aと、非多孔質膜3と、を備える。多孔質膜2aは、空隙率が異なる複数の多孔質層(多孔質層9、多孔質層10)が積層されて形成される。多孔質膜2aが複数の多孔質層を有する場合、多様な機能(特性)を付与することができ、また、強度を向上させることができる。なお、多孔質膜2aは2層であるが、3層以上の多孔質層で形成されてもよい。   As shown in FIG. 9A, the laminate 1B of the present embodiment includes a porous film 2a and a non-porous film 3. The porous film 2a is formed by laminating a plurality of porous layers (porous layer 9 and porous layer 10) having different porosity. When the porous membrane 2a has a plurality of porous layers, various functions (characteristics) can be imparted and the strength can be improved. The porous film 2a has two layers, but may be formed of three or more porous layers.

多孔質層9は複数の空隙5aを有する。多孔質層10は複数の空隙5bを有する。例えば、空隙5aの内径は、空隙5bの内径より小さい。なお、空隙5aの内径は、空隙5bの内径より大きくてもよいし、空隙5aの内径は、空隙5bの内径と同様でもよい。空隙5aの形状及び空隙5bの形状は、球状または球状が連なった形状であり、空隙5と同様である。   The porous layer 9 has a plurality of voids 5a. The porous layer 10 has a plurality of voids 5b. For example, the inner diameter of the gap 5a is smaller than the inner diameter of the gap 5b. The inner diameter of the gap 5a may be larger than the inner diameter of the gap 5b, and the inner diameter of the gap 5a may be the same as the inner diameter of the gap 5b. The shape of the gap 5 a and the shape of the gap 5 b are spherical or a shape in which spherical shapes are continuous, and are the same as the gap 5.

多孔質層9の空隙率及び多孔質層10の空隙率は、それぞれ、例えば、45%以上80%以下である。多孔質層9の空隙率及び多孔質層10の空隙率が、それぞれ、上記範囲である場合、伝送損失がより低い積層体1Bを得ることができる。多孔質層9の空隙率は、多孔質層10の空隙率より高くてもよいし、多孔質層10の空隙率より低くてもよい。   The porosity of the porous layer 9 and the porosity of the porous layer 10 are, for example, 45% or more and 80% or less, respectively. When the porosity of the porous layer 9 and the porosity of the porous layer 10 are each in the above ranges, a laminate 1B having a lower transmission loss can be obtained. The porosity of the porous layer 9 may be higher than the porosity of the porous layer 10 or may be lower than the porosity of the porous layer 10.

多孔質層9の膜厚及び多孔質層10の膜厚は、特に制限されないが、それぞれ、1μm以上240μm以下であることが好ましい。多孔質層9の膜厚及び多孔質層10の膜厚が、それぞれ、上記範囲である場合、強度に優れ、加工時における、膜の伸び、皺、ピンホール、膜の破断を抑制することができ、且つ伝送損失が少ない積層体1を得ることができる。多孔質膜2aの膜厚については、第1実施形態の多孔質膜2と同様である。   The film thickness of the porous layer 9 and the film thickness of the porous layer 10 are not particularly limited, but are preferably 1 μm or more and 240 μm or less, respectively. When the film thickness of the porous layer 9 and the film thickness of the porous layer 10 are respectively in the above ranges, the film has excellent strength and can suppress film elongation, wrinkles, pinholes, and film breakage during processing. The laminate 1 can be obtained with little transmission loss. The film thickness of the porous film 2a is the same as that of the porous film 2 of the first embodiment.

多孔質層9及び多孔質層10の形成材料は、第1実施形態の多孔質膜2と同様である。本実施形態の例では、多孔質層9及び多孔質層10は、同一の材料により形成される。多孔質層9及び多孔質層10が同一の材料により形成される場合、多孔質層9と多孔質層10との間の接着性がより向上する。また、この場合、耐熱性を向上させることができ、且つ積層体1Bの材料の種類を少なくすることができるため、積層体1Bの製造を簡便にすることができる。なお、多孔質層9及び多孔質層10は、異なる材料で形成されてもよい。   The forming material of the porous layer 9 and the porous layer 10 is the same as that of the porous film 2 of the first embodiment. In the example of this embodiment, the porous layer 9 and the porous layer 10 are formed of the same material. When the porous layer 9 and the porous layer 10 are formed of the same material, the adhesion between the porous layer 9 and the porous layer 10 is further improved. Further, in this case, the heat resistance can be improved, and the type of the material of the laminated body 1B can be reduced, so that the production of the laminated body 1B can be simplified. Note that the porous layer 9 and the porous layer 10 may be formed of different materials.

多孔質膜2aの周波数1GHzにおける比誘電率は、例えば、2.0以下、好ましくは1.8以下、より好ましくは1.6以下である。また、多孔質膜2aの周波数10GHzにおける比誘電率は、例えば、2.0以下、好ましくは1.8以下、より好ましくは1.6以下である。多孔質膜2aの比誘電率が上記範囲である場合、伝送損失を、より低減することができる。   The relative dielectric constant of the porous film 2a at a frequency of 1 GHz is, for example, 2.0 or less, preferably 1.8 or less, and more preferably 1.6 or less. The relative dielectric constant of the porous film 2a at a frequency of 10 GHz is, for example, 2.0 or less, preferably 1.8 or less, more preferably 1.6 or less. When the relative dielectric constant of the porous film 2a is in the above range, the transmission loss can be further reduced.

導電膜4は、第1実施形態の同様である。導電膜4は、多孔質膜2aの少なくとも一方の面に積層される。導電膜4は、例えば、多孔質膜2aの上面(+Z側の面)に積層される。導電膜4は、例えば、多孔質膜2の上面に、非多孔質膜3を介して積層される。なお、導電膜4は、図9(B)に示すように、多孔質膜2aの両方の面(+Z側の面および−Z側の面)に積層されてもよい。   The conductive film 4 is the same as that of the first embodiment. The conductive film 4 is laminated on at least one surface of the porous film 2a. The conductive film 4 is laminated on, for example, the upper surface (the surface on the + Z side) of the porous film 2a. For example, the conductive film 4 is laminated on the upper surface of the porous film 2 via the non-porous film 3. As shown in FIG. 9B, the conductive film 4 may be laminated on both surfaces (the + Z side surface and the −Z side surface) of the porous film 2a.

非多孔質膜3は、第1実施形態と同様である。非多孔質膜3は、多孔質膜2aと導電膜4との間に配置される。導電膜4と非多孔質膜3との間は、例えば、平坦な面に形成される。この場合、導電膜4と非多孔質膜3との密着性がより向上する。非多孔質膜3は、例えば、多孔質膜2aの少なくとも一方の面に積層される。非多孔質膜3は、例えば、多孔質層9の上面に積層される。なお、非多孔質膜3は、多孔質層10に積層されてもよいし、図9(B)に示す積層体1Cのように、多孔質膜2aの両方の面に積層されてもよい。非多孔質膜3が多孔質膜2aの両方の面に積層される場合、導電膜4は多孔質膜2aの両方の面に設けられなくてもよく、例えば、多孔質膜2aの片方の面に設けられていてもよい。   The non-porous membrane 3 is the same as in the first embodiment. The non-porous film 3 is disposed between the porous film 2 a and the conductive film 4. For example, the conductive film 4 and the non-porous film 3 are formed on a flat surface. In this case, the adhesion between the conductive film 4 and the nonporous film 3 is further improved. The non-porous film 3 is laminated on at least one surface of the porous film 2a, for example. The non-porous film 3 is laminated on the upper surface of the porous layer 9, for example. The non-porous film 3 may be stacked on the porous layer 10 or may be stacked on both surfaces of the porous film 2a as in a stacked body 1C shown in FIG. 9B. When the non-porous film 3 is laminated on both surfaces of the porous film 2a, the conductive film 4 may not be provided on both surfaces of the porous film 2a. For example, one surface of the porous film 2a May be provided.

図10は、多孔質膜2aの製造方法の一例を示すフローチャートである。図11は、多孔質膜2aの製造方法を示す断面図である。例えば、多孔質膜2aの製造は、図10に示すように、上記したステップS11において、微粒子Bを含ませた上記樹脂(イミド系樹脂)の液体を基材S塗布して乾燥させることにより乾燥膜Dを形成する。この際、塗布液Lから乾燥膜Dを形成する乾燥は、例えば、溶剤を除去し乾燥膜Dを形成できればよい。例えば、ステップS11において説明したプリベーク及び焼成は後に行ってもよい。   FIG. 10 is a flowchart showing an example of a method for producing the porous membrane 2a. FIG. 11 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing the porous membrane 2a. For example, as shown in FIG. 10, the porous membrane 2a is manufactured by applying a liquid of the resin (imide-based resin) containing the fine particles B on the substrate S and drying it in step S11 described above. A film D is formed. At this time, the drying for forming the dry film D from the coating liquid L only needs to remove the solvent and form the dry film D, for example. For example, the pre-baking and baking described in step S11 may be performed later.

続いて、図10に示すステップS14において、図11(A)に示すように、微粒子Bを含ませた上記樹脂(イミド系樹脂)の液体LBを乾燥膜Dに塗布して乾燥させることにより、図11(B)に示す乾燥膜DAを形成する。これにより、乾燥膜Dに乾燥膜DAが積層される。乾燥膜DAを形成する際の乾燥は、例えば、上記したプリベーク及び焼成を行う。この場合、乾燥膜D及び乾燥膜DAのイミド化を一度に行うことができるため、製造を簡便にすることができる。   Subsequently, in step S14 shown in FIG. 10, as shown in FIG. 11A, by applying the liquid LB of the resin (imide resin) containing the fine particles B to the dry film D and drying, A dry film DA shown in FIG. 11B is formed. Thereby, the dry film DA is laminated on the dry film D. Drying when forming the dry film DA is performed, for example, by the above-described pre-baking and baking. In this case, since the imidization of the dry film D and the dry film DA can be performed at a time, the production can be simplified.

続いて、上記したステップS12において、微粒子Bを除去する。例えば、乾燥膜D及び乾燥膜DAを一度にフッ化水素水(HF)で処理する。これにより、乾燥膜D及び乾燥膜DAから微粒子Bが除去され、図9に示す多孔質膜2aを得ることができる。この場合、乾燥膜D及び乾燥膜DAから一度に微粒子Bの除去を行うことができるため、製造を簡便にすることができる。   Subsequently, in step S12 described above, the fine particles B are removed. For example, the dry film D and the dry film DA are treated with hydrogen fluoride water (HF) at a time. Thereby, the fine particles B are removed from the dry film D and the dry film DA, and the porous film 2a shown in FIG. 9 can be obtained. In this case, since the fine particles B can be removed from the dry film D and the dry film DA at once, the manufacturing can be simplified.

続いて、上記したステップS13において、エッチング処理を行う。これにより、多孔質膜2aの空隙率を高くすることができる。なお、ステップS13を行うか否かは任意である。   Subsequently, in the above-described step S13, an etching process is performed. Thereby, the porosity of the porous membrane 2a can be increased. Whether or not step S13 is performed is arbitrary.

以上のように、本実施形態の積層体1B、1Cは、強度が高く、多様な機能(特性)を備えることが可能である。   As described above, the laminates 1 </ b> B and 1 </ b> C of this embodiment have high strength and can have various functions (characteristics).

[第3実施形態]
第3実施形態について説明する。本実施形態において、上述の実施形態と同様の構成については、同じ符号を付してその説明を省略あるいは簡略化する。図12(A)は、第3実施形態に係る積層体の一例を示す図であり、図12(B)及び図12(C)は、第3実施形態に係る積層体の他の例を示す断面図である。
[Third Embodiment]
A third embodiment will be described. In the present embodiment, the same components as those in the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted or simplified. FIG. 12A is a diagram illustrating an example of a laminated body according to the third embodiment, and FIGS. 12B and 12C illustrate other examples of the laminated body according to the third embodiment. It is sectional drawing.

図12(A)に示すように、本実施形態の積層体1Dは、例えば、多孔質膜2と、導電膜4と、を備える。本実施形態の積層体1Dは、多孔質膜2と導電膜4とが直接積層される。多孔質膜2及び導電膜4は、第1実施形態と同様である。本実施形態の積層体1Dは、多孔質膜2を備えるため、伝送損失が少ないものである。   As shown in FIG. 12A, the stacked body 1D of the present embodiment includes, for example, a porous film 2 and a conductive film 4. In the laminate 1D of the present embodiment, the porous film 2 and the conductive film 4 are directly laminated. The porous film 2 and the conductive film 4 are the same as in the first embodiment. Since the laminated body 1D of the present embodiment includes the porous film 2, the transmission loss is small.

導電膜4は、多孔質膜2の少なくとも一方の面に積層される。導電膜4は、例えば、多孔質膜2の上側の面(+Z側の面)に積層される。なお、導電膜4は、図12(B)に示す積層体1Eのように、多孔質膜2の両面に積層されてもよい。また、導電膜4は、図12(C)に示す積層体1Fのように、空隙率が異なる複数の層を有する多孔質膜2aの少なくとも一方の面に積層されてもよい。   The conductive film 4 is laminated on at least one surface of the porous film 2. The conductive film 4 is laminated, for example, on the upper surface (+ Z side surface) of the porous film 2. In addition, the electrically conductive film 4 may be laminated | stacked on both surfaces of the porous film 2, like the laminated body 1E shown to FIG. 12 (B). In addition, the conductive film 4 may be stacked on at least one surface of the porous film 2a having a plurality of layers having different porosity, like a stacked body 1F shown in FIG.

多孔質膜2と導電膜4との積層の方法は、制限されない。例えば、多孔質膜2と導電膜4との積層の方法は、導電膜4に多孔質膜となる液体L(塗布液L)を塗布し、乾燥させることにより多孔質膜2と導電膜4とを積層してもよいし、別々に形成した多孔質膜2と導電膜4とを熱圧着等により積層してもよい。   The method for laminating the porous film 2 and the conductive film 4 is not limited. For example, in the method of laminating the porous film 2 and the conductive film 4, the liquid L (coating liquid L) that becomes a porous film is applied to the conductive film 4 and dried to dry the porous film 2 and the conductive film 4. Alternatively, the porous film 2 and the conductive film 4 formed separately may be laminated by thermocompression bonding or the like.

図13(A)は、積層体1Dの製造方法を示すフローチャートである。図13(B)は、積層体1Dの製造方法を示す断面図である。   FIG. 13A is a flowchart showing a method for manufacturing the stacked body 1D. FIG. 13B is a cross-sectional view illustrating the method for manufacturing the stacked body 1D.

積層体1Dの製造は、例えば、導電膜4に多孔質膜2を形成して、多孔質膜2と導電膜4とを積層する。この場合、図13(A)に示すステップS15において、微粒子Bを含ませた上記樹脂(イミド系樹脂)の液体L(塗布液L)を導電膜4に塗布して、乾燥させることにより乾燥膜Dを形成する。例えば、図13(B)に示すように、塗布液Lを導電膜4に塗布する。続いて、塗布液Lを塗布した導電膜4を、上記したステップS1と同様にプリベーク及び焼成を行うことにより、図13(C)に示す乾燥膜Dを形成する。これにより、導電膜4と乾燥膜Dとが積層される。   In the manufacture of the stacked body 1D, for example, the porous film 2 is formed on the conductive film 4, and the porous film 2 and the conductive film 4 are stacked. In this case, in step S15 shown in FIG. 13A, the liquid L (coating liquid L) of the resin (imide-based resin) containing the fine particles B is applied to the conductive film 4 and dried to dry the film. D is formed. For example, the coating liquid L is applied to the conductive film 4 as shown in FIG. Subsequently, the conductive film 4 to which the coating liquid L is applied is pre-baked and baked in the same manner as in step S1, thereby forming a dry film D shown in FIG. Thereby, the conductive film 4 and the dry film D are laminated.

続いて、図13(A)に示すように、上記したステップS12において、微粒子Bを除去して多孔質膜2を形成する。これにより、多孔質膜2と導電膜4とが積層され、図12(A)に示す積層体1Dが得られる。   Subsequently, as shown in FIG. 13A, in the above-described step S12, the fine particles B are removed to form the porous film 2. Thereby, the porous film 2 and the conductive film 4 are laminated, and a laminate 1D shown in FIG. 12A is obtained.

なお、図13(A)に示すステップS15及びステップS12のように、上記樹脂(イミド系樹脂)の液体を導電膜4に塗布し、その後、微粒子Bの除去を行う場合、微粒子Bの材料がシリカであり微粒子Bの溶解(除去)する際にHF溶液を用いると、導電膜4の材質によっては、HF溶液が導電膜4にダメージを及ぼす恐れがある。このようなHF溶液による導電膜4へのダメージを避ける手段として、例えば、導電膜4の形成材料をハステロイ(登録商標)等のHF溶液に対して耐蝕性を有する耐蝕合金を用いてもよい。また、例えば、微粒子Bの形成材料を高分子量オレフィン(ポリプロピレン,ポリエチレン等)、ポリスチレン、エポキシ樹脂、セルロース、ポリビニルアルコール、ポリビニルブチラール、ポリエステル、ポリメチルメタクリレート、ポリエーテル等の有機高分子を用い、加熱処理を行うことにより分解することで微粒子Bの除去を行うことで、HF溶液を用いずに微粒子Bを除去してもよい。この場合の加熱処理は、例えば、多孔質膜2がポリイミド系樹脂の場合、イミド化する際の加熱処理と兼ねていてもよい。また、ポリメチルメタクリレートから形成される微粒子Bを、172nmのUV光を照射することにより解重合した後、2−プロパノール等の溶媒で溶解してもよい。この場合、加熱処理なしで微粒子Bを除去することができるため、上記樹脂としては、焼成工程を任意工程にできるポリアミドイミド、ポリアミド、ポリフッ化ビニリデン、ポリスルホン、ポリアリールスルホン、及びポリエーテルスルホンからなる群のいずれか少なくとも1種を用いることが好ましい。   In addition, when the liquid of the said resin (imide resin) is apply | coated to the electrically conductive film 4, and fine particle B is removed after that like step S15 and step S12 shown to FIG. If an HF solution is used when silica (fine particles B) are dissolved (removed), the HF solution may damage the conductive film 4 depending on the material of the conductive film 4. As a means for avoiding such damage to the conductive film 4 by the HF solution, for example, a corrosion-resistant alloy having corrosion resistance to the HF solution such as Hastelloy (registered trademark) may be used as the material for forming the conductive film 4. Further, for example, the material for forming the fine particles B is heated using an organic polymer such as high molecular weight olefin (polypropylene, polyethylene, etc.), polystyrene, epoxy resin, cellulose, polyvinyl alcohol, polyvinyl butyral, polyester, polymethyl methacrylate, polyether, etc. The fine particles B may be removed without using the HF solution by removing the fine particles B by being decomposed by the treatment. In this case, for example, when the porous film 2 is a polyimide resin, the heat treatment may be combined with the heat treatment for imidization. Alternatively, the fine particles B formed from polymethyl methacrylate may be depolymerized by irradiating UV light of 172 nm and then dissolved in a solvent such as 2-propanol. In this case, since the fine particles B can be removed without heat treatment, the resin is composed of polyamideimide, polyamide, polyvinylidene fluoride, polysulfone, polyarylsulfone, and polyethersulfone that can be subjected to an optional baking step. It is preferable to use at least one member of the group.

続いて、ステップS13において、エッチング処理を行う。ステップS13は、上記の通りである。これにより、少なくとも多孔質膜2の空隙率を上昇させることができる。なお、ステップS13によりエッチング処理を行うか否かは任意であり、ステップS13は行わなくてもよい。   Subsequently, in step S13, an etching process is performed. Step S13 is as described above. Thereby, at least the porosity of the porous membrane 2 can be increased. Whether or not the etching process is performed in step S13 is arbitrary, and step S13 may not be performed.

以上のように、本実施形態の積層体1D、1E、1Fは、伝送損失が少ないものである。   As described above, the laminates 1D, 1E, and 1F of the present embodiment have a small transmission loss.

[第4実施形態]
第4実施形態について説明する。本実施形態において、上述の実施形態と同様の構成については、同じ符号を付してその説明を省略あるいは簡略化する。図14は、第4実施形態に係る配線基板12の一例を示す断面図である。
[Fourth Embodiment]
A fourth embodiment will be described. In the present embodiment, the same components as those in the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted or simplified. FIG. 14 is a cross-sectional view showing an example of a wiring board 12 according to the fourth embodiment.

本実施形態の配線基板12は、例えば、上記した積層体1の導電膜4の少なくとも一部に配線パターン13が形成される。配線基板12は、積層体1を有するため、伝送損失が少ないものである。配線パターン13のパターンは、特に制限されず、任意である。配線パターン13の形成方法は、特に制限されず、任意である。例えば、配線パターン13は、エッチング、機械加工等により形成される。   In the wiring substrate 12 of the present embodiment, for example, the wiring pattern 13 is formed on at least a part of the conductive film 4 of the laminate 1 described above. Since the wiring board 12 has the laminate 1, the transmission loss is small. The pattern of the wiring pattern 13 is not particularly limited and is arbitrary. The method for forming the wiring pattern 13 is not particularly limited and is arbitrary. For example, the wiring pattern 13 is formed by etching, machining, or the like.

なお、配線基板12は、積層体1に代えて、上記した積層体1A、1B、1C、1D、1E、1Fの導電膜4の少なくとも一部に配線パターン13が形成されたいずれのものを備えてもよい。また、配線基板12は、複数の積層体1、1A、1B、1C、1D、1E、1Fのいずれかを2つ以上の多層基板であってもよい。   The wiring board 12 includes any one in which the wiring pattern 13 is formed on at least a part of the conductive film 4 of the above-described laminated bodies 1A, 1B, 1C, 1D, 1E, and 1F instead of the laminated body 1. May be. Further, the wiring substrate 12 may be a multilayer substrate in which any one of the plurality of stacked bodies 1, 1A, 1B, 1C, 1D, 1E, and 1F is used.

以上のように、本実施形態の配線基板12は、伝送損失が少ないものである。   As described above, the wiring board 12 of this embodiment has a small transmission loss.

以下、実施例を示して本発明をさらに具体的に説明するが、本発明の範囲は、これらの実施例に限定されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be described more specifically with reference to examples. However, the scope of the present invention is not limited to these examples.

実施例では、以下に示すテトラカルボン酸二無水物、ジアミン、ポリアミドイミド、分散剤、有機溶剤、および微粒子を用いた。
・テトラカルボン酸二無水物:ピロメリット酸二無水物
・ジアミン:4,4’−ジアミノジフェニルエーテル
・分散剤:ポリオキシエチレン二級アルキルエーテル系分散剤
・シリカ:(平均粒径)300nm,700nm
In the examples, the following tetracarboxylic dianhydrides, diamines, polyamideimides, dispersants, organic solvents, and fine particles were used.
・ Tetracarboxylic dianhydride: pyromellitic dianhydride ・ Diamine: 4,4′-diaminodiphenyl ether ・ Dispersant: Polyoxyethylene secondary alkyl ether dispersant ・ Silica: (average particle size) 300 nm, 700 nm

<参考例1>
(多孔質膜の製造)
第1多孔質層と第2多孔質層とが積層された多孔質膜を下記方法により製造した。
<Reference Example 1>
(Manufacture of porous membrane)
A porous film in which the first porous layer and the second porous layer were laminated was manufactured by the following method.

[ワニスの調製−1]
(1)第一のワニス(第1多孔質層の調整液)
撹拌機、撹拌羽根、還流冷却機、窒素ガス導入管を備えたセパラブルフラスコに、テトラカルボン酸二無水物6.5gと、ジアミン6.7gと、N,N−ジメチルアセトアミド30gとを投入した。窒素ガス導入管よりフラスコ内に窒素を導入し、フラスコ内を窒素雰囲気とした。次いで、フラスコの内容物を撹拌しながら、50℃で20時間、テトラカルボン酸二無水物と、ジアミンとを反応させて、ポリアミド酸溶液を得た。得られたポリアミド酸溶液に、平均粒径が300nmのシリカを、75g添加し撹拌して、ポリアミド酸と微粒子との体積比を22:78(質量比は15:85)とした第一のワニスを調製した。なお、ワニス中における全有機溶剤の割合は70質量%となるように、かつ有機溶剤組成がN,N−ジメチルアセトアミド:ガンマブチロラクトン=90:10となるようにそれぞれ追加し、調整した。
[Preparation of Varnish-1]
(1) First varnish (adjustment liquid for the first porous layer)
In a separable flask equipped with a stirrer, a stirring blade, a reflux condenser, and a nitrogen gas inlet tube, 6.5 g of tetracarboxylic dianhydride, 6.7 g of diamine, and 30 g of N, N-dimethylacetamide were charged. . Nitrogen was introduced into the flask through a nitrogen gas introduction tube, and the atmosphere in the flask was changed to a nitrogen atmosphere. Next, while stirring the contents of the flask, tetracarboxylic dianhydride and diamine were reacted at 50 ° C. for 20 hours to obtain a polyamic acid solution. 75 g of silica having an average particle diameter of 300 nm was added to the obtained polyamic acid solution and stirred, so that the volume ratio of polyamic acid to fine particles was 22:78 (mass ratio was 15:85). Was prepared. In addition, it added and adjusted so that the ratio of the total organic solvent in a varnish might be set to 70 mass%, and an organic solvent composition might be set to N: N-dimethylacetamide: gamma butyrolactone = 90: 10.

(2)第二のワニス(第2多孔質層の調整液)
得られたポリアミド酸溶液に、平均粒径が700nmのシリカを53g添加するほかは、(1)と同様にしてポリアミド酸と微粒子との体積比を28:72(質量比は20:80)とした第二のワニスを調製した。
(2) Second varnish (adjustment liquid for the second porous layer)
The volume ratio of polyamic acid to fine particles was 28:72 (mass ratio was 20:80) in the same manner as (1) except that 53 g of silica having an average particle diameter of 700 nm was added to the obtained polyamic acid solution. A second varnish was prepared.

[前駆体フィルム(ポリイミド−微粒子複合膜)の成膜]
上記ワニスの調製−1で製造した第一のワニスを、剥離剤を塗布したガラス板(基材)にアプリケーターを用いて塗布し、乾燥させることにより成膜して乾燥膜を形成した。この層(厚さ、約1μm)が第1多孔質層を形成する。続いて、さらに、同じくワニスの調製−1で製造した第二のワニスを、第1多孔質層上にアプリケーターを用いて塗布し、乾燥させることにより成膜して乾燥膜を形成した。この層(厚さ、約24μm)が第2多孔質層を形成する。70℃で5分間プリベークして、図11(B)に示すような、膜厚25μmの未焼成複合膜を形成した。
[Formation of precursor film (polyimide-fine particle composite film)]
The first varnish produced in Preparation 1 of the varnish was applied to a glass plate (base material) coated with a release agent using an applicator and dried to form a dry film. This layer (thickness, about 1 μm) forms the first porous layer. Subsequently, the second varnish produced in the same manner as in Preparation of Varnish-1 was applied onto the first porous layer using an applicator and dried to form a dry film. This layer (thickness, about 24 μm) forms the second porous layer. Prebaked at 70 ° C. for 5 minutes to form an unfired composite film having a film thickness of 25 μm as shown in FIG.

基材から上記未焼成複合膜を剥離後、エタノールで剥離剤を除去し、320℃で15分間熱処理を施し、イミド化を完結させ前駆体フィルム(ポリイミド−微粒子複合膜)とした。   After peeling off the unfired composite film from the substrate, the release agent was removed with ethanol, and heat treatment was performed at 320 ° C. for 15 minutes to complete imidization to obtain a precursor film (polyimide-fine particle composite film).

[多孔質膜(多孔質ポリイミド膜)の形成]
上記前駆体フィルム(ポリイミド−微粒子複合膜)を、10%HF溶液中に10分間浸漬することで、膜中に含まれる微粒子を除去した。
[Formation of porous film (porous polyimide film)]
The precursor film (polyimide-fine particle composite film) was immersed in a 10% HF solution for 10 minutes to remove fine particles contained in the film.

[ケミカルエッチング]
テトラメチルアンモニウムヒドロキシド(TMAH)の2.38質量%水溶液をメタノール50質量%水溶液で1.04%となるように希釈して、アルカリ性のエッチング液を作成した。このエッチング液に、多孔質ポリイミド膜を浸漬してポリイミド表面の一部を除去し、図9に示す第1多孔質層と第2多孔質層とが積層された多孔質膜2aを製造した。
[Chemical etching]
A 2.38 mass% aqueous solution of tetramethylammonium hydroxide (TMAH) was diluted with a 50 mass% aqueous methanol solution to 1.04% to prepare an alkaline etching solution. A porous polyimide film was immersed in this etching solution to remove a part of the polyimide surface, and a porous film 2a in which the first porous layer and the second porous layer shown in FIG. 9 were laminated was manufactured.

(比誘電率の測定)
得られた多孔質膜の比誘電率を測定した。多孔質膜の比誘電率は、空洞共振器法装置(株式会社エーイーティー社製)を用い、空洞共振器振動法により、周波数1GHz及び10GHzにおいて、温度27度、湿度50%の条件において測定した。比誘電率の測定は5回行い、その平均値を算出し比誘電率とした。その結果を表1に示す。
(Measurement of relative permittivity)
The relative dielectric constant of the obtained porous film was measured. The relative dielectric constant of the porous film is measured by using a cavity resonator method apparatus (manufactured by AET Co., Ltd.) and by cavity resonator vibration method at frequencies of 1 GHz and 10 GHz at a temperature of 27 degrees and a humidity of 50%. did. The relative dielectric constant was measured five times, and the average value was calculated as the relative dielectric constant. The results are shown in Table 1.

<比較例1、比較例2>
(液晶ポリマー膜の比誘電率)
液晶ポリマー膜の比誘電率を比較例1として用いた。その比誘電率を表1に示す。
<Comparative Example 1 and Comparative Example 2>
(Relative permittivity of liquid crystal polymer film)
The relative dielectric constant of the liquid crystal polymer film was used as Comparative Example 1. The relative dielectric constant is shown in Table 1.

(非多孔質ポリイミド膜の比誘電率)
非多孔質ポリイミド膜の比誘電率を比較例2として用いた。その比誘電率を表1に示す。
(Relative permittivity of non-porous polyimide film)
The relative dielectric constant of the non-porous polyimide film was used as Comparative Example 2. The relative dielectric constant is shown in Table 1.

なお、比較例1及び比較例2として用いた比誘電率は、それぞれ、山一電機株式会社のウェブページ(http://www.yamaichi.co.jp/products/tabid/104/Default.aspx)に掲載されるカタログ値を用いた。   The relative dielectric constants used in Comparative Example 1 and Comparative Example 2 are the web pages of Yamaichi Electronics Co., Ltd. (http://www.yamaichi.co.jp/products/tabid/104/Default.aspx), respectively. The catalog value published in is used.

Figure 2017148986
Figure 2017148986

(結果)
表1に示すように、本発明の積層体に用いられる多孔質膜は、比誘電率が低いことが確認される。この結果から、本発明の積層体は、伝送損失が低いものであることが確認される。
(result)
As shown in Table 1, it is confirmed that the porous film used in the laminate of the present invention has a low relative dielectric constant. From this result, it is confirmed that the laminate of the present invention has a low transmission loss.

なお、本発明の技術範囲は、上述の実施形態などで説明した態様に限定されるものではない。上述の実施形態などで説明した要件の1つ以上は、省略されることがある。また、上述の実施形態などで説明した要件は、適宜組み合わせることができる。また、法令で許容される限りにおいて、上述の実施形態などで引用した全ての文献の開示を援用して本文の記載の一部とする。   The technical scope of the present invention is not limited to the aspects described in the above-described embodiments. One or more of the requirements described in the above embodiments and the like may be omitted. In addition, the requirements described in the above-described embodiments and the like can be combined as appropriate. In addition, as long as it is permitted by law, the disclosure of all documents cited in the above-described embodiments and the like is incorporated as a part of the description of the text.

1、1A〜1F・・・積層体、2・・・多孔質膜、3・・・非多孔質膜、4・・・導電膜、5、5a、5b・・・空隙、12・・・配線基板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1, 1A-1F ... Laminated body, 2 ... Porous film, 3 ... Non-porous film, 4 ... Conductive film 5, 5a, 5b ... Air gap, 12 ... Wiring substrate

Claims (16)

ポリアミド酸、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリアミド、ポリフッ化ビニリデン、ポリベンゾオキサゾール樹脂、ポリベンゾイミダゾール樹脂、ポリスルホン、ポリアリールスルホン、及びポリエーテルスルホンの少なくとも一つを含む樹脂により形成され、かつ、球状または球状が連なった形状の空隙を複数有する多孔質膜と、
前記多孔質膜の少なくとも一方の面に積層される導電膜と、を備える、配線基板用積層体。
Formed from a resin containing at least one of polyamic acid, polyimide, polyamideimide, polyamide, polyvinylidene fluoride, polybenzoxazole resin, polybenzimidazole resin, polysulfone, polyarylsulfone, and polyethersulfone, and spherical or spherical A porous membrane having a plurality of voids in a continuous shape,
And a conductive film laminated on at least one surface of the porous film.
前記多孔質膜と前記導電膜との間に非多孔質膜を備える、請求項1に記載の配線基板用積層体。   The laminate for a wiring board according to claim 1, comprising a non-porous film between the porous film and the conductive film. 前記導電膜と前記非多孔質膜との間は平坦な面に形成される、請求項2に記載の配線基板用積層体。   The laminate for a wiring board according to claim 2, wherein the laminate is formed on a flat surface between the conductive film and the non-porous film. 前記非多孔質膜は、前記多孔質膜の両方の面に積層される、請求項2または請求項3に記載の配線基板用積層体。   The laminate for a wiring board according to claim 2 or 3, wherein the non-porous film is laminated on both surfaces of the porous film. 前記非多孔質膜は、前記多孔質膜と前記導電膜とを接着する接着剤である、請求項2から請求項4のいずれか一項に記載の配線基板用積層体。   The wiring substrate laminate according to any one of claims 2 to 4, wherein the non-porous film is an adhesive that bonds the porous film and the conductive film. 前記非多孔質膜は、ポリアミド酸、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリアミド、ポリフッ化ビニリデン、ポリベンゾオキサゾール樹脂、ポリベンゾイミダゾール樹脂、ポリスルホン、ポリアリールスルホン、及びポリエーテルスルホンの少なくとも一つを含む樹脂により形成される、請求項2から請求項5のいずれか一項に記載の配線基板用積層体。   The non-porous film is formed of a resin containing at least one of polyamic acid, polyimide, polyamideimide, polyamide, polyvinylidene fluoride, polybenzoxazole resin, polybenzimidazole resin, polysulfone, polyarylsulfone, and polyethersulfone. The laminate for a wiring board according to any one of claims 2 to 5, wherein 前記多孔質膜と、前記非多孔質膜とは、同一の材料で形成される、請求項6に記載の配線基板用積層体。   The laminate for a wiring board according to claim 6, wherein the porous film and the non-porous film are formed of the same material. 前記多孔質膜は、空隙率が45%以上90%以下である、請求項1から請求項7のいずれか一項に記載の配線基板用積層体。   The laminate for a wiring board according to any one of claims 1 to 7, wherein the porous film has a porosity of 45% or more and 90% or less. 前記多孔質膜は、空隙率が異なる複数の層が積層されて形成される、請求項1から請求項8のいずれか一項に記載の配線基板用積層体。   The laminate for a wiring board according to any one of claims 1 to 8, wherein the porous film is formed by laminating a plurality of layers having different porosity. 前記導電膜は、前記多孔質膜の両面に形成される、請求項1から請求項9のいずれか一項に記載の配線基板用積層体。   The laminate for a wiring board according to any one of claims 1 to 9, wherein the conductive film is formed on both surfaces of the porous film. 請求項1から請求項10のいずれか一項に記載の配線基板用積層体の前記導電膜の少なくとも一部に配線パターンが形成される、配線基板。   The wiring board by which a wiring pattern is formed in at least one part of the said electrically conductive film of the laminated body for wiring boards as described in any one of Claims 1-10. ポリアミド酸、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリアミド、ポリフッ化ビニリデン、ポリベンゾオキサゾール樹脂、ポリベンゾイミダゾール樹脂、ポリスルホン、ポリアリールスルホン、及びポリエーテルスルホンの少なくとも一つを含む樹脂により多孔質膜を形成することと、
前記多孔質膜の少なくとも一方の面に導電膜を積層することと、を含む、配線基板用積層体の製造方法。
Forming a porous membrane from a resin containing at least one of polyamic acid, polyimide, polyamideimide, polyamide, polyvinylidene fluoride, polybenzoxazole resin, polybenzimidazole resin, polysulfone, polyarylsulfone, and polyethersulfone; ,
And laminating a conductive film on at least one surface of the porous film.
前記多孔質膜の少なくとも一方の面に非多孔質膜となる液体を塗布した後、前記導電膜を貼付して前記非多孔質膜を乾燥させることにより、前記導電膜を前記多孔質膜に接着する、請求項12に記載の配線基板用積層体の製造方法。   After applying a liquid which becomes a non-porous film on at least one surface of the porous film, the conductive film is adhered to the porous film by attaching the conductive film and drying the non-porous film. The manufacturing method of the laminated body for wiring boards of Claim 12. 前記多孔質膜は、微粒子を含ませた前記樹脂の液体を基材に塗布して乾燥させることにより乾燥膜を形成することと、
前記乾燥膜から前記微粒子を除去して多孔質とすることと、を含む、請求項12または請求項13に記載の配線基板用積層体の製造方法。
The porous film forms a dry film by applying a liquid of the resin containing fine particles to a substrate and drying it;
The method for producing a laminate for a wiring board according to claim 12, comprising removing the fine particles from the dry film to make it porous.
前記基材は、予め形成された前記導電膜が用いられる、請求項14に記載の配線基板用積層体の製造方法。   The method for manufacturing a laminate for a wiring board according to claim 14, wherein the conductive film formed in advance is used as the base material. 前記導電膜を前記多孔質膜に積層した後に、前記微粒子の除去を行う、請求項14または請求項15に記載の配線基板用積層体の製造方法。
The method for manufacturing a laminate for a wiring board according to claim 14, wherein the fine particles are removed after the conductive film is laminated on the porous film.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019010740A (en) * 2017-06-29 2019-01-24 富士ゼロックス株式会社 Polyimide laminated membrane, and method for producing polyimide laminated membrane
US20190239350A1 (en) * 2018-01-31 2019-08-01 Fuji Xerox Co., Ltd. Porous polyimide shaped article
JP2020053632A (en) * 2018-09-28 2020-04-02 日東電工株式会社 Low-dielectric substrate material
WO2023145359A1 (en) * 2022-01-25 2023-08-03 東京応化工業株式会社 Laminate and method for manufacturing laminate

Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08290478A (en) * 1995-04-18 1996-11-05 W R Grace & Co Production of resin molded article having fine recess on itssurface
JP2000319442A (en) * 1999-05-13 2000-11-21 Ube Ind Ltd Porous insulation material and laminate thereof
JP2002185093A (en) * 2000-12-14 2002-06-28 Nitto Denko Corp Laminate for both sided wiring board and both-sided wiring board
JP2003200525A (en) * 2002-01-10 2003-07-15 Nitto Denko Corp Metal foil laminate and method for manufacturing the same
JP2003201362A (en) * 2002-01-09 2003-07-18 Hitachi Ltd Porous polyimide film and porous polyimide film circuit board
JP2003201363A (en) * 2002-01-09 2003-07-18 Hitachi Ltd Porous polyimide film, wiring board using the same, its manufacturing method and its use
JP2004082372A (en) * 2002-08-23 2004-03-18 Nitto Denko Corp Insulating material for high frequency wiring board and high frequency wiring board
JP2007154028A (en) * 2005-12-05 2007-06-21 Toyobo Co Ltd Porous film and flexible print circuit plate using the same
JP2009073124A (en) * 2007-09-21 2009-04-09 Daicel Chem Ind Ltd Laminate having porous layer and method for manufacturing the same, and porous film and method for manufacturing the same
JP2013213198A (en) * 2012-03-09 2013-10-17 Nitto Denko Corp Porous resin sheet and method for manufacturing the same
JP2014017464A (en) * 2012-06-14 2014-01-30 Fujifilm Corp Laminate for printed circuit board
JP2014231533A (en) * 2011-02-03 2014-12-11 日東電工株式会社 Porous resin molded body, porous body substrate and production method thereof
WO2015182696A1 (en) * 2014-05-29 2015-12-03 住友電気工業株式会社 Fluororesin base material and flexible printed circuit board
WO2015194546A1 (en) * 2014-06-20 2015-12-23 東京応化工業株式会社 Porous imide resin film production system, separator, and porous imide resin film production method

Patent Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08290478A (en) * 1995-04-18 1996-11-05 W R Grace & Co Production of resin molded article having fine recess on itssurface
JP2000319442A (en) * 1999-05-13 2000-11-21 Ube Ind Ltd Porous insulation material and laminate thereof
JP2002185093A (en) * 2000-12-14 2002-06-28 Nitto Denko Corp Laminate for both sided wiring board and both-sided wiring board
JP2003201362A (en) * 2002-01-09 2003-07-18 Hitachi Ltd Porous polyimide film and porous polyimide film circuit board
JP2003201363A (en) * 2002-01-09 2003-07-18 Hitachi Ltd Porous polyimide film, wiring board using the same, its manufacturing method and its use
JP2003200525A (en) * 2002-01-10 2003-07-15 Nitto Denko Corp Metal foil laminate and method for manufacturing the same
JP2004082372A (en) * 2002-08-23 2004-03-18 Nitto Denko Corp Insulating material for high frequency wiring board and high frequency wiring board
JP2007154028A (en) * 2005-12-05 2007-06-21 Toyobo Co Ltd Porous film and flexible print circuit plate using the same
JP2009073124A (en) * 2007-09-21 2009-04-09 Daicel Chem Ind Ltd Laminate having porous layer and method for manufacturing the same, and porous film and method for manufacturing the same
JP2014231533A (en) * 2011-02-03 2014-12-11 日東電工株式会社 Porous resin molded body, porous body substrate and production method thereof
JP2013213198A (en) * 2012-03-09 2013-10-17 Nitto Denko Corp Porous resin sheet and method for manufacturing the same
JP2014017464A (en) * 2012-06-14 2014-01-30 Fujifilm Corp Laminate for printed circuit board
WO2015182696A1 (en) * 2014-05-29 2015-12-03 住友電気工業株式会社 Fluororesin base material and flexible printed circuit board
WO2015194546A1 (en) * 2014-06-20 2015-12-23 東京応化工業株式会社 Porous imide resin film production system, separator, and porous imide resin film production method

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019010740A (en) * 2017-06-29 2019-01-24 富士ゼロックス株式会社 Polyimide laminated membrane, and method for producing polyimide laminated membrane
US11179914B2 (en) 2017-06-29 2021-11-23 Fujifilm Business Innovation Corp. Polyimide laminated film and method of preparing polyimide laminated film
JP7024225B2 (en) 2017-06-29 2022-02-24 富士フイルムビジネスイノベーション株式会社 Polyimide laminated film and method for manufacturing polyimide laminated film
US20190239350A1 (en) * 2018-01-31 2019-08-01 Fuji Xerox Co., Ltd. Porous polyimide shaped article
US10542623B2 (en) 2018-01-31 2020-01-21 Fuji Xerox Co., Ltd. Porous polyimide shaped article
JP2020053632A (en) * 2018-09-28 2020-04-02 日東電工株式会社 Low-dielectric substrate material
WO2020066145A1 (en) * 2018-09-28 2020-04-02 日東電工株式会社 Low dielectric substrate material
JP7178852B2 (en) 2018-09-28 2022-11-28 日東電工株式会社 Low dielectric substrate material
WO2023145359A1 (en) * 2022-01-25 2023-08-03 東京応化工業株式会社 Laminate and method for manufacturing laminate

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