JP2017142090A - Eye diagram display device and eye diagram display method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、位相と閾値電圧が制御されるパターン信号を測定対象に入力したときの位相と電圧との関係を示すアイダイアグラムを表示するアイダイアグラム表示装置およびアイダイアグラム表示方法に関する。 The present invention relates to an eye diagram display device and an eye diagram display method for displaying an eye diagram showing a relationship between a phase and a voltage when a pattern signal whose phase and threshold voltage are controlled is input to a measurement object.
従来、位相と電圧との関係を示すアイダイアグラムを表示する方法としては、例えば下記特許文献１に開示される方法が知られている。この特許文献１に開示される方法では、限られた数の測定ポイントから短時間に正確なダイアグラムを作成するため、ダイアグラムを最初に作成するために変量間の関係が測定される少なくとも１つの当初の測定ポイントを与えるステップと、少なくとも１つの当初の測定ポイントの関数として、前記変量間の関係が測定されることになる少なくとも１つの位置を選択するステップと、少なくとも１つの位置における前記変量間の関係を測定して、ダイアグラムをさらに作成するために、少なくとも１つのさらなる測定ポイントを与えるステップとを含んで変量間の関係を表わしたダイアグラムを作成している。 Conventionally, as a method for displaying an eye diagram indicating the relationship between phase and voltage, for example, a method disclosed in Patent Document 1 below is known. In the method disclosed in Patent Document 1, in order to create an accurate diagram in a short time from a limited number of measurement points, at least one initial relationship between variables is measured to create a diagram first. Providing at least one measurement point, as a function of at least one initial measurement point, selecting at least one position at which the relationship between the variables will be measured, and between the variables at at least one position In order to measure the relationship and further create the diagram, a diagram is created that represents the relationship between the variables, including the step of providing at least one additional measurement point.
ところで、従来、アイダイアグラムを表示する場合、位相や閾値電圧を変化させて所定のパターン信号を測定対象に入力したときの測定結果から所望のビットエラーレートのアイダイアグラムを予測して表示を行っていた。 By the way, conventionally, when an eye diagram is displayed, an eye diagram of a desired bit error rate is predicted and displayed from a measurement result when a predetermined pattern signal is input to a measurement target by changing a phase or a threshold voltage. It was.
しかし、測定対象に入力されるパターン信号は、位相や閾値電圧を変化させているため、図２（ｂ）に示すように、パターン信号の位相を変化させたときの測定結果からは位相方向（水平方向）に対しての予測ポイントしか得られず、また、パターン信号の閾値電圧を変化させた測定結果からは電圧方向（垂直方向）に対しての予測ポイントしか得ることができなかった。このため、予測したアイダイアグラム（図２（ｂ）の四角で示す予測ポイントを結ぶ一点鎖線で示すアイダイアグラム）は理想的なアイダイアグラムに対して形が歪になり、精度の高いアイダイアグラムを予測して表示することができなかった。その結果、例えばＥ−１２（＝１０-12 ）以下の低レートのアイダイアグラムを予測する場合には、測定ポイント数や得られた結果によっては信頼性が薄くなってしまい、アイダイアグラムの精度がさらに失われるという問題があった。 However, since the pattern signal input to the measurement object changes the phase and threshold voltage, as shown in FIG. 2B, the phase direction (from the measurement result when the phase of the pattern signal is changed) Only the prediction point for the voltage direction (vertical direction) could be obtained from the measurement result obtained by changing the threshold voltage of the pattern signal. For this reason, the predicted eye diagram (the eye diagram indicated by the alternate long and short dash line connecting the prediction points indicated by the squares in FIG. 2B) is distorted with respect to the ideal eye diagram, and a highly accurate eye diagram is predicted. And could not be displayed. As a result, for example, when predicting a low-rate eye diagram of E-12 (= 10 −12 ) or less, the reliability is reduced depending on the number of measurement points and the obtained result, and the accuracy of the eye diagram is reduced. There was also a problem of being lost.
そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、所望のアイダイアグラムを高精度に予測して表示することができるアイダイアグラム表示装置およびアイダイアグラム表示方法を提供することを目的としている。 Therefore, the present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to provide an eye diagram display device and an eye diagram display method capable of predicting and displaying a desired eye diagram with high accuracy. Yes.
上記目的を達成するため、本発明の請求項１に記載されたアイダイアグラム表示装置は、位相と閾値電圧が制御されるパターン信号を測定対象に入力したときの位相と電圧との関係を示すアイダイアグラムを表示するアイダイアグラム表示装置１において、
測定ポイント数と測定を行うビットエラーレートの範囲を設定する操作部３ａと、
アイダイアグラムの中心をオートサーチにて求めるオートサーチ手段３ｂａと、該オートサーチ手段にて求めた中心より位相と閾値電圧を個別に二分岐探索でふるように前記測定対象に入力されるパターン信号の位相と閾値電圧を変えて実測定ポイントを探索し、前記アイダイアグラムの中心と前記実測定ポイントとの間のポイントに閾値電圧を設定して二分岐探索で位相をふるように前記測定対象に入力されるパターン信号の位相を変えて実測定ポイントを探索する実測定ポイント探索手段３ｂｂと、二分岐探索による途中の測定ポイントの結果からバスタブ曲線を引いて仮予測ポイントを算出する仮予測ポイント算出手段３ｂｃと、該仮予測ポイント算出手段にて算出した仮予測ポイントをそれぞれ結んだ線分と前記実測定ポイントと前記アイダイアグラムの中心との間を結んだ線分との交点を予測結果ポイントとしてアイダイアグラムを予測するアイダイアグラム予測手段３ｂｄとを有する制御部３ｂとを備えたことを特徴とする。
In order to achieve the above object, an eye diagram display device according to claim 1 of the present invention provides an eye indicating a relationship between a phase and a voltage when a pattern signal whose phase and threshold voltage are controlled is input to a measurement object. In the eye diagram display device 1 for displaying a diagram,
An
The auto search means 3ba for obtaining the center of the eye diagram by auto search, and the pattern signal input to the measurement object so that the phase and threshold voltage are individually determined by the two-branch search from the center obtained by the auto search means. Search the actual measurement point by changing the phase and threshold voltage, set the threshold voltage at the point between the center of the eye diagram and the actual measurement point, and input to the measurement object so as to cover the phase in a two-branch search The actual measurement point search means 3bb for searching the actual measurement point by changing the phase of the pattern signal to be calculated, and the temporary prediction point calculation means for calculating the temporary prediction point by subtracting the bathtub curve from the result of the measurement point in the middle by the two-branch search 3bc, the line segment connecting the temporary prediction points calculated by the temporary prediction point calculation means, the actual measurement point, and the previous Characterized by comprising a
請求項２に記載されたアイダイアグラム表示方法は、位相と閾値電圧が制御されるパターン信号を測定対象に入力したときの位相と電圧との関係を示すアイダイアグラムを表示するアイダイアグラム表示方法において、
測定ポイント数と測定を行うビットエラーレートの範囲を設定するステップと、
アイダイアグラムの中心をオートサーチにて求めるステップと、
求めた前記アイダイアグラムの中心より位相と閾値電圧を個別に二分岐探索でふるように前記測定対象に入力されるパターン信号の位相と閾値電圧を変えて実測定ポイントを探索するステップと、
前記アイダイアグラムの中心と前記実測定ポイントとの間のポイントに閾値電圧を設定して二分岐探索で位相をふるように前記測定対象に入力されるパターン信号の位相を変えて実測定ポイントを探索するステップと、
二分岐探索による途中の測定ポイントの結果からバスタブ曲線を引いて仮予測ポイントを算出するステップと、
前記仮予測ポイントのそれぞれを結んだ線分と前記実測定ポイントと前記アイダイアグラムの中心との間を結んだ線分との交点を予測結果ポイントとしてアイダイアグラムを予測するステップとを含むことを特徴とする。
The eye diagram display method according to
Setting the number of measurement points and the range of bit error rate to be measured;
The step of finding the center of the eye diagram by auto search,
Searching the actual measurement point by changing the phase and threshold voltage of the pattern signal input to the measurement target so that the phase and threshold voltage are individually performed by two-branch search from the center of the obtained eye diagram;
Search for the actual measurement point by changing the phase of the pattern signal input to the object to be measured so that the threshold voltage is set at the point between the center of the eye diagram and the actual measurement point and the phase is changed by a two-branch search. And steps to
Subtracting the bathtub curve from the result of the measurement point in the middle of the bifurcated search to calculate a provisional prediction point;
Predicting an eye diagram using a prediction result point as an intersection of a line segment connecting each of the provisional prediction points and a line segment connecting between the actual measurement point and the center of the eye diagram. And
本発明によれば、所望のアイダイアグラムを高精度に予測して表示することができる。これにより、低レートのビットエラーレートのアイダイアグラムであっても、従来より高精度に予測して理想的なアイダイアグラムに近づけて表示を行うことができる。 According to the present invention, a desired eye diagram can be predicted and displayed with high accuracy. As a result, even an eye diagram with a low bit error rate can be predicted with higher accuracy than before and displayed close to an ideal eye diagram.
以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。 Hereinafter, embodiments for carrying out the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
図１に示すように、アイダイアグラム表示装置１は、パターン発生部２、エラーレート測定部３を備えて構成され、例えばデータ伝送機器などの測定対象４に対し、位相と閾値電圧が制御されるパターン信号を入力したときの任意のビットエラーレートにおける位相と電圧との関係を示すアイダイアグラムを表示する機能を有する。
As shown in FIG. 1, the eye diagram display device 1 includes a
パターン発生部２は、ユーザが所望するビットエラーレートのアイダイアグラムを予測して表示するにあたって、エラーレート測定部３の後述する制御部３ｂによって位相や閾値電圧が可変制御される既知パターンのパターン信号（テスト信号）を発生して測定対象４に入力する。
The
エラーレート測定部３は、操作部３ａ、制御部３ｂ、記憶部３ｃ、表示部３ｄを含んで構成される。
The error rate measurement unit 3 includes an
操作部３ａは、例えば装置本体に設けられる各種キー、スイッチ、ボタンや表示部３ｄの表示画面上のソフトキーなどで構成され、アイダイアグラム表示に関わる各種設定や指示を行う際にユーザにより操作される。
The
具体的には、所望のビットエラーレートのアイダイアグラムを予測して表示を行うための測定の開始や終了の指示の他、表示部３ｄに表示される設定画面において、測定ポイント数（例えば４ポイント、８ポイント、１６ポイント）の選択設定、ビットエラーレートの測定範囲（実測定ポイントのビットエラーレートよりどこまで低レートの測定を行うかを示す範囲）の設定、予測するビットエラーレートの設定を操作部３ａの操作により行い、これらの操作部３ａの操作に基づく指示や設定情報が制御部３ｂに入力される。
Specifically, in addition to instructions for starting and ending measurement for predicting and displaying an eye diagram of a desired bit error rate, the number of measurement points (for example, 4 points) is displayed on the setting screen displayed on the display unit 3d. , 8 point, 16 point) selection setting, bit error rate measurement range setting (range indicating how low the bit error rate is measured from the actual measurement point), and bit error rate setting to be predicted It is performed by operating the
制御部３ｂは、操作部３ａからの指示や設定情報に基づいて装置全体を統括制御するもので、操作部３ａからの指示によりユーザが所望するビットエラーレートのアイダイアグラムを予測して表示を行うための測定の開始や終了を制御する。制御部３ｂは、操作部３ａからの設定情報に基づいてパターン発生部２に入力される位相や閾値電圧を制御する。制御部３ｂは、各測定ポイントの測定結果や計算結果を記憶部３ｃに記憶制御する。制御部３ｂは、測定結果や測定結果に基づくビットエラーレートのアイダイアグラムや等高線アイダイアグラムを表示部３ｄに描画表示制御する。
The
また、制御部３ｂは、ユーザが所望するビットエラーレートのアイダイアグラムを予測するため、オートサーチ手段３ｂａ、実測定ポイント探索手段３ｂｂ、仮予測ポイント算出手段３ｂｃ、アイダイアグラム予測手段３ｂｄを含んで構成される。
The
オートサーチ手段３ｂａは、周知のオートサーチ（例えば特許第３３９４９４４号）によりアイダイアグラムの中心（図２（ａ）のＯ）を探索する。すなわち、オートサーチ手段３ｂａは、測定対象４からの入力信号のハイレベルとローレベルの中間の信号レベルを、入力信号を二値化するための閾値信号レベルとし、この閾値信号レベルで入力信号を二値化した二値化波形信号の振幅の中心をアイダイアグラムの中心として求める。 The auto search means 3ba searches for the center of the eye diagram (O in FIG. 2A) by a well-known auto search (for example, Japanese Patent No. 3394944). That is, the auto search means 3ba sets a signal level intermediate between the high level and the low level of the input signal from the measurement object 4 as a threshold signal level for binarizing the input signal, and the input signal is output at this threshold signal level. The center of the amplitude of the binarized binarized waveform signal is obtained as the center of the eye diagram.
実測定ポイント探索手段３ｂｂは、オートサーチ手段３ｂａにて求めたアイダイアグラムの中心より位相と閾値電圧を個別に二分岐探索でふるように測定対象４に入力されるパターン信号の位相と閾値電圧を変えて実測定ポイントを探索する。また、実測定ポイント探索手段３ｂｂは、上記探索により得られた実測定ポイントとオートサーチ手段３ｂａにて求めたアイダイアグラムの中心との間のポイントに閾値電圧を設定して二分岐探索で位相をふるように測定対象４に入力されるパターン信号の位相を変えて実測定ポイントを探索する。 The actual measurement point search means 3bb determines the phase and threshold voltage of the pattern signal input to the measurement object 4 so that the phase and threshold voltage are individually determined by the two-branch search from the center of the eye diagram obtained by the auto search means 3ba. Change to search for actual measurement points. The actual measurement point search means 3bb sets a threshold voltage at a point between the actual measurement point obtained by the search and the center of the eye diagram obtained by the auto search means 3ba, and sets the phase by the two-branch search. The actual measurement point is searched by changing the phase of the pattern signal input to the measurement object 4 as described above.
仮予測ポイント算出手段３ｂｃは、実測定ポイント探索手段３ｂｂにより測定の過程で得られた実測定ポイントの測定結果からバスタブ曲線を引いて最小二乗法により仮予測ポイント（図２（ａ）の四角で示すポイント）を算出する。 The temporary prediction point calculation means 3bc draws a bathtub curve from the measurement result of the actual measurement points obtained in the measurement process by the actual measurement point search means 3bb, and calculates the temporary prediction points (squares in FIG. 2A) by the least square method. Point).
アイダイアグラム予測手段３ｂｄは、仮予測ポイント算出手段３ｂｃにて算出した仮予測ポイントをもとにアイダイアグラムの中心Ｏ方向への予測結果ポイント（図２（ａ）の三角で示すポイント）を算出し、算出した予測結果ポイントからアイダイアグラムを予測する。 The eye diagram prediction unit 3bd calculates a prediction result point (point indicated by a triangle in FIG. 2A) in the center O direction of the eye diagram based on the temporary prediction point calculated by the temporary prediction point calculation unit 3bc. The eye diagram is predicted from the calculated prediction result point.
記憶部３ｃは、操作部３ａの操作により設定される設定情報、アイダイアグラム表示を行うために測定される各測定ポイントの測定結果、計算結果を記憶する。
The
表示部３ｄは、例えば液晶表示器などで構成され、測定対象４のアイダイアグラム表示に関わる設定画面、測定結果や予測したアイダイアグラムなどを表示する。
The
次に、上記のように構成されるアイダイアグラム表示装置１を用いて測定対象４の所望のビットエラーレートのアイダイアグラムを予測して表示を行う場合のアイダイアグラム表示方法について説明する。ここでは、予測するアイダイアグラムのビットエラーレートが１Ｅ−１５（＝１０-15 ）の場合を例にとって説明する。 Next, an eye diagram display method for predicting and displaying an eye diagram of a desired bit error rate of the measurement object 4 using the eye diagram display device 1 configured as described above will be described. Here, a case where the bit error rate of the eye diagram to be predicted is 1E-15 (= 10 −15 ) will be described as an example.
ビットエラーレート１Ｅ−１５のアイダイアグラムを予測して表示するにあっては、まず操作部３ａを操作して必要な各種設定を行う。具体的には、予め決められたポイント数（例えば４、８、１６）の中から選択して測定ポイント数を設定する。例えばポイント数８を測定ポイント数として選択して設定する。
In order to predict and display an eye diagram of the bit error rate 1E-15, first, various necessary settings are made by operating the
また、実測定ポイントのビットエラーレートよりどこまで低レートの測定を行うかを示すビットエラーレートの測定範囲（下限値）を設定する。例えばビットエラーレート１Ｅ−７（＝１０-7）まで測定を行う場合は１Ｅ−７に設定する。 In addition, a bit error rate measurement range (lower limit value) indicating how far the actual measurement point bit error rate is measured is set. For example, when measuring up to a bit error rate of 1E-7 (= 10 −7 ), set to 1E-7.
さらに、予測するアイダイアグラムのビットエラーレートを設定する。ここでは、予測するアイダイアグラムのビットエラーレートが１Ｅ−１５なので、１Ｅ−１５に設定する。なお、本実施の形態のアイダイアグラム装置１では、ユーザが特に意識することなくビットエラーレート１Ｅ−６〜１Ｅ−２０のアイダイアグラムの等高線（１Ｅ−１ステップ）を表示から得ることができる。 Further, the bit error rate of the eye diagram to be predicted is set. Here, since the bit error rate of the eye diagram to be predicted is 1E-15, it is set to 1E-15. In the eye diagram device 1 of the present embodiment, contour lines (1E-1 step) of the eye diagram of the bit error rates 1E-6 to 1E-20 can be obtained from the display without any particular awareness of the user.
以上の設定が完了すると、操作部３ａを操作し、設定したエラービットレートのアイダイアグラムを予測して表示するために測定対象４の測定の開始を指示する。操作部３ａの指示により測定対象４の測定が開始されると、オートサーチ手段３ｂａの周知のオートサーチによりアイダイアグラムの中心（図２（ａ）のＯ）を求める。このオートサーチでは、測定対象４からの入力信号のハイレベルとローレベルの中間の信号レベルを、入力信号を二値化するための閾値信号レベルとし、この閾値信号レベルで入力信号を二値化した二値化波形信号の振幅の中心をアイダイアグラムの中心として求める。
When the above setting is completed, the
次に、実測定ポイント探索手段３ｂｂは、アイダイアグラムの中心Ｏより位相を二分岐探索でふるように測定対象４に入力されるパターン信号の位相を変え、ビットエラーレート１Ｅ−７の実測定ポイントの点を探索する（図２（ａ）の丸で示す左端と右端の実測定ポイント）。また、実測定ポイント探索手段３ｂｂは、アイダイアグラムの中心Ｏより閾値電圧を二分岐探索でふるように測定対象４に入力されるパターン信号の閾値電圧を変え、ビットエラーレート１Ｅ−７の実測定ポイントの点を探索する（図２（ａ）の丸で示す上端と下端の実測定ポイント）。この探索により、ビットエラーレート１Ｅ−７のアイダイアグラムの上下左右４点の実測定ポイントを表示部３ｄの表示画面上に描画する。
Next, the actual measurement point search means 3bb changes the phase of the pattern signal input to the measurement object 4 so that the phase is shifted from the center O of the eye diagram by a two-branch search, and the actual measurement point at the bit error rate 1E-7 is obtained. Are searched (actual measurement points at the left end and the right end indicated by circles in FIG. 2A). Further, the actual measurement point search means 3bb changes the threshold voltage of the pattern signal input to the measurement object 4 so that the threshold voltage is applied by the two-branch search from the center O of the eye diagram, and the actual measurement of the bit error rate 1E-7 is performed. The point is searched (actual measurement points at the upper and lower ends indicated by circles in FIG. 2A). As a result of this search, four actual measurement points on the upper, lower, left, and right sides of the eye diagram with the bit error rate 1E-7 are drawn on the display screen of the
次に、実測定ポイント探索手段３ｂｂは、アイダイアグラムの中心Ｏとアイダイアグラムの上端の中央との間のポイントに閾値電圧を設定し、そこから二分岐探索で位相をふるように測定対象４に入力されるパターン信号の位相を変え、ビットエラーレート１Ｅ−７の実測定ポイントの点を探索する（図２（ａ）の丸で示す左上と右上の実測定ポイント）。同様に、実測定ポイント探索手段３ｂｂは、アイダイアグラムの中心Ｏとアイダイアグラムの下端の中央との間のポイントに閾値電圧を設定し、そこから二分岐探索で位相をふるように測定対象４に入力されるパターン信号の位相を変え、ビットエラーレート１Ｅ−７の実測定ポイントの点を探索する（図２（ａ）の丸で示す左下と右下の実測定ポイント）。 Next, the actual measurement point search means 3bb sets a threshold voltage at a point between the center O of the eye diagram and the center of the upper end of the eye diagram, and then sets the threshold voltage to the measurement target 4 so as to cover the phase by a two-branch search. The phase of the input pattern signal is changed, and the points of the actual measurement points at the bit error rate 1E-7 are searched (upper left and upper right actual measurement points indicated by circles in FIG. 2A). Similarly, the actual measurement point search means 3bb sets a threshold voltage at a point between the center O of the eye diagram and the center of the lower end of the eye diagram, and then sets the threshold voltage to the measurement target 4 so as to cover the phase by a two-branch search. The phase of the input pattern signal is changed, and the points of the actual measurement points at the bit error rate 1E-7 are searched (the lower left and lower right actual measurement points indicated by circles in FIG. 2A).
これにより、ビットエラーレート１Ｅ−７のアイダイアグラムの８点の実測定ポインントが得られ、この８点の実測定ポントからビットエラーレート１Ｅ−７のアイダイアグラム（図２（ａ）の実線で示すアイダイアグラム）を表示部３ｄの表示画面上に描画する。
Thus, eight actual measurement points of the eye diagram of the bit error rate 1E-7 are obtained, and an eye diagram of the bit error rate 1E-7 (shown by a solid line in FIG. 2A) is obtained from these eight actual measurement points. (Eye diagram) is drawn on the display screen of the
次に、仮予測ポイント算出手段３ｂｃは、二分岐探索による途中の測定ポイントの結果からバスタブ曲線を引いて最小二乗法により仮予測ポイントを算出する（図２（ａ）の四角で示す仮予測ポイント）。 Next, the temporary prediction point calculation means 3bc calculates a temporary prediction point by the least square method by subtracting a bathtub curve from the result of the measurement point in the middle by the two-branch search (the temporary prediction point indicated by the square in FIG. 2A). ).
ここで、仮予測ポイントの計算方法について、図２（ａ）のアイダイアグラムの左上の点を例にとって説明する。他の点についても考え方は同様である。図２（ａ）に示す仮予測ポイントＡ’は実測定ポイントＡから位相方向のみ予測したものであり、実測定ポイントＣの仮予測ポイントＣ’が実測定ポイントＡの閾値電圧より小さくなった時点で仮予測ポイントＡ’の予測ポイントは実際にありえない点となってしまうため、意味をなさない。 Here, a method for calculating the temporary prediction point will be described by taking the upper left point of the eye diagram of FIG. 2A as an example. The idea is the same for other points. The temporary prediction point A ′ shown in FIG. 2A is a prediction from the actual measurement point A only in the phase direction, and the temporary prediction point C ′ of the actual measurement point C is smaller than the threshold voltage of the actual measurement point A. Therefore, since the prediction point of the temporary prediction point A ′ becomes a point that cannot actually exist, it does not make sense.
アイダイアグラムはＯを中心として小さくなるため、実測定ポイントＡの真の予測ポイントはアイダイアグラムの中心Ｏとの線分ＯＡ上にあるはずである。線分Ａ’Ｂ’は同じレートの等高線のため、線分ＯＡと線分Ａ’Ｂ’の交点が真の予測ポイントである。ただし、Ｏはオートサーチを行った点（測定開始点）とする。 Since the eye diagram becomes smaller around O, the true prediction point of the actual measurement point A should be on the line OA with the center O of the eye diagram. Since the line segment A'B 'is a contour line of the same rate, the intersection of the line segment OA and the line segment A'B' is a true prediction point. However, O is the point where the auto search was performed (measurement start point).
したがって、Ａ（ａ１，ａ２），Ａ’（ａ１’，ａ２’），Ｂ’（ｂ１’，ｂ２’），Ｏ（ｏ１，ｏ２）とすると、求める交点（ｘ，ｙ）は、以下のようになる。 Therefore, if A (a1, a2), A ′ (a1 ′, a2 ′), B ′ (b1 ′, b2 ′), and O (o1, o2), the intersection (x, y) to be obtained is as follows: become.
ｘ＝（（ａ２’ｂ１’−ａ１’ｂ２’）（ｏ１−ａ１）−（ｏ２ａ１−ｏ１ａ２）（ａ１’−ｂ１’））／（（ｏ１−ａ１）（ａ２’−ｂ２’）−（ｏ２−ａ２）（ａ１’−ｂ１’）） x = ((a2'b1'-a1'b2 ') (o1-a1)-(o2a1-o1a2) (a1'-b1')) / ((o1-a1) (a2'-b2 ')-(o2 -A2) (a1'-b1 '))
ｙ＝（（ａ２’ｂ１’−ａ１’ｂ２’）（ｏ２−ａ２）−（ｏ２ａ１−ｏ１ａ２）（ａ２’−ｂ２’））／（（ｏ１−ａ１）（ａ２’−ｂ２’）−（ｏ２−ａ２）（ａ１’−ｂ１’）） y = ((a2'b1'-a1'b2 ') (o2-a2)-(o2a1-o1a2) (a2'-b2')) / ((o1-a1) (a2'-b2 ')-(o2 -A2) (a1'-b1 '))
なお、ａ１’＝ｂ１’の場合は、線分ＯＡの方程式にｘ＝ａ１’を代入した値が交点になる。さらに、上述した計算は、隣接する点の測定が終わっているため、１ポイントの測定結果が取得されるたびに行う。 When a1 '= b1', the value obtained by substituting x = a1 'into the equation of the line segment OA is the intersection. Further, the above-described calculation is performed every time a measurement result of one point is acquired because measurement of adjacent points has been completed.
このように、仮予測ポイント算出手段３ｂｃは、それぞれの仮予測ポイントを結んだ線分と、８点の実測定ポイントとアイダイアグラムの中心との間を結んだ線分との交点をアイダイアグラムの予測結果ポイント（図２（ａ）の三角で示すポイント）として算出する。そして、アイダイアグラム予測手段３ｂｄは、この予測結果ポイントを使用して表示部３ｄの表示画面上にアイダイアグラム（図２（ａ）の点線で示すアイダイアグラム）および１Ｅ−１ステップの等高線アイダイアグラムを引いて描画する。
As described above, the temporary prediction point calculation unit 3bc determines the intersection of the line segment connecting the temporary prediction points and the line segment connecting the eight actual measurement points and the center of the eye diagram. Calculation is performed as prediction result points (points indicated by triangles in FIG. 2A). Then, the eye diagram prediction means 3bd uses this prediction result point to display an eye diagram (an eye diagram indicated by a dotted line in FIG. 2A) and a 1E-1 step contour eye diagram on the display screen of the
なお、どこまで低レートのビットエラーレートの実測定を行うかを設定において、ビットエラーレート１Ｅ−９を選択して設定した場合には、予測結果ポイントを使用したアイダイアグラムの描画が完了した後、ビットエラーレート１Ｅ−８の予測結果ポイントを実測し、その測定結果に応じてバスタブ曲線を引き直す。その後、ビットエラーレート１Ｅ−１５のアイダイアグラムを新たに引き直す。同様に、ビットエラーレート１Ｅ−９の予測結果ポイントを実測し、バスタブ曲線を引き直すことでビットエラーレート１Ｅ−１５のアイダイアグラムを更新する。 Note that when setting the bit error rate 1E-9 in the setting of how much the low rate bit error rate is actually measured, after the drawing of the eye diagram using the prediction result point is completed, The prediction result point of the bit error rate 1E-8 is actually measured, and the bathtub curve is drawn again according to the measurement result. Thereafter, the eye diagram of the bit error rate 1E-15 is redrawn. Similarly, the prediction result point of the bit error rate 1E-9 is actually measured, and the eye diagram of the bit error rate 1E-15 is updated by redrawing the bathtub curve.
また、測定ポイント数としてポイント数１６を選択した場合は、上述した８点の実測定ポイントを探索した後、例えば左上の点とアイダイアグラムの中心Ｏとの間の中間点に位相を設定し、閾値電圧を二分岐探索することで実測定ポイントを割り出す。 Further, when the number of points 16 is selected as the number of measurement points, after searching for the above eight actual measurement points, for example, a phase is set at an intermediate point between the upper left point and the center O of the eye diagram, The actual measurement point is determined by performing a two-branch search for the threshold voltage.
ここで、図３は本実施の形態のアイダイアグラム表示装置１と従来のアイダイアグラム表示装置におけるビットエラーレート１Ｅ−１５のときに予測されるアイダイアグラムの表示例を示す。 Here, FIG. 3 shows an eye diagram display example predicted at the bit error rate 1E-15 in the eye diagram display device 1 of the present embodiment and the conventional eye diagram display device.
図３において、実線で示す本実施の形態のアイダイアグラムと点線で示す従来のアイダイアグラムとを比較すると、特に、右上及び左上の部分の突出部分が小さくなり、より理想的なアイダイアグラムに近づけることができる。 In FIG. 3, when comparing the eye diagram of the present embodiment indicated by the solid line with the conventional eye diagram indicated by the dotted line, the protrusions in the upper right and upper left parts are particularly small, and the eye diagram is closer to an ideal eye diagram. Can do.
このように、本実施の形態のアイダイアグラム表示装置１によれば、実測定ポイントとアイダイアグラムの中心との間を結ぶ線と、同じビットエラーレートの各実測定ポイント間を結ぶ等高線との交点を予測ポイントとしてアイダイアグラムを予測して表示する。これにより、ユーザが所望するアイダイアグラムを高精度に予測して表示を行うことができる。特に、低レートのアイダイアグラムを従来よりも高精度に予測し、理想的なアイダイアグラムに近づけて表示することができる。 Thus, according to the eye diagram display device 1 of the present embodiment, the intersection of the line connecting the actual measurement point and the center of the eye diagram and the contour line connecting the actual measurement points of the same bit error rate. The eye diagram is predicted and displayed as a prediction point. Thereby, the eye diagram desired by the user can be predicted and displayed with high accuracy. In particular, a low-rate eye diagram can be predicted with higher accuracy than before and displayed close to an ideal eye diagram.
以上、本発明に係るアイダイアグラム表示装置およびアイダイアグラム表示方法の最良の形態について説明したが、この形態による記述及び図面により本発明が限定されることはない。すなわち、この形態に基づいて当業者等によりなされる他の形態、実施例及び運用技術などはすべて本発明の範疇に含まれることは勿論である。 The best mode of the eye diagram display device and the eye diagram display method according to the present invention has been described above, but the present invention is not limited by the description and drawings according to this mode. That is, it is a matter of course that all other forms, examples, operation techniques, and the like made by those skilled in the art based on this form are included in the scope of the present invention.
１ アイダイアグラム表示装置
２ パターン発生部
３ エラーレート測定部
３ａ 操作部
３ｂ 制御部
３ｂａ オートサーチ手段
３ｂｂ 実測定ポイント探索手段
３ｂｃ 仮予測ポイント算出手段
３ｂｄ アイダイアグラム予測手段
３ｃ 記憶部
３ｄ 表示部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Eye
Claims (2)
測定ポイント数と測定を行うビットエラーレートの範囲を設定する操作部（３ａ）と、
アイダイアグラムの中心をオートサーチにて求めるオートサーチ手段（３ｂａ）と、該オートサーチ手段にて求めた中心より位相と閾値電圧を個別に二分岐探索でふるように前記測定対象に入力されるパターン信号の位相と閾値電圧を変えて実測定ポイントを探索し、前記アイダイアグラムの中心と前記実測定ポイントとの間のポイントに閾値電圧を設定して二分岐探索で位相をふるように前記測定対象に入力されるパターン信号の位相を変えて実測定ポイントを探索する実測定ポイント探索手段（３ｂｂ）と、二分岐探索による途中の測定ポイントの結果からバスタブ曲線を引いて仮予測ポイントを算出する仮予測ポイント算出手段（３ｂｃ）と、該仮予測ポイント算出手段にて算出した仮予測ポイントをそれぞれ結んだ線分と前記実測定ポイントと前記アイダイアグラムの中心との間を結んだ線分との交点を予測結果ポイントとしてアイダイアグラムを予測するアイダイアグラム予測手段（３ｂｄ）とを有する制御部（３ｂ）とを備えたことを特徴とするアイダイアグラム表示装置。 In an eye diagram display device (1) for displaying an eye diagram showing a relationship between a phase and a voltage when a pattern signal whose phase and threshold voltage are controlled is inputted to a measurement object,
An operation unit (3a) for setting the number of measurement points and the range of the bit error rate for measurement;
An auto search means (3ba) for obtaining the center of the eye diagram by auto search, and a pattern input to the measurement object so that the phase and threshold voltage are individually determined by the two-branch search from the center obtained by the auto search means. Search the actual measurement point by changing the phase and threshold voltage of the signal, set the threshold voltage at the point between the center of the eye diagram and the actual measurement point, and set the threshold voltage in the two-branch search to measure The actual measurement point search means (3bb) for searching for the actual measurement point by changing the phase of the pattern signal input to the input signal, and the provisional prediction point for calculating the temporary prediction point by subtracting the bathtub curve from the result of the measurement point in the middle of the two-branch search The predicted point calculation means (3bc), the line segment connecting the temporary prediction points calculated by the temporary prediction point calculation means, and the actual measurement A control unit (3b) having eye diagram prediction means (3bd) for predicting an eye diagram using an intersection of a line segment connecting between the center of the eye diagram and the center of the eye diagram as a prediction result point Eye diagram display device.
測定ポイント数と測定を行うビットエラーレートの範囲を設定するステップと、
アイダイアグラムの中心をオートサーチにて求めるステップと、
求めた前記アイダイアグラムの中心より位相と閾値電圧を個別に二分岐探索でふるように前記測定対象に入力されるパターン信号の位相と閾値電圧を変えて実測定ポイントを探索するステップと、
前記アイダイアグラムの中心と前記実測定ポイントとの間のポイントに閾値電圧を設定して二分岐探索で位相をふるように前記測定対象に入力されるパターン信号の位相を変えて実測定ポイントを探索するステップと、
二分岐探索による途中の測定ポイントの結果からバスタブ曲線を引いて仮予測ポイントを算出するステップと、
前記仮予測ポイントのそれぞれを結んだ線分と前記実測定ポイントと前記アイダイアグラムの中心との間を結んだ線分との交点を予測結果ポイントとしてアイダイアグラムを予測するステップとを含むことを特徴とするアイダイアグラム表示方法。 In an eye diagram display method for displaying an eye diagram indicating a relationship between a phase and a voltage when a pattern signal whose phase and threshold voltage are controlled is input to a measurement target.
Setting the number of measurement points and the range of bit error rate to be measured;
The step of finding the center of the eye diagram by auto search,
Searching the actual measurement point by changing the phase and threshold voltage of the pattern signal input to the measurement target so that the phase and threshold voltage are individually performed by two-branch search from the center of the obtained eye diagram;
Search for the actual measurement point by changing the phase of the pattern signal input to the object to be measured so that the threshold voltage is set at the point between the center of the eye diagram and the actual measurement point and the phase is changed by a two-branch search. And steps to
Subtracting the bathtub curve from the result of the measurement point in the middle of the bifurcated search to calculate a provisional prediction point;
Predicting an eye diagram using a prediction result point as an intersection of a line segment connecting each of the provisional prediction points and a line segment connecting between the actual measurement point and the center of the eye diagram. And eye diagram display method.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2016022063A JP6235631B2 (en) | 2016-02-08 | 2016-02-08 | Eye diagram display device and eye diagram display method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP2016022063A JP6235631B2 (en) | 2016-02-08 | 2016-02-08 | Eye diagram display device and eye diagram display method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2017142090A true JP2017142090A (en) | 2017-08-17 |
| JP6235631B2 JP6235631B2 (en) | 2017-11-22 |
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2016022063A Active JP6235631B2 (en) | 2016-02-08 | 2016-02-08 | Eye diagram display device and eye diagram display method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP6235631B2 (en) |
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