JP2017146417A - 対策別改善率推定装置、対策別改善率推定方法及び対策別改善率推定プログラム - Google Patents

対策別改善率推定装置、対策別改善率推定方法及び対策別改善率推定プログラム Download PDF

Info

Publication number
JP2017146417A
JP2017146417A JP2016027198A JP2016027198A JP2017146417A JP 2017146417 A JP2017146417 A JP 2017146417A JP 2016027198 A JP2016027198 A JP 2016027198A JP 2016027198 A JP2016027198 A JP 2016027198A JP 2017146417 A JP2017146417 A JP 2017146417A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
countermeasure
improvement rate
period
distribution
measure
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016027198A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6433444B2 (ja
Inventor
友也 藤野
Tomoya Fujino
友也 藤野
謙一郎 水谷
Kenichiro Mizutani
謙一郎 水谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Mitsubishi Electric Building Solutions Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Mitsubishi Electric Building Techno Service Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp, Mitsubishi Electric Building Techno Service Co Ltd filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2016027198A priority Critical patent/JP6433444B2/ja
Publication of JP2017146417A publication Critical patent/JP2017146417A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6433444B2 publication Critical patent/JP6433444B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)

Abstract

【課題】被対策対象に対策が実施される事例数が少ない場合でも、被対策対象が有している能力の改善率を高精度に推定することができるようにする。【解決手段】改善率集計部5により対策別に集計された能力改善率を用いて、各々の対策間の各期間における能力改善率の推移の類似度を評価して、能力改善率の推移が類似している対策を同一のグループに分類する対策分類部9と、1つ以上の対策を含んでいるグループ別に、当該グループに属する各対策の各期間における能力改善率から、当該グループの各期間における能力改善率の分布を推定する分布推定部11とを設ける。【選択図】図1

Description

この発明は、被対策対象に何らかの対策が施されたときに、被対策対象が有している能力が改善される確率を推定する対策別改善率推定装置、対策別改善率推定方法及び対策別改善率推定プログラムに関するものである。
被対策対象に何らかの対策が施されたときに、被対策対象が有している能力が改善される確率を把握することは、様々な目的を達成する上で重要である。
例えば、ビルに設置されている昇降機などの機器の保守点検を業務とする企業等では、所属する保守作業員に対して、保守技術の向上や、安全意識の向上を図る研修が一般に行われる。それぞれの研修での教育効果を把握することは、教育計画の立案支援に繋がり、全体としての技術水準の向上をもたらすものとなる。
この場合、保守作業員が被対策対象、保守作業員が有している保守技術や安全意識が、被対策対象が有している能力、研修が対策に対応する。
以下の特許文献1には、アンケート実施部が、研修終了から一定の評価期間が経過した後、当該研修の受講者の上司に対して、当該受講者の評価に関するアンケートを実施し、研修効果測定部が、上司からのアンケートの回答に基づいて、各受講者の実際の業務における当該研修受講後の変化を集計することで、当該研修の効果を測定している教育支援装置が開示されている。
特開2014−21813号公報(例えば、段落[0008]、図1)
特許文献1に開示されている教育支援装置では、研修の効果を測定することができるが、研修の受講者の数が少ない場合、即ち、研修が実施された事例数が少ない場合、研修効果の測定精度が劣化してしまうという課題があった。
この発明は上記のような課題を解決するためになされたもので、被対策対象に対策が実施される事例数が少ない場合でも、被対策対象が有している能力の改善率を高精度に推定することができる対策別改善率推定装置、対策別改善率推定方法及び対策別改善率推定プログラムを得ることを目的とする。
この発明に係る対策別改善率推定装置は、被対策対象が有している能力を改善する対策別に、被対策対象に対策が実施される前の各期間及び対策が実施された後の各期間における能力の改善率を集計する改善率集計部と、改善率集計部により対策別に集計された能力改善率を用いて、各々の対策間の各期間における能力改善率の推移の類似度を評価して、能力改善率の推移が類似している対策を同一のグループに分類する対策分類部と、1つ以上の対策を含んでいるグループ別に、当該グループに属する各対策の各期間における能力改善率から、当該グループの各期間における能力改善率の分布を推定する分布推定部と、分布推定部によりグループ別に推定された各期間における能力改善率の分布を用いて、当該グループに属する各対策の各期間における能力改善率の分布を補正する分布補正部とを設け、改善率推定部が、分布補正部により補正された能力改善率の分布を用いて、各対策の各期間における能力改善率を推定するようにしたものである。
この発明によれば、改善率集計部により対策別に集計された能力改善率を用いて、各々の対策間の各期間における能力改善率の推移の類似度を評価して、能力改善率の推移が類似している対策を同一のグループに分類する対策分類部と、1つ以上の対策を含んでいるグループ別に、当該グループに属する各対策の各期間における能力改善率から、当該グループの各期間における能力改善率の分布を推定する分布推定部と、分布推定部によりグループ別に推定された各期間における能力改善率の分布を用いて、当該グループに属する各対策の各期間における能力改善率の分布を補正する分布補正部とを設けるように構成したので、被対策対象に対策が実施される事例数が少ない場合でも、被対策対象が有している能力の改善率を高精度に推定することができる効果を奏する。
この発明の実施の形態1による対策別改善率推定装置を示す構成図である。 この発明の実施の形態1による対策別改善率推定装置のハードウェア構成図である。 被対策対象DB2の記録項目を示す説明図である。 対策履歴DB3の記録項目を示す説明図である。 改善評価DB4の記録項目を示す説明図である。 対策別時期別能力改善率DB6の記録項目を示す説明図である。 少サンプル事例バッファ8の記録項目を示す説明図である。 対策分類バッファ10の記録項目を示す説明図である。 分類別能力改善率分布バッファ12の記録項目を示す説明図である。 対策別改善率情報15に含まれる情報の項目を示す説明図である。 対策別改善率推定装置がコンピュータで構成される場合のハードウェア構成図である。 この発明の実施の形態1による対策別改善率推定方法を示すフローチャートである。 評価対象モデルの一例を示す説明図である。 図13の評価対象モデルに対応する被対策対象DB2の記録内容を示す説明図である。 図13の評価対象モデルに対応する対策履歴DB3の記録内容を示す説明図である。 図13の評価対象モデルに対応する改善評価DB4の記録内容を示す説明図である。 改善率集計部5の処理内容を示すフローチャートである。 図13の評価対象モデルに対応する対策別時期別能力改善率DB6の記録内容を示す説明図である。 少サンプル事例抽出部7の処理内容をフローチャートである。 少サンプル事例バッファ8の記録内容を示す説明図である。 対策分類部9の処理内容をフローチャートである。 対策a,bにおける対策後期間と能力改善率及び信頼区間の関係を示す説明図である。 2つの対策a,bの各対策後期間における信頼区間及び重複範囲幅を示す説明図である。 対策分類バッファ10の記録内容を示す説明図である。 分布推定部11の処理内容をフローチャートである。 ブートストラップ法を用いる能力改善率の分布推定処理を示す説明図である。 分類別能力改善率分布バッファ12の記録内容を示す説明図である。 分布補正部13の処理内容をフローチャートである。 =2、Q=1の場合でのdの値に応じた確率密度の分布を示す説明図である。 =3、Q=1の場合でのdの値に応じた確率密度の分布を示す説明図である。 改善率推定部14の処理内容をフローチャートである。
以下、この発明をより詳細に説明するために、この発明を実施するための形態について、添付の図面にしたがって説明する。
実施の形態1.
この実施の形態1では、対策を施すことで能力を高める被対策対象として、例えば、機器の保守点検を業務とする企業等に所属する保守作業員や、事業を海外に展開している企業等に所属する営業部員などを想定する。
例えば、被対策対象が保守作業員である場合、被対策対象に施される対策としては、保守作業員が有している保守技術や安全意識などの能力を高める目的で開催される研修や、実際の現場や研修所での実習などを想定する。
また、被対策対象が営業部員である場合、被対策対象に施される対策としては、営業部員が有している外語学の会話能力や筆記能力などの能力を高める目的で開催される語学研修などを想定する。
ただし、対策が施されることで能力が高められるものであれば、被対策対象が保守作業員や営業部員に限るものではない。
また、被対策対象は人間に限るものではなく、人間以外の動物でもよいし、機械でもよい。
例えば、被対策対象となる機械としては、物体の重量や長さなどを測定する計量装置や、学習能力を有するロボットなどが考えられる。計量装置の場合、対策として校正を行えば、測定誤差が小さくなるため、計量装置の測定能力が高められる。また、ロボットの場合、対策として、或る事象に対する適正な関節の動きを教えれば、次回から、或る事象に対する動きが適正なものになるため、ロボットの動作能力が高められる。
図1はこの発明の実施の形態1による対策別改善率推定装置を示す構成図であり、図2はこの発明の実施の形態1による対策別改善率推定装置のハードウェア構成図である。
図1及び図2において、データベース1は例えばRAM(Random Access Memory)やハードディスクなどの記憶装置21で実現されるものであり、被対策対象データベース(以下、「被対策対象DB」と称する)2、対策履歴データベース(以下、「対策履歴DB」と称する)3及び改善評価データベース(以下、「改善評価DB」と称する)4を備えている。
被対策対象DB2は被対策対象を識別する対象ID(identification)と基準日時を記録しているデータベースである。
図3は被対策対象DB2の記録項目を示す説明図である。
対象IDは被対策対象を識別することができれば、どのようなIDでもよいが、例えば、被対策対象が5つ存在していれば、各々の被対策対象に対して、T001,T002,T003,T004,T005などのIDが用いられる。基準日時の詳細については後述する。
対策履歴DB3は過去に対策が実施された事例を識別する対策事例IDと、実施された対策を識別する対策IDと、対策が実施された被対策対象を識別する対象IDと、対策が実施された日時である対策実施日時とを記録しているデータベースである。
図4は対策履歴DB3の記録項目を示す説明図である。
改善評価DB4は実施された対策を識別する対策IDと、外部装置により被対策対象の能力の改善度が評価された日時である評価日時と、被対策対象の能力改善度Lvとを記録しているデータベースである。
能力改善度Lvは、図1の対策別改善率推定装置により推定される能力改善率と同様に、被対策対象の能力が改善している割合を示すものであるが、外部装置により評価されたものであり、図1の対策別改善率推定装置により推定される能力改善率と区別するため、能力改善度という表現を用いている。
図5は改善評価DB4の記録項目を示す説明図である。
改善率集計部5は例えばCPU(Central Processing Unit)を実装している半導体集積回路あるいはワンチップマイコンなどから構成されている改善率集計回路22で実現されるものである。改善率集計部5は、データベース1から、被対策対象が有している能力を改善する対策別に、被対策対象に対策が実施される前の各期間である対策前期間と、対策が実施された後の各期間である対策後期間との組み合わせ毎に、能力の改善率を集計する処理を実施する。
対策別時期別能力改善率データベース(以下、「対策別時期別能力改善率DB」と称する)6は例えば記憶装置21で実現されるものであり、改善率集計部5により対策別に集計された能力改善率などを記録するデータベースである。
図6は対策別時期別能力改善率DB6の記録項目を示す説明図である。
図6の例では、対策ID、対策前期間及び対策後期間が同じ対策事例の数であるサンプル数も対策別時期別能力改善率DB6に記録されている。詳細は後述するが、改善率集計部5によって、そのサンプル数と、それらの対策事例の中で能力改善度Lvが改善している事例の数との比率から能力改善率が算出されて、その能力改善率が対策別時期別能力改善率DB6に記録されている。
少サンプル事例抽出部7は例えばCPUを実装している半導体集積回路あるいはワンチップマイコンなどから構成されている少サンプル事例抽出回路23で実現されるものである。少サンプル事例抽出部7は事前に閾値が設定されており、対策別時期別能力改善率DB6の中から、サンプル数が閾値未満の事例、即ち、サンプル数が閾値未満の対策ID、対策前期間、対策後期間、能力改善率及びサンプル数の組を少サンプル事例として抽出する処理を実施する。
少サンプル事例バッファ8は例えば記憶装置21で実現されるものであり、少サンプル事例抽出部7により抽出された少サンプル事例の対策ID、対策前期間、対策後期間、能力改善率及びサンプル数を記憶する。
図7は少サンプル事例バッファ8の記録項目を示す説明図である。
少サンプル事例バッファ8の記録項目は、対策別時期別能力改善率DB6の記録項目と同じである。
対策分類部9は例えばCPUを実装している半導体集積回路あるいはワンチップマイコンなどから構成されている対策分類処理回路24で実現されるものである。対策分類部9は少サンプル事例バッファ8に記録されている対策ID別の能力改善率を用いて、各々の対策間の各対策後期間における能力改善率の推移の類似度を評価して、その能力改善率の推移が類似している対策を同一のグループに分類する処理を実施する。
対策分類バッファ10は例えば記憶装置21で実現されるものであり、対策分類部9により分類されたグループを識別する分類IDと、当該グループに分類された対策を識別する対策IDと、その対策に対応している対策前期間とを記憶する。
図8は対策分類バッファ10の記録項目を示す説明図である。
分布推定部11は例えばCPUを実装している半導体集積回路あるいはワンチップマイコンなどから構成されている分布推定処理回路25で実現されるものである。分布推定部11は1つ以上の対策を含んでいるグループ別に、当該グループに属する各対策の対策前期間毎に、各対策後期間の能力改善率から、当該グループの各対策後期間における能力改善率の分布を推定する処理を実施する。
分類別能力改善率分布バッファ12は例えば記憶装置21で実現されるものであり、対策分類部9により分類されたグループ別に、当該グループを識別する分類IDを記憶するとともに、分布推定部11により推定された能力改善率の分布を示すデータ項目として、能力改善率の分布に対応している対策前期間及び対策後期間と、能力改善率の区間である能力改善率の下限及び上限と、その区間に属する能力改善率である確率密度とを記憶する。
図9は分類別能力改善率分布バッファ12の記録項目を示す説明図である。
分布補正部13は例えばCPUを実装している半導体集積回路あるいはワンチップマイコンなどから構成されている分布補正処理回路26で実現されるものである。分布補正部13は分類別能力改善率分布バッファ12に記憶されているグループ別の各対策前期間及び対策後期間における能力改善率の分布を用いて、当該グループに属する各対策の各対策前期間及び対策後期間における能力改善率の分布を補正する処理を実施する。
改善率推定部14は例えばCPUを実装している半導体集積回路あるいはワンチップマイコンなどから構成されている改善率推定処理回路27で実現されるものである。改善率推定部14は分布補正部13により補正された能力改善率の分布を用いて、各対策の各対策前期間及び対策後期間における能力改善率を推定する処理を実施する。
対策別改善率情報15は改善率推定部14により推定された対策別の対策前期間及び対策後期間における能力改善率を示す情報である。
図10は対策別改善率情報15に含まれる情報の項目を示す説明図である。
図1では、対策別改善率推定装置の構成要素であるデータベース1、改善率集計部5、対策別時期別能力改善率DB6、少サンプル事例抽出部7、少サンプル事例バッファ8、対策分類部9、対策分類バッファ10、分布推定部11、分類別能力改善率分布バッファ12、分布補正部13及び改善率推定部14のそれぞれが専用のハードウェアで構成されているものを想定しているが、対策別改善率推定装置がコンピュータで構成されていてもよい。
図11は対策別改善率推定装置がコンピュータで構成される場合のハードウェア構成図である。
対策別改善率推定装置がコンピュータで構成される場合、データベース1に対するインタフェース機器であるDB入出力インタフェース33と、対策別改善率情報15を外部に出力するためのインタフェース機器である情報出力インタフェース34とを備えるコンピュータのメモリ31上に、対策別時期別能力改善率DB6、少サンプル事例バッファ8、対策分類バッファ10及び分類別能力改善率分布バッファ12を構成するとともに、改善率集計部5、少サンプル事例抽出部7、対策分類部9、分布推定部11、分布補正部13及び改善率推定部14の処理手順、即ち、改善率集計処理手順、少サンプル事例抽出手順、対策分類処理手順、分布推定処理手順、分布補正処理手順及び改善率推定処理手順を記述している対策別改善率推定プログラムをメモリ31に格納し、コンピュータのプロセッサ32がメモリ31に格納されている対策別改善率推定プログラムを実行するようにすればよい。
図12はこの発明の実施の形態1による対策別改善率推定方法を示すフローチャートである。
次に動作について説明する。
図13は評価対象モデルの一例を示す説明図である。
図13の例では、対象IDがT001,T002,T003,T004,T005である5種類の被対策対象の各期間における能力改善度Lvを示している。
即ち、図13の評価対象モデルでは、5種類の被対策対象[T001]〜[T005]に対して、第1〜第6期間までの能力改善度Lvの履歴が存在している。
能力改善度Lvは、外部装置によって任意の日時に評価されるものであるが、ここでは、説明の簡単化のために、期間毎にまとめて表記している。
この実施の形態1では、能力改善度Lvが1(=LV.1)から2(=LV.2)に向上している被対策対象[T001]〜[T005]に着目し、被対策対象[T001]〜[T005]の能力改善度Lvを3に高める目的で、対策ID=[M01]の対策aが施された場合の能力改善率の推定について説明する。
まず、能力改善度Lvが1(=LV.1)から2(=LV.2)に向上している日時を基準日時とする。
例えば、被対策対象[T001]の場合、第1期間から第2期間へ移行する時点で能力改善度Lvが1(=LV.1)から2(=LV.2)に向上しているため、第2期間の開始日時を基準日時としている。
同様に、被対策対象[T002]の場合、第2期間から第3期間へ移行する時点で能力改善度Lvが1(=LV.1)から2(=LV.2)に向上しているため、第3期間の開始日時を基準日時としている。
被対策対象[T003]〜[T005]での基準日時も同様である。
図14は図13の評価対象モデルに対応する被対策対象DB2の記録内容を示す説明図である。
被対策対象DB2には、例えば、被対策対象[T001]の基準日時として、第2期間の開始日時が記録され、被対策対象[T002]の基準日時として、第3期間の開始日時が記録されている。
図15は図13の評価対象モデルに対応する対策履歴DB3の記録内容を示す説明図である。
図13の評価対象モデルでは、被対策対象[T001]〜[T005]に対して、対策ID=[M01]の対策aが実施されている。例えば、被対策対象[T001]には第2期間で対策aが実施され、被対策対象[T002]には第4期間で対策aが実施されている。
このため、対策履歴DB3には、対策aを識別する対策ID=[M01]と、対策aが実施された被対策対象を識別する対象IDと、対策aが実施された日時である期間とが、対策が実施された事例を識別する対策事例IDと一緒に記録されている。
図16は図13の評価対象モデルに対応する改善評価DB4の記録内容を示す説明図である。
被対策対象[T001]〜[T005]における第1〜第6期間での能力改善度Lvを記録している。
図16では、図面の簡単化のため、被対策対象[T001]における第1〜第6期間での能力改善度Lvと、被対策対象[T002]における第1〜第4期間での能力改善度Lvを代表的に記述している。
改善率集計部5は、データベース1から、被対策対象が有している能力を改善する対策別に、被対策対象に対策が実施される前の各期間である対策前期間と、対策が実施された後の各期間である対策後期間との組み合わせ毎に、能力改善率を集計する(図12のステップST1)。
以下、改善率集計部5の処理内容を具体的に説明する。
図17は改善率集計部5の処理内容を示すフローチャートである。
改善率集計部5は、図14の被対策対象DB2を参照して、被対策対象[T001]〜[T005]の基準日時を確認するとともに、図15の対策履歴DB3を参照して、対策事例毎に、被対策対象[T001]〜[T005]に対する対策実施日時を確認する(図17のステップST11)。
改善率集計部5は、被対策対象[T001]〜[T005]の基準日時と対策実施日時を確認すると、基準日時から対策実施日時までの期間を対策前期間として、対策IDと対策前期間が同じ対策事例の数をサンプル数として集計する(ステップST12)。
図13の評価対象モデルの場合、被対策対象[T001]は、基準日時が第2期間の開始日時で、対策ID=[M01]の対策aの実施日時が第2期間であるため、対策前期間が“1”である。
被対策対象[T002]は、基準日時が第3期間の開始日時で、対策ID=[M01]の対策aの実施日時が第4期間であるため、対策前期間が“2”である。
被対策対象[T003]は、基準日時が第2期間の開始日時で、対策ID=[M01]の対策aの実施日時が第4期間であるため、対策前期間が“3”である。
被対策対象[T004]は、基準日時が第3期間の開始日時で、対策ID=[M01]の対策aの実施日時が第3期間であるため、対策前期間が“1”である。
被対策対象[T005]は、基準日時が第2期間の開始日時で、対策ID=[M01]の対策aの実施日時が第4期間であるため、対策前期間が“3”である。
したがって、対策IDが[M01]で、かつ、対策前期間が“1”のサンプル数は2つ、対策IDが[M01]で、かつ、対策前期間が“2”のサンプル数は1つ、対策IDが[M01]で、かつ、対策前期間が“3”のサンプル数は2つである。
次に、改善率集計部5は、図16の改善評価DB4を参照して、被対策対象別に、被対策対象[T001]〜[T005]の能力改善度Lvが2から3に向上している評価日時を特定するとともに、図15の対策履歴DB3を参照して、当該被対策対象の対策実施日時を特定し、その対策実施日時から評価日時までの期間を対策後期間として確認する(図17のステップST13)。
次に、改善率集計部5は、対策IDと対策前期間が同じ対策事例のサンプル数に対して、能力改善度Lvが2から3に向上している対策事例の数の割合を、能力改善率として算出する(図17のステップST14)。
図13の評価対象モデルでは、例えば、対策前期間が“1”についての能力改善率を求める場合、対策前期間が“1”である対策事例が、被対策対象[T001]と被対策対象[T004]に対する対策事例であるため、被対策対象[T001]と被対策対象[T004]についての対策後期間に着目する。
この場合、対策事例の数であるサンプル数は“2”である。対策後期間が“1”の場合、被対策対象[T001]と被対策対象[T004]のいずれも能力改善度Lvが2のままであるため、能力改善度Lvが3に向上している対策事例の数が0である。したがって、この場合、サンプル数“2”に対して、能力改善度Lvが向上している対策事例の数“0”の割合が0.00であるため、能力改善率は0.00となる。
対策後期間が“2”の場合も、能力改善度Lvが3に向上している対策事例の数が0であるため、能力改善率は0.00となる。
対策後期間が“3”の場合、被対策対象[T001]の能力改善度Lvは2のままであるが、被対策対象[T004]の能力改善度Lvが3に向上しているので、能力改善度Lvが3に向上している対策事例の数が1である。したがって、この場合、サンプル数“2”に対して、能力改善度Lvが向上している対策事例の数“1”の割合が0.50であるため、能力改善率は0.50となる。
対策後期間が“4”の場合、被対策対象[T004]については対策後期間“4”での能力改善度Lvの評価が行われておらず、サンプル数は“1”である。また、被対策対象[T001]の能力改善度Lvは2のままであるため、サンプル数“1”に対して、能力改善度Lvが向上している対策事例の数“0”の割合が0.00であるため、能力改善率は0.00となる。
対策前期間が“2”についての能力改善率を求める場合、対策前期間が“2”である対策事例が、被対策対象[T002]に対する対策事例であるため、被対策対象[T002]についての対策後期間に着目する。
この場合、対策事例の数であるサンプル数は“1”である。対策後期間が“1”の場合、被対策対象[T002]の能力改善度Lvが2のままであるため、能力改善度Lvが3に向上している対策事例の数が0である。したがって、この場合、サンプル数“1”に対して、能力改善度Lvが向上している対策事例の数“0”の割合が0.00であるため、能力改善率は0.00となる。
対策後期間が“2”の場合も、能力改善度Lvが3に向上している対策事例の数が0であるため、能力改善率は0.00となる。
対策前期間が“3”についての能力改善率を求める場合、対策前期間が“3”である対策事例が、被対策対象[T003]と被対策対象[T005]に対する対策事例であるため、被対策対象[T003]と被対策対象[T005]についての対策後期間に着目する。
この場合、対策事例の数であるサンプル数は“2”である。対策後期間が“1”の場合、被対策対象[T003]の能力改善度Lvは2のままであるが、被対策対象[T005]の能力改善度Lvが3に向上しているので、能力改善度Lvが3に向上している対策事例の数が1である。したがって、この場合、サンプル数“2”に対して、能力改善度Lvが向上している対策事例の数“1”の割合が0.50であるため、能力改善率は0.50となる。
対策後期間が“2”の場合、被対策対象[T005]の能力改善度Lvが既に対策後期間“1”で3に向上しているため、被対策対象[T005]は対象事例から除外され、サンプル数は“1”である。被対策対象[T003]の能力改善度Lvは3に向上しているので、能力改善度Lvが3に向上している対策事例の数が1である。したがって、この場合、サンプル数“1”に対して、能力改善度Lvが向上している対策事例の数“1”の割合が1.00であるため、能力改善率は1.00となる。
改善率集計部5は、対策ID及び対策前期間別に、各対策後期間についての能力改善率を算出すると、図18に示すように、対策ID、対策前期間、対策後期間、能力改善率及びサンプル数を対策別時期別能力改善率DB6に記録する(図17のステップST15)。
即ち、改善率集計部5は、対策ID、対策前期間及び対策後期間が同じ対策事例の能力改善率とサンプル数を対策別時期別能力改善率DB6に記録している。
ここまでは、説明の簡単化のために、対策の種類が、対策ID=[M01]の対策aだけである例を示しているが、実際には、数多くの対策が被対策対象に実施される。
図19は少サンプル事例抽出部7の処理内容をフローチャートである。
少サンプル事例抽出部7には、事前に閾値が設定されている。この閾値は、サンプル数が少数であるか否かを判定するために用いられるものであり、閾値として例えば“10”の値が設定される。
少サンプル事例抽出部7は、図18の対策別時期別能力改善率DB6に記録されているサンプル数を確認し、図18の対策別時期別能力改善率DB6の中から、サンプル数が閾値未満の事例、即ち、サンプル数が閾値未満の対策ID、対策前期間、対策後期間、能力改善率及びサンプル数の組を少サンプル事例として抽出する(図12のステップST2、図19のステップST21)。
少サンプル事例抽出部7は、対策別時期別能力改善率DB6の中から少サンプル事例を抽出すると、図20に示すように、その抽出した少サンプル事例を少サンプル事例バッファ8に記録する(図12のステップST2、図19のステップST22)。
少サンプル事例バッファ8に記録する項目は、対策別時期別能力改善率DB6に記録されている項目と同じである。ただし、図20では、対策前期間及び対策後期間の列で昇順ソートされた結果の冒頭部のみを例示している。
対策分類部9は、少サンプル事例バッファ8に記録されている対策ID別の能力改善率を用いて、各々の対策間の各対策後期間における能力改善率の推移の類似度を評価して、その能力改善率の推移が類似している対策を同一のグループに分類する(図12のステップST3)。
以下、対策分類部9の処理内容を具体的に説明する。
図21は対策分類部9の処理内容をフローチャートである。
対策分類部9は、少サンプル事例バッファ8に記録されている少サンプル事例の中から、任意の2つの少サンプル事例を選択する(図21のステップST31)。
対策分類部9は、2つの少サンプル事例を選択すると、母集団比率の区間推定などの指標を用いて、一方の少サンプル事例における対策及び対策前期間の組み合わせと、他方の少サンプル事例における対策及び対策前期間の組み合わせとの間の距離Dを算出する(図21のステップST32)。
即ち、対策分類部9は、例えば、以下の非特許文献1に開示されている「母集団比率の区間推定方式」を用いて、一方の少サンプル事例の能力改善率から、本来の能力改善率が想定される範囲を示す信頼区間を算出する。
[非特許文献1] 武藤眞介著「統計解析ハンドブック」朝倉書店、P170〜171
非特許文献1に開示されている「母集団比率の区間推定方式」は、公知の技術であるため詳細な説明を省略するが、図20の少サンプル事例バッファ8に記録されている少サンプル事例のうち、例えば、対策ID=[M01]の少サンプル事例が一方の少サンプル事例であり、対策ID=[M02]の少サンプル事例が他方の少サンプル事例であるとき、「母集団比率の区間推定方式」を用いれば、例えば、信頼係数が95%の場合、一方の少サンプル事例については、当該少サンプル事例の能力改善率から、信頼区間として、0.000〜0.776が得られる。また、他方の少サンプル事例については、当該少サンプル事例の能力改善率から、信頼区間として、0.008〜0.906が得られる。
図20に示している少サンプル事例バッファ8の例では、対策ID=[M01]の少サンプル事例と、対策ID=[M02]の少サンプル事例とは、対策後期間が“1”である少サンプル事例であるため、対策後期間“1”の信頼区間が算出されるが、対策後期間“1”以外の対策後期間の信頼区間を算出する場合、例えば、対策後期間“2”の信頼区間を算出する場合、少サンプル事例バッファ8に記録されている少サンプル事例の中から、対策後期間が“2”である対策ID=[M01]の少サンプル事例と、対策ID=[M02]の少サンプル事例とを選択すればよい。図20では、対策後期間が“2”である少サンプル事例の記載は省略されている。
図22は対策a,bにおける対策後期間と能力改善率及び信頼区間の関係を示す説明図である。
図22では、2つの対策a,bについて例示しており、図中、○印は、少サンプル事例バッファ8に記録されている少サンプル事例の能力改善率であり、この能力改善率を標本比率としている。○印に付されている2つの矢印の範囲は信頼区間を表している。
対策分類部9は、各々の対策間の信頼区間を対策後期間毎に算出すると、各々の対策間の各対策後期間における信頼区間の重複範囲幅を求め、各々の対策間の信頼区間の重複範囲幅から、各々の対策間の距離Dを算出する。この距離Dは、各々の対策間の各対策後期間における能力改善率の推移の類似度を示す指標となり、値が小さい程、類似度が高いことを表すものである。
図23は2つの対策a,bの各対策後期間における信頼区間及び重複範囲幅を示す説明図である。
各対策後期間において、左側の矢印が対策aの信頼区間、右側の矢印が対策bの信頼区間、矢印に掛けられているグレーの部分が重複範囲幅を示している。
例えば、2つの対策a,b間の距離Dについては、下記の式(1)に示すように、対策aのi番目の対策後期間における信頼区間a、対策bのi番目の対策後期間における信頼区間b、対策aと対策bのi番目の対策後期間における重複範囲幅Lから算出することができる。
Figure 2017146417
式(1)において、Π(X)はi=1,2,・・・に対するXを全て掛け合わせる数学記号である。
対策分類部9による距離Dの算出処理は、少サンプル事例バッファ8に記録されている少サンプル事例の中から、2つの少サンプル事例の全ての組み合わせを選択して、全ての組み合わせについての距離Dの算出が終了するまで繰り返し実施される。
対策分類部9は、各々の対策間の距離Dを算出すると、その距離Dが近い対策同士を同じグループに分類することで、能力改善率の推移が類似している対策を同一のグループに分類する(図21のステップST33)。
距離Dに基づいて複数の対策を分類する技術自体は公知の技術であるため詳細な説明を省略するが、距離Dに基づいて複数の対策を分類する手法として、例えば、以下の非特許文献2に開示されている「クラスタリング分析法」を用いることができる。
[非特許文献2] 中村永友著「多次元データ解析法」共立出版、P192〜238
対策分類部9は、能力改善率の推移が類似している対策を同一のグループに分類すると、図24に示すように、グループを識別する分類IDと、当該グループに分類された対策を識別する対策IDと、その対策に対応している対策前期間とを対策分類バッファ10に記録する(図21のステップST34)。
図24では、例えば、分類IDが[G001]のグループには、対策前期間が“1”で、対策IDが[M01]の対策と、対策前期間が“2”で、対策IDが[M01]の対策と、対策前期間が“1”で、対策IDが[M02]の対策と、対策前期間が“2”で、対策IDが[M02]の対策と、対策前期間が“1”で、対策IDが[M06]の対策とが分類されている。
分布推定部11は、1つ以上の対策を含んでいるグループ別に、当該グループに属する各対策の対策前期間毎に、各対策後期間の能力改善率から、当該グループの各対策後期間における能力改善率の分布を推定する(図12のステップST4)。
以下、分布推定部11の処理内容を具体的に説明する。
図25は分布推定部11の処理内容をフローチャートである。
分布推定部11は、図24の対策分類バッファ10を参照して、同一のグループに属する複数の対策と対策前期間の組み合わせを抽出する(図25のステップST41)。
分布推定部11は、同一のグループに属する複数の対策と対策前期間の組み合わせを抽出すると、サンプル数が少ない場合でも、高精度に能力改善率の分布を推定することが可能なブートストラップ法を使用して、グループ別に、各対策前期間及び対策後期間における能力改善率の分布を推定する。
ブートストラップ法は、例えば、以下の非特許文献3に開示されており、複数のサンプルの中から、同じサンプルを重複して抽出することを許す条件の下で、複数のサンプルをランダムに抽出する操作を数百〜数千回の規模で反復して実施することで、その抽出操作毎に得られるサンプルを分析する手法である。ブートストラップ法は、サンプル数が少ない場合でも高精度で分析可能な方法として知られているが、サンプル数が極端に少ない場合には、その有効性が乏しいと考えられる。
この実施の形態1では、対策分類部9によって、能力改善率の推移が類似している対策が同一のグループに分類されることで、各グループには、異なる対策も含まれるようになっているため、評価対象となるサンプルの数が増加しており、サンプル数が極端に少ないという状況の可能性が低下している。
[非特許文献3] 小西貞則 ・越智義道 ・大森裕浩著「計算統計学の方法 ―ブートストラップ,EMアルゴリズム,MCMC―」朝倉書店、2008年3月25日発行、p.1〜68
以下、ブートストラップ法を用いる能力改善率の分布推定処理を具体的に説明する。
図26はブートストラップ法を用いる能力改善率の分布推定処理を示す説明図である。
分布推定部11は、同一のグループに属する複数の対策と対策前期間の組み合わせを抽出すると、図20の少サンプル事例バッファ8を参照して、その抽出した対策と対策前期間の組み合わせに対応する能力改善率とサンプル数を取得する。
例えば、対策ID=[M01]の対策と対策前期間“1”の組み合わせであれば、能力改善率として“0.00”、サンプル数として“2”を取得する。
また、対策ID=[M02]の対策と対策前期間“1”の組み合わせであれば、能力改善率として“0.33”、サンプル数として“3”を取得する。
分布推定部11は、同一のグループに属する全ての組み合わせに対応する能力改善率とサンプル数を取得すると、図26の左側の表に示すように、取得した組み合わせ毎に、当該組み合わせに対応する能力改善率とサンプル数を示すテーブルを生成する。
図26の左側の表は、10個の組み合わせが同一のグループに属している例を示しており、IDXは、10個の組み合わせを識別するインデックスである。各々の組み合わせには1〜10のIDXが割り当てられている。
図26の左側の表において、改善数は、サンプル数と改善率の乗算結果を小数点第1位で四捨五入した値である。
分布推定部11は、同一のグループに属する全ての組み合わせの中から、同じ組み合わせを重複して抽出することを許す条件の下で、同一のグループに属する組み合わせの数と同数の組み合わせをランダムに抽出する(図25のステップST42)。
反復回数として、例えば、2000回が事前に指定されている場合、10個の組み合わせをランダムに抽出する処理を2000回繰り返し実施する。図26において、例えば、第1回と記述されている部分は、第1回目の抽出処理を示しており、IDXが1,2,2,3,4,4,5,5,6,7の組み合わせを抽出している。
また、第2000回と記述されている部分は、第2000回目の抽出処理を示しており、IDXが1,2,3,4,4,6,7,8,10,10の組み合わせを抽出している。
分布推定部11は、10個の組み合わせをランダムに抽出すると、10個の組み合わせにおけるサンプル数の総和を算出するとともに、10個の組み合わせにおける改善数の総和を算出する。
例えば、第1回目の抽出処理では、サンプル数の総和が69(=7+6+6+7+9+9+7+7+4+7)、改善数の総和が24(=2+3+3+3+0+0+4+4+3+2)である。
分布推定部11は、10個の組み合わせにおけるサンプル数の総和と、改善数の総和とを算出すると、その改善数の総和をサンプル数の総和で除算することで、10個の組み合わせにおける能力改善率を算出する(図25のステップST43)。以下、この能力改善率をブートストラップ標本改善率と称する。
例えば、第1回目の抽出処理では、サンプル数の総和が69で、改善数の総和が24であるため、ブートストラップ標本改善率は0.35(=24/69)となる。
第2回目の抽出処理では、サンプル数の総和が67で、改善数の総和が27であるため、ブートストラップ標本改善率は0.40(=27/67)となる。
分布推定部11は、例えば2000回処理を反復することで、2000個のブートストラップ標本改善率を算出すると、能力改善率を一定区間毎に分割して、2000個のブートストラップ標本改善率を各区間に振り分ける処理を実施する。
例えば、各区間の幅Δを0.1として、0.0〜1.0の範囲がある能力改善率を分割する場合、その能力改善率の各区間は、0.1〜0.2、0.2〜0.3、0.3〜0.4、・・・、0.9〜1.0のようになる。
図26の例では、第1回目の抽出処理におけるブートストラップ標本改善率は0.35であるため、0.3〜0.4の区間に振り分けられる。
第2回目の抽出処理におけるブートストラップ標本改善率は0.40であるため、0.3〜0.4の区間に振り分けられる。ここでは、区間の境界にある0.40を下側の区間である0.3〜0.4の区間に振り分けているが、上側の区間である0.4〜0.5の区間に振り分けるようにしてもよい。
分布推定部11は、2000個のブートストラップ標本改善率を各区間に振り分けると、各区間に属するブートストラップ標本改善率の件数を計数する(図25のステップST44)。
各区間に属するブートストラップ標本改善率の件数は、ブートストラップ法における能力改善率の分布に相当する。
ここでは、説明の簡単化のために、各区間の幅Δが0.1である例を示しているが、実際の計算では、Δ=0.001などの小さい値が用いられることが想定される。
分布推定部11は、各区間に属するブートストラップ標本改善率の件数を計数すると、その件数を抽出処理の反復回数で除算することで、各区間の確率密度を算出する(図25のステップST45)。
例えば、0.3〜0.4の区間に振り分けられているブートストラップ標本改善率の件数が400個で、反復回数が2000である場合には、0.3〜0.4の区間の確率密度は、0.2(=400/2000)となる。
分布推定部11は、各区間の確率密度を算出すると、図27に示すように、対策分類部9により分類されたグループ、対策前期間及び対策後期間別に、各区間の確率密度を示す情報を分類別能力改善率分布バッファ12に記録する(図25のステップST46)。
例えば、分類IDが[G001]、対策前期間が“1”、対策後期間が“1”についての各区間の確率密度が算出されている場合、分類別能力改善率分布バッファ12には、分類IDが[G001]、対策前期間が“1”、対策後期間が“1”、ブートストラップ標本改善率の各区間の範囲を示す能力改善率下限及び能力改善率上限に対応する確率密度が記録される。例えば、0.3〜0.4の区間の確率密度が“0.2”であれば、能力改善率の下限が“0.3”、能力改善率の上限が“0.4”に対応する確率密度として“0.2”が記録される。
図27の右側に示しているグラフは、分類IDが[G001]、対策前期間が“1”、対策後期間が“1”における能力改善率の分布を示している。
図27の例では、能力改善率が0.00〜0.70の間に分布しており、能力改善率が中間の0.50よりも、やや0.00寄りの分布であることを示している。
分布補正部13は、分類別能力改善率分布バッファ12に記憶されているグループ別の各対策前期間及び対策後期間における能力改善率の分布を用いて、当該グループに属する各対策の各対策前期間及び対策後期間における能力改善率の分布を補正する(図12のステップST5)。
以下、分布補正部13の処理内容を具体的に説明する。
図28は分布補正部13の処理内容をフローチャートである。
分布補正部13は、図20の少サンプル事例バッファ8に存在している対策事例、即ち、対策ID、対策前期間、対策後期間、能力改善率及びサンプル数の組を順番に選択し(図28のステップST51)、その選択した対策事例における対策ID及び対策前期間に対する対策後期間毎のサンプル数及び能力改善率から、本来の能力改善率が示す確率密度の分布を求める(図28のステップST52)。
具体的には、以下のようにして、本来の能力改善率が示す確率密度の分布を求める。
分布補正部13は、選択したi番目の対策事例における能力改善率が、mΔ〜(m+1)Δの区間に存在する確率をF(m)とする。
Δは能力改善率を一定区間毎に分割する際の各区間の幅であって、1より小さい値である。mは0≦m<(1/Δ)を満足する整数である。
ここで、i番目の対策事例におけるS個のサンプルのうち、能力が改善されたサンプルの数である改善数がQであるとして、能力改善率がQ/Sで与えられている場合、本来の能力改善率が示す確率密度の分布は、第1パラメータをQi+1、第2パラメータをS−Q+1とする場合のベータ分布に従うものとする。
この実施の形態1では、ベータ分布の確率密度関数の定義式が、例えば、以下の非特許文献4に開示されているように、下記の式(2)で定義されているものとする。
Figure 2017146417
[非特許文献4] 箕谷千凰彦著「統計分布ハンドブック」朝倉書店、P625〜642
pを第1パラメータ、qを第2パラメータとする式(2)に示すベータ分布の確率密度関数Be(x;p,q)を用いると、mΔ〜(m+1)Δの区間に存在する確率F(m)は、下記の式(3)のように定義される。
Figure 2017146417
次に、分布補正部13は、図27の分類別能力改善率分布バッファ12から、i番目の対策事例における対策ID及び対策前期間が属するグループの分類IDに対応する能力改善率の分布を取得し、その能力改善率の分布において、能力改善率が、mΔ〜(m+1)Δの区間に存在する確率をG(m)とする。mは0≦m<(1/Δ)を満足する整数である。
確率G(m)は、図27の分類別能力改善率分布バッファ12に記録されている確率密度と同じ値である。
次に、分布補正部13は、確率G(m)と確率F(m)を用いて、下記の式(4)に示すように、i番目の対策事例における対策ID及び対策前期間の組み合わせに対応する能力改善率の分布を補正する(図28のステップST53)。H(m)は補正後の能力改善率の分布を示している。
この補正は、グループにおける能力改善率がmΔ〜(m+1)Δの区間に存在し、かつ、i番目の対策事例における対策ID及び対策前期間の組み合わせがmΔ〜(m+1)Δの区間に存在することが同時に発生する確率G(m)・F(m)に基づくものである。
Figure 2017146417
能力改善率の分布補正処理は、少サンプル事例バッファ8に存在している全ての対策事例を選択して、その選択した対策事例についての能力改善率の分布の補正が終了するまで繰り返し実施される。
ここでは、式(4)によって、i番目の対策事例における対策ID及び対策前期間の組み合わせに対応する能力改善率の分布を補正するものを示したが、補正方式は式(4)に限るものではなく、下記の式(5)によって補正するようにしてもよい。
Figure 2017146417
式(5)による補正は、個々の補正後の能力改善率の分布H(m)の全てのiに対する和をiで割ったものと、G(m)との誤差Errが最小となるように、個々のH(m)を求めるものである。
即ち、式(5)による補正は、グループに属する各対策の各期間における能力改善率の分布の和が、分布推定部11により推定された当該グループの各期間における能力改善率の分布となるように、当該グループに属する各対策の各期間における能力改善率の分布を補正するものである。
式(5)によって、i番目の対策事例における対策ID及び対策前期間の組み合わせに対応する能力改善率の分布を補正する場合、観測される改善数Qの値は、−0.5≦d≦0.5を満たすdを用いて、Q+dなる値から整数に丸められた値であるものとする。そして、H(m)は、式(3)に示す確率F(m)におけるQの値をQ+dに置き換えた場合のベータ分布に従うものとして、下記の式(6)のように、確率F(m)を定義する。
Figure 2017146417
図29及び図30はdの値に応じた確率密度の分布を示す説明図である。
図29は、S=2、Q=1の場合の確率密度の分布を示し、図30は、S=3、Q=1の場合の確率密度の分布を示している。
式(5)の誤差Errが最小になるdの値を求めることで、所望のH(m)を得ることができる。
誤差Errが最小になるdの値を導出する方式として、dの取り得る値を例えば0.01などの一定幅で変えながら、式(5)の誤差Errを総当たりで求めて、誤差Errが最小となるdの近似値を求める方式のほか、dの変化に対する誤差Errの変化率の傾きから、誤差Errの最小値を探索する共役方向法などを用いることができる。共役方向法は、例えば、以下の非特許文献5に開示されている。
[非特許文献5] 伊理正夫ら監訳「最適化ハンドブック」朝倉書店、P52〜55
改善率推定部14は、分布補正部13により補正された能力改善率の分布を用いて、各対策の各対策前期間及び対策後期間における能力改善率を推定する(図12のステップST6)。
以下、改善率推定部14の処理内容を具体的に説明する。
図31は改善率推定部14の処理内容をフローチャートである。
改善率推定部14は、図18の対策別時期別能力改善率DB6に存在している対策事例、即ち、対策ID、対策前期間、対策後期間、能力改善率及びサンプル数の組を順番に選択し(図31のステップST61)、その選択した対策事例における対策ID及び対策前期間と同じ対策ID及び対策前期間が、図20の少サンプル事例バッファ8に存在しているか否かを判定する(図31のステップST62)。
改善率推定部14は、同じ対策ID及び対策前期間が少サンプル事例バッファ8に存在していれば(ステップST62:Yesの場合)、下記の式(7)に示すように、分布補正部13から出力された補正後の能力改善率の分布H(m)を用いて、改善率期待値Rを算出する(ステップST63)。
Figure 2017146417
改善率推定部14は、改善率期待値Rを算出すると、その改善率期待値Rと、その選択した対策事例における対策ID、対策前期間及び対策後期間とを含む対策別改善率情報15を出力する(ステップST64)。
改善率推定部14は、同じ対策ID及び対策前期間が少サンプル事例バッファ8に存在していない場合(ステップST62:Noの場合)、その選択した対策事例におけるサンプル数の項目を除去した項目である対策ID、対策前期間、対策後期間及び能力改善率を含む対策別改善率情報15を出力する(ステップST65)。
改善率推定部14による対策別改善率情報15の出力処理は、対策別時期別能力改善率DB6に存在している全ての対策事例を選択して、その選択した対策事例についての対策別改善率情報15を出力するまで繰り返し実施される。
以上で明らかなように、この実施の形態1によれば、改善率集計部5により対策別に集計された能力改善率を用いて、各々の対策間の各期間における能力改善率の推移の類似度を評価して、能力改善率の推移が類似している対策を同一のグループに分類する対策分類部9と、1つ以上の対策を含んでいるグループ別に、当該グループに属する各対策の各期間における能力改善率から、当該グループの各期間における能力改善率の分布を推定する分布推定部11と、分布推定部11によりグループ別に推定された各期間における能力改善率の分布を用いて、当該グループに属する各対策の各期間における能力改善率の分布を補正する分布補正部13とを設けるように構成したので、被対策対象に対策が実施される対策事例の数が少ない場合でも、被対策対象が有している能力の改善率を高精度に推定することができる効果を奏する。
なお、本願発明はその発明の範囲内において、実施の形態の任意の構成要素の変形、もしくは実施の形態の任意の構成要素の省略が可能である。
1 データベース、2 被対策対象DB、3 対策履歴DB、4 改善評価DB、5 改善率集計部、6 対策別時期別能力改善率DB、7 少サンプル事例抽出部、8 少サンプル事例バッファ、9 対策分類部、10 対策分類バッファ、11 分布推定部、12 分類別能力改善率分布バッファ、13 分布補正部、14 改善率推定部、15 対策別改善率情報、21 記憶装置、22 改善率集計回路、23 少サンプル事例抽出回路、24 対策分類処理回路、25 分布推定処理回路、26 分布補正処理回路、27 改善率推定処理回路、31 メモリ、32 プロセッサ、33 DB入出力インタフェース、34 情報出力インタフェース。

Claims (6)

  1. 被対策対象が有している能力を改善する対策別に、被対策対象に対策が実施される前の各期間及び対策が実施された後の各期間における前記能力の改善率を集計する改善率集計部と、
    前記改善率集計部により対策別に集計された能力改善率を用いて、各々の対策間の各期間における能力改善率の推移の類似度を評価して、前記能力改善率の推移が類似している対策を同一のグループに分類する対策分類部と、
    1つ以上の対策を含んでいるグループ別に、当該グループに属する各対策の各期間における能力改善率から、当該グループの各期間における能力改善率の分布を推定する分布推定部と、
    前記分布推定部によりグループ別に推定された各期間における能力改善率の分布を用いて、当該グループに属する各対策の各期間における能力改善率の分布を補正する分布補正部と、
    前記分布補正部により補正された能力改善率の分布を用いて、各対策の各期間における能力改善率を推定する改善率推定部と
    を備えた対策別改善率推定装置。
  2. 前記対策分類部は、前記改善率集計部により対策別に集計された各期間における能力改善率から、本来の能力改善率の範囲を示す信頼区間を期間毎に算出し、各々の対策間の各期間における信頼区間の重複範囲幅から、各々の対策間の各期間における能力改善率の推移の類似度を評価することを特徴とする請求項1記載の対策別改善率推定装置。
  3. 前記分布推定部は、被対策対象に対策が実施された後の期間毎に、当該グループに属している複数の対策の中から、同じ対策を重複して抽出することを許す条件の下で、複数の対策をランダムに抽出し、ランダムに抽出した複数の対策の能力改善率から、当該グループにおける標本の改善率を算出する処理を繰り返し実施し、繰り返しの処理でそれぞれ算出した標本の改善率から、当該グループの当該期間における能力改善率の分布を推定することを特徴とする請求項1記載の対策別改善率推定装置。
  4. 前記分布補正部は、当該グループに属する各対策の各期間における能力改善率の分布の和が、前記分布推定部により推定された当該グループの各期間における能力改善率の分布となるように、当該グループに属する各対策の各期間における能力改善率の分布を補正することを特徴とする請求項1記載の対策別改善率推定装置。
  5. 改善率集計部が、被対策対象が有している能力を改善する対策別に、被対策対象に対策が実施される前の各期間及び対策が実施された後の各期間における前記能力の改善率を集計し、
    対策分類部が、前記改善率集計部により対策別に集計された能力改善率を用いて、各々の対策間の各期間における能力改善率の推移の類似度を評価して、前記能力改善率の推移が類似している対策を同一のグループに分類し、
    分布推定部が、1つ以上の対策を含んでいるグループ別に、当該グループに属する各対策の各期間における能力改善率から、当該グループの各期間における能力改善率の分布を推定し、
    分布補正部が、前記分布推定部によりグループ別に推定された各期間における能力改善率の分布を用いて、当該グループに属する各対策の各期間における能力改善率の分布を補正し、
    改善率推定部が、前記分布補正部により補正された能力改善率の分布を用いて、各対策の各期間における能力改善率を推定する
    対策別改善率推定方法。
  6. 被対策対象が有している能力を改善する対策別に、被対策対象に対策が実施される前の各期間及び対策が実施された後の各期間における前記能力の改善率を集計する改善率集計処理手順と、
    前記改善率集計処理手順により対策別に集計された能力改善率を用いて、各々の対策間の各期間における能力改善率の推移の類似度を評価して、前記能力改善率の推移が類似している対策を同一のグループに分類する対策分類処理手順と、
    1つ以上の対策を含んでいるグループ別に、当該グループに属する各対策の各期間における能力改善率から、当該グループの各期間における能力改善率の分布を推定する分布推定処理手順と、
    前記分布推定処理手順によりグループ別に推定された各期間における能力改善率の分布を用いて、当該グループに属する各対策の各期間における能力改善率の分布を補正する分布補正処理手順と、
    前記分布補正処理手順により補正された能力改善率の分布を用いて、各対策の各期間における能力改善率を推定する改善率推定処理手順と
    をコンピュータに実行させるための対策別改善率推定プログラム。
JP2016027198A 2016-02-16 2016-02-16 対策別改善率推定装置、対策別改善率推定方法及び対策別改善率推定プログラム Expired - Fee Related JP6433444B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016027198A JP6433444B2 (ja) 2016-02-16 2016-02-16 対策別改善率推定装置、対策別改善率推定方法及び対策別改善率推定プログラム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016027198A JP6433444B2 (ja) 2016-02-16 2016-02-16 対策別改善率推定装置、対策別改善率推定方法及び対策別改善率推定プログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017146417A true JP2017146417A (ja) 2017-08-24
JP6433444B2 JP6433444B2 (ja) 2018-12-05

Family

ID=59680884

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016027198A Expired - Fee Related JP6433444B2 (ja) 2016-02-16 2016-02-16 対策別改善率推定装置、対策別改善率推定方法及び対策別改善率推定プログラム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6433444B2 (ja)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001318589A (ja) * 2000-05-12 2001-11-16 Fujitsu Ltd 研修効果判定システム
JP2005157498A (ja) * 2003-11-20 2005-06-16 Japan Research Institute Ltd 学習サポートシステム及びプログラム
JP2014021813A (ja) * 2012-07-20 2014-02-03 Azbil Corp 研修支援装置および方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001318589A (ja) * 2000-05-12 2001-11-16 Fujitsu Ltd 研修効果判定システム
JP2005157498A (ja) * 2003-11-20 2005-06-16 Japan Research Institute Ltd 学習サポートシステム及びプログラム
JP2014021813A (ja) * 2012-07-20 2014-02-03 Azbil Corp 研修支援装置および方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
藤野 友也,他: ""受講者の少ない研修に対する教育効果推定方式のシミュレーション評価"", 第15回情報科学技術フォーラム講演論文集, JPN6018025835, 23 August 2016 (2016-08-23), pages 515 - 516, ISSN: 0003832741 *

Also Published As

Publication number Publication date
JP6433444B2 (ja) 2018-12-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Lakkaraju et al. A machine learning framework to identify students at risk of adverse academic outcomes
Delavari et al. Data mining application in higher learning institutions
Shepperd Software project economics: a roadmap
Berridge et al. Multivariate generalized linear mixed models using R
US6631362B1 (en) General decision-making support method and system
Yuan et al. A hierarchical design of case-based reasoning in the balanced scorecard application
JP2016136380A (ja) 離職リスク判定器
US20060047550A1 (en) Autonomic determination and location of product support infrastructure resources
Christie et al. Machine-Learned School Dropout Early Warning at Scale.
CN112836750A (zh) 一种系统资源分配方法、装置及设备
CN115099310A (zh) 训练模型、对企业进行行业分类的方法和装置
KR101278135B1 (ko) 확률론적 특허 인용 분석에 기반한 미래 유망 특허 탐색 장치 및 그 방법
CN111159241A (zh) 一种点击转化预估方法及装置
CN114049240A (zh) 基于学生在线学习数据智能推荐题目及学习路径的方法
JP6433444B2 (ja) 対策別改善率推定装置、対策別改善率推定方法及び対策別改善率推定プログラム
Han et al. Judgment-based cross-impact method for predicting cost variance for highly uncertain projects
Maharani et al. The effect of education, health, minimum wage, foreign investment on labor productivity in 33 provinces of Indonesia
TWI792101B (zh) 基於確定值及預測值的數據定量化方法
Liu et al. A learning-based adjustment model with genetic algorithm of function point estimation
Kinney et al. Nonresponse bias in sample surveys
CN108959594B (zh) 一种基于时变加权的能力水平评估方法及装置
Orozova et al. How to follow modern trends in courses in “databases”-introduction of data mining techniques by example
CN111353553A (zh) 清洗错误标注数据的方法、装置、计算机设备及存储介质
Torres et al. Medium and Long Run Economic Assimilation of Venezuelan migrants to Peru
Chou et al. Stochastic Churn Modeling with Dynamic Attribution and Bayesian Estimation

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170821

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20180525

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180710

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20181009

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20181106

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6433444

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees