JP2017113765A - Laser processing device - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a laser processing device capable of appropriately improving processing quality by setting a processing region in accordance with a processing content in regard to the laser processing device which performs processing onto a work surface by applying a laser beam.SOLUTION: A laser processing device 100 includes a laser oscillation unit 12, a galvano-scanner 19, a laser controller 5, and a PC 7. The laser processing device 100 presets a processing region R in a scannable region (S5) by using an object region O calculated every processing object of processing data on object region calculation processing (S4) and, with respect to a position provided by dividing the processing region R with a division number of DAC66, a control signal of the galvano-scanner 19 is allocated (S7). The laser processing device 100 outputs the control signal of the galvano-scanner 19 via the DAC66, drives a galvano-scanner 19 via a galvano X-axis motor 31 and a galvano Y-axis motor 32 and performs two-dimensional scanning of a laser beam L (S19).SELECTED DRAWING: Figure 4

Description

本発明は、レーザ光を照射してワーク表面に加工を施すレーザ加工装置に関する。   The present invention relates to a laser processing apparatus that processes a work surface by irradiating a laser beam.

従来、レーザ加工装置は、レーザ光出射部と、レーザ光出射部から出射されたレーザ光を走査する走査部と、制御部とを備えており、走査部によってレーザ光を走査することで、ワークに対してレーザ光による所望の加工を施している。   2. Description of the Related Art Conventionally, a laser processing apparatus includes a laser beam emitting unit, a scanning unit that scans laser light emitted from the laser beam emitting unit, and a control unit. Is subjected to desired processing with a laser beam.

このようなレーザ加工装置に関する発明として、特許文献1記載の発明が知られている。特許文献1記載のレーザマーキング装置は、レーザ光源と、光走査手段としてのガルバノスキャナと、制御手段とを有しており、制御手段によって、前記レーザ光源と前記光走査手段とを制御して、前記レーザ光源からの前記レーザ光を走査することで、加工対象物上に前記レーザ光で加工を施すように構成されている。   As an invention relating to such a laser processing apparatus, an invention described in Patent Document 1 is known. The laser marking device described in Patent Document 1 includes a laser light source, a galvano scanner as an optical scanning unit, and a control unit. The control unit controls the laser light source and the optical scanning unit, By scanning the laser beam from the laser light source, the workpiece is processed with the laser beam.

そして、特許文献1記載のレーザマーキング装置においては、光走査手段としてのガルバノスキャナによって走査可能な単位エリアを超えるサイズのマーキング内容を加工対象物にマーキングする場合、拡張マーキングエリアを複数の単位エリア毎に分割して、単位エリア毎にマーキング加工を行うように構成されている。   In the laser marking device described in Patent Document 1, when marking a workpiece with a marking content that exceeds the unit area that can be scanned by a galvano scanner as an optical scanning unit, an extended marking area is provided for each of a plurality of unit areas. The marking process is performed for each unit area.

特開2007−268582号公報JP 2007-268582 A

この特許文献1のような構成においては、光走査手段としてのガルバノスキャナによって、レーザ光を単位エリアにおける所望の位置に走査しているが、当該ガルバノスキャナの駆動信号は、CPUで計算され、DAC(digital to analog converter)を通したアナログ信号として送信される。DACの分割数は、その性能によって決まってしまう為、マーキングが行われる領域が大きい程、ガルバノスキャナによる駆動の精度は低下し、もって、マーキング加工における解像度も低下してしまう。   In the configuration as disclosed in Patent Document 1, laser light is scanned to a desired position in a unit area by a galvano scanner serving as an optical scanning unit. A drive signal for the galvano scanner is calculated by a CPU, and is converted to a DAC. It is sent as an analog signal through (digital to analog converter). Since the number of DAC divisions depends on the performance of the DAC, the larger the area where marking is performed, the lower the accuracy of driving by the galvano scanner, and the lower the resolution in the marking process.

この点を踏まえて考察すると、特許文献1記載のレーザマーキング装置においては、拡張マーキングエリアを複数の単位エリア毎に分割して、単位エリア毎にマーキング加工を行う為、ガルバノスキャナによる駆動の精度は、単位エリアのサイズに対応するものに固定されてしまっていた。従って、加工データに基づく加工が行われる領域がどのようなサイズであっても、単位エリアに基づく加工品質(即ち、マーキング加工における解像度)になってしまい、加工品質の更なる向上を図ることができなかった。   Considering this point, in the laser marking device described in Patent Document 1, the extended marking area is divided into a plurality of unit areas, and marking processing is performed for each unit area. , It was fixed to one corresponding to the size of the unit area. Therefore, regardless of the size of the region where the processing based on the processing data is performed, the processing quality based on the unit area (that is, the resolution in the marking processing) is obtained, and the processing quality can be further improved. could not.

本開示は、上記の事情に鑑みてなされたものであり、レーザ光を照射してワーク表面に加工を施すレーザ加工装置に関し、加工内容に応じた加工領域を設定することによって、加工品質を適切に向上させ得るレーザ加工装置を提供することを目的とする。   The present disclosure has been made in view of the above circumstances, and relates to a laser processing apparatus that performs processing on a workpiece surface by irradiating a laser beam. By setting a processing area according to the processing content, the processing quality is appropriately set. It is an object of the present invention to provide a laser processing apparatus that can be improved.

前記目的を達成するため、本発明の一側面に係るレーザ加工装置は、ワークを加工する為のレーザ光を出射するレーザ光出射部と、前記レーザ光出射部から出射されたレーザ光を走査させる走査部と、前記走査部の駆動位置を指示する走査部駆動信号を所定の分割数で出力すると共に、前記レーザ光出射部からの前記レーザ光の出射に関する制御を行う制御部と、前記走査部駆動信号に基づいて、前記走査部を駆動させる駆動部と、前記ワークに対する加工内容を示す加工データを取得する加工データ取得部と、前記加工データ取得部によって取得された前記加工データに基づいて、前記走査部によって前記レーザ光を走査可能な走査可能領域の内部において、前記加工データに基づく加工が行われる範囲である加工領域を決定する加工領域決定部と、前記加工領域決定部によって決定された前記加工領域に対して、前記所定の分割数の前記走査部駆動信号を割り付ける割付変更部と、を有し、前記制御部は、前記割付変更部によって割り付けられた前記走査部駆動信号に基づいて、前記駆動部を介して、前記走査部を駆動させると共に、前記レーザ光出射部からの前記レーザ光の出射に関する制御を行うことを特徴とする。   In order to achieve the above object, a laser processing apparatus according to an aspect of the present invention scans a laser light emitting unit that emits laser light for processing a workpiece and laser light emitted from the laser light emitting unit. A scanning unit; a control unit that outputs a scanning unit driving signal that indicates a driving position of the scanning unit in a predetermined number of divisions; and that controls the emission of the laser beam from the laser beam emitting unit; and the scanning unit Based on the driving data, a driving unit that drives the scanning unit, a processing data acquisition unit that acquires processing data indicating processing content for the workpiece, and the processing data acquired by the processing data acquisition unit, A processing region that determines a processing region that is a range in which processing based on the processing data is performed within a scannable region where the laser beam can be scanned by the scanning unit. An allocation change unit that allocates the predetermined number of divisions of the scanning unit drive signal to the processing region determined by the processing region determination unit, and the control unit changes the allocation Based on the scanning unit drive signal assigned by the unit, the scanning unit is driven via the driving unit, and control regarding emission of the laser light from the laser light emitting unit is performed. .

当該レーザ加工装置は、レーザ光出射部と、走査部と、制御部と、駆動部と、加工データ取得部とを有しており、加工データ取得部によって取得された加工データに従って、レーザ光出射部から出射されたレーザ光を走査部によって走査することで、ワーク表面に加工を施し得る。ここで、当該レーザ加工装置は、更に、加工領域決定部と、割付変更部とを有しており、前記加工データ取得部によって取得された前記加工データに基づいて、走査可能領域の内部において、前記加工データに基づく加工が行われる範囲である加工領域を決定し、決定された前記加工領域に対して、前記所定の分割数の前記走査部駆動信号を割り付ける。そして、当該レーザ加工装置は、制御部の制御によって、前記割付変更部によって割り付けられた前記走査部駆動信号に基づいて、前記駆動部を介して、前記走査部を駆動させると共に、前記レーザ光出射部からの前記レーザ光の出射に関する制御を行う。即ち、当該レーザ加工装置によれば、加工領域決定部によって、加工データの加工内容に対応する加工領域を、走査可能領域の内部に決定し、当該加工領域に対して所定の分割数の走査部駆動信号を割り付ける為、加工領域内部の加工に関する走査部の駆動精度を、走査可能領域全体を対象とする場合に比べて向上させることができ、もって、レーザ光による加工精度をより向上させることができる。   The laser processing apparatus includes a laser beam emitting unit, a scanning unit, a control unit, a drive unit, and a machining data acquisition unit. Laser beam emission is performed according to the machining data acquired by the machining data acquisition unit. The surface of the workpiece can be processed by scanning the laser beam emitted from the section with the scanning section. Here, the laser processing apparatus further includes a processing region determination unit and an allocation change unit, and based on the processing data acquired by the processing data acquisition unit, inside the scannable region, A machining area that is a range in which machining is performed based on the machining data is determined, and the predetermined division number of the scanning unit driving signals is assigned to the determined machining area. The laser processing apparatus drives the scanning unit via the driving unit based on the scanning unit driving signal allocated by the allocation changing unit under the control of the control unit, and emits the laser light. Control relating to emission of the laser light from the unit is performed. That is, according to the laser processing apparatus, the processing region determination unit determines the processing region corresponding to the processing content of the processing data within the scannable region, and a predetermined number of scanning units for the processing region. Since the drive signal is assigned, the drive accuracy of the scanning unit related to the machining inside the machining area can be improved as compared with the case where the entire scannable area is targeted, and the machining precision by the laser beam can be further improved. it can.

本発明の他の側面に係るレーザ加工装置は、請求項1記載のレーザ加工装置であって、前記加工領域決定部は、前記加工データの加工内容を構成する一の加工オブジェクトを全て含む最小サイズの領域を、前記加工領域に決定することを特徴とする。   A laser processing apparatus according to another aspect of the present invention is the laser processing apparatus according to claim 1, wherein the processing region determination unit includes a minimum size including all of one processing object constituting the processing content of the processing data. The region is determined as the processing region.

当該レーザ加工装置によれば、前記加工領域決定部は、前記加工データの加工内容を構成する一の加工オブジェクトを全て含む最小サイズの領域を、前記加工領域に決定する為、走査可能領域の内部における加工領域のサイズを、加工オブジェクトの内容に対応する適切なサイズに決定することができ、もって、加工オブジェクトに関する加工精度を向上させることができる。   According to the laser processing apparatus, the processing area determination unit determines the minimum size area including all of one processing object constituting the processing content of the processing data as the processing area. The size of the machining area in can be determined to an appropriate size corresponding to the content of the machining object, and the machining accuracy related to the machining object can be improved.

本発明の他の側面に係るレーザ加工装置は、請求項1又は請求項2記載のレーザ加工装置であって、前記レーザ光による加工位置に生じる歪を補正する為の歪補正係数に基づいて、前記走査部駆動信号を補正する補正部と、前記加工領域決定部によって決定された前記加工領域の位置を判断する位置判断部と、を有し、前記補正部は、前記位置判断部によって判断された前記加工領域の位置に応じて、前記歪補正係数を変更することを特徴とする。   A laser processing apparatus according to another aspect of the present invention is the laser processing apparatus according to claim 1 or 2, wherein the laser processing apparatus is based on a distortion correction coefficient for correcting distortion generated at a processing position by the laser beam. A correction unit that corrects the scanning unit drive signal; and a position determination unit that determines a position of the processing region determined by the processing region determination unit. The correction unit is determined by the position determination unit. Further, the distortion correction coefficient is changed according to the position of the processing region.

当該レーザ加工装置は、補正部と、位置判断部とを有しており、前記位置判断部によって判断された前記加工領域の位置に応じて、前記歪補正係数を変更する。これにより、当該レーザ加工装置によれば、加工領域決定部によって決定された加工領域に応じた歪補正係数を用いて、補正部によって走査部駆動信号を補正する為、レーザ光による加工位置に生じる歪を、より高い精度をもって補正することができ、加工領域に対する加工品質を更に向上させ得る。   The laser processing apparatus includes a correction unit and a position determination unit, and changes the distortion correction coefficient in accordance with the position of the processing region determined by the position determination unit. As a result, according to the laser processing apparatus, the correction unit corrects the scanning unit drive signal using the distortion correction coefficient corresponding to the processing region determined by the processing region determination unit, and thus occurs at the processing position by the laser beam. The distortion can be corrected with higher accuracy, and the processing quality for the processing region can be further improved.

本発明の他の側面に係るレーザ加工装置は、請求項3記載のレーザ加工装置であって、前記補正部は、前記位置判断部によって判断された前記加工領域に対応する前記歪補正係数を算出し、当該加工領域における歪を補正する為に用いる歪補正係数を、算出した歪補正係数に変更することを特徴とする。   A laser processing apparatus according to another aspect of the present invention is the laser processing apparatus according to claim 3, wherein the correction unit calculates the distortion correction coefficient corresponding to the processing region determined by the position determination unit. The distortion correction coefficient used for correcting the distortion in the processing region is changed to the calculated distortion correction coefficient.

当該レーザ加工装置によれば、前記補正部は、前記位置判断部によって判断された前記加工領域に対応する前記歪補正係数を算出して変更する為、当該加工領域に対する走査部駆動信号を高い精度で補正することができ、もって、当該加工領域における歪を、より確実に低減することができる。即ち、当該レーザ加工装置は、各加工領域に対する加工精度を、夫々向上させることができる。   According to the laser processing apparatus, since the correction unit calculates and changes the distortion correction coefficient corresponding to the processing region determined by the position determination unit, the scanning unit driving signal for the processing region is highly accurate. Thus, the distortion in the processing region can be more reliably reduced. That is, the laser processing apparatus can improve the processing accuracy for each processing region.

本発明の他の側面に係るレーザ加工装置は、請求項1乃至請求項4の何れかに記載のレーザ加工装置であって、前記加工データが複数の加工オブジェクトを含んでいるか否かを判断する判断部を有し、前記判断部によって前記加工データが複数の加工オブジェクトを含んでいると判断された場合、前記加工領域決定部は、前記加工データに含まれている複数の加工オブジェクトについて前記加工領域を決定し、前記制御部は、前記加工データに対して決定された複数の加工領域毎に異なるタイミングで、前記レーザ光の出射及び前記レーザ光の走査に関する制御を行うことを特徴とする。   A laser processing apparatus according to another aspect of the present invention is the laser processing apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein the processing data determines whether or not the processing data includes a plurality of processing objects. And a determination unit, and when the processing unit determines that the processing data includes a plurality of processing objects, the processing region determination unit is configured to process the processing objects included in the processing data with respect to the processing objects. The region is determined, and the control unit controls the emission of the laser light and the scanning of the laser light at different timings for each of the plurality of processing regions determined for the processing data.

当該レーザ加工装置によれば、前記判断部によって前記加工データが複数の加工オブジェクトを含んでいると判断された場合、前記加工領域決定部は、前記加工データに含まれている複数の加工オブジェクトについて前記加工領域を決定し、前記制御部は、前記加工データに対して決定された複数の加工領域毎に異なるタイミングで、前記レーザ光の出射及び前記レーザ光の走査に関する制御を行う為、各加工オブジェクトに対して決定された複数の加工領域について、夫々に適した走査部駆動信号を割り付けることができ、もって、各加工領域に対する加工品質を適切に向上させることができる。   According to the laser processing apparatus, when the processing unit determines that the processing data includes a plurality of processing objects, the processing region determination unit determines the processing objects included in the processing data. The processing area is determined, and the control unit performs control related to emission of the laser light and scanning of the laser light at different timings for each of the plurality of processing areas determined for the processing data. For each of the plurality of processing regions determined for the object, it is possible to assign a scanning unit driving signal suitable for each of the processing regions, and thus it is possible to appropriately improve the processing quality for each processing region.

本発明の他の側面に係るレーザ加工装置は、請求項5記載のレーザ加工装置であって、前記複数の加工オブジェクト間の距離が所定値以下であるか否かを判断する距離判断部を有し、前記判断部によって前記加工データが複数の加工オブジェクトを含んでいると判断され、且つ、前記距離判断部によって複数の加工オブジェクト間の距離が所定値以下であると判断された場合、前記加工領域決定部は、所定値以下の距離に位置する複数の加工オブジェクトを含む最小サイズの領域を、前記加工領域として決定することを特徴とする。   A laser processing apparatus according to another aspect of the present invention is the laser processing apparatus according to claim 5, further comprising a distance determination unit that determines whether or not a distance between the plurality of processing objects is equal to or less than a predetermined value. When the determination unit determines that the processing data includes a plurality of processing objects, and the distance determination unit determines that the distance between the plurality of processing objects is equal to or less than a predetermined value, the processing The region determining unit determines a region having a minimum size including a plurality of processing objects located at a distance equal to or less than a predetermined value as the processing region.

当該レーザ加工装置は、前記判断部によって前記加工データが複数の加工オブジェクトを含んでいると判断され、且つ、前記距離判断部によって複数の加工オブジェクト間の距離が所定値以下であると判断された場合、前記加工領域決定部は、所定値以下の距離に位置する複数の加工オブジェクトを含む最小サイズの領域を前記加工領域として決定する為、一の加工オブジェクトに対して一の加工領域を決定する場合に比べて、割付変更部による処理や加工領域毎のレーザ加工等を適切に省略しつつ、複数の加工オブジェクトに関する加工品質を向上させることができる。即ち、当該レーザ加工装置によれば、加工データに複数の加工オブジェクトが含まれている場合に、各加工オブジェクトに関する加工品質の向上と、各加工オブジェクトに関する加工効率の向上とを両立させることができる。   In the laser processing apparatus, the determination unit determines that the processing data includes a plurality of processing objects, and the distance determination unit determines that the distance between the plurality of processing objects is equal to or less than a predetermined value. In this case, the processing region determination unit determines one processing region for one processing object in order to determine a minimum size region including a plurality of processing objects located at a distance equal to or less than a predetermined value as the processing region. Compared to the case, it is possible to improve the processing quality related to a plurality of processing objects while appropriately omitting the processing by the allocation changing unit and the laser processing for each processing region. That is, according to the laser processing apparatus, when a plurality of processing objects are included in the processing data, it is possible to achieve both improvement in processing quality related to each processing object and improvement in processing efficiency related to each processing object. .

第1実施形態に係るレーザ加工装置の概略構成を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows schematic structure of the laser processing apparatus which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係るレーザヘッド部の構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the laser head part which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係るレーザ加工装置の制御系を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the control system of the laser processing apparatus which concerns on 1st Embodiment. レーザ加工処理プログラムのフローチャートである。It is a flowchart of a laser processing program. オブジェクト領域算出処理プログラムのフローチャートである。It is a flowchart of an object area | region calculation processing program. 第1実施形態に係る加工領域設定処理プログラムのフローチャートである。It is a flowchart of the processing area setting process program which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態における加工領域設定処理の処理内容を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the processing content of the process area setting process in 1st Embodiment. 加工領域に対する射影変換係数の算出についての説明図である。It is explanatory drawing about calculation of the projective transformation coefficient with respect to a process area | region. 第2実施形態に係る加工領域設定処理プログラムのフローチャートである。It is a flowchart of the processing area setting process program which concerns on 2nd Embodiment. 第2実施形態における加工領域設定処理の処理内容を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the processing content of the process area setting process in 2nd Embodiment.

(第1実施形態)
以下、本発明に係るレーザ加工装置を、レーザ加工装置100に具体化した実施形態(第1実施形態)について、図面を参照しつつ詳細に説明する。
(First embodiment)
Hereinafter, an embodiment (first embodiment) in which a laser processing apparatus according to the present invention is embodied in a laser processing apparatus 100 will be described in detail with reference to the drawings.

(レーザ加工装置の概略構成)
先ず、第1実施形態に関するレーザ加工装置100の概略構成について、図面を参照しつつ詳細に説明する。レーザ加工装置100は、レーザ加工ユニット1と、PC7を有しており、PC7によって作成された加工データに従って、レーザ加工ユニット1を制御することで、加工対象物としてのワークWの表面に対して、レーザ光Lを2次元走査してマーキング加工を行うように構成されている。
(Schematic configuration of laser processing equipment)
First, a schematic configuration of the laser processing apparatus 100 according to the first embodiment will be described in detail with reference to the drawings. The laser processing apparatus 100 includes a laser processing unit 1 and a PC 7, and controls the laser processing unit 1 in accordance with the processing data created by the PC 7, so that the surface of the workpiece W as a processing target object is controlled. The laser beam L is two-dimensionally scanned to perform marking processing.

(レーザ加工装置の概略構成)
次に、レーザ加工装置100を構成するレーザ加工ユニット1の概略構成について、図面を参照しつつ詳細に説明する。図1に示すように、第1実施形態に関するレーザ加工ユニット1は、レーザ加工装置本体部2と、レーザコントローラ5と、電源ユニット6を有して構成されている。
(Schematic configuration of laser processing equipment)
Next, a schematic configuration of the laser processing unit 1 constituting the laser processing apparatus 100 will be described in detail with reference to the drawings. As shown in FIG. 1, the laser processing unit 1 according to the first embodiment includes a laser processing apparatus main body 2, a laser controller 5, and a power supply unit 6.

レーザ加工装置本体部2は、ワークWに対してレーザ光Lを照射し、当該レーザ光Lを2次元走査することによって、ワークWの表面上にマーキング加工を行い得る。そして、レーザコントローラ5は、コンピュータで構成され、PC7と双方向通信可能に接続されると共に、レーザ加工装置本体部2及び電源ユニット6と電気的に接続されている。PC7は、パーソナルコンピュータ等から構成され、加工データの作成やレーザ加工装置100における加工に関する各種指示情報の入力等に用いられる。そして、レーザコントローラ5は、PC7から送信された加工データ、制御パラメータ、各種指示情報等に基づいてレーザ加工装置本体部2及び電源ユニット6を駆動制御する。   The laser processing apparatus main body 2 can perform marking on the surface of the workpiece W by irradiating the workpiece W with the laser beam L and scanning the laser beam L two-dimensionally. The laser controller 5 is configured by a computer, is connected to the PC 7 so as to be capable of bidirectional communication, and is electrically connected to the laser processing apparatus main body 2 and the power supply unit 6. The PC 7 is composed of a personal computer or the like, and is used for creating machining data and inputting various instruction information related to machining in the laser machining apparatus 100. The laser controller 5 drives and controls the laser processing apparatus main body 2 and the power supply unit 6 based on the processing data, control parameters, various instruction information, and the like transmitted from the PC 7.

尚、図1は、レーザ加工装置100及びレーザ加工ユニット1の概略構成を示すものであるため、レーザ加工装置本体部2を模式的に示している。従って、当該レーザ加工装置本体部2の具体的な構成については、後述する。   FIG. 1 schematically shows the laser processing apparatus main body 2 because the schematic configuration of the laser processing apparatus 100 and the laser processing unit 1 is shown. Therefore, a specific configuration of the laser processing apparatus main body 2 will be described later.

(レーザ加工装置本体部の概略構成)
次に、レーザ加工装置本体部2の概略構成について、図1、図2に基づいて説明する。尚、レーザ加工装置本体部2の説明において、図1の左方向、右方向、上方向、下方向が、それぞれレーザ加工装置本体部2の前方向、後方向、上方向、下方向である。従って、レーザ発振ユニット12におけるレーザ光Lの出射方向が前方向である。本体ベース11及びレーザ光Lに対して垂直な方向が上下方向である。そして、レーザ加工装置本体部2の上下方向及び前後方向に直交する方向が、レーザ加工装置本体部2の左右方向である。
(Schematic configuration of the laser processing device main unit)
Next, a schematic configuration of the laser processing apparatus main body 2 will be described with reference to FIGS. In the description of the laser processing apparatus main body 2, the left direction, the right direction, the upper direction, and the lower direction in FIG. 1 are the front direction, the rear direction, the upper direction, and the lower direction, respectively. Therefore, the emission direction of the laser light L in the laser oscillation unit 12 is the forward direction. The direction perpendicular to the main body base 11 and the laser beam L is the vertical direction. A direction perpendicular to the vertical direction and the front-rear direction of the laser processing apparatus main body 2 is the left-right direction of the laser processing apparatus main body 2.

レーザ加工装置本体部2は、レーザ光Lとガイド光Mをfθレンズ20から同軸上に出射するレーザヘッド部3(図1参照)と、レーザヘッド部3が上面に固定される略箱体状の加工容器(図示せず)とから構成されている。   The laser processing apparatus body 2 includes a laser head 3 (see FIG. 1) that emits laser light L and guide light M coaxially from the fθ lens 20, and a substantially box-like shape in which the laser head 3 is fixed to the upper surface. And a processing container (not shown).

図1、図2に示すように、レーザヘッド部3は、本体ベース11と、レーザ光Lを出射するレーザ発振ユニット12と、光シャッター部13と、反射ミラー14と、ハーフミラー15と、光センサ16と、ガイド光部17と、ポインタ光出射部18と、ガルバノスキャナ19と、fθレンズ20等を有して構成され、略直方体形状の筐体カバー(図示せず)で覆われている。   As shown in FIGS. 1 and 2, the laser head unit 3 includes a main body base 11, a laser oscillation unit 12 that emits laser light L, an optical shutter unit 13, a reflection mirror 14, a half mirror 15, The sensor 16, the guide light unit 17, the pointer light emitting unit 18, the galvano scanner 19, the fθ lens 20, and the like are configured and covered with a substantially rectangular parallelepiped housing cover (not shown). .

レーザ発振ユニット12は、レーザ発振器21と、ビームエキスパンダ22を有して構成されており、取付台及び取付ネジを介して、本体ベース11に取り付けられている。レーザ発振器21は、ファイバコネクタと、集光レンズと、反射鏡と、レーザ媒質と、受動Qスイッチと、出力カプラーと、ウィンドウとをケーシング内に有している。ファイバコネクタには、光ファイバFが接続されており、電源ユニット6を構成する励起用半導体レーザ部40から出射された励起光が、光ファイバFを介して入射される。   The laser oscillation unit 12 includes a laser oscillator 21 and a beam expander 22, and is attached to the main body base 11 via an attachment base and attachment screws. The laser oscillator 21 has a fiber connector, a condenser lens, a reflecting mirror, a laser medium, a passive Q switch, an output coupler, and a window in a casing. An optical fiber F is connected to the fiber connector, and pumping light emitted from the pumping semiconductor laser unit 40 constituting the power supply unit 6 enters through the optical fiber F.

集光レンズは、ファイバコネクタから入射された励起光を集光する。そして、反射鏡は、集光レンズによって集光された励起光を透過すると共に、レーザ媒質から出射されたレーザ光を高効率で反射する。レーザ媒質は、励起用半導体レーザ部40から出射された励起光によって励起されてレーザ光Lを発振する。レーザ媒質としては、例えば、レーザ活性イオンとしてネオジウム(Nd)が添加されたネオジウム添加ガドリニウムバナデイト(Nd:GdVO4)結晶を用いることができる。   The condensing lens condenses the excitation light incident from the fiber connector. The reflecting mirror transmits the excitation light condensed by the condenser lens and reflects the laser light emitted from the laser medium with high efficiency. The laser medium is excited by the excitation light emitted from the excitation semiconductor laser unit 40 and oscillates the laser light L. As the laser medium, for example, a neodymium-added gadolinium vanadate (Nd: GdVO4) crystal to which neodymium (Nd) is added as a laser active ion can be used.

受動Qスイッチは、レーザ媒質によって発振されたレーザ光をパルス状のパルスレーザとするQスイッチとして機能する。受動Qスイッチとしては、例えば、クローム添加YAG(Cr:YAG)結晶を用いることができる。   The passive Q switch functions as a Q switch that uses laser light oscillated by a laser medium as a pulsed pulse laser. As the passive Q switch, for example, a chrome-added YAG (Cr: YAG) crystal can be used.

出力カプラーは、反射鏡とレーザ共振器を構成する。出力カプラーは、例えば、表面に誘電体層膜をコーティングした凹面鏡により構成された部分反射鏡で、例えば、波長1064nmでの反射率は、80%〜95%である。ウィンドウは、誘電体多層膜等で形成された合成石英等から形成され、出力カプラーから出射されたレーザ光Lを外部へ透過させる。従って、レーザ発振器21は、受動Qスイッチを介してパルスレーザを発振し、ワークWを加工するためのレーザ光Lとして、パルスレーザを出力する。   The output coupler constitutes a reflecting mirror and a laser resonator. The output coupler is, for example, a partial reflecting mirror constituted by a concave mirror whose surface is coated with a dielectric layer film. For example, the reflectance at a wavelength of 1064 nm is 80% to 95%. The window is made of synthetic quartz or the like formed of a dielectric multilayer film or the like, and transmits the laser beam L emitted from the output coupler to the outside. Accordingly, the laser oscillator 21 oscillates a pulse laser through the passive Q switch, and outputs a pulse laser as the laser light L for processing the workpiece W.

ビームエキスパンダ22は、レーザ光Lのビーム径を変更するものであり、レーザ発振器21と同軸に設けられている。取付台は、本体ベース11上面における後方側であって左寄りに固定されている。当該取付台には、レーザ発振ユニット12が各取付ネジによって、レーザ光Lの光軸を調整可能に取り付けられている。   The beam expander 22 changes the beam diameter of the laser light L and is provided coaxially with the laser oscillator 21. The mounting base is fixed to the rear side on the upper surface of the main body base 11 and to the left. The laser oscillation unit 12 is attached to the mount so that the optical axis of the laser beam L can be adjusted by each mounting screw.

図1、図2に示すように、光シャッター部13は、ステッピングモータやロータリーソレノイド等で構成されるシャッターモータ26と、平板状のシャッター27とを有している。シャッター27は、シャッターモータ26のモータ軸に取り付けられており、シャッターモータ26の回動に伴って所定位置に移動することで、レーザ光Lの光路を遮る。一方、シャッター27がレーザ光Lの光路上に位置しないように回転した場合、当該レーザ光Lは、レーザ発振ユニット12及び光シャッター部13の前方に位置する反射ミラー14に入射する。   As shown in FIGS. 1 and 2, the optical shutter unit 13 includes a shutter motor 26 configured by a stepping motor, a rotary solenoid, and the like, and a flat shutter 27. The shutter 27 is attached to the motor shaft of the shutter motor 26 and moves to a predetermined position as the shutter motor 26 rotates, thereby blocking the optical path of the laser light L. On the other hand, when the shutter 27 rotates so as not to be positioned on the optical path of the laser light L, the laser light L enters the reflection mirror 14 positioned in front of the laser oscillation unit 12 and the optical shutter unit 13.

反射ミラー14は、レーザ発振ユニット12から出射されたレーザ光Lの光路に対し、その反射面が約45度を為すように配設されており、反射面に対して入射されたレーザ光Lを、反射ミラー14に対して右側に配設されたハーフミラー15へ反射する。   The reflection mirror 14 is disposed such that the reflection surface forms approximately 45 degrees with respect to the optical path of the laser beam L emitted from the laser oscillation unit 12. The reflection mirror 14 receives the laser beam L incident on the reflection surface. The light is reflected to the half mirror 15 disposed on the right side with respect to the reflection mirror 14.

ハーフミラー15は、反射ミラー14によって反射されたレーザ光Lの光路に対して、反射面が45度を為すように配設されており、反射面に入射されたレーザ光Lの大部分を、ガルバノスキャナ19に向かって反射する。又、当該ハーフミラー15は、反射面に入射されたレーザ光Lの一部を、ハーフミラー15に対して右側に位置する光センサ16へ透過する。又、当該ハーフミラー15の一面(前記反射面の裏面)には、その後方側に配置されたガイド光部17からのガイド光Mが入射される。当該ハーフミラー15は、レーザヘッド部3の後方側からのガイド光Mを、反射面で反射されたレーザ光Lの光路上へ透過する。   The half mirror 15 is disposed such that the reflection surface forms 45 degrees with respect to the optical path of the laser light L reflected by the reflection mirror 14, and most of the laser light L incident on the reflection surface is Reflected toward the galvano scanner 19. Further, the half mirror 15 transmits a part of the laser light L incident on the reflection surface to the optical sensor 16 located on the right side of the half mirror 15. Further, the guide light M from the guide light portion 17 disposed on the rear side is incident on one surface of the half mirror 15 (the back surface of the reflection surface). The half mirror 15 transmits the guide light M from the rear side of the laser head unit 3 onto the optical path of the laser light L reflected by the reflecting surface.

光センサ16は、フォトダイオード等で構成され、ハーフミラー15を透過したレーザ光Lの一部が入射される。従って、当該レーザ加工装置100は、光センサ16を介して、レーザ発振器21から出力されるレーザ光Lの強度を検出することができる。   The optical sensor 16 is composed of a photodiode or the like, and a part of the laser light L transmitted through the half mirror 15 is incident thereon. Therefore, the laser processing apparatus 100 can detect the intensity of the laser light L output from the laser oscillator 21 via the optical sensor 16.

ガイド光部17は、可視レーザ光として、例えば、赤色レーザ光を出射する可視半導体レーザ28と、可視半導体レーザ28から出射されたガイド光Mを平行光に収束するレンズ群(図示せず)とから構成されており、ハーフミラー15の後方側に配設されている。ガイド光Mは、レーザ発振器21から出射されるレーザ光Lと異なる波長を示す。ガイド光部17は、ハーフミラー15を透過したガイド光Mの光路がハーフミラー15からガルバノスキャナ19へと向かうレーザ光Lの光路と一致するように、本体ベース11に固定されている。   The guide light unit 17 includes, for example, a visible semiconductor laser 28 that emits red laser light as visible laser light, and a lens group (not shown) that converges the guide light M emitted from the visible semiconductor laser 28 into parallel light. And is arranged on the rear side of the half mirror 15. The guide light M has a wavelength different from that of the laser light L emitted from the laser oscillator 21. The guide light unit 17 is fixed to the main body base 11 so that the optical path of the guide light M transmitted through the half mirror 15 coincides with the optical path of the laser light L traveling from the half mirror 15 to the galvano scanner 19.

そして、本体ベース11における前方左側部分には、ポインタ光出射部18が配設されており、加工容器の内部に向かって、fθレンズ20を介さずに、可視光であるポインタ光を出射可能に構成されている。当該ポインタ光出射部18は、加工容器内部に配設されたワーク載置部(図示せず)に対するポインタ光の入射角度が所定の傾斜角度を為すように、本体ベース11に対して取り付けられており、fθレンズ20によって収束されたレーザ光Lの焦点位置(合焦位置)でガイド光Mと交点を形成するように、ポインタ光を出射する。従って、当該レーザ加工装置100によれば、ガイド光部17からのガイド光Mと、ポインタ光出射部18からのポインタ光による交点を基準として、レーザ光Lに係る焦点面の位置を、ユーザに把握させることができ、もって、レーザ光Lの焦点面に対するワークWの加工面の位置を、適切に調整させることができる。   A pointer light emitting portion 18 is disposed on the front left side of the main body base 11 so that the pointer light, which is visible light, can be emitted without going through the fθ lens 20 toward the inside of the processing container. It is configured. The pointer light emitting unit 18 is attached to the main body base 11 so that the incident angle of the pointer light with respect to a work placing unit (not shown) disposed inside the processing container has a predetermined inclination angle. The pointer light is emitted so as to form an intersection with the guide light M at the focal position (focus position) of the laser light L converged by the fθ lens 20. Therefore, according to the laser processing apparatus 100, the position of the focal plane related to the laser light L can be determined by the user based on the intersection of the guide light M from the guide light unit 17 and the pointer light from the pointer light emitting unit 18. Therefore, the position of the processed surface of the workpiece W with respect to the focal plane of the laser light L can be adjusted appropriately.

ガルバノスキャナ19は、本体ベース11の前側に形成された貫通孔29の上側に取り付けられ、レーザ発振ユニット12から出射されたレーザ光Lと、ハーフミラー15で反射されたガイド光Mとを下方へ2次元走査する。ガルバノスキャナ19は、ガルバノX軸ミラーを有するガルバノX軸モータ31と、ガルバノY軸ミラーを有するガルバノY軸モータ32と、本体部33により構成されている。ガルバノX軸モータ31とガルバノY軸モータ32は、それぞれのモータ軸が互いに直交するように外側からそれぞれの取付孔に嵌入、保持されて本体部33に取り付けられている。   The galvano scanner 19 is attached to the upper side of a through hole 29 formed on the front side of the main body base 11, and lowers the laser light L emitted from the laser oscillation unit 12 and the guide light M reflected by the half mirror 15. Two-dimensional scanning. The galvano scanner 19 includes a galvano X-axis motor 31 having a galvano X-axis mirror, a galvano Y-axis motor 32 having a galvano Y-axis mirror, and a main body 33. The galvano X-axis motor 31 and the galvano Y-axis motor 32 are attached to the main body 33 by being fitted and held in the respective mounting holes from the outside so that the respective motor shafts are orthogonal to each other.

ガルバノX軸モータ31において、ガルバノX軸ミラーは、走査ミラーとして、モータ軸の先端部に取り付けられており、レーザ光Lとガイド光Mを、ワークW表面上においてX軸方向に走査する際に用いられる。そして、ガルバノY軸モータ32において、ガルバノY軸ミラーは、走査ミラーとして、モータ軸の先端部に取り付けられており、ガルバノX軸ミラーによって反射されたレーザ光L及びガイド光Mを、ワークW表面上においてY軸方向に走査する際に用いられる。   In the galvano X-axis motor 31, the galvano X-axis mirror is attached as a scanning mirror to the tip of the motor shaft, and when the laser beam L and the guide beam M are scanned on the workpiece W surface in the X-axis direction. Used. In the galvano Y-axis motor 32, the galvano Y-axis mirror is attached as a scanning mirror to the tip of the motor shaft, and the laser light L and the guide light M reflected by the galvano X-axis mirror are converted into the surface of the workpiece W. Used when scanning in the Y-axis direction.

当該ガルバノスキャナ19においては、ガルバノX軸モータ31、ガルバノY軸モータ32の各モータ軸の先端部に取り付けられた走査ミラーが内側で互いに対向している。そして、ガルバノX軸モータ31、ガルバノY軸モータ32の回転をそれぞれ制御して、各走査ミラー(即ち、ガルバノX軸ミラー、ガルバノY軸ミラー)の姿勢を制御することによって、レーザ光Lとガイド光Mとを下方へ2次元走査する。この2次元走査方向は、ワークW表面において、前後方向(X軸方向)と左右方向(Y軸方向)である。   In the galvano scanner 19, the scanning mirrors attached to the tip ends of the galvano X-axis motor 31 and galvano Y-axis motor 32 face each other inside. Then, the rotation of the galvano X-axis motor 31 and the galvano Y-axis motor 32 is controlled to control the posture of each scanning mirror (that is, the galvano X-axis mirror and the galvano Y-axis mirror). The light M is scanned two-dimensionally downward. This two-dimensional scanning direction is a front-rear direction (X-axis direction) and a left-right direction (Y-axis direction) on the surface of the workpiece W.

fθレンズ20は、レーザヘッド部3の本体ベース11に対して取り付けられており、下方に配置されたワークW表面に対して、ガルバノスキャナ19によって2次元走査されたレーザ光Lとガイド光Mとを、夫々同軸に集光する。そして、当該fθレンズ20は、レーザ光Lやガイド光M等を集光した焦点を、平面状の焦点面とすると共に、レーザ光Lやガイド光Mの走査速度が一定になるように補正する。従って、当該レーザ加工装置100によれば、ガルバノX軸モータ31、ガルバノY軸モータ32の回転を制御することによって、レーザ光Lとガイド光Mを、ワークW表面上において、所望の加工パターンで前後方向(X方向)と左右方向(Y方向)に2次元走査することができる。   The fθ lens 20 is attached to the main body base 11 of the laser head unit 3, and the laser beam L and the guide beam M that are two-dimensionally scanned by the galvano scanner 19 on the surface of the workpiece W arranged below. Are condensed coaxially. Then, the fθ lens 20 makes the focal point where the laser beam L, the guide beam M, and the like are focused into a flat focal plane and corrects the scanning speed of the laser beam L and the guide beam M to be constant. . Therefore, according to the laser processing apparatus 100, by controlling the rotation of the galvano X-axis motor 31 and the galvano Y-axis motor 32, the laser light L and the guide light M are formed in a desired processing pattern on the surface of the workpiece W. Two-dimensional scanning can be performed in the front-rear direction (X direction) and the left-right direction (Y direction).

図2に示すように、本体ベース11の後方側において、レーザ発振ユニット12の右側には、ガルバノドライバ23が搭載された基板が立設されている。ガルバノドライバ23は、後述するガルバノコントローラ56から入力されたモータ駆動情報に基づいて、ガルバノX軸モータ31とガルバノY軸モータ32を駆動制御して、レーザ光L及びガイド光Mを2次元走査する。   As shown in FIG. 2, on the rear side of the main body base 11, a substrate on which a galvano driver 23 is mounted is erected on the right side of the laser oscillation unit 12. The galvano driver 23 drives and controls the galvano X-axis motor 31 and the galvano Y-axis motor 32 based on motor drive information input from a galvano controller 56 described later, and performs two-dimensional scanning with the laser light L and the guide light M. .

(電源ユニットの概略構成)
次に、レーザ加工ユニット1における電源ユニット6の概略構成について、図1を参照しつつ説明する。図1に示すように、電源ユニット6は、励起用半導体レーザ部40と、レーザドライバ51と、電源部52と、冷却ユニット53とを、ケーシング55内に有している。電源部52は、励起用半導体レーザ部40を駆動する駆動電流を、レーザドライバ51を介して励起用半導体レーザ部40に供給する。レーザドライバ51は、レーザコントローラ5から入力される駆動情報に基づいて、励起用半導体レーザ部40を直流でオンオフ駆動する。
(Schematic configuration of the power supply unit)
Next, a schematic configuration of the power supply unit 6 in the laser processing unit 1 will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 1, the power supply unit 6 includes a pumping semiconductor laser unit 40, a laser driver 51, a power supply unit 52, and a cooling unit 53 in a casing 55. The power supply unit 52 supplies a driving current for driving the pumping semiconductor laser unit 40 to the pumping semiconductor laser unit 40 via the laser driver 51. Based on the drive information input from the laser controller 5, the laser driver 51 drives the pumping semiconductor laser unit 40 on and off with a direct current.

励起用半導体レーザ部40は、光ファイバFによってレーザ発振器21に光学的に接続されており、レーザドライバ51を介した駆動制御によって、励起光を発生させる。従って、レーザ発振器21には、励起用半導体レーザ部40からの励起光が光ファイバFを介して入射される。   The pumping semiconductor laser unit 40 is optically connected to the laser oscillator 21 through an optical fiber F, and generates pumping light by drive control via a laser driver 51. Therefore, the pumping light from the pumping semiconductor laser unit 40 is incident on the laser oscillator 21 via the optical fiber F.

冷却ユニット53は励起用半導体レーザ部40、及び電源部52を、所定の温度範囲内に調整する為のユニットであり、例えば、電子冷却方式により冷却することで、励起用半導体レーザ部40の温度制御を行っており、励起用半導体レーザ部40の発振波長を微調整する。   The cooling unit 53 is a unit for adjusting the pumping semiconductor laser unit 40 and the power supply unit 52 within a predetermined temperature range. For example, the cooling unit 53 is cooled by an electronic cooling method, so that the temperature of the pumping semiconductor laser unit 40 is increased. Control is performed, and the oscillation wavelength of the pumping semiconductor laser unit 40 is finely adjusted.

(レーザ加工装置の制御系)
次に、レーザ加工装置100を構成するレーザ加工ユニット1の制御系構成について、図面を参照しつつ説明する。図3に示すように、レーザ加工ユニット1は、レーザ加工ユニット1の全体を制御するレーザコントローラ5と、レーザドライバ51と、ガルバノコントローラ56と、ガルバノドライバ23と、ガイド光ドライバ58と、ポインタ光ドライバ59と、光センサ16等を有して構成されている。レーザコントローラ5には、DAC66と、レーザドライバ51と、ガルバノコントローラ56と、光センサ16と、ガイド光ドライバ58と、ポインタ光ドライバ59等が電気的に接続されている。
(Control system for laser processing equipment)
Next, the control system configuration of the laser processing unit 1 constituting the laser processing apparatus 100 will be described with reference to the drawings. As shown in FIG. 3, the laser processing unit 1 includes a laser controller 5 that controls the entire laser processing unit 1, a laser driver 51, a galvano controller 56, a galvano driver 23, a guide light driver 58, and pointer light. The driver 59 and the optical sensor 16 are included. A DAC 66, a laser driver 51, a galvano controller 56, an optical sensor 16, a guide light driver 58, a pointer light driver 59, and the like are electrically connected to the laser controller 5.

レーザコントローラ5は、レーザ加工ユニット1の全体の制御を行う演算装置及び制御装置としてのCPU61、RAM62、ROM63、時間を計測するタイマー65等を備えている。   The laser controller 5 includes an arithmetic device that performs overall control of the laser processing unit 1, a CPU 61, a RAM 62, a ROM 63, and a timer 65 that measures time as control devices.

RAM62は、CPU61により演算された各種の演算結果や加工走査パターンのXY座標データ等を一時的に記憶させておくためのものである。ROM63は、各種のプログラムを記憶させておくものであり、PC7から送信された加工データに基づいて加工走査パターンのXY座標データを算出してRAM62に記憶する等の各種プログラムが記憶されている。   The RAM 62 is for temporarily storing various calculation results calculated by the CPU 61, XY coordinate data of the machining scanning pattern, and the like. The ROM 63 stores various programs, and stores various programs such as calculating the XY coordinate data of the machining scanning pattern based on the machining data transmitted from the PC 7 and storing it in the RAM 62.

即ち、当該ROM63は、後述するレーザ加工処理プログラム(図4参照)、オブジェクト領域算出処理プログラム(図5参照)及び加工領域設定処理プログラム(図6、図9参照)を記憶している。又、ROM63には、レーザ加工装置100の初期状態(例えば、工場出荷時の状態)において、レーザ光Lによる加工位置に生じる歪の実測値により構成される歪データが記憶されている。当該歪データの内容については後に図面を参照しつつ詳細に説明する。   That is, the ROM 63 stores a laser processing program (see FIG. 4), an object region calculation processing program (see FIG. 5), and a processing region setting processing program (see FIGS. 6 and 9) which will be described later. Further, the ROM 63 stores strain data composed of measured values of strain generated at the processing position by the laser beam L in the initial state of the laser processing apparatus 100 (for example, the state at the time of factory shipment). The contents of the distortion data will be described in detail later with reference to the drawings.

そして、CPU61は、ROM63に記憶されている各種の制御プログラムに基づいて各種の演算及び制御を行なうものである。例えば、CPU61は、PC7から入力された加工データに基づいて設定した励起用半導体レーザ部40の励起光出力、励起光の出力期間等の励起用半導体レーザ部40の駆動情報をレーザドライバ51に出力する。又、CPU61は、PC7から入力された加工データを構成する各加工点のXY座標データ、ガルバノスキャナ19のON・OFFを指示する制御信号、ガルバノ走査速度情報等を、DAC66を介して、ガルバノコントローラ56に出力する。   The CPU 61 performs various calculations and controls based on various control programs stored in the ROM 63. For example, the CPU 61 outputs the drive information of the pumping semiconductor laser unit 40 such as the pumping light output of the pumping semiconductor laser unit 40 and the pumping light output period set based on the processing data input from the PC 7 to the laser driver 51. To do. Further, the CPU 61 sends the XY coordinate data of each machining point constituting the machining data input from the PC 7, a control signal for instructing ON / OFF of the galvano scanner 19, galvano scanning speed information, etc. via the DAC 66 to the galvano controller. To 56.

DAC66は、デジタル電気信号を、アナログ電気信号に変換する電子回路であり、例えば、CPU61から出力されるガルバノスキャナ19のON・OFFを指示する制御信号を、アナログ電気信号に変換して、ガルバノコントローラ56に出力する。当該DAC66の分割数は、その性能によって決まってしまう。例えば、DAC66の性能が16bitである場合、DAC66の分割数は、65536の分割数となる。ガルバノスキャナ19の駆動制御は、初期状態においては、直交座標系上に規定されたガルバノスキャナ19の走査可能領域を、X軸、Y軸に従って所定の分割数で分割して得られる座標位置に対し、制御信号を割り付けてこれらに従って行われる。例えば、ガルバノスキャナ19の走査可能領域は、X軸方向の長さが120mmでY軸方向の長さが120mmの矩形状の領域として規定される。上記矩形状に規定された走査可能領域を、X軸、Y軸に従って65536の分割数で分割すると、各座標位置の間隔は、0.00183mmとなる。   The DAC 66 is an electronic circuit that converts a digital electric signal into an analog electric signal. For example, the DAC 66 converts a control signal output from the CPU 61 to instruct ON / OFF of the galvano scanner 19 into an analog electric signal, and outputs a galvano controller. To 56. The number of divisions of the DAC 66 is determined by its performance. For example, when the performance of the DAC 66 is 16 bits, the number of divisions of the DAC 66 is 65536. In the initial state, the drive control of the galvano scanner 19 is performed with respect to the coordinate position obtained by dividing the scannable area of the galvano scanner 19 defined on the orthogonal coordinate system by a predetermined number of divisions according to the X axis and the Y axis. The control signals are assigned and performed according to these. For example, the scannable area of the galvano scanner 19 is defined as a rectangular area having a length in the X-axis direction of 120 mm and a length in the Y-axis direction of 120 mm. When the scannable area defined in the rectangular shape is divided by the number of divisions of 65536 according to the X axis and the Y axis, the interval between the coordinate positions becomes 0.00183 mm.

レーザドライバ51は、レーザコントローラ5から入力された励起用半導体レーザ部40の励起光出力、励起光の出力期間等のレーザ駆動情報等に基づいて、励起用半導体レーザ部40を駆動制御する。具体的には、レーザドライバ51は、レーザコントローラ5から入力されたレーザ駆動情報の励起光出力に比例した電流値のパルス状の駆動電流を発生し、レーザ駆動情報の励起光の出力期間に基づく期間、励起用半導体レーザ部40に出力する。これにより、励起用半導体レーザ部40は、励起光出力に対応する強度の励起光を出力期間の間、光ファイバF内に出射する。   The laser driver 51 drives and controls the pumping semiconductor laser unit 40 based on the laser driving information and the like such as the pumping light output of the pumping semiconductor laser unit 40 and the pumping light output period input from the laser controller 5. Specifically, the laser driver 51 generates a pulsed drive current having a current value proportional to the excitation light output of the laser drive information input from the laser controller 5, and is based on the output period of the excitation light of the laser drive information. Output to the pumping semiconductor laser unit 40 during the period. Thereby, the pumping semiconductor laser unit 40 emits pumping light having an intensity corresponding to the pumping light output into the optical fiber F during the output period.

ガルバノコントローラ56は、レーザコントローラ5から入力された加工データにおける各加工点のXY座標データ、ガルバノ走査速度情報等に基づいて、ガルバノX軸モータ31とガルバノY軸モータ32の駆動角度、回転速度等を算出して、駆動角度、回転速度を表すモータ駆動情報をガルバノドライバ23へ出力する。   The galvano controller 56 is based on the XY coordinate data of each processing point in the processing data input from the laser controller 5, galvano scanning speed information, and the like, the driving angle and the rotational speed of the galvano X-axis motor 31 and the galvano Y-axis motor 32, etc. And the motor drive information indicating the drive angle and the rotational speed is output to the galvano driver 23.

ガルバノドライバ23は、ガルバノコントローラ56から入力された駆動角度、回転速度を表すモータ駆動情報に基づいて、ガルバノX軸モータ31とガルバノY軸モータ32を駆動制御して、レーザ光Lを2次元走査する。   The galvano driver 23 drives and controls the galvano X-axis motor 31 and the galvano Y-axis motor 32 based on the motor drive information indicating the drive angle and rotation speed input from the galvano controller 56, and performs two-dimensional scanning with the laser light L. To do.

ガイド光ドライバ58は、レーザコントローラ5から出力される制御信号に基づいて、可視半導体レーザ28を含むガイド光部17の制御を行い、例えば、制御信号に基づいて、可視半導体レーザ28から出射されるガイド光Mの発光タイミングや光量を制御する。そして、ポインタ光ドライバ59は、レーザコントローラ5から出力される制御信号に基づいて、ポインタ光出射部18の制御を行い、ポインタ光の出射制御を行う。   The guide light driver 58 controls the guide light unit 17 including the visible semiconductor laser 28 based on the control signal output from the laser controller 5, and is emitted from the visible semiconductor laser 28 based on the control signal, for example. The light emission timing and light amount of the guide light M are controlled. Then, the pointer light driver 59 controls the pointer light emitting unit 18 based on the control signal output from the laser controller 5, and performs pointer light emission control.

図1、図3に示すように、レーザコントローラ5には、PC7が双方向通信可能に接続されており、PC7から送信された加工内容を示す加工データ、レーザ加工装置本体部2の制御パラメータ、ユーザからの各種指示情報等を受信可能に構成されている。   As shown in FIGS. 1 and 3, a PC 7 is connected to the laser controller 5 so as to be capable of two-way communication. Processing data transmitted from the PC 7 indicates processing contents, control parameters of the laser processing apparatus main body 2, It is configured to be able to receive various instruction information from the user.

続いて、レーザ加工装置100を構成するPC7の制御系構成について、図面を参照しつつ説明する。図3に示すように、PC7は、PC7の全体を制御する制御部70と、マウスやキーボード等から構成される入力操作部76と、液晶ディスプレイ77と、CD−ROM79に対する各種データ、プログラム等の書き込み及び読み込みを行うためのCD−R/W78等から構成されている。   Next, the control system configuration of the PC 7 constituting the laser processing apparatus 100 will be described with reference to the drawings. As illustrated in FIG. 3, the PC 7 includes a control unit 70 that controls the entire PC 7, an input operation unit 76 that includes a mouse, a keyboard, and the like, a liquid crystal display 77, and various data and programs for the CD-ROM 79. It comprises a CD-R / W78 etc. for writing and reading.

制御部70は、PC7の全体の制御を行う演算装置及び制御装置としてのCPU71と、RAM72と、ROM73と、時間を計測するタイマー74と、HDD75等を備えている。RAM72は、CPU71により演算された各種の演算結果等を一時的に記憶させておくためのものである。ROM73は、各種の制御プログラムやデータテーブルを記憶させておくものである。   The control unit 70 includes a CPU 71 as a calculation device and a control device that controls the entire PC 7, a RAM 72, a ROM 73, a timer 74 that measures time, an HDD 75, and the like. The RAM 72 is used for temporarily storing various calculation results calculated by the CPU 71. The ROM 73 stores various control programs and data tables.

そして、HDD75は、各種アプリケーションソフトウェアのプログラム、各種データファイルを記憶する記憶装置である。当該HDD75は、ワークW上におけるレーザ加工の加工内容を示す加工データを作成する為のデータ作成処理プログラム等を記憶している。   The HDD 75 is a storage device that stores various application software programs and various data files. The HDD 75 stores a data creation processing program for creating machining data indicating the machining content of laser machining on the workpiece W.

そして、CD−R/W78は、アプリケーションプログラム、各種データテーブルを構成する各データ群を、CD−ROM79から読み込む、又は、CD−ROM79に対して書き込む。   Then, the CD-R / W 78 reads or writes each data group constituting the application program and various data tables from the CD-ROM 79.

尚、PC7においては、データ作成処理プログラム等のアプリケーションプログラムや、各種データテーブル、データベースを、ROM73に記憶しても良いし、CD−ROM79等の記憶媒体から読み込むように構成しても良い。又、インターネット等のネットワーク(図示せず)を介して、ダウンロードするように構成してもよい。   In the PC 7, application programs such as a data creation processing program, various data tables, and a database may be stored in the ROM 73 or may be configured to be read from a storage medium such as the CD-ROM 79. Moreover, you may comprise so that it may download via networks (not shown), such as the internet.

そして、PC7には、入出力インターフェース(図示せず)を介して、マウスやキーボード等から構成される入力操作部76と、液晶ディスプレイ77等が電気的に接続されている。   The PC 7 is electrically connected via an input / output interface (not shown) to an input operation unit 76 composed of a mouse, a keyboard and the like, a liquid crystal display 77 and the like.

(第1実施形態におけるレーザ加工処理プログラムの処理内容)
続いて、レーザコントローラ5のCPU61によって実行されるレーザ加工処理プログラムの処理内容について、図4を参照しつつ詳細に説明する。上述したように、当該レーザ加工処理プログラムは、レーザコントローラ5のROM63に記憶されており、CPU61によって読み出されて実行される。
(Processing contents of the laser processing program in the first embodiment)
Next, the processing contents of the laser processing program executed by the CPU 61 of the laser controller 5 will be described in detail with reference to FIG. As described above, the laser processing program is stored in the ROM 63 of the laser controller 5 and is read and executed by the CPU 61.

レーザ加工処理プログラムの実行を開始すると、CPU61は、先ず、加工対象であるワークWの外形や構成材質等を示すワーク情報の入力を受け付ける(S1)。当該ワーク情報は、例えば、PC7の入力操作部76を用いて生成され、PC7から入力される。受け付けたワーク情報をRAM62に格納した後、CPU61は、S2に処理を移行する。   When the execution of the laser processing program is started, the CPU 61 first receives input of work information indicating the outer shape, constituent material, and the like of the work W to be processed (S1). The work information is generated using, for example, the input operation unit 76 of the PC 7 and input from the PC 7. After storing the accepted work information in the RAM 62, the CPU 61 shifts the processing to S2.

S2においては、CPU61は、加工条件設定処理を実行し、RAM62に格納したワーク情報に基づいて、当該ワークWに対するマーキング加工に関する加工条件を設定する。この場合に設定される加工条件としては、例えば、レーザ光Lの出力強度や、レーザ光Lの走査速度等を挙げることができる。そして、当該加工条件設定処理では、例えば、CPU61は、ワークWの構成材質に応じて、マーキング加工を行う際のレーザ光Lの強度を設定する。加工条件設定処理(S2)を終了した後、CPU61は、S3に処理を移行する。   In S <b> 2, the CPU 61 executes a processing condition setting process, and sets processing conditions related to marking processing for the workpiece W based on the workpiece information stored in the RAM 62. Examples of processing conditions set in this case include the output intensity of the laser beam L, the scanning speed of the laser beam L, and the like. In the processing condition setting process, for example, the CPU 61 sets the intensity of the laser light L when performing the marking processing according to the constituent material of the workpiece W. After finishing the processing condition setting process (S2), the CPU 61 shifts the process to S3.

S3では、CPU61は、PC7から加工データを取得する。当該加工データは、PC7のCPU71によって、データ作成処理プログラムを実行することで生成され、レーザ光Lによる加工の内容を示す一又は複数の加工オブジェクトを含んでいる。当該加工オブジェクトは、マーキング加工によって、ワークW表面に描画される加工内容を示し、レーザ光Lによる加工位置に対応する複数の加工点や、複数の加工点の集合によって構成される線要素等を含んで構成される。そして、当該加工オブジェクトを構成する各加工点は、直交座標系上の各座標位置(直交座標系において、相互に直交する2本のグリッドの交点)に割り付けられている。PC7から取得した加工データをRAM62に格納した後、CPU61は、S4に処理を移行する。   In S <b> 3, the CPU 61 acquires processing data from the PC 7. The machining data is generated by executing a data creation processing program by the CPU 71 of the PC 7, and includes one or a plurality of machining objects indicating the contents of machining by the laser light L. The processing object indicates the processing content drawn on the surface of the workpiece W by marking processing, and includes a plurality of processing points corresponding to processing positions by the laser light L, line elements configured by a set of processing points, and the like. Consists of including. Each processing point constituting the processing object is assigned to each coordinate position on the orthogonal coordinate system (intersection of two grids orthogonal to each other in the orthogonal coordinate system). After the machining data acquired from the PC 7 is stored in the RAM 62, the CPU 61 shifts the process to S4.

S4に移行すると、CPU61は、オブジェクト領域設定処理を実行して、S3で取得した加工データにおける各加工オブジェクトに対して、オブジェクト領域Oを設定する。具体的には、CPU61は、ROM63に格納されているオブジェクト領域設定処理プログラム(図5参照)を読み出して実行する。   After shifting to S4, the CPU 61 executes an object area setting process to set an object area O for each processed object in the processed data acquired in S3. Specifically, the CPU 61 reads and executes an object area setting processing program (see FIG. 5) stored in the ROM 63.

(オブジェクト領域設定処理プログラムの処理内容)
図5に示すように、オブジェクト領域設定処理プログラムの実行を開始すると、CPU61は、先ず、S3で取得した加工データに含まれている加工オブジェクトの内、一の加工オブジェクトを特定し、当該加工オブジェクトの外接矩形を算出する(S21)。具体的には、CPU61は、当該加工オブジェクトを構成する全加工点のX座標値、Y座標値の最大値及び最小値に基づいて、当該加工オブジェクトの外接矩形を算出する。その後、CPU61は、S22に処理を移行する。
(Processing contents of object area setting processing program)
As shown in FIG. 5, when the execution of the object area setting processing program is started, the CPU 61 first identifies one machining object among the machining objects included in the machining data acquired in S3, and the machining object The circumscribed rectangle is calculated (S21). Specifically, the CPU 61 calculates a circumscribed rectangle of the processing object based on the X coordinate value and the maximum and minimum values of the Y coordinate values of all the processing points constituting the processing object. Thereafter, the CPU 61 proceeds to S22.

S22においては、CPU61は、S21で算出した当該加工オブジェクトの外接矩形を構成する4点の座標情報を、RAM62に形成されたオブジェクト領域リストに登録する。当該加工オブジェクトに係る外接矩形を、オブジェクト領域Oとしてオブジェクト領域リストに登録した後、CPU61は、S23に処理を移行する。   In S <b> 22, the CPU 61 registers the coordinate information of the four points constituting the circumscribed rectangle of the processing object calculated in S <b> 21 in the object area list formed in the RAM 62. After registering the circumscribed rectangle related to the processed object in the object area list as the object area O, the CPU 61 shifts the processing to S23.

S23に移行すると、CPU61は、S3で取得した加工データに含まれる全ての加工オブジェクトについて、オブジェクト領域Oの登録処理を完了したか否かを判断する。全ての加工オブジェクトに対する処理を完了した場合(S23:YES)、CPU61は、オブジェクト領域算出処理プログラムを終了し、レーザ加工処理プログラムのS5に処理を移行する。一方、全ての加工オブジェクトに対する処理を完了していない場合(S23:NO)、CPU61は、S21に処理を戻し、加工データに含まれる他の加工オブジェクトについて、オブジェクト領域Oの登録処理(S21、S22)を実行する。   After shifting to S23, the CPU 61 determines whether or not the object area O registration processing has been completed for all the processed objects included in the processed data acquired in S3. When the processing for all the processing objects is completed (S23: YES), the CPU 61 ends the object area calculation processing program and shifts the processing to S5 of the laser processing processing program. On the other hand, when the processes for all the processed objects have not been completed (S23: NO), the CPU 61 returns the process to S21, and registers the object area O (S21, S22) for other processed objects included in the processed data. ).

図4に示すように、S5においては、CPU61は、オブジェクト領域算出処理(S4)の処理結果に基づいて、加工領域設定処理を実行して、加工データに基づくマーキング加工を行う際の加工領域Rを設定する。具体的には、CPU61は、ROM63に格納されている加工領域設定処理プログラム(図6参照)を読み出して実行する。   As shown in FIG. 4, in S5, the CPU 61 executes a machining area setting process based on the processing result of the object area calculation process (S4), and performs a machining area R when performing a marking process based on the machining data. Set. Specifically, the CPU 61 reads and executes a machining area setting processing program (see FIG. 6) stored in the ROM 63.

(第1実施形態に係る加工領域設定処理プログラムの処理内容)
加工領域設定処理プログラムの実行を開始すると、CPU61は、オブジェクト領域リストにオブジェクト領域が複数含まれているか否かを判断し、オブジェクト領域が複数含まれている場合、オブジェクト領域リストから、2つのオブジェクト領域Oを特定し、当該オブジェクト領域Oの間に領域としての重なりがあるか否かを判断する(S31)。具体的には、CPU61は、各オブジェクト領域Oを規定する4点の座標値の大小関係を比較することによって、重なりの有無を判断する。オブジェクト領域Oの間に重なりがある場合(S31:YES)、CPU61は、S32に処理を移行する。一方、オブジェクト領域Oの間に重なりがない場合(S31:NO)、CPU61は、S33に処理を移行する。同様に、オブジェクト領域が複数含まれていない場合も、オブジェクト領域に重なりが生じることがない為(S31:NO)、CPU61は、S33に処理を移行する。
(Processing contents of the machining area setting processing program according to the first embodiment)
When the execution of the processing area setting processing program is started, the CPU 61 determines whether or not the object area list includes a plurality of object areas. If the object area list includes a plurality of object areas, the CPU 61 determines from the object area list two objects. The area O is specified, and it is determined whether or not there is an overlapping area between the object areas O (S31). Specifically, the CPU 61 determines whether or not there is an overlap by comparing the magnitude relationship between the coordinate values of the four points that define each object region O. When there is an overlap between the object areas O (S31: YES), the CPU 61 shifts the process to S32. On the other hand, when there is no overlap between the object areas O (S31: NO), the CPU 61 shifts the process to S33. Similarly, even when there are not a plurality of object areas, since the object areas do not overlap (S31: NO), the CPU 61 shifts the process to S33.

例えば、図7左図の例をもって説明する。この例では、第1オブジェクト領域Oaと、第2オブジェクト領域Obの重なりの有無を判断する。この場合、CPU61は、第1オブジェクト領域Oaの右下角にあたる座標値と、第2オブジェクト領域Obの左上角にあたる座標値とを比較する。この2点の間の関係性においては、X座標値においては、第2オブジェクト領域Obの値が第1オブジェクト領域Oaの値よりも小さく、Y座標値においては、第1オブジェクト領域Oaの値が第2オブジェクト領域Obの値よりも大きいため、CPU61は、第1オブジェクト領域Oaと第2オブジェクト領域Obの間に重なりがあると判断する。   For example, a description will be given with reference to the example in the left diagram of FIG. In this example, it is determined whether or not the first object area Oa and the second object area Ob overlap. In this case, the CPU 61 compares the coordinate value corresponding to the lower right corner of the first object area Oa with the coordinate value corresponding to the upper left corner of the second object area Ob. In the relationship between the two points, the value of the second object area Ob is smaller than the value of the first object area Oa in the X coordinate value, and the value of the first object area Oa is smaller in the Y coordinate value. Since it is larger than the value of the second object area Ob, the CPU 61 determines that there is an overlap between the first object area Oa and the second object area Ob.

S32においては、CPU61は、重複するオブジェクト領域Oを包含する外接矩形を算出し、算出した外接矩形を、複数の加工オブジェクトを含む加工領域Rに設定する。具体的には、CPU61は、重複するオブジェクト領域Oの内で、各オブジェクト領域Oを構成する4点の座標値の最大値、最小値を求め、最大値、最小値により特定される外接矩形をもって、加工領域Rに設定する(図7の右図参照)。設定した加工領域Rに関する情報(例えば、加工領域Rを構成する4点の座標情報)を、RAM62に格納した後、CPU61は、S34に処理を移行する。   In S <b> 32, the CPU 61 calculates a circumscribed rectangle that includes the overlapping object area O, and sets the calculated circumscribed rectangle as a processed area R that includes a plurality of processed objects. Specifically, the CPU 61 obtains the maximum value and the minimum value of the coordinate values of the four points constituting each object area O among the overlapping object areas O, and has a circumscribed rectangle specified by the maximum value and the minimum value. Then, the processing region R is set (see the right diagram in FIG. 7). After the information related to the set machining area R (for example, coordinate information of four points constituting the machining area R) is stored in the RAM 62, the CPU 61 proceeds to S34.

S33では、CPU61は、2つのオブジェクト領域Oの間に重なりが存在していない為、各オブジェクト領域Oを、それぞれ加工領域Rに設定する。この場合、CPU61は、各オブジェクト領域Oに係る4点の座標情報を、夫々の加工領域Rに係る4点の座標情報としてRAM62に格納する。その後、CPU61は、S34に処理を移行する。   In S33, since there is no overlap between the two object areas O, the CPU 61 sets each object area O as a processing area R. In this case, the CPU 61 stores the coordinate information of the four points related to each object region O in the RAM 62 as the coordinate information of the four points related to each processing region R. Thereafter, the CPU 61 proceeds to S34.

S34に移行すると、CPU61は、オブジェクト領域設定処理(S4)で生成されたオブジェクト領域リストに基づいて、全てのオブジェクト領域Oに対する処理(即ち、S31〜S33の処理)を完了しているか否かを判断する。全てのオブジェクト領域Oに対する処理を完了している場合(S34:YES)、CPU61は、S35に処理を移行する。一方、全てのオブジェクト領域Oに対する処理を完了していない場合(S34:NO)、CPU61は、S31に処理を戻す。   When the process proceeds to S34, the CPU 61 determines whether or not the processes for all the object areas O (that is, the processes of S31 to S33) have been completed based on the object area list generated in the object area setting process (S4). to decide. When the processing for all the object areas O has been completed (S34: YES), the CPU 61 proceeds to S35. On the other hand, when the processing for all the object areas O has not been completed (S34: NO), the CPU 61 returns the processing to S31.

S35においては、CPU61は、RAM62に格納されている全ての加工領域Rについて、マーキング加工を行う際における加工領域Rの加工順を決定する。加工領域Rの加工順の決定方法は、例えば、各加工領域Rに係る4点の座標情報に関し、Y座標値の小さい順に決定する。この決定方法は、あくまでも一例であり、Y座標値の大きい順であってもよいし、X座標値の大小に基づいて決定してもよい。更に、各加工領域Rを効率良く加工可能な経路に従って、加工領域Rの加工順を決定してもよい。決定した加工領域Rの加工順をRAM62に格納した後、CPU61は、加工領域設定処理プログラムを終了し、レーザ加工処理プログラムのS6に処理を移行する。   In S <b> 35, the CPU 61 determines the processing order of the processing regions R when performing the marking processing for all the processing regions R stored in the RAM 62. As a method for determining the processing order of the processing regions R, for example, regarding the coordinate information of four points related to each processing region R, the processing order is determined in ascending order of Y coordinate values. This determination method is merely an example, and the order of increasing Y coordinate values may be used, or may be determined based on the size of the X coordinate values. Furthermore, the processing order of the processing regions R may be determined in accordance with a path that allows each processing region R to be processed efficiently. After storing the determined processing order of the processing region R in the RAM 62, the CPU 61 ends the processing region setting processing program and shifts the processing to S6 of the laser processing processing program.

再び図4を参照しつつ、S6以後の処理内容について説明する。S6では、CPU61は、加工領域設定処理プログラムのS35で決定された加工順に従って、一の加工領域Rを、マーキング加工の加工対象としての対象加工領域に特定する。対象加工領域を特定した後、CPU61は、S7に処理を移行する。   With reference to FIG. 4 again, the processing content after S6 will be described. In S <b> 6, the CPU 61 specifies one machining area R as a target machining area as a marking machining target in accordance with the machining order determined in S <b> 35 of the machining area setting processing program. After specifying the target machining area, the CPU 61 proceeds to S7.

S7においては、CPU61は、先ず、S6で特定された対象加工領域を、DAC66の分割数で分割する。続いて、CPU61は、対象加工領域をDAC66の分割数で分割して得られる各座標位置(以下、制御基準座標)に対して、ガルバノスキャナ19の制御信号を割り付ける。対象加工領域をDAC66の分割数で分割する場合、ガルバノスキャナ19の走査可能領域全体をDAC66の分割数で分割する場合と比較して、各座標位置の間隔がより小さくなる。よって、より小さい間隔の座標位置に、ガルバノスキャナ19の制御信号が割り付けられる。これにより、当該レーザ加工装置100は、対象加工領域の内部に対するレーザ光L、ガイド光Mの走査精度を、ガルバノスキャナ19の走査可能領域全体を対象とした場合に比べて向上させることができる。対象加工領域における制御基準座標に対して、ガルバノスキャナ19の制御信号を割り付けた後、CPU61は、S8に処理を移行する。   In S7, the CPU 61 first divides the target machining area specified in S6 by the number of divisions of the DAC 66. Subsequently, the CPU 61 assigns a control signal of the galvano scanner 19 to each coordinate position (hereinafter referred to as control reference coordinates) obtained by dividing the target machining area by the number of divisions of the DAC 66. When the target machining area is divided by the number of divisions of the DAC 66, the interval between the coordinate positions is smaller than when the entire scannable area of the galvano scanner 19 is divided by the number of divisions of the DAC 66. Therefore, the control signal of the galvano scanner 19 is assigned to coordinate positions with smaller intervals. As a result, the laser processing apparatus 100 can improve the scanning accuracy of the laser light L and the guide light M with respect to the inside of the target processing region as compared with the case where the entire scannable region of the galvano scanner 19 is the target. After assigning the control signal of the galvano scanner 19 to the control reference coordinates in the target machining area, the CPU 61 proceeds to S8.

S8に移行すると、CPU61は、ROM63に格納されている歪データに基づいて、対象加工領域におけるレーザ光Lによる加工位置に生じる歪を補正する為の射影変換係数を算出する。   After shifting to S8, the CPU 61 calculates a projective transformation coefficient for correcting the distortion generated at the processing position by the laser light L in the target processing area based on the distortion data stored in the ROM 63.

ここで、ROM63に格納されている歪データについて説明する。当該レーザ加工装置100において、補正処理をせずに、加工データの各加工点の座標データに従ってガルバノミラーを回動させると、レーザ発振ユニット12から出射されたレーザ光Lは、ガルバノスキャナ19、fθレンズ20を経て、ワークW上へ到達する過程で、レーザヘッド部3におけるレーザ発振ユニット12やガルバノスキャナ19の配置の影響や、fθレンズ20の収差等の影響を受けてしまう。   Here, the distortion data stored in the ROM 63 will be described. In the laser processing apparatus 100, when the galvano mirror is rotated according to the coordinate data of each processing point of the processing data without performing the correction process, the laser light L emitted from the laser oscillation unit 12 is galvano-scanner 19, fθ. In the process of reaching the workpiece W through the lens 20, the laser head unit 3 is affected by the arrangement of the laser oscillation unit 12 and the galvano scanner 19 and the aberration of the fθ lens 20.

即ち、これらの影響によって、ワークW表面の加工領域上におけるレーザ光Lによる加工位置と、ワークW上でレーザ光Lによる加工が要求されている理想座標である理想点や、加工データにおける直交座標系上に設定された加工点の座標である設定点との間に、偏差としての歪が生じてしまう。当該歪データは、図8左図に示すように、ガルバノスキャナ19の走査可能領域を、X軸、Y軸に従ってDAC66の分割数で分割して得られる各座標位置に生じる歪の数値によって構成されている。   That is, due to these influences, the processing position by the laser beam L on the processing area of the surface of the workpiece W, the ideal point that is an ideal coordinate that is required to be processed by the laser beam L on the workpiece W, and the orthogonal coordinates in the processing data. Distortion as a deviation occurs between the set point which is the coordinates of the machining point set on the system. As shown in the left diagram of FIG. 8, the distortion data is composed of distortion values generated at respective coordinate positions obtained by dividing the scannable area of the galvano scanner 19 by the number of divisions of the DAC 66 according to the X and Y axes. ing.

S8においては、先ず、CPU61は、対象加工領域に係る4点の座標情報に基づいて、ガルバノスキャナ19の走査可能領域における対象加工領域の位置を特定する(図8)。続いて、CPU61は、上述のように構成された歪データに基づいて、ガルバノスキャナ19の走査可能領域において、歪の数値が対応付けられた座標位置の内、対象加工領域に係る4点に近い座標位置を特定し、各座標位置における歪の数値を取得する。その後、歪データから取得した座標位置の歪の数値と、対象加工領域に係る4点の座標情報とを用いた3次スプライン補間法によって、対象加工領域をDAC66の分割数で分割して得られる各制御基準座標における歪の数値を求める。   In S8, first, the CPU 61 specifies the position of the target machining area in the scannable area of the galvano scanner 19 based on the coordinate information of the four points related to the target machining area (FIG. 8). Subsequently, based on the distortion data configured as described above, the CPU 61 is close to the four points related to the target processing area among the coordinate positions associated with the distortion numerical values in the scannable area of the galvano scanner 19. A coordinate position is specified, and a numerical value of distortion at each coordinate position is acquired. Thereafter, the target machining area is obtained by dividing the target machining area by the number of divisions of the DAC 66 by a cubic spline interpolation method using the numerical value of the distortion at the coordinate position acquired from the distortion data and the coordinate information of the four points related to the target machining area. The numerical value of distortion at each control reference coordinate is obtained.

続いて、CPU61は、対象加工領域における各制御基準座標の座標値(X座標値、Y座標値)と、3次スプライン補間法によって求めた各制御基準座標における歪の数値に基づいて、制御基準座標を基準として補正処理を行うことなく、レーザ光Lを照射した場合の加工位置の座標値を算出する。その後、CPU61は、算出した加工位置の座標値に基づいて、対象加工領域における各制御基準座標に係る複数の射影変換係数(即ち、「a」〜「h」、「α」)を算出する。当該射影変換係数は、直交座標系上の各制御座標位置に生じる歪(即ち、3次スプライン補間法で求めた歪)を後述する射影変換処理によって相殺する為に必要な値を示す。   Subsequently, the CPU 61 controls the control reference based on the coordinate value (X coordinate value, Y coordinate value) of each control reference coordinate in the target machining area and the distortion value at each control reference coordinate obtained by the cubic spline interpolation method. The coordinate value of the processing position when the laser beam L is irradiated is calculated without performing correction processing with the coordinates as a reference. Thereafter, the CPU 61 calculates a plurality of projective transformation coefficients (that is, “a” to “h”, “α”) related to the respective control reference coordinates in the target processing region based on the calculated coordinate values of the processing position. The projective transformation coefficient indicates a value necessary for canceling out the distortion (that is, the distortion obtained by the cubic spline interpolation method) generated at each control coordinate position on the orthogonal coordinate system by a projective transformation process described later.

尚、当該射影変換処理で用いられる変換式は、下記の通りである。
(座標位置のX座標(x´))=(a*x+b*y+c)/(g*x+h*y+α)
(座標位置のY座標(y´))=(d*x+e*y+f)/(g*x+h*y+α)
そして、一の制御基準座標に対する複数の射影変換係数(即ち、「a」〜「h」、「α」)によって構成されており、当該射影変換係数における「α」は、「+1」又は「−1」の何れかを示す。
The conversion formula used in the projective conversion process is as follows.
(X coordinate (x ′) of coordinate position) = (a * x + b * y + c) / (g * x + h * y + α)
(Y coordinate (y ′) of coordinate position) = (d * x + e * y + f) / (g * x + h * y + α)
And it is comprised by several projection transformation coefficient (namely, "a"-"h", "α") with respect to one control reference coordinate, "α" in the said projection transformation coefficient is "+1" or "- 1 ".

このようにして算出した対象加工領域における各制御基準座標に係る射影変換係数を、RAM62に格納した後、CPU61は、S9に処理を移行する。   After storing the projection transformation coefficient relating to each control reference coordinate in the target machining area calculated in this way in the RAM 62, the CPU 61 proceeds to S9.

S9では、CPU61は、対象加工領域に対する歪補正実行処理を行う。具体的には、CPU61は、対象加工領域内の加工オブジェクトを構成する各加工点のX座標値、Y座標値と、S8で算出された対象加工領域の各制御基準座標に対応付けられた射影変換係数(即ち、「a」〜「h」、「α」)と、変換式とを用いた補正処理(射影変換処理)を実行することによって、対象加工領域におけるレーザ光Lの加工位置に生じる歪を補正する。この場合の射影変換係数は、対象加工領域をDAC66の分割数で分割した制御基準座標ごとに対応付けられている為、当該レーザ加工装置100によれば、対象加工領域内における歪を、高い精度をもって補正することができる。その後、CPU61は、S10に処理を移行する。   In S9, the CPU 61 performs a distortion correction execution process on the target machining area. Specifically, the CPU 61 projects the X coordinate value and Y coordinate value of each machining point constituting the machining object in the target machining area, and the projection associated with each control reference coordinate of the target machining area calculated in S8. By executing correction processing (projection conversion processing) using conversion coefficients (that is, “a” to “h”, “α”) and a conversion formula, the laser beam L is generated in the processing position of the target processing region. Correct distortion. Since the projective transformation coefficient in this case is associated with each control reference coordinate obtained by dividing the target machining area by the number of divisions of the DAC 66, according to the laser machining apparatus 100, distortion in the target machining area can be accurately detected. Can be corrected. Thereafter, the CPU 61 shifts the processing to S10.

S10に移行すると、CPU61は、対象加工領域に対する加工実行処理を実行し、歪補正実行処理(S9)の処理結果が反映されたレーザ発振ユニット12及びガルバノスキャナ19の制御を行うことによって、対象加工領域に係る加工オブジェクトを、レーザ光LによってワークW表面上に描画する。この時、ガルバノスキャナ19の駆動制御は、対象加工領域をDAC66の分割数で分割した制御基準座標に従って行われる為、当該レーザ加工装置100は、対象加工領域内の加工オブジェクトに係るマーキング加工の加工精度を向上させることができ、もって、加工オブジェクトの解像度を高めることができる。対象加工領域に対する加工実行処理を終了すると、CPU61は、S11に処理を移行する。   After shifting to S10, the CPU 61 executes the machining execution process for the target machining area, and controls the laser oscillation unit 12 and the galvano scanner 19 in which the processing result of the distortion correction execution process (S9) is reflected, thereby performing the target machining. The processing object related to the region is drawn on the surface of the workpiece W by the laser beam L. At this time, since the drive control of the galvano scanner 19 is performed according to the control reference coordinates obtained by dividing the target processing area by the number of divisions of the DAC 66, the laser processing apparatus 100 performs marking processing related to the processing object in the target processing area. The accuracy can be improved, and the resolution of the processed object can be increased. When the machining execution process for the target machining area ends, the CPU 61 proceeds to S11.

S11では、CPU61は、S8で算出した対象加工領域に係る射影変換係数を、RAM62から消去する。これにより、当該レーザ加工装置100は、消去に伴って開放されたRAM62の記憶領域に、新たな対象加工領域(例えば、他の加工領域R)に係る射影変換係数を記憶させることができ、RAM62の記憶容量を有効活用することができる。その後、CPU61は、S12に処理を移行する。   In S <b> 11, the CPU 61 deletes the projective transformation coefficient related to the target machining area calculated in S <b> 8 from the RAM 62. Thereby, the laser processing apparatus 100 can store the projective transformation coefficient related to a new target processing region (for example, another processing region R) in the storage region of the RAM 62 that is released as a result of erasure. Can effectively utilize the storage capacity. Thereafter, the CPU 61 proceeds to S12.

S12においては、CPU61は、S5で設定した全ての加工領域Rに対するマーキング加工に係る処理(S7〜S11)を完了したか否かを判断する。全ての加工領域Rに対する処理を完了している場合(S12:YES)、CPU61は、レーザ加工処理プログラムを終了する。一方、全ての加工領域Rに対する処理を完了していない場合(S12:NO)、CPU61は、S6に処理を戻し、次の加工順である加工領域Rを対象加工領域に特定し、当該加工領域Rについて、マーキング加工に係る処理(S7〜S11)を行う。   In S12, the CPU 61 determines whether or not the processing (S7 to S11) related to the marking processing for all the processing regions R set in S5 has been completed. When the processing for all the processing regions R has been completed (S12: YES), the CPU 61 ends the laser processing program. On the other hand, when the processing for all the processing regions R has not been completed (S12: NO), the CPU 61 returns the processing to S6, specifies the processing region R that is the next processing order as the target processing region, and the processing region About R, the process (S7-S11) which concerns on a marking process is performed.

以上説明したように、第1実施形態に関するレーザ加工装置100は、レーザ発振ユニット12と、ガルバノスキャナ19と、fθレンズ20と、レーザコントローラ5と、PC7とを有しており、レーザ発振ユニット12から出射されたレーザ光Lを、ガルバノスキャナ19によって走査することで、ワークW表面にマーキング加工を施すことができる。   As described above, the laser processing apparatus 100 according to the first embodiment includes the laser oscillation unit 12, the galvano scanner 19, the fθ lens 20, the laser controller 5, and the PC 7. The surface of the workpiece W can be marked by scanning the laser beam L emitted from the laser beam L with the galvano scanner 19.

当該レーザ加工装置100は、S3で取得した加工データにおける加工オブジェクトに対して、加工領域設定処理(S5)を実行することで、ガルバノスキャナ19の走査可能領域内における加工領域Rを設定し、当該加工領域Rに対してDAC66の分割数で分割した位置に対して、ガルバノスキャナ19の制御信号を割り付ける(S7)。そして、当該レーザ加工装置100は、DAC66を介してCPU61から出力されるガルバノスキャナ19の制御信号に基づいて、ガルバノX軸モータ31、ガルバノY軸モータ32を介して、ガルバノスキャナ19を駆動すると共に、レーザ発振ユニット12からのレーザ光Lの出射に関する制御を行う。   The laser processing apparatus 100 sets the processing region R within the scannable region of the galvano scanner 19 by executing the processing region setting process (S5) on the processing object in the processing data acquired in S3, The control signal of the galvano scanner 19 is assigned to the position divided by the number of divisions of the DAC 66 with respect to the processing region R (S7). The laser processing apparatus 100 drives the galvano scanner 19 via the galvano X-axis motor 31 and the galvano Y-axis motor 32 based on the control signal of the galvano scanner 19 output from the CPU 61 via the DAC 66. Then, control regarding the emission of the laser light L from the laser oscillation unit 12 is performed.

即ち、当該レーザ加工装置100によれば、加工データにおける加工オブジェクトに対応する加工領域Rを、ガルバノスキャナ19の走査加工領域内部に設定し、当該加工領域Rに対して、DAC66の分割数に従ったガルバノスキャナ19の制御信号を割り付ける為、加工領域R内部のマーキング加工に関するガルバノスキャナ19の駆動精度を、ガルバノスキャナ19の走査可能領域全体を対象とする場合に比べて向上させることができ、もって、レーザ光Lによるマーキング加工の加工精度をより向上させることができる。   That is, according to the laser processing apparatus 100, the processing region R corresponding to the processing object in the processing data is set inside the scanning processing region of the galvano scanner 19, and the processing region R is set according to the number of divisions of the DAC 66. Since the control signal of the galvano scanner 19 is assigned, the driving accuracy of the galvano scanner 19 related to the marking process in the processing region R can be improved as compared with the case where the entire scanable region of the galvano scanner 19 is targeted. Further, the processing accuracy of the marking processing by the laser beam L can be further improved.

そして、加工領域設定処理(S5)においては、オブジェクト領域算出処理(S4)で一の加工オブジェクトを包含する外接矩形として算出されたオブジェクト領域Oを基準として、加工領域Rを設定する為、当該レーザ加工装置100は、ガルバノスキャナ19の走査可能領域の内部における加工領域Rのサイズを、加工オブジェクトの内容に対応する適切なサイズに決定することができ、もって、加工オブジェクトに関するマーキング加工の加工精度を向上させることができる。   Then, in the processing area setting process (S5), in order to set the processing area R on the basis of the object area O calculated as a circumscribed rectangle including one processing object in the object area calculation process (S4), the laser The processing apparatus 100 can determine the size of the processing region R inside the scannable region of the galvano scanner 19 to an appropriate size corresponding to the content of the processing object, thereby increasing the processing accuracy of the marking processing related to the processing object. Can be improved.

当該レーザ加工装置100は、S7〜S9の処理を実行することで、ガルバノスキャナ19の走査可能領域における加工領域Rの位置を判断し、当該走査可能領域内部における加工領域Rの位置に応じた射影変換係数を、走査可能領域を対象とした歪データに基づいて算出し(S8)、算出した射影変換係数に変更して、加工領域R内の加工オブジェクトに関する歪補正を行う(S9)。これにより、当該レーザ加工装置100によれば、加工領域設定処理(S5)によって設定された加工領域Rに応じた詳細な射影変換係数を用いた補正処理を行うことができる為、レーザ光Lによる加工位置に生じる歪を、より高い精度をもって補正することができ、加工領域Rに対するマーキング加工の加工品質を更に向上させ得る。   The laser processing apparatus 100 determines the position of the processing region R in the scannable region of the galvano scanner 19 by executing the processes of S7 to S9, and projects according to the position of the processing region R inside the scannable region. The conversion coefficient is calculated based on the distortion data for the scannable area (S8), changed to the calculated projective conversion coefficient, and distortion correction relating to the processing object in the processing area R is performed (S9). Thereby, according to the said laser processing apparatus 100, since the correction process using the detailed projective transformation coefficient according to the process area | region R set by the process area setting process (S5) can be performed, it is based on the laser beam L. The distortion generated at the machining position can be corrected with higher accuracy, and the machining quality of the marking process on the machining region R can be further improved.

歪データは、ガルバノスキャナ19の走査可能領域をDAC66で分割した座標位置における歪の数値によって構成されている。そして、加工領域Rに係る射影変換係数は、ガルバノスキャナ19の走査可能領域における加工領域Rの位置と、当該歪データに歪の数値とを用いた3次スプライン補間法によって、当該加工領域RをDAC66で分割した制御基準座標における歪の数値を求め、当該歪の数値に基づいて、制御基準座標毎に算出される。つまり、当該レーザ加工装置100によれば、加工領域R内における詳細な歪の状態を求め、これに対応する射影変換係数を算出することができる為、より高精度な補正を行い、加工領域R内に生じる歪をより確実に低減することができ、もって、加工オブジェクトのマーキング加工に係る加工品質を高めることができる。   The distortion data is composed of distortion numerical values at coordinate positions obtained by dividing the scannable area of the galvano scanner 19 by the DAC 66. Then, the projective transformation coefficient relating to the processing region R is obtained by calculating the processing region R by a cubic spline interpolation method using the position of the processing region R in the scannable region of the galvano scanner 19 and the distortion data. The numerical value of the distortion at the control reference coordinates divided by the DAC 66 is obtained, and calculated for each control reference coordinate based on the numerical value of the distortion. That is, according to the laser processing apparatus 100, a detailed distortion state in the processing region R can be obtained, and a projective transformation coefficient corresponding to the state can be calculated. It is possible to more reliably reduce the distortion generated therein, and to improve the processing quality related to the marking processing of the processing object.

又、レーザ加工装置100は、オブジェクト領域算出処理(S4)において、加工データに含まれている一の加工オブジェクト毎に、一のオブジェクト領域Oを算出し、加工領域設定処理(S5)では、オブジェクト領域Oを用いて加工領域Rを設定し、複数の加工領域Rに対する加工順を決定している(S35)。従って、当該レーザ加工装置100によれば、図4に示すように、決定された加工順に従って、順次、各加工領域Rに対するマーキング加工に関する処理(S7〜S11)を実行することができ、各加工領域Rに対するマーキング加工の加工品質を適切に向上させることができる。   The laser processing apparatus 100 calculates one object region O for each processing object included in the processing data in the object region calculation processing (S4), and in the processing region setting processing (S5), the object processing is performed. The processing region R is set using the region O, and the processing order for the plurality of processing regions R is determined (S35). Therefore, according to the laser processing apparatus 100, as shown in FIG. 4, the processing (S7 to S11) related to the marking processing for each processing region R can be sequentially executed according to the determined processing order. The processing quality of the marking process for the region R can be improved appropriately.

図6、図7に示すように、当該レーザ加工装置100は、加工データにおける2つのオブジェクト領域Oの位置関係において、2つのオブジェクト領域Oに重なりが生じている場合(即ち、複数の加工オブジェクト間の距離が所定値以下である場合)、加工領域設定処理プログラムに従って、重なりが生じている複数のオブジェクト領域Oを含む最小サイズの外接矩形を、一の加工領域Rに設定する為(S35)、一の加工オブジェクトに対して一の加工領域Rを決定する場合に比べて、S7における割付処理、S8、S9に係る歪補正に関する処理、加工領域Rに対するマーキング加工の実行処理(S10)等を適切に省略しつつ、複数の加工オブジェクトに関するマーキング加工の加工品質を向上させることができる。即ち、当該レーザ加工装置100によれば、加工データに複数の加工オブジェクトが含まれている場合に、各加工オブジェクトに関する加工品質の向上と、各加工オブジェクトに関する加工効率の向上とを両立させることができる。   As shown in FIGS. 6 and 7, the laser processing apparatus 100 has a case where two object areas O overlap in the positional relationship between the two object areas O in the processing data (that is, between a plurality of processing objects). In order to set a circumscribed rectangle having a minimum size including a plurality of overlapping object areas O as one processing area R according to the processing area setting processing program (S35), Compared with the case where one machining area R is determined for one machining object, the allocation process in S7, the distortion correction process relating to S8 and S9, the marking process execution process (S10) for the machining area R, etc. are appropriate. It is possible to improve the processing quality of marking processing for a plurality of processing objects. That is, according to the laser processing apparatus 100, when the processing data includes a plurality of processing objects, it is possible to achieve both improvement in processing quality related to each processing object and improvement in processing efficiency related to each processing object. it can.

(第2実施形態)
次に、上述した第1実施形態と異なる実施形態(第2実施形態)について、図面を参照しつつ詳細に説明する。尚、第2実施形態に関するレーザ加工装置100は、上述した第1実施形態に関するレーザ加工装置100と同一の基本的構成を有しており、加工領域設定処理(S5)の処理内容が相違する。従って、第1実施形態と同一の構成、処理内容に関する説明は省略する。
(Second Embodiment)
Next, an embodiment (second embodiment) different from the above-described first embodiment will be described in detail with reference to the drawings. The laser processing apparatus 100 according to the second embodiment has the same basic configuration as the laser processing apparatus 100 according to the first embodiment described above, and the processing content of the processing area setting process (S5) is different. Therefore, the description about the same structure and processing content as 1st Embodiment is abbreviate | omitted.

(第2実施形態に係る加工領域設定処理プログラムの処理内容)
第2実施形態に係るレーザ加工装置100においても、第1実施形態と同様にオブジェクト領域算出処理(S4)を終了すると、CPU61は、加工領域設定処理を実行して、加工データに基づくマーキング加工を行う際の加工領域Rを設定する。具体的には、CPU61は、第2実施形態に係る加工領域設定処理プログラム(図9参照)を、ROM63から読み出して実行する。
(Processing contents of machining area setting processing program according to second embodiment)
Also in the laser processing apparatus 100 according to the second embodiment, when the object region calculation process (S4) is completed as in the first embodiment, the CPU 61 executes a processing region setting process and performs marking processing based on the processing data. A processing region R for performing is set. Specifically, the CPU 61 reads the machining area setting processing program (see FIG. 9) according to the second embodiment from the ROM 63 and executes it.

図9に示すように、第2実施形態に係る加工領域設定処理プログラムの実行を開始すると、CPU61は、先ず、オブジェクト領域リストから、2つのオブジェクト領域Oを特定し、当該オブジェクト領域Oの間におけるX軸方向への間隔(以下、X方向間隔Dx)を算出する(S41)。具体的には、CPU61は、一方のオブジェクト領域Oを構成する4点に係るX座標値の最大値と、他方のオブジェクト領域Oを構成する4点に係るX座標値の最小値との差によって、X方向間隔Dxを算出する。算出したX方向間隔DxをRAM62に格納した後、CPU61は、S42に処理を移行する。   As shown in FIG. 9, when the execution of the machining area setting processing program according to the second embodiment is started, the CPU 61 first specifies two object areas O from the object area list, and between the object areas O. An interval in the X-axis direction (hereinafter, X-direction interval Dx) is calculated (S41). Specifically, the CPU 61 determines the difference between the maximum value of the X coordinate values relating to the four points constituting one object area O and the minimum value of the X coordinate values relating to the four points constituting the other object area O. , X-direction interval Dx is calculated. After storing the calculated X-direction interval Dx in the RAM 62, the CPU 61 proceeds to S42.

S42においては、CPU61は、S41で算出したX方向間隔Dxが、X軸方向におけるオブジェクト幅の最大値よりも小さいか否かを判断する。X軸方向におけるオブジェクト幅の最大値は、X軸方向へのオブジェクト領域Oの幅に関して、2つのオブジェクト領域Oの内で大きいものを意味しており、各オブジェクト領域Oを構成する4点の座標情報の内、X座標値の最大値、最小値によって特定される。即ち、S42においては、2つのオブジェクト領域Oの間が、X軸方向に一のオブジェクト領域Oに相当する程度離れているか否かを判断している。X方向間隔DxがX軸方向におけるオブジェクト幅の最大値よりも小さい場合(S42:YES)、CPU61は、S43に処理を移行する。一方、X方向間隔Dxが、X軸方向におけるオブジェクト幅の最大値よりも小さくない場合(S42:NO)、CPU61は、S46に処理を移行する。   In S42, the CPU 61 determines whether or not the X-direction interval Dx calculated in S41 is smaller than the maximum object width in the X-axis direction. The maximum value of the object width in the X-axis direction means a larger one of the two object areas O with respect to the width of the object area O in the X-axis direction, and the coordinates of four points constituting each object area O Among the information, it is specified by the maximum value and the minimum value of the X coordinate value. That is, in S42, it is determined whether or not the two object areas O are separated by a distance corresponding to one object area O in the X-axis direction. When the X-direction interval Dx is smaller than the maximum object width in the X-axis direction (S42: YES), the CPU 61 proceeds to S43. On the other hand, when the X-direction interval Dx is not smaller than the maximum object width in the X-axis direction (S42: NO), the CPU 61 proceeds to S46.

S43では、CPU61は、当該2つのオブジェクト領域Oの間におけるY軸方向への間隔(以下、Y方向間隔Dy)を算出する。具体的には、CPU61は、一方のオブジェクト領域Oを構成する4点に係るY座標値の最大値と、他方のオブジェクト領域Oを構成する4点に係るY座標値の最小値との差によって、Y方向間隔Dyを算出する。算出したY方向間隔DyをRAM62に格納した後、CPU61は、S44に処理を移行する。   In S43, the CPU 61 calculates an interval in the Y-axis direction between the two object areas O (hereinafter, Y-direction interval Dy). Specifically, the CPU 61 determines the difference between the maximum value of the Y coordinate values relating to the four points constituting one object area O and the minimum value of the Y coordinate values relating to the four points constituting the other object area O. , Y-direction interval Dy is calculated. After storing the calculated Y-direction interval Dy in the RAM 62, the CPU 61 proceeds to S44.

S44に移行すると、CPU61は、S43で算出したY方向間隔Dyが、Y軸方向におけるオブジェクト高の最大値よりも小さいか否かを判断する。Y軸方向におけるオブジェクト高の最大値は、Y軸方向へのオブジェクト領域Oの高さに関して、2つのオブジェクト領域Oの内で大きいものを意味しており、各オブジェクト領域Oを構成する4点の座標情報の内、Y座標値の最大値、最小値によって特定される。即ち、S44においては、2つのオブジェクト領域Oの間が、Y軸方向に一のオブジェクト領域Oに相当する程度離れているか否かを判断している。Y方向間隔DyがY軸方向におけるオブジェクト高の最大値よりも小さい場合(S44:YES)、CPU61は、S45に処理を移行する。一方、Y方向間隔DyがY軸方向におけるオブジェクト高の最大値よりも小さくない場合(S44:NO)、CPU61は、S46に処理を移行する。   After shifting to S44, the CPU 61 determines whether or not the Y-direction interval Dy calculated in S43 is smaller than the maximum object height in the Y-axis direction. The maximum value of the object height in the Y-axis direction means a larger one of the two object areas O with respect to the height of the object area O in the Y-axis direction. Of the coordinate information, it is specified by the maximum value and the minimum value of the Y coordinate value. That is, in S44, it is determined whether or not the two object areas O are separated by a distance corresponding to one object area O in the Y-axis direction. If the Y-direction interval Dy is smaller than the maximum object height in the Y-axis direction (S44: YES), the CPU 61 proceeds to S45. On the other hand, if the Y-direction interval Dy is not smaller than the maximum object height in the Y-axis direction (S44: NO), the CPU 61 proceeds to S46.

S45においては、CPU61は、S41〜S44の処理対象である2つのオブジェクト領域Oを包含する外接矩形を算出し、算出した外接矩形を、複数の加工オブジェクトを含む加工領域Rに設定する。具体的には、CPU61は、2つのオブジェクト領域Oの内で、各オブジェクト領域Oを構成する4点の座標値の最大値、最小値を求め、最大値、最小値により特定される外接矩形をもって、加工領域Rに設定する(図10の右図参照)。設定した加工領域Rに関する情報(例えば、加工領域Rを構成する4点の座標情報)を、RAM62に格納した後、CPU61は、S47に処理を移行する。   In S45, the CPU 61 calculates a circumscribed rectangle that includes the two object areas O to be processed in S41 to S44, and sets the calculated circumscribed rectangle as a machining area R that includes a plurality of machining objects. Specifically, the CPU 61 obtains the maximum value and the minimum value of the coordinate values of the four points constituting each object area O in the two object areas O, and has a circumscribed rectangle specified by the maximum value and the minimum value. Then, the processing region R is set (see the right diagram in FIG. 10). After the information related to the set machining area R (for example, coordinate information of four points constituting the machining area R) is stored in the RAM 62, the CPU 61 proceeds to S47.

ここで、S41〜S45の処理内容について、図10に示す例を挙げて説明する。図10に示す例では、第1オブジェクト領域Oaと、第2オブジェクト領域Obとの位置関係を判断する。この場合、まず、CPU61は、第1オブジェクト領域Oaと、第2オブジェクト領域Obの間のX方向間隔Dxを算出する(S41)。第1オブジェクト領域Oaに係るオブジェクト幅と、第2オブジェクト領域Obに係るオブジェクト幅を比較すると、第2オブジェクト領域Obのオブジェクト幅の方が大きい為、CPU61は、X方向間隔Dxと、第2オブジェクト領域Obのオブジェクト幅との大小を比較する(S42)。図10に示す例では、X方向間隔Dxが第2オブジェクト領域Obのオブジェクト幅よりも小さい為(S42:YES)、CPU61は、S43に処理を移行する。   Here, the processing contents of S41 to S45 will be described with reference to the example shown in FIG. In the example shown in FIG. 10, the positional relationship between the first object area Oa and the second object area Ob is determined. In this case, first, the CPU 61 calculates the X-direction interval Dx between the first object area Oa and the second object area Ob (S41). When comparing the object width related to the first object area Oa and the object width related to the second object area Ob, the object width of the second object area Ob is larger, so the CPU 61 determines that the X direction interval Dx and the second object area The size of the area Ob is compared with the object width (S42). In the example shown in FIG. 10, since the X-direction interval Dx is smaller than the object width of the second object area Ob (S42: YES), the CPU 61 proceeds to S43.

図10に示す例についてのS43では、CPU61は、第1オブジェクト領域Oaと、第2オブジェクト領域Obの間のY方向間隔Dyを算出する(S44)。第1オブジェクト領域Oaに係るオブジェクト高と、第2オブジェクト領域Obに係るオブジェクト高を比較すると、第2オブジェクト領域Obのオブジェクト高の方が大きい為、CPU61は、Y方向間隔Dyと、第2オブジェクト領域Obのオブジェクト高との大小を比較する(S44)。その後、図10に示す例では、Y方向間隔Dyが第2オブジェクト領域Obのオブジェクト高よりも小さい為(S44:YES)、CPU61は、S45に処理を移行する。   In S43 for the example shown in FIG. 10, the CPU 61 calculates a Y-direction interval Dy between the first object area Oa and the second object area Ob (S44). When comparing the object height related to the first object area Oa and the object height related to the second object area Ob, the object height in the second object area Ob is larger, so the CPU 61 determines that the Y direction interval Dy and the second object area The size of the object Ob in the area Ob is compared (S44). Thereafter, in the example shown in FIG. 10, since the Y-direction interval Dy is smaller than the object height of the second object area Ob (S44: YES), the CPU 61 proceeds to S45.

即ち、この例に示すように、第2実施形態においては、第1実施形態のように第1オブジェクト領域Oaと第2オブジェクト領域Obとの間に重なりが生じている場合(図7左図参照)に限らず、2つのオブジェクト領域Oがある程度近接している場合には、2つの加工オブジェクトを包含する外接矩形を、一の加工領域Rに設定する。   That is, as shown in this example, in the second embodiment, when there is an overlap between the first object area Oa and the second object area Ob as in the first embodiment (see the left figure in FIG. 7). In the case where the two object areas O are close to each other to some extent, a circumscribed rectangle including the two processed objects is set as one processed area R.

S46では、CPU61は、X軸方向、Y軸方向に関して2つのオブジェクト領域Oがある程度(一のオブジェクト領域Oに相当する程度)離間している為、各オブジェクト領域Oを、それぞれ加工領域Rに設定する。この場合、CPU61は、各オブジェクト領域Oに係る4点の座標情報を、夫々の加工領域Rに係る4点の座標情報としてRAM62に格納する。その後、CPU61は、S47に処理に移行する。   In S <b> 46, the CPU 61 sets each object area O as a machining area R because the two object areas O are separated to some extent (equivalent to one object area O) in the X-axis direction and the Y-axis direction. To do. In this case, the CPU 61 stores the coordinate information of the four points related to each object region O in the RAM 62 as the coordinate information of the four points related to each processing region R. Thereafter, the CPU 61 proceeds to S47.

S47に移行すると、CPU61は、オブジェクト領域設定処理(S4)で生成されたオブジェクト領域リストに基づいて、全てのオブジェクト領域Oに対する処理(即ち、S41〜S46の処理)を完了しているか否かを判断する。全てのオブジェクト領域Oに対する処理を完了している場合(S47:YES)、CPU61は、S48に処理を移行する。一方、全てのオブジェクト領域Oに対する処理を完了していない場合(S47:NO)、CPU61は、S41に処理を戻し、当該加工データに含まれる他のオブジェクト領域Oについて、S41〜S46の処理を行う。   When the process proceeds to S47, the CPU 61 determines whether or not the processes for all the object areas O (that is, the processes of S41 to S46) have been completed based on the object area list generated in the object area setting process (S4). to decide. When the processing for all the object areas O has been completed (S47: YES), the CPU 61 proceeds to S48. On the other hand, when the process for all the object areas O has not been completed (S47: NO), the CPU 61 returns the process to S41, and performs the processes of S41 to S46 for the other object areas O included in the processed data. .

S48においては、CPU61は、RAM62に格納されている全ての加工領域Rについて、マーキング加工を行う際における加工領域Rの加工順を決定する。加工領域Rの加工順の決定方法は、第1実施形態と同様に、各加工領域Rの位置関係に基づいて適宜設定することができる。決定した加工領域Rの加工順をRAM62に格納した後、CPU61は、第2実施形態に係る加工領域設定処理プログラムを終了し、レーザ加工処理プログラムのS6に処理を移行する。   In S <b> 48, the CPU 61 determines the processing order of the processing regions R when performing the marking processing for all the processing regions R stored in the RAM 62. The method for determining the processing order of the processing regions R can be set as appropriate based on the positional relationship between the processing regions R, as in the first embodiment. After storing the determined processing order of the processing region R in the RAM 62, the CPU 61 ends the processing region setting processing program according to the second embodiment, and shifts the processing to S6 of the laser processing processing program.

このように構成することで、第2実施形態に係るレーザ加工装置100は、加工領域設定処理(S4)において、第1実施形態のように第1オブジェクト領域Oaと第2オブジェクト領域Obとの間に重なりが生じている場合(図7左図参照)に限らず、2つのオブジェクト領域Oがある程度近接している場合についても、2つの加工オブジェクトを包含する外接矩形を、一の加工領域Rに設定することができる。即ち、第2実施形態に係るレーザ加工装置100によっても、加工データに複数の加工オブジェクトが含まれている場合には、各加工オブジェクトに関する加工品質の向上と、各加工オブジェクトに関する加工効率の向上とを両立させることができる。   By configuring in this way, the laser processing apparatus 100 according to the second embodiment is arranged between the first object area Oa and the second object area Ob as in the first embodiment in the processing area setting process (S4). Not only when there is an overlap (see the left figure in FIG. 7), but also when the two object areas O are close to each other to some extent, a circumscribed rectangle including two processed objects is set as one processed area R. Can be set. That is, even in the laser processing apparatus 100 according to the second embodiment, when a plurality of processing objects are included in the processing data, the processing quality for each processing object is improved and the processing efficiency for each processing object is improved. Can be made compatible.

尚、上述した実施形態において、レーザ加工装置100は、本発明におけるレーザ加工装置の一例であり、レーザ発振ユニット12は、本発明におけるレーザ光出射部の一例である。そして、ガルバノスキャナ19は、本発明における走査部の一例であり、CPU61、DAC66は、本発明における制御部の一例である。又、ガルバノX軸モータ31、ガルバノY軸モータ32は、本発明における駆動部の一例であり、CPU61、RAM62、ROM63は、本発明における加工データ取得部、加工領域決定部、割付変更部、補正部、位置判断部、判断部、距離判断部の一例である。   In the above-described embodiment, the laser processing apparatus 100 is an example of a laser processing apparatus in the present invention, and the laser oscillation unit 12 is an example of a laser beam emitting section in the present invention. The galvano scanner 19 is an example of a scanning unit in the present invention, and the CPU 61 and the DAC 66 are examples of a control unit in the present invention. The galvano X-axis motor 31 and the galvano Y-axis motor 32 are examples of the drive unit in the present invention, and the CPU 61, RAM 62, and ROM 63 are the machining data acquisition unit, the machining area determination unit, the allocation change unit, and the correction in the present invention. It is an example of a part, a position judgment part, a judgment part, and a distance judgment part.

以上、実施形態に基づき本発明を説明したが、本発明は上述した実施形態に何ら限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内で種々の改良変更が可能である。例えば、上述した実施形態においては、レーザ加工装置100は、S1で取得したワーク情報に基づいて、加工条件設定処理(S2)を実行することにより、レーザ光Lによるマーキング加工の加工条件(例えば、レーザ光Lの出力強度等)を調整・設定していたが、この態様に限定されるものではない。例えば、加工データにおける加工領域Rの構成に応じて、当該加工領域Rに係る加工オブジェクトを加工する際の加工条件を、更に調整・設定するように構成してもよい。   Although the present invention has been described based on the embodiments, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various improvements and modifications can be made without departing from the spirit of the present invention. For example, in the above-described embodiment, the laser processing apparatus 100 executes the processing condition setting process (S2) based on the workpiece information acquired in S1, thereby processing conditions for marking processing using the laser light L (for example, Although the output intensity and the like of the laser beam L are adjusted and set, the present invention is not limited to this mode. For example, in accordance with the configuration of the machining area R in the machining data, the machining conditions for machining the machining object related to the machining area R may be further adjusted and set.

上述した実施形態においては、加工領域RをDAC66の分割数で分割した制御基準座標毎に、ガルバノスキャナ19の制御信号を割り付けている為、加工領域Rのサイズが小さい程、レーザ光Lによるマーキング加工の解像度を高め、高精細な描画を行い得る。この場合、加工領域Rの変更に伴って、ガルバノスキャナ19の走査によるレーザ光Lの軌跡が変更されると、単位面積あたりのレーザ光Lの入熱量が変化する。この点を考慮し、加工データにおける加工領域Rのサイズに応じて、当該加工領域Rに係る加工オブジェクトを加工する際のレーザ光Lの出力強度を、調整して設定するように構成してもよい。例えば、レーザ光Lが照射される座標の座標値から加工線分の長さを算出し、走査可能領域全体にガルバノスキャナ19の制御信号を割り付ける場合の加工線分の長さと、加工領域Rにガルバノスキャナ19の制御信号を割り付ける場合の加工線分の長さとの比率に基づいて、当該加工領域Rに係る加工オブジェクトを加工する際のレーザ光Lの出力強度を変更するように構成してもよい。   In the embodiment described above, since the control signal of the galvano scanner 19 is assigned to each control reference coordinate obtained by dividing the machining area R by the number of divisions of the DAC 66, the smaller the size of the machining area R, the more the marking by the laser light L is performed. The resolution of processing can be increased and high-definition drawing can be performed. In this case, when the locus of the laser light L by scanning with the galvano scanner 19 is changed with the change of the processing region R, the heat input amount of the laser light L per unit area changes. Considering this point, the output intensity of the laser beam L when processing the processing object related to the processing region R may be adjusted and set according to the size of the processing region R in the processing data. Good. For example, the length of the processed line segment is calculated from the coordinate value of the coordinates irradiated with the laser beam L, and the length of the processed line segment when assigning the control signal of the galvano scanner 19 to the entire scannable region and the processed region R are calculated. Even if it is configured to change the output intensity of the laser light L when processing the processing object related to the processing region R based on the ratio to the length of the processing line segment when assigning the control signal of the galvano scanner 19. Good.

又、上述した実施形態においては、加工データに含まれる加工領域Rに対して、常に3次スプライン補間法によって加工領域R内の歪を求め、これに基づく射影変換係数を算出する構成(S8)であったが、この態様に限定されるものではない。   In the above-described embodiment, a configuration in which the distortion in the machining area R is always obtained by the cubic spline interpolation method for the machining area R included in the machining data, and a projective transformation coefficient based on the distortion is calculated (S8). However, it is not limited to this embodiment.

レーザ加工装置100のような構成の場合に、歪データにおける歪は、図8左図に示すように、直交座標系に規定された走査可能領域の周縁において大きく、走査可能領域の原点付近で小さくなる傾向にある。従って、加工領域Rが走査可能領域における原点近傍にある場合には、3次スプライン補間法に用いて求めた加工領域R内部の詳細な歪と、歪データにおける歪との間に大きな差がないと考えられる。   In the case of the configuration of the laser processing apparatus 100, the distortion in the distortion data is large at the periphery of the scannable area defined in the orthogonal coordinate system and small near the origin of the scannable area as shown in the left diagram of FIG. Tend to be. Therefore, when the machining area R is near the origin in the scannable area, there is no significant difference between the detailed distortion inside the machining area R obtained by using the cubic spline interpolation method and the distortion in the distortion data. it is conceivable that.

これらの点を考慮すると、加工領域Rが走査可能領域における原点近傍にある場合に、3次スプライン補間法に用いることなく、歪データの歪から直接的に射影変換係数を求めるように構成することができる。このように構成すれば、射影変換係数による補正の精度を或る程度維持しつつ、3次スプライン補間法による詳細な歪を求める為の処理負担を軽減することができる。   Considering these points, when the processing region R is in the vicinity of the origin in the scannable region, the projective transformation coefficient is obtained directly from the distortion of the distortion data without using the cubic spline interpolation method. Can do. With this configuration, it is possible to reduce the processing load for obtaining detailed distortion by the cubic spline interpolation method while maintaining a certain degree of correction accuracy by the projective transformation coefficient.

1 レーザ加工ユニット
3 レーザヘッド部
5 レーザコントローラ
7 PC
12 レーザ発振ユニット
19 ガルバノスキャナ
20 fθレンズ
31 ガルバノX軸モータ
32 ガルバノY軸モータ
61 CPU
62 RAM
63 ROM
66 DAC
100 レーザ加工装置
L レーザ光
O オブジェクト領域
R 加工領域
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Laser processing unit 3 Laser head part 5 Laser controller 7 PC
12 Laser unit 19 Galvano scanner 20 fθ lens 31 Galvano X axis motor 32 Galvano Y axis motor 61 CPU
62 RAM
63 ROM
66 DAC
100 Laser processing equipment L Laser light O Object area R Processing area

Claims (6)

ワークを加工する為のレーザ光を出射するレーザ光出射部と、
前記レーザ光出射部から出射されたレーザ光を走査させる走査部と、
前記走査部の駆動位置を指示する走査部駆動信号を所定の分割数で出力すると共に、前記レーザ光出射部からの前記レーザ光の出射に関する制御を行う制御部と、
前記走査部駆動信号に基づいて、前記走査部を駆動させる駆動部と、
前記ワークに対する加工内容を示す加工データを取得する加工データ取得部と、
前記加工データ取得部によって取得された前記加工データに基づいて、前記走査部によって前記レーザ光を走査可能な走査可能領域の内部において、前記加工データに基づく加工が行われる範囲である加工領域を決定する加工領域決定部と、
前記加工領域決定部によって決定された前記加工領域に対して、前記所定の分割数の前記走査部駆動信号を割り付ける割付変更部と、を有し、
前記制御部は、
前記割付変更部によって割り付けられた前記走査部駆動信号に基づいて、前記駆動部を介して、前記走査部を駆動させると共に、前記レーザ光出射部からの前記レーザ光の出射に関する制御を行う
ことを特徴とするレーザ加工装置。
A laser beam emitting section for emitting a laser beam for processing the workpiece;
A scanning unit that scans the laser beam emitted from the laser beam emitting unit;
A control unit that outputs a scanning unit driving signal that indicates a driving position of the scanning unit in a predetermined number of divisions, and that controls the emission of the laser light from the laser light emitting unit;
A driving unit for driving the scanning unit based on the scanning unit driving signal;
A machining data acquisition unit for acquiring machining data indicating the machining content of the workpiece;
Based on the processing data acquired by the processing data acquisition unit, a processing region that is a range in which processing based on the processing data is performed is determined in a scannable region where the laser beam can be scanned by the scanning unit. A machining area determination unit to perform,
An allocation changing unit that allocates the predetermined number of divisions of the scanning unit drive signal to the processing region determined by the processing region determination unit;
The controller is
Based on the scanning unit driving signal allocated by the allocation changing unit, the scanning unit is driven via the driving unit, and control related to emission of the laser beam from the laser beam emitting unit is performed. A featured laser processing apparatus.
前記加工領域決定部は、
前記加工データの加工内容を構成する一の加工オブジェクトを全て含む最小サイズの領域を、前記加工領域に決定する
ことを特徴とする請求項1記載のレーザ加工装置。
The processing area determination unit
The laser processing apparatus according to claim 1, wherein a region having a minimum size including all of one processing object constituting the processing content of the processing data is determined as the processing region.
前記レーザ光による加工位置に生じる歪を補正する為の歪補正係数に基づいて、前記走査部駆動信号を補正する補正部と、
前記加工領域決定部によって決定された前記加工領域の位置を判断する位置判断部と、を有し、
前記補正部は、
前記位置判断部によって判断された前記加工領域の位置に応じて、前記歪補正係数を変更する
ことを特徴とする請求項1又は請求項2記載のレーザ加工装置。
A correction unit that corrects the scanning unit driving signal based on a distortion correction coefficient for correcting distortion generated at a processing position by the laser beam;
A position determination unit that determines the position of the processing region determined by the processing region determination unit,
The correction unit is
The laser processing apparatus according to claim 1, wherein the distortion correction coefficient is changed according to the position of the processing region determined by the position determination unit.
前記補正部は、
前記位置判断部によって判断された前記加工領域に対応する前記歪補正係数を算出し、
当該加工領域における歪を補正する為に用いる歪補正係数を、算出した歪補正係数に変更する
ことを特徴とする請求項3記載のレーザ加工装置。
The correction unit is
Calculating the distortion correction coefficient corresponding to the processing area determined by the position determination unit;
4. The laser processing apparatus according to claim 3, wherein a distortion correction coefficient used for correcting the distortion in the processing region is changed to the calculated distortion correction coefficient.
前記加工データが複数の加工オブジェクトを含んでいるか否かを判断する判断部を有し、
前記判断部によって前記加工データが複数の加工オブジェクトを含んでいると判断された場合、
前記加工領域決定部は、
前記加工データに含まれている複数の加工オブジェクトについて前記加工領域を決定し、
前記制御部は、
前記加工データに対して決定された複数の加工領域毎に異なるタイミングで、前記レーザ光の出射及び前記レーザ光の走査に関する制御を行う
ことを特徴とする請求項1乃至請求項4の何れかに記載のレーザ加工装置。
A determination unit that determines whether or not the processing data includes a plurality of processing objects;
When it is determined by the determination unit that the processing data includes a plurality of processing objects,
The processing area determination unit
Determining the machining area for a plurality of machining objects included in the machining data;
The controller is
The control relating to the emission of the laser beam and the scanning of the laser beam is performed at different timings for each of the plurality of machining areas determined for the machining data. The laser processing apparatus as described.
前記複数の加工オブジェクト間の距離が所定値以下であるか否かを判断する距離判断部を有し、
前記判断部によって前記加工データが複数の加工オブジェクトを含んでいると判断され、且つ、前記距離判断部によって複数の加工オブジェクト間の距離が所定値以下であると判断された場合、
前記加工領域決定部は、
所定値以下の距離に位置する複数の加工オブジェクトを含む最小サイズの領域を、前記加工領域として決定する
ことを特徴とする請求項5記載のレーザ加工装置。
A distance determination unit that determines whether a distance between the plurality of processing objects is equal to or less than a predetermined value;
When the determination unit determines that the processing data includes a plurality of processing objects, and the distance determination unit determines that the distance between the plurality of processing objects is a predetermined value or less,
The processing area determination unit
6. The laser processing apparatus according to claim 5, wherein a region having a minimum size including a plurality of processing objects located at a distance equal to or less than a predetermined value is determined as the processing region.
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