JP2017142141A - Particle detection sensor, mobile entity onboard gas monitor, and particle detection method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、気体または液体である流体中に含まれる粒子を測定する粒子検出センサ、当該粒子検出センサを備える移動体搭載用気体モニタ、及び、粒子検出方法に関する。 The present invention relates to a particle detection sensor for measuring particles contained in a fluid that is a gas or a liquid, a gas monitor for mounting on a moving body including the particle detection sensor, and a particle detection method.
光散乱式粒子検出センサは、投光素子と受光素子とを備える光電式センサであり、測定対象の気体を取り込んで投光素子の光を当該気体に照射し、その散乱光によって気体に含まれる粒子の有無を検出するものである。このような光散乱式検出センサは、例えば、大気中に浮遊するホコリ、花粉、煙等の粒子を検出することができる。 The light scattering particle detection sensor is a photoelectric sensor including a light projecting element and a light receiving element, takes in a gas to be measured, irradiates the light of the light projecting element, and is contained in the gas by the scattered light. It detects the presence or absence of particles. Such a light scattering detection sensor can detect particles such as dust, pollen, and smoke floating in the atmosphere.
この種の光散乱式粒子検出センサを含む機器として、当該光散乱式粒子検出センサからの検知信号を用いて、大気中の単位体積当たりの粒子の量(濃度)を検出するものが知られている(例えば、特許文献1参照)。 As a device including this type of light scattering particle detection sensor, a device that detects the amount (concentration) of particles per unit volume in the atmosphere using a detection signal from the light scattering particle detection sensor is known. (For example, refer to Patent Document 1).
しかしながら、このような粒子検出センサが振動した場合、当該粒子検出センサに取り込まれた気体は、本来の速度(絶対速度)に比べて見かけ上の速度(粒子検出センサに対する相対速度)が変化することとなる。このため、粒子検出センサの検出精度が劣化するという問題がある。 However, when such a particle detection sensor vibrates, the apparent speed (relative speed with respect to the particle detection sensor) of the gas taken into the particle detection sensor changes compared to the original speed (absolute speed). It becomes. For this reason, there exists a problem that the detection accuracy of a particle | grain detection sensor deteriorates.
そこで、本発明は、振動する場合であっても、検出精度の劣化を低減することができる粒子検出センサ等を提供することを目的とする。 Therefore, an object of the present invention is to provide a particle detection sensor or the like that can reduce deterioration in detection accuracy even when it vibrates.
上記目的を達成するため、本発明の一態様に係る粒子検出センサは、気体または液体である流体中に含まれる粒子を検出する粒子検出センサであって、検知領域に光を投光する投光素子、及び、前記検知領域に位置する前記粒子によって散乱された光を受光する受光素子と、前記受光素子からの出力を示す時系列の信号を信号処理することにより、前記流体中に含まれる前記粒子の質量濃度を算出する信号処理部とを備え、前記信号処理部は、前記粒子検出センサが無振動状態の場合の基準となるパルス状のリファレンス波形を取得し、前記時系列の信号に含まれるパルス状の測定波形を取得し、ピーク値が略一致する前記リファレンス波形と前記測定波形とについて、時間幅が略一致する場合、補正処理を行うことなく前記質量濃度を算出し、当該時間幅が略一致しない場合、前記補正処理を行って前記質量濃度を算出する。 In order to achieve the above object, a particle detection sensor according to one embodiment of the present invention is a particle detection sensor that detects particles contained in a fluid that is a gas or a liquid, and projects light on a detection region. The element and the light receiving element that receives the light scattered by the particles located in the detection region, and the time series signal indicating the output from the light receiving element are signal-processed, whereby the fluid included in the fluid A signal processing unit that calculates a mass concentration of particles, and the signal processing unit acquires a pulsed reference waveform that is a reference when the particle detection sensor is in a non-vibrating state, and is included in the time-series signal If the time widths of the reference waveform and the measurement waveform that have substantially the same peak value are approximately the same, the mass concentration is calculated without performing correction processing. , If the duration does not substantially coincide, calculates the mass concentration by performing the correction process.
また、本発明の一態様に係る移動体搭載用気体モニタは、上記の粒子検出センサと、前記粒子検出センサで算出された前記質量濃度を表示する表示部とを備える。 A gas monitor for mounting on a moving body according to an aspect of the present invention includes the particle detection sensor described above and a display unit that displays the mass concentration calculated by the particle detection sensor.
また、本発明の一態様に係る粒子検出方法は、検知領域に光を投光する投光素子、及び、前記検知領域に位置する粒子によって散乱された光を受光する受光素子を有する粒子検出センサを用いて、気体または液体である流体中に含まれる粒子を検出する粒子検出方法であって、前記粒子検出センサが無振動状態の場合の基準となるパルス状のリファレンス波形を取得するステップと、前記受光素子からの出力を示す時系列の信号に含まれるパルス状の測定波形を取得するステップと、ピーク値が略一致する前記リファレンス波形と前記測定波形とについて、時間幅が略一致する場合、補正処理を行うことなく前記流体中に含まれる前記粒子の質量濃度を算出し、当該時間幅が略一致しない場合、前記補正処理を行って前記質量濃度を算出するステップとを含む。 The particle detection method according to an aspect of the present invention includes a light projecting element that projects light onto a detection region, and a light detection element that receives light scattered by particles located in the detection region. A particle detection method for detecting particles contained in a fluid that is a gas or a liquid, wherein the particle detection sensor acquires a pulsed reference waveform that is a reference when the particle detection sensor is in a non-vibrating state; Steps of acquiring a pulsed measurement waveform included in a time-series signal indicating the output from the light receiving element, and the reference waveform and the measurement waveform having substantially the same peak value, when the time widths substantially match, The mass concentration of the particles contained in the fluid is calculated without performing correction processing, and when the time widths do not substantially match, the correction processing is performed to calculate the mass concentration. And a step.
本発明によれば、粒子検出センサが振動する場合であっても、検出精度の劣化を低減することができる。 According to the present invention, it is possible to reduce deterioration in detection accuracy even when the particle detection sensor vibrates.
以下では、本発明の実施の形態に係る粒子検出センサ等について、図面を用いて詳細に説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、いずれも本発明の好ましい一具体例を示すものである。したがって、以下の実施の形態で示される数値、形状、材料、構成要素、構成要素の配置及び接続形態、並びに、ステップ及びステップの順序などは、一例であり、本発明を限定する趣旨ではない。よって、以下の実施の形態における構成要素のうち、本発明の最上位概念を示す独立請求項に記載されていない構成要素については、任意の構成要素として説明される。 Below, the particle | grain detection sensor etc. which concern on embodiment of this invention are demonstrated in detail using drawing. Note that each of the embodiments described below shows a preferred specific example of the present invention. Therefore, numerical values, shapes, materials, components, arrangement and connection forms of components, and steps and order of steps shown in the following embodiments are merely examples, and are not intended to limit the present invention. Therefore, among the constituent elements in the following embodiments, constituent elements that are not described in the independent claims showing the highest concept of the present invention are described as optional constituent elements.
また、各図は、模式図であり、必ずしも厳密に図示されたものではない。また、各図において、同じ構成部材については同じ符号を付し、重複する説明は省略または簡略化する場合がある。さらに、以下において、略一致等の表現を用いている。例えば、略一致とは、完全に一致することを意味するだけでなく、実質的に一致することも意味する。すなわち、「略」とは、数%程度の誤差を含む。 Each figure is a mimetic diagram and is not necessarily illustrated strictly. Moreover, in each figure, the same code | symbol is attached | subjected about the same structural member, and the overlapping description may be abbreviate | omitted or simplified. Further, in the following, expressions such as substantially coincidence are used. For example, “substantially match” not only means that they completely match, but also means that they substantially match. That is, “substantially” includes an error of about several percent.
(実施の形態)
[1.構成]
まず、本発明の実施の形態に係る粒子検出センサの全体構成について説明する。
(Embodiment)
[1. Constitution]
First, the overall configuration of the particle detection sensor according to the embodiment of the present invention will be described.
図1は、本実施の形態に係る粒子検出センサ1の構成の一例を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an example of the configuration of the
粒子検出センサ1は、車両等の移動体に搭載され、当該粒子検出センサ1の周辺に漂う空気(以下、周辺空気と称する)に含まれる粒子の質量濃度を測定する。例えば、周辺空気には粒径が10μm以下の微小なホコリ、花粉、煙、PM2.5等の粒子が含まれ、粒子検出センサ1はこれら粒子の質量濃度を粒径区分毎に測定することが可能である。
The
なお、以下では、「流体中の粒子の質量濃度」を、単に「質量濃度」と記載する場合がある。 In the following, “mass concentration of particles in fluid” may be simply referred to as “mass concentration”.
同図に示すように、粒子検出センサ1は、センサ部10と信号処理部20とを備え、センサ部10の検知領域DAに位置する粒子2からの散乱光に基づいて、周辺空気の質量濃度を測定する。また、粒子検出センサ1は、さらに、粒子検出センサ1が備える各構成に対して電源を供給する電源部30を備える。この電源部30は、例えば、粒子検出センサ1の外部から供給された電圧を所望の電圧に変換するレギュレータ等により構成される。
As shown in the figure, the
以下、粒子検出センサ1の各構成について、具体的に説明する。
Hereinafter, each structure of the particle |
[1−1.センサ部]
センサ部10は、粒子検出センサ1の測定対象である周辺空気を取り込んで、取り込んだ周辺空気に光を照射し、その散乱光の光強度を示す信号(ここでは電流信号)を出力する、光電式センサ(光散乱式粒子検出センサ)である。つまり、センサ部10は、取り込んだ周辺空気に含まれる粒子2に応じた時系列の信号を出力する。
[1-1. Sensor unit]
The
具体的には、本実施の形態では、センサ部10は、投光系11と受光系12と筐体13と加熱部15とを備え、筐体13の流入口18から流出口19までの粒子流路に設けられた検知領域DAに位置する粒子2からの散乱光に応じた信号を出力する。投光系11、受光系12及び検知領域DAは、外光が照射されないように、筐体13に収容されている。
Specifically, in the present embodiment, the
検知領域DAは、測定対象の気体に含まれる粒子2(エアロゾル)を検知するためのエアロゾル検知領域(エアロゾル測定部)であり、投光系11の光軸Pと受光系12の光軸Qとが交差する交点を含む、例えばφ2mm程度の領域である。つまり、検知領域DAは、投光系11の光が投光される空間領域と投光系11の光が粒子2に当たって発生した散乱光を受光系12に導くための空間領域とが重なる空間領域である。
The detection area DA is an aerosol detection area (aerosol measurement unit) for detecting particles 2 (aerosol) contained in the gas to be measured, and includes an optical axis P of the
投光系11は、検知領域DAに光を投光する光学素子からなり、本実施の形態では、投光素子111と、投光素子111の前方(光投光側)に配置された投光レンズ112とを有する。
The light projecting
投光素子111は、検知領域DAに光を投光する、例えばLED(Light Emitting Diode)や半導体レーザ等の固体発光素子である。投光素子111は、例えば、赤外光、青色光、緑色光、赤色光または紫外光等の所定の波長の光を投光し、2波長以上の混合波を投光してもよい。本実施の形態では、粒子2による光の散乱強度に鑑みて、投光素子111として、例えば、400nm〜1000nmの波長の光を投光する砲弾型のLEDが用いられる。
The
なお、投光素子111から投光された光の波長が短いほど、粒径の小さな粒子2を検出しやすくなる。また、投光素子111の投光制御方式は特に限定されるものではなく、投光素子111から投光される光は、DC駆動による連続光またはパルス光等とすることができる。また、投光素子111から投光される光の光強度は、時間的に変化していてもよい。
In addition, it becomes easy to detect the particle | grains 2 with a small particle size, so that the wavelength of the light projected from the
投光レンズ112は、投光素子111の前方かつ投光系11の光軸P上に配置され、投光素子111から投光された光を検知領域DAに向けて進行させるように構成されている。例えば、投光レンズ112は、投光素子111から投光された光を検知領域DAに集光する集光レンズであり、PC(polycarbonate)等の透明樹脂またはガラスによって形成される。つまり、投光素子111から投光された光は、投光レンズ112を介して検知領域DAに到達する。この際、検知領域DAに粒子2が位置する場合、当該粒子2によって投光素子111からの光が散乱される。
The
受光系12は、検知領域DAからの光を受光する光学素子からなり、本実施の形態では、受光素子121と、受光素子121の前方(光入射側)に配置された受光レンズ122とを有する。検知領域DAに粒子2が位置する場合、当該粒子2によって散乱された光(散乱光)は、受光系12によって受光される。
The
受光素子121は、検知領域DAに位置する粒子2によって散乱された光を受光する。具体的には、受光素子121は、受光した光を電気信号に変換する光電変換素子であり、本実施の形態では、投光素子111が投光する光に感度を有する、フォトダイオード及びフォトトランジスタの少なくとも一方を有する。つまり、受光素子121は、受光した光強度に応じた信号(ここでは電流信号)を出力する。なお、受光素子121は、例えば、フォトICダイオードまたは光電子増倍管などを有してもよい。
The
受光レンズ122は、検知領域DAと受光素子121との間に配置され、検知領域DAに位置する粒子2による散乱光を受光素子121に集光するように構成されている。例えば、受光レンズ122は、検知領域DAに位置する粒子2によって散乱された光を受光素子121に集束させる集光レンズであり、投光レンズ112と同様の材質により形成される。
The
筐体13は、遮光性を有し、粒子2を含む周辺空気(気体)が流れる筒状の空間領域である粒子流路が設けられた部材である。例えば、筐体13は、迷光を減衰させやすいように、少なくとも内面が黒色面である。具体的には、筐体13の内面は、光の減衰率が高く、かつ、光を鏡面反射する。なお、筐体13の内面における反射は、鏡面反射でなくてもよく、光の一部が散乱反射されてもよい。
The
ここで、迷光とは、粒子2によって散乱された光以外の光であり、具体的には、投光素子111が投光した光のうち検知領域DAにおいて粒子2に散乱されることなく、筐体13内を進行する光等である。また、迷光には、粒子流路によって筐体13の内部に進入した外光も含まれる。
Here, the stray light is light other than the light scattered by the particles 2, and specifically, the light projected by the
筐体13は、例えば、ABS樹脂などの樹脂材料を用いた射出成形により形成される。このとき、例えば、黒色の顔料または染料を添加した樹脂材料を用いて筐体13を形成することで、筐体13の内面を黒色面にして迷光の減衰を図ることができる。あるいは、射出成形後に筐体13の内面に黒色塗料を塗布することで、筐体13の内面を黒色面にして迷光の減衰を図ることができる。また、筐体13の内面にシボ加工などの表面処理を行うことにより、迷光の減衰を図ることができる。
The
筐体13には、上述したように流入口18及び流出口19が設けられている。このため、周辺空気は、流入口18から筐体13の内部に進入し、粒子流路を通って検知領域DAに導かれ、流出口19から筐体13の外部に流出する。
The
なお、本実施の形態において、粒子流路の流路方向(粒子流路を気体が流れる方向)は、図1の紙面上下方向としているが、図1の紙面垂直方向としてもよい。つまり、本実施の形態では、粒子流路の流路軸は、投光系11及び受光系12の各光軸が通る平面上に存在するように設定しているが、当該平面と直交するように設定されていてもよい。
In the present embodiment, the flow direction of the particle flow path (the direction in which gas flows in the particle flow path) is the vertical direction on the paper surface of FIG. 1, but may be the vertical direction on the paper surface of FIG. That is, in the present embodiment, the flow path axis of the particle flow path is set to exist on a plane through which each optical axis of the light projecting
加熱部15は、当該加熱部15周囲の気体を加熱することにより、粒子流路の気体を流して気流を発生させる気流発生装置である。具体的には、加熱部15が周囲の気体を加熱すると、加熱された気体は、膨張して密度が小さくなることにより重力と逆方向の上方向に移動する。つまり、加熱部15によって、上方向の気流(上昇気流)が発生する。この気流が粒子流路の気体を流すことにより、粒子流路に気流が生じることとなる。その結果、粒子検出センサ1の周辺空気が流入口18から筐体13内部に引き込まれるため、加熱部15を設けない場合に比べて、センサ部10内に多くの粒子2を取り込むことができる。
The
加熱部15は、上昇気流を発生させることから、図1に示すように粒子流路の下方部分に設置されることが好ましい。なお、加熱部15が動作していない状態でも、気体は粒子流路内を通過することができる。
Since the
[1−2.信号処理部]
信号処理部20は、受光素子121からの出力を示す時系列の信号を信号処理することにより、流体中(本実施の形態では気体中)に含まれる粒子2の質量濃度を算出する。具体的には、信号処理部20は、受光素子121から出力された信号(本実施の形態では電流信号)に対してアナログ信号処理を施し、さらに、アナログ信号処理後の信号に対してデジタル信号処理を施すことにより、上記の質量濃度を算出する。
[1-2. Signal processor]
The
図1に示すように、信号処理部20は、アナログ信号処理を施すアナログ信号処理部21と、デジタル信号処理を施す汎用MPU22とを備える。
As shown in FIG. 1, the
アナログ信号処理部21は、アナログ回路により構成され、本実施の形態では、受光素子121から出力された電流信号に対して各種のアナログ信号処理を施すことにより、当該電流信号に基づく電圧信号を出力する。ここで、各種のアナログ信号処理とは、例えば、電流(I)を電圧(V)に変換するI/V変換、入力された信号の所望の周波数帯域を通過させるバンドパスフィルタ処理、及び、入力された信号を増幅して出力する増幅処理である。アナログ信号処理部21は、I/V変換を行うIV変換部211と、バンドパスフィルタ処理及び増幅処理を行う増幅部212とを含む。
The analog
なお、アナログ信号処理部21は、ここに例示した各処理に限らず、さらに他の信号処理(例えば、ハイパスフィルタ処理、ローパスフィルタ処理、及び、減衰処理等)を行う構成であってもよい。
The analog
IV変換部211は、受光素子121から出力された電流信号をI/V変換することにより、当該電流信号に応じた電圧信号を生成する。このように電流信号を電圧信号に変換することにより、以降の信号処理の容易化が図られるとともに、IV変換部211の後段に接続された増幅部212の設計の容易化が図られる。
The
増幅部212は、IV変換部211で生成された電圧信号の所定の帯域を増幅する。具体的には、増幅部212は、当該電圧信号に含まれる周波数成分のうち所定の帯域の周波数成分を、他の帯域の周波数成分よりも高い増幅率で増幅する。ここで、所定の帯域とは、例えば、センサ部10の粒子流路を流れる気体の流速v1に対応する周波数f1を中心周波数、帯域幅をfbwとする帯域である。なお、fbwは所定の周波数であってもよいし、電圧信号のノイズに応じて適宜設定される周波数であってもよい。
The
増幅部212は、例えば、図1に示すように、IV変換部211から出力された電圧信号に含まれる周波数成分のうち所定の帯域の周波数成分を通過させるバンドパスフィルタ215と、バンドパスフィルタ215を通過した周波数成分からなる信号を増幅する増幅器216とを含む。なお、バンドパスフィルタ215及び増幅器216の接続順はこれに限らず、増幅器216がバンドパスフィルタ215より前段に設けられていてもよい。
For example, as illustrated in FIG. 1, the amplifying
このような構成により、アナログ信号処理部21は、受光素子121からの出力を示し、かつ、検知領域DAに位置する粒子2に対応するパルス状の波形を含む時系列の電圧信号を出力する。
With such a configuration, the analog
ここで、粒子2に対応したパルス状の波形とは、検知領域DAを通過する粒子2の速度及び粒径等に対応した正弦波、または、それに類似の波形である。ただし、例えば、大粒径の粒子2と小粒径の粒子2とが同じタイミングで検知領域DAを通過する場合等には、その限りではない。 Here, the pulse-like waveform corresponding to the particle 2 is a sine wave corresponding to the velocity and particle size of the particle 2 passing through the detection area DA, or a waveform similar thereto. However, this is not the case, for example, when the large particle 2 and the small particle 2 pass through the detection area DA at the same timing.
汎用MPU22は、デジタル回路により構成され、アナログ信号処理部21から出力された電圧信号を用いて、センサ部10の粒子流路に流れる気体に含まれる粒子の質量濃度を算出する。この汎用MPU22は、例えば、集積回路であるシステムLSIにより実現され、以下で説明する機能ブロック毎に個別に1チップ化されてもよいし、一部または全てを含むように1チップ化されてもよい。
The general-
また、汎用MPU22は、システムLSIに限るものではなく、専用回路または汎用プロセッサで実現してもよい。また、汎用MPU22は、LSI製造後にプログラムすることが可能なFPGA(Field Programmable Gate Array)、またはLSI内部の回路セルの接続や設定を再構成可能なリコンフィギュラブル・プロセッサを利用してもよい。
The general-
汎用MPU22は、図1に示すように、AD変換部221と演算部222と記憶部223とを機能ブロックとして有し、AD変換部221で生成したデジタルデータを用いて、センサ部10の粒子流路内に流れる気体に含まれる粒子についての種々の分析を行う。この種々の分析とは、例えば、粒子の質量濃度に限らず、当該粒子の粒径の算出、当該粒子の同定等が含まれてもかまわない。
As shown in FIG. 1, the general-
以下、汎用MPU22の各機能ブロックについて、詳細に説明する。
Hereinafter, each functional block of the general-
AD変換部221は、増幅部212で増幅された電圧信号をサンプリング(標本化)及び量子化する。言い換えると、当該AD変換部221は、アナログ信号処理部21から出力されたアナログの電圧信号をAD(Analog to Digital)変換することにより、当該電圧信号に対応する時系列のデジタルデータを生成する。つまり、AD変換部221は、受光素子121から出力された電流信号に基づく時系列のデジタルデータを生成する。
The
本実施の形態では、AD変換部221は、汎用MPU22に予め組み込まれたAD変換モジュールであり、当該汎用MPU22のアナログ入力端子に入力された電圧信号をデジタルデータに変換する。例えば、AD変換部221は、汎用MPU22のアナログ入力端子に入力された0.0〜5.0Vの範囲の電圧信号を、所定のサンプリング周期でサンプリングする。その後、AD変換部221は、サンプリングされた電圧信号の電圧を10ビットのデジタル値に変換することにより、上記の時系列のデジタルデータを生成する。
In the present embodiment, the
演算部222は、AD変換部221で生成されたデジタルデータを用いて、センサ部10の粒子流路に流れる気体に含まれる粒子2の質量濃度を算出する。なお、演算部222による処理の詳細については、後述する。
The
記憶部223は、演算部222が質量濃度を算出するための各種の情報を記憶する。記憶部223は、半導体メモリ等の記憶装置により実現され、本実施の形態では、汎用MPU22に予め組み込まれたメモリ領域である。なお、記憶部223は、汎用MPU22とは別体の記憶装置として設けられていてもかまわない。また、記憶部223が記憶する各種の情報の詳細については、後述する。
The
[2.動作]
次に、粒子検出センサ1の動作について説明する。
[2. Operation]
Next, the operation of the
[2−1.センサ部]
まず、センサ部10の動作について説明する。
[2-1. Sensor unit]
First, the operation of the
加熱部15により空気が加熱されると、筐体13内の粒子流路に上昇気流が生じる。これに伴い、周辺空気中の粒子は、粒子流路の流入口18から筐体13の内部に進入し、粒子の検知領域DAを通過して、粒子流路の流出口19から筐体13の外部に流出される。この際、検知領域DAに位置する粒子2によって、投光系11から投光された光が散乱される。
When air is heated by the
粒子2によって散乱された光が受光素子121に入射すると、受光素子121によって受光量(受光した散乱光の光強度)に応じた電流信号が出力される。
When the light scattered by the particles 2 enters the
図2は、受光素子121から出力される電流信号の一例を示す波形図である。
FIG. 2 is a waveform diagram showing an example of a current signal output from the
同図に示す電流信号の波形には、4つのパルス状の波形W1〜W4が含まれる。具体的には、当該電流信号の波形には、ピーク値I3を有する波形W1と、ピーク値I2を有する波形W2と、ピーク値I1を有する波形W3及びW4とが含まれる。なお、これらの波形W1〜W4には、ノイズによる波形WNが重畳されている。 The waveform of the current signal shown in the figure includes four pulse waveforms W1 to W4. Specifically, the waveform of the current signal includes a waveform W1 having a peak value I3, a waveform W2 having a peak value I2, and waveforms W3 and W4 having a peak value I1. Note that a waveform WN due to noise is superimposed on these waveforms W1 to W4.
波形W1〜W4は、気流が粒子流路を流れることに伴って検知領域DAを通過する粒子2に対応し、それぞれが対応する粒子2の粒径に応じたピーク値を有する。ここで、波形W1〜W3はそれぞれ1つのピークのみを有するのに対し、波形W4は2つのピークを有する。つまり、波形W1〜W3はそれぞれ1つの粒子に対応する単一波形であるのに対し、波形W4は2つの同一粒径の粒子に対応する2つの波形が合成された合成波形となっている。 The waveforms W1 to W4 correspond to the particles 2 that pass through the detection area DA as the airflow flows through the particle flow paths, and each has a peak value corresponding to the particle size of the corresponding particle 2. Here, each of the waveforms W1 to W3 has only one peak, whereas the waveform W4 has two peaks. That is, each of the waveforms W1 to W3 is a single waveform corresponding to one particle, whereas the waveform W4 is a combined waveform in which two waveforms corresponding to two particles having the same particle diameter are combined.
[2−2.信号処理部]
次に、信号処理部20の動作について、説明する。
[2-2. Signal processor]
Next, the operation of the
IV変換部211が、受光素子121から出力された電流を電圧に変換することにより、電圧信号を生成する。つまり、受光素子121から出力された電流信号は電圧信号へと変換される。
The
次に、増幅部212が、当該電圧信号を所定の帯域で増幅する。
Next, the
その後、AD変換部221が、増幅部212で増幅されたアナログ信号である電圧信号をデジタル変換(AD変換)することにより、デジタルデータを生成する。つまり、AD変換部221は、サンプリング及び量子化することにより、受光系12からの出力を示すセンサ信号がデジタル化された時系列のデジタルデータを生成して、演算部222に出力する。
After that, the
図3は、AD変換部221によって生成されたデジタルデータの一例を示す波形図である。具体的には、同図には、図2に示した電流信号が信号処理されることで生成されたデジタルデータの波形図が示されている。
FIG. 3 is a waveform diagram illustrating an example of digital data generated by the
同図に示すデジタルデータは、例えば、10ビットの時系列のデジタルデータである。なお、デジタルデータの波形はステップ状の波形であるが、同図では、当該ステップの幅が非常に小さいものとして、見た目上曲線で図示している。また、同図では、デジタルデータの各サンプルのデジタル値を電圧に換算して図示している。これらの事項については、以降の波形図においても同様である。 The digital data shown in the figure is, for example, 10-bit time series digital data. Although the waveform of the digital data is a step-like waveform, in the same figure, it is assumed that the width of the step is very small and is shown by an apparent curve. In the same figure, the digital value of each sample of digital data is converted into a voltage. These matters are the same in the following waveform diagrams.
同図に示すように、AD変換部221によって生成されたデジタルデータの波形では、ノイズによる波形WN(図2参照)がフィルタリングされてカットされ、粒子の各々に対応したパルス状の波形W1〜W4が含まれる。
As shown in the figure, in the waveform of digital data generated by the
このように生成されたデジタルデータを用いて、演算部222が質量濃度を算出する。
Using the digital data generated in this way, the
ここで、粒子検出センサ1が搭載された移動体が振動すると、粒子検出センサ1の振動によりデジタルデータに含まれるパルス状の波形が変化してしまい、質量濃度の検出精度が劣化する場合がある。このため、本実施の形態では、粒子検出センサ1が振動している場合には補正処理を行って質量濃度を算出し、粒子検出センサ1が振動していない場合には当該補正処理を行わずに質量濃度を算出する。これにより、本実施の形態に係る粒子検出センサ1によれば、検出精度の劣化を低減することができる。
Here, when the moving body on which the
[2−3.粒子検出処理]
以下、粒子検出センサ1の動作として、粒子検出センサ1による質量濃度を算出する処理である粒子検出処理について説明する。図4は、粒子検出センサ1の動作を示すフローチャートである。
[2-3. Particle detection processing]
Hereinafter, as an operation of the
まず、信号処理部20は、粒子検出センサ1が無振動状態の場合の基準となるパルス状のリファレンス波形を取得する(S10)。本実施の形態では、粒子検出センサ1が無振動状態である場合に、AD変換部221から出力されたデジタルデータに含まれるパルス状の複数の波形を演算部222が取得することにより、複数のリファレンス波形が取得される。
First, the
なお、リファレンス波形を取得する手法はこれに限らず、例えば、センサ部10の特性等により予め定められたリファレンス波形を記憶部223から取得してもかまわない。また、リファレンス波形の個数は1以上であればよく複数に限らないが、質量濃度の精度の観点からはリファレンス波形の個数が多いことが好ましい。
Note that the method of acquiring the reference waveform is not limited to this, and for example, a reference waveform predetermined according to the characteristics of the
また、信号処理部20がリファレンス波形を取得するタイミングは、特に限定されないが、例えば、リファレンス波形は、粒子検出センサ1が搭載される車両等の移動体が起動される度または所定の時間ごと(例えば1時間ごと)に取得されてもよい。この場合、粒子検出センサ1は、アナログ信号処理部21等を構成するアナログ素子の経時的な特性変動による検出精度の劣化を抑制することができる。また、例えば、リファレンス波形は、粒子検出センサ1の工場出荷前の品質調整時に取得されてもよい。この場合、粒子検出センサ1は、工場出荷後にリファレンス波形を取得する必要がなく、処理負荷の軽減を図ることができる。
The timing at which the
ここで、無振動状態とは、完全に振動していない状態(静止状態)が好ましいが、これに限らず、例えば1GHz以下の微小な振動が発生している状態であってもかまわない。一方、振動状態とは、無振動状態より大きな振動が発生している状態であり、例えば、粒子検出センサ1を搭載する移動体の移動が移動している状態であって、当該移動体が路面等を移動することにより比較的大きな振動が発生している状態である。このような振動状態としては、例えば、10Hz〜100Hz等の所定の帯域の振動が一定期間継続している状態が挙げられる。
Here, the no-vibration state is preferably a state in which it is not completely vibrated (stationary state), but is not limited thereto, and may be a state in which, for example, minute vibrations of 1 GHz or less are generated. On the other hand, the vibration state is a state in which a larger vibration is generated than in the non-vibration state. For example, the movement of the moving body on which the
次に、信号処理部20は、受光素子121からの出力を示す時系列の信号に含まれるパルス状の測定波形を取得する(S20)。本実施の形態では、AD変換部221から出力されたデジタルデータに含まれるパルス状の波形を演算部222が取得することにより、当該測定波形のデジタルデータが取得される。
Next, the
なお、信号処理部20が測定波形を取得するタイミングは、特に限定されないが、例えば、測定波形は、リファレンス波形の取得に引き続いて取得されてもかまわないし、リファレンス波形の取得から任意の時間経過後に取得されてもかまわない。また、測定波形は、所定の時間ごと(例えば10分間ごと)に取得されてもよいし、常時取得されてもよい。測定波形が常時取得されるように構成された粒子検出センサ1は、周辺空気の質量濃度が刻々と変化するような環境下で用いられる粒子検出センサとして好適である。
The timing at which the
次に、信号処理部20は、取得したリファレンス波形及び測定波形を用いて、質量濃度を算出する(S30)。具体的には、信号処理部20は、ピーク値が略一致するリファレンス波形と測定波形とについて、時間幅が略一致する場合、補正処理を行うことなく質量濃度を算出し、当該時間幅が略一致しない場合、補正処理を行って質量濃度を算出する。
Next, the
以下、このような粒子検出処理に含まれる各処理の詳細について、説明する。 Hereinafter, the details of each process included in such a particle detection process will be described.
まず、上述のリファレンス波形取得処理(S10)の詳細について、説明する。 First, details of the above-described reference waveform acquisition process (S10) will be described.
図5は、粒子検出センサ1によるリファレンス波形取得処理(S10)の一例を示すフローチャートである。
FIG. 5 is a flowchart showing an example of the reference waveform acquisition process (S10) by the
まず、粒子検出センサ1が無振動状態で周辺空気を筐体13内の粒子流路に引き込むことにより、検知領域DAに粒子2を導入する(S11)。
First, the particle 2 is introduced into the detection area DA by drawing the ambient air into the particle flow path in the
図6は、粒子検出センサ1が無振動状態の場合の検知領域DA及びその周囲の状態を模式的に示す図である。なお、同図には、気流が破線で示され、投光系11から投光された光及び検知領域DAに位置する粒子2からの散乱光が実線で示されている。
FIG. 6 is a diagram schematically illustrating the detection area DA and the surrounding state when the
同図に示すように、粒子検出センサ1が無振動状態の場合、検知領域DAは略一定の領域となる。また、当該場合、粒子流路を流れる気流も略一定となる。このため、検知領域DAに粒子2が位置する時間も略一定となる。
As shown in the figure, when the
次に、演算部222が、受光素子121からの出力を示す時系列のデジタルデータに含まれるパルス状の波形である波形データを取得する(S12)。
Next, the
次に、演算部222は、取得した波形データが単一波形であるか否かを判断し(S13)、単一波形の場合(S13でYes)には当該波形データをリファレンス波形データとして記憶部223に記憶させる(S14)。一方、単一波形でない場合(S13でNo)には、波形データ取得処理(S12)に戻って以降の処理を繰り返す。具体的には、演算部222は、波形データのピークが1つの場合に、当該波形データが単一波形であると判断し、波形データのピークが複数の場合に、当該波形データが単一波形でないと判断する。
Next, the
このような処理により、図7に示すようなリファレンス波形データが取得される。図7は、リファレンス波形データの一例を示す波形図である。 By such processing, reference waveform data as shown in FIG. 7 is acquired. FIG. 7 is a waveform diagram showing an example of reference waveform data.
同図では、説明のため、ピーク値がそれぞれVref1、Vref2、Vref3(ただし、Vref1<Vref2<Vref3を満たす)となるリファレンス波形データが示されている。なお、無振動状態で得られる波形データは、これに限らず、単一波形であればどのようなピーク値を有しても構わない。また、ピーク値がそれぞれVref1、Vref2、Vref3となるリファレンス波形データは、粒径がD1、D2、D3(ただし、D1<D2<D3を満たす)の粒子2に対応する。 In the drawing, reference waveform data whose peak values are Vref1, Vref2, and Vref3 (where Vref1 <Vref2 <Vref3 is satisfied) is shown for explanation. The waveform data obtained in the non-vibration state is not limited to this and may have any peak value as long as it is a single waveform. Further, the reference waveform data whose peak values are Vref1, Vref2, and Vref3 respectively correspond to particles 2 having particle diameters D1, D2, and D3 (providing that D1 <D2 <D3 is satisfied).
同図に示すように、粒径が大きい粒子2のリファレンス波形データほど、複数の閾値電圧Vth1〜Vth4の各々における時間幅が大きくなることがわかる。例えば、閾値電圧Vth1における各リファレンス波形データの時間幅に着目すると、粒径D1の時間幅Tref1、粒径D2の時間幅Tref2、及び、粒径D3の時間幅Tref3がTref1<Tref2<Tref3となる。 As shown in the figure, it can be seen that the reference waveform data of the particle 2 having a larger particle size has a larger time width in each of the plurality of threshold voltages Vth1 to Vth4. For example, focusing on the time width of each reference waveform data at the threshold voltage Vth1, the time width Tref1 of the particle size D1, the time width Tref2 of the particle size D2, and the time width Tref3 of the particle size D3 satisfy Tref1 <Tref2 <Tref3. .
本実施の形態では、演算部222は、取得したリファレンス波形データを示す情報を記憶部223に記憶させる。具体的には、演算部222は、当該情報として、取得したリファレンス波形データごとに、ピーク値、及び、複数の閾値Vth1〜Vth4の各々における時間幅を記憶部223に記憶させる。
In the present embodiment, the
なお、複数の閾値Vth1〜Vth4の個数及び間隔は特に限定されないが、例えば、粒子検出センサ1の測定対象の粒径分布に応じて適宜設定されてもかまわない。
The number and interval of the plurality of threshold values Vth1 to Vth4 are not particularly limited, but may be set as appropriate according to the particle size distribution of the measurement target of the
図8は、記憶部223に記憶されたリファレンス波形データを示す情報223aの一例を示す図である。
FIG. 8 is a diagram illustrating an example of
同図に示すように、記憶部223は、図7に示すリファレンス波形データごとに、ピーク値と、複数の閾値Vth1〜Vth4の各々における時間幅とを対応付けて記憶する。なお、記憶部223が記憶する情報はこれに限らず、例えば、リファレンス波形データそのものを記憶してもかまわない。
As shown in the figure, the
次に、測定波形取得処理(S20)及び質量濃度算出処理(S30)の詳細について、説明する。 Next, details of the measurement waveform acquisition process (S20) and the mass concentration calculation process (S30) will be described.
図9は、粒子検出センサ1による測定波形取得処理(S20)及び質量濃度算出処理(S30)の一例を示すフローチャートである。
FIG. 9 is a flowchart illustrating an example of a measurement waveform acquisition process (S20) and a mass concentration calculation process (S30) by the
まず、粒子検出センサ1が周辺空気を筐体13内の粒子流路に引き込むことにより、検知領域DAに粒子2を導入する(S21)。この処理は、上述のステップS11と同様である。このとき、粒子検出センサ1が振動状態であるか否かは不明である。
First, the
図10は、粒子検出センサ1が振動状態の場合の検知領域DA及びその周囲の状態を模式的に示す図である。なお、同図には、図6と同様に、気流が破線で示され、投光系11から投光された光及び検知領域DAに位置する粒子2からの散乱光が実線で示されている。
FIG. 10 is a diagram schematically illustrating the detection area DA and the surrounding state when the
同図に示すように、粒子検出センサ1が振動状態の場合、投光系11及び受光系12が振動するため、検知領域DAも振動によって振動する。つまり、検知範囲がブレることとなる。また、当該場合、粒子流路を流れる気流もブレ得るため、検知領域DAに粒子2が位置する時間もブレることとなる。このため、受光素子121から出力される信号に含まれるパルス状の波形の時間幅が、無振動状態の場合に比べて変化する。
As shown in the figure, when the
次に、演算部222が、受光素子121からの出力を示す時系列のデジタルデータに含まれるパルス状の波形である波形データを取得する(S22)。本実施の形態では、演算部222は、所定の測定期間(例えば、150秒間)にわたって波形データを取得することにより、複数の波形データを取得する。
Next, the
図11は、粒子検出センサ1が振動状態の場合に得られる波形データの一例を示す波形図である。なお、同図には、粒子検出センサ1が無振動状態の場合に同じ粒径の粒子2から得られる波形データも示されている。
FIG. 11 is a waveform diagram showing an example of waveform data obtained when the
同図に示すように、粒子検出センサ1が振動状態の場合、無振動状態の場合に比べて、ピーク値が低下するとともに、任意の閾値における時間幅が変化する。具体的には、振動状態の場合には、ピーク値がVαかつ時間幅がTαとなる無振動状態の場合に比べて、ピーク値がVβに低下し(ただし、Vα>Vβ)、閾値Vth1における時間幅がTαからTβ1とTβ2との範囲でブレることとなる(ただし、Tα>Tβ2>Tβ1)。なお、無振動状態の場合の時間幅と振動状態の場合の時間幅との大小関係は、時間幅を比較する閾値によって変わるため、無振動状態の場合の時間幅が振動状態の場合の時間幅より小さい場合もあり得る。
As shown in the figure, when the
次に、演算部222は、取得した複数の波形データのうち複数のピークを有する波形データを除外する(S23)。例えば、演算部222は、図3に示す波形W1〜W4に示すような波形データを取得した場合、以降の処理では、2つのピークを有する波形W4の波形データを除外して処理を行う。つまり、信号処理部20は、複数のピークを有する測定波形を除外して、質量濃度を算出することとなる。なお、以降、処理対象の波形データを測定波形データと記載する。
Next, the
次に、演算部222は、リファレンス波形データを記憶部223から読み出す(S24)。本実施の形態では、演算部222は、記憶部223に記憶されたリファレンス波形データを示す情報を取得する。
Next, the
その後、演算部222は、測定波形データとピーク値の近いリファレンス波形データがあるか否かを判断し(S25)、ピーク値の近いリファレンス波形データがある場合(S25でYes)、閾値の時間幅(波形幅)を取得する(S26)。具体的には、本実施の形態では、演算部222は、取得した複数の測定波形データの各々について、ピーク値の近いリファレンス波形データがあるか否かを判断する。また、リファレンス波形データとピーク値の近い測定波形データについては、複数の閾値Vth1〜Vth4の各々における時間幅を取得する。なお、ピーク値が近いとは、ピーク値が略一致することを指す。
Thereafter, the
一方、測定波形データとピーク値の近いリファレンス波形データがない場合(S25でNo)、上記の波形データ取得処理(S22)に戻って、以降の処理を繰り返す。 On the other hand, when there is no reference waveform data whose peak value is close to the measured waveform data (No in S25), the process returns to the waveform data acquisition process (S22) and the subsequent processes are repeated.
次に、演算部222は、測定波形データの時間幅とリファレンス波形データの時間幅とが一致するか否を判断し(S27)、これらの時間幅が一致する場合(S27でYes)、粒子検出センサ1が無振動状態であると判定して補正を非実施とする(S28)。つまり、当該場合、信号処理部20は、補正処理を行うことなく質量濃度を算出する。なお、質量濃度を算出する手法については、特に限定されてないが、例えば、所定時間内に取得した測定波形データのピークの個数により算出される個数濃度、及び、ピークの平均値に基づく平均質量等を用いて算出することができる。
Next, the
一方、演算部222は、これらの時間幅が一致しない場合(S27でNo)、粒子検出センサ1が振動状態であると判定し、補正を実施する(S29)。つまり、当該場合、信号処理部20は、補正処理を行って質量濃度を算出する。
On the other hand, when these time widths do not match (No in S27), the
具体的には、本実施の形態では、信号処理部20は、ピーク値が略一致するリファレンス波形(ここではリファレンス波形データ)と測定波形(ここでは測定波形データ)とについて、複数の閾値Vth1〜Vth4それぞれにおける時間幅が略一致する場合、補正処理を行わない。一方、信号処理部20は、複数の閾値Vth1〜Vth4の少なくとも1つにおける時間幅が略一致しない場合、補正処理を行う。
Specifically, in the present embodiment, the
なお、補正処理を行うか否かの基準はこれに限らず、例えば、複数の閾値のうち半数以上の閾値で時間幅が略一致する場合に補正処理を行い、これ以外の場合に補正処理を行わなくてもかまわない。 Note that the criterion for determining whether or not to perform the correction process is not limited to this. For example, the correction process is performed when the time widths substantially match at half or more of the plurality of thresholds, and the correction process is performed in other cases. You don't have to.
信号処理部20は、補正処理において、次のような補正係数を用いて質量濃度を算出する。補正係数としては、粒子検出センサ1が無振動状態の場合と振動状態の場合とで検知領域DAに同一粒径の粒子が導入された際の受光素子121からの出力を示す信号(ここでは、電圧信号)に含まれるパルス状の波形の時間幅またはピーク値の相対関係が挙げられる。
In the correction process, the
図12は、補正処理に用いられる補正係数について説明するための波形図の一例である。 FIG. 12 is an example of a waveform diagram for explaining the correction coefficient used in the correction process.
同図には、粒子検出センサ1が無振動状態の場合と振動状態の場合とで検知領域DAに同一粒径の粒子が導入された場合の、アナログ信号処理部21から出力される電圧信号が示されている。
In the figure, the voltage signal output from the analog
同図に示すように、同一粒径の粒子が導入された場合であっても、無振動状態と振動状態とでは波形のピーク値及び時間幅が異なっている。具体的には、無振動状態では、波形のピーク値が850mV、閾値電圧(同図では400mV)における時間幅が30msとなっている。一方、振動状態では、波形のピーク値が470mV、閾値電圧における時間幅が3.6msとなっている。つまり、無振動状態では振動状態に比べて、ピーク値が1.8倍、閾値電圧における時間幅が8.3倍となっている。言い換えると、例えば、振動状態で470mVのピーク値が取得される場合、無振動状態では850mVのピーク値が取得されるはずである。 As shown in the figure, even when particles having the same particle diameter are introduced, the peak value and time width of the waveform are different between the non-vibration state and the vibration state. Specifically, in the no-vibration state, the peak value of the waveform is 850 mV, and the time width at the threshold voltage (400 mV in the figure) is 30 ms. On the other hand, in the vibration state, the peak value of the waveform is 470 mV, and the time width at the threshold voltage is 3.6 ms. That is, in the no-vibration state, the peak value is 1.8 times and the time width at the threshold voltage is 8.3 times that in the vibration state. In other words, for example, when a peak value of 470 mV is acquired in the vibration state, a peak value of 850 mV should be acquired in the no-vibration state.
そこで、例えば、信号処理部20は、無振動状態のピーク値と振動状態のピーク値との相対関係(ここでは、無振動状態のピーク値と振動状態のピーク値との比)を、補正係数として用いて補正処理を行う。
Therefore, for example, the
なお、補正係数は、これに限らず、例えば、無振動状態の時間幅と振動状態の時間幅との相対関係(ここでは、無振動状態の時間幅と振動状態の時間幅との比)であってもかまわない。また、補正係数は無振動状態と振動状態との何らかの比に限らず、差分であってもかまわない。また、補正係数は1つに限らず、複数定められていてもかまわない。つまり、例えば、信号処理部20は、振動状態のピーク値に対応付けて補正係数が記憶されたデータベースを用いて補正処理を行ってもかまわない。また、振動状態の振動周波数が特定できる場合、補正係数は当該振動周波数ごとに対応付けられていてもよい。
The correction coefficient is not limited to this. For example, the correction coefficient is a relative relationship between the time width in the non-vibration state and the time width in the vibration state (here, the ratio between the time width in the non-vibration state and the time width in the vibration state). It does not matter. Further, the correction coefficient is not limited to any ratio between the vibrationless state and the vibration state, and may be a difference. Further, the correction coefficient is not limited to one, and a plurality of correction coefficients may be determined. That is, for example, the
信号処理部20は、補正処理として、例えば、無振動状態であると仮定した場合に算出される質量濃度に対して上記の補正係数を乗算することにより、振動状態の場合の質量濃度を算出する。なお、補正処理の手法はこれに限定されず、例えば、振動状態のピーク値各々に補正係数を乗算することで、振動状態の場合の質量濃度を算出してもかまわない。
For example, the
なお、補正係数は、記憶部223に記憶されていてもかまわないし、記憶部223とは別の記憶装置に記憶されていてもかまわない。あるいは、補正係数は、信号処理部20(本実施の形態では演算部222)が補正処理を行う際に実行されるコードに含まれていてもかまわない。
The correction coefficient may be stored in the
このように、信号処理部20は、取得した測定波形(ここでは測定波形データ)とピーク値の近いリファレンス波形(ここではリファレンス波形データ)について、時間幅が測定波形に近い場合、補正処理を行うことなく質量濃度を算出し、当該時間幅が測定波形に近くない場合、補正処理を行って質量濃度を算出する。
As described above, the
なお、ステップS21及びステップS22は上述の測定波形取得処理(S20)の一例であり、ステップS23〜ステップS29は上述の質量濃度算出処理(S30)の一例である。 Steps S21 and S22 are an example of the above-described measurement waveform acquisition process (S20), and steps S23 to S29 are an example of the above-described mass concentration calculation process (S30).
[3.適用例]
以上説明した粒子検出センサ1は、移動体に搭載されて気体の質量濃度をモニタリングする(検知する)移動体搭載用気体モニタに適用することができる。
[3. Application example]
The
図13は、本実施の形態に係る移動体搭載用気体モニタ100の一例を示す外観図であり、(a)は当該外観図の全体図であり、(b)は(a)の当該外観図の一部拡大図である。
FIG. 13 is an external view showing an example of the moving body-mounted
移動体搭載用気体モニタ100は、移動体内の空間の気体の質量濃度をモニタリングする、例えば車載用の気体モニタである。なお、移動体搭載用気体モニタ100がモニタリングする空間は、閉鎖空間に限らず、開放空間であってもかまわないし、あるいは、移動体外の空間の気体であってもかまわない。
The moving body-mounted
同図に示すように、移動体搭載用気体モニタ100は、上述した粒子検出センサ1と、当該粒子検出センサ1で算出された質量濃度を表示する表示部110とを備える。
As shown in the figure, the moving body-mounted
粒子検出センサ1は、例えば、車のフロント部に配置され、フロントパネルに設けられた通気口120を介して導入された気体の質量濃度を算出する。また、粒子検出センサ1は、例えば、フロントパネルに設けられたボタン130a〜130cによって受け付けられたユーザの指示にしたがって、質量濃度を算出する対象の微小粒子を変更してもよい。
The
表示部110は、例えば、車のフロントパネルに設けられた液晶表示装置等のモニタ装置である。
The
なお、移動体搭載用気体モニタ100は、このような構成に限らない。例えば、粒子検出センサ1が車のリア部に配置され、表示部110がフロント部に配置されていてもかまわない。また、移動体搭載用気体モニタ100は、移動体に搭載されていればよく、移動体は車に限らず、列車または航空機であってもかまわない。
Note that the moving body-mounted
[4.まとめ]
以上説明したように、粒子検出センサ1は、気体または液体である流体中(本実施の形態では気体中)に含まれる粒子を検出する粒子検出センサである。粒子検出センサ1は、検知領域DAに光を投光する投光素子111、及び、検知領域DAに位置する粒子2によって散乱された光を受光する受光素子121を備える。また、粒子検出センサ1は、受光素子121からの出力を示す時系列の信号を信号処理することにより、流体中に含まれる粒子の質量濃度を算出する信号処理部20を備える。ここで、信号処理部20は、粒子検出センサ1が無振動状態の場合の基準となるパルス状のリファレンス波形を取得し、時系列の信号に含まれるパルス状の測定波形を取得し、ピーク値が略一致するリファレンス波形と測定波形とについて、時間幅が略一致する場合、補正処理を行うことなく質量濃度を算出し、当該時間幅が略一致しない場合、補正処理を行って質量濃度を算出する。
[4. Summary]
As described above, the
ここで、粒子検出センサ1が振動すると、無振動状態の場合に比べて上記の時系列の信号が変化するため、測定波形のピーク値及び時間幅が無振動状態の場合に比べて変化する。よって、粒子検出センサ1は、ピーク値が略一致するリファレンス波形と測定波形とについて時間幅が略一致しない場合、粒子検出センサ1が振動状態にあるとみなして補正処理を行う。これにより、粒子検出センサ1は、振動する場合であっても、検出精度の劣化を低減することができる。
Here, when the
また、粒子検出センサ1によれば、小型化の妨げとなる加速度センサ等の振動センサを設けることなく、振動状態の場合に補正処理を行って質量濃度を算出する。このため、粒子検出センサ1は、移動体に搭載される小型の粒子検出センサとして好適である。
In addition, according to the
また、信号処理部20は、複数のピークを有する測定波形を除外して、質量濃度を算出する。
In addition, the
ここで、複数のピークを有する測定波形は、検知領域DAに位置する複数の粒子2に対応する複数の波形の合成波である。このため、複数のピークを有する測定波形は、1つの粒子の波形に比べて時間幅が大きくなってしまい、検出精度の劣化の要因となり得る。よって、複数のピークを有する測定波形を除外して質量濃度を算出することにより、検出精度の向上が図られる。 Here, the measurement waveform having a plurality of peaks is a combined wave of a plurality of waveforms corresponding to the plurality of particles 2 located in the detection area DA. For this reason, the measurement waveform having a plurality of peaks has a longer time width than the waveform of a single particle, which may cause a deterioration in detection accuracy. Therefore, the detection accuracy can be improved by calculating the mass concentration excluding the measurement waveform having a plurality of peaks.
また、信号処理部20は、ピーク値が略一致するリファレンス波形と測定波形とについて、複数の閾値それぞれにおける時間幅が略一致する場合、補正処理を行わず、複数の閾値の少なくとも1つにおける時間幅が略一致しない場合、補正処理を行う。
Further, the
ここで、ピーク値が略一致し、かつ、互いに波形形状が異なるリファレンス波形と測定波形とについて、1つの閾値のみで時間幅を比べると、これらの時間幅が略一致してしまう場合がある。この場合、補正処理を行うことなく質量濃度を算出してしまい、検出精度が劣化し得る。よって、ピーク値が略一致するリファレンス波形と測定波形とについて、複数の閾値の少なくとも1つにおける時間幅が略一致しない場合に補正処理を行うことにより、検出精度の劣化を一層低減することができる。 Here, when the time widths of the reference waveform and the measurement waveform having substantially the same peak value and different waveform shapes are compared with only one threshold, the time widths may be substantially the same. In this case, the mass concentration is calculated without performing the correction process, and the detection accuracy may be deteriorated. Therefore, for the reference waveform and the measurement waveform having substantially the same peak value, when the time width of at least one of the plurality of threshold values does not substantially match, the detection accuracy can be further reduced by performing the correction process. .
また、信号処理部20は、補正処理において、粒子検出センサ1が無振動状態の場合と振動状態の場合とで検知領域DAに同一粒径の粒子が導入された際の時系列の信号に含まれるパルス状の波形の時間幅またはピーク値の相対関係を用いて、質量濃度を算出する。
Further, the
このような相対関係を用いることにより、粒子検出センサ1が振動している場合の質量濃度を補正して、検出精度の劣化を低減することができる。
By using such a relative relationship, it is possible to correct the mass concentration when the
また、移動体搭載用気体モニタ100は、上述の粒子検出センサ1と、粒子検出センサ1で算出された質量濃度を表示する表示部110とを備える。
Moreover, the
これにより、移動体搭載用気体モニタ100は、粒子検出センサ1が振動する場合であっても検出精度の劣化が低減された質量濃度を表示することができる。
Thereby, even if the particle |
また、粒子検出方法は、検知領域DAに光を投光する投光素子111、及び、検知領域DAに位置する粒子2によって散乱された光を受光する受光素子121を有する粒子検出センサ1を用いて、気体または液体である流体中に含まれる粒子を検出する粒子検出方法である。粒子検出方法は、粒子検出センサ1が無振動状態の場合の基準となるパルス状のリファレンス波形を取得するステップ(S10)と、受光素子121からの出力を示す時系列の信号に含まれるパルス状の測定波形を取得するステップ(S20)とを含む。また、粒子検出方法は、ピーク値が略一致するリファレンス波形と測定波形とについて、時間幅が略一致する場合、補正処理を行うことなく流体中に含まれる粒子の質量濃度を算出し、当該時間幅が略一致しない場合、補正処理を行って質量濃度を算出するステップ(S30)を含む。
The particle detection method uses a
このように、粒子検出方法は、ピーク値が略一致するリファレンス波形と測定波形とについて時間幅が略一致しない場合、補正処理を行って質量濃度を算出する。これにより、粒子検出センサ1が振動する場合であっても、検出精度の劣化を低減することができる。
As described above, in the particle detection method, when the time widths of the reference waveform and the measurement waveform having substantially the same peak value do not substantially match, the correction process is performed to calculate the mass concentration. Thereby, even if it is a case where the particle |
(その他の実施の形態)
以上、本発明について実施の形態及び変形例に基づいて説明したが、本発明は、上記の実施の形態及び変形例に限定されるものではない。
(Other embodiments)
As described above, the present invention has been described based on the embodiment and the modification. However, the present invention is not limited to the above embodiment and the modification.
例えば、粒子検出センサ1は、IV変換部211、増幅部212、AD変換部221のうち少なくとも1つを備えていなくてもよく、例えば、粒子検出センサ1がAD変換部221を備えず、演算部222が増幅部212から出力された電圧信号を用いて粒子2の粒径を演算してもよい。ただし、以下の観点から、粒子検出センサ1はAD変換部221を備えることが好ましい。
For example, the
すなわち、粒子検出センサ1がAD変換部221を備えない場合、電圧信号のピークをアナログで算出する構成としては、例えば、ピークホールド回路、及び、複数の閾値と比較するための複数のコンパレータを用いる構成が考えられる。しかしながら、このような構成では、ピークホールド回路内のコンデンサの充放電に時間を要することにより、電圧信号のピークを高速に検出することが困難である。さらに、アナログ回路構成として、複数のコンパレータを備えることが必要である。
That is, when the
これに対して、粒子検出センサ1が汎用MPU22に予め組み込まれたAD変換モジュールであるAD変換部221を備える場合、上記ピークホールド回路を用いる場合よりも電圧信号のピークを高速に検出することができるため、粒子の粒径を高速に演算できる。さらに、アナログ回路構成として複数のコンパレータを備える必要がないので、アナログ回路構成を簡素化及び低コスト化できる。
On the other hand, when the
また、上記説明において、粒子を含む媒体は、気体(空気)としたが、気体以外の媒体(水等の液体)であってもよい。つまり、粒子検出センサ1は、気体または液体である流体中に含まれる粒子を検出する。
In the above description, the medium containing particles is gas (air), but it may be a medium other than gas (liquid such as water). That is, the
また、上記説明において、汎用MPU22内の各構成要素は、専用のハードウェアで構成されるか、各構成要素に適したソフトウェアプログラムを実行することによって実現されてもよい。各構成要素は、CPUまたはプロセッサなどのプログラム実行部が、ハードディスクまたは半導体メモリなどの記録媒体に記録されたソフトウェアプログラムを読み出して実行することによって実現されてもよい。
In the above description, each component in the general-
また、汎用MPU22を構成する構成要素(機能)の一部または全ては、粒子検出センサ1を備える各種機器(例えば、移動体搭載用気体モニタ100)に搭載されたマイクロプロセッサ、ROM、RAM等の一部として実現されていてもかまわない。
Further, some or all of the constituent elements (functions) constituting the general-
また、本発明は、このような粒子検出センサ1として実現することができるだけでなく、粒子検出センサ1が行うステップ(処理)を含む方法として実現できる。
Further, the present invention can be realized not only as such a
例えば、それらのステップは、コンピュータ(コンピュータシステム)によって実行されてもよい。そして、本発明は、それらの方法に含まれるステップを、コンピュータに実行させるためのプログラムとして実現できる。さらに、本発明は、そのプログラムを記録したCD−ROM等である非一時的なコンピュータ読み取り可能な記録媒体として実現できる。 For example, these steps may be performed by a computer (computer system). The present invention can be realized as a program for causing a computer to execute the steps included in these methods. Furthermore, the present invention can be realized as a non-transitory computer-readable recording medium such as a CD-ROM on which the program is recorded.
例えば、本発明が、プログラム(ソフトウェア)で実現される場合には、コンピュータのCPU、メモリおよび入出力回路等のハードウェア資源を利用してプログラムが実行されることによって、各ステップが実行される。つまり、CPUがデータをメモリまたは入出力回路等から取得して演算したり、演算結果をメモリまたは入出力回路等に出力したりすることによって、各ステップが実行される。 For example, when the present invention is realized by a program (software), each step is executed by executing the program using hardware resources such as a CPU, a memory, and an input / output circuit of a computer. . That is, each step is executed by the CPU obtaining data from a memory or an input / output circuit or the like, and outputting the calculation result to the memory or the input / output circuit.
その他、各実施の形態に対して当業者が思いつく各種変形を施して得られる形態、または、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で各実施の形態における構成要素および機能を任意に組み合わせることで実現される形態も本発明に含まれる。 In addition, it is realized by variously conceiving various modifications conceived by those skilled in the art to each embodiment, or by arbitrarily combining the components and functions in each embodiment without departing from the spirit of the present invention. This form is also included in the present invention.
1 粒子検出センサ
2 粒子
20 信号処理部
100 移動体搭載用気体モニタ
110 表示部
111 投光素子
121 受光素子
DESCRIPTION OF
Claims (6)
検知領域に光を投光する投光素子、及び、前記検知領域に位置する前記粒子によって散乱された光を受光する受光素子と、
前記受光素子からの出力を示す時系列の信号を信号処理することにより、前記流体中に含まれる前記粒子の質量濃度を算出する信号処理部とを備え、
前記信号処理部は、
前記粒子検出センサが無振動状態の場合の基準となるパルス状のリファレンス波形を取得し、
前記時系列の信号に含まれるパルス状の測定波形を取得し、
ピーク値が略一致する前記リファレンス波形と前記測定波形とについて、時間幅が略一致する場合、補正処理を行うことなく前記質量濃度を算出し、当該時間幅が略一致しない場合、前記補正処理を行って前記質量濃度を算出する
粒子検出センサ。 A particle detection sensor for detecting particles contained in a fluid that is a gas or a liquid,
A light projecting element that projects light to the detection region, and a light receiving device that receives light scattered by the particles located in the detection region;
A signal processing unit that calculates a mass concentration of the particles contained in the fluid by processing a time-series signal indicating an output from the light receiving element;
The signal processing unit
Obtain a pulsed reference waveform that serves as a reference when the particle detection sensor is in a no-vibration state,
Obtain a pulsed measurement waveform included in the time-series signal,
When the time widths of the reference waveform and the measurement waveform having substantially the same peak value are substantially the same, the mass concentration is calculated without performing the correction process, and when the time widths are not substantially the same, the correction process is performed. A particle detection sensor that performs the mass concentration calculation.
請求項1に記載の粒子検出センサ。 The particle detection sensor according to claim 1, wherein the signal processing unit calculates the mass concentration by excluding the measurement waveform having a plurality of peaks.
請求項1または2に記載の粒子検出センサ。 The signal processing unit does not perform the correction process and does not perform the correction process when the time widths of each of the plurality of threshold values substantially match for the reference waveform and the measurement waveform whose peak values substantially match, and at least one of the plurality of threshold values The particle detection sensor according to claim 1, wherein the correction processing is performed when the time widths of the two do not substantially match.
請求項1〜3のいずれか1項に記載の粒子検出センサ。 The signal processing unit is included in the time-series signal when particles having the same particle diameter are introduced into the detection region in the correction process when the particle detection sensor is in a non-vibrating state and in a vibrating state. The particle detection sensor according to any one of claims 1 to 3, wherein the mass concentration is calculated using a relative relationship between a time width or a peak value of a pulsed waveform.
前記粒子検出センサで算出された前記質量濃度を表示する表示部とを備える
移動体搭載用気体モニタ。 The particle detection sensor according to any one of claims 1 to 4,
A gas monitor for mounting on a moving body, comprising: a display unit configured to display the mass concentration calculated by the particle detection sensor.
前記粒子検出センサが無振動状態の場合の基準となるパルス状のリファレンス波形を取得するステップと、
前記受光素子からの出力を示す時系列の信号に含まれるパルス状の測定波形を取得するステップと、
ピーク値が略一致する前記リファレンス波形と前記測定波形とについて、時間幅が略一致する場合、補正処理を行うことなく前記流体中に含まれる前記粒子の質量濃度を算出し、当該時間幅が略一致しない場合、前記補正処理を行って前記質量濃度を算出するステップとを含む
粒子検出方法。 Included in a fluid that is a gas or a liquid using a particle detection sensor that has a light projecting element that projects light onto a detection area and a light receiving element that receives light scattered by particles located in the detection area A particle detection method for detecting particles, comprising:
Obtaining a pulsed reference waveform that is a reference when the particle detection sensor is in a non-vibrating state;
Obtaining a pulsed measurement waveform included in a time-series signal indicating an output from the light receiving element;
When the time widths of the reference waveform and the measurement waveform having substantially the same peak value are substantially the same, the mass concentration of the particles contained in the fluid is calculated without performing a correction process, and the time width is approximately If they do not match, performing the correction process to calculate the mass concentration. A particle detection method.
Priority Applications (1)
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-
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- 2016-02-09 JP JP2016023169A patent/JP2017142141A/en active Pending
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