JP2017142162A - 加熱式試料吸着管及びそれを含む質量分析装置 - Google Patents

加熱式試料吸着管及びそれを含む質量分析装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2017142162A
JP2017142162A JP2016023615A JP2016023615A JP2017142162A JP 2017142162 A JP2017142162 A JP 2017142162A JP 2016023615 A JP2016023615 A JP 2016023615A JP 2016023615 A JP2016023615 A JP 2016023615A JP 2017142162 A JP2017142162 A JP 2017142162A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
adsorption tube
sample
tube
adsorption
sample adsorption
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2016023615A
Other languages
English (en)
Inventor
育則 神納
Ikunori Jinno
育則 神納
伸一 三木
Shinichi Miki
伸一 三木
長尾 博文
Hirobumi Nagao
博文 長尾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Msitokyo
MSI Tokyo Inc
Original Assignee
Msitokyo
MSI Tokyo Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Msitokyo, MSI Tokyo Inc filed Critical Msitokyo
Priority to JP2016023615A priority Critical patent/JP2017142162A/ja
Publication of JP2017142162A publication Critical patent/JP2017142162A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Abstract

【課題】迅速に加熱できる吸着管を有する試料吸着管を提供する。【解決手段】導電性を有する吸着管11と,吸着管11に通電するための電源13とを有する試料吸着管。吸着管11の少なくとも一つの端部15,17に設けられた,絶縁性の管又は絶縁性の連結装置といった絶縁接続部21,23をさらに有する試料吸着管。【選択図】図1

Description

本発明は,加熱式試料吸着管及びそれを含む質量分析装置に関する。より詳しく説明すると,本発明は,化学物質の微量分析装置に用いられる被分析対象物質を分析装置へ導入するための吸着管及びその管を用いた質量分析装置に関する。
質量分析法(装置)等を用いて,主成分ガス(He,H2,N2,Ar等)中,または大気中の微量多成分の分析を行う場合,分析装置前段で各成分の分離,濃縮を行う事が高感度分析には欠かせない。混合物質の分離にはGC(ガスクロマトグラフ)が多く用いられ,より積極的に微量成分を濃縮するためにはGCへの試料注入前に吸着管を用いて分析対象成分をトラップし,分析対象成分の濃度を高める方法が有効とされる。
分析対象成分を濃縮するために,ガス導入ラインに吸着管を配置し,常温,またはペルチェ素子,冷媒等を用いて低温に保たれた状態で試料ガスが吸着管内を通過することにより,主成分ガスは素通りし,吸着剤に分析対象物質のみ吸着,保持される。一定時間試料ガスが通過した後,吸着管内を試料ガスからキャリアガス(He等)に切り替えると共に,ヒーターを用いて吸着管を加熱する事により,吸着された分析対象成分が脱離し,キャリアガスによりGC,または質量分析計に導かれる。
物質の吸着には,大きく分けて化学吸着と物理吸着があるが,常温吸着のほとんどは充填剤と呼ばれる吸着性の高い物質が管内に充填されており,化学吸着の性質を利用して分析対象物質が吸着,濃縮される。物理吸着の場合は,ペルチェ素子,または冷媒等により物質の沸点以下に温度を下げることにより,高い吸着効果が期待できる。
吸着管には充填剤を充填する方法以外に,吸着剤を内壁にコーティングしたチューブなどを用いる事がある。
加熱には一般的に電気式ヒーターが用いられるが,温度を均一に保つためには銅材等の熱伝導性が高い材料を用いたヒートブロックを介して加熱されるのが一般的であるが,ヒートブロックは熱容量が大きく,加熱,冷却には時間を要してしまうのが欠点である。
熱容量を小さくするには吸着管に直接ヒーターを巻く方法もあるが,温度の不均一性の観点から良い結果は期待できない。
たとえば,特開平11−218526号公報では,ヒートブロック111を用いて吸着管101を加熱している。
熱を均一にするためにヒートブロック等を用いることで性能面は維持できるが,その半面,熱容量が増加するため加熱・冷却に時間を要してしまう。一般的なGC測定では10〜20分の分析時間を要するため,数分の加熱,冷却時間は許容可能ながら,近年連続モニタリング測定のニーズが高まっており,その場合,数分程度で冷却→吸着→加熱→分析を再現性良く繰り返す必要がある。
特開平11−218526号公報
本発明は,迅速かつ均一に吸着管を加熱できる加熱式吸着管を提供することを目的とする。本発明は,そのような加熱式吸着管を含む質量分析装置を提供することを目的とする。
本発明は,基本的には,吸着管を導電性のものとし,吸着管に直接通電して発熱させることで,迅速かつ均一に吸着管自体を発熱させることができるという知見に基づく。さらに,本発明は,吸着管に通電した場合,検出装置や試料導入側へ通電する事態や熱が伝道する事態を防止することが望ましいところ,吸着管の端部に絶縁接続部を設けることで,検出装置や試料導入側へ通電する事態や熱が伝道する事態を防止できるという知見に基づくものである。
本発明によれば,迅速かつ均一に吸着管を加熱できる加熱式吸着管を提供するができる。本発明によれば,そのような加熱式吸着管を含む質量分析装置を提供することができる。なお,本発明は,上記した加熱式吸着管や質量分析装置を用いた試料の吸着方法や,質量分析方法をも提供する。
図1は,本発明の試料吸着管の例を示す概念図である。 図2は,本発明の試料吸着管の例を示す概念図である。 図3は,不活性処理層を有する吸着管の例を示す概念図である。 図4は,内部に吸着材が存在する吸着管の例を示す概念図である。 図5は,実施例における試料吸着管の例を示す概念図である。
以下,図面を用いて本発明を実施するための形態について説明する。本発明は,以下に説明する形態に限定されるものではなく,以下の形態から当業者が自明な範囲で適宜修正したものも含む。
本発明の第1の側面は,試料吸着管に関する。図1に示される通り,試料吸着管は,導電性を有する吸着管11と,吸着管11に通電するための電源13とを有する。このような試料吸着管の基本的な要素は,たとえば,特開平11−218526号公報や,特開2008−249572号公報に記載される通りすでに知られている。
試料吸着管は,質量分析器へ導入する試料を吸着するための導入管である。試料吸着管は,通常,質量分析器と接続されており,試料源からの試料は,試料吸着管を介して,質量分析器へと導かれる。試料吸着管は,試料を吸着及び離脱することができる管であればよく,その長さや直径,材質もすでに知られているものを適宜用いればよい。一方,本発明の試料吸着管は,吸着管11を有し,この吸着管11は,通電されると発熱するものであるから,金属製(たとえば,アルミニウム,鉄,銅,ステンレス,又はこれらの合金)であることが好ましい。吸着管11の長さの例は,1mm以上1m以下であり,1cm以上30cm以下でもよい。小型の質量分析器に用いられる吸着管11の例は,1mm以上30cm以下(たとえば1cm以上10cm以下や,2cm以上5cm)であり,大型の質量分析器に用いられる吸着管11の例は,1cm以上1m以下(たとえば,5cm以上30cm以下)である。吸着管11の内径の例は,0.5mm以上3cm以下であり,1mm以上1cm以下でもよいし,2mm以上5mm以下でもよい。
吸着管11に通電するための電源13は,図示しない制御装置により電源の出力を制御できるものが好ましい。また,吸着管11には,温度センサが設けられ,温度センサが測定した吸着管11の温度を用いて,電源13から出力される電力が制御されるものが好ましい。そして,電源13は,電力の供給を受けて,電圧を発生する部分と,その電圧を吸着管11に伝えることができるものが好ましい。電圧を吸着管11に伝えるためには,電圧を生ずる部位と吸着管11とが配線(導線,ニクロム線など)により接続されていればよい。本発明は,吸着管11自体が発熱部として機能することが予定されるため,吸着管11が導電性を有するものであることが好ましい。
制御装置が電源13に通電するように指示した場合,試料吸着管に吸着されていた試料分子が脱離し,質量分析装置へと導かれることとなる。そして,試料の脱離を止めたい場合は,制御装置が電源13に対して通電を止めるように指示する。すると,吸着管11への通電が止まり,急速に吸着管11が冷却され,これにより試料の脱離がおさまることとなる。また、この状態で,試料源からの試料が,試料吸着管へ送られると,対象となる試料が,試料吸着管へ吸着される。
絶縁接続部21,23の例は,図1に示されるように,配管として,絶縁性の管を含むものである。ここで,「絶縁性」とは,電気絶縁性と熱絶縁性のいずれか又は両方の性質を有するものを意味する。絶縁性の管の例は,ガラス管,プラスチック製の管,テフロン(登録商標)製の管,及びセラミック製の管である。電気絶縁性の例は,体積固有抵抗が例えば,10Ω・cm以上であり,10Ω・cm以上でも,10Ω・cm以上でもよい。絶縁性の管は,吸着管11と試料源とを接続する管であってもよいし,吸着管11と質量分析計とを接続する管であってもよい。
試料吸着管の好ましい例は,図2に示されるように,吸着管11の少なくとも一つの端部15,17に設けられた絶縁接続部21,23をさらに有するものである。吸着管11は,試料源側の端部15(第1の端部)と,質量分析計側の端部17(第2の端部)を有している。試料源や質量分析計に電力が伝わることは望ましくない。また,温度を調整できる領域が狭いことが好ましい。このため,吸着管11の少なくとも一つの端部15,17に設けられた絶縁接続部21,23をさらに有するものは,本発明の好ましい態様である。絶縁接続部21,23は,電気又は熱の伝導を妨げることができるものが好ましい。絶縁接続部21,23は,吸着管11に比べ電気伝導度が低く,また熱伝導度も低いもので製造されていればよい。
絶縁接続部21,23の別の例は,絶縁性の連結装置を含むものである。絶縁性の連結装置の例は,絶縁ユニオンである。
本発明の試料吸着管の好ましい例は,図3に示されるように,吸着管11が,少なくともその内面に不活性処理層31を有するものである。この不活性処理層は,金属である吸着管11の内壁に不活性化剤を塗布等する不活性処理を行うことにより形成される。不活性処理された金属管を用いることで,加工や製造上の柔軟性を高めることができ,また,吸着管11に衝撃が加えられた場合に対する耐久性も高まる。
不活性処理層の例は,シリカ(SiO)又は変性シリコンを含む層である。不活性処理層の膜厚は,要求される性質や成分によって適宜調整すればよく,膜厚の例は,10nm以上1mm以下である。たとえば,吸着管11の内面に,ポリシロキサン,メチル−ポリシロキサン,フェニル−メチル−ポリシロキサン,シアノプロピル−フェニル−メチル−ポリシロキサンといった,シロキサン溶液を塗布することで,不活性処理層を形成できる。これらシリコン含有層に,さらに表面コーティングを施して,不活性処理層としても構わない。
図4に示されるように,試料吸着管は,吸着管11内部に吸着材33が存在し,吸着材33が資料を吸着及び脱離するものであってもよい。吸着材を用いる場合,吸着材の種類や大きさは,対象となる試料に合わせて適宜調整すればよい。吸着材の例は,シリコン粒子である。
本発明の利用態様は,試料吸着管を含む質量分析装置である。この質量分析装置は,試料吸着管の第1の端部15と第1の絶縁接続部21を介して接続された試料導入管25と,試料吸着管の第2の端部17と第2の絶縁接続部23を介して接続された検出部27とを有する。検出部27は,試料の質量を分析できるものであれば,公知の検出部を採用できる。検出部27の例は,ガスクロマトグラフィー,飛行時間型質量分析計,磁場偏向型質量分析計,四重極型質量分析計,イオントラップ型質量分析計,又はこれらを複数組み合わせたタンデム型質量分析計である。これらの検出装置は,公知であるので,公知の検出装置を検出部27として採用できる。
本発明の試料吸着管の制御方法は,電源からの電力を吸着管に供給できるようにし,そのうえで,電源から電力を出力し,出力された電力が吸着管に到達すると,吸着管自体が熱を発する。このようにすることで,吸着管を迅速に加熱等することができる。一方,吸着管の端部は,絶縁されているので,熱または電力が,試料源又は検出部へ伝わる事態を防止できる。
図5に実施例における試料吸着管の概略図を示す。この実施例では,吸着管として,外径φ1.6,内径ファイ0.8,長さ50mmのステンレスチューブを用いた。電源として,印可電圧(及び電流)を制御できるものを用いた。この例では,吸着管の端部を断熱ユニオンを用いたが,パネルマウントバルクヘッド等を用いても構わない。この例では,拝観固定用パネルと電流供給用リード線のついた端子とを共締した。リード線と吸着管の電気抵抗を低くするため,端子接続以外に半田付け,ろう付け又は溶接してもよい。吸着管に電流を流し加熱する際に,少なくとも一方の配管が絶縁されていることが好ましい。このたため,吸着管の端部に絶縁ユニオンやパネルマウントバルクヘッドを用いて配管と接続し,絶縁性を確保した。これは,配管を樹脂性にするなど,配管自体を絶縁性を有するものとすることによっても達成できる。リード線を用いて電源とステンレスチューブとを接続し,10Aの電流を印可した場合,吸着管冷却時の温度であるー190℃から加熱時の温度である100℃まで60秒で到達した。通常のヒーターやヒートブロックを用いた場合,5分程度かかることを考えると,極めて迅速に吸着管を加熱できることがわかった。
ガラス管を用いて,吸着管と試料源,吸着管と飛行時間型質量分析計(TOF−MS)とを接続し,試料源からの試料を試料吸着管へ吸着させ,脱離させて,TOF−MSで質量分析を行った。上記実施例1で示された通り,早期に加熱温度まで到達するとともに,早期に冷却温度まで到達し,しかも試料源やTOF−MSへ電力や熱の伝導が抑えられており,適切に質量分析を行うことができた。
絶縁ユニオン(オーエヌ工業製)を用いて,吸着管と試料源,吸着管とガスクロマトグラフィーとを接続し,試料源からの試料を試料吸着管へ吸着させ,脱離させて,ガスクロマトグラフィーで分析を行った。上記実施例1で示された通り,早期に加熱温度まで到達するとともに,早期に冷却温度まで到達し,しかも試料源やガスクロマトグラフィーへ電力や熱の伝導が抑えられており,適切に質量分析を行うことができた。
本発明は,質量分析計などの検出部と接続される試料吸着管に関するので,分析機器の分野にて利用されうる。
1 試料吸着管
11 吸着管
13 電源
15,17 吸着管の端部
21,23 絶縁接続部
27 検出部

Claims (6)

  1. 導電性を有する吸着管(11)と,
    前記吸着管(11)に通電するための電源(13)とを有する,
    試料吸着管。
  2. 請求項1に記載の試料吸着管であって,
    前記吸着管(11)は,少なくともその内面に不活性処理層を有する試料吸着管。
  3. 請求項1に記載の試料吸着管であって,
    前記吸着管(11)の少なくとも一つの端部(15,17)に設けられた絶縁接続部(21,23)をさらに有する試料吸着管。
  4. 請求項3に記載の試料吸着管であって,
    前記絶縁接続部(21,23)は,絶縁性の管を含む,試料吸着管。
  5. 請求項3に記載の試料吸着管であって,
    前記絶縁接続部(21,23)は,絶縁性の連結装置を含む,試料吸着管。
  6. 請求項1〜5のいずれかに記載の試料吸着管と,
    前記試料吸着管の第1の端部(15)と第1の絶縁接続部(21)を介して接続された試料導入管(25)と,
    前記試料吸着管の第2の端部(17)と第2の絶縁接続部(23)を介して接続された検出部(27)とを有する質量分析装置。
JP2016023615A 2016-02-10 2016-02-10 加熱式試料吸着管及びそれを含む質量分析装置 Pending JP2017142162A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016023615A JP2017142162A (ja) 2016-02-10 2016-02-10 加熱式試料吸着管及びそれを含む質量分析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016023615A JP2017142162A (ja) 2016-02-10 2016-02-10 加熱式試料吸着管及びそれを含む質量分析装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2017142162A true JP2017142162A (ja) 2017-08-17

Family

ID=59627235

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016023615A Pending JP2017142162A (ja) 2016-02-10 2016-02-10 加熱式試料吸着管及びそれを含む質量分析装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2017142162A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113286996A (zh) * 2019-01-09 2021-08-20 株式会社百奥尼 粘合有耐热面状发热体的试样浓缩管、包括其的分析装置及利用其的分析方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113286996A (zh) * 2019-01-09 2021-08-20 株式会社百奥尼 粘合有耐热面状发热体的试样浓缩管、包括其的分析装置及利用其的分析方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5771458B2 (ja) 質量分析装置及び質量分析方法
JP2014504740A5 (ja)
JP5991993B2 (ja) 化学分析装置内へ分析物を導入する方法
WO2012090914A1 (ja) 質量分析方法、質量分析計及び質量分析システム
EP3239688B1 (en) Chemical substance concentrator and chemical substance detecting device
US20090090196A1 (en) Preconcentrator and Detector Apparatus
JP3442763B2 (ja) 化学分析装置用温度制御インジェクタ
JP2017122721A (ja) 加熱輸送ライン
Krechmer et al. Increasing the rate of sample vaporization in an open air desorption ionization source by using a heated metal screen as a sample holder
JPS63954A (ja) グロ−放電質量分析計
JPWO2017047041A1 (ja) 化学物質濃縮器および化学物質検出装置
EP3104941B1 (en) Method and apparatus for a directly electrically heated flow-through chemical reactor
JP2015049077A (ja) イオン化プローブ
JP2017142162A (ja) 加熱式試料吸着管及びそれを含む質量分析装置
US20210199626A1 (en) Fast temperature ramp gas chromatography
US7994453B2 (en) Flash heating for tubing
KR102156728B1 (ko) 내열성 면상발열체가 접착된 시료농축튜브와 이를 포함하는 분석 장치 및 이를 이용한 분석 방법
US20030086701A1 (en) Trap assembly for use with a purge and trap
JP2010536031A (ja) 高温マイクロ波クロマトグラフィーに使用する加熱式移送ライン
JP2019007927A (ja) ガスクロマトグラフ質量分析装置
US20120286151A1 (en) Devices and Methods for Analyzing Surfaces
JP6935116B1 (ja) 低温濃縮装置及び大気濃縮装置
US20040152388A1 (en) Energization processing apparatus and electron source manufacturing apparatus
US11904258B2 (en) Thermal isolation chambers and chromatography systems including them
JP6654000B2 (ja) 試料断片化装置